KR20230090126A - 탭핑홀 검사용 툴 모듈 - Google Patents

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KR20230090126A
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Abstract

본 발명은 탭핑홀 검사용 툴 모듈에 관련되며, 이때 탭핑홀 검사용 툴 모듈은 나사툴이 탭핑홀에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈이 탭핑홀 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있도록 테이퍼싱크(10), 툴본체(20), 가변축(30), 툴척(40), 토크센서(50)를 포함하여 주요구성으로 한다.

Description

탭핑홀 검사용 툴 모듈{Tool module for tapping hole inspection}
본 발명은 탭핑홀 검사용 툴 모듈에 관련되며, 보다 상세하게는 나사툴이 탭핑홀에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈이 탭핑홀 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있는 탭핑홀 검사용 툴 모듈에 관한 것이다.
통상 탭 가공은 제품에 드릴로 구멍을 내고, 그 구멍에 탭을 사용하여 나사산을 형성하게 되는데, 최근에는 탭 가공을 자동화하여 제품을 대량으로 생산하고 있으나, 반복적이 탭 작업에 의해 탭이 손상되어 부러지게 되면 탭 손상 여부를 알 수 없게 되어 제품 불량 또한 대량으로 발생하게 되었다.
이에 종래에 개시된 등록특허 10-1680596호에서, 과소탭 형성 검사부와 과대탭 형성 검사부가 상하 방향으로 나란하게 형성되는 검사 지그; 상기 검사 지그의 상부에 결합되어 설치되며, 상기 검사 지그를 회전시키는 회전부; 상기 회전부에 설치되며, 상기 회전부에 걸리는 토크를 감지하는 토크 감지부; 상기 회전부와 결합되어 설치되며, 상기 회전부를 상하 방향으로 구동시키는 상하 구동부; 상기 상하 구동부에 설치되며, 상기 검사 지그의 상하 방향 구동폭을 감지하는 위치 감지부; 상기 검사 지그의 하측에 설치되며, 피검사 대상 소재를 안착하는 소재 안착부; 상기 토크 감지부와 위치 감지부에 의하여 감지되는 정보를 통하여 상기 피검사 대상 소재에 형성되어 있는 탭의 정상 형성 여부를 판단하는 판단부;를 포함하고, 상기 검사 지그는, 전체적으로 봉 형태를 가지는 본체; 상기 본체의 상단에 형성되며, 상기 회전부와 결합되는 결합부; 상기 본체의 하단에 형성되며, 상기 피검사 대상 소재에 형성되는 탭과 동일한 크기를 가지는 나사산을 가지는 과소탭 형성 검사부; 상기 과소탭 형성 검사부와 이격되어 상측에 형성되며, 상기 피검사 대상 소재에 형성되는 탭과 체결되어 일정 각도 만큼 회전되는 형상을 가지는 과대탭 형성 검사부;를 포함하는 기술이 선 등록된바 있다.
그러나, 상기 종래기술은 탭의 정확한 형성 여부에 대하여 수작업에 의하지 않고 검사부의 토크값과 위치 제어를 이용하여 자동으로 검사하려는 것이나, 과소탭 형성 검사부와 과대탭 형성 검사부를 이용하여 탭의 크기가 정상 스펙보다 작은지, 큰지 여부를 판단하는 구성이므로
이에 따라 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 착안 된 것으로서, 나사툴이 탭핑홀에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈이 탭핑홀 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있는 탭핑홀 검사용 툴 모듈을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 특징은, 공작기계의 스핀들에 장착되고, 내부에 제 1로드홀(11)이 형성되는 테이퍼싱크(10); 상기 테이퍼싱크(10)에 설치되고, 제 1로드홀(11)과 동심원상에 일치되는 제 2로드홀(21)이 형성되는 툴본체(20); 상기 제 1, 2로드홀(11)(21)에 키결합되어 직선이동 및 스핀들과 함께 회전운동 가능하게 설치되고, 탄성체(32)에 의해 돌출 이송력이 작용되도록 구비되는 가변축(30); 상기 가변축(30) 단부에 설치되어, 탭 검사를 위한 나사툴(41)이 장착되고, 라쳇모듈(42)에 의해 회전방향 과부하를 흡수하도록 구비되는 툴척(40); 및 상기 툴척(40)에 설치되어, 가변축(30)을 통하여 툴척(40)으로 전달되는 토크를 검출하도록 구비되는 토크센서(50);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 위치이동을 감지하는 리미트 센서(24)가 설치되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 이동거리를 감지하는 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)가 소정의 간격으로 이격 배치되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되어 가변축(30)이 제 1, 2로드홀(11)(21)을 타고 인입되면서 제 1위치센서(25)에 감지되는 시점에 제어부에서 스핀들 회전지령이 송출되고, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이하로 검출되면 오버탭핑으로 인한 가공불량으로 판단하며, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 2, 3위치센서(26)(27)에 미 감지시 탭가공불량으로 판단하고, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 3위치센서(27)에 감지시 탭가공 양품으로 판단하도록 구비되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)는 가변축(30)을 기준으로 양측에 송, 수신 모듈(S1)(S2)이 대향하게 배치되고, 상기 가변축(30)에 설치되어 송, 수신모(S1)(S2)듈 사이를 경유하여 이동하는 감지편(34)이 구비되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 나사툴(41)은 확장검사모듈(60)에 의해 오버탭핑불량이 감지되도록 구비되고, 상기 확장검사모듈(60)은, 상기 나사툴(41)의 나사영역에 형성되는 레일홈(61)과, 레일홈(61)에 삽입되어 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이송 가능하게 설치되고, 외측면에 감지부(62a)가 형성되어 탭핑홀(T) 내주면에 접촉되며, 내측면에 제 1경사캠(62b)이 구비되는 감지블록(62)과, 레일홈(61) 내에 삽입되고, 나사툴(41) 회전축과 평행하는 방향으로 직선 이송되면서 제 1경사캠(62b)과 경사운동되는 제 2경사캠(63b)이 형성되는 캠블록(63)과, 나사툴(41) 회전 중심에 삽입되어 스프링(64a)에 의해 탄지되고, 일단이 캠블록(63)에 연결되며, 다른 일단은 나사툴(41) 외측으로 노출되어 접지부(64b)를 형성하는 감지핀(64)과, 툴척(40) 내부에 설치되고, 감지핀(64)의 접지부(64b)에 접촉되어, 탭핑홀(T) 검사공정 중에 감지핀(64) 변위량을 검출하는 변위센서(65)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 나사 결합하여 검사공정을 수행시, 감지블록(62)의 감지부(62a)가 탭핑홀(T) 내주면에 접지된 상태로 회전하고, 감지블록(62)이 탭핑홀(T) 사이즈에 대응하여 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이동되면서 제 1, 2경사캠(62b)(63b)에 의해 감지핀(64)이 위치 이동되고, 감지핀(64) 변위량이 변위센서(65)에 의해 검출되도록 구비되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 레일홈(61)은 감지블록(62)의 감지부(62a)는 나사툴(41)의 나사산과 일치되는 나사산으로 형성되거나, 라운딩부로 형성되는 것을 특징으로 한다.
이상의 구성 및 작용에 의하면, 본 발명은 나사툴이 탭핑홀에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈이 탭핑홀 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 탭핑홀 검사용 툴 모듈을 전체적으로 나타내는 구성도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 탭핑홀 검사용 툴 모듈의 확장검사모듈을 나타내는 구성도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 탭핑홀 검사용 툴 모듈을 전체적으로 나타내는 구성도이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 탭핑홀 검사용 툴 모듈의 확장검사모듈을 나타내는 구성도이다.
본 발명은 탭핑홀 검사용 툴 모듈에 관련되며, 이때 탭핑홀 검사용 툴 모듈은 나사툴이 탭핑홀에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈이 탭핑홀 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있도록 테이퍼싱크(10), 툴본체(20), 가변축(30), 툴척(40), 토크센서(50)를 포함하여 주요구성으로 한다. 여기서 탭핑홀은 탭에 의해 형성되는 암나사홀을 일컫는다.
본 발명에 따른 테이퍼싱크(10)는 공작기계의 스핀들에 장착되고, 내부에 제 1로드홀(11)이 형성된다.
상기 테이퍼싱크(10)는 머시닝 센터를 포함하는 공작기계의 스핀들 척에 착탈가능하게 장착되도록 상부로 갈수록 지름이 축소되는 테이퍼형으로 형성되고, 중앙에 후술하는 가변축(30)이 직선 이송가능하게 삽입되는 제 1로드홀(11)이 형성된다.
또한, 본 발명에 따른 툴본체(20)는 상기 테이퍼싱크(10)에 설치되고, 제 1로드홀(11)과 동심원상에 일치되는 제 2로드홀(21)이 형성된다.
상기 툴본체(20)는 테이퍼싱크(10) 저면에 볼트 체결되고, 내부에 후술하는 가변축(30)을 직선 이송가능하게 안내하는 제 2로드홀(21)이 형성된다.
또한, 본 발명에 따른 가변축(30)은 제 1, 2로드홀(11)(21)에 키결합되어 직선이동 및 스핀들과 함께 회전운동 가능하게 설치되고, 탄성체(32)에 의해 돌출 이송력이 작용되도록 구비된다.
상기 가변축(30)은 키와 키홈, 스플라인과 보스를 포함하는 키결합에 의해 연결된다.
그리고, 상기 가변축(30)은 제 1로드홀(11)에 삽입되는 탄성체(32)에 의해 하향 돌출 이송력이 작용하도록 구비되고, 스톱퍼에 의해 돌출 길이가 제한된다.
이처럼 상기 가변축(30)은 키결합에 의해 회전축선 방향으로 직선이동 가능함과 더불어 스핀들과 함께 회전운동 가능하게 설치되어, 후술하는 나사툴(41)을 이용한 탭핑홀(T) 검사시, 나사툴(41)이 간섭없이 탭핑홀(T)과 나사결합에 의해 피치이송되도록 구비된다.
또한, 본 발명에 따른 툴척(40)은 상기 가변축(30) 단부에 설치되어, 탭 검사를 위한 나사툴(41)이 장착되고, 라쳇모듈(42)에 의해 회전방향 과부하를 흡수하도록 구비된다.
상기 라쳇모듈(42)은 툴척(40) 회전 운동방향으로 작용하는 부하가 설정값 이상으로 작용시 가변축(30)으로부터 전달되는 회전력을 흡수하는 구성이다.
그리고, 상기 라쳇모듈(42)은 탭핑홀(T) 검사시, 나사툴(41)이 탭핑홀(T)을 타고 피치이송되는 중에 과부하가 걸리면 동력을 차단하여 나사툴(41) 손상을 방지하게 된다.
여기서, 상기 나사툴(41)은 탭핑홀(T)과 나사결합되도록 나사영역이 형성되는 검사툴이다.
또한, 본 발명에 따른 토크센서(50)는 상기 툴척(40)에 설치되어, 가변축(30)을 통하여 툴척(40)으로 전달되는 토크를 검출하도록 구비된다.
상기 토크센서(50)는 가변축(30)과 툴척(40)이 접하는 연결부에 설치되고, 나사툴(41)은 탭핑홀(T)과 나사결합되어 피치이송되는 중에 작용하는 토크를 검출하며, 검출된 토크 값은 제어부로 전달되어 탭핑홀(T)의 불량을 판단하는 데이터로 이용된다.
이때, 상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 위치이동을 감지하는 리미트 센서(24)가 설치된다.
상기 리미트 센서(24)는 가변축(30)의 위치이동을 감지하는 방식으로 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되는 시점을 검출하고, 리미트 센서(24)에 의해 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되는 시점에 후술하는 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)를 활성화하도록 구비된다.
한편, 상기 리미트 센서(24)에 의해 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되는 시점이 정확하게 검출되고, 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되는 순간 제어부에서 스핀들 회전지령을 송출하도록 구성가능하여 수치제어 장치를 포함하는 고가의 장비를 이용하지 않고도 탭핑홀(T) 검사가 가능하다.
또한, 상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 이동거리를 감지하는 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)가 소정의 간격으로 이격 배치된다.
상기 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)는 가변축(30)을 기준으로 양측에 송, 수신 모듈(S1)(S2)이 대향하게 배치되고, 상기 가변축(30)에 설치되어 송, 수신모(S1)(S2)듈 사이를 경유하여 이동하는 감지편(34)이 구비된다.
작동상에 있어서, 상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되어 가변축(30)이 제 1, 2로드홀(11)(21)을 타고 인입되면서 제 1위치센서(25)에 감지되는 시점에 제어부에서 스핀들 회전지령이 송출된다.
그리고, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이하로 검출되면 오버탭핑으로 인한 가공불량으로 판단하고, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 2, 3위치센서(26)(27)에 미 감지시 탭가공불량으로 판단하게 된다.
또, 상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 3위치센서(27)에 감지시 탭가공 양품으로 판단하도록 구비된다.
도 2에서, 상기 나사툴(41)은 확장검사모듈(60)에 의해 오버탭핑불량이 감지되도록 구비된다.
상기 확장검사모듈(60)은, 상기 나사툴(41)의 나사영역에 형성되는 레일홈(61)과, 레일홈(61)에 삽입되어 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이송 가능하게 설치되고, 외측면에 감지부(62a)가 형성되어 탭핑홀(T) 내주면에 접촉되며, 내측면에 제 1경사캠(62b)이 구비되는 감지블록(62)과, 레일홈(61) 내에 삽입되고, 나사툴(41) 회전축과 평행하는 방향으로 직선 이송되면서 제 1경사캠(62b)과 경사운동되는 제 2경사캠(63b)이 형성되는 캠블록(63)과, 나사툴(41) 회전 중심에 삽입되어 스프링(64a)에 의해 탄지되고, 일단이 캠블록(63)에 연결되며, 다른 일단은 나사툴(41) 외측으로 노출되어 접지부(64b)를 형성하는 감지핀(64)과, 툴척(40) 내부에 설치되고, 감지핀(64)의 접지부(64b)에 접촉되어, 탭핑홀(T) 검사공정 중에 감지핀(64) 변위량을 검출하는 변위센서(65)를 포함한다.
이때, 상기 레일홈(61)은 감지블록(62)의 감지부(62a)는 나사툴(41)의 나사산과 일치되는 나사산으로 형성되거나, 라운딩부로 형성되어 탭핑홀(T) 내주면을 타고 이동된다.
이처럼 상기 감지블록(62)이 제 1, 2경사캠(62b)(63b)에 의해 캠블록(63)과 경사운동되어 직교하는 방향으로 이송력이 전환 전달되도록 유기적인 결합관계를 가지므로, 감지블록(62)이 탭핑홀(T) 내주면에 가압되어 레일홈(61) 내측으로 인입되면 캠블록(63)이 감지핀(64)과 함께 상향 이송되고, 반대로 감지블록(62)이 레일홈(61) 외측으로 이동되면 캠블록(63)이 감지핀(64)과 함께 하향 이송되며, 이때 변위센서(65)가 감지핀(64)의 변위량을 검출하여 탭핑홀(T) 내주면 사이즈를 검출하게 된다.
즉, 상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 나사 결합하여 검사공정을 수행시, 감지블록(62)의 감지부(62a)가 탭핑홀(T) 내주면에 접지된 상태로 회전하고, 감지블록(62)이 탭핑홀(T) 사이즈에 대응하여 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이동되면서 제 1, 2경사캠(62b)(63b)에 의해 감지핀(64)이 위치 이동되고, 감지핀(64) 변위량이 변위센서(65)에 의해 검출되도록 구비되고, 이때 변위센서(65)를 통하여 검출된 변위값이 제어부에 설정된 값을 초과하면 오버탭핑불량으로 판단하게 된다.
이처럼 상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 나사 결합되어 피치이송되는 중에 토크값 및 허용토크 범위내에서 피치이송 거리 값을 연산하여 탭핑홀(T) 가공불량을 검출함과 동시에 확장검사모듈(60)이 탭핑홀(T) 내주면 사이즈 변위량을 측정하여 오버탭핑불량을 복합적으로 검출할 수 있도록 구비된다.
10: 테이퍼싱크 20: 툴본체
30: 가변축 40: 툴척
50: 토크센서

Claims (8)

  1. 공작기계의 스핀들에 장착되고, 내부에 제 1로드홀(11)이 형성되는 테이퍼싱크(10);
    상기 테이퍼싱크(10)에 설치되고, 제 1로드홀(11)과 동심원상에 일치되는 제 2로드홀(21)이 형성되는 툴본체(20);
    상기 제 1, 2로드홀(11)(21)에 키결합되어 직선이동 및 스핀들과 함께 회전운동 가능하게 설치되고, 탄성체(32)에 의해 돌출 이송력이 작용되도록 구비되는 가변축(30);
    상기 가변축(30) 단부에 설치되어, 탭 검사를 위한 나사툴(41)이 장착되고, 라쳇모듈(42)에 의해 회전방향 과부하를 흡수하도록 구비되는 툴척(40); 및
    상기 툴척(40)에 설치되어, 가변축(30)을 통하여 툴척(40)으로 전달되는 토크를 검출하도록 구비되는 토크센서(50);를 포함하는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 위치이동을 감지하는 리미트 센서(24)가 설치되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 툴본체(20) 상에 가변축(30)의 이동거리를 감지하는 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)가 소정의 간격으로 이격 배치되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 터치되어 가변축(30)이 제 1, 2로드홀(11)(21)을 타고 인입되면서 제 1위치센서(25)에 감지되는 시점에 제어부에서 스핀들 회전지령이 송출되고,
    상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이하로 검출되면 오버탭핑으로 인한 가공불량으로 판단하며,
    상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 2, 3위치센서(26)(27)에 미 감지시 탭가공불량으로 판단하고,
    상기 토크센서(50) 검출 값이 설정된 값 이상으로 검출되는 시점에 가변축(30)이 제 3위치센서(27)에 감지시 탭가공 양품으로 판단하도록 구비되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  5. 제 3항에 있어서,
    상기 제 1, 2, 3위치센서(25)(26)(27)는 가변축(30)을 기준으로 양측에 송, 수신 모듈(S1)(S2)이 대향하게 배치되고, 상기 가변축(30)에 설치되어 송, 수신모(S1)(S2)듈 사이를 경유하여 이동하는 감지편(34)이 구비되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 나사툴(41)은 확장검사모듈(60)에 의해 오버탭핑불량이 감지되도록 구비되고,
    상기 확장검사모듈(60)은,
    상기 나사툴(41)의 나사영역에 형성되는 레일홈(61)과,
    레일홈(61)에 삽입되어 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이송 가능하게 설치되고, 외측면에 감지부(62a)가 형성되어 탭핑홀(T) 내주면에 접촉되며, 내측면에 제 1경사캠(62b)이 구비되는 감지블록(62)과,
    레일홈(61) 내에 삽입되고, 나사툴(41) 회전축과 평행하는 방향으로 직선 이송되면서 제 1경사캠(62b)과 경사운동되는 제 2경사캠(63b)이 형성되는 캠블록(63)과,
    나사툴(41) 회전 중심에 삽입되어 스프링(64a)에 의해 탄지되고, 일단이 캠블록(63)에 연결되며, 다른 일단은 나사툴(41) 외측으로 노출되어 접지부(64b)를 형성하는 감지핀(64)과,
    툴척(40) 내부에 설치되고, 감지핀(64)의 접지부(64b)에 접촉되어, 탭핑홀(T) 검사공정 중에 감지핀(64) 변위량을 검출하는 변위센서(65)를 포함하는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 나사툴(41)이 탭핑홀(T)에 나사 결합하여 검사공정을 수행시, 감지블록(62)의 감지부(62a)가 탭핑홀(T) 내주면에 접지된 상태로 회전하고, 감지블록(62)이 탭핑홀(T) 사이즈에 대응하여 나사툴(41) 회전축과 직교하는 방향으로 직선 이동되면서 제 1, 2경사캠(62b)(63b)에 의해 감지핀(64)이 위치 이동되고, 감지핀(64) 변위량이 변위센서(65)에 의해 검출되도록 구비되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
  8. 제 6항에 있어서,
    상기 레일홈(61)은 감지블록(62)의 감지부(62a)는 나사툴(41)의 나사산과 일치되는 나사산으로 형성되거나, 라운딩부로 형성되는 것을 특징으로 하는 탭핑홀 검사용 툴 모듈.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH09280854A (ja) * 1996-04-18 1997-10-31 Sanmei:Kk ネジ穴検査装置
KR101371888B1 (ko) * 2013-07-08 2014-03-10 김수권 탭 깊이에 따른 회전력과 마찰력에 의해 자동화 실시되는 탭 검사장치
KR101788976B1 (ko) * 2016-06-07 2017-11-15 전규태 Ｍｃｔ에 적용되는 탭가공 불량 검사모듈 및 이를 이용한 탭가공 불량 진단 시스템 장치

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