KR20220028412A - 시험장치 및 시험방법 - Google Patents

시험장치 및 시험방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20220028412A
KR20220028412A KR1020200109377A KR20200109377A KR20220028412A KR 20220028412 A KR20220028412 A KR 20220028412A KR 1020200109377 A KR1020200109377 A KR 1020200109377A KR 20200109377 A KR20200109377 A KR 20200109377A KR 20220028412 A KR20220028412 A KR 20220028412A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
gas
supply
pipe
test
Prior art date
Application number
KR1020200109377A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102427629B1 (ko
Inventor
소재욱
김진성
Original Assignee
한화시스템 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한화시스템 주식회사 filed Critical 한화시스템 주식회사
Priority to KR1020200109377A priority Critical patent/KR102427629B1/ko
Publication of KR20220028412A publication Critical patent/KR20220028412A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102427629B1 publication Critical patent/KR102427629B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • G01M99/002Thermal testing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B64AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
    • B64DEQUIPMENT FOR FITTING IN OR TO AIRCRAFT; FLIGHT SUITS; PARACHUTES; ARRANGEMENT OR MOUNTING OF POWER PLANTS OR PROPULSION TRANSMISSIONS IN AIRCRAFT
    • B64D13/00Arrangements or adaptations of air-treatment apparatus for aircraft crew or passengers, or freight space, or structural parts of the aircraft
    • B64D13/06Arrangements or adaptations of air-treatment apparatus for aircraft crew or passengers, or freight space, or structural parts of the aircraft the air being conditioned
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • G01M99/005Testing of complete machines, e.g. washing-machines or mobile phones
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B64AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
    • B64DEQUIPMENT FOR FITTING IN OR TO AIRCRAFT; FLIGHT SUITS; PARACHUTES; ARRANGEMENT OR MOUNTING OF POWER PLANTS OR PROPULSION TRANSMISSIONS IN AIRCRAFT
    • B64D13/00Arrangements or adaptations of air-treatment apparatus for aircraft crew or passengers, or freight space, or structural parts of the aircraft
    • B64D13/06Arrangements or adaptations of air-treatment apparatus for aircraft crew or passengers, or freight space, or structural parts of the aircraft the air being conditioned
    • B64D2013/0603Environmental Control Systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Aviation & Aerospace Engineering (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

본 발명의 실시예에 따른 시험장치는 피시험체를 향해 가스를 공급하도록 마련된 제1가스공급기, 제1가스공급기로부터 제공되는 가스와 다른 온도의 가스를 피시험체를 향해 공급하도록, 제1가스공급기와 별도로 마련된 제2가스공급기 및 제1가스공급기 및 제2가스공급기로부터 공급되는 가스에 의해 발생된 온도 변화율을 제어하는 조절기를 포함한다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치에 의하면, 온도 변화에 따른 전자장치의 동작 상태를 미리 시험할 수 있다. 이에, 피시험체의 시험 또는 확인 결과에 따라, 급격한 온도 변화에 따른 스트레스 또는 변형이 억제되거나 방지되도록, 전자장치를 보수 또는 보강하거나, 전자장치를 새롭게 제조할 수 있다. 따라서, 항공기 시동시 또는 운행중에 온도 변화에 의한 전자장치의 오작동을 방지할 수 있다.

Description

시험장치 및 시험방법{TEST APPARATUS AND TEST METHOD}
본 발명은 시험장치 및 시험방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 급격한 온도 변화 환경을 구현할 수 있는 시험장치 및 시험방법에 관한 것이다.
통상적으로 항공기에는 다양한 종류의 전자장치, 예컨대 표적의 영상을 획득하는 레이더 영상 장치, 영상 또는 이미지를 촬영하는 카메라, 지휘통제 등을 위한 무전기 등이 설치된다.
전자장치가 정상적으로 동작하기 위해서는 일정 온도로 유지되어야 할 필요가 있다. 그런데, 항공기의 고도 또는 외부 환경에 따라 전자장치의 온도가 상승 또는 하강할 수 있고, 전자장치의 온도가 너무 높거나 낮은 경우 오작동이 일어나거나, 동작되지 않을 수 있다. 이에, 전자장치가 소정 온도 범위로 유지될 수 있도록, 상기 전자장치로 냉각 또는 가열된 공기를 공급하는 환경제어장치(Environmental Control System; ECS)가 항공기에 설치된다.
한편, 항공기의 시동시에 환경제어장치가 함께 동작이 개시되는데, 이때 환경제어장치로부터 공급되는 공기의 온도가 빠른 속도로 상승되거나, 빠른 속도로 하락하면서 전자장치로 공급될 수 있다. 또한, 항공기 운행 중에 환경제어장치가 오작동 되는 경우에도 전자장치로 공급되는 온도가 급변할 수 있다.
이와 같이 전자장치로 공급되는 공기의 온도가 급변하는 경우, 전자장치가 오작동되거나, 동작되지 않을 수 있다. 따라서, 급격한 온도 변화에도 오작동되지 않는 또는 신뢰성이 높은 전자장치를 마련할 필요가 있으며, 이를 위해서는 급격한 온도 변화에 따른 상태를 시험할 수 있는 시험장치가 필요하다.
한국공개특허 10-2015-0003063
본 발명은 피시험체를 급격한 온도 변화 환경에 노출시킬 수 있는 시험장치 및 시험방법을 제공한다.
본 발명은 항공기에 탑재되는 전자장치에 대해, 급격한 온도 변화에 따른 신뢰성을 시험할 수 있는 시험장치 및 시험방법을 제공한다.
본 발명의 실시예에 따른 시험장치는 피시험체로 가스를 공급하도록 마련된 제1가스공급기; 상기 제1가스공급기로부터 제공되는 가스와 다른 온도의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1가스공급기와 별도로 마련된 제2가스공급기; 및 상기 제1가스공급기 및 제2가스공급기로부터 공급되는 가스에 의해 발생된 온도 변화율을 제어하는 조절기;를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 시험장치는 피시험체로 가스를 공급하도록 마련된 제1가스공급기; 상기 제1가스공급기로부터 제공되는 가스와 다른 온도의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1가스공급기와 별도로 마련된 제2가스공급기; 및 상기 피시험체의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 제1 및 제2가스공급기의 동작을 제어하는 조절기;를 포함한다.
상기 제1 및 제2가스공급기 각각의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1 및 제2가스공급기로부터 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관부를 포함하고, 상기 조절기는, 상기 공급배관부 내부의 온도를 측정하도록 상기 공급배관부에 설치된 공급 온도센서; 및 상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1가스공급기 또는 제2가스공급기의 동작을 제어하는 제어부;를 포함한다.
상기 제1가스공급기는, 가스를 수용하는 내부공간을 가지고, 내부에 수용된 가스를 가열하거나 냉각하는 제1챔버를 포함하고, 상기 제2가스공급기는, 가스를 수용하는 내부공간을 가지고, 내부에 수용된 가스를 가열하거나 냉각하는 제2챔버를 포함하며, 상기 제어부는 상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1 또는 제2챔버의 동작을 제어한다.
상기 제1가스공급기는 상기 제1챔버와 상기 공급배관부 간을 연결하는 제1이송배관부 및 상기 제1이송배관부 내부의 온도를 측정하도록, 상기 제1이송배관부에 연결된 제1온도센서를 포함하고, 상기 제2가스공급기는 상기 제2챔버와 상기 공급배관부 간을 연결하는 제2이송배관부 및 상기 제2이송배관부 내부의 온도를 측정하도록, 상기 제2이송배관부에 연결된 제2온도센서를 포함하며, 상기 제어부는 제1 및 제2온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1 및 제2챔버의 동작을 제어한다.
상기 제1가스공급기는 상기 제1챔버 내부의 가스를 외부로 송풍시키도록, 상기 제1챔버의 외부에서 상기 제1이송배관부에 연결된 제1송풍부를 포함하고, 상기 제2가스공급기는 상기 제2챔버 내부의 가스를 외부로 송풍시키도록, 상기 제2챔버 내부에 설치된 제2송풍부를 포함하며, 상기 제어부는 상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라 제1송풍부 또는 제2송풍부의 동작을 제어한다.
상기 공급배관부를 통과하는 가스의 유량을 측정하도록, 상기 공급배관부에 연결된 유량센서를 포함하고, 상기 제어부는 상기 유량센서에서 측정된 유량에 따라 상기 제1송풍부 또는 제2송풍부의 동작을 제어한다.
상기 공급배관부는, 상기 제1 및 제2이송배관부로부터 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관; 및 상기 제1 및 제2이송배관부 중 어느 하나와 상기 공급배관 간을 연통시키고, 다른 하나와 상기 공급배관 간은 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제1 및 제2 이송배관부와 공급배관 사이에 연결된 공급밸브;를 포함한다.
상기 제1이송배관부는, 일단이 상기 제1챔버에 연결된 제1배관, 상기 제1배관과 공급배관부 간을 연결하며, 상기 제1온도센서가 연결된 제2배관, 상기 제2배관 및 공급배관부 중 어느 하나와 상기 제1배관 간을 연통시키고, 다른 하나는 상기 제1배관과 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제1 및 제2배관과 공급배관부 사이에 연결된 제1밸브를 포함하고, 상기 제2이송배관부는, 일단이 상기 제2챔버에 연결된 제3배관, 상기 제3배관과 공급배관부 간을 연결하며, 상기 제2온도센서가 연결된 제4배관, 상기 제4배관 및 공급배관부 중 어느 하나와 상기 제3배관 간을 연통시키고, 다른 하나는 상기 제3배관과 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제3 및 제4배관과 공급배관부 사이에 연결된 제2밸브를 포함한다.
상기 피시험체는 항공기에 설치되는 전자장치를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 시험방법은 피시험체를 마련하는 과정; 설정된 목표 변화율이 되는 가스 공급 조건을 마련하는 과정; 상기 가스 공급 조건으로 마련된 서로 다른 온도의 가스를 시간차를 두고 상기 피시험체로 공급하는 분위기 형성과정; 및 상기 피시험체의 동작 이상 여부를 판단하는 판단과정;을 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 시험방법은 피시험체의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 피시험체로 서로 다른 온도의 가스를 시간차를 두고 공급하는 분위기 형성 과정; 및 상기 피시험체의 동작 이상 여부를 판단하는 판단과정;을 포함한다.
상기 분위기 형성 과정은, 상기 피시험체로 시간차를 두로 서로 다른 온도의 가스를 공급하는 1차 공급과정 및 2차 공급과정을 포함하고, 상기 2차 공급과정은 상기 1차 공급과정이 종료된 후에 실시한다.
상기 목표 변화율은 1.5℃/sec 내지 6 ℃/sec이다.
상기 1차 공급과정은 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관으로 제1온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하고, 상기 2차 공급과정은 상기 공급배관으로 상기 제1온도에 비해 낮은 제2온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하며, 상기 제1온도는 25℃ 이상, 제2온도는 -50℃ 이하일 수 있다.
상기 판단과정은, 상기 공급배관의 온도가 목표로하는 종료온도까지 하강되면 실시하고, 상기 종료온도는 -10℃ 이하일 수 있다.
상기 1차 공급과정은 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관으로 제1온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하고, 상기 2차 공급과정은 상기 공급배관으로 상기 제1온도에 비해 높은 제2온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하며, 상기 제1온도는 -10℃ 이하, 제2온도는 100℃ 이상일 수 있다.
상기 판단과정은, 상기 공급배관의 온도가 목표로하는 종료온도까지 상승되면 실시하고, 상기 종료온도는 45℃ 이상일 수 있다.
상기 분위기 형성 과정은, 상기 피시험체를 향해 연장 형성되어 상기 피시험체로 가스를 공급하는 공급배관의 온도를 실시간으로 측정하는 과정; 측정된 상기 공급배관의 온도를 이용하여, 시간에 따른 온도 변화율을 산출하는 과정; 산출된 상기 온도 변화율과 상기 목표 변화율을 비교하여, 산출된 상기 온도 변화율이 상기 목표 변화율 미만이거나, 초과하는 경우, 상기 2차 공급과정에서 공급되는 가스의 유량을 조절하는 보정과정;을 포함한다.
상기 피시험체는 항공기에 설치되는 전자장치를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 시험장치에 의하면, 온도 변화에 따른 전자장치의 동작 상태를 미리 시험할 수 있다. 보다 구체적인 예로는, 항공기 운행 전에, 항공기에 설치될 또는 설치되었던 전자장치를 피시험체로 하여 시험을 실시함으로써, 온도 변화에 따른 전자장치의 동작 상태를 미리 확인할 수 있다.
이에, 피시험체의 시험 또는 확인 결과에 따라, 급격한 온도 변화에 따른 스트레스 또는 변형이 억제되거나 방지되도록, 전자장치를 보수 또는 보강하거나, 전자장치를 새롭게 제조할 수 있다. 따라서, 항공기 시동시 또는 운행중에 온도 변화에 의한 전자장치의 오작동을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 개념적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 피시험체가 고온에서 저온으로 온도가 급변할 때 상기 피시험체의 상태를 시험하기 위한, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치의 동작을 설명하는 도면이다.
도 3은 피시험체가 저온에서 고온으로 온도가 급변할 때 상기 피시험체의 상태를 시험하기 위한, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치의 동작을 설명하는 도면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 구성요소를 지칭한다.
본 발명은 급격한 온도 변화 환경을 구현할 수 있는 시험장치 및 시험방법에 관한 것이다. 즉, 급격한 온도 변화에 의한 피시험체의 상태를 시험할 수 있는 시험장치 및 시험방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 개념적으로 나타낸 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치는 목표온도로 조절된 가스를 제공할 수 있는 제1가스공급기(1000), 제1가스공급기(1000)에서 제공되는 가스의 온도에 비해 낮은 목표온도로 조절된 가스를 제공할 수 있는 제2가스공급기(2000), 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000) 각각으로부터 제공된 가스를 피시험체(S)로 공급하는 공급배관부(3000), 피시험체(S) 주위의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)의 동작을 제어하는 조절기(4000)를 포함한다.
또한, 시험장치는 공급배관부(3000)와 연결되며, 피시험체(S)가 수용될 수 있는 시험 하우징(8000), 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000), 조절기(4000)로부터 측정된 온도를 표시하는 온도 표시부(6000) 및 조절기(4000)에서 측정된 가스의 유량을 표시하는 유량 표시부(7000)를 포함할 수 있다.
시험장치를 통해 시험하고자 하는 피시험체(S)는 항공기에 설치되는 전자장치일 수 있다. 그리고 이러한 전자장치는 해당 기술분야에서 임무 컴퓨터라고 불리우는 수단일 수 있다. 또한, 피시험체(S)는 항공기에 설치하기 위해 제조 또는 마련된 전자장치이거나, 항공기에 실제 설치되어 있던 전자장치일 수 있다. 또한, 피시험체(S)인 전자장치는, 표적의 영상을 획득하는 레이더 영상 장치, 영상 또는 이미지를 촬영하는 카메라, 지휘통제 등을 위한 무전기 중 하나일 수 있다. 물론 피시험체(S)는 상술한 예시에 한정되지 않고, 항공기에 설치되는 다양한 전자장치의 적용이 가능하다. 또한, 피시험체는 항공기에 설치되는 전자장치에 한정되지 않고, 급격한 온도 변화에 노출될 수 있는 다양한 전자장치가 적용될 수 있다.
피시험체(S)는 목적하는 임무 또는 기능을 수행하도록 마련되는 기능부, 기능부를 커버하도록 마련된 커버, 커버 내부에서 기능부의 외측을 둘러싸도록 마련된 방열핀, 공급배관부(3000)를 통해 공급된 가스가 방열핀을 향해 또는 공급될 수 있도록, 커버 내부에 마련된 통로를 포함할 수 있다. 이때, 공급배관부(3000)는 피시험체의 커버에 연결되도록 마련될 수 있다. 이때, 공급배관부(3000)를 통해 분출되는 가스는 피시험체의 커버에 마련된 통로를 통해, 방열핀 및 기능부를 향해 분사될 수 있다. 여기서, 기능부는 표적의 영상을 획득하는 레이더 영상 장치, 영상 또는 이미지를 촬영하는 카메라, 지휘통제 등을 위한 무전기와 같은 전자부품을 포함하는 수단일 수 있다.
또한, 피시험체(S)는 내부공간을 가지는 시험 하우징(8000) 내에 수용되도록 설치될 수 있고, 공급배관부(3000)는 시험 하우징(8000)에 연결되어 가스를 상기 시험 하우징(8000) 내로 공급하도록 마련될 수 있다. 이러한 경우, 시험 하우징 내로 공급된 가스가 피시험체의 커버에 마련된 통로를 통과한 후, 방열핀 및 기능부를 향해 확산될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 통해 피시험체(S)로 또는 피시험체(S)를 향해 가스를 공급한다는 것은, 피시험체(S)로 직접 가스를 공급하거나, 피시험체(S)가 수용되어 있는 시험 하우징(8000)으로 공급한다는 의미일 수 있다.
그리고, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 통해 피시험체(S) 또는 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스는 예컨대 공기(air)일 수 있다.
제1가스공급기(1000)는 내부공간을 가지며, 내부공간 내 가스를 가열하거나, 냉각시키는 제1챔버(1100), 제1챔버(1100)와 연결된 제1이송배관부(1300), 제1이송배관부(1300)에 설치되어, 제1챔버(1100) 내 가스를 제1이송배관부(1300)로 송풍 또는 공급하는 제1송풍부(1200), 제1이송배관부(1300)에 연결되어 상기 제1이송배관부(1300)를 통과하는 가스의 온도를 측정하는 제1온도센서(1400)를 포함할 수 있다.
제1챔버(1100)는 가스가 수용될 수 있는 내부공간을 가진다. 그리고 제1챔버(1100)에는 내부에 수용된 가스 즉, 공기(air)의 온도를 상승시킬 수 있는 가열수단 및 가스의 온도를 낮출 수 있는 냉각수단이 설치 또는 연결된다. 여기서, 가열수단은 예컨대 저항가열 방식의 히터일 수 있고, 냉각수단은 에어컨디셔너(air conditioner)일 수 있다. 물론 가열수단 및 냉각수단은 상술한 예에 한정되지 않고, 가스의 온도를 상승시키거나, 낮출 수 있는 다양한 수단이 사용될 수 있다.
이러한 제1챔버(1100)는 조절기(4000)에 의해 그 동작이 제어되는데, 내부에 수용된 가스의 온도가 제1목표온도가 되도록 동작될 수 있다. 여기서, 제1목표온도는 예컨대 제1목표온도는 0℃ 이상의 온도, 보다 구체적인 예로 25℃ 이상 또는 100℃ 이상일 수 있다. 보다 더 구체적인 예로, 제1목표온도는 26.7℃ 또는 110℃일 수 있다. 물론, 제1목표온도는 피시험체(S)가 설치되는 항공기에서의 온도 변화에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 제1목표온도는 피시험체(S)에 대해 시험하고자 하는 급격한 온도 변화 환경 즉, 목표로하는 시간에 따른 온도 변화율(이하, 목표 변화율)에 따라 달라질 수 있다.
제1이송배관부(1300)는 제1챔버(1100)로부터 제공된 가스를 공급배관부(3000) 또는 제1온도센서(1400) 쪽으로 이송시킨다. 이러한 제1이송배관부(1300)는 일단이 제1챔버(1100)에 연결된 배관(이하, 제1배관(1310)), 제1배관(1310)과 공급배관부(3000) 사이를 연결하도록 설치되며, 제1온도센서(1400)가 연결된 배관(이하, 제2배관(1320)), 제1배관(1310), 제2배관(1320), 공급배관부(3000) 간의 연통을 제어하는 밸브(이하, 제1밸브(1330))를 포함할 수 있다.
제1온도센서(1400)는 제2배관(1320)에 연결되는데, 상기 제2배관(1320) 중, 공급배관부(3000)와 연결된 끝단의 반대 끝단에 제1온도센서(1400)가 연결될 수 있다.
제1밸브(1330)는 제1배관(1310)과 제2배관(1320) 간이 연통될 때, 제1배관(1310)과 공급배관부(3000) 간이 폐쇄되고, 제1배관(1310)과 공급배관부(3000) 간이 연통될 때, 제1배관(1310)과 제2배관(1320) 간이 폐쇄될 수 있도록 하는 밸브일 수 있다. 이러한 제1밸브(1330)는 예컨대 삼방밸브(three way valve)를 포함하는 수단일 수 있다.
제1송풍부(1200)는 제1챔버(1100) 내 가스를 밖으로 내보내고, 이를 제1이송배관부(1300) 또는 공급배관부(3000)로 이동시키는 송풍수단으로서, 제1이송배관부(1300)에 설치될 수 있다. 보다 구체적인 예로, 제1송풍부(1200)는 제1배관(1310)의 연장 경로 상에 설치될 수 있다. 이러한 제1송풍부(1200)는 회전 가능한 회전체, 회전체를 회전시키는 구동부, 회전체의 둘레 방향으로 나열되어 상기 회전체에 설치된 복수의 날개를 포함하는 수단일 수 있다. 여기서, 구동부는 예컨대 모터(motor)일 수 있다. 물론, 제1송풍부(1200)는 상술한 예에 한정되지 않고, 가스를 송풍시킬 수 있는 다양한 수단의 적용이 가능하다.
제2가스공급기(2000)는 제1가스공급기(1000)로부터 제공되는 가스에 비해 낮은 온도의 가스를 제공하는 수단이다. 그리고, 제2가스공급기(2000)는 제공되는 가스의 온도만이 상이하고, 제1가스공급기(1000)와 그 구성 및 형상이 동일 할 수 있다.
이러한, 제2가스공급기(2000)는 내부공간을 가지며, 내부공간 내 가스를 가열하거나 냉각시키는 제2챔버(2100), 제2챔버(2100)와 연결된 제2이송배관부(2300), 제2챔버(2100) 내부에 설치되어 제2챔버(2100) 내 가스를 제2이송배관부(2300)로 송풍 또는 공급하는 제2송풍부(2200), 제2이송배관부(2300)에 연결되어, 상기 제2이송배관부(2300) 내부의 온도를 측정하는 제2온도센서(2400)를 포함한다.
제2챔버(2100)는 가스가 수용될 수 있는 내부공간을 가진다. 그리고 제2챔버(2100)에는 내부에 수용된 가스 즉, 공기(air)의 온도를 낮출 수 있는 냉각수단 및 가열할 수 있는 가열수단이 설치 또는 연결된다. 이러한 제2챔버(2100)는 조절기(4000)에 의해 그 동작이 제어되는데, 내부에 수용된 가스의 온도가 제2목표온도가 되도록 동작될 수 있다. 여기서, 제2목표온도는 예컨대 0℃ 미만의 온도, 보다 구체적인 예로, -10℃ 이하 또는 -50℃ 이하일 수 있다. 보다 구체적인 예로 제2목표온도는 -18 ℃ 또는 -60℃ 일 수 있다. 물론, 제2챔버(2100)에서 가스의 온도를 조절하고자 하는 제2목표온도는 피시험체가 설치되는 항공기에서의 온도 변화에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 제2목표온도는 피시험체(S)에 대해 시험하고자 하는 급격한 온도 변화 환경 즉, 목표로하는 시간에 따른 온도 변화율인 목표 변화율에 따라 달라질 수 있다.
제2이송배관부(2300)는 제2챔버(2100)로부터 제공된 가스를 공급배관부(3000) 또는 제2온도센서(2400) 쪽으로 이송시킨다. 이러한 제2이송배관부(2300)는 일단이 제2챔버(2100)에 연결된 배관(이하, 제3배관(2310)), 제3배관(2310)과 공급배관부(3000) 사이를 연결하도록 설치되며, 제2온도센서(2400)가 연결된 배관(이하, 제4배관(2320)), 제3배관(2310), 제4배관(2320), 공급배관부(3000) 간의 연통을 제어하는 밸브(이하, 제2밸브(2330))를 포함할 수 있다.
제2온도센서(2400)는 제4배관(2320)에 연결되는데, 상기 제4배관(2320) 중, 공급배관부(3000)와 연결된 끝단의 반대 끝단에 제2온도센서(2400)가 연결될 수 있다.
제2밸브(2330)는 제3배관(2310)과 제4배관(2320) 간이 연통될 때, 제3배관(2310)과 공급배관부(3000) 간이 폐쇄되고, 제3배관(2310)과 공급배관부(3000) 간이 연통될 때, 제3배관(2310)과 제4배관(2320) 간이 폐쇄될 수 있도록 하는 밸브일 수 있다. 이러한 제2밸브(2330)는 예컨대 삼방밸브(three way valve)를 포함하는 수단일 수 있다.
제2송풍부(2200)는 제2챔버(2100) 내 가스를 밖으로 내보내고, 이를 제2이송배관부(2300) 또는 공급배관부(3000)로 이동시키는 송풍수단으로서, 회전 가능한 회전체, 회전체를 회전시키는 구동부, 회전체의 둘레 방향으로 나열되어 상기 회전체에 설치된 복수의 날개를 포함하는 수단일 수 있다.
이러한 제2송풍부(2200)는 제2챔버(2100) 내부에 설치된다. 이는, 제2송풍부(2200)가 동작하면 열이 발생될 수 있는데, 제2송풍부(2200)가 제2챔버(2100) 밖에 설치되는 경우, 제2챔버(2100) 밖으로 나온 가스가 제2송풍부(2200)를 통과할 때 그 온도가 상승되어, 제2목표온도로 조절된 가스를 공급배관부(3000)로 공급하기가 어려울 수 있기 때문이다. 이에, 제2송풍부(2200)를 제2챔버(2100) 내부에 설치한다. 이에, 제2송풍부(2200)의 동작에 의한 가스의 가열을 방지 또는 억제할 수 있어, 제2목표온도로 조절된 가스를 공급배관부(3000)로 공급하기가 용이해진다.
공급배관부(3000)는 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)로부터 제공된 가스를 피시험체(S)가 수용된 시험 하우징(8000)으로 공급한다. 이를 위해, 공급배관부(3000)는 제1 및 제2이송배관부(1300, 2300)와 피시험체(S)가 수용되어 있는 시험 하우징(8000) 사이를 연결하도록 설치될 수 있다. 이러한 공급배관부(3000)는 제1이송배관부(1300)에 연결된 제1연결배관(3100), 제2이송배관부(2300)에 연결된 제2연결배관(3200), 제1 및 제2연결배관(3100, 3200)과 시험 하우징(8000) 사이를 연결하는 공급배관(3300), 제1 및 제2연결배관(3100, 3200)과 공급배관(3300) 간의 연통을 제어하는 밸브(이하, 공급밸브(3400))를 포함할 수 있다.
공급밸브(3400)는 제1연결배관(3100), 제2연결배관(3200) 및 공급배관(3300)이 연결되는 연결부위에 설치될 수 있다. 이때, 제1연결배관(3100)은 일단이 제1밸브(1330)에 연결되고, 타단이 공급밸브(3400)에 연결될 수 있으며, 제2연결배관(3200)은 일단이 제2밸브(2330)에 연결되고 타단이 공급밸브(3400)에 연결될 수 있다.
공급배관(3300)은 일단이 공급밸브(3400)에 연결되고 타단이 시험 하우징(8000)에 연결될 수 있다. 또한, 공급밸브(3400)는 제1이송배관부(1300)와 공급배관부(3000) 사이가 연통 또는 개방(open)될 때, 제2이송배관부(2300)와 공급배관부(3000) 사이가 폐쇄(close)되고, 반대로 제2이송배관부(2300)와 공급배관부(3000) 사이가 개방(open)될 때, 제1이송배관부(1300)와 공급배관부(3000) 사이가 폐쇄(close)되도록 하는 밸브일 수 있다. 즉, 공급밸브(3400)는 제1배관(1310)과 제1연결배관(3100) 간이 연통될 때, 제3배관(2310)과 제2연결배관(3200) 간이 폐쇄되고, 반대로 제3배관(2310)과 제2연결배관(3200) 간이 연통될 때, 제1배관(1310)과 제1연결배관(3100) 간이 폐쇄될 수 있도록 하는 밸브일 수 있다. 이러한 공급밸브(3400)는 예컨대 삼방밸브(three way valve)를 포함하는 수단일 수 있다.
조절기(4000)는 공급배관부(3000) 내부 또는 시험 하우징(8000) 내부의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)의 동작을 제어한다. 이러한 조절기(4000)는 공급배관부(3000) 내부의 온도를 측정하도록, 상기 공급배관부(3000)에 설치된 센서(이하, 공급 온도센서(4100)), 상기 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도에 따라 제1가스공급기(1000) 또는 제2가스공급기(2000)의 동작을 제어하는 제어부(4200)를 포함한다. 또한, 조절기(4000)는 공급배관부(3000)에 연결되며, 공급배관부(3000)를 통과하는 가스의 유량을 측정하는 유량센서(5000)를 포함할 수 있다.
공급 온도센서(4100)는 공급배관(3300)의 내부 또는 공급배관(3300)을 통과하는 가스의 온도를 측정하는 수단으로서, 공급배관(3300)에 연결되게 설치될 수 있다. 실시예에서는 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 가스의 온도를 통해, 공급배관(3300)을 통과하는 또는 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스의 온도를 확인한다. 그리고, 이를 통해, 공급배관(3300)을 통과하는 또는 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스의 시간에 따른 온도 변화율을 파악할 수 있다.
제어부(4200)는 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1 또는 제2챔버(1100, 2100)의 동작을 제어할 수 있다. 또한, 제어부(4200)는 제1가스공급기(1000)의 제1온도센서(1400) 및 제2가스공급기(2000)의 제2온도센서(2400)에서 측정된 온도에 따라 제1 및 제2챔버(1100, 2100)의 동작을 제어할 수 있다. 그리고, 제어부(4200)는 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도에 따라 제1송풍부(1200) 또는 제2송풍부(2200)의 동작을 제어할 수도 있다.
상기에서는 조절기(4000)가 제어부(4200) 구비하고, 제어부(4200)가 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도, 제1 및 제2온도센서(1400, 2400)에서 측정되는 온도, 유량센서(4300)에서 측정되는 가스의 유량 중 적어도 하나에 의해 제1 또는 제2챔버(1100, 2100)의 동작을 제어하고, 제1 또는 제2송풍부(1200, 2200)의 동작을 제어하는 것을 설명하였다.
하지만, 이에 한정되지 않고, 조절기(4000)는 별도의 제어부(4200)를 구비하지 않도록 마련될 수 있다. 즉, 조절기(4000)는 공급 온도센서(4100) 및 유량센서(4300)를 구비하고, 제어부(4200)를 구비하지 않을 수 있다. 그리고, 작업자가 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도, 제1 및 제2온도센서(1400, 2400)에서 측정되는 온도, 유량센서(4300)에서 측정되는 가스의 유량을 직접 확인하고, 작업자가 제1 또는 제2챔버(1100, 2100), 제1 또는 제2송풍부(1200, 2200)의 동작을 직접 제어할 수도 있다.
또한, 상기에서는 피시험체(S)가 시험 하우징(8000) 내에 수용되고, 공급배관부(3000)가 시험 하우징(8000)에 연결되어, 시험 하우징(8000)으로 가스를 공급하는 것을 설명하였다. 하지만, 이에 한정되지 않고, 피시험체(S)가 시험 하우징(8000) 내에 수용되지 않고, 피시험체(S)의 커버에 공급배관부(3000)가 직접 연결될 수도 있다.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 이용하여 피시험체를 시험하는 방법에 대해 설명한다. 이때, 피시험체가 시험 하우징 내에 수용되도록 설치되는 것을 예를들어 설명한다.
도 2는 피시험체가 고온에서 저온으로 온도가 급변할 때 상기 피시험체의 상태를 시험하기 위한, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치의 동작을 설명하는 도면이다. 도 3은 피시험체가 저온에서 고온으로 온도가 급변할 때 상기 피시험체의 상태를 시험하기 위한, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치의 동작을 설명하는 도면이다.
먼저, 도 2를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 이용하여 피시험체를 고온의 환경에서 저온의 환경으로 노출시켜 시험하는 방법에 대해 설명한다.
이때, 피시험체를 고온의 환경에서 저온의 환경으로 노출시켜 테스트 또는 시험하는 방법을 제1시험으로 명명한다. 또한, 제1시험과정에서 사용되는 피시험체를 제1피시험체로 명명한다.
제1시험과정에서는 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스가 고온에서 저온으로 감소하며, 미리 정한 또는 목표로하는 온도 변화율(이하, 제1목표 변화율)로 가스의 온도가 감소되도록 시험장치를 동작시킨다. 여기서, 제1목표 변화율은 초당(second) 온도 변화일 수 있고, 1.5℃/sec 내지 6 ℃/sec일 수 있다. 보다 구체적으로, 5.6℃/sec(second)일 수 있다. 물론, 제1목표 변화율은 상술한 5.6℃/sec에 한정되지 않고, 제1피시험체로 사용된 전자장치가 설치되는 환경에서의 온도, 온도 변화 등에 따라 달라질 수 있다.
실시예에서는 제1피시험체(S)의 온도가 제1목표 변화율로 감소되도록 한 후, 제1피시험체(S)의 동작 상태를 테스트하기 위해, 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제1목표 변화율로 감소되도록 구현 또는 조성한다. 이때, 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도 변화율이 제1목표 변화율로 감소되도록 조성된 상태를 제1시험환경으로 명명한다.
또한, 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제1목표 변화율로 감소되도록 시험장치를 동작시키는 조건을 제1동작조건 또는 제1가스 공급 조건이라 명명한다. 여기서, 제1동작조건은 여러번의 테스트를 통해 마련된 것일 수 있다.
이하, 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제1목표 변화율로 감소되도록 제1동작조건을 마련하는 과정에 대해 설명한다.
제1가스공급기(1000)를 이용하여 공급배관부(3000) 즉, 공급배관(3300)으로 소정 온도의 가스를 공급하고, 제2가스공급기(2000)를 이용하여 공급배관(3300)으로 제1가스공급기(1000)로부터 공급된 가스에 비해 낮은 온도의 가스를 공급한다. 이때, 공급 온도센서(4100)를 이용하여 공급배관(3300) 내 온도를 실시간으로 측정하고, 측정된 온도로부터 시간에 따른 온도 변화율(℃/sec)을 산출한다.
이때, 산출되는 온도 변화율이 제1목표 변화율이 되도록, 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)로부터 공급되는 가스 각각의 온도, 가스 유량 중 적어도 하나를 조절하는 과정을 복수번 반복한다. 또한, 목표하는 온도 범위에서 제1목표 변화율이 되도록 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)로부터 공급되는 가스 각각의 온도, 가스 유량 중 적어도 하나를 조절하는 과정을 복수번 반복한다. 그리고, 목표하는 온도 범위 내에서, 산출되는 온도 변화율이 제1목표 변화율이 될 때의 조건을 제2동작조건(제1 가스 공급 조건)으로 결정한다. 즉, 목표하는 온도 범위 내에서, 산출되는 온도 변화율이 제1목표 변화율이 될 때의 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)에서 공급되는 가스의 온도 및 유량을 제1동작조건으로 결정한다.
이렇게 제1동작조건이 마련되면, 마련된 제1동작조건으로 시험장치를 동작시켜 제1시험을 실시한다.
이를 위해 먼저, 시험하고자 하는 제1피시험체(S) 예컨대, 레이더 영상 장치를 시험 하우징(8000) 내에 반입시킨다.
이후, 도 2의 (a)와 같이, 먼저 제1가스공급기(1000)를 이용하여 제1목표온도 예컨대 26.7℃로 조절된 가스 예컨대 공기(air)를 공급배관부(3000)로 공급한다.
이를 위해, 제1밸브(1330)를 동작시켜, 제1이송배관부(1300)의 제1배관(1310)과 공급배관부(3000)의 제1연결배관(3100) 간을 연통시킨다. 이때, 제1배관(1310)과 제2배관(1320) 간은 서로 연통되지 않는다. 또한, 공급밸브(3400)를 동작시켜 제1연결배관(3100)과 공급배관(3300) 간을 연통시킨다. 이때, 제2연결배관(3200)과 공급배관(3300) 간은 연통되지 않는다.
제어부(4200)에는 제1목표 변화율 및 제1목표 변화율이 되도록 하기 위한 제1목표온도가 설정되어 있다. 여기서 제1목표온도는 상술한 제1동작조건을 마련하는 과정에서 결정되어 설정된 것일 수 있다. 이에, 제어부(4200)는 제1챔버(1100) 내부의 가스가 제1목표온도가 되도록 상기 제1챔버(1100)의 동작을 제어한다. 이를 위해, 제1송풍부(1200)를 동작시키면 제1챔버(1100) 내부의 가스가 제1배관(1310), 제1연결배관(3100) 및 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 이때, 가스가 공급배관(3300)을 통과함에 따라, 공급 온도센서(4100)에서 온도가 측정된다. 이에, 제어부(4200)는 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도에 따라 제1챔버(1100)의 동작을 제어하여 제1챔버(1100) 내 가스가 제1목표온도 예컨대 26.7가 되도록 한다. 또한, 제어부(4200)는 유량센서(4300)에서 측정된 가스의 유량에 따라, 제1송풍부(1200)의 동작을 제어하는데, 일정한 유량 예컨대 2.251b/min으로 일정한 유량의 가스가 공급될 수 있도록 제1송풍부(1200)의 회전동작을 제어한다.
이에 따라, 시험 하우징(8000) 내부로 제1목표온도(26.7℃)를 가지는 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 여기서, 제1목표온도(26.7℃)를 가지는 가스의 온도를 제1온도라고 하면, 제1온도(26.7℃)의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급되는 것으로 설명될 수 있다. 이때, 시험 하우징(8000) 내부에는 제1피시험체(S)가 수용되어 있으므로, 제1피시험체(S)는 시험 하우징(8000) 내 가스에 노출된다. 다른 말로 설명하면, 내부의 온도가 26.7℃ 온도로 조절된 시험 하우징(8000)의 환경에 노출된다. 이에, 제1피시험체(S)가 시험 하우징(8000) 내부의 온도 또는 시험 하우징 내부로 공급된 가스의 온도 즉, 26.7℃가 될 수 있다.
이렇게 제1가스공급기(1000) 및 공급배관부(3000)를 이용하여 시험 하우징(8000)으로 제1온도의 가스를 공급하는 동안, 제어부(4200)는 제2가스공급기(2000)의 동작을 제어하여 제2목표온도 예컨대 -60℃로 조절된 가스를 준비한다. 여기서, 제2목표온도는 상술한 제1동작조건을 마련하는 과정에서 결정되어 제어부(4200)에 설정된 것일 수 있다.
제2가스공급기(2000)에서 제2목표온도의 가스를 준비하는 과정은 아래와 같다. 도 2의 (a)와 같이 제2밸브(2330)를 동작시켜 제2이송배관부(2300)의 제3배관(2310)과 제4배관(2320)을 연통시킨다. 이때, 공급배관부(3000)의 제2연결배관(3200)과 제3배관(2310) 간은 폐쇄된다. 그리고 제2송풍부(2200)를 동작시키면 제2챔버(2100) 내부의 가스가 제3배관(2310) 및 제4배관(2320)을 통과한다. 이때, 제2온도센서(2400)는 제4배관(2320)을 통과하는 가스의 온도를 측정한다.
제어부(4200)는 제2온도센서(2400)에서 측정된 온도에 따라 제2챔버(2100)의 동작을 제어하여, 제2이송배관부(2300)로 제2목표온도로 온도가 조절된 가스가 공급될 수 있도록 한다. 즉, 제어부(4200)는 제2온도센서(2400)에서 측정된 온도에 따라 제2챔버(2100)의 동작을 제어하여 제2챔버(2100) 내 가스를 냉각하거나 가열한다. 이러한 동작에 의해, 제2챔버(2100) 내 가스가 제2목표온도인 -60℃가 된다. 또한, 제어부(4200)는 제2송풍부(2200)의 동작을 제어하는데, 일정한 유량의 가스가 공급될 수 있도록 제2송풍부(2200)의 회전동작을 제어한다.
다음으로, 제2가스공급기(2000)를 통해 제2목표온도로 그 온도가 조절된 가스를 시험 하우징(8000)으로 공급한다. 즉, 제1가스공급기(1000)와 공급배관부(3000) 간을 폐쇄하고, 제2가스공급기(2000)와 공급배관부(3000) 간을 연통시켜, -60℃의 가스를 시험 하우징(8000) 으로 공급한다. 이를 위해, 제2밸브(2330)를 동작시켜 제3배관(2310)과 제2연결배관(3200) 간을 연통시키고, 공급밸브(3400)를 동작시켜 제2연결배관(3200)과 공급배관(3300) 간을 연통시킨다. 이때, 제1연결배관(3100)과 공급배관(3300)은 상호 연통되지 않는다. 그리고, 이때 제1밸브(1330)를 통해 제1배관(1310)과 제1연결배관(3100) 간이 연통되지 않도록 하는 것이 바람직하다.
이에, 도 2의 (b)와 같이 제2챔버(2100) 내부의 가스가 제3배관(2310), 제2연결배관(3200) 및 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 이때 제2챔버(2100) 내부의 가스는 제2목표온도 즉, -60℃로 조절되었기 때문에, -60℃인 가스가 제3배관(2310), 제2연결배관(3200) 및 공급배관(3300)을 통과하여, 시험 하우징(8000) 으로 공급된다. 여기서, 제2목표온도(-60℃)를 가지는 가스의 온도를 제2온도라고 하면, 제2온도(-60℃)의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급되는 것으로 설명될 수 있다. 즉, 제2온도인 -60℃의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다.
한편, 제2가스공급기(2000)를 통해 저온인 제2온도의 가스가 공급배관(3300)을 통과하기 전에, 제1가스공급기(1000)를 통해 상대적으로 고온인 제1온도의 가스가 공급배관(3300)으로 통과되고 있는 상태였다. 이에, 상술한 바와 같이 제2가스공급기(2000)를 통해 제2온도인 -60℃의 가스가 공급배관(3300)을 통과하면, 공급배관(3300) 내 온도가 점차 감소 또는 떨어진다.
제2온도의 가스가 공급배관(3300)으로 공급되기 시작하면, 공급배관(3300) 내 온도 또는 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도가 제1온도 즉, 26.7℃에서부터 감소하기 시작하는데 제1목표 변화율로 감소한다. 즉, 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도로부터 산출되는 시간에 따른 온도 변화율이 제1목표 변화율인 5.6℃/sec가 된다. 이는 제1목표 변화율이 되도록 제1동작조건으로 시험장치를 동작시켰기 때문이다.
이렇게, 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도가 제1목표 변화율로 감소하도록 제2온도의 가스를 공급하는데, 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 온도가 목표로 하는 종료온도(이하, 제1종료온도)가 될 때까지 공급한다. 여기서, 제1종료온도는 -10℃ 이하의 온도일 수 있고, 보다 구체적인 예로 -18℃일 수 있다. 이에, 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 온도가 제1종료온도인 -18℃로 감소될 때까지 공급한다. 이에 따라, 공급배관(3300)에 연결된 시험 하우징(8000) 내부에 위치된 제1피시험체(S)의 온도가 26.7℃에서 -18℃까지 5.6℃/sec(제1목표 변화율)로 감소될 수 있다.
한편 예를들어, 제2온도의 가스가 공급배관(3300)으로 공급되고 나서, 공급 온도센서(4100)로부터 획득되는 온도 변화율이 미량으로 제1목표 변화율에 못 미치거나, 넘어설 수 있다. 이러한 경우, 시험장치의 동작을 조절하여 온도 변화율이 제1목표 변화율이 되도록 조절하는 보정을 실시할 수 있다. 예를 들어, 온도 변화율(℃/sec)이 제1목표 변화율(5.6℃/sec)을 초과하는 경우 제2송풍부(2200)의 동작을 제어하여 가스의 공급 유량을 줄인다. 반대로, 온도 변화율(℃/sec)이 제1목표 변화율(5.6℃/sec) 미만인 경우, 제2송풍부(2200)의 동작을 제어하여 가스의 공급 유량을 증가시킨다.
다음으로, 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도가 -18℃가 되면, 제1피시험체(S)에 대한 상태 확인을 실시한다. 즉, 제1피시험체(S)가 정상으로 동작하는지 여부를 확인 또는 판단한다.
상기에서는 피시험체의 온도를 고온에서 저온으로 급격하게 변화시켜, 상기 피시험체의 상태를 확인 또는 판단하는 방법에 대해 설명하였다. 하지만, 피시험체의 온도가 저온에서 고온으로 급격하게 변화되는 경우에도, 그 동작 상태를 확인할 필요가 있다. 따라서, 이하에서는 도 3을 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 시험장치를 이용하여 피시험체를 저온의 환경에서 고온의 환경으로 노출시켜 시험하는 방법에 대해 설명한다.
이때, 피시험체를 저온의 환경에서 고온의 환경으로 노출시켜 테스트 또는 시험하는 것을 제2시험으로 명명한다. 또한, 제2시험과정에서 사용되는 피시험체를 제2피시험체로 명명한다. 여기서, 제2피시험체는 제1시험과정에서 사용된 제1피시험체와 동일하나 종류의 전자장치이다.
제2시험과정에서는 시험 하우징으로 공급되는 가스가 저온에서 고온으로 증가하며, 미리 정한 또는 목표로하는 온도 변화율(이하, 제2목표 변화율)로 가스의 온도가 증가되도록 시험장치를 동작시킨다. 여기서, 제2목표 변화율은 초당(second) 온도 변화일 수 있고, 예컨대, 1.5℃/sec 내지 6 ℃/sec일 수 있다. 보다 구체적인 예로 5.6℃/sec(second)일 수 있다. 여기서 제2목표 변화율이 상술한 제1목표 변화율과 동일하나, 제1목표 변화율과 다를 수도 있다. 그리고, 제2목표 변화율은 상술한 5.6℃/sec에 한정되지 않고, 제2피시험체로 사용된 전자장치가 설치되는 환경에서의 온도, 온도 변화 등에 따라 달라질 수 있다.
실시예에서는 제2피시험체(S)의 온도가 제2목표 변화율로 증가되도록 한 후, 제2피시험체(S)의 동작 상태를 시험하기 위해, 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제2목표 변화율로 증가되도록 구현 또는 조성한다.
또한, 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제2목표 변화율로 증가되도록 시험장치를 동작시키는 조건을 제2동작조건 또는 제2가스 공급 조건이라 명명한다. 이때, 시험 하우징(8000)으로 공급되는 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도 변화율이 제2목표 변화율로 증가되도록 조성된 상태를 제2시험환경으로 명명한다.
제2동작조건은 여러번의 테스트를 통해 결정된 것일 수 있다. 이하, 가스 또는 시험 하우징(8000) 내 온도가 제2목표 변화율로 증가되도록 제2동작조건을 마련하는 과정에 대해 설명한다.
먼저, 제2가스공급기(2000)를 이용하여 공급배관부(3000) 즉, 공급배관(3300)으로 소정 온도의 가스를 공급하고, 제1가스공급기(1000)를 이용하여 공급배관(3300)으로 제2가스공급기(2000)로부터 공급된 가스에 비해 높은 온도의 가스를 공급한다. 이때, 공급 온도센서(4100)를 이용하여 공급배관(3300) 내 온도를 실시간으로 측정하고, 측정된 온도로부터 시간에 따른 온도 변화율(℃/sec)을 산출한다.
이때, 산출되는 온도 변화율이 제2목표 변화율이 되도록, 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)로부터 공급되는 가스 각각의 온도, 가스 유량 중 적어도 하나를 조절하는 과정을 복수번 반복한다. 또한, 목표하는 온도 범위에서 제2목표 변화율이 되도록 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)로부터 공급되는 가스 각각의 온도, 가스 유량 중 적어도 하나를 조절하는 과정을 복수번 반복한다. 그리고, 목표하는 온도 범위 내에서, 산출되는 온도 변화율이 제2목표 변화율이 될 때의 조건을 제2동작조건(제2 가스 공급 조건)으로 결정한다. 즉, 목표하는 온도 범위 내에서, 산출되는 온도 변화율이 제2목표 변화율이 될 때의 제1 및 제2가스공급기(1000, 2000)에서 공급되는 가스의 온도 및 유량을 제2동작조건으로 결정한다.
이렇게 제2동작조건이 마련되면, 마련된 제2동작조건으로 시험장치를 동작시켜 제1시험을 실시한다.
이를 위해 먼저, 시험하고자 하는 제2피시험체(S)를 시험 하우징(8000) 내에 반입시킨다.
그리고, 도 3의 (a)와 같이, 먼저 제2가스공급기(2000)를 이용하여 제3목표온도 예컨대 -18℃로 조절된 가스 예컨대 공기(air)를 공급배관부(3000)로 공급한다. 이를 위해, 제2밸브(2330)를 동작시켜, 제1이송배관부(1300)의 제3배관(2310)과 공급배관부(3000)의 제2연결배관(3200) 간을 연통시킨다. 이때, 제3배관(2310)과 제4배관(2320) 간은 서로 연통되지 않는다. 또한, 공급밸브(3400)를 동작시켜 제2연결배관(3200)과 공급배관(3300) 간을 연통시킨다. 이때, 제1연결배관(3100)과 공급배관(3300) 간은 연통되지 않는다.
제어부(4200)에는 제2목표 변화율 및 제2목표 변화율이 되도록 하기 위한 제2목표온도가 설정되어 있다. 여기서 제2목표온도는 상술한 제2동작조건을 마련하는 과정에서 결정되어 설정된 것일 수 있다. 이에, 제어부(4200)는 제2챔버(2100) 내부의 가스가 제2목표온도가 되도록 상기 제2챔버(2100)의 동작을 제어한다. 이를 위해, 제2송풍부(2200)를 동작시키면 제2챔버(2100) 내부의 가스가 제3배관(2310), 제2연결배관(3200) 및 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 이때, 가스가 공급배관(3300)을 통과함에 따라, 공급 온도센서(4100)에서 온도가 측정된다. 이에, 제어부(4200)는 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도에 따라 제2챔버(2100)의 동작을 제어하여 제2챔버(2100) 내 가스가 제2목표온도 예컨대 -18℃가 되도록 한다. 또한, 제어부(4200)는 유량센서(4300)에서 측정된 가스의 유량에 따라 제2송풍부(2200)의 동작을 제어하여, 일정 유량이 가스가 공급될 수 있도록 한다.
이에 따라, 시험 하우징(8000) 내부로 제2목표온도(-18℃)를 가지는 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 여기서, 제2목표온도(-18℃)를 가지는 가스의 온도를 제2온도라고 하면, 제2온도(-18℃)의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급되는 것으로 설명될 수 있다. 이때, 시험 하우징(8000) 내부에는 제2피시험체(S)가 수용되어 있으므로, 제2피시험체(S)는 시험 하우징(8000) 내 가스에 노출된다. 다른 말로 설명하면, 내부의 온도가 -18℃ 온도로 조절된 시험 하우징(8000)의 환경에 노출된다. 이에, 제2피시험체(S)가 시험 하우징(8000) 내부의 온도 또는 시험 하우징 내부로 공급된 가스의 온도 즉, -18℃가 될 수 있다.
한편, 예를 들어 상술한 제1피시험체(S)에 대해 제1시험을 실시한 후, 바로 제2시험을 실시할 수 있다. 이때, 제1시험이 종료되었을 때 제2챔버(2100) 내 가스의 온도가 제2온도인 -60°이므로, 제어부(4200)는 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 온도가 제2목표온도인 -18℃가 되도록 제2챔버(2100) 내부를 가열한다.
이와 같이, 제2가스공급기(2000)를 이용하여 시험 하우징(8000)으로 제2온도의 가스를 공급하는 동안, 제어부(4200)는 제1가스공급기(1000)의 동작을 제어하여, 제1목표온도로 예컨대 110℃로 조절된 가스를 준비한다. 여기서, 제1목표온도는 상술한 제2동작조건을 마련하는 과정에서 결정되어 설정된 것일 수 있다.
제1가스공급기(1000)에서 제1목표온도의 가스를 준비하는 과정은 아래와 같다. 도 3의 (a)와 같이 제1밸브(1330)를 동작시켜 제1이송배관부(1300)의 제1배관(1310)과 제2배관(1320)을 연통시킨다. 이때, 제1배관(1310)과 제1연결배관(3100) 간은 폐쇄된다.
그리고 제1송풍부(1200)를 동작시키면 제1챔버(1100) 내부의 가스가 제1배관(1310) 및 제2배관(1320)을 통과한다. 이때, 제1온도센서(1400)는 제2배관(1320)을 통과하는 가스의 온도를 측정한다. 제어부(4200)는 제1온도센서(1400)에서 측정된 온도에 따라 제1챔버(1100)의 동작을 제어하여, 제1목표온도로 조절된 가스가 마련되도록 한다. 즉, 제어부(4200)는 제1온도센서(1400)에서 측정된 온도에 따라 제1챔버(1100)의 동작을 제어하여 제1챔버(1100) 내 가스를 가열하거나, 냉각한다. 이러한 동작에 의해, 제1챔버(1100) 내 가스가 제1목표온도 즉, 110℃가 된다. 또한, 제어부(4200)는 제1이송배관부(1300)로 이동하는 또는 통과하는 가스의 유량이 사전에 미리 정한 유량으로 유지되도록 제1송풍부(1200)의 회전동작을 제어한다.
다음으로, 제1가스공급기(1000)를 통해 제1목표온도로 그 온도가 조절된 가스를 시험 하우징(8000)으로 공급한다. 즉, 제2가스공급기(2000)와 공급배관부(3000) 간을 폐쇄하고, 제1가스공급기(1000)와 공급배관부(3000) 간을 연통시켜, 110℃의 가스를 시험 하우징(8000)으로 공급한다. 이를 위해, 도 3의 (b)와 같이 제1밸브(1330)를 동작시켜 제1배관(1310)과 제1연결배관(3100) 간을 연통시키고, 공급밸브(3400)를 동작시켜 제1연결배관(3100)과 공급배관(3300) 간을 연통시킨다. 이때, 제2연결배관(3200)과 공급배관(3300)은 상호 연통되지 않는다. 그리고, 이때 제2밸브(2330)를 동작시켜 제3배관(2310)과 제2연결배관(3200) 간이 연통되지 않도록 하는 것이 바람직하다.
이에, 제1챔버(1100) 내부의 가스가 제1배관(1310), 제1연결배관(3100) 및 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다. 이때 제1챔버(1100) 내부의 가스는 제1목표온도 즉, 110℃로 조절된 상태이기 때문에, 제1온도(110℃)의 가스가 제1배관(1310), 제1연결배관(3100) 및 공급배관(3300)을 통과하도록 이동한다. 여기서, 제1목표온도(110℃)를 가지는 가스의 온도를 제1온도라고 하면, 제1온도(110℃)의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급되는 것으로 설명될 수 있다. 즉, 제1온도인 110℃의 가스가 공급배관(3300)을 거쳐 시험 하우징(8000) 내부로 공급된다.
한편, 제1가스공급기(1000)를 통해 제1온도인 고온의 가스가 공급배관(3300)을 통과하기 전에, 제2가스공급기(2000)를 통해 제2온도의 저온의 가스가 공급배관(3300)으로 통과되고 있는 상태였다. 이에, 제1가스공급기(1000)를 통해 제1온도(110℃)의 가스가 공급배관(3300)을 통과하면, 공급배관(3300) 내 온도가 점차 증가 또는 높아진다.
제1온도의 가스가 공급배관(3300)으로 공급되기 시작하면, 공급배관(3300) 내 온도 또는 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도가 제2온도 즉, -18℃에서부터 증가하기 시작하는데, 제2목표 변화율로 증가한다. 즉, 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도로부터 산출되는 온도 변화율이 제2목표 변화율인 5.6℃/sec가 된다. 이는 제2목표 변화율이 되도록 제2동작조건으로 시험장치를 동작시켰기 때문이다.
이렇게, 공급 온도센서(4100)로부터 측정되는 온도가 제2목표 변화율로 증가하도록 제1온도의 가스를 공급하는데, 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 온도가 종료온도(이하, 제2종료온도)가 될 때까지 공급한다. 여기서, 제2종료온도는 45℃ 이상의 온도일 수 있고, 보다 구체적인 예로 48.9℃일 수 있다. 이에, 공급 온도센서(4100)에서 측정되는 온도가 제2종료온도인 48.9℃로 증가될 때까지 공급한다. 이에 따라, 공급배관(3300)에 연결된 시험 하우징(8000) 내부에 위치된 제2피시험체(S)의 온도가 48.9℃ 까지 5.6℃/sec(제2목표 변화율)로 상승될 수 있다.
한편 예를들어, 제1온도의 가스가 공급배관(3300)으로 공급되고 나서, 공급 온도센서(4100)로부터 획득되는 온도 변화율이 미량으로 제2목표 변화율에 못 미치거나, 넘어설 수 있다. 이러한 경우, 시험장치의 동작을 조절하여 온도 변화율이 제2목표 변화율이 되도록 조절하는 보정을 실시한다. 예를 들어, 온도 변화율(℃/sec)이 제2목표 변화율(5.6℃/sec)을 초과하는 경우 제1송풍부(1200)의 동작을 제어하여 가스의 공급 유량을 줄인다. 반대로, 온도 변화율(℃/sec)이 제2목표 변화율(5.6℃/sec) 미만인 경우, 제1송풍부(1200)의 동작을 제어하여 가스의 공급 유량을 증가시킨다.
다음으로, 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도가 48.9℃가 되면, 제2피시험체(S)에 대한 상태 확인을 실시한다. 즉, 제2피시험체(S)가 정상으로 동작하는지 여부를 확인 또는 판단한다.
한편, 피시험체 즉, 항공기에 설치되는 전자장치가 상술한 바와 같은 제1목표 변화율 및 제2목표 변화율로 온도가 급격하게 온도가 변화되는 경우, 전자장치를 구성하는 부품에 스트레스(stress)가 가해짐에 따라 물리적인 변형이 일어날 수 있다. 이에, 전자장치가 오작동되거나 손상될 수 있다.
이에, 제1피시험체를 동작시켜, 그 동작에 오류가 발생하거나, 동작이 되지 않는 경우, 급격한 온도 변화에 취약한 것으로 판단한다. 즉, 제1피시험체를 제1시험환경에 노출시켜 제1목표 변화율로 온도를 급격하게 감소시켰을 때, 그 동작에 오류가 발생하거나, 동작이 되지 않는 경우, 제1피시험체가 제1시험환경에 취약한 것으로 판단한다. 이에, 제1피시험체로 사용된 전자장치가 제1시험환경에 의해 온도가 감소될 때, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다. 즉, 제1피시험체로 사용된 전자장치가 26.7℃에서부터 -18℃까지 5.6℃/sec로 그 온도가 감소하는 경우, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다.
이러한 경우, 제1피시험체인 전자장치가 제1시험환경에 따른 온도 변화에도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다. 즉, 26.7℃에서부터 -18℃까지 5.6℃/sec로 온도가 감소하는 환경에서도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다.
또한, 제2피시험체를 제2시험환경에 노출시켜 제2목표 변화율로 온도를 급격하게 증가시켰을 때, 그 동작에 오류가 발생하거나, 동작이 되지 않는 경우, 제2피시험체가 제2시험환경에 취약한 것으로 판단한다. 이에, 제2피시험체로 사용된 전자장치가 제2시험환경에 의해 온도가 증가될 때, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다. 즉, 제2피시험체로 사용된 전자장치가 -18℃에서 48.9℃까지 5.6℃/sec로 그 온도가 증가하는 경우, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다.
이러한 경우, 제2피시험체인 전자장치가 제2시험환경에 따른 온도 변화에도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다. 즉, -18℃에서부터 48.9℃까지 5.6℃/sec로 온도가 증가하는 환경에서도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다.
그리고, 제1피시험체와 제2피시험체는 별도로 마련된 피시험체이나, 동일한 종류 또는 동일한 구성 및 제조방법으로 마련된 전자장치 일 수 있다. 이에, 제1피시험체 및 제2피시험체 각각이 동작 오류가 발생되거나, 동작되지 않는 경우, 제1 및 제2피시험체로 사용된 전자장치가 제1 및 제2시험환경에 의해 온도가 변화될 때, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다. 즉, 제1 및 제2피시험체로 사용된 전자장치가 26.7℃에서부터 -18℃까지 5.6℃/sec로 온도가 감소하거나, -18℃에서 48.9℃까지 5.6℃/sec로 온도가 증가하는 경우, 오작동되거나 동작되지 않을 수 있음을 판단할 수 있다.
이러한 경우, 제1 및 제2피시험체인 전자장치가 제1 및 제2시험환경에 따른 온도 변화에도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다. 즉, 26.7℃에서부터 -18℃까지 5.6℃/sec로 온도가 감소하거나, -18℃에서부터 48.9℃까지 5.6℃/sec로 온도가 증가하는 환경에서도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다.
여기서, 제1 또는 제2시험환경에 따른 온도 변화에도 정상적으로 동작할 수 있도록 전자장치를 마련한다는 것은, 피시험체인 전자장치가 제1 또는 제2시험환경과 같은 급격한 온도 변화에 노출되더라도, 스트레스 또는 변형이 억제되거나 방지되도록, 전자장치를 보수 또는 보강하거나, 전자장치를 새롭게 제조하는 것을 포함할 수 있다.
하지만, 제1피시험체를 제1시험환경으로 온도를 변화시킨 후의 제1피시험체의 동작상태, 제2시험환경으로 온도를 변화시킨 후의 제2피시험체의 동작상태를 확인한 결과, 정상적으로 동작하는 경우, 제1 및 제2피시험체로 사용된 전자장치가 제1 및 제2시험환경에 따른 온도변화에도 정상적으로 동작할 수 있음을 판단할 수 있다.
또한, 상기에서는 피시험체(S)를 시험 하우징(8000) 내에 수용시키고, 공급배관부(3000)를 시험 하우징(8000)에 연결시켜, 시험 하우징(8000)으로 가스를 공급하여 시험하는 것을 설명하였다. 하지만, 이에 한정되지 않고, 피시험체(S)가 시험 하우징(8000) 내에 수용되지 않고, 피시험체(S)의 커버에 공급배관부(3000)를 직접 연결시켜 시험을 실시할 수 있다. 이러한 경우, 공급배관부의 가스가 피시험체의 커버를 통해 상기 커버 내 통로로 공급된다. 이후, 가스는 통로를 거쳐 방열핀 및 기능부를 향해 이동 또는 확산될 수 있다.
그리고, 상기에서는 제어부(4200)를 통해 제1 또는 제2챔버(1100, 2100), 제1 또는 제2송풍부(1200, 2200)를 자동 제어하는 것을 설명하였다. 하지만, 이에 한정되지 않고, 작업자가 공급 온도센서(4100)에서 측정된 온도, 제1 및 제2온도센서(1400, 2400)에서 측정되는 온도, 유량센서(4300)에서 측정되는 가스의 유량을 직접 확인하고, 작업자가 제1 또는 제2챔버(1100, 2100), 제1 또는 제2송풍부(1200, 2200)의 동작을 직접 제어하는 방법으로 시험을 실시할 수도 있다.
이와 같이 본 발명의 실시예에 따른 시험장치에 의하면, 온도 변화에 따른 전자장치의 동작 상태를 미리 시험할 수 있다. 보다 구체적인 예로는, 항공기 운행 전에, 항공기에 설치될 또는 설치되었던 전자장치를 피시험체로 하여 시험을 실시함으로써, 온도 변화에 따른 전자장치의 동작 상태를 미리 확인할 수 있다.
이에, 피시험체의 시험 또는 확인 결과에 따라, 급격한 온도 변화에 따른 스트레스 또는 변형이 억제되거나 방지되도록, 전자장치를 보수 또는 보강하거나, 전자장치를 새롭게 제조할 수 있다. 따라서, 항공기 운행시 또는 운행중에 온도 변화에 의한 전자장치의 오작동을 방지할 수 있다.
1000: 제1가스공급기 1100: 제1챔버
1300: 제1이송배관부 1400: 제1온도센서
2000: 제2가스공급기 2100: 제2챔버
2300: 제2이송배관부 2400: 제2온도센서
3000: 공급배관부 4100: 공급 온도센서
8000: 시험 하우징 S: 피시험체

Claims (20)

  1. 피시험체로 가스를 공급하도록 마련된 제1가스공급기;
    상기 제1가스공급기로부터 제공되는 가스와 다른 온도의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1가스공급기와 별도로 마련된 제2가스공급기; 및
    상기 제1가스공급기 및 제2가스공급기로부터 공급되는 가스에 의해 발생된 온도 변화율을 제어하는 조절기;
    를 포함하는 시험장치.
  2. 피시험체로 가스를 공급하도록 마련된 제1가스공급기;
    상기 제1가스공급기로부터 제공되는 가스와 다른 온도의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1가스공급기와 별도로 마련된 제2가스공급기; 및
    상기 피시험체의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 제1 및 제2가스공급기의 동작을 제어하는 조절기;
    를 포함하는 시험장치.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 제1 및 제2가스공급기 각각의 가스를 상기 피시험체로 공급하도록, 상기 제1 및 제2가스공급기로부터 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관부를 포함하고,
    상기 조절기는,
    상기 공급배관부 내부의 온도를 측정하도록 상기 공급배관부에 설치된 공급 온도센서; 및
    상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1가스공급기 또는 제2가스공급기의 동작을 제어하는 제어부;
    를 포함하는 시험장치.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 제1가스공급기는, 가스를 수용하는 내부공간을 가지고, 내부에 수용된 가스를 가열하거나 냉각하는 제1챔버를 포함하고,
    상기 제2가스공급기는, 가스를 수용하는 내부공간을 가지고, 내부에 수용된 가스를 가열하거나 냉각하는 제2챔버를 포함하며,
    상기 제어부는 상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1 또는 제2챔버의 동작을 제어하는 시험장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 제1가스공급기는 상기 제1챔버와 상기 공급배관부 간을 연결하는 제1이송배관부 및 상기 제1이송배관부 내부의 온도를 측정하도록, 상기 제1이송배관부에 연결된 제1온도센서를 포함하고,
    상기 제2가스공급기는 상기 제2챔버와 상기 공급배관부 간을 연결하는 제2이송배관부 및 상기 제2이송배관부 내부의 온도를 측정하도록, 상기 제2이송배관부에 연결된 제2온도센서를 포함하며,
    상기 제어부는 제1 및 제2온도센서에서 측정된 온도에 따라, 상기 제1 및 제2챔버의 동작을 제어하는 시험장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 제1가스공급기는 상기 제1챔버 내부의 가스를 외부로 송풍시키도록, 상기 제1챔버의 외부에서 상기 제1이송배관부에 연결된 제1송풍부를 포함하고,
    상기 제2가스공급기는 상기 제2챔버 내부의 가스를 외부로 송풍시키도록, 상기 제2챔버 내부에 설치된 제2송풍부를 포함하며,
    상기 제어부는 상기 공급 온도센서에서 측정된 온도에 따라 제1송풍부 또는 제2송풍부의 동작을 제어하는 시험장치.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 공급배관부를 통과하는 가스의 유량을 측정하도록, 상기 공급배관부에 연결된 유량센서를 포함하고,
    상기 제어부는 상기 유량센서에서 측정된 유량에 따라 상기 제1송풍부 또는 제2송풍부의 동작을 제어하는 시험장치.
  8. 청구항 5에 있어서,
    상기 공급배관부는,
    상기 제1 및 제2이송배관부로부터 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관; 및
    상기 제1 및 제2이송배관부 중 어느 하나와 상기 공급배관 간을 연통시키고, 다른 하나와 상기 공급배관 간은 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제1 및 제2 이송배관부와 공급배관 사이에 연결된 공급밸브;
    를 포함하는 시험장치.
  9. 청구항 5에 있어서,
    상기 제1이송배관부는,
    일단이 상기 제1챔버에 연결된 제1배관, 상기 제1배관과 공급배관부 간을 연결하며, 상기 제1온도센서가 연결된 제2배관, 상기 제2배관 및 공급배관부 중 어느 하나와 상기 제1배관 간을 연통시키고, 다른 하나는 상기 제1배관과 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제1 및 제2배관과 공급배관부 사이에 연결된 제1밸브를 포함하고,
    상기 제2이송배관부는,
    일단이 상기 제2챔버에 연결된 제3배관, 상기 제3배관과 공급배관부 간을 연결하며, 상기 제2온도센서가 연결된 제4배관, 상기 제4배관 및 공급배관부 중 어느 하나와 상기 제3배관 간을 연통시키고, 다른 하나는 상기 제3배관과 폐쇄되게 동작되도록, 상기 제3 및 제4배관과 공급배관부 사이에 연결된 제2밸브를 포함하는 시험장치.
  10. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
    상기 피시험체는 항공기에 설치되는 전자장치를 포함하는 시험장치.
  11. 피시험체를 마련하는 과정;
    설정된 목표 변화율이 되는 가스 공급 조건을 마련하는 과정;
    상기 가스 공급 조건으로 마련된 서로 다른 온도의 가스를 시간차를 두고 상기 피시험체로 공급하는 분위기 형성과정; 및
    상기 피시험체의 동작 이상 여부를 판단하는 판단과정;
    을 포함하는 시험방법.
  12. 피시험체의 시간에 따른 온도 변화율이 설정된 목표 변화율이 되도록, 상기 피시험체로 서로 다른 온도의 가스를 시간차를 두고 공급하는 분위기 형성 과정; 및
    상기 피시험체의 동작 이상 여부를 판단하는 판단과정;
    을 포함하는 시험방법.
  13. 청구항 11 또는 청구항 12에 있어서,
    상기 분위기 형성 과정은, 상기 피시험체로 시간차를 두로 서로 다른 온도의 가스를 공급하는 1차 공급과정 및 2차 공급과정을 포함하고,
    상기 2차 공급과정은 상기 1차 공급과정이 종료된 후에 실시하는 시험방법.
  14. 청구항 13에 있어서,
    상기 목표 변화율은 1.5℃/sec 내지 6 ℃/sec인 시험방법.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 1차 공급과정은 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관으로 제1온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하고,
    상기 2차 공급과정은 상기 공급배관으로 상기 제1온도에 비해 낮은 제2온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하며,
    상기 제1온도는 25℃ 이상, 제2온도는 -50℃ 이하인 시험방법.
  16. 청구항 15에 있어서,
    상기 판단과정은, 상기 공급배관의 온도가 목표로하는 종료온도까지 하강되면 실시하고,
    상기 종료온도는 -10℃ 이하인 시험방법.
  17. 청구항 14에 있어서,
    상기 1차 공급과정은 상기 피시험체를 향해 연장 형성된 공급배관으로 제1온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하고,
    상기 2차 공급과정은 상기 공급배관으로 상기 제1온도에 비해 높은 제2온도의 가스를 공급하는 과정을 포함하며,
    상기 제1온도는 -10℃ 이하, 제2온도는 100℃ 이상인 시험방법.
  18. 청구항 17에 있어서,
    상기 판단과정은, 상기 공급배관의 온도가 목표로하는 종료온도까지 상승되면 실시하고,
    상기 종료온도는 45℃ 이상인 시험방법.
  19. 청구항 13에 있어서,
    상기 분위기 형성 과정은,
    상기 피시험체를 향해 연장 형성되어 상기 피시험체로 가스를 공급하는 공급배관의 온도를 실시간으로 측정하는 과정;
    측정된 상기 공급배관의 온도를 이용하여, 시간에 따른 온도 변화율을 산출하는 과정;
    산출된 상기 온도 변화율과 상기 목표 변화율을 비교하여, 산출된 상기 온도 변화율이 상기 목표 변화율 미만이거나, 초과하는 경우, 상기 2차 공급과정에서 공급되는 가스의 유량을 조절하는 보정과정;
    을 포함하는 시험방법.
  20. 청구항 11 또는 청구항 12에 있어서,
    상기 피시험체는 항공기에 설치되는 전자장치를 포함하는 시험방법.
KR1020200109377A 2020-08-28 2020-08-28 시험장치 및 시험방법 KR102427629B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200109377A KR102427629B1 (ko) 2020-08-28 2020-08-28 시험장치 및 시험방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200109377A KR102427629B1 (ko) 2020-08-28 2020-08-28 시험장치 및 시험방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220028412A true KR20220028412A (ko) 2022-03-08
KR102427629B1 KR102427629B1 (ko) 2022-08-01

Family

ID=80812764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200109377A KR102427629B1 (ko) 2020-08-28 2020-08-28 시험장치 및 시험방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102427629B1 (ko)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5937440A (ja) * 1982-08-25 1984-02-29 Toyota Motor Corp エンジンの冷熱サイクル試験方法
JP3151612U (ja) * 2009-03-18 2009-07-02 理想計測株式会社 電子機器の試験装置
KR20100005114A (ko) * 2007-05-21 2010-01-13 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 반도체장치의 시험장치 및 시험방법
KR20100055236A (ko) * 2008-11-17 2010-05-26 삼성전자주식회사 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 사용한 반도체 소자 테스트 방법
CN201680972U (zh) * 2010-04-12 2010-12-22 青岛海泰自动化仪表有限公司 汽车散热器冷热冲击试验台
KR20130117579A (ko) * 2012-04-18 2013-10-28 임영곤 정속 시험이 가능한 열 충격 시험기 및 열 충격 시험 방법
KR20150003063A (ko) 2013-06-28 2015-01-08 퍼스텍주식회사 환경 조절 장치 및 이를 구비하는 항공전자장비 포드 시스템
CN105372049A (zh) * 2015-10-28 2016-03-02 北京理工大学 涡轮增压器热冲击可靠性测试试验台及测试方法
KR20200055568A (ko) * 2018-11-13 2020-05-21 한국항공우주연구원 복합 환경 시험 시스템

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3151612B2 (ja) 1997-06-04 2001-04-03 新日本ホイール工業株式会社 多板クラッチのクリープ防止装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5937440A (ja) * 1982-08-25 1984-02-29 Toyota Motor Corp エンジンの冷熱サイクル試験方法
KR20100005114A (ko) * 2007-05-21 2010-01-13 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 반도체장치의 시험장치 및 시험방법
KR20100055236A (ko) * 2008-11-17 2010-05-26 삼성전자주식회사 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 사용한 반도체 소자 테스트 방법
JP3151612U (ja) * 2009-03-18 2009-07-02 理想計測株式会社 電子機器の試験装置
CN201680972U (zh) * 2010-04-12 2010-12-22 青岛海泰自动化仪表有限公司 汽车散热器冷热冲击试验台
KR20130117579A (ko) * 2012-04-18 2013-10-28 임영곤 정속 시험이 가능한 열 충격 시험기 및 열 충격 시험 방법
KR20150003063A (ko) 2013-06-28 2015-01-08 퍼스텍주식회사 환경 조절 장치 및 이를 구비하는 항공전자장비 포드 시스템
CN105372049A (zh) * 2015-10-28 2016-03-02 北京理工大学 涡轮增压器热冲击可靠性测试试验台及测试方法
KR20200055568A (ko) * 2018-11-13 2020-05-21 한국항공우주연구원 복합 환경 시험 시스템

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JEDEC STANDARD, Thermal Shock, JESD22-A106B (2004.06.) *

Also Published As

Publication number Publication date
KR102427629B1 (ko) 2022-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4054473B2 (ja) 電子部品試験装置および電子部品の試験方法
US4902139A (en) Apparatus and method for measuring the thermal performance of a heated or cooled component
KR100479988B1 (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러의 발열 보상방법
US20110119020A1 (en) Apparatus and Method For Measurement of the Film Cooling Effect Produced By Air Cooled Gas Turbine Components
CN102159459B (zh) 利用飞行器外空气组件冷却飞行器区的系统和方法
KR20000011934A (ko) 집적회로시험장치
US20150144323A1 (en) Central cooling system and controlling method for the same
WO2020018230A1 (en) Probe systems and methods for collecting an optical image of a device under test
EP3543137A1 (en) Bleed air temperature and flow control system
KR102427629B1 (ko) 시험장치 및 시험방법
EP1643193B1 (en) Method of determining the configuration of an air conditioning system
KR101011689B1 (ko) 전자부품 검사 지원 장치용 온도조절유닛
EP3658827A1 (en) Method and system for controlling a valve in an hvac system
JP2021089276A (ja) 温度管理システム及び温度管理方法
US11774486B2 (en) Temperature control system including contactor assembly
US11626184B2 (en) Apparatus for testing semiconductor device and method of testing thereof
US20130091876A1 (en) Temperature control system and method for a chamber or platform and temperature-controlled chamber or platform including the temperature control system
JP4947467B2 (ja) 電子部品試験装置および電子部品の試験方法
WO2014106152A1 (en) Systems and methods for handling substrates at below dew point temperatures
CN113465969A (zh) 冷冻干燥机性能测试装置及其测试方法
US10618662B2 (en) Ram flow control with predicted ram air flow
JPH09178598A (ja) 圧力センサの温度特性検査における温度制御方法
EP3891573B1 (en) System and method for controlling temperature at test sites
KR102430236B1 (ko) 열진공챔버 히터 스위칭 장치 및 그의 작동방법
TWI815203B (zh) 電子部件處理裝置、電子部件測試裝置及電子部件測試方法

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant