KR20020085353A - The test apparatus of infrared searcher - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 적외선 탐색기의 진동, 충격의 시험 분야에 관한 것으로서, 특히 적외선 탐색기의 광원으로 이용되는 적외선 광의 방사 방향을 수평 및 수직으로 변환 가능하도록 하여 한 조의 장비내에서 수평 및 수직 진동, 충격의 시험을 동시에 수행할 수 있는 적외선 탐색기의 시험 장치에 관한 것이다.The present invention relates to the field of testing of vibration and impact of an infrared searcher, and in particular, it is possible to horizontally and vertically convert the radiation direction of infrared light used as a light source of an infrared searcher to test horizontal and vertical vibration and shock in a set of equipment. It relates to a test device of the infrared searcher that can perform simultaneously.
절대온도 0K이상의 모든 물체는 전자기파를 방사하는데 적외선 탐색기는 대상 물체에서 방사하는 전자기파 중에서 적외선만을 센서상에 집속시켜 광학적인 변조 또는 변형을 거쳐 다시 전기적인 신호로 변환 처리하여 대상 표적의 시계상의 상대 위치를 알아내고 표적을 추적하는 기능을 가지고 있다.All objects with an absolute temperature above 0K emit electromagnetic waves. The infrared searcher focuses only the infrared rays on the sensor among the electromagnetic waves emitted from the target object and converts it into an electrical signal through optical modulation or transformation. It has the ability to find out and track the target.
일반적으로 적외선 탐색기를 이용한 환경 시험시, 그 적외선 탐색기를 3축으로 구분하여 각 축방향으로 충격 및 진동을 가하여 각 축방향에서 탐색기의 성능의 이상 유무를 검사하도록 구성되어 있다.In general, in the environmental test using an infrared searcher, the infrared searcher is divided into three axes, and the shock and vibration are applied in each axial direction to inspect the abnormality of the searcher in each axial direction.
제1도는 종래의 적외선 탐색기의 y-z축에 대한 진동, 충격 시험 장치를 나타낸 도면이다.1 is a diagram showing a vibration and impact test apparatus for the y-z axis of a conventional infrared searcher.
도1을 참조하면, 적외선 탐색기(110)의 y-z축에 대한 진동, 충격 시험을 위해서는 적외선 광원을 발생시키는 광원부(100)와, 상기 적외선 탐색기(110)의 진동 및 충격을 가하기 위한 가진기(130)와, 상기 가진기의 조정 및 상기 적외선 탐색기의 신호를 처리하는 조정부(120)로 구성되어 있다.Referring to FIG. 1, a light source unit 100 for generating an infrared light source and a vibrator 130 for applying vibration and impact of the infrared searcher 110 for a vibration and shock test of the yz axis of the infrared searcher 110. And an adjusting unit 120 for adjusting the exciter and processing the signal of the infrared searcher.
상기 가진기(130)를 이용한 진동 및 충격 시험은 도 2-1에 나타낸 y-z축 시험과, 도2-2에 나타낸 x축 시험이 개별적으로 이루어지며 시험 과정은 다음의 절차로 동일하게 이루어진다.In the vibration and shock test using the exciter 130, the y-z axis test shown in FIG. 2-1 and the x-axis test shown in FIG. 2-2 are separately performed, and the test process is performed in the following procedure.
상기 광원부(100)를 소정시간 예열하여 상기 적외선 탐색기(110)에 필요한 적외선 파장대를 형성하도록 한다.The light source unit 100 is preheated for a predetermined time to form an infrared wavelength band required for the infrared searcher 110.
그리고, 상기 적외선 탐색기(110)를 상기 가진기(130) 상단에 체결나사를 이용하여 결합시킨 후, 상기 광원부(100)에서 발생되는 광이 상기 적외선 탐색기의 전면부 소정 범위에 들어올 수 있도록 광축을 조절한다.After the infrared searcher 110 is coupled to the upper end of the vibrator 130 using a fastening screw, the optical axis may be adjusted so that the light generated by the light source unit 100 may enter a predetermined range of the front part of the infrared searcher. Adjust
광축이 일치되면, 상기 조정부(120)를 이용하여 상기 가진기(130)에 전원을 공급함과 더불어 상기 적외선 탐색기(110)로부터 전송되는 신호를 처리하여 탐색기의 성능을 시험하도록 구성된다.When the optical axis is matched, the controller 120 is configured to test the performance of the searcher by supplying power to the exciter 130 and processing the signal transmitted from the infrared searcher 110.
제2도는 종래의 적외선 탐색기의 x축에 대한 진동, 충격 시험 장치를 나타낸 도면이다.2 is a view showing a vibration and impact test apparatus for the x-axis of the conventional infrared searcher.
도2를 참조하면, 적외선 탐색기(210)의 x축에 대한 진동, 충격 시험을 위해서는 적외선 광원을 발생시키는 광원부(200)와, 상기 적외선 탐색기(210)의 진동 및 충격을 가하기 위한 가진기(230)와, 상기 가진기의 조정 및 상기 적외선 탐색기의 신호를 처리하는 조정부(220)로 구성되어 있다.Referring to FIG. 2, a light source unit 200 for generating an infrared light source and an exciter 230 for applying vibration and impact of the infrared searcher 210 for the vibration and impact test of the x-axis of the infrared searcher 210. ), And an adjusting unit 220 for adjusting the exciter and processing the signal of the infrared searcher.
상기 가진기(230)를 이용한 진동 및 충격 시험은 도1에서의 시험 과정과 동일하게 이루어진다.The vibration and shock test using the exciter 230 is performed in the same manner as the test procedure in FIG.
이와 같이 종래의 진동 및 충격 시험 장치는 상기 적외선 탐색기의 3축에 대한 진동, 충격 시험을 하나의 시험기에서 동시에 수행할 수 없어서 x축 및y-z축의시험에 필요한 두 조의 시험기를 구성하여 각 축에 대한 시험을 하도록 이루어져 있었다.As described above, the conventional vibration and shock test apparatus cannot simultaneously perform vibration and shock tests on three axes of the infrared searcher in one tester, thus configuring two sets of testers necessary for the test of the x-axis and yz-axis. It was made for testing.
즉, 3축에 대한 진동 및 충격 시험을 수행하기 위해서는 상기 광원부의 설치 위치를 도1 및 도2에서와 같이 각 시험에 맞도록 위치를 고정하여 상기 가진기 상단에 결합된 적외선 탐색기의 전면부가 상기 광원부에 의하여 비춰지도록, x축에 대함 시험 장비와 y-z축에 대한 시험 장비를 각각 구비하여 시험을 수행하였다.That is, in order to perform a vibration and shock test for the three axes fixed the position of the light source unit for each test as shown in Figs. 1 and 2 by the front portion of the infrared searcher coupled to the top of the vibrator The test was carried out with test equipment for the x-axis and test equipment for the yz-axis, respectively, to be illuminated by the light source.
따라서, 동일한 적외선 탐색기의 3축에 대한 환경 시험이 두 조의 개별적인 시험기에서 수행됨으로써 시험 장치의 차이에 의한 시험 결과의 신뢰성을 저하하는 문제점이 있었다.Therefore, the environmental test on the three axes of the same infrared searcher is performed in two sets of separate testers, there is a problem that the reliability of the test results due to the difference in the test apparatus.
또한, 종래에는 적외선 탐색기의 크기가 변화되었을 경우, 탐색기의 폭에 맞게 광폭의 크기를 조절할 수 없었으며 상기 광원부로부터 상기 적외선 탐색기에 입사되는 광의 초점 위치 및 입사각을 자유로이 변화시킬 수 없었다.In addition, in the related art, when the size of the infrared searcher is changed, it is not possible to adjust the size of the light width according to the width of the searcher, and the focal position and the incident angle of the light incident on the infrared searcher from the light source unit cannot be freely changed.
그리고, 상기 진동 및 충격 시험을 위하여 동일한 장비를 이중으로 구비함으로써 시험 장비를 구성하기 위한 비용이 증가하는 문제점이 있다.In addition, there is a problem in that the cost for configuring the test equipment is increased by providing the same equipment in duplicate for the vibration and shock test.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위하여 창출된 것으로서, 적외선 탐색기의 광원으로 이용되는 적외선 광의 방사 방향을 수평 및 수직으로 변환 가능하도록 하여 한 조의 장비내에서 수평 및 수직 진동, 충격의 시험을 동시에 수행할 수 있는 적외선 탐색기의 시험 장치를 제공함에 그 목적이 있다.The present invention has been made to improve the above problems, it is possible to convert the radiation direction of the infrared light used as the light source of the infrared searcher horizontally and vertically to simultaneously test the horizontal and vertical vibration, shock in a set of equipment It is an object of the present invention to provide a test apparatus of an infrared searcher that can be performed.
제1도는 종래의 적외선 탐색기의 y-z축에 대한 진동, 충격 시험 장치를 나타낸 도면.1 is a diagram showing a vibration and impact test apparatus for the y-z axis of a conventional infrared searcher.
제2도는 종래의 적외선 탐색기의 x축에 대한 진동, 충격 시험 장치를 나타낸 도면.2 is a view showing a vibration and impact test apparatus for the x-axis of the conventional infrared searcher.
제3도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 적외선 탐색기의 x축에 대한 시험의 일 실시예를 나타낸 도면.3 is a view showing an embodiment of a test on the x-axis of the infrared searcher in the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention.
제4도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 광원부에서 발광된 적외선 광로의 일 실시예를 세부적으로 나타낸 도면.4 is a view showing in detail an embodiment of an infrared light path emitted from a light source unit in a test apparatus of an infrared searcher according to the present invention.
제5도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 적외선 탐색기의 y-z축에 대한 진동, 충격 시험의 일 실시예를 나타낸 도면.Figure 5 is a view showing an embodiment of the vibration, impact test on the y-z axis of the infrared searcher in the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
300:광원부 310:제1 반사부300: light source unit 310: first reflecting unit
311:받침대 320:제2 반사부311: stand 320: second reflector
321:조정 나사 330:적외선 탐색기321: adjusting screw 330: infrared search
340:가진기 350:조정부340: oscillator 350: adjustment unit
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치는 적외선의 광원이 발생되는 광원부와;In order to achieve the above object, a test apparatus for an infrared searcher includes: a light source unit generating a light source of infrared light;
상기 광원부에서 발생된 적외선의 방향을 전환 조절이 가능한 제1 반사부와;A first reflecting unit capable of changing and controlling the direction of the infrared rays generated by the light source unit;
상기 광원부와 상기 제1 반사부를 잇는 일측의 연장선상에 배치되어, 상기 제1 반사부에서 반사된 적외선의 광원을 평행광에서 수직광으로 전환 조절케 하는 제2 반사부와;A second reflecting unit disposed on an extension line of one side connecting the light source unit and the first reflecting unit to adjust and convert the light source of the infrared light reflected by the first reflecting unit from parallel light to vertical light;
상기 제2 반사부의 하단에 위치하여, 적외선 탐색기에 진동 및 충격을 가하기 위한 가진기와;Located on the lower end of the second reflector, the excitation for applying vibration and shock to the infrared searcher;
상기 가진기의 조정 및 상기 적외선 탐색기의 신호를 처리하는 조정부를 포함하는 점을 그 특징으로 한다.It characterized in that it comprises an adjustment unit for adjusting the excitation and the signal of the infrared searcher.
여기서, 상기 제1 반사부는 광축을 따라 수평 이동이 가능한 받침대와;The first reflector may include a pedestal capable of horizontally moving along an optical axis;
그 자체의 중심축을 중심으로 회전이 가능하며, 상기 받침대에 의하여 고정되어 있는 제1 반사경과;A first reflector which is rotatable about its own central axis and is fixed by the pedestal;
상기 제1 반사경과 일정 간격으로 떨어져서 고정되어 있으며, 상기 제1 반사경의 중심축을 중심으로 회전이 가능한 제2 반사경을 포함하는 점을 그 특징으로 한다.It is characterized in that it comprises a second reflector is fixed to the first reflector spaced apart at a predetermined interval, and rotatable about a central axis of the first reflector.
여기서, 상기 제2 반사부는 그 높낮이를 조절할 수 있도록 조정 나사를 갖춘 점을 그 특징으로 한다.Here, the second reflector is characterized in that the adjustment screw is provided so that the height can be adjusted.
그리고, 상기 가진기는 상기 적외선 탐색기를 수평으로 위치시키기 위하여 별도의 치구를 더 구비하는 점을 그 특징으로 한다.The exciter may further include a separate jig for positioning the infrared searcher horizontally.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제3도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 적외선 탐색기의 x축에 대한 시험의 일 실시예를 나타낸 도면이다.3 is a view showing an embodiment of a test on the x-axis of the infrared searcher in the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention.
도3을 참조하면, 적외선 탐색기의 시험 장치는 적외선 광원을 발생하는 광원부(300)와; 상기 광원부(300)에서 발산되는 적외선의 방향을 전환해 주고 그 적외선의 초점 거리를 변환시켜주도록 광축의 소정 위치에 설치된 제1 반사경(312)과 제2 반사경(313)을 갖는 제1 반사부(310)와; 상기 광원부와 상기 제1 반사부를 잇는 일축의 연장선상에 구비됨과 더불어 일측이 회동 가능하도록 구비하여 상기 광원을 평행광에서 수직광으로 변환시킬 수 있는 제2 반사부(320)와; 적외선 탐색기(330)에 진동 및 충격을 가하기 위한 가진기(340)가 상기 제2 반사부(320)의 하단에 위치되고, 상기 가진기의 조정 및 상기 적외선 탐색기의 신호를 처리하는 조정부(350)로 구성되어 있다.Referring to Figure 3, the test apparatus of the infrared searcher and the light source unit 300 for generating an infrared light source; A first reflector having a first reflector 312 and a second reflector 313 installed at a predetermined position of the optical axis to change the direction of the infrared rays emitted from the light source unit 300 and to convert the focal length of the infrared rays ( 310; A second reflecting unit 320 provided on one axis of extension line connecting the light source unit and the first reflecting unit and rotatably on one side to convert the light source from parallel light into vertical light; An exciter 340 for vibrating and impacting the infrared searcher 330 is located at the bottom of the second reflector 320, and the adjusting unit 350 adjusts the exciter and processes signals of the infrared searcher. Consists of
한편, 상기 제1 반사부(310)를 지지하는 받침대(311)는 본체에 구비된 가이드 라인을 따라서 광축 방향으로 수평 이동이 가능함과 더불어 상기 제1 반사부가 회전 가능하도록 구비됨으로써, 제1 반사부를 통과한 광이 모이는 초점의 위치를 변화시킬 수 있으며, 초점 위치를 기준으로 광원이 원형의 궤적을 그리며 초점 위치에 경사지어 입사되도록 구성되어 있다.On the other hand, the pedestal 311 for supporting the first reflecting portion 310 is provided with a horizontal movement in the optical axis direction along the guide line provided in the main body and the first reflecting portion to be rotatable, thereby providing a first reflecting portion It is possible to change the position of the focal point where the light passes through, and the light source is configured to be inclined to the focal position in a circular trajectory based on the focal position.
또한, 상기 제2 반사부(320)를 본체에 연결하는 체결 부분에는 두쌍의 조정나사(321)가 구비되며, 상기 조정나사(321)의 높낮이를 상이하게 조절함으로써 상기 제2 반사부(320)에 입사되는 광의 입사각을 조절할 수 있도록 구성되어 있다.In addition, a fastening portion connecting the second reflector 320 to the main body is provided with two pairs of adjusting screws 321, and by adjusting the height of the adjusting screw 321 differently, the second reflecting portion 320 It is configured to adjust the incident angle of the light incident on the.
우선, x축에 대한 진동 충격 시험을 하기 위해 상기 적외선 탐색기(330)를 상기 가진기(340) 상단에 체결하고 상기 광원부(300)에 전원을 인가한 후, 내부에 설치된 흑체를 소정 시간 예열하여 상기 적외선 탐색기(330)의 소스로 이용되는 적외선 광이 발생되도록 하여, 그 광이 상기 적외선 탐색기(330)의 전면에 입사되도록 한다.First, in order to perform a vibration shock test on the x-axis, the infrared searcher 330 is fastened to the upper end of the vibrator 340 and power is applied to the light source unit 300, and then the black body installed therein is preheated for a predetermined time. Infrared light used as a source of the infrared searcher 330 is generated so that the light is incident on the front surface of the infrared searcher 330.
이 때, 상기 제1 반사부(310)의 받침대(311)를 통하여 수평이동 시킴과 더불어 상기 제2 반사부(320)의 조정 나사(321)를 조절함으로서 상기 적외선 탐색기(330)에 입사되는 적외선 광이 탐색기의 전면부를 에워싸도록 한다.In this case, the infrared rays incident on the infrared searcher 330 by horizontally moving through the pedestal 311 of the first reflecting part 310 and adjusting the adjusting screw 321 of the second reflecting part 320. Make sure the light surrounds the front of the searcher.
그 다음, 상기 조정부(350)를 통하여 상기 광원부(300)를 통해 나오는 광량의 세기를 조절하고, 상기 가진기(340)를 작동시켜 실험을 수행하게 되며 상기 적외선 광원이 상기 적외선 탐색기(330)의 x축에 경사지게 입사되고 상기 제1 반사부(310)의 회전에 의해 원형의 궤적을 이루게 됨으로써 상기 적외선 탐색기(330)에 진동, 충격이 가해지는 동안 그 적외선 탐색기(330)의 추적 능력을 시험할 수 있게 된다.Then, the intensity of the light emitted through the light source unit 300 through the adjusting unit 350 is adjusted, the exciter 340 is operated to perform the experiment and the infrared light source of the infrared searcher 330 Since the incident light is inclined to the x-axis and a circular trajectory is formed by the rotation of the first reflector 310, the tracking capability of the infrared searcher 330 can be tested while the infrared searcher 330 is subjected to vibration and impact. It becomes possible.
제4도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 광원부에서 발광된 적외선의 광로를 세부적으로 나타낸 도면이다.4 is a view showing in detail the optical path of the infrared light emitted from the light source unit in the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention.
도4를 참조하면, 광원부(400)에서 발광된 적외선의 방향은 제1 반사부(410)의 제1 반사경 그 자체의 축(z축)에 대한 회전에 의하여 조절이 가능하며 상기 제1 반사부의 제2 반사경(412)에 입사된다.Referring to FIG. 4, the direction of the infrared light emitted from the light source unit 400 may be adjusted by rotation about the axis (z-axis) of the first reflecting mirror itself of the first reflecting unit 410. The incident light is incident on the second reflector 412.
상기 제2 반사경(412)은 상기 광원부(400)의 광로축(x축)에 대한 회전에 의한 조절이 가능하다.The second reflector 412 may be adjusted by rotation about an optical path axis (x axis) of the light source unit 400.
상기 제2 반사경에 입사된 적외선은 반사되어 제2 반사부(420)에 도달된다.The infrared rays incident on the second reflector are reflected to reach the second reflector 420.
상기 제2 반사부(420)에 전달된 적외선은 적외선 탐색기(430)의 초점 위치(431)에 도달하게 된다.The infrared rays transmitted to the second reflector 420 reach the focal position 431 of the infrared searcher 430.
제5도는 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치에서 적외선 탐색기의 y-z축에 대한 진동, 충격 시험의 일 실시예를 나타낸 도면이다.5 is a view showing an embodiment of the vibration and impact test on the y-z axis of the infrared searcher in the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention.
도5를 참조하면, 적외선 탐색기의 시험 장치는 적외선 광원을 발생하는 광원부(500)와; 상기 광원부(500)에서 발산되는 빛의 방향을 전환해 주고 빛의 초점거리를 변환시켜주도록 광축의 소정 위치에 설치된 제1 반사경(312)과 제2 반사경(313)을 갖는 제1 반사부(510)와; 상기 광원부와 상기 제1 반사부를 잇는 일축의 연장선상에 구비됨과 더불어 일측이 회동 가능하도록 구비하여 상기 광원을 평행광에서 수직광으로 변환시킬 수 있는 제2 반사부(520)와; 적외선 탐색기(530)에 진동 및 충격을 가하기 위한 가진기(540)가 상기 제2 반사부(520)의 하단에 위치되고, 상기 가진기의 조정 및 상기 적외선 탐색기의 신호를 처리하는 조정부(550)로 구성되어 있다.Referring to Figure 5, the test apparatus of the infrared searcher and the light source unit 500 for generating an infrared light source; The first reflector 510 having a first reflector 312 and a second reflector 313 installed at a predetermined position of the optical axis to change the direction of light emitted from the light source unit 500 and to convert a focal length of the light. )Wow; A second reflector 520 which is provided on one axis of extension line connecting the light source unit and the first reflector and is rotatable on one side to convert the light source from parallel light into vertical light; An exciter 540 for vibrating and impacting the infrared searcher 530 is located at the bottom of the second reflector 520, and the adjusting unit 550 adjusts the exciter and processes the signal of the infrared searcher. Consists of
y-z축에 대한 진동, 충격 시험의 실행 과정은 상기 적외선 탐색기(530)를 수평으로 입사되는 광에 상기 적외선 탐색기(530)를 수평으로 위치시키기 위하여 상기 가진기(540)와 상기 적외선 탐색기(530) 사이에 별도의 치구(541)를 설치하여 상기 적외선 탐색기(530)를 상기 가진기(540)에 수평으로 고정시키게 된다.The oscillation and impact tests for the yz axis may be performed by using the vibrator 540 and the infrared searcher 530 to horizontally position the infrared searcher 530 to the light incident on the horizontal searcher 530. A separate jig 541 is installed therebetween to fix the infrared searcher 530 to the vibrator 540 horizontally.
이 경우, 상기 제2 반사부(520)는 일측의 고정 나사(521)를 축으로 회전하여상기 본체의 상단에 위치시키게 된다.In this case, the second reflecting portion 520 is rotated to the axis of the fixing screw 521 of one side is positioned on the upper end of the main body.
그 다음의 작동 과정은 x축에 대한 진동, 충격 시험의 과정과 동일하게 이루어진다.The next operation is the same as the vibration and impact test on the x-axis.
이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 적외선 탐색기의 시험 장치는 적외선 탐색기의 광원으로 이용되는 적외선 광의 방사 방향을 수평 및 수직으로 변환 가능하도록 하여 한 조의 장비내에서 수평 및 수직 진동, 충격의 시험을 동시에 수행함으로써 시험의 신뢰성을 높일 수 있으며 적외선 탐색기의 장축의 길이가 변화되어도 별도의 장치를 구비함이 없이 동일함 장비에서 수행이 가능하여 비용을 절감할 수 있다.As described above, the test apparatus of the infrared searcher according to the present invention is capable of horizontally and vertically converting the radiation direction of the infrared light used as the light source of the infrared searcher to simultaneously test the horizontal and vertical vibration and shock in a set of equipment. By performing the test, the reliability of the test can be improved, and even if the length of the long axis of the infrared searcher is changed, it can be performed on the same equipment without having a separate device, thereby reducing the cost.
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|---|---|---|---|---|
| KR20190055997A (en) * | 2017-11-16 | 2019-05-24 | 주식회사 한화 | The apparatus of infrared-seeker test with paraboloidal mirror and the method of infrared-seeker test with paraboloidal mirror |
| KR20220073500A (en) * | 2020-11-26 | 2022-06-03 | 한화시스템 주식회사 | Test apparatus and test method for shutter of infrared seeker |
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2001
- 2001-05-08 KR KR1020010024825A patent/KR20020085353A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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