KR950005923Y1 - 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로 - Google Patents

디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로 Download PDF

Info

Publication number
KR950005923Y1
KR950005923Y1 KR92024064U KR920024064U KR950005923Y1 KR 950005923 Y1 KR950005923 Y1 KR 950005923Y1 KR 92024064 U KR92024064 U KR 92024064U KR 920024064 U KR920024064 U KR 920024064U KR 950005923 Y1 KR950005923 Y1 KR 950005923Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
digital
test tone
test
tangential
Prior art date
Application number
KR92024064U
Other languages
English (en)
Other versions
KR940018296U (ko
Inventor
황용길
Original Assignee
정장호
엘지정보통신 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 정장호, 엘지정보통신 주식회사 filed Critical 정장호
Priority to KR92024064U priority Critical patent/KR950005923Y1/ko
Publication of KR940018296U publication Critical patent/KR940018296U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950005923Y1 publication Critical patent/KR950005923Y1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q1/00Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18Electrical details
    • H04Q1/20Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M2203/00Aspects of automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M2203/05Aspects of automatic or semi-automatic exchanges related to OAM&P

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

디지탈 교환 시스템 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로
제 1 도는 종래의 리턴 손실 측정회로 블럭도.
제 2 도는 본 고안에 의한 리턴 손실측정회로 블럭도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 시험톤 발생회로 2' : 증폭회로
4 : 종단저항 7 : 피시험 가입자회로
9' : 전파정류회로 10' : 저역필터회로
13 : 제어프로세서(ITEP) 14, 14' : 콤보(COMBO)
15, 17 : 디지탈 접선회로 16 : 스위치네트워크
18 : A/D 변환회로 19 : 마이크로프로세서
20 : 시험톤 발생부 30 : 시험톤 스위칭 및 리턴신호 전송부
40 : 주파수 왜곡 손실 측정회로부
본 고안은 디지탈 교환기(TDX-1B/10)의 내부선로 시험 장치에서의 리턴 손실 측정회로에 관한 것으로 특히 교환시스템의 스위칭 네트워크와 가입자 내부회로를 이용하여 리턴 손실을 측정할 수 있도록하여 시험장치를 소형화할 수 있도록 한 것이다.
종래의 기술은 도면 제 1 도에서와 같이 시험톤을 발생하는 시험톤 발생회로(1)와, 발생된 시험톤을 증폭하는 증폭회로(2)와, 증폭된 시험톤을 180° 위상반전시키는 위상반전회로(3)와, 종단저항(4)과, 시험하고자 하는 가입자 회로(7)의 팁(T) 링(R) 양단에 시험톤을 공급하면서 상호 임피던스 부정합에 따른 리턴 신호를 감지하는 감지 트랜지스터(5)(6)와, 감지된 리턴 신호를 증폭하는 증폭회로(2')와, 증폭된 리턴 신호를 필터링하는 대역필터회로(8)와, 직류 전압으로 정류하는 전파정류회로(9)와, 낮은 주파수로 필터링하는 저역필터회로(10)와, 기준전압 발생회로(11)에서의 기준전압과 필터링된 리턴 신호를 비교하는 비교회로(12)와, 비교된 출력으로 정상여부를 판정하는 제어프로세서(ITEP;13)로 구성되어 있다.
이러한 구성의 종래 기술에서 시험톤 발생회로(1)에서 /〔KHz〕, 0〔dBm〕의 사인파가 발생되어 증폭회로(2) 및 180°위상 반전회로(3)를 거쳐 서로 180°의 위상차를 가진 시험톤으로 변환되고, 이 180°의 위상차를 갖는 시험톤은 두개의 감지 트랜스포머(5)(6)의 중앙단자에 연결되어 시험용 케이블을 경유하여 피시험 가입자회로(7)의 임피던스 부정합에 따른 비약한 리턴 신호는 감지 트랜스포머(5)(6)에서 감지되어 증폭회로(2')에서 증폭된 후 대역필터 회로(8)에서 여파되고 전파정류회로(9)를 통해 정류되어 직류로 변환되어 기준전압 발생회로(11)의 기준전압과 비교회로(12)에서 비교되어 제어프로세서(13)에서 정상여부를 판단하도록 되어 있다.
그러나 상기와 같은 종래 리턴 손실 측정회로에서는 리턴 손실을 피시험 가입자회로의 송신 방향으로 측정하므로 출력 임피던스 값이 아주 미세한 발진회로가 필요하며 피시험 가입자 회로의 팁. 링 양단과 정합할 수 있도록 서로 180°의 위상차를 갖는 신호를 생성해주기 위한 위상 반전회로가 필요하며 또한 리턴 신호를 감지하고 증폭하기 위한 2개의 트랜스포머와 별도의 측정회로를 사용하여 회로면적을 많이 점유하므로 내부 선로 시험장치의 규모가 커지게 되어 다수 기종의 소형화된 내부선로 시험장치에는 그러한 기능을 제거하므로써 가압자에게 양질의 서비스 제공이 어렵고 유지보수에도 어려움이 뒤따랐다.
따라서 본 고안은 디지탈 교환 시스템의 아날로그 가입자에 대한 재부선로 시험시 리턴 손실을 교환기 시스템의 디지탈 접선회로와 스위치 네트워크 및 가입자 회로의 특성을 이용하여 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로를 제공하는 것을 그 목적으로 하는 것이다.
상기와 같은 목적을 이루기 위하여 본 고안은 시험톤 발생회로에서 발생되는 시험톤 을 아날로그/디지탈/(A/D) 변환하여 펄스코드면조(Pulse Code Modulation 이하 PCM이라 약칭함)신호로 만드는 PCM 시험톤 발생수단과, PCM시험톤 신호를 교환기 시스템의 스위치 네트워크를 경유하여 피시험 가입자 회로에 연결시켜 주는 시험톤 스위칭 수단과, 가입자 회로에서 디지탈/아날로그(D/A) 변환된 시험톤이 종단저항으로 출력되면서 상호 임피던스 부정합에 따른 신호를 D/A 변환하여 스위치 네트워크로 전달하기 위한 리턴 신호 전송 수단과, 스위치 네트워크를 경유하여 들어오는 리턴 신호를 D/A 변환하여 레벨 측정 및 비교판단하기 위한 내부선로시험 장치의 주파수 왜곡 손실 측정 수단으로 구성된 것이다.
이하 본 고안을 첨부 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.
제 2 도는 본 고안에 의한 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴 손실 측정회로 블럭도를 나타낸 것으로서, 도면에 도시된 바와같이 시험톤 발생회로(1)에서 발생되는 시험톤을 콤보(14)에서 대역여파 및 A/D 변환하여 PCM 시험톤 신호를 내부선로 시험 장치가 연결된 디지탈 접선회로(15)를 통해 교환기 시스템의 스위치 네트워크(16)를 경유하여 측정하고자 하는 가입자 회로에 디지탈 접선회로(17)를 통해 연결시켜 주는 동시에 측정하고자 하는 가입자회로(7)내에서 D/A변환되는 시험톤을 종단저항(4)으로 출력하면서 임피던스 부정합에 따른 리턴신호를 A/D변환하여 상기 스위치 네트워크(16) 및 디지탈 접선회로를 경유시키는 시험톤 스위칭 및 리턴 신호전송부(30)와, 상기 스위치 네트워크(16)를 경유하여 들어오는 리턴신호를 D/A변환하여 레벨을 측정하고 비교하여 판단하는 내부선로 시험장치의 주파수 왜곡손실측정 회로부(40)로 구성한다.
상기에서 PCM 시험톤 발생부(20)는 아날로그 시험톤을 발생시키는 시험톤 발생회로(1)와, 아날로그 시험톤을 대역여파하고 디지탈로 변환하는 콤보(COMBO;14)로 구성되고, 시험톤 스위칭 및 리턴 신호 전송부(30)는 내부선로 시험장치 및 피시험 가입자회로(7)가 연결되어 있는 디지탈 접선회로(15)(17)와 두 디지탈 접선회로(15)(17)사이의 스위치 네트워크(16)로 구성되며, 상기 내부선로 시험장치의 주파수 왜곡 소실 측정회로부(40)는 시험톤 스위칭 및 리턴 신호 전송부(30)에는 들어오는 리턴 신호를 D/A변환하여 증폭하는 콤보(14') 및 증폭회로(2')와, 전파정류회로(9')와, 저역필터(10')와, A/D 컨버터(18)와 마이크로 컴퓨터(19)로 구성되어 내부선로 시험장치의 제어 프로세서(ITEP;13)로 판단결과를 출력하도록 되어 있다.
이와같이 구성되는 본 고안의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.
먼저 리턴 손실 측정은 시험하고자 하는 가입자 회로의 임피던스 정합의 정도를 측정하는 것으로, 본 고안에서의 리턴 손실 측정 과정은 시험톤 발생회로(1)에서 1〔KHz〕, 0〔dBm〕의 사인파가 발생되고 콤보(14)에서 대역 필터 및 PCM신호로 변환되어 프리서브 하이웨이(PSHW;DM28번)의 채널(0번)에 실려 내부선로 시험장치가 연결된 가입자랙의 디지탈 접선회로(15)에 전달된다.
이에 디지탈 접선회로(15)로 들어온 PCM 신호는 타임스위치된 후 스위치 네트워크(16)로 전달되며 다시 스위치 네트워크(16)에서 시간 스위치, 공간스위치 및 시간스위치(Time-space-Time)를 경유한 후 측정하고자 하는 가입자 회로가 있는 디지탈 접선회로(17)로 전송된다.
디지탈 접선회로(17)에서 다시 타임스위치되어 피시험 가입자회로(7)에 전송되고, 피시홈 가입자회로(7)내의 D/A 변환기에 아날로그로 변환된 후 대역필터와 평형회로망과 가입자 정합회로망과 가입자 정합회로(SLIC)를 경유하여 립. 링 양단에 연결된 종단저항(4)으로 출력된다.
이때 종단저항(4)과 가입자회로(7)의 내부 임피던스와의 부정합에 따른 반사신호는 다시 가입자 정합회로, 평형회로망 및 대역필터를 거친후 A/D 변환기에 PCM신호로 변환되어 디지탈 접선회로(17)로 전달된다.
디지탈 접선회로(17)에 들어온 PCM 반사신호는 다시 스위치 네트워크(16)를 경유한 후 내부선로 시험장치가 연결된 가입자랙의 디지탈 접선회로(15)로 전달되며, 여기에서 프리서브 하아웨이(DM28번)의 채널(0번)로 타임스위치된 후 내부선로 시험장치로 전달된다.
내부선로 시험장치로 들어온 반사 신호는 주파구 왜곡 손실 측정회로부(40)를 이용하여 측정되는데 콤보(14')에서 PCM신호가 아날로그로 변환되어 대역필터된 반사 신호는 증폭회로(2')에서 증폭된 후 전파 정류회로(9')에서 직류로 변환되고, 저역필터회로(10')에서 필터된후 A/D 변환회로(18)를 이용하여 레벨을 측정하며 마이크로 크로세서(19)가 측정레벨을 읽어 자체 기준치와 비교하여 리턴 손실이 20〔dB〕이상인지를 판단하여 내부선로 시험장치를 제어하는 제어 프로세서(ITEP;13)로 전달하게 된다.
이상에서와 같이 본 고안은 교환기 시스템의 스위치 네트워크와 가입자 회로의 특성 및 기존의 내부선로 시험장치내의 주파수 왜곡 측정회로를 이용하므로 최소한 부가회로(종단저항)만으로도 리턴 손실을 측정할 수 있도록하므로써 내부선로 시험 장치를 소형화 및 저렴화 할 수가 있음은 물론 양질의 서비스를 제공할 수 있도록 한 것이다.

Claims (1)

  1. 시험톤 발생회로(1)에서 발생되는 시험톤을 콤보(14)에서 대역여파 및 A/D 변환하여 PCM 신호로 만드는 PCM 시험톤 발생부(20)와, PCM 시험톤 신호를 내부선로 시험장치가 연결된 디지탈 접선회로(15)를 통해 교환기 시스템의 스위치 네트워크(16)를 경유하여 피시험 가입자회로(7)에 디지탈 접선회로(17)를 통해 연결시켜 주는 동시에 측정하고자 하는 가입자회로(7)에 디지탈 접선회로(17)를 통해 연결시켜 주는 동시에 측정하고자 하는 가입자회로(7)내에서 D/A 변환되는 시험톤을 종단저항(4)으로 출력하면서 임피던스 부정합에 따른 리턴 신호를 A/D 변환하여 디지탈 접선회로(17)와 스위치 네트워크(16) 및 디지탈 접선회로(15)를 경유시키는 시험톤 스위칭 및 리턴 신호전송부(30)와, 상기 스위치 네트워크(16)를 경유하여 들어오는 리턴 신호를 D/A변환하여 레벨을 측정하고 비교하여 판단하는 내부선로 시험장치의 주파수 왜곡 손실 측정회로부(40)로 구성하는 것을 특징으로 하는 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험 장치에서의 리턴 손실 측정회로.
KR92024064U 1992-12-01 1992-12-01 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로 KR950005923Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92024064U KR950005923Y1 (ko) 1992-12-01 1992-12-01 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92024064U KR950005923Y1 (ko) 1992-12-01 1992-12-01 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940018296U KR940018296U (ko) 1994-07-30
KR950005923Y1 true KR950005923Y1 (ko) 1995-07-26

Family

ID=19345357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR92024064U KR950005923Y1 (ko) 1992-12-01 1992-12-01 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950005923Y1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100396517B1 (ko) * 2001-01-16 2003-09-03 삼성전자주식회사 사설교환기에서 디.티.엠.에프 신호를 이용한 선로 시험방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR940018296U (ko) 1994-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4611101A (en) Method and apparatus for testing communication systems
HU182505B (en) Circuit arrangement for setting an interface up between at least one subscriber channel and a digital circuit containing switching matrix
US4352962A (en) Tone responsive disabling circuit
US4740744A (en) Digital signal processing apparatus for analog signals having wide frequency and dynamic ranges
GB2223897A (en) Automatic compensation of transmission level in modems
KR950005923Y1 (ko) 디지탈 교환 시스템의 내부선로 시험장치에서의 리턴손실 측정회로
US6400822B1 (en) Linear, optical coupled line impedance circuit
US3862380A (en) Intermodulation distortion analyzer
CA2045360C (en) Signal detecting device
US4680783A (en) Telephone security violation detection device
US7010096B1 (en) Remote testing of a communications line
CA1109170A (en) Arrangement for measuring the line condition of a subscriber's line circuit by means of a measuring resistor
KR100192902B1 (ko) 선로상태 시험, 전화기의 디지트 송출 시험 등을 할 수 있는 가 입자 시험장치 및 그 방법
AU745208B2 (en) Remote testing of a communications line
US5555552A (en) Apparatus for quickly capturing cordless telephone channel to be measured
KR960010871B1 (ko) 디지탈 교환 시스템의 아날로그 가입자에 대한 내부회로 시험용 보오드
JPH05273281A (ja) 接点情報の収集システム
KR100315643B1 (ko) 아날로그회선의가입자선로및가입자회로시험장치
JPS5818028B2 (ja) デンソウヒンシツソクテイソウチ
KR930006731Y1 (ko) 단일 전송로에 의한 원격제어신호 감지회로
US20020177430A1 (en) Circuit configuration for metering pulse recognition
KR100288377B1 (ko) 전전자 교환기의 아나로그 트렁크 시험장치
KR950003481B1 (ko) 망제어장치(ncu)보드 테스터
KR960011832B1 (ko) 데이타 회선 단말 장치를 공중 전화 교환망에 접속하기 위한 커플링 장치 및 그를 포함한 데이타 회선 단말 장치와 그 데이타 회선 단말 장치를 구비한 워크스테이션
US4169969A (en) Apparatus for detecting in-band signalling signals

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
NORF Unpaid initial registration fee