KR20210109457A - Resin composition - Google Patents

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KR20210109457A
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겐지 가와이
료헤이 오오이시
코헤이 노자키
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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

The present invention relates to a resin composition which an inhibit stains generated upon the lamination thereof, a resin sheet including the resin composition, a printed circuit board including a dielectric layer formed by using the resin composition, and a semiconductor device. The resin composition includes: (A) an eposy resin; and (B) an active ester compound having at least one selected from the groups represented by chemical formula (1)- chemical formula (3), wherein * represents a bonding arm, and n represents an integer of 1-5.

Description

수지 조성물 {RESIN COMPOSITION}Resin composition {RESIN COMPOSITION}

본 발명은 수지 조성물에 관한 것이다. 또한, 당해 수지 조성물을 사용하여 얻어지는 수지 시트, 프린트 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition. Moreover, it is related with the resin sheet obtained using the said resin composition, a printed wiring board, and a semiconductor device.

프린트 배선판의 제조 기술로서, 절연층과 도체층을 교대로 쌓아 포개는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다.As a manufacturing technique of a printed wiring board, the manufacturing method by the build-up system which piles up an insulating layer and a conductor layer alternately is known.

이러한 절연층에 사용되는 프린트 배선판의 절연 재료로서, 예를 들어, 특허문헌 1에 수지 조성물이 개시되어 있다.As an insulating material of the printed wiring board used for such an insulating layer, the resin composition is disclosed by patent document 1, for example.

일본 공개특허공보 특개2018-199797호Japanese Patent Laid-Open No. 2018-199797

절연층은 기판 위에 수지 조성물층을 라미네이트시키고 열경화시킴으로써 형성하는 것이 일반적이다. 본 발명자들이 예의 검토한 결과, 종래의 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 라미네이트시켜서 절연층을 형성한 경우, 절연층 표면의 균일성이 저하되고, 얼룩이 생기기 쉬워지는 것을 지견하였다(라미네이트 후의 얼룩). 절연층 표면에 이러한 얼룩이 있으면 절연층의 배선 형성성이 떨어져 버리는 경우가 있다.The insulating layer is generally formed by laminating a resin composition layer on a substrate and thermosetting it. As a result of earnest examination by the present inventors, when an insulating layer was formed by laminating the resin composition layer containing the conventional resin composition, it was discovered that the uniformity of the surface of an insulating layer falls and it becomes easy to produce unevenness (uniformity after lamination). . When such unevenness exists on the surface of an insulating layer, the wiring formability of an insulating layer may deteriorate.

본 발명의 과제는 수지 조성물을 라미네이트한 경우에 생기는 얼룩을 억제할 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 포함하는 수지 시트; 당해 수지 조성물을 사용하여 형성된 절연층을 갖추는 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공하는 것이다.The subject of the present invention is a resin composition capable of suppressing the unevenness generated when the resin composition is laminated; a resin sheet containing the resin composition; A printed wiring board provided with the insulating layer formed using the said resin composition, and a semiconductor device are provided.

본 발명자들은, 상기 과제에 대해 예의 검토한 결과, 특정한 기를 갖는 활성 에스테르 화합물을 함유시킴으로써 상기 과제를 해결할 수 있음을 발견하여, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining the said subject, the present inventors discovered that the said subject could be solved by containing the active ester compound which has a specific group, and came to complete this invention.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] (A) 에폭시 수지, 및[1] (A) an epoxy resin, and

(B) 하기 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 활성 에스테르 화합물(B) an active ester compound having at least one of the groups represented by the following formulas (1) to (3)

을 함유하는 수지 조성물.A resin composition containing

Figure pat00001
Figure pat00001

(상기 식에서, *는 결합손을 나타낸다. 식 (3)에서, n은 1 내지 5의 정수를 나타낸다)(In the above formula, * represents a bond. In formula (3), n represents an integer of 1 to 5)

[2] (B) 성분이 하기 일반식 (b-1)로 표시되는 활성 에스테르계 화합물인, [1]에 기재된 수지 조성물.[2] The resin composition according to [1], wherein the component (B) is an active ester compound represented by the following general formula (b-1).

Figure pat00002
Figure pat00002

(일반식 (b-1)에서,(In general formula (b-1),

Ar11은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타내고,Ar 11 each independently represents a group represented by the formula (1), a group represented by the formula (2), or a group represented by the formula (3),

Ar12는, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타내고,Ar 12 each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent,

Ar13은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 지방족 탄화수소기, 산소 원자, 유황 원자,또는 이들의 조합으로 이루어진 2가의 기를 나타낸다. a는 1 내지 6의 정수를 나타내고, b는 0 내지 10의 정수를 나타낸다)Ar 13 each independently represents a divalent group consisting of a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent, an oxygen atom, a sulfur atom, or a combination thereof. a represents an integer from 1 to 6, b represents an integer from 0 to 10)

[3] 일반식 (b-1)에서의 Ar13이, 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기 및 산소 원자를 조합한 2가의 기를 나타내는, [2]에 기재된 수지 조성물. [3] The resin composition according to [2], wherein Ar 13 in the general formula (b-1) each independently represents a divalent group obtained by combining an oxygen atom and a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent.

[4] (B) 성분이 하기 일반식 (b-3)으로 표시되는 활성 에스테르계 화합물인, [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[4] The resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the component (B) is an active ester compound represented by the following general formula (b-3).

Figure pat00003
Figure pat00003

(일반식 (b-3)에서,(In general formula (b-3),

Ar31은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타낸다. a2는 1 내지 6의 정수를 나타내고, c2는 1 내지 5의 정수를 나타내고, d는 각각 독립적으로 0 내지 6의 정수를 나타낸다)Ar 31 each independently represents the group represented by the formula (1), the group represented by the formula (2), or the group represented by the formula (3). a2 represents an integer of 1 to 6, c2 represents an integer of 1 to 5, and d each independently represents an integer of 0 to 6)

[5] 추가로 (C) 무기 충전재를 함유하는, [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], further comprising (C) an inorganic filler.

[6] 절연층 형성용인, [1] 내지 [5] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], which is for forming an insulating layer.

[7] 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, [1] 내지 [6] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], which is for forming an insulating layer for forming a conductor layer.

[8] 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.[8] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer provided on the support and comprising the resin composition according to any one of [1] to [7].

[9] [1] 내지 [7] 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.[9] A printed wiring board comprising an insulating layer formed of a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [7].

[10] [9]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[10] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [9].

본 발명에 의해, 수지 조성물을 라미네이트한 경우에 생기는 라미네이트 후의 얼룩을 억제할 수 있는 수지 조성물; 당해 수지 조성물을 포함하는 수지 시트; 당해 수지 조성물의 경화물로 형성된 절연층을 구비하는 프린트 배선판, 및 반도체 장치를 제공할 수 있다.Resin composition which can suppress the unevenness after lamination which arises when a resin composition is laminated by this invention; a resin sheet containing the resin composition; A printed wiring board provided with the insulating layer formed from the hardened|cured material of the said resin composition, and a semiconductor device can be provided.

이하, 본 발명을 그 적합한 실시형태에 입각하여 상세히 설명한다. 단, 본 발명은 하기 실시형태 및 예시물에 한정되지 않으며, 본 발명의 청구범위 및 그 균등한 범위를 일탈하지 않는 범위에서 임의로 변경하여 실시될 수 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, this invention is demonstrated in detail based on the suitable embodiment. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and may be arbitrarily changed without departing from the scope of the claims of the present invention and equivalents thereof.

[수지 조성물][resin composition]

본 발명의 수지 조성물은 (A) 에폭시 수지, 및 (B) 하기 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 활성 에스테르 화합물을 함유한다. (B) 성분을 수지 조성물에 함유시킴으로써, 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 라미네이트한 경우에 생길 수 있는 라미네이트 후의 얼룩의 발생을 억제할 수 있다. 또한, 본 발명에서는, 통상, 도금 필 강도, 동박 밀착성, 및 HAST 후의 동박 밀착성도 뛰어나고, 또한, 유전 특성이 낮고, 산술 평균 거칠기(Ra)가 낮은 경화물을 얻을 수도 있다.The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin and (B) an active ester compound having at least one of groups represented by the following formulas (1) to (3). By containing (B) component in a resin composition, generation|occurrence|production of the stain|uniformity after lamination which may arise when the resin composition layer containing a resin composition is laminated can be suppressed. Moreover, in this invention, it is excellent also normally also in plating peeling strength, copper foil adhesiveness, and copper foil adhesiveness after HAST, and also a dielectric property is low, and hardened|cured material with a low arithmetic mean roughness (Ra) can also be obtained.

Figure pat00004
Figure pat00004

(상기 식에서, *는 결합손을 나타낸다. 식 (3)에서, n은 1 내지 5의 정수를 나타낸다)(In the above formula, * represents a bond. In formula (3), n represents an integer of 1 to 5)

수지 조성물은 (A) 내지 (B) 성분에 조합하여, 추가로 임의의 성분을 포함하고 있어도 좋다. 임의의 성분으로서는, 예를 들어, (C) 무기 충전재, (D) 경화제, (E) 경화 촉진제, 및 (F) 기타 첨가제 등을 들 수 있다. 이하, 수지 조성물에 포함되는 각 성분에 대해 상세히 설명한다.The resin composition may further contain arbitrary components in combination with (A)-(B) component. As arbitrary components, (C) inorganic filler, (D) hardening|curing agent, (E) hardening accelerator, (F) other additives, etc. are mentioned, for example. Hereinafter, each component included in the resin composition will be described in detail.

<(A) 에폭시 수지><(A) Epoxy resin>

수지 조성물은 (A) 성분으로서 (A) 에폭시 수지를 함유한다. (A) 성분으로서는, 예를 들어, 비크실레놀형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨 노볼락형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.The resin composition contains (A) an epoxy resin as (A) component. (A) As a component, a bixylenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol is, for example, Type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, Glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, butadiene structure epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclo A hexane type epoxy resin, a cyclohexane dimethanol type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, a trimethylol type epoxy resin, a tetraphenylethane type epoxy resin, etc. are mentioned. An epoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

수지 조성물은 (A) 성분으로서 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, (A) 성분의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지의 비율은 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 특히 바람직하게는 70질량% 이상이다.It is preferable that the resin composition contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule as (A) component. From the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to 100% by mass of the nonvolatile component of component (A) is preferably 50% by mass or more, more preferably is 60% by mass or more, particularly preferably 70% by mass or more.

에폭시 수지에는, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하 「액상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음)와, 온도 20℃에서 고체상의 에폭시 수지(이하 「고체상 에폭시 수지」라고 하는 경우가 있음)가 있다. 수지 조성물은 (A) 성분으로서 액상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 고체상 에폭시 수지만을 포함하고 있어도 좋고, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 포함하고 있어도 좋지만, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 고체상 에폭시 수지만을 포함하는 것이 바람직하다.Epoxy resins include a liquid epoxy resin at a temperature of 20°C (hereinafter sometimes referred to as “liquid epoxy resin”) and a solid epoxy resin at a temperature of 20°C (hereinafter sometimes referred to as “solid epoxy resin”). . The resin composition may contain only a liquid epoxy resin as component (A), may contain only a solid epoxy resin, or may contain a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin, but the desired effect of the present invention is significantly reduced From the viewpoint of obtaining, it is preferable to include only a solid epoxy resin.

고체상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 고체상 에폭시 수지가 바람직하고, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖는 방향족계의 고체상 에폭시 수지가 보다 바람직하다.As a solid epoxy resin, the solid epoxy resin which has 3 or more epoxy groups in 1 molecule is preferable, and the aromatic solid epoxy resin which has 3 or more epoxy groups in 1 molecule is more preferable.

고체상 에폭시 수지로서는, 비크실레놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하고, 나프톨형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the solid-state epoxy resin include a bixylenol-type epoxy resin, a naphthalene-type epoxy resin, a naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin, a cresol novolac-type epoxy resin, a dicyclopentadiene-type epoxy resin, a trisphenol-type epoxy resin, a naphthol-type epoxy resin, and a non A phenyl type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol AF type epoxy resin, and a tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and a naphthol type epoxy resin is more preferable.

고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-690」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「N-695」(크레졸 노볼락형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「HP-7200」, 「HP-7200HH」, 「HP-7200H」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지); DIC사 제조의 「EXA-7311」, 「EXA-7311-G3」, 「EXA-7311-G4」, 「EXA-7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC7000L」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 닛폰 카야쿠사 제조의 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ESN475V」(나프톨형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ESN485」(나프톨 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000H」, 「YX4000」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지);미츠비시 케미컬사 제조의 「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지); 오사카 가스 케미칼사 제조의 「PG-100」, 「CG-500」; 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a solid epoxy resin, "HP4032H" by DIC (naphthalene type epoxy resin); "HP-4700", "HP-4710" by DIC company (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin); "N-690" by DIC (cresol novolak-type epoxy resin); "N-695" by DIC (cresol novolak-type epoxy resin); "HP-7200", "HP-7200HH", and "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" by DIC company (naphthylene ether type epoxy resin); "EPPN-502H" by Nippon Kayaku Co., Ltd. (trisphenol type epoxy resin); "NC7000L" by a Nippon Kayaku company (naphthol novolak-type epoxy resin); "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin) by the Nippon Kayaku company; "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "ESN485" (naphthol novolak-type epoxy resin) by a Nitetsu Chemical & Materials company; "YX4000H", "YX4000", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) by a Mitsubishi Chemical company; "YX4000HK" by a Mitsubishi Chemical company (bixylenol type epoxy resin); "YX8800" by Mitsubishi Chemical (anthracene type epoxy resin); "PG-100" and "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemicals; "YL7760" by a Mitsubishi Chemical company (bisphenol AF type|mold epoxy resin); "YL7800" by Mitsubishi Chemical (fluorene type epoxy resin); "jER1010" by Mitsubishi Chemical (solid bisphenol A epoxy resin); "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin) by a Mitsubishi Chemical company, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

액상 에폭시 수지로서는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지가 바람직하다.As a liquid epoxy resin, the liquid epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule is preferable.

액상 에폭시 수지로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 사이클로헥산형 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하고, 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다.Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin , an alicyclic epoxy resin having an ester skeleton, a cyclohexane type epoxy resin, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure, more preferably a naphthalene type epoxy resin do.

액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC사 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「828US」, 「jER828EL」, 「825」, 「에피코토 828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER807」, 「1750」(비스페놀 F형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「jER152」(페놀 노볼락형 에폭시 수지); 미츠비시 케미컬사 제조의 「630」, 「630LSD」(글리시딜아민형 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품); 나가세 켐텍스사 제조의 「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「셀록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지); 다이셀사 제조의 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지); 닛테츠 케미컬 & 머티리얼즈사 제조의 「ZX1658」, 「ZX1658GS」(액상 1,4-글리시딜사이클로헥산형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이들은 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.As a specific example of a liquid epoxy resin, "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" by DIC company (naphthalene type epoxy resin); "828US", "jER828EL", "825", "Epicoto 828EL" by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol A epoxy resin); "jER807", "1750" by a Mitsubishi Chemical company (bisphenol F-type epoxy resin); "jER152" by Mitsubishi Chemical (phenol novolak-type epoxy resin); "630" and "630LSD" by Mitsubishi Chemical (glycidylamine type epoxy resin); "ZX1059" (mixture of a bisphenol A epoxy resin and a bisphenol F epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company; "EX-721" by the Nagase Chemtex company (glycidyl ester type epoxy resin); "Celoxide 2021P" by Daicel (alicyclic epoxy resin which has ester skeleton); "PB-3600" by Daicel (epoxy resin which has a butadiene structure); "ZX1658", "ZX1658GS" (liquid 1, 4- glycidyl cyclohexane type epoxy resin) by the Nitetsu Chemical & Materials company, etc. are mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(A) 성분으로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 조합하여 사용하는 경우, 이들의 양비(量比)(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 바람직하게는 1:1 내지 1:20, 보다 바람직하게는 1:1.5 내지 1:15, 특히 바람직하게는 1:2 내지 1:10이다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양비가 이러한 범위에 있음으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻을 수 있다. 또한, 통상은, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 적당한 점착성이 형성된다. 또한, 통상은, 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에, 충분한 가요성이 얻어지고, 취급성이 향상된다. 또한, 통상은, 충분한 파단 강도를 갖는 경화물을 얻을 수 있다.(A) When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as a component, their ratio (liquid epoxy resin:solid epoxy resin) is a mass ratio, preferably 1:1 to 1:20 , more preferably 1:1.5 to 1:15, particularly preferably 1:2 to 1:10. When the amount ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin is within this range, the desired effect of the present invention can be significantly obtained. Moreover, when using in the form of a resin sheet normally, moderate adhesiveness is formed. Moreover, when using in the form of a resin sheet normally, sufficient flexibility is acquired and handling property improves. Moreover, usually, the hardened|cured material which has sufficient breaking strength can be obtained.

(A) 성분의 에폭시 당량은 바람직하게는 50g/eq.내지 5000g/eq., 보다 바람직하게는 50g/eq. 내지 3000g/eq., 더욱 바람직하게는 80g/eq. 내지 2000g/eq., 보다 더 바람직하게는 110g/eq. 내지 1000g/eq.이다. 이 범위가 됨으로써, 수지 조성물층의 경화물의 가교 밀도가 충분해지고, 표면 거칠기가 작은 절연층을 형성할 수 있다. 에폭시 당량은, 1당량의 에폭시기를 포함하는 에폭시 수지의 질량이다. 이 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있다.The epoxy equivalent of component (A) is preferably 50 g/eq. to 5000 g/eq., more preferably 50 g/eq. to 3000 g/eq., more preferably 80 g/eq. to 2000 g/eq., even more preferably 110 g/eq. to 1000 g/eq. By being set to this range, the crosslinking density of the hardened|cured material of a resin composition layer becomes enough, and the insulating layer with a small surface roughness can be formed. Epoxy equivalent is the mass of the epoxy resin containing 1 equivalent of an epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JISK7236.

(A) 성분의 중량 평균 분자량(Mw)은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 200 내지 3000, 더욱 바람직하게는 250 내지 1500이다. The weight average molecular weight (Mw) of the component (A) is preferably 100 to 5000, more preferably 200 to 3000, still more preferably 250 to 1500 from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention.

수지의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 폴리스티렌 환산의 값으로서 측정할 수 있다.The weight average molecular weight of resin can be measured as a value in terms of polystyrene by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(A) 성분의 함유량은, 양호한 기계 강도, 및 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 할 때, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 10질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 25질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 특히 바람직하게는 15질량% 이하이다.(A) The content of the component is preferably 1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining an insulating layer exhibiting good mechanical strength and insulation reliability. It is 5 mass % or more, More preferably, it is 10 mass % or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is preferably 25% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, and particularly preferably 15% by mass or less from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention.

한편, 본 발명에서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 할 때의 값이다.In addition, in this invention, content of each component in a resin composition is a value at the time of making 100 mass % of non-volatile components in a resin composition unless otherwise indicated.

<(B) 하기 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 활성 에스테르 화합물><(B) an active ester compound having at least one of the groups represented by the following formulas (1) to (3)>

수지 조성물은 (B) 성분으로서, 하기 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 활성 에스테르 화합물을 함유한다. (B) 성분을 수지 조성물에 함유시킴으로써, 라미네이트 후의 얼룩의 발생을 억제하는 것이 가능해진다. 또한, (B) 성분을 수지 조성물에 함유시킴으로써, 통상, 도금 필 강도, 동박밀착성, 및 HAST 후의 동박 밀착성도 뛰어나고, 또한, 유전 특성이 낮고, 산술 평균 거칠기(Ra)가 낮은 경화물을 얻을 수도 있다.The resin composition contains, as component (B), an active ester compound having at least any one of groups represented by the following formulas (1) to (3). (B) By containing a component in a resin composition, it becomes possible to suppress generation|occurrence|production of the unevenness after lamination. In addition, by containing the component (B) in the resin composition, it is usually excellent in plating peel strength, copper foil adhesion, and copper foil adhesion after HAST, and also has low dielectric properties and low arithmetic mean roughness (Ra) It is also possible to obtain a cured product have.

Figure pat00005
Figure pat00005

(상기 식에서, *는 결합손을 나타낸다. 식 (3)에서, n은 1 내지 5의 정수를 나타낸다)(In the above formula, * represents a bond. In formula (3), n represents an integer of 1 to 5)

(B) 성분은, 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖고, 또한 (A) 성분과 반응할 수 있는 활성 에스테르 부위를 갖는 화합물을 사용할 수 있다. (B) 성분으로서는, 말단에 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 것이 바람직하다. (B) 성분으로서는, 양 말단이 다른 기라도 좋고, 양 말단이 동일한 기라도 좋다.(B) component can use the compound which has at least any one of groups represented by Formula (1)-(3), and has an active ester site|part which can react with (A) component. (B) As a component, it is preferable to have at least any one of groups represented by Formula (1)-(3) at the terminal. (B) As a component, the group from which both terminals differ may be sufficient, and the same group may be sufficient as both terminals.

식 (1)로 표시되는 기는, 하기에 나타낸 크레졸 유래의 기일 수 있다. 식 (1)로 표시되는 기에서의 메틸기는, 산소 원자에 대해 오르토 위치, 메타 위치, 및 파라 위치 중 어느 하나에 결합되어 있는 것이 바람직하고, 오르토 위치에서 결합되어 있는 것이 보다 바람직하다.The group represented by Formula (1) may be a group derived from cresol shown below. It is preferable that the methyl group in the group represented by Formula (1) is couple|bonded with any one of an ortho position, meta position, and para position with respect to an oxygen atom, and it is more preferable that it couple|bonds at an ortho position.

Figure pat00006
Figure pat00006

식 (2)로 표시되는 기는, 하기에 나타낸 페닐페놀 유래의 기일 수 있다. 식 (2)로 표시되는 기에서의 페닐기는, 페놀 부위의 산소 원자에 대해 오르토 위치, 메타 위치, 및 파라 위치 중 어느 하나에 결합되어 있는 것이 바람직하고, 오르토 위치에서 결합되어 있는 것이 보다 바람직하다.The group represented by Formula (2) may be a group derived from the phenylphenol shown below. The phenyl group in the group represented by the formula (2) is preferably bonded to any one of the ortho position, meta position, and para position with respect to the oxygen atom of the phenol moiety, more preferably ortho position to the oxygen atom. .

Figure pat00007
Figure pat00007

식 (3)으로 표시되는 기는, 하기에 나타낸 스티렌화 페놀 유래의 기일 수 있다. 식 (3)으로 표시되는 기에서의 스티렌 부위는, 페놀 부위의 산소 원자에 대해 오르토 위치, 메타 위치, 및 파라 위치 중 어느 하나에 결합되어 있는 것이 바람직하고, 오르토 위치에서 결합되어 있는 것이 보다 바람직하다.The group represented by Formula (3) may be a group derived from the styrenated phenol shown below. It is preferable that the styrene moiety in the group represented by the formula (3) is bonded to any one of the ortho position, meta position, and para position with respect to the oxygen atom of the phenol moiety, and more preferably ortho position to the oxygen atom of the phenol moiety. do.

식 (3)에서, n은 1 내지 5의 정수를 나타내고, 1 내지 3의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 2의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하다.In Formula (3), n represents the integer of 1-5, it is preferable to represent the integer of 1-3, It is more preferable to represent the integer of 1-2.

Figure pat00008
Figure pat00008

(상기 식에서, n1은, 식 (3)의 n과 동일하다)(in the above formula, n1 is the same as n in the formula (3))

(B) 성분은 하기 일반식 (b-1)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다.It is preferable that (B) component is a compound represented by the following general formula (b-1).

Figure pat00009
Figure pat00009

(일반식 (b-1)에서, Ar11은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타내고, Ar12는, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타내고, Ar13은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 지방족 탄화수소기, 산소 원자, 유황 원자, 또는 이들의 조합으로 이루어진 2가의 기를 나타낸다. a는 1 내지 6의 정수를 나타내고, b는 0 내지 10의 정수를 나타낸다)(In the general formula (b-1), Ar 11 each independently represents a group represented by the formula (1), a group represented by the formula (2), or a group represented by the formula (3), and Ar 12 is, Each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, Ar 13 is each independently a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent, an oxygen atom, and sulfur represents a divalent group consisting of an atom or a combination thereof, a represents an integer from 1 to 6, b represents an integer from 0 to 10)

일반식 (b-1)에서, Ar11은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)로 표시되는 기를 나타낸다. 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기에 대해서는 상술한 바와 같다. 그 중에서도, 식 (1)로 표시되는 기, 및 식 (2)로 표시되는 기가 바람직하다.In the general formula (b-1), Ar 11 each independently represents the group represented by the formula (1), the group represented by the formula (2), or the group represented by the formula (3). Groups represented by formulas (1) to (3) are as described above. Among them, the group represented by the formula (1) and the group represented by the formula (2) are preferable.

일반식 (b-1)에서, Ar12는, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타낸다. 2가의 방향족 탄화수소기로서는, 아릴렌기, 아랄킬렌기 등을 들 수 있고, 아릴렌기가 바람직하다. 아릴렌기로서는, 탄소 원자수 6 내지 30의 아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기가 더욱 바람직하다. 이러한 아릴렌기로서는, 예를 들어, 페닐렌기, 나프틸렌기, 안트라세닐렌기, 비페닐렌기 등을 들 수 있다. 아랄킬렌기로서는, 탄소 원자수 7 내지 30의 아랄킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 7 내지 20의 아랄킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 7 내지 15의 아랄킬렌기가 더욱 바람직하다. 이들 중에서도, 페닐렌기가 바람직하다.In the general formula (b-1), Ar 12 each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent. As a divalent aromatic hydrocarbon group, an arylene group, an aralkylene group, etc. are mentioned, An arylene group is preferable. As the arylene group, an arylene group having 6 to 30 carbon atoms is preferable, an arylene group having 6 to 20 carbon atoms is more preferable, and an arylene group having 6 to 10 carbon atoms is still more preferable. As such an arylene group, a phenylene group, a naphthylene group, an anthracenylene group, a biphenylene group etc. are mentioned, for example. As the aralkylene group, an aralkylene group having 7 to 30 carbon atoms is preferable, an aralkylene group having 7 to 20 carbon atoms is more preferable, and an aralkylene group having 7 to 15 carbon atoms is still more preferable. Among these, a phenylene group is preferable.

일반식 (b-1)에서, Ar13은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 지방족 탄화수소기, 산소 원자, 유황 원자, 또는 이들의 조합으로 이루어진 2가의 기를 나타내고, 이들의 조합으로 이루어진 2가의 기가 바람직하다. 2가의 방향족 탄화수소기로서는, Ar12가 나타내는 2가의 방향족 탄화수소기와 동일하다.In the general formula (b-1), Ar 13 is each independently a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent, an oxygen atom, a sulfur atom, or a combination thereof. It represents a divalent group which consists of these, and the divalent group which consists of these combinations is preferable. The divalent aromatic hydrocarbon group is the same as the divalent aromatic hydrocarbon group represented by Ar 12 .

2가의 지방족 탄화수소기로서는, 2가의 포화 지방족 탄화수소기가 보다 바람직하고, 알킬렌기, 사이클로알킬렌기가 바람직하고, 사이클로알킬렌기가 보다 바람직하다.As the divalent aliphatic hydrocarbon group, a divalent saturated aliphatic hydrocarbon group is more preferable, an alkylene group or a cycloalkylene group is preferable, and a cycloalkylene group is more preferable.

알킬렌기로서는, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 3의 알킬렌기가 더욱 바람직하다. 알킬렌기로서는, 예를 들어, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 1-메틸메틸렌기, 1,1-디메틸메틸렌기, 1-메틸에틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기, 1,2-디메틸에틸렌기, 부틸렌기, 1-메틸프로필렌기, 2-메틸프로필렌기, 펜틸렌기, 헥실렌기 등을 들 수 있다.As the alkylene group, an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkylene group having 1 to 3 carbon atoms is still more preferable. Examples of the alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a 1-methylmethylene group, a 1,1-dimethylmethylene group, a 1-methylethylene group, a 1,1-dimethylethylene group, and a 1,2-dimethyl group. ethylene group, butylene group, 1-methylpropylene group, 2-methylpropylene group, pentylene group, hexylene group, etc. are mentioned.

사이클로알킬렌기로서는, 탄소 원자수 3 내지 20의 사이클로알킬렌기가 바람직하고, 3 내지 15의 사이클로알킬렌기가 보다 바람직하고, 5 내지 10의 사이클로알킬렌기가 더욱 바람직하다. 사이클로알킬렌기로서는, 예를 들어, 사이클로프로필렌기, 사이클로부틸렌기, 사이클로펜틸렌기, 사이클로헥실렌기, 사이클로펜틸렌기, 사이클로헵틸기 등을 들 수 있다.As a cycloalkylene group, a C3-C20 cycloalkylene group is preferable, A 3-15 cycloalkylene group is more preferable, A 5-10 cycloalkylene group is still more preferable. Examples of the cycloalkylene group include a cyclopropylene group, a cyclobutylene group, a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, a cyclopentylene group, and a cycloheptyl group.

이들의 조합으로 이루어진 2가의 기로서는, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기 및 산소 원자를 조합한 2가의 기가 바람직하고, 1 이상의 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기, 및 1 이상의 산소 원자를 교대로 조합한 2가의 기가 보다 바람직하고, 1 이상의 치환기를 갖고 있어도 좋은 나프틸렌기 및 1 이상의 산소 원자를 교대로 조합한 2가의 기가 더욱 바람직하다. 따라서, 치환기를 갖고 있어도 좋은 나프틸렌옥시기가 더욱 바람직하다.The divalent group composed of these combinations is preferably a divalent group in which a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent and an oxygen atom are combined, a divalent aromatic hydrocarbon group which may have one or more substituents, and one or more oxygen atoms A divalent group obtained by alternately combining , is more preferred, and more preferred is a divalent group obtained by alternatingly combining a naphthylene group which may have one or more substituents and one or more oxygen atoms. Therefore, the naphthyleneoxy group which may have a substituent is more preferable.

Ar12가 나타내는 2가의 방향족 탄화수소기, Ar13이 나타내는 2가의 방향족 탄화수소기, 및 2가의 지방족 탄화수소기는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기는 1개라도 좋고, 복수라도 좋다. 치환기로서는, 예를 들어, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴기, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기, 탄소 원자수 1 내지 10의 알콕시기, 할로겐 원자 등을 들 수 있다. 치환기는, 단독으로 포함하고 있어도, 2종 이상을 조합하여 포함하고 있어도 좋다.The divalent aromatic hydrocarbon group represented by Ar 12 , the divalent aromatic hydrocarbon group represented by Ar 13 , and the divalent aliphatic hydrocarbon group may have a substituent. The number of substituents may be one, and a plurality may be sufficient as them. As a substituent, a C6-C20 aryl group, a C1-C10 alkyl group, a C1-C10 alkoxy group, a halogen atom etc. are mentioned, for example. A substituent may be included independently, or may be included in combination of 2 or more type.

탄소 원자수 6 내지 20의 아릴기로서는, 예를 들어, 벤질기, 페닐기, 나프틸기, 안트라세닐기, 톨릴기, 크실릴기 등을 들 수 있고, 벤질기가 바람직하다.As a C6-C20 aryl group, a benzyl group, a phenyl group, a naphthyl group, anthracenyl group, a tolyl group, a xylyl group etc. are mentioned, for example, A benzyl group is preferable.

탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기로서는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기, n-펜틸기, 이소펜틸기, tert-펜틸기, 네오펜틸기, 1,2-디메틸프로필기, n-헥실기, 이소헥실기, n-노닐기, 사이클로프로필기, 사이클로부틸기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 사이클로헵틸기, 사이클로옥틸기, 사이클로노닐기를 들 수 있다.Examples of the alkyl group having 1 to 10 carbon atoms include methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, iso pentyl group, tert-pentyl group, neopentyl group, 1,2-dimethylpropyl group, n-hexyl group, isohexyl group, n-nonyl group, cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, A cycloheptyl group, a cyclooctyl group, and a cyclononyl group are mentioned.

탄소 원자수 1 내지 10의 알콕시기로서는, 예를 들어, 메톡시기, 에톡시기, 프로폭시기, 이소프로폭시기, 부톡시기, 펜틸옥시기, 헥실옥시기, 2-에틸헥실옥시기, 옥틸옥시기, 노닐옥시기 등을 들 수 있다.Examples of the alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, a butoxy group, a pentyloxy group, a hexyloxy group, a 2-ethylhexyloxy group, and an octyloxy group. time, a nonyloxy group, etc. are mentioned.

할로겐 원자로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자 등을 들 수 있다. 상술의 치환기는, 추가로 치환기(이하, 「2차 치환기」라고 하는 경우가 있음)를 갖고 있어도 좋다. 2차 치환기로서는, 특별히 기재가 없는 한, 상술의 치환기와 동일한 것을 사용해도 좋다.As a halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned. The above-described substituent may further have a substituent (hereinafter, may be referred to as a "secondary substituent"). As a secondary substituent, you may use the thing similar to the above-mentioned substituent, unless otherwise stated.

일반식 (b-1)에서, a는, 1 내지 6의 정수를 나타내고, 1 내지 5의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 3의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하다. 한편, 일반식 (b-1)로 표시되는 화합물이 올리고머 또는 폴리머인 경우, a는 그 평균값을 나타낸다.In general formula (b-1), a represents the integer of 1-6, it is preferable to represent the integer of 1-5, It is more preferable to represent the integer of 1-3. On the other hand, when the compound represented by general formula (b-1) is an oligomer or a polymer, a represents the average value.

일반식 (b-1)에서, b는, 0 내지 10의 정수를 나타내고, 0 내지 5의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 0 내지 3의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하고, 0이 더욱 바람직하다. 한편, 일반식 (b-1)로 표시되는 화합물이 올리고머 또는 폴리머인 경우, b는 그 평균값을 나타낸다.In general formula (b-1), b represents the integer of 0-10, it is preferable to represent the integer of 0-5, It is more preferable to represent the integer of 0-3, and 0 is still more preferable. On the other hand, when the compound represented by general formula (b-1) is an oligomer or a polymer, b represents the average value.

(B) 성분은 일반식 (b-2)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다. (B) It is preferable that a component is a compound represented by general formula (b-2).

Figure pat00010
Figure pat00010

(일반식 (b-2)에서, Ar21은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타내고, Ar22는, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타내고, Ar23은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타낸다. a1은 1 내지 6의 정수를 나타내고, c1은 1 내지 5의 정수를 나타낸다)(In the general formula (b-2), Ar 21 each independently represents a group represented by the formula (1), a group represented by the formula (2), or a group represented by the formula (3), and Ar 22 is, Each independently represents the divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, Ar 23 each independently represents the divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, a1 represents an integer of 1 to 6, and c1 represents 1 to represents an integer of 5)

Ar21은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타낸다. 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기에 대해서는 상술한 바와 같다. 그 중에서도, 식 (1)로 표시되는 기, 및식 (2)로 표시되는 기가 바람직하다.Ar 21 each independently represents the group represented by the formula (1), the group represented by the formula (2), or the group represented by the formula (3). Groups represented by formulas (1) to (3) are as described above. Among them, the group represented by the formula (1) and the group represented by the formula (2) are preferable.

Ar22는, 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타낸다. Ar22는, 일반식 (b-1)에서의 Ar12와 동일하다.Ar 22 each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent. Ar 22 is the same as Ar 12 in the general formula (b-1).

Ar23은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타낸다. Ar23은, 일반식 (b-1)에서의 Ar13의 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기와 동일하다.Ar 23 each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent. Ar 23 is the same as the divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent for Ar 13 in the general formula (b-1).

일반식 (b-2)에서, a1은, 1 내지 6의 정수를 나타낸다. a1은, 일반식 (b-1)에서의 a와 동일하다.In general formula (b-2), a1 represents the integer of 1-6. a1 is the same as a in general formula (b-1).

일반식 (b-2)에서, c1은, 1 내지 5의 정수를 나타낸다. c1은, 1 내지 4의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 3의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하다.In general formula (b-2), c1 represents the integer of 1-5. It is preferable that the integer of 1-4 is represented, and, as for c1, it is more preferable that the integer of 1-3 is represented.

(B) 성분은 일반식 (b-3)으로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다.(B) It is preferable that a component is a compound represented by general formula (b-3).

Figure pat00011
Figure pat00011

(일반식 (b-3)에서, Ar31은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타낸다. a2는 1 내지 6의 정수를 나타내고, c2는 1 내지 5의 정수를 나타내고, d는 각각 독립적으로 0 내지 6의 정수를 나타낸다)(In the general formula (b-3), Ar 31 each independently represents a group represented by the formula (1), a group represented by the formula (2), or a group represented by the formula (3). a2 is 1 to represents an integer of 6, c2 represents an integer of 1 to 5, and d each independently represents an integer of 0 to 6)

Ar31은, 각각 독립적으로, 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타낸다. 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기에 대해서는 상술한 바와 같다. 그 중에서도, 식 (1)로 표시되는 기, 및 식 (2)로 표시되는 기가 바람직하다.Ar 31 each independently represents the group represented by the formula (1), the group represented by the formula (2), or the group represented by the formula (3). Groups represented by formulas (1) to (3) are as described above. Among them, the group represented by the formula (1) and the group represented by the formula (2) are preferable.

일반식 (b-3)에서, a2는, 1 내지 6의 정수를 나타낸다. a2는 일반식 (b-1)에서의 a와 동일하다.In general formula (b-3), a2 represents the integer of 1-6. a2 is the same as a in the general formula (b-1).

일반식 (b-3)에서, c2는 1 내지 5의 정수를 나타낸다. c2는 일반식 (b-2)의 c1과 동일하다.In general formula (b-3), c2 represents the integer of 1-5. c2 is the same as c1 in the general formula (b-2).

일반식 (b-3)에서, d는 각각 독립적으로 0 내지 6의 정수를 나타낸다. d는 1 내지 5의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 4의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하다.In general formula (b-3), each d independently represents the integer of 0-6. It is preferable that the integer of 1-5 is represented, and, as for d, it is more preferable that the integer of 1-4 is represented.

(B) 성분은 공지의 방법으로 합성한 것을 사용해도 좋고, 예를 들어, 하기 실시예에 기재된 방법으로 합성할 수 있다. (B) 성분의 합성은 예를 들어 국제공개 제2018/235424호 또는 국제공개 제2018/235425호에 기재된 방법으로 행할 수 있다.The component (B) may use what was synthesize|combined by a well-known method, For example, it can synthesize|combine by the method described in the following example. (B) The synthesis of the component can be performed, for example, by the method described in International Publication No. 2018/235424 or International Publication No. 2018/235425.

(B) 성분의 중량 평균 분자량으로서는, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 150 이상, 보다 바람직하게는 200 이상, 더욱 바람직하게는 250 이상이며, 바람직하게는 4000 이하, 보다 바람직하게는 3000 이하, 더욱 바람직하게는 2500 이하이다. (B) 성분의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다.(B) As a weight average molecular weight of component, from a viewpoint of obtaining the effect of this invention remarkably, Preferably it is 150 or more, More preferably, it is 200 or more, More preferably, it is 250 or more, Preferably it is 4000 or less, More preferably is 3000 or less, more preferably 2500 or less. (B) The weight average molecular weight of component is the weight average molecular weight of polystyrene conversion measured by the gel permeation chromatography (GPC) method.

(B) 성분의 활성 에스테르 당량(불포화 결합 당량)은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 50g/eq 이상, 보다 바람직하게는 100g/eq. 이상, 더욱 바람직하게는 150g/eq.이며, 바람직하게는 2000g/eq. 이하, 보다 바람직하게는 1000g/eq. 이하, 더욱 바람직하게는 500g/eq. 이하이다. 활성 에스테르 당량은, 1당량의 불포화 결합을 포함하는 (B) 성분의 질량이다.(B) The active ester equivalent (unsaturated bond equivalent) of the component is preferably 50 g/eq or more, more preferably 100 g/eq. above, more preferably 150 g/eq., preferably 2000 g/eq. Hereinafter, more preferably 1000 g/eq. Hereinafter, more preferably 500 g/eq. is below. The active ester equivalent is the mass of component (B) containing 1 equivalent of an unsaturated bond.

(A) 성분과 (B) 성분과의 양비는, [(A) 성분의 에폭시기의 합계수]:[(B) 성분의 활성 에스테르기의 합계수]의 비율로, 1:0.01 내지 1:20의 범위가 바람직하고, 1:0.1 내지 1:10이 보다 바람직하고, 1:0.5 내지 1:5가 더욱 바람직하다. 여기서, 「(A) 성분의 에폭시기의 합계수」는 수지 조성물에 존재하는 (A) 성분의 불휘발 성분의 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. 또한, 「(B) 성분의 활성 에스테르기의 합계수」는 수지 조성물에 존재하는 (B) 성분의 불휘발 성분의 질량을 활성 에스테르기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. (A) 성분과 (B) 성분의 양비를 이러한 범위 내로 하여 본 발명의 효과를 현저히 얻을 수 있다.Amount ratio of component (A) and component (B) is 1:0.01 to 1:20 in a ratio of [the total number of epoxy groups of component (A)]: [the total number of active ester groups in component (B)]. preferably, 1:0.1 to 1:10 are more preferable, and 1:0.5 to 1:5 are still more preferable. Here, "the total number of the epoxy groups of (A) component" is the value which summed up all the values obtained by dividing the mass of the nonvolatile component of (A) component present in the resin composition by the epoxy equivalent. In addition, "the total number of active ester groups of component (B)" is the total value of all the values obtained by dividing the mass of the non-volatile components of component (B) in the resin composition by the equivalent of active ester groups. The effect of the present invention can be remarkably obtained by making the ratio of the component (A) and the component (B) within this range.

(B) 성분의 함유량은, 라미네이트 후의 얼룩의 발생을 억제하는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%에 대해, 바람직하게는 5질량% 이상, 보다 바람직하게는 10질량% 이상, 더욱 바람직하게는 15질량% 이상이고, 바람직하게는 30질량% 이하, 바람직하게는 25질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하이다.(B) Content of component, From a viewpoint of suppressing the generation|occurrence|production of the unevenness after lamination, with respect to 100 mass % of non-volatile components in a resin composition, Preferably it is 5 mass % or more, More preferably, it is 10 mass % or more, More preferably Preferably it is 15 mass % or more, Preferably it is 30 mass % or less, Preferably it is 25 mass % or less, More preferably, it is 20 mass % or less.

<(C) 무기 충전재><(C) Inorganic filler>

수지 조성물은 상술한 성분 이외에 임의의 성분으로서 추가로 (C) 성분으로서 무기 충전재를 함유하고 있어도 좋다. (C) 무기 충전재를 사용함으로써, 수지 조성물의 경화물의 유전 특성 및 절연 성능을 향상시킬 수 있다.The resin composition may contain the inorganic filler as (C)component further as an arbitrary component other than the component mentioned above. (C) By using an inorganic filler, the dielectric characteristic and insulation performance of the hardened|cured material of a resin composition can be improved.

무기 충전재의 재료로서는 무기 화합물을 사용한다. 무기 충전재의 재료의 예로서는, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 실리콘 산화물, 황산 바륨, 탄산 바륨, 탈크, 클레이, 운모분, 산화 아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무트, 산화티타늄, 산화지르코늄, 티탄산바륨, 티탄산 지르콘산 바륨, 지르콘산 바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산 텅스텐산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 실리카로서는, 예를 들어, 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등을 들 수 있다. 또한, 실리카로서는 구상 실리카가 바람직하다. (C) 무기 충전재는 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.An inorganic compound is used as a material of an inorganic filler. Examples of the inorganic filler material include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, carbonic acid. Calcium, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium zirconate titanate, zircon Barium acid, calcium zirconate, zirconium phosphate, zirconium phosphate tungstate, etc. are mentioned. Among these, silica is particularly suitable. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Moreover, as a silica, spherical silica is preferable. (C) An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

(C) 성분의 시판품으로서는, 예를 들어, 덴카사 제조의 「UFP-30」; 신닛테츠 스미킨 머티리얼즈사 제조의 「SP60-05」, 「SP507-05」; 아도마텍사 제조의 「YC100C」, 「YA050C」, 「YA050C-MJE」, 「YA010C」; 토쿠야마사 제조의 「실필 NSS-3N」, 「실필 NSS-4N」, 「실필 NSS-5N」; 아도마텍스사 제조의 「SC2500SQ」, 「SO-C4」, 「SO-C2」, 「SO-C1」 등을 들 수 있다.(C) As a commercial item of a component, For example, "UFP-30" by a Denka company; "SP60-05", "SP507-05" by the Shin-Nitetsu Sumikin Materials company; "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", "YA010C" manufactured by Adomatech Corporation; "Silly writing NSS-3N", "Silly writing NSS-4N", "Silly writing NSS-5N" manufactured by Tokuyama Corporation; "SC2500SQ", "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1" manufactured by Adomatex Corporation, etc. are mentioned.

(C) 성분의 비표면적으로서는 바람직하게는 1㎡/g 이상, 보다 바람직하게는 2㎡/g 이상, 특히 바람직하게는 3㎡/g 이상이다. 상한에 특단의 제한은 없지만, 바람직하게는 60㎡/g 이하, 50㎡/g 이하 또는 40㎡/g 이하이다. 비표면적은, BET법에 따라, 비표면적 측정 장치(마운텍사 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 시료 표면에 질소 가스를 흡착시키고, BET 다점법을 사용하여 비표면적을 산출함으로써 얻을 수 있다.(C) The specific surface area of the component is preferably 1 m 2 /g or more, more preferably 2 m 2 /g or more, and particularly preferably 3 m 2 /g or more. Although there is no particular limitation on the upper limit, it is preferably 60 m 2 /g or less, 50 m 2 /g or less, or 40 m 2 /g or less. The specific surface area can be obtained by adsorbing nitrogen gas to the sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountec) according to the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multi-point method.

(C) 성분의 평균 입자직경은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.05㎛ 이상, 특히 바람직하게는 0.1㎛ 이상이며, 바람직하게는 5㎛ 이하, 보다 바람직하게는 2㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 1㎛ 이하이다.(C) The average particle diameter of the component is preferably 0.01 µm or more, more preferably 0.05 µm or more, particularly preferably 0.1 µm or more, and preferably 5 µm from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. Hereinafter, more preferably, it is 2 micrometers or less, More preferably, it is 1 micrometer or less.

(C) 성분의 평균 입자직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 레이저 회절 산란식 입자직경 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입자직경 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 중간 지름을 평균 입자직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전 재 100mg, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 취하고, 초음파로 10분간 분산시킨 것을 사용할 수 있다. 측정 샘플을, 레이저 회절식 입자직경 분포 측정 장치를 사용하여, 사용 광원 파장을 청색 및 적색으로 하고 플로우 셀 방식으로 (C) 성분의 체적 기준의 입자직경 분포를 측정하고, 얻어진 입자직경 분포로부터 중간 지름으로서 평균 입자직경을 산출할 수 있다. 레이저 회절식 입자직경 분포 측정 장치로서는, 예를 들어 호리바 세사쿠쇼사 제조 「LA-960」 등을 들 수 있다.(C) The average particle diameter of component can be measured by the laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by creating the particle size distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, and making the intermediate diameter into an average particle diameter. As the measurement sample, 100 mg of inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone were weighed in a vial bottle, and what was dispersed for 10 minutes by ultrasonic wave can be used. For the measurement sample, using a laser diffraction particle size distribution measuring device, the used light source wavelength is set to blue and red, and the volume-based particle size distribution of component (C) is measured by a flow cell method, and the obtained particle size distribution is intermediate As the diameter, the average particle diameter can be calculated. As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, "LA-960" by Horiba Corporation, etc. are mentioned, for example.

(C) 성분은, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제로서는, 예를 들어, 비닐실란계 커플링제, (메타)아크릴계 커플링제, 불소 함유 실란 커플링제, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 비닐실란계 커플링제, (메타)아크릴계 커플링제, 아미노실란계 커플링제가 바람직하다. 또한, 표면 처리제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고, 2종류 이상을 임의로 조합하여 사용해도 좋다.It is preferable that component (C) is processed by the surface treating agent from a viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. As the surface treatment agent, for example, a vinylsilane coupling agent, a (meth)acrylic coupling agent, a fluorine-containing silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, an epoxysilane coupling agent, a mercaptosilane coupling agent, a silane coupling agent, An alkoxysilane, an organosilazane compound, a titanate type coupling agent, etc. are mentioned. Especially, from a viewpoint of acquiring the effect of this invention remarkably, a vinylsilane-type coupling agent, a (meth)acrylic-type coupling agent, and an aminosilane-type coupling agent are preferable. In addition, a surface treatment agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types arbitrarily.

표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들어, 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM1003」(비닐트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사사 제조 「KBM503」(3-메타크릴록시프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제), 신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM-7103」(3,3,3-트리플루오로프로필트리메톡시실란) 등을 들 수 있다.As a commercial item of a surface treatment agent, For example, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make "KBM1003" (vinyl triethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. make "KBM503" (3-methacryloxypropyltriethoxysilane), “KBM403” (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “KBM803” (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “ KBE903” (3-aminopropyltriethoxysilane), “KBM573” (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “SZ-31” (Hexa) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. methyldisilazane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM103" (phenyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM-4803" (long-chain epoxy type silane coupling agent), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. " KBM-7103" (3,3,3-trifluoropropyl trimethoxysilane) etc. are mentioned.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 소정의 범위에 들어가는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 무기 충전재 100질량부는, 0.2질량부 내지 5질량부의 표면 처리제로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.2질량부 내지 3질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하고, 0.3질량부 내지 2질량부로 표면 처리되어 있는 것이 바람직하다.It is preferable that the grade of the surface treatment by a surface treating agent falls within a predetermined range from a viewpoint of the dispersibility improvement of an inorganic filler. Specifically, 100 parts by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with a surface treatment agent of 0.2 parts by mass to 5 parts by mass, preferably surface-treated at 0.2 parts by mass to 3 parts by mass, and 0.3 parts by mass to 2 parts by mass. It is preferable that it is surface-treated.

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니시의 용융 점도 및 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 억제하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The grade of the surface treatment by a surface treating agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler. From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and still more preferably 0.2 mg/m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the melt viscosity of the resin varnish and the melt viscosity in sheet form, 1 mg/m 2 or less is preferable, 0.8 mg/m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is still more preferable.

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은, 표면 처리 후의 무기 충전재를 용제(예를 들어, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 첨가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용하여 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, 호리바 세사쿠쇼사 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.The amount of carbon per unit surface area of an inorganic filler can be measured, after washing-processing the inorganic filler after surface treatment with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, MEK in a sufficient amount as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, followed by ultrasonic cleaning at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" by Horiba Corporation, etc. can be used.

무기 충전재의 함유량으로서는, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 더욱 바람직하게는 70질량% 이상이며, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 80질량% 이하, 더욱 바람직하게는 75질량% 이하이다.As content of an inorganic filler, when the nonvolatile component in a resin composition is 100 mass % from a viewpoint of obtaining the effect of this invention remarkably, Preferably it is 50 mass % or more, More preferably, it is 60 mass % or more, More preferably is 70 mass % or more, Preferably it is 90 mass % or less, More preferably, it is 80 mass % or less, More preferably, it is 75 mass % or less.

<(D) 경화제><(D) curing agent>

수지 조성물은 상술한 성분 이외에 임의의 성분으로서 추가로 (D) 성분으로서 경화제를 함유하고 있어도 좋다. 단, (B) 성분에 해당하는 것은 제외한다.The resin composition may contain the hardening|curing agent as (D)component further as arbitrary components other than the component mentioned above. However, those corresponding to (B) component are excluded.

(D) 경화제로서는, (A) 성분과 반응하여 수지 조성물을 경화시킬 수 있는 화합물을 사용할 수 있고, 예를 들어, (B) 성분에 해당하지 않는 활성 에스테르계 경화제, 페놀계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 카르보디이미드계 경화제, 산 무수물계 경화제, 아민계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제, 말레이미드계 경화제, 폴리페닐렌 에테르계 경화제(스티렌계 경화제) 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서 페놀계 경화제, 카르보디이미드계 경화제, 말레이미드계 경화제, 및 폴리페닐렌 에테르계 경화제 중 어느 하나가 바람직하다.(D) As the curing agent, a compound capable of reacting with the component (A) to cure the resin composition can be used, for example, an active ester curing agent that does not correspond to the component (B), a phenol curing agent, and a benzoxazine-based curing agent. curing agents, carbodiimide curing agents, acid anhydride curing agents, amine curing agents, cyanate ester curing agents, maleimide curing agents, polyphenylene ether curing agents (styrene curing agents), and the like. Among them, any one of a phenol-based curing agent, a carbodiimide-based curing agent, a maleimide-based curing agent, and a polyphenylene ether-based curing agent is preferable from the viewpoint of significantly obtaining the effects of the present invention.

활성 에스테르계 경화제로서는, 1분자 중에 1개 이상의 활성 에스테르기를 갖는 경화제를 들 수 있다. 그 중에서도, 활성 에스테르계 경화제로서는, 페놀 에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의, 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히, 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다.Examples of the active ester curing agent include curing agents having one or more active ester groups in one molecule. Among them, as the active ester curing agent, phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, esters of heterocyclic hydroxy compounds, etc. having two or more ester groups with high reaction activity in one molecule compounds are preferred. It is preferable that the said active ester type hardening|curing agent is obtained by the condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound, and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound, a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferable.

카복실산 화합물로서는, 예를 들어, 벤조산, 아세트산, 숙신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다.Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid.

페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들어, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀 A, 메틸화 비스페놀 F, 메틸화 비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물, 페놀 노볼락 등을 들 수 있다. 여기서, 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 얻어지는 디페놀 화합물을 말한다.Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac, etc. are mentioned. Here, the "dicyclopentadiene type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol to one molecule of dicyclopentadiene.

활성 에스테르계 경화제의 바람직한 구체예로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물을 들 수 있다. 그 중에서도, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 「디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조」란, 페닐렌-디사이클로펜틸렌-페닐렌으로 이루어진 2가의 구조를 나타낸다.Preferred specific examples of the active ester curing agent include an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and phenol novolac and active ester compounds containing benzoylate. Especially, the active ester compound containing a naphthalene structure and the active ester compound containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. The "dicyclopentadiene type diphenol structure" represents a divalent structure consisting of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디엔형 디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000」, 「HPC-8000H」, 「HPC-8000-65T」, 「HPC-8000H-65TM」, 「EXB-8000L-65TM」, (DIC사 제조); 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「HPC-8150-62T」, 「EXB-8100L-65T」, 「EXB-8150L-65T」, 「EXB9416-70BK」, 「HPC-8900-70BK」(DIC사 제조); 페놀 노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 케미컬사 제조); 페놀 노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」(미츠비시 케미컬사 제조); 페놀 노볼락의 아세틸화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「DC808」(미츠비시 케미컬사제조); 페놀 노볼락의 벤조일화물인 활성 에스테르계 경화제로서 「YLH1026」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1030」(미츠비시 케미컬사 제조), 「YLH1048」(미츠비시 케미컬사 제조) 등을 들 수 있다.Commercially available active ester curing agents are active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, such as "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000", "HPC-8000H", "HPC" -8000-65T", "HPC-8000H-65TM", "EXB-8000L-65TM", (manufactured by DIC); As an active ester compound containing a naphthalene structure, "HPC-8150-62T", "EXB-8100L-65T", "EXB-8150L-65T", "EXB9416-70BK", "HPC-8900-70BK" (manufactured by DIC Corporation) ); "DC808" (made by Mitsubishi Chemical) as an active ester compound containing the acetylated product of phenol novolac; "YLH1026" (made by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester compound containing the benzoyl compound of phenol novolac; "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester curing agent that is an acetylated product of phenol novolac; Examples of the active ester curing agent that is a benzoyl product of phenol novolac include "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).

페놀계 경화제로서는, 방향환(벤젠환, 나프탈렌환 등)에 결합한 수산기를 1분자 중에 1개 이상, 바람직하게는 2개 이상 갖는 경화제를 들 수 있다. 그 중에서도, 벤젠환에 결합한 수산기를 갖는 화합물이 바람직하다. 또한, 내열성 및 내수성의 관점에서는, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제가 바람직하다. 또한, 밀착성의 관점에서는, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 특히, 내열성, 내수성, 및 밀착성을 고도로 만족시키는 관점에서는, 트리아진 골격 함유 페놀 노볼락 경화제가 바람직하다.As a phenolic hardening|curing agent, the hardening|curing agent which has 1 or more, Preferably it has 2 or more hydroxyl groups couple|bonded with the aromatic ring (a benzene ring, a naphthalene ring, etc.) in 1 molecule is mentioned. Especially, the compound which has the hydroxyl group couple|bonded with the benzene ring is preferable. Moreover, from a viewpoint of heat resistance and water resistance, the phenolic hardening|curing agent which has a novolak structure is preferable. Moreover, from an adhesive viewpoint, a nitrogen-containing phenol-type hardening|curing agent is preferable, and a triazine skeleton containing phenol-type hardening|curing agent is more preferable. In particular, a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesiveness.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 메이와 카세이사 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 「MEH-8000H」; 닛폰 카야쿠사 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」; 닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조의 「SN-170」, 「SN-180」, 「SN-190」, 「SN-475」, 「SN-485」, 「SN-495」, 「SN-495V」, 「SN-375」, 「SN-395」; DIC사 제조의 「TD-2090」, 「TD-2090-60M」, 「LA-7052」, 「LA-7054」, 「LA-1356」, 「LA-3018」, 「LA-3018-50P」, 「EXB-9500」, 「HPC-9500」, 「KA-1160」, 「KA-1163」, 「KA-1165」; 군에이 카가쿠사 제조의 「GDP-6115L」, 「GDP-6115H」, 「ELPC75」 등을 들 수 있다.As a specific example of a phenol type hardening|curing agent and a naphthol type hardening|curing agent, Meiwa Kasei Corporation make "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851", "MEH-8000H"; "NHN", "CBN", and "GPH" manufactured by Nippon Kayaku Corporation; "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-495V" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. "SN-375", "SN-395"; "TD-2090", "TD-2090-60M", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018", "LA-3018-50P" manufactured by DIC Corporation, "EXB-9500", "HPC-9500", "KA-1160", "KA-1163", "KA-1165"; "GDP-6115L", "GDP-6115H", "ELPC75", etc. made from Gunei Chemical Co., Ltd. are mentioned.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와 코분시사 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이코교사 제조의 「P-d」, 「F-a」, 「ALP-d」, JFE 케미컬사 제조의 「ODA-BOZ」를 들 수 있다.As a specific example of a benzoxazine type hardening|curing agent, "HFB2006M" by Showa Kobunshi, "Pd", "Fa", "ALP-d" by Shikoku Kasei Co., Ltd., "ODA-BOZ" by JFE Chemicals are mentioned can

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛신보 케미컬사 제조의 「V-03」, 「V-05」, 「V-07」; 라인 케미사 제조의 스타바쿠졸(등록상표) P 등을 들 수 있다.Specific examples of the carbodiimide-based curing agent include "V-03", "V-05", "V-07" manufactured by Nisshinbo Chemical; Stabakusol (trademark) P manufactured by Rhein Chemis, etc. are mentioned.

산 무수물계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 산 무수물기를 갖는 경화제를 들 수 있다. 산 무수물계 경화제의 구체예로서는, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수 프탈산, 헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸테트라하이드로 무수 프탈산, 4-메틸헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸헥사하이드로 무수 프탈산, 메틸 나딕산 무수물, 수소화 메틸나딕산 무수물, 트리알킬테트라하이드로 무수 프탈산, 도데세닐무수 숙신산, 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-3-사이클로헥센-1,2-디카복실산 무수물, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 벤조페논테트라카복실산 2무수물, 비페닐테트라카복실산 2무수물, 나프탈렌테트라카복실산 2무수물, 옥시디프탈산 2무수물, 3,3'-4,4'-디페닐술폰테트라카복실산 2무수물, 1,3,3a ,4,5,9b-헥사하이드로-5-(테트라하이드로-2,5-디옥소-3-푸라닐)-나프토[1,2-C]푸란-1,3-디온, 에틸렌글리콜비스(안하이드로트리멜리테이트), 스티렌과 말레산이 공중합한 스티렌·말레산 수지 등의 폴리머형의 산 무수물 등을 들 수 있다. 산 무수물계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 신닛폰 리카사 제조의 「MH-700」 등을 들 수 있다.Examples of the acid anhydride curing agent include curing agents having at least one acid anhydride group in one molecule. Specific examples of the acid anhydride curing agent include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, 4-methylhexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, and hydrogenated methylnadic acid. Anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, anhydride Trimellitic acid, pyromellitic anhydride, benzophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic acid dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1, Polymeric acid anhydrides, such as 3-dione, ethylene glycol bis (anhydro trimellitate), and styrene maleic acid resin which copolymerized styrene and maleic acid, etc. are mentioned. A commercial item may be used for an acid anhydride type hardening|curing agent, For example, "MH-700" by a Nippon Rika company, etc. are mentioned.

아민계 경화제로서는, 1분자내 중에 1개 이상의 아미노기를 갖는 경화제를 들 수 있고, 예를 들어, 지방족 아민류, 폴리에테르아민류, 지환식 아민류, 방향족 아민류 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 본 발명의 원하는 효과를 나타내는 관점에서, 방향족 아민류가 바람직하다. 아민계 경화제는, 제1급 아민 또는 제2급 아민이 바람직하고, 제1급 아민이 보다 바람직하다. 아민계 경화제의 구체예로서는, 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸아닐린), 디페닐디아미노술폰, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰, m-페닐렌디아민, m-크실릴렌디아민, 디에틸톨루엔디아민, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2'-디메틸-4,4'-디아미노비페닐, 3,3'-디하이드록시벤지딘, 2,2-비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판, 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄디아민, 2,2-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2-비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)프로판, 1,3-비스(3-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스(4-(4-아미노페녹시)페닐)술폰, 비스(4-(3-아미노페녹시)페닐)술폰 등을 들 수 있다. 아민계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 닛폰 카야쿠사 제조의 「KAYABOND C-200S」, 「KAYABOND C-100」, 「카야하드 A-A」, 「카야하드 A-B」, 「카야하드 A-S」, 미츠비시 케미컬사 제조의 「에피큐어 W」 등을 들 수 있다.Examples of the amine-based curing agent include curing agents having at least one amino group in one molecule, for example, aliphatic amines, polyetheramines, alicyclic amines, aromatic amines, and the like. From the viewpoint of exhibiting a desired effect, aromatic amines are preferable. Primary amine or secondary amine is preferable and, as for an amine type hardening|curing agent, primary amine is more preferable. Specific examples of the amine curing agent include 4,4'-methylenebis(2,6-dimethylaniline), diphenyldiaminosulfone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone , 3,3'-diaminodiphenylsulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4, 4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl ) propane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethanediamine, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4- (4-amino) Phenoxy) phenyl) propane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4 ,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone, etc. are mentioned. Commercially available amine curing agents may be used, for example, "KAYABOND C-200S", "KAYABOND C-100", "Kayahard AA", "Kayahard AB", "Kayahard AS" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. , "Epicure W" manufactured by Mitsubishi Chemical, etc. are mentioned.

시아네이트 에스테르계 경화제로서는, 예를 들어, 비스페놀 A디시아네이트, 폴리페놀시아네이트, 올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지; 페놀 노볼락 및 크레졸 노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지; 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자 재팬사 제조의 「PT30」 및 「PT60」(전부 페놀 노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지); 「ULL-950S」(다관능 시아네이트 에스테르 수지); 「BA230」, 「BA230S75」(비스페놀 A디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다.Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis (2,6- Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4- cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cya bifunctional cyanate resins such as natephenyl)thioether and bis(4-cyanatephenyl)ether; polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolac and cresol novolac; A prepolymer etc. in which these cyanate resins were partially triazine-ized are mentioned. As a specific example of a cyanate ester type hardening|curing agent, "PT30" and "PT60" by Ronza Japan (all are phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resin); "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resin); "BA230" and "BA230S75" (prepolymer in which a part or all of bisphenol A dicyanate was triazine-ized and became a trimer) etc. are mentioned.

말레이미드계 경화제는, 하기 식 (D-1)로 표시되는 말레이미드기를 분자 중에 함유하는 화합물이다. 말레이미드계 경화제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A maleimide-type hardening|curing agent is a compound containing the maleimide group represented by following formula (D-1) in a molecule|numerator. A maleimide-type hardening|curing agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

Figure pat00012
Figure pat00012

말레이미드계 경화제의 1분자당의 말레이미드기의 수는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 1개 이상, 보다 바람직하게는 2개 이상이고, 더욱 바람직하게는 3개 이상이며, 바람직하게는 10개 이하, 보다 바람직하게 6개 이하, 특히 바람직하게는 3개 이하이다.The number of maleimide groups per molecule of the maleimide-based curing agent is preferably 1 or more, more preferably 2 or more, and still more preferably 3 or more, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. , Preferably it is 10 or less, More preferably, it is 6 or less, Especially preferably, it is 3 or less.

말레이미드계 경화제는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 지방족 탄화수소기 및 방향족 탄화수소기 중 어느 하나를 갖는 것이 바람직하고, 지방족 탄화수소기 및 방향족 탄화수소기를 갖는 것이 보다 바람직하다.From the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, the maleimide-based curing agent preferably has either an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group, and more preferably has an aliphatic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group.

지방족 탄화수소기로서는, 2가의 지방족 탄화수소기가 바람직하고, 2가의 포화 지방족 탄화수소기가 보다 바람직하고, 알킬렌기가 더욱 바람직하다. 알킬렌기로서는, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 3의 알킬렌기가 더욱 바람직하고, 메틸렌기가 특히 바람직하다.As the aliphatic hydrocarbon group, a divalent aliphatic hydrocarbon group is preferable, a divalent saturated aliphatic hydrocarbon group is more preferable, and an alkylene group is still more preferable. As the alkylene group, an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, an alkylene group having 1 to 3 carbon atoms is still more preferable, and a methylene group is particularly preferable. .

방향족 탄화수소기로서는, 1가 및 2가의 방향족 탄화수소기가 바람직하고, 아릴기 및 아릴렌기가 보다 바람직하다. 아릴렌기로서는, 탄소 원자수 6 내지 30의 아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기가 더욱 바람직하다. 이러한 아릴렌기로서는, 예를 들어, 페닐렌기, 나프틸렌기, 안트라세닐렌기, 아랄킬기, 비페닐렌기, 비페닐아랄킬기 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 페닐렌기, 아랄킬기, 비페닐렌기, 비페닐아랄킬기가 바람직하고, 페닐렌기, 아랄킬기, 비페닐렌기가 보다 바람직하다. 아릴기로서는, 탄소 원자수 6 내지 30의 아릴기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴기가 더욱 바람직하고, 페닐기가 특히 바람직하다.As the aromatic hydrocarbon group, monovalent and divalent aromatic hydrocarbon groups are preferable, and an aryl group and an arylene group are more preferable. As the arylene group, an arylene group having 6 to 30 carbon atoms is preferable, an arylene group having 6 to 20 carbon atoms is more preferable, and an arylene group having 6 to 10 carbon atoms is still more preferable. Examples of such an arylene group include a phenylene group, a naphthylene group, an anthracenylene group, an aralkyl group, a biphenylene group, and a biphenylaralkyl group. Among them, a phenylene group, an aralkyl group, a biphenylene group, A biphenyl aralkyl group is preferable, and a phenylene group, an aralkyl group, and a biphenylene group are more preferable. As the aryl group, an aryl group having 6 to 30 carbon atoms is preferable, an aryl group having 6 to 20 carbon atoms is more preferable, an aryl group having 6 to 10 carbon atoms is still more preferable, and a phenyl group is particularly preferable.

말레이미드계 경화제에 있어서, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 말레이미드기의 질소 원자는, 1가 또는 2가의 방향족 탄화수소기와 직접 결합하고 있는 것이 바람직하다. 여기서, 「직접」이란, 말레이미드기의 질소 원자와 방향족 탄화 수소기 사이에 다른 기가 없는 것을 말한다.In the maleimide-based curing agent, it is preferable that the nitrogen atom of the maleimide group is directly bonded to a monovalent or divalent aromatic hydrocarbon group from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. Here, "direct" means that there is no other group between the nitrogen atom of the maleimide group and the aromatic hydrocarbon group.

말레이미드계 경화제는, 예를 들어 하기 식 (D-2)에 의해 표시되는 구조인 것이 바람직하다.It is preferable that a maleimide-type hardening|curing agent has a structure represented, for example by following formula (D-2).

Figure pat00013
Figure pat00013

식 (D-2)에서, R31 및 R36은 말레이미드기를 나타내고, R32, R33, R34 및 R35는, 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 또는 아릴기를 나타내고, D는 각각 독립적으로 2가의 방향족기를 나타낸다. m1 및 m2는 각각 독립적으로 1 내지 10의 정수를 나타내고, a는 1 내지 100의 정수를 나타낸다.In the formula (D-2), R 31 and R 36 represent a maleimide group, R 32 , R 33 , R 34 and R 35 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, or an aryl group, and D is each independently It represents a divalent aromatic group. m1 and m2 each independently represent an integer of 1 to 10, and a represents an integer of 1 to 100.

식 (D-2)에서의 R32, R33, R34 및 R35는, 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 또는 아릴기를 나타내고, 수소 원자가 바람직하다. R 32 , R 33 , R 34 and R 35 in formula (D-2) each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, or an aryl group, and a hydrogen atom is preferable.

알킬기로서는 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 3의 알킬기가 더욱 바람직하다. 알킬기는, 직쇄상, 분지상 또는 환상이라도 좋다. 이러한 알킬기로서는 예를 들어 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 이소프로필기 등을 들 수 있다.As the alkyl group, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is still more preferable. The alkyl group may be linear, branched, or cyclic. Examples of such an alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, and an isopropyl group.

아릴기는, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 15의 아릴기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴기가 더욱 바람직하다. 아릴기는, 단환이라도 좋고, 축합환이라도 좋다. 이러한 아릴기로서는, 예를 들어, 페닐기, 나프틸기, 안트라세닐기 등을 들 수 있다.The aryl group is preferably an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, more preferably an aryl group having 6 to 15 carbon atoms, and still more preferably an aryl group having 6 to 10 carbon atoms. A monocyclic ring may be sufficient as an aryl group, and a condensed ring may be sufficient as it. As such an aryl group, a phenyl group, a naphthyl group, anthracenyl group etc. are mentioned, for example.

알킬기 및 아릴기는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 예를 들어, 할로겐 원자, -OH, -O-C1-6알킬기, -N(C1-10알킬기)2, C1-10알킬기, C6-10아릴기, -NH2, -CN, -C(O)O-C1-10알킬기, -COOH, -C(O)H, -NO2 등을 들 수 있다. 여기서, 「Cp-q」(p 및 q는 양의 정수이고, p<q를 충족시킨다)란 용어는, 이 용어의 직후에 기재된 유기기의 탄소 원자수가 p 내지 q인 것을 나타낸다. 예를 들어, 「C1-10알킬기」란 표현은, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬기를 나타낸다. 이들 치환기는, 서로 결합하여 환을 형성하고 있어도 좋고, 환 구조는, 스피로환이나 축합환도 포함한다.The alkyl group and the aryl group may have a substituent. Examples of the substituent include a halogen atom, -OH, -OC 1-6 alkyl group, -N(C 1-10 alkyl group) 2 , C 1-10 alkyl group, C 6-10 aryl group, -NH 2 , -CN , -C(O)OC 1-10 alkyl group, -COOH, -C(O)H, -NO 2 etc. are mentioned. Here, the term "C pq " (p and q are positive integers and satisfy p < q) indicates that the number of carbon atoms in the organic group described immediately after this term is p to q. For example, the expression "C 1-10 alkyl group" represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. These substituents may combine with each other to form a ring, and the ring structure also includes a spiro ring and a condensed ring.

식 (D-2)에서의 D는 2가의 방향족기를 나타낸다. 2가의 방향족기로서는, 예를 들어, 페닐렌기, 프틸렌기, 안트라세닐렌기, 아랄킬기, 비페닐렌기, 비페닐아랄킬기 등을 들 수 있고, 그 중에서도, 비페닐렌기, 비페닐아랄킬기가 바람직하고, 비페닐렌기가 보다 바람직하다. 2가의 방향족기는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 식 (D-2)에서의 R32가 나타내는 알킬기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하다.D in Formula (D-2) represents a divalent aromatic group. Examples of the divalent aromatic group include a phenylene group, a pthylene group, an anthracenylene group, an aralkyl group, a biphenylene group, and a biphenylaralkyl group, and among these, a biphenylene group and a biphenylaralkyl group are preferable. and a biphenylene group is more preferable. The divalent aromatic group may have a substituent. The substituent is the same as the substituent which the alkyl group represented by R 32 in the formula (D-2) may have.

m1 및 m2는 각각 독립적으로 1 내지 10의 정수를 나타내고, 바람직하게는 1 내지 6, 보다 바람직하게는 1 내지 3, 더욱 바람직하게는 1 내지 2이며, 1이 보다 더 바람직하다.m1 and m2 each independently represent an integer of 1 to 10, preferably 1 to 6, more preferably 1 to 3, still more preferably 1 to 2, and still more preferably 1.

a는 1 내지 100의 정수를 나타내고, 바람직하게는 1 내지 50, 보다 바람직하게는 1 내지 20, 더욱 바람직하게는 1 내지 5이다.a represents the integer of 1-100, Preferably it is 1-50, More preferably, it is 1-20, More preferably, it is 1-5.

말레이미드계 경화제로서는 식 (D-3)으로 표시되는 수지가 바람직하다.As a maleimide-type hardening|curing agent, resin represented by Formula (D-3) is preferable.

Figure pat00014
Figure pat00014

식 (D-3)에서, R37 및 R38은 말레이미드기를 나타낸다. a1은 1 내지 100의 정수를 나타낸다.In the formula (D-3), R 37 and R 38 represent a maleimide group. a1 represents the integer of 1-100.

a1은, 식 (D-2)에서의 a와 동일하고, 바람직한 범위도 동일하다.a1 is the same as a in Formula (D-2), and a preferable range is also the same.

이러한 말레이미드계 경화제는, 시판품을 사용할 수 있다. 시판품으로서는, 예를 들어, 닛폰 카야쿠사 제조의 「MIR-3000-70MT」 등을 들 수 있다.A commercial item can be used for such a maleimide-type hardening|curing agent. As a commercial item, "MIR-3000-70MT" by Nippon Kayaku Co., Ltd. etc. is mentioned, for example.

또한, 말레이미드계 경화제의 다른 실시형태로서는, 마레이미드기를 분자 중에 적어도 1개 갖는 화합물이다.Moreover, as another embodiment of a maleimide-type hardening|curing agent, it is a compound which has at least 1 maleimide group in a molecule|numerator.

이 말레이미드계 경화제에 있어서, 탄소 원자수가 5 이상의 지방족기는, 말레이미드기의 질소 원자에 직접 결합하고 있는 것이 바람직하다. 탄소 원자수가 5이상의 지방족기로서는, 예를 들어, 알킬기, 알킬렌기, 알케닐렌기 등을 들 수 있다.In this maleimide-type hardening|curing agent, it is preferable that the C5 or more aliphatic group is directly couple|bonded with the nitrogen atom of the maleimide group. Examples of the aliphatic group having 5 or more carbon atoms include an alkyl group, an alkylene group, and an alkenylene group.

말레이미드계 경화제의 1분자당의 말레이미드기의 수는, 1개라도 좋지만, 바람직하게는 2개 이상이며, 바람직하게는 10개 이하, 보다 바람직하게 6개 이하, 특히 바람직하게는 3개 이하이다. 1분자당 2개 이상의 말레이미드기를 갖는 말레이미드계 경화제를 사용함으로써, 본 발명의 효과를 현저히 얻을 수 있다.The number of maleimide groups per molecule of the maleimide-based curing agent may be one, but is preferably two or more, preferably 10 or less, more preferably 6 or less, particularly preferably 3 or less. . By using a maleimide-based curing agent having two or more maleimide groups per molecule, the effects of the present invention can be significantly obtained.

말레이미드계 경화제는, 하기 일반식 (D-4)로 표시되는 것이 바람직하다.It is preferable that a maleimide-type hardening|curing agent is represented by the following general formula (D-4).

Figure pat00015
Figure pat00015

일반식 (D-4)에서, M은 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타내고, L은 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다.In the general formula (D-4), M represents a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent, and L represents a single bond or a divalent linking group.

M은, 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타낸다. 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기의 탄소 원자수는 바람직하게는 6 이상, 보다 바람직하게는 8 이상, 바람직하게는 50 이하, 보다 바람직하게는 45 이하, 더욱 바람직하게는 40 이하이다. 2가의 지방족기로서는, 예를 들어, 알킬렌기, 알케닐렌기 등을 들 수 있다. M의 치환기로서는, 식 (D-2)에서의 R32가 나타내는 알킬기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하고, 치환기는 바람직하게는 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기이다.M represents a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent. The number of carbon atoms in the divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms is preferably 6 or more, more preferably 8 or more, preferably 50 or less, more preferably 45 or less, still more preferably 40 or less. As a divalent aliphatic group, an alkylene group, an alkenylene group, etc. are mentioned, for example. The substituent for M is the same as the substituent which the alkyl group represented by R 32 in the formula (D-2) may have, and the substituent is preferably an alkyl group having 5 or more carbon atoms.

L은 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다. 2가의 연결기로서는, 알킬렌기, 알케닐렌기, 알키닐렌기, 아릴렌기, -C(=O)-, -C(=O)-O-, -NR0-(R0는 수소 원자, 탄소 원자수 1 내지 3의 알킬기), 산소 원자, 유황 원자, C(=O)NR0-, 프탈이미드 유래의 2가의 기, 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기, 및 이들 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기 등을 들 수 있다. 알킬렌기, 알케닐렌기, 알키닐렌기, 아릴렌기, 프탈이미드 유래의 2가의 기, 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기,및 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기는, 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기를 치환기로서 갖고 있어도 좋다. 프탈이미드 유래의 2가의 기란, 프탈이미드로부터 유도되는 2가의 기를 나타내고, 구체적으로는 일반식 (D-5)로 표시되는 기이다. 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기란, 피로멜리트산 디이미도로부터 유도되는 2가의 기를 나타내고, 구체적으로는 일반식 (D-6)으로 표시되는 기이다. 식에서, 「*」는 결합손을 나타낸다.L represents a single bond or a divalent linking group. Examples of the divalent linking group include an alkylene group, an alkenylene group, an alkynylene group, an arylene group, -C(=O)-, -C(=O)-O-, -NR 0 -(R 0 is a hydrogen atom, a carbon atom 1 to 3 alkyl group), an oxygen atom, a sulfur atom, C(=O)NR 0 -, a divalent group derived from phthalimide, a divalent group derived from pyromellitic acid diimide, and two or more kinds of divalent groups The group which consists of a combination of groups, etc. are mentioned. A group consisting of a combination of an alkylene group, an alkenylene group, an alkynylene group, an arylene group, a divalent group derived from phthalimide, a divalent group derived from pyromellitic acid diimide, and two or more types of divalent groups has the number of carbon atoms You may have 5 or more alkyl groups as a substituent. The divalent group derived from phthalimide represents a divalent group derived from phthalimide, and is specifically a group represented by the general formula (D-5). The divalent group derived from pyromellitic acid diimide represents a divalent group derived from pyromellitic acid diimido, and is specifically a group represented by the general formula (D-6). In the formula, "*" represents a bond.

Figure pat00016
Figure pat00016

L에서의 2가의 연결기로서의 알킬렌기는, 탄소 원자수 1 내지 50의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 45의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 40의 알킬렌기가 특히 바람직하다. 이 알킬렌기는, 직쇄상, 분기쇄상, 환상 중 어느것이라도 좋다. 이러한 알킬렌기로서는, 예를 들어, 메틸에틸렌기, 사이클로헥실렌기, 펜틸렌기, 헥실렌기, 헵틸렌기, 옥틸렌기, 노닐렌기, 데실렌기, 운데실렌기, 도데실렌기, 트리데실렌기, 헵타데실렌기, 헥사트리아콘틸렌기, 옥틸렌-사이클로헥실렌 구조를 갖는 기, 옥틸렌-사이클로헥실렌-옥틸렌 구조를 갖는 기, 프로필렌-사이클로헥실렌-옥틸렌 구조를 갖는 기 등을 들 수 있다.The alkylene group as the divalent linking group in L is preferably an alkylene group having 1 to 50 carbon atoms, more preferably an alkylene group having 1 to 45 carbon atoms, particularly preferably an alkylene group having 1 to 40 carbon atoms. do. Any of linear, branched, and cyclic|annular form may be sufficient as this alkylene group. Examples of such an alkylene group include a methylethylene group, a cyclohexylene group, a pentylene group, a hexylene group, a heptylene group, an octylene group, a nonylene group, a decylene group, an undecylene group, a dodecylene group, and a tridecylene group. , a heptadecylene group, a hexatriacontylene group, a group having an octylene-cyclohexylene structure, a group having an octylene-cyclohexylene-octylene structure, a group having a propylene-cyclohexylene-octylene structure, etc. can be heard

L에서의 2가의 연결기로서의 알케닐렌기는, 탄소 원자수 2 내지 20의 알케닐렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 15의 알케닐렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 10의 알케닐렌기가 특히 바람직하다. 이 알케닐렌기는, 직쇄상, 분기쇄상, 환상 중 어느 것이라도 좋다. 이러한 알케닐렌기로서는, 예를 들어, 메틸에틸레닐렌기, 사이클로헥세닐렌기, 펜테닐렌기, 헥세닐렌기, 헵테닐렌기, 옥테닐렌기 등을 들 수 있다.The alkenylene group as the divalent linking group in L is preferably an alkenylene group having 2 to 20 carbon atoms, more preferably an alkenylene group having 2 to 15 carbon atoms, particularly preferably an alkenylene group having 2 to 10 carbon atoms. do. The alkenylene group may be linear, branched or cyclic. Examples of the alkenylene group include a methylethylenylene group, a cyclohexenylene group, a pentenylene group, a hexenylene group, a heptenylene group, and an octenylene group.

L에서의 2가의 연결기로서의 알키닐렌기는, 탄소 원자수 2 내지 20의 알키닐렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 15의 알키닐렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 10의 알키닐렌기가 특히 바람직하다. 이 알키닐렌기는, 직쇄상, 분기쇄상, 환상 중 어느 것이라도 좋다. 이러한 알키닐렌기로서는, 예를 들어, 메틸에티닐렌기, 사이클로헥시닐렌기, 펜티닐렌기, 헥시닐렌기, 헵티닐렌기, 옥티닐렌기 등을 들 수 있다.The alkynylene group as the divalent linking group in L is preferably an alkynylene group having 2 to 20 carbon atoms, more preferably an alkynylene group having 2 to 15 carbon atoms, particularly preferably an alkynylene group having 2 to 10 carbon atoms. do. Any of linear, branched, and cyclic|annular form may be sufficient as this alkynylene group. Examples of such alkynylene group include methylethynylene group, cyclohexynylene group, pentynylene group, hexynylene group, heptynylene group, and octynylene group.

L에서의 2가의 연결기로서의 아릴렌기는, 탄소 원자수 6 내지 24의 아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 18의 아릴렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 14의 아릴렌기가 더욱 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기가 보다 더 바람직하다. 아릴렌기로서는, 예를 들어, 페닐렌기, 나프틸렌기, 안트라세닐렌기 등을 들 수 있다.The arylene group as the divalent linking group in L is preferably an arylene group having 6 to 24 carbon atoms, more preferably an arylene group having 6 to 18 carbon atoms, still more preferably an arylene group having 6 to 14 carbon atoms. and an arylene group having 6 to 10 carbon atoms is more preferable. As an arylene group, a phenylene group, a naphthylene group, anthracenylene group, etc. are mentioned, for example.

L에서의 2가의 연결기인 알킬렌기, 알케닐렌기, 알키닐렌기, 및 아릴렌기는 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 식 (D-2)에서의 R32가 나타내는 알킬기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하고, 바람직하게는 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기이다.The alkylene group, alkenylene group, alkynylene group, and arylene group which are divalent coupling groups in L may have a substituent. As a substituent, the formula (D-2) R 32 is an alkyl group which may have the same as the substituents, and preferably represents on the number of carbon atoms is an alkyl group of 5 or more.

L에서의 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기로서는, 예를 들어, 알킬렌기, 프탈이미드 유래의 2가의 기 및 산소 원자와의 조합으로 이루어진 2가의 기; 프탈이미드 유래의 2가의 기, 산소 원자, 아릴렌기 및 알킬렌기의 조합으로 이루어진 2가의 기; 알킬렌기 및 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기의 조합으로 이루어진 2가의 기 등을 들 수 있다. 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기는, 각각의 기의 조합에 의해 축합환 등의 환을 형성해도 좋다. 또한, 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기는, 반복 단위 수가 1 내지 10의 반복 단위라도 좋다.Examples of the group consisting of a combination of two or more divalent groups in L include a divalent group consisting of a combination of an alkylene group, a divalent group derived from phthalimide and an oxygen atom; a divalent group consisting of a combination of a phthalimide-derived divalent group, an oxygen atom, an arylene group, and an alkylene group; and a divalent group composed of a combination of an alkylene group and a divalent group derived from pyromellitic diimide. The group which consists of a combination of 2 or more types of divalent groups may form rings, such as a condensed ring, by combining each group. Moreover, the number of repeating units of 1-10 may be sufficient as the group which consists of a combination of 2 or more types of divalent groups.

그 중에서도, 일반식 (D-4)에서의 L로서는, 산소 원자, 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수 6 내지 24의 아릴렌기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 1 내지 50의 알킬렌기, 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기, 프탈이미드 유래의 2가의 기, 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기, 또는 이들 기의 2 이상의 조합으로 이루어진 2가의 기인 것이 바람직하다. 그 중에서도, L로서는, 알킬렌기; 알킬렌기-프탈이미드 유래의 2가의 기-산소 원자-프탈이미드 유래의 2가의 기의 구조를 갖는 2가의 기; 알킬렌기-프탈이미드 유래의 2가의 기-산소 원자-아릴렌기-알킬렌기-아릴렌기-산소 원자-프탈이미드 유래의 2가의 기의 구조를 갖는 2가의 기; 알킬렌-피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기의 구조를 갖는 2가의 기가 보다 바람직하다.Among them, as L in the general formula (D-4), an oxygen atom, an arylene group having 6 to 24 carbon atoms which may have a substituent, an alkylene group having 1 to 50 carbon atoms which may have a substituent, and a carbon atom It is preferable that the number is a divalent group consisting of an alkyl group of 5 or more, a divalent group derived from phthalimide, a divalent group derived from pyromellitic acid diimide, or a combination of two or more of these groups. Among them, examples of L include an alkylene group; a divalent group having the structure of an alkylene group-phthalimide-derived divalent group-oxygen atom-phthalimide-derived divalent group; a divalent group having the structure of an alkylene group-phthalimide-derived divalent group-oxygen atom-arylene group-alkylene group-arylene group-oxygen atom-phthalimide-derived divalent group; A divalent group having a structure of a divalent group derived from alkylene-pyromellitic diimide is more preferable.

일반식 (D-4)로 표시되는 말레이미드계 경화제는, 일반식 (D-7)로 표시되는 것이 바람직하다.It is preferable that the maleimide-type hardening|curing agent represented by general formula (D-4) is represented by general formula (D-7).

Figure pat00017
Figure pat00017

일반식 (D-7)에서, M1은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타내고, Z는 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 알킬렌기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 방향환을 갖는 2가의 기를 나타낸다. t는 1 내지 10의 정수를 나타낸다.In the general formula (D-7), M 1 each independently represents a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent, and Z each independently represents an alkylene group or substituent having 5 or more carbon atoms which may have a substituent represents a divalent group having an aromatic ring which may have t represents the integer of 1-10.

M1은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타낸다. M1은, 일반식 (D-4)에서의 M과 동일하고, 알킬렌기, 또는 알케닐렌기를 나타낸다.M 1 each independently represents a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent. M 1 is the same as M in general formula (D-4), and represents an alkylene group or an alkenylene group.

Z는 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 알킬렌기 또는 치환기를 갖고 있어도 좋은 방향환을 갖는 2가의 기를 나타낸다. Z에서의 알킬렌기로서는, 쇄상, 분기쇄상, 환상 중 어느 것이라도 좋고, 그 중에서도 환상, 즉 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 환상의 알킬렌기가 바람직하다. 알킬렌기의 탄소 원자수는 바람직하게는 6 이상, 보다 바람직하게는 8 이상, 바람직하게는 50 이하, 보다 바람직하게는 45 이하, 더욱 바람직하게는 40 이하이다. 이러한 알킬렌기로서는, 예를 들어, 옥틸렌-사이클로헥실렌 구조를 갖는 기, 옥틸렌-사이클로헥실렌-옥틸렌 구조를 갖는 기, 프로필렌-사이클로헥실렌-옥틸렌 구조를 갖는 기 등을 들 수 있다.Z each independently represents an alkylene group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent or a divalent group having an aromatic ring which may have a substituent. As the alkylene group for Z, any of chain, branched, and cyclic may be used, and among them, a cyclic, that is, a cyclic alkylene group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent is preferable. The number of carbon atoms in the alkylene group is preferably 6 or more, more preferably 8 or more, preferably 50 or less, more preferably 45 or less, still more preferably 40 or less. Examples of such an alkylene group include a group having an octylene-cyclohexylene structure, a group having an octylene-cyclohexylene-octylene structure, and a group having a propylene-cyclohexylene-octylene structure. have.

Z가 나타내는 방향환을 갖는 2가의 기에서의 방향환으로서는, 예를 들어, 벤젠환, 나프탈렌환, 안트라센환, 프탈이미드환, 피로멜리트산 디이미드환, 방향족 복소환 등을 들 수 있고, 벤젠환, 프탈이미드환, 피로멜리트산 디이미드환이 바람직하다. 즉, 방향환을 갖는 2가의 기로서는, 치환기를 갖고 있어도 좋은 벤젠환을 갖는 2가의 기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 프탈이미드환을 갖는 2가의 기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 피로멜리트산 디이미드환을 갖는 2가의 기가 바람직하다. 방향환을 갖는 2가의 기로서는, 예를 들어, 프탈이미드 유래의 2가의 기 및 산소 원자와의 조합으로 이루어진 기; 프탈이미드 유래의 2가의 기, 산소 원자, 아릴렌기 및 알킬렌기의 조합으로 이루어진 기; 알킬렌기 및 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기; 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기; 프탈이미드 유래의 2가의 기 및 알킬렌기의 조합으로 이루어진 기 등을 들 수 있다. 상기 아릴렌기 및 알킬렌기는, 일반식 (F-4)의 L이 나타내는 2가의 연결기에서의 아릴렌기 및 알킬렌기와 동일하다.Examples of the aromatic ring in the divalent group having an aromatic ring represented by Z include a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring, a phthalimide ring, a pyromellitic acid diimide ring, and an aromatic heterocycle, A benzene ring, a phthalimide ring, and a pyromellitic acid diimide ring are preferable. That is, the divalent group having an aromatic ring is a divalent group having a benzene ring which may have a substituent, a divalent group having an optionally substituted phthalimide ring, and a pyromellitic acid diimide ring which may have a substituent. A divalent group having Examples of the divalent group having an aromatic ring include a group composed of a combination of a divalent group derived from phthalimide and an oxygen atom; a group consisting of a combination of a divalent group derived from phthalimide, an oxygen atom, an arylene group, and an alkylene group; a group consisting of a combination of an alkylene group and a divalent group derived from pyromellitic acid diimide; a divalent group derived from pyromellitic acid diimide; The group which consists of a combination of the divalent group derived from a phthalimide, and an alkylene group, etc. are mentioned. The arylene group and the alkylene group are the same as the arylene group and the alkylene group in the divalent linking group represented by L in the general formula (F-4).

Z가 나타내는, 알킬렌기 및 방향환을 갖는 2가의 기는 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 일반식 (D-2)에서의 R32가 나타내는 알킬기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하다.The divalent group which has an alkylene group and an aromatic ring which Z represents may have a substituent. The substituent is the same as the substituent which the alkyl group represented by R 32 in the general formula (D-2) may have.

Z가 나타내는 기의 구체예로서는 이하의 기를 들 수 있다. 식에서, 「*」는 결합손을 나타낸다.Specific examples of the group represented by Z include the following groups. In the formula, "*" represents a bond.

Figure pat00018
Figure pat00018

Figure pat00019
Figure pat00019

일반식 (D-4)로 표시되는 말레이미드계 경화제는, 일반식 (D-8)로 표시되는 말레이미드계 경화제, 및 일반식 (D-9)로 표시되는 말레이미드계 경화제 중 어느 하나인 것이 바람직하다.The maleimide-based curing agent represented by the general formula (D-4) is any one of a maleimide-based curing agent represented by the general formula (D-8) and a maleimide-based curing agent represented by the general formula (D-9) it is preferable

Figure pat00020
Figure pat00020

일반식 (D-8)에서, M2 및 M3은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타내고, R40은 각각 독립적으로, 산소 원자, 아릴렌기, 알킬렌기, 또는 이들 기의 2 이상의 조합으로 이루어진 2가의 기를 나타낸다. t1은 1 내지 10의 정수를 나타낸다. In the general formula (D-8), M 2 and M 3 each independently represents a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent, and R 40 each independently represents an oxygen atom, an arylene group, an alkylene group, or a divalent group composed of a combination of two or more of these groups. t1 represents the integer of 1-10.

일반식 (D-9)에서, M4, M6 및 M7은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5이상의 2가의 지방족기를 나타내고, M5는 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 방향환을 갖는 2가의 기를 나타내고, R41 및 R42는 각각 독립적으로 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기를 나타낸다. t2는 0 내지 10의 정수를 나타내고, u1 및 u2는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수를 나타낸다.In the general formula (D-9), M 4 , M 6 and M 7 each independently represent a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent, and M 5 is each independently an aromatic ring which may have a substituent represents a divalent group having , and R 41 and R 42 each independently represent an alkyl group having 5 or more carbon atoms. t2 represents an integer of 0 to 10, and u1 and u2 each independently represent an integer of 0 to 4.

M2 및 M3은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기를 나타낸다. M2 및 M3은, 일반식 (D-4)에서의 M이 나타내는 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기와 동일하고, 알킬렌기, 또는 알케닐렌기를 나타내고, 헥사트리아콘틸렌기, 헥사트리아콘틸렌기가 바람직하다.M 2 and M 3 each independently represent a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent. M 2 and M 3 are the same as the divalent aliphatic group in which the number of carbon atoms represented by M in the general formula (D-4) is 5 or more, and represents an alkylene group or an alkenylene group, and is a hexatriacontylene group or a hexatriacontylene group. group is preferred.

R40은 각각 독립적으로, 산소 원자, 아릴렌기, 알킬렌기, 또는 이들 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기를 나타낸다. 아릴렌기, 알킬렌기는, 일반식 (F-4)의 L이 나타내는 2가의 연결기에서의 아릴렌기 및 알킬렌기와 동일하다. R40으로서는, 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기 또는 산소 원자인 것이 바람직하다.R 40 each independently represents an oxygen atom, an arylene group, an alkylene group, or a group consisting of a combination of two or more kinds of divalent groups thereof. The arylene group and the alkylene group are the same as the arylene group and the alkylene group in the divalent coupling group represented by L in the general formula (F-4). R 40 is preferably a group or an oxygen atom composed of a combination of two or more divalent groups.

R40에서의 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기로서는, 산소 원자, 아릴렌기, 및 알킬렌기의 조합을 들 수 있다. 2종 이상의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기의 구체예로서는 이하의 기를 들 수 있다. 식에서, 「*」는 결합손을 나타낸다.As a group which consists of a combination of 2 or more types of divalent group in R<40> , the combination of an oxygen atom, an arylene group, and an alkylene group is mentioned. The following groups are mentioned as a specific example of the group which consists of a combination of 2 or more types of divalent groups. In the formula, "*" represents a bond.

Figure pat00021
Figure pat00021

M4, M6 및 M7은 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5이상의 2가의 지방족기를 나타낸다. M4, M6 및 M7은, 일반식 (D-4)에서의 M이 나타내는 치환기를 갖고 있어도 좋은 탄소 원자수가 5 이상의 2가의 지방족기와 동일하고, 알킬렌기, 또는 알케닐렌기를 나타내고, 헥실렌기, 헵틸렌기, 옥틸렌기, 노닐렌기, 데실렌기가 바람직하고, 옥틸렌기가 보다 바람직하다.M 4 , M 6 and M 7 each independently represent a divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent. M 4 , M 6 and M 7 are the same as the divalent aliphatic group having 5 or more carbon atoms which may have a substituent represented by M in the general formula (D-4), and represent an alkylene group or an alkenylene group, and hexylene A group, a heptylene group, an octylene group, a nonylene group, and a decylene group are preferable, and an octylene group is more preferable.

M5는 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 방향환을 갖는 2가의 기를 나타낸다. M5는, 일반식 (D-7)에서의 Z가 나타내는 치환기를 갖고 있어도 좋은 방향환을 갖는 2가의 기와 동일하고, 알킬렌기 및 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기; 프탈이미드 유래의 2가의 기 및 알킬렌기의 조합으로 이루어진 기가 바람직하고, 알킬렌기 및 피로멜리트산 디이미드 유래의 2가의 기의 조합으로 이루어진 기가 보다 바람직하다. 상기 아릴렌기 및 알킬렌기는, 일반식 (D-4)에서의 L이 나타내는 2가의 연결기에서의 아릴렌기 및 알킬렌기와 동일하다.M 5 each independently represents a divalent group having an aromatic ring which may have a substituent. M 5 is the same as the divalent group having an aromatic ring which may have a substituent represented by Z in the general formula (D-7), and is a group consisting of a combination of an alkylene group and a divalent group derived from pyromellitic diimide; A group consisting of a combination of a divalent group derived from phthalimide and an alkylene group is preferable, and a group consisting of a combination of an alkylene group and a divalent group derived from pyromellitic diimide is more preferable. The arylene group and the alkylene group are the same as the arylene group and the alkylene group in the divalent linking group represented by L in the general formula (D-4).

M5가 나타내는 기의 구체예로서는 예를 들어 이하의 기를 들 수 있다. 식에서, 「*」는 결합손을 나타낸다.Specific examples of the group represented by M 5 include the following groups. In the formula, "*" represents a bond.

Figure pat00022
Figure pat00022

R41 및 R42는 각각 독립적으로 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기를 나타낸다. R41 및 R42는, 상기한 탄소 원자수가 5 이상의 알킬기와 동일하고, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기가 바람직하고, 헥실기, 옥틸기가 보다 바람직하다.R 41 and R 42 each independently represent an alkyl group having 5 or more carbon atoms. R 41 and R 42 are the same as the above-described alkyl group having 5 or more carbon atoms, preferably a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group or a decyl group, and more preferably a hexyl group or an octyl group.

u1 및 u2는 각각 독립적으로 1 내지 15의 정수를 나타내고, 1 내지 10의 정수가 바람직하다.u1 and u2 each independently represent the integer of 1-15, The integer of 1-10 is preferable.

말레이미드계 경화제의 구체예로서는 이하의 (D1) 내지 (D3)의 화합물을 들 수 있다. 단, 말레이미드계 경화제는 이들 구체예에 한정되는 것은 아니다. 식에서, v는 1 내지 10의 정수를 나타낸다.As a specific example of a maleimide-type hardening|curing agent, the compound of the following (D1)-(D3) is mentioned. However, the maleimide-based curing agent is not limited to these specific examples. In the formula, v represents an integer from 1 to 10.

Figure pat00023
Figure pat00023

Figure pat00024
Figure pat00024

말레이미드계 경화제의 구체예로서는, DMI사 제조의 「BMI1500」(식 (D1)의 화합물), 「BMI1700」(식 (D2)의 화합물), 「BMI689」(식 (D3)의 화합물) 등을 들 수 있다.Specific examples of the maleimide-based curing agent include "BMI1500" (compound of formula (D1)) manufactured by DMI, "BMI1700" (compound of formula (D2)), "BMI689" (compound of formula (D3)), etc. can

말레이미드계 경화제의 말레이미드기 당량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 50g/eq. 내지 2000g/eq., 보다 바람직하게는 100g/eq. 내지 1000g/eq., 더욱 바람직하게는 150g/eq. 내지 500g/eq.이다. 말레이미드기 당량은, 1당량의 말레이미드기를 포함하는 말레이미드계 경화제의 질량이다.The maleimide group equivalent of the maleimide-based curing agent is preferably 50 g/eq. to 2000 g/eq., more preferably 100 g/eq. to 1000 g/eq., more preferably 150 g/eq. to 500 g/eq. Maleimide group equivalent is the mass of the maleimide-type hardening|curing agent containing 1 equivalent of maleimide group.

폴리페닐렌 에테르계 경화제는 비닐페닐기를 갖는 경화제이다. 비닐페닐기란, 이하에 나타내는 구조를 갖는 기이다.The polyphenylene ether-based curing agent is a curing agent having a vinylphenyl group. A vinylphenyl group is group which has a structure shown below.

Figure pat00025
Figure pat00025

(*는 결합손을 나타낸다)(* indicates a bond)

폴리페닐렌 에테르계 경화제는, 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 관점에서, 1분자당 2개 이상의 비닐페닐기를 갖는 것이 바람직하다.The polyphenylene ether-based curing agent preferably has two or more vinylphenyl groups per molecule from the viewpoint of obtaining a cured product having a low dielectric loss tangent.

폴리페닐렌 에테르계 경화제는, 유전 정접이 낮은 경화물을 얻는 관점에서, 환상 구조를 갖는 것이 바람직하다. 환상 구조로서는, 2가의 환상기가 바람직하다. 2가의 환상기로서는, 지환식 구조를 포함하는 환상기 및 방향환 구조를 포함하는 환상기 중 어느 것이라도 좋다. 또한, 2가의 환상기는, 복수 갖고 있어도 좋다.The polyphenylene ether-based curing agent preferably has a cyclic structure from the viewpoint of obtaining a cured product having a low dielectric loss tangent. As a cyclic structure, a bivalent cyclic group is preferable. As the divalent cyclic group, any of a cyclic group containing an alicyclic structure and a cyclic group containing an aromatic ring structure may be used. Moreover, you may have two or more bivalent cyclic groups.

2가의 환상기는, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 3원환 이상, 보다 바람직하게는 4원환 이상, 더욱 바람직하게는 5원환 이상이고, 바람직하게는 20원환 이하, 보다 바람직하게는 15원환 이하, 더욱 바람직하게는 10원환 이하이다. 또한, 2가의 환상기로서는, 단환 구조라도 좋고 다환 구조라도 좋다. From the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention, the divalent cyclic group is preferably a 3-membered ring or more, more preferably a 4-membered ring or more, still more preferably a 5-membered ring or more, preferably a 20-membered ring or less, more preferably is a 15-membered ring or less, more preferably a 10-membered ring or less. In addition, as a bivalent cyclic group, a monocyclic structure may be sufficient or a polycyclic structure may be sufficient.

2가의 환상기에서의 환은, 탄소 원자 이외에 헤테로 원자에 의해 환의 골격이 구성되어 있어도 좋다. 헤테로 원자로서는, 예를 들어, 산소 원자, 유황 원자, 질소 원자 등을 들 수 있고, 산소 원자가 바람직하다. 헤테로 원자는 상기의 환에 1개 갖고 있어도 좋고, 2개 이상을 갖고 있어도 좋다.As for the ring in the divalent cyclic group, the skeleton of the ring may be constituted by hetero atoms other than carbon atoms. As a hetero atom, an oxygen atom, a sulfur atom, a nitrogen atom, etc. are mentioned, for example, An oxygen atom is preferable. The hetero atom may have one in said ring, and may have two or more.

2가의 환상기의 구체예로서는 하기의 2가의 기 (i) 또는 (ii)를 들 수 있다.Specific examples of the divalent cyclic group include the following divalent groups (i) or (ii).

Figure pat00026
Figure pat00026

(2가의 기 (i), (ii)에서, R51, R52, R55, R56, R57, R61, 및 R62는, 각각 독립적으로 할로겐 원자, 탄소 원자수가 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타내고, R53, R54, R58, R59, 및 R60은, 각각 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 탄소 원자수 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타낸다)(in divalent groups (i) and (ii), R 51 , R 52 , R 55 , R 56 , R 57 , R 61 , and R 62 are each independently a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms; or a phenyl group, and R 53 , R 54 , R 58 , R 59 , and R 60 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group)

할로겐 원자로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자를 들 수 있다. 탄소 원자수가 6 이하의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기 등을 들 수 있고, 메틸기인 것이 바람직하다. R51, R52, R55, R56, R57, R61, 및 R62로서는, 메틸기를 나타내는 것이 바람직하다. R53, R54, R58, R59, 및 R60은, 수소 원자 또는 메틸기인 것이 바람직하다.Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom. A methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group etc. are mentioned as a C6 or less alkyl group, It is preferable that it is a methyl group. R 51 , R 52 , R 55 , R 56 , R 57 , R 61 , and R 62 preferably represent a methyl group. R 53 , R 54 , R 58 , R 59 , and R 60 are preferably a hydrogen atom or a methyl group.

또한, 2가의 환상기는 복수의 2가의 환상기를 조합해도 좋다. 2가의 환상기를 조합한 경우의 구체예로서는 하기의 식 (D4)로 표시되는 2가의 환상기를 들 수 있다.Moreover, a bivalent cyclic group may combine several divalent cyclic group. As a specific example in the case of combining a bivalent cyclic group, the divalent cyclic group represented by a following formula (D4) is mentioned.

Figure pat00027
Figure pat00027

(식 (D4)에서, R71, R72, R75, R76, R77, R81, R82, R85 및 R86은, 각각 독립적으로 할로겐 원자, 탄소 원자수가 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타내고, R73, R74, R78, R79, R80, R83 및 R84는, 각각 독립적으로 수소 원자, 할로겐 원자, 탄소 원자수 6 이하의 알킬기, 또는 페닐기를 나타낸다. d1 및 d2는, 0 내지 300의 정수를 나타낸다. 단, d1 및 d2의 한쪽은 0일 경우를 제외한다)(In formula (D4), R 71 , R 72 , R 75 , R 76 , R 77 , R 81 , R 82 , R 85 and R 86 are each independently a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or represents a phenyl group, and R 73 , R 74 , R 78 , R 79 , R 80 , R 83 and R 84 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group. d2 represents an integer from 0 to 300. However, the case where either of d1 and d2 is 0 is excluded)

R71, R72, R85 및 R86은 식 (i)의 R51과 동일하다. R73, R74, R83 및 R84는 식 (i)의 R53과 동일하다. R75, R76, R77, R81, 및 R82는 식 (ii)의 R55와 동일하다. R78, R79, 및 R80은 식 (ii)의 R58과 동일하다.R 71 , R 72 , R 85 and R 86 are the same as R 51 in formula (i). R 73 , R 74 , R 83 and R 84 are the same as R 53 in formula (i). R 75 , R 76 , R 77 , R 81 , and R 82 are the same as R 55 in formula (ii). R 78 , R 79 , and R 80 are the same as R 58 in formula (ii).

d1 및 d2는 0 내지 300의 정수를 나타낸다. 단, d1 및 d2의 한쪽은 0인 경우를 제외한다. d1 및 d2로서는, 1 내지 100의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 1 내지 50의 정수를 나타내는 것이 보다 바람직하고, 1 내지 10의 정수를 나타내는 것이 더욱 바람직하다. d1 및 d2는 동일해도 좋고 상이해도 좋다.d1 and d2 represent the integers of 0-300. However, the case where one of d1 and d2 is 0 is excluded. As d1 and d2, it is preferable to represent the integer of 1-100, It is more preferable to represent the integer of 1-50, It is more preferable to represent the integer of 1-10. d1 and d2 may be the same or different.

2가의 환상기는, 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 예를 들어, 할로겐 원자, 알킬기, 알콕시기, 아릴기, 아릴알킬기, 실릴기, 아실기, 아실옥시기, 카르복시기, 술포기, 시아노기, 니트로기, 하이드록시기, 머캅토기, 옥소기 등을 들 수 있고, 알킬기가 바람직하다.The divalent cyclic group may have a substituent. Examples of the substituent include a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, an arylalkyl group, a silyl group, an acyl group, an acyloxy group, a carboxy group, a sulfo group, a cyano group, a nitro group, a hydroxyl group, a mercapto group, and an oxo group. group etc. are mentioned, An alkyl group is preferable.

비닐페닐기는, 2가의 환상기에 직접 결합하고 있어도 좋고, 2가의 연결기를 개재하여 결합하고 있어도 좋다. 2가의 연결기로서는, 예를 들어, 알킬렌기, 알케닐렌기, 아릴렌기, 헤테로아릴렌기, -C(=O)O-, -O-, -NHC(=O)-, -NC(=O)N-, -NHC(=O)O-, -C(=O)-, -S-, -SO-, -NH- 등을 들 수 있고, 이들을 복수 조합한 기라도 좋다. 알킬렌기로서는, 탄소 원자수 1 내지 10의 알킬렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 6의 알킬렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 1 내지 5의 알킬렌기, 또는 탄소 원자수 1 내지 4의 알킬렌기가 더욱 바람직하다. 알킬렌기는, 직쇄, 분기, 환상 중 어느 것이라도 좋다. 이러한 알킬렌기로서는, 예를 들어, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 펜틸렌기, 크실렌기, 1,1-디메틸에틸렌기 등을 들 수 있고, 메틸렌기, 에틸렌기, 1,1-디메틸에틸렌기가 바람직하다. 알케닐렌기로서는, 탄소 원자수 2 내지 10의 알케닐렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 6의 알케닐렌기가 보다 바람직하고, 탄소 원자수 2 내지 5의 알케닐렌기가 더욱 바람직하다. 아릴렌기, 헤테로아릴렌기로서는, 탄소 원자수 6 내지 20의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 바람직하고, 탄소 원자수 6 내지 10의 아릴렌기 또는 헤테로아릴렌기가 보다 바람직하다. 2가의 연결기로서는, 알킬렌기가 바람직하고, 그 중에서도 메틸렌기가 바람직하다.The vinylphenyl group may be directly couple|bonded with the divalent cyclic group, and may couple|bond via the divalent coupling group. Examples of the divalent linking group include an alkylene group, an alkenylene group, an arylene group, a heteroarylene group, -C(=O)O-, -O-, -NHC(=O)-, -NC(=O) N-, -NHC(=O)O-, -C(=O)-, -S-, -SO-, -NH-, etc. are mentioned, The group which combined these two or more may be sufficient. As the alkylene group, an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms is preferable, an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms is more preferable, an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. Rengi is more preferable. The alkylene group may be linear, branched, or cyclic. Examples of such an alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentylene group, a xylene group, and a 1,1-dimethylethylene group, and a methylene group, an ethylene group, and a 1,1- A dimethylethylene group is preferable. As the alkenylene group, an alkenylene group having 2 to 10 carbon atoms is preferable, an alkenylene group having 2 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkenylene group having 2 to 5 carbon atoms is still more preferable. The arylene group or heteroarylene group is preferably an arylene group or heteroarylene group having 6 to 20 carbon atoms, and more preferably an arylene group or heteroarylene group having 6 to 10 carbon atoms. As a divalent linking group, an alkylene group is preferable, and a methylene group is especially preferable.

폴리페닐렌 에테르계 경화제는 하기 일반식 (D-10)으로 표시되는 것이 바람직하다.The polyphenylene ether-based curing agent is preferably represented by the following general formula (D-10).

Figure pat00028
Figure pat00028

(일반식 (D-10)에서, R91 및 R92는 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 환 B1은 2가의 환상기를 나타낸다)(In the general formula (D-10), R 91 and R 92 each independently represent a divalent linking group. Ring B1 represents a divalent cyclic group)

R91 및 R92는 각각 독립적으로 2가의 연결기를 나타낸다. 2가의 연결기는 상기의 2가의 연결기와 동일하다.R 91 and R 92 each independently represent a divalent linking group. The divalent linking group is the same as the above divalent linking group.

환 B1은 2가의 환상기를 나타낸다. 환 B1은 상기 2가의 환상기와 동일하다.Ring B1 represents a divalent cyclic group. Ring B1 is the same as the above divalent cyclic group.

환 B1은 치환기를 갖고 있어도 좋다. 치환기로서는, 상기의 2가의 환상기가 갖고 있어도 좋은 치환기와 동일하다.Ring B1 may have a substituent. As a substituent, it is the same as the substituent which the said divalent cyclic group may have.

이하, 폴리페닐렌 에테르계 경화제의 구체예를 나타내지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니다.Hereinafter, specific examples of the polyphenylene ether-based curing agent are shown, but the present invention is not limited thereto.

Figure pat00029
Figure pat00029

(q1은 식 (D4)의 d1과 동일하고, q1은 식 (D4)의 d2와 동일하다)(q1 is the same as d1 in the formula (D4), and q1 is the same as d2 in the formula (D4))

폴리페닐렌 에테르계 경화제는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 미츠비시 가스 카가쿠사 제조의 「OPE-2St」 등을 들 수 있다. 폴리페닐렌 에테르계 경화제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.A commercial item may be used for a polyphenylene ether type hardening|curing agent, For example, "OPE-2St" by a Mitsubishi Gas Chemical company, etc. are mentioned. A polyphenylene ether type hardening|curing agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

폴리페닐렌 에테르계 경화제의 수 평균 분자량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 바람직하게는 3000 이하, 보다 바람직하게는 2500 이하, 더욱 바람직하게는 2000 이하, 1500 이하이다. 하한은 바람직하게는 100 이상, 보다 바람직하게는 300 이상, 더욱 바람직하게는 500 이상, 1000 이상이다. 수 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)를 사용하여 측정되는 폴리스티렌 환산의 수 평균 분자량이다.The number average molecular weight of the polyphenylene ether-based curing agent is preferably 3000 or less, more preferably 2500 or less, still more preferably 2000 or less and 1500 or less from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. The lower limit is preferably 100 or more, more preferably 300 or more, still more preferably 500 or more and 1000 or more. A number average molecular weight is a polystyrene conversion number average molecular weight measured using gel permeation chromatography (GPC).

(D) 경화제의 함유량은, 본 발명의 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 1질량% 이상, 보다 바람직하게는 5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 10질량% 이상이며, 바람직하게는 25질량% 이하, 보다 바람직하게는 20질량% 이하, 더욱 바람직하게는 15질량% 이하이다.(D) The content of the curing agent is preferably 1% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, further preferably 100% by mass of the nonvolatile component in the resin composition from the viewpoint of significantly obtaining the effect of the present invention. Preferably it is 10 mass % or more, Preferably it is 25 mass % or less, More preferably, it is 20 mass % or less, More preferably, it is 15 mass % or less.

(A) 성분의 에폭시기수를 1이라고 한 경우, (D) 경화제의 활성기 수는 바람직하게는 0.1 이상, 보다 바람직하게는 0.2 이상, 더욱 바람직하게는 0.3 이상이며, 바람직하게는 2 이하, 보다 바람직하게는 1.8 이하, 더욱 바람직하게는 1.6 이하, 특히 바람직하게는 1.4 이하이다. 여기서, 「(D) 경화제의 활성기 수」란, 수지 조성물에 존재하는 (D) 경화제의 불휘발 성분의 질량을 활성기 당량으로 나눈 값을 전부 합계한 값이다. (A) 성분의 에폭시기수를 1이라고 한 경우의 (D) 경화제의 활성기 수가 상기 범위에 있음으로써, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻을 수 있다.When the number of epoxy groups in the component (A) is 1, the number of active groups in the (D) curing agent is preferably 0.1 or more, more preferably 0.2 or more, still more preferably 0.3 or more, preferably 2 or less, more preferably Preferably it is 1.8 or less, More preferably, it is 1.6 or less, Especially preferably, it is 1.4 or less. Here, "the number of active groups of (D) hardening|curing agent" is the value which summed all the value obtained by dividing the mass of the nonvolatile component of the (D) hardening|curing agent which exists in a resin composition by the active group equivalent. When the number of epoxy groups in the component (A) is 1, the number of active groups in the curing agent (D) is in the above range, so that the desired effect of the present invention can be significantly obtained.

<(E) 경화 촉진제><(E) curing accelerator>

수지 조성물은 상술한 성분 이외에 임의의 성분으로서 추가로 (E) 성분으로서 경화 촉진제를 함유하고 있어도 좋다.The resin composition may contain the hardening accelerator as component (E) further as arbitrary components other than the above-mentioned component.

(E) 성분으로서는 예를 들어 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제, 금속계 경화 촉진제 등을 들 수 있다. (E) 성분은 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다.(E) As a component, a phosphorus type hardening accelerator, an amine type hardening accelerator, an imidazole type hardening accelerator, a guanidine type hardening accelerator, a metal type hardening accelerator, etc. are mentioned, for example. (E) A component may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of the phosphorus curing accelerator include triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphoniumdecanoate, (4-methylphenyl)triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenyl phosphonium thiocyanate, butyl triphenyl phosphonium thiocyanate, etc. are mentioned, Triphenyl phosphine and tetrabutyl phosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6,-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6,-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1, 8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene etc. are mentioned, 4-dimethylaminopyridine and 1,8- diazabicyclo(5,4,0)- undecene are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤 질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4-methyl. Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Imidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimida Zolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-unde Silimidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-(1′)]-ethyl-s -triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazineisocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazoleisocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1, 2-a] imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline and 2-phenylimidazoline, imidazole compounds and epoxy resins of adducts, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 미츠비시 케미컬사 제조의 「P200-H50」 등을 들 수 있다.As an imidazole-type hardening accelerator, you may use a commercial item, for example, "P200-H50" by Mitsubishi Chemical, etc. are mentioned.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, and diphenylguanidine. , trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1-(o-tolyl)biguanide, etc. are mentioned, dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene is preferred.

금속계 경화 촉진제로서는, 예를 들어, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 금속의, 유기 금속 착체 또는 유기 금속염을 들 수 있다. 유기 금속 착체의 구체예로서는, 코발트(II)아세틸아세토네이트, 코발트(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 코발트 착체, 구리(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 구리 착체, 아연(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 아연 착체, 철(III)아세틸아세토네이트 등의 유기 철 착체, 니켈(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 니켈 착체, 망간(II)아세틸아세토네이트 등의 유기 망간 착체 등을 들 수 있다. 유기 금속염으로서는, 예를 들어, 옥틸산 아연, 옥틸산 주석, 나프텐산 아연, 나프텐산 코발트, 스테아르산 주석, 스테아르산 아연 등을 들 수 있다.As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organocobalt complexes such as cobalt(II)acetylacetonate and cobalt(III)acetylacetonate, organocopper complexes such as copper(II)acetylacetonate, and zinc(II)acetylacetonate. organic zinc complexes, organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organometallic salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

(E) 성분의 함유량은, 본 발명의 원하는 효과를 현저히 얻는 관점에서, 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%라고 한 경우, 바람직하게는 0.01질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.02질량% 이상, 더욱 바람직하게는 0.03질량% 이상이고, 바람직하게는 1질량% 이하, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.1질량% 이하이다.(E) the content of the component, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention, when the non-volatile component in the resin composition is 100 mass%, preferably 0.01 mass% or more, more preferably 0.02 mass% or more, More preferably, it is 0.03 mass % or more, Preferably it is 1 mass % or less, More preferably, it is 0.5 mass % or less, More preferably, it is 0.1 mass % or less.

<(F) 기타 첨가제><(F) Other additives>

수지 조성물은 상술한 성분 이외에 임의의 성분으로서, 추가로 기타 첨가제를 포함하고 있어도 좋다. 이러한 첨가제로서는, 예를 들어, 열가소성 수지, 난연제, 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다. 이들 첨가제는 1종류 단독으로 사용해도 좋고 2종류 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 각각의 함유량은 당업자이면 적절히 설정할 수 있다.The resin composition may further contain other additives as arbitrary components other than the components mentioned above. As such an additive, resin additives, such as a thermoplastic resin, a flame retardant, a thickener, an antifoamer, a leveling agent, and an adhesion-imparting agent, etc. are mentioned, for example. These additives may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. Each content can be set suitably if it is a person skilled in the art.

본 발명의 수지 조성물의 조제 방법은 특별히 한정되지 않으며, 예를 들어, 배합 성분을, 필요에 의해 용매 등을 첨가하고, 회전 믹서 등을 사용하여 혼합·분산되는 방법 등을 들 수 있다.The preparation method of the resin composition of this invention is not specifically limited, For example, the method of adding a solvent etc. to a compounding component as needed, and mixing and dispersing using a rotary mixer etc. are mentioned.

<수지 조성물의 물성, 용도><Physical properties and uses of the resin composition>

수지 조성물은 (A) 성분 및 (B) 성분을 포함한다. 이로써, 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 라미네이트한 경우에 생기는 얼룩의 발생을 억제할 수 있다. 또한, 본 발명에서는, 통상, 도금 필 강도, 동박 밀착성, 및 HAST 후의 동박 밀착성도 뛰어나고, 또한, 유전 특성이 낮고, 산술 평균 거칠기(Ra)가 낮은 경화물을 얻을 수도 있다.A resin composition contains (A) component and (B) component. Thereby, generation|occurrence|production of the nonuniformity which arises when the resin composition layer containing a resin composition is laminated can be suppressed. Moreover, in this invention, it is excellent also normally also in plating peeling strength, copper foil adhesiveness, and copper foil adhesiveness after HAST, and also a dielectric property is low, and hardened|cured material with a low arithmetic mean roughness (Ra) can also be obtained.

수지 조성물은, 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 라미네이트한 경우에 얼룩의 발생을 억제할 수 있다는 특성을 나타낸다. 구체적으로는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 행한다. 이때, 통상은 얼룩이 전혀 관찰되지 않고, 완전히 균일한 표면이다. 라미네이트 후의 얼룩의 평가의 상세는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.A resin composition shows the characteristic that generation|occurrence|production of a stain can be suppressed, when the resin composition layer containing a resin composition is laminated. Specifically, it is carried out according to the method described in Examples to be described later. At this time, there is usually no unevenness at all, and it is a completely uniform surface. The details of evaluation of the unevenness after lamination can be measured according to the method described in Examples described later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화물 표면을 조화 처리한 후의 조화면은, 통상, 산술 평균 거칠기(Ra)가 낮다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기의 경화물은, 산술 평균 거칠기가 낮은 절연층을 형성한다. 산술 평균 거칠기로서는 바람직하게는 300nm 이하, 보다 바람직하게는 250nm 이하, 더욱 바람직하게는 200nm 이하이다. 한편, 산술 평균 거칠기의 하한값은, 30nm 이상 등으로 할 수 있다. 산술 평균 거칠기(Ra)의 평가는, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The roughened surface after roughening the hardened|cured material surface which thermosetted the resin composition at 130 degreeC for 30 minutes and then 170 degreeC for 30 minutes usually shows the characteristic that arithmetic mean roughness (Ra) is low. Therefore, said hardened|cured material forms the insulating layer with low arithmetic mean roughness. As arithmetic mean roughness, Preferably it is 300 nm or less, More preferably, it is 250 nm or less, More preferably, it is 200 nm or less. On the other hand, the lower limit of the arithmetic mean roughness can be 30 nm or more. Evaluation of arithmetic mean roughness Ra can be measured according to the method described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 190℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 통상, 유전 특성(유전 정접)이 낮다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 유전 정접이 낮은 절연층을 형성한다. 유전 정접은 바람직하게는 0.005 이하, 보다 바람직하게는 0.004 이하, 더욱 바람직하게는 0.003 이하이다. 유전 정접의 하한값은, 0.0001 이상 등으로 할 수 있다. 유전 정접의 측정은, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.A cured product obtained by thermosetting a resin composition at 190°C for 90 minutes usually exhibits a characteristic of low dielectric properties (dielectric loss tangent). Accordingly, the cured product forms an insulating layer having a low dielectric loss tangent. The dielectric loss tangent is preferably 0.005 or less, more preferably 0.004 or less, still more preferably 0.003 or less. The lower limit of the dielectric loss tangent can be 0.0001 or more. The dielectric loss tangent can be measured according to the method described in Examples to be described later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 다음에 170℃에서 30분간, 그 후 200℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 통상, 도금으로 형성된 도체층(도금 도체층)과의 사이의 필 강도가 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 도금 도체층과의 사이의 필 강도가 뛰어난 절연층을 형성한다. 필 강도는 바람직하게는 0.3kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.35kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.4kgf/cm 이상이다. 필 강도의 상한값은, 10kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 도금 도체층의 필 강도의 측정은, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The cured product obtained by thermosetting the resin composition at 130° C. for 30 minutes, then at 170° C. for 30 minutes, and then at 200° C. for 90 minutes usually has a peel strength between the conductor layer (plated conductor layer) formed by plating. It exhibits excellent characteristics. Therefore, the said hardened|cured material forms the insulating layer excellent in the peeling strength between a plating conductor layer. The peeling strength is preferably 0.3 kgf/cm or more, more preferably 0.35 kgf/cm or more, and still more preferably 0.4 kgf/cm or more. The upper limit of peeling strength can be 10 kgf/cm or less, etc. The measurement of the peeling strength of a plating conductor layer can be measured according to the method as described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 이어서 170℃에서 30분간, 그 후 200℃에서 90분간 열경화시킨 경화물은, 통상, 동박과의 사이의 필 강도(동박 밀착성)가 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 동박과의 사이의 필 강도가 뛰어난 절연층을 형성한다. 필 강도는 바람직하게는 0.3kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.4kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.5kgf/cm 이상이다. 필 강도의 상한값은, 10kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. 동박 밀착성의 측정은, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened|cured material which thermosetted the resin composition at 130 degreeC for 30 minutes, then 170 degreeC for 30 minutes, and then 200 degreeC for 90 minutes usually shows the characteristic that it is excellent in the peeling strength between copper foil (copper foil adhesiveness). Therefore, the said hardened|cured material forms the insulating layer excellent in the peeling strength between copper foil. The peeling strength is preferably 0.3 kgf/cm or more, more preferably 0.4 kgf/cm or more, and still more preferably 0.5 kgf/cm or more. The upper limit of peeling strength can be 10 kgf/cm or less, etc. The measurement of copper foil adhesiveness can be measured according to the method as described in the Example mentioned later.

수지 조성물을 130℃에서 30분간, 그 후 170℃에서 30분간 열경화시킨 경화물은, 통상, HAST 시험(130℃, 습도 85%RH, 100시간) 후의 동박과의 사이의 필 강도(HAST 후의 동박 밀착성)가 뛰어나다는 특성을 나타낸다. 따라서, 상기 경화물은, 동박과의 사이의 HAST 후의 필 강도가 뛰어난 절연층을 형성한다. HAST 후의 동박 밀착성은 바람직하게는 0.15kgf/cm 이상, 보다 바람직하게는 0.2kgf/cm 이상, 더욱 바람직하게는 0.25kgf/cm 이상이다. HAST 후의 동박 밀착성의 상한값은, 10kgf/cm 이하 등으로 할 수 있다. HAST 후의 동박 밀착성의 측정은, 후술하는 실시예에 기재된 방법에 따라 측정할 수 있다.The hardened|cured material which thermosetted the resin composition at 130 degreeC for 30 minutes and then 170 degreeC for 30 minutes is usually the peeling strength between the copper foil after a HAST test (130 degreeC, humidity 85%RH, 100 hours) (after HAST) Copper foil adhesiveness) is excellent. Therefore, the said hardened|cured material forms the insulating layer excellent in the peeling strength after HAST between copper foil. The copper foil adhesiveness after HAST becomes like this. Preferably it is 0.15 kgf/cm or more, More preferably, it is 0.2 kgf/cm or more, More preferably, it is 0.25 kgf/cm or more. The upper limit of copper foil adhesiveness after HAST can be made into 10 kgf/cm or less etc. The measurement of copper foil adhesiveness after HAST can be measured according to the method as described in the Example mentioned later.

본 발명의 수지 조성물은, 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 라미네이트한 경우에 얼룩의 발생을 억제할 수 있다. 따라서, 본 발명의 수지 조성물은, 절연 용도의 수지 조성물로서 적합하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 절연층 위에 형성되는 도체층(재배선층을 포함함)을 형성하기 위한 당해 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.When the resin composition of this invention laminates the resin composition layer containing a resin composition, generation|occurrence|production of a stain can be suppressed. Therefore, the resin composition of this invention can be used suitably as a resin composition for an insulation use. Specifically, it can be suitably used as a resin composition (resin composition for forming an insulating layer for forming a conductor layer) for forming the insulating layer for forming a conductor layer (including a rewiring layer) formed on the insulating layer. have.

또한, 후술하는 다층 프린트 배선판에 있어서, 다층 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(다층 프린트 배선판의 절연층 형성용 수지 조성물), 프린트 배선판의 층간 절연층을 형성하기 위한 수지 조성물(프린트 배선판의 층간 절연층 형성용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있다.In the multilayer printed wiring board described later, a resin composition for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board (resin composition for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board), and a resin composition for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (printed wiring board) resin composition for forming an interlayer insulating layer of

또한, 예를 들어, 이하의 (1) 내지 (6) 공정을 거쳐 반도체 칩 패키지가 제조될 경우, 본 발명의 수지 조성물은, 재배선층을 형성하기 위한 절연층으로서의 재배선 형성층용의 수지 조성물(재배선 형성층 형성용의 수지 조성물), 및 반도체 칩을 밀봉하기 위한 수지 조성물(반도체 칩 밀봉용의 수지 조성물)로서도 적합하게 사용할 수 있다. 반도체 칩 패키지가 제조될 때, 밀봉층 위에 추가로 재배선층을 형성해도 좋다.Further, for example, when a semiconductor chip package is manufactured through the following steps (1) to (6), the resin composition of the present invention is a resin composition for a redistribution forming layer as an insulating layer for forming a redistribution layer ( It can be used suitably also as the resin composition for redistribution forming layer formation) and the resin composition (resin composition for semiconductor chip sealing) for sealing a semiconductor chip. When the semiconductor chip package is manufactured, a redistribution layer may be additionally formed on the sealing layer.

(1) 기재에 가고정 필름을 적층하는 공정,(1) the step of laminating a temporarily fixed film on the substrate,

(2) 반도체 칩을, 가고정 필름 위에 가고정하는 공정,(2) the step of temporarily fixing the semiconductor chip on the temporarily fixing film,

(3) 반도체 칩 위에 밀봉층을 형성하는 공정,(3) forming a sealing layer on the semiconductor chip;

(4) 기재 및 가고정 필름을 반도체 칩으로부터 박리하는 공정,(4) the step of peeling the substrate and the temporarily fixed film from the semiconductor chip,

(5) 반도체 칩의 기재 및 가고정 필름을 박리한 면에, 절연층으로서의 재배선 형성층을 형성하는 공정, 및(5) a step of forming a rewiring forming layer as an insulating layer on the surface where the substrate and the temporarily fixed film of the semiconductor chip are peeled; and

(6) 재배선 형성층 위에, 도체층으로서의 재배선층을 형성하는 공정(6) Step of forming a redistribution layer as a conductor layer on the redistribution forming layer

[수지 시트][Resin Sheet]

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, 본 발명의 수지 조성물로 형성된 수지 조성물층을 포함한다.The resin sheet of this invention contains a support body and the resin composition layer provided on the said support body and formed from the resin composition of this invention.

수지 조성물층의 두께는, 프린트 배선판의 박형화, 및 당해 수지 조성물의 경화물이 박막이라도 절연성이 뛰어난 경화물을 제공할 수 있다는 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이하, 보다 바람직하게는 40㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하이다. 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 통상, 5㎛ 이상 등으로 할 수 있다.The thickness of the resin composition layer is preferably 50 µm or less, more preferably 40 µm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board and providing a cured product excellent in insulation even if the cured product of the resin composition is a thin film; More preferably, it is 30 micrometers or less. Although the lower limit of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, it can be 5 micrometers or more, etc.

지지체로서는, 예를 들어, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어진 필름, 금속박이 바람직하다.As a support body, the film which consists of a plastics material, metal foil, and a release paper are mentioned, for example, The film which consists of a plastics material, and metal foil are preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어진 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다.When a film made of a plastic material is used as the support, the plastic material is, for example, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PEN”). ) such as polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), Polyether ketone, polyimide, etc. are mentioned. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들어, 동박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 동박이 바람직하다. 동박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어진 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들어, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티타늄 등)과의 합금으로 이루어진 박을 사용해도 좋다.When using metal foil as a support body, as metal foil, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned, for example, Copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and another metal (eg, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. good.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리, 대전 방지 처리를 실시해도 좋다.A support body may give a mat treatment, a corona treatment, and an antistatic treatment to the surface to join with the resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들어, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들어, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 린텍사 제조의 「SK-1」, 「AL-5」, 「AL-7」, 토레사 제조의 「루미라 T60」, 테이진사 제조의 「퓨렉스」, 유니치카사 제조의 「유니필」 등을 들 수 있다.Moreover, as a support body, you may use the support body with a mold release layer which has a mold release layer on the surface to join with the resin composition layer. As a mold release agent used for the mold release layer of a support body with a mold release layer, 1 or more types of mold release agents are mentioned from the group which consists of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin, for example. A commercial item may be used for the support body with a release layer, for example, "SK-1", "AL-5", "AL-7" by Lintec which is a PET film which has a release layer which has an alkyd resin type mold release agent as a main component. ', "Lumira T60" by Tore Corporation, "Purex" by Teijin Corporation, "Uni-pil" by Unichika Corporation, etc. are mentioned.

지지체의 두께로서는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although it does not specifically limit as thickness of a support body, The range of 5 micrometers - 75 micrometers is preferable, and the range of 10 micrometers - 60 micrometers is more preferable. Moreover, when using a support body with a mold release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a mold release layer is the said range.

일 실시형태에서, 수지 시트는, 또한 필요에 따라, 기타 층을 포함하고 있어도 좋다. 이러한 기타 층으로서는, 예를 들어, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에 마련된, 지지체에 준한 보호 필름 등을 들 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집을 억제할 수 있다.In one embodiment, the resin sheet may further contain other layers as needed. As such another layer, the protective film according to the support body etc. which were provided in the surface which is not joined to the support body of a resin composition layer (that is, the surface on the opposite side to a support body), etc. are mentioned, for example. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer - 40 micrometers. By laminating|stacking a protective film, adhesion of dust, etc. to the surface of a resin composition layer, and a flaw can be suppressed.

수지 시트는, 예를 들어, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 바니시를 조제하고, 이 수지 바니시를, 다이코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 추가로 건조시켜서 수지 조성물층을 형성시킴으로써 제조할 수 있다.A resin sheet can be produced by, for example, preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying this resin varnish on a support using a die coater, etc., and further drying to form a resin composition layer. have.

유기 용제로서는, 예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤(MEK) 및 사이클로헥사논 등의 케톤류; 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카르비톨아세테이트 등의 아세트산 에스테르류; 셀로솔브 및 부틸카르비톨 등의 카르비톨류; 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류; 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드(DMAc) 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용제 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. As an organic solvent, For example, ketones, such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK), and cyclohexanone; acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and carbitol acetate; carbitols such as cellosolve and butyl carbitol; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.

건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 방법에 의해 실시해도 좋다. 건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 수지 바니시 중의 유기 용제의 비점에 따라 상이하지만, 예를 들어 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 바니시를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써 수지 조성물층을 형성할 수 있다.You may perform drying by well-known methods, such as a heating and hot-air spraying. Although drying conditions are not specifically limited, Content of the organic solvent in a resin composition layer is 10 mass % or less, Preferably it is made to dry so that it may become 5 mass % or less. Although it changes with the boiling point of the organic solvent in a resin varnish, for example, when using the resin varnish containing 30 mass % - 60 mass % of an organic solvent, by drying at 50 degreeC - 150 degreeC for 3 minutes - 10 minutes, the resin composition layer can be formed.

수지 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능하다. 수지 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.A resin sheet can be wound up and stored in roll shape. When a resin sheet has a protective film, it becomes usable by peeling off a protective film.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은, 본 발명의 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함한다.The printed wiring board of this invention contains the insulating layer formed with the hardened|cured material of the resin composition of this invention.

프린트 배선판은, 예를 들어, 상술의 수지 시트를 사용하여, 하기 (I) 및 (II)의 공정을 포함하는 방법에 의해 제조할 수 있다.A printed wiring board can be manufactured by the method including the process of following (I) and (II) using the above-mentioned resin sheet, for example.

(I) 내층 기판 위에, 수지 시트의 수지 조성물층이 내층 기판과 접합하도록 적층하는 공정(I) Step of laminating the resin composition layer of the resin sheet on the inner-layer substrate so as to be bonded to the inner-layer substrate

(II) 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성하는 공정(II) Step of thermosetting the resin composition layer to form an insulating layer

공정 (I)에서 사용하는 「내층 기판」이란, 프린트 배선판의 기판이 되는 부재로서, 예를 들어, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌 에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 당해 기판은, 그 한 면 또는 양면에 도체층을 갖고 있어도 좋고, 이 도체층은 패턴 가공되어 있어도 좋다. 기판의 한 면 또는 양면에 도체층(회로)이 형성된 내층 기판은 「내층 회로 기판」이라고 말하는 경우가 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간 제조물도 본 발명에서 말하는 「내층 기판」에 포함된다. 프린트 배선판이 부품 내장 회로판인 경우, 부품을 내장한 내층 기판을 사용할 수 있다.The "inner-layer substrate" used in step (I) is a member used as a substrate for a printed wiring board, for example, a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene. An ether substrate etc. are mentioned. Moreover, the said board|substrate may have a conductor layer on the one side or both surfaces, and this conductor layer may be pattern-processed. An inner-layer substrate in which a conductor layer (circuit) is formed on one or both surfaces of the substrate is sometimes referred to as an "inner-layer circuit board". Moreover, when manufacturing a printed wiring board, the intermediate product in which an insulating layer and/or a conductor layer should be further formed is also included in the "inner-layer board|substrate" referred to in this invention. When the printed wiring board is a circuit board with a built-in component, an inner-layer board having a built-in component can be used.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 예를 들어, 지지체측으로부터 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착함으로써 행할 수 있다. 수지 시트를 내층 기판에 가열 압착하는 부재(이하, 「가열 압착 부재」라고도 함.)로서는, 예를 들어, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 한편, 가열 압착 부재를 수지 시트에 직접 프레스하는 것이 아니고, 내층 기판의 표면 요철에 수지 시트가 충분히 추종하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다.Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet can be performed, for example, by thermocompression bonding the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. As a member (hereinafter also referred to as a "thermocompression bonding member") which heat-compresses a resin sheet to an inner-layer board|substrate, a heated metal plate (SUS mirror plate etc.), a metal roll (SUS roll), etc. are mentioned, for example. On the other hand, it is preferable not to press the thermocompression-compression-bonding member directly to the resin sheet, but to press through an elastic material, such as a heat-resistant rubber, so that the resin sheet may fully follow the surface unevenness|corrugation of an inner-layer board|substrate.

내층 기판과 수지 시트의 적층은, 진공 라미네이트법에 의해 실시해도 좋다. 진공 라미네이트법에서 가열 압착 온도는 바람직하게는 60℃ 내지 160℃, 보다 바람직하게는 80℃ 내지 140℃의 범위이고, 가열 압착 압력은 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이며, 가열 압착 시간은 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 적층은 바람직하게는 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건하에 실시한다.You may perform lamination|stacking of an inner-layer board|substrate and a resin sheet by the vacuum lamination method. In the vacuum lamination method, the thermocompression pressure is preferably in the range of 60°C to 160°C, more preferably 80°C to 140°C, and the thermocompression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa to It is the range of 1.47 MPa, Preferably the thermocompression-bonding time is the range of 20 second - 400 second, More preferably, it is the range of 30 second - 300 second. Lamination is preferably carried out under reduced pressure conditions of a pressure of 26.7 hPa or less.

적층은 시판의 진공 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 시판의 진공 라미네이터로서는, 예를 들어, 메이키 세사쿠쇼사 제조의 진공 가압식 라미네이터, 닛코 머티리얼즈사 제조의 베큠 어플리케이터, 배치식 진공 가압 라미네이터 등을 들 수 있다.Lamination can be performed with a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, the vacuum pressure laminator by the Meiki Sesakusho company, the vacuum applicator by the Nikko Materials company, a batch type vacuum pressure laminator etc. are mentioned, for example.

적층 후에, 상압 하(대기압 하), 예를 들어, 가열 압착 부재를 지지체측으로부터 프레스함으로써, 적층된 수지 시트의 평활화 처리를 행하여도 좋다. 평활화 처리의 프레스 조건은, 상기 적층의 가열 압착 조건과 동일한 조건으로 할 수 있다. 평활화 처리는, 시판의 라미네이터에 의해 행할 수 있다. 한편, 적층과 평활화 처리는, 상기의 시판의 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 행하여도 좋다.After lamination, the laminated resin sheet may be smoothed under normal pressure (under atmospheric pressure), for example, by pressing the thermocompression-bonding member from the support side. The press conditions of the smoothing process can be made into the same conditions as the thermocompression-bonding conditions of the said lamination|stacking. A smoothing process can be performed with a commercially available laminator. In addition, you may perform lamination|stacking and a smoothing process continuously using said commercially available vacuum laminator.

지지체는, 공정 (I)과 공정 (II) 사이에 제거해도 좋고, 공정 (II)의 뒤에 제거해도 좋다.The support may be removed between the steps (I) and (II), or may be removed after the step (II).

공정 (II)에 있어서, 수지 조성물층을 열경화하여 절연층을 형성한다. 수지 조성물층의 열경화 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용해도 좋다.In the process (II), the resin composition layer is thermosetted to form an insulating layer. The thermosetting conditions of a resin composition layer are not specifically limited, When forming the insulating layer of a printed wiring board, you may use the conditions normally employ|adopted.

예를 들어, 수지 조성물층의 열경화 조건은 수지 조성물의 종류 등에 따라 상이하지만, 경화 온도는 바람직하게는 120℃ 내지 240℃, 보다 바람직하게는 150℃ 내지 220℃, 더욱 바람직하게는 170℃ 내지 210℃이다. 경화 시간은 바람직하게는 5분간 내지 120분간, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간으로 할 수 있다. For example, although the thermosetting conditions of the resin composition layer differ depending on the type of the resin composition, the curing temperature is preferably 120°C to 240°C, more preferably 150°C to 220°C, still more preferably 170°C to 210°C. The curing time is preferably 5 minutes to 120 minutes, more preferably 10 minutes to 100 minutes, still more preferably 15 minutes to 100 minutes.

수지 조성물층을 열경화시키기 전에, 수지 조성물층을 경화 온도보다도 낮은 온도에서 예비 가열해도 좋다. 예를 들어, 수지 조성물층을 열경화시키기에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 115℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 110℃ 이하)의 온도에서, 수지 조성물층을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간, 더욱 바람직하게는 15분간 내지 100분간) 예비 가열해도 좋다.Before thermosetting a resin composition layer, you may preheat a resin composition layer at temperature lower than hardening temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, at a temperature of 50 ° C or more and less than 120 ° C (preferably 60 ° C or more and 115 ° C or less, more preferably 70 ° C or more and 110 ° C or less), the resin composition layer is You may preheat for 5 minutes or more (preferably for 5 minutes - 150 minutes, More preferably, it is 15 minutes - 120 minutes, More preferably, it is 15 minutes - 100 minutes).

프린트 배선판을 제조할 때에는, (III) 절연층에 천공하는 공정, (IV) 절연층을 조화 처리하는 공정, (V) 도체층을 형성하는 공정을 추가로 실시해도 좋다. 이들 공정 (III) 내지 공정 (V)는, 프린트 배선판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지의 각종 방법에 따라 실시해도 좋다. 한편, 지지체를 공정 (II) 후에 제거하는 경우, 당해 지지체의 제거는, 공정 (II)와 공정 (III) 사이, 공정 (III)과 공정 (IV) 사이, 또는 공정 (IV)와 공정 (V) 사이에 실시해도 좋다. 또한, 필요에 따라, 공정 (II) 내지 공정 (V)의 절연층 및 도체층의 형성을 반복 실시하여, 다층 배선판을 형성해도 좋다.When manufacturing a printed wiring board, you may further perform the process of (III) the process of drilling in an insulating layer, the process of (IV) roughening an insulating layer, and the process of (V) forming a conductor layer. You may implement these process (III) - process (V) according to various methods well-known to those skilled in the art used for manufacture of a printed wiring board. On the other hand, when the support is removed after the step (II), the removal of the support is carried out between the steps (II) and (III), between the steps (III) and (IV), or between the steps (IV) and the step (V). ) may be performed between If necessary, the formation of the insulating layer and the conductor layer in the steps (II) to (V) may be repeated to form a multilayer wiring board.

공정 (III)은 절연층에 천공하는 공정이며, 이로써 절연층에 비아홀, 스루홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 공정 (III)은, 절연층의 형성에 사용한 수지 조성물의 조성 등에 따라, 예를 들어, 드릴, 레이저, 플라즈마 등을 사용하여 실시해도 좋다. 홀의 치수나 형상은, 프린트 배선판의 디자인에 따라 적절히 결정해도 좋다.Step (III) is a step of drilling the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, a laser, plasma, or the like, depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer and the like. You may determine the dimension and shape of a hole suitably according to the design of a printed wiring board.

공정 (IV)는 절연층을 조화 처리하는 공정이다. 통상, 이 공정 (IV)에 있어서, 스미어의 제거도 행하여진다. 조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들어, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순으로 실시하여 절연층을 조화 처리할 수 있다. 조화 처리에 사용하는 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 당해 알칼리 용액으로서는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「스웰링 딥 세큐리간스 P」, 「스웰링 딥 세큐리간스 SBU」, 「스웰링 딥 세큐리간트 P」 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 30℃ 내지 90℃의 팽윤액에 절연층을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 행할 수 있다. 절연층의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40℃ 내지 80℃의 팽윤액에 절연층을 5분간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 조화 처리에 사용하는 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는 60℃ 내지 100℃로 가열한 산화제 용액에 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되어 있는 산화제로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「콘센트레이트 컴팩트 CP」, 「도징 솔루션 세큐리간스 P」 등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한, 조화 처리에 사용하는 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로서는, 예를 들어, 아토텍 재팬사 제조의 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는, 산화제에 의한 조화 처리가 된 처리면을 30℃ 내지 80℃의 중화액에 1분간 내지 30분간 침지시킴으로써 행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제에 의한 조화 처리가 된 대상물을, 40℃ 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.Process (IV) is a process of roughening an insulating layer. Usually, in this process (IV), the removal of smear is also performed. The procedure and conditions of a roughening process are not specifically limited, When forming the insulating layer of a printed wiring board, the well-known procedure and conditions normally used are employable. For example, the insulating layer can be roughened by performing the swelling process by a swelling liquid, the roughening process by an oxidizing agent, and the neutralization process by a neutralizing liquid in this order. Although it does not specifically limit as swelling liquid used for a roughening process, An alkali solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkali solution, As said alkali solution, sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution are more preferable. As a commercially available swelling liquid, "Swelling Deep Securiganth P", "Swelling Deep Securiganth SBU", "Swelling Deep Securigant P" manufactured by Atotech Japan, etc. are mentioned, for example. have. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can perform by immersing an insulating layer in a 30 degreeC-90 degreeC swelling liquid for 1 minute - 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling solution at 40°C to 80°C for 5 minutes to 15 minutes. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent used for a roughening process, For example, the alkaline permanganic acid solution which melt|dissolved potassium permanganate and sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 100°C for 10 minutes to 30 minutes. Moreover, as for the density|concentration of the permanganate in an alkaline permanganic acid solution, 5 mass % - 10 mass % are preferable. As a commercially available oxidizing agent, alkaline permanganic acid solutions, such as "concentrate compact CP" and "dosing solution securigans P" by Atotech Japan, are mentioned, for example. Moreover, as a neutralization liquid used for a roughening process, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial item, "reduction solution securigant P" by Atotech Japan company is mentioned, for example. The treatment with the neutralizing solution can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in a neutralizing solution at 30°C to 80°C for 1 minute to 30 minutes. The method of immersing the target object roughened by the oxidizing agent from points, such as workability|operativity, in the neutralization liquid of 40 degreeC - 70 degreeC for 5 minutes - 20 minutes is preferable.

일 실시형태에서, 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는 바람직하게는 300nm 이하, 보다 바람직하게는 250nm 이하, 더욱 바람직하게는 200nm 이하이다. 하한에 대해서는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 30nm 이상, 보다 바람직하게는 40nm 이상, 더욱 바람직하게는 50nm 이상이다. 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 비접촉형 표면 조도계를 이용하여 측정할 수 있다.In one embodiment, the arithmetic mean roughness Ra of the insulating layer surface after roughening is preferably 300 nm or less, more preferably 250 nm or less, still more preferably 200 nm or less. Although it does not specifically limit about a minimum, Preferably it is 30 nm or more, More preferably, it is 40 nm or more, More preferably, it is 50 nm or more. The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer can be measured using a non-contact type surface roughness meter.

공정 (V)는 도체층을 형성하는 공정이며, 절연층 위에 도체층을 형성한다. 도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들어, 상기 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들어, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티타늄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 비용, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다.A process (V) is a process of forming a conductor layer, and forms a conductor layer on an insulating layer. The conductor material used for a conductor layer is not specifically limited. In a suitable embodiment, the conductor layer comprises at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer is, for example, an alloy of two or more metals selected from the group described above (for example, a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy, and a copper-titanium alloy) a layer formed of Among them, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy , a copper/titanium alloy alloy layer is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel/chromium alloy is more preferable, and a single metal layer of copper This is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 상이한 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층한 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 프린트 배선판의 디자인에 따르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다.Although the thickness of a conductor layer depends on the design of a desired printed wiring board, it is 3 micrometers - 35 micrometers generally, Preferably it is 5 micrometers - 30 micrometers.

일 실시형태에서, 도체층은 도금에 의해 형성해도 좋다. 예를 들어, 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있고, 제조의 간편성의 관점에서, 세미 어디티브법에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 이하, 도체층을 세미 어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다.In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, by plating the surface of the insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method, a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed, and from the viewpoint of simplicity of manufacture, a semi-additive method It is preferable to form by the additive method. Hereinafter, the example in which a conductor layer is formed by the semiadditive method is shown.

우선, 절연층의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출한 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 배선 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Then, on the formed plating seed layer, a mask pattern for exposing a portion of the plating seed layer corresponding to a desired wiring pattern is formed. After forming a metal layer by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. Thereafter, the unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 반도체 장치는 본 발명의 프린트 배선판을 이용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device of this invention contains the printed wiring board of this invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.

반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들어, 컴퓨터, 휴대전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 차량(예를 들어, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices provided in electric products (eg, computers, mobile phones, digital cameras and televisions) and vehicles (eg, motorcycles, automobiles, trams, ships, and aircraft). have.

본 발명의 반도체 장치는, 프린트 배선판의 도통 개소에, 부품(반도체 칩)을 실장함으로써 제조할 수 있다. 「도통 개소」는 「프린트 배선판에서의 전기 신호를 전달하는 개소」로서, 그 장소는 표면이여도, 매립된 개소라도 어느 곳이여도 상관없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of this invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) in the conduction|electrical_connection location of a printed wiring board. The "conduction point" is "a location through which an electric signal is transmitted in a printed wiring board", and the location may be a surface, a buried location, or any place. In addition, a semiconductor chip will not be specifically limited if it is an electric circuit element which uses a semiconductor as a material.

반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범플리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등을 들 수 있다. 여기서, 「범플리스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법」이란, 「반도체 칩을 프린트 배선판의 오목부에 직접 매립하고, 반도체 칩과 프린트 배선판 위의 배선을 접속시키는 실장 방법」이다.The semiconductor chip mounting method at the time of manufacturing a semiconductor device is not specifically limited as long as the semiconductor chip functions effectively, Specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, a bumpless build-up layer (BBUL) The mounting method by , the mounting method by the anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by the non-conductive film (NCF), etc. are mentioned. Here, "a mounting method using a bumpless build-up layer (BBUL)" is "a mounting method in which a semiconductor chip is directly embedded in a recess of a printed wiring board, and the semiconductor chip and wiring on the printed wiring board are connected".

[실시예][Example]

이하, 실시예를 이용하여 본 발명을 보다 상세히 설명하지만 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 한편, 이하의 기재에서, 별도 명시가 없는 한, 「부」 및 「%」는 「질량부」 및 「질량%」를 각각 의미한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail using Examples, but the present invention is not limited to these Examples. In addition, in the following description, unless otherwise indicated, "part" and "%" mean "part by mass" and "% by mass", respectively.

<합성예 1: 활성 에스테르 화합물 (B-1)의 합성><Synthesis Example 1: Synthesis of active ester compound (B-1)>

온도계, 적하 깔대기, 냉각관, 분류관, 교반기를 부착한 플라스크에, 2,7-디하이드록시나프탈렌 320g(2.0몰), 벤질알코올 184g(1.7몰), 파라톨루엔술폰산·1수화물 5.0g을 주입하여, 실온 하, 질소를 불어넣으면서 교반하였다. 그 후, 150℃로 승온하고, 생성하는 물을 계 밖으로 증류제거하면서 4시간 교반하였다. 반응 종료 후, 메틸이소부틸케톤 900g, 20% 수산화나트륨 수용액 5.4g을 첨가하여 중화한 후, 분액에 의해 수층을 제거하고, 물 280g으로 3회 수세를 행하여, 메틸이소부틸케톤을 감압 하 제거하여 벤질 변성 나프탈렌 화합물 (A-1)을 460g 얻었다. 얻어진 벤질 변성 나프탈렌 화합물 (A-1)은 흑색 고체이고 수산기 당량은 180그램/당량이었다.2,7-dihydroxynaphthalene 320 g (2.0 mol), benzyl alcohol 184 g (1.7 mol), and para-toluenesulfonic acid monohydrate 5.0 g were poured into a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, separator tube, and stirrer. Then, at room temperature, the mixture was stirred while blowing nitrogen. Then, it heated up to 150 degreeC, and stirred for 4 hours, distilling the produced|generated water out of the system. After completion of the reaction, 900 g of methyl isobutyl ketone and 5.4 g of a 20% aqueous sodium hydroxide solution were added to neutralize, and the aqueous layer was removed by liquid separation, washed with water 3 times with 280 g of water, and the methyl isobutyl ketone was removed under reduced pressure. 460 g of a benzyl-modified naphthalene compound (A-1) was obtained. The obtained benzyl-modified naphthalene compound (A-1) was a black solid and had a hydroxyl equivalent of 180 grams/equivalent.

온도계, 적하 깔대기, 냉각관, 분류관, 교반기를 부착한 플라스크에, 이소프탈산 클로라이드 203.0g(산 클로라이드기의 몰수: 2.0몰)과 톨루엔 1400g을 주입하고, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 이어서, 오르토크레졸 72.4g(0.67몰), 벤질 변성 나프탈렌 화합물 (A-1) 240g(페놀성 수산기의 몰수: 1.33몰)을 주입하여, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 그 후, 테트라부틸암모늄브로마이드 0.70g을 용해시키고, 질소 가스 퍼지를 실시하면서, 계 내를 60℃ 이하로 제어하여, 20% 수산화나트륨 수용액 400g을 3시간에 걸쳐 적하하였다. 그 다음에 이 조건하에 1.0시간 교반을 계속하였다. 반응 종료후, 정치 분액하고, 수층을 제거하였다. 또한 반응물이 용해하고 있는 톨루엔층에 물을 투입하여 15분간 교반 혼합하고, 정치 분액하여 수층을 제거하였다. 수층의 pH가 7이 될 때까지 이 조작을 반복하였다. 그 후, 디캔터 탈수로 수분을 제거하여 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액 상태에 있는 활성 에스테르 화합물 (B-1)을 얻었다. 얻어진 활성 에스테르 화합물 (B-1)의 활성 에스테르 당량은 238g/eq.였다.203.0 g of isophthalic acid chloride (number of moles of acid chloride groups: 2.0 moles) and 1400 g of toluene were charged to a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, flow dividing tube, and stirrer, and the system was dissolved under reduced pressure by nitrogen substitution. Then, 72.4 g (0.67 mol) of orthocresol and 240 g (number of moles of phenolic hydroxyl groups: 1.33 mol) of the benzyl-modified naphthalene compound (A-1) were injected, and the inside of the system was purged with nitrogen under reduced pressure to dissolve. Then, 0.70 g of tetrabutylammonium bromide was dissolved and the inside of a system was controlled to 60 degrees C or less, performing nitrogen gas purging, and 400 g of 20% sodium hydroxide aqueous solution was dripped over 3 hours. Then, stirring was continued for 1.0 hour under these conditions. After completion of the reaction, the liquid was separated and the aqueous layer was removed. Further, water was added to the toluene layer in which the reactant was dissolved, stirred and mixed for 15 minutes, and the mixture was left to separate and the aqueous layer was removed. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water|moisture content was removed by decanter dehydration, and the active ester compound (B-1) in the state of the toluene solution of 65 mass % of non-volatile matters was obtained. The active ester equivalent of the obtained active ester compound (B-1) was 238 g/eq.

<합성예 2: 활성 에스테르 화합물 (B-2)의 합성><Synthesis Example 2: Synthesis of active ester compound (B-2)>

온도계, 적하 깔대기, 냉각관, 분류관, 교반기를 부착한 플라스크에, 이소프탈산 클로라이드 203.0g(산 클로라이드기의 몰수: 2.0몰)과 톨루엔 1400g을 주입하고, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 이어서, 오르토페닐페놀 113.9g(0.67몰), 벤질 변성 나프탈렌 화합물 (A-1) 240g(페놀성 수산기의 몰수: 1.33몰)을 주입하고, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 그 후, 테트라부틸암모늄브로마이드 0.70g을 용해시키고, 질소 가스 퍼지를 실시하면서, 계 내를 60℃ 이하로 제어하여, 20% 수산화나트륨 수용액 400g을 3시간 걸쳐서 적하하였다. 그 다음에 이 조건하에 1.0시간 교반을 계속하였다. 반응 종료 후, 정치 분액하여, 수층을 제거하였다. 또한 반응물이 용해되어 있는 톨루엔층에 물을 투입하여 15분간 교반 혼합하고, 정치 분액하여 수층을 제거하였다. 수층의 pH가 7이 될때까지 이 조작을 반복하였다. 그 후, 디캔터 탈수로 수분을 제거하여 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액 상태에 있는 활성 에스테르 화합물 (B-2)를 얻었다. 얻어진 활성 에스테르 화합물 (B-2)의 활성 에스테르 당량은 206g/eq.이었다.203.0 g of isophthalic acid chloride (number of moles of acid chloride groups: 2.0 moles) and 1400 g of toluene were charged to a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, flow dividing tube, and stirrer, and the system was dissolved under reduced pressure by nitrogen substitution. Next, 113.9 g (0.67 mol) of orthophenylphenol and 240 g (number of moles of phenolic hydroxyl group: 1.33 mol) of the benzyl-modified naphthalene compound (A-1) were charged, and the inside of the system was purged with nitrogen under reduced pressure to dissolve. Then, 0.70 g of tetrabutylammonium bromide was dissolved, and the inside of a system was controlled to 60 degrees C or less, performing nitrogen gas purging, and 400 g of 20% sodium hydroxide aqueous solution was dripped over 3 hours. Then, stirring was continued for 1.0 hour under these conditions. After completion of the reaction, the liquid was separated and the aqueous layer was removed. In addition, water was added to the toluene layer in which the reactant was dissolved, stirred and mixed for 15 minutes, and the mixture was left to separate and the aqueous layer was removed. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water|moisture content was removed by decanter dehydration, and the active ester compound (B-2) in the state of the toluene solution of 65 mass % of non-volatile matters was obtained. The active ester equivalent of the obtained active ester compound (B-2) was 206 g/eq.

<합성예 3: 활성 에스테르 화합물 (B-3)의 합성><Synthesis Example 3: Synthesis of active ester compound (B-3)>

온도계, 적하 깔대기, 냉각관, 분류관, 교반기를 부착한 플라스크에, 이소프탈산 클로라이드 203.0g(산 클로라이드기의 몰수: 2.0몰)과 톨루엔 1400g을 주입하고, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 이어서, 스티렌화 페놀 페놀 132.7g(0.67몰), 벤질 변성 나프탈렌 화합물 (A-1) 240g(페놀성 수산기의 몰수: 1.33몰)을 주입하고, 계 내를 감압 질소 치환하여 용해시켰다. 그 후, 테트라부틸암모늄브로마이드 0.70g을 용해시키고, 질소 가스 퍼지를 실시하면서, 계 내를 60℃ 이하로 제어하고, 20% 수산화나트륨 수용액 400g을 3시간에 걸쳐서 적하하였다. 그 다음에 이 조건하에 1.0시간 교반을 계속하였다. 반응 종료 후, 정치 분액하여 수층을 제거하였다. 추가로 반응물이 용해되어 있는 톨루엔층에 물을 투입하여 15분간 교반 혼합하고, 정치 분액하여 수층을 제거하였다. 수층의 pH가 7이 될 때까지 이 조작을 반복하였다. 그 후, 디캔터 탈수로 수분을 제거하여 불휘발분 65질량%의 톨루엔 용액 상태에 있는 활성 에스테르 화합물 (B-3)을 얻었다. 얻어진 활성 에스테르 화합물 (B-3)의 활성 에스테르 당량은 259g/eq.이었다.203.0 g of isophthalic acid chloride (number of moles of acid chloride groups: 2.0 moles) and 1400 g of toluene were charged to a flask equipped with a thermometer, dropping funnel, cooling tube, flow dividing tube, and stirrer, and the system was dissolved under reduced pressure by nitrogen substitution. Then, 132.7 g (0.67 mol) of styrenated phenol phenol and 240 g (number of moles of phenolic hydroxyl group: 1.33 mol) of the benzyl-modified naphthalene compound (A-1) were charged, and the inside of the system was purged with nitrogen under reduced pressure to dissolve. Then, 0.70 g of tetrabutylammonium bromide was dissolved, and the inside of a system was controlled to 60 degrees C or less, performing nitrogen gas purging, and 400 g of 20% sodium hydroxide aqueous solution was dripped over 3 hours. Then, stirring was continued for 1.0 hour under these conditions. After completion of the reaction, the aqueous layer was removed by static separation. In addition, water was added to the toluene layer in which the reactant was dissolved, stirred and mixed for 15 minutes, and the mixture was left to separate and the aqueous layer was removed. This operation was repeated until the pH of the aqueous layer reached 7. Then, water|moisture content was removed by decanter dehydration, and the active ester compound (B-3) in the state of the toluene solution of 65 mass % of non-volatile matter was obtained. The active ester equivalent of the obtained active ester compound (B-3) was 259 g/eq.

활성 에스테르 화합물 (B-1) 내지 활성 에스테르 화합물 (B-3)의 동정(同定)은 이하와 같이 행하였다. 동정의 결과, 활성 에스테르 화합물 (B-1)은, 일반식 (b-3)의 Ar31이 식 (1)로 표시되는 기를 갖고, 활성 에스테르 화합물 (B-2)는, 일반식 (b-3)의 Ar31이 식 (2)로 표시되는 기를 갖고, 활성 에스테르 화합물 (B-3)은, 일반식 (b-3)의 Ar31이 식 (3)으로 표시되는 기(n=1 내지 5)를 갖는 것을 알 수 있었다.The active ester compound (B-1) to the active ester compound (B-3) were identified as follows. As a result of identification, in the active ester compound (B-1), Ar 31 in the general formula (b-3) has a group represented by the formula (1), and the active ester compound (B-2) in the general formula (b-) Ar 31 of 3) has a group represented by formula (2), and in the active ester compound (B-3), Ar 31 of general formula (b-3) is a group represented by formula (3) (n=1 to 5) was found to have

<실시예 1: 수지 조성물 1의 조제><Example 1: Preparation of resin composition 1>

(A) 성분으로서의 에폭시 수지 「ESN475V」(닛테츠 케미컬 & 머티리얼사 제조, 에폭시 당량: 약 330g/eq.) 3부와, (A) 성분으로서의 에폭시 수지 「HP-4032-SS」(DIC사 제조, 에폭시 당량: 약 144g/eq.) 7부를, 메틸에틸케톤(MEK) 10부에 용해시켜, 에폭시 수지 용액 A를 얻었다.(A) 3 parts of epoxy resin "ESN475V" (manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd., epoxy equivalent: about 330 g/eq.) as component (A) and epoxy resin "HP-4032-SS" as component (A) (manufactured by DIC Corporation) , epoxy equivalent: about 144 g/eq.) 7 parts were dissolved in 10 parts of methyl ethyl ketone (MEK) to obtain an epoxy resin solution A.

당해 에폭시 수지 용액 A에, (B) 성분으로서 활성 에스테르 화합물 (B-1) 25부, (C) 성분으로서의, 아민계 알콕시실란 화합물(신에츠 카가쿠코교사 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자직경 0.77㎛, 아도마텍스사 제조 「SO-C2」)(이하, 「무기 충전재 A」라고도 함) 65부, (E) 성분으로서의 이미다졸 화합물 「1B2PZ」(시코쿠 카세이사 제조) 0.2부를 첨가하여, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산하여 수지 바니시 A를 조제하였다. In the epoxy resin solution A, 25 parts of active ester compound (B-1) as component (B), and amine-based alkoxysilane compound (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) as component (C). Silica (average particle diameter 0.77 µm, manufactured by Adomatex Corporation "SO-C2") (hereinafter also referred to as "inorganic filler A") 65 parts, (E) imidazole compound "1B2PZ" as component "1B2PZ" (manufactured by Shikoku Kasei Corporation) 0.2 part was added, it disperse|distributed uniformly with a high-speed rotation mixer, and the resin varnish A was prepared.

무기 충전재 A의 평균 입자직경은 0.5㎛이고, 비표면적이 5.9㎡/g이었다.The average particle diameter of the inorganic filler A was 0.5 micrometer, and the specific surface area was 5.9 m<2>/g.

<실시예 2: 수지 조성물 2의 조제><Example 2: Preparation of resin composition 2>

실시예 1에서, 활성 에스테르 화합물 (B-1) 25부를, 활성 에스테르 화합물 (B-2) 25부로 바꾸었다.In Example 1, 25 parts of the active ester compound (B-1) was replaced with 25 parts of the active ester compound (B-2).

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 2를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 2 was prepared in the same manner as in Example 1.

<실시예 3: 수지 조성물 3의 조제><Example 3: Preparation of resin composition 3>

실시예 1에서, 활성 에스테르 화합물 (B-1) 25부를, 활성 에스테르 화합물 (B-3) 25부로 바꾸었다.In Example 1, 25 parts of the active ester compound (B-1) was replaced with 25 parts of the active ester compound (B-3).

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 3을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 3 was prepared in the same manner as in Example 1.

<실시예 4: 수지 조성물 4의 조제><Example 4: Preparation of resin composition 4>

실시예 1에서, In Example 1,

활성 에스테르 화합물 (B-1)의 양을 25부에서 22부로 바꾸고,changing the amount of the active ester compound (B-1) from 25 parts to 22 parts,

이미다졸 화합물(시코쿠 카세이코교사 제조 1B2PZ)의 양을 0.2부에서 0.02부로 바꾸고,The amount of the imidazole compound (1B2PZ manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) was changed from 0.2 part to 0.02 part,

트리아진 함유 크레졸 노볼락 수지(DIC 제조 「LA-3018-50P」, 고형분 50질량%의 메톡시프로판올 용액) 2부, 카르보디이미드계 수지(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 1부를 사용하였다.2 parts of triazine-containing cresol novolac resin (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, methoxypropanol solution having a solid content of 50% by mass), carbodiimide-based resin (“V-03” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent) About 216, toluene solution of 50 mass % of solid content) 1 part was used.

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 4를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 4 was prepared in the same manner as in Example 1.

<실시예 5: 수지 조성물 5의 조제><Example 5: Preparation of resin composition 5>

실시예 2에 있어서,In Example 2,

활성 에스테르 화합물 (B-2)의 양을 25부에서 22부로 바꾸고,changing the amount of the active ester compound (B-2) from 25 parts to 22 parts,

이미다졸 화합물(시코쿠 카세이코교사 제조 1B2PZ)의 양을 0.2부에서 0.02부로 바꾸고,The amount of the imidazole compound (1B2PZ manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) was changed from 0.2 part to 0.02 part,

트리아진 함유 크레졸 노볼락 수지(DIC 제조 「LA-3018-50P」, 고형분 50질량%의 메톡시프로판올 용액) 2부, 카르보디이미드계 수지(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 1부를 사용하였다.2 parts of triazine-containing cresol novolac resin (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, methoxypropanol solution having a solid content of 50% by mass), carbodiimide-based resin (“V-03” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent) About 216, toluene solution of 50 mass % of solid content) 1 part was used.

이상의 사항 이외에는 실시예 2과 동일하게 수지 조성물 5를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 5 was prepared in the same manner as in Example 2.

<실시예 6: 수지 조성물 6의 조제><Example 6: Preparation of resin composition 6>

실시예 3에서,In Example 3,

활성 에스테르 화합물 (B-3)의 양을 25부에서 22부로 바꾸고,changing the amount of the active ester compound (B-3) from 25 parts to 22 parts,

이미다졸 화합물(시코쿠 카세이코교사 제조 1B2PZ)의 양을 0.2부에서 0.02부로 바꾸고,The amount of the imidazole compound (1B2PZ manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) was changed from 0.2 part to 0.02 part,

트리아진 함유 크레졸 노볼락 수지(DIC 제조 「LA-3018-50P」, 고형분 50질량%의 메톡시프로판올 용액) 2부, 카르보디이미드계 수지(닛신보 케미컬사 제조 「V-03」, 활성기 당량 약 216, 고형분 50질량%의 톨루엔 용액) 1부를 사용하였다.2 parts of triazine-containing cresol novolac resin (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, methoxypropanol solution having a solid content of 50% by mass), carbodiimide-based resin (“V-03” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent) About 216, toluene solution of 50 mass % of solid content) 1 part was used.

이상의 사항 이외에는 실시예 3과 동일하게 수지 조성물 6을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 6 was prepared in the same manner as in Example 3.

<실시예 7: 수지 조성물 7의 조제><Example 7: Preparation of resin composition 7>

실시예 1에서,In Example 1,

활성 에스테르 화합물 (B-1)의 양을 25부에서 22부로 바꾸고,changing the amount of the active ester compound (B-1) from 25 parts to 22 parts,

이미다졸 화합물(시코쿠 카세이코교사 제조 1B2PZ)의 양을 0.2부에서 0.02부로 바꾸고,The amount of the imidazole compound (1B2PZ manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) was changed from 0.2 part to 0.02 part,

트리아진 함유 크레졸 노볼락 수지(DIC 제조 「LA-3018-50P」, 고형분 50질량%의 메톡시프로판올 용액) 2부를 사용하고,2 parts of triazine-containing cresol novolac resin ("LA-3018-50P" manufactured by DIC, methoxypropanol solution having a solid content of 50% by mass) is used,

비닐벤질 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「OPE-2St」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 2부를 사용하였다. 2 parts of vinylbenzyl resin ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemicals, toluene solution of 65 mass % of solid content) was used.

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 7을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 7 was prepared in the same manner as in Example 1.

<실시예 8: 수지 조성물 8의 조제><Example 8: Preparation of resin composition 8>

실시예 7에서,In Example 7,

비닐벤질 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「OPE-2St」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 2부를, 말레이미드 수지(닛폰 카야쿠사 제조 「MIR-3000-70MT」, 고형분 70질량%의 톨루엔·MEK 용액) 2부로 바꾸었다.2 parts of vinyl benzyl resin ("OPE-2St" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, toluene solution having a solid content of 65% by mass), maleimide resin ("MIR-3000-70MT" manufactured by Nippon Kayaku Corporation, toluene/MEK having a solid content of 70% by mass) solution) was replaced with 2 parts.

이상의 사항 이외에는 실시예 7과 동일하게 수지 조성물 8을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 8 was prepared in the same manner as in Example 7.

<실시예 9: 수지 조성물 9의 조제><Example 9: Preparation of resin composition 9>

실시예 7에서,In Example 7,

비닐벤질 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「OPE-2St」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 2부를, 말레이미드 수지(DMI사 제조 「BMI-689」) 1부로 바꾸었다.2 parts of vinylbenzyl resin ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Company, toluene solution with a solid content of 65 mass %) was replaced with 1 part of maleimide resin ("BMI-689" by DMI).

이상의 사항 이외에는 실시예 7과 동일하게 수지 조성물 9를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 9 was prepared in the same manner as in Example 7.

<실시예 10: 수지 조성물 10의 조제><Example 10: Preparation of resin composition 10>

실시예 7에서,In Example 7,

비닐벤질 수지(미츠비시 가스 카가쿠사 제조 「OPE-2St」, 고형분 65질량%의 톨루엔 용액) 2부를, 말레이미드계 수지(DMI사 제조 「BMI-1500」) 1부로 바꾸었다.2 parts of vinyl benzyl resin ("OPE-2St" by Mitsubishi Gas Chemical Company, toluene solution of 65 mass % of solid content) was replaced with 1 part of maleimide-type resin ("BMI-1500" by DMI).

이상의 사항 이외에는 실시예 7과 동일하게 수지 조성물 10을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 10 was prepared in the same manner as in Example 7.

<비교예 1: 수지 조성물 11의 조제><Comparative Example 1: Preparation of resin composition 11>

실시예 1에서, 활성 에스테르 화합물 (B-1) 25부를, 기타 경화제(활성 에스테르계 경화제, DIC사 제조, 「HPC8150-62T」, 고형분 62%의 톨루엔 용액) 25부로 바꾸었다.In Example 1, 25 parts of the active ester compound (B-1) was replaced with 25 parts of another curing agent (active ester curing agent, manufactured by DIC, "HPC8150-62T", 62% solid content toluene solution).

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 11을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 11 was prepared in the same manner as in Example 1.

<비교예 2: 수지 조성물 12의 조제><Comparative Example 2: Preparation of resin composition 12>

실시예 1에서, 활성 에스테르 화합물 (B-1) 25부를, 기타 경화제(활성 에스테르계 경화제, DIC사 제조, 「HPC8000-65T」, 고형분 65%의 톨루엔 용액) 23부로 바꾸었다.In Example 1, 25 parts of the active ester compound (B-1) was replaced with 23 parts of another curing agent (active ester curing agent, manufactured by DIC, "HPC8000-65T", 65% solid content toluene solution).

이상의 사항 이외에는 실시예 1과 동일하게 수지 조성물 12를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 12 was prepared in the same manner as in Example 1.

<비교예 3: 수지 조성물 13의 조제><Comparative Example 3: Preparation of resin composition 13>

실시예 4에서, 활성 에스테르 화합물 (B-1) 22부를, 기타 경화제(활성 에스테르계 경화제, DIC사 제조, 「HPC8150-62T」, 고형분 62%의 톨루엔 용액 22부로 바꾸었다. In Example 4, 22 parts of active ester compound (B-1) was replaced with 22 parts of other hardening|curing agents (active ester type hardening|curing agent, the DIC company make, "HPC8150-62T", toluene solution of 62% of solid content).

이상의 사항 이외에는 실시예 4와 동일하게 수지 조성물 13을 조제하였다.Except for the above, a resin composition 13 was prepared in the same manner as in Example 4.

<비교예 4: 수지 조성물 14의 조제><Comparative Example 4: Preparation of resin composition 14>

실시예 3에서, 활성 에스테르 화합물 (B-2) 22부를, 기타 경화제(활성 에스테르계 경화제, DIC사 제조, 「HPC8000-65T」, 고형분 65%의 톨루엔 용액) 21부로 바꾸었다. In Example 3, 22 parts of the active ester compound (B-2) were replaced with 21 parts of other curing agents (active ester curing agent, manufactured by DIC, "HPC8000-65T", 65% solid content toluene solution).

이상의 사항 이외에는 실시예 3과 동일하게 수지 조성물 14를 조제하였다.Except for the above, a resin composition 14 was prepared in the same manner as in Example 3.

<라미네이트 후의 얼룩의 평가, 산술 평균 거칠기, 도금 도체층의 필 강도의 측정><Evaluation of unevenness after lamination, arithmetic mean roughness, measurement of peeling strength of plated conductor layer>

(1) 수지 조성물층의 두께가 40㎛의 수지 시트 A의 제작(1) Preparation of resin sheet A having a thickness of the resin composition layer of 40 µm

지지체로서, 이형층을 구비한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍사 제조 「AL5」, 두께 38㎛)을 준비하였다. 이 지지체의 이형층 위에, 실시예 및 비교예에서 얻어진 수지 조성물을, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 40㎛가 되도록 균일하게 도포하였다. 그 후, 수지 조성물을 80℃ 내지 100℃(평균 90℃)에서 4분간 건조시켜서, 지지체 및 수지 조성물층을 포함하는 수지 시트 A를 얻었다.As a support body, the polyethylene terephthalate film ("AL5" by Lintec company, 38 micrometers in thickness) provided with the mold release layer was prepared. On the release layer of this support body, the resin composition obtained by the Example and the comparative example was apply|coated uniformly so that the thickness of the resin composition layer after drying might be set to 40 micrometers. Then, the resin composition was dried at 80 degreeC - 100 degreeC (average of 90 degreeC) for 4 minutes, and the resin sheet A containing a support body and a resin composition layer was obtained.

(2) 내층 기판의 준비(2) Preparation of the inner layer substrate

내층 회로를 형성한 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.4mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)의 양면을 마이크로 에칭제 (맥크사 제조 「CZ8101」)로 1㎛ 에칭하여 구리 표면의 조화 처리를 행하였다.Both sides of the glass cloth base epoxy resin double-sided copper clad laminate (copper foil thickness 18 µm, substrate thickness 0.4 mm, Panasonic Corporation "R1515A") on which the inner-layer circuit was formed were coated with a micro-etchant ("CZ8101" manufactured by Mack Corporation) to 1 µm It etched and roughened the copper surface.

(3) 수지 시트 A의 라미네이트(3) Lamination of resin sheet A

배치식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물층이 내층 기판과 접하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 조정한 후, 120℃, 압력 0.74MPa에서 30초간 압착시킴으로써 실시하였다. 이어서, 100℃, 압력 0.5MPa에서 60초간 열 프레스를 행하였다.Using a batch-type vacuum pressurizing laminator (manufactured by Nikko Materials, a two-stage build-up laminator "CVP700"), it laminated on both surfaces of the inner-layer substrate so that the resin composition layer was in contact with the inner-layer substrate. After lamination was pressure-reduced for 30 second and air pressure was adjusted to 13 hPa or less, it was performed by crimping|bonding at 120 degreeC and pressure 0.74 MPa for 30 second. Then, it hot-pressed for 60 second at 100 degreeC and the pressure of 0.5 MPa.

(4) 수지 조성물층의 열경화(4) thermosetting of the resin composition layer

그 후, 수지 시트 A가 라미네이트된 내층 기판을, 130℃의 오븐에 투입하여 30분간 가열하고, 이어서 170℃의 오븐에 옮겨서 30분간 가열하고, 수지 조성물층을 열경화시켜서, 절연층을 형성하였다. 그 후, 지지체를 박리하여, 절연층, 내층기판 및 절연층을 이 순으로 갖는 경화 기판 A를 얻었다.Thereafter, the inner layer substrate on which the resin sheet A was laminated was put into an oven at 130° C. and heated for 30 minutes, then transferred to an oven at 170° C. and heated for 30 minutes, and the resin composition layer was thermosetted to form an insulating layer. . Then, the support body was peeled, and the cured substrate A which has an insulating layer, an inner-layer board|substrate, and an insulating layer in this order was obtained.

(5) 라미네이트 후의 얼룩의 평가(5) Evaluation of stains after lamination

경화 기판 A의 양면에 대해, 수지 시트 A가 라미네이트된 부분(적층판과는 반대측의 표면)의 표면 균일성의 관찰을 육안으로 행하여, 하기와 같이 평가하였다.About both surfaces of the cured substrate A, observation of the surface uniformity of the part (surface on the opposite side to the laminated board) on which the resin sheet A was laminated was visually observed and evaluated as follows.

○: 얼룩이 전혀 관찰되지 않고, 완전히 균일한 표면이다.(circle): A nonuniformity is not observed at all, and it is a completely uniform surface.

×: 수지 시트가 라미네이트된 부분에, 불균일한 부분이 관찰된다.x: A non-uniform part is observed in the part on which the resin sheet was laminated.

(6) 조화 처리(6) Harmonization processing

경화 기판 A에, 조화 처리로서의 디스미어 처리를 행하였다. 디스미어 처리로서는, 하기의 습식 디스미어 처리를 실시하였다.The desmear process as a roughening process was performed to the hardened board|substrate A. As a desmear process, the following wet desmear process was implemented.

(습식 디스미어 처리)(Wet desmear treatment)

경화 기판 A를, 팽윤액(아토텍 재팬사 제조 「스웰링 딥 세큐리간트 P」, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 및 수산화나트륨의 수용액)에 60℃에서 5분간 침지하고, 이어서, 산화제 용액(아토텍 재팬사 제조 「컨센트레이트 컴팩트 CP」, 과망간산칼륨 농도의 약 6%, 수산화나트륨 농도 약 4%의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지하였다. 이어서, 중화액(아토텍 재팬사 제조 「리덕션 솔루션 세큐리간트 P」, 황산 수용액)에 40℃에서 5분간 침지한 후, 80℃에서 15분간 건조하였다.The cured substrate A was immersed in a swelling solution (“Swelling Deep Securigant P” manufactured by Atotech Japan, an aqueous solution of diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide) at 60° C. for 5 minutes, followed by an oxidizing agent solution (Atotech Japan) It was immersed at 80 degreeC for 20 minute(s) in the "Concentrate Compact CP" manufactured by Tec Japan, an aqueous solution having a potassium permanganate concentration of about 6% and a sodium hydroxide concentration of about 4%). Next, after immersing in the neutralizing liquid ("Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan, sulfuric acid aqueous solution) at 40 degreeC for 5 minutes, it dried at 80 degreeC for 15 minutes.

(7) 조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)의 측정(7) Measurement of the arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after roughening treatment

조화 처리 후의 절연층 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)를, 비접촉형 표면 조도계(블루카사 제조 WYKO NT3300)를 사용하여, VSI 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 121㎛×92㎛로서 얻어지는 수치에 의해 구하였다. 각각 10점의 평균값을 구함으로써 측정하였다.The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the insulating layer after the roughening treatment was calculated using a non-contact type surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Bluka Corporation) in VSI mode and a 50x lens to a value obtained with a measurement range of 121 µm × 92 µm. saved by It measured by calculating|requiring the average value of 10 points|pieces, respectively.

(8) 도체층의 형성(8) Formation of conductor layer

세미 어디티브법에 따라 절연층의 조화면에 도체층을 형성하였다. 즉, 조화 처리 후의 기판을 PdCl2를 포함하는 무전해 도금액에 40℃에서 5분간 침지한 후 무전해 구리 도금액에 25℃에서 20분간 침지하였다. 이어서, 150℃에서 30분간 가열하여 어닐 처리를 행한 후에 에칭 레지스트를 형성하고, 에칭에 의해 패턴 형성하였다. 그 후, 황산구리 전해 도금을 행하여 두께 25㎛의 도체층을 형성하고, 어닐 처리를 190℃에서 60분간 행하였다. 얻어진 기판을 「평가 기판 B」라고 칭한다.A conductor layer was formed on the roughened surface of the insulating layer according to the semi-additive method. That is, the substrate after roughening was immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 at 40° C. for 5 minutes, and then immersed in an electroless copper plating solution at 25° C. for 20 minutes. Then, after heating at 150 degreeC for 30 minutes and performing annealing process, the etching resist was formed, and it pattern-formed by etching. Then, copper sulfate electroplating was performed, the 25-micrometer-thick conductor layer was formed, and the annealing process was performed at 190 degreeC for 60 minutes. The obtained board|substrate is called "evaluation board|substrate B".

(9) 도금 도체층의 필 강도의 측정(9) Measurement of Peeling Strength of Plated Conductor Layer

절연층과 도체층의 필 강도의 측정은 일본 공업 규격(JIS C6481)에 준거하여 행하였다. 구체적으로는, 평가 기판 B의 도체층에, 폭 10mm, 길이 100mm의 부분의 절개를 넣고, 이 일단을 벗겨서 집기 도구로 집고, 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 수직 방향으로 35mm를 떼어냈을 때의 하중(kgf/cm)을 측정하여, 박리 강도를 구하였다. 측정에는, 인장 시험기(TSE사 제조 「AC-50C-SL」)를 사용하였다.The measurement of the peeling strength of an insulating layer and a conductor layer was performed based on Japanese Industrial Standards (JIS C6481). Specifically, in the conductor layer of the evaluation substrate B, a cutout of a portion having a width of 10 mm and a length of 100 mm is made, and this end is peeled off and picked up with a household tool, and 35 mm is peeled off in the vertical direction at a rate of 50 mm/min at room temperature. The load (kgf/cm) was measured to determine the peel strength. A tensile tester ("AC-50C-SL" manufactured by TSE) was used for the measurement.

<유전 특성의 평가><Evaluation of genetic characteristics>

유전 특성의 평가는 유전 정접(Df)의 값을 측정함으로써 행하였다. 구체적으로는, 이하와 같이 하여 평가용 경화물 B를 제작하여 유전 정접(Df)을 측정하였다.The dielectric properties were evaluated by measuring the value of the dielectric loss tangent (Df). Specifically, the cured product B for evaluation was prepared as follows, and the dielectric loss tangent (Df) was measured.

실시예 및 비교예에서 얻어진 수지 시트 A를 190℃의 오븐에서 90분 경화하였다. 오븐에서 꺼낸 수지 시트 A로부터 지지체를 벗김으로써, 수지 조성물층의 경화물을 얻었다. 그 경화물을 길이 80mm, 폭 2mm로 잘라내어 평가용 경화물 B라고 하였다.The resin sheet A obtained by the Example and the comparative example was hardened|cured in 190 degreeC oven for 90 minutes. The hardened|cured material of the resin composition layer was obtained by peeling a support body from the resin sheet A taken out from oven. The hardened|cured material was cut out to 80 mm in length and 2 mm in width, and it was set as the hardened|cured material B for evaluation.

각 평가용 경화물 B에 대해, 아질렌트 테크놀로지즈(Agilent Technologies)사 제조 「HP8362B」를 사용하여, 공동 공진 섭동법에 의해 측정 주파수 5.8GHz, 측정 온도 23℃에서, 유전 정접의 값(Df값)을 측정하였다. 2개의 시험편에서 측정을 실시하여, 그 평균을 산출하였다.For each cured product B for evaluation, the value of the dielectric loss tangent (Df value) at a measurement frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23° C. by the cavity resonance perturbation method using "HP8362B" manufactured by Agilent Technologies. ) was measured. It measured with two test pieces, and the average was computed.

<동박 밀착성(필 강도)의 측정><Measurement of copper foil adhesion (peel strength)>

(1) 밀착 평가용 기판의 제작(1) Preparation of substrate for adhesion evaluation

내층 기판으로서, 표면에 동박을 갖는 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18㎛, 기판의 두께 0.8mm, 파나소닉사 제조 「R1515A」)을 준비하였다. 이 내층 기판의 표면의 동박을, 모두 에칭하여 제거하였다. 그 후, 190℃에서 30분 건조를 행하였다.As the inner-layer substrate, a glass cloth-based epoxy resin double-sided copper clad laminate having a copper foil on the surface (copper foil thickness 18 µm, substrate thickness 0.8 mm, "R1515A" manufactured by Panasonic Corporation) was prepared. All the copper foils on the surface of the inner layer substrate were removed by etching. Then, drying was performed at 190 degreeC for 30 minutes.

상술한 실시예 및 비교예에서 얻은 수지 시트 A를, 배치식 진공 가압 라미네이터(닛코 머티리얼즈사 제조, 2스테이지 빌드업 라미네이터 「CVP700」)를 사용하여, 수지 조성물층이 상기의 내층 기판과 접합하도록, 내층 기판의 양면에 라미네이트하였다. 이 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 온도 100℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착함으로써, 실시하였다.The resin sheet A obtained in the above-mentioned Examples and Comparative Examples was subjected to a batch-type vacuum pressurization laminator (manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., two-stage build-up laminator "CVP700") so that the resin composition layer was bonded to the inner-layer substrate, Laminated on both sides of the inner layer substrate. This lamination was performed by pressure-reducing for 30 second and making atmospheric|air pressure 13 hPa or less, and then crimping|bonding for 30 second at the temperature of 100 degreeC, and the pressure of 0.74 MPa.

이어서, 라미네이트된 수지 시트 A를, 대기압 하, 100℃, 압력 0.5MPa로 60초간, 열 프레스하여 평활화하였다. 그 후, 지지체를 박리하여, 수지 조성물층, 내층 기판 및 수지 조성물층을 이 순으로 포함하는 「중간 복층체 I」를 얻었다.Next, the laminated resin sheet A was hot-pressed under atmospheric pressure, 100 degreeC, and the pressure of 0.5 MPa for 60 second, and it smoothed. Then, the support body was peeled, and "intermediate|middle multilayer body I" which contains a resin composition layer, an inner-layer board|substrate, and a resin composition layer in this order was obtained.

다른 한편, 광택면을 갖는 동박(두께 35㎛, 미츠이 킨조쿠사 제조 「3EC-III」)을 준비하였다. 이 동박의 광택면을, 마이크로에칭제(맥크사 제조 「CZ8101」)를 사용하여, 구리 에칭량 1㎛로 에칭하여, 조화 처리를 행하였다. 이렇게 하여 얻어진 동박을 「조화 동박」이라고 말한다.On the other hand, a copper foil having a glossy surface (thickness of 35 µm, "3EC-III" manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd.) was prepared. The gloss surface of this copper foil was etched by the copper etching amount of 1 micrometer using the micro-etching agent ("CZ8101" by Mack Corporation), and roughening process was performed. The copper foil obtained in this way is called "roughened copper foil."

이 조화 동박을, 당해 조화 동박의 조화 처리를 실시한 면이 중간 복층체 I의 수지 조성물층에 접합하도록, 중간 복층체 I의 양면에 라미네이트하였다. 이 라미네이트는, 전술한 내층 기판으로의 수지 시트의 라미네이트와 동일한 조건으로 행하였다. 이로써, 조화 동박, 수지 조성물층, 내층 기판, 수지 조성물층 및 조화 동박을 이 순으로 포함하는 「중간 복층체 II」를 얻었다.This roughened copper foil was laminated on both surfaces of the intermediate|middle multilayer body I so that the surface which gave the roughening process of the said roughened copper foil might bond to the resin composition layer of the intermediate|middle multilayer body I. This lamination was performed under the same conditions as lamination|stacking of the resin sheet to the inner-layer board|substrate mentioned above. Thereby, "intermediate|middle multilayer body II" containing roughened copper foil, a resin composition layer, an inner-layer board|substrate, a resin composition layer, and roughened copper foil in this order was obtained.

이 중간 복층체 II를, 100℃의 오븐에 투입하여 30분간 가열하고, 그 다음에 170℃의 오븐에 옮겨서 30분간 가열하였다. 이어서, 중간 복층체 II를, 오븐으로부터 실온 분위기 하에서 꺼낸 후, 추가로 200℃의 오븐에 투입하여 90분간 추가로 가열하였다. 이로써, 수지 조성물층의 열경화를 행하여, 조화 동박, 수지 조성물층의 경화물로서의 절연층, 내층 기판, 수지 조성물층의 경화물로서의 절연층, 및, 조화 동박을 이 순으로 포함하는 「평가 기판 C」를 얻었다. 이 평가 기판 C에 있어서, 조화 동박이 도체층에 상당한다.This intermediate multilayer body II was put into an oven at 100° C. and heated for 30 minutes, then transferred to an oven at 170° C. and heated for 30 minutes. Next, the intermediate multilayer body II was taken out from the oven under room temperature atmosphere, and then further put into an oven at 200° C. and further heated for 90 minutes. Thereby, the resin composition layer is thermosetted, and the roughened copper foil, the insulating layer as the hardened|cured material of the resin composition layer, the inner layer substrate, the insulating layer as the hardened|cured material of the resin composition layer, and the "evaluation board|substrate containing the roughened copper foil in this order" C" was obtained. In this evaluation board|substrate C, roughened copper foil corresponds to a conductor layer.

(2) 동박 밀착성(필 강도)의 측정(2) Measurement of copper foil adhesion (peel strength)

상기의 평가 기판 C를 이용하여, 조화 동박과 절연층과의 사이의 필 강도의 측정을 행하였다. 이 필 강도의 측정은, JIS C6481에 준거하여 행하였다. 구체적으로는, 하기의 조작에 의해, 필 강도의 측정을 행하였다.The peeling strength between roughened copper foil and an insulating layer was measured using said evaluation board|substrate C. The measurement of this peeling strength was performed based on JISC6481. The peeling strength was specifically, measured by the following operation.

평가 기판 C의 조화 동박에, 폭 10mm, 길이 100mm의 직사각형 부분을 둘러싸는 절개를 넣었다. 이 직사각형 부분의 일단을 벗겨서, 집기 도구(티에스이사 제조, 오토콤형 시험기 「AC-50C-SL」)로 집었다. 상기 직사각형 부분의 길이 35mm의 범위를 수직 방향으로 떼어내고, 이 떼어낼 때의 하중(kgf/cm)을 필 강도로서 측정하였다. 상기 떼어내기는, 실온 중에서, 50mm/분의 속도로 행하였다. 또한, HAST 시험(130℃, 습도 85%RH, 100시간) 후에 다시 동박 밀착성(필 강도)을 측정하였다.In the roughened copper foil of the evaluation board|substrate C, the cutout surrounding the rectangular part of width 10mm and length 100mm was put. One end of this rectangular portion was peeled off and picked up with a household tool (manufactured by TSE Co., Ltd., Autocom-type testing machine "AC-50C-SL"). A range of 35 mm in length of the rectangular portion was removed in the vertical direction, and the load (kgf/cm) at the time of peeling was measured as the peeling strength. The said peeling was performed at room temperature at the speed|rate of 50 mm/min. Moreover, copper foil adhesiveness (peel strength) was measured again after a HAST test (130 degreeC, humidity 85%RH, 100 hours).

Figure pat00030
Figure pat00030

실시예 1 내지 10에서, (C) 성분 내지 (E) 성분을 함유하지 않는 경우라도, 정도에 차이는 있지만, 상기 실시예와 동일한 결과로 귀착됨을 확인하였다.In Examples 1 to 10, it was confirmed that even in the case where component (C) to component (E) was not contained, the same result as in the above example was obtained, although there was a difference in the degree.

Claims (10)

(A) 에폭시 수지, 및
(B) 하기 식 (1) 내지 (3)으로 표시되는 기 중 적어도 어느 하나를 갖는 활성 에스테르 화합물
을 함유하는 수지 조성물.
Figure pat00031

(상기 식에서, *는 결합손을 나타낸다. 식 (3)에서, n은 1 내지 5의 정수를 나타낸다)
(A) an epoxy resin, and
(B) an active ester compound having at least one of the groups represented by the following formulas (1) to (3)
A resin composition containing
Figure pat00031

(In the above formula, * represents a bond. In formula (3), n represents an integer of 1 to 5)
제1항에 있어서, (B) 성분이 하기 일반식 (b-1)로 표시되는 활성 에스테르계 화합물인, 수지 조성물.
Figure pat00032

(일반식 (b-1)에서,
Ar11은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타내고,
Ar12는, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기를 나타내고,
Ar13은, 각각 독립적으로, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기, 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 지방족 탄화수소기, 산소 원자, 유황 원자, 또는 이들의 조합으로 이루어진 2가의 기를 나타낸다. a는 1 내지 6의 정수를 나타내고, b는 0 내지 10의 정수를 나타낸다)
The resin composition according to claim 1, wherein the component (B) is an active ester compound represented by the following general formula (b-1).
Figure pat00032

(In general formula (b-1),
Ar 11 each independently represents a group represented by the formula (1), a group represented by the formula (2), or a group represented by the formula (3),
Ar 12 each independently represents a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent,
Ar 13 each independently represents a divalent group consisting of a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent, an oxygen atom, a sulfur atom, or a combination thereof. a represents an integer from 1 to 6, b represents an integer from 0 to 10)
제2항에 있어서, 일반식 (b-1)에서의 Ar13이, 각각 독립적으로 치환기를 갖고 있어도 좋은 2가의 방향족 탄화수소기 및 산소 원자를 조합한 2가의 기를 나타내는, 수지 조성물. The resin composition according to claim 2, wherein Ar 13 in the general formula (b-1) each independently represents a divalent group obtained by combining a divalent aromatic hydrocarbon group which may have a substituent and an oxygen atom. 제1항에 있어서, (B) 성분이 하기 일반식 (b-3)으로 표시되는 활성 에스테르계 화합물인, 수지 조성물.
Figure pat00033

(일반식 (b-3)에서,
Ar31은, 각각 독립적으로 식 (1)로 표시되는 기, 식 (2)로 표시되는 기, 또는 식 (3)으로 표시되는 기를 나타낸다. a2는 1 내지 6의 정수를 나타내고, c2는 1 내지 5의 정수를 나타내고, d는 각각 독립적으로 0 내지 6의 정수를 나타낸다)
The resin composition according to claim 1, wherein the component (B) is an active ester compound represented by the following general formula (b-3).
Figure pat00033

(In general formula (b-3),
Ar 31 each independently represents the group represented by the formula (1), the group represented by the formula (2), or the group represented by the formula (3). a2 represents an integer of 1 to 6, c2 represents an integer of 1 to 5, and d each independently represents an integer of 0 to 6)
제1항에 있어서, 추가로 (C) 무기 충전재를 함유하는, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, further comprising (C) an inorganic filler. 제1항에 있어서, 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is for forming an insulating layer. 제1항에 있어서, 도체층을 형성하기 위한 절연층 형성용인, 수지 조성물.The resin composition according to claim 1, which is for forming an insulating layer for forming a conductor layer. 지지체와, 당해 지지체 위에 마련된, 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 포함하는, 수지 시트.A resin sheet comprising a support and a resin composition layer comprising the resin composition according to any one of claims 1 to 7 provided on the support. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물에 의해 형성된 절연층을 포함하는, 프린트 배선판.The printed wiring board containing the insulating layer formed with the hardened|cured material of the resin composition in any one of Claims 1-7. 제9항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 9 .
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