KR20230153390A - Resin composition - Google Patents
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Abstract
본 발명의 과제는, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물을 제공하는 것이다. 본 발명은, (A) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하는 수지 조성물로서, (A) 성분이 (A-1) 화학식 1로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지 및 (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물이다. 화학식 1의 각 기호의 정의는 명세서에 기재한 바와 같다.The object of the present invention is to provide a resin composition that can lower the dielectric loss tangent, suppress the occurrence of cracks after desmear treatment, and obtain a cured product with excellent copper plating peel strength. The present invention is a resin composition comprising (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound, wherein component (A) is (A-1) represented by the formula (1) and has an epoxy equivalent of 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq. of epoxy resin and (A-2) epoxy equivalent weight of 200 g/eq. It is a resin composition containing the following epoxy resin. The definition of each symbol in Formula 1 is as described in the specification.
Description
본 발명은 에폭시 수지를 포함하는 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 상기 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 경화물, 시트상 적층 재료, 수지 시트, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition containing an epoxy resin. It also relates to a cured product, a sheet-like laminated material, a resin sheet, a printed wiring board, and a semiconductor device obtained by using the resin composition.
프린트 배선판의 제조 기술로서, 절연층과 도체층을 교호하여 포개어 쌓는 빌드업 방식에 의한 제조방법이 알려져 있다. 빌드업 방식에 의한 제조방법에 있어서, 일반적으로, 절연층은 수지 조성물을 경화시켜 형성된다. 최근, 절연층의 유전율 등의 유전 특성의 추가적인 향상, 구리 밀착성의 추가적인 향상이 요구되고 있다. 그러나, 지금까지는, 구리 도금 필 강도가 높은 재료를 사용한 경우, 수지 조성물의 최저 용융 점도의 크기나 재료의 유전정접(Df)의 크기에 과제가 있었다.As a manufacturing technology for printed wiring boards, a manufacturing method using a build-up method in which insulating layers and conductor layers are alternately stacked is known. In the manufacturing method using the build-up method, generally, the insulating layer is formed by curing the resin composition. Recently, there has been a demand for further improvement in dielectric properties such as dielectric constant of the insulating layer and further improvement in copper adhesion. However, until now, when materials with high copper plating peel strength were used, there were problems with the minimum melt viscosity of the resin composition and the size of the dielectric loss tangent (Df) of the material.
지금까지, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물로서, 일반적인 페놀계 경화제 대신에, 활성 에스테르 화합물을 배합한 에폭시 수지 조성물을 사용함으로써, 절연층의 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 것이 알려져 있다(특허문헌 1).Until now, it has been known that the dielectric loss tangent of the insulating layer can be suppressed to a lower level by using an epoxy resin composition containing an active ester compound instead of a general phenol-based curing agent as a resin composition for forming the insulating layer (patent Document 1).
그러나, 활성 에스테르 화합물을 사용한 경우, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있지만, 디스미어 처리 후에 크랙이 발생하기 쉬워지는 경향이 있다. 또한, 지금까지 특징적인 에폭시 수지가 알려져 있다(특허문헌 2).However, when an active ester compound is used, the dielectric loss tangent can be suppressed to a lower level, but cracks tend to occur easily after desmear treatment. Additionally, characteristic epoxy resins have been known so far (Patent Document 2).
본 발명의 과제는, 유전정접을 보다 낮게 억제할 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있는 수지 조성물을 제공하는 것에 있다.The object of the present invention is to provide a resin composition that can suppress the dielectric loss tangent to a lower level, suppress the occurrence of cracks after desmear treatment, and obtain a cured product with excellent copper plating peel strength.
본 발명의 과제를 달성하기 위해, 본 발명자들은 예의 검토한 결과, (B) 활성 에스테르 화합물을 배합한 에폭시 수지 조성물에 있어서, 추가로 (A-1) 하기에서 설명하는 화학식 1로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지 및 (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 사용함으로써, 의외로, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다.In order to achieve the object of the present invention, the present inventors have intensively studied and found that (B) an epoxy resin composition containing an active ester compound, (A-1) an epoxy resin composition represented by the formula (1) described below. Equivalent weight is 1,000g/eq. to 5,000 g/eq. of epoxy resin and (A-2) epoxy equivalent weight of 200 g/eq. By using the following epoxy resin, it was surprisingly discovered that the dielectric loss tangent could be suppressed to a lower level, the occurrence of cracks after desmear treatment could be suppressed, and a cured product with excellent copper plating peel strength could be obtained. The present invention has been completed.
즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.
[1] (A) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하는 수지 조성물로서,[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound,
(A) 성분이,(A) The component is,
(A-1) 화학식 1:(A-1) Formula 1:
[화학식 1][Formula 1]
[화학식 1 중,[In Formula 1,
R1은 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기를 나타내고, 또한 R1의 적어도 1개 이상이, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 및 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기로부터 선택되는 기이고;Each R 1 independently represents a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group which may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group which may have a substituent, or an aryl-carbonyl group which may have a substituent, and at least one of R 1 The above are groups selected from alkyl-carbonyl groups which may have a substituent, alkenyl-carbonyl groups which may have a substituent, and aryl-carbonyl groups which may have a substituent;
Ar은 각각 독립적으로, 화학식 X:Ar is each independently, Formula X:
[화학식 X][Formula X]
(화학식 X 중,(In formula
R2 및 R3은 각각 독립적으로, 치환기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a substituent;
X는 단결합 또는 유기 기를 나타내고;X represents a single bond or an organic group;
a 및 b는 각각 독립적으로, 0, 1, 2, 3 또는 4를 나타내고;a and b each independently represent 0, 1, 2, 3, or 4;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기를 나타내고;Represents a group represented by;
n은 1 이상의 정수이고, 반복 단위 수를 나타낸다]n is an integer greater than or equal to 1 and represents the number of repeat units]
로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지 및The epoxy equivalent weight, expressed as 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq. of epoxy resin and
(A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 포함하는, 수지 조성물.(A-2) Epoxy equivalent weight is 200g/eq. A resin composition containing the following epoxy resin.
[2]Ar이 각각 독립적으로, 화학식 X-1:[2]Ar each independently, Formula X-1:
[화학식 X-1][Formula X-1]
(화학식 X-1 중,(In Formula X-1,
R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기를 나타내고, 또한 이들 중 적어도 1개가 알킬기이고;R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group, and at least one of them is an alkyl group;
X1은 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고;X 1 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기 또는 화학식 X-2:A group represented by or formula X-2:
[화학식 X-2][Formula X-2]
(화학식 X-2 중,(In Formula X-2,
X2는 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고;X 2 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기이고, 또한 화학식 X-1로 표시되는 기인 Ar 및 화학식 X-2로 표시되는 기인 Ar을 각각 적어도 1개씩 포함하는, 상기 [1]에 기재된 수지 조성물.The resin composition according to [1], which is a group represented by , and also contains at least one group Ar represented by the formula X-1 and Ar represented by the formula X-2.
[3]X1 및 X2가 단결합인, 상기 [2]에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [2] above, wherein X 1 and X 2 are single bonds.
[4] (A-1) 성분의 함유량이, (A) 성분을 100질량%로 할 경우, 3질량% 내지 20질량%인, 상기 [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to any one of [1] to [3] above, wherein the content of the component (A-1) is 3% by mass to 20% by mass when the component (A) is 100% by mass.
[5] (A-2) 성분에 대한 (A-1) 성분의 질량비((A-1) 성분/(A-2) 성분)가 0.01 내지 1인, 상기 [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[5] Any of the above [1] to [4], wherein the mass ratio of the (A-1) component to the (A-2) component ((A-1) component/(A-2) component) is 0.01 to 1. The resin composition described in one.
[6] (A) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 1질량% 내지 30질량%인, 상기 [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5] above, wherein the content of component (A) is 1% by mass to 30% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
[7] (B) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 10질량% 이상인, 상기 [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6] above, wherein the content of component (B) is 10% by mass or more when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
[8] (A) 성분에 대한 (B) 성분의 질량비((B) 성분/(A) 성분)가 0.5 내지 3.0인, 상기 [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to any one of [1] to [7] above, wherein the mass ratio of component (B) to component (A) (component (B)/component (A)) is 0.5 to 3.0.
[9] (C) 무기 충전재를 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [8] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[9] (C) The resin composition according to any one of [1] to [8] above, further comprising an inorganic filler.
[10] (C) 성분이 실리카인, 상기 [9]에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to [9] above, wherein the component (C) is silica.
[11] (C) 성분의 함유량이, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 40질량% 이상인, 상기 [9] 또는 [10]에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to [9] or [10] above, wherein the content of component (C) is 40% by mass or more when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
[12] (D) 유기 충전재를 추가로 포함하는, 상기 [1] 내지 [11] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[12] (D) The resin composition according to any one of [1] to [11], further comprising an organic filler.
[13] (D) 성분이 코어-셸형 고무 입자를 포함하는, 상기 [12]에 기재된 수지 조성물.[13] The resin composition according to [12] above, wherein the (D) component contains core-shell rubber particles.
[14] 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)이, 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우, 0.0040 이하인, 상기 [1] 내지 [13] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[14] The resin composition according to any one of [1] to [13] above, wherein the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition is 0.0040 or less when measured at 5.8 GHz and 23°C.
[15] 상기 [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물.[15] A cured product of the resin composition according to any one of [1] to [14] above.
[16] 상기 [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 함유하는, 시트상 적층 재료.[16] A sheet-like laminate material containing the resin composition according to any one of [1] to [14] above.
[17] 지지체와, 상기 지지체 상에 제공된 상기 [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물로 형성되는 수지 조성물 층을 갖는, 수지 시트.[17] A resin sheet having a support and a resin composition layer formed of the resin composition according to any one of [1] to [14] provided on the support.
[18] 상기 [1] 내지 [14] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물로 이루어진 절연층을 구비하는, 프린트 배선판.[18] A printed wiring board comprising an insulating layer made of a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [14] above.
[19] 상기 [18]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[19] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [18] above.
본 발명의 수지 조성물에 의하면, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있다.According to the resin composition of the present invention, the dielectric loss tangent can be suppressed to a lower level, the occurrence of cracks after desmear treatment can be suppressed, and a cured product with excellent copper plating peel strength can be obtained.
이하, 본 발명을 이의 적합한 실시형태에 입각해서 상세히 설명한다. 단, 본 발명은, 하기 실시형태 및 예시물에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 청구범위 및 이의 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경해서 실시될 수 있다.Hereinafter, the present invention will be described in detail based on its preferred embodiments. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and may be implemented with any modification without departing from the scope of the claims and equivalents of the present invention.
<수지 조성물><Resin composition>
본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하고, (A) 성분이 (A-1) 하기에서 설명하는 화학식 1로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지(이하, 「특정 에폭시 수지」라고 말하는 경우가 있음) 및 (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있다.The resin composition of the present invention includes (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound, and the component (A) is (A-1) represented by the formula (1) described below, and has an epoxy equivalent of 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq. (hereinafter sometimes referred to as “specific epoxy resin”) and (A-2) an epoxy equivalent weight of 200 g/eq. It includes the following epoxy resins. By using such a resin composition, the dielectric loss tangent can be suppressed to a lower level, the occurrence of cracks after desmear treatment can be suppressed, and a cured product with excellent copper plating peel strength can be obtained.
본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물 이외에, 임의의 성분을 추가로 포함하고 있어도 좋다. 임의의 성분으로서는, 예를 들면, (B') 기타 경화제, (C) 무기 충전재, (D) 유기 충전재, (E) 경화 촉진제, (F) 기타 첨가제 및 (G) 유기 용제를 들 수 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대하여 상세히 설명한다.The resin composition of the present invention may further contain arbitrary components in addition to (A) the epoxy resin and (B) the active ester compound. Optional components include, for example, (B') other curing agents, (C) inorganic fillers, (D) organic fillers, (E) curing accelerators, (F) other additives, and (G) organic solvents. Hereinafter, each component included in the resin composition will be described in detail.
<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy resin>
본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지를 함유한다. (A) 에폭시 수지란, 에폭시기를 갖는 경화성 수지이다.The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin. (A) An epoxy resin is a curable resin having an epoxy group.
<(A-1) 특정 에폭시 수지><(A-1) Specific epoxy resin>
본 발명의 수지 조성물에 있어서, (A) 에폭시 수지는 (A-1) 화학식 1:In the resin composition of the present invention, (A) the epoxy resin is (A-1) Formula 1:
[화학식 1][Formula 1]
[화학식 1 중,[In Formula 1,
R1은 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기를 나타내고, 또한 R1 중 적어도 1개 이상이, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 및 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기로부터 선택되는 기이고;R 1 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group which may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group which may have a substituent, or an aryl-carbonyl group which may have a substituent, and at least one of R 1 The above are groups selected from alkyl-carbonyl groups which may have a substituent, alkenyl-carbonyl groups which may have a substituent, and aryl-carbonyl groups which may have a substituent;
Ar은 각각 독립적으로, 화학식 X:Ar is each independently, Formula X:
[화학식 X][Formula X]
(화학식 X 중,(In formula
R2 및 R3은 각각 독립적으로, 치환기를 나타내고;R 2 and R 3 each independently represent a substituent;
X는 단결합 또는 유기 기를 나타내고;X represents a single bond or an organic group;
a 및 b는 각각 독립적으로, 0, 1, 2, 3 또는 4를 나타내고;a and b each independently represent 0, 1, 2, 3, or 4;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기를 나타내고;Represents a group represented by;
n은 1 이상의 정수이고, 반복 단위 수를 나타낸다]n is an integer greater than or equal to 1 and represents the number of repeat units]
로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지(특정 에폭시 수지)를 함유한다.The epoxy equivalent weight, expressed as 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq. of epoxy resin (specified epoxy resin).
R1은 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기를 나타내고, 또한 R1 중 적어도 1개 이상이, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 및 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기로부터 선택되는 기이다.R 1 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group which may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group which may have a substituent, or an aryl-carbonyl group which may have a substituent, and at least one of R 1 The above are groups selected from alkyl-carbonyl groups which may have a substituent, alkenyl-carbonyl groups which may have a substituent, and aryl-carbonyl groups which may have a substituent.
본 명세서 중, 치환기로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 할로겐 원자, 알킬기, 알케닐기, 아릴기, 아릴-알킬기(아릴기로 치환된 알킬기), 알킬-아릴기(알킬기로 치환된 아릴기), 할로겐 치환 알킬기(할로겐 원자로 치환된 알킬기), 할로겐 치환 알케닐기(할로겐 원자로 치환된 알케닐기), 할로겐 치환 아릴기(할로겐 원자로 치환된 아릴기), 알킬-옥시기, 알케닐-옥시기, 아릴-옥시기, 알킬-카보닐기, 알케닐-카보닐기, 아릴-카보닐기, 알킬-옥시-카보닐기, 알케닐-옥시-카보닐기, 아릴-옥시-카보닐기, 알킬-카보닐-옥시기, 알케닐-카보닐-옥시기, 아릴-카보닐-옥시기 등의 1가 치환기를 들 수 있고, 치환 가능하면, 옥소기(=O) 등의 2가 치환기도 포함할 수 있다.In this specification, the substituent is not particularly limited and includes, for example, a halogen atom, an alkyl group, an alkenyl group, an aryl group, an aryl-alkyl group (an alkyl group substituted with an aryl group), and an alkyl-aryl group (an aryl group substituted with an alkyl group). ), halogen-substituted alkyl group (alkyl group substituted with a halogen atom), halogen-substituted alkenyl group (alkenyl group substituted with a halogen atom), halogen-substituted aryl group (aryl group substituted with a halogen atom), alkyl-oxy group, alkenyl-oxy group, Aryl-oxy group, alkyl-carbonyl group, alkenyl-carbonyl group, aryl-carbonyl group, alkyl-oxy-carbonyl group, alkenyl-oxy-carbonyl group, aryl-oxy-carbonyl group, alkyl-carbonyl-oxy group , alkenyl-carbonyl-oxy group, aryl-carbonyl-oxy group, etc., and, if substitutable, it may also include a divalent substituent such as oxo group (=O).
할로겐 원자란, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자 또는 요오드 원자를 의미하고, 그 중에서도, 불소 원자가 바람직하다.A halogen atom means a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, or an iodine atom, and among these, a fluorine atom is preferable.
알킬(기)이란, 직쇄, 분지쇄 및/또는 환상 1가 지방족 포화 탄화수소기를 의미한다. 알킬(기)은, 특별히 지정이 없는 한, 탄소 원자수 1 내지 14의 알킬(기)이 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬(기)이 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬(기)이 더욱 바람직하다. 알킬(기)로서는, 예를 들면, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, 부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 4-메틸사이클로헥실기, 3,5-디메틸사이클로헥실기, 2,2,4-트리메틸사이클로헥실기, 사이클로펜틸메틸기, 사이클로헥실메틸기 등을 들 수 있다.Alkyl (group) means a straight-chain, branched-chain and/or cyclic monovalent aliphatic saturated hydrocarbon group. Unless otherwise specified, the alkyl (group) is preferably an alkyl (group) having 1 to 14 carbon atoms, more preferably an alkyl (group) having 1 to 10 carbon atoms, and an alkyl (group) having 1 to 6 carbon atoms. Alkyl (group) is more preferred. Examples of alkyl (group) include methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, Nonyl group, decyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, 4-methylcyclohexyl group, 3,5-dimethylcyclohexyl group, 2,2,4-trimethylcyclohexyl group, cyclopentylmethyl group, cyclohexylmethyl group, etc. I can hear it.
알케닐(기)이란, 적어도 1개의 탄소-탄소 이중 결합을 갖는 직쇄, 분지쇄 및/또는 환상 1가 지방족 불포화 탄화수소기를 의미한다. 알케닐(기)은, 특별히 지정이 없는 한, 탄소 원자수 2 내지 14의 알케닐(기)이 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 10의 알케닐(기)이 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 6의 알케닐기가 더욱 바람직하다. 알케닐(기)로서는, 예를 들면, 비닐기, 프로페닐기(알릴기, 1-프로페닐기, 이소프로페닐기), 부테닐기(1-부테닐기, 크로틸기, 메탈릴기, 이소크로틸기 등), 펜테닐기, 헥세닐기, 헵테닐기, 옥테닐기, 노네닐기, 데세닐기, 사이클로헥세닐기 등을 들 수 있다.Alkenyl (group) means a straight-chain, branched-chain and/or cyclic monovalent aliphatic unsaturated hydrocarbon group having at least one carbon-carbon double bond. Unless otherwise specified, alkenyl (group) is preferably alkenyl (group) having 2 to 14 carbon atoms, more preferably alkenyl (group) having 2 to 10 carbon atoms, and 2 carbon atoms. Alkenyl groups of to 6 are more preferable. Examples of alkenyl (group) include vinyl group, propenyl group (allyl group, 1-propenyl group, isopropenyl group), butenyl group (1-butenyl group, crotyl group, methallyl group, isocrotyl group, etc.), Pentenyl group, hexenyl group, heptenyl group, octenyl group, nonenyl group, decenyl group, cyclohexenyl group, etc. are mentioned.
아릴(기)이란, 방향족 탄소환의 1개의 수소 원자를 제거해서 이루어진 1가 방향족 탄화수소기를 의미한다. 아릴(기)은, 특별히 지정이 없는 한, 탄소 원자수 6 내지 14의 아릴(기)이 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴(기)이 특히 바람직하다. 아릴(기)로서는, 예를 들면, 페닐기, 1-나프틸기, 2-나프틸기 등을 들 수 있다.Aryl (group) means a monovalent aromatic hydrocarbon group formed by removing one hydrogen atom of an aromatic carbocyclic ring. Unless otherwise specified, the aryl (group) is preferably an aryl (group) having 6 to 14 carbon atoms, and an aryl (group) having 6 to 10 carbon atoms is particularly preferable. Examples of aryl (group) include phenyl group, 1-naphthyl group, and 2-naphthyl group.
R1은 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기를 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 수소 원자, 알킬-카보닐기, 알케닐-카보닐기 또는 아릴-카보닐기이고, 보다 바람직하게는, 수소 원자 또는 알킬-카보닐기이고, 더욱 바람직하게는, 수소 원자, 아세틸기, 프로파노일기, 부타노일기 또는 2-메틸프로파노일기이고, 특히 바람직하게는, 수소 원자 또는 아세틸기이다.R 1 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group which may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group which may have a substituent, or an aryl-carbonyl group which may have a substituent, and in one embodiment, it is preferred. Preferably, it is a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group, an alkenyl-carbonyl group, or an aryl-carbonyl group, more preferably, it is a hydrogen atom or an alkyl-carbonyl group, and even more preferably, it is a hydrogen atom, an acetyl group, or a propanoic acid group. It is a diary group, butanoyl group, or 2-methylpropanoyl group, and particularly preferably, it is a hydrogen atom or an acetyl group.
R1은, 이 중 적어도 1개 이상이 수소 원자 이외(즉, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 및 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기로부터 선택되는 기)이다. R1은, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는 이 중 5몰% 이상이, 보다 바람직하게는 이 중 20몰% 이상이, 더욱 바람직하게는 이 중 40몰% 이상이, 특히 바람직하게는 이 중 60몰% 이상 또는 80몰% 이상이 수소 원자 이외이다.R 1 is an atom in which at least one is other than a hydrogen atom (i.e., an alkyl-carbonyl group that may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group that may have a substituent, and an aryl-carbonyl group that may have a substituent). It is). In one embodiment, R 1 is preferably at least 5 mol%, more preferably at least 20 mol%, even more preferably at least 40 mol%. Of these, 60 mol% or more or 80 mol% or more are other than hydrogen atoms.
R2 및 R3은 각각 독립적으로, 치환기를 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 알킬기, 알케닐기, 아릴기, 아릴-알킬기, 알킬-아릴기, 알킬-옥시기, 알케닐-옥시기 또는 아릴-옥시기이고, 보다 바람직하게는, 알킬기, 알케닐기 또는 아릴기이고, 더욱 바람직하게는, 알킬기이며, 특히 바람직하게는, 메틸기이다. R 2 and R 3 each independently represent a substituent, and in one embodiment, are preferably an alkyl group, alkenyl group, aryl group, aryl-alkyl group, alkyl-aryl group, alkyl-oxy group, alkenyl-ox. group or an aryl-oxy group, more preferably an alkyl group, alkenyl group or aryl group, further preferably an alkyl group, and particularly preferably a methyl group.
X는 단결합 또는 유기 기를 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-이고, 보다 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S- 또는 -SO2-이고, 더욱 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2- 또는 -O-이고, 특히 바람직하게는, 단결합이다.X represents a single bond or an organic group, and in one embodiment, is preferably a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-, more preferably a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S- or -SO 2 -, and even more preferably , a single bond, -C(R x ) 2 -, or -O-, and particularly preferably a single bond.
본 명세서에 있어서, 유기 기는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 일 실시형태에 있어서, 예를 들면, 탄소 원자, 산소 원자, 질소 원자 및 황 원자로부터 선택되는 1개 이상(예를 들면, 1 내지 100개, 바람직하게는 1 내지 50개, 특히 바람직하게는 1 내지 20개)의 골격 원자로 이루어진 2가 기이고, 직쇄 구조, 분기쇄 구조 및/또는 환상 구조를 포함할 수 있고, 방향환을 포함하지 않는 기라도, 방향환을 포함하는 기라도 좋다.In this specification, the organic group is not particularly limited, but in one embodiment, for example, one or more (e.g., 1 to 100) selected from carbon atoms, oxygen atoms, nitrogen atoms, and sulfur atoms. , preferably 1 to 50, particularly preferably 1 to 20, is a divalent group consisting of skeletal atoms, may include a straight chain structure, a branched chain structure and/or a cyclic structure, and does not contain an aromatic ring. It may be a group or a group containing an aromatic ring.
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성한다. 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 알킬기, 알케닐기, 아릴기, 아릴-알킬기, 알킬-아릴기, 할로겐 치환 알킬기, 할로겐 치환 알케닐기 또는 할로겐 치환 아릴기이거나 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 할로겐 원자, 알킬기, 알케닐기, 아릴기, 아릴-알킬기, 알킬-아릴기 및 옥소기로부터 선택되는 기로 치환되어 있어도 좋은 비방향환을 형성한다. 보다 바람직하게는, Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 알킬기, 아릴기, 할로겐 치환 알킬기 또는 할로겐 치환 아릴기이거나 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 비방향족 탄소환을 형성한다. 더욱 바람직하게는, Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 알킬기 또는 할로겐 치환 알킬기이다.R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R Even if it has, it forms a good non-aromatic ring. In one embodiment, preferably, R or two R do. More preferably, R x is each independently a hydrogen atom, an alkyl group, an aryl group, a halogen-substituted alkyl group, or a halogen-substituted aryl group, or two R . More preferably, R x is each independently a hydrogen atom, an alkyl group, or a halogen-substituted alkyl group.
비방향환이란, 환 전체에 방향족성을 갖는 방향환 이외의 환을 의미한다. 환 전체에 방향족성을 갖는 방향환이란, 환 상의 π전자계에 포함되는 전자수가 4p+2개(p는 자연수)인 휘켈 법칙에 따르는 환을 의미한다. 비방향환은, 탄소 원자만을 환 구성 원자로 하는 비방향족 탄소환 또는 환 구성 원자로서, 탄소 원자에 더하여, 산소 원자, 질소 원자, 황 원자 등의 헤테로 원자를 갖는 비방향족 복소환일 수 있지만, 일 실시형태에 있어서, 비방향족 탄소환인 것이 바람직하다. 비방향환, 단결합만으로 이루어진 비방향족 포화환이라도 좋고, 이중 결합 및 삼중 결합 중 적어도 어느 하나를 갖는 비방향족 불포화환이라도 좋다. 비방향환은, 단환계 비방향환이라도 좋고, 2환계, 3환계, 4환계, 5환계 등의 다환계 비방향환이라도 좋고, 또한, 방향환(벤젠환, 나프탈렌환)이 축합되어 있어도 좋다. 비방향환은, 탄소 원자수 3 내지 21의 비방향환이 바람직하고, 탄소 원자수 4 내지 17의 비방향환이 보다 바람직하고, 탄소 원자수 5 내지 14의 비방향환이 더욱 바람직하다.A non-aromatic ring means a ring other than an aromatic ring that has aromaticity throughout the ring. An aromatic ring having aromaticity throughout the ring means a ring that follows Hückel's law, in which the number of electrons included in the π electron system of the ring is 4p + 2 (p is a natural number). A non-aromatic ring may be a non-aromatic heterocycle or a non-aromatic heterocycle containing only carbon atoms as ring-membering atoms, and may have, in addition to carbon atoms, heteroatoms such as oxygen atoms, nitrogen atoms, and sulfur atoms. However, in one embodiment In this case, it is preferable that it is a non-aromatic carbocycle. A non-aromatic ring, a non-aromatic saturated ring consisting of only a single bond may be used, or a non-aromatic unsaturated ring having at least one of a double bond and a triple bond may be used. The non-aromatic ring may be a monocyclic non-aromatic ring, or a polycyclic non-aromatic ring such as a dicyclic, tricyclic, tetracyclic, or pentacyclic ring, or may be a condensed aromatic ring (benzene ring, naphthalene ring). The non-aromatic ring is preferably a non-aromatic ring with 3 to 21 carbon atoms, more preferably a non-aromatic ring with 4 to 17 carbon atoms, and even more preferably a non-aromatic ring with 5 to 14 carbon atoms.
-C(Rx)2-로 표시되는 기의 구체예로서는, 화학식 x1 내지 x44:Specific examples of the group represented by -C(R x ) 2 - include formulas x1 to x44:
[식 중, *는 결합 부위를 나타낸다][In the formula, * represents the binding site]
로 표시되는 기를 들 수 있다.A group represented by can be mentioned.
a 및 b는 각각 독립적으로, 0, 1, 2, 3 또는 4를 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 0, 1, 2 또는 3이고, 보다 바람직하게는, 0, 1 또는 2이며, 특히 바람직하게는, 0 또는 1이다.a and b each independently represent 0, 1, 2, 3, or 4, and in one embodiment, are preferably 0, 1, 2, or 3, and more preferably are 0, 1, or 2. , particularly preferably 0 or 1.
n은 1 이상의 정수이고, 반복 단위 수를 나타낸다. n의 평균값은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물의 취급성의 관점에서, 바람직하게는 1 이상, 보다 바람직하게는 5 이상, 더욱 바람직하게는 8 이상, 특히 바람직하게는 10 이상이고, 상한은, 바람직하게는 500 이하, 보다 바람직하게는 300 이하, 더욱 바람직하게는 200 이하, 특히 바람직하게는 100 이하이다.n is an integer greater than or equal to 1 and represents the number of repeat units. The average value of n is not particularly limited, but from the viewpoint of handling of the resin composition, it is preferably 1 or more, more preferably 5 or more, further preferably 8 or more, especially preferably 10 or more, and the upper limit is: Preferably it is 500 or less, more preferably 300 or less, further preferably 200 or less, and particularly preferably 100 or less.
Ar은, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는 각각 독립적으로, 화학식 X-1:In one embodiment, Ar is preferably each independently represented by Formula X-1:
[화학식 X-1][Formula X-1]
(화학식 X-1 중,(In Formula X-1,
R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기를 나타내고, 또한 이들 중 적어도 1개가 알킬기이고;R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group, and at least one of them is an alkyl group;
X1은 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고;X 1 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기 또는 화학식 X-2:A group represented by or formula X-2:
[화학식 X-2][Formula X-2]
(화학식 X-2 중,(In Formula X-2,
X2는 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고;X 2 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
*는 결합 부위를 나타낸다)* indicates binding site)
로 표시되는 기이고, 또한 화학식 X-1로 표시되는 기인 Ar 및 화학식 X-2로 표시되는 기인 Ar을 각각 적어도 1개씩 포함한다.It is a group represented by , and also includes at least one group Ar represented by the formula X-1 and Ar represented by the formula X-2.
R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기를 나타내고, 또한 이들 중 적어도 1개가 알킬기이다. 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기이고, 또한 R11, R12, R13 및 R14 중 적어도 1개 및 R15, R16, R17 및 R18 중 적어도 1개는 각각 독립적으로, 알킬기이다. 보다 바람직하게는, R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기이고, 또한 R11 및 R12 중 적어도 1개 및 R15 및 R16 중 적어도 1개는 각각 독립적으로, 알킬기이다. 더욱 바람직하게는, R11, R12, R15 및 R16은 각각 독립적으로, 알킬기이고, 또한 R13, R14, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기이다. 특히 바람직하게는, R11, R12, R15 및 R16은 각각 독립적으로, 메틸기, 에틸기, 프로필기 또는 이소프로필기이며, 또한 R13, R14, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자, 메틸기, 에틸기, 프로필기 또는 이소프로필기이다.R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group, and at least one of them is an alkyl group. In one embodiment, preferably, R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 are each independently a hydrogen atom or an alkyl group, and R 11 , R 12 , at least one of R 13 and R 14 and at least one of R 15 , R 16 , R 17 and R 18 are each independently an alkyl group. More preferably, R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 are each independently a hydrogen atom or an alkyl group, and at least one of R 11 and R 12 and At least one of R 15 and R 16 is each independently an alkyl group. More preferably, R 11 , R 12 , R 15 and R 16 are each independently an alkyl group, and R 13 , R 14 , R 17 and R 18 are each independently a hydrogen atom or an alkyl group. Particularly preferably, R 11 , R 12 , R 15 and R 16 are each independently a methyl group, an ethyl group, a propyl group or an isopropyl group, and R 13 , R 14 , R 17 and R 18 are each independently, It is a hydrogen atom, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or an isopropyl group.
X1은 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-을 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S- 또는 -SO2-이고, 보다 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2- 또는 -O-이고, 특히 바람직하게는, 단결합이다.X1 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-, and in one embodiment, , preferably a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S- or -SO 2 -, more preferably a single bond, -C(R x ) 2 - or -O-, and particularly preferably a single bond.
X2는 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고, 일 실시형태에 있어서, 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S- 또는 -SO2-이며, 보다 바람직하게는, 단결합, -C(Rx)2- 또는 -O-이고, 특히 바람직하게는, 단결합이다.X2 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-, and in one embodiment, , preferably a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S- or -SO 2 -, more preferably a single bond, -C(R x ) 2 - or -O-, and particularly preferably a single bond.
화학식 X-1로 표시되는 기는, 일 실시형태에 있어서, 특히 바람직하게는, 화학식 X-1-1 내지 X-1-8:In one embodiment, the group represented by the formula
[식 중, *는 결합 부위를 나타낸다][In the formula, * represents the binding site]
로 표시되는 기이고, 그 중에서도 특히 바람직하게는, 화학식 X-1-1로 표시되는 기이다.It is a group represented by, and especially preferably, it is a group represented by the formula X-1-1.
화학식 X-2로 표시되는 기는, 일 실시형태에 있어서, 특히 바람직하게는, 화학식 X-2-1:In one embodiment, the group represented by formula (X-2) is particularly preferably represented by formula (X-2-1):
[화학식 X-2-1][Formula X-2-1]
[식 중, *는 결합 부위를 나타낸다][In the formula, * represents the binding site]
로 표시되는 기이다.It is a group represented by .
Ar은, 상기 실시형태에 있어서, 화학식 X-1로 표시되는 기인 Ar 및 화학식 X-2로 표시되는 기인 Ar을 각각 적어도 1개씩 포함한다. 상기 실시형태에 있어서, Ar 중의 화학식 X-1로 표시되는 기인 Ar의 비율은, 바람직하게는 5몰% 이상, 보다 바람직하게는 10몰% 이상, 더욱 바람직하게는 15몰% 이상, 특히 바람직하게는 20몰% 이상이다. 상기 실시형태에 있어서, Ar 중의 화학식 X-2로 표시되는 기인 Ar의 비율은, 바람직하게는 5몰% 이상, 보다 바람직하게는 10몰% 이상, 더욱 바람직하게는 15몰% 이상, 특히 바람직하게는 20몰% 이상이다.In the above embodiment, Ar includes at least one group Ar represented by the formula X-1 and Ar each represented by the formula X-2. In the above embodiment, the proportion of Ar, which is the group represented by the formula is 20 mol% or more. In the above embodiment, the proportion of Ar, which is the group represented by the formula is 20 mol% or more.
n으로 표시되는 반복 단위에 있어서, Ar이 화학식 X-1로 표시되는 기인 단위와, Ar이 화학식 X-2로 표시되는 기인 단위는, 교호하여 배치되어 있어도, 블록으로 배치되어 있어도, 랜덤으로 배치되어 있어도 좋지만, 일 실시형태에 있어서, 교호하여 배치되어 있는 것이 바람직하다.In the repeating unit represented by n, the unit where Ar is a group represented by the formula Although they may be arranged, in one embodiment, it is preferable that they are arranged alternately.
(A-1) 특정 에폭시 수지의 에폭시 당량은 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.이고, 바람직하게는 1,300g/eq. 내지 4,000g/eq., 보다 바람직하게는 1,500g/eq. 내지 3,500g/eq., 더욱 바람직하게는 1,700g/eq. 내지 3,000g/eq., 특히 바람직하게는 1,800g/eq. 내지 2,500g/eq.이다. 에폭시 당량은, 에폭시기 1당량당 수지의 질량이다. 상기 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(A-1) The epoxy equivalent weight of a specific epoxy resin is 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq., preferably 1,300 g/eq. to 4,000 g/eq., more preferably 1,500 g/eq. to 3,500 g/eq., more preferably 1,700 g/eq. to 3,000 g/eq., particularly preferably 1,800 g/eq. to 2,500 g/eq. Epoxy equivalent is the mass of resin per equivalent of epoxy group. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.
(A-1) 특정 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 일 실시형태에 있어서, 취급성 등의 관점에서, 바람직하게는 100,000 이하, 보다 바람직하게는 50,000 이하, 더욱 바람직하게는 40,000 이하이고, 이의 하한은, 바람직하게는 1,000 이상, 보다 바람직하게는 2,500 이상, 더욱 바람직하게는 3,000 이상일 수 있다. 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(A-1) The weight average molecular weight (Mw) of the specific epoxy resin is not particularly limited, but in one embodiment, from the viewpoint of handling, etc., it is preferably 100,000 or less, more preferably 50,000 or less, and further. Preferably it is 40,000 or less, and the lower limit thereof may be preferably 1,000 or more, more preferably 2,500 or more, and even more preferably 3,000 or more. The weight average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
(A-1) 특정 에폭시 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 일 실시형태에 있어서, 취급성 등의 관점에서, 바람직하게는 50,000 이하, 보다 바람직하게는 20,000 이하, 더욱 바람직하게는 15,000 이하이고, 이의 하한은, 바람직하게는 1,000 이상, 보다 바람직하게는 1,500 이상, 더욱 바람직하게는 2,000 이상일 수 있다. 수지의 수 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(A-1) The number average molecular weight (Mn) of the specific epoxy resin is not particularly limited, but in one embodiment, from the viewpoint of handleability, etc., it is preferably 50,000 or less, more preferably 20,000 or less, and further. It is preferably 15,000 or less, and the lower limit thereof may be preferably 1,000 or more, more preferably 1,500 or more, and even more preferably 2,000 or more. The number average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
(A-1) 특정 에폭시 수지의 다분산도(Mw/Mn)는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 일 실시형태에 있어서, 1.1 내지 10.0의 범위인 것이 바람직하고, 1.5 내지 5.0의 범위인 것이 보다 바람직하고, 2.0 내지 3.0의 범위인 것이 특히 바람직하다.(A-1) The polydispersity (Mw/Mn) of the specific epoxy resin is not particularly limited, but in one embodiment, it is preferably in the range of 1.1 to 10.0, and more preferably in the range of 1.5 to 5.0. And, it is particularly preferable that it is in the range of 2.0 to 3.0.
(A-1) 특정 에폭시 수지는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 일 실시형태에 있어서, 예를 들면, Ar에 대응하는 1 또는 2종 이상의 2관능 에폭시 수지(비페놀디글리시딜에테르 및/또는 비스페놀디글리시딜에테르)와, Ar에 대응하는 1 또는 2종이상의 디에스테르계 화합물(비페놀에스테르 및/또는 비스페놀에스테르)를, 필요에 따라서 촉매 존재 하에 반응시킴으로써 제조할 수 있다. 구체적인 방법으로서는, 예를 들면, 일본 공개특허공보 특개2016-89165호에 기재된 방법 또는 그에 준하는 방법을 사용할 수 있다.(A-1) The specific epoxy resin is not particularly limited, but in one embodiment, for example, one or two or more types of bifunctional epoxy resins corresponding to Ar (biphenol diglycidyl ether and/or bisphenol diglycidyl ether) and one or more diester compounds (biphenol ester and/or bisphenol ester) corresponding to Ar in the presence of a catalyst, if necessary. As a specific method, for example, the method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-89165 or a method similar thereto can be used.
수지 조성물 중의 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 2질량% 이하, 특히 바람직하게는 1.5질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 본 발명의 원하는 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.05질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 0.5질량% 이상, 특히 바람직하게는 0.8질량% 이상이다.The content of the specific epoxy resin (A-1) in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 20% by mass or less, more preferably 10% by mass. Below, more preferably 5 mass% or less, even more preferably 2 mass% or less, particularly preferably 1.5 mass% or less. The lower limit of the content of the specific epoxy resin (A-1) in the resin composition is not particularly limited, but is preferably 100% by mass of the non-volatile component in the resin composition from the viewpoint of more significantly obtaining the desired effect of the present invention. Preferably it is 0.01 mass% or more, more preferably 0.05 mass% or more, further preferably 0.1 mass% or more, even more preferably 0.5 mass% or more, and particularly preferably 0.8 mass% or more.
(A) 에폭시 수지 중의 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 30질량% 이하, 더욱 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 15질량% 이하, 특히 바람직하게는 10질량% 이하이다. (A) 에폭시 수지 중의 (A-1) 특정 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 본 발명의 원하는 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 3질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 5질량% 이상, 특히 바람직하게는 8질량% 이상이다.The content of the specific epoxy resin (A-1) in the (A) epoxy resin is not particularly limited, but when the epoxy resin (A) in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 50% by mass or less, more preferably Preferably it is 30 mass% or less, more preferably 20 mass% or less, even more preferably 15 mass% or less, and particularly preferably 10 mass% or less. The lower limit of the content of the specific epoxy resin (A-1) in the (A) epoxy resin is not particularly limited, but from the viewpoint of more significantly obtaining the desired effect of the present invention, the (A) epoxy resin in the resin composition is 100% by mass. In the case of , it is preferably 0.1 mass% or more, more preferably 1 mass% or more, even more preferably 3 mass% or more, even more preferably 5 mass% or more, and particularly preferably 8 mass% or more.
<(A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지><(A-2) Epoxy equivalent weight 200g/eq. The following epoxy resins>
본 발명의 수지 조성물에 있어서, (A) 에폭시 수지는 (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 함유한다.In the resin composition of the present invention, the (A) epoxy resin (A-2) has an epoxy equivalent of 200 g/eq. It contains the following epoxy resin.
(A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.(A-2) Epoxy equivalent weight is 200g/eq. It is preferable that the following epoxy resins contain epoxy resins having two or more epoxy groups in one molecule. (A-2) Epoxy equivalent weight is 200g/eq. The ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule relative to 100% by mass of non-volatile components of the following epoxy resin is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and particularly preferably 70% by mass. It is more than mass%.
(A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 글리시롤형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 비크실레놀형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지 등을 들 수 있다.(A-2) Epoxy equivalent weight 200g/eq. The following epoxy resins are not particularly limited, but include naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, and glycidyl epoxy resin. Ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, glycirol type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, cyclohexane type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin. etc. can be mentioned.
(A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제 조의 「HP4032D」(에폭시 당량 136 내지 148g/eq.), 「HP4032SS」(에폭시 당량144g/eq.)(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「828US」(에폭시 당량 184 내지 194g/eq.), 「828EL」(에폭시 당량 184 내지 194g/eq.), 「jER828EL」(에폭시 당량 184 내지 194g/eq.), 「825」(에폭시 당량 170 내지 180g/eq.)(비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「jER807」(에폭시 당량 160 내지 175g/eq.), 「1750」(에폭시 당량 156 내지 163g/eq.)(비스페놀 F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「jER152」(에폭시 당량 176 내지 178g/eq.)(페놀 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「630」(에폭시 당량 90 내지 105g/eq.), 「604」(에폭시 당량 110 내지 130g/eq.)(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「ED-523T」(에폭시 당량 140g/eq.)(글리시롤형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-3950L」(에폭시 당량 95g/eq.), 「EP-3980S」(에폭시 당량115g/eq.)(글리시딜아민형 에폭시 수지); ADEKA사 제조의 「EP-4088S」(에폭시 당량 170g/eq.)(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼 카가쿠사 제조의 「ZX1059」(에폭시 당량 170g/eq.)(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(에폭시 당량154g/eq.)(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에폭시 당량 128 내지 133g/eq.)(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼 제조의 「ZX1658」(에폭시 당량 135g/eq.), 「ZX1658GS」(에폭시 당량 135g/eq.)(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」(에폭시 당량 160 내지 170g/eq.), 「HP-4710」(에폭시 당량 160 내지 180g/eq.)(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(에폭시 당량 168g/eq.)(트리스페놀형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「ESN375」(에폭시 당량 170g/eq.)(디하이드록시나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX4000H」(에폭시 당량 187 내지 197g/eq.), 「YX4000」(에폭시 당량 180 내지 192g/eq.)(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YL6121HA」(에폭시 당량 170 내지 180g/eq.)(비페닐형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX8800」(에폭시 당량 174 내지 183g/eq.)(안트라센형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(A-2) Epoxy equivalent weight 200g/eq. Specific examples of the following epoxy resins include “HP4032D” (epoxy equivalent weight: 136 to 148 g/eq.) and “HP4032SS” (epoxy equivalent weight: 144 g/eq.) manufactured by DIC (naphthalene type epoxy resin); “828US” (epoxy equivalent weight 184 to 194 g/eq.), “828EL” (epoxy equivalent weight 184 to 194 g/eq.), “jER828EL” (epoxy equivalent weight 184 to 194 g/eq.), and “825” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. (Epoxy equivalent weight 170 to 180 g/eq.) (bisphenol A type epoxy resin); “jER807” (epoxy equivalent weight: 160 to 175 g/eq.) and “1750” (epoxy equivalent weight: 156 to 163 g/eq.) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol F-type epoxy resin); “jER152” (epoxy equivalent weight 176 to 178 g/eq.) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (phenol novolac type epoxy resin); “630” (epoxy equivalent weight: 90 to 105 g/eq.) and “604” (epoxy equivalent weight: 110 to 130 g/eq.) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (glycidylamine type epoxy resin); “ED-523T” (epoxy equivalent weight 140 g/eq.) manufactured by ADEKA (glycirol type epoxy resin); “EP-3950L” (epoxy equivalent weight: 95 g/eq.), “EP-3980S” (epoxy equivalent weight: 115 g/eq.) manufactured by ADEKA (glycidylamine type epoxy resin); “EP-4088S” (epoxy equivalent weight 170 g/eq.) manufactured by ADEKA (dicyclopentadiene type epoxy resin); "ZX1059" (epoxy equivalent weight 170 g/eq.) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Chemicals Co. (mixture of bisphenol A-type epoxy resin and bisphenol F-type epoxy resin); “EX-721” (epoxy equivalent weight: 154 g/eq.) manufactured by Nagase Chemtex (glycidyl ester type epoxy resin); “Celoxide 2021P” (epoxy equivalent weight 128 to 133 g/eq.) manufactured by Daicel (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton); “ZX1658” (epoxy equivalent weight: 135 g/eq.), “ZX1658GS” (epoxy equivalent weight: 135 g/eq.) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials (liquid 1,4-glycidylcyclohexane type epoxy resin); “HP-4700” (epoxy equivalent weight: 160 to 170 g/eq.), “HP-4710” (epoxy equivalent weight: 160 to 180 g/eq.) manufactured by DIC (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin); "EPPN-502H" (epoxy equivalent weight 168 g/eq.) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (trisphenol type epoxy resin); “ESN375” (epoxy equivalent weight 170 g/eq.) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials (dihydroxynaphthalene type epoxy resin); “YX4000H” (epoxy equivalent weight: 187 to 197 g/eq.) and “YX4000” (epoxy equivalent weight: 180 to 192 g/eq.) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (bixylenol type epoxy resin); “YL6121HA” (epoxy equivalent weight 170 to 180 g/eq.) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (biphenyl type epoxy resin); and "YX8800" (epoxy equivalent weight 174 to 183 g/eq.) (anthracene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. These may be used individually or in combination of two or more types.
(A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 190g/eq. 이하, 보다 바람직하게는 180g/eq. 이하이고, 이의 하한은, 바람직하게는 80g/eq. 이상, 보다 바람직하게는 100g/eq. 이상, 더욱 바람직하게는 120g/eq. 이상, 특히 바람직하게는 130g/eq. 이상일 수 있다. 에폭시 당량은, 에폭시기 1당량당 수지의 질량이다. 상기 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(A-2) Epoxy equivalent weight 200g/eq. The epoxy equivalent of the following epoxy resin is preferably 190 g/eq. or less, more preferably 180 g/eq. or less, and the lower limit thereof is preferably 80 g/eq. or more, more preferably 100 g/eq. or more, more preferably 120 g/eq. or more, particularly preferably 130 g/eq. It could be more than that. Epoxy equivalent is the mass of resin per equivalent of epoxy group. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.
(A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 바람직하게는 100 내지 5,000, 보다 바람직하게는 200 내지 3,000, 더욱 바람직하게는 250 내지 1,500이다. 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(A-2) Epoxy equivalent weight 200g/eq. The weight average molecular weight (Mw) of the following epoxy resin is preferably 100 to 5,000, more preferably 200 to 3,000, and still more preferably 250 to 1,500. The weight average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
수지 조성물 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 본 발명의 원하는 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 3질량% 이상, 특히 바람직하게는 5질량% 이상이다.(A-2) epoxy equivalent in the resin composition: 200 g/eq. The content of the following epoxy resin is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 50% by mass or less, more preferably 40% by mass or less, and even more preferably 30% by mass. It is % by mass or less, more preferably 20 mass % or less, particularly preferably 15 mass % or less. (A-2) epoxy equivalent in the resin composition: 200 g/eq. The lower limit of the content of the following epoxy resin is not particularly limited, but from the viewpoint of more significantly obtaining the desired effect of the present invention, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 0.1% by mass or more, More preferably 0.5 mass% or more, further preferably 1 mass% or more, even more preferably 3 mass% or more, particularly preferably 5 mass% or more.
(A) 에폭시 수지 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 98질량% 이하, 보다 바람직하게는 95질량% 이하, 특히 바람직하게는 92질량% 이하이다. (A) 에폭시 수지 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 본 발명의 원하는 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 10질량% 이상, 보다 바람직하게는 30질량% 이상, 더욱 바람직하게는 40질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 50질량% 이상, 특히 바람직하게는 60질량% 이상이다.(A) Epoxy equivalent weight of (A-2) in epoxy resin: 200 g/eq. The content of the following epoxy resin is not particularly limited, but when the epoxy resin (A) in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 98% by mass or less, more preferably 95% by mass or less, especially preferably is 92% by mass or less. (A) Epoxy equivalent weight of (A-2) in epoxy resin: 200 g/eq. The lower limit of the content of the epoxy resin below is not particularly limited, but from the viewpoint of more significantly obtaining the desired effect of the present invention, when the epoxy resin (A) in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 10% by mass. or more, more preferably 30 mass% or more, further preferably 40 mass% or more, even more preferably 50 mass% or more, and particularly preferably 60 mass% or more.
수지 조성물 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 질량비((A-1) 성분/(A-2) 성분)는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.005 이상, 보다 바람직하게는 0.01 이상, 특히 바람직하게는 0.05 이상이다. 수지 조성물 중의 (A-2) 에폭시 당량 200g/eq. 이하의 에폭시 수지에 대한 (A-1) 특정 에폭시 수지의 질량비((A-1) 성분/(A-2) 성분)의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 5 이하, 보다 바람직하게는 1 이하, 특히 바람직하게는 0.5 이하이다.(A-2) epoxy equivalent in the resin composition: 200 g/eq. The mass ratio ((A-1) component/(A-2) component) of the specific epoxy resin (A-1) to the following epoxy resin is not particularly limited, but is preferably 0.005 or more, more preferably 0.01. or more, particularly preferably 0.05 or more. (A-2) epoxy equivalent in the resin composition: 200 g/eq. The upper limit of the mass ratio ((A-1) component/(A-2) component) of the specific epoxy resin (A-1) to the following epoxy resin is not particularly limited, but is preferably 5 or less, more preferably is 1 or less, particularly preferably 0.5 or less.
<(A-3) 기타 에폭시 수지><(A-3) Other epoxy resins>
본 발명의 수지 조성물에 있어서, (A) 에폭시 수지는 임의 성분으로서 (A-1) 성분 및 (A-2) 성분에 해당하지 않는 (A-3) 기타 에폭시 수지를 추가로 함유하고 있어도 좋다.In the resin composition of the present invention, the epoxy resin (A) may further contain, as an optional component, another epoxy resin (A-3) that does not correspond to the component (A-1) and (A-2).
(A-3) 기타 에폭시 수지는 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. (A-3) 기타 에폭시 수지의 불휘발 성분 100질량%에 대하여, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.(A-3) It is preferable that other epoxy resins include epoxy resins having two or more epoxy groups in one molecule. (A-3) The ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule relative to 100% by mass of the non-volatile component of the other epoxy resin is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, Particularly preferably, it is 70% by mass or more.
(A-3) 기타 에폭시 수지로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 페놀아르알킬형 에폭시 수지, 플루오렌형 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 에스테르형 에폭시 수지 등을 들 수 있다.(A-3) Other epoxy resins include, but are not particularly limited to, cresol novolak-type epoxy resin, dicyclopentadiene-type epoxy resin, naphthylene ether-type epoxy resin, naphthol novolac-type epoxy resin, and biphenyl-type epoxy resin. , naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, epoxy resin with a butadiene structure, ester type epoxy resin, etc.
(A-3) 기타 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「N-690」(에폭시 당량 209 내지 219g/eq.)(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(에폭시 당량 209 내지 219g/eq.)(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」(에폭시 당량 254 내지 264g/eq.), 「HP-7200HH」(에폭시 당량 274 내지 286g/eq.),「HP-7200H」(에폭시 당량 272 내지 284g/eq.), 「HP-7200L」(에폭시 당량 242 내지 252g/eq.)(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」(에폭시 당량 277g/eq.)(나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(에폭시 당량 230g/eq.)(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」(에폭시 당량 291g/eq.), 「NC3000」(에폭시 당량 280g/eq.), 「NC3000L」(에폭시 당량 270g/eq.), 「NC3100」(에폭시 당량 258g/eq.)(비페닐형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머리티얼사 제조의 「ESN475V」(에폭시 당량 330g/eq.)(나프탈렌형 에폭시 수지); 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「ESN485」(에폭시 당량 270g/eq.)(나프톨형 에폭시 수지); 미츠비시 케미칼사 제조의 「YX7700」(260 내지 285g/eq.)(페놀아르알킬형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미칼사 제조의 「PG-100」(에폭시 당량 260g/eq.), 「CG-500」(에폭시 당량 310g/eq.)(플루오렌형 에폭시 수지); 닛폰 소다사 제조의 「JP-200」(에폭시 당량 210 내지 240g/eq.)(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지), 「YX7800BH40」(에폭시 당량 4,000g/eq.), 「YL7891BH30」(에폭시 당량 8,000g/eq.)(에스테르형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(A-3) Specific examples of other epoxy resins include “N-690” manufactured by DIC (epoxy equivalent weight: 209 to 219 g/eq.) (cresol novolac type epoxy resin); “N-695” (epoxy equivalent weight 209 to 219 g/eq.) manufactured by DIC (cresol novolac type epoxy resin); “HP-7200” (epoxy equivalent weight: 254 to 264 g/eq.), “HP-7200HH” (epoxy equivalent weight: 274 to 286 g/eq.), and “HP-7200H” (epoxy equivalent weight: 272 to 284 g/eq.) manufactured by DIC. ), “HP-7200L” (epoxy equivalent weight 242 to 252 g/eq.) (dicyclopentadiene type epoxy resin); "EXA-7311" (epoxy equivalent weight 277 g/eq.) (naphthylene ether type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; “NC7000L” (epoxy equivalent weight 230 g/eq.) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (naphthol novolac type epoxy resin); “NC3000H” (epoxy equivalent weight 291 g/eq.), “NC3000” (epoxy equivalent weight 280 g/eq.), “NC3000L” (epoxy equivalent weight 270 g/eq.), and “NC3100” (epoxy equivalent weight 258 g/eq.) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. .) (biphenyl type epoxy resin); “ESN475V” (epoxy equivalent weight 330 g/eq.) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. (naphthalene type epoxy resin); “ESN485” (epoxy equivalent weight 270 g/eq.) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials (naphthol type epoxy resin); “YX7700” (260 to 285 g/eq.) (phenol aralkyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; “PG-100” (epoxy equivalent weight: 260 g/eq.) and “CG-500” (epoxy equivalent weight: 310 g/eq.) manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd. (fluorene type epoxy resin); “JP-200” (epoxy equivalent weight 210 to 240 g/eq.) (epoxy resin with butadiene structure), “YX7800BH40” (epoxy equivalent weight 4,000 g/eq.), “YL7891BH30” (epoxy equivalent weight 8,000 g) manufactured by Nippon Soda Corporation. /eq.) (ester type epoxy resin). These may be used individually or in combination of two or more types.
(A-3) 기타 에폭시 수지의 에폭시 당량은, 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들면, 15,000g/eq. 이하, 10,000g/eq. 이하 등일 수 있다. 하한은, 예를 들면, 200g/eq. 초과이다. 에폭시 당량은 에폭시기 1당량당 수지의 질량이다. 상기 에폭시 당량은 JIS K7236에 따라서 측정할 수 있다.(A-3) The epoxy equivalent of other epoxy resins is not particularly limited and is, for example, 15,000 g/eq. Below, 10,000g/eq. It may be as follows. The lower limit is, for example, 200 g/eq. It is excess. Epoxy equivalent weight is the mass of resin per equivalent of epoxy group. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.
(A-3) 기타 에폭시 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은, 바람직하게는 100 내지 50,000, 보다 바람직하게는 200 내지 30,000, 더욱 바람직하게는 300 내지 10,000이다. 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.(A-3) The weight average molecular weight (Mw) of the other epoxy resin is preferably 100 to 50,000, more preferably 200 to 30,000, and still more preferably 300 to 10,000. The weight average molecular weight of the resin can be measured as a value in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
수지 조성물 중의 (A-3) 기타 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 50질량% 미만, 보다 바람직하게는 30질량% 이하, 더욱 바람직하게는 20질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 10질량% 이하, 특히 바람직하게는 5질량% 이하이고, 이의 하한은, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.1질량% 이상, 1질량% 이상 등일 수 있다.The content of the other epoxy resin (A-3) in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably less than 50% by mass, more preferably 30% by mass. Hereinafter, more preferably 20 mass% or less, even more preferably 10 mass% or less, particularly preferably 5 mass% or less, the lower limit is, for example, 0 mass% or more, 0.1 mass% or more, 1 It may be more than mass %, etc.
(A) 에폭시 수지 중의 (A-3) 기타 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 80질량% 이하, 보다 바람직하게는 50질량% 이하, 특히 바람직하게는 30질량% 이하이고, 이의 하한은, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.1질량% 이상, 1질량% 이상, 10질량% 이상 등일 수 있다.The content of the other epoxy resin (A-3) in the (A) epoxy resin is not particularly limited, but when the epoxy resin (A) in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 80% by mass or less, more preferably. Typically, it is 50 mass% or less, particularly preferably 30 mass% or less, and the lower limit thereof may be, for example, 0 mass% or more, 0.1 mass% or more, 1 mass% or more, or 10 mass% or more.
수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 60질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 본 발명의 원하는 효과를 보다 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 5질량% 이상, 특히 바람직하게는 10질량% 이상이다.The content of (A) epoxy resin in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 60% by mass or less, more preferably 40% by mass or less, and further. Preferably it is 30 mass% or less, more preferably 20 mass% or less, and particularly preferably 15 mass% or less. The lower limit of the content of the (A) epoxy resin in the resin composition is not particularly limited, but is preferably 0.1 when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of more significantly obtaining the desired effect of the present invention. It is mass % or more, more preferably 0.5 mass % or more, further preferably 1 mass % or more, even more preferably 5 mass % or more, and particularly preferably 10 mass % or more.
<(B) 활성 에스테르 화합물><(B) Active ester compound>
본 발명의 수지 조성물은 (B) 활성 에스테르 화합물을 함유한다. (B) 활성 에스테르 화합물은, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (B) 활성 에스테르 화합물은, (A) 에폭시 수지와 반응해서 경화시키는 에폭시 수지 경화제로서의 기능을 가질 수 있다. The resin composition of the present invention contains (B) an active ester compound. (B) The active ester compound may be used individually, or two or more types may be used in combination in any ratio. (B) The active ester compound can have a function as an epoxy resin curing agent that reacts with and hardens the epoxy resin (A).
(B) 활성 에스테르 화합물로서는, 일반적으로 페놀 에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 상기 활성 에스테르 화합물은, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기에서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합해서 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.(B) Active ester compounds generally contain two or more highly reactive ester groups per molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds. Compounds having these are preferably used. The active ester compound is preferably obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and/or a thiol compound. Particularly from the viewpoint of improving heat resistance, active ester compounds obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound are preferable, and active ester compounds obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound are more preferable. Examples of carboxylic acid compounds include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. As phenol compounds or naphthol compounds, for example, hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are mentioned. Here, “dicyclopentadiene-type diphenol compound” refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol with one molecule of dicyclopentadiene.
구체적으로는, (B) 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물 및 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물로부터 선택되는 적어도 1종인 것이 보다 바람직하고, 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물이 더욱 바람직하다. 디사이클로펜타디엔형 활성 에스테르 화합물로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하다.Specifically, (B) the active ester compound includes a dicyclopentadiene-type active ester compound, a naphthalene-type active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolak, and benzoyl phenol novolac. An active ester compound containing a cargo is preferable, and among these, it is more preferable that it is at least one type selected from a dicyclopentadiene type active ester compound and a naphthalene type active ester compound, and a dicyclopentadiene type active ester compound is still more preferable. . As the dicyclopentadiene type active ester compound, an active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure is preferable.
(B) 활성 에스테르 화합물의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「EXB-8000L」, 「EXB-8000L-65M」, 「EXB-8000L-65TM」, 「HPC-8000L-65TM」, 「HPC-8000」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H」, 「HPC-8000H-65TM」, (DIC사 제조); 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「HP-B-8151-62T」, 「EXB-8100L-65T」, 「EXB-8150-60T」, 「EXB-8150-62T」, 「EXB-9416-70BK」, 「HPC-8150-60T」, 「HPC-8150-62T」, 「EXB-8」(DIC사 제조); 인 함유 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9401」(DIC사 제조), 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 케미칼사 제조), 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」, 「YLH1030」, 「YLH1048」(미츠비시 케미칼사 제조), 스티릴기 및 나프탈 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「PC1300-02-65MA」(에어워터사 제조) 등을 들 수 있다.(B) Commercially available active ester compounds include dicyclopentadiene-type diphenol structures, such as “EXB9451,” “EXB9460,” “EXB9460S,” “EXB-8000L,” and “EXB-8000L-65M.” ”, “EXB-8000L-65TM”, “HPC-8000L-65TM”, “HPC-8000”, “HPC-8000-65T”, “HPC-8000H”, “HPC-8000H-65TM”, (manufactured by DIC) ); As an active ester compound containing a naphthalene structure, “HP-B-8151-62T”, “EXB-8100L-65T”, “EXB-8150-60T”, “EXB-8150-62T”, and “EXB-9416-70BK” , “HPC-8150-60T”, “HPC-8150-62T”, “EXB-8” (manufactured by DIC); As a phosphorus-containing active ester compound, “EXB9401” (manufactured by DIC), as an active ester compound that is an acetylate of phenol novolak, “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and as an active ester compound that is a benzoylate of phenol novolac, “YLH1026.” ", "YLH1030", "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and "PC1300-02-65MA" (manufactured by Airwater Corporation) as an active ester compound containing a styryl group and a naphthalic structure.
(B) 활성 에스테르 화합물의 활성 에스테르기 당량은, 바람직하게는 50g/eq.내지 500g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq.내지 400g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 활성 에스테르기 당량은, 활성 에스테르기 1당량당 활성 에스테르 화합물의 질량이다.(B) The active ester group equivalent of the active ester compound is preferably 50 g/eq. to 500 g/eq., more preferably 50 g/eq. to 400 g/eq., and even more preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. The active ester group equivalent is the mass of the active ester compound per equivalent of the active ester group.
수지 조성물 중의 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상, 특히 바람직하게는 10질량% 이상이다. 수지 조성물 중의 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 더 바람직하게는 25질량% 이하, 특히 바람직하게는 20질량% 이하이다.The content of the active ester compound (B) in the resin composition is preferably 0.1 mass% or more, more preferably 1 mass% or more, and even more preferably 5 mass%, when the non-volatile component in the resin composition is 100 mass%. % or more, particularly preferably 10 mass% or more. The upper limit of the content of the active ester compound (B) in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 50% by mass or less, more preferably 40% by mass. Below, more preferably 30 mass% or less, even more preferably 25 mass% or less, particularly preferably 20 mass% or less.
수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 질량비((B) 성분/(A) 성분)는, 바람직하게는 0.1 이상, 보다 바람직하게는 0.5 이상, 특히 바람직하게는 1.0 이상이다. 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (B) 활성 에스테르 화합물의 질량비((B) 성분/(A) 성분)의 상한은, 바람직하게는 5.0 이하, 보다 바람직하게는 3.0 이하, 특히 바람직하게는 2.0 이하이다.The mass ratio of the active ester compound (B) to the epoxy resin (A) in the resin composition (component (B)/component (A)) is preferably 0.1 or more, more preferably 0.5 or more, and particularly preferably 1.0 or more. am. The upper limit of the mass ratio (component (B)/component (A)) of the active ester compound (B) to the epoxy resin (A) in the resin composition is preferably 5.0 or less, more preferably 3.0 or less, especially preferably It is less than 2.0.
<(B') 기타 경화제><(B') Other hardeners>
본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (B) 성분 이외의 (B') 기타 경화제를 추가로 함유하고 있어도 좋다. (B') 기타 경화제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다. (B') 기타 경화제는, (B)활성 에스테르 화합물과 마찬가지로, (A) 에폭시 수지와 반응해서 경화시키는 에폭시 수지 경화제로서의 기능을 가질 수 있다.The resin composition of the present invention may further contain (B') other curing agents other than component (B) as an optional component. (B') Other hardening agents may be used individually or in combination of two or more types. (B') Other curing agents, like the active ester compound (B), can have a function as an epoxy resin curing agent that reacts with and hardens the epoxy resin (A).
(B') 기타 경화제로서는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 페놀계 경화제, 카보디이미드계 경화제, 산 무수물계 경화제, 아민계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제 및 티올계 경화제를 들 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 페놀계 경화제 및 카보디이미드계 경화제로부터 선택되는 경화제를 포함하는 것이 바람직하고, 페놀계 경화제를 포함하는 것이 특히 바람직하다.(B') Other curing agents are not particularly limited, but include, for example, phenol-based curing agents, carbodiimide-based curing agents, acid anhydride-based curing agents, amine-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, and thiol-based curing agents. A hardener may be mentioned. The resin composition of the present invention preferably contains a curing agent selected from phenol-based curing agents and carbodiimide-based curing agents, and particularly preferably contains a phenol-based curing agent.
페놀계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제가 바람직하다. 또한, 피착체에 대한 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그 중에서도, 내열성, 내수성 및 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락 수지가 바람직하다. 페놀계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조의 「SN-170」, 「SN-180」, 「SN-190」, 「SN-475」, 「SN-485」, 「SN-495」, 「SN-375」, 「SN-395」, DIC사 제조의 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-3018」, 「LA-3018-50P」, 「LA-1356」, 「TD2090」, 「TD-2090-60M」 등을 들 수 있다.As a phenol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolac structure is preferred from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Furthermore, from the viewpoint of adhesion to the adherend, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent is more preferable. Among them, a phenol novolak resin containing a triazine skeleton is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion. Specific examples of phenol-based curing agents include, for example, "MEH-7700", "MEH-7810", and "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and "NHN", "CBN", and "GPH" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. ", "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-375" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. ”, “SN-395”, “LA-7052”, “LA-7054”, “LA-3018”, “LA-3018-50P”, “LA-1356”, “TD2090”, “TD” manufactured by DIC Corporation -2090-60M” and the like.
카보디이미드계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상의 카보디이미드 구조를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들면, 테트라메틸렌-비스(t-부틸카보디이미드), 사이클로헥산비스(메틸렌-t-부틸카보디이미드) 등의 지방족 비스카보디이미드; 페닐렌-비스(크실릴카보디이미드) 등의 방향족 비스카보디이미드 등의 비스카보디이미드; 폴리헥사메틸렌카보디이미드, 폴리트리메틸헥사메틸렌카보디이미드, 폴리사이클로헥실렌카보디이미드, 폴리(메틸렌비스사이클로헥실렌카보디이미드), 폴리(이소포론카보디이미드) 등의 지방족 폴리카보디이미드; 폴리(페닐렌카보디이미드), 폴리(나프틸렌카보디이미드), 폴리(톨릴렌카보디이미드), 폴리(메틸디이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(트리에틸페닐렌카보디이미드), 폴리(디에틸페닐렌카보디이미드), 폴리(트리이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(디이소프로필페닐렌카보디이미드), 폴리(크실릴렌카보디이미드), 폴리(테트라메틸크실릴렌카보디이미드), 폴리(메틸렌디페닐렌카보디이미드), 폴리[메틸렌비스(메틸페닐렌)카보디이미드] 등의 방향족 폴리카보디이미드 등의 폴리카보디이미드를 들 수 있다.Examples of the carbodiimide-based curing agent include those having one or more, preferably two or more carbodiimide structures in one molecule, for example, tetramethylene-bis(t-butylcarbodiimide), Aliphatic biscarbodiimides such as cyclohexanebis(methylene-t-butylcarbodiimide); Biscabodiimides such as aromatic biscabodiimides such as phenylene-bis(xylylcarbodiimide); Aliphatic polycarbodiimides such as polyhexamethylenecarbodiimide, polytrimethylhexamethylenecarbodiimide, polycyclohexylenecarbodiimide, poly(methylenebiscyclohexylenecarbodiimide), and poly(isophoronecarbodiimide). ; Poly(phenylenecarbodiimide), poly(naphthylenecarbodiimide), poly(tolylenecarbodiimide), poly(methyldiisopropylphenylenecarbodiimide), poly(triethylphenylenecarbodiimide), poly(di Ethylphenylenecarbodiimide), poly(triisopropylphenylenecarbodiimide), poly(diisopropylphenylenecarbodiimide), poly(xylylenecarbodiimide), poly(tetramethylxylylenecarbodiimide), poly (methylenediphenylenecarbodiimide), and aromatic polycarbodiimide such as poly[methylenebis(methylphenylene)carbodiimide].
카보디이미드계 경화제의 시판품으로서는, 예를 들면, 닛신보 케미칼사 제조의 「카보디라이트 V-02B」, 「카보디라이트 V-03」, 「카보디라이트 V-04K」, 「카보디라이트 V-07」 및 「카보디라이트 V-09」; 라인 케미사 제조의 「스타바쿠졸 P」, 「스타바쿠졸 P400」, 「하이카딜 510」 등을 들 수 있다.Commercially available carbodiimide-based curing agents include, for example, “CarbodiLite V-02B,” “CarbodyLite V-03,” “CarbodyLite V-04K,” and “CarbodyLite” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. V-07” and “Carbody Light V-09”; “Stabakusol P”, “Stabakusol P400”, and “Hycadyl 510” manufactured by Line Chemistry, etc. can be mentioned.
산 무수물계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 1분자내 중에 2개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제가 바람직하다. 산 무수물계 경화제의 구체예로서는, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수 프탈산, 헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸테트라하이드로 무수 프탈산, 메틸헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸나딕산 무수물, 수소화 메틸나딕산 무수물, 트리알킬테트라하이드로 무수 프탈산, 도데세닐 무수 석신산, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-사이클로헥센-1,2-디카복실산 무수물, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 벤조페논테트라카복실산 2무수물, 비페닐테트라카복실산 2무수물, 나프탈렌테트라카복실산 2무수물, 옥시디프탈산 2무수물, 3,3'-4,4'-디페닐설폰테트라카복실산 2무수물, 1,3,3a,4,5,9b-헥사하이드로-5-(테트라하이드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안하이드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌·말레산 수지 등의 폴리머형 산 무수물 등을 들 수 있다. 산 무수물계 경화제의 시판품으로서는, 신닛폰 리카사 제조의 「HNA-100」, 「MH-700」, 「MTA-15」, 「DDSA」, 「OSA」, 미츠비시 케미칼사 제조의 「YH-306」, 「YH-307」, 히타치 카세이사 제조의 「HN-2200」, 「HN-5500」, 크레이 발레이사 제조 「EF-30」, 「EF-40」 「EF-60」, 「EF-80」 등을 들 수 있다.Examples of the acid anhydride-based curing agent include those having one or more acid anhydride groups in one molecule, and those having two or more acid anhydride groups in one molecule are preferred. Specific examples of acid anhydride-based curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, hydrogenated methylnadic anhydride, and trialkyltetrahydrophthalic anhydride. , dodecenyl succinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, trimellitic anhydride, pyromelli anhydride. Triacic acid, benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride, biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, oxydiphthalic acid dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic acid dianhydride, 1,3, 3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1,3-dione, ethylene glycol bis (anhydrotrimellitate), and polymeric acid anhydrides such as styrene/maleic acid resin, which is a copolymerization of styrene and maleic acid. Commercially available acid anhydride-based curing agents include “HNA-100,” “MH-700,” “MTA-15,” “DDSA,” and “OSA” manufactured by Nippon Rika Corporation, and “YH-306” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. , “YH-307”, “HN-2200”, “HN-5500” manufactured by Hitachi Kasei, “EF-30”, “EF-40”, “EF-60”, “EF-80” manufactured by Cray Vale. etc. can be mentioned.
아민계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상의 아미노기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들면, 지방족 아민류, 폴리에테르아민류, 지환식 아민류, 방향족 아민류 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 나타내는 관점에서, 방향족 아민류가 바람직하다. 아민계 경화제는, 제1급 아민 또는 제2급 아민이 바람직하고, 제1급 아민이 보다 바람직하다. 아민계 경화제의 구체예로서는, 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸아닐린), 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 3,3'-디아미노디페닐설폰, m-페닐렌디아민, m-크실릴렌디아민, 디에틸톨루엔디아민, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시벤지딘, 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판, 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄디아민, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)설폰, 비스(4-(3-아미노페녹시)페닐)설폰 등을 들 수 있다. 아민계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 세이카사 제조 「SEIKACURE-S」, 닛폰 카야쿠사 제조의 「KAYABOND C-200S」, 「KAYABOND C-100」, 「카야하드 A-A」, 「카야하드 A-B」, 「카야하드 A-S」, 미츠비시 케미칼사 제조의 「에피큐어 W」 등을 들 수 있다.Examples of the amine-based curing agent include those having at least one, preferably at least two amino groups in one molecule, and examples include aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, and aromatic amines. , Among them, aromatic amines are preferable from the viewpoint of achieving the desired effect of the present invention. The amine-based curing agent is preferably a primary amine or a secondary amine, and a primary amine is more preferable. Specific examples of amine-based curing agents include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'- Diaminodiphenyl sulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobi Phenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, 3,3 -Dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane , 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4,4'-bis ( Examples include 4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, and bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone. Commercially available amine-based hardeners may be used, for example, "SEIKACURE-S" manufactured by Seika Corporation, "KAYABOND C-200S" manufactured by Nippon Kayaku Corporation, "KAYABOND C-100", "Kayahard A-A", and "Kaya". “Hard A-B”, “Kayahard A-S”, “Epicure W” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, etc.
벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, JFE 케미칼사 제조의 「JBZ-OP100D」, 「ODA-BOZ」; 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」; 시코쿠 카세이코교 제조의 「P-d」, 「F-a」 등을 들 수 있다.Specific examples of benzoxazine-based curing agents include “JBZ-OP100D” and “ODA-BOZ” manufactured by JFE Chemicals; “HFB2006M” manufactured by Showa Kobunshi Corporation; “P-d” and “F-a” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. are included.
시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트)), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(모두 페놀 노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지), 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.Examples of cyanate ester-based curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo(3-methylene-1,5-phenylenecyanate)), and 4,4'-methylenebis(2,6). -dimethylphenylcyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4) -cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4- Bifunctional cyanate resins such as cyanatephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak and cresol novolac, etc., some of these cyanate resins are triazinated. Prepolymers, etc. can be mentioned. Specific examples of cyanate ester-based curing agents include "PT30" and "PT60" (both phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resins), "BA230", and "BA230S75" (part of bisphenol A dicyanate) manufactured by Lonza Japan Co., Ltd. or a prepolymer in which the entire polymer is triazylated to form a trimer).
티올계 경화제로서는, 예를 들면, 트리메틸올프로판트리스(3-머캅토프로피오네이트), 펜타에리스리톨테트라키스(3-머캅토부티레이트), 트리스(3-머캅토프로필)이소시아누레이트 등을 들 수 있다.Examples of thiol-based curing agents include trimethylolpropane tris(3-mercaptopropionate), pentaerythritol tetrakis(3-mercaptobutyrate), and tris(3-mercaptopropyl)isocyanurate. You can.
(B') 기타 경화제의 반응기 당량은, 바람직하게는 50g/eq. 내지 3,000g/eq., 보다 바람직하게는 100g/eq.내지 1,000g/eq., 더욱 바람직하게는 100g/eq. 내지 500g/eq., 특히 바람직하게는 100g/eq. 내지 300g/eq.이다. 반응기 당량은, 반응기 1당량당 경화제의 질량이다.(B') The reactor equivalent of the other curing agent is preferably 50 g/eq. to 3,000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 1,000 g/eq., even more preferably 100 g/eq. to 500 g/eq., particularly preferably 100 g/eq. to 300 g/eq. Reactor equivalent is the mass of curing agent per equivalent of reactor.
수지 조성물 중의 (B') 기타 경화제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 15질량% 이하, 보다 바람직하게는 10질량% 이하, 더욱 바람직하게는 5질량% 이하, 특히 바람직하게는 3질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (B') 기타 경화제의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.01질량% 이상, 0.1질량% 이상, 1질량% 이상, 1.5질량% 이상 등일 수 있다.The content of (B') other curing agents in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 15% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, More preferably, it is 5 mass% or less, and particularly preferably, it is 3 mass% or less. The lower limit of the content of (B') other curing agents in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 0% by mass or more, 0.01% by mass or more, 0.1% by mass or more. It may be more than % by mass, more than 1% by mass, more than 1.5% by mass, etc.
수지 조성물 중의 (B) 활성 에스테르 화합물의 함유량은, 수지 조성물 중의 (B) 활성 에스테르 화합물과 (B') 기타 경화제의 합계를 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 10질량% 이상, 보다 바람직하게는 30질량% 이상, 더욱 바람직하게는 40질량% 이상, 특히 바람직하게는 50질량% 이상이다.The content of the active ester compound (B) in the resin composition is preferably 10% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, when the total of the active ester compound (B) and (B') other curing agents in the resin composition is 100% by mass. is 30% by mass or more, more preferably 40% by mass or more, particularly preferably 50% by mass or more.
<(C) 무기 충전재><(C) Inorganic filler>
본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (C) 무기 충전재를 추가로 함유하고 있어도 좋다. (C) 무기 충전재는 입자 상태로 수지 조성물에 포함된다.The resin composition of the present invention may further contain (C) an inorganic filler as an optional component. (C) The inorganic filler is contained in the resin composition in a particle state.
(C) 무기 충전재의 재료로서는, 무기 화합물을 사용한다. (C) 무기 충전재의 재료로서는, 예를 들면, 실리카, 알루미나, 유리, 코디어라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화 알루미늄, 수산화 마그네슘, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 산화 마그네슘, 질화 붕소, 질화 알루미늄, 질화 망간, 붕산 알루미늄, 탄산 스트론튬, 티탄산 스트론튬, 티탄산 칼슘, 티탄산 마그네슘, 티탄산 비스무트, 산화 티탄, 산화 지르코늄, 티탄산 바륨, 티탄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산 칼슘, 인산 지르코늄 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들면, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는 구형 실리카가 바람직하다. (C) 무기 충전재는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.(C) As the material for the inorganic filler, an inorganic compound is used. (C) Inorganic filler materials include, for example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, and hydroxide. Aluminum, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, Examples include barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Among these, silica is particularly suitable. Examples of silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Additionally, spherical silica is preferred as the silica. (C) Inorganic fillers may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio.
(C) 무기 충전재의 시판품으로서는, 예를 들면, 덴카 카가쿠코교사 제조의 「UFP-30」; 신닛테츠 스미킨 머티리얼즈사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍스사 제조의 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」; 덴카사 제조의 「UFP-30」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」;덴카사 제조의 「DAW-03」, 「FB-105FD」 등을 들 수 있다.(C) Commercially available inorganic fillers include, for example, “UFP-30” manufactured by Denka Chemical Co., Ltd.; “SP60-05” and “SP507-05” manufactured by Shin-Ni-Tetsu Sumikin Materials, Inc.; “YC100C”, “YA050C”, “YA050C-MJE”, and “YA010C” manufactured by Adomatex Corporation; “UFP-30” manufactured by Denka Corporation; “Actual writing NSS-3N”, “Actual writing NSS-4N”, and “Actual writing NSS-5N” manufactured by Tokuyama Corporation; “SC2500SQ”, “SO-C4”, “SO-C2”, and “SO-C1” manufactured by Adomatex Corporation; “DAW-03” and “FB-105FD” manufactured by Denka Corporation; and the like.
(C) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 2㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 1㎛ 이하, 특히 바람직하게는 0.7㎛ 이하이다. (C) 무기 충전재의 평균 입자 직경의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 0.1㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.2㎛ 이상이다. (C) 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자 직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자 직경분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 넣고, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치를 사용하여, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고, 플로우 셀 방식으로 무기 충전재의 체적 기준의 입자 직경 분포를 측정하여, 얻어진 입자 직경 분포로부터 중간 직경으로서 평균 입자 직경을 산출하였다. 레이저 회절식 입자 직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들면, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-960」 등을 들 수 있다.(C) The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less, further preferably 2 μm or less, even more preferably 1 μm or less, especially Preferably it is 0.7㎛ or less. (C) The lower limit of the average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, further preferably 0.1 μm or more, particularly preferably 0.2 μm or more. . (C) The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis using a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and the intermediate diameter can be measured as the average particle size. The measurement sample can be prepared by weighing 100 mg of inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone into a vial bottle and dispersing them by ultrasonic waves for 10 minutes. For the measurement sample, use a laser diffraction type particle size distribution measuring device, set the light source wavelengths to blue and red, and measure the volume-based particle size distribution of the inorganic filler using a flow cell method. From the obtained particle size distribution, the median diameter is calculated. The average particle diameter was calculated as . Examples of the laser diffraction type particle size distribution measuring device include "LA-960" manufactured by Horiba Sesakusho Co., Ltd.
(C) 무기 충전재의 비표면적은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 0.1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 0.5㎡/g 이상, 더욱 바람직하게는 1㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. (C) 무기 충전재의 비표면적의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 100㎡/g 이하, 보다 바람직하게는 70㎡/g 이하, 더욱 바람직하게는 50㎡/g 이하, 특히 바람직하게는 40㎡/g 이하이다. 무기 충전재의 비표면적은, BET법에 따라, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻을 수 있다.(C) The specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 m2/g or more, more preferably 0.5 m2/g or more, further preferably 1 m2/g or more, especially preferably 3. It is more than ㎡/g. (C) The upper limit of the specific surface area of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 100 m2/g or less, more preferably 70 m2/g or less, further preferably 50 m2/g or less, especially preferably is less than 40㎡/g. The specific surface area of the inorganic filler can be obtained by adsorbing nitrogen gas on the surface of the sample using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210, manufactured by Mountec) according to the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multi-point method. there is.
(C) 무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들면, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 또한, 표면 처리제는, 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.(C) The inorganic filler is preferably treated with a surface treatment agent from the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. Examples of surface treatment agents include fluorine-containing silane coupling agents, aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, alkoxysilanes, organosilazane compounds, and titanate coupling agents. Ringer, etc. can be mentioned. In addition, one type of surface treatment agent may be used individually, and two or more types may be used in arbitrary combination.
표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.Commercially available surface treatment agents include, for example, "KBM403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and "KBM803" (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. silane), “KBE903” (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shinetsu Chemical Co., Ltd., “KBM573” (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shinetsu Chemical Co., Ltd., Shinetsu Chemical Co., Ltd. “SZ-31” (hexamethyldisilazane) manufactured by Kogyo Co., Ltd., “KBM103” (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shinetsu Chemical Co., Ltd., “KBM-4803” (long-chain epoxy type silane couple) manufactured by Shinetsu Chemical Co., Ltd. ring agent), "KBM-7103" (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., etc.
표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량%는, 0.2질량% 내지 5질량%의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량% 내지 3질량%로 표면 처리되어 있는 것이 보다 바람직하고, 0.3질량% 내지 2질량%로 표면 처리되어 있는 것이 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment with the surface treatment agent is preferably within a predetermined range from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. Specifically, 100% by mass of the inorganic filler is preferably surface treated with 0.2% by mass to 5% by mass of a surface treatment agent, more preferably 0.3% by mass by 0.3% by mass. It is more preferable that the surface is treated in an amount of 2 to 2% by mass.
표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 조성물의 용융 점도나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 1.0mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The degree of surface treatment by a surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and even more preferably 0.2 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity of the resin composition or the melt viscosity in sheet form, 1.0 mg/m2 or less is preferable, 0.8 mg/m2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m2 or less is still more preferable. .
(C) 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용해서 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.(C) The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solids, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Sesakusho, etc. can be used.
수지 조성물 중의 (C) 무기 충전재의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 95질량% 이하, 보다 바람직하게는 90질량% 이하, 더욱 바람직하게는 85질량% 이하, 특히 바람직하게는 80질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (C) 무기 충전재의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 1질량% 이상, 10질량% 이상, 20질량% 이상일 수 있고, 바람직하게는 30질량% 이상, 보다 바람직하게는 40질량% 이상, 더욱 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 더 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.The content of the (C) inorganic filler in the resin composition is not particularly limited, but is preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. Preferably it is 85 mass% or less, especially preferably 80 mass% or less. The lower limit of the content of the (C) inorganic filler in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 0% by mass or more, 1% by mass or more, 10% by mass. % or more, and may be 20% by mass or more, preferably 30% by mass or more, more preferably 40% by mass or more, even more preferably 50% by mass or more, even more preferably 60% by mass or more, especially preferably It is more than 70% by mass.
수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (C) 무기 충전재의 질량비((C) 성분/(A) 성분)는, 바람직하게는 1 이상, 보다 바람직하게는 3 이상, 특히 바람직하게는 5 이상이다. 수지 조성물 중의 (A) 에폭시 수지에 대한 (C) 무기 충전재의 질량비((C) 성분/(A) 성분)의 상한은, 바람직하게는 30 이하, 보다 바람직하게는 20 이하, 특히 바람직하게는 10 이하이다.The mass ratio ((C) component/(A) component) of the (C) inorganic filler to the (A) epoxy resin in the resin composition is preferably 1 or more, more preferably 3 or more, and particularly preferably 5 or more. . The upper limit of the mass ratio ((C) component/(A) component) of the (C) inorganic filler to the (A) epoxy resin in the resin composition is preferably 30 or less, more preferably 20 or less, and particularly preferably 10. It is as follows.
<(D) 유기 충전재><(D) Organic filler>
본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (D) 유기 충전재를 추가로 함유하고 있어도 좋다.The resin composition of the present invention may further contain (D) an organic filler as an optional component.
(D) 유기 충전재는 수지 조성물 중에 입자상 형태로 존재한다. (D) 유기 충전재로서는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 고무 입자를 사용하는 것이 바람직하다. (D) 유기 충전재는, 1종을 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.(D) The organic filler exists in particulate form in the resin composition. (D) As the organic filler, it is preferable to use rubber particles from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. (D) Organic fillers may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio.
고무 입자에 포함되는 고무 성분으로서는, 예를 들면, 폴리디메틸실록산 등의 실리콘계 엘라스토머; 폴리부타디엔, 폴리이소프렌, 폴리클로로부타디엔, 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체, 스티렌-부타디엔 공중합체, 스티렌-이소프렌 공중합체, 스티렌-이소부틸렌 공중합체, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체, 이소프렌-이소부틸렌 공중합체, 이소부틸렌-부타디엔 공중합체, 에틸렌-프로필렌-디엔 3원 공중합체, 에틸렌-프로필렌-부텐 3원 공중합체 등의 올레핀계 열가소성 엘라스토머; 폴리(메타)아크릴산 프로필, 폴리(메타)아크릴산 부틸, 폴리(메타)아크릴산 사이클로헥실, 폴리(메타)아크릴산 옥틸 등의 아크릴계 열가소성 엘라스토머 등의 열가소성 엘라스토머 등을 들 수 있다. 또한 고무 성분에는, 폴리오가노실록산 고무 등의 실리콘계 고무를 혼합해도 좋다. 고무 입자에 포함되는 고무 성분은, 유리 전이 온도가 예를 들면, 0℃ 이하이고, -10℃ 이하가 바람직하고, -20℃ 이하가 보다 바람직하고, -30℃ 이하가 더욱 바람직하다.Examples of the rubber component contained in the rubber particles include silicone-based elastomers such as polydimethylsiloxane; Polybutadiene, polyisoprene, polychlorobutadiene, ethylene-vinyl acetate copolymer, styrene-butadiene copolymer, styrene-isoprene copolymer, styrene-isobutylene copolymer, acrylonitrile-butadiene copolymer, isoprene-isobutylene Olefin-based thermoplastic elastomers such as copolymers, isobutylene-butadiene copolymers, ethylene-propylene-diene terpolymers, and ethylene-propylene-butene terpolymers; Thermoplastic elastomers, such as acrylic thermoplastic elastomers such as propyl poly(meth)acrylate, butyl poly(meth)acrylate, cyclohexyl poly(meth)acrylate, and octyl poly(meth)acrylate, are included. Additionally, silicone-based rubber such as polyorganosiloxane rubber may be mixed with the rubber component. The glass transition temperature of the rubber component contained in the rubber particles is, for example, 0°C or lower, preferably -10°C or lower, more preferably -20°C or lower, and even more preferably -30°C or lower.
(D) 유기 충전재는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 코어-셸형 고무 입자를 포함하는 것이 바람직하다. 코어-셸형 고무 입자란, 상기에서 예를 든 바와 같은 고무 성분을 포함하는 코어 입자와, 이를 덮는 1층 이상의 셸부로 이루어진 입자상 유기 충전재이다. 또한, 코어-셸형 고무 입자는, 상기에서 예를 든 바와 같은 고무 성분을 포함하는 코어 입자와, 코어 입자에 포함되는 고무 성분과 공중합 가능한 모노머 성분을 그라프트 공중합시킨 셸부로 이루어진 코어-셸형 그라프트 공중합체 고무 입자인 것이 바람직하다. 여기에서 말하는 코어-셸형이란, 반드시 코어 입자와 셸부를 명확히 구별할 수 있는 것만을 가리키고 있는 것은 아니고, 코어 입자와 셸부의 경계가 불명료한 것도 포함하고, 코어 입자는 셸부로 완전히 피복되어 있지 않아도 좋다.(D) The organic filler preferably contains core-shell type rubber particles from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. A core-shell type rubber particle is a particulate organic filler consisting of a core particle containing the rubber component as exemplified above and one or more layers of shell portion covering the core particle. In addition, the core-shell type rubber particle is a core-shell type graft consisting of a core particle containing the rubber component as exemplified above and a shell portion obtained by graft copolymerization of a monomer component copolymerizable with the rubber component contained in the core particle. It is preferable that they are copolymer rubber particles. The core-shell type referred to here does not necessarily mean that the core particle and the shell portion are clearly distinguishable, but also includes those in which the boundary between the core particle and the shell portion is unclear, and the core particle does not need to be completely covered with the shell portion. .
고무 성분은, 코어-셸형 고무 입자 중에, 40질량% 이상 함유하는 것이 바람직하고, 50질량% 이상 함유하는 것이 보다 바람직하고, 60질량% 이상 함유하는 것이 더욱 바람직하다. 코어-셸형 고무 입자 중의 고무 성분의 함유량의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 코어 입자를 셸부로 충분히 피복하는 관점에서, 예를 들면, 95질량% 이하, 90질량%인 것이 바람직하다.The rubber component is preferably contained in the core-shell type rubber particles in an amount of 40% by mass or more, more preferably 50% by mass or more, and even more preferably 60% by mass or more. The upper limit of the content of the rubber component in the core-shell type rubber particle is not particularly limited, but is preferably, for example, 95% by mass or less, 90% by mass, from the viewpoint of sufficiently covering the core particle with the shell portion.
코어-셸형 고무 입자의 셸부를 형성하는 모노머 성분은, 예를 들면, (메타)아크릴산 메틸, (메타)아크릴산 에틸, (메타)아크릴산 부틸, (메타)아크릴산 사이클로헥실, (메타)아크릴산 옥틸, (메타)아크릴산 글리시딜 등의 (메타)아크릴산 에스테르; (메타)아크릴산; N-메틸말레이미드, N-페닐말레이미드 등의 N-치환 말레이미드; 말레이미드; 말레산, 이타콘산 등의 α,β-불포화 카복실산; 스티렌, 4-비닐톨루엔, α-메틸스티렌 등의 방향족 비닐 화합물; (메타)아크릴로니트릴 등을 포함하고, 그 중에서도, (메타)아크릴산 에스테르를 포함하는 것이 바람직하고, (메타)아크릴산 메틸을 포함하는 것이 보다 바람직하다.Monomer components forming the shell portion of the core-shell type rubber particles include, for example, methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, butyl (meth)acrylate, cyclohexyl (meth)acrylate, octyl (meth)acrylate, ( (meth)acrylic acid esters such as glycidyl meth)acrylate; (meth)acrylic acid; N-substituted maleimides such as N-methylmaleimide and N-phenylmaleimide; maleimide; α,β-unsaturated carboxylic acids such as maleic acid and itaconic acid; Aromatic vinyl compounds such as styrene, 4-vinyltoluene, and α-methylstyrene; It contains (meth)acrylonitrile, etc., and among these, it is preferable that it contains (meth)acrylic acid ester, and it is more preferable that it contains methyl (meth)acrylate.
코어-셸형 고무 입자의 시판품으로서는, 예를 들면, 체일 인더스트리즈사 제조의 「CHT」; UMGABS사 제조의 「B602」; 다우 케미칼 일본사 제조의 「파라로이드 EXL-2602」, 「파라로이드 EXL-2603」, 「파라로이드 EXL-2655」, 「파라로이드 EXL-2311」, 「파라로이드-EXL2313」, 「파라로이드 EXL-2315」, 「파라로이드 KM-330」, 「파라로이드 KM-336P」, 「파라로이드 KCZ-201」, 미츠비시 레이온사 제조의 「메타블렌 C-223A」, 「메타블렌 E-901」, 「메타블렌 S-2001」, 「메타블렌 W-450A」 「메타블렌 SRK-200」, 카네카사 제조의 「카네에이스 M-511」, 「카네에이스 M-600」, 「카네에이스 M-400」, 「카네에이스 M-580」, 「카네에이스 MR-01」 등을 들 수 있다.Commercially available core-shell type rubber particles include, for example, “CHT” manufactured by Cheil Industries; “B602” manufactured by UMGABS; “Pararoid EXL-2602,” “Pararoid EXL-2603,” “Pararoid EXL-2655,” “Pararoid EXL-2311,” “Pararoid-EXL2313,” and “Pararoid EXL-” manufactured by Dow Chemical Japan. 2315", "Pararoid KM-330", "Pararoid KM-336P", "Pararoid KCZ-201", "Metablen C-223A", "Metablene E-901", and "Metablene" manufactured by Mitsubishi Rayon Corporation. Blen S-2001", "Metablen W-450A", "Metablen SRK-200", "Kaneace M-511", "Kaneace M-600", "Kaneace M-400", manufactured by Kaneka Corporation. Examples include “Kane Ace M-580” and “Kane Ace MR-01.”
(D) 유기 충전재의 평균 입자 직경(평균 1차 입자 직경)은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 20nm 이상, 보다 바람직하게는 30nm 이상, 더욱 바람직하게는 50nm 이상이다. (D) 유기 충전재의 평균 입자 직경(평균 1차 입자 직경)의 상한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 5,000nm 이하, 보다 바람직하게는 2,000nm 이하, 더욱 바람직하게는 1,000nm 이하이다. (D) 유기 충전재의 평균 입자 직경(평균 1차 입자 직경)은, 제타 전위 입도 분포 측정 장치 등을 사용해서 측정할 수 있다.(D) The average particle diameter (average primary particle diameter) of the organic filler is not particularly limited, but is preferably 20 nm or more, more preferably 30 nm or more, and even more preferably 50 nm or more. (D) The upper limit of the average particle diameter (average primary particle diameter) of the organic filler is not particularly limited, but is preferably 5,000 nm or less, more preferably 2,000 nm or less, and even more preferably 1,000 nm or less. (D) The average particle diameter (average primary particle diameter) of the organic filler can be measured using a zeta potential particle size distribution measuring device or the like.
수지 조성물 중의 (D) 유기 충전재의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 10질량% 이하, 보다 바람직하게는 5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 2질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (D) 유기 충전재의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.01질량% 이상일 수 있고, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상일 수 있다.The content of the (D) organic filler in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 10% by mass or less, more preferably 5% by mass or less, and further. Preferably it is 2% by mass or less. The lower limit of the content of the (D) organic filler in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it may be, for example, 0% by mass or more and 0.01% by mass or more, It may be preferably 0.1 mass% or more, and more preferably 0.5 mass% or more.
<(E) 경화 촉진제><(E) Curing accelerator>
본 발명의 수지 조성물은, 임의 성분으로서 (E) 경화 촉진제를 추가로 함유하고 있어도 좋다. (E) 경화 촉진제는, (A) 에폭시 수지의 경화를 촉진시키는 기능을 갖는다.The resin composition of the present invention may further contain (E) a curing accelerator as an optional component. (E) The curing accelerator has the function of accelerating the curing of the (A) epoxy resin.
경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 우레아계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 아민계 경화 촉진제 또는 이미다졸계 경화 촉진제를 포함하는 것이 바람직하고, 아민계 경화 촉진제를 포함하는 것이 특히 바람직하다. (E) 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, urea-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and amine-based curing accelerators. The resin composition of the present invention preferably contains an amine-based curing accelerator or an imidazole-based curing accelerator, and particularly preferably contains an amine-based curing accelerator. (E) A hardening accelerator may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more types.
인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 테트라부틸포스포늄브로마이드, 테트라부틸포스포늄클로라이드, 테트라부틸포스포늄아세테이트, 테트라부틸포스포늄데카노에이트, 테트라부틸포스포늄라우레이트, 비스(테트라부틸포스포늄)피로멜리테이트, 테트라부틸포스포늄하이드로젠헥사하이드로프탈레이트, 테트라부틸포스포늄 2,6-비스[(2-하이드록시-5-메틸페닐)메틸]-4-메틸페놀레이트, 디-tert-부틸메틸포스포늄테트라페닐보레이트 등의 지방족 포스포늄염; 메틸트리페닐포스포늄브로마이드, 에틸트리페닐포스포늄브로마이드, 프로필트리페닐포스포늄브로마이드, 부틸트리페닐포스포늄브로마이드, 벤질트리페닐포스포늄클로라이드, 테트라페닐포스포늄브로마이드, p-톨릴트리페닐포스포늄테트라-p-톨릴보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라페닐포스포늄테트라p-톨릴보레이트, 트리페닐에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(3-메틸페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, 트리스(2-메톡시페닐)에틸포스포늄테트라페닐보레이트, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등의 방향족 포스포늄염; 트리페닐포스핀·트리페닐보란 등의 방향족 포스핀·보란 복합체; 트리페닐포스핀·p-벤조퀴논 부가 반응물 등의 방향족 포스핀·퀴논 부가 반응물; 트리부틸포스핀, 트리-tert-부틸포스핀, 트리옥틸포스핀, 디-tert-부틸(2-부테닐)포스핀, 디-tert-부틸(3-메틸-2-부테닐)포스핀, 트리사이클로헥실포스핀 등의 지방족 포스핀; 디부틸페닐포스핀, 디-tert-부틸페닐포스핀, 메틸디페닐포스핀, 에틸디페닐포스핀, 부틸디페닐포스핀, 디페닐사이클로헥실포스핀, 트리페닐포스핀, 트리-o-톨릴포스핀, 트리-m-톨릴포스핀, 트리-p-톨릴포스핀, 트리스(4-에틸페닐)포스핀, 트리스(4-프로필페닐)포스핀, 트리스(4-이소프로필페닐)포스핀, 트리스(4-부틸페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부틸페닐)포스핀, 트리스(2,4-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸페닐)포스핀, 트리스(3,5-디메틸페닐)포스핀, 트리스(2,4,6-트리메틸페닐)포스핀, 트리스(2,6-디메틸-4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(2-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-메톡시페닐)포스핀, 트리스(4-에톡시페닐)포스핀, 트리스(4-tert-부톡시페닐)포스핀, 디페닐-2-피리딜포스핀, 1,2-비스(디페닐포스피노)에탄, 1,3-비스(디페닐포스피노)프로판, 1,4-비스(디페닐포스피노)부탄, 1,2-비스(디페닐포스피노)아세틸렌, 2,2'-비스(디페닐포스피노)디페닐에테르 등의 방향족 포스핀 등을 들 수 있다.Examples of phosphorus-based curing accelerators include tetrabutylphosphonium bromide, tetrabutylphosphonium chloride, tetrabutylphosphonium acetate, tetrabutylphosphonium decanoate, tetrabutylphosphonium laurate, and bis(tetrabutylphosphonium)pyrro. Mellitate, tetrabutylphosphonium hydrogenhexahydrophthalate, tetrabutylphosphonium 2,6-bis[(2-hydroxy-5-methylphenyl)methyl]-4-methylphenolate, di-tert-butylmethylphosphonium Aliphatic phosphonium salts such as tetraphenyl borate; Methyltriphenylphosphonium bromide, ethyltriphenylphosphonium bromide, propyltriphenylphosphonium bromide, butyltriphenylphosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium chloride, tetraphenylphosphonium bromide, p-tolyltriphenylphosphonium tetra- p-tolyl borate, tetraphenylphosphonium tetraphenyl borate, tetraphenylphosphonium tetrap-tolyl borate, triphenylethylphosphonium tetraphenyl borate, tris (3-methylphenyl) ethylphosphonium tetraphenyl borate, tris (2-methyl aromatic phosphonium salts such as toxyphenyl)ethylphosphonium tetraphenyl borate, (4-methylphenyl)triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, and butyltriphenylphosphonium thiocyanate; Aromatic phosphine/borane complexes such as triphenylphosphine/triphenylborane; Aromatic phosphine/quinone addition reactants such as triphenylphosphine/p-benzoquinone addition reactants; Tributylphosphine, tri-tert-butylphosphine, trioctylphosphine, di-tert-butyl(2-butenyl)phosphine, di-tert-butyl(3-methyl-2-butenyl)phosphine, Aliphatic phosphines such as tricyclohexylphosphine; Dibutylphenylphosphine, di-tert-butylphenylphosphine, methyldiphenylphosphine, ethyldiphenylphosphine, butyldiphenylphosphine, diphenylcyclohexylphosphine, triphenylphosphine, tri-o-tolyl Phosphine, tri-m-tolylphosphine, tri-p-tolylphosphine, tris(4-ethylphenyl)phosphine, tris(4-propylphenyl)phosphine, tris(4-isopropylphenyl)phosphine, Tris(4-butylphenyl)phosphine, tris(4-tert-butylphenyl)phosphine, tris(2,4-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2, 6-dimethylphenyl)phosphine, tris(3,5-dimethylphenyl)phosphine, tris(2,4,6-trimethylphenyl)phosphine, tris(2,6-dimethyl-4-ethoxyphenyl)phosphine , tris(2-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-methoxyphenyl)phosphine, tris(4-ethoxyphenyl)phosphine, tris(4-tert-butoxyphenyl)phosphine, diphenyl- 2-pyridylphosphine, 1,2-bis(diphenylphosphino)ethane, 1,3-bis(diphenylphosphino)propane, 1,4-bis(diphenylphosphino)butane, 1,2- and aromatic phosphines such as bis(diphenylphosphino)acetylene and 2,2'-bis(diphenylphosphino)diphenyl ether.
우레아계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 1,1-디메틸요소; 1,1,3-트리메틸요소, 3-에틸-1,1-디메틸요소, 3-사이클로헥실-1,1-디메틸요소, 3-사이클로옥틸-1,1-디메틸요소 등의 지방족 디메틸우레아; 3-페닐-1,1-디메틸요소, 3-(4-클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디클로로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3-클로로-4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(2-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(3,4-디메틸페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-이소프로필페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-메톡시페닐)-1,1-디메틸요소, 3-(4-니트로페닐)-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-메톡시페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[4-(4-클로로페녹시)페닐]-1,1-디메틸요소, 3-[3-(트리플루오로메틸)페닐]-1,1-디메틸요소, N,N-(1,4-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소), N,N-(4-메틸-1,3-페닐렌)비스(N',N'-디메틸요소)〔톨루엔비스디메틸우레아〕등의 방향족 디메틸우레아 등을 들 수 있다.Examples of urea-based curing accelerators include 1,1-dimethylurea; Aliphatic dimethylureas such as 1,1,3-trimethylurea, 3-ethyl-1,1-dimethylurea, 3-cyclohexyl-1,1-dimethylurea, and 3-cyclooctyl-1,1-dimethylurea; 3-phenyl-1,1-dimethylurea, 3-(4-chlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4-dichlorophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3- Chloro-4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(2-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(3,4 -dimethylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-isopropylphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4-methoxyphenyl)-1,1-dimethylurea, 3-(4 -nitrophenyl)-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-methoxyphenoxy)phenyl]-1,1-dimethylurea, 3-[4-(4-chlorophenoxy)phenyl]- 1,1-dimethylurea, 3-[3-(trifluoromethyl)phenyl]-1,1-dimethylurea, N,N-(1,4-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea ), aromatic dimethyl ureas such as N,N-(4-methyl-1,3-phenylene)bis(N',N'-dimethylurea) [toluene bisdimethylurea], and the like.
구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자바이사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있다.Examples of guanidine-based curing accelerators include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, Examples include 1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, and 1-(o-tolyl) biguanide.
이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤 질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있다.Examples of imidazole-based curing accelerators include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Imidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimida Zolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-unde Cylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s -Triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazoleisocyanuric acid Adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1, 2-a] Imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and imidazole compounds and epoxy resins Adduct forms of .
이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 시코쿠카세이코교사 제조제의 「1B2PZ」, 「2MZA-PW」, 「2PHZ-PW」, 미츠비시 케미칼사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.As the imidazole-based curing accelerator, commercial products may be used, for example, "1B2PZ", "2MZA-PW", and "2PHZ-PW" manufactured by Shikoku Chemicals, and "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. etc. can be mentioned.
금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들면, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.Examples of the metal-based curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of organometallic complexes include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Examples include organic zinc complexes, organic iron complexes such as iron(III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel(II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese(II) acetylacetonate. Examples of organometallic salts include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.
아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자바이사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있다.Examples of amine-based curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, and 1,8. -Diazabicyclo(5,4,0)-undecene, etc. can be mentioned.
아민계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 아지노모토 파인 테크노사 제조의 「MY-25」 등을 들 수 있다.As the amine-based curing accelerator, a commercial product may be used, for example, “MY-25” manufactured by Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd., etc.
수지 조성물 중의 (E) 경화 촉진제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 바람직하게는 5질량% 이하, 보다 바람직하게는 1질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.7질량% 이하, 특히 바람직하게는 0.5질량% 이하이다. 수지 조성물 중의 (E) 경화 촉진제의 함유량의 하한은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 0질량% 이상, 0.001질량% 이상, 0.01질량% 이상, 0.1질량% 이상 등일 수 있다.The content of the curing accelerator (E) in the resin composition is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, it is preferably 5% by mass or less, more preferably 1% by mass or less, and further. Preferably it is 0.7 mass% or less, especially preferably 0.5 mass% or less. The lower limit of the content of the (E) curing accelerator in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 0% by mass or more, 0.001% by mass or more, or 0.01% by mass. % or more, 0.1 mass% or more, etc.
<(F) 기타 첨가제><(F) Other additives>
본 발명의 수지 조성물은, 불휘발 성분으로서, 임의의 첨가제를 추가로 포함하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들면, 비닐페닐기, (메타)아크릴로일기, 말레이미드기 등을 갖는 라디칼 중합성 화합물; 과산화물계 라디칼 중합 개시제, 아조계 라디칼 중합 개시제 등의 라디칼 중합 개시제; 에폭시아크릴레이트 수지, 우레탄아크릴레이트 수지, 우레탄 수지, 시아네이트 수지, 벤조옥사진 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 페놀 수지, 멜라민 수지, 실리콘 수지, 에폭시 수지 등의 열경화성 수지; 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등의 열가소성 수지; 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물, 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물; 프탈로시아닌 블루, 프탈로시아닌 그린, 아이오딘 그린, 디아조 옐로우, 크리스탈 바이올렛, 산화 티탄, 카본 블랙 등의 착색제; 하이드로퀴논, 카테콜, 피로갈롤, 페노티아진 등의 중합 금지제; 실리콘계 레벨링제, 아크릴 폴리머계 레벨링제 등의 레벨링제; 벤톤, 몬모릴로나이트 등의 증점제; 실리콘계 소포제, 아크릴계 소포제, 불소계 소포제, 비닐 수지계 소포제 등의 소포제; 벤조트리아졸계 자외선 흡수제 등의 자외선 흡수제; 요소 실란 등의 접착성 향상제; 트리아졸계 밀착성 부여제, 테트라졸계 밀착성 부여제, 트리아진계 밀착성 부여제 등의 밀착성 부여제; 힌더드페놀계 산화 방지제 등의 산화 방지제; 스틸벤 유도체 등의 형광 증백제; 불소계 계면활성제, 실리콘계 계면활성제 등의 계면활성제; 인계 난연제(예를 들면, 인산 에스테르 화합물, 포스파젠 화합물, 포스핀산 화합물, 적인), 질소계 난연제(예를 들면, 황산 멜라민), 할로겐계 난연제, 무기계 난연제(예를 들면, 삼산화 안티몬) 등의 난연제; 인산 에스테르계 분산제, 폴리옥시알킬렌계 분산제, 아세틸렌계 분산제, 실리콘계 분산제, 음이온성 분산제, 양이온성 분산제 등의 분산제; 보레이트계 안정제, 티타네이트계 안정제, 알루미네이트계 안정제, 지르코네이트계 안정제, 이소시아네이트계 안정제, 카복실산계 안정제, 카복실산 무수물계 안정제 등의 안정제 등을 들 수 있다. (F) 기타 첨가제는, 1종을 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다. (F) 기타 첨가제의 함유량은 당업자이면 적절히 설정할 수 있다.The resin composition of the present invention may further contain arbitrary additives as non-volatile components. Examples of such additives include radically polymerizable compounds having a vinylphenyl group, (meth)acryloyl group, maleimide group, etc.; Radical polymerization initiators such as peroxide-based radical polymerization initiators and azo-based radical polymerization initiators; Thermosetting resins such as epoxy acrylate resin, urethane acrylate resin, urethane resin, cyanate resin, benzoxazine resin, unsaturated polyester resin, phenol resin, melamine resin, silicone resin, and epoxy resin; Thermoplastic resins such as polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, and polyester resin; Organometallic compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds; Colorants such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, diazo yellow, crystal violet, titanium oxide, and carbon black; Polymerization inhibitors such as hydroquinone, catechol, pyrogallol, and phenothiazine; Leveling agents such as silicone-based leveling agents and acrylic polymer-based leveling agents; Thickeners such as bentone and montmorillonite; Antifoaming agents such as silicone-based defoaming agents, acrylic-based defoaming agents, fluorine-based defoaming agents, and vinyl resin-based defoaming agents; UV absorbers such as benzotriazole-based UV absorbers; Adhesion improvers such as urea silane; Adhesion imparting agents such as triazole-based adhesion imparting agents, tetrazole-based adhesion imparting agents, and triazine-based adhesion imparting agents; Antioxidants such as hindered phenol antioxidants; Fluorescent whitening agents such as stilbene derivatives; Surfactants such as fluorine-based surfactants and silicone-based surfactants; Phosphorus-based flame retardants (e.g., phosphoric acid ester compounds, phosphazene compounds, phosphinic acid compounds, red), nitrogen-based flame retardants (e.g., melamine sulfate), halogen-based flame retardants, inorganic flame retardants (e.g., antimony trioxide), etc. flame retardants; Dispersants such as phosphoric acid ester-based dispersants, polyoxyalkylene-based dispersants, acetylene-based dispersants, silicone-based dispersants, anionic dispersants, and cationic dispersants; Stabilizers such as borate-based stabilizers, titanate-based stabilizers, aluminate-based stabilizers, zirconate-based stabilizers, isocyanate-based stabilizers, carboxylic acid-based stabilizers, and carboxylic acid anhydride-based stabilizers can be mentioned. (F) Other additives may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio. (F) The content of other additives can be appropriately set by those skilled in the art.
<(G) 유기 용제><(G) Organic solvent>
본 발명의 수지 조성물은, 상기 불휘발 성분 이외에, 휘발성 성분으로서, 임의의 유기 용제를 추가로 함유하는 경우가 있다. (G) 유기 용제로서는, 공지된 것을 적절히 사용할 수 있고, 그 종류는 특별히 한정되는 것은 아니다. (G) 유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 사이클로헥사논 등의 케톤계 용제; 아세트산 메틸, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 아세트산 이소부틸, 아세트산 이소아밀, 프로피온산 메틸, 프로피온산 에틸, γ-부티로락톤 등의 에스테르계 용제; 테트라하이드로피란, 테트라하이드로푸란, 1,4-디옥산, 디에틸에테르, 디이소프로필에테르, 디부틸에테르, 디페닐에테르, 아니솔 등의 에테르계 용제; 메탄올, 에탄올, 프로판올, 부탄올, 에틸렌글리콜 등의 알코올계 용제; 아세트산 2-에톡시에틸, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸디글리콜아세테이트, γ-부티로락톤, 메톡시프로피온산 메틸 등의 에테르 에스테르계 용제; 락트산 메틸, 락트산 에틸, 2-하이드록시이소부티르산 메틸 등의 에스테르 알코올계 용제; 2-메톡시프로판올, 2-메톡시에탄올, 2-에톡시에탄올, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르(부틸카비톨) 등의 에테르 알코올계 용제; N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드, N-메틸-2-피롤리돈 등의 아미드계 용제; 디메틸설폭사이드 등의 설폭사이드계 용제; 아세토니트릴, 프로피오니트릴 등의 니트릴계 용제; 헥산, 사이클로펜탄, 사이클로헥산, 메틸사이클로헥산 등의 지방족 탄화수소계 용제; 벤젠, 톨루엔, 크실렌, 에틸벤젠, 트리메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소계 용제 등을 들 수 있다. (G) 유기 용제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 임의의 비율로 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition of the present invention may further contain an arbitrary organic solvent as a volatile component in addition to the non-volatile component described above. (G) As the organic solvent, known solvents can be appropriately used, and the type is not particularly limited. (G) Examples of the organic solvent include ketone-based solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; Ester solvents such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, isobutyl acetate, isoamyl acetate, methyl propionate, ethyl propionate, and γ-butyrolactone; ether solvents such as tetrahydropyran, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, diethyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, diphenyl ether, and anisole; Alcohol-based solvents such as methanol, ethanol, propanol, butanol, and ethylene glycol; Ether ester solvents such as 2-ethoxyethyl acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, ethyl diglycol acetate, γ-butyrolactone, and methyl methoxypropionate; Ester alcohol solvents such as methyl lactate, ethyl lactate, and methyl 2-hydroxyisobutyrate; ether alcohol solvents such as 2-methoxypropanol, 2-methoxyethanol, 2-ethoxyethanol, propylene glycol monomethyl ether, and diethylene glycol monobutyl ether (butyl carbitol); amide-based solvents such as N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone; Sulfoxide-based solvents such as dimethyl sulfoxide; Nitrile-based solvents such as acetonitrile and propionitrile; Aliphatic hydrocarbon-based solvents such as hexane, cyclopentane, cyclohexane, and methylcyclohexane; and aromatic hydrocarbon-based solvents such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, and trimethylbenzene. (G) Organic solvents may be used individually, or two or more types may be used in combination at any ratio.
일 실시형태에 있어서, (G) 유기 용제의 함유량은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 수지 조성물 중의 전 성분을 100질량%로 할 경우, 예를 들면, 60질량% 이하, 40질량% 이하, 30질량% 이하, 20질량% 이하, 15질량% 이하, 10질량% 이하 등일 수 있다.In one embodiment, the content of the organic solvent (G) is not particularly limited, but when all components in the resin composition are 100% by mass, for example, 60% by mass or less, 40% by mass or less, and 30% by mass. % or less, 20 mass% or less, 15 mass% or less, 10 mass% or less, etc.
<수지 조성물의 제조방법><Method for producing resin composition>
본 발명의 수지 조성물은, 예를 들면, 임의의 조제 용기에 (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, 필요에 따라서 (B') 기타 경화제, 필요에 따라서 (C) 무기 충전재, 필요에 따라서 (D) 유기 충전재, 필요에 따라서 (E) 경화 촉진제, 필요에 따라서 (F) 기타 첨가제 및 필요에 따라서 (G) 유기 용제를, 임의의 순서로 그리고/또는 일부 또는 전부 동시에 첨가하여 혼합함으로써 제조할 수 있다. 또한, 각 성분을 첨가하여 혼합하는 과정에서, 온도를 적절히 설정할 수 있고, 일시적으로 또는 시종에 걸쳐 가열 및/또는 냉각해도 좋다. 또한, 첨가하여 혼합하는 과정에서 또는 그 후에, 수지 조성물을, 예를 들면, 믹서 등의 교반 장치 또는 진탕 장치를 사용해서 교반 또는 진탕하여 균일하게 분산시켜도 좋다. 또한, 교반 또는 진탕과 동시에, 진공 하 등의 저압 조건 하에 탈포를 행하여도 좋다.The resin composition of the present invention is, for example, in an optional preparation container, (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, (B') other curing agents, if necessary, (C) an inorganic filler, if necessary. Accordingly, (D) organic filler, optionally (E) curing accelerator, optionally (F) other additives, and optionally (G) organic solvent are added and mixed in any order and/or in part or all at the same time. It can be manufactured. Additionally, in the process of adding and mixing each component, the temperature may be appropriately set, and may be heated and/or cooled temporarily or over time. Additionally, during or after the addition and mixing process, the resin composition may be uniformly dispersed by stirring or shaking using, for example, a stirring device such as a mixer or a shaking device. Additionally, degassing may be performed simultaneously with stirring or shaking under low pressure conditions such as under vacuum.
<수지 조성물의 특성><Characteristics of resin composition>
본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하고, (A) 에폭시 수지가, (A-1) 화학식 1로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq.내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지 및 (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 포함한다. 이러한 수지 조성물을 사용함으로써, 유전정접을 보다 낮게 억제할 수 있는 동시에, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있고, 또한 구리 도금 필 강도가 우수한 경화물을 얻을 수 있다.The resin composition of the present invention includes (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound, and (A) the epoxy resin is represented by (A-1) Chemical Formula 1, and has an epoxy equivalent weight of 1,000 g/eq. to 5,000. g/eq. of epoxy resin and (A-2) epoxy equivalent weight of 200 g/eq. It includes the following epoxy resins. By using such a resin composition, the dielectric loss tangent can be suppressed to a lower level, the occurrence of cracks after desmear treatment can be suppressed, and a cured product with excellent copper plating peel strength can be obtained.
본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 유전정접(Df)이 낮다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 예를 들면, 하기 시험예 1과 같이 5.8GHz, 23℃에서 측정한 경우의 수지 조성물의 경화물의 유전정접(Df)은, 바람직하게는 0.0200 이하, 0.0100 이하, 보다 바람직하게는 0.0080 이하, 0.0070 이하, 0.0060 이하, 더욱 바람직하게는 0.0050 이하, 0.0040 이하, 0.0035 이하, 특히 바람직하게는 0.0032 이하, 0.0030 이하가 될 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention may have the characteristic of low dielectric loss tangent (Df). Therefore, in one embodiment, for example, the dielectric loss tangent (Df) of the cured product of the resin composition when measured at 5.8GHz and 23°C as in Test Example 1 below is preferably 0.0200 or less, 0.0100 or less, or more. Preferably it is 0.0080 or less, 0.0070 or less, 0.0060 or less, more preferably 0.0050 or less, 0.0040 or less, 0.0035 or less, particularly preferably 0.0032 or less, 0.0030 or less.
본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 구리 도금 필 강도가 우수하다는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 예를 들면, 하기 시험예 2와 같이 경화물에 구리 도금 도체층을 형성하고, 수직 방향으로 구리 도금 도체층을 박리했을 때의 하중으로부터 산출되는 구리 도금 필 강도는, 바람직하게는 0.2kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.25kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.3kgf/cm 이상, 0.35kgf/cm 이상, 특히 바람직하게는 0.4kgf/cm 이상, 0.45kgf/cm 이상일 수 있다. 상한에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 10kgf/cm 이하 등일 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention can have the characteristic of excellent copper plating peel strength. Therefore, in one embodiment, for example, as in Test Example 2 below, a copper plating conductor layer is formed on a cured product, and the copper plating peel strength calculated from the load when the copper plating conductor layer is peeled in the vertical direction is , preferably 0.2 kgf/cm or more, more preferably 0.25 kgf/cm or more, even more preferably 0.3 kgf/cm or more, 0.35 kgf/cm or more, particularly preferably 0.4 kgf/cm or more, 0.45 kgf/cm or more. It could be more than that. The upper limit is not particularly limited, but may be, for example, 10 kgf/cm or less.
본 발명의 수지 조성물의 경화물은, 디스미어 처리 후의 크랙의 발생을 억제할 수 있는 특징을 가질 수 있다. 따라서, 일 실시형태에 있어서, 하기 시험예 3과 같이 회로 기판을 제작 및 디스미어 처리한 후, 회로 기판의 구리 패드부를 100개 관찰한 경우에 크랙이 바람직하게는 10개 이하일 수 있다.The cured product of the resin composition of the present invention may have characteristics that can suppress the occurrence of cracks after desmear treatment. Therefore, in one embodiment, after manufacturing and desmearing a circuit board as in Test Example 3 below, when 100 copper pad portions of the circuit board are observed, the number of cracks may preferably be 10 or less.
<수지 조성물의 용도><Use of resin composition>
본 발명의 수지 조성물은, 절연 용도의 수지 조성물, 특히, 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 절연층 상에 형성되는 도체층(재배선층을 포함함)을 형성하기 위한 상기 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 후술하는 프린트 배선판에 있어서, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은 또한, 수지 시트, 프리프레그 등의 시트상 적층 재료, 솔더 레지스트, 언더필재, 다이본딩재, 반도체 밀봉재, 구멍 메움 수지, 부품 매립 수지 등 수지 조성물이 필요해지는 용도로 광범위하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition for insulation purposes, particularly as a resin composition for forming an insulating layer. Specifically, it is suitably used as a resin composition for forming the insulating layer (resin composition for forming an insulating layer for forming a conductor layer) for forming a conductor layer (including a rewiring layer) formed on the insulating layer. You can. In addition, in the printed wiring board described later, it can be suitably used as a resin composition for forming an insulating layer of a printed wiring board (resin composition for forming an insulating layer of a printed wiring board). The resin composition of the present invention is also widely used in applications requiring a resin composition, such as sheet-like laminate materials such as resin sheets and prepregs, solder resists, underfill materials, die bonding materials, semiconductor sealants, hole filling resins, and component filling resins. You can use it.
또한, 예를 들면, 이하의 (1) 내지 (6) 공정을 거쳐 반도체 칩 패키지가 제조될 경우, 본 발명의 수지 조성물은, 재배선층을 형성하기 위한 절연층으로서의 재배선 형성층용 수지 조성물(재배선 형성층 형성용 수지 조성물) 및 반도체 칩을 밀봉하기 위한 수지 조성물(반도체 칩 밀봉용 수지 조성물)로서도 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 칩 패키지가 제조될 때, 밀봉층 상에 추가로 재배선층을 형성해도 좋다.In addition, for example, when a semiconductor chip package is manufactured through the following processes (1) to (6), the resin composition of the present invention is used as a resin composition for a redistribution formation layer (cultivation layer) as an insulating layer for forming a redistribution layer. It can also be suitably used as a resin composition for forming a line forming layer) and a resin composition for sealing a semiconductor chip (a resin composition for sealing a semiconductor chip). When a semiconductor chip package is manufactured, a redistribution layer may be additionally formed on the sealing layer.
(1) 기재에 가고정 필름을 적층하는 공정,(1) A process of laminating a temporarily fixed film on a substrate,
(2) 반도체 칩을 가고정 필름 상에 가고정하는 공정,(2) A process of temporarily fixing a semiconductor chip on a temporarily fixing film,
(3) 반도체 칩 상에 밀봉층을 형성하는 공정,(3) Process of forming a sealing layer on the semiconductor chip,
(4) 기재 및 가고정 필름을 반도체 칩으로부터 박리하는 공정,(4) A process of peeling the base material and temporarily fixed film from the semiconductor chip,
(5) 반도체 칩의 기재 및 가고정 필름을 박리한 면에, 절연층으로서의 재배선 형성층을 형성하는 공정 및(5) A process of forming a redistribution layer as an insulating layer on the surface of the semiconductor chip from which the substrate and temporarily fixed film are peeled, and
(6) 재배선 형성층 상에, 도체층으로서의 재배선층을 형성하는 공정(6) A process of forming a redistribution layer as a conductor layer on the redistribution formation layer.
또한, 본 발명의 수지 조성물은, 부품 매립성이 양호한 절연층을 형성하므로, 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우에도 적합하게 사용할 수 있다.Additionally, since the resin composition of the present invention forms an insulating layer with good component embedding properties, it can be suitably used even when the printed wiring board is a component-embedded circuit board.
<시트상 적층 재료><Sheet-like laminated material>
본 발명의 수지 조성물은, 바니쉬 상태로 도포해서 사용할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 상기 수지 조성물을 함유하는 시트상 적층 재료 형태로 사용하는 것이 적합하다.Although the resin composition of the present invention can be used by applying it in a varnish state, it is generally industrially suitable to use it in the form of a sheet-like laminate material containing the resin composition.
시트상 적층 재료로서는, 이하에 나타내는 수지 시트, 프리프레그가 바람직하다.As the sheet-like laminated material, the resin sheets and prepregs shown below are preferable.
일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 지지체와, 상기 지지체 상에 제공된 수지 조성물 층을 포함해서 이루어지고, 수지 조성물 층은 본 발명의 수지 조성물로 형성된다.In one embodiment, the resin sheet includes a support and a resin composition layer provided on the support, and the resin composition layer is formed from the resin composition of the present invention.
수지 조성물 층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화 및 상기 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 우수한 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하이다. 수지 조성물 층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 5㎛ 이상, 10㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product with excellent insulating properties even if the cured product of the resin composition is a thin film. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but can usually be 5 μm or more, 10 μm or more, etc.
지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.Examples of the support include films made of plastic materials, metal foils, and release papers, and films and metal foils made of plastic materials are preferred.
지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하, 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하, 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하, 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When using a film made of a plastic material as a support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as “PEN”) ), polyester such as polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as “PC”), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetylcellulose (TAC), and polyether sulfide ( PES), polyether ketone, polyimide, etc. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is especially preferable.
지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티탄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다.When using a metal foil as a support, examples of the metal foil include copper foil, aluminum foil, etc., and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of the simple metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and other metals (e.g., tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good night.
지지체는, 수지 조성물 층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다. The support may be subjected to mat treatment, corona treatment, or antistatic treatment on the surface bonded to the resin composition layer.
또한, 지지체로서는, 수지 조성물 층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.Additionally, as the support, you may use a support with a release layer that has a release layer on the surface bonded to the resin composition layer. Examples of the release agent used in the release layer of the support with a release layer include one or more types of release agents selected from the group consisting of alkyd resin, polyolefin resin, urethane resin, and silicone resin. The support with the release layer may be a commercially available product, for example, "SK-1", "AL-5", and "AL-" manufactured by Lintec, which are PET films with a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. 7”, “Lumira T60” manufactured by Torres, “Purex” manufactured by Teijin, and “Unifill” manufactured by Unichika.
지지체의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. In addition, when using a support body with a release layer, it is preferable that the entire thickness of the support body with a release layer is within the above range.
일 실시형태에 있어서, 수지 시트는, 필요에 따라서, 임의의 층을 추가로 포함하고 있어도 좋다. 이러한 임의의 층으로서는, 예를 들면, 수지 조성물 층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 제공된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물 층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further include an arbitrary layer as needed. Examples of such an optional layer include a protective film similar to the support provided on the side of the resin composition layer that is not bonded to the support (i.e., the side opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 μm to 40 μm. By laminating a protective film, adhesion of dust or the like to the surface of the resin composition layer and scratches can be suppressed.
수지 시트는, 예를 들면, 액상의 수지 조성물을 그대로, 또는 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 조제하고, 이것을 다이코터 등을 사용하여 지지체 상에 도포하고, 더욱 건조시켜서 수지 조성물 층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.For the resin sheet, for example, a liquid resin composition is prepared as is, or a resin varnish is prepared by dissolving the resin composition in an organic solvent, and this is applied on a support using a die coater or the like, and further dried to form a resin composition layer. It can be manufactured by:
유기 용제로서는, 수지 조성물의 성분으로서 설명한 유기 용제와 동일한 것을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다.Examples of the organic solvent include the same organic solvents described as components of the resin composition. Organic solvents may be used individually, or two or more types may be used in combination.
건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물 층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 조성물 또는 수지 바니쉬 중의 유기 용제의 비점에 의해서도 다르지만, 예를 들면, 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 조성물 또는 수지 바니쉬를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써 수지 조성물 층을 형성할 수 있다.Drying may be performed by known methods such as heating or hot air spraying. Drying conditions are not particularly limited, but the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. It also varies depending on the boiling point of the organic solvent in the resin composition or resin varnish, but for example, when using a resin composition or resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent, the boiling point is heated at 50°C to 150°C for 3 minutes. A resin composition layer can be formed by drying for 10 minutes.
수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.The resin sheet can be wound into a roll and stored. When the resin sheet has a protective film, it becomes usable by peeling off the protective film.
일 실시형태에 있어서, 프리프레그는, 시트상 섬유 기재에 본 발명의 수지 조성물을 함침시켜서 형성된다.In one embodiment, the prepreg is formed by impregnating a sheet-like fiber base material with the resin composition of the present invention.
프리프레그에 사용하는 시트상 섬유 기재는 특별히 한정되지 않고, 글래스 클로스, 아라미드 부직포, 액정 폴리머 부직포 등의 프리프레그용 기재로서 상용되고 있는 것을 사용할 수 있다. 프린트 배선판의 박형화의 관점에서, 시트상 섬유 기재의 두께는, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하, 특히 바람직하게는 20㎛ 이하이다. 시트상 섬유 기재의 두께의 하한은 특별히 한정되지 않는다. 통상, 10㎛ 이상이다.The sheet-like fiber substrate used for the prepreg is not particularly limited, and commonly used prepreg substrates such as glass cloth, aramid nonwoven fabric, and liquid crystal polymer nonwoven fabric can be used. From the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board, the thickness of the sheet-like fiber substrate is preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, further preferably 30 μm or less, and particularly preferably 20 μm or less. The lower limit of the thickness of the sheet-like fiber base material is not particularly limited. Usually, it is 10㎛ or more.
프리프레그는, 핫멜트법, 솔벤트법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다.Prepreg can be manufactured by known methods such as hot melt method and solvent method.
프리프레그의 두께는, 상기 수지 시트에서의 수지 조성물 층과 동일한 범위로 할 수 있다.The thickness of the prepreg can be within the same range as that of the resin composition layer in the resin sheet.
본 발명의 시트상 적층 재료는, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 절연층용) 적합하게 사용할 수 있고, 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 층간 절연층용) 보다 적합하게 사용할 수 있다.The sheet-like laminated material of the present invention can be suitably used to form an insulating layer of a printed wiring board (for an insulating layer of a printed wiring board), and to form an interlayer insulating layer of a printed wiring board (for an interlayer insulating layer of a printed wiring board). It can be used appropriately.
<프린트 배선판><Printed wiring board>
본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물을 경화해서 얻어지는 경화물로 이루어진 절연층을 포함한다. The printed wiring board of the present invention includes an insulating layer made of a cured product obtained by curing the resin composition of the present invention.
프린트 배선판은, 예를 들면, 상기 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다. A printed wiring board can be manufactured, for example, by a method including the following steps (I) and (II) using the above resin sheet.
(I) 내층 기판 상에, 수지 시트를, 수지 시트의 수지 조성물 층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) A process of laminating a resin sheet on an inner layer substrate so that the resin composition layer of the resin sheet is bonded to the inner layer substrate.
(II) 수지 조성물 층을 경화(예를 들면, 열경화)해서 절연층을 형성하는 공정(II) Process of curing (e.g., heat curing) the resin composition layer to form an insulating layer
공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 상기 기판은, 이의 한 면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 한 면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 말하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용해도 좋다.The “inner layer substrate” used in step (I) is a member that becomes the substrate of the printed wiring board, for example, glass epoxy substrate, metal substrate, polyester substrate, polyimide substrate, BT resin substrate, and thermosetting polyphenylene. Ether substrates, etc. can be mentioned. Additionally, the substrate may have a conductor layer on one or both sides, and this conductor layer may be pattern-processed. An inner layer substrate on which a conductor layer (circuit) is formed on one or both sides of the substrate is sometimes referred to as an “inner layer circuit board.” Additionally, when manufacturing a printed wiring board, an intermediate product on which an insulating layer and/or a conductor layer must be additionally formed is also included in the "inner layer substrate" referred to in the present invention. If the printed wiring board is a circuit board with embedded components, an inner layer board with embedded components may be used.
내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들면, 지지체측으로부터 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. Examples of members for heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter also referred to as “heat-pressing members”) include heated metal plates (SUS head plates, etc.) or metal rolls (SUS rolls). In addition, it is preferable not to press the heat-compression member directly onto the resin sheet, but to press it through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.
내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에 있어서, 가열 압착 온도는, 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이고, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은, 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건 하에 실시될 수 있다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet may be performed by a vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the heat-pressing temperature is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably in the range of 80°C to 140°C, and the heat-compression pressure is preferably in the range of 0.098MPa to 1.77MPa, more preferably is in the range of 0.29 MPa to 1.47 MPa, and the heat compression time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination can be preferably carried out under reduced pressure conditions of 26.7 hPa or less.
적층은, 시판 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배취식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurization laminator manufactured by Meiki Sesakusho, a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, and a batch vacuum pressurized laminator.
적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 지지체측으로부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 또한, 적층과 평활화 처리는, 상기 시판 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, the laminated resin sheets may be smoothed under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing a heat-pressing member from the support side. The press conditions for the smoothing treatment can be the same as the heat-pressing conditions for the above-mentioned lamination. Smoothing treatment can be performed using a commercially available laminator. Additionally, the lamination and smoothing treatment may be performed continuously using the commercially available vacuum laminator.
지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II) 후에 제거해도 좋다.The support may be removed between step (I) and step (II), or may be removed after step (II).
공정 (II)에 있어서, 수지 조성물 층을 경화(예를 들면, 열경화)하여, 수지 조성물의 경화물로 이루어진 절연층을 형성한다. 수지 조성물 층의 경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.In step (II), the resin composition layer is cured (for example, heat cured) to form an insulating layer made of a cured resin composition. The curing conditions of the resin composition layer are not particularly limited, and conditions normally employed when forming the insulating layer of a printed wiring board may be used.
예를 들면, 수지 조성물 층의 열경화 조건은, 수지 조성물의 종류 등에 의해서도 다르지만, 일 실시형태에 있어서, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 210℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다.For example, the heat curing conditions of the resin composition layer vary depending on the type of the resin composition, etc., but in one embodiment, the curing temperature is preferably 120°C to 240°C, more preferably 150°C to 220°C. Preferably it is 170°C to 210°C. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, and even more preferably 15 minutes to 100 minutes.
수지 조성물 층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물 층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 수지 조성물 층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 내지 120℃, 바람직하게는 60℃ 내지 115℃, 보다 바람직하게는 70℃ 내지 110℃의 온도에서, 수지 조성물 층을 5분간 이상, 바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간 예비 가열해도 좋다.Before thermally curing the resin composition layer, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to heat curing the resin composition layer, the resin composition layer is cured at a temperature of 50°C to 120°C, preferably 60°C to 115°C, more preferably 70°C to 110°C for 5 minutes or more. Preheating may be performed preferably for 5 minutes to 150 minutes, more preferably for 15 minutes to 120 minutes, and even more preferably for 15 minutes to 100 minutes.
프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지된 각종 방법에 따라서 실시해도 좋다. 또한, 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 상기 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이 또는 공정 (IV)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라서, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복해서 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, (III) a step of perforating the insulating layer, (IV) a step of roughening the insulating layer, and (V) a step of forming a conductor layer may be additionally performed. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art that are used in the manufacture of printed wiring boards. Additionally, when the support is removed after step (II), the removal of the support may occur between steps (II) and (III), between steps (III) and (IV), or between steps (IV) and (V). It can be done in between. Additionally, if necessary, the formation of the insulating layer and the conductor layer in steps (II) to (V) may be repeated to form a multilayer wiring board.
다른 실시형태에 있어서, 본 발명의 프린트 배선판은, 상기 프리프레그를 사용하여 제조할 수 있다. 제조방법은 기본적으로 수지 시트를 사용하는 경우와 같다.In another embodiment, the printed wiring board of the present invention can be manufactured using the prepreg. The manufacturing method is basically the same as when using a resin sheet.
공정 (III)은, 절연층에 천공하는 공정이며, 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라서, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용해서 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라서 적절히 결정해도 좋다.Process (III) is a process of drilling holes in the insulating layer, thereby forming holes such as via holes and through holes in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, etc., depending on the composition of the resin composition used to form the insulating layer. The size and shape of the hole may be determined appropriately according to the design of the printed wiring board.
공정 (IV)는, 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에서, 스미어의 제거도 행하여진다. 조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이러한 순서로 실시해서 절연층을 조화 처리할 수 있다.Process (IV) is a process of roughening the insulating layer. Usually, in this step (IV), removal of smear is also performed. The procedures and conditions of the roughening process are not particularly limited, and known procedures and conditions usually used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be adopted. For example, the insulating layer can be roughened by performing swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order.
조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 상기 알칼리 용액으로서는, 수산화 나트륨 용액, 수산화 칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「스웰링 딥 세큐리간스 P」, 「스웰링 딥 세큐리간스 SBU」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다.The swelling liquid used in the roughening treatment is not particularly limited, and includes an alkaline solution and a surfactant solution, and is preferably an alkaline solution. As the alkaline solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include “Swelling Deep Securiganth P” and “Swelling Deep Securiganth SBU” manufactured by Atotech Japan. The swelling treatment using the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the insulating layer in a swelling liquid of 30°C to 90°C for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling liquid of 40°C to 80°C for 5 to 15 minutes.
조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화 나트륨의 수용액에 과망간산 칼륨 또는 과망간산 나트륨을 용해한 알카리성과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 100℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「컨센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 세큐리간스 P」 등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다.The oxidizing agent used in the roughening treatment is not particularly limited, and examples include an alkaline permanganate solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 100°C for 10 to 30 minutes. Additionally, the concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as “Concentrate Compact CP” and “Dosing Solution Securiganth P” manufactured by Atotech Japan.
또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」를 들 수 있다.In addition, as the neutralizing liquid used in the roughening treatment, an acidic aqueous solution is preferable, and examples of commercial products include "Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan.
중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 된 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 된 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Treatment with a neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface that has been roughened with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 30°C to 80°C for 5 to 30 minutes. In terms of workability, etc., a method of immersing an object that has been roughened with an oxidizing agent in a neutralizing liquid at 40°C to 70°C for 5 to 20 minutes is preferable.
일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 바람직하게는 500nm 이하, 보다 바람직하게는 400nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5nm 이상, 보다 바람직하게는 1nm 이상 등으로 할 수 있다. 또한, 일 실시형태에 있어서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 바람직하게는 500nm 이하, 보다 바람직하게는 400nm 이하, 더욱 바람직하게는 300nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되는 것은 아니고, 예를 들면, 1nm 이상, 2nm 이상 등으로 할 수 있다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra) 및 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq)는, 비접촉형 표면 조도계를 사용해서 측정할 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after roughening treatment is not particularly limited, but is preferably 500 nm or less, more preferably 400 nm or less, and even more preferably 300 nm or less. There is no particular limitation on the lower limit, but it is preferably 0.5 nm or more, and more preferably 1 nm or more. Moreover, in one embodiment, the root mean square roughness (Rq) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 500 nm or less, more preferably 400 nm or less, and even more preferably 300 nm or less. The lower limit is not particularly limited and can be, for example, 1 nm or more, 2 nm or more, etc. The arithmetic mean roughness (Ra) and root mean square roughness (Rq) of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact surface roughness meter.
공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 상에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은, 단금속층이라도, 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티탄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티탄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.Step (V) is a step of forming a conductor layer, and the conductor layer is formed on the insulating layer. The conductor material used in the conductor layer is not particularly limited. In a suitable embodiment, the conductor layer includes one or more metals selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin, and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (e.g., nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, and copper-titanium A layer formed of an alloy) may be mentioned. Among them, from the viewpoint of versatility of forming the conductor layer, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, An alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper is even more preferable. desirable.
도체층은, 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc, or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.
도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.The thickness of the conductor layer depends on the desired design of the printed wiring board, but is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm.
일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들면, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by plating on the surface of the insulating layer using a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method, and from the viewpoint of ease of manufacturing, the semi-additive method can be used. It is preferable to form it by the Tiv method. Hereinafter, an example of forming a conductor layer by a semi-additive method will be shown.
우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 그 다음에, 형성된 도금 시드층 상에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 상에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Next, on the formed plating seed layer, a mask pattern is formed to expose a portion of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. After forming a metal layer on the exposed plating seed layer by electrolytic plating, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer with a desired wiring pattern.
다른 실시형태에 있어서, 도체층은, 금속박을 사용해서 형성해도 좋다. 금속박을 사용해서 도체층을 형성하는 경우, 공정 (V)는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 실시하는 것이 적합하다. 예를 들면, 공정 (I) 후, 지지체를 제거하여, 노출된 수지 조성물 층의 표면에 금속박을 적층한다. 수지 조성물 층과 금속박의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 적층의 조건은, 공정 (I)에 대하여 설명한 조건과 동일하게 해도 좋다. 그 다음에, 공정 (II)를 실시해서 절연층을 형성한다. 그 후, 절연층 상의 금속박을 사용하여, 서브트랙티브법, 모디파이드 세미어디티브법 등의 종래의 공지의 기술에 의해, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.In another embodiment, the conductor layer may be formed using metal foil. When forming a conductor layer using metal foil, step (V) is preferably performed between step (I) and step (II). For example, after step (I), the support is removed and a metal foil is laminated on the surface of the exposed resin composition layer. Lamination of the resin composition layer and the metal foil may be performed by a vacuum lamination method. The conditions for lamination may be the same as those described for step (I). Next, step (II) is performed to form an insulating layer. Thereafter, using the metal foil on the insulating layer, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed by conventionally known techniques such as the subtractive method and the modified semiadditive method.
금속박은, 예를 들면, 전해법, 압연법 등의 공지의 방법에 의해 제조할 수 있다. 금속박의 시판품으로서는, 예를 들면, JX 닛코 닛세키 킨조쿠사 제조의 HLP박, JXUT-III박, 미츠이 킨조쿠코잔사 제조의 3EC-III박, TP-III박 등을 들 수 있다.Metal foil can be manufactured by known methods such as electrolysis and rolling, for example. Commercially available metal foils include, for example, HLP foil and JXUT-III foil manufactured by JX Nikko Nisseki Kinzoku Corporation, 3EC-III foil and TP-III foil manufactured by Mitsui Kinzoku Kozan Corporation.
<반도체 장치><Semiconductor device>
본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 사용해서 제조할 수 있다.The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.
반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈것(예를 들면, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of semiconductor devices include various semiconductor devices used in electrical appliances (e.g., computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (e.g., motorcycles, automobiles, trams, ships, aircraft, etc.). there is.
실시예Example
이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명한다. 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하에 있어서, 양을 나타내는 「부」 및 「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다. 특별히 온도의 지정이 없는 경우의 온도 조건은 실온(23℃)이다. 특별히 압력의 지정이 없는 경우의 압력 조건은 상압(1atm)이다.Hereinafter, the present invention will be specifically explained by examples. The present invention is not limited to these examples. In addition, in the following, “part” and “%” indicating quantity mean “part by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified. If there is no specific temperature designation, the temperature condition is room temperature (23°C). If there is no specific pressure designation, the pressure condition is normal pressure (1 atm).
<합성예 1: 에폭시 수지 A의 합성><Synthesis Example 1: Synthesis of epoxy resin A>
일본 공개특허공보 특개2016-89165호의 실시예 1-1에 기재된 방법에 따라, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-비페놀디글리시딜에테르와, 4,4'-디아세톡시비페닐을, N,N'-디메틸아미노피리딘의 존재 하, 사이클로헥사논 및 메틸에틸케톤 중에서 반응시켜, 에폭시 수지 A를 합성하였다. 에폭시 수지 A의 주성분은, 화학식 1로 표시되는 에폭시 수지이고, Ar이 화학식 X-1-1로 표시되는 기 또는 화학식 X-2-1로 표시되는 기이고, 또한 화학식 X-1-1로 표시되는 기인 Ar 및 화학식 X-2-1로 표시되는 기인 Ar을 교호하여 포함하는 에폭시 수지이며, 에폭시 당량이 1,900g/eq.이다.According to the method described in Example 1-1 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-89165, 3,3',5,5'-tetramethyl-4,4'-biphenol diglycidyl ether and 4,4 Epoxy resin A was synthesized by reacting '-diacetoxybiphenyl in cyclohexanone and methyl ethyl ketone in the presence of N,N'-dimethylaminopyridine. The main component of epoxy resin A is an epoxy resin represented by Formula 1, Ar is a group represented by Formula X-1-1 or a group represented by Formula X-2-1, and is also represented by Formula X-1-1 It is an epoxy resin that alternately contains Ar, a group represented by the formula X-2-1, and Ar, and the epoxy equivalent weight is 1,900 g/eq.
<실시예 1><Example 1>
에폭시 수지 A(에폭시 당량 1,900g/eq.) 1부, 비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」, 비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합물, 에폭시 당량 170g/eq.) 5부, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」, 에폭시 당량 144g/eq.) 5부, 활성 에스테르 경화제 (DIC사 제조 「HPC-8150-62T」, 불휘발 성분 62질량%의 톨루엔 용액, 활성 에스테르기 당량 234g/eq.) 26부, 무기 충전재(아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(아도마텍스사 제조, 「SO-C2」, 평균 입자 직경 0.5㎛, 비표면적 5.8㎡/g) 72부, 유기 충전재(DOW사 제조, 「EXL-2655」) 1부, 경화 촉진제(와코 쥰야쿠코교 제조, 4-디메틸아미노피리딘) 0.3부, MEK 10부, 톨루엔 10부를 혼합하고, 고속 회전 믹서를 사용해서 균일하게 분산하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.1 part of epoxy resin A (epoxy equivalent weight 1,900 g/eq.), bisphenol type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials, mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin, epoxy equivalent weight 170 g /eq.) 5 parts, naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC, epoxy equivalent weight 144 g/eq.), 5 parts, active ester curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC, non-volatile) 26 parts of toluene solution containing 62% by mass of components, active ester group equivalent of 234 g/eq.), 26 parts of inorganic filler (spherical silica surface-treated with an amine-based alkoxysilane compound (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (Adomatex Co., Ltd.) Manufactured, “SO-C2”, average particle diameter 0.5㎛, specific surface area 5.8㎡/g) 72 parts, organic filler (manufactured by DOW, “EXL-2655”) 1 part, curing accelerator (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., 4 -Dimethylaminopyridine) 0.3 parts, MEK 10 parts, and toluene 10 parts were mixed and uniformly dispersed using a high-speed rotating mixer to prepare a resin composition (resin varnish).
<실시예 2><Example 2>
비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」)의 사용량을 5부에서 3부로 변경하고, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)의 사용량을 5부에서 4부로 변경하고, 추가로 비페닐 골격 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC-3000L」, 에폭시 당량 270g/eq.)를 3부 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.The amount of bisphenol-type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials) was changed from 5 parts to 3 parts, and the amount of naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC) was changed to 5 parts. The resin composition ( Resin varnish) was prepared.
<실시예 3><Example 3>
비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」)의 사용량을 5부에서 3부로 변경하고, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)의 사용량을 5부에서 4부로 변경하고, 추가로 나프톨아르알킬 골격 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ESN-475V」, 에폭시 당량 330g/eq.)을 3부 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.The amount of bisphenol-type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials) was changed from 5 parts to 3 parts, and the amount of naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC) was changed to 5 parts. In the same manner as in Example 1, except that 4 parts were changed and 3 parts of naphthol aralkyl skeleton epoxy resin (“ESN-475V” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials, epoxy equivalent weight 330 g/eq.) was added. , a resin composition (resin varnish) was prepared.
<실시예 4><Example 4>
비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」)의 사용량을 5부에서 3부로 변경하고, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)의 사용량을 5부에서 4부로 변경하고, 추가로 비페닐 골격 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC-3000L」, 에폭시 당량 272g/eq.)를 3부 첨가하고, 활성 에스테르 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」)의 사용량을 26부에서 22.6부로 변경하고, 추가로 크레졸 노볼락 수지(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 151g/eq., 불휘발분 50%의 1-메톡시-2-프로판올 용액)을 4부 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.The amount of bisphenol-type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials) was changed from 5 parts to 3 parts, and the amount of naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC) was changed to 5 parts. was changed to 4 parts, and 3 parts of biphenyl skeleton epoxy resin (“NC-3000L” manufactured by Nippon Kayaku, epoxy equivalent weight 272 g/eq.) was added, and an activated ester curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC) was added. ") was changed from 26 parts to 22.6 parts, and additionally 1-methoxy-2- of cresol novolac resin ("LA-3018-50P" manufactured by DIC, hydroxyl equivalent weight 151 g/eq., non-volatile matter 50%) A resin composition (resin varnish) was prepared in the same manner as in Example 1, except that 4 parts of propanol solution was added.
<실시예 5><Example 5>
비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」)의 사용량을 5부에서 3부로 변경하고, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)의 사용량을 5부에서 4부로 변경하고, 추가로 비페닐 골격 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC-3000L」, 에폭시 당량 272g/eq.)를 3부 첨가하고, 활성 에스테르 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」)의 사용량을 26부에서 22.6부로 변경하고, 추가로 페놀 노볼락 수지(DIC사 제조 「LA-1356」, 수산기 당량 146g/eq., 불휘발분 60%의 MEK 용액)을 3.3부 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.The amount of bisphenol-type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials) was changed from 5 parts to 3 parts, and the amount of naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC) was changed to 5 parts. was changed to 4 parts, and 3 parts of biphenyl skeleton epoxy resin (“NC-3000L” manufactured by Nippon Kayaku, epoxy equivalent weight 272 g/eq.) was added, and an activated ester curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC) was added. ") was changed from 26 parts to 22.6 parts, and 3.3 parts of phenol novolac resin ("LA-1356" manufactured by DIC, hydroxyl equivalent 146 g/eq., MEK solution with 60% non-volatile matter) was added. Other than that, a resin composition (resin varnish) was prepared in the same manner as in Example 1.
<비교예 1><Comparative Example 1>
에폭시 수지 A를 사용하지 않고, 대신에, 다른 에폭시 수지(미츠비시 케미칼사 제조 「YX7800BH40」, 에폭시 당량 4,000g/eq., 불휘발분 40%의 사이클로헥사논·MEK 혼합 용액, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-비페놀디글리시딜에테르와, 비스크레졸플루오렌의 반응물)을 2.5부 첨가한 것 이외에는, 실시예 2와 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.Epoxy resin A was not used, and instead, another epoxy resin (“YX7800BH40” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent weight of 4,000 g/eq., cyclohexanone/MEK mixed solution with 40% non-volatile content, 3,3’,5 A resin composition (resin varnish) was prepared in the same manner as in Example 2, except that 2.5 parts of 5'-tetramethyl-4,4'-biphenol diglycidyl ether and biscresol fluorene (reaction product) was added. was prepared.
<비교예 2><Comparative Example 2>
에폭시 수지 A를 사용하지 않고, 대신에, 다른 에폭시 수지(미츠비시 케미칼사 제조 「YL7891BH30」, 에폭시 당량 8000g/eq., 불휘발분 30%의 사이클로헥사논·MEK 혼합 용액) 3.3부를 첨가한 것 이외에는, 실시예 2와 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.Except that epoxy resin A was not used, and instead, 3.3 parts of another epoxy resin (“YL7891BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent weight 8000 g/eq., cyclohexanone/MEK mixed solution with 30% non-volatile content) was added. In the same manner as in Example 2, a resin composition (resin varnish) was prepared.
<비교예 3><Comparative Example 3>
비스페놀형 에폭시 수지(닛테츠 케미칼 & 머티리얼사 제조 「ZX-1059」)를 사용하지 않고, 추가로, 나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)를 사용하지 않고, 대신에, 비페닐 골격 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC-3000L」) 10부를 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.Instead of using a bisphenol-type epoxy resin (“ZX-1059” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd.), and additionally without using a naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC Co., Ltd.), A resin composition (resin varnish) was prepared in the same manner as in Example 1, except that 10 parts of biphenyl skeleton epoxy resin (“NC-3000L” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was added.
<비교예 4><Comparative Example 4>
나프탈렌 골격 에폭시 수지(DIC사 제조 「HP-4032-SS」)의 사용량을 5부에서 8부로 변경하고, 추가로, 비페닐 골격 에폭시 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「NC-3000L」) 5부를 첨가하고, 활성 에스테르 경화제(DIC사 제조 「HPC-8150-62T」)를 사용하지 않고, 추가로, 크레졸 노볼락 수지(DIC사 제조 「LA-3018-50P」, 수산기 당량 151, 불휘발분 50%의 1-메톡시-2-프로판올 용액)을 16부 첨가한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여, 수지 조성물(수지 바니쉬)을 조제하였다.The amount of naphthalene skeleton epoxy resin (“HP-4032-SS” manufactured by DIC) was changed from 5 parts to 8 parts, and additionally, 5 parts of biphenyl skeleton epoxy resin (“NC-3000L” manufactured by Nippon Kayaku Corporation) was added. , an active ester curing agent (“HPC-8150-62T” manufactured by DIC) was not used, and additionally, a cresol novolak resin (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, hydroxyl equivalent weight 151, non-volatile matter 50% of 1 A resin composition (resin varnish) was prepared in the same manner as in Example 1, except that 16 parts of -methoxy-2-propanol solution) was added.
<시험예 1: 유전정접(Df)의 측정><Test Example 1: Measurement of dielectric loss tangent (Df)>
지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비하였다. 상기 지지체의 이형층 상에, 실시예 및 비교예에서 조제한 수지 조성물(수지 바니쉬)을, 건조 후의 수지 조성물 층의 두께가 40㎛가 되도록 균일하게 도포하였다. 그 후, 수지 조성물을 80℃ 내지 100℃(평균 90℃)에서 4분간 건조시켜서, 지지체 및 수지 조성물 층을 포함하는 수지 시트를 얻었다.As a support, a polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintec, thickness 38 μm) with a release layer was prepared. On the release layer of the support, the resin composition (resin varnish) prepared in Examples and Comparative Examples was uniformly applied so that the thickness of the resin composition layer after drying was 40 μm. Thereafter, the resin composition was dried at 80°C to 100°C (average 90°C) for 4 minutes to obtain a resin sheet including a support and a resin composition layer.
얻어진 수지 시트를, 190℃에서 90분간 가열하여, 수지 조성물 층을 열경화시켰다. 그 후, 지지체를 박리하여, 수지 조성물의 경화물을 얻었다. 상기 경화물을, 폭 2mm, 길이 80mm의 시험편으로 절단하였다. 상기 시험편에 대하여, 아질렌트 테크놀로지즈사 제조 「HP8362B」를 사용하여, 공동 공진 섭동에 의해, 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃에서 유전정접(Df)을 측정하였다. 3개의 시험편에 대하여 측정을 행하였다.The obtained resin sheet was heated at 190°C for 90 minutes to heat-cure the resin composition layer. After that, the support was peeled off to obtain a cured product of the resin composition. The cured product was cut into test pieces with a width of 2 mm and a length of 80 mm. For the above test piece, the dielectric loss tangent (Df) was measured by cavity resonance perturbation using “HP8362B” manufactured by Agilent Technologies, Inc. at a measurement frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23°C. Measurements were made on three test pieces.
<시험예 2: 구리 도금 필 강도의 측정><Test Example 2: Measurement of copper plating peel strength>
(1) 내층 회로 기판의 하지 처리(1) Base processing of inner layer circuit board
내층 회로 기판으로서, 내층 회로(동박)를 양면에 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판 두께 0.4mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)을 준비하였다. 상기 내층 회로 기판의 양면을, 맥크사 제조 「CZ8101」로 1㎛ 에칭하여, 구리 표면의 조화 처리를 행하였다.As an inner layer circuit board, a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.4 mm, “R1515A” manufactured by Panasonic Corporation) having inner layer circuits (copper foil) on both sides was prepared. Both sides of the inner-layer circuit board were etched by 1 μm with “CZ8101” manufactured by Mack Co., Ltd. to roughen the copper surface.
(2) 수지 시트의 라미네이트(2) Laminate of resin sheets
시험예 1에서 얻어진 수지 시트를, 배취식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터, CVP700)를 사용하여, 내층 회로 기판의 양면에 라미네이트하였다. 상기 라미네이트는, 수지 시트의 수지 조성물 층이 내층 회로 기판과 접하도록 실시하였다. 또한, 상기 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 하고, 130℃, 압력 0.74MPa에서 45초간 압착시킴으로써 실시하였다. 그 다음에, 120℃, 압력 0.5MPa에서 75초간 열 프레스를 행하였다.The resin sheet obtained in Test Example 1 was laminated on both sides of the inner layer circuit board using a batch vacuum pressure laminator (two-stage build-up laminator, CVP700, manufactured by Nikko Materials). The laminate was performed so that the resin composition layer of the resin sheet was in contact with the inner layer circuit board. In addition, the laminate was performed by reducing the pressure for 30 seconds to bring the atmospheric pressure to 13 hPa or less and pressing it at 130°C and a pressure of 0.74 MPa for 45 seconds. Next, heat pressing was performed at 120°C and a pressure of 0.5 MPa for 75 seconds.
(3) 수지 조성물의 경화(3) Curing of the resin composition
라미네이트된 수지 시트 및 내층 회로 기판을 130℃에서 30분간 가열하고, 계속해서 170℃에서 30분간 가열하여 수지 조성물을 경화하여 절연층을 형성하였다. 그 후, 지지체를 박리하여, 절연층, 내층 회로 기판 및 절연층을 이러한 순서로 구비하는 적층 기판을 얻었다.The laminated resin sheet and inner layer circuit board were heated at 130°C for 30 minutes, and then heated at 170°C for 30 minutes to cure the resin composition to form an insulating layer. Thereafter, the support was peeled off to obtain a laminated board including an insulating layer, an inner layer circuit board, and an insulating layer in this order.
(4) 조화 처리(4) Harmonization processing
상기 적층 기판을, 팽윤액(아토텍 재팬사 제조의 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 함유의 스웰링 딥 세큐리간트 P(글리콜에테르류, 수산화 나트륨의 수용액))에, 60℃에서 10분간 침지하였다. 다음에, 적층 기판을, 조화액(아토텍 재팬사 제조의 컨센트레이트 컴팩트 P(KnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에, 80℃에서 20분간 침지하였다. 그 후에, 적층 기판을, 중화액(아토텍 재팬사 제조의 리덕션 솔류신 세큐리간트 P(황산의 수용액))에, 40℃에서 5분간 침지하였다. 그 후, 적층 기판을 80℃에서 30분 건조하여 「평가 기판 A」를 얻었다.The laminated substrate was immersed in a swelling liquid (Swelling Deep Securigant P (glycol ethers, aqueous solution of sodium hydroxide) containing diethylene glycol monobutyl ether manufactured by Atotech Japan) at 60°C for 10 minutes. Next, the laminated substrate was immersed in a roughening solution (Concentrate Compact P (aqueous solution of KnO 4 : 60 g/L, NaOH: 40 g/L) manufactured by Atotech Japan) at 80°C for 20 minutes. After that, the laminated substrate was was immersed in a neutralizing liquid (Reduction Soleucine Securigant P (aqueous solution of sulfuric acid) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) for 5 minutes at 40°C. Thereafter, the laminated substrate was dried at 80°C for 30 minutes and designated as an “evaluation substrate.” I got 'A'.
(5) 세미 어디티브 공법에 의한 도금(5) Plating using semi-additive method
평가 기판 A를, PdCl2를 포함하는 무전해 도금용 용액에 40℃에서 5분간 침지하고, 다음에, 무전해 구리 도금액에 25℃에서 20분간 침지하였다. 그 후, 150℃에서 30분간 가열하여 어닐 처리를 행하였다. 그 후에, 에칭 레지스트를 형성하여, 에칭에 의한 패턴 형성을 행하였다. 그 후, 황산구리 전해 도금을 행하여, 20㎛의 두께로 도체층을 형성하였다. 다음에, 어닐 처리를 190℃에서 60분간 행하여, 「평가 기판 B」를 얻었다.Evaluation substrate A was immersed in a solution for electroless plating containing PdCl 2 at 40°C for 5 minutes, and then immersed in an electroless copper plating solution at 25°C for 20 minutes. After that, annealing was performed by heating at 150°C for 30 minutes. After that, an etching resist was formed and a pattern was formed by etching. After that, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer with a thickness of 20 μm. Next, annealing was performed at 190°C for 60 minutes to obtain “Evaluation Board B.”
(6) 구리 도금 필 강도의 측정(6) Measurement of copper plating peel strength
평가 기판 B의 도체층에, 폭 10mm, 길이 100mm의 직사각형 부분을 둘러싸는 절개를 형성하였다. 직사각형 부분의 일단을 박리하여, 집기도구(티에스이사 제조, 오토콤형 시험기 「AC-50C-SL」)로 집었다. 집기도구에 의해, 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 상기 직사각형 부분을 수직 방향으로 박리하고, 35mm을 박리했을 때의 하중(kgf/cm)을 구리 도금 필 강도로서 측정하였다.In the conductor layer of evaluation board B, a cut was formed surrounding a rectangular portion with a width of 10 mm and a length of 100 mm. One end of the rectangular portion was peeled off and pinched with a clamping tool (Autocom type tester “AC-50C-SL” manufactured by TS Corporation). The rectangular portion was peeled in the vertical direction at room temperature at room temperature using a tool, and the load (kgf/cm) upon peeling 35 mm was measured as the copper plating peel strength.
<시험예 3: 디스미어 후의 크랙의 평가><Test Example 3: Evaluation of cracks after desmearing>
지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비하였다. 상기 지지체의 이형층 상에, 실시예 및 비교예에서 조제한 수지 조성물(수지 바니쉬)을, 건조 후의 수지 조성물 층의 두께가 25㎛가 되도록 균일하게 도포하였다. 그 후, 수지 바니쉬를 80℃ 내지 100℃(평균 90℃)에서 2.5분간 건조시켜서, 지지체 및 수지 조성물 층을 포함하는 수지 시트를 얻었다.As a support, a polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintec, thickness 38 μm) with a release layer was prepared. On the release layer of the support, the resin composition (resin varnish) prepared in Examples and Comparative Examples was uniformly applied so that the thickness of the resin composition layer after drying was 25 μm. Thereafter, the resin varnish was dried at 80°C to 100°C (average 90°C) for 2.5 minutes to obtain a resin sheet including a support and a resin composition layer.
상기에서 얻어진 두께 25㎛의 수지 시트를 잔동율 60%가 되도록 직경 350㎛의 원형 구리 패드(구리 두께 35㎛)를 400㎛ 간격으로 격자상으로 형성한 코어재(히타치 카세이코교사 제조 「E705GR」, 두께 400㎛)의 양면에 배취식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물 층이 상기 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 상기 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 압착함으로써 실시하였다. 이것을, 130℃의 오븐에 투입해서 30분간 가열하고, 그 다음에 170℃의 오븐에 옮겨서 30분간 가열하였다. 추가로 지지층을 박리하고, 얻어진 회로 기판을, 팽윤액인 아토텍 재팬사(주)의 스웰링 딥 세큐리간트 P에 60℃에서 10분간 침지하였다. 다음에, 조화액인 아토텍 재팬(주)의 컨센트레이트 컴팩트 P(KMnO4: 60g/L, NaOH: 40g/L의 수용액)에 80℃에서 30분간 침지하였다. 마지막으로, 중화액인 아토텍 재팬(주)의 리덕션 솔루션 세큐리간트 P에 40℃에서 5분간 침지하였다. 조화 처리 후의 회로 기판의 구리 패드부를 100개 관찰하여, 수지 조성물 층의 크랙의 유무를 확인하였다. 크랙이 10개 이하이면 「○」, 10개보다 많으면 「×」라고 하였다.The resin sheet with a thickness of 25 ㎛ obtained above was formed into a core material (“E705GR” manufactured by Hitachi Kaseiko Co., Ltd.) in which circular copper pads (35 ㎛ copper thickness) with a diameter of 350 ㎛ were formed in a lattice shape at 400 ㎛ intervals to achieve a drift rate of 60%. , thickness of 400 μm) was laminated on both sides of the inner layer substrate using a batch-type vacuum pressurized laminator (two-stage build-up laminator “CVP700” manufactured by Nikko Materials) so that the resin composition layer was bonded to the inner layer substrate. The laminate was performed by reducing the pressure for 30 seconds to bring the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then compressing it at a temperature of 100°C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. This was placed in an oven at 130°C and heated for 30 minutes, and then transferred to an oven at 170°C and heated for 30 minutes. Additionally, the support layer was peeled off, and the obtained circuit board was immersed in Swelling Deep Securigant P from Atotech Japan Co., Ltd., a swelling liquid, at 60°C for 10 minutes. Next, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd.'s Concentrate Compact P (aqueous solution of KMnO 4 : 60 g/L, NaOH: 40 g/L), which is a roughening solution, at 80°C for 30 minutes. Finally, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd.'s reduction solution Securigant P, a neutralizing liquid, at 40°C for 5 minutes. 100 copper pad portions of the circuit board after the roughening treatment were observed to confirm the presence or absence of cracks in the resin composition layer. If there were 10 or less cracks, it was designated as “○”, and if there were more than 10 cracks, it was designated as “×”.
실시예 및 비교예의 수지 조성물에서의 불휘발 성분의 함유량, 시험예의 측정 결과 및 평가 결과를 하기 표 1에 나타낸다.The content of non-volatile components in the resin compositions of Examples and Comparative Examples, the measurement results and evaluation results of Test Examples are shown in Table 1 below.
표 1에 나타내는 바와 같이, (A-1) 특정 에폭시 수지를 포함하지만, (B) 활성 에스테르 화합물을 포함하지 않는 비교예 4에서는, 유전정접이 비교적 높다. (A-1) 특정 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물을 사용한 비교예 3에서는, 유전정접을 억제할 수 있지만, 크랙이 발생하기 쉬운 경향이 있다. (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물과 함께, (A-1) 특정 에폭시 수지 대신에 화학식 1로 표시되는 구조를 갖는 높은 에폭시 당량의 에폭시 수지를 사용한 비교예 2에서는, 크랙의 발생을 억제할 수 있지만, 구리 도금 필 강도가 낮다. 또한, (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물과 함께, (A-1) 특정 에폭시 수지 대신에 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지를 사용한 비교예 1에서는, 크랙이 발생하기 쉬운 경향이 있어, 구리 도금 필 강도가 낮다. 이에 반하여, (A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지 및 (B) 활성 에스테르 화합물과 함께, (A-1) 특정 에폭시 수지를 포함하는 본 발명의 수지 조성물을 사용한 경우는, 이러한 과제를 해결할 수 있다.As shown in Table 1, in Comparative Example 4, which contains (A-1) a specific epoxy resin but does not contain (B) an active ester compound, the dielectric loss tangent is relatively high. In Comparative Example 3 using (A-1) a specific epoxy resin and (B) an active ester compound, dielectric loss tangent can be suppressed, but cracks tend to occur easily. (A-2) Epoxy equivalent weight is 200g/eq. In Comparative Example 2, which used an epoxy resin with a high epoxy equivalent weight having the structure represented by Formula 1 instead of the specific epoxy resin (A-1), together with the following epoxy resin and (B) an active ester compound, the occurrence of cracks was suppressed. However, the copper plating peel strength is low. Additionally, (A-2) has an epoxy equivalent weight of 200 g/eq. With the following epoxy resin and (B) active ester compound, (A-1) an epoxy equivalent of 1,000 g/eq instead of the specific epoxy resin. In Comparative Example 1 using an epoxy resin of 5,000 g/eq. to 5,000 g/eq., cracks tend to occur easily and the copper plating peel strength is low. In contrast, (A-2) the epoxy equivalent weight was 200 g/eq. When the resin composition of the present invention containing the specific epoxy resin (A-1) is used together with the following epoxy resins and (B) the active ester compound, these problems can be solved.
본원은, 일본 특허청에 출원된 특허출원 제2021-032681호(출원일 2021년 3월 2일)를 기초로 하고 있고, 이의 내용은 모두 본 명세서에 포함되는 것으로 한다.This application is based on Patent Application No. 2021-032681 (filing date: March 2, 2021) filed with the Japan Patent Office, and all contents thereof are included in this specification.
Claims (19)
(A) 성분이,
(A-1) 화학식 1:
[화학식 1]
[화학식 1 중,
R1은 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기를 나타내고, 또한 R1 중 적어도 1개 이상이, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬-카보닐기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐-카보닐기 및 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴-카보닐기로부터 선택되는 기이고;
Ar은 각각 독립적으로, 화학식 X:
[화학식 X]
(화학식 X 중,
R2 및 R3은 각각 독립적으로, 치환기를 나타내고;
X는 단결합 또는 유기 기를 나타내고;
a 및 b는 각각 독립적으로, 0, 1, 2, 3 또는 4를 나타내고;
*는 결합 부위를 나타낸다)
로 표시되는 기를 나타내고;
n은 1 이상의 정수이며, 반복 단위 수를 나타낸다]
로 표시되는, 에폭시 당량이 1,000g/eq. 내지 5,000g/eq.인 에폭시 수지 및
(A-2) 에폭시 당량이 200g/eq. 이하인 에폭시 수지를 포함하는, 수지 조성물.A resin composition comprising (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound,
(A) The component is,
(A-1) Formula 1:
[Formula 1]
[In Formula 1,
R 1 each independently represents a hydrogen atom, an alkyl-carbonyl group which may have a substituent, an alkenyl-carbonyl group which may have a substituent, or an aryl-carbonyl group which may have a substituent, and at least one of R 1 The above are groups selected from alkyl-carbonyl groups which may have a substituent, alkenyl-carbonyl groups which may have a substituent, and aryl-carbonyl groups which may have a substituent;
Ar is each independently, Formula X:
[Formula X]
(In formula
R 2 and R 3 each independently represent a substituent;
X represents a single bond or an organic group;
a and b each independently represent 0, 1, 2, 3, or 4;
* indicates binding site)
Represents a group represented by;
n is an integer greater than or equal to 1 and represents the number of repeat units]
The epoxy equivalent weight, expressed as 1,000 g/eq. to 5,000 g/eq. of epoxy resin and
(A-2) Epoxy equivalent weight is 200g/eq. A resin composition containing the following epoxy resin.
[화학식 X-1]
(화학식 X-1 중,
R11, R12, R13, R14, R15, R16, R17 및 R18은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기를 나타내고, 또한 이들 중 적어도 1개가 알킬기이고;
X1은 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-을 나타내고;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;
*는 결합 부위를 나타낸다)
로 표시되는 기 또는 화학식 X-2:
[화학식 X-2]
(화학식 X-2 중,
X2는 단결합, -C(Rx)2-, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO2-, -CONH- 또는 -NHCO-를 나타내고;
Rx는 각각 독립적으로, 수소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알킬기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 알케닐기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 아릴기를 나타내거나, 또는 동일 탄소 원자 상의 2개의 Rx가 함께 결합하여, 치환기를 갖고 있어도 좋은 비방향환을 형성하고;
*는 결합 부위를 나타낸다)
로 표시되는 기이고, 또한 화학식 X-1로 표시되는 기인 Ar 및 화학식 X-2로 표시되는 기인 Ar을 각각 적어도 1개씩 포함하는, 수지 조성물.The method of claim 1, wherein Ar is each independently represented by Formula X-1:
[Formula X-1]
(In Formula X-1,
R 11 , R 12 , R 13 , R 14 , R 15 , R 16 , R 17 and R 18 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group, and at least one of them is an alkyl group;
X 1 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
* indicates binding site)
A group represented by or formula X-2:
[Formula X-2]
(In Formula X-2,
X 2 represents a single bond, -C(R x ) 2 -, -O-, -CO-, -S-, -SO-, -SO 2 -, -CONH- or -NHCO-;
R x each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, an alkenyl group which may have a substituent, or an aryl group which may have a substituent, or two R It forms a non-aromatic ring which may have;
* indicates binding site)
A resin composition comprising at least one group represented by Ar, and at least one group Ar represented by Formula X-1 and Ar represented by Formula X-2.
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