KR890002986A - 웨트 처리장치 및 그것에 사용하는 기판유지치구 - Google Patents
웨트 처리장치 및 그것에 사용하는 기판유지치구 Download PDFInfo
- Publication number
- KR890002986A KR890002986A KR1019880009339A KR880009339A KR890002986A KR 890002986 A KR890002986 A KR 890002986A KR 1019880009339 A KR1019880009339 A KR 1019880009339A KR 880009339 A KR880009339 A KR 880009339A KR 890002986 A KR890002986 A KR 890002986A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- wet processing
- processed
- wet
- treatment
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims 109
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims 41
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 27
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 11
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 claims 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 10
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 5
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 2
- 239000008280 blood Substances 0.000 claims 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 claims 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims 1
- 210000002374 sebum Anatomy 0.000 claims 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03D—APPARATUS FOR PROCESSING EXPOSED PHOTOGRAPHIC MATERIALS; ACCESSORIES THEREFOR
- G03D3/00—Liquid processing apparatus involving immersion; Washing apparatus involving immersion
- G03D3/08—Liquid processing apparatus involving immersion; Washing apparatus involving immersion having progressive mechanical movement of exposed material
- G03D3/10—Liquid processing apparatus involving immersion; Washing apparatus involving immersion having progressive mechanical movement of exposed material for plates, films, or prints held individually
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
- G03F7/30—Imagewise removal using liquid means
- G03F7/3085—Imagewise removal using liquid means from plates or webs transported vertically; from plates suspended or immersed vertically in the processing unit
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Weting (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 실시예 III인 웨트 처리장치의 일관자동화 라인시스템을 갖춘 웨트 처리장치의 개략을 도시한 개략구성도. 제 2 도는 본 발명의 실시예 I인 췌트 처리의 일관자동화 라인시스템을 같춘 웨트 처리장치의 개략을 도시한 개략구성도. 제 3 도는 상기 웨트 처리장치의 형상처리부의 앞단계부분을 도시한 요부사시도.
Claims (47)
- 웨트 처리조를 가진 웨트 처리장치에 있어서, 상기 웨트 처리조가, 제 1 웨트 처리액을 사용하는 제 1 웨트 처리부에, 웨트 처리액의 혼합을 방지하는 개폐가능한 셔터부를 가진 셔터장치를 개폐시켜, 상기 제 1 웨트 처리액과 다른 제 2 웨트 처리액을 사용하는 제 2 웨트 처리부를 연결해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 웨트 처리조의 제 1 웨트 처리부, 제 2 웨트 처리부의 각각은, 상기 셔터장치의 셔터부를 개재시켜, 상하로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 웨트 처리조의 제 1 웨트 처리부에서 사용되는 제 1 웨트 처리액은, 현상액, 에칭액등인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 웨트 처리조의 제 2 웨트 처리부에서 사용되는 제 2 웨트 처리액은, 세정액인 거승ㄹ 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 웨트 처리조의 제 1 웨트 처리부의 상부에는, 상기 제 2 웨트 처리부가 구성되어 있는 것을 특징으로 하느 웨트 처리장치.
- 제 1 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 웨트 처리조의 제 1 웨트 처리부는, 제 1 웨트 처리액을 저류한 액조부로서 구성되고, 상기 제 2 웨트 처리부는, 제 2 웨트 처리액을 스프레이하는 셔워부로서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 피처리기판의 피처리면에 웨트 처리를 실시하는 웨트 처리조를 가진 웨트 처리장치에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직이 되도록 삽입할 수 있는 웨트 처리조를 구성하고, 이 웨트 처리조가, 제 1 웨트 처리액을 사용하는 제 1 웨트 처리부에, 웨트 처리액의 혼합을 방지하는 개폐가능한 셔터부를 가진 셔터장치를 개재시켜, 상기 제 1 웨트 처리액과 다른 제 2 웨터 처리액을 사용하는 제 2 웨트 처리부를 연결해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 7 항에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로 웨트 처리조에 삽입하는 것은, 1매의 피처리기판, 또는 각각의 피처리면이 웨트 처리에 즈음해서 다른 피처리기판에 가려지지 않고 배치된 복수매의 피처리기판을 웨트 처리조에 삽입하는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 7항 또는 제 8 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막의 박리처리, 혹은 감광성 내식막을 마스크로하는 에칭처리, 또는 그것들을 조합한 처리한 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 7 항 또는 제 9 항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처, 감광성 내식막의 박리처리의 각각을 순차행하는 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 7 항 내지 제10항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리조는, 피처리기판의 반송방향으로 복수조 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제 7 항 내지 제11항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 액정표시장치를 구성하는 투명유리기판, 레티클 혹은 감광성 마스크를 구성하는 투명유리기판, 반도체웨이퍼를 구성하는 반도체기판, 프린트 배선기판, 광학렌즈등인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 웨트 처리장치에 의해서 피처리면에 웨트 처리가 실시되는 피처리기판을 유지하는 기판유지치구에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직이 되도록 유지하는 유지변에, 피지지부 또는 및 피반송부를 형성한 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제13항에 있어서, 상기 피처리기판은, 소정의 각도를 가지고 교차하는 2개의 유지변에 의해서 유지되어 있는 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제13항 또는 제14항에 있어서, 상기 피처리기판은, 인력이 작용하는 방향으로 상기 피처리면이 존재하지 않는 위치에서 상기 유지변에 의해서 유지되어 있는 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제13항 내지 제15항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 피처리면에 부착되는 웨트 처리액이 실질적으로 1점으로부터 액흘림하도록 상기 유지변에 의해서 유지되 있는 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 피처리가판의 피처리면에 웨트 처리를 실시하는 웨트 처리장치에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직으로 되게 유지하는 기판유지수단과, 이 기판유지수단에 의해서 유지되는 상기 피처리기판에, 웨트 처리를 실시하는 웨트 처리수단을 구비한 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항에 있어서, 상기 피처리가판을 매엽식으로 유지하는 기판유지수단은, 1매의 피처리기판, 또는 각각의 피처리면에 웨트 처리에 즈음해서 다른 피처리기판에 가려지지 않고 배치된 복수매의 피처리기판을 유지하는 기판유지수단인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항 또는 제18항에 있어서, 상기 웨트 처리수단의 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막의 박리처리, 혹은 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 또는 그것들을 조합시켜 처리하는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항 내지 제19항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리수단의 웨트 처리는, 상기 피처리가판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 감광성 내식막의 박리처리의 각각을 순차행하는 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항 내지 제20항의 각 항에 있어서, 상기 기판유지수단은, 상기 피처리기판을 매엽식으로 또한 피처리면이 실질적으로 수직으로 되게 유지하는 기판유지치구인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항 내지 제21항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리수단은, 소정의 웨트 처리액이 들어가 있는 혹은 소정의 웨트 처리액을 스프레이하는 1개의 웨트 처리조, 또는 피처리기판의 반송방향으로 순차 배치되는 복수의 웨트 처리조에, 상기 피처리기판을 삽입하는 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제22항에 있어서, 상기 기판유지수단에 의해서 유지된 피처리기판은, 상기 웨트 처리조에, 피처리면이 실질적으로 수직으로 되도록 유지된 상태에서, 반소되는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제17항 내지 제23항에 있어서, 상기 피처리기판은, 액정표시장치를 구성하는 투명유리기판, 레티클 혹은 감광성 마스크를 구성하는 투명유리기판, 반도체웨이퍼를 구성하는 반도체기판, 프린트 배선기판, 광학렌즈등인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 피처리기판의 피처리면에 웨트 처리를 실시하는 웨트 처리장치에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직인 상태로 삽입할 수 있는 웨트 처리조의 피처리기판의 삽입부분에서부터 상기 액조부까지의 사이에, 상기 피처리기판의 피처리면에 웨트 처리액을 스프레이하는 처리액 스프레이장치를 구성하는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항에 있어서, 상기 처리액 스프레이장치로부터 스프레이되는 웨트 처리액은, 신액인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항 또는 제26항에 있어서, 상기 웨트 처리조중, 세정조로서 사용되는 웨트 처리조는, 초음파 진동장치가 연결되어 있고, 웨트 처리액에 초음파진동을 걸수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항 내지 제 27항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 1매 또는 각각의 피처리면이 웨트 처리에 즈음해서 다른 피처리기판에 가려지지않고 배치된 복수매로 웨트 처리조에 삽입되는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항 내지 제 28항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막의 박리처리, 혹은 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 또는 그것들은 조합한 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항 내지 제 29항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 감광성 내식막의 박리처리의 각각을 순하행하는 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제25항 내지 제 30항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 액정표시장치를 구성하는 투명유리기판, 레티클 혹은 감광성 마스크로 구성하는 투명유리기판, 반도체웨이퍼를 구성하는 반도체기판, 프린트 배선기판, 광학렌즈등인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 피처리기판의 피처리면에 웨트 처리를 실시하는 웨트 처리장치에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직으로 되도록 삽입할 수 있는 웨트 처리조를 상기 피처리기판의 반송방향으로 복수구성하고, 이 웨트 처리조로부터 그 다음 단계의 웨트 처리조에 피처리기판을 반송하는 단위 이동부재를 각 웨트 처리조 사이마다에 구성하고, 이 각 웨트 처리조 사이마다의 단위 이동부재를 연결하고, 이 연결된 복수의 단위 이동부재에, 상기 피처리기판을 반송하기 위한 공통구동장치를 연결한 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제32항에 있어서, 상기 피처리기판은, 1매 또는 각각의 피처리면이 웨트 처리에 즈음해서 다른 피처리기판에 가려지지않고 배치된 복수매로 웨트 처리조에 삽입되는 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제32항 또는 제33항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막의 박리처리, 혹은 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 또는 그것들을 조합한 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제32항 내지 제34항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기판의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 감광성 내식막의 박리처리의 각각을 순차행하는 처리인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 제32항 내지 제35항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 액정표시장치를 구성하는 투명유리기판, 레티클 혹은 감광성 마스크를 구성하는 투명유리기판, 반도체웨이퍼를 구성하는 반도체기판, 프린트 배선기판, 광학렌즈등인 것을 특징으로 하는 웨트 처리장치.
- 웨트 처리장치에 의해서 피처리면에 웨트 처리가 실시되는 피처리기판을 유지하는 기판유지치구에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직으로 되도록 유지함과 동시에, 이 수직으로 위치하는 피처리면에 부착되는 웨트 처리액이 실질적으로 1점으로 부액흘림하도록 상기 피처리기판을 유지한 것을 특징으로 하는 기관유지치구.
- 제37항에 있어서, 상기 피처리기판의 매엽식으로의 유지는, 1매의 피처리기판, 또는 각각의 피처리면에 웨트 처리에 즈음해서 다른 피처리기판에 가려지지 않고 배치된 복수매의 피처리기판의 유지인 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제37항 또는 제38항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기관의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막의 박리처리, 혹은 감광성 내식막을 마스크로 하는 에칭처리, 도는 그것들을 조합한 처리인 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제37항 내지 제39항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 상기 피처리기관의 피처리면에 형성된 감광성 내식막의 현상처리, 감광성 내식막을 마스크로부터 하는 에칭처리, 감광성 내식막의 박리처리의 각각을 순차행하는 처리인 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제37항 내지 제39항의 각 항에 있어서, 상기 웨트 처리는, 소정의 웨트 처리액이 들어있는 혹은 소정의 웨트 처리액을 스프레이 하는 1개의 웨트 처리조, 또는 피처리기판의 반송방향으로 순차 배치되는 복수 웨트 처리조에, 상기 피처리기판을 삽입하는 처리인 것을 특징으로 하는 기판유지치구
- 제37항 내지 제41항의 각 항에 있어서, 상기 피처리기판은, 액정표시장치를 구성하는 투명유리기판,레티클 혹은 감광성 마스크를 구성하는 투명유리기판, 반도체웨이퍼를 구성하는 반도체기판, 프린트 배선기판, 광학렌즈 등인 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 웨트 처리장치에 의해서 피처리면에 웨트 처리가 실시되는 피처리기판을 유지하는 기판유지치구에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 피처리면이 실질적으로 수직으로 되도록 유지함과 동시에, 인력이 작용하는 방향으로 상기 피처리면이 존재하지 않는 위치에서 상기 피처리기판을 유지한 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제43항에 있어서, 상기 피처리기판의 유지는 제 3점에서 행하여지고 있는 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 제43항 또는 제44항에 있어서, 상기 피처리기판의 유지는 피처리기판의 단부를 협지하는 유지부재에 의해서 행하여지고 있는 것을 특징으로 하는 기판유지치구.
- 웨트 처리장치에 의해서 피처리면에 웨트 처리가 실시되는 피처리기판을 유지하는 기판유지치구에 있어서, 상기 피처리기판을 매엽식으로, 또한 미처리면이 실질적 수직으로 되도록 유지함과 동시에 소정의 각도를 가지고 교차하는 2개의 유지면에 의해서 상기 피처리키판을 유지 한 것을 특징으로 하는 기판유지치구
- 제46항에 있어서, 상기 2개의 유지변은, L자형상 또는 V자형상으로 구성되어 있는 것을 특징으로 기판유지치구.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62193362A JP2601831B2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | ウェット処理装置 |
JP62-193362 | 1987-07-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890002986A true KR890002986A (ko) | 1989-04-12 |
Family
ID=16306649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019880009339A KR890002986A (ko) | 1987-07-31 | 1988-07-25 | 웨트 처리장치 및 그것에 사용하는 기판유지치구 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0301710A1 (ko) |
JP (1) | JP2601831B2 (ko) |
KR (1) | KR890002986A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100775201B1 (ko) * | 2001-06-01 | 2007-11-12 | 에스.이.에스 카부시키가이샤 | 기판세정시스템 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0430233B1 (en) * | 1989-11-30 | 1998-04-22 | Toyo Boseki Kabushiki Kaisha | Process and apparatus for developing photopolymer plates |
DE69621357T2 (de) * | 1995-10-09 | 2002-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optisches Wiedergabegerät zur Wiedergabe verschlüsselter Informationen |
JP2009229771A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Fujifilm Corp | 平版印刷版用自動現像方法 |
JP6050038B2 (ja) * | 2012-06-29 | 2016-12-21 | Hoya株式会社 | ガラス基板ホルダ、及び電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法 |
JP6239417B2 (ja) | 2014-03-24 | 2017-11-29 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3727533A (en) * | 1971-07-20 | 1973-04-17 | T Perl | Lightproofed dental radiographic film developer |
US3889696A (en) * | 1974-04-29 | 1975-06-17 | Allied Chem | Etching machine |
GB2094671B (en) * | 1981-03-17 | 1984-06-13 | Base Electronics Ltd | Fluid treatment apparatus |
DE3147002A1 (de) * | 1981-11-27 | 1983-06-01 | Hoechst Ag, 6230 Frankfurt | Verarbeitungsgeraet fuer bildmaessig belichtete fotoempfindliche materialien |
JPS6085529A (ja) * | 1983-10-17 | 1985-05-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウエ−ハ薬液処理装置 |
DE3631668A1 (de) * | 1986-09-18 | 1988-03-24 | Hoechst Ag | Vorrichtung zum verarbeiten von fotoempfindlichen materialien |
-
1987
- 1987-07-31 JP JP62193362A patent/JP2601831B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-07-01 EP EP88306024A patent/EP0301710A1/en not_active Withdrawn
- 1988-07-25 KR KR1019880009339A patent/KR890002986A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100775201B1 (ko) * | 2001-06-01 | 2007-11-12 | 에스.이.에스 카부시키가이샤 | 기판세정시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2601831B2 (ja) | 1997-04-16 |
EP0301710A1 (en) | 1989-02-01 |
JPS6437016A (en) | 1989-02-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970007496A (ko) | 레지스트 처리 장치 및 레지스트 처리 방법 | |
KR890002986A (ko) | 웨트 처리장치 및 그것에 사용하는 기판유지치구 | |
KR960030309A (ko) | 레지스트처리장치 및 레지스트처리방법 | |
KR100789683B1 (ko) | 기판을 처리하는 장치 및 방법 | |
JP4398262B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR970019785A (ko) | 기판수납 카세트, 인터페이스 기구, 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
KR940007584A (ko) | 배향처리방법 | |
ATE119127T1 (de) | Vorrichtung zum wenden von kleingut, insbesondere paketen auf einem transportband. | |
DE69403577D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung um sehr flache Wafer zu ätzen. | |
ATE209849T1 (de) | Vorrichtung zum beschichten von plattenförmigen substraten, insbesondere von leiterplatten | |
EP0320868A3 (en) | Thin-film releasing apparatus | |
DE50209606D1 (de) | Vorrichtung zum transport von flexiblem flachmaterial, insbesondere leiterplatten | |
JP2002009041A (ja) | ウェット処理装置 | |
KR930024132A (ko) | 판상(板狀)부재의 운반장치 | |
KR980005333A (ko) | 기판처리장치 및 기판처리시스템 | |
KR102297312B1 (ko) | 기판 부상 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 | |
JPS6341092Y2 (ko) | ||
KR102205921B1 (ko) | 기판 처리 장치, 기판 처리 방법, 포토마스크 세정 방법 및 포토마스크 제조 방법 | |
KR102429858B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
KR100984360B1 (ko) | 노광 시스템 | |
ATE87790T1 (de) | Vorrichtung zur behandlung von elektrischen leiterplatten. | |
JPH04313543A (ja) | 基板搬送装置 | |
JPH06302577A (ja) | 半導体基板の処理装置 | |
DE3785355D1 (de) | Vorrichtung und verfahren fuer hochintegrierte verbindungssubstrate unter verwendung von gestapelten moduln. | |
JPH0653200A (ja) | 洗浄装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |