KR20230161863A - Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate - Google Patents

Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate Download PDF

Info

Publication number
KR20230161863A
KR20230161863A KR1020227038216A KR20227038216A KR20230161863A KR 20230161863 A KR20230161863 A KR 20230161863A KR 1020227038216 A KR1020227038216 A KR 1020227038216A KR 20227038216 A KR20227038216 A KR 20227038216A KR 20230161863 A KR20230161863 A KR 20230161863A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mass
photosensitive resin
less
resin composition
parts
Prior art date
Application number
KR1020227038216A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
유사쿠 와타나베
사토시 오토모
마오 나리타
케이시 오노
아키코 타케다
Original Assignee
가부시끼가이샤 레조낙
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시끼가이샤 레조낙 filed Critical 가부시끼가이샤 레조낙
Publication of KR20230161863A publication Critical patent/KR20230161863A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/032Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
    • G03F7/033Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds, e.g. vinyl polymers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/12Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by mechanical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D7/00Processes, other than flocking, specially adapted for applying liquids or other fluent materials to particular surfaces or for applying particular liquids or other fluent materials
    • B05D7/24Processes, other than flocking, specially adapted for applying liquids or other fluent materials to particular surfaces or for applying particular liquids or other fluent materials for applying particular liquids or other fluent materials
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • B32B27/16Layered products comprising a layer of synthetic resin specially treated, e.g. irradiated
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • B32B27/18Layered products comprising a layer of synthetic resin characterised by the use of special additives
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • B32B27/30Layered products comprising a layer of synthetic resin comprising vinyl (co)polymers; comprising acrylic (co)polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F2/00Processes of polymerisation
    • C08F2/44Polymerisation in the presence of compounding ingredients, e.g. plasticisers, dyestuffs, fillers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F2/00Processes of polymerisation
    • C08F2/46Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation
    • C08F2/48Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation by ultraviolet or visible light
    • C08F2/50Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation by ultraviolet or visible light with sensitising agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F290/00Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups
    • C08F290/02Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups on to polymers modified by introduction of unsaturated end groups
    • C08F290/06Polymers provided for in subclass C08G
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/105Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers having substances, e.g. indicators, for forming visible images
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/40Treatment after imagewise removal, e.g. baking
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Architecture (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

바인더 폴리머와, 광중합성 화합물과, 광중합 개시제와, 수소 공여체를 함유하고, 상기 광중합성 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물. 지지체(2)와, 지지체(2) 상에 배치된 감광성 수지층(3)을 구비하고, 감광성 수지층(3)이 상술한 감광성 수지 조성물을 포함하는, 감광성 엘리먼트(1).A photosensitive resin composition containing a binder polymer, a photopolymerizable compound, a photopolymerization initiator, and a hydrogen donor, wherein the photopolymerizable compound includes a compound having a ditrimethylolpropane skeleton. A photosensitive element (1) comprising a support (2) and a photosensitive resin layer (3) disposed on the support (2), wherein the photosensitive resin layer (3) contains the photosensitive resin composition described above.

Description

감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 및, 적층체의 제조 방법Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate

본 개시는, 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 적층체의 제조 방법 등에 관한 것이다.This disclosure relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element, a method for producing a laminate, etc.

배선 기판으로서 이용하는 것이 가능한 적층체의 제조에 있어서는, 원하는 배선을 얻기 위하여 레지스트 패턴이 형성된다. 레지스트 패턴은, 필름상의 감광성 수지 조성물을 이용하여 얻어지는 감광성 수지층을 노광 및 현상함으로써 형성할 수 있다. 감광성 수지 조성물로서는, 각종 조성물이 검토되고 있다. 예를 들면, 하기 특허문헌 1에서는, 안트라센 유도체를 함유하는 감광성 수지 조성물이 기재되어 있다.In the production of a laminate that can be used as a wiring board, a resist pattern is formed to obtain desired wiring. A resist pattern can be formed by exposing and developing a photosensitive resin layer obtained using a film-like photosensitive resin composition. As a photosensitive resin composition, various compositions are being examined. For example, in Patent Document 1 below, a photosensitive resin composition containing an anthracene derivative is described.

특허문헌 1: 국제 공개공보 제2007/004619호Patent Document 1: International Publication No. 2007/004619

레지스트 패턴으로서 이용되는 경화물 패턴은, 예를 들면, 기재 상에 배치된 감광성 수지층을 광경화(노광)한 후, 감광성 수지층의 미경화부(미노광부)를 현상하여 제거함으로써 형성된다. 그리고, 기재에 있어서의 경화물 패턴이 형성되어 있지 않은 부분에 처리(예를 들면 도금 처리)를 실시한 후, 경화물 패턴은 박리(제거)된다. 이 경우, 효율화 등의 관점에서, 경화부의 박리에 필요로 하는 박리 시간을 단축화하는 것이 요구된다.The cured product pattern used as a resist pattern is formed, for example, by photocuring (exposure) a photosensitive resin layer disposed on a substrate, and then developing and removing the uncured portion (unexposed portion) of the photosensitive resin layer. Then, after treatment (for example, plating treatment) is applied to the portion of the substrate where the cured product pattern is not formed, the cured product pattern is peeled off (removed). In this case, from the viewpoint of efficiency, etc., it is required to shorten the peeling time required for peeling the hardened portion.

본 개시의 일 측면은, 경화부의 박리 시간을 단축화하는 것이 가능한 감광성 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명의 다른 일 측면은, 당해 감광성 수지 조성물을 이용한 감광성 엘리먼트를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명의 다른 일 측면은, 상술한 감광성 수지 조성물을 이용한 적층체의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.One aspect of the present disclosure aims to provide a photosensitive resin composition capable of shortening the peeling time of the cured portion. Another aspect of the present invention aims to provide a photosensitive element using the photosensitive resin composition. Another aspect of the present invention aims to provide a method for manufacturing a laminate using the photosensitive resin composition described above.

본 개시의 일 측면은, 바인더 폴리머와, 광중합성 화합물과, 광중합 개시제와, 수소 공여체를 함유하고, 상기 광중합성 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물에 관한 것이다.One aspect of the present disclosure is a photosensitive resin composition comprising a binder polymer, a photopolymerizable compound, a photopolymerization initiator, and a hydrogen donor, wherein the photopolymerizable compound includes a compound having a ditrimethylolpropane skeleton. It's about.

이와 같은 감광성 수지 조성물에 의하면, 당해 감광성 수지 조성물의 경화부의 박리 시간을 단축화할 수 있다.According to such a photosensitive resin composition, the peeling time of the cured portion of the photosensitive resin composition can be shortened.

본 개시의 다른 일 측면은, 지지체와, 당해 지지체 상에 배치된 감광성 수지층을 구비하고, 상기 감광성 수지층이 상술한 감광성 수지 조성물을 포함하는, 감광성 엘리먼트에 관한 것이다.Another aspect of the present disclosure relates to a photosensitive element comprising a support and a photosensitive resin layer disposed on the support, wherein the photosensitive resin layer includes the photosensitive resin composition described above.

본 개시의 다른 일 측면은, 상술한 감광성 수지 조성물, 또는, 상술한 감광성 엘리먼트를 이용하여 감광성 수지층을 기재(基材) 상에 배치하는 공정과, 상기 감광성 수지층의 일부를 광경화시키는 공정과, 상기 감광성 수지층의 미경화부를 제거하여 경화물 패턴을 형성하는 공정과, 상기 기재에 있어서의 상기 경화물 패턴이 형성되어 있지 않은 부분의 적어도 일부에 금속층을 형성하는 공정을 구비하는, 적층체의 제조 방법에 관한 것이다.Another aspect of the present disclosure includes a process of disposing a photosensitive resin layer on a substrate using the photosensitive resin composition described above or the photosensitive element described above, and a process of photocuring a portion of the photosensitive resin layer; A laminate comprising a step of removing an uncured portion of the photosensitive resin layer to form a cured product pattern, and a step of forming a metal layer on at least a portion of the portion of the substrate where the cured product pattern is not formed. It relates to a manufacturing method.

본 개시의 일 측면에 의하면, 경화부의 박리 시간을 단축화하는 것이 가능한 감광성 수지 조성물을 제공할 수 있다. 본 발명의 다른 일 측면에 의하면, 당해 감광성 수지 조성물을 이용한 감광성 엘리먼트를 제공할 수 있다. 본 발명의 다른 일 측면에 의하면, 상술한 감광성 수지 조성물을 이용한 적층체의 제조 방법을 제공할 수 있다. 본 발명의 다른 일 측면에 의하면, 레지스트 패턴의 형성에 대한 감광성 수지 조성물 또는 감광성 엘리먼트의 응용을 제공할 수 있다. 본 발명의 다른 일 측면에 의하면, 배선 기판의 제조에 대한 감광성 수지 조성물 또는 감광성 엘리먼트의 응용을 제공할 수 있다.According to one aspect of the present disclosure, a photosensitive resin composition capable of shortening the peeling time of the cured portion can be provided. According to another aspect of the present invention, a photosensitive element using the photosensitive resin composition can be provided. According to another aspect of the present invention, a method for manufacturing a laminate using the photosensitive resin composition described above can be provided. According to another aspect of the present invention, application of the photosensitive resin composition or photosensitive element to the formation of a resist pattern can be provided. According to another aspect of the present invention, application of the photosensitive resin composition or photosensitive element to the manufacture of a wiring board can be provided.

도 1은 감광성 엘리먼트의 일례를 나타내는 모식 단면도이다.
도 2는 적층체의 제조 방법의 일례를 나타내는 모식도이다.
1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a photosensitive element.
Figure 2 is a schematic diagram showing an example of a method for manufacturing a laminate.

이하, 본 개시의 실시형태에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail.

수치 범위의 "A 이상"이란, A, 및, A를 초과하는 범위를 의미한다. 수치 범위의 "A 이하"란, A, 및, A 미만의 범위를 의미한다. 본 명세서에 단계적으로 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 소정 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 다른 단계의 수치 범위의 상한값 또는 하한값과 임의로 조합할 수 있다. 본 명세서에 기재되어 있는 수치 범위에 있어서, 그 수치 범위의 상한값 또는 하한값은, 실시예에 나타나 있는 값으로 치환해도 된다. "A 또는 B"란, A 및 B 중 어느 일방을 포함하고 있으면 되고, 양방 모두 포함하고 있어도 된다. 본 명세서에 예시하는 재료는, 특별히 설명하지 않는 한, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다. 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 조성물 중에 각 성분에 해당하는 물질이 복수 존재하는 경우, 특별히 설명하지 않는 한, 조성물 중에 존재하는 당해 복수의 물질의 합계량을 의미한다. "막"이라는 말은, 평면도로 하여 관찰했을 때에, 전체면에 형성되어 있는 형상의 구조에 더하여, 일부에 형성되어 있는 형상의 구조도 포함된다. "공정"이라는 말은, 독립적인 공정뿐만 아니라, 다른 공정과 명확하게 구별할 수 없는 경우이더라도 그 공정의 소기의 작용이 달성되면, 본 용어에 포함된다. "(메트)아크릴레이트"란, 아크릴레이트, 및, 그에 대응하는 메타크릴레이트 중 적어도 일방을 의미한다. "(메트)아크릴산" 등의 다른 유사한 표현에 있어서도 동일하다. "알킬기"는, 특별히 설명하지 않는 한, 직쇄상, 분기 또는 환상 중 어느 것이어도 된다.“A or more” in a numerical range means A, and a range exceeding A. “A or less” in the numerical range means A and the range less than A. In the numerical range described in steps in this specification, the upper or lower limit of the numerical range at a certain level can be arbitrarily combined with the upper or lower limit of the numerical range at another level. In the numerical range described in this specification, the upper or lower limit of the numerical range may be replaced with the value shown in the examples. “A or B” may include either A or B, or may include both. Unless otherwise specified, the materials exemplified in this specification can be used individually or in combination of two or more types. The content of each component in the composition means the total amount of the plurality of substances present in the composition, unless otherwise specified, when multiple substances corresponding to each component exist in the composition. The term "membrane" includes not only the shaped structure formed on the entire surface when observed in plan view, but also the shaped structure formed on a part of the surface. The word "process" is included in this term not only as an independent process, but also when the intended effect of the process is achieved even if it cannot be clearly distinguished from other processes. “(meth)acrylate” means at least one of acrylate and the corresponding methacrylate. The same applies to other similar expressions such as “(meth)acrylic acid”. Unless otherwise specified, the “alkyl group” may be linear, branched, or cyclic.

본 명세서에 있어서, "(폴리)옥시알킬렌기"란, 옥시알킬렌기 및 폴리옥시알킬렌기(2 이상의 알킬렌기가 에터 결합으로 연결된 기) 중 적어도 일방을 의미한다. "(폴리)옥시에틸렌기", "(폴리)옥시프로필렌기" 등의 다른 유사한 표현에 있어서도 동일하다. "EO 변성"이란, (폴리)옥시에틸렌기를 갖는 화합물인 것을 의미한다. "PO 변성"이란, (폴리)옥시프로필렌기를 갖는 화합물인 것을 의미한다. "EO·PO 변성"이란, (폴리)옥시에틸렌기 및/또는 (폴리)옥시프로필렌기를 갖는 화합물인 것을 의미한다.In this specification, “(poly)oxyalkylene group” means at least one of an oxyalkylene group and a polyoxyalkylene group (a group in which two or more alkylene groups are linked by an ether bond). The same applies to other similar expressions such as “(poly)oxyethylene group” and “(poly)oxypropylene group”. “EO modified” means a compound having a (poly)oxyethylene group. “PO modified” means a compound having a (poly)oxypropylene group. “EO·PO modified” means a compound having a (poly)oxyethylene group and/or a (poly)oxypropylene group.

본 명세서에 있어서, "감광성 수지 조성물의 고형분"이란, 감광성 수지 조성물에 있어서, 휘발하는 물질(물, 용매 등)을 제외한 불휘발분을 가리킨다. 즉, "고형분"이란, 감광성 수지 조성물의 건조에 있어서 휘발하지 않고 남는 성분(용매 이외의 성분)을 가리키고, 실온(25℃)에서 액상, 시럽상 또는 왁스상의 성분도 포함한다.In this specification, "solid content of the photosensitive resin composition" refers to the non-volatile content excluding volatile substances (water, solvent, etc.) in the photosensitive resin composition. That is, “solid content” refers to components (components other than the solvent) that remain without volatilizing when the photosensitive resin composition is dried, and also includes liquid, syrup, or wax components at room temperature (25°C).

<감광성 수지 조성물 및 경화물><Photosensitive resin composition and cured material>

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (A) 바인더 폴리머((A) 성분)와, (B) 광중합성 화합물((B) 성분)과, (C) 광중합 개시제((C) 성분)와, (D) 수소 공여체((D) 성분)를 함유하고, 광중합성 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 포함한다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 예를 들면, 네거티브형의 감광성 수지 조성물로서 이용할 수 있다.The photosensitive resin composition according to the present embodiment includes (A) a binder polymer (component (A)), (B) a photopolymerizable compound (component (B)), (C) a photopolymerization initiator (component (C)), (D) It contains a hydrogen donor (component (D)), and the photopolymerizable compound includes a compound having a ditrimethylolpropane skeleton. The photosensitive resin composition according to this embodiment can be used, for example, as a negative photosensitive resin composition.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 광경화성을 갖고, 당해 감광성 수지 조성물을 광경화함으로써 경화물을 얻을 수 있다. 본 실시형태에 관한 경화물은, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물의 경화물(광경화물)이다. 본 실시형태에 관한 경화물은, 패턴상(경화물 패턴)이어도 되고, 레지스트 패턴이어도 된다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물 및 경화물의 가시광선 투과율(예를 들면, 두께 5.0μm에 있어서의 가시광선 투과율)의 최솟값 또는 최댓값은, 90% 이하, 90% 미만, 85% 이하, 또는, 80% 이하여도 된다. 가시광선 투과율로서는, 예를 들면, 400~700nm의 파장역의 투과율을 이용할 수 있다.The photosensitive resin composition according to this embodiment has photocurability, and a cured product can be obtained by photocuring the photosensitive resin composition. The cured product according to the present embodiment is a cured product (photocured product) of the photosensitive resin composition according to the present embodiment. The cured product according to the present embodiment may be in the form of a pattern (cured product pattern) or may be a resist pattern. The minimum or maximum value of the visible light transmittance (for example, visible light transmittance at a thickness of 5.0 μm) of the photosensitive resin composition and the cured product according to the present embodiment is 90% or less, less than 90%, 85% or less, or 80%. It may be less than %. As the visible light transmittance, for example, the transmittance in the wavelength range of 400 to 700 nm can be used.

본 실시형태에 관한 경화물의 두께는, 1μm 이상, 5μm 이상, 10μm 이상, 15μm 이상, 20μm 이상, 또는, 25μm 이상이어도 된다. 본 실시형태에 관한 경화물의 두께는, 100μm 이하, 80μm 이하, 50μm 이하, 40μm 이하, 30μm 이하, 또는, 25μm 이하여도 된다. 이들 관점에서, 본 실시형태에 관한 경화물의 두께는, 1~100μm, 10~50μm, 또는, 15~40μm여도 된다.The thickness of the cured product according to this embodiment may be 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, 15 μm or more, 20 μm or more, or 25 μm or more. The thickness of the cured product according to this embodiment may be 100 μm or less, 80 μm or less, 50 μm or less, 40 μm or less, 30 μm or less, or 25 μm or less. From these viewpoints, the thickness of the cured product according to the present embodiment may be 1 to 100 μm, 10 to 50 μm, or 15 to 40 μm.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 의하면, 당해 감광성 수지 조성물의 경화부(노광부)의 박리(제거)에 필요로 하는 박리 시간을 단축화할 수 있다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 의하면, 예를 들면, 당해 감광성 수지 조성물의 경화부를 3.0질량%의 NaOH 수용액(50℃)에 침지시켰을 때의 당해 경화부의 박리 시간을 단축할 수 있다.According to the photosensitive resin composition according to the present embodiment, the peeling time required for peeling (removing) the cured portion (exposed portion) of the photosensitive resin composition can be shortened. According to the photosensitive resin composition according to the present embodiment, for example, the peeling time of the cured portion of the photosensitive resin composition when the cured portion is immersed in a 3.0 mass% NaOH aqueous solution (50°C) can be shortened.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 의하면, 활성광선에 대한 우수한 감도를 얻을 수 있다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 의하면, 현상 처리에 의하여 미경화부를 양호하게 제거 가능하고, 우수한 해상성을 얻을 수 있다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 의하면, 현상 처리에 있어서 경화부를 양호하게 잔존시키는 것이 가능하고, 우수한 밀착성을 얻을 수 있다.According to the photosensitive resin composition according to this embodiment, excellent sensitivity to actinic rays can be obtained. According to the photosensitive resin composition according to the present embodiment, uncured portions can be well removed by developing treatment, and excellent resolution can be obtained. According to the photosensitive resin composition according to the present embodiment, it is possible to ensure that the cured portion remains well during development treatment, and excellent adhesion can be obtained.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (A) 성분으로서 바인더 폴리머를 함유한다. (A) 성분으로서는, 아크릴계 수지, 스타이렌계 수지, 에폭시계 수지, 아마이드계 수지, 아마이드에폭시계 수지, 알키드계 수지, 페놀계 수지 등을 들 수 있다. 아크릴계 수지는, (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물((메트)아크릴산 화합물)을 단량체 단위로서 갖는 수지이며, 당해 단량체 단위를 갖는 스타이렌계 수지, 에폭시계 수지, 아마이드계 수지, 아마이드에폭시계 수지, 알키드계 수지 및 페놀계 수지는 아크릴계 수지에 귀속된다.The photosensitive resin composition according to this embodiment contains a binder polymer as (A) component. Examples of the component (A) include acrylic resin, styrene resin, epoxy resin, amide resin, amide epoxy resin, alkyd resin, and phenol resin. Acrylic resin is a resin having a compound having a (meth)acryloyl group ((meth)acrylic acid compound) as a monomer unit, and includes styrene-based resin, epoxy-based resin, amide-based resin, amide-epoxy-based resin, Alkyd resins and phenolic resins belong to acrylic resins.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 아크릴계 수지를 포함해도 된다. 아크릴계 수지의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분의 전체 질량을 기준으로 하여, 50질량% 이상, 50질량% 초과, 70질량% 이상, 90질량% 이상, 95질량% 이상, 98질량% 이상, 99질량% 이상, 또는, 실질적으로 100질량%((A) 성분이 실질적으로 아크릴계 수지로 이루어지는 양태)여도 된다.The component (A) may contain an acrylic resin from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of easy obtaining of excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The content of the acrylic resin is 50% by mass or more, 50% by mass, based on the total mass of component (A), from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. %, 70% by mass or more, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, or substantially 100% by mass (an embodiment in which component (A) is substantially composed of acrylic resin). do.

(메트)아크릴로일기를 갖는 화합물로서는, (메트)아크릴산, (메트)아크릴산 에스터 등을 들 수 있다. (메트)아크릴산 에스터로서는, (메트)아크릴산 알킬((메트)아크릴산 알킬에스터. (메트)아크릴산 사이클로알킬에 해당하는 화합물을 제외한다), (메트)아크릴산 사이클로알킬((메트)아크릴산 사이클로알킬에스터), (메트)아크릴산 아릴((메트)아크릴산 아릴에스터), (메트)아크릴아마이드 화합물(다이아세톤아크릴아마이드 등), (메트)아크릴산 글리시딜에스터, 스타이릴(메트)아크릴산 등을 들 수 있다. Examples of compounds having a (meth)acryloyl group include (meth)acrylic acid and (meth)acrylic acid ester. As (meth)acrylic acid ester, (meth)acrylic acid alkyl ((meth)acrylic acid alkyl ester, excluding compounds corresponding to (meth)acrylic acid cycloalkyl), (meth)acrylic acid cycloalkyl ((meth)acrylic acid cycloalkyl ester) , aryl (meth)acrylic acid ((meth)acrylic acid aryl ester), (meth)acrylamide compounds (diacetone acrylamide, etc.), (meth)acrylic acid glycidyl ester, and styryl (meth)acrylic acid.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (메트)아크릴산을 단량체 단위로서 가져도 된다.Component (A) may have (meth)acrylic acid as a monomer unit from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of being easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion.

(A) 성분이 (메트)아크릴산을 단량체 단위로서 갖는 경우, (메트)아크릴산의 단량체 단위의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (메트)아크릴산의 단량체 단위의 함유량은, 1질량% 이상, 5질량% 이상, 10질량% 이상, 12질량% 이상, 15질량% 이상, 18질량% 이상, 20질량% 이상, 또는, 25질량% 이상이어도 된다. (메트)아크릴산의 단량체 단위의 함유량은, 50질량% 이하, 50질량% 미만, 45질량% 이하, 40질량% 이하, 35질량% 이하, 또는, 30질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (메트)아크릴산의 단량체 단위의 함유량은, 1~50질량%, 10~45질량%, 또는, 15~40질량%여도 된다.When component (A) has (meth)acrylic acid as a monomer unit, the content of the monomer unit of (meth)acrylic acid is adjusted from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. , it may be within the following range based on the total amount of monomer units constituting component (A). The content of the monomer unit of (meth)acrylic acid is 1% by mass or more, 5% by mass or more, 10% by mass or more, 12% by mass or more, 15% by mass or more, 18% by mass or more, 20% by mass or more, or 25% by mass. It may be more than %. The content of the monomer unit of (meth)acrylic acid may be 50 mass% or less, less than 50 mass%, 45 mass% or less, 40 mass% or less, 35 mass% or less, or 30 mass% or less. From these viewpoints, the content of the monomer unit of (meth)acrylic acid may be 1 to 50 mass%, 10 to 45 mass%, or 15 to 40 mass%.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (메트)아크릴산 알킬을 단량체 단위로서 가져도 된다. (메트)아크릴산 알킬의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 뷰틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 도데실기 등을 들 수 있고, 알킬기는, 각종 구조 이성체여도 된다. (메트)아크릴산 알킬의 알킬기의 탄소수는, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 1~4, 1~3, 2~3, 또는, 1~2여도 된다.Component (A) may have an alkyl (meth)acrylate as a monomer unit from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of being easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. Examples of the alkyl group of alkyl (meth)acrylate include methyl, ethyl, propyl, butyl, pentyl, hexyl, heptyl, octyl, nonyl, decyl, undecyl, dodecyl, etc., and the alkyl group is , various structural isomers may be used. The number of carbon atoms in the alkyl group of the alkyl (meth)acrylate is 1 to 4, 1 to 3, 2 to 3, or It can be 1 or 2.

(메트)아크릴산 알킬의 알킬기는, 치환기를 가져도 된다. 치환기로서는, 하이드록시기, 아미노기, 에폭시기, 퓨릴기, 할로제노기(플루오로기, 클로로기, 브로모기 등) 등을 들 수 있다. (A) 성분으로서는, (메트)아크릴산 다이메틸아미노에틸, (메트)아크릴산 다이에틸아미노에틸, (메트)아크릴산 2,2,2-트라이플루오로에틸, (메트)아크릴산 2,2,3,3-테트라플루오로프로필, α-클로로(메트)아크릴산, α-브로모(메트)아크릴산 등을 들 수 있다.The alkyl group of alkyl (meth)acrylate may have a substituent. Examples of the substituent include hydroxy group, amino group, epoxy group, furyl group, halogeno group (fluoro group, chloro group, bromo group, etc.). (A) Components include dimethylaminoethyl (meth)acrylate, diethylaminoethyl (meth)acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl (meth)acrylate, and 2,2,3,3 (meth)acrylic acid. -Tetrafluoropropyl, α-chloro(meth)acrylic acid, α-bromo(meth)acrylic acid, etc. are mentioned.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (메트)아크릴산 하이드록시알킬을 단량체 단위로서 가져도 된다. (메트)아크릴산 하이드록시알킬로서는, (메트)아크릴산 하이드록시메틸, (메트)아크릴산 하이드록시에틸, (메트)아크릴산 하이드록시프로필, (메트)아크릴산 하이드록시뷰틸, (메트)아크릴산 하이드록시펜틸, (메트)아크릴산 하이드록시헥실 등을 들 수 있다.Component (A) may have hydroxyalkyl (meth)acrylate as a monomer unit from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the cured portion and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. Examples of hydroxyalkyl (meth)acrylate include hydroxymethyl (meth)acrylate, hydroxyethyl (meth)acrylate, hydroxypropyl (meth)acrylate, hydroxybutyl (meth)acrylate, hydroxypentyl (meth)acrylate, ( Meth) hydroxyhexyl acrylate, etc. can be mentioned.

(A) 성분이 (메트)아크릴산 알킬을 단량체 단위로서 갖는 경우에 있어서의 (메트)아크릴산 알킬의 단량체 단위의 함유량, 또는, (A) 성분이 (메트)아크릴산 하이드록시알킬을 단량체 단위로서 갖는 경우에 있어서의 (메트)아크릴산 하이드록시알킬의 단량체 단위의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 상술한 단량체 단위의 함유량은, 0.1질량% 이상, 0.5질량% 이상, 1질량% 이상, 2질량% 이상, 또는, 3질량% 이상이어도 된다. 상술한 단량체 단위의 함유량은, 20질량% 이하, 18질량% 이하, 15질량% 이하, 12질량% 이하, 10질량% 이하, 8질량% 이하, 5질량% 이하, 또는, 3질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, 상술한 단량체 단위의 함유량은, 0.1~20질량%, 0.5~10질량%, 또는, 1~8질량%여도 된다.Content of alkyl (meth)acrylate monomer units when component (A) has alkyl (meth)acrylate as a monomer unit, or when component (A) has hydroxyalkyl (meth)acrylate as a monomer unit The content of the monomer unit of hydroxyalkyl (meth)acrylate in the monomer unit constituting component (A) is determined from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be within the following range based on the total amount of the unit. The content of the above-mentioned monomer units may be 0.1 mass% or more, 0.5 mass% or more, 1 mass% or more, 2 mass% or more, or 3 mass% or more. The content of the above-mentioned monomer units may be 20 mass% or less, 18 mass% or less, 15 mass% or less, 12 mass% or less, 10 mass% or less, 8 mass% or less, 5 mass% or less, or 3 mass% or less. do. From these viewpoints, the content of the above-mentioned monomer units may be 0.1 to 20 mass%, 0.5 to 10 mass%, or 1 to 8 mass%.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (메트)아크릴산 아릴을 단량체 단위로서 가져도 된다. (메트)아크릴산 아릴로서는, (메트)아크릴산 벤질, (메트)아크릴산 페닐, (메트)아크릴산 나프틸 등을 들 수 있다.Component (A) may have aryl (meth)acrylate as a monomer unit from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of being easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. Examples of aryl (meth)acrylate include benzyl (meth)acrylate, phenyl (meth)acrylate, and naphthyl (meth)acrylate.

(A) 성분이 (메트)아크릴산 아릴을 단량체 단위로서 갖는 경우, (메트)아크릴산 아릴의 단량체 단위의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (메트)아크릴산 아릴의 단량체 단위의 함유량은, 1질량% 이상, 5질량% 이상, 10질량% 이상, 15질량% 이상, 또는, 20질량% 이상이어도 된다. (메트)아크릴산 아릴의 단량체 단위의 함유량은, 50질량% 이하, 50질량% 미만, 45질량% 이하, 40질량% 이하, 35질량% 이하, 30질량% 이하, 25질량% 이하, 또는, 20질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (메트)아크릴산 아릴의 단량체 단위의 함유량은, 1~50질량%, 5~40질량%, 또는, 10~30질량%여도 된다.When the component (A) has aryl (meth)acrylate as a monomer unit, the content of the aryl (meth)acrylate monomer unit is adjusted from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. From a simple point of view, the range below may be acceptable based on the total amount of monomer units constituting component (A). The content of the monomer unit of aryl (meth)acrylate may be 1% by mass or more, 5% by mass or more, 10% by mass or more, 15% by mass or more, or 20% by mass or more. The content of the monomer unit of aryl (meth)acrylate is 50 mass% or less, less than 50 mass%, 45 mass% or less, 40 mass% or less, 35 mass% or less, 30 mass% or less, 25 mass% or less, or 20 mass% or less. It may be less than mass%. From these viewpoints, the content of the monomer unit of aryl (meth)acrylate may be 1 to 50 mass%, 5 to 40 mass%, or 10 to 30 mass%.

(A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 스타이렌 화합물을 단량체 단위로서 가져도 된다. 스타이렌 화합물로서는, 스타이렌, 스타이렌 유도체 등을 들 수 있다. 스타이렌 유도체는, 바이닐톨루엔, α-메틸스타이렌 등을 들 수 있다. (A) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (메트)아크릴산 하이드록시알킬 및 스타이렌 화합물을 단량체 단위로서 가져도 된다.Component (A) may have a styrene compound as a monomer unit from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of being easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. Examples of styrene compounds include styrene and styrene derivatives. Styrene derivatives include vinyltoluene and α-methylstyrene. Component (A) may have hydroxyalkyl (meth)acrylate and a styrene compound as monomer units from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion.

(A) 성분이 스타이렌 화합물을 단량체 단위로서 갖는 경우, 스타이렌 화합물의 단량체 단위의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 스타이렌 화합물의 단량체 단위의 함유량은, 10질량% 이상, 20질량% 이상, 25질량% 이상, 30질량% 이상, 35질량% 이상, 40질량% 이상, 45질량% 이상, 47질량% 이상, 또는, 50질량% 이상이어도 된다. 스타이렌 화합물의 단량체 단위의 함유량은, 90질량% 이하, 85질량% 이하, 80질량% 이하, 75질량% 이하, 70질량% 이하, 65질량% 이하, 60질량% 이하, 55질량% 이하, 또는, 50질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, 스타이렌 화합물의 단량체 단위의 함유량은, 10~90질량%, 30~90질량%, 40~90질량%, 50~90질량%, 10~70질량%, 30~70질량%, 40~70질량%, 50~70질량%, 10~50질량%, 30~50질량%, 또는, 40~50질량%여도 된다.When the component (A) has a styrene compound as a monomer unit, the content of the monomer unit of the styrene compound is adjusted from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion, (A) It may be within the following range based on the total amount of monomer units constituting the component. The content of the monomer unit of the styrene compound is 10 mass% or more, 20 mass% or more, 25 mass% or more, 30 mass% or more, 35 mass% or more, 40 mass% or more, 45 mass% or more, 47 mass% or more, Alternatively, it may be 50% by mass or more. The content of the monomer unit of the styrene compound is 90 mass% or less, 85 mass% or less, 80 mass% or less, 75 mass% or less, 70 mass% or less, 65 mass% or less, 60 mass% or less, 55 mass% or less, Alternatively, it may be 50% by mass or less. From these viewpoints, the content of the monomer unit of the styrene compound is 10 to 90 mass%, 30 to 90 mass%, 40 to 90 mass%, 50 to 90 mass%, 10 to 70 mass%, 30 to 70 mass%, It may be 40 to 70 mass%, 50 to 70 mass%, 10 to 50 mass%, 30 to 50 mass%, or 40 to 50 mass%.

(A) 성분은, 그 외의 단량체를 단량체 단위로서 가져도 된다. 이와 같은 단량체로서는, 바이닐알코올의 에터류(바이닐-n-뷰틸에터 등), (메트)아크릴로나이트릴, 말레산, 말레산 무수물, 말레산 모노에스터(말레산 모노메틸, 말레산 모노에틸, 말레산 모노아이소프로필 등), 푸마르산, 신남산, α-사이아노신남산, 이타콘산, 크로톤산, 프로피올산 등을 들 수 있다.(A) Component may have other monomers as monomer units. Examples of such monomers include vinyl alcohol ethers (vinyl-n-butyl ether, etc.), (meth)acrylonitrile, maleic acid, maleic anhydride, maleic acid monoester (monomethyl maleate, monoethyl maleate) , monoisopropyl maleate, etc.), fumaric acid, cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, propiolic acid, etc.

(A) 성분에 있어서, 카바졸환을 갖는 단량체의 단량체 단위의 함유량은, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여, 0.1mol% 이하, 0.1mol% 미만, 0.01mol% 이하, 0.001mol% 이하, 또는, 실질적으로 0mol%여도 된다. (A) 성분은, 카바졸환을 갖는 바인더 폴리머를 포함하지 않아도 된다. 즉, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 카바졸환을 갖는 바인더 폴리머를 함유하지 않아도 된다.In component (A), the content of monomer units of the monomer having a carbazole ring is 0.1 mol% or less, less than 0.1 mol%, or 0.01 mol% or less, based on the total amount of monomer units constituting component (A). It may be 0.001 mol% or less, or substantially 0 mol%. (A) Component does not need to contain a binder polymer having a carbazole ring. That is, the photosensitive resin composition according to this embodiment does not need to contain a binder polymer having a carbazole ring.

(A) 성분의 산가는, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 산가는, 80mgKOH/g 이상, 90mgKOH/g 이상, 100mgKOH/g 이상, 100mgKOH/g 초과, 120mgKOH/g 이상, 140mgKOH/g 이상, 150mgKOH/g 이상, 160mgKOH/g 이상, 또는, 170mgKOH/g 이상이어도 된다. (A) 성분의 산가는, 250mgKOH/g 이하, 240mgKOH/g 이하, 230mgKOH/g 이하, 210mgKOH/g 이하, 200mgKOH/g 이하, 또는, 180mgKOH/g 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 산가는, 80~250mgKOH/g, 100~230mgKOH/g, 또는, 150~200mgKOH/g이어도 된다. (A) 성분의 산가는, (A) 성분을 구성하는 단량체 단위(예를 들면 (메트)아크릴산의 단량체 단위)의 함유량에 의하여 조정할 수 있다. (A) 성분의 산가는, 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다. (A) 성분을 합성 용매, 희석 용매 등의 휘발분과 혼합함으로써 얻어지는 용액을 측정 대상으로 하는 경우에는, 하기 식에 의하여 산가를 산출할 수 있다. (A) 성분을 합성 용매, 희석 용매 등의 휘발분과 혼합한 상태에서 배합하는 경우는, 정밀하게 칭량하기 전에 미리, 휘발분의 비점보다 10℃ 이상 높은 온도에서 1~4시간 가열하여, 휘발분을 제거하고 나서 산가를 측정할 수도 있다.The acid value of the component (A) may be within the following range from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. (A) The acid value of the component is 80 mgKOH/g or more, 90 mgKOH/g or more, 100 mgKOH/g or more, more than 100 mgKOH/g, 120 mgKOH/g or more, 140 mgKOH/g or more, 150 mgKOH/g or more, 160 mgKOH/g or more, It may be more than 170mgKOH/g. The acid value of the component (A) may be 250 mgKOH/g or less, 240 mgKOH/g or less, 230 mgKOH/g or less, 210 mgKOH/g or less, 200 mgKOH/g or less, or 180 mgKOH/g or less. From these viewpoints, the acid value of component (A) may be 80 to 250 mgKOH/g, 100 to 230 mgKOH/g, or 150 to 200 mgKOH/g. The acid value of component (A) can be adjusted depending on the content of monomer units (for example, monomer units of (meth)acrylic acid) constituting component (A). (A) The acid value of component can be measured by the method described in the Examples. When the measurement object is a solution obtained by mixing component (A) with volatile components such as a synthetic solvent or dilution solvent, the acid value can be calculated using the following formula. (A) When mixing the component with volatile components such as synthetic solvent or diluting solvent, before accurately weighing, heat for 1 to 4 hours at a temperature at least 10°C higher than the boiling point of the volatile component to remove the volatile component. You can then measure the acid value.

산가=0.1×Vf×56.1/(Wp×I/100)Acid value=0.1×Vf×56.1/(Wp×I/100)

[식 중, Vf는, KOH(수산화 칼륨) 수용액의 적정량(단위: mL)을 나타내고, Wp는, 측정 대상의 (A) 성분을 함유하는 용액의 질량(단위: g)을 나타내며, I는, 측정 대상의 (A) 성분을 함유하는 용액 중의 불휘발분의 비율(단위: 질량%)을 나타낸다.][Wherein, Vf represents the appropriate amount (unit: mL) of KOH (potassium hydroxide) aqueous solution, Wp represents the mass (unit: g) of the solution containing the component (A) to be measured, and I is, It represents the ratio (unit: mass%) of non-volatile matter in the solution containing the component (A) to be measured.]

(A) 성분의 중량 평균 분자량(Mw)은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 중량 평균 분자량은, 10000 이상, 20000 이상, 25000 이상, 30000 이상, 또는, 35000 이상이어도 된다. (A) 성분의 중량 평균 분자량은, 100000 이하, 80000 이하, 70000 이하, 70000 미만, 65000 이하, 60000 이하, 50000 이하, 40000 이하, 또는, 35000 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 중량 평균 분자량은, 10000~100000, 20000~50000, 또는, 30000~40000이어도 된다.The weight average molecular weight (Mw) of the component (A) may be within the following range from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The weight average molecular weight of component (A) may be 10,000 or more, 20,000 or more, 25,000 or more, 30,000 or more, or 35,000 or more. The weight average molecular weight of component (A) may be 100,000 or less, 80,000 or less, 70,000 or less, 70,000 or less, 65,000 or less, 60,000 or less, 50,000 or less, 40,000 or less, or 35,000 or less. From these viewpoints, the weight average molecular weight of component (A) may be 10,000 to 100,000, 20,000 to 50,000, or 30,000 to 40,000.

(A) 성분의 수평균 분자량(Mn)은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 수평균 분자량은, 5000 이상, 10000 이상, 12000 이상, 15000 이상, 또는, 16000 이상이어도 된다. (A) 성분의 수평균 분자량은, 50000 이하, 40000 이하, 35000 이하, 30000 이하, 25000 이하, 20000 이하, 또는, 16000 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 수평균 분자량은, 5000~50000, 10000~25000, 또는, 15000~20000이어도 된다.The number average molecular weight (Mn) of the component (A) may be within the following range from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The number average molecular weight of the component (A) may be 5000 or more, 10000 or more, 12000 or more, 15000 or more, or 16000 or more. The number average molecular weight of component (A) may be 50,000 or less, 40,000 or less, 35,000 or less, 30,000 or less, 25,000 or less, 20,000 or less, or 16,000 or less. From these viewpoints, the number average molecular weight of component (A) may be 5000 to 50000, 10000 to 25000, or 15000 to 20000.

(A) 성분의 분산도(중량 평균 분자량/수평균 분자량)는, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 분산도는, 1.0 이상, 1.5 이상, 1.8 이상, 2.0 이상, 또는, 2.1 이상이어도 된다. (A) 성분의 분산도는, 3.0 이하, 2.8 이하, 2.5 이하, 2.3 이하, 또는, 2.2 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 분산도는, 1.0~3.0, 1.5~2.5, 또는, 1.8~2.3이어도 된다.The dispersion degree (weight average molecular weight/number average molecular weight) of the component (A) may be within the following range from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. (A) The dispersion degree of component may be 1.0 or more, 1.5 or more, 1.8 or more, 2.0 or more, or 2.1 or more. The dispersion degree of component (A) may be 3.0 or less, 2.8 or less, 2.5 or less, 2.3 or less, or 2.2 or less. From these viewpoints, the dispersion degree of component (A) may be 1.0 to 3.0, 1.5 to 2.5, or 1.8 to 2.3.

중량 평균 분자량 및 수평균 분자량은, 예를 들면, 젤 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)에 의하여 표준 폴리스타이렌의 검량선을 이용하여 측정할 수 있다. 보다 구체적으로는, 실시예에 기재된 조건에서 측정할 수 있다. 분자량이 낮은 화합물에 대하여, 상술한 중량 평균 분자량 및 수평균 분자량의 측정 방법으로 측정 곤란한 경우에는, 다른 방법으로 분자량을 측정하여, 그 평균값을 산출할 수도 있다.The weight average molecular weight and number average molecular weight can be measured, for example, by gel permeation chromatography (GPC) using a calibration curve of standard polystyrene. More specifically, it can be measured under the conditions described in the examples. For compounds with low molecular weight, if it is difficult to measure the weight average molecular weight and number average molecular weight using the above-mentioned measurement methods, the molecular weight may be measured by another method and the average value may be calculated.

(A) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 함유량은, 필름의 성형성이 우수한 관점에서, 10질량% 이상, 20질량% 이상, 30질량% 이상, 40질량% 이상, 45질량% 이상, 또는, 50질량% 이상이어도 된다. (A) 성분의 함유량은, 90질량% 이하, 80질량% 이하, 75질량% 이하, 70질량% 이하, 65질량% 이하, 60질량% 이하, 또는, 55질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 함유량은, 10~90질량%, 30~70질량%, 또는, 40~60질량%여도 된다.The content of component (A) may be in the following range based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The content of component (A) may be 10 mass% or more, 20 mass% or more, 30 mass% or more, 40 mass% or more, 45 mass% or more, or 50 mass% or more from the viewpoint of excellent film formability. . The content of component (A) may be 90 mass% or less, 80 mass% or less, 75 mass% or less, 70 mass% or less, 65 mass% or less, 60 mass% or less, or 55 mass% or less. From these viewpoints, the content of component (A) may be 10 to 90 mass%, 30 to 70 mass%, or 40 to 60 mass%.

(A) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (A) 성분의 함유량은, 필름의 성형성이 우수한 관점에서, 10질량부 이상, 20질량부 이상, 30질량부 이상, 40질량부 이상, 45질량부 이상, 50질량부 이상, 또는, 55질량부 이상이어도 된다. (A) 성분의 함유량은, 90질량부 이하, 80질량부 이하, 75질량부 이하, 70질량부 이하, 65질량부 이하, 또는, 60질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (A) 성분의 함유량은, 10~90질량부, 30~70질량부, 또는, 40~60질량부여도 된다.The content of component (A) is as follows with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the hardened portion and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be in the range of . The content of component (A) is, from the viewpoint of excellent film formability, 10 parts by mass or more, 20 parts by mass or more, 30 parts by mass or more, 40 parts by mass or more, 45 parts by mass or more, 50 parts by mass or more, or 55 parts by mass or more. It may be more than parts by mass. The content of component (A) may be 90 parts by mass or less, 80 parts by mass or less, 75 parts by mass or less, 70 parts by mass or less, 65 parts by mass or less, or 60 parts by mass or less. From these viewpoints, the content of component (A) may be 10 to 90 parts by mass, 30 to 70 parts by mass, or 40 to 60 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (B) 성분으로서 광중합성 화합물을 함유하고, 광중합성 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 포함한다. 광중합성 화합물은, 광에 의하여 중합되는 화합물이며, 예를 들면, 에틸렌성 불포화 결합을 갖는 화합물이어도 된다.The photosensitive resin composition according to this embodiment contains a photopolymerizable compound as the (B) component, and the photopolymerizable compound contains a compound having a ditrimethylolpropane skeleton. The photopolymerizable compound is a compound that is polymerized by light, and may be, for example, a compound having an ethylenically unsaturated bond.

(B) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 (메트)아크릴산 화합물을 포함해도 된다.The component (B) may contain a (meth)acrylic acid compound having a ditrimethylolpropane skeleton from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 (메트)아크릴산 화합물에 있어서의 (메트)아크릴로일기의 수(아크릴로일기 및 메타크릴로일기의 합계)는, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 하기의 범위여도 된다. (메트)아크릴로일기의 수는, 2 이상, 3 이상, 또는, 4 이상이어도 된다. (메트)아크릴로일기의 수는, 8 이하, 7 이하, 6 이하, 5 이하, 또는, 4 이하여도 된다. 이들 관점에서, (메트)아크릴로일기의 수는, 2~8 또는 3~6이어도 되고, 4여도 된다.The number of (meth)acryloyl groups (total of acryloyl groups and methacryloyl groups) in the (meth)acrylic acid compound having a ditrimethylolpropane skeleton is from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion, and , from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution and adhesion, the range below may be sufficient. The number of (meth)acryloyl groups may be 2 or more, 3 or more, or 4 or more. The number of (meth)acryloyl groups may be 8 or less, 7 or less, 6 or less, 5 or less, or 4 or less. From these viewpoints, the number of (meth)acryloyl groups may be 2 to 8, 3 to 6, or 4.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (폴리)옥시알킬렌기(예를 들면 폴리옥시알킬렌기)를 가져도 되고, (폴리)옥시에틸렌기 및 (폴리)옥시프로필렌기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 가져도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물은, 경화부의 박리 시간을 특히 단축화하기 쉬운 관점, 및, 특히 우수한 감도를 얻기 쉬운 관점에서, 폴리옥시에틸렌기를 가져도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물은, 특히 우수한 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 폴리옥시프로필렌기를 가져도 된다.Compounds having a ditrimethylolpropane skeleton have a (poly)oxyalkylene group (e.g., polyoxyalkylene group) from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of being easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. lene group) or at least one selected from the group consisting of a (poly)oxyethylene group and a (poly)oxypropylene group. The compound having a ditrimethylolpropane skeleton may have a polyoxyethylene group from the viewpoint of making it particularly easy to shorten the peeling time of the hardened portion and making it easy to obtain particularly excellent sensitivity. The compound having a ditrimethylolpropane skeleton may have a polyoxypropylene group, especially from the viewpoint of easily obtaining excellent resolution and adhesion.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물에 있어서의 옥시알킬렌기의 수(1분자 중의 합계), 옥시에틸렌기의 수, 또는, 옥시프로필렌기의 수는, 하기의 범위여도 된다. 상술한 기의 수는, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 1 이상, 2 이상, 3 이상, 4 이상, 6 이상, 8 이상, 10 이상, 12 이상, 15 이상, 18 이상, 또는, 20 이상이어도 된다. 상술한 기의 수는, 우수한 감도 및 해상성을 얻기 쉬운 관점에서, 30 이하, 25 이하, 20 이하, 18 이하, 15 이하, 12 이하, 10 이하, 8 이하, 6 이하, 또는, 4 이하여도 된다. 이들 관점에서, 상술한 기의 수는, 1~30, 4~20, 8~20, 12~20, 16~20, 4~16, 8~16, 12~16, 4~12, 8~12, 또는, 4~8이어도 된다.The number of oxyalkylene groups (total per molecule), the number of oxyethylene groups, or the number of oxypropylene groups in the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be within the following ranges. The number of the above-mentioned groups is 1 or more, 2 or more, 3 or more, 4 or more, 6 or more, 8 or more, 10 or more from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and easy to obtain excellent sensitivity and adhesion. It may be 12 or more, 15 or more, 18 or more, or 20 or more. The number of the above-mentioned groups may be 30 or less, 25 or less, 20 or less, 18 or less, 15 or less, 12 or less, 10 or less, 8 or less, 6 or less, or 4 or less from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity and resolution. do. In these terms, the numbers of the above-mentioned groups are 1 to 30, 4 to 20, 8 to 20, 12 to 20, 16 to 20, 4 to 16, 8 to 16, 12 to 16, 4 to 12, 8 to 12. , or it may be 4 to 8.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 250 이상, 300 이상, 400 이상, 500 이상, 600 이상, 650 이상, 700 이상, 800 이상, 1000 이상, 1050 이상, 1100 이상, 1200 이상, 또는, 1400 이상이어도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 특히 우수한 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 1500 이상, 1600 이상, 또는, 1700 이상이어도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 10000 이하, 10000 미만, 8000 이하, 6000 이하, 5000 이하, 3000 이하, 2000 이하, 또는, 1800 이하여도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 경화부의 박리 시간을 특히 단축화하기 쉬운 관점, 및, 특히 우수한 감도를 얻기 쉬운 관점에서, 1700 이하, 1600 이하, 또는, 1500 이하여도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 우수한 해상성을 얻기 쉬운 관점에서, 1400 이하, 1200 이하, 1100 이하, 1050 이하, 1000 이하, 800 이하, 또는, 700 이하여도 된다. 이들 관점에서, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 분자량은, 250~10000, 500~5000, 600~2000, 800~2000, 1200~2000, 1500~2000, 600~1500, 800~1500, 1200~1500, 600~1200, 800~1200, 또는, 600~800이어도 된다.The molecular weight of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 250 or more, 300 or more, 400 or more, 500 or more, and 600 or more from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and easy to obtain excellent sensitivity and adhesion. , 650 or more, 700 or more, 800 or more, 1000 or more, 1050 or more, 1100 or more, 1200 or more, or 1400 or more. The molecular weight of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 1500 or more, 1600 or more, or 1700 or more, especially from the viewpoint of easily obtaining excellent resolution and adhesion. The molecular weight of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 10000 or less, 10000 or less, 8000 or less, 6000 or less from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and easy to obtain excellent sensitivity, resolution and adhesion. , may be 5000 or less, 3000 or less, 2000 or less, or 1800 or less. The molecular weight of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 1700 or less, 1600 or less, or 1500 or less from the viewpoint of particularly easy to shorten the peeling time of the cured portion and especially easy to obtain excellent sensitivity. The molecular weight of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 1400 or less, 1200 or less, 1100 or less, 1050 or less, 1000 or less, 800 or less, or 700 or less from the viewpoint of easily obtaining excellent resolution. From these viewpoints, the molecular weight of the compound having the ditrimethylolpropane skeleton is 250 to 10000, 500 to 5000, 600 to 2000, 800 to 2000, 1200 to 2000, 1500 to 2000, 600 to 1500, 800 to 1500, It may be 1200-1500, 600-1200, 800-1200, or 600-800.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (B) 성분의 전체 질량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 1질량% 이상, 3질량% 이상, 5질량% 이상, 8질량% 이상, 10질량% 이상, 또는, 11질량% 이상이어도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 50질량% 이하, 50질량% 미만, 40질량% 이하, 30질량% 이하, 20질량% 이하, 18질량% 이하, 15질량% 이하, 또는, 12질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 1~50질량%, 5~30질량%, 또는, 8~20질량%여도 된다.The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is based on the total mass of component (B) from the viewpoint of easy to shorten the peeling time of the cured portion and easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be within the following range. The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 1% by mass or more, 3% by mass or more, 5% by mass or more, 8% by mass or more, 10% by mass or more, or 11% by mass or more. The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 50 mass% or less, less than 50 mass%, 40 mass% or less, 30 mass% or less, 20 mass% or less, 18 mass% or less, 15 mass% or less, or , may be 12% by mass or less. From these viewpoints, the content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 1 to 50 mass%, 5 to 30 mass%, or 8 to 20 mass%.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 0.1질량% 이상, 0.5질량% 이상, 1질량% 이상, 2질량% 이상, 3질량% 이상, 4질량% 이상, 또는, 4.5질량% 이상이어도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 20질량% 이하, 15질량% 이하, 10질량% 이하, 8질량% 이하, 6질량% 이하, 5질량% 이하, 또는, 5질량% 미만이어도 된다. 이들 관점에서, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 0.1~20질량%, 1~20질량%, 3~20질량%, 0.1~10질량%, 1~10질량%, 3~10질량%, 0.1~8질량%, 1~8질량%, 3~8질량%, 0.1~5질량%, 1~5질량%, 또는, 3~5질량%여도 된다.The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is as follows based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the cured portion and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be in the range of . The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 0.1 mass% or more, 0.5 mass% or more, 1 mass% or more, 2 mass% or more, 3 mass% or more, 4 mass% or more, or 4.5 mass% or more. You can continue. The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 20% by mass or less, 15% by mass or less, 10% by mass or less, 8% by mass or less, 6% by mass or less, 5% by mass or less, or less than 5% by mass. You can continue. From these viewpoints, the content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 0.1 to 20 mass%, 1 to 20 mass%, 3 to 20 mass%, 0.1 to 10 mass%, 1 to 10 mass%, 3 to It may be 10 mass%, 0.1 to 8 mass%, 1 to 8 mass%, 3 to 8 mass%, 0.1 to 5 mass%, 1 to 5 mass%, or 3 to 5 mass%.

다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물은, 0.1질량부 이상, 0.5질량부 이상, 1질량부 이상, 2질량부 이상, 3질량부 이상, 4질량부 이상, 4.5질량부 이상, 또는, 5질량부 이상이어도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 20질량부 이하, 15질량부 이하, 10질량부 이하, 8질량부 이하, 6질량부 이하, 또는, 5질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량은, 0.1~20질량부, 1~20질량부, 3~20질량부, 5~20질량부, 0.1~10질량부, 1~10질량부, 3~10질량부, 5~10질량부, 0.1~8질량부, 1~8질량부, 3~8질량부, 5~8질량부, 0.1~5질량부, 1~5질량부, 또는, 3~5질량부여도 된다.The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of easy to shorten the peeling time of the hardened part and easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The range below may be applicable to 100 parts by mass. The compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 0.1 parts by mass or more, 0.5 parts by mass or more, 1 part by mass or more, 2 parts by mass or more, 3 parts by mass or more, 4 parts by mass or more, 4.5 parts by mass or more, or 5 parts by mass or more. It may be more than parts by mass. The content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton may be 20 parts by mass or less, 15 parts by mass or less, 10 parts by mass or less, 8 parts by mass or less, 6 parts by mass or less, or 5 parts by mass or less. From these viewpoints, the content of the compound having a ditrimethylolpropane skeleton is 0.1 to 20 parts by mass, 1 to 20 parts by mass, 3 to 20 parts by mass, 5 to 20 parts by mass, 0.1 to 10 parts by mass, 1 to 10 parts by mass. 10 parts by mass, 3 to 10 parts by mass, 5 to 10 parts by mass, 0.1 to 8 parts by mass, 1 to 8 parts by mass, 3 to 8 parts by mass, 5 to 8 parts by mass, 0.1 to 5 parts by mass, 1 to 5 parts by mass 2, or 3 to 5 masses may be added.

(B) 성분은, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖지 않는 화합물을 포함해도 된다. 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖지 않는 화합물로서는, 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물, EO 변성 다이(메트)아크릴레이트, PO 변성 다이(메트)아크릴레이트, EO·PO 변성 다이(메트)아크릴레이트, 폴리알킬렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트(폴리에틸렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트 등), EO 변성 폴리알킬렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트, PO 변성 폴리알킬렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트, EO·PO 변성 폴리알킬렌글라이콜다이(메트)아크릴레이트, 트라이메틸올프로페인다이(메트)아크릴레이트, 트라이메틸올프로페인트라이(메트)아크릴레이트, EO 변성 트라이메틸올프로페인트라이(메트)아크릴레이트, PO 변성 트라이메틸올프로페인트라이(메트)아크릴레이트, EO·PO 변성 트라이메틸올프로페인트라이(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메테인트라이(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메테인테트라(메트)아크릴레이트, EO 변성 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, PO 변성 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, EO·PO 변성 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, EO 변성 다이펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, PO 변성 다이펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, EO·PO 변성 다이펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 노닐페녹시폴리에틸렌옥시아크릴레이트, 프탈산계 화합물, (메트)아크릴산 알킬, 분자 내에 적어도 1개의 양이온 중합 가능한 환상 에터기를 갖는 광중합성 화합물(옥세테인 화합물 등) 등을 들 수 있다.(B) Component may contain a compound that does not have a ditrimethylolpropane skeleton. Compounds that do not have a ditrimethylolpropane skeleton include bisphenol A-type (meth)acrylic acid compounds, EO-modified di(meth)acrylate, PO-modified di(meth)acrylate, and EO·PO-modified di(meth)acrylate. , polyalkylene glycol di(meth)acrylate (polyethylene glycol di(meth)acrylate, polypropylene glycol di(meth)acrylate, etc.), EO modified polyalkylene glycol di(meth)acrylate Rate, PO modified polyalkylene glycol di(meth)acrylate, EO·PO modified polyalkylene glycol di(meth)acrylate, trimethylolpropane di(meth)acrylate, trimethylolpropane tri. (meth)acrylate, EO modified trimethylol propain tri(meth)acrylate, PO modified trimethylol propain tri(meth)acrylate, EO·PO modified trimethylol propain tri(meth)acrylate, Tetramethylolmethane tri(meth)acrylate, tetramethylolmethane tetra(meth)acrylate, EO modified pentaerythritol tetra(meth)acrylate, PO modified pentaerythritol tetra(meth)acrylate, EO· PO modified pentaerythritol tetra(meth)acrylate, EO modified dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, PO modified dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, EO·PO modified dipentaerythritol hexa(meth)acrylate Acrylate, nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate, phthalic acid-based compounds, alkyl (meth)acrylate, photopolymerizable compounds (oxetane compounds, etc.) having at least one cationic polymerizable cyclic ether group in the molecule.

(B) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물(다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 제외한다)을 포함해도 된다. 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물로서는, 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로페인(2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로페인 등), 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시폴리프로폭시)페닐)프로페인, 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시폴리뷰톡시)페닐)프로페인, 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시폴리에톡시폴리프로폭시)페닐)프로페인 등을 들 수 있다. (B) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시폴리에톡시)페닐)프로페인을 포함해도 되고, 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로페인을 포함해도 된다.The component (B) is a bisphenol A type (meth)acrylic acid compound (a compound having a ditrimethylolpropane skeleton) from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. may be included). As bisphenol A type (meth)acrylic acid compounds, 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolyethoxy)phenyl)propane (2,2-bis(4-((meth)acryloxypentaethoxy) )phenyl)propane, etc.), 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolypropoxy)phenyl)propane, 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolybutoxy)phenyl )propane, 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolyethoxypolypropoxy)phenyl)propane, etc. Component (B) is 2,2-bis(4-((meth)acryloxypolyethoxy)phenyl from the viewpoint of easy to shorten the peeling time of the hardened part and easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. ) propane may be included, and 2,2-bis(4-((meth)acryloxypentaethoxy)phenyl)propane may be included.

비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (B) 성분의 전체 질량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 50질량% 이상, 50질량% 초과, 60질량% 이상, 65질량% 이상, 70질량% 이상, 또는, 75질량% 이상이어도 된다. 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 99질량% 이하, 97질량% 이하, 95질량% 이하, 92질량% 이하, 90질량% 이하, 89질량% 이하, 85질량% 이하, 또는, 80질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 50~99질량%, 60~95질량%, 또는, 70~90질량%여도 된다.The content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound is as follows based on the total mass of component (B) from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be a range. The content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound may be 50 mass% or more, more than 50 mass%, 60 mass% or more, 65 mass% or more, 70 mass% or more, or 75 mass% or more. The content of bisphenol A type (meth)acrylic acid compound is 99 mass% or less, 97 mass% or less, 95 mass% or less, 92 mass% or less, 90 mass% or less, 89 mass% or less, 85 mass% or less, or 80 mass% or less. It may be less than mass%. From these viewpoints, the content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound may be 50 to 99 mass%, 60 to 95 mass%, or 70 to 90 mass%.

비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 1질량% 이상, 5질량% 이상, 10질량% 이상, 15질량% 이상, 20질량% 이상, 25질량% 이상, 또는, 30질량% 이상이어도 된다. 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 70질량% 이하, 65질량% 이하, 60질량% 이하, 55질량% 이하, 50질량% 이하, 45질량% 이하, 40질량% 이하, 또는, 35질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, 비스페놀 A형 (메트)아크릴산 화합물의 함유량은, 1~70질량%, 10~70질량%, 20~70질량%, 30~70질량%, 1~50질량%, 10~50질량%, 20~50질량%, 30~50질량%, 1~40질량%, 10~40질량%, 20~40질량%, 또는, 30~40질량%여도 된다.The content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound is within the following range based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It's okay. The content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound may be 1% by mass or more, 5% by mass or more, 10% by mass or more, 15% by mass or more, 20% by mass or more, 25% by mass or more, or 30% by mass or more. . The content of bisphenol A type (meth)acrylic acid compound is 70% by mass or less, 65% by mass or less, 60% by mass or less, 55% by mass or less, 50% by mass or less, 45% by mass or less, 40% by mass or less, or 35% by mass or less. It may be less than mass%. From these viewpoints, the content of the bisphenol A type (meth)acrylic acid compound is 1 to 70 mass%, 10 to 70 mass%, 20 to 70 mass%, 30 to 70 mass%, 1 to 50 mass%, 10 to 50 mass%. %, 20-50 mass%, 30-50 mass%, 1-40 mass%, 10-40 mass%, 20-40 mass%, or 30-40 mass% may be sufficient.

(B) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (B) 성분의 함유량은, 10질량% 이상, 15질량% 이상, 20질량% 이상, 25질량% 이상, 30질량% 이상, 35질량% 이상, 또는, 40질량% 이상이어도 된다. (B) 성분의 함유량은, 90질량% 이하, 80질량% 이하, 70질량% 이하, 65질량% 이하, 60질량% 이하, 55질량% 이하, 50질량% 이하, 또는, 45질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (B) 성분의 함유량은, 10~90질량%, 20~90질량%, 30~90질량%, 40~90질량%, 10~70질량%, 20~70질량%, 30~70질량%, 40~70질량%, 10~50질량%, 20~50질량%, 30~50질량%, 또는, 40~50질량%여도 된다.The content of component (B) may be in the following range based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The content of component (B) may be 10 mass% or more, 15 mass% or more, 20 mass% or more, 25 mass% or more, 30 mass% or more, 35 mass% or more, or 40 mass% or more. (B) The content of component may be 90 mass% or less, 80 mass% or less, 70 mass% or less, 65 mass% or less, 60 mass% or less, 55 mass% or less, 50 mass% or less, or 45 mass% or less. do. From these viewpoints, the content of component (B) is 10 to 90 mass%, 20 to 90 mass%, 30 to 90 mass%, 40 to 90 mass%, 10 to 70 mass%, 20 to 70 mass%, 30 to It may be 70 mass%, 40-70 mass%, 10-50 mass%, 20-50 mass%, 30-50 mass%, or 40-50 mass%.

(B) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (B) 성분의 함유량은, 10질량부 이상, 20질량부 이상, 25질량부 이상, 30질량부 이상, 35질량부 이상, 또는, 40질량부 이상이어도 된다. (B) 성분의 함유량은, 90질량부 이하, 80질량부 이하, 70질량부 이하, 60질량부 이하, 55질량부 이하, 50질량부 이하, 또는, 45질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (B) 성분의 함유량은, 10~90질량부, 20~90질량부, 30~90질량부, 40~90질량부, 10~70질량부, 20~70질량부, 30~70질량부, 40~70질량부, 10~50질량부, 20~50질량부, 30~50질량부, 또는, 40~50질량부여도 된다.The content of component (B) is as follows with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the hardened portion and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be in the range of . The content of component (B) may be 10 parts by mass or more, 20 parts by mass or more, 25 parts by mass or more, 30 parts by mass or more, 35 parts by mass or more, or 40 parts by mass or more. The content of component (B) may be 90 parts by mass or less, 80 parts by mass or less, 70 parts by mass or less, 60 parts by mass or less, 55 parts by mass or less, 50 parts by mass or less, or 45 parts by mass or less. From these viewpoints, the content of component (B) is 10 to 90 parts by mass, 20 to 90 parts by mass, 30 to 90 parts by mass, 40 to 90 parts by mass, 10 to 70 parts by mass, 20 to 70 parts by mass, 30 to 30 parts by mass. It may be 70 parts by mass, 40 to 70 parts by mass, 10 to 50 parts by mass, 20 to 50 parts by mass, 30 to 50 parts by mass, or 40 to 50 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (C) 성분으로서 광중합 개시제를 함유한다.The photosensitive resin composition according to this embodiment contains a photopolymerization initiator as (C) component.

(C) 성분으로서는, 헥사아릴바이이미다졸 화합물; 벤조페논, 2-벤질-2-다이메틸아미노-1-(4-모폴리노페닐)-1-뷰탄온, 2-(다이메틸아미노)-2-[(4-메틸페닐)메틸]-1-[4-(4-모폴린일)페닐]-1-뷰탄온, 4-(2-하이드록시에톡시)페닐-2-(하이드록시-2-프로필)케톤, 2-메틸-1-[4-(메틸싸이오)페닐]-2-모폴리노-프로판온-1 등의 방향족 케톤; 알킬안트라퀴논 등의 퀴논 화합물; 벤조인알킬에터 등의 벤조인에터 화합물; 벤조인, 알킬벤조인 등의 벤조인 화합물; 벤질다이메틸케탈 등의 벤질 유도체; 비스(2,4,6-트라이메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드; 비스(2,6-다이메틸벤조일)-2,4,4-트라이메틸-펜틸포스핀옥사이드; (2,4,6-트라이메틸벤조일)에톡시페닐포스핀옥사이드 등을 들 수 있다.(C) As a component, hexaarylbiimidazole compound; Benzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-1-butanone, 2-(dimethylamino)-2-[(4-methylphenyl)methyl]-1- [4-(4-morpholinyl)phenyl]-1-butanone, 4-(2-hydroxyethoxy)phenyl-2-(hydroxy-2-propyl)ketone, 2-methyl-1-[4 Aromatic ketones such as -(methylthio)phenyl]-2-morpholino-propanone-1; Quinone compounds such as alkylanthraquinone; Benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether; Benzoin compounds such as benzoin and alkylbenzoin; Benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; Bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)-phenylphosphine oxide; Bis(2,6-dimethylbenzoyl)-2,4,4-trimethyl-pentylphosphine oxide; (2,4,6-trimethylbenzoyl)ethoxyphenylphosphine oxide, etc. can be mentioned.

(C) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 헥사아릴바이이미다졸 화합물을 포함해도 된다. 헥사아릴바이이미다졸 화합물에 있어서의 아릴기는, 페닐기 등이어도 된다. 헥사아릴바이이미다졸 화합물에 있어서의 아릴기에 결합하는 수소 원자는, 할로젠 원자(염소 원자 등)에 의하여 치환되어 있어도 된다.Component (C) may contain a hexaarylbiimidazole compound from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. The aryl group in the hexaarylbiimidazole compound may be a phenyl group or the like. The hydrogen atom bonded to the aryl group in the hexaarylbiimidazole compound may be substituted with a halogen atom (chlorine atom, etc.).

헥사아릴바이이미다졸 화합물은, 2,4,5-트라이아릴이미다졸 이량체여도 된다. 2,4,5-트라이아릴이미다졸 이량체로서는, 2-(o-클로로페닐)-4,5-다이페닐이미다졸 이량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-비스-(m-메톡시페닐)이미다졸 이량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-다이페닐이미다졸 이량체 등을 들 수 있다. 헥사아릴바이이미다졸 화합물은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 2-(o-클로로페닐)-4,5-다이페닐이미다졸 이량체를 포함해도 되고, 2,2'-비스(o-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-바이이미다졸을 포함해도 된다.The hexaarylbiimidazole compound may be a 2,4,5-triarylimidazole dimer. Examples of 2,4,5-triarylimidazole dimer include 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer and 2-(o-chlorophenyl)-4,5-bis. -(m-methoxyphenyl)imidazole dimer, 2-(p-methoxyphenyl)-4,5-diphenylimidazole dimer, etc. The hexaarylbiimidazole compound is 2-(o-chlorophenyl)-4,5-diphenylimide from the viewpoint of easy to shorten the peeling time of the hardened part and easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may contain a sol dimer, or it may contain 2,2'-bis(o-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole.

헥사아릴바이이미다졸 화합물의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (C) 성분의 전량을 기준으로 하여, 50질량% 이상, 50질량% 초과, 70질량% 이상, 90질량% 이상, 95질량% 이상, 98질량% 이상, 99질량% 이상, 또는, 실질적으로 100질량%((C) 성분이 실질적으로 헥사아릴바이이미다졸 화합물로 이루어지는 양태)여도 된다.The content of the hexaarylbiimidazole compound is 50% by mass or more based on the total amount of component (C) from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. , more than 50% by mass, 70% by mass or more, 90% by mass or more, 95% by mass or more, 98% by mass or more, 99% by mass or more, or substantially 100% by mass (component (C) is substantially hexaarylbiimide An aspect consisting of a polyazole compound) may be used.

(C) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (C) 성분의 함유량은, 0.1질량% 이상, 0.5질량% 이상, 1질량% 이상, 2질량% 이상, 3질량% 이상, 4질량% 이상, 5질량% 이상, 또는, 5.5질량% 이상이어도 된다. (C) 성분의 함유량은, 20질량% 이하, 15질량% 이하, 12질량% 이하, 10질량% 이하, 8질량% 이하, 7질량% 이하, 또는, 6질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (C) 성분의 함유량은, 0.1~20질량%, 1~10질량%, 또는, 3~8질량%여도 된다.The content of component (C) may be in the following range based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion. (C) The content of component may be 0.1 mass% or more, 0.5 mass% or more, 1 mass% or more, 2 mass% or more, 3 mass% or more, 4 mass% or more, 5 mass% or more, or 5.5 mass% or more. do. The content of component (C) may be 20 mass% or less, 15 mass% or less, 12 mass% or less, 10 mass% or less, 8 mass% or less, 7 mass% or less, or 6 mass% or less. From these viewpoints, the content of component (C) may be 0.1 to 20 mass%, 1 to 10 mass%, or 3 to 8 mass%.

(C) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (C) 성분의 함유량은, 0.1질량부 이상, 0.5질량부 이상, 1질량부 이상, 2질량부 이상, 3질량부 이상, 4질량부 이상, 5질량부 이상, 5.5질량부 이상, 또는, 6질량부 이상이어도 된다. (C) 성분의 함유량은, 20질량부 이하, 15질량부 이하, 12질량부 이하, 10질량부 이하, 8질량부 이하, 7질량부 이하, 또는, 6질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (C) 성분의 함유량은, 0.1~20질량부, 1~10질량부, 또는, 3~8질량부여도 된다.The content of component (C) is as follows with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the hardened part and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution and adhesion. It may be in the range of . (C) The content of component is 0.1 parts by mass or more, 0.5 parts by mass or more, 1 part by mass or more, 2 parts by mass or more, 3 parts by mass or more, 4 parts by mass or more, 5 parts by mass or more, 5.5 parts by mass or more, or, It may be 6 parts by mass or more. The content of component (C) may be 20 parts by mass or less, 15 parts by mass or less, 12 parts by mass or less, 10 parts by mass or less, 8 parts by mass or less, 7 parts by mass or less, or 6 parts by mass or less. From these viewpoints, the content of component (C) may be 0.1 to 20 parts by mass, 1 to 10 parts by mass, or 3 to 8 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (D) 성분으로서 수소 공여체((A) 성분, (B) 성분 또는 (C) 성분에 해당하는 화합물을 제외한다)를 함유한다. 수소 공여체로서는, 비스[4-(다이메틸아미노)페닐]메테인, 비스[4-(다이에틸아미노)페닐]메테인, 류코 크리스탈 바이올렛, N-페닐글라이신 등을 들 수 있다.The photosensitive resin composition according to the present embodiment contains a hydrogen donor (excluding the compounds corresponding to the (A) component, (B) component, or (C) component) as the (D) component. Examples of the hydrogen donor include bis[4-(dimethylamino)phenyl]methane, bis[4-(diethylamino)phenyl]methane, leuco crystal violet, and N-phenylglycine.

(D) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (D) 성분의 함유량은, 0.1질량부 이상, 0.2질량부 이상, 0.3질량부 이상, 0.4질량부 이상, 또는, 0.5질량부 이상이어도 된다. (D) 성분의 함유량은, 5질량부 이하, 3질량부 이하, 2질량부 이하, 1.5질량부 이하, 1질량부 이하, 0.8질량부 이하, 0.7질량부 이하, 또는, 0.5질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (D) 성분의 함유량은, 0.1~5질량부, 0.2~1질량부, 또는, 0.3~0.8질량부여도 된다.The content of component (D) is as follows with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of ease of shortening the peeling time of the hardened portion and of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. It may be in the range of . The content of component (D) may be 0.1 part by mass or more, 0.2 part by mass or more, 0.3 part by mass or more, 0.4 part by mass or more, or 0.5 part by mass or more. The content of component (D) may be 5 parts by mass or less, 3 parts by mass or less, 2 parts by mass or less, 1.5 parts by mass or less, 1 part by mass or less, 0.8 parts by mass or less, 0.7 parts by mass or less, or 0.5 parts by mass or less. do. From these viewpoints, the content of component (D) may be 0.1 to 5 parts by mass, 0.2 to 1 part by mass, or 0.3 to 0.8 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (E) 성분으로서 안트라센 화합물을 함유해도 된다. (E) 성분은, 안트라센계 증감제(광증감제)로서 이용할 수 있다. (E) 성분으로서는, 9,10-다이뷰톡시안트라센, 9,10-다이페닐안트라센, 9,10-다이에톡시안트라센 등을 들 수 있다. (E) 성분은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 9,10-다이뷰톡시안트라센을 포함해도 된다.The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain an anthracene compound as the (E) component. (E) Component can be used as an anthracene-based sensitizer (photosensitizer). (E) Components include 9,10-dibutoxyanthracene, 9,10-diphenylanthracene, and 9,10-diethoxyanthracene. The component (E) may contain 9,10-dibutoxyanthracene from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the hardened portion and from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity, resolution, and adhesion.

(E) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 하기의 범위여도 된다. (E) 성분의 함유량은, 0.01질량% 이상, 0.05질량% 이상, 0.1질량% 이상, 0.2질량% 이상, 0.3질량% 이상, 0.4질량% 이상, 0.5질량% 이상, 또는, 0.55질량% 이상이어도 된다. (E) 성분의 함유량은, 5질량% 이하, 3질량% 이하, 2질량% 이하, 1.5질량% 이하, 1질량% 이하, 1질량% 미만, 0.8질량% 이하, 0.7질량% 이하, 또는, 0.6질량% 이하여도 된다. 이들 관점에서, (E) 성분의 함유량은, 0.01~5질량%, 0.1~5질량%, 0.3~5질량%, 0.5~5질량%, 0.01~1질량%, 0.1~1질량%, 0.3~1질량%, 0.5~1질량%, 0.01질량% 이상 1질량% 미만, 0.1질량% 이상 1질량% 미만, 0.3질량% 이상 1질량% 미만, 0.5질량% 이상 1질량% 미만, 0.01~0.8질량%, 0.1~0.8질량%, 0.3~0.8질량%, 또는, 0.5~0.8질량%여도 된다.The content of component (E) may be in the following range based on the total solid content of the photosensitive resin composition from the viewpoint of easily shortening the peeling time of the cured portion and from the viewpoint of ease of obtaining excellent sensitivity, resolution, and adhesion. (E) The content of the component may be 0.01 mass% or more, 0.05 mass% or more, 0.1 mass% or more, 0.2 mass% or more, 0.3 mass% or more, 0.4 mass% or more, 0.5 mass% or more, or 0.55 mass% or more. do. (E) The content of the component is 5 mass% or less, 3 mass% or less, 2 mass% or less, 1.5 mass% or less, 1 mass% or less, less than 1 mass%, 0.8 mass% or less, 0.7 mass% or less, or, It may be 0.6% by mass or less. From these viewpoints, the content of component (E) is 0.01 to 5 mass%, 0.1 to 5 mass%, 0.3 to 5 mass%, 0.5 to 5 mass%, 0.01 to 1 mass%, 0.1 to 1 mass%, 0.3 to 1 mass%, 0.5~1 mass%, 0.01 mass% or more but less than 1 mass%, 0.1 mass% or more but less than 1 mass%, 0.3 mass% or more but less than 1 mass%, 0.5 mass% or more but less than 1 mass%, 0.01~0.8 mass %, 0.1 to 0.8 mass %, 0.3 to 0.8 mass %, or 0.5 to 0.8 mass %.

(E) 성분의 함유량은, 경화부의 박리 시간을 단축화하기 쉬운 관점, 및, 우수한 감도, 해상성 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (E) 성분의 함유량은, 0.01질량부 이상, 0.05질량부 이상, 0.1질량부 이상, 0.2질량부 이상, 0.3질량부 이상, 0.4질량부 이상, 0.5질량부 이상, 0.6질량부 이상, 또는, 0.65질량부 이상이어도 된다. (E) 성분의 함유량은, 5질량부 이하, 3질량부 이하, 2질량부 이하, 1.5질량부 이하, 1질량부 이하, 1질량부 미만, 0.8질량부 이하, 또는, 0.7질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (E) 성분의 함유량은, 0.01~5질량부, 0.1~5질량부, 0.3~5질량부, 0.5~5질량부, 0.01~1질량부, 0.1~1질량부, 0.3~1질량부, 0.5~1질량부, 0.01질량부 이상 1질량부 미만, 0.1질량부 이상 1질량부 미만, 0.3질량부 이상 1질량부 미만, 0.5질량부 이상 1질량부 미만, 0.01~0.8질량부, 0.1~0.8질량부, 0.3~0.8질량부, 또는, 0.5~0.8질량부여도 된다.The content of component (E) is as follows with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B) from the viewpoint of easy to shorten the peeling time of the hardened part and easy to obtain excellent sensitivity, resolution and adhesion. It may be in the range of . (E) The content of the component is 0.01 parts by mass or more, 0.05 parts by mass or more, 0.1 parts by mass or more, 0.2 parts by mass or more, 0.3 parts by mass or more, 0.4 parts by mass or more, 0.5 parts by mass or more, 0.6 parts by mass or more, or, It may be 0.65 parts by mass or more. The content of component (E) may be 5 parts by mass or less, 3 parts by mass or less, 2 parts by mass or less, 1.5 parts by mass or less, 1 part by mass or less, less than 1 part by mass, 0.8 parts by mass or less, or 0.7 parts by mass or less. do. From these viewpoints, the content of component (E) is 0.01 to 5 parts by mass, 0.1 to 5 parts by mass, 0.3 to 5 parts by mass, 0.5 to 5 parts by mass, 0.01 to 1 part by mass, 0.1 to 1 part by mass, 0.3 to 5 parts by mass. 1 part by mass, 0.5 to 1 part by mass, 0.01 to less than 1 part by mass, 0.1 to 1 part by mass, 0.3 to 1 part by mass, 0.5 to 1 part by mass, 0.01 to 0.8 mass parts, 0.1 to 0.8 parts by mass, 0.3 to 0.8 parts by mass, or 0.5 to 0.8 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, (F) 성분으로서 중합 금지제를 함유해도 된다. (F) 성분은, 레지스트 패턴 형성 시의 미노광부에 있어서의 중합을 억제하여, 해상성을 향상시키기 쉽다. 중합 금지제로서는, t-뷰틸카테콜(예를 들면 4-t-뷰틸카테콜), 힌더드 아민(예를 들면 2,2,6,6-테트라메틸-4-하이드록시피페리딘-1-옥실), 4-하이드록시-2,2,6,6-테트라메틸피페리딘-N-옥실 등을 들 수 있다.The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain a polymerization inhibitor as the (F) component. Component (F) suppresses polymerization in unexposed areas during resist pattern formation and tends to improve resolution. As a polymerization inhibitor, t-butylcatechol (e.g., 4-t-butylcatechol), hindered amine (e.g., 2,2,6,6-tetramethyl-4-hydroxypiperidine-1) -oxyl), 4-hydroxy-2,2,6,6-tetramethylpiperidine-N-oxyl, etc.

(F) 성분의 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100질량부에 대하여 하기의 범위여도 된다. (F) 성분의 함유량은, 우수한 감도 및 해상성을 얻기 쉬운 관점에서, 0.001질량부 이상, 0.003질량부 이상, 0.005질량부 이상, 0.01질량부 이상, 0.015질량부 이상, 0.02질량부 이상, 또는, 0.025질량부 이상이어도 된다. (F) 성분의 함유량은, 우수한 감도 및 밀착성을 얻기 쉬운 관점에서, 0.1질량부 이하, 0.05질량부 이하, 0.04질량부 이하, 또는, 0.03질량부 이하여도 된다. 이들 관점에서, (F) 성분의 함유량은, 0.001~0.1질량부, 0.005~0.05질량부, 또는, 0.01~0.04질량부여도 된다.The content of component (F) may be within the following range with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B). (F) The content of the component is, from the viewpoint of easy to obtain excellent sensitivity and resolution, 0.001 part by mass or more, 0.003 part by mass or more, 0.005 part by mass or more, 0.01 part by mass or more, 0.015 part by mass or more, 0.02 part by mass or more. , may be 0.025 parts by mass or more. The content of component (F) may be 0.1 part by mass or less, 0.05 part by mass or less, 0.04 part by mass or less, or 0.03 part by mass or less from the viewpoint of easily obtaining excellent sensitivity and adhesion. From these viewpoints, the content of component (F) may be 0.001 to 0.1 parts by mass, 0.005 to 0.05 parts by mass, or 0.01 to 0.04 parts by mass.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 유기 용제를 함유해도 된다. 유기 용제로서는, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 톨루엔, N,N-다이메틸폼아마이드, 프로필렌글라이콜모노메틸에터 등을 들 수 있다.The photosensitive resin composition according to this embodiment may contain an organic solvent. Examples of organic solvents include methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N,N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, and the like.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 상술한 성분 이외의 다른 성분을 함유해도 된다. 그 외의 성분으로서는, 염료(말라카이트 그린 등), 광증감제(안트라센 화합물을 제외한다), 트라이브로모페닐설폰, 광발색제, 발열색 방지제, 가소제(p-톨루엔설폰아마이드 등), 안료, 충전제, 소포제, 난연제, 안정제(광 안정제 등), 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리 촉진제, 산화 방지제, 향료, 이미징제, 열가교제 등을 들 수 있다.The photosensitive resin composition concerning this embodiment may contain other components other than the components mentioned above. Other ingredients include dyes (malachite green, etc.), photosensitizers (excluding anthracene compounds), tribromophenyl sulfone, photochromic agents, exothermic color inhibitors, plasticizers (p-toluenesulfonamide, etc.), pigments, fillers, and anti-foaming agents. , flame retardants, stabilizers (light stabilizers, etc.), adhesion imparting agents, leveling agents, peeling accelerators, antioxidants, fragrances, imaging agents, heat crosslinking agents, etc.

본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물에 있어서, 알루미늄 분말(알루미늄 입자)의 함유량, 알루미늄 합금 분말(알루미늄을 포함하는 합금 분말; 알루미늄 합금 입자)의 함유량, 또는, 알루미늄 분말 및 알루미늄 합금 분말의 합계량은, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여, 20질량% 이하, 20질량% 미만, 10질량% 이하, 1질량% 이하, 0.1질량% 이하, 0.01질량% 이하, 또는, 실질적으로 0질량%여도 된다. 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물은, 알루미늄 분말(알루미늄 입자) 및 알루미늄 합금 분말(알루미늄 합금 입자)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 함유하지 않아도 된다.In the photosensitive resin composition according to the present embodiment, the content of aluminum powder (aluminum particles), the content of aluminum alloy powder (alloy powder containing aluminum; aluminum alloy particles), or the total amount of aluminum powder and aluminum alloy powder is: Based on the total solid content of the photosensitive resin composition, it may be 20% by mass or less, less than 20% by mass, 10% by mass or less, 1% by mass or less, 0.1% by mass or less, 0.01% by mass or less, or substantially 0% by mass. . The photosensitive resin composition according to the present embodiment does not need to contain at least one selected from the group consisting of aluminum powder (aluminum particles) and aluminum alloy powder (aluminum alloy particles).

<감광성 엘리먼트><Photosensitive element>

본 실시형태에 관한 감광성 엘리먼트는, 지지체와, 당해 지지체 상에 배치된 감광성 수지층을 구비하고, 감광성 수지층이, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물을 포함한다. 본 실시형태에 관한 감광성 엘리먼트는, 감광성 수지층 상에 배치된 보호층을 구비해도 된다. 본 실시형태에 관한 감광성 엘리먼트는, 쿠션층, 접착층, 광흡수층, 가스 배리어층 등을 구비해도 된다. 감광성 엘리먼트는, 시트상이어도 되고, 권취 코어에 롤상으로 권취된 감광성 엘리먼트 롤의 형태여도 된다.The photosensitive element according to the present embodiment includes a support and a photosensitive resin layer disposed on the support, and the photosensitive resin layer contains the photosensitive resin composition according to the present embodiment. The photosensitive element according to this embodiment may be provided with a protective layer disposed on the photosensitive resin layer. The photosensitive element according to this embodiment may be provided with a cushion layer, an adhesive layer, a light absorption layer, a gas barrier layer, etc. The photosensitive element may be in the form of a sheet or may be in the form of a photosensitive element roll wound around a core.

도 1은, 감광성 엘리먼트의 일례를 나타내는 모식 단면도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 감광성 엘리먼트(1)는, 지지체(지지 필름)(2)와, 지지체(2) 상에 배치된 감광성 수지층(3)과, 감광성 수지층(3) 상에 배치된 보호층(보호 필름)(4)을 구비하고 있다. 감광성 수지층(3)은, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물로 이루어진다.1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a photosensitive element. As shown in FIG. 1, the photosensitive element 1 includes a support (support film) 2, a photosensitive resin layer 3 disposed on the support 2, and a photosensitive resin layer 3 disposed on the photosensitive resin layer 3. It is provided with a protective layer (protective film) 4. The photosensitive resin layer 3 consists of the photosensitive resin composition according to this embodiment.

감광성 엘리먼트(1)는, 예를 들면, 다음의 수순으로 얻을 수 있다. 먼저, 지지체(2) 상에 감광성 수지층(3)을 형성한다. 감광성 수지층(3)은, 예를 들면, 유기 용제를 함유하는 감광성 수지 조성물을 도포하여 형성된 도포층을 건조함으로써 형성할 수 있다. 이어서, 감광성 수지층(3) 상에 보호층(4)을 배치한다.The photosensitive element 1 can be obtained, for example, by the following procedure. First, a photosensitive resin layer (3) is formed on the support (2). The photosensitive resin layer 3 can be formed, for example, by drying an application layer formed by applying a photosensitive resin composition containing an organic solvent. Next, the protective layer (4) is disposed on the photosensitive resin layer (3).

지지체 및 보호층의 각각은, 내열성 및 내용제성을 갖는 폴리머 필름이어도 되고, 폴리에스터 필름(폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 등), 폴리올레핀 필름(폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름 등), 탄화 수소계 폴리머(폴리올레핀 필름을 제외한다) 등이어도 된다. 보호층을 구성하는 필름의 종류와, 지지체를 구성하는 필름의 종류는, 서로 동일해도 되고, 서로 상이해도 된다.Each of the support and the protective layer may be a polymer film having heat resistance and solvent resistance, and may be a polyester film (polyethylene terephthalate film, etc.), a polyolefin film (polyethylene film, polypropylene film, etc.), or a hydrocarbon-based polymer (polyolefin film, etc.). excluded), etc. The type of film constituting the protective layer and the type of film constituting the support may be the same or different from each other.

지지체의 두께는, 지지체를 감광성 수지층으로부터 박리할 때의 지지체의 파손을 억제하기 쉬운 관점에서, 1μm 이상, 5μm 이상, 10μm 이상, 또는, 15μm 이상이어도 된다. 지지체의 두께는, 지지체를 통하여 노광하는 경우에 적합하게 노광하기 쉬운 관점에서, 100μm 이하, 50μm 이하, 30μm 이하, 또는, 20μm 이하여도 된다. 이들 관점에서, 지지체의 두께는, 1~100μm여도 된다.The thickness of the support may be 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, or 15 μm or more from the viewpoint of easily suppressing breakage of the support when peeling the support from the photosensitive resin layer. The thickness of the support may be 100 μm or less, 50 μm or less, 30 μm or less, or 20 μm or less from the viewpoint of easy exposure when exposing through the support. From these viewpoints, the thickness of the support may be 1 to 100 μm.

보호층의 두께는, 보호층을 박리하면서 감광성 수지층 및 지지체를 기재 상에 래미네이팅할 때의 보호층의 파손을 억제하기 쉬운 관점에서, 1μm 이상, 5μm 이상, 10μm 이상, 또는, 15μm 이상이어도 된다. 보호층의 두께는, 생산성이 향상되기 쉬운 관점에서, 100μm 이하, 50μm 이하, 또는, 30μm 이하여도 된다. 이들 관점에서, 보호층의 두께는, 1~100μm여도 된다.The thickness of the protective layer is 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, or 15 μm or more from the viewpoint of easily suppressing damage to the protective layer when laminating the photosensitive resin layer and support on the substrate while peeling off the protective layer. You can continue. The thickness of the protective layer may be 100 μm or less, 50 μm or less, or 30 μm or less from the viewpoint of easily improving productivity. From these viewpoints, the thickness of the protective layer may be 1 to 100 μm.

감광성 수지층의 두께(건조 후의 두께; 감광성 수지 조성물이 유기 용제를 함유하는 경우는 유기 용제를 휘발시킨 후의 두께)는, 하기의 범위여도 된다. 감광성 수지층의 두께는, 감광성 수지 조성물의 도공이 용이하고, 생산성이 향상되기 쉬운 관점에서, 1μm 이상, 5μm 이상, 10μm 이상, 15μm 이상, 20μm 이상, 또는, 25μm 이상이어도 된다. 감광성 수지층의 두께는, 우수한 밀착성 및 해상성을 얻기 쉬운 관점에서, 100μm 이하, 50μm 이하, 40μm 이하, 30μm 이하, 또는, 25μm 이하여도 된다. 이들 관점에서, 감광성 수지층의 두께는, 1~100μm, 5~100μm, 10~100μm, 20~100μm, 1~50μm, 5~50μm, 10~50μm, 20~50μm, 1~30μm, 5~30μm, 10~30μm, 또는, 20~30μm여도 된다.The thickness of the photosensitive resin layer (thickness after drying; when the photosensitive resin composition contains an organic solvent, thickness after volatilizing the organic solvent) may be within the following range. The thickness of the photosensitive resin layer may be 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, 15 μm or more, 20 μm or more, or 25 μm or more from the viewpoint of easy coating of the photosensitive resin composition and easy productivity improvement. The thickness of the photosensitive resin layer may be 100 μm or less, 50 μm or less, 40 μm or less, 30 μm or less, or 25 μm or less from the viewpoint of easily obtaining excellent adhesion and resolution. From these viewpoints, the thickness of the photosensitive resin layer is 1 to 100 μm, 5 to 100 μm, 10 to 100 μm, 20 to 100 μm, 1 to 50 μm, 5 to 50 μm, 10 to 50 μm, 20 to 50 μm, 1 to 30 μm, 5 to 30 μm. , 10 to 30 μm, or 20 to 30 μm.

<적층체의 제조 방법><Method for manufacturing laminate>

본 실시형태에 관한 적층체의 제조 방법은, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물 또는 감광성 엘리먼트를 이용하여 감광성 수지층을 기재(예를 들면 기판) 상에 배치하는 감광성 수지층 배치 공정과, 감광성 수지층의 일부를 광경화시키는(노광하는) 노광 공정과, 감광성 수지층의 미경화부(미노광부)를 제거하여 경화물 패턴을 형성하는 현상 공정과, 기재에 있어서의 경화물 패턴이 형성되어 있지 않은 부분의 적어도 일부에 금속층을 형성하는 금속층 형성 공정을 구비한다. 본 실시형태에 관한 적층체는, 본 실시형태에 관한 적층체의 제조 방법에 의하여 얻어지며, 배선 기판(예를 들면 프린트 배선판)이어도 된다. 본 실시형태에 관한 적층체는, 기재와, 당해 기재 상에 배치된 경화물 패턴(본 실시형태에 관한 경화물)과, 기재에 있어서의 경화물 패턴이 형성되어 있지 않은 부분의 적어도 일부에 배치된 금속층을 구비하는 양태여도 된다.The method for manufacturing a laminate according to the present embodiment includes a photosensitive resin layer disposition step of disposing the photosensitive resin layer on a base material (for example, a substrate) using the photosensitive resin composition or photosensitive element according to the present embodiment, and photosensitive water. An exposure process of photocuring (exposing) a portion of the base layer, a development process of removing the uncured portion (unexposed portion) of the photosensitive resin layer to form a cured product pattern, and the portion of the substrate where the cured product pattern is not formed. A metal layer forming process is provided to form a metal layer on at least a portion of the. The laminate according to the present embodiment is obtained by the method for manufacturing a laminate according to the present embodiment, and may be a wiring board (for example, a printed wiring board). The laminate according to the present embodiment includes a substrate, a cured product pattern (cured product according to the present embodiment) disposed on the substrate, and at least a portion of the substrate where the cured product pattern is not formed. It may be an aspect provided with a metal layer.

감광성 수지층 배치 공정에서는, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지층을 기재 상에 배치한다. 예를 들면, 감광성 수지층은, 감광성 수지 조성물을 기재 상에 도포 및 건조함으로써 형성해도 되고, 감광성 엘리먼트로부터 보호층을 제거한 후, 감광성 엘리먼트의 감광성 수지층을 가열하면서 기재에 압착함으로써 형성해도 된다.In the photosensitive resin layer arrangement process, the photosensitive resin layer consisting of the photosensitive resin composition according to this embodiment is disposed on the base material. For example, the photosensitive resin layer may be formed by applying and drying the photosensitive resin composition on a substrate, or may be formed by removing the protective layer from the photosensitive element and then pressing the photosensitive resin layer of the photosensitive element to the substrate while heating.

노광 공정에서는, 감광성 수지층 상에 마스크를 배치한 상태에서 활성광선을 조사하여, 감광성 수지층에 있어서의 마스크가 배치된 영역 이외의 영역을 노광하여 광경화시켜도 되며, 마스크를 이용하지 않고, LDI 노광법, DLP 노광법 등의 직접 묘화 노광법에 의하여 활성광선을 원하는 패턴으로 조사하여 감광성 수지층의 일부를 노광하여 광경화시켜도 된다. 활성광선의 광원으로서는, 자외광원 또는 가시광원을 이용해도 되고, 카본 아크등, 수은 증기 아크등, 고압 수은등, 초고압 수은등, 제논 램프, 가스 레이저(아르곤 레이저 등), 고체 레이저(YAG 레이저 등), 반도체 레이저 등을 들 수 있다.In the exposure process, actinic light may be irradiated with a mask placed on the photosensitive resin layer, and areas of the photosensitive resin layer other than the area where the mask is placed may be exposed and photocured. LDI may be performed without using a mask. A part of the photosensitive resin layer may be exposed and photocured by irradiating actinic light in a desired pattern using a direct drawing exposure method such as an exposure method or a DLP exposure method. As a light source of actinic light, an ultraviolet light source or a visible light source may be used, such as a carbon arc lamp, mercury vapor arc lamp, high-pressure mercury lamp, ultra-high pressure mercury lamp, xenon lamp, gas laser (argon laser, etc.), and solid-state laser (YAG laser, etc.). , semiconductor lasers, etc.

현상 공정에 있어서의 현상 방법은, 예를 들면, 웨트 현상 또는 드라이 현상이어도 된다. 웨트 현상은, 감광성 수지 조성물에 대응한 현상액을 이용하여, 예를 들면, 딥 방식, 퍼들 방식, 스프레이 방식, 브러싱, 슬래핑, 스크러빙, 요동 침지 등의 방법에 의하여 행할 수 있다. 현상액은, 감광성 수지 조성물의 구성에 따라 적절히 선택되며, 알칼리 현상액 또는 유기 용제 현상액이어도 된다.The development method in the development process may be, for example, wet development or dry development. Wet development can be performed using a developer corresponding to the photosensitive resin composition, for example, by a method such as a dip method, a puddle method, a spray method, brushing, slapping, scrubbing, or shaking immersion. The developing solution is appropriately selected depending on the structure of the photosensitive resin composition, and may be an alkaline developing solution or an organic solvent developing solution.

알칼리 현상액은, 리튬, 나트륨 또는 칼륨의 수산화물 등의 수산화 알칼리; 리튬, 나트륨, 칼륨 혹은 암모늄의 탄산염 또는 중탄산염 등의 탄산 알칼리; 인산 칼륨, 인산 나트륨 등의 알칼리 금속 인산염; 파이로인산 나트륨, 파이로인산 칼륨 등의 알칼리 금속 파이로인산염; 붕사; 메타 규산 나트륨; 수산화 테트라메틸암모늄; 에탄올아민; 에틸렌다이아민; 다이에틸렌트라이아민; 2-아미노-2-하이드록시메틸-1,3-프로페인다이올; 1,3-다이아미노-2-프로판올; 모폴린 등의 염기를 포함하는 수용액이어도 된다.Alkaline developers include alkali hydroxides such as hydroxide of lithium, sodium, or potassium; Alkali carbonates such as carbonates or bicarbonates of lithium, sodium, potassium or ammonium; Alkali metal phosphates such as potassium phosphate and sodium phosphate; Alkali metal pyrophosphates such as sodium pyrophosphate and potassium pyrophosphate; borax; sodium metasilicate; tetramethylammonium hydroxide; Ethanolamine; ethylenediamine; diethylenetriamine; 2-amino-2-hydroxymethyl-1,3-propanediol; 1,3-diamino-2-propanol; It may be an aqueous solution containing a base such as morpholine.

유기 용제 현상액은, 1,1,1-트라이클로로에테인, N-메틸피롤리돈, N,N-다이메틸폼아마이드, 사이클로헥산온, 메틸아이소뷰틸케톤, γ-뷰티로락톤 등의 유기 용제를 함유해도 된다.The organic solvent developer is an organic solvent such as 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N,N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and γ-butyrolactone. It may be contained.

금속층 형성 공정에 있어서의 금속층은, 예를 들면 금속 구리층이어도 된다. 금속층은, 예를 들면, 도금 처리를 실시함으로써 형성할 수 있다. 도금 처리는, 전해 도금 처리 및 무전해 도금 처리의 일방 또는 양방이어도 된다.The metal layer in the metal layer formation process may be, for example, a metallic copper layer. The metal layer can be formed, for example, by performing plating treatment. The plating treatment may be one or both of electrolytic plating treatment and electroless plating treatment.

본 실시형태에 관한 적층체의 제조 방법은, 현상 공정 후에, 60~250℃의 가열, 또는, 0.2~10J/cm2로의 노광을 행함으로써 레지스트 패턴을 더 경화시키는 공정을 구비해도 된다.The method for manufacturing a laminate according to the present embodiment may include a step of further curing the resist pattern by heating at 60 to 250° C. or exposure at 0.2 to 10 J/cm 2 after the development step.

본 실시형태에 관한 적층체의 제조 방법은, 금속층 형성 공정 후에, 경화물 패턴을 제거하는 공정을 구비해도 된다. 경화물 패턴은, 예를 들면, 강알칼리성 수용액을 이용하여, 침지 방식, 스프레이 방식 등의 현상을 행함으로써 제거할 수 있다.The method for manufacturing a laminate according to the present embodiment may include a step of removing the cured product pattern after the metal layer forming step. The cured product pattern can be removed, for example, by performing development using a strong alkaline aqueous solution, such as an immersion method or a spray method.

도 2는, 적층체의 제조 방법의 일례(배선 기판의 제조 방법)를 나타내는 모식도이다. 적층체의 제조 방법의 일례에서는, 먼저, 도 2의 (a)에 나타내는 바와 같이, 절연층(10a)과, 절연층(10a) 상에 배치된 도체층(10b)을 구비하는 기재(예를 들면 회로 형성용 기판)(10)를 준비한다. 도체층(10b)은, 예를 들면 금속 구리층이어도 된다.Figure 2 is a schematic diagram showing an example of a method for manufacturing a laminated body (method for manufacturing a wiring board). In an example of a method for manufacturing a laminate, first, as shown in Figure 2 (a), a base material (for example, For example, a substrate for circuit formation) (10) is prepared. The conductor layer 10b may be, for example, a metallic copper layer.

이어서, 도 2의 (b)에 나타내는 바와 같이, 기재(10)의 도체층(10b) 상에 감광성 수지층(12)을 배치한다(감광성 수지층 배치 공정). 감광성 수지층 배치 공정에서는, 본 실시형태에 관한 감광성 수지 조성물 또는 감광성 엘리먼트를 이용하여 감광성 수지층(12)을 기재(10)의 도체층(10b) 상에 배치한다.Next, as shown in FIG. 2(b), the photosensitive resin layer 12 is disposed on the conductor layer 10b of the substrate 10 (photosensitive resin layer disposition step). In the photosensitive resin layer arrangement process, the photosensitive resin layer 12 is disposed on the conductor layer 10b of the base material 10 using the photosensitive resin composition or photosensitive element according to the present embodiment.

이어서, 도 2의 (c)에 나타내는 바와 같이, 감광성 수지층(12) 상에 마스크(14)를 배치한 상태에서 활성광선 L을 조사하여, 감광성 수지층(12)에 있어서의 마스크(14)가 배치된 영역 이외의 영역을 노광하여 광경화시킨다.Next, as shown in FIG. 2(c), actinic light L is irradiated with the mask 14 disposed on the photosensitive resin layer 12, and the mask 14 in the photosensitive resin layer 12 is irradiated. The area other than the area where is placed is exposed to photocuring.

이어서, 마스크(14)를 제거한 후, 도 2의 (d)에 나타내는 바와 같이, 감광성 수지층에 있어서의 광경화부 이외의 영역(미경화부)을 현상에 의하여 기재(10) 상으로부터 제거하고, 광경화부(감광성 수지층의 경화물)로 이루어지는 레지스트 패턴(12a)을 형성한다.Next, after removing the mask 14, as shown in (d) of FIG. 2, areas other than the photocured portion (uncured portion) in the photosensitive resin layer are removed from the substrate 10 by development, and A resist pattern 12a consisting of a flowering portion (cured product of the photosensitive resin layer) is formed.

이어서, 도 2의 (e)에 나타내는 바와 같이, 기재(10)의 도체층(10b)에 있어서의 레지스트 패턴(12a)이 형성되어 있지 않은 부분에 배선층(금속층)(16)을 형성한다. 배선층(16)은, 도체층(10b)과 동종의 재료로 형성되어 있어도 되고, 이종(異種)의 재료로 형성되어 있어도 된다.Next, as shown in FIG. 2(e), a wiring layer (metal layer) 16 is formed in a portion of the conductor layer 10b of the substrate 10 where the resist pattern 12a is not formed. The wiring layer 16 may be formed of the same material as the conductor layer 10b, or may be formed of a different material.

이어서, 도 2의 (f)에 나타내는 바와 같이, 레지스트 패턴(12a)을 제거함과 함께, 레지스트 패턴(12a)에 대응하는 위치에 마련되어 있는 도체층(10b)을 제거함으로써 도체층(10c)을 형성한다. 이로써, 절연층(10a) 상에 배치된 도체층(10c) 및 배선층(16)을 구비하는 배선 기판(18)이 얻어진다. 도체층(10b)은, 에칭 처리에 의하여 제거할 수 있다. 에칭액은, 도체층(10b)의 종류에 따라 적절히 선택되고, 예를 들면, 염화 제2 구리 용액, 염화 제2 철 용액, 알칼리 에칭 용액, 과산화 수소 에칭액 등이어도 된다.Next, as shown in FIG. 2(f), the resist pattern 12a is removed and the conductor layer 10b provided at a position corresponding to the resist pattern 12a is removed to form the conductor layer 10c. do. As a result, a wiring board 18 is obtained including the conductor layer 10c and the wiring layer 16 disposed on the insulating layer 10a. The conductor layer 10b can be removed by etching. The etching solution is appropriately selected depending on the type of the conductor layer 10b, and may be, for example, a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkaline etching solution, or a hydrogen peroxide etching solution.

실시예Example

이하, 실시예에 의하여 본 개시를 더 구체적으로 설명하지만, 본 개시는 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present disclosure will be described in more detail through examples, but the present disclosure is not limited to these examples.

<바인더 폴리머의 합성><Synthesis of binder polymer>

메타크릴산 27질량부, 메타크릴산 2-하이드록시에틸 3질량부, 메타크릴산 벤질 20질량부, 스타이렌 50질량부, 및, 아조비스아이소뷰티로나이트릴 0.9질량부를 혼합함으로써 용액 (a)를 조제했다. 메틸셀로솔브 30질량부 및 톨루엔 20질량부의 혼합액 50질량부에 아조비스아이소뷰티로나이트릴 0.5질량부를 용해함으로써 용액 (b)를 조제했다. 교반기, 환류 냉각기, 온도계, 적하 깔때기 및 질소 가스 도입관을 구비하는 플라스크에, 메틸셀로솔브 30질량부 및 톨루엔 20질량부의 혼합액을 500g 투입한 후, 플라스크 내에 질소 가스를 분사하면서 교반하여, 80℃까지 승온시켰다. 일정한 적하 속도로 용액 (a)를 상술한 플라스크 내에 4시간 동안 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 2시간 교반했다. 이어서, 일정한 적하 속도로 용액 (b)를 상술한 플라스크 내에 10분 동안 적하한 후, 플라스크 내의 용액을 80℃에서 3시간 교반했다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분 동안 90℃까지 승온시켜, 90℃에서 2시간 보온한 후, 교반을 멈추고, 실온(25℃)까지 냉각함으로써 바인더 폴리머의 용액을 얻었다. 바인더 폴리머의 용액의 불휘발분(고형분)은 56질량%였다.A solution (a) was prepared by mixing 27 parts by mass of methacrylic acid, 3 parts by mass of 2-hydroxyethyl methacrylate, 20 parts by mass of benzyl methacrylate, 50 parts by mass of styrene, and 0.9 parts by mass of azobisisobutyronitrile. ) was prepared. Solution (b) was prepared by dissolving 0.5 parts by mass of azobisisobutyronitrile in 50 parts by mass of a mixed solution of 30 parts by mass of methyl cellosolve and 20 parts by mass of toluene. After adding 500 g of a mixed solution of 30 parts by mass of methyl cellosolve and 20 parts by mass of toluene to a flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, dropping funnel, and nitrogen gas introduction tube, the mixture was stirred while spraying nitrogen gas into the flask, The temperature was raised to ℃. After the solution (a) was dropped into the flask described above for 4 hours at a constant dropping rate, the solution in the flask was stirred at 80°C for 2 hours. Next, solution (b) was dropped into the flask described above for 10 minutes at a constant dropping rate, and then the solution in the flask was stirred at 80°C for 3 hours. Additionally, the solution in the flask was heated to 90°C for 30 minutes, kept at 90°C for 2 hours, then stirring was stopped and cooled to room temperature (25°C) to obtain a binder polymer solution. The non-volatile content (solid content) of the binder polymer solution was 56% by mass.

바인더 폴리머의 산가는 176mgKOH/g이었다. 산가는 다음의 수순으로 측정했다. 먼저, 산가의 측정 대상인 바인더 폴리머 1g을 정밀하게 칭량한 후에 바인더 폴리머에 아세톤을 30g 첨가함으로써 균일하게 용해하여 용액을 얻었다. 이어서, 지시약인 페놀프탈레인을 그 용액에 적당량 첨가한 후, 0.1N의 KOH(수산화 칼륨) 수용액을 이용하여 적정을 행했다. 바인더 폴리머의 아세톤 용액을 중화하기 위하여 필요한 KOH의 질량(단위: mg)을 산출함으로써 산가를 구했다.The acid value of the binder polymer was 176 mgKOH/g. The acid value was measured in the following procedure. First, 1 g of the binder polymer, the object of acid value measurement, was precisely weighed and then 30 g of acetone was added to the binder polymer to uniformly dissolve it to obtain a solution. Next, an appropriate amount of phenolphthalein, an indicator, was added to the solution, and then titration was performed using a 0.1N KOH (potassium hydroxide) aqueous solution. The acid value was obtained by calculating the mass (unit: mg) of KOH required to neutralize the acetone solution of the binder polymer.

바인더 폴리머의 중량 평균 분자량(Mw)은 35000이며, 수평균 분자량(Mn)은 16000이었다. 중량 평균 분자량 및 수평균 분자량은, 하기 조건의 젤 퍼미에이션 크로마토그래피법(GPC)에 의하여 측정하고, 표준 폴리스타이렌의 검량선을 이용하여 환산함으로써 도출했다.The weight average molecular weight (Mw) of the binder polymer was 35,000 and the number average molecular weight (Mn) was 16,000. The weight average molecular weight and number average molecular weight were measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions and derived by conversion using a standard polystyrene calibration curve.

(GPC 조건)(GPC conditions)

펌프: 히타치 L-6000형(주식회사 히타치 세이사쿠쇼제, 상품명)Pump: Hitachi L-6000 type (made by Hitachi Seisakusho Co., Ltd., brand name)

칼럼: 이하의 합계 3개(쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명)Columns: A total of 3 below (made by Showa Denko Materials Co., Ltd., brand name)

Gelpack GL-R440Gelpack GL-R440

Gelpack GL-R450Gelpack GL-R450

Gelpack GL-R400MGelpack GL-R400M

용리액: 테트라하이드로퓨란Eluent: tetrahydrofuran

측정 온도: 40℃Measurement temperature: 40℃

유량: 2.05mL/분Flow rate: 2.05mL/min

검출기: 히타치 L-3300형 RI(주식회사 히타치 세이사쿠쇼제, 상품명)Detector: Hitachi L-3300 type RI (made by Hitachi Seisakusho Co., Ltd., brand name)

<감광성 수지 조성물의 조제><Preparation of photosensitive resin composition>

(실시예 1)(Example 1)

상술한 바인더 폴리머의 용액 100질량부(바인더 폴리머(불휘발분): 56질량부)와, EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값), 분자량: 698, 도호 가가쿠 고교 주식회사제) 5질량부와, 2,2-비스(4-(메타크릴옥시펜타에톡시)페닐)프로페인(EO 평균 10mol 부가물, 분자량: 804)의 프로필렌글라이콜모노메틸에터(쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명: FA-321M) 35질량부와, (PO)(EO)(PO) 변성 다이메타크릴레이트(EO 평균 6mol 및 PO 평균 12mol 부가물(합곗값), 분자량: 1114, 쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명: FA-024M) 4질량부와, 광중합 개시제(2,2'-비스(o-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐-1,2'-바이이미다졸, BCIM, Hampford사제) 6질량부와, 수소 공여체(류코 크리스탈 바이올렛, LCV, 야마다 가가쿠 고교 주식회사제) 0.5질량부와, 증감제(9,10-다이뷰톡시안트라센, DBA, 가와사키 가세이 고교 주식회사제) 0.65질량부와, 중합 금지제 A(4-t-뷰틸카테콜, DIC 주식회사제, 상품명: DIC-TBC) 0.015질량부와, 중합 금지제 B(아사히 덴카 고교 주식회사제, 상품명: LA-7RD) 0.01질량부와, 염료(말라카이트 그린, MKG, 오사카 유키 가가쿠 고교 주식회사제) 0.02질량부와, 첨가제 A(카복시벤조트라이아졸, 5-아미노-1H-테트라졸, 및, 메톡시프로판올의 혼합물; 산와 가세이 주식회사제, 상품명: SF-808H) 0.5질량부와, 첨가제 B(광 안정제, 쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명: FA711MM) 1질량부를 혼합함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.100 parts by mass of a solution of the above-mentioned binder polymer (binder polymer (non-volatile matter): 56 parts by mass), EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (sum value), molecular weight: 698, Toho 5 parts by mass of Kagaku Kogyo Co., Ltd., and propylene glycol monomethyl of 2,2-bis(4-(methacryloxypentaethoxy)phenyl)propane (EO average 10 mol adduct, molecular weight: 804) 35 parts by mass of (PO)(EO)(PO) modified dimethacrylate (EO average of 6 mol and PO average of 12 mol adducts (combined value), Molecular weight: 1114, manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd., brand name: FA-024M) 4 parts by mass, photopolymerization initiator (2,2'-bis(o-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetra 6 parts by mass of phenyl-1,2'-biimidazole, BCIM, manufactured by Hampford, 0.5 parts by mass of a hydrogen donor (Leuco Crystal Violet, LCV, manufactured by Yamada Chemical Industry Co., Ltd.), and a sensitizer (9,10-di) Butoxyanthracene, DBA, manufactured by Kawasaki Kasei Kogyo Co., Ltd.) 0.65 parts by mass, polymerization inhibitor A (4-t-butylcatechol, manufactured by DIC Corporation, brand name: DIC-TBC) 0.015 parts by mass, polymerization inhibitor B ( 0.01 parts by mass of Asahi Denka Kogyo Co., Ltd., brand name: LA-7RD), 0.02 parts by mass of dye (malachite green, MKG, manufactured by Osaka Yuki Kagaku Kogyo Co., Ltd.), and additive A (carboxybenzotriazole, 5-amino-1H) - A mixture of tetrazole and methoxypropanol; 0.5 parts by mass of Sanwa Kasei Co., Ltd., brand name: SF-808H) and 1 part by mass of additive B (light stabilizer, Showa Denko Materials Co., Ltd., brand name: FA711MM) are mixed. By doing so, a photosensitive resin composition was prepared.

(실시예 2)(Example 2)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 12(합곗값), 분자량: 1050, 도호 가가쿠 고교 주식회사제)로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (sum value)) was replaced with EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 12 (sum value), molecular weight: 1050, Doho. A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that it was changed to (manufactured by Kagaku Kogyo Co., Ltd.).

(실시예 3)(Example 3)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 20(합곗값), 분자량: 1402, 도호 가가쿠 고교 주식회사제)로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (sum value)) was replaced with EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 20 (sum value), molecular weight: 1402, Doho. A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that it was changed to (manufactured by Kagaku Kogyo Co., Ltd.).

(실시예 4)(Example 4)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 PO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(PO기: 20(합곗값), 분자량: 1762, 도호 가가쿠 고교 주식회사제)로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (sum value)) was mixed with PO modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (PO group: 20 (sum value), molecular weight: 1762, Doho. A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that it was changed to (manufactured by Kagaku Kogyo Co., Ltd.).

(실시예 5)(Example 5)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 (EO)(PO) 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 12(합곗값), PO기: 8(합곗값), 도호 가가쿠 고교 주식회사제)로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (sum value)) is mixed with (EO)(PO) modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 12 (sum value), A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that it was changed to PO group: 8 (sum value), manufactured by Toho Chemical Industry Co., Ltd.).

(비교예 1)(Comparative Example 1)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 EO 변성 비스페놀 A 다이메타크릴레이트(분자량: 1686, Miwon사제, 상품명: Miramer M2301)로 변경하며, BCIM의 사용량을 5질량부로 변경하고, 4-t-뷰틸카테콜의 사용량을 0.01질량부로 변경하며, 말라카이트 그린의 사용량을 0.01질량부로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (total value)) is changed to EO-modified bisphenol A dimethacrylate (molecular weight: 1686, manufactured by Miwon, product name: Miramer M2301), and BCIM's A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that the usage amount was changed to 5 parts by mass, the usage amount of 4-t-butylcatechol was changed to 0.01 parts by mass, and the usage amount of malachite green was changed to 0.01 parts by mass. did.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 2,2-비스(4-(메타크릴옥시에톡시프로폭시)페닐)프로페인(에틸렌옥사이드 평균 12mol 및 프로필렌옥사이드 평균 4mol 부가물, 분자량: 1125, 쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명: FA-3200MY)으로 변경하며, BCIM의 사용량을 5질량부로 변경하고, 4-t-뷰틸카테콜의 사용량을 0.01질량부로 변경하며, 말라카이트 그린의 사용량을 0.01질량부로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (combined value)) was mixed with 2,2-bis(4-(methacryloxyethoxypropoxy)phenyl)propane (ethylene oxide average of 12 mol and Propylene oxide adduct with an average of 4 mol, molecular weight: 1125, manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd., product name: FA-3200MY), the amount of BCIM used was changed to 5 parts by mass, and the amount of 4-t-butylcatechol used was changed to 0.01. A photosensitive resin composition was prepared in the same manner as in Example 1, except that the amount was changed to 0.01 parts by mass and the amount of malachite green used was changed to 0.01 parts by mass.

(비교예 3)(Comparative Example 3)

EO 변성 다이트라이메틸올프로페인테트라메타크릴레이트(EO기: 4(합곗값))를 EO 변성 유레테인메타크릴레이트(분자량: 692, 신나카무라 가가쿠 고교 주식회사제, 상품명: UA-1137)로 변경하며, BCIM의 사용량을 5질량부로 변경하고, 4-t-뷰틸카테콜의 사용량을 0.01질량부로 변경하며, 말라카이트 그린의 사용량을 0.01질량부로 변경한 것을 제외하고 실시예 1과 동일하게 행함으로써 감광성 수지 조성물을 조제했다.EO-modified ditrimethylolpropane tetramethacrylate (EO group: 4 (total value)) was replaced with EO-modified urethane methacrylate (molecular weight: 692, manufactured by Shinnakamura Chemical Industry Co., Ltd., brand name: UA-1137). , the amount of BCIM used was changed to 5 parts by mass, the amount of 4-t-butylcatechol used was changed to 0.01 parts by mass, and the amount of malachite green used was changed to 0.01 parts by mass. By doing so, a photosensitive resin composition was prepared.

<감광성 엘리먼트의 제작><Production of photosensitive elements>

지지체로서 두께 16μm의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(도레이 주식회사제, 상품명 "FS-31")을 준비했다. 두께가 균일해지도록 상술한 감광성 수지 조성물을 지지체 상에 도포한 후, 80℃ 및 120℃의 열풍 대류식 건조기로 순차 건조함으로써 감광성 수지층(건조 후의 두께: 25μm)을 형성했다. 보호층으로서 폴리에틸렌 필름(타마폴리 주식회사제, 상품명 "NF-15")을 이 감광성 수지층에 첩합함으로써, 지지체, 감광성 수지층 및 보호층을 순서대로 구비하는 감광성 엘리먼트를 얻었다.A polyethylene terephthalate film (manufactured by Toray Corporation, brand name "FS-31") with a thickness of 16 μm was prepared as a support. After applying the above-described photosensitive resin composition on a support so that the thickness was uniform, it was sequentially dried with a hot air convection dryer at 80°C and 120°C to form a photosensitive resin layer (thickness after drying: 25 μm). By bonding a polyethylene film (manufactured by Tama Poly Co., Ltd., brand name "NF-15") as a protective layer to this photosensitive resin layer, a photosensitive element was obtained comprising a support, a photosensitive resin layer, and a protective layer in that order.

<적층체의 제작><Production of laminate>

유리 에폭시재의 양면에 배치된 구리박(두께: 35μm)을 구비하는 구리 피복 적층판(기판, 쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제, 상품명: MCL-E-67)에 대하여, 산세 및 수세 후, 공기류로 건조했다. 이어서, 구리 피복 적층판을 80℃로 가온한 후, 보호층을 박리하면서, 감광성 수지층이 구리 표면에 접하도록 상술한 감광성 엘리먼트를 래미네이팅함으로써, 구리 피복 적층판, 감광성 수지층, 및, 지지체를 순서대로 구비하는 적층체를 얻었다. 래미네이팅은, 110℃의 히트 롤을 이용하여, 0.4MPa의 압착 압력, 1.0m/분의 롤 속도로 행했다.A copper-clad laminate (substrate, manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd., brand name: MCL-E-67) having copper foil (thickness: 35 μm) disposed on both sides of a glass epoxy material was washed with air after pickling and water washing. It was dry. Next, the copper-clad laminate is heated to 80°C, and then the copper-clad laminate, the photosensitive resin layer, and the support are formed by laminating the above-described photosensitive element so that the photosensitive resin layer is in contact with the copper surface while peeling off the protective layer. A laminate prepared in the order was obtained. Laminating was performed using a heat roll at 110°C, a compression pressure of 0.4 MPa, and a roll speed of 1.0 m/min.

<평가><Evaluation>

(감도)(Sensitivity)

상술한 적층체의 지지체 상에 41단 스텝 태블릿(쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제)을 재치한 후, 파장 405nm의 청자색 레이저 다이오드를 광원으로 하는 직묘(直描) 노광기(비아메카닉스 주식회사제, 상품명: DE-1UH)에 의하여, 41단 스텝 태블릿의 현상 후의 잔존 단수(段數)가 15단이 되는 노광량(조사 에너지양)으로, 지지체를 통하여 감광성 수지층을 노광했다. 이때의 노광량(단위: mJ/cm2)에 의하여 감도(광감도)를 평가했다. 결과를 표 1에 나타낸다. 노광량이 적을수록, 감도가 양호한 것을 의미한다.After placing a 41-step tablet (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd.) on the support of the above-described laminate, a straight exposure machine (manufactured by Via Mechanics Co., Ltd., brand name) using a blue-violet laser diode with a wavelength of 405 nm as a light source was used. : DE-1UH), the photosensitive resin layer was exposed through the support at an exposure amount (irradiation energy amount) such that the remaining number of steps after development of the 41-step tablet was 15 steps. At this time, sensitivity (light sensitivity) was evaluated based on the exposure amount (unit: mJ/cm 2 ). The results are shown in Table 1. The smaller the exposure amount, the better the sensitivity.

(해상성)(resolution)

상술한 적층체의 지지체 상에 41단 스텝 태블릿(쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제)을 재치한 후, 파장 405nm의 청자색 레이저 다이오드를 광원으로 하는 직묘 노광기(비아메카닉스 주식회사제, 상품명: DE-1UH)에 의하여, 라인폭(L)/스페이스폭(S)(이하, "L/S"라고 기재한다.)이 3x/x(x=1~20, 단위: μm, 1μm 간격)인 묘화 패턴을 이용하여, 41단 스텝 태블릿의 현상 후의 잔존 단수가 15단이 되는 노광량(조사 에너지양)으로, 지지체를 통하여 감광성 수지층에 대하여 노광(묘화)을 행했다.After placing a 41-step tablet (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd.) on the support of the above-mentioned laminate, a straight exposure machine (manufactured by Via Mechanics Co., Ltd., product name: DE-1UH) using a blue-violet laser diode with a wavelength of 405 nm as a light source is used. ), a drawing pattern with a line width (L)/space width (S) (hereinafter referred to as "L/S") of 3x/x (x=1 to 20, unit: μm, 1μm interval) is created. Using this, exposure (drawing) was performed on the photosensitive resin layer through the support at an exposure amount (irradiation energy amount) such that the number of remaining stages after development of the 41-stage tablet was 15 stages.

노광 후, 적층체로부터 지지체를 박리하여, 감광성 수지층을 노출시키고, 1.0질량% 탄산 나트륨 수용액을 30℃에서 최소 현상 시간의 2배의 시간 스프레이함으로써, 미노광부를 제거했다. 현상 후, 스페이스 부분(미노광부)이 잔사 없이 제거되며, 또한, 라인 부분(노광부)이 사행(蛇行) 및 손상을 발생시키지 않고 형성된 레지스트 패턴에 있어서의 스페이스폭 중 최솟값에 의하여 해상성을 평가했다. 결과를 표 1에 나타낸다. 이 수치가 작을수록 해상성이 양호한 것을 의미한다.After exposure, the support was peeled from the laminate to expose the photosensitive resin layer, and the unexposed portion was removed by spraying a 1.0% by mass aqueous sodium carbonate solution at 30°C for twice the minimum development time. After development, the space portion (unexposed portion) is removed without residue, and the line portion (exposed portion) is formed without meandering or damage. Resolution is evaluated based on the minimum value of the space width in the resist pattern. did. The results are shown in Table 1. The smaller this number, the better the resolution.

상술한 최소 현상 시간은 다음의 수순으로 사전에 평가했다. 먼저, 상술한 적층체를 장방형상(12.5cm×4cm)으로 절단한 후, 지지체를 박리함으로써 시험편을 얻었다. 다음으로, 30℃의 1.0질량% 탄산 나트륨 수용액을 이용하여, 시험편에 있어서의 미노광의 감광성 수지층을 0.18MPa의 압력으로 스프레이 현상하여, 미노광의 감광성 수지층이 완전히 제거된 것을 육안으로 확인할 수 있는 최단의 시간을 최소 현상 시간(MD)으로서 얻었다.The above-mentioned minimum development time was evaluated in advance in the following procedure. First, the above-described laminate was cut into a rectangular shape (12.5 cm x 4 cm), and then the support was peeled off to obtain a test piece. Next, using a 1.0 mass% sodium carbonate aqueous solution at 30°C, the unexposed photosensitive resin layer in the test piece was spray developed at a pressure of 0.18 MPa, and it was visually confirmed that the unexposed photosensitive resin layer was completely removed. The shortest time was obtained as the minimum development time (MD).

(밀착성)(adhesion)

상술한 적층체의 지지체 상에 41단 스텝 태블릿(쇼와 덴코 머티리얼즈 주식회사제)을 재치한 후, 파장 405nm의 청자색 레이저 다이오드를 광원으로 하는 직묘 노광기(비아메카닉스 주식회사제, 상품명: DE-1UH)에 의하여, L/S가 x/3x(x=1~20, 단위: μm, 1μm 간격)인 묘화 패턴을 이용하여, 41단 스텝 태블릿의 현상 후의 잔존 단수가 15단이 되는 노광량(조사 에너지양)으로, 지지체를 통하여 감광성 수지층에 대하여 노광(묘화)을 행했다.After placing a 41-step tablet (manufactured by Showa Denko Materials Co., Ltd.) on the support of the above-mentioned laminate, a straight exposure machine (manufactured by Via Mechanics Co., Ltd., product name: DE-1UH) using a blue-violet laser diode with a wavelength of 405 nm as a light source is used. ), using a drawing pattern with L/S of In both cases, exposure (drawing) was performed on the photosensitive resin layer through the support.

노광 후, 적층체로부터 지지체를 박리하여, 감광성 수지층을 노출시키고, 1.0질량% 탄산 나트륨 수용액을 30℃에서 최소 현상 시간의 2배의 시간 스프레이함으로써, 미노광부를 제거했다. 현상 후, 스페이스 부분(미노광부)이 잔사 없이 제거되며, 또한, 라인 부분(노광부)이 사행 및 손상을 발생시키지 않고 형성된 레지스트 패턴에 있어서의 라인폭 중 최솟값에 의하여 밀착성을 평가했다. 결과를 표 1에 나타낸다. 이 수치가 작을수록 밀착성이 양호한 것을 의미한다.After exposure, the support was peeled from the laminate to expose the photosensitive resin layer, and the unexposed portion was removed by spraying a 1.0% by mass aqueous sodium carbonate solution at 30°C for twice the minimum development time. After development, adhesion was evaluated based on the minimum value of the line width in the resist pattern in which the space portion (unexposed portion) was removed without residue and the line portion (exposed portion) was formed without meandering or damage. The results are shown in Table 1. The smaller this value, the better the adhesion.

(박리 특성)(Peeling characteristics)

실시예 1~5 및 비교예 1~3의 상술한 적층체를 이용하여 박리 시험을 행했다. 상술한 적층체를 이용하여, 파장 405nm의 청자색 레이저 다이오드를 광원으로 하는 직묘노광기(비아메카닉스 주식회사제, 상품명: DE-1UH)에 의하여, 상술한 해상성의 평가와 동일한 노광량(조사 에너지량)으로, 지지체를 통하여 감광성 수지층에 대하여 노광(묘화)을 행했다.A peeling test was conducted using the above-described laminates of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3. Using the above-described laminate, a vertical exposure machine (manufactured by Via Mechanics Co., Ltd., brand name: DE-1UH) using a blue-violet laser diode with a wavelength of 405 nm as a light source was applied at the same exposure amount (irradiation energy amount) as the above-mentioned resolution evaluation. , exposure (drawing) was performed on the photosensitive resin layer through the support.

노광 후, 적층체로부터 지지체를 박리 함으로써 감광성 수지층을 노출시켰다. 그리고, 상술한 해상성의 평가와 동일하게 현상함으로써 시험체를 얻었다. 다음으로, 항온조에 의하여 50℃로 가온한 3.0질량%의 NaOH 수용액에 상술한 시험체를 침지시키고, 현상 후의 감광성 수지층이 완전히 박리되기(제거되기)까지의 박리 시간을 측정했다. 결과를 표 1에 나타낸다. 박리 시간이 짧을수록 박리 특성이 양호한 것을 의미한다.After exposure, the support was peeled from the laminate to expose the photosensitive resin layer. Then, a test specimen was obtained by developing in the same manner as the evaluation of resolution described above. Next, the above-described test specimen was immersed in a 3.0% by mass NaOH aqueous solution heated to 50°C in a thermostat, and the peeling time until the photosensitive resin layer after development was completely peeled off (removed) was measured. The results are shown in Table 1. A shorter peeling time means better peeling characteristics.

[표 1][Table 1]

1…감광성 엘리먼트
2…지지체
3, 12…감광성 수지층
4…보호층
10…기재
10a…절연층
10b, 10c…도체층
12a…레지스트 패턴
14…마스크
16…배선층
18…배선 기판
L…활성광선
One… photosensitive element
2… support
3, 12… photosensitive resin layer
4… protective layer
10… write
10a… insulating layer
10b, 10c... conductor layer
12a… resist pattern
14… mask
16… wiring layer
18… wiring board
L… active rays

Claims (13)

바인더 폴리머와, 광중합성 화합물과, 광중합 개시제와, 수소 공여체를 함유하고,
상기 광중합성 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물.
Contains a binder polymer, a photopolymerizable compound, a photopolymerization initiator, and a hydrogen donor,
A photosensitive resin composition in which the photopolymerizable compound contains a compound having a ditrimethylolpropane skeleton.
청구항 1에 있어서,
상기 바인더 폴리머가 스타이렌 화합물을 단량체 단위로서 갖는, 감광성 수지 조성물.
In claim 1,
A photosensitive resin composition wherein the binder polymer has a styrene compound as a monomer unit.
청구항 2에 있어서,
상기 스타이렌 화합물의 단량체 단위의 함유량이, 상기 바인더 폴리머를 구성하는 단량체 단위의 전량을 기준으로 하여 20질량% 이상인, 감광성 수지 조성물.
In claim 2,
A photosensitive resin composition wherein the content of the monomer units of the styrene compound is 20% by mass or more based on the total amount of monomer units constituting the binder polymer.
청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
상기 바인더 폴리머가 (메트)아크릴산 아릴을 단량체 단위로서 더 갖는, 감광성 수지 조성물.
In claim 2 or claim 3,
A photosensitive resin composition wherein the binder polymer further has aryl (meth)acrylate as a monomer unit.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물이, 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 (메트)아크릴산 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 4,
A photosensitive resin composition in which the compound having a ditrimethylolpropane skeleton includes a (meth)acrylic acid compound having a ditrimethylolpropane skeleton.
청구항 5에 있어서,
상기 (메트)아크릴산 화합물에 있어서의 (메트)아크릴로일기의 수가 4인, 감광성 수지 조성물.
In claim 5,
A photosensitive resin composition wherein the number of (meth)acryloyl groups in the (meth)acrylic acid compound is 4.
청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
상기 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물이 폴리옥시알킬렌기를 갖는, 감광성 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 6,
A photosensitive resin composition in which the compound having the ditrimethylolpropane skeleton has a polyoxyalkylene group.
청구항 7에 있어서,
상기 폴리옥시알킬렌기의 수가 4~20인, 감광성 수지 조성물.
In claim 7,
A photosensitive resin composition wherein the number of polyoxyalkylene groups is 4 to 20.
청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 다이트라이메틸올프로페인 골격을 갖는 화합물의 함유량이, 상기 바인더 폴리머 및 상기 광중합성 화합물의 총량 100질량부에 대하여 0.1~20질량부인, 감광성 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 8,
A photosensitive resin composition in which the content of the compound having the ditrimethylolpropane skeleton is 0.1 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the binder polymer and the photopolymerizable compound.
청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
안트라센 화합물을 더 함유하는, 감광성 수지 조성물.
The method according to any one of claims 1 to 9,
A photosensitive resin composition further containing an anthracene compound.
청구항 10에 있어서,
상기 안트라센 화합물의 함유량이, 당해 감광성 수지 조성물의 고형분 전량을 기준으로 하여 0.01질량% 이상 1질량% 미만인, 감광성 수지 조성물.
In claim 10,
A photosensitive resin composition in which the content of the anthracene compound is 0.01% by mass or more and less than 1% by mass based on the total solid content of the photosensitive resin composition.
지지체와, 당해 지지체 상에 배치된 감광성 수지층을 구비하고,
상기 감광성 수지층이, 청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물을 포함하는, 감광성 엘리먼트.
Equipped with a support and a photosensitive resin layer disposed on the support,
A photosensitive element in which the photosensitive resin layer contains the photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 11.
청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물, 또는, 청구항 12에 기재된 감광성 엘리먼트를 이용하여 감광성 수지층을 기재 상에 배치하는 공정과,
상기 감광성 수지층의 일부를 광경화시키는 공정과,
상기 감광성 수지층의 미경화부를 제거하여 경화물 패턴을 형성하는 공정과,
상기 기재에 있어서의 상기 경화물 패턴이 형성되어 있지 않은 부분의 적어도 일부에 금속층을 형성하는 공정을 구비하는, 적층체의 제조 방법.
A step of disposing a photosensitive resin layer on a substrate using the photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 11, or the photosensitive element according to claim 12,
A process of photocuring a portion of the photosensitive resin layer;
A process of forming a cured pattern by removing the uncured portion of the photosensitive resin layer;
A method for producing a laminate, comprising a step of forming a metal layer on at least a portion of the substrate where the cured product pattern is not formed.
KR1020227038216A 2021-03-24 2022-03-15 Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate KR20230161863A (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021050122 2021-03-24
JPJP-P-2021-050122 2021-03-24
PCT/JP2022/011565 WO2022202485A1 (en) 2021-03-24 2022-03-15 Photosensitive resin composition, photosensitive element and method for producing layered body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230161863A true KR20230161863A (en) 2023-11-28

Family

ID=83397235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020227038216A KR20230161863A (en) 2021-03-24 2022-03-15 Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP7287581B2 (en)
KR (1) KR20230161863A (en)
CN (1) CN117043677A (en)
TW (1) TW202244078A (en)
WO (1) WO2022202485A1 (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007004619A1 (en) 2005-07-05 2007-01-11 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition, and, photosensitive element, method for forming resist pattern, method for manufacturing printed wiring board and method for manufacturing partition wall for plasma display panel using the composition

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4997201B2 (en) * 2008-09-05 2012-08-08 富士フイルム株式会社 Preparation method of lithographic printing plate
CN105467765B (en) * 2014-09-30 2020-04-24 富士胶片株式会社 Photosensitive composition, method for producing cured film, and use thereof
WO2018061707A1 (en) * 2016-09-29 2018-04-05 富士フイルム株式会社 Method for manufacturing touch panel
WO2021192058A1 (en) * 2020-03-24 2021-09-30 昭和電工マテリアルズ株式会社 Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing wiring board

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007004619A1 (en) 2005-07-05 2007-01-11 Hitachi Chemical Company, Ltd. Photosensitive resin composition, and, photosensitive element, method for forming resist pattern, method for manufacturing printed wiring board and method for manufacturing partition wall for plasma display panel using the composition

Also Published As

Publication number Publication date
TW202244078A (en) 2022-11-16
JPWO2022202485A1 (en) 2022-09-29
WO2022202485A1 (en) 2022-09-29
JP7287581B2 (en) 2023-06-06
CN117043677A (en) 2023-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5626428B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
KR101885928B1 (en) Photosensitive resin compound, photosensitive element, method for forming resist pattern, method for producing print wiring board, and print wiring board
JP5899798B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method
JP5136423B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method
WO2023074630A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and laminate production method
JP2018100988A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for forming resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board
JP5532551B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method
US20230145264A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing wiring board
KR20230161863A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate
JP6064480B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method
KR20240073017A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing a laminate
WO2022191125A1 (en) Photosensitive film, photosensitive element, and production method for layered product
WO2023012985A1 (en) Photosensitive film, photosensitive element, and method for producing multilayer body
WO2022191127A1 (en) Photosensitive film, photosensitive element, and laminate production method
WO2023136105A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and production method of laminate
WO2023058600A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, and method for producing layered body
JP2010085605A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using same, method of forming resist pattern, and method of manufacturing printed wiring board
JP2010197831A (en) Photosensitive resin composition and photosensitive element using the composition, method for forming resist pattern and method for manufacturing printed wiring board
JP6724445B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing substrate with resist pattern, and method for producing printed wiring board