KR20220052074A - Oled 소자 수명 예측 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 다양한 테스트 조건으로 OLED 소자의 수명을 측정하여 예측할 수 있는 것으로서, 이를 위하여 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 조건 설정부와, 상기 테스트 조건에 설정된 주파수와 듀티에 따른 펄스폭 변조 신호를 발생시키는 신호 생성부와, 상기 신호 생성부에서 발생된 펄스폭 변조 신호에 의거하여 전원을 챔버의 OLED 소자에 인가하는 구동 전원 공급부와, 상기 전원의 인가에 따라 상기 OLED 소자의 전류값, 전압값 및 휘도값 중 적어도 하나 이상을 측정하는 측정부와, 상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 OLED 소자의 수명을 예측하며, 상기 로그 데이터 생성 시점에 따라 상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 로그 데이터를 생성하며, 상기 예측한 수명과 상기 수명 예측 종료 시점을 토대로 상기 수명 예측을 위한 측정을 중지시키는 중앙 제어부를 포함하는 OLED 소자 수명 예측 시스템을 제공할 수 있다.

Description

OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법{Method and system for predicting a lifetime of Organic Light Emitting Diodes}
본 발명은 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법에 관한 것이다.
OLED(Organic Light Emitting Diodes) 디스플레이는 LCD와 비교해서 응답속도가 빠르고, 시인성(視認性)이 우수하며, 박형화(페이퍼화)가 가능한 점 등 디스플레이로서의 우위성은 물론 높은 잠재력으로 많은 주목을 받고 있다.
OLED는 유기재료에 전계를 가하여 전기에너지를 광에너지로 바꿔주는 소자를 일컬으며, 이의 기본 원리는 유기물 박막(저분자 혹은 고분자)에서 음극과 양극을 통해 주입된 전자(electron)와 정공(hole)이 재결합되고 이때 생성되는 여기자(exciton)가 바닥상태(ground state)로 되돌아가면서 특정 파장의 빛을 발광한다.
이러한 OLED는 전류가 흐르면서 발광하는 저분자(Small Module) 혹은 고분자(Poymer) 유기물로서 별도의 발광장치(Back Light)가 필요한 LCD와 비교하여 경량화, 박형화가 가능하고, 또한 시야각의 제한이 없는 것은 물론 Flexible 기판까지 적용할 수 있어 미래 디스플레이로 손색이 없다.
또한, OLED는 자체발광소자이고 경량 박형이 가능하며, LCD에 비하여 시야각과 Contrast 그리고 Response Time이 우수한 장점이 있어서 차세대 디스플레이로 주목받고 있다.
OLED와 같은 디스플레이의 수명은 사용 시간에 따라 점진적으로 감소하거나 사용 시간에 따라 디스플레이에 인가되는 전압이 점진적으로 증가하는 특성이 있다.
디스플레이는 구동하기 시작하는 시점의 초기 휘도가 시간이 지남에 따라 감소하여 소정 시간이 되면 구동 시작 시 휘도의 반까지 감소하게 되며, 이때까지 걸리는 시간을 통상적으로 디스플레이 또는 발광소자의 수명이라고 한다.
이러한 디스플레이 디바이스 또는 발광소자의 수명은 장치의 상용화에 있어 가장 중요한 기준이 된다.
종래의 OLED 수명 예측 장치는 측정 디바이스에 다양한 조건을 가하며 장시간 동안 OLED에서 발광하는 빛의 변화량과 전기적 변화량을 측정하여 정상 조건에서의 예상 수명을 예측하는 장치이다.
그러나 종래의 OLED 수명 예측 장치는 OLED 수명 예측 시간이 너무 장시간이 소요되어 실제적인 상용화 가능성이 떨어지며, 수명 예측 정확도가 현저히 떨어지므로 신뢰성 있는 수명 예측 데이터를 획득하기 어려운 문제점이 있다.
특히, 최근에 다양한 분야에서 OLED 소자가 적용되면서, OLED 소자를 이용하여 제품을 생산하는 업체에서 다양한 조건에서의 OLED 수명 예측을 요청하는 경우가 빈번하게 발생되는데, 이에 대한 대처할 수 있는 기술이 전무한 실정이다.
대한민국 등록특허 제10-163591호(2016.06.28.등록.)
본 발명은 다양한 조건을 설정하여 OLED 소자의 수명을 측정하여 예측할 수 있는 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 다양한 조건과 OLED 수명 예측을 위한 세밀한 제어가 가능한 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 복수의 채널을 하나의 인터페이스로 제어 가능할 수 있는 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공한다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템은 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 조건 설정부와, 상기 테스트 조건에 설정된 주파수와 듀티에 따른 펄스폭 변조 신호를 발생시키는 신호 생성부와, 상기 신호 생성부에서 발생된 펄스폭 변조 신호에 의거하여 전원을 챔버의 OLED 소자에 인가하는 구동 전원 공급부와, 상기 전원의 인가에 따라 상기 OLED 소자의 전류값, 전압값 및 휘도값 중 적어도 하나 이상을 측정하는 측정부와, 상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 OLED 소자의 수명을 예측하며, 상기 로그 데이터 생성 시점에 따라 상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 로그 데이터를 생성하며, 상기 예측한 수명과 상기 수명 예측 종료 시점을 토대로 상기 수명 예측을 위한 측정을 중지시키는 중앙 제어부를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 조건 설정부는 1Hz 단위의 설정이 가능하고 1∼1,500Hz의 주파수 설정과 1% 단위의 설정이 가능하고 1∼99%까지의 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공할 수 있다.,
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 챔버에는 적어도 둘 이상의 OLED 소자가 장착되며, 상기 조건 설정부는 상기 OLED 소자별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하며, 상기 중앙 제어부는 상기 OLED 소자별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 상기 표시부에 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통한 사용자 조작에 따라 OLED 소자별로 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 조건 설정부는 적어도 둘 이상의 OLED 소자로 구성된 그룹별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하며, 상기 중앙 제어부는 상기 그룹별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 상기 표시부에 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통한 사용자 조작에 따라 그룹별로 OLED 소자를 별로 제어할 수 있다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 방법은 중앙 제어부에서 조건 설정부를 통해 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 단계와, 상기 테스트 조건에 설정된 주파수와 듀티에 따른 펄스폭 변조 신호를 발생시켜 챔버 내 OLED 소자에 전원을 공급시키는 단계와, 상기 전원의 인가에 따라 상기 OLED 소자의 전류값, 전압값 및 휘도값 중 적어도 하나 이상을 측정하는 단계와, 상기 로그 데이터 생성 시점에 따라 상기 측정된 값을 이용하여 로그 데이터를 생성하는 단계와, 상기 수명 예측 종료 시점에 맞춰서 상기 수명 예측을 위한 측정을 중지시키는 단계를 포함할 수 있다.
전술한 본 발명의 실시예에 따르면, 다양한 테스트 조건을 설정하여 OLED 소자의 수명을 측정하여 예측할 수 있는 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공함으로써, 사용자의 편의성을 제공할 수 있다,
또한, 전술한 본 발명의 실시예에 따르면, 다양한 조건과 OLED 수명 예측을 위한 세밀한 제어, 즉 주파수와 듀티 제어에 있어서 세밀한 제어가 가능한 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공함으로써, OLED 소자의 수명 예측에 있어서 정확도 및 정밀도를 높일 수 있다.
또한, 전술한 본 발명의 실시예에 따르면, 복수의 OLED 소자가 장착 가능하고 복수의 OLED 소자를 그룹화하여 관리하고 그룹별로 제어가 가능한 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법을 제공함으로써, 장비 운용자의 편의성을 증진시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자의 수명 예측 시스템의 구성을 간략하게 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템에서 제공되는 인터페이스 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템의 동작 과정을 도시한 흐름도이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시 형태를 설명하기로 한다. 이하의 상세한 설명은 본 명세서에서 기술된 방법, 장치 및/또는 시스템에 대한 포괄적인 이해를 돕기 위해 제공된다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 상세한 설명에서 사용되는 용어는 단지 본 발명의 실시예들을 기술하기 위한 것이며, 결코 제한적이어서는 안 된다. 명확하게 달리 사용되지 않는 한, 단수 형태의 표현은 복수 형태의 의미를 포함한다. 본 설명에서, "포함" 또는 "구비"와 같은 표현은 어떤 특성들, 숫자들, 단계들, 동작들, 요소들, 이들의 일부 또는 조합을 가리키기 위한 것이며, 기술된 것 이외에 하나 또는 그 이상의 다른 특성, 숫자, 단계, 동작, 요소, 이들의 일부 또는 조합의 존재 또는 가능성을 배제하도록 해석되어서는 안 된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템 및 방법에 대해 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자의 수명 예측 시스템의 구성을 간략하게 나타낸 도면이며, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템에서 제공되는 인터페이스 예시도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, OLED 소자 수명 예측 시스템(100)은 조건 설정부(110), 신호 생성부(120), 구동 전원 공급부(130), 챔버(140) 및 측정부(150), 중앙 제어부(160) 및 표시부(170) 등을 포함할 수 있다.
조건 설정부(110)는 OLED 소자의 수명 예측에 필요한 다양한 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하며, 인터페이스를 통해 설정된 테스트 조건에 따라 신호 생성부(120)를 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 조건 설정부(110)는 OLED 소자 성분, 즉 OLED 시료 성분, 전처리 여부, OLED 소자가 적용될 제품 종류, 제품이 이용되는 환경, 운영 모드, 로그 데이터 생성 기준, 수명 측정 종료 시점 등과 같은 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하며, 인터페이스를 통해 설정된 테스트 조건을 중앙 제어부(160)를 통해 메모리(170)에 저장시킬 수 있다.
테스트 조건 중 전처리 여부는 전처리, 즉 에이징 처리 여부를 설정하는 것을 의미할 수 있다. 즉, 전처리 여부는 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자가 에이징 처리를 거친 것인지의 여부를 설정하는 것을 의미할 수 있다.
운영 모드는 정전류(CC), 정전압(CV), 듀티 구동 전류(PC), 듀티 구동 전류 및 전압(PCV) 등을 설정하는 것을 의미할 수 있다.
특히, 본 발명의 실시예에서 테스트 조건 중 운영 모드는 듀티 구동 방식인 경우 주파수 및 듀티를 조정할 수 있는 인터페이스를 더 제공할 수 있다. 구체적으로, 운영 모드가 듀티 구동 방식인 듀티 구동 전류 및 듀티 구동 전류 및 전압인 경우 듀티 구동 전류와 듀티 구동 전류 및 전압의 주파수 및 듀티를 설정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있는데, 이때, 조건 설정부(110)는 주파수를 1Hz 스텝으로 10~ 1,500㎐(1.5㎑)까지 설정할 수 있을 뿐만 아니라 1% 단위로 1∼99%까지의 듀티를 설정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다.
또한, 로그 데이터 생성 기준은 측정부(150)에서 로그 데이터 생성 기준 시간을 의미할 수 있는데, 그 예로서 1시간인 경우 1분 간격을 의미할 수 있다. 이 경우, 측정부(150)는 1분 간격으로 로그 데이터를 생성하여 중앙 제어부(160)를 통해 메모리(170)에 저장할 수 있다.
한편, 테스트 조건 중 운영 모드에서 주파수와 듀티는 OLED 소자의 시료 성분 및 OLED 소자가 적용된 제품, 제품이 사용되는 환경 등에 따라 자동으로 설정될 수도 있다.
테스트 조건 중 수명 측정 종료 시점은 경과 시간 또는 OLED의 잔존 수명량인 퍼센트(디폴트로 50%)로 설정 가능할 수 있다.
신호 생성부(120)는 운영 모드가 정전류, 정전압 방식일 때 동작하는 정전압/전류 신호 발생 모듈(122) 및 듀티 구동 방식인 경우 동작하는 펄프 신호 발생 모듈(124) 등을 포함할 수 있다.
구동 전원 공급부(130)는 OLED를 구동시키기 위한 운영 모드에 해당하는 구동 전원을 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착되어 있는 OLED 소자로 공급할 수 있다.
운영 모드가 정전류 구동 방식인 경우, 정전압/정전압 신호 발생 모듈(122)은 일정한 전류가 공급되도록 하기 위한 신호를 구동 전원 공급부(130)에 인가할 수 있다.
운영 모드가 정전압 구동 방식인 경우, 정전압/정전압 신호 발생 모듈(122)은 일정한 전압이 공급되도록 하기 위한 신호를 구동 전원 공급부(130)에 인가할 수 있다.
운영 모드가 듀티 구동 방식인 경우, 펄스 신호 발생 모듈(124)은 주파수와 듀티에 따라 펄스폭 변조 신호를 구동 전원 공급부(130)에 인가할 수 있다. 이에 따라, 구동 전원 공급부(130)는 펄스폭 변조 신호에 대응되는 전류 및 전압을 OLED 소자에 공급할 수 있다.
측정부(150)는 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자에 전류를 측정하기 위한 전류 측정 모듈(152), 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자에 전압을 측정하기 위한 전압 측정 모듈(154) 및 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자에 휘도를 측정하기 위한 휘도 측정 모듈(156) 및 변환 모듈(158) 등을 포함할 수 있다.
휘도 측정 모듈(156)은 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자가 구동 전원 공급부(130)에서 공급되는 구동 전원에 의하여 구동하면 구동에 따른 빛의 세기인 휘도를 측정하는 것으로, 휘도 측정 모듈(156)의 구체적인 측정 방법은 공지된 기술이므로 상세한 설명을 생략한다.
이때, 변환 모듈(158)은 전류 측정 모듈(152), 전압 측정 모듈(154)에서 제공받은 아날로그 전류값과 전압값을 디지털 전류와 전압값으로 변환하며, 휘도 측정 모듈(156)에서 측정된 아날로그 휘도값을 디지털 휘도값으로 변환하여 중앙 제어부(160)에 전송할 수 있다.
중앙 제어부(160)는 변환 모듈(158)로부터 제공받은 전류, 전압 및 휘도를 메모리(162)에 저장하고, 전압, 전류 및 휘도 중 적어도 하나 이상을 이용하여 OLED 소자의 수명을 예측할 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 중앙 제어부(160)는 테스트 조건 중 로그 데이터 생성 기준을 기반으로 동작하여 로그 데이터, 즉 디지털 전류값, 전압값 및 디지털 휘도값 등과 테스트 조건 등을 포함하는 로그 데이터를 생성하여 표시부(170)에 표시할 수 있다.
또한, 중앙 제어부(160)는 예측된 수명과 수명 예측 종료 시점에 대한 데이터간의 비교를 통해 수명 예측 시스템(100)의 동작을 제어할 수 있다. 구체적으로, 중앙 제어부(160)는 예측한 수명이 수명 예측 종료 시점에 도달한 경우 수명 예측 시스템(100)의 동작을 중지시킬 수 있다.
중앙 제어부(160)는 수명 예측 종료 시점이 시간인 경우 수명 예측을 위한 측정이 시작되는 시점, 즉 구동 전원 공급부(130)이 동작되는 시점부터 카운터(164)를 동작시켜 카운터(164)의 카운터 값과 수명 예측 종료 시점인 시간과의 비교를 통해 수명 예측 종료 시점에 도달하였는지를 판단하며, 수명 예측 종료 시점에 도달한 경우 수명 예측 시스템(100)의 동작을 중지시킬 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 챔버(140)에는 복수의 채널, 즉 각기 다른 OLED 소자가 장착된 복수개의 OLED 장착부(142)로 구성될 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 실시예에 따른 구동 전원 공급부(130)는 복수개의 OLED 장착부(142)에 장착된 각각의 OLED 소자에 전원을 공급할 수 있다.
또한, 측정부(150)는 각각의 OLED 장착부(142)에 장착된 각각의 OLED 소자에 대한 측정, 즉 전압, 전류, 휘도 등을 측정하여 변환한 후 이를 중앙 제어부(160)에 제공할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 조건 설정부(110)는 OLED 소자별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 등의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다.
이에 따라, 중앙 제어부(160)는 OLED 소자별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 표시부(170)를 통해 제공하며, 사용자 인터페이스를 통한 사용자 조작에 따라 OLED 소자별로 수명 예측 동작 실행 및 중지 등의 제어를 수행할 수 있다.
이 경우, 사용자의 조작에 따라 특정 OLED 소자의 수명 예측 동작 실행을 선택할 경우 중앙 제어부(160)는 테스트 조건에 따라 해당 OLED 소자에 전원을 공급하기 위해 신호 생성부(120)를 제어함으로써, 구동 전원 공급부(130)를 통해 해당 OLED 소자가 장착된 OLED 장착부(142)에 전원을 공급하거나, 수명 예측 동작 중지가 선택될 경우 구동 전원 공급부(130)를 제어하여 해당되는 OLED 소자가 장착된 OLED 장착부(142)에 전원 공급을 차단시킬 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에서 중앙 제어부(160)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 적어도 둘 이상의 OLED 소자를 하나의 그룹으로 설정하고, 그룹별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 표시부(170)를 통해 제공할 수 있다.
이 경우, 조건 설정부(110)는 그룹별로 OLED 소자별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 등의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공할 수 있다.
사용자의 조작에 따라 특정 그룹의 수명 예측 동작 실행을 선택할 경우 중앙 제어부(160)는 테스트 조건에 따라 특정 그룹 내 각 OLED 소자에 전원을 공급하기 위해 신호 생성부(120)를 제어함으로써, 구동 전원 공급부(130)를 통해 특정 그룹의 OLED 소자가 장착된 OLED 장착부(142)에 전원을 공급하거나, 수명 예측 동작 중지가 선택될 경우 구동 전원 공급부(130)를 제어하여 특정 그룹의 OLED 소자에 전원 공급을 차단시킬 수 있다.
상술한 바와 같은 구성을 갖는 OLED 소자 수명 예측 시스템이 동작하는 과정에 대해 도 3을 참조하여 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 소자 수명 예측 시스템(100)의 동작 과정을 도시한 흐름도이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 중앙 제어부(160)는 조건 설정부(110)의 제어를 통해 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 표시부(170)에 제공한다(S300).
이때, 중앙 제어부(160)는 1Hz 단위의 설정이 가능하고 1∼1,500Hz의 주파수 설정과 1% 단위의 설정이 가능하고 1∼99%까지의 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 표시부(170)에 제공할 수 있다.
또한, 중앙 제어부(160)는 복수의 장착부(142)에 장착된 각각의 OLED 소자에 대해 각기 다른 주파수 설정 및 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 표시부(170)에 제공할 수 있다.
한편, 중앙 제어부(160)는 복수의 장착부(142)에 장착된 복수의 OLED 소자를 그룹화시켜 관리할 수 있는데, 즉 그룹별로 각기 다른 주파수 설정 및 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 표시부(170)에 제공할 수 있다.
또한, 중앙 제어부(160)는 테스트 조건으로 OLED 시료 성분, 사용 환경, 적용 제품 정보 등을 입력할 수 있는 인터페이스를 제공하며, 인터페이스를 통해 입력된 정보에 의거하여 자동으로 주파수 및 듀티를 설정할 수도 있다.
중앙 제어부(160)는 인터페이스를 통해 입력된 테스트 조건을 메모리(162)에 저장하여 다양한 OLED 수명 예측을 위한 데이터를 수집할 수 있다.
이를 통해, 중앙 제어부(160)는 테스트 조건으로 OLED 시료 성분, 사용 환경, 적용 제품 정보 등이 입력됨에 따라 입력된 정보에 대응되는 테스트 조건을 메모리(162)에서 검색하고, 검색한 테스트 조건 내 주파수 및 듀티 설정에 대한 정보를 표시부(170)를 통해 제공함으로써, 테스트 조건의 가이드 라인을 테스트 요청자에게 제공할 수 있다.
이후, 테스트 시작 요청(S302)이 있을 경우, 중앙 제어부(160)는 테스트 조건을 신호 발생부(120)에 제공하며, 신호 발생부(120)는 테스트 조건에 대응되는 펄스폭 변조 신호를 발생시켜(S304) 구동 전원 공급부(130)에 인가한다(S304).
이에 따라, 구동 전원 공급부(130)는 펄스폭 변조 신호에 의거하여 챔버(140)의 OLED 장착부(142)에 장착된 OLED 소자에 전원을 공급한다(S306).
이에 따라, 측정부(150)는 각 측정 모듈(152, 154, 156)을 통해 OLED 소자에 대한 전류값, 전압값 및 휘도값을 측정(S308)하고, 측정한 값을 변환 모듈(158)을 이용하여 디지털 값으로 변환한 후 이를 중앙 제어부(160)에 제공하여 메모리(162)에 저장시킨다.
이후, 중앙 제어부(160)는 로그 데이터 생성 시점에 맞춰서 메모리(162)에 저장된 데이터를 이용하여 로그 데이터를 생성한다(S310).
한편, 중앙 제어부(160)는 제공받은 데이터를 이용하여 OLED 소자의 수명 예측하고(S312), 예측한 수명과 수명 예측 종료 시점간의 비교를 통해 수명 예측 종료 시점에 도달하였는지를 판단한다(S314).
S314의 판단 결과, 수명 예측 종료 시점에 도달한 경우 중앙 제어부(160)는 수명 예측을 위한 측정을 중지(S316), 즉 신호 발생부(120)의 신호 발생을 중지시키거나 구동 전원 공급부(130)에 대한 제어를 통해 전원 공급을 중지시킨다.
상술한 바와 같은 본 발명의 실시예에 따르면, 수명 예측을 통해 측정을 중지하는 것으로 예를 들어 설명하였지만, 수명 예측 종료 시점이 시간으로 설정된 경우 측정 시간을 카운트하여 카운트한 측정 시간이 수명 예측 종료 시점이 시간에 도달하였는지를 판단하여 측정을 중지할 수도 있다.
한편, 첨부된 블록도의 각 블록과 흐름도의 각 단계의 조합들은 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들에 의해 수행될 수도 있다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 범용 컴퓨터, 특수용 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서에 탑재될 수 있으므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서를 통해 수행되는 그 인스트럭션들이 블록도의 각 블록에서 설명된 기능들을 수행하는 수단을 생성하게 된다.
이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 특정 방식으로 기능을 구현하기 위해 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 지향할 수 있는 컴퓨터 이용 가능 또는 컴퓨터 판독 가능 기록매체(또는 메모리) 등에 저장되는 것도 가능하므로, 그 컴퓨터 이용 가능 또는 컴퓨터 판독 가능 기록매체(또는 메모리)에 저장된 인스트럭션들은 블록도의 각 블록에서 설명된 기능을 수행하는 인스트럭션 수단을 내포하는 제조 품목을 생산하는 것도 가능하다.
그리고, 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에 탑재되는 것도 가능하므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에서 일련의 동작 단계들이 수행되어 컴퓨터로 실행되는 프로세스를 생성해서 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 수행하는 인스트럭션들은 블록도의 각 블록에서 설명된 기능들을 실행하기 위한 단계들을 제공하는 것도 가능하다.
또한, 각 블록은 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 적어도 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실시 예들에서는 블록들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능함을 주목해야 한다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 또는 그 블록들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.
100 : OLED 소자 수명 예측 시스템
110 : 조건 설정부
120 : 신호 발생부
130 : 구동 전원 공급부
140 : 챔버
150 : 측정부
160 : 중앙 제어부

Claims (6)

  1. 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 조건 설정부와,
    상기 테스트 조건에 설정된 주파수와 듀티에 따른 펄스폭 변조 신호를 발생시키는 신호 생성부와,
    상기 신호 생성부에서 발생된 펄스폭 변조 신호에 의거하여 전원을 챔버의 OLED 소자에 인가하는 구동 전원 공급부와,
    상기 전원의 인가에 따라 상기 OLED 소자의 전류값, 전압값 및 휘도값 중 적어도 하나 이상을 측정하는 측정부와,
    상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 OLED 소자의 수명을 예측하며, 상기 로그 데이터 생성 시점에 따라 상기 측정부에서 측정된 값을 이용하여 로그 데이터를 생성하며, 상기 예측한 수명과 상기 수명 예측 종료 시점을 토대로 상기 수명 예측을 위한 측정을 중지시키는 중앙 제어부를 포함하는 OLED 소자 수명 예측 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 조건 설정부는,
    1Hz 단위의 설정이 가능하고 1∼1,500Hz의 주파수 설정과 1% 단위의 설정이 가능하고 1∼99%까지의 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하는 OLED 소자 수명 예측 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 챔버에는 적어도 둘 이상의 OLED 소자가 장착되며,
    상기 조건 설정부는,
    상기 OLED 소자별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하며,
    상기 중앙 제어부는,
    상기 OLED 소자별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 상기 표시부에 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통한 사용자 조작에 따라 OLED 소자별로 제어하는 OLED 소자 수명 예측 시스템,
  4. 제3항에 있어서,
    상기 조건 설정부는,
    적어도 둘 이상의 OLED 소자로 구성된 그룹별로 듀티 구동 방식의 주파수와 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하며,
    상기 중앙 제어부는,
    상기 그룹별로 수명 예측 동작 실행 및 중지를 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 상기 표시부에 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통한 사용자 조작에 따라 그룹별로 OLED 소자를 별로 제어하는 OLED 소자 수명 예측 시스템,
  5. 중앙 제어부에서 조건 설정부를 통해 주파수와 듀티 설정이 가능한 듀티 구동 방식, OLED 소자의 시료 성분, 로그 데이터 생성 시점 및 수명 예측 종료 시점의 테스트 조건을 설정할 수 있는 인터페이스를 제공하는 단계와,
    상기 테스트 조건에 설정된 주파수와 듀티에 따른 펄스폭 변조 신호를 발생시켜 챔버 내 OLED 소자에 전원을 공급시키는 단계와,
    상기 전원의 인가에 따라 상기 OLED 소자의 전류값, 전압값 및 휘도값 중 적어도 하나 이상을 측정하는 단계와,
    상기 로그 데이터 생성 시점에 따라 상기 측정된 값을 이용하여 로그 데이터를 생성하는 단계와,
    상기 수명 예측 종료 시점에 맞춰서 상기 수명 예측을 위한 측정을 중지시키는 단계를 포함하는 OLED 소자 수명 예측 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 인터페이스를 제공하는 단계는,
    1Hz 단위의 설정이 가능하고 1∼1,500Hz의 주파수 설정과 1% 단위의 설정이 가능하고 1∼99%까지의 듀티 설정이 가능한 인터페이스를 제공하는 OLED 소자 수명 예측 방법.
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