KR20230002716A - 디바이스 특정 데이터를 사용하는 자동화된 테스트 장비 및 방법 - Google Patents

Abstract

자동화된 테스트 장비는 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID 및/또는 구성 정보를 포함하는 입력 데이터 및/또는 디바이스 특정 데이터를 매칭되는 모듈에 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된 테스터 컨트롤을 포함한다. 자동화된 테스트 장비는, 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하기 위해, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 입력 데이터를 변환하도록 구성된 채널 처리 유닛을 더 포함한다. 채널 처리 유닛은 또한, DUT 데이터를 평가하기 위해 디바이스 특정 데이터를 사용하여 DUT 데이터를 처리하도록 더 구성된다. 자동화된 테스트 장비에서 하나 이상의 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 방법 및 컴퓨터 프로그램이 또한 개시된다.

Description

디바이스 특정 데이터를 사용하는 자동화된 테스트 장비 및 방법

본 발명에 따른 실시예는 예를 들어 다중-사이트 테스트를 위한 자동화된 테스트 장비에 관한 것이다.

본 발명에 따른 다른 실시예는 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 방법에 관한 것이다.

본 발명에 따른 다른 실시예는 위의 방법을 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램에 관한 것이다.

일반적으로 말하면, 본 발명에 따른 실시예는 다중-사이트 테스트를 위한 효율적이고 안전한 디바이스 특정 통신을 제공하는 것과 관련된다.

또한, 본 발명에 따른 실시예는 다중-사이트 테스트를 위한 효율적이고 안전한 디바이스 특정 통신을 제공하기 위한 자동화된 테스트 장비 및 방법에 관한 것이다.

종래의 디바이스 테스트 개념에서, 자동화된 테스트 장비는 일반적으로 테스트 대상 디바이스(device-under-test: DUT)를 테스트하는 데 사용된다. 테스트 대상 디바이스와 자동화된 테스트 장비 사이의 테스트 인터페이스는 iJTAG, RSN 또는 IEEE 1687과 같은 상이한 통신 프로토콜을 사용할 수 있다. 테스트를 수행하는 동안 테스트 프로그램은 모든 DUT에 대해 동일할 수 있지만, 테스트 실행 및 테스트 데이터는 동일하지 않을 수 있음이 인식되었다. 이 프레임워크에서, 다중-사이트 테스트는 다수의 DUT를 병렬로 테스트하는 잘 알려진 접근 방식으로서, 이는 예를 들어 총 테스트 시간을 줄어주고 따라서 비용을 줄여준다. 한편, 예를 들어 데이터 스트림 계산에 필요한 (높은) 계산 노력으로 인해 다중-사이트 테스트 효율성이 위협받는 것으로 밝혀졌다. 또한, 예를 들어, 예컨대 보호되거나 패킷화된 인터페이스 등을 통한 디바이스 특정 통신 및 직접적 디바이스 상호작용으로 인한 제한된 브로드캐스트 효율성은 또 다른 위협이 될 수 있음이 밝혀졌다.

더 나아가, 종래의 디바이스 테스트 개념은 메모리 및 컴퓨팅 유닛을 포함하는 중앙집중식 처리 유닛을 사용한다. 중앙집중식 채널 아키텍처에서는, 로컬 데이터 변환(예컨대, 디바이스 특정적, DUT 특정적)을 수행할 수 없는 중앙 처리 유닛에서 데이터가 전송되고 계산되어야 하므로 디바이스 특정 통신에 대한 높은 통신 오버헤드가 발생함이 밝혀졌다.

채널 처리 유닛을 사용하는 디바이스 특정 통신에 대해 개시하는 기술들이 제안되어 왔다. 예를 들어, US 2018/0196103 A1에는 반도체 디바이스의 테스트를 수행할 수 있는 자동화된 테스트 장비 시스템이 개시되어 있다. JP 2009508142A는 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 테스터에 대해 개시한다. US 2019/0383873 A1에는 다수의 DUT를 테스트하기 위한 테스트 및 측정 디바이스가 개시되어 있다. US 2004/0044939 A1은 상이한 유형의 반도체 디바이스를 테스트하기 위한 시스템에 대해 개시하고 있다.

이러한 상황을 고려하여, 복잡성, 테스트 처리량 및 안전성 간의 개선된 절충안을 제공하는 테스트 개념이 필요하다.

본 발명에 따른 실시예는 테스터 컨트롤(tester control)을 포함하여 하나 이상의 테스트 대상 디바이스(DUT)를 테스트하기 위한 자동화된 테스트 장비를 제공한다.

테스터 컨트롤은 예를 들어 키 및/또는 크리덴셜(credentials) 및/또는 ID 및/또는 구성 정보를 포함할 수 있는 디바이스 특정 데이터를 매칭되는 모듈에 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성되는 중앙집중식 테스트 흐름 관리를 포함한다. 예를 들어, 테스터 컨트롤은 동일한 데이터를 복수의 부착된 채널 처리 유닛에 동시에 브로드캐스트한다.

또한, 중앙집중식 테스트 흐름 관리는 예를 들어 입력 데이터(예컨대, 들어오는 테스터 커맨드 스트림, 또는 DUT 스트림, 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터)를 매칭되는 모듈에 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성될 수 있다.

자동화된 테스트 장비는 예를 들어 테스터 데이터 버스를 통해 테스터 컨트롤에 결합되는 채널 처리 유닛을 더 포함한다.

또한, 채널 처리 유닛은, 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한(예컨대, 테스트 대상 디바이스에 제공하기 위한 또는 테스트 대상 디바이스로부터의 응답 데이터를 평가하기 위한) 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(예컨대, 프로토콜 인식 데이터, 또는 개별 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 데이터, 또는 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 예상 결과 데이터)를 획득하기 위해, 로컬 디바이스 특정 데이터(예컨대, 로컬 디바이스 특정 정보 및/또는 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID 및/또는 구성)를 사용하여 입력 데이터(예컨대, 들어오는 테스터 커맨드 스트림, 또는 DUT 스트림, 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터)를 변환(또는 처리)하도록 구성된다.

대안적으로 또는 추가적으로, 채널 처리 유닛은, (예컨대, 통신 페이로드를 추출하거나 DUT로부터의 데이터 전송을 평가함으로써, 또는 디바이스 독립적 또는 DUT 불특정 정보를 획득하도록) DUT를 테스트하거나 평가하기 위해, (예컨대, 로컬) 디바이스 특정 데이터를 사용하여 (예컨대, DUT로부터의) DUT 데이터(예컨대, 디바이스 특정 키와 같은 디바이스 특정 데이터에 의해 결정되는 프로토콜을 사용하는 데이터)를 처리(예컨대, 패킷 카운터, 디바이스 ID와 같은, 디바이스 특정 프로토콜 정보를 사용하여 프로토콜로부터 언랩핑하거나 디바이스 특정 키를 사용하여 변환 또는 분석 또는 복호화)하도록 구성된다. 따라서, 디바이스 특정 데이터(예컨대, 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID 및/또는 구성)는 예를 들어 로컬 메모리(예컨대, 채널 처리 유닛의 로컬 메모리)에 저장되도록 구성된다.

설명된 자동화된 테스트 장비는, 테스터 컨트롤과 채널 처리 유닛 사이의 대역폭 제한으로 인해 발생하는 자동화된 테스트 장비에서의 테스트 처리량의 과도한 제한이 하나 이상의 채널 처리 유닛에서의 디바이스 특정 처리를 사용하여 극복될 수 있다는 발견에 기초한다.

따라서, 채널 처리 유닛에 로컬로 저장된 디바이스 특정 데이터를 사용하여(또는 상이한 채널 처리 유닛에 저장된 상이한 디바이스 특정 데이터를 사용하여) 테스터 컨트롤에 의해 제공될 수 있는 채널 처리 유닛의 입력 데이터를 변환함으로써, 상이한 채널 처리 유닛들에 과도한 데이터 볼륨의 전송을 방지하면서, 복수의 채널 처리 유닛을 포함하는 자동화된 테스트 장비에서 상이한 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위해 디바이스 특정적인 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하는 것이 가능하다.

예를 들어, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 채널 처리 유닛에서 테스트 데이터의 디바이스 특정 조정을 수행함으로써, 더 이상 다른(디바이스 특정적으로 조정된) 테스트 데이터를 채널 처리 유닛에 전달할 필요가 없고, 오히려 공통(동일한) 테스트 데이터 및 (비교적) 소량의 디바이스 특정 데이터를 채널 처리 유닛에 전송하는 것으로 충분한데, 여기서 공통 테스트 데이터는 예를 들어 채널 처리 유닛에 (예컨대, 대역폭 절약 방식으로) 브로드캐스트될 수 있다. 따라서, 테스터 컨트롤에서 채널 처리 유닛으로 전송되는 데이터의 양은, 모든 테스트 대상 디바이스에 대한 개별(디바이스 특정적으로 조정된) 테스트 데이터가 테스터 컨트롤에서 채널 처리 유닛으로 전송되는 종래의 솔루션에 비해 훨씬 더 작을 수 있다.

마찬가지로, 채널 처리 유닛에서 DUT 데이터의 평가를 위해 디바이스 특정 데이터를 사용하면, 더 이상 상이한 디바이스 특정 검증 데이터(예상 DUT 데이터를 묘사함)를 채널 처리 유닛으로 전달하거나 전체 DUT 데이터를 평가를 위해 테스터 컨트롤에 전달할 필요가 없다. 오히려, 채널 처리 유닛에서 테스터 컨트롤로 전송될 데이터의 양은, DUT로부터의 DUT 데이터의 평가를 위해 채널 처리 유닛에 (어쩌면 상이한 테스트 대상 디바이스들의 DUT 데이터의 평가에 일반적으로 사용되는 공통 데이터와 함께) 로컬로 저장된 디바이스 특정 데이터(비교적 작은 데이터 볼륨을 포함할 수 있음)를 사용함으로써 감소될 수 있다. 예를 들어, 디바이스 특정 데이터는 DUT 데이터를 복호화하고/하거나 DUT 특정 통신 프로토콜을 구현하는 데 사용될 수 있다.

또한, 디바이스 특정 데이터를 채널 처리 유닛에 직접 저장함으로써, 높은 수준의 보안 및 기밀성이 달성될 수 있다. 예를 들어, 채널 처리 유닛은 자신의 일반적으로 매우 독특한 임베딩된 구조로 인해 공격받을 가능성이 작기 때문에, 채널 처리 유닛에 디바이스 특정 데이터를 저장하는 것은 테스터 컨트롤에 디바이스 특정 데이터를 저장하는 것보다 더 안전할 있다.

또한, 채널 처리 유닛에서 디바이스 특정 데이터를 사용하여 처리를 구현하는 것은 일반적으로 채널 처리 유닛에서 이용가능한 처리 전력의 측면에서 구현하기 쉽다는 것이 밝혀졌다. 더 나아가, 채널 처리 유닛은 종종 테스터 컨트롤보다 실시간(또는 적시) 처리를 위해 더 잘 조정될 수 있으므로 처리 노력이 핸들링될 수 있다.

결론적으로, 위에서 논의한 개념은 복잡성, 테스트 처리량 및 안전성 간에 양호한 절충안을 제공할 수 있다.

더 나아가, 설명된 자동화된 테스트 장비는 고급 보안 아키텍처를 사용하여 안전한 다중-사이트 DUT 테스트를 달성하는 데 도움이 될 수 있는 안전한 통신 접근 방식의 맥락에서 이 개념이 효율적이라는 발견에 또한 기초한다. 보안 메커니즘은 테스트 및 디버그 인터페이스가 내부 디바이스 구조에 무단 액세스하는 것을 방지하기 위해 예를 들어 암호화/복호화된 DUT (디바이스 특정) 통신을 수반할 수 있다. 또한, 테스트 후에도 여전히 활성 상태인 기능 인터페이스에는 보호가 필요할 수 있다. 추가 보안 메커니즘은, 예를 들어, 특정 수준의 액세스를 허가하는 것(예컨대, 특정 테스트만 DUT에 적용될 수 있음)을 나타내는 인가 또는 예를 들어 사용자의 신원을 확인하는 것을 나타내는 인증일 수 있다. 또한, DUT와 채널 처리 유닛 간의 통신은 예컨대 패킷 카운터 및/또는 오류 정정 코드 및/또는 오류 식별 코드를 사용함으로써 추가로 보호될 수 있다. 이것은 다중-사이트 테스트의 맥락에서 가능한 최고의 보안을 보장한다. 따라서, 위에서 설명된 개념을 사용하여, 디바이스 특정 처리(예컨대, 디바이스 특정 암호화 정보 또는 인가 정보와 같은 디바이스 특정 데이터를 사용하는 채널 처리 유닛의 입력 데이터의 변환)가 채널 처리 유닛에서 수행될 수 있으며, 이는 테스터 컨트롤의 처리 부하 및 테스터 컨트롤에서 채널 처리 유닛으로 또는 그 반대로 전송되는 데이터의 양을 줄일 수 있고, 테스터 컨트롤보다 보안 공격에 덜 취약한 채널 처리 유닛에 비밀 정보가 저장되게 하여 보안을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 발명은 가능한 한 디바이스-애그노스틱으로 테스터 컨트롤과 채널 처리 유닛 사이의 통신이 수행되는 효율적인 디바이스 특정 통신을 허용한다. 예를 들어, 이것은 입력 데이터가 테스터 컨트롤에 의해 테스터 데이터 버스를 통해 다른 채널 처리 유닛으로 브로드캐스트되는 결과 분석 접근 방식에 의해 달성될 수 있다. 상이한 채널 처리 유닛에서, 입력 데이터는 DUT로부터의 각각의 (예컨대, 추출된) 결과 데이터와 비교될 수 있고, 각각의 테스트 결과는 메모리에 저장된다. 각각의 테스트 결과(업스트림 결과 데이터)가 입력 데이터와 다른 경우, 각각의 테스트 결과 데이터 및/또는 입력 데이터와 각 테스트 결과 데이터의 차이가 예를 들어 압축되어 테스터 컨트롤로 전송될 수 있다. 테스터 컨트롤로 전송될 데이터는 추가적으로(또는 선택적으로) DUT 서명을 포함할 수 있다. 결론적으로, 채널 처리 유닛에 대한 결과 분석 접근 방식은 버스 트래픽과 CPU 요건을 줄임으로써 테스트 시간을 최소화할 수 있다.

예를 들어, 채널 처리 유닛에서 개별 메모리 및 컴퓨팅 능력을 사용하여 테스터 커맨드의 로컬 실행을 제공하는 샌드박싱된 채널 처리 유닛에 의해 추가 효율성 및 보안이 달성될 수 있고, 따라서, 효율적인 디바이스 특정 계산 단계를 가능하게 하기 위해 제3자 소프트웨어를 업로드함으로써 디바이스 특정 기능이 또한 업데이트될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 디바이스 특정 채널 및 DUT 인터페이스에 의해 하나 이상의 DUT 중 하나와 통신하도록 구성된다. 이는 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 테스트 대상 디바이스에 전달하고/하거나 테스트 대상 디바이스로부터 DUT 데이터를 수신하기 위해 수행된다. 위의 DUT 인터페이스는 예를 들어 iJTAG 인터페이스(IEEE 1687 인터페이스) 또는 RSN 인터페이스 또는 디버그 중 하나 또는 IEEE 1149.10 인터페이스 또는 SATA 인터페이스 또는 USB 인터페이스 등과 같은 고대역폭 인터페이스들 중 하나일 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 테스터 인터페이스(예컨대, 데이터 버스 또는 인터페이스 또는 독점 버스)를 사용하여 중앙 테스터 컨트롤과 통신하도록 구성된다. 테스터 인터페이스는, 예를 들어, iJTAG 인터페이스(IEEE 1687 인터페이스) 또는 RSN 인터페이스 또는 디버그 중 하나 또는 IEEE 1149.10 인터페이스 또는 SATA 인터페이스 또는 USB 인터페이스 등과 같은 고대역폭 인터페이스들 중 하나일 수 있다. 그러나, 고속 병렬 인터페이스 또는 이더넷 인터페이스와 같은 임의의 다른 유형의 인터페이스도 사용될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 테스터 컨트롤은 테스터 인터페이스를 통해 입력 데이터를 복수의 채널 처리 유닛에 브로드캐스트하도록 구성된다. 입력 데이터(예컨대, 들어오는 테스터 커맨드 스트림, 또는 DUT 스트림, 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터)를 브로드캐스트하는 경우, 동일한 입력 데이터가 복수의 채널 처리 유닛에 전송된다. 또한, 브로드캐스트는 동일한 데이터를 상이한 채널 처리 유닛에 개별적으로 전송하는 것보다 훨씬 더 대역폭 효율적일 수 있으며, 상이한 (디바이스 특정) 데이터를 상이한 채널 처리 유닛에 개별적으로 전송하는 것보다도 훨씬 더 대역폭 효율적일 수 있다.

바람직한 실시예에서, 테스터 인터페이스는 테스터 컨트롤 및 복수의 채널 처리 유닛에 결합된 테스터 데이터 버스이다. 특히, 디바이스 통신 유닛에 의해 디바이스 특정 방식으로 조정될 수 있는 동일한 데이터가 이러한 테스터 데이터 버스를 통해 테스터 컨트롤로부터 디바이스 통신 유닛으로 효율적으로 전송될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 휘발성 저장소(예컨대, 메모리) 및/또는 비휘발성 저장소(예컨대, 솔리드-스테이트 디스크) 및 컴퓨팅 유닛(예컨대, CPU, ASIC, FPGA)을 포함한다. 또한, 채널 처리 유닛은 채널 처리 유닛의 저장소에 디바이스 특정 데이터를 저장하고, 테스터 컨트롤로부터 전송된 입력 데이터를 컴퓨팅 유닛을 사용하여 변환하도록 구성된다. 예를 들어, 입력 데이터는 디바이스 특정 데이터를 사용하여 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터로 변환될 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 채널 처리 유닛은 DUT로부터 전송된 DUT 데이터를 컴퓨팅 유닛을 사용하여 처리하도록 구성된다. DUT 데이터 처리는 예를 들어 데이터 압축 및/또는 데이터 암호화 및/또는 생성된 서명의 포함 등을 포함한다.

디바이스 특정 데이터를 채널 처리 유닛의 메모리에 저장하고 이를 디바이스 특정 테스트 데이터의 생성에 사용함으로써(이는 DUT 테스트 전에 수행되거나 DUT 테스트 중 "즉시" 수행될 수도 있음), 테스터 컨트롤과 디바이스 통신 유닛 간에 대량의 디바이스 특정 테스트 데이터를 교환해야 하는 필요성이 극복될 수 있다. 오히려, 비교적 적은 양의 디바이스 특정 데이터만이 테스트 컨트롤에서 디바이스 통신 유닛으로 업로드되면 족하며, 디바이스 통신 유닛은 자체 컴퓨팅 유닛을 사용하여 (예컨대, 디바이스-애그노스틱의 공통 테스트 데이터에 기초하여) 비교적 많은 양의 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 생성할 수 있다. 유사하게, 예를 들어 채널 처리 유닛은, 예컨대 테스트 대상 디바이스로부터 수신된 DUT 데이터를 압축해제하거나 복화화함으로써, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스-애그노스틱의 결과 데이터를 추출하는데, 이러한 "디바이스-애그노스틱의" 결과 데이터는 예를 들어 테스트 대상 디바이스를 테스트 통과 또는 실패로 분류하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 테스터 컨트롤의 처리 부하를 낮게 유지할 수 있고, 테스터 인터페이스를 통해 전송되는 데이터의 양을 작게 유지할 수 있어 병목 현상을 피할 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 하나 이상의 샌드박스를 포함하고 샌드박스는 예를 들어 개별 메모리 및 개별 컴퓨팅 능력을 사용하여 커맨드를 실행하도록 구성된다. 즉, 샌드박스는 예를 들어 자체 커맨드를 실행하고 자체 데이터를 사용하는 가상 환경이다. 또한, 하나 이상의 샌드박스는 예를 들어 디바이스 특정 데이터를 사용하여 입력 데이터를 변환하고/하거나 DUT로부터 수신된 결과를 (예컨대, 개별 컴퓨팅 능력을 사용하여) 분석하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 샌드박스의 사용은 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정될 수 있는 하나 이상의 프로그램을 안전한 방식으로 수행하는 채널 처리 유닛을 제공할 수 있다. 예를 들어, 샌드박스에서 실행되는 프로그램은 (자동화된 테스트 장비의 제조업체가 아니라) 자동화된 테스트 장비의 사용자에 의해 제공될 수 있으며, 예를 들어 채널 처리 유닛의 기본 기능을 방해할 위험 없이 디바이스 특정 데이터를 사용하여 위에서 언급한 입력 데이터 변환을 수행할 수 있다. 다시 말해서, 샌드박스는 예를 들어 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정될 수 있는 위의 사용자 제공 프로그램을 채널 처리 유닛의 다른 기능으로부터 "격리"시킬 수 있다(잘 제어된 데이터 교환은 여전히 가능할 수 있음). 따라서, 하나 이상의 사용자 제공 프로그램은 DUT에 제공될 데이터 및/또는 DUT로부터 수신된 데이터의 디바이스 특정 처리를 수행하기 위해 채널 처리 유닛의 하나 이상의 샌드박스에서 안전하게 실행될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 복수의 샌드박스를 포함하는데, 샌드박스는 하나 이상의 보호된 인터페이스를 사용하여 호스팅 채널 처리 유닛과 통신하도록 구성되어, 상이한 샌드박스들이 서로로부터 격리(분리)되게 한다. 이는 높은 수준의 보안 및 안정성을 제공한다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 하나 이상의 샌드박스(들)를 포함하는데, 샌드박스는 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스 특정 기능(예컨대, 디바이스 특정 암호화 키 또는 디바이스 특정 크리덴셜을 사용하는 복수의 DUT에 공통인 입력 데이터의 암호화, 또는 디바이스 특정 복호화 키 또는 디바이스 특정 크리덴셜을 사용하는 DUT 데이터의 복호화, 또는 디바이스 특정 식별자와 같은 다른 디바이스 특정 정보를 사용하는 입력 데이터 또는 DUT 데이터의 처리)을 실행하도록 구성된다. 따라서, 샌드박스는 디바이스 특정 처리를 지원할 수 있다.

바람직한 실시예에서, 자동화된 테스트 장비는 샌드박스를 사용하여 입력 데이터 또는 DUT 데이터의 디바이스 특정 처리를 허용하기 위해 소프트웨어를 하나 이상의 샌드박스에 업로드하도록 구성된다. 따라서, 효율적인 디바이스 특정 계산 단계(예컨대, 디바이스 구성을 알고 있는 특정 DUT 인터페이스와의 통신)를 가능하게 하기 위해, 디바이스 특정 기능이 제3자 소프트웨어로부터의 업로드에 의해 업데이트될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛와 테스트 대상 디바이스 간의 통신(예컨대, 단방향 통신 또는 양방향 통신)을 보호하기 위해(예컨대, 암호화/복호화를 사용하고/하거나 오류 검출 메커니즘을 사용하고/하거나 오류 정정 메커니즘을 사용하고/하거나 인증 메커니즘을 사용함), 채널 처리 유닛은 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스 특정 통신 프로토콜을 구현하도록 구성된다. 따라서, 보안을 손상시키지 않고 테스트 컨트롤과 디바이스 통신 유닛 사이의 인터페이스에 과도한 부하를 주지 않으면서, 보안이 중요한 테스트 대상 디바이스에 대한 개별 테스트 액세스가 달성될 수 있다.

또한, 각 DUT와 통신하는 프로토콜은 예를 들어 HW 또는 SW로 프로그래밍될 수 있으며, 따라서 재구성될 수 있다. 프로토콜 인식 테스트가 수행되는 경우, 프로토콜 상태의 효율적인 추적이 필요할 수 있다. 테스트 대상 디바이스와 채널 처리 유닛 간의 통신은 위의 방법들 중 하나 이상에 의해 보호될 수 있다. 채널 처리 유닛은 예를 들어 오류를 검출하고 수정 가능한 오류를 수정할 수 있다. 오류 검출 메커니즘은 예를 들어 순환 중복 검사일 수 있다. 오류 정정 메커니즘은 예를 들어 비터비 디코딩의 순방향 오류 정정 코드 또는 블록 코드일 수 있다(또는 이를 포함할 수 있음).

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 컴퓨팅 유닛을 포함하는데, 컴퓨팅 유닛(CPU, ASIC, FPGA)은 하나 이상의 DUT 인터페이스와 상호작용하도록 구성된다. 또한, 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하기 위해, 및/또는 DUT 데이터를 디바이스 특정로 복호화하기 위해, 및/또는 DUT 데이터에 대한 오류 검출(예컨대, 오류 식별)을 수행하기 위해(즉, DUT 데이터에 대해 오류를 검출함), 및/또는 DUT 데이터에 대한 오류 정정을 수행하기 위해(즉, DUT로부터 전송된 오리지널 DUT 데이터의 재구성을 가능하게 함), 및/또는 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하거나 또는 DUT 데이터를 평가하도록 하나 이상의 패킷 카운터를 사용하여 통신 프로토콜을 구현하기 위해, 및/또는 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하거나 또는 DUT 데이터를 평가하도록 하나 이상의 디바이스 특정 또는 디바이스 고유 식별자를 사용하여 통신 프로토콜을 구현하기 위해, 컴퓨팅 유닛은 (예컨대, 디바이스 통신 유닛의) 입력 데이터를 디바이스 특정적으로 암호화하도록 구성된다. 채널 처리 유닛에서 하나 이상의 이러한 기능을 구현함으로써, 테스터 컨트롤의 부하(예컨대, 다수의 채널 처리 유닛을 사용하여 다수의 테스트 대상 디바이스의 테스트를 조정할 수 있음)가 감소하고, 테스터 인터페이스의 데이터 볼륨이 상당히 작게 유지될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 컴퓨팅 유닛을 포함하는데, 컴퓨팅 유닛(CPU, ASIC, FPGA)은 HW(ASIC/FPGA) 및/또는 SW로 통신 프로토콜을 구현하도록 구성된다. 다시 말해서, 채널 처리 유닛은 각각의 DUT가 지원하는 특정 프로토콜에 의해 DUT와 통신하도록 구성될 수 있는데, 특정 프로토콜은 컴퓨팅 유닛의 HW 또는 SW로 프로그래밍될 수 있다. 하드웨어와 소프트웨어 솔루션 모두 자신의 고유한 장점을 갖는다. 하드웨어 구현은 일반적으로 더 빠르고, 매우 높은 대역폭 통신 인터페이스에 대한 요구를 수용하는 데 필요할 수 있고, 소프트웨어 구현은 일반적으로 더 유연하게 구성될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 테스터 컨트롤(예컨대, 테스터 컨트롤의 일부일 수 있는 보안 크리덴셜 유닛 및/또는 키 유닛)은 보안 크리덴셜 및/또는 키를 획득(예컨대, 수신 또는 생성)하고, 보안 크리덴셜 및/또는 키를 하나 이상의 채널 처리 유닛에 브로드캐스트하고/하거나, 구체적으로는 크리덴셜 및/또는 키를 (예컨대, 암호화된 형태로) 매칭되는 채널 처리 유닛에 업로드하도록 구성된다. 따라서, 보안 크리덴셜 또는 키의 효율적인 중앙집중식 배포가 달성될 수 있는데, 이는 테스트 환경에서 자동화된 테스트 장비의 사용을 용이하게 한다. 다른 한편으로, 적어도 크리덴셜 또는 키에 대해 테스터 컨트롤과 채널 처리 유닛 사이의 보안 통신을 사용함으로써 기밀성이 보장될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 테스터 컨트롤(예컨대, 보안 크리덴셜 유닛 및/또는 키 유닛)은 보안 크리덴셜 및/또는 키(예컨대, 자동화된 테스트 장비의 공개 키와 같은 자동화된 테스트 장비 특정 보안 크리덴셜 또는 키)를 획득(생성)하여 하나 이상의 DUT로 브로드캐스트하도록 구성된다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛 내에서의 통신 프로토콜 구현은 다음 항목들 중 하나 이상을 사용(고려)하도록 구성된다:

· 하나 이상의 패킷 카운터

· 디바이스 특정 콘텐츠(예컨대, 디바이스 ID)를 사용한 핸드셰이크

· 타임스탬프를 포함한 동기 통신

· 통신 표준(예컨대, IEEE 1687.x, IEEE 1500, IEEE 1149.x)의 구현

따라서, 특정 DUT에 적합한 통신이 수립될 수 있다. 개별 DUT의 프로토콜 요구(예컨대, 패킷 카운터 디바이스 ID, 보안 인증서 또는 서명 등)는 테스터 컨트롤과 채널 처리 유닛 사이의 통신에서 과도한 대역폭 요구 없이 고려될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 업스트림 결과 데이터(예컨대, 테스트 대상 디바이스로부터의 DUT 데이터)를 저장하고/하거나 업스트림 결과 데이터를 (예컨대 예상 결과 데이터를 사용하여, 예컨대 예상 결과 데이터와 비교함으로써) 분석하도록 구성된다. 업스트림 결과 데이터에 대한 분석은 업스트림 결과 데이터와 예상 결과 데이터 사이에 차이가 있는지 여부를 명시하는 것이며, 그 차이는 각 DUT의 생산 결함을 반영할 수 있다. 채널 처리 유닛은 또한 업스트림 결과 데이터를 전처리(예컨대, 압축)하고/하거나, 전처리 및/또는 압축된 업스트림 결과 데이터를 테스터 인터페이스를 통해 테스터 컨트롤에 전송(전달)하도록 구성된다. 따라서, 테스터 컨트롤 및 테스터 인터페이스의 낮은 부하로 테스트 결과가 획득될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛을 포함하는데, 테스터 컨트롤은 복수의 채널 처리 유닛에 (예컨대 테스터 데이터 버스를 통해, 예컨대 브로드캐스트를 사용하여, 예컨대 동시에) 공통 데이터를 제공하도록 구성된다. 즉, 테스터 컨트롤은 동일한(공통) 데이터를 다수의 부착된 채널 처리 유닛에 동시에 브로드캐스트한다.

또한, 예를 들어, 상이한 채널 처리 유닛은, 상이한 테스트 대상 디바이스와 연관된 상이한 디바이스 특정 데이터를 사용하여, 공통 데이터를 상이한 테스트 대상 디바이스에 대한 상이한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터로 변환하도록 구성된다. 더 나아가, 상이한 채널 처리 유닛은 상이한 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위해 상이한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 사용하도록 구성된다. 따라서, 채널 처리 유닛에서 특정 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정되는 공통 데이터가 대역폭 효율적인 방식으로 전달될 수 있으므로, 테스터 인터페이스의 부하를 낮게 유지할 수 있다.

바람직한 실시예에서, 테스터 컨트롤은 공통 자극 데이터(예컨대, 디바이스 특정 암호화, 디바이스 특정 식별자, 디바이스 특정 구성과 같은 테스트 대상 디바이스 특정 특성을 제외하고, 예를 들어 테스트 대상 디바이스에 출력될 신호를 정의할 수 있는 중앙 데이터 스트림)를 복수의 채널 처리 유닛에 제공하도록 구성된다. 또한, 채널 처리 유닛은 로컬 디바이스 특정 데이터를 사용하여 공통 자극 데이터를 변환하도록 구성된다. 따라서, 테스터 인터페이스의 병목 현상을 피하면서 복수의 테스트 대상 디바이스에 대한 효율적인 동시 테스트가 가능하다.

바람직한 실시예에서, 채널 처리 유닛은 디바이스 특정 통신을 제공하기 위해 로컬 디바이스 특정 데이터 또는 디바이스 고유 데이터를 사용하여 공통 자극 데이터를 변환하도록 구성된다(예컨대, 디바이스 특정 또는 디바이스 고유 방식으로 암호화되거나, 디바이스 고유 키 또는 디바이스 고유 크리덴셜을 사용함)(예컨대, 개별 디바이스에 맞게 조정됨). 따라서, 테스트 대상 디바이스의 개별 특성(크리덴셜, 키, 인증서, 디바이스 ID 등)이 효율적으로 고려될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛을 포함하는데, 테스터 컨트롤은 복수의 채널 처리 유닛에 (예컨대 테스터 데이터 버스를 통해, 예컨대 브로드캐스트를 사용하여, 예컨대 동시에) 공통 예상 결과 데이터를 제공하도록 구성된다. 또한, 상이한 채널 처리 유닛은 공통 예상 결과 데이터를 사용하여 각각의 테스트 대상 디바이스와 연관된 각각의 테스트 결과를 획득하도록 구성된다. 따라서, 채널 처리 유닛은 전체 DUT 데이터가 테스터 컨트롤로 전송되는 것을 피하면서 분산 방식으로 테스트 결과를 결정할 수 있다. 디바이스 특정 특성은 디바이스 특정 데이터를 사용하는 평가에서 고려될 수 있는데, 디바이스 특정 데이터는 또한 테스트 결과의 평가에 앞서 테스터 컨트롤로부터 채널 처리 유닛으로 업로드될 수 있다. 디바이스 특정 데이터는, 예를 들어, DUT로부터의 DUT 데이터를 복호화하거나, DUT와 신뢰할 수 있는 접속을 수립하거나, DUT에 의해 사용되는 통신 프로토콜을 평가하는 데 사용될 수 있다.

바람직한 실시예에서, 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛을 포함하는데, 테스터 컨트롤은 복수의 채널 처리 유닛에 (예컨대 테스터 데이터 버스를 통해, 예컨대 브로드캐스트를 사용하여, 예컨대 동시에) 공통 예상 결과 데이터를 제공하도록 구성된다. 또한, 상이한 채널 처리 유닛은, 각각의 테스트 대상 디바이스와 연관된 각각의 테스트 결과를 획득하기 위해, 상이한 테스트 대상 디바이스와 연관된 상이한 디바이스 특정 데이터를 사용하여 상이한 테스트 대상 디바이스로부터의 각각의 DUT 데이터로부터 각각의 결과 데이터를 추출하고, 각각의 결과 데이터를 공통 예상 결과 데이터와 비교하도록 구성된다. 따라서, DUT 데이터의 분산 처리가 수행되어 병목 현상을 방지할 수 있다.

실시예는 테스터 컨트롤 및 채널 처리 유닛을 포함하는 자동화된 테스트 장비에서 하나 이상의 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 방법을 제공한다. 방법은, 채널 처리 유닛에서, 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한(예컨대, 테스트 대상 디바이스에 제공하기 위한 또는 테스트 대상 디바이스로부터의 응답 데이터를 평가하기 위한) 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(예컨대, 프로토콜 인식 데이터, 또는 개별 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 데이터, 또는 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 예상 결과 데이터)를 획득하기 위해, 로컬 디바이스 특정 데이터(로컬 디바이스 특정 정보 및/또는 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID 및/또는 구성)를 사용하여 입력 데이터(예컨대, DUT 스트림, 들어오는 테스터 커맨드 스트림 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터)를 변환하는 단계를 포함한다. 방법은, 채널 처리 유닛에서, 디바이스 독립적 또는 DUT 불특정 정보를 획득하도록 DUT를 테스트하거나 평가하기 위해(예컨대, 통신 페이로드를 추출하거나 DUT로부터의 데이터 전송을 평가하기 위해), DUT로부터의 DUT 데이터(예컨대, 디바이스 특정 키와 같은 디바이스 특정 데이터에 의해 결정되는 프로토콜을 사용하는 데이터)를 처리(예컨대, 패킷 카운터, 디바이스 ID와 같은, 디바이스 특정 프로토콜 정보를 사용하여 프로토콜로부터 언랩핑되거나 디바이스 특정 키를 사용하여 변환 또는 분석 또는 복호화)하는 단계를 더 포함한다.

그러나, 선택적으로, 여기에서 설명된 방법은 또한 자동화된 테스트 장비와 관련하여 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 선택적으로, 방법은 개별적으로 및 조합하여 취해진 이러한 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있음에 유의해야 한다.

이어서, 본 발명에 따른 실시예가 첨부된 도면을 참조하여 설명될 것이다:
도 1a는 본 발명의 실시예에 따른, 테스트 대상 디바이스에 디바이스 특정 통신을 제공하기 위한 자동화된 테스트 장비의 개략적 블록도를 도시한다.
도 1b는 본 발명의 실시예에 따른, 테스트 대상 디바이스에 디바이스 특정 통신을 제공하기 위한 자동화된 테스트 장비의 개략적 블록도를 도시한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른, 테스트 대상 디바이스에 디바이스 특정 통신을 제공하기 위한 자동화된 테스트 장비의 개략적 블록도를 도시한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 채널 처리 유닛 내의 샌드박스의 개략적 블록도를 도시한다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 보안 모듈을 포함하는 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 크리덴셜 관리를 위한 자동화된 테스트 장비의 개략적 블록도를 도시한다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 프로토콜 구현 유닛을 포함하는 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 업스트림 결과 데이터의 전처리를 갖는 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 채널 처리 유닛 내의 샌드박스의 개략적 블록도를 도시한다.
도 10은 종래의 자동화된 테스트 장비의 개략적 블록도를 도시한다.

1. 도 1a 및 도 1b에 따른 자동화된 테스트 장비

도 1a는 본 발명의 실시예에 따른 자동화된 테스트 장비(100)의 개략적 블록도를 도시한다.

자동화된 테스트 장비(100)는 테스터 컨트롤(110)을 포함하는데, 이는 매칭되는 모듈(예컨대, 채널 처리 유닛)에 입력 데이터(114a)(예컨대, DUT 스트림, 또는 들어오는 테스터 커맨드 스트림, 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터) 및 디바이스 특정 데이터(device specific data)(114b)를 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된다.

자동화된 테스트 장비(100)는 테스트 대상 디바이스(130)를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(device-under-test adapted data)(126)를 획득하기 위해 디바이스 특정 데이터(114b)를 사용하여 입력 데이터(114a)를 변환하도록 구성된 채널 처리 유닛(124)을 더 포함한다. 대안적으로 또는 추가적으로, 자동화된 테스트 장비(100)는 DUT(130)를 테스트하거나 평가하기 위해 디바이스 특정 데이터(114b)를 사용하여 DUT(130)로부터의 DUT 데이터(128)를 처리하도록 구성된다.

따라서, 채널 처리 유닛은 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 분산 방식으로 생성할 수 있으며, 이는 테스터 컨트롤에 모두 결합될 수 있는 상이한 채널 처리 유닛들에 상이한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터가 전송되는 것을 방지하는 데 도움이 될 수 있다. 예를 들어, 입력 데이터(114a)(이는 디바이스-애그노스틱이며, 개별 DUT에 맞게 조정되지 않을 수 있음)의 데이터 볼륨은 예를 들어 각각의 개별 DUT마다 다를 수 있는 디바이스 특정 데이터보다 훨씬 클 수 있다. 결과적으로, 다수의 채널 처리 유닛을 포함하는 자동화된 테스트 장비에서는 상이한 채널 처리 유닛들에 소량의 디바이스 특정 데이터를 개별적으로 전송하는 것만이 필요할 수 있다. 또한, 예를 들어 상이한 채널 처리 유닛들을 사용하여 다수의 테스트 대상 디바이스의 동시 테스트를 처리할 수 있는 테스터 컨트롤은 더 이상 "입력 데이터"의 DUT 특정(DUT-개별적) 조정을 수행할 필요가 없는데, 이는 이 기능이 테스터 컨트롤에 결합된 하나 이상의 채널 처리 유닛에 의해 인수되기 때문이다.

또한, 선택적으로, 도 1a의 자동화된 테스트 장비는 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

도 1b는 본 발명의 실시예에 따른 자동화된 테스트 장비(100)의 개략적 블록도를 도시한다.

자동화된 테스트 장비(100)는 테스터 컨트롤(110)을 포함한다. 테스터 컨트롤(110)은 하나 이상의 매칭되는 모듈(예컨대, 매칭되는 채널 처리 유닛(124a 내지 124z))에 입력 데이터(114a)를 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된 중앙집중식 테스트 흐름 관리(112)를 포함한다. 또한, 중앙집중식 테스트 흐름 관리는 하나 이상의 매칭되는 모듈(예컨대, 매칭되는 채널 처리 유닛(124a 내지 124z))에 디바이스 특정 데이터(114b)(예컨대, 키, 및/또는 크리덴셜, 및/또는 또는 ID 및/또는 구성)를 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된다.

자동화된 테스트 장비(100)는 테스터(120)를 더 포함한다. 테스터는 중앙집중식 테스트 흐름 관리(112)(테스터 컨트롤(110)의 일부임) 및 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z)에 결합된 테스터 데이터 버스(122)를 포함한다. 테스터 데이터 버스(122)는, 중앙집중식 테스트 흐름 관리(112)(테스터 컨트롤(110)의 일부임)로부터 디바이스 특정 데이터(114b)를 갖는 입력 데이터(114a)를 수신(또는 획득)하고, 입력 데이터(114a)를 채널 처리 유닛(124a 내지 124z) 중 하나 이상에 전송하도록 구성된다. 채널 처리 유닛(124a)은 메모리 유닛(124a-1) 및 컴퓨팅 유닛(124a-2)을 포함한다. 디바이스 특정 데이터(114b)는 메모리 유닛(124a-1)에 저장된다. 입력 데이터(114a)는 테스트 대상 디바이스(130a-1)를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(126)를 획득하기 위해 컴퓨팅 유닛(124a-2)에서 디바이스 특정 데이터(114b)를 사용하여 처리된다.

채널 처리 유닛(124a)은 부하 보드 또는 프로브 카드(130)에 장착된 DUT(130a-1)에 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 전송하도록 구성된다. 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터는 디바이스 특정 채널(1.1) 및 각각의 DUT 인터페이스를 통해 각각의 DUT(130a-1)에 전송된다. DUT 인터페이스는 예를 들어 PCIe 물리적 인터페이스 또는 USB 물리적 인터페이스에 결합될 수 있지만, JTAG 인터페이스, iJTAG 인터페이스 또는 임의의 다른 적절한 인터페이스를 또한 포함할 수 있다.

테스트 대상 디바이스 적응성 데이터는 테스트 프로그램(예컨대, 시스템 온 칩 테스트용)의 프로그램 코드 및/또는 처리될 데이터를 나타낼 수 있으며, DUT(130a-1)에서 사용(예컨대, 실행 또는 처리)될 수 있다. 테스트 실행 후, DUT 데이터(128)는 각각의 DUT 인터페이스 및 디바이스 특정 채널(1.1)을 통해 채널 처리 유닛(124a)에 전송된다. 채널 처리 유닛(124a)은, 예컨대 업스트림 결과 데이터(예컨대, 각각의 결과 데이터 또는 테스트 대상 디바이스로부터의 DUT 데이터)를 추출하기 위해, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 각각의 DUT 데이터를 처리하도록 구성된다. 따라서, 채널 처리 유닛(124a)은 업스트림 결과 데이터를 메모리 유닛에 저장하고/하거나 업스트림 결과 데이터를 예상 결과 데이터를 사용하여 분석하거나 예상 결과 데이터와 비교하도록 구성된다. 즉, 업스트림 결과 데이터에 대한 분석은 업스트림 결과 데이터와 예상 결과 데이터 사이에 차이가 있는지 여부를 명시하는 것이며, 그 차이는 각 DUT의 생산 결함을 반영할 수 있다. 또한, 업스트림 결과 데이터는 채널 처리 유닛(124a)에 의해 전처리되고/되거나 압축되고/되거나 테스터 데이터 버스(인터페이스)(122)를 통해 테스터 컨트롤(110)에 전송(전달)될 수 있다.

다중-사이트 DUT 테스트에서는 테스트 효율성을 높이는 것이 핵심 요소이다. 효율적 테스트 방법론으로 버스 트래픽 및 CPU 요건을 줄임으로써, 전체 비용과 테스트 시간을 줄이는 데 도움이 될 수 있다. DUT 플랫폼에 소프트웨어 또는 하드웨어 관련 결함 또는 고장이 없는 경우, 다수의 DUT에 적용된 테스트는 동일하거나 유사한 결과를 갖는 경향이 있을 수 있다. 이러한 점을 고려하여, 본 발명의 채널 처리 유닛에서는 컴퓨팅 유닛에서 비교 동작이 적용될 수 있다. 따라서, 컴퓨팅 유닛에서는 테스터 컨트롤로부터의 공통 예상 결과 데이터가 DUT로부터의 각각의 테스트 결과 데이터와 비교된다. 비교 동작 후, 공통 예상 테스트 결과 데이터와 각각의 테스트 결과 데이터 간의 차이만이 압축되어 테스터 컨트롤(110)에 전송될 수 있다. 이는 테스터 컨트롤에 대한 버스 트래픽 및 CPU 요건을 감소시킬 수 있다.

DUT 테스트 효율성에 기여하는 또 다른 (선택적인) 특징은 더 나은 메모리(124a-1 내지 124z-1) 및 컴퓨팅(124a-2 내지 124z-2) 리소스 활용을 제공하는 선택적 샌드박싱이다. 채널 처리 유닛(124a 내지 124z)은 선택적으로 하나 이상의 샌드박스(예컨대, 참조 번호 124z-3에 도시된 바와 같음)를 포함할 수 있는데, 하나 이상의 샌드박스(124z-3)는, 아키텍처에 따라 리소스 공유와 함께 또는 리소스 공유 없이, 가상의 개별 메모리(124z-1) 및 컴퓨팅(124z-2) 능력을 사용하여 커맨드를 실행하도록 구성된다. 하나 이상의 샌드박스(124z-3)는 디바이스 특정 데이터(114b)를 사용하여 입력 데이터(114a)를 변환하도록 구성되고/되거나, 하나 이상의 샌드박스(124z-3)는 개별 컴퓨팅 능력을 사용하여 DUT(130)로부터 수신된 결과를 분석하도록 구성된다. 또한, 자동화된 테스트 장비(100)는 샌드박스(124z-3)를 사용하여 입력 데이터(114a) 또는 DUT 데이터(128)의 디바이스 특정 처리를 허용하기 위해 하나 이상의 샌드박스(124z-3)에 소프트웨어를 업로드하도록 구성된다. 따라서 샌드박싱 특징은 가상의 개별 메모리 및 컴퓨팅 능력이 격리된 환경에서 DUT(130a-1)를 테스트할 수 있게 한다.

추가 설명으로서, 선택적으로, 둘 이상의 테스트 대상 디바이스(예컨대, DUT(130a-1 및 130a-2))가 분리된 채널(예컨대, 도 2에 도시된 채널 1.1 및 채널 1.2)을 사용하여 단일 채널 처리 유닛(예컨대, 채널 처리 유닛(124a))에 결합될 수 있음에 유의해야 한다. 그러나, 일부 실시예에서는 단일 DUT가 채널 처리 유닛에 결합될 수 있다. 또한, DUT가 매우 많은 수의 핀을 포함하고/하거나 복수의 잠재적으로 독립적인 인터페이스로 구성된 경우, 단일 DUT를 테스트하기 위해 복수의 채널 처리 유닛이 사용되는 경우도 있다.

그러나, 테스터(120)가 반드시 구성요소(124z)를 가질 필요는 없다는 점에 유의해야 한다. 오히려, 선택적으로, 위의 구성요소들 중 하나 이상은 생략되거나 변경될 수 있다.

또한, 선택적으로, 자동화된 테스트 장비(100)는 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

2. 도 2에 따른 예

도 2는 본 발명의 실시예에 따른, 테스트 대상 디바이스(230a-1)에 디바이스 특정 통신을 제공하기 위한 자동화된 테스트 장비(200)의 개략적 블록도를 도시한다.

자동화된 테스트 장비(200)는 테스터 컨트롤(210)을 포함한다. 테스터 컨트롤(210)은 입력 데이터(예컨대, 데이터(114a)) 및 디바이스 특정 데이터(예컨대, 데이터(114b))를 하나 이상의 매칭되는 모듈에 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된 중앙집중식 테스트 흐름 관리(212)를 포함한다.

자동화된 테스트 장비(100)는 테스터(220)를 더 포함한다. 테스터는 중앙집중식 테스트 흐름 관리(212) 및 복수의 채널 처리 유닛(224a 내지 224m)에 결합된 테스터 데이터 버스(222)를 포함한다. 테스터 데이터 버스(222)는 중앙집중식 테스트 흐름 관리(212)로부터 디바이스 특정 데이터를 갖는 입력 데이터를 수신하고 입력 데이터를 복수의 채널 처리 유닛(224a 내지 224m)에 전송하도록 구성된다. 채널 처리 유닛(224a)은 메모리 유닛(224a-1) 및 컴퓨팅 유닛(224a-2)을 포함한다. 디바이스 특정 데이터는 메모리 유닛(224a-1)에 저장된다. 입력 데이터는 테스트 대상 디바이스(230a-1)를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(126)를 획득하기 위해 컴퓨팅 유닛(224a-2)에서 디바이스 특정 데이터를 사용하여 처리된다.

채널별 처리 유닛의 사용은 (로컬) 디바이스 특정 데이터(예컨대, 로컬 디바이스 특정 정보 및/또는 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID 및/또는 구성)를 사용하여 입력 데이터를 변환한다. 인터페이스(예컨대, 채널 1.1 및 채널 1.2)가 내부 디바이스 구조에 무단 액세스하는 것을 방지하기 위해 암호화/복호화된 디바이스 특정 통신이 사용된다.

또한, 선택적으로, 자동화된 테스트 장비(200)는 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

3. 도 3에 따른 예

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 채널 처리 유닛(320)의 개략적 블록도를 도시한다. 채널 처리 유닛(320)은, 예를 들어, 채널 처리 유닛(124a 내지 124z) 또는 채널 처리 유닛(224a 내지 224m)을 대신할 수 있다.

채널 처리 유닛(320)은 메모리(320a) 및 컴퓨팅 유닛(320b)을 포함한다. 메모리(320a) 유닛은 데이터(예컨대, 키 및/또는 크리덴셜 및/또는 ID를 포함할 수 있는 디바이스 특정 데이터) 및 구성을 저장하도록 구성된다. 채널 처리 유닛(320)은, 예를 들어 로컬 디바이스 특정 정보와 함께 보안 디바이스 통신 또는 보안 디바이스 통신 코딩 및 프로토콜 인식(또는 프로토콜 인식 코딩)을 사용하여, 입력 데이터(예컨대, DUT 스트림, 또는 들어오는 테스터 커맨드 스트림, 또는 브로드캐스트 데이터, 또는 공유 데이터, 또는 상이한 DUT들에 대해 동일한 데이터, 또는 공통 예상 결과 데이터)를 디바이스 특정 데이터 또는 디바이스 특정 통신으로 변환하도록 구성된다. 보안 디바이스 통신은 DUT 통신의 암호화 또는 암호 복호화 또는 특정 수준의 액세스를 허가하는 것을 나타내는 인가 또는 사용자의 신원을 확인하는 것을 나타내는 인증으로 달성된다.

또한, 보안 디바이스 통신의 측면에서, DUT와 채널 처리 유닛 사이의 통신은 (대안적으로 또는 추가적으로) 패킷 카운터 및/또는 오류 정정 코드 및/또는 오류 식별 코드를 사용하여 추가로 보호될 수 있다.

프로토콜 인식 데이터(예컨대, 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터, 또는 개별 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 데이터, 또는 테스트 대상 디바이스에 맞게 조정된 예상 결과 데이터)는 예를 들어 로컬 디바이스 특정 정보를 사용하여 테스터 컨트롤로부터 전송된 데이터 입력을 변환함으로써 획득된다.

따라서, 채널 처리 유닛(320)은 높은 보안 레벨을 보장하면서 테스터 컨트롤 및 테스터 데이터 버스의 부하를 줄이는 데 도움이 될 수 있다.

또한, 선택적으로, 채널 처리 유닛(300)은 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

4. 도 4에 따른 예

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 채널 처리 유닛의 샌드박스의 개략적 블록도를 도시한다.

선택적으로, 채널 처리 유닛(420)(예컨대, 본 명세서에 개시된 임의의 채널 처리 유닛을 대신할 수 있음)은 적어도 하나의 샌드박스(420c)를 포함할 수 있는데, 적어도 하나의 샌드박스(420c)는 메모리(420a) 및 컴퓨팅(420b) 유닛을 포함한다(또는 그와 연관됨).

적어도 하나의 샌드박스(420c)는 디바이스 특정 데이터를 사용하여 입력 데이터를 변환하도록 구성되고/되거나, 적어도 하나의 샌드박스(420c)는 개별 컴퓨팅 능력을 사용하여 DUT(430)로부터 수신된 결과를 분석하도록 구성된다. 또한, 자동화된 테스트 장비(400)는 샌드박스(420c)를 사용하여 입력 데이터 또는 DUT 데이터의 디바이스 특정 처리를 허용하기 위해 적어도 하나의 샌드박스(420c)에 소프트웨어를 업로드하도록 구성된다. 또한, 샌드박스는 샌드박스에서 DUT로 및/또는 그 반대로 데이터를 제공할 수 있도록 채널 처리 유닛의 나머지에 대한 안전하고 잘 정의된 인터페이스를 포함할 수 있다. 따라서, 샌드박싱 특징은 가상의 개별 메모리 및 컴퓨팅 능력이 격리된 환경에서 DUT(430)를 테스트할 수 있게 한다.

또한, 선택적으로, 채널 처리 유닛(400)은 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 임의의 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

5. 도 5에 따른 예

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 보안 모듈을 포함하는 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.

채널 처리 유닛(520)(예컨대, 본 명세서에 개시된 채널 처리 유닛들 중 임의의 것을 대신할 수 있음)은 메모리(520a) 및 컴퓨팅 유닛(520b)을 포함한다. 컴퓨팅 유닛(520b)은 보안 모듈(520c)을 더 포함한다. 디바이스 특정 데이터(예컨대, 키, 크리덴셜, ID 및 구성)는 DUT 통신 전에 로컬 메모리(520a)에 저장된다. 보안 모듈(520c)을 포함하는 컴퓨팅 유닛(520b)은 DUT 인터페이스와 상호작용하도록 구성된다.

보안 모듈은 암호화/복호화 또는 인가 또는 인증 기능을 관리 및 수행함으로써 DUT 통신을 보호하도록 구성된다. 또한, DUT와 채널 처리 유닛 사이의 통신은, 예를 들어, DUT 데이터가 채널 처리 유닛에 의해 수신된 후에 통신 채널(예컨대, 전송 매체) 관련 오류를 검출하기 위해, 패킷 카운터 및/또는 오류 정정 코드 및/또는 오류 식별 코드를 사용함으로써 추가로 보호될 수 있다. 오류 식별 및 오류 정정 코드는 입력 데이터에 약간의 중복성을 추가하여 전송된 데이터(예컨대, 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터)의 일관성을 확인할 수 있게 하고, 수신된 데이터가 채널 전송으로 인해 손상된 경우 이를 복구하는 것을 가능하게 한다. 오류 식별(검출) 코드는 예를 들어 순환 중복 검사일 수 있다(또는 이를 포함할 수 있음). 오류 정정 코드는 일반적으로 하나 이상의 순방향 오류 정정 코드(예컨대, 비터비 디코딩, 블록 코드) 및/또는 자동 반복 요청과 같은 것일 수 있다(또는 이를 포함할 수 있음).

또한, 선택적으로, 채널 처리 유닛(500)은 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

6. 도 6에 따른 예

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 크리덴셜 관리를 위한 자동화된 테스트 장비(600)의 개략적 블록도를 도시한다.

테스터 컨트롤(610)은 중앙집중식 테스트 흐름 관리(612)를 포함하고, 중앙집중식 테스트 흐름 관리(612)는 보안 크리덴셜(614) 유닛을 더 포함한다. 테스터 컨트롤은 보안 크리덴셜 및/또는 키(예컨대, 자동화된 테스트 장비(600)의 공개 키와 같은 자동화된 테스트 장비(600) 특정 보안 크리덴셜 또는 키)를 획득(예컨대, 수신 또는 생성)하고, 하나 이상의 매칭되는 모듈(예컨대, 본 명세서에 개시된 임의의 채널 처리 유닛에 대응할 수 있는 채널 처리 유닛(524a 내지 624m)) 및/또는 하나 이상의 DUT에 (예컨대, 보안 크리덴셜 또는 키를) 브로드캐스트 및/또는 특정적으로 업로드하도록 구성된다. 더 나아가, 암호화는 CPU에 알려진 테스터 특정 크리덴셜에 의해(또는 이를 사용하여) 적용될 수 있다.

또한, 선택적으로, 자동화된 테스트 장비(600)는 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 특징, 기능 및 세부사항 중 임의의 것에 의해 선택적으로 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

7. 도 7에 따른 예

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 프로토콜 구현 유닛을 포함하는 채널 처리 유닛의 개략적 블록도를 도시한다.

채널 처리 유닛(720)(본 명세서에 개시된 채널 처리 유닛들 중 임의의 것을 대신할 수 있음)은 메모리(720a) 및 컴퓨팅 유닛(720b)을 포함한다. 컴퓨팅 유닛(720b)은 프로토콜 구현 유닛(720c)을 더 포함한다. 각 DUT와 통신하는 프로토콜은 하드웨어 또는 소프트웨어로 프로그래밍될 수 있으며, 따라서 재구성될 수 있다. 컴퓨팅 유닛(720b)은 하나 이상의 DUT 인터페이스와 상호작용하도록 구성된다.

채널 처리 유닛(720)에서의 통신 프로토콜 구현은, 예를 들어, 하나 이상의 패킷 카운터, 및/또는 디바이스 특정 콘텐츠(예컨대, 디바이스 ID)를 사용한 핸드셰이크, 및/또는 타임스탬프를 포함하는 동기 통신, 및/또는 IEEE 1687.x, IEEE 1500, 또는 IEEE 1149.x와 같은 통신 표준의 구현을 사용(고려)하도록 구성된다.

컴퓨팅 유닛(720b)에서의 프로토콜 구현을 사용함으로써, 채널 처리 유닛에 의해 프로토콜 오버헤드가 생성될 수 있기 때문에, 테스터 컨트롤로부터 채널 처리 유닛으로 업로드되는 데이터의 양이 적게 유지될 수 있다. 또한, 디바이스 특정 프로토콜 측면이 채널 처리 유닛의 측면에 도입되는데, 이 역시 테스터 버스의 부하를 크게 줄인다.

또한, 선택적으로, 채널 처리 유닛(700)은 개별적으로 및 조합하여 본 명세서에 개시된 임의의 특징, 기능 및 세부사항에 의해 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

8. 응용

이하에서는 도 8 및 도 9를 참조하여 일부 응용이 설명될 것이다.

도 8은 업스트림 결과의 로컬 전처리 결과가 저장되고 예상 결과와 비교되는 제1 시나리오의 개략적 블록도를 도시한다.

채널 처리 유닛(820)(본 명세서에 개시된 채널 처리 유닛 중 임의의 것을 대신할 수 있음)은 메모리(820a) 및 컴퓨팅 유닛(820b)을 포함한다. 메모리 유닛(820a)은 테스터 컨트롤에 의해 제공되는 공통 예상 결과 데이터(다수의 테스트 대상 디바이스에 공통일 수 있음)를 저장할 수 있는 예상 결과 유닛 또는 메모리 부분(820a-1)을 포함한다. 또한, 컴퓨팅 유닛(820b)은 수신된 DUT 데이터(또는 예컨대 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스 특정 또는 디바이스 개별 방식으로 전처리된 것인 전처리된 DUT 데이터)와 메모리 유닛(820a)에 저장될 수 있는 예상 결과 데이터(예컨대, 채널 처리 유닛에 의해 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스 특정 방식으로 처리되는 예상 결과 데이터)를 비교할 수 있는 비교기 유닛(820b-1)을 포함한다.

채널 처리 유닛(820)은, 예를 들어, 업스트림 결과 데이터(예컨대, 각각의 결과 데이터, 또는 테스트 대상 디바이스로부터의 DUT 데이터)를 추출하기 위해, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 각각의 DUT 데이터를 처리(또는 전처리)하도록 구성된다. 따라서, 채널 처리 유닛(820)은, 예를 들어, 메모리 유닛(820a)에 업스트림 결과 데이터를 저장하도록 구성된다. 또한, 채널 처리 유닛(820)은, 예를 들어, 예상 결과 데이터를 사용하여 업스트림 결과 데이터를 분석하도록 구성된다. 이는 비교기 유닛(820b-1)(컴퓨팅 유닛(820b)의 일부임)에서 업스트림 결과 데이터를 예상 결과 유닛(820a-1)(메모리 유닛(820a)의 일부임)에 저장된 예상 결과 데이터와 비교함으로써 달성될 수 있다.

또한, 업스트림 결과 데이터는, 예를 들어, 채널 처리 유닛에 의해 전처리되고/되거나, 압축되고/되거나, 테스터 데이터 버스(인터페이스)(822)를 통해 테스터 컨트롤에 전송(전달)될 수 있다. 업스트림 결과 데이터는, 예를 들어, 데이터의 빠른 교환을 위해 데이터의 양을 줄이고 전송 시간을 줄이기 위해 압축될 수 있다.

자동화된 테스트 장비(800)는, 예를 들어, 테스트 시퀀스의 전체 테스트 실행 프로그램에 기초하여 테스트 대상 디바이스의 테스트를 제어(예컨대, 프로그램의 업로드, 및/또는 테스트 프로그램의 하나 이상의 부분의 실행, 및/또는 결과 데이터의 다운로드, 및/또는 또는 디버깅)하도록 구성된다. 채널 처리 유닛(820)은, 예를 들어, 시퀀스 실행을 제어(예컨대, DUT에 제공되는 신호의 에지 타이밍의 조정)하고 특정 타이밍 조정을 갖는 디지털 데이터 스트림 또는 신호 시퀀스를 드라이버에 전송하는 시퀀싱에 출력을 제공하도록 구성된다.

드라이버는 시퀀싱으로부터 입력을 획득하고, (예컨대, 대화형) 인터페이스(이는 예를 들어 iJTAG 인터페이스, RSN 인터페이스 또는 IEEE-1687 인터페이스일 수 있음)를 통해 테스트 대상 디바이스와 통신하도록 구성된다. 예를 들어, 드라이버는 아날로그 전압 레벨을 추가 또는 조정하도록 구성될 수 있거나, 드라이버는 테스트 대상 드라이버가 용인할 수 있는 전압 레벨을 확인하기 위해 상이한 전압 레벨들 사이에서 테스트 대상 디바이스를 전환하는 멀티플렉서처럼 작동할 수 있다.

드라이버는 시퀀스를 자극하고, 그런 다음 시퀀스는 데이터 통신 채널을 통해 전송되고 DUT 인터페이스를 통해 테스트 대상 디바이스와 통신한다. 예를 들어, 다양한 전압 및 주파수 레벨에 대한 테스트 대상 디바이스 기능은 드라이버에 의해 자극된 시퀀스를 통해 확인될 수 있다. 어떤 경우에는 DUT로부터 수신된 시퀀스와 DUT에 의해 전송된 시퀀스가 비트 단위로 완전히 동일해야 한다. DUT 드라이버는, 예를 들어, 수신된 시퀀스에서 오류를 확인하는 DfT 인터페이스를 통해 데이터 시퀀스를 자동화된 테스트 장비(800)에 전송할 수 있다. 채널 처리 유닛은, 예를 들어, 컴퓨팅 유닛의 일부인 비교기에서 수신된 시퀀스(DUT 데이터)를 예상 결과와 비교하도록 구성된다는 점에 유의해야 한다.

일반적으로, 다른 접근 방식이 가능하다. 예를 들어, 채널 처리 유닛은 테스터 컨트롤로부터 공통 예상 결과 데이터를 수신하고, 공통 예상 결과 데이터를 디바이스 적응성 예상 결과 데이터로 변환하고, 디바이스 적응성 예상 결과 데이터를 저장하고, 디바이스 적응성 예상 결과 데이터와 DUT로부터 수신된 DUT 데이터 사이의 비교를 수행하여 DUT를 평가할 수 있다. 대안적으로, 채널 처리 유닛은 공통 예상 결과 데이터(이는 복수의 DUT에 대해 공통임)를 저장하고, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 DUT 데이터로부터 결과 데이터를 추출하고(따라서 디바이스 개별 프로토콜 특징을 고려함), 추출된 데이터를 공통 결과 데이터와 비교함으로써 DUT를 평가할 수 있다. 그러나, 다른 처리 동작도 가능하다.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 샌드박스 채널 처리 유닛(920)이 표현되는 제2 시나리오의 개략적 블록도를 도시한다.

채널 처리 유닛(920)은 적어도 하나의 샌드박스(920c)를 포함하는데, 샌드박스(920c)는 메모리 유닛(920a) 및 컴퓨팅 유닛(920b)을 포함한다. 메모리 유닛(920a)은 디바이스 특정 데이터 및 구성을 저장하도록 구성된다.

자동화된 테스트 장비(900)는 샌드박스(920c)를 사용하여 입력 데이터 또는 DUT 데이터의 디바이스 특정 처리를 허용하기 위해 적어도 하나의 샌드박스(920c)에 소프트웨어를 업로드하도록 구성되어 한다. 마찬가지로, 효율적인 디바이스 특정 계산 단계(예컨대, 디바이스 구성을 알고 있는 특정 DUT 인터페이스와의 통신)를 가능하게 하기 위해 제3자 소프트웨어로부터의 업로드에 의해 디바이스 특정 기능이 업데이트될 수 있다.

샌드박스 채널 처리 유닛(920)은, 시퀀스 실행을 제어하고 특정 타이밍 조정을 갖는 신호 시퀀스를 드라이버에 전달하는 시퀀싱에 출력을 제공하도록 구성된다. 드라이버는 신호의 디지털 시퀀스를 획득하고 아날로그 전압 레벨을 추가 또는 조정하도록 구성되며, DUT 인터페이스를 통해 테스트 대상 디바이스(930a)에 신호를 전달할 수 있다. 예를 들어, 다양한 전압 및 주파수 레벨에 대한 테스트 대상 디바이스 기능은 드라이버에 의해 자극된 시퀀스를 통해 확인된다. DUT 드라이버는 예를 들어 DfT 인터페이스를 통해 디버그 인터페이스에 시퀀스를 전송할 수 있다. 디버그 인터페이스는, 예를 들어, DUT 데이터의 시퀀스를 다운로드하고 수신된 시퀀스에서 오류를 확인하기 위해 이를 자동화된 테스트 장비(900)로 전송할 수 있다.

그러나, 선택적으로, 자동화된 테스트 장비(800, 900)는 개별적으로 및 조합하여 취해진 본 명세서에 개시된 임의의 특징, 기능 및 세부사항에 의해 선택적으로 보완될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

9. 도 10에 따른 종래의 솔루션

도 10은 종래의 자동화된 테스트 장비(1000)의 개략적 블록도를 도시한다. 그러나, 종래의 자동화된 테스트 장비(1000)는, DUT 특정(또는 디바이스 특정) 채널 처리 유닛이 없고 암호화/복호화, 오류 검출 메커니즘의 사용 또는 오류 정정 메커니즘의 사용 또는 인증 메커니즘의 사용과 같은 보안 측면이 없다는 사실을 제외하고는 자동화된 테스트 장비(100, 200, 600)와 유사하다는 점에 유의해야 한다. 오히려, 선행 기술 솔루션은 로컬 데이터 변환을 수행할 수 없는 중앙집중식 채널 아키텍처에 의존한다. 또한, 중앙집중식 채널 아키텍처를 사용하면, 데이터는 중앙 처리 유닛으로 전송되고 중앙 처리 유닛에서 계산되어야 한다. 이 경우, 중앙 처리 동작으로 인해 디바이스 특정 통신에 대한 높은 통신 오버헤드 또는 병목 현상이 발생한다.

10. 결론

이하에서는 몇 가지 결론이 제시될 것이다. 또한, 개별적으로 또는 조합하여 사용될 수 있고 개별적으로 및 조합하여 임의의 다른 실시예에 선택적으로 도입될 수 있는 본 발명의 측면들이 개시될 것이다.

본 발명에 따른 실시예는 다중-사이트 DUT 테스트에서 효율적이고 안전한 디바이스 특정 통신을 생성한다.

본 발명의 일 양태에 따르면, 채널별 처리 유닛은 로컬 디바이스 특정 정보(또는 로컬 디바이스 특정 데이터)를 사용하여 중앙 데이터 스트림을 변환하는 데 사용된다.

일 양태에 따르면, 이러한 방식으로 암호화된 디바이스 특정 통신이 수행될 수 있다.

다른 양태에 따르면, 채널 처리 유닛(또는 채널 처리 유닛들)과의 통신은 (예컨대 테스터 컨트롤과 채널 처리 유닛 간에 통신되는 주요 데이터 볼륨에서, 예컨대 개별 암호화 키 또는 개별 크리덴셜과 같은 개별 테스트 대상 디바이스의 특성이 고려되지 않는다는 의미에서) 가능한 한 디바이스-애그노스틱이다.

예를 들어, 도 2에 따른 자동화된 테스트 장비가 이러한 목적으로 사용될 수 있다.

이하에서는 채널 처리 유닛과 관련된 일부 양태가 설명될 것이다.

일 양태에 따르면, 채널 처리 유닛은 들어오는 테스터 커맨드 스트림을 로컬 디바이스 특정 정보를 사용하여 디바이스 특정 통신, 예를 들어, 보안 디바이스 통신 및/또는 프로토콜 인식으로 변환할 수 있다.

일 양태에 따르면, 중앙 처리 유닛은 (예를 들어 테스터 컨트롤을 구현할 수 있는) 외부 워크스테이션에 대해 투명한 입출력 스트림을 사용할 수 있다.

일 양태에 따르면, 본 발명에 따른 실시예는 버스 트래픽 및/또는 CPU 요건을 줄이기 위해 채널 처리 유닛 상에서 직접 결과 분석을 허용(또는 수행)한다.

일 양태에 따르면, 채널 처리 유닛은 저장소(예컨대, 메모리)와 컴퓨팅(예컨대, CPU 및/또는 ASIC 및/또는 FPGA)을 조합한다.

예를 들어, 이러한 양태들을 구현하기 위해 도 3에 따른 채널 처리 유닛이 사용될 수 있다.

일 측면에 따르면, 채널 처리 유닛은 샌드박싱을 사용할 수 있다.

예를 들어, 샌드박싱은 개별 메모리 및 컴퓨팅 능력(아키텍처에 따라 리소스 공유가 있거나 없음)을 사용한 테스터 커맨드의 로컬 실행을 포함할 수 있다.

일 양태에 따르면, 샌드박스는 하나의 샌드박스가 다른 샌드박스로부터 격리되도록 보호된 인터페이스를 사용하여 호스팅 채널 처리 유닛과 통신한다. 일부 실시예에서, 샌드박스 간 통신은 구체적으로 허용되는 경우에만 가능하다(예컨대, 구성을 사용함).

일 양태에 따르면, 채널당 하나 이상의 샌드박스가 있을 수 있다.

하나 이상의 샌드박스를 사용하는 채널 처리 유닛의 예가 도 4에 도시되어 있다.

이하에서는 본 발명의 양태에 따른 응용이 설명될 것이다.

일 양태에 따르면, 본 발명에 따른 실시예는 보안 디바이스 통신을 수행하는 데 사용될 수 있다.

일 양태에 따르면, 디바이스 특정 데이터(예컨대, 키, 크리덴셜, ID, 구성)는 통신 전에 로컬 메모리에 저장된다.

다른 양태에 따르면, 컴퓨팅 모듈은, 예를 들어, (예컨대, 암호화 및/또는 복호화를 사용하고/하거나 패키지 카운터를 사용하고/하거나 오류 정정 및 오류 식별 코드를 사용하는 등에 의해) 통신의 보호를 달성하기 위해 DUT 인터페이스와 상호작용한다.

일 양태에 따르면, 통신 프로토콜의 구현은 하드웨어 또는 소프트웨어로 수행될 수 있다.

보안 디바이스 통신을 사용하는 채널 처리 유닛의 예가 도 5에 도시되어 있다.

일 양태에 따르면, 보안 디바이스 통신은 크리덴셜 관리를 포함한다.

예를 들어, 첫 번째 단계에서, 크리덴셜(디바이스 특정 또는 디바이스 식별)이 테스트 흐름 관리에 제공된다.

또한, 예를 들어, 두 번째 단계에서, 채널 처리 유닛에 대한 업로드가 이루어지는데, 이는 매칭되는 모듈에 대해 브로드캐스트를 사용하거나 특정적 업로드를 사용하여 수행될 수 있다.

또한, 일 양태에 따르면, CPU(예컨대, 테스터 컨트롤의 CPU 및 채널 처리 유닛의 CPU)에 알려진 테스터 특정 크리덴셜에 의해 (예컨대, 크리덴셜의) 암호화가 이루어질 수 있다.

크리덴셜 관리를 사용하는 자동화된 테스트 장비의 예가 도 6에 도시되어 있다.

일 양태에 따르면, 본 발명에 따른 실시예는 안전한 다중-사이트 프로토콜 인식 테스트를 수행하도록 조정된다.

본 발명의 일 양태에 따르면, 채널 처리 유닛에 대한 프로토콜 구현은 예컨대 다음과 같은 것을 고려할 수 있다:

- 패킷 카운터 및/또는

- 디바이스 특정 콘텐츠(예컨대, 아이디)를 사용한 핸드셰이크 및/또는

- 효율적 비-다중사이트 동기식 프로토콜 인식 통신(예컨대, 디바이스 특정 부분의 로컬 처리를 사용함) 및/또는

- 예컨대, IEEE1687.x, IEEE 1500, IEEE 1149.4와 같은 통신 표준의 구현

안전한 다중-표준 프로토콜 인식 테스트를 위한 채널 처리 유닛의 예가 도 7에 도시되어 있다.

일 양태에 따르면, 본 발명에 따른 실시예는 업스트림 결과의 로컬적 전처리를 사용한다.

일 양태에 따르면, 예상 결과는 (예컨대, 첫 번째 단계에서) 채널 처리 유닛에 저장된다.

일 양태에 따르면, 테스트 실행 시, 테스터 버스 인터페이스 상에서 전송되기 전에 업스트림 결과 데이터가 분석되고 (예컨대, 서명 생성을 사용하고/하거나 테스트 결과 압축을 사용하여) 전처리된다.

이는 다중-사이트 효율적 대화식 테스트 흐름 실행을 허용한다.

업스트림 결과의 로컬 전처리를 사용하는 채널 처리 유닛(또는 테스트 체인)의 예가 도 8에 도시되어 있다.

다른 양태에 따르면, 고객은 샌드박스에 코드를 업로드할 수 있다.

일 양태에 따르면, 디바이스 특정 기능은 고객에 의해 지정되는 샌드박싱된 채널 처리 유닛에서 직접 실행될 수 있다. 이는 효율적인 디바이스 특정 계산 단계를 가능하게 한다. 예컨대, 이는 디바이스 구성을 알고 있는 특정 DfT(design for test) 인터페이스와의 통신을 가능하게 한다. 또한, 이는 다중-사이트 효율적 대화식 테스트 흐름 실행을 허용할 수 있다.

채널 처리 유닛(또는 테스트 체인)의 예가 도 9에 도시되어 있다.

이하에서는 종래의 솔루션에 대한 본 발명의 실시예의 몇몇 이점이 논의될 것이다. 그러나, 본 발명에 따른 실시예가 이하에 언급된 이점의 일부 또는 전부를 반드시 포함할 필요는 없다는 점에 유의해야 한다.

본 발명의 실시예에 따르면, 자동화된 테스트 장비의 일부인 DUT 특정(디바이스 특정) 채널 처리 유닛이 개시된다. 즉, 본 발명에 따른 실시예는 DUT 특정 통신을 도입함으로써 문제점을 해결하여 통신 오버헤드를 개선한다. 예를 들어, 표준 접근 방식에서는 병렬로 테스트되는 다수의 DUT가 중앙 처리 유닛에서 전체 처리 부하를 구축한다. 반면에, DUT 특정 처리는 각 채널 처리 유닛에서 수행되어 인터페이스(또는 데이터 버스)를 통한 통신 오버헤드를 개선한다.

본 발명에 따른 실시예는 고급 보안 아키텍처를 사용하여 안전한 다중-사이트 DUT 테스트를 달성하기 위해 보안 통신 접근 방식을 기반으로 한다. 보안 메커니즘은 암호화/복호화된 DUT 통신 또는 오류 검출/오류 정정 또는 인증 메커니즘에 의존한다. 또한, DUT와 채널 처리 유닛 사이의 통신은, 예를 들어, 패킷 카운터 및/또는 오류 정정 코드 및/또는 오류 식별 코드를 사용하여 추가로 보호된다. 이는 다중-사이트 테스트의 맥락에서 가능한 최고의 보안을 보장한다.

또한, 본 발명에 따른 실시예들은 효율적인 디바이스 특정 통신을 가능하게 한다. 특히, 이는 결과 분석 접근 방식과 샌드박스 채널 처리 유닛 접근 방식에 의해 달성된다. 예를 들어, 결과 분석 접근 방식에서는, 채널 처리 유닛에서, DUT로부터의 각각의 테스트 결과 데이터가 테스터 컨트롤에 의해 브로드캐스트되는 공통 예상 결과 데이터와 비교된다. 각각의 테스트 결과(업스트림 결과 데이터)가 공통 예상 결과 데이터와 다른 경우, 각각의 테스트 결과 데이터 및/또는 공통 예상 테스트 결과 데이터와 각각의 테스트 결과 데이터의 차이가 압축되어 테스터 컨트롤에 전송된다. 결론적으로, 채널 처리 유닛에 대한 결과 분석 접근 방식은 버스 트래픽과 CPU 요건을 줄여 테스트 시간을 최소화한다. 일부 실시예에서는, 효율적인 디바이스 특정 계산 단계를 가능하게 하기 위해 제3자 소프트웨어로부터 업로드함으로써 디바이스 특정 기능이 업데이트될 수 있는 샌드박싱된 채널 처리 유닛이 사용된다. 예를 들어, 맞춤형 DUT 테스트가 제3자로부터 실행될 수 있다.

결론적으로, 본 발명에 따른 실시예는 효율적이고 안전한 방식으로 테스트 대상 디바이스를 테스트하는 데 사용될 수 있으며, 따라서 다른 개념보다 유리하다.

11. 구현 대안

본 명세서에 설명된(그리고 도면에 도시된) 메모리는, 예를 들어, (예컨대, RAM, DDR, 임베디드 메모리 등을 사용하여) 휘발성으로 및/또는 (예컨대, SSD, HDD, 플래시 등을 사용하여) 비휘발성으로 구현될 수 있다는 점에 유의해야 한다.

일부 양태는 장치의 맥락에서 설명되었지만, 이러한 양태는 또한 대응하는 방법의 설명을 나타냄이 명백하며, 블록 또는 디바이스는 방법 단계 또는 방법 단계의 특징에 대응한다. 유사하게, 방법 단계의 맥락에서 설명된 양태는 또한 대응하는 장치의 대응하는 블록 또는 항목 또는 특징의 설명을 나타낸다. 방법 단계의 일부 또는 전부는, 예를 들어, 마이크로프로세서, 프로그래밍 가능한 컴퓨터 또는 전자 회로와 같은 하드웨어 장치에 의해(또는 이를 사용하여) 실행될 수 있다. 일부 실시예에서는, 가장 중요한 방법 단계들 중 하나 이상이 그러한 장치에 의해 실행될 수 있다.

특정 구현 요건에 따라, 본 발명의 실시예는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현될 수 있다. 구현은, 각각의 방법이 수행되도록 프로그래밍 가능한 컴퓨터 시스템과 협력(또는 협력할 수 있는)하는, 전자적으로 판독가능한 제어 신호가 저장된 디지털 저장 매체, 예를 들어, 플로피 디스크, DVD, Blu-Ray, CD, ROM, PROM, EPROM, EEPROM 또는 FLASH 메모리를 사용하여 수행할 수 있다. 따라서, 디지털 저장 매체는 컴퓨터 판독 가능하다.

본 발명에 따른 일부 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나가 수행되도록 프로그래밍 가능한 컴퓨터 시스템과 협력할 수 있는 전자적으로 판독 가능한 제어 신호를 갖는 데이터 캐리어를 포함한다.

일반적으로, 본 발명의 실시예는 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 구현될 수 있으며, 프로그램 코드는 컴퓨터 프로그램 제품이 컴퓨터 상에서 실행될 때 방법들 중 하나를 수행하기 위해 동작한다. 프로그램 코드는 예를 들어 머신 판독가능 캐리어 상에 저장될 수 있다.

다른 실시예는 기계 판독가능 캐리어 상에 저장된, 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 포함한다.

즉, 따라서, 본 발명의 방법의 실시예는 컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 상에서 실행될 때 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램이다.

따라서, 본 발명의 방법의 추가 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록되어 있는 데이터 캐리어(또는 디지털 저장 매체, 또는 컴퓨터 판독가능 매체)이다. 데이터 매체, 디지털 저장 매체 또는 기록 매체는 일반적으로 유형적 및/또는 비일시적이다.

따라서, 본 발명의 방법의 추가 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 나타내는 데이터 스트림 또는 신호 시퀀스이다. 데이터 스트림 또는 신호 시퀀스는, 예를 들어, 인터넷을 통해 데이터 통신 접속을 통해 전송되도록 구성될 수 있다.

추가 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하도록 구성되거나 조정된 처리 수단, 예를 들어, 컴퓨터, 또는 프로그래밍 가능한 로직 디바이스를 포함한다.

추가 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 설치된 컴퓨터를 포함한다.

본 발명에 따른 추가 실시예는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 수신기에 (예를 들어, 전자적으로 또는 광학적으로) 전송하도록 구성된 장치 또는 시스템을 포함한다. 수신기는, 예를 들어, 컴퓨터, 모바일 디바이스, 메모리 디바이스 등일 수 있다. 장치 또는 시스템은, 예를 들어, 컴퓨터 프로그램을 수신기로 전송하기 위한 파일 서버를 포함할 수 있다.

일부 실시예에서, 프로그래밍 가능한 로직 디바이스(예컨대, 필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이)는 본 명세서에 설명된 방법의 기능들 중 일부 또는 전부를 수행하는 데 사용될 수 있다. 일부 실시예에서, 필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이는 본 명세서에 설명된 방법들 중 하나를 수행하기 위해 마이크로프로세서와 협력할 수 있다. 일반적으로, 방법은 바람직하게는 임의의 하드웨어 디바이스에 의해 수행된다.

본 명세서에 설명된 장치는 하드웨어 장치를 사용하거나, 컴퓨터를 사용하거나, 하드웨어 장치와 컴퓨터의 조합을 사용하여 구현될 수 있다.

본 명세서에 설명된 장치 또는 본 명세서에 설명된 장치의 임의의 구성요소는 적어도 부분적으로 하드웨어 및/또는 소프트웨어로 구현될 수 있다.

본 명세서에 설명된 방법은 하드웨어 장치를 사용하거나, 컴퓨터를 사용하거나, 하드웨어 디바이스와 컴퓨터의 조합을 사용하여 수행될 수 있다.

본 명세서에 설명된 방법 또는 본 명세서에 설명된 장치의 임의의 구성요소는 적어도 부분적으로 하드웨어 및/또는 소프트웨어에 의해 수행될 수 있다.

상술한 실시예는 본 발명의 원리를 설명하기 위한 것일 뿐이다. 본 명세서에 설명된 배열 및 세부사항의 수정 및 변형이 당업자에게 명백할 것임을 이해해야 한다. 따라서, 본 명세서의 실시예의 기재 및 설명을 통해 제시된 특정 세부사항이 아니라 첨부된 특허 청구범위의 범위에 의해서만 제한하려는 것이 의도이다.

Claims (24)

1. 하나 이상의 테스트 대상 디바이스(devices under test: DUT)(130a-1 내지 130z-n; 230a-1 내지 230m-2; 330a 내지 330m; 430; 530a 내지 530m; 630a-1 내지 630m-n; 730a,b; 830a,b; 930a,b)를 테스트하기 위한 자동화된 테스트 장비(100, 200)로서,
   테스터 컨트롤(110; 210; 610)과,
   채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)을 포함하되,
   상기 채널 처리 유닛은 상기 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터(device-under-test adapted data)를 획득하기 위해 디바이스 특정 데이터(device specific data)를 사용하여 입력 데이터를 변환하도록 구성되고/되거나,
   상기 채널 처리 유닛은 DUT를 테스트하기 위해 디바이스 특정 데이터를 사용하여 DUT 데이터를 처리하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은, 상기 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 상기 테스트 대상 디바이스에 전달하기 위해 및/또는 상기 테스트 대상 디바이스로부터 상기 DUT 데이터를 수신하기 위해, 상기 하나 이상의 DUT(130a-1 내지 130z-n; 230a-1 내지 230m-2; 330a 내지 330m; 430; 530a 내지 530m; 630a-1 내지 630m-n; 730a,b; 830a,b; 930a,b) 중 하나와 통신하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 테스터 인터페이스(122; 222; 322; 422; 522; 622; 722; 822; 922)를 사용하여 상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)과 통신하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
4. 제3항에 있어서,
   상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 상기 테스터 인터페이스(122; 222; 322; 422; 522; 622; 722; 822; 922)를 통해 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)에 입력 데이터를 브로드캐스트하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
   상기 테스터 인터페이스(122; 222; 322; 422; 522; 622; 722; 822; 922)는 상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610) 및 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)에 결합되는 테스터 데이터 버스인,
   자동화된 테스트 장비.
   
6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 휘발성 저장소 또는 비휘발성 저장소(224a-1 내지 224m-1; 320a; 420a; 520a; 624a-1 내지 624m-1; 720a; 820a; 920a) 및 컴퓨팅 유닛(124a-2 내지 124z-2; 224a-2 내지 224m-2; 320b; 420b; 520b; 624a-2 내지 624m-2; 720b; 820b; 920b)을 포함하고,
   상기 채널 처리 유닛은 상기 디바이스 특정 데이터를 상기 채널 처리 유닛의 저장소에 저장하도록 구성되고,
   상기 채널 처리 유닛은 상기 컴퓨팅 유닛을 사용하여 상기 입력 데이터를 변환하고/하거나 상기 컴퓨팅 유닛을 사용하여 상기 DUT 데이터를 처리하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 하나 이상의 샌드박스(920c)를 포함하고,
   상기 하나 이상의 샌드박스는 개별 메모리를 사용하여 커맨드를 실행하도록 구성되고/되거나,
   상기 하나 이상의 샌드박스는 상기 디바이스 특정 데이터를 사용하여 상기 입력 데이터를 변환하도록 구성되고/되거나,
   상기 하나 이상의 샌드박스는 상기 DUT로부터 수신된 결과를 분석하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 복수의 샌드박스(920c)를 포함하고,
   상기 샌드박스는 상이한 샌드박스들이 서로로부터 격리되도록 하나 이상의 보호된 인터페이스를 사용하여 호스트 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)과 통신하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
   상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 하나 이상의 샌드박스(930)를 포함하고, 상기 하나 이상의 샌드박스는 상기 디바이스 특정 데이터를 사용하여 디바이스 특정 기능을 실행하도록 구성되는,
   자동화된 테스트 장비.
   
10. 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자동화된 테스트 장비는, 상기 샌드박스를 사용하여 상기 입력 데이터 또는 상기 DUT 데이터의 디바이스 특정 처리를 허용하기 위해 소프트웨어를 하나 이상의 샌드박스(930)에 업로드하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은, 상기 채널 처리 유닛과 상기 테스트 대상 디바이스 간의 통신을 보호하기 위해, 상기 디바이스 특정 데이터를 사용하여 통신 프로토콜을 구현하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 컴퓨팅 유닛(124a-2 내지 124z-2; 224a-2 내지 224m-2; 320b; 420b; 520b; 624a-2 내지 624m-2; 720b; 820b; 920b)을 포함하고,
    상기 컴퓨팅 유닛은 하나 이상의 DUT 인터페이스와 상호작용하도록 구성되고,
    상기 컴퓨팅 유닛은, 상기 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하기 위해, 및/또는 상기 DUT 데이터를 복호화하기 위해, 및/또는 상기 DUT 데이터에 대한 에러 검출을 수행하기 위해, 및/또는 상기 DUT 데이터에 대한 오류 정정을 수행하기 위해, 및/또는 상기 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하거나 상기 DUT 데이터를 평가하도록 하나 이상의 패킷 카운터를 사용하여 통신 프로토콜을 구현하기 위해, 및/또는 상기 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하거나 상기 DUT 데이터를 평가하도록 하나 이상의 디바이스 특정 식별자를 사용하여 통신 프로토콜을 구현하기 위해, 상기 입력 디바이스를 암호화하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 컴퓨팅 유닛(124a-2 내지 124z-2; 224a-2 내지 224m-2; 320b; 420b; 520b; 624a-2 내지 624m-2; 720b; 820b; 920b)을 포함하고,
    상기 컴퓨팅 유닛은 HW 및/또는 SW로 통신 프로토콜을 구현하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
14. 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 보안 크리덴셜 및/또는 키를 획득하도록 구성되고,
    상기 테스터 컨트롤은 상기 보안 크리덴셜 및/또는 키를 하나 이상의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)에 브로드캐스트하고/하거나 상기 보안 크리덴셜 및/또는 키를 매칭되는 채널 처리 유닛에 특정적으로 업로드하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
15. 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 보안 크리덴셜을 획득하고/하거나 하나 이상의 DUT로 브로드캐스트하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
16. 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)에서의 통신 프로토콜 구현은,
    · 하나 이상의 패킷 카운터
    · 디바이스 특정 콘텐츠를 사용한 핸드셰이크
    · 동기 통신
    · 통신 표준의 구현
    중 하나 이상을 사용하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
17. 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 업스트림 결과를 저장하고/하거나, 상기 업스트림 결과 데이터를 분석하고/하거나, 상기 업스트림 결과 데이터를 전처리하고/하거나, 전처리 및/또는 압축된 업스트림 결과 데이터를 상기 테스터 컨트롤(1102; 210; 610)에 전송하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
18. 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)을 포함하고,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 상기 복수의 채널 처리 유닛에 공통 데이터를 제공하도록 구성되고,
    상이한 채널 처리 유닛은, 상이한 디바이스 특정 데이터를 사용하여 상기 공통 데이터를 상이한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터로 변환하고, 상이한 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위해 상기 상이한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 사용하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
19. 제1항 내지 제18항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)에 공통 자극 데이터를 제공하도록 구성되고,
    상기 채널 처리 유닛은 디바이스 특정 데이터를 사용하여 상기 공통 자극 데이터를 변환하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
20. 제19항에 있어서,
    상기 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)은 디바이스 특정 통신을 제공하기 위해 디바이스 특정 데이터 또는 디바이스 고유 데이터를 사용하여 상기 공통 자극 데이터를 변환하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
21. 제1항 내지 제20항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)을 포함하고,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 상기 복수의 채널 처리 유닛에 공통 예상 결과 데이터를 제공하도록 구성되고,
    상이한 채널 처리 유닛은 상기 공통 예상 결과 데이터를 사용하여 각각의 테스트 대상 디바이스와 연관된 각각의 테스트 결과를 획득하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
22. 제1항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자동화된 테스트 장비는 복수의 채널 처리 유닛(124a 내지 124z; 224a 내지 224m; 320; 420; 520; 624a 내지 624m; 720; 820; 920)을 포함하고,
    상기 테스터 컨트롤(110; 210; 610)은 상기 복수의 채널 처리 유닛에 공통 예상 결과 데이터를 제공하도록 구성되고,
    상이한 채널 처리 유닛은, 상이한 디바이스 특정 데이터를 사용하여 각각의 DUT 데이터로부터 각각의 결과 데이터를 추출하고, 상기 각각의 결과 데이터를 상기 공통 예상 결과 데이터와 비교하여 각각의 테스트 대상 디바이스와 연관된 각각의 테스트 결과를 획득하도록 구성되는,
    자동화된 테스트 장비.
    
23. 테스터 컨트롤 및 채널 처리 유닛을 포함하는 자동화된 테스트 장비에서 하나 이상의 테스트 대상 디바이스(devices under test: DUT)를 테스트하기 위한 방법으로서,
    상기 채널 처리 유닛에서, 상기 테스트 대상 디바이스를 테스트하기 위한 테스트 대상 디바이스 적응성 데이터를 획득하기 위해, 디바이스 특정 데이터를 사용하여 입력 데이터를 변환하는 단계, 및/또는
    상기 채널 처리 유닛에서, DUT를 테스트하기 위해 디바이스 특정 데이터를 사용하여 DUT 데이터를 처리하는 단계를 포함하는,
    방법.
    
24. 컴퓨터 프로그램이 컴퓨터 상에서 실행될 때 제23항의 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램.

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