KR20220052350A - 디지털 클록 및 데이터 복구를 위한 고속 초기 위상 검색 및 관련 시스템들, 디바이스들 및 방법들 - Google Patents

Abstract

신호의 샘플 위상을 선택하는 것에 관련된 시스템들, 디바이스들 및 방법들이 개시된다. 방법은 복수의 상이한 샘플 위상들을 갖는 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 샘플링하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하는 단계를 포함한다. 신호는 공유 송신 매체로부터 수신된다. 방법은 또한 샘플 값들에 기초하여 심볼들의 에지들에 대응하는 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계를 포함한다. 방법은 결정된 에지 샘플 위상에 기초하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 단계, 및 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 심볼들의 값들을 결정하는 단계를 추가로 포함한다.

Description

디지털 클록 및 데이터 복구를 위한 고속 초기 위상 검색 및 관련 시스템들, 디바이스들 및 방법들

우선권 주장

본 출원은 "디지털 클록 및 데이터 복구를 위한 고속 초기 위상 검색 및 관련 시스템들, 디바이스들 및 방법들(FAST INITIAL PHASE SEARCH FOR DIGITAL CLOCK AND DATA RECOVERY AND RELATED SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS)"에 대한, 2019년 8월 23일자로 출원된 중국 특허 출원 제201910784610.8호의 출원일의 이익을 주장하고, 계류 중인, "디지털 클록 및 데이터 복구를 위한 고속 초기 위상 검색 및 관련 시스템들, 디바이스들 및 방법들(FAST INITIAL PHASE SEARCH FOR DIGITAL CLOCK AND DATA RECOVERY AND RELATED SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS)"에 대한, 2019년 9월 30일자로 출원된 미국 특허 출원 제16/588,621호의 출원일의 이익을 주장하며, 이들 출원 각각의 개시 내용은 이에 의해 이러한 참조에 의해 전체적으로 본 명세서에 포함된다.

기술분야

본 개시는 일반적으로 디지털 클록 및 데이터 복구(DCDR)를 위한 초기 위상의 설정에 관한 것이며, 보다 구체적으로 유선 근거리 네트워크들의 공유 송신 매체를 통해 수신되는 신호들의 DCDR에 관한 것이다.

데이터 통신에서, 신호에 대한 적절한 샘플 위상을 식별하는 것이 유용하다. 심볼의 중심 부근의 샘플 위상이 전형적으로 최상의 샘플 위상이다. 샘플 위상이 심볼들(예를 들어, 에지들) 사이의 전이들에 접근함에 따라, 특히 잡음 및 간섭에 취약한 환경들에서, 에러들이 발생할 가능성이 더 높을 수 있다. 자동차 환경은 잡음 및 간섭에 취약할 수 있는 하나의 그러한 환경이다. 문제를 복잡하게 만들어, 수신된 패킷들은 다수의 상이한 송신기들로부터 올 수 있으며, 그의 심볼들은 시간상 서로 정렬되지 않을 수 있다. 그 결과, 상이한 수신된 패킷들 각각에 대해 적합한 샘플링 위상을 찾는 것이 필요할 수 있다.

본 개시가 특정 실시예들을 특별히 지적하고 명확하게 청구하는 청구항들로 마무리되지만, 본 개시의 범위 내의 실시예들의 다양한 특징 및 이점이 첨부 도면과 관련하여 읽을 때 하기 설명으로부터 더 쉽게 확인될 수 있다.
도 1은 몇몇 실시예들에 따른, 네트워크 세그먼트의 일부의 블록도이다.
도 2는 몇몇 실시예들에 따른, 아이 다이어그램(eye diagram)이다.
도 3은 몇몇 실시예들에 따른, 심볼 샘플링 도면이다.
도 4는 몇몇 실시예들에 따른, 복수의 상이한 샘플 위상들로부터 신호의 샘플 위상을 선택하는 방법을 예시하는 플로차트이다.
도 5는 몇몇 실시예들에 따른, 다른 심볼 샘플링 도면이다.
도 6은 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 방법을 예시하는 플로차트이다.
도 7은 몇몇 실시예들에 따른, 또 다른 심볼 샘플링 도면이다.
도 8은 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 다른 방법을 예시하는 플로차트이다.
도 9는 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 또 다른 방법을 예시하는 플로차트이다.
도 10은 몇몇 실시예들에 따른, 물리 계층 디바이스의 블록도이다.
도 11은 몇몇 실시예들에서 사용될 수 있는 컴퓨팅 디바이스의 블록도이다.

하기의 상세한 설명에서, 상세한 설명의 일부를 이루고, 본 개시가 실시될 수 있는 실시예의 구체적인 예가 예시로서 도시되어 있는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 이 분야의 통상의 기술자가 본 개시를 실시하는 것을 가능하게 하기에 충분히 상세히 설명된다. 그러나, 본 개시의 범위로부터 벗어남이 없이, 본 명세서에서 가능하게 되는 다른 실시예들이 이용될 수 있고, 구조, 재료 및 프로세스 변경들이 이루어질 수 있다.

여기에 제시된 예시들은 임의의 특정한 방법, 시스템, 디바이스 또는 구조의 실제 도면들인 것으로 의도되는 것이 아니라, 단지 본 개시의 실시예들을 설명하는 데 이용되는 이상화된 표현들이다. 몇몇 경우들에서, 다양한 도면들 내의 유사한 구조들 또는 컴포넌트들이 독자의 편의를 위해 동일한 또는 유사한 넘버링을 보유할 수 있지만, 넘버링에 있어서의 유사성은 구조들 또는 컴포넌트들이 크기, 조성, 구성 또는 임의의 다른 특성에 있어서 동일하다는 것을 반드시 의미하지는 않는다.

이하의 설명은 이 분야의 통상의 기술자가 개시된 실시예들을 실시할 수 있게 하는 것을 돕기 위한 예들을 포함할 수 있다. 용어 "예시적인", "예로서", 및 "예를 들어"의 사용은 관련 설명이 설명적인 것임을 의미하며, 본 개시의 범위가 예들 및 법적 등가물들을 포함하도록 의도되지만, 그러한 용어의 사용은 실시예 또는 본 개시의 범위를 명시된 컴포넌트들, 단계들, 특징들, 기능들 등으로 제한하도록 의도되지 않는다.

본 명세서에서 일반적으로 기술되고 도면들에 예시된 바와 같은 실시예의 컴포넌트들이 매우 다양한 상이한 구성들로 배열 및 설계될 수 있다는 것이 손쉽게 이해될 것이다. 따라서, 다양한 실시예들의 하기 설명은 본 개시의 범위를 제한하려는 것이 아니라, 단지 다양한 실시예들을 나타낼 뿐이다. 실시예들의 다양한 태양들이 도면들에 제시될 수 있지만, 명확히 지시되지 않는 한 도면들은 반드시 일정한 축척으로 작성된 것은 아니다.

또한, 도시되고 설명되는 특정 구현예들은 단지 예일 뿐이며, 본 명세서에서 달리 명시되지 않는 한 본 개시를 구현하는 유일한 방법으로 해석되지 않아야 한다. 요소들, 회로들 및 기능들은 불필요한 상세로 본 개시를 모호하게 하지 않기 위해 블록도 형태로 도시될 수 있다. 반대로, 도시되고 설명된 특정 구현예들은 단지 예시적인 것일 뿐이며, 본 명세서에서 달리 명시되지 않는 한 본 개시를 구현하는 유일한 방법으로 해석되지 않아야 한다. 또한, 블록 정의들 및 다양한 블록들 사이의 논리의 분할은 특정 구현을 예시한다. 본 개시가 많은 다른 분할 솔루션에 의해 실시될 수 있다는 것을 이 분야의 통상의 기술자가 손쉽게 알 수 있을 것이다. 대부분, 타이밍 고려 사항 등에 관한 상세들은, 그러한 상세들이 본 개시의 완전한 이해를 얻는 데 필요하지 않고 관련 분야의 통상의 기술자의 능력 내에 있는 경우 생략되었다.

이 분야의 통상의 기술자는 정보 및 신호가 다양한 상이한 기술들 및 기법들 중 임의의 것을 사용하여 표현될 수 있다는 것을 이해할 것이다. 몇몇 도면들은 프레젠테이션 및 설명의 명료함을 위해 신호들을 단일 신호로서 예시할 수 있다. 신호는 신호들의 버스를 표현할 수 있으며, 여기서 버스는 다양한 비트 폭들을 가질 수 있고 본 개시는 단일 데이터 신호를 포함한 임의의 수의 데이터 신호에 대해 구현될 수 있다는 것이 이 분야의 통상의 기술자에 의해 이해될 것이다.

본 명세서에 개시된 실시예들과 관련하여 설명된 다양한 예시적인 논리 블록들, 모듈들 및 회로들은 범용 프로세서, 특수 목적 프로세서, 디지털 신호 프로세서(DSP), 집적 회로(IC), 주문형 집적 회로(ASIC), 필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이(FPGA) 또는 다른 프로그래밍 가능 논리 디바이스, 개별 게이트 또는 트랜지스터 논리, 개별 하드웨어 컴포넌트들, 또는 본 명세서에 설명된 기능들을 수행하도록 설계된 이들의 임의의 조합을 이용하여 구현되거나 수행될 수 있다. 범용 프로세서(본 명세서에서 호스트 프로세서 또는 간단히 호스트로 또한 지칭될 수 있음)는 마이크로프로세서일 수 있지만, 대안에서, 프로세서는 임의의 종래의 프로세서, 컨트롤러, 마이크로컨트롤러 또는 상태 머신일 수 있다. 프로세서는 또한 컴퓨팅 디바이스들의 조합, 예컨대 DSP와 마이크로프로세서의 조합, 복수의 마이크로프로세서, DSP 코어와 관련한 하나 이상의 마이크로프로세서, 또는 임의의 다른 그러한 구성으로서 구현될 수 있다. 프로세서를 포함하는 범용 컴퓨터는 특수 목적 컴퓨터로 간주되는 반면, 범용 컴퓨터는 본 개시의 실시예들과 관련된 컴퓨팅 명령어들(예를 들어, 소프트웨어 코드)을 실행하도록 구성된다.

실시예들은 플로차트, 흐름도, 구조도, 또는 블록도로서 묘사되는 프로세스의 관점에서 설명될 수 있다. 플로차트가 동작 액트들을 순차적인 프로세스로서 설명할 수 있지만, 이러한 액트들 중 다수는 다른 시퀀스로, 병렬로, 또는 실질적으로 동시에 수행될 수 있다. 게다가, 액트들의 순서는 재배열될 수 있다. 프로세스는 방법, 스레드, 기능, 절차, 서브루틴, 서브프로그램, 다른 구조, 또는 그들의 조합들에 대응할 수 있다. 또한, 본 명세서에 개시된 방법들은 하드웨어, 소프트웨어 또는 둘 모두로 구현될 수 있다. 소프트웨어로 구현되는 경우, 기능들은 컴퓨터-판독 가능 매체에 하나 이상의 명령어 또는 코드로서 저장되거나 송신될 수 있다. 컴퓨터-판독 가능 매체는 컴퓨터 저장 매체와, 한 장소로부터 다른 장소로의 컴퓨터 프로그램의 전송을 용이하게 하는 임의의 매체를 포함한 통신 매체 둘 모두를 포함한다.

"제1", "제2" 등과 같은 명칭을 사용한 본 명세서에서의 요소에 대한 임의의 언급은 그러한 요소들의 수량 또는 순서를 제한하지 않는다 - 그러한 제한이 명시적으로 언급되지 않는 한 -. 오히려, 이러한 명칭들은 본 명세서에서 둘 이상의 요소 또는 요소의 인스턴스들을 구별하는 편리한 방법으로서 사용될 수 있다. 따라서, 제1 및 제2 요소들에 대한 언급은 2개의 요소만이 거기에서 이용될 수 있거나 제1 요소가 소정 방식으로 제2 요소에 선행해야 한다는 것을 의미하지 않는다. 또한, 달리 언급되지 않는 한, 요소들의 세트는 하나 이상의 요소를 포함할 수 있다.

본 명세서에서 사용되는 바와 같이, 주어진 파라미터, 특성 또는 조건과 관련한 용어 "실질적으로"는, 이 분야의 통상의 기술자가 이해할 정도로, 주어진 파라미터, 특성 또는 조건이 예를 들어 허용 가능한 제조 공차들 이내와 같은 적은 정도의 변동을 갖고서 충족되는 것을 의미하고 포함한다. 예로서, 실질적으로 충족되는 특정 파라미터, 특성 또는 조건에 따라, 파라미터, 특성 또는 조건은 적어도 90% 충족되거나, 적어도 95% 충족되거나, 심지어 적어도 99% 충족될 수 있다.

자동차, 트럭, 버스, 선박 및/또는 항공기와 같은 비히클(vehicle)이 비히클 통신 네트워크를 포함할 수 있다. 비히클 통신 네트워크의 복잡성은 네트워크 내의 전자 디바이스들의 수에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 진보된 비히클 통신 네트워크는 예를 들어 엔진 제어, 변속기 제어, 안전 제어(예를 들어, 잠김 방지 제동) 및 배기가스 제어를 위한 다양한 제어 모듈을 포함할 수 있다. 이러한 모듈을 지원하기 위해, 자동차 산업은 다양한 통신 프로토콜에 의존한다.

10SPE(즉, 10 Mbps 단일 쌍 이더넷)는 사양 IEEE 802.3cg™로서 IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)에 의해 현재 개발 중인 네트워크 기술 사양이다. 10SPE는 멀티-드롭 네트워크에서 충돌 없는 결정론적 송신을 제공하는 데 사용될 수 있다. IEEE802.3cg™는 자동차 센서들, 오디오, 다른 디바이스들, 또는 이들의 조합들과 함께 사용하기 위한 10BASE-T1S("cg"로도 알려짐)를 정의하고 있다. 10BASE-T1S는 또한 백플레인들 및 사물 인터넷(IoT) 네트워크들에서 사용될 수 있다. cg 사양은 PLCA(Physical Layer Collision Avoidance)를 갖는 CSMA(Carrier Sense Multiple Access)를 사용하는 10 Mbps(megabits per second) 멀티-드롭 버스를 타겟으로 한다.

유선 근거리 네트워크들(예를 들어, 이더넷)이 사용되는 소정 환경들에서, 신호에 대한 적절한 샘플링 위상을 신속하게 식별하는 것이 바람직할 수 있다. 멀티-샘플링에 기초한 디지털 클록 및 데이터 복구(CDR)(DCDR)에 대해, 허용 가능한 샘플링 위상(예를 들어, 최상의 샘플링 위상)을 결정하기 위해 비교적 많은 양의 훈련 데이터가 전형적으로 필요하다. 관례적으로, 점대점 링크들에 대한 CDR은 상이한 인코딩 스킴들을 사용하고, 링크업 전의 확장된 디지털 신호 처리(DSP) 훈련 기간에 의존한다. 그러나, 10SPE 프레임 구조는 SYNC 패턴이 앞에 붙은 프레임 프리앰블을 포함하며, SYNC 패턴은 단지 10개의 심볼(예를 들어, 차동 맨체스터 인코딩(DME) 코드에서, 이때 하나의 심볼은 약 40 나노초임)만을 포함한다. 그 결과, 10SPE 프레임 프리앰블은 최상의 샘플링 위상을 찾기 위해 종래의 CDR 훈련을 위한 충분한 데이터를 갖지 않는다. 문제를 더욱 복잡하게 만들어, 10SPE는 공통 모드 간섭을 생성하도록 의도되고(예를 들어, 높은 공통 모드 생성 이벤트들) 이더넷 디바이스들이 통과하도록 요구될 수 있는 엄격한 테스트들(예를 들어, 벌크 전류 주입(BCI) 및 직접 전력 주입(DPI) 테스트들)을 포함한다. 10SPE 프레임 프리앰블의 짧음으로 인해, 수 개의 심볼(예를 들어, 10개 이하의 심볼) 이내에 최상의 샘플링 위상을 찾는 것이 바람직하다.

본 명세서에 개시된 실시예들은 비교적 잡음이 많고 비교적 높은 레벨의 간섭을 갖는 조건들에서 빠르고(예를 들어, 10개 심볼 이하 이내에) 신뢰성 있는 CDR을 가능하게 하며, 이는 본 명세서에 개시된 실시예들을 자동차 환경에 대한 10SPE T1S에 적합하게 만든다. 예를 들어, 본 명세서에 개시된 실시예들은 개선된 지터/간섭 허용오차를 위해 10SPE에 수반되는 멀티-샘플링에 기초한 DCDR에 관한 것이다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시예들은 수 개의 비트들/심볼들 안에 신호 및 클록으로부터의 데이터의 복구를 가능하게 한다. 그 결과, 본 명세서에 개시된 실시예들은 매우 잡음이 많은 환경(예를 들어, 자동차 환경)에서의 강건하고 신뢰성 있는 CDR, 엄격한 BCI 및 DPI 자동차 테스트들의 통과, 및 약 10개 심볼 이하 이내에(예를 들어, 8개 심볼, 6개 심볼 이내에, 또는 심지어 3개 또는 4개 심볼 이내에) 최상의 샘플링 위상의 결정을 가능하게 하여, DCDR이 올바르게 작동하고 전체 10SPE 프레임을 복구할 수 있게 한다. 수 개의 심볼 이내에 최상의 샘플링 위상을 찾기 위해서 종래의 훈련 스테이지들을 대체하기 위해 2개의 상이한 해결책이 본 명세서에서 개시된다.

본 명세서에 개시된 실시예들은 수신 신호들을 오버샘플링하기 위해 직교 클록들을 사용한다. 오버샘플링은 비트들(예를 들어, 심볼들)의 경계들을 식별하기 위해 DCDR에 의해 사용된다. 수 개의 심볼 이내에 DCDR에 대한 최상의 초기 위상을 찾기 위해서, 종래의 시스템들에서 사용되는 훈련 스테이지를 대체하기 위해 위상 검색 블록이 도입된다. 위상 검색 블록은 각각의 샘플링 위상의 에지들의 수를 카운트하고, 최대 에지들을 갖는 위상을 초기 위상으로서 선택한다. 이러한 회로를 이용하여, DCDR 초기 위상은 10개 심볼(예를 들어, 비트 시간) 이하 이내에 설정될 수 있다. 이것은 DCDR이 프리앰블의 시작에 의해(예를 들어, 프리앰블 전에 SYNC 패턴의 비트들을 사용하여 - 10 SPE 프레임 내에 2개의 SYNC가 존재하며, 첫 번째 SYNC 이내에 잠금을 획득하는 것이 도움이 되는데, 왜냐하면 두 번째 SYNC가 4B5B 디코딩을 위한 5B 경계를 결정하는 데 사용되기 때문임) 잠길 수 있게 하며, 이는 DCDR이 완전한 프레임을 디코딩할 수 있게 한다. 이것은 유용한데, 왜냐하면 프리앰블 시간이 승산 디스크램블러를 동기화하는 데 사용되고 OAM(Operation Administration Management) 필드에 대해 미래에 사용될 수 있기 때문이다.

도 1은 몇몇 실시예들에 따른, 링크 계층 디바이스 MAC, 공유 송신 매체(106), 및 물리 계층(PHY) 디바이스 PHY(102)를 포함하는 네트워크 세그먼트(100)의 기능 블록도이다. 비제한적인 예들로서, 네트워크 세그먼트(100)는 멀티-드롭 네트워크의 세그먼트, 멀티-드롭 서브-네트워크의 세그먼트, 혼합 매체 네트워크의 세그먼트, 또는 이들의 조합 또는 이들의 하위 조합일 수 있다. 비제한적인 예로서, 네트워크 세그먼트(100)는, 제한 없이, 마이크로컨트롤러-유형 내장 시스템, 사용자-유형 컴퓨터, 컴퓨터 서버, 노트북 컴퓨터, 태블릿, 핸드헬드 디바이스, 모바일 디바이스, 무선 이어버드 디바이스 또는 헤드폰 디바이스, 유선 이어버드 또는 헤드폰 디바이스, 기기 서브-시스템, 조명 서브-시스템, 사운드 서브-시스템, 건물 제어 시스템, (예를 들어, 제한 없이, 보안 또는 유틸리티 사용을 위한) 시스템 주택 모니터링 시스템, 엘리베이터 시스템 또는 서브-시스템, (예를 들어, 제한 없이, 지상 열차, 지하 열차, 트롤리 또는 버스를 위한) 대중 교통 제어 시스템, 자동차 시스템 또는 자동차 서브-시스템, 또는 산업 제어 시스템 중 하나 이상이거나, 그의 일부이거나, 그를 포함할 수 있다.

PHY(102)는 MAC(104)와 인터페이스하도록 구성될 수 있다. 비제한적인 예로서, PHY(102) 및/또는 MAC(104)는 본 명세서에 설명된 실시예들의 전부 또는 부분들을 수행하도록 구성된 논리 및/또는 메모리를 포함하는 칩 패키지일 수 있다. 비제한적인 예로서, PHY(102) 및 MAC(104)는, 각각, 별개의 칩 패키지들 또는 단일 칩 패키지(예를 들어, SIP(system-in-a-package)) 내의 회로부(예를 들어, 집적 회로)로서 구현될 수 있다.

PHY(102)는 또한, PHY(102) 및 MAC(104)를 포함하는 노드를 비롯하여, 네트워크 세그먼트(100), 또는 네트워크 세그먼트(100)가 일부인 네트워크의 일부인 노드들에 대한 통신 경로인 물리적 매체인, 공유 송신 매체(106)와 인터페이스한다. 비제한적인 예로서, 공유 송신 매체(106)는 단일 쌍 이더넷을 위해 사용되는 것과 같은 단일 트위스트 쌍(예를 들어, 비차폐 트위스트 쌍 또는 UTP)일 수 있다.

네트워크 세그먼트(100)는 몇몇 실시예들에서 자동차 환경에서 사용될 수 있다. 비제한적인 예로서, 네트워크 세그먼트(100)는 비히클 내의 하나 이상의 센서를 컴퓨터 또는 컨트롤러에 접속하도록 구성될 수 있다. 또한 비제한적인 예로서, PHY(102)는 10BASE-T1S 엔드포인트들 및 스위치들에서 사용될 수 있다.

차동 맨체스터 인코딩(DME)이 클록 및 데이터를 인코딩하는 데 사용된다. PHY(102)는 때때로 공유 송신 매체(106)를 통해 수신될 수 있는, 하나 이상의 그러한 인코딩된 신호의 수신기로서의 역할을 할 수 있다. 수신 신호의 클록 및 데이터는 디코딩된다. 10SPE 시스템들에서, CDR을 가능하게 하기 위한 훈련을 위해 어떠한 시간 또는 패턴도 제공되지 않을 수 있다. 따라서, PHY(102)는 적절한 샘플 위상을 신속하게 식별하도록 구성될 필요가 있다.

도 2는 몇몇 실시예들에 따른, 아이 다이어그램(200)이다. 아이 다이어그램(200)은 상이한 논리 레벨들에 대응하는 상이한 전압 레벨들 사이에서 상승 및 하강하는 신호(206)를 포함한다. 도 2에 예시된 예에서, 신호(206)는 논리 레벨 하이 및 논리 레벨 로우를 포함하는 2개의 전압 사이에서 전이하도록 구성된다.

PHY(102)(도 1)가 신호(206)를 수신할 때, PHY(102)는 신호(206)를 샘플링하여, 신호(206)가 신호(206)에 의해 운반되는 각각의 심볼에 대해 논리 레벨 하이에 있는지 또는 논리 레벨 로우에 있는지를 결정한다. 신호(206)를 샘플링할 때, 최상의 샘플링 위상은 각각의 심볼의 중심(202)에 있을 것이다. 중심(202)은 심볼의 에지(204)가 알려지거나 검출되고 각각의 심볼의 시간 길이가 알려질 경우 결정될 수 있다.

본 명세서에 개시된 실시예들은 신호(206)의 오버샘플링을 통해 수신 신호(206) 내의 심볼들의 에지(204)의 검출을 가능하게 한다. 비제한적인 예로서, 4배 멀티-샘플링이 사용될 수 있다(심볼당 4개의 샘플). 그 결과, 4개의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d)이 신호(206)를 샘플링하는 데 사용될 수 있다. 일단 검출되면, 에지(204)는 4개의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d) 중 어느 것이 중심(202) 부근에 있을 수 있는지를 추정하는 데 사용될 수 있다.

도 2에 예시된 바와 같이, 몇몇 실시예들에서 샘플 위상들(a, b, c, d)은 시간상 실질적으로 동일하게 이격될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 그러나, 몇몇 실시예들에서, 샘플 위상들(a, b, c, d)은 본 명세서에 개시된 실시예들로부터 벗어남이 없이 동일하지 않은 시간 간격들로 이격될 수 있다.

도 3은 몇몇 실시예들에 따른, 심볼 샘플링 도면(300)이다. 심볼 샘플링 도면(300)은 신호(302)를 포함한다. 신호(302)는 심볼들(304, 306, 308, 310, 312, 314, 316)을 포함한다. 이전에 논의된 바와 같이, 신호(302)는 멀티-샘플링될 수 있다(예를 들어, 심볼당 하나 초과의 샘플). 도 3의 예에서, 신호(302)는 샘플 위상들(a, b, c, d)로 4배 멀티-샘플링된다(심볼당 4개의 샘플). 샘플 위상(a)은 심볼들(304-316) 각각으로부터 하나의 샘플 값을 갖는다. 그 결과, a = [a0 a1 a2 a3 a4 a5 a6 ...]이다. 유사하게, 샘플 위상들(b, c 및 d)은 각각 심볼들(304-316) 각각으로부터 하나의 샘플 값을 갖는다. 그 결과, b = [b0 b1 b2 b3 b4 b5 b6 ...]이고, c = [c0 c1 c2 c3 c4 c5 c6 ...]이고, d = [d0 d1 d2 d3 d4 d5 d6 ...]이다.

중심 샘플 위상이 결정될 수 있도록 샘플 위상들(a, b, c 및 d) 중 어느 것이 에지 샘플 위상인지를 찾기 위한 두 가지 상이한 해결책이 본 명세서에서 제안된다.

도 4는 몇몇 실시예들에 따른, 복수의 상이한 샘플 위상(예를 들어, 도 3의 a, b, c 및 d)으로부터 신호(예를 들어, 도 3의 신호(302))의 샘플 위상(예를 들어, 중심 샘플 위상)을 선택하는 방법(400)을 예시하는 플로차트이다. 도 3 및 도 4를 함께 참조하면, 동작(402)에서, 방법(400)은, 유선 근거리 네트워크(예를 들어, 도 1의 네트워크 세그먼트(100))의 물리 계층의 회로부(예를 들어, 도 1의 PHY(102))로, 복수의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d)을 갖는 복수의 심볼(304-316)을 포함하는 신호(302)를 샘플링하여, 복수의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d) 각각에서 복수의 심볼(304-316) 각각의 샘플 값들(a0-d6)을 획득한다. 신호(302)는 PHY(102)(도 1)에 동작 가능하게 결합된 공유 송신 매체(106)로부터 수신된다.

동작(404)에서, 방법(400)은 샘플 값들(a0-d6)에 기초하여 심볼들(304 316)의 에지들에 대응하는 복수의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d) 중의 에지 샘플 위상을 결정한다. 도 5 및 도 6에 대한 아래의 논의들이 함께 에지 샘플 위상을 결정하는 제1 방법(600)을 예시한다. 도 7, 도 8 및 도 9에 대한 아래의 논의들이 함께 에지 샘플 위상을 결정하는 제2 방법(800, 900)의 2개의 서브세트들을 예시한다.

동작(406)에서, 방법(400)은 결정된 에지 샘플 위상에 기초하여 심볼들의 중심들에 대응하는 복수의 상이한 샘플 위상 중의 중심 샘플 위상을 결정한다. 몇몇 실시예들에서, 에지 샘플 위상에 기초하여 심볼들(304-316)의 중심들에 대응하는 복수의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d) 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 것은 중심 샘플 위상을 에지 샘플 위상으로부터 심볼 시간 길이의 대략 1/2인 샘플 위상인 것으로 결정하는 것을 포함한다. 비제한적인 예로서, 에지 샘플 위상이 a인 것으로 결정되는 경우, b 또는 c가 중심 샘플 위상인 것으로 결정될 수 있다. 또한 비제한적인 예로서, 에지 샘플 위상이 샘플 위상 d인 것으로 결정되는 경우, b 또는 c가 중심 샘플 위상인 것으로 결정될 수 있다.

동작(408)에서, 방법(400)은 동작(406)의 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 심볼들의 값들을 결정한다. 비제한적인 예로서, b가 중심 샘플 위상인 것으로 결정되는 경우, 심볼들(304-316)의 값들은 b = [b0 b1 b2 b3 b4 b5 b6 ...]인 것으로 결정될 수 있다. 또한 비제한적인 예로서, c가 중심 샘플 위상인 것으로 결정되는 경우, 심볼들(304-316)의 값들은 c = [c0 c1 c2 c3 c4 c5 c6 ...]인 것으로 결정될 수 있다.

도 5는 몇몇 실시예들에 따른, 다른 심볼 샘플링 도면(500)이다. 심볼 샘플링 도면(500)은 도 3의 신호(302), 심볼들(304 316), 샘플링 위상들(a, b, c, d), 및 샘플링 값들(a0-d6)을 포함한다. 또한, 도 5는 샘플링 값들(a0-d6)에 대한 값들을 나타낸다. 예를 들어, a = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, b = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, c = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, d = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이다. 샘플링된 논리 레벨 하이는 "1"에 의해 표현되고, 샘플링된 논리 레벨 로우는 "-1"에 의해 표현된다는 점에 유의한다. 도 5 및 도 6의 목적들을 위해, 미리 결정된 값이 논리 레벨 하이를 표현하는 데 사용될 수 있고, 미리 결정된 값의 음수가 논리 레벨 로우를 표현하는 데 사용될 수 있다는 점에 또한 유의해야 한다.

에지 샘플 위상은 각각의 샘플링 위상(a, b, c, d)에서 에지를 카운트함으로써 결정될 수 있다. 이것은 도 6의 방법(600)을 사용하여 달성될 수 있다.

도 6은 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 방법(600)을 예시하는 플로차트이다. 도 5 및 도 6을 함께 참조하면, 동작(602)에서, 방법(600)은, 복수의 상이한 샘플 위상(a, b, c, d) 중의 각각의 샘플 위상에 대해, 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들과 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들 사이의 배타적 논리합(XOR) 계산을 수행한다. 예를 들어, 각각의 샘플링 위상의 에지는 샘플 위상에 바로 선행하는 샘플 위상에 대응하여 결정될 수 있다. 보다 구체적으로, 하기가 계산될 수 있으며:

● e(a,n) = a(n) XOR d(n-1)

● e(b,n) = b(n) XOR a(n)

● e(c,n) = c(n) XOR b(n)

● e(d,n) = d(n) XOR c(n)

여기서 e(x,n)은, 비트 n에 대한, 샘플 위상 x의 에지 계산을 나타낸다.

e(a,n) = a(n) XOR d(n-1)의 계산 결과는 [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [* 1 -1 1 1 -1 1 ...]을 계산함으로써 획득되며, 이는 e(a,n) = [* 1 1 0 1 1 1 ...]을 야기하고, 여기서 "*"는 미지의 값을 나타낸다. e(b,n) = b(n) XOR a(n)의 계산 결과는 [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]을 계산함으로써 획득되며, 이는 e(b,n) = [0 0 0 0 0 0 0 ...]을 야기한다. e(c,n) = c(n) XOR b(n)의 계산 결과는 [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]을 계산함으로써 획득되며, 이는 e(c,n) = [0 0 0 0 0 0 0 ...]을 야기한다. e(d,n) = d(n) XOR c(n)의 계산 결과는 [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]을 계산함으로써 획득되며, 이는 e(d,n) = [0 0 0 0 0 0 0 ...]을 야기한다.

동작(604)에서, 방법(600)은 각각의 샘플링 위상에 대한 총 에지 수를 획득하기 위해 각각의 XOR 계산에 대한 결과들을 합산한다. 각각의 샘플 위상(a, b, c, d)에 대한 총 에지 수는 sum(e(x) = e(x,1)+e(x,2)+e(x,3)+...에 의해 주어지는, e(x)(예를 들어, e(a,n), e(b,n), e(c,n), e(d,n)) 내의 요소들 각각의 합을 취함으로써 주어진다. 예를 들어, 샘플 위상(a)에 대한 총 에지 수는 1+1+0+1+1+1 = 5에 의해 주어지는, e(a,n) = [- 1 1 0 1 1 1] 내의 요소들의 합을 취함으로써 주어진다. 샘플 위상들(b, c, d)에 대한 총 에지 수들은, 각각이 [0 0 0 0 0 0 0]인, e(b,n), e(c,n), 및 e(d,n) 내의 요소들 각각의 합을 취함으로써 주어지고, 그 결과 b, c 및 d 각각에 대한 총 에지 수들은 0과 동일하다([0 0 0 0 0 0 0]의 합은 0이다).

동작(606)에서, 방법(600)은 에지 샘플 위상을 각각의 XOR 계산에 대한 결과들의 최고 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정한다. XOR 계산들의 결과들의 최고 합은 이 경우에 샘플 위상(a)에 대응하기 때문에(e(b,n)의 합 = 0, e(c,n)의 합 = 0, 및 e(d,n)의 합 = 0에 비해 e(a,n)의 합 = 5), 샘플 위상(a)은 에지 샘플 위상인 것으로 결정된다.

도 5와 관련하여 위에서 논의된 예에서, 각각의 샘플 위상(a, b, c, d)의 샘플 값들은 시간상 샘플 위상에 바로 선행하는 샘플 위상의 샘플 값들과 XOR되었다(즉, a(n)은 d(n-1)과 XOR되었고, b(n)은 a(n)과 XOR되었고, c(n)은 b(n)과 XOR되었고, d(n)은 c(n)과 XOR되었다는 점에 유의해야 한다. 다시 말해서, 몇몇 실시예들에서 동작(602)은 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들과 시간상 샘플 위상에 바로 선행하는 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들 사이의 XOR 계산을 수행하는 것을 포함한다.

그러나, 몇몇 실시예들에서, 각각의 샘플 위상(a, b, c, d)의 샘플 값들은 시간상 샘플 위상에 바로 후행하는 샘플 위상의 샘플 값들과 XOR될 수 있다(즉, a(n)은 b(n)과 XOR될 수 있고, b(n)은 c(n)과 XOR될 수 있고, c(n)은 d(n)과 XOR될 수 있고, d(n)은 a(n+1)과 XOR될 수 있다). 그러한 실시예들에서, e(a,n) = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] = [0 0 0 0 0 0 0 ...]이고, e(b,n) = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] = [0 0 0 0 0 0 0 ...]이고, e(c,n) = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] = [0 0 0 0 0 0 0 ...]이고, e(d,n) = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...] XOR [-1 1 1 -1 1 -1 * ...] = [1 1 0 1 1 1 * ...]이다. 그 결과, 샘플 위상들(a, b, c, d) 각각에 대한 합들(e(x))은 각각 0, 0, 0 및 5이다. 이 경우에, d가 에지 샘플 위상인 것으로 선택된다. 다시 말해서, 몇몇 실시예들에서 동작(602)은 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들과 시간상 샘플 위상에 바로 후행하는 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들 사이의 XOR 계산을 수행하는 것을 포함한다. +/-1이 논리 레벨들 하이/로우를 각각 나타내는 데 사용되지만, 본 명세서에 개시된 실시예들로부터 벗어남이 없이 +/-1 이외의 임의의 값들이 +/-1 대신에 사용될 수 있다(예를 들어, +/-2, +/-3)는 점에 유의해야 한다. e(x,n)은 XOR 계산을 사용하여 결정되기 때문에, 본 개시의 실시예들로부터 벗어남이 없이 "1" 및 "0"이 +/-1 대신에 신호(302)를 나타내는 데 사용될 수 있다는 점에 또한 유의해야 한다.

도 7은 몇몇 실시예들에 따른, 또 다른 심볼 샘플링 도면(700)이다. 심볼 샘플링 도면(700)은 도 3의 신호(302)를 포함한다. 신호(302)는 도 3의 심볼들(304-316), 샘플링 위상들(a, b, c, d), 및 샘플링 값들(a0-d6)을 포함한다. 또한, 도 7은 도 5와 유사한 샘플링 값들(a0-d6)에 대한 값들을 나타낸다. 예를 들어, a = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, b = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, c = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이고, d = [1 -1 1 1 -1 1 -1 ...]이다.

에지 샘플 위상은 각각의 샘플 위상(a, b, c, d)에서의 심볼 시간의 절대 합을 계산함으로써 결정될 수 있다. 이것은 도 8의 방법(800) 또는 도 9의 방법(900)을 사용하여 달성될 수 있다.

도 8은 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 다른 방법(800)을 예시하는 플로차트이다. 도 7 및 도 8을 함께 참조하면, 동작(802)에서, 방법(800)은, 복수의 상이한 샘플 위상 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합을 획득한다. 복수의 합 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응한다. 예를 들어, 복수의 합은 다음과 같이 표현될 수 있다:

● sum(a,n) = a(n)+b(n)+c(n)+d(n)

● sum(b,n) = b(n)+c(n)+d(n)+a(n+1)

● sum(c,n) = c(n)+d(n)+a(n+1)+b(n+1)

● sum(d,n) = d(n)+a(n+1)+b(n+1)+c(n+1)

동작(804)에서, 방법(800)은 복수의 상이한 샘플 위상 각각에 대한 복수의 합 각각의 절대 값을 결정하여 복수의 상이한 샘플 위상 각각에 대한 복수의 절대 값을 획득한다. 그 결과, 복수의 절대 값은 다음과 같이 표현될 수 있다:

● s(a,n) = abs(sum(a,n))

● s(b,n) = abs(sum(b,n))

● s(c,n) = abs(sum(c,n))

● s(d,n) = abs(sum(d,n))

각각의 샘플 주파수 및 각각의 심볼에 대한 이러한 절대 값 계산을 수행하는 것은, 도 7의 하위 4개의 열에 도시된 바와 같이, 다음의 복수의 절대 값을 야기한다:

● s(a,0)=4, s(a,1)=4, s(a,2)=4, s(a,3)=4, s(a,4)=4, s(a,5)=4, s(a,6)=4

● s(b,0)=2, s(b,1)=2, s(b,2)=4, s(b,3)=2, s(a,4)=2, s(b,5)=2, s(b,6)=2

● s(c,0)=0, s(c,1)=0, s(c,2)=4, s(c,3)=0, s(a,4)=0, s(c,5)=0, s(c,6)=0

● s(d,0)=2, s(d,1)=2, s(d,2)=4, s(d,3)=2, s(a,4)=2, s(d,5)=2, s(d,6)=2

동작(806)에서, 방법(800)은 복수의 상이한 샘플 위상 각각에 대한 복수의 절대 값의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합을 획득하며, 절대 값들의 복수의 합 각각은 복수의 상이한 샘플 위상 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응한다. 절대 값들의 복수의 합 각각은 sum(x) = s(x,1)+s(x,2)+s(x,3)+...로서 주어질 수 있으며, 여기서 x는 a, b, c 또는 d이다. 각각의 샘플 위상(a, b, c, d)에 대한 절대 값들의 복수의 합은 아래와 같다:

● 샘플 위상(a)의 절대 값들의 합: 4+4+4+4+4+4+4 = 28

● 샘플 위상(b)의 절대 값들의 합: 2+2+4+2+2+2+2 = 16

● 샘플 위상(c)의 절대 값들의 합: 0+0+4+0+0+0+0 = 4

● 샘플 위상(d)의 절대 값들의 합: 2+2+4+2+2+2+2 = 16

동작(808)에서, 방법(800)은 에지 샘플 위상을 절대 값들의 복수의 합 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정한다. 다시 말해서, 절대 값들의 최대 합을 갖는 샘플링 위상은 에지 샘플 위상일 가능성이 가장 크다. 위에서 논의된 예에서, 절대 값들의 최대 합은 샘플 위상(a)에 대응하는, 28이다. 따라서, 이 예에서, 샘플 위상(a)은 에지 샘플 위상인 것으로 선택된다.

도 8의 방법(800)은, 동작(802)에서, 샘플 값 및 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 사용하여 샘플 값들의 복수의 합을 획득한다는 점에 유의해야 한다. 그 결과, 동작(808)에서 결정된 에지 샘플 위상은 심볼 에지에 후행하는 첫 번째 샘플 위상이다. 몇몇 실시예들에서, 샘플 값 및 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 사용하기보다는, 샘플 값 및 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합이 샘플 값들의 복수의 합을 획득하는 데 사용될 수 있다는 점에 또한 유의해야 한다. 아래의 도 9는 그러한 실시예들에 관한 것이다.

도 9는 몇몇 실시예들에 따른, 에지 샘플 위상을 결정하는 또 다른 방법(900)을 예시하는 플로차트이다. 도 9의 방법(900)은 동작(902)이 동작(802)을 대체한다는 점을 제외하고는 도 8의 방법(800)과 유사하다. 동작(902)에서, 방법(900)은, 복수의 상이한 샘플 위상 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합을 획득한다. 도 8의 동작(802)과 유사하게, 복수의 합 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응한다. 그러나, 도 8의 방법(800)과는 대조적으로, 동작(902)은 샘플 값 및 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 사용하기 때문에, 도 9의 동작(808)에서, 결정된 에지 샘플 위상은 각각의 심볼 이내에 발생하는 마지막 샘플 위상일 것이다. 도 7에 예시된 예에서, 에지 샘플 위상은 샘플 위상(d)인 것으로 결정될 것이다.

도 10은 몇몇 실시예들에 따른, 물리 계층 디바이스(1000)의 블록도이다. 몇몇 실시예들에서, PHY(102)(도 1)는 물리 계층 디바이스(1000)를 구현할 수 있다. 물리 계층 디바이스(1000)는 공유 송신 매체(106)(도 1)로부터 신호(1002)를 수신하도록 구성된 입력(1004)(예를 들어, 물리 계층 디바이스(1000)를 포함하는 반도체 디바이스 패키지의 핀)을 포함한다. 물리 계층 디바이스(1000)는 중심 샘플 위상(1016)을 사용하여 신호(1002) 및 샘플 신호(1002)의 중심 샘플 위상(1016)을 검출하도록 구성된다.

물리 계층 디바이스(1000)는 공유 송신 매체(106)로부터 물리 계층 디바이스(1000)의 입력(1004)으로 전달될 수 있는, 신호(1002)를 수신하도록 구성된 샘플링 회로부(1006)를 포함한다. 샘플링 회로부(1006)는 복수의 상이한 샘플 위상(1022)에서 신호(1002)의 샘플 값들(1008)을 측정하고 샘플 값들(1008)을 에지 검출기(1010)에 제공하도록 구성된다.

에지 검출기(1010)는 샘플링 회로부(1006)로부터 샘플 값들(1008)을 수신하고, 샘플 값들(1008)에 적어도 부분적으로 기초하여 복수의 상이한 샘플 위상(1022)으로부터 에지 샘플 위상(1012)을 결정하도록 구성된다. 예를 들어, 에지 검출기(1010)는 도 6의 방법(600), 도 8의 방법(800), 또는 도 9의 방법(900)을 사용하여 에지 샘플 위상(1012)을 결정하도록 구성될 수 있다. 에지 검출기(1010)는 에지 샘플 위상(1012)을 중심 검출기(1014)에 제공하도록 구성된다.

중심 검출기(1014)는 에지 검출기(1010)로부터 에지 샘플 위상(1012)을 수신하고, 에지 샘플 위상(1012)에 적어도 부분적으로 기초하여 중심 샘플 위상(1016)을 결정하도록 구성된다. 샘플링 회로부(1018)는 신호(1002)의 중심 샘플 값들(1020)을 제공하도록 구성된다. 몇몇 실시예들에서, 샘플링 회로부(1018)는 샘플링 회로부(1006)에 의해 제공되는 샘플 값들(1008)을 사용하도록 구성되며, 이는 샘플링 회로부(1018)가 신호(1002)를 리샘플링함이 없이 단지 중심 샘플 위상(1016)에 대응하는 샘플 값들(1008)의 것들을 선택함으로써 중심 샘플 값들(1020)을 식별할 수 있게 한다. 몇몇 실시예들에서, 샘플링 회로부(1018)는 중심 검출기(1014)에 의해 표시되는 중심 샘플 위상(1016)에서 신호(1002)를 리샘플링하도록 구성된다.

몇몇 실시예들에서, 물리 계층 디바이스(1000)는 물리 계층 디바이스(1000)의 동작들을 수행하도록 구성된 하나 이상의 프로세서를 포함한다. 몇몇 실시예들에서, 물리 계층 디바이스(1000)의 일부 또는 전부는 하나 이상의 데이터 저장 디바이스에 의해 저장되고 처리 회로부(도 11의 컴퓨팅 디바이스(1100) 참조)에 의해 실행되는 소프트웨어 또는 펌웨어를 사용하여 구현될 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 물리 계층 디바이스(1000)의 일부 또는 전부는 조합 논리와 같은 전기 하드웨어 컴포넌트를 사용하여 구현될 수 있다. 비제한적인 예로서, 물리 계층 디바이스(1000)의 일부 또는 전부는 필드 프로그래머블 게이트 어레이(FPGA), 프로그래머블 논리 컨트롤러(PLC), 다른 논리 디바이스, 또는 이들의 조합을 사용하여 구현될 수 있다.

도 11은 몇몇 실시예들에서 사용될 수 있는 컴퓨팅 디바이스(1100)의 블록도이다. 컴퓨팅 디바이스(1100)는 하나 이상의 데이터 저장 디바이스(1104)(때때로 본 명세서에서 "저장소"(1104)로 지칭됨)에 동작 가능하게 결합된 하나 이상의 프로세서(1102)(때때로 본 명세서에서 "프로세서"(1102)로 지칭됨)를 포함한다. 저장소(1104)는 그에 저장된 컴퓨터-판독 가능 명령어들을 포함한다. 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 프로세서들(1102)에게 본 명세서에 개시된 실시예들의 동작들을 수행하라고 명령하도록 구성된다. 예를 들어, 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 프로세서(1102)에게 도 4의 방법(400), 도 6의 방법(600), 도 8의 방법(800), 및/또는 도 9의 방법(900)의 적어도 일부 또는 전체를 수행하라고 명령하도록 구성될 수 있다. 다른 예로서, 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 프로세서(1102)에게 도 1의 부분 PHY(102)에 대해 논의된 동작들의 적어도 일부 또는 전체를 수행하라고 명령하도록 구성될 수 있다. 추가 예로서, 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 프로세서(1102)에게 도 10의 물리 계층 디바이스(1000)에 대해 논의된 동작들의 적어도 일부 또는 전체를 수행하라고 명령하도록 구성될 수 있다. 특정한 비제한적인 예로서, 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 프로세서(1102)에게 복수의 상이한 샘플 위상들을 사용하여 공유 송신 매체로부터 수신된 신호를 샘플링하고, 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하고, 에지 샘플 위상에 기초하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하라고 명령하도록 구성될 수 있다.

본 개시에서 사용된 바와 같이, 용어 "모듈" 또는 "컴포넌트"는 모듈 또는 컴포넌트의 액션을 수행하도록 구성된 특정 하드웨어 구현 및/또는 컴퓨팅 시스템의 범용 하드웨어(예를 들어, 컴퓨터-판독 가능 매체, 처리 디바이스 등)에 저장되고/되거나 그에 의해 실행될 수 있는 소프트웨어 객체 또는 소프트웨어 루틴을 지칭할 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 본 개시에 설명된 상이한 컴포넌트들, 모듈들, 엔진들, 및 서비스들은 컴퓨팅 시스템 상에서 실행되는 객체들 또는 프로세스들로서(예를 들어, 개별 스레드들로서) 구현될 수 있다. 본 개시에 설명된 시스템 및 방법들 중 일부가 일반적으로 (범용 하드웨어에 저장되고/되거나 그에 의해 실행되는) 소프트웨어로 구현되는 것으로 설명되지만, 특정 하드웨어 구현 또는 소프트웨어와 특정 하드웨어 구현의 조합이 또한 가능하고 고려된다.

본 개시에서 그리고 특히 첨부된 청구항(예컨대, 첨부된 청구항의 본문)에서 사용되는 용어는 일반적으로 "개방형" 용어로서 의도된다(예컨대, 용어 "포함하는"은 "~를 포함하지만, 이로 제한되지 않는"으로 해석되어야 하고, 용어 "갖는"은 "적어도 ~를 갖는"으로 해석되어야 하고, 용어 "포함하다"는 "~를 포함하지만, 이로 제한되지 않는다"로 해석되어야 하는 등등이다).

또한, 도입된 청구항 열거의 특정 수가 의도되는 경우, 그러한 의도는 그 청구항에 명시적으로 열거될 것이며, 그러한 열거의 부재 시에 그러한 의도는 존재하지 않는다. 예를 들어, 이해를 돕기 위해, 하기의 첨부된 청구항들은 청구항 열거를 도입하기 위해 도입 문구 "적어도 하나" 및 "하나 이상"의 사용을 포함할 수 있다. 그러나, 그러한 문구의 사용은 부정관사("a" 또는 "an")에 의한 청구항 열거의 도입이 그러한 도입된 청구항 열거를 포함하는 임의의 특정 청구항을, 동일 청구항이 도입 문구 "하나 이상" 또는 "적어도 하나" 및 "a" 또는 "an"과 같은 부정관사를 포함하는 경우에도, 하나의 그러한 열거만을 포함하는 실시예로 제한한다는 것을 암시하는 것으로 해석되지 않아야 하며(예컨대, "a" 및/또는 "an"은 "적어도 하나" 또는 "하나 이상"을 의미하는 것으로 해석되어야 함); 이는 청구항 열거를 도입하는 데 사용되는 정관사의 사용에 대해 적용된다.

또한, 도입된 청구항 열거의 특정 수가 명시적으로 열거될지라도, 당업자는 그러한 열거가 적어도 열거된 수를 의미하는 것으로 해석되어야 한다는 것을 인식할 것이다(예컨대, 다른 수식어가 없는, "2개의 열거"의 꾸밈이 없는 열거는 적어도 2개의 열거 또는 2개 이상의 열거를 의미한다). 더욱이, "A, B 및 C 중 적어도 하나 등" 또는 "A, B 및 C 중 하나 이상 등"과 유사한 규약이 사용되는 그러한 경우에, 일반적으로 그러한 구성은 A 단독, B 단독, C 단독, A 및 B 함께, A 및 C 함께, B 및 C 함께, 또는 A, B 및 C 함께 등을 포함하는 것으로 의도된다.

또한, 설명에서든, 청구항에서든, 또는 도면에서든, 2개 이상의 대안적인 용어를 제시하는 임의의 이접 단어 또는 문구는 용어들 중 하나, 용어들 중 어느 하나, 또는 둘 모두의 용어를 포함하는 가능성을 고려하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, 문구 "A 또는 B"는 "A" 또는 "B" 또는 "A 및 B"의 가능성을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

예들

예시적인 실시예들의 총망라하는 것이 아닌, 비제한적인 목록이 뒤따른다. 아래에 열거된 예시적인 실시예들 각각은 아래에 열거된 예시적인 실시예들 및 위에서 논의된 실시예들 중 다른 것들 모두와 조합 가능한 것으로 개별적으로 표시되지 않는다. 그러나, 이들 예시적인 실시예는, 실시예들이 조합 가능하지 않다는 것이 당업자에게 명백하지 않는 한, 모든 다른 예시적인 실시예들 및 위에서 논의된 실시예들과 조합 가능한 것으로 의도된다.

예 1: 물리 계층 디바이스로서, 유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 수신하도록 구성된 입력; 및 하나 이상의 프로세서들을 포함하고, 하나 이상의 프로세서들은, 복수의 상이한 샘플 위상들을 사용하여 신호를 샘플링하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하고; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서의 복수의 심볼들 각각의 획득된 샘플 값들에 응답하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하고; 결정된 에지 샘플 위상에 응답하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하고; 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 복수의 심볼들 각각의 값들을 결정하도록 구성되는, 물리 계층 디바이스.

예 2: 하나 이상의 프로세서들은, 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 각각의 샘플 위상에 대해, 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들과 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들 사이의 배타적 논리합(XOR) 계산을 수행하고; 각각의 XOR 계산에 대한 결과들을 합산하고; XOR 계산에 대한 결과들의 최고 합에 대응하도록 에지 샘플 위상을 결정함으로써 에지 샘플 위상을 결정하도록 구성되는, 예 1의 물리 계층 디바이스.

예 3: 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상은 시간상 샘플 위상에 바로 선행하는 선행 샘플 위상을 포함하는, 예 2의 물리 계층 디바이스.

예 4: 하나 이상의 프로세서들은, 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 합들 중의 각각의 합의 절대 값을 결정하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하고; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 절대 값들의 복수의 합들 각각은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 에지 샘플 위상을 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하도록 구성됨으로써 에지 샘플 위상을 결정하는, 예 1의 물리 계층 디바이스.

예 5: 하나 이상의 프로세서들은, 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 합들 중의 각각의 합의 절대 값을 결정하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하고; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 절대 값들의 복수의 합들 각각은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 에지 샘플 위상을 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하도록 구성됨으로써 에지 샘플 위상을 결정하는, 예 1의 물리 계층 디바이스.

예 6: 복수의 상이한 샘플 위상들은 실질적으로 동일한 시간 간격들로 이격되는, 예 1 내지 예 5 중 어느 한 예에 따른 물리 계층 디바이스.

예 7: 신호의 샘플 값들을 결정하도록 구성된 샘플링 회로부; 샘플 값들에 적어도 부분적으로 기초하여 에지 샘플 위상을 결정하도록 구성된 에지 검출기; 및 결정된 에지 샘플 위상에 적어도 부분적으로 기초하여 중심 샘플 위상을 결정하도록 구성된 중심 검출기를 추가로 포함하는, 예 1 내지 예 6 중 어느 한 예에 따른 물리 계층 디바이스.

예 8: 하나 이상의 프로세서들에 동작 가능하게 결합된 컴퓨터-판독 가능 매체를 추가로 포함하며, 컴퓨터-판독 가능 매체는 그에 저장된 컴퓨터-판독 가능 명령어들을 갖고, 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 하나 이상의 프로세서들에게 예 1의 방법의 적어도 일부를 수행하라고 명령하도록 구성되는, 예 1 내지 예 7 중 어느 한 예에 따른 물리 계층 디바이스.

예 9: 복수의 상이한 샘플 위상들로부터 신호의 샘플 위상을 선택하는 방법으로서, 복수의 상이한 샘플 위상들을 갖는 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 샘플링하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하는 단계 - 신호는 유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 수신됨 -; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서의 복수의 심볼들 각각의 획득된 샘플 값들에 응답하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계; 결정된 에지 샘플 위상에 응답하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 단계; 및 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 심볼들의 값들을 결정하는 단계를 포함하는, 방법.

예 10: 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 단계는 중심 샘플 위상을 결정된 에지 샘플 위상으로부터 심볼 시간 길이의 대략 1/2인 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 예 9의 방법.

예 11: 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는, 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 각각의 샘플 위상에 대해, 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들과 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상에 대응하는 샘플 값들의 것들 사이의 배타적 논리합(XOR) 계산을 수행하는 단계; 각각의 XOR 계산에 대한 결과들을 합산하는 단계; 및 에지 샘플 위상을 XOR 계산에 대한 결과들의 최고 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 예 9 또는 예 10에 따른 방법.

예 12: 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상은 시간상 샘플 위상에 바로 선행하는 선행 샘플 위상을 포함하는, 예 11의 방법.

예 13: 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는, 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 합들 각각의 절대 값을 결정하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하는 단계; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 절대 값들의 복수의 합들 각각은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 및 에지 샘플 위상을 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 예 9 또는 예 10에 따른 방법.

예 14: 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는, 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 각각 및 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 합들 각각의 절대 값을 결정하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하는 단계; 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 절대 값들의 복수의 합들 각각은 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -; 및 에지 샘플 위상을 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 예 9 또는 예 10에 따른 방법.

예 15: 복수의 상이한 샘플 위상들의 수는 4개의 상이한 샘플 위상들을 포함하고, 중심 샘플 위상은 시간상 에지 샘플 위상에 바로 선행하는 2개의 샘플 위상들 중 하나이도록 선택되는, 예 14의 방법.

예 16: 비일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체로서, 컴퓨터-판독 가능 저장 매체는 명령어들을 포함하고, 명령어들은, 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행될 때, 하나 이상의 프로세서들로 하여금, 복수의 상이한 샘플 위상들을 갖는 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 샘플링하여 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하고 - 신호는 유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 수신됨 -; 샘플 값들에 기초하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하고; 결정된 에지 샘플 위상에 기초하여 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하고; 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 심볼들의 값들을 결정하게 하는, 비일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체.

결론

본 개시가 소정의 예시된 실시예들과 관련하여 본 명세서에서 설명되었지만, 이 분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그런 식으로 제한되지 않는다는 것을 인지 및 인식할 것이다. 오히려, 예시되고 설명된 실시예들에 대한 많은 추가, 삭제 및 수정이 그의 법적 등가물과 함께 이하에서 청구되는 바와 같은 본 발명의 범위로부터 벗어남이 없이 이루어질 수 있다. 또한, 하나의 실시예로부터의 특징들은 본 발명자에 의해 고려되는 바와 같은 본 발명의 범위 내에 여전히 포함되면서 다른 실시예의 특징들과 조합될 수 있다.

Claims (16)

1. 물리 계층 디바이스로서,
   유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 수신하도록 구성된 입력; 및
   하나 이상의 프로세서들을 포함하고, 상기 하나 이상의 프로세서들은,
   복수의 상이한 샘플 위상들을 사용하여 상기 신호를 샘플링하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 상기 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하고,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서의 상기 복수의 심볼들 각각의 상기 획득된 샘플 값들에 응답하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하고,
   상기 결정된 에지 샘플 위상에 응답하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하고,
   상기 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 상기 복수의 심볼들 각각의 값들을 결정하도록 구성되는, 물리 계층 디바이스.
2. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 프로세서들은,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 각각의 샘플 위상에 대해, 샘플 위상에 대응하는 상기 샘플 값들의 것들과 상기 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상에 대응하는 상기 샘플 값들의 것들 사이의 배타적 논리합(XOR) 계산을 수행하고,
   각각의 XOR 계산에 대한 결과들을 합산하고,
   상기 XOR 계산에 대한 결과들의 최고 합에 대응하도록 상기 에지 샘플 위상을 결정함으로써
   상기 에지 샘플 위상을 결정하도록 구성되는, 물리 계층 디바이스.
3. 제2항에 있어서, 상기 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 상기 샘플 위상은 시간상 상기 샘플 위상에 바로 선행하는 선행 샘플 위상을 포함하는, 물리 계층 디바이스.
4. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 프로세서들은,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 상기 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 상기 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 합들 중의 각각의 합의 절대 값을 결정하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하고,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 상기 절대 값들의 복수의 합들 각각은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
   에지 샘플 위상을 상기 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하도록
   구성됨으로써 상기 에지 샘플 위상을 결정하는, 물리 계층 디바이스.
5. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 프로세서들은,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 샘플 값 및 상기 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 상기 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 합들 중의 각각의 합의 절대 값을 결정하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하고,
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하고 - 상기 절대 값들의 복수의 합들 각각은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
   상기 에지 샘플 위상을 상기 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하도록
   구성됨으로써 상기 에지 샘플 위상을 결정하는, 물리 계층 디바이스.
6. 제1항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들은 실질적으로 동일한 시간 간격들로 이격되는, 물리 계층 디바이스.
7. 제1항에 있어서,
   상기 신호의 상기 샘플 값들을 결정하도록 구성된 샘플링 회로부;
   상기 샘플 값들에 적어도 부분적으로 기초하여 상기 에지 샘플 위상을 결정하도록 구성된 에지 검출기; 및
   상기 결정된 에지 샘플 위상에 적어도 부분적으로 기초하여 상기 중심 샘플 위상을 결정하도록 구성된 중심 검출기를 추가로 포함하는, 물리 계층 디바이스.
8. 제1항에 있어서, 상기 하나 이상의 프로세서들에 동작 가능하게 결합된 컴퓨터-판독 가능 매체를 추가로 포함하며, 상기 컴퓨터-판독 가능 매체는 그에 저장된 컴퓨터-판독 가능 명령어들을 갖고, 상기 컴퓨터-판독 가능 명령어들은 상기 하나 이상의 프로세서들에게 상기 하나 이상의 프로세서들의 기능들의 적어도 일부를 수행하라고 명령하도록 구성되는, 물리 계층 디바이스.
9. 복수의 상이한 샘플 위상들로부터 신호의 샘플 위상을 선택하는 방법으로서,
   복수의 상이한 샘플 위상들을 갖는 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 샘플링하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 상기 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하는 단계 - 상기 신호는 유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 수신됨 -;
   상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서의 상기 복수의 심볼들 각각의 상기 획득된 샘플 값들에 응답하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하는 단계;
   상기 결정된 에지 샘플 위상에 응답하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 단계; 및
   상기 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 상기 심볼들의 값들을 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
10. 제9항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하는 단계는 상기 중심 샘플 위상을 상기 결정된 에지 샘플 위상으로부터 심볼 시간 길이의 대략 1/2인 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
11. 제9항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상기 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 각각의 샘플 위상에 대해, 상기 샘플 위상에 대응하는 상기 샘플 값들의 것들과 상기 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 샘플 위상에 대응하는 상기 샘플 값들의 것들 사이의 배타적 논리합(XOR) 계산을 수행하는 단계,
    각각의 XOR 계산에 대한 결과들을 합산하는 단계, 및
    상기 에지 샘플 위상을 상기 XOR 계산에 대한 상기 결과들의 최고 합에 대응하는 상기 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
12. 제11항에 있어서, 상기 샘플 위상에 시간상 바로 인접한 상기 샘플 위상은 시간상 상기 샘플 위상에 바로 선행하는 선행 샘플 위상을 포함하는, 방법.
13. 제9항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상기 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 상기 샘플 값 및 상기 샘플 값에 후행하는 하나의 심볼 기간 이내의 다른 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 상기 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 상기 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 합들 각각의 절대 값을 결정하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하는 단계,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 상기 절대 값들의 복수의 합들 각각은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -, 및
    상기 에지 샘플 위상을 상기 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
14. 제9항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상기 에지 샘플 위상을 결정하는 단계는,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각의 각각의 샘플 값에 대해, 상기 샘플 값 각각 및 상기 샘플 값에 선행하는 하나의 심볼 기간 이내의 상기 샘플 값들 각각의 합을 계산하여 상기 샘플 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 상기 복수의 합들 중의 각각의 하나의 합은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 합들 각각의 절대 값을 결정하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 복수의 절대 값들을 획득하는 단계,
    상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에 대한 상기 복수의 절대 값들의 합을 계산하여 절대 값들의 복수의 합들을 획득하는 단계 - 상기 절대 값들의 복수의 합들 각각은 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 상이한 하나의 샘플 위상에 대응함 -, 및
    상기 에지 샘플 위상을 상기 절대 값들의 복수의 합들 중 최대 합에 대응하는 샘플 위상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는, 방법.
15. 제14항에 있어서, 상기 복수의 상이한 샘플 위상들의 수는 4개의 상이한 샘플 위상들을 포함하고, 상기 중심 샘플 위상은 시간상 상기 에지 샘플 위상에 바로 선행하는 2개의 샘플 위상들 중 하나이도록 선택되는, 방법.
16. 비일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체로서, 상기 컴퓨터-판독 가능 저장 매체는 명령어들을 포함하고, 상기 명령어들은, 하나 이상의 프로세서들에 의해 실행될 때, 상기 하나 이상의 프로세서들로 하여금,
    복수의 상이한 샘플 위상들을 갖는 복수의 심볼들을 포함하는 신호를 샘플링하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 각각에서 상기 복수의 심볼들 각각의 샘플 값들을 획득하고 - 상기 신호는 유선 근거리 네트워크의 공유 송신 매체로부터 수신됨 -;
    상기 샘플 값들에 기초하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 에지 샘플 위상을 결정하고;
    상기 결정된 에지 샘플 위상에 기초하여 상기 복수의 상이한 샘플 위상들 중의 중심 샘플 위상을 결정하고;
    상기 결정된 중심 샘플 위상을 사용하여 상기 심볼들의 값들을 결정하게 하는, 비일시적 컴퓨터-판독 가능 저장 매체.

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