KR20240077527A

KR20240077527A - 데이터 드라이버의 출력 보상 방법

Info

Publication number: KR20240077527A
Application number: KR1020220157499A
Authority: KR
Inventors: 정하용
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2022-11-22
Filing date: 2022-11-22
Publication date: 2024-06-03
Also published as: US20240169932A1; CN118072648A

Abstract

데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하는 단계, 데이터 드라이버의 출력 앰프들을 통하여 센싱 회로에 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 제1 출력 값 및 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하는 단계, 보상 룩업 테이블을 기초로 상기 데이터 드라이버의 출력 전압들을 보상하는 단계를 포함할 수 있다. 따라서, 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 데이터 드라이버의 출력 앰프들의 출력 편차를 보상할 수 있다. 이에 따라, 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 표시 패널에 세로줄이 시인되는 것을 방지할 수 있다.

Description

데이터 드라이버의 출력 보상 방법{OUTPUT COMPENSATION METHOD FOR DATA DRIVER}

본 발명은 데이터 드라이버의 출력 보상 방법에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 표시 장치에 포함된 데이터 드라이버의 출력 보상 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 표시 장치는 표시 패널, 게이트 드라이버, 데이터 드라이버, 및 타이밍 컨트롤러를 포함한다. 표시 패널은 복수의 게이트 라인들, 복수의 데이터 라인들, 및 복수의 게이트 라인들 및 복수의 데이터 라인들에 전기적으로 연결된 복수의 픽셀들을 포함한다. 게이트 드라이버는 게이트 라인들에 게이트 신호들을 제공하고, 데이터 드라이버는 데이터 라인들에 데이터 전압들을 제공하며, 타이밍 컨트롤러는 게이트 드라이버 및 데이터 드라이버를 제어한다.

표시 장치는 공정 편차 등의 이유로 픽셀마다 구동 트랜지스터의 문턱 전압 및 이동도, 및 발광 소자의 캐패시턴스 등과 같은 전기적 특성 차이가 발생할 수 있다. 따라서, 표시 장치는 표시 품질을 높이기 위해 픽셀들의 전기적 특성 차이를 센싱하고, 전기적 특성 차이를 보상할 수 있다.

다만, 센싱을 위해 데이터 드라이버의 출력 앰프들에 입력되는 전압과 영상을 표시하기 위해 데이터 드라이버의 출력 앰프들에 입력되는 전압이 상이할 수 있다. 그리고, 데이터 전압들을 제공하는 출력 앰프들은 입력되는 전압에 따라 출력 앰프들 사이의 출력 편차가 달라질 수 있다. 결국, 출력 편차가 달라짐에 따라, 정확한 보상이 이루어지지 않을 수 있다.

본 발명의 일 목적은 데이터 드라이버의 출력 편차를 보상하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법을 제공하는 것이다.

다만, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 상기 언급된 과제에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.

본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 상기 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하는 단계, 데이터 드라이버의 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하는 단계, 상기 보상 룩업 테이블을 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 보상하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 제1 출력 값과 상기 제2 출력 값들의 차이들을 기초로 생성될 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계는 제1 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제1 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제1 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 제2 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제2 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제2 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 및 제3 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제3 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제3 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 각각의 색들에 대한 상기 출력 앰프들의 개수는 표시 패널의 가로 해상도와 동일하고, 각각의 상기 색들에 대한 상기 제2 출력 값들의 개수는 계조들의 개수와 상기 가로 해상도의 곱과 동일할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하고, 각각의 색들에 대한 상기 보상 값들의 개수는 상기 계조들의 상기 개수, 상기 가로 해상도, 및 상기 표시 패널의 세로 해상도의 곱과 동일할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계는 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 동일한 상기 출력 전압들을 반복하여 인가하는 단계, 및 동일한 상기 출력 전압들에 대한 상기 제2 출력 값들의 평균 값들을 계산하는 단계를 포함하고, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 평균 값들을 기초로 생성될 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들의 차이들에 대한 상기 출력 앰프들의 편차를 보상하는 보상 값들을 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 출력 전압들은 상기 보상 값들이 가산됨으로써 보상될 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력하고, 상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하며, 기준 계조 이하의 상기 계조 전압들에 대한 상기 보상 값들은 0일 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력하고, 상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하며, 기준 계조 이상의 상기 계조 전압들에 대한 상기 보상 값들은 0일 수 있다.

일 실시예에 있어서, 데이터 드라이버는 전압 제어 신호를 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 결정하는 DC-DC 컨버터를 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 센싱 회로는 센싱 라인을 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로, 센싱 채널에 상기 센싱 라인을 연결하는 라인 선택 스위치, 및 상기 센싱 라인의 센싱 전압을 샘플링하는 상기 센싱 채널을 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 제2 출력 값들은 상기 센싱 채널에 상기 출력 전압들을 인가하여 측정될 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 센싱 회로는 아날로그-디지털 변환기, 및 상기 센싱 채널을 상기 아날로그-디지털 변환기에 연결하는 스위치 매트릭스를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 상기 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하는 단계, 데이터 드라이버의 출력 앰프들 중 제1 일부를 통하여 상기 센싱 회로에 상기 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 상기 출력 앰프들 중 제2 일부를 통하여 상기 센싱 회로에 상기 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계, 상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하는 단계, 상기 보상 룩업 테이블을 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 보상하는 단계를 포함할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 상기 센싱 회로는 제1 센싱 라인 및 제2 센싱 라인을 동시에 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로, 센싱 채널에 상기 제1 센싱 라인을 연결하는 제1 라인 선택 스위치, 상기 센싱 채널에 상기 제2 센싱 라인을 연결하는 제2 라인 선택 스위치, 및 상기 제1 센싱 라인의 제1 센싱 전압을 샘플링하고, 상기 제2 센싱 라인의 제2 센싱 전압을 샘플링하는 상기 센싱 채널을 포함할 수 있다.

본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하고, 데이터 드라이버의 출력 앰프들을 통하여 센싱 회로에 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하며, 제1 출력 값 및 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하고, 보상 룩업 테이블을 기초로 데이터 드라이버의 출력 전압들을 보상함으로써, 데이터 드라이버의 출력 편차를 보상할 수 있다. 이에 따라, 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 표시 패널에 세로줄이 시인되는 것을 방지할 수 있다.

다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법을 나타내는 순서도이다.
도 2는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 표시 패널의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 데이터 드라이버의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 서브 픽셀의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 6은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 7 내지 도 10은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 센싱 데이터를 생성하는 일 예를 나타내는 회로도들이다.
도 11 내지 도 13은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 제1 출력 값을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.
도 14 내지 도 16은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 제2 출력 값들을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.
도 17은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 제2 출력 값들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 18은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 제1 출력 값과 제2 출력 값들의 차이들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 19는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 20은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법에 따른 제2 출력 값들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 21은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 22는 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 23은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법을 나타내는 순서도이다.
도 24는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 25 내지 도 32는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 센싱 데이터를 생성하는 일 예를 나타내는 회로도들이다.
도 33 내지 도 35는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 제1 출력 값을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.
도 36 내지 도 38은 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로가 제2 출력 값들을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.
도 39는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 40은 도 39의 전자 기기가 텔레비전으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버의 출력 보상 방법을 나타내는 순서도이다.

도 1을 참조하면, 도 1의 데이터 드라이버의 출력 보상 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정(S100)하고, 데이터 드라이버의 출력 앰프들을 통하여 센싱 회로에 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정(S200)하며, 제1 출력 값 및 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성(S300)하고, 보상 룩업 테이블을 기초로 데이터 드라이버의 출력 전압들을 보상(S400)할 수 있다.

이하, 구체적으로 설명한다.

도 2는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.

도 2를 참조하면, 표시 장치는 표시 패널(100), 타이밍 컨트롤러(200), 게이트 드라이버(300), 및 데이터 드라이버(400), 및 센싱 회로(500)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 컨트롤러(200) 및 데이터 드라이버(400)는 하나의 칩에 집적될 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 드라이버(400) 및 센싱 회로(500)는 하나의 칩에 집적될 수 있다.

표시 패널(100)은 영상을 표시하는 표시부(AA) 및 표시부(AA)에 이웃하여 배치되는 주변부(PA)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 게이트 드라이버(300)는 주변부(PA)에 실장될 수 있다.

표시 패널(100)은 복수의 게이트 라인들(GL), 복수의 데이터 라인들(DL), 복수의 센싱 라인들(SL) 및 게이트 라인들(GL), 데이터 라인들(DL), 및 센싱 라인들(SL)에 전기적으로 연결된 복수의 픽셀들(P)을 포함할 수 있다. 게이트 라인들(GL)은 제1 방향(D1)으로 연장되고, 데이터 라인들(DL) 및 센싱 라인들(SL)은 제1 방향(D1)과 교차하는 제2 방향(D2)으로 연장될 수 있다.

타이밍 컨트롤러(200)는 호스트 프로세서(예를 들어, 그래픽 프로세싱 유닛(graphic processing unit; GPU) 등)로부터 입력 영상 데이터(IMG) 및 입력 제어 신호(CONT)를 수신할 수 있다. 예를 들어, 입력 영상 데이터(IMG)는 적색 영상 데이터, 녹색 영상 데이터 및 청색 영상 데이터를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 입력 영상 데이터(IMG)는 백색 영상 데이터를 더 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 입력 영상 데이터(IMG)는 마젠타색(magenta) 영상 데이터, 황색(yellow) 영상 데이터 및 시안색(cyan) 영상 데이터를 포함할 수 있다. 입력 제어 신호(CONT)는 마스터 클럭 신호 및 데이터 인에이블 신호를 포함할 수 있다. 입력 제어 신호(CONT)는 수직 동기 신호 및 수평 동기 신호를 더 포함할 수 있다.

타이밍 컨트롤러(200)는 입력 영상 데이터(IMG) 및 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 제1 제어 신호(CONT1), 제2 제어 신호(CONT2), 및 데이터 신호(DATA)를 생성할 수 있다.

타이밍 컨트롤러(200)는 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 게이트 드라이버(300)의 동작을 제어하기 위한 제1 제어 신호(CONT1)를 생성하여 게이트 드라이버(300)로 출력할 수 있다. 제1 제어 신호(CONT1)는 수직 개시 신호 및 게이트 클럭 신호를 포함할 수 있다.

타이밍 컨트롤러(200)는 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 데이터 드라이버(400)의 동작을 제어하기 위한 제2 제어 신호(CONT2)를 생성하여 데이터 드라이버(400)로 출력할 수 있다. 제2 제어 신호(CONT2)는 수평 개시 신호 및 로드 신호를 포함할 수 있다.

타이밍 컨트롤러(200)는 입력 영상 데이터(IMG) 및 입력 제어 신호(CONT)를 수신하여 데이터 신호(DATA)를 생성할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(200)는 데이터 신호(DATA)를 데이터 드라이버(400)로 출력할 수 있다.

게이트 드라이버(300)는 타이밍 컨트롤러(200)로부터 입력 받은 제1 제어 신호(CONT1)에 응답하여 게이트 라인들(GL)을 구동하기 위한 게이트 신호들을 생성할 수 있다. 게이트 드라이버(300)는 게이트 신호들을 게이트 라인들(GL)로 출력할 수 있다. 예를 들어, 게이트 드라이버(300)는 게이트 신호들을 게이트 라인들(GL)에 순차적으로 출력할 수 있다.

데이터 드라이버(400)는 타이밍 컨트롤러(200)로부터 제2 제어 신호(CONT2) 및 데이터 신호(DATA)를 입력 받을 수 있다. 데이터 드라이버(400)는 데이터 신호(DATA)를 아날로그 형태의 전압으로 변환한 데이터 전압들(즉, 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들)을 생성할 수 있다. 데이터 드라이버(400)는 데이터 전압들(즉, 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다.

센싱 회로(500)는 센싱 라인들(SL)을 통하여 픽셀들(P)의 전기적 특성을 센싱하여 센싱 데이터(SD)를 생성하고, 센싱 데이터(SD)를 타이밍 컨트롤러(200)에 제공할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(200)는 센싱 데이터(SD)를 기초로 픽셀들(P) 사이의 전기적 특성의 편차를 보상할 수 있다. 즉, 타이밍 컨트롤러(200)는 센싱 데이터(SD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상할 수 있다.

도 3은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 표시 패널(100)의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 4는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 데이터 드라이버(400)의 일 예를 나타내는 도면이다.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 표시 패널(100)은 X x Y 해상도를 가질 수 있다(X 및 Y는 양의 정수). X는 가로 해상도이고, Y는 세로 해상도이다. 즉, 표시 패널(100)은 X개의 제2 방향(D2)의 픽셀 열들을 갖고, Y개의 제1 방향(D1)의 픽셀 행들을 가질 수 있다.

데이터 드라이버(400)는 전압 제어 신호(VCON)를 기초로 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들을 결정하는 DC-DC 컨버터(410), 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들을 출력하는 출력 앰프들(420), 및 데이터 드라이버(400)의 출력 앰프들(420)의 편차를 보상하기 위한 보상 값들(CV)을 포함하는 보상 룩업 테이블(430)을 포함할 수 있다.

데이터 드라이버(400)는 계조 전압들(VR, VG, VB)을 출력 전압들로 출력할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 컨트롤러(200)는 입력 영상 데이터(IMG)의 계조들에 대한 전압 제어 신호(VCON)를 포함하는 제2 제어 신호(CONT2)를 데이터 드라이버(400)에 출력할 수 있다.

전압 제어 신호(VCON)는 J가지의 신호들을 포함할 수 있다(J는 양의 정수). 예를 들어, 표시 장치가 0에서 255까지 256개의 계조들을 표시하는 경우, J는 256일 수 있다. 즉, 전압 제어 신호(VCON)는 256가지의 신호들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 데이터 드라이버(400)의 출력 범위는 0계조의 계조 전압과 255계조의 계조 전압 사이일 수 있다.

출력 전압들은 보상 값들(CV)이 가산됨으로써 보상될 수 있다. 예를 들어, DC-DC 컨버터(410)는 전압 제어 신호(VCON)에 따라 결정된 계조 전압들(VR, VG, VB)에 보상 값들(CV)을 가산함으로써 데이터 드라이버(400)의 출력 편차를 보상할 수 있다. 보상 값들(CV)에 대한 구체적인 설명은 후술한다.

출력 앰프들(420)은 데이터 라인들(DL)에 계조 전압들(VR, VG, VB)을 출력할 수 있다. 각각의 색들에 대한 출력 앰프들(420)의 개수는 표시 패널(100)의 가로 해상도와 동일할 수 있다.

예를 들어, 표시 패널의 가로 해상도가 X인 경우, 출력 앰프들(420)은 픽셀들(P)에 포함된 제1 색을 표시하는 서브 픽셀들에 연결된 X개의 데이터 라인들(DL)에 제1 색에 대한 계조 전압들(VR)을 출력할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널의 가로 해상도가 X인 경우, 픽셀들(P)에 포함된 제2 색을 표시하는 서브 픽셀들에 연결된 X개의 데이터 라인들(DL)에 제2 색에 대한 계조 전압들(VG)을 출력할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널의 가로 해상도가 X인 경우, 픽셀들(P)에 포함된 제3 색을 표시하는 서브 픽셀들에 연결된 X개의 데이터 라인들(DL)에 제3 색에 대한 계조 전압들(VB)을 출력할 수 있다.

도 4에서 출력 앰프들(420)이 제1 색에 대한 계조 전압들(VR)을 출력하는 출력 앰프들(420), 제2 색에 대한 계조 전압들(VG)을 출력하는 출력 앰프들(420), 및 제3 색에 대한 계조 전압들(VB)을 출력하는 출력 앰프들(420)의 순서로 배치되는 것을 예시하였으나, 본 발명은 출력 앰프들(420)이 배치되는 순서에 한정되지 않는다.

도 5는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 서브 픽셀(SP)의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 6은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(500)의 일 예를 나타내는 회로도이며, 도 7 내지 도 10은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(500)가 센싱 데이터(SD)를 생성하는 일 예를 나타내는 회로도들이다. 제1 보상 스위치(CS1) 및 제2 보상 스위치(CS2)는 보상 룩업 테이블(430)을 생성하기 위한 구조이므로, 도 11 내지 도 16을 통하여 후술한다.

도 2 및 도 5를 참조하면, 픽셀들(P) 각각은 제1 색을 표시하는 서브 픽셀(SP), 제2 색을 표시하는 서브 픽셀(SP), 및 제3 색을 표시하는 서브 픽셀(SP)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 색은 적색이고, 제2 색은 녹색이며, 제3 색은 청색일 수 있다.

서브 픽셀(SP)은 스캔 신호(SC)에 응답하여 저장 커패시터(CST)에 데이터 라인(DL)의 계조 전압(VR, VG, VB)(또는 센싱 기준 전압(VSENREF))을 전송하는 제1 스위칭 트랜지스터(TSW1), 제1 스위칭 트랜지스터(TSW1)에 의해 전송된 계조 전압(VR, VG, VB)을 저장하는 저장 커패시터(CST), 저장 커패시터(CST)에 저장된 계조 전압(VR, VG, VB)에 기초하여 구동 전류를 생성하는 구동 트랜지스터(TDR), 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 제2 전원 전압(ELVSS)으로 흐르는 상기 구동 전류에 기초하여 발광하는 발광 소자(EL), 및 센싱 신호(SS)에 응답하여 센싱 라인(SL)에 구동 트랜지스터(TDR)의 일 단자(예를 들어, 소스)를 연결하는 제2 스위칭 트랜지스터(TSW2)를 포함할 수 있다. 센싱 라인(SL)은 기생 커패시터(CL)를 가질 수 있다.

센싱 구간에서, 게이트 드라이버(300)는 선택된 픽셀 행의 각 서브 픽셀(SP)에 스캔 신호(SC) 및 센싱 신호(SS)를 제공하고, 데이터 드라이버(400)는 상기 선택된 픽셀 행의 각 서브 픽셀(SP)에 센싱 기준 전압(VSENREF)을 제공할 수 있다. 제1 스위칭 트랜지스터(TSW1)는 스캔 신호(SC)에 응답하여 구동 트랜지스터(TDR)의 게이트에 센싱 기준 전압(VSENREF)을 전송할 수 있다. 구동 트랜지스터(TDR)의 상기 게이트에 센싱 기준 전압(VSENREF)이 인가되면, 구동 트랜지스터(TDR)의 일 단자(예를 들어, 소스)의 전압은 센싱 기준 전압(VSENREF)으로부터 구동 트랜지스터(TDR)의 문턱 전압(VTH)이 감산된 전압(VSENREF-VREF)으로 포화될 수 있다. 제2 스위칭 트랜지스터(TSW2)는 센싱 신호(SS)에 응답하여 센싱 라인(SL)에 구동 트랜지스터(TDR)의 상기 일 단자의 전압(VSENREF-VREF)을 전송하고, 센싱 회로(140)는 센싱 라인(SL)의 센싱 전압(VSEN)으로서 센싱 기준 전압(VSENREF)으로부터 구동 트랜지스터(TDR)의 문턱 전압(VTH)이 감산된 전압(VSENREF-VREF)을 센싱할 수 있다.

한편, 도 5에는 서브 픽셀(SP)의 일 예가 도시되어 있으나, 도 1의 출력 보상 방법에 따른 서브 픽셀들(SP)은 도 5의 예에 한정되지 않는다. 또한, 표시 패널(100)은 상기 발광 표시 패널에 한정되지 않고, 임의의 표시 패널일 수 있다.

도 6 내지 도 10을 참조하면, 센싱 회로(500)는 센싱 라인(SL)을 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로(510), 센싱 채널(520)에 센싱 라인(SL)을 연결하는 라인 선택 스위치(LSSW), 및 센싱 라인(SL)의 센싱 전압(VSEN)을 샘플링하는 센싱 채널(520)을 포함할 수 있다. 센싱 회로(500)는 기준 채널(530) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 포함할 수 있다. 센싱 회로(500)는 아날로그-디지털 변환기(540) 및 센싱 채널(520)을 아날로그-디지털 변환기(540)에 연결하는 스위치 매트릭스(550)를 포함할 수 있다.

센싱 회로(500)는 센싱 라인들(SL) 각각에 연결된 센싱 채널들(520)을 포함할 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 센싱 채널들(520) 중 적어도 하나를 선택하여 아날로그-디지털 변환기(540)에 연결시킬 수 있다.

센싱 회로(500)는 센싱 채널들(520) 각각에 연결된 기준 채널들(530)을 포함할 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 기준 채널들(530) 중 적어도 하나를 아날로그-디지털 변환기(540)에 연결시킬 수 있다.

센싱 라인 초기화 회로(510)는 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 센싱 라인(SL)에 초기화 전압(VINT)을 인가하는 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW)를 포함할 수 있다.

센싱 채널(520)은 제1 전극 및 제2 전극을 가지는 샘플링 커패시터(SAMC), 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 라인 선택 스위치(LSSW)를 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 연결하는 제1 샘플링 스위치(SAMSW1), 및 기준 신호(SREF)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 기준 전압(VREF)을 인가하는 제1 기준 스위치(RSW1)를 포함할 수 있다.

기준 채널(530)은 제1 전극 및 제2 전극을 가지는 기준 커패시터(REFC), 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극에 초기화 전압(VINT)을 인가하는 제2 샘플링 스위치(SAMSW2), 및 기준 신호(SREF)에 응답하여 기준 커패시터(REFC)의 제2 전극에 기준 전압(VREF)을 인가하는 제2 기준 스위치(RSW2)를 포함할 수 있다.

채널 연결 스위치(CCSW)는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극을 서로 연결할 수 있다.

센싱 라인 초기화 구간에서, 도 7에 나타난 바와 같이, 센싱 라인 초기화 회로(510)는 센싱 라인(SL)을 초기화할 수 있다. 예를 들어, 센싱 라인 초기화 구간에서, 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)는 활성화 레벨을 가지고, 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 센싱 라인(SL)에 초기화 전압(VINT)을 인가하고, 센싱 라인(SL)은 초기화 전압(VINT)에 기초하여 초기화될 수 있다.

커패시터 초기화 구간에서, 도 8에 나타난 바와 같이, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)가 초기화될 수 있다. 일 실시예에서, 커패시터 초기화 구간은 센싱 라인 초기화 구간의 일부, 예를 들어 센싱 라인 초기화 구간의 종료 부분에 중첩될 수 있다. 예를 들어, 커패시터 초기화 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 기준 신호(SREF), 및 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온되고, 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극에 인가되고, 제2 샘플링 스위치(SAMSW2) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온되고, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제2 전극에 인가될 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)는 초기화 전압(VINT) 및 기준 전압(VREF)에 기초하여 초기화 또는 방전될 수 있다. 일 실시예에서, 기준 전압(VREF)은 초기화 전압(VINT)과 동일한 전압 레벨을 가질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 또한, 일 실시예에서, 커패시터 초기화 구간에서, 센싱 라인 초기화 신호(SLIS) 및 라인 선택 신호(LSS) 또한 활성화 레벨을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW), 라인 선택 스위치(LSSW) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 초기화 전압(VINT)이 더욱 인가되고, 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW), 라인 선택 스위치(LSSW), 제1 샘플링 스위치(SAMSW1), 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 통하여 초기화 전압(VINT)이 더욱 인가될 수 있다.

샘플링 구간에서, 도 9에 나타난 바와 같이, 센싱 라인(SL)의 전압이 센싱 전압(VSEN)으로 포화되고, 센싱 채널(520)은 센싱 라인(SL)의 센싱 전압(VSEN)을 샘플링할 수 있다. 예를 들어, 샘플링 구간에서, 라인 선택 신호(LSS), 샘플링 신호(SAMS), 및 기준 신호(SREF)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 라인 선택 스위치(LSSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 라인 선택 신호(LSS)에 응답하여 턴-온되고, 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 센싱 라인(SL)의 센싱 전압(VSEN)이 라인 선택 스위치(LSSW) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 인가되고, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극에 인가될 수 있다.

아날로그-디지털 변환 구간에서, 도 10에 나타난 바와 같이, 스위치 매트릭스(550) 및 아날로그-디지털 변환기(540)는 센싱 채널들(520)에 의해 샘플링된 센싱 라인들(SL)의 센싱 전압들(VSEN)을 센싱 데이터(SD)로 순차적으로 변환할 수 있다. 예를 들어, 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극을 서로 연결할 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극은 동일한 전압(예를 들어, 센싱 전압(VSEN)과 초기화 전압(VINT) 사이의 전압)을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극은 센싱 전압(VSEN)으로 초기화 전압(VINT)이 감산된 전압 차(VSEN-VINT)를 가질 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극 및 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극을 아날로그-디지털 변환기(540)의 제1 입력 단자 및 제2 입력 단자에 각각 연결하고, 아날로그-디지털 변환기(540)는 전압 차(VSEN-VINT)를 센싱 데이터(SD)로 변환할 수 있다.

도 11 내지 도 13은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(500)가 제1 출력 값(OV1)을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.

도 1, 도 2, 및 도 11 내지 도 13을 참조하면, 도 1의 출력 보상 방법은 픽셀들(P)을 센싱하기 위한 센싱 회로(500)에 외부 전압(VE)을 인가하여 센싱 회로(500)의 제1 출력 값(OV1)을 측정(S100)할 수 있다. 외부 전압(VE)은 기설정된 전압으로 표시 장치 외부에서 인가될 수 있다.

센싱 회로(500)는 턴-온되어 센싱 채널(520)에 외부 전압(VE)을 인가하는 제1 보상 스위치(CS1)를 포함할 수 있다.

커패시터 초기화 구간에서, 도 11에 나타난 바와 같이, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)가 초기화될 수 있다. 예를 들어, 커패시터 초기화 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 기준 신호(SREF), 및 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온되고, 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극에 인가되고, 제2 샘플링 스위치(SAMSW2) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온되고, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제2 전극에 인가될 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)는 초기화 전압(VINT) 및 기준 전압(VREF)에 기초하여 초기화 또는 방전될 수 있다. 일 실시예에서, 기준 전압(VREF)은 초기화 전압(VINT)과 동일한 전압 레벨을 가질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.

샘플링 구간에서, 도 12에 나타난 바와 같이, 센싱 채널(520)은 외부 전압(VE)을 샘플링할 수 있다. 예를 들어, 샘플링 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 및 기준 신호(SREF)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제1 보상 스위치(CS1)는 턴-온되고, 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 외부 전압(VE)이 제1 보상 스위치(CS1) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 인가되고, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극에 인가될 수 있다.

아날로그-디지털 변환 구간에서, 도 13에 나타난 바와 같이, 스위치 매트릭스(550) 및 아날로그-디지털 변환기(540)는 샘플링된 외부 전압(VE)을 제1 출력 값(OV1)으로 변환할 수 있다. 예를 들어, 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극을 서로 연결할 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극은 동일한 전압(예를 들어, 외부 전압(VE)과 초기화 전압(VINT) 사이의 전압)을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극은 외부 전압(VE)으로 초기화 전압(VINT)이 감산된 전압 차(VE-VINT)를 가질 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극 및 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극을 아날로그-디지털 변환기(540)의 제1 입력 단자 및 제2 입력 단자에 각각 연결하고, 아날로그-디지털 변환기(540)는 전압 차(VE-VINT)를 제1 출력 값(OV1)으로 변환할 수 있다.

도 14 내지 도 16은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(500)가 제2 출력 값들(OV2)을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.

도 1, 도 2, 도 4, 도 14 내지 도 16을 참조하면, 도 1의 출력 보상 방법은 데이터 드라이버(400)의 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(500)에 데이터 드라이버(400)의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로(500)의 제2 출력 값들(OV2)을 측정(S200)할 수 있다. 제2 출력 값들(OV2)은 센싱 채널(520)에 출력 전압들(즉, 계조 전압들(VR, VG, VB))을 인가하여 측정될 수 있다.

센싱 회로(500)는 턴-온되어 센싱 채널(520)에 계조 전압(VR, VG, VB)을 인가하는 제2 보상 스위치(CS2)를 포함할 수 있다. 인가되는 계조 전압들(VR, VG, VB) 및 제2 출력 값들(OV2)에 대한 구체적인 설명은 도 17 내지 도 19를 통하여 후술한다.

커패시터 초기화 구간에서, 도 14에 나타난 바와 같이, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)가 초기화될 수 있다. 예를 들어, 커패시터 초기화 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 기준 신호(SREF), 및 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온되고, 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극에 인가되고, 제2 샘플링 스위치(SAMSW2) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온되고, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제2 전극에 인가될 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)는 초기화 전압(VINT) 및 기준 전압(VREF)에 기초하여 초기화 또는 방전될 수 있다. 일 실시예에서, 기준 전압(VREF)은 초기화 전압(VINT)과 동일한 전압 레벨을 가질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.

샘플링 구간에서, 도 15에 나타난 바와 같이, 센싱 채널(520)은 계조 전압(VR, VG, VB)을 샘플링할 수 있다. 예를 들어, 샘플링 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 및 기준 신호(SREF)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 보상 스위치(CS2)는 턴-온되고, 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 계조 전압(VR, VG, VB)이 제2 보상 스위치(CS2) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 인가되고, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극에 인가될 수 있다.

아날로그-디지털 변환 구간에서, 도 16에 나타난 바와 같이, 스위치 매트릭스(550) 및 아날로그-디지털 변환기(540)는 샘플링된 계조 전압들(VR, VG, VB)을 제2 출력 값들(OV2)로 변환할 수 있다. 예를 들어, 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극을 서로 연결할 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극은 동일한 전압(예를 들어, 계조 전압(VR, VG, VB)과 초기화 전압(VINT) 사이의 전압)을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극은 계조 전압(VR, VG, VB)으로 초기화 전압(VINT)이 감산된 전압 차((VR or VG or VB)-VINT)를 가질 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극 및 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극을 아날로그-디지털 변환기(540)의 제1 입력 단자 및 제2 입력 단자에 각각 연결하고, 아날로그-디지털 변환기(540)는 전압 차((VR or VG or VB)-VINT)를 제2 출력 값(OV2)으로 변환할 수 있다.

도 7 내지 도 10은 표시 장치가 실제 구동될 때 이루어지는 센싱 동작일 수 있다. 반면에, 도 11 내지 도 16은 표시 장치의 조립 전 단계에서 보상 룩업 테이블(430)을 생성하기 위한 동작일 수 있다.

즉, 제1 출력 값(OV1) 및 제2 출력 값들(OV2)의 측정은 표시 장치의 조립 전 단계에서 보상 룩업 테이블(430)을 생성하기 위해 수행될 수 있다. 따라서, 출력 값들(OV1, OV2)을 측정하기 위한 센싱 채널들(520)의 개수는 제한이 없다.

예를 들어, 도 1의 출력 보상 방법은 하나의 센싱 채널(520)을 이용하여 각각의 출력 앰프들(420)의 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 제2 출력 값들(OV2) 모두를 측정할 수 있다.

다른 예를 들어, 도 1의 출력 보상 방법은 표시 장치에 사용될 센싱 채널들(520) 모두를 이용하여 제2 출력 값들(OV2)을 한 번에 측정할 수 있다. 이 경우, 제1 출력 값(OV1)은 각각의 센싱 채널들(520)에서 따로 측정될 수 있다. 하지만, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 센싱 채널들(520) 중 어느 하나의 센싱 채널(520)에서 측정된 제1 출력 값(OV1)이 사용될 수 있다.

즉, 도 1의 출력 보상 방법은 복수의 센싱 채널들(520)을 이용하여 측정하는 시간을 단축시킬 수 있다.

도 17은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 제2 출력 값들(OV2)의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 18은 도 1의 출력 보상 방법에 따른 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들의 일 예를 나타내는 도면이며, 도 19는 도 1의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들(CV)의 일 예를 나타내는 도면이다.

도 2 내지 도 4 및 도 17을 참조하면, 데이터 드라이버(400)는 계조 전압들(VR, VG, VB)을 출력 전압들로서 출력할 수 있다. 도 1의 출력 보상 방법은 제1 색에 대한 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(500)에 제1 색에 대한 계조 전압들(VR)을 인가하여 제1 색에 대한 제2 출력 값들(OV2)을 측정하고, 제2 색에 대한 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(500)에 제2 색에 대한 계조 전압들(VR)을 인가하여 제2 색에 대한 제2 출력 값들(OV2)을 측정하며, 제3 색에 대한 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(500)에 제3 색들에 대한 계조 전압들(VB)을 인가하여 제3 색에 대한 제2 출력 값들(OV2)을 측정할 수 있다. 각각의 색들에 대한 제2 출력 값들(OV2)의 개수는 계조들의 개수와 가로 해상도의 곱과 동일할 수 있다.

예를 들어, 도 1의 출력 보상 방법은 각각의 출력 앰프들(420)을 센싱 회로(500)와 연결시켜 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 제2 출력 값들(OV2)을 측정할 수 있다. 즉, 표시 장치가 0부터 255까지 256개의 계조를 표시하는 경우, 제1 색에 대한 출력 앰프들(420) 각각은 0부터 255까지 계조들에 대한 제1 색에 대한 계조 전압들(VR)을 센싱 회로(500)에 출력하고, 도 1의 출력 보상 방법은 각각의 제1 색에 대한 출력 앰프들(420)에서 256개의 제2 출력 값들(OV2)을 측정할 수 있다. 그리고, 각각의 색들에 대한 출력 앰프들(420)의 개수가 표시 패널(100)의 가로 해상도와 동일하므로, 각각의 색들에 대한 제2 출력 값들(OV2)의 개수는 계조들의 개수와 가로 해상도의 곱과 동일할 수 있다. 따라서, 도 17에 나타난 바와 같이, 가로 해상도가 X이고, 계조들의 개수가 J개인 경우, 각각의 색들에 대한 제2 출력 값들(OV2)은 X x J개일 수 있다. 그리고, 표시 장치가 3가지 색을 표시하는 경우, 제2 출력 값들(OV2)은 X x J개의 3개의 데이터 세트들(data set)을 포함할 수 있다.

도 2 내지 도 4, 도 18, 및 도 19를 참조하면, 보상 룩업 테이블(430)은 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들을 기초로 생성될 수 있다. 즉, 출력 앰프들(420)의 출력 편차가 없는 경우, 이상적으로, 동일한 색에 대한 출력 앰프들(420) 사이에서 모든 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들은 일정할 수 있다.

보상 룩업 테이블(430)은 제1 출력 값(OV1) 및 제2 출력 값들(OV2)의 차이들에 대한 출력 앰프들(420)의 편차를 보상하는 보상 값들(CV)을 포함할 수 있다. 따라서, 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들(즉, 계조 전압들(VR, VG, VB)은 보상 값들(CV)이 가산됨으로써 출력 앰프들(420)의 출력 편차가 최소화될 수 있다. 즉, 보상 값들(CV)은 출력 앰프들(420) 사이의 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들을 일정하게 하기 위한 값들일 수 있다.

예를 들어, 제1 색에 대한 기준 출력 앰프가 255계조의 계조 전압을 센싱 회로(500)에 출력하였을 때, 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값(OV2)의 차이가 0.1V이고, 제1 색에 대한 특정 출력 앰프가 255계조의 계조 전압을 센싱 회로(500)에 출력하였을 때, 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값(OV2)의 차이가 0.15V라고 가정한다. 이 경우, 특정 출력 앰프가 출력하는 255계조의 계조 전압에 255계조 및 특정 출력 앰프(즉, 특정 출력 앰프와 연결된 픽셀들(P))에 대한 보상 값을 가산하면, 특정 출력 앰프의 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값(OV2)의 차이가 0.1V가 될 수 있다.

각각의 색들에 대한 보상 값들(CV)의 개수는 계조들의 개수, 가로 해상도, 및 표시 패널(100)의 세로 해상도의 곱과 동일할 수 있다. 보상 값들(CV)은 모든 픽셀들(P)에 대해 적용되는 값일 수 있다. 따라서, 도 1의 출력 보상 방법은 제1 출력 값(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들에 대한 데이터를 세로 해상도만큼 복사하여 보상 룩업 테이블(430)을 생성할 수 있다.

예를 들어, 가로 해상도가 X이고, 계조들의 개수가 J개이며, 세로 해상도가 Y인 경우, 각각의 색들에 대한 제1 출력 값들(OV1)과 제2 출력 값들(OV2)의 차이들은 X x J개일 수 있다. 이 때, X x J개의 차이들을 Y배 복사하여 각각의 픽셀들(P)에 대한 보상 값들(CV)을 산출할 수 있다. 즉, 동일한 픽셀 열에 포함된 픽셀들(P)은 동일한 데이터 라인(DL)에 연결되므로, 동일한 픽셀 열에 포함된 픽셀들(P)은 동일한 보상 값들(CV)이 적용될 수 있다.

도 20은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버(400)의 출력 보상 방법에 따른 제2 출력 값들(OV2)의 일 예를 나타내는 도면이다.

본 실시예들에 따른 출력 보상 방법은 제2 출력 값들(OV2)의 평균 값을 이용하는 것을 제외하고, 도 1의 출력 보상 방법과 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호 및 참조 기호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략한다.

도 2, 도 4 및 도 20을 참조하면, 도 20의 출력 보상 방법은 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(500)에 동일한 출력 전압들을 반복하여 인가하고, 동일한 출력 전압들에 대한 제2 출력 값들(OV2)의 평균 값들을 계산할 수 있다. 보상 룩업 테이블(430)은 상기 평균 값들을 기초로 생성될 수 있다.

도 20의 출력 보상 방법은 각각의 계조 전압들(VR, VG, VB)을 적어도 두 번 센싱 회로(500)에 인가하고, 제2 출력 값들(OV2)의 평균 값들을 통하여 보상 룩업 테이블(430)을 생성함으로써, 데이터 드라이버(400)의 출력 편차를 더욱 정확하게 보상할 수 있다.

도 21은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버(400)의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들(CV)의 일 예를 나타내는 도면이다.

본 실시예들에 따른 출력 보상 방법은 보상 값들(CV)을 제외하고, 도 1의 출력 보상 방법과 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호 및 참조 기호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략한다.

도 2, 도 4, 및 도 21을 참조하면, 기준 계조 이하의 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 보상 값들(CV)은 0일 수 있다. 즉, 도 21의 출력 보상 방법은 기준 계조 이하의 계조 전압들(VR, VG, VB)을 보상하지 않을 수 있다. 예를 들어, 도 21에 나타난 바와 같이, 10계조 이하(즉, J1부터 J11까지)의 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 보상 값들(CV)은 0일 수 있다. 이에 따라, 도 21의 출력 보상 방법은 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들의 보상 동작의 복잡도를 줄일 수 있다.

도 22는 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버(400)의 출력 보상 방법에 따른 보상 값들(CV)의 일 예를 나타내는 도면이다.

도 2, 도 4, 및 도 22를 참조하면, 기준 계조 이상의 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 보상 값들(CV)은 0일 수 있다. 즉, 도 22의 출력 보상 방법은 기준 계조 이상의 계조 전압들(VR, VG, VB)을 보상하지 않을 수 있다. 예를 들어, 도 22에 나타난 바와 같이, 210계조 이상(즉, J211부터 J256까지)의 계조 전압들(VR, VG, VB)에 대한 보상 값들(CV)은 0일 수 있다. 이에 따라, 도 21의 출력 보상 방법은 데이터 드라이버(400)의 출력 전압들의 보상 동작의 복잡도를 줄일 수 있다.

도 23은 본 발명의 실시예들에 따른 데이터 드라이버(400)의 출력 보상 방법을 나타내는 순서도이다.

본 실시예들에 따른 출력 보상 방법은 하나의 센싱 채널(620)에 두 개의 센싱 라인들(SL1, SL2)이 연결된 것을 제외하고, 도 1의 출력 보상 방법과 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호 및 참조 기호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략한다.

도 23을 참조하면, 도 23의 출력 보상 방법은 픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정(S100)하고, 데이터 드라이버의 출력 앰프들 중 제1 일부를 통하여 센싱 회로에 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정(S210)하며, 출력 앰프들 중 제2 일부를 통하여 센싱 회로에 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정(S220)하고, 제1 출력 값 및 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성(S300)하며, 보상 룩업 테이블을 기초로 데이터 드라이버의 출력 전압들을 보상(S400)할 수 있다.

예를 들어, 제1 일부는 출력 앰프들 중 홀수 번째 출력 앰프들일 수 있다. 제2 일부는 출력 앰프들 중 짝수 번째 출력 앰프들일 수 있다.

이하 구체적으로 설명한다.

도 24는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(600)의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 25 내지 도 32는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(500)가 센싱 데이터(SD)를 생성하는 일 예를 나타내는 회로도들이다. 제1 보상 스위치(CS1) 및 제2 보상 스위치(CS2)는 보상 룩업 테이블(도 4의 430)을 생성하기 위한 구조이므로, 도 33 내지 도 38을 통하여 후술한다.

도 24 내지 도 32를 참조하면, 제1 센싱 라인(SL1) 및 제2 센싱 라인(SL2)을 동시에 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로(610), 센싱 채널(620)에 제1 센싱 라인(SL1)을 연결하는 제1 라인 선택 스위치(LSSW1), 센싱 채널(620)에 제2 센싱 라인(SL2)을 연결하는 제2 라인 선택 스위치(LSSW2), 및 제1 센싱 라인(SL1)의 제1 센싱 전압(VSEN1)을 샘플링하고, 제2 센싱 라인(SL2)의 제2 센싱 전압(VSEN2)을 샘플링하는 센싱 채널(620)을 포함할 수 있다. 센싱 회로(600)는 기준 채널(630) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 포함할 수 있다. 센싱 회로(600)는 아날로그-디지털 변환기(640) 및 센싱 채널(620)을 아날로그-디지털 변환기(640)에 연결하는 스위치 매트릭스(650)를 포함할 수 있다.

센싱 회로(600)는 두 개의 센싱 라인들(SL1, SL2)에 연결된 센싱 채널들(620)을 포함할 수 있다. 스위치 매트릭스(550)는 센싱 채널들(620) 중 적어도 하나를 선택하여 아날로그-디지털 변환기(640)에 연결시킬 수 있다.

센싱 회로(600)는 센싱 채널들(620) 각각에 연결된 기준 채널들(630)을 포함할 수 있다. 스위치 매트릭스(650)는 기준 채널들(630) 중 적어도 하나를 아날로그-디지털 변환기(640)에 연결시킬 수 있다.

센싱 라인 초기화 회로(610)는 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 제1 센싱 라인(SL1)에 초기화 전압(VINT)을 인가하는 제1 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW1), 및 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 제2 센싱 라인(SL2)에 초기화 전압(VINT)을 인가하는 제2 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW2)를 포함할 수 있다.

센싱 채널(520)은 제1 전극 및 제2 전극을 가지는 샘플링 커패시터(SAMC), 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 제1 및 제2 라인 선택 스위치(LSSW1, LSSW2)를 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 연결하는 제1 샘플링 스위치(SAMSW1), 및 기준 신호(SREF)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 기준 전압(VREF)을 인가하는 제1 기준 스위치(RSW1)를 포함할 수 있다.

제1 센싱 라인 초기화 구간에서, 도 25에 나타난 바와 같이, 센싱 라인 초기화 회로(610)는 제1 센싱 라인(SL1) 및 제2 센싱 라인(SL2)을 실질적으로 동시에 초기화할 수 있다. 예를 들어, 제1 센싱 라인 초기화 구간에서, 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)는 활성화 레벨을 가지고, 제1 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW1)는 상기 활성화 레벨을 가지는 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 제1 센싱 라인(SL1)에 초기화 전압(VINT)을 인가하고, 제2 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 센싱 라인 초기화 신호(SLIS)에 응답하여 제2 센싱 라인(SL2)에 초기화 전압(VINT)을 인가하고, 제1 센싱 라인(SL1) 및 제2 센싱 라인(SL2)은 초기화 전압(VINT)에 기초하여 초기화될 수 있다.

제1 커패시터 초기화 구간에서, 도 26에 나타난 바와 같이, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)가 초기화될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 커패시터 초기화 구간은 제1 센싱 라인 초기화 구간의 일부, 예를 들어 제1 센싱 라인 초기화 구간의 종료 부분에 중첩될 수 있다. 예를 들어, 제1 커패시터 초기화 구간에서, 샘플링 신호(SAMS), 기준 신호(SREF) 및 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온되고, 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제1 전극에 인가되고, 제2 샘플링 스위치(SAMSW2) 및 채널 연결 스위치(CCSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온되고, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 제2 전극에 인가될 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC) 및 기준 커패시터(REFC)는 초기화 전압(VINT) 및 기준 전압(VREF)에 기초하여 초기화 또는 방전될 수 있다. 일 실시예에서, 기준 전압(VREF)은 초기화 전압(VINT)과 동일한 전압 레벨을 가질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 또한, 일 실시예에서, 제1 커패시터 초기화 구간에서, 센싱 라인 초기화 신호(SLIS) 및 제1 라인 선택 신호(LSS1) 또한 활성화 레벨을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 제1 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW1), 제1 라인 선택 스위치(LSSW1) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 초기화 전압(VINT)이 더욱 인가되고, 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 제1 센싱 라인 초기화 스위치(SLISW1), 제1 라인 선택 스위치(LSSW1), 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 채널 연결 스위치(CCSW)를 통하여 초기화 전압(VINT)이 더욱 인가될 수 있다.

제1 샘플링 구간에서, 도 27에 나타난 바와 같이, 제1 센싱 라인(SL1)의 전압이 제1 센싱 전압(VSEN1)으로 포화되고, 제2 센싱 라인(SL2)의 전압이 제2 센싱 전압(VSEN2)으로 포화되며, 센싱 채널(620)은 제1 센싱 라인(SL1)의 제1 센싱 전압(VSEN1)을 샘플링할 수 있다. 예를 들어, 제1 샘플링 구간에서, 제1 라인 선택 신호(LSS1), 샘플링 신호(SAMS), 및 기준 신호(SREF)는 활성화 레벨을 가지고, 제2 라인 선택 신호(LSS2) 및 채널 연결 신호(CCS)는 비활성화 레벨을 가질 수 있다. 제1 라인 선택 스위치(LSSW1)는 상기 활성화 레벨을 가지는 제1 라인 선택 신호(LSS1)에 응답하여 턴-온되고, 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 제1 센싱 라인(SL1)의 제1 센싱 전압(VSEN1)이 제1 라인 선택 스위치(LSSW1) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 인가되고, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극에 인가될 수 있다.

제1 아날로그-디지털 변환 구간에서, 도 28에 나타난 바와 같이, 스위치 매트릭스(650) 및 아날로그-디지털 변환기(640)는 센싱 채널들(620)에 의해 샘플링된 홀수 번째 센싱 라인들(예를 들어, SL1)의 제1 센싱 전압들(VSEN1)을 센싱 데이터(SD)로 순차적으로 변환할 수 있다. 예를 들어, 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극을 서로 연결할 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극은 동일한 전압(예를 들어, 제1 센싱 전압(VSEN1)과 초기화 전압(VINT) 사이의 전압)을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극은 제1 센싱 전압(VSEN1)으로 초기화 전압(VINT)이 감산된 제1 전압 차(VSEN1-VINT)를 가질 수 있다. 스위치 매트릭스(650)는 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극 및 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극을 아날로그-디지털 변환기(640)의 제1 입력 단자 및 제2 입력 단자에 각각 연결하고, 아날로그-디지털 변환기(640)는 제1 전압 차(VSEN1-VINT)를 센싱 데이터(SD)로 변환할 수 있다.

이후, 도 29 및 도 30에 나타난 바와 같이, 제2 샘플링 구간까지 제2 센싱 라인 초기화 구간(즉, 도 29) 및 제2 커패시터 초기화 구간(즉, 도 30)이 포함될 수 있다. 제2 센싱 라인 초기화 구간 및 제2 커패시터 초기화 구간은 제1 라인 선택 스위치(LSSW1) 대신 제2 라인 선택 스위치(LSSW2)가 턴-온된 것을 제외하고 제1 센싱 라인 초기화 구간 및 제1 커패시터 초기화 구간과 실질적으로 동일하므로, 중복되는 설명은 생략한다.

제2 샘플링 구간에서, 도 31에 나타난 바와 같이, 센싱 채널(620)은 제2 센싱 라인(SL2)의 제2 센싱 전압(VSEN2)을 샘플링할 수 있다. 예를 들어, 제2 샘플링 구간(SAMP2)에서, 제2 라인 선택 신호(LSS2), 샘플링 신호(SAMS), 및 기준 신호(SREF)는 활성화 레벨을 가지고, 제1 라인 선택 신호(LSS1) 및 채널 연결 신호(CCS)는 비활성화 레벨을 가질 수 있다. 제2 라인 선택 스위치(LSSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 제2 라인 선택 신호(LSS2)에 응답하여 턴-온되고, 제1 샘플링 스위치(SAMSW1) 및 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 샘플링 신호(SAMS)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 제2 센싱 라인(SL2)의 제2 센싱 전압(VSEN2)이 제2 라인 선택 스위치(LSSW2) 및 제1 샘플링 스위치(SAMSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극에 인가되고, 초기화 전압(VINT)이 제2 샘플링 스위치(SAMSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극에 인가될 수 있다. 또한, 제1 기준 스위치(RSW1) 및 제2 기준 스위치(RSW2)는 상기 활성화 레벨을 가지는 기준 신호(SREF)에 응답하여 턴-온될 수 있다. 따라서, 기준 전압(VREF)이 제1 기준 스위치(RSW1)를 통하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극에 인가되고, 제2 기준 스위치(RSW2)를 통하여 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극에 인가될 수 있다.

제2 아날로그-디지털 변환 구간에서, 스위치 매트릭스(650) 및 아날로그-디지털 변환기(640)는 센싱 채널들(620)에 의해 샘플링된 짝수 번째 센싱 라인들(예를 들어, SL2)의 제2 센싱 전압들(VSEN2)을 센싱 데이터(SD)로 순차적으로 변환할 수 있다. 예를 들어, 채널 연결 신호(CCS)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 채널 연결 스위치(CCSW)는 상기 활성화 레벨을 가지는 채널 연결 신호(CCS)에 응답하여 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극을 서로 연결할 수 있다. 따라서, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제1 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제1 전극은 동일한 전압(예를 들어, 제2 센싱 전압(VSEN2)과 초기화 전압(VINT) 사이의 전압)을 가지고, 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극과 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극은 제2 센싱 전압(VSEN2)으로 초기화 전압(VINT)이 감산된 제2 전압 차(VSEN2-VINT)를 가질 수 있다. 스위치 매트릭스(650)는 샘플링 커패시터(SAMC)의 상기 제2 전극 및 기준 커패시터(REFC)의 상기 제2 전극을 아날로그-디지털 변환기(640)의 제1 입력 단자 및 제2 입력 단자에 각각 연결하고, 아날로그-디지털 변환기(640)는 제2 전압 차(VSEN2-VINT)를 센싱 데이터(SD)로 변환할 수 있다.

도 33 내지 도 35는 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(600)가 제1 출력 값(OV1)을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.

도 2, 도 23, 및 도 33 내지 도 35를 참조하면, 도 1의 출력 보상 방법은 픽셀들(P)을 센싱하기 위한 센싱 회로(600)에 외부 전압(VE)을 인가하여 센싱 회로(600)의 제1 출력 값(OV1)을 측정(S100)할 수 있다. 외부 전압(VE)은 기설정된 전압으로 표시 장치 외부에서 인가될 수 있다.

센싱 회로(600)는 턴-온되어 센싱 채널(620)에 외부 전압(VE)을 인가하는 제1 보상 스위치(CS1)를 포함할 수 있다.

도 33 내지 도 35의 동작은 도 11 내지 도 13을 통하여 설명하였으므로, 중복되는 설명은 생략한다.

도 36 내지 도 38은 도 23의 출력 보상 방법에 따른 센싱 회로(600)가 제2 출력 값들(OV2)을 생성하는 일 예를 나타내는 도면들이다.

도 2, 도 4, 도 23, 및 도 36 내지 도 38을 참조하면, 도 23의 출력 보상 방법은 데이터 드라이버(400)의 출력 앰프들(420) 중 제1 일부를 통하여 센싱 회로(600)에 데이터 드라이버(400)의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로(600)의 제2 출력 값들(OV2)을 측정(S210)하며, 출력 앰프들(420) 중 제2 일부를 통하여 센싱 회로(600)에 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로(600)의 제2 출력 값들(OV2)을 측정(S220)할 수 있다. 제2 출력 값들(OV2)은 센싱 채널(620)에 출력 전압들(즉, 계조 전압들(VR, VG, VB))을 인가하여 측정될 수 있다.

예를 들어, 제1 일부는 출력 앰프들(420) 중 홀수 번째 출력 앰프들(420)일 수 있다. 제2 일부는 출력 앰프들(420) 중 짝수 번째 출력 앰프들(420)일 수 있다.

센싱 회로(500)는 턴-온되어 센싱 채널(520)에 계조 전압(VR, VG, VB)을 인가하는 제2 보상 스위치(CS2)를 포함할 수 있다.

도 25 내지 도 32는 표시 장치가 실제 구동될 때 이루어지는 센싱 동작일 수 있다. 반면에, 도 33 내지 도 38은 표시 장치의 조립 전 단계에서 보상 룩업 테이블(도 4의 430)을 생성하기 위한 동작일 수 있다.

예를 들어, 도 23의 출력 보상 방법은 표시 장치에 사용될 센싱 채널들(520) 모두를 이용하여 제2 출력 값들(OV2)을 두 번에 측정할 수 있다. 이 경우, 제1 출력 값(OV1)은 각각의 센싱 채널들(620)에서 따로 측정될 수 있다. 하지만, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 센싱 채널들(620) 중 어느 하나의 센싱 채널(620)에서 측정된 제1 출력 값(OV1)이 사용될 수 있다.

하나의 센싱 채널(620)이 두 개의 센싱 라인들(SL1, SL2)에 연결되므로, 홀수 번째 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(600)에 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로(600)의 제2 출력 값들(OV2)을 측정하고, 짝수 번째 출력 앰프들(420)을 통하여 센싱 회로(600)에 출력 전압들을 인가하여 센싱 회로(600)의 제2 출력 값들(OV2)을 측정할 수 있다.

도 36 내지 도 38의 동작은 도 14 내지 도 16을 통하여 설명하였으므로, 중복되는 설명은 생략한다.

도 39는 본 발명의 실시예들에 따른 전자 기기를 나타내는 블록도이고, 도 40은 도 39의 전자 기기가 텔레비전으로 구현된 일 예를 나타내는 도면이다.

도 12 및 도 13를 참조하면, 전자 기기(1000)는 프로세서(1010), 메모리 장치(1020), 스토리지 장치(1030), 입출력 장치(1040), 파워 서플라이(1050) 및 표시 장치(1060)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 도 1의 표시 장치일 수 있다. 또한, 전자 기기(1000)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 도 40에 도시된 바와 같이, 전자 기기(1000)는 텔레비전으로 구현될 수 있다. 다만, 이것은 예시적인 것으로서, 전자 기기(1000)가 그에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 전자 기기(1000)는 휴대폰, 비디오폰, 스마트패드, 스마트 워치, 태블릿 PC, 차량용 네비게이션, 컴퓨터 모니터, 노트북, 헤드 마운트 디스플레이 장치 등으로 구현될 수도 있다.

프로세서(1010)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 유닛(central processing unit), 어플리케이션 프로세서(application processor) 등일 수 있다. 프로세서(1010)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통해 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(1010)는 주변 구성 요소 상호 연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다.

메모리 장치(1020)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(1020)는 이피롬(Erasable Programmable Read-Only Memory; EPROM) 장치, 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory; EEPROM) 장치, 플래시 메모리 장치(flash memory device), 피램(Phase Change Random Access Memory; PRAM) 장치, 알램(Resistance Random Access Memory; RRAM) 장치, 엔에프지엠(Nano Floating Gate Memory; NFGM) 장치, 폴리머램(Polymer Random Access Memory; PoRAM) 장치, 엠램(Magnetic Random Access Memory; MRAM), 에프램(Ferroelectric Random Access Memory; FRAM) 장치 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 디램(Dynamic Random Access Memory; DRAM) 장치, 에스램(Static Random Access Memory; SRAM) 장치, 모바일 DRAM 장치 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다.

스토리지 장치(1030)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다.

입출력 장치(1040)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(1060)가 입출력 장치(1040)에 포함될 수도 있다.

파워 서플라이(1050)는 전자 기기(1000)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다. 예를 들어, 파워 서플라이(1050)는 전력 관리 집적 회로(power management integrated circuit; PMIC)일 수 있다.

표시 장치(1060)는 전자 기기(1000)의 시각적 정보에 해당하는 이미지를 표시할 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 유기 발광 표시 장치 또는 퀀텀닷 발광 표시 장치일 수 있으나 그에 한정되지 않는다. 표시 장치(1060)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 이 때, 표시 장치(1060)는 데이터 드라이버의 출력 편차를 보상할 수 있다. 이에 따라, 표시 장치(1060)는 표시 패널에 세로줄이 시인되는 것을 방지할 수 있다.

본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 디지털 TV, 3D TV, 휴대폰, 스마트 폰, 태블릿 컴퓨터, VR 기기, PC, 가정용 전자기기, 노트북 컴퓨터, PDA, PMP, 디지털 카메라, 음악 재생기, 휴대용 게임 콘솔, 내비게이션 등에 적용될 수 있다.

이상 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

1000: 전자기기 1010: 프로세서
1020: 메모리 장치 1030: 스토리지 장치
1040: 입출력 장치 1050: 파워 서플라이 장치
1060: 표시 장치 100: 표시 패널
200: 타이밍 컨트롤러 300: 게이트 드라이버
400: 데이터 드라이버 410: DC-DC 컨버터
420: 출력 앰프 430: 보상 룩업 테이블
500: 센싱 회로 510: 센싱 라인 초기화 회로
520: 센싱 채널 530: 기준 채널
540: 아날로그-디지털 변환기
550: 스위치 매트릭스

Claims

표시 장치의 데이터 드라이버에 있어서,
픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 상기 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하는 단계;
데이터 드라이버의 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하는 단계;
상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하는 단계;
상기 보상 룩업 테이블을 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 보상하는 단계를 포함하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 제1 출력 값과 상기 제2 출력 값들의 차이들을 기초로 생성되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 3 항에 있어서, 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계는
제1 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제1 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제1 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계;
제2 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제2 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제2 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계; 및
제3 색에 대한 상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 상기 제3 색에 대한 상기 계조 전압들을 인가하여 상기 제3 색에 대한 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 4 항에 있어서, 각각의 색들에 대한 상기 출력 앰프들의 개수는 표시 패널의 가로 해상도와 동일하고,
각각의 상기 색들에 대한 상기 제2 출력 값들의 개수는 계조들의 개수와 상기 가로 해상도의 곱과 동일한 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 5 항에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하고,
각각의 색들에 대한 상기 보상 값들의 개수는 상기 계조들의 상기 개수, 상기 가로 해상도, 및 상기 표시 패널의 세로 해상도의 곱과 동일한 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계는
상기 출력 앰프들을 통하여 상기 센싱 회로에 동일한 상기 출력 전압들을 반복하여 인가하는 단계; 및
동일한 상기 출력 전압들에 대한 상기 제2 출력 값들의 평균 값들을 계산하는 단계를 포함하고,
상기 보상 룩업 테이블은 상기 평균 값들을 기초로 생성되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들의 차이들에 대한 상기 출력 앰프들의 편차를 보상하는 보상 값들을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 8 항에 있어서, 상기 출력 전압들은 상기 보상 값들이 가산됨으로써 보상되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력하고,
상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하며,
기준 계조 이하의 상기 계조 전압들에 대한 상기 보상 값들은 0인 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 데이터 드라이버는 계조 전압들을 상기 출력 전압들로서 출력하고,
상기 보상 룩업 테이블은 보상 값들을 포함하며,
기준 계조 이상의 상기 계조 전압들에 대한 상기 보상 값들은 0인 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 데이터 드라이버는
전압 제어 신호를 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 결정하는 DC-DC 컨버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 1 항에 있어서, 상기 센싱 회로는
센싱 라인을 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로;
센싱 채널에 상기 센싱 라인을 연결하는 라인 선택 스위치; 및
상기 센싱 라인의 센싱 전압을 샘플링하는 상기 센싱 채널을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 13 항에 있어서, 상기 제2 출력 값들은 상기 센싱 채널에 상기 출력 전압들을 인가하여 측정되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 14 항에 있어서, 상기 센싱 회로는
아날로그-디지털 변환기; 및
상기 센싱 채널을 상기 아날로그-디지털 변환기에 연결하는 스위치 매트릭스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
표시 장치의 데이터 드라이버에 있어서,
픽셀들을 센싱하기 위한 센싱 회로에 외부 전압을 인가하여 상기 센싱 회로의 제1 출력 값을 측정하는 단계;
데이터 드라이버의 출력 앰프들 중 제1 일부를 통하여 상기 센싱 회로에 상기 데이터 드라이버의 출력 범위 내의 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 제2 출력 값들을 측정하는 단계;
상기 출력 앰프들 중 제2 일부를 통하여 상기 센싱 회로에 상기 출력 전압들을 인가하여 상기 센싱 회로의 상기 제2 출력 값들을 측정하는 단계;
상기 제1 출력 값 및 상기 제2 출력 값들을 기초로 보상 룩업 테이블을 생성하는 단계;
상기 보상 룩업 테이블을 기초로 상기 데이터 드라이버의 상기 출력 전압들을 보상하는 단계를 포함하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 16 항에 있어서, 상기 보상 룩업 테이블은 상기 제1 출력 값과 상기 제2 출력 값들의 차이들을 기초로 생성되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 16 항에 있어서, 상기 센싱 회로는
제1 센싱 라인 및 제2 센싱 라인을 동시에 초기화하는 센싱 라인 초기화 회로;
센싱 채널에 상기 제1 센싱 라인을 연결하는 제1 라인 선택 스위치;
상기 센싱 채널에 상기 제2 센싱 라인을 연결하는 제2 라인 선택 스위치; 및
상기 제1 센싱 라인의 제1 센싱 전압을 샘플링하고, 상기 제2 센싱 라인의 제2 센싱 전압을 샘플링하는 상기 센싱 채널을 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 18 항에 있어서, 상기 제2 출력 값들은 상기 센싱 채널에 상기 출력 전압들을 인가하여 측정되는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.
제 19 항에 있어서, 상기 센싱 회로는
아날로그-디지털 변환기; 및
상기 센싱 채널을 상기 아날로그-디지털 변환기에 연결하는 스위치 매트릭스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 드라이버의 출력 보상 방법.