KR20230082108A - Pogo Pin Having Long Stroke - Google Patents

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Abstract

A pogo pin having a long stroke, according to the present invention, performs an electric connection between an upper probe (10) and a lower probe (20), wherein the upper probe (10) and the lower probe (20) are elastically supported by a coil spring (30). In a through-hole (31) surrounded by the coil spring (30) coiling, a plug bar (11) can slide with a first clipping bar (21) and a second clipping bar (22) while the plug bar (11) of the upper probe (10) is clipped between the first clipping bar (21) and the second clipping bar (22) of the lower probe (20). The lower probe (20) is configured by bending a cut metal plate material with one piece and has one or more contact cantilevers (23, 24) on the opposite of the first clipping bar (21) and the second clipping bar (22). The one or more contact cantilevers (23, 24) have an inclination angle beyond the verticality by the bending of the metal plate material.

Description

롱 스트로크를 가진 포고핀{Pogo Pin Having Long Stroke}Pogo Pin Having Long Stroke {Pogo Pin Having Long Stroke}

본 발명은 롱 스트로크(Long Stroke)를 가진 포고핀, 구체적으로는 코일 스프링의 관통공을 통하여 전기신호의 전달이 수행되는 포고핀에 관한 것이다.The present invention relates to a pogo pin having a long stroke, and more specifically, to a pogo pin in which an electrical signal is transmitted through a through hole of a coil spring.

포고핀(Pogo Pin)은 반도체 웨이퍼, LCD 모듈 및 반도체 패키지 등의 검사 장비를 비롯하여, 각종 소켓, 핸드폰의 배터리 연결부 등에 널리 사용되는 부품이다. 특히 반도체 패키지 및 반도체 웨이퍼 등에 사용되는 검사장비 및 소켓 등에 사용되는 경우, 수백 내지 수천개에 이르는 핀, 단자 또는 리드에 대응하기 위하여 단일 포고핀이 차지하는 외경은 극소의 사이즈로 내몰리는 반면, 상하 이동의 완충거리인 스트로크(Stroke)는 이에 비해 상대적으로 길어야 한다. 각종 응용에서 작은 포고핀의 외경 및 길이에 대비하여 스트로크는 극대화되기를 원하고 있으며, 동일 외경에서 보다 긴 스트로크, 동일 길이에서 보다 긴 스트로크를 가지는 것이 선호된다.A pogo pin is a part widely used in inspection equipment such as semiconductor wafers, LCD modules and semiconductor packages, as well as various sockets and battery connection parts of mobile phones. In particular, when used in inspection equipment and sockets used for semiconductor packages and semiconductor wafers, the outer diameter occupied by a single pogo pin is driven to a very small size in order to cope with hundreds to thousands of pins, terminals, or leads, while vertical movement Stroke, which is the buffering distance, should be relatively long. In various applications, the stroke is desired to be maximized in comparison to the outer diameter and length of the small pogo pin, and it is preferred to have a longer stroke at the same outer diameter and a longer stroke at the same length.

특히, 고성능 CPU의 테스트 용도에 사용되는 소켓에서는 엄청난 핀 수를 필요로 하고 좁은 공간에 엄청난 수의 포고핀이 배치되어야 하므로, 매우 작은 외경을 가질 수밖에 없음에도 상대적으로 긴 스트로크가 요구된다.In particular, a socket used for testing of a high-performance CPU requires a huge number of pins and a huge number of pogo pins must be placed in a small space, so a relatively long stroke is required despite having a very small outer diameter.

한편, 소켓에 배치될 포고핀의 갯수가 기하급수적으로 증가하는 만큼 단일 스프링의 스프링 포스(Spring Force)는 작아지는데, 소켓에서 반도체 패키지를 가압해야 할 총합은 포고핀의 갯수에 비례하여 늘어나는 반면 소켓의 가압 능력에 한계가 있기 때문이다. 또한, 포고핀의 보다 작은 외경은 이에 포함되는 코일 스프링의 보다 작은 외경으로 귀결되며, 이에 따라 각 코일 스프링의 스프링 포스도 작아진다.On the other hand, as the number of pogo pins to be placed in the socket increases exponentially, the spring force of a single spring decreases. This is because there is a limit to the pressurizing ability of In addition, a smaller outer diameter of the pogo pin results in a smaller outer diameter of the coil springs included therein, and thus the spring force of each coil spring is also smaller.

각 포고핀에서의 보다 작은 스프링 포스는 다른 문제를 야기하는데, 포고핀의 탐침과 그 접촉 대상 사이에서 원치않는 저항을 증가시켜 전기적 특성을 저하시킨다. 특히 포고핀의 하부탐침과 PCB의 패드 사이에 존재하는 이물질이나 PCB 패드의 자연 산화막은 이와 같은 문제의 원인이 되는데, 보다 작아진 스프링 포스는 이러한 문제를 더욱 어렵게 한다. 나아가, 포고핀(패드) 사이의 피치와 탐침의 외경이 극소화됨에 따라 매우 작은 파티클도 접촉을 방해하거나 저항을 증대시키는 이물질로 작용할 수 있다.The smaller spring force at each pogo pin causes another problem, which increases unwanted resistance between the probe of the pogo pin and its contact object, thereby degrading the electrical properties. In particular, a foreign substance existing between the lower probe of the pogo pin and the pad of the PCB or a natural oxide film of the PCB pad causes this problem, and the smaller spring force makes this problem more difficult. Furthermore, as the pitch between the pogo pins (pads) and the outer diameter of the probe are minimized, even very small particles may interfere with contact or act as foreign substances that increase resistance.

본 발명의 목적은 작은 포고핀의 외경과 길이에 대비하여 상대적으로 긴 스트로크를 가진 포고핀을 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide a pogo pin having a relatively long stroke compared to the outer diameter and length of a small pogo pin.

또한 본 발명의 다른 목적은 고집적 환경에서도 탐침과 접촉대상 사이의 전기적 접촉 특성을 유지하거나 향상시킬 수 있는 포고핀을 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide a pogo pin capable of maintaining or improving electrical contact characteristics between a probe and a contact target even in a highly integrated environment.

본 발명의 일 양상에 따른 롱 스트로크를 가진 포고핀은, 상부 탐침(10)과 하부 탐침(20) 사이의 전기적 연결을 수행하되, 코일 스프링(30)에 의하여 상기 상부 탐침(10) 및 상기 하부 탐침(20)이 탄성적으로 지지되는 포고핀에 있어서, 상기 코일 스프링(30)이 권회하면서 둘러싸는 관통공내에서, 상기 하부 탐침(20)의 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22) 사이에 상기 상부 탐침(10)의 플러그바(11)를 협지하여 접촉한 상태로, 상기 플러그바(11)가 상기 제 1 협지바(21) 및 상기 제 2 협지바(22)와 슬라이딩가능하며, 상기 하부 탐침(20)은, 1 피스의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되며, 상기 제 1 협지바(21) 및 상기 제 2 협지바(22)의 반대쪽에 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)를 구비하되, 상기 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)는 상기 금속 판형재의 절곡에 의해 수직으로부터 벗어난 경사각을 가지게 되는 것을 특징으로 한다.The pogo pin having a long stroke according to an aspect of the present invention performs electrical connection between the upper probe 10 and the lower probe 20, but the upper probe 10 and the lower probe 10 are connected by the coil spring 30. In the pogo pin on which the probe 20 is supported elastically, the first clamping bar 21 and the second clamping bar of the lower probe 20 are provided in a through hole surrounded by the coil spring 30 while being wound. 22) in a state where the plug bar 11 of the upper probe 10 is pinched and in contact with each other, the plug bar 11 slides with the first gripping bar 21 and the second gripping bar 22 It is possible, and the lower probe 20 is constructed by bending a one-piece cut metal plate shape, and one or more contact rectifiers on opposite sides of the first clamping bar 21 and the second clamping bar 22 ( 23 and 24), but the at least one contact cantilever (23, 24) is characterized in that it has an inclination angle deviated from vertical due to bending of the metal plate member.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대해 가압되기 전, 상기 경사각은 25°내지 65°사이의 어느 한 초기 각도를 가지며, 상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대해 가압되면 상기 초기 각도보다 큰 각도를 가지도록 변화하거나, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 구부러질 수 있다.In the pogo pin having the long stroke described above, before the lower probe 20 is pressed against the external pad, the inclination angle has an initial angle between 25° and 65°, and the lower probe 20 has an initial angle between 25° and 65°. When pressed against the external pad, it may change to have an angle greater than the initial angle, or the first contact dowel 23 and the second contact dowel 24 may be bent.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)는 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)로 구성되며, 마주하는 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)와 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24) 사이는 상광하협(上廣下峽)의 모양으로 구성될 수 있다.In the pogo pin having the long stroke, the at least one contact cantilever 23, 24 is composed of a first contact cantilever 23 and a second contact cantilever 24, and the first contact cantilever 23 faces each other. ) and the second contact cantilever 24 may be configured in an upper and lower narrow shape.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대한 가압이 증가함에 따라, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 외부 패드에 접촉하는 제 1 접촉지점과 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 상기 외부 패드에 접촉하는 제 2 접촉지점 사이가 가까워질 수 있다.In the pogo pin having the long stroke, as the pressure of the lower probe 20 on the external pad increases, the first contact lever 23 contacts the external pad and the first contact point at which the first contact lever 23 contacts the external pad. A second contact point at which the two contact cantilever 24 contacts the external pad may be close to each other.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단과 상기 제 2 컨택 컨킬레버(24)의 선단이 높이 차이를 가지도록 구성되되, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 상기 제 2 컨택 컨킬레버(24)의 선단 보다 더 높은 위치가 되도록 할 수 있다.In the pogo pin having the long stroke, the tip of the first contact cantilever 23 and the tip of the second contact cantilever 24 are configured to have a height difference, and the first contact cantilever 23 The tip of may be at a higher position than the tip of the second contact concave lever 24 .

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대하여 가압됨에 따라, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)와 점차 가까워지고 결국 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 지지하게 될 수 있다.In the pogo pin having the long stroke, as the lower probe 20 is pressed against the external pad, the tip of the first contact cantilever 23 gradually approaches the second contact cantilever 24 and finally The first contact cantilever 23 may support the second contact cantilever 24 by contacting a side surface of the second contact cantilever 24 .

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 하부 탐침(20)은, 상기 제 1 협지바(21)의 하측으로 적어도 제 1 중앙부(25)를 개재하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 연결되고, 상기 제 2 협지바(22)의 하측으로 적어도 제 2 중앙부(26)를 개재하여 상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)가 연결되며, 상기 제 1 중앙부(25)와 상기 제 2 중앙부(26)는 서로 대향하며, 상기 제 1 중앙부(25)의 일 측단과 상기 제 2 중앙부(26)의 일 측단에서 각각 절곡된 후 상기 제 1 중앙부(25)와 상기 제 2 중앙부(26)를 연결하는 연결부(28)를 구비할 수 있다.In the pogo pin having the long stroke, the lower probe 20 is connected to the lower side of the first clamping bar 21 through at least the first central portion 25 and the first contact cantilever 23 is connected thereto. The second contact tilt lever 24 is connected to the lower side of the second clamping bar 22 through at least a second central portion 26, and the first central portion 25 and the second central portion 26 is opposite to each other, and is bent at one side end of the first central portion 25 and one side end of the second central portion 26, respectively, and then connecting the first central portion 25 and the second central portion 26 to each other. (28) can be provided.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 제 1 중앙부(25)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되는 제 1 날개부(29a)와, 상기 제 2 중앙부(26)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되는 제 2 날개부(29b)를 구비하며, 상기 제 1 날개부(29a)의 자유단과 상기 제 2 날개부(29b)의 자유단이 서로 맞대어질 수 있다.In the pogo pin having the long stroke described above, after being bent at the other side end of the first central portion 25 and connected to the first wing portion 29a, after being bent at the other side end of the second central portion 26, A second wing portion 29b is connected, and the free end of the first wing portion 29a and the free end of the second wing portion 29b may face each other.

상기한 롱 스트로크를 가진 포고핀에 있어서, 상기 제 1 중앙부(25)의 상측으로 제 1 S자 절곡부(27a)를 개재하여 상기 제 1 협지바(21)가 연결된 후 상기 제 1 협지바(21)가 상측으로 연장되며, 상기 제 1 중앙부(25)의 하측에 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 상단이 연결되며, 상기 제 2 중앙부(26)의 상측으로 제 2 S자 절곡부(27b)를 개재하여 상기 제 2 협지바(22)가 연결된 후 상기 제 2 협지바(22)가 상측으로 연장되며, 상기 제 2 중앙부(26)의 하측에 상기 제 2 컨택 컨틸레버(23)의 상단이 연결될 수 있다.In the pogo pin having the long stroke described above, after the first clamping bar 21 is connected to the upper side of the first central portion 25 via the first S-shaped bent part 27a, the first clamping bar ( 21) extends upward, the upper end of the first contact tilt lever 23 is connected to the lower side of the first central portion 25, and the second S-shaped bent portion 27b extends upward to the second central portion 26. After the second clamping bar 22 is connected through a ), the second clamping bar 22 extends upward, and the upper end of the second contact cantilever 23 is at the lower side of the second central portion 26. can be connected

본 발명의 일 양상에 따른 포고핀은, 상부 탐침(10)과 하부 탐침(20) 사이의 전기적 연결을 수행하되, 코일 스프링(30)에 의하여 상기 상부 탐침(10) 및 상기 하부 탐침(20)이 탄성적으로 지지되는 포고핀에 있어서, 상기 상부 탐침(10) 또는 상기 하부 탐침 중의 어느 하나는, 1 피스의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되며, 외부와의 전기적 접촉을 수행하는 제 2 컨택 컨틸레버(24)와, 그 선단이 상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 측면을 향하는 제 1 컨택 컨틸레버(23)를 구비하며, 상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)는 상기 금속 판형재의 절곡에 의해 수직으로부터 벗어난 경사각을 가지는 것을 특징으로 한다.The pogo pin according to one aspect of the present invention performs electrical connection between the upper probe 10 and the lower probe 20, but the upper probe 10 and the lower probe 20 are connected by the coil spring 30. In this elastically supported pogo pin, either the upper probe 10 or the lower probe is constructed by bending a one-piece cut metal plate shape, and performs electrical contact with the outside. It includes a contact cantilever 24 and a first contact cantilever 23 whose front end faces the side of the second contact cantilever 24, and the second contact cantilever 24 is vertical by bending the metal plate shape. It is characterized in that it has an inclination angle deviating from

상기한 포고핀에 있어서, 상기 어느 하나의 탐침이 가압됨에 따라, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)와 점차 가까워지고 결국 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 지지하게 될 수 있다.In the pogo pin described above, as one of the probes is pressed, the tip of the first contact cantilever 23 gradually approaches the second contact cantilever 24 and eventually the second contact cantilever 24 In contact with the side surface, the first contact cantilever 23 may support the second contact cantilever 24 .

본 발명의 일 양상에 따른 포고핀은 작은 포고핀의 외경과 길이에 대비하여 상대적으로 긴 스트로크를 가질 수 있는 장점이 있다.The pogo pin according to one aspect of the present invention has the advantage of having a relatively long stroke compared to the outer diameter and length of the small pogo pin.

또한 본 발명의 일 양상에 따른 포고핀은 혹시 컨택 컨틸레버와 외부패드 사이에 개재될 수 있는 파티클을 팅겨낼 수 있고, 자연 산화막 등은 긁어낼 수 있으며, 동시에 외부 패드를 약간 파고들 수 있는 작용을 함으로써, 고집적 환경에서도 하부 탐침과 접촉대상(외부 패드) 사이의 전기적 접촉 특성을 유지하거나 향상시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the pogo pin according to one aspect of the present invention can scrape out particles that may be intervened between the contact lever and the external pad, scrape off the natural oxide film, and at the same time slightly penetrate the external pad. By doing so, there is an effect of maintaining or improving electrical contact characteristics between the lower probe and the contact target (external pad) even in a highly integrated environment.

또한 본 발명의 일 양상에 따른 포고핀은 제한된 일정 범위내에서만 컨택 컨틸레버의 휨현상을 허용하거나 크게 하는 효과를 가지며, 소켓의 제한된 가압능력을 수많은 포고핀이 나누어 써야 하는 상황에서, 보다 잘 적응할 수 있는 장점이 있다. 또한 본 발명의 일 양상에 따른 포고핀은 두 컨택 컨틸레버의 휨강성을 서로 다르게 설계해도 되는 장점이 있다.In addition, the pogo pin according to one aspect of the present invention has an effect of allowing or increasing the bending of the contact cantilever only within a limited range, and in a situation where a number of pogo pins have to share the limited pressing capacity of the socket, it can be better adapted There are advantages. In addition, the pogo pin according to one aspect of the present invention has the advantage that the bending stiffness of the two contact cantilevers can be designed differently.

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀에서 하부 탐침을 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀들이 탑재된 소켓의 일부분을 도시한 것이다.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀을 이용하여 외부 패드와 접촉하는 상황을 도시한 것으로서, 도 4(a)는 외부 패드와 접촉을 시작하는 시점에서의 상황을 도시한 것이고 도 4(b)는 하부탐침이 외부패드를 가압하고 있는 시점에서의상황을 도시한 것이다.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀(1)을 도시한 것이다.
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀(1)에서 하부탐침(20)을 도시한 것이다.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀을 이용하여 외부 패드와 접촉하는 상황을 도시한 것으로서, 도 7(a)는 외부 패드와 접촉을 시작하는 시점에서의 상황을 도시한 것이고 도 7(b)는 하부탐침이 외부패드를 가압하고 있는 시점에서의 상황을 도시한 것이다.1 is a view showing a pogo pin according to a first embodiment of the present invention.
2 shows a lower probe in the pogo pin according to the first embodiment of the present invention.
3 shows a part of a socket in which pogo pins according to the first embodiment of the present invention are mounted.
4 shows a situation in which contact is made with an external pad using a pogo pin according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4(b) shows the situation at the time when the lower probe presses the external pad.
5 shows a pogo pin 1 according to a second embodiment of the present invention.
6 shows the lower probe 20 in the pogo pin 1 according to the second embodiment of the present invention.
7 shows a situation in which contact is made with an external pad using a pogo pin according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 7(b) shows the situation when the lower probe presses the external pad.

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀을 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀에서 하부 탐침을 도시한 것이며, 도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀들이 탑재된 소켓의 일부분을 도시한 것이다.1 is a view showing a pogo pin according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 shows a lower probe of the pogo pin according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a view showing a first embodiment of the present invention. It shows a part of the socket in which the pogo pins according to the embodiment are mounted.

본 발명의 실시예에 따른 포고핀(1)은 소켓에 탑재되는데, 예를 들어 상부 소켓 몸체(2a; 도 3 참조) 및 하부 소켓 몸체(2b)가 결합된 소켓 몸체(2)의 수직 관통공들내에 안착되어 소켓의 구성요소가 된다. 도시에서는 소켓 몸체(2)가 상부 소켓 몸체(2a) 및 하부 소켓 몸체(2b)로 된 2개의 바디가 결합하여 구성되는 구조로 되었으나, 소켓 몸체가 단일의 바디로 구성되는 구조이어도 되며, 도시에서는 이해의 편의상 8개의 포고핀(1)만 도시되었으나, 실제품에서는 수백 내지 수천개가 2차원 어레이로 구성되는 것이 일반적이다.The pogo pin 1 according to the embodiment of the present invention is mounted on a socket, for example, a vertical through hole of the socket body 2 in which the upper socket body 2a (see FIG. 3) and the lower socket body 2b are coupled. It settles in the field and becomes a component of the socket. In the illustration, the socket body 2 has a structure in which two bodies of an upper socket body 2a and a lower socket body 2b are combined, but the structure in which the socket body is composed of a single body may be used. For convenience of understanding, only 8 pogo pins 1 are shown, but in actual products, hundreds to thousands of them are generally configured in a two-dimensional array.

본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀(1)은 상부 탐침(10), 하부 탐침(20) 및 코일 스프링(30)을 포함하여 구성된다. 포고핀은 상부 탐침(10)과 하부 탐침(20) 사이의 전기적 연결, 따라서 상부 탐침(10)이 접촉하는 대상과 하부 탐침(20)이 접촉하는 대상 사이의 전기적 연결을 수행하는 것으로서, 코일 스프링(30)에 의하여 상부 탐침(10) 및 하부 탐침(20)이 탄성적으로 지지된다.The pogo pin 1 according to the first embodiment of the present invention includes an upper probe 10, a lower probe 20, and a coil spring 30. The pogo pin performs electrical connection between the upper probe 10 and the lower probe 20, and thus between the object contacted by the upper probe 10 and the object contacted by the lower probe 20, the coil spring The upper probe 10 and the lower probe 20 are elastically supported by (30).

상부 탐침(10)은 코일 스프링(30)에 의하여 탄성적으로 지지되며, 1 피스(one piece)의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되고, 주로 반도체 패키지의 단자(핀, 볼, 리드, 패드 등)에 접촉하는 상부탐침 접촉부(12)와, 상부탐침 접촉부(12)와 일체로 연결되고 상부탐침 접촉부(12)의 반대쪽에 구성되는 플러그바(11)를 구비한다. 상부 탐침(10)의 플러그바(11)는 길이에 비하여 좁은 폭을 가지며 대부분의 길이에서 일정한 두께를 가진 바형태로서, 수직의 길이방향으로 길게 연장되고, 코일 스프링(30)이 권회하면서 둘러싸는 관통공내에 위치한다.The upper probe 10 is elastically supported by the coil spring 30, and is constructed by bending a cut metal plate shape of one piece, and is mainly used for semiconductor package terminals (pins, balls, leads, pads). etc.), and an upper probe contact portion 12 integrally connected to the upper probe contact portion 12 and a plug bar 11 formed on the opposite side of the upper probe contact portion 12. The plug bar 11 of the upper probe 10 has a narrow width compared to its length and is in the form of a bar with a constant thickness in most of its length, extending in the vertical longitudinal direction, and surrounded by the coil spring 30 while winding located in the through hole.

플러그바(11)는 하부 탐침(20), 구체적으로 하부 탐침(20)의 제 1 협지바(21) 및 제 2 협지바(22)의 사이에 삽입된 상태이며, 이들과 접촉을 유지하면서, 소켓을 PCB와 결합하거나 소켓에 반도체 패키지가 탑재되는 과정 등, 포고핀 양단에 가해지는 압력 또는 압력 변화에 의해 상호 슬라이딩한다.The plug bar 11 is inserted between the lower probe 20, specifically, the first gripping bar 21 and the second gripping bar 22 of the lower probe 20, while maintaining contact with them, When the socket is coupled to the PCB or the semiconductor package is mounted on the socket, the pressure applied to both ends of the pogo pin or the change in pressure causes the socket to slide mutually.

하부 탐침(20)은 1 피스의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되며, 한쌍의 협지바(21,22)와, 그 하부의 몸체부와, 한쌍의 컨택 컨틸레버(23,24)를 포함하여 구성된다.The lower probe 20 is constructed by bending one piece of cut metal plate shape, and includes a pair of clamping bars 21 and 22, a lower body portion thereof, and a pair of contact cantilever 23 and 24. It consists of

제 1 협지바(21) 및 제 2 협지바(22)는 하부 탐침(20)의 상측에 위치하며, 코일 스프링(30)이 권회하면서 둘러싸는 관통공내에서 플러그바(11)를 탄성적으로 협지하여 플러그바(11)의 양쪽 평면과 면접촉을 도모한다. 하부 탐침(20)의 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22) 사이에 상부 탐침(10)의 플러그바(11)를 협지하여 접촉한 상태로, 플러그바(11)가 제 1 협지바(21) 및 상기 제 2 협지바(22)와 슬라이딩가능하다.The first clamping bar 21 and the second clamping bar 22 are located on the upper side of the lower probe 20, and elastically clamp the plug bar 11 in the through hole surrounded by the coil spring 30 while winding. To achieve surface contact with both planes of the plug bar (11). In a state in which the plug bar 11 of the upper probe 10 is pinched and brought into contact between the first gripping bar 21 and the second gripping bar 22 of the lower probe 20, the plug bar 11 It is slidable with the clamping bar 21 and the second clamping bar 22.

몸체부는 서로 대향하는 제 1 중앙부(25) 및 제 2 중앙부(26)와, 서로 대향하는 제 1 S자 절곡부(27a) 및 제 2 S자 절곡부(27b)와, 연결부(28)와, 서로 마주하는 제 1 날개부(29a) 및 제 2 날개부(29b)를 포함하여 구성된다. 제 1 중앙부(25) 및 제 2 중앙부(26)와, 연결부(28)와, 제 1 날개부(29a) 및 제 2 날개부(29b)는 단면상 대략 사각형의 외곽을 형성한다.The body portion includes a first central portion 25 and a second central portion 26 that face each other, a first S-shaped bent portion 27a and a second S-shaped bent portion 27b that face each other, a connection portion 28, It is configured to include a first wing portion 29a and a second wing portion 29b facing each other. The first central portion 25 and the second central portion 26, the connecting portion 28, the first wing portion 29a, and the second wing portion 29b form a substantially rectangular outline in cross section.

제 1 중앙부(25)로부터 상측으로 S자 모양으로 절곡된 제 1 S자 절곡부(27a)를 구성한 후 이로부터 제 1 협지바(21)가 연결되며 제 1 협지바(21)가 일자로 위로 길게 연장된다. 제 2 중앙부(26)로부터 상측으로 S자 모양으로 절곡된 제 2 S자 절곡부(27b)를 구성한 후 이로부터 제 2 협지바(22)가 연결되며 제 2 협지바(22)가 일자로 위로 길게 연장된다. 제 1 S자 절곡부(27a) 및 제 2 S자 절곡부(27b)를 이용하여, 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22) 사이의 간격에 비하여 제 1 중앙부(25)와 제 2 중앙부(26) 사이의 간격은 확장되며, 확장된 간격은 제 1 컨텍 컨틸레버(23)의 고정단과 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 고정단이 충분한 간격을 가질 수 있도록 하며, 이에 따라 제 1 컨텍 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 충분한 경사각을 가지면서 상광하협(上廣下峽)의 모양을 가질 수 있도록 한다. 제 1 중앙부(25)와 제 2 중앙부(26)에는 도시된 것과 같이 측면으로 홈이 더 형성되어 있을 수 있다.After constructing the first S-shaped bent portion 27a bent upward in an S-shape from the first central portion 25, the first clamping bar 21 is connected thereto, and the first clamping bar 21 is straight up. elongated After constructing the second S-shaped bent portion 27b that is bent upward in an S-shape from the second central portion 26, the second gripping bar 22 is connected thereto, and the second gripping bar 22 is straight upward. elongated By using the first S-shaped bent portion 27a and the second S-shaped bent portion 27b, the first center portion 25 and The distance between the second central portions 26 is widened, and the extended distance allows the fixed end of the first contact cantilever 23 and the fixed end of the second contact cantilever 24 to have a sufficient distance. The contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 have a sufficient inclination angle and have an upper and lower narrow shape. The first central portion 25 and the second central portion 26 may further have grooves formed on the side as shown.

제 1 S자 절곡부(27a)에, 또는 제 1 협지바(21)의 하단에는 코일 스프링(30)의 하단이 안착되어 고정되는 안착홈이 형성될 수 있으며, 제 2 S자 절곡부(27b)에, 또는 제 2 협지바(22)의 하단에는 코일 스프링(30)의 하단이 안착되어 고정되는 안착홈이 형성될 수 있다. A seating groove in which the lower end of the coil spring 30 is seated and fixed may be formed at the first S-shaped bent portion 27a or at the lower end of the first clamping bar 21, and the second S-shaped bent portion 27b ), or at the lower end of the second clamping bar 22, a seating groove in which the lower end of the coil spring 30 is seated and fixed may be formed.

연결부(28)는 제 1 중앙부(25)와 제 2 중앙부(26)를 연결하고 있는데, 제 1 중앙부(25)의 일 측단과 연결부(28)의 일측단은 90도로 절곡된 상태로 연결되며, 제 2 중앙부(26)의 일 측단과 연결부(28)의 타 측단은 90도로 절곡된 상태로 연결되어 있다.The connection part 28 connects the first central part 25 and the second central part 26, and one side end of the first central part 25 and one side end of the connection part 28 are connected in a bent state of 90 degrees, One side end of the second central portion 26 and the other side end of the connection portion 28 are connected in a state of being bent at 90 degrees.

제 1 날개부(29a)는 제 1 중앙부(25)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되며, 제 2 날개부(29b)는 제 2 중앙부(26)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되는데, 제 1 날개부(29a)의 자유단과 제 2 날개부(29b)의 자유단은 간격없이, 또는 약간의 간격을 두고 맞대어져 있다. 따라서 제 1 날개부(29a)의 자유단과 제 2 날개부(29b)의 자유단에서 판형재의 절단면 들은 서로 대향한다. 플러그바(11)와 가능하면 면접촉을 도모하기 위하여, 플러그바(11)와 접촉하는 제 1 협지바(21)의 접촉면과 제 2 협지바(22)의 접촉면 사이가 평행을 이루도록 하기 위하여, 제 1 날개부(29a)와 제 2 날개부(29b)가 이용된다. 제 1 날개부(29a)와 제 2 날개부(29b)로 인해서 제 1 중앙부와 제 2 중앙부는, 그리고 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22)는 보다 정확하게 정렬할 수 있다.The first wing portion 29a is connected after being bent at the other side end of the first central portion 25, and the second wing portion 29b is connected after being bent at the other side end of the second central portion 26. The free end of the wing portion 29a and the free end of the second wing portion 29b face each other without a gap or with a slight gap therebetween. Accordingly, the cut surfaces of the plate-shaped member at the free end of the first wing 29a and the free end of the second wing 29b face each other. In order to achieve surface contact with the plug bar 11, if possible, so that the contact surface of the first clamping bar 21 and the contact surface of the second clamping bar 22 in contact with the plug bar 11 are parallel, A first wing 29a and a second wing 29b are used. Due to the first wing portion 29a and the second wing portion 29b, the first central portion and the second central portion, and the first clamping bar 21 and the second clamping bar 22 can be more accurately aligned.

그리고 하부 탐침의 제조시 제조 오차를 가질 수 밖에 없는 절곡 공정이 완료된 후, 서로 맞대고 있는 제 1 날개부(29a)와 제 2 날개부(29b)의 높이 차이 및 상대적 자세는 제 1 협지바(21)과 제 2 협지바(22) 사이의 정렬과 밀접한 관련성을 가지는 인자가 되며, 제 1 날개부(29a)와 제 2 날개부(29b)의 수평방향 길이는 제조 공정상의 특성을 반영하여 조정될 수 있다.In addition, after the bending process, which inevitably has manufacturing errors during the manufacturing of the lower probe, is completed, the height difference and relative posture of the first wing part 29a and the second wing part 29b facing each other are determined by the first clamping bar 21 ) and the second clamping bar 22 are closely related to the alignment, and the lengths of the first wing 29a and the second wing 29b in the horizontal direction can be adjusted to reflect the characteristics of the manufacturing process. there is.

상측으로 제 1 S자 절곡부(27a)를 개재하여 제 1 협지바(21)가 연결되는 제 1 중앙부(25)의 반대편, 즉 제 1 중앙부(25)의 하측에 비교적 짧은 길이의 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 상단이 연결된다. 그리고 상측으로 제 2 S자 절곡부(27b)를 개재하여 제 2 협지바(22)가 연결되는 제 2 중앙부(26)의 반대편, 즉 제 2 중앙부(26)의 하측에 비교적 짧은 길이의 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 상단이 연결된다.A first contact having a relatively short length on the opposite side of the first central portion 25 to which the first clamping bar 21 is connected upwardly through the first S-shaped bent portion 27a, that is, on the lower side of the first central portion 25 The upper end of the cantilever 23 is connected. In addition, a second relatively short length opposite the second central portion 26 to which the second clamping bar 22 is connected upward through the second S-shaped bent portion 27b, that is, on the lower side of the second central portion 26 The upper end of the contact cantilever 24 is connected.

제 1 협지바(21) 및 제 2 협지바(22)의 반대쪽에는 각각 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 구비하며, 1 피스의 금속 판형재의 절곡에 의해 수직으로부터 벗어난 경사각을 가지게 된다. 이러한 경사각은 금속 판형재의 재단(펀칭 등)에 의해서 생성된 것이 아니라, 금속 판형재의 절곡에 의해 생성된 것으로서, 재단에 의해서 생성된 것에 비하여 보다 유연한 것을 특징으로 한다.A first contact cantilever 23 and a second contact cantilever 24 are provided on the opposite side of the first clamping bar 21 and the second clamping bar 22, respectively, and are deviated from the vertical by bending a one-piece metal plate shape. have an inclination angle. This inclination angle is not created by cutting (punching, etc.) of the metal plate shape, but is created by bending the metal plate shape, and is characterized in that it is more flexible than the one created by cutting.

제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨택 컨틸레버(24)는 수직방향(포고핀의 길이방향)으로 연장하지 않고, 수직방향으로부터 벗어난 경사각을 가지게 되는데, 따라서 가상의 수직선과 각도를 이루게 된다. 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 자유단과 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 자유단은 서로 가까워지는 방향으로 경사져 있다. 서로 마주하는 제 1 컨택 컨틸레버(23)와 제 2 컨텍 컨틸레버(24) 사이는 상광하협(上廣下峽)의 모양이 된다.The first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 do not extend in the vertical direction (longitudinal direction of the pogo pin) and have an inclination angle deviating from the vertical direction, thus forming an angle with a virtual vertical line. The free ends of the first contact cantilever 23 and the free ends of the second contact cantilever 24 are inclined in a direction closer to each other. The space between the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 facing each other has an upper and lower narrow shape.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 포고핀을 이용하여 외부 패드(3)와 접촉하는 상황을 도시한 것으로서, 도 4(a)는 외부 패드와 접촉을 시작하는 시점에서의 상황을 도시한 것이고 도 4(b)는 하부탐침이 외부패드를 가압하고 있는 시점에서의상황을 도시한 것이다.4 shows a situation in which contact is made with the external pad 3 using the pogo pin according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4(a) shows the situation at the point of contact with the external pad. 4(b) shows the situation at the time when the lower probe presses the external pad.

도 4에 도시된 바와 같이, 하부 탐침(20)이 외부 패드(3), 예를 들면 PCB의 패드에 대해 가압되기 전, 경사각은 25°내지 65°사이의 범위에서 어느 한 초기 각도(A1)을 가질 수 있는데, 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대해 가압되면 초기 각도보다 약간 더 큰 각도(A2)를 가지도록 변화될 수 있다. 또는 경사각은 변화하지 않으면서 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 구부러지거나, 경사각의 증가 및 구부러짐이 동시에 발생할 수도 있다.As shown in FIG. 4, before the lower probe 20 is pressed against the external pad 3, for example, the pad of the PCB, the inclination angle is an initial angle A1 in the range of 25° to 65°. , which can be changed to have an angle A2 slightly greater than the initial angle when the lower probe 20 is pressed against the external pad. Alternatively, the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 may be bent without changing the inclination angle, or an increase in inclination angle and bending may occur simultaneously.

하부 탐침의 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 외부 패드(3)에 접촉하기 시작한 후, 하부 탐침을 더욱 가압하여 누르면 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단과 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 선단은 서로 가까워진다. 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대한 가압이 증가함에 따라, 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 외부 패드에 접촉하는 제 1 접촉지점과 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 외부 패드에 접촉하는 제 2 접촉지점 사이가 가까워지게 되며, 컨택 컨틸레버가 외부 패드와 접촉하기 시작했던 지점으로부터 중앙으로 이동하게 되는 것이다.After the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 of the lower probe start to come into contact with the external pad 3, pressing the lower probe further presses the tip of the first contact cantilever 23 and the second contact The ends of the cantilever 24 come closer to each other. As the pressure of the lower probe 20 on the external pad increases, the first contact point at which the first contact cantilever 23 contacts the external pad and the second contact point at which the second contact cantilever 24 contacts the external pad The points become closer, and the contact cantilever moves from the point where it started to contact the external pad to the center.

이와 같이 접촉을 시작했던 지점으로부터 접촉지점이 이동함으로써, 혹시 컨틸레버와 외부패드 사이에 개재될 수 있는 파티클을 팅겨낼 수 있고, 자연 산화막 등은 긁어낼 수 있으며, 동시에 외부 패드를 약간 파고들 수 있는 작용을 하게 된다. 이에 따라 고집적 환경에서도 하부 탐침과 접촉대상(외부 패드) 사이의 전기적 접촉 특성을 유지하거나 향상시킬 수 있는 효과가 있다.By moving the contact point from the point where the contact started in this way, particles that may be intervened between the cantilever and the external pad can be scraped off, the natural oxide film can be scraped off, and at the same time, the external pad can be slightly dug into. it works Accordingly, there is an effect of maintaining or improving electrical contact characteristics between the lower probe and the contact target (external pad) even in a highly integrated environment.

가정하여, 비교예로서 본 발명의 실시예와 다른 구조의 하부탐침을 생각해 본다면, 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22)를 단순히 연결하여 하부 탐침의 전체가 'U'자 모양인 경우를 상정해 볼 수 있다. 이러한 구조에서는 하부 탐침의 저면이 평면이고 접촉지점이 이동되지 않으므로, 하부 탐침과 외부패드 사이에 일단 파티클이 끼이면 이를 자동으로 팅겨내기 어려우며, 자연 산화막을 긁어내는 등의 작용을 하기 어렵거나 제거효율이 낮은 문제가 있을 것이다.Suppose, as a comparative example, if we consider a lower probe having a different structure from the embodiment of the present invention, the entire lower probe has a 'U' shape by simply connecting the first clamping bar 21 and the second clamping bar 22. case can be assumed. In this structure, since the lower surface of the lower probe is flat and the contact point is not moved, once particles are caught between the lower probe and the external pad, it is difficult to automatically remove them, and it is difficult to perform actions such as scraping the natural oxide film, or the removal efficiency is reduced. There will be this lower problem.

도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀(1)을 도시한 것이고, 도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀(1)에서 하부탐침(20)을 도시한 것이다.5 shows the pogo pin 1 according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 6 shows the lower probe 20 in the pogo pin 1 according to the second embodiment of the present invention.

제 1 실시예의 포고핀과 비교하여, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀(1)은 하부탐침(20)에서 제 1 컨텍 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 구조가 서로 상이하며, 이하, 제 1 실시예와 동일하거나 유사한 부분 및 특성에 대해서는 제 1 실시예의 설명을 원용한다.Compared to the pogo pin of the first embodiment, in the pogo pin 1 according to the second embodiment of the present invention, the structures of the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 in the lower probe 20 are different from each other. It is different, and hereinafter, the description of the first embodiment is used for parts and characteristics identical or similar to those of the first embodiment.

제 1 중앙부(25)에 연결되어 연장되는 제 1 컨택 컨틸레버(23)와 제 2 중앙부(26)에 연결되어 연장되는 제 2 컨택 컨킬레버(24)는 수직으로부터 벗어나 경사각을 가지나, 양자의 길이는 서로 상이하다. 따라서 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단과 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 선단은 수직선상에서 보아 서로 다른 높이에 있게 되는데, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨택 컨킬레버(24)의 선단 보다 더 높은 위치가 되며, 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 선단은 제 1 컨텍 컨틸레버(23)의 선단 보다 더 낮은 위치에 있게 된다. 따라서, 하부 탐침(20)이 외부 패드(3)에 접촉할 때 제 2 컨택 컨틸레버(24)만 접촉하고 제 1 컨텍 컨틸레버(23)는 외부 패드(3)에 접촉하지 않는다. The first contact recoil lever 23 connected to and extended from the first central portion 25 and the second contact recoil lever 24 connected to and extended from the second central portion 26 have inclination angles away from vertical, but the lengths of both are are different from each other Therefore, the tip of the first contact cantilever 23 and the tip of the second contact cantilever 24 are at different heights when viewed from a vertical line. It is positioned higher than the tip, and the tip of the second contact cantilever 24 is positioned lower than the tip of the first contact cantilever 23. Therefore, when the lower probe 20 contacts the external pad 3, only the second contact cantilever 24 contacts and the first contact cantilever 23 does not contact the external pad 3.

그리고 제 1 실시예와 마찬가지로 제 1 컨텍 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)는 서로 대향하고 있으나, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 측면, 구체저으로, 제 2 컨텍 컬틸레버의 양 측면중 안쪽 측면의 하부)을 향하고 있다. And, like the first embodiment, the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 face each other, but the tip of the first contact cantilever 23 is the side surface of the second contact cantilever 24 and the concrete bottom. , the lower part of the inner side of both sides of the second contact cultile lever).

도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 포고핀을 이용하여 외부 패드와 접촉하는 상황을 도시한 것으로서, 도 7(a)는 외부 패드와 접촉을 시작하는 시점에서의 상황을 도시한 것이고 도 7(b)는 하부탐침이 외부패드를 가압하고 있는 시점에서의 상황을 도시한 것이다.7 shows a situation in which contact is made with an external pad using a pogo pin according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 7(b) shows the situation when the lower probe presses the external pad.

하부 탐침(20)이 외부 패드(3)에 접촉하기전에 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨택 컨틸레버(24)는 약간의 간극을 가진다. 즉, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단과 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 내측 측면 사이는 약간의 간극을 가지며, 이 간극을 소모할 수 있는 만큼, 제 1 컨택 컨틸레버와 제 2 컨택 컨틸레버가 서로 가까워질 수 있다.Before the lower probe 20 contacts the external pad 3, the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 have a slight gap. That is, there is a slight gap between the tip of the first contact cantilever 23 and the inner side of the second contact cantilever 24, and as much as this gap can be consumed, the first contact cantilever and the second contact cantilever interact with each other. can get closer

하부 탐침(20)이 외부 패드에 대하여 가압됨에 따라, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 제 2 컨텍 컨틸레버(24)와 점차 가까워지고, 결국에는 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면(내측면 하부)에 접촉하여 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 지지하게 된다.As the lower probe 20 is pressed against the external pad, the tip of the first contact cantilever 23 gradually comes closer to the second contact cantilever 24, and eventually the tip of the first contact cantilever 23 moves toward the second contact cantilever 23. The first contact cantilever 23 supports the second contact cantilever 24 by contacting the side surface (lower inner surface) of the contact cantilever 24 .

제 2 컨택 컨틸레버(24)가 외부 패드(3)에 접촉하기 시작한 후부터 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하기 전까지는, 외팔보인 제 2 컨택 컨틸레버(24)만 힘을 받게 되며, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉한 이후에는 합장하는 듯한 모양(또는 삼각형 모양)을 이룬 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 모두가 힘을 받게 된다.After the second contact cantilever 24 starts to contact the external pad 3 until the tip of the first contact cantilever 23 contacts the side surface of the second contact cantilever 24, the cantilevered second contact cantilever ( 24) receives force, and after the tip of the first contact cantilever 23 contacts the side surface of the second contact cantilever 24, the first contact cantilever 23 forms a shape (or triangular shape) and the second contact cantilever 24 are all subjected to force.

따라서, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하기 전까지는 제 2 컨택 컨틸레버(24)가 보다 유연하게 변형되면서 접촉지점의 이동에 따른 이물질의 제거와 전기적 접촉 특성을 유지하거나 향상시킨다. 그리고, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉한 이후에는 보다 견고하게 변형력에 저항할 수 있다. 즉, 제한된 일정 범위내에서만 컨택 컨틸레버의 휨현상을 허용하거나 크게 하는 효과를 가진다.Therefore, until the tip of the first contact cantilever 23 comes into contact with the side surface of the second contact cantilever 24, the second contact cantilever 24 is deformed more flexibly, removing foreign matter and electrical power according to the movement of the contact point. Maintain or improve contact properties. In addition, after the tip of the first contact cantilever 23 contacts the side surface of the second contact cantilever 24, it can resist the deformation force more firmly. That is, it has an effect of allowing or increasing the bending of the contact cantilever only within a limited range.

또한, 제 1 실시예와 비교하여 제 2 실시예에서는 일정 범위내에서 컨택 컨틸레버의 변형력이 단일의 외팔보(즉, 제 2 컨택 컨틸레버)에만 가해지므로, 보다 작은 가압력으로도 각 포고핀을 작동시킬 수 있다. 이에 따라, 소켓의 제한된 가압능력을 수많은 포고핀이 나누어 써야 하는 상황에서, 보다 잘 적응할 수 있는 장점이 있다. In addition, compared to the first embodiment, in the second embodiment, since the deformation force of the contact cantilever is applied only to a single cantilever (ie, the second contact cantilever) within a certain range, each pogo pin can be operated with a smaller pressing force. there is. Accordingly, there is an advantage in that the socket can be better adapted to a situation in which a number of pogo pins have to share the limited pressing capability.

한편, 제 2 실시예 따르면, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 휨강성과 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 휨강성을 서로 다르게 설계해도 되는데, 이에 따라 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 휨강성을 매우 약하게 하여 일정 범위내에서 보다 잘 변형되도록 하면서도, 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 휨감성은 매우 크게 해서 일정 범위이상에서의 지지력은 매우 강하게 하는 것도 가능하다. On the other hand, according to the second embodiment, the bending rigidity of the first contact cantilever 23 and the bending rigidity of the second contact cantilever 24 may be designed to be different from each other. Accordingly, the bending rigidity of the second contact cantilever 24 is very weak and constant. It is also possible to make the bending sensitivity of the first contact cantilever 23 very high while making it more deformable within a certain range so that the supporting force is very strong over a certain range.

1 : 포고핀 2 : 소켓 몸체
3 : 외부 패드
10 : 상부탐침 11 : 플러그바
20 : 하부탐침 21, 22 : 협지바
23, 24 : 컨택 컨틸레버
25, 26 : 중앙부
27a, 27b : S자 절곡부
28 : 연결부
29a, 29b : 날개부
30 : 코일 스프링1: pogo pin 2: socket body
3: External pad
10: upper probe 11: plug bar
20: lower probe 21, 22: clamping bar
23, 24: contact cantilever
25, 26: central part
27a, 27b: S-shaped bent portion
28: connection part
29a, 29b: Wings
30: coil spring

Claims (11)

상부 탐침(10)과 하부 탐침(20) 사이의 전기적 연결을 수행하되, 코일 스프링(30)에 의하여 상기 상부 탐침(10) 및 상기 하부 탐침(20)이 탄성적으로 지지되는 포고핀에 있어서,
상기 코일 스프링(30)이 권회하면서 둘러싸는 관통공내에서, 상기 하부 탐침(20)의 제 1 협지바(21)와 제 2 협지바(22) 사이에 상기 상부 탐침(10)의 플러그바(11)를 협지하여 접촉한 상태로, 상기 플러그바(11)가 상기 제 1 협지바(21) 및 상기 제 2 협지바(22)와 슬라이딩가능하며,
상기 하부 탐침(20)은,
1 피스의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되며,
상기 제 1 협지바(21) 및 상기 제 2 협지바(22)의 반대쪽에 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)를 구비하되, 상기 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)는 상기 금속 판형재의 절곡에 의해 수직으로부터 벗어난 경사각을 가지게 되는 것을 특징으로 하는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.In the pogo pin in which the upper probe 10 and the lower probe 20 are electrically connected, but the upper probe 10 and the lower probe 20 are elastically supported by the coil spring 30,
The plug bar 11 of the upper probe 10 is between the first clamping bar 21 and the second clamping bar 22 of the lower probe 20 in the through hole surrounded by the coil spring 30 while being wound. ), the plug bar 11 is slidable with the first gripping bar 21 and the second gripping bar 22 in a state of gripping and contacting,
The lower probe 20,
It is composed by bending one piece of cut metal plate shape,
At least one contact cantilever 23, 24 is provided on the opposite side of the first holding bar 21 and the second holding bar 22, and the at least one contact cantilever 23, 24 is used to bend the metal plate. Characterized in that it has an inclination angle deviating from vertical by
A pogo pin with a long stroke. 청구항 1에 있어서,
상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대해 가압되기 전, 상기 경사각은 25°내지 65°사이의 어느 한 초기 각도을 가지며,
상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대해 가압되면 상기 초기 각도보다 큰 각도를 가지도록 변화하거나, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 구부러지는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 1,
Before the lower probe 20 is pressed against the external pad, the inclination angle has an initial angle between 25 ° and 65 °,
When the lower probe 20 is pressed against the external pad, it changes to have an angle greater than the initial angle, or the first contact tilt lever 23 and the second contact tilt lever 24 are bent.
A pogo pin with a long stroke. 청구항 1에 있어서,
상기 하나 이상의 컨택 컨틸레버(23, 24)는 제 1 컨택 컨틸레버(23) 및 제 2 컨텍 컨틸레버(24)로 구성되며,
마주하는 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)와 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24) 사이는 상광하협(上廣下峽)의 모양으로 구성되는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 1,
The one or more contact cantilevers 23 and 24 are composed of a first contact cantilever 23 and a second contact cantilever 24,
Between the first contact cantilever 23 and the second contact cantilever 24 facing each other is composed of an upper and lower narrow shape,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 3에 있어서,
상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대한 가압이 증가함에 따라, 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 외부 패드에 접촉하는 제 1 접촉지점과 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)가 상기 외부 패드에 접촉하는 제 2 접촉지점 사이가 가까워지는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 3,
As the pressure applied by the lower probe 20 to the external pad increases, the first contact point where the first contact recoil lever 23 contacts the external pad and the second contact recoil lever 24 contact the external pad. The contact between the second contact points becomes closer,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 3에 있어서,
상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단과 상기 제 2 컨택 컨킬레버(24)의 선단이 높이 차이를 가지도록 구성되되,
상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단이 상기 제 2 컨택 컨킬레버(24)의 선단 보다 더 높은 위치가 되도록 하는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 3,
The tip of the first contact cantilever 23 and the tip of the second contact cantilever 24 are configured to have a height difference,
The tip of the first contact cantilever 23 is at a higher position than the tip of the second contact cantilever 24,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 5에 있어서,
상기 하부 탐침(20)이 외부 패드에 대하여 가압됨에 따라,
상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)와 점차 가까워지고 결국 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 지지하게 되는,
롱 스트로크를 가진 포고핀. The method of claim 5,
As the lower probe 20 is pressed against the external pad,
The tip of the first contact cantilever 23 gradually gets closer to the second contact cantilever 24 and eventually comes into contact with the side surface of the second contact cantilever 24, so that the first contact cantilever 23 becomes the second contact cantilever 23. which supports the cantilever 24,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 3에 있어서,
상기 하부 탐침(20)은,
상기 제 1 협지바(21)의 하측으로 적어도 제 1 중앙부(25)를 개재하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 연결되고, 상기 제 2 협지바(22)의 하측으로 적어도 제 2 중앙부(26)를 개재하여 상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)가 연결되며,
상기 제 1 중앙부(25)와 상기 제 2 중앙부(26)는 서로 대향하며,
상기 제 1 중앙부(25)의 일 측단과 상기 제 2 중앙부(26)의 일 측단에서 각각 절곡된 후 상기 제 1 중앙부(25)와 상기 제 2 중앙부(26)를 연결하는 연결부(28)를 구비하는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 3,
The lower probe 20,
The first contact cantilever 23 is connected to the lower side of the first holding bar 21 through at least a first central portion 25, and at least a second central portion 26 to the lower side of the second holding bar 22. The second contact cantilever 24 is connected via a),
The first central portion 25 and the second central portion 26 face each other,
A connecting portion 28 is provided to connect the first central portion 25 and the second central portion 26 after being bent at one side end of the first central portion 25 and at one side end of the second central portion 26, respectively. doing,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 7에 있어서,
상기 제 1 중앙부(25)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되는 제 1 날개부(29a)와, 상기 제 2 중앙부(26)의 타 측단에서 절곡된 후 연결되는 제 2 날개부(29b)를 구비하며,
상기 제 1 날개부(29a)의 자유단과 상기 제 2 날개부(29b)의 자유단이 서로 맞대어지는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 7,
A first wing portion 29a bent at the other side end of the first central portion 25 and then connected, and a second wing portion 29b bent at the other side end of the second central portion 26 and connected thereto. and
The free end of the first wing portion 29a and the free end of the second wing portion 29b face each other,
A pogo pin with a long stroke. 청구항 7에 있어서,
상기 제 1 중앙부(25)의 상측으로 제 1 S자 절곡부(27a)를 개재하여 상기 제 1 협지바(21)가 연결된 후 상기 제 1 협지바(21)가 상측으로 연장되며, 상기 제 1 중앙부(25)의 하측에 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 상단이 연결되며,
상기 제 2 중앙부(26)의 상측으로 제 2 S자 절곡부(27b)를 개재하여 상기 제 2 협지바(22)가 연결된 후 상기 제 2 협지바(22)가 상측으로 연장되며, 상기 제 2 중앙부(26)의 하측에 상기 제 2 컨택 컨틸레버(23)의 상단이 연결되는,
롱 스트로크를 가진 포고핀.The method of claim 7,
After the first clamping bar 21 is connected to the upper side of the first central portion 25 through the first S-shaped bent part 27a, the first clamping bar 21 extends upward, and the first clamping bar 21 extends upward. The upper end of the first contact cantilever 23 is connected to the lower side of the central part 25,
After the second clamping bar 22 is connected to the upper side of the second central portion 26 through the second S-shaped bent part 27b, the second clamping bar 22 extends upward, and the second clamping bar 22 extends upward. The upper end of the second contact cantilever 23 is connected to the lower side of the central part 26,
A pogo pin with a long stroke. 상부 탐침(10)과 하부 탐침(20) 사이의 전기적 연결을 수행하되, 코일 스프링(30)에 의하여 상기 상부 탐침(10) 및 상기 하부 탐침(20)이 탄성적으로 지지되는 포고핀에 있어서,
상기 상부 탐침(10) 또는 상기 하부 탐침 중의 어느 하나는,
1 피스의 재단된 금속 판형재를 절곡하여 구성되며,
외부와의 전기적 접촉을 수행하는 제 2 컨택 컨틸레버(24)와, 그 선단이 상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)의 측면을 향하는 제 1 컨택 컨틸레버(23)를 구비하며,
상기 제 2 컨택 컨틸레버(24)는 상기 금속 판형재의 절곡에 의해 수직으로부터 벗어난 경사각을 가지는 것을 특징으로 하는,
포고핀.In the pogo pin in which the upper probe 10 and the lower probe 20 are electrically connected, but the upper probe 10 and the lower probe 20 are elastically supported by the coil spring 30,
Either the upper probe 10 or the lower probe,
It is composed by bending one piece of cut metal plate shape,
a second contact cantilever 24 that makes electrical contact with the outside, and a first contact cantilever 23 whose tip faces a side of the second contact cantilever 24;
Characterized in that the second contact cantilever (24) has an inclination angle deviated from vertical by bending the metal plate shape.
pogopin. 청구항 10에 있어서,
상기 어느 하나의 탐침이 가압됨에 따라,
상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)의 선단은 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)와 점차 가까워지고 결국 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)의 측면에 접촉하여 상기 제 1 컨택 컨틸레버(23)가 상기 제 2 컨텍 컨틸레버(24)를 지지하게 되는,
포고핀.The method of claim 10,
As one of the probes is pressed,
The tip of the first contact cantilever 23 gradually gets closer to the second contact cantilever 24 and eventually comes into contact with the side surface of the second contact cantilever 24, so that the first contact cantilever 23 becomes the second contact cantilever 23. which supports the cantilever 24,
pogopin.
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