KR930020595A - 반도체 세정장치 및 세정방법 - Google Patents
반도체 세정장치 및 세정방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR930020595A KR930020595A KR1019920004972A KR920004972A KR930020595A KR 930020595 A KR930020595 A KR 930020595A KR 1019920004972 A KR1019920004972 A KR 1019920004972A KR 920004972 A KR920004972 A KR 920004972A KR 930020595 A KR930020595 A KR 930020595A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cleaning
- tank
- semiconductor
- cleaning apparatus
- solution
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02057—Cleaning during device manufacture
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B2203/00—Details of cleaning machines or methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B2203/005—Details of cleaning machines or methods involving the use or presence of liquid or steam the liquid being ozonated
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67057—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체 세정장치 및 세정방법에 관한 것으로, 세정조, 상기 세정조를 둘러싸는 모양으로 형성된 순환조, 상기 세정조내에 그 일단부가 연결된 세정용액 공급관들, 및 일단부는 순환조와, 다른 일단부는 세정조와 연결된 강제순환시스템으로 구서된 세정장치에 있어서, 오존가스 발생기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치 및 세정방법을 제공한다. 따라서, 종래의 세정용액에 오존가스를 주입함으로써, 불산에 대한 에칭율의 의존도를 감소시키고, 질산의 농도를 낮추어 오염물질이 입자가 재부착되는 것을 방지할 수 있으므로 신뢰성있는 반도체장치를 제조할 수 있게 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 반도체 세정장치를 간략하게 도시한 모식도.
제3도는 본 발명에 의한 반도체 세정공정을 도시한 공정흐름도.
제4a도 및 제4b도는 종래의 세정방법과 본 발명에 의한 세정방법을 사용하여 세정한 결과를 찍은 SEM사진.
Claims (11)
- 세정조, 상기 세정조를 둘러싸는 모양으로 형성된 순화조, 상기 세정도내에 그 일단부가 연결된 세정용액 공급관들, 및 일단부는 순환조와, 다른 일단부는 세정조와 연결된 강제순환시스템으로 구성된 세정장치에 있어서, 오존가스 발생기를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 오존가스 발생기는 한 측은 세정조내부로 연장되고, 타측은 외부장치와 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제2항에 있어서, 상기 외부장치는 산소발생기인 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 공급관들은 각각 질산발생기, 불산발생기, 및 탈이온수 발생기와 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 세정조내에 히이터가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 하부에는 배수관과 밸브가 더 부착되는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 강제순환시스템은 펌프, 여과기 및 이들을 상호 연결시키는 관으로 구성됨을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 순환조는 상기 세정조의 상단부에 위치하는 것을 특징으로 하는 반도체 세정장치.
- 질산, 불산, 및 탈이온수로 구성된 혼합용액을 세정용액으로 사용하는 슬라이트 에칭에 있어서, 상기 혼합용액에 오존가스르 첨가시킨 용액을 세정용액으로 사용하여 웨이퍼를 세정하는 것을 특징으로 하는 반도체 세정방법.
- 제9항에 있어서, 상기 질산의 농도가 40%이하이고, 상기 불산의 농도가 0.5~10%인 것을 특징으로 하는 반도체 세정방법.
- 제9항에 있어서, 상기 세정용액의 온도가 25℃~35℃정도인 것을 특징으로 하는 반도체 세정방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920004972A KR100247902B1 (ko) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 반도체 세정장치 및 세정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920004972A KR100247902B1 (ko) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 반도체 세정장치 및 세정방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930020595A true KR930020595A (ko) | 1993-10-20 |
KR100247902B1 KR100247902B1 (ko) | 2000-03-15 |
Family
ID=19330901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920004972A KR100247902B1 (ko) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 반도체 세정장치 및 세정방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100247902B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100483037B1 (ko) * | 1997-12-27 | 2005-07-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체웨이퍼세정방법 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100872887B1 (ko) * | 2006-12-18 | 2008-12-10 | 세메스 주식회사 | 다수의 약액을 이용할 수 있는 기판 처리 장치 |
-
1992
- 1992-03-26 KR KR1019920004972A patent/KR100247902B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100483037B1 (ko) * | 1997-12-27 | 2005-07-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체웨이퍼세정방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100247902B1 (ko) | 2000-03-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5186841A (en) | Cooling water ozonation system | |
CN1134852A (zh) | 曝气法海水烟气脱硫工艺及其曝气装置 | |
US6409918B1 (en) | Apparatus for supplying ozonated ultrapure water | |
KR930020595A (ko) | 반도체 세정장치 및 세정방법 | |
CN205873902U (zh) | 一种超纯硫酸中快速去除二氧化硫气体的装置 | |
DE68904761T2 (de) | Vorrichtung zum loesen von ozon in einem fluidum. | |
JP2702564B2 (ja) | オゾン水処理装置 | |
CN207170429U (zh) | 一种分段式清洗装置 | |
JPS57207518A (en) | Liquid filtering device | |
CN208791244U (zh) | 应用于含泡排剂采出水处理的紫外氧化设备 | |
JPS54100985A (en) | Purification of solution containing organics and inorganics | |
JPH01262987A (ja) | 冷却水浄化装置 | |
CN220558935U (zh) | 一种柱式超滤膜净化装置 | |
CN205495361U (zh) | 一种便携式清洗ro膜的装置 | |
JPH01207190A (ja) | オゾン溶解装置 | |
JPH0458527A (ja) | 洗浄方法 | |
JPH03165519A (ja) | 洗浄装置 | |
JP2000262992A (ja) | 基板の洗浄方法 | |
CN203639225U (zh) | 一种曝气污水处理池 | |
CN211725315U (zh) | 洗涤塔 | |
CN205773533U (zh) | 一种反渗透膜清洗装置 | |
CN209530508U (zh) | 一种用于凯式定氮法消化产生酸性气体吸收系统 | |
KR20000009262A (ko) | 반도체 제조라인에 구비되는 배관의 세정장치 | |
JPS5443469A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
CN111392851A (zh) | 一种利用纳米臭氧气体的水处理装置及其处理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20071203 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |