KR20240052681A - Resin composition - Google Patents

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겐지 가와이
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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

[과제] 고온 환경에서도 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물을 제공한다.
[해결수단] (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물을 포함하는 수지 조성물.
[Problem] To provide a resin composition that can suppress the dielectric loss tangent to a lower level even in a high-temperature environment and at the same time obtain a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment.
[Solution] A resin composition comprising (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound.

Description

수지 조성물{RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 상기 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물, 시트상 적층 재료, 수지 시트, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition containing an epoxy resin. It also relates to a cured product, a sheet-like laminated material, a resin sheet, a printed wiring board, and a semiconductor device obtained by using the resin composition.

프린트 배선판의 제조 기술로서, 절연층과 도체층을 교호하여 쌓아 포개는 빌드업 방식에 의한 제조방법이 알려져 있다. 빌드업 방식에 의한 제조방법에 있어서, 일반적으로, 절연층은 수지 조성물을 경화시켜서 형성된다. 반도체 장치의 프린트 배선판의 절연층으로서, 고주파 환경에서 작동시킬 때의 전송 손실을 억제하기 위해 양호한 유전 특성(저유전율, 저유전정접)을 나타내는 것이 요구된다.As a manufacturing technology for printed wiring boards, a manufacturing method using a build-up method is known in which insulating layers and conductor layers are stacked alternately. In the manufacturing method using the build-up method, generally, the insulating layer is formed by curing the resin composition. As an insulating layer of a printed wiring board of a semiconductor device, it is required to exhibit good dielectric properties (low dielectric constant, low dielectric loss tangent) to suppress transmission loss when operating in a high frequency environment.

양호한 유전 특성을 나타내는 경화물을 형성하는 수지 조성물로서, 예를 들면, 특허문헌 1에는, 에폭시 수지의 경화제로서 활성 에스테르 화합물을 포함하는 수지 조성물이 보고되어 있다.As a resin composition that forms a cured product showing good dielectric properties, for example, Patent Document 1 reports a resin composition containing an active ester compound as a curing agent for an epoxy resin.

일본 공개특허공보 특개2009-235165호Japanese Patent Publication No. 2009-235165

특허문헌 1에 기재되는 바와 같은, 활성 에스테르 화합물을 경화제로서 포함하는 수지 조성물은, 일반적인 페놀계 경화제를 사용하는 경우에 비해 유전 특성이 우수한 경화물을 형성하는 한편, 디스미어 처리 후에 크랙이 발생하기 쉬워지는 경향이 있다. 또한, 고주파 환경에서의 작동 시 등 반도체 장치는 고온 환경 하에 노출되는 경우가 있지만, 실온 환경 하에 양호한 유전 특성을 나타내는 재료라도, 고온 환경 하에는 유전 특성(특히 유전정접)이 악화되는 경우가 있고, 실사용 환경 하에 소기의 유전 특성을 달성할 수 없는 경우가 있음을 발견하였다.A resin composition containing an active ester compound as a curing agent, as described in Patent Document 1, forms a cured product with excellent dielectric properties compared to the case of using a general phenol-based curing agent, but cracks are less likely to occur after desmear treatment. It tends to get easier. In addition, semiconductor devices may be exposed to high-temperature environments, such as when operating in a high-frequency environment. Even if the material exhibits good dielectric properties under a room temperature environment, the dielectric properties (especially dielectric loss tangent) may deteriorate under a high-temperature environment. It was discovered that there are cases where the desired dielectric properties cannot be achieved under actual use environments.

본 발명의 과제는, 고온 환경에서도 유전정접을 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물 및 상기 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물, 시트상 적층 재료, 수지 시트, 프린트 배선판 및 반도체 장치를 제공하는 것에 있다.The object of the present invention is to provide a resin composition that can suppress the dielectric loss tangent to a low level even in a high temperature environment and at the same time obtain a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment, a cured product obtained using the resin composition, and a sheet-like laminate material. , resin sheets, printed wiring boards, and semiconductor devices.

본 발명의 과제를 달성하기 위해, 본 발명자들은 예의 검토한 결과, 수지 조성물의 성분으로서, 에폭시 수지 및 활성 에스테르 화합물을 사용하고, 또한, 액정성을 갖는 유기 충전재를 함유함으로써, 의외로, 고온 환경에서도 유전정접을 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있는 경화물을 얻을 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.In order to achieve the object of the present invention, the present inventors have carefully studied and found that by using an epoxy resin and an active ester compound as components of the resin composition and also containing an organic filler having liquid crystallinity, surprisingly, even in a high temperature environment. It was discovered that a cured product could be obtained that could suppress the dielectric loss tangent to a low level and suppress the occurrence of cracks after desmear treatment, leading to the completion of the present invention.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1][One]

(A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물을 포함하는, 수지 조성물.A resin composition comprising (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound.

[2][2]

수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 할 경우, (A) 성분의 함유량이 0.1질량% 이상, 10질량% 이하인, 상기 [1]에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to [1] above, wherein the content of component (A) is 0.1% by mass or more and 10% by mass or less when the resin component in the resin composition is 100% by mass.

[3][3]

(A) 액정성을 갖는 유기 충전재의 융점이 270℃ 이상인, 상기 [1] 또는 [2]에 기재된 수지 조성물.(A) The resin composition according to [1] or [2] above, wherein the organic filler having liquid crystallinity has a melting point of 270°C or higher.

[4][4]

(D) 무기 충전재를 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.(D) The resin composition according to any one of [1] to [3] above, further comprising an inorganic filler.

[5][5]

(E) 라디칼 중합성 화합물을 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.(E) The resin composition according to any one of [1] to [4] above, further comprising a radically polymerizable compound.

[6][6]

프린트 배선판의 층간 절연층 형성용인, 상기 [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to any one of [1] to [5] above, for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board.

[7][7]

상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물.A cured product of the resin composition according to any one of [1] to [6] above.

[8][8]

상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 함유하는, 시트상 적층 재료.A sheet-like laminated material containing the resin composition according to any one of [1] to [6] above.

[9][9]

지지체와, 상기 지지체 상에 제공된 상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 갖는, 수지 시트.A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed of the resin composition according to any one of [1] to [6] provided on the support.

[10][10]

상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 절연층을 구비하는, 프린트 배선판.A printed wiring board comprising an insulating layer made of a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [6] above.

[11][11]

상기 [10]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [10] above.

본 발명에 의하면, 고온 환경에서도 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물; 상기 수지 조성물의 경화물; 상기 수지 조성물을 포함하는 시트상 적층 재료 및 수지 시트; 및 상기 수지 조성물의 경화물을 포함하는 프린트 배선판 및 반도체 장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, a resin composition that can suppress the dielectric loss tangent to a lower level even in a high temperature environment and at the same time obtain a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment; A cured product of the resin composition; Sheet-like laminated materials and resin sheets containing the above resin composition; And a printed wiring board and a semiconductor device containing a cured product of the resin composition can be provided.

이하, 본 발명에 대하여, 실시형태 및 예시물을 나타내어 상세히 설명한다. 단, 본 발명은 하기 실시형태 및 예시물에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 특허청구범위 및 이의 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경해서 실시할 수 있다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by showing embodiments and examples. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and may be implemented with arbitrary changes without departing from the scope of the claims and equivalents thereof.

이하의 설명에 있어서, 각 성분의 양은, 별도 명시가 없는 한, 불휘발 성분의 양이다.In the following description, the amount of each component is the amount of the non-volatile component, unless otherwise specified.

이하의 설명에 있어서, 「수지 조성물 중의 불휘발 성분」이란, 별도 명시가 없는 한, (D) 무기 충전재를 포함할 수 있는데, 「수지 성분」이란, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물에 포함되는 불휘발 성분 중 (D) 무기 충전재를 제외한 성분을 말한다.In the following description, “non-volatile components in the resin composition” may include (D) inorganic fillers, unless otherwise specified, and “resin components” may include the non-volatile components contained in the resin composition, unless otherwise specified. Among non-volatile components, it refers to components excluding (D) inorganic fillers.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물을 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 90℃ 등의 고온 환경에서도 유전정접을 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있다. 또한, 본 발명에서는, 통상, 23℃ 등의 실온 내지 상온 영역에서도 유전정접이 낮은 경화물을 얻을 수도 있다.The resin composition of the present invention contains (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound. By using such a resin composition, the dielectric loss tangent can be kept low even in a high temperature environment such as 90°C, and a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment can be obtained. In addition, in the present invention, a cured product with a low dielectric loss tangent can be obtained even in the room temperature range, such as 23°C.

본 발명의 수지 조성물은, (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물 이외에, 임의의 성분을 추가로 포함하고 있어도 좋다. 임의의 성분으로서는, 예를 들면, (D) 무기 충전재, (E) 라디칼 중합성 화합물, (F) 기타 경화제, (G) 경화 촉진제, (H) 기타 첨가제 및 (K) 유기 용제를 들 수 있다. 본 명세서 중, 상기 (A) 내지 (K)의 각 성분을 각각 「(A) 성분」, 「(B) 성분」 등으로도 말하는 경우가 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대하여 상세히 설명한다.The resin composition of the present invention may further contain arbitrary components in addition to (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound. Optional components include, for example, (D) inorganic filler, (E) radically polymerizable compound, (F) other curing agent, (G) curing accelerator, (H) other additive, and (K) organic solvent. . In this specification, each component (A) to (K) above may be referred to as “component (A)”, “component (B)”, etc., respectively. Hereinafter, each component included in the resin composition will be described in detail.

<(A) 액정성을 갖는 유기 충전재><(A) Organic filler with liquid crystallinity>

(A) 액정성을 갖는 유기 충전재는, 구체적으로는, 액정성을 갖는 유기 고분자를 포함하는 충전재이고, 액정성을 갖는 유기 고분자로 이루어지는 충전재라도 좋다. (A) 성분은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 본원 명세서에 있어서, 「액정성을 갖는다」란, 융점 이상으로 가열했을 때 편광 현미경 관찰로 이방성이 관찰되는 것을 의미한다.(A) The organic filler having liquid crystallinity is specifically a filler containing an organic polymer having liquid crystallinity, and may be a filler consisting of an organic polymer having liquid crystallinity. (A) Component may be used individually, or may be used in combination of two or more types. In the present specification, “having liquid crystallinity” means that anisotropy is observed by polarizing microscope observation when heated above the melting point.

액정성을 갖는 유기 고분자로서는, 일반적인 액정 폴리머를 들 수 있고, 예를 들면, 파라하이드록시벤조산, 비페놀, 테레프탈산 등으로 합성되는 전 방향족 폴리에스테르 등을 들 수 있고, 구체적으로는, 파라하이드록시벤조산에서 유래하는 구조 단위([-O-C6H4-CO-]), 비페놀에서 유래하는 구조 단위([-O-C6H4-C6H4-O-]) 및 테레프탈산에서 유래하는 구조 단위([-OC-C6H4-CO-])로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 적어도 1개의 구조 단위를 갖는 폴리머를 들 수 있다. 본 명세서에서 말하는 구조 단위는, 폴리머의 주쇄 중에 존재하는 반복 단위와 말단 또는 측쇄에 존재하는 단위 또는 말단기를 포함한다. 액정 폴리머로서는, 예를 들면, 일본 공개특허공보 특개2022-79336호에 기재된 액정 폴리머 입자를 바람직하게 사용할 수 있다.Examples of organic polymers having liquid crystallinity include general liquid crystal polymers, for example, parahydroxybenzoic acid, biphenol, wholly aromatic polyester synthesized from terephthalic acid, etc., and specifically, parahydroxybenzoic acid, biphenol, terephthalic acid, etc. Structural units derived from benzoic acid ([-OC 6 H 4 -CO-]), structural units derived from biphenol ([-OC 6 H 4 -C 6 H 4 -O-]) and structural units derived from terephthalic acid. and polymers having at least one structural unit selected from the group consisting of ([-OC-C 6 H 4 -CO-]). The structural unit referred to in this specification includes a repeating unit present in the main chain of the polymer and a unit or terminal group present in the terminal or side chain. As the liquid crystal polymer, for example, liquid crystal polymer particles described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2022-79336 can be preferably used.

액정성을 갖는 유기 고분자의 융점은, 바람직하게는 270℃ 이상, 보다 바람직하게는 280℃ 이상, 더욱 바람직하게는 290℃ 이상이고, 상한값으로서, 바람직하게는 370℃ 이하이고, 바람직하게는 360℃ 이하이며, 더욱 바람직하게는 350℃ 이하이다. 본 명세서에 있어서, 액정 폴리머의 융점은, ISO11357, ASTM D3418의 시험 방법에 준거하는 것이고, 히타치 하이테크 사이언스(주) 제조의 시차 주사 열량계(DSC) 등을 사용하여 측정할 수 있다.The melting point of the organic polymer having liquid crystallinity is preferably 270°C or higher, more preferably 280°C or higher, and still more preferably 290°C or higher. The upper limit is preferably 370°C or lower, and preferably 360°C. or less, and more preferably 350°C or less. In this specification, the melting point of the liquid crystal polymer is based on the test method of ISO11357 and ASTM D3418, and can be measured using a differential scanning calorimeter (DSC) manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd., etc.

액정성을 갖는 유기 고분자는, 상기 융점을 가질 때, 본 발명의 수지 조성물 중에 있어서, 일반적인 경화 조건 하에서도, 일반적으로 평균 분자량이 비교적 작은 (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물과 잘 융합되기 어렵고, 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물의 응력 완화에 기여하기 쉽고, 디스미어 처리 후의 크랙 내성을 향상하는 경향이 있다.When the organic polymer having liquid crystallinity has the above melting point, it fuses well with the epoxy resin (B) and the active ester compound (C), which generally have relatively small average molecular weights, even under general curing conditions in the resin composition of the present invention. It is difficult to achieve this, and it tends to contribute to stress relaxation of the cured product obtained using the resin composition, and tends to improve crack resistance after desmear treatment.

(A) 성분인 충전재로서는, 입자, 분말 내지 분체가 바람직하고, 분말의 입도 분포로서는, 예를 들면, 입자 직경이 작은 쪽으로부터 50% 적산한 입자 직경을 나타내는 D50(중간 직경)이 예를 들면, 0.1㎛ 이상, 바람직하게는 0.3㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.4㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.5㎛ 이상, 보다 더 바람직하게는 1㎛ 이상, 특히 바람직하게는 3㎛ 이상이고, 예를 들면, 12㎛ 이하, 10㎛ 이하, 바람직하게는 8㎛ 이하, 보다 바람직하게는 6㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 5.5㎛ 이하이고, 특히 바람직하게는 5㎛인 것이 바람직하다. 상기 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다.As the filler that is component (A), particles, powders or powders are preferable, and the particle size distribution of the powder is, for example, D50 (median diameter), which represents the particle diameter accumulated by 50% from the smaller particle diameter. , 0.1 μm or more, preferably 0.3 μm or more, more preferably 0.4 μm or more, further preferably 0.5 μm or more, even more preferably 1 μm or more, particularly preferably 3 μm or more, for example, It is desirable that it is 12㎛ or less, 10㎛ or less, preferably 8㎛ or less, more preferably 6㎛ or less, further preferably 5.5㎛ or less, and particularly preferably 5㎛. The particle diameter can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and the intermediate diameter can be measured as the average particle size.

액정성을 갖는 유기 고분자는, 190℃에서 1시간 가열 처리했을 때에 발생하는 아웃가스(outgas)의 아세트산량이 예를 들면, 10ppm 이하이고, 바람직하게는 5ppm 이하이며, 보다 바람직하게는 1ppm 이하이다. 액정성을 갖는 유기 고분자의 아웃가스의 아세트산량은, 원료인 액정 폴리머의 합성 공정에서의 조건, 예를 들면, 고상 중합의 가열 온도, 시간을 조절함으로써 제어할 수 있다. 아웃가스의 아세트산량이 상기한 바와 같이 적으면, 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물에 있어서 고온 환경 하에 일반적으로 분자 운동이 커지는 상황이라도 유전정접의 상승을 저감하기 쉽다.For organic polymers having liquid crystallinity, the amount of acetic acid in outgas generated when heat-treated at 190°C for 1 hour is, for example, 10 ppm or less, preferably 5 ppm or less, and more preferably 1 ppm or less. The amount of acetic acid in the outgas of the liquid crystalline organic polymer can be controlled by adjusting the conditions in the synthesis process of the liquid crystal polymer as a raw material, for example, the heating temperature and time of solid phase polymerization. If the amount of acetic acid in the outgas is small as described above, it is easy to reduce the increase in dielectric loss tangent in the cured product obtained using the resin composition even in a situation where molecular motion generally increases under a high temperature environment.

액정성을 갖는 유기 고분자의 유전정접(측정 주파수: 10GHz)은, 0.001 이하이고, 바람직하게는 0.0009 이하이고, 보다 바람직하게는 0.0008 이하이고, 더욱 바람직하게는 0.0007 이하이다. 상기 값은, 액정성을 갖는 유기 고분자의 사출 성형품의 면내 방향의 유전정접의 측정값이다. 한편, 상기 사출 성형품은, 30mm×30mm×0.4mm(두께)의 평판상 시험편이다.The dielectric loss tangent (measurement frequency: 10 GHz) of an organic polymer having liquid crystallinity is 0.001 or less, preferably 0.0009 or less, more preferably 0.0008 or less, and still more preferably 0.0007 or less. The above value is a measured value of the dielectric loss tangent in the in-plane direction of an injection molded product of an organic polymer having liquid crystallinity. Meanwhile, the injection molded product is a flat test piece of 30 mm x 30 mm x 0.4 mm (thickness).

본 발명의 수지 조성물은, 기구 등은 반드시 명확하지 않지만, 액정성, 즉, 분자 중에 강직한 부분이 있는 (A) 성분을 포함함으로써, 상기 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물에 있어서 고온 환경 하에 일반적으로 분자 운동이 커지는 상황이라도 유전정접의 상승을 저감할 수 있는 동시에, (A) 성분이 (C) 활성 에스테르 화합물과 반응하지 않는 것으로부터, 상기 경화물에 있어서 응력 완화에 기여하고, 디스미어 처리 후의 크랙 내성을 향상시킬 수 있는 것이 아닐까라고 추측된다. (A) 성분은, 바람직하게는, (B) 에폭시 수지에 불용이고, 보다 바람직하게는, 본 발명의 수지 조성물이 (B) 성분 이외에 수지를 포함하는 것이라도 상기 수지 조성물 중의 수지에 불용이며, 더욱 바람직하게는, 본 발명의 수지 조성물이 (K) 유기 용제를 추가로 포함하는 것이라도 상기 수지 조성물 중의 수지 및 유기 용제에 불용이다.The resin composition of the present invention is not necessarily clear in terms of mechanism, etc., but it is liquid crystalline, that is, it contains component (A) with a rigid portion in the molecule, so that the cured product obtained by using the resin composition is generally used in a high temperature environment. This can reduce the increase in dielectric loss tangent even in situations where molecular motion increases, and at the same time, since component (A) does not react with the active ester compound (C), it contributes to stress relief in the cured product and desmear treatment. It is presumed that this may improve crack resistance later. Component (A) is preferably insoluble in the epoxy resin (B), and more preferably, even if the resin composition of the present invention contains a resin other than component (B), it is insoluble in the resin in the resin composition, More preferably, even if the resin composition of the present invention further contains (K) an organic solvent, it is insoluble in the resin and organic solvent in the resin composition.

(A) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 0.1질량% 이상, 바람직하게는 0.3질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.4질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 0.55질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 5질량% 이하이고, 바람직하게는 4질량% 이하, 보다 바람직하게는 3.5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 3질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 2.5질량% 이하이다.The content of component (A) is, for example, 0.1 mass% or more, preferably 0.3 mass% or more, more preferably 0.4 mass% or more, with respect to 100 mass% of non-volatile components in the resin composition. It is 0.5 mass% or more, more preferably 0.55 mass% or more, and for example, 5 mass% or less, preferably 4 mass% or less, more preferably 3.5 mass% or less, even more preferably 3. It is mass % or less, more preferably 2.5 mass % or less.

(A) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 수지 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 0.1질량% 이상, 바람직하게는 0.5질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1.5질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 2질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 12질량% 이하이고, 바람직하게는 10질량% 이하, 보다 바람직하게는 9.5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 9질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 8.5질량% 이하이다.The content of component (A) is, for example, 0.1% by mass or more, preferably 0.5% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, and still more preferably 1.5% by mass, based on 100% by mass of the resin component in the resin composition. It is % by mass or more, more preferably 2% by mass or more, and for example, 12% by mass or less, preferably 10% by mass or less, more preferably 9.5% by mass or less, even more preferably 9% by mass. % or less, more preferably 8.5 mass% or less.

<(B) 에폭시 수지><(B) Epoxy resin>

본 발명의 수지 조성물은, (B) 에폭시 수지를 함유한다. (B) 에폭시 수지란, 에폭시기를 갖는 경화성 수지를 의미한다.The resin composition of the present invention contains (B) an epoxy resin. (B) Epoxy resin means a curable resin having an epoxy group.

(B) 에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 페놀아르알킬형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지, 이소시아누레이트형 에폭시 수지, 페놀프탈이미딘형 에폭시 수지, 페놀프탈레인형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. (B) 에폭시 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(B) As the epoxy resin, for example, bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, and tris. Phenol type epoxy resin, naphthol novolac type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin. , glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin with butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin. , spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexane type epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, isocyanurate type epoxy resin, phenolphthalate. Imidine type epoxy resin, phenolphthalein type epoxy resin, etc. are mentioned. (B) Epoxy resins may be used individually or in combination of two or more types.

수지 조성물은, (B) 에폭시 수지로서, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. (B) 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.The resin composition preferably contains an epoxy resin (B) having two or more epoxy groups in one molecule. (B) The proportion of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule relative to 100% by mass of the non-volatile component of the epoxy resin is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, especially preferably is 70% by mass or more.

에폭시 수지에는, 온도 20℃에서 액상인 에폭시 수지(이하, 「액상 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음)와, 온도 20℃에서 고체상인 에폭시 수지(이하, 「고체상 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음)가 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 또는 고체상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 또는 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 포함하고 있어도 좋다. 본 발명의 수지 조성물에서의 에폭시 수지는, 고체상 에폭시 수지이거나 또는 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 조합인 것이 바람직하고, 고체상 에폭시 수지인 것이 보다 바람직하다.Epoxy resins include epoxy resins that are liquid at a temperature of 20°C (hereinafter sometimes referred to as “liquid epoxy resins”) and epoxy resins that are solid at a temperature of 20°C (hereinafter sometimes referred to as “solid epoxy resins”). There is. The resin composition of the present invention may contain only a liquid epoxy resin as an epoxy resin, may contain only a solid epoxy resin, or may contain a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin. The epoxy resin in the resin composition of the present invention is preferably a solid epoxy resin or a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin, and more preferably a solid epoxy resin.

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하다.As the liquid epoxy resin, a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하다.Liquid epoxy resins include bisphenol A-type epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, bisphenol AF-type epoxy resin, naphthalene-type epoxy resin, glycidyl ester-type epoxy resin, glycidylamine-type epoxy resin, and phenol novolak-type epoxy resin. , alicyclic epoxy resins having an ester skeleton, cyclohexane-type epoxy resins, cyclohexanedimethanol-type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure are preferable.

액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「828US」, 「828EL」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코트 828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지);미츠비시 케미칼사 제조의 「jER807」, 「1750」(비스페놀 F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「630」, 「630LSD」, 「604」(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「ED-523T」(글리시롤형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-3950L」, 「EP-3980S」(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-4088S」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」 (에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「PB-3600」, 닛폰 소다사 제조의 「JP-100」, 「JP-200」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "828US", "828EL", "jER828EL", "825", "Epicoat 828EL" (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "jER807", "1750" (bisphenol F type) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation epoxy resin); "jER152" (phenol novolac type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “630”, “630LSD”, and “604” (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “ED-523T” manufactured by ADEKA (glycirol type epoxy resin); “EP-3950L” and “EP-3980S” (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by ADEKA; “EP-4088S” manufactured by ADEKA (dicyclopentadiene type epoxy resin); “ZX1059” manufactured by Shin-Nittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd. (mixture of bisphenol A-type epoxy resin and bisphenol F-type epoxy resin); “EX-721” (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase Chemtex Corporation; “Celoxide 2021P” manufactured by Daicel Corporation (alicyclic epoxy resin with an ester skeleton); “PB-3600” manufactured by Daicel Corporation, “JP-100” and “JP-200” manufactured by Nippon Soda Corporation (epoxy resin with a butadiene structure); “ZX1658” and “ZX1658GS” (liquid 1,4-glycidylcyclohexane type epoxy resin) manufactured by Nippon-Steel Sumikin Chemical Co., Ltd., and the like. These may be used individually or in combination of two or more types.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As the solid epoxy resin, a solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule is preferable, and an aromatic solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 페놀아르알킬형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지, 페놀프탈이미딘형 에폭시 수지, 페놀프탈레인형 에폭시 수지가 바람직하다.As solid epoxy resins, xylenol-type epoxy resin, naphthalene-type epoxy resin, naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin, naphthol novolak-type epoxy resin, cresol novolak-type epoxy resin, dicyclopentadiene-type epoxy resin, and trisphenol-type epoxy resin. , naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, Phenolphthalimidine type epoxy resin and phenolphthalein type epoxy resin are preferred.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」, 「HP-7200L」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」 (나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3000FH」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「ESN475V」(나프탈렌형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「ESN485」(나프톨형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「ESN375」(디하이드록시나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YX4000HK」, 「YL7890」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX7700」(페놀아르알킬형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미칼사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」; 미츠비시 케미칼사 제조의 「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「jER1010」(비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「WHR991S」(페놀프탈이미딘형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Specific examples of the solid epoxy resin include "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; “HP-4700” and “HP-4710” (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "N-690" (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H", and "HP-7200L" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", and "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; “EPPN-502H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (trisphenol type epoxy resin); “NC7000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (naphthol novolac type epoxy resin); "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3000FH", and "NC3100" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.; “ESN475V” (naphthalene type epoxy resin) manufactured by Nittetsu Chemical &Materials; “ESN485” (naphthol type epoxy resin) manufactured by Nittetsu Chemical &Materials; “ESN375” (dihydroxynaphthalene type epoxy resin) manufactured by Nittetsu Chemical &Materials; "YX4000H", "YX4000", "YX4000HK", and "YL7890" (bixylenol type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “YL6121” (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “YX8800” (anthracene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “YX7700” (phenol aralkyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “PG-100” and “CG-500” manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd.; "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “YL7800” (fluorene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "jER1010" (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “jER1031S” (tetraphenylethane type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "WHR991S" (phenolphthalimidine type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., etc. are mentioned. These may be used individually or in combination of two or more types.

(B) 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 고체상 에폭시 수지에 대한 액상 에폭시 수지의 질량비(액상 에폭시 수지/고체상 에폭시 수지)는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 10 이하, 보다 바람직하게는 5 이하, 더욱 바람직하게는 1 이하이다.(B) When using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together as the epoxy resin, the mass ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin (liquid epoxy resin/solid epoxy resin) is not particularly limited, but is preferably 10. or less, more preferably 5 or less, even more preferably 1 or less.

(B) 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 5,000g/eq., 보다 바람직하게는 60g/eq. 내지 2,000g/eq., 더욱 바람직하게는 70g/eq. 내지 1,000g/eq., 보다 더 바람직하게는 80g/eq. 내지 500g/eq.이다. 에폭시 당량은, 에폭시기 1당량당 수지의 질량이다. 상기 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(B) The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 g/eq. to 5,000 g/eq., more preferably 60 g/eq. to 2,000 g/eq., more preferably 70 g/eq. to 1,000 g/eq., more preferably 80 g/eq. to 500 g/eq. Epoxy equivalent is the mass of resin per equivalent of epoxy group. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.

(B) 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 바람직하게는 100 내지 5,000, 보다 바람직하게는 250 내지 3,000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1,500이다. 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(B) The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin is preferably 100 to 5,000, more preferably 250 to 3,000, and still more preferably 400 to 1,500. The weight average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).

(B) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 1질량% 이상, 바람직하게는 3질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 8질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 8.5질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 30질량% 이하이고, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 13질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 10질량% 이하이다.The content of component (B) is, for example, 1% by mass or more, preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, with respect to 100% by mass of non-volatile components in the resin composition. 8 mass% or more, more preferably 8.5 mass% or more, for example, 30 mass% or less, preferably 20 mass% or less, more preferably 15 mass% or less, even more preferably 13 It is % by mass or less, more preferably 10% by mass or less.

(B) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 수지 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 10질량% 이상, 바람직하게는 15질량% 이상, 보다 바람직하게는 20질량% 이상, 더욱 바람직하게는 25질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 28질량% 이상, 특히 바람직하게는 30질량% 이상이며, 또한, 예를 들면, 60질량% 이하이고, 바람직하게는 55질량% 이하, 보다 바람직하게는 50질량% 이하, 더욱 바람직하게는 45질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 40질량% 이하, 특히 바람직하게는 35질량% 이하이다.The content of component (B) is, for example, 10% by mass or more, preferably 15% by mass or more, more preferably 20% by mass or more, and even more preferably 25% by mass, based on 100% by mass of the resin component in the resin composition. It is % by mass or more, more preferably 28 mass % or more, particularly preferably 30 mass % or more, and for example, 60 mass % or less, preferably 55 mass % or less, more preferably 50 mass % or more. % or less, more preferably 45 mass% or less, even more preferably 40 mass% or less, particularly preferably 35 mass% or less.

<(C) 활성 에스테르 화합물><(C) Active ester compound>

본 발명의 수지 조성물은, (C) 활성 에스테르 화합물을 함유한다. (C) 활성 에스테르 화합물은, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (C) 활성 에스테르 화합물은, (B) 에폭시 수지와 반응해서 (B) 에폭시 수지를 가교시키는 기능을 가질 수 있다. (C) 활성 에스테르 화합물로서는, 탄소-탄소 불포화 결합을 갖는 것이라도 좋고, 상기 불포화 결합은, 바람직하게는, 탄소-탄소 이중 결합이고, 예를 들면, 후술하는 (C1) 성분이 갖는 탄소-탄소 불포화 결합과 동일한 것이라도 좋다.The resin composition of the present invention contains (C) an active ester compound. (C) The active ester compound may be used individually, or two or more types may be used in combination in any ratio. (C) The active ester compound may react with the epoxy resin (B) and have the function of crosslinking the epoxy resin (B). (C) The active ester compound may have a carbon-carbon unsaturated bond, and the unsaturated bond is preferably a carbon-carbon double bond, for example, the carbon-carbon of the (C1) component described later. It may be the same as the unsaturated bond.

(C) 활성 에스테르 화합물로서는, 일반적으로 페놀 에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 상기 활성 에스테르 화합물은, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기에서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합해서 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.(C) The active ester compound generally contains two or more highly reactive ester groups per molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds. Compounds having these are preferably used. The active ester compound is preferably obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and/or a thiol compound. Particularly from the viewpoint of improving heat resistance, active ester compounds obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound are preferable, and active ester compounds obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound are more preferable. Examples of carboxylic acid compounds include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. As phenol compounds or naphthol compounds, for example, hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are mentioned. Here, “dicyclopentadiene-type diphenol compound” refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol with one molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, (C) 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물 및 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 보다 바람직하고, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물이 더욱 바람직하다. 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어지는 2가 구조 단위를 나타낸다.Specifically, (C) the active ester compound includes a dicyclopentadiene-type active ester compound, a naphthalene-type active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolak, and benzoyl phenol novolac. An active ester compound containing a cargo is preferable, and among these, it is more preferable that it is at least one type selected from a dicyclopentadiene type active ester compound and a naphthalene type active ester compound, and a dicyclopentadiene type active ester compound is more preferable. . As the dicyclopentadiene type active ester compound, an active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure is preferable. “Dicyclopentadiene type diphenol structure” refers to a divalent structural unit consisting of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

(C) 활성 에스테르 화합물의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「EXB-8000L」, 「EXB-8000L-65M」, 「EXB-8000L-65TM」, 「HPC-8000L-65TM」, 「HPC-8000」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H」, 「HPC-8000H-65TM」(DIC사 제조); 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「EXB-8100L-65T」, 「EXB-8150-60T」, 「EXB-8150-62T」, 「EXB-9416-70BK」, 「HPC-8150-60T」, 「HPC-8150-62T」(DIC사 제조); 인 함유 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9401」(DIC사 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 케미칼사 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」, 「YLH1030」, 「YLH1048」(미츠비시 케미칼사 제조), 스티릴기 및 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「PC1300-02-65MA」(에어워터사 제조) 등을 들 수 있다.(C) Commercially available active ester compounds include dicyclopentadiene-type diphenol structures, such as “EXB9451,” “EXB9460,” “EXB9460S,” “EXB-8000L,” and “EXB-8000L-65M.” ”, “EXB-8000L-65TM”, “HPC-8000L-65TM”, “HPC-8000”, “HPC-8000-65T”, “HPC-8000H”, “HPC-8000H-65TM” (manufactured by DIC) ; As an active ester compound containing a naphthalene structure, “EXB-8100L-65T”, “EXB-8150-60T”, “EXB-8150-62T”, “EXB-9416-70BK”, “HPC-8150-60T”, “ “HPC-8150-62T” (manufactured by DIC); As a phosphorus-containing active ester compound, “EXB9401” (manufactured by DIC), as an active ester compound that is an acetylate of phenol novolac, “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and as an active ester compound that is a benzoylate of phenol novolac, “YLH1026.” ", "YLH1030", "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and "PC1300-02-65MA" (manufactured by Airwater Corporation) as an active ester compound containing a styryl group and a naphthalene structure.

(C) 활성 에스테르 화합물의 활성 에스테르기 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 500g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq. 내지 400g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 활성 에스테르기 당량은, 활성 에스테르기 1당량당 활성 에스테르 화합물의 질량이다.(C) The active ester group equivalent of the active ester compound is preferably 50 g/eq. to 500 g/eq., more preferably 50 g/eq. to 400 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. The active ester group equivalent is the mass of the active ester compound per equivalent of the active ester group.

(B) 성분과 (C) 성분의 양비는, (B) 성분의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값을 a라고 하고, (C) 성분의 불휘발 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값을 b라고 했을 때, b/a가 1.0 이상인 것이 바람직하고, 1.01 이상이 보다 바람직하고, 1.03 이상이 더욱 바람직하고, 1.05 이상이 보다 더 바람직하고, 1.1 이상이 특히 바람직하고, 또한, 2.0 이하인 것이 바람직하고, 1.75 이하가 보다 바람직하고, 1.5 이하가 더욱 바람직하고, 1.3 이하가 보다 더 바람직하고, 1.2 이하가 특히 바람직하다. (B) 성분과 (C) 성분의 양비를 이러한 범위 내로 함으로써, 본 발명의 효과를 용이하게 얻을 수 있다.The amount ratio of component (B) and component (C) is the sum of the mass of the non-volatile component of component (B) divided by the epoxy equivalent, and the mass of the non-volatile component of component (C) is set to a. When b is the sum of all the values divided by the active ester group equivalent, b/a is preferably 1.0 or more, more preferably 1.01 or more, more preferably 1.03 or more, and even more preferably 1.05 or more, 1.1 or more is particularly preferable, 2.0 or less is preferable, 1.75 or less is more preferable, 1.5 or less is still more preferable, 1.3 or less is still more preferable, and 1.2 or less is especially preferable. By keeping the amount ratio of component (B) and component (C) within this range, the effect of the present invention can be easily obtained.

(C) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 3질량% 이상, 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 10질량% 이상, 더욱 바람직하게는 13질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 15질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 30질량% 이하이고, 바람직하게는 25질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 더욱 바람직하게는 16질량% 이하이다.The content of component (C) is, for example, 3% by mass or more, preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, with respect to 100% by mass of non-volatile components in the resin composition. 13% by mass or more, more preferably 15% by mass or more, for example, 30% by mass or less, preferably 25% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, even more preferably 16% by mass. It is less than mass%.

(C) 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 수지 성분 100질량%에 대하여, 예를 들면, 30질량% 이상, 바람직하게는 40질량% 이상, 보다 바람직하게는 45질량% 이상, 더욱 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 54질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 70질량% 이하이고, 바람직하게는 65질량% 이하, 보다 바람직하게는 63질량% 이하, 더욱 바람직하게는 60질량% 이하이다.The content of component (C) is, for example, 30% by mass or more, preferably 40% by mass or more, more preferably 45% by mass or more, and still more preferably 50% by mass or more, based on 100% by mass of the resin component in the resin composition. mass% or more, more preferably 54 mass% or more, and for example, 70 mass% or less, preferably 65 mass% or less, more preferably 63 mass% or less, even more preferably 60 mass%. % or less.

<(D) 무기 충전재><(D) Inorganic filler>

본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (D) 무기 충전재를 포함하는 경우가 있다. (D) 무기 충전재는, 입자의 상태로 수지 조성물에 포함된다. (D) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of the present invention may contain (D) an inorganic filler as an optional component. (D) The inorganic filler is contained in the resin composition in the form of particles. (D) Inorganic fillers may be used individually or in combination of two or more types.

(D) 무기 충전재의 재료로서는 무기 화합물을 사용한다. (D) 무기 충전재의 재료로서는, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 유리, 코디어라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화 알루미늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 산화 마그네슘, 질화 붕소, 질화 알루미늄, 질화 망간, 붕산 알루미늄, 탄산 스트론튬, 티탄산 스트론튬, 티탄산 칼슘, 티탄산 마그네슘, 티탄산 비스무트, 산화 티탄, 산화 지르코늄, 티탄산 바륨, 티탄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산 칼슘, 인산 지르코늄 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는 구형 실리카가 바람직하다. (D) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.(D) An inorganic compound is used as the material for the inorganic filler. (D) Inorganic filler materials include, for example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, and hydroxide. Aluminum, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, Examples include barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Among these, silica is particularly suitable. Examples of silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Additionally, spherical silica is preferred as the silica. (D) Inorganic fillers may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio.

(D) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」, 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」;덴카사 제조의 「UFP-30」, 「DAW-03」, 「FB-105FD」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 타이헤요 시멘트사 제조의 「MGH-005」; 닛키 쇼쿠바이 카세이사 제조의 「BA-S」 등을 들 수 있다.(D) Commercially available inorganic fillers include, for example, “SP60-05” and “SP507-05” manufactured by Nittetsu Chemical &Materials; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1", "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", "YA010C" manufactured by Adomatex Corporation; manufactured by Denka Corporation “UFP-30”, “DAW-03”, “FB-105FD”; “Actual writing NSS-3N”, “Actual writing NSS-4N”, and “Actual writing NSS-5N” manufactured by Tokuyama Corporation; “MGH-005” manufactured by Taiheyo Cement Co., Ltd.; and "BA-S" manufactured by Nikki Shokubai Kasei.

(D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 1㎛ 이하, 특히 바람직하게는 0.7㎛ 이하이다. (D) 무기 충전재의 평균 입자 직경의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.1㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.2㎛ 이상이다. (D) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 넣고, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치를 사용하고, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고, 플로우 셀 방식으로 무기 충전재의 체적 기준의 입자 직경 분포를 측정하고, 얻어진 입자 직경 분포로부터 중간 직경으로서 평균 입자 직경을 산출하였다. 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들면, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-960」 등을 들 수 있다.(D) The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less, further preferably 2 μm or less, even more preferably 1 μm or less, especially Preferably it is 0.7㎛ or less. (D) The lower limit of the average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, further preferably 0.1 μm or more, particularly preferably 0.2 μm or more. . (D) The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and the intermediate diameter can be measured as the average particle size. The measurement sample can be prepared by weighing 100 mg of inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone into a vial bottle and dispersing them by ultrasonic waves for 10 minutes. For the measurement sample, a laser diffraction type particle size distribution measuring device is used, the light source wavelength used is blue and red, the volume-based particle size distribution of the inorganic filler is measured using a flow cell method, and the median diameter is calculated from the obtained particle size distribution. The average particle diameter was calculated as . Examples of the laser diffraction type particle size distribution measuring device include "LA-960" manufactured by Horiba Sesakusho Co., Ltd.

(D) 무기 충전재의 비표면적은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 0.5㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 1㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. (D) 무기 충전재의 비표면적의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 100㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 70㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 50㎡/g 이하, 특히 바람직하게는 40㎡/g 이하이다. 무기 충전재의 비표면적은, BET법에 따라서, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용해서 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻을 수 있다.(D) The specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 m2/g or more, more preferably 0.5 m2/g or more, further preferably 1 m2/g or more, especially preferably 3. It is more than ㎡/g. (D) The upper limit of the specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 100 m2/g or less, more preferably 70 m2/g or less, further preferably 50 m2/g or less, especially preferably is less than 40㎡/g. The specific surface area of the inorganic filler can be obtained by adsorbing nitrogen gas to the surface of the sample using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210, manufactured by Mountec) according to the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multipoint method. there is.

(D) 무기 충전재는, 적절한 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리됨으로써, (D) 무기 충전재의 내습성 및 분산성을 높일 수 있다. 표면 처리제로서는, 예를 들면, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란 등의 비닐계 실란 커플링제; 2-(3,4-에폭시사이클로헥실)에틸트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필메틸디메톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필메틸디에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리에톡시실란 등의 에폭시계 실란 커플링제; p-스티릴트리메톡시실란 등의 스티릴계 실란 커플링제; 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리에톡시실란 등의 메타크릴계 실란 커플링제; 3-아크릴옥시프로필트리메톡시실란 등의 아크릴계 실란 커플링제; N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-트리에톡시실릴-N-(1,3-디메틸-부틸리덴)프로필아민, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-페닐-8-아미노옥틸트리메톡시실란, N-(비닐벤질)-2-아미노에틸-3-아미노프로필트리메톡시실란 등의 아미노계 실란 커플링제; 트리스-(트리메톡시실릴프로필)이소시아누레이트 등의 이소시아누레이트계 실란 커플링제; 3-우레이도프로필트리알콕시실란 등의 등의 우레이도계 실란 커플링제; 3-머캅토프로필메틸디메톡시실란, 3-머캅토프로필트리메톡시실란 등의 머캅토계 실란 커플링제; 3-이소시아네이트프로필트리에톡시실란 등의 이소시아네이트계 실란 커플링제; 3-트리메톡시실릴프로필석신산 무수물 등의 산 무수물계 실란 커플링제 등의 실란 커플링제; 메틸트리메톡시실란, 디메틸디메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 디메틸디에톡시실란, 페닐트리에톡시실란, n-프로필트리메톡시실란, n-프로필트리에톡시실란, 헥실트리메톡시실란, 헥실트리에톡시실란, 옥틸트리에톡시실란, 데실트리메톡시실란, 1,6-비스(트리메톡시실릴)헥산, 트리플루오로프로필트리메톡시실란 등의 비실란 커플링-알콕시실란 화합물 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.(D) The inorganic filler is preferably surface treated with an appropriate surface treatment agent. By surface treatment, the moisture resistance and dispersibility of the (D) inorganic filler can be improved. Examples of the surface treatment agent include vinyl-based silane coupling agents such as vinyltrimethoxysilane and vinyltriethoxysilane; 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, Epoxy-based silane coupling agents such as 3-glycidoxypropyltriethoxysilane; Styryl-based silane coupling agents such as p-styryltrimethoxysilane; Methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, and 3-methacryloxypropyltriethoxysilane. Ringje; Acrylic silane coupling agents such as 3-acryloxypropyltrimethoxysilane; N-2-(aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2-(aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltri Ethoxysilane, 3-triethoxysilyl-N-(1,3-dimethyl-butylidene)propylamine, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-8-aminooctyltrime Amino silane coupling agents such as oxysilane and N-(vinylbenzyl)-2-aminoethyl-3-aminopropyltrimethoxysilane; Isocyanurate-based silane coupling agents such as tris-(trimethoxysilylpropyl)isocyanurate; Ureido-based silane coupling agents such as 3-ureidopropyltrialkoxysilane; Mercapto-based silane coupling agents such as 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane and 3-mercaptopropyltrimethoxysilane; Isocyanate-based silane coupling agents such as 3-isocyanate propyltriethoxysilane; Silane coupling agents such as acid anhydride-based silane coupling agents such as 3-trimethoxysilylpropylsuccinic acid anhydride; Methyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, phenyltriethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, Non-silane coupling such as hexyltrimethoxysilane, hexyltriethoxysilane, octyltriethoxysilane, decyltrimethoxysilane, 1,6-bis(trimethoxysilyl)hexane, and trifluoropropyltrimethoxysilane. -Alkoxysilane compounds, etc. can be mentioned. In addition, the surface treatment agent may be used individually, or two or more types may be used in combination in an arbitrary ratio.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠 카가쿠코교사 제조의 「KBM-1003」, 「KBE-1003」(비닐계 실란 커플링제); 「KBM-303」, 「KBM-402」, 「KBM-403」, 「KBE-402」, 「KBE-403」(에폭시계 실란 커플링제); 「KBM-1403」(스티릴계 실란 커플링제); 「KBM-502」, 「KBM-503」, 「KBE-502」, 「KBE-503」(메타크릴계 실란 커플링제); 「KBM-5103」(아크릴계 실란 커플링제); 「KBM-602」, 「KBM-603」, 「KBM-903」, 「KBE-903」, 「KBE-9103P」, 「KBM-573」, 「KBM-575」(아미노계실란 커플링제); 「KBM-9659」(이소시아누레이트계 실란 커플링제); 「KBE-585」(우레이도계 실란 커플링제); 「KBM-802」, 「KBM-803」(머캅토계 실란 커플링제); 「KBE-9007N」(이소시아네이트계 실란 커플링제); 「X-12-967C」(산 무수물계 실란 커플링제); 「KBM-13」, 「KBM-22」, 「KBM-103」, 「KBE-13」, 「KBE-22」, 「KBE-103」, 「KBM-3033」, 「KBE-3033」, 「KBM-3063」, 「KBE-3063」, 「KBE-3083」, 「KBM-3103C」, 「KBM-3066」, 「KBM-7103」(비실란 커플링-알콕시실란 화합물) 등을 들 수 있다.Examples of commercially available surface treatment agents include "KBM-1003" and "KBE-1003" (vinyl-based silane coupling agent) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.; “KBM-303”, “KBM-402”, “KBM-403”, “KBE-402”, “KBE-403” (epoxy-based silane coupling agent); “KBM-1403” (styryl-based silane coupling agent); “KBM-502”, “KBM-503”, “KBE-502”, “KBE-503” (methacrylic silane coupling agent); “KBM-5103” (acrylic silane coupling agent); “KBM-602”, “KBM-603”, “KBM-903”, “KBE-903”, “KBE-9103P”, “KBM-573”, “KBM-575” (amino silane coupling agent); “KBM-9659” (isocyanurate-based silane coupling agent); “KBE-585” (ureido-based silane coupling agent); “KBM-802”, “KBM-803” (mercapto-based silane coupling agent); “KBE-9007N” (isocyanate-based silane coupling agent); “X-12-967C” (acid anhydride-based silane coupling agent); 「KBM-13」, 「KBM-22」, 「KBM-103」, 「KBE-13」, 「KBE-22」, 「KBE-103」, 「KBM-3033」, 「KBE-3033」, 「KBM -3063", "KBE-3063", "KBE-3083", "KBM-3103C", "KBM-3066", "KBM-7103" (non-silane coupling-alkoxysilane compound), etc.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량%는, 0.2질량% 내지 5질량%의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량% 내지 3질량%로 표면 처리되어 있는 것이 보다 바람직하고, 0.3질량% 내지 2질량%로 표면 처리되어 있는 것이 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment with the surface treatment agent is preferably within a predetermined range from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. Specifically, 100% by mass of the inorganic filler is preferably surface treated with 0.2% by mass to 5% by mass of a surface treatment agent, more preferably 0.3% by mass by 0.3% by mass. It is more preferable that the surface is treated in an amount of 2 to 2% by mass.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 조성물의 용융 점도나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 1.0mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by a surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and even more preferably 0.2 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity of the resin composition or the melt viscosity in sheet form, 1.0 mg/m2 or less is preferable, 0.8 mg/m2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m2 or less is still more preferable. .

(D) 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK)) 에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 더하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용해서 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.(D) The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solids, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Sesakusho, etc. can be used.

수지 조성물 중의 (D) 무기 충전재의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 95질량% 이하, 보다 바람직하게는 90질량% 이하, 더욱 바람직하게는 85질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 80질량% 이하, 특히 바람직하게는 75질량% 이하일 수 있다. 수지 조성물 중의 (D) 무기 충전재의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 1질량% 이상, 10질량% 이상, 20질량% 이상, 30질량% 이상 등일 수 있고, 바람직하게는 40질량% 이상, 보다 바람직하게는 50질량% 이상, 더욱 바람직하게는 60질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 65질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상일 수 있다.The content of the (D) inorganic filler in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, and further. It may be preferably 85 mass% or less, more preferably 80 mass% or less, and particularly preferably 75 mass% or less. The lower limit of the content of the (D) inorganic filler in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 0% by mass or more, 1% by mass or more, 10% by mass. % or more, 20% by mass or more, 30% by mass or more, etc., preferably 40% by mass or more, more preferably 50% by mass or more, further preferably 60% by mass or more, even more preferably 65% by mass. It may be more than 70% by mass, especially preferably 70% by mass or more.

<(E) 라디칼 중합성 화합물><(E) Radically polymerizable compound>

본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (E) 라디칼 중합성 화합물을 포함하는 경우가 있다. (E) 라디칼 중합성 화합물은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of the present invention may contain (E) a radically polymerizable compound as an optional component. (E) The radically polymerizable compound may be used individually or in combination of two or more types.

라디칼 중합성 화합물로서는, 1분자 중에 1개 이상(바람직하게는 2개 이상)의 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 한, 그 종류는 특별히 한정되지 않는다. 라디칼 중합성 화합물로서는, 예를 들면, 라디칼 중합성 불포화기로서, 말레이미드기, 비닐기, 알릴기, 스티릴기, 비닐페닐기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 푸마로일기 및 말레오일기로부터 선택되는 1종 이상을 갖는 화합물을 들 수 있다. 그 중에서도, 유전 특성이 우수한 경화물이 얻어지기 쉽다는 관점에서, (E1) 말레이미드 화합물 및/또는 (E2) 기타 라디칼 중합성 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. (E2) 기타 라디칼 중합성 화합물은, 말레이미드기를 갖지 않고, 말레이미드기 이외의 라디칼 중합성 불포화기를 갖는 화합물이며, 그 중에서도, (메타)아크릴 수지 및 스티릴 수지로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 것이 바람직하다.The type of radically polymerizable compound is not particularly limited as long as it has one or more (preferably two or more) radically polymerizable unsaturated groups in one molecule. Examples of radically polymerizable compounds include radically polymerizable unsaturated groups, such as maleimide group, vinyl group, allyl group, styryl group, vinylphenyl group, acryloyl group, methacryloyl group, fumaroyl group, and maleoyl group. Compounds having one or more selected types can be mentioned. Among these, it is preferable to include (E1) a maleimide compound and/or (E2) other radically polymerizable compounds from the viewpoint of easily obtaining a cured product with excellent dielectric properties. (E2) Other radically polymerizable compounds are compounds that do not have a maleimide group and have a radically polymerizable unsaturated group other than the maleimide group, and include, among others, at least one selected from (meth)acrylic resin and styryl resin. It is desirable to do so.

(E1) 말레이미드 화합물로서는, 1분자 중에 1개 이상(바람직하게는 2개 이상)의 말레이미드기(2,5-디하이드로-2,5-디옥소-1H-피롤-1-일기)를 갖는 한, 그 종류는 특별히 한정되지 않는다. 말레이미드 화합물로서는, 예를 들면, 「BMI-3000J」, 「BMI-5000」, 「BMI-1400」, 「BMI-1500」, 「BMI-1700」, 「BMI-689」(모두 디자이너 몰레큘즈사 제조) 등의, 다이머디아민 유래의 탄소 원자수 36의 지방족 골격을 포함하는 말레이미드 수지; 발명협회 공개기보 공기번호 2020-500211호에 기재된, 인단 골격을 포함하는 말레이미드 수지; 「MIR-3000-70MT」, 「MIR-5000-60T」(모두 닛폰 카야쿠사 제조), 「BMI-4000」(야마토 카세이사 제조), 「BMI-80」(케이아이 카세이사 제조) 등의, 말레이미드기의 질소 원자와 직접 결합되어 있는 방향환 골격을 포함하는 말레이미드 수지를 들 수 있다.(E1) As a maleimide compound, one or more (preferably two or more) maleimide groups (2,5-dihydro-2,5-dioxo-1H-pyrrol-1-yl groups) are contained in one molecule. As long as it has it, its type is not particularly limited. As maleimide compounds, for example, "BMI-3000J", "BMI-5000", "BMI-1400", "BMI-1500", "BMI-1700", and "BMI-689" (all designer Molecules) maleimide resins containing an aliphatic skeleton with 36 carbon atoms derived from dimerdiamine, such as those produced by the company; A maleimide resin containing an indan skeleton, described in Invention Association Public Notice No. 2020-500211; “MIR-3000-70MT”, “MIR-5000-60T” (all manufactured by Nippon Kayaku), “BMI-4000” (manufactured by Yamato Kasei), “BMI-80” (manufactured by Keai Kasei), etc. and a maleimide resin containing an aromatic ring skeleton directly bonded to the nitrogen atom of the maleimide group.

(메타)아크릴 수지로서는, 1분자 중에 1개 이상(바람직하게는 2개 이상)의 (메타)아크릴로일기를 갖는 한, 그 종류는 특별히 한정되지 않는다. 여기에서, 「(메타)아크릴로일기」란 용어는, 아크릴로일기 및 메타크릴로일기의 총칭이다. 메타크릴 수지로서는, 예를 들면, 「A-DOG」(신나카무라 카가쿠코교사 제조), 「DCP-A」(교에이샤 카가쿠사 제조), 「NPDGA」, 「FM-400」, 「R-687」, 「THE-330」, 「PET-30」, 「DPHA」(모두 닛폰 카야쿠사 제조) 등의 (메타)아크릴 수지를 들 수 있다.The type of (meth)acrylic resin is not particularly limited as long as it has one or more (preferably two or more) (meth)acryloyl groups in one molecule. Here, the term “(meth)acryloyl group” is a general term for acryloyl group and methacryloyl group. As methacrylic resin, for example, "A-DOG" (manufactured by Shinnakamura Chemical Co., Ltd.), "DCP-A" (manufactured by Kyoeisha Chemical Company), "NPDGA", "FM-400", and "R" (meth)acrylic resins such as "-687", "THE-330", "PET-30", and "DPHA" (all manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).

스티릴 수지로서는, 1분자 중에 1개 이상(바람직하게는 2개 이상)의 스티릴기 또는 비닐페닐기를 갖는 한, 그 종류는 특별히 한정되지 않는다. 스티릴 수지로서는, 예를 들면, 「OPE-2St」, 「OPE-2St 1200」, 「OPE-2St 2200」(모두 미츠비시 가스 카가쿠사 제조) 등의 스티릴 수지를 들 수 있다.The type of styryl resin is not particularly limited as long as it has one or more (preferably two or more) styryl groups or vinylphenyl groups per molecule. Examples of the styryl resin include styryl resins such as "OPE-2St", "OPE-2St 1200", and "OPE-2St 2200" (all manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.).

수지 조성물 중의 (E) 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 0질량%라도 좋고, 0질량%보다 커도 좋고, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.1질량% 이상, 특히 바람직하게는 0.5질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 3질량% 이하, 특히 바람직하게는 1.5질량% 이하이다.The content of the radically polymerizable compound (E) in the resin composition may be 0 mass% or greater than 0 mass% when the non-volatile component in the resin composition is 100 mass%, and is preferably 0.01 mass% or more. Preferably it is 0.1 mass% or more, especially preferably 0.5 mass% or more, and for example, 10 mass% or less, preferably 5 mass% or less, more preferably 3 mass% or less, especially preferably It is 1.5% by mass or less.

수지 조성물 중의 (E) 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 할 경우, 0질량%라도 좋고, 0질량%보다 커도 좋고, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 2질량% 이상, 특히 바람직하게는 2.5질량% 이상이고, 또한, 예를 들면, 20질량% 이하, 바람직하게는 10질량% 이하, 보다 바람직하게는 7질량% 이하, 특히 바람직하게는 5질량% 이하이다.The content of the radically polymerizable compound (E) in the resin composition may be 0% by mass, may be greater than 0% by mass, and is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.1% by mass or more, when the resin component in the resin composition is 100% by mass. Preferably it is 1% by mass or more, more preferably 2% by mass or more, especially preferably 2.5% by mass or more, and further, for example, 20% by mass or less, preferably 10% by mass or less, more preferably 7% by mass. It is 5 mass % or less, especially preferably 5 mass % or less.

<(F) 기타 경화제><(F) Other hardeners>

본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (F) 기타 경화제를 포함하는 경우가 있다. 상기 (F) 기타 경화제에는, 상기 (A) 내지 (C), (E) 성분에 해당하는 것은 포함시키지 않는다. (F) 기타 경화제는, 상기 (C) 활성 에스테르 화합물과 같이, (B) 에폭시 수지와 반응해서 수지 조성물을 경화시키는 에폭시 수지 경화제로서의 기능을 가질 수 있다. (F) 기타 경화제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of the present invention may contain (F) other curing agents as optional components. The other curing agents of (F) do not include those corresponding to the components (A) to (C) and (E). (F) Other curing agents, like the active ester compound (C) above, may have a function as an epoxy resin curing agent that reacts with the epoxy resin (B) to cure the resin composition. (F) Other hardening agents may be used individually or in combination of two or more types.

(F) 기타 경화제로서는, 예를 들면, 페놀계 경화제, 카보디이미드계 경화제, 산 무수물계 경화제, 아민계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제 및 티올계 경화제를 들 수 있다. 그 중에서도, 페놀계 경화제 및 카보디이미드계 경화제로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종류 이상의 경화제를 사용하는 것이 바람직하다.(F) Other curing agents include, for example, phenol-based curing agents, carbodiimide-based curing agents, acid anhydride-based curing agents, amine-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, and thiol-based curing agents. Among them, it is preferable to use at least one type of curing agent selected from the group consisting of phenol-based curing agents and carbodiimide-based curing agents.

페놀계 경화제로서는, 벤젠환, 나프탈렌환 등의 방향환에 결합한 수산기를 1분자 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상 갖는 경화제를 사용할 수 있다. 내열성 및 내수성의 관점에서는, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제가 바람직하다. 또한, 밀착성의 관점에서는, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그 중에서도, 내열성, 내수성 및 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락 수지가 바람직하다. 페놀계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「SN-170」, 「SN-180」, 「SN-190」, 「SN-475」, 「SN-485」, 「SN-495」, 「SN-375」, 「SN-395」, DIC사 제조의 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-3018」, 「LA-3018-50P」, 「LA-1356」, 「TD2090」, 「TD-2090-60M」 등을 들 수 있다.As a phenol-based curing agent, a curing agent having one or more, preferably two or more hydroxyl groups per molecule bonded to an aromatic ring such as a benzene ring or naphthalene ring can be used. From the viewpoint of heat resistance and water resistance, a phenol-based curing agent having a novolak structure is preferable. Furthermore, from the viewpoint of adhesion, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent is more preferable. Among them, a phenol novolak resin containing a triazine skeleton is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion. Specific examples of phenol-based curing agents include, for example, "MEH-7700", "MEH-7810", and "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and "NHN", "CBN", and "GPH" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. ", "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-375" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. ”, “SN-395”, “LA-7052”, “LA-7054”, “LA-3018”, “LA-3018-50P”, “LA-1356”, “TD2090”, “TD” manufactured by DIC Corporation -2090-60M” and the like.

카보디이미드계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상의 카보디이미드 구조를 갖는 경화제를 사용할 수 있다. 카보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 테트라메틸렌-비스(t-부틸카보디이미드), 사이클로헥산 비스(메틸렌-t-부틸카보디이미드) 등의 지방족 비스카보디이미드; 페닐렌-비스(크실릴카보디이미드) 등의 방향족 비스카보디이미드 등의 비스카보디이미드; 폴리헥사메틸렌카보디이미드, 폴리트리메틸헥사메틸렌카보디이미드, 폴리사이클로헥실렌카보디이미드, 폴리(메틸렌비스사이클로헥실렌카보디이미드), 폴리(이소포론카보디이미드) 등의 지방족 폴리카보디이미드; 폴리(페닐렌카보디이미드), 폴리(나프틸렌카보디이미드), 폴리(톨릴렌카보디이미드), 폴리(메틸디이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(트리에틸페닐렌카보디이미드), 폴리(디에틸페닐렌카보디이미드), 폴리(트리이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(디이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(크실릴렌카보디이미드), 폴리(테트라메틸크실릴렌카보디이미드), 폴리(메틸렌디페닐렌카보디이미드), 폴리[메틸렌비스(메틸페닐렌)카보디이미드] 등의 방향족 폴리카보디이미드 등의 폴리카보디이미드를 들 수 있다. 카보디이미드계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들면, 닛신보 케미칼사 제조의 「카보디라이트 V-02B」, 「카보디라이트 V-03」, 「카보디라이트 V-04K」, 「카보디라이트 V-07」 및 「카보디라이트 V-09」; 라인 케미사 제조의 「스타바쿠졸 P」, 「스타바쿠졸 P400」, 「하이카딜 510」 등을 들 수 있다.As the carbodiimide-based curing agent, a curing agent having one or more, preferably two or more, carbodiimide structures in one molecule can be used. Specific examples of carbodiimide-based curing agents include aliphatic biscabodiimides such as tetramethylene-bis(t-butylcarbodiimide) and cyclohexane bis(methylene-t-butylcarbodiimide); Biscabodiimides such as aromatic biscabodiimides such as phenylene-bis(xylylcarbodiimide); Aliphatic polycarbodiimides such as polyhexamethylenecarbodiimide, polytrimethylhexamethylenecarbodiimide, polycyclohexylenecarbodiimide, poly(methylenebiscyclohexylenecarbodiimide), and poly(isophoronecarbodiimide). ; Poly(phenylenecarbodiimide), poly(naphthylenecarbodiimide), poly(tolylenecarbodiimide), poly(methyldiisopropylphenylenecarbodiimide), poly(triethylphenylenecarbodiimide), poly(di Ethylphenylenecarbodiimide), poly(triisopropylphenylenecarbodiimide), poly(diisopropylphenylenecarbodiimide), poly(xylylenecarbodiimide), poly(tetramethylxylylenecarbodiimide), poly (methylenediphenylenecarbodiimide), and aromatic polycarbodiimide such as poly[methylenebis(methylphenylene)carbodiimide]. Commercially available carbodiimide-based curing agents include, for example, “CarbodiLite V-02B,” “CarbodyLite V-03,” “CarbodyLite V-04K,” and “CarbodyLite” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. V-07” and “Carbody Light V-09”; “Stabakusol P”, “Starvacuzol P400”, and “Hycadyl 510” manufactured by Line Chemistry, etc. can be mentioned.

산 무수물계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 산무수물기를 갖는 경화제를 사용할 수 있고, 1분자내 중에 2개 이상의 산무수물기를 갖는 경화제가 바람직하다. 산무수물계 경화제의 구체예로서는, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수프탈산, 헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸테트라하이드로 무수 프탈산, 메틸헥사하이드로 무수프탈산, 메틸나딕산 무수물, 수소화 메틸나딕산 무수물, 트리알킬테트라하이드로 무수 프탈산, 도데세닐 무수 석신산, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-사이클로헥센-1,2-디카복실산 무수물, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 벤조페논테트라카복실산 2무수물, 비페닐테트라카복실산 2무수물, 나프탈렌테트라카복실산 2무수물, 옥시디프탈산 2무수물, 3,3'-4,4'-디페닐설폰테트라카복실산 2무수물, 1,3,3a,4,5,9b-헥사하이드로-5-(테트라하이드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안하이드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌·말레산 수지 등의 폴리머형 산 무수물 등을 들 수 있다. 산 무수물계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신닛폰 리카사 제조의 「HNA-100」, 「MH-700」, 「MTA-15」, 「DDSA」, 「OSA」; 미츠비시 케미칼사 제조의 「YH-306」, 「YH-307」; 히타치 카세이사 제조의 「HN-2200」, 「HN-5500」; 크레이 발레이사 제조 「EF-30」, 「EF-40」 「EF-60」, 「EF-80」 등을 들 수 있다.As the acid anhydride-based curing agent, a curing agent having one or more acid anhydride groups in one molecule can be used, and a curing agent having two or more acid anhydride groups in one molecule is preferred. Specific examples of acid anhydride-based curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, and trialkyltetrahydrophthalic anhydride. , dodecenyl succinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, trimellitic anhydride, pyromelli anhydride. Triacic acid, benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, oxydiphthalic acid dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic acid dianhydride, 1,3, 3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1,3-dione, ethylene glycol bis (anhydrotrimellitate), and polymeric acid anhydrides such as styrene/maleic acid resin, which is a copolymerization of styrene and maleic acid. Commercially available acid anhydride-based curing agents include, for example, "HNA-100", "MH-700", "MTA-15", "DDSA", and "OSA" manufactured by Nippon Rika Corporation; “YH-306” and “YH-307” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “HN-2200” and “HN-5500” manufactured by Hitachi Kasei Corporation; “EF-30,” “EF-40,” “EF-60,” and “EF-80” manufactured by Cray Vale Co., Ltd. can be mentioned.

아민계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상의 아미노기를 갖는 경화제를 사용할 수 있다. 아민계 경화제로서는, 예를 들면, 지방족 아민류, 폴리에테르아민류, 지환식 아민류, 방향족 아민류 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 방향족 아민류가 바람직하다. 아민계 경화제는, 제1급 아민 또는 제2급 아민이 바람직하고, 제1급 아민이 보다 바람직하다. 아민계 경화제의 구체예로서는, 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸아닐린), 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 3,3'-디아미노디페닐설폰, m-페닐렌디아민, m-크실릴렌디아민, 디에틸톨루엔디아민, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시벤지딘, 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판, 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄디아민, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)설폰, 비스(4- (3-아미노페녹시)페닐)설폰 등을 들 수 있다. 아민계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들면, 세이카사 제조 「SEIKACURE-S」; 닛폰 카야쿠사 제조의 「KAYABOND C-200S」, 「KAYABOND C-100」, 「카야하드 A-A」, 「카야하드 A-B」, 「카야하드 A-S」; 미츠비시 케미칼사 제조의 「에피큐어 W」; 스미토모 세이카사 제조 「DTDA」 등을 들 수 있다.As an amine-based curing agent, a curing agent having at least one amino group, preferably at least two amino groups, in one molecule can be used. Examples of amine-based curing agents include aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, and aromatic amines. Among these, aromatic amines are preferable. The amine-based curing agent is preferably a primary amine or a secondary amine, and a primary amine is more preferable. Specific examples of amine-based curing agents include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'- Diaminodiphenyl sulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobi Phenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, 3,3 -Dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane , 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4,4'-bis ( Examples include 4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, and bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone. Examples of commercially available amine-based curing agents include “SEIKACURE-S” manufactured by Seika Corporation; "KAYABOND C-200S", "KAYABOND C-100", "Kayahard A-A", "Kayahard A-B", and "Kayahard A-S" manufactured by Nippon Kayaku Corporation; “Epicure W” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "DTDA" manufactured by Sumitomo Seika Co., Ltd., etc. are mentioned.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, JFE 케미칼사 제조의 「JBZ-OP100D」, 「ODA-BOZ」; 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」; 시코쿠 카세이코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」 등을 들 수 있다.Specific examples of benzoxazine-based curing agents include “JBZ-OP100D” and “ODA-BOZ” manufactured by JFE Chemicals; “HFB2006M” manufactured by Showa Kobunshi Corporation; “P-d” and “F-a” manufactured by Shikoku Kaseiko Kogyo Co., Ltd. can be mentioned.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트)), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(모두 페놀 노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.Examples of cyanate ester-based curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo(3-methylene-1,5-phenylenecyanate)), and 4,4'-methylenebis(2,6). -dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4) -cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4- Bifunctional cyanate resins such as cyanatephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak and cresol novolac, etc., some of these cyanate resins are triazinated. Prepolymers, etc. can be mentioned. Specific examples of cyanate ester-based curing agents include "PT30" and "PT60" (both phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resins), "BA230", and "BA230S75" (part of bisphenol A dicyanate) manufactured by Lonza Japan Co., Ltd. or a prepolymer in which the entire polymer is triazylated to form a trimer).

티올계 경화제로서는, 예를 들면, 트리메틸올프로판트리스(3-머캅토프로피오네이트), 펜타에리스리톨테트라키스(3-머캅토부티레이트), 트리스(3-머캅토프로필)이소시아누레이트 등을 들 수 있다.Examples of thiol-based curing agents include trimethylolpropane tris(3-mercaptopropionate), pentaerythritol tetrakis(3-mercaptobutyrate), and tris(3-mercaptopropyl)isocyanurate. You can.

(F) 기타 경화제의 활성기 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 3,000g/eq., 보다 바람직하게는 100g/eq. 내지 1,000g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 500g/eq., 특히 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 활성기 당량은, 활성기 1당량당 경화제의 질량을 나타낸다.(F) The active group equivalent of other curing agents is preferably 50 g/eq. to 3,000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 1,000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 500 g/eq., particularly preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. The active group equivalent represents the mass of the curing agent per equivalent of the active group.

에폭시 수지와 경화제의 양비, 즉, (B) 성분과, (C) 성분 및 (F) 성분과의 양비는, (B) 성분의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값을 a라고 하고, (C) 성분의 불휘발 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값을 b라고 하고, (F) 성분의 불휘발 성분의 질량을 활성기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값을 c라고 했을 때, (b+c)/a가 1.0 이상인 것이 바람직하고, 1.01 이상이 보다 바람직하고, 1.1 내지 1.10 이상이 더욱 바람직하고, 1.15 이상이 보다 더 바람직하고, 1.2 이상이 특히 바람직하고, 또한, 2.0 이하인 것이 바람직하고, 1.75 이하가 보다 바람직하고, 1.5 이하가 더욱 바람직하고, 1.4 내지 1.40 이하가 보다 더 바람직하고, 1.3 이하가 특히 바람직하다. 에폭시 수지와 경화제의 양비를 이러한 범위 내로 함으로써, 본 발명의 효과를 용이하게 얻을 수 있다.The amount ratio of the epoxy resin and the curing agent, that is, the amount ratio of component (B), component (C), and component (F) is the sum of the mass of the non-volatile component of component (B) divided by the epoxy equivalent. Let a be, let b be the sum of the mass of the non-volatile component of component (C) divided by the equivalent of the active ester group, and let b be the mass of the non-volatile component of component (F) divided by the equivalent of the active ester group. When the total value is c, (b+c)/a is preferably 1.0 or more, more preferably 1.01 or more, more preferably 1.1 to 1.10 or more, still more preferably 1.15 or more, and 1.2 or more. This is particularly preferable, and it is preferable that it is 2.0 or less, more preferably 1.75 or less, more preferably 1.5 or less, even more preferably 1.4 to 1.40 or less, and especially preferably 1.3 or less. By keeping the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within this range, the effects of the present invention can be easily obtained.

수지 조성물 중의 (F) 기타 경화제의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 0질량%라도 좋고, 0질량%보다 커도 좋고, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.1질량% 이상, 특히 바람직하게는 1.0질량% 이상이고, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 특히 바람직하게는 5질량% 이하이다.The content of (F) other curing agents in the resin composition may be 0 mass% or greater than 0 mass% when the non-volatile component in the resin composition is 100 mass%, and is preferably 0.01 mass% or more, more preferably is 0.1 mass% or more, particularly preferably 1.0 mass% or more, preferably 20 mass% or less, more preferably 10 mass% or less, particularly preferably 5 mass% or less.

수지 조성물 중의 (F) 기타 경화제의 함유량은, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 할 경우, 0질량%라도 좋고, 0질량%보다 커도 좋고, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1.0질량% 이상, 특히 바람직하게는 5.0질량% 이상이고, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 10질량% 이하이다.The content of (F) other curing agents in the resin composition may be 0% by mass or may be greater than 0% by mass when the resin component in the resin composition is 100% by mass, and is preferably 0.1% by mass or more, more preferably It is 1.0 mass% or more, especially preferably 5.0 mass% or more, preferably 50 mass% or less, more preferably 20 mass% or less, and particularly preferably 10 mass% or less.

<(G) 경화 촉진제><(G) Curing accelerator>

본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (G) 경화 촉진제를 포함하는 경우가 있다. The resin composition of the present invention may contain (G) a curing accelerator as an optional component.

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 우레아계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. (G) 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, urea-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and amine-based curing accelerators. (G) A hardening accelerator may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more types.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 테트라부틸포스포늄브로마이드, 테트라부틸포스포늄클로라이드, 테트라부틸포스포늄아세테이트, 테트라부틸포스포늄데카노에이트, 테트라부틸포스포늄라우레이트, 비스(테트라부틸포스포늄)피로멜리테이트, 테트라부틸포스포늄하이드로젠헥사하이드로프탈레이트, 테트라부틸포스포늄 2,6-비스[(2-하이드록시-5-메틸페닐)메틸]-4-메틸페노레이트, 디-tert-부틸메틸포스포늄테트라페닐보레이트 등의 지방족 포스포늄염; 메틸트리페닐포스포늄브로마이드, 에틸트리페닐포스포늄브로마이드, 프로필트리페닐포스포늄브로마이드, 부틸트리페닐포스포늄브로마이드, 벤질트리페닐포스포늄클로라이드, 테트라페닐포스포늄브로마이드, p-톨릴트리페닐포스포늄테트라-p-톨릴보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라p-톨릴보레이트, 트리페닐에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(3-메틸페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(2-메톡시페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등의 방향족 포스포늄염; 트리페닐포스핀·트리페닐보란 등의 방향족 포스핀·보란 복합체; 트리페닐포스핀·p-벤조퀴논 부가 반응물 등의 방향족 포스핀·퀴논 부가 반응물; 트리부틸포스핀, 트리-tert-부틸포스핀, 트리옥틸포스핀, 디-tert-부틸(2-부테닐)포스핀, 디-tert-부틸(3-메틸-2-부테닐)포스핀, 트리사이클로헥실포스핀 등의 지방족 포스핀; 디부틸페닐포스핀, 디-tert-부틸페닐포스핀, 메틸디페닐포스핀, 에틸디페닐포스핀, 부틸디페닐포스핀, 디페닐사이클로헥실포스핀, 트리페닐포스핀, 트리-o-톨릴포스핀, 트리-m-톨릴포스핀, 트리-p-톨릴포스핀, 트리스(4-에틸페닐)포스핀, 트리스(4-프로필페닐)포스핀, 트리스(4-이소프로필페닐)포스핀, 트리스(4-부틸페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부틸페닐)포스핀, 트리스(2,4-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸페닐)포스핀, 트리스(3,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,4,6-트리메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸-4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(2-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부톡시페닐)포스핀, 디페닐-2-피리딜포스핀, 1,2-비스(디페닐포스피노)에탄, 1,3-비스(디페닐포스피노)프로판, 1,4-비스(디페닐포스피노)부탄, 1,2-비스(디페닐포스피노)아세틸렌, 2,2'-비스(디페닐포스피노)디페닐에테르 등의 방향족 포스핀 등을 들 수 있다.Examples of phosphorus-based curing accelerators include tetrabutylphosphonium bromide, tetrabutylphosphonium chloride, tetrabutylphosphonium acetate, tetrabutylphosphonium decanoate, tetrabutylphosphonium laurate, and bis(tetrabutylphosphonium)pyrro. Mellitate, tetrabutylphosphonium hydrogenhexahydrophthalate, tetrabutylphosphonium 2,6-bis[(2-hydroxy-5-methylphenyl)methyl]-4-methylphenolate, di-tert-butylmethylphosphonium Aliphatic phosphonium salts such as tetraphenyl borate; Methyltriphenylphosphonium bromide, ethyltriphenylphosphonium bromide, propyltriphenylphosphonium bromide, butyltriphenylphosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, tetraphenylphosphonium bromide, p-tolyltriphenylphosphonium tetra- p-tolyl borate, tetraphenylphosphonium tetraphenyl borate, tetraphenylphosphonium tetrap-tolyl borate, triphenylethylphosphonium tetraphenyl borate, tris (3-methylphenyl) ethylphosphonium tetraphenyl borate, tris (2-methyl aromatic phosphonium salts such as toxyphenyl)ethylphosphonium tetraphenyl borate, (4-methylphenyl)triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, and butyltriphenylphosphonium thiocyanate; Aromatic phosphine/borane complexes such as triphenylphosphine/triphenylborane; Aromatic phosphine/quinone addition reactants such as triphenylphosphine/p-benzoquinone addition reactants; Tributylphosphine, tri-tert-butylphosphine, trioctylphosphine, di-tert-butyl(2-butenyl)phosphine, di-tert-butyl(3-methyl-2-butenyl)phosphine, Aliphatic phosphines such as tricyclohexylphosphine; Dibutylphenylphosphine, di-tert-butylphenylphosphine, methyldiphenylphosphine, ethyldiphenylphosphine, butyldiphenylphosphine, diphenylcyclohexylphosphine, triphenylphosphine, tri-o-tolyl Phosphine, tri-m-tolylphosphine, tri-p-tolylphosphine, tris(4-ethylphenyl)phosphine, tris(4-propylphenyl)phosphine, tris(4-isopropylphenyl)phosphine, Tris(4-butylphenyl)phosphine, tris(4-tert-butylphenyl)phosphine, tris(2,4-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2, 6-dimethylphenyl)phosphine, tris(3,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,4,6-trimethylphenyl)phosphine, tris(2,6-dimethyl-4-ethoxyphenyl)phosphine , tris(2-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-ethoxyphenyl)phosphine, tris(4-tert-butoxyphenyl)phosphine, diphenyl- 2-pyridylphosphine, 1,2-bis(diphenylphosphino)ethane, 1,3-bis(diphenylphosphino)propane, 1,4-bis(diphenylphosphino)butane, 1,2- and aromatic phosphines such as bis(diphenylphosphino)acetylene and 2,2'-bis(diphenylphosphino)diphenyl ether.

우레아계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 1,1-디메틸요소; 1,1,3-트리메틸요소, 3-에틸-1,1-디메틸요소, 3-사이클로헥실-1,1-디메틸요소, 3-사이클로옥틸-1,1-디메틸요소 등의 지방족 디메틸우레아; 3-페닐-1,1-디메틸요소, 3-(4-클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3-클로로-4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(2-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-이소프로필페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메톡시페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-니트로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-메톡시페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-클로로페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[3-(트리플루오로메틸)페닐]-1,1-디메틸요소, N,N-(1,4-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소), N,N-(4-메틸-1,3-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소)〔톨루엔비스디메틸우레아〕등의 방향족 디메틸우레아 등을 들 수 있다.Examples of urea-based curing accelerators include 1,1-dimethylurea; Aliphatic dimethylureas such as 1,1,3-trimethylurea, 3-ethyl-1,1-dimethylurea, 3-cyclohexyl-1,1-dimethylurea, and 3-cyclooctyl-1,1-dimethylurea; 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3-(4-chlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4-dichlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3- Chloro-4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(2-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4 -dimethylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-isopropylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methoxyphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4 -nitrophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-methoxyphenoxy)phenyl]-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-chlorophenoxy)phenyl]- 1,1-dimethylurea, 3-[3-(trifluoromethyl)phenyl]-1,1-dimethylurea, N,N-(1,4-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea ), and aromatic dimethyl ureas such as N,N-(4-methyl-1,3-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea) [toluene bisdimethylurea].

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있다.Examples of guanidine-based curing accelerators include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, Examples include 1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, and 1-(o-tolyl) biguanide.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤 질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있다.Examples of imidazole-based curing accelerators include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Imidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimida Zolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-unde Cylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s -Triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazolisocyanuric acid Adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1, 2-a] Imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and imidazole compounds and epoxy resins Adduct forms of .

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 시코쿠카세이코교사 제조의 「1B2PZ」, 「2MZA-PW」, 「2PHZ-PW」, 미츠비시 케미칼사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.As the imidazole-based curing accelerator, you may use a commercial product, for example, "1B2PZ", "2MZA-PW", "2PHZ-PW" manufactured by Shikoku Chemical Company, "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, etc. can be mentioned.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.Examples of the metal-based curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of organometallic complexes include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Examples include organic zinc complexes, organic iron complexes such as iron(III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel(II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese(II) acetylacetonate. Examples of organometallic salts include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자바이사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있다.Examples of amine-based curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, and 1,8. -Diazabicyclo(5,4,0)-undecene, etc. can be mentioned.

아민계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 아지노모토 파인테크노사 제조의 「MY-25」 등을 들 수 있다.As an amine-type hardening accelerator, a commercial item may be used, for example, "MY-25" manufactured by Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd., etc.

수지 조성물 중의 (G)경화 촉진제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 15질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 5질량% 이하, 특히 바람직하게는 3질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (E) 경화 촉진제의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.001질량% 이상, 0.01질량% 이상, 0.1질량% 이상, 0.5질량% 이상 등일 수 있다.The content of the (G) curing accelerator in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 15% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, and further. Preferably it is 5 mass% or less, especially preferably 3 mass% or less. The lower limit of the content of the (E) curing accelerator in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 0% by mass or more, 0.001% by mass or more, or 0.01% by mass. It may be % or more, 0.1 mass% or more, or 0.5 mass% or more.

<(H) 기타 첨가제><(H) Other additives>

본 발명의 수지 조성물은, 불휘발 성분으로서, 임의의 첨가제를 추가로 포함하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들면, 과산화물계 라디칼 중합 개시제, 아조계 라디칼 중합 개시제 등의 라디칼 중합 개시제; 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 산무수물 경화제, 티올계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 카보디이미드계 경화제, 이미다졸계 경화제 등의 활성 에스테르 화합물 이외의 에폭시 경화제; 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등의 열가소성 수지; 고무 입자 등의 유기 충전재; 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물, 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물; 프탈로시아닌 블루, 프탈로시아닌 그린, 아이오딘그린, 디아조 옐로우, 크리스탈 바이올렛, 산화 티탄, 카본 블랙 등의 착색제; 하이드로퀴논, 카테콜, 피로갈롤, 페노티아진 등의 중합 금지제; 실리콘계 레벨링제, 아크릴 폴리머계 레벨링제 등의 레벨링제; 벤톤, 몬모릴로나이트 등의 증점제; 실리콘계 소포제, 아크릴계 소포제, 불소계 소포제, 비닐 수지계 소포제 등의 소포제; 벤조트리아졸계 자외선 흡수제 등의 자외선 흡수제; 요소 실란 등의 접착성 향상제; 트리아졸계 밀착성 부여제, 테트라졸계 밀착성 부여제, 트리아진계 밀착성 부여제 등의 밀착성 부여제; 힌더드페놀계 산화 방지제, 힌더드아민계 산화 방지제 등의 산화 방지제; 스틸벤 유도체 등의 형광 증백제; 불소계 계면활성제, 실리콘계 계면활성제 등의 계면활성제; 인계 난연제(예를 들면, 인산 에스테르 화합물, 포스파젠 화합물, 포스핀산 화합물, 적인), 질소계 난연제(예를 들면, 황산 멜라민), 할로겐계 난연제, 무기계 난연제(예를 들면, 3산화 안티몬) 등의 난연제; 인산 에스테르계 분산제, 폴리옥시알킬렌계 분산제, 아세틸렌계 분산제, 실리콘계 분산제, 음이온성 분산제, 양이온성 분산제 등의 분산제; 보레이트계 안정제, 티타네이트계 안정제, 알루미네이트계 안정제, 지르코네이트계 안정제, 이소시아네이트계 안정제, 카복실산계 안정제, 카복실산 무수물계 안정제 등의 안정제 등을 들 수 있다. (F) 기타 첨가제는, 1종을 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (H) 기타 첨가제의 함유량은 당업자이면 적절히 설정할 수 있다.The resin composition of the present invention may further contain arbitrary additives as non-volatile components. Examples of such additives include radical polymerization initiators such as peroxide-based radical polymerization initiators and azo-based radical polymerization initiators; Epoxy curing agents other than active ester compounds such as phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, acid anhydride curing agents, thiol-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, carbodiimide-based curing agents, and imidazole-based curing agents; Thermoplastic resins such as phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, and polyester resin; Organic fillers such as rubber particles; Organometallic compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds; Colorants such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, diazo yellow, crystal violet, titanium oxide, and carbon black; Polymerization inhibitors such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, and phenothiazine; Leveling agents such as silicone-based leveling agents and acrylic polymer-based leveling agents; Thickeners such as bentone and montmorillonite; Antifoaming agents such as silicone-based defoaming agents, acrylic-based defoaming agents, fluorine-based defoaming agents, and vinyl resin-based defoaming agents; UV absorbers such as benzotriazole-based UV absorbers; Adhesion improvers such as urea silane; Adhesion imparting agents such as triazole-based adhesion imparting agents, tetrazole-based adhesion imparting agents, and triazine-based adhesion imparting agents; Antioxidants such as hindered phenol-based antioxidants and hindered amine-based antioxidants; Fluorescent whitening agents such as stilbene derivatives; Surfactants such as fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants; Phosphorus-based flame retardants (e.g., phosphoric acid ester compounds, phosphazene compounds, phosphinic acid compounds, red), nitrogen-based flame retardants (e.g., melamine sulfate), halogen-based flame retardants, inorganic flame retardants (e.g., antimony trioxide), etc. flame retardant; Dispersants such as phosphoric acid ester-based dispersants, polyoxyalkylene-based dispersants, acetylene-based dispersants, silicone-based dispersants, anionic dispersants, and cationic dispersants; Stabilizers such as borate-based stabilizers, titanate-based stabilizers, aluminate-based stabilizers, zirconate-based stabilizers, isocyanate-based stabilizers, carboxylic acid-based stabilizers, and carboxylic acid anhydride-based stabilizers can be mentioned. (F) Other additives may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio. (H) The content of other additives can be appropriately set by those skilled in the art.

<(K) 유기 용제><(K) Organic Solvent>

본 발명의 수지 조성물은, 상기 불휘발 성분 이외에, 휘발성 성분으로서, 임의의 유기 용제를 추가로 함유하는 경우가 있다. (K) 유기 용제로서는, 공지된 것을 적절히 사용할 수 있고, 그 종류는 특별히 한정되는 것은 아니다. (K) 유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 사이클로헥사논 등의 케톤계 용제; 아세트산 메틸, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 아세트산 이소부틸, 아세트산 이소아밀, 프로피온산 메틸, 프로피온산 에틸, γ-부티로락톤 등의 에스테르계 용제; 테트라하이드로피란, 테트라하이드로푸란, 1,4-디옥산, 디에틸에테르, 디이소프로필에테르, 디부틸에테르, 디페닐에테르 등의 에테르계 용제; 메탄올, 에탄올, 프로판올, 부탄올, 에틸렌 글리콜 등의 알코올계 용제; 아세트산 2-에톡시에틸, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸디글리콜아세테이트, γ-부티로락톤, 메톡시프로피온산 메틸 등의 에테르 에스테르계 용제; 락트산 메틸, 락트산 에틸, 2-하이드록시이소부티르산 메틸 등의 에스테르 알코올계 용제; 2-메톡시프로판올, 2-메톡시에탄올, 2-에톡시에탄올, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르(부틸카비톨) 등의 에테르 알코올계 용제; N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈 등의 아미드계 용제; 디메틸설폭사이드 등의 설폭사이드계 용제; 아세토니트릴, 프로피오니토릴 등의 니트릴계 용제; 헥산, 사이클로펜탄, 사이클로헥산, 메틸사이클로헥산 등의 지방족 탄화수소계 용제; 벤젠, 톨루엔, 크실렌, 에틸벤젠, 트리메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소계 용제 등을 들 수 있다. (K) 유기 용제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of the present invention may further contain an arbitrary organic solvent as a volatile component in addition to the non-volatile component described above. (K) As the organic solvent, known solvents can be appropriately used, and the type is not particularly limited. (K) Examples of the organic solvent include ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; Ester solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, isoamyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, and γ-butyrolactone; ether-based solvents such as tetrahydropyran, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, and diphenyl ether; Alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, propanol, butanol, and ethylene glycol; Ether ester solvents such as 2-ethoxyethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, ethyl diglycol acetate, γ-butyrolactone, and methyl methoxypropionate; Ester alcohol solvents such as methyl lactate, ethyl lactate, and methyl 2-hydroxyisobutyrate; ether alcohol solvents such as 2-methoxypropanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, propylene glycol monomethyl ether, and diethylene glycol monobutyl ether (butyl carbitol); amide-based solvents such as N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone; Sulfoxide-based solvents such as dimethyl sulfoxide; Nitrile-based solvents such as acetonitrile and propionitoryl; Aliphatic hydrocarbon-based solvents such as hexane, cyclopentane, cyclohexane, and methylcyclohexane; and aromatic hydrocarbon-based solvents such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, and trimethylbenzene. (K) Organic solvents may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio.

일 실시형태에 있어서, (K) 유기 용제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 60질량% 이하, 40질량% 이하, 30질량% 이하, 20질량% 이하, 15질량% 이하, 10질량% 이하 등일 수 있다.In one embodiment, the content of the organic solvent (K) is not particularly limited, but when all components in the resin composition are 100% by mass, for example, 60% by mass or less, 40% by mass or less, and 30% by mass. % or less, 20 mass% or less, 15 mass% or less, 10 mass% or less, etc.

<수지 조성물의 제조방법><Method for producing resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, 예를 들면, 임의의 조제 용기에 (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물, 필요에 따라서 (D) 무기 충전재, 필요에 따라서 (E) 라디칼 중합성 화합물, 필요에 따라서 (F) 기타 경화제, 필요에 따라서 (G) 경화 촉진제, 필요에 따라서 (H) 기타 첨가제 및 필요에 따라서 (K) 유기 용제를, 임의의 순서로 그리고/또는 일부 또는 전부 동시에 첨가하여 혼합함으로써 제조할 수 있다. 또한, 각 성분을 첨가하여 혼합하는 과정에서, 온도를 적절히 설정할 수 있고, 일시적으로 또는 시종에 걸쳐 가열 및/또는 냉각해도 좋다. 또한, 첨가해서 혼합하는 과정에 있어서 또는 그 후에, 수지 조성물을, 예를 들면, 믹서 등의 교반 장치 또는 진탕 장치를 사용해서 교반 또는 진탕하여, 균일하게 분산시켜도 좋다. 또한, 교반 또는 진탕과 동시에, 진공 하 등의 저압 조건 하에 탈포를 행하여도 좋다.The resin composition of the present invention is, for example, in an optional preparation container, (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound, (D) an inorganic filler, if necessary, Accordingly, (E) a radically polymerizable compound, if necessary (F) other curing agent, if necessary (G) curing accelerator, if necessary (H) other additives, and if necessary (K) organic solvent, in any order. And/or it can be prepared by adding and mixing some or all of them at the same time. Additionally, in the process of adding and mixing each component, the temperature may be appropriately set, and may be heated and/or cooled temporarily or over time. In addition, during or after the addition and mixing process, the resin composition may be uniformly dispersed by stirring or shaking using, for example, a stirring device such as a mixer or a shaking device. Additionally, degassing may be performed simultaneously with stirring or shaking under low pressure conditions such as under vacuum.

<수지 조성물의 특성><Characteristics of resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물을 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 90℃ 등의 고온 환경에서도 유전정접을 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있고, 바람직하게는, 또한, 23℃ 등의 실온 내지 상온 영역에서도 유전정접이 낮은 경화물을 얻을 수 있다.The resin composition of the present invention contains (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound. By using such a resin composition, the dielectric loss tangent can be kept low even in a high temperature environment such as 90°C, and a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment can be obtained, preferably at room temperature such as 23°C. A cured product with a low dielectric loss tangent can be obtained even in the to room temperature range.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 디스미어 처리(조화 처리) 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험예 2와 같이 회로 기판을 제작 및 디스미어 처리한 후, 회로 기판의 구리 패드부를 100개 관찰한 경우에 크랙이 바람직하게는 10개 이하(10% 이하)일 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention can have the characteristic of suppressing the occurrence of cracks after desmear treatment (roughening treatment). Therefore, in one embodiment, after manufacturing and desmearing a circuit board as in Test Example 2 below, when 100 copper pad portions of the circuit board are observed, the number of cracks is preferably 10 or less (10% or less). It can be.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 90℃ 등의 고온 환경에서도 유전정접(Df)이 낮다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험 예 1과 같이 5.8GHz, 90℃에서 측정한 경우의 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)은, 바람직하게는 0.020 이하, 0.010 이하, 보다 바람직하게는 0.009 이하, 0.008 이하, 더욱 바람직하게는 0.007 이하, 0.006 이하, 특히 바람직하게는 0.005 이하, 0.004 이하, 0.003 이하가 될 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention can have the characteristic of low dielectric loss tangent (Df) even in a high temperature environment such as 90°C. Therefore, in one embodiment, the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition when measured at 5.8 GHz and 90°C as in Test Example 1 below is preferably 0.020 or less, 0.010 or less, and more preferably 0.009. It may be 0.008 or less, more preferably 0.007 or less, 0.006 or less, particularly preferably 0.005 or less, 0.004 or less, and 0.003 or less.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 23℃ 등의 실온 내지 상온에서도 유전정접(Df)이 낮다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험 예 1과 같이 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우의 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)은, 바람직하게는 0.020 이하, 0.010 이하, 보다 바람직하게는 0.009 이하, 0.008 이하, 더욱 바람직하게는 0.007 이하, 0.006 이하, 보다 더 바람직하게는 0.005 이하, 0.004 이하, 특히 바람직하게는 0.003 이하, 0.002 이하가 될 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention can have the characteristic of low dielectric loss tangent (Df) even at room temperature such as 23°C. Therefore, in one embodiment, the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition when measured at 5.8 GHz and 23°C as in Test Example 1 below is preferably 0.020 or less, 0.010 or less, and more preferably 0.009. It may be 0.008 or less, more preferably 0.007 or less, 0.006 or less, even more preferably 0.005 or less, 0.004 or less, particularly preferably 0.003 or less, 0.002 or less.

<수지 조성물의 용도><Use of resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, 절연 용도의 수지 조성물, 특히, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 절연층 상에 형성되는 도체층(재배선층을 포함함)을 형성하기 위한 상기 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 후술하는 프린트 배선판에 있어서, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은 또한, 수지 시트, 프리프레그 등의 시트상 적층 재료, 솔더 레지스트, 언더필재, 다이본딩재, 반도체 밀봉재, 구멍 메움 수지, 부품 매립 수지 등 수지 조성물이 필요하게 되는 용도에서 광범위하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition for insulation purposes, particularly as a resin composition for forming an insulating layer. Specifically, it is suitably used as a resin composition for forming the insulating layer (resin composition for forming an insulating layer for forming a conductor layer) for forming a conductor layer (including a rewiring layer) formed on the insulating layer. You can. In addition, in the printed wiring board described later, it can be suitably used as a resin composition for forming an insulating layer of a printed wiring board (resin composition for forming an insulating layer of a printed wiring board). The resin composition of the present invention is also widely used in applications requiring a resin composition, such as sheet-like laminate materials such as resin sheets and prepregs, solder resists, underfill materials, die bonding materials, semiconductor sealants, hole filling resins, and component filling resins. It can be used easily.

또한, 예를 들면, 이하의 (1) 내지 (6) 공정을 거쳐 반도체 칩 패키지가 제조되는 경우, 본 발명의 수지 조성물은, 재배선층을 형성하기 위한 절연층으로서의 재배선 형성층용 수지 조성물(재배선 형성층 형성용 수지 조성물) 및 반도체 칩을 밀봉하기 위한 수지 조성물(반도체 칩 밀봉용 수지 조성물)로서도 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 칩 패키지가 제조될 때, 밀봉층 상에 재배선층을 추가로 형성해도 좋다.In addition, for example, when a semiconductor chip package is manufactured through the following processes (1) to (6), the resin composition of the present invention is used as a resin composition for a redistribution formation layer (cultivation layer) as an insulating layer for forming a redistribution layer. It can also be suitably used as a resin composition for forming a line forming layer) and a resin composition for sealing a semiconductor chip (a resin composition for sealing a semiconductor chip). When a semiconductor chip package is manufactured, a redistribution layer may be additionally formed on the sealing layer.

(1) 기재에 가고정 필름을 적층하는 공정,(1) A process of laminating a temporarily fixed film on a substrate,

(2) 반도체 칩을 가고정 필름 상에 가고정하는 공정,(2) A process of temporarily fixing a semiconductor chip on a temporarily fixing film,

(3) 반도체 칩 상에 밀봉층을 형성하는 공정,(3) Process of forming a sealing layer on the semiconductor chip,

(4) 기재 및 가고정 필름을 반도체 칩으로부터 박리하는 공정,(4) A process of peeling the base material and temporarily fixed film from the semiconductor chip,

(5) 반도체 칩의 기재 및 가고정 필름을 박리한 면에, 절연층으로서의 재배선 형성층을 형성하는 공정 및(5) A process of forming a redistribution layer as an insulating layer on the surface of the semiconductor chip from which the substrate and temporarily fixed film are peeled, and

(6) 재배선 형성층 상에, 도체층으로서의 재배선층을 형성하는 공정(6) A process of forming a redistribution layer as a conductor layer on the redistribution forming layer.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 형성하므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.Additionally, since the resin composition of the present invention forms an insulating layer with good component embedding properties, it can be suitably used even when the printed wiring board is a component-embedded circuit board.

<시트상 적층 재료><Sheet-like laminated material>

본 발명의 수지 조성물은, 바니쉬 상태에서 도포해서 사용할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 상기 수지 조성물을 함유하는 시트상 적층 재료 형태로 사용하는 것이 적합하다.Although the resin composition of the present invention can be used by applying it in a varnish state, it is generally suitable industrially to use it in the form of a sheet-like laminated material containing the resin composition.

시트상 적층 재료로서는, 이하에 나타내는 수지 시트, 프리프레그가 바람직하다.As the sheet-like laminated material, the resin sheets and prepregs shown below are preferable.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 지지체와, 상기 지지체 상에 제공된 수지 조성물층을 포함하여 이루어지고, 수지 조성물층은 본 발명의 수지 조성물로 형성된다.In one embodiment, the resin sheet includes a support and a resin composition layer provided on the support, and the resin composition layer is formed from the resin composition of the present invention.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화 및 상기 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 5㎛ 이상, 10㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product with excellent insulating properties even if the cured product of the resin composition is a thin film. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but can usually be 5 μm or more, 10 μm or more, etc.

지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박이 바람직하다.Examples of the support include films, metal foils, and release papers made of plastic materials, and films and metal foils made of plastic materials are preferred.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어지는 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하, 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하, 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하, 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸 셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When using a film made of a plastic material as a support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as “PEN”) ), polyester such as polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as “PC”), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), and polyether sulfide ( PES), polyether ketone, polyimide, etc. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is especially preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어지는 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티탄 등)과의 합금으로 이루어지는 박을 사용해도 좋다.When using a metal foil as a support, examples of the metal foil include copper foil, aluminum foil, etc., and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of the simple metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and other metals (e.g., tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good night.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다. The support may be subjected to mat treatment, corona treatment, or antistatic treatment on the surface joined to the resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.Additionally, as the support, you may use a support with a mold release layer that has a mold release layer on the surface bonded to the resin composition layer. Examples of the release agent used in the release layer of the support with a release layer include one or more types of release agents selected from the group consisting of alkyd resin, polyolefin resin, urethane resin, and silicone resin. The support with the release layer may be a commercially available product, for example, "SK-1", "AL-5", and "AL-" manufactured by Lintech, which are PET films with a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. 7”, “Lumira T60” manufactured by Torres, “Purex” manufactured by Teijin, and “Unifill” manufactured by Unichika.

지지체의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 한편, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. On the other hand, when using a support body with a release layer, it is preferable that the entire thickness of the support body with a release layer is within the above range.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 또한 필요에 따라서, 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 임의의 층으로서는, 예를 들면, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 제공된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further include arbitrary layers as needed. Examples of such an optional layer include a protective film similar to the support provided on the side of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the side opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 μm to 40 μm. By laminating a protective film, adhesion of dust or the like to the surface of the resin composition layer and scratches can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들면, 액상 수지 조성물을 그대로 또는 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 조제하고, 이것을 다이코터 등을 사용하여 지지체 상에 도포하고, 더욱 건조시켜서 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.The resin sheet is, for example, prepared by preparing a resin varnish from the liquid resin composition as is or by dissolving the resin composition in an organic solvent, applying this to a support using a die coater, etc., and further drying to form a resin composition layer. can do.

유기 용제로서는, 수지 조성물의 성분으로서 설명한 유기 용제와 같은 것을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the organic solvent include the same organic solvents described as components of the resin composition. Organic solvents may be used individually, or two or more types may be used in combination.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 조성물 또는 수지 바니쉬 중의 유기 용제의 비점에 의해서도 다르지만, 예를 들면, 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 조성물 또는 수지 바니쉬를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Drying may be performed by known methods such as heating or hot air spraying. Drying conditions are not particularly limited, but the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. It also varies depending on the boiling point of the organic solvent in the resin composition or resin varnish, but for example, when using a resin composition or resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent, the boiling point is heated at 50°C to 150°C for 3 minutes. A resin composition layer can be formed by drying for 10 minutes.

수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 박리함으로써 사용 가능해진다.The resin sheet can be wound into a roll and stored. When the resin sheet has a protective film, it becomes usable by peeling the protective film.

일 실시형태에 있어서, 프리프레그는, 시트상 섬유 기재에 본 발명의 수지 조성물을 함침시켜서 형성된다.In one embodiment, the prepreg is formed by impregnating a sheet-like fiber base material with the resin composition of the present invention.

프리프레그에 사용하는 시트싱 섬유 기재는 특별히 한정되지 않고, 글래스 클로스, 아라미드 부직포, 액정 폴리머 부직포 등의 프리프레그용 기재로서 상용되고 있는 것을 사용할 수 있다. 프린트 배선판의 박형화의 관점에서, 시트상 섬유 기재의 두께는, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하, 특히 바람직하게는 20㎛ 이하이다. 시트상 섬유 기재의 두께의 하한은 특별히 한정되지 않는다. 통상, 10㎛ 이상이다.The sheeting fiber base material used for the prepreg is not particularly limited, and commonly used prepreg base materials such as glass cloth, aramid nonwoven fabric, and liquid crystal polymer nonwoven fabric can be used. From the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board, the thickness of the sheet-like fiber substrate is preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, further preferably 30 μm or less, and particularly preferably 20 μm or less. The lower limit of the thickness of the sheet-like fiber base material is not particularly limited. Usually, it is 10㎛ or more.

프리프레그는, 핫멜트법, 솔벤트법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다.Prepreg can be manufactured by known methods such as hot melt method and solvent method.

프리프레그의 두께는, 상기 수지 시트에서의 수지 조성물층과 동일한 범위로 할 수 있다.The thickness of the prepreg can be within the same range as that of the resin composition layer in the resin sheet.

본 발명의 시트상 적층 재료는, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 절연층용) 적합하게 사용할 수 있고, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 층간 절연층용) 보다 적합하게 사용할 수 있다.The sheet-like laminated material of the present invention can be suitably used to form an insulating layer of a printed wiring board (for an insulating layer of a printed wiring board), and to form an interlayer insulating layer of a printed wiring board (for an interlayer insulating layer of a printed wiring board). It can be used appropriately.

<프린트 배선판><Printed wiring board>

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물을 경화해서 얻어지는 경화물로 이루어지는 절연층을 포함한다.The printed wiring board of the present invention includes an insulating layer made of a cured product obtained by curing the resin composition of the present invention.

프린트 배선판은, 예를 들면, 상기 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.A printed wiring board can be manufactured, for example, by a method including the following steps (I) and (II) using the above resin sheet.

(I) 내층 기판 상에, 수지 시트를, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) A process of laminating a resin sheet on an inner layer substrate so that the resin composition layer of the resin sheet is bonded to the inner layer substrate.

(II) 수지 조성물층을 경화(예를 들면, 열경화)해서 절연층을 형성하는 공정(II) Process of curing (e.g., heat curing) the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 상기 기판은, 이의 한 면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 상기 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 한 면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 말하는 경우가 있다. 또한, 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 하는 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용해도 좋다.The “inner layer substrate” used in step (I) is a member that becomes the substrate of the printed wiring board, for example, glass epoxy substrate, metal substrate, polyester substrate, polyimide substrate, BT resin substrate, and thermosetting polyphenylene. Ether substrates, etc. can be mentioned. Additionally, the substrate may have a conductor layer on one or both sides, and the conductor layer may be pattern-processed. An inner layer substrate on which a conductor layer (circuit) is formed on one or both sides of the substrate is sometimes referred to as an “inner layer circuit board.” In addition, when manufacturing a printed wiring board, intermediate products on which an insulating layer and/or a conductor layer must be additionally formed are also included in the "inner layer substrate" referred to in the present invention. If the printed wiring board is a circuit board with embedded components, an inner layer board with embedded components may be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은 예를 들면, 지지체측으로부터 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 한편, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. Examples of members for heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter also referred to as “heat-pressing members”) include heated metal plates (SUS head plates, etc.) or metal rolls (SUS rolls). On the other hand, it is preferable not to press the heat-compression member directly on the resin sheet, but to press it through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이고, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에 실시될 수 있다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet may be performed by a vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the heat-pressing temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably in the range of 80°C to 140°C, and the heat-compression pressure is preferably in the range of 0.098MPa to 1.77MPa, more preferably is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat compression time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination can be preferably carried out under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.

적층은, 시판 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배취식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurization laminator manufactured by Meiki Sesakusho, a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, and a batch vacuum pressurized laminator.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측으로부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 한편, 적층과 평활화 처리는, 상기 시판 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, the laminated resin sheets may be smoothed under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing a heat-pressing member from the support side. The press conditions for the smoothing treatment can be the same as the heat-pressing conditions for the above-mentioned lamination. Smoothing treatment can be performed using a commercially available laminator. Meanwhile, the lamination and smoothing treatment may be performed continuously using the commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다. The support may be removed between step (I) and step (II), or may be removed after step (II).

공정 (II)에 있어서, 수지 조성물층을 경화(예를 들면, 열경화)하여, 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 절연층을 형성한다. 수지 조성물층의 경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.In step (II), the resin composition layer is cured (for example, heat cured) to form an insulating layer made of a cured resin composition. The curing conditions of the resin composition layer are not particularly limited, and conditions normally employed when forming the insulating layer of a printed wiring board may be used.

예를 들면, 수지 조성물층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 의해서도 다르지만, 일 실시형태에 있어서, 경화 온도는 예를 들면, 120℃ 이상, 130℃ 이상, 130℃ 초과, 135℃ 이상, 135℃ 초과, 바람직하게는 140℃ 이상, 140℃ 초과, 보다 바람직하게는 150℃ 이상, 더욱 바람직하게는 170℃ 이상이고, 또한, 예를 들면, 240℃ 이하, 바람직하게는 220℃ 이하, 보다 바람직하게는 210℃ 이하이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다.For example, the heat curing conditions of the resin composition layer vary depending on the type of the resin composition, etc., but in one embodiment, the curing temperature is, for example, 120°C or higher, 130°C or higher, higher than 130°C, 135°C or higher, It is more than 135°C, preferably 140°C or more, more than 140°C, more preferably 150°C or more, more preferably 170°C or more, and also, for example, 240°C or less, preferably 220°C or less. Preferably it is 210°C or lower. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, and even more preferably 15 minutes to 100 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서고, 50℃ 내지 140℃, 바람직하게는 60℃ 내지 135℃, 보다 바람직하게는 70℃ 내지 130℃의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상, 바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간 예비 가열해도 좋다.Before thermally curing the resin composition layer, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to heat curing the resin composition layer, the resin composition layer is cured at a temperature of 50°C to 140°C, preferably 60°C to 135°C, more preferably 70°C to 130°C for 5 minutes or more. Preheating may be performed preferably for 5 minutes to 150 minutes, more preferably for 15 minutes to 120 minutes, and even more preferably for 15 minutes to 100 minutes.

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지된 각종 방법에 따라서 실시해도 좋다. 한편, 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 상기 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이 또는 공정 (IV)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라서, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복해서 실시하여 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, (III) a step of perforating the insulating layer, (IV) a step of roughening the insulating layer, and (V) a step of forming a conductor layer may be additionally performed. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art that are used in the manufacture of printed wiring boards. On the other hand, when the support is removed after step (II), the support is removed between steps (II) and (III), between steps (III) and (IV), or between steps (IV) and (V). It can be done in between. Additionally, if necessary, the formation of the insulating layer and the conductor layer in steps (II) to (V) may be repeated to form a multilayer wiring board.

다른 실시형태에 있어서, 본 발명의 프린트 배선판은, 상기 프리프레그를 사용하여 제조할 수 있다. 제조방법은 기본적으로 수지 시트를 사용하는 경우와 같다.In another embodiment, the printed wiring board of the present invention can be manufactured using the prepreg. The manufacturing method is basically the same as when using a resin sheet.

공정 (III)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이에 의해 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용해서 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라서 적절히 결정해도 좋다.Process (III) is a process of drilling holes in the insulating layer, thereby forming holes such as via holes and through holes in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, etc., depending on the composition of the resin composition used to form the insulating layer. The size and shape of the hole may be determined appropriately according to the design of the printed wiring board.

공정 (IV)는, 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에서 스미어의 제거도 행해진다. 조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이러한 순서로 실시해서 절연층을 조화 처리할 수 있다.Process (IV) is a process of roughening the insulating layer. Usually, smear is also removed in this step (IV). The procedures and conditions of the roughening process are not particularly limited, and known procedures and conditions usually used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be adopted. For example, the insulating layer can be roughened by performing swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order.

조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 상기 알칼리 용액으로서는, 수산화 나트륨 용액, 수산화 칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「스웰링 딥 세큐리간스 P」, 「스웰링 딥 세큐리간스 SBU」등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다.The swelling liquid used in the roughening treatment is not particularly limited, and includes an alkaline solution and a surfactant solution, and is preferably an alkaline solution. As the alkaline solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include "Swelling Deep Securiganth P" and "Swelling Deep Securiganth SBU" manufactured by Atotech Japan. The swelling treatment using the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the insulating layer in a swelling liquid at 30°C to 90°C for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling liquid of 40°C to 80°C for 5 to 15 minutes.

조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화 나트륨의 수용액에 과망간산 칼륨 또는 과망간산 나트륨을 용해한 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 100℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「컨센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 세큐리간스 P」 등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다.The oxidizing agent used in the roughening treatment is not particularly limited, and examples include an alkaline permanganate solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 100°C for 10 to 30 minutes. Additionally, the concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as “Concentrate Compact CP” and “Dosing Solution Securiganth P” manufactured by Atotech Japan.

또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」를 들 수 있다.In addition, as the neutralizing liquid used in the roughening treatment, an acidic aqueous solution is preferable, and examples of commercial products include "Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan.

중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 된 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 된 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Treatment with a neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface that has been roughened with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 30°C to 80°C for 5 to 30 minutes. In terms of workability, etc., a method of immersing the object that has been roughened with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 40°C to 70°C for 5 to 20 minutes is preferable.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정으로, 절연층 상에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다.Step (V) is a step of forming a conductor layer, and the conductor layer is formed on the insulating layer. The conductor material used in the conductor layer is not particularly limited.

적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티탄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티탄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.In a suitable embodiment, the conductor layer includes one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin, and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (e.g., nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, and copper-titanium alloy) ) can include a layer formed of. Among them, from the viewpoint of versatility of forming the conductor layer, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, An alloy layer of a copper/titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver, or copper or an alloy layer of a nickel/chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper is even more preferable. desirable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc, or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer depends on the desired design of the printed wiring board, but is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm.

일 실시형태에 있어서, 도체층은 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer with a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of the insulating layer using a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method, and from the viewpoint of ease of manufacturing, the semi-additive method can be used. It is preferable to form it by the additive method. Hereinafter, an example of forming a conductor layer by a semi-additive method will be shown.

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 그 다음에, 형성된 도금 시드층 상에, 원하는 배선 패턴에 대응해서 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 상에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Next, on the formed plating seed layer, a mask pattern is formed to expose a portion of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. After forming a metal layer on the exposed plating seed layer by electrolytic plating, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer with a desired wiring pattern.

다른 실시형태에 있어서, 도체층은, 금속박을 사용해서 형성해도 좋다. 금속박을 사용해서 도체층을 형성하는 경우, 공정 (V)는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 실시하는 것이 적합하다. 예를 들면, 공정 (I) 후, 지지체를 제거하여 노출된 수지 조성물층의 표면에 금속박을 적층한다. 수지 조성물층과 금속박의 적층은 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 적층의 조건은, 공정 (I)에 대하여 설명한 조건과 동일하게 해도 좋다. 그 다음에, 공정 (II)를 실시해서 절연층을 형성한다. 그 후, 절연층 상의 금속박을 사용하여, 서브트랙티브법, 모디파이드 세미어디티브법 등의 종래의 공지의 기술에 의해, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.In another embodiment, the conductor layer may be formed using metal foil. When forming a conductor layer using metal foil, step (V) is preferably performed between step (I) and step (II). For example, after step (I), the support is removed and a metal foil is laminated on the surface of the exposed resin composition layer. Lamination of the resin composition layer and the metal foil may be performed by a vacuum lamination method. The conditions for lamination may be the same as those described for step (I). Next, step (II) is performed to form an insulating layer. Thereafter, using the metal foil on the insulating layer, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by conventionally known techniques such as the subtractive method and the modified semiadditive method.

금속박은, 예를 들면, 전해법, 압연법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다. 금속박의 시판품으로서는, 예를 들면, JX 닛코 닛세키 킨조쿠사 제조의 HLP박, JXUT-III박, 미츠이 킨조쿠코잔사 제조의 3EC-III박, TP-III박 등을 들 수 있다.Metal foil can be manufactured by known methods such as electrolysis and rolling, for example. Commercially available metal foils include, for example, HLP foil and JXUT-III foil manufactured by JX Nikko Nisseki Kinzoku Corporation, 3EC-III foil and TP-III foil manufactured by Mitsui Kinzoku Kozan Corporation.

<반도체 장치><Semiconductor device>

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 사용해서 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈것(예를 들면, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Semiconductor devices include various semiconductor devices used in electrical appliances (e.g., computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (e.g., motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.). there is.

[실시예][Example]

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명한다. 본 발명은 이들 실시 예에 한정되는 것은 아니다. 한편, 이하에서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다. 특히 온도의 지정이 없는 경우의 온도 조건은 실온(25℃)이다.Hereinafter, the present invention will be specifically explained by examples. The present invention is not limited to these examples. Meanwhile, in the following, “part” and “%” indicating quantity mean “part by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified. In particular, when the temperature is not specified, the temperature condition is room temperature (25°C).

<합성예 1: 액정 폴리머의 합성><Synthesis Example 1: Synthesis of liquid crystal polymer>

교반 날개를 갖는 중합 용기에, 6-하이드록시-2-나프토에산(HNA) 60몰%, 4,4-디하이드록시비페닐(BP) 20몰%, 테레프탈산(TPA) 15.5몰%, 2,6-나프탈렌디카복실산(NADA) 4.5몰%를 첨가하고, 촉매로서 아세트산 칼륨 및 아세트산 마그네슘을 주입하고, 중합 용기의 감압-질소 주입을 3회 행하여 질소 치환을 행한 후, 무수 아세트산(수산기에 대하여 1.08몰 당량)을 추가로 첨가하고, 150℃까지 승온하고, 환류 상태로 2시간 아세틸화 반응을 행하였다.In a polymerization vessel with a stirring blade, 60 mol% 6-hydroxy-2-naphthoic acid (HNA), 20 mol% 4,4-dihydroxybiphenyl (BP), 15.5 mol% terephthalic acid (TPA), 4.5 mol% of 2,6-naphthalenedicarboxylic acid (NADA) was added, potassium acetate and magnesium acetate were injected as catalysts, and the polymerization vessel was reduced in pressure and nitrogen was injected three times to perform nitrogen substitution, and then acetic anhydride (hydroxyl group) was added. 1.08 molar equivalent) was additionally added, the temperature was raised to 150°C, and the acetylation reaction was performed under reflux for 2 hours.

아세틸화 종료 후, 아세트산 유출 상태로 한 중합 용기를 0.5℃/분으로 승온하여, 조 내의 용융체 온도가 310℃가 되었을 때에 중합물을 뽑아내고 냉각 고화하였다. 얻어진 중합물을 분쇄해서 메쉬 사이즈 2.0mm의 체를 통과하는 크기로 분쇄해서 프리폴리머를 얻었다.After completion of acetylation, the temperature of the polymerization vessel with acetic acid flowing was raised at 0.5°C/min, and when the temperature of the melt in the tank reached 310°C, the polymer was extracted and cooled and solidified. The obtained polymer was pulverized to a size that passes through a sieve with a mesh size of 2.0 mm to obtain a prepolymer.

다음에, 상기에서 얻어진 프리폴리머를, 야마토 카가쿠(주) 제조의 오븐에서 히터에 의해, 온도를 실온으로부터 14시간 걸쳐 310℃까지 승온한 후, 310℃에서 온도를 1시간 유지해서 고상 중합을 행하였다. 그 후 실온에서 자연 방열하여, 액정 폴리머 A를 얻었다. 메틀러 제조 현미경용 핫 스테이지(상품명: FP82HT)를 구비한 올림푸스(주) 제조 편광 현미경(상품명: BH-2)을 사용하여, 액정 폴리머 A를 현미경 가열 스테이지 상에서 가열 용융시켜, 광학 이방성의 유무로부터 액정성을 나타내는 것을 확인하였다.Next, the temperature of the prepolymer obtained above was raised from room temperature to 310°C over 14 hours using a heater in an oven manufactured by Yamato Chemical Co., Ltd., and then maintained at 310°C for 1 hour to perform solid-state polymerization. did. Afterwards, heat was naturally dissipated at room temperature to obtain liquid crystal polymer A. Using a polarizing microscope (product name: BH-2) manufactured by Olympus Corporation equipped with a hot stage for microscopy (product name: FP82HT) manufactured by Mettler, liquid crystal polymer A was heated and melted on the microscope heating stage, and the presence or absence of optical anisotropy was determined. It was confirmed that liquid crystallinity was exhibited.

<조제예 1: 액정 폴리머 입자의 제조><Preparation Example 1: Preparation of liquid crystal polymer particles>

상기에서 합성한 액정 폴리머 A의 분말을, 닛폰 뉴마틱 코교사 제조 SPK-12형 제트 밀에 닛폰 뉴마틱 코교사 제조 DSF-10형 분급기를 조합한 장치를 사용하여, 분쇄압 0.65MPa, 수지 공급량 5kg/h의 조건으로 연속적으로 분쇄를 행하여, 액정 폴리머 입자 A를 얻었다.The liquid crystal polymer A powder synthesized above was used in a device combining an SPK-12 type jet mill manufactured by Nippon Pneumatic Kogyo Company and a DSF-10 type classifier manufactured by Nippon Pneumatic Kogyo Company, grinding pressure of 0.65 MPa, and resin supply amount. The pulverization was continuously performed under the conditions of 5 kg/h, and liquid crystal polymer particles A were obtained.

<액정 폴리머 입자의 평가><Evaluation of liquid crystal polymer particles>

(융점의 측정)(Measurement of melting point)

상기에서 얻어진 액정 폴리머 입자 A의 융점을, ISO11357, ASTM D3418의 시험 방법에 준거하여, 히타치 하이테크 사이언스(주) 제조의 시차 주사 열량계(DSC) 에 의해 측정하였다. 이 때, 승온 속도 10℃/분으로 실온으로부터 360 내지 380℃까지 승온해서 폴리머를 완전히 융해시킨 후, 속도 10℃/분으로 30℃까지 강온하고, 추가로 10℃/분의 속도로 380℃까지 승온할 때에 얻어진 흡열 피크의 정점을 융점으로 하였다. 측정된 융점은 319℃이었다.The melting point of the liquid crystal polymer particles A obtained above was measured by a differential scanning calorimeter (DSC) manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd. in accordance with the test methods of ISO11357 and ASTM D3418. At this time, the temperature is raised from room temperature to 360 to 380°C at a temperature increase rate of 10°C/min to completely melt the polymer, then lowered to 30°C at a rate of 10°C/min, and then further lowered to 380°C at a rate of 10°C/min. The peak of the endothermic peak obtained when the temperature was raised was taken as the melting point. The measured melting point was 319°C.

(입자 직경 분포의 측정)(Measurement of particle diameter distribution)

상기에서 얻어진 액정 폴리머 입자 A의 입자 직경 분포를 레이저 회절·산란법 입자 직경 분포 측정 장치(베크만 콜터사 제조, LS 13 320 건식 시스템, 토네이도 드라이 파우더 모듈 장착)로 측정하였다. 입자 직경 분포를 나타내는 파라미터인 D50, D90 및 Dp는, 측정 데이터로부터 연산 결과로서 얻었다. 그 결과, D50은 4.8㎛, D90/D50은 1.7이었다.The particle diameter distribution of the liquid crystal polymer particles A obtained above was measured using a laser diffraction/scattering method particle diameter distribution measuring device (manufactured by Beckman Coulter, LS 13 320 dry system, equipped with a tornado dry powder module). D50, D90, and Dp, which are parameters representing particle diameter distribution, were obtained as calculation results from measurement data. As a result, D50 was 4.8㎛, and D90/D50 was 1.7.

(유전정접의 측정(10GHz))(Measurement of dielectric loss tangent (10 GHz))

상기에서 얻어진 액정 폴리머 입자 A를 사용하여, 융점 내지 융점+30℃ 조건으로 가열 용융하고, 30mm×30mm×0.4mm(두께)의 금형을 사용하여 사출 성형하고, 평판상 시험편을 제작하였다. 계속해서, 상기 평판상 시험편을 사용하고, 키사이트 테크놀로지사의 네트워크 애널라이저 N5247A를 사용하여, 스플릿 포스트 유전체 공진기법(SPDR법)에 의해, 주파수 10GHz의 유전정접을 측정하였다. 한편, 각 종류의 샘플을 N = 4씩 측정하고, 4회의 평균값으로서 구한 유전 정접은 0.0007이었다.The liquid crystal polymer particles A obtained above were heated and melted under the conditions of melting point to melting point +30°C, injection molded using a mold of 30 mm x 30 mm x 0.4 mm (thickness), and a flat test piece was produced. Subsequently, using the above flat test piece, the dielectric loss tangent at a frequency of 10 GHz was measured by the split post dielectric resonance technique (SPDR method) using a network analyzer N5247A from Keysight Technologies. Meanwhile, N = 4 samples of each type were measured, and the dielectric loss tangent obtained as the average value of 4 times was 0.0007.

(아웃 가스의 측정)(Measurement of outgassing)

상기에서 얻어진 액정 폴리머 입자 A를 20ml의 바이알병에 넣어서 밀봉한 후, 190℃에서 1시간 열처리를 행하였다. 상기 열처리 중에 발생한 아세트산 및 기타(페놀, 아세트산 페닐 등) 가스를 휴렛 펙커드사 제조의 헤드 스페이스 샘플러(HP7697A)를 접속한 가스 크로마토그래피(HP7820A)에 의해 정량하였다. 칼럼에는 화학품 검사 협회 제조의 G-100(40m)를 사용하고, 그 밖의 조건은, 초기 온도 45℃, 승온 속도 20℃/분, 최종 온도 280℃, 헬륨압 8.3psi 및 스플릿비 2.0으로 하여, FID 검출기를 사용해서 측정을 행하였다. 측정된 아웃 가스로서의 아세트산은 0.4ppm, 그 밖의 아웃 가스는 5.8ppm이었다.The liquid crystal polymer particles A obtained above were placed in a 20 ml vial bottle and sealed, followed by heat treatment at 190°C for 1 hour. Acetic acid and other (phenol, phenyl acetate, etc.) gases generated during the heat treatment were quantified by gas chromatography (HP7820A) connected to a head space sampler (HP7697A) manufactured by Hewlett-Peckard. The column used was G-100 (40m) manufactured by the Chemical Products Inspection Association, and other conditions were initial temperature 45°C, temperature increase rate 20°C/min, final temperature 280°C, helium pressure 8.3 psi, and split ratio 2.0. Measurements were made using an FID detector. Acetic acid as the measured out gas was 0.4 ppm, and other out gases were 5.8 ppm.

<실시예 1 내지 8, 비교예 1: 수지 바니쉬의 조제><Examples 1 to 8, Comparative Example 1: Preparation of resin varnish>

[실시예 1][Example 1]

나프탈렌형 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」, 에폭시 당량 144g/eq.) 15부, 활성 에스테르계 경화제(「HPC-8150-62T」, 활성기 당량 229g/eq., 불휘발분 61.5질량%의 톨루엔 용액) 43부, 기타 경화제(페놀계 경화제, DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 151g/eq., 불휘발분 50질량%의 1-메톡시2-프로판올 용액) 5부, (A) 성분으로서의 액정 폴리머 분말 A 2부, 무기 충전재(아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(아도마텍스사 제조, 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.8㎡/g) 125부, 경화 촉진제(시코쿠 카세이코교사 제조, 「1B2PZ」) 0.5부, MEK 10부, 사이클로헥사논 10부를 혼합하고, 고속 회전 믹서를 사용해서 균일하게 분산하여, 수지 바니쉬를 얻었다.15 parts of naphthalene type epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC, epoxy equivalent 144 g/eq.), activated ester curing agent (“HPC-8150-62T”, active group equivalent 229 g/eq., non-volatile matter 61.5 mass) % toluene solution) 43 parts, other curing agent (phenol-based curing agent, “LA-3018-50P” manufactured by DIC, hydroxyl equivalent 151 g/eq., 1-methoxy 2-propanol solution with 50 mass% non-volatile matter) 5 parts , (A) 2 parts of liquid crystal polymer powder A as component, spherical silica surface-treated with an inorganic filler (amine-based alkoxysilane compound (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (“SO-C2” manufactured by Adomatex Corporation) , 125 parts (average particle diameter: 0.5 μm, specific surface area: 5.8 m2/g), 0.5 parts of curing accelerator (“1B2PZ”, manufactured by Shikoku Kaseikogyo Co., Ltd.), 10 parts of MEK, and 10 parts of cyclohexanone were mixed, using a high-speed rotating mixer. It was dispersed uniformly to obtain a resin varnish.

[실시예 2][Example 2]

실시예 1에, 추가로 발명협회 공개기보 공기번호 2020-500211호의 합성예 1에 기재된 방법으로 합성된 하기 화학식 (M)으로 표시되는 말레이미드 화합물 A(Mw/Mn = 1.81, t" = 1.47(주로 1, 2 또는 3))의 MEK 용액(불휘발 성분 62질량%)을 2부 사용하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.In Example 1, maleimide compound A (Mw/Mn = 1.81, t" = 1.47 (Mw/Mn = 1.81, t" = 1.47 ( Mainly, 2 parts of the MEK solution (62% by mass of non-volatile component) of 1, 2 or 3)) was used in the same manner as in Example 1 except for the above points, to obtain a resin varnish.

[화학식 (M)][Formula (M)]

[실시예 3][Example 3]

실시예 1에 있어서, 그 밖의 말레이미드 화합물(닛폰 카야쿠사 제조 「MIR-5000-60T」, 불휘발분 60질량%의 톨루엔 용액)을 2부 첨가한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.A resin varnish was prepared in the same manner as in Example 1, except that 2 parts of the other maleimide compound (“MIR-5000-60T” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., toluene solution with 60% by mass of non-volatile matter) was added. got it

[실시예 4][Example 4]

실시예 1에 있어서, 그 밖의 말레이미드 화합물(닛폰 카야쿠사 제조 「MIR-3000-70MT」, 불휘발분 70질량%의 톨루엔·MEK 혼합 용액)을 2부 첨가한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.In the same manner as in Example 1, except that 2 parts of the other maleimide compound (“MIR-3000-70MT” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., toluene/MEK mixed solution with 70% by mass of non-volatile matter) was added. Got a resin varnish.

[실시예 5][Example 5]

실시예 1에 있어서, 그 밖의 말레이미드 화합물(데지그너 몰레큘즈 잉크사 제조 「BMI-689」)을 2부 첨가한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1, except that 2 parts of the other maleimide compound (“BMI-689” manufactured by Designer Molecular Ink Co., Ltd.) was added.

[실시예 6][Example 6]

실시예 1에 있어서, 그 밖의 이중 결합을 갖는 화합물(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「OPE-2St-1200」, 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액)을 2부 첨가한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.In the same manner as in Example 1, except that 2 parts of a compound having another double bond (“OPE-2St-1200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., a toluene solution containing 65% by mass of non-volatile matter) was added. Got a resin varnish.

[실시예 7][Example 7]

실시예 1에 있어서, (A) 성분으로서의 액정 폴리머 분말 A 2부를 1부로 변경한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1, except that 2 parts of liquid crystal polymer powder A as component (A) was changed to 1 part.

[실시예 8][Example 8]

실시예 1에 있어서, (A) 성분으로서의 액정 폴리머 분말 A 2부를 4부로 변경한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1, except that 2 parts of liquid crystal polymer powder A as component (A) was changed to 4 parts.

[비교예 1][Comparative Example 1]

실시예 1에 있어서, (A) 성분으로서의 액정 폴리머 분말 A 2부를 첨가하지 않은 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 수지 바니쉬를 얻었다.A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1, except that 2 parts of liquid crystal polymer powder A as component (A) was not added.

<제작예 1: 수지 조성물층의 두께가 40㎛인 수지 시트 A의 제작><Production Example 1: Production of resin sheet A with a resin composition layer thickness of 40㎛>

지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비하였다. 상기 지지체의 이형층 상에, 실시예 및 비교예에서 얻어진 수지 바니쉬를, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 40㎛가 되도록 균일하게 도포하였다. 그 후, 수지 조성물을 80℃ 내지 100℃(평균 90℃)에서 4분간 건조시켜서, 지지체 및 수지 조성물층을 포함하는 수지 시트 A를 얻었다.As a support, a polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintech, thickness 38 μm) provided with a release layer was prepared. On the release layer of the support, the resin varnish obtained in Examples and Comparative Examples was uniformly applied so that the thickness of the dried resin composition layer was 40 μm. Thereafter, the resin composition was dried at 80°C to 100°C (average 90°C) for 4 minutes to obtain a resin sheet A containing a support and a resin composition layer.

<시험예 1: 유전정접의 측정><Test Example 1: Measurement of dielectric loss tangent>

실시예 및 비교예에서 얻어진 수지 바니쉬를 사용하여 제작예 1에서 얻어진 수지 시트 A를 190℃의 오븐에서 90분 경화하였다. 오븐으로부터 꺼낸 수지 시트 A로부터 지지체를 박리함으로써, 수지 조성물층의 경화물을 얻었다. 상기 경화물을 길이 80mm, 폭 2mm로 잘라내어 평가용 경화물이라고 하였다.Resin sheet A obtained in Production Example 1 using the resin varnish obtained in Examples and Comparative Examples was cured in an oven at 190°C for 90 minutes. By peeling the support from the resin sheet A taken out from the oven, a cured product of the resin composition layer was obtained. The cured product was cut into 80 mm in length and 2 mm in width and referred to as the cured product for evaluation.

각 평가용 경화물에 대하여, 아질렌트 테크놀로지즈(Agilent Technologies)사 제조 「HP8362B」를 사용하여, 공동 공진 섭동법에 의해 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃ 및 90℃에서 유전정접의 값(Df값)을 측정하였다. 2개의 시험편으로 측정을 실시하고, 그 평균을 산출하였다.For each cured product for evaluation, the value of dielectric loss tangent (Df) was measured at a measurement frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23°C and 90°C by the cavity resonance perturbation method using “HP8362B” manufactured by Agilent Technologies. value) was measured. Measurements were performed on two test pieces, and the average was calculated.

<제작예 2: 수지 조성물층의 두께가 25㎛인 수지 시트 B의 제작><Production Example 2: Production of resin sheet B with a resin composition layer thickness of 25㎛>

지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비하였다. 상기 지지체의 이형층 상에, 실시예 및 비교예로 얻어진 수지 바니쉬를, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 25㎛가 되도록 균일하게 도포하고, 70℃ 내지 80℃(평균 75℃)에서 2.5분간 건조시켜서, 지지체 및 수지 조성물층을 포함하는 수지 시트 B를 얻었다.As a support, a polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintech, thickness 38 μm) provided with a release layer was prepared. On the release layer of the support, the resin varnish obtained in Examples and Comparative Examples was uniformly applied so that the thickness of the dried resin composition layer was 25 μm, and dried at 70°C to 80°C (average 75°C) for 2.5 minutes. As a result, resin sheet B containing a support and a resin composition layer was obtained.

<시험예 2: 디스미어 처리 후의 크랙 내성의 평가><Test Example 2: Evaluation of crack resistance after desmear treatment>

제작예 2에서 제작한 두께 25㎛의 수지 시트 B를 잔동율 60%가 되도록, 직경 350㎛의 원형 구리 패드(구리 두께 35㎛)를 400㎛ 간격으로 격자상으로 형성한 코어재(히타치 카세이코교사 제조 「E705GR」, 두께 400㎛)의 양면에 배취식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물층이 상기 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 상기 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 압착함으로써 실시하였다. 이것을, 130℃의 오븐에 투입해서 30분간 가열하고, 그 다음에 170℃의 오븐에 옮겨서 30분간 가열하였다. 또한 지지체를 박리하고, 얻어진 회로 기판을, 팽윤액인 아토텍 재팬(주)의 스웰링 딥 세큐리간트 P에 60℃에서 10분간 침지하였다. 다음에, 조화액인 아토텍 재팬(주)의 컨센트레이트 컴팩트 P(KMnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에 80℃에서 30분간 침지하였다. 마지막으로, 중화액인 아토텍 재팬(주)의 리덕션 솔루션 세큐리간트 P에 40℃에서 5분간 침지하였다. 조화 처리 후의 회로 기판의 구리 패드부를 100개 관찰하여, 수지 조성물층의 크랙의 유무를 확인하였다. 크랙이 10개 이하이면 「○」, 10개보다 많으면 「×」라고 하였다.Resin sheet B with a thickness of 25 ㎛ produced in Production Example 2 was made into a core material (Hitachi Kaseiko) in which circular copper pads (copper thickness 35 ㎛) with a diameter of 350 ㎛ were formed in a lattice shape at 400 ㎛ intervals so that the floating rate was 60%. Using a batch type vacuum pressurized laminator (two-stage build-up laminator "CVP700" manufactured by Nikko Materials) on both sides of the "E705GR" manufactured by Kyoto, thickness 400㎛, the inner layer substrate is bonded to the inner layer substrate so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate. Laminated on both sides. The laminate was performed by reducing the pressure for 30 seconds to bring the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then compressing it at a temperature of 100°C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. This was placed in an oven at 130°C and heated for 30 minutes, and then transferred to an oven at 170°C and heated for 30 minutes. Additionally, the support was peeled off, and the obtained circuit board was immersed in Swelling Deep Securigant P from Atotech Japan Co., Ltd., a swelling liquid, at 60°C for 10 minutes. Next, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd.'s Concentrate Compact P (aqueous solution of KMnO 4 : 60 g/L and NaOH: 40 g/L), which is a roughening solution, at 80°C for 30 minutes. Finally, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd.'s reduction solution Securigant P, a neutralizing liquid, at 40°C for 5 minutes. 100 copper pad portions of the circuit board after the roughening treatment were observed to confirm the presence or absence of cracks in the resin composition layer. If there were 10 or less cracks, it was designated as “○,” and if there were more than 10, it was designated as “×.”

실시예 및 비교예의 수지 조성물의 휘발 성분을 포함하는 (A) 내지 (G) 성분의 사용량(질량부), 시험예의 측정 결과를 하기 표 1에 나타낸다. 표 1에 있어서, 각 성분의 불휘발분(질량%)을 「N.V.」란에 나타낸다.The usage amounts (parts by mass) of components (A) to (G) including volatile components of the resin compositions of Examples and Comparative Examples and the measurement results of Test Examples are shown in Table 1 below. In Table 1, the non-volatile content (% by mass) of each component is shown in the “N.V.” column.

이상에 의해, (A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하는 수지 조성물을 사용함으로써, 90℃ 등의 고온 환경에서도 유전정접(Df)이 낮고, 디스미어 처리 후의 크랙 내성이 우수한 경화물을 얻을 수 있음을 알 수 있었다. 상기 경화물은, 또한, 23℃ 등의 실온 내지 상온 영역에서도 유전정접(Df)이 낮은 것도 알 수 있었다.As described above, by using a resin composition containing (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (B) an active ester compound, the dielectric loss tangent (Df) is low even in a high temperature environment such as 90°C, It was found that a cured product with excellent crack resistance after desmear treatment could be obtained. It was also found that the cured product had a low dielectric loss tangent (Df) even in the room temperature to room temperature range, such as 23°C.

Claims (11)

(A) 액정성을 갖는 유기 충전재, (B) 에폭시 수지 및 (C) 활성 에스테르 화합물을 포함하는, 수지 조성물.A resin composition comprising (A) an organic filler having liquid crystallinity, (B) an epoxy resin, and (C) an active ester compound. 제1항에 있어서, 수지 조성물 중의 수지 성분을 100질량%로 할 경우, (A) 성분의 함유량이 0.1질량% 이상, 10질량% 이하인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein when the resin component in the resin composition is 100% by mass, the content of component (A) is 0.1% by mass or more and 10% by mass or less. 제1항에 있어서, (A) 액정성을 갖는 유기 충전재의 융점이 270℃ 이상인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, wherein (A) the organic filler having liquid crystallinity has a melting point of 270°C or higher. 제1항에 있어서, (D) 무기 충전재를 추가로 포함하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, further comprising (D) an inorganic filler. 제1항에 있어서, (E) 라디칼 중합성 화합물을 추가로 포함하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, further comprising (E) a radically polymerizable compound. 제1항에 있어서, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is used for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물.A cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 6. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 함유하는, 시트상 적층 재료.A sheet-like laminated material containing the resin composition according to any one of claims 1 to 6. 지지체와, 상기 지지체 상에 제공된 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 갖는, 수지 시트.A resin sheet comprising a support and a resin composition layer formed of the resin composition according to any one of claims 1 to 6 provided on the support. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 절연층을 구비하는, 프린트 배선판.A printed wiring board comprising an insulating layer made of a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 6. 제10항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 10.
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