KR20230113723A - 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템 및 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 통신 기술 분야에 속한 것으로, 특히 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템과 테스트 방법에 관한 것이다. 여기에서 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템은 릴레이 조합 회로기판; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT(device under test)에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트를 포함하고, 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 DUT를 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 아날로그 컴포넌트의 시뮬레이션된 작업 환경에서 DUT를 테스트할 수 있어 다양한 동작 모드 조건에 대처할 수 있고, 테스트를 통해 DUT의 다양한 신호 특징과 각 동작 모드에서의 실행 특성을 검증할 수 있어 여러 차동 통신 기술에서 수동 테스트로 인한 누락을 방지할 수 있다.

Description

통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템 및 테스트 방법

본 발명은 통신 테스트 기술 분야에 속하며, 특히 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템 및 테스트 방법에 관한 것이다.

현재 흔히 사용되는 현장의 통신 기술은 485，CAN, FlexRay, 차량용 이더넷 등이 있으며, 이의 인터페이스는 차동 신호 전송 방식을 사용한다. 차동 신호 전송은 두 개의 상호 보완적인 전기 신호를 통해 정보를 전달하는 방법이다. 통신 기술 원리마다 상이하므로 이의 전기 파라미터는 구체적으로 차이가 있지만, 모두 물리 전송 매개물로 트위스트 페어선(Twisted pair line)을 채택하여 자체적으로 외부 간섭을 줄이면서, 외부 간섭원과의 용량 결합(Capacitive Coupling) 및 유도 결합(inductive coupling)이 감소될 수 있다.

기술별 세부 특징과 제품 응용 환경은 큰 차이가 있기 때문에 연구 개발자는 통상적으로 특정 통신 기술에 대해서 테스트를 진행하는데, 산업과 차량 탑재용 현장 작업 환경이 복잡하여, 통신 프로세스의 단락/회로차단/전위 오프셋/파형 품질 악화 등의 문제를 피할 수 없기 때문에, 제품의 허용 오차 능력과 신호 특징을 테스트해야만 하는 잠재적인 문제가 드러났다.

이러한 이유로 상술한 기술 문제를 바탕으로 한 새로운 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템 및 테스트 방법을 설계할 필요가 있다.

본 발명의 목적은 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템 및 테스트 방법을 제공한다.

상술한 문제를 해결하기 위해, 본 발명에서 제공하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템은,

릴레이 조합 회로기판;

상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트;

상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT(device under test)에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트;를 포함하고,

상기 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 상기 DUT를 상기 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 상기 아날로그 컴포넌트가 시뮬레이션된 작업 환경에서 상기 DUT를 테스트할 수 있다.

더 나아가서, 상기 아날로그 컴포넌트는 프로그램 제어 오실로스코프(oscilloscope), 멀티미터(multimeter), 파형 발생기, 프로그래머블 전원장치, 4상한 파형 증폭기, 프로그램 제어 조절 저항/커패시터 부하 및 외접된 분기 체인(branched chain)을 포함한다.

더 나아가서, 상기 인터페이스 컴포넌트에 있어서,

상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨(high level)에 연결되는 H_in 인터페이스;

상기 DUT의 통신선 차동 신호 저 레벨(low level)에 연결되는 L_in 인터페이스;

상기 DUT의 통신 GND에 연결되는 GND_in 인터페이스;

상기 DUT의 전원 공급 신호에 연결되는 DUT_BAT 인터페이스;

상기 DUT의 GND 신호에 연결되는 DUT_GND 인터페이스를 포함한다.

제2 양태에서, 본 발명은 상술한 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템을 채택한 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법을 더 제공하고,

DUT에 필수적인 작업 환경을 판단하는 단계; 및

작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계;를 포함한다.

더 나아가서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는,

정상 동작 모드인 작업 환경에서 테스트할 시, 상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 오실로스코프와 통신 트랜시버에 동시에 연결시키는 단계;

상기 통신 트랜시버가 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계;

상기 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 프로그래머블 전원장치가 상기 DUT의 전원 공급 신호와 GND 신호에 연결되고, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고;

즉, 이때 상기 DUT가 정상적으로 전원을 공급하고, 상기 DUT는 상기 프로그래머블 전원장치를 통해 전원을 공급하고, 동시에 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터가 차동 통신 링크를 기반으로 한 상기 임베디드 컨트롤러를 통해 상기 DUT와 통신되고, 상기 오실로스코프는 차동 신호의 파형을 캐치하여 네트워크 신호 특징을 얻는 단계;를 포함한다.

더 나아가서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 상기 DUT를 테스트하는 단계는,

종단 저항인 작업 환경에서 테스트할 시, 멀티미터를 통해 상기 DUT의 H_in 단과 L_in 단의 GND에 대한 저항 및 차동 저항을 측정하는 단계;

모든 테스트 유형에 전원 장애(power failure)와 대전(electrification)가 포함되는 단계;

전원 장애 테스트 프로세스 중 상기 DUT는 전원을 공급하지 않고, 상기 멀티미터를 통해 저항 값을 판독하는 단계;

대전 테스트 프로세스 중 저항 R=(직렬 임피던스 값)*（H_in 또는 L_in 전압)/(DUT 전원 공급-H_in 또는 L_in 전압)인 단계;를 포함한다.

더 나아가서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 상기 DUT를 테스트하는 단계는,

단락/회로차단인 작업 환경에서 테스트할 시, 직렬 및 병렬 임피던스를 0Ω 으로 설정하고, 릴레이를 통해 변환하면 H_in/L_in가 각각 L_in/H_in, DUT_BAT, DUT_GND와 단락 동작 모드를 실현할 수 있는 단계;

상기 릴레이가 꺼지면 H_in 또는 L_in 회로차단 동작 모드를 실현할 수 있는 단계;

단락 동작 모드와 회로 차단 동작 모드일 때, 상기 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 상기 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함한다.

더 나아가서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는,

공통 모드/차동 모드인 작업 환경에서 간섭 테스트할 시, 상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 통신 트랜시버에 연결시키고, 상기 통신선 차동 신호 고 레벨 신호를 상기 오실로스코프에 연결시키는 단계;

상기 DUT의 상기 통신선 차동 신호 고 레벨 신호 사이 및 통신 GND 신호와 상기 통신 트랜시버 사이에는 파형 팔로워 모듈이 연결되는 단계;

상기 통신 트랜시버가 상기 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계;

상기 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 DUT의 전원 공급 신호 및 GND 신호에 연결되고, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고; 즉,

상기 파형 팔로워 모듈은 트랜시버와 상기 DUT의 GND 사이에 직렬 연결되어 공통 모드 간섭(common mode interference)이 실현되는 단계;

상기 파형 팔로워 모듈이 H_in와 L_in 사이에 직렬 연결되어 차동 모드 간섭(differential mode interference)이 실현되는 단계;

상기 공통 모드 간섭과 상기 차동 모드 간섭 동작 모드일 때, 상기 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 상기 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함한다.

본 발명의 유익한 효과는 다음과 같다. 본 발명은 릴레이 조합 회로기판 ; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT(device under test)에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트를 포함하고, 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 DUT를 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 아날로그 컴포넌트가 시뮬레이션된 작업 환경에서 DUT를 테스트할 수 있어 다양한 동작 모드 조건에 대처할 수 있고, 테스트를 통해 DUT의 다양한 신호 특징과 각 동작 모드에서의 실행 특성을 검증할 수 있어 다양한 차동 통신 기술에서 수동 테스트로 인한 누락을 방지할 수 있다.

본 발명의 기타 특징과 우수성은 뒷 내용에 이어지는 명세서에서 서술되며, 부분적으로는 명세서에서 명백하게 나타나거나 본 발명을 실시함으로써 이해할 수 있다. 본 발명의 목적과 우수성은 명세서와 도면에서 구체적으로 나타낸 구조에서 구현 및 획득할 수 있다.

본 발명에 기재된 목적, 특징 및 장점을 더 쉽게 이해하기 위해 아래는 바람직한 실시예를 소개하여 도면과 함께 다음과 같이 상세하게 설명하도록 한다.

본 발명의 실시예 또는 종래 기술의 기술 방안을 더 상세하게 설명하기 위해, 아래는 실시예 또는 종래 기술을 서술하는 데 필요한 도면을 간략하게 소개한다. 아래 서술에서 도면은 본 발명의 일부 실시예에만 해당하는 것으로, 통상의 기술자는 창의적인 노동을 거치지 않은 전제 하에 아래 도면들에 근거하여 기타 도면을 얻을 수 있다.
도 1은 본 발명의 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템의 회로를 나타내는 개략도이다.
도 2는 본 발명의 정상 동작 모드 테스트의 회로를 나타내는 개략도이다.
도 3은 본 발명의 종단 저항 테스트 회로를 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 공통 모드/차동 모드 간섭(common/differential mode interference) 테스트 회로를 나타내는 개략도이다.

본 발명의 실시예의 목적, 기술 방안 및 이점을 더 명료하게 설명하기 위해 아래는 도면를 결합하여, 본 발명의 기술 방안을 상세하고 완전하게 서술하였다. 서술된 실시예는 본 발명의 일부분의 실시예일 뿐이며, 전체 실시예에 해당되지 않는다. 본 발명의 실시예에 기반하여, 통상의 기술자는 창의적인 노동을 하지 않았다는 전제 하에 획득한 모든 기타 실시예는 본 발명의 보호 범위에 속한다.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서 제공하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템에 있어서, 릴레이 조합 회로기판 ; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT(device under test)에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트를 포함하고, 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 DUT를 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 아날로그 컴포넌트가 시뮬레이션된 작업 환경에서 DUT를 테스트할 수 있어 다양한 동작 모드 조건에 대처할 수 있고, 테스트를 통해 DUT의 다양한 신호 특징과 각 동작 모드에서의 실행 특성을 검증할 수 있어 여러 차동 통신 기술에서 수동 테스트로 인한 누락을 방지할 수 있다. 또한 각 현장에서 발생하는 비정상 실행 조건을 시뮬레이션함으로써 통신 실행 특성을 측정하고 커넥터 노화, 대지전위 오프셋 등 전기 결함 조건 하에서 DUT의 허용 오차 능력을 검증할 수 있으며, 안전 요구가 높은 상황에 테스트 방안을 제공하여 수동 테스트로 인한 누락을 방지하고 테스트 효율성을 향상시킬 수 있다.

본 실시예에서, 상기 아날로그 컴포넌트는 프로그램 제어 오실로스코프(oscilloscope), 멀티미터(multimeter), 파형 발생기, 프로그래머블 전원장치, 4상한 파형 증폭기, 4상한 전원, 프로그램 제어 조절 저항/커패시터 부하 및 외접된 분기 체인(branched chain) 등 특수 작업 환경에서 사용하는 아날로그 장치를 포함한다.

본 실시예에 있어서, 본 테스트 시스템은 DUT를 향하는 정면 및 표준 측정 장비를 향하는 후면으로 나누고, 상기 인터페이스 컴포넌트는 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨(high level)에 연결되는 H_in 인터페이스; DUT의 통신선 차동 신호 저 레벨(low level)에 연결되는 L_in 인터페이스; DUT의 통신 GND에 연결되는 GND_in 인터페이스; DUT의 전원 공급 신호에 연결되는 DUT_BAT 인터페이스; DUT의 GND 신호에 연결되는 DUT_GND 인터페이스를 포함한다.

본 실시예에서, 구체적인 회로는 도 1에 도시된 바와 같다. H_in 인터페이스는 릴레이를 통해 직렬 임피던스에 연결된 후 DUT 전원 공급에 연결되고, H_in 인터페이스는 릴레이를 통해 병렬 임피던스와 다른 하나의 직렬 임피던스에 연결되고, H_in 인터페이스는 릴레이를 통해 조절 가능한 용량리액턴스에 연결된 후 GND_in 인터페이스에 연결되고, 릴레이를 통해 다른 하나의 조절 가능한 용량리액턴스에 연결되고; L_in 인터페이스는 릴레이를 통해 직렬 임피던스와 병렬 임피던스에 연결되고, 직렬 임피던스를 통해 릴레이에 연결된 후 GND_in 인터페이스에 연결되고, L_in 인터페이스는 릴레이를 통해 조절 가능한 용량리액턴스에 연결되어 GND_in 인터페이스에 연결되고, H_in 인터페이스와 L_in 인터페이스는 릴레이를 통해 통신 트랜시버에 연결되고; GND_in 인터페이스는 릴레이를 통해 통신 트랜시버에 연결되고; H_in 인터페이스는 릴레이를 통해 다이오드(diode)에 연결된 후 릴레이를 통해 파형 팔로워 모듈에 연결되고, L_in 인터페이스는 릴레이를 통해 저항에 연결된 후 릴레이를 통해 파형 팔로워 모듈에 연결되고, 트랜시버는 릴레이를 통해 파형 팔로워 모듈에 연결되고, 파형 팔로워 모듈이 릴레이를 통해 GND_in 인터페이스와 통신 트랜시버에 연결되고; 통신 트랜시버에는 단자 저항(terminal resistance)과 차동 분기 체인이 연결되어 있다. 멀티미터의 전압 측정은 릴레이를 통해 H_in 인터페이스, L_in 인터페이스 및 DUT 전원 공급에 연결되고; 멀티미터의 전류 측정은 릴레이를 통해 H_in 인터페이스, L_in 인터페이스에 연결되고; 멀티미터 GND는 릴레이를 통해 L_in 인터페이스와 GND_in 인터페이스에 연결되고; 오실로스코프 채널 1은 릴레이를 통해 H_in 인터페이스와 H 트랜시버 측면에 연결되고; 오실로스코프 채널 2는 릴레이를 통해 L_in 인터페이스와 L 트랜시버 측면에 연결되고; 오실로스코프 GND는 릴레이를 통해 GND_in 인터페이스와 트랜시버 GND에 연결되고; DUT 전원은 릴레이를 통해 프로그래머블 전원장치에 연결된 후 릴레이를 통해 트랜시버 GND에 연결되고; 임베디드 컨트롤러가 절연 통신 인터페이스와 IO 릴레이 제어에 연결된다.

본 실시예에서는 상술한 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템을 채택한 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법을 더 제공하고, DUT에 필수적인 작업 환경을 판단하는 단계; 및 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계;를 포함한다.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는, 정상 동작 모드인 작업 환경에서 테스트할 시, DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 오실로스코프와 통신 트랜시버에 동시에 연결시키는 단계; 통신 트랜시버가 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계; 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 프로그래머블 전원장치가 DUT의 전원 공급 신호 및 GND 신호에 연결되고, 프로그래머블 전원장치가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고; 통신 트랜시버가 H_in 인터페이스, L_in 인터페이스 및 GND_in 인터페이스에 동시에 연결되고; 즉, 이때 DUT가 정상적으로 전원을 공급하고, DUT는 프로그래머블 전원장치를 통해 전원을 공급하는 한편, 산업용 퍼스널 컴퓨터가 차동 통신 링크를 기반으로 한 임베디드 컨트롤러를 통해 DUT와 통신되고, 오실로스코프는 차동 신호의 파형을 캐치하여 네트워크 신호 특징, 예를 들어 신호 극값, 고/저 값, 파형의 오버슈트(overshoot), 신호 상승/하강 속도, 비트 시간 정확도를 얻을 수 있는 단계;를 포함함으로써, EUT((Equipment Under Test)의 일치성을 검증할 수 있다. 정상 동작 모드 상황을 기반으로 자체 정의한 테스트 스크립트를 통해 어플리케이션 계층(application layer) 데이터, 네트워크 관리 등 통신 행위의 정확성과 견고성을 검증할 수 있다.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는, 종단 저항인 작업 환경에서 테스트할 시, 멀티미터를 통해 DUT의 H_in 단과 L_in 단의 GND에 대한 저항과 차동 저항을 측정하는 단계; 모든 테스트 유형에 전원 장애(power failure)와 대전(electrification)이 포함되는 단계; 전원 장애 테스트 프로세스 중 DUT는 전원을 공급하지 않고 상기 멀티미터를 통해 저항 값을 판독하는 단계; 대전 테스트 프로세스 중 저항 R=(직렬 임피던스 값)*（H_in 또는 L_in전압)/(DUT 전원 공급-H_in 또는 L_in전압)인 단계;를 포함한다. H는 GND 저항에 전원 장애를 일으키고, H_in 인터페이스는 멀티미터 저항 측정에 연결되고, GND_in 인터페이스가 멀티미터 GND에 연결되고, H_in 인터페이스와 GND_in 인터페이스가 저항 R에 연결되며; L이 GND 저항에 전원 장애를 일으키고, L_in 인터페이스가 멀티미터 저항 측정에 연결되고, GND_in 인터페이스가 멀티미터 GND에 연결되고, L_in 인터페이스와 GND_in 인터페이스가 저항 R에 연결되며; H는 L 저항에 전원 장애를 일으키고, H_in 인터페이스는 멀티미터 저항 측정에 연결되고, L_in 인터페이스가 멀티미터 GND에 연결되고, L_in 인터페이스와 H_in 인터페이스가 저항 R에 연결되고; H가 GND 저항에 대전을 일으키고, H_in 인터페이스가 직렬 임피던스에 연결된 후 DUT 전원 공급에 연결되고, 직렬 임피던스가 멀티미터 전압 측정을 병렬 연결하며, GND_in 인터페이스가 멀티미터 GND에 연결되고, H_in 인터페이스와 GND_in 인터페이스 사이에는 저항 R이 연결되고, DUT_BAT 인터페이스와 DUT_GND 인터페이스에 프로그래머블 전원장치가 연결되고; L이 GND 저항에 대전을 일으키고, L_in 인터페이스에 직렬 임피던스에 연결된 후 DUT 전원 공급에 연결되고, 직렬 임피던스가 멀티미터 전압 측정을 병렬 연결하며, GND_in 인터페이스가 멀티미터 GND에 연결되고, L_in 인터페이스와 GND_in 인터페이스 사이에 저항 R이 연결되고, DUT_BAT 인터페이스와 DUT_GND 인터페이스에는 프로그래머블 전원장치가 연결되고; H가 L 저항에 대전을 일으키고, H_in 인터페이스가 직렬 임피던스에 연결된 후 DUT 전원 공급에 연결되고, 직렬 임피던스가 멀티미터 전압 측정을 병렬 연결하며, L_in 인터페이스에 멀티미터 GND가 연결되고, L_in 인터페이스와 H_in 인터페이스 사이에 저항 R이 연결되고, DUT_BAT 인터페이스와 DUT_GND 인터페이스에 프로그래머블 전원장치가 연결된다.

본 실시예에서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는, 단락/회로차단인 작업 환경에서 테스트할 시, 직렬 및 병렬 임피던스를 0Ω으로 설정하고, 릴레이를 통해 변환하면 H_in/L_in가 각각 L_in/H_in, DUT_BAT, DUT_GND와 단락 동작 모드를 실현할 수 있는 단계; 릴레이가 꺼지면 H_in 또는 L_in 회로차단 동작 모드를 실현할 수 있는 단계; 단락 동작 모드와 회로 차단 동작 모드일 때, 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함한다.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 실시예에서, 상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는, 공통 모드/차동 모드인 작업 환경에서 간섭(common/differential mode interference) 테스트할 시, DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 통신 트랜시버에 연결시키고, 통신선 차동 신호 고 레벨 신호를 오실로스코프에 연결시키는 단계; H_in 인터페이스, L_in 인터페이스, GND_in 인터페이스는 통신 트랜시버에 연결되고; DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호 사이 및 통신 GND 신호와 통신 트랜시버 사이에는 파형 팔로워 모듈이 연결되는 단계; 통신 트랜시버가 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계; 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 프로그래머블 전원장치가 DUT의 전원 공급 신호 및 GND 신호에 연결되고, 프로그래머블 전원장치가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고; 즉, 파형 팔로워 모듈이 트랜시버와 DUT의 GND 사이에 직렬 연결되어 공통 모드 간섭이 실현되는 단계; 파형 팔로워 모듈이 H_in과 L_in 사이에서 직렬 연결되어, 차동 모드 간섭이 실현되는 단계; 공통 모드 간섭과 차동 모드 간섭 동작 모드일 때, 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함한다.

본 실시예에서, 테스트 요구 사항에 따라 다른 테스트를 결합할 수 있다. 예를 들어, 종단 저항 검증->정상 동작 모드->단락/회로차단 결함 제거->정상 동작 모드가 있고, 이러한 테스트 경로는 단락 결함 시 DUT의 허용 오차 능력을 검증할 수 있고; 종단 저항 검증->정상 동작 모드->공통 모드/차동 모드 결함 제거->정상 동작 모드와 같은 테스트 경로는 신호 간섭 및 결함 시 DUT의 수용 능력을 검증할 수 있고; 종단 저항 검증->정상 동작 모드->단락/회로차단 결합 및 공통 모드/차동 모드 결함을 동시에 제거->정상 동작 모드->종단 저항 검증과 같은 테스트 경로는 복잡하고 결함이 있는 상황에서 DUT의 수용 및 허용 오차 능력을 검증할 수 있는 동시에, 결함이 제거된 후 DUT 부품의 전기적 특성 회복 능력을 검증할 수 있어 상이한 동작 모드 조건에 대응할 수 있다. 테스트를 통해 DUT의 다양한 신호 특징과 각 동작 모드에서의 실행 특성을 검증할 수 있어 다양한 차동 통신 기술에서 수동 테스트로 인한 누락을 방지할 수 있다.

결론적으로, 본 발명은 릴레이 조합 회로기판 ; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트; 상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트를 포함하고, 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 DUT를 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 아날로그 컴포넌트가 시뮬레이션된 작업 환경에서 DUT를 테스트할 수 있어 다양한 동작 모드 조건에 대처할 수 있고, 테스트를 통해 DUT의 다양한 신호 특징과 각 동작 모드에서의 실행 특성을 검증할 수 있어 다양한 차동 통신 기술에서 수동 테스트로 인한 누락을 방지할 수 있다.

본 발명에서 제공하는 여러 실시예에서, 개시된 장치와 방법 또한 기타 방식을 통해서도 실현될 수 있는 것으로 이해해야 한다. 상술한 장치 실시예는 단지 예시적인 것으로, 예를 들어 도면에 있는 흐름도와 블록도에서는 본 발명의 여러 실시예의 장치, 방법, 컴퓨터 프로그램 제품에 따라 구현이 가능한 체계 구조, 기능, 조작을 보여준다. 여기에서 흐름도 또는 블록도의 각 네모 박스는 하나의 모듈, 프로그램 조각 또는 코드의 한 부분을 의미하며, 상기 모듈, 프로그램 조각 또는 코드의 한 부분이 규정된 로직 기능을 실현하기 위한 하나 또는 복수개의 실행 가능한 명령을 포함한다. 일부 대체 가능한 실현 방식에서 네모 박스에 표시된 기능은 도면에 표시된 순서와 다르게 발생할 수 있음에 유의해야 한다. 예를 들어, 연속되는 두 개의 네모 박스는 실제로 실질적으로 동시에 실행될 수 있거나 관련된 기능에 따라 반대 순서로 실행될 수 있다. 또한, 블록도 및/또는 흐름도에서 각 네모 박스, 블록도 및/또는 흐름도에서 네모 박스의 조합은 구현은 규정된 기능이나 작동을 실행하는 전용 하드웨어 기반 시스템에 의해 구현되거나 전용 하드웨어와 컴퓨터 명령의 조합으로 실현될 수 있음을 유의해야 한다.

또한, 본 발명의 각 실시예에서 각 기능 모듈은 함께 하나의 독립된 부분을 형성할 수 있도록 집적될 수 있을 뿐만 아니라, 각 모듈이 단독으로 존재하거나, 두 개 또는 두 개 이상의 모듈이 집적되어 하나의 독립된 부분이 형성될 수도 있다.

상술한 기능은 만약 소프트웨어의 기능 모듈의 형식으로 실현되고 독립된 제품으로 판매되거나 사용될 경우 컴퓨터 판독 가능 저장매체에 저장될 수 있다. 본 발명의 기술 방안은 이러한 이해를 바탕으로 본질적 또는 종래 기술에 기여하는 일부 또는 이 기술 방안의 일부에 대해 소프트웨어 제품의 형식으로 구현될 수 있고, 컴퓨터 소프트웨어 제품은 저장 매체에 저장되며, 복수 개의 명령을 포함하여 한 대의 컴퓨터 장치(개인 컴퓨터, 서버 또는 네트워크 장치 등)가 본 발명의 각 실시예의 전체 또는 일부 단계를 수행할 수 있도록 한다. 상술한 저장 매체는 USB 메모리, 이동식 하드디스크, 롬(ROM, Read-Only Memory), 램(RAM, Random Access Memory), 디스크 또는 시디롬 등 다양한 프로그램 코드를 저장할 수 있는 매개물을 포함한다.

위의 본 발명의 이상적인 실시예가 시사하는 바에 의하면, 상기 명세서 내용을 통해 통상의 기술자는 본 발명의 기술 범위를 벗어나지 않는 선에서 다양하게 변경 및 보정을 할 수 있다. 본 발명의 기술 범위는 명세서 내용에 한정되지 않으며, 반드시 청구항 범위에 따라 이의 기술적인 범위를 확정해야 한다.

Claims (8)

1. 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템에 있어서,
   릴레이 조합 회로기판;
   상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되는 아날로그 컴포넌트;
   상기 릴레이 조합 회로기판에 설치되고, DUT(device under test)에 연결되기에 적합한 인터페이스 컴포넌트를 포함하고,
   상기 릴레이 조합 회로기판에 있는 각 릴레이를 개폐함으로써 상기 DUT를 상기 아날로그 컴포넌트에서 필수적인 디바이스와 연결시키면 상기 아날로그 컴포넌트가 시뮬레이션된 작업 환경에서 상기 DUT를 테스트할 수 있는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템.
2. 제1항에 있어서,
   상기 아날로그 컴포넌트는 프로그램 제어 오실로스코프(oscilloscope), 멀티미터(multimeter), 파형 발생기, 프로그래머블 전원장치, 4상한 파형 증폭기, 프로그램 제어 조절 저항/커패시터 부하 및 외접된 분기 체인(branched chain)을 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템.
3. 제1항에 있어서,
   상기 인터페이스 컴포넌트는,
   상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨(high level)에 연결되는 H_in 인터페이스;
   상기 DUT의 통신선 차동 신호 저 레벨(low level)에 연결되는 L_in 인터페이스;
   상기 DUT의 통신 GND에 연결되는 GND_in 인터페이스;
   상기 DUT의 전원 공급 신호에 연결되는 DUT_BAT 인터페이스;
   상기 DUT의 GND 신호에 연결되는 DUT_GND 인터페이스;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템.
4. 제1항에 따른 통신 링크 실행 특징의 테스트 시스템을 채택한 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법에 있어서,
   DUT에 필수적인 작업 환경을 판단하는 단계; 및
   작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법.
5. 제4항에 있어서,
   상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는,
   정상 동작 모드인 작업 환경에서 테스트할 시, 상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 오실로스코프와 통신 트랜시버에 동시에 연결시키는 단계;
   상기 통신 트랜시버가 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계;
   상기 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 프로그래머블 전원장치가 상기 DUT의 전원 공급 신호와 GND 신호에 연결되고, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고;
   즉, 이때 상기 DUT가 정상적으로 전원을 공급하고, 상기 DUT는 상기 프로그래머블 전원장치를 통해 전원을 공급하는 한편, 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터가 차동 통신 링크를 기반으로 한 상기 임베디드 컨트롤러를 통해 상기 DUT와 통신되고, 상기 오실로스코프는 차동 신호의 파형을 캐치하여 네트워크 신호 특징을 얻는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법.
6. 제4항에 있어서,
   상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 상기 DUT를 테스트하는 단계는,
   종단 저항인 작업 환경에서 테스트할 시, 멀티미터를 통해 상기 DUT의 H_in 단과 L_in 단의 GND에 대한 저항과 차동 저항을 측정하는 단계;
   모든 테스트 유형에 전원 장애(power failure)와 대전(electrification)이 포함되는 단계;
   전원 장애 테스트 프로세스 중 상기 DUT는 전원을 공급하지 않고 상기 멀티미터를 통해 저항 값을 판독하는 단계;
   대전 테스트 프로세스 중 저항 R=(직렬 임피던스 값)*（H_in 또는 L_in전압)/(DUT 전원 공급-H_in 또는 L_in 전압)인 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법.
7. 제4항에 있어서,
   상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 상기 DUT를 테스트하는 단계는,
   단락/회로차단인 작업 환경에서 테스트할 시, 직렬 및 병렬 임피던스를 0Ω 으로 설정하고, 릴레이를 통해 변환하면 H_in/L_in가 각각 L_in/H_in, DUT_BAT, DUT_GND와 단락 동작 모드를 실현할 수 있는 단계;
   상기 릴레이가 꺼지면 H_in또는 L_in 회로차단 동작 모드를 실현할 수 있고;
   단락 동작 모드와 회로 차단 동작 모드일 때, 상기 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 상기 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법.
8. 제4항에 있어서,
   상기 작업 환경에 따라 대응되는 디바이스를 연결하여 DUT를 테스트하는 단계는,
   공통 모드/차동 모드인 작업 환경에서 간섭 테스트할 시, 상기 DUT의 통신선 차동 신호 고 레벨 신호, 통신선 차동 신호 저 레벨 신호 및 통신 GND 신호를 통신 트랜시버에 연결시키고, 상기 통신선 차동 신호 고 레벨 신호를 상기 오실로스코프에 연결시키는 단계;
   상기 DUT의 상기 통신선 차동 신호 고 레벨 신호 사이 및 통신 GND 신호와 상기 통신 트랜시버 사이에는 파형 팔로워 모듈이 연결되는 단계;
   상기 통신 트랜시버가 상기 임베디드 컨트롤러에 연결되는 단계;
   상기 임베디드 컨트롤러가 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되는 동시에, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 DUT의 전원 공급 신호와 GND 신호에 연결되고, 상기 프로그래머블 전원장치가 상기 산업용 퍼스널 컴퓨터에 연결되고;
   즉, 상기 파형 팔로워 모듈이 트랜시버와 상기 DUT의 GND 사이에 직렬 연결되어 공통 모드 간섭(common mode interference)이 실현되는 단계;
   상기 파형 팔로워 모듈이 H_in와 L_in 사이에 직렬 연결되어 차동 모드 간섭(differential mode interference)이 실현되는 단계;
   상기 공통 모드 간섭과 상기 차동 모드 간섭 동작 모드일 때, 상기 오실로스코프를 통해 실행 특징을 캐치하여 상기 DUT의 허용 오차 능력을 테스트하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 링크 실행 특징의 테스트 방법.