KR20230127210A - 객체 내에 설치된 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성 변수의 방향 의존 측정을 위한 방법 및 고니오광도계 - Google Patents

Abstract

본 발명은 객체(1) 내에 설치된 광학 방사선원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성 변수의 방향 의존 측정을 위한 방법 및 고니오광도계에 관한 것이다. 방법은 제1 좌표 시스템을 정의하는 회전 테이블(3) 상에 객체(1)를 배열하는 단계로서, 객체(1)는 광학 방사선원(2)의 방사선 집중 지점이 제1 좌표 시스템의 원점(O)으로부터 이격되도록 회전 테이블(3) 상에 배열되는 단계; 제1 좌표 시스템의 원점(O)에 대한 광학 방사선원(2)의 방사선 집중 지점의 위치(상대 위치)를 결정하는 단계; 제1 좌표 시스템에서 객체(1)의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정을 수행하는 단계로서, 객체(1)는 회전 테이블(3)의 회전 축(31)을 중심으로 회전 테이블(3) 상에서 회전되는 단계; 각도방사분석 측정에 의해 방향 의존 방식으로 방사선원(2)의 측정 변수를 검출하는 단계; 제2 좌표 시스템에서 복수의 방출 방향에 대한 측정 변수를 계산하는 단계를 포함하며, 광학 방사선원(2)의 방사선 집중 지점은 제1 좌표 시스템에서 결정되었던, 측정 변수의 방향 의존적으로 검출된 값들, 및 상대 위치에 기초하여, 상기 제2 좌표 시스템의 원점 내에 위치되고, 상기 측정 변수는 측정될 특성 변수와 같거나 측정될 특성 변수는 측정 변수로부터 계산된다.

Description

객체 내에 설치된 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성 변수의 방향 의존 측정을 위한 방법 및 고니오광도계

본 발명은 객체 내에 설치된 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 방법 및 고니오광도계에 관한 것이다.

램프들 및 라이트들의 조명 또는 방사분석 특성량들의 측정을 위해, 고니오광도계들이 종래에 사용되었다. 이들은 광학 방사선을 설명하기 위한 량들의 방향 의존이 결정될 수 있는 기계 광학 측정 시스템들이다. 예를 들어, 사용된 센서 또는 측정 장비 헤드에 따라, 광원의 광도 분포 또는 컬러 분포 바디가 결정될 수 있다. 광원 또는 방사선원은 고니오광도계의 중심 및 구면 좌표 시스템의 좌표 원점에서 그의 광 센트로이드에 배열된다. 조명 또는 방사분석 특성량의 측정 값들은 이러한 경우에, 광원 또는 방사선원을 회전시킴으로써 또는 센서를 상이한 각도 범위들 내로 연속적으로 이동시킴으로써, 각도측정으로, 다시 말해 모든 방향들에 대해 측정될 수 있다.

개별 방향들을 평가함으로써 그리고/또는 분포 바디의 부범위들 또는 전체 입체 각도에 걸쳐 측정 결과를 통합함으로써, 소스에 대한 조명 또는 방사분석 특성량들이 획득된다.

조명 또는 방사분석 특성량, 예를 들어 광도는 방향 의존량이며, 그의 방출 방향은 일반적으로 광원과 연관된 구면 좌표 시스템에서의 2개의 각도에 의해 명시될 수 있다. A-평면들, B-평면들 및 C-평면들로 지칭되는, 평면들의 특정 시스템들에 의한 설명은 광범위해진다. 이들 평면들은 문헌 CIE No 70(1987): "The measurement of absolute luminous intensity distributions", Central Bureau of the CIE, ISBN 3 900 734 05 4에서 설명된다.

문헌 CIE No 70(1987)에 마찬가지로 정의되는 특정 고니오광도계 유형들은 실제로 성공적인 것으로 증명되었다. 유형 1.1 내지 1.3 고니오광도계들에서, 광원은 센서가 안정적으로 위치되면서 측정 동안 회전된다. 유형 3 고니오광도계들에서, 방사선원은 축을 중심으로 회전되고 센서는 회전 축과 평행하게 연장되는 직선 라인을 따라 변위된다. 이러한 경우에, 광원 또는 방사선원은 고니오광도계의 중심에서, 그의 광 센트로이드, 또는 방사선 센트로이드에 배치된다.

사용 동안 직면하게 되는 상태에서, 다시 말해 설치된 상태에서 램프들 및 라이트들의 조명 또는 방사분석 특성량들의 기록에 증가하는 관심이 있다. 하나의 중요한 적용은 이러한 경우에 설치된 상태에서 차량의 헤드램프 조명 및/또는 라이팅 신호 기능들의 품질의 측정이다. 그러한 테스팅은 차량 상에 이들 구성요소들의 설치로 인한 영향들 및 공차들이 또한 기록되는 한에 있어서 차량들의 조명 구성요소들(헤드램프들, 라이트들)에 대한 종래의 테스트들과 상이하다. 이들 영향들은 무엇보다도,

- 예를 들어 바디 제조에 수반된 공차들에 의한 의도된 설치 위치로부터의 편차;

- 예를 들어 섀시의 공차들, 특히 스프링들의 삽입 깊이들에 의해, 하중(승객들의 수, 연료, 다시 말해 가득차거나 빈 탱크) 또는 타이어들 내의 공기 압력의 영향에 의해 야기된, 수평으로부터의 차량의 편차; 및

- 차량 제조의 끝에서 헤드램프 조정의 품질로 인한 것이다.

본 발명의 목적은 방사선원의 특성량이 방사선원의 설치된 상태에 기록되는 것을 허용하는, 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 방법 및 고니오광도계를 제공하는 것이다.

이러한 목적은 청구항 1의 특징들을 갖는 방법에 의해, 청구항 20의 특징들을 갖는 방법에 의해, 그리고 청구항 21의 특징들을 갖는 고니오광도계에 의해 본 발명에 따라 달성된다. 본 발명의 구성들은 종속항들에 특정된다.

따라서, 본 발명의 제1 양태는 객체 내에 설치된 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 방법에 관한 것이며, 방법은 이하의 단계들(특정된 순서로 반드시 수행될 필요는 없음)을 포함한다.

객체는 회전 축을 갖는 턴테이블 상에 배열되며, 턴테이블의 회전 축은 제1 좌표 시스템을 정의하고, 그의 원점은 예를 들어 회전 축과 턴테이블의 표면의 교차 지점에 의해 형성되고 그의 공간 축은 회전 축과 일치한다. 객체는 이러한 경우에 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 제1 좌표 시스템의 원점으로부터 이격되는 방식으로 턴테이블 상에 배열된다. 따라서, 객체가 예를 들어 차량이면, 차량은 턴테이블 상에 전적으로 배치되며, 헤드램프의 방사선 센트로이드는 턴테이블의 축 상에 있지 않다.

축을 중심으로 객체의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정이 수행되며, 각도방사분석 측정은 제1 좌표 시스템에서 수행되고 턴테이블 상의 객체는 턴테이블의 회전 축을 중심으로 초기 위치로부터 시작하여 회전되고, 턴테이블의 회전 축은 각도방사분석 측정의 축을 구성한다. 이러한 경우에, 턴테이블의 회전 축은 수직 방향으로 연장될 수 있지만, 이것은 의무적인 것이 아니다.

각도방사분석 측정 동안, 방사선원의 측정량의 방향 의존 기록은 다수의 방출 방향, 또는 측정 각도들에 대해 수행되며, 제1 좌표 시스템에 정의되는 방출 방향들은 각각 측정량의 할당된 측정된 값들이다. 예를 들어, 제1 좌표 시스템에 정의되는 각각의 방출 방향은 센서에 의해 기록되는 측정량의 값을 각각 할당받는다. 각도방사분석 측정은 이러한 경우에 제1 좌표 시스템에서 수행된다.

더욱이, 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치는 예를 들어 제1 좌표 시스템의 원점에 대해, 초기 위치에서 결정된다. 이것은 각도방사분석 측정이 시작되기 전에 행해질 수 있다. 이제 측정량이 제2 좌표 시스템에서 다수의 방출 방향에 대해 계산되며, 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 시스템의 원점에 있는 것으로 의도된다. 이것은 제1 좌표 시스템에서 방향 의존적으로 기록되는 측정량의 측정 값들 및 상대 위치(다시 말해, 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치)에 근거하여 수행된다. 따라서, 측정량의 공간 분포는 제1 좌표 시스템에서 측정되는 분포를 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 중심에 있는 공간 분포로 변환된다.

측정량은 이미 측정될 특성량일 수 있거나, 측정될 특성량은 측정량으로부터 계산된다. 측정량이 센서에 의해 측정되는 조도이면, 예를 들어, 측정될 특성량으로서의 방사선원의 광도는 그로부터 유도될 수 있다. 이것은 청구항 9에 청구된 바와 같은 구성에 따라, 범위에 대한 보정 및 센서에 대한 입사의 각도에 의해 수행된다.

수행된 방법에 의해, 방사선원을 위한 특성량의 공간 분포에 관한 정보를 제공하는 것이 가능하지만 방사선원은 각도방사분석 측정이 발생하는 좌표 시스템의 원점에 위치되지 않는다.

따라서, 본 발명은 고니오광도계의 축들의 중심에서, 기록될 특성량, 또는 테스트될 기능을 위치시키는 것이 아니라, 방사선원의 비중심 위치결정으로 각도방사분석 측정을 초기에 수행하는 개념에 기초한다. 턴테이블 상의 방사선원의 비중심 배치의 지식을 통해, 각각의 측정 각도는 이때 테스트 객체, 또는 방사선원의 시스템에서 계산될 수 있다. 변환은 각각의 좌표 시스템들 사이의 좌표 변환에 근거하여 수행된다.

다시 말해, 본 발명은 방사선원의 광 분포, 또는 특성량 분포가 2개의 결합된 좌표 시스템에 의해 결정되는 것을 제안한다. 이동은 제1 좌표 시스템에 발생하는 한편, 광 분포, 또는 측정될 특성량의 분포는 제2 좌표 시스템에서 계산된다.

2개의 결합된 좌표 시스템의 선택은 이러한 경우에 제1 좌표 시스템의 각도들(D/S)과 제2 좌표 시스템의 각도들(H/V) 사이의 관계들이 전단사이도록, 다시 말해 하나의 좌표 시스템으로부터 다른 좌표 시스템으로 변환하기 위한 2방향 유일성 수학적 계산 함수가 있도록, 그리고 또한 제2 좌표 시스템으로부터 제1 좌표 시스템으로 다시 변환하기 위한 고유 역 함수가 있도록 된다.

본 발명은 설치된 상태에서 방사선원의 측정될 특성량이 방향 의존적으로 기록되고 정확히 정량적으로 평가될 수 있지만, 방사선원이 방사분석 측정의 원점에 있지 않다는 장점과 연관된다. 이것은 객체, 예를 들어 차량 내의 방사선원의 설치로 인한 영향들 및 공차들을 고려하는 측정들을 허용한다.

이미 언급된 바와 같이, 본 발명의 하나의 구성에 따르면, 관찰된 객체는 자동차, 또는 차량이다. 객체는 턴테이블 상에 전적으로 배치된다. 상이하게 설치된 방사선원들은 예를 들어 좌측 헤드램프 라이트, 우측 헤드램프 라이트뿐만 아니라 신호 램프들, 예를 들어 방향 지시등들은 이러한 경우에 연속적으로 측정될 수 있다. 물론, 헤드램프 라이트들, 예컨대 하향등, 상향등 및 주차등은 상이한 동작 모드들에서 측정될 수 있다. 그러나, 본 발명은 또한 턴테이블 상에 배열되고 비중심으로 장착된 방사선원을 포함하는 공간적으로 연장된 모듈들 상에 수행될 수 있다.

본 발명의 하나의 구성에 따르면, 턴테이블의 회전 축은 수직 방향으로 연장된다. 이것은 객체의 중량을 턴테이블 상에 균일하게 분포시킬 수 있는 간단한 이유로 추천 가능하다. 그러나, 원칙적으로, 턴테이블이 그의 회전 축이 수직 방향에 대한 각도로 연장되도록 공간에서 특정 경사로 배향되는 것이 마찬가지로 생각할 수 있다.

물론, 수없이 많은 방출 방향들이 있기 때문에 모든 방출 방향에 대한 특성량을 기록하는 것이 가능하지 않다. 대신에, 방출 방향들의 특정 그리드가 기록되며, 그 각각은 특정 입체 각도, 다시 말해 총 입체 각도의 특정 부분을 표현한다. 그러한 그리드에 따른 방출 방향들을 정의하기 위해, 턴테이블이 증분적으로 회전되는 것으로 충분하며, 턴테이블이 점유하는 회전 설정들은 방출 방향에 각각 대응한다. 대안적으로, 턴테이블은 연속적으로 회전되며, 이때 특정 방출 방향에 각각 대응하는 측정 값들은 특정 순간들, 또는 정의된 각도들에서 기록된다.

본 발명의 하나의 구성에 따르면, 턴테이블 상의 객체의 회전 외에 추가하여, 각도방사분석 측정은 직선 라인을 따르는 위치의 함수로서 직선 라인을 따른 특성량의 기록을 포함한다. 이러한 구성에서, 고니오광도계는 유형 3 고니오광도계이며, 방사선원은 축을 중심으로 (턴테이블 상에서 그리고 그에 비중심으로) 회전되고 센서는 직선 라인을 따라 변위된다.

따라서, 하나의 구성에 따르면, 이러한 목적을 위해, 직선 라인을 따라 변위되고, 라인 상의 정의된 위치들에 대한 방출된 방사선의 측정 값들을 취득하는 센서는 각도방사분석 측정에 사용된다. 센서는 이러한 경우에 바람직하게는 턴테이블의 회전 축과 평행하게 연장된 수직 라인 상에 변위되어, 측정량의 기록은 수직으로 연장되는 라인을 따라 발생하며, 그의 결과로서, 회전과 조합하여, 직교 그리드가 포함된다. 그러나, 원칙적으로, 센서는 공간에서 임의로 연장되는 라인 상에 변위될 수 있다. 대안적으로, 하나의 센서 대신에, 직선 라인을 따라 배열되는 다수의 센서를 제공하는 것이 가능하여, 센서의 변위는 필요하지 않다.

이러한 유형 3 고니오미터의 선택은 객체, 또는 차량이 수평 축을 중심으로 경사질 필요가 없다는 장점을 갖는다. 그러한 경사의 경우에, 가상 수평으로부터 차량의 디자인 관련 배향에 차례로 영향을 미치는 차량 서스펜션에서의 힘들은 중력에 의해 발생될 것이다. 그러한 유형의 고니오미터를 갖는 차량 상의 설치된 상태에서 조명 기능을 관습적으로 측정할 수 있기 위해, 다시 말해 2개의 결합된 좌표 시스템의 사용 없이, 측정될 광원(하향등, 방향 지시등 등)은 회전 축의 중심에 놓일 필요가 있을 것이고, 그것이 차량 내에 단단히 끼워맞춰진 후에, 전체 차량은 측방으로 이동되고 그 다음 다시 고정될 필요가 있을 것이다. 기계적 시험들 외에, 이것은 결국 또한 실험실 차원들이 훨씬 더 클 필요가 있도록 훨씬 더 큰 공간 요건을 수반할 것이다.

따라서, 본 발명의 이러한 양태에 따르면, 정확도를 절충하지 않고, 본 발명은 차량을 회전 장치 상에 임의로 위치시키고 그 후에 회전 축과 관련하여 측정될 광 기능의 위치를 정확히 측정하는 것을 제안한다.

객체, 또는 차량이 위치되는 턴테이블의 평면은 도로의 평면을 표현하고 모든 조명 측정량들은 추가 평가에서 이러한 평면과 관련되어, 도로 상에서 차량에 의해 생성되는 조명 상황을 확인한다.

하나의 대안 실시예에 따르면, 조도는 측정량으로서 측정되고 방사선원의 측정될 특성량으로서의 광도는 이하의 식으로 조도로부터 계산된다:

여기서,

I는 광도이고,

E는 측정된 조도이고,

d는 광원과 센서 사이의 거리이고,

(H,V)는 X 축에 엄격히 평행하게 배향되는 센서가 조명되었던 각도들이며, 다시 말해

H는 방위 각도(φ)에 대응하고,

V는 90°에서 극 각도(θ)를 뺀 각도에 대응하고,

구면 좌표들의 종래의 표기법 내에 있다.

따라서, 측정된 조도로부터 광도를 계산하기 위해, 예를 들어, 광원과 센서 사이의 범위(d)뿐만 아니라 각도들(H 및 V)이 공지되어 있어야 한다. 식은 센서가 X 축(H=0)에 평행하게 배향되는 것을 가정한다. 이러한 거리 보정은 센서, 또는 포토미터의 센서 표면이 방사선원과 센서 사이의 범위뿐만 아니라, 경사 광 입사 하에 감소된 광 세기를 수용한다는 사실을 고려한다.

하나의 대안 실시예에 따르면, 이러한 목적을 위해, 턴테이블 상의 객체의 회전 및 직선 라인을 따르는 위치의 함수로서 직선 라인을 따르는 특성량의 기록 외에 추가하여, 각도방사분석 측정은 제2 직선 라인을 따르는 위치의 함수로서 제2 직선 라인을 따르는 특성량의 기록을 포함하며, 제1 라인 및 제2 라인은 평행하게 연장되고 제1 좌표 시스템의 원점과 상이한 거리에 배열된다. 2개의 라인, 또는 선형 축들은 이러한 경우에 바람직하게는 예를 들어 25 m 및 5 m에서 일반성의 제한 없이, 상이한 범위들에 배열된다. 그러한 배열에서, 헤드램프들뿐만 아니라 신호 기능들은 차량 상의 설정에서 최적으로 측정될 수 있다.

방사선원의 방사선 센트로이드가 원칙적으로 상이한 방식들로 정의될 수 있다는 점이 주목되어야 한다. 예를 들어, 방사선원의 방사선 센트로이드는 광을 방출하는 코일 필라멘트의 중간점일 수 있다. 다른 가능성은 주변들로부터 방사선원을 획정하는 폐쇄 플레이트를 통과하는 방사선 빔의 기하학적 센트로이드로서 방사선원의 방사선 센트로이드를 정의하는 것이다. 폐쇄 플레이트는 예를 들어 광 빔이 나오는 헤드램프 렌즈이다. 이러한 방식으로 정의되는 방사선 센트로이드가 제조자의 쪽에서 폐쇄 플레이트 내의 마킹에 의해 표시되는 것은 이러한 경우에 통상적이다.

본 발명의 다른 구성에 따르면, 제1 좌표 시스템에서의 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터 제2 좌표 시스템에서의 방향 의존 특성량의 계산은 제1 좌표 시스템에 기록되는 측정 값들의 좌표들을 제2 좌표 시스템에서의 대응하는 좌표들로 매핑함으로써 수행된다. 원칙적으로, 임의의 원하는 좌표 시스템들, 예를 들어 직교, 원통 및 구면 좌표 시스템들은 이러한 경우에 사용될 수 있다. 예를 들어, 구면 좌표 시스템에서, 각각의 방출 방향은 방위 각도 및 극 각도에 의해 정의된다.

회전 테이블 및 선형 축을 갖는 대안 실시예에 따르면, 제1 좌표 시스템은 원통 좌표 시스템이고, 제1 좌표 시스템에서 기록되는 값들의 좌표들은 제1 단계에서 원점에 방사선원의 방사선 센트로이드가 있는 추가 원통 좌표 시스템으로 변환되고, 제2 단계에서 원점에 방사선원의 방사선 센트로이드가 있는 구면 좌표 시스템으로 변환되며, 구면 좌표 시스템은 제2 좌표 시스템이다. 따라서, 원점에 방사선원의 방사선 센트로이드를 갖는 구면 좌표 시스템으로의 변환은 중간 좌표 시스템에서의 좌표들의 중간 계산으로 수행된다. 그러나, 이것은 하나의 예시적인 실시예일 뿐이다. 원칙적으로, 직접 변환은 또한 제1 좌표 시스템과 제2 좌표 시스템 사이에서 수행될 수 있다. 임의의 적절한 수학적 방법들이 이러한 경우에 사용될 수 있다.

전술된 대안 실시예에 따르면, 각각의 방출 방향에 대해, 제1 좌표 시스템에서의 센서의 위치는 한편으로 회전 플레이트의 회전 각도(D)로부터 그리고 다른 한편으로 센서의 높이(S)로부터 계산되고, 그것으로부터 제2 좌표 시스템에서의 센서 위치의 방위 각도(H) 및 고도 각도(V)는 계산되고, 해당 센서에 의해 측정되는 측정량의 값은 방위 각도 및 고도 각도에 의해 정의되는 이러한 방출 방향에 할당된다. 게다가, 각각의 측정 값은 이러한 경우에 측정량으로부터 특성량을 획득하기 위해, 특히 조도로부터 광도를 계산하기 위해 센서에 대한 범위 및 입사 각도에 의해 보정된다.

다른 구성에 따르면, 각도방사분석 측정은 유형 3에 따르는 것이 아니라 대신에 카메라를 사용함으로써 수행된다. 이러한 경우에, 턴테이블 상의 객체의 회전 외에 추가하여, 각도방사분석 측정은 정적으로 배열된 카메라에 의해 측정량의 기록을 포함하며, 방사선원에 의해 방출되는 방사선은 확산 비방향성 반사로 반사 측정 벽에서 반사되고 턴테이블의 적어도 2개의 설정들을 위해 측정 벽 상의 휘도 분포로서 카메라에 의해 기록된다. 카메라에 의해 기록되는 휘도 분포는 이러한 경우에 좌표 변환의 도움으로 제2 좌표 시스템에서의 휘도 분포로 변환된다. 휘도 분포는 이러한 경우에 측정량을 구성한다.

그러한 측정 배열은 WO 2016/116300 A1에 설명된 것과 같은 각도방사분석 측정 배열에 본래 기초한다.

이러한 대안 실시예에 따르면, 차량 및 카메라 측정 벽 측정 시스템의 회전 이동만이 단일 휘도 이미지에 전체 각도 범위들을 기록할 수 있기 위해 각도방사분석 측정에 필요하다. 카메라에 의해 벽 상에서 측정되는 휘도 분포는 좌표 변환의 도움으로 헤드램프의 광도 분포로 후속 변환된다.

턴테이블 상의 객체의 설정에서 측정 벽 상에 표현되는 휘도 분포는 이러한 경우에 상대적으로 큰 입체 각도를 이미 정의하며, 다시 말해 다수의 방출 방향에 대한 2차원 측정 값들은 측정 벽에 의해 정의되는 입체 각도에서 카메라의 대물렌즈에 의해 기록된다. 측정 벽이 방사선원의 수직 분포를 원거리장에서 전적으로 이미지화하기에 충분히 높으면, 측정될 특성량의 극 각도 의존은 이미 측정 벽 상의, 표현, 또는 휘도 분포에 의해 결정될 수 있다. 다른 방위 각도들과 함께 다른 입체 각도들은 턴테이블을 회전시킴으로써 측정 벽 상에 표현된다. 측정 벽의 폭에 따라, 휘도 분포는 턴테이블의 적어도 2개의 설정들에 대해 기록되며(그렇지 않으면 어떠한 각도방사분석 측정도 없을 것임), 전체 광 분포는 개별 입체 각도 그리드들의 연속으로 구성된다.

결합된 좌표 시스템들은 또한 카메라를 갖는 대안 실시예에서 사용되며, 다시 말해 휘도 카메라가 측정 값들을 확인하는 벽 좌표들을 헤드램프의 참조 시스템에서의 구면 좌표들로의 변환은 공간에서 헤드램프의 회전에 의해 변한다. 헤드램프의 좌표들이 회전 장치의 각도의 함수로서 공지되면, 테스트 객체의 참조 시스템에서의 광 분포가 회전 장치의 각도 및 헤드램프의 높이로부터 계산될 수 있는 전단사 매핑을 찾는 것이 다시 가능하다.

그 다음, 복수의 부분 각도 범위는 전체 각도 분포를 형성하기 위해 조합될 수 있다. 그러한 방법의 장점은 데이터가 센서, 또는 포토미터에 기초하여 순차적 그리드 측정으로 가능한 것보다 차량 회전 및 카메라 측정의 조합으로 더 빠르게 획득되고, 동시에 어떠한 요건들도 회전 플레이트 상의 헤드램프의 위치를 강요받을 필요가 없다는 것 - 정확히 결정될 필요만이 있다는 것이다.

하나의 구성에 따르면, 측정 벽은 방사선원의 광 분포의 원거리장 내에, 다시 말해 방사선원이 점 광원으로 거의 간주될 수 있는 범위에 배열된다. 예를 들어, 측정 벽은 그의 초기 위치에서 방사선원으로부터 떨어진 25 m의 범위에 있다.

다른 구성에 따르면, 방사선원의 광은 추가 센서를 직접 추가적으로 조명하고 이러한 센서에 의해 기록되는 신호는 카메라의 교정에 사용된다. 카메라 측정의 측정 불확실성이 (전형적으로 포토미터에 의해) 센서 측정의 것보다 상당히 더 크기 때문에, 카메라로 획득되는 데이터는 센서에 의해 지점별로 보정될 수 있다. 추가 센서는 측정 벽 앞에 또는 측정 벽 측방 옆에 배열되는 센서일 수 있다. 센서가 측정 벽 뒤에 배열되고 측정 벽 내의 개구부를 통해 조사되는 것이 더 가능하다.

추가 센서를 사용함으로써의 보정의 장점은 측정 불확실성의 감소 외에, 또한 측정 값들의 추적성이 센서, 또는 포토미터에 의해 수행되고, 측정 벽-카메라 조합이 절대적으로 교정될 필요가 없다는 것이다.

본 발명의 다른 구성에 따르면, 턴테이블 상의 객체의 회전 외에 추가하여, 각도방사분석 측정은 회전 축에 수직인 축을 중심으로 턴테이블 또는 객체의 경사를 수반하며, 객체는 턴테이블 상에서 다수의 경사 각도에 대해 회전되고 측정량은 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대해 기록되고, 측정량은 방사선원의 방사선 센트로이드 주위에서 구형 표면 상의 각도방사분석 측정에 근거하여 기록된다. 특히, 객체는 (턴테이블을 경사지게 하거나 객체를 경사지게 함으로써) 수평 축을 중심으로 추가적으로 경사지게 된다. 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대한 방출된 방사선의 측정 값을 취득하는 정적 센서는 이러한 경우에 각도방사분석 측정을 위해 사용될 수 있다.

턴테이블, 또는 객체가 경사지게 되는 각도는 이러한 경우에 적절한 측정 시스템에 의해 기록되며, 턴테이블의 경사 각도 또는 차체의 경사 각도는 (방사선원이 설치되는 객체가 차량이면) 기록된다.

그러한 배열은 각도방사분석 측정을 위해, 결합된 좌표 시스템에서 고도 각도를 측정하도록 선형 축 상에 센서를 변위시키는 것이 필요하지 않지만, 대신에 이것이 차량을 전방으로 또는 후방으로 경사지게 함으로써 행해질 수 있다는 장점을 갖는다. 이러한 방식으로, 포토미터는 정지되도록 구성될 수 있으며, 이는 예를 들어 천장 높이가 제한될 때 유리하다. 그러나, 이러한 대안 실시예에서, 섀시 상에서 차량 경사의 도입에 언급된 단점들을 기록하고 보정하는 것이 필요하다. 이것은 예를 들어 차량의 좌측 및 우측 상에 끼워맞춰진 카메라들을 사용하여 행해질 수 있으며, 카메라들은 차체 상에 적용되는 마킹 지점들을 측정하고 따라서 수직 각도를 떨어뜨릴 수 없는 타이어들의 스프링 압축 또는 공기 압력과 같은 섀시 영향들이 없이, 수평 중립 위치와 관련하여 차량의 실제 경사 각도를 기록한다.

이러한 예시적인 실시예에서, 측정은 경사와 조합하여, 경사진 차량이 셋업되는 플랫폼의 회전에 의해 수행되어, 헤드램프는 회전 장치의 중간점 주위에 경사 각도만큼 경사지는 원호 상에서 이동한다. 그러나, 측정 기하학적 구조는 이제 구형 표면 상의 원점과 구면 좌표 시스템의 결합에 의해 설명된다.

하나의 대안 실시예에 따르면, 이러한 목적을 위해, 제1 좌표 시스템에서의 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터 제2 좌표 시스템에서의 방향 의존 측정량의 계산은 제1 좌표 시스템에서 기록되는 값들의 좌표들을 제2 좌표 시스템에서의 대응하는 좌표들 위로 매핑함으로써 수행되며, 제2 좌표 시스템은 구면 좌표 시스템이고, 그의 원점은 구형 표면 상에서 이동한다.

본 발명의 제2 양태에 따르면, 본 발명은 객체 내에 설치된 광학 방사선원의 의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량을 위한 방향 의존 측정에 관한 것이며, 방법은 이하의 단계들, 즉

- 유지 요소에 또는 유지 요소 상에 객체를 배열하는 단계로서, 유지 요소는 제1 축을 중심으로 그리고 제1 축에 수직인 제2 축을 중심으로 객체를 회전시키도록 의도 및 구성되고, 객체는 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 제1 축 및 제2 축에 의해 형성되는 제1 좌표 시스템의 원점 밖에 있는 방식으로 유지 요소 상에 배열되는 단계,

- 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치(상대 위치)를 결정하는 단계,

- 2개의 축을 중심으로 객체의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정을 수행하는 단계로서, 각도방사분석 측정은 제1 좌표 시스템에서 수행되는 단계,

- 각도방사분석 측정에 의해 다수의 방출 방향에 대한 방사선원의 측정량을 방향 의존적으로 기록하는 단계로서, 제1 좌표 시스템에서 정의되는 방출 방향들은 각각 측정량의 할당된 측정된 값들인 단계,

- 제1 좌표 시스템에서 확인되었던 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들 및 상대 위치로부터, 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 원점에 있는, 제2 좌표 시스템에서의 다수의 방출 방향에 대한 방향 의존 측정량을 계산하는 단계를 포함하며,

- 측정량은 측정될 특성량과 동일하거나 측정될 특성량은 측정량으로부터 계산된다.

이러한 방법은 객체가 턴테이블 상에 배열되는 것이 아니라, 대신에 유형 1 고니오광도계에 의한 종래의 각도방사분석 측정에 따라 2개의 축을 중심으로 회전되지만, 여기서 방사선원의 방사선 센트로이드가 또한 측정이 발생하는 좌표 시스템의 원점 밖에 위치되고, 제2 좌표 시스템으로의 변환이 후속 수행된다는 점에서 청구항 1에 청구된 바와 같은 방법과 다르다. 객체는 이러한 경우에 공간에서 임의로 배열되고 예를 들어 로봇에 의해, 유지 요소로서 유지되며, 이는 복수의 축을 중심으로 객체를 회전시킬 수 있다.

본 발명의 추가 양태는 객체 내에 설치된 광학 방사선원의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 고니오광도계에 관한 것이며, 고니오광도계는,

- 회전 축을 갖는 턴테이블로서, 턴테이블의 회전 축은 제1 좌표 시스템을 정의하고, 그의 원점은 회전 축과 턴테이블의 표면의 교차 지점에 의해 형성되고 그의 공간 축은 회전 축과 일치하고, 상기 턴테이블은 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 제1 좌표 시스템의 원점으로부터 이격되는 방식으로 객체를 수용하도록 의도되는 턴테이블,

- 측정량을 측정하도록 구성 및 의도되는 적어도 하나의 센서를 포함하고,

- 턴테이블 및 적어도 하나의 센서는 턴테이블의 회전 축을 중심으로 객체의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정을 수행하도록 구성되며, 제1 좌표 시스템에서, 측정량은 다수의 방출 방향에 대해 각도방사분석 측정에 의해 기록되고, 제1 좌표 시스템에서 정의되는 방출 방향들은 각각 측정량의 할당된 측정된 값들이고,

- 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치로부터 그리고 제1 좌표 시스템에서 확인되었던 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터, 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 시스템의 원점에 있는, 제2 좌표 시스템에서 다수의 방출 방향에 대한 측정량을 계산하기 위한 계산 유닛을 포함하고,

- 계산 유닛은 측정량이 이미 측정될 특성량이 아니면, 측정량으로부터 측정될 특성량을 계산하도록 더 구성된다.

그러한 고니오광도계에서, 청구항 1에 청구된 바와 같은 방법을 수행하는 것이 가능하다. 특히, 고니오광도계는 유형 3 고니오광도계를 형성할 수 있으며, 적어도 하나의 센서는 직선 라인을 따르는 측정량을 이러한 라인을 따르는 높이 위치의 함수로서 기록한다.

본 발명에 따른 고니오광도계에서, 특히 차량의 헤드램프 조명 또는 라이팅 신호 기능들의 품질은 설치된 상태에서 평가될 수 있다. 그러한 테스팅은 차량 상에 구성요소들의 설치로 인한 영향들 및 공차들이 또한 기록되는 한에 있어서 차량들의 조명 구성요소들(헤드램프들, 라이트들)에 대한 종래의 테스트들과 상이하다.

본 발명의 일부 구성들에서, 고니오광도계는 청구항 2 내지 청구항 18에 명시된 방법 변형들을 수행하도록 의도 및 구성된다.

하나의 대안 실시예에 따르면, 고니오광도계는,

- 확산 반사를 갖는 반사 측정 벽으로서, 방사선원에 의해 방출되는 광을 반사시키는 반사 측정 벽,

- 정적으로 그리고 부동으로 배열되고 2차원 센서 칩을 갖는 카메라로서, 센서 칩의 픽셀들은 적어도 하나의 센서를 형성하는 카메라를 더 포함하며,

- 카메라는 턴테이블의 적어도 2개의 설정들을 위해 측정 벽에서 반사되는 광을 기록하는 방식으로 배열 및 구성되고, 반사된 광은 카메라의 센서 칩 위로 이미지화되고 반사된 광은 카메라에 의해 측정 벽 상의 휘도 분포로서 기록되고,

- 카메라에 의해 기록되는, 휘도의 분포를, 좌표 변환에 의해 제2 좌표 시스템에서의 휘도 분포로 변환하도록 구성되는 계산 유닛을 더 포함한다.

다른 대안 실시예에 따르면,

- 적어도 하나의 센서는 정적 센서를 포함하고,

- 회전 축을 중심으로 한 회전 외에 추가하여, 턴테이블은 회전 축에 수직인 축을 중심으로 그것 상에 배열된 객체를 경사지게 하도록 구성되거나, 객체는 그러한 축을 중심으로 경사지게 배열되고,

- 턴테이블, 또는 객체, 및 적어도 하나의 센서는 객체가 턴테이블 상에서 각도방사분석 측정 동안 다수의 경사 각도에 대해 회전되는 방식으로 각도방사분석 측정 동안 협력하고 정적 센서는 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대해 측정될 특성량을 기록한다.

아래에 언급되는 용어들은 본 개시의 범위에서 이하와 같이 정의된다는 점이 주목되어야 한다.

조명 및 광도측정이라는 용어들은 또한 적외선(IR) 또는 자외선(UV) 특성량들이 측정되는 한에 있어서, 방사분석이라는 용어를 포함할 수 있다.

센서라는 용어는 100 nm(UV-C) 내지 1 mm(IR-C)의 파장 범위에서 광학 방사선(자외선, 가시 광 및 적외선)의 측정을 위한 모든 실시예들을 포함한다. 하나의 예시적인 실시예에 따르면, 센서는 포토미터로 구성된다.

고니오포토미터 및 고니오광도계라는 용어들은 조명 기구의 광 분포가 임의의 센서(광도측정 또는 방사분석)로 기록되고 있을 때 동의어로 사용된다. 고니오광도계들이 언급될 때, 이것은 어느 센서가 이용되는지에 관계없이, 항상 모든 실시예들을 의미한다.

차량들이라는 용어는 특히 도로들 상의, 레일들 상의, 물 내의 또는 하늘 내의 교통을 위한 임의의 유형의 차량들을 포함할 수 있다. 아래의 예시적인 실시예들은 일반적으로 개인들의 개별 수송을 위한 도로 차량들(자동차들)에 관한 것이다.

조명 기구들이라는 용어는 도로를 조명하기 위한 헤드램프들 또는 차량들의 신호 기구들 외에, 또한 주요 도로들의 조명 기구들을 포함할 수 있다.

본 발명은 몇 개의 예시적인 실시예들의 도움으로 도면의 도해들을 참조하여 아래에 더 상세히 설명될 것이다.
도 1은 각도방사분석 측정을 위해, 회전 플레이트 상에 배열되고 방사선원이 비중심으로 설치되는 객체가 회전되고 센서가 기둥을 따라 수직으로 변위되는 고니오광도계의 기본 구조를 도시한다.
도 2는 원점이 원호 상에서 이동하는 원통 좌표 시스템을 개략적으로 도시한다.
도 3은 도 1에 따른 고니오광도계에 대한 측정 기하학적 구조를 개략적으로 도시한다.
도 4는 도 3의 측정 기하학적 구조의 회전 플레이트 및 객체의 확대도를 개략적으로 도시한다.
도 5는 원점이 원호 상에서 이동하는 원통 좌표 시스템으로부터, 원점이 원호 상에서 이동하는 구면 좌표 시스템으로의 좌표 매핑을 개략적으로 도시한다.
도 6은 센서들이 변위 가능한 2개의 수직 기둥이 턴테이블과 상이한 거리들에 제공되는, 도 1의 고니오광도계의 변형을 도시한다.
도 7은 고니오광도계의 다른 예시적인 실시예를 도시하며, 고니오광도계는 회전 턴테이블 외에 추가하여 반사 측정 벽 및 카메라를 포함한다.
도 8은 원점이 원호 상에서 이동하고 투사 벽 위로 투사되는 구면 좌표 시스템을 개략적으로 도시한다.
도 9는 원점이 구형 표면 상에서 이동하는 구면 좌표 시스템을 개략적으로 도시한다.
도 10은 구면 좌표 시스템의 도면을 도시한다.

본 발명의 일반적인 배경에 관해, 도 10이 우선 참조된다. 도 10은 각도들(파이(φ) 및 세타(θ))의 정의의 표현으로 구면 좌표 시스템을 표현한다. 그러한 구면 좌표 시스템의 원점에 방사선원이 있으면, 방사선원의 조명 또는 방사분석 특성량들은 방사선원의 회전에 의해 또는 각도 범위들(-180 °≤ φ ≤ 180 °및 0 ≤ θ ≤ 180 °)에서 연속적으로 센서의 이동에 의해 각도측정으로, 다시 말해 모든 방향들에 대해 측정될 수 있었다. 따라서, 방출 방향은 2개의 각도(φ, θ)에 의해 정의될 수 있다.

일반적으로, 이는 다수 i개의 방출 방향들, 또는 각도 쌍들(φ_i, θ_i)은 각도방사분석 측정으로, 센서에서 구형 표면 또는 구형 표면의 부영역 상에서 측정되거나 센서에 의해 기록되는 측정 값으로부터 유도되는 방사선원의 특정 광도 또는 다른 조명 또는 방사분석 특성량들을 각각 할당받는 경우이다. 이러한 방식으로, 방사선원을 정의하는, 광도 또는 측정된 특성량의 공간 분포가 결정된다. 공간 분포의 정확한 결정 또는 해당 특성량의 미리 결정된 공간 값들에 따른 정확한 준수는 예를 들어 차량들의 헤드램프들에 대해 극히 중요하다.

차량들의 헤드램프들의 측정을 위해, 헤드램프들(좌측 및 우측 각각)은 종래의 고니오광도계에 의해 개별 객체들로서 별도로 초기에 측정될 수 있고 그 다음 개별 헤드램프들의 광 분포들은 도로 상에서 광 분포를 시뮬레이션하기 위해 중첩될 수 있다. 고니오미터에 의한 그러한 구성요소 측정은 많은 인자들을 무시하고, 특히, 차량 상의 설치 상태를 고려하지 않는다.

도 1은 본 발명에 따른 고니오광도계의 제1 예시적인 실시예를 도시한다. 고니오광도계는 턴테이블(3)을 포함하며, 턴테이블은 회전 축(31)을 중심으로 회전될 수 있다. 턴테이블(3)은 플랫폼(35) 상에 위치된다. 그러나, 이것은 일 예로서 이해되는 것으로만 의도된다. 대안적으로, 턴테이블(3)의 평면으로부터 하방으로 방출하는 각도 범위가 광도측정으로 기록될 수 있는 것을 가능하게 하는 다른 조치, 예를 들어 더 높은 중간 플로어 레벨 상에 턴테이블(3)의 배열을 제공하는 것이 가능하다.

적어도 차량의 영역에서, 턴테이블(3)은 회전 축(31)과 함께, 제1 좌표 시스템을 정의하는 평면 표면(32)을 가지며, 그의 원점은 회전 축(31)과 턴테이블(3)의 표면(32)의 교차 지점에 의해 형성되고 그의 공간 축(z 축)은 회전 축(31)과 일치한다. 회전 축(31)은 이러한 경우에 수직으로 연장된다.

종래의 방식으로 2개의 전방 헤드램프(2)를 갖는 차량(1)이 턴테이블 상에 배열되며, 그 각각은 조명 또는 방사분석 특성량에 대해 각도방사분석으로 측정되어야 한다. 차량(1)은 이러한 경우에 턴테이블(3) 상의 실질적으로 중심에 배열되어, 헤드램프들(2)은 위에 설명된 바와 같이 형성되는, 제1 좌표 시스템의 원점으로부터, 그리고 회전 축(31)으로부터 이격된다.

각도방사분석 측정을 수행하기 위해, 센서(4)가 상이한 높이 위치들(S) 사이에 수직으로 변위될 수 있는 수직으로 연장되는 기둥(40)이 더 제공된다. 기둥(40)은 전방 헤드램프(2)에 의해 하방으로 방출되는 방사선이 또한 기록될 수 있도록 턴테이블(3)의 평면보다 더 낮은 레벨에 있는 바닥 평면으로부터 시작하여 연장된다.

방출된 헤드램프 라이트를 확산 반사하는 측정 벽(5)이 더 표현된다. 해당 예시적인 실시예에서, 측정 벽(5)은 수행될 각도방사분석 측정에 대해 관련되지 않지만, 측정 벽은 헤드램프 배향의 시각화에 사용되고 헤드램프에 의해 발생되는 조명 분포의 시각 검사에 사용될 수 있다. 회전 축(31)과 측정 벽(5) 사이의 가장 짧은 거리는 r에 의해 표시된다.

센서(4)를 갖는 기둥(40) 및 측정 벽(5) 둘 다는 차량(1)의 헤드램프들의 원거리장 내에 위치되며, 25 m의 거리는 예를 들어 거리로서 선택된다.

표현된 구조에 의해 제공되는 고니오광도계는 회전 축, 여기서 턴테이블(3)의 회전 축(31)을 중심으로 한 회전이 직선 수직 라인을 따라, 센서, 여기서 센서(4)의 변위와 조합되는 유형 3 고니오광도계이다. 측정은 이러한 경우에 상이한 높이 위치들(S)에 대응하는 다수의 측정 값을 취득하면서, 턴테이블(3)의 특정 회전 각도 설정을 위해 수직으로 변위되는 센서(4)에 의해 수행된다. 이것은 턴테이블(3)의 다수의 회전 각도 설정을 위해 반복된다. 대안적으로, 턴테이블(3)은 센서(4)의 주어진 높이 위치(S)에서 상이한 턴테이블 설정들로 변위되고, 이것은 상이한 높이 위치들(S)에 대해 반복된다.

측정 동안, 하나의 방사선원만이 한 번에 활성화되며, 예시적인 실시예에서 좌측 헤드램프를 표현한다.

센서들(4)은 원칙적으로 100 nm 내지 1 μm의 파장 범위, 또는 이러한 파장 범위의 부범위에서 광학 방사선을 측정하는 데 적절한 임의의 센서들일 수 있다. 예를 들어, 센서들은 포토미터들이다. 부분 또는 전체 필터링에 의해 센서의 감도가 정상 눈의 감도 곡선에 동화되는 상기 부분 또는 전체 필터링을 수행하기 위해 센서들(1)이 제공될 수 있다. 예를 들어, 센서들(4)은 밝기 값들을 출력 값들로서 전달한다.

센서(4)는 기둥(40)을 따라 예를 들어 0.05°, 0.1°, 0.15° 또는 0.2°의 각도 치수에 대응하는 수직 거리를 서로 갖는 높이 위치들(S) 내로 변위된다. 그러나, 이것은 일 예로서 이해되도록 단지 의도된다.

그러나, 이러한 방식으로 수행되는 각도방사분석 측정 동안, 절차는 방사선원(헤드램프)의 측정될 특성량의 방향 의존 기록이 제1 좌표 시스템에서 다수의 방출 방향에 대해 발생하도록 한다. 따라서, 조도 또는 다른 특성량의, 상기 측정에 의해 확인되는 공간 분포는 방사선원에 대한 해당 특성량의 공간 분포에 관한 정보를 제공하지 않는다.

방사선원에 대한 해당 특성량의 공간 분포를 확인하기 위해, 해당 특성량은 한편으로 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치를 고려하면서 그리고 다른 한편으로 제1 좌표 시스템에서 방향 의존적으로 기록되는 특성량의 값들을 고려하면서, 광학 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 시스템의 원점에 있는 제2 좌표 시스템으로 변환된다.

단순화를 위해, "측정량" 및 "특성량"이라는 용어들은 도면들의 이하의 설명에서 동의어로 사용된다는 점이 주목되어야 한다. 이러한 경우에, 측정량은 센서에 의해 측정되는 측정 값이다. 특성량은 측정량과 동일할 수 있거나, 측정량으로부터 유도될 수 있다. 측정량이 조도이면, 예를 들어, 광도는 센서, 또는 포토미터의 센서 표면이 경사 광 입사 하에 감소된 광 세기를 수신한다는 사실을 고려하며, 방사선원과 센서 사이의 범위를 더 고려하는 거리 보정에 의해 조도로부터 방사선원의 특성량으로서 계산된다.

제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원의 방사선 센트로이드의 위치의 정확한 결정은 예를 들어, 차량 상에 특정 마킹들을 샘플링하고 그로부터 상대 위치들을 계산하는 촉각 측정 시스템에 의해 수행될 수 있다. 그러한 촉각 측정 시스템은 예를 들어, "ROMER ABSOLUTE ARM" 명칭 하에 company Hexagon Metrology에 의해 제조되고 마켓팅된다. 차량 내에 설치된 헤드램프의 방사선 센트로이드는 전형적으로 이미 헤드램프의 폐쇄 플레이트 내로 통합되고 폐쇄 플레이트를 통해 나오는 방사선 빔의 기하학적 센트로이드를 표시하는 마킹에 의해 제조자의 쪽에 표시된다는 점이 추가적으로 언급되어야 한다. 예를 들어, 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 방사선 센트로이드의 정확한 위치는 이러한 방식으로 정확히 기록될 수 있다.

다수의 방출 방향에 대한 특성량을 제2 좌표 시스템에서의 대응하는 값들로의 변환은 매핑, 또는 좌표 변환에 의해 수행된다. 이와 관련하여, 도 2 내지 도 5의 도움으로, 제1 좌표 시스템에서의 기록된 값들을 원통 좌표들로서 기록하고, 방사선원의 방사선 센트로이드가 있는 원점에서, 제1 단계에서의 기록된 값들을 추가 원통 좌표 시스템으로 변환하고, 방사선원의 방사선 센트로이드가 있는 원점에서, 범위를 고려하면서, 제2 단계에서의 기록된 값들을 구면 좌표 시스템으로 변환함으로써 좌표 변환이 수행되는 대안 실시예가 아래에 설명될 것이며, 구면 좌표 시스템은 원하는 제2 좌표 시스템이다.

도 2 및 도 5는 이러한 절차를 도시한다. 도 2는 원점이 원호 상에서 이동하는 원통 좌표 시스템을 도시한다. 원점이 이동하는 원통 좌표 시스템의 궤적은 T에 의해 표시된다. 궤적(D)은 턴테이블(3) 상에서 차량(1)의 해당 헤드램프의 이동에 대응한다. 턴테이블(3), 또는 헤드램프는 이러한 경우에 초기 설정(A1)으로부터 각도(D)를 통해 회전된다. 도 2의 표현에서, 헤드램프는 설정(A2)으로 회전되었다. 도 2는 원통 좌표 시스템의 종래의 파라미터들을 도시한다. 높이(S)는 이러한 경우에 도 1에 따른 센서(4)의 높이 위치를 표시한다. 원통 좌표 시스템에서, 헤드램프로부터 센서(4)로의 평면 범위는 p에 의해 표시된다.

도 2의 원통 좌표 시스템은 상술한 중간 좌표 시스템을 구성한다는 점이 주목되어야 한다. 측정 값들은 제1 좌표 시스템에 초기에 기록되며, 이는 원점(0)을 통과하고 회전 축(31)을 중심으로 회전하며, 제1 좌표 시스템은 마찬가지로 원통 좌표 시스템이다. 그것은 이제 회전 각도(D)에 근거하여 제1 단계에서의 측정 값들을 파라미터들(φ, p 및 S)(p 및 S는 또한 측정될 수 있음)을 갖는 중간 좌표 시스템으로 변환하고, 파라미터들(φ, p 및 S)로부터 제2 단계에서의 파라미터들(H 및 V)을 계산하는 문제이며, 도 5의 우측 상의 표현에 따른 파라미터(H)는 방위 각도를 표시하고 파라미터(V)는 구면 좌표 시스템에서의 고도 각도(90°에서 극 각도(θ)를 뺀 각도로 정의됨)를 표시한다. 따라서, 기록될 특성량의 결정될 공간 분포는 이때 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 원점에 있는 구면 좌표 시스템과 관련하여 기록된다.

따라서, 각각의 회전 각도(D)는 헤드램프의 객체 시스템에서의 국부 고도 각도(V = 90°-θ)가 높이(S) 및 국부 반경(p)으로부터 계산되고, 거리 보정이 원하는 특성량, 예를 들어 광도에 따라 후속 수행되기 전에, 국부 방위 각도(φ)가 결정되는(= 평면들(A,α)의 시스템에서의 H) 연관된 국부 원통 좌표 시스템을 갖는다.

각도방사분석 계산들은 예를 들어 제2 좌표 시스템에서 다수의 방출 방향에 대한 특성량을 계산하기 위한, 도 1에 개략적으로 표현된 계산 유닛(6)에 의해 수행된다. 계산 유닛(6)은 턴테이블(3)의 회전 각도 및 센서(4)의 높이(S)를 기록하고, 측정 시스템에서 미리 결정된 거리들의 지식을 갖는다. 센서(4)에 의해 측정된 측정 값들은 또한 계산 유닛(6)에 송신된다. 동시에, 계산 유닛은 예를 들어 특정 각도(D)를 통해 턴테이블(3)을 회전시키거나 센서(4)를 특정 높이(S)로 변위시키기 위한 제어 명령어들을 제공할 수 있다.

계산은 도 3 및 도 4의 도움으로 예로서 아래에 상세히 설명될 것이며, 도 4는 도 3의 좌측 부영역의 확대도이다.

측정 기하학적 구조

도 3 및 도 4에서의 측정 기하학적 구조는 이하와 같다. 좌표 시스템의 원점(O=(0,0))은 턴테이블(3)의 축(31)과 턴테이블(3)의 표면(32) 사이의 교차 지점이다. 턴테이블(3)과 X 축 사이의 각도는 D와 같다. X 축은 스크린을 향하는 우측을 지시하고, 양의 회전 감지에서의 양의 Y 축은 도면의 평면에서 상방을 지시하고(표준적으로, 다시 말해 광은 좌측에서 나옴) Z 축은 페이지의 평면 밖으로의 상방을 지시한다.

초기 위치(A1) 내의 헤드램프들(2)은 회전 중심으로부터 고정 거리(a)로 참조 라인(F) 상에 놓인다. 그러나, 공간에서의 그들의 위치는 그로부터 차량(1)의 중립 위치를 찾기 위해 측정 동작 동안 결정되어야 한다. 차량(1)의 중간면으로부터의 헤드램프들의 측방 거리는 b이며, 차량(1)의 중간면은 제조 공차들 및 위치결정 정확도 내에서, X 축을 따라 연장된다.

계산은 평면에서 2차원 회전 행렬들 및 해석 기하학을 적용함으로써 수행된다. 기본적인 고려사항들에 대해, D를 통한 R²에서의 지점(P(x,y))의 회전이 필요하다:

모든 중요한 지점들은 중립 위치로부터 (x,y) 평면에서 회전되고 방사선원으로서 헤드램프(2)로부터 서스펜드되는 대응하는 벡터들은 후속 계산된다.

특성량의 측정 및 계산은 차량(1)의 헤드램프들 둘 다에 대해, 다시 말해 하나의 헤드램프(2)가 측정되고 있고 다른 헤드램프가 턴 오프되거나 커버될 때, 및 그 역의 경우일 때 연속적으로 수행된다. 예시적인 실시예는 좌측 헤드램프(2)를 고려한다.

D로부터 H 및 p의 계산

우선, 국부 원통 좌표 시스템에서의 방위 각도(φ)(또는 H) 및 국부 반경(p)은 회전 각도(D)로부터 결정되어야 하며, 국부 반경(p)은 헤드램프(2)와 해당 평면 내의 센서(4)의 위치의 기준점 사이의 거리이다.

기하학적 구조는 이하와 같다:

턴테이블의 각도 D 예를 들어 20.00°

거리 참조 라인(F) - 회전 중심(= 헤드램프의 위치) a 측정됨, 예를 들어 2.750 m

거리 참조 라인(F) - 스크린 d 예를 들어 25.000 m

거리 회전 중심 O - 스크린 r = d + a 예를 들어 27.750 m

측방 헤드램프 위치 b (측정됨)

회전 중심(O)으로부터의 헤드램프의 거리 c (c²=a²+b²)

능동 헤드램프에 대한 파라미터들은 이하와 같다:

H=0에 대한 능동 헤드램프의 좌표들

광학 축(H=0)에 대한 헤드램프로의 벡터의 각도(그러나 더 필요하지 않음)

D를 통한 회전 후의 능동 헤드램프의 위치()

포토미터 위치에 대한 파라미터들은 이하와 같다:

공간 기하로부터 결정되는, 광학 축(x)까지의 측방 포토미터 거리 u

중심(y)으로부터 XY 방향으로의 포토미터 거리 v

포토미터 오프셋 각도 α

포토미터의 좌표들

측정 거리는 이하와 같다:

벡터()는 능동 헤드램프에서 포토미터까지 지시한다:

포토미터까지의 거리(p)는 이러한 벡터의 길이이므로 D와 연관된 측정 범위이다

헤드램프는 광학 축에 대한 각도(h_p)에서 포토미터를 인지한다

능동 헤드램프의 소실 지점 또는 광학 축은 마찬가지로 회전된다. 비회전된 상태(D=0)에서, 헤드램프는 를 목표로 한다.

그러한 기하학적 구조 및 파라미터들로부터 시작하면, 국부 원통 좌표 시스템에서의 방위 각도(φ)(또는 H) 및 국부 반경(p)은 이하와 같이 계산될 수 있다.

D를 통한 회전 동안, 은 지점() 내로 회전된다. 계산적으로, 이것은 에 대해서와 같이 동일한 행렬에 의해 행해진다

벡터()는 능동 헤드램프로부터 새로운 소실 지점()의 방향으로 지시한다.

는 광학 축과 관련하여 각도(h_c)를 갖는다. h_c는 D와 동일하다.

따라서, 포토미터와 관련하여 헤드램프의 각도는 이하이다

따라서, 국부 원통 좌표 시스템(도 2)에서의 H가 결정된다.

국부 반경(p)은 이하와 같다:

또는

국부 반경(p)은 해당 측정 기하학적 구조에서 정의에 의해 d와 일치하고 따라서 해당 예에서 25 m이기 때문에 반드시 계산될 필요가 있는 것은 아니다.

유사한 방식으로, D는 H로부터 역으로 결정될 수 있다. 이것은 예를 들어, 특정 각도(H)가 접근되는 것으로 의도될 때, 실제로 중요하다.

다음 단계에서, 도 5, 우측 이미지에 따른 구면 좌표 시스템에서의 구면 좌표들(H 및 V)은 결정되어야 한다.

방위 각도(H)는 이러한 경우에 국부 원통 좌표 시스템에서와 동일하다:

각도(V)는 p 및 D를 사용함으로써 S와 V 사이의 관계로부터 획득된다:

, 또는

여기서

또는

따라서, D 및 S가 주어지면, V는 상대적으로 용이하게 결정될 수 있다.

마지막으로, 구면 좌표 시스템에서의 반경(R)은 또한 예를 들어 V 및 S로부터 계산될 수 있다:

.

따라서, 측정될 특성량의 공간 분포, 예를 들어 광도는 방사선원의 방사선 센트로이드가 중심에 있는 구면 좌표 시스템에 특정될 수 있다. 거리 보정이 추가적으로 수행될 수 있다. 방정식들의 더 심층 분석은 해당 정의 또는 각도 범위에 전단사 매핑이 있는 것을 나타낸다.

도 6은 도 1의 예시적인 실시예에 기초하는 다른 예시적인 실시예를 도시한다. 이러한 경우에, 제2 센서(4)를 갖는 제2 기둥(41)이 제공되며, 이는 마찬가지로 수직 방향으로 기둥(41)을 따라 상이한 높이 위치들 내로 변위 가능하다. 제2 기둥(41)은 이러한 경우에 제1 기둥(40)보다 턴테이블(3)에 더 가깝게, 예를 들어 5 m의 범위에 배열되는 한편, 제1 기둥에 대한 범위는 25 m이다. 도 1과 같이, 도 6에 따른 배열은 계산 유닛을 포함하지만, 이것은 별도로 표현되지 않는다.

그러한 배열은 복수의 방사선원을 동시에 각도방사분석으로 측정하는 것을 가능하게 하며, 더 가깝게 배열된 센서(4)는 신호 램프들, 예를 들어 방향 지시등을 차량 상에서 최적으로 측정하기 위해 예를 들어 사용된다. 신호 램프들에 대해, 원거리장은 5 m의 범위에 존재하여, 더 큰 수직 각도들은 동일한 천장 높이에서 측정될 수 있다.

도 7은 각도방사분석 측정을 위해, 턴테이블(3) 상에 배열된 차량(1)이 적어도 2개의 회전 위치 내로 회전되고 측정 벽(5) 상에 반사된 광이 개략적으로 표현되는 정적으로 배열된 카메라(7)에 의해 기록되는 예시적인 실시예를 도시한다.

카메라(7)는 이러한 경우에 2차원 센서 칩을 포함하며, 그 경우에 센서 칩의 픽셀들은 본 발명의 맥락에서 센서들로 간주될 수 있다. 2차원 센서 칩의 각각의 픽셀은 이러한 경우에 측정 벽(5)의 벽 요소를 할당받는다. 센서 칩은 예를 들어, 2차원 CCD 센서 또는 CMOS 센서이다. 카메라(7)는 입사 광을 센서 칩 위로 지향시키는 광학 장치를 갖는다.

측정 벽(5)은 입사 방사선을 확산 무방향성 반사로 모든 방향들로 균일하게 산란 반사하는 방식으로 구성된다. 그것은 특히, 반사의 스펙트럼 영향들을 최소화하기 위해 회색 또는 백색이다. 따라서, 측정 벽(5)은 반사의 법칙을 충족하는 방향성 반사를 갖는 미러를 구성하지 않는다.

카메라(7)는 측정 벽(5)에서 반사되는 광을 기록하는 방식으로 배열 및 구성되며, 반사된 광은 카메라(7)의 센서 칩 위로 이미지화된다. 반사된 광은 턴테이블(3)의 적어도 2개의 설정들을 위해 측정 벽(5) 상의 휘도 분포로서 카메라(7)에 의해 기록된다. 할당된 계산 유닛(6)(개략적으로만 표현됨)은 카메라(7)에 의해 기록되는, 광도의 분포를 좌표 변환의 도움으로 제2 좌표 시스템에서의 휘도 분포로 변환하도록 구성된다.

계산 유닛(6)은 이러한 경우에 각도방사분석 계산들을 수행한다. 계산 유닛은 턴테이블(3)의 회전 각도(D) 및 카메라(7)의 측정 데이터를 기록한다. 동시에, 계산 유닛은 예를 들어 특정 각도를 통해 턴테이블(3)을 회전시키기 위한 제어 명령어들을 제공할 수 있다.

방사선원(2)은 측정 벽(5) 상에 광 분포(9)를 발생시키며, 이는 표현된 예시적인 실시예에서 자동차 헤드램프의 전형적인 광 분포에 대응한다. 광 분포(9)는 축(31)을 중심으로 한 각각의 피봇팅 이동을 위해 카메라(7)의 센서 칩에 의해 기록된다. 측정 벽(5)은 차량 내에 설치된 방사선원의 광 분포의 원거리장 내에 위치된다. 그것은 예를 들어, 헤드램프, 또는 방사선원으로부터 25 m의 범위에 있다.

따라서, 이러한 예시적인 실시예는 도 1의 예시적인 실시예에 따른 선형으로 이동된 포토미터 대신에, 광도측정으로 보정된 카메라 측정 벽 시스템이 사용되고 카메라가 측정 벽 상의 차량 조명 시스템으로 인해 휘도 또는 조도의 반사된 휘도를 측정한다는 점에서 구별된다. 단지 차량의 회전 이동, 및 전체 각도 범위들이 단일 휘도 이미지에서 기록될 수 있는 카메라 측정 벽 측정 시스템은 이러한 경우에 필요하다. 카메라에 의해 벽 상에서 측정되는 휘도 분포는 좌표 변환의 도움으로 헤드램프의 광도 분포로 후속 변환된다.

결합된 좌표 시스템들은 또한 이러한 경우에 사용되며, 다시 말해 휘도 카메라가 측정 값들을 확인하는 벽 좌표들을 헤드램프의 참조 시스템에서의 구면 좌표들로의 변환은 공간에서 헤드램프의 회전에 따라 변한다. 헤드램프의 좌표들이 회전 장치의 각도의 함수로서 공지되면, 테스트 객체의 참조 시스템에서의 광 분포가 회전 장치의 각도 및 헤드램프의 높이로부터 계산될 수 있는 전단사 매핑을 찾는 것이 다시 가능하다.

그 다음, 복수의 부분 각도 범위는 전체 각도 분포를 형성하기 위해 조합될 수 있다. 그러한 방법의 장점은 데이터가 포토미터에 기초하여 순차적인 그리드 측정으로 가능한 것보다 차량 회전 및 카메라 측정의 조합으로 더 빠르게 획득된다는 것이다.

그러나, 카메라(7)에 의한 간접 측정에서 측정의 동적 범위는 포토미터들에 의한 직접 측정과 비교하여 더 작다. 이것은 카메라(7)를 사용할 때 측정 공간 및 대물렌즈 둘 다에서의 산란된 광 억제가 제한된다는 사실과 연관된다. 따라서, 100:1 초과의 콘트라스트는 큰 비용으로만 달성될 수 있다. 이것을 고려하면, 더 높은 동적 범위를 갖는 단단히 끼워맞춰진 센서(8)로 광 분포의 특수한 지점들을 재측정하는 것이 제공될 수 있다. 그러한 추가 센서(8)는 도 7에 개략적으로 표현된다. 하나의 대안 실시예에 따르면, 이러한 목적을 위해, 개구부(표현되지 않음)는 측정 벽(5) 내에, 예를 들어 방사선원의 광학 축 상에 형성되며, 이를 통해 방사선원에 의해 방출되는 광이 통과하고 추가 센서에 의해 검출된다. 추가 센서는 이러한 경우에 축 상에, 측정 벽(5) 뒤에 또는 개구부 내에 위치된다. 이상적인 경우에, 센서 표면은 측정 벽의 일부이고 입사 광과 관련하여 유사한 반사 또는 산란 작용을 갖는다. 대안적으로, 그러한 센서(8)는 원거리장 내에 위치되면서, 측정 벽(5) 앞에 또는 옆에 배열된다. 또한 그러한 센서(8)이 변위 가능하고 따라서 측정 벽(5) 앞의 다수의 위치를 채택하는 것이 제공될 수 있다.

그러한 센서(8)에 의해, 측정 벽에 의해 커버되는 광 분포의 전체 범위는 정확히 교정될 수 있다. 그러한 추가 센서(8)의 위치가 공지되어 있기 때문에, 측정 벽(5) 및 카메라(7)의 조합은 광 분포의 특수한 지점들의 각도 결정에 사용될 필요가 있을 뿐이다. 이것은 측정 벽(5) 및 카메라(7)의 조합이 절대적으로 교정될 필요가 있는 것이 아니라 포토미터에 의한 측정 동안 교정될 수 있기 때문에, 측정 값들의 추적성에서 장점들과 연관된다.

이미 언급된 바와 같이, 카메라(7)는 턴테이블(3)의 각각의 회전 설정을 위해 측정 벽(5)에 의해 정의되는 입체 각도를 기록한다. 턴테이블(3)의 상이한 회전 설정들과 함께 연속된 개별 입체 각도들에 의해, 전체 광 분포는 해당 더 큰 입체 각도 범위에 걸쳐, 구체적으로 방사선원 또는 헤드램프가 좌표 원점에 위치되는 좌표 시스템에서 복합될 수 있다. 대응하는 투사는 도 8에 의해 도시된다.

다른 대안 예시적인 실시예에 따르면, 도 1의 턴테이블(3)은 회전 축(31)에 수직인 축을 중심으로, 예를 들어 Y 축을 중심으로 추가적으로 경사질 수 있다. 따라서, 턴테이블(3) 자체는 제1 축(31)을 중심으로 그리고 제1 축(31)에 수직인 제2 축을 중심으로 측정 프로세스 동안 방사선원의 이동을 생성하며, 그 경우에 자연적으로 구체의 모든 공간 방향들이 각도방사분석으로 기록되는 것이 아니라, 입체 각도만이 전방으로 지향된다. 그러나, 이것은 헤드램프 조명을 측정하는 적용에 충분하다.

대안적으로, 턴테이블 상의 차량은 또한 가로 축, 예를 들어 앞 또는 꼬리를 들어올림으로써 가로 축을 중심으로 경사질 수 있어, 동일한 효과는 턴테이블을 경사지게 함으로써 달성된다.

이러한 구성에서, 각도방사분석 측정을 위해, 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대해, 결정될 특성량과 동일하거나, 결정될 특성량이 유도되는 방출된 방사선의 측정 값을 취득하는 정적 센서를 사용하는 것으로 충분하다. 정적 센서의 사용은 천장 높이가 제한될 때 특히 유리하다.

턴테이블의 경사에 대응하는, 차체의 경사가 별도의 측정 시스템에 의해 순간적으로 기록되는 것이 제공될 수 있다.

그러한 배열은 포토미터가 결합된 원통 좌표 시스템에서 높이 각도를 조정하기 위해 선형 축 상에 변위될 필요가 더 이상 없지만, 대신에 이것이 이제 차량을 전방으로 또는 후방으로 경사지게 함으로써 행해질 수 있다는 장점을 갖는다. 그러나, 섀시 상의 차량 경사의 상술한 단점들은 기록되고 보정될 필요가 있다. 이것은 예를 들어 차량의 좌측 및 우측 상에 끼워맞춰진 카메라들을 사용하여 행해질 수 있으며, 카메라들은 차체 상에 적용되는 마킹 지점들을 측정하고 따라서 수직 각도를 떨어뜨릴 수 있는 타이어들의 스프링 압축 또는 공기 압력과 같은 섀시 영향들 없이, 수평 중립 위치와 관련하여 차량의 실제 경사 각도를 기록한다.

측정은 경사진 차량(1)이 셋업되는 플랫폼(3)을 회전시킴으로써 도 1에서와 같이 수행되어, 헤드램프는 회전 장치의 중간점 주위의 원호 상에서 이동한다. 그러한 측정은 상이한 경사 각도들에 대해 반복될 수 있다.

측정 기하학적 구조는 이러한 예시적인 실시예에서 구면 좌표 시스템에 의해 설명되며, 그의 원점은 구형 표면 상에서 이동한다. 이것은 턴테이블 상의 2개의 상호 수직 축을 중심으로 차량(1)의 경사가 도 9의 내부 구면 좌표 시스템에 대응하는 구형 표면 상에 측정 값들을 초래하기 때문이며, 이는 제1 좌표 시스템을 구성한다. 그 다음, 상이한 방출 방향들에 대해 확인되는 대응하는 측정 값들은 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 원점에 있는, 제2 외부 좌표 시스템의 좌표들로 변환될 필요가 있다. 변환은 2개의 결합된 구면 좌표 시스템 사이의 좌표 변환에 의해 수행되며, 제1 방정식에서 설명된 바와 같은 절대 값은 추가적으로 포토미터에 대한 거리 법칙 및 입사 각도에 의해 수정된다.

설명된 발명은 설치된 상태에서 차량들의 조명 장치들을 실험실에서 계측학적으로 객관적으로 평가하는 것을 가능하게 한다. 옥외에서 그리고/또는 운전 동안 수행되는 방법들을 통한 장점은 도로의 영향(반사, 건조 또는 습윤 상태) 및 잔여 밝기 또는 대기 영향들이 배제될 수 있다는 것이다. 설명된 발명은 다른 한편으로 고니오미터 상에 비중심으로 큰 모듈들로서 이미 미리 어셈블리된 광 기능들을 위치시키고 전단사, 다시 말해 2방향 유일성 가역 맵핑에 의한 측정 결과들을 테스트 중인 장비의 참조 시스템으로 변환하는 것을 가능하게 한다.

비중심으로 배열된 방사선원(평가될 광 기능을 제공함)을 갖는 본 발명에 따른 방법은 방사선원의 방사선 센트로이드가 좌표 중심에 있는 좌표 시스템에서 결정될 특성량을 기록하는 것을 가능하게 하지만, 방사선원은 비중심으로 배열된다. 방법의 하나의 장점은 테스트될 방사선원이 차량을 재위치시킴으로써 고니오미터의 좌표 원점으로 시프트되지 않아야 한다는 것이다. 한편으로 이것은 공간 장점을 제공하고, 다른 한편으로 그것은 테스트될 차량이 정의된 장소에 위치되거나, 회전 테이블이 추가적으로 롤러 테스트 리그와 조합되면, 정의된 운전 상태에 있는 것을 보장한다.

비중심으로 배열된 방사선원을 갖는 좌표 시스템들의 설명된 변환은 원칙적으로 임의의 각도방사분석 측정을 위해, 심지어 도 1에 따른 턴테이블이 사용되지 않고 방사선원이 모듈 내에 비중심으로 배열된 상태에서 모듈이 다른 방식으로, 예를 들어 2개의 상호 수직 축들을 중심으로 모듈을 회전시킴으로써, 예를 들어 로봇에 의해 각도방사분석으로 측정되는 배열들을 심지어 측정하기 위해 수행될 수 있다는 점이 주목되어야 한다.

본 발명은 전술된 실시예들에 제한되지 않고, 다양한 수정들 및 개선들이 여기에 설명된 개념들로부터 벗어나 않고 수행될 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 설명된 특징들 중 어느 것은 상호 배타적이지 않는 한, 별도로 또는 임의의 다른 특징들과 조합하여 사용될 수 있다는 점이 더 주목되어야 한다. 개시는 여기에 설명되는 하나 이상의 특징들의 모든 조합들 및 부조합들로 연장되고, 이들을 포함한다. 범위들이 정의되는 한에 있어서, 이들은 이들 범위들뿐만 아니라 범위에 있는 모든 부분범위들 내에서 모든 값들을 포함한다.

Claims (24)

1. 객체(1) 내에 설치된 광학 방사선원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 방법으로서, 상기 방법은,
   - 회전 축(31)을 갖는 턴테이블(3) 상에 상기 객체(1)를 배열하는 단계로서, 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)은 제1 좌표 시스템을 정의하고, 그의 원점(O)은 상기 회전 축(31)과 상기 턴테이블(3)의 표면(32)의 교차 지점에 의해 형성되고 그의 공간 축은 상기 회전 축(31)과 일치하는 단계로서,
   - 상기 객체(1)는 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)으로부터 이격되는 방식으로 상기 턴테이블(3) 상에 배열되는 단계,
   - 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)에 대한 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드의 위치를 상대 위치로서 결정하는 단계,
   - 축을 중심으로 상기 객체(1)의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정을 수행하는 단계로서, 상기 각도방사분석 측정은 상기 제1 좌표 시스템에서 수행되고 상기 턴테이블(3) 상의 객체(1)는 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)을 중심으로 초기 위치(A1)로부터 시작하여 회전되고, 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)은 상기 각도방사분석 측정의 수직 축을 구성하는 단계,
   - 상기 각도방사분석 측정에 의해 다수의 방출 방향에 대한 방사선원(2)의 측정량을 방향 의존적으로 기록하는 단계로서, 상기 제1 좌표 시스템에서 정의되는 방출 방향들은 각각 상기 측정량의 할당된 측정된 값들인 단계,
   - 상기 제1 좌표 시스템에서 확인되었던 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들 및 상기 상대 위치로부터, 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 좌표 시스템의 원점에 있는, 제2 좌표 시스템에서의 다수의 방출 방향에 대한 측정량을 계산하는 단계로서,
   상기 측정량은 상기 측정될 특성량과 동일하거나 상기 측정될 특성량은 상기 측정량으로부터 계산되는, 단계를 포함하는 방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 객체(1)는 자동차 또는 모듈이며, 상기 방사선원(2)은 상기 자동차 또는 상기 모듈 내에 설치되고 상기 자동차 또는 상기 모듈은 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)으로부터 이격되는 방식으로 상기 턴테이블(3) 상에 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 턴테이블(3)은 증분적으로 회전되는 것을 특징으로 하는, 방법.
4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 턴테이블(3)은 연속적으로 회전되는 한편 측정 값들은 정의된 각도들에서 기록되는 것을 특징으로 하는, 방법.
5. 제1항 내지 제4항 중 한 항에 있어서, 주변들로부터 상기 방사선원(2)을 획정하는 폐쇄 플레이트를 통과하는, 방사선 빔의 기하학적 센트로이드는 상기 방사선원(2)의 방사선 센트로이드로서 정의되는 것을 특징으로 하는, 방법.
6. 제1항 내지 제5항 중 한 항에 있어서, 상기 제1 좌표 시스템에서의 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터 상기 제2 좌표 시스템에서의 방향 의존 측정량의 계산은 상기 제1 좌표 시스템 상에 기록되는 값들의 좌표들을 상기 제2 좌표 시스템에서의 대응하는 좌표들 위로 매핑함으로써 수행되는 것을 특징으로 하는, 방법.
7. 제1항 내지 제6항 중 한 항에 있어서, 상기 턴테이블(3) 상의 객체(1)의 회전 외에 추가하여, 상기 각도방사분석 측정은 하나 이상의 센서(4)에 의해 직선 라인을 따르는 상기 측정량의 기록을 이러한 라인을 따른 위치(S)의 함수로서 포함하는 것을 특징으로 하는, 방법.
8. 제7항에 있어서, 상기 직선 라인을 따라 변위되고, 상기 라인 상의 정의된 위치들(S)에 대한 방출된 방사선의 측정 값들을 취득하는 센서(4)는 상기 각도방사분석 측정에 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법.
9. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 조도는 상기 측정량으로서 측정되고 상기 방사선원(2)의 측정될 특성량으로서의 광도는 이하의 식으로 상기 조도로부터 계산되며:
   
   여기서,
   I는 상기 광도이고,
   E는 상기 측정된 조도이고,
   d는 상기 광원과 상기 센서 사이의 거리이고,
   (H,V)는 상기 X 축에 엄격히 평행하게 배향되는 센서가 조명되었던 각도들이며, 다시 말해
   H는 방위 각도(φ)에 대응하고,
   V는 90°에서 극 각도(θ)를 뺀 각도에 대응하는 것을 특징으로 하는, 방법.
10. 제7항 내지 제9항 중 한 항에 있어서, 상기 제1 좌표 시스템은 원통 좌표 시스템이고, 상기 제1 좌표 시스템에서 기록되는 값들의 좌표들은 제1 단계에서 원점에 상기 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 있는 추가 원통 좌표 시스템으로 변환되고, 제2 단계에서 원점에 상기 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 있는 구면 좌표 시스템으로 변환되며, 상기 구면 좌표 시스템은 상기 제2 좌표 시스템인 것을 특징으로 하는, 방법.
11. 제10항에 있어서, 각각의 방출 방향에 대해, 상기 제2 좌표 시스템에서의 센서 위치(P)의 방위 각도(H) 및 고도 각도(V)는 상기 제1 좌표 시스템에서의 회전 플레이트(3)의 회전 각도(D) 및 센서(4)의 높이(S)로부터 계산되고, 상기 해당 센서(4)에 의해 측정되는 측정량의 값은 상기 측정량으로부터 상기 특성량을 획득하기 위해 상기 센서(4)에 대한 범위 및 입사 각도 보정되면서, 방위 각도(H) 및 고도 각도(V)에 의해 정의되는 이러한 방출 방향에 할당되는 것을 특징으로 하는, 방법.
12. 제7항 내지 제11항 중 한 항에 있어서, 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)은 수직으로 연장되고, 직선 라인(40)에 따라 상기 측정량이 기록되는 상기 직선 라인은 마찬가지로 수직으로 연장되는 것을 특징으로 하는, 방법.
13. 제7항 내지 제12항 중 한 항에 있어서, 상기 턴테이블(3) 상의 객체(1)의 회전 외에 추가하여 그리고 직선 라인을 따르는 위치의 함수로서 직선 라인(40)을 따르는 측정량의 기록 외에 추가하여, 상기 각도방사분석 측정은 제2 직선 라인을 따르는 위치의 함수로서 제2 직선 라인(41)을 따르는 측정량의 기록을 포함하고, 상기 제1 라인(40) 및 상기 제2 라인(41)은 평행하게 연장되고 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)과 상이한 거리에 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법.
14. 제1항 내지 제6항 중 한 항에 있어서, 상기 턴테이블(3) 상의 객체(1)의 회전 외에 추가하여, 상기 각도방사분석 측정은 정적으로 배열된 카메라(7)에 의해 상기 측정량의 기록을 포함하고, 상기 방사선원(2)에 의해 방출되는 방사선은 확산 반사로 반사 측정 벽(5)에서 반사되고 상기 턴테이블(3)의 적어도 2개의 설정들을 위해 상기 측정 벽 상에 휘도 분포로서 상기 카메라(7)에 의해 기록되고, 상기 카메라(7)에 의해 기록되는 휘도 분포는 좌표 변환의 도움으로 상기 제2 좌표 시스템에서의 휘도 분포로 변환되고, 상기 휘도 분포는 상기 측정량을 구성하는 것을 특징으로 하는, 방법.
15. 제14항에 있어서, 상기 측정 벽(5)은 상기 방사선원(2)의 광 분포의 원거리장 내에 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법.
16. 제14항 또는 제15항에 있어서, 게다가, 추가 센서(8)는 직접 조명되고 이러한 센서(8)에 의해 기록되는 신호는 상기 카메라(7)의 교정에 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법.
17. 제1항 내지 제6항 중 한 항에 있어서, 상기 턴테이블(3) 상의 객체(1)의 회전 외에 추가하여, 상기 각도방사분석 측정은 상기 회전 축(31)에 수직인 축을 중심으로 상기 턴테이블(3) 또는 객체(1)의 경사를 수반하고, 상기 객체(1)는 다수의 경사 각도에 대해 회전되고 상기 측정량은 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대해 기록되고, 상기 측정량은 상기 방사선원(2)의 방사선 센트로이드 주위에서 구형 표면 상의 각도방사분석 측정에 근거하여 기록되는 것을 특징으로 하는, 방법.
18. 제17항에 있어서, 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합을 위해 상기 방출된 방사선의 측정 값을 취득하는 정적 센서는 상기 각도방사분석 측정에 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법.
19. 제17항 또는 제18항에 있어서, 상기 제1 좌표 시스템에서의 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터 상기 제2 좌표 시스템에서의 방향 의존 측정량의 계산은 상기 제1 좌표 시스템에서 기록되는 값들의 좌표들을 상기 제2 좌표 시스템에서의 대응하는 좌표들 위로 매핑함으로써 수행되며, 상기 제2 좌표 시스템은 구면 좌표 시스템이고, 그의 원점은 구형 표면 상에서 이동하는 것을 특징으로 하는, 방법.
20. 객체(1) 내에 설치된 광학 방사선원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 방법으로서, 상기 방법은,
    - 유지 요소에 또는 상기 유지 요소 상에 상기 객체(1)를 배열하는 단계로서, 상기 유지 요소는 제1 축을 중심으로 그리고 상기 제1 축에 수직인 제2 축을 중심으로 상기 객체(1)을 회전시키도록 의도 및 구성되고, 상기 객체(1)는 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 상기 제1 축 및 상기 제2 축에 의해 형성되는 제1 좌표 시스템의 원점(O) 밖에 있는 방식으로 상기 유지 요소 상에 배열되는 단계,
    - 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)에 대한 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드의 위치를 상대 위치로서 결정하는 단계,
    - 상기 2개의 축을 중심으로 상기 객체(1)의 회전을 포함하는 각도방사분석 측정을 수행하는 단계로서, 상기 각도방사분석 측정은 상기 제1 좌표 시스템에서 수행되는 단계,
    - 상기 각도방사분석 측정에 의해 다수의 방출 방향에 대한 방사선원(2)의 측정량을 방향 의존적으로 기록하는 단계로서, 상기 제1 좌표 시스템에서 정의되는 방출 방향들은 각각 상기 측정량의 할당된 측정된 값들인 단계,
    - 상기 제1 좌표 시스템에서 확인되었던 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들 및 상기 상대 위치로부터, 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 좌표 원점에 있는, 제2 좌표 시스템에서의 다수의 방출 방향에 대한 방향 의존 측정량을 계산하는 단계를 포함하며,
    - 상기 측정량은 상기 측정될 특성량과 동일하거나 상기 측정될 특성량은 상기 측정량으로부터 계산되는, 방법.
21. 객체(1) 내에 설치된 광학 방사선원(2)의 적어도 하나의 조명 또는 방사분석 특성량의 방향 의존 측정을 위한 고니오광도계로서, 상기 고니오광도계는,
    - 회전 축(31)을 갖는 턴테이블(3)로서, 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)은 제1 좌표 시스템을 정의하고, 그의 원점(O)은 상기 회전 축(31)과 상기 턴테이블(3)의 표면의 교차 지점에 의해 형성되고 그의 공간 축은 상기 회전 축(31)과 일치하고, 상기 턴테이블(3)은 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 상기 제1 좌표 시스템의 원점(O)으로부터 이격되는 방식으로 상기 객체(1)를 수용하도록 의도되는 상기 턴테이블(3),
    - 상기 방사선원(2)의 측정량을 측정하도록 구성 및 의도되는 적어도 하나의 센서(4)로서,
    상기 턴테이블(3) 및 상기 적어도 하나의 센서는 각도방사분석 측정을 수행하도록 구성되고, 상기 각도방사분석 측정은 상기 턴테이블(3)의 회전 축(31)을 중심으로 상기 객체(1)의 회전을 포함하고, 상기 제1 좌표 시스템에서, 상기 측정량은 상기 각도방사분석 측정에 의해 다수의 방출 방향에 대해 방향 의존적으로 기록되고, 상기 제1 좌표 시스템에서 정의되는 방출 방향들은 각각 상기 측정량의 할당된 측정된 값들인 상기 적어도 하나의 센서(4),
    - 상기 제1 좌표 시스템의 원점에 대한 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드의 위치로부터 그리고 상기 제1 좌표 시스템에서 확인되었던 측정량의 방향 의존적으로 기록된 값들로부터, 상기 광학 방사선원(2)의 방사선 센트로이드가 좌표 시스템의 원점에 있는, 제2 좌표 시스템에서 상기 다수의 방출 방향에 대한 측정량을 계산하도록 의도 및 구성되는 계산 유닛(6)을 포함하고,
    - 상기 계산 유닛(6)은 상기 측정량이 이미 상기 측정될 특성량이 아니면, 상기 측정량으로부터 상기 측정될 특성량을 계산하도록 더 의도 및 구성되는, 고니오광도계.
22. 제21항에 있어서, 상기 고니오광도계는 유형 3 고니오광도계를 형성하며, 상기 적어도 하나의 센서는 직선 라인을 따르는 측정량을 이러한 라인을 따르는 높이 위치(S)의 함수로서 기록하는 것을 특징으로 하는, 고니오광도계.
23. 제21항에 있어서, 상기 고니오광도계는,
    - 확산 반사를 갖는 반사 측정 벽(5)으로서, 상기 방사선원(2)에 의해 방출되는 광을 반사시키는 반사 측정 벽(5),
    - 정적으로 그리고 부동으로 배열되고 2차원 센서 칩을 갖는 카메라(7)로서, 상기 센서 칩의 픽셀들은 적어도 하나의 센서를 형성하는 카메라(7)를 더 포함하며,
    - 상기 카메라(7)는 상기 턴테이블(3)의 적어도 2개의 설정들을 위해 상기 측정 벽(5)에서 반사되는 광을 기록하는 방식으로 배열 및 구성되고, 상기 반사된 광은 상기 카메라(7)의 센서 칩 위로 이미지화되고 상기 반사된 광은 상기 카메라(7)에 의해 상기 측정 벽(5) 상의 휘도 분포로서 기록되고,
    - 상기 계산 유닛(6)은 상기 카메라(7)에 의해 기록되는 휘도의 분포를 좌표 변환에 의해 상기 제2 좌표 시스템에서의 휘도 분포로 변환하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 고니오광도계.
24. 제21항에 있어서,
    - 상기 적어도 하나의 센서는 정적 센서를 포함하고,
    - 상기 회전 축(31)을 중심으로 한 회전 외에 추가하여, 상기 턴테이블(3)은 상기 회전 축(31)에 수직인 축을 중심으로 턴테이블 상에 배열된 객체(1)를 경사지게 하도록 구성되거나, 상기 객체(1)는 그러한 축을 중심으로 경사지게 배열되고,
    - 상기 턴테이블(3), 또는 상기 객체(1), 및 상기 적어도 하나의 센서는 상기 객체(1)가 각도방사분석 측정 동안 다수의 경사 각도에 대해 회전되는 방식으로 상기 각도방사분석 측정 동안 협력하고 상기 정적 센서는 회전 각도 및 경사 각도의 각각의 조합에 대해 상기 측정량을 기록하는 것을 특징으로 하는, 고니오광도계.