KR20220134455A - Resin composition - Google Patents

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겐지 가와이
나나 나메카타
아케미 야마다
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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

Provided is a resin composition (for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board), capable of obtaining a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent smear removability and elongation at break. The resin composition is for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board, and includes (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, wherein the component (A) contains (A-1) an epoxy resin represented by chemical formula (1). In the chemical formula (1), the definition of each symbol is as described in the specification.

Description

수지 조성물{RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은, 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition containing an epoxy resin. Moreover, it is related with the resin sheet obtained using the said resin composition, a printed wiring board, and a semiconductor device.

프린트 배선판의 제조 기술로서, 절연층과 도체층을 교대에 포개어 쌓는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다. 빌드업 방식에 의한 제조 방법에 있어서, 일반적으로, 절연층은 수지 조성물을 경화시켜서 형성된다. 최근, 절연층의 유전정접을 보다 낮게 억제하는 것이 요구되고 있다.As a manufacturing technique of a printed wiring board, the manufacturing method by the buildup system which piles up an insulating layer and a conductor layer alternately is known. In the manufacturing method by a build-up method, generally, an insulating layer is formed by hardening|curing a resin composition. In recent years, suppressing the dielectric loss tangent of an insulating layer to a lower level is calculated|required.

[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 특개2018-197282호[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2018-197282 [특허문헌 2] 국제공개 제2020/129724호[Patent Document 2] International Publication No. 2020/129724

지금까지, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물로서, 활성 에스테르 화합물을 배합한 에폭시 수지 조성물을 사용함으로써, 절연층의 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 것이 알려져 있다(특허문헌 1). 하지만, 활성 에스테르 화합물을 배합한 에폭시 수지 조성물을 사용한 경우, 스미어 제거성의 저하나 파단점 신도의 저하 등이 과제가 되어 있었다.Until now, it is known that the dielectric loss tangent of the insulating layer can be suppressed lower by using an epoxy resin composition containing an active ester compound as a resin composition for forming the insulating layer (Patent Document 1). However, when the epoxy resin composition which mix|blended the active ester compound was used, the fall of smear removability, the fall of elongation at break, etc. became a subject.

한편, 지금까지, 2,6-크실레놀·디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지가 알려져 있다(특허문헌 2).On the other hand, 2,6-xylenol dicyclopentadiene type epoxy resin is known until now (patent document 2).

본 발명의 과제는, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층 형성용)을 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide a resin composition (for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board) from which a dielectric loss tangent is suppressed low and a cured product having excellent smear removability and elongation at break can be obtained.

본 발명의 과제를 달성하기 위해, 본 발명자들은 예의 검토한 결과, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고, (A) 성분이, 하기에서 설명하는 특정한 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물을 사용함으로써, 의외로도, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.In order to achieve the subject of this invention, as a result of earnest examination, the present inventors contain (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, and (A) component is described below By using a resin composition containing a specific epoxy resin, it was unexpectedly found that a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent smear removability and elongation at break can be obtained, and the present invention has been completed.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler,

(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):(A) component, (A-1) formula (1):

Figure pat00001
Figure pat00001

[화학식 (1)에서,[In formula (1),

R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):

Figure pat00002
Figure pat00002

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);

R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;

n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]

로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.A resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board, comprising an epoxy resin represented by .

[2] n의 평균값이 0 내지 5의 범위 내인, 상기 [1]에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[2] The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to the above [1], wherein the average value of n is in the range of 0 to 5.

[3] (A) 성분이, 온도 20℃ 아래에서 액상의 에폭시 수지를 추가로 포함하는, 상기 [1] 또는 [2]에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[3] The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to the above [1] or [2], wherein the component (A) further contains a liquid epoxy resin at a temperature below 20°C.

[4] (A) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 1질량% 내지 30질량%인, 상기 [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[4] The printed wiring board according to any one of [1] to [3], wherein the content of the component (A) is 1% by mass to 30% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. A resin composition for forming an interlayer insulating layer.

[5] (B) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 5질량% 이상인, 상기 [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[5] Formation of an interlayer insulating layer of the printed wiring board according to any one of [1] to [4], wherein the content of component (B) is 5% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. for resin composition.

[6] (C) 성분이 실리카인, 상기 [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[6] The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to any one of [1] to [5], wherein the component (C) is silica.

[7] (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 40질량% 이상인, 상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[7] Formation of an interlayer insulating layer of the printed wiring board according to any one of [1] to [6], wherein the content of component (C) is 40% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. for resin composition.

[8] 페녹시 수지를 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[8] The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to any one of [1] to [7], further comprising a phenoxy resin.

[9] 페놀계 경화제를 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [8] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[9] The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to any one of [1] to [8], further comprising a phenol-based curing agent.

[10] 수지 조성물의 경화물의 파단점 신도가, JIS K7127에 준거해서 23℃에서 측정한 경우, 1.0% 이상인, 상기 [1] 내지 [9] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[10] For forming an interlayer insulating layer of the printed wiring board according to any one of [1] to [9], wherein the elongation at break of the cured product of the resin composition is 1.0% or more when measured at 23° C. in accordance with JIS K7127. resin composition.

[11] 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)이, 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우, 0.0040 이하인, 상기 [1] 내지 [10] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[11] The resin for forming an interlayer insulating layer of the printed wiring board according to any one of [1] to [10], wherein the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition is 0.0040 or less when measured at 5.8 GHz and 23°C composition.

[12] 수지 조성물의 경화물의 비유전율(Dk)이, 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우, 3.5 이하인, 상기 [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.[12] The resin for forming an interlayer insulating layer of the printed wiring board according to any one of [1] to [11], wherein the dielectric constant (Dk) of the cured product of the resin composition is 3.5 or less when measured at 5.8 GHz and 23°C composition.

[13] 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된 수지 조성물층을 갖는 수지 시트로서,[13] A resin sheet having a support and a resin composition layer provided on the support, comprising:

수지 조성물층이, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고,The resin composition layer contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler,

(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):(A) component, (A-1) formula (1):

Figure pat00003
Figure pat00003

[화학식 (1)에서,[In formula (1),

R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):

Figure pat00004
Figure pat00004

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);

R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;

n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]

로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 시트.A resin sheet for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board, which is a resin composition layer formed of a resin composition containing an epoxy resin represented by .

[14] (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,[14] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler,

(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):(A) component, (A-1) formula (1):

Figure pat00005
Figure pat00005

[화학식 (1)에서,[In formula (1),

R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):

Figure pat00006
Figure pat00006

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);

R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;

n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]

로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물의 경화물로 이루어진 절연층을 구비하는, 프린트 배선판.A printed wiring board comprising an insulating layer made of a cured product of a resin composition containing an epoxy resin represented by .

[15] 상기 [14]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[15] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to the above [14].

본 발명의 수지 조성물에 의하면, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the resin composition of this invention, dielectric loss tangent is suppressed low, and the hardened|cured material which has the outstanding smear removability and the elongation at break can be obtained.

이하, 본 발명을 그 적합한 실시형태에 입각해서 상세히 설명한다. 단, 본 발명은, 하기 실시형태 및 예시물에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 특허청구의 범위 및 그 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경해서 실시될 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail based on the suitable embodiment. However, this invention is not limited to the following embodiment and an illustration, The range which does not deviate from the range which does not deviate from the claim of this invention and its equivalent range can be implemented by changing arbitrarily.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물)이다. 한편, 본 발명에 있어서, 프린트 배선판의 층간 절연층에는 반도체 패키지의 재배선 형성층도 포함된다.The resin composition of the present invention is a resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board). On the other hand, in the present invention, the interlayer insulating layer of the printed wiring board also includes the rewiring forming layer of the semiconductor package.

본 발명의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고, (A) 성분이, 하기에서 설명하는 (A-1) 특정 에폭시 수지를 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, and the component (A) contains a specific epoxy resin (A-1) described below do. By using such a resin composition, a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent smear removability and elongation at break can be obtained.

본 발명의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재 외에, 추가로 임의의 성분을 포함하고 있어도 좋다. 임의의 성분으로서는, 예를 들어, (B') 기타 경화제, (D) 열가소성 수지, (E) 경화 촉진제, (F) 기타 첨가제, 및 (G) 유기 용제를 들 수 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대하여 상세히 설명한다.The resin composition of this invention may contain further arbitrary components other than (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler. As arbitrary components, (B') other hardening|curing agent, (D) thermoplastic resin, (E) hardening accelerator, (F) other additive, and (G) organic solvent are mentioned, for example. Hereinafter, each component contained in a resin composition is demonstrated in detail.

<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy resin>

본 발명의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지를 함유한다. (A) 에폭시 수지란, 에폭시 당량 5,000g/eq. 이하의 에폭시기를 갖는 경화성 수지이다.The resin composition of this invention contains (A) an epoxy resin. (A) Epoxy resin is an epoxy equivalent of 5,000 g/eq. It is curable resin which has the following epoxy groups.

<(A-1) 특정 에폭시 수지><(A-1) Specific Epoxy Resin>

본 발명의 수지 조성물에 있어서 (A) 에폭시 수지는, (A-1) 화학식 (1):In the resin composition of the present invention, (A) the epoxy resin is (A-1) general formula (1):

Figure pat00007
Figure pat00007

[화학식 (1)에서,[In formula (1),

R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):

Figure pat00008
Figure pat00008

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);

R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;

n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]

로 표시되는 에폭시 수지(이하 「특정 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음)을 함유한다. n으로 표시되는 단위는, 단위마다 동일해도 좋고, 달라도 좋다.contains an epoxy resin represented by (hereinafter sometimes referred to as "specific epoxy resin"). The unit represented by n may be the same or different for every unit.

R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이다.R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula It is a group represented by (1b).

R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타낸다. R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 바람직하게는, 탄소수 1 내지 6의 알킬기, 또는 페닐기이고, 보다 바람직하게는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 또는 이소프로필기이고, 더욱 바람직하게는, 메틸기이다.R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms. R 2 and R 3 are each independently, preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms or a phenyl group, more preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or an isopropyl group, still more preferably a methyl group to be.

탄화수소기란, 탄소원자만을 골격 원자로 하는 1가의 기이고, 직쇄 구조, 분기쇄 구조 및/또는 환상 구조를 포함할 수 있고, 방향환을 포함하지 않는 기라도, 방향환을 포함하는 기라도 좋다. 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기의 예로서는, 탄소수 1 내지 8의 알킬기, 탄소수 2 내지 8의 알케닐기, 탄소수 7 또는 8의 아랄킬기, 탄소수 7 또는 8의 알킬아릴기, 페닐기 등을 들 수 있다.The hydrocarbon group is a monovalent group having only carbon atoms as skeletal atoms, and may include a straight-chain structure, a branched-chain structure and/or a cyclic structure, and may be a group not containing an aromatic ring or a group containing an aromatic ring. Examples of the hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms include an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alkenyl group having 2 to 8 carbon atoms, an aralkyl group having 7 or 8 carbon atoms, an alkylaryl group having 7 or 8 carbon atoms, and a phenyl group.

알킬기란, 직쇄, 분지쇄 및/또는 환상의 1가의 지방족 포화 탄화수소기를 의미한다. 탄소수 1 내지 8의 알킬기는, 탄소수 1 내지 6의 알킬기가 바람직하고, 탄소수 1 내지 3의 알킬기가 보다 바람직하다. 탄소수 1 내지 8의 알킬기로서는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, 부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 4-메틸사이클로헥실기, 2,4-디메틸사이클로헥실기, 사이클로펜틸메틸기, 사이클로헥실메틸기 등을 들 수 있다.The alkyl group means a linear, branched and/or cyclic monovalent aliphatic saturated hydrocarbon group. A C1-C6 alkyl group is preferable, and, as for a C1-C8 alkyl group, a C1-C3 alkyl group is more preferable. Examples of the alkyl group having 1 to 8 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, and a jade group. tyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, 4-methylcyclohexyl group, 2,4-dimethylcyclohexyl group, cyclopentylmethyl group, cyclohexylmethyl group, etc. are mentioned.

알케닐기란, 적어도 1개의 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 직쇄, 분지쇄 및/또는 환상의 1가의 지방족 불포화 탄화수소기를 의미한다. 탄소수 2 내지 8의 알케닐기는, 탄소수 2 내지 6의 알케닐기가 바람직하고, 탄소수 2 또는 3의 알케닐기가 보다 바람직하다. 탄소수 2 내지 8의 알케닐기로서는, 예를 들어, 비닐기, 프로페닐기(알릴기, 1-프로페닐기, 이소프로페닐기), 부테닐기(1-부테닐기, 크로틸기, 메탈릴기, 이소크로틸기 등), 펜테닐기(1-펜테닐기 등), 헥세닐기(1-헥세닐기 등), 헵테닐기(1-헵테닐기 등), 옥테닐기(1-옥테닐기 등), 사이클로펜테닐기(2-사이클로펜테닐기 등), 사이클로헥세닐기(3-사이클로헥세닐기 등) 등을 들 수 있다.The alkenyl group means a straight-chain, branched-chain and/or cyclic monovalent aliphatic unsaturated hydrocarbon group having at least one carbon-carbon double bond. A C2-C6 alkenyl group is preferable and, as for a C2-C8 alkenyl group, a C2-C8 alkenyl group is more preferable. Examples of the alkenyl group having 2 to 8 carbon atoms include a vinyl group, a propenyl group (allyl group, 1-propenyl group, isopropenyl group), butenyl group (1-butenyl group, crotyl group, methallyl group, isocrotyl group, etc.) ), pentenyl group (such as 1-pentenyl group), hexenyl group (such as 1-hexenyl group), heptenyl group (such as 1-heptenyl group), octenyl group (such as 1-octenyl group), cyclopentenyl group (2- cyclopentenyl group etc.), cyclohexenyl group (3-cyclohexenyl group etc.), etc. are mentioned.

아랄킬기란, 방향족 탄소환으로 구성된 1가의 방향족 탄화수소기로 치환된 1가의 지방족 포화 탄화수소기를 의미한다. 탄소수 7 또는 8의 아랄킬기로서는, 벤질기, 페네틸기, α-메틸벤질기를 들 수 있다.The aralkyl group means a monovalent aliphatic saturated hydrocarbon group substituted with a monovalent aromatic hydrocarbon group composed of an aromatic carbocyclic ring. Examples of the aralkyl group having 7 or 8 carbon atoms include a benzyl group, a phenethyl group, and an α-methylbenzyl group.

알킬아릴기란, 1가의 지방족 포화 탄화수소기로 치환된 방향족 탄소환으로 구성된 1가의 방향족 탄화수소기를 의미한다. 탄소수 7 또는 8의 알킬아릴기로서는, 예를 들어, 4-메틸페닐기, 3-메틸페닐기, 2-메틸페닐기, 2,4-디메틸페닐기, 3,4-디메틸페닐기, 4-에틸페닐기, 3-에틸페닐기, 2-에틸페닐기 등을 들 수 있다.The alkylaryl group means a monovalent aromatic hydrocarbon group composed of an aromatic carbocyclic ring substituted with a monovalent aliphatic saturated hydrocarbon group. Examples of the alkylaryl group having 7 or 8 carbon atoms include 4-methylphenyl group, 3-methylphenyl group, 2-methylphenyl group, 2,4-dimethylphenyl group, 3,4-dimethylphenyl group, 4-ethylphenyl group, 3- An ethylphenyl group, 2-ethylphenyl group, etc. are mentioned.

n은, 0 이상의 정수이고, 반복 단위수를 나타낸다. n의 평균값은, 바람직하게는 0 이상, 보다 바람직하게는 0.01 이상, 더욱 바람직하게는 0.1 이상, 보다 더 바람직하게는 0.3 이상, 더 한층 보다 바람직하게는 0.5 이상, 특히 바람직하게는 0.6 이상이고, 그 상한은, 바람직하게는 5 이하, 보다 바람직하게는 2 이하, 더욱 바람직하게는 1.5 이하, 특히 바람직하게는 1 이하이다.n is an integer of 0 or more, and represents the number of repeating units. The average value of n is preferably 0 or more, more preferably 0.01 or more, still more preferably 0.1 or more, still more preferably 0.3 or more, still more preferably 0.5 or more, particularly preferably 0.6 or more, The upper limit is preferably 5 or less, more preferably 2 or less, still more preferably 1.5 or less, particularly preferably 1 or less.

(A-1) 특정 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 3,700g/eq.이하, 보다 바람직하게는 2,000g/eq.이하, 특히 바람직하게는 700g/eq.이하이고, 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 244g/eq. 이상, 보다 바람직하게는 260g/eq. 이상, 특히 바람직하게는 270g/eq.이상이다. 에폭시 당량은, 에폭시기 1당량당의 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(A-1) The epoxy equivalent of a specific epoxy resin becomes like this. Preferably it is 3,700 g/eq. or less, More preferably, it is 2,000 g/eq. or less, Especially preferably, it is 700 g/eq. or less, and a minimum is specifically limited. Although not necessarily, it is preferably 244 g/eq. above, more preferably 260 g/eq. or more, particularly preferably 270 g/eq. or more. Epoxy equivalent is the mass of resin per equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JISK7236.

(A-1) 특정 에폭시 수지는, 예를 들어, 국제공개 제2020/129724호에 기재된 방법 또는 이에 준하는 방법을 사용하여 제조할 수 있다.(A-1) A specific epoxy resin can be manufactured using the method described in International Publication No. 2020/129724, or a method equivalent thereto, for example.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다. 전체 불휘발 성분에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 본 발명의 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 3질량% 이상, 특히 바람직하게는 5질량% 이상이다.Although content of (A-1) specific epoxy resin with respect to all non-volatile components in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 50 mass % or less, More Preferably it is 40 mass % or less, More preferably, it is 30 mass % or less, More preferably, it is 20 mass % or less, Especially preferably, it is 15 mass % or less. Although the lower limit of content of (A-1) specific epoxy resin with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, from a viewpoint of acquiring the effect of this invention more remarkably , Preferably it is 0.1 mass % or more, More preferably, it is 0.5 mass % or more, More preferably, it is 1 mass % or more, More preferably, it is 3 mass % or more, Especially preferably, it is 5 mass % or more.

수지 조성물 중의 전체 (A) 에폭시 수지에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전체 (A) 에폭시 수지를 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 80질량% 이하, 특히 바람직하게는 70질량% 이하이다. 전체 (A) 에폭시 수지에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전체 (A) 에폭시 수지를 100질량%라고 한 경우, 본 발명의 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 10질량% 이상, 보다 바람직하게는 30질량% 이상, 특히 바람직하게는 50질량% 이상이다.Although content of (A-1) specific epoxy resin with respect to all (A) epoxy resin in a resin composition is not specifically limited, When all (A) epoxy resin in a resin composition is 100 mass %, Preferably 90 It is mass % or less, More preferably, it is 80 mass % or less, Especially preferably, it is 70 mass % or less. Although the lower limit of content of (A-1) specific epoxy resin with respect to all (A) epoxy resin is not specifically limited, When all (A) epoxy resin in a resin composition is 100 mass %, the effect of this invention is From a viewpoint of obtaining more significantly, Preferably it is 10 mass % or more, More preferably, it is 30 mass % or more, Especially preferably, it is 50 mass % or more.

<(A-2) 기타 에폭시 수지><(A-2) Other Epoxy Resins>

본 발명의 수지 조성물에 있어서 (A) 에폭시 수지는, 임의의 성분으로서 (A-2) 기타 에폭시 수지를 함유하고 있어도 좋다. (A-2) 기타 에폭시 수지는, (A-1)성분에 해당하지 않는 성분이다.The resin composition of this invention WHEREIN: (A) Epoxy resin may contain (A-2) other epoxy resin as arbitrary components. (A-2) Other epoxy resins are components which do not correspond to (A-1) component.

(A-2) 기타 에폭시 수지로서는, 예를 들어, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀S형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 페놀아랄킬형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지, 이소시아누레이트형 에폭시 수지, 페놀프탈이미딘형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. (A-2) 기타 에폭시 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(A-2) Examples of other epoxy resins include bixylenol-type epoxy resins, bisphenol A-type epoxy resins, bisphenol F-type epoxy resins, bisphenol S-type epoxy resins, bisphenol AF-type epoxy resins, and dicyclopentadiene epoxy resins. , Trisphenol type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type Epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, butadiene structure epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy Resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexane type epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, isocyanurate type epoxy resin, phenol A phthalimidine type epoxy resin etc. are mentioned. (A-2) Other epoxy resins may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

수지 조성물은, (A-2) 기타 에폭시 수지로서, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. (A-2) 기타 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.It is preferable that the resin composition contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule as another epoxy resin (A-2). (A-2) The ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule with respect to 100% by mass of the other nonvolatile components of the epoxy resin is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, Especially preferably, it is 70 mass % or more.

에폭시 수지에는, 온도 20℃ 아래에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음.)와, 온도 20℃ 아래에서 고체상의 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음.)가 있다. (A) 에폭시 수지는, (A-2) 기타 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 혹은 고체상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 혹은 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 포함하고 있어도 좋다. (A) 에폭시 수지는, (A-2) 기타 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다.Epoxy resins include a liquid epoxy resin (hereinafter sometimes referred to as “liquid epoxy resin”) at a temperature of 20°C or lower, and a solid epoxy resin at a temperature of 20°C or lower (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). .) is there. (A) The epoxy resin is (A-2) other epoxy resins, and may contain only a liquid epoxy resin, or may contain only a solid epoxy resin, or a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin it's okay to do (A) It is preferable that an epoxy resin contains a liquid epoxy resin as (A-2) another epoxy resin.

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하다.As a liquid epoxy resin, the liquid epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule is preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 글리시롤형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 환상 지방족 글리시딜에테르, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 글리시롤형 에폭시 수지, 환상 지방족 글리시딜에테르, 비스페놀A형 에폭시 수지, 및 비스페놀F형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the liquid epoxy resin include glycyrole-type epoxy resin, bisphenol A-type epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, bisphenol AF-type epoxy resin, naphthalene-type epoxy resin, glycidyl ester-type epoxy resin, glycidylamine-type epoxy resin, Preferred are phenol novolak-type epoxy resins, alicyclic epoxy resins having an ester skeleton, cyclohexanedimethanol-type epoxy resins, cyclic aliphatic glycidyl ethers, and epoxy resins having a butadiene structure, glycyrole-type epoxy resins, and cyclic aliphatic Glycidyl ether, a bisphenol A epoxy resin, and a bisphenol F epoxy resin are more preferable.

액상 에폭시 수지의 구체예로서는, 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-992L」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX7400」, DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「828US」, 「828EL」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코트 828EL」(비스페놀A형 에폭시 수지);미츠비시 케미컬사 제조의 「jER807」, 「1750」(비스페놀F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「630」, 「630LSD」, 「604」(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「ED-523T」(글리시롤형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-3950L」, 「EP-3980S」(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-4088S」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ZX1059」(비스페놀A형 에폭시 수지와 비스페놀F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-991L」 (알킬렌옥시 골격 및 부타디엔 골격 함유 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「PB-3600」, 닛폰 소다사 제조의 「JP-100」, 「JP-200」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미컬사 제조의 「EG-280」(플루오렌 구조 함유 에폭시 수지); 나가세 켐텍스사 제조 「EX-201」(환상 지방족 글리시딜에테르) 등을 들 수 있다.As a specific example of a liquid epoxy resin, "EX-992L" by Nagase Chemtex, "YX7400" by Mitsubishi Chemical, "HP4032" by DIC, "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin); "828US", "828EL", "jER828EL", "825", "Epicoat 828EL" (bisphenol A epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "jER807", "1750" (bisphenol F type) manufactured by Mitsubishi Chemical epoxy resin); "jER152" by Mitsubishi Chemical (phenol novolak type epoxy resin); "630", "630LSD", and "604" (glycidylamine type epoxy resin) by Mitsubishi Chemical Corporation; "ED-523T" by ADEKA (glycyrol type epoxy resin); "EP-3950L" by ADEKA, "EP-3980S" (glycidylamine type epoxy resin); "EP-4088S" by ADEKA (dicyclopentadiene type epoxy resin); "ZX1059" (mixture of a bisphenol A epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "EX-721" by the Nagase Chemtex company (glycidyl ester type epoxy resin); "EX-991L" manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd. (epoxy resin containing alkyleneoxy skeleton and butadiene skeleton); "Celoxide 2021P" by Daicel (alicyclic epoxy resin which has ester skeleton); "PB-3600" by Daicel Corporation, "JP-100" by Nippon Soda Corporation, "JP-200" (epoxy resin having a butadiene structure); "ZX1658", "ZX1658GS" (liquid 1, 4- glycidyl cyclohexane type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "EG-280" by Osaka Gas Chemicals (fluorene structure containing epoxy resin); "EX-201" (cyclic aliphatic glycidyl ether) by the Nagase Chemtex company etc. are mentioned.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, the solid epoxy resin which has 3 or more epoxy groups in 1 molecule is preferable, and the aromatic solid epoxy resin which has 3 or more epoxy groups in 1 molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 페놀아랄킬형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지, 페놀프탈이미딘형 에폭시 수지가 바람직하다.Examples of the solid epoxy resin include a bixylenol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, a naphthol novolak type epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, a trisphenol type epoxy resin , Naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, phenol A phthalimidine type epoxy resin is preferable.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」, 「HP-7200L」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」 (나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3000FH」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ESN475V」, 「ESN4100V」(나프탈렌형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ESN485」(나프톨형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ESN375」(디하이드록시나프탈렌 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YX4000HK」, 「YL7890」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX7700」(페놀아랄킬형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미컬사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」; 미츠비스 케미컬사 제조의 「YL7760」(비스페놀AF형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1010」(비스페놀A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「WHR991S」(페놀프탈이미딘형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이것들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a solid epoxy resin, "HP4032H" by DIC (naphthalene type epoxy resin); "HP-4700", "HP-4710" by DIC company (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin); "N-690" by DIC (cresol novolak-type epoxy resin); "N-695" by DIC (cresol novolak-type epoxy resin); "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H", "HP-7200L" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" by DIC company (naphthylene ether type epoxy resin); "EPPN-502H" by a Nippon Kayaku company (trisphenol type epoxy resin); "NC7000L" by a Nippon Kayaku company (naphthol novolak-type epoxy resin); "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3000FH", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin) by a Nippon Kayaku company; "ESN475V", "ESN4100V" (naphthalene type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "ESN485" (naphthol type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "ESN375" (dihydroxynaphthalene epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "YX4000H", "YX4000", "YX4000HK", "YL7890" by Mitsubishi Chemical Corporation (bixylenol type epoxy resin); "YL6121" by Mitsubishi Chemical (biphenyl type epoxy resin); "YX8800" by Mitsubishi Chemical (anthracene type epoxy resin); "YX7700" by Mitsubishi Chemical (phenol aralkyl type epoxy resin); "PG-100" and "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemicals; "YL7760" (bisphenol AF type|mold epoxy resin) by a Mitsubishi Chemical company; "YL7800" by Mitsubishi Chemical (fluorene type epoxy resin); "jER1010" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol A epoxy resin); "jER1031S" by Mitsubishi Chemical (tetraphenylethane type epoxy resin); "WHR991S" (phenol phthalimidine type epoxy resin) by a Nippon Kayaku company, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(A-2) 기타 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용할 경우, 그것들의 질량비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 바람직하게는 10:1 내지 1:50, 보다 바람직하게는 2:1 내지 1:20, 특히 바람직하게는 1:1 내지 1:10이다.(A-2) As other epoxy resins, when a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination, their mass ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably 10:1 to 1:50, more preferably preferably from 2:1 to 1:20, particularly preferably from 1:1 to 1:10.

(A-2) 기타 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50g/eq.내지 5,000g/eq., 보다 바람직하게는 60g/eq. 내지 2,000g/eq., 더욱 바람직하게는 70g/eq. 내지 1,000g/eq., 보다 더 바람직하게는 80g/eq. 내지 500g/eq.이다. 에폭시 당량은, 에폭시기 1당량당의 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(A-2) The epoxy equivalent of another epoxy resin becomes like this. Preferably it is 50 g/eq. - 5,000 g/eq., More preferably, it is 60 g/eq. to 2,000 g/eq., more preferably 70 g/eq. to 1,000 g/eq., even more preferably 80 g/eq. to 500 g/eq. Epoxy equivalent is the mass of resin per equivalent of epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JISK7236.

(A-2) 기타 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 바람직하게는 100 내지 5,000, 보다 바람직하게는 250 내지 3,000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1,500이다. 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해, 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(A-2) The weight average molecular weight (Mw) of another epoxy resin becomes like this. Preferably it is 100-5,000, More preferably, it is 250-3,000, More preferably, it is 400-1,500. The weight average molecular weight of resin can be measured as a polystyrene conversion value by the gel permeation chromatography (GPC) method.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (A-2) 기타 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 특히 바람직하게는 5질량% 이하이다. 전체 불휘발 성분에 대한 (A-2) 기타 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 예를 들어, 0질량% 이상, 0.01질량% 이상, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 특히 바람직하게는 3질량% 이상이다.Although content of (A-2) other epoxy resin with respect to all non-volatile components in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 30 mass % or less, More Preferably it is 10 mass % or less, Especially preferably, it is 5 mass % or less. Although the lower limit of content of (A-2) other epoxy resin with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, for example, 0 mass % or more, 0.01 It is mass % or more, Preferably it is 0.1 mass % or more, More preferably, it is 1 mass % or more, Especially preferably, it is 3 mass % or more.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (A) 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 70질량% 이하, 보다 바람직하게는 50질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다. 전체 불휘발 성분에 대한 (A) 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 5질량% 이상, 특히 바람직하게는 10질량% 이상이다.Although content of (A) epoxy resin with respect to all the non-volatile components in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 70 mass % or less, More preferably It is 50 mass % or less, More preferably, it is 30 mass % or less, More preferably, it is 20 mass % or less, Especially preferably, it is 15 mass % or less. Although the lower limit of content of (A) epoxy resin with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 0.1 mass % or more, More preferably, 0.5 It is mass % or more, More preferably, it is 1 mass % or more, More preferably, it is 5 mass % or more, Especially preferably, it is 10 mass % or more.

<(B) 활성 에스테르 화합물><(B) active ester compound>

본 발명의 수지 조성물은, (B) 활성 에스테르 화합물을 함유한다. (B) 활성 에스테르 화합물은, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (B) 활성 에스테르 화합물은, (A) 에폭시 수지와 반응해서 경화시키는 에폭시 수지 경화제로서의 기능을 가질 수 있다.The resin composition of the present invention contains (B) an active ester compound. (B) An active ester compound may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios. (B) The active ester compound may have a function as an epoxy resin curing agent that is cured by reacting with the (A) epoxy resin.

(B) 활성 에스테르 화합물로서는, 일반적으로 페놀 에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르 화합물은, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들어 벤조산, 아세트산, 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들어, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀A, 비스페놀F, 비스페놀S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀A, 메틸화 비스페놀F, 메틸화 비스페놀S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기에서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합해서 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.(B) As an active ester compound, in general, two or more ester groups with high reaction activity, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of a heterocyclic hydroxy compound, in 1 molecule A compound having a compound is preferably used. It is preferable that the said active ester compound is obtained by the condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound, and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester compound obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester compound obtained from a carboxylic acid compound, a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are mentioned. Here, a "dicyclopentadiene type diphenol compound" means a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol to one molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, (B) 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물, 및 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 보다 바람직하고, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물이 더욱 바람직하다. 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하다.Specifically, (B) as the active ester compound, a dicyclopentadiene-type active ester compound, a naphthalene-type active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and benzoyl of phenol novolac An active ester compound containing a compound is preferable, and among these, at least one selected from a dicyclopentadiene-type active ester compound and a naphthalene-type active ester compound is more preferable, and a dicyclopentadiene-type active ester compound is still more preferable. do. As the dicyclopentadiene-type active ester compound, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure is preferable.

(B) 활성 에스테르 화합물의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「EXB-8000L」, 「EXB-8000L-65M」, 「EXB-8000L-65TM」, 「HPC-8000L-65TM」, 「HPC-8000」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H」, 「HPC-8000H-65TM」, (DIC사 제조); 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「HP-B-8151-62T」, 「EXB-8100L-65T」, 「EXB-8150-60T」, 「EXB-8150-62T」, 「EXB-9416-70BK」, 「HPC-8150-60T」, 「HPC-8150-62T」, 「EXB-8」(DIC사 제조); 인 함유 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9401」(DIC사 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 케미컬사제), 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」, 「YLH1030」, 「YLH1048」 (미츠비시 케미컬사 제조), 스티릴기 및 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「PC1300-02-65MA」(에어워터사 제조) 등을 들 수 있다.(B) Commercially available active ester compounds are active ester compounds containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, such as "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "EXB-8000L", "EXB-8000L-65M" ”, “EXB-8000L-65TM”, “HPC-8000L-65TM”, “HPC-8000”, “HPC-8000-65T”, “HPC-8000H”, “HPC-8000H-65TM”, (manufactured by DIC) ); As an active ester compound containing a naphthalene structure, "HP-B-8151-62T", "EXB-8100L-65T", "EXB-8150-60T", "EXB-8150-62T", "EXB-9416-70BK" , "HPC-8150-60T", "HPC-8150-62T", "EXB-8" (manufactured by DIC Corporation); "EXB9401" (manufactured by DIC Corporation) as a phosphorus-containing active ester compound, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound that is an acetylated product of phenol novolac, "YLH1026" , "YLH1030", "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical), "PC1300-02-65MA" (manufactured by Air Water Corporation), etc. as an active ester compound containing a styryl group and a naphthalene structure.

(B) 활성 에스테르 화합물의 활성 에스테르기 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 500g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq. 내지 400g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 활성 에스테르기 당량은, 활성 에스테르기 1당량당의 활성 에스테르 화합물의 질량이다.(B) The active ester group equivalent of the active ester compound is preferably 50 g/eq. to 500 g/eq., more preferably 50 g/eq. to 400 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. The active ester group equivalent is the mass of the active ester compound per equivalent of the active ester group.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상, 특히 바람직하게는 8질량% 이상이다. 전체 불휘발 성분에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 25질량% 이하, 특히 바람직하게는 20질량% 이하이다.The content of the (B) active ester compound relative to all nonvolatile components in the resin composition is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, More preferably, it is 5 mass % or more, Especially preferably, it is 8 mass % or more. Although the upper limit of content of (B) active ester compound with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 50 mass % or less, More preferably It is 40 mass % or less, More preferably, it is 30 mass % or less, More preferably, it is 25 mass % or less, Especially preferably, it is 20 mass % or less.

수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 질량비((B)성분/(A) 성분)는, 바람직하게는 0.05 이상, 보다 바람직하게는 0.1 이상, 특히 바람직하게는 0.5 이상이다. 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 질량비((B) 성분/(A) 성분)의 상한은, 바람직하게는 5 이하, 보다 바람직하게는 3 이하, 특히 바람직하게는 1 이하이다.The mass ratio of the (B) active ester compound to the (A) epoxy resin in the resin composition (component (B)/component (A)) is preferably 0.05 or more, more preferably 0.1 or more, particularly preferably 0.5 or more. to be. The upper limit of the mass ratio (component (B)/component (A)) of the (B) active ester compound to the (A) epoxy resin in the resin composition is preferably 5 or less, more preferably 3 or less, particularly preferably 1 or less.

<(B') 기타 경화제><(B') other curing agent>

본 발명의 수지 조성물은, 추가로 임의 성분으로서 (B) 성분 이외의 (B') 경화제를 포함하고 있어도 좋다. (B') 기타 경화제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다. (B') 기타 경화제는, (B) 활성 에스테르 화합물과 마찬가지로, (A) 에폭시 수지와 반응해서 경화시키는 에폭시 수지 경화제로서의 기능을 가질 수 있다.The resin composition of this invention may contain the (B') hardening|curing agent other than (B) component further as an arbitrary component. (B') Other hardening|curing agents may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types arbitrarily. (B') Other hardening agents may have a function as an epoxy resin hardening|curing agent which reacts with (A) an epoxy resin and hardens similarly to (B) an active ester compound.

(B') 기타 경화제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 페놀계 경화제, 카르보디이미드계 경화제, 산 무수물계 경화제, 아민계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 및 티올계 경화제를 들 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 수지 조성물의 경화성을 보다 향상시키는 관점에서, 페놀계 경화제를 포함하는 것이 특히 바람직하다.(B') The other curing agent is not particularly limited, but for example, a phenol-based curing agent, a carbodiimide-based curing agent, an acid anhydride-based curing agent, an amine-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent, and a thiol and curing agents. It is especially preferable that the resin composition of this invention contains a phenol type hardening|curing agent from a viewpoint of improving more sclerosis|hardenability of a resin composition.

페놀계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제가 바람직하다. 또한, 피착체에 대한 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그 중에서도, 내열성, 내수성, 및 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락 수지가 바람직하다. 페놀계 경화제의 구체예로서는, 예를 들어, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「SN-170」, 「SN-180」, 「SN-190」, 「SN-475」, 「SN-485」, 「SN-495」, 「SN-375」, 「SN-395」, DIC사 제조의 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-3018」, 「LA-3018-50P」, 「LA-1356」, 「TD2090」, 「TD-2090-60M」 등을 들 수 있다.As a phenolic hardening|curing agent, the phenolic hardening|curing agent which has a novolak structure from a viewpoint of heat resistance and water resistance is preferable. Moreover, from a viewpoint of the adhesiveness to a to-be-adhered body, a nitrogen-containing phenolic hardening|curing agent is preferable, and a triazine skeleton containing phenolic hardening|curing agent is more preferable. Among them, a triazine skeleton-containing phenol novolac resin is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesiveness. As a specific example of a phenolic hardening|curing agent, For example, "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" by Meiwa Kasei Corporation, "NHN" by Nippon Kayaku Corporation, "CBN", "GPH" ', "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-375" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials. ', "SN-395", "LA-7052", "LA-7054", "LA-3018", "LA-3018-50P", "LA-1356", "TD2090", "TD2090" manufactured by DIC Corporation -2090-60M" etc. are mentioned.

카르보디이미드계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개이상의 카르보디이미드 구조를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들어, 테트라메틸렌-비스(t-부틸카르보디이미드), 사이클로헥산비스(메틸렌-t-부틸카르보디이미드) 등의 지방족 비스카르보디이미드; 페닐렌-비스(크실릴카르보디이미드) 등의 방향족비스카르보디이미드 등의 비스카르보디이미드; 폴리헥사메틸렌카르보디이미드, 폴리트리메틸헥사메틸렌카르보디이미드, 폴리사이클로헥실렌카르보디이미드, 폴리(메틸렌비스사이클로헥실렌카르보디이미드), 폴리(이소포론카르보디이미드) 등의 지방족 폴리카르보디이미드; 폴리(페닐렌카르보디이미드), 폴리(나프틸렌카르보디이미드), 폴리(톨릴렌카르보디이미드), 폴리(메틸디이소프로필페닐렌카르보디이미드), 폴리(트리에틸페닐렌카르보디이미드), 폴리(디에틸페닐렌카르보디이미드), 폴리(트리이소프로필페닐렌카르보디이미드), 폴리(디이소프로필페닐렌카르보디이미드), 폴리(크실릴렌카르보디이미드), 폴리(테트라메틸크실릴렌카르보디이미드), 폴리(메틸렌디페닐렌카르보디이미드), 폴리[메틸렌비스(메틸페닐렌)카르보디이미드] 등의 방향족 폴리카르보디이미드 등의 폴리카르보디이미드를 들 수 있다.Examples of the carbodiimide-based curing agent include curing agents having one or more, preferably two or more carbodiimide structures in one molecule, for example, tetramethylene-bis(t-butylcarbodiimide); aliphatic biscarbodiimides such as cyclohexanebis(methylene-t-butylcarbodiimide); biscarbodiimides such as aromatic biscarbodiimides such as phenylene-bis(xylylcarbodiimide); Aliphatic polycarbodiimides such as polyhexamethylenecarbodiimide, polytrimethylhexamethylenecarbodiimide, polycyclohexylenecarbodiimide, poly(methylenebiscyclohexylenecarbodiimide), and poly(isophoronecarbodiimide) ; Poly(phenylenecarbodiimide), poly(naphthylenecarbodiimide), poly(tolylenecarbodiimide), poly(methyldiisopropylphenylenecarbodiimide), poly(triethylphenylenecarbodiimide) , poly(diethylphenylenecarbodiimide), poly(triisopropylphenylenecarbodiimide), poly(diisopropylphenylenecarbodiimide), poly(xylylenecarbodiimide), poly(tetramethyl) polycarbodiimides such as aromatic polycarbodiimides such as xylylenecarbodiimide), poly(methylenediphenylenecarbodiimide), and poly[methylenebis(methylphenylene)carbodiimide].

카르보디이미드계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들어, 닛신보 케미컬사 제조의 「카르보디라이트 V-02B」, 「카르보디라이트 V-03」, 「카르보디라이트 V-04K」, 「카르보디라이트 V-07」 및 「카르보디라이트 V-09」; 라인 케미사 제조의 「스타바쿠졸 P」, 「스타바쿠졸 P400」, 「하이카딜 510」등을 들 수 있다.As a commercial item of a carbodiimide type hardening|curing agent, "Carbodilite V-02B", "Carbodilite V-03", "Carbodilite V-04K", "Carbodilite" by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. product, for example, are, for example, V-07" and "Carbodilite V-09"; "Stabakusol P", "Stabakusol P400", "Hicardil 510" by the Rhein-Chemistry company, etc. are mentioned.

산 무수물계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 1분자내 중에 2개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제가 바람직하다. 산 무수물계 경화제의 구체예로서는, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수 프탈산, 헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸테트라하이드로 무수 프탈산, 메틸헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸나딕산 무수물, 수소화 메틸나딕산 무수물, 트리알킬테트라하이드로 무수 프탈산, 도데세닐 무수 숙신산, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-사이클로헥센-1,2-디카복실산 무수물, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 벤조페논테트라카복실산 2무수물, 비페닐테트라카복실산 2무수물, 나프탈렌테트라카복실산 2무수물, 옥시디프탈산 2무수물, 3,3'-4,4'-디페닐설폰테트라카복실산 2무수물, 1,3,3a,4,5,9b-헥사하이드로-5-(테트라하이드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안하이드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌·말레산 수지 등의 폴리머형의 산 무수물 등을 들 수 있다. 산 무수물계 경화제의 시판품으로서는, 신닛폰 리카사 제조의 「HNA-100」, 「MH-700」, 「MTA-15」, 「DDSA」, 「OSA」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「YH-306」, 「YH-307」, 히타치 카세이사 제조의 「HN-2200」, 「HN-5500」, 클레이 발레이사 제조 「EF-30」, 「EF-40」 「EF-60」, 「EF-80」 등을 들 수 있다.Examples of the acid anhydride curing agent include curing agents having one or more acid anhydride groups in one molecule, and curing agents having two or more acid anhydride groups in one molecule are preferable. Specific examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, and trialkyltetrahydrophthalic anhydride. , dodecenyl succinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride , benzophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 1,3,3a ,4,5,9b-hexahydro-5- (tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho [1,2-C] furan-1,3-dione, ethylene glycol bis ( anhydrotrimellitate), and polymer-type acid anhydrides, such as styrene maleic acid resin which copolymerized styrene and maleic acid, etc. are mentioned. As a commercial item of an acid anhydride type hardening|curing agent, "HNA-100", "MH-700", "MTA-15", "DDSA", "OSA" by Shin-Nippon Rika Corporation, "YH-306" by Mitsubishi Chemical Corporation , "YH-307", "HN-2200", "HN-5500" manufactured by Hitachi Kasei, "EF-30", "EF-40", "EF-60", "EF-80" manufactured by Clay Valei and the like.

아민계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상의 아미노기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들어, 지방족 아민류, 폴리에테르아민류, 지환식 아민류, 방향족 아민류 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 나타내는 관점에서, 방향족 아민류가 바람직하다. 아민계 경화제는, 제1급 아민 또는 제2급 아민이 바람직하고, 제1급 아민이 보다 바람직하다. 아민계 경화제의 구체예로서는, 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸아닐린), 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 3,3'-디아미노디페닐설폰, m-페닐렌디아민, m-크실릴렌디아민, 디에틸톨루엔디아민, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시벤지딘, 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판, 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄디아민, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)설폰, 비스(4-(3-아미노페녹시)페닐)설폰, 등을 들 수 있다. 아민계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 세이카사 제조 「SEIKACURE-S」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「KAYABOND C-200S」, 「KAYABOND C-100」, 「카야하드 A-A」, 「카야하드 A-B」, 「카야하드 A-S」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「에피큐어 W」 등을 들 수 있다.Examples of the amine-based curing agent include curing agents having one or more, preferably two or more amino groups in one molecule, for example, aliphatic amines, polyetheramines, alicyclic amines, aromatic amines, and the like. Among them, aromatic amines are preferable from the viewpoint of exhibiting the desired effect of the present invention. Primary amine or secondary amine is preferable and, as for an amine type hardening|curing agent, primary amine is more preferable. Specific examples of the amine curing agent include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'- Diaminodiphenylsulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobi Phenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, 3,3 -Dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane , 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4'-bis( 4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone, etc. are mentioned. A commercial item may be used for an amine hardening|curing agent, For example, "SEIKACURE-S" by Seika Corporation, "KAYABOND C-200S" by Nippon Kayaku Corporation, "KAYABOND C-100", "Kayahard A-A", "Kaya Hard A-B", "Kaya Hard A-S", "Epicure W" by Mitsubishi Chemical, etc. are mentioned.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, JFE 케미컬사 제조의 「JBZ-OP100D」, 「ODA-BOZ」; 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」; 시코쿠 카세이코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」 등을 들 수 있다.As a specific example of a benzoxazine type hardening|curing agent, "JBZ-OP100D" by JFE Chemicals, "ODA-BOZ"; "HFB2006M" by Showa Kobunshi Corporation; "P-d", "F-a" manufactured by Shikoku Kaseiko Co., Ltd., etc. are mentioned.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들어, 비스페놀A디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트)), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀A디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(둘 다 페놀 노볼락형 다관능 시아네이트에스테르수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀A디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머)) 등을 들 수 있다.Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo(3-methylene-1,5-phenylene cyanate)), 4,4'-methylenebis(2,6). -Dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4 -Cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4- Bifunctional cyanate resins such as cyanatephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac and cresol novolac, etc., these cyanate resins are partially triazined One prepolymer, etc. are mentioned. Specific examples of the cyanate ester curing agent include "PT30" and "PT60" (both phenol novolac-type polyfunctional cyanate ester resins) manufactured by Ronza Japan, "BA230", "BA230S75" (bisphenol A dicyanate prepolymer))) etc. in which a part or all of it was triazineized and became a trimer.

티올계 경화제로서는, 예를 들어, 트리메틸올프로판트리스(3-머캅토프로피오네이트), 펜타에리스리톨테트라키스(3-머캅토부티레이트), 트리스(3-머캅토프로필)이소시아누레이트 등을 들 수 있다.Examples of the thiol-based curing agent include trimethylolpropane tris(3-mercaptopropionate), pentaerythritol tetrakis(3-mercaptobutyrate), tris(3-mercaptopropyl)isocyanurate, and the like. can

(B') 기타 경화제의 반응기 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 3000g/eq., 보다 바람직하게는 100g/eq. 내지 1000g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 500g/eq., 특히 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 반응기 당량은, 반응기 1당량당의 경화제의 질량이다.(B') The reactive weight of the other curing agent is preferably 50 g/eq. to 3000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 1000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 500 g/eq., particularly preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. The reactor equivalent is the mass of the curing agent per equivalent of the reactor.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (B')기타 경화제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 5질량% 이하, 특히 바람직하게는 3질량% 이하이다. 전체 불휘발 성분에 대한 (B') 기타 경화제의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 예를 들어, 0질량% 이상, 0.01질량% 이상, 0.1질량% 이상, 1질량% 이상 등일 수 있다.Although content of (B') other hardening|curing agent with respect to all non-volatile components in the resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 20 mass % or less, More preferably is 10 mass % or less, more preferably 5 mass % or less, particularly preferably 3 mass % or less The lower limit of the content of (B') other curing agent with respect to the total non-volatile component is not particularly limited, but the resin When the non-volatile component in the composition is 100 mass %, for example, it may be 0 mass % or more, 0.01 mass % or more, 0.1 mass % or more, 1 mass % or more.

수지 조성물 중의 전체 경화제에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 전체 경화제(즉 (B) 활성 에스테르 화합물과 (B') 기타 경화제의 합계)를 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 10질량% 이상, 보다 바람직하게는 30질량% 이상, 더욱 바람직하게는 40질량% 이상, 특히 바람직하게는 50질량% 이상이다.The content of the (B) active ester compound relative to the total curing agent in the resin composition is preferably 100% by mass of the total curing agent in the resin composition (that is, the total of (B) active ester compound and (B') other curing agent). is 10 mass % or more, More preferably, it is 30 mass % or more, More preferably, it is 40 mass % or more, Especially preferably, it is 50 mass % or more.

<(C) 무기 충전재><(C) Inorganic filler>

본 발명의 수지 조성물은, (C) 무기 충전재를 함유한다. (C) 무기 충전재는, 입자의 상태로 수지 조성물에 포함된다.The resin composition of this invention contains (C) an inorganic filler. (C) The inorganic filler is contained in the resin composition in the state of particle|grains.

(C) 무기 충전재의 재료로서는, 무기 화합물을 사용한다. (C) 무기 충전재의 재료로서는, 예를 들어, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화 알루미늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 산화 마그네슘, 질화 붕소, 질화 알루미늄, 질화 망간, 붕산 알루미늄, 탄산 스트론튬, 티탄산 스트론튬, 티탄산 칼슘, 티탄산 마그네슘, 티탄산 비스무트, 산화 티타늄, 산화 지르코늄, 티탄산 바륨, 티탄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산 칼슘, 인산 지르코늄, 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이것들 중에서도, 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들어, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는 구형 실리카가 바람직하다. (C) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.(C) As a material of an inorganic filler, an inorganic compound is used. (C) As the material of the inorganic filler, for example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, hydroxide Aluminum, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, Barium titanate zirconate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, zirconium phosphate tungstate, etc. are mentioned. Among these, silica is particularly suitable. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Moreover, as a silica, spherical silica is preferable. (C) An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios.

(C) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들어, 덴카 카가쿠코교사 제조의 「UFP-30」; 신닛테츠 스미킨 머티리얼즈사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」; 덴카사 제조의 「UFP-30」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」;덴카사 제조의 「DAW-03」, 「FB-105FD」등을 들 수 있다.(C) As a commercial item of an inorganic filler, For example, "UFP-30" by a Denka Chemical Industry Co., Ltd.; "SP60-05", "SP507-05" by the Shin-Nitetsu Sumikin Materials company; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", "YA010C" manufactured by Adomatex Corporation; "UFP-30" by Denka Corporation; "Silly writing NSS-3N", "Silly writing NSS-4N", "Silly writing NSS-5N" manufactured by Tokuyama Corporation; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1" manufactured by Adomatex Corporation; "DAW-03" by Denka Corporation, "FB-105FD", etc. are mentioned.

(C) 무기 충전재의 평균 입자직경은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 1㎛ 이하, 특히 바람직하게는 0.7㎛ 이하이다. (C) 무기 충전재의 평균 입자직경의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.1㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.2㎛ 이상이다. (C) 무기 충전재의 평균 입자직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 넣고, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자직경 분포 측정 장치를 사용하여, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고, 플로우셀 방식으로 무기 충전재의 체적 기준의 입자직경 분포를 측정하여, 얻어진 입자직경 분포로부터 중간 지름으로서 평균 입자직경을 산출하였다. 레이저 회절식 입자직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들어 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-960」등을 들 수 있다.(C) The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 10 µm or less, more preferably 5 µm or less, still more preferably 2 µm or less, still more preferably 1 µm or less, particularly Preferably it is 0.7 micrometer or less. (C) The lower limit of the average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.01 µm or more, more preferably 0.05 µm or more, still more preferably 0.1 µm or more, particularly preferably 0.2 µm or more. . (C) The average particle diameter of an inorganic filler can be measured by the laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by creating the particle diameter distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle diameter distribution measuring apparatus, and making the median diameter into an average particle diameter. As the measurement sample, 100 mg of inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone were put in a vial bottle, and what was dispersed for 10 minutes by ultrasonic wave can be used. Measure the sample to be measured using a laser diffraction particle size distribution measuring device, using a light source wavelength of blue and red, measuring the volume-based particle size distribution of the inorganic filler by a flow cell method, and measuring the median diameter from the obtained particle size distribution The average particle diameter was calculated as As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, "LA-960" by Horiba Corporation, etc. are mentioned, for example.

(C) 무기 충전재의 비표면적은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 0.5㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 1㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. (C) 무기 충전재의 비표면적의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 100㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 70㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 50㎡/g 이하, 특히 바람직하게는 40㎡/g 이하이다. 무기 충전재의 비표면적은, BET법에 따르고, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용해서 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻을 수 있다.(C) The specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but preferably 0.1 m 2 /g or more, more preferably 0.5 m 2 /g or more, still more preferably 1 m 2 /g or more, particularly preferably 3 m2/g or more. (C) The upper limit of the specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 100 m 2 /g or less, more preferably 70 m 2 /g or less, still more preferably 50 m 2 /g or less, particularly preferably is 40 m 2 /g or less. The specific surface area of the inorganic filler can be obtained by adsorbing nitrogen gas to the sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountec) in accordance with the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multi-point method. have.

(C) 무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들어, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.(C) It is preferable that the inorganic filler is treated with the surface treating agent from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. As the surface treatment agent, for example, a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane-based coupling agent, an epoxysilane-based coupling agent, a mercaptosilane-based coupling agent, a silane-based coupling agent, an alkoxysilane, an organosilazane compound, a titanate-based coupler A ring agent etc. are mentioned. In addition, a surface treatment agent may be used individually by 1 type, and may be used combining two or more types arbitrarily.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들어, 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 N-페닐-8-아미노옥틸트리메톡시실란 등을 들 수 있다.As a commercial item of a surface treatment agent, For example, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM403" (3-glycidoxypropyl trimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM803" (3-mercaptopropyltrimethoxy) silane), "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Shin-Etsu Chemical “SZ-31” (hexamethyldisilazane) manufactured by Kogyo Co., Ltd. “KBM103” (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “KBM-4803” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (long-chain epoxy type silane couple) Ring agent), "KBM-7103" (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., N-phenyl-8-aminooctyltrimethoxysilane manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., etc. can be heard

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량%는, 0.2질량% 내지 5질량%의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량% 내지 3질량%로 표면 처리되어 있는 것이 보다 바람직하고, 0.3질량% 내지 2질량%로 표면 처리되어 있는 것이 더욱 바람직하다.It is preferable that the grade of the surface treatment by a surface treatment agent falls within a predetermined range from a viewpoint of the dispersibility improvement of an inorganic filler. Specifically, 100% by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with a surface treatment agent of 0.2% by mass to 5% by mass, more preferably surface-treated at 0.2% by mass to 3% by mass, 0.3% by mass It is more preferable that it is surface-treated at -2 mass %.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 조성물의 용융 점도나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 1.0mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The grade of the surface treatment by a surface treating agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and still more preferably 0.2 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of preventing an increase in melt viscosity of the resin composition or melt viscosity in sheet form, 1.0 mg/m 2 or less is preferable, 0.8 mg/m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is still more preferable. .

(C) 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들어, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용해서 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.(C) The amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler can be measured, after washing-processing the inorganic filler after surface treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, MEK in a sufficient amount as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, followed by ultrasonic cleaning at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" by Horiba Corporation, etc. can be used.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (C) 무기 충전재의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 85질량% 이하, 더욱 바람직하게는 80질량% 이하, 특히 바람직하게는 75질량% 이하일 수 있다. 전체 불휘발 성분에 대한 (C) 무기 충전재의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 40질량% 이상, 보다 바람직하게는 50질량% 이상, 더욱 바람직하게는 60질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 65질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.Although content of (C) inorganic filler with respect to all the non-volatile components in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 90 mass % or less, More preferably 85% by mass or less, more preferably 80% by mass or less, particularly preferably 75% by mass or less. Although the lower limit of content of (C) inorganic filler with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 40 mass % or more, More preferably, 50 It is mass % or more, More preferably, it is 60 mass % or more, More preferably, it is 65 mass % or more, Especially preferably, it is 70 mass % or more.

수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (C) 무기 충전재의 질량비((C) 성분/(A) 성분)는, 바람직하게는 0.5 이상, 보다 바람직하게는 1 이상, 특히 바람직하게는 3 이상이다. 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (C) 무기 충전재의 질량비((C) 성분/ (A) 성분)의 상한은, 바람직하게는 50 이하, 보다 바람직하게는 30 이하, 특히 바람직하게는 10 이하이다.The mass ratio (component (C)/component (A)) of the (C) inorganic filler to the (A) epoxy resin in the resin composition is preferably 0.5 or more, more preferably 1 or more, particularly preferably 3 or more. . The upper limit of the mass ratio (component (C)/component (A)) of the (C) inorganic filler to the (A) epoxy resin in the resin composition is preferably 50 or less, more preferably 30 or less, particularly preferably 10 or less. is below.

<(D) 열가소성 수지><(D) Thermoplastic resin>

본 발명의 수지 조성물은, 추가로 임의 성분으로서 (D) 열가소성 수지를 포함하고 있어도 좋다. 여기에서 설명하는 (D) 열가소성 수지는, (A) 에폭시 수지에 해당하지 않는 성분이다.The resin composition of the present invention may further contain (D) the thermoplastic resin as an optional component. (D) thermoplastic resin demonstrated here is a component which does not correspond to (A) epoxy resin.

(D) 열가소성 수지로서는, 예를 들어, 폴리이미드 수지, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등을 들 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 일 실시형태에 있어서, 폴리이미드 수지 및 페녹시 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 열가소성 수지를 포함하는 것이 바람직하고, 페녹시 수지를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 열가소성 수지는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(D) As the thermoplastic resin, for example, polyimide resin, phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, Polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, polyester resin, etc. are mentioned. In one Embodiment, it is preferable that the resin composition of this invention contains the thermoplastic resin chosen from the group which consists of a polyimide resin and a phenoxy resin, It is more preferable that a phenoxy resin is included. In addition, a thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신에츠 카가쿠코교사 제조 「SLK-6100」, 신닛폰 리카사 제조의 「리카코트 SN20」 및 「리카코트 PN20」등을 들 수 있다.Specific examples of the polyimide resin include "SLK-6100" by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "Ricacoat SN20" and "Licacoat PN20" by Rika Shin-Nippon.

페녹시 수지로서는, 예를 들어, 비스페놀A 골격, 비스페놀F 골격, 비스페놀S 골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종류 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다.Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolak skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene. and phenoxy resins having at least one skeleton selected from the group consisting of skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene skeleton, and trimethylcyclohexane skeleton. Any functional group, such as a phenolic hydroxyl group and an epoxy group, may be sufficient as the terminal of a phenoxy resin.

페녹시 수지의 구체예로서는, 미츠비시 케미컬사 제조의 「1256」 및 「4250」(둘 다 비스페놀A 골격 함유 페녹시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8100」(비스페놀S 골격 함유 페녹시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX6954」(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지); 신닛테츠 스미킨 카가쿠사 제조의 「FX280」 및 「FX293」; 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7500BH30」, 「YX6954BH30」, 「YX7553」, 「YX7553BH30」, 「YL7769BH30」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」, 「YL7482」 및 「YL7891BH30」; 등을 들 수 있다.Specific examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" manufactured by Mitsubishi Chemical (both are bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins); "YX8100" by a Mitsubishi Chemical company (bisphenol S skeleton containing phenoxy resin); "YX6954" by a Mitsubishi Chemical company (bisphenolacetophenone skeleton containing phenoxy resin); "FX280" and "FX293" manufactured by Shin-Nittetsu Sumikin Chemical Co., Ltd.; "YL7500BH30", "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30", "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7482" and "YL7891BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; and the like.

폴리비닐아세탈 수지로서는, 예를 들어, 폴리비닐포르말 수지, 폴리비닐부티랄 수지를 들 수 있고, 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 덴키 카가쿠코교사 제조의 「덴카 부티랄 4000-2」, 「덴카 부티랄 5000-A」, 「덴카 부티랄 6000-C」, 「덴카 부티랄 6000-EP」; 세키스이 카가쿠코교사 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈(예를 들어 BX-5Z), KS 시리즈(예를 들어 KS-1), BL 시리즈, BM 시리즈; 등을 들 수 있다.As polyvinyl acetal resin, polyvinyl formal resin and polyvinyl butyral resin are mentioned, for example, Polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include "Denka Butyral 4000-2", "Denka Butyral 5000-A", "Denka Butyral 6000-C", "Denka Butyral 6000-EP" manufactured by Denki Chemical Co., Ltd. ; S-Rec BH series, BX series (eg BX-5Z), KS series (eg KS-1), BL series, BM series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.; and the like.

폴리올레핀 수지로서는, 예를 들어 저밀도 폴리에틸렌, 초저밀도 폴리에틸렌, 고밀도 폴리에틸렌, 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산 에틸 공중합체, 에틸렌-아크릴산 메틸 공중합체 등의 에틸렌계 공중합 수지; 폴리프로필렌, 에틸렌-프로필렌 블록 공중합체 등의 폴리올레핀계 중합체 등을 들 수 있다.Examples of the polyolefin resin include ethylene-based copolymer resins such as low-density polyethylene, ultra-low-density polyethylene, high-density polyethylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-ethyl acrylate copolymer, and ethylene-methyl acrylate copolymer; Polyolefin polymers, such as a polypropylene and an ethylene-propylene block copolymer, etc. are mentioned.

폴리부타디엔 수지로서는, 예를 들어, 수소화 폴리부타디엔 골격 함유 수지, 하이드록시기 함유 폴리부타디엔 수지, 페놀성 수산기 함유 폴리부타디엔 수지, 카르복시기 함유 폴리부타디엔 수지, 산 무수물기 함유 폴리부타디엔 수지, 에폭시기함유 폴리부타디엔 수지, 이소시아네이트기 함유 폴리부타디엔 수지, 우레탄기 함유 폴리부타디엔 수지, 폴리페닐렌에테르-폴리부타디엔 수지 등을 들 수 있다.Examples of the polybutadiene resin include a hydrogenated polybutadiene skeleton-containing resin, a hydroxyl group-containing polybutadiene resin, a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene resin, a carboxyl group-containing polybutadiene resin, an acid anhydride group-containing polybutadiene resin, and an epoxy group-containing polybutadiene. Resin, isocyanate group containing polybutadiene resin, urethane group containing polybutadiene resin, polyphenylene ether- polybutadiene resin, etc. are mentioned.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보사 제조의 「바이로막스 HR11NN」 및 「바이로막스 HR16NN」을 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체 예로서는 또한, 히타치 카세이사 제조의 「KS9100」, 「KS9300」(폴리실록산 골격함유 폴리아미드이미드) 등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다.As a specific example of polyamide-imide resin, "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" by Toyobo Co., Ltd. are mentioned. Specific examples of the polyamideimide resin include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" (polyamideimide containing polysiloxane skeleton) manufactured by Hitachi Chemical.

폴리에테르설폰 수지의 구체예로서는, 스미토모 카가쿠사 제조의 「PES5003P」 등을 들 수 있다.As a specific example of polyether sulfone resin, the Sumitomo Chemical Company "PES5003P" etc. are mentioned.

폴리설폰 수지의 구체예로서는, 솔베이 어드밴스트 폴리머즈사 제조의 폴리설폰 「P1700」, 「P3500」 등을 들 수 있다.Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers.

폴리페닐렌에테르 수지의 구체예로서는, SABIC 제조 「NORYL SA90」 등을 들 수 있다. 폴리에테르이미드 수지의 구체예로서는, GE사 제조의 「우르템」 등을 들 수 있다.As a specific example of polyphenylene ether resin, SABIC "NORYL SA90" etc. are mentioned. Specific examples of the polyetherimide resin include "Urtem" manufactured by GE Corporation.

폴리카보네이트 수지로서는, 하이드록시기 함유 카보네이트 수지, 페놀성 수산기 함유 카보네이트 수지, 카르복시기 함유 카보네이트 수지, 산 무수물기 함유 카보네이트 수지, 이소시아네이트기 함유 카보네이트 수지, 우레탄기 함유 카보네이트 수지 등을 들 수 있다. 폴리카보네이트 수지의 구체예로서는, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조의 「FPC0220」, 아사히 카세이사 제조의 「T6002」, 「T6001」 (폴리카보네이트디올), 쿠라레사 제조의 「C-1090」, 「C-2090」, 「C-3090」(폴리카보네이트디올) 등을 들 수 있다. 폴리에테르에테르케톤 수지의 구체예로서는, 스미토모 카가쿠사 제조의 「스미프로이 K」등을 들 수 있다.Examples of the polycarbonate resin include a hydroxyl group-containing carbonate resin, a phenolic hydroxyl group-containing carbonate resin, a carboxyl group-containing carbonate resin, an acid anhydride group-containing carbonate resin, an isocyanate group-containing carbonate resin, and a urethane group-containing carbonate resin. Specific examples of the polycarbonate resin include "FPC0220" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical, "T6002", "T6001" (polycarbonate diol) manufactured by Asahi Kasei, "C-1090", "C-2090" manufactured by Kuraray Corporation. , "C-3090" (polycarbonate diol), etc. are mentioned. As a specific example of polyether ether ketone resin, "Sumiproy K" by Sumitomo Chemical Co., Ltd., etc. are mentioned.

폴리에스테르 수지로서는, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리에틸렌나프탈레이트 수지, 폴리부틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리부틸렌나프탈레이트 수지, 폴리트리메틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리트리메틸렌나프탈레이트 수지, 폴리사이클로헥산디메틸테레프탈레이트 수지 등을 들 수 있다.Examples of the polyester resin include polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polybutylene naphthalate resin, polytrimethylene terephthalate resin, polytrimethylene naphthalate resin, polycyclohexanedimethyl tere. A phthalate resin etc. are mentioned.

(D) 열가소성 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서 바람직하게는 5,000 이상, 보다 바람직하게는 8,000 이상, 더욱 바람직하게는 10,000 이상, 특히 바람직하게는 20,000 이상이고, 바람직하게는 100,000 이하, 보다 바람직하게는 70,000 이하, 더욱 바람직하게는 60,000 이하, 특히 바람직하게는 50,000 이하이다.(D) the weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin is preferably 5,000 or more, more preferably 8,000 or more, still more preferably 10,000 or more, particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of significantly obtaining the effect of the present invention, , preferably 100,000 or less, more preferably 70,000 or less, still more preferably 60,000 or less, particularly preferably 50,000 or less.

수지 조성물 중의 전체 불휘발 성분에 대한 (D) 열가소성 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 15질량% 이하, 더욱 바람직하게는 10질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 5질량% 이하, 특히 바람직하게는 3질량% 이하일 수 있다. 전체 불휘발 성분에 대한 (D) 열가소성 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 예를 들어, 0질량% 이상, 0.01질량% 이상, 0.1질량% 이상, 1질량% 이상 등일 수 있다.Although content of (D) thermoplastic resin with respect to all the non-volatile components in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 20 mass % or less, More preferably 15% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, still more preferably 5% by mass or less, particularly preferably 3% by mass or less. Although the lower limit of content of (D) thermoplastic resin with respect to all non-volatile components is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, For example, 0 mass % or more, 0.01 mass % or more , 0.1 mass % or more, 1 mass % or more, and the like.

<(E) 경화 촉진제><(E) curing accelerator>

본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (E) 경화 촉진제를 포함하고 있어도 좋다. (E) 경화 촉진제는, (A) 에폭시 수지의 경화를 촉진시키는 경화 촉매로서의 기능을 갖는다.The resin composition of this invention may contain the (E) hardening accelerator as an arbitrary component. (E) A hardening accelerator has a function as a hardening catalyst which accelerates|stimulates hardening of (A) an epoxy resin.

(E) 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 인계 경화 촉진제, 우레아계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. (E) 경화 촉진제는, 이미다졸계 경화 촉진제 및 아민계 경화 촉진제로부터 선택되는 경화 촉진제를 포함하는 것이 바람직하고, 아민계 경화 촉진제를 포함하는 것이 특히 바람직하다. (E) 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(E) As a hardening accelerator, a phosphorus type hardening accelerator, a urea type hardening accelerator, a guanidine type hardening accelerator, an imidazole type hardening accelerator, a metal type hardening accelerator, an amine type hardening accelerator, etc. are mentioned, for example. (E) The curing accelerator preferably contains a curing accelerator selected from imidazole-based curing accelerators and amine-based curing accelerators, and particularly preferably contains an amine-based curing accelerator. (E) A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 테트라부틸포스포늄브로마이드, 테트라부틸포스포늄클로라이드, 테트라부틸포스포늄아세테이트, 테트라부틸포스포늄데카노에이트, 테트라부틸포스포늄라우레이트, 비스(테트라부틸포스포늄)피로멜리테이트, 테트라부틸포스포늄하이드로젠헥사하이드로프탈레이트, 테트라부틸포스포늄 2,6-비스 [(2-하이드록시-5-메틸페닐)메틸]-4-메틸페노레이트, 디-tert-부틸메틸포스포늄테트라페닐보레이트 등의 지방족 포스포늄염; 메틸트리페닐포스포늄브로마이드, 에틸트리페닐포스포늄브로마이드, 프로필트리페닐포스포늄브로마이드, 부틸트리페닐포스포늄브로마이드, 벤질트리페닐포스포늄클로라이드, 테트라페닐포스포늄브로마이드, p-톨릴트리페닐포스포늄테트라-p-톨릴보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라p-톨릴보레이트, 트리페닐에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(3-메틸페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(2-메톡시페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등의 방향족 포스포늄염; 트리페닐포스핀·트리페닐보란 등의 방향족 포스핀·보란 복합체; 트리페닐포스핀·p-벤조퀴논 부가 반응물 등의 방향족 포스핀·퀴논 부가 반응물; 트리부틸포스핀, 트리-tert-부틸포스핀, 트리옥틸포스핀, 디-tert-부틸(2-부테닐)포스핀, 디-tert-부틸(3-메틸-2-부테닐)포스핀, 트리사이클로헥실포스핀 등의 지방족 포스핀; 디부틸페닐포스핀, 디-tert-부틸페닐포스핀, 메틸디페닐포스핀, 에틸디페닐포스핀, 부틸디페닐포스핀, 디페닐사이클로헥실포스핀, 트리페닐포스핀, 트리-o-톨릴포스핀, 트리-m-톨릴포스핀, 트리-p-톨릴포스핀, 트리스(4-에틸페닐)포스핀, 트리스(4-프로필페닐)포스핀, 트리스(4-이소프로필페닐)포스핀, 트리스(4-부틸페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부틸페닐)포스핀, 트리스(2,4-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸페닐)포스핀, 트리스(3,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,4,6-트리메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸-4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(2-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부톡시페닐)포스핀, 디페닐-2-피리딜포스핀, 1,2-비스(디페닐포스피노)에탄, 1,3-비스(디페닐포스피노)프로판, 1,4-비스(디페닐포스피노)부탄, 1,2-비스(디페닐포스피노)아세틸렌, 2,2'-비스(디페닐포스피노)디페닐에테르 등의 방향족 포스핀 등을 들 수 있다.Examples of the phosphorus-based curing accelerator include tetrabutylphosphonium bromide, tetrabutylphosphonium chloride, tetrabutylphosphonium acetate, tetrabutylphosphoniumdecanoate, tetrabutylphosphonium laurate, bis(tetrabutylphosphonium)pyro melitate, tetrabutylphosphonium hydrogen hexahydrophthalate, tetrabutylphosphonium 2,6-bis[(2-hydroxy-5-methylphenyl)methyl]-4-methylphenolate, di-tert-butylmethylphosphonium aliphatic phosphonium salts such as tetraphenylborate; Methyltriphenylphosphonium bromide, ethyltriphenylphosphonium bromide, propyltriphenylphosphonium bromide, butyltriphenylphosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, tetraphenylphosphonium bromide, p-tolyltriphenylphosphonium tetra- p-tolyl borate, tetraphenylphosphonium tetraphenyl borate, tetraphenylphosphonium tetrap-tolyl borate, triphenylethylphosphonium tetraphenylborate, tris(3-methylphenyl)ethylphosphoniumtetraphenylborate, tris(2-methyl aromatic phosphonium salts such as oxyphenyl)ethylphosphoniumtetraphenylborate, (4-methylphenyl)triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, and butyltriphenylphosphonium thiocyanate; aromatic phosphine/borane complexes such as triphenylphosphine/triphenylborane; Aromatic phosphine-quinone addition reactants, such as a triphenylphosphine/v-benzoquinone addition reactant; tributylphosphine, tri-tert-butylphosphine, trioctylphosphine, di-tert-butyl (2-butenyl) phosphine, di-tert-butyl (3-methyl-2-butenyl) phosphine, aliphatic phosphines such as tricyclohexylphosphine; Dibutylphenylphosphine, di-tert-butylphenylphosphine, methyldiphenylphosphine, ethyldiphenylphosphine, butyldiphenylphosphine, diphenylcyclohexylphosphine, triphenylphosphine, tri-o-tolyl Phosphine, tri-m-tolylphosphine, tri-p-tolylphosphine, tris(4-ethylphenyl)phosphine, tris(4-propylphenyl)phosphine, tris(4-isopropylphenyl)phosphine, Tris(4-butylphenyl)phosphine, tris(4-tert-butylphenyl)phosphine, tris(2,4-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2, 6-dimethylphenyl)phosphine, tris(3,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,4,6-trimethylphenyl)phosphine, tris(2,6-dimethyl-4-ethoxyphenyl)phosphine , tris (2-methoxyphenyl) phosphine, tris (4-methoxyphenyl) phosphine, tris (4-ethoxyphenyl) phosphine, tris (4-tert-butoxyphenyl) phosphine, diphenyl- 2-pyridylphosphine, 1,2-bis(diphenylphosphino)ethane, 1,3-bis(diphenylphosphino)propane, 1,4-bis(diphenylphosphino)butane, 1,2- Aromatic phosphines, such as bis (diphenyl phosphino) acetylene and 2,2'- bis (diphenyl phosphino) diphenyl ether, etc. are mentioned.

우레아계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 1,1-디메틸요소; 1,1,3-트리메틸요소, 3-에틸-1,1-디메틸요소, 3-사이클로헥실-1,1-디메틸요소, 3-사이클로옥틸-1,1-디메틸요소 등의 지방족 디메틸우레아; 3-페닐-1,1-디메틸요소, 3-(4-클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3-클로로-4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(2-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-이소프로필페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메톡시페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-니트로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-메톡시페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-클로로페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[3-(트리플루오로메틸)페닐]-1,1-디메틸요소, N,N-(1,4-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소), N,N-(4-메틸-1,3-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소)〔톨루엔비스디메틸우레아〕등의 방향족 디메틸우레아 등을 들 수 있다.Examples of the urea-based curing accelerator include 1,1-dimethylurea; aliphatic dimethylureas such as 1,1,3-trimethylurea, 3-ethyl-1,1-dimethylurea, 3-cyclohexyl-1,1-dimethylurea, and 3-cyclooctyl-1,1-dimethylurea; 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3-(4-chlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4-dichlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3- Chloro-4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(2-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4 -Dimethylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-isopropylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methoxyphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4 -Nitrophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-methoxyphenoxy)phenyl]-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-chlorophenoxy)phenyl]- 1,1-dimethylurea, 3-[3-(trifluoromethyl)phenyl]-1,1-dimethylurea, N,N-(1,4-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea ), an aromatic dimethylurea such as N,N-(4-methyl-1,3-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea) [toluenebisdimethylurea], and the like.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있다.Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1-(o-tolyl)biguanide, etc. are mentioned.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤 질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 어덕트체를 들 수 있다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Imidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimida Zolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-unde Silimidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-(1′)]-ethyl-s -triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazoleisocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1, 2-a] imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and 2-phenylimidazoline, imidazole compounds and epoxy resins and an adduct body with

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 시코쿠 카세이코교사 제조의 「1B2PZ」, 「2MZA-PW」, 「2PHZ-PW」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, for example, “1B2PZ”, “2MZA-PW”, “2PHZ-PW” manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., “P200-H50” manufactured by Mitsubishi Chemical Company, etc. can be heard

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들어, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organocobalt complexes such as cobalt(II)acetylacetonate and cobalt(III)acetylacetonate, organocopper complexes such as copper(II)acetylacetonate, and zinc(II)acetylacetonate. Organic iron complexes, such as an organic zinc complex, iron(III) acetylacetonate, organic nickel complexes, such as nickel (II) acetylacetonate, organic manganese complexes, such as manganese (II) acetylacetonate, etc. are mentioned. Examples of the organometallic salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있다.Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1,8 -diazabicyclo(5,4,0)-undecene etc. are mentioned.

아민계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 아지노모토 파인테크노사 제조의 「MY-25」등을 들 수 있다.A commercial item may be used as an amine type hardening accelerator, For example, "MY-25" by Ajinomoto Fine Techno, etc. is mentioned.

수지 조성물 중의 (E) 경화 촉진제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 1질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.5질량% 이하, 특히 바람직하게는 0.1질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (E) 경화 촉진제의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 예를 들어, 0질량% 이상, 0.001질량% 이상, 0.01질량% 이상 등일 수 있다.Although content of (E) hardening accelerator in a resin composition is not specifically limited, When the nonvolatile component in a resin composition is 100 mass %, Preferably it is 5 mass % or less, More preferably, it is 1 mass % or less, More Preferably it is 0.5 mass % or less, Especially preferably, it is 0.1 mass % or less. Although the lower limit of content of (E) hardening accelerator in a resin composition is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass %, For example, 0 mass % or more, 0.001 mass % or more, 0.01 mass % or more.

<(F) 기타 첨가제><(F) Other additives>

본 발명의 수지 조성물은, 불휘발 성분으로서, 추가로 임의의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들어, 에폭시아크릴레이트 수지, 우레탄아크릴레이트 수지, 우레탄 수지, 시아네이트 수지, 벤조옥사진 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 페놀 수지, 멜라민 수지, 실리콘 수지, 에폭시 수지 등의 열경화성 수지; 4-비닐페닐, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 말레이미드기(2,5-디하이드로-2,5-디옥소-1H-피롤-1-일기) 등을 갖는 라디칼 중합성 화합물; 과산화물계 라디칼 중합 개시제, 아조계 라디칼 중합 개시제 등의 라디칼 중합 개시제; 고무 입자 등의 유기 충전재; 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물, 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물; 프탈로시아닌 블루, 프탈로시아닌 그린, 아이오딘 그린, 디아조옐로우, 크리스탈 바이올렛, 산화 티타늄, 카본 블랙 등의 착색제; 하이드로퀴논, 카테콜, 피로갈롤, 페노티아진 등의 중합 금지제; 실리콘계 레벨링제, 아크릴 폴리머계 레벨링제 등의 레벨링제; 벤톤, 몬모릴로나이트 등의 증점제; 실리콘계 소포제, 아크릴계 소포제, 불소계 소포제, 비닐 수지계 소포제 등의 소포제; 벤조트리아졸계 자외선 흡수제 등의 자외선 흡수제; 요소 실란 등의 접착성 향상제; 트리아졸계 밀착성 부여제, 테트라졸계 밀착성 부여제, 트리아진계 밀착성 부여제 등의 밀착성 부여제; 힌더드페놀계 산화 방지제 등의 산화 방지제; 스틸벤 유도체 등의 형광 증백제; 불소계 계면활성제, 실리콘계 계면활성제 등의 계면활성제; 인계 난연제(예를 들어 인산 에스테르 화합물, 포스파젠 화합물, 포스핀 산 화합물, 적인), 질소계 난연제(예를 들어 황산 멜라민), 할로겐계 난연제, 무기계 난연제(예를 들어 3산화 안티몬) 등의 난연제; 인산 에스테르계 분산제, 폴리옥시알킬렌계 분산제, 아세틸렌계 분산제, 실리콘계 분산제, 음이온성 분산제, 양이온성 분산제 등의 분산제; 보레이트계 안정제, 티타네이트계 안정제, 알루미네이트계 안정제, 지르코네이트계 안정제, 이소시아네이트계 안정제, 카복실산계 안정제, 카복실산 무수물계 안정제 등의 안정제 등을 들 수 있다. (F) 기타 첨가제는, 1종을 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (F) 기타 첨가제의 함유량은 당업자이면 적절히 설정할 수 있다.The resin composition of this invention may contain arbitrary additives further as a non-volatile component. Examples of such additives include thermosetting resins such as epoxy acrylate resins, urethane acrylate resins, urethane resins, cyanate resins, benzoxazine resins, unsaturated polyester resins, phenol resins, melamine resins, silicone resins, and epoxy resins. ; a radically polymerizable compound having 4-vinylphenyl, an acryloyl group, a methacryloyl group, a maleimide group (2,5-dihydro-2,5-dioxo-1H-pyrrol-1-yl group) or the like; radical polymerization initiators such as peroxide radical polymerization initiators and azo radical polymerization initiators; organic fillers such as rubber particles; organometallic compounds such as an organocopper compound, an organozinc compound, and an organocobalt compound; colorants such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, diazo yellow, crystal violet, titanium oxide, and carbon black; polymerization inhibitors such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, and phenothiazine; leveling agents such as silicone-based leveling agents and acrylic polymer-based leveling agents; thickeners such as bentone and montmorillonite; Antifoaming agents, such as a silicone type antifoamer, an acrylic type antifoamer, a fluorine type antifoamer, and a vinyl resin type antifoamer; ultraviolet absorbers such as benzotriazole-based ultraviolet absorbers; adhesion improvers such as urea silane; adhesion-imparting agents such as triazole-based adhesion-imparting agents, tetrazole-based adhesion-imparting agents, and triazine-based adhesion-imparting agents; antioxidants such as hindered phenolic antioxidants; optical brighteners such as stilbene derivatives; surfactants such as fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants; Flame retardants such as phosphorus-based flame retardants (eg, phosphoric acid ester compounds, phosphazene compounds, phosphinic acid compounds, red), nitrogen-based flame retardants (eg, melamine sulfate), halogen-based flame retardants, and inorganic flame retardants (eg, antimony trioxide) ; dispersants such as phosphoric acid ester dispersants, polyoxyalkylene dispersants, acetylene dispersants, silicone dispersants, anionic dispersants, and cationic dispersants; and stabilizers such as borate stabilizers, titanate stabilizers, aluminate stabilizers, zirconate stabilizers, isocyanate stabilizers, carboxylic acid stabilizers, and carboxylic acid anhydride stabilizers. (F) Other additives may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios. (F) If it is a person skilled in the art, content of other additives can be set suitably.

<(G) 유기 용제><(G) organic solvent>

본 발명의 수지 조성물은, 상술한 불휘발 성분 이외에, 휘발성 성분으로서, 추가로 임의의 유기용제를 함유하는 경우가 있다. (G) 유기 용제로서는, 공지의 것을 적절히 사용할 수 있고, 그 종류는 특별히 한정되는 것은 아니다. (G) 유기 용제로서는, 예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 사이클로헥사논 등의 케톤계 용제; 아세트산 메틸, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 아세트산 이소부틸, 아세트산 이소아밀, 프로피온산 메틸, 프로피온산 에틸, γ-부티로락톤 등의 에스테르계 용제; 테트라하이드로피란, 테트라하이드로푸란, 1,4-디옥산, 디에틸에테르, 디이소프로필에테르, 디부틸에테르, 디페닐에테르, 아니솔 등의 에테르계 용제; 메탄올, 에탄올, 프로판올, 부탄올, 에틸렌글리콜 등의 알코올계 용제; 아세트산 2-에톡시에틸, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸디글리콜아세테이트, γ-부티로락톤, 메톡시프로피온산메틸 등의 에테르 에스테르계 용제; 젖산 메틸, 젖산 에틸, 2-하이드록시이소부티르산 메틸 등의 에스테르 알코올계 용제; 2-메톡시프로판올, 2-메톡시에탄올, 2-에톡시에탄올, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르(부틸카르비톨) 등의 에테르 알코올계 용제; N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈 등의 아미드계 용제; 디메틸설폭사이드 등의 설폭사이드계 용제; 아세토니트릴, 프로피오니트릴 등의 니트릴계 용제; 헥산, 사이클로펜탄, 사이클로헥산, 메틸사이클로헥산 등의 지방족 탄화수소계 용제; 벤젠, 톨루엔, 크실렌, 에틸벤젠, 트리메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소계 용제 등을 들 수 있다. (G) 유기 용제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of this invention may contain further arbitrary organic solvents as a volatile component other than the nonvolatile component mentioned above. (G) As an organic solvent, a well-known thing can be used suitably, The kind is not specifically limited. (G) Examples of the organic solvent include ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; ester solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, isoamyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, and γ-butyrolactone; ether solvents such as tetrahydropyran, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, diphenyl ether, and anisole; alcohol solvents such as methanol, ethanol, propanol, butanol, and ethylene glycol; ether ester solvents such as 2-ethoxyethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, ethyl diglycol acetate, γ-butyrolactone, and methyl methoxypropionate; ester alcohol solvents such as methyl lactate, ethyl lactate, and methyl 2-hydroxyisobutyrate; ether alcohol solvents such as 2-methoxypropanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, propylene glycol monomethyl ether, and diethylene glycol monobutyl ether (butyl carbitol); amide solvents such as N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone; sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide; nitrile solvents such as acetonitrile and propionitrile; aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, cyclopentane, cyclohexane and methylcyclohexane; and aromatic hydrocarbon solvents such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene and trimethylbenzene. (G) The organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used combining 2 or more types by arbitrary ratios.

건조 전의 바니시상의 수지 조성물 중의 (G) 유기 용제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전체 성분을 100질량%라고 한 경우, 예를 들어, 40질량% 이하, 30질량% 이하, 바람직하게 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 8질량% 이하, 특히 바람직하게는 6질량% 이하이다. 수지 시트에서의 건조 후의 수지 조성물층을 형성하는 수지 조성물 중의 (G)유기 용제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전체 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 3질량% 이하, 더욱 바람직하게는 2질량% 이하, 특히 바람직하게는 1질량% 이하이다.Although content of (G) organic solvent in the varnish-like resin composition before drying is not specifically limited, When all the components in a resin composition are 100 mass %, For example, 40 mass % or less, 30 mass % or less, Preferably Preferably it is 20 mass % or less, More preferably, it is 10 mass % or less, More preferably, it is 8 mass % or less, Especially preferably, it is 6 mass % or less. Although content of (G) organic solvent in the resin composition which forms the resin composition layer after drying in a resin sheet is not specifically limited, When all the components in a resin composition are 100 mass %, Preferably 5 mass % or less, More preferably, it is 3 mass % or less, More preferably, it is 2 mass % or less, Especially preferably, it is 1 mass % or less.

<수지 조성물의 제조 방법><Method for producing a resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, 예를 들어, 임의의 조제 용기에 (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, (C) 무기 충전재, 필요에 따라서 (D) 열가소성 수지, 필요에 따라서 (E) 경화 촉진제, 필요에 따라서 (F) 기타 첨가제, 및 필요에 따라서 (G) 유기 용제를, 임의의 순서로 및/또는 일부 혹은 전부 동시에 첨가하여 혼합 함으로써 제조할 수 있다. 또한, 각 성분을 첨가하여 혼합하는 과정에서, 온도를 적절히 설정할 수 있고, 일시적으로 또는 시종에 걸쳐, 가열 및/또는 냉각해도 좋다. 또한, 첨가하여 혼합하는 과정에서 또는 그 후에, 수지 조성물을, 예를 들어, 믹서 등의 교반 장치 또는 진탕 장치를 이용해서 교반 또는 진탕하고, 균일하게 분산시켜도 좋다. 또한, 교반 또는 진탕과 동시에, 진공 하 등의 저압 조건 하에서 탈포를 수행하여도 좋다.The resin composition of the present invention may be prepared, for example, in an arbitrary preparation container with (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, (C) an inorganic filler, optionally (D) a thermoplastic resin, and optionally (E) It can manufacture by adding and mixing a hardening accelerator, (F) other additive as needed, and (G) organic solvent as needed in arbitrary order and/or part or all simultaneously. In addition, in the process of adding and mixing each component, temperature can be set suitably, and you may heat and/or cool over temporarily or continuously. In addition, in the process of adding and mixing, or after that, the resin composition may be stirred or shaken using, for example, stirring apparatuses, such as a mixer, or a shaking apparatus, and may be disperse|distributed uniformly. Further, at the same time as stirring or shaking, defoaming may be performed under low pressure conditions such as under vacuum.

<수지 조성물의 특성><Characteristics of the resin composition>

본 발명의 수지 조성물은, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고, (A) 성분이, 상기에서 설명한 (A-1) 특정 에폭시 수지를 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, and the component (A) contains the specific epoxy resin (A-1) described above . By using such a resin composition, a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent smear removability and elongation at break can be obtained.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 파단점 신도가 우수하다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 본 발명의 수지 조성물의 경화물의 파단점 신도는, 하기 시험예 3과 같이 JIS K7127에 준거해서 23℃에서 측정한 경우, 바람직하게는 0.5% 이상, 보다 바람직하게는 0.8% 이상, 더욱 바람직하게는 1.0% 이상, 보다 더 바람직하게는 1.2% 이상, 특히 바람직하게는 1.4% 이상일 수 있다. 파단점 신도의 상한은, 통상, 10% 이하, 5% 이하 등으로 할 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention may have a characteristic of being excellent in elongation at break. Therefore, in one embodiment, when the elongation at break of the cured product of the resin composition of the present invention is measured at 23° C. according to JIS K7127 as in Test Example 3 below, preferably 0.5% or more, more preferably 0.8% or more, more preferably 1.0% or more, even more preferably 1.2% or more, particularly preferably 1.4% or more. The upper limit of the elongation at break can be usually 10% or less, 5% or less, or the like.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 스미어 제거성이 우수하다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험예 2와 같이 경화물 표면에서의 탑 지름이 50㎛, 비아홀 저면에서의 직경이 40㎛의 비아홀을 형성하고, 조화 처리 후, 비아홀 바닥부의 벽면으로부터의 최대 스미어 길이를 측정한 경우, 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만이 될 수 있다.The hardened|cured material of the resin composition of this invention may have the characteristic that it is excellent in smear removability. Therefore, in one embodiment, as in Test Example 2 below, a via hole having a top diameter of 50 μm on the surface of the cured product and a diameter of 40 μm on the bottom of the via hole is formed, and after roughening, the maximum from the wall surface of the bottom of the via hole When the smear length is measured, the maximum smear length may be less than 5 μm.

본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 유전정접(Df)이 낮다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험예 1과 같이 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우의 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)은, 바람직하게는 0.0100 이하, 0.0080 이하, 보다 바람직하게는 0.0070 이하, 0.0060 이하, 더욱 바람직하게는 0.0050 이하, 0.0045 이하, 특히 바람직하게는 0.0040 이하, 0.0035 이하가 될 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention may have a low dielectric loss tangent (Df). Therefore, in one embodiment, the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition when measured at 5.8 GHz and 23° C. as in Test Example 1 below is preferably 0.0100 or less, 0.0080 or less, more preferably 0.0070 or less. or less, 0.0060 or less, more preferably 0.0050 or less, 0.0045 or less, particularly preferably 0.0040 or less, and 0.0035 or less.

일 실시형태에 있어서, 본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 비유전율(Dk)이 낮다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험예 1과 같이 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우의 수지 조성물의 경화물의 비유전율(Dk)은, 바람직하게는 5.0 이하, 보다 바람직하게는 4.5 이하, 더욱 바람직하게는 4.0 이하, 보다 더 바람직하게는 3.7 이하, 특히 바람직하게는 3.5 이하, 3.4 이하가 될 수 있다.In one embodiment, the cured product of the resin composition of the present invention may have a characteristic that the dielectric constant (Dk) is low. Therefore, in one embodiment, the dielectric constant (Dk) of the cured product of the resin composition when measured at 5.8 GHz and 23° C. as in Test Example 1 below is preferably 5.0 or less, more preferably 4.5 or less, further Preferably it is 4.0 or less, More preferably, it is 3.7 or less, Especially preferably, it may be 3.5 or less and 3.4 or less.

<수지 시트><Resin sheet>

본 발명의 수지 조성물은, 바니시 상태로 도포해서 사용할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 당해 수지 조성물을 함유하는 수지 시트의 형태로 사용하는 것이 적합하다.Although the resin composition of this invention can be apply|coated and used in the state of a varnish, it is suitable industrially generally to use it with the form of the resin sheet containing the said resin composition.

본 발명의 수지 시트는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 시트(프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 시트)이다.The resin sheet of the present invention is a resin sheet for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (resin sheet for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board).

수지 시트는, 일 실시형태에 있어서, 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된 수지 조성물층을 갖고, 수지 조성물층은 상기에서 설명한 수지 조성물로 형성된다.In one Embodiment, a resin sheet has a support body and the resin composition layer provided on the said support body, The resin composition layer is formed from the resin composition demonstrated above.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 당해 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 5㎛ 이상, 10㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 50 µm or less, more preferably 40 µm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product excellent in insulation even if the cured product of the resin composition is a thin film. . Although the lower limit of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, it can be 5 micrometers or more, 10 micrometers or more, etc.

지지체로서는, 예를 들어, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.As a support body, the film which consists of a plastic material, metal foil, and a release paper are mentioned, for example, The film which consists of a plastic material, and metal foil are preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용할 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음.) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음.), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When a film made of a plastic material is used as the support, the plastic material is, for example, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PEN”). .) polyester, polycarbonate (hereinafter, may be abbreviated as “PC”), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES) ), polyether ketone, polyimide, and the like. Among these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용할 경우, 금속박으로서는, 예를 들어, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들어, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다. When using metal foil as a support body, as metal foil, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned, for example, Copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and another metal (eg, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good night.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다.A support body may give a mat treatment, a corona treatment, and an antistatic treatment to the surface to join with the resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들어, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.Moreover, as a support body, you may use the support body with a mold release layer which has a mold release layer on the surface to join with a resin composition layer. As a mold release agent used for the mold release layer of a support body with a mold release layer, 1 or more types of mold release agents are mentioned from the group which consists of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin, for example. The support with a release layer may use a commercial item, for example, "SK-1", "AL-5", "AL-" manufactured by Lintec which is a PET film which has a release layer which has an alkyd resin type mold release agent as a main component. 7", "Lumira T60" by Tore Corporation, "Purex" by Teijin Corporation, "Unipil" by Unichika Corporation, etc. are mentioned.

지지체의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 한편, 이형층 부착 지지체를 사용할 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although the thickness of a support body is not specifically limited, The range of 5 micrometers - 75 micrometers is preferable, and the range of 10 micrometers - 60 micrometers is more preferable. On the other hand, when using a support body with a mold release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a mold release layer is the said range.

일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 또한 필요에 따라서, 임의의 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 임의의 층으로서는, 예를 들어, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 마련된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further contain arbitrary layers as needed. As such an arbitrary layer, the protective film according to the support body etc. which were provided in the surface which is not joined to the support body of a resin composition layer (that is, the surface on the opposite side to a support body), etc. are mentioned, for example. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer - 40 micrometers. By laminating|stacking a protective film, adhesion of dust, etc. to the surface of a resin composition layer, and a flaw can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들어, 액상의 수지 조성물을 그대로, 혹은 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이것을, 다이코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 추가로 건조시켜서 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.A resin sheet is, for example, a liquid resin composition as it is, or a resin varnish obtained by dissolving a resin composition in an organic solvent is prepared, this is applied on a support using a die coater or the like, and further dried to form a resin composition layer It can be manufactured by forming.

유기 용제로서는, 수지 조성물의 성분으로서 설명한 유기 용제와 동일한 것을 들 수 있다. 유기용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As an organic solvent, the thing similar to the organic solvent demonstrated as a component of a resin composition is mentioned. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 조성물 또는 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 의해서도 다르지만, 예를 들어 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 조성물 또는 수지 바니시를 사용할 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.You may perform drying by well-known methods, such as a heating and hot air spraying. Although drying conditions are not specifically limited, Content of the organic solvent in a resin composition layer is 10 mass % or less, Preferably, it is dried so that it may become 5 mass % or less. Although it changes also depending on the boiling point of the organic solvent in a resin composition or resin varnish, for example, when using the resin composition or resin varnish containing 30 mass % - 60 mass % of an organic solvent, 50 degreeC - 150 degreeC for 3 minutes to 10 minutes By drying, a resin composition layer can be formed.

수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 가질 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.A resin sheet can be wound up and stored in roll shape. When a resin sheet has a protective film, it becomes usable by peeling off a protective film.

<프린트 배선판><Printed wiring board>

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물을 경화해서 얻어지는 경화물로 이루어진 절연층을 포함한다.The printed wiring board of this invention contains the insulating layer which consists of hardened|cured material obtained by hardening|curing the resin composition of this invention.

프린트 배선판은, 예를 들어, 상술의 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다. A printed wiring board can be manufactured by the method including the process of following (I) and (II) using the above-mentioned resin sheet, for example.

(I) 내층 기판 위에, 수지 시트를, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) A step of laminating a resin sheet on the inner layer substrate so that the resin composition layer of the resin sheet is bonded to the inner layer substrate

(II) 수지 조성물층을 경화(예를 들어 열경화)해서 절연층을 형성하는 공정(II) Step of curing (eg, thermosetting) the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들어, 유리 에폭시기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 당해 기판은, 그 한 면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 한 면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 말하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조품도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용해도 좋다.The "inner-layer substrate" used in step (I) is a member used as a substrate for a printed wiring board, for example, a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene. An ether substrate etc. are mentioned. Moreover, the said board|substrate may have a conductor layer on the one side or both surfaces, and this conductor layer may be pattern-processed. An inner-layer substrate in which a conductor layer (circuit) is formed on one or both surfaces of the substrate is sometimes referred to as an "inner-layer circuit board". In addition, when manufacturing a printed wiring board, the intermediate manufactured product in which an insulating layer and/or a conductor layer should further be formed is also included in the "inner-layer board|substrate" referred to in this invention. When a printed wiring board is a component-embedded circuit board, you may use the inner-layer board which incorporated components.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들어, 지지체측으로부터 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 수행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함.)로서는, 예를 들어, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 한편, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by heat-compressing the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. As a member (hereinafter also referred to as a "thermocompression bonding member") which heat-compresses a resin sheet to an inner-layer board|substrate, a heated metal plate (SUS mirror plate etc.), a metal roll (SUS roll), etc. are mentioned, for example. On the other hand, it is preferable not to press the thermocompression-bonding member directly to the resin sheet, but to press through an elastic material, such as a heat-resistant rubber, so that the resin sheet may fully follow the surface unevenness|corrugation of an inner-layer board|substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이고, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에서 실시될 수 있다.You may perform lamination|stacking of an inner-layer board|substrate and a resin sheet by the vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the thermocompression compression temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably 80°C to 140°C, and the thermocompression compression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat compression time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, and more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. The lamination may be preferably carried out under reduced pressure conditions of a pressure of 26.7 hPa or less.

적층은, 시판의 진공 라미네이터에 의해 수행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들어, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed with a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, the vacuum pressure laminator by the Meiki Sesakusho company, the vacuum applicator by the Nikko Materials company, a batch type vacuum pressure laminator, etc. are mentioned, for example.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들어, 가열 압착 부재를 지지체측으로부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 수행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판의 라미네이터에 의해 수행할 수 있다. 한편, 적층과 평활화 처리는, 상기의 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 수행하여도 좋다.After lamination, a smoothing treatment of the laminated resin sheet may be performed under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing the thermocompression-bonding member from the support side. The press conditions of the smoothing process can be made into the conditions similar to the thermocompression-bonding conditions of the said lamination|stacking. A smoothing process can be performed with a commercially available laminator. In addition, the lamination|stacking and smoothing process may be performed continuously using the above-mentioned commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between the steps (I) and (II) or after the step (II).

공정 (II)에 있어서, 수지 조성물층을 경화(예를 들어 열경화)하여, 수지 조성물의 경화물로 이루어진 절연층을 형성한다. 수지 조성물층의 경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성함으로써 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.Step (II) WHEREIN: The resin composition layer is hardened (for example, thermosetting), and the insulating layer which consists of a hardened|cured material of a resin composition is formed. Curing conditions of a resin composition layer are not specifically limited, You may use the conditions normally employ|adopted by forming the insulating layer of a printed wiring board.

예를 들어, 수지 조성물층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 따라서도 다르지만, 일 실시형태에 있어서, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 210℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다.For example, although the thermosetting conditions of the resin composition layer also vary depending on the type of resin composition, etc., in one embodiment, the curing temperature is preferably 120°C to 240°C, more preferably 150°C to 220°C, More preferably, it is 170 degreeC - 210 degreeC. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, still more preferably 15 minutes to 100 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들어, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 내지 120℃, 바람직하게는 60℃ 내지 115℃, 보다 바람직하게는 70℃ 내지 110℃의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상, 바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간 예비 가열해도 좋다.Before thermosetting a resin composition layer, you may preheat a resin composition layer at temperature lower than hardening temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, at a temperature of 50 ° C. to 120 ° C., preferably 60 ° C. to 115 ° C., more preferably 70 ° C. to 110 ° C., for 5 minutes or more, Preferably, you may preheat for 5 minutes - 150 minutes, More preferably, it is 15 minutes - 120 minutes, More preferably, you may preheat for 15 minutes - 100 minutes.

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지의 각종 방법에 따라서 실시해도 좋다. 한편, 지지체를 공정 (II) 후에 제거할 경우, 당해 지지체의 제거는, 공정 (II)과 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이, 또는 공정(IV)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라서, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복해서 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, you may perform further the process of (III) the process of drilling into an insulating layer, (IV) the process of roughening an insulating layer, and (V) the process of forming a conductor layer. You may implement these process (III) - process (V) according to various methods well-known to those skilled in the art used for manufacture of a printed wiring board. On the other hand, when the support is removed after the step (II), the removal of the support is carried out between the steps (II) and (III), between the steps (III) and (IV), or between the steps (IV) and the step (V). ) may be performed between In addition, if necessary, the formation of the insulating layer and the conductor layer in the steps (II) to (V) may be repeated to form a multilayer wiring board.

다른 실시형태에 있어서, 본 발명의 프린트 배선판은, 상술의 프리프레그를 사용하여 제조할 수 있다. 제조 방법은 기본적으로 수지 시트를 사용할 경우와 동일하다.In another embodiment, the printed wiring board of this invention can be manufactured using the above-mentioned prepreg. The manufacturing method is basically the same as that in the case of using a resin sheet.

공정 (III)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따르고, 예를 들어, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용해서 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라서 적절히 결정해도 좋다.Step (III) is a step of drilling holes in the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, etc. depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer. You may determine the dimension and shape of a hole suitably according to the design of a printed wiring board.

공정 (IV)는, 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에 있어서, 스미어의 제거도 수행된다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들어, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서로 실시해서 절연층을 조화 처리할 수 있다.Process (IV) is a process of roughening an insulating layer. Usually, in this process (IV), the removal of smear is also performed. The procedure and conditions of a roughening process are not specifically limited, When forming the insulating layer of a printed wiring board, the well-known procedure and conditions normally used are employable. For example, the swelling process by a swelling liquid, the roughening process by an oxidizing agent, and the neutralization process by a neutralizing liquid can be performed in this order, and an insulating layer can be roughened.

조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 당해 알칼리 용액으로서는, 수산화 나트륨 용액, 수산화 칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되어 있는 팽윤액으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「스웰링 딥 세큐리간스 P」, 「스웰링 딥 세큐리간스 SBU」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 수행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적절한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다.Although it does not specifically limit as a swelling liquid used for a roughening process, An alkali solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkali solution, As said alkali solution, sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable. As a commercially available swelling liquid, "Swelling Deep Security P", "Swelling Deep Security SBU" by Atotech Japan, etc. are mentioned, for example. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can perform by immersing an insulating layer in a 30 degreeC-90 degreeC swelling liquid for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling solution at 40°C to 80°C for 5 minutes to 15 minutes.

조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 수산화 나트륨의 수용액에 과망간산 칼륨 또는 과망간산 나트륨을 용해한 알카리성과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 100℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 수행하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되어 있는 산화제로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「콘센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 세큐리간스 P」등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다.Although it does not specifically limit as an oxidizing agent used for a roughening process, For example, the alkaline permanganate solution which melt|dissolved potassium permanganate or sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 100°C for 10 minutes to 30 minutes. Moreover, as for the density|concentration of the permanganate in an alkaline permanganic acid solution, 5 mass % - 10 mass % are preferable. As a commercially available oxidizing agent, alkaline permanganic acid solutions, such as "concentrate compact CP" and "dosing solution securigans P" by Atotech Japan, are mentioned, for example.

또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」를 들 수 있다.Moreover, as a neutralization liquid used for a roughening process, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial item, "reduction solution securigant P" by Atotech Japan company is mentioned, for example.

중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 된 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 수행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 된 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.The treatment with the neutralizing solution can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in a neutralizing solution at 30°C to 80°C for 5 minutes to 30 minutes. The method of immersing the target object to which the roughening process by an oxidizing agent was carried out in the neutralization liquid of 40 degreeC - 70 degreeC from points, such as workability|operativity, for 5 minutes - 20 minutes is preferable.

일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 500nm 이하, 보다 바람직하게는 400nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들어, 1nm 이상, 2nm 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 조화 처리 후의 절연층 표면의 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 바람직하게는 500nm 이하, 보다 바람직하게는 400nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들어, 1nm 이상, 2nm 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 자승 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 비접촉형 표면 조도계를 이용해서 측정할 수 있다.In one embodiment, although the arithmetic mean roughness Ra of the insulating layer surface after a roughening process is not specifically limited, Preferably it is 500 nm or less, More preferably, it is 400 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. It does not specifically limit about a lower limit, For example, it can be set as 1 nm or more, 2 nm or more, etc. Moreover, the root mean square roughness (Rq) of the insulating layer surface after a roughening process becomes like this. Preferably it is 500 nm or less, More preferably, it is 400 nm or less, More preferably, it is 300 nm or less. It does not specifically limit about a lower limit, For example, it can be set as 1 nm or more, 2 nm or more, etc. The arithmetic mean roughness (Ra) and the root mean square roughness (Rq) of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact type surface roughness meter.

공정 (V)는, 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 위에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들어, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들어, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티타늄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 혹은 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 혹은 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.A process (V) is a process of forming a conductor layer, and forms a conductor layer on an insulating layer. The conductor material used for a conductor layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer is, for example, an alloy of two or more metals selected from the group described above (eg, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, and copper-titanium). a layer formed of an alloy). Among them, from the viewpoints of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy , a copper/titanium alloy alloy layer is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel/chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper This is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 혹은 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층한 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 혹은 티타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.Although the thickness of a conductor layer depends on the design of a desired printed wiring board, it is 3 micrometers - 35 micrometers generally, Preferably it is 5 micrometers - 30 micrometers.

일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들어, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of the insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full-additive method, and from the viewpoint of simplicity of manufacture, a semi-additive method It is preferable to form by the additive method. Hereinafter, an example in which a conductor layer is formed by a semi-additive method is shown.

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 그 다음에, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응해서 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Then, on the formed plating seed layer, a mask pattern for exposing a part of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern is formed. After forming a metal layer by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

다른 실시형태에 있어서, 도체층은, 금속박을 사용해서 형성해도 좋다. 금속박을 사용해서 도체층을 형성할 경우, 공정 (V)는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 실시하는 것이 적합하다. 예를 들어, 공정 (I) 후, 지지체를 제거하여, 노출된 수지 조성물층의 표면에 금속박을 적층한다. 수지 조성물층과 금속박의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 적층의 조건은, 공정 (I)에 대하여 설명한 조건과 동일하게 해도 좋다. 그 다음에, 공정 (II)를 실시해서 절연층을 형성한다. 그 후, 절연층 위의 금속박을 이용하여, 서브트랙티브법, 모디파이드 세미어디티브법 등의 종래의 공지의 기술에 의해, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.In another embodiment, you may form a conductor layer using metal foil. When forming a conductor layer using metal foil, it is suitable to perform a process (V) between a process (I) and a process (II). For example, after a process (I), a support body is removed and metal foil is laminated|stacked on the surface of the exposed resin composition layer. You may perform lamination|stacking of a resin composition layer and metal foil by the vacuum lamination method. The lamination conditions may be the same as those described for the step (I). Then, step (II) is performed to form an insulating layer. Then, the conductor layer which has a desired wiring pattern can be formed by conventionally well-known techniques, such as a subtractive method and a modified semiadditive method, using the metal foil on an insulating layer.

금속박은, 예를 들어, 전해법, 압연법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다. 금속박의 시판품으로서는, 예를 들어, JX 닛코 닛세키 킨조쿠사 제조의 HLP박, JXUT-III박, 미츠이 킨조쿠코잔사 제조의 3EC-III박, TP-III박 등을 들 수 있다.Metal foil can be manufactured by well-known methods, such as an electrolytic method and a rolling method, for example. As a commercial item of metal foil, HLP foil, JXUT-III foil by a JX Nikko Nisseki Kinzoku company, 3EC-III foil by a Mitsui Kinzoku Kozan company, TP-III foil, etc. are mentioned, for example.

<반도체 장치><Semiconductor device>

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 이용해서 제조할 수 있다.The semiconductor device of this invention contains the printed wiring board of this invention. The semiconductor device of this invention can be manufactured using the printed wiring board of this invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들어, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈것(예를 들어, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided for electrical appliances (eg, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (eg, motorcycles, automobiles, trams, ships, and aircraft). have.

[실시예][Example]

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명한다. 본 발명은 이들 실시 예에 한정되는 것은 아니다. 한편, 이하에 있어서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다. 하기의 설명에서의 온도 조건은, 특별히 온도의 지정이 없는 경우, 상온(25℃) 하이고, 압력 조건은, 특별히 압력의 지정이 없는 경우, 상압(1atm) 하이다.Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of Examples. The present invention is not limited to these examples. In addition, in the following, "part" and "%" which show quantity means "mass part" and "mass %", respectively, unless otherwise indicated. In the following description, the temperature condition is above normal temperature (25° C.) when there is no specific designation of temperature, and the pressure condition is below normal pressure (1 atm) when there is no specific designation of pressure.

<합성예 1: 에폭시 수지 A의 합성><Synthesis Example 1: Synthesis of Epoxy Resin A>

교반기, 온도계, 질소 취입관, 적하 로트, 및 냉각관을 구비한 유리제 세퍼러블 플라스크로 이루어진 반응 장치에, 2,6-크실레놀 95부, 47% BF3에테르 착체 6.3부를 주입하고, 교반하면서 70℃로 가온하였다. 같은 온도로 유지하면서, 디사이클로펜타디엔 58.8부(2,6-크실레놀에 대하여 0.56배몰)을 1시간으로 적하하였다. 또한, 115 내지 125℃의 온도에서 3시간 반응한 후, 같은 온도로 디사이클로펜타디엔 69.2부(2,6-크실레놀에 대하여 0.67배몰)을 1시간으로 적하하여, 115℃ 내지 125℃의 온도에서 2시간 반응하였다. 수산화 칼슘 1.0부를 첨가하고, 또한 10% 옥살산 수용액 2.0부를 첨가하였다. 그 후, 160℃까지 가온하여 탈수하고, 5mmHg의 감압 하, 200℃까지 가온하여 미반응의 원료를 증발 제거하였다. 이에 MIBK 520부를 첨가하여 생성물을 용해하고, 80℃의 온수 150부를 첨가하여 수세하고, 하층의 수층을 분리 제거하였다. 그 후, 5mmHg의 감압 하, 160℃로 가온하여 MIBK를 증발 제거하여, 적갈색의 페놀 수지 A를 221부 얻었다. 수산기 당량은 377이고, 연화점은 102℃이며, 흡수비(A3040/A1210)는 0.18이었다.95 parts of 2,6-xylenol and 6.3 parts of a 47% BF 3 ether complex were poured into a reaction apparatus consisting of a glass separable flask equipped with a stirrer, a thermometer, a nitrogen blowing tube, a dropping funnel, and a cooling tube, while stirring Warm to 70°C. While maintaining the same temperature, 58.8 parts of dicyclopentadiene (0.56 times mole relative to 2,6-xylenol) was added dropwise over 1 hour. In addition, after reacting at a temperature of 115 to 125 ° C for 3 hours, 69.2 parts of dicyclopentadiene (0.67 times mole relative to 2,6-xylenol) was added dropwise in 1 hour at the same temperature, and the temperature of 115 ° C to 125 ° C. The reaction was carried out at the temperature for 2 hours. 1.0 part of calcium hydroxide was added, and also 2.0 part of 10% oxalic acid aqueous solution was added. Thereafter, it was heated to 160° C. for dehydration, and heated to 200° C. under a reduced pressure of 5 mmHg to evaporate and remove unreacted raw materials. To this, 520 parts of MIBK was added to dissolve the product, and 150 parts of 80°C hot water was added to wash with water, and the lower water layer was separated and removed. Then, under reduced pressure of 5 mmHg, it heated at 160 degreeC, MIBK was evaporated and removed, and 221 parts of reddish-brown phenol resin A was obtained. The hydroxyl equivalent was 377, the softening point was 102°C, and the absorption ratio (A 3040 /A 1210 ) was 0.18.

교반기, 온도계, 질소 취입관, 적하 로트, 및 냉각관을 구비한 반응 장치에 페놀 수지 A 180부, 에피클로로하이드린 221부와 디에틸렌글리콜디메틸에테르 33부를 첨가해서 65℃로 가온하였다. 125mmHg의 감압 하, 63 내지 67℃의 온도로 유지하면서, 49% 수산화 나트륨 수용액 39부를 4시간으로 적하하였다. 이 동안, 에피클로로하이드린은 물과 공비시켜, 유출되는 물은 순차 계 밖으로 제거하였다. 반응 종료 후, 5mmHg, 180℃가 되는 조건으로 에피클로로하이드린을 회수하고, MIBK482부를 첨가하여, 생성물을 용해하였다. 그 후, 146부의 물을 첨가하여 부생한 식염을 용해하고, 정치해서 하층의 식염수를 분리 제거하였다. 인산 수용액으로 중화한 후, 수세액이 중성이 될 때까지 수지 용액을 수세하여, 여과하였다. 5mmHg의 감압 하, 180℃로 가온하여, MIBK를 증류 제거하고, 적갈색 투명의 2,6-크실레놀·디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지(에폭시 수지 A)를 200부 얻었다. 에폭시 당량은 446g/eq., 전체 염소 함유량 431ppm, 연화점 91℃의 수지였다.180 parts of phenol resin A, 221 parts of epichlorohydrin, and 33 parts of diethylene glycol dimethyl ether were added to the reaction apparatus provided with a stirrer, a thermometer, a nitrogen blowing tube, a dropping funnel, and a cooling tube, and it heated to 65 degreeC. 39 parts of 49% sodium hydroxide aqueous solution was dripped at the temperature of 63-67 degreeC under the reduced pressure of 125 mmHg over 4 hours. During this time, epichlorohydrin was azeotroped with water, and the effluent water was sequentially removed out of the system. After completion of the reaction, epichlorohydrin was recovered under the conditions of 5 mmHg and 180°C, and 482 parts of MIBK was added to dissolve the product. Thereafter, 146 parts of water was added to dissolve the salt by-product, and it was left still to separate and remove the salt solution of the lower layer. After neutralization with an aqueous phosphoric acid solution, the resin solution was washed with water until the washing solution became neutral, followed by filtration. It heated to 180 degreeC under reduced pressure of 5 mmHg, MIBK was distilled off, and 200 parts of red-brown transparent 2,6-xylenol dicyclopentadiene type epoxy resin (epoxy resin A) was obtained. Epoxy equivalent was 446 g/eq., total chlorine content 431 ppm, and it was resin with a softening point of 91 degreeC.

<실시예 1: 수지 조성물 1의 조제><Example 1: Preparation of resin composition 1>

합성예 1에서 합성한 에폭시 수지 A(에폭시 당량 446g/eq.) 20부, 비스페놀계 에폭시 수지(닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」, 에폭시 당량 약165g/eq.) 5부, 및 비페닐아랄킬형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬사 제조 「YX4000HK」, 에폭시 당량: 194g/eq.) 5부를, 솔벤트 나프타 30부 및 사이클로헥사논 10부 중에서, 교반하면서 가열 용해시켰다. 이로써, 에폭시 수지 용액을 얻었다.20 parts of epoxy resin A synthesized in Synthesis Example 1 (epoxy equivalent: 446 g/eq.), 5 parts of bisphenol-based epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials, about 165 g/eq. of epoxy equivalent), and 5 parts of biphenyl aralkyl-type epoxy resins ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent: 194 g/eq.) were dissolved by heating while stirring in 30 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone. Thereby, the epoxy resin solution was obtained.

실온으로까지 냉각한 후, 에폭시 수지 용액에, 무기 충전재(신에츠 카가쿠코교사 제조의 N-페닐-8-아미노옥틸트리메톡시실란으로 표면 처리된 아도마텍스사 제조의 구형 실리카 「SO-C2」, 비표면적: 5.8㎡/g, 평균 입자직경: 0.5㎛) 150부와, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」, 활성기 당량 약 229g/eq., 고형분 62질량%의 톨루엔 용액) 32부, 페놀계 경화제(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 활성기 당량 약 151g/eq., 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 5부와, 열가소성수지(「YX7553BH30」, 미츠비시 케미컬사 제조, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥사논의 1:1 용액) 17부와, 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 0.6부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산한 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조 「SHP020」)로 여과하여, 바니시상의 수지 조성물 1을 조제하였다.After cooling to room temperature, in the epoxy resin solution, an inorganic filler (Spherical silica "SO-C2 manufactured by Adomatex Co., Ltd. surface-treated with N-phenyl-8-aminooctyltrimethoxysilane manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd." ', specific surface area: 5.8 m / g, average particle diameter: 0.5 µm) 150 parts, an active ester curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC Corporation, an active group equivalent of about 229 g/eq., a solid content of 62% by mass) 32 parts of toluene solution), 5 parts of a phenolic curing agent (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, about 151 g/eq. , Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1:1 solution of MEK and cyclohexanone having a solid content of 30% by mass) 17 parts and a curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution having a solid content of 5% by mass) 0.6 parts are mixed, After uniformly disperse|distributing by the high-speed rotation mixer, it filtered with the cartridge filter ("SHP020" manufactured by ROKITECHNO), and the varnish-like resin composition 1 was prepared.

<실시예 2: 수지 조성물 2의 조제><Example 2: Preparation of resin composition 2>

실시예 1에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」, 활성기 당량 약 229g/eq., 고형분 62질량%의 톨루엔 용액) 32부 대신에 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223g/eq., 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 31부를 사용하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 바니시상의 수지 조성물 2를 조제하였다.In Example 1, in place of 32 parts of an active ester-based curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC, an active group equivalent of about 229 g/eq., a toluene solution having a solid content of 62% by mass), an active ester-based curing agent (manufactured by DIC) 31 parts of "HPC-8000-65T", an active group equivalent of about 223 g/eq., and a toluene solution having a solid content of 65% by mass) were used. Except for the above, it carried out similarly to Example 1, and the varnish-form resin composition 2 was prepared.

<비교예 1: 수지 조성물 3의 조제><Comparative Example 1: Preparation of resin composition 3>

실시예 1에 있어서, 에폭시 수지 A(에폭시 당량 446g/eq.) 20부 대신에 비스페놀AF형 에폭시 수지(「NC-3000」, 닛폰 카야쿠사 제조, 에폭시 당량 약 275g/eq.) 20부를 사용하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 바니시상의 수지 조성물 3을 조제하였다.In Example 1, 20 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("NC-3000", manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent of about 275 g/eq.) was used instead of 20 parts of epoxy resin A (epoxy equivalent: 446 g/eq.) . A varnish-like resin composition 3 was prepared in the same manner as in Example 1 except for the above.

<비교예 2: 수지 조성물 4의 조제><Comparative Example 2: Preparation of resin composition 4>

실시예 1에 있어서, 에폭시 수지 A(에폭시 당량 446g/eq.) 20부 대신에 나프톨아랄킬형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ESN-475V」, 에폭시 당량 약 330g/eq.) 20부를 사용하였다. 이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 해서 바니시상의 수지 조성물 4를 조제하였다.In Example 1, instead of 20 parts of epoxy resin A (epoxy equivalent 446 g/eq.), 20 parts of naphthol aralkyl type epoxy resin ("ESN-475V" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials, epoxy equivalent of about 330 g/eq.) was used. A varnish-like resin composition 4 was prepared in the same manner as in Example 1 except for the above.

<비교예 3: 수지 조성물 5의 조제><Comparative Example 3: Preparation of resin composition 5>

비교예 2에 있어서, 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」, 활성기 당량 약 229g/eq., 고형분 62질량%의 톨루엔 용액) 32부 대신에 활성 에스테르계 경화제(DIC사 제조 「HPC-8000-65T」, 활성기 당량 약 223g/eq., 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 31부를 사용하였다. 이상의 사항 이외에는 비교예 2와 동일하게 하여 바니시상의 수지 조성물 5를 조제하였다.In Comparative Example 2, in place of 32 parts of an active ester-based curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC, an active group equivalent of about 229 g/eq., a toluene solution having a solid content of 62% by mass), an active ester-based curing agent (manufactured by DIC) 31 parts of "HPC-8000-65T", an active group equivalent of about 223 g/eq., and a toluene solution having a solid content of 65% by mass) were used. Except for the above, it carried out similarly to the comparative example 2, and prepared the varnish-form resin composition 5.

<제작예 1: 수지 시트의 제작><Production Example 1: Preparation of a resin sheet>

지지체로서, 알키드 수지계 이형제(린텍사 제조 「AL-5」)로 이형 처리한 PET 필름(토레사 제조 「루미라 R80」, 두께 38㎛, 연화점 130℃, 이하 「이형 PET」라고 말하는 경우가 있음.)을 준비하였다.PET film (“Lumira R80” manufactured by Toray Corporation, 38 μm thick, softening point 130° C., hereinafter referred to as “Releasable PET”) treated with an alkyd resin mold release agent (“AL-5” manufactured by Lintec Co., Ltd.) as a support body .) was prepared.

실시예 및 비교예에서 조제한 수지 조성물을, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 25㎛가 되도록, 이형 PET 위에 다이코터로 균일하게 도포하고, 80℃에서 1분간 건조함으로써, 이형 PET 위에 수지 조성물층을 형성하였다. 그 다음에, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면에, 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오지 에프텍스사 제조 「알판 MA-411」, 두께 15㎛)의 조면을, 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이로써, 이형 PET(지지체), 수지 조성물층, 및 보호 필름의 순서로 이루어진 수지 시트를 제작하였다.The resin composition prepared in Examples and Comparative Examples was uniformly coated on the release PET with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 25 μm, and dried at 80° C. for 1 minute, thereby forming the resin composition layer on the release PET. formed. Next, the rough surface of the polypropylene film ("Alpan MA-411" manufactured by Oji Ftex Corporation, 15 µm thick) as a protective film is bonded to the resin composition layer on the surface that is not bonded to the support of the resin composition layer. laminated. Thereby, the resin sheet which consists of mold release PET (support body), the resin composition layer, and the protective film in order was produced.

<시험예 1: 비유전율 및 유전정접의 측정 및 평가><Test Example 1: Measurement and evaluation of dielectric constant and dielectric loss tangent>

제작예 1에서 작성한 수지 시트로부터, 보호 필름을 벗겨내고, 200℃에서 90분간 가열해서 수지 조성물층을 열경화시킨 후, 지지체를 박리하였다. 얻어진 경화물을, 폭 2mm, 길이 80mm의 시험편으로 절단하였다. 당해 시험편에 대하여, 아질렌트 테크놀로지즈사 제조 「HP8362B」를 사용하여, 공동 공진 섭동법에 의해 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃에서 비유전율(Dk), 유전정접(Df)을 측정하였다. 3개의 시험편에 대하여 측정을 수행하고, 평균값을 산출하여, 당해 평균값에 기초하여 이하의 평가 기준으로 평가하였다.After peeling off a protective film from the resin sheet created in Production Example 1, heating at 200 degreeC for 90 minutes and thermosetting the resin composition layer, the support body was peeled. The obtained cured product was cut into a test piece having a width of 2 mm and a length of 80 mm. With respect to the said test piece, the dielectric constant (Dk) and dielectric loss tangent (Df) were measured at the measurement frequency of 5.8 GHz and the measurement temperature of 23 degreeC by the cavity resonance perturbation method using "HP8362B" manufactured by Agilent Technologies. The three test pieces were measured, the average value was computed, and the following evaluation criteria evaluated based on the said average value.

평가 기준Evaluation standard

「○」: 비유전율(Dk)이 3.5 이하 및 유전정접(Df)이 0.0040 이하의 경우「○」: When the relative dielectric constant (Dk) is 3.5 or less and the dielectric loss tangent (Df) is 0.0040 or less

「×」: 비유전율(Dk)이 3.5를 상회하는 또는 유전정접(Df)이 0.0040을 상회하는 경우「×」: When the relative dielectric constant (Dk) exceeds 3.5 or the dielectric loss tangent (Df) exceeds 0.0040

<시험예 2: 스미어 제거성의 평가><Test Example 2: Evaluation of Smear Removability>

(1) 내장 기판의 하지 처리(1) Substrate treatment of the built-in substrate

내층 기판으로서, 표면에 동박을 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.8mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)을 준비하였다. 이 내층 기판의 표면의 동박을, 마이크로에칭제(맥크사 제조 「CZ8101」)를 사용하여, 구리 에칭량 1㎛로 에칭해서, 조화 처리를 수행하였다. 그 후, 190℃에서 30분 건조를 수행하였다.As the inner-layer substrate, a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper clad laminate having a copper foil on the surface (copper foil thickness of 18 µm, substrate thickness of 0.8 mm, "R1515A" manufactured by Panasonic Corporation) was prepared. The copper foil of the surface of this inner-layer board|substrate was etched by 1 micrometer of copper etching amount using a micro-etching agent ("CZ8101" by Mack Corporation), and roughening process was performed. Thereafter, drying was performed at 190° C. for 30 minutes.

(2) 수지 시트의 적층·경화(2) Lamination and curing of resin sheets

제작예 1에서 제작한 수지 시트를, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하고, 수지 조성물층이 상기의 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 이 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착함으로써 실시하였다. 그 다음에, 라미네이트된 수지 시트를, 대기압 하, 100℃, 압력 0.5MPa로 60초간, 열 프레스해서 평활화하였다. 또한 이것을, 100℃의 오븐에 투입해서 30분간 가열하고, 이어서 170℃의 오븐에 옮겨서 30분간 가열하였다. 이로써, 수지 조성물의 경화물로 형성된 절연층을 형성하였다.The resin sheet produced in Production Example 1 was placed on both sides of the inner-layer substrate so that the resin composition layer was bonded to the inner-layer substrate using a batch vacuum pressurization laminator (2-stage build-up laminator “CVP700” manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.). laminated. This lamination was performed by pressure-reducing for 30 second and making atmospheric|air pressure 13 hPa or less, and then crimping|bonding at a temperature of 100 degreeC, and pressure of 0.74 MPa for 30 second. Next, the laminated resin sheet was smoothed by hot pressing under atmospheric pressure at 100°C and at a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds. Furthermore, this was put into an oven at 100°C and heated for 30 minutes, then transferred to an oven at 170°C and heated for 30 minutes. Thereby, the insulating layer formed of the hardened|cured material of the resin composition was formed.

(3) 비아홀 형성:(3) via hole formation:

비아메카닉스사 제조 CO2 레이저 가공기(LK-2K212/2C)를 사용하고, 주파수 2000Hz로 펄스 폭 3μ초, 출력 0.95W, 쇼트수 3의 조건으로, 내층 기판의 한쪽의 면에 있는 절연층을 가공하여, 절연층 표면에서의 탑 지름(직경)이 50㎛, 절연층 바닥면에서의 직경이 50㎛의 비아홀을 형성하였다. 또한 그 후, 지지체를 박리하여, 회로 기판을 얻었다.Using a CO 2 laser processing machine (LK-2K212/2C) manufactured by Via Mechanics, the insulating layer on one side of the inner-layer substrate is processed at a frequency of 2000 Hz, with a pulse width of 3 μsec, an output of 0.95 W, and a number of shots of 3 Thus, a via hole having a top diameter (diameter) of 50 µm on the surface of the insulating layer and a diameter of 50 µm on the bottom surface of the insulating layer was formed. Moreover, the support body was peeled after that, and the circuit board was obtained.

(4) 조화 처리(4) Harmonization processing

회로 기판의 절연층 표면을, 팽윤액인 아토텍 재팬사의 스웰링 딥 세큐리간트 P에 60℃에서 10분간 침지하였다. 다음에, 회로 기판의 절연층 표면을, 조화액인 아토텍 재팬사의 컨센트레이트 컴팩트 P(KMnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에 80℃에서 25분간 침지하였다. 마지막으로, 회로 기판의 절연층 표면을, 중화액인 아토텍 재팬사의 리덕션 솔루션 세큐리간트 P에 40℃에서 5분간 침지하였다.The surface of the insulating layer of the circuit board was immersed in Swelling Deep Securigant P by Atotech Japan which is a swelling liquid at 60°C for 10 minutes. Next, the surface of the insulating layer of the circuit board was immersed in Atotech Japan's Concentrate Compact P (KMnO 4 : 60 g/L, NaOH: 40 g/L aqueous solution) as a roughening liquid at 80°C for 25 minutes. Finally, the surface of the insulating layer of the circuit board was immersed in Atotech Japan's reduction solution Securigant P, which is a neutralizing solution, at 40°C for 5 minutes.

(5) 비아홀 바닥부의 잔사 평가(5) Evaluation of residues at the bottom of the via hole

3개의 비아홀의 바닥부의 주위를 주사 전자 현미경(SEM)으로 관찰하고, 얻어진 화상으로부터 비아홀 바닥부의 벽면으로부터의 최대 스미어 길이를 측정하고, 이하의 평가 기준으로 평가하였다.The periphery of the bottom of the three via holes was observed with a scanning electron microscope (SEM), and the maximum smear length from the wall surface of the bottom of the via hole was measured from the obtained image, and evaluated according to the following evaluation criteria.

평가 기준Evaluation standard

「○」: 최대 스미어 길이가 5㎛ 미만(즉, 3개의 비아홀의 어디에도 스미어 길이가 5㎛ 이상의 것이 없고, 스미어 제거성이 양호하다)"○": The maximum smear length is less than 5 µm (that is, none of the three via holes has a smear length of 5 µm or more, and the smear removability is good)

「×」: 최대 스미어 길이가 5㎛ 이상(즉, 3개의 비아홀의 적어도 1개에 스미어 길이가 5㎛ 이상의 것이 있고, 스미어 제거성이 떨어진다)"x": the maximum smear length is 5 µm or more (that is, at least one of the three via holes has a smear length of 5 µm or more, and the smear removability is poor)

<시험예 3: 파단점 신도의 측정 및 평가><Test Example 3: Measurement and Evaluation of Elongation at Break>

무름의 평가는, 이하의 수순으로, 파단점 신도를 측정함으로써 수행하였다. 평가용 경화물 A에 대하여, 일본 공업 규격 JIS K7127에 준거하여, 텐시론 만능 시험기((주)오리엔텍 제조 「RTC-1250A」)에 의해 인장 시험을 수행하고, 파단점 신도(%)를 측정하여, 이하의 평가 기준으로 평가하였다.Evaluation of softness was performed by measuring the elongation at break in the following procedure. With respect to the cured product A for evaluation, in accordance with Japanese Industrial Standards JIS K7127, a tensile test was performed with a Tenshiron universal testing machine (“RTC-1250A” manufactured by Orientec Co., Ltd.), and the elongation at break (%) was measured. Therefore, it evaluated by the following evaluation criteria.

평가 기준Evaluation standard

「○」: 파단점 신도가 1.0% 이상「○」: Elongation at break is 1.0% or more

「×」: 파단점 신도가 1.0% 미만「×」: Elongation at break is less than 1.0%

실시예 및 비교예의 수지 조성물의 불휘발 성분의 함유량, 시험예의 측정 결과 및 평가 결과를 하기 표 1에 나타낸다.The content of the nonvolatile component of the resin compositions of Examples and Comparative Examples, and the measurement results and evaluation results of Test Examples are shown in Table 1 below.

Figure pat00009
Figure pat00009

표 1에 나타내는 바와 같이, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고, (A) 성분이, 상기에서 설명한 (A-1) 특정의 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물을 사용함으로써, 유전정접이 낮게 억제되고 또한 우수한 스미어 제거성 및 파단점 신도를 갖는 경화물을 얻을 수 있음을 알 수 있다.As shown in Table 1, (A) epoxy resin, (B) active ester compound, and (C) inorganic filler are included, (A) component contains (A-1) specific epoxy resin demonstrated above It can be seen that a cured product having a low dielectric loss tangent and excellent smear removability and elongation at break can be obtained by using the resin composition.

Claims (15)

(A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,
(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):
Figure pat00010

[화학식 (1)에서,
R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:
Figure pat00011

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);
R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;
n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]
로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.
A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, comprising:
(A) component, (A-1) formula (1):
Figure pat00010

[In formula (1),
R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):
Figure pat00011

(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);
R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;
n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]
A resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board, comprising an epoxy resin represented by .
제1항에 있어서, n의 평균값이 0 내지 5의 범위 내인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the average value of n is in the range of 0 to 5. 제1항에 있어서, (A) 성분이, 온도 20℃ 아래에서 액상의 에폭시 수지를 추가로 포함하는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the component (A) further contains a liquid epoxy resin at a temperature of 20°C or lower. 제1항에 있어서, (A) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 1질량% 내지 30질량%인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the content of the component (A) is 1% by mass to 30% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, (B) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 5질량% 이상인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the content of the component (B) is 5% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, (C) 성분이 실리카인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the component (C) is silica. 제1항에 있어서, (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 40질량% 이상인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the content of the component (C) is 40% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, 페녹시 수지를 추가로 포함하는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, further comprising a phenoxy resin. 제1항에 있어서, 페놀계 경화제를 추가로 포함하는, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, further comprising a phenol-based curing agent. 제1항에 있어서, 수지 조성물의 경화물의 파단점 신도가, JIS K7127에 준거해서 23℃로 측정한 경우, 1.0% 이상인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the elongation at break of the cured product of the resin composition is 1.0% or more when measured at 23°C according to JIS K7127. 제1항에 있어서, 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)이, 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우, 0.0040 이하인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition is 0.0040 or less when measured at 5.8 GHz and 23°C. 제1항에 있어서, 수지 조성물의 경화물의 비유전율(Dk)이, 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우, 3.5 이하인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물.The resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board according to claim 1, wherein the dielectric constant (Dk) of the cured product of the resin composition is 3.5 or less when measured at 5.8 GHz and 23°C. 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된 수지 조성물층을 갖는 수지 시트로서,
수지 조성물층이, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하고,
(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):
Figure pat00012

[화학식 (1)에서,
R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이고:
Figure pat00013

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);
R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;
n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]
로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층인, 프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 시트.
A resin sheet having a support and a resin composition layer provided on the support, comprising:
The resin composition layer contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler,
(A) component, (A-1) formula (1):
Figure pat00012

[In formula (1),
R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula is the group represented by (1b):
Figure pat00013

(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);
R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;
n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]
A resin sheet for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board, which is a resin composition layer formed of a resin composition containing an epoxy resin represented by .
(A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 및 (C) 무기 충전재를 포함하는 수지 조성물로서,
(A) 성분이, (A-1) 화학식 (1):
Figure pat00014

[화학식 (1)에서,
R1은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기를 나타내고, 또한 적어도 1개의 R1이, 화학식 (1a)로 표시되는 기, 또는 화학식 (1b)로 표시되는 기이며:
Figure pat00015

(화학식 (1a) 및 (1b)에서, *은, 결합 부위를 나타낸다.);
R2 및 R3은, 각각 독립적으로, 탄소수 1 내지 8의 탄화수소기를 나타내고;
n은, 0 이상의 정수이며, 반복 단위수를 나타낸다.]
로 표시되는 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물의 경화물로 이루어진 절연층을 구비하는, 프린트 배선판.
A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, and (C) an inorganic filler, comprising:
(A) component, (A-1) formula (1):
Figure pat00014

[In formula (1),
R 1 each independently represents a hydrogen atom, a group represented by the formula (1a), or a group represented by the formula (1b), and at least one R 1 is a group represented by the formula (1a), or the formula A group represented by (1b) is:
Figure pat00015

(In formulas (1a) and (1b), * represents a binding site.);
R 2 and R 3 each independently represent a hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms;
n is an integer of 0 or more and represents the number of repeating units.]
A printed wiring board comprising an insulating layer made of a cured product of a resin composition containing an epoxy resin represented by .
제14항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 14 .
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