KR20230103879A - Tiling Display Device - Google Patents

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KR20230103879A
KR20230103879A KR1020220067758A KR20220067758A KR20230103879A KR 20230103879 A KR20230103879 A KR 20230103879A KR 1020220067758 A KR1020220067758 A KR 1020220067758A KR 20220067758 A KR20220067758 A KR 20220067758A KR 20230103879 A KR20230103879 A KR 20230103879A
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KR1020220067758A
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박상우
김태궁
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 명세서의 실시예에 따른 타일링 표시장치는 제1 인터페이스 회로와 제2 인터페이스 회로를 통해 서로 연결 복수의 표시 모듈들, 및 복수의 표시 모듈들 중 어느 하나의 고장 모듈에서 생성된 불량 발생 및 위치 신호를 제1 구간 동안 제1 인터페이스 회로를 통해 고장 모듈로부터 수신하고, 제1 구간에 이은 제2 구간 동안 불량 인지 완료 신호를 생성하고 제2 인터페이스 회로를 통해 불량 인지 완료 신호를 고장 모듈로 송신하는 세트 보드를 포함한다.In the tiling display device according to the exemplary embodiment of the present specification, a plurality of display modules connected to each other through a first interface circuit and a second interface circuit, and a defect occurrence and location signal generated by any one failure module among the plurality of display modules. A set for receiving from the faulty module through the first interface circuit during the first period, generating a faulty recognition complete signal during a second period subsequent to the first period, and transmitting the faulty recognition complete signal to the faulty module through the second interface circuit. include the board

Figure P1020220067758
Figure P1020220067758

Description

타일링 표시장치{Tiling Display Device}Tiling display device {Tiling Display Device}

이 명세서는 확장성이 가능한 타일링 표시장치에 관한 것이다.This specification relates to a tiling display device capable of scalability.

대형 디스플레이는 옥외 디지털 광고와 같은 다양한 분야에서 활용될 수 있다. 대형 디스플레이에 대한 수요를 충족시키기 위하여 확장성이 가능한 타일링 표시장치가 제안되고 있다. 타일링 표시장치는 세트 보드와 복수의 표시 모듈들을 연결하여 단일 화면을 구성하는 것으로서, 표시 모듈들의 개수에 따라 화면 크기가 조절될 수 있는 장점이 있다.A large display can be used in various fields such as outdoor digital advertising. To meet the demand for a large display, a tiling display device capable of scalability has been proposed. A tiling display device configures a single screen by connecting a set board and a plurality of display modules, and has an advantage in that the size of the screen can be adjusted according to the number of display modules.

이러한 타일링 표시장치는 커머셜 제품의 특성상 주로 옥외에 설치되기 때문에, 불량 발생 여부를 사용자의 육안으로 인지하기 어렵다. 또한, 타일링 표시장치는 대형 화면을 구성하기 위한 많은 부품들을 포함하기 때문에, 불량이 생기더라도 그 불량의 원인을 찾는데 많은 시간이 소모될 수 있다.Since such a tiling display device is mainly installed outdoors due to the characteristics of a commercial product, it is difficult for a user to visually recognize whether or not a defect has occurred. In addition, since the tiling display device includes many parts for configuring a large screen, even if a defect occurs, it may take a lot of time to find the cause of the defect.

따라서, 본 명세서는 세트 보드가 고장난 표시 모듈의 불량 위치를 자동으로 확인할 수 있고, 나아가 고장난 표시 모듈의 불량 내역을 자동으로 더 확인할 수 있도록 한 타일링 표시장치를 제공한다.Accordingly, the present specification provides a tiling display device capable of automatically checking the defective location of a display module with a set board that is out of order, and further automatically checking the defect details of a failed display module.

본 명세서의 실시예에 따른 타일링 표시장치는 제1 인터페이스 회로와 제2 인터페이스 회로를 통해 서로 연결 복수의 표시 모듈들, 및 복수의 표시 모듈들 중 어느 하나의 고장 모듈에서 생성된 불량 발생 및 위치 신호를 제1 구간 동안 제1 인터페이스 회로를 통해 고장 모듈로부터 수신하고, 제1 구간에 이은 제2 구간 동안 불량 인지 완료 신호를 생성하고 제2 인터페이스 회로를 통해 불량 인지 완료 신호를 고장 모듈로 송신하는 세트 보드를 포함한다.In the tiling display device according to the exemplary embodiment of the present specification, a plurality of display modules connected to each other through a first interface circuit and a second interface circuit, and a defect occurrence and location signal generated by any one failure module among the plurality of display modules. A set for receiving from the faulty module through the first interface circuit during the first period, generating a faulty recognition complete signal during a second period subsequent to the first period, and transmitting the faulty recognition complete signal to the faulty module through the second interface circuit. include the board

본 실시예에 따르면, 세트 보드가 고장난 표시 모듈의 불량 위치를 자동으로 확인할 수 있고, 나아가 고장난 표시 모듈의 불량 내역을 자동으로 더 확인할 수 있다. 그 결과, 본 실시예에 따른 타일링 표시장치는 불량 위치 및 원인을 파악하는 데 소요되는 시간을 획기적으로 단축시킬 수 있는 장점이 있다.According to the present embodiment, it is possible to automatically check the defective position of the display module with a set board failure, and further automatically check the failure details of the failed display module. As a result, the tiling display device according to the present embodiment has the advantage of significantly reducing the time required to determine the location and cause of the defect.

나아가, 본 실시예에 따르면, 세트 보드는 SPI 통신을 통해 전송받은 데이터를 정해진 프로토콜에 맞게 해석하여 불량 위치 및 원인을 파악하기 때문에, 고장 진단에 필요한 제반 구조가 간소화되고 제조 비용이 낮아지는 장점이 있다.Furthermore, according to the present embodiment, since the set board interprets the data transmitted through SPI communication according to a predetermined protocol and identifies the location and cause of the defect, the overall structure required for fault diagnosis is simplified and the manufacturing cost is lowered. there is.

본 명세서에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.Effects according to this specification are not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in this specification.

도 1은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치를 개략적으로 보여주는 도면이다.
도 2는 일 표시 모듈의 연결 구성을 보여주는 도면이다.
도 3 및 도 4는 마이크로 LED 기반의 표시 패널을 보여주는 도면들이다.
도 5는 표시 패널에 구비된 일 픽셀의 개략적인 등가 회로도이다.
도 6은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 구조를 보여주는 도면이다.
도 7은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 시퀀스를 개략적으로 보여주는 도면이다.
도 8 및 도 9는 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 시퀀스를 구체적으로 보여주는 도면들이다.
도 10은 도 8 및 도 9의 불량 내역 신호에 대응되는 고장 진단 리스트의 일 예를 보여주는 도면이다.
도 11은 세트 보드에서 고장 모듈에 대한 불량 발생을 인지하는 원리를 보여주는 도면이다.
도 12는 세트 보드에서 고장 모듈에 대한 불량 발생 위치를 인지하는 원리를 보여주는 도면이다.
도 13은 세트 보드에서 고장 모듈에 대한 불량 발생 위치를 확인한 후, 불량 인지 완료 신호를 고장 모듈로 전송하는 것을 보여주는 도면이다.
도 14는 고장 모듈에서 불량 인지 완료 신호를 수신한 후, 불량 내역 신호를 세트 보드로 전송하는 것을 보여주는 도면이다.
도 15는 도 14의 불량 내역 신호에 대응되는 고장 진단 리스트의 일 예를 보여주는 도면이다.
도 16은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치에서 고장 진단 시퀀스를 구현하기 위한 각 표시 모듈의 제반 구성을 보여주는 도면이다.
1 is a diagram schematically showing a tiling display device according to an exemplary embodiment.
2 is a diagram showing a connection configuration of one display module.
3 and 4 are views showing a micro LED-based display panel.
5 is a schematic equivalent circuit diagram of one pixel included in the display panel.
6 is a diagram showing a structure for diagnosing a failure of a tiling display device according to an exemplary embodiment.
7 is a diagram schematically illustrating a failure diagnosis sequence of a tiling display device according to an exemplary embodiment.
8 and 9 are diagrams showing a failure diagnosis sequence of the tiling display device according to the present embodiment in detail.
10 is a diagram showing an example of a failure diagnosis list corresponding to the failure detail signals of FIGS. 8 and 9 .
11 is a diagram showing a principle of recognizing a failure occurrence of a failed module in a set board.
12 is a diagram showing a principle of recognizing a location of a defective module in a set board.
FIG. 13 is a diagram illustrating the transmission of a failure recognition completion signal to a failure module after confirming a location where a failure occurs in a failure module in a set board.
14 is a diagram showing that a failure module transmits a failure details signal to a set board after receiving a failure recognition completion signal.
15 is a diagram showing an example of a failure diagnosis list corresponding to the failure detail signal of FIG. 14 .
16 is a diagram showing overall configurations of each display module for implementing a failure diagnosis sequence in the tiling display device according to the present embodiment.

본 명세서의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 명세서는 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하며, 본 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 명세서는 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Advantages and features of this specification, and methods of achieving them, will become clear with reference to embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, this specification is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various different forms, and only these embodiments make the disclosure of this specification complete, and common knowledge in the art to which this specification belongs. It is provided to completely inform the person who has the scope of the invention, and this specification is only defined by the scope of the claims.

본 명세서의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서가 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 ' ~ 만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. The shapes, sizes, ratios, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of this specification are illustrative, so this specification is not limited to the matters shown. Like reference numbers designate like elements throughout the specification. When 'includes', 'has', 'consists of', etc. mentioned in this specification is used, other parts may be added unless 'only' is used. In the case where a component is expressed in the singular, the case including the plural is included unless otherwise explicitly stated.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components, even if there is no separate explicit description, it is interpreted as including the error range.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, ' ~ 상에', ' ~ 상부에', ' ~ 하부에', ' ~ 옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다. In the case of a description of a positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on ~', 'upon ~', '~ below', 'next to', etc., 'right' Or, unless 'directly' is used, one or more other parts may be located between the two parts.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용될 수 있으나, 이 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 명세서의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although first, second, etc. may be used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present specification.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서의 실시예를 상세히 설명한다. 이하의 설명에서, 본 명세서와 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. Hereinafter, embodiments of the present specification will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, if it is determined that a detailed description of a known function or configuration related to the present specification may unnecessarily obscure the gist of the present specification, the detailed description will be omitted.

도 1은 본 명세서의 실시예에 따른 타일링 표시장치를 개략적으로 보여주는 도면이다. 도 2는 일 표시 모듈의 연결 구성을 보여주는 도면이다.1 is a diagram schematically illustrating a tiling display device according to an exemplary embodiment of the present specification. 2 is a diagram showing a connection configuration of one display module.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 타일링 표시장치(100)는 세트 보드(SET) 및 복수의 표시 모듈들(CB)을 포함한다. 각 표시 모듈(CB)은 캐비닛(cabinet)으로 칭해질 수도 있다.Referring to FIGS. 1 and 2 , the tiling display device 100 according to the present exemplary embodiment includes a set board SET and a plurality of display modules CB. Each display module CB may also be referred to as a cabinet.

표시 모듈들(CB)은 인터페이스 회로를 통해 서로 연결되어 대형 화면을 구성할 수 있다. 대형 화면의 전체 해상도는 각 표시 모듈(CB)의 단위 해상도의 총합으로 결정될 수 있다. 예컨대, 960*1080의 단위 해상도를 갖는 8개의 표시 모듈들(CB)로 한 화면이 구성된 경우, 화면의 전체 해상도는 3840*2160이 될 수 있다.The display modules CB may be connected to each other through an interface circuit to form a large screen. The total resolution of the large screen may be determined as the sum of unit resolutions of each display module (CB). For example, when one screen is composed of 8 display modules (CB) having a unit resolution of 960*1080, the total resolution of the screen may be 3840*2160.

각 표시 모듈(CB)은 전계 발광 표시형, 액정 표시형 등으로 구현될 수 있으며, 이하의 본 실시예에서는 표시 모듈(CB)이 마이크로 LED 기반의 전계 발광 표시형으로 구현된 것이 예시된다. 다만, 본 명세서의 기술적 사상은 표시 모듈(CB)의 구현 방식에 의해 제한되지 않는다. Each display module CB may be implemented as an electroluminescence display type, a liquid crystal display type, or the like. In the present embodiment, a display module CB implemented as a micro LED-based electroluminescence display type will be exemplified. However, the technical spirit of the present specification is not limited by the implementation method of the display module CB.

세트 보드(SET)가 자동으로 고장난 표시 모듈(이하, 고장 모듈)의 불량 위치를 확인할 수 있고, 나아가 자동으로 고장 모듈의 불량 내역을 더 확인할 수 있도록 하기 위해, 세트 보드(SET)와 표시 모듈들(CB)은 SPI(Serial Peripheral Interface)로 구현되는 인터페이스 회로를 통해 서로 연결될 수 있다. In order for the set board (SET) to be able to automatically check the defective location of the failed display module (hereinafter referred to as the failed module) and to further automatically check the defect details of the failed module, the set board (SET) and the display modules (CB) may be connected to each other through an interface circuit implemented as SPI (Serial Peripheral Interface).

인터페이스 회로는 피드백 루프(feed back loop) 타입의 양 방향 멀티 체인 인터페이스(multi chain interface)로 구현될 수 있다. 인터페이스 회로는 표시 모듈들(CB) 간에, 그리고 세트 보드(SET)와 표시 모듈(CB) 간에 개별적인 양 방향 직렬 통신을 가능케 함으로써, 짧은 통신 선로를 확보할 수 있고, 짧은 통신 선로를 통한 대용량 데이터 통신의 속도와 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The interface circuit may be implemented as a bi-directional multi-chain interface of a feedback loop type. The interface circuit enables individual two-way serial communication between the display modules (CB) and between the set board (SET) and the display module (CB), thereby securing a short communication line and mass data communication through the short communication line. speed and reliability can be improved.

각 표시 모듈(CB)은 복수개의 표시 패널들(PNL)과, 표시 패널들(PNL)을 구동시키기 위한 패널 구동회로들과, 패널 구동회로들의 동작 타이밍을 제어하는 타이밍 제어부(TCON)를 포함할 수 있다. Each display module CB may include a plurality of display panels PNL, panel driving circuits for driving the display panels PNL, and a timing controller TCON controlling operation timing of the panel driving circuits. can

타이밍 제어부(TCON)는 콘트롤 인쇄회로기판(CPCB)에 실장되고, 분기 케이블(CBL)을 통해 패널 구동회로들에 병렬로 연결될 수 있다. 이러한 타이밍 제어부(TCON)는 인터페이스 회로를 통해 이웃한 표시 모듈(CB) 또는 세트 보드(SET)와 더 연결될 수 있다.The timing control unit TCON is mounted on a control printed circuit board CPCB and may be connected in parallel to panel driving circuits through a branch cable CBL. The timing controller TCON may be further connected to a neighboring display module CB or set board SET through an interface circuit.

패널 구동회로들은 복수의 표시 패널들(PNL) 각각에 독립적으로 연결될 수 있다. 패널 구동회로들은, 분기 케이블(CBL)을 통해 타이밍 제어부(TCON)에 연결된 소스 인쇄회로기판(SPCB), 소스 인쇄회로기판(SPCB)에 실장된 메모리 회로(MEM), 소스 인쇄회로기판(SPCB)과 표시 패널(PNL)을 전기적으로 연결하는 도전성 필름(COF), 도전성 필름(COF) 상에 접합된 데이터 드라이버(SIC), 소스 인쇄회로기판(SPCB)에 전기적으로 연결된 게이트 드라이버와 전원 회로 등을 포함할 수 있다. The panel driving circuits may be independently connected to each of the plurality of display panels PNL. The panel driving circuits include a source printed circuit board (SPCB) connected to the timing controller (TCON) through a branch cable (CBL), a memory circuit (MEM) mounted on the source printed circuit board (SPCB), and a source printed circuit board (SPCB). A conductive film (COF) electrically connecting the display panel (PNL), a data driver (SIC) bonded on the conductive film (COF), a gate driver and power circuit electrically connected to the source printed circuit board (SPCB). can include

메모리 회로(MEM)는 패널 특성을 저장하고 있는 비휘발성 메모리이고, 감마 세팅을 위한 보정 값, 픽셀들 간 구동 특성 편차/컬러 편차를 보상하기 위한 제1 보상값과 인접한 표시 패널들(PNL) 간의 경계부 편차를 보상하기 위한 제2 보상값 및 각종 화질 및 구동 제어 데이터를 저장하기 위한 플래시 메모리 및/또는 EEPROM일 수 있다. 이때, 플래시 메모리는 대용량 데이터를 저장하기 위한 용도로 사용되고, EEPROM은 저용량 데이터를 저장하기 위한 용도로 사용될 수 있다. The memory circuit MEM is a non-volatile memory that stores panel characteristics, and a correction value for gamma setting, a first compensation value for compensating for driving characteristic deviation/color deviation between pixels and adjacent display panels PNL. It may be a flash memory and/or an EEPROM for storing a second compensation value for compensating for the boundary deviation and various image quality and driving control data. At this time, the flash memory is used for storing large-capacity data, and the EEPROM may be used for storing low-capacity data.

도 3 및 도 4는 마이크로 LED 기반의 표시 패널을 보여주는 도면들이다. 그리고, 도 5는 표시 패널에 구비된 일 픽셀의 개략적인 등가 회로도이다.3 and 4 are views showing a micro LED-based display panel. 5 is a schematic equivalent circuit diagram of one pixel included in the display panel.

도 3 및 도 4를 참조하면, 표시 패널들(PNL) 각각에는 입력 영상을 재현하기 위한 픽셀 어레이가 형성된다. 픽셀 어레이에는 다수의 픽셀들이 배치됨과 아울러, 상기 픽셀들을 구동하기 위한 신호 배선들이 배치될 수 있다. 이러한 신호 배선들은 데이터 전압(Vdata)을 픽셀들에 공급하기 위한 데이터 라인들(DL)과, 게이트 신호(GSIG)를 픽셀들에 공급하기 위한 게이트 라인들(GL)과, 전원 전압을 픽셀들에 공급하기 위한 전원 라인들을 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 3 and 4 , a pixel array for reproducing an input image is formed on each of the display panels PNL. A plurality of pixels may be disposed in the pixel array, and signal lines for driving the pixels may be disposed. These signal wires include data lines DL for supplying the data voltage Vdata to the pixels, gate lines GL for supplying the gate signal GSIG to the pixels, and power supply voltage to the pixels. It may include power lines for supplying.

픽셀들 각각은 마이크로 LED 칩(μLED chip)을 발광 소자(EL)로 포함할 수 있다. 마이크로 LED 칩(μLED chip)들은 TFT 백 플레인(TFT Backplane; Thin Film Transistor Backplane) 상에 위치하는 적색 칩(μLED chip_R)들, 녹색 칩(μLED chip_G)들, 및 청색 칩(μLED chip_B)들을 포함할 수 있다. R 픽셀은 적색 칩(μLED chip_R)을 발광 소자(EL)로 포함하고, G 픽셀은 녹색 칩(μLED chip_G)을 발광 소자(EL)로 포함하고, B 픽셀은 청색 칩(μLED chip_B)을 발광 소자(EL)로 포함한다.Each of the pixels may include a micro LED chip (μLED chip) as a light emitting element EL. The micro LED chips (μLED chips) may include red chips (μLED chip_R), green chips (μLED chip_G), and blue chips (μLED chip_B) positioned on a thin film transistor backplane (TFT Backplane). can The R pixel includes a red chip (μLED chip_R) as a light emitting element (EL), the G pixel includes a green chip (μLED chip_G) as a light emitting element (EL), and the B pixel includes a blue chip (μLED chip_B) as a light emitting element. Include as (EL).

마이크로 LED 칩(μLED chip)들은 R/G/B 도너(donor)들로부터 전사됨으로써 TFT 백 플레인 상에 탑재될 수 있다. 적색 칩(μLED chip_R)들은 R 도너(R Donor)로부터 전사되고, 녹색 칩(μLED chip_G)들은 G 도너(G Donor)로부터 전사되며, 청색 칩(μLED chip_B)들은 B 도너(B Door)로부터 전사될 수 있다. 전사 기술은 정전기력, 레이저, 속도 의존적인 점착력, 하중 의존적인 점착력 등을 이용할 수 있다. 전사 기술은 이에 한정되지 않고 전자기력에 기반한 자기 조립을 이용할 수도 있다.Micro LED chips (μLED chips) can be mounted on a TFT back plane by being transferred from R/G/B donors. Red chips (μLED chip_R) are transferred from the R donor (R Donor), green chips (μLED chip_G) are transferred from the G donor (G Donor), and blue chips (μLED chip_B) are transferred from the B donor (B Door). can The transfer technology may use electrostatic force, laser, speed-dependent adhesive force, load-dependent adhesive force, and the like. The transfer technique is not limited thereto, and self-assembly based on electromagnetic force may be used.

TFT 백 플레인은 효율적인 구동을 위해 액티브 매트릭스 구조로 이루어질 수 있다. TFT 백 플레인 상에서, 데이터 라인들(DL)과 게이트 라인들(GL)과 전원 라인들에 의해 픽셀들이 정의될 수 있다. The TFT back plane may have an active matrix structure for efficient driving. On the TFT back plane, pixels may be defined by data lines DL, gate lines GL, and power lines.

복수의 픽셀들이 하나의 단위 픽셀을 구성할 수 있다. 예를 들어, 게이트 라인(GL)의 연장 방향 또는 데이터 라인(DL)의 연장 방향을 따라, 이웃하게 배치된 R(적색), G(녹색), B(청색) 픽셀들이 하나의 단위 픽셀을 구성할 수 있다. A plurality of pixels may constitute one unit pixel. For example, along the extension direction of the gate line GL or the extension direction of the data line DL, R (red), G (green), and B (blue) pixels arranged adjacently constitute one unit pixel. can do.

도 5와 같이, 일 픽셀(PXL)은 발광 소자(EL), 구동 TFT(DT), 및 노드 회로(NCON)를 포함할 수 있다. As shown in FIG. 5 , one pixel PXL may include a light emitting element EL, a driving TFT DT, and a node circuit NCON.

노드 회로(NCON)는 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)과 연결될 수 있다. 노드 회로(NCON)는 데이터 라인(DL)으로부터 데이터 전압(Vdata)을 공급받고, 게이트 라인(GL)으로부터 게이트 신호(GSIG)를 공급받는다. 노드 회로(NCON)는 게이트 신호(GSIG)에 동기하여 데이터 전압(Vdata)을 구동 TFT(DT)의 게이트 전극에 인가함으로써, 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압을 구동 전류의 생성 조건에 맞게 셋팅할 수 있다. 노드 회로(NCON)는 구동 TFT(DT)의 문턱 전압 및/또는 전자 이동도를 센싱하여 보상하는 내부 보상 회로를 포함할 수 있다.The node circuit NCON may be connected to the gate line GL and the data line DL. The node circuit NCON receives the data voltage Vdata from the data line DL and receives the gate signal GSIG from the gate line GL. The node circuit NCON applies the data voltage Vdata to the gate electrode of the driving TFT DT in synchronization with the gate signal GSIG, so that the voltage between the gate and source of the driving TFT DT meets the driving current generation condition. can be set appropriately. The node circuit NCON may include an internal compensation circuit that senses and compensates for the threshold voltage and/or electron mobility of the driving TFT DT.

구동 TFT(DT)는 게이트-소스 간 전압에 대응하여 구동 전류를 생성하는 구동 소자이다. 구동 TFT(DT)의 게이트 전극은 노드 회로(NCON)에 연결되고, 제1 전극(드레인 전극)은 고전위 픽셀전원(VDD)에 연결되며, 제2 전극(소스 전극)은 발광 소자(EL)에 연결될 수 있다.The driving TFT (DT) is a driving element that generates a driving current in response to a gate-source voltage. The gate electrode of the driving TFT (DT) is connected to the node circuit (NCON), the first electrode (drain electrode) is connected to the high potential pixel power supply (VDD), and the second electrode (source electrode) is connected to the light emitting element (EL). can be connected to

발광 소자(EL)는 구동 TFT(DT)로부터 입력되는 구동 전류에 대응되는 세기로 발광하는 발광 소자이다. 발광 소자(EL)는 무기 발광층을 포함한 마이크로 발광다이오드로 구현될 수도 있다. 발광 소자(EL)의 제1 전극은 구동 TFT(DT)에 연결되고, 제2 전극은 저전위 픽셀전원(VSS)에 연결된다.The light emitting element EL is a light emitting element that emits light with an intensity corresponding to the driving current input from the driving TFT DT. The light emitting element EL may be implemented as a micro light emitting diode including an inorganic light emitting layer. A first electrode of the light emitting element EL is connected to the driving TFT (DT), and a second electrode is connected to the low potential pixel power supply (VSS).

이러한 일 픽셀(PXL)의 연결 구성 및 동작은 일 예시일 뿐이므로, 본 명세서의 기술적 사상은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 구동 TFT(DT)와 노드 회로(NCON)는 PMOS 기반, NMOS 기반, 또는 CMOS 기반으로 구현될 수 있다. 또한, 노드 회로(NCON)에 연결된 게이트 라인(GL)이 복수개일 수 있다. 또한, 본 명세서의 발광 소자(EL)는 커먼 캐소드(common cathode)의 회로로 구현되어 있지만, 이에 제한되지 않고 커먼 애노드(common anode)의 회로로 구현될 수도 있다.Since the connection configuration and operation of one pixel (PXL) is only an example, the technical idea of the present specification is not limited thereto. For example, the driving TFT (DT) and the node circuit (NCON) may be implemented based on PMOS, NMOS, or CMOS. Also, a plurality of gate lines GL may be connected to the node circuit NCON. In addition, although the light emitting element EL of the present specification is implemented as a circuit of a common cathode, it is not limited thereto and may be implemented as a circuit of a common anode.

도 6은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 구조를 보여주는 도면이다. 그리고, 도 7은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 시퀀스를 개략적으로 보여주는 도면이다.6 is a diagram showing a structure for diagnosing a failure of a tiling display device according to an exemplary embodiment. 7 is a diagram schematically showing a failure diagnosis sequence of the tiling display device according to the present embodiment.

도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 타일링 표시장치는 자동 고장 진단을 위해, SPI 방식의 제1 인터페이스 회로와 제2 인터페이스 회로를 사용할 수 있다. 제1 인터페이스 회로는 고장 모듈(예를 들어, CPCB#2)의 불량 발생 및 위치 신호와 불량 내역 신호를 고장 모듈에서 세트 보드(SET)로 전송할 수 있다. 제2 인터페이스 회로는 세트 보드(SET)의 불량 인지 완료 신호를 세트 보드(SET)에서 고장 모듈로 전송할 수 있다. 제1 인터페이스 회로의 신호 전송 방향과 제2 인터페이스 회로의 신호 전송 방향은 서로 반대될 수 있다. Referring to FIG. 6 , the tiling display device according to the present embodiment may use an SPI type first interface circuit and a second interface circuit for automatic fault diagnosis. The first interface circuit may transmit a failure occurrence and location signal of the failure module (eg, CPCB#2) and a failure detail signal from the failure module to the set board (SET). The second interface circuit may transmit a failure recognition completion signal of the set board SET to the failure module. A signal transmission direction of the first interface circuit and a signal transmission direction of the second interface circuit may be opposite to each other.

고장 진단 시퀀스는 "Auto nID 셋팅 프로세스"와 함께 파워 온 시퀀스 구간에서 수행될 수 있다. 파워 온 시퀀스 구간은, 타일링 표시장치에서 동작 전원이 켜진 후부터 화면 출력 전까지의 시간일 수 있다. "Auto nID 셋팅 프로세스"란, 표시 모듈들이 세트 보드(SET)의 제어하에 연결 순번에 대응되는 모듈 식별 번호를 순차적으로 생성하고, 그 생성 결과를 포함한 제어 응답 신호를 제3 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)로 피드백하는 동작을 의미한다. "Auto nID 셋팅 프로세스"를 통해 각 표시 모듈은 자신의 연결 순번을 알 수 있다. The fault diagnosis sequence can be performed in the power on sequence section together with the "Auto nID setting process". The power-on sequence period may be a time from when operating power is turned on in the tiling display device to before screen output. "Auto nID setting process" means that the display modules sequentially generate module identification numbers corresponding to the connection sequence under the control of the set board (SET), and transmit a control response signal including the generation result to the set board through a third interface circuit. It means an operation that feeds back to (SET). Through "Auto nID setting process", each display module can know its connection sequence.

세트 보드(SET)는 고장 진단을 위한 시스템 온 칩 회로(SOC)를 포함한다. 시스템 온 칩 회로(SOC)는 제1 인터페이스 회로에 연결된 제1 입력 단자(L-I)와 제2 인터페이스 회로에 연결된 제2 출력 단자(LCK-O)를 포함할 수 있다.The set board (SET) includes a system on chip circuit (SOC) for fault diagnosis. The system on chip circuit (SOC) may include a first input terminal (L-I) connected to the first interface circuit and a second output terminal (LCK-O) connected to the second interface circuit.

각 표시 모듈은 서로 다른 연결 순번을 갖는 콘트롤 인쇄회로기판들(CPCB#1~CPCB#8) 중 어느 하나와 그에 대응되는 타이밍 제어부(TCON#1~TCON#8) 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 타이밍 제어부는 불량 발생 및 위치 신호와 불량 내역 신호를 생성 또는 전달하기 위한 진단 제어회로(LCON)와, 제1 인터페이스 회로에 연결된 제1 입력 단자(L-I) 및 제1 출력 단자(L-O)와, 제2 인터페이스 회로에 연결된 제2 입력 단자(LCK-I) 및 제2 출력 단자(LCK-O)를 포함할 수 있다.Each display module may include any one of the control printed circuit boards (CPCB#1 to CPCB#8) having different connection sequences and any one of the corresponding timing controllers (TCON#1 to TCON#8). . The timing control unit includes a diagnosis control circuit (LCON) for generating or transmitting a defect occurrence and location signal and a defect detail signal, a first input terminal (L-I) and a first output terminal (L-O) connected to the first interface circuit, 2 may include a second input terminal LCK-I and a second output terminal LCK-O connected to the interface circuit.

도 7을 참조하면, 세트 보드(SET)는 고장 모듈(예를 들어, CPCB#2)의 불량 발생 및 위치 신호를 제1 구간에서 제1 인터페이스 회로를 통해 고장 모듈로부터 수신한다. 그리고, 세트 보드(SET)는 제1 구간에 이은 제2 구간에서 불량 인지 완료 신호를 생성하고 제2 인터페이스 회로를 통해 불량 인지 완료 신호를 고장 모듈로 송신한다. 그리고, 세트 보드(SET)는 제2 구간에 이은 제3 구간에서 고장 모듈의 불량 내역 신호를 상기 제1 인터페이스 회로를 통해 상기 고장 모듈로부터 더 수신한다.Referring to FIG. 7 , the set board SET receives a failure occurrence and location signal of a failure module (eg, CPCB#2) from the failure module through the first interface circuit in a first period. Then, the set board (SET) generates a failure recognition completion signal in a second interval subsequent to the first interval and transmits the failure recognition completion signal to the failure module through the second interface circuit. In addition, the set board (SET) further receives the failure details signal of the faulty module from the faulty module through the first interface circuit in a third period subsequent to the second period.

불량 발생 및 위치 신호와 불량 인지 완료 신호와 불량 내역 신호는 각각, 하이 로직 전압과 로우 로직 전압 사이에서 스윙하는 펄스 신호일 수 있다.The defect generation and location signals, the defect recognition complete signal, and the defect details signal may be pulse signals that swing between a high logic voltage and a low logic voltage, respectively.

도 8 및 도 9는 본 실시예에 따른 타일링 표시장치의 고장 진단 시퀀스를 구체적으로 보여주는 도면들이다. 그리고, 도 10은 도 8 및 도 9의 불량 내역 신호에 대응되는 고장 진단 리스트의 일 예를 보여주는 도면이다. 도 8 내지 도 10에서, 고장 모듈은 연결 순번 '2'를 갖는 콘트롤 인쇄회로기판(CPCB#2)을 포함하는 경우로 예시된다.8 and 9 are diagrams showing a failure diagnosis sequence of the tiling display device according to the present embodiment in detail. And, FIG. 10 is a diagram showing an example of a failure diagnosis list corresponding to the failure detail signals of FIGS. 8 and 9 . 8 to 10, the failure module is exemplified as a case including a control printed circuit board (CPCB#2) having a connection sequence number '2'.

도 8 내지 도 10을 참조하면, 고장 모듈은 내부 버스 회선을 통해 입력되는 모니터링 신호를 주기적으로 센싱하여 불량 발생 여부를 확인하고, 불량 발생시 기 설정된 고장 진단 리스트에 불량 내역을 업데이트하고, 불량 발생 및 위치 신호를 생성할 수 있다.8 to 10, the failure module periodically senses the monitoring signal input through the internal bus line to check whether a failure occurs, updates the failure details in a preset failure diagnosis list when a failure occurs, and detects failure occurrence and A position signal can be generated.

고장 모듈은 불량 발생 및 위치 신호를 펄스 신호로 생성할 수 있다. 고장 모듈은 불량 발생 및 위치 신호를 하이 로직 전압에서 로우 로직 전압으로 트랜지션 시킨 후, 불량 발생 및 위치 신호의 전압을 자신의 연결 순번 '2'만큼 더 토글(toggle)시킬 수 있다. 이에 의해, 불량 발생 및 위치 신호는 제1 폴링 에지, 및 상기 제1 폴링 에지의 뒤에 위치하는 2개의 제1 라이징 에지들을 포함할 수 있다.The failure module may generate a failure occurrence and location signal as a pulse signal. After the failure module transitions the failure occurrence and position signal from a high logic voltage to a low logic voltage, the failure module may further toggle the voltage of the failure occurrence and position signal by '2' in its connection sequence. Accordingly, the defect occurrence and location signal may include a first falling edge and two first rising edges positioned behind the first falling edge.

고장 모듈의 불량 발생 및 위치 신호는 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 전송된다. 세트 보드(SET)는 제1 구간에서, 불량 발생 및 위치 신호의 제1 폴링 에지에 따라 고장 모듈의 불량 발생을 인지한 후, 상기 불량 발생 및 위치 신호의 제1 라이징 에지들을 카운트하고, 제1 라이징 에지들의 개수에 따라 고장 모듈의 위치를 인지할 수 있다.The failure occurrence and location signals of the failure module are transmitted to the first input terminal L-I of the set board SET through the first interface circuit. The set board (SET) recognizes the occurrence of a failure in the faulty module according to the occurrence of a failure and the first falling edge of the position signal in the first period, counts the first rising edges of the occurrence of a failure and the position signal, and The location of the faulty module can be recognized according to the number of rising edges.

세트 보드(SET)는 제1 구간에 이은 제2 구간에서, 고장 모듈의 위치를 인지했다는 것을 알리기 위한 불량 인지 완료 신호를 생성할 수 있다. 불량 인지 완료 신호는 펄스 신호이고, 하나의 제2 라이징 에지를 포함할 수 있다.The set board (SET) may generate a failure recognition completion signal for notifying that the location of the faulty module has been recognized in a second period subsequent to the first period. The defect recognition completion signal is a pulse signal and may include one second rising edge.

세트 보드(SET)의 불량 인지 완료 신호는 제2 인터페이스 회로를 통해 고장 모듈의 제2 입력 단자(LCK-I)로 전송된다. 고장 모듈은 제2 구간에서, 불량 인지 완료 신호의 제2 라이징 에지에 따라 세트 보드(SET)의 불량 인지 완료 상태를 알 수 있다.The failure recognition completion signal of the set board (SET) is transmitted to the second input terminal (LCK-I) of the failure module through the second interface circuit. The failure module may know the failure recognition completion state of the set board SET according to the second rising edge of the failure recognition completion signal in the second period.

고장 모듈은 제2 구간에 이은 제3 구간에서, 불량 내역 신호를 펄스 신호로 생성할 수 있다. 고장 모듈은 불량 내역 신호의 전압을 고장 진단 리스트의 불량 내역 설정 순번에 대응되는 개수만큼 토글(toggle)시킬 수 있다. 예를 들어, 불량 내역이 "쇼트/오픈"인 경우, 도 10의 고장 진단 리스트에서 불량 내역 설정 순번은 "2"가 되고, 고장 모듈은 불량 내역 신호의 전압을 2번 토글시킬 수 있다. 이 경우, 불량 내역 신호는 2개의 제3 라이징 에지들을 포함할 수 있다. The failure module may generate the failure details signal as a pulse signal in a third interval subsequent to the second interval. The failure module may toggle the voltage of the failure details signal as many times as the number corresponding to the order of setting failure details in the failure diagnosis list. For example, if the failure details are "short/open", the failure details setting sequence in the failure diagnosis list of FIG. 10 becomes "2", and the failure module may toggle the voltage of the failure details signal twice. In this case, the bad detail signal may include two third rising edges.

고장 모듈의 불량 내역 신호는 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 전송된다. 세트 보드(SET)는 제3 구간에서, 불량 내역 신호의 제3 라이징 에지들을 카운트하고, 제3 라이징 에지들의 개수에 따라 고장 모듈의 불량 내역을 인지할 수 있다. 제3 라이징 에지들의 개수가 2개 이므로, 세트 보드(SET)는 고장 진단 리스트에서 불량 내역 설정 순번, "2"에 해당되는 "쇼트/오픈"을 고장 모듈의 불량 내역으로 인지할 수 있다.The failure details signal of the failure module is transmitted to the first input terminal (L-I) of the set board (SET) through the first interface circuit. The set board SET may count the third rising edges of the failure details signal in the third period, and recognize the failure details of the failed module according to the number of the third rising edges. Since the number of the third rising edges is two, the set board (SET) can recognize "short/open" corresponding to "2" in the failure details setting sequence in the failure diagnosis list as failure details of the failure module.

도 11은 세트 보드에서 고장 모듈에 대한 불량 발생을 인지하는 원리를 보여주는 도면이다. 11 is a diagram showing a principle of recognizing the occurrence of a defect in a faulty module in a set board.

도 11을 참조하면, 불량 발생 및 위치 신호는 고장 모듈(CPCB#2)에서 하이 로직 전압(H)에서 로우 로직 전압(L)으로 트랜지션된다. 이 불량 발생 및 위치 신호는 세트 보드(SET)와 고장 모듈(CPCB#2) 사이에 있는 표시 모듈(CPCB#1)을 경유하는 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 전송된다. 세트 보드(SET)는 불량 발생 및 위치 신호의 제1 폴링 에지(FE)에 따라 고장 모듈(CPCB#2)의 불량 발생을 인지할 수 있다.Referring to FIG. 11 , the failure occurrence and location signals are transitioned from a high logic voltage (H) to a low logic voltage (L) in the failure module (CPCB#2). This defect occurrence and location signal is sent to the first input terminal of the set board (SET) through the first interface circuit via the display module (CPCB#1) between the set board (SET) and the failure module (CPCB#2). L-I) is transmitted. The set board SET may recognize the occurrence of a failure of the failure module CPCB#2 according to the occurrence of a failure and the first falling edge FE of the position signal.

도 12는 세트 보드에서 고장 모듈에 대한 불량 발생 위치를 인지하는 원리를 보여주는 도면이다.12 is a diagram showing a principle of recognizing a location of a defective module in a set board.

도 12를 참조하면, 불량 발생 및 위치 신호는 고장 모듈(CPCB#2)에서 하이 로직 전압(H)에서 로우 로직 전압(L)으로 트랜지션되고, 이어서 불량 발생 및 위치 신호의 전압이 고장 모듈(CPCB#2)의 연결 순번 '2'만큼 더 토글(toggle)된다. 이 불량 발생 및 위치 신호는 세트 보드(SET)와 고장 모듈(CPCB#2) 사이에 있는 표시 모듈(CPCB#1)을 경유하는 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 전송된다. 세트 보드(SET)는 불량 발생 및 위치 신호의 제1 폴링 에지에 따라 고장 모듈의 불량 발생을 인지한 후, 상기 불량 발생 및 위치 신호의 제1 라이징 에지들을 카운트하여, 연결 순번 '2'인 표시 모듈을 고장 모듈(CPCB#2)로 인지할 수 있다.Referring to FIG. 12, the defect occurrence and position signal is transitioned from a high logic voltage (H) to a low logic voltage (L) in the failure module (CPCB#2), and then the voltage of the failure occurrence and position signal is converted to the failure module (CPCB#2). It toggles more as much as '2' of the connection sequence of #2). This defect occurrence and location signal is sent to the first input terminal of the set board (SET) through the first interface circuit via the display module (CPCB#1) between the set board (SET) and the failure module (CPCB#2). L-I) is transmitted. The set board (SET) recognizes the occurrence of a failure of the faulty module according to the occurrence of a failure and the first falling edge of the position signal, and then counts the occurrence of a failure and the first rising edges of the position signal to display the connection sequence number '2'. The module can be recognized as a faulty module (CPCB#2).

고장 모듈(CPCB#2)은 정해진 시간 내에 세트 보드(SET)로부터 불량 인지 완료 신호를 수신하지 못하는 경우, 전송불량 발생 및 위치 신호를 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 재 전송할 수 있다.If the failure module (CPCB#2) does not receive the failure recognition completion signal from the set board (SET) within a set time, the transmission failure occurs and the position signal is sent to the first input terminal of the set board (SET) through the first interface circuit. (L-I) can be retransmitted.

도 13은 세트 보드에서 불량 인지 완료 신호를 고장 모듈로 전송하는 것을 보여주는 도면이다. 13 is a diagram illustrating transmission of a failure recognition completion signal from a set board to a failure module.

도 13을 참조하면, 세트 보드(SET)는 고장 모듈(CPCB#2)에 대한 불량 발생 위치를 확인한 후, 불량 인지 완료 신호를 생성한다. 세트 보드(SET)는 불량 인지 완료 신호를 제2 인터페이스 회로를 통해 고장 모듈(CPCB#2)의 제2 입력 단자(LCK-I)로 전송한다. 고장 모듈(CPCB#2)은 불량 인지 완료 신호의 제2 라이징 에지(RE)에 따라 세트 보드(SET)의 불량 인지 완료 상태를 알 수 있다.Referring to FIG. 13 , the set board (SET) checks the defect occurrence position of the malfunction module (CPCB#2), and then generates a defect recognition completion signal. The set board (SET) transmits the failure recognition completion signal to the second input terminal (LCK-I) of the failure module (CPCB#2) through the second interface circuit. The failure module CPCB#2 may know the failure recognition completion state of the set board SET according to the second rising edge RE of the failure recognition completion signal.

도 14는 고장 모듈에서 불량 인지 완료 신호를 수신한 후, 불량 내역 신호를 세트 보드로 전송하는 것을 보여주는 도면이다. 도 15는 도 14의 불량 내역 신호에 대응되는 고장 진단 리스트의 일 예를 보여주는 도면이다.14 is a diagram showing that a failure module transmits a failure details signal to a set board after receiving a failure recognition completion signal. 15 is a diagram showing an example of a failure diagnosis list corresponding to the failure detail signal of FIG. 14 .

도 14를 참조하면, 고장 모듈(CPCB#2)은 세트 보드(SET)로부터 불량 인지 완료 신호를 수신한 후, 불량 내역 신호를 펄스 신호로 생성할 수 있다. 고장 모듈(CPCB#2)은 불량 내역 신호의 전압을 고장 진단 리스트의 불량 내역 설정 순번에 대응되는 개수만큼 토글(toggle)시킬 수 있다. 예를 들어, 불량 내역이 "GIA Monitoring"인 경우, 도 15의 고장 진단 리스트에서 불량 내역 설정 순번은 "1"이 되고, 고장 모듈(CPCB#2)은 불량 내역 신호의 전압을 1번 토글시킬 수 있다. 이 경우, 불량 내역 신호는 1개의 제3 라이징 에지를 포함할 수 있다. Referring to FIG. 14 , the failure module CPCB#2 may generate a failure details signal as a pulse signal after receiving a failure recognition completion signal from the set board SET. The failure module CPCB#2 may toggle the voltage of the failure details signal by the number corresponding to the order of setting failure details in the failure diagnosis list. For example, if the failure details are "GIA Monitoring", the failure details setting sequence in the failure diagnosis list of FIG. 15 is "1", and the failure module (CPCB#2) toggles the voltage of the failure details signal once. can In this case, the defect detail signal may include one third rising edge.

고장 모듈(CPCB#2)의 불량 내역 신호는 제1 인터페이스 회로를 통해 세트 보드(SET)의 제1 입력 단자(L-I)로 전송된다. 세트 보드(SET)는 불량 내역 신호의 제3 라이징 에지를 카운트하고, 제3 라이징 에지의 개수에 따라 고장 모듈(CPCB#2)의 불량 내역을 인지할 수 있다. 세트 보드(SET)는 고장 진단 리스트를 미리 알고 있다. 제3 라이징 에지의 개수가 1개 이므로, 세트 보드(SET)는 고장 진단 리스트에서 불량 내역 설정 순번, "1"에 해당되는 "쇼트/오픈"을 고장 모듈(CPCB#2)의 불량 내역으로 판단할 수 있다.The failure details signal of the failure module CPCB#2 is transmitted to the first input terminal L-I of the set board SET through the first interface circuit. The set board SET may count the third rising edges of the failure details signal and recognize the failure details of the failure module CPCB#2 according to the number of the third rising edges. The set board (SET) knows the fault diagnosis list in advance. Since the number of the 3rd rising edge is 1, the set board (SET) judges "short/open" corresponding to "1", the order of setting the failure details in the failure diagnosis list, as the failure details of the failure module (CPCB#2) can do.

도 16은 본 실시예에 따른 타일링 표시장치에서 고장 진단 시퀀스를 구현하기 위한 각 표시 모듈의 제반 구성을 보여주는 도면이다.16 is a diagram showing overall configurations of each display module for implementing a failure diagnosis sequence in the tiling display device according to the present embodiment.

도 16을 참조하면, 각 표시 모듈은 콘트롤 인쇄회로기판(CPCB)에 실장된 타이밍 제어부(TCON)를 포함한다. 타이밍 제어부(TCON)는 불량 발생 및 위치 신호와 불량 내역 신호를 생성 또는 전달하기 위한 진단 제어회로(LCON)와, 제1 인터페이스 회로에 연결된 제1 입력 단자(L-I) 및 제1 출력 단자(L-O)와, 제2 인터페이스 회로에 연결된 제2 입력 단자(LCK-I) 및 제2 출력 단자(LCK-O)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 16 , each display module includes a timing controller (TCON) mounted on a control printed circuit board (CPCB). The timing controller TCON includes a diagnosis control circuit LCON for generating or transmitting a defect occurrence and location signal and a defect detail signal, and a first input terminal L-I and a first output terminal L-O connected to the first interface circuit. and a second input terminal LCK-I and a second output terminal LCK-O connected to the second interface circuit.

진단 제어회로(LCON)는 불량 인지부, 제1 신호 전달부, 제1 신호 생성부, 및 제2 신호 전달부를 포함할 수 있다.The diagnosis control circuit LCON may include a defect detection unit, a first signal transmission unit, a first signal generation unit, and a second signal transmission unit.

불량 인지부는 특정 주기 별로 내부 버스 회선을 통해 입력되는 불량 정보(불량 위치/불량 내역)를 실시간으로 체크하고, 불량 정보가 확인되면 제어신호를 인에에이블 시킨다.The defect recognition unit checks defect information (defect location/defect details) input through the internal bus line in real time for each specific period, and enables a control signal when the defect information is confirmed.

제1 신호 전달부는 인접한 표시 모듈로부터 전송받은 불량 발생 및 위치 신호를 확인하여 해당 신호를 제1 신호 생성부로 전달한다.The first signal transfer unit checks the defect occurrence and location signal transmitted from the adjacent display module and transfers the corresponding signal to the first signal generator.

제1 신호 생성부는 불량 인지부로부터 인에이블 된 제어신호가 입력될 때 불량 발생 및 위치 신호를 생성하여 제1 인터페이스 회로를 통해 출력한다. 제1 신호 생성부는 불량 인지부로부터 인에이블 된 제어신호가 입력되지 않고 제1 신호 전달부로부터 인접한 표시 모듈의 불량 발생 및 위치 신호가 입력되면, 입력 받은 불량 발생 및 위치 신호를 제1 인터페이스 회로를 통해 그대로 출력한다. 한편, 불량 인지부로부터 인에이블 된 제어신호가 입력되는 타이밍과, 제1 신호 전달부로부터 인접한 표시 모듈의 불량 발생 및 위치 신호가 입력되는 타이밍이 겹치는 경우, 제1 신호 생성부는 인에이블 된 제어신호에 따라 불량 발생 및 위치 신호를 생성하는 동작을 우선적으로 수행함으로써, 동작의 신뢰성을 높일 수 있다. The first signal generation unit generates a defect occurrence and location signal when an enabled control signal is input from the defect recognition unit, and outputs the signal through the first interface circuit. The first signal generation unit transmits the received defect occurrence and location signal to the first interface circuit when the control signal enabled from the defect detection unit is not input and the defect occurrence and location signal of the adjacent display module is input from the first signal transfer unit. output as it is. On the other hand, when the timing at which the control signal enabled from the failure detection unit is input and the timing at which the timing at which the occurrence and location signals of the adjacent display module are input from the first signal transmission unit overlap, the first signal generation unit enables the control signal Reliability of the operation may be increased by preferentially performing an operation of generating a defect occurrence and a location signal according to the above.

제2 신호 전달부는 인접한 표시 모듈 또는 세트 보드(SET)로부터 전송받은 불량 인지 완료 신호를 또 다른 표시 모듈로 전달한다. 고장 모듈에서, 제2 신호 전달부는 그 기능이 디스에이블될 수 있다. The second signal transfer unit transmits a failure recognition completion signal received from an adjacent display module or set board (SET) to another display module. In the faulty module, the function of the second signal delivery unit may be disabled.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.Through the above description, those skilled in the art will understand that various changes and modifications are possible without departing from the spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be determined by the claims.

SET : 세트 보드 TCON: 타이밍 제어부
CPCB: 콘트롤 인쇄회로기판
SET: set board TCON: timing control
CPCB: control printed circuit board

Claims (10)

제1 인터페이스 회로와 제2 인터페이스 회로를 통해 서로 연결된 복수의 표시 모듈들; 및
상기 복수의 표시 모듈들 중 어느 하나의 고장 모듈에서 생성된 불량 발생 및 위치 신호를 제1 구간에서 상기 제1 인터페이스 회로를 통해 상기 고장 모듈로부터 수신하고, 상기 제1 구간에 이은 제2 구간에서 불량 인지 완료 신호를 생성하고 상기 제2 인터페이스 회로를 통해 상기 불량 인지 완료 신호를 상기 고장 모듈로 송신하는 세트 보드를 포함한 타일링 표시장치.
a plurality of display modules connected to each other through a first interface circuit and a second interface circuit; and
A defect occurrence and location signal generated by any one of the failure modules among the plurality of display modules is received from the failure module through the first interface circuit in a first section, and a defect occurs in a second section subsequent to the first section. A tiling display device including a set board generating a recognition complete signal and transmitting the failure recognition complete signal to the failure module through the second interface circuit.
제 1 항에 있어서,
상기 불량 발생 및 위치 신호와 상기 불량 인지 완료 신호는 하이 로직 전압과 로우 로직 전압 사이에서 스윙하는 펄스 신호이고,
상기 불량 발생 및 위치 신호는 제1 폴링 에지, 및 상기 제1 폴링 에지의 뒤에 위치하는 적어도 하나 이상의 제1 라이징 에지를 포함하고,
상기 불량 인지 완료 신호는 제2 라이징 에지를 포함한 타일링 표시장치.
According to claim 1,
The defect occurrence and location signal and the defect recognition completion signal are pulse signals swinging between a high logic voltage and a low logic voltage;
The defect occurrence and location signal includes a first falling edge and at least one first rising edge positioned behind the first falling edge,
The defect recognition completion signal includes a second rising edge.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 구간에서 상기 세트 보드는,
상기 불량 발생 및 위치 신호의 상기 제1 폴링 에지에 따라 상기 고장 모듈의 불량 발생을 인지한 후, 상기 불량 발생 및 위치 신호의 상기 제1 라이징 에지를 카운트하고, 상기 제1 라이징 에지의 개수에 따라 상기 고장 모듈의 위치를 인지하고,
상기 제2 구간에서 상기 고장 모듈은,
상기 불량 인지 완료 신호의 상기 제2 라이징 에지에 따라 상기 세트 보드의 불량 인지 완료 상태를 인지하는 타일링 표시장치.
According to claim 2,
In the first section, the set board,
After recognizing the occurrence of a failure in the faulty module according to the first falling edge of the failure occurrence and location signal, counting the first rising edges of the failure occurrence and location signal, and recognizing the location of the faulty module;
In the second period, the failure module,
The tiling display device recognizing the failure recognition completion state of the set board according to the second rising edge of the failure recognition completion signal.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 라이징 에지의 개수는,
상기 복수의 표시 모듈들 중에서 상기 고장 모듈의 연결 위치에 따라 달라지는 타일링 표시장치.
According to claim 2,
The number of the first rising edges,
A tiling display device that varies according to a connection position of the failure module among the plurality of display modules.
제 2 항에 있어서,
상기 제1 라이징 에지의 개수는,
상기 복수의 표시 모듈들 중에서 상기 고장 모듈의 상기 제2 인터페이스 회로를 통한 연결 순번과 동일한 타일링 표시장치.
According to claim 2,
The number of the first rising edges,
The tiling display device of the plurality of display modules, the same as a connection sequence of the failure module through the second interface circuit.
제 1 항에 있어서,
상기 세트 보드는,
상기 고장 모듈의 불량 내역 신호를 상기 제2 구간에 이은 제3 구간에서 상기 제1 인터페이스 회로를 통해 상기 고장 모듈로부터 더 수신하는 타일링 표시장치.
According to claim 1,
The set board,
The tiling display device further receives a signal detailing the failure of the faulty module from the faulty module through the first interface circuit in a third period subsequent to the second period.
제 6 항에 있어서,
상기 불량 내역 신호는 하이 로직 전압과 로우 로직 전압 사이에서 스윙하는 펄스 신호이고,
상기 불량 내역 신호는 적어도 하나 이상의 제3 라이징 에지를 포함한 타일링 표시장치.
According to claim 6,
the failure specification signal is a pulse signal that swings between a high logic voltage and a low logic voltage;
The tiling display device of claim 1 , wherein the defect detail signal includes at least one third rising edge.
제 7 항에 있어서,
상기 세트 보드는,
상기 불량 내역 신호의 상기 제3 라이징 에지를 카운트하고, 상기 제3 라이징 에지의 개수에 따라 미리 설정된 고장 진단 리스트 중 어느 하나를 상기 고장 모듈의 불량 내역으로 인지하는 타일링 표시장치.
According to claim 7,
The set board,
The tiling display device counts the third rising edge of the failure details signal and recognizes one of a failure diagnosis list preset according to the number of the third rising edges as the failure details of the failure module.
제 8 항에 있어서,
상기 고장 모듈의 고장 진단 리스트는 서로 다른 설정 순번을 갖는 복수의 불량 후보 정보들을 포함하고,
상기 제3 라이징 에지의 개수는,
상기 복수의 불량 후보 정보들 중에서 상기 고장 모듈의 불량 내역의 설정 순번과 동일한 타일링 표시장치.
According to claim 8,
The failure diagnosis list of the failure module includes a plurality of failure candidate information having different setting sequences;
The number of the third rising edges,
The tiling display device of claim 1 , wherein the tiling display device is the same as a setting sequence of the failure details of the failure module among the plurality of failure candidate information.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 인터페이스 회로와 상기 제2 인터페이스 회로는 SPI(Serial Peripheral Interface)로 구현된 타일링 표시장치.
According to claim 1,
The tiling display device of claim 1 , wherein the first interface circuit and the second interface circuit are implemented as a Serial Peripheral Interface (SPI).
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