KR20220073500A - Test apparatus and test method for shutter of infrared seeker - Google Patents

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KR20220073500A
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Abstract

본 발명은 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법에 관한 것으로서, 공중을 이동하는 유도무기에 설치되는 적외선 탐색기용 셔터의 시험방법으로서, 상기 유도무기의 가속도와, 상기 가속도에 의해 상기 셔터에서 발생하는 저항력을 모사하여, 상기 셔터의 성능을 시험할 수 있고, 적외선 탐색기에 장착되는 셔터 단품에 대한 성능을 검증하고, 개선할 수 있다. The present invention relates to a test apparatus and a test method for a shutter for an infrared searcher, which is a test method for a shutter for an infrared searcher installed in a guided weapon moving in the air, and the acceleration of the guided weapon and generated in the shutter by the acceleration The performance of the shutter can be tested by simulating the resistance of the shutter, and the performance of the shutter unit mounted on the infrared searcher can be verified and improved.

Description

적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법{Test apparatus and test method for shutter of infrared seeker}Test apparatus and test method for shutter of infrared seeker

본 발명은 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 적외선 탐색기에 장착되는 셔터의 성능을 검증하고, 개선할 수 있는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a testing apparatus and test method for a shutter for an infrared searcher, and more particularly, to a testing apparatus and test method for a shutter for an infrared searcher that can verify and improve the performance of a shutter mounted on an infrared searcher. .

유도탄은 초음속 비행을 하며, 표적을 감지하고 추적하여 타격하는 유도 무기의 일종이다. 이러한 유도탄은 표적을 감지하고, 감지된 표적을 추적할 수 있는 적외선 탐색기가 내장되어 있다. 적외선 탐색기는 적외선 센서를 포함하여, 일정 대역의 적외선이 입사되면, 광전 변환을 통해 전기적인 신호인 감지 신호로 변환하고, 감지 신호를 분석하여 표적을 식별 및 추적하는 장치이다. 적외선 탐색기는 유도 비행체와 같이 표적을 감지 추적하는 장치에 장착되어 운용되는 경우가 많으며, 표적을 용이하게 감지하기 위해 주로 장착된 장치의 이동 방향 전방에 장착에 장착되어 운용되고 있다. A guided missile is a type of guided weapon that flies at supersonic speed, detects, tracks, and strikes a target. These missiles have a built-in infrared searcher that can detect the target and track the detected target. The infrared searcher is a device for identifying and tracking a target by analyzing the detection signal and converting it into a detection signal that is an electrical signal through photoelectric conversion when infrared light of a certain band is incident, including an infrared sensor. Infrared searchers are often installed and operated on a device that detects and tracks a target, such as a guided vehicle.

한편, 적외선 탐색기는 유도무기 시스템의 특성 상 실제적으로 발사를 했을 때, 유도무기를 구성하는 부품 중에 하나라도 불량이 발생하면 유도탄이 전혀 다른 곳을 요격할 수 있으므로 성능 보다 신뢰성/안정성이 더 중요시된다. 이러한 적외선 탐색기는 적외선 센서를 태양광으로부터 보호하기 위한 셔터를 포함한다. 셔터는 적외선 센서가 태양광에 노출되지 않도록 셔터날을 이용하여 적외선 센서를 폐쇄시키고 있다가, 표적과의 거리가 가까워지면 셔터날을 개방시켜 적외선 센서를 노출시킴으로써 적외선 센서가 표적을 식별 및 추적할 수 있도록 한다. 그런데 셔터는 유도무기가 초음속으로 비행하는 과정에서 구동기를 이용하여 셔터날을 작동시기 때문에 가속도에 강인하지 않으면 셔터날이 제대로 작동하지 않아 유도무기가 전혀 다른 곳을 요격을 할 수 있다. 따라서 셔터는 유도무기 운용 상에서 가속도에 강인하게 개발이 되어야 하고, 이를 시험을 할 수 있는 장치 및 방법이 필요하다.On the other hand, due to the characteristics of the guided weapon system, the infrared searcher can intercept a completely different place if any of the components constituting the guided weapon fails when actually fired, so reliability/stability is more important than performance. . This infrared searcher includes a shutter for protecting the infrared sensor from sunlight. The shutter closes the infrared sensor using the shutter blade so that the infrared sensor is not exposed to sunlight, and opens the shutter blade when the distance to the target gets close to expose the infrared sensor, so that the infrared sensor can identify and track the target. make it possible However, since the shutter operates the shutter blade using the actuator while the guided weapon is flying at supersonic speed, the shutter blade will not work properly if it is not strong enough to accelerate, so the guided weapon can intercept a completely different place. Therefore, the shutter must be developed robustly against acceleration in the operation of guided weapons, and a device and method that can test it are required.

그러나 셔터의 성능을 정확하게 검증하기 위해서는 셔터 단품에 대한 가속도 시험을 수행하는 것이 가장 좋은 방법이지만, 적외선 탐색기에 설치된 상태에서 가속도 시험을 통해 성능을 검증하는 시험을 수행하고 있다. 이에 시험 결과 셔터가 불량이거나 성능 미달인 경우 적외선 탐색기에서 분리하고, 셔터를 수리하여 다시 적외선 탐색기에 설치하는 등 많은 과정이 소요되므로, 셔터의 성능을 시험하는데 많은 시간과 비용이 소요되는 문제가 있다. However, in order to accurately verify the performance of the shutter, it is best to perform an acceleration test on the shutter unit, but the test is being performed to verify the performance through the acceleration test while installed in the infrared searcher. As a result of the test, if the shutter is defective or underperforming, it takes a lot of processes, such as separating it from the infrared searcher, repairing the shutter, and installing it again in the infrared searcher, so it takes a lot of time and money to test the shutter performance. .

1)KR10-1297254 B1)KR10-1297254 B

본 발명은 가속도에 대한 셔터의 성능을 검증하고, 개선할 수 있는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법을 제공한다. The present invention provides a test apparatus and test method for a shutter for an infrared searcher that can verify and improve shutter performance with respect to acceleration.

본 발명은 유도체와 분리된 셔터 단품에 대한 시험을 수행할 수 있는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법을 제공한다. The present invention provides a test apparatus and test method for a shutter for an infrared searcher capable of performing a test on a single shutter unit separated from a derivative.

본 발명은 셔터를 시험하는데 소요되는 시간과 비용을 절감할 수 있는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치 및 시험 방법을 제공한다. The present invention provides a test apparatus and test method for a shutter for an infrared searcher that can reduce the time and cost required for testing the shutter.

본 발명의 실시 형태에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치는, 본체부; 회전 가능한 셔터날을 포함하는 셔터를 지지하도록 상기 본체부에 설치되는 지지부; 상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하기 위해 상기 지지부와 이격되도록 상기 본체부에 설치되는 부하 인가부; 및 상기 셔터날을 회전시키도록 전원을 공급하기 위한 전원부;를 포함할 수 있다. A testing apparatus for a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention includes: a main body; a support part installed on the body part to support a shutter including a rotatable shutter blade; a load applying unit installed in the main body to be spaced apart from the supporting unit to apply a load to the shutter blade in a non-contact manner; and a power supply unit for supplying power to rotate the shutter blade.

상기 지지부는 상기 셔터를 지지하기 제1지지부재를 포함할 수 있다.The support part may include a first support member for supporting the shutter.

상기 부하 인가부는, 부하 인가부재; 및 상기 셔터와 마주보도록 상기 부하 인가부재를 지지하기 위한 제2지지부재;를 포함할 수 있다.The load applying unit may include: a load applying member; and a second support member for supporting the load applying member to face the shutter.

상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 조절하도록 상기 제1지지부재와 상기 제2지지부재 중 적어도 하나는 수평방향으로 이동 가능하게 형성될 수 있다.At least one of the first support member and the second support member may be formed to be movable in a horizontal direction to adjust a distance between the shutter and the load applying member.

상기 지지부는, 상기 셔터를 지지하기 위한 제1지지부재와, 상기 제1지지부재를 이동 가능하게 연결하도록 상기 본체부에 형성되는 제1연결부재를 포함하고, 상기 부하 인가부는, 상기 부하 인가부재를 지지하기 위한 제2지지부재와, 상기 제2지지부재를 이동 가능하게 연결하도록 상기 본체부에 연결되는 제2연결부재를 포함할 수 있다.The support part includes a first support member for supporting the shutter, and a first connection member formed on the body part to movably connect the first support member, and the load applying part may include the load applying member. It may include a second support member for supporting the, and a second connection member connected to the main body to movably connect the second support member.

상기 셔터날은 자성체를 포함하고, 상기 부하 인가부재는 자기장을 발생시킬 수 있는 자석을 포함할 수 있다.The shutter blade may include a magnetic material, and the load applying member may include a magnet capable of generating a magnetic field.

상기 부하 인가부재와 상기 셔터 사이의 거리를 측정하기 위한 거리측정부를 포함할 수 있다.It may include a distance measuring unit for measuring a distance between the load applying member and the shutter.

상기 거리 측정부는, 접촉식 거리측정기 및 비접촉식 거리측정기 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The distance measuring unit may include at least one of a contact distance measurer and a non-contact distance measurer.

본 발명의 실시 형태에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법은, 셔터날과, 상기 셔터날을 회전시키기 위한 동력을 제공하는 구동기를 포함하는 셔터를 마련하는 과정; 상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정; 상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정; 상기 구동기에 전원을 공급하는 과정; 상기 셔터날의 회전 여부를 확인하는 과정; 및 상기 셔터날의 회전 여부에 따라 상기 셔터날의 정상 여부를 판단하는 과정;을 포함할 수 있다.A method for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention includes the steps of: providing a shutter including a shutter blade and a driver providing power to rotate the shutter blade; fixing the shutter to the test device; applying a load to the shutter blade in a non-contact manner; supplying power to the driver; checking whether the shutter blade is rotated; and determining whether the shutter blade is normal according to whether the shutter blade is rotated.

본 발명의 실시 형태에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법은, 셔터날과, 상기 셔터날을 회전시키기 위한 동력을 제공하는 구동기를 포함하는 셔터를 마련하는 과정; 상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정; 상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정; 상기 구동기에 전원을 공급하는 과정; 상기 셔터날에 인가되는 부하의 크기를 조절하고, 상기 셔터날의 회전 여부를 확인하는 과정; 상기 셔터날이 회전하지 않는 부하의 크기를 상기 셔터날이 견딜 수 있는 최대 부하값으로 추정하는 과정; 및 셔터날의 최대 부하값에 따라 셔터를 분류하는 과정;을 포함할 수 있다.A method for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention includes the steps of: providing a shutter including a shutter blade and a driver providing power to rotate the shutter blade; fixing the shutter to the test device; applying a load to the shutter blade in a non-contact manner; supplying power to the driver; adjusting the magnitude of the load applied to the shutter blade and checking whether the shutter blade is rotated; estimating the magnitude of the load at which the shutter blade does not rotate as a maximum load value that the shutter blade can withstand; and classifying the shutter according to the maximum load value of the shutter blade.

상기 셔터를 마련하는 과정 이전에, 상기 셔터날의 기준 부하값과 상기 셔터날과 부하 인가부재 사이의 기준 거리를 마련하기 위한 사전 시험 과정을 포함할 수 있다.Before the process of preparing the shutter, a pre-test process for preparing a reference load value of the shutter blade and a reference distance between the shutter blade and the load applying member may be included.

상기 사전 시험 과정은, 샘플 셔터가 설치된 적외선 탐색기를 마련하는 과정; 가속도 시험장에서 상기 적외선 탐색기를 회전시켜 상기 샘플 셔터의 셔터날이 작동하지 않는 기준 부하값을 마련하는 과정; 상기 적외선 탐색기에서 상기 샘플 셔터를 분리하여 상기 시험 장치에 고정시키는 과정; 상기 샘플 셔터의 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정; 상기 샘플 셔터의 구동기에 전원을 공급하는 과정; 및 상기 샘플 셔터의 셔터날이 회전하지 않을 때까지 상기 샘플 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 감소시켜 상기 샘플 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 기준 거리를 마련하는 과정;을 포함할 수 있다.The pre-testing process may include: providing an infrared searcher in which a sample shutter is installed; preparing a reference load value at which the shutter blade of the sample shutter does not operate by rotating the infrared searcher in an acceleration test site; separating the sample shutter from the infrared searcher and fixing the sample shutter to the test device; applying a load to the shutter blade of the sample shutter in a non-contact manner; supplying power to a driver of the sample shutter; and reducing the distance between the sample shutter and the load applying member until the shutter blade of the sample shutter does not rotate to provide a reference distance between the sample shutter and the load applying member.

셔터날은 자성체를 포함하고, 상기 부하를 인가하는 과정은, 상기 부하 인가부재를 이용하여 상기 셔터날의 주변에 자기장을 발생시키는 과정을 포함할 수 있다.The shutter blade may include a magnetic material, and the process of applying the load may include generating a magnetic field around the shutter blade using the load applying member.

상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정은, 상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 상기 기준 거리로 조절하는 과정을 포함할 수 있다.The fixing of the shutter to the test apparatus may include adjusting a distance between the shutter and the load applying member as the reference distance.

상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고, 상기 셔터날이 회전할 때까지 상기 구동기에 공급되는 입력 전원값을 증가시키는 과정을 포함할 수 있다.If the shutter blade does not rotate, determining that the shutter is not normal, and increasing the input power value supplied to the driver until the shutter blade rotates.

증가시킨 입력 전원값으로 상기 셔터날이 회전하면, 증가시킨 입력 전원값을 해당 셔터의 입력 전원값으로 정하는 과정을 포함할 수 있다.When the shutter blade rotates with the increased input power value, the method may include setting the increased input power value as the input power value of the shutter.

상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고,If the shutter blade does not rotate, it is determined that the shutter is not normal,

상기 셔터날의 재료와 상기 셔터날이 연결되는 셔터 몸체의 재료 중 적어도 하나를 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함할 수 있다.and determining to change at least one of a material of the shutter blade and a material of a shutter body to which the shutter blade is connected.

상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고, 상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함할 수 있다.If the shutter blade does not rotate, determining that the shutter is not normal, and determining to change the center of gravity of the shutter blade.

상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정은, 상기 셔터날과 상기 구동기의 연결 위치를 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함할 수 있다.The determining of changing the center of gravity of the shutter blade may include determining that the connection position between the shutter blade and the actuator is changed.

상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정은, 상기 셔터날에 무게추를 연결하는 것으로 결정하는 과정을 포함할 수 있다.The determining of changing the center of gravity of the shutter blade may include determining that a weight is connected to the shutter blade.

상기 셔터날의 작동 여부를 확인하는 과정은, 상기 셔터날이 회전하는 경우, 상기 셔터를 정상으로 판단하는 과정을 포함할 수 있다.The process of determining whether the shutter blade operates may include a process of determining that the shutter is normal when the shutter blade rotates.

상기 부하의 크기를 조절하는 과정은, 상기 셔터의 셔터날이 작동하지 않을 때까지, 상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리가 감소시켜 상기 셔터날에 가해지는 부하의 크기를 증가시는 과정을 포함할 수 있다.The process of adjusting the magnitude of the load includes the process of increasing the magnitude of the load applied to the shutter blade by decreasing the distance between the shutter and the load applying member until the shutter blade of the shutter does not operate. may include

본 발명의 실시 형태에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법은, 공중을 이동하는 유도무기에 설치되는 적외선 탐색기용 셔터의 시험방법으로서, 상기 유도무기의 가속도와, 상기 가속도에 의해 상기 셔터에서 발생하는 저항력을 모사하여, 상기 셔터의 성능을 시험할 수 있다.The test method of the shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention is a test method of a shutter for an infrared searcher installed in a guided weapon moving in the air, and the acceleration of the guided weapon and the shutter generated in the shutter by the acceleration By simulating the resistance force, the performance of the shutter can be tested.

상기 셔터의 일부는 자성체를 포함하고, 상기 유도무기의 가속도는 자석을 이용하여 모사할 수 있다. A part of the shutter includes a magnetic material, and the acceleration of the guided weapon can be simulated using a magnet.

본 발명의 실시 형태에 따르면, 적외선 탐색기의 가속도 시험 환경과 유사한 환경을 모사하여, 셔터 단품에 대한 성능을 시험할 수 있다. 따라서 적외선 탐색기용 셔터의 성능을 시험하는데 소요되는 시간과 비용을 절감할 수 있다. 특히, 셔터 단품에 대한 성능을 시험할 수 있기 때문에 셔터의 성능을 보다 정확하게 검증하여 셔터의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 셔터의 성능을 간편하게 시험할 수 있으므로, 시험을 반복 수행하여 셔터의 성능을 개선할 수 있는 방안을 쉽게 마련할 수 있다. 또한, 시험 과정에서 셔터가 견딜 수 있는 최대 부하값을 추정하여, 셔터를 다양한 비행 거리나 비행 속도를 갖는 유도무기에 적용할 수 있다. According to the embodiment of the present invention, it is possible to test the performance of a single shutter unit by simulating an environment similar to the acceleration test environment of the infrared searcher. Therefore, it is possible to reduce the time and cost required to test the performance of the shutter for the infrared searcher. In particular, since the performance of a single shutter can be tested, the reliability of the shutter can be improved by more accurately verifying the performance of the shutter. Since the performance of the shutter can be easily tested, it is possible to easily prepare a method for improving the performance of the shutter by repeating the test. In addition, by estimating the maximum load value that the shutter can withstand during the test process, the shutter can be applied to guided weapons with various flight distances or flight speeds.

도 1은 적외선 탐색기를 개략적으로 보여주는 도면.
도 2는 적외선 탐색기에 설치되는 셔터를 개략적으로 보여주는 도면.
도 3은 셔터에 가해지는 부하에 따른 셔터날의 작동 상태를 보여주는 도면.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치를 개략적으로 보여주는 사시도.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치를 개략적으로 보여주는 정면도.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법을 보여주는 순서도.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에 적용되는 시험 기준을 설정하기 위한 사전 시험 과정을 보여주는 순서도.
도 8은 적외선 탐색기용 셔터의 시험 결과에 따라 셔터날의 무게 중심을 변경하는 예를 보여주는 도면.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에서 정상으로 판단된 셔터가 견딜 수 있는 부하 범위를 확인하는 방법을 보여주는 순서도.1 is a diagram schematically showing an infrared searcher;
2 is a view schematically showing a shutter installed in an infrared searcher.
3 is a view showing an operating state of a shutter blade according to a load applied to the shutter;
4 is a perspective view schematically showing an apparatus for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.
5 is a front view schematically showing an apparatus for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.
6 is a flowchart showing a test method of a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.
7 is a flowchart showing a pre-test process for setting a test standard applied to a test method of a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.
8 is a view showing an example of changing the center of gravity of a shutter blade according to a test result of a shutter for an infrared searcher.
9 is a flowchart illustrating a method of confirming a load range that a shutter determined to be normal can withstand in a test method of a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and the scope of the invention to those of ordinary skill in the art completely It is provided to inform you. In the drawings, like reference numerals refer to like elements.

본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치를 설명하기 앞서, 적외선 탐색기 및 적외선 탐색기에 설치되는 셔터에 대해서 설명한다. Prior to describing the apparatus for testing the shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention, an infrared searcher and a shutter installed in the infrared searcher will be described.

도 1은 적외선 탐색기를 개략적으로 보여주는 도면이고, 도 2는 적외선 탐색기에 설치되는 셔터를 개략적으로 보여주는 도면이다. 도 3은 셔터에 가해지는 부하에 따른 셔터날의 작동 상태를 보여주는 도면이다.1 is a diagram schematically showing an infrared searcher, and FIG. 2 is a diagram schematically showing a shutter installed in the infrared searcher. 3 is a view showing an operating state of a shutter blade according to a load applied to the shutter.

도 1을 참조하면, 적외선 탐색기(100)는 유도탄 등과 같은 유도무기(미도시)에 연결하기 위한 탐색기 본체(110)와, 탐색기 본체(110)에 설치되는 적외선 센서(120) 및 적외선 센서(120)를 보호하기 위한 셔터(130)를 포함할 수 있다. 탐색기 본체(110)는 유도무기의 이동 방향에 대해서 유도무기의 전방에 장착되며, 내부에 적외선 센서(120)와 셔터(130)를 수용할 수 있는 공간을 형성할 수 있다. 탐색기 본체(110)는 적외선 센서(120)가 표적을 인식할 수 있도록 적어도 일측에 개구가 형성되어 있고, 개구에는 적외선 센서(120)를 보호할 수 있도록 투명 재질의 보호판(미도시)이 형성될 수 있다. 그리고 유도무기의 이동 방향에 대해서 적외선 센서(120)의 전방에는 태양광으로부터 적외선 센서(120)를 보호할 수 있도록 적외선 센서(120)를 노출 및 폐쇄시킬 수 있는 셔터(130)가 형성될 수 있다. 이하에서 유도무기의 이동 방향을 기준으로 유도무기가 이동할 앞쪽을 전방이라 하고, 유도무기가 이동한 뒷쪽을 후방이라 한다.Referring to FIG. 1 , the infrared searcher 100 includes a searcher body 110 for connecting to a guided weapon (not shown) such as a guided missile, and an infrared sensor 120 and an infrared sensor 120 installed in the searcher body 110 . ) may include a shutter 130 for protecting. The searcher body 110 is mounted in front of the guided weapon with respect to the moving direction of the guided weapon, and may form a space that can accommodate the infrared sensor 120 and the shutter 130 therein. The explorer body 110 has an opening formed on at least one side so that the infrared sensor 120 can recognize the target, and a protective plate (not shown) made of a transparent material is formed in the opening to protect the infrared sensor 120 . can In addition, a shutter 130 capable of exposing and closing the infrared sensor 120 may be formed in front of the infrared sensor 120 in the direction of movement of the guided weapon to protect the infrared sensor 120 from sunlight. . Hereinafter, based on the direction of movement of the guided weapon, the front to which the guided weapon will move is referred to as the front, and the rear to which the guided weapon moves is referred to as the rear.

도 2를 참조하면, 셔터(130)는 셔터 몸체(132)와, 적외선 센서(120)를 노출 및 폐쇄시키기 위해 셔터 몸체(132)에 회전 가능하게 연결되는 셔터날(134) 및 셔터날(134)을 회전시키기 위한 구동기(136)를 포함할 수 있다. 셔터 몸체(132)는 원형, 다각형, 타원형 등 다양한 평면 형상을 플레이트로 형성될 수 있으며, 중앙에는 적외선 센서(120)를 노출시키기 위한 관통구(133)가 형성될 수 있다. 셔터날(134)은 셔터 몸체(132)와 나란하게 배치되며, 관통구(133)를 개방 및 폐쇄하기 위한 덮개부(134a)와, 덮개부(134a)를 구동기(136)에 회전 가능하도록 연결하기 위한 연결부(134b)를 포함할 수 있다. 이때, 연결부(134b)에는 구동기(136)과 연결하기 위한 연결구(134c)가 형성될 수 있다.Referring to FIG. 2 , the shutter 130 includes a shutter body 132 and a shutter blade 134 and a shutter blade 134 rotatably connected to the shutter body 132 to expose and close the infrared sensor 120 . ) may include a actuator 136 for rotating. The shutter body 132 may be formed of a plate having various planar shapes, such as a circle, a polygon, and an oval, and a through hole 133 for exposing the infrared sensor 120 may be formed in the center. The shutter blade 134 is disposed in parallel with the shutter body 132 , a cover part 134a for opening and closing the through hole 133 , and the cover part 134a are rotatably connected to the actuator 136 . It may include a connection part 134b for this. In this case, a connector 134c for connecting to the driver 136 may be formed in the connector 134b.

셔터날(134)은 셔터 몸체(132)의 전방에 배치되고, 구동기(136)는 셔터 몸체(132)의 후방에 배치될 수 있다. 이러한 셔터(130)는 적외선 센서(120)의 전방에 설치되어, 구동기(136)의 작동에 의해 셔터날(134)를 회전시킴으로써 적외선 센서(120)를 노출 및 폐쇄시킬 수 있다. 이때, 셔터날(134)은 자성체, 비자성체 등 다양한 재질로 형성될 수 있으며, 여기에서는 셔터날(134)이 자성체로 형성된 예에 대해서 설명한다. The shutter blade 134 may be disposed in front of the shutter body 132 , and the actuator 136 may be disposed in the rear of the shutter body 132 . The shutter 130 may be installed in front of the infrared sensor 120 , and may expose and close the infrared sensor 120 by rotating the shutter blade 134 by the operation of the driver 136 . In this case, the shutter blade 134 may be formed of various materials such as a magnetic material or a non-magnetic material, and an example in which the shutter blade 134 is formed of a magnetic material will be described.

한편, 유도무기는 추력에 의해 초음속 비행을 하며, 적외선 탐색기(100)를 통해 표적을 감지하고 추적한다. 이에 유도무기와 유도무기에 연결되는 적외선 탐색기(100)는 가속도에 의해 중력에 대해서 교차하는 방향으로 매우 큰 부하, 예컨대 저항력을 받게 된다. 특히, 적외선 탐색기(100)의 셔터날(134)은 유도무기의 이동 방향에 대해서 교차하는 방향으로 회전하도록 형성되어 있어, 중력에 대해서 교차하는 방향으로 작용하는 부하(저항력)에 의한 영향을 크게 받게 된다. 예컨대 셔터날(134)이 부하에 견딜 수 있는 경우, 도 3의 (a)에 도시된 것처럼 셔터 몸체(132)와 이격되어 원활하게 회전할 수 있다. 반면, 셔터날(134)이 부하에 견딜 수 없는 경우에는 도 3의 (b)에 도시된 바와 같이 변형되어 셔터 몸체(132)와 접촉하게 된다. 이로 인해 셔터날(134)과 셔터 몸체(132) 간의 마찰로 인해 셔터날(134)의 회전 속도가 느려지고, 심한 경우에는 회전하지 않는 문제가 발생할 수 있다. On the other hand, the guided weapon flies at supersonic speed by thrust, and detects and tracks the target through the infrared searcher 100 . Accordingly, the guided weapon and the infrared searcher 100 connected to the guided weapon are subjected to a very large load, for example, a resistance force in a direction crossing with respect to gravity due to acceleration. In particular, the shutter blade 134 of the infrared searcher 100 is formed to rotate in a direction that intersects the movement direction of the guided weapon, so that it is greatly affected by the load (resistance force) acting in the direction intersecting with respect to gravity. do. For example, when the shutter blade 134 can withstand a load, it can rotate smoothly while being spaced apart from the shutter body 132 as shown in (a) of FIG. 3 . On the other hand, when the shutter blade 134 cannot withstand the load, it is deformed and comes into contact with the shutter body 132 as shown in (b) of FIG. 3 . Due to this, the rotation speed of the shutter blade 134 is slowed due to friction between the shutter blade 134 and the shutter body 132 , and in severe cases, a problem that the shutter blade 134 does not rotate may occur.

이에 본 발명의 실시 예에서는 실제 사용 환경에서 가속도에 대한 강인성을 확보하기 위해 셔터의 성능을 검증하기 위한 셔터의 시험 장치를 제시한다. Accordingly, an embodiment of the present invention proposes a shutter test apparatus for verifying shutter performance in order to secure robustness against acceleration in an actual use environment.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치를 개략적으로 보여주는 사시도이고, 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치를 개략적으로 보여주는 정면도이다. 4 is a perspective view schematically showing an apparatus for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a front view schematically showing a testing apparatus for a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치는, 본체부(210)와, 회전 가능한 셔터날(134)을 포함하는 셔터(130)를 지지하도록 본체부(210)에 설치되는 지지부(220)와, 셔터날(134)에 중력에 교차하는 방향으로 부하를 인가하도록 본체부(210)에 설치되는 부하 인가부(230) 및 셔터(130)에 전원을 공급하기 위한 전원부(미도시)를 포함할 수 있다. Referring to FIGS. 4 and 5 , in the apparatus for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention, the main body supports the shutter 130 including a main body 210 and a rotatable shutter blade 134 . Power is supplied to the support part 220 installed in the part 210 and the load applying part 230 and the shutter 130 installed in the body part 210 to apply a load to the shutter blade 134 in a direction crossing gravity. It may include a power supply (not shown) for supplying the.

본체부(210)는 플레이트 형상의 거치대(212)를 포함할 수 있다. 또한, 본체부(210)는 거치대(212)의 수평을 조절하기 위한 조절기(214)를 포함할 수 있다. The main body 210 may include a plate-shaped holder 212 . In addition, the main body 210 may include an adjuster 214 for adjusting the level of the cradle 212 .

지지부(220)는 셔터(130)를 지지하기 위한 제1지지부재(222)와, 제1지지부재(222)를 수평방향으로 이동 가능하도록 거치대(212)에 연결하기 위한 제1연결부재(226)를 포함할 수 있다. The support unit 220 includes a first support member 222 for supporting the shutter 130 , and a first connection member 226 for connecting the first support member 222 to the holder 212 so as to be movable in the horizontal direction. ) may be included.

제1지지부재(222)는 셔터(130), 예컨대 셔터 몸체(132)를 부하 인가부(230)와 마주보도록 지지할 수 있다. 이때, 제1지지부재(222)는 셔터 몸체(132)를 안정적으로 지지할 수 있도록 복수개의 클램프(224)를 포함할 수 있다. 탐색기 본체(110)에 셔터(130)를 설치했을 때, 관통구(133)는 탐색기 본체(110)의 전방을 향하도록 배치되는데, 제1지지부재(222)는 관통구(133)가 부하 인가부(230)를 향하도록 셔터 몸체(132)를 지지할 수 있다. The first support member 222 may support the shutter 130 , for example, the shutter body 132 to face the load applying unit 230 . In this case, the first support member 222 may include a plurality of clamps 224 to stably support the shutter body 132 . When the shutter 130 is installed in the searcher body 110, the through hole 133 is disposed to face the front of the searcher body 110, and the first support member 222 is the through hole 133 through which a load is applied. The shutter body 132 may be supported to face the part 230 .

제1연결부재(226)는 셔터(130)와 후술하는 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 조절하기 위해 제1지지부재(222)를 수평 방향으로 이동 가능하도록 거치대(212)에 연결할 수 있다. 예컨대 제1연결부재(226)는 거치대(212) 상부에 연결되는 가이드 플레이트와, 가이드 플레이트와 제1지지부재(222)를 연결하고, 길이 조절이 가능한 길이 조절기를 포함할 수 있다. 제1연결부재(226)는 이외도 제1지지부재(222)를 수평방향으로 이동시킬 수 있다면, 다양하게 변경 가능하며 예컨대 제1연결부재(226)는 크로스롤러식 테이블 등으로 형성될 수도 있다. The first connecting member 226 may be connected to the cradle 212 so that the first supporting member 222 is movable in the horizontal direction in order to adjust the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 to be described later. . For example, the first connecting member 226 may include a guide plate connected to the upper portion of the cradle 212 , and a length adjuster that connects the guide plate and the first support member 222 and can adjust the length. The first connecting member 226 can be changed in various ways as long as it can move the first supporting member 222 in the horizontal direction. For example, the first connecting member 226 may be formed of a cross roller table. .

여기에서는 제1지지부재(222)가 제1연결부재(226)에 의해 수평 방향으로 이동 가능한 것으로 설명하였으나, 제1지지부재(222)는 거치대(212)에 직접 고정되도록 설치될 수도 있다. Here, it has been described that the first support member 222 is movable in the horizontal direction by the first connection member 226 , but the first support member 222 may be installed to be directly fixed to the cradle 212 .

부하 인가부(230)는 지지부(220)와 마주보도록 거치대(212)에 설치될 수 있다. 부하 인가부(230)는 셔터날(134)에 셔터날(134)에 중력에 교차하는 방향으로 부하를 인가하기 위한 부하 인가부재(232)와, 셔터날(134)과 마주보도록 부하 인가부재(232)를 지지하기 위한 제2지지부재(234) 및 셔터날(134)과 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 조절하도록 제2지지부재(234)를 거치대(212)에 수평 방향으로 이동 가능하게 연결하기 위한 제2연결부재(236)를 포함할 수 있다. The load applying unit 230 may be installed on the cradle 212 to face the support unit 220 . The load applying unit 230 includes a load applying member 232 for applying a load to the shutter blade 134 in a direction crossing gravity to the shutter blade 134 , and a load applying member 232 to face the shutter blade 134 . The second support member 234 for supporting the second support member 234 and the shutter blade 134 and the load applying member 232 for supporting the second support member 234 can be moved horizontally to the cradle 212 to adjust the distance. It may include a second connection member 236 for connecting.

부하 인가부재(232)는 셔터(130) 또는 셔터날(134)과 직접 접촉하지 않고, 셔터날(134)에 부하를 인가할 수 있다. 이러한 부하 인가부재(232)는 자기장을 발생시킬 수 있는 자석을 포함할 수 있다. 이때, 부하 인가부재(232)는 강력한 자기장을 발생시킬 수 있는 네오디움 자석을 포함할 수 있다. 이 경우, 셔터(130)에서 적어도 셔터날(134)은 자성체를 포함해야 한다. The load applying member 232 may apply a load to the shutter blade 134 without directly contacting the shutter 130 or the shutter blade 134 . The load applying member 232 may include a magnet capable of generating a magnetic field. In this case, the load applying member 232 may include a neodymium magnet capable of generating a strong magnetic field. In this case, at least the shutter blade 134 in the shutter 130 must include a magnetic material.

제2지지부재(234)는 셔터(130)와 마주보도록 부하 인가부재(232)를 지지할 수 있다. The second support member 234 may support the load applying member 232 to face the shutter 130 .

제2지지부재(234)는 제2연결부재(236)에 의해 수평방향으로 이동 가능하도록 거치대(212)에 연결될 수 있다. 제2연결부재(236)는 셔터날(134)과 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 미세하고 정밀하게 조절할 수 있는 크로스롤러식 테이블을 포함할 수 있다. The second support member 234 may be connected to the holder 212 to be movable in the horizontal direction by the second connection member 236 . The second connecting member 236 may include a cross-roller type table capable of finely and precisely adjusting the distance between the shutter blade 134 and the load applying member 232 .

또한, 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치는, 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 측정하기 위한 거리측정부(240)를 포함할 수 있다. 거리 측정부(240)는 지지부(220) 및 부하 인가부(230) 중 적어도 하나에 설치될 수 있으며, 접촉식 또는 비접촉식으로 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 측정할 수 있다. 도 4 및 도 5에 도시된 거리측정부(240)는 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 비접촉식으로 측정하는 예에 대해서 보여주고 있다. 거리측정부(240)는 지지부(220)에 형성되는 거리측정기(242)와 부하 인가부(230)에 형성되는 타겟부재(244)를 포함할 수 있다. 이 경우, 타겟부재(244)는 제2연결부재(236)에 연결되어 부하 인가부재(232)를 지지하는 제2지지부재(234)와 함께 이동할 수 있으며, 거리측정기(242)는 타겟부재(244)의 위치 변화를 측정하여 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 측정할 수 있다. In addition, the apparatus for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention may include a distance measuring unit 240 for measuring a distance between the shutter 130 and the load applying member 232 . The distance measuring unit 240 may be installed in at least one of the support unit 220 and the load applying unit 230, and may measure the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 in a contact or non-contact manner. have. The distance measuring unit 240 shown in FIGS. 4 and 5 shows an example of measuring the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 in a non-contact manner. The distance measuring unit 240 may include a distance measuring unit 242 formed on the support unit 220 and a target member 244 formed on the load applying unit 230 . In this case, the target member 244 is connected to the second connection member 236 and can move together with the second support member 234 for supporting the load applying member 232 , and the distance measurer 242 is the target member ( 244 ) to measure the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 .

전원부는 제1지지부재(222)에 설치되는 셔터(130)의 구동기(136)에 전원을 공급할 수 있다. 이때, 전원부는 거치대(212)에 설치될 수도 있고, 거치대(212)와는 독립적인 구조체로 설치될 수도 있다. The power supply unit may supply power to the driver 136 of the shutter 130 installed on the first support member 222 . In this case, the power supply unit may be installed on the cradle 212 or may be installed as a structure independent of the cradle 212 .

이와 같은 구성을 통해 셔터 단품에 대한 성능을 간편하게 측정할 수 있다. Through such a configuration, it is possible to easily measure the performance of a single shutter unit.

이하에서는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에 대해서 설명한다. Hereinafter, a method for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention will be described.

도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법을 보여주는 순서도이고, 도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에 적용되는 시험 기준을 설정하기 위한 사전 시험 과정을 보여주는 순서도이다.6 is a flowchart showing a test method of a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a preliminary test for setting a test standard applied to the test method of a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention A flowchart showing the process.

도 6을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법은, 회전 가능한 셔터날을 포함하는 셔터(130)를 마련하는 과정(S110)과, 셔터(130)를 시험 장치에 고정시키는 과정과, 셔터날(134)에 셔터날(134)의 회전 방향에 대해서 교차하는 방향으로 부하를 인가하는 과정(S112)과, 셔터날(134)에 연결되는 구동기(136)에 전원을 공급하는 과정(S116) 및 셔터날(134)의 회전 여부를 확인하는 과정(S118)을 포함할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법은, 도 7에 도시된 바와 같이 셔터날(134)의 기능의 정상 여부를 판단하기 위한 기준을 설정하기 위한 사전 시험 과정을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 6 , the method for testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention includes a process of preparing a shutter 130 including a rotatable shutter blade (S110), and installing the shutter 130 to a test apparatus. The process of fixing, the process of applying a load to the shutter blade 134 in a direction crossing the rotational direction of the shutter blade 134 ( S112 ), and supplying power to the actuator 136 connected to the shutter blade 134 . It may include a process of supplying (S116) and a process of checking whether the shutter blade 134 is rotated (S118). In addition, the test method of the shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention may include a pre-test process for setting a criterion for determining whether the function of the shutter blade 134 is normal as shown in FIG. 7 . can

도 7을 참조하여 사전 시험 과정에 대해서 설명한다. A pre-test process will be described with reference to FIG. 7 .

도 7을 참조하면, 사전 시험 과정은 샘플 셔터가 설치된 적외선 탐색기를 마련하는 과정(S210)과, 가속도 시험장에서 샘플 셔터의 성능을 검증하기 위한 가속도 시험을 수행하는 과정(S212)과, 적외선 탐색기에서 샘플 셔터(130)를 분리하여 시험 장치에 고정시키는 과정과, 샘플 셔터(130)에 부하를 인가하는 과정(S214)과, 샘플 셔터의 구동기(136)에 전원을 공급하는 과정(S216)과, 셔터날(134)이 회전하지 않을 때까지 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 조절하는 과정(S218) 및 기준 거리를 결정하는 과정(S220)을 포함할 수 있다. 이때, 구동기(136)에 공급되는 입력 전원값은 미리 설정된 값으로 고정할 수 있다. Referring to FIG. 7 , the pre-test process includes a process of preparing an infrared searcher in which a sample shutter is installed (S210), a process of performing an acceleration test to verify the performance of the sample shutter in an acceleration test site (S212), and an infrared searcher The process of removing and fixing the sample shutter 130 to the test apparatus, the process of applying a load to the sample shutter 130 (S214), the process of supplying power to the driver 136 of the sample shutter (S216), It may include the process of adjusting the distance between the sample shutter and the load applying member 232 until the shutter blade 134 does not rotate ( S218 ) and the process of determining the reference distance ( S220 ). In this case, the value of the input power supplied to the driver 136 may be fixed to a preset value.

가속도 시험은 적외선 탐색기를 고속으로 회전시키면서 셔터날의 작동 여부를 확인하여, 셔터날에 가해지는 기준 부하값을 마련할 수 있다. 이때, 가속도 시험에서 적외선 탐색기의 회전 속도를 알면 셔터날에 가해지는 기준 부하값을 알 수 있다. 여기에서 기준 부하값은 적외선 탐색기를 회전시키면서 구동기를 이용하여 셔터날을 작동시켰을 때 셔터날이 작동하지 못하게 되는 시점의 적외선 탐색기의 가속도 값을 의미할 수 있다. 즉, 기준 부하값은 셔터날을 작동시키는 구동기의 출력값을 상쇄시킬 수 있는 힘을 의미할 수 있다. 예컨대 적외선 탐색기의 가속도 값은 35g 내지 46g 정도일 수 있다. In the acceleration test, the reference load value applied to the shutter blade can be prepared by checking whether the shutter blade operates while rotating the infrared searcher at high speed. At this time, if you know the rotation speed of the infrared searcher in the acceleration test, you can know the reference load value applied to the shutter blade. Here, the reference load value may mean an acceleration value of the infrared searcher at a point in time when the shutter blade is not operated when the shutter blade is operated using a driver while rotating the infrared searcher. That is, the reference load value may mean a force capable of canceling the output value of the driver that operates the shutter blade. For example, the acceleration value of the infrared searcher may be about 35g to 46g.

가속도 시험이 완료되면, 적외선 탐색기에서 샘플 셔터를 분리하고, 샘플 셔터를 부하 인가부재(232)와 마주보도록 시험 장치의 제1지지부재(222)에 고정시킬 수 있다. When the acceleration test is completed, the sample shutter may be separated from the infrared searcher, and the sample shutter may be fixed to the first support member 222 of the test apparatus to face the load applying member 232 .

제1지지부재(222)에 샘플 셔터가 고정되면, 구동기에 전원을 공급하여 셔터날(134)을 작동시킬 수 있다. When the sample shutter is fixed to the first support member 222 , power may be supplied to the actuator to operate the shutter blade 134 .

구동기에 전원을 공급하고, 셔터날의 작동 여부를 확인하면서 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 조절할 수 있다. 이때, 구동기에 공급되는 입력 전원값은 미리 설정된 값으로 공급될 수 있으며, 셔터날이 회전하지 않을 때까지 제1연결부재(226) 및 제2연결부재(236) 중 적어도 하나를 이용하여 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 감소시킬 수 있다. 이와 함께 셔터날의 회전 방향을 반복해서 변경시킬 수 있다. 이와 같이 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 감소시키는 이유는 다음과 같다. 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리가 감소하게 되면, 부하 인가부재(232)에서 발생하는 자기장에 의해 셔터날(134)이 변형되면서 셔터날(134)이 셔터 몸체(132)에 접촉하게 된다. 즉, 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리가 증가하면 부하 인가부재(232)에서 발생하는 자기장의 강도가 증가하기 때문에 자기장에 의해 셔터날(134) 변형되기 때문이다. 이에 셔터날(134)과 셔터 몸체(132) 간에 마찰이 발생하여, 구동기(136)의 출력으로는 셔터날(134)이 작동하지 않게 되기 때문이다. 이러한 원리는 이하에서 설명하는 시험 방법에서도 동일하게 적용될 수 있다. The distance between the sample shutter and the load applying member 232 may be adjusted while supplying power to the actuator and checking whether the shutter blade operates. At this time, the input power value supplied to the driver may be supplied as a preset value, and the sample shutter is used using at least one of the first connecting member 226 and the second connecting member 236 until the shutter blade does not rotate. It is possible to reduce the distance between the and the load applying member 232 . In addition, the rotation direction of the shutter blade can be repeatedly changed. The reason for reducing the distance between the sample shutter and the load applying member 232 is as follows. When the distance between the sample shutter and the load applying member 232 is decreased, the shutter blade 134 is deformed by the magnetic field generated by the load applying member 232 and the shutter blade 134 comes into contact with the shutter body 132 . will do That is, when the distance between the sample shutter and the load applying member 232 increases, the strength of the magnetic field generated by the load applying member 232 increases, so that the shutter blade 134 is deformed by the magnetic field. This is because friction occurs between the shutter blade 134 and the shutter body 132 , and the shutter blade 134 does not operate with the output of the driver 136 . This principle can be equally applied to the test method described below.

이후, 셔터날이 회전하지 않을 때까지 샘플 셔터와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 기준 거리로 정할 수 있다. 예컨대 구동기에 3.3V의 입력 전원값이 공급될 때, 기준 거리는 2.3㎜일 수 있다. Thereafter, the distance between the sample shutter and the load applying member 232 may be determined as a reference distance until the shutter blade does not rotate. For example, when an input power value of 3.3V is supplied to the driver, the reference distance may be 2.3 mm.

이렇게 마련된 기준 부하와 기준 거리는 이후 다른 셔터날(134)의 성능을 시험할 때 사용될 수 있다. The reference load and reference distance thus prepared may be used when testing the performance of the other shutter blades 134 thereafter.

다음은 도 6을 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에 대해서 설명한다. Next, a method of testing a shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 6 .

먼저, 셔터(130)를 마련할 수 있다(S110). 이때, 셔터(130)는 기준 부하와 기준 거리를 마련할 때 사용된 샘플 셔터와는 다른 셔터를 의미할 수 있다.First, the shutter 130 may be provided (S110). In this case, the shutter 130 may mean a shutter different from the sample shutter used when preparing the reference load and the reference distance.

셔터(130)가 마련되면, 셔터(130)를 부하 인가부재(232)와 마주보도록 제1지지부재(222)에 고정시킬 수 있다. 셔터(130)를 제1지지부재(222)에 고정시키면, 마주보고 있는 부하 인가부재(232)에서 발생하는 자기장에 의해 셔터날(134)에 부하가 인가될 수 있다(S112). When the shutter 130 is provided, the shutter 130 may be fixed to the first support member 222 to face the load applying member 232 . When the shutter 130 is fixed to the first support member 222 , a load may be applied to the shutter blade 134 by the magnetic field generated by the load applying member 232 facing it ( S112 ).

제1지지부재(222)에 셔터(130)를 고정시키고, 제1연결부재(226) 및 제2연결부재(236) 중 적어도 하나를 이용하여 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리가 기준 거리로 되도록 조절할 수 있다(S114). The shutter 130 is fixed to the first support member 222 , and at least one of the first connecting member 226 and the second connecting member 236 is used between the shutter 130 and the load applying member 232 . The distance may be adjusted to be the reference distance (S114).

셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 조절한 다음, 셔터(134)의 구동기(136)에 미리 설정된 기준 입력 전원값으로 전원을 공급할 수 있다(S116). After adjusting the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 , power may be supplied to the driver 136 of the shutter 134 with a preset reference input power value ( S116 ).

구동기(136)에 전원이 공급된 이후, 셔터날(134)이 회전 여부를 확인(S118)하여, 셔터날(134)이 회전하면 해당 셔터(130)는 정상인 것으로 판단할 수 있다(S120). After power is supplied to the driver 136 , it is checked whether the shutter blade 134 rotates ( S118 ), and when the shutter blade 134 rotates, it can be determined that the shutter 130 is normal ( S120 ).

반면, 구동기(136)에 전원이 공급되었는데 셔터날(134)이 회전하지 않는 경우, 해당 셔터(130)는 정상이 아닌, 즉 셔터날(134)이 정상적으로 작동하지 않는 것으로 판단할 수 있다. 이 경우, 구동기(136)의 출력이 낮아 셔터날(134)을 제대로 작동시키지 못하는 것으로, 해당 셔터(130)의 성능을 개선하기 위하여 셔터날(134)이 회전할 때까지 구동기(136)에 공급되는 입력 전원값을 높일 수 있다(S122). 즉, 기준 입력 전원값보다 높은 조절 입력 전원값으로 구동기(136)에 전원을 공급할 수 있다. 예컨대 기준 입력 전원값이 3.3V인 경우, 조절 입력 전원값은 5.5V일 수 있다. 이렇게 구동기(136)에 공급되는 입력 전원값을 조절하여 셔터날(134)이 회전하면, 해당 셔터(130)의 입력 전원값을 조절 입력 전원값으로 변경(S124)하여 셔터(130)의 성능을 개선할 수 있다. On the other hand, when power is supplied to the driver 136 and the shutter blade 134 does not rotate, it may be determined that the shutter 130 is not normal, that is, the shutter blade 134 does not operate normally. In this case, the output of the actuator 136 is low, so that the shutter blade 134 cannot be operated properly, and in order to improve the performance of the shutter 130, it is supplied to the driver 136 until the shutter blade 134 rotates. It is possible to increase the input power value (S122). That is, it is possible to supply power to the driver 136 with a control input power value higher than the reference input power value. For example, when the reference input power value is 3.3V, the control input power value may be 5.5V. When the shutter blade 134 rotates by adjusting the input power value supplied to the driver 136 in this way, the performance of the shutter 130 is improved by changing the input power value of the shutter 130 to the adjusted input power value (S124). can be improved

여기에서는 셔터(130)가 정상으로 작동하지 않는 경우, 구동기(136)에 공급되는 입력 전원값을 조절하여 셔터(130)의 성능을 개선하는 것으로 설명하였지만, 셔터날(134)의 무게 중심을 변경하여 셔터(130)의 성능을 개선할 수도 있다. Here, it has been described that the performance of the shutter 130 is improved by adjusting the input power value supplied to the driver 136 when the shutter 130 does not operate normally, but the center of gravity of the shutter blade 134 is changed. Thus, the performance of the shutter 130 may be improved.

도 8은 적외선 탐색기용 셔터의 시험 결과에 따라 셔터날의 무게 중심을 변경하는 예를 보여주는 도면이다. 8 is a view showing an example of changing the center of gravity of a shutter blade according to a test result of a shutter for an infrared searcher.

도 8의 (a)를 참조하면, 셔터날(134)의 연결부(134b)에는 구동기(136)와 연결하기 위한 연결구(134c)가 형성될 수 있다. 이때, 연결부(134b)에 연결부(134b)가 연장되는 방향으로 복수개의 연결구(134c1, 134c2, 134c3)를 이격되도록 형성할 수 있다. 그리고 시험 결과에 따라 구동기(136)와 연결되는 위치를 변경하여 셔터날(134)의 무게 중심을 변경할 수 있다. 예컨대 연결구(134c)에서 셔터날(134)의 상단까지의 거리가 길어질수록 셔터날(134)의 작동 속도, 즉 회전 속도가 감소할 수 있다. 따라서 시험 결과, 셔터날(134)이 작동하지 않는 경우 복수개의 연결구(134c1, 134c2, 134c3) 중 셔터날(134)의 상단에 가까운 연결구(134c1)에 구동기(136)를 연결하면, 구동기(136)에 공급되는 입력 전원값을 증가시키지 않고도 셔터날(134)을 작동시킬 수 있다. Referring to (a) of FIG. 8 , a connector 134c for connecting to the driver 136 may be formed in the connector 134b of the shutter blade 134 . In this case, the plurality of connectors 134c1 , 134c2 , and 134c3 may be formed to be spaced apart from the connection part 134b in a direction in which the connection part 134b extends. In addition, the center of gravity of the shutter blade 134 may be changed by changing the position connected to the actuator 136 according to the test result. For example, as the distance from the connector 134c to the upper end of the shutter blade 134 increases, the operating speed of the shutter blade 134 , that is, the rotation speed may decrease. Therefore, as a result of the test, when the actuator 136 is connected to the connector 134c1 close to the upper end of the shutter blade 134 among the plurality of connector 134c1 , 134c2 , and 134c3 when the shutter blade 134 does not operate, the driver 136 is ), it is possible to operate the shutter blade 134 without increasing the value of the input power supplied to the .

도 8의 (b) 및 (c)를 참조하면, 셔터날(134)의 덮개부(134a)에 무게추(138)를 형성할 수 있다. 즉, 셔터날(134)의 상부쪽은 연결구(134c)에 비해 큰 회전 반경 및 이동 시간을 갖는다. 이에 셔터날(134)의 상부쪽, 예컨대 덮개부(134a)에 무게추(138)를 형성하여 셔터날(134)의 상부쪽 하중을 증가시키면, 셔터날(134)의 상부쪽의 이동 속도가 증가하고, 구동기(136)에 인가되는 부하를 저감시켜 셔터(130)의 성능을 개선할 수 있다Referring to (b) and (c) of FIG. 8 , a weight 138 may be formed on the cover part 134a of the shutter blade 134 . That is, the upper side of the shutter blade 134 has a larger rotation radius and movement time than the connector 134c. Accordingly, when a weight 138 is formed on the upper side of the shutter blade 134, for example, on the cover part 134a to increase the load on the upper side of the shutter blade 134, the moving speed of the upper side of the shutter blade 134 is increased. increase and reduce the load applied to the driver 136 , thereby improving the performance of the shutter 130 .

이외에도 셔터날(134)과 셔터 몸체(132) 간의 마찰을 저감시키도록 셔터날(134)과 셔터 몸체(132) 중 적어도 하나의 재질을 변경할 수도 있다. In addition, the material of at least one of the shutter blade 134 and the shutter body 132 may be changed to reduce friction between the shutter blade 134 and the shutter body 132 .

한편, 셔터가 견딜 수 있는 부하의 범위를 확인할 수 있다. 이때, 셔터는 정상으로 판단된 셔터일 수도 있고, 별도의 시험을 거치지 않은 셔터일 수도 있다. 이하에서는 시험을 통해 정상으로 판단된 셔터의 부하 범위를 확인하는 방법에 대해서 설명한다. On the other hand, it is possible to check the range of the load that the shutter can withstand. In this case, the shutter may be a shutter determined to be normal or a shutter that has not undergone a separate test. Hereinafter, a method of checking the load range of the shutter determined to be normal through the test will be described.

도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법에서 정상으로 판단된 셔터가 견딜 수 있는 부하 범위를 확인하는 방법을 보여주는 순서도이다. 9 is a flowchart illustrating a method of confirming a load range that the shutter determined to be normal in the test method of the shutter for an infrared searcher according to an embodiment of the present invention can withstand.

도 9를 참조하면, 정상으로 판단된 셔터가 견딜 수 있는 부하 범위를 확인하는 방법은, 정상으로 판단된 셔터(130)를 마련하는 과정(S310)과, 셔터(130)를 시험 장치에 고정시키는 과정(S312)과, 셔터(134)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 기준 거리로 조절하는 과정(S314)과, 구동기(136)에 전원을 공급하는 과정(S316)과, 셔터날이 회전하지 않을 때까지 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 기준 거리보다 줄이는 과정(S318)과, 해당 셔터(130)의 최대 부하 값을 추정하는 과정(S320) 및 최대 부하값에 따라 셔터를 분류하는 과정(S322)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 9 , the method of confirming the load range that the shutter determined to be normal can withstand includes the process of preparing the shutter 130 determined as normal ( S310 ), and fixing the shutter 130 to the test device. The process (S312), the process of adjusting the distance between the shutter 134 and the load applying member 232 as a reference distance (S314), the process of supplying power to the driver 136 (S316), and the shutter blade The process of reducing the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 from the reference distance until it does not rotate (S318), the process of estimating the maximum load value of the shutter 130 (S320), and the maximum load value It may include a process of classifying the shutters according to (S322).

구동기(136)에 공급되는 입력 전원값이 고정되어 있는 경우, 정상으로 판단된 셔터(130)의 셔터날(134)은 기준 거리에서 회전할 수 있다. 이에 초기에는 정상으로 판단된 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 기준 거리로 조절한 다음, 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 점차적으로 줄일 수 있다. 이렇게 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리가 감소하게 되면, 셔터날(134)에 가해지는 부하가 증가하게 되고, 셔터날(134)의 작동이 멈추게 된다. 이때, 셔터(130)와 부하 인가부재(232) 사이의 거리를 이용하여 셔터날(134)에 가해지는 부하값을 환산할 수 있으며, 이렇게 환산된 부하값을 해당 셔터(130)가 견딜 수 있는 최대 부하값으로 추정할 수 있다. 이렇게 셔터가 견딜수 있는 최대 부하 값을 추정한 이후, 최대 부하 값에 따라 셔터를 분류하고, 적절한 유도 무기에 사용될 수 있다. 예컨대, 유도 무기의 사정거리, 발사 속도 등에 따라 적절한 부하 값을 갖는 셔터를 사용할 수 있다.When the input power value supplied to the driver 136 is fixed, the shutter blade 134 of the shutter 130 determined to be normal may rotate at a reference distance. Accordingly, the distance between the shutter 130 and the load applying member 232, which is initially determined to be normal, may be adjusted as a reference distance, and then the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 may be gradually reduced. When the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 is reduced in this way, the load applied to the shutter blade 134 increases, and the operation of the shutter blade 134 is stopped. At this time, the load value applied to the shutter blade 134 may be converted using the distance between the shutter 130 and the load applying member 232 , and the converted load value may be tolerated by the shutter 130 . It can be estimated as the maximum load value. After estimating the maximum load value that the shutter can withstand, the shutter can be classified according to the maximum load value and used in an appropriate guided weapon. For example, a shutter having an appropriate load value may be used according to the range, rate of fire, and the like of the guided weapon.

본 발명을 첨부 도면과 전술된 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 후술되는 특허청구범위의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 변형 및 수정할 수 있다.Although the present invention has been described with reference to the accompanying drawings and the above-described preferred embodiments, the present invention is not limited thereto, and is defined by the claims to be described later. Accordingly, those of ordinary skill in the art can variously change and modify the present invention within the scope without departing from the spirit of the claims to be described later.

100: 적외선 탐색기 120: 적외선 센서
130: 셔터 200: 시험 장치
210: 본체부 220: 지지부
230: 부하 인가부 240: 거리측정부100: infrared searcher 120: infrared sensor
130: shutter 200: test device
210: main body 220: support
230: load applying unit 240: distance measuring unit

Claims (24)

본체부;
회전 가능한 셔터날을 포함하는 셔터를 지지하도록 상기 본체부에 설치되는 지지부;
상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하기 위해 상기 지지부와 이격되도록 상기 본체부에 설치되는 부하 인가부; 및
상기 셔터날을 회전시키도록 전원을 공급하기 위한 전원부;를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. body part;
a support part installed on the body part to support a shutter including a rotatable shutter blade;
a load applying unit installed in the main body to be spaced apart from the supporting unit to apply a load to the shutter blade in a non-contact manner; and
and a power supply unit for supplying power to rotate the shutter blade. 청구항 1에 있어서,
상기 지지부는 상기 셔터를 지지하기 제1지지부재를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. The method according to claim 1,
The support unit includes a first support member for supporting the shutter. 청구항 2에 있어서,
상기 부하 인가부는,
부하 인가부재; 및
상기 셔터와 마주보도록 상기 부하 인가부재를 지지하기 위한 제2지지부재;를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 3. The method according to claim 2,
The load applying unit,
load applying member; and
and a second support member for supporting the load applying member so as to face the shutter. 청구항 3에 있어서,
상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 조절하도록 상기 제1지지부재와 상기 제2지지부재 중 적어도 하나는 수평방향으로 이동 가능하게 형성되는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 4. The method according to claim 3,
At least one of the first support member and the second support member is formed to be movable in a horizontal direction so as to adjust a distance between the shutter and the load applying member. 청구항 3에 있어서,
상기 지지부는, 상기 셔터를 지지하기 위한 제1지지부재와, 상기 제1지지부재를 이동 가능하게 연결하도록 상기 본체부에 형성되는 제1연결부재를 포함하고,
상기 부하 인가부는, 상기 부하 인가부재를 지지하기 위한 제2지지부재와, 상기 제2지지부재를 이동 가능하게 연결하도록 상기 본체부에 연결되는 제2연결부재를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 4. The method according to claim 3,
The support portion includes a first support member for supporting the shutter, and a first connection member formed on the body portion to movably connect the first support member,
The load applying unit may include a second supporting member for supporting the load applying member, and a second connecting member connected to the main body to movably connect the second supporting member. . 청구항 3 내지 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 셔터날은 자성체를 포함하고,
상기 부하 인가부재는 자기장을 발생시킬 수 있는 자석을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 6. The method according to any one of claims 3-5,
The shutter blade includes a magnetic material,
The load applying member is a test apparatus for a shutter for an infrared searcher including a magnet capable of generating a magnetic field. 청구항 6에 있어서,
상기 부하 인가부재와 상기 셔터 사이의 거리를 측정하기 위한 거리측정부를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 7. The method of claim 6,
and a distance measuring unit for measuring a distance between the load applying member and the shutter. 청구항 7에 있어서,
상기 거리 측정부는,
접촉식 거리측정기 및 비접촉식 거리측정기 중 적어도 하나를 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 장치. 8. The method of claim 7,
The distance measuring unit,
A test apparatus for a shutter for an infrared searcher comprising at least one of a contact range finder and a non-contact range finder. 셔터날과, 상기 셔터날을 회전시키기 위한 동력을 제공하는 구동기를 포함하는 셔터를 마련하는 과정;
상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정;
상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정;
상기 구동기에 전원을 공급하는 과정;
상기 셔터날의 회전 여부를 확인하는 과정; 및
상기 셔터날의 회전 여부에 따라 상기 셔터날의 정상 여부를 판단하는 과정;을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. providing a shutter including a shutter blade and a driver providing power to rotate the shutter blade;
fixing the shutter to the test device;
applying a load to the shutter blade in a non-contact manner;
supplying power to the driver;
checking whether the shutter blade is rotated; and
and determining whether the shutter blade is normal according to whether the shutter blade is rotated. 셔터날과, 상기 셔터날을 회전시키기 위한 동력을 제공하는 구동기를 포함하는 셔터를 마련하는 과정;
상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정;
상기 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정;
상기 구동기에 전원을 공급하는 과정;
상기 셔터날에 인가되는 부하의 크기를 조절하고, 상기 셔터날의 회전 여부를 확인하는 과정;
상기 셔터날이 회전하지 않는 부하의 크기를 상기 셔터날이 견딜 수 있는 최대 부하값으로 추정하는 과정; 및
셔터날의 최대 부하값에 따라 셔터를 분류하는 과정;을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. providing a shutter including a shutter blade and a driver providing power to rotate the shutter blade;
fixing the shutter to the test device;
applying a load to the shutter blade in a non-contact manner;
supplying power to the driver;
adjusting the magnitude of the load applied to the shutter blade and checking whether the shutter blade is rotated;
estimating the magnitude of the load at which the shutter blade does not rotate as a maximum load value that the shutter blade can withstand; and
A method of testing a shutter for an infrared searcher, including a process of classifying the shutter according to the maximum load value of the shutter blade. 청구항 9 또는 10에 있어서,
상기 셔터를 마련하는 과정 이전에,
상기 셔터날의 기준 부하값과 상기 셔터날과 부하 인가부재 사이의 기준 거리를 마련하기 위한 사전 시험 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 11. The method of claim 9 or 10,
Prior to the process of preparing the shutter,
and a pre-test process for preparing a reference load value of the shutter blade and a reference distance between the shutter blade and a load applying member. 청구항 11에 있어서,
상기 사전 시험 과정은,
샘플 셔터가 설치된 적외선 탐색기를 마련하는 과정;
가속도 시험장에서 상기 적외선 탐색기를 회전시켜 상기 샘플 셔터의 셔터날이 작동하지 않는 기준 부하값을 마련하는 과정;
상기 적외선 탐색기에서 상기 샘플 셔터를 분리하여 상기 시험 장치에 고정시키는 과정;
상기 샘플 셔터의 셔터날에 비접촉식으로 부하를 인가하는 과정;
상기 샘플 셔터의 구동기에 전원을 공급하는 과정; 및
상기 샘플 셔터의 셔터날이 회전하지 않을 때까지 상기 샘플 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 감소시켜 상기 샘플 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 기준 거리를 마련하는 과정;을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 12. The method of claim 11,
The pre-test process is
The process of providing an infrared searcher equipped with a sample shutter;
preparing a reference load value at which a shutter blade of the sample shutter does not operate by rotating the infrared searcher in an acceleration test site;
separating the sample shutter from the infrared searcher and fixing the sample shutter to the test device;
applying a load to the shutter blade of the sample shutter in a non-contact manner;
supplying power to a driver of the sample shutter; and
and reducing the distance between the sample shutter and the load applying member until the shutter blade of the sample shutter does not rotate to provide a reference distance between the sample shutter and the load applying member; of the test method. 청구항 12에 있어서,
셔터날은 자성체를 포함하고,
상기 부하를 인가하는 과정은, 상기 부하 인가부재를 이용하여 상기 셔터날의 주변에 자기장을 발생시키는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 13. The method of claim 12,
The shutter blade contains a magnetic material,
The step of applying the load includes generating a magnetic field around the shutter blade using the load applying member. 청구항 13에 있어서,
상기 셔터를 시험 장치에 고정시키는 과정은, 상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리를 상기 기준 거리로 조절하는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 14. The method of claim 13,
The fixing of the shutter to the test apparatus includes adjusting a distance between the shutter and the load applying member as the reference distance. 청구항 14에 있어서,
상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고, 상기 셔터날이 회전할 때까지 상기 구동기에 공급되는 입력 전원값을 증가시키는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법.15. The method of claim 14,
and determining that the shutter is not normal when the shutter blade does not rotate, and increasing an input power value supplied to the actuator until the shutter blade rotates. 청구항 14에 있어서,
증가시킨 입력 전원값으로 상기 셔터날이 회전하면, 증가시킨 입력 전원값을 해당 셔터의 입력 전원값으로 정하는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 15. The method of claim 14,
When the shutter blade is rotated with the increased input power value, the test method of a shutter for an infrared searcher comprising the step of determining the increased input power value as the input power value of the shutter. 청구항 14에 있어서,
상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고,
상기 셔터날의 재료와 상기 셔터날이 연결되는 셔터 몸체의 재료 중 적어도 하나를 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함하는 셔터의 시험 방법.15. The method of claim 14,
If the shutter blade does not rotate, it is determined that the shutter is not normal,
and determining to change at least one of a material of the shutter blade and a material of a shutter body to which the shutter blade is connected. 청구항 14에 있어서,
상기 셔터날이 회전하지 않으면, 상기 셔터가 정상이 아닌 것으로 판단하고,
상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함하는 셔터의 시험 방법. 15. The method of claim 14,
If the shutter blade does not rotate, it is determined that the shutter is not normal,
and determining to change the center of gravity of the shutter blade. 청구항 18에 있어서,
상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정은,
상기 셔터날과 상기 구동기의 연결 위치를 변경하는 것으로 결정하는 과정을 포함하는 셔터의 시험 방법. 19. The method of claim 18,
The process of determining by changing the center of gravity of the shutter blade,
and determining to change a connection position between the shutter blade and the actuator. 청구항 18에 있어서,
상기 셔터날의 무게 중심을 변경하는 것으로 결정하는 과정은,
상기 셔터날에 무게추를 연결하는 것으로 결정하는 과정을 포함하는 셔터의 시험 방법.19. The method of claim 18,
The process of determining by changing the center of gravity of the shutter blade,
A shutter testing method comprising determining to connect a weight to the shutter blade. 청구항 14에 있어서,
상기 셔터날의 작동 여부를 확인하는 과정은,
상기 셔터날이 회전하는 경우, 상기 셔터를 정상으로 판단하는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 15. The method of claim 14,
The process of checking whether the shutter blade operates is,
and determining that the shutter is normal when the shutter blade rotates. 청구항 10에 있어서,
상기 부하의 크기를 조절하는 과정은,
상기 셔터의 셔터날이 작동하지 않을 때까지, 상기 셔터와 상기 부하 인가부재 사이의 거리가 감소시켜 상기 셔터날에 가해지는 부하의 크기를 증가시는 과정을 포함하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험 방법. 11. The method of claim 10,
The process of adjusting the size of the load is,
and increasing the magnitude of the load applied to the shutter blade by decreasing the distance between the shutter and the load applying member until the shutter blade of the shutter does not operate. 공중을 이동하는 유도무기에 설치되는 적외선 탐색기용 셔터의 시험방법으로서,
상기 유도무기의 가속도와, 상기 가속도에 의해 상기 셔터에서 발생하는 저항력을 모사하여, 상기 셔터의 성능을 시험할 수 있는 적외선 탐색기용 셔터의 시험방법.A test method for a shutter for an infrared searcher installed in a guided weapon moving in the air, comprising:
A test method for a shutter for an infrared searcher capable of testing the performance of the shutter by simulating the acceleration of the guided weapon and the resistance generated in the shutter by the acceleration. 청구항 23에 있어서,
상기 셔터의 일부는 자성체를 포함하고,
상기 유도무기의 가속도는 자석을 이용하여 모사하는 적외선 탐색기용 셔터의 시험방법.24. The method of claim 23,
A part of the shutter includes a magnetic material,
A test method for a shutter for an infrared searcher that simulates the acceleration of the guided weapon using a magnet.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995000813A1 (en) * 1993-06-25 1995-01-05 The Commonwealth Of Australia Maw flight line test set
KR20020085353A (en) * 2001-05-08 2002-11-16 엘지이노텍 주식회사 The test apparatus of infrared searcher
KR101297254B1 (en) 2012-03-08 2013-08-19 국방과학연구소 Comparative test device of plural eut, comparative test system of plural eut and comparative test method of plural eut
KR101399211B1 (en) * 2013-12-26 2014-06-27 주식회사 리얼게인 A sensor performance test apparatus and a control method thereof
KR102025195B1 (en) * 2019-01-23 2019-09-25 한화시스템 주식회사 Shutter apparatus for infrared seeker

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995000813A1 (en) * 1993-06-25 1995-01-05 The Commonwealth Of Australia Maw flight line test set
KR20020085353A (en) * 2001-05-08 2002-11-16 엘지이노텍 주식회사 The test apparatus of infrared searcher
KR101297254B1 (en) 2012-03-08 2013-08-19 국방과학연구소 Comparative test device of plural eut, comparative test system of plural eut and comparative test method of plural eut
KR101399211B1 (en) * 2013-12-26 2014-06-27 주식회사 리얼게인 A sensor performance test apparatus and a control method thereof
KR102025195B1 (en) * 2019-01-23 2019-09-25 한화시스템 주식회사 Shutter apparatus for infrared seeker

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