KR940006602B1 - Hybrid ic tester of cell nearing fuse - Google Patents
Hybrid ic tester of cell nearing fuse Download PDFInfo
- Publication number
- KR940006602B1 KR940006602B1 KR1019890006640A KR890006640A KR940006602B1 KR 940006602 B1 KR940006602 B1 KR 940006602B1 KR 1019890006640 A KR1019890006640 A KR 1019890006640A KR 890006640 A KR890006640 A KR 890006640A KR 940006602 B1 KR940006602 B1 KR 940006602B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit
- output
- hybrid
- amplifier
- computer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Description
제1도는 근접 신관 하이브리드 회로의 연계 구성도.1 is a linkage configuration diagram of a proximity fuse hybrid circuit.
제2도는 본 발명의 회로도.2 is a circuit diagram of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1 : 스텝모터(Step Motor)구동회로 2 : D/A(Digital/Analog)변환기1: Step motor driving circuit 2: D / A (Digital / Analog) converter
3 : 신호발생기 4,6,8,16:래치버퍼(latch Buffer)회로3:
5 : 하이브리드 회로 7 : 컴퓨터5: hybrid circuit 7: computer
9 : 분활회로 10 : 표시장치9: division circuit 10: display device
11 : 전원부 12,13 : 피크(Peak)검출기11:
14 : 쉬미트 트리거회로 15,18 : 3-스테이트 버퍼,14: Schmitt trigger
17 : A/D(Analog/Digital)변환기 19 : 딥(Dip)스위치17: A / D (Analog / Digital) Converter 19: Dip Switch
20 : 프린터장치 21 : 프린터 인터페이스회로20: printer device 21: printer interface circuit
Q1-Q6: 트랜지스터 22 : 조작부Q 1 -Q 6 : Transistor 22: Control Panel
RL1-RL6: 릴레이 SW1-SW6: 릴레이 스위치RL 1 -RL 6 : Relay SW 1 -SW 6 : Relay Switch
OP1-OP8: 증폭기 VR1-VR2: 가변저항OP 1 -OP 8 : Amplifier VR 1 -VR 2 : Variable resistor
SW7: 프린터 가동 스위치 SW8: 자동 및 수동스위치SW 7 : Printer enable switch SW 8 : Automatic and manual switch
SW9: 리셋(Reset)스위치SW 9 : Reset switch
본 발명은 포탄 근접 신관에 사용되는 하이브리드 회로를 여러 조건에서 시험하여 양질의 제품만을 선별하도록 하는 근접 신관의 하이브리드 회로 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a hybrid circuit measuring apparatus of a proximity fuse to test only a good quality product by testing a hybrid circuit used for shell proximity fuse under various conditions.
포탄 근접 신관에 사용되는 하이브리드 회로는 여러 종류가 함께 복합적으로 연계 구성되어 있으나 그중에서도 본 발명의 측정 대상이 되는 하이브리드 회로는 제1도에서 도시한 바와 같이 발진 회로에서 인가되는 도플러(Doppler)신호를 특정 범위내에 속하는 주파수만을 통과시키는 대역 통과 필터(BPF)와 이를 알맞게 증폭시키는 장치 및 증폭된 신호가 트리거 회로에 인가되어 점화 펄스가 출력되도록 이루어져 있다.Hybrid circuits used in shell proximity fuses are composed of several types of complex interconnection, but the hybrid circuits to be measured of the present invention specify the Doppler signal applied from the oscillation circuit as shown in FIG. A band pass filter (BPF) for passing only frequencies within the range, a device for appropriately amplifying it, and an amplified signal are applied to a trigger circuit to output an ignition pulse.
만일 이러한 하이브리드 회로가 정상적인 기능을 수행하지 못하는 경우에는 연계 접속된 다른 하이브리드 회로에 영향을 미쳐 여러가지 기능을 마비시킬 뿐만 아니라 적정한 시기에 폭탄을 폭파시킬 수 있는 점화펄스가 출력되지 않는등 근접 신관으로서의 중요한 기능을 발휘할 수 없게 된다.If such a hybrid circuit fails to perform its normal function, it can affect other hybrid circuits that are connected and not only paralyze the various functions, but also produce an ignition pulse that can explode a bomb at an appropriate time. You will not be able to function.
따라서 본 발명은 상기와 같은 기능을 갖는 하이브리드 회로를 측정할 수 있도록 원 칩 컴퓨터(One Chip Computer)에 필요한 프로그램을 부여하고 주변 회로를 상호 연결한 장치를 구성하여 여러자기 항목 즉 하이브리드 회로에 일정 전압은 인가할 경우 출력단자에서 나오는 직류 전압 측정 항목, 및 일정 전압이 인가될 때의 입력 전류 측정항목, 그리고 하이브리드 회로에 일정 전압의 사인파를 인가 후 각 주파수의 변화에 따른 출력 이득을 측정하는 증폭기 이득 측정 항목과 점화 펄스가 출력되는 시간을 측정하는 점화신호 측정항목, 또한 점화 신호가 출현할 수 있도록 하는 다이리스터(SCR) 기능 측정 항목 및 하이브리드 회로에 인가되는 전압을 스텝모터를 구동하여 절반으로 되게 한 후 이때의 입력 임피던스를 측정하는 항목등 여러조건을 시험하여 표시장치에 나타난 데이타와 기준 설정치를 비교하여 적정 범위내에 있게 되면 양질의 하이브리드 회로임을 판단함으로서 짧은 시간에 많은 량의 하이브리드 회로를 정밀하게 측정하여 양질의 제품만을 선별할 수 있는 장치를 제공하는데 본 발명의 목적이 있는 것이다.Therefore, the present invention provides a program in which a one-chip computer is required to measure a hybrid circuit having the above functions, and configures a device in which peripheral circuits are interconnected, and thus, a constant voltage is applied to several magnetic items, that is, a hybrid circuit. The amplifier gain which measures the DC voltage measurement item from the output terminal when it is applied, the input current measurement item when the constant voltage is applied, and the output gain according to the change of each frequency after applying a sine wave of a constant voltage to the hybrid circuit. The ignition signal measurement item that measures the measurement item and the ignition pulse output time, the thyristor (SCR) function measurement item that allows the ignition signal to appear, and the voltage applied to the hybrid circuit are halved by driving the step motor. After testing various conditions such as measuring the input impedance at this time The present invention provides a device capable of selecting only high-quality products by precisely measuring a large amount of hybrid circuits in a short time by judging that the hybrid circuits are of good quality when they are within an appropriate range by comparing the data set in the market with the reference set values. There is a purpose.
이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail by the accompanying drawings as follows.
모든 장치를 제어하기 위한 프로그램이 부여되어 있는 컴퓨터(7)에 각 래치 버퍼회로(4)(6)(8)와 3-스테이트 버퍼회로(15)(18) 및 분활회로(9)를 거쳐 표시장치(10)와 데이타 교환이 가능하도록 연결하고, 래치버퍼회로(6)에는 릴레이(RL1-RL6)를 구동시켜 필요한 측정 조건을 갖도록 하는 트랜지스터(Q1-Q6)와 가변저항(VR1)(VR2)을 조절하는 스텝모터(1)를 접속하여 다른 래치버퍼회로(4)는 D/A 변환기(2)에 연결하되, 이의 출력을 증폭기(OP1)를 통해 신호 발생기(3)에 인가하여 가번저항(VR2)에 접속하는 한편 하이브리드 회로(5)에는 릴레이(RL1-RL6)의 구동에 의해 접리되는 릴레이 스위치(SW1-SW6)와 콘덴서(C) 및 증폭기(OP2)를 거쳐 컴퓨터(7)와 각 증폭기(OP3-OP8)를 접속하고 상기 증폭기(OP3)(OP7)의 출력을 피크 검출기(13)(12)를 거치게 하며 다른 증폭기(OP4)(OP5)(OP6)(OP7)의 출력은 직접 A/D 변환기(17)에 입력되게 하되 이의 출력 데이타 값을 래치버퍼회로(16)와 3-스테이트 버퍼회로(15)를 통하여 컴퓨터(7)와 프린터 인터페이스회로(23)의 데이타 버스에 인가되도록 한 것이다.A
상기와 같은 구성에 의해서 각 측정 항목별로 살펴 보기로 한다.By the above configuration, it will be described for each measurement item.
먼저 각 항목을 측정하기 위하여 조작부(22)의 자동 및 수동스위치(SW8) 선택에 따라 가동되나 본 발명에서는 편의상 자동으로 측정하는 경우에 대해서 설명하기로 한다.First, in order to measure each item is operated according to the automatic and manual switch (SW 8 ) selection of the
즉 자동스위치(SW8)를 온(on)상태로 접속하면 컴퓨터(7)의 프로그램에 따라 모든 래치버퍼회로(4)(6)(8)와 3-스테이트 버퍼회로(15)(18)에 이네이블(enable) 신호를 인가하여 순차적으로 각 항목별로 측정할수 있는 상태가 된다.That is, when the automatic switch SW 8 is connected to the on state, all
이러한 상황에서 하이브리드 회로(5)의 전원(Vcc)단자에 35V 인가후 d, f단에서 출력되는 전압 측정 항목을 시험하기 위하여 래치버퍼회로(6)로 부터 신호가 출력되어 트랜지스터(Q4)의 베이스에 인가하여 상기 트랜지스터(Q4)가 도통되고 따라서 릴레이(RL4)가 구동함으로서 릴레이 스위치(SW4)를 온(on)상태로 접속시키게 된다.In this situation of a
이때 전원부(11)에서 출력되는 35V의 전압이 증폭기(OP6)에 연결된 저항(R2)과 릴레이 스위치(SW4)를 통하여 하이브리드 회로(5)의 전원(Vcc)단에 입력되어져 d단자에서 출력되는 전압이 증폭기(OP5)에 인가하여 적절하게 감쇄된 후 A/D변환기(17)로 보내어지게 된다.At this time, the voltage of 35V output from the
A/D변환기(17)에서는 하이브리드 회로(5)에서 출력되는 전압 즉, 아날로그 신호를 컴퓨터(7)에서 읽을 수 있는 디지탈 신호로 변환하여 래치버퍼회로(16)와 3-스테이트 버퍼회로(15)를 거쳐 컴퓨터(7)의 데이타버스(DATA BUS)로 전송된다.In the A /
그리고 컴퓨터(7)는 상기 데이타를 판독하여 전압값을 외부로 디스플레이 하기 위해서 분활회로(9)에서 기능별로 신호를 분리하고, 표시장치(10)에 인가되어 하이브리드 회로(5)의 전원(Vcc)단자에 35V 입력시 d단자에 출력되는 전압이 표시된다.The
한편 d단자의 전압 측정이 완료되면 f단자의 출력 전압을 측정하기 위해서 래치버퍼회로(6)로부터 출력되는 신호에 의해 트랜지스터(Q6)을 도통시켜 필레이(RL6)를 구동하게 됨에 따라 릴레이 스위치(SW6)가 접속되어 하이브리드 회로(5)의 f단자에서 출력되는 전압이 증폭기(OP4)에 의해 적정하게 감쇄된 후 A/D변환기(17)에 입력되어져 상기와 동일한 과정을 거쳐 컴퓨터(7)의 데이타 판독에 따른 값이 표시장치(10)에 수치로 표시되어진다.On the other hand, when the voltage measurement of terminal d is completed, in order to measure the output voltage of terminal f, transistor Q 6 is turned on by the signal output from latch buffer circuit 6 to drive fill RL 6 . (SW 6 ) is connected and the voltage output from the f terminal of the
따라서 하이브리드 회로(5)의 전원(Vcc)단에 35V 인가시 d, f단에서 출력되는 전압이 표시장치(10)에 표현되는데 이때의 전압값이 각각 설정된 기준 범위내에 있게 속하게 되면 양질의 하이브리드 회로(5)임을 판별할 수 있는 것이다.Therefore, when 35 V is applied to the power supply Vcc terminal of the
다음은 하이브리드 회로(5)에 인가되는 입력 전류 측정 항목으로서 전술한 전압 측정 항목을 시험하기 위하여 하이브리드 회로(5)의 전원단자(Vcc)에 35V 전압 인가시 안정된 동작을 할 수 있도록 하이브리드 회로(5)에 입력되는 전류를 측정하기 위한 것이다.Next, as an input current measurement item applied to the
즉 릴레이 스위치(SW4)가 온 되어 있을때 전원부(11)에서 35V의 전압과 저항(R2)을 거쳐 전류로 변환된 값이 동시에 증폭기(OP6)로 인가되고 이의 비교 출력이 A/D 변환기(17)에 입력됨으로서 증폭기(OP6) 출력의 아날로그 양을 디지탈량으로 바꾸어 래치 버퍼회로(16)와 3-스테이트 버퍼회로(15)를 통하여 컴퓨터(7)에 데이타를 전송하게 되며 상기 컴퓨터(7)는 데이타 신호를 읽어 분활회로(9)를 거쳐 전류값을 표시장치(10)에 디스플레이 되도록 한다.That is, when the relay switch SW 4 is turned on, the value converted from the
이때 표시된 전류값이 약 10-19㎃로서 기준 범위 이내의 값을 가지게 되면 하이브리드 회로(5)에 알맞는 전류가 공급되는 것을 확인하게 되는 것이다.At this time, when the displayed current value is about 10-19 mA and has a value within the reference range, it is confirmed that a current suitable for the
다음은 하이브리드 회로(5)에 내장되어 도플러 신호를 증폭하게 하는 증폭 이득을 측정하는 항목으로서 b단자에 신호발생기(3)로 부터 20㎷(Peak 전압)의 사인파를 인가 후 주파수 변화에 따른 e단자의 출력 이득을 측정하도록 한 것이다.The following is an item for measuring the amplification gain that is amplified in the
즉 증폭기 이득을 측정하기 위하여 래치버퍼회로(6)에서 트랜지스터(Q5)에 신호를 보내어 도통 상태로 만들게 되어 릴레이(RL5)가 구동됨과 동시에 릴레이 스위치(SW5)가 접속되는 한편 컴퓨터(7)에서 상기 항목을 측정하기 위한 데이타 신호가 래치버퍼회로(4)를 거쳐 D/A 변환기(2)에 출력된다.That is, in order to measure the amplifier gain, the
따라서 래치버퍼회로(4)에서 인가되는 디지탈 신호를 아날로그로 변환하여 증폭기(OP1)에서 약 40㎷(Peak 전압)로 감쇄하고 이의 전압을 신호발생기(3)로 보내어지며 래치버퍼회로(6)에서 스텝모터 구동회로(1)를 동작시켜 가변저항(VR2)을 조절하여 신호발생기(3)의 피크 전압이 20㎷인 사인파가 출력되도록 한다.Accordingly, the digital signal applied from the latch buffer circuit 4 is converted to analog, attenuated to about 40 kV (Peak voltage) by the amplifier OP 1 , and the voltage thereof is sent to the
그러므로 이러한 사인파는 하이브리드 회로(5)의 b단자에 입력되어 e단자에서 이득이 출력되는데 b단자로 인가되는 20㎷ 전압과 e단에서 출력되는 이득 전압이 각각 증폭기(OP7)(OP3)를 거쳐 피크검출기(12)(13)로 보내어져 각 피크전압을 검출한 뒤 A/D 변환기(17)에 인가되며 이의 전압을 디지탈 량으로 변환하여 전술한 항목과 동일하게 컴퓨터(7)의 데이타 버스로 전송 및 연산됨으로서 증폭기 이득이 표시장치(10)에 디스플레이 된다.Therefore, the sine wave is input to the b terminal of the
또한 컴퓨터(7)에서 스텝모터 구동회로(1)와 신호 발생기(3)를 조정하여 하이브리드 회로(5)인 b단자에 5단계로 주파수를 가변하여 입력하고 각 주파수에 출력 이득을 측정하도록 한 것이다.In addition, the
따라서 표시장치(10)에 나타난 데이타가 설정된 기준 범위에 있게 되면 도플러 신호를 증폭하는 증폭기의 기능에 이상이 없음을 판단하게 되고 양질의 하이브리드 회로(5)임을 선별할 수 있는 것이다.Therefore, when the data displayed on the
다음은 전화 신호 출력시간 측정 항목으로서 하이브리드 회로(5)의 g단자에 1.5V(DC)인가시 h단자에서 출력되는 점화시간을 측정하는 항목인 것이다. 즉 위 항목을 측정하기 위하여 래치버퍼회로(6)에서 신호가 출력되어 트랜지스터(Q3)를 동작시키고 따라서 릴레이(RL3)와 릴레이 스위치(SW3)가 접속됨으로서 하이브리드 회로(5)의 g단자에 1.5V가 인가된다.The following is a measurement item of the ignition time output from the h terminal when 1.5V (DC) is applied to the g terminal of the
이때 h단에서 출력되어지는 점화 신호는 증폭기(OP2)에 인가되며 최소 기준 전압(-5V)와 비교하여 출력되는 신호가 컴퓨터(7)로 보내어져 입력되는 시점부터 완료되는 순간까지의 시간을 표시장치(10)에 디스플레이 되며, 이때 최소 4μsec 이상동안 점화신호가 출력되어야 양질의 제품임을 판단하게 된다.At this time, the ignition signal output from the h stage is applied to the amplifier OP 2 , and the time from the time when the output signal is sent to the
다음은 마지막으로 하이브리드 회로(5)의 b단자에 전압이 인가될 때의 입력 임피던스 측정 항목으로서 최초 b단자에 입력되는 전압을 컴퓨터(7)에서 스텝모터 구동회로(1)를 제어하여 가변저항(VR2)을 조정함으로서 절반이 되도록 하는 한편 동일하게 조정되는 가번저항(VR1)을 통한 전압이 자동 증폭기(OP8)에 인가되어 저항값을 비교 측정하여 A/D변환기(17)를 통하여 컴퓨터(7)에서 연산이 이루어져 표시장치(10)에 입력 임피던스가 디스플레이되며 이때의 값이 기준 설정 범위내에 있어야 양질의 제품임이 확인된다.The following is an input impedance measurement item when the voltage is applied to the b terminal of the
상술한 측정항목 이외에도 도플러 신호를 증폭하는 증폭기의 이득 감쇄 항목으로 하이브리드 회로(5)의 전원단(Vcc)에 35V 그리고 a단자에 2V 및 b단자에 20㎷(피크전압)가 인가될때 주파수 값을 1.5㎑로하였을 경우 e단자에서 출력되는 이득값을 측정하는 항목이며, 또한 하이브리드 회로(5)에 내장되어 점화신호를 출력하는 다이리스터(SCR)의 기능 측정 즉 릴레이 스위치(SW1)가 온 상태에서 오프될때 h단자에서의 점화신호 출력 측정등이 있다.In addition to the above-mentioned measurement items, a gain attenuation item for an amplifier that amplifies the Doppler signal. When 35 V is applied to the power supply terminal Vcc of the
한편 조작부(22)의 프린터 가동스위치(SW7)를 접속하면 모든 측정 항목의 데이타 값을 컴퓨터(7)와 프린터 인터페이스회로(21)에 의해 프린터장치(20)를 동작시켜 측정값의 기록 및 저장이 가능하도록 되어 있으며, 측정이 완료된 하이브리드 회로(5)의 교환이 용이하도록 패키지(Package)에 삽입하여 측정하도록 구성되어 있어 적은 시간에 많은 수량의 하이브리드 회로(5)를 측정할 수 있는 것이다.On the other hand, when the printer operation switch SW 7 of the
이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은 포탄 시한 신관에 사용되는 하이브리드 회로(5)를 측정하기 위하여 원 칩 컴퓨터(7)에 필요한 프로그램을 저장하고 측정에 알맞는 조건을 부여할 수 있는 주변회로를 구성하여 각 항목별로 자동 및 수동으로 측정할 수 있으며 많은 량의 하이브리드 회로(5)를 신속하고 정확하게 측정하여 양질의 제품만을 선별하도록 함은 물론 프린터 인터페이스회로(21)에 의해 측정치를 기록하여 데이타를 영구 보존할 수 있도록 되어 있는 것이다.As described above, the present invention constitutes a peripheral circuit capable of storing a program necessary for the one-
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890006640A KR940006602B1 (en) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | Hybrid ic tester of cell nearing fuse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890006640A KR940006602B1 (en) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | Hybrid ic tester of cell nearing fuse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900018686A KR900018686A (en) | 1990-12-22 |
KR940006602B1 true KR940006602B1 (en) | 1994-07-23 |
Family
ID=19286274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890006640A KR940006602B1 (en) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | Hybrid ic tester of cell nearing fuse |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR940006602B1 (en) |
-
1989
- 1989-05-18 KR KR1019890006640A patent/KR940006602B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900018686A (en) | 1990-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7019547B2 (en) | Pin driver for AC and DC semiconductor device testing | |
US7609081B2 (en) | Testing system and method for testing an electronic device | |
US7859268B2 (en) | Method of testing driving circuit and driving circuit for display device | |
JPS58158566A (en) | Inspecting unit | |
KR940006602B1 (en) | Hybrid ic tester of cell nearing fuse | |
USH1793H (en) | Thermal transient test system | |
JPH11326441A (en) | Semiconductor testing device | |
KR100219392B1 (en) | Universal measuring apparatus | |
US5030919A (en) | Zero impedance switch | |
US3898559A (en) | Method and apparatus for testing transistors | |
US2900582A (en) | Transistor test set | |
JPH0766031B2 (en) | Inspection equipment | |
JPH09184871A (en) | Automatic calibrating apparatus for semiconductor testing system | |
JP4062006B2 (en) | Filter circuit inspection device | |
JP2612213B2 (en) | IC test equipment | |
JP3436138B2 (en) | Bias power supply circuit for semiconductor test equipment | |
SU382092A1 (en) | 8THE UNION I | |
JP2827233B2 (en) | Semiconductor test equipment | |
JPH06130120A (en) | Testing of semiconductor integrated circuit | |
JP2001133519A (en) | Device for testing ic | |
JP2959174B2 (en) | Integrated circuit | |
US3646460A (en) | Modulated on-to-off ratio pulse controlled digital-to-analog converter | |
JPS63113374A (en) | Integrated circuit measuring apparatus | |
CN115967377A (en) | Miniaturized signal generating device and component testing system | |
KR940011629B1 (en) | Hydrid ic measuring apparatus in proximity fuses |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 19990629 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |