KR20230119315A - 전자회로 기능 검사 장치 - Google Patents

전자회로 기능 검사 장치 Download PDF

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KR20230119315A
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김근홍
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정원일
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(주)샤론테크
김승섭
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Abstract

본 발명은 전자회로 기능 검사 장치로서, 전자기기의 중요한 기능을 수행하는 PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있는 기술을 개시한다.

Description

전자회로 기능 검사 장치{Electronic circuit function test device}
본 발명은 전자회로 기능 검사 장치로서, 보다 상세하게는 전자기기의 중요한 기능을 수행하는 PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있는 기술에 대한 것이다.
일반적으로 전자기기는 각 기능을 제어하기 위한 IC 칩 등을 통해 구동되는 전자회로를 포함한다. 이러한 전자기기는 소형화 및 슬림화되고, 더 많은 기능을 제공할 수 있도록 보다 복잡하고 집적화된 전자회로를 갖는 PCB(Printed Circuit Board)를 통해 구현되고 있다.
전자회로가 구성된 PCB에 대한 검사는 일반적으로 3단계의 검사공정을 거치게 된다.
첫 번째 단계는 부품특성검사(ICT: In Circuit Tester)로서, PCB에 실장된 있는 저항(R), 코일(L), 콘덴서(C), Diode(D), 트랜지스터(TR), IC 칩 등과 같은 전자부품을 검사한다. 이는 각각의 부품에 미세 신호를 인가하여 전자부품이 가지고 있는 고유특성을 검사하여 작업의 오류를 판별하는 방식이다. IC나 마이콤 같이 Logic 또는 기능을 갖는 전자부품은 ICT 검사 만으로 양부를 검사할 수가 없다.
두 번째 단계는 기능검사(FCT: Function Circuit Tester)로서, 부품특성검사(ICT)로 검출할 수 없는 전자회로의 기능을 검사하기 위하여 PCB에 실제 사용되는 전원 또는 신호를 인가하고 수동으로 조작하면서 동작상태를 확인하거나 컴퓨터시스템을 구축하여 검사한다. 이러한 수동적 방식은 검출력에 문제가 있으며, 컴퓨터 검사 방식은 특정 모델에만 사용되는 전용장치로 개발되어 있어서 특성이 다른 PCB에 공용으로 사용할 수가 없는 문제가 있다.
세 번째 단계는 검사자의 육안 검사로서, 전기적인 신호로 검사할 수 없는 커넥터, 전해콘덴서 등과 같은 부품을 검사자가 시각을 통해 검사한다.
특히 전자회로 기능검사 방식은 특정 PCB 형태와 전자회로 구성에 맞춰 테스트 픽스쳐(Fixture)를 통해 검사를 수행하기에 다양한 전자회로에 적용할 수 없는 문제가 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있는 방안을 제시하고자 한다.
특히, 검사대상 보드의 각 포트별 기능 검사를 수행함에 따른 오랜 검사 시간이 소요되는 문제를 해결하고, 단일 기능 검사 수행으로 여러 기능의 복합적 수행시 발생되는 문제를 파악할 수 없는 문제를 해결하고자 한다.
나아가서 기능 검사 중 오류 발생시 전자부품이 진행성 불량으로 열화되는 문제를 해결하고자 한다.
본 발명의 목적은 전술한 바에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있다.
본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 일실시예는, 검사대상 보드의 해당 기능에 대응되어 상기 검사대상 보드에 대한 입출력 신호를 제어하는 신호 제어부; 상기 검사대상 보드로부터 출력 신호를 인가받고, 설정된 신호값 레벨을 기준으로 상기 출력 신호에 대한 검사 판단 신호를 생성하는 신호 검출부; 복수의 발광 소자를 포함하며, 상기 검사 판단 신호에 대응되어 복수의 발광 소자를 선택적으로 구동시키는 발광 모듈; 상기 발광 모듈을 통해 발광되는 광을 시현시키는 머신 비전부; 및 상기 검사 제어부의 입출력 신호를 기반으로 상기 머신 비전부의 시현 상태를 통해 전자회로의 기능을 판단하는 전자회로 기능 판단부를 포함할 수 있다.
바람직하게는 상기 신호 검출부는, 상기 출력 신호에 대응되어 발광 소자의 발광 개수, 광 방출 세기 및 광 방출 색상이 설정된 검사 판단 신호를 생성할 수 있다.
나아가서 상기 발광 모듈은, 상기 발광 소자의 광 방출 경로로 위치되어 상기 발광 소자로부터 방출되는 복수의 광을 혼합하는 광 혼합 수단을 더 포함할 수 있다.
한걸음 더 나아가서 방출되는 복수의 광을 집중시켜 상기 머신 비전부로 전달하는 광 전송 라인을 더 포함할 수 있다.
일례로서, 상기 신호 제어부는, 상기 검사대상 보드의 각 포트에 대응되어 복수의 발광 소자에 대한 개별적 점등 및 동시 점등을 통해 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 설정하며, 상기 전자회로 기능 판단부는, 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 기초로 상기 머신 비전부의 시현 상태에 따라 전자회로의 기능을 판단할 수 있다.
나아가서 상기 전자회로 기능 판단부는, 검사대상 보드에 대한 검사 결과를 기초로 인공지능 학습을 수행할 수 있다.
이와 같은 본 발명에 의하면, PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있게 된다.
특히, 검사대상 보드의 모든 포트를 비전을 통해 실시간 동시 검사가 가능하며, 오류 발생시 즉시 인가 전원을 차단하여 전자부품이 진행성 불량으로 열화되는 현상을 방지할 수 있다.
또한 기존 검사 방식의 경우, 검사를 위한 조작과 검사 수행의 두 단계로 걸쳐서 수행되는 검사 공정을 검사 신호 인가와 동시에 검사가 수행되는 한 단계 검사 공정으로 수행함으로써 검사 생산성이 향상될 수 있다.
아울러 불량 검출 디버깅시 발생하는 검사자의 검사 스텝 누락, 검사 스텝 오류 설정 등의 검사자가 수행하는 오류 발생을 검사 알고리즘(AI)를 통해 자동 검출함으로써 인적 요소로 인한 검사 오류를 방지할 수 있다.
나아가서 검사대상 보드의 모든 포트에 대한 검사 출력치를 디지털 신호로 변환하여 동시에 비전 모니터링을 통해 디버깅하므로 검사의 정확성과 속도를 향상시킬 수 있다.
본 발명의 효과는 위에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 일실시예를 도시한다.
도 2는 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 일실시예에 대한 구성도를 도시한다.
도 3은 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치를 통한 전자회로 기능 검사 수행 과정의 일례를 도시한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예들에 의해 한정되거나 제한되는 것은 아니다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 설명하기 위하여 이하에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하고 이를 참조하여 살펴본다.
먼저, 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로서, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니며, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 또한 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
본 발명은 전자기기의 중요한 기능을 수행하는 PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있는 기술을 제시한다.
도 1은 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 일실시예를 도시하며, 도 2는 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 일실시예에 대한 구성도를 도시한다.
전자회로 기능 검사 장치(100)는 전자회로 기능 판단부(110), 신호 입출력부(130), 발광 모듈(150), 머신 비전부(190) 등을 포함할 수 있다.
전자회로 기능 판단부(110)는 신호 입출력부(130)와 연동하여 검사대상 보드(10)에 대한 입력 신호 및 출력 신호를 기반으로 머신 비전부(190)의 시현 상태를 통해 전자회로의 기능 수행 상태를 판단할 수 있다.
일례로서, 전자회로 기능 판단부(110)는 검사 수행부(111), 검사 결과 제공부(115) 등을 포함할 수 있다.
검사 수행부(111)는 발광 모듈(150)에 구비된 복수의 발광 소자(151)를 개별적 또는 동시 점등시키면서 발광 소자(151)의 발광 개수, 광 방출 세기, 광 방출 색상 등을 설정하고, 복수의 발광 소자(151)에서 방출되는 광의 중심점과 색상 판정점을 찾아 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 설정할 수 있다. 이때 검사 수행부(111)는 검사대상 보드(10)의 각 포트에 대한 입력 신호와 출력 신호에 대응되어 발광 모듈(150)의 발광 소자(151)를 개별적 점등시키거나 동시 점등시켜 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 설정할 수 있다.
아울러 검사 수행부(111)는 신호 입출력부(130)와 연동하여 신호 입출력부(130)를 통해 검사대상 보드(10)의 해당 포트로 검사 수행을 위한 입력 신호를 인가할 수 있고, 신호 입출력부(130)를 통해 검사대상 보드(10)의 해당 포트로부터 검사 수행을 위한 출력 신호를 획득할 수 있다. 검사 수행부(111)는 검사대상 보드(10)의 각 포트에 대한 출력 신호에 따른 발광 모듈(150)의 상한 영역치와 하한 영역치를 설정할 수 있으며, 설정된 디폴트를 신호 입출력부(130)로 제공할 수 있다.
또한 검사 수행부(111)는 머신 비전부(190)의 시현 상태를 인식하고 사전에 설정된 검사대상 보드(10)의 각 포트별 기능 수행에 따른 출력 색상이 적절한지 판단할 수 있다. 검사 수행부(111)는 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 기초로 머신 비전부(190)의 시현 상태에 따라 검사대상 보드(10)에 구비된 전자회로의 기능을 판단할 수 있다.
나아가서 출력 색상이 임계치로 설정된 색상에 도달하는 경우, 신호 입출력부(130)를 통한 입력 신호 인가 및 전원 인가를 차단하여 각 부품을 보호할 수도 있다.
검사 수행부(111)는 머신 비전부(190)의 시현 상태를 기초로 출력치를 저장하고 해당 신호 발생에 따른 이력을 누적하여 보유하면서 이를 기초로 검사대상 보드(10)의 각 포트별 기능 수행 적합성을 판단할 수 있다.
바람직하게는 검사 수행부(111)는 다양한 종류별 검사대상 보드(10)에 대한 검사 이력을 인공지능 학습하고, 학습된 인공지능을 통해 검사대상 보드(10)의 기능 수행을 판단할 수 있다. 나아가서 발광 모듈(150)이 복수의 광을 혼합하여 머신 비전부(190)로 전달되는 경우, 검사 수행부(111)는 머신 비전부(190)의 혼합 광 신호 시현 상태를 기초로 검사대상 보드(10)에 대한 기능 수행을 검사할 수도 있다.
검사 결과 제공부(115)는 검사 수행부(111)에서 판단한 검사대상 보드(10)에 대한 기능 검사 결과를 사용자에게 제공할 수 있다. 바람직하게는 검사 결과 제공부(115)는 검사대상 보드(10)의 해당 포트별 기능 검사 결과를 기초로 검사대상 보드(10)의 특정 기능 수행 상태에 대한 검사 결과를 제공할 수 있다.
신호 입출력부(130)는 전자회로 기능 판단부(110)와 연동하여 검사대상 보드(10)로 검사 수행을 위한 입력 신호를 인가하고 입력 신호 인가에 따라 검사대상 보드(10)에서 출력되는 출력 신호를 획득할 수 있다.
신호 입출력부(130)는 신호 제어부(131), 신호 검출부(133), 신호 포트(135) 등을 포함할 수 있다.
신호 포트(135)는 검사대상 보드(10)의 각 포트에 대응되어 입력 신호를 인가하는 포트와 출력 신호를 획득하는 포트 등으로 복수개가 구비될 수 있다.
신호 제어부(131)는 전자회로 기능 판단부(110)에서 설정된 디?j트에 대응되어 특정 신호 포트(135)를 통해 검사대상 보드(10)로 입력 신호를 인가할 수 있다. 신호 제어부(131)는 검사대상 보드(10)의 포트에 개별 또는 동시에 선택적으로 입력 신호를 인가할 수 있다.
신호 검출부(133)는 신호 포트(135)를 통해 검사대상 보드(10)의 출력 신호를 획득할 수 있다. 신호 검출부(133)는 전자회로 기능 판단부(110)에서 설정된 사항을 기초로 검사대상 보드(10)의 출력 신호를 디지털로 처리하고 출력 신호에 대한 디지털 신호를 기초로 검사 판단 신호를 발광 모듈(150)로 제공할 수 있다. 일례로서, 신호 검출부(133)는 출력 신호에 대한 디지털 신호의 수치를 설정된 신호값 레벨로 환산하고 이를 기초로 출력 신호에 대한 검사 판단 신호를 생성할 수 있다.
발광 모듈(150)은 복수의 발광 소자(151)를 구비하고 신호 입출력부(130)로부터 제공된 검사 판단 신호에 따라 광을 방출할 수 있다. 일례로서, 발광 모듈(150)은 검사 판단 신호에 따라 발광 소자(151)의 발광 개수, 발광 영역, 발광 세기, 발광 색상 등을 각기 다르게 조절하여 광을 방출할 수 있다.
나아가서 발광 모듈(150)은 광 혼합 수단(155) 등을 포함할 수 있다. 광 혼합 수단(155)는 복수의 발광 소자(151)의 광 방출 경로 상에 설치될 수 있으며, 복수의 발광 소자(151)에서 방출되는 광을 혼합하여 방출시킬 수 있다. 일례로서, 광 혼합 수단(155)는 복수의 발광 소자(151) 상부에 배치된 광 혼합 아크릴 판일 수 있다.
발광 모듈(150)에서 방출되는 광은 머신 비전부(190)로 제공될 수 있는데, 바람직하게는 발광 모듈(150)과 머신 비전부(190) 사이에 구비된 광 전송 라인(170)을 통해 발광 모듈(150)에서 방출되는 광이 머신 비전부(190)로 전달될 수 있다.
광 전송 라인(170)은 발광 모듈(150)의 영역별로 구비된 복수의 광 섬유일 수 있으며, 바람직하게는 광 섬유의 단면을 정밀 표면 처리하여 넓은 영역에서 방출되는 광을 광 섬유를 통해 머신 비전부(190)의 좁은 영역으로 집중시켜 전달할 수 있다.
머신 비전부(190)는 광 전송 라인(170)을 통해 전달되는 광 신호를 수신하고 수신된 광 신호를 시현시킬 수 있다. 이때 머신 비전부(190) 발광 모듈(150)로부터 전달된 혼합 광 신호를 시현시킬 수 있다.
머신 비전부(190)에서 시현되는 광을 전자회로 기능 검사 장치(100)가 인식하여 광 시현 상태에 따라 검사대상 보드(10)의 기능 검사를 판단할 수 있게 된다.
본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치의 구체적인 동작 관계를 도 3에 도시된 본 발명에 따른 전자회로 기능 검사 장치를 통한 전자회로 기능 검사 수행 과정의 일례를 참조하여 살펴보기로 한다.
검사대상 보드(10)의 기능 검사에 앞서 전자회로 기능 판단부(110)는 검사대상 보드(10)에 대응되어 수행되는 검사에 따라 발광 모듈(150)의 기준치를 설정(S110)한다.
전자회로 기능 판단부(110)는 발광 모듈(150)에 구비된 복수의 발광 소자(151)를 개별적 또는 일부를 동시 점등시키면서 발광 소자의 발광 개수, 광 방출 세기, 광 방출 색상 등을 설정하고, 방출되는 광의 중심점과 색상 판정점을 찾아 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 설정할 수 있다.
검사대상 보드(10)의 기능 검사를 위한 기준치가 설정되면, 신호 입출력부(130)는 검사대상 보드(10)의 검사 수행을 위한 각 포트별 검사 신호를 입력(120)한다.
신호 입출력부(130)를 통해 검사 신호가 입력되면 검사대상 보드(10)는 입력된 신호에 따라 구동되어 그에 대응되는 출력 신호를 방출하며, 신호 입출력부(130)는 검사대상 보드(10)에서 출력되는 출력 신호를 획득(S130)한다.
신호 입출력부(130)는 검사대상 보드(10)의 출력 신호를 처리하여 디지털 신호로 변환하고 디지털 신호에 따른 신호값 레벨을 환산하여 신호값 레벨을 기초로 검사 판단 신호를 생성(S140)한다. 그리고 신호 입출력부(130)는 검사대상 보드(10)의 출력 신호에 대응되어 생성된 검사 판단 신호를 발광 모듈(150)로 제공한다.
발광 모듈(150)은 검사 판단 신호에 따라 광을 방출(S150)하는데, 이때 발광 모듈(150)은 검사 판단 신호를 기초로 발광 소자의 발광 개수, 발광 세기, 발광 색상 등을 조절하여 광을 방출할 수 있다.
아울러 방출되는 광은 발광 모듈(150)의 광 혼합 수단(155)에 의해 혼합 광으로 변환되어 방출될 수 있으며, 발광 모듈(150)의 영역별로 배치된 광 전송 라인(170)을 통해 혼합 광은 머신 비전부(190)로 전송(S160)된다.
광 전송 라인(170)을 통해 전송된 광은 머신 비전부(190)에서 시현(S170)되며, 전자회로 기능 판단부(110)는 머신 비전부(190)의 시현 상태를 기초로 검사대상 보드(10)의 기능을 판단(S180)할 수 있다.
만약 머신 비전부(190)의 시현 상태에 따른 출력 색상이 임계치로 설정된 색상에 도달하는 경우, 전자회로 기능 판단부(110)는 신호 입출력부(130)를 통한 입력 신호 인가 및 전원 인가를 차단하여 각 부품을 보호할 수도 있다.
나아가서 전자회로 기능 판단부(110)는 인공지능 학습을 통해 지속적으로 다양한 검사대상 보드(10)에 대한 기능 검사를 수행하면서 그 결과를 학습함으로써 검사대상 보드(10)의 전자회로에 대한 기능 검사 정확도를 높일 수 있다.
그리고 전자회로 기능 판단부(110)는 검사대상 보드(10)의 기능 검사 결과를 사용자에게 제공(S190)할 수 있다.
이상에서 살펴본 본 발명에 의하면, PCB(Printed Circuit Board)에 내장된 전자회로에 대한 부품특성검사(ICT), 기능검사(FCT) 등을 지능형 알고리즘이 적용된 머신 비전을 통해 수행할 수 있게 된다.
특히, 검사대상 보드의 모든 포트를 비전을 통해 실시간 동시 검사가 가능하며, 오류 발생시 즉시 인가 전원을 차단하여 전자부품이 진행성 불량으로 열화되는 현상을 방지할 수 있다.
또한 기존 검사 방식의 경우, 검사를 위한 조작과 검사 수행의 두 단계로 걸쳐서 수행되는 검사 공정을 검사 신호 인가와 동시에 검사가 수행되는 한 단계 검사 공정으로 수행함으로써 검사 생산성이 향상될 수 있다.
아울러 불량 검출 디버깅시 발생하는 검사자의 검사 스텝 누락, 검사 스텝 오류 설정 등의 검사자가 수행하는 오류 발생을 검사 알고리즘(AI)를 통해 자동 검출함으로써 인적 요소로 인한 검사 오류를 방지할 수 있다.
나아가서 검사대상 보드의 모든 포트에 대한 검사 출력치를 디지털 신호로 변환하여 동시에 비전 모니터링을 통해 디버깅하므로 검사의 정확성과 속도를 향상시킬 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서 본 발명에 기재된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상이 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의해서 해석되어야하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100 : 전자회로 기능 검사 장치,
110 : 전자회로 기능 판단부,
111 : 인공지능부,
115 : 검사 결과 제공부,
130 : 신호 입출력부,
131 : 신호 제어부,
133 : 신호 검출부,
135 : 신호 포트,
150 : 발광 모듈,
151 : 발광 소자,
155 : 광 혼합 수단,
170 : 광 전송 라인,
190 : 머신 비전부.

Claims (6)

  1. 검사대상 보드의 해당 기능에 대응되어 상기 검사대상 보드에 대한 입출력 신호를 제어하는 신호 제어부;
    상기 검사대상 보드로부터 출력 신호를 인가받고, 설정된 신호값 레벨을 기준으로 상기 출력 신호에 대한 검사 판단 신호를 생성하는 신호 검출부;
    복수의 발광 소자를 포함하며, 상기 검사 판단 신호에 대응되어 복수의 발광 소자를 선택적으로 구동시키는 발광 모듈;
    상기 발광 모듈을 통해 발광되는 광을 시현시키는 머신 비전부; 및
    상기 검사 제어부의 입출력 신호를 기반으로 상기 머신 비전부의 시현 상태를 통해 전자회로의 기능을 판단하는 전자회로 기능 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로 기능 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 검출부는,
    상기 출력 신호에 대응되어 발광 소자의 발광 개수, 광 방출 세기 및 광 방출 색상이 설정된 검사 판단 신호를 생성하는 것을 특징으로 전자회로 기능 검사 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 발광 모듈은,
    상기 발광 소자의 광 방출 경로로 위치되어 상기 발광 소자로부터 방출되는 복수의 광을 혼합하는 광 혼합 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로 기능 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    방출되는 복수의 광을 집중시켜 상기 머신 비전부로 전달하는 광 전송 라인을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로 기능 검사 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 신호 제어부는,
    상기 검사대상 보드의 각 포트에 대응되어 복수의 발광 소자에 대한 개별적 점등 및 동시 점등을 통해 중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 설정하며,
    상기 전자회로 기능 판단부는,
    중심점 기준치와 색상 판정점 기준치를 기초로 상기 머신 비전부의 시현 상태에 따라 전자회로의 기능을 판단하는 것을 특징으로 하는 전자회로 기능 검사 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 전자회로 기능 판단부는,
    검사대상 보드에 대한 검사 결과를 기초로 인공지능 학습을 수행하는 것을 특징으로 하는 전자회로 기능 검사 장치.
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