KR940000876A - 고감도자기센서 - Google Patents

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KR940000876A
KR940000876A KR1019920009639A KR920009639A KR940000876A KR 940000876 A KR940000876 A KR 940000876A KR 1019920009639 A KR1019920009639 A KR 1019920009639A KR 920009639 A KR920009639 A KR 920009639A KR 940000876 A KR940000876 A KR 940000876A
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KR
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KR1019920009639A
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남태철
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남태철
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Abstract

본 발명은 자장을 검출하는 자기센서로서. 자장을 감지하는 홀소자와. 홀소자의 홀신호를 변조하기 위해 홀소자를 주파수 fo의 전원으로 구동하는 구동전원, 상기 홀소자의 출력단에 발생하는 오프셋전압 (Offset Voltage)을 제거하기 위해 홀소자의 출력단에서 발생하는 오프셋전압과 구동전원의 양단에서 발생하는 오프셋전압과 구동전원의 양단에서 발생하는 전압을 무(無)자계에서 같은 진폭의 크기 가 되도록 각각 증폭하는 제 1, 2증폭수단, 상기 제1, 2중폭수단 각각의 출력중 일정한 주파수 대역의 신호만을 통과시키고 신호의 일그러짐을 방지하는 저역통과 여파기, 상기 대역통과여파기의 두 출력신호의 차신호를 구하는 차동증폭수단 및 상기 오프셋전압이 제거된 차신호를 입력하여 신호의 증폭과정등에서 발생한 잡음가 캐리어 주파수(Carrier Frequency)를 제거하고 원래의 자장과 비례하는 홀신호를 출력하는 복조수단으로 구성되어 홀소자와 증폭수단에서 발생하는 오프셋 및 잡음을 제거하여 극히 미량의 자장을 고감도로 감지할수 있는 고감도 자기센서이다.

Description

고감도자기센서
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본발명 고감도자기센서의 상세한 회로구성도,
제2도 (A), (B)는 본 발명에 따른 각부 신호의 주파수 스펙트럼을 나타낸 것으로, (A)는 홀소자(1) 출력신호의 주파수 스펙트럼, (B)는 구동전원(2)의 단자(S, T)양단에 나타나는 신호는 주파수 스펙트럼,
제3도는 (A), (B)는 본발명에 따른 각부신호의 주파수 스펙트럼을 나타낸 것으로, (A)는 제1증폭수단(3)에서 출력되는 신호의 주파수 스펙트럼, (B)는 제2증폭수단(4)에서 출력되는 신호의 주파수 스펙트럼,
제4도는 차동증폭기(7)에서 출력되는 신호의 주파수 스펙트럼을 나타낸 도면.

Claims (3)

  1. 자장을 감지하는 홀소자(1)와, 홀소자(1)의 홀신호를 변조하기 위해 홀소자(1)를 주과수 fo의 전원으로 구동하는 구동전원(2), 상기 홀소자(1)의 출력단(X, Y)에 발생하는 오프셋전압(Offset Voltage)을 제거하기 위해 홀소자(1)의 출력단(X, Y)에서 발생하는 오프셋전압과 구동전원(2)의 양단(S, T)에서 발생하는 전압을 무(無)자계에서 같은 진폭의 크기가 되도록 각각 증폭하는 제1, 2증폭수단(3, 4), 상기 제1, 2증폭수단(3,4) 각각의 출력 중 일정한 주파수 대역의 신호만을 통과시키고 신호의 일그러짐을 방지하는 저역 통과여파기 (5, 6), 상기 대역통과여파기(5, 6)의 두 출력신호의 차신호를 구하는 차동증폭수단(7) 및 상기 오프셋전압이 제거된 차신호를 입력하여 신호의 증폭과정등에서 발생한 잡음과 캐리어 주파수(Carrier Frequency)를 제거하고 원래의 자장과 비례하는 홀신호를 출력하는 복조수단(8)으로 구성되어 홀소자와 증폭수단에서 발생하는 오프셋 및 잡음을 제거하여 극히 미량의 자장을 고감도로 감지할 수 있음을 특징으로 하는 고감도자기센서
  2. 제1항에 있어서, 복조수단(8)이 멀티플렉서 (10)와 저역통과여파기(11)로 구성된 것임을 특징으로 하는 고 감도자기센서.
  3. 제1항에 있어서, 복조수단(8)이 증류수단(12)과 저역통과여파기(11)로 구성된 검파회로인 것을 특징으로 하는 고감도 자기센서.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920009639A 1992-06-03 1992-06-03 고감도자기센서 KR940000876A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100761998B1 (ko) * 2006-08-03 2007-09-28 조선대학교산학협력단 향상된 결함 탐상 능력을 갖춘 결함 탐상 장치
KR101431302B1 (ko) * 2009-02-23 2014-08-20 세이코 인스트루 가부시키가이샤 자기 검출 회로

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