KR20220066305A - 평행하게 정렬되고 각각 종방향 이동가능한 다수의 지지핀으로 피가공물을 지지하기 위한 피가공물 지지장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 프레임(5)과 이러한 프레임(5)내에서 종방향으로 서로 평행하게 안내되며 프레임(5)에 대하여 복원력에 대항하여 각각 가압될 수 있는 다수의 지지핀(4)의 단부면(3)으로 구성되는 지지부(2)로 피가공물을 지지하기 위한 피가공물 지지장치(1)에 관한 것으로, 탐지장치(23)가 프레임(5)에 대하여 다수의 지지핀(4)의 상대위치를 탐지하기 위하여 광배리어(18)를 갖는다. 광원(19)과 광배리어(18)의 광센서는 다수의 지지핀(4)이 연장된 주요연장방향(6)에서 서로 반대측에 배치된다. 광원(19)은 지지부(2)의 일측부를 따라 다수의 부분광원(19a-19l)으로 분할되어 배치되고, 광센서(20)는 상기 언급된 지지부(2)의 일측부에 대향된 타측부를 따라 다수의 부분센서(20a-20l)로 분할되어 배치된다.

Description

평행하게 정렬되고 각각 종방향 이동가능한 다수의 지지핀으로 피가공물을 지지하기 위한 피가공물 지지장치

본 발명은 평행하게 정렬되고 각각 종방향 이동가능한 다수의 지지핀으로 피가공물을 지지하기 위한 피가공물 지지장치에 관한 것이다. 이러한 장치에 의하여 지지되는 피가공물은 지지핀 상에 안치되거나 동일한 형태 또는 상이한 형태의 장치에 대하여 지지핀으로 파지될 수 있다. 따라서 이러한 장치는 소위 몰드 클림핑 조오(mold clamping jaw)로 사용될 수 있다. 동일 또는 상이한 형태의 장치와 함께, 이러한 장치는 파지장치분야, 예를 들어, 특히 각 피가공물에 사용되거나 이미 사용되고 있는 그립퍼(gripper)를 구성하는데 적합하다.

특히 본 발명은 프레임. 프레임내에서 주요연장방향으로 서로 평행하게 안내되며 프레임에 대한 복원력에 대항하여 각각 가압될 수 있는 다수의 지지핀의 단부면으로 구성되는 지지부와, 프레임에 대하여 다수의 지지핀의 상대적인 위치를 탐지하기 위한 광배리어(light barrier)를 갖는 탐지장치로 피가공물을 지지하기 위한 장치에 관한 것이다.

특허문헌 DE 198 02 320 A1으로부터 알려진 피가공물용 지지장치는 프레임에 대하여 지지핀을 고정하기 위한 고정장치를 갖는다. 피가공물로부터 반대방향으로 향하는 지지핀의 배면측에는 개방형 압력챔버가 배치되어 있으며 이러한 압력챔버는 지지핀 사이의 자유공간을 통하여 압력챔버로부터 각 피가공물 측으로 방출될 수 있는 압축공기로 가압될 수 있다. 지지핀은 압력챔버 내에서 방사상턱을 가짐으로써 압력매체가 피가공물을 향하여 지지핀에 작용할 수 있다. 지지핀의 하나를 프레임에 대한 피가공물의 상대위치를 탐지하는데 사용하기 위하여, 압력챔버를 한정하고 배면측으로부터 방사상 턱을 형성하도록 지지핀의 본체에 나선결합된 고정봉이 관통하는 고정판의 배면측에 마이크로스위치가 배치된다. 이러한 마이크로스위치는 지지핀이 프레임에 대하여 일정량 감압되었을 때 고정봉의 자유단부에 형성된 방사상 칼라에 의하여 작동된다. 마이크로스위치 대신에 프레임에 대하여 지지핀의 정확한 위치를 탐지하는 변위센서가 제공될 수 있다.

특허문헌 DE 43 39 102 A1에는 다양한 형태의 대상물을 기계적으로 파지하고 지지하며 이동시키고 취급하기 위한 처리장치가 기술되어 있다. 이러한 처리장치는 본질적으로 탐지될 대상물 측으로 하강되는 다수의 지지핀으로 구성되고, 이들 지지핀은 지지핀안내판에 형성된 통공내에 착설되어 이들이 종방향으로 이동되어 대상물을 고정할 수 있게 되어 있다. 대상물은 이젝터 판으로 지지핀을 밀어 복귀시킴으로써 다시 분리된다. 광배리어가 지지핀안내판에 부착되어 지지핀이 지지핀안내판에 대하여 대상물에 의하여 종방향으로 이동되고 이들의 상측단부가 빔진로내에 진입되었을 때 신호를 발한다.

센서를 이용하여 대상물을 유연하게 파지하기 위한 장치가 특허문헌 US Pat. No. 5,608,206 A로부터 알려져 있다. 센서는 대상물에 접촉하고 이를 파지하기 위한 다수의 지지핀을 갖는다. 지지핀은 지지판에 착설되어 이들이 종방향으로 이동될 수 있다. 지지핀은 센서 어레이에 결합되어 지지판에 대한 지지핀의 상대변위가 광-기계적으로 부호화되어 탐지된다. 이와 같은 경우에 있어서, 개방부를 갖는 중공형 실린더가 각 지지핀의 배면측 단부에 배치되고 이에 광가이드의 도움으로 광선이 축방향으로 방사된다. 중공형 실린더의 외주연은 다른 광가이드의 단부와 대향되어 있어 각 지지봉과 이에 연결된 중공형 실린더의 상이한 종방향 위치에서 중공형 실린더로부터의 광선이 다른 광가이드의 상이한 조합으로 들어갈 수 있다.

본 발명은 독립청구항 제1항의 서두부분의 구조를 갖는 피가공물 지지장치를 제공하는데 목적이 있는바, 장치가 전자동생산시스템에 통합되어 생산과정이 전수모니터링 및 기록될 수 있는 간단하지만 광범위한 모니터링 기능을 갖도록 구성되는 피가공물 지지장치를 제공한다.

이러한 본 발명의 목적은 독립청구항 제1항의 특징적 구성을 갖는 피가공물 지지장치에 의하여 성취된다. 본 발명에 따른 우선실시예는 종속청구항에서 정의된다.

본 발명에 따라서 프레임과 이러한 프레임내에서 서로 종방향으로 평행하게 안내되고 각각 프레임에 대하여 복원력에 대항하여 가압될 수 있는 다수의 지지핀의 단부면으로 구성되는 지지부로 피가공물을 지지하기 위한 피가공물 지지장치에서, 탐지장치가 프레임에 대하여 파지하는 다수의 지지핀의 상대위치를 탐지하기 위하여 광배리어를 갖는다. 광원과 광배리어의 광센서는 지지핀이 연장된 종방향을 가로질러 서로 대향되게 배치된다. 광원은 지지부의 일측부를 따라 다수의 부분광원으로 분할되어 배치되고 광센서는 지지부의 타측부를 따라 다수의 부분센서로 분할되어 배치된다.

다수의 지지핀이 연장된 종방향에 대하여 대향되게 광원과 광센서를 적당히 배치함으로써, 광배리어는 다수의 지지핀의 적어도 일부이거나 좋기로는 다수의 지지핀의 전부인 다수의 지지핀이 프레임에 대하여 가압되거나 또는 가압되지 않는 것을 확인하는데 사용될 수 있다. 이를 위하여 특별히 적합한 것은 광원과 광센서의 배치구성인바, 가압되지 않은 대부분의 지지핀이 이들의 광원과 이들의 광센서 사이에서 광배리어의 광로내에는 없지만 이들이 가압될 때 이들이 이러한 광로내에 진입하여 광센서의 전방에서 광원으로부터의 광선을 차단한다.

본 발명에 따른 장치의 탐지장치는 광원과 광센서 사이의 광로가 비어있을 때인 최대광도에 비하여 광배리어의 광센서에 의하여 현재 기록된 광도에 상대적인 감소를 탐지하는 경우 유리한 것으로 입증된다. 이는 광도에서 특정한 최소의 감소가 있는 지의 여부를 기록함을 의미한다. 광도의 상대감소는 광원과 광센서 사이의 광로가 차단되는 정도를 나타내고 얼마나 많은 다수의 지지핀이 프레임에 대하여 감압되는지를 나타낸다.

광도에 있어서 어떠한 상대감소가 장치의 정확한 기능 또는 부정확한 기능을 나타내는 여부는 장치의 현재의 이용에 따라서 달라진다. 예를 들어, 고정물이 피가공물의 표면을 몰딩하기 위하여 프레임에 대하여 부분적으로 가압된 지지핀으로 피가공물을 실질적으로 지지하는 경우, 광센서에 의하여 기록된 광도의 특정한 상대감소는 정확한 기능을 나타낸다. 다른 한편으로, 만약 지지핀이 가압되지 않아 이들이 프레임에 대하여 복원력으로 복귀되어야 하는 경우, 기록된 광도에서 특정 감소는 고장임을 나타낸다. 기록된 광도의 감소가 반드시 삽입된 지지핀 때문이 아님은 말할 필요도 없다. 광전지의 영역으로 진입하는 오염물에 의한 것일 수도 있다. 그러나, 이는 또한 본 발명에 따른 장치의 결함으로 간주되어야 한다.

본 발명에 따른 장치의 광원은 지지부 일측면을 따라 다수의 부분광원으로 분할되어 있고 또한 본 발명에 따른 장치의 광센서도 지지부의 반대측면을 따라 다수의 부분센서로 분할되어 있으므로, 부분광원에 의하여 탐지된 개별 광도 또는 개별적인 부분센서에 의하여 탐지된 부분 광도와 관련된 빛은 프레임에 대하여 삽입된 지지핀의 공간적인 한계를 보이는 결과를 가져온다. 최상의 경우에 있어서, 지지부내에서 어떤 지지핀이 관련되어 있는지 확인할 수 있다. 특히, 본 발명에 따른 장치의 이러한 실시예에서, 지지부의 일측면에는 선형 어레이의 부분광원이 사용되고 지지부의 타측면에는 선형 어레이의 부분센서가 사용될 수 있는바, 이들은 저렴한 상업적인 광배리어의 일부로서 사용될 수 있다.

광원이 지지부에 인접한 다수의 일측면을 따라 다수의 부분광원으로 분할되어 있고 지지부의 다수의 타측면을 따라 배열된 광센서가 다수의 부분센서로 분할되어 있는 경우 어느 지지핀이 어느 위치에서 프레임에 대하여 가압되는지를 보다 정밀하게 탐지될 수 있을 것이다.

특히, 부분광원과 광배리어의 부분센서는 열과 행으로 배열된 지지부의 각 지지핀에 대하여 대응되게 배치될 수 있다.

대안적으로 또는 부가적으로, 광원은 또한 지지핀의 주요연장방향에서 다수의 부분광원으로 분할될 수 있고, 및/또는 광센서도 지지핀의 주요연장방향에서 다수의 부분센서로 분할될 수 있다. 광배리어는 대부분의 지지핀이 핀에 대하여 얼마나 가압되고 있는지 정밀하게 결정하는데 사용될 수 있다.

다수의 부분광원을 포함하는 광원을 갖는 광배리어를 이용하여 프레임에 대한 각 지지핀의 위치에 대한 최대의 정보를 얻기 위하여, 탐지장치는 부분광원을 개별적으로 활성화할 수 있으며 개별적으로 활성화된 부분광원에 대하여 각 부분센서에 의하여 기록된 광도를 개별적으로 탐지할 수 있다. 기록된 광도의 패턴으로부터, 경험적 값의 테이블이 지지핀의 관련된 인상패턴을 추론하거나 또는 적어도 현재 존재하여야 하는 지지핀의 인상패턴이 실제로 존재하는지의 여부를 인식하는데 사용될 수 있다.

본발명에 따른 장치는 전형적으로 지지핀이 프레임에 대하여 고정될 수 있는 고정장치를 갖는다. 따라서, 지지핀의 특정 인상패턴이 이러한 고정장치에 의하여 고정될 수 있다. 본 발명에 따른 장치의 탐지장치는 복원력을 이용하여 적어도 고정장치가 지지핀을 복귀시키기 위하여 비활성화되었을 때 광배리어를 활성화한다. 그리고 광배리어는 지지핀이 실제로 복귀되었는지 또는 각 지지핀이 복귀되지 않았는지를 탐지하여 복귀되지 않은 경우 오류가 있음을 나타낸다.

본 발명에 따른 장치의 특정 실시예에서, 단부면으로부터 원격한 지지핀의 단부는 압력매체로 가압될 수 있는 챔버내에 진입될 수 있다. 그리고 탐지장치는 특히 챔버가 압력매체에 의하여 작동되고 고정장치가 비활성되었을 때 광배리어를 활성화할 수 있도록 구성될 수 있다. 이러한 작동상태에서, 압력매체로 지지핀에 복원력이 가하여지고 또한 지지핀 사이의 불순물이 압력매체에 의하여 제거되어야 하며 지지핀 사이의 자유공간도 압력매체에 의하여 청소되어야 한다. 따라서, 광배리어의 광로가 확실하게 확보될 수 있다. 그럼에도 불구하고 광센서에 의하여 기록된 광도가 감소되면 오류가 검출된다.

본 발명에 따른 장치에서, 탐지장치는 예를 들어 탐지장치의 컨트롤러가 탐지장치가 광배리어의 광센서에 의하여 기록된 광도를 오류표시에 대하여 자동으로 평가하여 오류표시가 있는 경우 오류신호를 출력할 수 있도록 프로그램될 수 있도록 구성되는 것이 좋다. 특히 탐지장치는 오류의 가능한 원인 및/또는 오류제거의 가능성을 나타내는 오류신호를 이용하는 경우가 좋다. 물론 본 발명에 따른 장치에서 탐지장치로부터의 오류신호는 불완전 생산을 방지하기 위하여 생산시설을 중지시키도록 자동화생산설비에 사용될 수 있을 것이다.

발명의 유리한 개선점이 특허 청구범위, 상세한 설명 및 도면에서 확인될 수 있다.

본 발명의 상세한 설명에서 언급된 특징의 이점 및 여러 특징의 조합은 단지 예시일 뿐이며, 본 발명에 따른 실시예에 의해 반드시 달성되어야 하는 이점 없이 대안적으로 또는 누적적으로 효과를 가질 수 있다.

다음은 최초 출원문서 및 특허의 공개 내용(보호범위가 아님)에 적용된다. 추가의 구성, 특히 예시된 기하학적 구조와 여러 구성요소의 상대적 치수는 물론 그들의 상대적인 배열과 작동연결 등을 도면에서 찾을 수 있다. 본 발명의 상이한 실시예의 특징 또는 상이한 특허 청구범위의 특징의 조합이 또한 가능하며, 특허 청구범위의 선택된 종속성에서 벗어나 제안된다. 이는 별도의 도면에 표시되거나 설명에 언급된 구성에도 적용된다. 이러한 구성은 다른 특허 청구번위의 구성과 결합될 수도 있다. 마찬가지로, 특허 청구범위에 나열된 구성은 본 발명의 추가 실시예에 대해 생략될 수 있지만, 이는 부여된 특허의 독립 청구항에는 적용되지 않는다.

특허 청구범위 및 설명에 언급된 구성은 이들의 수에 관한 한 "적어도"라는 부사를 예시적으로 사용할 필요없이 정확한 그 수를 나타내거나 언급된 수보다 큰 수임을 이해하여야 한다. 예를 들어, 다수의 지지핀의 단면부로 구성된 지지부가 언급되는 경우, 이러한 지지부가 정확히 하나, 두 개, 또는 그 이상을 나타내는 것으로 이해되어야 한다. 특허 청구범위에 열거된 구성은 다른 구성으로 보완되거나 해당 구성물이 갖는 유일한 구성일 수 있다.

청구범위에 포함된 도면부호는 청구범위에 의해 보호되는 대상의 범위를 제한하지 않으며 청구범위를 더 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 목적으로만 사용된다.

본 발명은 전자동생산시스템에 통합되어 생산과정이 전수모니터링 및 기록될 수 있는 간단하지만 광범위한 모니터링 기능을 갖도록 구성되는 피가공물 지지장치를 제공한다.

도 1은 본 발명에 따른 피가공물 지지장치의 개략 단면도.
도 2는 도 1에서 보인 장치의 지지패널의 평면도.
도 3은 도 1에서 보인 장치의 제1 실시예에서 광원의 부분광원과 광배리어의 광센서에서 부분센서의 배열을 보인 설명도.
도 4는 도 1에서 보인 장치의 제2 실시예에서 광원의 부분광원과 광배리어의 광센서에서 부분센서의 배열을 보인 설명도.
도 5는 본 발명에 따른 다른 장치에서 광원의 부분광원과 광배리어의 광센서에서 부분센서의 다른 배열을 보인 설명도.

도 1에서 보인 장치(1)는 피가공물(도시하지 않았음)을 지지하는데 사용된다. 피가공물을 지지하기 위하여, 장치(1)는 다수의 지지핀(4)의 단부면(3)으로 구성되는 지지부(2)를 갖는다. 지지핀(4)은 이들 길이의 대부분이 프레임(5)에 의하여 둘러싸여 있으며, 이들의 주요연장방향(6)에서 서로 평행하게 안내된다. 주요연장방향(6)에서, 지지핀(4)은 복원력에 대항하여 프레임(5)에 대해 가압될 수 있다. 복원력은 주로 고정봉(8)상에 배치된 압축스프링(7)에 의하여 가하여진다. 고정봉(8)은 고정판(9)을 통하여 지지핀(4)의 본체(22)의 후측 단부부분(10)에 나선결합된다. 압축스프링(7)은 일측이 단부부분(10)에 지지되고 타측이 고정판(9)에 지지된다. 고정봉(8)에서 직경이 확대된 헤드부분(11)이 고정판(9)의 배면측에 접하여 있어 지지핀(4)을 고정판(9)에 고정한다. 본체(22)의 단부부분(10)과 고정판(9) 사이에 챔버(12)가 형성되어 있다. 이러한 챔버(12)는 지지핀(4)에 부가적인 복원력을 가하고(압축스프링 7을 대체하기 위하여) 원형 단면을 갖는 지지핀(4) 사이의 공간으로부터 불순물을 밖으로 불어내어 취출할 수 있도록 압축공기공급원(14)으로부터 공급되는 압축공기(13)로 가압될 수 있다. 지지핀(4)은 고정장치(15)를 이용하여 프레임(15)에 대하여 고정될 수 있다. 여기에서 고정장치(15)는 프레임(5)의 외측에서 지지부(2)의 지지핀(4)의 본체(22)에 대하여 측면에 배치되는 압력판(17)을 지지하는 스크류 드라이브(16)를 갖는다.

단부면(3)을 갖는 지지부(2)를 형성하는 고정장치(15)와 지지핀(4)의 구성이 도 2에서 평면도로 도시되어 있다. 장치(1)의 이 실시예에서 지지핀(4)은 사각형으로 배치되어 있다. 그러나 육각형으로 배치되는 것도 가능하다.

장치(1)는 그 기능을 모니터링하기 위하여 광배리어(18)를 구비한 탐지장치(23)를 갖는다. 광배리어(18)는 지지핀(4)의 주요연장방향(6)을 가로질러 서로 대향된 광원(19)과 광센서(20)를 포함한다. 주요연장방향(6)에서, 광배리어(18)는 도 1에서 보인 바와 같이 지지핀(4)이 완전히 후퇴하였을 때 이들의 고정봉(8)이 광배리어(18)의 광원(19)과 광센서(20) 사이의 광로(21)측으로 돌출되지 않게 배치된다. 이와 같이 광배리어(18)는 지지핀(4)이 아직 밀려 들어오지 않았는지 또는 벌써 완전히 복귀되었는지의 여부를 모니터링한다. 만약 지지핀(4)의 하나가 그 고정봉(8)에서 광로(21) 측으로 돌출되는 경우, 광센서(20)에 의하여 기록된 빛의 세기 즉, 광도는 광로(21)가 비어 있는 상태일 때의 최대광도에 비하여 감소된다. 만약 이러한 광도의 감소가 지지핀(4)이 복귀된 후에도 발생된다면 이는 장치(1)의 오류임을 나타내는 것이다. 이러한 오류는 탐지장치(23)의 컨트롤러(24)에 의하여 인식되어 컨트롤러가 오류신호(25)를 발생할 것이다. 또한 컨트롤러(24)는 고정장치(15)와 압축공기공급원(14)이 활성화되었는지 또는 이들을 목적에 맞게 활성화하였는지를 탐지한다. 그러나, 고정장치(15)는 액추에이터의 형태로 구성되는 것을 요구한다.

도 3은 광배리어(18)의 광원(19)이 6개의 부분광원(19a-19f)로 분할되어 있고 광센서(20)도 6개의 부분센서(20a-20f)로 분할되어 있음을 보이고 있으며, 각 부분센서(20a-20f)는 지지핀(14)의 열을 통하여 각 부분광원(19a-19f)에 대향되게 배치되어 있음을 보이고 있다. 부분광원(19a-19f)를 순차적으로 활성화하고 각각 부분센서(20a-20f)로 광도를 기록함으로써, 고정봉(8)과 함께 광배리어(18)의 광로(21) 측으로 진입하는 지지핀(4)의 위치 또는 광로(21) 측으로 진입하는 지지핀(4)의 수가 추정될 수 있다.

이러한 추정은 도 4에서 보인 바와 같이 광원(19)이 총 12개의 부분광원(19a-19l)로 분할되고 광센서(20)가 총 12개의 부분센서(20a-20l)로 분할되어 있으며 지지부(2)의 지지핀(4)의 각 열과 각 행을 통하여 할당된 각 부분광원(19a-19l)과 각 부분센서(20a-20l)이 서로 대향되게 배치된 광배리어(18)에 의하여 더욱 가능하게 된다.

대조적으로, 도 5는 지지핀(4)의 주요연장방향(6)으로 광원(19)이 3개의 부분광원(19A-19C)로 분할되고 광센서(20)가 3개의 부분센서(20A-20C)로 분할된 것으로 보이고 있는바, 이는 지지핀(4)이 광배리어(18)의 광로(21)에서 상이한 광로(21A-21C) 측으로 진입하는 것에 따라 지지핀(4)이 얼마나 깊이 가압되는가 하는 것을 양호하게 탐지할 수 있다.

1: 장치, 2: 지지부, 3: 단부면, 4: 지지핀, 5: 프레임, 6: 주요연장방향, 7: 압축스프링, 8: 고정봉, 9: 고정판, 10: 단부부분, 11: 헤드부분, 12: 챔버, 13: 압축공기, 14: 압축공기공급원, 15: 고정장치, 16: 스크류 드라이브, 17: 압력판, 18: 광배리어, 19: 광원, 19a-19l, 19A-19C: 부분광원, 20: 광센서, 20a-20l, 20A-20C: 부분센서, 21: 괄로, 21A-21C: 부분광로, 22: 본체, 23: 탐지장치, 24: 컨트롤러, 25: 오류신호.

Claims (12)

1. 프레임(5)과, 상기 프레임(5)에서 주요연장방향(6)으로 서로 평행하게 안내되고 상기 프레임(5)에 대해 복원력에 대항하여 각각 가압될 수 있는 복수의 지지핀(4)의 단부면(3)으로 구성되는 지지부(2)와, 상기 프레임(5)에 대하여 상기 복수의 지지핀(4)의 상대적인 위치를 탐지하기 위하여 광배리어(18)를 갖는 탐지장치(23)를 구비하는 피가공물 지지장치(1)에 있어서,
   상기 광배리어(18)의 광원(19) 및 광센서(20)가 상기 지지핀(4)의 상기 주요연장방향(6)을 가로질러 서로 대향되게 배치되고,
   상기 광원(19)이 상기 지지부(2)의 일측면을 따라 복수의 부분광원(19a-19l)으로 분할되고, 및/또는
   상기 광센서(20)가 상기 지지부(2)의 반대측 타측면을 따라 복수의 부분센서(20a-20l)로 분할됨을
   특징으로 하는 피가공물 지지장치.
2. 제1항에 있어서,
   상기 광원(19)은 상기 지지부(2)의 여러 인접한 측면을 따라 복수의 부분광원(19a~19l, 19A~19C)으로 분할되고, 상기 광센서(20)는 상기 지지부(2)의 복수의 대향 측면에서 복수의 다른 측면을 따라 복수의 부분센서(20a~20l, 20A~20C)로 분할됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
   각 열 및/또는 각 행의 상기 지지핀(4)이 상기 부분광원(19a~19l)과 상기 부분센서(20a~20l)에 할당되어 배치됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
4. 제1항 내지 제3항 중의 어느 한 항에 있어서,
   상기 광원(19)이 상기 주요연장방향(6)에서 복수의 부분광원(19A~19C)으로 분할되고, 및/또는
   상기 광센서(20)가 상기 주요연장방향(6)에서 복수의 부분센서(20A~20C)로 분할됨을
   특징으로 하는 피가공물 지지장치.
5. 제1항 내지 제4항 중의 어느 한 항에 있어서,
   상기 탐지장치(23)는 상기 부분광원(19a~19l, 19A~19C)을 개별로 활성화하고 개별의 상기 부분센서(20a~20l, 20A~20C)에 의하여 기록된 광도를 개별로 탐지하도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
6. 제1항 내지 제5항 중의 어느 한 항에 있어서,
   상기 탐지장치(23)는 상기 광원(19) 및 광센서(20) 간의 광로(21)가 비어있을 때의 최대광도에 대비하여 상기 광배리어(18)의 상기 광센서(20)의 개별 부분센서(20a~20l, 20A~20C)의 현재 기록된 광도에서의 상대적인 감소를 탐지하도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
7. 제1항 내지 제6항 중의 어느 한 항에 있어서,
   상기 지지핀(4)이 상기 프레임(5)에 대하여 고정될 수 있도록 하는 고정장치(15)가 구비됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
8. 제7항에 있어서,
   상기 고정장치(15)가 비활성되었을 때, 상기 탐지장치(23)가 상기 광배리어(18)를 활성화하도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
9. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한 항에 있어서,
   상기 단부면(3)으로부터 원격한 상기 지지핀(4)의 단부가 압력매체로 가압될 수 있는 챔버(12) 내로 진입됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
10. 제9항에 있어서,
    상기 챔버(12)가 상기 압력매체에 의하여 작동될 때, 상기 탐지장치(23)가 상기 광배리어(18)를 활성화하도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
11. 제1항 내지 제10항 중의 어느 한 항에 있어서,
    상기 탐지장치(23)는 오류의 지시를 위하여 상기 광배리어(18)의 상기 광센서(20)에 의하여 기록된 광도를 평가하고 오류가 있을 때 오류신호를 발생하도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.
12. 제11항에 있어서,
    상기 탐지장치(23)는 상기 오류신호(25)를 사용하여 상기 오류의 가능한 원인 및/또는 오류의 제거가능성을 나타내도록 구성됨을 특징으로 하는 피가공물 지지장치.

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