KR102581013B1

KR102581013B1 - Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same

Info

Publication number: KR102581013B1
Application number: KR1020210077043A
Authority: KR
Inventors: 공병윤; 박기태; 김장미; 김두환
Original assignee: 주식회사 에스에프에이
Priority date: 2021-06-14
Filing date: 2021-06-14
Publication date: 2023-09-21
Also published as: KR20220167712A

Abstract

2차 전지용 오버행 검사장치가 개시된다. 본 발명에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치는, 음극과 양극이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차되어 마련된 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛과, 적층체용 지그유닛에 클램핑된 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛과, 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛을 포함한다. An overhang inspection device for secondary batteries is disclosed. The overhang inspection device for secondary batteries according to the present invention includes a plurality of jig units for a laminate that clamp an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between, and an electrode stack clamped to the jig unit for the laminate. It includes an inspection imaging unit that captures an image of the body, and a plurality of laminate position variable units that are connected to each of the laminate jig units and move each electrode laminate relative to the inspection imaging unit.

Description

Overhang inspection device for secondary battery and secondary battery manufacturing system having the same {Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same}

본 발명은, 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 전극들이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 스태킹되어 생성된 전극 적층체의 전극의 쇼트(단락) 여부를 검사할 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an overhang inspection device for secondary batteries and a secondary battery manufacturing system comprising the same. More specifically, the present invention relates to a short circuit ( It relates to an overhang inspection device for secondary batteries that can inspect whether a short circuit is present and a secondary battery manufacturing system equipped with the same.

일반적으로 2차 전지(secondary cell)는 화학적 에너지를 전기적 에너지로 변환시켜 외부의 회로에 전원을 공급하기도 하고, 방전되었을 때 외부의 전원을 공급받아 전기적 에너지를 화학적 에너지로 바꾸어 전기를 저장할 수 있는 전지를 가리킨다. 이러한 2차 전지를 통상적으로 축전기라 부르기도 한다.In general, a secondary cell converts chemical energy into electrical energy to supply power to an external circuit, and when discharged, it receives external power and converts electrical energy into chemical energy to store electricity. refers to These secondary batteries are also commonly called capacitors.

이러한 2차 전지는 전극 적층체의 구조에 따라 다양하게 분류될 수 있다. 예컨대, 2차 전지는 스택형 구조, 권취형 구조, 스택/폴딩형 구조 등으로 분류될 수 있다.These secondary batteries can be classified in various ways depending on the structure of the electrode stack. For example, secondary batteries can be classified into a stacked structure, a wound structure, a stacked/folded structure, etc.

다양한 분류 중에서 스택형 구조는 전극, 즉 양극과 음극을 소정의 크기로 절단한 다음, 도 1(a)에 도시된 바와 같이 양극(E1)과 음극(E2)의 사이에 분리막(P)을 두고 양극(E1)과 음극(E2)을 교번적으로 적층하여 전극 적층체(M)를 형성한 것을 가리킨다. 이러한 스태킹 공정은, 2차 전지용 스태킹 장치에서 수행된다. 이러한 전극 적층체(M)에서 양극(E1)이 옆으로 돌출될 수 있는데, 이렇게 옆쪽으로 돌출된 부위를 소위 오버행(overhang) 부위라 한다. Among various classifications, the stacked structure consists of cutting the electrodes, that is, the anode and the cathode, to a predetermined size, and then placing a separator (P) between the anode (E1) and the cathode (E2) as shown in FIG. 1(a). It refers to forming an electrode laminate (M) by alternately stacking an anode (E1) and a cathode (E2). This stacking process is performed in a stacking device for secondary batteries. In this electrode stack M, the anode E1 may protrude to the side, and the area protruding to the side is called a so-called overhang area.

한편, 스태킹 공정 중 도 1(b)에 도시된 바와 같이 전극 적층체(M)에 적층된 전극(E1, E2) 중 일부가 다른 것들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆으로 돌출되어 적층되는 불량이 발생될 수 있다. 즉, 일부 전극(E1, E2)의 말단부가 다른 전극(E1, E2)들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆쪽으로 돌출되는 경우, 돌출된 전극(E1, E2)들의 오버행 부위가 서로 접촉되어 쇼트(단락)가 발생될 수 있는데, 이렇게 전극(E1, E2)의 쇼트(단락)가 발생된 2차 전지는 사용이 불가능하다.Meanwhile, during the stacking process, as shown in FIG. 1(b), some of the electrodes E1 and E2 stacked on the electrode stack M protrude excessively to the side (out of the standard value) compared to the others. Defects may occur. That is, when the distal ends of some of the electrodes E1 and E2 protrude to the side excessively (outside the standard value) compared to the other electrodes E1 and E2, the overhang portions of the protruding electrodes E1 and E2 come into contact with each other. A short circuit may occur, and a secondary battery in which the electrodes E1 and E2 have a short circuit cannot be used.

상술한 전극(E1, E2)의 과도하게(기준값을 벗어나게) 돌출된 오버행 부위는 주로 적층 불량에 의해 발생되는데, 인라인으로 이루어지는 2차 전지 제조 공정의 특성 상 이러한 불량을 빠르게 인식하지 못하면 라인에서 생산된 생산품 전체에 불량이 발생될 수 있다.The excessively protruding overhangs (outside the standard value) of the electrodes (E1, E2) mentioned above are mainly caused by lamination defects. Due to the nature of the in-line secondary battery manufacturing process, if these defects are not quickly recognized, they may be produced in line. Defects may occur in all manufactured products.

이러한 오버행 부위를 검사하기 위해 산업용 CT 검사장비가 사용되고 있는데, 종래의 산업용 CT 검사장비는 하나의 한 번에 하나의 셀만을 검사할 수 있어 검사시간이 오래 걸리는 문제점이 있다. Industrial CT inspection equipment is used to inspect such overhang areas, but conventional industrial CT inspection equipment can only inspect one cell at a time, which has the problem of taking a long time.

대한민국 공개특허 제10-2013-0105578호, (2013.09.25.)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2013-0105578, (2013.09.25.)

따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중 오버행의 검사를 위해 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템을 제공하는 것이다.Therefore, the technical problem to be achieved by the present invention is an overhang inspection for secondary batteries that can shorten the inspection time by inspecting multiple electrode stacks at once to inspect overhangs during the in-line secondary battery manufacturing process. To provide a device and a secondary battery manufacturing system including the same.

본 발명의 일 측면에 따르면, 음극과 양극이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차되어 마련된 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 및 상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 각각의 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛을 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치가 제공될 수 있다.According to one aspect of the present invention, a plurality of jig units for a plurality of laminates clamping an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between; An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit; And an overhang inspection device for a secondary battery including a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving each of the electrode laminates relative to the imaging unit for inspection.

상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은 상기 검사용 촬상유닛을 중심으로 하여 방사상으로 상호 이격되어 배치될 수 있다.The plurality of position variable units for the laminate may be arranged to be radially spaced apart from each other with the inspection imaging unit as the center.

상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은, 제1축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛; 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛을 포함할 수 있다.The plurality of position variable units for a laminate include a pair of first position variable units for a laminate positioned to be spaced apart from each other in a first axis direction and disposed to face each other; And it may include a pair of second position variable units for a second stack positioned to be spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and disposed to face each other.

상기 제1 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부; 상기 제1 틸팅부가 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부; 및 상기 제1 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제1 업/다운부를 포함할 수 있다.The first position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis. first tilting unit; The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; And it may include a first up/down part connected to the first rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.

상기 제2 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부; 상기 제2 틸팅부가 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부; 및 상기 제2 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제2 업/다운부를 포함할 수 있다.The second position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis. second tilting unit; The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.

상기 검사용 촬상유닛은, 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부; 및 상기 방사선 방출부에 대해 이격되어 배치되며, 상기 방사선 방출부에서 방출된 상기 방사선을 검출하는 방사선 검출부를 포함하며, 상기 방사선 방출부는 상기 적층체용 지그유닛의 상부 영역에 위치되며, 상기 방사선 검출부는 상기 적층체용 지그유닛의 하부 영역에 위치될 수 있다.The inspection imaging unit includes a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the stack jig unit; and a radiation detection unit disposed to be spaced apart from the radiation emitting unit and detecting the radiation emitted from the radiation emitting unit, wherein the radiation emitting unit is located in an upper area of the jig unit for the laminate, and the radiation detection unit. It may be located in the lower area of the jig unit for the laminate.

상기 2차 전지용 오버행 검사장치는, 상기 적층체용 지그유닛에 연결되는 셋팅용 지그를 더 포함하며, 상기 셋팅용 지그는, 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑되는 지그 바디; 및 상기 지그 바디에서 돌출되며 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상되는 촬상 대상부를 포함할 수 있다.The overhang inspection device for a secondary battery further includes a setting jig connected to the jig unit for a laminate, wherein the jig for setting includes a jig body clamped to the jig unit for a laminate; And it may include an imaging target part that protrudes from the jig body and is imaged by the inspection imaging unit.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 음극과 양극을 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차시켜 전극 적층체를 생성하는 2차 전지용 교차장치; 및 상기 2차 전지용 교차장치에서 생성된 상기 전극 적층체를 전달받으며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 2차 전지용 오버행 검사장치를 포함하며, 상기 2차 전지용 오버행 검사장치는, 상기 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 및 상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템이 제공될 수 있다.According to another aspect of the present invention, a crossing device for a secondary battery that generates an electrode stack by alternately crossing a cathode and an anode with a separator in between; And an overhang inspection device for secondary batteries that receives the electrode stack generated by the crossover device for secondary batteries and takes images of the electrode stack, wherein the overhang inspection device for secondary batteries clamps the electrode stack. A jig unit for a plurality of laminates; An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit; And a secondary battery manufacturing system including a plurality of position variable units for the stack connected to each of the jig units for the stack and moving the electrode stack relative to the inspection imaging unit.

상기 2차 전지용 오버행 검사장치는, 상기 적층체용 지그유닛에 연결되는 셋팅용 지그를 더 포함할 수 있다.The overhang inspection device for a secondary battery may further include a setting jig connected to the jig unit for the laminate.

상기 셋팅용 지그는, 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑되는 지그 바디; 및 상기 지그 바디에서 돌출되며 상기 검사용 촬상유닛에 의해 촬상되는 촬상 대상부를 포함할 수 있다. The setting jig includes a jig body clamped to the jig unit for the laminate; And it may include an imaging target part that protrudes from the jig body and is imaged by the inspection imaging unit.

본 발명에 따르면, 각각의 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛 각각에 연결되어 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛을 구비함으로써, 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있다, According to the present invention, by providing a plurality of position variable units for a plurality of laminates that are connected to each of a plurality of jig units for a plurality of laminates clamping each electrode laminate and move each electrode laminate relative to the imaging unit for inspection, a plurality of position variable units are provided. Two electrode stacks can be inspected at once, shortening inspection time.

도 1은 2차 전지의 전극이 적층된 상태가 도시된 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이다.
도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이다.
도 4는 도 3의 'A'부분의 확대도이다.
도 5는 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 정면에서 바라본 도면이다.
도 6은 도 3의 제1 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이다.
도 7은 도 3의 제2 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이다.
도 8은 도 5를 X-Y평면으로 자른 단면이 도시된 도면이다.
도 9는 도 5의 적층체용 지그유닛이 도시된 도면이다.
도 10은 도 8의 평면도이다.
도 11은 도 8의 측면도이다.
도 12는 도 5의 적층체용 지그유닛에 사용되는 셋팅용 지그의 사용상태가 도시된 도면이다.
도 13은 도 12의 셋팅용 지그가 도시된 도면이다.Figure 1 is a diagram showing a state in which electrodes of a secondary battery are stacked.
Figure 2 is a diagram illustrating a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a view of the interior of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from above.
Figure 4 is an enlarged view of portion 'A' of Figure 3.
FIG. 5 is a view of the inside of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from the front.
FIG. 6 is a diagram illustrating the position variable unit for the first laminate of FIG. 3.
FIG. 7 is a diagram illustrating the position variable unit for the second laminate of FIG. 3.
FIG. 8 is a cross-sectional view of FIG. 5 cut along the XY plane.
Figure 9 is a diagram showing the jig unit for the laminate of Figure 5.
Figure 10 is a plan view of Figure 8.
Figure 11 is a side view of Figure 8.
FIG. 12 is a diagram showing the state of use of the setting jig used in the jig unit for the laminate of FIG. 5.
Figure 13 is a diagram showing the setting jig of Figure 12.

본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, its operational advantages, and the objectives achieved by practicing the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by explaining preferred embodiments of the present invention with reference to the attached drawings. However, in explaining the present invention, descriptions of already known functions or configurations will be omitted to make the gist of the present invention clear.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이고, 도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이며, 도 4는 도 3의 'A'부분의 확대도이고, 도 5는 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 정면에서 바라본 도면이며, 도 6은 도 3의 제1 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이고, 도 7은 도 3의 제2 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이며, 도 8은 도 5를 X-Y평면으로 자른 단면이 도시된 도면이고, 도 9는 도 5의 적층체용 지그유닛이 도시된 도면이며, 도 10은 도 8의 평면도이고, 도 11은 도 8의 측면도이며, 도 12는 도 5의 적층체용 지그유닛에 사용되는 셋팅용 지그의 사용상태가 도시된 도면이고, 도 13은 도 12의 셋팅용 지그가 도시된 도면이다.FIG. 2 is a diagram showing a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a diagram showing the inside of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from above, and FIG. 4 is a diagram showing the It is an enlarged view of part A', Figure 5 is a view looking from the front inside the overhang inspection device for secondary batteries of Figure 2, Figure 6 is a diagram showing the position variable unit for the first laminate of Figure 3, and Figure 7 is a drawing showing the second position variable unit for the laminate of FIG. 3, FIG. 8 is a drawing showing a cross-section of FIG. 5 cut in the X-Y plane, and FIG. 9 is a drawing showing the jig unit for the laminate of FIG. 5, FIG. 10 is a plan view of FIG. 8, FIG. 11 is a side view of FIG. 8, FIG. 12 is a diagram showing the use state of the setting jig used in the jig unit for the laminate of FIG. 5, and FIG. 13 is a setting of FIG. 12. This is a drawing showing the jig.

본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템은, 도 2 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 2차 전지용 교차장치(SC)와, 검사용 이송장치(200)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)와, 외부면 검사장치(SD)와, TAB(Tape Automated Bonding)장치와, 전달용 이송장치(SF)와, 전극 인입인출장치(300), 제어유닛(미도시)을 포함한다. As shown in FIGS. 2 to 10, the secondary battery manufacturing system according to this embodiment includes a crossing device (SC) for secondary batteries, a transport device 200 for inspection, and an overhang inspection device 100 for secondary batteries. ), an external surface inspection device (SD), a TAB (Tape Automated Bonding) device, a transfer device (SF), an electrode insertion and withdrawal device 300, and a control unit (not shown).

2차 전지용 교차장치(SC)는 음극(미도시)과 양극(미도시)을 분리막(미도시)을 사이에 두고 교번적으로 교차시켜 전극 적층체를 생성한다.The crossing device (SC) for secondary batteries creates an electrode stack by alternately crossing a cathode (not shown) and an anode (not shown) with a separator (not shown) in between.

이러한 2차 전지용 교차장치는 장치 본체(미도시), 양극(미도시)을 공급하는 양극 공급부(미도시), 음극(미도시)을 공급하는 공급부(미도시), 분리막(미도시)을 공급하는 공급부(미도시) 및 이동식 교차 유닛(미도시)을 포함한다.This crossover device for secondary batteries supplies a device body (not shown), an anode supply unit (not shown) that supplies the anode (not shown), a supply unit (not shown) that supplies the cathode (not shown), and a separator (not shown). It includes a supply unit (not shown) and a movable crossover unit (not shown).

이동식 교차 유닛(미도시)은 양극(미도시), 음극(미도시) 및 분리막(미도시)이 교차되는 장소를 형성하는데, 이러한 이동식 교차 유닛(미도시)은 양극 공급부(미도시)와 음극 공급부(미도시) 사이를 이동하면서 교차 작업을 수행한다.The movable crossing unit (not shown) forms a place where the anode (not shown), the cathode (not shown), and the separator (not shown) intersect. This movable crossing unit (not shown) is connected to the anode supply (not shown) and the cathode. Cross operations are performed while moving between supply units (not shown).

검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 교차장치(SC)에서 생성된 전극 적층체를 이송한다. 이러한 검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 교차장치(SC)와 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 연결되어 전극 적층체를 2차 전지용 오버행 검사장치(100)로 전달한다.The inspection transfer device 200 transfers the electrode stack generated in the secondary battery crossing device (SC). This inspection transfer device 200 is connected to the secondary battery crossing device (SC) and the secondary battery overhang inspection device 100 and transfers the electrode stack to the secondary battery overhang inspection device 100.

또한, 검사용 이송장치(200)는 전달용 이송장치(SF)에 연결되어 오버행 검사가 완료된 전극 적층체를 전달용 이송장치(SF)를 전달한다.In addition, the test transfer device 200 is connected to the transfer transfer device (SF) and transfers the electrode laminate on which the overhang test has been completed to the transfer transfer device (SF).

이러한 검사용 이송장치(200)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 후술할 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상될 전극 적층체를 이송하는 공급용 이송부(210)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 이웃하게 배치되며 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된 전극 적층체를 이송하는 배출용 이송부(220)를 포함한다. As shown in FIG. 2, this inspection transfer device 200 is a supply transfer unit that transfers the electrode stack to be imaged by the inspection imaging unit 120, which will be described later, of the secondary battery overhang inspection device 100. It includes (210) and a discharge transfer unit 220 that is disposed adjacent to the overhang inspection device 100 for secondary batteries and transfers the electrode stack imaged by the inspection imaging unit 120.

공급용 이송부(210)는, 전극 적층체를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 공급용 컨베이어 롤러(미도시)와, 공급용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 공급용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The supply transfer unit 210 supports a plurality of supply conveyor rollers (not shown) that support the electrode stack and transfer the electrode stack by rotation, and the supply conveyor roller (not shown) is rotatably coupled to the supply conveyor roller (not shown). Includes a roller frame (not shown).

배출용 이송부(220)는, 전극 적층체를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 배출용 컨베이어 롤러(미도시)와, 배출용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 배출용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The discharge transfer unit 220 supports the electrode stack and rotates a plurality of discharge conveyor rollers (not shown) that transfer the electrode stack, and the discharge conveyor roller (not shown) is rotatably combined with the discharge conveyor roller (not shown). Includes a roller frame (not shown).

한편, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 2차 전지용 교차장치(SC)에서 제작된 전극 적층체를 전달받는다. 이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전극 적층체를 촬상한다. Meanwhile, the overhang inspection device 100 for secondary batteries receives the electrode stack manufactured in the crossover device (SC) for secondary batteries. This overhang inspection device 100 for secondary batteries captures images of the electrode stack.

본 실시예의 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전달받은 전극 적층체를 촬상하여 일부 전극(미도시)의 말단부가 다른 전극(미도시)들에 비하여 옆쪽으로 돌출되는 오버행(overhang) 부위를 검사한다. The overhang inspection device 100 for secondary batteries of this embodiment captures images of the delivered electrode stack and inspects overhang areas where the distal ends of some electrodes (not shown) protrude laterally compared to other electrodes (not shown). do.

이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 도 3 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛(110)과, 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛(120)과, 적층체용 지그유닛(110) 각각에 연결되며 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제1축 방향(X)에 교차하는 제2축 방향(Y) 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)과, 전극 인입인출장치(300)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받으며 전극 인입인출장치(300)로 검사가 완료한 전극 적층체를 전달하는 인입인출용 이송 허브부(150)와, 적층체용 지그유닛(110)과 검사용 촬상유닛(120)과 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과 인입인출용 이송 허브부(150) 및 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)이 내부에 배치되며 방사선을 차폐하는 방사선 차폐벽(180)을 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 10, the overhang inspection device 100 for a secondary battery includes a plurality of jig units 110 for a laminate that clamp the electrode laminate, and a jig unit clamped to the jig unit 110 for the laminate. A variable position for a plurality of laminates is connected to the inspection imaging unit 120 for imaging the electrode laminate and the laminate jig unit 110, and moves each electrode laminate relative to the inspection imaging unit 120. It is connected to the units 130a and 130b and the position variable units 130a and 130b for the stack, respectively, and intersects the position variable units 130a and 130b for the stack in the first axis direction (X) and the first axis direction (X). Moving units 140a and 140b for the variable unit move in at least one of the second axis directions (Y), and an electrode insertion and withdrawal device that receives the electrode stack that needs to be inspected from the electrode insertion and withdrawal device 300. A transfer hub unit 150 for pulling in and out that transfers the electrode stack that has been inspected to (300), a jig unit 110 for the stack, an imaging unit 120 for inspection, and position variable units for the stack (130a, 130b). ) and a transfer hub unit 150 for withdrawal and movement units 140a and 140b for variable units are disposed inside and include a radiation shielding wall 180 that shields radiation.

복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각은 각각의 적층체용 지그유닛(110)에 연결된다. 이러한 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)은 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시킨다. Each of the plurality of position variable units 130a and 130b for the laminate is connected to each jig unit 110 for the laminate. These position variable units 130a and 130b for the stack move the electrode stack relative to the imaging unit 120 for inspection.

복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 제1축 방향(X)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과, 제1축 방향(X)에 교차하는 제2축 방향(Y)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 포함한다. As shown in FIGS. 3 to 7, the plurality of position variable units 130a and 130b for the stack are positioned to be spaced apart from each other in the first axis direction (X) and are a pair of first stack units arranged to face each other. A position variable unit 130a and a pair of second stacked position variable units 130b arranged to be spaced apart from each other in the second axis direction (Y) crossing the first axis direction (X) and facing each other. Includes.

한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이 검사용 촬상유닛(120)을 중심으로 하여 방사상으로 상호 이격되어 배치된다. A pair of the first position variable unit 130a for the laminate and a pair of the second position variable unit 130b for the laminate are positioned radially with the inspection imaging unit 120 as the center, as shown in FIGS. 3 to 7. are placed and spaced apart from each other.

한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은 제1축 방향(X)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치된다. The pair of first position variable units 130a for the stack are positioned to be spaced apart from each other in the first axis direction (X) and are arranged to face each other.

본 실시예에 따른 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 지그유닛(110)이 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부(131a)와, 제1 틸팅부(131a)가 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부(132a)와, 제1 회전부(132a)에 연결되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)과 제2축 방향(Y)에 교차하는 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 업/다운부(135a)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 7, the first position variable unit 130a for a laminate according to this embodiment allows the jig unit 110 for a laminate to rotate around the second axis direction (Y) as the rotation axis. A first tilting part 131a is coupled and rotates the jig unit 110 for a laminate with the second axis direction (Y) as the rotation axis, and the first tilting part 131a rotates the first axis direction (X). A first rotating part 132a is rotatably coupled to the rotation axis and rotates the jig unit 110 for the laminate with the first axis direction (X) as the rotation axis, and is connected to the first rotating part 132a and is used for the laminate. It includes a first up/down part 135a that moves the jig unit 110 in the third axis direction (Z) crossing the first axis direction (X) and the second axis direction (Y).

제1 틸팅부(131a)에는 적층체용 지그유닛(110)이 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 제1 틸팅부(131a)는 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The jig unit 110 for a laminate is rotatably coupled to the first tilting portion 131a with the second axis direction (Y) as the rotation axis. The first tilting unit 131a rotates the laminate jig unit 110 with the second axis direction (Y) as the rotation axis.

이러한 제1 틸팅부(131a)는, 적층체용 지그유닛(110)이 결합되는 틸팅 블록부(미도시)와, 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결되며 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 틸팅 구동부(미도시)를 포함한다. This first tilting unit 131a is rotatably connected to a tilting block unit (not shown) to which the jig unit 110 for a laminate is coupled and a tilting block unit (not shown). It includes a tilting drive unit (not shown) that rotates the second axis direction (Y) as the rotation axis.

틸팅 블록부(미도시)는 플레이트 형상으로 마련되며 틸팅 블록부(미도시)의 측벽에는 적층체용 지그유닛(110)이 결합된다. The tilting block unit (not shown) is provided in a plate shape, and a jig unit 110 for a laminate is coupled to the side wall of the tilting block unit (not shown).

틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)는 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)에 연결되어 틸팅 블록부(미도시)를 회전시키는 틸팅용 구동모터(미도시)가 장착된다.A tilting block unit (not shown) is rotatably connected to the tilting drive unit (not shown). This tilting driving unit (not shown) rotates the tilting block unit (not shown) with the second axis direction (Y) as the rotation axis. This tilting drive unit (not shown) is connected to the tilting block unit (not shown) and is equipped with a tilting drive motor (not shown) that rotates the tilting block unit (not shown).

제1 회전부(132a)에는 제1 틸팅부(131a)가 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 이러한 제1 회전부(132a)는 제1 틸팅부(131a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시켜 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The first tilting unit 131a is rotatably coupled to the first rotating unit 132a with the first axis direction (X) as the rotation axis. This first rotating part 132a rotates the first tilting part 131a with the first axis direction (X) as the rotation axis and rotates the laminate jig unit 110 with the first axis direction (X) as the rotation axis. Rotate it.

이러한 제1 회전부(132a)는, 제1 틸팅부(131a)가 결합되는 제1 회전 블록부(133a)와, 제1 회전 블록부(133a)가 회전 가능하게 연결되며 제1 회전 블록부(133a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전 구동부(134a)를 포함한다. This first rotation unit 132a is rotatably connected to the first rotation block unit 133a to which the first tilting unit 131a is coupled, and the first rotation block unit 133a is rotatably connected to the first rotation block unit 133a. ) includes a first rotation driver 134a that rotates the first axis direction (X) as the rotation axis.

제1 회전 블록부(133a)는 플레이트 형상으로 마련되며 제1 회전 블록부(133a)의 일면에는 제1 틸팅부(131a)가 결합된다. The first rotation block portion 133a is provided in a plate shape, and a first tilting portion 131a is coupled to one surface of the first rotation block portion 133a.

제1 회전 구동부(134a)에는 제1 회전 블록부(133a)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 제1 회전 구동부(134a)는 제1 회전 블록부(133a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 제1 회전 구동부(134a)에는 제1 회전 블록부(133a)에 연결되어 제1 회전 블록부(133a)를 회전시키는 회전용 구동모터(미도시)가 장착된다.The first rotation block unit 133a is rotatably connected to the first rotation driver 134a. This first rotation driving unit 134a rotates the first rotation block unit 133a with the first axis direction (X) as the rotation axis. This first rotation drive unit 134a is equipped with a rotation drive motor (not shown) that is connected to the first rotation block unit 133a and rotates the first rotation block unit 133a.

제1 업/다운부(135a)는 제1 회전부(132a)에 연결된다. 이러한 제1 업/다운부(135a)는 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)과 제2축 방향(Y)에 교차하는 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. The first up/down part 135a is connected to the first rotation part 132a. This first up/down part 135a moves the jig unit 110 for a laminate in the third axis direction (Z) that intersects the first axis direction (X) and the second axis direction (Y).

제1 업/다운부(135a)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 회전부(132a)가 결합된 제1 승강블록(136a)과, 제1 승강블록(136a)에 연결되어 제1 승강블록(136a)의 이동을 안내하는 제1 승강 가이드부(미도시)와, 제1 승강블록(136a)에 연결되어 제1 승강블록(136a)을 이동시키는 제1 승강구동부(137a)를 포함한다. 본 실시예에서 제1 승강구동부(137a)는 볼스크류방식의 리니어모터로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 6, the first up/down part 135a is connected to the first lifting block 136a to which the first rotating part 132a is coupled, and to the first lifting block 136a to perform the first lifting and lowering operation. It includes a first lifting guide unit (not shown) that guides the movement of the block 136a, and a first lifting drive unit 137a that is connected to the first lifting block 136a and moves the first lifting block 136a. . In this embodiment, the first lifting drive unit 137a may be made of a ball screw type linear motor.

이와 같이 본 실시예에 따른 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은, 전극 적층체를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 업/다운부(135a)와, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부(131a)와, 전극 적층체를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부(132a)를 구비함으로써, 검사용 촬상유닛(120)에 대해 전극 적층체를 다양한 위치 및 각도로 이동시킬 수 있다. In this way, the position variable unit 130a for the first stack according to the present embodiment includes a first up/down part 135a that moves the electrode stack in the third axis direction (Z), and a second position variable unit for the electrode stack. By providing a first tilting part 131a that rotates the axial direction (Y) as the rotation axis, and a first rotating part 132a that rotates the electrode stack with the first axial direction (X) as the rotation axis, inspection The electrode stack can be moved to various positions and angles with respect to the imaging unit 120.

한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은 제2축 방향(Y)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치된다. The pair of second position variable units 130b for the stacked body are positioned to be spaced apart from each other in the second axis direction (Y) and are arranged to face each other.

본 실시예에 따른 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 지그유닛(110)이 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부(131b)와, 제2 틸팅부(131b)가 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부(132b)와, 제2 회전부(132b)에 연결되며 적층체용 지그유닛(110)을 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 업/다운부(135b)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 7, the second position variable unit 130b for a laminate according to the present embodiment allows the jig unit 110 for a laminate to rotate around the first axis direction (X) as the rotation axis. A second tilting part 131b is coupled and rotates the jig unit 110 for a laminate with the first axis direction (X) as the rotation axis, and the second tilting part 131b rotates the second axis direction (Y). A second rotating part 132b is rotatably coupled to the rotation axis and rotates the jig unit 110 for the laminate using the second axis direction (Y) as the rotation axis, and is connected to the second rotating part 132b and is used for the laminate. It includes a second up/down part 135b that moves the jig unit 110 in the third axis direction (Z).

제2 틸팅부(131b)에는 적층체용 지그유닛(110)이 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 제2 틸팅부(131b)는 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The jig unit 110 for a laminate is rotatably coupled to the second tilting unit 131b with the first axis direction (X) as the rotation axis. The second tilting unit 131b rotates the laminate jig unit 110 with the first axis direction (X) as the rotation axis.

이러한 제2 틸팅부(131b)는, 적층체용 지그유닛(110)이 결합되는 틸팅 블록부(미도시)와, 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결되며 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 틸팅 구동부(미도시)를 포함한다. This second tilting unit 131b is rotatably connected to a tilting block unit (not shown) to which the jig unit 110 for a laminate is coupled and a tilting block unit (not shown). It includes a tilting drive unit (not shown) that rotates the second axis direction (Y) as the rotation axis.

틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)는 틸팅 블록부(미도시)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)에 연결되어 틸팅 블록부(미도시)를 회전시키는 틸팅용 구동모터(미도시)가 장착된다.A tilting block unit (not shown) is rotatably connected to the tilting drive unit (not shown). This tilting driving unit (not shown) rotates the tilting block unit (not shown) with the first axis direction (X) as the rotation axis. This tilting drive unit (not shown) is connected to the tilting block unit (not shown) and is equipped with a tilting drive motor (not shown) that rotates the tilting block unit (not shown).

제2 회전부(132b)에는 제2 틸팅부(131b)가 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 이러한 제2 회전부(132b)는 제2 틸팅부(131b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시켜 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The second tilting unit 131b is rotatably coupled to the second rotating unit 132b with the second axis direction (Y) as the rotation axis. This second rotating part 132b rotates the second tilting part 131b with the second axis direction (Y) as the rotation axis and rotates the laminate jig unit 110 with the second axis direction (Y) as the rotation axis. Rotate it.

이러한 제2 회전부(132b)는, 제2 틸팅부(131b)가 결합되는 제2 회전 블록부(133b)와, 제2 회전 블록부(133b)가 회전 가능하게 연결되며 제2 회전 블록부(133b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전 구동부(134b)를 포함한다. This second rotation unit 132b is rotatably connected to a second rotation block unit 133b to which the second tilting unit 131b is coupled, and the second rotation block unit 133b is rotatably connected to the second rotation block unit 133b. ) includes a second rotation driving unit 134b that rotates the second axis direction (Y) as the rotation axis.

제2 회전 블록부(133b)는 플레이트 형상으로 마련되며 제2 회전 블록부(133b)의 일면에는 제2 틸팅부(131b)가 결합된다. The second rotation block unit 133b is provided in a plate shape, and a second tilting unit 131b is coupled to one surface of the second rotation block unit 133b.

제2 회전 구동부(134b)에는 제2 회전 블록부(133b)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 제2 회전 구동부(134b)는 제2 회전 블록부(133b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 제2 회전 구동부(134b)에는 제2 회전 블록부(133b)에 연결되어 제2 회전 블록부(133b)를 회전시키는 회전용 구동모터(미도시)가 장착된다.The second rotation block unit 133b is rotatably connected to the second rotation driver 134b. This second rotation driving unit 134b rotates the second rotation block unit 133b with the second axis direction (Y) as the rotation axis. This second rotation drive unit 134b is equipped with a rotation drive motor (not shown) that is connected to the second rotation block unit 133b and rotates the second rotation block unit 133b.

제2 업/다운부(135b)는 제1 회전부(132a)에 연결된다. 이러한 제2 업/다운부(135b)는 적층체용 지그유닛(110)을 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. The second up/down part 135b is connected to the first rotation part 132a. This second up/down part 135b moves the jig unit 110 for a laminate in the third axis direction (Z).

제2 업/다운부(135b)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 제2 회전부(132b)가 결합된 제2 승강블록(136b)과, 제2 승강블록(136b)에 연결되어 제2 승강블록(136b)의 이동을 안내하는 제2 승강 가이드부(미도시)와, 제2 승강블록(136b)에 연결되어 제2 승강블록(136b)을 이동시키는 제2 승강구동부(137b)를 포함한다. 본 실시예에서 제2 승강구동부(137b)는 볼스크류방식의 리니어모터로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 7, the second up/down part 135b is connected to the second lifting block 136b to which the second rotating part 132b is coupled, and to the second lifting block 136b to perform the second lifting and lowering unit. It includes a second lifting guide unit (not shown) that guides the movement of the block 136b, and a second lifting drive unit 137b that is connected to the second lifting block 136b and moves the second lifting block 136b. . In this embodiment, the second lifting drive unit 137b may be made of a ball screw type linear motor.

이와 같이 본 실시예에 따른 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은, 전극 적층체를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 업/다운부(135b)와, 전극 적층체를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부(131b)와, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부(132b)를 구비함으로써, 검사용 촬상유닛(120)에 대해 전극 적층체를 다양한 위치 및 각도로 이동시킬 수 있다.In this way, the second position variable unit 130b for the electrode stack according to the present embodiment includes a second up/down part 135b that moves the electrode stack in the third axis direction (Z), and a first position variable unit for the electrode stack. By providing a second tilting part 131b that rotates the axial direction (X) as the rotation axis, and a second rotating part 132b that rotates the electrode stack around the second axial direction (Y) as the rotation axis, inspection The electrode stack can be moved to various positions and angles with respect to the imaging unit 120.

한편, 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각에 연결된다. 이러한 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y)으로 이동시킨다. Meanwhile, the variable unit movement units 140a and 140b are connected to each of the position variable units 130a and 130b for the stacked body. These variable unit movement units 140a and 140b move the position variable units 130a and 130b for the stacked body in the first axis direction (X) and the second axis direction (Y).

본 실시예에 따른 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 위치 가변유닛(130a)에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부(140a)와, 적층체용 위치 가변유닛(130b)에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X)으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부(140b)를 포함한다. As shown in FIGS. 3 to 7, the variable unit movement units 140a and 140b according to the present embodiment are connected to the position variable unit 130a for the stack and include the position variable units 130a and 130b for the stack. It is connected to the first variable unit moving part 140a, which moves in the second axis direction (Y), and the stack position variable unit 130b, and moves the stack position variable units 130a and 130b in the first axis direction (X). ) and includes a moving part 140b for the second variable unit that moves.

제1 가변유닛용 이동부(140a)는, 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)의 하부영역에 배치되며, 제1 업/다운부(135a)에 연결되어 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)을 지지한다. 이러한 제1 가변유닛용 이동부(140a)는 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)을 제2축 방향(Y)으로 이동시킨다. 본 실시예에서 제1 가변유닛용 이동부(140a)는 정역회전이 가능한 컨베이어벨트 또는 리니어모터로 이루어질 수 있다. The first variable unit moving part 140a is disposed in the lower area of the first stacked position variable unit 130a and is connected to the first up/down part 135a to form the first stacked position variable unit 130a. ) supports. This first variable unit moving unit 140a moves the first position variable unit 130a for the stacked body in the second axis direction (Y). In this embodiment, the moving unit 140a for the first variable unit may be made of a conveyor belt or a linear motor capable of forward and reverse rotation.

이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부(140a)를 구비함으로써, 전극 적층체를 검사위치로 용이하게 이동시킬 수 있다.In this way, the overhang inspection device 100 for a secondary battery according to this embodiment includes a moving part 140a for the first variable unit that moves the electrode stack in the second axis direction (Y), thereby moving the electrode stack. It can be easily moved to the inspection location.

제2 가변유닛용 이동부(140b)는, 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)의 하부영역에 배치되며, 제2 업/다운부(135b)에 연결되어 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 지지한다. 이러한 제2 가변유닛용 이동부(140b)는 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 본 실시예에서 제2 가변유닛용 이동부(140b)는 정역회전이 가능한 컨베이어벨트 또는 리니어모터로 이루어질 수 있다. The second variable unit moving part 140b is disposed in the lower area of the second stacked position variable unit 130b and is connected to the second up/down part 135b to form the second stacked position variable unit 130b. ) supports. This second variable unit moving unit 140b moves the second stack position variable unit 130b in the first axis direction (X). In this embodiment, the moving part 140b for the second variable unit may be made of a conveyor belt or a linear motor capable of forward and reverse rotation.

이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부(140b)를 구비함으로써, 전극 적층체를 검사위치로 용이하게 이동시킬 수 있다.In this way, the overhang inspection device 100 for a secondary battery according to this embodiment includes a moving part 140b for the second variable unit that moves the electrode stack in the first axis direction (X), thereby allowing the electrode stack to be moved. It can be easily moved to the inspection location.

한편, 검사용 촬상유닛(120)은 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 촬상한다. Meanwhile, the inspection imaging unit 120 captures an image of the electrode laminate clamped on the laminate jig unit 110.

본 실시예에 따른 검사용 촬상유닛(120)은, 도 5 및 도 8에 도시된 바와 같이, 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부(121)와, 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되며 방사선 방출부(121)에서 방출된 방사선을 검출하는 방사선 검출부(123)와, 방사선 검출부(123)에 연결되며 방사선 검출부(123)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 검출부 승강부(125)를 포함한다. As shown in FIGS. 5 and 8, the inspection imaging unit 120 according to the present embodiment includes a radiation emitting unit 121 that emits radiation toward the electrode stack, and a radiation emitting unit 121 that emits radiation toward the electrode stack. A radiation detection unit 123 that is arranged to be spaced apart and detects radiation emitted from the radiation emitting unit 121, and a detection unit that is connected to the radiation detection unit 123 and moves the radiation detection unit 123 in the third axis direction (Z). Includes part 125.

방사선 방출부(121)는 적층체용 지그유닛(110)의 상부 영역에 위치된다. 본 실시예에 방사선은 엑스선(X-ray)이 사용된다.The radiation emitting unit 121 is located in the upper area of the jig unit 110 for the laminate. In this embodiment, X-rays are used as radiation.

방사선 검출부(123)는 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되어 방사선 방출부(121)에서 방출된 방사선을 검출한다. 방사선 검출부(123)는 적층체용 지그유닛(110)의 하부 영역에 위치되고 방사선 방출부(121)에 대향되게 배치되어 방사선을 검출한다. 본 실시예에서 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123) 사이에 전극 적층체가 위치한다.The radiation detection unit 123 is disposed to be spaced apart from the radiation emitting unit 121 and detects radiation emitted from the radiation emitting unit 121. The radiation detection unit 123 is located in the lower area of the jig unit 110 for a laminate and is disposed to face the radiation emitting unit 121 to detect radiation. In this embodiment, the electrode stack is positioned between the radiation emitting unit 121 and the radiation detecting unit 123.

검출부 승강부(125)는 방사선 차폐벽(180)에 지지되고 방사선 검출부(123)에 연결되어 방사선 검출부(123)를 제3축 방항으로 이동시킨다. 본 실시예에서 검출부 승강부(125)는 리니어 모터로 이루어질 수 있다. The detection unit lifting unit 125 is supported by the radiation shielding wall 180 and is connected to the radiation detection unit 123 to move the radiation detection unit 123 along the third axis. In this embodiment, the detection unit lifting unit 125 may be made of a linear motor.

본 실시예의 방사선 검출부(123)는 방사선 방출부(121)에서 방출된 엑스선에 감응하여 이를 시각적으로 표시함으로써, 방사선 검출부(123)와 방사선 방출부(121)의 사이에 배치된 전극 적층체에 적층된 전극들의 형상을 시각적으로 표시할 수 있고, 그에 따라 전극 적층체의 전극의 오버행(overhang) 부위가 시각적으로 관측될 수 있다.The radiation detection unit 123 of this embodiment is laminated on the electrode stack disposed between the radiation detection unit 123 and the radiation emission unit 121 by reacting to X-rays emitted from the radiation emitting unit 121 and visually displaying them. The shapes of the electrodes can be visually displayed, and accordingly, the overhang portion of the electrodes of the electrode stack can be visually observed.

한편, 적층체용 지그유닛(110)은 전극 적층체를 클램핑한다. 이러한 적층체용 지그유닛(110)은, 도 9 내지 도 11에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되며 전극 적층체를 클램핑하는 적층체용 클램핑부(111, 112)와, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)에 결합되며 적층체용 클램핑부(111, 112)를 이동시키는 클램핑용 이동 구동부(115)를 포함한다, Meanwhile, the jig unit 110 for the laminate clamps the electrode laminate. As shown in detail in FIGS. 9 to 11, the jig unit 110 for the stack moves in a direction approaching and away from the electrode stack and includes clamping parts 111 and 112 for the electrode stack, which clamp the electrode stack. , It is coupled to the position variable units 130a and 130b for the laminated body and includes a clamping movement driving unit 115 that moves the clamping portions 111 and 112 for the laminated body.

적층체용 클램핑부(111, 112)는 전극 적층체에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체를 클램핑 및 언클램핑한다. 이러한 적층체용 클램핑부(111, 112)는, 클램핑용 이동 구동부(115)에 연결되는 제1 파지용 플레이트부(111)와, 제1 파지용 플레이트부(111)에 대해 이격되어 배치되며 클램핑용 이동 구동부(115)에 연결되는 제2 파지용 플레이트부(112)를 포함한다. The clamping parts 111 and 112 for the electrode stack are moved in directions approaching and away from the electrode stack to clamp and unclamp the electrode stack. The clamping parts 111 and 112 for the laminate are arranged to be spaced apart from the first gripping plate part 111 connected to the clamping moving driving part 115 and the first gripping plate part 111 for clamping. It includes a second gripping plate part 112 connected to the moving driving part 115.

이러한 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 사이에 전극 적층체가 배치되며, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 상호 접근하는 방향의 이동 및 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 상호 이격되는 방향의 이동에 의해 전극 적층체가 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)에 의해 가압 및 가압 해제되어 클램핑 및 언클램핑된다.An electrode stack is disposed between the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112, and the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112 are mutually By moving in the approaching direction and moving in the direction in which the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112 are spaced apart from each other, the electrode stack is divided into the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112. Clamping and unclamping are performed by pressing and releasing the pressure by the holding plate portion 112.

클램핑용 이동 구동부(115)는 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)에 결합된다. 이러한 클램핑용 이동 구동부(115)는 적층체용 클램핑부(111, 112)를 이동시킨다. 본 실시예에 따른 클램핑용 이동 구동부(115)는, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 이동을 안내하는 파지용 이동 가이드부(116)와, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112) 각각에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112) 각각을 상호 접근하는 방향 및 상호 이격되는 방향으로 이동시키는 한 쌍의 파지용 이동 바아(117)와, 파지용 이동 바아(117)에 연결되어 파지용 이동 바아(117)를 이동시키는 파지용 이동 구동부(미도시)를 포함한다. The clamping movement driving unit 115 is coupled to the position variable units 130a and 130b for the laminate. This clamping moving driving unit 115 moves the laminate clamping units 111 and 112. The clamping moving driving unit 115 according to this embodiment is connected to the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112, and is connected to the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112. A gripping movement guide part 116 that guides the movement of the plate part 112 is connected to each of the first gripping plate part 111 and the second gripping plate part 112, and the first gripping plate part ( 111) and the second gripping plate portion 112 are connected to a pair of gripping moving bars 117 that move each of the gripping plate portions 112 in directions that approach and are spaced apart from each other, and are connected to the gripping moving bar 117 for gripping. It includes a moving driver (not shown) for gripping that moves the moving bar 117.

파지용 이동 가이드부(116)는 가이드 레일 형상으로 마련되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 이동을 안내한다. The movement guide part 116 for gripping is provided in the shape of a guide rail and guides the movement of the first and second gripping plate parts 111 and 112.

파지용 이동 구동부(미도시)에는 파지용 이동 바아(117)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)를 이동시키는 공압 실린더(미도시)가 사용될 수 있다.A pneumatic cylinder (not shown) connected to the gripping moving bar 117 and moving the first gripping plate portion 111 and the second gripping plate portion 112 may be used in the gripping moving driving unit (not shown). there is.

인입인출용 이송 허브부(150)는 전극 인입인출장치(300)에 이웃하게 배치되어 전극 인입인출장치(300)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받으며 검사가 완료한 전극 적층체를 전극 인입인출장치(300)로 전달한다. The transfer hub unit 150 for insertion and withdrawal is disposed adjacent to the electrode insertion and withdrawal device 300, receives the electrode stack requiring inspection from the electrode insertion and withdrawal device 300, and inserts and withdraws the electrode stack that has completed inspection. It is transmitted to the device 300.

인입인출용 이송 허브부(150)는, 도 5 및 도 8에 도시된 바와 같이, 중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된 허브 몸체부(151)와, 허브 몸체부(151)에 연결되어 허브 몸체부(151)를 제3축 방향(Z)방향으로 이동시키는 허브 승강부(155)를 포함한다. As shown in FIGS. 5 and 8, the transfer hub portion 150 for withdrawal is connected to the hub body portion 151, which is formed in a circular ring shape with a hollow central area, and the hub body portion 151. It includes a hub elevating part 155 that moves the hub body part 151 in the third axis direction (Z).

허브 몸체부(151)는 중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된다. 허브 몸체부(151)의 중공된 중앙영역에는 방사선 검출부(123)가 배치된다.The hub body portion 151 is formed in a circular ring shape with a hollow central area. A radiation detection unit 123 is disposed in the hollow central area of the hub body 151.

이러한 허브 몸체부(151)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)을 회전 축심으로 하여 회전되는 회전 플레이트부(152)와, 허브 승강부(155)에 지지되고 회전 플레이트부(152)에 연결되어 회전 플레이트부(152)를 회전시키는 플레이트 회전 구동부(153)를 포함한다.This hub body portion 151 is supported by a rotating plate portion 152 that supports the electrode stack and rotates with the third axis direction (Z) as the rotation axis, and a hub elevating portion 155 and includes a rotating plate portion ( 152) and includes a plate rotation driving unit 153 that rotates the rotation plate unit 152.

회전 플레이트부(152)는 전극 적층체를 지지한다. 이러한 회전 플레이트부(152)는 플레이트 회전 구동부(153)에 의해 제3축 방향(Z)을 회전 축심으로 하여 회전된다. The rotating plate portion 152 supports the electrode stack. This rotation plate unit 152 is rotated with the third axis direction (Z) as the rotation axis by the plate rotation driving unit 153.

본 실시예에 따른 회전 플레이트부(152)의 상면에는 전극 인입인출장치(300)의 후술할 인입인출용 이송부(330)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받거나 검사가 완료된 전극 적층체를 인입인출용 이송부(330)로 전달하기 위해 전극 적층체를 이동시키는 허브용 컨베이어부(152a)가 마련된다. 이러한 허브용 컨베이어부(152a)는 4개로 마련되어 상호 이격되어 배치된다.The upper surface of the rotating plate unit 152 according to this embodiment receives the electrode stack that needs to be inspected from the transfer unit 330 for insertion and withdrawal, which will be described later, of the electrode insertion and withdrawal device 300, or inserts and withdraws the electrode stack that has completed inspection. A conveyor unit 152a for a hub that moves the electrode stack to transfer it to the transport unit 330 is provided. Four conveyor units 152a for the hub are provided and arranged to be spaced apart from each other.

허브 승강부(155)는 허브 몸체부(151)에 연결되어 허브 몸체부(151)를 제3축 방향(Z)방향으로 이동시킨다. 이러한 허브 승강부(155)는 방사선 차폐벽(180)에 지지된다. The hub lifting unit 155 is connected to the hub body 151 and moves the hub body 151 in the third axis direction (Z). This hub lifting part 155 is supported on the radiation shielding wall 180.

한편, 방사선 차폐벽(180)은 방사선 검출부(123)와 방사선 방출부(121)와 검사용 촬상유닛(120)과 적층체용 위치 가변유닛 및 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)을 차폐하는 하우징 구조로 마련된다. 상술한 방사선 차폐벽(180)에는 검사가 필요한 전극 적층체가 전극 인입인출장치(300)의 후술할 인입인출용 이송부(330)로터 인입인출용 이송 허브부(150)로 전달되는 과정 및 검사가 완료된 전극 적층체가 인입인출용 이송 허브부(150)로부터 입인출용 이송부로 전달되는 과정에서 전극 적층체가 통과하는 통과공(K)이 마련된다.Meanwhile, the radiation shielding wall 180 is a housing that shields the radiation detection unit 123, the radiation emitting unit 121, the inspection imaging unit 120, the position variable unit for the laminate, and the variable unit movement units 140a and 140b. The structure is provided. The above-described radiation shielding wall 180 is provided with a process in which the electrode laminate requiring inspection is transferred to the transfer hub unit 150 for insertion and withdrawal from the transfer unit 330 for insertion and withdrawal, which will be described later, of the electrode insertion and withdrawal device 300, and the inspection is completed. In the process of transferring the electrode stack from the transport hub unit 150 for input and output to the transport unit for input and output, a through hole K through which the electrode stack passes is provided.

한편, 전극 인입인출장치(300)는, 공급용 이송부(210)로부터 공급받은 전극 적층체를 2차 전지용 오버행 검사장치(100)로 전달하고, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에서 전달받은 검사완료된 전극 적층체를 배출용 이송부(220)로 전달한다.Meanwhile, the electrode retraction and withdrawal device 300 transfers the electrode stack supplied from the supply transfer unit 210 to the overhang inspection device 100 for secondary batteries, and inspects the electrode stack received from the overhang inspection device 100 for secondary batteries. The completed electrode stack is delivered to the transfer unit 220 for discharge.

이러한 전극 인입인출장치(300)는, 공급용 이송부(210)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받는 제1 전극 전달부(310)와, 배출용 이송부(220)로 검사가 완료된 전극 적층체를 전달하는 제2 전극 전달부(320)와, 제1 전극 전달부(310)와 제2 전극 전달부(320)의 사이에 배치되며 전극 적층체를 이송하는 인입인출용 이송부(330)를 포함한다. This electrode withdrawal device 300 includes a first electrode delivery unit 310 that receives the electrode stack that needs to be inspected from the supply transfer unit 210, and a discharge transfer unit 220 that delivers the electrode stack that has been inspected. It includes a second electrode transfer unit 320 for transferring the electrode, and a transfer unit 330 for drawing in and out, which is disposed between the first electrode transfer unit 310 and the second electrode transfer unit 320 and transfers the electrode stack. .

제1 전극 전달부(310)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)으로 이동되는 제1 스테이지부(311)와, 제1 스테이지부(311)에 연결되며 제1 스테이지부(311)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 스테이지용 구동부(312)를 포함한다. The first electrode transfer unit 310 is connected to the first stage unit 311, which supports the electrode stack and moves in the third axis direction (Z), and the first stage unit ( It includes a first stage driving unit 312 that moves 311) in the third axis direction (Z).

제1 스테이지부(311)는, 전극 적층체를 지지하며, 지지된 전극 적층체를 인입인출용 이송부(330)로 전달하기 위해 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 이를 위해 제1 스테이지부(311)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 컨베이어벨트(미도시)가 마련된다. The first stage unit 311 supports the electrode stack and moves the electrode stack in the first axis direction (X) to transfer the supported electrode stack to the transfer unit 330 for insertion and withdrawal. For this purpose, the first stage unit 311 is provided with a conveyor belt (not shown) that moves the electrode stack in the first axis direction (X).

제1 스테이지용 구동부(312)는 제1 스테이지부(311)에 연결되어 제1 스테이지부(311)를 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. 이러한 제1 스테이지용 구동부(312)는 볼스크류방식의 리니어 모터로 이루어질 수 있다.The first stage driving unit 312 is connected to the first stage unit 311 and moves the first stage unit 311 in the third axis direction (Z). The driving unit 312 for this first stage may be made of a ball screw type linear motor.

제2 전극 전달부(320)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)으로 이동되는 제2 스테이지부(321)와, 제2 스테이지부(321)에 연결되며 제2 스테이지부(321)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 스테이지용 구동부(322)를 포함한다. The second electrode transfer unit 320 is connected to the second stage unit 321, which supports the electrode stack and moves in the third axis direction (Z), and the second stage unit ( It includes a second stage driving unit 322 that moves 321) in the third axis direction (Z).

제2 스테이지부(321)는, 전극 적층체를 지지하며, 지지된 전극 적층체를 배출용 이송부(220)로 전달하기 위해 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 이를 위해 제2 스테이지부(321)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 컨베이어벨트(미도시)가 마련된다. The second stage unit 321 supports the electrode stack and moves the electrode stack in the first axis direction (X) to transfer the supported electrode stack to the discharge transfer unit 220. For this purpose, a conveyor belt (not shown) is provided in the second stage unit 321 to move the electrode stack in the first axis direction (X).

제2 스테이지용 구동부(322)는 제2 스테이지부(321)에 연결되어 제2 스테이지부(321)를 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. 이러한 제2 스테이지용 구동부(322)는 볼스크류방식의 리니어 모터로 이루어질 수 있다.The second stage driving unit 322 is connected to the second stage unit 321 and moves the second stage unit 321 in the third axis direction (Z). The driving unit 322 for this second stage may be made of a ball screw type linear motor.

인입인출용 이송부(330)는 제1 전극 전달부(310)와 제2 전극 전달부(320)의 사이에 배치되며 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이송한다. 본 실시예에서 인입인출용 이송부(330)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이송하기 위해 회전되는 다수개의 제1축 방향용 롤러(미도시)가 마련된다.The transfer unit 330 for withdrawal is disposed between the first electrode transfer unit 310 and the second electrode transfer unit 320 and transfers the electrode stack in the first axis direction (X). In this embodiment, the transport unit 330 for pulling in and out is provided with a plurality of rollers (not shown) for the first axis direction that rotate to transport the electrode stack in the first axis direction (X).

이러한 인입인출용 이송부(330)에는 검사가 필요한 전극 적층체를 인입인출용 이송 허브부(150)로 전달하거나 검사가 완료된 전극 적층체를 인입인출용 이송 허브부(150)에서 전달받기 위해 전극 적층체를 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 방향전환부(미도시)가 마련된다. 방향전환부(미도시)는 제1축 방향용 롤러(미도시)들의 사이에 배치되며 제3축 방향(Z)으로 상승 및 하강될 수 있는 다수개의 방향전환용 롤러(미도시)를 구비한다. This withdrawal transfer unit 330 is provided with electrode stacks to transfer electrode stacks requiring inspection to the transfer hub unit 150 for lead-in and withdrawal or to receive electrode stacks that have completed inspection from the transfer hub unit 150 for lead-in and withdrawal. A direction change unit (not shown) is provided to move the sieve in the second axis direction (Y). The direction change unit (not shown) is disposed between the first axis direction rollers (not shown) and includes a plurality of direction change rollers (not shown) that can be raised and lowered in the third axis direction (Z). .

한편, 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 적층체용 지그유닛(110)에 연결되는 셋팅용 지그(190)를 더 포함한다. 셋팅용 지그(190)는 전극 적층체 대신 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑될 수 있다.Meanwhile, the overhang inspection device 100 for a secondary battery according to this embodiment further includes a setting jig 190 connected to the jig unit 110 for a laminate. The setting jig 190 may be clamped to the jig unit 110 for the laminate instead of the electrode laminate.

이러한 셋팅용 지그(190)는 도 12 및 도 13에 도시된 바와 같이 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑될 수 있는 지그 바디(191)와, 지그 바디(191)에서 돌출되며 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상되는 촬상 대상부(192)를 포함한다. This setting jig 190 has a jig body 191 that can be clamped to the jig unit 110 for a laminate as shown in FIGS. 12 and 13, and an imaging unit for inspection that protrudes from the jig body 191 ( It includes an imaging target portion 192 that is imaged by 120.

촬상 대상부(192)에는 검사용 촬상유닛(120)에 의해 인식될 수 있는 다수개의 메탈 볼(metal ball)이 배치된다. 이러한 메탈 볼(metal ball)은 검사용 촬상유닛(120)가 획득한 촬상정보에 표시되며, 촬상정보는 제어유닛(미도시)으로 전달된다. A plurality of metal balls that can be recognized by the inspection imaging unit 120 are disposed on the imaging target portion 192. These metal balls are displayed in the imaging information acquired by the inspection imaging unit 120, and the imaging information is transmitted to a control unit (not shown).

제어유닛(미도시)는 촬상정보에 표시된 메탈 볼(metal ball)의 위치에 따라 검사를 위해 전극 적층체가 배치될 위치 및 방사선 검출부(123) 등의 물리적인 위치를 조정한다. 이러한 물리적인 위치조정 외에도 제어유닛(미도시)는 촬상정보에 표시된 메탈 볼(metal ball)의 위치에 따라 소프트웨어적으로 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상되는 위치를 조정할 수 있다.A control unit (not shown) adjusts the physical position of the electrode stack and the radiation detection unit 123 for inspection according to the position of the metal ball indicated in the imaging information. In addition to this physical position adjustment, the control unit (not shown) can adjust the position captured by the inspection imaging unit 120 through software according to the position of the metal ball displayed in the imaging information.

이러한 셋팅용 지그(190)는 잡 체인지(job change) 또는 점검보수(maintenance) 등의 수행 후에 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 등의 구동축을 다시 정위치로 세팅하기 위해 사용된다. This setting jig 190 is used to set the drive shaft of the position variable units 130a and 130b for the laminate back to the correct position after performing a job change or maintenance.

본 실시예에서 셋팅용 지그(190)는 도 13(a) 및 도 13(b)에 도시된 바와 같이 다양한 형상으로 형성될 수 있다, 도 13(a)의 셋팅용 지그(190)는 도 13(c)에 도시된 바와 같이 전극 적층체의 촬상위치가 대각선 방향에 위치될 때 사용되고, 도 13(b)의 셋팅용 지그(190)는 도 13(d)에 도시된 바와 같이 전극 적층체의 촬상위치가 같은 변에 위치될 때 사용된다. In this embodiment, the setting jig 190 may be formed in various shapes as shown in FIGS. 13(a) and 13(b). The setting jig 190 of FIG. 13(a) is similar to that of FIG. 13(a). As shown in (c), it is used when the imaging position of the electrode stack is located in the diagonal direction, and the setting jig 190 of Figure 13(b) is used to set the electrode stack as shown in Figure 13(d). It is used when the imaging position is located on the same side.

한편, 외부면 검사장치(SD)는 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 오버행 검사 공정이 수행된 전극 적층체를 전달용 이송장치(SF)를 통해 공급받는다. 이러한 외부면 검사장치(SD)가 전극 적층체의 외면을 검사한다.Meanwhile, the external surface inspection device (SD) receives the electrode stack on which the overhang inspection process of the overhang inspection device 100 for secondary batteries has been performed through the transfer device (SF). This external surface inspection device (SD) inspects the external surface of the electrode stack.

본 실시예에서 외부면 검사장치(SD)는, 전극 적층체의 외면을 촬상하는 카메라부(미도시)와, 카메라부(미도시)에 연결되어 카메라부(미도시)가 획득한 정보를 제어유닛에 전송하는 통신부(미도시)를 포함한다.In this embodiment, the external surface inspection device (SD) is connected to a camera unit (not shown) that captures images of the external surface of the electrode stack and controls the information acquired by the camera unit (not shown). It includes a communication unit (not shown) that transmits data to the unit.

카메라부(미도시)는 전극 적층체의 외면을 촬상한다. 이러한 카메라부(미도시)는 전극 적층체의 외면을 촬상하여 전극 적층체의 외면에 이물질이 부착되었는지 여부 및 전극 적층체의 외형을 검사한다. A camera unit (not shown) captures images of the outer surface of the electrode stack. This camera unit (not shown) captures images of the outer surface of the electrode stack and inspects whether foreign substances are attached to the outer surface of the electrode stack and the external appearance of the electrode stack.

한편, 전달용 이송장치(SF)는 검사용 이송장치(200)와 외부면 검사장치(SD)에 연결되어 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 통과한 전극 적층체를 외부면 검사장치(SD)로 전달한다.Meanwhile, the transfer transfer device (SF) is connected to the inspection transfer device 200 and the external surface inspection device (SD), and the electrode laminate that has passed the overhang inspection device 100 for secondary batteries is connected to the external surface inspection device (SD). ) is transmitted.

또한, 전달용 이송장치(SF)는 외부면 검사장치(SD)와 TAB장치(TAB)에 연결되어 외부면 검사장치(SD)를 통과한 전극 적층체를 TAB장치(TAB)로 전달한다.In addition, the transfer transfer device (SF) is connected to the outer surface inspection device (SD) and the TAB device (TAB) and transfers the electrode stack that has passed the outer surface inspection device (SD) to the TAB device (TAB).

이러한 전달용 이송장치(SF)는, 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 컨베이어(미도시)와, 전극 적층체의 이송방향을 전환하는 방향 전환부(미도시)) 등을 포함한다.This transfer transfer device (SF) includes a plurality of conveyors (not shown) that transfer the electrode stack, a direction change unit (not shown) that changes the transfer direction of the electrode stack, etc.

한편, 본 실시예에 따른 제어유닛(미도시)은 2차 전지용 교차장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200), 전극 인입인출장치(300) 및 전달용 이송장치(SF)에 전기적으로 연결되어 2차 전지용 교차장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200), 전극 인입인출장치(300) 및 전달용 이송장치(SF)의 동작을 제어한다. Meanwhile, the control unit (not shown) according to this embodiment includes a crossover device (SC) for secondary batteries, an external surface inspection device (SD), an overhang inspection device for secondary batteries (100), a TAB device (TAB), and a transport for inspection. It is electrically connected to the device 200, the electrode withdrawal device 300, and the transfer device (SF), and includes a crossover device (SC) for secondary batteries, an external surface inspection device (SD), and an overhang inspection device for secondary batteries (100). ), controls the operation of the TAB device (TAB), the inspection transfer device 200, the electrode retraction and withdrawal device 300, and the delivery transfer device (SF).

이하에서 본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템의 작동을 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 위주로 도 2 내지 도 13을 참고하여 설명한다.Hereinafter, the operation of the secondary battery manufacturing system according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 13, focusing on the overhang inspection device 100 for secondary batteries.

먼저, 2차 전지용 교차장치(SC)에서 교차 공정이 완료된 전극 적층체가 전극 인입인출장치(300)에 의해 인입인출용 이송 허브부(150)에 전달된다. First, the electrode stack for which the crossing process has been completed in the crossing device (SC) for secondary batteries is transferred to the transfer hub unit 150 for pulling in and out by the electrode pulling in and out device 300.

제1 틸팅부(131a)와 제1 업/다운부(135a)의 동작 및 제2 틸팅부(131b)와 제2 업/다운부(135b)의 동작에 의해 인입인출용 이송 허브부(150)의 허브용 컨베이어부(152a)에 적재된 전극 적층체를 향해 적층체용 지그유닛(110)이 이동되며, 전극 적층체에 적층체용 지그유닛(110)이 정위치된 후 적층체용 지그유닛(110)에 의해 전극 적층체가 클램핑된다. 이때, 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b) 각각은 적층체용 지그유닛(110)에 전극 적층체를 전달받기 위해 제1 가변유닛용 이동부(140a) 및 제2 가변유닛용 이동부(140b)에 의해 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y)으로 이동될 수 있다.The transfer hub unit 150 for pulling in and out is operated by the operation of the first tilting unit 131a and the first up/down unit 135a and the second tilting unit 131b and the second up/down unit 135b. The jig unit 110 for the laminate is moved toward the electrode laminate loaded on the hub conveyor unit 152a, and after the jig unit 110 for the laminate is positioned on the electrode laminate, the jig unit 110 for the laminate is The electrode stack is clamped by. At this time, each of the first position variable unit 130a and the second position variable unit 130b for the stack uses a moving unit 140a for the first variable unit to receive the electrode stack to the jig unit 110 for the stack. And it can be moved in the first axis direction (X) and the second axis direction (Y) by the second variable unit moving unit 140b.

전극 적층체를 전달받은 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b) 각각은 제1 가변유닛용 이동부(140a) 및 제2 가변유닛용 이동부(140b)에 의해 검사위치로 이동된다. 여기서, 검사위치는 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123)의 사이에 4개의 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체의 모서리가 배치되는 위치이다.The position variable unit 130a for the first stack and the position variable unit 130b for the second stack, which have received the electrode stack, each include a moving unit 140a for the first variable unit and a moving unit 140b for the second variable unit. It is moved to the inspection position by . Here, the inspection position is where the edges of the electrode stack clamped to the four stack jig units 110 are disposed between the radiation emitting unit 121 and the radiation detecting unit 123, as shown in FIGS. 3 to 5. It's location.

이후, 제1 틸팅부(131a) 및 제2 틸팅부(131b)가 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 순차적 또는 동시에 45각도로 틸팅시킨다. 또한, 제1 회전부(132a) 및 제2 회전부(132b)는 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 순차적 또는 동시에 회전시킨다. Thereafter, the first tilting unit 131a and the second tilting unit 131b sequentially or simultaneously tilt the electrode stack clamped to the stack jig unit 110 at an angle of 45 degrees. Additionally, the first rotating part 132a and the second rotating part 132b sequentially or simultaneously rotate the electrode stack clamped on the stack jig unit 110.

적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)이 적층체용 지그유닛(110)을 틸팅 및 회진시키는 동안 검사용 촬상유닛(120)은 틸팅 및 회전된 전극 적층체를 촬상하여 씨티(CT)와 같은 다수 개의 단층 촬영 영상을 획득한다. While the position variable units 130a and 130b for the laminate tilt and rotate the jig unit 110 for the laminate, the inspection imaging unit 120 captures images of the tilted and rotated electrode laminate and uses a plurality of images such as CT. Acquire tomography images.

검사용 촬상유닛(120)에 의해 획득된 다수 개의 단층 촬영 영상은 제어유닛(미도시)에 의해 재조합된다.A plurality of tomographic images acquired by the inspection imaging unit 120 are recombined by a control unit (not shown).

이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전극 적층체에 대해 씨티(CT)와 같은 단층 촬영 영상을 획득함으로써, 전극 적층체의 모서리 영역의 구조를 보다 정확하게 표시하여 오버행 부위를 정확하게 감지할 수 있다. In this way, the overhang inspection device 100 for a secondary battery according to this embodiment acquires a tomography image such as CT for the electrode stack, so that the structure of the corner area of the electrode stack is more accurately displayed and the overhang area is inspected. can be detected accurately.

2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 검사가 완료된 전극 적층체는 외부면 검사장치(SD)를 거쳐 TAB장치(TAB)로 전달된다.The electrode stack that has been inspected by the overhang inspection device 100 for secondary batteries is transferred to the TAB device (TAB) through the external surface inspection device (SD).

이와 같이 본 실시예에 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템은, 각각의 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛(110) 각각에 연결되어 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y) 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)을 구비함으로써, 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있고 인라인으로 검사를 수행할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있다, As such, in this embodiment, the overhang inspection device for secondary batteries and the secondary battery manufacturing system including the same are connected to each of the plurality of jig units 110 for clamping each electrode stack to clamp each electrode stack. A plurality of position variable units for the inspection (130a, 130b), which are moved relative to the inspection imaging unit 120, and the position variable units for the stack (130a, 130b) are aligned in the first axis direction (X) and the second axis direction ( By providing movement units 140a and 140b for the variable unit that move in at least one of Y) directions, multiple electrode stacks can be inspected at once and inspection can be performed in-line, shortening inspection time. You can do it,

이상 도면을 참조하여 본 실시예에 대해 상세히 설명하였지만 본 실시예의 권리범위가 전술한 도면 및 설명에 국한되지는 않는다.Although the present embodiment has been described in detail with reference to the drawings above, the scope of the present embodiment is not limited to the above-described drawings and description.

이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As such, the present invention is not limited to the described embodiments, and it is obvious to those skilled in the art that various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, such modifications or variations should be considered to fall within the scope of the claims of the present invention.

100: 2차 전지용 오버행 검사장치 110: 적층체용 지그유닛
120: 검사용 촬상유닛 121: 방사선 방출부
123: 방사선 검출부 130a: 제1 적층체용 위치 가변유닛
130b: 제2 적층체용 위치 가변유닛
140a: 지제1 가변유닛용 이동부
140b: 제2 가변유닛용 이동부
200: 검사용 이송장치 210: 공급용 이송부
220: 배출용 이송부 300: 전극 인입인출장치100: Overhang inspection device for secondary battery 110: Jig unit for laminate
120: imaging unit for inspection 121: radiation emitting unit
123: Radiation detection unit 130a: Position variable unit for first laminate
130b: Position variable unit for second laminate
140a: Moving part for the first variable unit
140b: Moving part for the second variable unit
200: transfer device for inspection 210: transfer unit for supply
220: Transfer unit for discharge 300: Electrode withdrawal device

Claims

A plurality of jig units for a plurality of laminates for clamping an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between;
An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit;
a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving each of the electrode laminates relative to the inspection imaging unit; and
An overhang inspection device for secondary batteries including a setting jig connected to the jig unit for the laminate.

According to paragraph 1,
An overhang inspection device for a secondary battery, wherein the plurality of position variable units for the laminate are arranged radially spaced apart from each other with the inspection imaging unit as the center.

According to paragraph 1,
The position variable unit for the plurality of laminates is,
A pair of first position variable units for the stack located spaced apart from each other in the first axis direction and arranged to face each other; and
An overhang inspection device for a secondary battery comprising a pair of second position variable units for a second stack positioned to be spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and opposed to each other.

According to paragraph 3,
The position variable unit for the first laminate is,
a first tilting unit to which the jig unit for a laminate is rotatably coupled with the second axis direction as a rotation axis, and which rotates the jig unit for a laminate with the second axis direction as a rotation axis;
The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a first up/down part that is connected to the first rotating part and moves the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.

According to paragraph 3,
The position variable unit for the second laminate is,
a second tilting unit rotatably coupled to the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis, and rotating the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis;
The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction intersecting the first axis direction and the second axis direction.

According to paragraph 1,
The inspection imaging unit,
a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the jig unit for the stack; and
It is disposed spaced apart from the radiation emitting portion and includes a radiation detection portion that detects the radiation emitted from the radiation emitting portion,
An overhang inspection device for a secondary battery, characterized in that the radiation emitting part is located in an upper area of the jig unit for a laminate, and the radiation detection part is located in a lower area of the jig unit for a laminate.

According to paragraph 1,
The setting jig is,
A jig body clamped to the jig unit for the laminate; and
An overhang inspection device for a secondary battery that protrudes from the jig body and includes an imaging target portion that is imaged by the inspection imaging unit.

A crossing device for secondary batteries that generates an electrode stack by alternately crossing the cathode and anode with a separator in between; and
An overhang inspection device for secondary batteries that receives the electrode stack generated from the crossover device for secondary batteries and takes images of the electrode stack,
The overhang inspection device for secondary batteries,
A plurality of jig units for the electrode stack clamping the electrode stack;
An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit;
a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving the electrode laminate relative to the inspection imaging unit; and
A secondary battery manufacturing system including a setting jig connected to the jig unit for the laminate.

According to clause 8,
A secondary battery manufacturing system, wherein the plurality of position variable units for the stack are arranged radially spaced apart from each other with the inspection imaging unit as the center.

According to clause 8,
The position variable unit for the plurality of laminates is,
A pair of first position variable units for the stack located spaced apart from each other in the first axis direction and arranged to face each other; and
A secondary battery manufacturing system comprising a pair of position variable units for a second stack that are spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and are arranged to face each other.

According to clause 10,
The position variable unit for the first laminate is,
a first tilting unit to which the jig unit for a laminate is rotatably coupled with the second axis direction as a rotation axis, and which rotates the jig unit for a laminate with the second axis direction as a rotation axis;
The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; and
A secondary battery manufacturing system including a first up/down part connected to the first rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.

According to clause 10,
The position variable unit for the second laminate is,
a second tilting unit rotatably coupled to the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis, and rotating the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis;
The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and
A secondary battery manufacturing system including a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.

According to clause 8,
The inspection imaging unit,
a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the jig unit for the stack; and
It is disposed spaced apart from the radiation emitting portion and includes a radiation detection portion that detects the radiation emitted from the radiation emitting portion,
A secondary battery manufacturing system, wherein the radiation emitting unit is located in an upper area of the jig unit for a laminate, and the radiation detection unit is located in a lower area of the jig unit for a laminate.

delete

According to clause 8,
The setting jig is,
A jig body clamped to the jig unit for the laminate; and
A secondary battery manufacturing system comprising an imaging target portion that protrudes from the jig body and is imaged by the inspection imaging unit.