KR20220029363A - 기판 커넥터 - Google Patents

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KR20220029363A
KR20220029363A KR1020210095753A KR20210095753A KR20220029363A KR 20220029363 A KR20220029363 A KR 20220029363A KR 1020210095753 A KR1020210095753 A KR 1020210095753A KR 20210095753 A KR20210095753 A KR 20210095753A KR 20220029363 A KR20220029363 A KR 20220029363A
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김동완
오상준
황현주
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엘에스엠트론 주식회사
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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/648—Protective earth or shield arrangements on coupling devices, e.g. anti-static shielding  
    • H01R13/658—High frequency shielding arrangements, e.g. against EMI [Electro-Magnetic Interference] or EMP [Electro-Magnetic Pulse]
    • H01R13/6581—Shield structure
    • H01R13/6582—Shield structure with resilient means for engaging mating connector
    • H01R13/6583—Shield structure with resilient means for engaging mating connector with separate conductive resilient members between mating shield members

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  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
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Abstract

본 발명은 RF(Radio Frequency)신호 전송을 위한 복수개의 RF컨택트; 상기 RF컨택트들을 지지하는 절연부; 상기 RF컨택트들 중에서 제1RF컨택트와 상기 RF컨택트들 중에서 제2RF컨택트가 제1축방향을 따라 서로 이격되도록 상기 제1RF컨택트와 상기 제2RF컨택트의 사이에서 상기 절연부에 결합된 복수개의 전송컨택트; 상기 절연부가 결합된 접지하우징; 상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제1접지컨택트; 및 상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제2접지컨택트를 포함하되, 상기 제1RF컨택트는 검사기구가 접촉되기 위한 제1RF검사평면을 포함하고, 상기 제2RF컨택트는 검사기구가 첩촉되기 위한 제2RF검사평면을 포함하는 기판 커넥터에 관한 것이다.

Description

기판 커넥터{Substrate Connector}
본 발명은 기판들 간의 전기적 연결을 위해 전자기기에 설치되는 기판 커넥터에 관한 것이다.
커넥터(Connector)는 전기적 연결을 위해 각종 전자기기에 마련되는 것이다. 예컨대, 커넥터는 휴대폰, 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터 등과 같은 전자기기에 설치되어서, 전자기기 내에 설치된 각종 부품을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
일반적으로 전자기기 중에서 스마트폰, 테블릿 PC 등 무선통신 기기의 내부에는 RF 커넥터, 및 기판 대 기판 커넥터(Board to Board Connector; 이하 '기판 커넥터'라 함)가 구비된다. RF 커넥터는 RF(Radio Frequency) 신호를 전달하는 것이다. 기판 커넥터는 카메라 등의 디지털 신호를 처리하는 것이다.
이러한 RF 커넥터와 기판 커넥터는 PCB(Printed Circuit Board)에 실장된다. 기존에는 한정된 PCB 공간에 다수의 부품과 함께 여러 개의 기판 커넥터와 RF 커넥터가 실장되므로, PCB 실장 면적이 커지게 되는 문제점이 있었다. 따라서, 스마트폰의 소형화 추세에 따라, RF 커넥터와 기판 커넥터를 일체화하여 적은 PCB 실장 면적으로 최적화하는 기술이 필요해지고 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 기판 커넥터에 대한 개략적인 사시도이다.
도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 제1커넥터(110), 및 제2커넥터(120)를 포함한다.
상기 제1커넥터(110)는 제1기판(미도시)에 결합되기 위한 것이다. 상기 제1커넥터(110)는 복수개의 제1컨택트(111)를 통해 상기 제2커넥터(120)에 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 제2커넥터(120)는 제2기판(미도시)에 결합되기 위한 것이다. 상기 제2커넥터(120)는 복수개의 제2컨택트(121)를 통해 상기 제1커넥터(110)에 전기적으로 연결될 수 있다.
종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 상기 제1컨택트(111)들 및 상기 제2컨택트(121)들이 서로 접속됨에 따라 상기 제1기판과 상기 제2기판을 전기적으로 서로 연결할 수 있다. 또한, 상기 제1컨택트(111)들 및 상기 제2컨택트(121)들 중에서 일부의 컨택트들을 RF신호 전송을 위한 RF컨택트들로 사용하는 경우, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 상기 RF컨택트를 통해 상기 제1기판과 상기 제2기판 간에 RF신호가 전송되도록 구현될 수 있다.
여기서, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 다음과 같은 문제가 있다.
첫째, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 상기 컨택트들(111, 121) 중에서 비교적 가까운 거리로 이격된 컨택트들을 상기 RF컨택트로 사용하는 경우, 상기 RF컨택트들(111＇, 111", 121＇, 121") 상호 간에 RF신호간섭으로 신호전달이 원활이 이루어 지지 않는 문제점이 있다.
둘째, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 커넥터 최외곽부에 RF신호 차폐부(112)가 있어, RF신호의 외부에 대한 방사는 차폐할 수 있으나, RF신호간의 차폐는 이루어지지 않는 문제점이 있다.
셋째, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)에 있어서 RF컨택트들(111', 111", 121', 121")은 각각 기판에 실장되는 실장부들(111a', 111a", 121a', 121a")을 포함하는데, 상기 실장부들(111a', 111a", 121a', 121a")이 외부로 노출되도록 배치된다. 이에 따라, 종래 기술에 따른 기판 커넥터(100)는 상기 실장부들(111a', 111a", 121a', 121a")에 대한 차폐가 이루어지지 않는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, RF컨택트들 간에 RF신호간섭이 발생할 가능성을 낮출 수 있는 기판 커넥터를 제공하기 위한 것이다.
상기와 같은 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 다음과 같은 구성을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 기판 커넥터는 RF(Radio Frequency)신호 전송을 위한 복수개의 RF컨택트; 상기 RF컨택트들을 지지하는 절연부; 상기 RF컨택트들 중에서 제1RF컨택트와 상기 RF컨택트들 중에서 제2RF컨택트가 제1축방향을 따라 서로 이격되도록 상기 제1RF컨택트와 상기 제2RF컨택트의 사이에서 상기 절연부에 결합된 복수개의 전송컨택트; 상기 절연부가 결합된 접지하우징; 상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제1접지컨택트; 및 상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제2접지컨택트를 포함할 수 있다. 상기 제1RF컨택트는 검사기구가 접촉되기 위한 제1RF검사평면을 포함할 수 있다. 상기 제2RF컨택트는 검사기구가 첩촉되기 위한 제2RF검사평면을 포함할 수 있다. 상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 도모할 수 있다.
본 발명은 접지하우징을 이용하여 RF컨택트들에 대한 신호, 전자파 등의 차폐기능을 구현할 수 있다. 이에 따라, 본 발명은 RF컨택트들로부터 발생된 전자파가 전자기기에서 주변에 위치한 회로부품들의 신호에 간섭되는 것을 방지할 수 있고, 전자기기에서 주변에 위치한 회로부품들로부터 발생된 전자파가 RF컨택트들이 전송하는 RF신호에 간섭되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명은 접지하우징을 이용하여 EMI(Electro Magnetic Interference) 차폐 성능, EMC(Electro Magnetic Compatibility) 성능을 향상시키는데 기여할 수 있다.
본 발명은 기판에 실장되는 부분을 포함한 RF컨택트들의 전부가 접지하우징의 내측에 위치하도록 구현될 수 있다. 이에 따라, 본 발명은 접지하우징을 이용하여 RF컨택트들에 대한 차폐기능을 강화하여 완전차폐를 실현할 수 있다.
본 발명은 검사기구가 접촉되기 위한 면적이 확보될 수 있도록 구현됨으로써, 검사기구와의 접촉에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명은 검사기구를 이용한 검사결과의 정확성을 향상시킬 수 있다.
본 발명은 검사기구가 접촉되는 면이 평면으로 형성되므로, 검사기구가 접촉되는 과정에서 슬립 등이 발생되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명은 검사기구에 대한 접촉 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 기판 커넥터에 대한 개략적인 사시도
도 2는 본 발명에 따른 기판 커넥터에 있어서 리셉터클 커넥터와 플러그 커넥터의 개략적인 사시도
도 3은 제1실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 사시도
도 4는 제1실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 분해 사시도
도 5는 제1실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 평면도
도 6은 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 컨택트들의 개략적인 평면도
도 7과 도 8은 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 컨택트의 검사평면을 확대하여 나타낸 개략적인 평면도
도 9는 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 컨택트들의 개략적인 평면도
도 10은 도 6의 I-I 선을 기준으로 하는 개략적인 단면도
도 11은 도 6의 Ⅱ-Ⅱ 선을 기준으로 하는 개략적인 단면도
도 12는 도 9의 Ⅲ-Ⅲ 선을 기준으로 하는 개략적인 단면도
도 13은 도 9의 Ⅵ-Ⅵ 선을 기준으로 하는 개략적인 단면도
도 14는 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 컨택트들의 배치에 대한 변형된 실시예를 나타낸 개략적인 평면도
도 15는 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 접지루프를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 16은 도 15의 A-A 선을 기준으로 하여 제1실시예에 따른 기판 커넥터와 제2실시예에 따른 기판 커넥터가 결합을 위해 서로 이격되어 배치된 모습을 나타낸 개략적인 측단면도
도 17은 제2실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 사시도
도 18은 제2실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 분해 사시도
도 19는 제2실시예에 따른 기판 커넥터의 개략적인 평면도
도 20은 제2실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 컨택트들의 개략적인 평면도
도 21은 제2실시예에 따른 기판 커넥터에 있어서 접지루프를 설명하기 위한 개념적인 평면도
이하에서는 본 발명에 따른 기판 커넥터의 실시예를 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다. 도 14에는 컨택트들에서 검사평면에 해당되는 부분의 위치가 점선 네모로 표시되어 있다. 도 16에는 제2실시예에 따른 기판 커넥터가 도 2와 도 17에 도시된 방향에서 반전(反轉)되어서 제1실시예에 따른 기판 커넥터에 결합된 모습으로 도시되어 있다. 도 16에는 제2실시예에 따른 기판 커넥터가 도 19의 B-B 선을 기준으로 하는 개략적인 측단면도로 도시되어 있다.
도 2를 참고하면, 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)는 휴대폰, 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터 등과 같은 전자기기(미도시)에 설치될 수 있다. 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)는 복수개의 기판(미도시)을 전기적으로 연결하는데 사용될 수 있다. 상기 기판들은 인쇄회로기판(PCB, Priinted Circuit Board)일 수 있다. 예컨대, 제1기판과 제2기판을 전기적으로 연결하는 경우, 상기 제1기판에 실장된 리셉터클 커넥터(Receptacle Connector) 및 상기 제2기판에 실장된 플러그 커넥터(Plug Connector)가 서로 접속될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1기판과 상기 제2기판은 리셉터클 커넥터와 상기 플러그 커넥터를 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1기판에 실장된 플러그 커넥터 및 상기 제2기판에 실장된 리셉터클 커넥터가 서로 접속될 수도 있다.
본 발명에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 리셉터클 커넥터로 구현될 수 있다. 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 플러그 커넥터로 구현될 수 있다. 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 리셉터클 커넥터와 상기 플러그 커넥터 모두를 포함하여 구현될 수도 있다. 이하에서는 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)가 상기 리셉터클 커넥터로 구현된 실시예를 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)로 규정하고, 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)가 상기 플러그 커넥터로 구현된 실시예를 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)로 규정하여 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)가 상기 제1기판에 실장되고, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)가 상기 제2기판에 실장되는 실시예를 기준으로 하여 설명한다. 이로부터 본 발명에 따른 기판 커넥터(1)가 상기 리셉터클 커넥터와 상기 플러그 커넥터 모두를 포함하는 실시예를 도출하는 것은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 자명할 것이다.
<제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)>
도 2 내지 도 4를 참고하면, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 복수개의 RF컨택트(210)들, 복수개의 전송컨택트(220)들, 접지하우징(230), 및 절연부(240)를 포함할 수 있다.
상기 RF컨택트(210)들은 RF(Radio Frequency)신호 전송을 위한 것이다. 상기 RF컨택트(210)들은 초고주파 RF신호를 전송할 수 있다. 상기 RF컨택트(210)들은 상기 절연부(240)에 지지될 수 있다. 상기 RF컨택트(210)들은 조립공정을 통해 상기 절연부(240)에 결합될 수 있다. 상기 RF컨택트(210)들은 사출성형을 통해 상기 절연부(240)와 일체 성형될 수도 있다.
상기 RF컨택트(210)들은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 RF컨택트(210)들은 상기 제1기판에 실장됨으로써, 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 RF컨택트(210)들은 상기 상대커넥터가 갖는 RF컨택트들에 접속됨으로써, 상기 상대커넥터가 실장된 상기 제2기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1기판과 상기 제2기판이 전기적으로 연결될 수 있다. 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)가 리셉터클 커넥터인 경우, 상기 상대커넥터는 플러그 커넥터일 수 있다. 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)가 플러그 커넥터인 경우, 상기 상대커넥터는 리셉터클 커넥터일 수 있다.
상기 RF컨택트(210)들 중에서 제1RF컨택트(211)와 상기 RF컨택트(210)들 중에서 제2RF컨택트(212)는 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격된 위치에서 상기 절연부(240)에 지지될 수 있다.
상기 제1RF컨택트(211)는 제1RF실장부재(2111)를 포함할 수 있다. 상기 제1RF실장부재(2111)는 상기 제1기판에 실장될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1RF컨택트(211)는 상기 제1RF실장부재(2111)를 통해 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(211)는 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제1RF컨택트(211)는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(211)는 상기 상대커넥터가 갖는 RF컨택트들 중에서 어느 하나에 접속될 수 있다.
상기 제2RF컨택트(212)는 제2RF실장부재(2121)를 포함할 수 있다. 상기 제2RF실장부재(2121)는 상기 제1기판에 실장될 수 있다. 이에 따라, 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 제2RF실장부재(2121)를 통해 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2RF컨택트(212)는 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제2RF컨택트(212)는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 상대커넥터가 갖는 RF컨택트들 중에서 어느 하나에 접속될 수 있다.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 상기 전송컨택트(220)들은 상기 절연부(240)에 결합된 것이다. 상기 전송컨택트(220)들은 신호(Sinal), 데이터(Data), 전원(Power) 등을 전송하는 기능을 담당할 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들은 조립공정을 통해 상기 절연부(240)에 결합될 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들은 사출성형을 통해 상기 절연부(240)와 일체 성형될 수도 있다.
상기 전송컨택트(220)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)의 사이에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212) 간에 RF신호간섭을 감소시키기 위해 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)를 이격시킨 공간에, 상기 전송컨택트(220)들이 배치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)가 서로 이격된 거리를 늘림으로써 RF신호간섭을 감소시킬 수 있을 뿐만 아니라, 이를 위한 이격공간에 상기 전송컨택트(220)들을 배치함으로써 상기 절연부(240)에 대한 공간활용도를 향상시킬 수 있다.
상기 전송컨택트(220)들은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들은 상기 제1기판에 실장됨으로써, 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 이 경우, 상기 전송컨택트(220)들 각각이 갖는 전송실장부재들(2211, 2221)이 상기 제1기판에 실장될 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들은 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 전송컨택트(220)들은 금속으로 형성될 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들은 상기 상대커넥터가 갖는 전송컨택트들에 접속됨으로써, 상기 상대커넥터가 실장된 상기 제2기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1기판과 상기 제2기판이 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 전송컨택트(220)들 중에서 제1전송컨택트(221)들과 상기 전송컨택트(220)들 중에서 제2전송컨택트(222)들은 제2축방향(Y축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제2축방향(Y축 방향)은 상기 제1축방향(X축 방향)에 대해 수직한 축 방향이다. 상기 제1전송컨택트(221)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제2전송컨택트(222)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 상기 접지하우징(230)은 상기 절연부(240)가 결합된 것이다. 상기 접지하우징(230)은 상기 제1기판에 실장됨으로써, 접지(Ground)될 수 있다. 이에 따라, 상기 접지하우징(230)은 상기 RF컨택트(210)들에 대한 신호, 전자파 등의 차폐기능을 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 접지하우징(230)은 상기 RF컨택트(210)들로부터 발생된 전자파가 상기 전자기기에서 주변에 위치된 회로부품들의 신호에 간섭되는 것을 방지할 수 있고, 상기 전자기기에서 주변에 위치된 회로부품들로부터 발생된 전자파가 상기 RF컨택트(210)들이 전송하는 RF신호에 간섭되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 접지하우징(230)을 이용하여 EMI(Electro Magnetic Interference) 차폐 성능, EMC(Electro Magnetic Compatibility) 성능을 향상시키는데 기여할 수 있다. 상기 접지하우징(230)은 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 접지하우징(230)은 금속으로 형성될 수 있다.
상기 접지하우징(230)은 내측공간(230a)의 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 상기 내측공간(230a)에는 상기 절연부(240)의 일부가 위치될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 전송컨택트(220)들은 전부가 상기 내측공간(230a)에 위치될 수 있다. 이 경우, 상기 제1RF실장부재(2111), 상기 제2RF실장부재(2121), 및 상기 전송실장부재들(2211, 2221) 또한 전부가 상기 내측공간(230a)에 위치될 수 있다. 따라서, 상기 접지하우징(230)은 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212) 전부에 대한 차폐벽을 구현함으로써, 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 차폐기능을 강화하여 완전차폐를 실현할 수 있다. 상기 내측공간(230a)에는 상기 상대커넥터가 삽입될 수 있다.
상기 접지하우징(230)은 상기 내측공간(230a)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 상기 내측공간(230a)은 상기 접지하우징(230)의 내측에 배치될 수 있다. 상기 접지하우징(230)이 전체적으로 사각 고리 형태로 형성된 경우, 상기 내측공간(230a)은 직방체 형태로 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 접지하우징(230)은 상기 내측공간(230a)을 기준으로 하는 4개의 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다.
상기 접지하우징(230)은 이음매 없이 일체로 형성될 수 있다. 상기 접지하우징(230)은 금속 다이캐스팅(Die Casting), MIM(Metal Injection Molding) 공법 등과 같은 금속 사출 공법에 의해 이음매 없이 일체로 형성될 수 있다. 상기 접지하우징(230)은 CNC(Computer Numerical Control) 가공, MCT(Machining Center Tool) 가공 등에 의해 이음매 없이 일체로 형성될 수도 있다.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 상기 절연부(240)는 상기 RF컨택트(210)들을 지지하는 것이다. 상기 절연부(240)에는 상기 RF컨택트(210)들과 상기 전송컨택트(220)들이 결합될 수 있다. 상기 절연부(240)는 절연재질로 형성될 수 있다. 상기 절연부(240)는 상기 RF컨택트(210)들이 상기 내측공간(230a)에 위치하도록 상기 접지하우징(230)에 결합될 수 있다.
도 2 내지 도 6을 참고하면, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 제1접지컨택트(250)를 포함할 수 있다.
상기 제1접지컨택트(250)는 상기 절연부(240)에 결합된 것이다. 상기 제1접지컨택트(250)는 상기 제1기판에 실장됨으로써 접지될 수 있다. 상기 제1접지컨택트(250)는 조립공정을 통해 상기 절연부(240)에 결합될 수 있다. 상기 제1접지컨택트(250)는 사출성형을 통해 상기 절연부(240)와 일체 성형될 수도 있다.
상기 제1접지컨택트(250)는 상기 접지하우징(230)과 함께 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 제1접지컨택트(250)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 전송컨택트(220)들의 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1접지컨택트(250)는 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제1접지컨택트(250)는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 내측공간(230a)에 상기 상대커넥터가 삽입되면, 상기 제1접지컨택트(250)는 상기 상대커넥터가 갖는 접지컨택트에 접속될 수 있다.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 제2접지컨택트(260)를 포함할 수 있다.
상기 제2접지컨택트(260)는 상기 절연부(240)에 결합된 것이다. 상기 제2접지컨택트(260)는 상기 제1기판에 실장됨으로써 접지될 수 있다. 상기 제2접지컨택트(260)는 조립공정을 통해 상기 절연부(240)에 결합될 수 있다. 상기 제2접지컨택트(260)는 사출성형을 통해 상기 절연부(240)와 일체 성형될 수도 있다.
상기 제2접지컨택트(260)는 상기 접지하우징(230)과 함께 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 상기 제2접지컨택트(260)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 전송컨택트(220)들과 상기 제2RF컨택트(212)의 사이에 배치될 수 있다. 상기 제2접지컨택트(260)는 도전성(Electrical Conductive)을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제2접지컨택트(260)는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 내측공간(230a)에 상기 상대커넥터가 삽입되면, 상기 제2접지컨택트(260)는 상기 상대커넥터가 갖는 접지컨택트에 접속될 수 있다.
여기서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 제1기판에 실장된 상태에서 성능 이상 여부를 확인하기 위해 검사기구(미도시)에 의해 검사가 이루어질 수 있다. 상기 검사기구는 프로브(Probe)들을 컨택트들(210, 220, 250, 260) 중에서 적어도 하나에 접촉시킨 상태에서 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 예컨대, 상기 검사기구는 프로브카드(Probe Card)일 수 있다. 이와 같이 상기 검사기구의 접촉을 통한 검사가 원활하게 이루어질 수 있도록, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
우선, 상기 제1RF컨택트(211)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 10을 참고하면, 상기 제1RF컨택트(211)는 제1RF검사평면(2112)을 포함할 수 있다.
상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 검사기구는 상기 제1RF검사평면(2112)에 접촉된 상태에서 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 제1RF검사평면(2112)은 평면(平面)으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)을 이용하여 상기 제1RF컨택트(211)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있으므로, 상기 검사기구와 상기 제1RF컨택트(211) 간의 접촉에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)을 이용하여 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 검사결과의 정확성을 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 검사기구에 접촉되기 위한 상기 제1RF컨택트(211)의 면(面)이 곡면(曲面)으로 형성된 비교예의 경우, 상기 검사기구가 곡면에 접촉되는 과정에서 슬립 등이 발생됨에 따라 상기 검사기구와 상기 제1RF컨택트(211) 간의 접촉 신뢰성이 저하될 수 있다. 이와 달리, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)이 평면으로 형성되므로, 상기 검사기구가 상기 제1RF검사평면(2112)에 접촉되는 과정에서 슬립 등이 발생되는 것을 방지할 수 있도록 구현된다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구와 상기 제1RF컨택트(211) 간의 접촉 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상인 평면으로 형성될 수 있다. 상기 제1RF검사평면(2112)의 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 0.5 미만이면 상기 제1RF검사평면(2112)의 길이(L)가 너무 짧아지므로, 상기 검사기구와 상기 제1RF검사평면(2112) 간에 정확한 접촉이 이루어지기 어렵다. 이를 고려하여, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)이 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 0.5 이상인 평면으로 형성됨으로써, 상기 검사기구와 상기 제1RF컨택트(211) 간의 접촉에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다.
상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 1.5 이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 상기 제1RF검사평면(2112)의 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 1.5 초과이면 상기 제1RF검사평면(2112)으로 인해 상기 제1RF컨택트(211)의 길이가 너무 길어지므로, 소형화를 실현하기 어렵다. 이를 고려하여, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)이 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 1.5 이하인 평면으로 형성됨으로써, 소형화를 실현할 수 있다.
상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상 1.5 이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 즉, 상기 제1RF검사평면(2112)은 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 0.5 이상 1.5 이하인 평면으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1RF검사평면(2112)을 이용하여 상기 제1RF컨택트(211)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 전체적인 크기를 줄임으로써 소형화를 실현할 수 있다.
상기 제1RF컨택트(211)는 제1RF접속부재(2113)를 포함할 수 있다.
상기 제1RF접속부재(2113)는 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제1RF접속부재(2113)가 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 접속됨으로써, 상기 제1RF컨택트(211)는 상기 상대커넥터가 갖는 RF컨택트에 전기적으로 접속될 수 있다. 상기 제1RF접속부재(2113)는 상기 제1RF실장부재(2111)에 연결될 수 있다. 상기 제1RF접속부재(2113)는 상기 제1RF실장부재(2111)에 직접 결합될 수도 있다. 상기 제1RF접속부재(2113)는 상기 제1RF접속부재(2113)가 갖는 다른 부재에 결합됨으로써, 해당 부재를 통해 상기 제1RF실장부재(2111)에 연결될 수도 있다. 상기 제1RF접속부재(2113)는 판재에 대한 굽힘(Bending) 가공을 통해 수직방향으로 배치된 판재와 수평방향으로 배치된 판재가 조합된 형태로 구현될수 있다.
상기 제1RF컨택트(211)가 상기 제1RF접속부재(2113)와 상기 제1RF실장부재(2111)를 포함하는 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF접속부재(2113) 또는 상기 제1RF실장부재(2111)에 형성될 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이 상기 제1RF검사평면(2112)이 상기 제1RF접속부재(2113)에 형성된 경우, 상기 내측공간(230a)을 향하는 상기 제1RF접속부재(2113)의 면(面)에 상기 제1RF검사평면(2112)이 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 제1RF접속부재(2113)는 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 대한 접속기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1RF검사평면(2112)이 상기 제1RF실장부재(2111)에 형성된 경우, 상기 내측공간(230a)을 향하는 상기 제1RF실장부재(2111)의 면(面)에 상기 제1RF검사평면(2112)이 형성될 수 있다. 이 경우, 상기 제1RF실장부재(2111)는 상기 기판에 대한 실장기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다.
상기 제1RF컨택트(211)는 제1RF검사부재(2114)를 포함할 수도 있다.
상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 이 경우, 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF검사부재(2114)에 형성될 수 있다. 상기 내측공간(230a)을 향하는 상기 제1RF검사부재(2114)의 면(面)에 상기 제1RF검사평면(2112)이 형성될 수 있다. 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 제1RF접속부재(2113) 또는 상기 제1RF실장부재(2111)에 결합될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 제1RF접속부재(2113)로부터 돌출되도록 상기 제1RF접속부재(2113)에 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 절연부(240)에 지지되는 지지기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 제1RF접속부재(2113)와 상기 제1RF실장부재(2111) 각각에 결합될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 제1RF접속부재(2113)와 상기 제1RF실장부재(2111)를 연결하는 연결기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1RF검사부재(2114)가 구비된 경우에도, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF실장부재(2111) 또는 상기 제1RF접속부재(2113)에 형성될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1RF검사부재(2114)는 상기 절연부(240)에 대한 지지기능 또는 상기 제1RF접속부재(2113)와 상기 제1RF실장부재(2111)를 연결하는 연결기능을 갖출 수 있다.
한편, 상기 절연부(240)에 의해 가려지는 상기 제1RF컨택트(211)의 부분에 상기 제1RF검사평면(2112)이 형성된 경우, 상기 절연부(240)에는 검사접속창(미도시)이 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 검사접속창을 통해 상기 절연부(240)에 의해 가려지지 않고 상기 내측공간(230a)에 대해 노출되도록 배치될 수 있다.
다음, 상기 제2RF컨택트(212)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제2RF컨택트(212)는 제2RF검사평면(2122)을 포함할 수 있다. 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제2RF검사평면(2122)은 상술한 상기 제1RF컨택트(211)의 상기 제1RF검사평면(2112)과 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2RF컨택트(212)는 제2RF접속부재(2123)를 포함할 수 있다. 상기 제2RF접속부재(2123)는 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제2RF접속부재(2123)는 상술한 상기 제1RF컨택트(211)의 상기 제1RF접속부재(2113)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 상기 제2RF접속부재(2123) 또는 상기 제2RF실장부재(2121)에는 상기 제2RF검사평면(2122)이 형성될 수도 있다.
상기 제2RF컨택트(212)는 제2RF검사부재(2124)를 포함할 수도 있다. 상기 제2RF검사부재(2124)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제2RF검사부재(2124)는 상술한 상기 제1RF컨택트(211)의 상기 제1RF검사부재(2114)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 상기 제2RF검사부재(2124)에는 상기 제2RF검사평면(2122)이 형성될 수도 있다.
도 10 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제2RF검사평면(2122)과 상기 제1RF검사평면(2112)은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 검사기구가 상기 제2RF검사평면(2122)과 상기 제1RF검사평면(2112) 각각에 접촉되기 위해 승하강되는 높이가 동일하게 구현될 수 있으므로, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)의 검사작업에 대한 용이성과 정확성을 더 향상시킬 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제2RF검사평면(2122)과 상기 제1RF검사평면(2112)에 동시에 접촉되는 것이 가능하므로, 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)의 검사작업을 수행하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다.
한편, 상기 제2RF검사평면(2122)이 형성된 상기 제2RF컨택트(212)의 부분 및 상기 제1RF검사평면(2112)이 형성된 상기 제1RF컨택트(211)의 부분은 서로 동일한 기능을 하는 것일 수 있다. 예컨대, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제2RF검사평면(2122)이 상기 제2RF검사부재(2124)에 형성된 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF검사부재(2114)에 형성될 수 있다. 예컨대, 도 9에 도시된 바와 같이 상기 제2RF검사평면(2122)이 상기 제2RF접속부재(2123)에 형성된 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF접속부재(2113)에 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 제2RF검사평면(2122)이 상기 제2RF실장부재(2121)에 형성된 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1RF실장부재(2111)에 형성될 수 있다.
다음, 상기 제1전송컨택트(221)들 각각은 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제1전송컨택트(221)는 제1전송실장부재(2211)를 포함할 수 있다.
상기 제1전송실장부재(2211)는 상기 제1기판에 실장되기 위한 것이다. 상기 제1전송컨택트(221)는 상기 제1전송실장부재(2211)를 통해 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1전송실장부재(2211)는 수평방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다.
상기 제1전송컨택트(221)는 제1전송검사평면(2212)을 포함할 수 있다.
상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 검사기구는 상기 제1전송검사평면(2212)에 접촉된 상태에서 상기 제1전송컨택트(221)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)은 평면(平面)으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1전송검사평면(2212)을 이용하여 상기 제1전송컨택트(221)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있으므로, 상기 검사기구와 상기 제1전송컨택트(221) 간의 접촉에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1전송검사평면(2212)을 이용하여 상기 제1전송컨택트(221)에 대한 검사결과의 정확성을 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 검사기구에 접촉되기 위한 상기 제1전송컨택트(221)의 면(面)이 곡면(曲面)으로 형성된 비교예와 대비할 때, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1전송검사평면(2212)이 평면으로 형성됨으로써, 상기 검사기구가 상기 제1전송검사평면(2212)에 접촉되는 과정에서 슬립 등이 발생되는 것을 방지할 수 있도록 구현된다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구와 상기 제1전송컨택트(221) 간의 접촉 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상인 평면으로 형성될 수 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 1.5 이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상 1.5이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 즉, 상기 제1전송검사평면(2212)은 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 0.5 이상 1.5 이하인 평면으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1전송검사평면(2212)을 이용하여 상기 제1전송컨택트(221)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 전체적인 크기를 줄임으로써 소형화를 실현할 수 있다.
상기 제1전송컨택트(221)는 제1전송접속부재(2213)를 포함할 수 있다.
상기 제1전송접속부재(2213)는 상기 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제1전송접속부재(2213)가 상기 상대커넥터의 전송컨택트에 접속됨으로써, 상기 제1전송컨택트(221)는 상기 상대커넥터가 갖는 전송컨택트에 전기적으로 접속될 수 있다. 상기 제1전송접속부재(2213)는 상기 제1전송실장부재(2211)에 연결될 수 있다. 상기 제1전송접속부재(2213)는 상기 제1전송실장부재(2211)에 직접 결합될 수도 있다. 상기 제1전송접속부재(2213)는 상기 제1전송접속부재(2213)가 갖는 다른 부재에 결합됨으로써, 해당 부재를 통해 상기 제1전송실장부재(2211)에 연결될 수도 있다. 상기 제1전송접속부재(2213)는 판재에 대한 굽힘(Bending) 가공을 통해 수직방향으로 배치된 판재와 수평방향으로 배치된 판재가 조합된 형태로 구현될수 있다.
상기 제1전송컨택트(221)는 제1전송검사부재(2214)를 포함할 수도 있다.
상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 이 경우, 도 5와 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 제1전송검사부재(2214)에 형성될 수 있다. 상기 내측공간(230a)을 향하는 상기 제1전송검사부재(2214)의 면(面)에 상기 제1전송검사평면(2212)이 형성될 수 있다. 상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 제1전송접속부재(2213)와 상기 제1전송실장부재(2211) 각각에 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 제1전송접속부재(2213)와 상기 제1전송실장부재(2211)를 연결하는 연결기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 제1전송접속부재(2213) 또는 상기 제1전송실장부재(2211)에 결합될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 절연부(240)에 지지되는 지지기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 제1전송검사부재(2214)가 구비된 경우에도, 상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 제1전송실장부재(2211) 또는 상기 제1전송접속부재(2213)에 형성될 수도 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)이 상기 제1전송실장부재(2211)에 형성된 경우, 상기 제1전송실장부재(2211)는 상기 기판에 대한 실장기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)이 상기 제1전송접속부재(2213)에 형성된 경우, 상기 제1전송접속부재(2213)는 상기 상대커넥터의 접속컨택트에 대한 접속기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)이 상기 제1전송실장부재(2211) 또는 상기 제1전송접속부재(2213)에 형성된 경우, 상기 제1전송검사부재(2214)는 상기 절연부(240)에 대한 지지기능 또는 상기 제1전송접속부재(2213)와 상기 제1전송실장부재(2211)를 연결하는 연결기능을 갖출 수 있다.
한편, 상기 절연부(240)에 의해 가려지는 상기 제1전송컨택트(221)의 부분에 상기 제1전송검사평면(2212)이 형성된 경우, 상기 절연부(240)에는 검사접속창(미도시)이 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1전송검사평면(2212)은 상기 검사접속창을 통해 상기 절연부(240)에 의해 가려지지 않고 상기 내측공간(230a)에 대해 노출되도록 배치될 수 있다.
다음, 상기 제2전송컨택트(222)들 각각은 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제2전송컨택트(222)는 제2전송실장부재(2221)를 포함할 수 있다. 상기 제2전송실장부재(2221)는 상기 제1기판에 실장되기 위한 것이다. 상기 제2전송실장부재(2221)는 상술한 상기 제1전송컨택트(221)의 상기 제1전송실장부재(2211)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2전송컨택트(222)는 제2전송검사평면(2222)을 포함할 수 있다. 상기 제2전송검사평면(2222)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제2전송검사평면(2222)은 상술한 상기 제1전송컨택트(221)의 상기 제1전송검사평면(2212)과 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2전송컨택트(222)는 제2전송접속부재(2223)를 포함할 수 있다. 상기 제2전송접속부재(2223)는 상기 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제2전송접속부재(2223)는 상술한 상기 제1전송컨택트(221)의 상기 제1전송접속부재(2213)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2전송컨택트(222)는 제2전송검사부재(2224)를 포함할 수도 있다. 상기 제2전송검사부재(2224)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제2전송검사부재(2224)는 상술한 상기 제1전송컨택트(221)의 상기 제1전송검사부재(2214)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 상기 제2전송검사평면(2222)은 상기 제2전송검사부재(2224), 상기 제2전송접속부재(2223), 및 상기 제2전송실장부재(2221) 중에서 어느 하나에 형성될 수 있다.
도 10 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제2전송검사평면(2222)과 상기 제1전송검사평면(2212)은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 검사기구가 상기 제2전송검사평면(2222)과 상기 제1전송검사평면(2212) 각각에 접촉되기 위해 승하강되는 높이가 동일하게 구현될 수 있으므로, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 제1전송컨택트(221)와 상기 제2전송컨택트(222)의 검사작업에 대한 용이성과 정확성을 더 향상시킬 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제2전송검사평면(2222)과 상기 제1전송검사평면(2212)에 동시에 접촉되는 것이 가능하므로, 상기 제1전송컨택트(221)와 상기 제2전송컨택트(222)의 검사작업을 수행하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다. 한편, 상기 제2전송검사평면(2222)이 형성된 상기 제2전송컨택트(222)의 부분 및 상기 제1전송검사평면(2212)이 형성된 상기 제1전송컨택트(221)의 부분은 서로 동일한 기능을 하는 것일 수 있다.
도 10과 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 제2전송검사평면(2222), 상기 제1전송검사평면(2212), 상기 제2RF검사평면(2122), 및 상기 제1RF검사평면(2112)은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 검사기구가 상기 제2전송검사평면(2222), 상기 제1전송검사평면(2212), 상기 제2RF검사평면(2122), 및 상기 제1RF검사평면(2112) 각각에 접촉되기 위해 승하강되는 높이가 동일하게 구현될 수 있으므로, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 제2전송컨택트(222), 상기 제1전송컨택트(221), 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 제1RF컨택트(211)의 검사작업에 대한 용이성과 정확성을 더 향상시킬 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제2전송검사평면(2222), 상기 제1전송검사평면(2212), 상기 제2RF검사평면(2122), 및 상기 제1RF검사평면(2112)에 동시에 접촉되는 것이 가능하므로, 상기 제2전송컨택트(222), 상기 제1전송컨택트(221), 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 제1RF컨택트(211)의 검사작업을 수행하는데 걸리는 시간을 더 단축하는데 기여할 수 있다.
도 12와 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1전송검사평면(2212)들에 비해 더 높은 위치에 배치될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 상기 제1전송검사평면(2212)들과 상기 제2전송검사평면(2222)들은 동일한 높이의 평면 상에 배치되되, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)에 비해 더 낮은 위치에 배치될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)를 동시에 검사하는 검사작업 및 상기 검사기구가 상기 제1전송컨택트(221)들과 상기 제2전송컨택트(222)들을 동시에 검사하는 검사작업이 개별적으로 이루어지기에 적합하게 구현될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1전송검사평면(2212)들에 비해 더 낮은 위치에 배치될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1전송검사평면(2212)들과 상기 제2전송검사평면(2222)들은 동일한 높이의 평면 상에 배치되되, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)에 비해 더 높은 위치에 배치될 수 있다.
도 5와 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제1전송검사평면(2122)들은 상기 제1축방향(X축 방향)에 대해 평행한 제1열(R1) 상에 배치될 수 있다. 상기 제2RF검사평면(2122)과 상기 제2전송검사평면(2212)들은 상기 제1축방향(X축 방향)에 대해 평행한 제2열(R2) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1열(R1)과 상기 제2열(R2)은 상기 제2축방향(Y축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제1전송컨택트(221)들을 동시에 검사하는 검사작업 및 상기 검사기구가 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제2전송컨택트(222)들을 동시에 검사하는 검사작업이 개별적으로 이루어지기에 적합하게 구현될 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 동시에 검사하는 검사작업이 이루어지기에 적합하게 구현될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 검사조건, 검사환경 등에 따라 상기 검사기구가 다양한 검사방식으로 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 검사할 수 있도록 구현된다.
도 5, 도 9, 및 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 제1전송검사평면(2212)들은 상기 제1열(R1) 상에 배치될 수 있다. 상기 제2전송검사평면(2222)들은 상기 제2열(R2) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 제1축방향(X축 방향)에 대해 평행한 제3열(R3) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1열(R1), 상기 제2열(R2), 및 상기 제3열(R3)은 상기 제2축방향(Y축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 검사조건, 검사환경 등에 따라 상기 검사기구가 더 다양한 검사방식으로 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제2RF컨택트(212), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 검사할 수 있도록 구현된다. 도 14에는 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여, 상기 제3열(R3)이 가운데에 배치된 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 제1열(R1) 또는 상기 제2열(R2)이 가운데에 배치될 수도 있다.
다음, 상기 제1접지컨택트(250)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제1접지컨택트(250)는 제1-1접지컨택트(251), 및 제1-2접지컨택트(252)를 포함할 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(251)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제1전송컨택트(221)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제1-1접지컨택트(251)는 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제1전송컨택트(221)들의 사이를 차폐할 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(251)는 제1-1접지검사평면(2511)을 포함할 수 있다.
상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 검사기구는 상기 제1-1접지검사평면(2511)에 접촉된 상태에서 상기 제1-1접지컨택트(251)에 대한 검사를 수행할 수 있다. 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 평면(平面)으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1-1접지검사평면(2511)을 이용하여 상기 제1-1접지컨택트(251)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있으므로, 상기 검사기구와 상기 제1-1접지컨택트(251) 간의 접촉에 대한 용이성과 정확성을 향상시킬 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1-1접지검사평면(2511)을 이용하여 상기 제1-1접지컨택트(251)에 대한 검사결과의 정확성을 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 검사기구에 접촉되기 위한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 면(面)이 곡면(曲面)으로 형성된 비교예와 대비할 때, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1-1접지검사평면(2511)이 평면으로 형성됨으로써, 상기 검사기구가 상기 제1-1접지검사평면(2511)에 접촉되는 과정에서 슬립 등이 발생되는 것을 방지할 수 있도록 구현된다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구와 상기 제1-1접지컨택트(251) 간의 접촉 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상인 평면으로 형성될 수 있다. 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 1.5 이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1축방향(X축방향)을 기준으로 하는 폭(H, 도 7과 도 8에 도시됨)을 1이라 할 때, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하는 길이(L, 도 7과 도 8에 도시됨)가 0.5 이상 1.5 이하인 평면으로 형성될 수도 있다. 즉, 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 폭(H)에 대한 길이(L)의 비가 0.5 이상 1.5 이하인 평면으로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1-1접지검사평면(2511)을 이용하여 상기 제1-1접지컨택트(251)에 상기 검사기구가 접촉되기 위한 면적을 확보할 수 있을 뿐만 아니라, 전체적인 크기를 줄임으로써 소형화를 실현할 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(251)는 제1-1접지실장부재(2512)를 포함할 수 있다.
상기 제1-1접지실장부재(2512)는 상기 제1기판에 실장되기 위한 것이다. 상기 제1-1접지컨택트(251)는 상기 제1-1접지실장부재(2512)를 통해 상기 제1기판에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1-1접지실장부재(2512)는 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 상기 접지하우징(230)에 접속될 수 있는 길이로 형성될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1-1접지실장부재(2512)는 상기 접지하우징(230)이 갖는 측벽에 접속될 수 있다. 상기 제1-1접지실장부재(2512)는 상기 수평방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(251)는 제1-1접지접속부재(2513)를 포함할 수 있다.
상기 제1-1접지접속부재(2513)는 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)가 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속됨으로써, 상기 제1-1접지컨택트(251)는 상기 상대커넥터가 갖는 전송컨택트에 전기적으로 접속될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1RF컨택트(211)들에 대한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 차폐력이 강화될 수 있다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)는 상기 제1-1접지실장부재(2512)에 연결될 수 있다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)는 상기 제1-1접지실장부재(2512)에 직접 결합될 수도 있다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)는 상기 제1-1접지접속부재(2513)가 갖는 다른 부재에 결합됨으로써, 해당 부재를 통해 상기 제1-1접지실장부재(2512)에 연결될 수도 있다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)는 수직방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다. 상기 제1-1접지접속부재(2513)는 판재에 대한 굽힘(Bending) 가공을 통해 수직방향으로 배치된 판재와 수평방향으로 배치된 판재가 조합된 형태로 구현될수 있다. 한편, 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1-1접지실장부재(2512) 또는 상기 제1-1접지접속부재(2513)에 형성될 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(251)는 제1-1접지검사부재(2514)를 포함할 수도 있다.
상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 이 경우, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1-1접지검사부재(2514)에 형성될 수 있다. 상기 내측공간(230a)을 향하는 상기 제1-1접지검사부재(2514)의 면(面)에 상기 제1-1접지검사평면(2511)이 형성될 수 있다. 상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 제1-1접지접속부재(2513)와 상기 제1-1접지실장부재(2512) 각각에 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 제1-1접지접속부재(2513)와 상기 제1-1접지실장부재(2512)를 연결하는 연결기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 제1-1접지접속부재(2513) 또는 상기 제1-1접지실장부재(2512)에 결합될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 절연부(240)에 지지되는 지지기능과 상기 검사기구에 대한 접촉기능을 갖출 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1-1접지검사부재(2514)가 구비된 경우에도, 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 제1-1접지실장부재(2512) 또는 상기 제1-1접지접속부재(2513)에 형성될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1-1접지검사부재(2514)는 상기 절연부(240)에 대한 지지기능 또는 상기 제1-1접지접속부재(2513)와 상기 제1-1접지실장부재(2512)를 연결하는 연결기능을 갖출 수 있다
한편, 상기 절연부(240)에 의해 가려지는 상기 제1-1접지컨택트(251)의 부분에 상기 제1-1접지검사평면(2511)이 형성된 경우, 상기 절연부(240)에는 검사접속창(미도시)이 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 상기 검사접속창을 통해 상기 절연부(240)에 의해 가려지지 않고 상기 내측공간(230a)에 대해 노출되도록 배치될 수 있다.
다음, 상기 제1-2접지컨택트(252)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제1-2접지컨택트(252)는 제1-2접지검사평면(2521)을 포함할 수 있다. 상기 제1-2접지검사평면(2521)은 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제1-2접지검사평면(2521)은 상술한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 상기 제1-1접지검사평면(2511)과 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제1-2접지컨택트(252)는 제1-2접지실장부재(2522)를 포함할 수 있다. 상기 제1-2접지실장부재(2522)는 상기 제1기판에 실장되기 위한 것이다. 상기 제1-2접지실장부재(2522)는 상술한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 상기 제1-1접지실장부재(2512)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제1-2접지컨택트(252)는 제1-2접지접속부재(2523)를 포함할 수 있다. 상기 제1-2접지접속부재(2523)는 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 것이다. 상기 제1-2접지접속부재(2523)는 상술한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 상기 제1-1접지접속부재(2513)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 상기 제1-2접지검사평면(2521)은 상기 제1-2접지실장부재(2522) 또는 상기 제1-2접지접속부재(2523)에 형성될 수 있다.
상기 제1-2접지컨택트(252)는 제1-2접지검사부재(2524)를 포함할 수도 있다. 상기 제1-2접지검사부재(2524)는 상기 검사기구가 접촉되기 위한 것이다. 상기 제1-2접지검사부재(2524)는 상술한 상기 제1-1접지컨택트(251)의 상기 제1-1접지검사부재(2514)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다. 상기 제1-2접지검사평면(2521)은 상기 제1-2접지검사부재(2524), 상기 제1-2접지접속부재(2523), 및 상기 제1-2접지실장부재(2522) 중에서 어느 하나에 형성될 수 있다.
도 10 내지 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제1-2접지검사평면(2521)과 상기 제1-1접지검사평면(2511)은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 검사기구가 상기 제1-2접지검사평면(2521)과 상기 제1-1접지검사평면(2511) 각각에 접촉되기 위해 승하강되는 높이가 동일하게 구현될 수 있으므로, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 제1-1접지컨택트(251)와 상기 제1-2접지컨택트(252)의 검사작업에 대한 용이성과 정확성을 더 향상시킬 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제1-2접지검사평면(2521)과 상기 제1-1접지검사평면(2511)에 동시에 접촉되는 것이 가능하므로, 상기 제1-1접지컨택트(251)와 상기 제1-2접지컨택트(252)의 검사작업을 수행하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다. 한편, 상기 제1-2접지검사평면(2521)이 형성된 상기 제1-2접지컨택트(252)의 부분 및 상기 제1-1접지검사평면(2511)이 형성된 상기 제1-1접지컨택트(251)의 부분은 서로 동일한 기능을 하는 것일 수 있다.
도 10과 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 제1-2접지검사평면(2521), 상기 제1-1접지검사평면(2511), 상기 제2RF검사평면(2122), 상기 제1RF검사평면(2112), 상기 제2전송검사평면(2222)들, 및 상기 제1전송검사평면(2212)들은 동일한 높이의 평면 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 검사기구가 상기 제1-2접지검사평면(2521), 상기 제1-1접지검사평면(2511), 상기 제2RF검사평면(2122), 상기 제1RF검사평면(2112), 상기 제2전송검사평면(2222)들, 및 상기 제1전송검사평면(2212)들 각각에 접촉되기 위해 승하강되는 높이가 동일하게 구현될 수 있으므로, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 제1-2접지컨택트(252), 상기 제1-1접지컨택트(251), 상기 제2RF컨택트(212), 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제2전송컨택트(222)들, 및 상기 제1전송컨택트(221)들의 검사작업에 대한 용이성과 정확성을 더 향상시킬 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 상기 검사기구가 상기 제1-2접지검사평면(2521), 상기 제1-1접지검사평면(2511), 상기 제2RF검사평면(2122), 상기 제1RF검사평면(2112), 상기 제2전송검사평면(2222)들, 및 상기 제1전송검사평면(2212)들에 동시에 접촉되는 것이 가능하므로, 상기 제1-2접지컨택트(252), 상기 제1-1접지컨택트(251), 상기 제2RF컨택트(212), 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제2전송컨택트(222)들, 및 상기 제1전송컨택트(221)들의 검사작업을 수행하는데 걸리는 시간을 더 단축하는데 기여할 수 있다.
도 12와 도 13에 도시된 바와 같이, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 제1-1접지검사평면(2511)과 상기 제1-2접지검사평면(2521)에 비해 더 높은 위치에 배치될 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 제1-1접지검사평면(2511)과 상기 제1-2접지검사평면(2521)에 비해 더 낮은 위치에 배치될 수도 있다.
도 5와 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1-1접지검사평면(2511)과 상기 제1전송검사평면(2212)들은 상기 제1열(R1) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1-2접지검사평면(2521)과 상기 제2전송검사평면(2222)들은 상기 제2열(R2) 상에 배치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 검사조건, 검사환경 등에 따라 상기 검사기구가 다양한 검사방식으로 상기 제1-1접지컨택트(251), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제1-2접지컨택트(252), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 검사할 수 있도록 구현된다.
이 경우, 상기 제1RF검사평면(2112)은 상기 제1열(R1) 상에 배치되고, 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 제2열(R2) 상에 배치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 검사조건, 검사환경 등에 따라 상기 검사기구가 다양한 검사방식으로 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제1-1접지컨택트(251), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제2RF컨택트(212), 상기 제1-2접지컨택트(252), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 검사할 수 있도록 구현된다.
도 5, 도 9, 및 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 제1RF검사평면(2112)과 상기 제2RF검사평면(2122)은 상기 제3열(R3) 상에 배치될 수도 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(1)는 검사조건, 검사환경 등에 따라 상기 검사기구가 더 다양한 검사방식으로 상기 제1RF컨택트(211), 상기 제1-1접지컨택트(251), 상기 제1전송컨택트(221)들, 상기 제2RF컨택트(212), 상기 제1-2접지컨택트(252), 및 상기 제2전송컨택트(222)들을 검사할 수 있도록 구현된다.
다음, 상기 제2접지컨택트(260)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
도 2 내지 도 14를 참고하면, 상기 제2접지컨택트(260)는 제2-1접지컨택트(261), 및 제2-2접지컨택트(262)를 포함할 수 있다.
상기 제2-1접지컨택트(261)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제1전송컨택트(221)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제2-1접지컨택트(261)는 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제1전송컨택트(221)들의 사이를 차폐할 수 있다.
상기 제2-1접지컨택트(261)는 제2-1접지검사평면(2611), 제2-1접지실장부재(2612), 및 제2-1접지접속부재(2613)를 포함할 수 있다. 상기 제2-1접지컨택트(261)는 제2-1접지검사부재(2614)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2-1접지검사평면(2611)은 상기 제2-1접지실장부재(2612), 상기 제2-1접지접속부재(2613), 및 상기 제2-1접지검사부재(2614) 중에서 어느 하나에 형성될 수 있다. 상기 제2-1접지검사평면(2611), 상기 제2-1접지실장부재(2612), 상기 제2-1접지접속부재(2613), 및 상기 제2-1접지검사부재(2614)는, 상기 제1-1접지검사평면(2511), 상기 제1-1접지실장부재(2512), 상기 제1-1접지접속부재(2513), 및 상기 제1-1접지검사부재(2514) 각각과 대략 일치되게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2-1접지컨택트(261)와 상기 제1-1접지컨택트(251)는 서로 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제2-1접지컨택트(261)와 상기 제1-1접지컨택트(251) 각각을 제조하는 제조작업의 용이성을 향상시킬 수 있다. 이 경우, 상기 제2-1접지컨택트(261)와 상기 제1-1접지컨택트(251)는 대칭점(SP, 도 6과 도 9에 도시됨)을 기준으로 하여 점대칭(點對稱)되도록 배치될 수 있다. 상기 대칭점(SP)은 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 서로 이격되어 배치된 상기 접지하우징(230)의 양 측벽(230b, 230c)(도 15에 도시됨) 각각으로부터 동일한 거리로 이격됨과 아울러 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 서로 이격되어 배치된 상기 접지하우징(230)의 양 측벽(230d, 230e)(도 15에 도시됨) 각각으로부터 동일한 거리로 이격된 지점이다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제2-1접지컨택트(261)와 상기 제1-1접지컨택트(251)가 서로 동일한 형태로 형성되어서 배치방향만 다르게 구현되므로, 상기 제2-1접지컨택트(261)와 상기 제1-1접지컨택트(251)를 제조하는 제조작업의 용이성을 더 향상시킬 수 있다. 이 경우, 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제1RF컨택트(211)가 상기 대칭점(SP)을 기준으로 하여 점대칭되도록 배치될 수 있다.
상기 제2-2접지컨택트(262)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제2전송컨택트(222)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제2-2접지컨택트(262)는 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 제2전송컨택트(222)들의 사이를 차폐할 수 있다.
상기 제2-2접지컨택트(262)는 제2-2접지검사평면(2621), 제2-2접지실장부재(2622), 및 제2-2접지접속부재(2623)를 포함할 수 있다. 상기 제2-2접지컨택트(262)는 제2-2접지검사부재(2624)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2-2접지검사평면(2621)은 상기 제2-2접지실장부재(2622), 상기 제2-2접지접속부재(2623), 및 상기 제2-2접지검사부재(2624) 중에서 어느 하나에 형성될 수 있다. 상기 제2-2접지검사평면(2621), 상기 제2-2접지실장부재(2622), 상기 제2-2접지접속부재(2623), 및 상기 제2-2접지검사부재(2624)는, 상기 제1-2접지검사평면(2521), 상기 제1-2접지실장부재(2522), 상기 제1-2접지접속부재(2523), 및 상기 제1-2접지검사부재(2524) 각각과 대략 일치되게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2-2접지컨택트(262)와 상기 제1-2접지컨택트(252)는 서로 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제2-2접지컨택트(262)와 상기 제1-2접지컨택트(252) 각각을 제조하는 제조작업의 용이성을 향상시킬 수 있다. 이 경우, 상기 제2-2접지컨택트(262)와 상기 제1-2접지컨택트(252)는 상기 대칭점(SP, 도 6과 도 9에 도시됨)을 기준으로 하여 점대칭(點對稱)되도록 배치될 수 있다. 상기 제2-2접지컨택트(262), 상기 제1-2접지컨택트(252), 상기 제2-1접지컨택트(261), 및 상기 제1-1접지컨택트(251) 모두가 서로 동일한 형태로 형성될 수도 있다.
도 2 내지 도 16을 참고하면, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서, 상기 접지하우징(230)은 다음과 같이 구현될 수 있다.
상기 접지하우징(230)은 접지내벽(231), 접지외벽(232), 및 접지연결벽(233)을 포함할 수 있다.
상기 접지내벽(231)은 상기 절연부(240)를 향하는 것이다. 상기 접지내벽(231)은 상기 내측공간(230a)을 향하도록 배치될 수 있다. 상기 제1-1접지컨택트(251)와 상기 제2-1접지컨택트(261)는 각각 상기 접지내벽(231)에 접속될 수도 있다. 상기 접지내벽(231)은 상기 내측공간(230a)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 접지내벽(231)은 복수개의 서브접지내벽을 포함하여, 상기 서브접지내벽들이 상기 내측공간(230a)을 기준으로 하여 서로 다른 측방에 배치되도록 구현될 수도 있다. 이 경우, 상기 서브접지내벽들은 서로 이격되게 배치될 수 있다.
상기 접지내벽(231)은 상기 내측공간(230a)에 삽입되는 상대커넥터의 접지하우징에 접속될 수 있다. 예컨대, 도 16에 도시된 바와 같이 상기 접지내벽(231)은 상대커넥터의 접지하우징(330)에 접속될 수 있다. 이와 같이, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 접지하우징(230)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접속을 통해 차폐기능을 더 강화할 수 있다. 또한, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 접지하우징(230)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접속을 통해 서로 인접한 단자 간에 서로의 용량 또는 유도에 의해 발생될 수 있는 크로스토크(Crosstalk) 등과 같은 전기적 악영향을 저감시킬 수 있다. 이 경우, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1기판과 상기 제2기판 중에서 적어도 하나의 그라운드(Ground)로 전자파가 유입되는 경로를 확보할 수 있으므로, EMI 차폐 성능을 더 강화할 수 있다.
상기 접지외벽(232)은 상기 접지내벽(231)으로부터 이격된 것이다. 상기 접지외벽(232)은 상기 접지내벽(231)의 외측에 배치될 수 있다. 상기 접지외벽(232)은 상기 접지내벽(231)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 상기 접지외벽(232)과 상기 접지내벽(231)은 상기 내측공간(230a)의 측방을 둘러싸는 차폐벽으로 구현될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 차폐벽에 의해 둘러싸인 상기 내측공간(230a)에 위치될 수 있다. 이에 따라, 상기 접지하우징(230)은 차폐벽을 이용하여 상기 RF컨택트(210)들에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 차폐벽을 이용하여 EMI 차폐 성능, EMC 성능을 더 향상시키는데 기여할 수 있다.
상기 접지외벽(232)은 상기 제1기판에 실장됨으로써 접지될 수 있다. 이 경우, 상기 접지하우징(230)은 상기 접지외벽(232)을 통해 접지될 수 있다. 상기 접지외벽(232)의 일단이 상기 접지연결벽(233)에 결합된 경우, 상기 접지외벽(232)의 타단이 상기 제1기판에 실장될 수 있다. 이 경우, 상기 접지외벽(232)은 상기 접지내벽(231)에 비해 더 높은 높이로 형성될 수 있다.
상기 접지연결벽(233)은 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232) 각각에 결합된 것이다. 상기 접지연결벽(233)은 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232)의 사이에 배치될 수 있다. 상기 접지연결벽(233)을 통해 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232)은 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 상기 접지외벽(232)이 상기 제1기판에 실장되어 접지되면, 상기 접지연결벽(233)과 상기 접지내벽(231) 또한 접지됨으로써 차폐기능을 구현할 수 있다.
상기 접지연결벽(233)은 상기 접지외벽(232)의 일단과 상기 접지내벽(231)의 일단 각각에 결합될 수 있다. 도 16을 기준으로 할 때, 상기 접지외벽(232)의 일단은 상기 접지외벽(232)의 상단에 해당하고, 상기 접지내벽(231)의 일단은 상기 접지내벽(231)의 상단에 해당할 수 있다. 상기 접지연결벽(233)은 수평방향으로 배치된 판형으로 형성되고, 상기 접지외벽(232)과 상기 접지내벽(231)은 각각 수직방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다. 상기 접지연결벽(233), 상기 접지외벽(232), 및 상기 접지내벽(231)은 일체로 형성될 수도 있다.
상기 접지연결벽(233)은 상기 내측공간(230a)에 삽입되는 상대커넥터의 접지하우징에 접속될 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 접지외벽(232)과 상기 접지연결벽(233)이 상기 상대커넥터의 접지하우징에 접속되므로, 상기 접지하우징(230)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접촉면적을 증대시킴으로써 차폐기능을 더 강화할 수 있다.
상기 접지바닥(234)은 상기 접지내벽(231)의 하단에서 상기 내측공간(230a) 쪽으로 돌출된 것이다. 즉, 상기 접지바닥(234)은 상기 접지내벽(231)의 내측으로 돌출될 수 있다. 상기 접지바닥(234)은 상기 접지내벽(231)의 하단을 따라 연장되어 폐쇄된 고리 형태로 형성될 수 있다. 상기 접지바닥(234)은 상기 제1기판에 실장됨으로써 접지될 수도 있다. 이 경우, 상기 접지하우징(330)은 상기 접지바닥(234)을 통해 접지될 수 있다. 상기 내측공간(230a)에 상기 상대커넥터가 삽입되면, 상기 접지바닥(234)은 상기 상대커넥터가 갖는 접지하우징에 접속될 수 있다. 상기 접지바닥(234)은 수평방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다.
여기서, 상기 접지하우징(230)은 상기 제1접지컨택트(250)와 함께 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 상기 접지하우징(230)은 상기 제2접지컨택트(260)와 함께 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다.
이 경우, 도 15에 도시된 바와 같이 상기 접지하우징(230)은 제1차폐벽(230b), 제2차폐벽(230c), 제3차폐벽(230d), 및 제4차폐벽(230e)을 포함할 수 있다. 상기 제1차폐벽(230b), 상기 제2차폐벽(230c), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)은 각각 상기 접지내벽(231), 상기 접지외벽(232), 및 상기 접지연결벽(233)에 의해 구현될 수 있다. 상기 제1차폐벽(230b)과 상기 제2차폐벽(230c)은 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 서로 대향(對向)되게 배치된 것이다. 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1차폐벽(230b)과 상기 제2차폐벽(230c)의 사이에는 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)가 위치될 수 있다. 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(211)는 상기 제2차폐벽(230c)으로부터 이격된 거리에 비해 상기 제1차폐벽(230b)으로부터 이격된 거리가 더 짧은 위치에 위치될 수 있다. 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 제1차폐벽(230b)으로부터 이격된 거리에 비해 상기 제2차폐벽(230c)으로부터 이격된 거리가 더 짧은 위치에 위치될 수 있다. 상기 제3차폐벽(230d)과 상기 제4차폐벽(230e)은 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 서로 대향되게 배치된 것이다. 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 상기 제3차폐벽(230d)과 상기 제4차폐벽(230e)의 사이에는 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 제2RF컨택트(212)가 위치될 수 있다.
상기 제1접지컨택트(250)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(211)와 상기 전송컨택트(220)들의 사이에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1RF컨택트(211)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1차폐벽(230b)과 상기 제1접지컨택트(250)의 사이에 위치하고, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 상기 제3차폐벽(230d)과 상기 제4차폐벽(230e)의 사이에 위치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1접지컨택트(250), 상기 제1차폐벽(230b), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)을 이용하여 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 차폐기능을 강화할 수 있다. 상기 제1접지컨택트(250), 상기 제1차폐벽(230b), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)은 상기 제1RF컨택트(211)를 기준으로 하는 4개의 측방에 배치되어서 RF신호에 대한 차폐력을 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 제1접지컨택트(250), 상기 제1차폐벽(230b), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)은 상기 제1RF컨택트(211)에 대해 상기 제1접지루프(250a, 도 15에 도시됨)를 구현할 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제1접지루프(250a)를 이용하여 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 차폐기능을 더 강화함으로써, 상기 제1RF컨택트(211)에 대한 완전차폐를 실현할 수 있다.
상기 제2접지컨택트(260)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(212)와 상기 전송컨택트(220)들의 사이에 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제2RF컨택트(212)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2차폐벽(230c)과 상기 제2접지컨택트(260)의 사이에 위치하고, 상기 제2축방향(Y축 방향)을 기준으로 하여 상기 제3차폐벽(230d)과 상기 제4차폐벽(230e)의 사이에 위치될 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제2접지컨택트(260), 상기 제2차폐벽(230c), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)을 이용하여 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 차폐기능을 강화할 수 있다. 상기 제2접지컨택트(260), 상기 제2차폐벽(230c), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)은 상기 제2RF컨택트(212)를 기준으로 하는 4개의 측방에 배치되어서 RF신호에 대한 차폐력을 구현할 수 있다. 이 경우, 상기 제2접지컨택트(260), 상기 제2차폐벽(230c), 상기 제3차폐벽(230d), 및 상기 제4차폐벽(230e)은 상기 제2RF컨택트(212)에 대해 상기 제2접지루프(260a, 도 15에 도시됨)를 구현할 수 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 제2접지루프(260a)를 이용하여 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 차폐기능을 더 강화함으로써, 상기 제2RF컨택트(212)에 대한 완전차폐를 실현할 수 있다.
도 2 내지 도 16을 참고하면, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서, 상기 절연부(240)는 다음과 같이 구현될 수 있다.
상기 절연부(240)는 절연부재(241), 삽입부재(242), 및 연결부재(243)를 포함할 수 있다.
상기 절연부재(241)는 상기 RF컨택트(210)들과 상기 전송컨택트(220)들을 지지하는 것이다. 상기 절연부재(241)는 상기 내측공간(230a)에 위치될 수 있다. 상기 절연부재(241)는 상기 접지내벽(231)의 내측에 위치될 수 있다. 상기 절연부재(241)는 상기 상대커넥터가 갖는 내측공간에 삽입될 수 있다.
상기 삽입부재(242)는 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232) 사이에 삽입되는 것이다. 상기 삽입부재(242)가 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232) 사이에 삽입됨에 따라, 상기 절연부(240)는 상기 접지하우징(230)에 결합될 수 있다. 상기 삽입부재(242)는 상기 접지내벽(231)과 상기 접지외벽(232) 사이에 억지 끼워맞춤(Interference Fit) 방식으로 삽입될 수 있다. 상기 삽입부재(242)는 상기 절연부재(241)의 외측에 배치될 수 있다. 상기 삽입부재(242)는 상기 절연부재(241)의 외측을 둘러싸도록 배치될 수 있다.
상기 연결부재(243)는 상기 삽입부재(242)와 상기 절연부재(241) 각각에 결합된 것이다. 상기 연결부재(243)를 통해 상기 삽입부재(242)와 상기 절연부재(241)가 서로 연결될 수 있다. 상기 수직방향을 기준으로, 상기 연결부재(243)는 상기 삽입부재(242)와 상기 절연부재(241)에 비해 더 얇은 두께로 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 삽입부재(242)와 상기 절연부재(241)의 사이에 공간이 마련되고, 해당 공간에 상기 상대커넥터가 삽입될 수 있다. 상기 연결부재(243), 상기 삽입부재(242), 및 상기 연결부재(243)는 일체로 형성될 수도 있다.
상기 절연부(240)는 납땜검사창(244, 도 4에 도시됨)을 포함할 수 있다.
상기 납땜검사창(244)은 상기 절연부(240)를 관통하여 형성될 수 있다. 상기 납땜검사창(244)은 상기 RF실장부재들(2111, 2121)이 상기 제1기판에 실장된 상태를 검사하는데 이용될 수 있다. 이 경우, 상기 RF컨택트(210)들은 상기 RF실장부재들(2111, 2121)이 상기 납땜검사창(244)에 위치하도록 상기 절연부(240)에 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 RF실장부재들(2111, 2121)은 상기 절연부(240)에 가려지지 않는다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)가 상기 제1기판에 실장된 상태에서, 작업자는 상기 납땜검사창(244)을 통해 상기 RF실장부재들(2111, 2121)이 상기 제1기판에 실장된 상태를 검사할 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 RF실장부재들(2111, 2121)을 포함한 상기 RF컨택트(210)들 전부가 상기 접지하우징(230)의 내측에 위치하더라도, 상기 RF컨택트(210)들을 상기 제1기판에 실장하는 실장작업의 정확성을 향상시킬 수 있다. 상기 납땜검사창(244)은 상기 절연부재(241)를 관통하여 형성될 수 있다.
상기 절연부(240)는 상기 납땜검사창(244)을 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 RF실장부재들(2111, 2121)은 서로 다른 납땜검사창(244)에 위치될 수 있다. 상기 납땜검사창(244)들 중에서 일부에는 상기 전송실장부재들(2211, 2221)이 위치될 수도 있다. 상기 납땜검사창(244)들 중에서 일부에는 상기 접지실장부재들(2512, 2522, 2612, 2622)이 위치될 수도 있다. 따라서, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)가 상기 제1기판에 실장된 상태에서, 작업자는 상기 납땜검사창(244)들을 통해 상기 RF실장부재들(2111, 2121), 상기 전송실장부재들(2211, 2221), 및 상기 접지실장부재들(2512, 2522, 2612, 2622)이 상기 제1기판에 실장된 상태를 검사할 수 있다. 이에 따라, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)는 상기 RF실장부재들(2111, 2121), 상기 전송실장부재들(2211, 2221), 및 상기 접지실장부재들(2512, 2522, 2612, 2622)을 상기 제1기판에 실장하는 작업의 정확성을 향상시킬 수 있다. 상기 납땜검사창(244)들은 서로 이격된 위치에서 상기 절연부(240)를 관통하여 형성될 수 있다.
<제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)>
도 2 내지 도 20을 참고하면, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 제2기판에 실장될 수 있다. 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)와 상대커넥터가 서로 결합되도록 조립되면, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)가 실장된 제2기판 및 상기 상대커넥터가 실장된 제1기판이 전기적으로 연결될 수 있다. 이 경우, 상기 상대커넥터는 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)로 구현될 수도 있다. 한편, 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에서의 상대커넥터는 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)로 구현될 수도 있다.
제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 복수개의 RF컨택트(310)들, 복수개의 전송컨택트(220)들, 접지하우징(330), 절연부(340), 제1접지컨택트(350), 및 제2접지컨택트(360)를 포함할 수 있다. 상기 RF컨택트(310)들, 상기 전송컨택트(220)들, 상기 접지하우징(330), 상기 절연부(340), 제1접지컨택트(350), 및 제2접지컨택트(360)는 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 RF컨택트(210)들, 상기 전송컨택트(220)들, 상기 접지하우징(230), 상기 절연부(240), 제1접지컨택트(250), 및 제2접지컨택트(260) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이하에서는 차이점 위주로 설명한다.
상기 RF컨택트(310)들 중에서 제1RF컨택트(311)와 상기 RF컨택트(310)들 중에서 제2RF컨택트(312)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격된 위치에서 상기 절연부(340)에 지지될 수 있다.
상기 제1RF컨택트(311)는 상기 제2기판에 실장되기 위한 제1RF실장부재(3111), 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1RF검사평면(3112), 및 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 제1RF접속부재(3113)를 포함할 수 있다. 상기 제1RF컨택트(311)는 복수개의 제1RF실장부재들(3111, 3111')(도 20에 도시됨)을 포함할 수도 있다. 상기 제1RF컨택트(311)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1RF검사부재(3114)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제1RF실장부재(3111), 상기 제1RF검사평면(3112), 상기 제1RF접속부재(3113), 및 상기 제1RF검사부재(3114)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제1RF실장부재(2111), 상기 제1RF검사평면(2112), 상기 제1RF접속부재(2113), 및 상기 제1RF검사부재(2114) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2RF컨택트(312)는 상기 제2기판에 실장되기 위한 제2RF실장부재(3121), 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2RF검사평면(3122), 및 상기 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 제2RF접속부재(3123)를 포함할 수 있다. 상기 제2RF컨택트(312)는 복수개의 제2RF실장부재들(3121, 3121')(도 20에 도시됨)을 포함할 수도 있다. 상기 제2RF컨택트(312)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2RF검사부재(3124)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2RF실장부재(3121), 상기 제2RF검사평면(3122), 상기 제2RF접속부재(3123), 및 상기 제2RF검사부재(3124)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제2RF실장부재(2121), 상기 제2RF검사평면(2122), 상기 제2RF접속부재(2123), 및 상기 제2RF검사부재(2124) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 전송컨택트(220)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제2RF컨택트(312)의 사이에 배치될 수 있다. 상기 전송컨택트(220)들 중에서 제1전송컨택트(321)들과 상기 전송컨택트(220)들 중에서 제2전송컨택트(322)들은 상기 제2축방향(Y축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다.
상기 제1전송컨택트(321)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제1전송컨택트(321)들 각각은 상기 제2기판에 실장되기 위한 제1전송실장부재(3211), 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1전송검사평면(3212), 및 상기 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 제1전송접속부재(3213)를 포함할 수 있다. 상기 제1전송컨택트(321)들 각각은 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1전송검사부재(3214)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제1전송실장부재(3211), 상기 제1전송검사평면(3212), 상기 제1전송접속부재(3213), 및 상기 제1전송검사부재(3214)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제1전송실장부재(2211), 상기 제1전송검사평면(2212), 상기 제1전송접속부재(2213), 및 상기 제1전송검사부재(2214) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2전송컨택트(322)들은 상기 제1축방향(X축 방향)을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 상기 제2전송컨택트(322)들 각각은 상기 제2기판에 실장되기 위한 제2전송실장부재(3221), 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2전송검사평면(3222), 및 상기 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 제2전송접속부재(3223)를 포함할 수 있다. 상기 제2전송컨택트(322)들는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2전송검사부재(3224)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2전송실장부재(3221), 상기 제2전송검사평면(3222), 상기 제2전송접속부재(3223), 및 상기 제2전송검사부재(3224)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제2전송실장부재(2221), 상기 제2전송검사평면(2222), 상기 제2전송접속부재(2223), 및 상기 제2전송검사부재(2224) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 접지하우징(330)은 상기 절연부(340)가 결합된 것이다. 상기 접지하우징(330)은 상기 제2기판에 실장됨으로써, 접지(Ground)될 수 있다. 상기 접지하우징(330)은 내측공간(330a)의 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 상기 내측공간(330a)에는 상기 절연부(340)가 위치할 수 있다. 상기 제1RF컨택트(311), 상기 제2RF컨택트(312), 상기 전송컨택트(320)들, 상기 제1접지컨택트(250), 및 상기 제2접지컨택트(260)는 전부가 상기 내측공간(330a)에 위치할 수 있다. 이 경우, 상기 제1RF컨택트(311), 상기 제2RF컨택트(312), 상기 전송컨택트(320)들, 상기 제1접지컨택트(250), 및 상기 제2접지컨택트(260) 각각에서 상기 제2기판에 실장되는 부분 또한 전부가 상기 내측공간(330a)에 위치할 수 있다. 상기 내측공간(330a)에는 상기 상대커넥터가 삽입될 수 있다. 이 경우, 상기 내측공간(330a)에 상기 상대커넥터의 일부가 삽입되고, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)의 일부가 상기 상대커넥터가 갖는 내측공간에 삽입될 수 있다. 상기 접지하우징(330)은 상기 내측공간(330a)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다.
상기 절연부(340)는 상기 RF컨택트(310)들을 지지하는 것이다. 상기 절연부(340)에는 상기 RF컨택트(310)들, 상기 전송컨택트(320)들, 상기 제1접지컨택트(250), 및 상기 제2접지컨택트(260)가 결합될 수 있다. 상기 절연부(340)는 상기 RF컨택트(310)들, 상기 전송컨택트(320)들, 상기 제1접지컨택트(250), 및 상기 제2접지컨택트(260)가 상기 내측공간(330a)에 위치하도록 상기 접지하우징(330)에 결합될 수 있다.
상기 제1접지컨택트(350)는 상기 접지하우징(330)과 함께 상기 제1RF컨택트(311)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 상기 제1접지컨택트(350)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 전송컨택트(320)들의 사이에 배치될 수 있다. 상기 내측공간(330a)에 상기 상대커넥터가 삽입되면, 상기 제1접지컨택트(350)는 상기 상대커넥터가 갖는 접지컨택트에 접속될 수 있다.
상기 제1접지컨택트(350)는 제1-1접지컨택트(351), 및 제1-2접지컨택트(352)를 포함할 수 있다.
상기 제1-1접지컨택트(351)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제1전송컨택트(321)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제1-1접지컨택트(351)는 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제1전송컨택트(321)들의 사이를 차폐할 수 있다. 상기 제1-1접지컨택트(351)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1-1접지검사평면(3511), 상기 제2기판에 실장되기 위한 제1-1접지실장부재(3512), 및 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제1-1접지접속부재(3513)를 포함할 수 있다. 상기 제1-1접지컨택트(351)는 상기 제1-1접지실장부재(3512)를 복수개 포함할 수도 있다. 상기 제1-1접지컨택트(351)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1-1접지검사부재(3514)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제1-1접지검사평면(3511), 상기 제1-1접지실장부재(3512), 상기 제1-1접지접속부재(3513), 및 상기 제1-1접지검사부재(3514)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제1-1접지검사평면(2511), 상기 제1-1접지실장부재(2512), 상기 제1-1접지접속부재(2513), 및 상기 제1-1접지검사부재(2514) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제1-2접지컨택트(352)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제2전송컨택트(322)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제1-2접지컨택트(352)는 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제2전송컨택트(322)들의 사이를 차폐할 수 있다. 상기 제1-2접지컨택트(352)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1-2접지검사평면(3521), 상기 제2기판에 실장되기 위한 제1-2접지실장부재(3522), 및 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제1-2접지접속부재(3523)를 포함할 수 있다. 상기 제1-2접지컨택트(352)는 상기 제1-2접지실장부재(3522)를 복수개 포함할 수도 있다. 상기 제1-2접지컨택트(352)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제1-2접지검사부재(3524)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제1-2접지검사평면(3521), 상기 제1-2접지실장부재(3522), 상기 제1-2접지접속부재(3523), 및 상기 제1-2접지검사부재(3524)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제1-2접지검사평면(2521), 상기 제1-2접지실장부재(2522), 상기 제1-2접지접속부재(2523), 및 상기 제1-2접지검사부재(2524) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2접지컨택트(360)는 상기 접지하우징(330)과 함께 상기 제2RF컨택트(312)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 상기 제2접지컨택트(360)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(312)와 상기 전송컨택트(320)들의 사이에 배치될 수 있다. 상기 내측공간(330a)에 상기 상대커넥터가 삽입되면, 상기 제2접지컨택트(360)는 상기 상대커넥터가 갖는 접지컨택트에 접속될 수 있다.
상기 제2접지컨택트(360)는 제2-1접지컨택트(361), 및 제2-2접지컨택트(362)를 포함할 수 있다.
상기 제2-1접지컨택트(361)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(312)와 상기 제2전송컨택트(322)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제2-1접지컨택트(361)는 상기 제2RF컨택트(312)와 상기 제2전송컨택트(322)들의 사이를 차폐할 수 있다. 상기 제2-1접지컨택트(361)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2-1접지검사평면(3611), 상기 제2기판에 실장되기 위한 제2-1접지실장부재(3612), 및 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제2-1접지접속부재(3613)를 포함할 수 있다. 상기 제2-1접지컨택트(361)는 상기 제2-1접지실장부재(3612)를 복수개 포함할 수도 있다. 상기 제2-1접지컨택트(361)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2-1접지검사부재(3614)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2-1접지검사평면(3611), 상기 제2-1접지실장부재(3612), 상기 제2-1접지접속부재(3613), 및 상기 제2-1접지검사부재(3614)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제2-1접지검사평면(2611), 상기 제2-1접지실장부재(2612), 상기 제2-1접지접속부재(2613), 및 상기 제2-1접지검사부재(2614) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
상기 제2-2접지컨택트(362)는 상기 제1축방향(X축 방향)을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트(312)와 상기 제1전송컨택트(321)들의 사이에 배치되는 것이다. 이에 따라, 상기 제2-2접지컨택트(362)는 상기 제2RF컨택트(312)와 상기 제1전송컨택트(321)들의 사이를 차폐할 수 있다. 상기 제2-2접지컨택트(362)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2-2접지검사평면(3621), 상기 제2기판에 실장되기 위한 제2-2접지실장부재(3622), 및 상기 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제2-2접지접속부재(3623)를 포함할 수 있다. 상기 제2-2접지컨택트(362)는 상기 제2-2접지실장부재(3622)를 복수개 포함할 수도 있다. 상기 제2-2접지컨택트(362)는 상기 검사기구에 접촉되기 위한 제2-2접지검사부재(3624)를 추가로 포함할 수도 있다. 상기 제2-2접지검사평면(3621), 상기 제2-2접지실장부재(3622), 상기 제2-2접지접속부재(3623), 및 상기 제2-2접지검사부재(3624)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제2-2접지검사평면(2621), 상기 제2-2접지실장부재(2622), 상기 제2-2접지접속부재(2623), 및 상기 제2-2접지검사부재(2624) 각각과 대략 일치하게 구현될 수 있으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
이러한 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)에 있어서, 도 20에 도시된 바와 같이 상기 제1-1접지검사평면(3511), 상기 제1전송검사평면(3212)들, 상기 제2-2접지검사평면(3621), 및 상기 제2RF검사평면(3122)은 상기 제1열(R1) 상에 배치될 수 있다. 상기 제1RF검사평면(3112), 상기 제1-2접지검사평면(3512), 상기 제2전송검사평면(3222)들, 및 상기 제2-1접지검사평면(3611)은 상기 제2열(R2) 상에 배치될 수 있다. 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)에 있어서, 상기 검사평면들(3112, 3122, 3212, 3222, 3511, 3521, 3611, 3621)은 도 6, 도 9, 또는 도 14에 도시된 바와 같이 배치될 수도 있다.
도 16 내지 도 21을 참고하면, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)에 있어서, 상기 접지하우징(330)은 다음과 같이 구현될 수 있다.
상기 접지하우징(330)은 접지측벽(331), 접지상벽(332), 및 접지하벽(333)을 포함할 수 있다.
상기 접지측벽(331)은 상기 절연부(240)를 향하는 것이다. 상기 접지측벽(331)은 상기 내측공간(330a)을 향하도록 배치될 수 있다. 상기 접지측벽(331)은 상기 내측공간(330a)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다.
상기 접지측벽(331)은 상기 내측공간(330a)에 삽입되는 상대커넥터의 접지하우징에 접속될 수 있다. 예컨대, 도 16에 도시된 바와 같이 상기 접지측벽(331)은 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)의 접지하우징(230)이 갖는 접지내벽(231)에 접속될 수 있다. 이와 같이, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 접지하우징(330)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접속을 통해 차폐기능을 더 강화할 수 있다. 또한, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 접지하우징(330)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접속을 통해 서로 인접한 단자 간에 서로의 용량 또는 유도에 의해 발생될 수 있는 크로스토크(Crosstalk) 등과 같은 전기적 악영향을 저감시킬 수 있다. 이 경우, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 제2기판과 상기 제1기판 중에서 적어도 하나의 그라운드(Ground)로 전자파가 유입되는 경로를 확보할 수 있으므로, EMI 차폐 성능을 더 강화할 수 있다.
상기 접지상벽(332)은 상기 접지측벽(331)에 결합된 것이다. 상기 접지상벽(332)은 상기 접지측벽(331)의 일단에 결합될 수 있다. 상기 접지상벽(332)은 상기 접지측벽(331)으로부터 상기 내측공간(330a) 쪽으로 돌출될 수 있다. 상기 접지상벽(332)은 상기 내측공간(330a)에 삽입되는 상대커넥터의 접지하우징에 접속될 수 있다. 이에 따라, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 접지상벽(332)과 상기 접지측벽(331)이 상기 상대커넥터의 접지하우징에 접속되므로, 상기 접지하우징(330)과 상기 상대커넥터의 접지하우징 간의 접촉면적을 증대시킴으로써 차폐기능을 더 강화할 수 있다. 예컨대, 도 16에 도시된 바와 같이, 상기 접지상벽(332)은 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)의 접지하우징(230)이 갖는 접지바닥(234)에 접속될 수 있다.
상기 접지하벽(333)은 상기 접지측벽(331)에 결합된 것이다. 상기 접지하벽(333)은 상기 접지측벽(331)의 타단에 결합될 수 있다. 상기 접지하벽(333)은 상기 접지측벽(331)으로부터 상기 내측공간(330a)의 반대쪽으로 돌출될 수 있다. 상기 접지하벽(333)은 상기 접지측벽(331)을 기준으로 하는 모든 측방을 둘러싸도록 배치될 수 있다. 상기 접지하벽(333)과 상기 접지측벽(331)은 상기 내측공간(330a)의 측방을 둘러싸는 차폐벽으로 구현될 수 있다. 상기 제1RF컨택트(311)와 상기 제2RF컨택트(312)는 상기 차폐벽에 의해 둘러싸인 상기 내측공간(330a)에 위치될 수 있다. 이에 따라, 상기 접지하우징(330)은 차폐벽을 이용하여 상기 RF컨택트(310)들에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 따라서, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)는 상기 차폐벽을 이용하여 EMI 차폐 성능, EMC 성능을 더 향상시키는데 기여할 수 있다. 상기 접지하벽(333)은 상기 제2기판에 실장됨으로써 접지될 수 있다. 이 경우, 상기 접지하우징(330)은 상기 접지하벽(333)을 통해 접지될 수 있다.
상기 접지하벽(333)과 상기 접지상벽(332)은 상기 수평방향으로 배치된 판형으로 형성되고, 상기 접지측벽(331)은 상기 수직방향으로 배치된 판형으로 형성될 수 있다. 상기 접지하벽(333), 상기 접지상벽(332), 및 상기 접지측벽(331)은 일체로 형성될 수도 있다.
여기서, 상기 접지하우징(330)은 상기 제1접지컨택트(350)와 함께 상기 제1RF컨택트(311)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다. 상기 접지하우징(330)은 상기 제2접지컨택트(360)와 함께 상기 제2RF컨택트(312)에 대한 차폐기능을 구현할 수 있다.
이 경우, 도 21에 도시된 바와 같이 상기 접지하우징(330)은 제1차폐벽(330b), 제2차폐벽(330c), 제3차폐벽(330d), 및 제4차폐벽(330e)을 포함할 수 있다. 상기 제1접지컨택트(350), 상기 제1차폐벽(330b), 상기 제3차폐벽(330d), 및 상기 제4차폐벽(330e)은 상기 제1RF컨택트(311)에 대해 상기 제1접지루프(350a)를 구현할 수 있다. 상기 제2접지컨택트(360), 상기 제2차폐벽(330c), 상기 제3차폐벽(330d), 및 상기 제4차폐벽(330e)은 상기 제2RF컨택트(312)에 대해 상기 제2접지루프(360a)를 구현할 수 있다. 상기 제1차폐벽(330b), 상기 제2차폐벽(330c), 상기 제3차폐벽(330d), 상기 제4차폐벽(330e), 상기 제1접지루프(350a), 및 상기 제2접지루프(360a)는 각각 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 제1차폐벽(230b), 상기 제2차폐벽(230c), 상기 제3차폐벽(230d), 상기 제4차폐벽(230e), 상기 제1접지루프(250a), 및 상기 제2접지루프(260a)와 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
도 2 내지 도 21을 참고하면, 제2실시예에 따른 기판 커넥터(300)에 있어서, 상기 절연부(340)는 상기 제2기판에 실장된 상태를 검사하는데 이용되는 납땜검사창(341)을 포함할 수 있다. 상기 납땜검사창(341)은 상술한 제1실시예에 따른 기판 커넥터(200)에 있어서 상기 납땜검사창(244)과 대략 일치하게 구현되므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
1: 기판 커넥터
200 : 제1실시예에 따른 기판 커넥터
210 : RF컨택트 211 : 제1RF컨택트
212 : 제2RF컨택트 220 : 전송컨택트
221 : 제1전송컨택트 222 : 제2전송컨택트
230 : 접지하우징 240 : 절연부
250 : 제1접지컨택트 251 : 제1-1접지컨택트
252 : 제1-2접지컨택트 260 : 제2접지컨택트
261 : 제2-1접지컨택트 262 : 제2-2접지컨택트
300 : 제2실시예에 따른 기판 커넥터
330 : RF컨택트 311 : 제1RF컨택트
332 : 제2RF컨택트 320 : 전송컨택트
331 : 제1전송컨택트 322 : 제2전송컨택트
330 : 접지하우징 340 : 절연부
350 : 제1접지컨택트 351 : 제1-1접지컨택트
352 : 제1-2접지컨택트 360 : 제2접지컨택트
361 : 제2-1접지컨택트 362 : 제2-2접지컨택트

Claims (19)

  1. RF(Radio Frequency)신호 전송을 위한 복수개의 RF컨택트;
    상기 RF컨택트들을 지지하는 절연부;
    상기 RF컨택트들 중에서 제1RF컨택트와 상기 RF컨택트들 중에서 제2RF컨택트가 제1축방향을 따라 서로 이격되도록 상기 제1RF컨택트와 상기 제2RF컨택트의 사이에서 상기 절연부에 결합된 복수개의 전송컨택트;
    상기 절연부가 결합된 접지하우징;
    상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제1RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제1접지컨택트; 및
    상기 절연부에 결합되고, 상기 제1축방향을 기준으로 하여 상기 제2RF컨택트와 상기 전송컨택트들의 사이를 차폐하는 제2접지컨택트를 포함하고,
    상기 제1RF컨택트는 검사기구가 접촉되기 위한 제1RF검사평면을 포함하며,
    상기 제2RF컨택트는 검사기구가 첩촉되기 위한 제2RF검사평면을 포함하고,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면은 동일한 높이의 평면 상에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면 중에서 적어도 하나는 상기 제1축방향을 기준으로 하는 폭을 1이라 할 때, 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 기준으로 하는 길이가 0.5 이상인 평면(平面)으로 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면 중에서 적어도 하나는 상기 제1축방향을 기준으로 하는 폭을 1이라 할 때, 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 기준으로 하는 길이가 1.5 이하인 평면(平面)으로 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 전송컨택트들 중에서 제1전송컨택트들과 상기 전송컨택트들 중에서 제2전송컨택트들은 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치되고,
    상기 제1전송컨택트들은 각각 검사기구가 접촉되기 위한 제1전송검사평면을 포함하며,
    상기 제2전송컨택트들은 각각 검사기구가 접촉되기 위한 제2전송검사평면을 포함하고,
    상기 제1전송검사평면들과 상기 제2전송검사평면들은 동일한 높이의 평면 상에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면, 상기 제2RF검사평면, 상기 제1전송검사평면들, 및 상기 제2전송검사평면들은 동일한 높이의 평면 상에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면은 상기 제1전송검사평면들에 비해 더 높은 위치 또는 더 낮은 위치에 배치되고,
    상기 제2RF검사평면은 상기 제2전송검사평면들에 비해 더 높은 위치 또는 더 낮은 위치에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제1전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제1열 상에 배치되고,
    상기 제2RF검사평면과 상기 제2전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제2열 상에 배치되며,
    상기 제1열과 상기 제2열은 상기 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  8. 제4항에 있어서,
    상기 제1전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제1열 상에 배치되고,
    상기 제2전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제2열 상에 배치되며,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제3열 상에 배치되고,
    상기 제1열, 상기 제2열, 및 상기 제3열은 상기 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  9. 제4항에 있어서,
    상기 제1접지컨택트는 상기 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 제1-1접지컨택트와 제1-2접지컨택트를 포함하고,
    상기 제1-1접지컨택트는 검사기구가 접촉되기 위한 제1-1접지검사평면을 포함하며,
    상기 제1-2접지컨택트는 검사기구가 접촉되기 위한 제1-2접지검사평면을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1-1접지검사평면, 상기 제1-2접지검사평면, 상기 제1RF검사평면, 상기 제2RF검사평면, 상기 제1전송검사평면들, 및 상기 제2전송검사평면들은 동일한 높이의 평면 상에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제1-1접지검사평면과 상기 제1전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제1열 상에 배치되고,
    상기 제1-2접지검사평면과 상기 제2전송검사평면들은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제2열 상에 배치되며,
    상기 제1열과 상기 제2열은 상기 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면은 상기 제1열 상에 배치되고,
    상기 제2RF검사평면은 상기 제2열 상에 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 제1RF검사평면과 상기 제2RF검사평면은 상기 제1축방향에 대해 평행한 제3열 상에 배치되고,
    상기 제1열, 상기 제2열, 및 상기 제3열은 상기 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 제1RF컨택트는 기판에 실장되기 위한 제1RF실장부재, 및 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 제1RF접속부재를 포함하고,
    상기 제1RF검사평면은 상기 제1RF실장부재 또는 상기 제1RF접속부재에 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 제1RF컨택트는 기판에 실장되기 위한 제1RF실장부재, 상대커넥터의 RF컨택트에 접속되기 위한 제1RF접속부재, 및 검사기구가 접촉되기 위한 제1RF검사부재를 포함하고,
    상기 제1RF검사평면은 상기 제1RF검사부재에 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  16. 제1항에 있어서,
    상기 전송컨택트들 중에서 제1전송컨택트들과 상기 전송컨택트들 중에서 제2전송컨택트들은 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치되고,
    상기 제1전송컨택트들은 각각 기판에 실장되기 위한 제1전송실장부재, 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 제1전송접속부재, 및 검사기구가 접촉되기 위한 제1전송검사평면을 포함하며,
    상기 제1전송검사평면은 상기 제1전송실장부재 또는 상기 제1전송접속부재에 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  17. 제1항에 있어서,
    상기 전송컨택트들 중에서 제1전송컨택트들과 상기 전송컨택트들 중에서 제2전송컨택트들은 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치되고,
    상기 제1전송컨택트들은 각각 기판에 실장되기 위한 제1전송실장부재, 상대커넥터의 전송컨택트에 접속되기 위한 제1전송접속부재, 검사기구가 접촉되기 위한 제1전송검사평면, 및 상기 제1전송검사평면이 형성된 제1전송검사부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  18. 제1항에 있어서,
    상기 제1접지컨택트는 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 제1-1접지컨택트와 제1-2접지컨택트를 포함하고,
    상기 제1-1접지컨택트는 기판에 실장되기 위한 제1-1접지실장부재, 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제1-1접지접속부재, 및 검사기구가 접촉되기 위한 제1-1접지검사평면을 포함하며,
    상기 제1-1접지검사평면은 상기 제1-1접지실장부재 또는 상기 제1-1접지접속부재에 형성된 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
  19. 제4항에 있어서,
    상기 제1접지컨택트는 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향을 따라 서로 이격되어 배치된 제1-1접지컨택트와 제1-2접지컨택트를 포함하고,
    상기 제1-1접지컨택트는 기판에 실장되기 위한 제1-1접지실장부재, 상대커넥터의 접지컨택트에 접속되기 위한 제1-1접지접속부재, 검사기구가 접촉되기 위한 제1-1접지검사평면, 및 상기 제1-1접지검사평면이 형성된 제1-1접지검사부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 커넥터.
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