JP5532551B2 - Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method - Google Patents

Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method Download PDF

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Description

本発明は、感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法に関する。
に関する。
The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element, a resist pattern forming method, and a printed wiring board manufacturing method.
About.

プリント配線板の製造分野においては、エッチングやめっき等に用いられるレジスト材料として、感光性樹脂組成物や、この感光性樹脂組成物からなる層(以下、「感光性樹脂組成物層」という)を支持フィルム上に形成し、感光性樹脂組成物層上に保護フィルムを配置させた構造を有する感光性エレメント(積層体)が広く用いられている。   In the field of manufacturing printed wiring boards, as a resist material used for etching, plating, etc., a photosensitive resin composition or a layer made of this photosensitive resin composition (hereinafter referred to as “photosensitive resin composition layer”) is used. Photosensitive elements (laminates) formed on a support film and having a structure in which a protective film is disposed on a photosensitive resin composition layer are widely used.

従来、プリント配線板は上記感光性エレメントを用いて例えば以下の手順で製造されている。即ち、まず、感光性エレメントの感光性樹脂組成物層を銅張り積層板等の回路形成用基板上にラミネートする。このとき、感光性樹脂組成物層の支持フィルムに接触している面(以下、感光性樹脂組成物層の「下面」という)と反対側の面(以下、感光性樹脂組成物層の「上面」という)が回路形成用基板の回路を形成すべき面に密着するようにする。   Conventionally, a printed wiring board is manufactured, for example, by the following procedure using the photosensitive element. That is, first, the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element is laminated on a circuit forming substrate such as a copper-clad laminate. At this time, the surface opposite to the surface of the photosensitive resin composition layer in contact with the support film (hereinafter referred to as the “lower surface” of the photosensitive resin composition layer) (hereinafter referred to as the “upper surface of the photosensitive resin composition layer”). ") In close contact with the surface of the circuit forming substrate on which the circuit is to be formed.

そのため、保護フィルムを感光性樹脂組成物層の上面に配置している場合、このラミネートの作業を、保護フィルムを剥がしながら行い、その後、感光性樹脂組成物層を下地の回路形成用基板に加熱圧着する(常圧ラミネート法)。   Therefore, when a protective film is disposed on the upper surface of the photosensitive resin composition layer, this lamination operation is performed while removing the protective film, and then the photosensitive resin composition layer is heated to the underlying circuit forming substrate. Crimp (normal pressure lamination method).

次に、マスクフィルムなどを通してパターン露光する。このとき、露光前又は露光後の何れかのタイミングで支持フィルムを剥離し、その後、未露光部を現像液で溶解又は分散除去する。次に、エッチング処理又はめっき処理を施してパターンを形成させ、最終的に硬化部分を剥離除去する。   Next, pattern exposure is performed through a mask film or the like. At this time, the support film is peeled off at any timing before or after exposure, and then the unexposed portion is dissolved or dispersed and removed with a developer. Next, an etching process or a plating process is performed to form a pattern, and finally the cured portion is peeled and removed.

ここでエッチング処理とは、現像後に形成した硬化レジストによって被覆されていない金属面をエッチング除去した後、レジストを剥離する方法である。一方、めっき処理とは現像後に形成した硬化レジストによって被覆されていない金属面に銅及び半田等のめっき処理を行った後、レジストを除去しレジストによって被覆されていた金属面をエッチングする方法である。   Here, the etching treatment is a method of removing a resist after etching away a metal surface not covered with a cured resist formed after development. On the other hand, the plating process is a method in which a metal surface not covered with a hardened resist formed after development is subjected to a plating process such as copper and solder and then the resist is removed and the metal surface covered with the resist is etched. .

上述のパターン露光は従来、水銀灯を光源として用いてフォトマスクを介して露光していたが、パターンのデジタルデータを直接レジストに描画する直接描画露光法が提案されている。直接描画露光法はフォトマスクを介した露光よりも位置合わせ精度が良好であり、かつファインパターンが得られることから高密度パッケージ基板作製のために導入されつつある。   Conventionally, the above-described pattern exposure has been performed through a photomask using a mercury lamp as a light source. However, a direct drawing exposure method in which digital data of a pattern is directly drawn on a resist has been proposed. The direct writing exposure method has been introduced for the production of a high-density package substrate because it has better alignment accuracy than a photomask exposure and can obtain a fine pattern.

直接描画露光法では、水銀灯を光源とした従来の露光法と同程度の感度の感光性エレメントを使用したときには一般的に多くの露光時間が必要となるが、生産のスループット向上のためにはなるべく露光時間を短縮することが要求される。そのためには露光装置側の照度を上げる、感光性エレメントの感度を上げることなどが必要である。しかし、従来の感光性樹脂組成物を直接描画露光法に適用した場合、感度、解像度、密着性及びレジストの剥離特性が十分でなかった。   The direct drawing exposure method generally requires a lot of exposure time when using a photosensitive element with the same sensitivity as the conventional exposure method using a mercury lamp as a light source, but it is as much as possible to improve the production throughput. It is required to shorten the exposure time. For this purpose, it is necessary to increase the illuminance on the exposure apparatus side and the sensitivity of the photosensitive element. However, when the conventional photosensitive resin composition is applied to the direct drawing exposure method, the sensitivity, resolution, adhesion, and resist stripping properties are not sufficient.

そこで、上記特性を改善するために、これまでバインダー樹脂、光重合開始剤等について様々な検討がされている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。
特開2006−234995号公報 特開2005−122123号公報
Therefore, various studies have been made on binder resins, photopolymerization initiators, and the like so far in order to improve the above characteristics (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
JP 2006-234959 A JP 2005-122123 A

ところが、一般に密着性を向上させると剥離特性が悪化する傾向にあり、特許文献1及び2記載の感光性樹脂組成物を用いたとしても、要求される感度、解像度、密着性及びレジストの剥離特性を全て満たすという観点からは未だ改善の余地がある。   However, when the adhesion is generally improved, the peeling characteristics tend to deteriorate. Even when the photosensitive resin compositions described in Patent Documents 1 and 2 are used, the required sensitivity, resolution, adhesion, and resist peeling characteristics are required. There is still room for improvement from the viewpoint of satisfying all of the above.

そこで、本発明は、感度、解像度及び密着性に優れ、十分な剥離特性を有するレジストパターンを得ることができる感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention provides a photosensitive resin composition that is excellent in sensitivity, resolution, and adhesion, and can obtain a resist pattern having sufficient peeling characteristics, a photosensitive element using the same, a method for forming a resist pattern, and printed wiring It aims at providing the manufacturing method of a board.

本発明に係る感光性エレメント及びレジストパターンの形成方法では、(A)下記一般式(I)、(II)、及び、(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基を有するバインダーポリマー、(B)光重合性化合物、及び(C)光重合開始剤を含有してなり、バインダーポリマー全質量を基準にして、下記一般式(I)で表される2価の基が10〜60質量%、下記一般式(II)で表される2価の基が10〜70質量%、下記一般式(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基が5〜60質量%である感光性樹脂組成物を用いるIn the method for forming a photosensitive element and a resist pattern according to the present invention, (A) a divalent group represented by at least one of the following general formulas (I), (II), and (III) or (IV): A divalent group represented by the following general formula (I) on the basis of the total mass of the binder polymer: (B) a photopolymerizable compound, and (C) a photopolymerization initiator. 10 to 60% by mass, a divalent group represented by the following general formula (II) is 10 to 70% by mass, and a divalent group represented by at least one of the following general formula (III) or (IV) The photosensitive resin composition which is 5-60 mass% is used .

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[式(I)、(II)、(III)及び(IV)中、R、R、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又はメチル基を示し、R、R及びRはそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子を示し、kは0〜5の整数を示し、m及びnはそれぞれ独立に0〜3の整数を示す。k、m及びnが2以上の場合、複数存在するR、R及びRは、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。]
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[In the formulas (I), (II), (III) and (IV), R 1 , R 2 , R 4 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, and R 3 , R 5 and R 7 Each independently represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms or an alkoxy group, an OH group, or a halogen atom, k represents an integer of 0 to 5, and m and n each independently represents an integer of 0 to 3. When k, m and n are 2 or more, a plurality of R 3 , R 5 and R 7 may be the same or different from each other. ]

本発明者らは、バインダーポリマー(A)が、上記一般式(III)及び/又は(IV)で表されるような特定構造を有するバインダーポリマーを含有し、さらに、上述のような特定の成分を組み合わせて構成されることにより、本発明の感光性樹脂組成物が、高感度、高解像度、高密着性で良好なレジスト形状を得ることができ、さらに良好な剥離特性を有するレジストパターンを形成し得ることを見出し、本発明に到達した。   The present inventors include a binder polymer in which the binder polymer (A) has a specific structure as represented by the general formula (III) and / or (IV), and the specific component as described above. In combination, the photosensitive resin composition of the present invention can obtain a good resist shape with high sensitivity, high resolution, and high adhesion, and form a resist pattern with even better release characteristics. The present invention has been found.

また、本発明は、(C)光重合開始剤が、ヘキサアリールビイミダゾール誘導体を含有することが好ましい。これにより、感光性樹脂組成物の感度が高められるとともに、解像度及び密着性がさらに向上する。   In the present invention, it is preferable that (C) the photopolymerization initiator contains a hexaarylbiimidazole derivative. Thereby, the sensitivity of the photosensitive resin composition is increased, and the resolution and adhesion are further improved.

また、本発明は、支持フィルムと、該支持フィルム上に形成された上記の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層と、を備える感光性エレメントを提供する。   Moreover, this invention provides a photosensitive element provided with a support film and the photosensitive resin composition layer which consists of said photosensitive resin composition formed on this support film.

本発明の感光性エレメントは、上記本発明の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層を備えることにより、感度、解像度及び密着性をバランスよく向上でき、レジストパターンの形状を良好に形成することができる。   The photosensitive element of the present invention can improve the sensitivity, resolution and adhesion in a well-balanced manner by providing the photosensitive resin composition layer comprising the photosensitive resin composition of the present invention, so that the resist pattern can be formed in a good shape. can do.

本発明はまた、回路形成用基板上に、上記本発明の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層を積層する積層工程と、上記感光性樹脂組成物層の所定部分に活性光線を照射して露光部を光硬化する露光工程と、上記基板から上記感光性樹脂組成物層の露光部以外の部分を除去する現像工程と、を有するレジストパターンの形成方法を提供する。   The present invention also includes a laminating step of laminating the photosensitive resin composition layer composed of the photosensitive resin composition of the present invention on a circuit forming substrate, and an active ray at a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer. There is provided a resist pattern forming method comprising an exposure step of irradiating and photocuring an exposed portion, and a developing step of removing a portion other than the exposed portion of the photosensitive resin composition layer from the substrate.

本発明のレジストパターンの形成方法によれば、上記本発明の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層を用いているため、露光時間の短い直接描画露光法によっても、良好なレジスト形状を有するレジストパターンを効率的に形成できる。   According to the method for forming a resist pattern of the present invention, since the photosensitive resin composition layer comprising the photosensitive resin composition of the present invention is used, a good resist shape can be obtained even by a direct drawing exposure method with a short exposure time. It is possible to efficiently form a resist pattern having

本発明は更に、上記本発明のレジストパターンの形成方法によりレジストパターンの形成された回路形成用基板を、エッチング又はめっきする、プリント配線板の製造方法を提供する。   The present invention further provides a method for producing a printed wiring board, in which a circuit forming substrate on which a resist pattern is formed by the method for forming a resist pattern of the present invention is etched or plated.

本発明のプリント配線板の製造方法によれば、上記本発明のレジストパターンの形成方法によりレジストパターンを形成しているため、プリント配線板を効率的に製造することができるとともに、配線の高密度化を実現することが可能となる。   According to the method for producing a printed wiring board of the present invention, since the resist pattern is formed by the resist pattern forming method of the present invention, the printed wiring board can be efficiently produced and the density of the wiring is high. Can be realized.

本発明によれば、感度、解像度及び密着性に優れ、十分な剥離特性を有するレジストパターンを得ることができる感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the photosensitive resin composition which can obtain the resist pattern which is excellent in a sensitivity, the resolution, and adhesiveness, and has sufficient peeling characteristics, the photosensitive element using this, the formation method of a resist pattern, and printed wiring A method for manufacturing a plate can be provided.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明において、(メタ)アクリル酸とはアクリル酸又はメタクリル酸を示し、(メタ)アクリレートとはアクリレート又はそれに対応するメタクリレートを意味し、(メタ)アクリロイル基とはアクリロイル基又はメタクリロイル基を意味する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In the present invention, (meth) acrylic acid means acrylic acid or methacrylic acid, (meth) acrylate means acrylate or a corresponding methacrylate, and (meth) acryloyl group means acryloyl group or methacryloyl group. means.

(感光性樹脂組成物)
先ず、本発明の感光性樹脂組成物について説明する。本発明の感光性樹脂組成物は、(A)下記一般式(I)、(II)、及び、(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基を有するバインダーポリマー、(B)光重合性化合物、及び(C)光重合開始剤を含有するものである。
(Photosensitive resin composition)
First, the photosensitive resin composition of the present invention will be described. The photosensitive resin composition of the present invention comprises (A) a binder polymer having a divalent group represented by at least one of the following general formulas (I), (II), and (III) or (IV): B) contains a photopolymerizable compound and (C) a photopolymerization initiator.

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[式(I)、(II)、(III)及び(IV)中、R、R、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又はメチル基を示し、R、R及びRはそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、ヒドロキシル基、ハロゲン原子を示し、kは0〜5の整数を示し、m及びnはそれぞれ独立に0〜3の整数を示す。k、m及びnが2以上の場合、複数存在するR、R及びRは、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。
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[In the formulas (I), (II), (III) and (IV), R 1 , R 2 , R 4 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, and R 3 , R 5 and R 7 Each independently represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkoxy group, a hydroxyl group, or a halogen atom, k represents an integer of 0 to 5, and m and n each independently represents an integer of 0 to 3. When k, m and n are 2 or more, a plurality of R 3 , R 5 and R 7 may be the same or different from each other.

まず、(A)成分であるバインダーポリマーについて説明する。(A)成分は、上記一般式(I)で示される構造単位と、上記一般式(II)で示される構造単位と、上記一般式(III)又は(IV)で示される構造単位のうち少なくとも一種と、を含むバインダーポリマーである。   First, the binder polymer as component (A) will be described. The component (A) includes at least a structural unit represented by the general formula (I), a structural unit represented by the general formula (II), and a structural unit represented by the general formula (III) or (IV). And a binder polymer containing one kind.

上記一般式(I)中、Rは水素原子又はメチル基を表し、メチル基であることが好ましい。上記一般式(I)の構造単位を形成する重合性単量体は、アクリル酸又はメタクリル酸に基づく構造単位である。 In the general formula (I), R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and is preferably a methyl group. The polymerizable monomer forming the structural unit of the general formula (I) is a structural unit based on acrylic acid or methacrylic acid.

感光性樹脂組成物を構成材料とする感光性樹脂組成物層の回路形成用基板に対するレジストの剥離特性、現像性、解像度及び密着性の観点から、上記一般式(I)の構成単位の含有量は、(A)成分の全質量(固形分)を基準にして、10〜60質量%であることが好ましく、15〜50質量%であることがより好ましく、20〜40質量%であることがさらに好ましく、25〜35質量%であることが特に好ましい。   The content of the structural unit of the above general formula (I) from the viewpoint of the peeling property, developability, resolution and adhesion of the resist to the circuit forming substrate of the photosensitive resin composition layer comprising the photosensitive resin composition as a constituent material Is preferably 10 to 60% by mass, more preferably 15 to 50% by mass, and more preferably 20 to 40% by mass based on the total mass (solid content) of component (A). Further preferred is 25 to 35% by mass.

上記一般式(I)の構成単位の含有量が10質量%未満ではアルカリ溶解性が劣り、剥離片が大きくなり、剥離時間が長くなる傾向があり、これらの含有量が60質量%を超えると解像度が低下する傾向がある。   When the content of the structural unit of the general formula (I) is less than 10% by mass, the alkali solubility is inferior, the peel piece tends to be large, and the peel time tends to be long. When the content exceeds 60% by mass, The resolution tends to decrease.

上記一般式(II)中、Rは水素原子又はメチル基を表し、水素原子であることが好ましい。Rは炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子を表す。kは0〜5の整数であり、kが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。上記一般式(II)の構造単位を形成する重合性単量体としては、スチレン若しくはスチレン誘導体、又はα−メチルスチレン若しくはα−メチルスチレン誘導体が挙げられる。なお、本発明において、「スチレン誘導体」及び「α−メチルスチレン誘導体」とは、スチレンのベンゼン環における水素原子が置換基R(炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子等)で置換されたものをいう。 In the general formula (II), R 2 represents a hydrogen atom or a methyl group, and is preferably a hydrogen atom. R 3 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkoxy group, an OH group, or a halogen atom. k is an integer of 0 to 5, and when k is 2 or more, a plurality of R 3 may be the same or different. Examples of the polymerizable monomer that forms the structural unit of the general formula (II) include styrene or a styrene derivative, or α-methylstyrene or an α-methylstyrene derivative. In the present invention, the term “styrene derivative” and “α-methylstyrene derivative” means that the hydrogen atom in the benzene ring of styrene is a substituent R 3 (an alkyl group or alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms, an OH group, a halogen atom). An atom or the like).

また、密着性及び剥離特性を共に良好にする観点から、上記一般式(II)の構造単位の含有量は、(A)成分の全質量(固形分)を基準にして、5〜70質量%が好ましく、10〜65質量%であることがより好ましく、15〜60質量%であることがさらに好ましく、20〜60質量%であることが特に好ましい。   Further, from the viewpoint of improving both adhesion and peeling properties, the content of the structural unit of the general formula (II) is 5 to 70% by mass based on the total mass (solid content) of the component (A). Is more preferable, 10 to 65% by mass is more preferable, 15 to 60% by mass is further preferable, and 20 to 60% by mass is particularly preferable.

上記一般式(II)の構造単位の含有量がそれぞれ5質量%未満では解像度が劣る傾向があり、これらの含有量が70質量%を超えると剥離片が大きくなり、剥離時間が長くなる傾向がある。   When the content of the structural unit of the general formula (II) is less than 5% by mass, the resolution tends to be inferior. When the content exceeds 70% by mass, the peeled piece becomes large and the peeling time tends to be long. is there.

上記一般式(III)及び上記一般式(IV)中、R及びRはそれぞれ独立に水素原子又はメチル基を表し、それぞれメチル基であることが好ましい。R及びRはそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子を表す。m及びnはそれぞれ独立に0〜3の整数であり、m及びnが2以上の場合、複数存在するR及びRはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。 In the general formula (III) and the general formula (IV), R 4 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, and each is preferably a methyl group. R 5 and R 7 each independently represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkoxy group, an OH group, or a halogen atom. m and n are each independently an integer of 0 to 3, and when m and n are 2 or more, a plurality of R 5 and R 7 may be the same or different.

一般式(III)の構造単位を形成する重合性単量体としては(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリル又は(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリル誘導体、上記一般式(IV)の構造単位を形成する重合性単量体としては、(メタ)アクリル酸フルフリル、又は(メタ)アクリル酸フルフリル誘導体が挙げられる。なお、本発明において、「(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリル誘導体」とは、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリルの五員環の水素原子が、置換基R(炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子等)で置換されたものをいい、「(メタ)アクリル酸フルフリル誘導体」とは、(メタ)アクリル酸フルフリルの不飽和結合を有する五員環の水素原子が、置換基R(炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、OH基、ハロゲン原子等)で置換されたものをいう。 Examples of the polymerizable monomer that forms the structural unit of the general formula (III) include tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate or tetrahydrofurfuryl derivative of (meth) acrylic acid, and polymerization that forms the structural unit of the general formula (IV). Examples of the polymerizable monomer include furfuryl (meth) acrylate or a furfuryl (meth) acrylate derivative. In the present invention, the “(meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl derivative” means that the five-membered hydrogen atom of tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate is a substituent R 5 (an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms). Or an alkoxy group, an OH group, a halogen atom or the like), and “(meth) acrylic acid furfuryl derivative” is a five-membered hydrogen atom having an unsaturated bond of (meth) acrylic acid furfuryl. And a substituent R 7 (an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms or an alkoxy group, an OH group, a halogen atom, etc.).

また、密着性及び剥離特性を共に良好にする観点から、上記一般式(III)の構造単位、及び/又は上記一般式(IV)の構造単位の含有量は、(A)成分の全質量(固形分)を基準にして、5〜60質量%が好ましく、10〜55質量%であることがより好ましく、15〜50質量%であることがさらに好ましく、15〜40質量%であることが特に好ましい。   In addition, from the viewpoint of improving both adhesion and peeling properties, the content of the structural unit of the general formula (III) and / or the structural unit of the general formula (IV) is the total mass of the component (A) ( 5 to 60% by mass, preferably 10 to 55% by mass, more preferably 15 to 50% by mass, and particularly preferably 15 to 40% by mass, based on the solid content). preferable.

上記一般式(III)の構造単位、及び/又は上記一般式(IV)の構造単位の含有量がそれぞれ5質量%未満では剥離片が大きくなり、剥離時間が長くなる傾向があり、これらの含有量が60質量%を超えると解像性が劣る傾向がある。   When the content of the structural unit of the general formula (III) and / or the structural unit of the general formula (IV) is less than 5% by mass, the peeling piece tends to be large and the peeling time tends to be long. When the amount exceeds 60% by mass, the resolution tends to be inferior.

上述したバインダーポリマーは、1種類のバインダーポリマーを単独で使用してもよく、2種類以上のバインダーポリマーを任意に組み合わせて使用してもよい。2種類以上を組み合わせて使用する場合のバインダーポリマーとしては、例えば、異なる共重合成分からなる2種類以上の(異なる繰り返し単位を構成成分として含む)バインダーポリマー、異なる重量平均分子量の2種類以上のバインダーポリマー、異なる分散度の2種類以上のバインダーポリマーなどが挙げられる。また、特開平11−327137号公報に記載のマルチモード分子量分布を有するポリマーを使用することもできる。   As the binder polymer described above, one type of binder polymer may be used alone, or two or more types of binder polymers may be used in any combination. As a binder polymer in the case of using two or more types in combination, for example, two or more types of binder polymers comprising different copolymerization components (including different repeating units as constituent components), two or more types of binders having different weight average molecular weights Examples thereof include polymers and two or more types of binder polymers having different degrees of dispersion. In addition, a polymer having a multimode molecular weight distribution described in JP-A No. 11-327137 can also be used.

バインダーポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定することができる(標準ポリスチレンを用いた検量線による換算)。この測定法によれば、バインダーポリマーのMwは、5000〜300000であることが好ましく、10000〜150000であることがより好ましく、20000〜100000であることがさらに好ましく、30000〜70000であることが特に好ましい。Mwが5000未満では耐現像液性が低下する傾向があり、300000を超えると現像時間が長くなる傾向がある。   The weight average molecular weight (Mw) and the number average molecular weight (Mn) of the binder polymer can be measured by gel permeation chromatography (GPC) (converted by a calibration curve using standard polystyrene). According to this measurement method, the Mw of the binder polymer is preferably 5,000 to 300,000, more preferably 10,000 to 150,000, further preferably 20,000 to 100,000, and particularly preferably 30,000 to 70,000. preferable. When Mw is less than 5000, the developer resistance tends to decrease, and when it exceeds 300,000, the development time tends to be long.

上記(A)バインダーポリマーは、分散度(Mw/Mn)が1.0〜3.0であることが好ましく、1.0〜2.0であることがより好ましい。分散度が3.0を超えると密着性及び解像度が低下する傾向がある。   The (A) binder polymer preferably has a dispersity (Mw / Mn) of 1.0 to 3.0, and more preferably 1.0 to 2.0. When the degree of dispersion exceeds 3.0, the adhesion and resolution tend to decrease.

また、上記(A)バインダーポリマーには、スチレン系樹脂、エポキシ系樹脂、アミド系樹脂、アミドエポキシ系樹脂、アルキド系樹脂、フェノール系樹脂を併用することもできる。   The (A) binder polymer may be used in combination with a styrene resin, an epoxy resin, an amide resin, an amide epoxy resin, an alkyd resin, or a phenol resin.

本発明の(A)バインダーポリマーは、例えば、重合性単量体をラジカル重合させることにより製造することができる。   The (A) binder polymer of the present invention can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer.

また、本発明の(A)バインダーポリマーは上記一般式(I)〜(IV)を構成するための重合性単量体以外の重合性単量体を併用することもできる。一般式(I)〜(IV)を構成するための重合性単量体以外の重合性単量体としては、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステル等が挙げられ、この(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、下記一般式(V)で表される化合物などが挙げられる。   Moreover, (A) binder polymer of this invention can also use together polymerizable monomers other than the polymerizable monomer for comprising the said general formula (I)-(IV). Examples of the polymerizable monomer other than the polymerizable monomer for constituting the general formulas (I) to (IV) include (meth) acrylic acid alkyl ester, and the like. Examples of the ester include compounds represented by the following general formula (V).

CH2=C(R)−COOR (V)
[式中、Rは、水素原子又はメチル基を示し、Rは、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルキル基に水酸基、エポキシ基、ハロゲン原子等が置換した一価の有機基を示す。]
CH 2 = C (R 8) -COOR 9 (V)
[Wherein, R 8 represents a hydrogen atom or a methyl group, and R 9 represents an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms substituted with a hydroxyl group, an epoxy group, a halogen atom, or the like. A valent organic group. ]

上記一般式(V)で表される、置換基Rが炭素数1〜12のアルキル基である化合物としては、例えば、(メタ)アクリル酸メチルエステル、(メタ)アクリル酸エチルエステル、(メタ)アクリル酸プロピルエステル、(メタ)アクリル酸ブチルエステル、(メタ)アクリル酸ペンチルエステル、(メタ)アクリル酸ヘキシルエステル、(メタ)アクリル酸ヘプチルエステル、(メタ)アクリル酸オクチルエステル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシルエステル、(メタ)アクリル酸ノニルエステル、(メタ)アクリル酸デシルエステル、(メタ)アクリル酸ウンデシルエステル、(メタ)アクリル酸ドデシルエステル、2-ヒドロキシエチル、2-ヒドロキシプロピル、3-ヒドロキシプロピル、4−ヒドロキシブチル等が挙げられる。これらを単独で又は2種以上を任意に組み合わせて用いることができる。 Examples of the compound represented by the general formula (V) in which the substituent R 9 is an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms include (meth) acrylic acid methyl ester, (meth) acrylic acid ethyl ester, (meta ) Acrylic acid propyl ester, (meth) acrylic acid butyl ester, (meth) acrylic acid pentyl ester, (meth) acrylic acid hexyl ester, (meth) acrylic acid heptyl ester, (meth) acrylic acid octyl ester, (meth) acrylic Acid 2-ethylhexyl ester, (meth) acrylic acid nonyl ester, (meth) acrylic acid decyl ester, (meth) acrylic acid undecyl ester, (meth) acrylic acid dodecyl ester, 2-hydroxyethyl, 2-hydroxypropyl, 3 -Hydroxypropyl, 4-hydroxybutyl and the like . These may be used alone or in any combination of two or more.

その他にはジアセトンアクリルアミド等のアクリルアミド、アクリロニトリル、ビニル−n−ブチルエステル等のビニルアルコールのエステル類、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸グリシジルエステル、マレイン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、マレイン酸モノイソプロピル等のマレイン酸モノエステル、フマール酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸などが挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を任意に組み合わせて使用してもよい。   In addition, acrylamide such as diacetone acrylamide, vinyl alcohol esters such as acrylonitrile and vinyl-n-butyl ester, (meth) acrylic acid dimethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid diethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid Glycidyl ester, maleic acid, maleic anhydride, maleic acid monoester such as monomethyl maleate, monoethyl maleate, monoisopropyl maleate, fumaric acid, cinnamic acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, propiol An acid etc. are mentioned. These may be used alone or in any combination of two or more.

(A)バインダーポリマーの酸価は、30〜400mgKOH/gであることが好ましく、50〜350mgKOH/gであることがより好ましく、70〜300mgKOH/gであることが好ましく、100〜250mgKOH/gであることが好ましく、150〜200mgKOH/gであることがより好ましい。この酸価が30mgKOH/g未満では現像時間が長くなる傾向があり、400mgKOH/gを超えると光硬化したレジストの耐現像液性が低下する傾向がある。また、現像工程として溶剤現像を行う場合は、カルボキシル基を有する重合性単量体を少量に調製することが好ましい。   (A) The acid value of the binder polymer is preferably 30 to 400 mgKOH / g, more preferably 50 to 350 mgKOH / g, preferably 70 to 300 mgKOH / g, and 100 to 250 mgKOH / g. It is preferable that it is 150 to 200 mgKOH / g. When the acid value is less than 30 mg KOH / g, the development time tends to be long, and when it exceeds 400 mg KOH / g, the developer resistance of the photocured resist tends to be lowered. Moreover, when performing solvent image development as a image development process, it is preferable to prepare the polymerizable monomer which has a carboxyl group in a small quantity.

また、(A)バインダーポリマーは必要に応じて感光性を有する特性基をその構造内に有していてもよい。(A)バインダーポリマーの含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部を基準にして、30〜70重量部とすることが好ましく、35〜65重量部とすることがより好ましく、40〜60重量部とするのが特に好ましい。この含有量が30重量部未満では感光性エレメントとした場合に良好なフィルム形成性が得られない傾向があり、70重量部を超えると良好な感度や解像性を得られない傾向がある。   Further, (A) the binder polymer may have a characteristic group having photosensitivity in its structure, if necessary. The content of the (A) binder polymer is preferably 30 to 70 parts by weight, preferably 35 to 65 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B). More preferred is 40-60 parts by weight. When the content is less than 30 parts by weight, there is a tendency that good film formability cannot be obtained when the photosensitive element is used, and when it exceeds 70 parts by weight, good sensitivity and resolution tend not to be obtained.

次に、(B)成分である光重合性化合物について説明する。   Next, the photopolymerizable compound as the component (B) will be described.

(B)光重合性化合物としては、例えば、多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物、グリシジル基含有化合物にα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、分子内にウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物等のウレタンモノマー、ノニルフェノキシポリアルキレンオキシアクリレート、フタル酸系化合物、(メタ)アクリル酸アルキルエステル等が挙げられる。これらは単独で、または2種類以上を組み合わせて使用される。   (B) As the photopolymerizable compound, for example, a compound obtained by reacting an α, β-unsaturated carboxylic acid with a polyhydric alcohol, a bisphenol A-based (meth) acrylate compound, a glycidyl group-containing compound with α, β- Compounds obtained by reacting unsaturated carboxylic acids, urethane monomers such as (meth) acrylate compounds having a urethane bond in the molecule, nonylphenoxypolyalkyleneoxyacrylate, phthalic acid compounds, (meth) acrylic acid alkyl esters, etc. Can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

(B)成分は、本発明の効果をより確実に得る観点から、分子内に一つの重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物と、分子内に二つ以上の重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物とを組み合わせて用いることが好ましい。   The component (B) includes a photopolymerizable compound having one polymerizable ethylenically unsaturated bond in the molecule and two or more polymerizable ethylenes in the molecule from the viewpoint of obtaining the effects of the present invention more reliably. It is preferable to use in combination with a photopolymerizable compound having a polymerizable unsaturated bond.

上記分子内に一つの重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物としては、剥離時間を短縮する観点から、ノニルフェノキシポリアルキレンオキシアクリレートを含むことが好ましく、ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレートを含むことが好ましい。   The photopolymerizable compound having one polymerizable ethylenically unsaturated bond in the molecule preferably includes nonylphenoxypolyalkyleneoxyacrylate, and includes nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate from the viewpoint of shortening the peeling time. It is preferable.

また、上記分子内に二つ以上の重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物としては、感度、解像度及び密着性をより向上させる観点から、多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物及び/又はビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物を含むことが好ましい。   In addition, as the photopolymerizable compound having two or more polymerizable ethylenically unsaturated bonds in the molecule, α, β-unsaturation is added to polyhydric alcohol from the viewpoint of further improving sensitivity, resolution and adhesion. It is preferable to include a compound obtained by reacting a carboxylic acid and / or a bisphenol A (meth) acrylate compound.

上記ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレートとしては、たとえば、ノニルフェノキシテトラエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシペンタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシヘキサエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシヘプタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシオクタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシノナエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシデカエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシウンデカエチレンオキシアクリレートが挙げられる。これらは単独で、または2種類以上を任意に組み合わせて使用される。   Examples of the nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate include nonylphenoxytetraethyleneoxyacrylate, nonylphenoxypentaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyhexaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyheptaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyoctaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxynonaethylene Examples include oxyacrylate, nonylphenoxydecaethyleneoxyacrylate, and nonylphenoxyundecaethyleneoxyacrylate. These may be used alone or in any combination of two or more.

上記多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物としては、たとえば、エチレン基の数が2〜14であるポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレン基の数が2〜14であるポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、エチレン基の数が2〜14でありプロピレン基の数が2〜14であるポリエチレン・ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO,PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらは単独で、または二種類以上を組み合わせて使用される。ここで、「EO」とはエチレンオキサイドを示し、EO変性された化合物はエチレンオキサイド基のブロック構造を有するものを示す。また、「PO」とはプロピレンオキサイドを示し、PO変性された化合物はプロピレンオキサイド基のブロック構造を有するものを示す。   Examples of the compound obtained by reacting the polyhydric alcohol with an α, β-unsaturated carboxylic acid include, for example, polyethylene glycol di (meth) acrylate having 2 to 14 ethylene groups and 2 to 2 propylene groups. 14 polypropylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene polypropylene glycol di (meth) acrylate having 2 to 14 ethylene groups and 2 to 14 propylene groups, trimethylolpropane di (meth) acrylate, Trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) Acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate. These are used alone or in combination of two or more. Here, “EO” represents ethylene oxide, and an EO-modified compound represents one having a block structure of an ethylene oxide group. “PO” represents propylene oxide, and a PO-modified compound has a propylene oxide group block structure.

上記ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物としては、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリブトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン等が挙げられる。上記2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパンとしては、たとえば、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシトリエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシテトラエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘキサエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘプタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシオクタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシノナエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシウンデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシドデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシトリデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシテトラデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシペンタデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘキサデカエトキシ)フェニル)プロパン等が挙げられる。   Examples of the bisphenol A-based (meth) acrylate compound include 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane and 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolypropoxy). Phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolybutoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxypolypropoxy) phenyl) propane and the like It is done. Examples of the 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane include 2,2-bis (4-((meth) acryloxydiethoxy) phenyl) propane, 2,2 -Bis (4-((meth) acryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytetraethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meta ) Acryloxypentaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyhexaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyheptaethoxy) phenyl) Propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyoctaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxynona) Toxi) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxydecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyundecaethoxy) phenyl) propane, 2 , 2-bis (4-((meth) acryloxydodecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytridecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- ((Meth) acryloxytetradecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxy) Hexadecaethoxy) phenyl) propane and the like.

2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−500(新中村化学工業(株)製、製品名)又はFA−321M(日立化成工業(株)製、製品名)として商業的に入手可能であり、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタデカエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−1300(新中村化学工業(株)製、製品名)として商業的に入手可能である。上記2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパンの1分子内のエチレンオキサイド基の数は4〜20であることが好ましく、8〜15であることがより好ましい。これらは単独で、または2種類以上を任意に組み合わせて使用される。   2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane is either BPE-500 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name) or FA-321M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name). ) And 2,2-bis (4- (methacryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-1300 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). It is available. The number of ethylene oxide groups in one molecule of the 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane is preferably 4-20, and more preferably 8-15. . These may be used alone or in any combination of two or more.

上記分子内にウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物としては、たとえば、β位にOH基を有する(メタ)アクリルモノマーとジイソシアネート化合物(イソホロンジイソシアネート、2,6−トルエンジイソシアネート、2,4−トルエンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネート等)との付加反応物、トリス((メタ)アクリロキシテトラエチレングリコールイソシアネート)ヘキサメチレンイソシアヌレート、EO変性ウレタンジ(メタ)アクリレート、EO,PO変性ウレタンジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。EO変性ウレタンジ(メタ)アクリレートとしては、たとえば、UA−11(新中村化学工業(株)製、製品名)が挙げられる。また、EO,PO変性ウレタンジ(メタ)アクリレートとしては、たとえば、UA−13(新中村化学工業(株)製、製品名)が挙げられる。これらは単独で、または二種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the (meth) acrylate compound having a urethane bond in the molecule include, for example, a (meth) acryl monomer having an OH group at the β-position and a diisocyanate compound (isophorone diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, 2,4-toluene diisocyanate). , 1,6-hexamethylene diisocyanate, etc.), tris ((meth) acryloxytetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate, EO-modified urethane di (meth) acrylate, EO, PO-modified urethane di (meth) acrylate Etc. Examples of the EO-modified urethane di (meth) acrylate include UA-11 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). Examples of the EO and PO-modified urethane di (meth) acrylate include UA-13 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). These are used alone or in combination of two or more.

上記フタル酸系化合物としては、γ−クロロ−β−ヒドロキシプロピル−β’−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキシアルキル−β’−(メタ)アクリロルオキシアルキル−o−フタレート等が挙げられる。これらは単独で、または2種類以上を任意に組み合わせて使用される。   Examples of the phthalic acid compounds include γ-chloro-β-hydroxypropyl-β ′-(meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyalkyl-β ′-(meth) acryloloxyalkyl-o-phthalate. Etc. These may be used alone or in any combination of two or more.

また、(B)成分は、硬化膜の可とう性を向上できる観点から、分子内にエチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖の双方を有するポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートを含むことが好ましい。このポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートは、分子内のアルキレングリコール鎖として、エチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖(n−プロピレングリコール鎖又はイソプロピレングリコール鎖)の双方を有していれば特に制限はない。また、エチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖の他、さらにn−ブチレングリコール鎖、イソブチレングリコール鎖、n−ペンチレングリコール鎖、ヘキシレングリコール鎖、これらの構造異性体等である炭素数4〜6程度のアルキレングリコール鎖を有していてもよい。   Moreover, it is preferable that (B) component contains the polyalkylene glycol di (meth) acrylate which has both an ethylene glycol chain and a propylene glycol chain in a molecule | numerator from a viewpoint which can improve the flexibility of a cured film. This polyalkylene glycol di (meth) acrylate is not particularly limited as long as it has both an ethylene glycol chain and a propylene glycol chain (n-propylene glycol chain or isopropylene glycol chain) as an alkylene glycol chain in the molecule. . In addition to ethylene glycol chain and propylene glycol chain, n-butylene glycol chain, isobutylene glycol chain, n-pentylene glycol chain, hexylene glycol chain, structural isomers thereof and the like having about 4 to 6 carbon atoms. It may have an alkylene glycol chain.

上記エチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖が複数である場合、複数のエチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖は各々連続してブロック的に存在する必要性はなく、ランダムに存在してもよい。また、上記イソプロピレングリコール鎖において、プロピレン基の2級炭素が酸素原子に結合していてもよく、1級炭素が酸素原子に結合していてもよい。   When there are a plurality of ethylene glycol chains and propylene glycol chains, the plurality of ethylene glycol chains and propylene glycol chains need not be continuously present in blocks, and may be present randomly. In the isopropylene glycol chain, the secondary carbon of the propylene group may be bonded to an oxygen atom, or the primary carbon may be bonded to an oxygen atom.

上記分子内にエチレングリコール鎖及びプロピレングリコール鎖の双方を有するポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートの、分子内のアルキレングリコール鎖は、例えば、下記一般式(VI)で表される化合物、下記一般式(VII)で表される化合物、及び下記一般式(VIII)で表される化合物等が挙げられる。   The alkylene glycol chain in the molecule of the polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both an ethylene glycol chain and a propylene glycol chain in the molecule is, for example, a compound represented by the following general formula (VI), the following general formula The compound represented by (VII), the compound represented by the following general formula (VIII), etc. are mentioned.

Figure 0005532551

[式中、R10及びR11は、各々独立に水素原子又はメチル基を示し、EOはエチレングリコール鎖を示し、POはプロピレングリコール鎖を示し、m+m(平均値)は1〜30の整数であり、nは1〜30の整数である。]
Figure 0005532551

[Wherein, R 10 and R 11 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, EO represents an ethylene glycol chain, PO represents a propylene glycol chain, and m 1 + m 2 (average value) is 1 to 30 N 1 is an integer of 1 to 30. ]

Figure 0005532551

[式中、R12及びR13は各々独立に水素原子又はメチル基を示し、EOはエチレングリコール鎖を示し、POはプロピレングリコール鎖を示し、mは1〜30の整数であり、n+n(平均値)は1〜30の整数である。]
Figure 0005532551

[Wherein, R 12 and R 13 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, EO represents an ethylene glycol chain, PO represents a propylene glycol chain, m 3 is an integer of 1 to 30, n 2 + N 3 (average value) is an integer of 1 to 30. ]

Figure 0005532551

[式中、R14及びR15は各々独立に水素原子又はメチル基を示し、EOはエチレングリコール鎖を示し、POはプロピレングリコール鎖を示し、m及びnは各々独立に1〜30の整数である。]
Figure 0005532551

[Wherein, R 14 and R 15 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, EO represents an ethylene glycol chain, PO represents a propylene glycol chain, and m 4 and n 4 each independently represents 1 to 30. It is an integer. ]

上記一般式(VI)、(VII)及び(VIII)におけるエチレングリコール鎖の繰り返し数の総数(m+m、m及びm)は各々独立に1〜30の整数であり、レジスト形状をより良好にする観点から、1〜15の整数であることが好ましく、2〜12の整数であることがより好ましく、4〜8の整数であることが特に好ましい。 The total number of repeating ethylene glycol chains (m 1 + m 2 , m 3 and m 4 ) in the general formulas (VI), (VII) and (VIII) is an integer of 1 to 30, and the resist shape is From the viewpoint of making it better, it is preferably an integer of 1 to 15, more preferably an integer of 2 to 12, and particularly preferably an integer of 4 to 8.

上記一般式(VI)、(VII)及び(VIII)におけるプロピレングリコール鎖の繰り返し数の総数(n、n+n及びn)は各々独立に1〜30の整数であり、解像性をより良好にする観点から、2〜20の整数であることが好ましく、4〜16の整数であることがより好ましく、6〜14の整数であることがさらに好ましい。 The total number of repeating propylene glycol chains (n 1 , n 2 + n 3 and n 4 ) in the above general formulas (VI), (VII) and (VIII) is each independently an integer of 1 to 30, and the resolution From the viewpoint of making the ratio more favorable, it is preferably an integer of 2 to 20, more preferably an integer of 4 to 16, and further preferably an integer of 6 to 14.

上記一般式(VI)で表される化合物の具体例としては、例えば、R10=R11=メチル基、m+m=4(平均値)、n=12(平均値)であるビニル化合物(日立化成工業(株)製、商品名FA−023M)等が挙げられる。上記一般式(VII)で表される化合物の具体例としては、例えば、R12=R13=メチル基、m=6(平均値)、n+n=12(平均値)であるビニル化合物(日立化成工業(株)製、商品名FA−024M)等が挙げられる。上記一般式(VIII)で表される化合物の具体例としては、例えば、R14=R15=水素原子、m=1(平均値)、n=9(平均値)であるビニル化合物(新中村化学工業(株)製、サンプル名NKエステルHEMA−9P)等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。 Specific examples of the compound represented by the general formula (VI) include, for example, vinyl having R 10 = R 11 = methyl group, m 1 + m 2 = 4 (average value), and n 1 = 12 (average value). And compounds (trade name FA-023M, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.). Specific examples of the compound represented by the general formula (VII) include, for example, vinyl having R 12 = R 13 = methyl group, m 3 = 6 (average value), and n 2 + n 3 = 12 (average value). And compounds (trade name FA-024M, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.). Specific examples of the compound represented by the general formula (VIII) include, for example, a vinyl compound in which R 14 = R 15 = hydrogen atom, m 4 = 1 (average value), and n 4 = 9 (average value) ( Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., sample name NK ester HEMA-9P) and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

(B)成分の光重合性化合物の含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部を基準にして、30〜70重量部とすることが好ましく、35〜65重量部とすることがより好ましく、40〜60重量部とするのが特に好ましい。この含有量が30重量部未満では良好な感度や解像性が得られない傾向があり、70重量部を超えると感光性エレメントを作製する場合に良好なフィルム形成性を得られない傾向がある。それぞれ単独で又は二種類以上を組み合わせて使用される。   As content of the photopolymerizable compound of (B) component, it is preferable to set it as 30-70 weight part on the basis of 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, 35-65 weight part More preferably, it is 40-60 parts by weight. If the content is less than 30 parts by weight, good sensitivity and resolution tend not to be obtained, and if it exceeds 70 parts by weight, good film formability tends not to be obtained when producing a photosensitive element. . Each is used alone or in combination of two or more.

次に(C)成分である光重合開始剤としては、例えば、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、ベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1,2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン、アルキルアントラキノンなどのキノン類、ベンゾインアルキルエーテルなどのベンゾインエーテル化合物、ベンゾイン、アルキルベンゾイン等のベンゾイン化合物、ベンジルジメチルケタールなどのベンジル誘導体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体、9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体等が挙げられる。   Next, as the photopolymerization initiator as the component (C), for example, 4,4′-bis (diethylamino) benzophenone, benzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone— Aromatic ketones such as 1,2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propanone-1, quinones such as alkylanthraquinones, benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether, benzoin, alkylbenzoin Benzoin compounds such as benzyl dimethyl ketal, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole 2-mer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5 2,4,5 such as diphenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer -Acridine derivatives such as -triarylimidazole dimer, 9-phenylacridine, 1,7-bis (9,9'-acridinyl) heptane, and the like.

また、2つの2,4,5−トリアリールイミダゾールのアリール基の置換基は同一で対象な化合物を与えてもよいし、相違して非対称な化合物を与えてもよい。また、密着性及び感度の見地からは、2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体がより好ましい。これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Further, the substituents of the aryl groups of two 2,4,5-triarylimidazoles may be the same to give the target compound, or differently give an asymmetric compound. From the viewpoint of adhesion and sensitivity, 2,4,5-triarylimidazole dimer is more preferable. These are used alone or in combination of two or more.

(C)成分の光重合開始剤の含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して0.1〜10重量部とすることが好ましく、2〜6重量部とすることがより好ましく、3〜5重量部とするのが特に好ましい。この含有量が0.1重量部未満では良好な感度や解像性が得られない傾向があり、10重量部を超えると良好なレジスト形状を得られない傾向がある。それぞれ単独で又は二種類以上を組み合わせて使用される。   As content of the photoinitiator of (C) component, it is preferable to set it as 0.1-10 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, 2-6 weight part More preferably, the content is 3 to 5 parts by weight. If this content is less than 0.1 parts by weight, good sensitivity and resolution tend not to be obtained, and if it exceeds 10 parts by weight, a good resist shape tends not to be obtained. Each is used alone or in combination of two or more.

本発明における(D)成分の増感色素は、用いる活性光線の吸収波長を有効に利用できるものである。増感色素として、極大吸収波長が370nm〜420nmである化合物が好ましい。本発明では、このような増感色素を用いることにより、直接描画露光法の露光光に対して、十分高い感度を有することが可能となる。増感色素の極大吸収波長が370nm未満であると、直接描画露光光に対する感度が低下する傾向があり、420nm以上であると、イエロー光環境下でも安定性が低下する傾向がある。   The sensitizing dye of component (D) in the present invention can effectively utilize the absorption wavelength of the active light to be used. As the sensitizing dye, a compound having a maximum absorption wavelength of 370 nm to 420 nm is preferable. In the present invention, by using such a sensitizing dye, it becomes possible to have a sufficiently high sensitivity to the exposure light of the direct drawing exposure method. If the maximum absorption wavelength of the sensitizing dye is less than 370 nm, the sensitivity to direct drawing exposure light tends to decrease, and if it is 420 nm or more, the stability tends to decrease even in a yellow light environment.

本発明の(D)増感色素としては、例えば、ピラゾリン類、アントラセン類、クマリン類、キサントン類、オキサゾール類、ベンゾオキサゾール類、チアゾール類、ベンゾチアゾール類、トリアゾール類、スチルベン類、トリアジン類、チオフェン類、ナフタルイミド類などが挙げられる。   Examples of the sensitizing dye (D) of the present invention include pyrazolines, anthracenes, coumarins, xanthones, oxazoles, benzoxazoles, thiazoles, benzothiazoles, triazoles, stilbenes, triazines, and thiophenes. And naphthalimides.

(D)増感色素の含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して0.01〜10重量部とすることが好ましく、0.05〜5重量部とすることがより好ましく、0.1〜2重量部とするのがさらに好ましい。この配合量が0.01重量部未満では良好な感度や解像性が得られない傾向があり、10重量部を超えると良好な形状を得られない傾向がある。それぞれ単独で又は二種類以上を組み合わせて使用される。   (D) The content of the sensitizing dye is preferably 0.01 to 10 parts by weight, and 0.05 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B). More preferably, the content is 0.1 to 2 parts by weight. If this amount is less than 0.01 part by weight, good sensitivity and resolution tend not to be obtained, and if it exceeds 10 parts by weight, a good shape tends not to be obtained. Each is used alone or in combination of two or more.

(E)アミン系化合物としては、ビス[4−(ジメチルアミノ)フェニル]メタン、ビス[4−(ジエチルアミノ)フェニル]メタン、ロイコクリスタルバイオレットなどが挙げられる。   Examples of (E) amine compounds include bis [4- (dimethylamino) phenyl] methane, bis [4- (diethylamino) phenyl] methane, and leucocrystal violet.

(E)アミン系化合物の含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して0.01〜10重量部とすることが好ましく、0.05〜5重量部とすることがより好ましく、0.1〜2重量部とするのが特に好ましい。この配合量が0.01重量部未満では良好な感度が得られない傾向があり、10重量部を超えるとフィルム形成後、異物として析出してしまう傾向がある。これらはそれぞれ単独で又は二種類以上を組み合わせて使用される。   (E) The content of the amine compound is preferably 0.01 to 10 parts by weight, and 0.05 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B). More preferably, the content is 0.1 to 2 parts by weight. If the blending amount is less than 0.01 parts by weight, good sensitivity tends not to be obtained, and if it exceeds 10 parts by weight, there is a tendency to deposit as foreign matter after film formation. These may be used alone or in combination of two or more.

感光性樹脂組成物には、必要に応じて、分子内に少なくとも1つのカチオン重合可能な環状エーテル基を有する光重合性化合物(オキセタン化合物等)、カチオン重合開始剤、マラカイトグリーン等の染料、トリブロモフェニルスルホン、ロイコクリスタルバイオレット等の光発色剤、熱発色防止剤、p−トルエンスルホンアミド等の可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、安定剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、イメージング剤、熱架橋剤などを(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して各々0.01〜20質量部程度含有することができる。これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   If necessary, the photosensitive resin composition may include a photopolymerizable compound (such as an oxetane compound) having at least one cationically polymerizable cyclic ether group in the molecule, a cationic polymerization initiator, a dye such as malachite green, Photochromic agents such as bromophenylsulfone and leucocrystal violet, thermochromic inhibitors, plasticizers such as p-toluenesulfonamide, pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, stabilizers, adhesion promoters, leveling agents , A peeling accelerator, an antioxidant, a fragrance, an imaging agent, a thermal crosslinking agent, and the like can be contained in an amount of about 0.01 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of component (A) and component (B). . These are used alone or in combination of two or more.

また、本発明の感光性樹脂組成物は、メタノール、エタノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、トルエン、N,N−ジメチルホルムアミド、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の溶剤又はこれらの混合溶剤に溶解して固形分30〜60質量%程度の溶液としてもよい。この溶液を感光性エレメントの感光性樹脂組成物層を形成するための塗布液として使用することができる。   The photosensitive resin composition of the present invention is dissolved in a solvent such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, or a mixed solvent thereof. It is good also as a solution about 30-60 mass% of solid content. This solution can be used as a coating solution for forming the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element.

また、上記の塗布液は、後述の支持フィルム上に塗布・乾燥させて感光性エレメントの感光性樹脂組成物層を形成させるために使用してもよいが、例えば、金属板の表面、例えば、銅、銅系合金、ニッケル、クロム、鉄、ステンレス等の鉄系合金、好ましくは銅、銅系合金、鉄系合金の表面上に、液状レジストとして塗布して乾燥後、保護フィルムを被覆して用いてもよい。   In addition, the above coating solution may be used for forming a photosensitive resin composition layer of a photosensitive element by coating and drying on a support film described later, for example, the surface of a metal plate, for example, Apply a liquid resist on the surface of an iron-based alloy such as copper, copper-based alloy, nickel, chromium, iron, stainless steel, preferably copper, copper-based alloy, iron-based alloy, and dry, and then coat the protective film It may be used.

また、感光性樹脂組成物層の層厚は、用途により異なるが、乾燥後の厚みで1〜100μm程度であることが好ましい。上述の液状レジストに保護フィルムを被覆して用いる場合は、保護フィルムとして、ポリエチレン、ポリプロピレン等の重合体フィルムなどが挙げられる。   Moreover, although the layer thickness of the photosensitive resin composition layer changes with uses, it is preferable that it is about 1-100 micrometers by the thickness after drying. In the case where the above-described liquid resist is used after being coated with a protective film, examples of the protective film include polymer films such as polyethylene and polypropylene.

(感光性エレメント)
次に、本発明の感光性エレメントについて説明する。本発明の感光性エレメントは、支持フィルムと、支持フィルム上に形成される感光性樹脂組成物層とを少なくとも有するものである。
(Photosensitive element)
Next, the photosensitive element of the present invention will be described. The photosensitive element of this invention has a support film and the photosensitive resin composition layer formed on a support film at least.

図1は、本発明の感光性エレメントの好適な一実施形態を示す模式断面図である。図1に示した感光性エレメント1は、支持体2上に感光性樹脂組成物層3が積層された構造を有する。感光性樹脂組成物層3は、上述した本発明の感光性樹脂組成物からなる層である。感光性エレメント1においては、必要に応じて、感光性樹脂組成物層3の支持体側と反対側の面を、保護フィルム4で被覆していてもよい。   FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a preferred embodiment of the photosensitive element of the present invention. The photosensitive element 1 shown in FIG. 1 has a structure in which a photosensitive resin composition layer 3 is laminated on a support 2. The photosensitive resin composition layer 3 is a layer made of the above-described photosensitive resin composition of the present invention. In the photosensitive element 1, you may coat | cover the surface on the opposite side to the support body side of the photosensitive resin composition layer 3 with the protective film 4 as needed.

支持フィルム2としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリエステル等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。   As the support film 2, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyethylene terephthalate, polypropylene, polyethylene, and polyester can be used.

また、支持フィルム(重合体フィルム)2は、厚みが1〜100μmであることが好ましい。この厚みが1μm未満では現像前の支持フィルム剥離の際に支持フィルムが破れやすくなる傾向があり、100μmを超えると解像度が低下する傾向があり、この観点から5〜25μmが好ましい。なお、重合体フィルムは、一つを感光性樹脂組成物層の支持体として、他の一つを感光性樹脂組成物の保護フィルム4として感光性樹脂組成物層3の両面に積層して使用してもよい。   The support film (polymer film) 2 preferably has a thickness of 1 to 100 μm. If the thickness is less than 1 μm, the support film tends to be broken when the support film is peeled off before development, and if it exceeds 100 μm, the resolution tends to decrease. From this viewpoint, 5 to 25 μm is preferable. One polymer film is used as a support for the photosensitive resin composition layer, and the other is used as a protective film 4 for the photosensitive resin composition, laminated on both sides of the photosensitive resin composition layer 3. May be.

保護フィルム4は、感光性樹脂組成物層及び支持フィルムの接着力よりも、感光性樹脂組成物層及び保護フィルムの接着力の方が小さいものが好ましく、また、低フィッシュアイのフィルムが好ましい。   The protective film 4 preferably has a smaller adhesive strength between the photosensitive resin composition layer and the protective film than the adhesive strength between the photosensitive resin composition layer and the support film, and is preferably a low fisheye film.

なお、「フィッシュアイ」とは、材料を熱溶融し、混練、押し出し、2軸延伸、キャスティング法等によりフィルムを製造する際に、材料の異物、未溶解物、酸化劣化物等がフィルム中に取り込まれたものである。   "Fish eye" means that when a material is melted by heat, kneaded, extruded, biaxially stretched, casting method, etc., foreign materials, undissolved materials, oxidized degradation products, etc. It is taken in.

保護フィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリエステル等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。   As the protective film, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyethylene terephthalate, polypropylene, polyethylene, and polyester can be used.

市販のものとして、例えば、王子製紙(株)製、商品名アルファンMA−410、E−200C、信越フィルム(株)製のポリプロピレンフィルム、帝人(株)製、商品名PS−25のPSシリーズなどのポリエチレンテレフタレートフィルム等が挙げられるがこれに限られたものではない。   Examples of commercially available products include, for example, Oji Paper Co., Ltd., trade name: Alphan MA-410, E-200C, Shin-Etsu Film Co., Ltd., polypropylene film, Teijin Limited, trade name: PS-25, PS series. Examples thereof include, but are not limited to, polyethylene terephthalate films.

保護フィルムは、厚みが1〜100μmであることが好ましく、5〜50μmであることがより好ましく、5〜30μmであることがさらに好ましく、15〜30μmであることが特に好ましい。この厚みが1μm未満ではラミネートの際、保護フィルムが破れる傾向があり、100μmを超えると廉価性に劣る傾向がある。   The protective film preferably has a thickness of 1 to 100 μm, more preferably 5 to 50 μm, still more preferably 5 to 30 μm, and particularly preferably 15 to 30 μm. If the thickness is less than 1 μm, the protective film tends to be broken during lamination, and if it exceeds 100 μm, the cost tends to be inferior.

感光性樹脂組成物層は、本発明の感光性樹脂組成物を先に述べたような溶剤に溶解して固形分30〜60質量%程度の溶液(塗布液)とした後に、係る溶液(塗布液)を支持フィルム上に塗布して乾燥することにより形成することが好ましい。   The photosensitive resin composition layer is prepared by dissolving the photosensitive resin composition of the present invention in a solvent as described above to obtain a solution (coating solution) having a solid content of about 30 to 60% by mass, and then applying the solution (coating solution). (Liquid) is preferably applied on a support film and dried.

塗布は、例えば、ロールコータ、コンマコータ、グラビアコータ、エアーナイフコータ、ダイコータ、バーコータ等の公知の方法で行うことができる。また、乾燥は、70〜150℃、5〜30分間程度で行うことができる。なお、感光性樹脂組成物中の残存有機溶剤量は、後の工程での有機溶剤の拡散を防止する点から、2質量%以下とすることが好ましい。   The coating can be performed by a known method such as a roll coater, a comma coater, a gravure coater, an air knife coater, a die coater, or a bar coater. Moreover, drying can be performed at 70-150 degreeC and about 5 to 30 minutes. The amount of the remaining organic solvent in the photosensitive resin composition is preferably 2% by mass or less from the viewpoint of preventing the organic solvent from diffusing in the subsequent step.

また、感光性樹脂組成物層3の厚みは、用途により異なるが、乾燥後の厚みで1〜100μmであることが好ましく、1〜50μmであることがより好ましい。この厚みが1μm未満では工業的に塗工困難な傾向があり、100μmを超えると本発明の効果が小さくなり、接着力、解像度が低下する傾向がある。   Moreover, although the thickness of the photosensitive resin composition layer 3 changes with uses, it is preferable that it is 1-100 micrometers in the thickness after drying, and it is more preferable that it is 1-50 micrometers. If the thickness is less than 1 μm, it tends to be difficult to apply industrially, and if it exceeds 100 μm, the effect of the present invention is reduced, and the adhesive force and resolution tend to decrease.

また、感光性樹脂組成物層は、波長365nmの紫外線に対する透過率が5〜75%であることが好ましく、7〜60%であることがより好ましく、10〜40%であることがさらに好ましい。この透過率が5%未満では密着性が劣る傾向があり、75%を超えると解像度が劣る傾向がある。上記透過率は、UV分光計により測定することができ、上記UV分光計としては、(株)日立製作所製の228A型Wビーム分光光度計などが挙げられる。   Moreover, it is preferable that the transmittance | permeability with respect to the ultraviolet-ray with a wavelength of 365 nm is 5 to 75%, as for the photosensitive resin composition layer, it is more preferable that it is 7 to 60%, and it is further more preferable that it is 10 to 40%. If the transmittance is less than 5%, the adhesion tends to be inferior, and if it exceeds 75%, the resolution tends to be inferior. The transmittance can be measured by a UV spectrometer, and examples of the UV spectrometer include a 228A type W beam spectrophotometer manufactured by Hitachi, Ltd.

本発明の感光性エレメントは、さらにクッション層、接着層、光吸収層、ガスバリア層等の中間層などを有していてもよい。また、得られた感光性エレメント1は、シート状又は巻芯にロール状に巻き取って保管することができる。なお、この際支持フィルムが1番外側になるように巻き取られることが好ましい。巻芯としては、例えば、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ABS樹脂(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)等のプラスチックなどが挙げられる。   The photosensitive element of the present invention may further have an intermediate layer such as a cushion layer, an adhesive layer, a light absorption layer, and a gas barrier layer. Moreover, the obtained photosensitive element 1 can be wound up and stored in a roll shape around a sheet shape or a core. In addition, it is preferable to wind up so that a support film may become the outermost side in this case. Examples of the core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, and ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer).

上記ロール状の感光性エレメントロールの端面には、端面保護の見地から端面セパレータを設置することが好ましく、耐エッジフュージョンの見地から防湿端面セパレータを設置することが好ましい。   An end face separator is preferably installed on the end face of the roll-shaped photosensitive element roll from the viewpoint of end face protection, and a moisture-proof end face separator is preferably installed from the viewpoint of edge fusion resistance.

また、梱包方法として、透湿性の小さいブラックシートに包んで包装することが好ましい。   Moreover, as a packing method, it is preferable to wrap and package in a black sheet with low moisture permeability.

(レジストパターンの形成方法)
次に、本発明になるレジストパターンの形成方法について説明する。本発明になるレジストパターンの形成方法は、回路形成用基板上に、上述した感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層を積層する積層工程と、感光性樹脂組成物層の所定部分に活性光線を照射して露光部を光硬化する露光工程と、基板から感光性樹脂組成物層の露光部以外の部分を除去する現像工程と、を有するものである。なお、「回路形成用基板」とは、絶縁層と絶縁層上に形成された導体層とを備えた基板をいう。
(Method for forming resist pattern)
Next, a resist pattern forming method according to the present invention will be described. The resist pattern forming method according to the present invention includes a lamination step of laminating a photosensitive resin composition layer composed of the above-described photosensitive resin composition on a circuit forming substrate, and a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer. It has an exposure process which irradiates actinic light and photocures an exposure part, and the image development process which removes parts other than the exposure part of the photosensitive resin composition layer from a board | substrate. The “circuit forming substrate” refers to a substrate including an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer.

積層工程において、回路形成用基板上への感光性樹脂組成物層を積層する方法としては、保護フィルムを除去した後、感光性樹脂組成物層を加熱しながら感光性樹脂組成物層を回路形成用基板に圧着することにより積層する方法が挙げられる。具体的には、上述した本発明の感光性エレメントの保護フィルムを感光性樹脂組成物層から徐々に剥離させ、これと同時に徐々に露出してくる感光性樹脂組成物層の面の部分を、回路形成用基板の回路を形成すべき面に密着させることにより、回路形成用基板上に感光性樹脂組成物層を積層する。なお、この作業は、密着性及び追従性の見地から減圧下で積層することが好ましい。   In the laminating process, as a method of laminating the photosensitive resin composition layer on the circuit forming substrate, after removing the protective film, the photosensitive resin composition layer is formed while heating the photosensitive resin composition layer. For example, a method of laminating by press-bonding to the substrate is used. Specifically, the protective film of the photosensitive element of the present invention described above is gradually peeled from the photosensitive resin composition layer, and at the same time, the portion of the surface of the photosensitive resin composition layer gradually exposed, A photosensitive resin composition layer is laminated on the circuit forming substrate by bringing the circuit forming substrate into close contact with the surface on which the circuit is to be formed. In addition, it is preferable to laminate | stack this operation under pressure reduction from the viewpoint of adhesiveness and followable | trackability.

感光性エレメントの積層は、感光性樹脂組成物層及び/又は回路形成用基板を70〜130℃に加熱することが好ましく、圧着圧力は、0.1〜1.0MPa程度(1〜10kgf/cm程度)とすることが好ましいが、これらの条件には特に制限はない。 In the lamination of the photosensitive element, the photosensitive resin composition layer and / or the circuit forming substrate is preferably heated to 70 to 130 ° C., and the pressure bonding pressure is about 0.1 to 1.0 MPa (1 to 10 kgf / cm). it is preferably about 2), but not particularly limited to these conditions.

また、感光性樹脂組成物層を上記のように70〜130℃に加熱すれば、予め回路形成用基板を予熱処理することは必要ではないが、積層性をさらに向上させるために、回路形成用基板の予熱処理を行うこともできる。   Further, if the photosensitive resin composition layer is heated to 70 to 130 ° C. as described above, it is not necessary to pre-heat the circuit forming substrate in advance, but in order to further improve the laminating property, Pre-heat treatment of the substrate can also be performed.

続く露光工程において、露光部を形成する方法としては、アートワークと呼ばれるネガ又はポジマスクパターンを通して活性光線を画像上に照射する方法(マスク露光法)が挙げられる。   In a subsequent exposure step, as a method for forming an exposed portion, a method of irradiating an active ray on an image through a negative or positive mask pattern called an artwork (mask exposure method) can be mentioned.

この際、感光性樹脂組成物層上に存在する支持フィルムが活性光線に対して透明である場合には、支持フィルムを通して活性光線を照射することができ、支持フィルムが遮光性である場合には、支持フィルムを除去した後に感光性樹脂組成物層に活性光線を照射する。また、レーザ直接描画露光法やDLP(Digital Light Processing)露光法などの直接描画法により活性光線を画像状に照射する方法を採用してもよい。   At this time, when the support film present on the photosensitive resin composition layer is transparent to the active light, the active light can be irradiated through the support film, and when the support film is light-shielding After removing the support film, the photosensitive resin composition layer is irradiated with actinic rays. Alternatively, a method of irradiating active rays in an image form by a direct drawing method such as a laser direct drawing exposure method or a DLP (Digital Light Processing) exposure method may be employed.

活性光線の光源としては、公知の光源、例えば、カーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、高圧水銀灯、キセノンランプ、アルゴンレーザ等のガスレーザ、YAGレーザなどの固体レーザ、半導体レーザなどの紫外線、可視光などを有効に放射するものが用いられる。   As a light source of actinic light, known light sources such as carbon arc lamps, mercury vapor arc lamps, high pressure mercury lamps, xenon lamps, gas lasers such as argon lasers, solid state lasers such as YAG lasers, ultraviolet rays such as semiconductor lasers, visible light, etc. That effectively radiate are used.

次いで、露光後、現像工程における露光部以外の部分を除去する方法としては、まず、感光性樹脂組成物層上に支持フィルムが存在している場合には、支持フィルムを除去し、その後、ウェット現像、ドライ現像等で露光部以外の部分を除去して現像する方法が挙げられる。これによりレジストパターンが形成される。   Subsequently, after exposure, as a method for removing portions other than the exposed portion in the development step, first, when the support film is present on the photosensitive resin composition layer, the support film is removed, and then wet. Examples include a method in which a portion other than the exposed portion is removed by development, dry development, or the like. Thereby, a resist pattern is formed.

例えば、ウェット現像の場合は、アルカリ性水溶液、水系現像液、有機溶剤系現像液等の感光性樹脂組成物に対応した現像液を用いて、例えば、スプレー、揺動浸漬、ブラッシング、スクラッピング等の公知の方法により現像する。   For example, in the case of wet development, using a developer corresponding to a photosensitive resin composition such as an alkaline aqueous solution, an aqueous developer, an organic solvent developer, etc., for example, spraying, rocking immersion, brushing, scraping, etc. Development is performed by a known method.

現像液としては、アルカリ性水溶液などの安全かつ安定であり、操作性が良好なものが用いられる。上記アルカリ性水溶液の塩基としては、例えば、リチウム、ナトリウム、カリウムの水酸化物等のアルカリ金属水酸化物、リチウム、ナトリウム、カリウムの炭酸塩又は重炭酸塩等のアルカリ金属炭酸塩又はアルカリ金属重炭酸塩、アンモニウムの炭酸塩又は重炭酸塩、リン酸カリウム、リン酸ナトリウム等のアルカリ金属リン酸塩、ピロリン酸ナトリウム、ピロリン酸カリウム等のアルカリ金属ピロリン酸塩などが用いられる。   As the developing solution, a safe and stable solution having good operability such as an alkaline aqueous solution is used. Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkali metal hydroxides such as lithium, sodium, and potassium hydroxides, alkali metal carbonates such as lithium, sodium, and potassium carbonates or bicarbonates, or alkali metal bicarbonates. Salts, ammonium carbonates or bicarbonates, alkali metal phosphates such as potassium phosphate and sodium phosphate, alkali metal pyrophosphates such as sodium pyrophosphate and potassium pyrophosphate are used.

また、現像に用いるアルカリ性水溶液としては、0.1〜5質量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%水酸化ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5質量%四ホウ酸ナトリウムの希薄溶液等が好ましい。   Moreover, as alkaline aqueous solution used for image development, 0.1-5 mass% dilute solution of sodium carbonate, 0.1-5 mass% dilute solution of potassium carbonate, 0.1-5 mass% dilute solution of sodium hydroxide, A dilute solution of 0.1 to 5% by mass sodium tetraborate is preferred.

また、現像に用いるアルカリ性水溶液のpHは9〜11の範囲とすることが好ましく、その温度は、感光性樹脂組成物層の現像性に合わせて調節される。また、アルカリ性水溶液中には、表面活性剤、消泡剤、現像を促進させるための少量の有機溶剤等を混入させてもよい。   Moreover, it is preferable to make pH of the alkaline aqueous solution used for image development into the range of 9-11, and the temperature is adjusted according to the developability of the photosensitive resin composition layer. In the alkaline aqueous solution, a surfactant, an antifoaming agent, a small amount of an organic solvent for accelerating development, and the like may be mixed.

上記水系現像液としては、水又はアルカリ水溶液と一種以上の有機溶剤とからなる現像液が挙げられる。ここでアルカリ性水溶液の塩基としては、先に述べた物質以外に、例えば、ホウ砂、メタケイ酸ナトリウム、水酸化テトラメチルアンモニウム、エタノールアミン、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、2−アミノ−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、1,3−ジアミノプロパノール−2、モルホリン等が挙げられる。また、水系現像液中には、界面活性剤、消泡剤等を少量混入することもできる。   Examples of the aqueous developer include a developer composed of water or an alkaline aqueous solution and one or more organic solvents. Here, as the base of the alkaline aqueous solution, for example, borax, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl-1, Examples include 3-propanediol, 1,3-diaminopropanol-2, morpholine and the like. Further, a small amount of a surfactant, an antifoaming agent or the like can be mixed in the aqueous developer.

現像液のpHは、レジストの現像が充分にできる範囲でできるだけ小さくすることが望ましく、pH8〜12とすることが好ましく、pH9〜10とすることがより好ましい。   The pH of the developer is desirably as small as possible within a range where the resist can be sufficiently developed, and is preferably pH 8-12, more preferably pH 9-10.

上記有機溶剤としては、例えば、アセトン、酢酸エチル、炭素数1〜4のアルコキシ基をもつアルコキシエタノール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。有機溶剤の濃度は、通常、2〜90質量%とすることが好ましく、その温度は、現像性にあわせて調整することができる。   Examples of the organic solvent include acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, and the like. It is done. These may be used alone or in combination of two or more. The concentration of the organic solvent is usually preferably 2 to 90% by mass, and the temperature can be adjusted according to the developability.

単独で用いる有機溶剤系現像液としては、例えば、1,1,1−トリクロロエタン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。これらの有機溶剤は、引火防止のため、1〜20質量%の範囲で水を添加することが好ましい。   Examples of the organic solvent-based developer used alone include 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and γ-butyrolactone. These organic solvents preferably add water in the range of 1 to 20% by mass in order to prevent ignition.

また、必要に応じて2種以上の現像方法を併用してもよい。現像の方式には、ディップ方式、バトル方式、スプレー方式、ブラッシング、スラッピング等があり、高圧スプレー方式が解像度向上のためには最も適している。   Moreover, you may use together 2 or more types of image development methods as needed. Development methods include a dip method, a battle method, a spray method, brushing, and slapping, and the high pressure spray method is most suitable for improving the resolution.

現像後の処理として、必要に応じて60〜250℃程度の加熱又は露光量が0.2〜10J/cm程度で露光を行うことによりレジストパターンをさらに硬化して用いてもよい。 As the treatment after development, the resist pattern may be further cured and used by heating at about 60 to 250 ° C. or exposure at an exposure amount of about 0.2 to 10 J / cm 2 as necessary.

また、現像後に行われる金属面のエッチングには、例えば、塩化第二銅溶液、塩化第二鉄溶液、アルカリエッチング溶液等を用いることができる。   For the etching of the metal surface performed after development, for example, a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkaline etching solution, or the like can be used.

(プリント配線板の製造方法)
次に、本発明になるプリント配線板の製造方法について説明する。本発明になるプリント配線板の製造方法は、上記本発明のレジストパターンの形成方法により、レジストパターンの形成された回路形成用基板をエッチング又はめっきするものである。
(Printed wiring board manufacturing method)
Next, the manufacturing method of the printed wiring board which becomes this invention is demonstrated. The method for producing a printed wiring board according to the present invention comprises etching or plating a circuit forming substrate on which a resist pattern is formed by the method for forming a resist pattern of the present invention.

回路形成用基板のエッチング及びめっきは、形成されたレジストパターンをマスクとして、回路形成用基板の導体層等に対して行われる。エッチングを行う場合のエッチング液としては、塩化第二銅溶液、塩化第二鉄溶液、アルカリエッチング溶液、過酸化水素エッチング液等が挙げられ、これらの中では、エッチファクタが良好な点から塩化第二鉄溶液を用いることが好ましい。   Etching and plating of the circuit forming substrate is performed on a conductor layer or the like of the circuit forming substrate using the formed resist pattern as a mask. Etching solutions used for etching include cupric chloride solution, ferric chloride solution, alkaline etching solution, hydrogen peroxide etching solution, etc., and among these, chloride chloride is used because of its good etch factor. It is preferable to use a diiron solution.

また、めっきを行う場合のめっき方法としては、例えば、硫酸銅めっき、ピロリン酸銅めっき等の銅めっき、ハイスローはんだめっきなどのはんだめっき、ワット浴(硫酸ニッケル−塩化ニッケル)めっき、スルファミン酸ニッケル等のニッケルめっき、ハード金メッキ、ソフト金メッキ等の金メッキなどが挙げられる。   Moreover, as a plating method in the case of plating, for example, copper plating such as copper sulfate plating and copper pyrophosphate plating, solder plating such as high throw solder plating, watt bath (nickel sulfate-nickel chloride) plating, nickel sulfamate, etc. Nickel plating, hard gold plating, and gold plating such as soft gold plating.

エッチング又はめっき終了後、レジストパターンは、例えば、現像に用いたアルカリ性水溶液よりさらに強アルカリ性の水溶液で剥離することができる。この強アルカリ性の水溶液としては、例えば、1〜10質量%水酸化ナトリウム水溶液、1〜10質量%水酸化カリウム水溶液等が用いられる。   After completion of the etching or plating, the resist pattern can be peeled off with a stronger alkaline aqueous solution than the alkaline aqueous solution used for development, for example. As this strongly alkaline aqueous solution, for example, a 1 to 10% by mass sodium hydroxide aqueous solution, a 1 to 10% by mass potassium hydroxide aqueous solution and the like are used.

剥離方式としては、例えば、浸漬方式、スプレー方式等が挙げられ、浸漬方式及びスプレー方式を単独で使用してもよく、併用してもよい。また、レジストパターンが形成されたプリント配線板は、多層プリント配線板でもよく、小径スルーホールを有していてもよい。   Examples of the peeling method include a dipping method and a spray method, and the dipping method and the spray method may be used alone or in combination. The printed wiring board on which the resist pattern is formed may be a multilayer printed wiring board or may have a small diameter through hole.

上記本発明の感光性樹脂組成物及び感光性エレメントを用い、上記一連の工程を経て、レジストパターンを形成し、レジストパターンの形成された回路形成基板を上記のようにエッチング又はめっきすることにより、特にレーザ直接描画法において、生産効率を極めて高く、プリント配線板を製造することができる。   By using the photosensitive resin composition and the photosensitive element of the present invention, through the above series of steps, forming a resist pattern, and etching or plating the circuit-formed substrate on which the resist pattern is formed as described above, In particular, in the laser direct drawing method, the production efficiency is extremely high and a printed wiring board can be manufactured.

以下、実施例及び比較例に基づき本発明をさらに具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に何ら限定されるものではない。なお、以下の説明において、「解像密着」の評価とは、解像度及び密着性の双方が両立されているか否かの評価を意味する。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to a following example at all. In the following description, evaluation of “resolution adhesion” means evaluation of whether both resolution and adhesion are compatible.

[バインダーポリマー(A−1)の合成]
撹拌機、還流冷却器、温度計、滴下ロート及び窒素ガス導入管を備えたフラスコに、質量比3:2であるプロピレングリコールモノメチルエーテル及びトルエンの配合物450gを加え、窒素ガスを吹き込みながら撹拌して、80℃まで加熱した。一方、共重合単量体としてメタクリル酸150g、メタクリル酸フルフリル175g及びスチレン175gとアゾビスイソブチロニトリル9.0gとを混合した溶液(以下、「溶液a」という)を用意した。80℃に加熱された質量比3:2であるプロピレングリコールモノメチルエーテル及びトルエンの上記配合物に溶液aを4時間かけて滴下した後、80℃で撹拌しながら2時間保温した。さらに、質量比3:2であるプロピレングリコールモノメチルエーテル及びトルエンの配合物100gにアゾビスイソブチロニトリル1.2gを溶解した溶液を、10分かけてフラスコ内に滴下した。滴下後の溶液を撹拌しながら80℃で3時間保温した後、30分間かけて90℃に加温した。90℃で2時間保温した後、冷却してバインダーポリマーA−1を得た。
[Synthesis of Binder Polymer (A-1)]
To a flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, dropping funnel and nitrogen gas inlet tube, 450 g of propylene glycol monomethyl ether and toluene in a mass ratio of 3: 2 are added, and stirred while blowing nitrogen gas. And heated to 80 ° C. On the other hand, 150 g of methacrylic acid, 175 g of furfuryl methacrylate and 175 g of styrene and 9.0 g of azobisisobutyronitrile (hereinafter referred to as “solution a”) were prepared as copolymerization monomers. The solution a was added dropwise to the above blend of propylene glycol monomethyl ether and toluene having a mass ratio of 3: 2 heated to 80 ° C. over 4 hours, and then kept at 80 ° C. for 2 hours with stirring. Further, a solution prepared by dissolving 1.2 g of azobisisobutyronitrile in 100 g of a propylene glycol monomethyl ether and toluene mixture having a mass ratio of 3: 2 was dropped into the flask over 10 minutes. The solution after dropping was kept at 80 ° C. for 3 hours with stirring, and then heated to 90 ° C. over 30 minutes. The mixture was kept at 90 ° C. for 2 hours and then cooled to obtain a binder polymer A-1.

バインダーポリマー(A−1)の不揮発分(固形分)は、47.8質量%であり、重量平均分子量は40,000であった。なお、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法によって測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて換算することにより導出した。GPCの条件を、以下に示す。
(GPC条件)
ポンプ:日立 L−6000型[(株)日立製作所製]
カラム:Gelpack GL−R420 + Gelpack GL−R430 + Gelpack GL−R440(計3本)(以上、日立化成工業(株)製、商品名)
溶離液:テトラヒドロフラン
測定温度:40℃
流量:2.05mL/分
検出器:日立 L−3300型RI[(株)日立製作所製]
The nonvolatile content (solid content) of the binder polymer (A-1) was 47.8% by mass, and the weight average molecular weight was 40,000. The weight average molecular weight was measured by a gel permeation chromatography method and was derived by conversion using a standard polystyrene calibration curve. The GPC conditions are shown below.
(GPC conditions)
Pump: Hitachi L-6000 type [manufactured by Hitachi, Ltd.]
Column: Gelpack GL-R420 + Gelpack GL-R430 + Gelpack GL-R440 (3 in total) (above, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name)
Eluent: Tetrahydrofuran Measurement temperature: 40 ° C
Flow rate: 2.05 mL / min Detector: Hitachi L-3300 type RI [manufactured by Hitachi, Ltd.]

[バインダーポリマー(A−2)〜(A−7)の合成]
表1に示す共重合単量体の組成でA−1と同様にしてバインダーポリマーA−2〜A−7を合成した。
[Synthesis of Binder Polymers (A-2) to (A-7)]
Binder polymers A-2 to A-7 were synthesized in the same manner as A-1 with the composition of the comonomer shown in Table 1.

Figure 0005532551
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上記バインダーポリマー(A−1)〜(A−7)と、以下の材料とを、表2に示される質量比((A)成分は固形分量)で配合し、実施例1〜5及び比較例1、2の感光性樹脂組成物の溶液を調製した。   The above binder polymers (A-1) to (A-7) and the following materials are blended in the mass ratio shown in Table 2 (the component (A) is a solid content), and Examples 1 to 5 and Comparative Examples Solutions of the photosensitive resin compositions 1 and 2 were prepared.

(B)光重合性化合物
(B−1):FA−321M(日立化成工業社製、商品名);2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン)
(B−2):FA−024M(日立化成工業社製、商品名);上記一般式(VII)で表される化合物において、R12=R13=メチル基、m=6(平均値)、n+n=12(平均値)である化合物
(B−3):M−114(東亞合成社製、商品名);4−ノルマルノニルフェノキシオクタエチレングリコールアクリレート
(C)光重合開始剤
(C−1):BCIM(Hampford社製、商品名);2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニルビスイミダゾール
(D)増感色素:DBA(川崎化成工業社製、商品名);9,10−ジブトキシアントラセン
(E)発色剤(アミン化合物):ロイコクリスタルバイオレット
(B) Photopolymerizable compound (B-1): FA-321M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name); 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane)
(B-2): FA-024M (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.); in the compound represented by the general formula (VII), R 12 = R 13 = methyl group, m 3 = 6 (average value) , N 2 + n 3 = 12 (average value) compound (B-3): M-114 (trade name, manufactured by Toagosei Co., Ltd.); 4-normalnonylphenoxyoctaethylene glycol acrylate (C) photopolymerization initiator ( C-1): BCIM (trade name, manufactured by Hampford); 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenylbisimidazole (D) Sensitizing dye: DBA ( Kawasaki Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name); 9,10-dibutoxyanthracene (E) Color former (amine compound): Leuco Crystal Violet

Figure 0005532551
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次いで、この感光性樹脂組成物の溶液を、16μm厚のポリエチレンポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人(株)製、製品名「HTF−01」)上に均一に塗布し、70℃及び110℃の熱風対流式乾燥器で乾燥して、感光性エレメントを得た。感光性樹脂組成物層の膜厚は25μmであった。続いて、感光性樹脂組成物層上に保護フィルム(タマポリ(株)製、製品名「NF−15」)をロール加圧により積層した。   Next, the photosensitive resin composition solution was uniformly applied onto a 16 μm thick polyethylene polyethylene terephthalate film (manufactured by Teijin Ltd., product name “HTF-01”), and hot air convection at 70 ° C. and 110 ° C. The photosensitive element was obtained by drying with a drier. The film thickness of the photosensitive resin composition layer was 25 μm. Subsequently, a protective film (manufactured by Tamapoly Co., Ltd., product name “NF-15”) was laminated on the photosensitive resin composition layer by roll pressing.

一方、銅箔(厚さ35mm)を両面に積層したガラスエポキシ材である銅張積層板(日立化成工業(株)製、商品名MCL−E−67)の銅表面を#600相当のブラシを持つ研磨機(三啓(株)製)を用いて研磨し、水洗後、空気流で乾燥させ、銅張積層板(基板)を得た。   On the other hand, the copper surface of a copper clad laminate (made by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name MCL-E-67), which is a glass epoxy material laminated with copper foil (thickness 35 mm) on both sides, is a brush equivalent to # 600. Polishing was performed using a polishing machine (manufactured by Sankei Co., Ltd.), washed with water, and then dried with an air flow to obtain a copper clad laminate (substrate).

次いで、銅張積層板80℃に加温した後、銅張積層板上に各感光性エレメント(実施例1〜実施例5及び比較例1〜2)の保護フィルムを除去しながら、各感光性樹脂組成物層が銅張積層板の表面上に密着するようにして、120℃で4kgf/cmの圧力下でラミネート(積層)した。 Then, after heating to a copper clad laminate 80 ° C., while removing the protective film of each photosensitive element (Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2) on the copper clad laminate, The resin composition layer was laminated (laminated) under a pressure of 4 kgf / cm 2 at 120 ° C. so that the resin composition layer was in close contact with the surface of the copper-clad laminate.

次に、各感光性エレメントが積層された銅張積層板を冷却し23℃になった時点で、ポリエチレンテレフタレート面に、濃度領域0.00〜2.00、濃度ステップ0.05、タブレットの大きさ20mm×187mm、各ステップの大きさが3mm×12mmである41段ステップタブレットを有するフォトツールを密着させた。   Next, when the copper clad laminate on which each photosensitive element is laminated is cooled to 23 ° C., the polyethylene terephthalate surface has a concentration region of 0.00 to 2.00, a concentration step of 0.05, and a tablet size. A phototool having a 41-step tablet having a length of 20 mm × 187 mm and a size of each step of 3 mm × 12 mm was adhered.

405nmの青紫色レーザダイオードを光源とする日立ビアメカニクス(株)製の直描機DE−1AHを使用して所定の露光量で描画し、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数を求めた。また、ライン幅/スペース幅6/6〜22/22(単位:mm)の描画パターンを使用し、現像後、解像密着が得られた最少寸法を解像度とした。より具体的には、上記試験片に、ライン幅/スペース幅が6/6〜22/22(単位:μm)の描画パターンを使用して、所定の露光量で支持フィルムを介して感光性樹脂組成物層に露光(描画)した。その後、現像処理によって未露光部をきれいに除去することができ、なおかつラインが蛇行、カケを生じることなく形成された、ライン幅とスペース幅とが等しく、かつ、ライン幅/スペース幅の最も小さい値を用いることにより、解像度及び密着性を評価した。解像度及び密着性は、数値が小さいほど良好な値である。得られた結果を表4に示す。   Using a direct drawing machine DE-1AH manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd. using a 405 nm blue-violet laser diode as a light source, drawing was performed at a predetermined exposure amount, and the number of remaining step steps after development of the 41-step tablet was obtained. . Further, a drawing pattern having a line width / space width of 6/6 to 22/22 (unit: mm) was used, and the minimum dimension at which resolution contact was obtained after development was defined as the resolution. More specifically, a photosensitive resin is used with a predetermined exposure amount and a support film using a drawing pattern having a line width / space width of 6/6 to 22/22 (unit: μm) on the test piece. The composition layer was exposed (drawn). Thereafter, the unexposed portion can be removed cleanly by development processing, and the line is formed without meandering and chipping. The line width and the space width are equal, and the smallest value of the line width / space width. Was used to evaluate resolution and adhesion. The smaller the numerical value, the better the resolution and adhesion. Table 4 shows the obtained results.

次に、ポリエチレンテレフタレートフィルムを剥離し、30℃で1質量%炭酸ナトリウム水溶液を24秒間スプレーし、未露光部分を除去した。その後、銅張り積層板上に形成された光硬化膜のステップタブレットの段数を測定することにより、感光性樹脂組成物の感度を評価した。その結果を後述の表4に示す。感度は、ステップタブレットの段数で示され、このステップタブレットの段数が高いほど、感度が高いことを示す。より具体的には、70mJ/cmで露光したときの残存ステップ段数を感度として示した。なお、照度の測定は405nm対応プローブを適用した紫外線照度計(ウシオ電機社製、商品名:「UIT−150」)を用いて行った。 Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and a 1% by mass sodium carbonate aqueous solution was sprayed at 30 ° C. for 24 seconds to remove unexposed portions. Thereafter, the sensitivity of the photosensitive resin composition was evaluated by measuring the number of steps of the step tablet of the photocured film formed on the copper-clad laminate. The results are shown in Table 4 below. The sensitivity is indicated by the number of steps of the step tablet. The higher the number of steps of the step tablet, the higher the sensitivity. More specifically, the number of remaining steps when exposed at 70 mJ / cm 2 is shown as sensitivity. The illuminance was measured using an ultraviolet illuminometer (trade name: “UIT-150” manufactured by USHIO INC.) To which a 405 nm probe was applied.

現像後のレジスト形状は、日立走査型電子顕微鏡S−500Aを用いて観察した。レジスト形状は矩形に近いことが望ましい。   The resist shape after development was observed using a Hitachi scanning electron microscope S-500A. The resist shape is preferably close to a rectangle.

剥離性は表3の条件で40mm×50mmの大きさの光硬化膜を作製し、3質量%水酸化ナトリウム水溶液を用いて剥離を行った。膜が基板から剥離し終えるときの時間を剥離時間とした。また、剥離完了後の剥離片のサイズを目視にて観察した(S;剥離片が小さいことを示す)。   For the peelability, a photocured film having a size of 40 mm × 50 mm was prepared under the conditions shown in Table 3, and peeling was performed using a 3% by mass aqueous sodium hydroxide solution. The time when the film finished peeling from the substrate was defined as the peeling time. Moreover, the size of the peeling piece after peeling completion was observed visually (S; it shows that a peeling piece is small).

Figure 0005532551
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表4に示されるように、実施例1〜5の組成では解像度(L/S)が9〜12μmと良好であり、剥離時間が適度に短く、また剥離片サイズも小さく、解像度及び密着性と剥離性のバランスがとれていた。一方、比較例1〜2では剥離性が良好であるものの解像度及び密着性に劣っていた。   As shown in Table 4, in the compositions of Examples 1 to 5, the resolution (L / S) is as good as 9 to 12 μm, the peeling time is moderately short, the peeling piece size is small, and the resolution and adhesion The peelability was balanced. On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2, although the peelability was good, the resolution and adhesion were poor.

以上の通り、本発明の感光性樹脂組成物によれば、剥離時間が適度に短く、光硬化後に得られるレジスト形状を良好に維持できるため、レジストパターンを効率よく形成することができ、さらにプリント配線板の生産効率を向上させることが可能となる。   As described above, according to the photosensitive resin composition of the present invention, the peeling time is moderately short and the resist shape obtained after photocuring can be maintained well, so that a resist pattern can be efficiently formed and further printed. It becomes possible to improve the production efficiency of a wiring board.

本発明の感光性エレメントの好適な一実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross section which shows suitable one Embodiment of the photosensitive element of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…感光性エレメント、2…支持フィルム、3…感光性樹脂組成物層、4…保護フィルム。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Photosensitive element, 2 ... Support film, 3 ... Photosensitive resin composition layer, 4 ... Protective film.

Claims (5)

支持フィルムと、該支持フィルム上に形成された感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層と、を備え
前記感光性樹脂組成物は、(A)下記一般式(I)、(II)、及び、(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基を有するバインダーポリマー、
(B)光重合性化合物、及び
(C)光重合開始剤を含有してなり、
前記バインダーポリマー全質量を基準にして、下記一般式(I)で表される2価の基が10〜60質量%、下記一般式(II)で表される2価の基が10〜70質量%、下記一般式(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基が5〜60質量%である、感光性エレメント。
Figure 0005532551

Figure 0005532551

Figure 0005532551

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[式(I)、(II)、(III)及び(IV)中、R 、R 、R 及びR はそれぞれ独立に水素原子又はメチル基を示し、R 、R 及びR はそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、ヒドロキシル基、ハロゲン原子を示し、kは0〜5の整数を示し、m及びnはそれぞれ独立に0〜3の整数を示す。k、m及びnが2以上の場合、複数存在するR 、R 及びR は、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。]
Comprising a support film, and the support film made of photosensitive photosensitive resin composition formed on the photosensitive resin composition layer, a
The photosensitive resin composition comprises (A) a binder polymer having a divalent group represented by at least one of the following general formulas (I), (II), and (III) or (IV):
(B) a photopolymerizable compound, and
(C) comprising a photopolymerization initiator,
Based on the total mass of the binder polymer, the divalent group represented by the following general formula (I) is 10 to 60% by mass, and the divalent group represented by the following general formula (II) is 10 to 70% by mass. %, The photosensitive element whose divalent group represented by at least 1 type of the following general formula (III) or (IV) is 5-60 mass% .
Figure 0005532551

Figure 0005532551

Figure 0005532551

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[In the formulas (I), (II), (III) and (IV), R 1 , R 2 , R 4 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, and R 3 , R 5 and R 7 Each independently represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkoxy group, a hydroxyl group, or a halogen atom, k represents an integer of 0 to 5, and m and n each independently represents an integer of 0 to 3. When k, m and n are 2 or more, a plurality of R 3 , R 5 and R 7 may be the same or different from each other. ]
前記(C)光重合開始剤が、ヘキサアリールビイミダゾール誘導体を含有する、請求項1記載の感光性エレメントThe photosensitive element according to claim 1, wherein the (C) photopolymerization initiator contains a hexaarylbiimidazole derivative. 回路形成用基板上に、感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂組成物層を積層する積層工程と、
前記感光性樹脂組成物層の所定部分に活性光線を照射して露光部を光硬化する露光工程と、
前記基板から前記感光性樹脂組成物層の前記露光部以外の部分を除去する現像工程と、を有し、
前記感光性樹脂組成物は、(A)下記一般式(I)、(II)、及び、(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基を有するバインダーポリマー、
(B)光重合性化合物、及び
(C)光重合開始剤を含有してなり、
前記バインダーポリマー全質量を基準にして、下記一般式(I)で表される2価の基が10〜60質量%、下記一般式(II)で表される2価の基が10〜70質量%、下記一般式(III)又は(IV)の少なくとも一種で表される2価の基が5〜60質量%である、レジストパターンの形成方法。
Figure 0005532551

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[式(I)、(II)、(III)及び(IV)中、R 、R 、R 及びR はそれぞれ独立に水素原子又はメチル基を示し、R 、R 及びR はそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基又はアルコキシ基、ヒドロキシル基、ハロゲン原子を示し、kは0〜5の整数を示し、m及びnはそれぞれ独立に0〜3の整数を示す。k、m及びnが2以上の場合、複数存在するR 、R 及びR は、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。]
A circuit forming board, a lamination step of laminating the photosensitive resin composition layer composed of a photosensitive light-sensitive resin composition,
An exposure step of irradiating a predetermined portion of the photosensitive resin composition layer with an actinic ray to photocure an exposed portion;
Have a, a developing step of removing portions other than the exposed portion of the photosensitive resin composition layer from the substrate,
The photosensitive resin composition comprises (A) a binder polymer having a divalent group represented by at least one of the following general formulas (I), (II), and (III) or (IV):
(B) a photopolymerizable compound, and
(C) comprising a photopolymerization initiator,
Based on the total mass of the binder polymer, the divalent group represented by the following general formula (I) is 10 to 60% by mass, and the divalent group represented by the following general formula (II) is 10 to 70% by mass. %, The formation method of the resist pattern whose divalent group represented by at least 1 type of the following general formula (III) or (IV) is 5-60 mass% .
Figure 0005532551

Figure 0005532551

Figure 0005532551

Figure 0005532551

[In the formulas (I), (II), (III) and (IV), R 1 , R 2 , R 4 and R 6 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, and R 3 , R 5 and R 7 Each independently represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, an alkoxy group, a hydroxyl group, or a halogen atom, k represents an integer of 0 to 5, and m and n each independently represents an integer of 0 to 3. When k, m and n are 2 or more, a plurality of R 3 , R 5 and R 7 may be the same or different from each other. ]
前記(C)光重合開始剤が、ヘキサアリールビイミダゾール誘導体を含有する、請求項記載のレジストパターンの形成方法The method for forming a resist pattern according to claim 3 , wherein the (C) photopolymerization initiator contains a hexaarylbiimidazole derivative. 請求項3又は4記載のレジストパターンの形成方法により、レジストパターンが形成された回路形成用基板をエッチング又はめっきする、プリント配線板の製造方法。 A method for manufacturing a printed wiring board, comprising etching or plating a circuit forming substrate on which a resist pattern is formed by the method for forming a resist pattern according to claim 3 .
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