KR20210084084A - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

본 명세서의 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 부화소가 마련 되어 화상을 표시하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 영상 데이터를 공급하는 데이터 구동부 및 상기 표시 패널과 상기 데이터 구동부 사이에 배치 되고, 상기 부화소에 점등 검사 신호를 인가하는 스위치 화소부 를 포함하고, 상기 스위치 화소부는 상기 복수의 부화소를 최 외곽 화소열과 나머지 화소열로 분리하여 구동 한다. 이에 따라, 스위칭 소자부는 최 외곽 화소열과 최 외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 분리하여 구동하므로, 마스크 공정 중에 발생할 수 있는 최 외곽 화소열에서 색 이상 불량을 검사 공정에서 검출이 가능하므로, 화상 품의를 향상 할 수 있다. 또한, 조기 검출이 용이 해짐에 따라, 이후 제조 공정을 추가로 진행하지 않으므로, 수율 향상이 될 수 있다.

Description

표시 장치{DISPLAY APPARATUS}
본 명세서는 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 점등 검사 시에 최 외곽 화소열을 구분하여 발광 시킬 수 있는, 표시 장치에 관한 것이다.
다양한 정보를 화면으로 구현해 주는 영상 표시 장치는 정보 통신시대의 핵심 기술로 더 얇고 더 가볍고 휴대가 가능하면서도 고성능의 방향으로 발전하고 있다. 이에 경량 박형으로 제조 가능한 표시 장치가 각광받고 있다. 이 표시 장치는 자발광 소자로서, 저전압 구동에 따라 소비 전력 측면에서 유리할 뿐만 아니라, 고속의 응답 속도, 높은 발광 효율, 시야각 및 명암 대비비(contrast ratio)도 우수하여, 차세대 디스플레이로서 연구되고 있다. 이 표시 장치는 매트릭스 형태로 배열된 다수의 화소들을 통해 영상을 구현한다. 다수의 화소들 각각은 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 다수의 트랜지스터를 포함한다.
이 같은 평판 표시 장치의 구체적인 예로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display appratus: LCD), 퀀텀 닷 표시장치(Quantum Dot Display Appratus: QD), 전계방출 표시 장치(Field Emission Display apparatus: FED), 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Diode: OLED) 등을 들 수 있다. 이중, 별도의 광원을 요구하지 않으며 장치의 컴팩트화 및 선명한 컬러 표시를 위한 수단으로 각광받고 있는 유기 발광 표시 장치는 스스로 발광 하는 유기 발광 다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답 속도가 빠르고, 명암비(Contrast Ration), 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다.
유기 발광 표시 장치는 자체 발광하는 유기 발광 다이오드를 이용하여 적색, 녹색, 청색 부화소를 다양한 모양과 배열로 구성하여 많은 화소 구조를 만들 수 있다. 그 중에서 적색, 녹색, 청색 부화소들이 다이아몬드 모양으로 배열된 다이아몬드 펜타일 화소 배열 구조가 인지 화질이 우수한 것으로 알려져 있다.
표시 장치의 제작 공정 중 각각의 적색 부화소, 녹색 부화소, 및 청색 부화소의 구동 이상 유무를 검사하기 위해 각각의 부화소들에 점등 검사 신호를 인가하여 구동 여부를 확인하는 점등 검사를 수행한다.
종래의 점등 검사는 모든 데이터 라인에 동시에 점등 검사 신호를 인가 하여 불량 유무를 확인하므로, 특정 부분을 별도로 검사 할 수 없다. 특히, 펜타일 화소 배열 구조로 형성 되는 표시 장치는 마스크 공정 상의 문제로 인해 최외곽 화소들의 색 이상 불량이 발생할 수 있으며, 점등 검사 시에 표시 패널 전체가 발광할 경우 주변부의 휘도로 인해 최외곽 화소열의 색 이상 불량의 인지가 어려운 문제가 있다.
본 명세서는 상기 언급된 문제를 해결하기 위해, 표시 장치의 점등 검사 시에 최외곽 화소열을 구분하여 발광시킬 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는, 복수의 부화소가 마련 되어 화상을 표시하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 영상 데이터를 공급하는 데이터 구동부 및 상기 표시 패널과 상기 데이터 구동부 사이에 배치 되고, 상기 부화소에 점등 검사 신호를 인가하는 스위치 화소부 를 포함하고, 상기 스위치 화소부는 상기 복수의 부화소를 최 외곽 화소열과 나머지 화소열로 분리하여 구동 할 수 있다.
또한, 본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치는, 데이터 라인과 게이트 라인이 교차 배열되어, 매트릭스 형태로 정의 된 화소 회로와, 펜타일 배열 구조를 갖는 발광 소자로 구성된 복수의 부화소가 마련 된 표시 영역과, 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 갖는 표시 패널, 상기 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부 및 상기 표시 패널의 비표시 영역에서 상기 데이터 라인에 접속 되는 스위치 화소부를 포함하고, 상기 스위치 화소부는 상기 데이터 구동부의 형성 전에 상기 복수의 부화소를 최 외곽 화소열과 나머지 화소열로 분리하여 점등 검사 신호를 인가 할 수 있다.
위에서 언급된 본 명세서의 기술적 과제 외에도, 본 명세서의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서의 일 실시예들에 의하면, 스위칭 소자부는 최외곽 화소열과 최 외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 분리하여 구동하므로, 마스크 공정 중에 발생할 수 있는 최외곽 화소열에서 색 이상 불량을 검사 공정에서 검출이 가능하므로, 표시 장치의 화상 품위를 향상시킬 수 있다. 또한, 최종 제품 완성 전에 불량을 검출할 수 있으므로, 이후 제조 공정을 추가로 진행하지 않게 되어 수율이 향상될 수 있다.
또한, 본 명세서의 다른 실시예들에 의하면, 스위칭 소자부에서 복수의 스위칭 트랜지스터가 중복하여 구성되는 것을 피할 수 있으므로, 트랜지스터 열화로 인한 누설 전류 오작동을 방지하는 효과를 더 얻을 수 있다.
본 명세서에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 화소 배열 구조에 대한 도면이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 화소 회로 및 동작 제어에 대한 블록도이다.
도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
도 5a 및 도 5b는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
도 6a 및 도 6b는 본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
본 명세서의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 일 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 명세서는 이하에서 개시되는 일 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 명세서의 일 예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하며, 본 명세서의 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 명세서의 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서의 일 예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서에 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 명세서의 예를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
본 명세서에서 언급된 “포함한다,” “갖는다,” “이루어진다” 등이 사용되는 경우 “만”이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, “상에,” “상부에,” “하부에,” “옆에” 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, “바로” 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, “후에,” “에 이어서,” “다음에,” “전에” 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
제 1, 제 2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성요소는 본 명세서의 기술적 사상 내에서 제 2 구성요소일 수도 있다.
“적어도 하나”의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, “제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나”의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다.
본 명세서의 여러 예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하에서는 본 명세서의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 그리고, 첨부된 도면에 도시된 구성요소들의 스케일은 설명의 편의를 위해 실제와 다른 스케일을 가지므로, 도면에 도시된 스케일에 한정되지 않는다.
도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치(100)는, 다수의 데이터라인(DL1~DLm) 및 다수의 게이트라인(GL1~GLn)이 배치되고, 다수의 부화소(SP: Sub Pixel)가 배치된 표시 패널(110)과, 표시 패널(110)의 상단 또는 하단에 연결되고 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동하는 데이터 구동부(120)와, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 구동하는 게이트 구동부(130)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하는 컨트롤러(140), 표시 패널(110)과 각 구동부(120, 130, 140) 등에 전원을 공급 하는 전원부 및 모니터링부 등을 포함한다.
도 1을 참조하면, 표시 패널(110)에는 다수의 부화소(SP)가 매트릭스 타입으로 배치된다.
따라서, 표시 패널(110)에는 다수의 부화소 라인(Sub Pixel Line)이 존재하는데, 부화소 라인은 부화소 행(Sub Pixel Row)일 수도 있고, 부화소 열(Sub Pixel Column)일 수도 있다. 아래에서는, 부화소 행을 부화소 라인으로 기재한다.
데이터 구동부(120)는, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)으로 데이터전압을 공급함으로써, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동한다. 여기서, 데이터 구동부(120)는 소스 구동부라고도 한다. 게이트 구동부(130)는, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 구동부(130)는 스캔 구동부일 수 있다.
컨트롤러(140)는, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어한다.
컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.
게이트 구동부(130)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트라인(GL1~GLn)으로 순차적으로 공급하여 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 순차적으로 구동한다.
게이트 구동부(130)는, 구동 방식이나 패널 설계 방식 등에 따라서, 도 1에서와 같이, 표시 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고, 경우에 따라서는, 양측에 위치할 수도 있다. 또한, 게이트 구동부(130)는, 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
데이터 구동부(120)는, 특정 게이트라인이 열리면, 컨트롤러(140)로부터 수신한 입력 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터라인(DL1~DLm)으로 공급함으로써, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동한다.
데이터 구동부(120)는, 적어도 하나의 소스 구동부 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터라인을 구동 할 수 있다.
각 전술한 게이트 구동부 집적회로 또는 소스 구동부 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 표시 패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
각 소스 구동부 집적회로는, 쉬프트 레지스터, 래치 회로 등을 포함하는 로직부와, 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital Analog Converter)와, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다. 다른 예로는, 부화소의 특성(예: 트랜지스터의 문턱 전압(Vth), 유기 발광 다이오드의 문턱 전압(Vth), 부화소의 휘도 등)을 보상하기 위하여 부화소의 특성을 센싱하기 위한 센싱 제어부를 더 포함할 수 있다.
또한, 각 소스 구동부 집적회로는, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 구동부 집적회로의 일 단은 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board)에 본딩되고, 타단은 표시 패널(110)에 본딩된다.
한편, 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable)신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 영상 데이터를 데이터 구동부(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭(DCLK) 등의 타이밍 신호를 입력받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)로 출력한다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 구동부(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 구동부(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 구동부 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 구동부(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Souce Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동부(120)를 구성하는 하나 이상의 소스 구동부 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 구동부 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 구동부(120)의 출력 타이밍을 제어한다.
컨트롤러(140)는, 적어도 하나의 소스 구동부 집적회로가 본딩된 소스 인쇄회로기판과 연성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 연성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체를 통해 연결된 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)에 배치될 수 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 앞서 설명한 바와 같이 기판 외부에서 별도로 형성될 수 있고, 데이터 구동부(120)와 일체화되어 형성될 수 있다. 데이터 구동부(120)는 소스 구동부 집적회로가 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있고, 또는 칩 온 글래스(COG: Chip on Glass) 방식으로 기판 상에 구현될 수도 있다.
이러한 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원부를 포함할 수 있다. 전원부는 표시 패널(110), 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130) 등으로 구동 전압을 포함하여, 각종 전압이나 전류를 공급하거나 공급되는 전압이나 전류를 제어할 수 있다.
표시 장치(100)는 스위칭 소자부(150)를 포함하여 제조 공정 중에 불량 유무를 판단하기 위한 점등 검사(Auto Probe, A/P)를 수행할 수 있다. 점등 검사를 수행하기 위해 스위칭 소자부(150)는 제조 공정 중에 점등 검사 신호(APS)를 외부의 점등 검사기로부터 입력받는다. 점등 검사 신호(APS)는 표시 패널 상에 배치된 화소들 각각이 정상적으로 구동하는지 여부를 검사할 수 있는 신호이다. 스위칭 소자부(150)는 화소들을 이루는 적색 부화소(SP)들, 녹색 부화소(SP)들, 및 청색 부화소(SP)들 각각에 점등 검사 신호(APS)를 인가한다.
본 명세서의 일 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display Device)로서, 각 부화소(SP)는 유기 발광 다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 이를 구동하기 위한 트랜지스터(TFT) 등의 회로 소자로 구성되어 있다. 각 부화소(SP)를 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 화소 배열 구조에 대한 도면이다.
도 2를 참조하면, 화소는 펜타일 구조로 배치될 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
표시 장치(100)는 자체 발광하는 OLED 소자를 이용하여 적색, 녹색, 청색 부화소(SP)를 다양한 모양과 배열로 구성하여 많은 화소 구조를 만들 수 있다.
도 2를 참조하면, 일 실시예예 따른 표시 장치(100)는 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 부화소(SP)가 다이아몬드 패턴 모양으로 배열된 다이아몬드 펜타일 화소 배열 구조를 갖는다. 도 2에 도시된 바와 같이 적색, 녹색, 청색 부화소(SP)들이 다이아몬드 모양으로 배열된 다이아몬드 펜타일 화소 배열 구조가 인지 화질이 우수할 수 있다. 적색, 녹색, 청색 부화소(SP) 각각은 적색, 녹색, 청색 광을 방출하는 유기 발광 다이오드(EL)일 수 있다.
제1 화소열에서 교대로 배치된 적색, 청색 부화소(SP)가 공유하는 제1 데이터 라인(DL1)은 도 2에 도시된 바와 같이 스캔 기간마다 서로 다른 전압 레벨의 적색 데이터 신호와 청색 데이터 신호를 교대로 공급 할 수 있다. 제3 화소열에서 교대로 배치된 청색, 적색 부화소(SP)가 공유하는 제3 데이터 라인(DL3)은 스캔 기간마다 서로 다른 전압 레벨의 청색 데이터 신호와 적색 데이터 신호를 교대로 공급할 수 있다.
그리고, 제2 화소열의 녹색 부화소(SP)들이 공유하는 제2 데이터 라인(DL2)과, 제4 화소열의 녹색 부화소(SP)들이 공유하는 제4 데이터 라인(DL4)은 스캔 기간마다 녹색 데이터 신호를 공급할 수 있다.
블랙 매트릭스 또는 뱅크 등의 개구부에서 유기 발광 다이오드(EL)의 발광 소자(E)가 위치하고, 컬러광을 방출하는 유기 발광 다이오드(EL)의 발광 소자(E)의 형상에 의해 각 부화소(SP)의 형상이 결정될 수 있다. 유기 발광 다이오드(EL)는 자신의 제1 구동전극(AE)이 컨택부(SPC)를 통해 접속된 화소 회로(SPnm)(n, m은 자연수)에 의해 구동될 수 있다.
제1 화소열(C1)은 제1 데이터 라인(DL1)과 오버랩하면서 제1 데이터 라인(DL1)의 방향을 따라 배열된 제1 화소행(L1)의 B11 부화소(SP)와 제2 화소행(L2)의 R21 부화소(SP)를 포함할 수 있다. 제2 화소열(C2)은 제2 데이터 라인(DL2)과 오버랩하며 제2 데이터 라인(DL2)의 방향을 따라 배열된 제1 화소행(L1)의 G12 부화소(SP)와 제2 화소행(L2)의 G22 부화소(SP)를 포함할 수 있다. 제3 화소열(C3)은 제3 데이터 라인(DL3)과 오버랩하면서 제3 데이터 라인(DL3)의 방향을 따라 배열된 제1 화소행(L1)의 R13 부화소(SP)와 제2 화소행(L2)의 B23 부화소(SP)를 포함할 수 있다. 제4 화소열(C4)은 제4 데이터 라인(DL4)과 오버랩하며 제4 데이터 라인(DL4)의 방향을 따라 배열된 제1 화소행(L1)의 G14부화소(SP)와 제2 화소행(L2)의 G24 부화소(SP)를 포함할 수 있다.
제1 화소행(L1)에는 B11, G12, R13, G14, B15 부화소(SP)들이 배열된다. 제2 화소행(L2)에는 R21, G22, B23, G24, R25 부화소(SP)들이 배열된다.
제1 데이터 라인(DL1)은 제1 화소행(L1) 및 제1 화소열(C1)에 속하는 B11 부화소(SP)를 구동하는 제11 화소 회로(SP11)와 접속되고, 제2 화소행(L2) 및 제1 화소열(C1)에 속하는 R21 부화소(SP)를 구동하는 제21 화소 회로(SP21)와 접속되어 청색 데이터 신호 및 적색 데이터 신호를 교대로 공급할 수 있다.
제2 데이터 라인(DL2)은 제1 화소행(L1) 및 제2 화소열(C2)에 속하는 G12 부화소(SP)를 구동하는 제12 화소 회로(SP12)와, 제2 화소행(L2) 및 제2 화소열(C2)에 속하는 G22 부화소(SP)를 구동하는 제22 화소 회로(SP22)에 접속되고, 녹색 데이터 신호를 공급할 수 있다.
제3 데이터 라인(DL3)은 제1 화소행(L1) 및 제3 화소열(C3)에 속하는 R13 부화소(SP)를 구동하는 제13 화소 회로(SP13)와 접속되고, 제2 화소행(L2) 및 제3 화소열(C3)에 속하는 B23 부화소(SP)를 구동하는 제23 화소 회로(SP23)와 접속되어 적색 데이터 신호 및 청색 데이터 신호를 교대로 공급할 수 있다.
제4 데이터 라인(DL4)은 제1 화소행(L1) 및 제4 화소열(C4)에 속하는 G14 부화소(SP)를 구동하는 제14 화소 회로(SP14)와 접속되고, 제2 화소행(L2) 및 제4 화소열(C4)에 속하는 G24 부화소(SP)를 구동하는 제24 화소 회로(SP24)와 접속되어 녹색 데이터 신호를 공급할 수 있다.
제5 데이터 라인(DL5)은 각 부화소(SP) 및 화소 회로의 접속이 제1 데이터 라인(DL1)과 동일하도록 반복될 수 있다.
제1 데이터 라인(DL1)과 접속된 제11 화소 회로(SP11)와 제21 화소 회로(SP21)는 제1 및 제2 데이터 라인(DL1, DL2) 사이에 배치될 수 있다. 제2 데이터 라인(DL2)과 접속된 제12 화소 회로(SP12)와 제22 화소 회로(SP22)는 제2 및 제3 데이터 라인(DL2, DL3) 사이에 배치될 수 있다. 제3 데이터 라인(DL3)과 접속된 제13 화소 회로(SP13)와 제23 화소 회로(SP23)는 제3 및 제4 데이터 라인(DL3, DL4) 사이에 배치될 수 있다. 제4 데이터 라인(DL4)과 접속된 제14 화소 회로(SP14)와 제24 화소 회로(SP24)는 제4 및 제5 데이터 라인(DL4, DL5) 사이에 배치될 수 있다.
이와 같이, 자연스러운 밝기와 색 구현을 위해, 서로 다른 화소열과 서로 다른 화소행에 배치되는 복수의 부화소(SP) 및 부화소(SP)의 발광 소자와 1:1로 매칭 되는 화소 회로가 배치 되어 적색, 녹색, 청색 부화소(SP)들이 다이아몬드 모양으로 배열된 다이아몬드 펜타일 화소 배열 구조를 이룰 수 있다.
사람의 시감 특성이 좋은 녹색 부화소(SP)를 별도의 데이터 라인(DL)으로 구동하고, 청색 부화소(SP)와 적색 부화소(SP)가 동일한 데이터 라인(DL)으로 구동할 수 있으나, 이에 한정 되는 것은 아니며 적색, 녹색, 청색 부화소(SP)의 위치는 서로 바뀔 수 있다.
또한, 청색 부화소(SP)는 소자의 수명과 효율 등을 고려하여 적색 부화소(SP) 또는 녹색 부화소(SP)에 비해 가장 넓은 발광 면적을 가질 수 있다.
이와 같이, 다이아몬드 모양으로 배열된 다이아몬드 펜타일 화소 배열 구조에서 청색 부화소(SP)와 적색 부화소(SP)가 동일한 화소 열에 배치 되어 동일한 데이터 라인(DL)으로 구동되므로, 마스크 공정 중에 최 외곽 화소열에서 색 이상 불량이 발생할 수 있다. 예를 들면, 좌측 최 외곽 화소열은 청색 부화소(SP)와 적색 부화소(SP)에서 색 이상 불량이 발생할 경우 그리니쉬(Greenish)한 색감을 띄고, 우측 최 외곽 화소열의 경우는 녹색 부화소(SP)만을 가지므로, 청색과 적색이 섞인 마젠타(magenta) 색감으로 시감될 수 있다. 색 이상 불량은 일반적인 검사 패턴에서는 시인되기 어려우나, 최외곽의 화소만을 구동할 경우 검사 공정에서 검출이 가능하다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 화소 회로 및 동작 제어에 대한 블록도이다.
도 3을 참조하면, 각 유기 발광 다이오드(EL)는 구동하기 위한 화소 회로(SPnm)를 갖는다.
유기 발광 다이오드(EL)는 구동 트랜지스터(D-TFT)를 통해 공급되는 전류에 따라 발광한다. 유기 발광 다이오드(EL)의 제1 구동전극(AE)은 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제2전극에 접속되고, 제2 구동전극(CE)은 고전위전원전압(EVDD)보다 낮은 저전위전원전압(EVSS)이 공급되는 저전위전압라인에 접속될 수 있다.
유기 발광 다이오드(EL)는 제1 구동전극(AE), 정공 수송층(hole transporting layer), 유기발광층(organic light emitting layer), 전자 수송층(electron transporting layer), 및 제2 구동전극(CE)을 포함할 수 있다. 유기 발광 다이오드(EL)는 제1 구동전극(AE)과 제2 구동전극(CE)에 전압이 인가되면 정공과 전자가 각각 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기발광층으로 이동되며, 유기발광층에서 정공과 전자가 서로 결합하여 발광하게 된다.
표시 장치에서 화소 회로(SPnm)는 제1 트랜지스터(T1), 제2 트랜지스터(T2), 제3 트랜지스터(T3), 제4 트랜지스터(T4), 제5 트랜지스터(T5), 구동 트랜지스터(D-TFT), 커패시터(CST) 및 유기 발광 다이오드(EL)를 포함할 수 있다. 그리고 초기화전압라인(VINI)을 통해 전달되는 초기화전압을 기반으로 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제1 노드뿐만 아니라 유기 발광 다이오드(EL)의 제1 구동전극(AE)까지 초기화하기 위해 제6 트랜지스터(T6)가 추가된다.
제1 내지 제6 트랜지스터(T1~T6) 및 제 구동 트랜지스터(D-TFT)는 p 타입 트랜지스터(p-MOS TFT)로 이루어질 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 제N스캔라인(SCAN[n])(현재 단의 스캔라인)에 게이트 전극이 연결되고, 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제2전극과 제4 트랜지스터(T4)의 제1전극이 공통으로 연결된 제3 노드에 제1전극이 연결되고 구동 트랜지스터(D-TFT)의 게이트 전극과 커패시터(CST)의 타단이 공통으로 연결된 제1 노드에 제2전극이 연결된다.
제2 트랜지스터(T2)는 제n스캔라인(SCAN[n])에 게이트 전극이 연결되고 데이터 라인(DL)에 제1전극이 연결되고, 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제1전극 및 제3 트랜지스터(T3)의 제1전극이 공통으로 연결된 제2 노드에 제2전극이 연결된다.
제3 트랜지스터(T3)는 발광신호라인(EM)에 게이트 전극이 연결되고 제2 트랜지스터(T2)의 제2전극 및 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제1전극이 공통으로 연결된 제2 노드에 제1전극이 연결되고 고전위전압라인에 제2전극이 연결된다.
제4 트랜지스터(T4)는 발광신호라인(EM)에 게이트 전극이 연결되고 구동 트랜지스터(D-TFT)의 제2전극에 제1전극이 연결되고 유기 발광다이오드(OLED)의 제1 구동전극(AE)에 제2전극이 연결된다.
제5 트랜지스터(T5a, T5b)는 초기화 트랜지스터로서, T5a는 제1초기화 트랜지스터, 및 T5b는 제2초기화 트랜지스터일 수 있다. 제5 트랜지스터(T5)는 누설 전류 방지 등의 구동 안정성을 높이기 위해 두 개의 트랜지스터로 구성될 수 있지만, 하나로 구성될 수도 있다. 제5 트랜지스터(T5)는 제n-1스캔라인(SCAN[n-1])(이전 단의 스캔라인)에 게이트 전극이 연결되고 커패시터(CST)의 타단 및 구동 트랜지스터(D-TFT)의 게이트 전극에 제1전극이 연결되고 초기화전압라인(VINI)에 제2전극이 연결된다.
구동 트랜지스터(D-TFT)는 제1 트랜지스터(T1)의 제2전극, 커패시터(CST)의 타단, 제5A트랜지스터(T5a)의 제1전극이 공통으로 연결된 제1 노드에 게이트 전극이 연결되고 제2 트랜지스터(T2)의 제2전극과 제3 트랜지스터(T3)의 제1전극이 공통으로 연결된 제2 노드에 제1전극이 연결되고 제1 트랜지스터(T1)의 제1전극과 제4 트랜지스터(T4)의 제1전극이 공통으로 연결된 제3 노드에 제2전극이 연결된다.
커패시터(CST)는 고전위전압라인과 제3 트랜지스터(T3)의 제2전극에 일단이 연결되고 제5A트랜지스터(T5a)의 제1전극, 구동 트랜지스터(D-TFT)의 게이트 전극 및 제1 트랜지스터(T1)의 제2전극이 공통으로 연결된 제1 노드에 타단이 연결된다.
유기 발광 다이오드(EL)는 제4 트랜지스터(T4)의 제2전극에 제1 구동전극(AE)이 연결되고 제2전원라인(VSSEL)에 제2 구동전극(CE)이 연결된다.
제6 트랜지스터(T6)는 제N스캔라인(SCAN[n])에 게이트 전극이 연결되고 유기 발광 다이오드(EL)의 제1 구동전극(AE)에 제1전극이 연결되고 초기화전압라인(VINI)에 제2전극이 연결된다. 제6 트랜지스터(T6)가 턴온되면, 유기 발광 다이오드(EL)의 제1 구동전극(AE)은 초기화전압라인(VINI)을 통해 전달되는 초기화전압에 의해 초기화된다.
또한, 제1 전극은 소스 전극일 수 있고, 제2 전극은 드레인 전극일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 제1 전극은 드레인 전극일 수 있고, 제2 전극은 소스 전극일 수 있다. 또한, 제1 구동전극(AE)은 애노드 전극일 수 있고, 제2 구동전극(CE)은 캐소드 전극일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 제1 구동전극(AE)은 캐소드 전극일 수 있고, 제2 구동전극(CE)은 애노드 전극일 수 있다.
화소 회로(SPmn)을 구성하는 트랜지스터 및 커패시터 등의 회로 소자의 종류 및 개수는, 도 3에 도시된 형태에 한정되지 않고, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 구성할 수 있다.
화소 회로(SPmn)의 데이터 라인(DL)은 제조 공정 중에 스위칭 소자부(150)에 접속되어, 점등 검사를 수행하기 위한 점등 검사 신호(APS)가 인가될 수 있다. 또한, 구동 중에는 스위칭 소자부(150) 보다 외곽에 배치되는 데이터 구동부(120)에서 영상 데이터에 따른 데이터 전압(Vdata)이 인가될 수 있다. 이 때, 데이터 라인(DL)은 스위칭 소자부(150)에 스위칭 트랜지스터를 통해 접속되므로, 구동 중에는 점등 검사 신호(APS)가 인가되지 않아서 동작에 영향을 미치지 않는다. 데이터 구동부(120)와 스위칭 소자부(150)에서 데이터 라인(DL)의 접속 구조는 후술하기로 한다.
게이트 구동부(130)는 컨트롤러(140)로부터 게이트 구동부 제어 신호(GCS)를 공급받고, 게이트 구동부 제어 신호(GCS)에 따라 게이트 신호들을 생성하여 게이트 라인들(GL1~GLn)에 공급한다.
데이터 구동부(120)는 표시 장치의 구동 중에 컨트롤러(140)로부터 데이터 구동부 제어 신호(DCS)를 공급받고, 데이터 구동부 제어 신호(DCS)에 따라 데이터전압들을 생성하여 데이터 라인들(DL1~DLm)에 공급한다.
도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
도 4를 참조하면, 스위칭 소자부(150)는 제조 공정 중에 점등 검사를 수행하기 위한 점등 검사 신호(APS)를 외부의 점등 검사기로부터 입력받는다. 점등 검사 신호(APS)는 화소들 각각이 정상적으로 구동하는지 여부를 검사할 수 있는 신호이다. 점등 검사 스위칭 소자부(150)는 화소들을 이루는 적색 부화소(SP), 녹색 부화소(SP), 및 청색 부화소(SP) 각각에 점등 검사 신호(APS)를 인가한다.
예를 들면, 본 명세서의 일 실시예에 따른 스위칭 소자부(150)는 데이터 구동부(120)가 배치된 비표시 영역 부분에 배치되며, 데이터 구동부(120)과 표시 영역 사이에 배치된다. 도 3과 같이, 데이터 구동부(120)가 표시 패널(110)의 상측 방향에 마련된 비표시 영역 부분에 배치되는 경우, 스위칭 소자부(150)는 표시 패널(110)의 상측 방향에 마련된 비표시 영역(NA) 부분에 배치되며, 데이터 구동부(120)와 표시 영역 사이에 배치된다.
스위칭 소자부(150)는 검사 데이터 라인(APL)과 복수의 스위칭 트랜지스터로 구성될 수 있다.
검사 데이터 라인(APL)은 게이트 라인(GL)과 동일한 방향으로 형성되고, 복수의 데이터 라인(DL1~DLm)들이 접속 되어 각 화소 회로(SPmn)에 점등 검사 신호(APS)를 인가할 수 있다.
또한, 복수의 데이터 라인(DL1~DLm)은 데이터 구동부(120) 측으로 더 연장되도록 형성되어 구동 중에는 데이터 구동부(120)에서 영상 데이터를 전달받아 표시 패널(110)에 화상을 표시할 수 있다.
이 때, 데이터 라인(DL)은 검사 데이터 라인(APL)에 스위칭 트랜지스터를 통해 접속될 수 있다. 구동 중의 동작에는 각 화소 회로(SPmn)에 데이터 라인(DL) 마다 다른 영상 데이터가 전달될 수 있다.
스위칭 소자부(150)에서 복수의 스위칭 트랜지스터는 전 영역의 화소를 발광시키는 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 좌측과 우측의 최외곽 화소열만을 발광 시키는 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)으로 구성될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 서로 다른 행에 배치 되어, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)을 구동하는 제1 인에이블 신호(S1)와 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)을 구동하는 제2 인에이블 신호(S2)에 따라, 점등 검사 신호(APS)가 인가되기 전에 턴-온될 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)에 배치된 복수의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극이 제1 인에이블 신호(S1) 배선에 접속되고, 드레인 전극이 검사 데이터 라인(APL)에 접속되며, 소스 전극이 데이터 라인(DL)에 접속될 수 있다.
제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)에 배치된 복수의 스위칭 트랜지스터는 데이터 라인(DL) 사이에 배치되어 드레인 전극 및 소스 전극이 데이터 라인(DL)에 접속되고, 게이트 전극이 제2 인에이블 신호(S2) 배선에 접속될 수 있다.
제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 마스크 공정 중에 발생하는 최외곽 화소열에서 색 이상 불량을 검사 공정에서 검출할 수 있다. 전 영역의 화소가 발광하는 검사 패턴은 주변 화소의 휘도 등으로 인해 좌/우측 최외곽 화소열의 색 이상 불량을 시감하기 어려울 수 있다. 최외곽 화소열 만을 별도로 구동한다면, 그리니쉬(Greenish) 또는 마젠타(magenta) 색감으로 시인 되는 색 이상 불량을 검사 공정 중에 검출할 수 있다.
이 때, 최외곽 화소열만을 발광하도록 구동할 경우, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)는 턴-온 되어 점등 검사 신호(APS)를 복수의 데이터 라인(DL1~DLm)으로 인가하지만, 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 턴-오프 상태를 유지하므로, 최외곽 화소열만이 발광할 수 있다.
제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 표시 영역에서의 화소 회로(SPmn)와 동일하게 p 타입 트랜지스터(p-MOS TFT)로 이루어질 수 있다. 이 경우 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)를 구동하는 각각의 제1 및 제2 인에이블 신호(S1, S2)는 로직 전압이 로우일 때 턴-온 될 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니다. 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 n 타입 트랜지스터(n-MOS TFT)일 수 있다. 또는, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)이 각각 P 타입 트랜지스터(p-MOS TFT)와 n 타입 트랜지스터(n-MOS TFT)으로 구성되거나 그 반대로 구성될 수도 있다.
또한, 데이터 구동부(120)에서 영상 데이터를 인가 받아 정상 구동 중인 경우에 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)과 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 모두 턴-온 상태를 유지하도록 구동될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는 스위칭 소자부(150)가 최외곽 화소열과 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 분리하여 구동하므로, 마스크 공정 중에 발생할 수 있는 최외곽 화소열에서 색 이상 불량을 검사 공정에서 검출이 가능하다. 따라서, 조기 검출이 용이 해짐에 따라, 이후 제조 공정을 추가로 진행하지 않으므로, 수율이 향상될 수 있다.
도 5는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
도 5를 참조하면, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)에 배치된 복수의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극이 제1 인에이블 신호(S1) 배선에 접속되고, 드레인 전극이 검사 데이터 라인(APL)에 접속 되며, 소스 전극이 데이터 라인(DL)에 접속될 수 있다.
제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)에 배치된 복수의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극이 제2 인에이블 신호(S2) 배선에 접속되고, 드레인 전극이 검사 데이터 라인(APL)에 접속되며, 소스 전극이 데이터 라인(DL)에 접속될 수 있다.
본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 스위칭 소자부(150)의 구성을 제외한 나머지 구성요소는 모두 동일하므로 중복 설명은 생략한다.
도 5a를 참조하면, 스위칭 소자부(150)에서 제1 인에이블 신호(S1)는 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가 하도록 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)을 구동할 수 있고, 제2 인에이블 신호(S2)는 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)가 인가되도록 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)을 구동 할 수 있다.
다시 말해, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)은 최 외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에만 접속될 수 있고, 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 최 외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 접속되도록 구성될 수 있다.
도 5b를 참조하면, 스위칭 소자부(150)에서 제2 인에이블 신호(S2)는 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가하도록 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)을 구동할 수 있고, 제1 인에이블 신호(S1)는 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)가 인가되도록 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)을 구동할 수 있다.
예를 들면, 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)은 최 외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에만 접속될 수 있고, 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)은 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 접속되도록 구성될 수 있다.
본 명세서의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 스위칭 소자부(150)에서 복수의 스위칭 트랜지스터가 중복하여 구성되는 것을 피할 수 있으므로, 트랜지스터의 열화로 인한 누설 전류 오작동을 방지하는 효과를 더 얻을 수 있다. 또한, 스위칭 소자부(150)에서 복수의 스위칭 트랜지스터를 제1 인에이블 신호(S1)와 제2 인에이블 신호(S2)로 구분하여 인가하므로, 구동 중에 최외곽 화소열의 구동이 불필요한 화상 패턴의 경우에는 제1 인에이블 신호(S1)는 인가하지 않거나, 로직 전압을 하이전압으로 구성할 수 있고, 제2 인에이블 신호(S2)는 로직 전압을 로우전압으로 인가하여 제2 스위칭 트랜지스터행(150s2)만 턴-온 되도록 구동할 수 있다.
도 6은 본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부에 대한 회로도이다.
스위칭 트랜지스터행(150s)에 배치된 복수의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극이 인에이블 신호(S) 배선에 접속되고, 드레인 전극이 제1 검사 데이터 라인(APL1) 또는 제2 검사 데이터 라인(APL2)에 접속되며, 소스 전극이 데이터 라인(DL)에 접속될 수 있다.
본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치는 스위칭 소자부(150)의 구성을 제외한 나머지 구성요소는 모두 동일하므로 중복 설명은 생략한다.
도 6a를 참조하면, 스위칭 소자부(150)에서 검사 데이터 라인(APL)은 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가하는 제1 검사 데이터 라인(APL1)과 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가하는 제2 검사 데이터 라인(APL2)으로 구성될 수 있다. 이 때, 스위칭 소자부(150)의 복수의 스위칭 트랜지스터는 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)만 가지도록 구성될 수 있다.
예를 들면, 점등 검사 신호(APS)는 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 접속 되는 제1 검사 데이터 라인(APL1)과, 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 접속 되는 제2 검사 데이터 라인(APL2)으로 구분하여 인가되므로, 외부의 점등 검사기에서 선택적으로 표시 패널의 화소열을 구동할 수 있으며, 패널 내부에서 최외곽 화소열을 구분하여 구동하기 위한 별도의 스위칭 소자를 구비하지 않을 수 있다.
도 6b를 참조하면, 스위칭 소자부(150)에서 검사 데이터 라인(APL)은 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가하는 제2 검사 데이터 라인(APL2)과 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 점등 검사 신호(APS)를 인가하는 제1 검사 데이터 라인(APL1)으로 구성될 수 있다. 스위칭 소자부(150)의 복수의 스위칭 트랜지스터는 제1 스위칭 트랜지스터행(150s1)만 가지도록 구성될 수 있다.
예를 들면, 점등 검사 신호(APS)는 최외곽 화소열의 데이터 라인(DL)에 접속되는 제2 검사 데이터 라인(APL2)과, 최외곽 화소열을 제외한 나머지 데이터 라인(DL)에 접속되는 제1 검사 데이터 라인(APL1)으로 구분하여 인가되므로, 외부의 점등 검사기에서 선택적으로 표시 패널의 화소열을 구동할 수 있으며, 패널 내부에서 최외곽 화소열을 구분하여 구동하기 위한 별도의 스위칭 소자를 구비하지 않을 수 있다.
본 명세서의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치는 스위칭 소자부(150)에서 복수의 스위칭 트랜지스터가 중복하여 구성되는 것을 피할 수 있으므로, 트랜지스터의 열화로 인한 누설 전류 오작동을 방지하는 효과를 더 얻을 수 있다. 또한, 복수의 스위칭 트랜지스터는 하나의 행으로만 형성되므로, 네로우 베젤 구현에 더 유리할 수 있다.
본 명세서의 실시예에 따른 표시 장치는 아래와 같이 설명될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는, 복수의 부화소를 포함하며, 화상을 표시하는 표시 패널, 표시 패널에 영상 데이터를 공급하는 데이터 구동부 및 표시 패널과 데이터 구동부 사이에 배치 되고, 부화소에 점등 검사 신호를 인가하는 스위칭 소자부를 포함하고, 스위칭 소자부는 복수의 부화소를 최외곽 화소열과 나머지 화소열로 분리하여 구동 할 수 있다.본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부는 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터와 검사 데이터 라인을 포함 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 및 드레인 전극을 포함하며, 드레인 전극이 검사 데이터 라인에 접속 되고, 소스 전극이 데이터 라인에 접속 되며, 게이트 전극은 인에이블 신호 배선에 접속 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 제1 인에이블 신호에 따라 동작하는 제1 스위칭 트랜지스터행과, 제2 인에이블 신호에 따라 동작하는 제2 스위칭 트랜지스터행을 포함 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 스위칭 트랜지스터행과 제2 스위칭 트랜지스터행은 서로 다른 행에 배치 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 인에이블 신호는 제1 스위칭 트랜지스터행을 턴-온하여, 모든 화소열을 구동하고, 제2 인에이블 신호는 점등 검사 시에 제2 스위칭 트랜지스터행을 턴-오프하여, 최외곽 화소열을 구동 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 스위칭 트랜지스터행은 최외곽 화소열을 구동하는 스위칭 트랜지스터가 배치 되고, 제2 스위칭 트랜지스터행은 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 구동하는 스위칭 트랜지스터가 배치 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 검사 데이터 라인은 최외곽 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제1 검사 데이터 라인과,
최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제2 검사 데이터 라인을 포함 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 부화소에 포함 된 발광 소자가 다이아몬드 펜타일 배열 구조로 배치 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소, 및 청색 부화소를 포함하며, 청색 부화소의 발광 소자와 적색 부화소의 발광 소자가 동일한 화소열에 배치 되고, 청색 부화소 발광 소자의 발광 면적은 적색 및 녹색 부화소의 발광 소자의 발광 면적보다 클 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치는, 데이터 라인과 게이트 라인이 배열되어, 구성 되는 화소 회로, 펜타일 배열 구조를 갖는 발광 소자로 구성된 복수의 부화소가 배치 된 표시 영역, 및 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 갖는 표시 패널, 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부 및 표시 패널의 비표시 영역에서 상기 데이터 라인에 접속 되는 스위칭 소자부를 포함하고, 상기 스위칭 소자부는 상기 복수의 부화소를 최외곽 화소열과 최외곽 화소열을 제외한 화소열로 분리하여 점등 검사 신호를 인가 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 스위칭 소자부는 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터와 검사 데이터 라인을 포함 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 및 드레인 전극을 포함하며, 드레인 전극이 검사 데이터 라인에 접속 되고, 소스 전극이 데이터 라인에 접속 되며, 게이트 전극은 인에이블 신호 배선에 접속 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 제1 인에이블 신호에 따라 동작하는 제1 스위칭 트랜지스터행과, 제2 인에이블 신호에 따라 동작하는 제2 스위칭 트랜지스터행을 포함 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 스위칭 트랜지스터행과 제2 스위칭 트랜지스터행은 서로 다른 행에 배치 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 인에이블 신호는 모든 화소열의 데이터 라인에 접속 된 제1 스위칭 트랜지스터행을 턴-온하고, 제2 인에이블 신호는 점등 검사 시에 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열의 데이터 라인에 접속 된 제2 스위칭 트랜지스터행을 턴-오프 할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 제1 스위칭 트랜지스터행의 스위칭 트랜지스터는 최외곽 화소열을 구동하는 데이터 라인에 접속 되고, 제2 스위칭 트랜지스터행의 스위칭 트랜지스터는 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 구동하는 데이터 라인에 접속 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 검사 데이터 라인은 최외곽 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제1 검사 데이터 라인과, 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제2 검사 데이터 라인으로 구성 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 부화소는 화소 회로와 발광 소자가 각기 1:1로 매칭 될 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 표시 장치에서 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소, 및 청색 부화소를 포함하며, 청색 부화소의 발광 소자와 적색 부화소의 발광 소자가 동일한 화소열에 배치 되고, 청색 부화소 발광 소자의 발광 면적은 상기 적색 및 녹색 부화소의 발광 소자의 발광 면적보다 클 수 있다.
상술한 본 명세서의 예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 명세서의 적어도 하나의 예에 포함되며, 반드시 하나의 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 본 명세서의 적어도 하나의 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 본 명세서가 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 명세서의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
이상에서 설명한 본 명세서는 전술한 일 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 명세서의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 명세서가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 명세서의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 명세서의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
110: 표시 패널
120: 데이터 구동부
130: 게이트 구동부
140: 컨트롤러
150: 스위칭 소자부

Claims (20)

  1. 복수의 부화소를 포함하며, 화상을 표시하는 표시 패널;
    상기 표시 패널에 영상 데이터를 공급하는 데이터 구동부; 및
    상기 표시 패널과 상기 데이터 구동부 사이에 배치되고, 상기 부화소에 점등 검사 신호를 인가하는 스위칭 소자부를 포함하고,
    상기 스위칭 소자부는 상기 복수의 부화소를 최외곽 화소열과 상기 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열로 분리하여 구동하는, 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 스위칭 소자부는 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터와 검사 데이터 라인을 포함하는, 표시 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 및 드레인 전극을 포함하며,
    상기 드레인 전극은 상기 검사 데이터 라인에 접속되고, 상시 소스 전극은 데이터 라인에 접속되며, 상기 게이트 전극은 인에이블 신호 배선에 접속되는, 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 제1 인에이블 신호에 따라 동작하는 제1 스위칭 트랜지스터행과, 제2 인에이블 신호에 따라 동작하는 제2 스위칭 트랜지스터행을 포함하는, 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터행과 상기 제2 스위칭 트랜지스터행은 서로 다른 행에 배치되는, 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제1 인에이블 신호는 상기 제1 스위칭 트랜지스터행을 턴-온하여, 모든 화소열을 구동하고,
    상기 제2 인에이블 신호는 상기 점등 검사 시에 상기 제2 스위칭 트랜지스터행을 턴-오프하여, 상기 최외곽 화소열을 구동하는, 표시 장치.
  7. 제 4 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터행은 상기 최외곽 화소열을 구동하는 스위칭 트랜지스터가 배치되고,
    상기 제2 스위칭 트랜지스터행은 상기 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 구동하는 스위칭 트랜지스터가 배치되는, 표시 장치.
  8. 제 2 항에 있어서,
    상기 검사 데이터 라인은 상기 최외곽 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제1 검사 데이터 라인과,
    상기 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제2 검사 데이터 라인을 포함하는, 표시 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 부화소에 포함된 발광 소자가 다이아몬드 펜타일 배열 구조로 배치되는, 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소, 및 청색 부화소를 포함하며,
    상기 청색 부화소의 발광 소자와 상기 적색 부화소의 발광 소자가 동일한 화소열에 배치되고,
    상기 청색 부화소의 발광 소자의 발광 면적은 상기 적색 및 녹색 부화소의 발광 소자의 발광 면적보다 큰, 표시 장치.
  11. 데이터 라인과 게이트 라인이 배열되어구성되는 화소 회로, 펜타일 배열 구조를 갖는 발광 소자로 구성된 복수의 부화소가 배치된 표시 영역, 및 상기 표시 영역을 둘러싸는 비표시 영역을 갖는 표시 패널;
    상기 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부; 및
    상기 표시 패널의 비표시 영역에서 상기 데이터 라인에 접속되는 스위칭 소자부를 포함하고,
    상기 스위칭 소자부는 상기 복수의 부화소를 최외곽 화소열과 상기 최외곽 화소열을 제외한 화소열로 분리하여 점등 검사 신호를 인가하는, 표시 장치.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 스위칭 소자부는 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터와 검사 데이터 라인을 포함하는, 표시 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 및 드레인 전극을 포함하며,
    상기 드레인 전극이 상기 검사 데이터 라인에 접속 되고, 상기 소스 전극이 데이터 라인에 접속 되며, 상기 게이트 전극은 인에이블 신호 배선에 접속 되는, 표시 장치.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 적어도 하나 이상의 스위칭 트랜지스터는 제1 인에이블 신호에 따라 동작하는 제1 스위칭 트랜지스터행과, 제2 인에이블 신호에 따라 동작하는 제2 스위칭 트랜지스터행을 포함하는, 표시 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터행과 상기 제2 스위칭 트랜지스터행은 서로 다른 행에 배치 되는, 표시 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 제1 인에이블 신호는 모든 화소열의 데이터 라인에 접속 된 제1 스위칭 트랜지스터행을 턴-온하고,
    상기 제2 인에이블 신호는 점등 검사 시에 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열의 데이터 라인에 접속 된 제2 스위칭 트랜지스터행을 턴-오프하는, 표시 장치.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 제1 스위칭 트랜지스터행의 스위칭 트랜지스터는 최외곽 화소열을 구동하는 데이터 라인에 접속 되고,
    상기 제2 스위칭 트랜지스터행의 스위칭 트랜지스터는 최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열을 구동하는 데이터 라인에 접속 되는, 표시 장치.
  18. 제 13 항에 있어서,
    상기 검사 데이터 라인은 최외곽 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제1 검사 데이터 라인과,
    최외곽 화소열을 제외한 나머지 화소열에 점등 검사 신호를 인가하는 제2 검사 데이터 라인으로 구성 되는, 표시 장치.
  19. 제 13 항에 있어서,
    상기 부화소는 화소 회로와 발광 소자가 각기 1:1로 매칭 되는, 표시 장치.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 부화소는 적색 부화소, 녹색 부화소, 및 청색 부화소를 포함하며,
    청색 부화소의 발광 소자와 상기 적색 부화소의 발광 소자가 동일한 화소열에 배치 되고,
    상기 청색 부화소 발광 소자의 발광 면적은 상기 적색 및 녹색 부화소의 발광 소자의 발광 면적보다 큰, 표시 장치.
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