KR20240015614A - 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법 - Google Patents

고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20240015614A
KR20240015614A KR1020237027253A KR20237027253A KR20240015614A KR 20240015614 A KR20240015614 A KR 20240015614A KR 1020237027253 A KR1020237027253 A KR 1020237027253A KR 20237027253 A KR20237027253 A KR 20237027253A KR 20240015614 A KR20240015614 A KR 20240015614A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sensor camera
line sensor
gob
sections
images
Prior art date
Application number
KR1020237027253A
Other languages
English (en)
Inventor
타카시 스즈키
Original Assignee
도요 가라스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 도요 가라스 가부시키가이샤 filed Critical 도요 가라스 가부시키가이샤
Publication of KR20240015614A publication Critical patent/KR20240015614A/ko

Links

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B7/00—Distributors for the molten glass; Means for taking-off charges of molten glass; Producing the gob, e.g. controlling the gob shape, weight or delivery tact
    • C03B7/005—Controlling, regulating or measuring
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B7/00—Distributors for the molten glass; Means for taking-off charges of molten glass; Producing the gob, e.g. controlling the gob shape, weight or delivery tact
    • C03B7/14—Transferring molten glass or gobs to glass blowing or pressing machines
    • C03B7/16—Transferring molten glass or gobs to glass blowing or pressing machines using deflector chutes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/80—Analysis of captured images to determine intrinsic or extrinsic camera parameters, i.e. camera calibration
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00—Television systems
    • H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
    • H04N7/181—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast for receiving images from a plurality of remote sources

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

본 발명은 스와빙 오일의 유연(油煙)에 의한 오동작을 일으키기 어려운 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법을 제공한다. 본 발명에 관한 고브 감시장치(1)는 스쿠프(14)에서 복수의 섹션(Sc1~Sc5)으로 배분된 고브(32)를 초벌 금형(20)으로 안내하는 디플렉터(18)의 출구(18a)와 초벌 금형(20) 사이를 낙하하는 고브(32)를 촬상하는 제1 라인센서 카메라(51)와, 제1 라인센서 카메라(51)에서 촬상된 복수의 화상(60)으로부터 고브(32)를 검출하고, 고브(32)가 초벌 금형(20)으로 투입되는 시간의 지연을 검출하는 제어장치(40)를 구비한다. 복수의 섹션(Sc1~Sc5)에서 낙하하는 고브(32)가 복수의 화상으로 촬상되는 위치에 제1 라인센서 카메라(51)가 배치된다.

Description

고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법
본 발명은 고브(gob:유리 덩어리) 감시장치 및 고브를 촬상(촬영)하는 라인센서 카메라의 위치조정방법에 관한 것이다.
일반적으로 유리병 생산공정에 있어서, 스파우트(spout) 아래에 마련된 오리피스(orifice)로부터 밀려나온 용융유리를 전단 블레이드(shear blade)에 의해 절단하고, 그 절단에 의해 생성된 고브를 고브 분배장치를 통해 유리병 성형기로 보내는 시스템이 알려져 있다. 이러한 시스템에서는 고온의 고브가 스쿠프(Scoop), 트로프(trough), 디플렉터(deflector) 등으로 구성되는 고브 분배장치를 통해 미끄러 떨어지고, 디플렉터 출구에서 나온 고브가 자유낙하하면서 유리병 성형기의 초벌 금형(rough mold) 내에 투입된다.
고브의 낙하속도는 고브를 절단하는 시스템의 오동작이나 용융유리의 이물질을 전단 블레이드로 절단함으로써 돌발적으로 저하되는 경우가 있다. 이러한 고브의 낙하속도 저하는 고브가 초벌 금형에 투입되어야 할 타이밍을 벗어나, 동작중인 배플(baffle) 등 다른 부품 위로 낙하·부착하는 등의 사태(고브 투입 에러)를 발생시킬 우려가 있다. 고브 투입 오류가 발생한 경우, 부품 교체나 성형기의 조정 등 복구까지 시간을 필요로 하여 유리병 생산이 장시간 정지하게 된다.
특허문헌 1에 개시된 발명은 고브 투입 에러를 회피하기 위해 고브가 전단 블레이드에 의해 절단되고 나서 스쿠프에 들어가기 전까지의 시간이 늦어졌을 경우에 경보하는 고브 낙하 감시·경보시스템이다. 한편, 고브가 연속적으로 통과하는 스쿠프, 트로프, 디플렉터 등에서의 마찰계수 증가에 의해 고브의 낙하속도가 서서히 그리고 계속적으로 저하됨에 따른 고브 투입 에러는 특허문헌 1에서는 대응할 수 없다.
특허문헌 2에 개시된 발명은 특허문헌 1의 과제를 해결하기 위해 디플렉터의 출구와 초벌 금형 사이에 배치된 레이저 센서로 고브의 초벌 금형으로의 도착 타이밍을 검출하는 것을 제안하고 있다.
일본 특개평7-10550호 공보 국제공개 제2013/014782호
그러나 특허문헌 2에 개시되는 바와 같은 레이저 센서는 초벌 금형으로의 이형제(離型劑) 스와빙(swabbing) 실시 시에 발생되는 검은 탄소가루 연기(油煙:유연)에 의해 레이저광이 차단됨으로써 오동작을 일으킬 수 있다.
따라서 본 발명은 스와빙 오일의 유연에 의한 오동작을 일으키기 어려운 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 전술한 과제의 적어도 일부를 해결하기 위해 이루어진 것이며, 아래의 양태로서 실현할 수 있다.
[1] 본 발명에 관한 고브 감시장치의 일 양태는, 스쿠프(scoop)에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 이끄는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라와, 상기 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 초벌 금형으로 투입되는 시간의 지연(delay)을 검출하는 제어장치를 구비하며, 상기 복수의 섹션에서 낙하하는 고브가 상기 복수의 화상에 촬상되는 위치에 상기 라인센서 카메라가 배치되는 것을 특징으로 한다.
[2] 본 발명에 관한 고브 감시장치의 일 양태는, 스쿠프에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 안내하는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라와, 상기 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 초벌 금형으로 투입되는 시간의 지연을 검출하는 제어장치를 구비하며, 상기 라인센서 카메라의 시야는 상기 복수의 섹션이 배열 방향으로 교차하고 또한 상기 복수의 섹션에서의 상기 초벌 금형으로부터의 높이가 일정한 것을 특징으로 한다.
[3] 상기 고브 감시장치 중 어느 하나의 양태에 있어서, 상기 복수의 섹션은 상기 섹션마다 상기 초벌 금형을 복수 구비하고, 상기 라인센서 카메라는 상기 섹션별 복수의 상기 초벌 금형에 대응하는 위치에 낙하하는 복수의 고브가 서로 중첩되지 않고 상기 복수의 화상에 촬상되는 위치에 배치될 수 있다.
[4] 상기 고브 감시장치 중 어느 하나의 양태에 있어서, 제1항 또는 제2항에 기재된 고브 감시장치에서, 제어장치는 용융유리를 전단 블레이드에 의해 절단하고 나서 소정시간 후에 상기 라인센서 카메라에 의한 촬상의 개시부터 고브의 선단을 검출하기까지의 상기 화상의 수에 근거하여 고브가 상기 초벌 금형에 투입되는 시간의 지연을 검출할 수 있다.
[5] 상기 고브감시장치 중 어느 하나의 양태에 있어서, 제1항 또는 제2항에 기재된 고브 감시장치에서, 상기 복수의 섹션이 배열 방향 옆에 늘어선 다른 복수의 섹션을 더 포함하고, 상기 라인센서 카메라는 제1 라인센서 카메라이며, 상기 다른 복수의 섹션에 대응하는 위치에 낙하하는 고브를 촬상하는 제2 라인센서 카메라를 더 포함하고, 상기 제어장치는 상기 제2 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 다른 복수의 섹션에서의 초벌 금형에 투입되는 시간의 지연을 검출할 수 있다.
[6] 본 발명에 따른 라인센서 카메라의 위치 조정 방법의 일 양태는, 스쿠프에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 안내하는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라의 위치조정방법으로서, 촬상 대상이 되는 고브의 낙하 위치인 상기 디플렉터 바로 아래에 동일 높이로 설치된 3개의 광원을 배치하고, 중앙의 상기 광원이 상기 라인센서 카메라의 시야 중심에서 촬상되도록 상기 라인센서 카메라의 위치를 조정한 후, 양단(兩端)의 상기 광원이 상기 시야 내에서 촬상되도록 상기 라인센서 카메라의 광축 주위에 상기 라인센서 카메라를 회전시켜 조정하는 것을 특징으로 한다.
[7] 상기 라인센서 카메라의 위치조정방법의 일 양태에 있어서, 상기 라인센서 카메라의 시야의 중심이 들어오는 시야를 갖는 영역센서(area sensor) 카메라가 상기 라인센서 카메라와 일체(一體)로 설치되고, 중앙의 상기 광원을 이용하여 상기 라인센서 카메라의 위치를 조정하기 전에, 중앙의 상기 광원이 상기 영역센서 카메라의 시야에 들어오도록 상기 라인센서 카메라 및 상기 영역센서 카메라의 위치를 조정할 수 있다.
본 발명에 관한 고브 감시장치의 일 양태에 의하면, 라인센서 카메라를 이용하여 고브의 발광을 검출함으로써 스와빙 오일의 유연에 의한 영향을 받지 않도록 할 수 있다. 또한 본 발명에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법의 일 양태에 의하면, 스와빙 오일의 유연에 의한 영향을 받기 어려운 라인센서 카메라를 정확하고 쉽게 위치결정할 수 있다.
도 1은 본 실시형태에 관한 고브 감시장치의 일부를 생략하여 모식적으로 나타낸 정면도이다.
도 2는 라인센서 카메라의 감시 범위를 모식적으로 나타낸 평면도이다.
도 3은 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상을 설명하는 도면이다.
도 4는 본 실시형태에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법에 이용하는 라인센서 카메라를 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 5는 본 실시형태에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법을 설명하는 도면이다.
도 6은 변형예에 관한 라인센서 카메라의 정면도이다.
이하에 본 발명의 바람직한 실시형태에 대해 도면을 이용하여 상세하게 설명한다. 덧붙여 이하에 설명하는 실시형태는 특허청구범위에 기재된 본 발명의 내용을 부당하게 한정하는 것은 아니다. 또한 아래에 설명된 구성 모두가 본 발명의 필수 구성 요건인 것은 아니다.
1. 고브 감시장치
도 1~도 3을 이용하여 본 실시형태에 관한 고브 감시장치(1)에 대해 상세하게 설명한다. 도 1은 본 실시형태에 관한 고브 감시장치(1)의 일부를 생략하여 모식적으로 나타낸 정면도이고, 도 2는 라인센서 카메라의 감시 범위를 모식적으로 나타낸 평면도이며, 도 3은 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상(60)을 설명하는 도면이다. 또한 도 1에서는 제2 라인센서 카메라(52) 및 그 감시 범위를 생략하여 나타내고, 도 2에서는 라인센서 카메라의 시야(A1, A2)를 음영 섹션(Shaded sections:망점) 형태로 나타내었으며, 도 3의 (a)는 복수의 화상(60)을 나타내고, 도 3의 (b)는 복수의 화상(60) 일부를 확대함과 동시에 보기 쉽게 하기 위해 흰색과 검정색을 반전하여 나타내고 있다.
도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이 유리병 성형기(100)는 용융유리(30)가 수용되는 스파우트(10)와, 스파우트(10) 아래에 설치된 오리피스로부터 밀려나오는 용융유리(30)를 전단 블레이드로 절단하는 전단 절단장치(12)와, 절단된 고브(32)를 복수의 초벌 금형(20)으로 배분하여 안내하는 고브 분배장치(11)와, 복수의 섹션 예를 들면 Sc1~Sc10(도 1에서는 섹션 Sc1~Sc6)에 배치된 초벌 금형(20)과, 고브(32)의 낙하를 감시하는 고브 감시장치(1)를 구비한다. 유리병 성형기(100)에서의 섹션의 수는 복수라면 특별히 제한은 없고 10섹션보다 적어도 되며, 10섹션보다 많아도 되고, 예를 들어 12섹션이나 16섹션 등이어도 된다. 또한 고브 감시장치(1)에서의 라인센서 카메라의 수도 특별히 제한은 없으며, 각 섹션의 초벌 금형(20)에 대응한 고브(32)를 정확하게 촬상할 수 있는 범위에서 변경 가능하다. 초벌 금형(20)에 투입된 고브(32)는 패리슨(parison:녹인 유리 덩이, 용융예비 성형물)으로 성형된 후, 제품 완성을 위한 도시하지 않은 마감 금형(仕上型)으로 이송되어 유리병을 형성하도록 블로우 성형된다.
용융유리(30)는 고온이고, 스파우트(10)로부터 낙하하여 초벌 금형(20)에 투입되는 고브(32)는 예를 들면 1100℃~1200℃로 고온에서 발광(發光)한다. 그 때문에 제1 라인센서 카메라(51)로 촬상한 화상에는 예를 들면 도 3의 (a)와 같이 고브(32)를 검출체(62, 64)처럼 명확하게 식별하는 것이 가능하다. 또한 제1 라인센서 카메라(51)는 고브(32)의 발광을 이용하여 촬상하기 때문에 스와빙오일에 의한 유연에 의해 영향을 받기 어렵다. 게다가 제1 라인센서 카메라(51)는 복수의 섹션(본 실시형태에서는 5개 섹션(Sc1~Sc5)의 넓은 범위에 걸쳐 고브(32)가 겹치지 않도록 촬상하기 때문에 유리병 성형기(100)로부터 떨어진 위치에 설치됨으로써 스와빙 오일에 의한 유연의 영향이 더 적게 나타난다.
전단 절단장치(Shear cutting machine)(12)는 한 쌍의 전단 블레이드를 도시하지 않은 구동기구에 의해 서로 왕복이동시켜서 용융유리(30)를 일정 길이로 절단한다. 전단 절단장치(12)는 제어장치(40)와 전기적으로 접속되어 용융유리(30)를 절단할 때마다 절단시 신호를 제어장치(40)에 송신한다.
고브 분배장치(11)는 예를 들어 요동(흔들림) 가능한 스쿠프(14)와, 복수의 트로프(16)와, 복수의 디플렉터(18)를 구비한다. 고브 분배장치(11)는 고온의 고브(32)를 미끄러지듯이 이동시켜 복수 섹션(Sc1~Sc10)의 초벌 금형(20)으로 안내할 수 있다. 도 1에서는 섹션(Sc1)의 트로프(16) 및 디플렉터(18)밖에 기재하지 않았으나, 복수의 트로프(16) 및 복수의 디플렉터(18)는 복수 섹션(Sc1~Sc10)의 초벌 금형(20) 수에 맞추어 마련된다. 스쿠프(14)는 도시하지 않은 구동기구에 의해 복수의 트로프(16)에 고브(32)를 분배하도록 요동시킬 수 있다.
고브 감시장치(1)는 스쿠프(14)에서 복수의 섹션(Sc1~Sc10)으로 배분된 고브(32)를 초벌 금형(20)으로 안내하는 디플렉터(18)의 출구(18a)와 초벌 금형(20) 사이를 낙하하는 고브(32)를 촬상하는 제1 라인센서 카메라(51)와, 제1 라인센서 카메라(51)로 촬상된 복수의 화상(60)(도3)에서 고브(32)를 검출하고, 고브(32)가 초벌 금형(20)에 투입되는 시간의 지연을 검출하는 제어장치(40)를 구비한다.
제어장치(40)는 전단 절단장치(12)와 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)에 전기적으로 접속되며, 예를 들어 전단 절단장치(12)로부터의 절단시 신호에 근거하여 고브(32)의 검출처리를 실행하고, 고브(32)의 지연이 검출된 경우에 경고신호를 출력하는 처리를 실행한다. 제어장치(40)는 경고신호에 근거하여 발광하는 경고등이나 경고신호를 표시하는 디스플레이가 접속될 수 있다. 제어장치(40)는 예를 들어 CPU(Central Processing Unit)나 GPU(Graphics Processing Unit) 등의 프로세서, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), ROM(Read-Only Memory), RAM(Random Access Memory) 등의 기억장치, 키보드, 마우스, 터치패드 등의 입력장치, 액정디스플레이, 유기 EL(Electro Luminescence) 디스플레이 등의 표시장치, I/O 보드 등의 디지털 입출력 보드 등으로 구성된다. 제어장치(40)의 CPU나 기억장치 등은 하나 뿐만 아니라 복수의, 예를 들면 물리적으로 분리된 장치여도 좋고, 이 경우 통신 네트워크를 통해 접속해도 좋다. 제어장치(40)는 예를 들어 검출부(41)와, 계측부(43)와, 산출부(45)와, 판정부(47)와, 출력부(49)를 포함한다. 제어장치(40) 중 적어도 일부의 구성이 제1 라인센서 카메라(51) 및/또는 제2 라인센서 카메라(52)와 일체로 설치되어도 좋다. 제어장치(40)의 각 부의 구체적인 처리에 대해서는 후술한다.
도 2의 실시형태에서, 제 1 라인센서 카메라(51)는 복수의 섹션(Sc1~Sc5)에 서 낙하하는 고브(32)가 복수의 화상(60)(도 3)에 촬상되는 위치에 배치된다. 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)는 적어도 1열의 라인센서 카메라 소자, 예를 들어 CCD 이미징 센서 소자를 갖는다. 라인센서 카메라를 이용함으로써 영역센서 카메라보다 고해상도로 고속 처리가 가능해진다. 또한 라인센서 카메라를 이용함으로써 고브(32)의 지연 상황을 촬상된 화상(60)으로부터 정밀하게 연산할 수 있다. 1대의 제1 라인센서 카메라(51)로 넓은 범위를 감시할 수 있으므로 경제적으로 뛰어난 고브 감시장치(1)가 된다. 또한 제1 라인센서 카메라(51)를 이용함으로써 종래와 같은 스와빙 오일로 인한 유연에 의한 영향을 받기 어렵다. 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)는 어느 섹션(Sc1~Sc10)의 고브(32)를 검출하고 있는지 알 수 있도록 시야(A1)의 폭방향(D)(도 2)에서 인접하는 섹션의 고브(32)와 겹치지 않는 화상을 얻는 것이 바람직하다.
제1 라인센서 카메라(51)의 시야(A1)는 복수의 섹션(Sc1~Sc5)이 늘어서는 방향(X)으로 교차하고 또한 복수 섹션(Sc1~Sc5)에서의 초벌 금형(20)으로부터의 높이(H1)가 일정하다. 시야(A1)가 배열된 방향(X)과 교차하는 양태란, 시야(A1)의 폭방향(D)이 배열된 방향(X)에 평행하지도 않고 직교하지도 않고 교차하는 양태이며, 예를 들어 도 2의 평면도와 같이 시야(A1)가 배열된 방향(X)에 대해 비스듬하게 된다는 것이다. 본 발명에서의 시야란, 라인센서 카메라에 의해 촬상할 수 있는 범위이다. 시야는 본 실시형태와 같이 라인센서 카메라로 직접 촬상할 수 있는 범위여도 좋고, 후술하는 변형예와 같이 미러를 통해 간접적으로 촬상할 수 있는 범위여도 좋다. 시야(A1)가 배열 방향(X)과 교차하기 때문에 제1 라인센서 카메라(51)를 초벌 금형(20)으로부터 이격된 위치에 설치할 수 있어, 종래처럼 배열 방향(X)을 따른 센서와 같은 유연으로 인한 기름때(oil stain)를 피할 수 있다. 또한 시야(A1)의 높이(H1)가 일정하기 때문에 시야(A1)에서 고브(32)를 검출하는 타이밍을 일정하게 할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이 복수의 섹션(Sc1~Sc5)의 배열 방향(X) 옆에 늘어서는 다른 복수의 섹션(Sc6~Sc10)을 더 포함할 수 있다. 다른 복수의 섹션(Sc6~ Sc10)에 대응하는 위치에 낙하하는 고브(32)를 촬상하는 제2 라인센서 카메라(52)를 더 포함할 수 있다. 제어장치(40)는 제2 라인센서 카메라(52)로 촬상된 복수의 화상(60)(도3)으로부터 고브(32)를 검출하고, 고브(32)가 다른 복수의 섹션(Sc6~Sc10)에서의 초벌 금형(20)에 투입되는 지연을 검출할 수 있다. 본 실시형태에서는 2개의 라인센서 카메라를 이용하였으나 이에 한정되지 않으며, 감시 범위에 따라 예를 들면 1개만 있어도 좋고 3개 이상이어도 좋다.
제2 라인센서 카메라(52)도 제1 라인센서 카메라(51)와 마찬가지로, 복수의 섹션(Sc6~Sc10)에서 낙하하는 고브(32)가 복수의 화상에 촬상되는 위치에 배치된다. 제2 라인센서 카메라(52)의 시야(A2)는 복수의 섹션(Sc6~Sc10)이 배열 방향(X)으로 교차하고 또한 복수의 섹션(Sc6~Sc10)에서의 초벌 금형(20)으로부터의 높이(H1)가 일정하다.
또한, 전후 또는 좌우에서 이웃하는 고브(32)가 겹치지 않도록 촬상할 수 있으면, 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)가 촬상하는 범위는 각각 5개의 섹션으로 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 각각 6섹션 이상을 촬상 대상으로 해도 되고, 각각 다른 수의 섹션을 촬상 대상으로 해도 좋다. 또한 1대의 라인센서 카메라로 모든 섹션을 촬상 대상으로 할 수 있는 경우에는 고브 감시장치(1)가 1대의 라인센서 카메라만을 구비하는 구성이어도 된다.
또한, 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 섹션(Sc1~Sc10)은 섹션마다 초벌 금형(20)을 복수개 구비할 수 있고, 이 경우 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)는 섹션별 복수의 초벌 금형(20)에 대응하는 위치에 낙하하는 복수의 고브(32)가 서로 겹치지 않고 복수의 화상에 촬상되는 위치에 배치된다. 구체적으로는 도 2에 도시된 바와 같이 1섹션에 2개의 초벌 금형(20)이 배치되는 경우에 일점 쇄선으로 나타낸 것처럼 다른 섹션의 고브(32) 뿐만 아니라 같은 섹션의 다른 고브(32)도 시야(A1) 중에서 겹치지 않는 위치에 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)가 배치된다. 그 때문에 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)는 감시 대상인 초벌 금형(20)으로부터 떨어진 위치이고 또한 배열 방향(X)에 대해 시야(A1)가 비스듬하게 배치된다. 이러한 배치에 의해 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)가 유연의 영향을 덜 받게 된다. 또한 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)와 초벌 금형(20) 사이에 비교적 넓은 공간을 마련할 수 있으므로, 도시하지 않은 스와빙 로봇이나 협동 로봇의 설치나 이동을 허용할 수 있다. 또한 2개의 라인센서 카메라가 서로 면대칭이 되는 위치에 배치되어 서로의 시야(A1, A2)가 교차하므로, 예를 들어 스와빙 로봇이 제1 라인센서 카메라(51) 측으로 이동하더라도 제2 라인센서 카메라(52)에 의한 감시는 계속할 수 있다. 또한 스와빙 로봇은 유리병 성형기(100)에 채용되는 초벌 금형 등에 오일 등의 이형제를 자동으로 스프레이하는 장치로, 초벌 금형(20) 앞을 배열 방향(X)을 따라 왕복 이동하는 로봇이다.
도3의 (a)에 나타낸 복수의 화상(60)은 예를 들면 제1 라인센서 카메라(51)에 의해 촬상된 도 3의 (b)에 나타낸 것과 같은 1라인분의 화상(601, 602…)을 촬상 순서대로 배열한 화상이다. 도 3의 화상(60)에서는 촬상순으로 아래에서 배열하여 표시하고 있기 때문에 고브(32)가 화상(60)의 아래에서 위를 향해 서서히 표시되어 가는데, 예를 들면 제어장치(40)를 이용하여 위에서 아래를 향해 촬영순으로 정렬한 후 화상(60)을 표시해도 된다.
제어장치(40)는 용융유리(30)를 전단 블레이드에 의해 절단하고 나서 소정시간 후에 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)에 의한 촬상 개시부터 고브(32)의 선단(62a,64a)을 검출할 때까지의 화상(601…)의 수에 근거하여 고브(32)가 초벌 금형(20)에 투입되는 지연을 검출한다. 검출부(41)는 복수의 화상(60) 중에서 낙하하는 고브(32)에 대응하는 검출체(62, 64)를 검출한다. 검출부(41)는 적어도 검출체(62, 64)의 선단(62a, 64a)을 검출한다. 검출부(41)는 복수의 화상(60)을 예를 들면 2치화(二値化/binarization)하여 명확하게 된 흰색 부분을 검출체(62, 64)로서 식별할 수 있다. 계측부(43)는 각 섹션에서 검출된 선단(62a, 64a)이 촬상될 때까지 제1 라인센서 카메라(51)가 촬상한 화상(601…690…693)의 수를 계측하고, 마찬가지로 제2 라인센서 카메라(52)가 촬상한 화상에 대해서도 화상의 수를 계측한다. 산출부(45)는 계측된 화상의 수에 근거하여 전단 블레이드에 의한 절단으로부터 선단(62a, 64a)이 촬상될 때까지의 시간을 산출한다. 이 시간은 고브(32)가 초벌 금형(20)에 투입되기까지의 시간에 가까운 값이 된다. 판정부(47)는 산출된 시간으로부터 고브(32)가 초벌 금형(20)에 투입되는 지연의 유무를 판정하여 판정 결과를 출력한다. 지연이 작으면 그대로 계속해서 생산을 실행할 수 있고, 지연이 커지면 조작자에게 통지, 초벌 금형(20)의 동작 정지, 초벌 금형(20)에의 투입 전에 고브(32)를 배제하는 등의 처리를 실행한다. 출력부(49)는 판정 결과에 근거하여 유리병 성형기(100)의 각 부에 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어 고브(32)의 지연이 있다고 판정된 경우에 디스플레이로 경고신호를 출력할 수 있다. 또한 산출된 시간을 계속해서 관찰함으로써 고브의 길이 변화를 조작자가 확인할 수 있다. 예를 들면 고브의 온도가 설정 온도 영역보다 높은 경우, 유리의 점성이 낮아져 고브는 길어진다(늘어난다). 산출된 시간의 경과 관찰에서 고브의 길이 변화를 확인한 경우, 조작자는 용융유리(30)의 온도를 낮추는 등의 대응을 할 수 있다. 또한 측정한 데이터를 주변장치로 전송함으로써 트러블 방지를 위해 주변장치에 경보 등의 작용을 할 수 있다.
이와 같이 고브 감시장치(1)의 일 양태에 의하면, 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)를 이용하여 고브(32)의 발광을 검출함으로써 유연에 의한 영향을 받기 어렵게 할 수 있다. 또한 종래의 레이저 센서처럼 초벌 금형(20)에 인접하지 않고 라인센서 카메라가 이격하여 배치하기 때문에 기름때로 인한 오동작이 발생하기 어렵고 또한 유지보수가 용이해진다.
2. 고브 감시방법
도 1~도 3을 이용하여 고브 감시장치(1)를 이용한 고브 감시방법에 대해 설명한다.
전단 절단장치(12)가 용융유리(30)를 절단하면 절단시 신호가 제어장치(40)에 전단 절단장치(12)로부터 출력되고, 그 절단시 신호가 제어장치(40)에 입력되면 제1 라인센서 카메라(51) 및 제2 라인센서 카메라(52)에 대해 제어장치(40)가 촬상을 지령한다. 절단시 신호로부터 미리 설정한 고브(32)의 낙하경로에 해당하는 지연 시간이 경과한 후에 촬상을 개시해도 된다.
제어장치(40)로부터의 지령에 의해 제1 라인센서 카메라(51)가 촬상한 복수의 화상(60)은 제어장치(40)에 출력된다. 검출부(41)는 취득한 복수의 화상(60)으로부터 고브(32)에 대응하는 검출체(62, 64)를 검출한다.
도 3의 (a)에 나타낸 복수의 화상(60)은 촬상을 개시한 직후의 제1회차 촬상에 의해 얻어진 1 라인분의 화상(601)(도 3의 (b))으로부터 촬상 종료까지 복수 라인분의 화상(602, 603…)을 촬상한 순서대로 배열함으로써 연속하는 하나의 화상처럼 나타낸다. 도 3의 (a)에서는 제1 섹션(Sc1)에 대응하는 부분에서 2개의 검출체(62, 64)가 촬상된다. 검출체(62)는 제1 섹션(Sc1)의 초벌 금형(20)의 A캐비티(Acav)에 낙하하는 고브(32)를 촬상한 것이고, 검출체(64)는 제1 섹션(Sc1)의 초벌 금형(20)의 B캐비티(Bcav)에 낙하하는 고브(32)를 촬상한 것이다. 고브(32)는 고온에서 발광하고 있기 때문에 주위보다 밝은 부분을 검출체(62, 64)로서 검출할 수 있다.
검출부(41)는 화상(691)에서 검출체(62) 선단(62a)을 검출하고, 화상(694)에서 검출체(64) 선단(64a)을 검출한다. 검출부(41)의 검출 결과에 근거하여 계측부(43)는 선단(62a)이 검출되고 나서 선단(64a)이 검출되기까지의 화상의 수(예를 들면 촬상한 라인수는 3라인)를 계측한다. 제1 라인센서 카메라(51)는 일정한 시간 간격(예를 들면 0.1ms)으로 촬상하므로 계측부(43)의 계측 결과에 근거하고, 산출부(45)는 Bcav의 고브(32)가 Acav의 고브(32)보다 늦어지는 시간(0.1ms×3라인=0.3ms)을 산출한다. 판정부(47)는 산출부(45)가 산출한 지연 시간이 미리 설정한 임계치를 넘었는지 아닌지를 판정한다. 출력부(49)는 지연 시간이 임계치를 초과한 경우에 경고신호를, 예를 들면 디스플레이에 출력함과 동시에 경고램프를 점멸시켜 사이렌을 울린다. 그리고 조작자는 디스플레이에 표시된 경고를 확인함으로써 지연이 발생하고 있는 초벌 금형(20)에 대응하는 트로프(16)나 디플렉터(18)에 대해 예를 들면 윤활제를 분무하여 고브 투입 에러를 조기에 방지할 수 있다.
본 실시형태에서는 촬상의 시간 간격을 이용하여 지연 시간을 산출하였으나, 이에 한정하지 않고 단순히 고브(32)의 낙하가 지연되는 분 만큼의 화상의 수(촬상한 라인수)로 판정해도 되며, 성형기의 동작 주기에 대응하는 각도로 환산하여 고브(32)의 낙하가 지연되는 만큼의 각도를 산출하여 판정해도 된다. 또한 도 3에서는 같은 섹션(Sc1)에서의 2개의 초벌 금형(20)에 낙하하는 2개의 고브(32)를 대비했으나, 이에 한정하지 않고 각 섹션에 적절한 임계치를 설정해 두어 그 임계치를 초과하여 각 선단(62a, 64a)이 검출된 경우에 그 고브(32)가 초벌 금형(20)에 투입되는 타이밍에 지연이 발생하고 있다고 판정해도 된다.
3. 라인센서 카메라의 위치조정방법
도 4 및 도 5를 이용하여 라인센서 카메라의 위치조정방법에 대해 설명한다.도 4는 본 실시형태에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법에 이용되는 제1 라인센서 카메라(51)를 모식적으로 나타내는 도면이고, 도 5는 본 실시형태에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법을 설명하는 도면이다. 도 4의 (a)는 제1 라인센서 카메라(51)를 측면에서 본 단면도이고, (b)는 제1 라인센서 카메라(51)를 렌즈(513) 측에서 본 정면도이다. 도 5의 (a), (c)는 초벌 금형(20)을 정면에서 본 도면이며, (b), (d)는 (a), (c)의 시야(A1)에서 촬상된 복수의 화상(60)이다. 도 4 및 도 5에서는 제1 라인센서 카메라(51)에 대해 설명하지만, 제2 라인센서 카메라(52)도 동일한 구성이므로 동일한 조정방법을 실시할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이 제1 라인센서 카메라(51)는 영역센서 카메라(53)와 일체로 설치된다. 제1 라인센서 카메라(51)는 상술한 바와 같이 스쿠프(14)에서 복수의 섹션(Sc1~Sc5)에 배분된 고브(32)를 초벌 금형(20)으로 인도하는 디플렉터(18)의 출구(18a)와 초벌 금형(20) 사이를 낙하하는 고브(32)를 촬상하는 것이다. 제1 라인센서 카메라(51)의 렌즈(513)에서 입사하는 검출광을 라인센서 카메라 소자(510)가 수광(受光)하고, 또한 하프미러(512)에서 검출광을 광축(O)에 직교하는 방향으로 반사시켜 영역센서 카메라(53)의 영역센서 소자(530)가 수광한다. 영역센서 카메라(53)는 제1 라인센서 카메라(51) 시야(A1)의 중심이 들어가는 시야(A3)를 가진다. 제1 라인센서 카메라(51)는 고니오 스테이지(Gonio Stage)(54) 상에 회전 가능하게 지지되고, 고니오 스테이지(54)에 의해 제1 라인센서 카메라(51)는 광축(O) 주위로 회전 가능하다.
도 5의 (a) 및 (c)에는 시야(A1)와 시야(A3)가 음영으로 표시되어 있다. 시야(A1)와 시야(A3)의 중심은 같은 위치로 설정된다. 시야(A3)는 시야(A1)보다 배열 방향(X)으로 짧고 또한 시야(A1)보다 높이 방향으로 넓다.
제1 라인센서 카메라(51)의 위치조정방법은 촬상 대상이 되는 고브(32)의 낙하 위치인 디플렉터(18)의 바로 아래에 동일 높이(H1)로 설치된 3개의 광원(55, 56, 57)을 배치하고 중앙 광원(55)이 제1 라인센서 카메라(51) 시야(A1)의 중심에서 촬상되도록 제1 라인센서 카메라(51)의 위치를 조정한 후, 양단의 광원(56, 57)이 시야(A1) 내에서 촬상되도록 제1 라인센서 카메라(51)의 광축(O) 주위에 제1 라인센서 카메라(51)를 회전시켜 조정한다.
중앙 광원(55)은 복수의 섹션(Sc1~Sc5) 중, Acav의 중앙에 있는 섹션(Sc3)으로 낙하하는 고브(32)가 통과하는 디플렉터(18)의 바로 아래에 설치한다. 광원(56, 57)은 Acav의 복수의 섹션(Sc1~Sc5) 양단에 있는 섹션(Sc1,Sc5)으로 낙하하는 고브(32)가 통과하는 디플렉터(18, 18) 바로 아래에 각각 배치된다. 광원(55, 56, 57)은 지지구(58)을 통해 유리병 성형기(100)에 고정된다. 광원(55, 56, 57)은 예를 들면 LED 스폿 조명을 제1 라인센서 카메라(51) 측을 향해 지지구(58)에 각각 고정된다.
본 실시형태에 관한 위치조정방법에서는, 먼저 중앙 광원(55)이 제1 라인센서 카메라(51) 시야(A1)의 중심에서 촬상되도록 제1 라인센서 카메라(51)의 위치를 조정하지만, 촬상하는 1라인분의 시야(A1)는 좁다. 그래서 중앙 광원(55)을 이용하여 제1 라인센서 카메라(51)의 위치를 조정하기 전에, 중앙 광원(55)이 도 4에서 설명한 영역센서 카메라(53)의 시야(A3)에 들어가도록 제1 라인센서 카메라(51) 및 영역센서 카메라(53)의 위치를 조정한다. 제1 라인센서 카메라(51)의 위치 조정은 고니오 스테이지(54)를 지지하는 도시하지 않은 지지구에 의해 실시된다. 제1 라인센서 카메라(51)와 영역센서 카메라(53)는 고니오 스테이지(54)에 의해 일체로 회전 가능하다. 시야(A3)가 시야(A1)보다 높이 방향으로 넓은 영역센서 카메라(53)를 이용하여 제1 라인센서 카메라(51)의 위치를 조정함으로써, 쉽게 제1 라인센서 카메라(51)의 위치를 조정할 수 있다. 구체적인 조정으로는 광원(55)이 시야(A1)에 들어가지 않은 경우에, 먼저 영역센서 카메라(53)의 넓은 시야(A3) 내에서 광원(55)을 포착하고, 나아가서 시야(A3)의 중심에 광원(55)이 촬상되도록 제1 라인센서 카메라(51)의 높이 및 배열 방향(X)의 위치를 조정한다. 시야(A1)의 중심과 시야(A3)의 중심과 광축(O)은 일치하기 때문에 시야(A1)의 높이 방향 및 배열 방향(X)에서의 정확한 위치로 제1 라인센서 카메라(51)을 조정할 수 있다.
다음으로, 양단의 광원(56, 57)이 시야(A1) 내에서 촬상되도록 고니오 스테이지(54)를 이용하여 제1 라인센서 카메라(51)를 광축(O) 주위로 회전시킨다. 조정 당시에는 도 5의 (a)와 같이 시야(A1)가 광원(56, 57)에서 벗어나 있었기 때문에 도 5의 (b)와 같이 복수의 화상(60)에는 광원(55)에 대응하는 검출체(65)밖에 촬상되지 않았으나, 도 5의 (c)와 같이 제1 라인센서 카메라(51)(시야 A1)를 회전시켜 나가면 시야(A1)의 양단 부근에 광원(56, 57)에 대응하는 검출체(66, 67)가 촬상된다. 이 위치에서 고니오 스테이지(54)에 의한 제1 라인센서 카메라(51)의 회전을 멈추어 위치 결정한다.
그 후, 광원(55, 56, 57) 및 지지구(58)를 유리병 성형기(100)에서 제거하면 위치 조정 작업은 완료되어 적절한 위치에서 고브(32)의 감시를 실행할 수 있다. 이와 같이 본 실시형태에 관한 라인센서 카메라의 위치조정방법에 의하면, 유연에 의한 영향을 받기 어려운 제1 라인센서 카메라(51)를 정확하고 용이하게 위치 결정할 수 있다.
4. 변형예
도 6을 이용하여 고브 감시장치(1)의 변형예에 관한 제1 라인센서 카메라(51a)에 대해 설명한다. 도 6은 변형예에 관한 제1 라인센서 카메라(51a)의 정면도이다. 상기 실시형태에 관한 고브 감시장치(1)는 상기 제1 라인센서 카메라(51)로 대체하여 변형예에 관한 제1 라인센서 카메라(51a)를 채용할 수 있다. 또한, 제2 라인센서 카메라(52)는 제1 라인센서 카메라(51a)와 동일한 구성을 채용할 수 있고 또 다른 구성은 고브 감시장치(1)와 동일한 구성이므로 여기서의 설명은 생략한다.
도 6에 도시된 바와 같이 제1 라인센서 카메라(51a)는 적어도 카메라 본체(51b)와 미러(51c)를 포함한다. 카메라 본체(51b)는 적어도 1열의 라인센서 카메라 소자(예를 들면 CCD 소자)를 갖는 라인센서 카메라로서, 상기 실시형태의 제1 라인센서 카메라(51)를 적용할 수 있다. 카메라 본체(51b)는 고니오 스테이지(54)(도 4)를 구비해도 되고 구비하지 않아도 된다. 카메라 본체(51b)는 미러(51c)를 통해 상기 실시형태의 제1 라인센서 카메라(51)와 동일한 시야(A1)를 갖는다. 미러(51c)는 카메라 본체(51b)에 대해 시야(A1)를 반사 가능한 반사면을 구비한다.
제1 라인센서 카메라(51a)는 조정장치(51d), 고정대(51e) 및 고정로드(51f)를 더 포함할 수 있다. 미러(51c)는 카메라 본체(51b)에 대해 반사면의 방향을 변경 가능하게 조정장치(51d)에 설치된다.
조정장치(51d)는 고정대(51e)의 소정 위치에 고정된다. 고정대(51e)에는 카메라 본체(51b) 및 조정장치(51d)가 미리 정해진 위치에 고정된다. 도시된 예에서 카메라 본체(51b)는 광축(O)이 연직방향 아래쪽을 향하도록 고정대(51e)에 고정되고, 조정장치(51d)는 미러(51c)의 반사면이 광축(O)에 대해 약 45도의 위치에 고정되어 광축(O)이 수평방향으로 향한다.
조정장치(51d)는 광축(O)에 대한 미러(51c)의 반사면 각도(Q)를 변경 가능한, 예를 들면 고니오 스테이지나 시야(A1)를 따른 광축(O) 주위에 미러(51c)를 회전 가능한 회전 스테이지 등을 구비할 수 있다. 고정대(51e)는 고정로드(51f)를 축으로 회전할 수 있다. 조정장치(51d)와 고정대(51e)의 회전 조정에 의해 미러(51c)의 반사면은 제1 라인센서 카메라(51a)가 시야(A1)(제2 라인센서 카메라(52)인 경우는 시야(A2))(도 2 참조)를 유지하도록 조정할 수 있다. 고정로드(51f)는 고정대(51e)의 높이 위치가 조절 가능하게 고정대(51)를 고정할 수 있다. 변형예에 관한 제1 라인센서 카메라(51a)에 의하면, 천장이 낮아 카메라를 설치할 공간이 없어도 미러(51c) 이외의 부분을 천장에 삽입함으로써 시야(A1)의 위치를 조절할 수 있다.
본 발명은 본원에 기재된 특징이나 효과를 갖는 범위에서 일부 구성을 생략하거나, 각 실시형태나 변형예를 조합해도 된다.
본 발명은 실시형태에서 설명한 구성과 실질적으로 동일한 구성(기능, 방법 및 결과가 동일한 구성, 혹은 목적 및 효과가 동일한 구성)을 포함한다.
또한 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성의 본질적이지 않은 부분을 치환한 구성을 포함한다. 또 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성과 동일한 작용 효과를 나타내는 구성 또는 동일한 목적을 달성할 수 있는 구성을 포함한다. 또한 본 발명은 실시형태에서 설명한 구성에 공지기술을 부가한 구성을 포함한다.
1…고브 감시장치, 10…스파우트, 11…고브 분배장치, 12…전단 절단장치, 14…스쿠프, 16…트로프, 18…디플렉터, 18a…출구, 20…초벌 금형, 30…용융유리, 32…고브, 40…제어장치, 41…검출부, 43…계측부 45…산출부, 47…판정부, 49…출력부, 51, 51a…제1 라인센서 카메라, 510…라인센서 카메라 소자, 512…하프미러, 513…렌즈, 51b…카메라 본체, 51c…미러, 51d…조정장치, 51e…고정대, 51f…고정로드, 52…제2 라인센서 카메라, 53…영역센서 카메라, 530…영역센서 소자, 54…고니오 스테이지, 55, 56, 57…광원, 58…지지구, 60…복수의 화상, 601, 602, 603, 604, 690, 691, 692, 693, 694…화상, 62, 64, 65, 66, 67…검출체, 62a, 64a…선단, 100…유리병 성형기, A1, A2, A3…시야, D…폭방향, H1…높이, O…광축, Q…각도, Sc1~Sc10…제1 섹션~제10 섹션, X…배열 방향

Claims (7)

  1. 스쿠프에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 안내하는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라와,
    상기 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 초벌 금형으로 투입되는 시간의 지연을 검출하는 제어장치를 구비하며,
    상기 복수의 섹션에서 낙하하는 고브가 상기 복수의 화상에 촬상되는 위치에 상기 라인센서 카메라가 배치되는 것을 특징으로 하는 고브 감시장치.
  2. 스쿠프에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 안내하는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라와,
    상기 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 초벌 금형으로 투입되는 시간의 지연을 검출하는 제어장치를 구비하며,
    상기 라인센서 카메라의 시야는 상기 복수의 섹션이 배열 방향으로 교차하고 또한 상기 복수의 섹션에서의 상기 초벌 금형으로부터의 높이가 일정한 것을 특징으로 하는 고브 감시장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 복수의 섹션은 상기 섹션마다 상기 초벌 금형을 복수 구비하고,
    상기 라인센서 카메라는 상기 섹션별 복수의 상기 초벌 금형에 대응하는 위치에 낙하하는 복수의 고브가 서로 중첩되지 않고 상기 복수의 화상에 촬상되는 위치로 배치되는 것을 특징으로 하는 고브 감시장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    제어장치는 용융유리를 전단 블레이드에 의해 절단하고 나서 소정 시간 후에 상기 라인센서 카메라에 의한 촬상의 개시부터 고브의 선단을 검출할 때까지의 상기 화상의 수에 근거하여 고브가 상기 초벌 금형에 투입되는 시간의 지연을 검출하는 것을 특징으로 하는 고브 감시장치.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 복수의 섹션이 배열된 방향 옆에 늘어선 다른 복수의 섹션을 더 포함하며,
    상기 라인센서 카메라는 제1 라인센서 카메라이고,
    상기 다른 복수의 섹션에 대응하는 위치에 낙하하는 고브를 촬상하는 제2 라인센서 카메라를 더 포함하며,
    상기 제어장치는 상기 제2 라인센서 카메라로 촬상된 복수의 화상으로부터 고브를 검출하고, 고브가 상기 다른 복수의 섹션에서의 초벌 금형으로 투입되는 시간의 지연을 검출하는 것을 특징으로 하는 고브 감시장치.
  6. 스쿠프에서 복수의 섹션으로 배분된 고브를 초벌 금형으로 안내하는 디플렉터의 출구와 상기 초벌 금형 사이를 낙하하는 고브를 촬상하는 라인센서 카메라의 위치조정방법으로서,
    촬상 대상이 되는 고브의 낙하 위치인 상기 디플렉터의 바로 아래에 동일 높이로 설치된 3개의 광원을 배치하고,
    중앙의 상기 광원이 상기 라인센서 카메라의 시야 중심에서 촬상되도록 상기 라인센서 카메라의 위치를 조정한 후, 양단의 상기 광원이 상기 시야 내에서 촬상되도록 상기 라인센서 카메라의 광축 주위에 상기 라인센서 카메라를 회전시켜 조정하는 것을 특징으로 하는 라인센서 카메라의 위치조정방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 라인센서 카메라의 시야의 중심이 들어오는 시야를 갖는 영역센서 카메라가 상기 라인센서 카메라와 일체로 설치되고, 중앙의 상기 광원을 이용하여 상기 라인센서 카메라의 위치를 조정하기 전에, 중앙의 상기 광원이 상기 영역센서 카메라의 시야에 들어오도록 상기 라인센서 카메라 및 상기 영역센서 카메라의 위치를 조정하는 것을 특징으로 하는 라인 센서 카메라의 위치조정방법.
KR1020237027253A 2022-07-26 2023-03-23 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법 KR20240015614A (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022118472 2022-07-26
JPJP-P-2022-118472 2022-07-26
PCT/JP2023/011466 WO2024024163A1 (ja) 2022-07-26 2023-03-23 ゴブ監視装置及びラインセンサカメラの位置調整方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20240015614A true KR20240015614A (ko) 2024-02-05

Family

ID=89705863

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020237027253A KR20240015614A (ko) 2022-07-26 2023-03-23 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR20240015614A (ko)
WO (1) WO2024024163A1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0710550A (ja) 1993-06-28 1995-01-13 Toyo Glass Co Ltd ゴブ落下監視・警報システム
WO2013014782A1 (ja) 2011-07-28 2013-01-31 東洋ガラス株式会社 Ｉｓ成形機のゴブ到着タイミング監視方法及び装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BRPI0822841A2 (pt) * 2008-10-21 2015-06-23 Ct Voor Tech Informatica B V Método para preencher um molde com um tarugo de vidro e sistema para preencher um molde com um tarugo de vidro
JP6334226B2 (ja) * 2014-03-27 2018-05-30 Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 ガラス製品製造装置およびガラス製品製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0710550A (ja) 1993-06-28 1995-01-13 Toyo Glass Co Ltd ゴブ落下監視・警報システム
WO2013014782A1 (ja) 2011-07-28 2013-01-31 東洋ガラス株式会社 Ｉｓ成形機のゴブ到着タイミング監視方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2024024163A1 (ja) 2024-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4257906B2 (ja) ガラス製品の成形方法におけるガラスゴブの品質管理方法及び品質管理装置
EP2618136A1 (en) Gob inspection system for glass product
CN107835725B (zh) 激光加工设备
CN207185897U (zh) 一种全烟支外观质量在线检测装置及其卷烟机
CZ297977B6 (cs) Zpusob a zarízení na kontrolu tesnicího povrchu ústí nádoby
CN102818538A (zh) 基于调制玻璃线结构激光图像的检测系统
CN203688465U (zh) 玻璃板光学检测设备
CN101384897A (zh) 离轴照明组件及方法
FI127055B (fi) Järjestelmä rainan tarkkailemiseksi ja vastaava menetelmä rainan tarkkailemiseksi
CN211594057U (zh) 一种烟条视觉重复检测剔除装置
EP4230052A1 (en) Extruded product position control of ice cream products
CN101934273A (zh) 棒材直径自动检测、分选及统计装置
EP3081925B1 (en) Optical inspection device
JP5171849B2 (ja) 厚さを測定するための装置及びそのための方法
JP6903737B2 (ja) 二次像角度及び／又は視野角を決定するための機器及び方法
KR20240015614A (ko) 고브 감시장치 및 라인센서 카메라의 위치조정방법
US20210278347A1 (en) Machine direction line film inspection
US9200978B2 (en) Establishing a wear state of a cutting nozzle
JP2010520060A5 (ko)
CN108414064B (zh) 遥感式料塔称重设备及称重方法
EP3627141B1 (en) Sorting machine and method for detecting impurities or unwanted products in a flow of granular products
CN105526993A (zh) 机器视觉料位计及其测量料位的方法
CN203069527U (zh) 一种纺织疵布检测摄像头及其检测系统
JP2014089119A (ja) 粒状体検査装置
CN114651149A (zh) Led矩阵式照明装置