KR20240083577A - Scan Signal Generation Circuit and Display Device including the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부와 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터; 및 상기 시프트 레지스터에 포함된 변조 트랜지스터를 포함하고, 상기 변조 트랜지스터는 외부로부터 공급된 신호에 응답하여 상기 제1스캔신호 발생부로부터 출력되는 상기 제1스캔신호의 레벨을 변조하는 스캔신호 발생회로를 제공할 수 있다.The present invention includes a shift register including a first scan signal generator that outputs a first scan signal and a second scan signal generator that outputs a second scan signal; and a modulation transistor included in the shift register, wherein the modulation transistor is a scan signal generation circuit that modulates the level of the first scan signal output from the first scan signal generator in response to a signal supplied from the outside. can be provided.

Description

스캔신호 발생회로 및 이를 포함하는 표시장치{Scan Signal Generation Circuit and Display Device including the same}Scan signal generation circuit and display device including the same {Scan Signal Generation Circuit and Display Device including the same}

본 발명은 스캔신호 발생회로 및 이를 포함하는 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a scan signal generation circuit and a display device including the same.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 발광표시장치(Light Emitting Display Device: LED), 양자점표시장치(Quantum Dot Display Device; QDD), 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device: LCD) 등과 같은 표시장치의 사용이 증가하고 있다.As information technology develops, the market for display devices, which are a connecting medium between users and information, is growing. Accordingly, the use of display devices such as Light Emitting Display Device (LED), Quantum Dot Display Device (QDD), and Liquid Crystal Display Device (LCD) is increasing.

앞서 설명한 표시장치들은 서브 픽셀들을 포함하는 표시패널, 표시패널을 구동하는 구동 신호를 출력하는 구동부 및 표시패널 또는 구동부에 공급할 전원을 생성하는 전원 공급부 등이 포함된다.The display devices described above include a display panel including subpixels, a driver that outputs a driving signal to drive the display panel, and a power supply that generates power to be supplied to the display panel or the driver.

위와 같은 표시장치들은 표시패널에 형성된 서브 픽셀들에 구동 신호 예컨대, 스캔신호 및 데이터신호 등이 공급되면, 선택된 서브 픽셀이 빛을 투과시키거나 빛을 직접 발광을 하게 됨으로써 영상을 표시할 수 있다.The above display devices can display images by transmitting light or directly emitting light through the selected subpixels when driving signals, such as scan signals and data signals, are supplied to the subpixels formed on the display panel.

본 발명은 킥백(Kickback) 현상을 개선할 수 있는 스캔신호 발생회로를 제공하는 것이다. 또한, 본 발명은 산화물 트랜지스터의 소자 특성에서 기인되는 킥백(Kickback) 차이를 줄이고, 표시패널 전체의 구동 균일성(Uniformity)을 개선하여 저계조(Low Gray)에서 나타날 수 있는 얼룩을 개선할 수 있는 표시장치를 제공하는 것이다.The present invention provides a scan signal generation circuit that can improve the kickback phenomenon. In addition, the present invention reduces the kickback difference resulting from the device characteristics of the oxide transistor, improves the driving uniformity of the entire display panel, and can improve stains that may appear in low gray. The purpose is to provide a display device.

본 발명은 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부와 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터; 및 상기 시프트 레지스터에 포함된 변조 트랜지스터를 포함하고, 상기 변조 트랜지스터는 외부로부터 공급된 신호에 응답하여 상기 제1스캔신호 발생부로부터 출력되는 상기 제1스캔신호의 레벨을 변조하는 스캔신호 발생회로를 제공할 수 있다.The present invention includes a shift register including a first scan signal generator that outputs a first scan signal and a second scan signal generator that outputs a second scan signal; and a modulation transistor included in the shift register, wherein the modulation transistor is a scan signal generation circuit that modulates the level of the first scan signal output from the first scan signal generator in response to a signal supplied from the outside. can be provided.

상기 변조 트랜지스터는 상기 외부로부터 공급된 신호가 전달되는 신호라인에 게이트전극이 연결되고, 변조전압을 전달하는 게이트변조전압라인에 제1전극이 연결되고 상기 제1스캔신호 발생부의 출력단자에 제2전극이 연결될 수 있다.The modulation transistor has a gate electrode connected to a signal line through which the externally supplied signal is transmitted, a first electrode connected to a gate modulation voltage line through which a modulation voltage is transmitted, and a second electrode connected to the output terminal of the first scan signal generator. Electrodes can be connected.

상기 변조 트랜지스터는 상기 시프트 레지스터에 포함된 제1스테이지의 제1스캔신호 발생부에 포함되고, 상기 제1스테이지의 다음 단에 위치하는 제2스테이지의 제2스캔신호 발생부의 출력단자에 게이트전극이 연결될 수 있다.The modulation transistor is included in the first scan signal generator of the first stage included in the shift register, and has a gate electrode at the output terminal of the second scan signal generator of the second stage located at the next stage of the first stage. can be connected

상기 제1스캔신호는 상기 변조 트랜지스터의 동작에 의해 하이전압에서 로우전압으로 전환되기 전에 변조가 이루어질 수 있다.The first scan signal may be modulated before being converted from a high voltage to a low voltage by the operation of the modulation transistor.

상기 변조 트랜지스터는 p 타입 트랜지스터로 선택될 수 있다.The modulation transistor may be selected as a p-type transistor.

다른 측면에서 본 발명은 제1스캔라인과 제2스캔라인에 연결된 서브 픽셀을 포함하는 표시패널; 상기 제1스캔라인에 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부와 상기 제2스캔라인에 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터; 및 상기 시프트 레지스터에 포함된 변조 트랜지스터를 포함하고, 상기 변조 트랜지스터는 외부로부터 공급된 신호에 응답하여 상기 제1스캔신호 발생부로부터 출력되는 상기 제1스캔신호의 레벨을 변조하는 표시장치를 제공할 수 있다.In another aspect, the present invention provides a display panel including subpixels connected to a first scan line and a second scan line; a shift register including a first scan signal generator that outputs a first scan signal to the first scan line and a second scan signal generator that outputs a second scan signal to the second scan line; and a modulation transistor included in the shift register, wherein the modulation transistor modulates the level of the first scan signal output from the first scan signal generator in response to a signal supplied from the outside. You can.

상기 변조 트랜지스터는 상기 외부로부터 공급된 신호가 전달되는 신호라인에 게이트전극이 연결되고, 변조전압을 전달하는 게이트변조전압라인에 제1전극이 연결되고 상기 제1스캔신호 발생부의 출력단자에 제2전극이 연결될 수 있다.The modulation transistor has a gate electrode connected to a signal line through which the externally supplied signal is transmitted, a first electrode connected to a gate modulation voltage line through which a modulation voltage is transmitted, and a second electrode connected to the output terminal of the first scan signal generator. Electrodes can be connected.

상기 변조 트랜지스터는 상기 시프트 레지스터에 포함된 제1스테이지의 제1스캔신호 발생부에 포함되고, 상기 제1스테이지의 다음 단에 위치하는 제2스테이지의 제2스캔신호 발생부의 출력단자에 게이트전극이 연결될 수 있다.The modulation transistor is included in the first scan signal generator of the first stage included in the shift register, and has a gate electrode at the output terminal of the second scan signal generator of the second stage located at the next stage of the first stage. can be connected

상기 제1스캔신호는 상기 변조 트랜지스터의 동작에 의해 하이전압에서 로우전압으로 전환되기 전에 변조가 이루어질 수 있다.The first scan signal may be modulated before being converted from a high voltage to a low voltage by the operation of the modulation transistor.

상기 변조전압은 고정되거나 가변될 수 있다.The modulation voltage may be fixed or variable.

본 발명은 시프트 레지스터단에서 게이트신호의 레벨을 변조할 수 있도록 장치를 구현하여 킥백(Kickback) 현상을 개선할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 서브 픽셀에 포함된 산화물 트랜지스터의 소자 특성에서 기인되는 킥백(Kickback) 차이를 줄일 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 표시패널 전체의 구동 균일성(Uniformity)을 개선하여 저계조(Low Gray)에서 나타날 수 있는 얼룩을 개선할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of improving the kickback phenomenon by implementing a device that modulates the level of the gate signal at the shift register stage. Additionally, the present invention has the effect of reducing the kickback difference resulting from the device characteristics of the oxide transistor included in the subpixel. Additionally, the present invention has the effect of improving the driving uniformity of the entire display panel, thereby improving spotting that may appear in low gray levels.

도 1은 발광표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 3 및 도 4는 게이트인패널 방식 게이트 구동부의 구성을 설명하기 위한 도면들이고, 도 5는 게이트인패널 방식 게이트 구동부의 배치예를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 시프트 레지스터를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 8은 본 발명의 제1실시예에 따라 도 7에 도시된 시프트 레지스터의 일부를 나타낸 블록도이고, 도 9는 본 발명의 제1실시예에 따라 도 8에 도시된 제1스캔신호 발생부를 나타낸 회로 구성도이고, 도 10은 도 9에 도시된 제1스캔신호 발생부의 출력을 설명하기 위한 파형도이다.
도 11은 본 발명의 제2실시예에 따라 도 7에 도시된 시프트 레지스터의 일부를 나타낸 블록도이고, 도 12는 본 발명의 제2실시예에 따라 도 11에 도시된 제1스캔신호 발생부를 나타낸 회로 구성도이고, 도 13은 도 12에 도시된 제1스캔신호 발생부의 출력을 설명하기 위한 파형도이다.
도 14 및 도 15는 실험예와 실시예에 따른 시프트 레지스터의 시뮬레이션 결과를 보여주는 도면들이다.
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a light emitting display device, and FIG. 2 is a block diagram schematically showing the subpixel shown in FIG. 1.
Figures 3 and 4 are diagrams for explaining the configuration of a gate-in-panel type gate driver, and Figure 5 is a diagram showing an example of the arrangement of a gate-in-panel type gate driver.
FIG. 6 is a block diagram schematically showing a subpixel according to the first embodiment of the present invention, FIG. 7 is a block diagram schematically showing a shift register according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a block diagram schematically showing a subpixel according to the first embodiment of the present invention. It is a block diagram showing a part of the shift register shown in FIG. 7 according to the first embodiment, and FIG. 9 is a circuit diagram showing the first scan signal generator shown in FIG. 8 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 10 is a waveform diagram for explaining the output of the first scan signal generator shown in FIG. 9.
FIG. 11 is a block diagram showing a portion of the shift register shown in FIG. 7 according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 12 is a first scan signal generator shown in FIG. 11 according to the second embodiment of the present invention. This is a circuit diagram, and FIG. 13 is a waveform diagram for explaining the output of the first scan signal generator shown in FIG. 12.
Figures 14 and 15 are diagrams showing simulation results of shift registers according to experimental examples and embodiments.

본 발명에 따른 표시장치는 텔레비전, 영상 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈시어터, 자동차 전기장치, 스마트폰 등으로 구현될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명에 따른 표시장치는 발광표시장치(Light Emitting Display Device: LED), 양자점표시장치(Quantum Dot Display Device; QDD), 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device: LCD) 등으로 구현될 수 있다. 그러나 이하에서는 설명의 편의를 위해 무기 발광다이오드 또는 유기 발광다이오드를 기반으로 빛을 직접 발광하는 발광표시장치를 일례로 한다.The display device according to the present invention can be implemented in a television, video player, personal computer (PC), home theater, automobile electric device, smartphone, etc., but is not limited thereto. The display device according to the present invention may be implemented as a light emitting display device (LED), a quantum dot display device (QDD), a liquid crystal display device (LCD), etc. However, hereinafter, for convenience of explanation, a light emitting display device that directly emits light based on an inorganic light emitting diode or an organic light emitting diode is taken as an example.

아울러, 이하에서 설명되는 박막 트랜지스터는 n 타입 박막 트랜지스터, p 타입 박막 트랜지스터 또는 n 타입과 p 타입이 함께 존재하는 형태로 구현될 수도 있다. 박막 트랜지스터는 게이트(gate), 소스(source) 및 드레인(drain)을 포함한 3 전극 소자이다. 소스는 캐리어(carrier)를 트랜지스터에 공급하는 전극이다. 박막 트랜지스터 내에서 캐리어는 소스로부터 흐르기 시작한다. 드레인은 박막 트랜지스터에서 캐리어가 외부로 나가는 전극이다. 즉, 박막 트랜지스터에서 캐리어의 흐름은 소스로부터 드레인으로 흐른다.In addition, the thin film transistor described below may be implemented as an n-type thin film transistor, a p-type thin film transistor, or a combination of n-type and p-type. A thin film transistor is a three-electrode device including a gate, source, and drain. The source is an electrode that supplies carriers to the transistor. Within a thin film transistor, carriers begin to flow from a source. The drain is the electrode through which carriers go out in a thin film transistor. That is, in a thin film transistor, carriers flow from the source to the drain.

p 타입 박막 트랜지스터의 경우, 캐리어가 정공(hole)이기 때문에 소스로부터 드레인으로 정공이 흐를 수 있도록 소스 전압이 드레인 전압보다 높다. p 타입 박막 트랜지스터에서 정공이 소스로부터 드레인 쪽으로 흐르기 때문에 전류가 소스로부터 드레인 쪽으로 흐른다. 이와 달리, n 타입 박막 트랜지스터의 경우, 캐리어가 전자(electron)이기 때문에 소스에서 드레인으로 전자가 흐를 수 있도록 소스 전압이 드레인 전압보다 낮은 전압을 가진다. n 타입 박막 트랜지스터에서 전자가 소스로부터 드레인 쪽으로 흐르기 때문에 전류의 방향은 드레인으로부터 소스 쪽으로 흐른다. 그러나 박막 트랜지스터의 소스와 드레인은 인가된 전압에 따라 변경될 수 있다. 이를 반영하여, 이하의 설명에서는 소스와 드레인 중 어느 하나를 제1전극, 소스와 드레인 중 나머지 하나를 제2전극으로 설명한다.In the case of a p-type thin film transistor, since the carrier is a hole, the source voltage is higher than the drain voltage so that holes can flow from the source to the drain. In a p-type thin film transistor, current flows from the source to the drain because holes flow from the source to the drain. On the other hand, in the case of an n-type thin film transistor, since the carriers are electrons, the source voltage has a lower voltage than the drain voltage so that electrons can flow from the source to the drain. In an n-type thin film transistor, since electrons flow from the source to the drain, the direction of current flows from the drain to the source. However, the source and drain of a thin film transistor can change depending on the applied voltage. Reflecting this, in the following description, one of the source and drain will be described as the first electrode, and the other one of the source and drain will be described as the second electrode.

도 1은 발광표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 블록도이다.FIG. 1 is a block diagram schematically showing a light emitting display device, and FIG. 2 is a block diagram schematically showing the subpixel shown in FIG. 1.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 발광표시장치는 영상 공급부(110), 타이밍 제어부(120), 게이트 구동부(130), 데이터 구동부(140), 표시패널(150) 및 전원 공급부(180) 등을 포함할 수 있다.As shown in Figures 1 and 2, the light emitting display device includes an image supply unit 110, a timing control unit 120, a gate driver 130, a data driver 140, a display panel 150, and a power supply unit 180. It may include etc.

영상 공급부(세트 또는 호스트시스템)(110)는 외부로부터 공급된 영상 데이터신호 또는 내부 메모리에 저장된 영상 데이터신호(이미지 데이터신호)와 더불어 각종 구동신호를 출력할 수 있다. 영상 공급부(110)는 데이터신호와 각종 구동신호를 타이밍 제어부(120)에 공급할 수 있다.The image supply unit (set or host system) 110 can output various driving signals in addition to image data signals supplied from outside or image data signals (image data signals) stored in internal memory. The image supply unit 110 may supply data signals and various driving signals to the timing control unit 120.

타이밍 제어부(120)는 게이트 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC), 데이터 구동부(140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC) 및 각종 동기신호(수직 동기신호인 VSYNC, 수평 동기신호인 HSYNC) 등을 출력할 수 있다. 타이밍 제어부(120)는 데이터 타이밍 제어신호(DDC)와 함께 영상 공급부(110)로부터 공급된 데이터신호(DATA)를 데이터 구동부(140)에 공급할 수 있다. 타이밍 제어부(120)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성되어 인쇄회로기판 상에 실장될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The timing control unit 120 includes a gate timing control signal (GDC) for controlling the operation timing of the gate driver 130, a data timing control signal (DDC) for controlling the operation timing of the data driver 140, and various synchronization signals ( The vertical synchronization signal (VSYNC) and the horizontal synchronization signal (HSYNC) can be output. The timing control unit 120 may supply the data signal DATA supplied from the image supply unit 110 together with the data timing control signal DDC to the data driver 140. The timing control unit 120 may be formed in the form of an IC (Integrated Circuit) and mounted on a printed circuit board, but is not limited to this.

게이트 구동부(130)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 게이트 타이밍 제어신호(GDC) 등에 응답하여 게이트신호(또는 게이트전압)를 출력할 수 있다. 게이트 구동부(130)는 게이트라인들(GL1 ~ GLm)을 통해 표시패널(150)에 포함된 서브 픽셀들에 게이트신호를 공급할 수 있다. 게이트 구동부(130)는 IC 형태로 형성되거나 게이트인패널(Gate In Panel) 방식으로 표시패널(150) 상에 직접 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The gate driver 130 may output a gate signal (or gate voltage) in response to a gate timing control signal (GDC) supplied from the timing control unit 120. The gate driver 130 may supply a gate signal to subpixels included in the display panel 150 through the gate lines GL1 to GLm. The gate driver 130 may be formed in the form of an IC or directly on the display panel 150 using a gate in panel method, but is not limited thereto.

데이터 구동부(140)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호(DDC) 등에 응답하여 데이터신호(DATA)를 샘플링 및 래치하고 감마 기준전압을 기반으로 디지털 형태의 데이터신호를 아날로그 형태의 데이터전압으로 변환하여 출력할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 데이터라인들(DL1 ~ DLn)을 통해 표시패널(150)에 포함된 서브 픽셀들에 데이터전압을 공급할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 IC 형태로 형성되어 표시패널(150) 상에 실장되거나 인쇄회로기판 상에 실장될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The data driver 140 samples and latches the data signal (DATA) in response to the data timing control signal (DDC) supplied from the timing control unit 120 and converts the digital data signal into analog data based on the gamma reference voltage. It can be converted to voltage and output. The data driver 140 may supply a data voltage to subpixels included in the display panel 150 through the data lines DL1 to DLn. The data driver 140 may be formed in the form of an IC and mounted on the display panel 150 or on a printed circuit board, but is not limited thereto.

전원 공급부(180)는 외부로부터 공급되는 외부 입력전압을 기반으로 고전위전압과 저전위전압을 생성하고, 제1전원라인(EVDD)과 제2전원라인(EVSS)을 통해 출력할 수 있다. 전원 공급부(180)는 고전위전압과 저전위전압뿐만아니라 게이트 구동부(130)의 구동에 필요한 전압(예: 게이트하이전압과 게이트로우전압을 포함하는 게이트전압)이나 데이터 구동부(140)의 구동에 필요한 전압(드레인전압과 하프드레인전압을 포함하는 드레인전압) 등을 생성 및 출력할 수 있다.The power supply unit 180 may generate a high potential voltage and a low potential voltage based on an external input voltage supplied from the outside, and output them through the first power line (EVDD) and the second power line (EVSS). The power supply unit 180 provides not only the high potential voltage and the low potential voltage, but also the voltage required to drive the gate driver 130 (e.g., a gate voltage including the gate high voltage and gate low voltage) or the data driver 140. The necessary voltage (drain voltage including drain voltage and half-drain voltage) can be generated and output.

표시패널(150)은 게이트신호와 데이터전압을 포함하는 구동신호 그리고 고전위전압과 저전위전압을 포함하는 구동전압 등에 대응하여 영상(이미지)을 표시할 수 있다. 표시패널(150)의 서브 픽셀들은 직접 빛을 발광한다. 표시패널(150)은 유리, 실리콘, 폴리이미드 등 강성 또는 연성을 갖는 기판을 기반으로 제작될 수 있다. 그리고 빛을 발광하는 서브 픽셀들은 적색, 녹색 및 청색을 포함하는 픽셀 또는 적색, 녹색, 청색 및 백색을 포함하는 픽셀로 이루어질 수 있다.The display panel 150 can display an image in response to a driving signal including a gate signal and a data voltage, and a driving voltage including a high potential voltage and a low potential voltage. Subpixels of the display panel 150 directly emit light. The display panel 150 may be manufactured based on a rigid or flexible substrate such as glass, silicon, or polyimide. And the subpixels that emit light may be composed of pixels containing red, green, and blue, or pixels containing red, green, blue, and white.

예컨대, 하나의 서브 픽셀(SP)은 제1데이터라인(DL1), 제1게이트라인(GL1), 제1전원라인(EVDD) 및 제2전원라인(EVSS)에 연결될 수 있고, 스위칭 트랜지스터, 구동 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드 등으로 이루어진 픽셀회로를 포함할 수 있다. 발광표시장치에서 사용되는 서브 픽셀(SP)은 빛을 직접 발광하는바 회로의 구성이 복잡하다. 또한, 빛을 발광하는 유기 발광다이오드는 물론이고 유기 발광다이오드의 구동에 필요한 구동전류를 공급하는 구동 트랜지스터 등의 열화를 보상하는 보상회로 또한 다양하다. 따라서, 서브 픽셀(SP)을 블록의 형태로 단순 도시하였음을 참조한다.For example, one subpixel (SP) may be connected to the first data line (DL1), the first gate line (GL1), the first power line (EVDD), and the second power line (EVSS), and a switching transistor, driving It may include a pixel circuit made of transistors, capacitors, organic light emitting diodes, etc. Subpixels (SP) used in light-emitting displays directly emit light, so the circuit configuration is complex. In addition, there are various compensation circuits that compensate for the deterioration of not only the organic light-emitting diode that emits light, but also the driving transistor that supplies the driving current required to drive the organic light-emitting diode. Therefore, please refer to the fact that the subpixel SP is simply shown in the form of a block.

한편, 위의 설명에서는 타이밍 제어부(120), 게이트 구동부(130), 데이터 구동부(140) 등을 각각 개별적인 구성인 것처럼 설명하였다. 그러나 발광표시장치의 구현 방식에 따라 타이밍 제어부(120), 게이트 구동부(130), 데이터 구동부(140) 중 하나 이상은 하나의 IC 내에 통합될 수 있다.Meanwhile, in the above description, the timing control unit 120, gate driver 130, data driver 140, etc. were described as if they were individual components. However, depending on the implementation method of the light emitting display device, one or more of the timing control unit 120, gate driver 130, and data driver 140 may be integrated into one IC.

도 3 및 도 4는 게이트인패널 방식 게이트 구동부의 구성을 설명하기 위한 도면들이고, 도 5는 게이트인패널 방식 게이트 구동부의 배치예를 나타낸 도면이다.Figures 3 and 4 are diagrams for explaining the configuration of a gate-in-panel type gate driver, and Figure 5 is a diagram showing an example of the arrangement of a gate-in-panel type gate driver.

도 3에 도시된 바와 같이, 게이트인패널 방식 게이트 구동부(130)는 시프트 레지스터(131)와 레벨 시프터(135)를 포함할 수 있다. 레벨 시프터(135)는 타이밍 제어부(120) 및 전원 공급부(180)로부터 출력된 신호들 및 전압들을 기반으로 클록신호들(Clks)과 스타트신호(Vst) 등을 생성할 수 있다. 시프트 레지스터(131)는 레벨 시프터(135)로부터 출력된 클록신호들(Clks)과 스타트신호(Vst) 등을 기반으로 동작하며 게이트신호들(Gout[1]~Gout[m])을 출력할 수 있다.As shown in FIG. 3, the gate-in-panel type gate driver 130 may include a shift register 131 and a level shifter 135. The level shifter 135 may generate clock signals Clks and a start signal Vst based on signals and voltages output from the timing control unit 120 and the power supply unit 180. The shift register 131 operates based on the clock signals (Clks) and the start signal (Vst) output from the level shifter 135 and can output gate signals (Gout[1] to Gout[m]). there is.

도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 레벨 시프터(135)는 시프트 레지스터(131)와 달리 IC 형태로 독립적으로 형성되거나 전원 공급부(180)의 내부에 포함될 수 있다. 그러나 이는 하나의 예시일 뿐 이에 한정되지 않는다.As shown in FIGS. 3 and 4 , unlike the shift register 131, the level shifter 135 may be formed independently in the form of an IC or may be included inside the power supply unit 180. However, this is only an example and is not limited to this.

도 5에 도시된 바와 같이, 게이트인패널 방식 게이트 구동부에서 게이트신호들을 출력하는 제1 및 제2시프트 레지스터(131a, 131b)는 표시패널(150)의 비표시영역(NA)에 배치될 수 있다. 제1 및 제2시프트 레지스터(131a, 131b)는 게이트인패널 방식에 의해 표시패널(150) 상에 박막 형태로 형성될 수 있다. 제1 및 제2시프트 레지스터(131a, 131b)는 표시패널(150)의 좌우측 비표시영역(NA)에 각각 배치된 것을 일례로 도시하였으나 이에 한정되지 않는다.As shown in FIG. 5, the first and second shift registers 131a and 131b that output gate signals from the gate-in-panel type gate driver may be disposed in the non-display area (NA) of the display panel 150. . The first and second shift registers 131a and 131b may be formed in a thin film form on the display panel 150 using a gate-in-panel method. The first and second shift registers 131a and 131b are shown as an example of being disposed in the left and right non-display areas (NA) of the display panel 150, but the present invention is not limited thereto.

도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 시프트 레지스터를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 8은 본 발명의 제1실시예에 따라 도 7에 도시된 시프트 레지스터의 일부를 나타낸 블록도이고, 도 9는 본 발명의 제1실시예에 따라 도 8에 도시된 제1스캔신호 발생부를 나타낸 회로 구성도이고, 도 10은 도 9에 도시된 제1스캔신호 발생부의 출력을 설명하기 위한 파형도이다.FIG. 6 is a block diagram schematically showing a subpixel according to the first embodiment of the present invention, FIG. 7 is a block diagram schematically showing a shift register according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a block diagram schematically showing a subpixel according to the first embodiment of the present invention. It is a block diagram showing a part of the shift register shown in FIG. 7 according to the first embodiment, and FIG. 9 is a circuit diagram showing the first scan signal generator shown in FIG. 8 according to the first embodiment of the present invention. FIG. 10 is a waveform diagram for explaining the output of the first scan signal generator shown in FIG. 9.

도 6에 도시된 바와 같이, 제1실시예에 따른 서브 픽셀(SP)은 제1게이트라인(GL1), 제1데이터라인(DL1), 제1전원라인(EVDD) 및 제2전원라인(EVSS)에 연결될 수 있다. 제1게이트라인(GL1)은 제1스캔라인(GL1a)과 제2스캔라인(GL1b)을 포함할 수 있다. 제1스캔라인(GL1a)과 제2스캔라인(GL1b)은 동일한 수평라인에 배치될 수 있다. 제1실시예에 따른 서브 픽셀은 제1스캔신호와 제2스캔신호 등을 기반으로 동작할 수 있다.As shown in FIG. 6, the subpixel SP according to the first embodiment includes a first gate line GL1, a first data line DL1, a first power line EVDD, and a second power line EVSS. ) can be connected to. The first gate line GL1 may include a first scan line GL1a and a second scan line GL1b. The first scan line GL1a and the second scan line GL1b may be arranged on the same horizontal line. The subpixel according to the first embodiment may operate based on the first scan signal and the second scan signal.

도 7에 도시된 바와 같이, 제1실시예에 따른 시프트 레지스터(131a)는 제1클록신호라인들(CLKS1), 제2클록신호라인들(CLKS2), 게이트변조전압라인(VGPM), 게이트하이전압라인(VGH), 게이트로우전압라인(VGL) 및 스타트신호라인(VST)에 연결될 수 있다.As shown in FIG. 7, the shift register 131a according to the first embodiment includes first clock signal lines (CLKS1), second clock signal lines (CLKS2), gate modulation voltage line (VGPM), and gate high It can be connected to the voltage line (VGH), gate low voltage line (VGL), and start signal line (VST).

시프트 레지스터(131a)는 제1클록신호라인들(CLKS1)을 통해 인가된 제1클록신호들, 제2클록신호라인들(CLKS2)을 통해 인가된 제2클록신호들, 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 인가된 게이트변조전압, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압, 스타트신호라인(VST)을 통해 인가된 스타트신호 등을 기반으로 동작할 수 있다.The shift register 131a stores the first clock signals applied through the first clock signal lines CLKS1, the second clock signals applied through the second clock signal lines CLKS2, and the gate modulation voltage line VGPM. ), gate modulation voltage applied through the gate high voltage line (VGH), gate low voltage applied through the gate low voltage line (VGL), and start applied through the start signal line (VST). It can operate based on signals, etc.

시프트 레지스터(131a)는 도 6에 도시된 서브 픽셀을 구동하기 위해, 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부들(SCN1[1] ~ SCN1[m])과 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부들(SCN2[1] ~ SCN2[m])을 포함할 수 있다. 시프트 레지스터(131a)는 게이트라인들(GL1 ~ GLm)을 통해 게이트신호들(Gout[1] ~ Gout[m])을 순차적으로 출력하기 위해 종속적으로 접속된 스테이지들(STG1 ~ STGm)로 구성될 수 있는데, 이들은 다음의 제1스테이지(STG1)와 같다.In order to drive the subpixel shown in FIG. 6, the shift register 131a includes first scan signal generators (SCN1[1] to SCN1[m]) that output the first scan signal and output the second scan signal. It may include second scan signal generators (SCN2[1] to SCN2[m]). The shift register 131a is composed of stages (STG1 to STGm) that are dependently connected to sequentially output gate signals (Gout[1] to Gout[m]) through gate lines (GL1 to GLm). These are the same as the first stage (STG1) below.

제1스테이지(STG1)에 위치하는 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])와 제2스캔신호 발생부(SCN2[1])는 제1게이트라인(GL1)을 통해 제1게이트신호(Gout[1])를 출력할 수 있다. 제1게이트신호(Gout[1])는 제1스캔신호와 제2스캔신호를 포함할 수 있다. 제1스캔신호와 제2스캔신호는 제1게이트라인(GL1)에 포함된 제1스캔라인과 제2스캔라인을 통해 서브 픽셀에 인가될 수 있다.The first scan signal generator (SCN1[1]) and the second scan signal generator (SCN2[1]) located in the first stage (STG1) generate the first gate signal (Gout) through the first gate line (GL1). [1]) can be output. The first gate signal (Gout[1]) may include a first scan signal and a second scan signal. The first scan signal and the second scan signal may be applied to the subpixel through the first scan line and the second scan line included in the first gate line GL1.

도 8 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])는 제1스캔신호(Gout1a)의 출력 레벨을 변조할 수 있다. 그리고 이는 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])뿐만 아니라 제2스테이지(STG2) 내지 제M스테이지(STGm)의 제1스캔신호 발생부들(SCN1[2] ~ SCN1[m]) 또한 가능하다. 이하, 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])를 기반으로 이를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.As shown in FIGS. 8 to 10, the first scan signal generator SCN1[1] of the first stage STG1 may modulate the output level of the first scan signal Gout1a. And this is not only the first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) but also the first scan signal generators (SCN1[2] to SCN1) of the second stage (STG2) to the M stage (STGm). [m]) is also possible. Hereinafter, this will be described in detail based on the first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) as follows.

제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])는 노드 제어부(NDC), 제1출력 트랜지스터(T6), 제2출력 트랜지스터(T7) 및 변조 트랜지스터(MT) 등을 포함할 수 있다.The first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) includes a node control unit (NDC), a first output transistor (T6), a second output transistor (T7), and a modulation transistor (MT). can do.

노드 제어부(NDC)는 제1클록신호라인(CLK1), 게이트하이전압라인(VGH), 게이트로우전압라인(VGL) 및 스타트신호라인(VST)에 연결될 수 있다. 노드 제어부(NDC)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압 및 스타트신호라인(VST)을 통해 인가된 스타트신호를 기반으로 동작할 수 있다. 노즈 제어부(NDC)는 스타트신호와 제1클록신호를 기반으로 동작하며, 게이트하이전압과 게이트로우전압을 기반으로 Q노드(Q)와 QB노드(QB)를 제어할 수 있다.The node control unit NDC may be connected to the first clock signal line CLK1, the gate high voltage line VGH, the gate low voltage line VGL, and the start signal line VST. The node control unit (NDC) receives the first clock signal applied through the first clock signal line (CLK1), the gate high voltage applied through the gate high voltage line (VGH), and the gate applied through the gate low voltage line (VGL). It can operate based on a low voltage and a start signal applied through the start signal line (VST). The nose control unit (NDC) operates based on the start signal and the first clock signal, and can control the Q node (Q) and QB node (QB) based on the gate high voltage and gate low voltage.

제1출력 트랜지스터(T6)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 게이트로우전압라인(VGL)에 제1전극이 연결되고, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제1출력 트랜지스터(T6)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 제1출력 트랜지스터(T6)가 턴온되는 경우, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압은 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 로우전압(L)으로 출력될 수 있다.The first output transistor (T6) has a gate electrode connected to the Q node (Q), a first electrode connected to the gate low voltage line (VGL), and an output terminal ( A second electrode may be connected to Out). The first output transistor T6 may be turned on or off in response to the potential of the Q node (Q). When the first output transistor (T6) is turned on, the gate low voltage applied through the gate low voltage line (VGL) is converted to a low voltage (Out) through the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). L) can be output.

제2출력 트랜지스터(T7)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 게이트하이전압라인(VGH)에 제1전극이 연결되고, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제2출력 트랜지스터(T7)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 제2출력 트랜지스터(T7)가 턴온되는 경우, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압은 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 하이전압(H)으로 출력될 수 있다.The second output transistor T7 has a gate electrode connected to the QB node (QB), a first electrode connected to the gate high voltage line (VGH), and an output terminal ( A second electrode may be connected to Out). The second output transistor T7 may be turned on or turned off in response to the potential of the QB node QB. When the second output transistor (T7) is turned on, the gate high voltage applied through the gate high voltage line (VGH) is a high voltage (Out) through the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). H) can be output.

변조 트랜지스터(MT)는 제2스테이지(STG2)의 제2스캔신호 발생부(SCN2[2])의 출력단자에 연결된 신호라인(SCN2O)에 게이트전극이 연결되고 게이트변조전압라인(VGPM)에 제1전극이 연결되고 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 변조 트랜지스터(MT)는 제2스테이지(STG2)의 제2스캔신호 발생부(SCN2[2])의 출력단자를 통해 출력된 제2스캔신호(Gout2b)에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 변조 트랜지스터(MT)가 턴온되는 경우, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 출력되는 로우전압(L)의 레벨이 변조될 수 있다.The modulation transistor (MT) has its gate electrode connected to the signal line (SCN2O) connected to the output terminal of the second scan signal generator (SCN2[2]) of the second stage (STG2) and applied to the gate modulation voltage line (VGPM). One electrode may be connected and the second electrode may be connected to the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). The modulation transistor MT may be turned on or off in response to the second scan signal Gout2b output through the output terminal of the second scan signal generator SCN2[2] of the second stage STG2. When the modulation transistor MT is turned on, the level of the low voltage L output through the output terminal Out of the first scan signal generator SCN1[1] may be modulated.

도 10을 참고하면, 제1스캔신호(Gout1a)는 하이전압(H)에서 로우전압(L)으로 전환되지 않고 하이전압(H)과 로우전압(L) 사이의 전압레벨로 발생하는 것을 볼 수 있다. 이는 제2스캔신호(Gout2b)에 대응하여 변조 트랜지스터(MT)가 턴온되고, 턴온된 변조 트랜지스터(MT)를 통해 하이전압(H)과 로우전압(L) 사이의 변조전압이 인가됨에 따른 것이다. 도 10은 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 게이트하이전압과 게이트로우전압 사이의 변조전압이 고정되어 인가된 것을 일례로 도시한 것이다. 그러나 이는 예시일 뿐, 변조전압은 장치의 특성에 따라 가변될 수 있다.Referring to FIG. 10, it can be seen that the first scan signal (Gout1a) does not convert from the high voltage (H) to the low voltage (L), but occurs at a voltage level between the high voltage (H) and the low voltage (L). there is. This is because the modulation transistor (MT) is turned on in response to the second scan signal (Gout2b), and a modulation voltage between the high voltage (H) and the low voltage (L) is applied through the turned-on modulation transistor (MT). Figure 10 shows an example in which the modulation voltage between the gate high voltage and the gate low voltage is fixedly applied through the gate modulation voltage line (VGPM). However, this is only an example, and the modulation voltage may vary depending on the characteristics of the device.

제1스캔신호(Gout1a)의 레벨은 게이트변조기간(GPM) 동안 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 인가된 변조전압의 레벨에 따라 달라질 수 있다. 그리고 게이트변조기간(GPM)은 제2스캔신호(Gout2b)의 발생 기간에 대응할 수 있다.The level of the first scan signal (Gout1a) may vary depending on the level of the modulation voltage applied through the gate modulation voltage line (VGPM) during the gate modulation period (GPM). And the gate modulation period (GPM) may correspond to the generation period of the second scan signal (Gout2b).

한편, 제1실시예에서는 제1출력 트랜지스터(T6), 제2출력 트랜지스터(T7) 및 변조 트랜지스터(MT)가 p 타입으로 선택된 것을 일례로 도시한 것일 뿐, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 즉, 제1출력 트랜지스터(T6), 제2출력 트랜지스터(T7) 및 변조 트랜지스터(MT)는 n 타입으로 선택될 수도 있다.Meanwhile, in the first embodiment, the first output transistor (T6), the second output transistor (T7), and the modulation transistor (MT) are selected as p-type as an example, but the present invention is not limited thereto. That is, the first output transistor (T6), the second output transistor (T7), and the modulation transistor (MT) may be selected as n-type.

또한, 제1실시예에서는 제1스캔신호(Gout1a)가 하이전압(H)에서 로우전압(L)으로 전환되는 시점에 대응하여 변조가 이루어지는 것을 일례로 도시한 것일 뿐, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 즉, 제1스캔신호(Gout1a)가 로우전압(L)에서 하이전압(H)으로 전환되는 시점에 대응하여 변조가 이루어지도록 회로를 구성하고, 이에 대응하여 전압을 인가할 수도 있다.In addition, in the first embodiment, it is only shown as an example that modulation is performed in response to the time when the first scan signal (Gout1a) is converted from the high voltage (H) to the low voltage (L), and the present invention is not limited to this. No. That is, the circuit may be configured so that modulation is performed in response to the time when the first scan signal (Gout1a) is converted from the low voltage (L) to the high voltage (H), and a voltage may be applied in response.

도 11은 본 발명의 제2실시예에 따라 도 7에 도시된 시프트 레지스터의 일부를 나타낸 블록도이고, 도 12는 본 발명의 제2실시예에 따라 도 11에 도시된 제1스캔신호 발생부를 나타낸 회로 구성도이고, 도 13은 도 12에 도시된 제1스캔신호 발생부의 출력을 설명하기 위한 파형도이다.FIG. 11 is a block diagram showing a portion of the shift register shown in FIG. 7 according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 12 is a first scan signal generator shown in FIG. 11 according to the second embodiment of the present invention. This is a circuit diagram, and FIG. 13 is a waveform diagram for explaining the output of the first scan signal generator shown in FIG. 12.

도 11에 도시된 바와 같이, 제2실시예에 따른 시프트 레지스터(131a)는 제1클록신호라인들(CLKS1), 제2클록신호라인들(CLKS2), 게이트변조전압라인(VGPM), 게이트하이전압라인(VGH), 게이트로우전압라인(VGL) 및 스타트신호라인(VST)에 연결될 수 있다. 제1클록신호라인들(CLKS1)은 제1-1클록신호라인(CLK1)과 제1-2클록신호라인(CLK2)을 포함할 수 있고, 제2클록신호라인들(CLKS2)은 제2-1클록신호라인(CLK1')과 제2-2클록신호라인(CLK2')을 포함할 수 있다. 제1-1클록신호라인(CLK1)과 제1-2클록신호라인(CLK2)을 통해 인가되는 제1-1클록신호와 제1-2클록신호는 제2-1클록신호라인(CLK1')과 제2-2클록신호라인(CLK2')을 통해 인가되는 제2-1클록신호와 제2-2클록신호와 다른 위상을 가질 수 있다.As shown in FIG. 11, the shift register 131a according to the second embodiment includes first clock signal lines (CLKS1), second clock signal lines (CLKS2), gate modulation voltage line (VGPM), and gate high It can be connected to the voltage line (VGH), gate low voltage line (VGL), and start signal line (VST). The first clock signal lines CLKS1 may include a 1-1 clock signal line CLK1 and a 1-2 clock signal line CLK2, and the second clock signal lines CLKS2 may include a 1-1 clock signal line CLK1 and a 1-2 clock signal line CLK2. It may include a first clock signal line (CLK1') and a second-second clock signal line (CLK2'). The 1-1 clock signal and the 1-2 clock signal applied through the 1-1 clock signal line (CLK1) and the 1-2 clock signal line (CLK2) are connected to the 2-1 clock signal line (CLK1') and may have different phases from the 2-1 clock signal and the 2-2 clock signal applied through the 2-2 clock signal line CLK2'.

시프트 레지스터(131a)는 제1클록신호라인들(CLKS1)을 통해 인가된 제1클록신호들, 제2클록신호라인들(CLKS2)을 통해 인가된 제2클록신호들, 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 인가된 게이트변조전압, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압, 스타트신호라인(VST)을 통해 인가된 스타트신호 등을 기반으로 동작할 수 있다.The shift register 131a stores the first clock signals applied through the first clock signal lines CLKS1, the second clock signals applied through the second clock signal lines CLKS2, and the gate modulation voltage line VGPM. ), gate modulation voltage applied through the gate high voltage line (VGH), gate low voltage applied through the gate low voltage line (VGL), and start applied through the start signal line (VST). It can operate based on signals, etc.

시프트 레지스터(131a)는 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부들(SCN1[1] ~ SCN1[2])과 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부들(SCN2[1] ~ SCN2[2])을 포함할 수 있다.The shift register 131a includes first scan signal generators (SCN1[1] ~ SCN1[2]) that output the first scan signal and second scan signal generators (SCN2[1] ~) that output the second scan signal. SCN2[2]) may be included.

도 11 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])는 제1스캔신호(Gout1a)의 출력 레벨을 변조할 수 있다. 그리고 이는 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])뿐만 아니라 제2스테이지(STG2)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[2])와 같이 모든 제1스캔신호 발생부에서 가능하다. 이하, 제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])를 기반으로 이를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.As shown in FIGS. 11 to 13, the first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) may modulate the output level of the first scan signal (Gout1a). And this generates all the first scan signals, such as the first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) as well as the first scan signal generator (SCN1[2]) of the second stage (STG2). It is possible in the department. Hereinafter, this will be described in detail based on the first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) as follows.

제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])는 제1트랜지스터(T1) 내지 제5트랜지스터(T5), 제1커패시터(CO) 내지 제3커패시터(CB), 제1출력 트랜지스터(T6), 제2출력 트랜지스터(T7) 및 변조 트랜지스터(MT) 등을 포함할 수 있다. 제1트랜지스터(T1) 내지 제5트랜지스터(T5), 제1출력 트랜지스터(T6), 제2출력 트랜지스터(T7) 및 변조 트랜지스터(MT)는 p 타입으로 선택될 수 있다.The first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) includes the first transistor (T1) to the fifth transistor (T5), the first capacitor (CO) to the third capacitor (CB), and the first transistor (T1) to the fifth transistor (T5). It may include an output transistor (T6), a second output transistor (T7), and a modulation transistor (MT). The first transistor (T1) to the fifth transistor (T5), the first output transistor (T6), the second output transistor (T7), and the modulation transistor (MT) may be selected as p-type.

제1트랜지스터(T1) 내지 제5트랜지스터(T5)와 제1커패시터(CO) 내지 제3커패시터(CB)는 노드 제어부(NDC)에 포함될 수 있다. 노즈 제어부(NDC)는 스타트신호와 제1클록신호를 기반으로 동작하며, 게이트하이전압과 게이트로우전압을 기반으로 Q노드(Q)와 QB노드(QB)를 제어할 수 있다.The first to fifth transistors T1 to T5 and the first to third capacitors CO may be included in the node control unit NDC. The nose control unit (NDC) operates based on the start signal and the first clock signal, and can control the Q node (Q) and QB node (QB) based on the gate high voltage and gate low voltage.

제1스테이지(STG1)의 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압 및 스타트신호라인(VST)을 통해 인가된 스타트신호를 기반으로 동작할 수 있는데, 이를 설명하면 다음과 같다.The first scan signal generator (SCN1[1]) of the first stage (STG1) receives the first clock signal applied through the first clock signal line (CLK1) and the gate high voltage line (VGH). It can operate based on voltage, the gate low voltage applied through the gate low voltage line (VGL), and the start signal applied through the start signal line (VST), which is explained as follows.

제1트랜지스터(T1)는 제1클록신호라인(CLK1)에 게이트전극이 연결되고 스타트신호라인(VST)에 제1전극이 연결되고 Q2노드(Q2)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제1트랜지스터(T1)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호를 기반으로 동작할 수 있다. 제1트랜지스터(T1)가 턴온되는 경우, 스타트신호라인(VST)을 통해 인가된 스타트신호는 Q2노드(Q2)에 전달될 수 있다.The first transistor T1 may have a gate electrode connected to the first clock signal line CLK1, a first electrode connected to the start signal line VST, and a second electrode connected to the Q2 node Q2. The first transistor T1 may operate based on the first clock signal applied through the first clock signal line CLK1. When the first transistor (T1) is turned on, the start signal applied through the start signal line (VST) may be transmitted to the Q2 node (Q2).

제2트랜지스터(T2)는 제1클록신호라인(CLK1)에 게이트전극이 연결되고 게이트하이전압라인(VGH)에 제1전극이 연결되고 제3트랜지스터(T3)의 게이트전극에 제2전극이 연결될 수 있다. 제2트랜지스터(T2)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호를 기반으로 동작할 수 있다. 제2트랜지스터(T2)가 턴온되는 경우, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압은 제1커패시터(CO)의 제1전극과 제3트랜지스터(T3)의 게이트전극에 전달될 수 있다.The second transistor (T2) has a gate electrode connected to the first clock signal line (CLK1), a first electrode connected to the gate high voltage line (VGH), and a second electrode connected to the gate electrode of the third transistor (T3). You can. The second transistor T2 may operate based on the first clock signal applied through the first clock signal line CLK1. When the second transistor (T2) is turned on, the gate high voltage applied through the gate high voltage line (VGH) can be transmitted to the first electrode of the first capacitor (CO) and the gate electrode of the third transistor (T3). there is.

제3트랜지스터(T3)는 제1커패시터(CO)의 제1전극과 제2트랜지스터(T2)의 제2전극에 게이트전극이 연결되고 제1클록신호라인(CLK1)에 제1전극이 연결되고 QB노드(QB)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제3트랜지스터(T3)는 제1커패시터(CO)에 충전된 전위에 대응하여 동작할 수 있다. 제3트랜지스터(T3)가 턴온되는 경우, 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호는 QB노드(QB)에 전달될 수 있다. 제3트랜지스터(T3)는 듀얼 게이트전극을 가질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The third transistor (T3) has a gate electrode connected to the first electrode of the first capacitor (CO) and the second electrode of the second transistor (T2), a first electrode connected to the first clock signal line (CLK1), and QB. A second electrode may be connected to the node QB. The third transistor T3 may operate in response to the potential charged in the first capacitor CO. When the third transistor T3 is turned on, the first clock signal applied through the first clock signal line CLK1 may be transmitted to the QB node QB. The third transistor T3 may have a dual gate electrode, but is not limited thereto.

제4트랜지스터(T4)는 Q2노드(Q2)에 게이트전극이 연결되고 게이트하이전압라인(VGH)에 제1전극이 연결되고 QB노드(QB)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제4트랜지스터(T4)는 Q2노드(Q2)의 전위에 대응하여 동작할 수 있다. 제4트랜지스터(T4)가 턴온되는 경우, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압은 QB노드(QB)에 전달될 수 있다.The fourth transistor T4 may have a gate electrode connected to the Q2 node (Q2), a first electrode connected to the gate high voltage line (VGH), and a second electrode connected to the QB node (QB). The fourth transistor T4 may operate in response to the potential of the Q2 node Q2. When the fourth transistor T4 is turned on, the gate high voltage applied through the gate high voltage line VGH may be transmitted to the QB node (QB).

제5트랜지스터(T5)는 게이트로우전압라인(VGL)에 게이트전극이 연결되고 Q2노드(Q2)에 제1전극이 연결되고 Q1노드(Q1)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제5트랜지스터(T5)는 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압에 대응하여 동작할 수 있다. 제5트랜지스터(T5)는 턴온된 상태를 유지하며, Q2노드(Q2)와 Q1노드(Q1) 사이의 전위를 안정화할 수 있다.The fifth transistor T5 may have a gate electrode connected to the gate low voltage line VGL, a first electrode connected to the Q2 node (Q2), and a second electrode connected to the Q1 node (Q1). The fifth transistor T5 may operate in response to the gate low voltage applied through the gate low voltage line VGL. The fifth transistor T5 remains turned on and can stabilize the potential between the Q2 node (Q2) and the Q1 node (Q1).

제1커패시터(CO)는 제2트랜지스터(T2)의 제2전극과 제3트랜지스터(T3)의 게이트전극에 제1전극이 연결되고 제1클록신호라인(CLK1)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제1커패시터(CO)는 제1클록신호라인(CLK1)을 통해 인가된 제1클록신호에 대응하여 충전 또는 방전될 수 있다. 제1커패시터(CO)는 제1클록신호에 대응하여 노드의 전위가 빠르게 변할 수 있도록 돕는 역할을 할 수 있다.The first capacitor CO may have a first electrode connected to the second electrode of the second transistor T2 and the gate electrode of the third transistor T3, and a second electrode connected to the first clock signal line CLK1. . The first capacitor CO may be charged or discharged in response to the first clock signal applied through the first clock signal line CLK1. The first capacitor (CO) may serve to help the potential of the node change quickly in response to the first clock signal.

제2커패시터(CQ)는 Q1노드(Q1)에 제1전극이 연결되고 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제2커패시터(CQ)는 Q1노드(Q1)의 리플(ripple)을 억제하며 전기적으로 안정된 상태를 유지하는 역할을 할 수 있다.The second capacitor CQ may have a first electrode connected to the Q1 node (Q1) and a second electrode connected to the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). The second capacitor (CQ) suppresses the ripple of the Q1 node (Q1) and can play a role in maintaining an electrically stable state.

제3커패시터(CB)는 QB노드(QB)에 제1전극이 연결되고 게이트하이전압라인(VGH)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제3커패시터(CB)는 QB노드(QB)의 리플(ripple)을 억제하며 전기적으로 안정된 상태를 유지하는 역할을 할 수 있다.The third capacitor CB may have a first electrode connected to the QB node QB and a second electrode connected to the gate high voltage line VGH. The third capacitor (CB) suppresses the ripple of the QB node (QB) and can play a role in maintaining an electrically stable state.

제1출력 트랜지스터(T6)는 Q노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 게이트로우전압라인(VGL)에 제1전극이 연결되고, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제1출력 트랜지스터(T6)는 Q노드(Q)의 전위에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 제1출력 트랜지스터(T6)가 턴온되는 경우, 게이트로우전압라인(VGL)을 통해 인가된 게이트로우전압은 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 로우전압(L)으로 출력될 수 있다.The first output transistor (T6) has a gate electrode connected to the Q node (Q), a first electrode connected to the gate low voltage line (VGL), and an output terminal ( A second electrode may be connected to Out). The first output transistor T6 may be turned on or off in response to the potential of the Q node (Q). When the first output transistor (T6) is turned on, the gate low voltage applied through the gate low voltage line (VGL) is converted to a low voltage (Out) through the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). L) can be output.

제2출력 트랜지스터(T7)는 QB노드(QB)에 게이트전극이 연결되고 게이트하이전압라인(VGH)에 제1전극이 연결되고, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 제2출력 트랜지스터(T7)는 QB노드(QB)의 전위에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 제2출력 트랜지스터(T7)가 턴온되는 경우, 게이트하이전압라인(VGH)을 통해 인가된 게이트하이전압은 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 하이전압(H)으로 출력될 수 있다.The second output transistor T7 has a gate electrode connected to the QB node (QB), a first electrode connected to the gate high voltage line (VGH), and an output terminal ( A second electrode may be connected to Out). The second output transistor T7 may be turned on or turned off in response to the potential of the QB node QB. When the second output transistor (T7) is turned on, the gate high voltage applied through the gate high voltage line (VGH) is a high voltage (Out) through the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). H) can be output.

변조 트랜지스터(MT)는 제2스테이지(STG2)의 제2스캔신호 발생부(SCN2[2])의 출력단자에 연결된 신호라인(SCN2O)에 게이트전극이 연결되고 게이트변조전압라인(VGPM)에 제1전극이 연결되고 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)에 제2전극이 연결될 수 있다. 변조 트랜지스터(MT)는 제2스테이지(STG2)의 제2스캔신호 발생부(SCN2[2])의 출력단자를 통해 출력된 제2스캔신호(Gout2b)에 대응하여 턴온되거나 턴오프될 수 있다. 변조 트랜지스터(MT)가 턴온되는 경우, 제1스캔신호 발생부(SCN1[1])의 출력단자(Out)를 통해 출력되는 로우전압(L)의 레벨이 변조될 수 있다.The modulation transistor (MT) has its gate electrode connected to the signal line (SCN2O) connected to the output terminal of the second scan signal generator (SCN2[2]) of the second stage (STG2) and applied to the gate modulation voltage line (VGPM). One electrode may be connected and the second electrode may be connected to the output terminal (Out) of the first scan signal generator (SCN1[1]). The modulation transistor MT may be turned on or off in response to the second scan signal Gout2b output through the output terminal of the second scan signal generator SCN2[2] of the second stage STG2. When the modulation transistor MT is turned on, the level of the low voltage L output through the output terminal Out of the first scan signal generator SCN1[1] may be modulated.

도 13을 참고하면, 제1스캔신호(Gout1a)는 하이전압(H)에서 로우전압(L)으로 전환되지 않고 하이전압(H)과 로우전압(L) 사이의 전압레벨로 발생하는 것을 볼 수 있다. 이는 제2스캔신호(Gout2b)에 대응하여 변조 트랜지스터(MT)가 턴온되고, 턴온된 변조 트랜지스터(MT)를 통해 하이전압(H)과 로우전압(L) 사이의 변조전압이 인가됨에 따른 것이다. 도 13은 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 게이트하이전압과 게이트로우전압 사이의 변조전압이 인가된 것을 일례로 도시한 것일 뿐, 본 발명은 이에 한정되지 않고 장치의 특성에 따라 가변 가능하다.Referring to FIG. 13, it can be seen that the first scan signal (Gout1a) does not convert from the high voltage (H) to the low voltage (L), but occurs at a voltage level between the high voltage (H) and the low voltage (L). there is. This is because the modulation transistor (MT) is turned on in response to the second scan signal (Gout2b), and a modulation voltage between the high voltage (H) and the low voltage (L) is applied through the turned-on modulation transistor (MT). Figure 13 only shows an example in which a modulation voltage between the gate high voltage and the gate low voltage is applied through the gate modulation voltage line (VGPM), but the present invention is not limited to this and can be varied depending on the characteristics of the device.

제1스캔신호(Gout1a)의 레벨은 게이트변조기간(GPM) 동안 게이트변조전압라인(VGPM)을 통해 인가된 변조전압의 레벨에 따라 달라질 수 있다. 게이트변조기간(GPM)은 제2스캔신호(Gout2b)의 발생 기간에 대응할 수 있다. 따라서, 게이트변조기간(GPM)은 제2스캔신호(Gout2b)의 로우전압(L) 발생 기간에 따라 달라질 수 있다.The level of the first scan signal (Gout1a) may vary depending on the level of the modulation voltage applied through the gate modulation voltage line (VGPM) during the gate modulation period (GPM). The gate modulation period (GPM) may correspond to the generation period of the second scan signal (Gout2b). Accordingly, the gate modulation period (GPM) may vary depending on the low voltage (L) generation period of the second scan signal (Gout2b).

도 14 및 도 15는 실험예와 실시예에 따른 시프트 레지스터의 시뮬레이션 결과를 보여주는 도면들이다. 도 14 및 도 15는 본 발명의 제2실시예를 기반으로 구현된 제1스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터의 시뮬레이션 결과이다.Figures 14 and 15 are diagrams showing simulation results of shift registers according to experimental examples and embodiments. Figures 14 and 15 are simulation results of a shift register including a first scan signal generator implemented based on the second embodiment of the present invention.

도 14 및 도 15에 도시된 바와 같이, 실험예에 따른 제1스캔신호 발생부로부터 출력된 제1스캔신호(Gout1a)는 신호의 레벨이 전환되는 전환기간(TP)까지 변조되지 않고 하이전압을 유지한 다음 로우전압으로 발생될 수 있다.As shown in Figures 14 and 15, the first scan signal (Gout1a) output from the first scan signal generator according to the experimental example is not modulated until the transition period (TP) when the level of the signal is changed and maintains a high voltage. It can be maintained and then generated as low voltage.

이와 달리, 실시예에 따른 제1스캔신호 발생부로부터 출력된 제1스캔신호(Gout1a)는 신호의 레벨이 전환되는 전환기간(TP) 전에 하이전압에서 로우전압으로 하강하는 형태로 변조가 이루어진 다음 로우전압으로 발생될 수 있다. 제1스캔신호(Gout1a) 출력 시, 전압을 변조하면 제1스캔신호 발생부의 피크투피크전압(Vpp)을 저감할 수 있어 킥백(Kickback) 현상을 개선할 수 있다. 또한, 서브 픽셀에 포함된 산화물 트랜지스터의 소자 특성에서 기인되는 킥백(Kickback) 차이를 줄일 수 있다. 또한, 표시패널 전체의 구동 균일성(Uniformity)을 개선하여 저계조(Low Gray)에서 나타날 수 있는 얼룩을 개선할 수 있다.In contrast, the first scan signal (Gout1a) output from the first scan signal generator according to the embodiment is modulated in the form of falling from a high voltage to a low voltage before the transition period (TP) in which the level of the signal is changed. It can be caused by low voltage. When outputting the first scan signal (Gout1a), modulating the voltage can reduce the peak-to-peak voltage (Vpp) of the first scan signal generator, thereby improving the kickback phenomenon. Additionally, the kickback difference resulting from the device characteristics of the oxide transistor included in the subpixel can be reduced. Additionally, by improving the driving uniformity of the entire display panel, spots that may appear in low gray can be improved.

실험예에 따라 발생된 제1스캔신호(Gout1a)와 실시예에 따라 발생된 제1스캔신호(Gout1a)를 비교하면 알 수 있듯이, 실시예에 따른 제1스캔신호(Gout1a)를 기반으로 서브 픽셀을 구동하면, 구동 트랜지스터(DTG)의 게이트전극에서 나타날 수 있는 킥백(Kickback) 현상을 개선할 수 있다. 이는 도 14 및 도 15와 더불어 하기의 표 1을 참고하면 더욱 명확히 알 수 있다. 아울러, 실시예는 킥백(Kickback) 현상을 고려하여 게이트변조전압을 하나의 레벨로 설정하거나 다수의 레벨로 가변할 수 있다.As can be seen by comparing the first scan signal (Gout1a) generated according to the experimental example with the first scan signal (Gout1a) generated according to the embodiment, the subpixel is based on the first scan signal (Gout1a) according to the embodiment. By driving, the kickback phenomenon that may occur at the gate electrode of the driving transistor (DTG) can be improved. This can be seen more clearly by referring to Table 1 below along with Figures 14 and 15. In addition, the embodiment may set the gate modulation voltage to one level or vary it to multiple levels in consideration of the kickback phenomenon.

Kickback 영향 전Before kickback effect Kickback 영향 후After the kickback impact DTG 변동량DTG fluctuation amount 변동량 감소율Decrease rate of change 실험예Experiment example 0.63V0.63V -0.32V-0.32V △ 0.95V△ 0.95V -- 실시예Example 0.63V0.63V -0.18V-0.18V △ 0.82V△ 0.82V 13.9%13.9%

이상, 본 발명은 시프트 레지스터단에서 게이트신호의 레벨을 변조할 수 있도록 장치를 구현하여 킥백(Kickback) 현상을 개선할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 서브 픽셀에 포함된 산화물 트랜지스터의 소자 특성에서 기인되는 킥백(Kickback) 차이를 줄일 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 표시패널 전체의 구동 균일성(Uniformity)을 개선하여 저계조(Low Gray)에서 나타날 수 있는 얼룩을 개선할 수 있는 효과가 있다.As above, the present invention has the effect of improving the kickback phenomenon by implementing a device to modulate the level of the gate signal at the shift register stage. Additionally, the present invention has the effect of reducing the kickback difference resulting from the device characteristics of the oxide transistor included in the subpixel. Additionally, the present invention has the effect of improving the driving uniformity of the entire display panel, thereby improving spotting that may appear in low gray levels.

130: 게이트 구동부 150: 표시패널
SCN1[1]: 제1스캔신호 발생부 NDC: 노드 제어부
T6: 제1출력 트랜지스터 T7: 제2출력 트랜지스터
MT: 변조 트랜지스터 VGPM: 게이트변조전압라인
130: gate driver 150: display panel
SCN1[1]: First scan signal generator NDC: Node control unit
T6: First output transistor T7: Second output transistor
MT: Modulation transistor VGPM: Gate modulation voltage line

Claims (10)

제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부와 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터; 및
상기 시프트 레지스터에 포함된 변조 트랜지스터를 포함하고,
상기 변조 트랜지스터는 외부로부터 공급된 신호에 응답하여 상기 제1스캔신호 발생부로부터 출력되는 상기 제1스캔신호의 레벨을 변조하는 스캔신호 발생회로.
A shift register including a first scan signal generator that outputs a first scan signal and a second scan signal generator that outputs a second scan signal; and
Including a modulation transistor included in the shift register,
A scan signal generation circuit wherein the modulation transistor modulates the level of the first scan signal output from the first scan signal generator in response to a signal supplied from the outside.
제1항에 있어서,
상기 변조 트랜지스터는
상기 외부로부터 공급된 신호가 전달되는 신호라인에 게이트전극이 연결되고, 변조전압을 전달하는 게이트변조전압라인에 제1전극이 연결되고 상기 제1스캔신호 발생부의 출력단자에 제2전극이 연결된 스캔신호 발생회로.
According to paragraph 1,
The modulation transistor is
A gate electrode is connected to a signal line through which a signal supplied from the outside is transmitted, a first electrode is connected to a gate modulation voltage line through which a modulation voltage is transmitted, and a second electrode is connected to the output terminal of the first scan signal generator. Signal generation circuit.
제2항에 있어서,
상기 변조 트랜지스터는
상기 시프트 레지스터에 포함된 제1스테이지의 제1스캔신호 발생부에 포함되고,
상기 제1스테이지의 다음 단에 위치하는 제2스테이지의 제2스캔신호 발생부의 출력단자에 게이트전극이 연결된 스캔신호 발생회로.
According to paragraph 2,
The modulation transistor is
Included in a first scan signal generator of the first stage included in the shift register,
A scan signal generation circuit where the gate electrode is connected to the output terminal of the second scan signal generator of the second stage located at the next stage of the first stage.
제1항에 있어서,
상기 제1스캔신호는
상기 변조 트랜지스터의 동작에 의해 하이전압에서 로우전압으로 전환되기 전에 변조가 이루어지는 스캔신호 발생회로.
According to paragraph 1,
The first scan signal is
A scan signal generation circuit in which modulation is performed before switching from a high voltage to a low voltage by the operation of the modulation transistor.
제1항에 있어서,
상기 변조 트랜지스터는
p 타입 트랜지스터로 선택되는 스캔신호 발생회로.
According to paragraph 1,
The modulation transistor is
A scan signal generation circuit selected with a p-type transistor.
제1스캔라인과 제2스캔라인에 연결된 서브 픽셀을 포함하는 표시패널;
상기 제1스캔라인에 제1스캔신호를 출력하는 제1스캔신호 발생부와 상기 제2스캔라인에 제2스캔신호를 출력하는 제2스캔신호 발생부를 포함하는 시프트 레지스터; 및
상기 시프트 레지스터에 포함된 변조 트랜지스터를 포함하고,
상기 변조 트랜지스터는 외부로부터 공급된 신호에 응답하여 상기 제1스캔신호 발생부로부터 출력되는 상기 제1스캔신호의 레벨을 변조하는 표시장치.
A display panel including subpixels connected to a first scan line and a second scan line;
a shift register including a first scan signal generator that outputs a first scan signal to the first scan line and a second scan signal generator that outputs a second scan signal to the second scan line; and
Including a modulation transistor included in the shift register,
The display device wherein the modulation transistor modulates the level of the first scan signal output from the first scan signal generator in response to a signal supplied from the outside.
제6항에 있어서,
상기 변조 트랜지스터는
상기 외부로부터 공급된 신호가 전달되는 신호라인에 게이트전극이 연결되고, 변조전압을 전달하는 게이트변조전압라인에 제1전극이 연결되고 상기 제1스캔신호 발생부의 출력단자에 제2전극이 연결된 표시장치.
According to clause 6,
The modulation transistor is
A gate electrode is connected to a signal line through which a signal supplied from the outside is transmitted, a first electrode is connected to a gate modulation voltage line through which a modulation voltage is transmitted, and a second electrode is connected to the output terminal of the first scan signal generator. Device.
제7항에 있어서,
상기 변조 트랜지스터는
상기 시프트 레지스터에 포함된 제1스테이지의 제1스캔신호 발생부에 포함되고,
상기 제1스테이지의 다음 단에 위치하는 제2스테이지의 제2스캔신호 발생부의 출력단자에 게이트전극이 연결된 표시장치.
In clause 7,
The modulation transistor is
Included in a first scan signal generator of the first stage included in the shift register,
A display device whose gate electrode is connected to the output terminal of the second scan signal generator of the second stage located next to the first stage.
제6항에 있어서,
상기 제1스캔신호는
상기 변조 트랜지스터의 동작에 의해 하이전압에서 로우전압으로 전환되기 전에 변조가 이루어지는 표시장치.
According to clause 6,
The first scan signal is
A display device in which modulation is performed before switching from a high voltage to a low voltage by the operation of the modulation transistor.
제7항에 있어서,
상기 변조전압은
고정되거나 가변되는 스캔신호 표시장치.
In clause 7,
The modulation voltage is
A fixed or variable scan signal display device.
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