KR20230078556A - Polyimide-based film - Google Patents

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KR20230078556A
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히로유키 츠카다
유스케 오누마
유타 다카오카
준이치 이케우치
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스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
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Abstract

테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 폴리이미드계 수지를 포함하고, 당해 폴리이미드계 수지는, 280℃에 있어서의 저장 탄성률이 3×108Pa 미만, 또한, 유리 전이 온도가 200~290℃인, 폴리이미드계 필름.A polyimide-based resin containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine is included, and the polyimide-based resin has a storage modulus at 280°C of 3×10 8 A polyimide-based film having a glass transition temperature of less than Pa and a glass transition temperature of 200 to 290°C.

Description

폴리이미드계 필름{POLYIMIDE-BASED FILM}Polyimide-based film {POLYIMIDE-BASED FILM}

고주파 대역용의 프린트 회로 기판이나 안테나 기판에 대응 가능한 기판 재료 등에 이용할 수 있는 폴리이미드계 필름에 관한 것이다.It relates to a polyimide-based film that can be used as a substrate material compatible with printed circuit boards and antenna substrates for high frequency bands.

플렉시블 프린트 회로 기판(이하, FPC라고 기재하는 경우가 있음)은, 얇고 경량이며 가요성을 가지기 때문에, 입체적, 고밀도인 실장이 가능하고, 휴대전화, 하드 디스크 등의 많은 전자기기에 사용되고, 그 소형화, 경량화에 기여하고 있다. 종래, FPC에는, 내열성, 기계적 물성, 전기 절연성이 우수한 폴리이미드 수지가 널리 이용되고 있다.Flexible printed circuit boards (hereinafter sometimes referred to as FPCs) are thin, lightweight, and flexible, allowing three-dimensional and high-density mounting, and are used in many electronic devices such as mobile phones and hard disks, and their miniaturization , contributing to weight reduction. Conventionally, polyimide resins with excellent heat resistance, mechanical properties, and electrical insulation properties have been widely used for FPCs.

최근, 5G라고 불리는 제 5 세대 이동 통신 시스템이 본격적으로 보급되고 있다. 종래 이용되어 온 폴리이미드 재료에서는, 5G의 통신에 이용되는 고주파 신호를 전송할 때에, 전송 손실이 크고, 전기 신호의 로스나 신호의 지연 시간이 길어지는 등의 부적합이 발생한다. 이 때문에, 전송 손실의 저감을 목적으로 하여, 유전 정접(이하, Df라고 기재하는 경우가 있음) 및 비유전율(이하, Dk라고 기재하는 경우가 있음)이 낮은 폴리이미드 필름이 검토되고 있다.In recent years, a fifth generation mobile communication system called 5G is in full swing. In polyimide materials that have been used in the past, when transmitting high-frequency signals used for 5G communication, transmission loss is large, and disadvantages such as electrical signal loss and signal delay time increase occur. For this reason, polyimide films with low dielectric loss tangents (hereinafter sometimes referred to as Df) and relative dielectric constants (hereinafter sometimes referred to as Dk) are being studied for the purpose of reducing transmission loss.

예를 들면, 특허 문헌 1에는, 에스테르 함유 테트라카르본산 무수물과 비페닐테트라카르본산 무수물을 포함하는 테트라카르본산 무수물 성분과 p-페닐렌디아민을 75몰% 이상 함유하는 디아민 성분을 반응시켜 얻어지는 폴리이미드 수지 전구체, 및 상기 폴리이미드 수지 전구체를 경화시켜 얻어지는 폴리이미드 수지가 개시되어 있다. 또한, 특허 문헌 2에는, 비열가소성 폴리이미드를 포함하는 비열가소성 폴리이미드층과 열가소성 폴리이미드를 포함하는 열가소성 폴리이미드층을 가지고, 상기 비열가소성 폴리이미드가 3,3',4,4'-비페닐테트라카르본산 2무수물(BPDA)로부터 유도되는 테트라카르본산 잔기(BPDA 잔기) 및 1,4-페닐렌비스(트리멜리트산 모노에스테르) 2무수물(TAHQ)로부터 유도되는 테트라카르본산 잔기(TAHQ 잔기) 중 적어도 1종 등을 포함하는 테트라카르본산 잔기, 및 특정의 디아민 화합물로부터 유도되는 디아민 잔기를 포함하는 폴리이미드 필름이 개시되어 있다.For example, in Patent Document 1, a polyi obtained by reacting a tetracarboxylic acid anhydride component containing ester-containing tetracarboxylic acid anhydride and biphenyltetracarboxylic acid anhydride with a diamine component containing 75 mol% or more of p-phenylenediamine. A mid resin precursor and a polyimide resin obtained by curing the polyimide resin precursor are disclosed. Further, Patent Document 2 has a non-thermoplastic polyimide layer containing non-thermoplastic polyimide and a thermoplastic polyimide layer containing thermoplastic polyimide, and the non-thermoplastic polyimide has a 3,3',4,4'-b A tetracarboxylic acid residue derived from phenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) (BPDA residue) and a tetracarboxylic acid residue derived from 1,4-phenylenebis(trimellitic acid monoester) dianhydride (TAHQ) (TAHQ residue) ), and a polyimide film comprising a tetracarboxylic acid residue containing at least one of the following, and a diamine residue derived from a specific diamine compound is disclosed.

일본공개특허 특개2018-150544호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. 2018-150544 국제공개 제2018/061727호International Publication No. 2018/061727

FPC에 이용되는 금속장(金屬張) 적층판에 관한 것이며, 동장(銅張) 적층판(이하, CCL이라고 기재하는 경우가 있음)으로서, 단층 또는 복수층의 폴리이미드계 수지의 편면 또는 양면에 구리박층을 가지는 적층체가 널리 이용되고 있다. CCL은, 구리박에 폴리이미드계 수지 전구체 용액을 캐스트 제막하고, 폴리이미드계 수지 전구체의 도막을 열 이미드화함으로써 제조되는 경우가 있으며, 상기 열 이미드화는, 통상, 예를 들면 360℃ 정도의 고온으로 가열함으로써 행해진다.It relates to a metal-clad laminate used for FPC, and is a copper-clad laminate (hereinafter sometimes referred to as CCL), a copper foil layer on one side or both sides of a single-layer or multi-layer polyimide-based resin. Laminates having are widely used. CCL may be produced by forming a film by casting a polyimide-based resin precursor solution on copper foil and thermally imidating the coating film of the polyimide-based resin precursor. It is done by heating to a high temperature.

고주파 전류의 전송에 있어서는, 표피 효과라고 불리는, 전류가 도체의 표면 근방에 밀집하여 흐르는 현상이 현저해진다. 이 때문에, CCL 등의 금속장 적층판을 고주파 회로에 사용하는 경우에는, 금속박 표면의 거칠어짐이나 산화가 전송 손실의 저하를 야기하기 쉽다. 예를 들면, 구리박은, 350℃ 이상의 고온에서 가열하면, 구리박 표면의 거칠어짐, 결정 입경 증대, 산화 등이 발생하여, 계면이 거칠어지기 쉬운 경향이 있다. 따라서, 열 이미드화의 공정에서, 폴리이미드계 수지와 함께 구리박 등의 금속박이 고온에 노출되는 것은, 전송 손실 저하의 원인이 될 수 있다.In transmission of high-frequency current, a phenomenon called skin effect, in which current flows densely near the surface of a conductor, becomes remarkable. For this reason, when a metal-clad laminate such as CCL is used for a high-frequency circuit, roughening or oxidation of the surface of the metal foil tends to cause a decrease in transmission loss. For example, when copper foil is heated at a high temperature of 350° C. or higher, the surface of the copper foil becomes rough, grain size increases, oxidation, etc. occur, and the interface tends to become rough. Therefore, in the step of thermal imidation, exposure of metal foil such as copper foil to high temperatures together with polyimide-based resin may cause reduction in transmission loss.

그러나, 종래의 폴리이미드 수지나 폴리이미드 필름의 제조에 있어서 열 이미드화를 350℃ 미만의 저온에서 실시한 경우에는, Df 및 Dk를 충분히 저감할 수 없는 경우가 있다. 폴리이미드 수지나 폴리이미드 필름의 Df 및 Dk를 충분히 저감하기 위해, 열 이미드화를 350℃ 이상의 고온에서 행하여 CCL을 제작하면, 상기 서술한 바와 같이, 구리박 표면의 거칠어짐 등이 발생하기 때문에, 구리박 표면의 거칠어짐이나 산화의 억제와, 폴리이미드층의 Df의 저감을 양립하여, 고주파 회로에 사용한 경우에 전송 손실이 낮은 CCL을 형성하는 것은 곤란하다.However, when thermal imidation is performed at a low temperature of less than 350°C in conventional production of polyimide resins and polyimide films, Df and Dk may not be sufficiently reduced. In order to sufficiently reduce the Df and Dk of the polyimide resin or polyimide film, when thermal imidation is performed at a high temperature of 350 ° C. or higher to produce CCL, as described above, roughness of the copper foil surface occurs. It is difficult to form a CCL with a low transmission loss when used in a high-frequency circuit with both suppression of roughening and oxidation of the copper foil surface and reduction of Df of the polyimide layer.

따라서, 본 발명의 목적은, 구리박 등의 금속박 표면의 거칠어짐을 억제하여 고주파 대역에서의 전송 손실이 낮은 CCL 등의 금속장 적층판을 형성할 수 있는, Df가 낮은 폴리이미드계 필름을 제공하는 것에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a polyimide-based film having a low Df, capable of forming a metal-clad laminate such as CCL having low transmission loss in a high frequency band by suppressing roughening of the surface of a metal foil such as copper foil. there is.

본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위해 예의 검토한 결과, 본 발명에 도달했다. 즉 본 발명은, 이하의 바람직한 양태를 제공하는 것이다.The inventors of the present invention have reached the present invention as a result of intensive studies to solve the above problems. That is, this invention provides the following preferred aspects.

〔1〕 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 폴리이미드계 수지를 포함하고, 당해 폴리이미드계 수지는, 280℃에 있어서의 저장 탄성률이 3×108Pa 미만, 또한, 유리 전이 온도가 200~290℃인, 폴리이미드계 필름.[1] A polyimide-based resin containing a structural unit derived from tetracarboxylic anhydride (A) and a structural unit derived from diamine (B), wherein the polyimide-based resin has a storage modulus of 3 at 280°C A polyimide-based film that is less than ×10 8 Pa and has a glass transition temperature of 200 to 290°C.

〔2〕 상기 구성 단위 (A)는, 에스테르 결합 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A1)을 포함하는, 〔1〕에 기재된 폴리이미드계 필름.[2] The polyimide-based film according to [1], wherein the structural unit (A) includes a structural unit (A1) derived from an ester bond-containing tetracarboxylic acid anhydride.

〔3〕 상기 구성 단위 (A)는, 비페닐 골격 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A2)를 더 포함하는, 〔2〕에 기재된 폴리이미드계 필름.[3] The polyimide-based film according to [2], wherein the structural unit (A) further includes a structural unit (A2) derived from a biphenyl backbone-containing tetracarboxylic acid anhydride.

〔4〕 상기 구성 단위 (A)는, 식 (X):[4] The structural unit (A) is Formula (X):

(상기 구성 단위 (A1) 및 상기 구성 단위 (A2) 이외의 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A3)의 함유량)/(상기 구성 단위 (A1) 및 상기 구성 단위 (A2)의 총량)<1.1 (X)(Content of tetracarboxylic acid anhydride-derived structural units (A3) other than the structural unit (A1) and structural unit (A2))/(total amount of structural units (A1) and (A2)) <1.1 (X)

의 관계를 충족시키는, 〔3〕에 기재된 폴리이미드계 필름.The polyimide-based film according to [3], which satisfies the relationship of

〔5〕 상기 구성 단위 (A1)은, 식 (a1):[5] The structural unit (A1) is Formula (a1):

Figure pat00001
Figure pat00001

[식 (a1) 중, Z는 2가의 유기기를 나타내고,[In formula (a1), Z represents a divalent organic group,

Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내며,R a1 independently represents a halogen atom, or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

s는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]s, independently of each other, represents an integer from 0 to 3]

로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a1)인, 〔2〕~〔4〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름.The polyimide-based film according to any one of [2] to [4], which is the structural unit (a1) derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by .

〔6〕 상기 구성 단위 (A2)는, 식 (a2):[6] The structural unit (A2) has the formula (a2):

Figure pat00002
Figure pat00002

[식 (a2) 중, Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (a2), R a2 independently represents a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]t represents, independently of each other, an integer from 0 to 3]

로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a2)인, 〔3〕~〔5〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름.The polyimide-based film according to any one of [3] to [5], which is the structural unit (a2) derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by .

〔7〕 상기 구성 단위 (B)는, 비페닐 골격 함유 디아민 유래의 구성 단위 (B1)을 포함하는, 〔1〕~〔6〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름.[7] The polyimide-based film according to any one of [1] to [6], wherein the structural unit (B) includes a structural unit (B1) derived from diamine containing a biphenyl skeleton.

〔8〕 상기 구성 단위 (B1)은, 식 (b1):[8] The structural unit (B1) is Formula (b1):

Figure pat00003
Figure pat00003

[식 (b1) 중, Rb1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (b1), R b1 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

p는, 0~4의 정수를 나타냄]p represents an integer from 0 to 4]

로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b1)인, 〔7〕에 기재된 폴리이미드계 필름.The polyimide-based film according to [7], which is a structural unit (b1) derived from diamine represented by .

〔9〕 상기 구성 단위 (B1)의 함유량은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여 30몰%를 초과하는, 〔7〕 또는 〔8〕에 기재된 폴리이미드계 필름.[9] The polyimide-based film according to [7] or [8], wherein the content of the structural unit (B1) exceeds 30 mol% with respect to the total amount of the structural unit (B).

〔10〕 상기 구성 단위 (B)는, 식 (b2):[10] The structural unit (B) is formula (b2):

Figure pat00004
Figure pat00004

[식 (b2) 중, Rb2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (b2), R b2 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

W는, 서로 독립적으로, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-를 나타내며, Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타내고,W is, independently of each other, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, Represents -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )-, and R c is a monovalent group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. represents a hydrocarbon group,

m은, 1~4의 정수를 나타내며,m represents an integer of 1 to 4,

q는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타냄]q represents, independently of each other, an integer from 0 to 4]

로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b2)를 포함하는, 〔1〕~〔9〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름.The polyimide-based film according to any one of [1] to [9], containing a diamine-derived structural unit (b2) represented by

〔11〕 상기 구성 단위 (b2) 중, m이 3이며, W가 서로 독립적으로, -O- 또는 -C(CH3)2-를 나타내는, 〔10〕에 기재된 폴리이미드계 필름.[11] The polyimide-based film according to [10], wherein m is 3 and W independently represents -O- or -C(CH 3 ) 2 - in the structural unit (b2).

〔12〕 〔1〕~〔11〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름의 편면 또는 양면에 금속박층을 포함하는 적층 필름.[12] A laminated film comprising a metal foil layer on one side or both sides of the polyimide-based film according to any one of [1] to [11].

〔13〕 〔1〕~〔11〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름을 포함하는 플렉시블 프린트 회로 기판.[13] A flexible printed circuit board comprising the polyimide-based film according to any one of [1] to [11].

〔14〕 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 폴리이미드계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하는 공정, 및[14] A step of coating a polyimide-based resin precursor solution containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine on a substrate, and

200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, 폴리이미드계 수지 전구체를 이미드화하여, 〔1〕~〔11〕 중 어느 것에 기재된 폴리이미드계 필름을 기재 상에 형성하는 공정을 포함하는, 적층 필름의 제조 방법.A laminated film comprising a step of imidizing a polyimide-based resin precursor by heat treatment at 200° C. or more and less than 350° C. to form the polyimide-based film according to any one of [1] to [11] on a substrate manufacturing method.

〔15〕 기재는 금속박인, 〔14〕에 기재된 적층 필름의 제조 방법.[15] The method for producing a laminated film according to [14], wherein the substrate is a metal foil.

본 발명에 의하면, 구리박 등의 금속박 표면의 거칠어짐을 억제하여 고주파 대역에서의 전송 손실이 낮은 CCL 등의 금속장 적층판을 형성할 수 있는, Df가 낮은 폴리이미드계 필름을 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a low Df polyimide-based film capable of forming a metal clad laminate such as CCL with low transmission loss in a high frequency band by suppressing roughness of the surface of a metal foil such as copper foil.

이하, 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명의 범위는 여기에서 설명하는 실시 형태에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경을 할 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail. In addition, the scope of the present invention is not limited to the embodiments described herein, and various changes can be made without departing from the gist of the present invention.

〔폴리이미드계 필름〕[Polyimide film]

본 발명의 폴리이미드계 필름은, 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 폴리이미드계 수지를 포함한다. 본 명세서 중, 폴리이미드를 PI라고 기재하는 경우가 있다. 본 발명에 있어서 「유래의 구성 단위」란, 「유래하는 구성 단위」를 의미하고, 예를 들면 「테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)」는 「테트라카르본산 무수물에 유래하는 구성 단위 (A)」를 의미한다.The polyimide-based film of the present invention contains a polyimide-based resin containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic anhydride and a structural unit (B) derived from diamine. In this specification, polyimide is sometimes described as PI. In the present invention, "derived structural unit" means "derived structural unit", for example, "structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride" means "structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride ( A)” means.

<폴리이미드계 수지><Polyimide-based resin>

PI계 수지의 280℃에 있어서의 저장 탄성률(이하, E'라고 기재하는 경우가 있음)은 3×108Pa 미만이고, 또한, 유리 전이 온도(이하, Tg라고 기재하는 경우가 있음)는 200~290℃이다. 본 발명자들은, 280℃에 있어서의 E' 가 3×108Pa 미만이고, 또한, Tg가 200~290℃인 PI계 수지를 이용하면, 열 이미드화 온도가 저온이어도, Df가 낮은 PI계 필름이 얻어지는 것을 찾아냈다. 이것은, PI계 수지의 280℃에 있어서의 E' 및 Tg를 상기 범위 내로 하면, PI계 수지의 회전 운동이 억제된 바람직한 고차 구조를 형성하기 쉽기 때문에, PI계 수지 중의 극성기의 회전이 억제되어, 전기 에너지가 열 운동으로서 손실되는 것이 저감되기 때문인 것으로 추정된다.The PI-based resin has a storage modulus (hereinafter sometimes referred to as E') at 280°C of less than 3 × 10 8 Pa, and a glass transition temperature (hereinafter sometimes referred to as Tg) of 200 ~290°C. The inventors of the present invention, when using a PI-based resin having E' at 280°C of less than 3×10 8 Pa and having a Tg of 200 to 290°C, a PI-based film having a low Df even when the thermal imidization temperature is low. found this to be obtained. This is because when E' and Tg of the PI-based resin at 280 ° C. are within the above ranges, it is easy to form a desirable higher-order structure in which the rotational motion of the PI-based resin is suppressed, so rotation of the polar groups in the PI-based resin is suppressed, It is assumed that this is because the loss of electrical energy as thermal motion is reduced.

PI계 수지 전구체인 폴리아믹산은 200℃ 정도에서부터 이미드화를 개시한다. 일반적으로 폴리아믹산은 분자 구조의 자유도가 높지만, 이미드화 후에는, 상대적으로 강직해져 분자 구조의 자유도가 저하된다. PI계 수지의 Tg가 200~290℃이면, 이미드화의 진행 중에, 열 이미드화 온도가 저온이어도, 당해 열 이미드화 온도가 PI계 수지의 Tg를 초과하기 때문에, 아믹산 부위와, 이미드 부위가 동시에 움직여 고차 구조를 형성하므로, 수지가 전체적으로 회전 운동이 억제된 바람직한 고차 구조가 형성되기 쉽다고 생각하고 있다. 또한, 280℃에 있어서의 E'가 3×108Pa 미만이면, 고차 구조를 형성할 때에 이미드 부위가 충분히 유연하게 움직일 수 있으므로, 특히 수지가 전체적으로 회전 운동이 억제된 바람직한 고차 구조를 형성하기 쉽다고 하는 효과를 얻을 수 있다고 생각된다.Polyamic acid, which is a PI-based resin precursor, starts imidation at about 200°C. In general, polyamic acid has a high degree of freedom in molecular structure, but after imidation, it becomes relatively rigid and the degree of freedom in molecular structure decreases. If the Tg of the PI-based resin is 200 to 290° C., even if the thermal imidization temperature is low during imidation, the thermal imidization temperature exceeds the Tg of the PI-based resin, so that the amic acid portion and the imide portion is moved simultaneously to form a higher-order structure, so it is thought that a preferable higher-order structure in which rotational motion is suppressed in the resin as a whole is easily formed. In addition, when E' at 280°C is less than 3×10 8 Pa, the imide moiety can sufficiently flexibly move when forming a higher order structure, so that the resin can form a preferable higher order structure in which rotational motion is suppressed as a whole. It is thought that an easy effect can be obtained.

PI계 수지의 280℃에 있어서의 E'는, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 3×108Pa 미만, 바람직하게는 2×108Pa 이하, 보다 바람직하게는 1.5×108Pa 이하, 더 바람직하게는 1×108Pa 이하, 특히 바람직하게는 0.8×108Pa 이하이다. 또한, PI계 수지의 280℃에 있어서의 E'는, PI계 필름의 가공 시의 변형을 억제하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 1×104Pa 이상, 보다 바람직하게는 1×105Pa 이상, 더 바람직하게는 1×106Pa 이상이다. PI계 수지의 E'는, 동적 점탄성 측정에 의해 측정할 수 있고, 예를 들면 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.E' of the PI-based resin at 280°C is less than 3×10 8 Pa, preferably 2×10 8 Pa or less, more preferably 1.5×10 8 from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film. Pa or less, more preferably 1×10 8 Pa or less, particularly preferably 0.8×10 8 Pa or less. In addition, E' of the PI-based resin at 280°C is preferably 1×10 4 Pa or more, more preferably 1×10 5 Pa or more, from the viewpoint of easily suppressing deformation of the PI-based film during processing. , more preferably 1×10 6 Pa or more. E' of the PI-based resin can be measured by a dynamic viscoelasticity measurement, for example, by the method described in Examples.

PI계 수지의 280℃에 있어서의 E'는, PI계 수지를 구성하는 구성 단위의 종류 및 그들의 구성, 및, PI계 수지의 분자량 및 제조 방법, 특히 이미드화 조건 등을, 적절히 조정함으로써 조정할 수 있고, 예를 들면 후술의 설명에 있어서 바람직한 양태로서 기재되어 있는 범위 내로 조정함으로써, 상기 범위 내로 조정할 수 있다.E' of the PI-based resin at 280 ° C. can be adjusted by appropriately adjusting the types of structural units constituting the PI-based resin, their configuration, the molecular weight of the PI-based resin, and the production method, particularly the imidation conditions. For example, it can be adjusted within the above range by adjusting within the range described as a preferred mode in the description below.

PI계 수지의 Tg는, 열 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 290℃ 이하, 바람직하게는 290℃ 미만, 보다 바람직하게는 280℃ 이하, 더 바람직하게는 275℃ 이하, 보다 더 바람직하게는 260℃ 이하, 특히 바람직하게는 250℃ 이하, 특히 보다 바람직하게는 240℃ 이하이다. 또한, PI계 수지의 Tg는, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점, 및 PI계 필름의 내열성을 높이기 쉬운 관점에서, 200℃ 이상, 보다 바람직하게는 202℃ 이상, 더 바람직하게는 205℃ 이상이다. PI계 수지의 Tg는, 동적 점탄성 측정에 의해 측정할 수 있고, 예를 들면 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.The Tg of the PI-based resin is 290°C or less, preferably less than 290°C, more preferably 280°C or less, from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film even if the thermal imidization temperature is low. is 275°C or less, more preferably 260°C or less, particularly preferably 250°C or less, and particularly preferably 240°C or less. Further, the Tg of the PI-based resin is 200°C or higher, more preferably 202°C or higher, still more preferably 205°C, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and easily increasing the heat resistance of the PI-based film More than that. The Tg of the PI-based resin can be measured by a dynamic viscoelasticity measurement, for example, by the method described in Examples.

PI계 수지의 Tg는, PI계 수지를 구성하는 구성 단위의 종류 및 그들의 구성, 및, PI계 수지의 분자량 및 제조 방법, 특히 이미드화 조건 등을, 적절히 조정함으로써 조정할 수 있고, 예를 들면 후술의 설명에 있어서 바람직한 양태로서 기재되어 있는 범위 내로 조정함으로써, 상기 범위 내로 조정할 수 있다.The Tg of the PI-based resin can be adjusted by appropriately adjusting the types of structural units constituting the PI-based resin, their configurations, the molecular weight of the PI-based resin, and the production method, particularly the imidation conditions, etc., for example, as described later. It can be adjusted within the said range by adjusting within the range described as a preferable aspect in the description of.

(테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A))(Structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride)

PI계 수지는, 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)(이하, 간단히, 구성 단위 (A)라고 약칭하는 경우가 있음)를 함유한다. 구성 단위 (A)는, PI계 수지의 280℃에 있어서의 E' 및 Tg가 상기 범위 내인 한 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면, 식 (1):The PI-based resin contains a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride (hereinafter sometimes simply abbreviated as structural unit (A)). The structural unit (A) is not particularly limited as long as E' and Tg at 280 ° C. of the PI-based resin are within the above ranges, but, for example, formula (1):

Figure pat00005
Figure pat00005

[식 (1) 중, Y는 4가의 유기기를 나타냄][In formula (1), Y represents a tetravalent organic group]

로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위인 것이 바람직하다.It is preferable that it is a structural unit derived from the tetracarboxylic acid anhydride represented by.

식 (1)에 있어서, Y는, 서로 독립적으로 4가의 유기기를 나타내고, 바람직하게는 탄소수 4~40의 4가의 유기기를 나타내며, 보다 바람직하게는 환상 구조를 가지는 탄소수 4~40의 4가의 유기기를 나타낸다. 환상 구조로서는, 지환, 방향환, 헤테로환 구조를 들 수 있다. 상기 유기기는, 유기기 중의 수소 원자가 할로겐 원자, 탄화수소기, 알콕시기 또는 할로겐화 탄화수소기로 치환되어 있어도 되고, 그 경우, 이들 기의 탄소수는 바람직하게는 1~8이다. 본 발명의 PI계 수지는, 복수종의 Y를 포함할 수 있고, 복수종의 Y는, 서로 동일해도 되고, 상이해도 된다. Y로서는, 식 (31)~식 (40)으로 나타나는 기 또는 구조; 식 (31)~식 (40)으로 나타나는 기 중의 수소 원자가 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 플루오로기, 클로로기 또는 트리플루오로메틸기로 치환된 기; 4가의 탄소수 1~8의 쇄식 탄화수소기 등을 들 수 있다.In Formula (1), Y independently represents a tetravalent organic group, preferably represents a tetravalent organic group having 4 to 40 carbon atoms, more preferably a tetravalent organic group having 4 to 40 carbon atoms and having a cyclic structure. indicate As a cyclic structure, an alicyclic ring, an aromatic ring, and a heterocyclic structure are mentioned. In the organic group, a hydrogen atom in the organic group may be substituted with a halogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, or a halogenated hydrocarbon group, and in that case, these groups preferably have 1 to 8 carbon atoms. The PI-based resin of the present invention may contain plural types of Y, and the plural types of Y may be the same as or different from each other. As Y, it is group or structure represented by Formula (31) - Formula (40); The hydrogen atoms in the groups represented by formulas (31) to (40) are methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, fluoro , a group substituted with a chloro group or a trifluoromethyl group; A tetravalent C1-C8 chain hydrocarbon group etc. are mentioned.

Figure pat00006
Figure pat00006

[식 (31)~식 (40) 중, R19~R26 및 R23'~R26'은, 서로 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타내고, R19~R26 및 R23'~R26'에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고,[In Formulas (31) to (40), R 19 to R 26 and R 23' to R 26' are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or a carbon number represents an aryl group of 6 to 12, and the hydrogen atoms contained in R 19 to R 26 and R 23' to R 26' may be independently substituted with halogen atoms;

V1 및 V2는, 서로 독립적으로, 단결합(단, e+d=1일 때를 제외함), -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2-, -S-, -CO-, -N(Rj)-, 식 (a)V 1 and V 2 are, independently of each other, a single bond (except when e+d=1), -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH (CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -SO 2 -, -S-, -CO-, -N(R j )-, Formula (a)

Figure pat00007
Figure pat00007

(식 (a) 중, R27~R30은, 서로 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1~6의 알킬기를 나타내고,(In formula (a), R 27 to R 30 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms;

D는, 서로 독립적으로, 단결합, -C(CH3)2- 또는 -C(CF3)2-를 나타내며,D, independently of each other, represents a single bond, -C(CH 3 ) 2 - or -C(CF 3 ) 2 -;

i는, 1~3의 정수를 나타내고,i represents an integer of 1 to 3;

*은, 결합손을 나타냄)* indicates a binding hand)

을 나타내며,represents,

Rj는, 수소 원자, 또는 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타내고,R j represents a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a halogen atom;

e 및 d는, 서로 독립적으로, 0~2의 정수를 나타내며(단, e+d는 0은 아님),e and d, independently of each other, represent integers from 0 to 2 (provided that e + d is not 0),

f는 0~3의 정수를 나타내고,f represents an integer from 0 to 3,

g 및 h는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타내며,g and h represent, independently of each other, an integer from 0 to 4;

식 (39) 중, Z는 2가의 유기기를 나타내고,In formula (39), Z represents a divalent organic group,

Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내며,R a1 independently represents a halogen atom, or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

s는 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고,s independently represents an integer from 0 to 3;

식 (40) 중, Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내며,In formula (40), R a2 independently represents a halogen atom or an alkyl, alkoxy, aryl or aryloxy group which may have a halogen atom;

t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고,t represents, independently of each other, an integer from 0 to 3;

*은, 결합손을 나타냄].* indicates bonded hands].

본 발명에 있어서의 PI계 수지는, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 식 (1) 중의 Y로서, 식 (31), 식 (32), 식 (33), 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 구조를 포함하는 것이 바람직하고, 에스테르 결합을 함유하는 구조 및 비페닐 골격을 함유하는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 구조를 포함하는 것이 보다 바람직하며, 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나의 구조를 포함하는 것이 더 바람직하다. 또한, 본 명세서에 있어서, 기계 물성이란, 굴곡 내성, 내절성, 및, 탄성률을 포함하는 기계적 물성을 의미하고, 기계 물성이 향상된다란, 예를 들면, 굴곡내성 및/또는 탄성률이 높아지는 것을 나타낸다. 또한, 열 물성이란, Tg, 선팽창 계수(이하, CTE라고 기재하는 경우가 있음), 열에 의한 변성 및 열화가 적은 것, 가열 후의 변형이 적은 것을 포함하는 열적 물성을 의미하고, 열 물성이 향상된다란, 예를 들면, Tg가 높아지는 것, 및/또는, CTE가 낮아지는 것을 나타낸다.The PI-based resin in the present invention is Y in formula (1) from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, and formulas (31), (32), (33), It is preferable to include at least one structure selected from the group consisting of structures represented by (39) and formula (40), and at least one structure selected from the group consisting of a structure containing an ester bond and a structure containing a biphenyl skeleton. It is more preferable to include the structure of, and it is still more preferable to include at least one structure selected from the group consisting of structures represented by formulas (39) and (40). In addition, in this specification, mechanical properties mean mechanical properties including bending resistance, folding resistance, and elastic modulus, and improving mechanical properties indicates, for example, that bending resistance and/or elastic modulus increase. . Further, thermal properties mean thermal properties including Tg, coefficient of linear expansion (hereinafter sometimes referred to as CTE), less denaturation and deterioration due to heat, and less deformation after heating, and the thermal properties are improved. The column indicates, for example, that Tg is increased and/or that CTE is decreased.

식 (31)~식 (33)에 있어서, R19~R26 및 R23'~R26'은, 서로 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다.In Formulas (31) to (33), R 19 to R 26 and R 23' to R 26' are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or a carbon number 6-12 aryl groups are shown.

탄소수 1~6의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, n-펜틸기, 2-메틸-부틸기, 3-메틸부틸기, 2-에틸-프로필기, n-헥실기 등을 들 수 있다.Examples of the alkyl group having 1 to 6 carbon atoms include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, n-pentyl, and 2-methyl-butyl. group, 3-methylbutyl group, 2-ethyl-propyl group, n-hexyl group and the like.

탄소수 1~6의 알콕시기로서는, 메톡시기, 에톡시기, 프로필옥시기, 이소프로필옥시기, n-부톡시기, 이소부톡시기, sec-부톡시기, tert-부톡시기, 펜틸옥시기, 헥실옥시기 및 시클로헥실옥시기 등을 들 수 있다.Examples of the alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms include methoxy group, ethoxy group, propyloxy group, isopropyloxy group, n-butoxy group, isobutoxy group, sec-butoxy group, tert-butoxy group, pentyloxy group, and hexyloxy group. and a cyclohexyloxy group.

탄소수 6~12의 아릴기로서는, 페닐기, 톨릴기, 크실릴기, 나프틸기 및 비페닐기 등을 들 수 있다. R19~R26 및 R23'~R26'에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 당해 할로겐 원자로서는, 예를 들면 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자를 들 수 있다. 이들 중에서도, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, R19~R26 및 R23'~R26'은, 서로 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1~6의 알킬기가 바람직하고, 수소 원자 또는 탄소수 1~3의 알킬기가 보다 바람직하며, 수소 원자가 더 바람직하다.As a C6-C12 aryl group, a phenyl group, a tolyl group, a xylyl group, a naphthyl group, a biphenyl group, etc. are mentioned. The hydrogen atom contained in R 19 to R 26 and R 23' to R 26' may be independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. can be heard Among these, from the viewpoint of easily improving the mechanical properties and thermal properties of the PI-based film, R 19 to R 26 and R 23' to R 26' are each independently a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. , A hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is more preferable, and a hydrogen atom is still more preferable.

식 (31)에 있어서, V1 및 V2는, 서로 독립적으로, 단결합(단, e+d=1일 때를 제외함), -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2-, -S-, -CO-, -N(Rj)- 또는 식 (a)를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 단결합(단, e+d=1일 때를 제외함), -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2- 또는 -CO-를 나타내고, 보다 바람직하게는 단결합(단, e+d=1일 때를 제외함), -O-, -C(CH3)2- 또는 -C(CF3)2-를 나타낸다. Rj는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타낸다. 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기로서는, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, n-펜틸기, 2-메틸-부틸기, 3-메틸부틸기, 2-에틸-프로필기, n-헥실기, n-헵틸기, n-옥틸기, tert-옥틸기, n-노닐기 및 n-데실기 등을 들 수 있고, 이들은 할로겐 원자로 치환되어 있어도 된다. 할로겐 원자로서는, 상기와 마찬가지의 것을 들 수 있다.In Formula (31), V 1 and V 2 are, independently of each other, a single bond (except when e+d=1), -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -SO 2 -, -S-, -CO-, -N(R j )- or the formula (a) is shown, and from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, preferably a single bond (except when e+d = 1), -O-, -CH 2 - , -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 - or -CO-, more preferably a single bond (except when e+d=1), -O-, -C(CH 3 ) 2 - or -C(CF 3 ) 2 -. R j represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. As the monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, 2- methyl-butyl group, 3-methylbutyl group, 2-ethyl-propyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, tert-octyl group, n-nonyl group and n-decyl group, etc. and these may be substituted with a halogen atom. As a halogen atom, the thing similar to the above is mentioned.

식 (31)에 있어서, e 및 d는, 서로 독립적으로, 0~2의 정수를 나타내고(단, e+d는 0은 아님), 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0 또는 1을 나타낸다. 또한, e+d는 바람직하게는 1을 나타낸다. 또한, 식 (31)에 있어서, e가 0일 때에는, 2개의 벤젠환은 V1에 의해 결합하고 있지 않은 것을 나타내고, d가 0일 때에는, 2개의 벤젠환은 V2에 의해 결합하고 있지 않은 것을 나타낸다.In formula (31), e and d represent integers of 0 to 2 independently of each other (provided that e+d is not 0), and even if the imidation temperature is low, it is easy to reduce the Df of the PI-based film. From this point of view, it preferably represents 0 or 1. Also, e+d preferably represents 1. In Formula (31), when e is 0, the two benzene rings are not bonded by V 1 , and when d is 0, the two benzene rings are not bonded by V 2 . .

식 (32) 및 식 (33)에 있어서, f는 0~3의 정수를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0 또는 1, 보다 바람직하게는 0을 나타낸다.In formulas (32) and (33), f represents an integer of 0 to 3, and is preferably 0 or 1, more preferably 0 or 1, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. represents 0.

식 (33)에 있어서, g 및 h는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1을 나타낸다. 또한, g+h는 바람직하게는 0~2의 정수를 나타낸다. 또한, f가 1 이상인 경우, 복수의 g 및 h는, 서로 독립적으로, 동일해도 되고, 상이해도 된다.In formula (33), g and h each independently represent an integer of 0 to 4, and from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, preferably an integer of 0 to 2, Preferably it represents 0 or 1. In addition, g+h preferably represents an integer of 0 to 2. In addition, when f is 1 or more, a plurality of g and h may be the same or different from each other independently of each other.

식 (a)에 있어서, R27~R30은, 서로 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1~6의 알킬기를 나타낸다.In formula (a), R 27 to R 30 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.

탄소수 1~6의 알킬기로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 이들 중에서도, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, R27~R30은, 서로 독립적으로, 바람직하게는 수소 원자 또는 탄소수 1~3의 알킬기를 나타내고, 보다 바람직하게는 수소 원자를 나타낸다.As a C1-C6 alkyl group, the thing illustrated above is mentioned. Among these, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, R 27 to R 30 independently of each other preferably represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, more preferably hydrogen represent atoms.

식 (a)에 있어서, D는, 단결합, -C(CH3)2- 또는 -C(CF3)2-를 나타낸다. D가 이와 같은 구조이면, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉽다. i는 1~3의 정수를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 1 또는 2이다. i가 2 이상인 경우, 복수의 D 및 R27~R30은, 서로 독립적으로, 동일해도 되고, 상이해도 된다.In formula (a), D represents a single bond, -C(CH 3 ) 2 - or -C(CF 3 ) 2 -. When D has such a structure, it is easy to improve the mechanical and thermal properties of the PI-based film. i represents an integer of 1 to 3, and is preferably 1 or 2 from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film. When i is 2 or more, a plurality of D and R 27 to R 30 may be the same or different independently of each other.

식 (39)에 있어서, Z는 2가의 유기기를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 탄소수 4~40의 2가의 유기기를 나타내고, 보다 바람직하게는 환상 구조를 가지는 탄소수 4~40의 2가의 유기기를 나타내며, 더 바람직하게는 방향환을 가지는 탄소수 4~40의 2가의 유기기를 나타내고, 특히 바람직하게는 식 (z1), 식 (z2) 또는 식 (z3):In formula (39), Z represents a divalent organic group, preferably represents a divalent organic group having 4 to 40 carbon atoms, more preferably cyclic, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film. Represents a divalent organic group having a structure of 4 to 40 carbon atoms, more preferably a divalent organic group having 4 to 40 carbon atoms having an aromatic ring, particularly preferably formula (z1), formula (z2) or formula (z3 ):

Figure pat00008
Figure pat00008

[식 (z1)~식 (z3) 중, Rz11~Rz14는, 서로 독립적으로, 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내고,[In formulas (z1) to (z3), R z11 to R z14 each independently represent a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom,

Rz2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내며,R z2 independently represents a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom;

n은, 1~4의 정수를 나타내고,n represents an integer of 1 to 4;

j는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내며,j, independently of each other, represents an integer from 0 to 3;

*은, 결합손을 나타냄]* indicates bonded hands]

으로 나타나는 2가의 유기기를 나타내고, 특히 보다 바람직하게는 식 (z1)로 나타나는 2가의 유기기를 나타낸다.represents a divalent organic group represented by , and more preferably represents a divalent organic group represented by formula (z1).

식 (z1)에 있어서, Rz11~Rz14는, 서로 독립적으로, 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타낸다.In formula (z1), R z11 to R z14 each independently represent a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom.

1가의 탄화수소기로서는, 방향족 탄화수소기, 지환족 탄화수소기, 지방족 탄화수소기를 들 수 있다.As a monovalent hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, an alicyclic hydrocarbon group, and an aliphatic hydrocarbon group are mentioned.

방향족 탄화수소기로서는, 페닐기, 톨릴기, 크실릴기, 나프틸기, 비페닐기 등의 아릴기 등을 들 수 있다.As an aromatic hydrocarbon group, aryl groups, such as a phenyl group, a tolyl group, a xylyl group, a naphthyl group, and a biphenyl group, etc. are mentioned.

지환족 탄화수소기로서는, 시클로펜틸기, 시클로헥실기 등의 시클로알킬기 등을 들 수 있다.As an alicyclic hydrocarbon group, cycloalkyl groups, such as a cyclopentyl group and a cyclohexyl group, etc. are mentioned.

지방족 탄화수소기로서는, 예를 들면 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, n-펜틸기, 2-메틸-부틸기, 3-메틸부틸기, 2-에틸-프로필기, n-헥실기, n-헵틸기, n-옥틸기, tert-옥틸기, n-노닐기, n-데실기 등의 알킬기를 들 수 있다.Examples of the aliphatic hydrocarbon group include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, sec-butyl, tert-butyl, n-pentyl, 2-methyl-butyl, 3- Alkyl groups, such as a methylbutyl group, 2-ethyl-propyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, tert-octyl group, n-nonyl group, and n-decyl group, are mentioned.

할로겐 원자로서는, 상기에 기재된 것을 들 수 있다.As the halogen atom, those described above are exemplified.

Rz11~Rz14는, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 서로 독립적으로, 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 보다 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~6의 알킬기, 더 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~3의 알킬기, 특별히 바람직하게는 수소 원자를 나타낸다.R z11 to R z14 are independently of each other, preferably a hydrogen atom or an alkyl group which may have a halogen atom, more preferably a hydrogen atom, or An alkyl group of 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, more preferably a hydrogen atom, or an alkyl group of 1 to 3 carbon atoms which may have a halogen atom, particularly preferably a hydrogen atom.

식 (z1)에 있어서, n은, 1~4의 정수를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 1~3의 정수, 보다 바람직하게는 1 또는 2, 특별히 바람직하게는 2를 나타낸다.In formula (z1), n represents an integer of 1 to 4, and is preferably an integer of 1 to 3, more preferably 1 from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. or 2, particularly preferably 2.

식 (z2)에 있어서, Rz2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내고, 1가의 탄화수소기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. Rz2는, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 서로 독립적으로, 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 보다 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~6의 알킬기, 더 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~3의 알킬기를 나타낸다.In the formula (z2), R z2 independently represents a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom, and examples of the monovalent hydrocarbon group include those exemplified above. R z2 is, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, independently of each other, preferably an alkyl group which may have a halogen atom, more preferably an alkyl group which may have a halogen atom and has 1 to 6 carbon atoms. An alkyl group, more preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms which may have a halogen atom.

식 (z2)에 있어서, j는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0 또는 1, 보다 바람직하게는 0이다.In the formula (z2), j independently represents an integer of 0 to 3, and is preferably 0 or 1, more preferably 0 or 1, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. is 0.

식 (39)에 있어서, Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다.In Formula (39), R a1 independently represents a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, and improves the mechanical and thermal properties of the PI-based film From an easy point of view, preferably each independently represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group having 6 to 12 carbon atoms.

탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다.As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, the thing illustrated above is mentioned.

Ra1에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 할로겐 원자로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, Ra1은, 서로 독립적으로, 바람직하게는 탄소수 1~6의 알킬기, 보다 바람직하게는 탄소수 1~3의 알킬기를 나타낸다.The hydrogen atom contained in R a1 may be mutually independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. Among these, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, R a1 is independently of each other, preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, more preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms. indicate

식 (39)에 있어서, s는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1을 나타낸다.In formula (39), s independently represents an integer of 0 to 3, and from the viewpoint of easily improving mechanical and thermal properties of the PI-based film, s is preferably an integer of 0 to 2, more preferably represents 0 or 1.

식 (40)에 있어서, Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다.In the formula (40), R a2 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, and to improve the mechanical and thermal properties of the PI-based film From an easy point of view, preferably each independently represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group having 6 to 12 carbon atoms.

탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다.As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, the thing illustrated above is mentioned.

Ra2에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 할로겐 원자로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 이들 중에서도, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, Ra2로서는, 서로 독립적으로, 바람직하게는 탄소수 1~6의 알킬기, 보다 바람직하게는 탄소수 1~3의 알킬기를 들 수 있다.The hydrogen atom contained in R a2 may be independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. Among these, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, as R a2 , independently of each other, preferably an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, more preferably an alkyl group of 1 to 3 carbon atoms can be cited. there is.

식 (40)에 있어서, t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1을 나타낸다.In formula (40), t represents an integer of 0 to 3 independently of each other, and from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, preferably an integer of 0 to 2, more preferably represents 0 or 1.

식 (31)~식 (33), 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조의 구체예로서는, 식 (41)~식 (56)으로 나타나는 구조를 들 수 있다. 또한, 이들 식 중, *은 결합손을 나타낸다.As a specific example of the structure represented by Formula (31) - Formula (33), Formula (39), and Formula (40), the structure represented by Formula (41) - Formula (56) is mentioned. In these formulas, * represents a bond.

Figure pat00009
Figure pat00009

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 식 (1) 중의 Y로서, 식 (31)~식 (33), 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나를 포함하는 경우, 식 (1) 중의 Y가 식 (31)~식 (33), 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위의 비율, 특히 식 (1) 중의 Y가 식 (39) 및 식 (40)으로 나타나는 구조로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위의 비율은, 구성 단위 (A)의 총 몰량에 대하여, 바람직하게는 30몰% 이상, 보다 바람직하게는 50몰% 이상, 더 바람직하게는 70몰% 이상, 특히 바람직하게는 90몰% 이상이며, 바람직하게는 100몰% 이하이다. 상기 비율이 상기 범위이면, PI계 필름의 Df를 저감시키기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, as Y in formula (1), at least one selected from the group consisting of structures represented by formulas (31) to (33), formula (39) and formula (40) is included. In this case, the ratio of structural units derived from tetracarboxylic acid anhydride in which Y in formula (1) is represented by at least one selected from the group consisting of structures represented by formulas (31) to (33), formula (39) and formula (40) In particular, the ratio of structural units derived from tetracarboxylic acid anhydride in which Y in formula (1) is represented by at least one selected from the group consisting of structures represented by formula (39) and formula (40) is the total molar amount of structural unit (A) , is preferably 30 mol% or more, more preferably 50 mol% or more, even more preferably 70 mol% or more, particularly preferably 90 mol% or more, and preferably 100 mol% or less. When the ratio is within the above range, it is easy to reduce the Df of the PI-based film. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(에스테르 결합 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A1))(Structural unit derived from ester bond-containing tetracarboxylic anhydride (A1))

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)는, 에스테르 결합 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A1)(이하, 간단히 구성 단위 (A1)이라고 약칭하는 경우가 있음)을 포함하는 것이 바람직하다. 구성 단위 (A)가 상기 구성 단위 (A1)을 포함하면, 분자 배향성을 가지는 에스테르 결합이 PI계 수지에 편입되기 때문에, PI계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하고, 그 도막을 이미드화하는 공정에서 배향하기 쉽고, 이미드화 온도가 저온이어도 Df를 저감하기 쉽다. 또한, 마찬가지의 이유로, CTE를 저감하기 쉽고, PI계 필름의 치수 안정성을 높이기 쉽다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (A) includes a structural unit (A1) derived from an ester bond-containing tetracarboxylic acid anhydride (hereinafter sometimes simply abbreviated as the structural unit (A1)). desirable. When the structural unit (A) includes the structural unit (A1), an ester bond having molecular orientation is incorporated into the PI-based resin, so a step of coating the PI-based resin precursor solution on the substrate and imidizing the coated film. , and easy to reduce Df even if the imidation temperature is low. Also, for the same reason, it is easy to reduce CTE and easily increase the dimensional stability of the PI-based film.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A1)은, 에스테르 결합을 함유하고 있으면 특별히 제한되지 않고, 구성 단위 (A1)에 함유되는 에스테르 결합은 1개여도 2개 이상이어도 되지만, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서는, 식 (a1):In one embodiment of the present invention, the structural unit (A1) is not particularly limited as long as it contains an ester bond, and the number of ester bonds contained in the structural unit (A1) may be one or two or more, but the imidization temperature Even at a low temperature, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film, formula (a1):

Figure pat00010
Figure pat00010

[식 (a1) 중, Z는, 2가의 유기기를 나타내고,[In formula (a1), Z represents a divalent organic group,

Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내며,R a1 independently represents a halogen atom, or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

s는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]s, independently of each other, represents an integer from 0 to 3]

로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a1)인 것이 바람직하다.It is preferable that it is a structural unit (a1) derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by.

식 (a1)에 있어서의 Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다.R a1 in formula (a1) independently represents a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, and even if the imidation temperature is low, Df of the PI-based film From the viewpoint of easy reduction, preferably each independently represents an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group of 6 to 12 carbon atoms.

탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다.As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, the thing illustrated above is mentioned.

Ra1에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 할로겐 원자로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다.The hydrogen atom contained in R a1 may be mutually independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above.

이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, Ra1로서는, 서로 독립적으로, 바람직하게는 탄소수 1~6의 알킬기를 들 수 있고, 보다 바람직하게는 탄소수 1~3의 알킬기를 들 수 있다.Among these, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, as R a1 , independently of each other, preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is exemplified, more preferably 1 to 6 carbon atoms. The alkyl group of 3 is mentioned.

또한, 식 (a1)에 있어서의 s는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, 바람직하게는 0 또는 1, 보다 바람직하게는 0을 나타낸다.In addition, s in Formula (a1) represents an integer of 0-3 mutually independently, Preferably it represents 0 or 1, More preferably, it represents 0.

식 (a1)에 있어서의 Z는 2가의 유기기를 나타내고, 2가의 유기기로서는, 식 (39)에 있어서의 2가의 유기기로서 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, Z는, 식 (z1), 식 (z2), 식 (z3):Z in the formula (a1) represents a divalent organic group, and examples of the divalent organic group include those exemplified above as the divalent organic group in the formula (39). Among these, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidation temperature is low, Z is formula (z1), formula (z2), formula (z3):

Figure pat00011
Figure pat00011

[식 (z1)~식 (z3) 중, Rz11~Rz14는, 서로 독립적으로, 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내고,[In formulas (z1) to (z3), R z11 to R z14 each independently represent a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom,

Rz2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내며,R z2 independently represents a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom;

n은, 1~4의 정수를 나타내고,n represents an integer of 1 to 4;

j는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내며,j, independently of each other, represents an integer from 0 to 3;

*은, 결합손을 나타냄]* indicates bonded hand]

으로 나타나는 2가의 유기기인 것이 바람직하고, 식 (z1)로 나타나는 2가의 유기기인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that it is a divalent organic group represented by, and it is more preferable that it is a divalent organic group represented by Formula (z1).

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 식 (z1)에 있어서의 Rz11~Rz14는, 서로 독립적으로, 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타낸다.In one embodiment of the present invention, R z11 to R z14 in formula (z1) each independently represent a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom.

1가의 탄화수소기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다.Examples of the monovalent hydrocarbon group include those exemplified above.

Rz11~Rz14는, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 서로 독립적으로, 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 보다 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~6의 알킬기, 더 바람직하게는 수소 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~3의 알킬기, 특히 바람직하게는 수소 원자를 나타낸다.R z11 to R z14 are each independently preferably a hydrogen atom or an alkyl group which may have a halogen atom, more preferably a hydrogen atom, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. , or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, more preferably a hydrogen atom, or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms which may have a halogen atom, particularly preferably a hydrogen atom.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 식 (z2)에 있어서의 Rz2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기를 나타내고, 1가의 탄화수소기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. Rz2는, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 서로 독립적으로, 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 보다 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~6의 알킬기, 더 바람직하게는 할로겐 원자를 가져도 되는 탄소수 1~3의 알킬기를 나타낸다.In one embodiment of the present invention, R z2 in the formula (z2) each independently represents a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom, and examples of the monovalent hydrocarbon group include those exemplified above. . R z2 is, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, independently of each other, preferably an alkyl group which may have a halogen atom, more preferably an alkyl group which may have a halogen atom and has 1 to 6 carbon atoms. An alkyl group, more preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms which may have a halogen atom.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 식 (z1)에 있어서의 Rz11~Rz14를 가지는 벤젠환에 있어서, Rz11~Rz14 중 적어도 하나가 할로겐 원자를 가져도 되는 1가의 탄화수소기여도 되지만, Rz11~Rz14가 모두 수소 원자인 것이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, in the benzene ring having R z11 to R z14 in the formula (z1), from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even at a low imidization temperature, R z11 to R Although at least one of z14 may be a monovalent hydrocarbon group which may have a halogen atom, it is preferable that all of R z11 to R z14 are hydrogen atoms.

식 (z2)에 있어서의 j는, 서로 독립적으로, 0~3을 나타낸다. 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, j는 서로 독립적으로, 바람직하게는 0 또는 1, 보다 바람직하게는 0이며, 더 바람직하게는 j는 모두 0이다.j in Formula (z2) represents 0-3 mutually independently. In one embodiment of the present invention, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, j is independently of each other, preferably 0 or 1, more preferably 0, and even more preferably where j is all 0.

식 (z1)에 있어서, n은 1~4의 정수를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 1~3의 정수, 보다 바람직하게는 1 또는 2, 특히 바람직하게는 2를 나타낸다.In the formula (z1), n represents an integer of 1 to 4, and is preferably an integer of 1 to 3, more preferably 1 or 3, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. 2, particularly preferably 2.

본 발명의 바람직한 일 실시 형태에 있어서, 식 (a1)은, 식 (a1') 또는 식 (a1"):In a preferred embodiment of the present invention, formula (a1) is formula (a1') or formula (a1"):

Figure pat00012
Figure pat00012

로 나타나는 것이 바람직하다. PI계 수지가, 구성 단위 (A1)로서, 식 (a1), 특히 식 (a1') 또는 식 (a1")로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 포함하면, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽다.It is preferable to appear as If the PI-based resin contains, as the structural unit (A1), a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (a1), particularly formula (a1') or formula (a1"), even if the imidization temperature is low, It is easy to reduce Df of the obtained PI-based film.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A1)의 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 바람직하게는 10몰% 이상, 보다 바람직하게는 15몰% 이상, 더 바람직하게는 20몰% 이상, 보다 더 바람직하게는 30몰% 이상, 특히 바람직하게는 35몰% 이상, 특히 보다 바람직하게는 40몰% 이상이다. 또한, 구성 단위 (A1)의 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 바람직하게는 75몰% 이하, 보다 바람직하게는 70몰% 이하, 더 바람직하게는 65몰% 이하, 특히 바람직하게는 60몰% 이하이다. 구성 단위 (A1)의 함유량이 상기 범위이면, PI계 수지의 배향이 발생하기 쉽고, PI계 필름의 Df가 저감되기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, the content of the structural unit (A1) is preferably 10 mol% or more, more preferably 15 mol% or more, still more preferably 20 mol% or more, relative to the total amount of the structural unit (A). mol% or more, still more preferably 30 mol% or more, particularly preferably 35 mol% or more, and even more preferably 40 mol% or more. The content of the structural unit (A1) is preferably 75 mol% or less, more preferably 70 mol% or less, still more preferably 65 mol% or less, particularly preferably 65 mol% or less, based on the total amount of the structural unit (A). is 60 mol% or less. When the content of the structural unit (A1) is within the above range, orientation of the PI-based resin tends to occur, and Df of the PI-based film tends to decrease. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(비페닐 골격 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A2))(Structural unit (A2) derived from biphenyl backbone-containing tetracarboxylic anhydride)

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 상기 구성 단위 (A)는, 비페닐 골격 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A2)(이하, 간단히 구성 단위 (A2)라고 약칭하는 경우가 있음)를 포함하는 것이 바람직하다. 구성 단위 (A)가 상기 구성 단위 (A2)를 포함하면, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (A) includes a structural unit (A2) derived from a biphenyl skeleton-containing tetracarboxylic acid anhydride (hereinafter sometimes simply abbreviated as structural unit (A2)). It is desirable to do When the structural unit (A) contains the aforementioned structural unit (A2), even if the imidation temperature is low, the Df of the resulting PI-based film can be easily reduced.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A2)는, 비페닐 골격을 함유하고 있으면 특별히 제한되지 않고, 구성 단위 (A2)에 함유되는 비페닐 골격은 1개여도 2개 이상이어도 된다. 또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A2)는, 비페닐 골격을 함유하고, 에스테르 결합을 함유하지 않는 구성 단위인 것이 바람직하고, 본 명세서에 있어서, 에스테르 결합 및 비페닐 골격의 양방을 함유하는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위는, 구성 단위 (A2)가 아니라, 에스테르 결합 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A1)로 분류된다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (A2) is not particularly limited as long as it contains a biphenyl skeleton, and the number of biphenyl skeletons contained in the structural unit (A2) may be one or two or more. In one embodiment of the present invention, the structural unit (A2) is preferably a structural unit that contains a biphenyl skeleton and does not contain an ester bond, and in the present specification, the ester bond and the biphenyl skeleton Structural units derived from tetracarboxylic anhydride containing both are classified not as structural units (A2) but as structural units derived from tetracarboxylic anhydrides containing ester bonds (A1).

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A2)는, 식 (a2):In one embodiment of the present invention, the structural unit (A2) has the formula (a2):

Figure pat00013
Figure pat00013

[식 (a2) 중, Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (a2), R a2 independently represents a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]t represents, independently of each other, an integer from 0 to 3]

로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a2)인 것이 바람직하다.It is preferable that it is a structural unit (a2) derived from the tetracarboxylic acid anhydride represented by.

식 (a2)에 있어서의 Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다. 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. Ra2에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 할로겐 원자로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, Ra2는, 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기가 바람직하고, 탄소수 1~3의 알킬기가 보다 바람직하다.R a2 in formula (a2) independently represents a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, and even if the imidation temperature is low, Df of the PI-based film From the viewpoint of easy reduction, preferably each independently represents an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group of 6 to 12 carbon atoms. As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, the thing illustrated above is mentioned. The hydrogen atom contained in R a2 may be independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. Among these, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidation temperature is low, R a2 is independently preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.

또한, 식 (a2)에 있어서의 t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, 바람직하게는 0 또는 1, 보다 바람직하게는 0을 나타낸다.In addition, t in Formula (a2) represents an integer of 0-3 mutually independently, Preferably it represents 0 or 1, More preferably, it represents 0.

식 (a2)에 있어서의 비페닐 골격을 구성하는 벤젠환에 결합되는 2개의 카르본산 무수물의 결합 위치는 특별히 제한되지 않고, 2개의 벤젠환을 결합하는 단결합을 기준으로, 서로 독립적으로, 3,4-, 또는, 2,3-이어도 되고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 3,4-인 것이 바람직하다.The bonding position of the two carboxylic acid anhydrides bonded to the benzene ring constituting the biphenyl skeleton in formula (a2) is not particularly limited, and on the basis of the single bond bonding the two benzene rings, independently of each other, 3 ,4- or 2,3- may be used, and 3,4- is preferable from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidation temperature is low.

본 발명의 바람직한 일 실시 형태에 있어서, 식 (a2)은, 식 (a2'):In one preferred embodiment of the present invention, formula (a2) is formula (a2'):

Figure pat00014
Figure pat00014

로 나타나는 것이 바람직하다. PI계 수지가, 구성 단위 (A2)로서, 식 (a2), 특히 식 (a2')로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 포함하면, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽다.It is preferable to appear as If the PI-based resin contains, as the structural unit (A2), a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (a2), particularly formula (a2'), Df of the PI-based film obtained even if the imidization temperature is low is easy to reduce

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A2)의 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 바람직하게는 25몰% 이상, 보다 바람직하게는 30몰% 이상, 더 바람직하게는 35몰% 이상, 특히 바람직하게는 40몰% 이상이다. 또한, 구성 단위 (A2)의 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 바람직하게는 90몰% 이하, 보다 바람직하게는 85몰% 이하, 더 바람직하게는 80몰% 이하, 보다 더 바람직하게는 70몰% 이하, 특히 바람직하게는 60몰% 이하이다. 구성 단위 (A1)의 함유량이 상기 범위이면, PI계 수지의 배향이 발생하기 쉽고, PI계 필름의 Df가 저감되기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, the content of the structural unit (A2) is preferably 25 mol% or more, more preferably 30 mol% or more, still more preferably 35 mol% or more, relative to the total amount of the structural unit (A). mol% or more, particularly preferably 40 mol% or more. The content of the structural unit (A2) is preferably 90 mol% or less, more preferably 85 mol% or less, still more preferably 80 mol% or less, and even more preferably 80 mol% or less, relative to the total amount of the structural unit (A). It is preferably 70 mol% or less, particularly preferably 60 mol% or less. When the content of the structural unit (A1) is within the above range, orientation of the PI-based resin tends to occur, and Df of the PI-based film tends to decrease. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)의 총량에 대한 구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2)의 총량은, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서는, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 50몰% 이상인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 60몰% 이상, 더 바람직하게는 70몰% 이상, 보다 더 바람직하게는 80몰% 이상, 특히 바람직하게는 90몰% 이상이다. 또한, 구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2)의 총량의 상한은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 100몰% 이하여도 된다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, the total amount of the structural unit (A1) and the structural unit (A2) relative to the total amount of the structural unit (A) is from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low. , relative to the total amount of the structural unit (A), it is preferably 50 mol% or more, more preferably 60 mol% or more, still more preferably 70 mol% or more, still more preferably 80 mol% or more, particularly preferably is 90 mol% or more. In addition, the upper limit in particular of the total amount of structural unit (A1) and structural unit (A2) is not restrict|limited, For example, it may be 100 mol% or less. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(구성 단위 (A3))(Constituent Unit (A3))

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)는, 구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2) 이외의 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A3)(이하, 간단히 구성 단위 (A3)이라고 약칭하는 경우가 있음)을 포함하고 있어도 된다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (A) is a structural unit (A3) derived from tetracarboxylic acid anhydride other than the structural unit (A1) and the structural unit (A2) (hereinafter simply referred to as the structural unit (A3). may be abbreviated).

또한, 본 명세서에 있어서, 「구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2) 이외의 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A3)」이란, 구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2) 중 어느 것에도 해당하지 않는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 의미하고, 「구성 단위 (A3)의 함유량」이란, 구성 단위 (A3)이 복수 존재하는 경우, 구성 단위 (A3)의 총량을 의미한다.In addition, in this specification, “structural unit (A3) derived from tetracarboxylic anhydride other than structural unit (A1) and structural unit (A2)” refers to both structural unit (A1) and structural unit (A2). Structural units derived from tetracarboxylic acid anhydride that do not apply are meant, and "content of structural unit (A3)" means the total amount of structural units (A3) when there are a plurality of structural units (A3).

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A3)으로서는, 에스테르 결합 및 비페닐 골격의 모두 함유하지 않는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 예를 들면, 식 (1) 중의 Y가 식 (31)~식 (38)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 들 수 있고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감되기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 식 (1) 중의 Y가 식 (42)~식 (49) 또는 식 (53)으로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 보다 바람직하게는 식 (1) 중의 Y가 식 (42), 식 (46), 식 (49) 또는 식 (53)으로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위이다.In one embodiment of the present invention, as the structural unit (A3), a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride containing neither an ester bond nor a biphenyl skeleton, for example, Y in formula (1) is ) to tetracarboxylic acid anhydride-derived structural units represented by formula (38), from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, preferably Y in formula (1) is the formula (42) to a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (49) or formula (53), more preferably Y in formula (1) is formula (42), formula (46), formula (49) or It is a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by Formula (53).

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A3)을 포함하는 경우, 그 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 예를 들면 0.01~55몰%, 혹은 0.01~40몰%이어도 되고, 바람직하게는 40몰% 이하, 보다 바람직하게는 35몰% 이하, 더 바람직하게는 30몰% 이하, 특히 바람직하게는 25몰% 이하이고, 또한, 통상 0.01몰% 이상, 바람직하게는 10몰% 이상이다. 구성 단위 (A3)의 함유량이 상기 범위이면, PI계 수지의 배향이 발생하기 쉽고, PI계 필름의 Df가 저감되기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, when the structural unit (A3) is included, the content may be, for example, 0.01 to 55 mol% or 0.01 to 40 mol% with respect to the total amount of the structural unit (A). , preferably 40 mol% or less, more preferably 35 mol% or less, still more preferably 30 mol% or less, particularly preferably 25 mol% or less, and usually 0.01 mol% or more, preferably 10 mol% more than % When the content of the structural unit (A3) is within the above range, orientation of the PI-based resin tends to occur, and Df of the PI-based film tends to decrease. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A3), 바람직하게는 식 (1) 중의 Y가 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 보다 바람직하게는 식 (1) 중의 Y가 f=0인 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 포함하는 경우, 그 함유량은, 구성 단위 (A)의 총량에 대하여, 바람직하게는 10몰% 이상, 보다 바람직하게는 20몰% 이상, 더 바람직하게는 30몰% 이상, 특히 바람직하게는 40몰% 이상이며, 바람직하게는 90몰% 이하, 보다 바람직하게는 80몰% 이하, 더 바람직하게는 70몰% 이하, 특히 바람직하게는 60몰% 이하이다. 당해 함유량이 상기 범위이면, PI계 필름의 Df가 저감되기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, structural unit (A3), preferably Y in formula (1), is a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (32), more preferably Y in formula (1) When contains a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (32) in which f = 0, the content thereof is preferably 10 mol% or more, more preferably 10 mol% or more, based on the total amount of the structural unit (A). 20 mol% or more, more preferably 30 mol% or more, particularly preferably 40 mol% or more, preferably 90 mol% or less, more preferably 80 mol% or less, still more preferably 70 mol% or less, Especially preferably, it is 60 mol% or less. When the content is within the above range, the Df of the PI-based film tends to decrease. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)가 구성 단위 (A1) 및 (A2)를 포함하는 경우, 구성 단위 (A)는, 식 (X):In one embodiment of the present invention, when the structural unit (A) includes the structural units (A1) and (A2), the structural unit (A) has the formula (X):

(구성 단위 (A3)의 함유량)/(구성 단위 (A1) 및 구성 단위 (A2)의 총량)<1.1 (X)(content of structural unit (A3)) / (total amount of structural unit (A1) and structural unit (A2)) <1.1 (X)

의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다. 구성 단위 (A)가 식 (X)의 관계를 충족시키는 경우, 즉, 식 (X)의 좌변의 값이 1.1 미만, 특히 0.67 미만이면, 얻어지는 PI계 필름의 Df가 저감되기 쉬운 결과, PI계 수지의 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 또한 기계 물성과의 밸런스가 우수한 PI계 필름을 얻을 수 있다.It is desirable to satisfy the relationship of When the structural unit (A) satisfies the relationship of formula (X), that is, when the value of the left side of formula (X) is less than 1.1, particularly less than 0.67, the resulting PI-based film tends to have a reduced Df, resulting in a PI-based Even if the imidization temperature of the resin is low, it is easy to reduce the Df of the obtained PI-based film, and a PI-based film excellent in balance with mechanical properties can be obtained.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 식 (X)의 좌변의 값은, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 기계 물성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0.6 이하, 보다 바람직하게는 0.5 이하, 더 바람직하게는 0.4 이하, 보다 더 바람직하게는 0.3 이하, 특히 바람직하게는 0.20 이하이다. 또한, 식 (X)의 좌변의 값의 하한은 특별히 제한되지 않고, 0 이상이어도 된다.In one embodiment of the present invention, the value of the left side of formula (X) is preferably 0.6 or less, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the mechanical properties even when the imidization temperature is low. It is preferably 0.5 or less, more preferably 0.4 or less, even more preferably 0.3 or less, and particularly preferably 0.20 or less. In addition, the lower limit of the value of the left side of Formula (X) is not particularly limited, and may be 0 or more.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)는, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 식 (a2)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 및/또는, 식 (1) 중의 Y가 f=0인 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (A)는, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 식 (a1)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 식 (a2)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위, 및 식 (1) 중의 Y가 f=0인 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하고, 식 (a1)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위에 더해, 식 (a2)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 및/또는 식 (1) 중의 Y가 f=0인 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위를 포함하는 것이 보다 바람직하다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (A) is a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (a2) from the viewpoint of easily reducing Df of the PI-based film, and/or formula (1 ) preferably contains a structural unit derived from tetracarboxylic anhydride represented by formula (32) in which Y in f=0. In one embodiment of the present invention, the structural unit (A) is a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (a1) and tetracarboxylic acid represented by formula (a2) from the viewpoint of easily reducing Df of the PI-based film. It is preferable to include at least one selected from the group consisting of a structural unit derived from a carboxylic acid anhydride and a structural unit derived from a tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (32) in which Y in formula (1) is f = 0, In addition to the structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by (a1), the structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by formula (a2) and/or Y in formula (1) represented by formula (32) where f=0 It is more preferable to include a structural unit derived from tetracarboxylic acid anhydride.

(디아민 유래의 구성 단위 (B))(Diamine-derived structural unit (B))

PI계 수지는, 디아민 유래의 구성 단위 (B)(이하, 간단히, 구성 단위 (B)라고 약칭하는 경우가 있음)를 함유한다. 구성 단위 (B)는, PI계 수지의 280℃에 있어서의 E' 및 Tg가 상기 범위 내인 한 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면, 식 (2):The PI-based resin contains a structural unit (B) derived from diamine (hereinafter sometimes simply abbreviated as structural unit (B)). The structural unit (B) is not particularly limited as long as E' and Tg at 280°C of the PI-based resin are within the above ranges, but, for example, formula (2):

Figure pat00015
Figure pat00015

[식 (2) 중, X는, 2가의 유기기를 나타냄][In formula (2), X represents a divalent organic group]

로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위인 것이 바람직하다.It is preferable that it is a structural unit derived from diamine represented by.

식 (2)에 있어서, X는, 2가의 유기기를 나타내고, 바람직하게는 탄소수 2~100의 2가의 유기기를 나타낸다. 2가의 유기기로서는, 예를 들면 2가의 방향족기, 2가의 지방족기 등을 들 수 있고, 2가의 지방족기로서는, 예를 들면 2가의 비환식 지방족기 또는 2가의 환식 지방족기를 들 수 있다. 이들 중에서도, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 2가의 환식 지방족기 및 2가의 방향족기가 바람직하고, 2가의 방향족기가 보다 바람직하다. 2가의 유기기는, 유기기 중의 수소 원자가 할로겐 원자, 탄화수소기, 알콕시기 또는 할로겐화 탄화수소기로 치환되어 있어도 되고, 그 경우, 이들 기의 탄소수는 바람직하게는 1~8이다. 또한, 본 명세서에 있어서, 2가의 방향족기는 방향족기를 가지는 2가의 유기기이며, 그 구조의 일부에 지방족기 또는 그 밖의 치환기를 포함하고 있어도 된다. 또한, 2가의 지방족기는 지방족기를 가지는 2가의 유기기이며, 그 구조의 일부에 그 밖의 치환기를 포함하고 있어도 되지만, 방향족기는 포함하지 않는다.In Formula (2), X represents a divalent organic group, Preferably it represents a C2-C100 divalent organic group. Examples of the divalent organic group include a divalent aromatic group and a divalent aliphatic group, and examples of the divalent aliphatic group include a divalent acyclic aliphatic group and a divalent cyclic aliphatic group. Among these, a divalent cyclic aliphatic group and a divalent aromatic group are preferable, and a divalent aromatic group is more preferable from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film. The divalent organic group may have a hydrogen atom in the organic group substituted with a halogen atom, a hydrocarbon group, an alkoxy group, or a halogenated hydrocarbon group, and in that case, these groups preferably have 1 to 8 carbon atoms. In addition, in this specification, a divalent aromatic group is a divalent organic group which has an aromatic group, and may contain an aliphatic group or another substituent in a part of the structure. In addition, a divalent aliphatic group is a divalent organic group having an aliphatic group, and may contain other substituents in a part of its structure, but does not contain an aromatic group.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지는, 복수종의 X를 포함할 수 있고, 복수종의 X는, 서로 동일해도 되고, 상이해도 된다. 식 (2) 중의 X로서는, 예를 들면 식 (60)~식 (65)로 나타나는 기(구조); 식 (60)~식 (65)로 나타나는 기 중의 수소 원자가 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, 플루오로기, 클로로기 또는 트리플루오로메틸기로 치환된 기 등을 들 수 있다.In one embodiment of the present invention, the PI-based resin may contain multiple types of X, and the multiple types of X may be the same or different. Examples of X in formula (2) include groups (structures) represented by formulas (60) to (65); The hydrogen atoms in the groups represented by formulas (60) to (65) are methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, sec-butyl, tert-butyl, fluoro , a group substituted with a chloro group or a trifluoromethyl group, and the like.

Figure pat00016
Figure pat00016

[식 (60) 및 식 (61) 중, Ra 및 Rb는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formulas (60) and (61), R a and R b each independently represent a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom,

W는, 서로 독립적으로, 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-를 나타내며, Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타내고,W is, independently of each other, a single bond, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )-, wherein R c has 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom represents a monovalent hydrocarbon group of

t는, 0~4의 정수를 나타내며, u는, 0~4의 정수를 나타내고, n은, 0~4의 정수를 나타내며,t represents an integer of 0 to 4, u represents an integer of 0 to 4, n represents an integer of 0 to 4,

식 (62) 중, 환 A는 탄소수 3~8의 시클로알칸환를 나타내고,In formula (62), ring A represents a cycloalkane ring having 3 to 8 carbon atoms;

Rd는, 탄소수 1~20의 알킬기를 나타내며,R d represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms;

r는, 0 이상으로서, (환 A의 탄소수-2) 이하의 정수를 나타내고,r is 0 or more and represents an integer equal to or less than (carbon number of ring A - 2);

S1 및 S2는, 서로 독립적으로, 0~20의 정수를 나타내며,S1 and S2, independently of each other, represent integers from 0 to 20,

식 (60)~식 (65) 중, *은, 결합손을 나타낸다.]In formulas (60) to (65), * represents a bond.]

식 (2) 중의 X의 다른 예로서는, 예를 들면, 에틸렌기, 트리메틸렌기, 테트라메틸렌기, 펜타메틸렌기, 헥사메틸렌기, 프로필렌기, 1,2-부탄디일기, 1,3-부탄디일기, 1,12-도데칸디일기, 2-메틸-1,2-프로판디일기, 2-메틸-1,3-프로판디일기 등의 직쇄상 또는 분기쇄상 알킬렌기 등의 2가의 비환식 지방족기를 들 수 있다. 2가의 비환식 지방족기 중의 수소 원자는, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 탄소 원자는 헤테로 원자, 예를 들면 산소 원자, 질소 원자 등으로 치환되어 있어도 된다.Other examples of X in Formula (2) include ethylene, trimethylene, tetramethylene, pentamethylene, hexamethylene, propylene, 1,2-butanediyl, and 1,3-butanedi. Divalent acyclic aliphatic groups such as linear or branched chain alkylene groups such as diyl group, 1,12-dodecanediyl group, 2-methyl-1,2-propanediyl group, and 2-methyl-1,3-propanediyl group can be heard The hydrogen atom in the divalent acyclic aliphatic group may be substituted with a halogen atom, and the carbon atom may be substituted with a hetero atom such as an oxygen atom or a nitrogen atom.

이들 중에서도, PI계 필름의 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 본 발명에 있어서의 PI계 수지는, 식 (2) 중의 X로서, 식 (60) 및 식 (61)로 나타나는 구조를 포함하는 것이 바람직하고, 식 (60)으로 나타나는 구조를 포함하는 것이 보다 바람직하다.Among these, from the viewpoint of easily improving the mechanical and thermal properties of the PI-based film, the PI-based resin in the present invention has a structure represented by formulas (60) and (61) as X in formula (2). It is preferable to include, and it is more preferable to include a structure represented by Formula (60).

식 (60) 및 식 (61)에 있어서, 각 벤젠환 또는 각 시클로헥산환의 결합손은, -W- 또는 각 벤젠환 또는 각 시클로헥산환을 연결하는 단결합을 기준으로, 각각, 오르토 위치, 메타 위치, 또는 파라 위치, 혹은, α 위치, β 위치, 또는 γ 위치 중 어느 것에 결합하고 있어도 되고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감시키기 쉬운 관점, 및 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 메타 위치 또는 파라 위치, 혹은 β 위치 또는 γ 위치, 보다 바람직하게는 파라 위치, 혹은 γ 위치에 결합할 수 있다.In the formulas (60) and (61), the bond of each benzene ring or each cyclohexane ring is -W- or based on the single bond connecting each benzene ring or each cyclohexane ring, respectively, ortho position, It may be bonded to any of the meta-position, the para-position, the α-position, the β-position, or the γ-position, and even if the imidation temperature is low, the PI-based film can be easily reduced in Df and easily increase dimensional stability. In, preferably, it can bind to the meta-position or the para-position, or the β-position or the γ-position, more preferably the para-position or the γ-position.

Ra 및 Rb는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, 바람직하게는 할로겐 원자, 할로겐 원자를 가져도 되는, 알킬기, 알콕시기 또는 아릴기를 나타내고, 보다 바람직하게는 할로겐 원자, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다. 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시한 것을 들 수 있다. Ra 및 Rb에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 당해 할로겐 원자로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, Ra 및 Rb는, 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기 또는 탄소수 1~6의 불화 알킬기인 것이 바람직하고, 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~6의 알킬기인 것이 보다 바람직하며, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~3의 알킬기인 것이 더 바람직하고, 메틸기인 것이 특히 바람직하다.R a and R b each independently represent a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, preferably a halogen atom, an alkyl group which may have a halogen atom, or an alkoxy group represents a group or an aryl group, more preferably a halogen atom, an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group of 6 to 12 carbon atoms. As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, what was illustrated above is mentioned. The hydrogen atom contained in R a and R b may be mutually independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. From the standpoint of easily reducing Df of the PI-based film and facilitating dimensional stability, R a and R b are each independently preferably an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms or a fluorinated alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, and copper foil From the standpoint of easily improving adhesion to substrates such as the like, a fluorine-free alkyl group of 1 to 6 carbon atoms is more preferred, a fluorine-free alkyl group of 1 to 3 carbon atoms is more preferred, and a methyl group is preferred. particularly preferred.

식 (60) 및 식 (61)에 있어서, t 및 u는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수이며, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1이다.In formulas (60) and (61), t and u are independently integers of 0 to 4, and from the viewpoint of easily reducing Df of the PI-based film and increasing dimensional stability, preferably 0 It is an integer of -2, more preferably 0 or 1.

식 (60) 및 식 (61)에 있어서, W는, 서로 독립적으로, 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N (Rc)-를 나타내며, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC- 또는 -CO-를 나타내고, 또한 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서, 보다 바람직하게는 단결합, -O-, -CH2- 또는 -C(CH3)2-, 더 바람직하게는 -O- 또는 -C(CH3)2-를 나타낸다. Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타낸다. 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다.In Formulas (60) and (61), W is, independently of each other, a single bond, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C( CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N (R c )-, From the standpoint of easily reducing Df and increasing dimensional stability, preferred are -O-, -CH 2 -, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC It represents - or -CO-, and from the viewpoint of increasing adhesion to substrates such as copper foil, more preferably a single bond, -O-, -CH 2 - or -C(CH 3 ) 2 -, and further Preferably -O- or -C(CH 3 ) 2 -. R c represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. Examples of the monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms include those exemplified above.

식 (60) 및 식 (61)에 있어서, n은, 0~4의 정수이며, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~3의 정수, 보다 바람직하게는 1~3이다. n이 2 이상인 경우, 복수의 W, Ra, 및 t는 서로 동일해도 되고, 상이해도 되며, -W-를 기준으로 한 각 벤젠환의 결합손의 위치도 동일해도 되고, 상이해도 된다.In formulas (60) and (61), n is an integer of 0 to 4, and is preferably an integer of 0 to 3 from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the dimensional stability. Preferably it is 1-3. When n is 2 or more, a plurality of W, R a , and t may be the same or different from each other, and the position of the bond of each benzene ring relative to -W- may be the same or different.

본 발명에 있어서의 PI계 수지가, 식 (2) 중의 X로서, 식 (60) 및 식 (61)로 나타나는 구조를 2개 이상 포함하는 경우, 일방의 식 (60) 및 식 (61)에 있어서의 W, n, Ra, Rb, t 및 u는, 서로 독립적으로, 타방의 식 (60) 및 식 (61)에 있어서의 W, n, Ra, Rb, t 및 u와 동일해도 되고, 상이해도 된다.When the PI-based resin in the present invention contains two or more structures represented by formulas (60) and (61) as X in formula (2), one of formulas (60) and (61) W , n , R a , R b , t and u are, independently of each other, the same as W, n, R a , R b , t and u in the other formulas (60) and (61) It may or may not be different.

식 (62)에 있어서, 환 A는 탄소수 3~8의 시클로알칸환을 나타낸다. 시클로알칸환으로서는, 예를 들면 시클로프로판환, 시클로부탄환, 시클로펜탄환, 시클로헥산환, 시클로헵탄환, 시클로옥탄환을 들 수 있고, 바람직하게는 탄소수 4~6의 시클로알칸환을 들 수 있다. 환 A에 있어서, 각 결합손은, 서로 인접하고 있어도 되고, 인접하고 있지 않아도 된다. 예를 들면, 환 A가 시클로헥산환인 경우, 2개의 결합손은 α 위치, β 위치 또는 γ 위치의 위치 관계에 있어도 되고, 바람직하게는 β 위치 또는 γ 위치의 위치 관계에 있어도 된다.In formula (62), ring A represents a cycloalkane ring having 3 to 8 carbon atoms. Examples of the cycloalkane ring include a cyclopropane ring, a cyclobutane ring, a cyclopentane ring, a cyclohexane ring, a cycloheptane ring and a cyclooctane ring, preferably a cycloalkane ring having 4 to 6 carbon atoms. there is. In ring A, each bond may or may not be adjacent to each other. For example, when ring A is a cyclohexane ring, the two bonds may be in a positional relationship at the α-position, β-position, or γ-position, preferably at the β-position or γ-position.

식 (62) 중의 Rd는 탄소수 1~20의 알킬기를 나타내고, 바람직하게는 탄소수 1~10의 알킬기를 나타내며, 그 예로서는 상기에 예시의 것을 들 수 있다. 식 (62) 중의 r은 0 이상이며, 「환 A의 탄소수-2」 이하의 정수를 나타낸다. R은 바람직하게는 0 이상이며, 바람직하게는 4 이하이다. 식 (62) 중의 S1 및 S2는, 서로 독립적으로, 0~20의 정수를 나타낸다. S1 및 S2는, 서로 독립적으로, 바람직하게는 0 이상, 보다 바람직하게는 2 이상이며, 바람직하게는 15 이하이다.R d in formula (62) represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, and preferably represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and examples thereof include those exemplified above. In formula (62), r is 0 or more and represents an integer equal to or less than "carbon number of ring A - 2". R is preferably 0 or more and preferably 4 or less. S1 and S2 in Formula (62) represent the integer of 0-20 mutually independently. S1 and S2 are independently of each other, preferably 0 or more, more preferably 2 or more, and preferably 15 or less.

식 (60)~식 (62)로 나타나는 구조의 구체예로서는, 식 (71)~식 (92)로 나타나는 구조를 들 수 있다. 또한, 이들 식 중, *은 결합손을 나타낸다.As a specific example of the structure represented by Formula (60) - Formula (62), the structure represented by Formula (71) - Formula (92) is mentioned. In these formulas, * represents a bond.

Figure pat00017
Figure pat00017

본 발명의 바람직한 실시 형태에 있어서, 식 (2) 중의 X로서, 식 (60) 및 식 (61)로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위를 적어도 하나 포함하는 경우, 식 (2) 중의 X가, 식 (60) 및 식 (61)로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위의 비율, 특히 식 (60)에 있어서, n이 1이며, W가 단결합을 나타내는 디아민 유래의 구성 단위의 비율은, 구성 단위 (B)의 총 몰량에 대하여, 바람직하게는 25몰% 이상, 보다 바람직하게는 30몰% 초과, 더 바람직하게는 50몰% 이상, 보다 더 바람직하게는 70몰% 이상, 특히 바람직하게는 90몰% 이상이며, 바람직하게는 100몰% 이하이다. 식 (2) 중의 X가 식 (60) 및 식 (61)로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위의 비율, 특히 식 (60)에 있어서, 적어도 하나의 W가 단결합을 나타내는 디아민 유래의 구성 단위의 비율이 상기의 범위이면, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉽다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In a preferred embodiment of the present invention, when at least one constituent unit derived from diamine represented by formulas (60) and (61) is included as X in formula (2), X in formula (2) is the formula ( 60) and the ratio of structural units derived from diamine represented by formula (61), particularly the ratio of structural units derived from diamine in formula (60), where n is 1 and W represents a single bond, structural unit (B) With respect to the total molar amount of, preferably 25 mol% or more, more preferably more than 30 mol%, even more preferably 50 mol% or more, even more preferably 70 mol% or more, particularly preferably 90 mol% or more and is preferably 100 mol% or less. The ratio of constituent units derived from diamines in which X in formula (2) is represented by formulas (60) and (61), particularly the ratio of constituent units derived from diamines in which at least one W represents a single bond in formula (60) Within this range, the Df of the PI-based film can be easily reduced and the dimensional stability can be easily improved. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(비페닐 골격 함유 디아민 유래의 구성 단위 (B1))(Structural unit derived from diamine containing biphenyl skeleton (B1))

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B)는, 비페닐 골격 함유 디아민 유래의 구성 단위 (B1)(이하, 간단히, 구성 단위 (B1)이라고 약칭하는 경우가 있음)을 포함하는 것이 바람직하다. 구성 단위 (B)가 상기 구성 단위 (B1)을 포함하는 PI계 수지는, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df가 저감되기 쉬우므로, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름으로 이루어지는 전기 회로는, 전송 손실을 저감하기 쉽다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (B) preferably includes a structural unit (B1) derived from diamine containing a biphenyl skeleton (hereinafter sometimes simply abbreviated as structural unit (B1)). do. The PI-based resin in which the structural unit (B) includes the structural unit (B1) easily reduces the Df of the obtained PI-based film even when the imidization temperature is low, so that it is a PI-based film obtained even when the imidization temperature is low. The electric circuit made is easy to reduce transmission loss.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B1)은, 비페닐 골격을 함유하고 있으면 특별히 제한되지 않고, 구성 단위 (B1)에 함유되는 비페닐 골격은 1개여도 2개 이상이어도 된다. 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B1)은, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서는, 식 (b1):In one embodiment of the present invention, the structural unit (B1) is not particularly limited as long as it contains a biphenyl skeleton, and the number of biphenyl skeletons contained in the structural unit (B1) may be one or two or more. In one embodiment of the present invention, the structural unit (B1) has the formula (b1) from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low:

Figure pat00018
Figure pat00018

[식 (b1) 중, Rb1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (b1), R b1 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

p는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타냄]p represents, independently of each other, an integer from 0 to 4]

로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b1)인 것이 바람직하다.It is preferable that it is a structural unit (b1) derived from the diamine represented by

식 (b1)에 있어서, Rb1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, 바람직하게는 할로겐 원자, 할로겐 원자를 가져도 되는, 알킬기, 알콕시기 또는 아릴기, 보다 바람직하게는 할로겐 원자, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다. 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시한 것을 들 수 있다. Rb1에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 당해 할로겐 원자로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, Rb1은, 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기 또는 탄소수 1~6의 불화 알킬기인 것이 바람직하고, 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~6의 알킬기인 것이 보다 바람직하며, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~3의 알킬기인 것이 더 바람직하고, 메틸기인 것이 특히 바람직하다.In the formula (b1), R b1 each independently represents a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, preferably a halogen atom or may have a halogen atom. , An alkyl group, an alkoxy group or an aryl group, more preferably a halogen atom, an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group of 1 to 6 carbon atoms, or an aryl group of 6 to 12 carbon atoms. As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, what was illustrated above is mentioned. The hydrogen atom contained in Rb1 may be mutually independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. From the standpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and easily increasing the dimensional stability, each R b1 is preferably an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms or a fluorinated alkyl group of 1 to 6 carbon atoms independently of each other, and a base material such as copper foil From the standpoint of easily increasing adhesion with, a fluorine-free alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, a fluorine-free alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is more preferable, and a methyl group is particularly preferable. .

식 (b1)에 있어서, p는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타내고, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1이다.In the formula (b1), p represents an integer of 0 to 4 independently of each other, and from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the dimensional stability, preferably an integer of 0 to 2; Preferably it is 0 or 1.

식 (b1)에 있어서, 각 벤젠환에 결합하는 -NH2기는, 각 벤젠환을 연결하는 단결합을 기준으로, 각각, 오르토 위치, 메타 위치, 또는 파라 위치, 혹은, α 위치, β 위치, 또는 γ 위치 중 어느 것에 결합하고 있어도 되고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점, 및 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 메타 위치 또는 파라 위치, 혹은 β 위치 또는 γ 위치, 보다 바람직하게는 파라 위치, 혹은 γ 위치에 결합할 수 있다.In Formula (b1), the -NH 2 group bonded to each benzene ring is ortho, meta, or para-position, or α-position, β-position, relative to the single bond connecting each benzene ring. Alternatively, it may be bonded to any of the γ positions, and from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, and from the viewpoint of increasing the dimensional stability, preferably the meta position or para position, or the β position or It can bind to the γ-position, more preferably the para-position, or the γ-position.

본 발명의 바람직한 일 실시 형태에 있어서, 식 (b1)은, 식 (b1'):In one preferred embodiment of the present invention, formula (b1) is formula (b1'):

Figure pat00019
Figure pat00019

로 나타나는 것이 바람직하다. PI계 수지가, 구성 단위 (B1)로서, 식 (b1), 특히 식 (b1')로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위를 포함하면, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df가 저감되기 쉽다.It is preferable to appear as When the PI-based resin contains, as the structural unit (B1), a structural unit derived from diamine represented by formula (b1), particularly formula (b1'), Df of the obtained PI-based film is less likely to be reduced even when the imidization temperature is low. easy.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B1), 바람직하게는 구성 단위 (b1)의 함유량은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여, 바람직하게는 25몰% 이상, 보다 바람직하게는 30몰% 초과, 더 바람직하게는 35몰% 이상, 보다 더 바람직하게는 40몰% 이상, 특별히 바람직하게는 60몰% 이상, 특히 바람직하게는 70몰% 이상, 특히 보다 바람직하게는 80몰% 이상, 특히 더 바람직하게는 90몰% 이상이다. 구성 단위 (B1), 바람직하게는 구성 단위 (b1)의 함유량이 상기 하한 이상이면, 이미드화 온도가 저온이어도 Df를 저감하기 쉽다. 또한, 구성 단위 (B1), 바람직하게는 구성 단위 (b1)의 함유량의 상한은 특별히 제한되지 않고, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여 100몰% 이하여도 된다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (B1), preferably the content of the structural unit (b1), relative to the total amount of the structural unit (B), is preferably 25 mol% or more, more preferably 30 More than mol%, more preferably 35 mol% or more, still more preferably 40 mol% or more, particularly preferably 60 mol% or more, particularly preferably 70 mol% or more, particularly more preferably 80 mol% or more , More preferably, it is 90 mol% or more. If the content of the structural unit (B1), preferably the structural unit (b1) is equal to or greater than the lower limit, the Df can be easily reduced even if the imidation temperature is low. Further, the upper limit of the content of the structural unit (B1), preferably the structural unit (b1), is not particularly limited, and may be 100 mol% or less with respect to the total amount of the structural unit (B). The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(구성 단위 (B2))(Constituent Unit (B2))

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B)는, 2개 이상의 방향환을 가지고, 각 방향환이 2가의 유기기를 개재하여 결합하고 있는 디아민 유래의 구성 단위 (B2)(이하, 간단히, 구성 단위 (B2)라고 약칭하는 경우가 있음)를 포함하는 것이 바람직하다. 구성 단위 (B2)에 있어서의 2가의 유기기로서는, 예를 들면, 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬렌기, -O-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)- 등을 들 수 있고, Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타낸다. 이들 중에서도, 구성 단위 (B2)에 있어서의 2가의 유기기로서는, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-가 바람직하다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (B) is a structural unit (B2) derived from diamine having two or more aromatic rings and each aromatic ring bonded via a divalent organic group (hereinafter simply referred to as structural unit). unit (B2)) is preferably included. As a divalent organic group in structural unit (B2), the alkylene group which may have a halogen atom, -O-, -COO-, -OOC-, -SO2- , -S-, -CO, for example - or -N(R c )-, where R c represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. Among these, as the divalent organic group in the structural unit (B2), -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 - , -C(CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )- are preferred.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B)는, 구성 단위 (B2)로서, 식 (b2):In one embodiment of the present invention, the structural unit (B) is a structural unit (B2), and the formula (b2):

Figure pat00020
Figure pat00020

[식 (b2) 중, Rb2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,[In formula (b2), R b2 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;

W는, 서로 독립적으로, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-를 나타내며, Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타내고,W is, independently of each other, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, Represents -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )-, and R c is a monovalent group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. represents a hydrocarbon group,

m은, 1~4의 정수를 나타내며,m represents an integer of 1 to 4,

q는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타냄]q represents, independently of each other, an integer from 0 to 4]

로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b2)(이하, 간단히, 구성 단위 (b2)라고 약칭하는 경우가 있음)를 포함하는 것이 바람직하다. 구성 단위 (B)가 구성 단위 (B2), 특히 구성 단위 (b2)를 포함하면, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름의 Df가 저감되기 쉬운 결과, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름을 포함하여 이루어지는 전자 회로가 전송 손실을 저감하기 쉽다.It is preferable to include a structural unit (b2) derived from diamine represented by (hereinafter sometimes simply abbreviated as structural unit (b2)). When the structural unit (B) includes the structural unit (B2), particularly the structural unit (b2), Df of the PI-based film obtained even when the imidization temperature is low is likely to decrease, and as a result, the PI-based film obtained even when the imidization temperature is low. It is easy to reduce the transmission loss of the electronic circuit comprising the.

식 (b2)에 있어서, Rb2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고, 바람직하게는 할로겐 원자, 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 또는 탄소수 6~12의 아릴기를 나타낸다. 탄소수 1~6의 알킬기, 탄소수 1~6의 알콕시기, 및 탄소수 6~12의 아릴기로서는, 상기에 예시한 것을 들 수 있다. Rb2에 포함되는 수소 원자는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되고, 당해 할로겐 원자로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있다. PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, Rb2는, 서로 독립적으로, 탄소수 1~6의 알킬기 또는 탄소수 1~6의 불화 알킬기인 것이 바람직하고, 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~6의 알킬기인 것이 보다 바람직하며, 불소를 함유하지 않는 탄소수 1~3의 알킬기인 것이 더 바람직하고, 메틸기인 것이 특히 바람직하다.In formula (b2), R b2 independently represents a halogen atom or an alkyl group, alkoxy group, aryl group or aryloxy group which may have a halogen atom, preferably a halogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. , A C1-C6 alkoxy group or C6-C12 aryl group is shown. As a C1-C6 alkyl group, a C1-C6 alkoxy group, and a C6-C12 aryl group, what was illustrated above is mentioned. The hydrogen atom contained in R b2 may be mutually independently substituted with a halogen atom, and examples of the halogen atom include those exemplified above. From the standpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the dimensional stability, each R b2 is preferably an alkyl group of 1 to 6 carbon atoms or a fluorinated alkyl group of 1 to 6 carbon atoms independently of each other, and a base material such as copper foil From the standpoint of easily increasing adhesion with, a fluorine-free alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, a fluorine-free alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is more preferable, and a methyl group is particularly preferable. .

식 (b2)에 있어서, q는, 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타내고, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0~2의 정수, 보다 바람직하게는 0 또는 1이다.In the formula (b2), q represents an integer of 0 to 4 independently of each other, and is preferably an integer of 0 to 2 from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the dimensional stability. Preferably it is 0 or 1.

식 (b2)에 있어서, W는, 서로 독립적으로, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-를 나타내고, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC- 또는 -CO-를 나타내며, 또한 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서, 보다 바람직하게는 -O-, -CH2- 또는 -C(CH3)2-, 더 바람직하게는 -O- 또는 -C(CH3)2-를 나타낸다. Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타낸다. 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기로서는, 상기에 예시의 것을 들 수 있고, 이들은 할로겐 원자로 치환되어 있어도 된다. 할로겐 원자로서는, 상기와 마찬가지의 것을 들 수 있다.In Formula (b2), W is, independently of each other, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C Represents (CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )-, easily reduces Df of the PI-based film, and has dimensional stability. From the viewpoint of increasing, preferably -O-, -CH 2 -, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -COO-, -OOC- or -CO-, Further, from the viewpoint of easily increasing adhesion with substrates such as copper foil, more preferably -O-, -CH 2 - or -C(CH 3 ) 2 -, still more preferably -O- or -C(CH 3 ) indicates 2 -. R c represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. Examples of the monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms include those exemplified above, and these may be substituted with a halogen atom. As a halogen atom, the thing similar to the above is mentioned.

식 (b2)에 있어서, m은 1~4의 정수이며, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 1~3의 정수, 보다 바람직하게는 2 또는 3이다. 식 (b2)에 있어서, 복수의 W, Rb2, 및 q는, 서로 동일해도 되고, 상이해도 되고, 각 벤젠환의 -NH2를 기준으로 한 -W-의 위치도 동일해도 되고, 상이해도 된다.In the formula (b2), m is an integer of 1 to 4, and is preferably an integer of 1 to 3, more preferably 2 or 3, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the dimensional stability. am. In formula (b2), a plurality of W, R b2 , and q may be the same or different from each other, and the position of -W- relative to -NH 2 of each benzene ring may be the same or different. .

식 (b2)에 있어서, -W-는, 각 벤젠환의 -NH2를 기준으로, 각각, 오르토 위치, 메타 위치, 또는 파라 위치, 혹은, α 위치, β 위치, 또는 γ 위치 중 어느 것에 결합하고 있어도 되고, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점, 및 치수 안정성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 메타 위치 또는 파라 위치, 혹은 β 위치 또는 γ 위치, 보다 바람직하게는 파라 위치, 혹은 γ 위치에 결합할 수 있다.In formula (b2), -W- is bonded to -NH 2 of each benzene ring, respectively, at an ortho position, a meta position, or a para position, or an α position, a β position, or a γ position, and From the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and easily increasing the dimensional stability even when the imidization temperature is low, preferably the meta position or the para position, or the β position or the γ position, more preferably the para position. position, or at the γ position.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 이미드화 온도가 저온이어도 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점, 및 PI계 필름과 구리박 등의 기재와의 접착성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 식 (b2)에 있어서, m은 3이며, W는 서로 독립적으로, -O- 또는 -C(CH3)2-를 나타내는 것이 바람직하고, 식 (b2)는, 식 (b2'):In one embodiment of the present invention, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film even when the imidization temperature is low, and from the viewpoint of easily improving the adhesion between the PI-based film and a substrate such as copper foil, the formula (b2 ), m is 3, and W is independently of each other, -O- or -C (CH 3 ) 2 It is preferable to represent -, formula (b2), formula (b2'):

Figure pat00021
Figure pat00021

로 나타나는 것이 보다 바람직하다. PI계 수지가, 구성 단위 (b2), 특히 식 (b2')로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위를 포함하면, 280℃에 있어서의 E'를 저감하기 쉽고, 결과적으로 저온의 열 이미드화에서도 PI계 수지의 Df가 저하되기 쉬운 경향이 있기 때문에, 이미드화 온도가 저온이어도 Df가 낮고, 또한, 구리박과의 접착성이 우수한 PI계 필름을 얻기 쉽다.It is more preferable to appear as When the PI-based resin contains a structural unit (b2), particularly a structural unit derived from diamine represented by formula (b2'), it is easy to reduce E' at 280°C, and as a result, even with low-temperature thermal imidation, the PI-based resin Since the Df of the resin tends to decrease, it is easy to obtain a PI-based film having a low Df and excellent adhesion to copper foil even when the imidization temperature is low.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (b2)는, 식 (b2')로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위에 더해, 또는, 당해 구성 단위 대신에, 식 (b2)에 있어서 m이 1이며, W가 -O-를 나타내는 디아민 유래의 구성 단위를 포함하고 있어도 된다.In one embodiment of the present invention, the structural unit (b2) is in addition to the diamine-derived structural unit represented by formula (b2'), or instead of the structural unit, m is 1 in formula (b2), W may contain the structural unit derived from the diamine which represents -O-.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B2)의 함유량은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여, 바람직하게는 0몰% 이상, 보다 바람직하게는 0.3몰% 이상, 더 바람직하게는 0.5몰% 이상, 보다 더 바람직하게는 0.8몰% 이상, 특히 바람직하게는 1몰% 이상, 특히 보다 바람직하게는 5몰% 이상, 특히 더 바람직하게는 8몰% 이상이다. 구성 단위 (B2)의 함유량이 상기 하한 이상이면, 얻어지는 PI계 필름의 구리박 등의 기재와의 접착성을 향상시키기 쉽다. 또한, 구성 단위 (B2)의 함유량의 상한은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여 바람직하게는 75몰% 이하, 보다 바람직하게는 60몰% 이하, 더 바람직하게는 40몰% 이하, 보다 더 바람직하게는 30몰% 이하, 특히 바람직하게는 20몰% 이하이다. 구성 단위 (B2)의 함유량이 상기 상한 이하이면, CTE 등의 기계 물성이 향상되기 쉬운 경향이 있다. 상기 구성 단위의 비율은, 예를 들면 1H-NMR을 이용하여 측정할 수 있거나, 또는 원료의 도입비로부터 산출할 수도 있다.In one embodiment of the present invention, the content of the structural unit (B2) is preferably 0 mol% or more, more preferably 0.3 mol% or more, still more preferably 0.5 mol% with respect to the total amount of the structural unit (B). mol% or more, still more preferably 0.8 mol% or more, particularly preferably 1 mol% or more, particularly more preferably 5 mol% or more, still more preferably 8 mol% or more. When the content of the structural unit (B2) is equal to or greater than the above lower limit, it is easy to improve the adhesiveness of the resulting PI-based film with substrates such as copper foil. The upper limit of the content of the structural unit (B2) is preferably 75% by mol or less, more preferably 60% by mol or less, still more preferably 40% by mol or less, and even more, with respect to the total amount of the structural unit (B). Preferably it is 30 mol% or less, and particularly preferably 20 mol% or less. When the content of the structural unit (B2) is equal to or less than the above upper limit, mechanical properties such as CTE tend to be easily improved. The ratio of the constituent units can be measured, for example, using 1 H-NMR, or can be calculated from the introduction ratio of raw materials.

(구성 단위 (B3))(Constituent Unit (B3))

PI계 수지는, 구성 단위 (B1) 및 구성 단위 (B2) 이외의 디아민 유래의 구성 단위 (B3)(이하, 간단히 구성 단위 (B3)이라고 약칭하는 경우가 있음)을 포함해도 된다. 구성 단위 (B3)으로서는, 예를 들면, 식 (b2) 중의 m이 0인 디아민 유래의 구성 단위, 식 (2) 중의 X가 식 (61)~식 (64)로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 등을 들 수 있고, 이들 중에서도, 식 (2) 중의 X가 식 (71), 식 (74), 식 (77), 식 (78), 식 (89) 및 식 (90)으로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위가 바람직하고, 식 (74)로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위(p-페닐렌디아민 유래의 구성 단위)가 보다 바람직하다. 본 명세서에 있어서, 「구성 단위 (B1) 및 구성 단위 (B2) 이외의 디아민 유래의 구성 단위 (B3)」이란, 구성 단위 (B1) 및 구성 단위 (B2) 중 어느 것과도 상이한 디아민 유래의 구성 단위를 의미한다.The PI-based resin may also contain a structural unit (B3) derived from diamine other than the structural unit (B1) and the structural unit (B2) (hereinafter sometimes simply abbreviated as the structural unit (B3)). As the structural unit (B3), for example, a structural unit derived from diamine in which m in formula (b2) is 0, a structural unit derived from diamine in which X in formula (2) is represented by formulas (61) to (64), etc. Among these, X in formula (2) is a structure derived from diamine represented by formula (71), formula (74), formula (77), formula (78), formula (89) and formula (90). A unit is preferable, and a structural unit derived from diamine represented by Formula (74) (a structural unit derived from p-phenylenediamine) is more preferable. In the present specification, "structural units derived from diamines other than structural units (B1) and structural units (B2) (B3)" are constituents derived from diamines different from either of the structural units (B1) and the structural units (B2). means unit.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 구성 단위 (B)가 구성 단위 (B3)을 포함하는 경우, 구성 단위 (B3)의 함유량은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여, 바람직하게는 25몰% 이하, 보다 바람직하게는 20몰% 이하, 더 바람직하게는 10몰% 이하이며, 바람직하게는 0.01몰% 이상이다.In one embodiment of the present invention, when the structural unit (B) includes the structural unit (B3), the content of the structural unit (B3) is preferably 25 mol% relative to the total amount of the structural unit (B). or less, more preferably 20 mol% or less, still more preferably 10 mol% or less, and preferably 0.01 mol% or more.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지는, 예를 들면 상기의 함할로겐 원자 치환기 등에 의해 도입할 수 있는, 할로겐 원자, 바람직하게는 불소 원자를 함유하고 있어도 된다. PI계 수지가 불소 원자를 함유하는 경우, 얻어지는 PI계 필름의 비유전율을 저감하기 쉽다. PI계 수지에 불소 원자를 함유시키기 위해 바람직한 함불소 치환기로서는, 예를 들면 플루오로기 및 트리플루오로메틸기를 들 수 있다.In one embodiment of the present invention, the PI-based resin may contain a halogen atom, preferably a fluorine atom, which can be introduced by, for example, the halogen-containing substituent described above. When the PI-based resin contains fluorine atoms, the dielectric constant of the obtained PI-based film is easily reduced. Preferable fluorine-containing substituents for incorporating a fluorine atom into the PI-based resin include, for example, a fluoro group and a trifluoromethyl group.

또한, 본 발명의 다른 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지는, 얻어지는 PI계 필름의 구리박 등의 기재와의 접착성을 높이기 쉬운 관점에서는, 불소 원자를 함유하고 있지 않은 것이 바람직하다. 또한, PI계 수지가 불소를 함유하면 분자쇄간의 상호작용을 약화시키는 경향이 있기 때문에, 불소 원자를 함유하고 있지 않으면, PI계 수지의 분자 회전이 억제된 고차 구조를 형성하기 쉽고, 결과적으로 본 발명의 효과를 얻기 쉬운 경향이 있다.In another embodiment of the present invention, the PI-based resin preferably does not contain a fluorine atom from the viewpoint of easily increasing the adhesion of the resulting PI-based film to a base material such as copper foil. In addition, since the PI-based resin containing fluorine tends to weaken the interaction between molecular chains, if the PI-based resin does not contain fluorine atoms, it is easy to form a higher-order structure in which molecular rotation of the PI-based resin is suppressed. It tends to be easy to obtain the effect of an invention.

PI계 수지가 할로겐 원자를 함유하는 경우, PI계 수지에 있어서의 할로겐 원자, 특히 불소 원자의 함유량은, PI계 수지의 질량을 기준으로 하여, 바람직하게는 0.1~35질량%, 보다 바람직하게는 0.1~30질량%, 더 바람직하게는 0.1~20질량%, 특별히 바람직하게는 0.1~10질량%이다. 할로겐 원자의 함유량이 상기의 하한 이상이면, 얻어지는 PI계 필름의 내열성 및 유전 특성을 높이기 쉽다. 할로겐 원자의 함유량이 상기의 상한 이하이면, 비용면에서 유리하며, PI계 필름의 CTE를 저감하기 쉽고, 또한 PI계 수지의 합성이 하기 쉬워진다. 유전 특성이란, 비유전율 및 유전 정접을 포함하는 유전에 관한 특성을 의미하고, 유전 특성이 높아지거나 또는 향상된다란, 비유전율 및/또는 유전 정접이 저감하는 것을 나타낸다.When the PI-based resin contains halogen atoms, the content of halogen atoms, particularly fluorine atoms, in the PI-based resin is preferably 0.1 to 35% by mass, more preferably 0.1 to 35% by mass, based on the mass of the PI-based resin. 0.1 to 30% by mass, more preferably 0.1 to 20% by mass, particularly preferably 0.1 to 10% by mass. When the content of halogen atoms is equal to or greater than the above lower limit, the heat resistance and dielectric properties of the resulting PI-based film are likely to be improved. When the halogen atom content is equal to or less than the above upper limit, it is advantageous in terms of cost, the CTE of the PI-based film can be easily reduced, and the PI-based resin can be easily synthesized. Dielectric properties mean properties related to dielectrics including relative permittivity and dielectric loss tangent, and that dielectric properties increase or improve means that the relative permittivity and/or dielectric loss tangent decrease.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지의 이미드화율은, 바람직하게는 90% 이상, 보다 바람직하게는 93% 이상, 더 바람직하게는 95% 이상이며, 통상 100% 이하이다. 기계 물성, 열 물성, 및 유전 특성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 이미드화율이 상기의 하한 이상인 것이 바람직하다. 이미드화율은, PI계 수지 중의 테트라카르본산 화합물에 유래하는 구성 단위의 몰량의 2배의 값에 대한, PI계 수지 중의 이미드 결합의 몰량의 비율을 나타낸다. 또한, PI계 수지가 트리카르본산 화합물을 포함하는 경우에는, PI계 수지 중의 테트라카르본산 화합물에 유래하는 구성 단위의 몰량의 2배의 값과, 트리카르본산 화합물에 유래하는 구성 단위의 몰량과의 합계에 대한, PI계 수지 중의 이미드 결합의 몰량의 비율을 나타낸다. 또한, 이미드화율은, IR법, NMR법 등에 의해 구할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the imidation rate of the PI-based resin is preferably 90% or more, more preferably 93% or more, still more preferably 95% or more, and is usually 100% or less. From the standpoint of easily improving mechanical properties, thermal properties, and dielectric properties, the imidation ratio is preferably equal to or greater than the above lower limit. The imidation rate represents the ratio of the molar amount of imide bonds in the PI-based resin to twice the molar amount of the structural unit derived from the tetracarboxylic acid compound in the PI-based resin. In addition, when the PI-based resin contains a tricarboxylic acid compound, the value of twice the molar amount of the structural unit derived from the tetracarboxylic acid compound in the PI-based resin and the molar amount of the structural unit derived from the tricarboxylic acid compound The ratio of the molar amount of the imide bond in the PI-based resin to the total of In addition, the imidation rate can be obtained by IR method, NMR method or the like.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량(이하, 중량 평균 분자량을 Mw라고 기재하는 경우가 있음)은, 바람직하게는 100,000 이상, 보다 바람직하게는 100,000보다 크고, 보다 더 바람직하게는 110,000 이상, 보다 더 바람직하게는 120,000 이상, 특히 바람직하게는 130,000 이상이며, 바람직하게는 1,000,000 이하, 보다 바람직하게는 700,000 이하, 더 바람직하게는 500,000 이하, 특히 바람직하게는 300,000 이하이다. Mw가 상기의 하한 이상이면, 내절성 등의 기계 물성을 향상시키기 쉽다. Mw가 상기의 상한 이하이면, 제막 시의 가공성의 관점에서 유리하다.In one embodiment of the present invention, the weight average molecular weight of the PI-based resin in terms of polystyrene (hereinafter, the weight average molecular weight may be referred to as Mw) is preferably 100,000 or more, more preferably greater than 100,000, More preferably 110,000 or more, still more preferably 120,000 or more, particularly preferably 130,000 or more, preferably 1,000,000 or less, more preferably 700,000 or less, still more preferably 500,000 or less, particularly preferably 300,000 or less am. When Mw is equal to or greater than the above lower limit, it is easy to improve mechanical properties such as folding resistance. If Mw is below the above upper limit, it is advantageous from the viewpoint of workability during film formation.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지의 Mw와 수평균 분자량(이하, 수평균 분자량을 Mn이라고 기재하는 경우가 있음)과의 비(Mw/Mn)는, 굴곡 내성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 폴리스티렌 환산으로, 바람직하게는 3.5 이상, 보다 바람직하게는 4.0 이상, 더 바람직하게는 4.2 이상, 보다 더 바람직하게는 4.5 이상, 특히 바람직하게는 4.7 이상이며, 바람직하게는 8.0 이하, 보다 바람직하게는 7.0 이하, 더 바람직하게는 6.0 이하, 특히 바람직하게는 5.5 이하이다. 또한, Mw 및 Mn은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(이하, GPC라고 기재하는 경우가 있음) 측정을 행하여, 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the ratio (Mw/Mn) of the Mw of the PI-based resin to the number average molecular weight (hereinafter, the number average molecular weight is sometimes referred to as Mn) is the viewpoint of easily improving the bending resistance. , in terms of polystyrene, is preferably 3.5 or more, more preferably 4.0 or more, still more preferably 4.2 or more, still more preferably 4.5 or more, particularly preferably 4.7 or more, preferably 8.0 or less, more preferably It is preferably 7.0 or less, more preferably 6.0 or less, and particularly preferably 5.5 or less. In addition, Mw and Mn can be determined by standard polystyrene conversion by performing gel permeation chromatography (hereinafter sometimes referred to as GPC) measurement.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름 중의 PI계 수지의 함유량은, 본 발명의 PI계 필름의 질량에 대하여, 바람직하게는 60질량% 이상, 보다 바람직하게는 70질량% 이상, 더 바람직하게는 80질량% 이상, 특히 바람직하게는 90질량% 이상이다. 또한, PI계 수지의 함유량의 상한은 특별히 제한되지 않고, PI계 필름의 질량에 대하여, 예를 들면 100질량% 이하, 바람직하게는 99질량% 이하, 보다 바람직하게는 95질량% 이하이다. PI계 수지의 함유량이 상기 범위이면, 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉽다.In one embodiment of the present invention, the content of the PI-based resin in the PI-based film is preferably 60% by mass or more, more preferably 70% by mass or more, and still more preferably 70% by mass or more relative to the mass of the PI-based film of the present invention. Preferably it is 80% by mass or more, and particularly preferably 90% by mass or more. In addition, the upper limit of the content of the PI-based resin is not particularly limited, and is, for example, 100% by mass or less, preferably 99% by mass or less, and more preferably 95% by mass or less with respect to the mass of the PI-based film. When the content of the PI-based resin is within the above range, mechanical properties and thermal properties are easily improved.

본 발명의 PI계 필름은, 필요에 따라, 필러를 포함할 수 있다. 필러로서는, 실리카, 알루미나 등의 금속 산화물 입자, 탄산 칼슘 등의 무기염, 불소 수지, 시클로올레핀 폴리머 등의 폴리머 입자 등을 들 수 있다. 필러는 단독 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 필러를 포함하는 경우, 그 함유량은, PI계 필름의 총 질량에 대하여, 바람직하게는 50질량% 이하, 보다 바람직하게는 40질량% 이하, 더 바람직하게는 30질량% 이하이며, 바람직하게는 0.01질량% 이상이다.The PI-based film of the present invention may contain a filler, if necessary. Examples of the filler include metal oxide particles such as silica and alumina, inorganic salts such as calcium carbonate, and polymer particles such as fluororesins and cycloolefin polymers. A filler can be used individually or in combination of 2 or more types. When a filler is included, the content thereof is preferably 50% by mass or less, more preferably 40% by mass or less, still more preferably 30% by mass or less, and preferably 0.01% by mass, based on the total mass of the PI-based film. mass % or more.

또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 PI계 필름은, 필요에 따라, 첨가제를 포함할 수 있다. 첨가제로서는, 예를 들면 산화 방지제, 난연제, 가교제, 계면활성제, 상용화제, 이미드화 촉매, 내후제(耐侯劑), 활제, 항블로킹제, 대전 방지제, 방담(防曇)제, 무적제(無滴劑), 안료 등을 들 수 있다. 첨가제는 단독 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다. 각종 첨가제의 함유량은, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서 적절히 선택할 수 있고, 각종 첨가제를 포함하는 경우, 그 합계 함유량은, PI계 필름의 총 질량에 대하여, 바람직하게는 7질량% 이하, 보다 바람직하게는 5질량% 이하, 더 바람직하게는 4질량% 이하이며, 바람직하게는 0.001질량% 이상이다.Further, in one embodiment of the present invention, the PI-based film of the present invention may contain additives, if necessary. Examples of additives include antioxidants, flame retardants, crosslinking agents, surfactants, compatibilizers, imidation catalysts, weathering agents, lubricants, antiblocking agents, antistatic agents, antifogging agents, and anti-drip agents. ), pigments, and the like. Additives can be used alone or in combination of two or more. The content of various additives can be appropriately selected within a range that does not impair the effects of the present invention, and when including various additives, the total content is preferably 7% by mass or less with respect to the total mass of the PI-based film, It is more preferably 5% by mass or less, still more preferably 4% by mass or less, and preferably 0.001% by mass or more.

<폴리이미드계 필름><Polyimide film>

본 발명의 PI계 필름은, 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 PI계 수지를 포함하고, 당해 PI계 수지는, 280℃에 있어서의 E'가 3×108Pa 미만, 또한, Tg가 200~290℃이기 때문에, 열 이미드화 온도가 저온이어도, Df를 저감할 수 있기 때문에, 고주파 대역에 대응 가능한 CCL 등의 금속장 적층판에 적합하게 이용할 수 있다. 또한, 본 발명은, PI계 수지 전구체를 200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해 이미드화함으로써 얻어지는 PI계 수지를 포함하는 PI계 필름도 포함한다.The PI-based film of the present invention includes a PI-based resin containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine, and the PI-based resin has an E at 280°C. Since ' is less than 3 × 10 8 Pa and the Tg is 200 to 290 ° C, even if the thermal imidization temperature is low, Df can be reduced, so it is suitable for metal-clad laminates such as CCL that can respond to high-frequency bands. available. Further, the present invention also includes a PI-based film containing a PI-based resin obtained by imidizing a PI-based resin precursor by heat treatment at 200°C or more and less than 350°C.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름의 CTE는, 바람직하게는 50ppm/K 이하, 보다 바람직하게는 40ppm/K 이하, 더 바람직하게는 30ppm/K 이하, 보다 더 바람직하게는 25ppm/K 이하이며, 바람직하게는 0ppm/K 이상, 보다 바람직하게는 5ppm/K 이상, 더 바람직하게는 8ppm/K 이상, 보다 더 바람직하게는 12ppm/K 이상이다. 상기의 범위로 함으로써, 구리박과 PI층의 CTE가 가까워지기 때문에, 적층 필름의 박리를 억제할 수 있다. 또한, CTE는, 예를 들면 열기계 분석 장치(「TMA」라고 기재하는 경우가 있음)에 의해 측정할 수 있고, 실시예에 기재된 방법에 의해 구해진다.In one embodiment of the present invention, the CTE of the PI-based film is preferably 50 ppm/K or less, more preferably 40 ppm/K or less, still more preferably 30 ppm/K or less, and still more preferably 25 ppm/K or less, preferably 0ppm/K or more, more preferably 5ppm/K or more, still more preferably 8ppm/K or more, still more preferably 12ppm/K or more. By setting it as said range, since CTE of a copper foil and a PI layer approaches, peeling of laminated|multilayer film can be suppressed. In addition, CTE can be measured by, for example, a thermomechanical analyzer (sometimes described as "TMA"), and is obtained by the method described in Examples.

프린트 회로에는, 전송 손실이 작아지는 것이 요구된다. 전송 손실은, 유전체에서 생기는 전계에 의해 발생하는 손실인 유전 손실과, 도체를 흐르는 전류에 기인하여 발생하는 손실인 도체 손실과의 합으로 나타난다. 그리고, 유전 손실은, 근사적으로 식 (i)로 나타나는 지표 E에 비례하는 것이 알려져 있다.A printed circuit is required to have a small transmission loss. Transmission loss is the sum of dielectric loss, which is a loss caused by an electric field generated in a dielectric, and conductor loss, which is a loss caused by a current flowing through a conductor. And it is known that dielectric loss is approximately proportional to the index E represented by Formula (i).

E=Df×(Dk)1/2 (i)E=Df×(Dk) 1/2 (i)

[식 (i) 중, Df는 유전 정접을 나타내고, Dk는 비유전율을 나타냄][In Formula (i), Df represents a dielectric loss tangent, and Dk represents a relative permittivity]

5G용 FPC에서 이용되는 고주파수 영역에서는, 유전 손실이 커지는 경향이 있기 때문에, 상기 지표 E의 값이 작고, 유전 손실을 억제할 수 있는 재료가 특히 요구되고 있다.Since dielectric loss tends to increase in the high-frequency region used in FPC for 5G, a material having a small value of the index E and capable of suppressing dielectric loss is particularly required.

한편, 고주파 신호는 도체의 극히 표면에 전류가 집중된다. 따라서, 도체 손실은 접하는 유전체의 유전 특성과 관련하여, 근사적으로 (Dk)1/2에 비례하는 것이 알려져 있다.On the other hand, in the high-frequency signal, current is concentrated on the surface of the conductor. Therefore, it is known that conductor loss is approximately proportional to (Dk) 1/2 , in relation to the dielectric properties of the dielectrics in contact.

본 발명의 PI계 필름은, 상기한 바와 같이, 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 PI계 수지를 포함하고, 당해 PI계 수지는, 280℃에 있어서의 E'가 3×108Pa 미만, 또한, Tg가 200~290℃이기 때문에, Df 및 Dk가 작아짐으로써, 유전 손실의 지표 E 및 도체 손실도 작아져, 당해 PI계 필름을 포함하는 회로에서는 전송 손실을 저감할 수 있다.As described above, the PI-based film of the present invention includes a PI-based resin containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine, and the PI-based resin has a 280 Since E' at °C is less than 3 × 10 8 Pa and Tg is 200 to 290 °C, as Df and Dk decrease, the dielectric loss index E and conductor loss also decrease, including the PI-based film. transmission loss can be reduced.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름의 10GHz에 있어서의 유전 손실의 지표 E는, 바람직하게는 0.009 이하, 보다 바람직하게는 0.008 이하, 더 바람직하게는 0.007 이하, 특히 바람직하게는 0.006 이하이다. 상기 지표 E가 작으면 작을수록 PI계 필름을 포함하여 이루어지는 전자 회로가 전송 손실은 낮아지기 때문에, 상기 지표 E의 하한은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 0 이상이어도 된다.In one embodiment of the present invention, the dielectric loss index E of the PI-based film at 10 GHz is preferably 0.009 or less, more preferably 0.008 or less, still more preferably 0.007 or less, particularly preferably 0.006 or less. am. The smaller the index E, the lower the transmission loss of the electronic circuit including the PI-based film. Therefore, the lower limit of the index E is not particularly limited, and may be, for example, 0 or more.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름의 10GHz에 있어서의 Df는, PI계 필름을 포함하여 이루어지는 전자 회로의 전송 손실을 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 0.004 미만, 보다 바람직하게는 0.0038 이하, 더 바람직하게는 0.0035 이하, 보다 더 바람직하게는 0.0033 이하, 특별히 바람직하게는 0.003 이하, 특별히 보다 바람직하게는 0.0027 이하, 특히 바람직하게는 0.0024 이하이다. 상기 Df가 작으면 작을수록 PI계 필름을 포함하여 이루어지는 전자 회로의 전송 손실은 낮아지기 때문에, 상기 Df의 하한은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 0 이상이어도 된다.In one embodiment of the present invention, Df of the PI-based film at 10 GHz is preferably less than 0.004, more preferably 0.0038 from the viewpoint of facilitating reduction of transmission loss in an electronic circuit including the PI-based film. or less, more preferably 0.0035 or less, even more preferably 0.0033 or less, particularly preferably 0.003 or less, particularly more preferably 0.0027 or less, particularly preferably 0.0024 or less. The smaller the Df, the lower the transmission loss of the electronic circuit including the PI-based film. Therefore, the lower limit of the Df is not particularly limited, and may be, for example, 0 or more.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름의 10GHz에 있어서의 Dk는, 바람직하게는 3.50 미만, 보다 바람직하게는 3.45 이하, 더 바람직하게는 3.40 이하, 보다 더 바람직하게는 3.38 이하, 특별히 바람직하게는 3.36 이하, 특별히 보다 바람직하게는 3.33 이하, 특별히 더 바람직하게는 3.30 이하, 특히 바람직하게는 3.27 이하, 특히 보다 바람직하게는 3.22 이하이다.In one embodiment of the present invention, the Dk of the PI-based film at 10 GHz is preferably less than 3.50, more preferably 3.45 or less, still more preferably 3.40 or less, still more preferably 3.38 or less, particularly preferably It is preferably 3.36 or less, particularly more preferably 3.33 or less, particularly more preferably 3.30 or less, particularly preferably 3.27 or less, and particularly more preferably 3.22 or less.

PI계 필름의 Df 및 Dk는, 벡터 네트워크 애널라이저 및 공진기를 이용하여 측정할 수 있고, 예를 들면 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.Df and Dk of the PI-based film can be measured using a vector network analyzer and a resonator, and can be measured, for example, by the method described in Examples.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 PI계 필름의 ASTM 규격 D2176-16에 준거한 MIT 내절 피로 시험에 있어서의 파단까지의 절곡 횟수는 15,000회 이상, 바람직하게는 20,000회 이상, 보다 바람직하게는 50,000회 이상, 더 바람직하게는 100,000회 이상, 보다 더 바람직하게는 150,000회 이상, 특히 바람직하게는 200,000회 이상이다. 상기 절곡 횟수가 상기의 하한 이상이면, 반복하여 절곡해도 크랙, 균열, 접힌 주름 등의 발생을 유효하게 억제할 수 있다. 또한, 상기 절곡 횟수의 상한은 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 10,000,000회 이하여도 된다. 또한, MIT 내절 피로 시험은, MIT 내절 피로 시험기를 이용하여 측정할 수 있고, 예를 들면 실시예에 기재된 방법에 의해 측정할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the number of bends to breakage in the MIT bending resistance fatigue test based on ASTM standard D2176-16 of the PI-based film of the present invention is 15,000 or more, preferably 20,000 or more, more preferably It is preferably 50,000 times or more, more preferably 100,000 times or more, still more preferably 150,000 times or more, and particularly preferably 200,000 times or more. If the number of times of bending is equal to or greater than the above lower limit, generation of cracks, cracks, creases and the like can be effectively suppressed even if repeatedly bent. In addition, the upper limit of the number of times of bending is not particularly limited, and may be, for example, 10,000,000 or less. In addition, the MIT internal fatigue test can be measured using an MIT internal fatigue tester, and can be measured, for example, by the method described in Examples.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 기계 물성을 높이기 쉬운 관점에서, PI계 수지의 280℃에 있어서의 E'와, 당해 PI 수지를 포함하는 PI계 필름의 CTE가, 식 (Y):In one embodiment of the present invention, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and increasing the mechanical properties, E' at 280 ° C. of the PI-based resin and the PI-based film containing the PI resin CTE is, formula (Y):

(PI계 필름의 CTE)×(PI계 수지의 280℃에 있어서의 E')1/2≥ 30,000(CTE of PI-based film) x (E' at 280 ° C. of PI-based resin) 1/2 ≥ 30,000

의 관계를 충족시키는 것이 바람직하다.It is desirable to satisfy the relationship of

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 식 (Y)의 좌변의 값은, PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 내굴곡성을 높이기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 40,000 이상, 보다 바람직하게는 50,000 이상, 더 바람직하게는 100,000 이상, 보다 더 바람직하게는 120,000 이상, 특히 바람직하게는 125,000 이상이며, 바람직하게는 1,500,000 이하이고, 보다 바람직하게는 1,000,000 이하, 더 바람직하게는 850,000 이하, 보다 더 바람직하게는 700,000 이하, 특히 바람직하게는 500,000 이하, 보다 특히 바람직하게는 450,000 이하이다.In one embodiment of the present invention, the value of the left side of formula (Y) is preferably 40,000 or more, more preferably 50,000 or more, from the viewpoint of easily reducing the Df of the PI-based film and easily increasing the bending resistance; More preferably 100,000 or more, even more preferably 120,000 or more, particularly preferably 125,000 or more, preferably 1,500,000 or less, more preferably 1,000,000 or less, still more preferably 850,000 or less, still more preferably 700,000 or less, particularly preferably 500,000 or less, more particularly preferably 450,000 or less.

본 발명의 PI계 필름의 두께는, 용도에 따라 적절히 선택할 수 있고, 바람직하게는 5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 10㎛ 이상, 더 바람직하게는 20㎛ 이상이며, 바람직하게는 500㎛ 이하, 보다 바람직하게는 300㎛ 이하, 더 바람직하게는 100㎛ 이하, 특히 바람직하게는 80㎛ 이하, 특히 보다 바람직하게는 50㎛ 이하이다. 필름의 두께는, 막후계 등을 이용하여 측정할 수 있다. 또한, 본 발명의 필름이 다층 필름인 경우, 상기 두께는 단층 부분의 두께를 나타낸다.The thickness of the PI-based film of the present invention can be appropriately selected depending on the application, and is preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, still more preferably 20 μm or more, preferably 500 μm or less, and more It is preferably 300 μm or less, more preferably 100 μm or less, particularly preferably 80 μm or less, and even more preferably 50 μm or less. The thickness of the film can be measured using a film thickness gauge or the like. In addition, when the film of the present invention is a multilayer film, the thickness indicates the thickness of a single layer portion.

본 발명의 PI계 필름은, 통상 공업적으로 채용되고 있는 방법에 의해, 코로나 방전 처리, 플라즈마 처리, 오존 처리 등의 표면 처리가 실시되고 있어도 된다.The PI-based film of the present invention may be subjected to a surface treatment such as corona discharge treatment, plasma treatment, ozone treatment, or the like, by a method generally employed industrially.

본 발명의 PI계 필름은, Df가 낮기 때문에, 고주파 대역용의 프린트 회로 기판이나 안테나 기판에 대응 가능한 기판 재료 등에 적합하게 이용할 수 있다. FPC에 이용되는 CCL 등의 금속장 적층판은, 단층 또는 복수층의 PI계 수지의 편면 또는 양면에 구리박층 등의 금속박을 가지는 적층체가 널리 이용되고 있다. 본 발명의 PI계 필름을 수지층으로서 사용하는 경우, 본 발명의 PI계 필름은 이미드화 온도가 저온이어도 Df를 낮게 할 수 있기 때문에, 구리박 등의 금속박 상에서 PI계 수지 전구체 도막을 열 이미드화함으로써 당해 CCL 등의 금속장 적층판을 제조해도, 구리박 표면의 열화를 억제할 수 있기 때문에, 우수한 고주파 특성을 가지는 CCL 등의 금속장 적층판을 얻을 수 있다.Since the PI-based film of the present invention has a low Df, it can be suitably used as a substrate material compatible with printed circuit boards and antenna boards for high frequency bands. Metal-clad laminates such as CCL used in FPC are widely used as laminates having metal foils such as copper foil layers on one side or both sides of a single layer or multiple layers of PI-based resin. When the PI-based film of the present invention is used as a resin layer, since the PI-based film of the present invention can have a low Df even if the imidization temperature is low, the PI-based resin precursor coating film is thermally imidized on a metal foil such as copper foil. Since deterioration of the copper foil surface can be suppressed even if it manufactures the said metal clad laminated board, such as CCL by doing, the metal clad laminated board, such as CCL, which has excellent high frequency characteristics can be obtained.

〔폴리이미드계 필름의 제조 방법〕[Method for producing polyimide film]

본 발명의 PI계 필름의 제조 방법은, 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면 이하의 공정:The method for producing the PI-based film of the present invention is not particularly limited, but includes, for example, the following steps:

테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 PI계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하는 공정, 및A step of coating a PI-based resin precursor solution containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine on a substrate, and

200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, PI계 수지 전구체를 이미드화하는 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.It can be manufactured by a method including a step of imidizing the PI-based resin precursor by heat treatment at 200°C or more and less than 350°C.

<폴리이미드계 수지 전구체 용액의 도공 공정><Coating step of polyimide-based resin precursor solution>

(PI계 수지 전구체 용액의 조제)(Preparation of PI-based resin precursor solution)

PI계 수지 전구체 용액은, 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 PI계 수지 전구체와 용매를 포함하고, 상기 PI계 수지 전구체와 용매를 혼합함으로써 조제할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 상기 PI계 수지 전구체의 합성에 의해 얻어진 PI계 수지 전구체를 포함하는 반응액을, 필요에 따라 용매로 적절히 희석하여, PI계 수지 전구체 용액으로서 사용해도 된다.The PI-based resin precursor solution contains a PI-based resin precursor containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine, and a solvent, by mixing the PI-based resin precursor and the solvent. can be prepared In one embodiment of the present invention, the reaction solution containing the PI-based resin precursor obtained by the synthesis of the PI-based resin precursor may be appropriately diluted with a solvent as necessary and used as the PI-based resin precursor solution. .

본 발명에 있어서의 PI계 수지 전구체는, 테트라카르본산 무수물과 디아민을 반응시킴으로써 얻어진다. 또한, 테트라카르본산 화합물 외에, 디카르본산 화합물, 트리카르본산 화합물을 반응시켜도 된다.The PI-based resin precursor in the present invention is obtained by reacting tetracarboxylic acid anhydride with diamine. In addition to the tetracarboxylic acid compound, a dicarboxylic acid compound or a tricarboxylic acid compound may be reacted.

PI계 수지 전구체의 합성에 이용되는 테트라카르본산 무수물로서는, 예를 들면, 방향족 테트라카르본산 2무수물 등의 방향족 테트라카르본산 화합물; 및 지방족 테트라카르본산 2무수물 등의 지방족 테트라카르본산 화합물 등을 들 수 있다. 테트라카르본산 화합물은, 단독으로 이용해도 되고, 2종 이상을 조합하여 이용해도 된다. 테트라카르본산 화합물은, 2무수물 외에, 산 클로라이드 화합물 등의 테트라카르본산 화합물 유연체(類緣體)여도 된다.Examples of the tetracarboxylic acid anhydride used in the synthesis of the PI-based resin precursor include aromatic tetracarboxylic acid compounds such as aromatic tetracarboxylic dianhydride; and aliphatic tetracarboxylic acid compounds such as aliphatic tetracarboxylic dianhydride. A tetracarboxylic acid compound may be used independently or may be used in combination of 2 or more types. The tetracarboxylic acid compound may be an analog of a tetracarboxylic acid compound such as an acid chloride compound other than a dianhydride.

상기 테트라카르본산 화합물로서는, 예를 들면, 상기 식 (1)로 나타나는 테트라카르본산 무수물을 들 수 있고, 바람직하게는, 식 (a1)로 나타나는 테트라카르본산 무수물, 식 (a2)로 나타나는 테트라카르본산 무수물이나, 식 (1) 중의 Y가 식 (32)로 나타나는 테트라카르본산 무수물을 들 수 있다.As said tetracarboxylic acid compound, the tetracarboxylic acid anhydride represented by the said formula (1) is mentioned, for example, Preferably, the tetracarboxylic acid anhydride represented by the formula (a1) and the tetracarboxylic represented by the formula (a2) are mentioned, for example. Tetracarboxylic acid anhydrides in which Y in formula (1) is represented by formula (32) are mentioned.

테트라카르본산 화합물의 구체예로서는, 무수 피로멜리트산(이하, PMDA라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-(4,4'-이소프로필리덴디페녹시)디프탈산 무수물(이하, BPADA라고 기재하는 경우가 있음), 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르본산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르본산 2무수물(이하, BPDA라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 2무수물(이하, 6FDA라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-옥시디프탈산 2무수물(이하, ODPA라고 기재하는 경우가 있음), 2,2',3,3'-, 2,3,3',4'- 또는 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르본산 2무수물, 2,3',3,4'-비페닐테트라카르본산 2무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르본산 2무수물, p-페닐렌비스(트리멜리트산 모노에스테르산 2무수물)(이하, TAHQ라고 기재하는 경우가 있음), 무수 트리멜리트산과 2,2',3,3',5,5'-헥사메틸-4,4'-비페놀과의 에스테르화물(이하, TMPBP라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-비스(1,3-디옥소-1,3-디히드로이소벤조푸란-5-일카르보닐옥시)비페닐(이하, BP-TME라고 기재하는 경우가 있음), 2,3',3,4'-디페닐에테르테트라카르본산 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)에테르 2무수물, 3,3",4,4"-p-테르페닐테트라카르본산 2무수물, 2,3,3",4"-p-테르페닐테트라카르본산 2무수물, 2,2",3,3"-p-테르페닐테트라카르본산 2무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)-프로판 2무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)-프로판 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 2무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2무수물, 1,2,7,8-, 1,2,6,7-페난트렌-테트라카르본산 2무수물, 1,2,9,10-페난트렌-테트라카르본산 2무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)테트라플루오로프로판 2무수물, 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르본산 2무수물(이하, HPMDA라고 기재하는 경우가 있음), 2,3,5,6-시클로헥산테트라카르본산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르본산 2무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르본산 2무수물, 시클로펜탄-1,2,3,4-테트라카르본산 2무수물, 4,4'-비스(2,3-디카르복시페녹시)디페닐메탄 2무수물, 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르본산 2무수물(이하, CBDA라고 기재하는 경우가 있음), 노르보르난-2-스피로-α'-스피로-2"-노르보르난-5,5',6,6'-테트라카르본산 무수물, p-페닐렌비스(트리멜리테이트 무수물), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르본산 2무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르본산 2무수물, 4,8-디메틸-1,2,3,5,6,7-헥사히드로나프탈렌-1,2,5,6-테트라카르본산 2무수물, 2,6-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르본산 2무수물, 2,7-디클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르본산 2무수물, 2,3,6,7-테트라클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르본산 2무수물, 2,3,6,7-테트라클로로나프탈렌-2,3,6,7-테트라카르본산 2무수물, 1,4,5,8-테트라클로로나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르본산 2무수물, 1,4,5,8-테트라클로로나프탈렌-2,3,6,7-테트라카르본산 2무수물, 2,3,8,9-페릴렌-테트라카르본산 2무수물, 3,4,9,10-페릴렌-테트라카르본산 2무수물, 4,5,10,11-페릴렌-테트라카르본산 2무수물, 5,6,11,12-페릴렌-테트라카르본산 2무수물, 피라진-2,3,5,6-테트라카르본산 2무수물, 피롤리딘-2,3,4,5-테트라카르본산 2무수물, 티오펜-2,3,4,5-테트라카르본산 2무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)술폰 2무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)술폰 2무수물 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, BPDA, PMDA, TAHQ나 BP-TME가 바람직하고, BPDA, TAHQ나 BP-TME가 보다 바람직하다. 이들의 테트라카르본산 화합물은 단독 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the tetracarboxylic acid compound include pyromellitic anhydride (hereinafter sometimes referred to as PMDA) and 4,4'-(4,4'-isopropylidenediphenoxy) diphthalic anhydride (hereinafter referred to as BPADA). may be described), 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride (hereinafter sometimes referred to as BPDA) , 4,4'-(Hexafluoroisopropylidene)diphthalic dianhydride (hereinafter sometimes referred to as 6FDA), 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (hereinafter sometimes referred to as ODPA) ), 2,2',3,3'-, 2,3,3',4'- or 3,3',4,4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,3',3,4 '-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2',3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, p-phenylenebis(trimellitic acid monoester acid dianhydride) (hereinafter referred to as TAHQ) may), esterified product of trimellitic anhydride and 2,2',3,3',5,5'-hexamethyl-4,4'-biphenol (hereinafter sometimes referred to as TMPBP) , 4,4'-bis(1,3-dioxo-1,3-dihydroisobenzofuran-5-ylcarbonyloxy)biphenyl (hereinafter sometimes referred to as BP-TME), 2, 3',3,4'-diphenylethertetracarboxylic dianhydride, bis(2,3-dicarboxyphenyl)ether dianhydride, 3,3",4,4"-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride , 2,3,3", 4"-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2",3,3"-p-terphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis(2,3 -Dicarboxyphenyl)-propane dianhydride, 2,2-bis(3,4-dicarboxyphenyl)-propane dianhydride, bis(2,3-dicarboxyphenyl)methane dianhydride, bis(3,4-di Carboxyphenyl)methane dianhydride, 1,1-bis(2,3-dicarboxyphenyl)ethane dianhydride, 1,1-bis(3,4-dicarboxyphenyl)ethane dianhydride, 1,2,7,8 -, 1,2,6,7-phenanthrene-tetracarboxylic dianhydride, 1,2,9,10-phenanthrene-tetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis(3,4-dicarboxyphenyl) Tetrafluoropropane dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride (hereinafter sometimes referred to as HPMDA), 2,3,5,6-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, cyclopentane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, 4,4 '-bis(2,3-dicarboxyphenoxy)diphenylmethane dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride (hereinafter sometimes referred to as CBDA), norbornane- 2-spiro-α'-spiro-2"-norbornane-5,5',6,6'-tetracarboxylic acid anhydride, p-phenylenebis(trimellitate anhydride), 3,3',4, 4'-Diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-anthracentetracarboxylic dianhydride, 4,8-dimethyl-1,2,3,5,6,7-hexahydronaphthalene-1 ,2,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,6-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 2,7-dichloronaphthalene-1,4,5,8-tetra Carbonic acid dianhydride, 2,3,6,7-tetrachloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-tetrachloronaphthalene-2,3,6,7 -Tetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-tetrachloronaphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-tetrachloronaphthalene-2,3,6 ,7-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,8,9-perylene-tetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylene-tetracarboxylic dianhydride, 4,5,10,11 -Perylene-tetracarboxylic dianhydride, 5,6,11,12-perylene-tetracarboxylic dianhydride, pyrazine-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, pyrrolidine-2,3 ,4,5-tetracarboxylic dianhydride, thiophene-2,3,4,5-tetracarboxylic dianhydride, bis(2,3-dicarboxyphenyl)sulfone dianhydride, bis(3,4-dicarboxy Phenyl) sulfone dianhydride etc. are mentioned. Among these, BPDA, PMDA, TAHQ, and BP-TME are preferable, and BPDA, TAHQ, and BP-TME are more preferable from the viewpoint of easily reducing Df of the obtained PI-based film even when the imidization temperature is low. These tetracarboxylic acid compounds can be used individually or in combination of 2 or more types.

PI계 수지 전구체의 합성에 이용되는 디아민 화합물로서는, 예를 들면, 지방족 디아민, 방향족 디아민 및 이들의 혼합물을 들 수 있다.Examples of the diamine compound used in the synthesis of the PI-based resin precursor include aliphatic diamines, aromatic diamines, and mixtures thereof.

상기 디아민 화합물로서는, 예를 들면, 상기 식 (2)로 나타나는 디아민 화합물을 들 수 있고, 바람직하게는, 식 (b1)로 나타나는 디아민 화합물이나 식 (b2)로 나타나는 디아민 화합물을 들 수 있다.As said diamine compound, the diamine compound represented by said formula (2) is mentioned, for example, Preferably, the diamine compound represented by formula (b1) and the diamine compound represented by formula (b2) are mentioned.

또한, 본 실시 형태에 있어서 「방향족 디아민」이란, 방향환을 가지는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 지방족기 또는 그 밖의 치환기를 포함하고 있어도 된다. 이 방향환은 단환이어도 축합환이어도 되고, 벤젠환, 나프탈렌환, 안트라센환 및 플루오렌환 등이 예시되지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. 이들 중에서도, 바람직하게는 벤젠환이다. 또한 「지방족 디아민」이란, 지방족기를 가지는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 그 밖의 치환기를 포함하고 있어도 되지만, 방향환은 가지지 않는다.In addition, in this embodiment, "aromatic diamine" shows diamine which has an aromatic ring, and may contain an aliphatic group or another substituent in a part of the structure. This aromatic ring may be a monocyclic ring or a condensed ring, and examples thereof include a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring and a fluorene ring, but are not limited thereto. Among these, a benzene ring is preferable. In addition, "aliphatic diamine" shows diamine which has an aliphatic group, and may contain other substituents in a part of the structure, but does not have an aromatic ring.

디아민 화합물의 구체예로서는, 1,4-디아미노시클로헥산, 4,4'-디아미노-2,2'-디메틸비페닐(이하, m-Tb라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-디아미노-3,3'-디메틸비페닐, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)-4,4'-디아미노디페닐(이하, TFMB라고 기재하는 경우가 있음), 4,4'-디아미노디페닐에테르, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠(이하, 1,3-APB라고 기재하는 경우가 있음), 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠(이하, TPE-Q라고 기재하는 경우가 있음), 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠(이하, TPE-R이라고 기재하는 경우가 있음), 2,2'-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판(이하, BAPP라고 기재하는 경우가 있음), 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디히드록시-4,4'-디아미노비페닐, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 비스[4-(4-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(3-아미노페녹시)비페닐, 비스[1-(4-아미노페녹시)]비페닐, 비스[1-(3-아미노페녹시)]비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]메탄, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]에테르, 비스[4-(4-아미노페녹시)]벤조페논, 비스[4-(3-아미노페녹시)]벤조페논, 2,2-비스-[4-(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 2,2-비스-[4-(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판, 4,4'-메틸렌디-o-톨루이딘, 4,4'-메틸렌디-2,6-크실리딘, 4,4'-메틸렌-2,6-디에틸아닐린, 4,4'-메틸렌디아닐린, 3,3'-메틸렌디아닐린, 4,4'-디아미노디페닐프로판, 3,3'-디아미노디페닐프로판, 4,4'-디아미노디페닐에탄, 3,3'-디아미노디페닐에탄, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 3,3'-디아미노디페닐메탄, 3,3-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 벤지딘, 3,3'-디아미노비페닐, 3,3'-디메톡시벤지딘, 4,4"-디아미노-p-테르페닐, 3,3"-디아미노-p-테르페닐, m-페닐렌디아민, p-페닐렌디아민(이하, p-PDA라고 기재하는 경우가 있음), 레조르시놀-비스(3-아미노페닐)에테르, 4,4'-[1,4-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 4,4'-[1,3-페닐렌비스(1-메틸에틸리덴)]비스아닐린, 비스(p-아미노시클로헥실)메탄, 비스(p-β-아미노-tert-부틸페닐)에테르, 비스(p-β-메틸-δ-아미노펜틸)벤젠, p-비스(2-메틸-4-아미노펜틸)벤젠, p-비스(1,1-디메틸-5-아미노펜틸)벤젠, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌, 2,4-비스(β-아미노-tert-부틸)톨루엔, 2,4-디아미노톨루엔, m-크실렌-2,5-디아민, p-크실렌-2,5-디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 피페라진, 4,4'-디아미노-2,2'-비스(트리플루오로메틸)비시클로헥산, 4,4'-디아미노디시클로헥실메탄, 4,4"-디아미노-p-테르페닐, 비스(4-아미노페닐)테레프탈레이트, 1,4-비스(4-아미노페녹시)-2,5-디-tert-부틸벤젠, 4,4'-(1,3-페닐렌디이소프로필리덴)비스아닐린, 1,4-비스[2-(4-아미노페닐)-2-프로필]벤젠, 2,4-디아미노-3,5-디에틸톨루엔, 2,6-디아미노-3,5-디에틸톨루엔, 4,4'-비스(3-아미노페녹시)비페닐, 4,4'-(헥사플루오로프로필리덴)디아닐린, 1,2-디아미노에탄, 1,3-디아미노프로판, 1,4-디아미노부탄, 1,5-디아미노펜탄, 1,6-디아미노헥산, 1,2-디아미노프로판, 1,2-디아미노부탄, 1,3-디아미노부탄, 2-메틸-1,2-디아미노프로판, 2-메틸-1,3-디아미노프로판, 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,4-비스(아미노메틸)시클로헥산, 노르보르난디아민, 2'-메톡시-4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 4,4'-디아미노벤즈아닐리드, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]술폰, 9,9-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 9,9-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]플루오렌, 4,4'-디아미노디페닐설파이드, 3,3'-디아미노디페닐설파이드, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰, 2,5-디아미노-1,3,4-옥사디아졸, 비스[4,4'-(4-아미노페녹시)]벤즈아닐리드, 비스[4,4'-(3-아미노페녹시)]벤즈아닐리드, 2,6-디아미노피리딘, 2,5-디아미노피리딘 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 이미드화 온도가 저온이어도 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, m-Tb, BAPP, TPE-Q, TPE-R 등이 바람직하고, m-Tb, BAPP 등이 보다 바람직하다. 디아민 화합물은 단독 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the diamine compound include 1,4-diaminocyclohexane, 4,4'-diamino-2,2'-dimethylbiphenyl (hereinafter sometimes referred to as m-Tb), 4,4'- Diamino-3,3'-dimethylbiphenyl, 2,2'-bis(trifluoromethyl)-4,4'-diaminodiphenyl (hereinafter sometimes referred to as TFMB), 4,4' -Diaminodiphenyl ether, 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene (hereinafter sometimes referred to as 1,3-APB), 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene ( hereinafter sometimes referred to as TPE-Q), 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene (hereinafter sometimes referred to as TPE-R), 2,2'-bis[4-( 4-aminophenoxy)phenyl]propane (hereinafter sometimes referred to as BAPP), 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxy-4,4 '-Diaminobiphenyl, 2,2-bis-[4-(3-aminophenoxy)phenyl]propane, bis[4-(4-aminophenoxy)]biphenyl, bis[4-(3-amino) Phenoxy)biphenyl, bis[1-(4-aminophenoxy)]biphenyl, bis[1-(3-aminophenoxy)]biphenyl, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]methane , bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]methane, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]ether, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]ether, bis[4- (4-aminophenoxy)] benzophenone, bis [4- (3-aminophenoxy)] benzophenone, 2,2-bis- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane, 2 ,2-bis-[4-(3-aminophenoxy)phenyl]hexafluoropropane, 4,4'-methylenedi-o-toluidine, 4,4'-methylenedi-2,6-xylidine, 4,4'-methylene-2,6-diethylaniline, 4,4'-methylenedianiline, 3,3'-methylenedianiline, 4,4'-diaminodiphenylpropane, 3,3'-dia Minodiphenylpropane, 4,4'-diaminodiphenylethane, 3,3'-diaminodiphenylethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-diaminodiphenylmethane, 3 ,3-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, benzidine, 3,3'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethoxybenzidine, 4,4"-diamino-p -Terphenyl, 3,3"-diamino-p-terphenyl, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine (hereinafter sometimes referred to as p-PDA), resorcinol-bis(3- Aminophenyl) ether, 4,4'-[1,4-phenylenebis(1-methylethylidene)]bisaniline, 4,4'-[1,3-phenylenebis(1-methylethylidene) )]bisaniline, bis(p-aminocyclohexyl)methane, bis(p-β-amino-tert-butylphenyl)ether, bis(p-β-methyl-δ-aminopentyl)benzene, p-bis(2 -methyl-4-aminopentyl)benzene, p-bis(1,1-dimethyl-5-aminopentyl)benzene, 1,5-diaminonaphthalene, 2,6-diaminonaphthalene, 2,4-bis(β -amino-tert-butyl)toluene, 2,4-diaminotoluene, m-xylene-2,5-diamine, p-xylene-2,5-diamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine , Piperazine, 4,4'-diamino-2,2'-bis(trifluoromethyl)bicyclohexane, 4,4'-diaminodicyclohexylmethane, 4,4"-diamino-p- Terphenyl, bis(4-aminophenyl)terephthalate, 1,4-bis(4-aminophenoxy)-2,5-di-tert-butylbenzene, 4,4'-(1,3-phenylenediiso Propylidene)bisaniline, 1,4-bis[2-(4-aminophenyl)-2-propyl]benzene, 2,4-diamino-3,5-diethyltoluene, 2,6-diamino-3 ,5-diethyltoluene, 4,4'-bis(3-aminophenoxy)biphenyl, 4,4'-(hexafluoropropylidene)dianiline, 1,2-diaminoethane, 1,3- Diaminopropane, 1,4-diaminobutane, 1,5-diaminopentane, 1,6-diaminohexane, 1,2-diaminopropane, 1,2-diaminobutane, 1,3-diamino Butane, 2-methyl-1,2-diaminopropane, 2-methyl-1,3-diaminopropane, 1,3-bis(aminomethyl)cyclohexane, 1,4-bis(aminomethyl)cyclohexane, Norbornandiamine, 2'-methoxy-4,4'-diaminobenzanilide, 4,4'-diaminobenzanilide, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]sulfone, bis[4- (3-aminophenoxy)phenyl]sulfone, 9,9-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]fluorene, 9,9-bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]fluorene , 4,4'-diaminodiphenylsulfide, 3,3'-diaminodiphenylsulfide, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'-diaminodiphenylsulfone, 2,5-dia Mino-1,3,4-oxadiazole, bis[4,4'-(4-aminophenoxy)]benzanilide, bis[4,4'-(3-aminophenoxy)]benzanilide, 2, 6-diaminopyridine, 2,5-diaminopyridine, etc. are mentioned. Among these, m-Tb, BAPP, TPE-Q, TPE-R and the like are preferable, and m-Tb, BAPP and the like are more preferable from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film even when the imidization temperature is low. . A diamine compound can be used individually or in combination of 2 or more types.

또한, 상기 PI계 수지 전구체는, PI계 필름의 각종 물성을 손상시키지 않는 범위에서, 상기의 PI계 수지 전구체 합성에 이용되는 테트라카르본산 화합물에 더해, 다른 테트라카르본산, 디카르본산 및 트리카르본산 및 그들의 무수물 및 유도체를 더 반응시킨 것이어도 된다.In addition, the PI-based resin precursor, in addition to the tetracarboxylic acid compound used in the synthesis of the PI-based resin precursor, other tetracarboxylic acids, dicarboxylic acids, and tricarboxylic acids, within a range that does not impair various physical properties of the PI-based film What made this acid and their anhydride and derivative further react may be used.

다른 테트라카르본산으로서는, 상기 테트라카르본산 화합물의 무수물의 수(水)부가체를 들 수 있다.As another tetracarboxylic acid, the water adduct of the anhydride of the said tetracarboxylic acid compound is mentioned.

디카르본산 화합물로서는, 방향족 디카르본산, 지방족 디카르본산 및 그들 유연의 산 클로라이드 화합물, 산무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 조합하여 이용해도 된다. 구체예로서는, 테레프탈산; 이소프탈산; 나프탈렌디카르본산; 4,4'-비페닐디카르본산; 3,3'-비페닐디카르본산; 탄소수 8 이하인 쇄식(鎖式) 탄화수소의 디카르본산 화합물 및 2개의 벤조산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기로 연결된 화합물 및, 그들의 산 클로라이드 화합물을 들 수 있다.Examples of the dicarboxylic acid compound include aromatic dicarboxylic acids, aliphatic dicarboxylic acids, and their analogous acid chloride compounds and acid anhydrides, and two or more may be used in combination. As a specific example, terephthalic acid; isophthalic acid; naphthalenedicarboxylic acid; 4,4'-biphenyldicarboxylic acid; 3,3'-biphenyldicarboxylic acid; A dicarboxylic acid compound of a chain hydrocarbon having 8 or less carbon atoms and two benzoic acids having a single bond, -O-, -CH 2 -, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, - SO 2 - or compounds linked with a phenylene group, and acid chloride compounds thereof.

트리카르본산 화합물로서는, 방향족 트리카르본산, 지방족 트리카르본산 및 그들 유연의 산 클로라이드 화합물, 산무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 조합하여 이용해도 된다. 구체예로서는, 1,2,4-벤젠트리카르본산의 무수물; 2,3,6-나프탈렌트리카르본산-2,3-무수물; 프탈산 무수물과 벤조산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기로 연결된 화합물을 들 수 있다.Examples of the tricarboxylic acid compound include aromatic tricarboxylic acid, aliphatic tricarboxylic acid, and their analogous acid chloride compounds and acid anhydrides, and two or more may be used in combination. Specific examples include anhydrides of 1,2,4-benzenetricarboxylic acid; 2,3,6-naphthalene tricarboxylic acid-2,3-anhydride; and compounds in which phthalic anhydride and benzoic acid are linked by a single bond, -O-, -CH 2 -, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, -SO 2 - or a phenylene group.

PI계 수지 전구체의 제조에 있어서, 디아민 화합물, 테트라카르본산 화합물, 디카르본산 화합물 및 트리카르본산 화합물의 사용량은, 소망으로 하는 PI계 수지의 각 구성 단위의 비율에 따라 적절히 선택할 수 있다.In production of the PI-based resin precursor, the amount of the diamine compound, the tetracarboxylic acid compound, the dicarboxylic acid compound, and the tricarboxylic acid compound used can be appropriately selected according to the desired ratio of each constituent unit of the PI-based resin.

본 발명에 있어서, 테트라카르본산 화합물의 총량 1몰에 대한 디아민 화합물의 총 사용 몰수를 아민비로서 정의한다. 본 발명의 바람직한 일 실시 형태에 있어서는, 아민비는, 테트라카르본산 화합물의 총량 1몰에 대하여, 바람직하게는 0.90몰 이상이며, 바람직하게는 0.999몰 이하이다. 또한, 다른 일 실시 형태에 있어서는, 아민비는, 테트라카르본산 화합물의 총량 1몰에 대하여, 바람직하게는 1.001몰 이상이며, 바람직하게는 1.10몰 이하이다.In the present invention, the total number of moles of the diamine compound used per 1 mole of the total amount of the tetracarboxylic acid compound is defined as the amine ratio. In one preferred embodiment of the present invention, the amine ratio is preferably 0.90 mol or more and preferably 0.999 mol or less with respect to 1 mol of the total amount of the tetracarboxylic acid compound. In another embodiment, the amine ratio is preferably 1.001 mol or more and preferably 1.10 mol or less with respect to 1 mol of the total amount of the tetracarboxylic acid compound.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 아민비가 1 이하인 경우, 아민비는 바람직하게는 0.90몰 이상 0.999몰 이하, 보다 바람직하게는 0.95몰 이상 0.997몰 이하, 더 바람직하게는 0.97몰 이상 0.995몰 이하이다.In one embodiment of the present invention, when the amine ratio is 1 or less, the amine ratio is preferably 0.90 mol or more and 0.999 mol or less, more preferably 0.95 mol or more and 0.997 mol or less, still more preferably 0.97 mol or more and 0.995 mol or less. .

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 아민비가 1 이상인 경우, 아민비는 바람직하게는 1.001몰 이상 1.1몰 이하, 보다 바람직하게는 1.002몰 이상 1.05몰 이하, 더 바람직하게는 1.003몰 이상 1.03몰 이하이다.In one embodiment of the present invention, when the amine ratio is 1 or more, the amine ratio is preferably 1.001 mol or more and 1.1 mol or less, more preferably 1.002 mol or more and 1.05 mol or less, still more preferably 1.003 mol or more and 1.03 mol or less. .

아민비가 1.0몰에 가까우면, 합성 시에 급격하게 분자량이 증대하는 경향이 있고, 1.0몰로부터 크게 멀어지면 얻어지는 PI계 수지의 분자량이 저하되기 쉬운 경향이 있다. 분자량이 급격하게 증대하면, 합성 매스의 중에서 불균일하게 성장하여, PI계 수지의 물성이 안정되기 어려운 경향이 있다. 한편, 분자량이 지나치게 낮으면 기계 물성이 저하되는 경향이 있다.When the amine ratio is close to 1.0 mol, the molecular weight tends to increase rapidly during synthesis, and when it is greatly away from 1.0 mol, the molecular weight of the obtained PI-based resin tends to decrease. If the molecular weight increases rapidly, it tends to grow non-uniformly in the synthetic mass, making it difficult to stabilize the physical properties of the PI-based resin. On the other hand, when the molecular weight is too low, mechanical properties tend to deteriorate.

디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응 온도는, 바람직하게는 50℃ 이하, 보다 바람직하게는 40℃ 이하, 더 바람직하게는 30℃ 이하이다. 반응 온도가 상기의 상한 이하이면, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽고, 이 경향은, 에스테르 결합을 포함하는 PI계 수지, 특히 구성 단위 (A1)을 포함하는 PI계 수지를 포함하는 PI계 필름에 있어서 특히 현저하다. 또한, 디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응 온도는, 바람직하게는 5℃ 이상, 보다 바람직하게는 10℃ 이상, 더 바람직하게는 15℃ 이상이다. 반응 온도가 상기의 하한 이상이면, 반응 속도를 높이기 쉬워, 중합 시간을 짧게 할 수 있는 경향이 있다.The reaction temperature of the diamine compound and the tetracarboxylic acid compound is preferably 50°C or lower, more preferably 40°C or lower, and still more preferably 30°C or lower. If the reaction temperature is equal to or less than the above upper limit, it is easy to reduce the Df of the obtained PI-based film, and this tendency is a PI-based resin containing an ester bond, particularly a PI-based resin containing a structural unit (A1). This is particularly remarkable in films. The reaction temperature of the diamine compound and the tetracarboxylic acid compound is preferably 5°C or higher, more preferably 10°C or higher, and still more preferably 15°C or higher. When the reaction temperature is equal to or greater than the above lower limit, the reaction rate tends to be increased and the polymerization time tends to be shortened.

반응 시간은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 0.5~72시간 정도, 바람직하게는 3~24시간이어도 된다. 반응 시간이 상기의 범위 내이면, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉽다.The reaction time is not particularly limited, and may be, for example, about 0.5 to 72 hours, preferably 3 to 24 hours. If the reaction time is within the above range, even if the imidation temperature is low, it is easy to reduce Df of the obtained PI-based film.

디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응은, 용매 중에서 행하는 것이 바람직하다. 용매로서는, 반응에 영향을 주지 않는 한 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 물, 메탄올, 에탄올, 에틸렌글리콜, 이소프로필알코올, 프로필렌글리콜, 에틸렌글리콜메틸에테르, 에틸렌글리콜부틸에테르, 1-메톡시-2-프로판올, 2-부톡시에탄올, 프로필렌글리콜모노메틸에테르 등의 알코올계 용매; 페놀, 크레졸 등의 페놀계 용매; 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 에틸렌글리콜메틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜메틸에테르아세테이트, 젖산 에틸 등의 에스테르계 용매; γ-부티로락톤(이하, GBL이라고 기재하는 경우가 있음), γ-발레로락톤 등의 락톤계 용매; 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로펜탄온, 시클로헥산온, 2-헵탄온, 메틸이소부틸케톤 등의 케톤계 용매; 펜탄, 헥산, 헵탄 등의 지방족 탄화수소 용매; 에틸시클로헥산 등의 지환식 탄화수소 용매; 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소 용매; 아세토니트릴 등의 니트릴계 용매; 테트라히드로푸란 및 디메톡시에탄 등의 에테르계 용매; 클로로포름 및 클로로벤젠 등의 염소 함유 용매; N,N-디메틸아세트아미드(이하, DMAc라고 기재하는 경우가 있음), N,N-디메틸포름아미드(이하, DMF라고 기재하는 경우가 있음) 등의 아미드계 용매; 디메틸술폰, 디메틸술폭시드, 술포란 등의 함유황계 용매; 에틸렌 카보네이트, 프로필렌 카보네이트 등의 카보네이트계 용매; N-메틸피롤리돈(이하, NMP라고 기재하는 경우가 있음) 등의 피롤리돈계 용매; 및 그들의 조합 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 용해성의 관점에서, 바람직하게는 페놀계 용매, 락톤계 용매, 아미드계 용매, 피롤리돈계 용매, 보다 바람직하게는 아미드계 용매를 적절하게 사용할 수 있다.The reaction between the diamine compound and the tetracarboxylic acid compound is preferably carried out in a solvent. The solvent is not particularly limited as long as it does not affect the reaction, and examples thereof include water, methanol, ethanol, ethylene glycol, isopropyl alcohol, propylene glycol, ethylene glycol methyl ether, ethylene glycol butyl ether, 1-methoxy- alcohol solvents such as 2-propanol, 2-butoxyethanol, and propylene glycol monomethyl ether; phenolic solvents such as phenol and cresol; ester solvents such as ethyl acetate, butyl acetate, ethylene glycol methyl ether acetate, propylene glycol methyl ether acetate, and ethyl lactate; lactone solvents such as γ-butyrolactone (hereinafter sometimes referred to as GBL) and γ-valerolactone; ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone, 2-heptanone, and methyl isobutyl ketone; aliphatic hydrocarbon solvents such as pentane, hexane, and heptane; alicyclic hydrocarbon solvents such as ethylcyclohexane; aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene; nitrile solvents such as acetonitrile; ether solvents such as tetrahydrofuran and dimethoxyethane; chlorine-containing solvents such as chloroform and chlorobenzene; amide solvents such as N,N-dimethylacetamide (hereinafter sometimes referred to as DMAc) and N,N-dimethylformamide (hereinafter sometimes referred to as DMF); sulfur-containing solvents such as dimethyl sulfone, dimethyl sulfoxide, and sulfolane; carbonate solvents such as ethylene carbonate and propylene carbonate; pyrrolidone solvents such as N-methylpyrrolidone (hereinafter sometimes referred to as NMP); and combinations thereof. Among these, from the viewpoint of solubility, preferably a phenolic solvent, a lactone solvent, an amide solvent, and a pyrrolidone solvent, and more preferably an amide solvent can be suitably used.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응에 이용하는 용매의 비점(沸點)은, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 230℃ 이하, 보다 바람직하게는 200℃ 이하, 더 바람직하게는 180℃ 이하이다. 또한, 상기 용매의 비점은, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 100℃ 이상, 보다 바람직하게는 120℃ 이상이다.In one embodiment of the present invention, the boiling point of the solvent used for the reaction between the diamine compound and the tetracarboxylic acid compound is preferably from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film even when the imidation temperature is low. It is preferably 230°C or lower, more preferably 200°C or lower, and still more preferably 180°C or lower. The boiling point of the solvent is preferably 100°C or higher, more preferably 120°C or higher, from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film.

디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응은, 필요에 따라, 질소 분위기, 아르곤 분위기 등의 불활성 분위기하 또는 감압의 조건하에서 행해도 되고, 불활성 분위기, 예를 들면, 질소 분위기 또는 아르곤 분위기 등의 하, 엄밀하게 제어된 탈수 용매 중에서 교반하면서 행하는 것이 바람직하다.The reaction between the diamine compound and the tetracarboxylic acid compound may be carried out under an inert atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere or under a reduced pressure, as required, under an inert atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere. , It is preferable to carry out with stirring in a strictly controlled dehydration solvent.

PI계 수지 전구체 용액에 포함되는 용매는, 디아민 화합물과 테트라카르본산 화합물과의 반응에 이용하는 용매로서 예시의 것을 들 수 있고, 바람직하게는 락톤계 용매, 아미드계 용매, 피롤리돈계 용매, 보다 바람직하게는 아미드계 용매이다. 또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, PI계 수지 전구체 용액에 포함되는 용매의 비점은, 이미드화 온도가 저온이어도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 230℃ 이하, 보다 바람직하게는 200℃ 이하, 더 바람직하게는 180℃ 이하, 특히 바람직하게는 170℃ 이하이다. 또한, 상기 용매의 비점은, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감하기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 100℃ 이상, 보다 바람직하게는 120℃ 이상이다.The solvent contained in the PI-based resin precursor solution includes exemplified solvents used for the reaction between a diamine compound and a tetracarboxylic acid compound, preferably lactone-based solvents, amide-based solvents, and pyrrolidone-based solvents, more preferably Preferably, it is an amide-based solvent. In one embodiment of the present invention, the boiling point of the solvent contained in the PI-based resin precursor solution is preferably 230°C or less from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film even when the imidization temperature is low. , More preferably 200°C or less, still more preferably 180°C or less, and particularly preferably 170°C or less. The boiling point of the solvent is preferably 100°C or higher, more preferably 120°C or higher, from the viewpoint of easily reducing the Df of the obtained PI-based film.

PI계 수지 전구체 용액에 포함되는 PI계 수지 전구체의 함유량은, PI계 수지 전구체 용액의 총량에 대하여, 바람직하게는 8질량% 이상, 보다 바람직하게는 10질량% 이상, 더 바람직하게는 12질량% 이상, 특히 바람직하게는 13질량% 이상이며, 또한, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더 바람직하게는 23질량% 이하, 특히 바람직하게는 20질량% 이하이다. PI계 수지 전구체의 함유량이 상기의 범위 내이면, 제막 시의 가공성이 우수하다.The content of the PI-based resin precursor contained in the PI-based resin precursor solution is preferably 8% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, and still more preferably 12% by mass relative to the total amount of the PI-based resin precursor solution. above, particularly preferably 13% by mass or more, and preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, still more preferably 23% by mass or less, and particularly preferably 20% by mass or less. When the content of the PI-based resin precursor is within the above range, workability during film formation is excellent.

(폴리이미드계 수지 전구체 용액의 도공)(Coating of polyimide-based resin precursor solution)

PI계 수지 전구체 용액의 도공 공정은, PI계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하여, 도막을 형성하는 공정이다.The coating step of the PI-based resin precursor solution is a step of coating the PI-based resin precursor solution on a substrate to form a coating film.

도공 공정에 있어서, 공지의 도공 방법 또는 도포 방법에 의해, 기재 상에 조성물을 도공하여 도막을 형성한다. 공지의 도공 방법으로서는, 예를 들면 와이어바 코팅법, 리버스 코팅, 그라비아 코팅 등의 롤 코팅법, 다이 코팅법, 콤마 코팅법, 립 코팅법, 스핀 코팅법, 스크린 인쇄 코팅법, 파운팅 코팅법, 디핑법, 스프레이법, 커튼 코팅법, 슬롯 코팅법, 유연(流涎) 성형법 등을 들 수 있다. PI계 수지 전구체의 용액을 기재 상에 도공 또는 도포할 때에는, 기재 상에 단층의 PI계 수지 전구체를 도공해도, 복수층의 PI계 수지 전구체를 기재 상에 도공해도 된다. 기재 상에 복수층의 PI계 수지 전구체를 도공하는 경우, 복수회로 나누어 도공하고 건조해도 되고, 복수층을 동시에 도공해도 된다.In the coating step, a coating film is formed by coating the composition on a substrate by a known coating method or coating method. As a known coating method, for example, a wire bar coating method, a reverse coating method, a roll coating method such as gravure coating, a die coating method, a comma coating method, a lip coating method, a spin coating method, a screen printing coating method, and a mounting coating method , a dipping method, a spray method, a curtain coating method, a slot coating method, a casting method, and the like. When coating or applying the solution of the PI-based resin precursor onto the substrate, a single layer of the PI-based resin precursor may be applied on the substrate or a plurality of layers of the PI-based resin precursor may be applied onto the substrate. In the case of coating a plurality of layers of the PI-based resin precursor on a substrate, the coating may be divided into a plurality of times and dried, or a plurality of layers may be coated simultaneously.

기재의 예로서는, 금속박(예를 들면 구리박) 등의 금속판(예를 들면 동판 등), SUS박, SUS 벨트 등의 SUS판, 유리 기판, PET 필름, PEN 필름, 본 발명의 PI계 필름 이외의 다른 PI계 수지 필름, 폴리아미드계 수지 필름 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 내열성이 우수한 관점에서, 바람직하게는 동판, SUS판, 유리 기판, PET 필름, PEN 필름 등을 들 수 있고, 필름과의 밀착성 및 비용의 관점에서, 보다 바람직하게는 동판, SUS판, 유리 기판 또는 PET 필름 등을 들 수 있다.Examples of the substrate include metal plates such as metal foil (eg copper foil) (eg copper plates), SUS foils, SUS plates such as SUS belts, glass substrates, PET films, PEN films, and PI-based films of the present invention. Other PI-based resin films, polyamide-based resin films, and the like are exemplified. Among them, from the viewpoint of excellent heat resistance, preferably copper plate, SUS plate, glass substrate, PET film, PEN film, etc. are mentioned, and from the viewpoint of adhesion to the film and cost, more preferably copper plate, SUS plate, A glass substrate or PET film etc. are mentioned.

<이미드화 공정><Imidization process>

이미드화 공정은, 200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, 기재 상에 도공된 PI계 수지 전구체를 이미드화하는 공정이다.The imidation step is a step of imidizing the PI-based resin precursor coated on the substrate by heat treatment at 200°C or more and less than 350°C.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 이미드화 공정은, PI계 수지 전구체의 이미드화의 이전에, 기재 상에 도공된 PI계 수지 전구체 용액을 예를 들면 200℃ 미만의 비교적 저온하에서 가열하여 건조하고, 얻어진 PI계 수지 전구체의 건조막을, 200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, 이미드화하는 공정인 것이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, in the imidation step, prior to imidation of the PI-based resin precursor, the PI-based resin precursor solution coated on the substrate is heated and dried under a relatively low temperature, for example, less than 200 ° C. , It is preferable that the dried film of the obtained PI-based resin precursor is imidized by heat treatment at 200°C or more and less than 350°C.

또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 기재 상의 PI계 수지 전구체의 건조막을 이미드화하여 PI계 필름을 얻어도 되고, PI계 수지 전구체의 건조막을 기재로부터 박리하고, 기재로부터 박리된 당해 건조막을 이미드화하여 PI계 필름을 얻어도 된다.Further, in one embodiment of the present invention, the dried film of the PI-based resin precursor on the substrate may be imidized to obtain the PI-based film, the dried film of the PI-based resin precursor is separated from the substrate, and the dried film peeled from the substrate It may be imidized to obtain a PI-based film.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 기재 상에 도공된 PI계 수지 전구체의 건조 온도는, 용매가 건조되어 고형화되는 온도 범위이면 특별히 제한되지 않지만, 급격한 건조로 표면 거칠어짐을 발생시키는 것을 회피하는 관점 및 가공 시에 발생하는 주름이나 구김 등을 억제하는 관점에서는, 바람직하게는 300℃ 미만, 보다 바람직하게는 260℃ 이하, 더 바람직하게는 200℃ 이하, 보다 더 바람직하게는 180℃ 이하이고, 또한, 생산성의 관점에서, 바람직하게는 50℃ 이상, 보다 바람직하게는 80℃ 이상, 더 바람직하게는 100℃ 이상이다.In one embodiment of the present invention, the drying temperature of the PI-based resin precursor coated on the substrate is not particularly limited as long as it is within the temperature range at which the solvent is dried and solidified, but from the viewpoint of avoiding surface roughness due to rapid drying, and From the viewpoint of suppressing wrinkles and creases that occur during processing, the temperature is preferably less than 300°C, more preferably 260°C or less, still more preferably 200°C or less, even more preferably 180°C or less, and From the viewpoint of productivity, it is preferably 50°C or higher, more preferably 80°C or higher, and still more preferably 100°C or higher.

본 발명에 있어서의 PI계 수지 전구체는, 저온에서 이미드화해도, 얻어지는 PI계 필름의 Df를 저감할 수 있다. 이미드화 공정에 있어서의 열처리 온도, 즉, 이미드화 온도는, 바람직하게는 350℃ 미만, 보다 바람직하게는 340℃ 이하, 더 바람직하게는 330℃ 이하, 보다 더 바람직하게는 310℃ 이하, 특히 바람직하게는 300℃ 이하이다. 이미드화 온도가 상기의 상한 이하이면, 기재로서 구리박 등의 금속박을 사용한 경우에 있어서도, 금속박 등, 특히 구리박의 열 열화를 억제할 수 있기 때문에, 고주파 특성이 우수한 CCL을 얻기 쉽다. 또한, 이미드화 온도는, 충분하게 이미드화율을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 200℃ 이상, 보다 바람직하게는 210℃ 이상, 더 바람직하게는 220℃ 이상이다. 또한, 평활한 필름을 얻기 쉬운 관점에서는, 단계적으로 가열을 행하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 50~150℃의 비교적 저온하에서 가열하여 용매를 제거한 후, 200℃ 이상 350℃ 미만의 범위의 온도까지 단계적으로 가열하여 이미드화를 행해도 된다.Even if the PI-based resin precursor in the present invention is imidized at a low temperature, Df of the obtained PI-based film can be reduced. The heat treatment temperature in the imidation step, that is, the imidization temperature, is preferably less than 350°C, more preferably 340°C or less, still more preferably 330°C or less, even more preferably 310°C or less, particularly preferably It is preferably 300 ° C or less. If the imidization temperature is equal to or less than the above upper limit, even when a metal foil such as copper foil is used as a base material, thermal deterioration of the metal foil or the like, particularly the copper foil, can be suppressed, so that CCL excellent in high frequency characteristics is easy to obtain. In addition, the imidation temperature is preferably 200°C or higher, more preferably 210°C or higher, still more preferably 220°C or higher, from the viewpoint of sufficiently improving the imidation rate. Moreover, from the viewpoint of easy obtaining of a smooth film, it is preferable to heat in stages. For example, after removing the solvent by heating at a relatively low temperature of 50 to 150°C, it may be heated stepwise to a temperature in the range of 200°C or more and less than 350°C to imidize.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 이미드화에 있어서의 반응 시간은, 바람직하게는 0.5~24시간, 보다 바람직하게는 1~12시간이다. 또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 200℃ 이상의 온도를 유지하는 시간은, 바람직하게는 10분~90분, 보다 바람직하게는 15분~70분, 더 바람직하게는 20분~50분이다. 이미드화에 있어서의 200℃ 이상의 반응 시간이 상기 범위 내이면, 충분히 이미드화율을 향상시키기 쉽고, 수지의 산화 열화를 막기 쉬워져, 얻어지는 PI계 필름의 유전 특성이나 굴곡 내성을 향상시키기 쉽다.In one embodiment of the present invention, the reaction time in imidation is preferably 0.5 to 24 hours, more preferably 1 to 12 hours. In one embodiment of the present invention, the time for maintaining the temperature at 200°C or higher is preferably 10 minutes to 90 minutes, more preferably 15 minutes to 70 minutes, still more preferably 20 minutes to 50 minutes. . If the reaction time of 200 ° C. or more in imidation is within the above range, it is easy to sufficiently improve the imidation rate, easily prevent oxidative degradation of the resin, and easily improve the dielectric properties and bending resistance of the resulting PI-based film.

이미드화 후, 기재 상에 형성된 도막을 기재로부터 박리함으로써, PI계 필름을 얻을 수 있다. 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 기재가 구리박 등의 금속박인 경우에는, 도막을 구리박 등의 금속박으로부터 박리하지 않고 PI계 필름을 형성하고, 얻어진 구리박 등의 금속박 상에 PI계 필름이 적층된 적층 필름을 CCL 등의 금속장 적층판에 이용할 수도 있다.After imidation, a PI-based film can be obtained by peeling the coating film formed on the substrate from the substrate. In one embodiment of the present invention, when the substrate is a metal foil such as copper foil, a PI-based film is formed without peeling the coating film from the metal foil such as copper foil, and the PI-based film is formed on the obtained metal foil such as copper foil. The laminated laminated film can also be used for metal clad laminates such as CCL.

본 발명의 필름이 다층 필름인 경우에는, 예를 들면, 공압출 가공법, 압출 라미네이트법, 열 라미네이트법, 드라이 라미네이트법 등의 다층 필름 형성법에 의해 제조할 수 있다.When the film of the present invention is a multilayer film, it can be produced by, for example, a multilayer film forming method such as a coextrusion processing method, an extrusion lamination method, a thermal lamination method, or a dry lamination method.

〔적층 필름〕[Laminate film]

본 발명의 PI계 필름은, Df가 낮기 때문에, FPC에 이용되는 금속장 적층판의 형성에 적합하게 사용할 수 있다. 따라서, 본 발명의 PI계 필름을 PI층으로서 이용하여, PI층과 금속박층을 포함하는 적층 필름을 포함한다. 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 적층 필름은, 금속박층을 PI층의 편면에만 포함하고 있어도 되고, 양면에 포함하고 있어도 된다.Since the PI-based film of the present invention has a low Df, it can be suitably used for forming a metal-clad laminate used for FPC. Therefore, the PI-based film of the present invention is used as a PI layer, and a laminated film including a PI layer and a thin metal layer is included. In one embodiment of the present invention, the laminated film of the present invention may include the metal foil layer only on one side of the PI layer, or may include it on both sides.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 금속박으로서는, 예를 들면, 구리박, SUS박, 알루미늄박 등을 들 수 있지만, 도전성 및 금속 가공성의 관점에서는, 구리박이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, examples of the metal foil include copper foil, SUS foil, and aluminum foil, but from the viewpoint of conductivity and metal workability, copper foil is preferable.

본 발명의 PI계 필름은, 열 이미드화 온도가 저온이어도, Df가 낮아, 고주파 특성이 우수한 CCL의 형성에 적합하게 사용할 수 있기 때문에, 본 발명의 바람직한 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 적층 필름은, 본 발명의 PI계 필름의 편면 또는 양면에 구리박층을 포함하는 적층 필름인 것이 바람직하다.Since the PI-based film of the present invention has a low Df even when the thermal imidization temperature is low and can be suitably used for forming CCL with excellent high-frequency characteristics, in one preferred embodiment of the present invention, the laminated film of the present invention Silver is preferably a laminated film including a copper foil layer on one side or both sides of the PI-based film of the present invention.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 금속박층, 특히 구리박층의 두께는, 바람직하게는 1㎛ 이상, 보다 바람직하게는 5㎛ 이상이며, 또한, 회로의 미세화를 하기 쉽고, 내절성을 향상시키기 쉬운 관점에서, 바람직하게는 100㎛ 이하, 보다 바람직하게는 50㎛ 이하, 더 바람직하게는 30㎛ 이하, 특히 바람직하게는 20㎛ 이하이다. 금속박층, 특히 구리박층의 두께는, 막후계 등을 이용하여 측정할 수 있다. 또한, PI계 필름의 양면에 금속박층, 특히 구리박층을 포함하는 경우, 각 금속박층, 특히 각 구리박층의 두께는 서로 동일해도 상이해도 된다.In one embodiment of the present invention, the thickness of the metal foil layer, particularly the copper foil layer, is preferably 1 μm or more, more preferably 5 μm or more, and it is easy to make the circuit finer and improve the folding resistance. From this point of view, it is preferably 100 μm or less, more preferably 50 μm or less, still more preferably 30 μm or less, and particularly preferably 20 μm or less. The thickness of the metal foil layer, particularly the copper foil layer, can be measured using a film thickness meter or the like. Further, when metal foil layers, particularly copper foil layers, are included on both sides of the PI-based film, the thicknesses of each metal foil layer, particularly each copper foil layer, may be the same or different.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 적층 필름의 두께는, 바람직하게는 5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 10㎛ 이상, 더 바람직하게는 15㎛ 이상이며, 바람직하게는 100㎛ 이하, 보다 바람직하게는 80㎛ 이하, 더 바람직하게는 60㎛ 이하이다. 적층 필름의 두께는, 막후계 등을 이용하여 측정할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the thickness of the laminated film is preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, still more preferably 15 μm or more, preferably 100 μm or less, more preferably It is 80 micrometers or less, More preferably, it is 60 micrometers or less. The thickness of the laminated film can be measured using a film thickness gauge or the like.

본 발명의 적층 필름은, PI계 필름 및 금속박층, 특히 구리박층에 더해, 기능층 등의 다른 층을 포함하고 있어도 된다. 기능층으로서는 상기 예시의 층을 들 수 있고, 예를 들면, 열가소성 PI계 수지를 포함하는 열가소성 PI계 수지층이나 접착층 등이어도 된다. 기능층은 단독 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다.The laminated film of the present invention may contain other layers such as a functional layer in addition to the PI-based film and the metal foil layer, particularly the copper foil layer. Examples of the functional layer include the layers of the above examples, and may be, for example, a thermoplastic PI-based resin layer or an adhesive layer containing a thermoplastic PI-based resin. A functional layer can be used individually or in combination of 2 or more types.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 적층 필름은, 금속박층 및 PI층으로 구성되는 2층 금속장 적층판이어도, 금속박층, PI층 및 접착층으로 구성되는 3층 금속장 적층판이어도 되지만, 내열성, 치수 안정성 및 경량화의 관점에서는, 접착층을 포함하지 않는 2층 금속장 적층판인 것이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, the laminated film of the present invention may be a two-layer metal-clad laminate composed of a metal foil layer and a PI layer, or a three-layer metal-clad laminate composed of a metal foil layer, a PI layer, and an adhesive layer, but heat resistance , From the viewpoint of dimensional stability and weight reduction, it is preferable that the two-layer metal-clad laminate does not contain an adhesive layer.

또한, 본 발명의 PI계 필름은, 이미드화 온도가 저온이어도 Df가 낮기 때문에, 구리박 상에서 PI계 수지 전구체 도막의 열 이미드화를 행함으로써 금속박이 구리박인 적층 필름을 제조해도, 구리박 표면의 열화를 억제할 수 있다. 따라서, 본 발명의 적층 필름은, 접착층을 포함하고 있지 않아도, 우수한 고주파 특성을 가진다.In addition, since the PI-based film of the present invention has a low Df even if the imidization temperature is low, even if a laminated film in which the metal foil is copper foil is produced by performing thermal imidation of the PI-based resin precursor coating film on the copper foil, the surface of the copper foil Deterioration can be suppressed. Therefore, the laminated film of the present invention has excellent high-frequency characteristics even without an adhesive layer.

또한, 본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 본 발명의 PI계 필름과 금속박층, 특히 구리박층과는 직접 접하고 있어도 되고, PI계 필름과 금속박층, 특히 구리박층과의 사이에 기능층이 삽입되고, 이들이 기능층을 개재하여 접하고 있어도 되지만, 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서는, PI계 필름과 금속박층, 특히 구리박층이 직접 접하고 있는 것이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, the PI-based film of the present invention and the metal foil layer, particularly the copper foil layer, may be in direct contact, and a functional layer is inserted between the PI-based film and the metal foil layer, particularly the copper foil layer. , These may be in contact through a functional layer, but from the viewpoint of easy mechanical and thermal properties, it is preferable that the PI-based film and the metal foil layer, particularly the copper foil layer, are in direct contact.

본 발명의 PI계 필름과 금속박층과의 사이에 삽입되어 있어도 되는 기능층은, 열가소성 PI층이어도 된다. 기계 물성 및 열 물성을 향상시키기 쉬운 관점에서는, 금속박층, 특히 구리박층과 직접 접하고 있는 층은, 본 발명의 PI 필름 또는 기능층으로서의 열가소성 PI층인 것이 바람직하다.The functional layer that may be interposed between the PI-based film of the present invention and the metal foil layer may be a thermoplastic PI layer. From the viewpoint of easily improving mechanical properties and thermal properties, the metal foil layer, particularly the layer in direct contact with the copper foil layer, is preferably the PI film of the present invention or a thermoplastic PI layer as a functional layer.

〔적층 필름의 제조 방법〕[Manufacturing method of laminated film]

본 발명은, 이하의 공정:The present invention, the following steps:

테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 PI계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하는 공정, 및A step of coating a PI-based resin precursor solution containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine on a substrate, and

200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, PI계 수지 전구체를 이미드화하여, 본 발명의 PI계 필름을 기재 상에 형성하는 공정Process of forming the PI-based film of the present invention on a substrate by imidizing the PI-based resin precursor by heat treatment at 200 ° C. or higher and lower than 350 ° C.

을 포함하는, 적층 필름의 제조 방법도 포함한다.Including, also includes a method for producing a laminated film.

본 발명의 적층 필름의 제조 방법에 있어서의 「테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 PI계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하는 공정」 및 「200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, PI계 수지 전구체를 이미드화하여, 본 발명의 PI계 필름을 기재 상에 형성하는 공정」에 대해서는, 〔폴리이미드계 필름의 제조 방법〕의 항에 기재된 각 공정에 관한 설명이 마찬가지로 적합하다."Process of coating a PI-based resin precursor solution containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine on a substrate" in the method for producing a laminated film of the present invention; and " Regarding the process of imidizing the PI-based resin precursor by heat treatment at 200 ° C. or higher and lower than 350 ° C. to form the PI-based film of the present invention on a substrate,” described in the section [Method for producing a polyimide-based film] A description of each process is equally suitable.

본 발명의 일 실시 형태에 있어서, 기재는 금속박인 것이 바람직하고, 구리박인 것이 특히 바람직하다. 금속박, 특히 구리박에 관한 기재는, 〔적층 필름〕의 항에 기재된 금속박에 관한 기재가 마찬가지로 적합하다.In one embodiment of the present invention, the substrate is preferably a metal foil, and particularly preferably a copper foil. As for the substrate related to metal foil, particularly copper foil, the description related to the metal foil described in the section of [Laminate Film] is similarly suitable.

본 발명의 적층 필름은, 상기 방법 이외의 방법, 예를 들면, 적층 필름에 포함되는 금속박 이외의 다른 기재 상에 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 PI계 수지 전구체 용액을 도공 및 건조시킴으로써 얻어지는 PI계 수지 전구체의 건조막을, 상기 기재로부터 박리하고, 박리된 상기 PI계 수지 전구체의 건조막을 금속박에 첩합(貼合)하는 방법에 의해 제조해도 된다. PI계 수지 전구체의 건조막과 금속박을 첩합하는 방법으로서는, 프레스에 의한 방법, 열 롤을 사용한 라미네이트 방법 등을 채용해도 되고, 첩합하는 공정에 있어서, PI계 수지 전구체의 이미드화를 동시에 행해도 된다. 그러나, 본 발명의 PI계 필름은, 이미드화 온도가 저온이어도 Df가 낮기 때문에, 예를 들면 구리박 상에서 PI계 수지 전구체 도막의 열 이미드화를 행함으로써 금속박이 구리박인 적층 필름을 제조해도, 구리박 표면의 열화를 억제할 수 있다. 따라서, 본 발명의 적층 필름은, 상기와 같은 첩합 공정을 거치지 않고 제조해도, 우수한 고주파 특성을 가진다.In the laminated film of the present invention, a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine are prepared by a method other than the above method, for example, on a substrate other than a metal foil included in the laminated film. The dried film of the PI-based resin precursor obtained by coating and drying the containing PI-based resin precursor solution may be peeled off from the substrate, and the peeled dried film of the PI-based resin precursor may be bonded to a metal foil. do. As a method of bonding the dried film of the PI-based resin precursor and the metal foil, a pressing method, a lamination method using a hot roll, or the like may be employed. In the bonding step, imidation of the PI-based resin precursor may be performed simultaneously. . However, since the PI-based film of the present invention has a low Df even if the imidization temperature is low, even if a laminated film in which the metal foil is copper foil is produced by performing thermal imidation of a PI-based resin precursor coating film on a copper foil, for example, copper Deterioration of the foil surface can be suppressed. Therefore, the laminated film of the present invention has excellent high-frequency characteristics even if it is manufactured without passing through the bonding process as described above.

〔플렉시블 프린트 회로 기판〕[Flexible printed circuit board]

본 발명의 PI계 필름은, Df가 낮기 때문에, PI계 필름으로 이루어지는 전기 회로의 전송 손실을 저감할 수 있어, FPC 기판 재료로서 적합하게 이용할 수 있다. 본 발명은, 상기 PI계 필름을 포함하는 FPC 기판도 포함한다.Since the PI-based film of the present invention has a low Df, the transmission loss of an electric circuit made of the PI-based film can be reduced, and can be suitably used as an FPC substrate material. The present invention also includes an FPC board comprising the PI-based film.

[실시예][Example]

이하, 실시예 및 비교예에 의거하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described more specifically based on Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the following Examples.

실시예, 비교예 및 참고예에서 사용한 약호는, 이하의 화합물을 나타낸다.The symbols used in Examples, Comparative Examples, and Reference Examples represent the following compounds.

BPDA: 3,3',4,4'-비페닐테트라카르본산 2무수물BPDA: 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride

TAHQ: p-페닐렌비스(트리멜리트산 모노에스테르산 2무수물)TAHQ: p-phenylenebis(trimellitic acid monoester acid dianhydride)

PMDA: 무수 피로멜리트산PMDA: pyromellitic anhydride

BP-TME: 4,4'-비스(1,3-디옥소-1,3-디히드로이소벤조푸란-5-일카르보닐옥시)비페닐BP-TME: 4,4'-bis(1,3-dioxo-1,3-dihydroisobenzofuran-5-ylcarbonyloxy)biphenyl

OPDA: 4,4'-옥시디프탈산 2무수물OPDA: 4,4'-oxydiphthalic dianhydride

BPADA: 4,4'-(4,4'-이소프로필리덴페녹시)디프탈산 무수물BPADA: 4,4'-(4,4'-isopropylidenephenoxy)diphthalic anhydride

m-Tb: 4,4'-디아미노-2,2'-디메틸비페닐m-Tb: 4,4'-diamino-2,2'-dimethylbiphenyl

BAPP: 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판BAPP: 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane

TPE-R: 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠TPE-R: 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene

TPE-Q: 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠TPE-Q: 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene

PDA: p-페닐렌디아민PDA: p-phenylenediamine

[폴리이미드 수지 전구체의 합성][Synthesis of Polyimide Resin Precursor]

(실시예 1)(Example 1)

m-Tb 17.93g(84.4㎜ol), 및 BAPP 0.35g(0.9㎜ol)을 DMAc 284g에 용해시킨 후, TAHQ 19.35g(42.2㎜ol)을 더해 질소 분위기하 20℃에서 1시간 교반했다. 그 후, BPDA 12.42g(42.2㎜ol)을 더해 질소 분위기하 20℃에서 24시간 교반하여, PI 수지 전구체 조성물을 얻었다. 이용한 산 2무수물 모노머에 대한 디아민 모노머의 몰비는 1.01이었다.After dissolving 17.93 g (84.4 mmol) of m-Tb and 0.35 g (0.9 mmol) of BAPP in 284 g of DMAc, 19.35 g (42.2 mmol) of TAHQ was added and stirred at 20°C in a nitrogen atmosphere for 1 hour. Thereafter, 12.42 g (42.2 mmol) of BPDA was added and stirred at 20° C. for 24 hours under a nitrogen atmosphere to obtain a PI resin precursor composition. The molar ratio of the diamine monomer to the acid dianhydride monomer used was 1.01.

(실시예 2~16 및 비교예 1~5)(Examples 2 to 16 and Comparative Examples 1 to 5)

이용하는 모노머 종류 및 모노머 조성을 각각 표 1에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지로 PI 수지 전구체 조성물을 얻었다. 모노머를 더하는 순서는, 특별히 기재가 없으면, 디아민, 산 2무수물의 순으로 하고, 디아민은, 구성 단위 (B1), (B2), (B3)을 유도하는 디아민의 순서, 산 2무수물은 구성 단위 (A1), (A2), (A3)을 유도하는 산 2무수물의 순서로 더했다.A PI resin precursor composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that the type of monomer and monomer composition used were changed as shown in Table 1, respectively. Unless otherwise specified, the order of adding the monomers is diamine and acid dianhydride, where diamine is the order of diamines leading to structural units (B1), (B2), and (B3), and acid dianhydride is the structural unit. Acid dianhydrides leading to (A1), (A2) and (A3) were added in that order.

[폴리이미드 필름의 제조][Manufacture of polyimide film]

PI 수지 전구체의 합성에서 사용한 용매를 이용하여, 실시예 1~16 및 비교예 1~5에서 얻어진 PI 수지 전구체 조성물을, PI 수지 전구체의 함유량이 10질량% 이상이 되는 범위에서 적절히 희석하여 점도를 40,000cps 이하로 조정하여 PI 수지 전구체 용액을 조제했다. PI 수지 전구체 용액을, 각각 표 1에 나타내는 바와 같이, 하기 제막 조건 1~4 중 어느 것의 조건으로 제막하여, PI 수지로 이루어지는 PI 필름을 얻었다.Using the solvent used in the synthesis of the PI resin precursor, the PI resin precursor composition obtained in Examples 1 to 16 and Comparative Examples 1 to 5 was appropriately diluted in a range where the content of the PI resin precursor was 10% by mass or more, and the viscosity was adjusted. A PI resin precursor solution was prepared by adjusting to 40,000 cps or less. As shown in Table 1, the PI resin precursor solution was formed into a film under any one of the following film forming conditions 1 to 4 to obtain a PI film made of a PI resin.

<제막 조건 1><Unveiling condition 1>

PI 수지 전구체 용액을, 유리 기판 상에 유연 성형하고, 애플리케이터를 이용하여, 선속 0.4m/분으로 PI 수지 전구체 용액의 도막을 성형했다. 상기 도막을 120℃에서 30분간 가열하고, 얻어진 필름을 유리 기판으로부터 박리한 후, 금형 틀에 필름을 고정했다. 금형 틀에 고정한 필름을 산소 농도 7% 분위기하에서, 19분간에 결쳐 30℃에서부터 270℃까지 승온한 후, 35분에 걸쳐 200℃까지 냉각하여, PI 필름을 제작했다. 220℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 23분이었다. 또한, 200℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 34분이었다.The PI resin precursor solution was molded by casting on a glass substrate, and a coating film of the PI resin precursor solution was formed using an applicator at a linear speed of 0.4 m/min. After heating the said coating film at 120 degreeC for 30 minute(s) and peeling the obtained film from the glass substrate, the film was fixed to the mold frame. The film fixed to the mold was heated from 30 ° C. to 270 ° C. over 19 minutes in an atmosphere with an oxygen concentration of 7%, and then cooled to 200 ° C. over 35 minutes to prepare a PI film. The time when the temperature was maintained at 220°C or higher was 23 minutes. In addition, the time when the temperature was maintained at 200°C or higher was 34 minutes.

<제막 조건 2><Unveiling condition 2>

PI 수지 전구체 용액을, 전해 구리박(JX 금속(주)제, JXEFL-BHM 두께 12㎛)의 조화(粗化)면측(표면 조도; Rz=1.3㎛)에 유연 성형하고, 애플리케이터를 이용하여, 선속 0.4m/분으로 PI 수지 전구체 용액의 도막을 성형했다. 상기 도막을 120℃에서 30분간 가열하여 건조시켰다. 그 후, 금형 틀에 구리박과 전구체의 적층 필름을 고정하고, 산소 농도 1% 분위기하에서, 9분간에 걸쳐 30℃에서부터 320℃까지 승온한 후, 320℃에서 6분간 가열하여, 15분에 걸쳐 200℃까지 냉각하여 PI 필름과 구리박과의 적층 필름을 제작했다. 220℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 21분이었다. 또한, 200℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 25분이었다.The PI resin precursor solution was cast-molded on the roughened surface side (surface roughness: Rz = 1.3 μm) of an electrolytic copper foil (manufactured by JX Metal Co., Ltd., JXEFL-BHM thickness 12 μm), using an applicator, A coating film of the PI resin precursor solution was molded at a linear speed of 0.4 m/min. The coating film was dried by heating at 120° C. for 30 minutes. After that, the laminated film of the copper foil and the precursor was fixed to the mold, and the temperature was raised from 30°C to 320°C over 9 minutes in an atmosphere with an oxygen concentration of 1%, followed by heating at 320°C for 6 minutes, and then over 15 minutes. It cooled to 200 degreeC, and the laminated|multilayer film of PI film and copper foil was produced. The time when the temperature was maintained at 220°C or higher was 21 minutes. In addition, the time when the temperature was maintained at 200°C or higher was 25 minutes.

얻어진 PI 필름과 구리박과의 적층 필름을 대용량의 농도 40질량%의 염화 제 2 철 수용액에 실온에서 10분간 침지하고, 육안으로 구리의 잔존이 없는 것을 확인한 후, 80℃에서 1시간 건조하여 단독의 PI 필름을 얻었다.The resulting laminated film of the PI film and the copper foil was immersed in a large volume of 40% by mass ferric chloride aqueous solution at room temperature for 10 minutes, and after visually confirming that no copper remained, it was dried at 80 ° C. for 1 hour, and alone. of PI film was obtained.

<제막 조건 3><Unveiling condition 3>

PI 수지 전구체 용액을, 유리 기판 상에 유연 성형하고, 애플리케이터를 이용하여, 선속 0.4m/분으로 수지 전구체 용액의 도막을 성형했다. 상기 도막을 120℃에서 30분간 가열하고, 얻어진 필름을 유리 기판으로부터 박리한 후, 금형 틀에 필름을 고정했다. 금형 틀에 고정한 필름을 산소 농도 1% 분위기하에서, 9분에 걸쳐 30℃에서부터 320℃까지 승온한 후, 320℃에서 6분간 가열하고, 15분에 걸쳐 200℃까지 냉각하여 PI 필름을 제작했다. 220℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 21분이었다. 또한, 200℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 25분이었다.The PI resin precursor solution was molded by casting on a glass substrate, and a coating film of the resin precursor solution was formed using an applicator at a linear speed of 0.4 m/min. After heating the said coating film at 120 degreeC for 30 minute(s) and peeling the obtained film from the glass substrate, the film was fixed to the mold frame. The film fixed to the mold was heated from 30 ° C. to 320 ° C. over 9 minutes in an oxygen concentration of 1% atmosphere, then heated at 320 ° C. for 6 minutes and cooled to 200 ° C. over 15 minutes to produce a PI film. The time when the temperature was maintained at 220°C or higher was 21 minutes. In addition, the time when the temperature was maintained at 200°C or higher was 25 minutes.

<제막 조건 4><Unveiling condition 4>

PI 수지 전구체 용액을, 유리 기판 상에 유연 성형하고, 애플리케이터를 이용하여, 선속 0.4m/분으로 PI 수지 전구체 용액의 도막을 성형했다. 상기 도막을 120℃에서 30분간 가열하고, 얻어진 필름을 유리 기판으로부터 박리한 후, 금형 틀에 필름을 고정했다. 금형 틀에 고정한 필름을 산소 농도 1% 분위기하에서, 5분에 걸쳐 30℃에서부터 320℃까지 승온한 후, 320℃에서 5분간 가열하고, 15분에 걸쳐 200℃까지 냉각하여 PI 필름을 제작했다. 220℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 17분이었다. 또한, 200℃ 이상의 온도를 유지한 시간은 21분이었다.The PI resin precursor solution was molded by casting on a glass substrate, and a coating film of the PI resin precursor solution was formed using an applicator at a linear speed of 0.4 m/min. After heating the said coating film at 120 degreeC for 30 minute(s) and peeling the obtained film from the glass substrate, the film was fixed to the mold frame. The film fixed to the mold was heated from 30 ° C to 320 ° C over 5 minutes in an oxygen concentration of 1% atmosphere, then heated at 320 ° C for 5 minutes and cooled to 200 ° C over 15 minutes to produce a PI film. The time when the temperature was maintained at 220°C or higher was 17 minutes. In addition, the time when the temperature was maintained at 200°C or higher was 21 minutes.

[폴리이미드 수지 전구체의 합성 및 폴리이미드 필름의 제조][Synthesis of Polyimide Resin Precursor and Production of Polyimide Film]

(비교예 6)(Comparative Example 6)

m-Tb 70.33g(331㎜ol)을 NMP 720g에 용해시킨 후, BPDA 73.06g(248㎜ol), 및TAHQ 37.94g(83㎜ol)을 더해 질소 분위기하 실온에서 1시간 교반했다. 그 후, 60℃에서 20시간 교반하여, PI 수지 전구체 조성물을 얻었다. 또한, PI 수지 전구체의 폴리스티렌 환산의 Mw는 91,000이며, Mn은 27,000이었다. PI 수지 전구체 조성물을 NMP로 적절히 희석하여 점도를 조정하여 PI 수지 전구체 용액을 조제하고, 얻어진 PI 수지 전구체 용액을 상기 제막 조건 1로 제막하여, PI 필름을 얻었다.After dissolving 70.33 g (331 mmol) of m-Tb in 720 g of NMP, 73.06 g (248 mmol) of BPDA and 37.94 g (83 mmol) of TAHQ were added, followed by stirring at room temperature in a nitrogen atmosphere for 1 hour. After that, the mixture was stirred at 60°C for 20 hours to obtain a PI resin precursor composition. In addition, Mw of the PI resin precursor in terms of polystyrene was 91,000, and Mn was 27,000. The PI resin precursor composition was appropriately diluted with NMP to adjust the viscosity to prepare a PI resin precursor solution, and the obtained PI resin precursor solution was formed into a film under the above film forming condition 1 to obtain a PI film.

얻어진 PI 필름에 있어서, 그 두께는 30㎛이며, Dk는 3.45이고, Df는 0.0040이며, 지표 E는 0.0074이고, CTE는 38.2ppm이었다. 또한, PI 수지의 Tg는 255℃이며, 280℃에 있어서의 E'는 5.53×108Pa였다.The obtained PI film had a thickness of 30 μm, Dk was 3.45, Df was 0.0040, index E was 0.0074, and CTE was 38.2 ppm. In addition, the Tg of the PI resin was 255°C, and E' at 280°C was 5.53×10 8 Pa.

또한, 저장 탄성률 곡선으로부터, 접선법을 이용하여 구한 Tg는 230℃였다.Moreover, Tg calculated|required using the tangential method from the storage elastic modulus curve was 230 degreeC.

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 필름에 대하여, 각 측정 및 평가를 행했다. 이하에 측정 및 평가 방법을 설명한다.Measurements and evaluations were performed on the PI films obtained in Examples and Comparative Examples. Measurement and evaluation methods are described below.

<유리 전이 온도(Tg)의 측정><Measurement of glass transition temperature (Tg)>

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 수지의 Tg는, 아래와 같이 PI 필름을 측정함으로써 구했다.Tg of the PI resin obtained in Examples and Comparative Examples was obtained by measuring the PI film as follows.

동적 점탄성 측정 장치(IT 계측 제어(주)제, DVA-220)를 이용하여, 다음과 같은 시료 및 조건하에서 측정하여, 저장 탄성률(Storage modulus, E')과 손실 탄성률(Loss modulus, E")의 값의 비인 tanδ 곡선을 얻었다. tanδ 곡선의 피크의 최정점을 Tg라고 했다.Using a dynamic viscoelasticity measuring device (manufactured by IT Instrumentation Control Co., Ltd., DVA-220), measured under the following samples and conditions, the storage modulus (Storage modulus, E') and loss modulus (Loss modulus, E") A tanδ curve, which is the ratio of the values of , was obtained, and the highest point of the peak of the tanδ curve was designated as Tg.

시험편: 길이 40㎜, 폭 5㎜, 두께 50㎛(또한, 두께는 이용하는 필름에 의해 변동됨)의 직방체Test piece: rectangular parallelepiped with a length of 40 mm, a width of 5 mm, and a thickness of 50 μm (in addition, the thickness varies depending on the film used)

실험 모드: 단일 주파수, 정속 승온Experiment mode: single frequency, constant rate heating

실험 양식: 인장Experiment Form: Seal

샘플 그립간 길이: 15㎜Length between sample grips: 15 mm

측정 개시 온도: 실온~342℃Measurement start temperature: room temperature to 342°C

승온 속도: 5℃/분Heating rate: 5°C/min

주파수: 10HzFrequency: 10Hz

정(靜)/동(動) 응력비: 1.8Static/dynamic stress ratio: 1.8

주된 수집 데이터:Main data collected:

(1) 저장 탄성률(Storage modulus, E')(1) Storage modulus (E')

(2) 손실 탄성률(Loss modulus, E")(2) Loss modulus (E")

(3) tanδ(E"/E')(3) tanδ(E"/E')

<저장 탄성률 (E')의 측정><Measurement of storage modulus (E')>

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 수지의 280℃에 있어서의 E'는, Tg의 측정과 마찬가지로 하여 동적 점탄성 측정을 행함으로써 구했다.E' at 280°C of the PI resins obtained in Examples and Comparative Examples was determined by measuring dynamic viscoelasticity in the same manner as measuring Tg.

<중량 평균 분자량 Mw 및 수 평균 분자량 Mn의 측정><Measurement of weight average molecular weight Mw and number average molecular weight Mn>

합성으로 얻어진 PI 수지 전구체의 폴리스티렌 환산의 Mw 및 Mn은, GPC를 이용하여 측정했다. GPC 측정은 하기 조건으로 행했다.Mw and Mn in terms of polystyrene of the PI resin precursor obtained by synthesis were measured using GPC. GPC measurement was performed under the following conditions.

(1) 전처리 방법(1) Pretreatment method

시료를 DMF에 의해 희석 후, 0.45㎛ 멤브레인 필터로 여과한 것을 측정 용액이라고 했다.After diluting the sample with DMF, what was filtered through a 0.45 µm membrane filter was referred to as a measurement solution.

(2) 측정 조건(2) Measurement conditions

칼럼: TSKgel Super AWM-H(내경 6.0㎜, 길이 150㎜)를 2개 연결Column: Connect two TSKgel Super AWM-H (internal diameter 6.0 mm, length 150 mm)

용리액: DMF(10㎜ol/L 브롬화 리튬 첨가, 30㎜ol/L 인산 첨가)Eluent: DMF (10 mmol/L lithium bromide added, 30 mmol/L phosphoric acid added)

유량: 0.6mL/분Flow rate: 0.6mL/min

검출기: RI 검출기Detector: RI detector

칼럼 온도: 40℃Column temperature: 40°C

주입량: 20μLInjection volume: 20μL

분자량 표준: 표준 폴리스티렌Molecular Weight Standard: Standard Polystyrene

<선 열팽창 계수(CTE)의 측정><Measurement of Coefficient of Linear Thermal Expansion (CTE)>

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 필름의 CTE는, TMA를 이용하여, 하기 조건으로 측정을 행하고, 50℃에서부터 100℃에 있어서의 CTE를 산출했다.The CTE of the PI film obtained in Examples and Comparative Examples was measured using TMA under the following conditions, and the CTE from 50°C to 100°C was calculated.

장치: (주)히타치하이테크사이언스제 TMA/SS7100Apparatus: Hitachi High-Tech Science Co., Ltd. TMA/SS7100

하중: 50.0mNLoad: 50.0mN

온도 프로그램: 20℃에서부터 130℃까지 5℃/분의 속도로 승온Temperature program: temperature rise at a rate of 5°C/min from 20°C to 130°C

시험편: 길이 40㎜, 폭 5㎜, 두께 50㎛(또한, 두께는 이용하는 필름에 의해 변동 있음)의 직방체Test piece: rectangular parallelepiped with a length of 40 mm, a width of 5 mm, and a thickness of 50 μm (the thickness varies depending on the film used)

<유전 손실의 지표 E의 평가><Evaluation of index E of dielectric loss>

필름의 유전 손실의 지표 E를 하기 식으로 산출했다.The index E of the dielectric loss of the film was calculated by the following formula.

E=Df×(Dk)1/2 (i)E=Df×(Dk) 1/2 (i)

Df: 유전 정접Df: dielectric loss tangent

Dk: 비유전율Dk: relative permittivity

(Df 및 Dk의 측정)(Measurement of Df and Dk)

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 필름으로부터 50㎜×50㎜의 측정 샘플을 잘라내어, Df 및 Dk를 이하의 조건으로 측정했다. 25℃/55%RH에서 24시간 샘플을 조습한 후에, 측정을 행했다.Measurement samples of 50 mm × 50 mm were cut out from the PI films obtained in Examples and Comparative Examples, and Df and Dk were measured under the following conditions. After humidity control of the sample at 25 degreeC/55%RH for 24 hours, the measurement was performed.

장치: 안리츠(주)제 컴팩트 USB 벡터 네트워크 애널라이저(제품명: MS46122B)Device: Compact USB Vector Network Analyzer (product name: MS46122B) manufactured by Anritz Co., Ltd.

(주)에이이티제 공동(空洞) 공진기(TE 모드 10GHz 타입)Cavity resonator (TE mode 10GHz type) made by AT Co., Ltd.

측정 주파수: 10GHzMeasurement frequency: 10 GHz

측정 분위기: 23℃/50%RHMeasurement atmosphere: 23℃/50%RH

<굴곡 내성의 평가><Evaluation of bending resistance>

실시예 4, 10, 13, 14 및 15에서 얻어진 PI 필름의 굴곡 내성은, 이하의 조건으로 필름의 절곡 횟수를 측정함으로써 평가했다. 당해 필름을, 덤벨 커터를 이용하여 길이 100㎜, 폭 10㎜의 단책상(短冊狀)으로 커팅했다. 커팅한 필름을 ASTM 규격 D2176-16에 준거한 MIT 내절 피로 시험기((주)도요정기제작소제, MIT-DA)에 세팅하여, 시험 속도 175cpm, 절곡 각도 135°, 하중 750g, 및 절곡 클램프의 R=1.0㎜의 조건으로, 당해 필름을 표리 양 방향으로 번갈아 절곡하여, 파단될 때까지의 절곡 횟수를 측정했다. 절곡 횟수가 많을수록 굴곡 내성이 우수한 것을 나타낸다.The bending resistance of the PI films obtained in Examples 4, 10, 13, 14 and 15 was evaluated by measuring the number of bending times of the film under the following conditions. The film was cut into strips with a length of 100 mm and a width of 10 mm using a dumbbell cutter. The cut film was set in an MIT internal bending fatigue tester (manufactured by Toyo Seiki Manufacturing Co., Ltd., MIT-DA) in accordance with ASTM standard D2176-16, and the test speed was 175 cpm, bending angle 135 °, load 750 g, and bending clamp R = 1.0 mm, the film was alternately bent in both front and back directions, and the number of times of bending until breakage was measured. The greater the number of times of bending, the better the bending resistance.

실시예 4, 10, 13, 14 및 15에서 얻어진 PI 필름의 절곡 횟수는, 각각, 24만회, 1.5만회, 16만회, 13만회, 및 2만회였다. 또한, 실시예 4, 10, 13, 14 및 15에서 얻어진 PI 필름에 대하여, (PI계 필름의 CTE)×(PI계 수지의 280℃에 있어서의 E')1/2의 값은, 각각, 136141, 115683, 141751, 121951, 116579였다.The number of times of bending of the PI films obtained in Examples 4, 10, 13, 14, and 15 was 240,000, 150,000, 160,000, 130,000, and 20,000, respectively. In addition, for the PI films obtained in Examples 4, 10, 13, 14 and 15, the value of (CTE of PI-based film) × (E' of PI-based resin at 280 ° C.) 1/2 is, respectively, They were 136141, 115683, 141751, 121951, 116579.

실시예 및 비교예에서 얻어진 PI 필름에 관한 각 측정 및 평가 결과, 및 아민비를 표 1에 나타낸다.Table 1 shows the measurement and evaluation results and the amine ratio for the PI films obtained in Examples and Comparative Examples.

Figure pat00022
Figure pat00022

표 1에 나타나는 바와 같이, 실시예 1~16에서 얻어진 PI 필름은, 이미드화 처리의 최고 온도가 270℃ 또는 320℃라고 하는 저온이어도, 비교예와 비교해, Df가 낮고, 유전 손실의 지표 E가 낮은 것이 확인되었다. 따라서, 본 발명의 PI계 필름은, 구리박에 PI 수지 전구체 용액을 캐스트 제막하고, PI 수지 전구체 용액의 도막을 구리박 등의 금속박 상에서 열 이미드화함으로써 제조해도, 구리박 등의 금속박의 표면 거칠어짐 등의 열 열화를 억제할 수 있기 때문에, 고주파 대역에 대응 가능한 전송 손실이 작은 CCL 등의 금속장 적층판에 적합하게 사용할 수 있다.As shown in Table 1, the PI films obtained in Examples 1 to 16 had a low Df and a dielectric loss index E compared to Comparative Examples even when the maximum temperature of the imidation treatment was as low as 270°C or 320°C. low was confirmed. Therefore, even if the PI-based film of the present invention is produced by casting a PI resin precursor solution on copper foil and thermally imidating the coating film of the PI resin precursor solution on a metal foil such as copper foil, the surface of the metal foil such as copper foil is rough. Since thermal deterioration of loads and the like can be suppressed, it can be suitably used for metal-clad laminates such as CCL with low transmission loss capable of handling high-frequency bands.

Claims (15)

테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 함유하는 폴리이미드계 수지를 포함하고, 당해 폴리이미드계 수지는, 280℃에 있어서의 저장 탄성률이 3×108Pa 미만, 또한, 유리 전이 온도가 200~290℃인, 폴리이미드계 필름.A polyimide-based resin containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine is included, and the polyimide-based resin has a storage modulus at 280°C of 3×10 8 A polyimide-based film having a glass transition temperature of less than Pa and a glass transition temperature of 200 to 290°C. 제 1 항에 있어서,
상기 구성 단위 (A)는, 에스테르 결합 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A1)을 포함하는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 1,
The polyimide-based film in which the structural unit (A) includes a structural unit (A1) derived from an ester bond-containing tetracarboxylic acid anhydride.
제 2 항에 있어서,
상기 구성 단위 (A)는, 비페닐 골격 함유 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A2)를 더 포함하는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 2,
The structural unit (A) further includes a structural unit (A2) derived from a biphenyl skeleton-containing tetracarboxylic acid anhydride.
제 3 항에 있어서,
상기 구성 단위 (A)는, 식 (X):
(상기 구성 단위 (A1) 및 상기 구성 단위 (A2) 이외의 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A3)의 함유량)/(상기 구성 단위 (A1) 및 상기 구성 단위 (A2)의 총량)<1.1 (X)
의 관계를 충족시키는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 3,
The structural unit (A) has the formula (X):
(Content of tetracarboxylic acid anhydride-derived structural units (A3) other than the structural unit (A1) and structural unit (A2))/(total amount of structural units (A1) and (A2)) <1.1 (X)
A polyimide-based film that satisfies the relationship of
제 2 항에 있어서,
상기 구성 단위 (A1)은, 식 (a1):
Figure pat00023

[식 (a1) 중, Z는 2가의 유기기를 나타내고,
Ra1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,
s는 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]
로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a1)인, 폴리이미드계 필름.
According to claim 2,
The structural unit (A1) has the formula (a1):
Figure pat00023

[In formula (a1), Z represents a divalent organic group,
R a1 independently represents a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group or an aryloxy group which may have a halogen atom;
s represents an integer from 0 to 3, independently of each other]
A polyimide-based film which is a structural unit (a1) derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by .
제 3 항에 있어서,
상기 구성 단위 (A2)는, 식 (a2):
Figure pat00024

[식 (a2) 중, Ra2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,
t는, 서로 독립적으로, 0~3의 정수를 나타냄]
로 나타나는 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (a2)인, 폴리이미드계 필름.
According to claim 3,
The structural unit (A2) has the formula (a2):
Figure pat00024

[In formula (a2), R a2 independently represents a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;
t represents, independently of each other, an integer from 0 to 3]
A polyimide-based film that is a structural unit (a2) derived from tetracarboxylic acid anhydride represented by .
제 1 항에 있어서,
상기 구성 단위 (B)는, 비페닐 골격 함유 디아민 유래의 구성 단위 (B1)을 포함하는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 1,
The polyimide-based film in which the structural unit (B) includes a structural unit (B1) derived from diamine containing a biphenyl skeleton.
제 7 항에 있어서,
상기 구성 단위 (B1)은, 식 (b1):
Figure pat00025

[식 (b1) 중, Rb1은, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기 혹은 아릴옥시기를 나타내고,
p는 0~4의 정수를 나타냄]
으로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b1)인, 폴리이미드계 필름.
According to claim 7,
The structural unit (B1) has the formula (b1):
Figure pat00025

[In formula (b1), R b1 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;
p represents an integer from 0 to 4]
A polyimide-based film that is a structural unit (b1) derived from diamine represented by .
제 7 항에 있어서,
상기 구성 단위 (B1)의 함유량은, 구성 단위 (B)의 총량에 대하여 30몰%를 초과하는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 7,
The content of the structural unit (B1) exceeds 30 mol% with respect to the total amount of the structural unit (B), the polyimide-based film.
제 1 항에 있어서,
상기 구성 단위 (B)는, 식 (b2):
Figure pat00026

[식 (b2) 중, Rb2는, 서로 독립적으로, 할로겐 원자, 또는 할로겐 원자를 가져도 되는 알킬기, 알콕시기, 아릴기, 혹은 아릴옥시기를 나타내고,
W는, 서로 독립적으로, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -COO-, -OOC-, -SO2-, -S-, -CO- 또는 -N(Rc)-를 나타내며, Rc는 수소 원자, 할로겐 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 1~12의 1가의 탄화수소기를 나타내고,
m은 1~4의 정수를 나타내며,
q는 서로 독립적으로, 0~4의 정수를 나타냄]
로 나타나는 디아민 유래의 구성 단위 (b2)를 포함하는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 1,
The structural unit (B) has the formula (b2):
Figure pat00026

[In formula (b2), R b2 represents, independently of each other, a halogen atom or an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, or an aryloxy group which may have a halogen atom;
W is, independently of each other, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH(CH 3 )-, -C(CH 3 ) 2 -, -C(CF 3 ) 2 -, Represents -COO-, -OOC-, -SO 2 -, -S-, -CO- or -N(R c )-, and R c is a monovalent group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted with a hydrogen atom or a halogen atom. represents a hydrocarbon group,
m represents an integer from 1 to 4,
q represents an integer from 0 to 4 independently of each other]
A polyimide-based film containing a structural unit (b2) derived from diamine represented by .
제 10 항에 있어서,
상기 구성 단위 (b2) 중, m이 3이며, W가 서로 독립적으로, -O- 또는 -C(CH3)2-를 나타내는, 폴리이미드계 필름.
According to claim 10,
Among the structural units (b2), m is 3, and W is each independently -O- or -C(CH 3 ) 2 -, a polyimide-based film.
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드계 필름의 편면 또는 양면에 금속박층을 포함하는 적층 필름.A laminated film comprising a metal foil layer on one side or both sides of the polyimide film according to any one of claims 1 to 11. 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드계 필름을 포함하는 플렉시블 프린트 회로 기판.A flexible printed circuit board comprising the polyimide-based film according to any one of claims 1 to 11. 테트라카르본산 무수물 유래의 구성 단위 (A)와 디아민 유래의 구성 단위 (B)를 포함하는 폴리이미드계 수지 전구체 용액을 기재 상에 도공하는 공정, 및
200℃ 이상 350℃ 미만의 열처리에 의해, 폴리이미드계 수지 전구체를 이미드화하여, 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 기재된 폴리이미드계 필름을 기재 상에 형성하는 공정을 포함하는, 적층 필름의 제조 방법.
A step of coating a polyimide-based resin precursor solution containing a structural unit (A) derived from tetracarboxylic acid anhydride and a structural unit (B) derived from diamine on a substrate, and
Lamination comprising a step of imidizing a polyimide-based resin precursor by heat treatment at 200°C or more and less than 350°C to form the polyimide-based film according to any one of claims 1 to 11 on a substrate How to make a film.
제 14 항에 있어서,
기재는 금속박인, 적층 필름의 제조 방법.
15. The method of claim 14,
A method for producing a laminated film in which the substrate is a metal foil.
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