KR20220140507A - 이벤트 기반 이미지 센서 및 픽셀 회로의 어레이로부터 이벤트 판독 - Google Patents

이벤트 기반 이미지 센서 및 픽셀 회로의 어레이로부터 이벤트 판독 Download PDF

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KR20220140507A
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다니엘 마톨린
토마스 피나투
마시밀리아노 줄리오니
크리스토프 포슈
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프로페시
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Abstract

회로는 이벤트 비전 센서 라인의 픽셀에 전기적으로 연결된 선택 회로를 포함한다. 선택 회로는 라인의 활성 픽셀로부터 활성화 신호를 수신하고, 활성화 신호 수신에 응답하여 확인 신호를 생성하고, 확인 신호를 라인의 픽셀에 전송하도록 구성된다. 회로는 또한 라인의 픽셀들 중에서 선택 회로까지의 거리가 가장 큰 픽셀에 전기적으로 결합된 제어 회로를 포함한다. 제어 회로는 선택 회로로부터 확인 신호를 수신하고 확인 신호 수신에 응답하여 프로세스 판독 신호를 생성하도록 구성된다. 회로는 또한 라인의 픽셀에 전기적으로 결합되고 프로세스 판독 신호를 수신한 후에 선택 회로, 제어 회로, 및 라인의 픽셀의 리셋을 일으키도록 구성된 인터페이스 회로를 포함한다.

Description

이벤트 기반 이미지 센서 및 픽셀 회로의 어레이로부터 이벤트 판독
관련 출원에 대한 상호 참조
본 출원은 2020년 2월 14일자로 출원된 미국 특허 가출원 제62/976,868호에 대한 우선권을 주장하며, 그 내용 전체가 본 명세서에 참조에 의해 원용된다.
기술분야
본 개시내용은 일반적으로 이벤트 기반 비전 감지 및 이벤트를 처리하기 위한 시스템 및 방법의 분야에 관한 것이다. 더 구체적으로, 그리고 제한 없이, 본 개시내용은 이벤트 기반 이미지 감지를 위한 이벤트 어레이 판독 제어에 관한 것이다. 본 명세서에 개시된 센서 및 기술은 보안 시스템, 자율 차량, 및 신속하고 효율적인 모션 또는 이벤트 검출로부터 이익을 얻는 다른 시스템과 같은 다양한 애플리케이션 및 비전 시스템에서 사용될 수 있다.
현존하는 이미지 센서는 반도체 전하 결합 소자(CCD), 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 센서, N형 금속 산화물 반도체(NMOS) 센서 또는 기타 센서를 포함하는 복수의 픽셀을 사용하여 장면의 디지털 이미지를 캡처할 수 있다. 그러나 기존의 이미지 센서는 각 프레임이 장면의 전체 이미지로 캡처되기 때문에 빠른 움직임을 감지할 때의 속도가 느리다. 더욱이, 이러한 이미지 센서는 많은 양의 데이터를 생성하여 예를 들어 캡처된 이미지로부터 모션 정보를 선별하는 데 필요한 후처리의 양을 기하급수적으로 증가시킨다.
많은 기존 기술은 전체 이미지를 캡처하는 이미지 센서에 의해 제공되는 방대한 세부 사항을 필요로 하지 않는다. 예를 들어, 보안 시스템 또는 기타 유사한 시스템은 모션 데이터에만 관심이 있고 모션이 없는 이미지 부분에는 관심이 없을 수 있다. 다른 예로, 자율주행 차량은 인간의 지각 시간(일반적으로 1초 이하)에 필적하는 결정을 내리기 위해 캡처된 데이터를 빠르고 효율적으로 처리해야 한다. 이러한 효율성은 상황과 관련된 캡처된 데이터의 일부를 얻기 위해 많은 양의 데이터를 (예: 후처리를 통해) 폐기해야 하는 경우 제한된다.
본 개시내용의 실시예는 이벤트 비전 센서의 픽셀들로부터 데이터를 샘플링하기 위한 회로를 제공한다. 회로는 선택 회로, 제어 회로 및 인터페이스 회로를 포함할 수 있다. 선택 회로는 이벤트 비전 센서의 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합될 수 있다. 선택 회로는 라인의 활성 픽셀로부터 활성화 신호를 수신하고, 활성화 신호를 수신한 것에 응답하여 확인 신호를 생성하고, 그리고 확인 신호를 라인의 픽셀에 전송하도록 구성될 수 있으며, 여기서 라인의 각 픽셀은 확인 신호를 수신할 때 해당 픽셀이 활성 상태일 경우 판독 요청 신호를 생성하도록 구성된다. 제어 회로는 라인의 픽셀들 중 선택 회로와 가장 거리가 먼 픽셀과 전기적으로 결합될 수 있다. 제어 회로는 선택 회로로부터 확인 신호를 수신하고, 확인 신호 수신에 응답하여 프로세스 판독 신호를 생성하도록 구성될 수 있다. 인터페이스 회로는 라인의 픽셀에 전기적으로 결합될 수 있고, 프로세스 판독 신호를 수신한 후에 선택 회로, 제어 회로, 및 라인의 픽셀들을 리셋시키도록 구성될 수 있다.
본 개시내용의 실시예는 또한 이벤트 비전 센서의 픽셀들로부터 데이터를 샘플링하기 위한 회로를 제공한다. 회로는 라인 선택 회로, 인터페이스 회로 및 타이머 회로를 포함할 수 있다. 라인 선택 회로는 이벤트 비전 센서의 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합될 수 있다. 라인 선택 회로는 라인의 활성 픽셀로부터 활성화 신호를 수신하고, 활성화 신호 수신에 응답하여 확인 신호 및 시작 신호를 생성하고, 그리고 확인 신호를 라인의 픽셀에 전송하도록 구성될 수 있으며, 라인의 각 픽셀은 확인 신호를 수신할 때 해당 픽셀이 활성 상태일 경우 판독 요청 신호를 생성하도록 구성된다. 인터페이스 회로는 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합될 수 있다. 인터페이스 회로는 판독 요청 신호를 수신하는 것에 응답하여 판독 요청 신호를 생성한 픽셀로부터 데이터 신호를 수신하도록 구성될 수 있다. 타이머 회로는 인터페이스 회로 및 라인 선택 회로에 전기적으로 결합될 수 있다. 타이머 회로는 라인 선택 회로로부터 시작 신호를 수신하고, 그리고 시작 신호를 수신하는 타임스탬프로부터의 시간 간격이 임계 시간을 넘어선 후에 인터페이스 회로에 의해 데이터 신호가 수신되지 않는 경우 라인 선택 회로 및 라인의 픽셀들을 리셋시키도록 구성될 수 있다.
본 개시내용의 실시예는 이미지 센서에 사용하기 위한 픽셀 회로를 더 제공한다. 픽셀 회로는 비교기 및 제1 래치 회로를 포함할 수 있다. 비교기는 비교기의 입력 신호가 제1 조건과 일치할 때 제1 판독 요청 신호를 생성하도록 구성될 수 있으며, 입력 신호는 감광 소자에 충돌하는 광의 밝기에 응답하여 감광 소자로부터 생성된다. 제1 래치 회로는 제1 세트 입력, 제1 리셋 입력, 및 제1 출력을 포함할 수 있고, 제1 리셋 입력 및 제1 출력은 인터페이스 회로에 전기적으로 결합되고, 제1 세트 입력은 비교기에 전기적으로 결합된다. 제1 래치 회로는: 비교기로부터 제1 세트 입력에 의해 제1 판독 요청 신호를 수신하고, 제1 판독 요청 신호를 인터페이스 회로에 출력하며, 신호를 수신하지 않도록 제1 세트 입력을 잠그고, 제1 리셋 입력에 의해 인터페이스 회로로부터 확인 신호를 수신하는 것에 응답하여 새로운 신호를 수신하도록 제1 세트 입력을 리셋하도록 구성될 수 있다.
본 명세서의 일부를 구성하는 첨부 도면은 여러 실시예를 예시하고 설명과 함께 개시된 실시예의 원리 및 특징을 설명하는 역할을 한다. 도면에서:
도 1은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀의 예시적인 아키텍처의 개략도이다.
도 2는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀에 대한 판독 인터페이스의 예시적인 아키텍처의 개략도이다.
도 3은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 예시적인 회로의 개략도이다.
도 4는 본 개시내용의 실시예에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 다른 예시적인 회로의 개략도이다.
도 5는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀에 대한 다른 판독 인터페이스의 예시적인 아키텍처의 개략도이다.
도 6은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 또 다른 예시적인 회로의 개략도이다.
도 7은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 도 6의 프로토콜 제어 회로의 예시적인 아키텍처의 개략도이다.
도 8은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 판독 회로에 대한 신호 타이밍도의 개략도이다.
도 9는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 칩-탑 회로 설계의 예시적인 아키텍처의 개략도이다.
본 명세서에 개시된 실시예는 비동기식 시간 기반 감지를 포함하는 비전 감지를 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다. 개시된 실시예는 또한 이벤트 기반 비전 감지를 위한 이벤트 어레이 판독 아키텍처 및 제어에 관한 것이다. 유리하게는, 예시적인 실시예는 빠르고 효율적인 감지를 제공할 수 있다. 본 개시내용의 실시예는 보안 시스템, 자율 차량, 및 신속하고 효율적인 모션 또는 이벤트 검출로부터 이익을 얻는 기타 시스템과 같은, 다양한 애플리케이션 및 비전 시스템에서 구현 및 사용될 수 있다. 본 개시내용의 실시예가 비전 시스템을 일반적으로 참조하여 설명되지만, 그러한 시스템은 카메라, LIDAR, 또는 다른 센서 시스템의 일부일 수 있다는 것이 이해될 것이다.
현존하는 이미지 또는 비디오 처리 시스템에서, 이미지 센서는 이미지를 재구성하기 위해 시각 정보를 획득하고 처리할 수 있다. 이미지 또는 비디오 획득 및 처리 시스템은 광센서 어레이를 포함할 수 있으며, 이들 각각은 시각적 장면의 이미지 표현을 재구성하기 위해 시각적 정보를 획득할 수 있다. 이 과정은 미리 정해진 속도로 반복될 수 있다.
이벤트 기반(EB) 비전 센서는 미리 설정된 상대 임계값을 초과하는 시간적 대비를 픽셀 단위로 감지하여 상대적 광 변화(대비 검출, CD)의 시간적 진화를 따르고, 프레임 없는 픽셀-레벨의 절대 강도 측정(노출 측정, EM)에 대한 샘플링 지점을 정의할 수 있다. EB 센서는 기록된 데이터의 시간적 정밀도, 사후 처리 비용을 줄여주는 시간적 중복성의 고유한 억제, 및 넓은 장면 내 동적 범위 동작 덕분에 고속, 저전력 머신 비전 애플리케이션에서 인기를 얻고 있다. 시간적 대비(CD)에 대한 정보는 "이벤트"의 형태로 인코딩될 수 있다. 즉, 원래 픽셀의 X, Y 좌표, 타임 스탬프 및 대비 극성을 포함하는 데이터 패킷이다. 높은 시간적 정밀도로 시각적 정보를 샘플링하는 개별 픽셀의 기능을 최대한 활용하려면 이벤트 타이밍을 유지하기 위해 조기 타임 스탬핑 및 높은 판독 처리량이 중요할 수 있다.
일부 실시예에서, 실시간 인공 비전("컴퓨터 비전" 또는 "머신 비전"이라고도 함)의 경우 비전 획득 및 처리 시스템은 이전에 획득한 시각적 정보에 대비하여 현재 시각적 정보의 변화를 나타내는 데이터만 획득 및 처리하도록 구성될 수 있다. 이러한 센서 또는 비전 시스템은 이미지 프레임을 생성하지 않을 수 있다. 이러한 시각 센서는 예를 들어, 시간적 대비(TC) 센서, 대비 검출(CD) 센서, 또는 동적 비전 센서(DVS)를 포함할 수 있다. 이러한 센서는 본 개시내용에서 "이벤트 기반 비전 센서"로 지칭된다.
예를 들어, TC 센서는 기존 이미지 시스템과 같이 프레임별로 이미지를 기록하지 않는다. 대신 TC 센서의 각 픽셀은 감지하는 빛의 시간 도함수를 결정할 수 있다. 일부 실시예에서, 선택적으로, 픽셀은 시간 도함수에 대해 일부 처리를 추가로 수행할 수 있다. 시간 도함수가 미리 설정된 임계값을 초과하면 픽셀은 신호를 출력하여 "이벤트"를 생성할 수 있다. 짧은 대기 시간으로 픽셀은 이벤트와 관련된 데이터를 추가로 전송할 수 있다. 일부 실시예에서, 전송된 데이터는 TC 센서(예를 들어, 2차원 픽셀 매트릭스를 가짐) 내에 위치된 픽셀의 위치(예를 들어, x 및 y 좌표)를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 전송된 데이터는 픽셀에 의해 감지된 광 강도의 시간적 진화의 극성(예를 들어, 양의 또는 음의 부호)을 나타내는 부호 비트를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 전송된 데이터는 이벤트 발생의 타임스탬프를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 픽셀의 전송된 데이터는 (x,y,s) 값의 흐름을 포함할 수 있으며, 여기서 x 및 y는 픽셀의 좌표를 나타내고 s는 극성을 나타낸다. s의 값은 픽셀에 의해 검출된 광 강도의 상대적인 변화를 나타낼 수 있으며, 여기서 s의 값은 변화의 크기를 나타낼 수 있고, s의 부호는 변화의 방향(예: 증가 또는 감소)을 나타낼 수 있다. 일반적으로 TC 센서의 픽셀 회로는 비동기식으로 작동할 수 있다. 즉, TC 센서의 픽셀 회로는 일반적으로 시간 기반으로 양자화되지 않는다(예: 클럭되지 않음).
이벤트 기반 비전 센서(예: TC 센서)는 데이터 판독을 위해 AER(Address-Event-Representation Readout)을 사용할 수 있다. 일부 실시예에서, AER은 픽셀과 이벤트 기반 비전 센서의 판독 주변부 사이에 핸드셰이크 프로토콜(예를 들어, 동기식 또는 비동기식 핸드셰이크 프로토콜)을 사용할 수 있다. 일부 실시예에서, AER은 판독 시스템의 나중 단계에서 배열될 수 있다. 일부 실시예에서, AER은 이벤트 기반 비전 센서의 칩과 외부 데이터 수신기 사이에 배열될 수 있다.
일부 실시예에서, 이벤트의 판독 사이클은 2개의 개별 핸드셰이크 사이클을 포함할 수 있다. 예를 들어, 픽셀은 행 선택을 위해 행 방향 판독 주변부에 요청 신호를 보낼 수 있다. 추가적으로 또는 선택적으로, 행 확인 신호(예를 들어, 성공적인 행 선택을 의미함)를 수신한 후, 픽셀은 판독 주변부의 열 방향으로 요청 신호를 보낼 수 있다. 픽셀에 의해 이벤트를 출력하기 위한 판독 사이클은 픽셀이 열 확인 신호(예를 들어, 성공적인 열 선택을 의미함)를 수신할 때 종료될 수 있다. 일부 실시예에서, 행 확인 신호를 수신한 후, 판독 사이클이 종료될 수 있다(즉, 픽셀이 판독 주변부의 열 방향으로 요청 신호를 전송하지 않거나 열 확인 신호를 기다리지 않음).
본 개시내용에서, "행" 및 "열"은 판독 주변부의 2개의 상이한 방향(차원)을 지칭하며, 그 명칭은 임의적이다. 판독 주변부의 두 방향은 판독 주변부의 기능을 변경하지 않고 교환될 수 있다. 설명의 편의를 위해 그리고 모호성을 유발하지 않기 위해, 픽셀에 의해 액세스되는 제1 및 제2 차원은 각각 "행" 및 "열"로 지칭되며, 각각 차원 지정자 "Y" 및 "X"로 지정된다.
몇몇 경우에, 2개 이상의 픽셀이 판독을 위한 행을 선택하기 위해 동시에 행 방향 판독 주변부에 액세스할 수 있다. 이러한 경우 중재자 회로를 사용하여 요청의 우선 순위를 지정할 수 있다. 일부 실시예에서, 중재자(arbiter)는 통신을 위한 핸드셰이크 접근 방식을 사용하여 비동기식 논리 회로 또는 동기식(예를 들어, 클록된) 논리 회로로서 구현될 수 있다. 일부 실시예에서, 활성 행 선택의 시퀀스를 제어하기 위해 간단한 스캐너가 사용될 수 있다.
핸드셰이크 프로토콜(예: 동기 또는 비동기 핸드셰이크 프로토콜)을 구현하는 판독값을 가진 이벤트 비전 센서(예: TC 센서)의 경우, 판독 시스템의 요청이 승인되지 않으면 판독이 차단되어 핸드셰이크 프로토콜이 중단될 수 있는 위험이 여전히 존재한다("판독 잠금 위험" 또는 "판독 잠금 문제"라고 함). 예를 들어, 이는 픽셀이 시간적 대비 이벤트를 검출하고 해당 행 요청(reqY) 신호를 생성하는 경우 발생할 수 있지만, 행 확인(ackY) 신호가 판독 주변부에 의해 생성되기 전에 시간적 대비 이벤트가 사라진다(예: 검출 임계값을 초과한 픽셀의 광 입력과 관련된 전압 신호가 감지 임계값 아래로 떨어져, 비교기가 비활성화 상태로 다시 전환될 수 있음). 이러한 경우 픽셀은 열 요청(reqX) 신호를 생성할 수 없으며(시간적 대비 이벤트가 사라지기 때문에) 판독 시스템은 이벤트 판독 시퀀스 중간에 정지된다(즉, 판독 시스템은 픽셀이 요청 신호 생성 프로토콜을 완료하기를 기다림). 같은 행의 픽셀 중 하나에서 새로운 이벤트가 발생하여 잠재적으로 시스템 잠금이 해제되기 전에, 이벤트 기반 비전 센서의 모든 픽셀에 대한 모든 판독이 무기한 동안 중단될 수 있다. 이 바람직하지 않은 거동으로 인해 일시적으로 장치가 작동하지 않고 데이터가 손실될 수 있다.
본 개시내용의 일 양태에 따르면, 상기 위험 및 결점을 해결하는 이벤트 기반 비전 센서를 위한 판독 시스템이 설명된다. 이벤트 기반 비전 센서는 복수의 픽셀을 가질 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "픽셀"은 빛을 전기 신호로 변환하는 센서의 가장 작은 요소를 의미한다. 또한, 본 명세서에 개시된 바와 같이, 픽셀은 감지 시스템을 위해 임의의 적합한 크기 및 형상의 어레이로 제공될 수 있다.
도 1은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀(100)의 예시적인 아키텍처의 개략도이다. 일부 실시예에서, 픽셀은 감광 요소(102)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 감광 요소(102)는 포토다이오드(예를 들어, p-n 접합 또는 PIN 구조), 또는 광(104)을 전기 신호로 변환하도록 구성된 임의의 다른 요소를 포함할 수 있다. 감광 요소(102)는 감광 요소(102)에 충돌하는 광(104)의 강도에 비례하는 전류 lPh를 생성할 수 있다.
일부 실시예에서, 각각의 픽셀은 감광 소자(102)에 연결된 광-신호 컨버터(도 1에 도시되지 않음)를 더 포함할 수 있다. 광-신호 컨버터는 감광 소자(102)에 충돌하는 광의 강도에 선형적으로 비례하는 전류 신호를 제1 출력에 제공하도록, 그리고, 감광 소자(102)에 충돌하는 광(104)의 강도와 대수 관계인 전압 신호를 제2 출력에 제공하도록, 구성될 수 있다. 예를 들어, 광-신호 컨버터는, MOS(metal-oxide-semiconductor) 트랜지스터, CMOS(complementary metal-oxide-semiconductor) 트랜지스터, 또는 전자 신호를 증폭하거나 스위칭하도록 구성된 임의의 다른 3단자 회로 소자와 같은, 복수의 트랜지스터(도 1에 도시되지 않음)를 포함할 수 있다.
일부 실시예에서, 각각의 픽셀은 검출기(도 1에 도시되지 않음)를 더 포함할 수 있다. 검출기는 광-신호 컨버터의 제2 출력의 전압 신호에 비례하는 검출기의 신호가 임계값을 초과할 때, 다른 픽셀의 검출기와 독립적으로, 그리고, 자율적으로, 트리거 신호를 생성하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 검출기는 하나 이상의 전압 비교기 및 하나 이상의 커패시터를 포함하여, 제어 신호를 수신할 때 리셋될 수 있고, 임계값이 초과될 때 트리거 신호를 전송하도록 구성될 수 있다. 본 명세서에서는 다양한 형태의 커패시터가 사용될 수 있다. 예를 들어, 커패시터는 2개의 병렬(또는 실질적으로 병렬) 플레이트를 포함하는 이산 장치일 수 있으며, 선택적으로 그 사이에 유전체가 있거나, (예를 들어, 다른 회로 요소의 반도체 구현으로 인해) 회로 노드에 존재하는 기생 커패시턴스를 가질 수도 있다. MOS(metal-oxide-semiconductor) 커패시터, MiM(metal-insulator-metal) 커패시터, 금속 프린지 커패시터, 트렌치 커패시터 등과 같은 다른 형태의 커패시터도 가능하다.
추가 예로서, 도 1에 도시된 바와 같이, 픽셀(100)은 감광 소자(102)(예를 들어, 부분적으로 고정된 포토다이오드), 서브임계치 MOS 기반 대수 광전류-전압 컨버터(106)(도 1에서 "log l/V 컨버터(106)"로 도시됨), 비동기식 델타- 변조 또는 "레벨 크로싱" 샘플러(108)(도 1에서 "ADM(108)"로 표시됨), 전압 비교기(110)(예: 두 극성 모두에 대해), ADM 제어를 갖는 로직(도 1의 ISL(112)과 ADM(108) 사이에서 "CTRLADM"으로 표시됨) 및 판독 주변부에 대한 인터페이스 및 상태 로직(도 1에서 "ISL(112)"로 표시됨)을 포함한다.
도 2는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀에 대한 판독 인터페이스(200)의 예시적인 아키텍처의 개략도이다. 판독 인터페이스(200)는 도 1의 인터페이스 및 상태-로직 또는 ISL(112)을 구현하기 위해 사용될 수 있다. 일부 실시예에서, 이벤트 기반 비전 센서의 각 픽셀은 판독 인터페이스(200)와 유사한 판독 인터페이스를 포함할 수 있다.
판독 인터페이스(200)는 모든 픽셀에 적어도 하나의 메모리 요소(예를 들어, 래치)를 추가함으로써 판독 잠금 위험을 완화할 수 있다. 메모리 요소는 픽셀에 의해 검출되는 시간적 대비의 각 이벤트를 즉시 "잠금"(lock)할 수 있다. 이 잠금은 동일한 픽셀이 수신한 해당 확인 신호에 의해서만 해제될 수 있다. 이 잠금은 거기에 입사하는 광 신호의 추가 변화를 감지하는 동일한 픽셀에 의해 해제될 수 없으며, 이는 동일한 픽셀의 요청 생성 프로토콜의 완료를 보장할 수 있다.
도 2의 예시적인 실시예에 도시된 바와 같이, 판독 인터페이스(200)는 2개의 입력 래치(202, 204)를 포함한다. 일부 실시예에서, 입력 래치(202, 204)는 비교기 스위칭(예를 들어, 도 1의 전압 비교기(110)의 스위칭)이 느릴 때 전력을 감소시킬 수 있다. 일부 실시예에서, 입력 래치(202, 204)는 추가로 링잉(ringing)을 방지하거나 감소시킬 수 있다. 일부 실시예에서, 입력 래치(202, 204)는 각각 게이트 래치(gated latches)(206, 208)와 연관된다. 게이트 래치(206, 208)는 늦은 요청 생성 또는 이벤트 손실을 방지할 수 있다. 일부 실시예에서, 판독 인터페이스(200)의 입력 래치(202, 204)는 이벤트가 있는 픽셀만을 저장할 수 있다.
입력 래치(202, 204) 각각은 SET 입력("S"로 표시) 및 RESET 입력("R"으로 표시)을 포함할 수 있다. 제1 입력 래치(202)는 시간적 대비의 양의 극성(도 1 내지 도 2에서 "CON"으로 표시됨)을 검출하는 비교기(예를 들어, 도 1의 전압 비교기(110))의 제1 출력에 전기적으로 결합된 SET 입력을 가질 수 있다. 제2 입력 래치(204)는 시간적 대비의 음의 극성(도 1 내지 도 2에서 "COFF"로 표시됨)을 검출하는 비교기(예를 들어, 도 1의 전압 비교기(110))의 제2 출력에 전기적으로 결합된 SET 입력을 가질 수 있다. 시간적 대비가 감지되고 비교기의 출력(예: CON 또는 COFF) 중 하나가 활성화되면 해당 래치(예: 제1 입력 래치(202) 또는 제2 입력 래치(204))가 상태를 변경할 수 있다. CON이 활성화될 때, 제1 입력 래치(202)는 행 선택을 위한 출력("Q"로 나타냄)을 통해 양의 극성을 나타내는 행 요청 신호(도 2에서 "reqY ON"으로 나타냄)를 보낼 수 있다. COFF가 활성화될 때, 제2 입력 래치(204)는 행 선택을 위한 출력("Q"로 표시됨)을 통해 음의 극성을 나타내는 행 요청 신호(도 2에서 "reqY OFF"로 표시됨)를 전송할 수 있다. 성공적인 행 선택 후에, 행 선택 회로(예를 들어, 도 3의 행 선택 회로(302))는 확인 신호(도 2에서 "ackY"로 표시됨)를 판독 인터페이스(200)(예를 들어, 두 입력 래치(202 및 204)) 모두)에 보낼 수 있다. ackY를 수신한 후 판독 인터페이스(200)가 트리거되어 입력 래치(202 및 204)에 잠긴 이벤트를 보낼 수 있다. 예를 들어, CON이 활성화되고 reqY ON이 전송되면 제1 입력 래치(202)는 잠긴 이벤트(도 1 내지 도 2에서 "reqX ON"으로 표시됨)를 보낼 수 있다. 다른 예를 들면, COFF가 활성화되고 reqY OFF가 전송될 때, 제2 입력 래치(204)는 잠긴 이벤트(도 1 내지 도 2에서 "reqX OFF"로 표시됨)를 전송할 수 있다. 판독이 진행 중일 때(예를 들어, 입력 래치(202 또는 204) 중 적어도 하나가 잠긴 이벤트를 보낼 때), 판독 인터페이스(200)는 ackY에 의해 트리거되어, 두 입력 래치(202 및 204)를 이네이블링 입력("E"로 표시됨)을 통해 비활성화시키는 신호를 활성화하여, 이벤트 손실을 방지하도록 CON 및 COFF 경로를 디스에이블시킬 수 있다. 판독을 완료한 후, 판독 인터페이스(200)는 두 입력 래치를 리셋하기 위한 2개의 입력 래치(202 및 204)의 RESET 입력("R"로 표시)에 대한 제어 신호(도 1 내지 도 2에서 "CTRLADM"로 표시)를 활성화하도록 트리거될 수 있다. CON 또는 COFF의 변경은 입력 래치(202, 204)를 리셋하는 데 전혀 영향을 미치지 않는다.
도 3은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 예시적인 회로(300)의 개략도이다. 회로(300)는 픽셀 어레이를 포함하고, 그 좌표는 (0,0), (1,0), … . . , (M,N)에 의해 표시된다. 각각의 픽셀(예를 들어, 좌표(m,n)의 픽셀)은 픽셀에 전기적으로 결합된 행 선택 회로(302)에 행 요청 신호(도 3에서 "reqY"로 표시됨)를 보낼 수 있고, 행 선택 회로(302)로부터 행-선택 확인 신호(도 3에서 "ackY"로 표시됨)를 수신할 수 있다. ackY 수신 후, 픽셀은 데이터 판독 활성화를 위해 인터페이스 셀에 (도 3에서 "reqX"로 표시되는) 열-요청 신호를 또한 활성화시킬 수 있다. reqX 다음에 오는 "ON" 및 "OFF"는 픽셀의 출력 데이터의 극성을 나타낼 수 있다. 선택된 행("reqX[0:2M-1]")의 픽셀에 의해 인터페이스 셀(306)(예를 들어, [0:2M-1]로 라벨링되는 총 2M개의 인터페이스 셀)에 출력되는 데이터는 인터페이스 셀(306)에 의해 출력 포매팅 회로(308)에 추가로 출력될 수 있다. 행 어드레스 인코더(304)("y-어드레스 인코더(304)"라고 함)는 픽셀에 전기적으로 연결되고, 선택된 행의 픽셀의 좌표(도 3의 "addrY[0:log2(N)-1]"로 표시됨)를 추출하여, 좌표를 출력 포매팅 회로(308)에 출력할 수 있다. 출력 포매팅 회로(308)는 reqX[0:2M-1] 및 addrY[0:log2(N)-1]을 결합하여 포맷된 데이터(310)로 출력한다. 판독 컨트롤러(312)는 출력 포매팅 회로(308), 인터페이스 셀(306) 및 행 선택 회로(302)를 제어할 수 있다.
일부 실시예에서, 판독 잠금 문제를 완화하기 위해, 회로(300)의 각 픽셀은 픽셀(100)일 수 있고, 그 ISL은 판독 인터페이스(200)를 포함할 수 있다.
일부 실시예에서, 각 픽셀 내부의 추가 구성요소를 줄이기 위해, 판독 잠금 문제를 완화하도록 이벤트 기반 비전 센서에 외부 "워치독" 타이머 회로(도 3에 도시되지 않음)가 사용될 수 있다. 이 타이머 회로는 reqX가 인터페이스 셀(306)에 의해 수신되는지 여부에 상관없이 행 선택 회로(302)로부터 마지막 ackY 신호를 수신한 후 비활성의 사전 설정된 시간 후에 판독 시스템을 잠금 해제할 수 있다. 일부 실시예에서, 사전 설정된 시간은 프로그래밍될 수 있다.
도 4는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 다른 예시적인 회로(400)의 개략도이다. 회로(300)와 비교하여, 회로(400)의 판독 컨트롤러(402)는 타이머 회로(예를 들어, 전술한 바와 같은 외부 "워치독" 타이머 회로)를 포함한다.
일부 실시예에서, 회로(400)의 일 행(예를 들어, 행 n)의 픽셀(예를 들어, 픽셀(m,n))이 시간적 대비 이벤트를 검출할 때, 픽셀은 행 요청 신호(reqY)를 행 선택 회로(302)에 전송할 수 있다. 차례로, reqY 수신에 응답하여 행 선택 회로(302)에 의해 해당 행이 성공적으로 선택됨에 따라, 행 선택 회로(302)는 활성 행(예를 들어, 행 N)의 픽셀 일부 또는 전부에 확인 신호 ackY를 다시 전송할 수 있다. 또한, 행 선택 회로(302)는 "rowreq" 신호를 생성하고 이를 판독 컨트롤러(402)에 보낼 수 있다. "rowreq" 신호는 타이머 회로를 시작할 수 있다. y-어드레스 인코더(304)는 활성 행에 대한 행 어드레스를 구성하여, addrY[0:log2(N)-1]로 출력할 수 있다.
ackY를 수신한 후, 활성 행에서 이벤트를 검출한 모든 픽셀(여전히 활성화되어 있는 경우, reqY 전송을 트리거한 픽셀, 그리고, reqY가 전송된 후 ackY가 수신되기 전에 활성 행에서 새로운 이벤트를 감지한 임의의 픽셀)은 reqX를 인터페이스 셀(306)에 보내고 그들의 reqY 신호를 제거할 수 있다. 따라서, 활성 행의 공통 행 요청(reqY) 신호 라인이 비활성화될 수 있다.
인터페이스 셀(306)은 reqX[0:2M-1]을 메모리 요소로 샘플링하고 부하 신호(load signal)(도 4에서 "로드"(load)로 나타냄)를 사용하여 판독 컨트롤러(402)에 표시할 수 있다. 부하 신호를 수신한 후, 판독 컨트롤러(402)는 행 선택 회로(302)를 리셋하기 위해 행 선택 회로(302)에 "rowack" 신호를 보낼 수 있다. 그 다음, 행 선택 회로(302)는 활성 행에 ackY를 릴리스할 수 있다. 공통 ackY 신호 라인이 비활성화되면 활성 행의 활성 픽셀이 활성화된 reqX 신호를 제거하여 판독 주기를 종료할 수 있다. 새로운 행은 이제 다른 reqY를 수신하는 것에 응답하여 행 선택 회로(302)에 의해 선택될 수 있다.
일부 실시예에서, 판독 잠금이 발생하고 판독 시스템이 정지될 때, 회로(400)는 다음과 같이 판독 컨트롤러(402)의 타이머 회로에 의해 제어되는 rowack 신호에 의해 잠금 해제될 수 있다. 판독 컨트롤러(402)가 rowreq 신호를 수신한 후, 미리 설정된 시간 후에 reqX 신호가 인터페이스 셀(306)로 전송되지 않아(예를 들어, 판독할 이벤트가 없음), 판독 컨트롤러(402)가 부하 신호를 수신하지 못하는 경우, 판독 컨트롤러(402)는 행 선택 회로(302)를 리셋하기 위한 rowack 신호를 행 선택 회로(302)에 rowack 신호를 보내도록 활성화된다. 리셋 후에, 행 선택 회로(302)는 활성 행의 ackY를 릴리스할 수 있다. 이제 다른 reqY 수신에 응답하여 행 선택 회로에 의해 새 행이 선택될 수 있다.
일부 실시예에서, 사전 설정된 시간은 활성 행의 활성 픽셀의 수 및 분포와 무관하게, 일 행 내 의 모든 활성 픽셀이 중단 없이 reqX 전송을 완료할 수 있도록 프로그래밍될 수 있다.
도 5는 본 개시내용의 실시예에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 픽셀에 대한 다른 판독 인터페이스(500)의 예시적인 아키텍처의 개략도이다. 도 2와 비교할 때, 판독 인터페이스(500)는 판독 인터페이스(200)와 유사하지만 어떠한 입력 래치도 포함하지 않는다. 일부 실시예에서, 도 4의 회로(400)의 픽셀은 도 4는 픽셀(100)일 수 있고, 그 ISL은 판독 인터페이스(200 또는 500)를 포함할 수 있다. 그렇게 함으로써, 회로(400)는 회로에 추가 구성요소를 크게 추가하지 않고 판독 잠금 문제를 완화할 수 있다.
도 5에서, 판독 인터페이스(500)는 비교기의 출력 각각(즉, CON 및 COFF 경로 각각)에 대한 2개의 스위치(502, 504)를 포함한다. CON 및 COFF 경로 각각에 대해, 제1 스위치(502)는 비교기(예를 들어, 도 1의 전압 비교기(110))의 출력에 연결되고, 제2 스위치(504)는 ackY 경로에 연결된다. CON(또는 COFF)이 활성화되면, 행 선택을 위해 reqY ON(또는 reqY OFF)을 보내기 위해 제1 스위치(502)가 연결될 수 있다. 성공적인 행 선택 후에, 행 선택 회로(예를 들어, 도 3-4의 행 선택 회로(302))는 ackY를 판독 인터페이스(500)에 보낼 수 있다. ackY를 수신한 후, 판독 인터페이스(500)는 이벤트를 보내도록 트리거될 수 있다. 예를 들어, CON이 활성화되고 reqY ON이 전송될 때 판독 인터페이스(500)는 reqX ON을 전송할 수 있다. 다른 예를 들면, COFF가 활성화되고 reqY OFF가 전송될 때, 판독 인터페이스(500)는 reqX OFF를 전송할 수 있다. 판독이 진행 중일 때(예를 들어, 이벤트가 전송되고 있을 때), 판독 인터페이스(500)는 이벤트 손실을 방지하기 위해 CON 및 COFF 경로를 디스에이블시키도록 스위치(502 및 504)의 연결을 끊기 위해 ackY에 의해 트리거될 수 있다. 판독을 완료한 후, 판독 인터페이스(500)는 reqX ON 및 reqX OFF를 리셋(예를 들어, 접지에 의해)하도록 CTRLADM을 활성화하도록 트리거될 수 있다.
일부 실시예에서, 판독 잠금 문제를 완화하기 위해, 프로토콜 제어 회로가 도 3의 실시예의 회로(300)에서 픽셀의 모든 행의 끝에 추가될 수 있다. 도 6은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 예시적인 회로(600)의 개략도이다. 회로(600)는 회로(300)와 유사하지만 프로토콜 제어 회로("PCC 0", "PCC 1", ..., "PCC N"으로 표시됨)를 추가로 포함한다. 일부 실시예에서, 회로(600)의 픽셀은 픽셀(100)일 수 있고, 그 ISL은 판독 인터페이스(200 또는 500)를 포함할 수 있다. 그렇게 함으로써, 회로(600)는 회로에 추가 구성요소를 크게 추가하지 않고 판독 잠금 문제를 완화할 수 있다. 도 7은 본 개시내용의 실시예에 따라 도 6에서 사용하기 위한 프로토콜 제어 회로(700)의 예시적인 아키텍처의 개략도이다. 프로토콜 제어 회로(700)는 전기적으로 연결된 행이 선택될 때 그리고 ackY를 수신할 때, 열-요청 신호(도 7에서 "reqX_t"로 표시됨)를 생성하도록 트리거될 수 있다. 프로토콜 제어 회로(700)는 픽셀 인터페이스의 출력 부분과 유사하여 픽셀과 동일한 전기적 특성을 가질 수 있다.
다시 도 6을 참조하면, 일부 실시예에서, 프로토콜 제어 회로는 행 선택 회로(302) 반대편에 추가될 수 있다. 일부 실시예에서, 프로토콜 제어 회로는 일 행의 픽셀과 유사한 판독 시스템에 전기적으로 결합될 수 있다. ackY를 수신한 후 활성 상태일 때만 reqX를 생성할 수 있는 픽셀과 달리, 프로토콜 제어 회로는 행 선택 회로(302)로부터 ackY 수신에 응답하여 항상 프로토콜 열 요청 신호(도 6에서 "reqX_t"로 표시됨)를 생성하여 인터페이스 셀(306)에 보낼 수 있다.
일부 실시예에서, 도 6에 도시된 바와 같이, 프로토콜 제어 회로는 동일한 행의 임의의 픽셀보다 더 긴 행 선택 회로(302)까지의 거리를 갖도록 배열될 수 있다. 그렇게 함으로써, 행 선택 회로(302)에 의해 생성된 임의의 신호는 프로토콜 제어 회로에 마지막으로 도착한다(즉, 동일한 행의 모든 픽셀들이 프로토콜 제어 회로보다 먼저 신호를 수신한다). 차례로, 프로토콜 제어 회로가 ackY를 수신할 때 reqX_t의 활성화가 발생한다. 프로토콜 제어 회로가 행의 끝에 배치되기 때문에(즉, 선택된 행의 픽셀과 비교하여 행 선택 회로(302)까지의 가장 긴 거리를 가짐), 프로토콜 제어 회로는 행 내의 마지막 픽셀 바로 다음에 ackY를 수신할 수 있고, 활성 픽셀의 모든 reqX(예: reqX ON 또는 reqX OFF)는 reqX_t가 전송되기 전에 판독을 위해 전송될 수 있다. reqX_t가 항상 생성될 수 있기 때문에, reqX를 보내는 활성 픽셀이 없더라도, 판독 프로세스의 계속이 항상 트리거될 수 있으므로 판독 잠금 문제를 방지할 수 있다. 또한, 회로(600)의 설계에 의해, reqX를 전송하는 활성 픽셀이 없는 경우, reqX_t는 최소 지연으로 생성될 수 있다. 이와 같이 판독 잠금 문제가 발생하는 경우 판독 프로세스를 잠금 해제하는 데 필요한 시간을 자동으로 최소화할 수 있다. 또한 데이터 손실 및 불필요한 지연의 위험을 최소화할 수 있다. 회로(600)는 장치 불일치, 프로세스 변동, 온도 변동 또는 기타 작업 조건에 대해 견고할 수 있다.
일부 실시예에서, 인터페이스 셀(306)이 reqX_t를 수신할 때, reqX 신호가 활성 행의 픽셀로부터 수신되지 않았음을 나타내기 위해 (예를 들어, 도 3의 판독 컨트롤러(312)와 유사한) 판독 컨트롤러(602)에 부하 신호를 보낼 수 있다. 부하 신호를 수신한 후, 판독 컨트롤러(602)는 rowack 신호를 행 선택 회로(302)에 보낼 수 있다. rowack 신호를 수신한 후, 행 선택 회로(302)는 리셋될 수 있고, 활성 행의 ackY를 릴리스할 수 있다. 이제 다른 reqY를 수신하는 것에 응답하여 행 선택 회로(302)에 의해 새로운 행이 선택될 수 있다.
일부 실시예에서, 회로(600)는 판독 컨트롤러(602)(예를 들어, 도 4의 판독 컨트롤러(402)와 유사)에 타이머 회로(예를 들어, 도 4의 회로(400)의 타이머 회로)를 추가로 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 회로(600)의 픽셀은 픽셀(100)일 수 있고, 그 ISL은 판독 인터페이스(200 또는 500)를 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, 회로(600)는 판독 컨트롤러(602)에 타이머 회로를 추가로 포함할 수 있고, 회로(600)의 픽셀은 픽셀(100)일 수 있으며, 그 ISL은 판독 인터페이스(200 또는 500)를 포함할 수 있다. 그렇게 함으로써, 판독 잠금 문제는 적어도 2개의 대안적이고 독립적인 메커니즘에 의해 회피될 수 있다. 이러한 중복 설계에 의해 판독 잠금 문제의 가능성을 더욱 억제할 수 있다.
도 8은 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서의 판독 회로에 대한 신호 타이밍도의 개략도이다. 도 8에서, 서로 다른 신호의 타임라인이 정렬되어 있고 화살표 대시 라인은 신호 간의 트리거링 관계를 나타낸다. 도 8은 회로(600)의 2개의 핸드셰이크 사이클을 도시하며, 여기서 제1 핸드셰이크 사이클은 reqY의 활성화에서 시작하여 Ack의 활성화에서 종료되고 제2 핸드셰이크 사이클은 Ack의 활성화에서 시작하여 Ack의 비활성화에서 종료된다.
도 8에 도시된 바와 같이, 일 행의 픽셀이 시간적 대비 이벤트를 감지하면 픽셀은 reqY 신호를 활성화할 수 있다. 행이 reqY에 응답하여 행 선택 회로(예를 들어, 도 6의 행 선택 회로(302))에 의해 성공적으로 선택됨에 따라, 행 선택 회로는 활성 행에 대해 ackY를 활성화할 수 있다.
ackY의 활성화는 3개의 신호: 활성 행의 활성 픽셀(예: 도 6의 픽셀(1,1))에 의해 생성된 reqX, 활성 행 내 모든 픽셀이 ackY를 수신한 후 활성 행 내 프로토콜 제어 회로(예: PCC 1)에 의해 생성된 reqX_t, 그리고 행 선택 회로에 의해 생성된 rowreq를 더 활성화할 수 있다. 활성 행의 경우 ackY를 수신한 후 모든 활성 픽셀이 앞에서 설명한 대로 reqX 신호를 생성할 수 있다.
판독 컨트롤러(예를 들어, 도 6의 판독 컨트롤러(602))는 프로토콜 제어 열에 의해 생성된 reqX_t 신호로부터 유도된 부하 신호를 수신하고, Req 신호를 출력 포매팅 회로(예를 들어, 도 6의 출력 포매팅 회로(308))로 활성화할 수 있다. 출력 포매팅 회로는 인터페이스 셀(예를 들어, 도 6의 인터페이스 셀(306))로부터 reqX[0:2M-1]을 수신하고 y-어드레스 인코더(예를 들어, 도 6의 y-어드레스 인코더(304))로부터 addrY[0:log2(N)-1]를 수신할 수 있다. reqX[0:2M-1] 및 addrY[0:log2(N)-1]의 수신을 완료한 후 출력 포매팅 회로는 데이터를 출력하고 판독 컨트롤러에 Ack를 활성화할 수 있다.
일부 실시예에서, 인터페이스 셀에 의해 reqX[0:2M-1]이 수신되지 않으면, 인터페이스 셀은 결국 프로토콜 제어 회로에 의해 전송된 reqX_t를 수신할 것이며, 이는 부하 신호(도 8에 도시되지 않음)를 판독 컨트롤러에 추가로 활성화할 수 있다. 부하 신호를 수신할 때 판독 컨트롤러는 reqX 신호가 활성화되지 않은 경우에도 프로토콜을 계속하기 위해 출력 포매팅 회로에 대해 Req를 활성화할 수 있다. 결과적으로 출력 포매팅 회로는 빈 행의 판독을 억제한다.
출력 포매팅 회로로부터 Ack를 수신할 때, 판독 컨트롤러는 행 선택 회로에 대한 rowack을 활성화할 수 있다. 차례로, 행 선택 회로는 rowreq 및 ackY의 두 신호를 비활성화할 수 있다. ackY의 비활성화는 reqX, reqX_t, rowack, Req 및 Ack를 비활성화하도록 트리거할 수 있다. rowreq의 비활성화는 ackY가 비활성화됨을 판독 컨트롤러에 표시할 수 있고, 차례로 rowack을 더 비활성화할 수 있다.
도 9는 본 개시내용의 실시예들에 따른, 이벤트 기반 비전 센서를 위한 칩-탑 회로(900)의 예시적인 아키텍처의 개략도이다. 칩-탑 회로(900)는 픽셀 어레이(902)를 포함한다. 예로서, 픽셀 어레이(902)는 16:9(예를 들어, 1280x720 픽셀)의 표면 종횡비를 가질 수 있다. 칩-탑 회로(900)는 또한 선택적 판독(예를 들어, 픽셀 행의 판독)을 위한 비동기 판독 회로(904)("Y" 중재자 또는 "행 선택기"), 선택된 판독(예를 들어, 비동기 판독 회로(906)에 의해 선택된 픽셀의 행)으로부터 픽셀 데이터를 저장(가령, 임시 저장)하기 위한 X-래치(906), 및 X-래치(906)로부터 데이터를 수신하고, 수신된 데이터를 동기화, 패킷화 및 타임 스탬핑(예를 들어, 데이터 패킷에 디지털 타임 스탬프를 첨부함으로써)하기 위한 벡터 판독 및 타임스탬핑 회로(908)를 또한 포함할 수 있다. 또한, 칩-탑 회로(900)는 벡터 판독 및 타임 스탬핑 회로(908)로부터 데이터를 수신하고 수신된 데이터를 필터링, 포매팅 및 전처리하기 위한 이벤트 신호 처리(ESP) 회로(910), 및 침으로부터 데이터를 전송하기 위해 ESP 회로(910)로부터 데이터를 수신하기 위한 디지털 인터페이스(912)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 디지털 인터페이스(912)는 직렬 인터페이스, 병렬 인터페이스, 저전압 차동 시그널링(LVDS) 인터페이스, 모바일 산업 프로세서 인터페이스(MIPI), 또는 다른 적절한 유형의 인터페이스로서 구현될 수 있다. 일 실시예에서, 디지털 인터페이스(912)는 병렬 인터페이스로서 구현되고 16비트 폭과 같은 적절한 폭을 갖는다.
다시 도 9를 참조하면, 칩-탑 회로(900)는 구성요소들의 고수준 통합을 위한 온칩 전력 관리 회로(914), 구성들의 크롭 또는 서브-샘플링을 위한 구성 가능한(configurable) ROI 회로(916), 시작 단계에서 칩-탑 회로(900)에 전송되는 설정 데이터를 수신하기 위한 디지털 데이터 인터페이스(918)(예를 들어, 직렬 주변 인터페이스 또는 "SPI"), 디지털 데이터 인터페이스(918)에 의해 수신된 설정 데이터를 저장하기 위한 레지스터 맵(920), 바이어스 생성기(922)(예를 들어, 디지털 -아날로그 컨버터 또는 "DAC"), 레지스터 맵(920)에 저장된 레지스터 설정 데이터에 기초하여 바이어스 생성기(922)의 아날로그 회로를 (예를 들어, SPI 명령을 통해) 제어하기 위한 바이어스 생성기 제어 회로(924), 및 비동기 판독 회로(904), X-래치(906), 및 벡터 판독 및 타임 스탬핑 회로(908)에서 신호를 수신 및 송신함으로써 판독 프로토콜을 제어하기 위한 상태 머신(926)을 더 포함할 수 있다. 일부 실시예에서, ESP 회로(910)는 선택된 이벤트들을 (가령, 결함 픽셀로부터) 제거하기 위한 순람표(LUT) 기반 어드레스 필터(도 9에 도시되지 않음)를 포함할 수 있다. 본 개시내용의 실시예에 따라, 칩-탑 회로(900)는 도 9와 관련하여 예시되고 설명된 예 외에 다른 구성요소를 추가적으로 또는 대안적으로 포함할 수 있다.
전술한 설명은 예시의 목적으로 제공되었다. 이것은 완전하지 않으며 개시된 정확한 형태 또는 실시예로 제한되지 않는다. 실시예의 수정 및 개조는 개시된 실시예의 명세서 및 실시를 고려함으로써 명백할 것이다. 예를 들어, 설명된 구현은 회로 및 하드웨어를 포함하지만, 본 개시내용에 따른 시스템 및 방법은 하드웨어, 펌웨어, 및/또는 소프트웨어의 임의의 적절한 조합으로 구현될 수 있다. 또한, 특정 구성 요소가 서로 결합되는 것으로 설명되었지만 이러한 구성 요소는 서로 통합되거나 임의의 적절한 방식으로 배포될 수 있다.
더욱이, 예시적인 실시예가 본 명세서에서 설명되었지만, 그 범위는 현재에 기초한 등가 요소, 수정, 생략, 조합(예를 들어, 본 명세서에 개시된 다양한 실시예에 걸친 양태의), 적응 및/또는 변경을 갖는 임의의 모든 실시예를 포함한다. 폭로. 특허청구범위의 요소는 청구범위에 사용된 언어에 기초하여 광범위하게 해석되어야 하며 본 명세서에 기술된 예에 제한되지 않고 또는 출원을 진행하는 동안 이러한 예가 배타적이지 않은 것으로 해석되어야 한다. 또한, 개시된 방법의 단계는 재정렬 단계 및/또는 단계 삽입 또는 삭제를 포함하는 임의의 방식으로 수정될 수 있다.
본 개시내용의 특징 및 이점은 상세한 명세서로부터 명백하므로, 첨부된 청구범위는 본 개시내용의 진정한 사상 및 범위 내에 속하는 모든 시스템 및 방법을 포함하도록 의도된다. 본 명세서에 사용된 단수표현은 "하나 이상"을 의미한다. 유사하게, 복수형 용어의 사용은 주어진 문맥에서 모호하지 않는 한 반드시 복수형을 나타내지는 않는다. "및" 또는 "또는"과 같은 단어는 특별히 달리 지시되지 않는 한 "및/또는"을 의미한다. 또한, 본 개시내용을 연구함으로써 수많은 수정 및 변형이 용이하게 일어날 것이기 때문에, 개시내용 및 설명된 정확한 구성 및 작동으로 개시를 제한하는 것은 바람직하지 않으며, 따라서 모든 적합한 변형 및 균등물이 본 개시내용의 범위에 속하는 것에 의지할 수 있다.
다른 실시예는 본 명세서에 개시된 실시예의 명세서 및 실시를 고려하여 명백할 것이다. 명세서 및 실시예는 단지 예로서 고려되어야 하며, 개시된 실시예의 진정한 범위 및 사상은 다음 청구범위에 의해 지시된다.

Claims (29)

  1. 이벤트 비전 센서의 픽셀들로부터 데이터를 샘플링하기 위한 회로로서,
    이벤트 비전 센서의 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합된 선택 회로
    라인의 픽셀들 중에서 상기 선택 회로에 최대 거리에 있는 픽셀에 전기적으로 결합되는 제어 회로, 및
    상기 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합되는 인터페이스 회로
    를 포함하되,
    상기 선택 회로는,
    라인의 활성 픽셀로부터 활성화 신호를 수신하도록 구성되고,
    활성화 신호 수신에 응답하여 확인 신호를 생성하도록 구성되며, 그리고,
    상기 라인의 픽셀들에 확인 신호를 전송하도록 구성되고, 상기 라인의 각각의 픽셀은 확인 신호를 수신할 때 해당 픽셀이 활성 상태일 경우 판독 요청 신호를 생성하도록 구성되며,
    상기 제어 회로는,
    상기 선택 회로로부터 확인 신호를 수신하도록 구성되고, 그리고,
    확인 신호 수신에 응답하여 프로세스-판독 신호를 생성하도록 구성되며,
    상기 인터페이스 회로는 상기 프로세스-판독 신호를 수신 후 상기 선택 회로, 제어 회로, 및 라인의 픽셀들을 리셋시키도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 인터페이스 회로는, 상기 프로세스 판독 신호의 수신에 응답하여 부하 신호를 생성하도록 더 구성되는 데이터 샘플링 회로.
  3. 제2항에 있어서, 상기 인터페이스 회로 및 선택 회로에 전기적으로 결합되는 판독 컨트롤러를 더 포함하고, 상기 판독 컨트롤러는 상기 인터페이스 회로로부터 부하 신호를 수신하는 것에 응답하여 선택 회로, 제어 회로, 및 라인의 픽셀들을 리셋하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 픽셀이 확인 신호를 수신할 때 픽셀에 의해 결정된 시간적 대비가 임계값을 초과하는 경우 라인 중 일 픽셀에 의해 상기 판독 요청 신호가 생성되는 데이터 샘플링 회로.
  5. 제4항에 있어서, 판독 요청 신호는 시간적 대비의 양의 변화를 나타내는 제1 상태 및 시간적 대비의 음의 변화를 나타내는 제2 상태를 포함하는 데이터 샘플링 회로.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 인터페이스 회로는 상기 판독 요청 신호를 수신하는 것에 응답하여 상기 판독 요청 신호를 생성한 픽셀로부터 데이터 신호를 수신하도록 더 구성되는 데이터 샘플링 회로.
  7. 제6항에 있어서, 상기 라인의 픽셀들 및 상기 선택 회로에 전기적으로 결합된 어드레스 인코딩 회로를 더 포함하며, 상기 어드레스 인코딩 회로는 상기 선택 회로로부터 확인 신호를 수신하는 것에 응답하여 상기 판독 요청 신호를 생성한 픽셀에 대한 어드레스 신호를 생성하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 인터페이스 회로 및 어드레스 인코딩 회로에 전기적으로 결합된 포매팅 회로를 더 포함하며, 상기 포매팅 회로는,
    인터페이스 회로로부터 데이터 신호를 수신하고, 어드레스 인코딩 회로로부터 어드레스 신호를 수신하도록 구성되며,
    데이터 신호 및 어드레스 신호를 사용하여 출력 데이터를 생성하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  9. 제6항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 인터페이스 회로 및 라인 선택 회로에 전기적으로 결합된 타이머 회로를 더 포함하며, 상기 타이머 회로는,
    활성화 신호를 수신한 것에 응답하여 상기 선택 회로에 의해 생성된 시작 신호를 수신하도록 구성되고,
    상기 시작 신호를 수신한 타임스탬프로부터 임계 시간을 초과하는 시간 간격 후에 인터페이스 회로에 의해 데이터 신호가 수신되지 않으면 선택 회로, 제어 회로 및 라인의 픽셀들을 리셋하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  10. 제9항에 있어서, 상기 판독 컨트롤러는 타이머 회로를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어 회로는,
    라인의 모든 픽셀들이 확인 신호를 수신한 후 확인 신호를 수신하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  12. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 확인 신호를 수신할 때 상기 라인의 어떤 픽셀도 활성화되지 않는, 데이터 샘플링 회로.
  13. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 활성화 신호는 감광 소자에 충돌하는 광의 밝기에 응답하여 상기 활성 픽셀의 상기 감광 소자에 의해 생성되는, 데이터 샘플링 회로.
  14. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 활성화 신호는 상기 활성 픽셀에 의해 결정된 시간적 대비가 임계값을 초과할 때 상기 활성 픽셀에 의해 생성되는, 데이터 샘플링 회로.
  15. 이벤트 비전 센서의 픽셀로부터 데이터를 샘플링하기 위한 회로로서,
    이벤트 비전 센서의 라인의 픽셀들에 전기적으로 결합된 라인 선택 회로
    라인의 픽셀들에 전기적으로 결합된 인터페이스 회로, 및
    상기 인터페이스 회로 및 라인 선택 회로에 전기적으로 결합된 타이머 회로
    를 포함하되,
    상기 라인 선택 회로는,
    라인의 활성 픽셀로부터 활성화 신호를 수신하도록 구성되고,
    활성화 신호 수신에 응답하여 확인 신호 및 시작 신호를 생성하도록 구성되며, 그리고,
    상기 라인의 픽셀들에 확인 신호를 전송하도록 구성되고, 상기 라인의 각각의 픽셀은 확인 신호를 수신할 때 해당 픽셀이 활성 상태일 경우 판독 요청 신호를 생성하도록 구성되며,
    상기 인터페이스 회로는,
    판독 요청 신호를 수신함에 응답하여 판독 요청 신호를 생성한 픽셀로부터 데이터 신호를 수신하도록 구성되고,
    상기 타이머 회로는,
    라인 선택 회로로부터 시작 신호를 수신하도록 구성되고, 그리고
    시작 신호를 수신하는 타임스탬프로부터의 시간 간격이 임계 시간을 넘어선 후, 인터페이스 회로에 의해 데이터 신호가 전혀 수신되지 않을 때, 라인 선택 회로 및 라인의 픽셀들을 리셋하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 인터페이스 회로 및 라인 선택 회로에 전기적으로 결합되는 판독 컨트롤러를 더 포함하며, 상기 판독 컨트롤러는, 시작 신호를 수신하는 타임스탬프로부터의 시간 간격이 임계 시간을 넘어선 후, 인터페이스 회로에 의해 데이터 신호가 수신되지 않으면, 라인 선택 회로, 제어 회로, 및 라인의 픽셀들을 리셋하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  17. 제16항에 있어서, 상기 판독 컨트롤러는 타이머 회로를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
  18. 제15항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    라인의 픽셀들 및 라인 선택 회로에 전기적으로 결합된 어드레스 인코딩 회로를 더 포함하며, 상기 어드레스 인코딩 회로는, 상기 라인 선택 회로로부터 확인 신호를 수신하는 것에 응답하여 판독 요청 신호를 생성한 픽셀에 대한 어드레스 신호를 생성하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 인터페이스 회로 및 어드레스 인코딩 회로에 전기적으로 결합된 포매팅 회로를 더 포함하며, 상기 포매팅 회로는,
    인터페이스 회로로부터 데이터 신호를 수신하고, 어드레스 인코딩 회로로부터 어드레스 신호를 수신하도록 구성되고,
    데이터 신호 및 어드레스 신호를 사용하여 출력 데이터를 생성하도록 구성되는, 데이터 샘플링 회로.
  20. 제15항에 있어서, 상기 픽셀이 상기 확인 신호를 수신할 때 상기 픽셀에 의해 결정된 시간적 대비가 임계값을 초과하는 경우, 상기 판독 요청 신호가 상기 라인의 일 픽셀에 의해 생성되는, 데이터 샘플링 회로.
  21. 제20항에 있어서, 상기 판독 요청 신호는 시간적 대비의 양의 변화를 나타내는 제1 상태 및 시간적 대비의 음의 변화를 나타내는 제2 상태를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
  22. 제15항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 활성화 신호는 감광 소자에 충돌하는 광의 밝기에 응답하여 상기 활성 픽셀의 상기 감광 소자에 의해 생성되는, 데이터 샘플링 회로.
  23. 제15항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서, 활성 픽셀에 의해 결정된 시간적 대비가 임계값을 초과할 때 상기 활성화 신호가 상기 활성 픽셀에 의해 생성되는, 데이터 샘플링 회로.
  24. 이미지 센서에 사용하기 위한 픽셀 회로로서,
    비교기의 입력 신호가 제1 조건과 일치할 때 제1 판독 요청 신호를 생성하도록 구성된 비교기 - 상기 입력 신호는 감광 소자에 충돌하는 광의 밝기에 응답하여 감광 소자로부터 생성됨; 그리고
    제1 세트 입력, 제1 리셋 입력, 및 제1 출력을 포함하는 제1 래치 회로 - 상기 제1 리셋 입력 및 상기 제1 출력은 인터페이스 회로에 전기적으로 결합되고, 상기 제1 세트 입력은 상기 비교기에 전기적으로 결합됨 -
    를 포함하되, 상기 제1 래치 회로는,
    비교기로부터 제1 세트 입력에 의해 제1 판독 요청 신호를 수신하도록 구성되고,
    제1 판독 요청 신호를 인터페이스 회로에 출력하도록 구성되며,
    신호를 수신하지 않도록 제1 세트 입력을 잠그도록 구성되고,
    제1 리셋 입력에 의해 인터페이스 회로로부터 확인 신호를 수신하는 것에 응답하여 새로운 신호를 수신하기 위해 제1 세트 입력을 리셋하도록 구성되는, 픽셀 회로.
  25. 제24항에 있어서, 상기 비교기는 상기 비교기의 입력 신호가 제2 조건과 일치할 때 제2 판독 요청 신호를 생성하도록 더 구성되는, 픽셀 회로.
  26. 제25항에 있어서,
    제2 세트 입력, 제2 리셋 입력, 및 제2 출력을 포함하는 제2 래치 회로를 더 포함하되, 상기 제2 리셋 입력 및 상기 제2 출력은 인터페이스 회로에 전기적으로 결합되고, 상기 제2 세트 입력은 상기 비교기에 전기적으로 결합되고 구성되며, 상기 제2 래치 회로는,
    비교기로부터 제2 세트 입력에 의해 제2 판독 요청 신호를 수신하도록 구성되고,
    제2 판독 요청 신호를 상기 인터페이스 회로에 출력하도록 구성되며,
    신호를 수신하지 않도록 상기 제2 세트 입력을 잠그도록 구성되고,
    제2 리셋 입력에 의해 인터페이스 회로로부터 확인 신호를 수신하는 것에 응답하여 새로운 신호를 수신하기 위해 제2 세트 입력을 리셋하도록 구성되는, 픽셀 회로.
  27. 제24항 내지 제26항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 조건은 상기 입력 신호에 의해 표시되는 시간적 대비가 제1 임계값을 초과하는 경우를 포함하는, 픽셀 회로.
  28. 제27항에 있어서, 상기 제2 조건은 상기 입력 신호에 의해 표시되는 시간적 대비가 제2 임계값을 초과하는 경우를 포함하는, 픽셀 회로.
  29. 제28항에 있어서, 상기 제1 판독 요청 신호는 시간적 대비의 양의 변화를 나타내고, 상기 제2 판독 요청 신호는 시간적 대비의 음의 변화를 나타내는, 픽셀 회로.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3109667B1 (fr) * 2020-04-28 2024-04-05 Commissariat Energie Atomique Capteur d’image piloté par évènements et son procédé de lecture
US11516419B2 (en) * 2021-01-22 2022-11-29 Omnivision Technologies, Inc. Digital time stamping design for event driven pixel
FR3125666A1 (fr) * 2021-07-26 2023-01-27 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Architecture de lecture à base de drapeau pour un réseau matriciel de pixels événementiels
FR3125665B1 (fr) * 2021-07-26 2023-11-10 Commissariat Energie Atomique Circuit de lecture rapide pour un réseau matriciel de pixels événementiels
WO2023039784A1 (en) * 2021-09-16 2023-03-23 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and event-based vision sensor for acquiring event-based image during blanking time of frame-based image read-out

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6037748A (en) 1998-06-15 2000-03-14 Motorola, Inc. Method and apparatus for control of an electronic system using intelligent movement detection
SG162756A1 (en) 2005-06-03 2010-07-29 Universitaet Zuerich Photoarray for detecting time-dependent image data
AT504582B1 (de) * 2006-11-23 2008-12-15 Arc Austrian Res Centers Gmbh Verfahren zur generierung eines bildes in elektronischer form, bildelement für einen bildsensor zur generierung eines bildes sowie bildsensor
IL212289A (en) * 2011-04-13 2016-08-31 Semi-Conductor Devices - An Elbit Systems - Rafael Partnership Circuit and method for reading image signals
US9521337B1 (en) * 2012-07-13 2016-12-13 Rambus Inc. Reset-marking pixel sensor
US9438826B2 (en) * 2012-12-20 2016-09-06 Rambus Inc. Pixel structure and reset scheme
US9591238B2 (en) 2014-08-22 2017-03-07 Voxtel, Inc. Asynchronous readout array
US9986179B2 (en) * 2014-09-30 2018-05-29 Qualcomm Incorporated Sensor architecture using frame-based and event-based hybrid scheme
KR102607759B1 (ko) * 2017-12-11 2023-11-29 프로페시 이벤트 기반 이미지 센서 및 그 작동 방법

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