KR20220155522A - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 화소들에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부, 상기 화소들로부터 센싱 전압을 수신하는 센싱 구동부, 상기 화소들에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동부 및 상기 데이터 구동부, 상기 센싱 구동부 및 상기 게이트 구동부를 제어하는 구동 제어부를 포함하고, 상기 센싱 구동부는 제1 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터를 생성하고, 제2 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 문턱 전압 센싱 데이터를 생성할 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 본 발명은 표시 패널에 포함된 화소들의 센싱 데이터에 기초하여 영상 데이터를 보상하는 표시 장치에 관한 것이다.
표시 장치에서, 화소는 동일한 공정에 의해 제조되더라도, 화소에 포함된 구동 트랜지스터 및 발광 소자는 서로 다른 구동 특성을 가지고, 화소는 서로 다른 휘도로 발광할 수 있다. 또한, 표시 장치의 구동 시간이 증가됨에 따라, 화소는 열화될 수 있다. 이러한 표시 패널의 휘도 불균일 및 열화를 보상하기 위해, 표시 장치는 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 구동 특성(예를 들어, 문턱 전압(VTH) 및/또는 이동도(mobility)) 및 발광 소자의 구동 특성을 센싱하는 센싱 동작을 수행할 수 있다. 표시 장치는 센싱 동작에 의해 생성된 센싱 데이터에 기초하여 영상 데이터를 보상함으로써, 균일한 휘도를 가지는 영상을 표시할 수 있다. 하지만, 종래의 표시 장치에서는 센싱 데이터에 영향을 주는 화소들의 전류 누설 특성(예를 들어, 기생 회로에 의한 유입, 유출 성분)을 고려하지 않기 때문에 센싱 데이터에 오류가 발생하는 문제가 생길 수 있다.
본 발명의 일 목적은 표시 패널에 포함된 화소들의 센싱 데이터를 보상하여 영상 데이터의 보상 오차를 개선하는 표시 장치를 제공하는 것이다. 다만, 본 발명의 목적은 상기 언급된 목적으로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 화소들에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부, 상기 화소들로부터 센싱 전압을 수신하는 센싱 구동부, 상기 화소들에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동부 및 상기 데이터 구동부, 상기 센싱 구동부 및 상기 게이트 구동부를 제어하는 구동 제어부를 포함하고, 상기 센싱 구동부는 제1 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터를 생성하고, 제2 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 문턱 전압 센싱 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 구동 제어부는 상기 센싱 구동부로부터 상기 누설 센싱 데이터 및 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 수신하고, 상기 누설 센싱 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 저장하는 센싱 데이터 메모리를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이가 기 설정된 기준 누설 값보다 작으면 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상은 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 상기 누설 데이터의 개별 값을 가산하는 방식으로 수행될 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상은 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 상기 누설 데이터의 개별 값과 누설 이득의 곱을 가산하는 방식으로 수행될 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터를 저장하고, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터를 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 누설 센싱 데이터의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 표시 패널은 서브 블록들을 포함하고, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록들 각각에 포함된 상기 화소들에 대한 서브 블록 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 표시 패널은 서브 블록들을 포함하고, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록들 각각에 포함된 상기 화소들에 대한 서브 블록 평균 값을 저장하고, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 화소는 상기 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인을 통해 인가되는 상기 데이터 전압을 전송하는 스위칭 트랜지스터, 상기 스위칭 트랜지스터에 의해 전송된 상기 데이터 전압을 저장하는 스토리지 커패시터, 상기 스토리지 커패시터에 저장된 상기 데이터 전압에 기초하여 구동 전류를 생성하는 상기 구동 트랜지스터, 상기 구동 트랜지스터에 의해 생성된 상기 구동 전류에 기초하여 발광하는 발광 소자 및 센싱 신호에 응답하여 상기 구동 트랜지스터와 상기 발광 소자 사이의 연결 노드를 상기 센싱 전압이 전송되는 센싱 라인에 연결하는 센싱 트랜지스터를 포함 할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 제1 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 연결 노드에 상기 센싱 라인을 통하여 센싱 초기화 전압을 인가하고, 상기 제1 센싱 구간의 측정 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 누설 센싱 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 제2 센싱 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 데이터 라인을 통하여 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 기준 전압을 제공하고, 상기 제2 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 연결 노드에 상기 센싱 라인을 통하여 상기 센싱 초기화 전압을 인가하고, 상기 제2 센싱 구간의 측정 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 제2 센싱 구간은 상기 제1 센싱 구간을 뒤따를 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 구동 방법은 화소들이 열화 되기 전의 상기 화소들 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값을 저장하는 단계, 파워-오프 상태에서 상기 화소의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터를 생성하는 단계, 상기 파워-오프 상태에서 상기 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 문턱 전압 센싱 데이터를 생성하는 단계, 상기 파워-오프 상태에서 상기 누설 센싱 데이터 및 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계 및 파워-온 상태에서 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 기초로 입력 영상 데이터를 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계는 상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값의 차이를 계산하여 누설 데이터를 생성하는 단계 및 상기 누설 데이터의 개별 값을 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 가산하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 파워-오프 상태에서 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이를 기 설정된 기준 누설 값과 비교하여 비교 결과를 생성하는 단계 및 상기 비교 결과에 기초하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상 여부를 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 상기 보상 여부를 결정하는 단계는 상기 차이가 상기 기준 누설 값보다 크면, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것으로 결정하는 단계 및 상기 차이가 상기 기준 누설 값보다 작거나 같으면, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하지 않는 것으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계는 상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값의 차이를 계산하여 누설 데이터를 생성하는 단계, 상기 누설 데이터의 개별 값에 누설 이득을 곱하는 단계 및 상기 누설 데이터의 상기 개별 값에 상기 누설 이득이 곱해진 값을 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 가산하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들의 전류 누설 특성(예를 들어, 기생 회로에 의한 유입, 유출 성분)을 센싱하고, 전류 누설로 인해 발생하는 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 구동 특성(예를 들어, 문턱 전압(VTH) 및/또는 이동도(mobility)) 및 발광 소자의 구동 특성에 대한 센싱 데이터의 오차를 보상함으로써, 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 구동 특성 및 발광 소자의 구동 특성에 대한 센싱 데이터의 오차로 인해 발생하는 입력 영상 데이터의 오보상을 방지할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 표시 패널을 서브 블록들로 구분하고, 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값을 저장함으로써, 센싱 데이터 메모리에 저장되는 센싱 데이터의 용량을 감소시키고, 하드웨어 크기를 축소시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 누설 데이터의 개별 값에 누설 이득을 곱함으로써, 문턱 전압 센싱 데이터에 대한 센싱 조건과 누설 센싱 데이터에 대한 센싱 조건이 다른 경우에도, 문턱 전압 센싱 데이터를 일정하게 보상할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 언급한 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소를 나타내는 회로도이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 게이트 구동부가 화소에 게이트 신호 및 센싱 신호를 인가하는 일 예를 나타내는 타이밍도이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 화소가 제1 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 5은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소가 제1 센싱 구간의 측정 구간에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소가 제2 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소가 제2 센싱 구간의 측정 구간에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 8은 도 1의 표시 장치에 포함된 구동 제어부 및 센싱 데이터 메모리의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 9는 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 10은 도 1의 표시 장치가 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 11 내지 도 12는 도 9의 센싱 보상부에 의해 수행되는 표시 장치 구동 방법을 나타내는 도면들이다.
도 13은 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 14는 도 13의 센싱 보상부에 의해 수행되는 표시 장치 구동 방법을 나타내는 도면들이다.
도 15는 도 1의 표시 장치가 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 16은 도 15의 실시예에 따른 표시 장치 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 17은 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 18은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 19는 도 18의 표시 장치에 포함된 구동 제어부 및 센싱 데이터 메모리의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 20은 도 18의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 21은 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 22은 도 1의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 23은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 24는 도 23의 표시 장치에 포함된 구동 제어부 및 센싱 데이터 메모리의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 25는 도 23의 표시 장치에 포함된 센싱 보상부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(1000)를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(1000)는 표시 패널(100) 및 패널 구동부(200)를 포함할 수 있다. 패널 구동부(200)는 구동 제어부(300), 게이트 구동부(400), 데이터 구동부(500) 및 센싱 구동부(600)를 포함할 수 있다. 패널 구동부(200)는 센싱 데이터 메모리(700)를 더 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300), 게이트 구동부(400), 데이터 구동부(500) 및 센싱 구동부(600) 중에서 적어도 2이상은 하나의 칩에 집적될 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300), 게이트 구동부(400), 데이터 구동부(500), 센싱 구동부(600) 및 센싱 데이터 메모리(700) 중에서 적어도 2이상은 하나의 칩에 집적될 수 있다.
표시 패널(100)은 데이터 라인(DL), 센싱 라인(SL) 및 게이트 라인(GL)에 전기적으로 연결된 화소들(P)을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 게이트 라인(GL)은 제1 방향(D1)으로 연장되고, 데이터 라인(DL)은 제1 방향(D1)과 교차하는 제2 방향(D2)으로 연장되며, 센싱 라인(SL)은 제1 방향(D1)과 교차하는 제2 방향(D2)으로 연장될 수 있다. 실시예에 따라, 화소들(P) 각각은 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; OLED)를 포함하고, 표시 패널(100)은 OLED 표시 패널일 수 있다.
구동 제어부(300)는 외부 장치(예를 들어, 그래픽 프로세싱 유닛(graphic processing unit; GPU) 등)로부터 입력 영상 데이터(IMG) 및 입력 제어 신호(CONT)를 수신할 수 있다. 예를 들어, 입력 영상 데이터(IMG)는 적색 영상 데이터, 녹색 영상 데이터 및 청색 영상 데이터를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 입력 영상 데이터(IMG)는 백색 영상 데이터를 더 포함할 수 있다. 다른 예를 들어, 입력 영상 데이터(IMG)는 마젠타색(magenta) 영상 데이터, 황색(yellow) 영상 데이터 및 시안색(cyan) 영상 데이터를 포함할 수 있다. 입력 제어 신호(CONT)는 마스터 클럭 신호, 데이터 인에이블 신호를 포함할 수 있다. 입력 제어 신호(CONT)는 수직 동기 신호 및 수평 동기 신호를 더 포함할 수 있다.
구동 제어부(300)는 센싱 구동부(600)로부터 누설 센싱 데이터(LSD) 및 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 수신할 수 있다. 구동 제어부(300)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)에 기초하여 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 구동 제어부(300)는 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 센싱 데이터 메모리(700)에 기입(write)할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하지 않는 경우, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 그대로 센싱 데이터 메모리(700)에 기입할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 표시 장치(1000)가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 보상하지 않고 센싱 데이터 메모리(700)에 기입할 수 있다. 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 화소들(P) 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 센싱 데이터 메모리(700)에 기입할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)는 표시 장치(1000)가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 화소들(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 의미할 수 있다. 상기 전류 누설 특성은 기생 회로에 의한 유입, 유출 성분일 수 있다. 예를 들어, 상기 전류 누설 특성은 센싱 구동부(600)가 센싱 라인(SL)을 통하여 화소(P)로부터 센싱 전압(VSEN)을 수신할 때 누설되는 전류를 의미할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)은 화소들(P) 각각에 대한 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 개별 값을 더한 후 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다.
구동 제어부(300)는 입력 영상 데이터(IMG), 입력 제어 신호(CONT) 및 센싱 데이터 메모리(700)로부터 인가된 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')(즉, 센싱 데이터 메모리(700)에 기입된 문턱 전압 센싱 데이터의 보상 여부에 따라 다를 수 있음)에 기초하여 제1 제어 신호(CONT1), 제2 제어 신호(CONT2), 제3 제어 신호(CONT3) 및 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성할 수 있다.
구동 제어부(300)는 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 게이트 구동부(400)의 동작을 제어하기 위한 제1 제어 신호(CONT1)를 생성하여 게이트 구동부(400)에 출력할 수 있다. 제1 제어 신호(CONT1)는 수직 개시 신호 및 게이트 클럭 신호를 포함할 수 있다. 구동 제어부(300)는 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 데이터 구동부(500)의 동작을 제어하기 위한 제2 제어 신호(CONT2)를 생성하여 데이터 구동부(500)에 출력할 수 있다. 제2 제어 신호(CONT2)는 수평 개시 신호 및 로드 신호를 포함할 수 있다. 구동 제어부(300)는 입력 제어 신호(CONT)에 기초하여 센싱 구동부(600)의 동작을 제어하기 위한 제3 제어 신호(CONT3)를 생성하여 센싱 구동부(600)에 출력할 수 있다.
구동 제어부(300)는 센싱 데이터 메모리(700)로부터 인가된 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')에 기초하여 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하고, 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성할 수 있다. 구동 제어부(300)는 보상 영상 데이터(CDATA)를 데이터 구동부(500)에 출력할 수 있다.
게이트 구동부(400)는 구동 제어부(300)로부터 입력 받은 제1 제어 신호(CONT1)에 응답하여 게이트 신호(SS)를 생성할 수 있다. 게이트 구동부(400)는 게이트 라인(GL)을 통하여 게이트 신호(SS)를 화소들(P)에 출력할 수 있다. 예를 들어, 게이트 구동부(400)는 게이트 신호(SS)를 게이트 라인(GL)을 통하여 화소들(P)들에 출력할 수 있다.
데이터 구동부(500)는 구동 제어부(300)로부터 제2 제어 신호(CONT2) 및 보상 영상 데이터(CDATA)를 입력 받을 수 있다. 데이터 구동부(500)는 보상 영상 데이터(CDATA)를 아날로그 형태의 전압으로 변환한 데이터 전압(DV)을 생성할 수 있다. 데이터 구동부(500)는 데이터 라인(DL)을 통하여 화소(P)에 데이터 전압(DV)을 인가할 수 있다.
센싱 구동부(600)는 센싱 라인(SL)을 통하여 화소(P)로부터 센싱 전압(VSEN)을 수신할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 제1 센싱 구간(SP1)에서 수신한 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 제2 센싱 구간(SP2)에서 수신한 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 이동도(mobility)에 대한 이동도 센싱 데이터를 생성할 수 있다. 센싱 구동부(600)는 센싱 전압(VSEN)을 기초로 화소들(P)의 발광 소자(EL)의 구동 특성에 대한 발광 소자 센싱 데이터를 생성할 수 있다.
센싱 데이터 메모리(700)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')를 저장할 수 있다. 실시예에 따라, 센싱 데이터 메모리(700)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 저장할 수 있다. 표시 장치(1000)가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 보상되지 않고 센싱 데이터 메모리(700)에 저장될 수 있다. 센싱 데이터 메모리(700)는 구동 제어부(300)로부터 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')를 수신하고, 이미 저장되어 있던 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')를 수신한 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')로 업데이트 할 수 있다. 센싱 데이터 메모리(700)에 저장된 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')는 표시 장치(1000)의 구동 시간이 증가된 후, 또는 화소(P)가 열화된 후, 주기적으로 또는 비주기적으로 업데이트 될 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 화소(P)를 나타내는 회로도이다.
예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, 화소(P)는 게이트 신호(SS)에 응답하여 데이터 라인(DL)을 통하여 인가되는 데이터 전압(DV)(또는 기준 전압(VREF))을 전송하는 스위칭 트랜지스터(T2), 스위칭 트랜지스터(T2)에 의해 전송되는 데이터 전압(DV)을 저장하는 스토리지 커패시터(CST), 스토리지 커패시터(CST)에 저장된 데이터 전압(DV)에 기초하여 구동 전류를 생성하는 구동 트랜지스터(T1), 제1 전원 전압(ELVDD)의 라인으로부터 제2 전원 전압(ELVSS)의 라인으로 흐르는 상기 구동 전류에 응답하여 발광하는 발광 소자(EL) 및 센싱 신호(SSEN)에 응답하여 구동 트랜지스터(T1)와 발광 소자(EL) 사이의 연결 노드(NO)를 센싱 전압(VSEN)이 전송되는 센싱 라인(SL)에 연결하는 센싱 트랜지스터(T3)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 도 2에 도시된 바와 같이, 구동 트랜지스터(T1), 스위칭 트랜지스터(T2) 및 센싱 트랜지스터(T3)가 NMOS 트랜지스터들로 구현될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 또한, 화소(P)는 도 2에 도시된 예시적인 구성에 한정되지 않고 다양한 구성을 가질 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 게이트 구동부(400)가 화소(P)에 게이트 신호(SS) 및 센싱 신호(SSEN)를 인가하는 일 예를 나타내는 타이밍도이다. 도 3은 각 센싱 초기화 구간(IP) 및 측정 구간(MP)에서 게이트 신호(SS) 및/또는 센싱 신호(SSEN)가 활성화 레벨을 갖는 타이밍을 한 번씩만 나타내고 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 도 4는 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 화소(P)가 제1 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다. 도 5는 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 화소(P)가 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다. 도 6은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 화소(P)가 제2 센싱 구간(SP2)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다. 도 7은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 화소(P)가 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP)에서 구동되는 일 예를 나타내는 회로도이다. 제1 센싱 구간(SP1) 및 제2 센싱 구간(SP2)은 표시 장치(1000)가 파워-오프 상태에 있는 동안의 구간일 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 실시예에 따라, 제1 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 게이트 신호(SS) 및 센싱 신호(SSEN)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제1 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 센싱 구동부(600)는 연결 노드(N0)에 센싱 라인(SL)을 통하여 센싱 초기화 전압(Vinit)을 인가할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 데이터 구동부(500)는 데이터 라인(DL)을 통하여 오프 전압을 갖는 데이터 전압(DV)을 인가할 수 있다. 예를 들어, 구동 트랜지스터(T1)이 NMOS 트랜지스터인 경우, 상기 오프 전압은 블랙 계조에 대응하는 데이터 전압(DV_black)이 될 수 있다. 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서, 스위칭 트랜지스터(T2)는 활성화 레벨을 갖는 게이트 신호(SS)에 의해서 턴-온 되고, 데이터 라인(DL)을 통하여 인가된 블랙 계조에 대응하는 데이터 전압(DV_black)은 스위칭 트랜지스터(T2)를 통하여 스토리지 커패시터(CST)에 기입되며, 구동 트랜지스터(T1)는 블랙 계조에 대응하는 데이터 전압(DV_black)에 의해서 턴-오프 되고, 센싱 트랜지스터(T3)는 활성화 레벨을 갖는 센싱 신호(SSEN)에 의해서 턴-온 되고, 센싱 라인(SL)을 통하여 인가된 센싱 초기화 전압(Vinit)은 센싱 트랜지스터(T3)에 의해서 연결 노드(N0)에 인가될 수 있다.
도 3 및 도 5를 참조하면, 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서 센싱 구동부(600)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서 게이트 신호(SS)는 비활성화 레벨을 갖고, 센싱 신호(SSEN)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서 센싱 구동부(600)는 센싱 라인(SL)을 통하여 연결 노드(N0)에 걸린 센싱 전압(VSEN)을 수신할 수 있다. 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서, 스위칭 트랜지스터(T2)는 비활성화 레벨을 갖는 게이트 신호(SS)에 의해서 턴-오프 되고, 구동 트랜지스터(T1)는 스토리지 커패시터(CST)에 저장된 상기 오프 전압을 갖는 데이터 전압(DV)(예를 들어, 블랙 계조에 대응하는 데이터 전압(DV_black))에 의해서 턴-오프 되며, 센싱 트랜지스터(T3)는 활성화 레벨을 갖는 센싱 신호(SSEN)에 의해서 턴-온 되고, 센싱 구동부(600)는 센싱 트랜지스터(T3)를 통해서 연결 노드(N0)의 전압을 수신할 수 있다. 센싱 전압(VSEN)은 누설되는 전류가 없는 경우, 초기화 구간(IP)에서 연결 노드(N0)에 인가된 초기화 전압(Vinit)과 실질적으로 동일할 수 있다. 센싱 전압(VSEN)은 누설되는 전류가 있는 경우, 초기화 전압(Vinit)보다 작을 수 있다. 따라서, 센싱 구동부(600)는 센싱 라인(SL)을 통하여 화소(P)로부터 센싱 전압(VSEN), 즉 누설되는 전류에 의해 감소된 초기화 전압(Vinit)을 수신할 수 있다. 또한, 센싱 구동부(600)는 누설되는 전류에 의해 감소된 초기화 전압(Vinit)에 상응하는 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성할 수 있다. 따라서, 누설 센싱 데이터(LSD)는 전류 누설 특성에 대한 데이터가 될 수 있다.
도 3 및 도 6을 참조하면, 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 게이트 신호(SS) 및 센싱 신호(SSEN)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP1)의 센싱 초기화 구간(IP)에서 센싱 구동부(600)는 연결 노드(N0)에 센싱 라인(SL)을 통하여 센싱 초기화 전압(Vinit)을 인가할 수 있다. 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)에서 데이터 구동부(500)는 데이터 라인(DL)을 통하여 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 기준 전압(VREF)을 인가할 수 있다. 예를 들어, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2 센싱 구간(SP2)의 센싱 초기화 구간(IP)에서, 스위칭 트랜지스터(T2)는 활성화 레벨을 갖는 게이트 신호(SS)에 의해서 턴-온 되고, 데이터 라인(DL)을 통하여 인가된 기준 전압(VREF)은 스위칭 트랜지스터(T2)를 통하여 스토리지 커패시터(CST)에 기입되며, 센싱 트랜지스터(T3)는 활성화 레벨을 갖는 센싱 신호(SSEN)에 의해서 턴-온 되고, 센싱 라인(SL)을 통하여 인가된 센싱 초기화 전압(Vinit)은 센싱 트랜지스터(T3)에 의해서 연결 노드(N0)에 인가될 수 있다.
도 3 및 도 7을 참조하면, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP)에서 센싱 구동부(600)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP)에서 게이트 신호(SS) 및 센싱 신호(SSEN)는 활성화 레벨을 가질 수 있다. 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)에서 데이터 구동부(500)는 데이터 라인(DL)을 통하여 구동 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에 기준 전압(VREF)을 인가할 수 있다. 실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP)에서 데이터-센싱 구동부(500)는 센싱 라인(SL)을 통하여 연결 노드(N0)에 걸린 센싱 전압(VSEN)을 수신할 수 있다. 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 센싱 구간(SP1)의 측정 구간(MP)에서, 스위칭 트랜지스터(T2)는 활성화 레벨을 갖는 게이트 신호(SS)에 의해서 턴-온 되고, 구동 트랜지스터(T1)는 기준 전압(VREF)에 의해서 턴-온 되며, 센싱 트랜지스터(T3)는 활성화 레벨을 갖는 센싱 신호(SSEN)에 의해서 턴-온 되고, 센싱 구동부(600)는 센싱 트랜지스터(T3)를 통해서 연결 노드(N0)의 전압을 수신할 수 있다. 센싱 전압(VSEN)은 기준 전압(VREF)에서 구동 트랜지스터들(T1)의 문턱 전압(VTH)이 감산된 전압(VREF-VTH)을 가지고, 센싱 구동부(600)는 센싱 라인(SL)을 통하여 화소(P)로부터 센싱 전압(VSEN), 즉 기준 전압(VREF)에서 문턱 전압(VTH)이 감산된 전압(VREF-VTH)을 수신할 수 있다. 한편, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP)에서 제2 전원 전압(ELVSS)이 제1 전원 전압(ELVDD)과 실질적으로 동일한 전압 레벨을 가지도록 조절됨으로써, 발광 소자(EL)는 발광하지 않을 수 있다. 또한, 센싱 구동부(600)는 기준 전압(VREF)과 문턱 전압(VTH)의 차이에 상응하는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다. 따라서, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 데이터가 될 수 있다.
실시예에 따라, 제2 센싱 구간(SP2)은 제1 센싱 구간(SP1)을 뒤따를 수 있다. 실시예에 따라, 센싱 구동부(600)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성한 후, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다. 따라서, 구동 제어부(300)는 먼저 생성된 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 나중에 생성된 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 즉각 보상할 수 있다.
도 8은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 구동 제어부(300) 및 센싱 데이터 메모리(700)의 일예를 나타내는 블록도이다.
도 8을 참조하면, 구동 제어부(300)는 센싱 보상부(310) 및 영상 보상부(320)를 포함할 수 있다. 센싱 보상부(310)는 누설 센싱 데이터(LSD), 문턱 전압 센싱 데이터(VD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 수신하고, 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 센싱 보상부(310)는 화소(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상함으로써, 누설되는 전류가 문턱 전압 센싱 데이터(VD)에 미치는 영향을 감소시킬 수 있다. 따라서, 구동 제어부(300)는 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상함으로써, 누설되는 전류로 인한 입력 영상 데이터(IMG)의 오보상이 방지될 수 있다.
실시예에 따라, 센싱 보상부(310)는 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 센싱 데이터 메모리(700)에 기입할 수 있다. 실시예에 따라, 센싱 보상부(310)는 표시 장치(1000)가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 전체 평균 값을 계산하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 센싱 데이터 메모리(700)에 기입할 수 있다. 영상 보상부(320)는 센싱 데이터 메모리(700)에 저장된 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')를 수신하고, 수신한 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD')를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상할 수 있다. 영상 보상부(320)는 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하여 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성할 수 있다. 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상함으로써, 보정 영상 데이터(CDATA)에 기초하여 생성되는 데이터 전압에는 열화된 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)이 반영되어 있을 수 있다. 따라서, 화소들(P)은 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 열화에 의한 문턱 전압(VTH)의 변화와 상관없이 균일한 휘도로 발광할 수 있다.
도 9는 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 10은 도 1의 표시 장치(1000)가 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터(LSD)의 화소들(P) 각각에 대한 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 실시예에 따라, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상은 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하는 방식으로 수행될 수 있다.
구동 제어부(300)는 누설 데이터 생성부(311) 및 보상 센싱 데이터 생성부(312)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터(LSD)의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하여, 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)은 누설된 전류가 없을 때보다 누설된 전류가 있을 때 더 낮은 전압 값을 가질 수 있다. 따라서, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)에 상응하는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 누설된 전류가 없을 때보다 있을 때 더 낮은 값을 가질 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)와 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 생성된 누설 데이터(LD)는 화소(P)의 열화로 인한 누설되는 전류의 변화량을 나타낼 수 있고, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산함으로써, 누설되는 전류가 문턱 전압 센싱 데이터(VD)에 미치는 영향을 감소시킬 수 있다.
도 11 내지 도 12는 도 9의 센싱 보상부(310)에 의해 수행되는 표시 장치 구동 방법을 나나태는 도면들이다.
도 11 내지 도 12를 참조하면, 도 11 내지 도 12의 표시 장치 구동 방법은 화소들(P)이 열화 되기 전의 화소들(P) 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 저장(S810)하고, 파워-오프 상태에서 화소(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성(S820)하며, 파워-오프 상태에서 화소(P)에 포함된 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성(S830)하고, 파워-오프 상태에서 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S840)하며, 파워-온 상태에서 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하여 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성(S850)할 수 있다.
구체적으로, 도 11의 표시 장치 구동 방법은 화소들(P)이 열화 되기 전의 화소들(P) 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 저장(S810)할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)는 표시 장치가 아직 구동되지 않아 화소들(P)이 열화 되기 전의 누설 센싱 데이터(LSD)를 의미할 수 있고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)은 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 화소들(P) 전부에 대한 평균 값을 의미할 수 있다.
구체적으로, 도 11의 표시 장치 구동 방법은 파워-오프 상태에서 화소(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성(S820)할 수 있다. 도 11의 표시 장치 구동 방법은 파워-오프 상태에서 화소(P)에 포함된 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성(S830)할 수 있다. 파워-오프 상태는 표시 장치(1000)에 입력 영상 데이터(IMG)가 인가되지 않는 상태를 의미할 수 있다. 표시 장치(1000)는 표시 패널(100)에서 영상을 표시하지 않는 동안 누설 센싱 데이터(LSD) 및 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성할 수 있다.
구체적으로, 도 11의 표시 장치 구동 방법은 파워-오프 상태에서 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S840)할 수 있다. 도 12의 표시 장치 구동 방법은 누설 센싱 데이터(LSD)의 화소들(P) 각각에 대한 개별 값과 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)의 차이를 계산하여 누설 데이터(LD)를 생성(S841)하고, 누설 데이터(LD)의 개별 값을 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 가산하여 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S842)할 수 있다. 따라서, 도 12의 표시 장치 구동 방법은 전류 누설 특성에 대한 초기 누설 센싱 데이터(LSD0) 및 누설 센싱 데이터(LSD)의 차이를 나타낼 수 있는 누설 데이터(LD)를 문턱 전압 센싱 데이터(VD)에 가산함으로써, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 상기 전류 누설 특성으로 인해 감소된 만큼 보상을 받을 수 있다.
구체적으로, 도 11의 표시 장치 구동 방법은 파워-온 상태에서 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하여 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성할 수 있다. 파워-온 상태는 표시 장치(1000)에 입력 영상 데이터(IMG)가 인가되는 상태일 수 있다. 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상함으로써, 화소들(P)은 열화로 인해 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)의 변화와 상관 없이 균일한 휘도로 발광할 수 있다.
도 13은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 13을 참조하면, 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터(LSD)의 화소들(P) 각각에 대한 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 실시예에 따라, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상은 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하는 방식으로 수행될 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이가 기 설정된 기준 누설 값(LT)보다 작으면 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하지 않을 수 있다. 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)은 화소들(P) 각각에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)의 개별 값을 더한 후 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다.
실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 누설 데이터 생성부(311), 보상 센싱 데이터 생성부(312), 평균 연산부(313) 및 비교부(314)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터(LSD)의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 평균 연산부(313)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 수신하여 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)을 계산할 수 있다. 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)은 화소들(P) 전부에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)의 값을 더한 후 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다. 비교부(314)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0) 및 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)과 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)의 차이를 계산할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)과 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)의 차이가 기 설정된 기준 누설 값(LT)보다 큰 경우, 비교부(314)는 보상 센싱 데이터 생성부(312)에 활성화 신호(AS)를 제공할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)과 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)의 차이가 기 설정된 기준 누설 값(LT)보다 작거나 같은 경우, 비교부(314)는 보상 센싱 데이터 생성부(312)에 활성화 신호(AS)를 제공하지 않을 수 있다. 기준 누설 값(LT)은 열화로 인한 화소(P)의 누설되는 전류가 매우 작아서 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상이 필요 없다고 볼 수 있는 정도의 값으로 정해질 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 비교부(314)로부터 활성화 신호(AS)를 수신한 경우, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하여, 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 비교부(314)로부터 활성화 신호(AS)를 수신하지 않은 경우, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 그대로 센싱 데이터 메모리(700)에 인가할 수 있다. 따라서, 화소들(P)의 열화가 거의 진행되지 않아 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 필요성이 없는 경우 보상하지 않음으로써, 불필요한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상을 실시하지 않을 수 있다. 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 비교부(314)로부터 활성화 신호(AS)를 수신한 경우, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다.
도 14는 도 13의 센싱 보상부(310)에 의해 수행되는 표시 장치 구동 방법을 나타내는 도면들이다.
도 14를 참조하면, 도 14의 표시 장치 구동 방법은 화소들(P)이 열화 되기 전의 화소들(P) 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 저장(S810)하고, 파워-오프 상태에서 화소(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성(S820)하며, 파워-오프 상태에서 화소(P)에 포함된 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성(S830)하고, 파워-오프 상태에서 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이를 기 설정된 기준 누설 값(LT)과 비교하여 비교 결과를 생성(S860)하며, 상기 비교 결과에 기초하여 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상 여부를 결정하고, 파워-오프 상태에서 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S840)하며, 파워-온 상태에서 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하여 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성(S850)할 수 있다.
구체적으로, 도 14의 표시 장치의 구동 방법은 파워-오프 상태에서 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이를 기 설정된 기준 누설 값(LT)과 비교하여 비교 결과를 생성(S860)하며, 상기 비교 결과에 기초하여 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상 여부를 결정 할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이가 기준 누설 값(LT)보다 크면, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S870)하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이가 기준 누설 값(LT)보다 작거나 같으면, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하지 않을 수 있다. 화소들(P)의 열화가 거의 진행되지 않아 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 필요성이 없는 경우 보상하지 않음으로써, 불필요한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상을 실시하지 않을 수 있다.
도 15는 도 1의 표시 장치가 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 15를 참조하면, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 보상은 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값과 누설 이득(LG)의 곱을 가산하는 방식으로 수행될 수 있다.
도 9 및 도 15를 참조하면, 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값과 누설 이득(LG)의 곱을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)은 누설된 전류가 없을 때보다 누설된 전류가 있을 때 더 낮은 전압 값을 가질 수 있다. 따라서, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)에 상응하는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 누설된 전류가 없을 때보다 있을 때 더 낮은 값을 가질 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)와 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 생성된 누설 데이터(LD)는 화소(P)의 열화로 인한 누설되는 전류의 변화량을 나타낼 수 있다. 누설 센싱 데이터(LSD)와 문턱 전압 센싱 데이터(VD)가 다른 센싱 조건에서 생성(예를 들어, 다른 시간동안 수신된 센싱 전압(VSEN)을 기초로 생성)되었다고 가정하면, 상기 센싱 조건에 따라 누설 센싱 데이터(LSD) 및 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 값은 달라질 수 있다. 따라서, 상기 센싱 조건이 다르더라도 일정하게 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하기 위해, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 생성된 누설 데이터(LD)의 개별 값에 누설 이득(LG)을 곱해줄 필요가 있을 수 있다. 따라서, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값과 누설 이득(LG)의 곱을 가산함으로써, 문턱 전압 센싱 데이터(VD)와 누설 센싱 데이터(LSD)의 센싱 조건과 상관 없이 누설되는 전류가 문턱 전압 센싱 데이터(VD)에 미치는 영향을 감소시킬 수 있다.
도 16은 도 15의 실시예에 따른 표시 장치 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 16을 참조하면, 도 16의 표시 장치 구동 방법은 화소들(P)이 열화 되기 전의 화소들(P) 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 저장(S810)하고, 파워-오프 상태에서 화소(P)의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 생성(S820)하며, 파워-오프 상태에서 화소(P)에 포함된 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 생성(S830)하고, 파워-오프 상태에서 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S840)하며, 파워-온 상태에서 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 기초로 입력 영상 데이터(IMG)를 보상하여 보상 영상 데이터(CDATA)를 생성(S850)할 수 있다.
구체적으로, 도 16의 표시 장치 구동 방법은 파워-오프 상태에서 누설 센싱 데이터(LSD) 및 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S840)할 수 있다. 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상은 누설 센싱 데이터(LSD)의 화소들(P) 각각에 대한 개별 값과 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)의 차이를 계산하여 누설 데이터를 생성(S841)하고, 누설 데이터(LD)의 개별 값에 누설 이득(LG)을 곱(S845)하며, 누설 데이터(LD)의 개별 값에 누설 이득(LG)이 곱해진 값을 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 가산하여 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상(S846)함으로써 수행될 수 있다.
도 17은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 17을 참조하면, 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다.
실시예에 따라, 센싱 보상부(310)는 누설 데이터 생성부(311), 보상 센싱 데이터 생성부(312) 및 평균 연산부(313)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 평균 연산부(313)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 수신하여 화소들(P) 전체에 대한 전체 평균 값을 계산할 수 있다. 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)은 화소들(P) 각각에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)의 값을 더한 후 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하여, 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)은 누설된 전류가 없을 때보다 누설된 전류가 있을 때 더 낮은 전압 값을 가질 수 있다. 따라서, 제2 센싱 구간(SP2)의 측정 구간(MP) 동안 센싱 구동부(600)가 수신한 센싱 전압(VSEN)에 상응하는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)는 누설된 전류가 없을 때보다 있을 때 더 낮은 값을 가질 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)와 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 생성된 누설 데이터(LD)는 화소(P)의 열화로 인한 누설되는 전류의 변화량을 나타낼 수 있고, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산함으로써, 상기 전류 누설 특성이 문턱 전압 센싱 데이터(VD)에 미치는 영향을 감소시킬 수 있다. 국부적인 열화 없이 전반적인 오프 셋(offset)만 발생하는 경우, 누설 데이터(LD)의 생성은 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0) 및 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD)을 기초로 하는 것이 적절할 수 있다.
도 18은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(2000)를 나타내는 블록도이다. 도 19는 도 18의 표시 장치(2000)에 포함된 구동 제어부(300) 및 센싱 데이터 메모리(700)의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 20은 도 18의 표시 장치(2000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 18 내지 도 20을 참조하면, 도 18의 표시 장치의 센싱 데이터 메모리(700)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD') 및 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)를 저장할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 표시 장치가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)를 센싱 데이터 메모리(700)에 기입 할 수 있다. 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)를 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 화소들(P) 각각에 대한 개별 값과 누설 센싱 데이터(LSD)의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 개별 값과 누설 센싱 데이터(LSD)의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 따라서, 하나의 화소에 대한 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)와 현재 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 누설 데이터(LD)를 생성할 수 있다.
도 21은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 표시 패널(100)의 일 예를 나타내는 도면이다. 도 22은 도 1의 표시 장치(1000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 또 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 21을 참조하면, 표시 패널(100)은 서브 블록들(110)을 포함할 수 있다. 서브 블록들(110)은 표시 패널(100)의 영역을 구분하는 것일 수 있다. 도 20은 서브 블록들(110)을 화소들(P)이 2X2만큼 포함되도록 구분하고 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 서브 블록들(110)은 반드시 사각형으로 구분하여야 하는 것도 아니고 어떠한 형태도 포함할 수 있다.
도 22를 참조하면, 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터(LSD)의 서브 블록들(110) 각각에 포함된 화소들(P)에 대한 서브 블록 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)은 서브 블록들(110) 각각에 포함된 화소들(P)에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)의 값을 더하고 각 서브 블록(110)에 포함된 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다.
도 21 및 도 22를 참조하면, 실시예에 따라, 센싱 보상부(310)는 누설 데이터 생성부(311), 보상 센싱 데이터 생성부(312) 및 평균 연산부(313)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 평균 연산부(313)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 수신하여 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)을 계산할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값(ALSD0)과 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하여, 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터(LD)의 개별 값은 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)과 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)의 차이를 기초로 보간(interpolation)을 통하여 구해질 수 있다.
도 23은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(3000)를 나타내는 블록도이다. 도 24는 도 23의 표시 장치(3000)에 포함된 구동 제어부(300) 및 센싱 데이터 메모리(700)의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 25는 도 23의 표시 장치(3000)에 포함된 센싱 보상부(310)의 일 예를 나타내는 블록도이다. 도 23의 표시 장치(3000)에 포함된 표시 패널(100)은 서브 블록들(110)을 포함할 수 있다. 서브 블록들(110)은 표시 패널(100)의 영역을 구분하는 것일 수 있다.
도 23 내지 도 25를 참조하면, 도 23의 표시 장치(3000)의 센싱 데이터 메모리(700)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD 또는 VD') 및 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 저장할 수 있다. 실시예에 따라, 구동 제어부(300)는 표시 장치가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 센싱 데이터 메모리(700)에 기입 할 수 있다. 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)은 서브 블록들(110) 각각에 포함된 화소들(P)에 대한 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)의 값을 더하고 각 서브 블록(110)에 포함된 화소들(P)의 개수로 나눈 값일 수 있다. 구동 제어부(300)는 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 수신하고, 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)과 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성하며, 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상할 수 있다. 예를 들어, 도23의 표시 장치(3000)에 포함된 표시 패널(100)은 화소들(P)이 4x4로 배치되어 있고, 서브 블록들(110)내에는 화소들(P)이 2x2로 배치 (즉, 도 20의 표시 패널(100)과 같은 형태)되어 있다고 가정하면, 센싱 데이터 메모리(700)는 화소들(P) 각각에 대한 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)를 저장하면 16개의 화소들(P)에 대한 16개의 데이터를 저장하여야 하지만, 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 저장하면, 4개의 데이터를 저장할 수 있다. 따라서, 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 저장할 때 센싱 데이터 메모리(700)에 저장되는 데이터 량은 줄어들 수 있다. 실시예에 따라, 센싱 보상부(310)는 누설 데이터 생성부(311), 보상 센싱 데이터 생성부(312) 및 평균 연산부(313)를 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 평균 연산부(313)는 누설 센싱 데이터(LSD)를 수신하여 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)을 계산할 수 있다. 실시예에 따라, 평균 연산부(313)는 표시 장치가 제조될 때(또는 화소(P)가 열화되기 전에) 생성된 초기 누설 센싱 데이터(LSD0)를 수신하여, 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)을 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터 생성부(311)는 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)과 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)의 차이에 상응하는 누설 데이터(LD)를 생성 할 수 있다. 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 누설 데이터(LD)를 기초로 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 보상하여, 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 보상 센싱 데이터 생성부(312)는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 개별 값에 누설 데이터(LD)의 개별 값을 가산하여 보상된 문턱 전압 센싱 데이터(VD')를 생성할 수 있다. 실시예에 따라, 누설 데이터(LD)의 개별 값은 초기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD0)과 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값(SLSD)의 차이를 기초로 보간(interpolation)을 통하여 구해질 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)를 상기 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 보상함으로써, 누설되는 전류로 인해 발생하는 문턱 전압 센싱 데이터(VD)의 오류를 보상할 수 있다. 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 문턱 전압(VTH)에 대한 문턱 전압 센싱 데이터(VD)뿐만 아니라, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들(P)의 구동 트랜지스터(T1)의 이동도에 대한 이동도 센싱 데이터를 누설 센싱 데이터(LSD)를 기초로 보상함으로써, 누설되는 전류로 인해 발생하는 이동도 센싱 데이터의 오류를 보상할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 화소들(P)의 발광 소자(EL)에 흐르는 전류를 센싱하고, 발광 소자(EL)의 구동 특성에 대한 발광 소자 센싱 데이터를 누설 센싱 데이터(LSD)로 보상함으로써, 누설되는 전류로 인해 발생하는 상기 발광 소자 센싱 데이터의 오류를 보상할 수 있다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 디지털 TV, 3D TV, 휴대폰, 스마트 폰, 태블릿 컴퓨터, VR 기기, PC, 가정용 전자기기, 노트북 컴퓨터, PDA, PMP, 디지털 카메라, 음악 재생기, 휴대용 게임 콘솔, 내비게이션 등에 적용될 수 있다.
이상 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
1000 2000 3000: 표시 장치 100: 표시 패널
200: 패널 구동부 300: 구동 제어부
400: 게이트 구동부 500: 데이터 구동부
600: 센싱 구동부 700: 센싱 데이터 메모리
310: 센싱 보상부 320: 영상 보상부
311: 누설 데이터 생성부 312: 보상 센싱 데이터 생성부
313: 평균 연산부 314: 비교부

Claims (20)

  1. 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 화소들에 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부;
    상기 화소들로부터 센싱 전압을 수신하는 센싱 구동부;
    상기 화소들에 게이트 신호를 인가하는 게이트 구동부; 및
    상기 데이터 구동부, 상기 센싱 구동부 및 상기 게이트 구동부를 제어하는 구동 제어부를 포함하고,
    상기 센싱 구동부는 제1 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터를 생성하고, 제2 센싱 구간에서 수신한 상기 센싱 전압을 기초로 상기 화소들의 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 문턱 전압 센싱 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 구동 제어부는 상기 센싱 구동부로부터 상기 누설 센싱 데이터 및 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 수신하고, 상기 누설 센싱 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 저장하는 센싱 데이터 메모리를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고,
    상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이가 기 설정된 기준 누설 값보다 작으면 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하지 않는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 4 항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상은 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 상기 누설 데이터의 개별 값을 가산하는 방식으로 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 4 항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상은 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 상기 누설 데이터의 개별 값과 누설 이득의 곱을 가산하는 방식으로 수행되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 3 항에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고,
    상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 3 항에 있어서, 상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터를 저장하고,
    상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터를 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 누설 센싱 데이터의 개별 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제 3 항에 있어서, 상기 표시 패널은 서브 블록들을 포함하고,
    상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 전부에 대한 전체 평균 값을 저장하고,
    상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록들 각각에 포함된 상기 화소들에 대한 서브 블록 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제 3 항에 있어서, 상기 표시 패널은 서브 블록들을 포함하고,
    상기 센싱 데이터 메모리는 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록들 각각에 포함된 상기 화소들에 대한 서브 블록 평균 값을 저장하고,
    상기 구동 제어부는 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록 평균 값을 수신하고, 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 서브 블록 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 서브 블록 평균 값의 차이에 상응하는 누설 데이터를 생성하며, 상기 누설 데이터를 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것을 특징으로 하는 표시 장치
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 화소는
    상기 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인을 통해 인가되는 상기 데이터 전압을 전송하는 스위칭 트랜지스터;
    상기 스위칭 트랜지스터에 의해 전송된 상기 데이터 전압을 저장하는 스토리지 커패시터;
    상기 스토리지 커패시터에 저장된 상기 데이터 전압에 기초하여 구동 전류를 생성하는 상기 구동 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터에 의해 생성된 상기 구동 전류에 기초하여 발광하는 발광 소자; 및
    센싱 신호에 응답하여 상기 구동 트랜지스터와 상기 발광 소자 사이의 연결 노드를 상기 센싱 전압이 전송되는 센싱 라인에 연결하는 센싱 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제 12 항에 있어서, 상기 제1 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 연결 노드에 상기 센싱 라인을 통하여 센싱 초기화 전압을 인가하고,
    상기 제1 센싱 구간의 측정 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 누설 센싱 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 제2 센싱 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 데이터 라인을 통하여 상기 구동 트랜지스터의 게이트 전극에 기준 전압을 제공하고,
    상기 제2 센싱 구간의 센싱 초기화 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 연결 노드에 상기 센싱 라인을 통하여 상기 센싱 초기화 전압을 인가하고,
    상기 제2 센싱 구간의 측정 구간에서 상기 센싱 구동부는 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 14 항에 있어서, 상기 제2 센싱 구간은 상기 제1 센싱 구간을 뒤따르는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 화소들이 열화 되기 전의 상기 화소들 전부에 대한 초기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값을 저장하는 단계;
    파워-오프 상태에서 상기 화소의 전류 누설 특성에 대한 누설 센싱 데이터를 생성하는 단계;
    상기 파워-오프 상태에서 상기 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 문턱 전압에 대한 문턱 전압 센싱 데이터를 생성하는 단계;
    상기 파워-오프 상태에서 상기 누설 센싱 데이터 및 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값을 기초로 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계; 및
    파워-온 상태에서 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 기초로 입력 영상 데이터를 보상하여 보상 영상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 표시 장치 구동 방법.
  17. 제 16항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계는
    상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값의 차이를 계산하여 누설 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 누설 데이터의 개별 값을 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 가산하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 구동 방법.
  18. 제 16 항에 있어서,
    상기 파워-오프 상태에서 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값과 상기 누설 센싱 데이터의 전체 평균 값의 차이를 기 설정된 기준 누설 값과 비교하여 비교 결과를 생성하는 단계; 및
    상기 비교 결과에 기초하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 보상 여부를 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 구동 방법.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 상기 보상 여부를 결정하는 단계는
    상기 차이가 상기 기준 누설 값보다 크면, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 것으로 결정하는 단계; 및
    상기 차이가 상기 기준 누설 값보다 작거나 같으면, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하지 않는 것으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 구동 방법.
  20. 제 16항에 있어서, 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계는
    상기 누설 센싱 데이터의 상기 화소들 각각에 대한 개별 값과 상기 초기 누설 센싱 데이터의 상기 전체 평균 값의 차이를 계산하여 누설 데이터를 생성하는 단계;
    상기 누설 데이터의 개별 값에 누설 이득을 곱하는 단계; 및
    상기 누설 데이터의 상기 개별 값에 상기 누설 이득이 곱해진 값을 상기 문턱 전압 센싱 데이터의 개별 값에 가산하여 상기 문턱 전압 센싱 데이터를 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치 구동 방법.
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