KR20230117616A - 제모장치 및 제모방법 - Google Patents

제모장치 및 제모방법 Download PDF

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KR20230117616A
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토모히로 무라카미
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Abstract

광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모장치로서, 광원을 구비하는 광원부와, 피부의 처리대상영역을 촬상 가능한 촬상부와, 촬상부에 의해 촬상된 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공 특정부와, 촬상 시로부터의 제모장치의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량을 검출하는 어긋남량 검출부와, 어긋남량 검출부에 의해 검출된 어긋남량에 의거해서, 모공에 대한 광의 조사위치를 보정하는 조사위치 보정부를 포함한다.

Description

제모장치 및 제모방법
본 발명은, 제모장치(depilatory device) 및 제모방법에 관한 것이다.
종래, 사람의 피부에 존재하는 체모에 대해서 레이저광을 조사하는 것에 의해, 해당 체모를 제거하는 레이저 제모장치가 알려져 있다. 기존의 상품화되어 있는 레이저광이나 플래시 램프의 광을 이용한 모든 제모기는, 피부 상의 면적비율로 불과 1% 내외밖에 되지 않는 체모에 광을 조사하기 위해서 피부 전체에 강력한 광을 조사하는 것이며, 대단히 효율이 나쁘고 장치가 대형화되고, 피부에의 손상이나 위험도 많다. 또한, 모근의 두께나 털의 색, 피부의 색이나 농도와는 무관하게 광을 조사하는 것으로, 최적이라고는 말할 수 없는 것이었다.
최근, 이러한 과제를 해결하기 위하여, 체모의 모근에 한정해서 레이저광을 조사하는 제모장치가 제안되어 있다(특허문헌 1 등). 특허문헌 1의 레이저 제모장치는, 처리 대상이 되는 피부를 촬상한 화상에 의거해서 모근의 두께(굵기) 및 털의 색을 특정하고, 이 특정한 모근의 두께 및 털의 색에 의거해서, 조사하는 레이저광의 선량을 결정하도록 구성되어 있다. 이러한 특허문헌 1의 레이저 제모장치에 따르면, 처리 대상으로 하는 털에 적합한 선량의 레이저광을 조사하는 것이 가능해지므로, 효율적으로 제모를 행하는 것이 가능하다.
JP 2005-500879 A
그러나, 특허문헌 1에 기재된 레이저 제모장치에서는, 처리 대상이 되는 피부를 촬영하고 나서 실제로 레이저광을 조사할 때까지 타임 래그(time lag)가 있고, 그 동안에 레이저 제모장치의 위치가 벗어난 경우에는, 처리 대상으로 하는 털에 대해서 레이저광을 조사할 수 없다는 문제가 있다.
그래서, 본 발명은, 처리 대상으로 하는 털에 대해서 확실히 빔 광을 조사하는 것이 가능한 제모장치 및 제모방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
이러한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 따른 제모장치는, 광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모장치로서, 상기 광원을 구비하는 광원부와, 피부의 처리대상영역을 촬상 가능한 촬상부와, 상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공 특정부와, 상기 촬상 시로부터의 상기 제모장치의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량을 검출하는 어긋남량 검출부와, 상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 의거해서, 상기 모공에 대한 상기 광의 조사위치를 보정하는 조사위치 보정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 제모장치는, 상기 처리대상영역에 대한 상기 제모장치의 상대 이동량을 검출 가능한 이동 검출부를 더 포함하되, 상기 어긋남량 검출부는, 상기 처리대상영역에 대한 상기 촬상 시로부터의 상기 제모장치의 상대 이동량을 상기 이동 검출부에 의해 검출하고, 해당 상대 이동량에 의거해서 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 이동 검출부는, 상기 처리대상영역의 평면방향에 있어서의 상기 제모장치의 상대 이동량과, 해당 평면방향과 평행한 방향으로의 해당 제모장치의 상대 회전량을 검출 가능하게 구성되어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 어긋남량 검출부는, 상기 모공 특정부에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 제1 화상 데이터와, 해당 모공에 대한 광의 조사 전에 재차 촬상한 제2 화상 데이터에 의거해서, 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 어긋남량 검출부는, 상기 제1 화상 데이터로부터 추출한 추출 모공 화상과, 상기 제2 화상 데이터에 의거해서, 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어 있고, 상기 추출 모공 화상은, 상기 모공 특정부에 의해 특정된 상기 모공 및 해당 모공의 주위의 피부를 포함하도록 상기 제1 화상 데이터로부터 추출한 화상이어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 제2 화상 데이터는, 상기 제1 화상 데이터보다도 적은 화소수를 가져도 되고, 또는 상기 추출 모공 화상보다도 큰 화소 크기를 가져도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 조사위치 보정부는, 상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 따라서, 상기 광의 조사위치의 보정을 행할 것인지의 여부의 판정을 실행하도록 구성되어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 조사위치 보정부는, 상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 따라서, 에러를 보고할 것인지의 여부의 판정을 실행하도록 구성되어도 된다.
본 발명에 따른 제모장치에 있어서, 상기 모공 특정부는, AI화상인식에 의해 상기 모공의 특정을 실행해도 된다.
또, 본 발명에 따른 제모방법은, 광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모방법으로서, 피부의 처리대상영역을 촬상하는 촬상공정과, 상기 촬상공정에 의해 촬상된 상기 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공특정공정과, 모공위치에 관한 상기 촬상 시로부터의 어긋남량을 검출하는 어긋남량 검출공정과, 상기 어긋남량 검출공정에 의해 검출된 상기 어긋남량에 의거해서, 상기 모공에 대한 상기 광의 조사위치를 보정하는 조사위치 보정공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 처리 대상으로 하는 털에 대해서 확실히 빔 광을 조사하는 것이 가능한 제모장치 및 제모방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 제모장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 조사위치 제어기구의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 이동검출센서의 제1 센서 구성예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4는 이동검출센서의 제2 센서 구성예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 5는 이동검출센서의 제3 센서 구성예를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 6은 제어부의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7(a)는 촬상부에 의해 촬상한 원(元)화상을 나타낸 도면이고, 도 7(b)는 모공 특정부에 의해 모공을 특정한 상태를 나타낸 도면이다.
도 8(a)는 모공이 특정된 화상 데이터를 나타낸 도면이고, 도 8(b)는 특정된 모공마다 추출된 추출 모공 화상을 나타낸 도면이고, 도 8(c)는 빔 광의 조사 전에 재차 촬상된 재촬상 화상의 일부 또는 전부를 나타낸 도면이고, 도 8(d)는 본래의 추출 모공 화상의 위치와, 재촬상 화상 중에 있어서의 추출 모공 화상의 위치를 함께 나타낸 도면이다.
도 9는 복수의 위치 어긋남 검출용 템플릿 화상의 위치 어긋남량을 이용해서 촬상 범위 전체의 장치 어긋남량을 검출하는 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 촬상 범위 전체의 장치 어긋남량을 이용해서 모공위치마다의 개별의 어긋남량을 검출하는 처리를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 본 발명의 일 실시형태에 따른 제모방법의 흐름을 개략적으로 나타내는 플로우 차트이다.
도 12는 모공특정공정으로부터 조사 공정까지의 흐름을 개략적으로 나타내는 플로우 차트이다.
도 13은 본 실시형태에 따른 제모방법의 처리 시퀸스를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 14는 도 13 중 A부분을 확대해서 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명을 실시하기 위한 바람직한 실시형태에 대해서, 도면을 이용해서 설명한다. 또, 이하의 실시형태는, 각 청구항에 따른 발명을 한정하는 것은 아니고, 또한, 실시형태 중에서 설명되어 있는 특징의 조합 모두가 발명의 해결 수단에 필수적이라고는 할 수 없다. 또한, 도면은, 본 발명을 나타내기 위하여 적당히 강조나 생략, 비율의 조정을 행한 모식적인 도면으로 되어 있고, 실제의 형상이나 위치 관계, 비율과는 다른 경우가 있다.
본 실시형태에 따른 제모장치(1)는, 사람의 피부에 존재하는 체모에 대해서 광원으로부터의 광을 조사함으로써, 해당 체모를 영구적 또는 장기적으로 제거(제모처리)하는 제모장치이다.
구체적으로는, 제모장치(1)는, 도 1에 나타낸 바와 같이, 사용자가 파지 가능한 하우징(10)과, 해당 하우징(10) 내에 수납된 광원부(20), 조사위치 제어기구(예를 들면 선회 미러를 구비한 갈바노 스캐너를 2축 XY방향에 배치하고, XY방향으로 광 빔의 조사위치를 제어할 수 있는 제어 기구)(30) 및 촬상부(40)와, 촬상부(40)에 의해 촬상된 화상 데이터에 의거해서, 광원부(20) 및 조사위치 제어기구(30)를 제어하는 제어부(100)(도 6 참조)를 포함하고 있다. 또, 제어부(100)는, 하우징(10) 내에 설치되어도 되고, 하우징(10)과 유선 또는 무선에 의해 데이터 통신 가능하게 접속된 별도의 단말 내에 설치되어도 된다.
[하우징의 구성]
하우징(10)은, 도 1에 나타낸 바와 같이, 사용자가 파지 가능한 파지부(11)와, 해당 파지부(11)의 선단 측에 연속해서 배치된 헤드부(12)를 구비하고 있다. 본 실시형태에 따른 제모장치(1)에서는, 파지부(11) 내에 광원부(20) 및 조사위치 제어기구(30)가 배치되어 있고, 헤드부(12) 내에 촬상부(40)가 배치되어 있지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 또한, 하우징(10)의 구성 및 형상은, 도시된 예로 한정되지 않고, 임의로 변경 가능하다.
파지부(11)는, 사용자가 파지 가능한 직경 및 길이방향의 길이를 갖는 통 형상 등의 임의의 형상으로 형성되어 있고, 헤드부(12)의 피부 대향면을 처리 대상이 되는 피부와 대향시키는 데 적합한 외형 형상으로 설계되어 있다. 이것에 의해, 하우징(10)은, 파지부(11)를 파지한 상태에 있어서, 처리 대상이 되는 피부 상에 제모장치(1)를 위치결정시키는 것이 용이해지는 동시에, 처리 완료 영역으로부터 미처리 영역을 향해서 제모장치(1)를 이동시키는 것이 용이해진다. 또한, 파지부(11)에는, 광원부(20)에 의한 조사의 온/오프를 전환하기 위한 조사 버튼(18)(도 6 참조)이 설치되어 있다.
헤드부(12)는, 제모처리 시에 있어서 처리 대상이 되는 피부와 대향하는 피부 대향면(본 실시형태에서는 하부면)에 개구(13)를 갖는 동시에, 해당 개구(13)를 덮도록 커버부재(14)가 설치되어 있다. 개구(13)는, 1회의 샷(shot)(원 샷)으로 처리되는 피부의 처리대상영역 이상의 크기를 가지고 있다. 커버부재(14)는, 하우징(10) 내에의 먼지 등의 진입을 방지하는 것이 가능한 방진성과, 광원부(20)에 의한 조사 처리 및 촬상부(40)에 의한 촬상 처리를 저해하지 않는 정도의 투광성을 가지고 있다. 커버부재(14)로서는, 예를 들면 투명한 유리판 등을 이용하는 것이 가능하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
또한, 헤드부(12)의 내부에는, 조사위치 제어기구(30)에 의해서 편향된 광원부(20)로부터의 빔 광을 개구(13)의 밖을 향해서 더욱 반사시키는 다이크로익 미러(dichroic mirror)(17)가 설치되어 있다. 다이크로익 미러(17)는, 개구(13)에 대해서 약 45도의 각도로 경사지게 해서 설치되는 동시에, 파장이 긴 적외선의 광인 조사광을 효율적으로 반사하는 반사면으로 되어 있고, 해당 반사면에 의해서, 조사위치 제어기구(30)에 의해서 편향된 광원부(20)로부터의 빔 광을 개구(13)의 밖(피부의 처리대상영역)을 향해서 효율적으로 반사시키도록 구성되어 있다. 한편, 다이크로익 미러(17)는, 조사 광에 대해서, 파장이 짧은 가시광은 높은 투과율로 투과할 수 있도록 되어 있고, 해당 투과면 측에 촬상부(40)가 배치되어 있다. 이것에 의해, 촬상부(40)는, 다이크로익 미러(17)를 개재해서, 적은 손실로 개구(13)의 밖(피부의 처리대상영역)을 촬상하는 것이 가능해지고 있다.
또한, 헤드부(12)의 내부에는, 개구(13)를 향해서 조명광을 조사 가능한 조명 수단(도시 생략)이 설치되어 있다. 조명 수단은, 촬상부(40)에 의한 촬상 시에 점등하고, 개구(13)를 개재해서 피부의 처리대상영역을 비추도록 구성되어 있다. 이러한 조명 수단으로서는, 범용의 LED 등의 다양한 임의의 광원을 이용하는 것이 가능하다.
또, 헤드부(12)는, 피부 대향면에, 처리 대상이 되는 피부(처리대상영역)에 대한 제모장치(1)(헤드부(12))의 X-Y평면방향의 상대 이동량(이하, "수평 이동량"으로 칭함) 및 X-Y평면방향과 평행한 방향으로의 제모장치(1)(헤드부(12))의 상대 회전량(이하, "수평 회전량"으로 칭함)을 검출하기 위한 이동검출센서(15)(이동 검출부)가 설치되어 있다. 이동검출센서(15)는, 사용자가 파지부(11)를 파지한 상태에 있어서, 사용자의 손에 의해서 숨겨지지 않는 위치, 예를 들면, 개구(13)의 근방에 설치되어 있다. 이동검출센서(15)는, 광학식 마우스 센서나 가속도 센서, 자이로 센서(Gyro Sensor) 등을 임의로 이용하는 것이 가능하다. 이동검출센서(15)의 구성으로서는, 예를 들어, 다음의 제1 센서 구성예(15A) 내지 제3 센서 구성예(15C)가 예시된다.
[제1 센서 구성예(15A)]
제1 센서 구성예(15A)는, 도 3에 나타낸 바와 같이, 헤드부(12)의 가속도를 검출 가능한 가속도 센서(15a)와, 헤드부(12)의 각속도를 검출 가능한 자이로 센서(15b)를 조합시켜서 이동검출센서(15)로 하는 예이다. 이들 가속도 센서(15a) 및 자이로 센서(15b)는, 개구(13) 근방의 임의의 위치에 배치할 수 있다. 이러한 제1 센서 구성예(15A)에 따르면, 가속도 센서(15a)에 의해 검출된 가속도를 2회 적분함으로써 수평 이동량을 계측할 수 있고, 또한, 자이로 센서(15b)에 의해 검출된 각속도를 적분함으로써 수평 회전량을 계측할 수 있다.
[제2 센서 구성예(15B)]
제2 센서 구성예(15B)는, 도 4에 나타낸 바와 같이, 헤드부(12)의 수평 이동량을 검출 가능한 2개 이상의 광학식 마우스 센서(제1 광학식 마우스 센서(15c) 및 제2 광학식 마우스 센서(15d))를 조합시켜서 이동검출센서(15)로 하는 예이다. 제1 광학식 마우스 센서(15c) 및 제2 광학식 마우스 센서(15d)는, X방향 또는/및 Y방향으로 이간되어 배치되는 것이 바람직하고, 제2 센서 구성예(15B)에서는, 개구(13)를 사이에 끼우도록 서로 이간되어 배치되어 있다. 이러한 제2 센서 구성예(15B)에 따르면, 각 광학식 마우스 센서(15c, 15d)에 의해 수평 이동량을 계측할 수 있고, 또한, 제1 광학식 마우스 센서(15c)에 의한 계측값과 제2 광학식 마우스 센서(15d)에 의한 계측값의 차이(미소 이동량)를 이용함으로써 수평 회전량을 계측할 수 있다.
[제3 센서 구성예(15C)]
제3 센서 구성예(15C)는, 도 5에 나타낸 바와 같이, 헤드부(12)의 수평 이동량을 검출 가능한 광학식 마우스 센서(15e)와, 헤드부(12)의 각속도를 검출 가능한 자이로 센서(15f)를 조합시켜서 이동검출센서(15)로 하는 예이다. 이들 광학식 마우스 센서(15e) 및 자이로 센서(15f)는 개구(13) 근방의 임의의 위치에 배치할 수 있다. 이러한 제3 센서 구성예(15C)에 따르면, 광학식 마우스 센서(15e)에 의해 수평 이동량을 계측할 수 있고, 또한, 자이로 센서(15b)에 의해 검출된 각속도를 적분함으로써 수평 회전량을 계측할 수 있다.
또, 이동검출센서(15)는, 전술한 제1 센서 구성예(15A) 내지 제3 센서 구성예(15C)로 한정되는 것은 아니고, 다양한 공지의 구성을 채용 가능하다. 또한, 이동검출센서(15)는 수평 이동량만을 검출 가능한 구성이어도 된다.
또한, 헤드부(12)는, 제모처리 시에 있어서 사용자 측을 향하는 면(본 실시형태에서는 표면)에, 표시 패널(16)이 설치되어 있다. 표시 패널(16)은, 예를 들어, 처리완료된 영역으로부터 미처리 영역을 향해서 제모장치(1)를 이동시킬 때에, 촬상부(40)에 의해 촬상한 실시간 영상(라이브 화상)을 표시시키는 것이 가능하게 구성되어 있다. 이와 같이, 표시 패널(16)에 라이브 화상을 표시시키는 것에 의해, 미처리 영역에 대한 제모장치(1)의 이동을 지원하는 것이 가능해진다. 표시 패널(16)로서는, 예를 들면 액정 패널 등을 이용하는 것이 가능하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
[광원부의 구성]
광원부(20)는, 모근에 대해서 충분히 손상을 부여하고, 털을 영구적 또는 장기적으로 제거(제모처리)하는 것이 가능한 조사 강도(에너지 밀도)를 가지는 빔 형상의 고휘도광원(도시 생략)을 구비하고 있다. 이러한 광원으로서는, 예를 들어, 레이저, 반도체 레이저, 반도체 여기 고체 레이저, 고체 레이저 및 초고휘도 LED 등의 다양한 공지의 광원을 임의로 채용하는 것이 가능하다.
광원으로부터 조사되는 빔 광은, 조사면에 있어서, 1개의 모근에 대해서 필요충분한 큰 직경을 갖는 것이 바람직하다. 즉, 광원으로부터 출사되는 빔 광의 빔 직경은, 화상 인식 정밀도나 스캐너의 위치결정 정밀도(위치 어긋남) 등을 가미하고, 모근 또는 모공의 직경보다도 크게 설정되는 것이 바람직하다.
광원부(20)는 광원의 조사 강도(파워, 선량)를 소정의 범위 내(예를 들면 1 내지 100 J/㎠)로 조정하는 것이 가능하게 구성되는 것이 바람직하다. 특히, 광원부(20)는, 처리 대상이 되는 각각의 털의 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색에 따른 최적의 조사 강도를 선택해서, 각각의 털에 대해서 빔 광을 조사하는 것이 가능하게 구성되는 것이 바람직하다. 또, 광원의 조사 강도의 제어 수법으로서는, 파워 출력 자체의 제어나 펄스폭의 제어 등의 다양한 공지의 방법을 채용하는 것이 가능하다. 또한, 본 명세서에 있어서 "모공의 크기"라고 할 경우에는, 모공 자체의 크기(두께)를 가리킬 경우와, 털의 굵기를 가리킬 경우와, 이들 모공 및 털을 종합한 크기를 가리킬 경우를 모두 포함하는 것으로 한다.
또한, 광원부(20)는, 서로 다른 파장을 갖는 광원을 복수(예를 들면 3종류) 구비하는 동시에, 이들 복수의 광원으로부터 조사된 광을 적당히 합류시키기 위한 합파(合波) 수단(도시 생략)을 구비하는 것이 바람직하다. 이 경우에 있어서, 복수의 광원은, 털에 많이 포함되는 멜라닌 색소에 대해서 흡수되기 쉬운 비교적 짧은 파장(예를 들면 약 755㎚)의 빔 광을 조사 가능한 제1 광원(도시 생략)과, 멜라닌 색소에 대한 흡수가 비교적 적고, 피부에 덜 자극적인 비교적 긴 파장(예를 들면 약 1064㎚)의 빔 광을 조사 가능한 제3 광원(도시 생략)과, 이들 제1 광원과 제3 광원 사이의 파장(예를 들면 약 810㎚)의 빔 광을 조사 가능한 제2 광원을 포함해서 구성되어도 된다. 또한, 합파 수단으로서는, 예를 들면 파장선택미러(다이크로익 미러), 파장선택프리즘(다이크로익 프리즘), 편광 빔 스플리터(PBS) 및 편광판 등의 다양한 공지의 수단을 채용하는 것이 가능하다.
이러한 구성에 따르면, 복수의 파장의 광원을 임의의 강도로 합파한 상태에서 조사하는 것이 가능해지므로, 처리 대상이 되는 각각의 털의 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색의 정보에 따라서, 조사 강도뿐만 아니라, 최적 파장의 조합도 선택해서, 각각의 털에 대해서 빔 광을 조사하는 것이 가능해진다.
또, 광원부(20)는, 도 1에 나타낸 예에 있어서는 하우징(10)의 파지부(11) 내에 배치되어 있지만, 이것으로 한정되지 않고, 조사위치 제어기구(30) 등을 개재해서 하우징(10)의 개구(13)로부터 광을 조사 가능하면, 하우징(10) 내의 임의의 위치에 배치하는 것이 가능하다.
[조사위치 제어기구의 구성]
조사위치 제어기구(30)는 광원부(20)로부터 조사된 빔 광을 피부의 처리대상영역(시술범위가 되는 X-Y평면)상의 임의의 위치(X, Y)에 위치결정하기 위한 빔 광편향수단(주사수단)이다. 구체적으로는, 조사위치 제어기구(30)는, 도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이, 광원부(20)로부터 조사된 빔 광을 피부의 처리대상영역 상에 있어서 X방향(제1 방향)으로 이동시키기 위한 X방향 편향부(34)와, 해당 빔 광을 피부의 처리대상영역 상에 있어서 Y방향(제1 방향과 직교하는 제2 방향)으로 이동시키기 위한 Y방향 편향부(32)를 구비하고 있다.
Y방향 편향부(32) 및 X방향 편향부(34)는, 도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이, 빔 광을 반사가능한 반사경(32a, 34a)과, 해당 반사경(32a, 34a)의 경사각도를 변경시키는 구동부(32b, 34b)를 구비하고 있다. Y방향 편향부(32)는, 광원부(20)로부터 조사된 빔 광을 X방향 편향부(34)를 향해서 반사시키도록 배치되어 있고, X방향 편향부(34)는 Y방향 편향부(32)에 의해 반사된 빔 광을 다이크로익 미러(17)를 향해서 더욱 반사시키도록 배치되어 있다. 또한, 이들 Y방향 편향부(32) 및 X방향 편향부(34)는 Y방향 편향부(32)의 반사경(32a)의 회전축과, X방향 편향부(34)의 반사경(34a)의 회전축이 서로 직교하는 관계가 되도록 배치되어 있다. 이러한 구성에 의해, 조사위치 제어기구(30)는, 이들 X방향 편향부(34) 및 Y방향 편향부(32)의 반사경(32a, 34a)의 경사각도를 각각 제어함으로써, 광원부(20)로부터 조사된 빔 광을 피부의 처리대상영역(시술범위가 되는 X-Y평면) 상의 임의의 위치(X, Y)에 위치결정 가능하게 구성되어 있다.
X방향 편향부(34) 및 Y방향 편향부(32)로서는, 예를 들어, 갈바노 스캐너(전자적인 방법), 서보모터(전자적인 방법), MEMS 미러(전자력 또는 정전력), 기타 전자력 또는 정전력으로 미러를 경사지게 하는 편향기 등을 임의로 이용하는 것이 가능하고, 또한, AO(Acousto-Optics) 편향기(음향광학적 수단) 등의 다양한 공지의 구성을 채용하는 것도 가능하다.
[촬상부의 구성]
촬상부(40)는, 도 1에 나타낸 바와 같이, 다이크로익 미러(17)의 투과면 측에 배치되어 있고, 다이크로익 미러(17) 및 개구(13)를 개재해서, 피부의 처리대상영역을 촬상 가능하게 구성되어 있다. 촬상부(40)는, 4K 해상도를 갖는 4K 카메라인 것이 바람직하지만, 이것으로 한정되지 않고, 시야 내의 모공을 충분한 해상도로 촬상할 수 있는 화소수를 갖는 것이면 된다. 촬상부(40)로서는, 예를 들어, CMOS 센서, CCD 센서, 어레이 센서 및 촬상관 등의 다양한 공지의 촬상수단을 임의로 채용하는 것이 가능하다.
[제어부의 구성]
제어부(100)는, 도 6에 나타낸 바와 같이, 촬상부(40), 이동검출센서(15) 및 조사 버튼(18) 등의 기기와 접속하기 위한 외부 인터페이스(102, 104, 106)와, 제모장치(1)를 동작시키기 위한 연산 처리 등을 행하는 주제어부(110)와, 조사위치 제어기구(30)를 제어하는 제어기구 구동 제어부(122)와, 광원부(20)를 제어하는 광원제어부(124)와, 표시 패널(16)을 제어하는 표시 제어부(126)와, 제모처리에 필요한 각종 데이터 및 정보를 기억하는 기억부(130)를 구비하고 있다. 또한, 제어부(100)는 외부 네트워크와 통신할 수 있는 통신 처리부(도시 생략)를 더 구비하고 있다.
외부 인터페이스(102)는 촬상부(40)와 접속하기 위한 인터페이스이고, 외부 인터페이스(104)는 이동검출센서(15)와 접속하기 위한 인터페이스이고, 외부 인터페이스(106)는 조사 버튼(18)과 접속하기 위한 인터페이스이다. 또, 제모장치(1)에 설치되는 외부 인터페이스는, 이들 인터페이스로 한정되지 않고, 접속하는 기기에 따라서 임의로 설치하는 것이 가능하다. 또한, 이들 외부 인터페이스(102, 104, 106)는, 접속되는 기기에 따른 공지의 인터페이스를 이용하는 것이 가능하기 때문에, 그 상세한 설명을 생략한다.
기억부(130)는, 예를 들어, RAM, ROM 등으로 구성되는 메모리이고, 주제어부(110)를 동작시키기 위한 명령을 포함하는 프로그램이나, 학습 완료된 학습기(후술하는 모공 특정부(112), 조사조건 특정부(114))의 설정을 행하기 위한 학습 결과 데이터 등을 기억하고 있다. 또, 기억부(130)는 주제어부(110)에 포함되는 후술하는 RAM 및 ROM에 의해 구성되어도 된다.
주제어부(110)는, 하드웨어 프로세서인 CPU, RAM, ROM 등을 포함하고, 기억부(130)에 기억된 프로그램을 RAM에 전개하고, 이것을 CPU에 의해 해석 및 실행함으로써, 후술하는 모공 특정부(112), 조사조건 특정부(114), 어긋남량 검출부(116) 및 조사위치 보정부(118)의 각 기능을 실현하도록 구성되어 있다. 한편, CPU는 DL(Deep Learning)을 실행할 수 있는 고성능 프로세서(고속 CPU)인 것이 바람직하다. 또한, 주제어부(110)는 복수의 하드웨어 프로세서를 포함하고 있어도 되고, 하드웨어 프로세서는 GPU(CPU 내장 GPU를 포함함), FPGA 등으로 구성되어도 된다.
모공 특정부(112)는, 촬상부(40)에 의해 촬상된 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 모공 특정부(112)는, 도 7(a)에 나타낸 바와 같이, 촬상부(40)에 의해 촬상된 처리대상영역(TA)의 화상 데이터(I)를 외부 인터페이스(102)을 개재해서 취득하고, 해당 화상 데이터(I)에 대해서 필요에 따라서 전처리를 실시한 후에, 도 7(b)에 나타낸 바와 같이, 처리대상영역(TA) 속에 존재하는 모공의 후보(모공후보(P))를 화상해석에 의해 해당 화상 데이터(I)로부터 추출하도록 구성되어 있다. 전처리로서는, 예를 들어, 4K 화상에 대해서 최소값 필터를 작용시켜서 모공을 강조하는 처리나, 이후의 처리의 부담을 경감하기 위하여 불필요한 정보를 솎아내서 2K 화상으로 하는 처리 등이 포함되지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 또, 이하, "화상 데이터(I)"라고 할 경우("화상 데이터"에 부호 "I"를 붙일 경우)에는, 촬상부(40)에 의해 촬상된 오리지날 화상 데이터뿐만 아니라, 모공 특정부(112)에 있어서 전처리된 처리 완료된 화상 데이터도 포함하는 것으로 한다.
여기서, 모공 특정부(112)에 의한 모공후보(P)의 추출은 DL(Deep Learning) 등의 AI를 구사한 화상처리(AI화상인식)에 의해 실행되는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 원래의 화상 데이터는 4K×2K 화소 등 거대한 화상이며, 그 자체로는 DL처리에 적합하지 않으므로, 화상을 256×256 화소 등의 소영역(셀)으로 분할해서 추론을 행한다. 모공 특정부(112)는, 소영역 내의 모공의 XY좌표의 추론값과 모공인 확신도의 추론값 등으로 이루어지는 목적함수를 최소화하도록 학습을 행한 학습 완료된 학습기(뉴트럴 네트워크)를 구비하고, 해당 학습기에, 촬상부(40)에 의해 촬상된 처리대상영역(TA)의 화상 데이터(I)를 분할한 소영역(셀)의 화상을 순차 입력하고, 소영역의 화상에 포함되는 모공과의 확신도가 높은 모공후보의 확신도나 좌표를 해당 학습기로부터 취득하는 것에 의해, 모공후보(P)를 추출하도록 구성되어도 된다. 이 방법은, 종래 기술인 2치화에 의한 화상처리가 일체 포함되어 있지 않으므로 촬상한 화상의 휘도나 모공의 방향 등에 의해 검출 정밀도의 영향을 받기 어렵고, 여러 가지 다른 형상이나 크기의 모공도 정밀도 좋게 검출이 가능하게 된다. 이와 같이 AI화상인식에 의해서 모공후보(P)를 추출하는 것에 의해, 일반의 화상처리에서는 계측은커녕 검출조차 어려운 콘트라스트가 낮고 작은 모공(솜털 등)도 인식하는 것이 가능해진다.
본 실시형태에 있어서, 학습 완료된 학습기로서는, ImageNet 등에서 학습시킨 컨볼류션 뉴럴 네트워크(convolution neural network)(예를 들면 ResNet-50 등)를 화인 튜닝(Fine-tuning)한 것이 예시되지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 또한, 전술한 목적함수(소영역 내의 모공의 XY좌표의 추론값과 모공인 확신도의 추론값 등으로 이루어지는 목적함수)로서는, 예를 들면 하기 목적함수가 예시된다. 하기 목적함수에 있어서, 우변 제1항은, 모공위치(모공의 XY좌표)에 관한 것이며, MSE(mean square error)로 구하는 함수이다. 우변 제2항은, 어떤 영역 내에 모공이 존재하는지의 여부의 판정에 관한 것이며, 바이너리 크로스 엔트로피(binary cross entropy)로 구하는 함수이다. 우변 제3항은, 과학습을 방지하기 위한 정규화 항이다.
상기 목적함수(우변 제1항)에 있어서, λcoord는, 우변 제1항의 우변 제2항에 대한 가중치이고, 본 실시형태에서는 예를 들면 1.0으로 고정할 수 있다. 또한, 상기 목적함수(우변 제1항 및 우변 제2항)에 있어서, s2는, 모든 셀을 의미하고, B는, 셀 내의 모든 소영역을 의미하고 있다. 또한,
는, 오브젝트가 있을 때에 1, 기타는 0으로 되는 지시 함수(indicator 함수)이고, xij는 i셀 j영역에 있어서의 오브젝트의 위치의 X좌표 추론값이며,
는 상기 타깃이다. 또한, yij는, i셀 j영역에 있어서의 오브젝트의 위치의 Y좌표 추론값이고,
는 상기의 타깃이다.
또한, 상기 목적함수(우변 제2항)에 있어서, cij는, i셀j영역에 있어서의 오브젝트의 존재의 확신도 추론값이고,
는 상기의 타깃이다. 또한, λnoconf는, 오브젝트가 없는 경우인 경우에 대한 가중치이며, 본 실시형태에서는 모공이 아닌 영역 쪽이 많기 때문에, 예를 들면 0.05로 설정할 수 있다.
또한, 상기 목적함수(우변 제3항)에 있어서, λL2는, L2 노름(norm)의 가중치이며, 본 실시형태에서는 예를 들면 0.001로 설정할 수 있다. 또, w는 모든 커넬의 파라미터이다.
또, 모공 특정부(112)는, 충분한 콘트라스트가 있는 굵고 검은 모공 등에 대해서는, AI화상인식에 의해 모공후보(P)를 추출하는 구성을 대신해서, 촬상부(40)에 의해 촬상된 처리대상영역(TA)의 화상 데이터(I)에 대한 2치화 처리나 역치판정 등에 의해 모공후보(P)를 추출하는 방법 등도 임의로 채용하는 것이 가능하다.
조사조건 특정부(114)는, 모공 특정부(112)에 의해 특정된 모공(모공후보(P))마다, 해당 모공에 대한 광원부(20)로부터의 빔 광의 조사조건(조사 강도 및 파장 등)을 특정하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 조사조건 특정부(114)는, 도 8(a) 및 도 8(b)에 나타낸 바와 같이, 우선, 모공 특정부(112)에 의해 특정된 모공(모공후보(P))마다, 해당 모공 및 해당 모공 주변의 피부를 포함하는 화상(추출 모공 화상(CI))을 화상 데이터(I)로부터 추출하고, 해당 추출 모공 화상(CI)을, 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색이 다른 복수의 표준 모델 화상 중 가장 확신도가 높은 어느 것인가로 분류하도록 구성되어 있다.
여기서, 각 추출 모공 화상(CI)은, 모공후보(P)가 대략 중심에 위치하고, 해당 모공후보(P)의 주위에 피부가 존재하도록 형성되어 있다. 또한, 표준 모델 화상은, 추출 모공 화상(CI)과 마찬가지로, 1개 또는 복수의 모공 및 해당 모공 주변의 피부를 포함하는 화상이다. 표준 모델 화상은, 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색이 다른 복수의 것이 미리 준비되어, 기억부(130) 등에 기억되어 있다. 각 표준 모델 화상에는, 각각, 해당 표준 모델 화상의 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색을 갖는 시술대상에 있어서, 제모 효율 및 안전성(화상 위험) 등의 관점에서 가장 알맞은 빔 광의 조사조건(조사 강도 및 파장 등)이 연관되어서 등록되어 있다. 또, 조사 강도는, 모공이 굵고, 털의 색이 엷고, 피부의 색이 엷을수록 큰 값이 설정되는 경향이 있고, 파장은, 모공이 굵고, 털의 색이 엷고, 피부의 색이 엷을수록 짧은 파장이 설정되는 경향이 있다.
그리고, 조사조건 특정부(114)는, 분류된 표준 모델 화상에 대해서 미리 설정된 빔 광의 조사조건(조사 강도 및 파장 등)을, 해당 추출 모공 화상(CI)의 모공(모공후보(P))에 대한 빔 광의 조사조건(조사 강도 및 파장 등)으로서 특정하도록 구성되어 있다.
또, 조사조건 특정부(114)에 의한 분류는, DL(Deep Learning) 등의 AI를 구사한 화상처리(AI화상인식)에 의해 실행되는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 조사조건 특정부(114)는, 털의 굵기(모공의 크기)를 나타내는 추론값, 털의 색을 나타내는 추론값, 피부의 색을 나타내는 추론값 등으로 이루어지는 목적함수를 최소화하도록 학습을 행한 학습 완료된 학습기(뉴트럴 네트워크)를 구비하고, 해당 학습기에 추출 모공 화상(CI)을 입력하고, 해당 추출 모공 화상(CI)에 포함되는 모공후보(P)와 가장 확신도가 높은(스코어가 높은) 표준 모델 화상의 정보를 해당 학습기로부터 취득하는 것에 의해, 해당 추출 모공 화상(CI)을 복수의 표준 모델 화상 중 종합적으로 가장 유사한 어느 것인가로 분류하도록 구성되어도 된다. 이 경우에 있어서, 학습기는, 모든 표준 모델 화상이 소정의 확신도를 크게 밑돌 경우에는, 미리 준비한 표준 모델 화상의 중에는 추출 모공 화상(CI)과 근사한 것이 없다(분류 불능)라고 판정하고, 해당 추출 모공 화상(CI)의 모공후보(P)는 모공이 아니라고 판정(에러 판정)하는 처리를 실행해도 된다.
어긋남량 검출부(116)는 처리대상영역에 대한 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 검출하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 어긋남량 검출부(116)는, 촬상부(40)에 의해 처리대상영역을 촬상하고 나서, 모공 특정부(112) 및 조사조건 특정부(114)에 의해 모공의 위치 및 해당 모공에 대한 조사조건 등을 특정할 때까지의 사이(타임 래그)에 있어서의 헤드부(12)의 장치 어긋남량(ΔX, ΔY, Δθ)을 검출하고, 그 값에 의거해서 개별의 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 계산하거나, 개별의 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 직접 검출하도록 구성되어 있다. 이러한 어긋남량 검출부(116)의 구성으로서는, 예를 들어, 이동검출센서(15)를 이용해서 어긋남량을 검출하는 구성이나, 촬상부(40)를 이용해서 어긋남량을 검출하는 구성이 예시된다.
[이동검출센서를 이용해서 어긋남량을 검출하는 구성]
우선, 이동검출센서(15)를 이용해서 어긋남량을 검출할 경우에 있어서의 어긋남량 검출부(116)의 구성에 대해서, 설명한다. 이 경우에 있어서의 어긋남량 검출부(116)는, 우선, 촬상부(40)에 의해 전처리대상영역을 촬상하고 나서, 모공 특정부(112) 및 조사조건 특정부(114)에 의해 모공의 위치 및 해당 모공에 대한 조사조건 등을 특정할 때까지의 사이에 있어서의 헤드부(12)의 수평 이동량 및 수평 회전량을 이동검출센서(15)(제1 센서 구성예(15A) 내지 제3 센서 구성예(15C) 등)에 의해 검출한다. 그 다음에, 이 수평 이동량 및 수평 회전량에 의거해서, 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 촬상부(40)의 전체 시야의 촬상 범위에 있어서의 장치 어긋남량(ΔX, ΔY, Δθ)을 계산하고, 그 값을 이용해서 각 모공위치마다의 개별의 어긋남량(δx, δy)을 계산한다. 그리고, 이와 같이 해서 특정한 어긋남량을 이용해서, 후술하는 바와 같이, 개별의 모공위치의 위치 보정을 행하도록 구성되어 있다.
이러한 구성에 따르면, 헤드부(12)의 움직임을 이동검출센서(15)에 의해 직접적으로 실시간으로 검출해서 어긋남량을 특정하는 것이 가능해지므로, 간이한 설비로 실시간성이 높은 보정 처리를 실현하는 것이 가능해진다는 이점이 있다.
[촬상부를 이용해서 어긋남량을 검출하는 구성]
다음에, 촬상부(40)를 이용해서 어긋남량을 검출할 경우에 있어서의 어긋남량 검출부(116)의 구성에 대해서, 설명한다. 촬상부(40)를 이용해서 어긋남량을 검출할 경우에 있어서의 어긋남량 검출부(116)의 구성으로서는, 예를 들어, 다음의 제1 촬상 검출 구성예 내지 제3 촬상 검출 구성예가 예시된다.
[제1 촬상 검출 구성예]
제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 개략적으로는, 모공 특정부(112)에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 화상 데이터(제1 화상 데이터)와, 빔 광의 조사 전에 재차 촬상한 화상 데이터(제2 화상 데이터)에 의거해서, 제모장치(1)의 위치 어긋남에 따른 각각의 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 직접적으로 검출하는 예이다.
구체적으로는, 우선, 제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는 조사조건 특정부(114)(또는 모공 특정부(112))에 의해 생성된 추출 모공 화상(CI)을 템플릿 화상으로서 기억부(130)에 등록한다. 또, 해당 추출 모공 화상(CI)은, 이미 설명한 바와 같이, 모공 특정부(112)에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 화상 데이터(I)(제1 화상 데이터)로부터, 모공 특정부(112)에 의해 특정된 모공 및 해당 모공의 주위의 피부를 포함하도록 추출된 화상이다.
또한, 제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 모공 특정부(112)에 의해 특정된 모공의 위치(조사예정위치)까지 조사위치 제어기구(30)가 이동했을 때 또는 그 전후에, 촬상부(40)에 의해, 조사예정위치를 포함하는 소정 범위를 재차 촬상한다. 또, 이 경우에 있어서의 재촬상 범위(제2 화상 데이터의 화소 크기)는, 추출 모공 화상(CI)보다도 크면 특별히 제한되는 것은 아니지만, 고속처리의 관점에서, 모공 특정부(112)에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 전시야의 화상 데이터(I)(제1 화상 데이터)에 비해서 화상인식을 할 필요가 없기 때문에, 위치 어긋남을 검지할 수 있는 필요충분한 거친 해상도(같은 촬상 범위에 있어서 적은 화소수)이어도 되고, 또한, 전체 시야가 아니라 조사예정위치(조사 대상으로 하는 모공)를 포함하는 좁은 범위인 것이 보다 바람직하다. 예를 들면 추출 모공 화상(CI)(템플릿 화상)의 크기가 64×64 화소인 경우에는, 촬상부(40)에 의한 재촬상 범위는 128×128 화소로 설정하는 것이 가능하다.
그리고, 제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 도 8(c)에 나타낸 바와 같이, 추출 모공 화상(CI)과 재촬상 화상(I')에 의거해서, 그레이 서치 등의 다양한 매칭 방법을 이용해서, 재촬상 화상 중에 있어서의 추출 모공 화상(CI')의 위치를 검출한다. 또한, 제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 도 8(d)에 나타낸 바와 같이, 본래의 추출 모공 화상(CI)의 위치와, 재촬상 화상 중에 있어서의 추출 모공 화상(CI')의 위치의 차이분을 산출하고, 이것을 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량(δx, δy)으로서 특정하도록 구성되어 있다.
이러한 제1 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)에 따르면, 조사 대상이 되는 모공을 직접적으로 촬상해서 어긋남량을 특정하는 것이 가능해지므로, 피부의 국소적인 신축이나 왜곡 등도 보정가능해서, 정밀도가 높은 보정 처리를 실현하는 것이 가능해진다는 이점이 있다.
[제2 촬상 검출 구성예]
제2 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 개략적으로는, 모공 특정부(112)에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 화상 데이터(제1 화상 데이터)와, 빔 광의 조사 전에 재차 촬상한 2 이상의 화상 데이터(제2 화상 데이터)에 의거해서, 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 촬상부(40)의 전체 시야의 촬상 범위에 있어서의 장치 어긋남량(ΔX, ΔY, Δθ)을 계산하고, 그 값을 이용해서 각 모공위치마다의 개별의 어긋남량(δx, δy)을 검출하는 예이다.
구체적으로는, 우선, 제2 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 조사조건 특정부(114)(또는 모공 특정부(112))에 의해 생성된 서로 떨어진 2군데 이상의 모공 화상을 포함하는 화상범위를 각각 위치 어긋남 검출용 템플릿 화상(T1, T2)으로서 기억부(130)에 등록한다. 2군데 이상의 위치 어긋남 검출용 템플릿 화상(T1, T2)은, 처리대상영역 내의 서로 다른 위치에 관한 화상이면 되지만, 헤드부(12)의 수평 이동량 및 수평 회전량을 정밀도 양호하게 검출하는 관점에서, X방향 및 Y방향의 쌍방에 있어서 이간되는 위치에 관한 화상인 것이 바람직하다. 또한, 위치 어긋남 검출용 템플릿(T1, T2)은, 위치 어긋남이 클 경우, 다른 모공위치와 착오인식하는 것을 방지하기 위하여, 제1 촬상 검출 구성예와 같이 1군데의 모공을 포함하는 극히 좁은 범위가 아니라, 복수의 모공을 포함하거나, 모공 주변의 넓은 공백부분을 포함한 비교적 넓은 범위로 하는 것이 바람직하다.
다음에, 제2 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 각 모공에 대한 빔 광의 조사 전에, 촬상부(40)에 의해, 기억부(130)에 등록한 위치 어긋남 검출용의 템플릿(T1, T2)을 포함하는 소정 범위를 각각 다시 촬상한다. 한편, 이 경우에 있어서의 재촬상 범위(제2 화상 데이터의 화소 크기)는, 제1 촬상 검출 구성예와 마찬가지로, 위치 어긋남 검출용의 템플릿 화상(T1, T2)보다도 크면 특별히 제한되는 것이 아니다.
다음에, 제2 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 도 9에 나타낸 바와 같이, 그레이 서치 등의 다양한 매칭 방법을 이용해서, 위치 어긋남 검출용의 템플릿 화상(T1, T2)의 위치 어긋남량(δx1,δy1 및 δx2,δy2)을 각각 검출한다.
그리고, 제2 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 이들 2 이상의 위치 어긋남 검출용의 템플릿 화상(T1, T2)의 위치 어긋남량(δx1,δy1 및 δx2,δy2)을 이용해서, 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 촬상부(40)의 전체 시야의 촬상 범위에 있어서의 장치 어긋남량(ΔX, ΔY, Δθ)을 계산하고, 도 10에 나타낸 바와 같이, 그 값을 이용해서 각 모공위치마다의 개별의 어긋남량(δx, δy)을 특정하도록 구성되어 있다.
[제3 촬상 검출 구성예]
제3 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)는, 전술한 제2 센서 구성예(15B)과 마찬가지 원리에 의해, 촬상부(40)를 이용해서 시야 내의 떨어진 2군데 이상의 계측 범위를 추출하고, 전술한 광학식 마우스 센서(제1 광학식 마우스 센서(15c) 및 제2 광학식 마우스 센서(15d))와 마찬가지로 모공뿐만 아니라 피부의 미소 텍스처(texture)의 이동량을 계측하는 것에 의해, 등가적으로 전술한 제2 센서 구성예(15B)와 마찬가지 동작을 실현하는 예이다.
이러한 제3 촬상 검출 구성예에 따르면, 전술한 제2 센서 구성예(15B)와 마찬가지로, 수평 이동량(위치 어긋남)과 수평 회전량(회전 차이)을 검출하는 것이 가능하다. 또한, 이 수평 이동량 및 수평 회전량에 의거해서, 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 촬상부(40)의 전체 시야의 촬상 범위에 있어서의 장치 어긋남량(ΔX, ΔY, Δθ)을 계산하고, 그 값을 이용해서 각 모공위치마다의 개별의 어긋남량(δx, δy)을 특정하는 것이 가능하다. 또, 제3 촬상 검출 구성예에 있어서는, 피부의 텍스처의 콘트라스트를 향상시키기 위하여, 통상의 조명 조건과는 다른, 보다 측방 조명을 강화한 조명이나, 파장이 다른 조명을 사용해도 된다.
이상 설명한 제1 내지 제3 촬상 검출 구성예에 따른 어긋남량 검출부(116)와 같이, 촬상부(40)를 이용해서 어긋남량을 검출할 경우에는, 1개의 센싱수단(카메라)으로 전시야 내의 각 모공에 있어서의 임의의 어긋남을 δx, δy에 귀착한 어긋남량으로서 검출 가능하고, 각 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 조사위치 제어기구(30)에의 제어 신호에 반영하는 것만으로 되므로, 도 3 내지 도 5의 기재의 센서류를 탑재할 필요가 없어, 부품점수를 삭감하는 것이 가능해진다.
특히, 촬상부(40)에 CMOS센서를 이용한 경우에는, 촬상 범위를 한정하는 것에 의해 높은 프레임 레이트(예를 들어, 매초 1000매 이상)로 고속촬상이 가능해지고, 이것을 이용함으로써, 부품점수를 억제하면서, 이동검출센서(15)와 같은 정도의 실시간성(응답성)을 실현하는 것이 가능해진다.
또, 어긋남량 검출부(116)는, 모공마다 어긋남량을 검출하는 구성으로 해도 되고, 소정의 기간마다(복수개마다) 어긋남량을 검출하고, 근방 그리고 시간경과가 적은 최신의 모공의 어긋남량을 참고로 해서 솎아낸 모공의 위치 보정을 행하는 구성으로 해도 된다. 즉, 어긋남량 검출부(116)에 의한 어긋남량의 검출 빈도는, 임의로 설정하는 것이 가능하다.
또한, 간이적으로는, 빔 광의 조사중에는 매번 위치 어긋남의 검출을 행하지 않고 시야 내의 모든 모공에의 조사가 종료한 후 또는 미리 설정한 조사수가 종료될 때마다, 재촬상을 행하여 시야 내의 1군데 또는 몇 군데의 모공의 어긋남을 계산하고, 어긋남이 규정 이상으로 있을 때에만 재차 모공의 인식을 다시 행하여 레이저 조사를 재차 행하거나, 후술과 같이 에러 표시를 행한 후, 오퍼레이터에 재차 조작을 촉구하는 것도 가능하다.
조사위치 보정부(118)는, 촬영 시의 모공의 위치(조사예정위치)와, 그 후의 어긋남량에 의거해서, 실제로 빔 광을 조사하는 위치를 특정하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 조사위치 보정부(118)는, 어긋남량 검출부(116)에 의해 검출된 각 모공마다의 어긋남량(δx, δy)을 이용해서, 모공 특정부(112)에 의해 특정된 모공의 위치(즉, 조사예정위치)(X, Y)를 보정하고, 각 모공의 보정 좌표위치(X', Y')를 특정하도록 구성되어 있다.
또한, 조사위치 보정부(118)는, 어긋남량 검출부(116)에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)에 따라서, 조사예정위치의 보정을 행할 것인지의 여부의 판정 및/또는 에러를 보고할 것인지의 여부의 판정을 행하는 구성으로 해도 된다.
구체적으로는, 조사위치 보정부(118)는, 어긋남량 검출부(116)에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)이 빔 직경에 비해서 작은지의 여부를 판정하고, 작다고 판정한 경우(즉, 조사예정위치 대로 빔 광을 조사해도 모공에 빔 광이 조사될 경우)에는, 조사예정위치를 보정하지 않도록 구성되어도 된다. 또, 이 경우에 있어서의 "빔 직경에 비해서 작다"란, 예를 들어, 어긋남량(δx, δy)의 합성 벡터가 빔 직경의 반경보다도 작을 경우를 들 수 있지만, 판정 기준은 이것으로 한정되는 것은 아니다.
또한, 조사위치 보정부(118)는, 어긋남량 검출부(116)에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)이 미리 정한 보정가능범위를 초과하고 있는지의 여부를 판정하여, 초과고 있다고 판정한 경우에는, 조사예정위치를 보정하는 일 없이, 알람 소리나 표시 등으로 에러를 보고하고, 재조사를 재촉하는 등의 경고 처리를 실행하도록 구성되어도 된다.
그리고, 조사위치 보정부(118)는, 어긋남량이 빔 직경에 비해서 크다고 판정하고(즉, 조사예정위치 대로 빔 광을 조사하면 모공에 빔 광이 조사되지 않거나 또는 조사가 불충분할 경우), 그리고 해당 어긋남량(δx, δy)이 미리 정한 보정가능범위 내라고 판정한 경우에, 해당 어긋남량(δx, δy)에 의거해서 조사예정위치(X, Y)를 보정하도록 구성되어도 된다.
제어기구 구동 제어부(122)는, 주제어부(110)의 모공 특정부(112)에 의해 특정되고, 필요에 따라서 조사위치 보정부(118)에 의해서 위치가 보정된 모공 하나 하나에 광원부(20)로부터의 빔 광이 순차 조사되도록, 조사위치 제어기구(30)를 제어하도록 구성되어 있다.
구체적으로는, 제어기구 구동 제어부(122)는, 조사위치 보정부(118)에 의해서 조사예정위치가 보정되어 있지 않을 경우에는, 모공 특정부(112)에 의해서 특정된 각 모공의 조사예정위치(X, Y)에 순차 빔 광이 조사되도록, Y방향 편향부(32)의 반사경(32a)과 X방향 편향부(34)의 반사경(34a)의 경사각도를 순차 제어하도록 구성되어 있다. 한편, 제어기구 구동 제어부(122)는, 조사위치 보정부(118)에 의해 조사예정위치가 보정된 경우에는, 해당 조사위치 보정부(118)에 의해 특정된 각 모공의 보정 좌표위치(X', Y')에 순차 빔 광이 조사되도록, Y방향 편향부(32)의 반사경(32a)과 X방향 편향부(34)의 반사경(34a)의 경사각도를 순차 제어하도록 구성되어 있다.
이러한 제어기구 구동 제어부(122)의 제어는, 예를 들면, 전용의 저렴한 내장형 마이크로컴퓨터로 디지털 PID 제어를 실행하는 것에 의해 실현하는 것이 가능하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
본 실시형태에 따른 제모장치(1)는, 이와 같이, 모공 특정부(112)에 있어서의 AI화상인식에 의해 고정밀도로 각각의 모공의 위치(X, Y)를 특정하면서, 촬상부(40)에 의한 촬상으로부터 실제로 빔 광을 조사할 때까지 생긴 헤드부(12)의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량(δx, δy)에 의거해서 조사위치를 보정하여, 각각의 모공을 향해서 핀포인트에 빔 광이 조사되도록 조사위치 제어기구(30)를 제어하므로, 모공의 극히 근방에만 빔 광을 조사하여, 효율성 및 안전성을 향상시킬 수 있다.
구체적으로는, 상기 위치 보정에 의해서 높은 조사위치 정밀도가 확보 가능해짐으로써, 위치 어긋남을 배려해서 필요 이상으로 빔 직경을 굵게 할 필요가 없어지므로, 같은 조사 파워 밀도를 확보할 경우, 광원으로서 파워가 작은 레이저를 활용할 수 있고, 장치의 소형화나 비용 절감을 도모하는 것이 가능해진다. 또한, 같은 광원을 이용한 경우, 굵은 빔 스폿의 장치보다도 모공마다의 조사 시간을 대폭 단축할 수 있으므로, 고속 제모기를 실현할 수 있다. 예를 들면, 빔 직경을 1㎜로부터 0.5㎜로 축소할 수 있으면, 필요한 광원의 파워는 약 1/4로 억제하는 것이 가능해지고, 또한, 같은 광원의 파워이면, 조사 시간은 약 1/4로 대폭 단축될 수 있어, 고속화에 기여할 수 있다.
광원제어부(124)는, 주제어부(110)의 조사조건 특정부(114)에 의해 특정된 조사조건을 갖는 빔 광이 광원부(20)로부터 조사되도록, 모공마다, 광원부(20)를 제어하도록 구성되어 있다. 구체적으로는, 광원제어부(124)는, 해당 특정된 조사조건(조사 강도 및 파장 등)을 갖는 빔 광이 되도록, 모공마다, 발광시키는 광원(제1 광원 내지 제3 광원)의 선택 제어 및 해당 발광시키는 광원의 출력 제어를 실행하도록 구성되어 있다. 또, 광원제어부(124)는 개구(13)를 향해서 조명광을 조사 가능한 조명 수단(도시 생략)의 제어도 실행 가능하게 해도 된다.
표시 제어부(126)는 촬상부(40)에 의해 촬상한 실시간 영상(라이브 화상)을 표시 패널(16) 상에 전송해서 표시시키는 처리를 실행 가능하게 구성되어 있다. 이러한 표시 제어부(126)로서는, 다양한 공지의 제어 수법을 채용하는 것이 가능하기 때문에, 그 상세한 설명을 생략한다.
[제모방법]
다음에, 본 실시형태에 따른 제모장치(1)를 이용한 제모방법에 대해서, 도 11 내지 도 14를 이용해서 설명한다. 도 11은 본 실시형태에 따른 제모방법의 전체의 흐름을 개략적으로 나타내는 플로우 차트이며, 도 12는 모공 특정부(112)에 의해 특정한 1개의 모공에 대한 처리(모공특정공정부터 조사 공정까지)의 흐름을 개략적으로 나타내는 플로우 차트이다. 또한, 도 13은 본 실시형태에 따른 제모방법의 전체의 처리 시퀸스를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 14는 도 13 중 A부분을 확대해서 나타낸 도면이다. 또, 이하에 설명하는 제모방법은, 제모장치(1)의 기억부(130)에 격납된 프로그램 및 학습 결과 데이터 등에 의해서 실행 처리된다.
본 실시형태에 따른 제모방법은, 개략적으로는, 광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모방법으로서, 피부의 처리대상영역을 촬상하는 촬상공정(S4)과, 촬상공정에 의해 촬상된 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공특정공정(S5-1 내지 S5-n)과, 모공위치에 관한 촬상 시로부터의 어긋남량(δx, δy)을 검출하는 어긋남량 검출공정(S7)과, 어긋남량 검출공정에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)에 의거해서, 모공에 대한 광의 조사위치(X, Y)를 보정하는 조사위치 보정공정(S10)을 포함하고 있다. 이하, 이러한 각 공정을 포함하는 제모방법의 상세에 대해서 설명한다.
본 실시형태에 따른 제모방법을 시작함에 있어서, 우선, 제모장치(1)의 주전원을 켜고(ON), 제모장치(1)를 기동시킨다. 제모장치(1)를 기동시키면, 촬상부(40)에 의해 촬상한 실시간 영상(라이브 화상)이 표시 패널(16)에 표시된다. 이것에 의해, 개구(13)를 피부에 꽉 누른 상태(사람에 의한 샷 이동 중)에 있어서도, 표시 패널(16)의 라이브 화상에 의해 처리대상영역을 눈으로 확인할 수 있다. 또, 제모장치(1)는, 피시술자가 스스로 조작해도 되고, 피시술자와는 다른 자(의료종사자 등)가 조작해도 된다. 이하, 제모장치(1)를 조작하는 자를 "사용자"라 지칭한다.
제모장치(1)를 기동시킨 상태에 있어서, 사용자는, 도 11 및 도 13에 나타낸 바와 같이, 하우징(10)의 개구(13)가 처리대상영역에 위치하도록 제모장치(1)를 위치결정하고(S1), 위치결정 완료 후에, 조사 버튼(18)의 온 조작을 행한다(S2). 조사 버튼(18)의 온 조작이 행해지면, 표시 패널(16)이 오프되는 동시에(S3), 촬상부(40)에 의해 피부의 처리대상영역이 촬상된다(S4: 촬상공정). 그리고, 촬상부(40)에 의해 촬상된 화상 데이터가 제어부(100)의 주제어부(110)에 송신되고, 해당 주제어부(110)에 있어서의 전술한 모공 특정부(112)의 기능에 의해, 해당 화상 데이터에 대해서 필요에 따라서 전처리를 실시한 후에, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공(모공후보(P))을 순차 특정한다(S-5 내지 S5-n: 모공특정공정).
또한, 모공의 특정과 병행해서, 특정된 모공에 대해서 순차, 조사조건(조사 강도 및 파장 등)의 특정이나, 빔 광의 조사위치의 보정 처리 및 조사 처리가 행해진다. 즉, 주제어부(110)는, 전술한 모공 특정부(112)의 기능에 의해 1개째의 모공후보(P)를 특정하면, 도 12 및 도 14에 나타낸 바와 같이, 2개째 모공후보(P)의 특정처리와는 독립해서(병행해서), 해당 1개째의 모공후보(P)에 대해서 조사조건의 특정처리 등을 실행한다. 또한, 주제어부(110)는, 2개째 모공후보(P)를 특정하면, 1개째의 모공후보(P)에게 대한 조사조건의 특정처리 등, 및, 3개째 모공후보(P)의 특정처리와는 독립해서(병행해서), 해당 2개째의 모공후보(P)에 대해서 조사조건의 특정처리 등을 실행한다. 주제어부(110)는, 이러한 병행 처리를 최후(n개째)의 모공후보(P)에 이르기까지 실행한다. 이와 같이, 모공의 인식과 빔 광의 조사를 병행해서 행하는 시퀸스에 의해, 1사이클의 시간을 장기화시키는 일 없이, 인식처리의 시간을 확보하는 것이 가능해진다.
각 모공후보(P)에 대한 조사조건(조사 강도 및 파장 등)의 특정(S6: 조사조건 특정공정)은, 주제어부(110)에 있어서의 전술한 조사조건 특정부(114)의 기능에 의해 실행된다. 또, 해당 조사조건 특정공정에 있어서, 해당하는 표준 모델 화상이 존재하지 않는다고 판정한 경우에는, 해당 모공후보(P)는 모공이 아니라고 판정하고, 다음 공정으로 이행하는 일 없이(해당 모공후보(P)에 대한 빔 광의 조사를 실행하는 일 없이), 해당 모공후보(P)에게 대한 처리를 종료해도 된다.
또한, 이 조사조건 특정공정 후 또는 이들과 병행해서, 주제어부(110)에 있어서의 전술한 어긋남량 검출부(116)의 기능에 의해서, 모공위치에 관한 촬상 시로부터의 어긋남량(δx, δy)을 검출한다(S7: 어긋남량 검출공정). 또, 어긋남량 검출공정은, 각 모공후보(P)에 대해서 각각 실행되어도 되고, 소정의 기간마다(복수 개마다) 실행되어도 된다.
어긋남량 검출공정에 의해 어긋남량(δx, δy)이 검출되면, 해당 어긋남량이 미리 정해진 보정가능범위를 초과하고 있는지의 여부의 판정을 실행한다(S8). 그리고, 해당 어긋남량이 미리 정해진 보정가능범위를 초과하고 있다고 판정한 경우에는, 알람 소리나 표시 등으로 에러를 보고하고, 재조사를 재촉하는 등의 경고 처리를 실행한다(S9').
한편, 어긋남량 검출공정에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)이 미리 정해진 보정가능범위 내라고 판정한 경우에는, 해당 어긋남량이 보정을 요하는 정도인지의 여부의 판정을 실행한다(S9). 이 판정에서는, 예를 들어, 해당 어긋남량이 빔 직경에 비해서 작은지의 여부(즉, 조사예정위치대로 빔 광을 조사해도 모공에 빔 광이 조사되는지의 여부)를 판정해도 된다.
그리고, 이 판정 공정에 있어서 보정을 필요로 한다고 판정한 경우에는, 주제어부(110)에 있어서의 전술한 조사위치 보정부(118)의 기능에 의해, 어긋남량 검출공정에 의해 검출된 어긋남량(δx, δy)에 의거해서, 모공에 대한 광의 조사위치(X, Y)를 보정한다(S10: 조사위치 보정공정). 또, 해당 조사위치 보정공정 후, 조사 공정(S11)으로 이행한다. 한편, 전술한 판정 공정에 있어서 보정을 필요로 하지 않는다고 판정한 경우에는, 조사위치 보정공정(S10)을 거치는 일 없이, 조사 공정(S11)으로 이행한다.
조사 공정(S11)으로 이행하면, 모공특정공정에 의해 특정된 해당 모공후보(P)의 좌표위치(X, Y) 또는 조사위치 보정공정에 의해 보정된 해당 모공후보(P)의 보정 좌표위치(X', Y')에 광원부(20)로부터의 빔 광이 조사되도록, 제어기구 구동 제어부(122)에 의해서 조사위치 제어기구(30)가 구동되어, 조사위치가 제어된다. 그리고, 해당 조사위치제어 후에, 조사조건 특정공정에 의해 특정된 조사조건(조사 강도 및 파장 등)을 갖는 빔 광을 광원부(20)로부터 해당 모공후보(P)에 대해서 조사한다(S11: 조사 공정). 이것에 의해, 해당 모공후보(P)의 모근이 가열되어, 영구적 또는 장기적으로 제거된다.
또, 이 조사위치의 제어에 필요로 하는 시간은, 이동 거리 등의 여러 조건에 따라서 다르지만, 대강 수 ㎳ 정도이다. 또한, 빔 광의 조사 시간은, 조사 강도 등의 여러 조건에 따라 다르지만, 대강 수 ㎳ 내지 수 10㎳ 정도이다. 이때에 있어서의 빔 광의 조사조건(조사 강도 및 파장 등)은, 가장 근사한 표준 모델 화상에 할당된 최적인 조사조건(조사 강도 및 파장 등)이기 때문에, 해당 모공후보(P)에 대해서도 효과적이고, 그리고 그 주변의 피부에 대해서도 해가 적고, 안전하다.
그리고, 이상의 모공특정공정부터 조사 공정까지의 일련의 처리를 최후(n개째)의 모공후보(P)에 대해서 실행하고, 모든 모공후보(P)에 대한 처리가 종료하면, 도 11 및 도 13에 나타낸 바와 같이, 조사 버튼(18)이 오프 상태가 되고(S12), 재차, 표시 패널(16)에 촬상부(40)에 의해 촬상한 실시간 영상(라이브 화상)이 표시된다(S13).
이상 설명한, 제모장치(1)의 위치결정(이동)부터 처리대상영역 내의 모든 모공에 대한 조사 완료까지를 1사이클로 하고, 이것을 소망의 처리대상영역 전체에 걸쳐서 순차 위치를 어긋나게 해서 실행하는 것에 의해, 제모처리가 행해진다. 또, 1사이클 내에 있어서의, 조사 버튼(18)의 온 조작으로부터 처리대상영역 내의 모공에 대한 조사 완료까지의 목표시간(제모장치(1)의 처리시간)은, 모공이 30군데 이내, 조사·이동 시간이 20㎳로 가정한 경우에는 1초 이내이며, 모공이 100군데 이내, 조사·이동 시간이 20㎳로 가정한 경우에는 3초 이내이다. 이와 같이, 본 실시형태에 따른 제모장치(1)는, 매우 단시간에 제모처리를 행하는 것이 가능하다.
[본 실시형태에 따른 제모장치의 이점]
이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 따른 제모장치(1)는, 광원을 구비하는 광원부(20)와, 피부의 처리대상영역을 촬상 가능한 촬상부(40)와, 촬상부(40)에 의해 촬상된 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 해당 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공 특정부(112)와, 촬상 시로부터의 제모장치(1)의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량(δx, δy)을 검출하는 어긋남량 검출부(116)과, 어긋남량 검출부(116)에 의해 검출된 각 모공마다의 어긋남량(δx, δy)에 의거해서, 모공에 대한 광의 조사위치(X, Y)를 보정하는 조사위치 보정부(118)를 포함하고 있다.
이와 같이 구성된 본 실시형태에 따른 제모장치(1)에 따르면, 촬상부(40)에 의한 촬상으로부터 실제로 빔 광을 조사할 때까지 생긴 제모장치(1)의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량(δx, δy)에 의거해서 조사위치(X, Y)를 보정하는 것이 가능해지므로, 촬상부(40)에 의한 촬상 후에 제모장치(1)(헤드부(12))와 처리대상영역(피부)의 상대위치가 어긋나 버린 경우이어도, 각각의 모공을 향해서 확실하게 핀포인트에 빔 광을 조사시키는 것이 가능해진다. 또한, 이것에 의해, 모공에만 빔 광을 조사하는 것이 가능해지므로, 효율성 및 안전성을 향상시킬 수 있다.
[변형예]
이상, 본 발명의 바람직한 실시형태에 대해서 설명했지만, 본 발명의 기술적 범위는 전술한 실시형태에 기재된 범위로 한정되지 않는다. 상기 각 실시형태에는 다양한 변경 또는 개량을 가하는 것이 가능하다.
예를 들면, 전술한 실시형태에서는, 조사조건 특정부(114)에 있어서, 추출 모공 화상(CI)을 표준 모델 화상으로 분류함으로써 모공의 크기나 털의 색, 주변의 피부의 색 등에 따른 조사조건을 특정하는 것으로 해서 설명했지만, 이것으로 한정되지 않고, 모공마다 조사조건을 변경하지 않는 구성이어도 된다.
또, 전술한 실시형태에서는, 모공 특정부(112)에서 일단 모공만의 인식을 행하고, 그 후, 조사조건 특정부(114)에서 추출 모공 화상(CI)을 화상 데이터(I)로부터 추출하는 것으로 해서 설명했지만, 이것으로 한정되지 않고, 모공 특정부(112)에서 목적함수에 모공의 크기나 털의 색, 주변의 피부의 색 등의 추론값을 가함으로써, 화상 데이터(I)를 분할한 소영역(셀)의 화상으로부터 표준 모델 화상과 유사한 화상의 분류나 위치를 추론하고, 직접 모공의 위치, 모공의 크기, 털의 색, 주변의 피부의 색을 취득해도 된다.
또한, 전술한 실시형태에서는, AI화상인식에 의해 추출 모공 화상(CI)을 분류하는 것으로 해서 설명했지만, 이것으로 한정되지 않고, 추출 모공 화상(CI)에 포함되는 모공후보(P)의 모공의 크기, 털의 색 및 해당 모공 주변의 피부의 색의 각 특징량을 수치화하고, 이것을 미리 데이터베이스에 등록한 표준 모델의 각 특징량과 대조시킴으로써, 가장 근사한 표준 모델로 분류하는 방법 등도 임의로 채용하는 것이 가능하다.
또한, 전술한 실시형태에서는, 제모장치(1)가, 모공의 특정 및 모공 화상의 분류에 관한 AI화상인식을 행하기 위한 학습 완료된 학습기(뉴트럴 네트워크)를 구비하는 것으로 해서 설명했지만, 이것으로 한정되지 않고, 제모장치(1)와 고속통신 네트워크를 개재해서 데이터 통신 가능하게 접속된 별도의 장치에 학습 완료된 학습기가 설치되고, 각 제모장치(1)와 해당 별도의 장치 사이에서 실시간으로 통신하는 구성(클라우드 컴퓨팅)으로 해도 된다. 또한, 제모장치(1) 또는 해당 별도의 장치에 있어서, 소정의 학습 프로그램에 의거해서, 처리대상영역(TA)의 화상 데이터(I)를 입력 데이터, 모공인 확신도나 좌표를 참조용 데이터로서 이용해서, 기계학습(AI학습 프로세스)을 행하는 구성으로 해도 되고, 복수의 제모장치(1)에서 촬상한 화상을 클라우드 경유로 업 로드하고, 가속도적으로 취득 화상을 증가시킴으로써, 더욱 인식 정밀도를 높인 학습 데이터를 실시간으로 공유하는 구성으로 해도 된다.
또한, 전술한 실시형태에서는, 헤드부(12)의 내부에 다이크로익 미러(17)를 설치하고, 이 다이크로익 미러(17)의 반사면 측에 광원부(20)를 배치하고, 투과면 측에 촬상부(40)를 배치하는 것으로 하여 설명했지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 다이크로익 미러(17)의 반사면 측에 촬상부(40)를 배치하고, 투과면 측에 광원부(20)를 배치하는 구성으로 해도 된다. 또, 다이크로익 미러(17)를 설치하지 않는 구성으로 해도 된다. 또한, 다이크로익 미러(17)를 설치하지 않는 구성으로서는, 예를 들어, 개구(13)(피부의 처리대상영역)에 대해서 촬상부(40)를 수직으로 배치하고, 조사위치 제어기구(30)에 의해서 편향된 광원부(20)로부터의 빔 광을 개구(13)(피부의 처리대상영역)에 대해서 경사 방향으로부터 조사시키는 구성이나, 촬상부(40)에 의해서 개구(13)(피부의 처리대상영역)를 경사 방향으로부터 촬영하는 동시에, 조사위치 제어기구(30)에 의해서 편향된 광원부(20)로부터의 빔 광을 개구(13)(피부의 처리대상영역)에 대해서 경사 방향으로부터 조사시키는 구성 등이 예시되지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
상기와 같은 변형예가 본 발명의 범위에 포함되는 것은, 청구범위의 기재로부터 명확하다.
1: 제모장치 10: 하우징
11: 파지부 12: 헤드부
13: 개구 14: 커버부재
15: 이동검출센서 15A: 제1 센서 구성예
15B: 제2 센서 구성예 15C: 제3 센서 구성예
15a: 가속도 센서 15b: 자이로 센서
15c: 제1 광학식 마우스 센서 15d: 제2 광학식 마우스 센서
15e: 광학식 마우스 센서 15f: 자이로 센서
16: 표시 패널 17: 다이크로익 미러
18: 조사 버튼 20: 광원부
30: 조사위치 제어기구 32: Y방향 편향부
32a: 반사경 32b: 구동부
34: X방향 편향부 34a: 반사경
34b: 구동부 40: 촬상부
100: 제어부 102: 외부 인터페이스
104: 외부 인터페이스 106: 외부 인터페이스
110: 주제어부 112: 모공 특정부
114: 조사조건 특정부 116: 어긋남량 검출부
118: 조사위치 보정부 122: 제어기구 구동 제어부
124: 광원제어부 126: 표시 제어부
130: 기억부

Claims (10)

  1. 광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모장치로서,
    상기 광원을 구비하는 광원부;
    피부의 처리대상영역을 촬상 가능한 촬상부;
    상기 촬상부에 의해 촬상된 상기 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 상기 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공 특정부;
    상기 촬상 시로부터의 상기 제모장치의 위치 어긋남에 따른 모공위치의 어긋남량을 검출하는 어긋남량 검출부; 및
    상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 의거해서, 상기 모공에 대한 상기 광의 조사위치를 보정하는 조사위치 보정부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 처리대상영역에 대한 상기 제모장치의 상대 이동량을 검출 가능한 이동 검출부를 더 포함하되,
    상기 어긋남량 검출부는, 상기 처리대상영역에 대한 상기 촬상 시로부터의 상기 제모장치의 상대 이동량을 상기 이동 검출부에 의해 검출하고, 상기 상대 이동량에 의거해서 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 이동 검출부는, 상기 처리대상영역의 평면방향에 있어서의 상기 제모장치의 상대 이동량과, 상기 평면방향과 평행한 방향으로의 상기 제모장치의 상대 회전량을 검출 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 어긋남량 검출부는, 상기 모공 특정부에 의해 모공을 특정하기 위하여 촬상한 제1 화상 데이터와, 상기 모공에 대한 광의 조사 전에 재차 촬상한 제2 화상 데이터에 의거해서, 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 어긋남량 검출부는, 상기 제1 화상 데이터로부터 추출한 추출 모공 화상과, 상기 제2 화상 데이터에 의거해서, 상기 어긋남량을 검출 가능하게 구성되어 있고,
    상기 추출 모공 화상은, 상기 모공 특정부에 의해 특정된 상기 모공 및 상기 모공의 주위의 피부를 포함하도록 상기 제1 화상 데이터로부터 추출한 화상인 것을 특징으로 하는 제모장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제2 화상 데이터는, 상기 제1 화상 데이터보다도 적은 화소수를 갖거나, 또는 상기 추출 모공 화상보다도 큰 화소 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조사위치 보정부는, 상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 따라서, 상기 광의 조사위치의 보정을 행할 것인지의 여부의 판정을 실행하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 조사위치 보정부는, 상기 어긋남량 검출부에 의해 검출된 상기 어긋남량에 따라서, 에러를 보고할 것인지의 여부의 판정을 실행하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 모공 특정부는 AI화상인식에 의해 상기 모공의 특정을 실행하는 것을 특징으로 하는 제모장치.
  10. 광원으로부터 조사되는 광에 의해서 제모처리를 행하는 제모방법으로서,
    피부의 처리대상영역을 촬상하는 촬상공정;
    상기 촬상공정에 의해 촬상된 상기 처리대상영역의 화상 데이터에 의거해서, 상기 처리대상영역 내에 존재하는 모공을 특정하는 모공특정공정;
    모공위치에 관한 상기 촬상 시로부터의 어긋남량을 검출하는 어긋남량 검출공정; 및
    상기 어긋남량 검출공정에 의해 검출된 상기 어긋남량에 의거해서, 상기 모공에 대한 상기 광의 조사위치를 보정하는 조사위치 보정공정
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 제모방법.
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