KR20240034679A

KR20240034679A - Loading and unloading apparatus of electric component and handler

Info

Publication number: KR20240034679A
Application number: KR1020230118939A
Authority: KR
Inventors: 나윤성
Original assignee: (주)테크윙
Priority date: 2022-09-07
Filing date: 2023-09-07
Publication date: 2024-03-14

Abstract

본 발명은 전자 부품 로딩 언로딩 장치 및 이를 포함하는 핸들러에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면, 테스트 트레이에 포함되는 개폐형 소켓을 개방하는 소켓 개방기; 개방된 상기 개폐형 소켓에 전자 부품을 로딩하거나 개방된 상기 개폐형 소켓으로부터 전자 부품을 언로딩하는 테스트 트레이용 픽커 핸드; 개방된 상기 개폐형 소켓을 폐쇄하는 소켓 폐쇄기; 및 상기 소켓 개방기, 상기 테스트 트레이용 픽커 핸드, 및 상기 소켓 폐쇄기 사이에서 상기 테스트 트레이를 이송시키는 테스트 트레이 이송유닛을 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.The present invention relates to an electronic component loading and unloading device and a handler including the same. Specifically, according to one embodiment of the present invention, a socket opener for opening an open/closed socket included in a test tray; a picker hand for a test tray that loads electronic components into the open and closed socket or unloads electronic components from the open and closed socket; a socket closer that closes the opened open/closed socket; and a test tray transfer unit that transfers the test tray between the socket opener, the test tray picker hand, and the socket closer.

Description

Electronic component loading and unloading device and handler including same {LOADING AND UNLOADING APPARATUS OF ELECTRIC COMPONENT AND HANDLER}

본 발명은 전자 부품 로딩 언로딩 장치 및 이를 포함하는 핸들러에 대한 발명이다.The present invention relates to an electronic component loading and unloading device and a handler including the same.

소정의 제조공정을 거쳐 제조되어 공급되는, 반도체 소자 등의 전자 부품은, 제품으로 출하되기 전에, 테스터에서 양품인지 불량품인지 여부 등이 테스트된다. 테스터에서 테스트된 전자 부품 중 양품으로 판정된 전자 부품이 제품으로 출하된다.Electronic components such as semiconductor devices that are manufactured and supplied through a predetermined manufacturing process are tested with a tester to determine whether they are good or defective before being shipped as a product. Among the electronic components tested by the tester, those judged to be good are shipped as products.

전자 부품은 테스트 트레이에 안착된 상태에서 테스트될 수 있다. 테스트 트레이는 인쇄회로기판을 포함하고 전자 부품은 인쇄회로기판에 연결되도록 테스트 트레이에 안착된다. 또한, 테스트 트레이가 인쇄회로기판이 연결되도록 테스터에 연결되는 것으로, 테스트 트레이에 안착된 전자 부품이 테스터에 연결되며, 테스터에서 전자 부품이 테스트된다.Electronic components can be tested while seated on a test tray. The test tray includes a printed circuit board, and electronic components are seated on the test tray to be connected to the printed circuit board. In addition, the test tray is connected to the tester so that the printed circuit board is connected, so the electronic components mounted on the test tray are connected to the tester, and the electronic components are tested in the tester.

테스트될 전자 부품은 고객 트레이에 형성된 포켓에 로딩되며, 테스트 결과가 양품으로 나온 전자 부품은 고객 트레이의 포켓에 언로딩될 수 있다. 이러한 경우, 전자 부품을 테스트 트레이에 안착된 상태에서 테스터에서 테스트 하기 위해서는, 고객 트레이에 담긴 전자 부품을 테스트 트레이로 옮겨야만 한다. 또한, 테스터에서 테스된 결과 양품인 전자 부품을 언로딩하기 위해서는 테스트 트레이에 안착된 상태에서 테스트된 전자 부품을 고객 트레이로 옮겨야만 한다. 테스트될 전자 부품을 고객 트레이로부터 테스트 트레이로 옮기는 것과, 테스트 트레이로부터 전자 부품을 고객 트레이로 옮기는 것은, 핸들러에서 수행될 수 있다.Electronic components to be tested are loaded into pockets formed on a customer tray, and electronic components whose test results are found to be good can be unloaded into pockets on the customer tray. In this case, in order to test the electronic component on the tester while it is seated on the test tray, the electronic component contained in the customer's tray must be moved to the test tray. Additionally, in order to unload electronic components that are found to be good as a result of testing in the tester, the tested electronic components must be moved from the test tray to the customer tray. Transferring the electronic component to be tested from the customer tray to the test tray and transferring the electronic component from the test tray to the customer tray may be performed in the handler.

일부 테스트 트레이는, 인쇄회로기판을 포함하는 테스트 트레이 보드와, 전자 부품이 안착되며 인쇄회로기판에 연결되도록 테스트 트레이 보드에 연결되는 복수 개의 소켓을 포함할 수 있다. 전자 부품이 테스트 트레이의 소켓에 안착되면 전자 부품과 인쇄회로기판이 연결될 수 있다. 소켓은 전자 부품의 일부가 끼워지는 슬롯을 포함하는 등 다양한 구성을 가질 수 있다.Some test trays may include a test tray board including a printed circuit board, and a plurality of sockets connected to the test tray board so that electronic components are seated and connected to the printed circuit board. Once the electronic component is seated in the socket of the test tray, the electronic component and the printed circuit board can be connected. A socket may have various configurations, such as including a slot into which a portion of an electronic component is inserted.

한편, 전자 부품이 안착되는 안착공간이 형성되며 인쇄회로기판에 연결되도록 테스트 트레이 보드에 연결되는 소켓 본체, 안착공간을 개폐하도록 소켓 본체에 힌지 연결되는 소켓 덮개, 및 소켓 덮개에 힌지 연결되며 소켓 본체에 걸리거나 걸림이 해제되는 래치 부재를 포함하는 소켓이 개발되었다.Meanwhile, a seating space in which electronic components are seated is formed, a socket body connected to a test tray board to be connected to a printed circuit board, a socket cover hinged to the socket body to open and close the seating space, and a socket body hinged to the socket cover. A socket has been developed that includes a latch member that can be locked or unlocked.

이러한 구성의 소켓은, 래치 부재가 소켓 본체에 걸린 것을 해제해야만 소켓 덮개의 회전이 가능하여, 소켓 덮개에 의한 안착공간의 개방과 폐쇄가 비교적 어려운 면이 있다.In a socket of this configuration, the socket cover can be rotated only when the latch member is released from the socket body, making it relatively difficult to open and close the seating space by the socket cover.

따라서, 테스트 트레이가 소켓 본체, 소켓 덮개, 및 래치 부재를 포함하는 소켓을 포함하는 경우에, 효율적으로, 전자 부품을 고객 트레이로부터 소켓으로 옮기며, 테스트된 전자 부품을 테스트 트레이로부터 고객 트레이로 옮길 수 있는 장치 개발의 필요성이 대두되었다.Accordingly, if the test tray includes a socket that includes a socket body, a socket cover, and a latch member, it is possible to efficiently transfer the electronic component from the customer tray to the socket and transfer the tested electronic component from the test tray to the customer tray. The need to develop a device that has

본 발명의 실시예들은 상기와 같은 배경에서 발명된 것으로서, 보다 효율적으로, 테스트될 전자 부품을 고객 트레이로부터 테스트 트레이의 소켓으로 옮기어 전자 부품의 테스트가 이루어질 수 있으며, 테스트된 전자 부품을 테스트 트레이로부터 고객 트레이로 옮길 수 있는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치 및 이를 포함하는 핸들러를 제공하고자 한다.Embodiments of the present invention were invented against the above background, and more efficiently, the electronic component can be tested by moving the electronic component to be tested from the customer tray to the socket of the test tray, and the tested electronic component can be moved from the test tray. It is intended to provide an electronic component loading and unloading device and a handler including the same, which can be transferred to a customer tray.

본 발명의 일 측면에 따르면, 테스트 트레이에 포함되는 개폐형 소켓을 개방하는 소켓 개방기; 개방된 상기 개폐형 소켓에 전자 부품을 로딩하거나 개방된 상기 개폐형 소켓으로부터 전자 부품을 언로딩하는 테스트 트레이용 픽커 핸드; 개방된 상기 개폐형 소켓을 폐쇄하는 소켓 폐쇄기; 및 상기 소켓 개방기, 상기 테스트 트레이용 픽커 핸드, 및 상기 소켓 폐쇄기 사이에서 상기 테스트 트레이를 이송시키는 테스트 트레이 이송유닛을 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.According to one aspect of the present invention, a socket opener for opening an open/closed socket included in a test tray; a picker hand for a test tray that loads electronic components into the open and closed socket or unloads electronic components from the open and closed socket; a socket closer that closes the opened open/closed socket; and a test tray transfer unit that transfers the test tray between the socket opener, the test tray picker hand, and the socket closer.

또한, 상기 테스트 트레이 이송유닛은, 상기 테스트 트레이를 이송시키는 테스트 트레이 이송기를 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the test tray transfer unit may be provided as an electronic component loading and unloading device including a test tray transferor that transfers the test tray.

또한, 상기 테스트 트레이 이송기는, 상기 테스트 트레이의 이송 경로 아래에 배치되는 이송 실린더; 상기 이송 실린더에 이동 가능하게 연결되는 이송 로드; 및 상기 테스트 트레이에 걸리거나 접촉되도록 상기 이송 로드에 제공되는 걸림 부재를 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the test tray transferor includes a transfer cylinder disposed below the transfer path of the test tray; a transfer rod movably connected to the transfer cylinder; and a locking member provided on the transfer rod to catch or contact the test tray.

또한, 상기 테스트 트레이 이송기는 상기 테스트 트레이, 또는 상기 테스트 트레이를 지지하는 지지 보트에 제공되는 랙 기어; 상기 랙 기어에 맞물리는 피니언 기어; 및 상기 피니언 기어에 연결되는 구동 모터를 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the test tray transporter includes a rack gear provided on the test tray or a support boat supporting the test tray; a pinion gear engaged with the rack gear; and a drive motor connected to the pinion gear. An electronic component loading and unloading device may be provided.

또한, 상기 테스트 트레이 이송기는 상기 테스트 트레이의 하면 양 측을 각각 지지하도록 상기 테스트 트레이의 이송방향으로 연장되는 한 쌍의 컨베이어; 및 한 쌍의 상기 컨베이어에 각각 지지되며 상기 테스트 트레이의 양 측 중 어느 한 측과 다른 한 측을 각각 파지하는 한 쌍의 트레이 파지기를 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the test tray transporter includes a pair of conveyors extending in the transport direction of the test tray to support both sides of the lower surface of the test tray, respectively; and a pair of tray grippers respectively supported on the pair of conveyors and respectively gripping one side and the other of both sides of the test tray. An electronic component loading and unloading device may be provided.

또한, 상기 테스트 트레이 이송유닛은, 상기 테스트 트레이의 측면을 가이드하도록 상기 테스트 트레이의 이송방향으로 연장되는 측면 가이드 레일; 및 상기 테스트 트레이의 하면을 가이드하도록 상기 테스트 트레이의 이송방향으로 연장되는 하면 가이드 레일 중 하나 이상을 더 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the test tray transfer unit includes a side guide rail extending in the transfer direction of the test tray to guide the side of the test tray; And an electronic component loading and unloading device may be provided, further comprising one or more of a lower surface guide rail extending in a transport direction of the test tray to guide the lower surface of the test tray.

또한, 상기 개폐형 소켓은 상기 테스트 트레이에 포함되는 테스트 트레이 보드에 소정 개수의 열과 행으로 연결되며, 상기 개폐형 소켓의 하나의 열씩, 차례로, 상기 소켓 개방기, 상기 테스트 트레이용 픽커 핸드 및, 상기 소켓 폐쇄기를 거치도록, 상기 테스트 트레이 이송기가 테스트 트레이를 이송시키는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the open/close sockets are connected to a test tray board included in the test tray in a predetermined number of columns and rows, and each column of the open/close sockets is sequentially connected to the socket opener, the picker hand for the test tray, and the socket. An electronic component loading and unloading device may be provided wherein the test tray transporter transports a test tray to pass through an obturator.

또한, 상기 소켓 폐쇄기는, 상기 개폐형 소켓에 포함되는 소켓 덮개가 상기 테스트 트레이가 이송되면서 닫히도록 가압하는 제1 폐쇄부재를 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the socket closer may be provided with an electronic component loading and unloading device including a first closing member that presses the socket cover included in the open/closed socket to close while the test tray is transported.

또한, 상기 제1 폐쇄부재의 단면 형상은 뒤집어진 직각 삼각형, 원형, 타원형, 또는 아래로 볼록한 반원형인, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.Additionally, an electronic component loading and unloading device may be provided in which the cross-sectional shape of the first closure member is an inverted right triangle, a circle, an oval, or a downwardly convex semicircle.

또한, 상기 제1 폐쇄부재의 하단부에 연결되어 상기 소켓 덮개가 닫히도록 상기 소켓 덮개를 추가로 가압하는 제2 폐쇄부재를 더 포함하는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, an electronic component loading and unloading device may be provided, further comprising a second closing member connected to a lower end of the first closing member to further press the socket cover so that the socket cover is closed.

또한, 상기 개폐형 소켓은 상기 테스트 트레이에 포함되는 테스트 트레이 보드에 소정 개수의 열과 행으로 연결되며, 상기 테스트 트레이용 픽커 핸드는 전자 부품을 파지하거나 파지를 해제하는 복수 개의 픽커를 포함하고, 상기 복수 개의 픽커 중 홀수 번째 픽커와 짝수 번째 픽커는 서로 연결되며, 상기 개폐형 소켓 사이의 거리와 상기 픽커 사이의 거리가 일치되도록, 서로 연결된 상기 홀수 번째 픽커와 상기 짝수 번째 픽커 중 어느 하나가 이동되는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치가 제공될 수 있다.In addition, the open/close socket is connected to a test tray board included in the test tray in a predetermined number of columns and rows, and the picker hand for the test tray includes a plurality of pickers that grip or release the electronic component, and the plurality of pickers Among the pickers, the odd picker and the even picker are connected to each other, and one of the odd picker and the even picker connected to each other is moved so that the distance between the open and closed sockets matches the distance between the pickers. A component loading and unloading device may be provided.

또한, 테스트 트레이 보드 및 상기 테스트 트레이 보드에 연결되는 개폐형 소켓을 포함하는 테스트 트레이; 상기 테스트 트레이가 이송되면서, 상기 개폐형 소켓이 개방되고 개방된 상기 개폐형 소켓에 전자 부품이 로딩되거나 개방된 상기 개폐형 소켓으로부터 전자 부품이 언로딩되며 개방된 상기 개폐형 소켓이 폐쇄되도록 구성된 전자 부품 로딩 언로딩 장치; 상기 전자 부품 로딩 언로딩 장치에 상기 테스트 트레이를 공급하는 테스트 트레이 공급장치; 상기 전자 부품 로딩 언로딩 장치로 전자 부품이 운반되거나 상기 전자 부품 로딩 언로딩 장치로부터 전자 부품이 운반되도록 구성된 부품 운반 장치; 및 고객 트레이가 적층되며, 고객 트레이로부터 상기 부품 운반 장치로 전자 부품이 이동되거나 상기 부품 운반 장치로부터 고객 트레이로 전자 부품이 이동되도록 구성된 고객 트레이 취급 장치를 포함하며, 상기 개폐형 소켓은, 상기 테스트 트레이 보드에 연결되며 전자 부품이 안착되는 안착 공간이 형성되는 소켓 본체, 상기 소켓 본체에 힌지 연결되는 소켓 덮개, 및 상기 소켓 덮개에 힌지 연결되며 상기 소켓 본체에 걸리거나 걸림이 해제되는 래치 부재를 포함하는, 핸들러가 제공될 수 있다.Additionally, a test tray including a test tray board and an open/closed socket connected to the test tray board; As the test tray is transported, the open-closed socket is opened and electronic components are loaded into the open-closed socket, or electronic components are unloaded from the open-closed socket and the open-closed socket is closed. Loading and unloading of electronic components configured to close the open-closed socket. Device; a test tray supply device that supplies the test tray to the electronic component loading and unloading device; a component transport device configured to transport an electronic component to or from the electronic component loading and unloading device; and a customer tray handling device on which customer trays are stacked and configured to move electronic components from the customer tray to the component transport device or to move electronic components from the component transport device to the customer tray, wherein the open/close socket includes: the test tray; A socket body connected to the board and forming a seating space in which electronic components are seated, a socket cover hinged to the socket body, and a latch member hinged to the socket cover and locked to or released from the socket body. , a handler may be provided.

또한, 상기 부품 운반 장치는, 상기 전자 부품 로딩 언로딩 장치와 상기 고객 트레이 취급 장치 사이에서 전자 부품을 운반하는 셔틀을 포함하는, 핸들러가 제공될 수 있다.Additionally, the component transport device may be provided with a handler, including a shuttle that transports electronic components between the electronic component loading and unloading device and the customer tray handling device.

또한, 상기 부품 운반 장치는, 상기 셔틀의 이동 경로 상에 배치되어 상기 셔틀에 의해서 운반되는 전자 부품의 테스트 결과를 읽는 테스트 결과 독출기를 더 포함하는, 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, the component transport device may be provided with a handler, which further includes a test result reader disposed on the movement path of the shuttle to read test results of the electronic component transported by the shuttle.

또한, 상기 고객 트레이 취급 장치는, 테스트될 전자 부품이 담긴 고객 트레이가 적층되는 제1 스택커; 상기 제1 스택커에 적층된 고객 트레이를 상기 부품 운반 장치 측으로 이동시키는 제1 트랜스퍼, 및 상기 제1 트랜스퍼에 의해서 이동된 고객 트레이에 담긴, 테스트될 전자 부품을 상기 부품 운반 장치로 이동시키는 제1 고객 트레이용 픽커 핸드를 포함하는, 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, the customer tray handling device includes a first stacker on which customer trays containing electronic components to be tested are stacked; A first transfer that moves the customer tray stacked on the first stacker toward the component transport device, and a first transfer that moves the electronic component to be tested contained in the customer tray moved by the first transfer to the component transport device. A handler may be provided, including a picker hand for a customer tray.

또한, 상기 고객 트레이 취급 장치는 전자 부품이 담기지 않은 고객 트레이가 이동되어 저장되는 저장 빈; 테스트된 전자 부품을 상기 저장 빈에 저장된 고객 트레이에 담는 제2 고객 트레이용 픽커 핸드; 테스트된 전자 부품이 담긴 고객 트레이를 상기 저장 빈으로부터 이동시키는 제2 트랜스퍼; 및 상기 제2 트랜스퍼에 의해서 이동된, 테스트된 전자 부품이 담긴 고객 트레이가 적층되는 제2 스택커를 더 포함하는, 핸들러가 제공될 수 있다.In addition, the customer tray handling device includes a storage bin where customer trays that do not contain electronic components are moved and stored; a picker hand for a second customer tray that places tested electronic components into a customer tray stored in the storage bin; a second transfer that moves a customer tray containing tested electronic components from the storage bin; And a handler may be provided, further comprising a second stacker on which customer trays containing tested electronic components moved by the second transfer are stacked.

본 발명의 실시예들에 따르면, 보다 효율적으로, 테스트될 전자 부품을 고객 트레이로부터 테스트 트레이의 소켓으로 옮기어 전자 부품의 테스트가 이루어질 수 있으며, 테스트된 전자 부품을 테스트 트레이로부터 고객 트레이로 옮길 수 있다는 효과가 있다.According to embodiments of the present invention, the test of the electronic component can be performed more efficiently by moving the electronic component to be tested from the customer tray to the socket of the test tray, and the tested electronic component can be transferred from the test tray to the customer tray. It works.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전자 부품 로딩 언로딩 장치 및 이를 포함하는 핸들러를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 핸들러의 테스트 트레이를 나타내는 도면이다.
도 3은 개폐형 소켓 사이의 거리가, 도 2에 도시된 테스트 트레이와 다른 테스트 트레이를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 핸들러의 테스트 트레이의 개폐형 소켓이 폐쇄된 것과 개방된 것을 나타내는 도면이다.
도 5는 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치에서, 테스트 트레이가 이송되면서 개폐형 소켓이 개방되고, 개방된 개폐형 소켓에 전자 부품이 로딩되거나 개방된 개폐형 소켓으로부터 전자 부품이 언로딩되며, 개폐형 소켓이 폐쇄되는 것을 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 소켓 개방기에 의해서 개폐형 소켓이 개방되는 것을 나타내는 도면이다.
도 7은 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 테스트 트레이용 픽커 핸드에 의해서, 전자 부품이, 개방된 개폐형 소켓에 로딩되거나, 개방된 개폐형 소켓으로부터 전자 부품이 언로딩되는 것을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 테스트 트레이용 픽커 핸드의 픽커 사이의 간격이 변경되는 것을 나타내는 도면이다.
도 9는 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 소켓 폐쇄기를 나타내는 도면이다.
도 10은 도 9의 소켓 폐쇄기에 의해서, 개폐형 소켓이 폐쇄되는 것을 나타내는 도면이다.
도 11은 도 1의 소켓 폐쇄기의 제1 폐쇄부재의 다른 실시예들을 나타내는 도면이다.
도 12는 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 테스트 트레이 이송유닛의 일 실시예를 나타내는 도면이다.
도 13은 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 테스트 트레이 이송유닛의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 14는 도 1의 전자 부품 로딩 언로딩 장치의 테스트 트레이 이송유닛의 또 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 15는 도 1의 핸들러와, 테스터 사이에서 테스트 트레이를 운반하는 테스트 트레이 운반 카트의 평면도, 정면도, 및 측면도이다.1 is a diagram showing an electronic component loading and unloading device and a handler including the same according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a test tray of the handler of FIG. 1.
FIG. 3 is a diagram showing a test tray in which the distance between open and closed sockets is different from the test tray shown in FIG. 2.
Figure 4 is a diagram showing closed and open sockets of the test tray of the handler of Figure 1;
5 shows that in the electronic component loading and unloading device of FIG. 1, the open/closed socket is opened while the test tray is transferred, the electronic component is loaded into the open/closed socket, or the electronic component is unloaded from the open/closed socket, and the open/closed socket is This is a drawing showing closure.
FIG. 6 is a diagram showing that an open/closed socket is opened by the socket opener of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
FIG. 7 is a diagram showing that an electronic component is loaded into an open and closed socket or that an electronic component is unloaded from an open and closed socket by a picker hand for a test tray of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1 .
FIG. 8 is a diagram showing changes in the spacing between pickers of a picker hand for a test tray of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
FIG. 9 is a diagram showing a socket closer of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
FIG. 10 is a diagram showing that an open/closed socket is closed by the socket closer of FIG. 9.
Figure 11 is a view showing other embodiments of the first closure member of the socket closure of Figure 1;
FIG. 12 is a diagram illustrating an embodiment of a test tray transfer unit of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
FIG. 13 is a diagram showing another embodiment of the test tray transfer unit of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
FIG. 14 is a diagram showing another embodiment of the test tray transfer unit of the electronic component loading and unloading device of FIG. 1.
Figure 15 is a top, front, and side view of a test tray transport cart transporting a test tray between the handler of Figure 1 and a tester.

이하에서는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, specific embodiments for implementing the technical idea of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

아울러 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.In addition, when describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.

또한, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 '연결', '지지', '접속', '공급', '접촉'된다고 언급된 때에는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 지지, 접속, 공급, 접촉될 수도 있지만 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, when a component is mentioned as being 'connected', 'supported', 'connected', 'supplied', or 'in contact' with another component, it is said that it is directly connected, supported, connected, supplied, or in contact with that other component. It may be possible, but it should be understood that other components may exist in the middle.

본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다.The terms used in this specification are merely used to describe specific embodiments and are not intended to limit the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.

또한, 본 명세서에서 상, 하, 좌, 우의 방향은 이를 나타내도록 각 도면에 도시된 화살표를 기준으로 설명한 것이며 해당 대상의 방향이 변경되면 다르게 표현될 수 있음을 미리 밝혀둔다. 마찬가지의 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었으며, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다.In addition, in this specification, the directions of up, down, left, and right are explained based on the arrows shown in each drawing to indicate them, and it should be noted in advance that if the direction of the object in question changes, it may be expressed differently. For the same reason, in the accompanying drawings, some components are exaggerated, omitted, or schematically shown, and the size of each component does not entirely reflect the actual size.

또한, 제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 해당 구성요소들은 이와 같은 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 이 용어들은 하나의 구성요소들을 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Additionally, terms including ordinal numbers, such as first, second, etc., may be used to describe various components, but the components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another.

명세서에서 사용되는 "포함하는"의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.As used in the specification, the meaning of "comprising" is to specify a specific characteristic, area, integer, step, operation, element, and/or component, and to specify another specific property, area, integer, step, operation, element, component, and/or group. It does not exclude the existence or addition of .

이하, 도 1 내지 도 15를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품 로딩 언로딩 장치 및 이를 포함하는 핸들러의 구체적인 구성에 대하여 설명한다. 핸들러(1)에는 테스트될 전자 부품(2)이 언로딩된 고객 트레이(4)가 공급될 수 있다. 또한, 핸들러(1)에서는, 테스트될 전자 부품(2)이 테스트 트레이(60)로 옮겨질 수 있다. 테스트 트레이(60)로 옮겨진 테스트될 전자 부품(2)은 테스터(미도시)에서 테스트될 수 있다. 핸들러(1)에서는 테스터에서 테스트된 전자 부품(2)이 테스트 트레이(60)로부터 고객 트레이(4)로 옮겨질 수 있다. 또한, 핸들러(1)에서는 테스터에서의 테스트 결과 양품으로 분류된 전자 부품(2)과, 불량품 또는 재검사품으로 분류된 전자 부품(2)을 각각 다른 고객 트레이(4)로 옮길 수 있다. 양품의 전자 부품(2)은 고객 트레이(4)에 언로딩되어 고객에게 공급될 수 있다. 예를 들어, 핸들러(1)에서 고객 트레이(4)로부터 테스트 트레이(60) 또는 테스트 트레이(60)로부터 고객 트레이(4)로 옮겨지는 전자 부품(2)은 반도체 소자일 수 있다. 핸들러(1)는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10), 테스트 트레이 공급장치(20), 부품 운반 장치(30), 고객 트레이 취급 장치(40), 핸들러 프레임(50), 및 테스트 트레이(60)를 포함할 수 있다.Hereinafter, a specific configuration of an electronic component loading and unloading device and a handler including the same according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 15. The handler 1 may be supplied with a customer tray 4 on which the electronic components 2 to be tested are unloaded. Additionally, in the handler 1, the electronic component 2 to be tested can be transferred to the test tray 60. The electronic component 2 to be tested transferred to the test tray 60 may be tested in a tester (not shown). In the handler 1, the electronic component 2 tested in the tester can be transferred from the test tray 60 to the customer tray 4. In addition, the handler 1 can transfer the electronic component 2 classified as a good product as a result of testing in the tester and the electronic component 2 classified as a defective product or re-inspection product to a different customer tray 4. Good electronic components 2 may be unloaded into the customer tray 4 and supplied to the customer. For example, the electronic component 2 that is transferred in the handler 1 from the customer tray 4 to the test tray 60 or from the test tray 60 to the customer tray 4 may be a semiconductor device. The handler 1 includes an electronic component loading and unloading device 10, a test tray supply device 20, a component transport device 30, a customer tray handling device 40, a handler frame 50, and a test tray 60. may include.

전자 부품 로딩 언로딩 장치(10), 테스트 트레이 공급장치(20), 부품 운반 장치(30), 고객 트레이 취급 장치(40), 및 핸들러 프레임(50)을 설명하기에 앞서서 테스트 트레이(60)를 먼저 설명한다.Before describing the electronic component loading and unloading device 10, the test tray supply device 20, the component transport device 30, the customer tray handling device 40, and the handler frame 50, the test tray 60 will be described. Let me explain first.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 테스트 트레이(60)에는 전자 부품(2)이 안착될 수 있다. 테스트 트레이(60)에 전자 부품(2)이 안착된 상태에서, 전자 부품(2)이 테스터에서 테스트될 수 있다. 테스트 트레이(60)는 테스트 트레이 보드(61), 및 개폐형 소켓(62)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 2 to 4 , an electronic component 2 may be mounted on the test tray 60 . With the electronic component 2 seated on the test tray 60, the electronic component 2 can be tested in the tester. The test tray 60 may include a test tray board 61 and an open/closed socket 62.

테스트 트레이 보드(61)는 개폐형 소켓(62)을 지지할 수 있다. 테스트 트레이 보드(61)는 인쇄회로기판(PCB; Printed Circuit Board, 미도시)을 포함할 수 있다. 테스트 트레이 보드(61)는 인쇄회로기판이 연결되도록 테스터에 연결될 수 있다. 테스트 트레이 보드(61)는 판 형상일 수 있다.The test tray board 61 can support the open/closed socket 62. The test tray board 61 may include a printed circuit board (PCB) (not shown). The test tray board 61 may be connected to the tester so that the printed circuit board is connected. The test tray board 61 may have a plate shape.

개폐형 소켓(62)에는 전자 부품(2)이 안착될 수 있다. 개폐형 소켓(62)은 개폐될 수 있다. 개폐형 소켓(62)이 개방된 상태에서, 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 로딩되어 안착되거나, 개폐형 소켓(62)에 안착된 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)으로부터 언로딩될 수 있다. 개폐형 소켓(62)은 전자 부품(2)이 안착된 상태에서 폐쇄되거나 안착되지 않은 상태에서 폐쇄될 수 있다. 개폐형 소켓(62)은 인쇄회로기판에 연결되도록 테스트 트레이 보드(61)에 연결될 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되면 전자 부품(2)은 테스트 트레이 보드(61)의 인쇄회로기판에 연결될 수 있다. 복수 개의 개폐형 소켓(62)이 소정 개수의 열과 행으로 테스트 트레이 보드(61)에 연결될 수 있다. 이러한 경우, 개폐형 소켓(62) 사이의 거리는 동일하거나 다를 수 있다. 개폐형 소켓(62)은 소켓 본체(62-1), 소켓 덮개(62-2), 및 래치 부재(62-3)를 포함할 수 있다.The electronic component 2 can be seated in the open/close socket 62. The open/close socket 62 can be open/closed. In a state in which the open/close socket 62 is open, the electronic component 2 is loaded into the open/close socket 62 and is seated, or the electronic component 2 seated in the open/close socket 62 is unloaded from the open/close socket 62. It can be. The open/closed socket 62 may be closed with the electronic component 2 seated or closed without the electronic component 2 seated thereon. The open/closed socket 62 may be connected to the test tray board 61 to be connected to a printed circuit board. Additionally, when the electronic component 2 is seated in the open/close socket 62, the electronic component 2 may be connected to the printed circuit board of the test tray board 61. A plurality of open/closed sockets 62 may be connected to the test tray board 61 in a predetermined number of columns and rows. In this case, the distance between open and closed sockets 62 may be the same or different. The open/closed socket 62 may include a socket body 62-1, a socket cover 62-2, and a latch member 62-3.

소켓 본체(62-1)는 테스트 트레이 보드(61)에 연결될 수 있다. 소켓 본체(62-1)는 테스트 트레이 보드(61)의 인쇄회로기판에 연결되도록 테스트 트레이 보드(61)에 연결될 수 있다. 소켓 본체(62-1)에는 전자 부품(2)이 안착되는 안착 공간(62-11)이 형성될 수 있다. 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)에 전자 부품(2)이 안착되면, 소켓 본체(62-1)에 전자 부품(2)이 전기적으로 접속되어, 테스트 트레이 보드(61)의 인쇄회로기판에 전자 부품(2)이 연결될 수 있다. 안착 공간(62-11)은 상부가 개방되어, 안착 공간(62-11)의 개방된 상부를 통해, 전자 부품(2)이, 안착 공간(62-11)에 로딩되어 안착되거나, 안착 공간(62-11)에 안착된 전자 부품(2)이 안착 공간(62-11)으로부터 언로딩될 수 있다.The socket body 62-1 may be connected to the test tray board 61. The socket body 62-1 may be connected to the test tray board 61 so as to be connected to the printed circuit board of the test tray board 61. A seating space 62-11 in which the electronic component 2 is seated may be formed in the socket body 62-1. When the electronic component 2 is seated in the seating space 62-11 of the socket body 62-1, the electronic component 2 is electrically connected to the socket body 62-1 and the test tray board 61. Electronic components 2 may be connected to the printed circuit board. The seating space 62-11 is open at the top, and the electronic component 2 is loaded and seated in the seating space 62-11 through the open top of the seating space 62-11, or is loaded into the seating space ( The electronic component 2 seated in 62-11 may be unloaded from the seating space 62-11.

소켓 덮개(62-2)는 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)을 개폐할 수 있다. 소켓 덮개(62-2)는 소켓 본체(62-1)에 힌지 연결될 수 있다. 또한, 소켓 덮개(62-2)는, 회전 위치에 따라, 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 개방된 상부를 덮어서 안착 공간(62-11)을 폐쇄하거나, 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 상부를 개방할 수 있다. 소켓 덮개(62-2)의 회전에 의해서, 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 상부가 개방되면, 전자 부품(2)이 안착 공간(62-11)에 로딩되어 안착되거나, 안착 공간(62-11)에 안착된 전자 부품(2)이 안착 공간(62-11)으로부터 언로딩될 수 있다.The socket cover 62-2 can open and close the seating space 62-11 of the socket body 62-1. The socket cover 62-2 may be hingedly connected to the socket body 62-1. In addition, the socket cover 62-2, depending on the rotation position, covers the open upper part of the seating space 62-11 of the socket body 62-1 to close the seating space 62-11 or closes the seating space 62-11 of the socket body 62-1. The upper part of the seating space (62-11) of (62-1) can be opened. When the upper part of the seating space 62-11 of the socket body 62-1 is opened by rotating the socket cover 62-2, the electronic component 2 is loaded and seated in the seating space 62-11. Alternatively, the electronic component 2 seated in the seating space 62-11 may be unloaded from the seating space 62-11.

래치 부재(62-3)는 소켓 덮개(62-2)가 소켓 본체(62-1)를 폐쇄한 것을 잠그거나 잠금을 해제할 수 있다. 래치 부재(62-3)는 소켓 덮개(62-2)에 힌지 연결될 수 있다. 래치 부재(62-3)는, 소켓 본체(62-1)에 힌지 연결된 측의 반대 측의 소켓 덮개(62-2)의 부분에 힌지 연결될 수 있다. 래치 부재(62-3)는 소켓 본체(62-1)에 걸리거나 걸림이 해제될 수 있다.The latch member 62-3 can lock or unlock the socket cover 62-2 from closing the socket body 62-1. The latch member 62-3 may be hingedly connected to the socket cover 62-2. The latch member 62-3 may be hingedly connected to a portion of the socket cover 62-2 on the opposite side from the side hinged to the socket body 62-1. The latch member 62-3 may be caught or released from the socket body 62-1.

래치 부재(62-3)는, 소켓 덮개(62-2)가 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 개방된 상부를 덮도록 회전한 상태에서, 소켓 본체(62-1)에 걸릴 수 있다. 따라서, 래치 부재(62-3)가 소켓 본체(62-2)에 걸린 것이 해제되지 않는 한, 소켓 덮개(62-2)는 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 개방된 상부를 덮은 위치를 유지할 수 있다. 또한, 래치 부재(62-3)가 소켓 본체(62-1)에 걸린 것이 해제되면, 소켓 본체(62-1)의 안착 공간(62-11)의 상부가 개방되도록 소켓 덮개(62-2)가 회전할 수 있다.The latch member 62-3 is rotated so that the socket cover 62-2 covers the open upper part of the seating space 62-11 of the socket body 62-1. ) can occur. Therefore, unless the latch member 62-3 is released from the socket body 62-2, the socket cover 62-2 opens the seating space 62-11 of the socket body 62-1. The position covering the upper part can be maintained. In addition, when the latch member 62-3 is released from the socket body 62-1, the socket cover 62-2 is opened so that the upper part of the seating space 62-11 of the socket body 62-1 is opened. can rotate.

도 5를 참조하면, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)는, 테스트 트레이(60)가 이송되면서, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)이 개방되고 개방된 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 로딩되거나 개방된 개폐형 소켓(62)으로부터 전자 부품(2)이 언로딩되며 개방된 개폐형 소켓(62)이 폐쇄되도록 구성될 수 있다. 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)는 소켓 체크기(100), 소켓 개방기(200), 테스트 트레이용 픽커 핸드(300), 소켓 폐쇄기(400), 및 테스트 트레이 이송유닛(500)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, as the test tray 60 is transferred, the electronic component loading and unloading device 10 opens the open and closed socket 62 of the test tray 60 and places the electronic component in the open and closed socket 62. The electronic component 2 may be loaded or unloaded from the open socket 62 and the open socket 62 may be closed. The electronic component loading and unloading device 10 may include a socket checker 100, a socket opener 200, a picker hand 300 for a test tray, a socket closer 400, and a test tray transfer unit 500. there is.

다시 도 1을 참조하면, 소켓 체크기(100)는 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 소켓 체크기(100)는 제1 소켓 체크기(110), 및 제2 소켓 체크기(120)를 포함할 수 있다.Referring again to FIG. 1, the socket checker 100 can detect whether the electronic component 2 is seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60. The socket checker 100 may include a first socket checker 110 and a second socket checker 120.

제1 소켓 체크기(110)는 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 공급되어 이송되는 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 제1 소켓 체크기(110)는 부품 로딩 언로딩 장치(10)로부터 소정 거리 이격되어 테스트 트레이 공급장치(20)에 인접하게 배치될 수 있다. 제1 소켓 체크기(110)가 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있는 것으로 감지하면, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)에서는, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 안착된 전자 부품(2)을 언로딩할 수 있다. 또한, 제1 소켓 체크기(110)가 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있지 않은 것으로 감지하면, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)에서는, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)을 로딩할 수 있다.The first socket checker 110 checks whether the electronic component 2 is seated in the open/close socket 62 of the test tray 60 that is supplied and transferred from the test tray supply device 20 to the component loading and unloading device 10. It can be detected whether or not The first socket checker 110 may be disposed adjacent to the test tray supply device 20 at a predetermined distance away from the component loading and unloading device 10. When the first socket checker 110 detects that the electronic component 2 is seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60, the electronic component loading and unloading device 10 detects that the electronic component 2 is seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60. The electronic component 2 seated in the open/close socket 62 can be unloaded. In addition, when the first socket checker 110 detects that the electronic component 2 is not seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60, the electronic component loading and unloading device 10 detects that the test tray ( Electronic components 2 can be loaded into the open/close socket 62 of 60.

제2 소켓 체크기(120)는 소켓 폐쇄기(400)로부터 이송되는 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 제2 소켓 체크기(120)는 소켓 폐쇄기(400)에 인접하게 배치될 수 있다. 제2 소켓 체크기(120)가 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있는 것으로 감지하면, 테스트 트레이 이송유닛(500)은 테스트 트레이(60)를 테스트 트레이 공급장치(20)로 이동시킬 수 있다. 또한, 제2 소켓 체크기(120)가 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되어 있지 않는 것으로 감지하면, 테스트 트레이 이송유닛(500)은 테스트 트레이(60)를 로딩 언로딩 장치(10)로 이송시킬 수 있다.The second socket checker 120 can detect whether the electronic component 2 is seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60 transported from the socket closer 400. The second socket checker 120 may be placed adjacent to the socket closer 400. When the second socket checker 120 detects that the electronic component 2 is seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60, the test tray transfer unit 500 supplies the test tray 60 to the test tray. It can be moved to the device 20. In addition, when the second socket checker 120 detects that the electronic component 2 is not seated in the open/closed socket 62 of the test tray 60, the test tray transfer unit 500 moves the test tray 60. It can be transferred to the loading and unloading device (10).

도 6을 참조하면, 소켓 개방기(200)는 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 공급되어 이송되는 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)을 개방할 수 있다. 소켓 개방기(200)는 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 소정 거리 이격되어 배치됨으로써, 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 공급되는 테스트 트레이(60)가 대기하는 영역을 형성할 수 있다. 소켓 개방기(200)는 개방용 누름기(210)와, 개방용 회전기(220)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, the socket opener 200 can open the open/close socket 62 of the test tray 60 supplied and transported from the test tray supply device 20. The socket opener 200 is disposed at a predetermined distance from the test tray supply device 20, thereby forming an area where the test tray 60 supplied from the test tray supply device 20 waits. The socket opener 200 may include an opening pusher 210 and an opening rotator 220.

개방용 누름기(210)는, 소켓 덮개(62-2)를 누르거나 누르지 않도록 이동할 수 있다. 개방용 누름기(210)는, 소켓 본체(62-1)에 힌지 연결되는 측의, 소켓 덮개(62-2)의 부분의 상면을 누를 수 있다.The opening pusher 210 can be moved to press or not press the socket cover 62-2. The opening pusher 210 can press the upper surface of the portion of the socket cover 62-2 on the side hinged to the socket body 62-1.

개방용 회전기(220)는, 개방용 누름기(210)가 소켓 덮개(62-2)를 누른 상태에서 래치 부재(62-3)를 회전시켜서 래치 부재(62-3)의 소켓 본체(62-1)에의 걸림을 해제시키도록 이동할 수 있다. 개방용 회전기(220)가, 개방용 누름기(210)가 소켓 덮개(62-2)를 누른 상태에서 래치 부재(62-3)를 회전시키면, 소켓 본체(62-1)의 래치 부재(62-3)의 걸림이 해제될 수 있다. 또한, 개방용 회전기(220)는 개방용 누름기(210)가 소켓 덮개(62-2)를 누르지 않은 상태에서 래치 부재(62-3)와 소켓 덮개(62-2)를 회전시켜서 개폐형 소켓(62)을 개방하도록 이동할 수 있다.The opening rotator 220 rotates the latch member 62-3 while the opening pusher 210 presses the socket cover 62-2, thereby forming the socket body 62-3 of the latch member 62-3. 1) can be moved to release the jam. When the opening rotator 220 rotates the latch member 62-3 while the opening pusher 210 presses the socket cover 62-2, the latch member 62-3 of the socket body 62-1 -3) The jam can be released. In addition, the opening rotator 220 rotates the latch member 62-3 and the socket cover 62-2 in a state where the opening pusher 210 does not press the socket cover 62-2 to open and close the socket ( 62) can be moved to open.

도 7을 참조하면, 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)는, 소켓 개방기(200)가 개방한, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)을 로딩하거나, 개방된 개폐형 소켓(62)으로부터 전자 부품(2)을 언로딩할 수 있다. 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)는 픽커(310)와, 핸드 바디(320)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, the test tray picker hand 300 loads the electronic component 2 into the open/closed socket 62 of the test tray 60, which is opened by the socket opener 200, or the open/closed socket 62 is opened by the socket opener 200. The electronic component 2 can be unloaded from the socket 62 . The picker hand 300 for a test tray may include a picker 310 and a hand body 320.

픽커(310)는 전자 부품(2)을 파지하거나 파지를 해제할 수 있다. 예를 들어, 픽커(310)는 진공압으로 전자 부품(2)을 파지하고 진공압을 해제하여 파지를 해제하도록 구성될 수 있다.The picker 310 can grip or release the electronic component 2. For example, the picker 310 may be configured to grip the electronic component 2 with vacuum pressure and release the grip by releasing the vacuum pressure.

핸드 바디(320)는 픽커(310)가 이동 가능하게 연결될 수 있다. 예를 들어, 핸드 바디(320)에는 픽커(310)가 상하방향으로 이동 가능하고 핸드 바디(320)를 따라서 이동 가능하게 연결될 수 있다. 핸드 바디(320)는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)와 부품 운반 장치(30) 사이에서 연장될 수 있다.The hand body 320 may be connected to the picker 310 so that it can move. For example, the picker 310 may be movable in the vertical direction and may be connected to the hand body 320 to be movable along the hand body 320. The hand body 320 may extend between the electronic component loading and unloading device 10 and the component transport device 30 .

이러한 구성의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)에서는, 픽커(310)가 진공압으로 전자 부품(2)을 파지한 상태에서, 핸드 바디(320)를 따라 이동하여, 테스트 트레이(60)의 개방된 개폐형 소켓(62) 위로 이동할 수 있다. 픽커(310)가 전자 부품(2)을 파지한 상태에서, 테스트 트레이(60)의 개방된 개폐형 소켓(62) 위로 이동한 후, 픽커(310)가 하강하고 진공압을 해제할 수 있다. 픽커(310)의 진공압의 해제로, 전자 부품(2)이, 개방된 개폐형 소켓(62)의 안착 공간(62-11)에 로딩되어 안착될 수 있다. 또한, 픽커(310)가 핸드 바디(320)를 따라 이동하여, 전자 부품(2)이 안착되어 있는 상태로 개방된, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62) 위로 이동할 수 있다. 픽커(310)가, 전자 부품(2)이 안착된, 테스트 트레이(60)의 개방된 개폐형 소켓(62) 위로 이동한 후, 픽커(310)가 하강할 수 있다. 또한, 픽커(310)가, 개방된 개폐형 소켓(62)에 안착된 전자 부품(2)을 진공압으로 파지할 수 있다. 픽커(310)가 개방된 개폐형 소켓(62)에 안착된 전자 부품(2)을 파지한 후 픽커(310)가 상승하여, 전자 부품(2)이, 개방된 개폐형 소켓(62)의 안착 공간(62-11)으로부터 언로딩될 수 있다.In the test tray picker hand 300 of this configuration, the picker 310 moves along the hand body 320 while holding the electronic component 2 with vacuum pressure, and opens the test tray 60. It can be moved over the open/close socket (62). With the picker 310 holding the electronic component 2, the picker 310 moves over the open socket 62 of the test tray 60, and then the picker 310 can descend and release the vacuum pressure. By releasing the vacuum pressure of the picker 310, the electronic component 2 can be loaded and seated in the seating space 62-11 of the open and closed socket 62. Additionally, the picker 310 may move along the hand body 320 and move over the open/closed socket 62 of the test tray 60, which is opened with the electronic component 2 seated therein. After the picker 310 moves over the open and closed socket 62 of the test tray 60 on which the electronic component 2 is seated, the picker 310 may descend. Additionally, the picker 310 can grip the electronic component 2 seated in the open socket 62 using vacuum pressure. After the picker 310 grasps the electronic component 2 seated in the open socket 62, the picker 310 rises, and the electronic component 2 is placed in the seating space of the open socket 62 ( 62-11).

한편, 도 8을 참조하면, 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)는, 복수 개의 픽커(310)를 포함할 수 있다. 또한, 복수 개의 픽커(310)가, 하나의 열을 이루는, 개방된 개폐형 소켓(62) 각각에 전자 부품(2)을 동시에 로딩하거나, 하나의 열을 이루는, 개방된 개폐형 소켓(62) 각각으로부터 동시에 전자 부품(2)을 언로딩할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 8, the picker hand 300 for a test tray may include a plurality of pickers 310. In addition, the plurality of pickers 310 simultaneously load the electronic components 2 into each of the open and closed sockets 62 forming one row, or load the electronic components 2 from each of the open and closed sockets 62 forming one row. At the same time, the electronic components 2 can be unloaded.

또한, 복수 개의 픽커(310) 중 홀수 번째 픽커(310)가 서로 연결될 수 있다. 또한, 복수 개의 픽커(310) 중 짝수 번째 픽커(310)가 서로 연결될 수 있다. 또한, 서로 연결된 홀수 번째 픽커(310) 또는 서로 연결된 짝수 번째 픽커(310)가 이동되도록 하여, 픽커(310) 사이의 거리가 조절될 수 있다. 이러한 픽커(310) 사이의 거리를 조절로, 픽커(310)의 사이의 거리와 개폐형 소켓(62)의 사이의 거리를 일치시킬 수 있다. 따라서, 개폐형 소켓(62) 사이의 거리가 동일하지 않는 경우에도, 픽커(310) 사이의 거리를 조절하여, 개폐형 소켓(62) 사이의 거리와 픽커(310) 사이의 거리를 일치시킬 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62) 사이의 거리가 동일하지 않는 경우에도, 복수 개의 픽커(310)에 의한 복수 개의 개폐형 소켓(62) 각각에의 전자 부품(2)의 동시 로딩과, 복수 개의 개폐형 소켓(62) 각각으로부터의 전자 부품(2)의 동시 언로딩이 수행될 수 있다.Additionally, odd-numbered pickers 310 among the plurality of pickers 310 may be connected to each other. Additionally, even-numbered pickers 310 among the plurality of pickers 310 may be connected to each other. Additionally, the distance between the pickers 310 can be adjusted by allowing the odd-numbered pickers 310 connected to each other or the even-numbered pickers 310 connected to each other to move. By adjusting the distance between the pickers 310, the distance between the pickers 310 and the open/closed socket 62 can be matched. Therefore, even when the distance between the open and closed sockets 62 is not the same, the distance between the pickers 310 can be adjusted to match the distance between the open and closed sockets 62 and the picker 310. In addition, even when the distance between the open and closed sockets 62 is not the same, simultaneous loading of the electronic component 2 into each of the plurality of open and closed sockets 62 by the plurality of pickers 310 and the plurality of open and closed sockets ( 62) Simultaneous unloading of the electronic components 2 from each can be performed.

도 9와 도 10을 참조하면, 소켓 폐쇄기(400)는, 테스트 트레이(60)의 개방된 개폐형 소켓(62)을 폐쇄할 수 있다. 소켓 폐쇄기(400)는 제1 폐쇄부재(410), 및 제2 폐쇄부재(420)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 9 and 10 , the socket closure 400 can close the open and closed socket 62 of the test tray 60 . Socket closure 400 may include a first closure member 410 and a second closure member 420.

제1 폐쇄부재(410)는, 개폐형 소켓(62)의 열린 소켓 덮개(62-2)가 테스트 트레이(60)가 이송되면서 닫히도록 가압할 수 있다. 제1 폐쇄부재(410)의 단면 형상은 뒤집어진 직각 삼각형일 수 있다. 이러한 구성에서, 제1 폐쇄부재(410) 측으로 테스트 트레이(60)가 이송되면, 열린 소켓 덮개(62-2)가 제1 폐쇄부재(410)의 경사면에 접촉된 후, 제1 폐쇄부재(410)의 경사면에 의해서 닫히는 방향으로 회전할 수 있다.The first closing member 410 may pressurize the open socket cover 62-2 of the open/close socket 62 to close while the test tray 60 is transported. The cross-sectional shape of the first closing member 410 may be an inverted right triangle. In this configuration, when the test tray 60 is transferred to the first closing member 410, the open socket cover 62-2 comes into contact with the inclined surface of the first closing member 410, and then the first closing member 410 ) can be rotated in the closing direction by the inclined plane.

제2 폐쇄부재(420)는 제1 폐쇄부재(410)의 하단부에 연결되어 소켓 덮개(62-2)가 닫히도록 소켓 덮개(62-2)를 추가로 가압할 수 있다. 제1 폐쇄부재(410)에 의해서, 전술한 바와 같이 닫힌 소켓 덮개(62-2)는 제2 폐쇄부재(420) 아래를 지나면서 제2 폐쇄부재(420)에 의해서 눌리게 되어 추가로 가압될 수 있다. 이러한 제2 폐쇄부재(420)의 추가 가압에 의해서, 소켓 덮개(62-2)는 완전히 닫힐 수 있다.The second closing member 420 is connected to the lower end of the first closing member 410 and can further pressurize the socket cover 62-2 so that the socket cover 62-2 is closed. By the first closing member 410, the socket cover 62-2, which is closed as described above, passes under the second closing member 420 and is pressed by the second closing member 420 to be further pressurized. You can. By applying additional pressure to the second closing member 420, the socket cover 62-2 can be completely closed.

한편, 도 11를 참조하면, 소켓 폐쇄기(400)의 제1 폐쇄부재(410)의 단면 형상은 원형일 수 있다. 또한, 소켓 폐쇄기(400)의 제1 폐쇄부재(410)의 단면 형상은 타원형일 수 있다. 또한, 소켓 폐쇄기(400)의 제1 폐쇄부재(410)의 단면 형상은 아래로 볼록한 반원형일 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 11, the cross-sectional shape of the first closing member 410 of the socket closure 400 may be circular. Additionally, the cross-sectional shape of the first closing member 410 of the socket closer 400 may be oval. Additionally, the cross-sectional shape of the first closing member 410 of the socket closer 400 may be semicircular and convex downward.

이러한 구성들의 제1 폐쇄부재(410)에서는, 제1 폐쇄부재(410) 측으로 테스트 트레이(60)가 이송되면, 열린 소켓 덮개(62-1)가, 제1 폐쇄부재(410)의 곡면에 닿을 수 있다. 열린 소켓 덮개(62-1)가, 제1 폐쇄부재(410)의 곡면에 닿은 상태에서 테스트 트레이(60)가 더 이송되면, 소켓 덮개(62-1)가 제1 폐쇄부재(410)의 곡면에 의해서 닫히는 반향으로 회전하여, 소켓 덮개(62-1)가 닫힐 수 있다. 또한, 테스트 트레이(60)가 더 이송되면, 소켓 덮개(62-1)가 제1 폐쇄부재(410)의 최하점을 지나서, 소켓 덮개(62-1)가 제1 폐쇄부재(410)에 의해서 눌리어, 소켓 덮개(62-1)가 완전히 닫힐 수 있다.In the first closing member 410 of these configurations, when the test tray 60 is transferred toward the first closing member 410, the open socket cover 62-1 may contact the curved surface of the first closing member 410. You can. When the test tray 60 is further transported while the open socket cover 62-1 is in contact with the curved surface of the first closing member 410, the socket cover 62-1 is brought into contact with the curved surface of the first closing member 410. By rotating in the direction of closing, the socket cover 62-1 can be closed. In addition, when the test tray 60 is further transported, the socket cover 62-1 passes the lowest point of the first closing member 410, and the socket cover 62-1 is pressed by the first closing member 410. The rear, socket cover (62-1) can be completely closed.

도 12를 참조하면, 테스트 트레이 이송유닛(500)은 소켓 개방기(200), 테스트 트레이용 픽커 핸드(300), 및 소켓 폐쇄기(400) 사이에서 테스트 트레이(60)를 이송시킬 수 있다. 테스트 트레이 이송유닛(500)은 트레이 이송기(510), 측면 가이드 레일(520), 및 하면 가이드 레일(530)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, the test tray transfer unit 500 can transfer the test tray 60 between the socket opener 200, the test tray picker hand 300, and the socket closer 400. The test tray transfer unit 500 may include a tray transfer unit 510, a side guide rail 520, and a bottom guide rail 530.

트레이 이송기(510)는 테스트 트레이(60)를 이송시킬 수 있다. 트레이 이송기(510)는 이송 실린더(511), 이송 로드(512), 및 걸림 부재(513)를 포함할 수 있다.The tray transporter 510 can transport the test tray 60. The tray transfer machine 510 may include a transfer cylinder 511, a transfer rod 512, and a stopping member 513.

이송 실린더(511)는 테스트 트레이(60)의 이송 경로 아래에 배치될 수 있다. 이송 로드(512)는 이송 실린더(511)에 이동 가능하게 연결될 수 있다. 이송 로드(512)는 복수 개가 다단으로 연결될 수 있다. 걸림 부재(513)는 테스트 트레이(60)에 걸리거나 접촉되도록 이송 로드(512)에 제공될 수 있다. 예를 들어, 걸림 부재(513)는 테스트 트레이(60)의 테스트 트레이 보드(61)에 걸리거나 접촉되도록 이송 로드(512)에 제공될 수 있다. 이러한 구성에서, 이송 로드(512)가 이송 실린더(511)에 의해서 이동하면, 이송 로드(512)의 걸림 부재(513)에 걸리거나 접촉된 테스트 트레이(60)가 이송될 수 있다.The transfer cylinder 511 may be disposed below the transfer path of the test tray 60. The transfer rod 512 may be movably connected to the transfer cylinder 511. A plurality of transfer rods 512 may be connected in multiple stages. A locking member 513 may be provided on the transfer rod 512 to catch or contact the test tray 60. For example, the locking member 513 may be provided on the transfer rod 512 to catch or contact the test tray board 61 of the test tray 60. In this configuration, when the transfer rod 512 moves by the transfer cylinder 511, the test tray 60 that is caught or in contact with the locking member 513 of the transfer rod 512 can be transferred.

한편, 트레이 이송기(510)는 개폐형 소켓(62)의 하나의 열씩, 차례로, 소켓 개방기(200), 테스트 트레리용 픽커 핸드(300) 및, 소켓 폐쇄기(400)를 거치도록, 테스트 트레이(60)를 이송시킬 수 있다. 따라서, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)의 어느 한 열은 소켓 개방기(200)에서 개방될 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62)의 어느 한 열에 이웃하는, 개폐형 소켓(62)의 다른 열은 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)에 의해서 전자 부품(2)이 로딩되거나 언로딩될 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62)의 다른 열에 이웃하는, 개폐형 소켓(62)의 또 다른 열은 소켓 폐쇄기(400)에 의해서 폐쇄될 수 있다. 다시 말해, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62) 각각의 열에서 개폐형 소켓(62)의 개방, 개폐형 소켓(62)에의 전자 부품(2)의 로딩 또는 개폐형 소켓(62)으로부터의 전자 부품(2)의 언로딩, 및 개폐형 소켓(62)의 폐쇄가 수행될 수 있다. 또한, 테스트 트레이(60)가 이송되면서 개폐형 소켓(62)의 각 열은, 개폐형 소켓(62)의 개방, 개폐형 소켓(62)에의 전자 부품(2)의 로딩 또는 개폐형 소켓(62)으로부터의 전자 부품(2)의 언로딩, 및 개폐형 소켓(62)의 폐쇄가 순차로 수행될 수 있다. 따라서, 테스트 트레이(60)의 개방형 소켓(62)에의 전자 부품(2)의 로딩 또는 언로딩이 보다 빠르게 수행될 수 있다.Meanwhile, the tray transporter 510 moves the test tray ( 60) can be transported. Accordingly, either row of open/close sockets 62 of the test tray 60 can be opened by the socket opener 200. In addition, the electronic component 2 may be loaded or unloaded into another row of the open/closed sockets 62 adjacent to one row of the open/closed sockets 62 by the picker hand 300 for the test tray. Additionally, another row of open/close sockets 62 , adjacent to another row of open/close sockets 62 , can be closed by the socket closure 400 . In other words, opening of the open/closed sockets 62 in each row of open/closed sockets 62 of the test tray 60, loading of electronic components 2 into the open/closed sockets 62, or electronic components from the open/closed sockets 62 ( Unloading of 2) and closing of the open/close socket 62 can be performed. In addition, as the test tray 60 is transferred, each row of the open/close sockets 62 is opened, the electronic component 2 is loaded into the open/close socket 62, or the electronic component 2 is transferred from the open/close socket 62. Unloading of the component 2 and closing of the open/close socket 62 can be performed sequentially. Accordingly, loading or unloading of the electronic component 2 into the open socket 62 of the test tray 60 can be performed more quickly.

측면 가이드 레일(520)은 테스트 트레이(60)의 측면을 가이드하도록 테스트 트레이(60)의 이송방향으로 연장될 수 있다. 예를 들어, 한 쌍의 측면 가이드 레일(520)이 테스트 트레이(60)의 양 측면을 각각 가이드할 수 있다. 또한, 측면 가이드 레일(520)은 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 소켓 폐쇄기(400)를 지나서 연장될 수 있다.The side guide rail 520 may extend in the transport direction of the test tray 60 to guide the side of the test tray 60. For example, a pair of side guide rails 520 may guide both sides of the test tray 60, respectively. Additionally, side guide rails 520 may extend from test tray feeder 20 past socket obturator 400 .

하면 가이드 레일(530)은 테스트 트레이(60)의 하면을 가이드하도록 테스트 트레이(60)의 이송방향으로 연장될 수 있다. 예를 들어, 한 쌍의 하면 가이드 레일(530)이 테스트 트레이(60)의 하면의 양 측을 각각 가이드할 수 있다. 또한, 하면 가이드 레일(530)은 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 소켓 폐쇄기(400)를 지나 연장될 수 있다.The lower surface guide rail 530 may extend in the transport direction of the test tray 60 to guide the lower surface of the test tray 60. For example, a pair of lower surface guide rails 530 may guide both sides of the lower surface of the test tray 60, respectively. Additionally, the lower guide rail 530 may extend from the test tray feeder 20 past the socket closure 400.

한편, 도 13을 참조하면, 테스트 트레이 이송유닛(500)은 트레이 이송기(510)와, 측면 가이드 레일(520)을 포함할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 13 , the test tray transport unit 500 may include a tray transporter 510 and a side guide rail 520.

또한, 트레이 이송기(510)는 랙 기어(514), 피니언 기어(515), 및 구동 모터(516)를 포함할 수 있다.Additionally, the tray transporter 510 may include a rack gear 514, a pinion gear 515, and a drive motor 516.

랙 기어(514)는 테스트 트레이(60)의 테스트 트레이 보드(61)에 제공되거나, 테스트 트레이 보드(61)를 지지하는 지지 보트(미도시)에 제공될 수 있다. 예를 들어, 랙 기어(514)는 기어 형태로 테스트 트레이(60)의 테스트 트레이 보드(61)나 테스트 트레이 보드(61)의 지지 보트의 하면에 제공될 수 있다. 이 외, 랙 기어(514)는 피니언 기어(515)가 맞물릴 수 있는 홈(미도시)의 형태로 테스트 트레이 보드(61) 또는 지지 보트의 하면에 제공될 수도 있다. 즉, 피니언 기어(515)가 맞물릴 수 있는 홈이 소정 간격을 두고 일렬로 테스트 트레이 보드(61)의 하면이나 지지 보트의 하면에 제공될 수 있다.The rack gear 514 may be provided on the test tray board 61 of the test tray 60 or on a support boat (not shown) supporting the test tray board 61. For example, the rack gear 514 may be provided in the form of a gear on the lower surface of the test tray board 61 of the test tray 60 or the support boat of the test tray board 61. In addition, the rack gear 514 may be provided on the lower surface of the test tray board 61 or the support boat in the form of a groove (not shown) into which the pinion gear 515 can engage. That is, grooves into which the pinion gear 515 can engage may be provided on the lower surface of the test tray board 61 or the lower surface of the support boat in a row at predetermined intervals.

피니언 기어(515)는 랙 기어(514)에 맞물릴 수 있다. 구동 모터(516)는 피니언 기어(515)에 연결될 수 있다.Pinion gear 515 may be engaged with rack gear 514. Drive motor 516 may be connected to pinion gear 515.

이러한 구성에서, 구동 모터(516)가 구동되면, 랙 기어(514)가 맞물리는 피니언 기어(515)가 회전하여, 테스트 트레이(60)가 이송될 수 있다.In this configuration, when the drive motor 516 is driven, the pinion gear 515 with which the rack gear 514 engages rotates, so that the test tray 60 can be transferred.

측면 가이드 레일(520)에 대해서는 전술하였으므로, 이하에서는 이에 대한 설명은 생략한다.Since the side guide rail 520 has been described above, its description will be omitted below.

한편, 도 14를 참조하면, 테스트 트레이 이송유닛(500)은 트레이 이송기(510)를 포함하며, 트레이 이송기(510)는 한 쌍의 컨베이어(517), 및 한 쌍의 트레이 파지기(518)를 포함할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 14, the test tray transport unit 500 includes a tray transporter 510, and the tray transporter 510 includes a pair of conveyors 517 and a pair of tray grippers 518. ) may include.

한 쌍의 컨베이어(517)는 테스트 트레이(60)의 하면 양 측을 각각 지지하도록 테스트 트레이(60)의 이송방향으로 연장될 수 있다. 예를 들어, 한 쌍의 컨베이어(517)는 테스트 트레이(60)의 하면 양 측을 각각 지지하도록 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 소켓 폐쇄기(400)를 지나 연장될 수 있다. 또한, 한 쌍의 트레이 파지기(518)는 한 쌍의 컨베이어(517)에 각각 지지되며 테스트 트레이(60)의 양 측 중 어느 한 측과 다른 한 측을 각각 파지할 수 있다. 이러한 구성에서, 한 쌍의 컨베이어(517)가 구동되면, 한 쌍의 트레이 파지기(518)에 의해서 양 측이 각각 파지된 테스트 트레이(60)가 이송될 수 있다.A pair of conveyors 517 may extend in the transport direction of the test tray 60 to support both sides of the lower surface of the test tray 60, respectively. For example, a pair of conveyors 517 may extend from the test tray supply device 20 past the socket closure 400 to respectively support both sides of the lower surface of the test tray 60. Additionally, the pair of tray grippers 518 are each supported by a pair of conveyors 517 and can respectively grip one of the two sides of the test tray 60 and the other side. In this configuration, when the pair of conveyors 517 are driven, the test trays 60 each held on both sides by the pair of tray grippers 518 can be transported.

다시 도 1을 참조하면, 테스트 트레이 공급장치(20)는 테스트 트레이(60)를 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동시킬 수 있다. 테스트 트레이 공급장치(20)는 테스트 트레이 운반 카트(3)에 의해서 운반된 테스트 트레이(60)를 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 소켓 개방기(200) 측으로 이동시킬 수 있다. 테스트 트레이 공급장치(20)는 적어도 일부가 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 일 측에 소정 거리 이격되어 배치될 수 있다. 예를 들어, 테스트 트레이 공급장치(20)는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 우측에 소정 거리 이격되어 배치될 수 있다.Referring again to FIG. 1 , the test tray supply device 20 may move the test tray 60 to the electronic component loading and unloading device 10 . The test tray supply device 20 can move the test tray 60 carried by the test tray transport cart 3 to the socket opener 200 of the electronic component loading and unloading device 10. At least a portion of the test tray supply device 20 may be disposed on one side of the electronic component loading and unloading device 10 at a predetermined distance apart. For example, the test tray supply device 20 may be placed on the right side of the electronic component loading and unloading device 10 at a predetermined distance apart.

한편, 테스트 트레이 공급장치(20)로 테스트 트레이(60)를 운반하는 테스트 트레이 운반 카트(3)는 테스트 트레이(60)가 적층 가능하며 이동 가능할 수 있다. 예를 들어, 테스트 트레이 운반 카트(3)에는, 도 15에 도시된 바와 같이, 적층 공간(3-1)이 형성되어 테스트 트레이(60)가 적층될 수 있고, 테스트 트레이 운반 카트(3)에는 바퀴(3-2)가 제공되어 이동 가능할 수 있다. 이 경우, 테스트 트레이 운반 카트(3)에는 손잡이(3-3)가 제공되어, 작업자가 테스트 트레이 운반 카트(3)를 용이하게 테스터에서 핸들러(1) 사이에서 이동시킬 수 있다.Meanwhile, the test tray transport cart 3 that transports the test tray 60 to the test tray supply device 20 can stack the test trays 60 and be movable. For example, in the test tray transport cart 3, as shown in FIG. 15, a stacking space 3-1 is formed so that the test trays 60 can be stacked, and the test tray transport cart 3 has Wheels 3-2 may be provided to enable movement. In this case, the test tray transport cart 3 is provided with a handle 3-3 so that the operator can easily move the test tray transport cart 3 between the tester and the handler 1.

개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되지 않은 테스트 트레이(60)가, 테스트 트레이 운반 카트(3)에 적층될 수 있다. 이러한 상태에서, 작업자가 테스트 트레이 운반 카트(3)를 핸들러(1)로 이동시킬 수 있다. 또한, 테스터에서 테스트가 완료된 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)가, 테스트 트레이 운반 카트(3)에 적층될 수 있다. 이러한 상태에서, 작업자가 테스트 트레이 운반 카트(3)를 핸들러(1)로 이동시킬 수 있다. 이 외, 테스터에서 테스트를 수행할 전자 부품(2)이 핸들러(1)에서 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)를 통해, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 안착될 수 있다. 테스트될 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)가 테스트 트레이 운반 카트(3)에 적층될 수 있다. 이러한 상태에서, 작업자가 테스트 트레이 운반 카트(3)를 테스터로 이동시킬 수 있다.The test tray 60 in which the electronic component 2 is not seated in the open/close socket 62 may be stacked on the test tray transport cart 3. In this state, the operator can move the test tray transport cart 3 to the handler 1. In addition, the test tray 60 in which the electronic components 2 that have been tested in the tester are seated in the open/close socket 62 may be stacked on the test tray transport cart 3. In this state, the operator can move the test tray transport cart 3 to the handler 1. In addition, the electronic component 2 to be tested in the tester may be placed in the open/close socket 62 of the test tray 60 through the electronic component loading and unloading device 10 in the handler 1. A test tray 60 in which the electronic component 2 to be tested is seated in the open/close socket 62 may be stacked on the test tray transport cart 3. In this state, the operator can move the test tray transport cart 3 to the tester.

예를 들어, 테스트 트레이 공급장치(20)는, 테스트 트레이(60)가 상하로 이동되면서도 좌우로도 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 이러한 구성에 의해서, 테스트 트레이 공급장치(20)는 테스트 트레이 운반 카트(3)의 원하는 층에 있는 테스트 트레이(60)를 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동시킬 수 있다. 테스트 트레이 공급장치(20)는 테스트 트레이(60)를 테스트 트레이 운반 카트(3)의 원하는 층으로 이동시킬 수 있다.For example, the test tray supply device 20 may be configured so that the test tray 60 can move up and down and also move left and right. With this configuration, the test tray supply device 20 can move the test tray 60 on a desired level of the test tray transport cart 3 to the electronic component loading and unloading device 10. The test tray feeder 20 can move the test tray 60 to the desired level of the test tray transport cart 3.

도 1을 참조하면, 부품 운반 장치(30)는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로의 전자 부품(2)이 운반되거나 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로부터 전자 부품(2)이 운반되도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 부품 운반 장치(30)는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 전방에 배치될 수 있다. 부품 운반 장치(30)는 셔틀(31), 및 테스트 결과 독출기(32)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the component transport device 30 is configured to transport the electronic component 2 to or from the electronic component loading and unloading device 10. It can be configured. For example, the component transport device 30 may be disposed in front of the electronic component loading and unloading device 10 . The parts transport device 30 may include a shuttle 31 and a test result reader 32.

셔틀(31)은 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)와 고객 트레이 취급 장치(40) 사이에서 전자 부품(2)을 운반할 수 있다. 예를 들어, 셔틀(31)은 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10) 전방에 일 측 방향 또는 타 측 방향으로 이동 가능하게 제공되며 전자 부품(2)을 운반할 수 있다. 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)에서 셔틀(31)에 전자 부품(2)이 이동되면, 셔틀(31)은 고객 트레이 취급 장치(40)로 전자 부품(2)을 운반할 수 있다. 또한, 고객 트레이 취급 장치(40)로부터 전자 부품(2)이 셔틀(31)로 이동되면, 셔틀(31)은 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 전자 부품(2)을 운반할 수 있다.Shuttle 31 may transport electronic components 2 between electronic component loading and unloading device 10 and customer tray handling device 40 . For example, the shuttle 31 is provided in front of the electronic component loading and unloading device 10 to be movable in one direction or the other direction and can transport the electronic component 2. Once the electronic component 2 is transferred from the electronic component loading and unloading device 10 to the shuttle 31 , the shuttle 31 can transport the electronic component 2 to the customer tray handling device 40 . Additionally, once the electronic component 2 is transferred from the customer tray handling device 40 to the shuttle 31 , the shuttle 31 can transport the electronic component 2 to the electronic component loading and unloading device 10 .

셔틀(31)은 복수 개일 수 있다. 예를 들어, 셔틀(31)은 4 개일 수 있다. 또한, 2 개의 셔틀(31)이 동일한 이동 경로 상에 배치될 수 있다. 동일한 이동 경로 상에 배치된 2 개의 셔틀(31) 중 하나는 전자 부품(2)을 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로부터 고객 트레이 취급 장치(40)로 운반할 수 있다. 또한, 동일한 이동 경로 상에 배치된 2 개의 셔틀(31) 중 다른 하나는 전자 부품(2)을 고객 트레이 취급 장치(40)로부터 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 운반할 수 있다. 이러한 구성에 의해서, 보다 빠르게, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로부터 고객 트레이 취급 장치(40)로의 전자 부품(2)의 운반과, 고객 트레이 취급 장치(40)로부터 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로의 전자 부품(2)의 운반이 수행될 수 있다.There may be a plurality of shuttles 31. For example, there may be four shuttles 31. Additionally, two shuttles 31 may be placed on the same movement path. One of the two shuttles 31 arranged on the same travel path can transport the electronic components 2 from the electronic component loading and unloading device 10 to the customer tray handling device 40 . Additionally, the other of the two shuttles 31 arranged on the same travel path can transport the electronic components 2 from the customer tray handling device 40 to the electronic component loading and unloading device 10 . This configuration allows for faster transport of the electronic components 2 from the electronic component loading and unloading device 10 to the customer tray handling device 40 and from the customer tray handling device 40 to the electronic component loading and unloading device ( Transport of the electronic component 2 to 10) can be carried out.

테스트 결과 독출기(32)는 셔틀(31)의 이동 경로 상에 배치되어 셔틀(31)에 의해서 운반되는 전자 부품(2)의 테스트 결과를 읽을 수 있다. 예를 들어, 전자 부품(2)을 테스트하는 테스터에서는 전자 부품(2)의 테스트 결과를 바코드로 전자 부품(2)에 기록할 수 있다. 또한, 테스트 결과 독출기(32)는 전자 부품(2)에 기록된 바코드를 읽어서 셔틀(31)에 의해서 운반되는 전자 부품(2)의 테스트 결과를 읽을 수 있다. 따라서, 셔틀(31)에 의해서 운반되는 전자 부품(2)이 테스트 결과, 예를 들어 양품인지, 불량품인지, 또는 재검사품인지 알 수 있다.The test result reader 32 is disposed on the movement path of the shuttle 31 and can read the test results of the electronic component 2 carried by the shuttle 31. For example, a tester that tests the electronic component 2 can record the test results of the electronic component 2 on the electronic component 2 as a barcode. Additionally, the test result reader 32 can read the test results of the electronic component 2 transported by the shuttle 31 by reading the barcode written on the electronic component 2. Accordingly, it can be known whether the electronic component 2 transported by the shuttle 31 is, for example, a good product, a defective product, or a re-inspection product based on the test results.

고객 트레이 취급 장치(40)에는 고객 트레이(4)가 적층되고, 고객 트레이(4)로부터 부품 운반 장치(30)로 전자 부품(2)이 이동되거나, 부품 운반 장치(30)로부터 고객 트레이(4)로 전자 부품(2)이 이동되도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 고객 트레이 취급 장치(40)는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 타 측과 부품 운반 장치(30)의 타 측에 배치될 수 있다. 고객 트레이 취급 장치(40)는 제1 스택커(41), 제1 트랜스퍼(42), 제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43), 저장 빈(44), 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45), 제2 트랜스퍼(46), 및 제2 스택커(47)를 포함할 수 있다.Customer trays 4 are stacked on the customer tray handling device 40, and electronic components 2 are moved from the customer tray 4 to the parts transport device 30 or from the parts transport device 30 to the customer tray 4. ) can be configured to move the electronic component 2. For example, customer tray handling device 40 may be placed on the other side of electronic component loading and unloading device 10 and on the other side of component transport device 30 . The customer tray handling device 40 includes a first stacker 41, a first transfer 42, a picker hand 43 for the first customer tray, a storage bin 44, and a picker hand 45 for the second customer tray. , a second transfer 46, and a second stacker 47.

제1 스택커(41)에는 테스트될 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)가 적층될 수 있다. 제1 스택커(41) 주위에는 엠프티 스택커가 배치되어, 제1 스택커(41)에 고객 트레이(4)가 적층되지 못하는 경우에 사용될 수 있다.A customer tray 4 containing electronic components 2 to be tested may be stacked on the first stacker 41 . An empty stacker is disposed around the first stacker 41 and can be used when the customer tray 4 cannot be stacked on the first stacker 41.

제1 트랜스퍼(42)는 제1 스택커(41)에 적층된 고객 트레이(4)를 부품 운반 장치(30) 측으로 이동시킬 수 있다. 예들 들어, 제1 트랜스퍼(42)는 제1 스택커(41)에 적층된 고객 트레이(4) 중 하나를 부품 운반 장치(30) 측으로 이동시킬 수 있다.The first transfer 42 can move the customer tray 4 stacked on the first stacker 41 toward the parts transport device 30. For example, the first transfer 42 may move one of the customer trays 4 stacked on the first stacker 41 toward the parts transport device 30 .

제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43)는 제1 트랜스퍼(42)에 의해 이동된 고객 트레이(4)에 담긴, 테스트될 전자 부품(2)을 부품 운반 장치(30)로 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43)는, 제1 트랜스퍼(42)에 의해 이동된 고객 트레이(4)에 담긴, 테스트될 전자 부품(2)을 부품 운반 장치(30)의 셔틀(31)로 이동시킬 수 있다. 제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43)의 구성은 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)의 구성과 동일할 수 있다.The picker hand 43 for the first customer tray can move the electronic component 2 to be tested contained in the customer tray 4 moved by the first transfer 42 to the component transport device 30. For example, the picker hand 43 for the first customer tray picks the electronic component 2 to be tested, contained in the customer tray 4 moved by the first transfer 42, into the shuttle of the component transport device 30. It can be moved to (31). The configuration of the picker hand 43 for the first customer tray may be the same as that of the picker hand 300 for the test tray of the electronic component loading and unloading device 10.

저장 빈(44)에는 전자 부품(2)이 담기지 않은 고객 트레이(4)가 이동되어 저장될 수 있다. 예를 들어, 저장 빈(44)에는, 전자 부품(2)이 담기지 않은 고객 트레이(4)가 제1 트랜스퍼(42)에 의해서 이동되어 저장될 수 있다. 그러나, 저장 빈(44)에는, 전자 부품(2)이 담기지 않은 고객 트레이(4)가 제2 트랜스퍼(46)에 의해서도 이동되어 저장될 수 있다. 예를 들어, 저장 빈(44)은 6 개 이고, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 4 개의 저장 빈(44)의 고객 트레이(4)에는, 양품의 전자 부품(2)이 품질 등급에 따라 담길 수 있다. 또한, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 2 개의 저장 빈(44) 중 어느 하나의 고객 트레이(4)에는, 불량품인 전자 부품(2)이 담길 수 있다. 또한, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 2 개의 저장 빈(44) 중 다른 하나의 고객 트레이(4)에는, 재검사품인 전자 부품(2)이 담길 수 있다.The customer tray 4 containing no electronic components 2 may be moved and stored in the storage bin 44 . For example, the customer tray 4 that does not contain the electronic component 2 may be moved by the first transfer 42 and stored in the storage bin 44 . However, in the storage bin 44, the customer tray 4 containing no electronic components 2 may be moved and stored by the second transfer 46. For example, there are 6 storage bins 44, and in the customer tray 4 of 4 storage bins 44 among the 6 storage bins 44, non-defective electronic components 2 are in the quality grade. It can be contained accordingly. Additionally, a defective electronic component 2 may be contained in the customer tray 4 of any one of the two storage bins 44 among the six storage bins 44 . In addition, the customer tray 4 of another of the two storage bins 44 among the six storage bins 44 may contain the electronic component 2, which is a re-inspection product.

제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)는, 부품 운반 장치(30)에서 읽은 전자 부품(2)의 테스트 결과에 따라, 테스트된 전자 부품(2)을 저장 빈(44)에 저장된 고객 트레이(4)에 담을 수 있다. 예를 들어, 저장 빈(44)은 6 개 이고, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 4 개의 저장 빈(44)의 고객 트레이(4)에는, 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 양품의 전자 부품(2)이 품질 등급에 따라 담길 수 있다. 또한, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 2 개의 저장 빈(44) 중 어느 하나의 고객 트레이(4)에는, 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 불량품인 전자 부품(2)이 담길 수 있다. 또한, 6 개의 저장 빈(44) 중 모여 있는 2 개의 저장 빈(44) 중 다른 하나의 고객 트레이(4)에는, 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 재검사품인 전자 부품(2)이 담길 수 있다. 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)의 구성은 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)의 구성과 동일할 수 있다.The picker hand 45 for the second customer tray picks the tested electronic component 2 from the customer tray 4 stored in the storage bin 44 according to the test results of the electronic component 2 read by the component transport device 30. ) can be stored in. For example, there are six storage bins 44, and in the customer tray 4 of four storage bins 44 among the six storage bins 44, there is a picker hand 45 for the second customer tray. As a result, good quality electronic components 2 can be contained according to quality grade. In addition, defective electronic components 2 are placed in one of the two storage bins 44 among the six storage bins 44 by the picker hand 45 for the second customer tray. This can be contained. In addition, in the customer tray 4 of the other one of the two storage bins 44 among the six storage bins 44, the electronic component 2, which is a re-inspection product, is placed by the picker hand 45 for the second customer tray. ) can be contained. The configuration of the picker hand 45 for the second customer tray may be the same as that of the picker hand 300 for the test tray of the electronic component loading and unloading device 10.

제2 트랜스퍼(46)는 테스트된 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)를 저장 빈(44)으로부터 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 제2 트랜스퍼(46)는 양품의 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)를 저장 빈(44)으로부터 이동시킬 수 있다. 또한, 제2 트랜스퍼(46)는 재검사품인 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)를 부품 운반 장치(30) 측으로 이동시킬 수 있다. 이 외, 제2 트랜스퍼(46)는 전자 부품(2)이 담기지 않은 고객 트레이(4)를 저장 빈(44)으로 이동시킬 수 있다.The second transfer 46 can move the customer tray 4 containing the tested electronic components 2 from the storage bin 44 . For example, the second transfer 46 may move the customer tray 4 containing non-defective electronic components 2 from the storage bin 44 . Additionally, the second transfer 46 can move the customer tray 4 containing the electronic component 2, which is a re-inspection product, to the parts transport device 30. In addition, the second transfer 46 can move the customer tray 4 that does not contain the electronic component 2 to the storage bin 44.

제2 스택커(47)는, 제2 트랜스퍼(46)에 의해서 이동된, 테스트된 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)가 적층될 수 있다. 예를 들어, 제2 스택커(47)는, 제2 트랜스퍼(46)에 의해서 이동된, 양품의 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)가 적층될 수 있다. 제2 스택커(47) 주위에는 엠프티 스택커가 배치되어, 제2 스택커(47)에 고객 트레이(4)가 적층되지 못하는 경우에 사용될 수 있다.The second stacker 47 may stack the customer tray 4 containing the tested electronic component 2, which is moved by the second transfer 46. For example, the second stacker 47 may stack the customer tray 4 containing good quality electronic components 2 moved by the second transfer 46 . An empty stacker is disposed around the second stacker 47 and can be used when the customer tray 4 cannot be stacked on the second stacker 47.

핸들러 프레임(50)에는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10), 테스트 트레이 공급장치(20), 부품 운반 장치(30), 및 고객 트레이 취급 장치(40)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 핸들러 프레임(50)의 우측 후방에 테스트 트레이 공급장치(20)가 배치될 수 있다. 또한, 테스트 트레이 공급장치(20)로부터 좌측으로 소정 거리 이격되어 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)가 핸들러 프레임(50)에 배치될 수 있다. 또한, 전자 부품 언로딩 장치(10)의 소켓 개방기(200), 테스트 트레이용 픽커 핸드(300), 및 소켓 폐쇄기(400)가 좌측에서 우측으로 차례로 핸들러 프레임(50)에 배치될 수 있다. 또한, 전자 부품 언로딩 장치(10)의 전방으로 부품 운반 장치(30)가 핸들러 프레임(50)에 배치될 수 있다. 또한, 전자 부품 언로딩 장치(10)의 좌측과 부품 운반 장치(30)의 좌측으로 고객 트레이 취급 장치(40)가 핸들러 프레임(50)에 배치될 수 있다.An electronic component loading and unloading device 10, a test tray supply device 20, a component transport device 30, and a customer tray handling device 40 may be disposed on the handler frame 50. For example, the test tray supply device 20 may be placed at the right rear of the handler frame 50. Additionally, the electronic component loading and unloading device 10 may be placed on the handler frame 50 at a predetermined distance to the left from the test tray supply device 20 . Additionally, the socket opener 200, the picker hand 300 for the test tray, and the socket closer 400 of the electronic component unloading device 10 may be arranged in the handler frame 50 in order from left to right. Additionally, the component transport device 30 may be disposed on the handler frame 50 in front of the electronic component unloading device 10. Additionally, a customer tray handling device 40 may be placed on the handler frame 50 to the left of the electronic component unloading device 10 and to the left of the component transport device 30 .

이하에서는 상술한 바와 같은 구성을 갖는 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10) 및 이를 포함하는 핸들러(1)의 작용 및 효과에 대하여 설명한다.Hereinafter, the operation and effect of the electronic component loading and unloading device 10 having the above-described configuration and the handler 1 including the same will be described.

먼저, 고객 트레이(4)에 담긴 전자 부품(2)을 테스트 트레이(60)로 옮겨서 테스터에서 테스트하는 경우를 설명한다.First, a case where the electronic component 2 contained in the customer tray 4 is moved to the test tray 60 and tested on a tester will be described.

고객으로부터 공급되는, 테스트될 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)는, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제1 스택커(41)에 적층될 수 있다. 제1 스택커(41)에 적층된, 테스트될 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)는, 제1 트랜스퍼(42)에 의해서, 부품 운반 장치(30) 측으로 이송될 수 있다.The customer tray 4 containing the electronic components 2 to be tested, supplied by the customer, can be stacked on the first stacker 41 of the customer tray handling device 40 . The customer tray 4 containing the electronic components 2 to be tested, which are stacked on the first stacker 41 , may be transferred to the component transport device 30 by the first transfer 42 .

부품 운반 장치(30) 측으로 이송된 고객 트레이(4)에 담긴, 테스트될 전자 부품(2)은, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43)에 의해서, 고객 트레이(4)로부터 언로딩되고 부품 운반 장치(30)의 셔틀(31)에 로딩될 수 있다. 셔틀(31)에 로딩된 테스트될 전자 부품(2)은, 셔틀(31)에 의해서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 운반될 수 있다.The electronic component (2) to be tested, contained in the customer tray (4) transferred to the component transport device (30), is picked up by the picker hand (43) for the first customer tray of the customer tray handling device (40) on the customer tray ( 4) and can be loaded into the shuttle 31 of the parts transport device 30. The electronic component 2 to be tested loaded on the shuttle 31 may be transported by the shuttle 31 to the electronic component loading and unloading device 10 .

전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 운반된, 테스트될 전자 부품(2)은, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)가 셔틀(31)로부터 언로딩하여 테스트 트레이(60)에 로딩할 수 있다.The electronic component 2 to be tested, transported to the electronic component loading and unloading device 10, is unloaded from the shuttle 31 by the picker hand 300 for the test tray of the electronic component loading and unloading device 10 and tested. It can be loaded onto the tray 60.

이 경우, 테스트될 전자 부품(2)이 고객 트레이 취급 장치(40)의 제1 고객 트레이용 픽커 핸드(43)에 의해서 모두 언로딩된 고객 트레이(4)는, 제1 트랜스퍼(42)나 제2 트랜스퍼(46)에 의해서, 저장 빈(44)으로 이동되어 적층될 수 있다.In this case, the customer tray 4 in which all the electronic components 2 to be tested have been unloaded by the picker hand 43 for the first customer tray of the customer tray handling device 40 is connected to the first transfer 42 or the first customer tray. 2 By the transfer 46, it can be moved to the storage bin 44 and stacked.

한편, 개폐형 소켓(62)에 전자 부품(2)이 안착되지 않은 테스트 트레이(60)가 적층된 테스트 트레이 운반 카트(3)가 핸들러(1)로 작업자에 의해서 이동될 수 있다. 핸들러(1)로 이동된 테스트 트레이 운반 카트(3)의 테스트 트레이(60)는, 테스트 트레이 공급장치(20)에 의해서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동될 수 있다.Meanwhile, the test tray transport cart 3, in which the test tray 60 without the electronic component 2 mounted on the open/close socket 62 is stacked, can be moved by the operator to the handler 1. The test tray 60 of the test tray transport cart 3 moved to the handler 1 may be moved to the electronic component loading and unloading device 10 by the test tray supply device 20 .

전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동된 테스트 트레이(60)는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이 이송유닛(500)에 의해서 이송될 수 있다. 테스트 트레이(60)가 테스트 트레이 이송유닛(500)에 의해서 이송되면서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 소켓 개방기(200)에서는, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)이 한 열씩 차례로 개방될 수 있다. 또한, 테스트 트레이(60)가 이송되면서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)가 테스트될 전자 부품(2)을, 개방된 개폐형 소켓(62)의 한 열씩, 차례로 언로딩하여 안착시킬 수 있다. 테스트될 전자 부품(2)이 안착된, 개방된 개폐형 소켓(62)은, 테스트 트레이(60)가 이송되면서, 소켓 폐쇄기(400)에 의해서, 한 열씩, 차례로 폐쇄될 수 있다.The test tray 60 moved to the electronic component loading and unloading device 10 may be transferred by the test tray transfer unit 500 of the electronic component loading and unloading device 10. As the test tray 60 is transferred by the test tray transfer unit 500, in the socket opener 200 of the electronic component loading and unloading device 10, the open and closed sockets 62 of the test tray 60 are opened one by one. They can be opened one after another. In addition, as the test tray 60 is transferred, the picker hand 300 for the test tray of the electronic component loading and unloading device 10 picks up the electronic components 2 to be tested, one row each of the open and closed sockets 62, They can be unloaded and seated in sequence. The open and closed sockets 62 on which the electronic component 2 to be tested is seated may be closed one row at a time by the socket closer 400 while the test tray 60 is transported.

테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 테스트될 전자 부품(2)의 안착이 완료되고, 개폐형 소켓(62)이 폐쇄되면, 테스트 트레이 이송유닛(500)에 의해서, 테스트 트레이(60)가 테스트 트레이 공급장치(20)로 이동될 수 있다. 테스트될 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)는, 테스트 트레이 공급장치(20)에 의해서, 테스트 트레이 운반 카트(3)에 적층될 수 있다. 테스트 트레이 운반 카트(3)에 테스트 트레이(60)의 적층이 완료되면, 작업자가 테스트 트레이 운반 카트(3)를 테스터로 이동시켜서 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)에 안착된 전자 부품(2)을 테스트할 수 있다.When the electronic component 2 to be tested is completed in the open/close socket 62 of the test tray 60 and the open/close socket 62 is closed, the test tray 60 is transferred by the test tray transfer unit 500. It can be moved to the test tray feeder 20. The test tray 60 on which the electronic component 2 to be tested is seated in the open/close socket 62 can be stacked on the test tray transport cart 3 by the test tray supply device 20. When the stacking of the test tray 60 on the test tray transport cart 3 is completed, the operator moves the test tray transport cart 3 to the tester and places the electronic components ( 2) can be tested.

이하에서는, 테스터에서 테스트된 전자 부품(2)을 테스트 트레이(60)에서 고객 트레이(4)로 옮기는 경우를 설명한다.Below, a case where the electronic component 2 tested in the tester is moved from the test tray 60 to the customer tray 4 will be described.

테스터에서의 전자 부품(2)의 테스트가 완료되면, 전자 부품(2)에 테스트 결과가, 예를 들어 바코드 등으로 기록될 수 있다. 테스트가 완료되어 결과가 기록된 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)는, 테스트 트레이 운반 카트(3)에 적층될 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)가 적층된 테스트 트레이 운반 카트(3)는 작업자에 의해서 핸들러(1)로 이동될 수 있다.When the test of the electronic component 2 in the tester is completed, the test result may be recorded on the electronic component 2, for example, as a barcode. The test tray 60, in which the electronic component 2, on which the test has been completed and the results are recorded, is seated in the open/close socket 62, can be stacked on the test tray transport cart 3. In addition, the test tray transport cart 3, in which the test trays 60 seated in the open/close socket 62 are stacked, can be moved to the handler 1 by an operator.

개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)가 적층된 트레이 운반 카트(3)가 핸들러(1)로 이동되면, 테스트 트레이 공급장치(20)가, 테스트 결과가 기록된 전자 부품(2)이 개폐형 소켓(62)에 안착된 테스트 트레이(60)를, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동시킬 수 있다. 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)로 이동된 테스트 트레이(60)는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이 이송유닛(500)에 의해서, 소켓 개방기(200)로 이송될 수 있다.When the tray transport cart (3) with the test tray (60) seated in the open/close socket (62) stacked is moved to the handler (1), the test tray supply device (20) moves the electronic component (2) on which the test results are recorded. The test tray 60 seated in the open/close socket 62 can be moved to the electronic component loading and unloading device 10. The test tray 60 moved to the electronic component loading and unloading device 10 may be transferred to the socket opener 200 by the test tray transfer unit 500 of the electronic component loading and unloading device 10. .

테스트 트레이(60)가 이송되면서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 소켓 개방기(200)에 의해서, 테스트 트레이(60)의 개폐형 소켓(62)이 한 열씩 차례로 개방될 수 있다. 소켓 개방기(200)에서 개방된, 한 열의 개폐형 소켓(62)에는 테스트 결과가 기록된 전자 부품(2)이 안착될 수 있다. 테스트 트레이(60)가 이송되면서, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)는, 개폐형 소켓(62)의 한 열씩 차례로, 테스트 결과가 기록된 전자 부품(2)을 언로딩하여, 부품 운반 장치(30)의 셔틀(31)로 이동되어 셔틀(31)에 언로딩될 수 있다. 부품 운반 장치(30)의 셔틀(31)에 언로딩된, 테스트 결과가 기록된 전자 부품(2)은, 셔틀(31)에 의해서 운반되면서, 부품 운반 장치(30)의 테스트 결과 독출기(32)에 의해서 테스트 결과가 읽힐 수 있다. 예를 들어, 테스트 결과 독출기(32)는 전자 부품(2)에 기록된 테스트 결과에 대한 바코드를 읽어서, 전자 부품(2)의 테스트 결과를 읽을 수 있다.As the test tray 60 is transported, the open/close sockets 62 of the test tray 60 may be opened one row at a time by the socket opener 200 of the electronic component loading and unloading device 10. The electronic component 2 on which the test result is recorded may be seated in a row of open/closed sockets 62 opened by the socket opener 200. As the test tray 60 is transferred, the test tray picker hand 300 of the electronic component loading and unloading device 10 picks up the electronic components 2 on which the test results are recorded, one row at a time, of the open/closed sockets 62. By unloading, it can be moved to the shuttle 31 of the parts transport device 30 and unloaded into the shuttle 31. The electronic component 2 on which the test results are recorded, unloaded into the shuttle 31 of the parts transport device 30, is transported by the shuttle 31 and is read by the test result reader 32 of the parts transport device 30. ), the test results can be read. For example, the test result reader 32 can read the test result of the electronic component 2 by reading the barcode for the test result recorded on the electronic component 2.

테스트 결과 독출기(32)에 의해서 테스트 결과가 읽힌 전자 부품(2)은, 테스트 결과에 따라, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 고객 트레이 취급 장치(40)의 저장 빈(44)에 저장된 고객 트레이(4)에 담길 수 있다. 예를 들어, 테스트 결과가 양품인 전자 부품(2)은, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 양품의 전자 부품(2)이 담기는 저장 빈(44)에 저장된 고객 트레이(4)에 담길 수 있다. 또한, 테스트 결과가 불량품인 전자 부품(2)은, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 불량품인 전자 부품(2)이 담기는 저장 빈(44)에 저장된 고객 트레이(4)에 담길 수 있다. 또한, 테스트 결과가 재검사품인 전자 부품(2)은, 고객 트레이 취급 장치(40)의 제2 고객 트레이용 픽커 핸드(45)에 의해서, 재검사품인 전자 부품(2)이 담기는 저장 빈(44)에 저장된 고객 트레이(4)에 담길 수 있다. 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)는 제2 트랜스퍼(46)에 의해서, 저장 빈(44)으로부터 제2 스택커(47)로 이동되어 적층될 수 있다. 예를 들어, 양품의 전자 부품(2)이 담긴 고객 트레이(4)가, 제2 트랜스퍼(46)에 의해서, 저장 빈(44)으로부터 제2 스택커(47)로 이동되어 적층될 수 있다.The electronic component 2, the test result of which has been read by the test result reader 32, is picked up by the picker hand 45 for the second customer tray of the customer tray handling device 40 according to the test result. It may be placed in a customer tray (4) stored in the storage bin (44) of (40). For example, the electronic component 2 whose test result is a good product may be picked up by the picker hand 45 for the second customer tray of the customer tray handling device 40 in a storage bin ( It can be placed in the customer tray (4) stored in 44). In addition, the electronic component 2 whose test results are defective is stored in the storage bin 44 by the picker hand 45 for the second customer tray of the customer tray handling device 40. It can be placed in the customer tray (4) stored in . In addition, the electronic component 2 whose test result is a re-inspected product is stored in a storage bin ( It can be placed in the customer tray (4) stored in 44). The customer tray 4 containing the electronic component 2 may be moved from the storage bin 44 to the second stacker 47 by the second transfer 46 and stacked. For example, the customer tray 4 containing good quality electronic components 2 may be moved from the storage bin 44 to the second stacker 47 by the second transfer 46 and stacked.

한편, 테스트가 완료된 전자 부품(2)이 모두 테스트 트레이용 픽커 핸드(300)에 의해서 개폐형 소켓(62)에서 언로딩될 수 있다. 또한, 개폐형 소켓(62)이 모두 폐쇄된 테스트 트레이(60)는, 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)의 테스트 트레이 이송유닛(500)에 의해서 전자 부품 로딩 언로딩 장치(10)나 테스트 트레이 공급장치(20)로 이송될 수 있다.Meanwhile, all electronic components 2 for which testing has been completed can be unloaded from the open/close socket 62 by the test tray picker hand 300. In addition, the test tray 60 with all open/close sockets 62 closed is supplied to the electronic component loading and unloading device 10 or the test tray by the test tray transfer unit 500 of the electronic component loading and unloading device 10. It can be transferred to device 20.

이상 본 발명의 실시예들을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기술적 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. 당업자는 개시된 실시형태들을 조합/치환하여 적시되지 않은 형상의 패턴을 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.Although embodiments of the present invention have been described above as specific embodiments, this is merely an example, and the present invention is not limited thereto, and should be construed as having the widest scope following the technical idea disclosed in this specification. A person skilled in the art may implement a pattern of a shape not specified by combining/substituting the disclosed embodiments, but this also does not depart from the scope of the present invention. In addition, a person skilled in the art can easily change or modify the embodiments disclosed based on the present specification, and it is clear that such changes or modifications also fall within the scope of the present invention.

1 : 핸들러 2 : 전자 부품
3 : 테스트 트레이 운반 카트 3-1 : 적층 공간
3-2 : 바퀴 3-3 : 손잡이
4 : 고객 트레이 10 : 전자 부품 로딩 언로딩 장치
20 : 테스트 트레이 공급장치 30 : 부품 운반 장치
31 : 셔틀 32 : 테스트 결과 독출기
40 : 고객 트레이 취급 장치 41 : 제1 스택커
42 : 제1 트랜스퍼
43 : 제1 고객 트레이용 픽커 핸드 44 : 저장 빈
45 : 제2 고객 트레이용 픽커 핸드 46 : 제2 트랜스퍼
47 : 제2 스택커 50 : 핸들러 프레임
60 : 테스트 트레이 61 : 테스트 트레이 보드
62 : 개폐형 소켓 62-1 : 소켓 본체
62-11 : 안착 공간 62-2 : 소켓 덮개
62-3 : 래치 부재 100 : 소켓 체크기
110 : 제1 소켓 체크기 120 : 제2 소켓 체크기
200 : 소켓 개방기 210 : 개방용 누름기
220 : 개방용 회전기 300 : 테스트 트레이용 픽커 핸드
310 : 픽커 320 : 핸드 바디
400 : 소켓 폐쇄기 410 : 제1 폐쇄부재
420 : 제2 폐쇄부재 500 : 테스트 트레이 이송유닛
510 : 트레이 이송기 511 : 이송 실린더
512 : 이송 로드 513 : 걸림 부재
514 : 랙 기어 515 : 피니언 기어
516 : 구동 모터 517 : 컨베이어
518 : 트레이 파지기 520 : 측면 가이드 레일
530 : 하면 가이드 레일 1: Handler 2: Electronic components
3: Test tray transport cart 3-1: Stacking space
3-2: Wheel 3-3: Handle
4: Customer tray 10: Electronic component loading and unloading device
20: Test tray supply device 30: Parts transport device
31: Shuttle 32: Test result reader
40: customer tray handling device 41: first stacker
42: first transfer
43: Picker hand for first customer tray 44: Storage bin
45: Picker hand for second customer tray 46: Second transfer
47: second stacker 50: handler frame
60: test tray 61: test tray board
62: Open/closed socket 62-1: Socket body
62-11: Seating space 62-2: Socket cover
62-3: Latch member 100: Socket checker
110: first socket checker 120: second socket checker
200: Socket opener 210: Presser for opening
220: Rotator for opening 300: Picker hand for test tray
310: Picker 320: Hand body
400: Socket Closer 410: First Closing Member
420: second closing member 500: test tray transfer unit
510: tray transfer machine 511: transfer cylinder
512: transfer rod 513: catching member
514: rack gear 515: pinion gear
516: Drive motor 517: Conveyor
518: tray gripper 520: side guide rail
530: Bottom guide rail

Claims

A socket opener for opening an open/closed socket included in the test tray;
a picker hand for a test tray that loads electronic components into the open and closed socket or unloads electronic components from the open and closed socket;
a socket closer that closes the opened open/closed socket; and
Comprising a test tray transfer unit that transfers the test tray between the socket opener, a picker hand for the test tray, and the socket closer,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 1,
The test tray transfer unit,
Including a test tray transporter that transports the test tray,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 2,
The test tray transporter,
a transfer cylinder disposed below the transfer path of the test tray;
a transfer rod movably connected to the transfer cylinder; and
Comprising a locking member provided on the transfer rod to catch or contact the test tray,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 2,
The test tray transporter
a rack gear provided on the test tray or a support boat supporting the test tray;
a pinion gear engaged with the rack gear; and
Comprising a drive motor connected to the pinion gear,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 2,
The test tray transporter
a pair of conveyors extending in the transport direction of the test tray to support both sides of the lower surface of the test tray; and
A pair of tray grippers each supported on a pair of conveyors and each holding one side and the other of both sides of the test tray,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 2,
The test tray transfer unit,
a side guide rail extending in the transport direction of the test tray to guide the side of the test tray; and one or more lower surface guide rails extending in the transport direction of the test tray to guide the lower surface of the test tray.
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 2,
The open/closed socket is connected to a test tray board included in the test tray in a predetermined number of columns and rows,
wherein the test tray transporter transports the test tray through each row of the open/closed sockets, one by one, through the socket opener, the picker hand for the test tray, and the socket closer,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 1,
The socket closer,
A socket cover included in the open/close socket includes a first closing member that presses the test tray to close while being transported,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 8,
The cross-sectional shape of the first closure member is an inverted right triangle, a circle, an oval, or a downwardly convex semicircle,
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 8,
Further comprising a second closing member connected to the lower end of the first closing member to further press the socket cover so that the socket cover is closed.
Electronic component loading and unloading device.

According to claim 1,
The open/closed socket is connected to a test tray board included in the test tray in a predetermined number of columns and rows,
The picker hand for the test tray includes a plurality of pickers that grip or release electronic components,
Among the plurality of pickers, the odd-numbered picker and the even-numbered picker are connected to each other,
One of the odd-numbered pickers and the even-numbered pickers connected to each other is moved so that the distance between the open and closed sockets matches the distance between the pickers,
Electronic component loading and unloading device.

a test tray including a test tray board and an open/closed socket connected to the test tray board;
As the test tray is transported, the open-closed socket is opened and electronic components are loaded into the open-closed socket, or electronic components are unloaded from the open-closed socket and the open-closed socket is closed. Loading and unloading of electronic components configured to close the open-closed socket. Device;
a test tray supply device that supplies the test tray to the electronic component loading and unloading device;
a component transport device configured to transport an electronic component to or from the electronic component loading and unloading device; and
a customer tray handling device configured to stack customer trays and move electronic components from the customer tray to the component transport device or to move electronic components from the component transport device to the customer tray;
The open/closed socket is,
A socket body connected to the test tray board and forming a seating space in which electronic components are seated, a socket cover hinged to the socket body, and a latch member hinged to the socket cover and locked to or released from the socket body. Including,
Handler.

According to claim 12,
The parts transport device,
a shuttle transporting electronic components between the electronic component loading and unloading device and the customer tray handling device,
Handler.

According to claim 13,
The parts transport device,
Further comprising a test result reader disposed on the movement path of the shuttle to read test results of electronic components carried by the shuttle,
Handler.

According to claim 12,
The customer tray handling device includes:
a first stacker where customer trays containing electronic components to be tested are stacked;
A first transfer that moves the customer tray stacked on the first stacker toward the parts transport device, and
A picker hand for a first customer tray that moves the electronic component to be tested contained in the customer tray moved by the first transfer to the component transport device,
Handler.

According to claim 15,
The customer tray handling device is
a storage bin where customer trays without electronic components are moved and stored;
a picker hand for a second customer tray that places tested electronic components into a customer tray stored in the storage bin;
a second transfer that moves a customer tray containing tested electronic components from the storage bin; and
Further comprising a second stacker on which customer trays containing tested electronic components moved by the second transfer are stacked,
Handler.