KR20240109676A - Multi-channel test device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 복수의 블록으로 구성되는 다채널 검사장치로서, 상기 복수의 블록의 각각은 컨트롤러 보드; 및 상기 컨트롤러 보드에 의해 제어되는 복수의 릴레이 보드를 포함하고, 상기 복수의 릴레이 보드의 각각은 복수 개의 릴레이를 포함하는 다채널 검사장치에 관한 것이다.The present invention is a multi-channel inspection device consisting of a plurality of blocks, where each of the plurality of blocks includes a controller board; and a plurality of relay boards controlled by the controller board, where each of the plurality of relay boards includes a plurality of relays.
Description
본 발명은 다채널 검사장치에 관한 것이며, 보다 구체적으로, 고속 작동 가능한 다채널 통합형 전자부품 검사장치에 관한 것이다. The present invention relates to a multi-channel inspection device, and more specifically, to a multi-channel integrated electronic component inspection device capable of high-speed operation.
일반적으로, 저항, 커패시터 등의 전기/전자 부품의 제조사 사양을 검증하기 위한 성능 시험에는 다양한 계측기들과 신호 발생 장치들이 사용된다. 일례로, 직류/직류 변환기(DC/DC converter)의 출력 리플을 측정하는 경우에 직류/직류 변환기의 입력 전원을 공급하는 직류 전원공급기와 출력에 로드를 인가하는 전자로드를 연결하고 오실로스코프로 출력단자의 파형을 측정한다. 이 경우, 사용자는 각 계측기에 대한 정확한 사용 방법과 시험방법을 정확히 숙지하고 시험하여야 정확한 결과값을 얻을 수 있다. 그러나 같은 부품의 부하 적응도 특성을 시험하는 경우에는 오실로스코프 대신에 고정된 멀티미터를 사용하여 출력전압을 측정하도록 되어 있다. 이와 같이, 동일 부품이라도 측정하려는 항목이 달라지는 경우 시험 환경 및 장비를 별도로 구성하여야 한다. 이와 같이 전기전자부품의 다양한 특성 시험을 수행하기 위해서는 해당 부품의 특성에 대한 이해 뿐만 아니라 연결되어야 하는 계측기 및 신호발생 장치의 사용법에 숙달되어야 하며, 또한 하나의 부품에 대한 다양한 특성을 시험하는 경우, 해당 부품의 특성별로 다른 계기를 다른 방법으로 연결하여 측정해야 하므로 번거롭고 많은 시간이 소요된다. 더욱이 검사장비의 가격은 수천만원 까지의 고가이며, 검사장비의 특성상 생산환경에 부적합한 연구개발용 정밀 측정에 초점을 맞추기 때문에 생산성이 낮다. 연구개발에 적합한 검사장비를 부품을 생산하는 기업들에게 전가할 경우 생산수량이 떨어져 생산성이 저하되고 생산비용이 증가하게 되는 악순환이 우려된다. Generally, various measuring instruments and signal generation devices are used in performance tests to verify manufacturer specifications of electrical/electronic components such as resistors and capacitors. For example, when measuring the output ripple of a DC/DC converter, connect the DC power supply that supplies the input power to the DC/DC converter and the electronic load that applies the load to the output, and connect the output terminal with an oscilloscope. Measure the waveform. In this case, the user must be fully familiar with and test the exact usage and test methods for each measuring instrument to obtain accurate results. However, when testing the load adaptability characteristics of the same component, the output voltage is measured using a fixed multimeter instead of an oscilloscope. Likewise, if the items to be measured are different even for the same part, the test environment and equipment must be configured separately. In order to perform tests on the various characteristics of electrical and electronic components, one must not only understand the characteristics of the component but also be proficient in how to use the measuring instruments and signal generators that must be connected. In addition, when testing various characteristics of a single component, Depending on the characteristics of the part, different instruments must be connected and measured using different methods, which is cumbersome and takes a lot of time. Moreover, the price of inspection equipment is expensive, up to tens of millions of won, and due to the nature of inspection equipment, productivity is low because it focuses on precise measurements for research and development that are not suitable for the production environment. If inspection equipment suitable for research and development is passed on to companies that produce parts, there are concerns about a vicious cycle in which production volume will drop, productivity will decrease, and production costs will increase.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위한 발명으로서, 종래의 검사장비보다 경제적인 비용으로 고속 작동 가능한 다채널 통합형 전자부품 검사장치를 제공하고자 한다.The present invention is an invention to solve the above problems, and seeks to provide a multi-channel integrated electronic component inspection device that can operate at high speed and at a lower cost than conventional inspection equipment.
본 발명에 따른 다채널 검사장치에서는 복수의 블록으로 구성되는 검사장치로서, 상기 복수의 블록의 각각은 컨트롤러 보드; 및 상기 컨트롤러 보드에 의해 제어되는 복수의 릴레이 보드를 포함하고, 상기 복수의 릴레이 보드의 각각은 복수 개의 릴레이를 포함한다. The multi-channel inspection device according to the present invention is an inspection device composed of a plurality of blocks, each of the plurality of blocks including a controller board; and a plurality of relay boards controlled by the controller board, each of the plurality of relay boards including a plurality of relays.
본 발명에 따른 다채널 검사장치에서는 상기 컨트롤러 보드는 릴레이 보드로부터 수신한 전기적 신호를 측정하도록 구성된다. In the multi-channel inspection device according to the present invention, the controller board is configured to measure electrical signals received from the relay board.
본 발명에 따른 다채널 검사장치에서는 상기 컨트롤러 보드는 네트워크를 사용하여 검사결과를 송수신할 수 있도록 구성된다. In the multi-channel inspection device according to the present invention, the controller board is configured to transmit and receive inspection results using a network.
본 발명에 따른 다채널 검사장치에서는 상기 블록은 상기 컨트롤러 보드와 상기 복수의 릴레이 보드들을 전기적으로 연결하기 위한 백 플레이트부를 더 포함한다. In the multi-channel inspection device according to the present invention, the block further includes a back plate portion for electrically connecting the controller board and the plurality of relay boards.
본 발명에 따른 다채널 검사장치에서는 상기 릴레이 보드는 상기 백 플레이트부에 형성된 슬롯에 의해 상기 백 플레이트부와 연결된다. In the multi-channel inspection device according to the present invention, the relay board is connected to the back plate portion through a slot formed in the back plate portion.
본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치에 의하면 원하는 다채널에 대한 검사를 보다 신속하고 보다 경제적으로 진행할 수 있게 된다. According to the multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention, inspection of desired multiple channels can be performed more quickly and more economically.
본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치에 의하면 사용자가 필요하지 않은 옵션 기능을 제거하여 전체적인 검사장비의 사이즈를 줄일 수 있다. According to the multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention, the overall size of the inspection equipment can be reduced by removing optional functions that are not needed by the user.
본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치에 의하면 고장으로 인한 수리 상황이 발생하더라도 신속하고 간편하게 검사장치의 고장을 진단하고 이를 수리할 수 있다. According to the multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention, even if a repair situation occurs due to a failure, a fault in the inspection device can be diagnosed and repaired quickly and easily.
한편, 본 발명의 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 이하에서 설명할 내용으로부터 통상의 기술자에게 자명한 범위 내에서 다양한 효과들이 포함될 수 있다.Meanwhile, the effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and various effects may be included within the range apparent to those skilled in the art from the contents described below.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치에 대한 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 컨트롤러 보드의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 릴레이 보드의 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 블록 측정 개념을 개략적으로 나타낸다. 1 is a schematic diagram of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a schematic diagram of a controller board of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a schematic diagram of a relay board of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 schematically shows the block measurement concept of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다. In order to fully understand the present invention, its operational advantages, and the objectives achieved by practicing the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다. 한편, 본 명세서에서는 설명의 편의를 위하여 본 발명의 특징적인 구성을 중심으로 설명하며 당업자를 기준으로 자명한 사항에 해당하는 경우에는 그 구체적인 설명은 생략하도록 하며, 당업자는 본 발명의 기술적인 사상의 범위 내에서 종래 기술을 적절히 설계 변경할 수 있을 것이다. Hereinafter, the present invention will be described in detail by explaining preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals in each drawing indicate the same member. Meanwhile, in this specification, for convenience of explanation, the description is centered on the characteristic configuration of the present invention, and if it is obvious to those skilled in the art, the detailed description will be omitted, and those skilled in the art will be able to understand the technical idea of the present invention. It will be possible to appropriately design changes to the prior art within the scope.
본 발명에 의하면 종래의 검사장비보다 경제적인 비용으로 고속 작동 가능한 다채널 통합형 전자부품 검사장치가 제공된다.According to the present invention, a multi-channel integrated electronic component inspection device that can operate at high speed and at a more economical cost than conventional inspection equipment is provided.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치에 대한 개략도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 컨트롤러 보드의 개략도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 릴레이 보드의 개략도이며, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 다채널 검사장치의 블록 측정 개념을 개략적으로 나타낸다. FIG. 1 is a schematic diagram of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram of a controller board of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. This is a schematic diagram of a relay board of a multi-channel inspection device according to an example, and Figure 4 schematically shows the block measurement concept of a multi-channel inspection device according to an embodiment of the present invention.
도 1 내지 도 4를 참고하면, 본 발명의 다채널 검사장치(100)는 복수의 블록들(B1, B2 … Bp, Bq)으로 구성된다. 복수의 블록의 구체적인 블록 개수는 당업자가 요구되는 옵션 기능에 따라 상황에 맞게 적절하게 설정할 수 있을 것이다. Referring to Figures 1 to 4, the multi-channel inspection device 100 of the present invention is composed of a plurality of blocks (B1, B2...Bp, Bq). A person skilled in the art will be able to set the specific number of blocks appropriately according to the situation depending on the optional functions required.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 검사장치는 복수의 블록들로 구성되는 모듈형으로 구현되기 때문에, 기존 장비의 기능 중 사용자가 요구하는 사양으로 추가, 삭제, 변경 등이 용이하여, 검사장치의 확장성을 확보할 수 있다. As shown in Figure 4, since the inspection device of the present invention is implemented in a modular form consisting of a plurality of blocks, it is easy to add, delete, and change the functions of existing equipment according to specifications requested by the user, thereby enabling inspection. The expandability of the device can be secured.
특히, 모듈형으로 구성되는 복수의 블록들 중 일부가 고장으로 인한 수리 상황이 발생하게 되더라도 신속하게 교체가 될 수 있어, 전자제품 생산 일정에 차질을 발생시키지 않으면서 신속하게 수리가 가능하다. In particular, even if a repair situation occurs due to a breakdown of some of the plurality of modular blocks, they can be quickly replaced, making repairs possible quickly without disrupting the electronic product production schedule.
블록으로 구성함으로써 전체 측정 시간도 단축될 수가 있는데, 일 예로 총 10,000개의 채널을 검사할 때, 각 채널 간의 이동 시간을 1초라고 가정하게 되면 기존의 측정장비를 사용하는 경우, 총 10,000sec (1sec x 채널 갯수)이 소요될 것이 예상되지만, 본 발명의 검사 장치에 따라 총 10,000개의 채널을 총 10개의 블록으로 구성하는 경우, 1/10인 1,000sec만이 소요될 것으로 예상된다. 기존보다 10배 빠른 고속으로 검사를 진행할 수 있게 되는 것이다. 이는 측정하여야 하는 채널 수가 많다고 하더라도 각각의 채널을 블록으로 구성하고 이러한 블록들을 병렬로 배치함으로써 복수의 채널들에 대한 검사를 동시에 진행할 수 있기 때문이다. By configuring it in blocks, the overall measurement time can be shortened. For example, when examining a total of 10,000 channels, assuming the movement time between each channel is 1 second, when using existing measurement equipment, a total of 10,000 seconds (1sec) x number of channels), but when a total of 10,000 channels are configured into a total of 10 blocks according to the inspection device of the present invention, it is expected to take only 1/10, or 1,000 seconds. It will be possible to conduct tests at high speed, 10 times faster than before. This is because even if the number of channels to be measured is large, inspection of multiple channels can be performed simultaneously by configuring each channel into blocks and arranging these blocks in parallel.
상기 복수의 블록들의 각각은 실질적으로 동일한 구성 및 효과를 갖는 것으로 이해될 수 있으므로, 설명의 편의를 위하여 복수의 블록들 중 임의의 일 블록에 대하여만 구체적으로 설명하도록 한다. Since each of the plurality of blocks can be understood to have substantially the same configuration and effect, for convenience of explanation, only one block among the plurality of blocks will be described in detail.
도 1 내지 도 4를 참고하면, 본 발명의 검사장치를 구성하는 복수의 블록들(B1, B2 … Bp, Bq)의 각각은 컨트롤러 보드(11; CTRL) 및 상기 컨트롤러 보드에 의해 제어되는 복수의 릴레이 보드들(12a, 12b … 12p, 12q)을 포함한다. 또한, 본 발명의 각각의 블록은 컨트롤러 보드(11)와 복수의 릴레이 보드들(12a, 12b … 12p, 12q)을 서로 연결하기 위하여 백 플레이트부(13)를 더 포함한다. 백 플레이트부(13)는 도전성 백 플레이트와 그 위에 배치되는 전자 회로를 갖을 수 있다. 백 플레이트부는 복수의 슬롯들을 포함하며, 이 슬롯을 통해 릴레이 보드가 백 플레이트와 구조적으로 연결될 수 있다.Referring to Figures 1 to 4, each of the plurality of blocks (B1, B2...Bp, Bq) constituting the inspection device of the present invention includes a controller board (CTRL) 11 and a plurality of blocks controlled by the controller board. Includes relay boards 12a, 12b...12p, 12q. In addition, each block of the present invention further includes a back plate portion 13 to connect the controller board 11 and the plurality of relay boards 12a, 12b... 12p, 12q. The back plate portion 13 may have a conductive back plate and an electronic circuit disposed thereon. The back plate portion includes a plurality of slots, and the relay board can be structurally connected to the back plate through these slots.
컨트롤러 보드(11)는 1개의 모듈형 기판으로 구성되는데, 이러한 컨트롤러 보드는 릴레이 보드로부터 수신한 전기적 신호를 측정하고, 네트워크를 사용하여 검사결과를 송수신할 수 있다. The controller board 11 consists of one modular board. This controller board measures electrical signals received from the relay board and can transmit and receive test results using a network.
다수의 검사 대상 장치들은 컨트롤러 보드 별로 복수의 그룹들로 구분되어 준비되고, 이렇게 준비된 검사 대상 장치들은 테스트 신호를 수신하고 테스트 신호에 기초하여 구동이 되며, 테스트 결과 신호를 송신할 것이다. 검사 대상 장치들의 작동에 대한 결과로서, 검사 대상 장치들은 테스트 결과 신호를 생성하고, 이러한 신호는 릴레이보드를 통해 컨트롤러 보드로 수신되는 것이다. 일 예로서, 컨트롤러 보드 내에는 컨트롤러와 복수의 유닛 보드들이 포함되어, 컨트롤러가 복수의 유닛 보드들의 전반적인 동작을 제어할 수 있다. 이 경우, 유닛 보드들의 각각이 복수개로 릴레이들에 대해 테스트 신호를 제공하고, 이러한 테스트 신호는 유닛 보드들과 릴레이 보드에 대응되는 그룹의 검사 대상 장치들에 제공되고, 검사 대상 장치들로부터 응답된 테스트 결과 신호가 다시 대응되는 릴레이 보드로 제공되고 이를 유닛 보드에 제공하는 방식들로 구현될 수 있는 것이다. 다만, 이는 일 실시예에 불과할 뿐 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당업자는 컨트롤러 보드의 구체적인 구성에 대하여 설계 조건이나 환경에 따라 적절하게 설계 변경할 수 있는 것은 물론이다. A plurality of devices to be inspected are prepared by dividing them into a plurality of groups for each controller board, and the devices to be inspected thus prepared receive a test signal, are driven based on the test signal, and transmit a test result signal. As a result of the operation of the devices under test, the devices under test generate test result signals, and these signals are received by the controller board through the relay board. As an example, the controller board includes a controller and a plurality of unit boards, so that the controller can control the overall operation of the plurality of unit boards. In this case, each of the unit boards provides test signals to a plurality of relays, and these test signals are provided to devices under test in groups corresponding to the unit boards and relay boards, and receive responses from the devices under test. This can be implemented by providing the test result signal back to the corresponding relay board and providing it to the unit board. However, this is only an example, and a person skilled in the art can, of course, make appropriate changes to the specific configuration of the controller board according to design conditions or environment without departing from the technical spirit of the present invention.
복수 개의 릴레이 보드들(12a, 12b … 12p, 12q)은 상술한 컨트롤러 보드에 연결되고, 상기 복수의 릴레이 보드들의 각각은 복수 개의 릴레이들을 포함한다. 설명의 편의를 위하여 이하에서는 임의의 릴레이 보드에 대하여만 구체적으로 설명할 것이나, 나머지 릴레이 보드들도 설명하는 릴레이 보드와 실질적으로 동일하다. A plurality of relay boards (12a, 12b... 12p, 12q) are connected to the above-described controller board, and each of the plurality of relay boards includes a plurality of relays. For convenience of explanation, only certain relay boards will be described in detail below, but the remaining relay boards are substantially the same as the relay boards described.
본 발명의 일 실시예에 따른 임의의 릴레이 보드의 제1 단자는 출력과 연결되고, 제2 단자는 각각 검사 대상 부품들과 연결되는 배선 라인들과 연결될 수 있다. 릴레이 보드들 내의 복수 개의 릴레이들은 스위칭 제어 신호에 응답하여 복사된 테스트 신호들을 배선 라인들을 통하여 해당 릴레이 보드에 대응되는 검사 대상 부품들에 제공한다. 이어서 검사 대상 부품들의 작동 결과를 나타내는 테스트 결과 신호들이 배선 라인들을 통하여 릴레이 보드 내 릴레이들에 제공되며, 이 제공된 테스트 결과들은 해당 블록의 컨트롤러 보드로 제공될 수 있다.The first terminal of an arbitrary relay board according to an embodiment of the present invention may be connected to an output, and the second terminal may be connected to wiring lines respectively connected to components to be inspected. A plurality of relays in the relay boards provide copied test signals in response to a switching control signal to components to be inspected corresponding to the corresponding relay board through wiring lines. Subsequently, test result signals representing the operation results of the components to be inspected are provided to the relays in the relay board through wiring lines, and the provided test results can be provided to the controller board of the corresponding block.
상술한 본원 발명에 의하면 원하는 다채널에 대한 검사를 보다 신속하고 보다 경제적으로 진행할 수 있고, 사용자가 필요하지 않은 옵션 기능을 제거하여 전체적인 검사장비의 사이즈를 줄일 수 있으며, 고장으로 인한 수리 상황이 발생하더라도 신속하고 간편하게 검사장치의 고장을 진단하고 이를 수리할 수 있다. According to the present invention described above, inspection of desired multiple channels can be performed more quickly and more economically, the overall size of the inspection equipment can be reduced by removing optional functions that are not needed by the user, and repair situations due to failure can be reduced. Even so, you can quickly and easily diagnose and repair faults in the inspection device.
이상에서는 본 발명에 대한 기술사상을 첨부 도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 기술자라면 누구나 본 발명의 기술적 사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다. In the above, the technical idea of the present invention has been described along with the accompanying drawings, but this is an exemplary description of a preferred embodiment of the present invention and does not limit the present invention. In addition, it is clear that anyone skilled in the art can make various modifications and imitations without departing from the scope of the technical idea of the present invention.
100: 검사장치
B1, B2 … Bp, Bq: 복수의 블록들
11: 컨트롤러 보드
12a, 12b … 12p, 12q: 복수의 릴레이 보드들
13: 백 플레이트부100: Inspection device
B1, B2… Bp, Bq: Multiple blocks
11: controller board
12a, 12b... 12p, 12q: multiple relay boards
13: Back plate part
Claims (5)
상기 복수의 블록의 각각은 컨트롤러 보드; 및 상기 컨트롤러 보드에 의해 제어되는 복수의 릴레이 보드를 포함하고,
상기 복수의 릴레이 보드의 각각은 복수 개의 릴레이를 포함하는, 검사장치.A multi-channel inspection device consisting of a plurality of blocks,
Each of the plurality of blocks includes a controller board; and a plurality of relay boards controlled by the controller board,
Each of the plurality of relay boards includes a plurality of relays.
상기 컨트롤러 보드는 릴레이 보드로부터 수신한 전기적 신호를 측정하도록 구성되는, 다채널 검사 장치.According to paragraph 1,
The controller board is configured to measure electrical signals received from the relay board.
상기 컨트롤러 보드는 네트워크를 사용하여 검사결과를 송수신할 수 있도록 구성되는, 다채널 검사 장치. According to paragraph 1,
The controller board is a multi-channel inspection device configured to transmit and receive inspection results using a network.
상기 블록은 상기 컨트롤러 보드와 상기 복수의 릴레이 보드들을 전기적으로 연결하기 위한 백 플레이트부를 더 포함하는, 다채널 검사장치. According to paragraph 1,
The block further includes a back plate portion for electrically connecting the controller board and the plurality of relay boards.
상기 릴레이 보드는 상기 백 플레이트부에 형성된 슬롯에 의해 상기 백 플레이트부와 연결되는, 다채널 검사장치. According to clause 4,
The relay board is connected to the back plate portion through a slot formed in the back plate portion.
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2023
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