KR20220096908A

KR20220096908A - 발광표시장치

Info

Publication number: KR20220096908A
Application number: KR1020200189758A
Authority: KR
Inventors: 김경록; 김혁준; 김민구
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2020-12-31
Filing date: 2020-12-31
Publication date: 2022-07-07

Abstract

본 발명은 영상을 표시하는 표시영역과 영상을 비표시하는 비표시영역을 갖는 표시패널; 상기 표시패널에 연결된 데이터라인들에 데이터전압을 공급하기 위한 데이터 채널들과 상기 표시패널에 연결된 레퍼런스라인들로부터 센싱전압을 취득하기 위한 센싱 채널들을 갖는 데이터 구동부; 및 상기 표시패널 상에 위치하고 적어도 두 개의 레퍼런스라인과 하나의 센싱 채널 사이에 위치하며 상기 적어도 두 개의 레퍼런스라인 중 하나를 상기 하나의 센싱 채널에 연결하기 위한 센싱선택 회로부를 포함하는 발광표시장치를 제공할 수 있다.

Description

발광표시장치{Light Emitting Display Device}

본 발명은 발광표시장치에 관한 것이다.

정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 발광표시장치(Light Emitting Display Device: LED), 양자점표시장치(Quantum Dot Display Device; QDD), 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device: LCD) 등과 같은 표시장치의 사용이 증가하고 있다.

앞서 설명한 표시장치들은 서브 픽셀들을 포함하는 표시패널, 표시패널을 구동하는 구동 신호를 출력하는 구동부 및 표시패널 또는 구동부에 공급할 전원을 생성하는 전원 공급부 등이 포함된다.

위와 같은 표시장치들은 표시패널에 형성된 서브 픽셀들에 구동 신호 예컨대, 스캔신호 및 데이터신호 등이 공급되면, 선택된 서브 픽셀이 빛을 투과시키거나 빛을 직접 발광을 하게 됨으로써 영상을 표시할 수 있다.

본 발명은 물리적 센싱 라인의 개수를 최소화하면서도 센싱 속도 및 보상 속도를 향상하거나 이전과 동등한 수준으로 유지할 수 있는 외부 보상형 발광표시장치를 제공하는 것이다.

상기 표시패널 상에 위치하고 상기 센싱선택 회로부의 동작시 필요한 제1 및 제2기준전원 중 하나를 상기 센싱선택 회로부에 선택적으로 전달하기 위한 전원선택 회로부를 더 포함할 수 있다.

상기 센싱선택 회로부는 서로 동일한 레퍼런스라인을 공유하지만 동일한 제어신호에 대응하여 서로 다른 기간에 턴온되는 한쌍의 스위치를 포함할 수 있다.

상기 센싱선택 회로부는 서로 이웃하는 적어도 두 개의 레퍼런스라인으로부터 서로 다른 기간 동안 센싱전압을 센싱하기 위한 선택 동작을 할 수 있다.

상기 전원선택 회로부는 상기 적어도 두 개의 레퍼런스라인 중 하나에 제1기준전원을 인가하고, 다른 하나에 제2기준전원을 인가하기 위해 구분되는 선택 동작을 할 수 있다.

상기 센싱선택 회로부는 제1센싱 채널에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제1센싱 스위치와 상기 제1센싱 채널에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제2센싱 스위치를 포함하는 센싱 스위치부와, 상기 전원선택 회로부의 출력단에 제1전극이 연결되고 상기 제1레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 상기 제2센싱선택 신호가 전달되는 상기 제2센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제1전원 스위치와 상기 전원선택 회로부의 출력단에 제1전극이 연결되고 상기 제2레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 상기 제1센싱선택 신호가 전달되는 상기 제1센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제2전원 스위치를 포함하는 전원 스위치부를 포함할 수 있다.

상기 제1센싱선택 신호와 상기 제2센싱선택 신호는 이븐 기간과 오드 기간으로 구분되어 서로 상반된 형태로 인가될 수 있다.

상기 데이터 구동부는 적어도 두 개의 센싱전압씩 합하여 평균화할 수 있다.

상기 데이터 구동부는 상기 데이터전압을 출력하기 위한 다수의 구동 회로부와, 상기 센싱전압을 취득하기 위한 다수의 센싱 회로부를 포함하고, 상기 다수의 구동 회로부 중 적어도 하나와 상기 다수의 센싱 회로부 중 하나를 전기적으로 연결하기 위한 다수의 연결 스위치를 포함할 수 있다.

상기 다수의 연결 스위치는 상기 데이터 구동부의 내부와 외부에 연결된 장치와 라인 간의 물리적 편차를 개선하기 위해 상기 다수의 구동 회로부 중 적어도 하나와 상기 다수의 센싱 회로부 중 하나를 전기적으로 연결하고 검사용 전압을 인가한 후 상기 검사용 전압을 센싱할 수 있다.

본 발명은 물리적 센싱 라인의 개수를 최소화하면서도 센싱 속도 및 보상 속도를 향상하거나 이전과 동등한 수준으로 유지할 수 있는 외부 보상형 발광표시장치를 제공할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 다양한 샘플링 방법을 구현할 수 있는 회로를 제공할 수 있음은 물론이고 데이터 구동부의 물리적 및 회로적 특성 등을 감지하고 개선할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 발광표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 3은 게이트인패널 방식 스캔 구동부의 배치예를 나타낸 도면이고, 도 4 및 도 5는 게이트인패널 방식 스캔 구동부와 관련된 장치의 구성 예시도들이다.
도 6은 보상회로를 갖는 서브 픽셀을 나타낸 예시도이고, 도 7은 도 6의 서브 픽셀과 데이터 구동부를 나타낸 도면이고, 도 8은 도 6의 서브 픽셀로 이루어진 하나의 픽셀을 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 제1실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 10은 도 9에 도시된 일부 구성을 구체화한 도면이다.
도 11 내지 도 13은 도 10에 도시된 장치들의 모드별 구동 파형도를 나타낸 도면들이다.
도 14는 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전에 볼 수 있는 장치 구성 예시도이고, 도 15는 본 발명의 제1실시예를 적용한 후에 볼 수 있는 장치 구성 예시도이다.
도 16은 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전에 수행될 수 있는 센싱 흐름도이고, 도 17은 본 발명의 제1실시예를 적용하기 후에 수행될 수 있는 센싱 흐름도이다.
도 18은 본 발명의 제2실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 나타낸 도면이고, 도 19는 도 18에 도시된 장치가 제2모드로 동작할 때 장치의 구동 파형 선택에 따른 샘플링 방법을 일례로 설명하기 위한 도면이다.
도 20은 본 발명의 제3실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 나타낸 도면이고, 도 21 내지 도 24는 본 발명의 제3실시예에 따른 편차 보정 방법을 설명하기 위한 도면들이다.

본 발명에 따른 표시장치는 텔레비전, 영상 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈시어터, 자동차 전기장치, 스마트폰 등으로 구현될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명에 따른 표시장치는 발광표시장치(Light Emitting Display Device: LED), 양자점표시장치(Quantum Dot Display Device; QDD), 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device: LCD) 등으로 구현될 수 있다. 그러나 이하에서는 설명의 편의를 위해 무기 발광다이오드 또는 유기 발광다이오드를 기반으로 빛을 직접 발광하는 발광표시장치를 일례로 한다.

도 1은 발광표시장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 2는 도 1에 도시된 서브 픽셀을 개략적으로 나타낸 구성도이다.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 발광표시장치는 영상 공급부(110), 타이밍 제어부(120), 스캔 구동부(130), 데이터 구동부(140), 표시패널(150) 및 전원 공급부(180) 등을 포함할 수 있다.

영상 공급부(110)(세트 또는 호스트시스템)는 외부로부터 공급된 영상 데이터신호 또는 내부 메모리에 저장된 영상 데이터신호와 더불어 각종 구동신호를 출력할 수 있다. 영상 공급부(110)는 데이터신호와 각종 구동신호를 타이밍 제어부(120)에 공급할 수 있다.

타이밍 제어부(120)는 스캔 구동부(130)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC), 데이터 구동부(140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC) 및 각종 동기신호(수직 동기신호인 Vsync, 수평 동기신호인 Hsync) 등을 출력할 수 있다. 타이밍 제어부(120)는 데이터 타이밍 제어신호(DDC)와 함께 영상 공급부(110)로부터 공급된 데이터신호(DATA)를 데이터 구동부(140)에 공급할 수 있다. 타이밍 제어부(120)는 IC(Integrated Circuit) 형태로 형성되어 인쇄회로기판 상에 실장될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

스캔 구동부(130)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 게이트 타이밍 제어신호(GDC) 등에 응답하여 스캔신호(또는 스캔전압)를 출력할 수 있다. 스캔 구동부(130)는 게이트라인들(GL1~GLm)을 통해 표시패널(150)에 포함된 서브 픽셀들에 스캔신호를 공급할 수 있다. 스캔 구동부(130)는 IC 형태로 형성되거나 게이트인패널(Gate In Panel) 방식으로 표시패널(150) 상에 직접 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

데이터 구동부(140)는 타이밍 제어부(120)로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호(DDC) 등에 응답하여 데이터신호(DATA)를 샘플링 및 래치하고 감마 기준전압을 기반으로 디지털 형태의 데이터신호를 아날로그 형태의 데이터전압으로 변환하여 출력할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 데이터라인들(DL1~DLn)을 통해 표시패널(150)에 포함된 서브 픽셀들에 데이터전압을 공급할 수 있다. 데이터 구동부(140)는 IC 형태로 형성되어 표시패널(150) 상에 실장되거나 인쇄회로기판 상에 실장될 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

전원 공급부(180)는 외부로부터 공급되는 외부 입력전압을 기반으로 고전위의 제1전원과 저전위의 제2전원을 생성하고, 제1전원라인(EVDD)과 제2전원라인(EVSS)을 통해 출력할 수 있다. 전원 공급부(180)는 제1전원 및 제2전원뿐만아니라 스캔 구동부(130)의 구동에 필요한 전압(예: 게이트하이전압과 게이트로우전압을 포함하는 게이트전압)이나 데이터 구동부(140)의 구동에 필요한 전압(드레인전압과 하프드레인전압을 포함하는 드레인전압) 등을 생성 및 출력할 수 있다.

표시패널(150)은 스캔신호와 데이터전압을 포함하는 구동신호와 제1전원 및 제2전원 등에 대응하여 영상을 표시할 수 있다. 표시패널(150)의 서브 픽셀들은 직접 빛을 발광한다. 표시패널(150)은 유리, 실리콘, 폴리이미드 등 강성 또는 연성을 갖는 기판을 기반으로 제작될 수 있다. 그리고 빛을 발광하는 서브 픽셀들은 적색, 녹색 및 청색을 포함하는 픽셀 또는 적색, 녹색, 청색 및 백색을 포함하는 픽셀로 이루어질 수 있다.

예컨대, 하나의 서브 픽셀(SP)은 제1데이터라인(DL1), 제1게이트라인(GL1), 제1전원라인(EVDD) 및 제2전원라인(EVSS)에 연결될 수 있고, 스위칭 트랜지스터, 구동 트랜지스터, 커패시터, 유기 발광다이오드 등으로 이루어진 픽셀회로를 포함할 수 있다. 발광표시장치에서 사용되는 서브 픽셀(SP)은 빛을 직접 발광하는바 회로의 구성이 복잡하다. 또한, 빛을 발광하는 유기 발광다이오드는 물론이고 유기 발광다이오드에 구동전류를 공급하는 구동 트랜지스터 등의 열화를 보상하는 보상회로 또한 다양하다. 따라서, 서브 픽셀(SP)을 블록의 형태로 단순 도시하였음을 참조한다.

한편, 위의 설명에서는 타이밍 제어부(120), 스캔 구동부(130), 데이터 구동부(140) 등을 각각 개별적인 구성인 것처럼 설명하였다. 그러나 발광표시장치의 구현 방식에 따라 타이밍 제어부(120), 스캔 구동부(130), 데이터 구동부(140) 중 하나 이상은 하나의 IC 내에 통합될 수 있다.

도 3은 게이트인패널 방식 스캔 구동부의 배치예를 나타낸 도면이고, 도 4 및 도 5는 게이트인패널 방식 스캔 구동부와 관련된 장치의 구성 예시도들이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 게이트인패널 방식 스캔 구동부(130a, 130b)는 표시패널(150)의 비표시영역(NA)에 배치된다. 스캔 구동부(130a, 130b)는 도 3(a)와 같이 표시패널(150)의 좌우측 비표시영역(NA)에 배치될 수 있다. 또한, 스캔 구동부(130a, 130b)는 도 3(b)와 같이, 표시패널(150)의 상하측 비표시영역(NA)에 배치될 수 있다.

스캔 구동부(130a, 130b)는 표시영역(AA)의 좌우측 또는 상하측에 위치하는 비표시영역(NA)에 배치된 것을 일례로 도시 및 설명하였으나 좌측, 우측, 상측 또는 하측에 하나만 배치될 수 있다.

도 4에 도시된 바와 같이, 게이트인패널 방식 스캔 구동부(130)는 시프트 레지스터(131)와 레벨 시프터(135)를 포함할 수 있다. 레벨 시프터(135)는 타이밍 제어부(120) 및 전원 공급부(180)로부터 출력된 신호들 및 전압들을 기반으로 클록신호들(Clks)과 스타트신호(Vst) 등을 생성할 수 있다. 클록신호들(Clks)은 2상, 4상, 8상 등 위상이 다른 K(K는 2 이상 정수)상의 형태로 생성될 수 있다.

시프트 레지스터(131)는 레벨 시프터(135)로부터 출력된 신호들(Clks, Vst) 등을 기반으로 동작하며 표시패널에 형성된 트랜지스터를 턴온 또는 턴오프할 수 있는 스캔신호들(Scan[1] ~ Scan[m])을 출력할 수 있다. 시프트 레지스터(131)는 게이트인패널 방식에 의해 표시패널 상에 박막 형태로 형성될 수 있다. 따라서, 스캔 구동부(130)에서 표시패널 상에 형성되는 부분은 시프트 레지스터(131)일 수 있다. 그리고 도 3에서 130a와 130b는 131에 해당할 수 있다.

도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 레벨 시프터(135)는 시프트 레지스터(131)와 달리 IC 형태로 독립되어 형성되거나 전원 공급부(180)의 내부에 포함될 수 있다. 그러나 이는 하나의 예시일 뿐 이에 한정되지 않는다.

도 6은 보상회로를 갖는 서브 픽셀을 나타낸 예시도이고, 도 7은 도 6의 서브 픽셀과 데이터 구동부를 나타낸 도면이고, 도 8은 도 6의 서브 픽셀로 이루어진 하나의 픽셀을 나타낸 도면이다.

도 6에 도시된 바와 같이, 하나의 서브 픽셀(SP)은 스위칭 트랜지스터(SW), 구동 트랜지스터(DT), 센싱 트랜지스터(ST), 커패시터(CST) 및 유기 발광다이오드(OLED)를 포함할 수 있다.

구동 트랜지스터(DT)는 커패시터(CST)의 제1전극에 게이트전극이 연결되고 제1전원라인(EVDD)에 제1전극이 연결되고 유기 발광다이오드(OLED)의 애노드전극에 제2전극이 연결될 수 있다. 커패시터(CST)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극에 제1전극이 연결되고 유기 발광다이오드(OLED)의 애노드전극에 제2전극이 연결될 수 있다. 유기 발광다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(DT)의 제2전극에 애노드전극이 연결되고 제2전원라인(EVSS)에 캐소드전극이 연결될 수 있다.

스위칭 트랜지스터(SW)는 제1게이트라인(GL1)에 포함된 스캔라인(SCAN)에 게이트전극이 연결되고 제1데이터라인(DL1)에 제1전극이 연결되고 구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극에 제2전극이 연결될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SW)는 스캔라인(SCAN)을 통해 전달된 스캔신호에 대응하여 턴온될 수 있다.

센싱 트랜지스터(ST)는 제1게이트라인(GL1)에 포함된 센스라인(SENSE)에 게이트전극이 연결되고 제1레퍼런스라인(REF1)에 제1전극이 연결되고 유기 발광다이오드(OLED)의 애노드전극에 제2전극이 연결될 수 있다. 센싱 트랜지스터(ST)는 센스라인(SENSE)을 통해 전달된 센스신호에 대응하여 턴온될 수 있다.

센싱 트랜지스터(ST)는 구동 트랜지스터(DT) 또는 유기 발광다이오드(OLED)의 열화(문턱전압 등)를 보상하기 위해 추가된 일종의 보상회로이다. 센싱 트랜지스터(ST)는 구동 트랜지스터(DT)와 유기 발광다이오드(OLED) 사이에 정의된 센싱노드를 통해 센싱전압을 취득할 수 있도록 동작할 수 있다.

한편, 제1게이트라인(GL1)은 제1A게이트라인(GL1a)과 제1B게이트라인(GL1b)으로 구분되는 것을 일례로 하였으나 이들은 하나로 통합될 수 있다. 즉, 스위칭 트랜지스터(SW)와 센싱 트랜지스터(ST)는 제1게이트라인(GL1)에 공통으로 연결되어 동시에 턴온되거나 턴오프될 수 있다.

도 7에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(140)는 서브 픽셀(SP)을 구동하기 위한 패널 구동 회로부(141)와 서브 픽셀(SP)을 센싱하기 위한 패널 센싱 회로부(145)를 포함할 수 있다. 패널 구동 회로부(141)는 제1데이터 채널(CH1)을 통해 제1데이터라인(DL1)에 연결될 수 있고, 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 제1레퍼런스라인(REF1)에 연결될 수 있다. 패널 구동 회로부(141)는 제1데이터 채널(CH1)을 통해 서브 픽셀(SP)을 구동하기 위한 데이터전압 등을 출력할 수 있다. 패널 센싱 회로부(145)는 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 서브 픽셀(SP)로부터 센싱된 센싱전압을 취득할 수 있다.

도 8에 도시된 바와 같이, 도 6의 서브 픽셀(SP)은 적색의 빛을 발광하는 적색 서브 픽셀(SPR), 백색의 빛을 발광하는 백색 서브 픽셀(SPW), 녹색의 빛을 발광하는 녹색 서브 픽셀(SPG) 및 청색의 빛을 발광하는 청색 서브 픽셀(SPB)로 구현될 수 있다. 그리고 적색 서브 픽셀(SPR), 백색 서브 픽셀(SPW), 녹색 서브 픽셀(SPG) 및 청색 서브 픽셀(SPB)은 하나의 픽셀(P)로 정의될 수 있다.

적색 서브 픽셀(SPR), 백색 서브 픽셀(SPW), 녹색 서브 픽셀(SPG) 및 청색 서브 픽셀(SPB)은 각기 제1데이터라인(DL1), 제2데이터라인(DL2), 제3데이터라인(DL3) 및 제4데이터라인(DL4)에 구분되어 연결될 수 있다. 그러나 적색 서브 픽셀(SPR), 백색 서브 픽셀(SPW), 녹색 서브 픽셀(SPG) 및 청색 서브 픽셀(SPB)은 제1레퍼런스라인(REF1)을 공유하도록 공통으로 연결될 수 있다.

즉, 하나의 픽셀(P)에 포함된 총 4개의 서브 픽셀들(SPR, SPW, SPG, SPB)은 하나의 레퍼런스라인(예: REF1)을 통해 데이터 구동부의 센싱 회로부에 연결되는 구조를 가질 수 있다. 이 구조에 의해, 하나의 픽셀(P)에 포함된 총 4개의 서브 픽셀들(SPR, SPW, SPG, SPB)은 각기 열화(문턱전압 등)를 보상할 수 있다. 그러나 위의 설명은 하나의 예시일 뿐, 하나의 픽셀(P)은 백색 서브 픽셀(SPW)을 제외한 총 3개의 서브 픽셀들(SPR, SPG, SPB)로 이루어질 수 있다. 그리고 이들이 발광하는 색은 적색, 녹색 및 청색이 아닌 다른 색일 수 있다.

도 9는 본 발명의 제1실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 10은 도 9에 도시된 일부 구성을 구체화한 도면이다.

도 9에 도시된 바와 같이, 표시패널(150)의 표시영역(AA)에는 픽셀들(P)이 위치할 수 있다. 그리고 표시패널(150)의 비표시영역(NA)에는 픽셀들(P) 중 적어도 하나를 선택적으로 센싱하기 위한 센싱선택 회로부들(RPS1 & SIS1 ~ RPS2 & SIS2)의 동작시 필요한 제1 또는 제2기준전원(DREF, SREF) 중 하나를 선택적으로 전달하기 위한 전원선택 회로부(RPSA)가 위치할 수 있다.

전원선택 회로부(RPSA)는 센싱선택 회로부들(RPS1 & SIS1 ~ RPS2 & SIS2)에 전기적으로 연결되며 센싱 동작 시 필요한 제1 또는 제2기준전원(DREF, SREF) 중 하나를 센싱선택 회로부들(RPS1 & SIS1 ~ RPS2 & SIS2)에 전달할 수 있다.

센싱선택 회로부들(RPS1 & SIS1 ~ RPS2 & SIS2)은 픽셀들(P)이 공유하는 레퍼런스라인들(REF1 ~ REF4) 중 적어도 두 개의 레퍼런스라인에 각각 연결될 수 있다. 일례로, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 제1레퍼런스라인(REF1)과 제2레퍼런스라인(REF2)에 연결될 수 있다. 그리고 제2센싱선택 회로부(RPS2 & SIS2)는 제3레퍼런스라인(REF3)과 제4레퍼런스라인(REF4)에 연결될 수 있다.

표시패널(150)에 전기적으로 연결된 제1외부기판(148) 상에는 데이터 구동부(140)가 위치할 수 있다. 제1외부기판(148) 상에 픽셀들(P)의 센싱을 위한 패널 센싱 회로부(145)만 데이터 구동부(140) 내에 포함된 것으로 간략 도시하였으나 도 7에서 설명한 바와 같이 구동 회로부 또한 데이터 구동부(140) 내에 포함된다.

패널 센싱 회로부(145)는 제1센싱 채널(SIO1)의 센싱을 관장하는 제1라인 선택부(SEL1)와 제1센싱 회로부(SEN1) 그리고 제2센싱 채널(SIO2)의 센싱을 관장하는 제2라인 선택부(SEL2)와 제2센싱 회로부(SEN2) 등을 포함할 수 있다. 일례로, 제1라인 선택부(SEL1)는 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 표시패널(150) 상의 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)에 연결될 수 있다. 그리고 제2라인 선택부(SEL2)는 제2센싱 채널(SIO2)을 통해 표시패널(150) 상의 제2센싱선택 회로부(RPS2 & SIS2)에 연결될 수 있다.

제1외부기판(148)에 전기적으로 연결된 제2외부기판(128) 상에는 기준전원 발생부(185)가 위치할 수 있다. 기준전원 발생부(185)는 표시패널(150)의 구동 시 사용되는 구동용 기준전원과 표시패널(150)의 센싱 시 사용되는 센싱용 기준전원을 생성하고 출력할 수 있다. 일례로, 기준전원 발생부(185)로부터 출력된 구동용 기준전원은 제1기준전원라인(DREF)을 통해 표시패널(150) 상의 전원선택 회로부(RPSA)에 전달될 수 있다. 그리고 기준전원 발생부(185)로부터 출력된 센싱용 기준전원은 제2기준전원라인(SREF)을 통해 표시패널(150) 상의 전원선택 회로부(RPSA)에 전달될 수 있다.

한편, 데이터 구동부(140)에 포함된 패널 센싱 회로부(145)의 제1센싱 채널(SIO1)을 기준으로 이들에 포함된 장치를 구체화하고, 이 장치들의 구동 모드별 동작과 관련된 부분을 설명하면 다음과 같다.

도 10에 도시된 바와 같이, 제1라인 선택부(SEL1)는 제1전압 회로부(RPRE), 제2전압 회로부(SPRE) 및 제1샘플링 회로부(SAM1) 등을 포함할 수 있다. 제1센싱 회로부(SEN1)는 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1) 등을 포함할 수 있다.

제1전압 회로부(RPRE)는 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 제1기준전원을 출력하기 위해 제1전압 제어신호에 대응하여 턴온되는 스위치 역할을 할 수 있다. 제1전압 회로부(RPRE)는 제1기준전원라인(DREF)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제1전압 제어신호를 전달하는 제1전압 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제2전압 회로부(SPRE)는 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 제2기준전원을 출력하기 위해 제2전압 제어신호에 대응하여 턴온되는 스위치 역할을 할 수 있다. 제2전압 회로부(SPRE)는 제2기준전원라인(SREF)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제2전압 제어신호를 전달하는 제2전압 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1샘플링 회로부(SAM1)는 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 센싱전압을 취득하기 위해 제1샘플링 제어신호에 대응하여 전압을 샘플링하는 역할을 할 수 있다. 제1샘플링 회로부(SAM1)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)의 입력단에 제2전극이 연결되고 제1샘플링 제어신호를 전달하는 제1샘플링 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)는 제1샘플링 회로부(SAM1)로부터 출력된 센싱전압을 아날로그 형태에서 디지털 형태로 변환하는 역할을 할 수 있다. 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)는 제1샘플링 회로부(SAM1)의 제2전극에 입력단이 연결되고 출력단은 패널 센싱 회로부(145)의 출력 회로부(타이밍 제어부로 신호를 출력하기 위한 인터페이스)에 연결될 수 있다.

제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 제1센싱 스위치(SI1) 및 제2센싱 스위치(SI2)를 갖는 센싱 스위치부(SIS1)와 제1전원 스위치(SW1) 및 제2전원 스위치(SW2)를 갖는 전원 스위치부(RPS1)를 포함할 수 있다.

제1센싱 스위치(SI1)와 제1전원 스위치(SW1) 그리고 제2센싱 스위치(SI2)와 제2전원 스위치(SW2)는 서로 동일한 레퍼런스라인을 공유하지만 동일한 제어신호에 대응하여 서로 다른 기간에 턴온되는 한쌍의 스위치에 해당할 수 있다.

센싱 스위치부(SIS1)는 제1레퍼런스라인(REF1)과 제2레퍼런스라인(REF2) 중 하나에 제1기준전원과 제2기준전원 중 하나를 인가하고, 제1레퍼런스라인(REF1)과 제2레퍼런스라인(REF2) 중 하나로부터 센싱전압을 취득하기 위해 라인과 채널을 전기적으로 연결시키는 역할을 할 수 있다. 제1센싱 스위치(SI1)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인(REF1)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2센싱 스위치(SI2)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인(REF2)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

전원 스위치부(RPS1)는 제1레퍼런스라인(REF1)과 제2레퍼런스라인(REF2) 중 하나에 제1기준전원과 제2기준전원 중 하나를 인가하는 역할을 할 수 있다. 제1전원 스위치(SW1)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인(REF1)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2전원 스위치(SW2)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인(REF2)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

전원선택 회로부(RPSA)는 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)에 제1기준전원과 제2기준전원 중 하나를 전달하는 역할을 할 수 있다. 전원선택 회로부(RPSA)는 제1전원선택 스위치(SWa)와 제2전원선택 스위치(SWb)를 포함할 수 있다.

제1전원선택 스위치(SWa)는 제1기준전원라인(DREF)에 제1전극이 연결되고 전원 스위치부(RPS1)의 제1전원 스위치(SW1)의 제2전극에 연결되고 제1전원선택 신호를 전달하는 제1전원선택 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2전원선택 스위치(SWb)는 제2기준전원라인(SREF)에 제1전극이 연결되고 전원 스위치부(RPS1)의 제1전원 스위치(SW1)의 제2전극에 연결되고 제2전원선택 신호를 전달하는 제2전원선택 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1전원선택 스위치(SWa)와 제2전원선택 스위치(SWb)는 제1전압 회로부(RPRE)와 제2전압 회로부(SPRE)처럼 제1기준전원과 제2기준전원을 선택적으로 인가하기 위한 스위치이다. 따라서, 제1전원선택 스위치(SWa)와 제2전원선택 스위치(SWb)의 동작 타이밍은 제1전압 회로부(RPRE)와 제2전압 회로부(SPRE)의 동작 타이밍과 동기할 수 있다.

도 11 내지 도 13은 도 10에 도시된 장치들의 모드별 구동 파형도를 나타낸 도면들이다.

도 11 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 발광표시장치는 적어도 3 가지의 구동 모드로 동작할 수 있다. 제1모드(S Mode)는 서브 픽셀에 포함된 소자(구동 트랜지스터 또는 유기 발광다이오드)의 문턱전압을 센싱하기 위해 사용될 수 있다. 제2모드(F Mode)는 서브 픽셀에 포함된 소자(구동 트랜지스터)의 전류 이동도를 센싱하기 위해 사용될 수 있다. 제3모드(D Mode)는 서브 픽셀을 노말 구동하기 위해 사용될 수 있다.

도 10에 도시된 장치들 중 일부는 상기 3 가지의 구동 모드에 대응하여 구분되는 동작을 수행하는 바 이를 설명하면 다음과 같다.

도 6, 도 10 및 도 11에 도시된 바와 같이, 제1모드(S Mode)는 제1단계(S1), 제2단계(S2), 제3단계(S3), 제4단계(S4)의 순으로 동작할 수 있다. 제1모드(S Mode)는 구동 트랜지스터를 소스 팔로워(Source follower)로 동작시킨 후, 구동 트랜지스터가 포화 상태(Saturation)가 될 때 구동 트랜지스터의 소스 전극(센싱노드)에 충전된 전압을 센싱하는 센싱방식이다.

스캔신호(Scan)는 제1단계(S1) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제2단계(S2)부터 제5단계(S5)까지 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SW)는 스캔신호(Scan)에 대응하여 제2단계(S2)부터 제5단계(S5)까지 센싱용 데이터전압의 인가를 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 제2전압 제어신호(Spre)는 제1단계(S1) 동안 로직하이(H)로 인가되고 제2단계(S2)부터 제5단계(S5)까지 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 제2전압 회로부(SPRE)는 제2전압 제어신호(Spre)에 대응하여 제1단계(S1) 동안 레퍼런스라인의 초기화를 위해 제2기준전원을 출력할 수 있다.

센스신호(Sense)는 제1단계-제2단계 및 제4단계-제5단계(S1-S2, S4-S5) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제3단계(S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 센싱 트랜지스터(ST)는 센스신호(Sense)에 대응하여 제3단계(S3) 동안 센싱전압을 센싱하기 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 샘플링 신호(Sam)는 제4단계(S4) 동안 로직하이(H)로 인가되고 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 샘플링 회로부(SAM)는 샘플링 신호(Sam)에 대응하여 제4단계(S4) 동안 센싱전압을 샘플링할 수 있다.

제1센싱선택 신호(Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제2단계 및 제4단계-5단계(S1-S2, S4-S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있고, 제3단계(S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제2단계 및 제4단계-5단계(S1-S2, S4-S5) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있고, 제3단계(S3) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다.

위의 파형에 따르면, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)의 제1센싱 스위치(SI1)는 제1레퍼런스라인(REF1)으로부터 센싱전압을 센싱하기 위해 이븐 기간(EvenP) 동안 턴온될 수 있다. 그리고 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)의 제2전원 스위치(SW2)는 이븐 기간(EvenP) 동안 턴온될 수 있다. 아울러, 구동 방식에 따라 턴온된 제2전원 스위치(SW2)를 통해 제2레퍼런스라인(REF2)을 초기화하기 위한 제2기준전원을 인가할 수 있다.

반대로, 제1센싱선택 신호(Sa)는 오드 기간(OddP)에서 제1단계-제2단계 및 제4단계-5단계(S1-S2, S4-S5) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있고, 제3단계(S3) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제2단계 및 제4단계-제5단계(S1-S2, S4-S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있고, 제3단계(S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다.

위의 파형에 따르면, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)의 제2센싱 스위치(SI2)는 제2레퍼런스라인(REF2)으로부터 센싱전압을 센싱하기 위해 오드 기간(OddP) 동안 턴온될 수 있다. 그리고 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)의 제1전원 스위치(SW1)는 오드 기간(OddP) 동안 턴온될 수 있다. 아울러, 구동 방식에 따라 턴온된 제1전원 스위치(SW1)를 통해 제1레퍼런스라인(REF1)을 초기화하기 위한 제2기준전원을 인가할 수 있다.

위의 설명을 통해 알 수 있듯이, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 제1센싱선택 신호(Sa)와 제2센싱선택 신호(/Sa)의 논리에 대응하여 제1레퍼런스라인(REF1)이나 제2레퍼런스라인(REF2)으로부터 센싱전압을 센싱할 수 있다. 그리고 이와 동시에 제1레퍼런스라인(REF1) 및 제2레퍼런스라인(REF2) 중 비센싱 라인을 초기화하기 위한 제2기준전원을 인가할 수 있다.

도 6, 도 10 및 도 12에 도시된 바와 같이, 제2모드(F Mode)는 제1단계(S1), 제2단계(S2), 제3단계(S3), 제4단계(S4)의 순으로 동작할 수 있다. 제2모드(F Mode)는 문턱전압의 보상치가 반영된 센싱용 데이터전압을 기반으로 구동 트랜지스터를 일정 시간 동안 턴온시키고, 구동 트랜지스터의 소스 전극(센싱노드)에 충전된 전압의 변화량(ΔV)을 센싱하는 센싱방식이다.

스캔신호(Scan)는 제1단계, 제3단계-제5단계(S1, S3-S5) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제2단계(S2) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SW)는 스캔신호(Scan)에 대응하여 제2단계(S2) 동안 센싱용 데이터전압의 인가를 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 제2전압 제어신호(Spre)는 제1단계(S1) 동안 로직하이(H)로 인가되고 제2단계(S2)부터 제5단계(S5)까지 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 제2전압 회로부(SPRE)는 제2전압 제어신호(Spre)에 대응하여 제1단계(S1) 동안 레퍼런스라인의 초기화를 위해 제2기준전원을 출력할 수 있다.

센스신호(Sense)는 제1단계, 및 제4단계-제5단계(S1, S4-S5) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제2단계-3단계(S2-S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 센싱 트랜지스터(ST)는 센스신호(Sense)에 대응하여 제2단계-3단계(S2-S3) 동안 센싱전압을 센싱하기 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 샘플링 신호(Sam)는 제4단계(S4) 동안 로직하이(H)로 인가되고 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 샘플링 회로부(SAM)는 샘플링 신호(Sam)에 대응하여 제4단계(S4) 동안 센싱전압을 샘플링할 수 있다.

제1센싱선택 신호(Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있고, 제4단계(S4) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있고, 제4단계(S4) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다.

반대로, 제1센싱선택 신호(Sa)는 오드 기간(OddP)에서 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있고, 제4단계(S4) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제3단계 및 제5단계(S1-S3, S5) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있고, 제4단계(S4) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다.

도 6, 도 10 및 도 13에 도시된 바와 같이, 제3모드(D Mode)는 제1단계(S1), 제2단계(S2), 제3단계(S3)의 순으로 동작할 수 있다. 제3모드(D Mode)는 데이터전압(보상된 데이터전압 포함)을 기반으로 구동 트랜지스터를 구동하고 유기 발광다이오드를 발광시키는 구동방식이다.

스캔신호(Scan)는 제1단계와 제3단계(S1, S3) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제2단계(S2) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 스위칭 트랜지스터(SW)는 스캔신호(Scan)에 대응하여 제2단계(S2) 동안 구동용 데이터전압의 인가를 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 제1전압 제어신호(Rpre)는 제1단계(S1)부터 제3단계(S3)까지 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 제1전압 회로부(RPRE)는 제1전압 제어신호(Rpre)에 대응하여 제1단계(S1)부터 제3단계(S3)까지 레퍼런스라인의 보상 구동을 위해 제1기준전원을 출력할 수 있다.

센스신호(Sense)는 제1단계와 제3단계(S1, S3) 동안 로직로우(L)로 인가되고 제2단계(S2) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 센싱 트랜지스터(ST)는 센스신호(Sense)에 대응하여 제2단계(S2) 동안 구동 트랜지스터(DT)의 소스전극에 제1기준전원을 인가하기 위해 턴온 상태를 유지할 수 있다. 샘플링 신호(Sam)는 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 샘플링 회로부(SAM)는 샘플링 신호(Sam)에 대응하여 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 동작하지 않을 수 있다.

제1센싱선택 신호(Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)에서 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다.

반대로, 제1센싱선택 신호(Sa)는 오드 기간(OddP)에서 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 로직로우(L)로 인가될 수 있다. 제2센싱선택 신호(/Sa)는 오드 기간(OddP)에서 제1단계-제3단계(S1-S3) 동안 로직하이(H)로 인가될 수 있다.

위의 설명을 통해 알 수 있듯이, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 제1센싱선택 신호(Sa)와 제2센싱선택 신호(/Sa)의 논리에 대응하여 제1레퍼런스라인(REF1) 및 제2레퍼런스라인(REF2) 중 적어도 하나에 레퍼런스라인의 보상 구동을 위해 제1기준전원을 인가할 수 있다.

이상의 설명에 따르면, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 다수의 레퍼런스라인으로부터 선택적으로 센싱전압을 센싱할 수 있고 또한 선택적으로 기준전원을 인가할 수 있도록 동작할 수 있다. 그리고 이에 따라, 센싱 채널의 개수를 낮출 수 있는 이점을 제공할 수 있다.

한편, 위의 설명에서는 제1센싱선택 신호(Sa)와 제2센싱선택 신호(/Sa)는 이븐 기간(EvenP)과 오드 기간(OddP)으로 구분되어 신호의 파형이 반전되는 것으로 설명하였다. 그러나 제1센싱선택 신호(Sa)와 제2센싱선택 신호(/Sa)는 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)의 구성과 구동 방식에 따라 달라질 수 있다.

도 14는 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전에 볼 수 있는 장치 구성 예시도이고, 도 15는 본 발명의 제1실시예를 적용한 후에 볼 수 있는 장치 구성 예시도이다.

도 14와 도 15를 비교하면 알 수 있듯이, 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전, 데이터 구동부(140)의 센싱 채널(SIO1 ~ SIO16)은 총 8개였다. 하지만, 본 발명의 제1실시예를 적용한 후, 데이터 구동부(140)의 센싱 채널(SIO1 ~ SIO4)은 총 8개에서 총 4개로 줄어들었다. 즉, 센싱 채널의 개수가 1/2 수준으로 줄었다.

본 발명의 제1실시예를 적용할 경우, 데이터 구동부(140)에서 센싱과 관련된 채널의 개수를 줄일 수 있는 이유는 시분할 방식으로 전압과 신호를 선택적으로 입출력할 수 있는 4개의 센싱선택 회로부(RPS & SIS)를 표시패널(150) 상에 구현하였기 때문이다. 그러므로, 본 발명의 제1실시예를 따르면, 물리적 센싱 라인의 개수를 최소화할 수 있다.

도 16은 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전에 수행될 수 있는 센싱 흐름도이고, 도 17은 본 발명의 제1실시예를 적용하기 후에 수행될 수 있는 센싱 흐름도이다.

도 16과 같이, 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전에는 제1게이트라인의 픽셀들(P)을 모두 센싱하고, 제2게이트라인은 스킵한 다음 제3게이트라인의 픽셀들(P)을 모두 센싱하는 방식을 선택할 수 있다.

그러나 도 17과 같이, 본 발명의 제1실시예를 적용하기 후에는 제1게이트라인의 픽셀들(P)을 징검다리 형태로 적어도 하나씩 스킵하며 센싱하고, 이어서 제2게이트라인의 픽셀들(P) 또한 징검다리 형태로 적어도 하나씩 스킵하며 센싱하는 방식을 선택할 수 있다.

그러므로, 본 발명의 제1실시예를 적용하기 전과 후를 비교하면 알 수 있듯이, 본 발명의 제1실시예는 센싱 채널의 개수를 줄이면서도 센싱 가능한 픽셀들의 개수를 늘릴 수 있다. 그리고 센싱 가능한 픽셀들의 개수가 늘어남에 따라 센싱 속도 및 보상 속도를 향상할 수 있거나 이전과 동등한 수준으로 유지할 수 있다.

이하, 센싱선택 회로부(RPS & SIS)가 제어할 수 있는 레퍼런스라인의 개수를 더욱 늘려 회로를 구성하고 센싱 편차 발생을 개선할 수 있는 방식을 설명한다.

도 18은 본 발명의 제2실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 나타낸 도면이고, 도 19는 도 18에 도시된 장치가 제2모드로 동작할 때 장치의 구동 파형 선택에 따른 샘플링 방법을 일례로 설명하기 위한 도면이다.

도 18에 도시된 바와 같이, 제1센싱선택 회로부(RPS1 & SIS1)는 제1전원 스위치(SW1) 내지 제8전원 스위치(SW8)를 갖는 전원 스위치부(RPS1)와 제1센싱 스위치(SI1) 내지 제8센싱 스위치(SI8)를 갖는 센싱 스위치부(SIS1)를 포함할 수 있다.

전원 스위치부(RPS1)는 제1레퍼런스라인(REF1) 내지 제8레퍼런스라인(REF8) 중 적어도 하나에 제1기준전원과 제2기준전원 중 하나를 인가하는 역할을 할 수 있다. 전원 스위치부(RPS1)는 총 8개의 레퍼런스라인(REF1 ~ REF8)에 연결되어 있으므로 한번에 총 8개의 레퍼런스라인(REF1 ~ REF8)에 기준전원을 인가할 수 있다.

제1전원 스위치(SW1)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인(REF1)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2전원 스위치(SW2)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인(REF2)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제3전원 스위치(SW3)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제3레퍼런스라인(REF3)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제4전원 스위치(SW4)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제4레퍼런스라인(REF4)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제5전원 스위치(SW5)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제5레퍼런스라인(REF5)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제6전원 스위치(SW6)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제6레퍼런스라인(REF6)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제7전원 스위치(SW7)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제7레퍼런스라인(REF7)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제8전원 스위치(SW8)는 전원선택 회로부(RPSA)의 출력단에 제1전극이 연결되고 제8레퍼런스라인(REF8)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

센싱 스위치부(SIS1)는 제1레퍼런스라인(REF1) 내지 제8레퍼런스라인(REF8) 중 적어도 하나에 제1기준전원과 제2기준전원 중 하나를 인가하고, 제1레퍼런스라인(REF1)내지 제2레퍼런스라인(REF2) 중 적어도 하나로부터 센싱전압을 취득하기 위해 라인과 채널을 전기적으로 연결시키는 역할을 할 수 있다. 센싱 스위치부(SIS1)는 총 4개의 센싱 채널(SIO1 ~ SIO4)에 연결되어 있으므로 한번에 총 4개의 센싱전압을 취득할 수 있다.

제1센싱 스위치(SI1)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인(REF1)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2센싱 스위치(SI2)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인(REF2)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제3센싱 스위치(SI3)는 제2센싱 채널(SIO2)에 제1전극이 연결되고 제3레퍼런스라인(REF3)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제4센싱 스위치(SI4)는 제2센싱 채널(SIO2)에 제1전극이 연결되고 제4레퍼런스라인(REF4)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제5센싱 스위치(SI5)는 제3센싱 채널(SIO3)에 제1전극이 연결되고 제5레퍼런스라인(REF5)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제6센싱 스위치(SI6)는 제3센싱 채널(SIO3)에 제1전극이 연결되고 제6레퍼런스라인(REF6)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제7센싱 스위치(SI7)는 제4센싱 채널(SIO4)에 제1전극이 연결되고 제7레퍼런스라인(REF7)에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인(SA)에 제어전극이 연결될 수 있다. 제8센싱 스위치(SI8)는 제4센싱 채널(SIO4)에 제1전극이 연결되고 제8레퍼런스라인(REF8)에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인(/SA)에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1라인 선택부(SEL1)는 제1전압 회로부(RPRE), 제2전압 회로부(SPRE), 제1샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2, SAM1E1, SAM1E2), 제1샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2, SEL1E1, SEL1E2) 등을 포함할 수 있다. 제1센싱 회로부(SEN1)는 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2) 등을 포함할 수 있다.

제1전압 회로부(RPRE)는 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4) 중 적어도 하나를 통해 제1기준전원을 출력하기 위해 제1전압 제어신호에 대응하여 턴온되는 스위치 역할을 할 수 있다. 제1전압 회로부(RPRE)는 제1기준전원라인(DREF)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)에 제2전극이 공통으로 연결되고 제1전압 제어신호를 전달하는 제1전압 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제2전압 회로부(SPRE)는 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4) 중 적어도 하나를 통해 제2기준전원을 출력하기 위해 제2전압 제어신호에 대응하여 턴온되는 스위치 역할을 할 수 있다. 제2전압 회로부(SPRE)는 제2기준전원라인(SREF)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)에 제2전극이 공통으로 연결되고 제2전압 제어신호를 전달하는 제2전압 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2, SAM1E1, SAM1E2)는 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4) 중 적어도 하나를 통해 센싱전압을 취득하기 위해 제1오드샘플링 제어신호와 제2이븐샘플링 제어신호에 대응하여 전압을 샘플링하는 역할을 할 수 있다. 제1샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2, SAM1E1, SAM1E2)는 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1), 제2오드샘플링 회로부(SAM1O1), 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1), 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)를 포함할 수 있다.

제1오드샘플링 회로부(SAM1O1)는 제1센싱 채널(SIO1)에 제1전극이 연결되고 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1)의 제2전극에 제2전극이 연결되고 제1오드샘플링 제어신호를 전달하는 제1오드샘플링 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2오드샘플링 회로부(SAM1O2)는 제3센싱 채널(SIO3)에 제1전극이 연결되고 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)의 제2전극에 제2전극이 연결되고 제2오드샘플링 제어신호를 전달하는 제2오드샘플링 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1)는 제2센싱 채널(SIO2)에 제1전극이 연결되고 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1)의 제2전극에 제2전극이 연결되고 제1이븐샘플링 제어신호를 전달하는 제1이븐샘플링 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)는 제4센싱 채널(SIO4)에 제1전극이 연결되고 제2오드샘플링 회로부(SAM1O2)의 제2전극에 제2전극이 연결되고 제2이븐샘플링 제어신호를 전달하는 제2이븐샘플링 제어라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2, SEL1E1, SEL1E2)는 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1), 제2오드 샘플링 회로부(SAM1O2), 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1), 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2) 중 적어도 하나로부터 출력된 센싱전압을 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1) 또는 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)에 전달하는 역할을 할 수 있다. 제1샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2, SEL1E1, SEL1E2)는 제1오드샘플링 선택부(SEL1O1), 제2오드샘플링 선택부(SEL1O2), 제1이븐샘플링 선택부(SEL1E1), 제2이븐샘플링 선택부(SEL1E2)를 포함할 수 있다.

제1오드샘플링 선택부(SEL1O1)는 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1)의 제2전극과 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1)의 제2전극에 제1전극이 연결되고 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)의 입력단에 제2전극이 연결되고 오드샘플링 선택신호를 전달하는 오드샘플링 선택라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2오드샘플링 선택부(SEL1O2)는 제2오드샘플링 회로부(SAM1O2)의 제2전극과 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)의 제2전극에 제1전극이 연결되고 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)의 입력단에 제2전극이 연결되고 오드샘플링 선택신호를 전달하는 오드샘플링 선택라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1이븐샘플링 선택부(SEL1E1)는 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1)의 제2전극과 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1)의 제2전극에 제1전극이 연결되고 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)의 입력단에 제2전극이 연결되고 이븐샘플링 선택신호를 전달하는 이븐샘플링 선택라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2이븐샘플링 선택부(SEL1E2)는 제2오드샘플링 회로부(SAM1O2)의 제2전극과 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)의 제2전극에 제1전극이 연결되고 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)의 입력단에 제2전극이 연결되고 이븐샘플링 선택신호를 전달하는 이븐샘플링 선택라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)는 제1오드샘플링 회로부(SAM1O1), 제2오드 샘플링 회로부(SAM1O2), 제1이븐샘플링 회로부(SAM1E1), 제2이븐샘플링 회로부(SAM1E2)로부터 출력된 센싱전압을 아날로그 형태에서 디지털 형태로 변환하는 역할을 할 수 있다.

제1전원선택 스위치(SWa)는 제1기준전원라인(DREF)에 제1전극이 연결되고 전원 스위치부(RPS1)의 제1전원 스위치(SW1) 내지 제8전원 스위치(SW8)의 제2전극에 공통으로 연결되고 제1전원선택 신호를 전달하는 제1전원선택 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2전원선택 스위치(SWb)는 제2기준전원라인(SREF)에 제1전극이 연결되고 전원 스위치부(RPS1)의 제1전원 스위치(SW1) 내지 제8전원 스위치(SW8)의 제2전극에 공통으로 연결되고 제2전원선택 신호를 전달하는 제2전원선택 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제2실시예는 센싱전압을 디지털 형태로 변환할 때 아날로그 디지털 변환부의 물리적 편차에 의한 센싱 편차 발생을 개선할 수 있다. 그 이유는 센싱 채널들을 통해 적어도 4개의 센싱전압을 취득하고, 적어도 2개의 센싱전압씩 합하여 평균화한 다음 2개의 아날로그 디지털 변환부를 기반으로 센싱전압을 디지털 형태로 변환하기 때문이다.

도 18 및 도 19에 도시된 바와 같이, 제2모드는 제1기간(1st Period) 내지 제4기간(4th Period) 동안에 이루어질 수 있다. 제1기간(1st Period) 내지 제4기간(4th Period)은 블랭크 기간(영상을 표시하지 않는 기간)에 해당할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.

스캔신호(Scan), 제2전압 제어신호(Spre), 센스신호(Sense), 제1센싱선택 신호(Sa), 제2센싱선택 신호(/Sa)에 의한 장치들의 동작은 앞서 설명한 바 있으므로 도 12를 참고한다. 위의 신호들과 달리, 샘플링 신호(Sam1o, Sam1e)는 오드샘플링 신호(Sam1o)와 이븐샘플링 신호(Sam1e)로 구분되었을 뿐, 이 신호들에 의한 장치들의 동작은 앞서 설명한 도 12와 유사하므로 이를 참고한다. 또한, 샘프링 신호(Sam1o, Sam1e)가 위와 같이 구분됨과 더불어 샘플링 회로부로부터 출력되는 센싱전압을 합산할 수 있게 됨에 따라 샘플링 선택신호(Sel1o, Sel1e) 또한 오드샘플링 선택신호(Sel1o)와 이븐샘플링 선택신호(Sel1o)로 구분되었을 뿐, 이 신호들에 의한 장치들의 동작은 앞서 설명한 도 12와 유사하므로 이를 참고한다.

제2모드의 제1기간(1st Period) 동안 제1레퍼런스라인(REF1), 제3레퍼런스라인(REF3), 제5레퍼런스라인(REF5), 제7레퍼런스라인(REF7)으로부터 센싱전압을 취득할 수 있다. 취득된 센싱전압은 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)을 통해 데이터 구동부(140)의 패널 센싱 회로부(145)에 전달될 수 있다. 그러나 오드샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2)만 동작하므로 제1센싱 채널(SIO1)과 제3센싱 채널(SIO3)의 센싱전압만 샘플링될 수 있다. 샘플링되지 않은 전압은 이후의 초기화 과정에 의해 제거될 수 있다. 그리고 오드샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2)에 의해 샘플링된 센싱전압은 오드샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2)에 의해 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)에 전달될 수 있다.

제2모드의 제2기간(2nd Period) 동안 제2레퍼런스라인(REF2), 제4레퍼런스라인(REF4), 제6레퍼런스라인(REF6), 제8레퍼런스라인(REF8)으로부터 센싱전압을 취득할 수 있다. 취득된 센싱전압은 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)을 통해 데이터 구동부(140)의 패널 센싱 회로부(145)에 전달될 수 있다. 그러나 오드샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2)만 동작하므로 제1센싱 채널(SIO1)과 제3센싱 채널(SIO3)의 센싱전압만 샘플링될 수 있다. 그리고 오드샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2)에 의해 샘플링된 센싱전압은 오드샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2)에 의해 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)에 전달될 수 있다.

제2모드의 제3기간(3rd Period) 동안 제1레퍼런스라인(REF1), 제3레퍼런스라인(REF3), 제5레퍼런스라인(REF5), 제7레퍼런스라인(REF7)으로부터 센싱전압을 취득할 수 있다. 취득된 센싱전압은 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)을 통해 데이터 구동부(140)의 패널 센싱 회로부(145)에 전달될 수 있다. 그러나 이븐샘플링 회로부(SAM1E1, SAM1E2)만 동작하므로 제2센싱 채널(SIO2)과 제4센싱 채널(SIO4)의 센싱전압만 샘플링될 수 있다. 샘플링되지 않은 전압은 이후의 초기화 과정에 의해 제거될 수 있다. 그리고 이븐샘플링 회로부(SAM1E1, SAM1E2)에 의해 샘플링된 센싱전압은 이븐샘플링 선택부(SEL1E1, SEL1E2)에 의해 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)에 전달될 수 있다.

제2모드의 제4기간(4th Period) 동안 제2레퍼런스라인(REF2), 제4레퍼런스라인(REF4), 제6레퍼런스라인(REF6), 제8레퍼런스라인(REF8)으로부터 센싱전압을 취득할 수 있다. 취득된 센싱전압은 제1센싱 채널(SIO1) 내지 제4센싱 채널(SIO4)을 통해 데이터 구동부(140)의 패널 센싱 회로부(145)에 전달될 수 있다. 그러나 이븐샘플링 회로부(SAM1E1, SAM1E2)만 동작하므로 제2센싱 채널(SIO2)과 제4센싱 채널(SIO4)의 센싱전압만 샘플링될 수 있다. 그리고 이븐샘플링 회로부(SAM1E1, SAM1E2)에 의해 샘플링된 센싱전압은 이븐샘플링 선택부(SEL1E1, SEL1E2)에 의해 제1아날로그 디지털 변환부(ADC1)와 제2아날로그 디지털 변환부(ADC2)에 전달될 수 있다.

위의 설명에 따르면, 제2실시예는 제1샘플링 회로부(SAM1O1, SAM1O2, SAM1E1, SAM1E2)와 제1샘플링 선택부(SEL1O1, SEL1O2, SEL1E1, SEL1E2) 같은 선택 회로를 결선 방식과 구동 파형 선택에 따라 다양한 샘플링 방법을 구현할 수 있음을 알 수 있다.

이하, 제1실시예 또는 제2실시예에서 데이터 구동부의 물리적 및 회로적 특성 등을 감지하고 개선할 수 있는 방안에 대해 설명한다.

도 20은 본 발명의 제3실시예에 따라 발광표시장치의 일부를 나타낸 도면이고, 도 21 내지 도 24는 본 발명의 제3실시예에 따른 편차 보정 방법을 설명하기 위한 도면들이다.

도 20에 도시된 바와 같이, 데이터 구동부(140)의 패널 구동 회로부(141)는다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)와 다수의 연결 스위치(CW1 ~ CW8) 등을 포함할 수 있다.

다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)는 제1데이터 채널(CH1) 내지 제8데이터 채널(CH8)에 대응하여 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)를 포함할 수 있다. 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)는 데이터전압을 생성하고 생성된 데이터전압을 제1데이터 채널(CH1) 내지 제8데이터 채널(CH8)을 통해 출력할 수 있다. 이를 위해, 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)는 디지털 아날로그 변환부를 각각 포함할 수 있다.

다수의 연결 스위치(CW1 ~ CW8)는 제1데이터 채널(CH1) 내지 제8데이터 채널(CH8)에 대응하여 제1연결 스위치(CW1) 내지 제8연결 스위치(CW8)를 포함할 수 있다. 제1연결 스위치(CW1) 내지 제8연결 스위치(CW8)는 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)의 출력단 중 적어도 하나를 제1센싱 채널(SIO1)에 연결할 수 있다.

제1연결 스위치(CW1)는 제1데이터 채널(CH1)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제1연결 신호를 전달하는 제1연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제2연결 스위치(CW2)는 제2데이터 채널(CH2)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제2연결 신호를 전달하는 제2연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제3연결 스위치(CW3)는 제3데이터 채널(CH3)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제3연결 신호를 전달하는 제3연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제4연결 스위치(CW4)는 제4데이터 채널(CH4)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제4연결 신호를 전달하는 제4연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

제5연결 스위치(CW5)는 제5데이터 채널(CH5)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제5연결 신호를 전달하는 제5연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제6연결 스위치(CW6)는 제6데이터 채널(CH6)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제6연결 신호를 전달하는 제6연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제7연결 스위치(CW7)는 제7데이터 채널(CH7)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제7연결 신호를 전달하는 제7연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다. 제8연결 스위치(CW8)는 제8데이터 채널(CH8)에 제1전극이 연결되고 제1센싱 채널(SIO1)에 제2전극이 연결되고 제8연결 신호를 전달하는 제8연결 신호라인에 제어전극이 연결될 수 있다.

도 21 및 도 22에 도시된 바와 같이, 제1연결 스위치(CW1) 내지 제8연결 스위치(CW8)는 순차적으로 턴온되며 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)의 출력단을 제1센싱 채널(SIO1)에 일정 기간 동안 연결할 수 있다. 제1연결 스위치(CW1) 내지 제8연결 스위치(CW8)는 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8)의 출력단을 제1센싱 채널(SIO1)에 한번씩 연결하면 되므로 비순차 턴온되거나 랜덤 턴온되더라도 무관하다.

다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)는 다수의 연결 스위치(CW1 ~ CW8)의 턴온 기간에 대응하여 검사용 전압을 출력할 수 있다. 그리고 패널 센싱 회로부(145)의 제1라인 선택부(SEL1)와 제1센싱 회로부(SEN1) 또한 각기 다른 기간에 다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)로부터 출력된 검사용 전압을 센싱하도록 동작할 수 있다. 센싱된 검사용 전압은 보정 회로부(ADJ)에 전달될 수 있다.

보정 회로부(ADJ)는 다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)로부터 출력된 검사용 전압을 센싱하고 이를 기반으로 다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8) 간에 존재하는 출력 편차를 보정할 수 있다. 한편, 보정 회로부(ADJ)는 패널 센싱 회로부(145)에 포함된 것을 일례로 하였으나 이는 패널 구동 회로부(141)에 포함되거나 다른 장치에 포함될 수 있는 바, 이에 한정되지 않는다.

위의 설명과 같이, 다수의 연결 스위치(CW1 ~ CW8)를 구성하고 다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8)로부터 출력된 검사용 전압을 센싱하면 다수의 구동 출력부(DR1 ~ DR8) 간에 존재하는 출력 편차를 보정할 수 있어 표시품질을 향상할 수 있음은 물론이고 구동 신뢰성을 향상할 수 있다.

덧붙여, 제3실시예의 구성(연결 스위치 등)을 제2실시예와 결합하여 회로를 구성하면, 데이터 구동부(140)의 패널 구동 회로부(141)에 포함된 디지털 아날로그 변환부와 패널 센싱 회로부(145)에 포함된 아날로그 디지털 변환부의 편차를 함께 보정할 수 있다.

도 23 및 도 24에 도시된 바와 같이, 제1연결 스위치(CW1) 내지 제8연결 스위치(CW8) 중 적어도 하나를 턴온시키고 제1구동 출력부(DR1) 내지 제8구동 출력부(DR8) 중 턴온된 연결 스위치에 해당하는 구동 출력부의 출력단을 제1센싱 채널(SIO1)에 일정 기간 동안 연결할 수 있다. 그리고 턴온된 연결 스위치에 해당하는 구동 출력부를 구동하여 검사용 전압을 제1센싱 채널(SIO1)을 통해 표시패널에 인가한 후 검사용 전압을 센싱할 수 있다.

위와 같은 방법을 이용하면, 제1센싱 채널(SIO1)에 연결된 적어도 하나의 레퍼런스라인의 물리적 특성(레퍼런스라인과 관계된 회로와의 정상 접속 여부 등)의 과 표시패널 상에 배치된 각종 스위치들의 물리적 특성(스위치들의 정상 동작 여부나 온오프 편차 등)을 감지할 수 있다. 또한, 감사용 전압을 인가하고 다시 센싱하므로 장치의 출하 전과 후의 변화에 기초한 편차 보정이나 보상 구동을 하기 위한 기반을 마련할 수 있다.

이상, 본 발명은 물리적 센싱 라인의 개수를 최소화하면서도 센싱 속도 및 보상 속도를 향상하거나 이전과 동등한 수준으로 유지할 수 있는 외부 보상형 발광표시장치를 제공할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 다양한 샘플링 방법을 구현할 수 있는 회로를 제공할 수 있음은 물론이고 데이터 구동부의 물리적 및 회로적 특성 등을 감지하고 개선할 수 있는 효과가 있다.

130: 스캔 구동부 140: 데이터 구동부
150: 표시패널 RPS1 & SIS1 ~ RPS2 & SIS2: 센싱선택 회로부(들)
RPSA: 전원선택 회로부 SEL1: 제1라인 선택부
SEN1: 제1센싱 회로부

Claims

영상을 표시하는 표시영역과 영상을 비표시하는 비표시영역을 갖는 표시패널;
상기 표시패널에 연결된 데이터라인들에 데이터전압을 공급하기 위한 데이터 채널들과 상기 표시패널에 연결된 레퍼런스라인들로부터 센싱전압을 취득하기 위한 센싱 채널들을 갖는 데이터 구동부; 및
상기 표시패널 상에 위치하고 적어도 두 개의 레퍼런스라인과 하나의 센싱 채널 사이에 위치하며 상기 적어도 두 개의 레퍼런스라인 중 하나를 상기 하나의 센싱 채널에 연결하기 위한 센싱선택 회로부를 포함하는 발광표시장치.
제1항에 있어서,
상기 표시패널 상에 위치하고 상기 센싱선택 회로부의 동작시 필요한 제1 및 제2기준전원 중 하나를 상기 센싱선택 회로부에 선택적으로 전달하기 위한 전원선택 회로부를 더 포함하는 발광표시장치.
제2항에 있어서,
상기 센싱선택 회로부는
서로 동일한 레퍼런스라인을 공유하지만 동일한 제어신호에 대응하여 서로 다른 기간에 턴온되는 한쌍의 스위치를 포함하는 발광표시장치.
제2항에 있어서,
상기 센싱선택 회로부는
서로 이웃하는 적어도 두 개의 레퍼런스라인으로부터 서로 다른 기간 동안 센싱전압을 센싱하기 위한 선택 동작을 하는 발광표시장치.
제4항에 있어서,
상기 전원선택 회로부는
상기 적어도 두 개의 레퍼런스라인 중 하나에 제1기준전원을 인가하고, 다른 하나에 제2기준전원을 인가하기 위해 구분되는 선택 동작을 하는 발광표시장치.
제2항에 있어서,
상기 센싱선택 회로부는
제1센싱 채널에 제1전극이 연결되고 제1레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 제1센싱선택 신호가 전달되는 제1센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제1센싱 스위치와 상기 제1센싱 채널에 제1전극이 연결되고 제2레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 제2센싱선택 신호가 전달되는 제2센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제2센싱 스위치를 포함하는 센싱 스위치부와,
상기 전원선택 회로부의 출력단에 제1전극이 연결되고 상기 제1레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 상기 제2센싱선택 신호가 전달되는 상기 제2센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제1전원 스위치와 상기 전원선택 회로부의 출력단에 제1전극이 연결되고 상기 제2레퍼런스라인에 제2전극이 연결되고 상기 제1센싱선택 신호가 전달되는 상기 제1센싱선택 신호라인에 제어전극이 연결된 제2전원 스위치를 포함하는 전원 스위치부를 포함하는 발광표시장치.
제6항에 있어서,
상기 제1센싱선택 신호와 상기 제2센싱선택 신호는
이븐 기간과 오드 기간으로 구분되어 서로 상반된 형태로 인가되는 발광표시장치.
제2항에 있어서,
상기 데이터 구동부는
적어도 두 개의 센싱전압씩 합하여 평균화하는 발광표시장치.
제2항에 있어서,
상기 데이터 구동부는
상기 데이터전압을 출력하기 위한 다수의 구동 회로부와,
상기 센싱전압을 취득하기 위한 다수의 센싱 회로부를 포함하고,
상기 다수의 구동 회로부 중 적어도 하나와 상기 다수의 센싱 회로부 중 하나를 전기적으로 연결하기 위한 다수의 연결 스위치를 포함하는 발광표시장치.
제9항에 있어서,
상기 다수의 연결 스위치는
상기 데이터 구동부의 내부와 외부에 연결된 장치와 라인 간의 물리적 편차를 개선하기 위해 상기 다수의 구동 회로부 중 적어도 하나와 상기 다수의 센싱 회로부 중 하나를 전기적으로 연결하고 검사용 전압을 인가한 후 상기 검사용 전압을 센싱하는 발광표시장치.