KR20220013697A - Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same - Google Patents
Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220013697A KR20220013697A KR1020200092949A KR20200092949A KR20220013697A KR 20220013697 A KR20220013697 A KR 20220013697A KR 1020200092949 A KR1020200092949 A KR 1020200092949A KR 20200092949 A KR20200092949 A KR 20200092949A KR 20220013697 A KR20220013697 A KR 20220013697A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unit
- jig
- stage
- laminate
- electrode
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/04—Construction or manufacture in general
- H01M10/0404—Machines for assembling batteries
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
Description
본 발명은, 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 전극들이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 스태킹되어 생성된 전극 적층체의 전극의 쇼트(단락) 여부를 검사할 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an overhang inspection apparatus for a secondary battery and a secondary battery manufacturing system having the same, and more particularly, to a short circuit ( Short circuit) to a secondary battery overhang inspection apparatus capable of inspecting whether or not, and to a secondary battery manufacturing system having the same.
일반적으로 2차 전지(secondary cell)는 화학적 에너지를 전기적 에너지로 변환시켜 외부의 회로에 전원을 공급하기도 하고, 방전되었을 때 외부의 전원을 공급받아 전기적 에너지를 화학적 에너지로 바꾸어 전기를 저장할 수 있는 전지를 가리킨다. 이러한 2차 전지를 통상적으로 축전기라 부르기도 한다.In general, secondary cells convert chemical energy into electrical energy to supply power to an external circuit, and when discharged, receive external power to convert electrical energy into chemical energy to store electricity points to Such a secondary battery is also commonly referred to as a capacitor.
이러한 2차 전지는 전극 적층체의 구조에 따라 다양하게 분류될 수 있다. 예컨대, 2차 전지는 스택형 구조, 권취형 구조, 스택/폴딩형 구조 등으로 분류될 수 있다.Such secondary batteries may be variously classified according to the structure of the electrode stack. For example, the secondary battery may be classified into a stack type structure, a winding type structure, a stack/folding type structure, and the like.
다양한 분류 중에서 스택형 구조는 전극, 즉 양극과 음극을 소정의 크기로 절단한 다음, 도 1(a)에 도시된 바와 같이 양극(E1)과 음극(E2)의 사이에 분리막(P)을 두고 양극(E1)과 음극(E2)을 교번적으로 적층하여 전극 적층체(M)를 형성한 것을 가리킨다. 이러한 스태킹 공정은, 2차 전지용 스태킹 장치에서 수행된다. 이러한 전극 적층체(M)에서 양극(E1)이 옆으로 돌출될 수 있는데, 이렇게 옆쪽으로 돌출된 부위를 소위 오버행(overhang) 부위라 한다. Among the various classifications, the stacked structure cuts an electrode, that is, a positive electrode and a negative electrode to a predetermined size, and then places a separator P between the positive electrode E1 and the negative electrode E2 as shown in FIG. It indicates that the electrode laminate M is formed by alternately stacking the positive electrode E1 and the negative electrode E2. This stacking process is performed in a stacking device for secondary batteries. In this electrode stack M, the positive electrode E1 may protrude laterally, and a portion protruding laterally in this way is called an overhang portion.
한편, 스태킹 공정 중 도 1(b)에 도시된 바와 같이 전극 적층체(M)에 적층된 전극(E1, E2) 중 일부가 다른 것들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆으로 돌출되어 적층되는 불량이 발생될 수 있다. 즉, 일부 전극(E1, E2)의 말단부가 다른 전극(E1, E2)들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆쪽으로 돌출되는 경우, 돌출된 전극(E1, E2)들의 오버행 부위가 서로 접촉되어 쇼트(단락)가 발생될 수 있는데, 이렇게 전극(E1, E2)의 쇼트(단락)가 발생된 2차 전지는 사용이 불가능하다.On the other hand, during the stacking process, some of the electrodes E1 and E2 stacked on the electrode stack M as shown in FIG. Defects may occur. That is, when the distal ends of some of the electrodes E1 and E2 protrude to the side excessively (out of the reference value) compared to the other electrodes E1 and E2, the overhang portions of the protruding electrodes E1 and E2 are in contact with each other. A short circuit (short circuit) may occur, but the secondary battery in which the short circuit (short circuit) of the electrodes E1 and E2 has occurred cannot be used.
상술한 전극(E1, E2)의 과도하게(기준값을 벗어나게) 돌출된 오버행 부위는 주로 적층 불량에 의해 발생되는데, 인라인으로 이루어지는 2차 전지 제조 공정의 특성 상 이러한 불량을 빠르게 인식하지 못하면 라인에서 생산된 생산품 전체에 불량이 발생될 수 있다.The excessively protruding overhang portion of the electrodes E1 and E2 (out of the reference value) is mainly caused by lamination defects. Defects may occur in the entire manufactured product.
따라서, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중에서 이렇게 과도하게(기준값을 벗어나게) 돌출된 전극(E1, E2)들의 오버행 부위를 인라인 장비 내에서 검사할 수 있는 검사장치의 개발이 필요한 실정이다.Accordingly, there is a need to develop an inspection device capable of inspecting the overhang portion of the electrodes E1 and E2 protruding excessively (out of the reference value) during the manufacturing process of the secondary battery made in the inline in the inline equipment.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중 전극들이 적층되어 형성된 전극 적층체를 전수 검사하여 전극들의 오버행 부위를 감지할 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템을 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem to be achieved by the present invention is an overhang inspection apparatus for a secondary battery capable of detecting overhang portions of electrodes by completely inspecting an electrode stack formed by stacking electrodes during a manufacturing process of a secondary battery made in inline, and having the same It is to provide a secondary battery manufacturing system.
본 발명의 일 측면에 따르면, 음극과 양극이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 스태킹되어 마련된 전극 적층체가 적재되는 공급용 스테이지부를 구비하는 공급용 스테이지유닛; 상기 전극 적층체를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부와 제2 지그부를 구비하며, 상기 제1 지그부와 상기 제2 지그부를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상된 상기 전극 적층체가 적재되는 배출용 스테이지부를 구비하는 배출용 스테이지유닛; 및 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지유닛에서 상기 적층체용 지그유닛으로 전달하고 상기 적층체용 지그유닛에서 상기 배출용 스테이지유닛으로 전달하는 적층체용 전달유닛을 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, a supply stage unit having a supply stage unit on which an electrode stack prepared by alternately stacking a negative electrode and a positive electrode with a separator interposed therebetween; a jig unit for a laminate having a first jig unit and a second jig unit for clamping the electrode laminate by receiving it, and moving the first jig unit and the second jig unit in a first axial direction; an inspection imaging unit disposed adjacent to the jig unit for the laminate and configured to image the electrode laminate; a stage unit for discharging disposed adjacent to the jig unit for the laminate and having a stage for discharging on which the electrode laminate imaged by the inspection imaging unit is mounted; and a transfer unit for a laminate disposed adjacent to the jig unit for the laminate, transferring the electrode laminate from the stage unit for supply to the jig unit for the laminate, and from the jig unit for the laminate to the stage unit for discharging. An overhang inspection device for a secondary battery including a secondary battery may be provided.
상기 적층체용 지그유닛은, 상기 제1 지그부가 결합되는 제1 지그용 이동블록부; 상기 제2 지그부가 결합되는 제2 지그용 이동블록부; 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부의 이동을 안내하는 지그용 이동 가이드부; 및 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부를 이동시키는 지그용 이동 구동부를 포함할 수 있다.The jig unit for the laminate includes a first jig moving block unit to which the first jig unit is coupled; a moving block unit for a second jig to which the second jig unit is coupled; a moving guide unit for a jig connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and guiding the movement of the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig; and a moving driving unit for a jig connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and moving the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig. .
상기 적층체용 전달유닛은, 상기 전극 적층체를 파지하는 파지부; 상기 파지부를 지지하며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동부; 상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되며, 상기 파지용 제1축 방향 이동부를 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동부; 및 상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되고 상기 파지부가 결합되며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향과 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동부를 포함할 수 있다.The transfer unit for the laminate may include: a holding unit for holding the electrode laminate; a first axial movement part for holding the grip part and moving the grip part in the first axial direction; a second axial movement unit for gripping connected to the first axial movement unit for gripping, and configured to move the first axial movement portion for gripping in a second axial direction crossing the first axial direction; and a third axial movement for gripping which is connected to the first axial movement for gripping and coupled to the gripper, and moves the gripper in a third axial direction intersecting the first and second axial directions. may include wealth.
상기 공급용 스테이지유닛은, 상기 공급용 스테이지부를 지지하며, 상기 공급용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 공급용 스테이지 이동부를 포함할 수 있다.The stage unit for supply may include a stage moving unit for supply that supports the stage unit for supply and moves the stage unit for supply in the first axial direction.
상기 배출용 스테이지유닛은, 상기 배출용 스테이지부를 지지하며, 상기 배출용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 배출용 스테이지 이동부를 포함할 수 있다.The stage unit for discharging may include a stage moving unit for discharging that supports the stage unit for discharging and moves the stage unit for discharging in the first axial direction.
상기 공급용 스테이지부에 상기 전극 적층체를 로딩(loading)하는 전극 로딩유닛을 더 포함할 수 있다.It may further include an electrode loading unit for loading the electrode stack to the stage for supply.
상기 배출용 스테이지부에 적재된 상기 전극 적층체를 언로딩(unloading)하는 전극 언로딩유닛을 더 포함할 수 있다.It may further include an electrode unloading unit for unloading the electrode stacked body loaded on the stage for discharging (unloading).
상기 적층체용 지그유닛은 다수개로 마련되어 상호 이격되어 배치될 수 있다.A plurality of jig units for the laminate may be provided and disposed to be spaced apart from each other.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 음극과 양극을 분리막을 사이에 두고 교번적으로 스태킹하여 전극 적층체를 생성하는 2차 전지용 스태킹 장치; 상기 2차 전지용 스태킹 장치에서 스태킹된 상기 전극 적층체를 이송하는 검사용 이송장치; 및 상기 검사용 이송장치에 의해 이송되는 상기 전극 적층체를 전달받아 촬상하며, 촬상된 상기 전극 적층체를 상기 검사용 이송장치로 전달하는 2차 전지용 오버행 검사장치를 포함하며, 상기 2차 전지용 오버행 검사장치는, 상기 전극 적층체가 적재되는 공급용 스테이지부를 구비하는 공급용 스테이지유닛; 상기 전극 적층체를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부와 제2 지그부를 구비하며, 상기 제1 지그부와 상기 제2 지그부를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상된 상기 전극 적층체가 적재되는 배출용 스테이지부를 구비하는 배출용 스테이지유닛; 및 상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지유닛에서 상기 적층체용 지그유닛으로 전달하고 상기 적층체용 지그유닛에서 상기 배출용 스테이지유닛으로 전달하는 적층체용 전달유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템이 제공될 수 있다.According to another aspect of the present invention, a stacking device for a secondary battery for generating an electrode stack by alternately stacking a negative electrode and a positive electrode with a separator interposed therebetween; an inspection transfer device for transferring the electrode stack stacked in the secondary battery stacking device; and an overhang inspection device for secondary batteries that receives and captures the electrode stack transferred by the transport device for inspection, and transfers the captured electrode stack to the transport device for inspection, wherein the overhang for secondary batteries The inspection apparatus includes: a stage unit for supply having a stage for supply on which the electrode stack is loaded; a jig unit for a laminate having a first jig unit and a second jig unit for clamping the electrode laminate by receiving it, and moving the first jig unit and the second jig unit in a first axial direction; an inspection imaging unit disposed adjacent to the jig unit for the laminate and configured to image the electrode laminate; a stage unit for discharging disposed adjacent to the jig unit for the laminate and having a stage for discharging on which the electrode laminate imaged by the inspection imaging unit is mounted; and a transfer unit for a laminate disposed adjacent to the jig unit for the laminate, transferring the electrode laminate from the stage unit for supply to the jig unit for the laminate, and from the jig unit for the laminate to the stage unit for discharging. A secondary battery manufacturing system including the may be provided.
상기 적층체용 지그유닛은, 상기 제1 지그부가 결합되는 제1 지그용 이동블록부; 상기 제2 지그부가 결합되는 제2 지그용 이동블록부; 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부의 이동을 안내하는 지그용 이동 가이드부; 및 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부를 이동시키는 지그용 이동 구동부를 포할 수 있다.The jig unit for the laminate includes a first jig moving block unit to which the first jig unit is coupled; a moving block unit for a second jig to which the second jig unit is coupled; a moving guide unit for a jig connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and guiding the movement of the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig; And it is connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, it may include a moving driving unit for the jig for moving the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig.
상기 적층체용 전달유닛은, 상기 전극 적층체를 파지하는 파지부; 상기 파지부를 지지하며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동부; 상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되며, 상기 파지용 제1축 방향 이동부를 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동부; 및 상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되고 상기 파지부가 결합되며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향과 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동부를 포함할 수 있다.The transfer unit for the laminate may include: a holding unit for holding the electrode laminate; a first axial movement part for holding the grip part and moving the grip part in the first axial direction; a second axial movement unit for gripping connected to the first axial movement unit for gripping, and configured to move the first axial movement portion for gripping in a second axial direction crossing the first axial direction; and a third axial movement for gripping which is connected to the first axial movement for gripping and coupled to the gripper, and moves the gripper in a third axial direction intersecting the first and second axial directions. may include wealth.
상기 공급용 스테이지유닛은, 상기 공급용 스테이지부를 지지하며, 상기 공급용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 공급용 스테이지 이동부를 포함할 수 있다.The stage unit for supply may include a stage moving unit for supply that supports the stage unit for supply and moves the stage unit for supply in the first axial direction.
상기 배출용 스테이지유닛은, 상기 배출용 스테이지부를 지지하며, 상기 배출용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 배출용 스테이지 이동부를 포함할 수 있다.The stage unit for discharging may include a stage moving unit for discharging that supports the stage unit for discharging and moves the stage unit for discharging in the first axial direction.
상기 검사용 이송장치에 의해 이송된 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지부에 로딩(loading)하는 전극 로딩유닛을 더 포함할 수 있다.It may further include an electrode loading unit for loading the electrode stack transferred by the inspection transfer device to the stage for supply.
상기 배출용 스테이지부에 적재된 상기 전극 적층체를 언로딩(unloading)하여 상기 검사용 이송장치에 전달하는 전극 언로딩유닛을 더 포함할 수 있다.It may further include an electrode unloading unit for unloading the electrode stacked body loaded on the stage for discharging and transferring it to the transport device for inspection.
본 발명에 따르면, 전극 적층체를 클램핑하는 제1 지그부와 제2 지그부를 구비하며 제1 지그부와 제2 지그부를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛과 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛을 구비함으로써, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중 전극 적층체를 빠르고 간편하게 전수 검사하여 전극들의 오버행 부위를 감지하여 불량 제품의 생산을 최소화하고, 불량 제품의 납품을 막아 품질 신뢰도를 높일 수 있다.According to the present invention, a jig unit for a laminate having a first jig part and a second jig part for clamping the electrode laminate and moving the first jig part and the second jig part in the first axial direction, and an inspection for imaging the electrode laminate By having an imaging unit for secondary batteries, the electrode stack is inspected quickly and easily during the manufacturing process of secondary batteries made in-line to detect overhangs of electrodes to minimize the production of defective products, and to prevent the delivery of defective products to improve quality reliability. can be raised
또한 본 발명에 따르면, 제1 지그부와 제2 지그부가 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동되어 검사용 촬상유닛의 개수를 줄일 수 있고, 그에 따라 제작비용 및 유지비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, according to the present invention, the first jig part and the second jig part are relatively moved with respect to the inspection imaging unit, so that the number of inspection imaging units can be reduced, thereby reducing manufacturing and maintenance costs. .
도 1은 2차 전지의 전극이 적층된 상태가 도시된 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이다.
도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이다.
도 4는 도 3의 적층체용 전달유닛을 정면에서 바라본 도면이다.
도 5는 도 3의 공급용 스테이지유닛 및 배출용 스테이지유닛을 정면에서 바라본 도면이다.
도 6은 도 3의 적층체용 지그유닛을 정면에서 바라본 도면이다.
도 7은 도 6의 제1 지그용 파지부가 도시된 도면이다.
도 8은 도 7의 평면도이다.
도 9는 도 7의 측면도이다.
도 10은 도 6의 제1 지그부와 제2 지그부의 이동이 도시된 동작상태도이다.1 is a diagram illustrating a state in which electrodes of a secondary battery are stacked.
2 is a diagram illustrating a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a view of the inside of the overhang inspection apparatus for a secondary battery of FIG. 2 as viewed from above.
FIG. 4 is a view viewed from the front of the transfer unit for the laminate of FIG. 3 .
FIG. 5 is a front view of the stage unit for supply and the stage unit for discharge of FIG. 3 .
6 is a view of the jig unit for a laminate of FIG. 3 viewed from the front.
FIG. 7 is a view showing the first jig holding part of FIG. 6 .
FIG. 8 is a plan view of FIG. 7 .
9 is a side view of FIG. 7 ;
10 is an operation state diagram illustrating movement of the first jig unit and the second jig unit of FIG. 6 .
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by describing preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. However, in describing the present invention, descriptions of known functions or configurations will be omitted in order to clarify the gist of the present invention.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이고, 도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이며, 도 4는 도 3의 적층체용 전달유닛을 정면에서 바라본 도면이고, 도 5는 도 3의 공급용 스테이지유닛 및 배출용 스테이지유닛을 정면에서 바라본 도면이며, 도 6은 도 3의 적층체용 지그유닛을 정면에서 바라본 도면이고, 도 7은 도 6의 제1 지그용 파지부가 도시된 도면이며, 도 8은 도 7의 평면도이고, 도 9는 도 7의 측면도이며, 도 10은 도 6의 제1 지그부와 제2 지그부의 이동이 도시된 동작상태도이다. 도 3에서는 도시의 편의를 위해 지그용 이동 구동부(116)의 도시를 생략하였다.2 is a view showing a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a view of the inside of the overhang inspection apparatus for a secondary battery of FIG. 2 as viewed from above, and FIG. 4 is the stack of FIG. It is a view seen from the front of the transfer unit for the sieve, FIG. 5 is a view seen from the front of the stage unit for supply and the stage unit for discharge of FIG. 3, and FIG. 6 is a view viewed from the front of the jig unit for the laminate of FIG. 7 is a view showing the first jig holding part of FIG. 6 , FIG. 8 is a plan view of FIG. 7 , FIG. 9 is a side view of FIG. 7 , and FIG. 10 is the movement of the first jig part and the second jig part of FIG. 6 This is an operation state diagram shown. In FIG. 3 , the illustration of the moving
이하의 도면에서 제1축 방향은 'X'로 표시하고 제2축 방향은 'Y'로 표시하고, 제3축 방향은 'Z'로 표시한다.In the drawings below, the first axis direction is indicated by 'X', the second axis direction is indicated by 'Y', and the third axis direction is indicated by 'Z'.
본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템은, 도 2 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 음극(미도시)과 양극(미도시)을 분리막(미도시)을 사이에 두고 교번적으로 스태킹하여 전극 적층체(M)를 생성하는 2차 전지용 스태킹 장치(SC)와, 2차 전지용 스태킹 장치(SC)에서 스태킹된 전극 적층체(M)를 이송하는 검사용 이송장치(200)와, 검사용 이송장치(200)에 의해 이송되는 전극 적층체(M)를 전달받아 촬상하며 촬상된 전극 적층체(M)를 검사용 이송장치(200)로 전달하는 2차 전지용 오버행 검사장치(100)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 통과한 전극 적층체(M)를 공급받으며 전극 적층체(M)의 외면을 검사하는 외부면 검사장치(SD)와, 외부면 검사장치(SD)를 통과한 전극 적층체(M)를 공급받으며 전극 적층체(M)에 구동칩이 내장된 필름을 부착하는 TAB(Tape Automated Bonding)장치와, 검사용 이송장치(200)와 외부면 검사장치(SD)에 연결되어 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 통과한 전극 적층체(M)를 외부면 검사장치(SD)로 전달하며 외부면 검사장치(SD)와 TAB장치(TAB)에 연결되어 외부면 검사장치(SD)를 통과한 전극 적층체(M)를 TAB장치(TAB)로 전달하는 전달용 이송장치(SF)와, 2차 전지용 스태킹 장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB)와, 검사용 이송장치(200) 및 전달용 이송장치(SF)에 연결되어 2차 전지용 스태킹 장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200) 및 전달용 이송장치(SF)을 제어하는 제어유닛(미도시)를 포함한다. In the secondary battery manufacturing system according to this embodiment, as shown in FIGS. 2 to 10, a negative electrode (not shown) and a positive electrode (not shown) are alternately stacked with a separator (not shown) interposed therebetween. A stacking device for secondary batteries (SC) for generating a laminate (M), a transport device for inspection (200) for transporting the electrode stack (M) stacked in the stacking device for secondary batteries (SC), and transport for inspection An
2차 전지용 스태킹 장치(SC)는 음극(미도시)과 양극(미도시)을 분리막(미도시)을 사이에 두고 교번적으로 스태킹하여 전극 적층체(M)를 생성한다.The secondary battery stacking device SC alternately stacks a negative electrode (not shown) and a positive electrode (not shown) with a separator (not shown) interposed therebetween to produce an electrode stack M.
이러한 2차 전지용 스태킹장치는 장치 본체(미도시), 양극(미도시)을 공급하는 양극 공급부(미도시), 음극(미도시)을 공급하는 공급부(미도시), 분리막(미도시)을 공급하는 공급부(미도시) 및 이동식 스태킹 유닛(미도시)을 포함한다.This stacking device for secondary batteries supplies a device body (not shown), a positive electrode supply unit (not shown) for supplying a positive electrode (not shown), a supply unit (not shown) for supplying a negative electrode (not shown), and a separator (not shown). and a supply unit (not shown) and a movable stacking unit (not shown).
이동식 스태킹 유닛(미도시)은 양극(미도시), 음극(미도시) 및 분리막(미도시)이 스태킹되는 장소를 형성하는데, 이러한 이동식 스태킹 유닛(미도시)는 양극 공급부(미도시)와 음극 공급부(미도시) 사이를 이동하면서 스태킹 작업을 수행한다.A movable stacking unit (not shown) forms a place where a positive electrode (not shown), a negative electrode (not shown) and a separator (not shown) are stacked, and such a movable stacking unit (not shown) includes a positive electrode supply unit (not shown) and a negative electrode The stacking operation is performed while moving between the supply units (not shown).
검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 스태킹 장치(SC)에서 스태킹된 전극 적층체(M)를 이송한다. 이러한 검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 스태킹 장치(SC)와 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 연결되어 전극 적층체(M)를 2차 전지용 오버행 검사장치(100)로 전달한다. The transport device for
또한, 검사용 이송장치(200)는 전달용 이송장치(SF)에 연결되어 오버행 검사가 완료된 전극 적층체(M)를 전달용 이송장치(SF)를 전달한다.In addition, the transport device for
이러한 검사용 이송장치(200)는, 도 2 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 후술할 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상될 전극 적층체(M)를 이송하는 공급용 이송부(210)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 이웃하게 배치되며 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된 전극 적층체(M)를 이송하는 배출용 이송부(220)를 포함한다. As shown in FIGS. 2 to 3 , the
공급용 이송부(210)는, 전극 적층체(M)를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체(M)를 이송시키는 다수개의 공급용 컨베이어 롤러(미도시)와, 공급용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 공급용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The
배출용 이송부(220)는, 전극 적층체(M)를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체(M)를 이송시키는 다수개의 배출용 컨베이어 롤러(미도시)와, 배출용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 배출용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The discharging conveying
한편, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 2차 전지용 스태킹 장치(SC)로부터 전극 적층체(M)를 전달받는다. 이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전극 적층체(M)를 촬상한다. On the other hand, the
본 실시예의 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 공급용 이송부(210)에 의해 이송되는 전극 적층체(M)를 전달받아 촬상하여 일부 전극(미도시)의 말단부가 다른 전극(미도시)들에 비하여 옆쪽으로 돌출되는 오버행(overhang) 부위를 검사한다. The
또한, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 촬상하여 검사가 완료된 전극 적층체(M)를 배출용 이송부(220)로 전달한다.In addition, the
이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 도 3 내지 도 10에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체(M)가 적재되는 공급용 스테이지부(141)를 구비하는 공급용 스테이지유닛(140)과, 전극 적층체(M)를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)를 구비하며 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛(110)과, 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치되며 전극 적층체(M)를 촬상하는 검사용 촬상유닛(120)과, 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치되며 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된 전극 적층체(M)가 적재되는 배출용 스테이지부(151)를 구비하는 배출용 스테이지유닛(150)과, 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치되며 전극 적층체(M)를 공급용 스테이지유닛(140)에서 적층체용 지그유닛(110)으로 전달하고 적층체용 지그유닛(110)에서 배출용 스테이지유닛(150)으로 전달하는 적층체용 전달유닛(130)과, 검사용 이송장치(200)의 공급용 이송부(210)에 의해 이송된 전극 적층체(M)를 공급용 스테이지부(141)에 로딩(loading)하는 전극 로딩유닛(160)과, 배출용 스테이지부(151)에 적재된 전극 적층체(M)를 언로딩(unloading)하여 검사용 이송장치(200)의 배출용 이송부(220)에 전달하는 전극 언로딩유닛(170)을 포함한다.As shown in detail in FIGS. 3 to 10 , the
전극 로딩유닛(160)은 검사용 이송장치(200)의 공급용 이송부(210)에 의해 이송된 전극 적층체(M)를 공급용 스테이지부(141)에 로딩(loading)한다.The
이러한 전극 로딩유닛(160)은 공급용 이송부(210)에 지지된 전극 적층체(M)를 픽업(pick up)하는 로딩용 전극 픽업부(161)와, 로딩용 전극 픽업부(161)에 연결되어 로딩용 전극 픽업부(161)를 제2축 방향으로 이동시키는 로딩용 픽업부용 이동부(162)를 포함한다. The
로딩용 픽업부용 이동부(162)는 로딩용 전극 픽업부(161가 결합되며 제2축 방향으로 이동되는 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)와, 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 연결되어 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)의 이동을 안내하는 로딩용 픽업부용 이동가이드부(미도시)와. 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 연결되어 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)를 이동시키는 로딩용 픽업부용 이동구동부(미도시)를 포함한다. 본 실시예에서 로딩용 픽업부용 이동구동부(미도시)는 로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 결합된 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)가 치합되는 볼 스크류(미도시)와 볼 스크류를 회전시키는 구동모터(미도시)를 포함한다. The moving
공급용 스테이지유닛(140)은, 전극 적층체(M)가 적재되는 공급용 스테이지부(141)와, 공급용 스테이지부(141)를 지지하며 공급용 스테이지부(141)를 제1축 방향으로 이동시키는 공급용 스테이지 이동부(142)를 포함한다.The
공급용 스테이지부(141)는 평평한 사각의 플레이트 형상으로 마련된다. 이러한 공급용 스테이지부(141)의 상면에 전극 적층체(M)가 안착된다. 본 실시예에서 공급용 스테이지부(141)에는 복수의 전극 적층체(M)가 적층되어 배치될 수 있다.The supply stage unit 141 is provided in the shape of a flat square plate. The electrode stack M is seated on the upper surface of the stage for supply 141 . In the present embodiment, a plurality of electrode stacks M may be stacked on the stage unit 141 for supply.
공급용 스테이지 이동부(142)는, 공급용 스테이지부(141)를 지지하며, 공급용 스테이지부(141)를 제1축 방향으로 이동시킨다. The stage moving part 142 for supply supports the stage part 141 for supply, and moves the stage part 141 for supply in a 1st axial direction.
공급용 스테이지부(141)는 공급용 스테이지부(141)가 결합되며 제1축 방향으로 이동되는 공급 스테이지용 이동블록부(142a)와, 공급 스테이지용 이동블록부(142a)에 연결되어 공급 스테이지용 이동블록부(142a)의 이동을 안내하는 공급 스테이지용 이동가이드부(미도시)와, 공급 스테이지용 이동블록부(142a)에 연결되어 공급 스테이지용 이동블록부(142a)를 이동시키는 공급 스테이지용 이동구동부(142c)를 포함한다. 본 실시예에서 공급 스테이지용 이동구동부(142c)는 공급 스테이지용 이동블록부(142a)에 결합된 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)가 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류(미도시)를 회전시키는 구동모터(미도시)를 포함한다. The supply stage unit 141 is connected to the supply stage moving
적층체용 지그유닛(110)은, 전극 적층체(M)를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부(111) 및 제2 지그부(112)와, 제1 지그부(111)가 결합되는 제1 지그용 이동블록부(113)와, 제2 지그부(112)가 결합되는 제2 지그용 이동블록부(114)와, 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)에 연결되며 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)의 이동을 안내하는 지그용 이동 가이드부(미도시)와, 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)에 연결되며 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)를 이동시키는 지그용 이동 구동부(116)를 포함한다. The jig unit 110 for a laminate includes a
본 실시예에서 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)는 여러 쌍으로 마련되어 제1축 방향으로 배치될 수 있다.In this embodiment, the
또한, 본 실시예에서 제1 지그부(111) 및 제2 지그부(112)는 동일한 구조로 형성된다. 따라서, 이하에서는 제1 지그부(111)의 구조에 대해 설명하고 제2 지그부(112)의 구조는 제1 지그부(111)의 구조로 대체한다. In addition, in this embodiment, the
제1 지그부(111)는 전극 적층체(M)를 클램핑한다. 이러한 제1 지그부(111)는, 도 6 내지 도 10에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체(M)에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체(M)를 클램핑하는 적층체용 클램핑부(111c, 111d)를 구비하는 제1 지그용 파지부(111a)와, 제1 지그용 파지부(111a)가 결합되며 제1 지그용 이동블록부(113)에 결합되는 제1 지그용 몸체(111b)를 포함한다. The
제1 지그용 몸체(111b)에는, 제1 지그용 파지부(111a)를 제2축을 회전 축심으로 하여 회전시키는 적층체용 틸팅 구동부(미도시)와, 제1 지그용 파지부(111a)를 제3축을 회전 축심으로 하여 회전시키는 적층체용 회전 구동부(미도시)가 마련된다. The first jig body (111b), the first jig holding portion (111a) for rotating the second axis as a rotation axis, a tilting drive unit for a laminate (not shown), and a first jig holding portion (111a) A rotation drive unit (not shown) for a laminate for rotating the three axes as a rotation axis is provided.
적층체용 틸팅 구동부(미도시)와 적층체용 회전 구동부(미도시)의 동작에 의해 적층체용 클램핑부(111c, 111d)에 파지된 전극 적층체(M)가 제2축 및 제3축을 회전 축심으로 하여 회전되어 전극 적층체(M)가 검사용 촬상유닛(120)에 대해 다양한 각도로 위치될 수 있고, 그에 따라 검사용 촬상유닛(120)이 전극 적층체(M)를 다양한 방향에서 촬상할 수 있어 검사 정확도가 높아지는 이점이 있다. The electrode laminate (M) held by the clamping
제1 지그용 파지부(111a)는 제1 지그용 몸체(111b)에 결합되며 적층체용 클램핑부(111a, 111b)를 이동시키는 클램핑용 이동 구동부(111e)를 구비한다. The first
적층체용 클램핑부(111c, 111d)는 전극 적층체(M)에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체(M)를 클램핑 및 언클램핑한다. 이러한 적층체용 클램핑부(111c, 111d)는, 클램핑용 이동 구동부(115)에 연결되는 제1 파지용 플레이트부(111c)와, 제1 파지용 플레이트부(111c)에 대해 이격되어 배치되며 클램핑용 이동 구동부(111e)에 연결되는 제2 파지용 플레이트부(111d)를 포함한다. The clamping
이러한 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)의 사이에 전극 적층체(M)가 배치되며, 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)의 상호 접근하는 방향의 이동 및 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)의 상호 이격되는 방향의 이동에 의해 전극 적층체(M)가 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)에 의해 가압 및 가압 해제되어 클램핑 및 언클램핑된다. The electrode stack M is disposed between the first
클램핑용 이동 구동부(111e)는 제1 지그용 몸체(111b)에 결합된다. 이러한 클램핑용 이동 구동부(111e)는 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)를 이동시킨다. The clamping
본 실시예에 따른 클램핑용 이동 구동부(111e)는, 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)의 이동을 안내하는 파지용 이동 가이드부(111f)와, 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d) 각각에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d) 각각을 상호 접근하는 방향 및 상호 이격되는 방향으로 이동시키는 한 쌍의 파지용 이동 바아(111g)와, 파지용 이동 바아(111g)에 연결되어 파지용 이동 바아(111g)를 이동시키는 파지용 이동 구동부(미도시)를 포함한다. The clamping
파지용 이동 가이드부(111f)는 가이드 레일 형상으로 마련되어 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)의 이동을 안내한다. The gripping
파지용 이동 구동부(미도시)에는 파지용 이동 바아(111g)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111c)와 제2 파지용 플레이트부(111d)를 이동시키는 공압 실린더(미도시)가 사용될 수 있다.A pneumatic cylinder (not shown) which is connected to the gripping moving
제2 지그부(112)는, 도 6에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체(M)에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체(M)를 클램핑하는 적층체용 클램핑부(미도시)를 구비하는 제2 지그용 파지부(112a)와, 제2 지그용 파지부(112a)가 결합되며 제1 지그용 이동블록부(113)에 결합되는 제2 지그용 몸체(112b)를 포함한다. As shown in detail in FIG. 6 , the
상술한 바와 같이 제2 지그부(112)의 구조는 제1 지그부(111)와 거의 동일하므로 제2 지그부(112)의 구조에 대한 자세한 설명은 앞서 설명한 제1 지그부(111)의 설명으로 대체한다.As described above, since the structure of the
지그용 이동 구동부(116)는 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)에 연결되어 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114)를 제1축 방향으로 이동시킨다.The moving
이러한 지그용 이동 구동부(116)의 작동에 의해 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)가 도 10(a)의 위치에서 도 10(b)의 위치로 이동될 수 있다. 도 10(a)에서는 제2 지그부(112)에 클램핑된 전극 적층체(M)가 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상되며 도 10(b)에서는 제1 지그부(111)에 클램핑된 전극 적층체(M)가 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된다. The
본 실시예에서 지그용 이동 구동부(116)는 제1 지그용 이동블록부(113)와 제2 지그용 이동블록부(114) 각각에 결합되는 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)가 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류를 회전시키는 구동모터(미도시)를 포함한다. In this embodiment, the moving
검사용 촬상유닛(120)은 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치된다. 이러한 검사용 촬상유닛(120)은 전극 적층체(M)를 촬상한다. The
이러한 검사용 촬상유닛(120)은, 도 3에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체(M)를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부(121)와, 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되며 방사선을 검출하는 방사선 검출부(123)와, 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123)를 차폐하는 방사선 차폐부(128)를 포함한다.As shown in detail in FIG. 3 , the
본 실시예에 방사선은 엑스선(X-ray)가 사용되며 방사선 방출부(121)는 엑스선(X-ray)을 방출한다.In this embodiment, X-rays are used as radiation, and the
방사선 검출부(123)는 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되어 방사선 방출기(121a)에서 방출된 방사선을 검출한다. 본 실시예의 방사선 검출부(123)는 방사선 방출기(121a)에서 방출된 엑스선에 감응하여 이를 시각적으로 표시함으로써, 방사선 검출부(123)와 방사선 방출부(121)의 사이에 배치된 전극 적층체(M)에 적층된 전극들의 형상을 시각적으로 표시할 수 있고, 그에 따라 전극 적층체(M)의 전극의 오버행(overhang) 부위가 시각적으로 관측될 수 있다.The
방사선 차폐부(128)는 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123)를 차폐하는 하우징 구조로 마련된다. 상술한 방사선 차폐부(128)에는 전극 로딩유닛(160)과 전극 언로딩유닛(170)이 관통하는 통과공(K)이 마련된다. The
배출용 스테이지유닛(150)은 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치된다. 이러한 배출용 스테이지유닛(150)은 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된 전극 적층체(M)가 적재되는 배출용 스테이지부(151)를 구비한다. The
배출용 스테이지유닛(150)은, 전극 적층체(M)가 적재되는 배출용 스테이지부(151)와, 배출용 스테이지부(151)를 지지하며 배출용 스테이지부(151)를 제1축 방향으로 이동시키는 배출용 스테이지 이동부(152)를 포함한다.The
배출용 스테이지부(151)는 평평한 사각의 플레이트 형상으로 마련된다. 이러한 배출용 스테이지부(151)의 상면에 전극 적층체(M)가 안착된다. 본 실시예에서 배출용 스테이지부(151)에는 복수의 전극 적층체(M)가 적층되어 배치될 수 있다.The stage for discharging 151 is provided in the shape of a flat square plate. The electrode stack M is seated on the upper surface of the stage part 151 for discharging. In the present embodiment, a plurality of electrode stacks M may be stacked on the stage unit 151 for discharging.
배출용 스테이지 이동부(152)는, 배출용 스테이지부(151)를 지지하며, 배출용 스테이지부(151)를 제1축 방향으로 이동시킨다. The stage moving unit 152 for discharging supports the stage unit 151 for discharging, and moves the stage unit 151 for discharging in the first axial direction.
배출용 스테이지부(151)는 배출용 스테이지부(151)가 결합되며 제1축 방향으로 이동되는 배출 스테이지용 이동블록부(152a)와, 배출 스테이지용 이동블록부(152a)에 연결되어 배출 스테이지용 이동블록부(152a)의 이동을 안내하는 배출 스테이지용 이동가이드부(미도시)와, 배출 스테이지용 이동블록부(152a)에 연결되어 배출 스테이지용 이동블록부(152a)를 이동시키는 배출 스테이지용 이동구동부(152c)를 포함한다. 본 실시예에서 배출 스테이지용 이동구동부(152c)는 배출 스테이지용 이동블록부(152a)에 결합된 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)가 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류를 회전시키는 구동모터(미도시)를 포함한다. The discharging stage unit 151 is connected to the discharging stage unit 151 is coupled to the discharging stage moving
적층체용 전달유닛(130)은 적층체용 지그유닛(110)에 인접하게 배치된다. 이러한 적층체용 전달유닛(130)은 전극 적층체(M)를 공급용 스테이지유닛(140)에서 적층체용 지그유닛(110)으로 전달한다. 또한, 적층체용 전달유닛(130)은 전극 적층체(M)를 적층체용 지그유닛(110)에서 배출용 스테이지유닛(150)으로 전달한다. The
본 실시예에서 적층체용 전달유닛(130)은, 도 3 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 전극 적층체(M)를 파지하는 파지부(131)와, 파지부(131)를 지지하며 파지부(131)를 제1축 방향으로 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동부(133)와, 파지용 제1축 방향 이동부(133)에 연결되며 파지용 제1축 방향 이동부(133)를 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동부(135)와, 파지용 제1축 방향 이동부(133)에 연결되고 파지부(131)가 결합되며 파지부(131)를 제1축 방향과 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동부(137)와, 파지용 제3축 방향 이동부(137)에 지지되며 파지부(131)에 연결되어 파지부(131)를 제2축을 회전 축심으로 하여 회전시키는 파지용 회전부(139)를 포함한다.In the present embodiment, the
파지부(131)는 전극 적층체(M)를 파지한다. 이러한 파지부(131)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 파지용 회전부(139)에 연결되는 파지모듈 프레임부(131a)와, 파지모듈 프레임부(131a)에 결합되는 파지용 고정몸체부(131b)와, 파지모듈 프레임부(131a)에 이동 가능하게 결합되며 파지용 고정몸체부(131b)에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체(M)를 파지 및 파지 해제하는 파지용 이동몸체부(131c)와, 파지모듈 프레임부(131a)에 지지되며 파지용 이동몸체부(131c)의 이동을 안내하는 파지모듈용 이동 가이드부(미도시)와, 파지모듈 프레임부(131a)에 지지되며 파지용 이동몸체부(131c)에 연결되어 파지용 이동몸체부(131c)를 이동시키는 파지모듈용 이동 구동부(131d)를 포함한다. The
파지용 이동몸체부(131c)는 파지모듈 프레임부(131a)에 슬라이딩 이동 가능하게 결합된다. 이러한 파지용 이동몸체부(131c)는 파지용 고정몸체부(131b)에 접근하는 방향으로 이동되어 전극 적층체(M)를 가압함으로써, 파지용 고정몸체부(131b)와 함께 전극 적층체(M) 파지한다.The gripping
파지모듈용 이동 구동부(131d)는 파지모듈 프레임부(131a)에 지지된다. 이러한 파지모듈용 이동 구동부(131d)는 파지용 이동몸체부(131c)에 연결되어 파지용 이동몸체부(131c)를 이동시킨다. 본 실시예에 따른 파지모듈용 이동 구동부(131d)는 공압 또는 유압 실린더로 이루어진다. The moving
파지모듈용 이동 가이드부(미도시)는 가이드 레일 형상으로 마련되어 파지용 이동몸체부(131c)의 이동을 안내한다.A movement guide portion (not shown) for the gripping module is provided in the shape of a guide rail to guide the movement of the gripping
파지용 회전부(139)는 파지부(131)에 연결된다. 이러한 파지용 회전부(139)은 파지부(131)을 제2축을 회전 축심으로 하여 회전시킨다.The rotating part for holding 139 is connected to the holding
본 실시예에 따른 파지용 회전부(139)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 파지부(131)가 결합되는 전달용 회전 블록부(139a)와, 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 결합되며 전달용 회전 블록부(139a)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 전달용 회전 블록 회전 구동부(139b)를 포함한다.Rotation unit 139 for gripping according to this embodiment, as shown in FIG. 4 , the
파지용 제3축 방향 이동부(137)는 파지용 제1축 방향 이동부(133)에 연결된다. 또한, 파지용 제3축 방향 이동부(137)에는 파지부(131)가 결합된다. 이러한 파지용 제3축 방향 이동부(137)는 파지부(131)를 제3축 방향으로 이동시킨다. The third
본 실시예에 따른 파지용 제3축 방향 이동부(137)는, 도 3 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 파지부(131)가 연결되며 제3축 방향으로 이동되는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)와, 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 연결되며 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)의 이동을 안내하는 파지용 제3축 방향 이동 가이드부(미도시)와, 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 연결되며 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)를 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동 구동부(137c)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 4 , the gripping third
파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)는 파지용 회전부(139)에 결합되어 파지부(131)에 연결된다. 이러한 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a) 제3축 방향으로 이동되어 파지부(131)를 제3축 방향으로 이동시킨다. The gripping third axis direction moving
파지용 제3축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 연결된다. 이러한 파지용 제3축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)의 이동을 안내한다.The gripping third axial movement guide portion (not shown) is connected to the gripping third axial
본 실시예에서 파지용 제3축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)가 슬라이딩 이동 가능하게 결합되는 가이드 레일(미도시)로 이루어진다.In this embodiment, the gripping third axial movement guide portion (not shown) is made of a guide rail (not illustrated) to which the gripping third axial
파지용 제3축 방향 이동 구동부(137c)는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 연결된다. 이러한 파지용 제3축 방향 이동 구동부(137c)는 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)를 이동시킨다. The third axial
본 실시예에 따른 파지용 제3축 방향 이동 구동부(137c)는, 파지용 제3축 방향 이동블록부(137a)에 결합되는 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)에 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류(미도시)에 연결되어 볼 스크류(미도시)를 회전시키는 서보모터(R)를 포함한다.The third axial
파지용 제1축 방향 이동부(133)는, 파지부(131)를 지지하며, 파지부(131)를 제1축 방향으로 이동시킨다. The gripping first
이러한 파지용 제1축 방향 이동부(133)는, 도 3 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 파지용 제3축 방향 이동부(137)가 연결되며 제1축 방향으로 이동되는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)와, 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에 연결되며 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)의 이동을 안내하는 파지용 제1축 방향 이동 가이드부(미도시)와, 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에 연결되며 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)를 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동 구동부(133c)를 포함한다.The first
파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에는 파지용 제3축 방향 이동부(137)가 연결된다. 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)는 제1축 방향으로 이동되어 파지부(131)를 제3축 방향으로 이동시킨다. The third
파지용 제1축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에 연결된다. 이러한 파지용 제1축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)의 이동을 안내한다.The gripping first axial movement guide portion (not shown) is connected to the gripping first axial
본 실시예에서 파지용 제1축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)가 슬라이딩 이동 가능하게 결합되는 가이드 레일(미도시)로 이루어진다.In the present embodiment, the gripping first axial movement guide portion (not shown) includes a guide rail (not illustrated) to which the gripping first axial
파지용 제1축 방향 이동 구동부(133c)는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에 연결된다. 이러한 파지용 제1축 방향 이동 구동부(133c)는 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)를 이동시킨다. The first axial
본 실시예에 따른 파지용 제1축 방향 이동 구동부(133c)는, 파지용 제1축 방향 이동블록부(133a)에 결합되는 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)에 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류(미도시)에 연결되어 볼 스크류(미도시)를 회전시키는 서보모터(미도시)를 포함한다.The first axial
파지용 제2축 방향 이동부(135)는 파지용 제1축 방향 이동부(133)에 연결된다. 이러한 파지용 제2축 방향 이동부(135)는 파지용 제1축 방향 이동부(133)를 제2축 방향으로 이동시킨다. The second
파지용 제2축 방향 이동부(135)는, 도 3 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 파지용 제1축 방향 이동부(133)가 연결되며 제2축 방향으로 이동되는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)와, 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에 연결되며 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)의 이동을 안내하는 파지용 제2축 방향 이동 가이드부(미도시)와, 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에 연결되며 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)를 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동 구동부(135c)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 4 , the gripping second
파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에는 파지용 제1축 방향 이동부(133)가 연결된다. 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)는 제2축 방향으로 이동되어 파지부(131)를 제2축 방향으로 이동시킨다. The first
파지용 제2축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에 연결된다. 이러한 파지용 제2축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)의 이동을 안내한다.The second axial movement guide part (not shown) for gripping is connected to the second axial
본 실시예에서 파지용 제2축 방향 이동 가이드부(미도시)는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)가 슬라이딩 이동 가능하게 결합되는 가이드 레일(미도시)로 이루어진다.In the present embodiment, the gripping second axial movement guide portion (not shown) includes a guide rail (not illustrated) to which the gripping second axial
파지용 제2축 방향 이동 구동부(135c)는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에 연결된다. 이러한 파지용 제2축 방향 이동 구동부(135c)는 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)를 이동시킨다. The second axial
본 실시예에 따른 파지용 제2축 방향 이동 구동부(135c)는, 파지용 제2축 방향 이동블록부(135a)에 결합되는 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)에 치합되는 볼 스크류(미도시)와, 볼 스크류(미도시)에 연결되어 볼 스크류(미도시)를 회전시키는 서보모터(미도시)를 포함한다.The second axial
파지용 제2축 방향 이동부(135)는 파지용 제1축 방향 이동부(133)에 연결된다. 이러한 파지용 제2축 방향 이동부(135)는 파지용 제1축 방향 이동부(133)를 제2축 방향으로 이동시킨다. The second
한편, 전극 언로딩유닛(170)은 배출용 스테이지부(151)에 적재된 전극 적층체(M)를 언로딩(unloading)하여 공급용 이송부(210)에 적재한다. On the other hand, the
이러한 전극 언로딩유닛(170)은 배출용 스테이지부(151)에 지지된 전극 적층체(M)를 픽업(pick up)하는 언로딩용 전극 픽업부(171)와, 언로딩용 전극 픽업부(171)에 연결되어 언로딩용 전극 픽업부(171)를 제2축 방향으로 이동시키는 언로딩용 픽업부용 이동부(172)를 포함한다. The
언로딩용 픽업부용 이동부(172)는 언로딩용 전극 픽업부(171)가 결합되며 제2축 방향으로 이동되는 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)와, 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 연결되어 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)의 이동을 안내하는 언로딩용 픽업부용 이동가이드부(미도시)와. 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 연결되어 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)를 이동시키는 언로딩용 픽업부용 이동구동부(미도시)를 포함한다. 본 실시예에서 언로딩용 픽업부용 이동구동부(미도시)는 언로딩용 픽업부용 이동블록부(미도시)에 결합된 이동너트(미도시)와, 이동너트(미도시)가 치합되는 볼 스크류(미도시)와 볼 스크류를 회전시키는 구동모터(미도시)를 포함한다. The moving
한편, 외부면 검사장치(SD)는 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 오버행 검사 공정이 수행된 전극 적층체(M)를 전달용 이송장치(SF)을 통해 공급받는다. 이러한 외부면 검사장치(SD)가 전극 적층체(M)의 외면을 검사한다.On the other hand, the outer surface inspection device (SD) is supplied through the transfer device (SF) for the transfer of the electrode stack (M) on which the overhang inspection process of the overhang inspection device for secondary batteries has been performed. The outer surface inspection device SD inspects the outer surface of the electrode stack M.
본 실시예에서 외부면 검사장치(SD)는, 전극 적층체(M)의 외면을 촬상하는 카메라부(미도시)와, 카메라부(미도시)에 연결되어 카메라부(미도시)가 획득한 정보를 제어유닛에 전송하는 통신부(미도시)를 포함한다.In this embodiment, the external surface inspection device SD is connected to a camera unit (not shown) and a camera unit (not shown) for imaging the outer surface of the electrode stack M, and the camera unit (not shown) acquires and a communication unit (not shown) for transmitting information to the control unit.
카메라부(미도시)는 전극 적층체(M)의 외면을 촬상한다. 이러한 카메라부(미도시)는 전극 적층체(M)의 외면을 촬상하여 전극 적층체(M)의 외면에 이물질이 부착되었는지 여부 및 전극 적층체(M)의 외형을 검사한다. A camera unit (not shown) captures the outer surface of the electrode stack M. Such a camera unit (not shown) inspects whether foreign substances are attached to the outer surface of the electrode stack M by imaging the outer surface of the electrode stack M and the external shape of the electrode stack M.
한편, 전달용 이송장치(SF)는 검사용 이송장치(200)와 외부면 검사장치(SD)에 연결되어 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 통과한 전극 적층체(M)를 외부면 검사장치(SD)로 전달한다.On the other hand, the transfer device for delivery (SF) is connected to the transfer device for
또한, 전달용 이송장치(SF)는 외부면 검사장치(SD)와 TAB장치(TAB)에 연결되어 외부면 검사장치(SD)를 통과한 전극 적층체(M)를 TAB장치(TAB)로 전달한다.In addition, the transfer device (SF) for delivery is connected to the outer surface inspection device (SD) and the TAB device (TAB) to transfer the electrode stack (M) passing through the outer surface inspection device (SD) to the TAB device (TAB) do.
이러한 전달용 이송장치(SF)는, 전극 적층체(M)를 지지하는 트레이(미도시)를 이송시키는 다수개의 컨베이어(미도시)와, 트레이(미도시)의 이송방향을 전환하는 방향 전환부(미도시)와, 전극 적층체(M)를 트레이(미도시)로 전달하는 이송로봇(미도시) 등을 포함한다.The transfer device SF for this transfer includes a plurality of conveyors (not shown) for transferring a tray (not shown) supporting the electrode stack M, and a direction changer for changing the transport direction of the tray (not shown). (not shown) and a transfer robot (not shown) for transferring the electrode stack M to a tray (not shown).
한편, 본 실시예에 따른 제어유닛(미도시)은 2차 전지용 스태킹 장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200) 및 전달용 이송장치(SF)에 전기적으로 연결되어 2차 전지용 스태킹 장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200) 및 전달용 이송장치(SF)의 동작을 제어한다. On the other hand, the control unit (not shown) according to this embodiment is a secondary battery stacking device (SC), an outer surface inspection device (SD), an
이하에서 본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템의 작동을 도 2 내지 도 8을 참고하여 설명한다.Hereinafter, the operation of the secondary battery manufacturing system according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 8 .
먼저, 2차 전지용 스태킹 장치(SC)에서 스태킹 공정이 완료된 전극 적층체(M)가 공급용 이송부(210)를 통해 2차 전지용 오버행 검사장치(100) 방향으로 이송된다.First, in the stacking device for secondary batteries (SC), the electrode stack M on which the stacking process is completed is transferred to the
이후, 전극 로딩유닛(160)이 공급용 스테이지부(141)에 전극 적층체(M)들을 로딩(loading)한다. 이때, 전극 적층체(M)들은 적층되어 배치된다. Thereafter, the
다음, 적층체용 전달유닛(130)이 전극 적층체(M)를 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112) 각각에 전달한다. Next, the
이후, 도 10(a)에 도시된 바와 같이 제2 지그부(112)에 클램핑된 전극 적층체(M)는 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상되고 제1 지그부(111)에 지지된 전극 적층체(M)는 검사를 대기한다.Thereafter, as shown in FIG. 10( a ), the electrode stack M clamped to the
이후, 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)가 도 10(b)에 도시된 바와 같이 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동되어 제1 지그부(111)에 지지된 전극 적층체(M)가 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된다. 이때, 적층체용 전달유닛(130)은 제2 지그부(112)에 지지된 전극 적층체(M)를 배출용 스테이지유닛(150)으로 전달할 수 있다.Thereafter, the
이후, 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)는 원래의 위치로 복귀한다.Thereafter, the
다음, 배출용 스테이지부(151)가 전극 언로딩유닛(170) 방향으로 이동된다.Next, the discharge stage unit 151 is moved toward the
이후, 전극 언로딩유닛(170)이 배출용 스테이지부(151)에 적재된 전극 적층체(M)를 언로딩(unloading)하여 배출용 이송부(220)에 적재한다.Thereafter, the
다음, 검사결과 정상으로 판단된 전극 적층체(M)는 전달용 이송장치(SF)를 통해 외부면 검사장치(SD)를 거쳐 TAB장치(TAB)로 전달된다.Next, the electrode stack (M) determined to be normal as a result of the inspection is transferred to the TAB device (TAB) through the outer surface inspection device (SD) through the transfer device (SF).
이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템은, 전극 적층체(M)를 클램핑하는 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)를 구비하며 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛(110)과 전극 적층체(M)를 촬상하는 검사용 촬상유닛(120)을 구비함으로써, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중 전극 적층체(M)를 빠르고 간편하게 전수 검사하여 전극들의 오버행 부위를 감지하여 불량 제품의 생산을 최소화하고, 불량 제품의 납품을 막아 품질 신뢰도를 높일 수 있다.As described above, the secondary battery manufacturing system according to the present embodiment includes a
또한 본 발명에 따르면, 제1 지그부(111)와 제2 지그부(112)가 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 가능함으로써, 방사선 방출부(121)의 개수를 줄일 수 있고, 그에 따라 제작비용 및 유지비용을 절감할 수 있는 이점이 있다.In addition, according to the present invention, since the
이상 도면을 참조하여 본 실시예에 대해 상세히 설명하였지만 본 실시예의 권리범위가 전술한 도면 및 설명에 국한되지는 않는다.Although the present embodiment has been described in detail with reference to the drawings above, the scope of the present embodiment is not limited to the drawings and description described above.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As such, the present invention is not limited to the described embodiments, and it is apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, it should be said that such modifications or variations belong to the claims of the present invention.
100: 2차 전지용 오버행 검사장치
110: 적층체용 지그유닛
111: 제1 지그부
112: 제2 지그부
113: 제1 지그용 이동블록부
114: 제2 지그용 이동블록부
116: 지그용 이동 구동부
120: 검사용 촬상유닛
130: 적층체용 전달유닛
131: 파지부
133: 파지용 제1축 방향 이동부
135: 파지용 제2축 방향 이동부
137: 파지용 제3축 방향 이동부
140: 공급용 스테이지유닛
141: 공급용 스테이지부
142: 공급용 스테이지 이동부
150: 배출용 스테이지유닛
151: 배출용 스테이지부
152: 배출용 스테이지 이동부
160: 전극 로딩유닛
170: 전극 언로딩유닛
200: 검사용 이송장치
210: 공급용 이송부
220: 배출용 이송부
M: 전극 적층체100: overhang inspection device for secondary battery 110: jig unit for laminate
111: first jig part 112: second jig part
113: Moving block unit for the first jig 114: Moving block unit for the second jig
116: moving driving unit for jig 120: imaging unit for inspection
130: transfer unit for a laminate 131: grip part
133: first axial movement for gripping 135: second axial movement for gripping
137: moving part in the third axis direction for holding 140: stage unit for supply
141: supply stage unit 142: supply stage moving unit
150: stage unit for discharging 151: stage unit for discharging
152: discharging stage moving unit 160: electrode loading unit
170: electrode unloading unit 200: transfer device for inspection
210: transfer unit for supply 220: transfer unit for discharge
M: electrode laminate
Claims (15)
상기 전극 적층체를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부와 제2 지그부를 구비하며, 상기 제1 지그부와 상기 제2 지그부를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛;
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛;
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상된 상기 전극 적층체가 적재되는 배출용 스테이지부를 구비하는 배출용 스테이지유닛; 및
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지유닛에서 상기 적층체용 지그유닛으로 전달하고 상기 적층체용 지그유닛에서 상기 배출용 스테이지유닛으로 전달하는 적층체용 전달유닛을 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.a stage unit for supply having a stage for supply in which an electrode stack prepared by alternately stacking a cathode and an anode with a separator interposed therebetween;
a jig unit for a laminate having a first jig unit and a second jig unit for clamping the electrode laminate by receiving it, and moving the first jig unit and the second jig unit in a first axial direction;
an inspection imaging unit disposed adjacent to the jig unit for the laminate and configured to image the electrode laminate;
a stage unit for discharging disposed adjacent to the jig unit for the laminate and having a stage for discharging on which the electrode laminate imaged by the inspection imaging unit is mounted; and
It is disposed adjacent to the jig unit for the laminate, and transfers the electrode laminate from the stage unit for supply to the jig unit for the laminate and transfers the electrode laminate from the jig unit for the laminate to the stage unit for discharging. Overhang inspection device for secondary batteries.
상기 적층체용 지그유닛은,
상기 제1 지그부가 결합되는 제1 지그용 이동블록부;
상기 제2 지그부가 결합되는 제2 지그용 이동블록부;
상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부의 이동을 안내하는 지그용 이동 가이드부; 및
상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부를 이동시키는 지그용 이동 구동부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The jig unit for the laminate is,
a moving block unit for a first jig to which the first jig unit is coupled;
a moving block unit for a second jig to which the second jig unit is coupled;
a moving guide unit for a jig connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and guiding the movement of the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig; and
For a secondary battery connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and including a moving driving unit for a jig for moving the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig overhang inspection device.
상기 적층체용 전달유닛은,
상기 전극 적층체를 파지하는 파지부;
상기 파지부를 지지하며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동부;
상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되며, 상기 파지용 제1축 방향 이동부를 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동부; 및
상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되고 상기 파지부가 결합되며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향과 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The transfer unit for the laminate,
a gripper for gripping the electrode stack;
a first axial movement part for holding the grip part and moving the grip part in the first axial direction;
a second axial movement unit for gripping connected to the first axial movement unit for gripping, and configured to move the first axial movement portion for gripping in a second axial direction crossing the first axial direction; and
A gripping third axial movement unit connected to the first axial movement unit for gripping and coupled to the gripping portion, and configured to move the grip portion in a third axial direction intersecting the first and second axial directions Overhang inspection device for secondary batteries, including.
상기 공급용 스테이지유닛은,
상기 공급용 스테이지부를 지지하며, 상기 공급용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 공급용 스테이지 이동부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The stage unit for supply,
An overhang inspection apparatus for a secondary battery that supports the stage for supply and includes a stage moving part for supply that moves the stage part for supply in the first axial direction.
상기 배출용 스테이지유닛은,
상기 배출용 스테이지부를 지지하며, 상기 배출용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 배출용 스테이지 이동부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The stage unit for discharging,
and a discharging stage moving unit supporting the discharging stage and moving the discharging stage in the first axial direction.
상기 공급용 스테이지부에 상기 전극 적층체를 로딩(loading)하는 전극 로딩유닛을 더 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The overhang inspection apparatus for a secondary battery further comprising an electrode loading unit for loading the electrode stack to the stage for supply.
상기 배출용 스테이지부에 적재된 상기 전극 적층체를 언로딩(unloading)하는 전극 언로딩유닛을 더 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
Overhang inspection apparatus for a secondary battery further comprising an electrode unloading unit for unloading the electrode stacked body loaded on the stage for discharging (unloading).
상기 적층체용 지그유닛은 다수개로 마련되어 상호 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to claim 1,
The jig unit for the laminate is provided in plurality and is an overhang inspection apparatus for a secondary battery, characterized in that it is arranged to be spaced apart from each other.
상기 2차 전지용 스태킹 장치에서 스태킹된 상기 전극 적층체를 이송하는 검사용 이송장치; 및
상기 검사용 이송장치에 의해 이송되는 상기 전극 적층체를 전달받아 촬상하며, 촬상된 상기 전극 적층체를 상기 검사용 이송장치로 전달하는 2차 전지용 오버행 검사장치를 포함하며,
상기 2차 전지용 오버행 검사장치는,
상기 전극 적층체가 적재되는 공급용 스테이지부를 구비하는 공급용 스테이지유닛;
상기 전극 적층체를 전달받아 클램핑하는 제1 지그부와 제2 지그부를 구비하며, 상기 제1 지그부와 상기 제2 지그부를 제1축 방향으로 이동시키는 적층체용 지그유닛;
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛;
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상된 상기 전극 적층체가 적재되는 배출용 스테이지부를 구비하는 배출용 스테이지유닛; 및
상기 적층체용 지그유닛에 인접하게 배치되며, 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지유닛에서 상기 적층체용 지그유닛으로 전달하고 상기 적층체용 지그유닛에서 상기 배출용 스테이지유닛으로 전달하는 적층체용 전달유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템a stacking device for a secondary battery that alternately stacks a negative electrode and a positive electrode with a separator interposed therebetween to produce an electrode stack;
an inspection transfer device for transferring the electrode stack stacked in the secondary battery stacking device; and
and an overhang inspection device for secondary batteries that receives and captures the electrode stack transferred by the transport device for inspection, and transfers the captured electrode stack to the transport device for inspection,
The overhang inspection device for the secondary battery,
a stage unit for supply having a stage for supply on which the electrode stack is loaded;
a jig unit for a laminate having a first jig unit and a second jig unit for clamping the electrode laminate by receiving it, and moving the first jig unit and the second jig unit in a first axial direction;
an inspection imaging unit disposed adjacent to the jig unit for the laminate and configured to image the electrode laminate;
a stage unit for discharging disposed adjacent to the jig unit for the laminate and having a stage for discharging on which the electrode laminate imaged by the inspection imaging unit is mounted; and
It is disposed adjacent to the jig unit for the laminate, and transfers the electrode laminate from the stage unit for supply to the jig unit for the laminate and transfers the electrode laminate from the jig unit for the laminate to the stage unit for discharging. secondary battery manufacturing system
상기 적층체용 지그유닛은,
상기 제1 지그부가 결합되는 제1 지그용 이동블록부;
상기 제2 지그부가 결합되는 제2 지그용 이동블록부;
상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부의 이동을 안내하는 지그용 이동 가이드부; 및
상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부에 연결되며, 상기 제1 지그용 이동블록부와 상기 제2 지그용 이동블록부를 이동시키는 지그용 이동 구동부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The jig unit for the laminate is,
a moving block unit for a first jig to which the first jig unit is coupled;
a moving block unit for a second jig to which the second jig unit is coupled;
a moving guide unit for a jig connected to the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig, and guiding the movement of the first moving block unit for the first jig and the second moving block unit for the jig; and
A secondary battery connected to the first moving block unit for a jig and the second moving block unit for a jig, and including a moving driving unit for a jig for moving the first moving block unit for the jig and the second moving block unit for the jig manufacturing system.
상기 적층체용 전달유닛은,
상기 전극 적층체를 파지하는 파지부;
상기 파지부를 지지하며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 파지용 제1축 방향 이동부;
상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되며, 상기 파지용 제1축 방향 이동부를 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 이동시키는 파지용 제2축 방향 이동부; 및
상기 파지용 제1축 방향 이동부에 연결되고 상기 파지부가 결합되며, 상기 파지부를 상기 제1축 방향과 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 파지용 제3축 방향 이동부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The transfer unit for the laminate,
a gripper for gripping the electrode stack;
a first axial movement part for holding the grip part and moving the grip part in the first axial direction;
a second axial movement unit for gripping connected to the first axial movement unit for gripping, and configured to move the first axial movement portion for gripping in a second axial direction crossing the first axial direction; and
A gripping third axial movement unit connected to the first axial movement unit for gripping and coupled to the gripping portion, and configured to move the grip portion in a third axial direction intersecting the first and second axial directions A secondary battery manufacturing system comprising.
상기 공급용 스테이지유닛은,
상기 공급용 스테이지부를 지지하며, 상기 공급용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 공급용 스테이지 이동부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The stage unit for supply,
and a supply stage moving part supporting the supply stage part and moving the supply stage part in the first axial direction.
상기 배출용 스테이지유닛은,
상기 배출용 스테이지부를 지지하며, 상기 배출용 스테이지부를 상기 제1축 방향으로 이동시키는 배출용 스테이지 이동부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The stage unit for discharging,
and a discharging stage moving unit supporting the discharging stage and moving the discharging stage in the first axial direction.
상기 검사용 이송장치에 의해 이송된 상기 전극 적층체를 상기 공급용 스테이지부에 로딩(loading)하는 전극 로딩유닛을 더 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The secondary battery manufacturing system further comprising an electrode loading unit for loading the electrode stack transferred by the inspection transfer device to the supply stage unit.
상기 배출용 스테이지부에 적재된 상기 전극 적층체를 언로딩(unloading)하여 상기 검사용 이송장치에 전달하는 전극 언로딩유닛을 더 포함하는 2차 전지 제조 시스템.10. The method of claim 9,
The secondary battery manufacturing system further comprising an electrode unloading unit for unloading the electrode stack loaded on the stage for discharging and transferring it to the transport device for inspection.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200092949A KR102448137B1 (en) | 2020-07-27 | 2020-07-27 | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200092949A KR102448137B1 (en) | 2020-07-27 | 2020-07-27 | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220013697A true KR20220013697A (en) | 2022-02-04 |
KR102448137B1 KR102448137B1 (en) | 2022-09-28 |
Family
ID=80268316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200092949A KR102448137B1 (en) | 2020-07-27 | 2020-07-27 | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102448137B1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101133048B1 (en) * | 2011-04-08 | 2012-04-04 | 주식회사 이노메트리 | Battery inspection apparatus |
KR20130105578A (en) | 2013-08-30 | 2013-09-25 | 주식회사 엘지화학 | Pouched type secondary battery of coated insulating material |
KR20130123099A (en) * | 2012-05-02 | 2013-11-12 | 주식회사 엘지화학 | Inspection device for secondary battery unit cell |
-
2020
- 2020-07-27 KR KR1020200092949A patent/KR102448137B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101133048B1 (en) * | 2011-04-08 | 2012-04-04 | 주식회사 이노메트리 | Battery inspection apparatus |
KR20130123099A (en) * | 2012-05-02 | 2013-11-12 | 주식회사 엘지화학 | Inspection device for secondary battery unit cell |
KR20130105578A (en) | 2013-08-30 | 2013-09-25 | 주식회사 엘지화학 | Pouched type secondary battery of coated insulating material |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102448137B1 (en) | 2022-09-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102317424B1 (en) | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same | |
KR102252625B1 (en) | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same | |
JP5590530B2 (en) | PCB printing system | |
KR100775054B1 (en) | Apparatus for tray handling and inspecting method for semiconductor device of the same | |
KR101992467B1 (en) | An electrode plate transfer apparatrus of a secondary battery manufacturing apparatus including an electrode plate inspection function | |
KR20020085266A (en) | Square Type Battery Inspection System | |
KR102470513B1 (en) | Secondary battery manufacturing system having an overhang inspection device for secondary batteries | |
CN211438589U (en) | Bipolar plate production line | |
CN110860806B (en) | Ultraviolet femtosecond laser cutting system | |
CN110802320A (en) | Bipolar plate production line | |
CN219745554U (en) | Battery cell detection device | |
CN108722915B (en) | Battery detection system | |
CN114975195B (en) | Wafer cassette, wafer transfer apparatus, wafer transfer control method, electric apparatus, and storage medium | |
JP2000321545A (en) | Liquid crystal panel inspection apparatus | |
KR102448137B1 (en) | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same | |
KR102257019B1 (en) | Overhang inspection apparatus for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same | |
KR102581013B1 (en) | Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same | |
KR101910914B1 (en) | Apparatus for sorting led module bar | |
CN114783924B (en) | Wafer carrying device, wafer carrying control method, electric device, and storage medium | |
KR102628806B1 (en) | apparatus for inspecting cylindrical secondary battery | |
CN115985799A (en) | Automatic chip detection device | |
KR102492155B1 (en) | Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same | |
KR102594047B1 (en) | Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same | |
KR102710297B1 (en) | Cell and spacer arrangement device and secondary battery inspection system having the same | |
KR20240096000A (en) | Overhang inspection device for secondary battery |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right |