FR2544863A1 - Procede d'obtention d'images selon la technique de la resonance magnetique nucleaire - Google Patents

Abstract

L'INVENTION CONCERNE UN PROCEDE D'OBTENTION D'UN SPECTRE RMN D'AU MOINS UNE PARTIE D'UNE COUPE D'ECHANTILLON. LE PROCEDE COMPREND L'ACQUISITION D'UN CERTAIN NOMBRE DE PROJECTIONS DE LA COUPE D'ECHANTILLON, ET LE DECALAGE DES PROJECTIONS D'UNE VALEUR DF POUR CHACUN DES POINTS INTERESSANTS. LES PROJECTIONS DECALEES SONT ALORS ADDITIONNEES OU COMPAREES AFIN D'OBTENIR UN SPECTRE PONCTUEL RESULTANT. DE PREFERENCE, LES PROJECTIONS DECALEES DE CHACUNE DE PLUSIEURS SERIES PREDETERMINEES DE PROJECTIONS SONT COMPAREES DE MANIERE A OBTENIR PLUSIEURS SPECTRES RESULTANTS POUR LE POINT, CES DERNIERS SERVANT A OBTENIR UN PREMIER SPECTRE PONCTUEL D'ITERATION. DES ETAPES ADDITIONNELLES D'ITERATION SONT PROPOSEES POUR MINIMISER LES EFFETS DES SIGNAUX FANTOMES, CES ETAPES CONSISTANT A COMPARER LES POSITIONS CORRESPONDANTES ALIGNEES D'UN SPECTRE D'ITERATION I AVEC UN SPECTRE PONCTUEL RESULTANT NON COMPARE AUPARAVANT, DE MANIERE A OBTENIR UN SPECTRE D'ITERATION I 1 POUR CE POINT, ET A REPETER CE QUI PRECEDE PLUSIEURS FOIS, EN UTILISANT A CHAQUE FOIS LE SPECTRE D'ITERATION DE L'ETAPE PRECEDENTE COMME SPECTRE D'ITERATION I.

Description

La présente invention concerne un procédé

d'obtention d'un spectre d'au moins une partie d'une coupe d'é-

chantillon selon la technique de la résonance magnétique nucléai-

re, et a en outre trait à un dispositif permettant la mise en oeu-

vre de ce procédé. La tomographie par RMN (résonance magnétique nucléaire) , qui utilise en particulier un procédé d'obtention d'images par

projection-reconstitution, est bien connue Dans une telle techni-

que, une suite de signaux de précession libre (FID) est obtenue

usuellement à l'aide d'une séquence convenable d'impulsions de ra-

diofréquence, tandis qu'un gradient de champ magnétique pivote se-

lon un certain nombre d'angles dans le plan de l'image (qui est

supposé être établi par des moyens connus), chaque posi-

tion angulaire correspondant à un FID donné On soumet ensuite les FID obtenus à une transformation de Fourier, pour engendrer une série de projections, qui sont utilisées pour reconstituer l'image Une des difficultés liées à ce procédé réside dans le

fait que le gradient magnétique provoque nécessairement un élar-

gissement de déplacements chimiques particuliers dans l'image de la coupe d'échantillon, de sorte que dans une image typique d'une coupe

d'échantillon, et en particulier dans le cas d'échantillons bio-

logiques tels que ceux prélevés sur un corps humain, les divers déplacements chimiques ne sont plus différenciés, les séparations

entre les résonances étant alors inférieures à l'effet d'élargis-

sement engendré par le gradient à chaque projection BENDEL et al dans le J Magn Reson, 38, 343 ( 1980), ainsi que LAUTERBUR et al

dans le J Amer Chem Soc, 97, 6866 ( 1975) ont proposé des pro-

cédés qui comprennent des procédés d'excitation sélective ou de

soustraction de signaux, qui ne sont pas particulièrement appli-

cables à des systèmes complexes, et qui nécessitent une connais-

sance préalable du type de spectre que peut donner l'échantillon.

De plus, on connatt unc méthode dite du 'point sensible' permet-

tant d'obtenir des spectres de points isolés, mais cette méthode implique d'acquérir séparément des données à partir d'un grand

nombre de points, et elle est donc relativement exigente en temps.

D'autres procédés d'obtention d'images par la technique de la RMN sont connus, et impliquent l'exploitation des différences de temps

de relaxation spin-spin (T 2) et des différences de temps de rela-

xation spin-réseau (Tl) Ces procédés ne produisent toutefois pas

de spectres effectifs de points ou de surfaces quelconques de l'i-

mage de la coupe d'échantillon.

La présente invention propose un procédé qui est relati-

vement adapté aux scanners de tomographie EMN, et qui est capable de produire des spectres de points quelconques de l'image de la coupe d'échantillon, de visualiser la distribution des intensités d'une résonance choisie dans une zone quelconque de l'image de la coupe d'échantillon, ou de produire le spectre RMN entier d'une

surface donnée.

Le procédé de la présente invention permet à un utilisateur d'obtenir un spectre RMN d'au moins une partie

d'une coupe d'échantillon Le procédé comprend une étape d'acqui-

sition d'un nombre N de projections de la coupe d'échantillon, n

étant supérieur à 1, d'une manière bien connue Chacune des pro-

jections est alors décalée de 4 f (décalage de fréquence du signal provenant du point, par rapport au déplacement chimique réel) pour

le point étudié Selon l'un dès modes de réalisation de la pré-

sente invention, N est beaucoup plus grand que 1, et les projec-

tions décalées sont simplement additionnées Selon un autre mode

de réalisation de la présente invention, on compare alors les in-

tensités des positions alignées de plusieurs sites pour une pre-

mière série de projections décalées, et l'on détermine alors la

moyenne de leurs intensités lorsque les différences de ces inten-

sités sont inférieures à une valeur de seuil prédéterminée Lors-

que ces différences sont supérieures à la valeur de seuil, c'est la plus basse des intensités qui est retenue On établit ainsi

pour le point étudié un spectre ponctuel résultant.

Le nombre de projections décalées de la première série est de préférence inférieur à n De plus, le procédé comprend dans

ce cas une étape supplémentaire consistant à comparer les intensi-

tés des positions alignées de plusieurs sites sur un spectre ponc-

tuel résultant avec une projection non comprise dans la première

série, et à établir la moyenne des intensités des points corres-

pondants lorsque les différences de ces intensités sont inférieu-

res à une valeur-de seuil prédéterminée Lorsque ces différences sont supérieures à la valeur de seuil, c'est la plus basse de ces intensités qui est retenue De cette manière, un premier spectre

ponctuel d'itération peut être obtenu pour le point étudié.

Selon un autre mode de réalisation du procédé de l'inven-

tion, N est supérieur à 3, et l'on compare, à l'intérieur de cha-

cune de plusieurs séries prédéterminées de projections décalées, les intensités des positions alignées de plusieurs sites pour des projections décalées, la 'comparaison' étant réalisée selon la procédure précédemment décrite, de manière à obtenir plusieurs spectres ponctuels résultants pour le point étudié On compare en outre les intensités de positions alignées de plusieurs sites sur

les spectres résultants d'une première série d'au moins deux spec-

tres, selon la procédure précédemment décrite, de manière à obte-

nir un premier spectre ponctuel d'itération pour ce point.

Selon un autre mode de réalisation du procédé de l'inven-

tion, N est supérieur à 7 Ce mode de réalisation comprend une étape supplémentaire consistant à comparer de façon répétée les

intensités des positions alignéesde plusieurs sites sur un spec-

tre d'itération i avec un spectre ponctuel résultant antérieure-

ment non comparé, cette 'comparaison' étant réalisée selon la pro-

cédure précédemment décrite, de manière à obtenir un spectre ponc-

tuel d'itération i+ 1 L'étape précédente est alors répétée plu-

sieurs fois, en se servant dans chaque cas du spectre d'itération provenant de l'itération immédiatement précédente comme spectre

d'itération i A titre d'exemple, un second spectre ponctuel d'i-

tération serait comparé selon la procédure précédemment décrite,

pour obtenir un troisième spectre d'itération pour le point étu-

dié Ce troisième spectre d'itération pourrait alors être à son

tour comparé pour obtenir un quatrième spectre ponctuel d'itéra-

tion, et ainsi de suite.

Le nombre de projections décalées dans la première série est, de façon pratique, kl, chacune de ces projections décalées

étant séparée de 360/kl par rapport à la projection décalée voi-

sine De façon plus générale, le nombre de projections décalées de

chaque série est ki, chacune de ces projections décalées étant sé-

parée de 3600/ki de la projection décalée voisine De préférence Ri = 4. Au moins quelques uns des spectres d'itération sont, de façon pratique, visualisés soit sur un écran de visualisation,

soit sur une table traçante.

Selon un autre mode de réalisation de l'invention, chacu-

ne de ces étapes est répétée pour chacun des points d'une zone donnée, de manière à obtenir des spectres ponctuels d'itération pour cette zone La distribution des intensités d'une résonance prédéterminée dans cette zone est alors calculée et visualisée En alternative, dans un autre mode de réalisation du procédé, chacune des étapes peut être répétée pour chacun des points d'une zone donnée, de manière à obtenir les spectres ponctuels d'itération de

cette zone, cette étape étant suivie d'une étape consistant à ad-

ditionner les spectres ponctuels de la zone considérée, de manière à obtenir un spectre correspondant à la zone entière, spectre qui

est alors visualisé.

La présente invention propose également un dispositif permettant d'obtenir un spectre RMN d'au moins une partie d'une

coupe d'échantillon Ce dispositif comprend un scanner tomogra-

phique RMN d'un type bien connu (comportant fondamentalement des

bobinages générateurs de champ magnétique nécessaires, des bobi-

nages radiofréquence émetteurs et récepteurs, et un matériel as-

socié) Le dispositif comprend également un ensemble de visuali-

sation et un moyen de calcul numérique convenablement programmé

disposé entre le scanner et l'ensemble de visualisation pour com-

mander le fonctionnement du scanner et mettre en oeuvre le procédé

tel qu'il est décrit.

Le procédé de l'invention va maintenant être décrit plus

en détail, à titre d'exemple non limitatif, en référence aux des-

sins annexés dans lesquels:

la figure 1 est une vue montrant une série de projec-

tions RMN de trois tubes contenant du benzène, l'image correspon-

dante étant représentée au-dessous de ces projections; la figure 2 est une vue montrant une coupe selon le plan x-y d'un échantillon d'essai comprenant 7 tubes capillaires, disposés selon l'arrangement représenté et contenant chacun un mélange différent; la figure 3 est une vue montrant, au bas de la figure,

un spectre RMN à hauterésolution de la coupe d'échantillon re-

présentée sur la figure 2, ce spectre étant obtenu par des moyens conventionnels, et, en haut de la figure, les enregistrements 1 à

7 et la, 3 a et 6 a correspondant aux spectres ponctuels obtenus se-

lon le procédé de la présente invention; la figure 4 est une vue montrant la distance séparant les spectres linéaires sur la coupe d'échantillon, tels que les représente la figure 5; et la figure 5 est une vue montrant, au bas de la figure,

un spectre RMNàhaute résolution de l'échantillon d'essai des figu-

res 1 et 4, ce spectre étant obtenu par des moyens conventionnels, et, en haut de la figure, les enregistrements a à d correspondant aux spectres linéaires selon l'axe y tels que les représente la

figure 4.

Le procédé de l'invention repose sur le fait qu'en pré-

sence d'un gradiant de champ magnétique linéaire Gx,y ( 6), l'écart en fréquence ( ef) d'un signal émis par un point quelconque Px,y du plan de l'image (en supposant ce plan de l'image déjà défini par des moyens connus) par rapport à son déplacement chimique réel, est donné par la formule: f = Gx,y (t) lx cos G + y sin 9 l dans laquelle Y est le rapport gyromagnétique, et Gx,y (O) est la

résultante degdeux gradients de champ linéaire appliqués respecti-

vement selon les axes x et y ( O étant l'orientation du gradient par rapport à l'axe x) Ainsi, lorsque plusieurs projections sont obtenues pour un point donné du plan de l'image de l'échantillon, les signaux émis par toutes les substances se trouvant en ce point sont alignés selon leurs fréquences respectives de déplacement chimique en décalant simplement chaque projection d'une valeur de Af Dans une situation simple, et à condition que l'on dispose d'un nombre suffisamment grand de projections décalées pour ce point, il est possible d'additionner simplement les projections décalées pour obtenir le spectre RMN correspondant pour ce point

(le spectre étant également appelé "spectre ponctuel"), les réso-

nances ayant leur origine en dehors de ce point étant en général

réparties sur la ligne de base.

En se référant à la figure 1, on voit que pour les pro-

jections des trois tubes contenant du benzène, un déplacement chi-

mique d'une substance donnée en un point est décalée de Af dans

les différentes projections Le procédé de l'invention tire fonda-

mentalement parti du fait que, lorsque les projections sont déca-

lées de Af pour un tube ou un point particulier, les signaux émis par ce tube ou ce point s'alignent, tandis que les autres varient de façon aléatoire Toutefois les signaux ayant leur origine en dehors de ce point peuvent engendrer des signaux fantômes lorsque les signaux sont particulièrement intenses et si l'on additionne

simplement les projections Ces signaux fant 8 mes peuvent être mi-

nimisés en "comparant" les projections selon une procédure décrite

ci-dessous, et en utilisant une méthode d'itération décrite ci-

dessous. Dans la "comparaison" de différentes projections d'une

première série de projections, les intensités des positions ali-

gnées (c'est-à-dire les déplacements chimiques) sur les projec-

tions de la série, sont comparées en plusieurs points des projec-

tions La moyenne des intensités des positions correspondantes est retenue lorsque les différences des intensités sont inférieures à

une valeur de seuil donnée (qui peut être définie par l'utilisa-

teur dans n'importe quelle application spécifique, et qui peut même être égale à zéro) Lorsque les différences sont supérieures à la valeur de seuil, c'est la plus basse des intensités' qui est

retenue De cette manière, on obtient un spectre ponctuel d'itéra-

tion correspondant à ce point Il est toutefois usuellement néces-

saire de réaliser une autre itération, afin de minimiser les si-

gnaux fantômes Ceci est réalisé de préférence en établissant d'a-

bord plusieurs spectres ponctuels résultants pour ce point (tout spectre ponctuel résultant particulier étant désigné par le symbo- le Pm), en comparant les intensités des positions alignées en plusieurs sites de quatre projections décalées espacées de 900 les

unes par rapport aux autres pour chacune de plusieurs séries choi-

sies de quatre projections décalées, selon la procédure décrite plus haut On compare alors, selon une procédure analogue à celle utilisée pour les projections, les positions alignées d'une série d'au moins deux spectres ponctuels résultants correspondant à ce point, pour obtenir un second spectre ponctuel d'itération pour ce point On peut également obtenir un second spectre ponctuel pour ce point, ou un spectre de rang supérieur, en comparant, selon la

procédure décrite, les positions alignées du premier ou, plus gé-

néralement, du i-ème spectre d'itération avec un spectre antérieu-

rement non comparé, de manière à obtenir un second, ou plus géné-

ralement un i+ 1-ème spectre d'itération pour ce point Le fait d'utiliser initialement quatre projections régulièrement espacées de 900 les unes par rapport aux autres, facilite la discrimination

des signaux par rapport aux signaux fantômes.

Il convient de se souvenir, dans la description du procé-

dé de comparaison décrit ci-dessus, que l'on peut utiliser diver-

ses moyennes pondérées, sans affecter considérablement le résultat final, compte-tenu -des erreurs d'expérimentation Ainsi, lorsque l'on compare des positions correspondantes d'un spectre ponctuel d'itération i avec un spectre ponctuel d'itération préalablement non comparé, il est possible d'additionner simplement le spectre d'itération i avec la-valeur moyenne des intensités lorsque la

différence est inférieure à une valeur de seuil donnée Pour con-

server la même échelle dan-s une telle procédure, les intensités résultantes doivent alors être divisées par deux, tout comme doit l'être la plus basse des intensités de positions correspondantes

lorsque leurs différences sont supérieures à la valeur de seuil.

Le procédé utilisé dans l'exemple décrit en référence aux figures 2 à 5, va maintenant être décrit Ce procédé a été mis en oeuvre sur un calculateur numérique programmé Les parenthèses sont utilisées pour indiquer qu'il s'agit de l'intensité des spectres.

1 Première étape d'itération.

(i) Définition de la zone totale ou de la taille de l'image; (ii) définition de la zone intéressante en termes de coordonnées x et y, longueur et largeur; (iii) calcul de 4 f pour un point; (iv) décalage de chaque projection d'une valeur 4 f et mise en mémoire dans la mémoire-à tores; (v) comparaison des intensités des positions alignées en un site situé le long d'une série de quatre projections décalées, chacune étant séparée de 900 par rapport aux projections voisines, par calcul de la plus basse des quatre valeurs; (vi) (a) addition du résultat de (v) avec un premier spectre ponctuel d'itération résultant pour ce point; (b) si la valeur la plus basse est en dehors d'une ligne de base, mise à O de la valeur de seuil; (vii) répétition de (v) à (vi) jusqu'à ce que tous les sites voulus des projections soient itérés, mise en mémoire des résultats de (v) pour tous les sites voulus sous forme d'un spectre résultant, Pm; (viii) répétition de (iii) à (vii) jusqu'à ce que toutes les projections soient itérées; et (ix) répétion de (iii) à (viii) jusqu'à ce que tous les

points de la zone intéressée soient itérés.

II Itérations additionnelles (i) comparaison des intensités de positions alignées en un site du spectre d'itération i pour le point Si avec un Pm non comparé auparavant, et calcul de la différence d'intensité, c'est-àdire la différence d'intensité au point |(Si) (Pm)j = S; si l'intensité la plus basse dans le Si ou le Pm de ce site est inférieure à la valeur de seuil, mise à zéro; (ii) si la valeur de r de (i) est supérieure à la valeur de seuil, addition de la valeur de (Si) ou de (Pm) en ce point à un spectre d'itération i+ 1 de ce point, et division de l'intensité par deux pour conserver l'échelle; (iii) si la valeur de S est inférieure à la valeur de seuil, addition de la moyenne de (Si) et (Pm) au spectre d'itération i+ 1 de ce point, et division par deux pour conserver l'échelle; (iv) répétition de (i) à (iii) pour le site suivant sur Si, jusqu'à ce que tous les sites voulus soient itérés; (v) répétition de (i) à (iv) jusqu'à ce que tous les Pm soient itérés; (vi) répétition de Ci) à (v) jusqu'à ce que tous les points de la zone intéressante soient itérés; et (vii) répétition de (i) à (vii) jusqu'à ce que toutes les itérations

soient réalisées.

Le nombre d'itérations réalisé dans ce procédé peut être automati-

quement limité par programme, ou l'utilisateur peut visualiser le spectre ponctuel résultant à chaque étape d'itération, et l'arrêter lorsqu'il n'y a pratiquement plus de changement dans le spectre résultant En alternative, il doit être possible que le programme arrête automatiquement l'itération chaque fois qu'il n'y a pratiquement plus de changement dans le spectre résultant Il convient ici de remarquer que, bien que ce soit la valeur la plus basse qui ait été retenue dans 1 ' étape (v) de la premiète itération, cette étape est analogue à l'étape (i) des itérations additionnelles, dans laquelle la valeur

de seuil est définie par 0.

Si l'on se reporte maintenant à la figure 2, l'échantillon d'essai est constitué de 7 tubes capillaires (diamètre intérieur 0,8 mm, diamètre extérieur 1,1 mm) contenant respectivement les substances suivantes: NO du tube contenu référence sur la figure 5 1 1,1,2-trichloroéthane 1,1 2 eau 2 3 acétate d'éthyle 3,3,3 4 acétone 4 acétone 5 diméthyl sulfoxyde 5 6 p-dioxane 6 6 impuretés 6,6 7 diméthyl sulfoxyde 7 Les signaux de précession libre de 72 projections différentes ont été acquis sur une coupe d'échantillon en 73 minutes au total L'expérimentation a été réalisée sur un spectromètre 270 M Hz construit par le laboratoire sur la base d'un solénoïde à noyau étroit ( 6 2 T) de marque OXFORD INSTRUMENTS, et d'un programmateur à impulsions 1180/293 B de marque NICOLET Les autres paramètres expérimentaux comprennent les données suivantes: largeur spectracle = + 500 Hz; taille du bloc (c'est-à-dire nombre de sites itérés sur les projections alignées ou les spectres) = 512 sites; nombre d'acquisitions = 4; largeur d'impulsion = 4 microsecondes; temps d'acquisition = 257 millisecondes; temps de relaxation entre impulsions = 15 secondes;

gradient magnétique = 0,1 G/cm.

La commande du gradient ainsi que le traitement des données ont été

réalisés l'un et l'autre à l'aide d'un logiciel écrit en langage d'assemblage.

La valeur de seuil de base était mise à zéro, tandis que le seuil pour l'étape II(i) était ajustée à 6,25 % du spectre d'itération La transformation de Fourier des 72 angles de projection a exigé 2 minutes de plus Le calcul des tracés 1 à 7 sur la figure 3, c'est-à-dire les premiers spectres ponctuels d'itération basés sur les points 0,2 mm x 0,2 mm situés au centre de chaque tube, a duré environ 7 secondes au total Comme le montre la figure 3, bien que les tracés 2, 4, 5 et 7 soient acceptables, ceux des tubes 1, 3 et 6 présentent de façon sensible des signaux fantômes Comme le montrent les il tracés de droite, ces signaux fantômes sont complètement éliminés par une seconde étape d'itération faisant appel au procédé décrit ci-dessus Ainsi que le montre également la figure 3, ce procédé permet d'obtenir un bon déplacement chimique et une bonne résolutation spatiale A titre d'exemple, on peut remarquer la résolution du proton méthylène dans l'acétate de méthyle par

rapport à l'eau (tracés 3 et 2 respectivement) sur la figure 3.

On comprendra bien entendu de ce qui précède que lorsque l'on a obtenu les spectres ponctuels de plusieurs points correspondants dans une zone, il va de soi que l'on utilise un calculateur pour déterminer la

répartition des intensités d'une résonance choisie dans cette zone.

Si l'on se réfère maintenant aux figures 4 et 5, la figure 5 montre en particulier les contours a à d calculés à partir des données obtenues dans l'expérimentation précédente, qui représentent les spectres linéaires selon l'axe y, chacun d'une épaisseur de 0,4 mm selon l'axe x Chacun de ces spectres a été relevé selon des intervalles montrés par la figure 4 Les tracés de contour a à d correspondent alors à un spectre RMN en quatre dimensions, à savoir les coordonnées spatiales x et y, les déplacements

chimiques et les intensités.

Bien qu'un mode de réalisation du procédé ait été décrit à titre d'exemple dans ce qui précède, de nombreuses modifications de détail peuvent être apportées à ce procédé sans pour autant sortir du cadre de la présente invention.

Claims (10)

REVENDICATIONS

1 Procédé d'obtention d'un spectre RMN pour au rnw'ns une partie d'une coupe d'échantillon, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: (a) acquisition de N projections de la coupe d'échantillon, avec n"; (b) décalage des projections d'une valeur À& f pour un point de la coupe d'échantillon; et (c) sommation des projections décalées de manière à obtenir un

spectre ponctuel pour ce point.

2 Procédé d'obtention d'un spectre RMN d'au moins une partie d'une coupe d'échantillon, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: (a) acquisition de N projections de la coupe d'échantillon, avec n > 1; (b) décalage des projections d'une valeur ^ f pour un point de la coupe d'échantillon; et (c) comparaison des intensités des positions alignées en plusieurs sites d'une première série de projections décalées, et calcul de la moyenne de

ces intensités lorsque les différences d'intensité sont inférieures à une va-

leur de seuil déterminée, en retenant la plus basse des valeurs d'intensité lorsque les différences sont supérieures à la valeur de seuil, de manière à

obtenir un spectre ponctuel résultant pour ce point.

3 Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que le nombre de projections décalées dans la première série est inférieur à n, le procédé comprenant en plus la comparaison des intensités de positions alignées en plusieurs sites d'un spectre ponctuel résultant avec une projection extérieure à la première série, et le calcul de la moyenne des intensités lorsque les différences sont inférieures à une valeur de seuil choisie, en retenant la plus basse des intensités lorsque les différences sont supérieures à la valeur de seuil, de manière à obtenir un premier spectre ponctuel d'itération pour ce

point.

4 Procédé d'obtention d'un spectre RMN d'au moins une partie d'une coupe d'échantillon, caractérisé 'en ce qu'il comprend les étapes suivantes: (a) acquisition de N projections de la coupe d'échantillon, avec n > 3; (b) décalage des projections d'une valeur A f pour un point de la coupe d'échantillon;

(c) comparaison des intensités de positions alignées en plusieurs si-

tes des projections décalées, à l'intérieur de chacune de plusieurs séries de

projections décalées, et calcul de la moyenne des intensités lorsque les dif-

férences d'intensité des positions correspondantes sont inférieures à une va-

leur de seuil prédéterminée, et en retenant la plus basse des intensités lors-

que les différences sont supérieures à la valeur de seuil, de manière à obte-

nir plusieurs spectres résultants pour ce point; et

(d) comparaison des intensités de positions alignées en plusieurs si-

tes des spectres résultants d'une première série d'au moins deux séries, et calcul de la moyenne des intensités lorsque les différences d'intensité des

positions correspondantes sont inférieures à une valeur de seuil prédétermi-

née, et en retenant la plus basse des intensités lorsque les différences sont supérieures à la valeur de seuil, de manière à obtenir un premier spectre

d'itération pour ce point.

Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que N > 7 et en ce qu'il comprend en outre les étapes suivantes:

(e) comparaison répétée des intensités de positions alignées en plu-

sieurs sites d'un spectre d'itération i avec un spectre ponctuel résultant non

comparé auparavant, et calcul de la moyenne des intensités lorsque les dif-

férences d'intensité des positions correspondantes sont inférieures à une va-

leur de seuil prédéterminée, et en retenant la plus basse des intensités lors-

que les différences sont supérieures à la valeur de seuil, de manière à obte-

nir un spectre d'itération i+ 1 pour ce point; et (f) répétition de l'étape précédente plusieurs fois, en utilisant à chaque fois le spectre d'itération de l'itération précédente comme spectre d'itération. 6 Procédé selon la revendication 2 ou 3, caractérisé en ce que le nombre de projections décalées dans la première série est kl, chacune des projections décalées de celle-ci étant espacée de 3600/kl des projections voisines. 7 Procédé selon la revendication 4 ou 5, caractérisé en ce que le nombre de projections décalées dans chaque série est ki, chacune des projections décalées de celle-ci étant espacée de 3600/ki des projections

voisines.

8 Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que ki = 4.

9 Procédé selon l'une quelconque des revendications 2,3,4,5,7 et 8

caractérisé en ce qu'il comprend en outre la visualisation d'au moins quelques

uns des spectres d'itération.

10 Procédé selon l'une quelconque des revendications 2,3,4,5,7 et 8,

caractérisé en ce qu'il comprend en outre les étapes suivantes:

(a) répétition de chacune des étapes pour plusieurs des points res-

pectifs d'une zone de manière à obtenir des spectres d'itération pour cette zone; (b) calcul de la distribution des intensités d'une résonance choisie à l'intérieur de cette zone; et (c) visualisation de la distribution des intensités de la résonance

choisie à l'intérieur de cette zone.

11 Procédé selon la revendication 7 ou 8, caractérisé en ce qu'il comprend en outre les étapes suivantes:

(a) répétition de chacune des étapes pour plusieurs des points res-

pectifs d'une zone de manière à obtenir des spectres d'itération pour cette zone;

(b) addition des spectres ponctuels de cette zone de manière à obte-

nir un spectre pour cette zone; et

(c) visualisation du spectre de cette zone.

12 Dispositif d'obtention d'un spectre RMN d'au moins une partie d'une coupe d'échantillon, caractérisé en ce qu'il comprend: (a) un scanner tomographique RMN; (b) une unité de visualisation; et (c) un moyen de calcul numérique convenablement programmé connecté

entre ledit scanner et ladite unité de visualisation, pour commander le fonc-

tionnement dudit scanner et mettre en oeuvre le procédé selon la revendication

9 ou 10.