KR940002654Y1

KR940002654Y1 - 포탄 근접 신관 결합체의 단락(short) 감지 회로

Info

Publication number: KR940002654Y1
Application number: KR2019890007998U
Authority: KR
Inventors: 김범용
Original assignee: 대우전자 주식회사; 김용원
Priority date: 1989-06-09
Filing date: 1989-06-09
Publication date: 1994-04-22
Also published as: KR910001165U

Abstract

내용 없음.

Description

포탄 근접 신관 결합체의 단락(short) 감지 회로

제 1 도는 본 고안의 회로도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 신관 결합체 2, 3 : 비교 증폭기(OP Amp)

4 : 앤드(AND)회로 5 : 단락 감지회로

6 : 기능검사장치 R_L: 릴레이

R₁-R₁₂: 저항 D : 다이오드

Q : 트랜지스터 LED : 발광다이오드

SW₁: 측정스위치 SW₂: 릴레이 스위치

본 고안은 포탄 근접신관 결합체의 양질제품을 선별하기 전 신관결합체에 내장된 모든 회로의 단략상태를 점검하기 위한 것으로서 특히 비교증폭기를 사용하여 단락이 감지되면 발광다이오드(LED)가 점동 되도록 하는 포탄 근접신관 결합체의 단락(Short) 감지 회로에 관한 것이다.

포탄 근접신관을 생산하는 과정에서 제작자의 부주의로 인해 신관내부의 회로가 단락되는 상태가 발생할 수 있을 뿐만아니라 신관결합체의 성능을 측정하기 위해 측정자가 검사장치에 신관을 삽입하는 과정이 잘못되어 쇼트현상을 일으킬 수 있다.

위와 같은 상황에서 근접 신관결합체를 성능검사장비로 측정하게 되면 오동작할 수 있는 경우가 많아 양질의 제품이라도 검사자의 부주의로 인해 불량으로 처리될 수 있는 문제점이 발생되었던 것이다.

본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로 비교 증폭기와 기타 부품을 사용하여 단락상태를 감지하는 회로를 구성하고 이의 결과에 따라 발광 다이오드가 점등되어 신관 결합체가 단락상태임을 알려 필요한 조치를 취하게 하고 신관결합체의 기능검사 장치에 전원 공급을 중단시켜 전력 손실을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 제품의 최종 상태를 점검하지 못하였거나 측정자의 부주의에 의한 단락상태에 따른 불량율을 감소 및 방지하는데 본 고안의 목적이 있는 것이다.

이하 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.

제 1 도에서와 같이 전원(Vcc)이 인가되는 저항(R₂)에는 다이오드(D)와 저항을 통하여 감지대상의 신관결합체(1) 일측 단자에 연결함과 동시에 비교증폭기(3)의 비반전단자(+)에 접속하고 상기 비교 증폭기(3)의 동작전압(+15)을 저항(R₃)(R₄)으로 분활하여 비교증폭기(3)의 반전단자에 기준 전압으로 사용하고 이의 출력신호는 저항(R₅)을 거쳐 AND 회로(4)에 인가하는 한편 측정스위치(SW₁)에는 저항(R₆)을 통하여 비교증폭기(2)의 비반전인자(+)와 저항(R₇)을 각각 접속하여 상기 비교증폭기(2)의 구동전압(+15)을 저항(R₈)(R₉)으로 분할하여 비교증폭기(2)의 반전단자에 기준전압으로 사용하고 이의 출력단은 저항(R₁₀)을 거쳐 AND 회로(4)에 연결하는 한편 상기 AND회로(4)의 출력신호는 저항(R₁₁)을 통하여 트랜지스터(Q) 베이스에 인가하며 릴레이(R_L)에는 발광다이오드(LED)를 거쳐 트랜지스터(Q)의 콜렉터 단자에 접속함과 동시에 릴레이스위치(SW₂)는 기능 검사 장치(6)와 측정스위치(SW₁)에 연결되어서된 포탄 근접 신관결합체의 단락 감지회로인 것이다.

상기와 같은 구성으로된 본 고안의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.

측정대상의 신관결합체(1)를 측정장치에 삽입하게 되면 신관결합체(1)의 전원단자(Vcc)가 저항(R₁)에 연결된다.

이러한 상태에서 측정스위치(SW₁)를 접속시키게 되면 31.5V의 전원이 두 저항(R₆)(R₇)값에 의해 나누어져 비교증폭기(2)의 비반전 단자에 인가됨과 동시에 비교증폭기(2) 구동전압(+15)이 저항(R₈)(R₉)에 기인하여 적절한 값으로 분할되어 비교증폭기(2)의 반전단가(-)에 입력 된다.

따라서 상기 비교증폭기(2)는 양단자의 전압을 비교하여 동일하면 "하이(high)"가 출력되어 저항(R₁₀)를 통하여 AND회로(4)에 전달된다. 즉 측정스위치(SW₁)를 온(ON) 상태로 접속시키면 비교증폭기(2)에서 출려되는 신호는 항상 "하이"가 나오도록 되어 있다.

한편 비교증폭기(2)의 반전단자에는 저항(R₃)(R₄)에 의해 기준전압이 인가되는데 신관 결합체(1)에 내장된 회로가 단락상태가 아닌 정상적인 경우라면 저항(R₂)에 인가되는 전원(+5)이 다이오드(D)와 저항(R₁)을 경유하여 신관결합체(1)로 보내어져 비교증폭기(3)의 비반전 단자(+)에는 적은량의 전압이 인가되어 비교증폭기(3)는 출력신호를 내지 못한다.

그러나 신관결합체(1)에 내장된 회로가 단락된 상태에 있다면 다이오드(D)와 저항(R₁)을 통하여 저항(R₂)에 흐르는 전원이 신관결합체(1)로 인가되지 않고 비교증폭기(OP₃)의 비반전 단자(+)로 기준전압과 동일한 전압이 입력된다.

따라서 상기 비교증폭기(3)에서는 양단에 인가되는 전압을 비교하여 "하이"출력 신호를 저항(R₅)을 거쳐 AND 회로(4)로 보내게 된다.

그러므로 두 비교증폭기(2)(3)의 신호를 조합하면 AND 회로 AND의 출력은 "하이"가 되어 저항(R₁₁)을 거쳐 트랜지스터(Q) 베이스 인가하여 바이어스 전압으로 사용됨으로서 도통상태로 만들게 된다. 따라서 릴레이(R_L)가 구동되어 발광다이오드(LED)을 점등시켜 신관결합체(1)에 내장된 회로가 단락상태임을 알리게 됨과 동시에 릴레이 스위치(SW₂)가 오프(OFF)되어 신관 기능 검사장치(6)에 전원을 공급하지 않게 됨으로서 전력낭비를 줄일 수 있는 것이다.

이상에서 상술한 바와 같은 본 고안은 포탄 신관결합체(1)를 기능검사장치(6)에서 측정하기전 신관결합체(1)에 내장된 회로의 단락상태를 먼저 검사하기 위하여 단락감지회로(5)를 구성하고 단락시에는 발광다이오드(LED)를 점등시켜 알림과 동시에 기능검사장치(6)에 인가되는 전원을 릴레이(R_L)에 의해 차단됨으로서 전력손실을 방지할 수 있는 유용한 고안인 것이다.

Claims

전원(Vcc)이 인가되는 저항(R₂)에는 다이오드(D)와 저항을 통하여 감지대상의 신관결합체(1) 일측단자에 연결됨과 동시에 비교증폭기(3)의 비반전단자(+)에 접속하고 상기 비교 증폭기(3)의 동작 전압(+15)을 저항(R₃)(R₄)으로 분할하여 비교증폭기(3)의 반전단자에 기준전압으로 사용하고 이의 출력신호는 저항(R₅)을 거쳐 AND 회로(4)에 인가하는 한편 측정스위치(SW₁)에는 저항(R₆)을 통하여 비교증폭기(2)의 비반전인자(+)와 저항(R₇)을 각각 접속하여 상기 비교증폭기(2)의 구동전압(+15)을 저항(R₈)(R₉)으로 분할하여 비교증폭기(2)의 반전단자에 기준전압으로 사용하고 이의 출력단은 저항(R₁₀)을 거쳐 AND 회로(4)에 연결하는 한편 상기 AND 회로(4)의 출력신호는 저항(R₁₁)을 통하여 트랜지스터(Q) 베이스에 인가하며 릴레이(R_L)에는 발광다이오드(LED)를 거쳐 트랜지스터(Q)의 콜렉터 단자에 접속함과 동시에 릴레이 스위치(SW₂)는 기능검사장치(6)와 측정스위치(SW₁)에 연결하여서된 것을 특징으로 하는 포탄 근접신관 결합체의 단락(Short) 감지 회로.