KR870001227B1

KR870001227B1 - 핵자기 공명의 영상화방법

Info

Publication number: KR870001227B1
Application number: KR1019840002174A
Authority: KR
Inventors: 디. 홀 로렌스; 수쿠마르 수브라마니암
Original assignee: 더 유니버시티 어브 브리티쉬 콜롬비아; 데이비드 지. 에이. 매크린
Priority date: 1983-04-25
Filing date: 1984-04-24
Publication date: 1987-06-22
Also published as: GB2139765B; SE8402213D0; GB8410588D0; KR850000680A; CA1205134A; IL71626A0; FR2544863A1; DE3415349A1; SE8402213L; JPS6046448A; US4520316A; GB2139765A; IT8448090A0; IT1213278B

Abstract

내용 없음.

Description

핵자기 공명의 영상화방법

제1도는 벤젠을 담고 있는 3개 튜브의 일련의 핵자기 공명투영을 나타낸다.

제2도는 X―Y 평면에서 7개의 모세관 안에 각각 다른 화합물이 들어 있는 시험표본슬라이스의 배치상태를 나타낸다.

제3도는 제5도에 도시한 표본슬라이스에 따른 선스펙트럼의 예를 나타낸다.

제4도의 하부에는 종래의 수단에 따라서 제2도에 도시한 표본슬라이스의 고분석 핵자기 공명 스펙트럼을 나타내고, 상부의 1에서 7번 및1a,3a,6a의 도표는 본 발명의 방법에 의해 구해진 점 스펙트럼을 나타낸다.

제5도의 하부에는 종래의 수단에 따라서 제4도와 제1도에 도시한 시험표본의 고분석 핵자기 공명스펙트럼을 나타내고, 상부의 a에서 d까지의 도표는 제3도에 도시한 바와 같은 y축에 대한 선스펙트럼을 나타낸다.

본 발명은 표본 슬라이스 가운데 최소구역의 핵자기 공명스펙트럼을 얻는 방법과 이를 수행하기 위한 장치에 관한 것이다.

일반적으로 투사형 정형 촬영기술을 이용한 핵자기 공명 단층촬영법이 잘 알려져 있다. 이러한 기술에서 일련의 자유유도감쇠는 자계그라디언트가 영상평면내에서 다수의 각도로 회전되는 동안 적절한 rf 펄스퀀스와 주어진 자유유도감쇠에 일치하는 각 위치로 구해진다. 자유유도감쇠의 결과치 영상을 정형하는데 사용되는 일련의 투영들을 산출하기 위하여 푸리에 변환된다.

전술한 방법에서의 난점은 장 경사도(field gradient)가 표본 슬라이스 영상내에서 특정한 화학적 이동을 필연적으로 넓게 하므로써 특히 인간의 신체와 같은 생물학적 표본이 있는 표본 슬라이스의 표준영상내에서 공명들간의 분리가 각각의 투영내의 그리디언트에 의해 발생된 확장보다 적기 때문에 여러 가지 화학적 이동이 분석되지 못함에 있다. 이러한 방법들이 Bandel 등에 의해서 J. Magn. Reson., 38,343(1980)에 그리고 Lauterbur 등에 의해서 J. Amer. Chem. Soc., 97,6866 (1975)에 발표되어 있으나 상기 방법은 복잡한 시스템에 응용할 수 없고, 표본에 의해 제시된 스펙트럼 형태의 전례를 필요로 하는 선택 여기(勵起) 또는 신호감산기술이 수반된다. 또한 각 점의 분광을 얻는 ˝감광포인트˝방법도 잘 알려져 있으나 이는 많은 수의 점에서 따로따로 구하는 데이터를 수반하게 되므로 비교적 시간이 소모되는 방법이다. 다른 방법은 T2(스핀―스핀완화)차와 T1(스핀격자 완화)차를 강하게 나타낸 ˝핵자기공명의 영상화˝에 나타나 있다. 그런데 이러한 방법들은 표본 슬라이스의 영상내에서 임의의 주어진 점 또는 영역의 실스펙트럼을 발생시키지 못한다.

본 발명은 실제의 핵자기공명 단층촬영주사장치에 비교적 쉽게 적용되고, 표본 슬라이스 영상내의 어떤 주어진 점의 스펙트럼과 표본 슬라이스의 영상의 영역 안에서 선택된 공명의 강도분포 및 주어진 영역의 완전한 핵자기공명을 발생시킬 수 있는 방법을 제공한다. 본 발명에 따른 방법은 사용자가 표본 슬라이스의 최소구역의 핵자기공명 스펙트럼을 얻을 수 있는 허용범위를 넓게 한다. 상기 방법은 관용된 방법으로 n이 1보다 큰 표본 슬라이스의 n개의 투영을 얻는 것이 포함된다. 각각의 투영들은 그때 점에 대해 Δf(그 점과 참화학적 이동으로부터 발생하는 주파수 오프셋)만큼 이동된다.

본 발명의 일실시예에서 n는 1보다 매우 크고 이동된 투영들은 간단하게 가산된다. 본 발명의 다른 실시예에서 이동된 투영들의 첫번째 집합을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치들의 강도가 비교되고, 그 점에서의 차가 선택된 임계치안에 있을 때 강도들이 평균된다. 그 점에서의 차가 임계치보다 클 때 강도의 낮은 부분이 선택된다. 그것에 의해 합성점의 스펙트럼이 그 점에 대해서 산출된다.

대개 상기 첫번째 집합에서 이동된 투영들의 총수는 n보다 작게 하는 것이 좋다. 또한 그러한 경우의 방법은 합성점의 스펙트럼을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치들의 강도와 첫번째 집합을 넘는 투영들을 비교하는 것과의 차가 선택된 임계치내에 있을 때 일치하는 점들의 강도를 평균하는 것이 부가적으로 포함된다. 차가 임계치보다 클 때 강도의 낮은 부분이 선택된다. 이러한 방법에서 첫번째 반복된 점의 스펙트럼이 그 점에 대해 산출될 수 있다.

본 발명의 또 다른 일실시예에서는 n이 3보다 크고, 이동된 투영들들 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치들의 강도가 이동된 투영들의 복수개의 선택된 집합들의 범위내에서 비교되는데 그 비교는 그 점에 대한 복수개의 합성점의 스펙트럼을 산출하기 위하여 전술한 방법내에서 실행된다.

또한 그들 중 적어도 2개의 첫번째 집합의 합성스팩트럼을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치들의 강도가 전술한 바와 같은 방법으로 비교되어서 그 점에 대한 첫번째 반복된 점의 스펙트럼을 산출한다.

상기한 실시예를 보다 구체화한 실시예에 있어서, n이 7보다 큰 경우가 있다. 이러한 실시예에서는 i번 반복된 스펙트럼을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치들의 강도와 전에 비교되지 않았던 합성점의 스펙트럼을 반복적으로 비교하는데 그 비교는 i+1번 반복된 점 스펙트럼을 산출하기 위하여 전술한 바와 같은 방법으로 실행된다. 그때 선행단계가 i번 반복된 스펙트럼과 같이 먼저 반복된 것으로부터 반복된 스펙트럼이 각각의 경우에서 복수번 반복된다. 이와 같이 예를 들어 두번 반복된 스펙트럼이 그 점에 대해서 세번 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 전술한 방법으로 비교된다. 세번째 반복된 스펙트럼은 네번 반복된 점 스펙트럼을 산출하기 위하여 또 비교되는 등 계속 같은 것이 실행될 수 있다.

유용하게도 첫번째 집합 안에서 역방향으로

만큼 이동된 인접투영과는 별도로 그들 가운데 각각의 이동된 투영인 이동된 투영의 총수는 K1이다. 보다 일반적으로, 각 집합에서 이동된 투영의 총수는 Ki인데 이동된 인접투영과는 별도로 그들 가운데 각각의 이동된 투영은 360/Ki만큼 간격을 갖는다. 여기서 Ki=4가 좋다.

적어도 다소간의 반복된 스펙트럼은 일례로 CRT 표시장치나 플로터상에 편리하게 표시된다.

본 발명의 또 다른 실시예에 대해 계속 언급하면, 상기한 각각의 단계는 어떤 영역에서 복수개의 각각의 점에 대해 반복되어서 그 영역에 대한 반복된 점 스펙트럼을 산출한다. 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포는 컴퓨터에서 계산된 다음 표시장치로 표시된다. 다시 말해서 상기 방법의 또 다른 실시예에서, 각각의 단계는 어떤 영역내에서 복수개의 각각의 점에 대해 되풀이 되어 그 영역에 대한 반복된 점 스펙트럼을 산출할 수 있다. 그때 표시되는 상기 영역의 스펙트럼을 산출하기 위하여 그 영역에 대해 점 스펙트럼을 가산함으로써 속행될 수 있다.

본 발명에는 적어도 영상 슬라이스 구역의 핵자기공명 스펙트럼을 구하기 위한 장치가 마련된다. 그 장치에는 기본적으로 필요자계코일, rf 송신기와 수신코일 및 하드웨어가 결합된 형태의 핵자기공명 단층촬영 주사장치로 구비되어 있고, 표시장치도 구비하고 있으며, 또한 주사장치와 표시장치 사이에 연결된 프로그램된 디지털계산장치를 구비하고 있는데 상기한 스펙트럼을 구하는 장치는 주사장치를 동작시켜서 전술한 바와 같은 방법을 실행한다.

본 발명은 선형장경사도 Gw,y(θ)에서의 주파수 오프셋(Δf)에 좌우되는데 영상평면(관용의 수단으로 이미 설정된 것으로 가정됨)안에 있는 임의의 점 Px,y에서 실제의 화학적 이동으로부터 발생된 신호의 주파수 오프셋(Δf)은 다음과 같이 주어진다.

여기서 적용된 Υ는 자기회전비율, Gw,y(θ)는 x축과 y축에 적용된 2개의 선형장경사도의 합성치θ는 x축에 비례하는 경사도 방향이다.

이와 같이 주어진 점에 대한 복수개의 투영이 표본이 영상평면 위에서 구해지고, 그 점의 모든 물질에 대한 신호는 Δf만큼 각각의 투영들이 이동점에 따른 그점들 각각의 화학적 단일이동주파수에 따라 정돈된다.

간단한 경우에서, 충분히 큰 번호의 이동된 투영이 그 점에 이용될 수 있다면 그 이동된 투영은 그 점(또는 점 스펙트럼)에 대해 일치하는 핵자기공명 스펙트럼을 산출하기 위하여 간단하게 합산될 수 있다. 그 점 외부로부터의 공명은 기저선을 따라 펼쳐진다.

제1도에 있어서, 어떤 점에서 주어진 물질에 대한 화학적 이동이 여러 투영내에서 어떻게 Δf만큼 이동되는가가 벤젠을 담고 있는 3개의 튜브의 투영에 대해 도시되어 있다. 본 발명의 방법은 특정한 튜브 또는 점에 대해서 투영들이 언제 Δf만큼 이동되는가 또한 그 튜브로부터의 신호는 나머지가 불규칙하게 변화할 동안 언제 정돈될 것이라는 사실을 기본적으로 이용한다. 그런데 필요한 점들 외곽의 신호는 그러한 신호들이 특히 강하고 투영들이 간단하게 합쳐지는 곳에서 가공품을 아래에 언급한 방법으로 그 투영들을 비교함에 의해 또한 다음과 같은 반복적인 방법을 사용함에 의해 최소화될 수 있다.

그들 가운데 첫번째 집합의 다른 투영들을 비교하면, 첫번째 집합의 투영들 위에서 정돈된 위치(즉 화학적 이동)들의 강도는 그 투영들을 따라 복수개의 위치에서 비교된다.

대응 위치에 대한 강도의 평균은 강도들간의 비교된 차이가 선정된 임계치(제로를 포함하여 임의의 특정한 적용에 대하여 사용자가 한정할 수 있음) 안에 있을때 구해진다. 이러한 방법에서, 반복된 합성 점 스펙트럼이 그 점에 대해 산출될 수 있다.

그런데 상기 합성점 스펙트럼은 가공품을 최소화하는 또 다른 반복을 실행하기 위하여 항상 필요하다. 이것은 전술한 바와 같이 4개의 이동된 투영들 각각의 선택된 집합의 범위내에서 90°만큼 간격을 갖는 이동된 투영들을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치의 강도를 비교하므로써 그 점(Pm으로 인용되는 어떤 특정한 점 스펙트럼)에 대해 복수개의 합성 스펙트럼을 첫번째에 의해 구하여 완성시키는 것이 좋다. 그 점에 대한 적어도 2개의 합성 점 스펙트럼의 첫번째 집합에 정돈된 위치는 그 점에 대한 두번 반복된 점 스펙트럼을 산출하기 위하여 투영들에 관하여 아날로그적인 방법으로 비교된다. 그 점에 대해 두번째 또는 그 이상 반복된 점 스펙트럼이 첫번째 또는 보다 일반적으로 i번 반복된 스펙트럼 위에서 정돈된 위치가 전에 비교되지 않았던 합성 스펙트럼과 전술한 방법으로 비교되어서 그 점에 대한 두번째 반복된 점 스펙트럼 또는 일반적으로 i+1번 반복된 스펙트럼을 산출할 수 있다. 초기에 이용하는 똑같이 90°간격을 갖는 4개의 투영은 그 신호를 가공품으로부터 구별하는 것을 돕는다.

여러 가중된 평균은 실험적 오차의 관점에서 최종결과 위에 적은 효과를 갖는 것이 사용될 수 있다는 것을 명심해야 한다. 이와 같이 i번 반복된 점 스펙트럼에 일치하는 위치가 전에 비교되지 않았던 첫번째 반복된 점 스펙트럼과 비교될 때 그 차가 임계치의 범위내에 있으면 i번 반복된 스펙트럼에다 강도의 평균치를 더하는 것이 쉽게 가능하다. 그러한 진행과정내에서 어떤 비율을 유지하기 위하여 그 차가 임계치보다 클 때 일치하는 위치로부터 결과로 발생된 강도는 2로 나누어져서 강도의 저부를 구할 수 있다.

다음에 예로 든 방법에 대하여 제2도에서 제5도까지 연결해서 설명하는데 이 방법은 프로그램된 디지털컴퓨터에서 실행된다. 브라켈은 스펙트럼의 강도를 나타내기 위해 사용된다.

Ⅰ 첫번째 반복단계

(i) 총영역 또는 영상크기를 설정한다.

(ⅱ) x와 y그리고 길이와 폭에서 필요한 영역을 설정한다.

(ⅲ) 그 점에 대하여 주파수 오프셋 Δf를 계산한다.

(ⅳ) 각각의 투영을 Δf만큼 이동시켜서 코어메모리에 저장시킨다.

(ⅴ) 4개값의 최저치를 계산하므로써 각각의 투영은 인접한 투영과는 별도로 90°만큼 간격을 갖는 4개의 이동된 투영들의 집합에 대한 구역에서 정돈된 위치들의 강도를 비교한다.

(ⅵ) (a) (v)의 결과치를 그 점에 대해 첫번 반복된 합성 점 스펙트럼에 가산한다.

(b) 최저값이 기저선임계치 범위밖에 있으면 0으로 셋트한다.

(ⅶ) 투영들을 따라서 모든 목표구역이 반복될 때까지 (v)에서 (ⅵ)을 되풀이한다. 모든 목표구역에 대한 (v)의 결과를 합성 스펙트럼 Pm으로써 저장한다.

(ⅷ) 모든 투영들이 반복될 때까지 (ⅲ)에서 (ⅶ)까지 되풀이한다.

(ⅸ) 필요한 영역에 있는 모든 점들이 반복될 때까지 (ⅲ)에서 (ⅷ)까지 되풀이한다.

Ⅱ 추가반복

(i) 점(si)에 대해 i번 반복된 스펙트럼을 따라 구역에서 정돈된 위치의 강도와 전에 비교되지 않았던 Pm이 비교되어서 계산된 강도차, 즉 그 점에서의 강도차 ｜(Si)-(Pm)｜=δ; 점 Si 또는 Pm에서의 최저 강도가 기저선임계치보다 적다면 0으로 놓는다.

(ⅱ) 만일 (i)에서 δ가 임계치보다 크다면, 그 위치에 있는 (Si)와 (Pm)의 저부에 그 점에 대해 i+1번 반복된 스펙트럼을 더하고, 올바른 축척을 위해 2로 나눈다.

(ⅲ) 만일 δ가 임계치내에 있다면 (Si)와 (Pm)의 평균을 그 점에 대해 i+1번 반복된 스펙트럼에 더하고 올바른 축적을 위해 2로 나눈다.

(ⅳ) 그에 따라 모든 목표구역이 반복될 때까지 Si에 따른 다음 구역에 대하여 (ⅰ)에서 (ⅲ)번까지 되풀이한다.

(ⅴ) 모든 Pm이 반복될 때까지 (i)에서 (ⅳ)를 되풀이한다.

(ⅵ) 필요한 영역에 있는 모든 점들이 반복될 때까지 (i)에서 (v)까지 되풀이한다.

(ⅶ) 모든 반복이 완료될 때까지 (i)에서 (ⅶ)까지 되풀이한다.

상기한 방법으로 실행완료된 반복의 총수는 프로그램에 의해 자동적으로 한정될 수 있거나 사용자가 반복의 각 단계에서 결과로 발생되는 점 스펙트럼을 관측해서 결과로 발생되는 스펙트럼에서 실제적인 어떤 변화도 없을 때 멈춰도 된다. 다시말해서 프로그램은 결과로 발생하는 점 스펙트럼에서 본질적으로 어떤 변화가 없을 때 반복되는 것을 자동적으로 멈추는 것이 가능하다. 비록 첫번 반복의 단계(v)에서 최저값이 취해진다면 이러한 단계는 임계치가 0으로 설정되어 있던 추가반복의 단계(i)와 유사한 과정임에 특히 유의해야 한다.

제2도에 대해 설명하면, 시험표본이 다음과 같은 내용물은 포함하고 있는 7개의 모세관(내경 0.8mm, 외경 1.1mm)으로 조립되어 있다.

72개의 다른 투영에 대한 자유유도감쇠 신호는 총 73분 동안 표본 슬라이스에서 얻어진다. 이와 같은 실험은 옥스포드 기구인 좁은 내경을 갖는 솔레노이드 (6.2T)와 니콜렛 1180/29313 펄스 프로그래머에 입각하여 270MHZ의 분광계가 설치된 장소에서 실행되었다. 또 다른 실험파라메터는 다음과 같다.

분광폭=±500HZ, 블록사이즈(즉 정돈된 투영이나 스펙트럼을 따라 반복된 구역번호)=512구역, 포착수=4, 펄스폭=4㎲, 포착시간=257ms, 펄스들간의 완화지연시간=15sec, 장경사도=0.1G/cm, 경사도의 제어와 데이터 처리는 어셈블리어로 쓰여진 소프트웨어가 효과가 있었다. 추가반복(Ⅱ)의 (i)에 대한 임계치가 반복된 스펙트럼의 6.25%에 조정되어 있는 동안 기준선임계치는 0으로 조정된다.

72개에 대한 투영각의 푸리에 변환은 2분이 소요된다. 각 튜브의 중심에 위치되어 있는 0.2mm×0.2mm점에 입각한 첫번 반복된 점 스펙트럼인 제4도에 도시한 흔적 1에서 7까지의 계산은 약 7초 걸린다.

제4도에 나타난 바와 같이 비록 흔적 2,4,5와 7이 합격될 수 있다면, 그들 중 튜브 1,3과 6은 사실상 가공품임을 나타낸다. 오른쪽의 흔적에서 나타난 바와 같이 이러한 가공품들은 전술한 방법을 사용하는 두번 반복단계에 의하여 완전히 제거된다. 제4도에 보여진 바와 같이 양호한 화학적 이동과 공간분석이 상기한 방법에 의하여 성취된다. 예를 들어 제4도에서 물로부터 메틸 아세테이트에 있는 메틸렌 양성자의 분석을 고찰한다.

어떤 영역에서 복수개의 각각의 점들에 대한 원래의 점 스펙트럼을 구하는 것을 위와 같은 방법으로 이루어지고, 그 영역 안에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것은 컴퓨터를 사용하면 간단한 일이다.

제3도와 제5도에 대해 설명하면 제5도는 특히 상기한 실험에서 구한 데이터로부터 계산되어서 y축에는 선스펙트럼을 나타내고 x축에는 약 0.4mm의 두께를 나타내는 a에서 d까지의 윤곽 구성도를 나타낸다.

각 스펙트럼은 제3도에 도시된 간격에서 구해진다. 그때 a에서 d까지의 윤곽 구성도는 4개의 차원, 즉 x와 y의 공간좌표, 화학적 이동 및 강도를 나타내는 핵자기공명 스펙트럼과 일치한다.

상기한 바와 같이 본 발명은 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대해 핵자기공명 스펙트럼을 구하기 위한 방법을 제공한다. 이러한 방법은 표본 슬라이스의 투영수를 구하는 것과 필요한 어느 점에 대해서 투영들을 Δf만큼 이동시키는 것을 포함한다. 그리고 상기 이동된 투영들은 합성 점 스펙트럼을 산출하기 위하여 합산되거나 비교된다. 각기 복수개의 선택된 집합들 중의 이동된 투영들은 첫번째 반복된 점 스펙트럼을 산출하기 위해 이용되는 점에 대한 복수개의 합성 스펙트럼들을 산출하기 위하여 비교된다. 상기한 점에 대해서 i+1번 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 i번 반복된 스펙트럼 위에 정돈되어 일치한 위치들이 전에 비교되지 않았던 합성 점 스펙트럼과 비교되는 것과 선행단계를 여러번 되풀이하는 것을 포함하되 각각의 경우에 i번 반복된 스펙트럼과 같이 반복으로부터 반복된 스펙트럼을 사용하는 가공품의 효율을 최소화하기 위하여 반복의 부가적인 단계가 마련된다.

Claims

표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법에 있어서, n이 1보다 매우 큰 표본 슬라이스의 n개 투영을 구하고, 표본 슬라이스의 한점에 대한 투영의 Δf를 이동시키며, 그 점에 대한 점 스펙트럼을 산출하기 위하여 이동된 투영을 합산하여서 됨을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법에 있어서 n이 1보다 큰 표본 슬라이스의 n개 투영을 구하고, 표본 슬라이스의 한점에 대한 투영의 Δf를 이동시키며, 이동된 투영의 첫번재 집합에 대한 복수개의 구역에서 정동된 위치의 강도를 비교하여 그 차가 선택된 임계치의 범위내의 있을 때에 강도의 평균을 구하고 그 차가 임계치보다 클 때에 강도의 저부를 택해서 그 점에 대한 합성점 스펙트럼을 산출하여서 됨을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제2항에 있어서, 첫번째 집합에서 이동된 투영의 총수가 n보다 적을 때에는 합성 점 스펙트럼에 따라 복수개의 위치에서 정돈된 위치의 강도를 첫번째 집합의 범위밖에 있는 투영과 비교하고, 그 안에 있는 차가 선택된 임계치의 범위내에 있을 때에 그들 강도의 평균을 구하며, 그 안에 있는 차가 임계치보다 클 때에 강도의 낮은 부분을 택해서 그 점에 대한 첫번째 반복된 점 스펙트럼을 산출하여서 됨을 특징으로 하는 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법에 있어서, n이 3보다 큰 표본 슬라이스의 n개 투영을 구하고 ; 표본 슬라이스의 한점에 대한 투영의 Δf를 이동시켜서 이동된 투영의 복수개의 선택된 각각의 집합내에서 이동된 투영을 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치의 강도를 비교하고, 강도가 일치하는 위치에서의 차가 선택된 임계치의 범위내에 있을 때는 강도들의 평균치를 구하며, 그 안에서의 차가 임계치보다 클 때는 강도의 낮은 부분을 택해서 그 점에 대한 복수개의 합성 스펙트럼을 산출하고 ; 그둘 중 적어도 2개의 첫번재 집합의 합성 스펙트럼에 따라 복수개의 위치에서 정돈된 위치의 강도를 비교하고, 위치가 일치하는 강도의 차가 선택된 임계치내에 있을 때에 강도의 평균을 구하며, 그 차가 임계치보다 클 때에 강도의 낮은 부분을 택해서 그 점에 대한 첫번째 반복된 스펙트럼을 산출하여서 됨을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제4항에 있어서, n이 7보다 큰 경우에 i번 반복된 스펙트럼과 전에 비교되지 않았던 합성 점 스펙트럼에 따라 복수개의 구역에서 정돈된 위치의 강도를 반복적으로 비교하고, 그 안에서의 차가 임계치보다 작을때에 위치에 일치하는 강도의 평균치를 구하며, 그 차가 임계치보다 클 때에 강도의 낮은 부분을 택해서 그 점에 대해 i+1번 반복된 스펙트럼을 산출하고 ; 각각의 경우에 반복된 스펙트럼과 같이 전의 반복으로부터 반복된 스펙트럼을 사용해서 선행단계를 여러번 되풀이함을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제2항에 있어서, 첫번째 집합의 이동된 투영의 총수를 K1으로 하되 각각의 이동된 투영이 인접한 이동된 투영으로부터 360°/Ki 간격을 갖도록 함을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제3항에 있어서, 첫번째 집합의 이동된 투영의 총수를 K1으로 하되 각각의 이동된 투영이 인접한 이동된 투영으로부터 360°/ Ki간격을 갖게 함을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제4항에 있어서, 각각의 집합에서 이동된 투영의 총수를 Ki로 하되 각각의 이동된 투영이 인접한 이동된 투영으로부터 360°/ Ki간격을 갖도록 함을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제5항에 있어서, 각각의 집합에서 이동된 투영의 총수를 Ki로 하되 각각의 이동된 투영은 인접한 이동된 투영으로부터 360°/Ki간격을 갖도록 함을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 책자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제9항에 있어서, Ki=4인 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제2항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제3항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제4항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제5항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제8항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제10항에 있어서, 적어도 반복된 스펙트럼의 일부가 표시되는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제2항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제3항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과, 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제4항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과, 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제5항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제8항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제10항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과, 상기 영역의 범위내에서 선택된 공명의 강도분포를 계산하는 것과, 상기 영역내에서 선택된 공명의 강도분포를 표시하는 것이 추가되어 구성된 것을 특징으로 하는 표본슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제8항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과, 상기 영역의 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에 대한 점 스펙트럼을 가산하는 것과, 상기 영역의 스펙트럼을 표시하는 것이 추가 포함된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
제10항에 있어서, 어떤 영역에 대한 반복된 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에서 복수개의 각기점에 대한 각각의 단계를 되풀이하는 것과, 상기 영역의 스펙트럼을 산출하기 위하여 상기 영역에 대한 점 스펙트럼을 가산하는 것과, 상기 영역의 스펙트럼을 표시하는 것이 추가 포함된 것을 특징으로 하는 표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명 스펙트럼을 구하는 방법.
표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기공명스펙트럼을 구하는 장치에 있어서, 핵자기공명 단층촬영 주사장치와 ; 표시장치와 ; 상기 주사장치를 동작시키고 제16항의 방법을 실행하기 위하여 상기 주사장치와 표시장치간에 연결된 적절하게 프로그램된 디지털컴퓨터로 구성됨을 특징으로 하는 적어도 영상슬라이스 일부분의 핵자기공명 스펙트럼을 구하기 위한 장치.
표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기 공명스펙트럼을 구하는 장치에 있어서, 핵자기공명 단층촬영 주사장치와 ; 표시장치와 ; 상기 주사장치를 동작시키고 제21항의 방법을 실행하기 위하여 상기 주사장치와 표시장치간에 연결된 적절하게 프로그램된 디지털컴퓨터로 구성됨을 특징으로 하는 적어도 영상슬라이스 일부분의 핵자기공명 스펙트럼을 구하기 위한 장치.
표본 슬라이스의 적어도 한 구역에 대한 핵자기 공명스펙트럼을 구하는 장치에 있어서, 핵자기공명 단층촬영 주사장치와 ; 표시장치와 ; 상기 주사장치를 동작시키고 제22항의 방법을 실행하기 위하여 상기 주사장치와 표시장치간에 연결된 적절하게 프로그램된 디지털컴퓨터로 구성됨을 특징으로 하는 적어도 영상슬라이스 일부분의 핵자기공명 스펙트럼을 구하기 위한 장치.