KR910003517A - 시스템 고장 진단용 전문가 시스템을 형성하기 위한 방법 - Google Patents

시스템 고장 진단용 전문가 시스템을 형성하기 위한 방법 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

시스템 고장 진단용 전문가 시스템을 형성하기 위한 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명을 실시하기 위한 제어기의 블록도,
제2도는 본 발명의 원리를 예증하는 전형적인 하이브리드 회로팩의 블록도,
제3도는 본 발명의 규칙에 따라 유도된 바와같이 제2도의 회로 팩 장치를 테스트 하기 위한 테스트 트리 시퀀스.

Claims (5)

  1. 개개의 소정 고장율을 갖는 복수의 구성요소로 이루어진 시스템 또는 디바이스의 소정 배열을 고장진단을 하기 위한 전문가 시스템을 산출하는 컴퓨터에서 지식 베이스를 형성하는 방법으로, 상기 방법은 가) 시스템 또는 디바이스를 한개 이상의 구성 요소의 순차 및 병렬 서브시스템의 그룹으로 분해하는 단계 및; 나) 의심스러운 구성요소 모호성 세트 및 가능 계측 선택 세트의 트리 형태를 제공하는 트리에서 서브시스템간 각 병렬 및 순차 링크에 노드를 부가함으로서 단계 (가) 그룹의 트리구조를 생성하는 단계로 이루어진 방법이며; 상기 방법은또한; 다) (1) 노드가 병렬 노드이면, (ⅰ) 각 서브시스템의 구성요소의 고장율을 제1 리스트 P에서 제1 오름 또는 내림차순으로 수치적으로 분류하고, (ⅱ) 각 서브시스템의 구성요소의 테스트 비용을 제2 리스트 L에서 제1 차순과는 반대 방향인 제2 내림 또는 올림 차순으로 수치적으로 분류하며, 그리고 (ⅲ) 각각의 해당 요소의 곱을 리스트 P와 L로 계산함으로서 그 하위 경계 비용이 계산되는 제1규칙과 (2) 노드가 순차 노드이면, 그 하위 경계 비용은 각 서브시스템의 각 구성요소에 대한 각 테스트 비용 및 고장율을 제각기 제1 및 제2 리스트 P와 L에서 울림또는 내림 차순으로 수치적으로 제각기 분류하고, (ⅱ) 변수 h를 제로로 초기화하며, (ⅲ) 리스트 P로부터 최하위값인 두개의 수 P1 및 P2를 선택하며, (ⅵ) P1 및 P2를 합하여 고장율 p에 대한 현재치를 계산하며, (ⅴ) 리스트 L로부터 제1 멤버 C를 선택하며, (ⅵ) h의 현재치를 단계(ⅳ)로부터의 P1 및 P2의 값의 곱과 합하여 이합을 h에 대한 현재치로 놓으며, (ⅶ) P의 현재치를 리스트 P에서 수치적 차순에 삽입하며, 그리고 (ⅷ) P=1일때까지 단계(ⅲ) 내지 (ⅶ)을 반복함으로서 그 하위 경계 비용이 계산되는 제2 규칙을 이용하는 각 병렬 및 순차 서브시스템에대한 하위 경계 비용을 계산하는 단계 및; 라) 컴퓨터의 출력에서 진단 고장 테스팅 시퀀스를 생성하는 진단 지식베이스를 생성하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 컴퓨터에서 지식 베이스를 형성하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 다 1) 제1 및 제2 변수 h와 q를 제각기 0과 1로 초기화 하는 단계; 다 2) 리스트 L로부터 제1멤버 C를 선택하는 단계; 다 3) h+c.g의 곱을 계산하여 이 값을 h의 현재치로 치환하는 단계; 다 4) 리스트 P에서 마지막 멤버 P를 선택하는 단계; 다 5) 선택된 멤버 P를 g의 현재치로부터 단계(다 4)에서 감산하는단계; 그리고 다 6) 리스트의 요소의 수가 P=1일때까지 단계(다 2) 내지 (다 5)를 반복하는 단계를 수행하여 병렬노드에 대한 하위 경계 비용으로 단계(ⅲ)을 계산하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 에서 지식 베이스를 형성하는방법.
  3. 제1항에 있어서, 다 1) 컴퓨터가 C(노드) = min{C(ti) + qiC(서브모드 i)}로부터 병렬 노드의 비용을 계산하는 단계를 수행하여 단계(라)를 수행하며, i는 시스템의 모든 가능 부분을 포함하며, gi는 서브노드 i가능성을 나타내며, 최적 테스트는 ti=arg min C(노드)로 결정되는 것을 특징으로 하는 컴퓨터에서 지식베이스를 형성하는 방법.
  4. 제1항에 있어서 다 1) 컴퓨터가 C(노드) = min{C(ti) + PiC(서브모드 I) + qiC(우측 서브모드)}로부터 순차 노드의 비용을 계산하는 단계를 수행하여단계(라)를 수행하며, i는 시스템의 모든 가능 부분을 포함하며, 좌측 서브노드는 테스트 ti를 행할때 구해지는노드에 해당하며, 우측 서브노드는 테스트 ti가 행해지지 않을 때 구해지는 노드에 해당하며, 최적 테스트는ti=arg min c(노드)로부터 결정되는 것을 특징으로 하는 컴퓨터에서 지식 베이스를 형성하는 방법.
  5. 제1항, 제2항, 제3항 또는 제4항에 잇어서, 마 1) 시스템의 모든 구성요소가 병렬로 연결되며, 단일병렬 노드를 구성하는 단계; 마 2) 시스템의 모든 구성요소가 시퀀스로 연결되면, 단일 순차 노드를 구성하는 단계; 마 3) 모든 구성요소가 공통 프리픽스를 가지면 프리픽스 구성요소를 갖는 노드와 나머지 구성요소를 포함하는 다른 구성요소를 갖는 노드로 이루어진 두개의 시퀀스 노드의 순차(병렬)로 병렬(순차)노드를 세분하는 단계및; 마 4) 수퍼 구성요소 시퀀스 노드의 개개의 병렬 서브 노드가 공통 프리픽스 또는 서픽스를 포함하면, 이러한병렬 서브노드를 삭제하여 동일 순서로 수퍼 구성요소 시퀀스 노드로 병렬 서브노드를 삽입하는 단계를 수행하여,단계 (가) 및 (나)를 수행하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터에서 지식베이스를 형성하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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