KR20210078766A - Micro led display device and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

A micro LED display device using a micro LED element as a light emitting element according to an embodiment of the present specification is provided. A unit pixel defined by a plurality of pixels having a micro LED element is disposed on a substrate. The unit pixel includes a plurality of pixels. Each of the pixels may further include a color conversion layer on the micro LED element. Three selected pixels among the plurality of pixels in the unit pixel are configured to emit light having wavelengths of red, blue, and green. As such, in a micro LED display device using a micro LED element as a light emitting element, the unit pixel includes a plurality of pixels to cope with the failure of the micro LED element. It is possible to provide a micro LED display device having improved reliability.

Description

마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법 {MICRO LED DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME}MICRO LED DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

본 발명은 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 웨이퍼에서 성장시킨 마이크로 엘이디 소자를 마이크로 엘이디 표시 장치의 기판으로 전사하는 과정에서 발생할 수 있는 전사불량에 대해, 전사 불량으로 발생할 수 있는 마이크로 엘이디 표시 장치의 표시 품위 저하를 최소화 할 수 있는 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법을 제공하는 것이다.The present invention relates to a micro LED display device and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a transfer defect that may occur in the process of transferring a micro LED device grown on a wafer to a substrate of the micro LED display device, An object of the present invention is to provide a micro LED display device capable of minimizing deterioration in display quality of the micro LED display device, and a method for manufacturing the same.

표시 장치는 텔레비전 또는 모니터의 표시 장치 이외에도 노트북 컴퓨터, 테블릿 컴퓨터, 스마트 폰, 휴대용 표시 기기 및 휴대용 정보 기기 등의 표시 화면으로 널리 사용되고 있다.A display device is widely used as a display screen of a notebook computer, a tablet computer, a smart phone, a portable display device, and a portable information device, in addition to a display device of a television or a monitor.

표시 장치는 반사형 표시 장치와 발광형 표시 장치로 구분될 수 있는데, 반사형 표시 장치는 자연광 또는 표시 장치의 외부 조명에서 나오는 빛이 표시 장치에 반사되어 정보를 표시하는 방식의 표시 장치이고 발광형 표시 장치는 발광 소자 또는 광원을 표시 장치에 내장하고, 내장된 발광 소자 또는 광원에서 발생하는 빛을 사용하여 정보를 표시하는 방식이다.The display device may be divided into a reflective display device and a light emitting display device. The reflective display device is a display device in which natural light or light emitted from external lighting of the display device is reflected by the display device to display information. A display device is a method in which a light emitting element or a light source is embedded in a display device, and information is displayed using light generated from the built-in light emitting element or light source.

내장된 발광 소자는 다양한 빛의 파장을 발광할 수 있는 발광 소자를 사용하기도 하고 백색 또는 블루의 빛을 발광 하는 발광 소자와 함께 발광 빛의 파장을 변화 시킬 수 있는 컬러필터를 사용하기도 한다.The built-in light emitting device uses a light emitting device capable of emitting various wavelengths of light, or a color filter capable of changing the wavelength of the emitted light together with a light emitting device that emits white or blue light.

이와 같이, 표시 장치로서 이미지를 구현하기 위하여 복수의 발광 소자를 표시 장치의 기판상에 배치하되, 각각의 발광 소자를 개별적으로 발광하도록 컨트롤 하기 위해 구동 신호 또는 구동 전류를 공급하는 구동소자를 발광 소자와 함께 기판상에 배치하여, 기판상에 배치된 복수의 발광 소자를 표시 하고자 하는 정보의 배열대로 해석하여 기판상에 표시하도록 한다.In this way, a plurality of light emitting devices are disposed on a substrate of the display device to realize an image as a display device, and a driving device that supplies a driving signal or a driving current to control each light emitting device to emit light individually is used as a light emitting device. is arranged on the substrate, and the plurality of light emitting devices arranged on the substrate are interpreted according to the arrangement of the information to be displayed and displayed on the substrate.

다시 설명하자면, 이와 같은 표시 장치는 복수의 화소가 배치되고, 각각의 화소는 구동소자인 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터(Thin Filim Transistor)를 이용하고, 박막 트랜지스터에 연결되어 구동 됨으로서 표시 장치는 각각의 화소의 동작에 의해 영상을 표시한다.In other words, in such a display device, a plurality of pixels are disposed, and each pixel uses a thin film transistor as a switching element as a driving element, and is connected to the thin film transistor and driven, so that each pixel is driven. Displays the image by the operation of

박막 트랜지스터가 사용된 대표적인 표시 장치로서는 액정 표시 장치와 유기 발광 표시 장치가 있다. 그 중 액정 표시 장치는 자체 발광 방식이 아니기에 액정 표시 장치의 하부(후면)에 빛을 발광 하도록 배치된 백라이트 유닛(Backlight unit)이 필요하다. 이러한 부가적인 백라이트 유닛에 의해 액정 표시 장치는 두께가 증가하고, 플렉서블 하거나 원형과 같은 다양한 형태의 디자인으로 표시 장치를 구현하는데 제한이 있으며, 휘도 및 응답 속도가 저하될 수 있다.Representative display devices using thin film transistors include a liquid crystal display device and an organic light emitting display device. Among them, since the liquid crystal display is not a self-luminous method, a backlight unit disposed to emit light at the lower portion (rear side) of the liquid crystal display is required. Due to such an additional backlight unit, the thickness of the liquid crystal display increases, there is a limitation in implementing the display device in various designs such as flexible or circular designs, and luminance and response speed may decrease.

한편으로, 자체 발광 소자가 있는 표시 장치는 광원을 내장하는 표시 장치보다 얇게 구현될 수 있고, 플렉서블하고 접을 수 있는 표시 장치를 구현할 수 있는 장점이 있다.On the other hand, a display device having a self-light emitting element can be implemented thinner than a display device having a light source, and has the advantage of being able to implement a flexible and foldable display device.

이와 같은 자체 발광 소자가 있는 표시 장치는 발광층으로 유기물을 포함하는 유기 발광 표시 장치와 마이크로 엘이디 소자를 발광 소자로 사용하는 마이크로 엘이디 표시 장치등이 있을수 있는데, 유기 발광 표시 장치 또는 마이크로 엘이디 표시 장치와 같은 자체 표시 장치는 별도의 광원이 필요없기에 더욱 얇거나 다양한 형태의 표시 장치로 활용될 수 있다.A display device having such a self-light emitting device may include an organic light emitting display device including an organic material as a light emitting layer and a micro LED display device using a micro LED device as a light emitting device, such as an organic light emitting display device or a micro LED display device. Since the self-display device does not require a separate light source, it can be used as a thinner or various types of display devices.

그러나, 유기물을 사용하는 유기 발광 표시 장치는 별도의 광원이 필요하지 않는 반면에 수분과 산소에 의한 불량화소가 발생되기 쉬우므로 산소와 수분의 침투를 최소화 하기 위한 다양한 기술적 구상이 추가적으로 요구된다.However, since an organic light emitting display device using an organic material does not require a separate light source, and bad pixels due to moisture and oxygen are easily generated, various technical ideas are additionally required to minimize penetration of oxygen and moisture.

상술한 문제에 대하여, 최근에는, 미세한 크기의 마이크로 엘이디 소자(Micro light emitting diode)를 발광 소자로 사용하는 표시장치에 대한 연구 및 개발이 진행되고 있으며, 이러한 발광 표시 장치는 고화질과 고신뢰성을 갖기 때문에 차세대 표시 장치로서 각광받고 있다.In response to the above-mentioned problem, recently, research and development on a display device using a micro light emitting diode of a fine size as a light emitting device is being conducted, and such a light emitting display device has high image quality and high reliability. Therefore, it is in the spotlight as a next-generation display device.

마이크로 엘이디 소자는 반도체에 전류를 흘려주면 빛을 내는 성질을 이용한 반도체 발광 소자로 조명, TV, 각종 표시장치 등에 널리 활용되고 있다. 마이크로 엘이디 소자는 n형 반도체층과 p형 반도체층, 그리고 그 사이에 있는 활성층으로 구성된다. 전류를 흘려주면 n형 반도체층 부분에는 전자가, p형 반도체층 부분에는 정공이 있다가 활성층에서 결합해 빛을 낸다. A micro LED device is a semiconductor light emitting device that emits light when an electric current is passed through it, and is widely used in lighting, TV, and various display devices. A micro LED device is composed of an n-type semiconductor layer, a p-type semiconductor layer, and an active layer therebetween. When a current is passed, electrons are present in the n-type semiconductor layer and holes in the p-type semiconductor layer, which combine in the active layer to emit light.

단위 화소의 발광 소자로 마이크로 엘이디 소자가 사용된 발광 표시 장치를 구현하기 위해서는 몇가지 기술적인 요구사항이 있다. 우선, 사파이어(Sapphire) 또는 실리콘(Si)과 같은 반도체 웨이퍼(wafer) 기판 상에 마이크로 엘이디 소자를 결정화 시키고, 결정화된 복수의 마이크로 엘이디칩을 구동소자가 있는 기판에 이동 시키되 각각의 화소에 대응하는 위치에 마이크로 엘이디 소자를 위치시키는 정교한 전사 공정이 요구된다.There are several technical requirements for realizing a light emitting display device in which a micro LED device is used as a light emitting device of a unit pixel. First, a micro LED device is crystallized on a semiconductor wafer substrate such as sapphire or silicon (Si), and a plurality of crystallized micro LED chips are moved to a substrate having a driving device. A sophisticated transfer process is required to position the micro LED element in position.

마이크로 엘이디 소자는 무기재료를 사용하여 형성할 수 있으나, 결정화 하여 형성할 필요가 있고, GaN과 같은 무기재료를 결정화 하려면, 결정화를 유도 할 수 있는 기판상에서 무기재료를 결정화 하여야 한다. 이와 같이 무기재료의 결정화를 효율적으로 유도 할 수 있는 기판은 반도체 기판이며, 상술한 바와 같이 반도체 기판상에서 무기재료를 결정화 시키어야 한다.The micro LED device can be formed using an inorganic material, but it needs to be formed by crystallization. In order to crystallize an inorganic material such as GaN, the inorganic material must be crystallized on a substrate that can induce crystallization. As described above, the substrate capable of efficiently inducing the crystallization of the inorganic material is a semiconductor substrate, and as described above, the inorganic material must be crystallized on the semiconductor substrate.

마이크로 엘이디 소자를 결정화하는 공정은 에피택시(epitaxy), 에피텍셜 성장(epitaxial groth) 또는 에피공정이라고도 지칭한다. 에피공정은 어떤 결정의 표면에서 특정한 방위 관계를 취해 성장하는 일을 의미하는데, 마이크로 엘이디 소자의 소자구조를 형성하기 위해서는 기판위에 GaN계 화합물 반도체를 pn접합 다이오드 형태로 쌓아 올려야 하는데 이때 각각의 층은 밑의 층의 결정성을 이어받아 성장하게 된다.The process of crystallizing the micro LED device is also referred to as epitaxy, epitaxial growth, or epitaxial process. Epi process refers to growth taking a specific orientation relationship on the surface of a certain crystal. In order to form the device structure of a micro LED device, GaN-based compound semiconductors must be stacked on a substrate in the form of a pn junction diode. It grows by inheriting the crystallinity of the underlying layer.

이때, 결정 내부의 결함은 전자와 정공의 재합과정(Electron-hole recombination process)에서 비발광 센터(nonradiative center)로 작용하기 때문에 광자(photon)를 이용하는 마이크로 엘이디 소자에서는 각 층을 형성하는 결정들의 결정성이 소자효율에 결정적인 영향을 미치게 된다.At this time, since the defect in the crystal acts as a non-radiative center in the electron-hole recombination process, in the micro LED device using photons, the crystals forming each layer This will have a decisive effect on the device efficiency.

현재 주로 사용되는 기판으로는 상술한 사파이어(Sapphire)기판이 주로 사용되며, 근래에는 GaN를 베이스로하는 기판등에 대한 연구활동이 활발히 이루어 지고 있다.The sapphire substrate described above is mainly used as the currently used substrate, and research activities on GaN-based substrates have been actively conducted in recent years.

이와 같이 마이크로 엘이디 소자를 구성하는 GaN과 같은 무기재료를 반도체 기판상에 결정화 함에 있어 소요되는 반도체 기판의 높은 가격으로 인해 단순한 조명 또는 백라이트에 사용되는 광원으로서의 마이크로 엘이디 소자가 아닌 표시 장치의 발광 화소로서 다량의 마이크로 엘이디 소자를 사용하게 되는 경우 제조 비용이 높아지는 문제점이 있다.As such, due to the high price of the semiconductor substrate required to crystallize the inorganic material such as GaN constituting the micro LED element on the semiconductor substrate, it is not a micro LED element as a light source used for simple lighting or backlight, but as a light emitting pixel of a display device. When a large amount of micro LED devices are used, there is a problem in that the manufacturing cost increases.

또한, 상술한 바와 같이 반도체 기판상에 형성된 마이크로 엘이디 소자는 표시장치를 구성하는 기판으로 전사(Transfer)하는 단계가 필요하게 되는데, 이 과정에서 반도체 기판에 형성된 마이크로 엘이디 소자를 분리하는데에 어려움이 있고, 분리된 마이크로 엘이디 소자를 원하는 지점에 바르게 이식(transplant)할때에도 많은 어려움과 문제점이 있다.In addition, as described above, it is necessary to transfer the micro LED device formed on the semiconductor substrate to the substrate constituting the display device. In this process, it is difficult to separate the micro LED device formed on the semiconductor substrate. , there are many difficulties and problems even when properly transplanting the separated micro LED device to a desired point.

반도체 기판상에 형성된 마이크로 엘이디 소자를 표시장치를 구현하는 기판으로 전사하는데 있어 PDMS와 같은 고분자물질을 사용한 전사용 기판을 사용하는 방법, 전자기나 정전기를 이용한 전사 방법 또는 물리적으로 한 개의 소자씩 집어서 옮기는 방법 등 다양한 전사 방법이 사용될 수 있으며 다양한 전사 방법에 대한 연구활동이 이루어 지고 있다. In transferring the micro LED element formed on the semiconductor substrate to the substrate realizing the display device, a method using a transfer substrate using a polymer material such as PDMS, a transfer method using electromagnetic or static electricity, or physically picking up one element at a time Various transcription methods such as transfer methods can be used, and research activities on various transcription methods are being conducted.

이와 같은, 전사공정은 표시장치를 구현하는 공정의 생산성과 연관이 있으며, 대량 생산을 위하여서는 마이크로 엘이디 소자를 한 개씩 옮기는 방법은 비 효율적이라 할 수 있겠다.Such a transfer process is related to the productivity of the process for implementing the display device, and for mass production, it can be said that the method of transferring the micro LED elements one by one is inefficient.

이에 고분자 물질을 사용한 전사용 기판을 사용하여 복수개의 마이크로 엘이디 소자를 반도체 기판에서 분리하여 표시장치를 구성하는 기판, 특히 박막트랜지스터에 배치된 구동소자 및 전원전극과 연결된 패드전극상에 올바르게 위치하는데 있어 정교한 전사 공정 또는 공법이 필요하게 되었다.Accordingly, a plurality of micro LED elements are separated from the semiconductor substrate by using a transfer substrate using a polymer material, and are correctly positioned on the substrate constituting the display device, particularly the driving element disposed in the thin film transistor and the pad electrode connected to the power electrode. A sophisticated transfer process or method has become necessary.

상술한 전사공정 중에 또는 전사공정 이후에 이어 지는 후속 공정중에 마이크로 엘이디 소자는 진동 또는 열등의 조건에 따라 움직이거나 전사되는 과정에서 마이크로 엘이디 소자가 뒤집히어 전사되는등 불량이 발생될 수 있으며, 이러한 불량을 발견하고 복구하는데 많은 어려움이 있었다.During the above-described transfer process or during the subsequent process following the transfer process, the micro LED element may move or transfer depending on conditions such as vibration or inferiority, and defects may occur such as the micro LED element is overturned and transferred. There were many difficulties in finding and recovering.

일반적인 전사 공정을 예로들어 마이크로 엘이디 소자의 전사공정에 대하여 일 예를 들어 설명하자면, 다음과 같다. 반도체 기판상에 마이크로 엘이디 소자를 형성하고 반도체층에 전극을 형성하여 개별 마이크로 엘이디 소자로서 완성시킨다. 이후, 반도체 기판과 PDMS기판(이후에는 전사기판이라 한다)을 접촉시키어 전사기판으로 마이크로 엘이디 소자를 이동시킨다.Taking the general transfer process as an example, the transfer process of the micro LED device will be described as an example. A micro LED device is formed on a semiconductor substrate, and an electrode is formed on the semiconductor layer to complete the individual micro LED device. Thereafter, the semiconductor substrate and the PDMS substrate (hereinafter referred to as a transfer substrate) are brought into contact to move the micro LED device to the transfer substrate.

전사기판은 반도체 기판상에 형성된 마이크로 엘이디 소자를 화소의 픽셀피치만큼의 거리를 고려하여 반도체 기판에서 마이크로 엘이디 소자를 전사기판으로 전사시키어야 하기에 전사기판상에는 표시장치의 픽셀피치를 고려하여 마이크로 엘이디 소자를 받기위한 돌기형상등이 돌출되어 배치되게 된다.In the transfer substrate, the micro LED element formed on the semiconductor substrate must be transferred from the semiconductor substrate to the transfer substrate in consideration of the distance equal to the pixel pitch of the pixel. A protrusion shape for receiving an element is protruded and arranged.

전사기판과 반도체 기판이 접촉한 상태에서, 반도체 기판의 배면을 통해 마이크로 엘이디 소자에 레이저를 조사하여 마이크로 엘이디 소자를 반도체 기판에서 분리하게 되는데, 이때 레이저를 조사하는 과정에서 마이크로 엘이디 소자는 반도체 기판에서 분리될 때 반도체 기판의 GaN물질이 레이저의 높은 에너지에 의해 에너지의 집중으로 물리적으로 급격한 확장이 일어 날 수 있고, 이로 인해 충격이 발생 할 수 있다. (이를 1차 전사라 한다.)In a state in which the transfer substrate and the semiconductor substrate are in contact, the micro LED element is separated from the semiconductor substrate by irradiating a laser to the micro LED element through the back surface of the semiconductor substrate. In this case, in the process of irradiating the laser, the micro LED element is removed from the semiconductor substrate. When separated, the GaN material of the semiconductor substrate may physically expand rapidly due to the concentration of energy by the high energy of the laser, which may cause an impact. (This is called the primary warrior.)

이후, 전사기판에 전사된 마이크로 엘이디 소자를 표시장치를 구성하는 기판상에 전사하게 되는데, 박막트랜지스터가 있는 기판상에 상기 박막 트랜지스터를 절연/보호 하는 보호층을 배치한 뒤 보호층상에 접착층을 배치한다.Thereafter, the micro LED element transferred to the transfer substrate is transferred onto the substrate constituting the display device. A protective layer for insulating/protecting the thin film transistor is disposed on the substrate having the thin film transistor, and then an adhesive layer is disposed on the protective layer. do.

전사기판과 표시장치의 기판을 접촉시키어 압력을 가하게 되면, 전사기판에 전사된 마이크로 엘이디 소자는 상술한 보호층상에 있는 접착층에 의해 표시장치의 기판측으로 전사 된다. When a pressure is applied by bringing the transfer substrate into contact with the substrate of the display device, the micro LED element transferred to the transfer substrate is transferred to the substrate side of the display device by the adhesive layer on the above-described protective layer.

이때, 전사기판과 마이크로 엘이디 소자의 접착력을 표시장치를 구성하는 기판과 마이크로 엘이디 소자의 접착력보다 작게되도록 하여 전사기판상의 마이크로 엘이디 소자가 표시장치의 기판으로 원활히 전사되도록 한다. (이를 2차 전사라 한다)At this time, the adhesive force between the transfer substrate and the micro LED element is made smaller than that between the substrate constituting the display device and the micro LED element, so that the micro LED element on the transfer substrate is smoothly transferred to the substrate of the display device. (This is called the secondary warrior)

반도체 기판과 표시장치를 구성하는 기판은 기본적으로 그 크기가 상이하며 통상적으로 표시장치를 구성하는 기판이 크다. 이러한 면적, 크기의 차이로 인해 상술한 1차 및 2차 전사를 반복하여 표시장치의 기판의 구역별로 복수로 수행하면, 표시장치를 구성하는 각각의 화소에 대응하는 마이크로 엘이디 소자를 전사할 수 있게 된다.The semiconductor substrate and the substrate constituting the display device are basically different in size, and the substrate constituting the display device is usually large. Due to the difference in area and size, if the above-described primary and secondary transfer are repeated and performed in plurality for each region of the substrate of the display device, the micro LED element corresponding to each pixel constituting the display device can be transferred. do.

반도체 기판에 형성된 마이크로 엘이디 소자는 그 종류에 따라 레드, 블루 및 그린의 마이크로 엘이디 소자일 수 있으며, 또는 백색 마이크로 엘이디 소자일 수 있다. 서로 다른 파장의 빛을 발광하는 마이크로 엘이디 소자를 사용하여 표시장치의 화소를 구현하는 방식에서 상술한 1차 및 2차 전사의 횟수는 더욱 증가할 수 있다.The micro LED device formed on the semiconductor substrate may be a red, blue, and green micro LED device, or a white micro LED device depending on the type thereof. In a method of realizing a pixel of a display device using a micro LED element emitting light of different wavelengths, the number of the above-described primary and secondary transfer may be further increased.

각각의 레드, 그린 및 블루의 3색의 마이크로 엘이디 소자를 사용하여 전사하는 경우 상술한 공정상의 문제점이 발생할 가능성이 현격히 증가하기에 그린, 블루, 화이트 또는 uv파장을 갖는 마이크로 엘이디 소자 중에서 선택된 단일 마이크로 엘이디소자를 사용하고 색변환층(Color conversion layer)을 사용하는 방식또한 사용될 수 있다.A single micro LED selected from green, blue, white, or micro LED devices having a uv wavelength is highly likely to cause problems in the above-described process when transferring using a micro LED device of three colors, each of red, green, and blue. A method of using an LED device and using a color conversion layer may also be used.

마이크로 엘이디 소자는 GaN과 같은 화합물 반도체로 구성되어 무기 재료 특성상 고 전류를 주입할 수 있어 고휘도를 구현할 수 있고, 열, 수분, 산소 등 환경 영향성이 낮아 고신뢰성을 갖는다.The micro LED device is composed of a compound semiconductor such as GaN, which enables high current to be injected due to the nature of the inorganic material, and thus high brightness can be realized, and has low environmental impact such as heat, moisture, and oxygen, and thus has high reliability.

또한, 마이크로 엘이디 소자는 내부 양자 효율이 90% 수준으로 유기 발광 표시 장치 보다 높으므로 고휘도의 영상을 표시할 수 있으면서, 소모 전력이 낮은 표시 장치를 구현할 수 있는 장점이 있다.In addition, since the micro LED device has an internal quantum efficiency of 90%, which is higher than that of an organic light emitting display device, it is possible to display a high-brightness image and realize a display device with low power consumption.

또한, 유기 발광 표시 장치와는 달리 무기물을 사용하기에 산소와 수분의 영향이 미미한 수준으로 산소와 수분의 침투를 최소화 하기 위한 별도의 봉지막 또는 봉지기판이 필요가 없으므로, 봉지막 또는 봉지기판을 배치함으로서 발생할 수 있는 마진영역인 표시 장치의 비표시 영역을 최소화 할 수 있는 장점이 있다.In addition, unlike the organic light emitting display device, since there is no need for a separate encapsulation film or encapsulation substrate for minimizing the penetration of oxygen and moisture to a level where the influence of oxygen and moisture is insignificant because inorganic materials are used, the encapsulation film or the encapsulation substrate is not required. There is an advantage in that the non-display area of the display device, which is a margin area that may be generated by the arrangement, can be minimized.

그러나, 표시 장치에 배치된 전극과 회로기판과의 연결에 있어서, 패드전극을 배치하고 연성기판과 패드전극간의 연결을 맺도록 하는 최소한의 영역이 필요하며, 이와 같은 비표시 영역은 표시 장치의 어느 일측면에 존재하여야 한다.However, in the connection between the electrode disposed on the display device and the circuit board, a minimum area for disposing the pad electrode and establishing a connection between the flexible substrate and the pad electrode is required. It should be on one side.

패드전극을 배치하고 회로기판과의 연결을 맺기 위해 표시 장치의 배면으로 배선을 연장하여 배치하는 방법도 사용할 수 있으며, 측면에 배선을 배치하거나 기판에 구멍을 통해 배선을 배면으로 연장하는 방법이 사용될 수 있다.In order to arrange the pad electrode and make a connection with the circuit board, a method of extending the wiring to the back side of the display device may be used, and a method of arranging the wiring on the side or extending the wiring through a hole in the board may be used. can

근래에는 상술한 공정상의 다양한 문제를 해결하도록 많은 연구 활동들이 이루어 지고 있다.In recent years, many research activities have been conducted to solve various problems in the above-described process.

상술한 마이크로 엘이디 소자를 발광 소자로 하는 마이크로 엘이디 표시 장치에 있어서, 웨이퍼를 사용하여 마이크로 엘이디 소자를 성장 시키고 표시 장치의 기판에 전사하는 공정에 대해 마이크로 엘이디 소자의 크기가 워낙 미세하여 공정 정확성이 높게 요구되는 문제점이 있었다. 또한, 레드, 그린 및 블루의 기본 발광 소자를 구현하기 위해 서로 다른 파장의 빛을 발하는 각각의 소자를 표시 장치의 발광 소자로 사용하기 위해서는, 서로 다른 웨이퍼에서 성장시키고 표시 장치의 기판에 전사하여야 하기에 더욱 정밀한 공정을 수행할 필요성이 높은 문제점이 있었다, 본 발명의 발명자들은 상술한 문제에 대해 공정 안정성을 높임과 동시에 불량이 발생한 경우 손쉽게 리페어 할 수 있는 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법을 발명하였다. In the micro LED display device using the above-described micro LED device as a light emitting device, the micro LED device has a very small size for the process of growing the micro LED device using a wafer and transferring it to the substrate of the display device, so the process accuracy is high. There was a required problem. In addition, in order to use each device emitting light of different wavelengths as a light emitting device of a display device to implement the basic light emitting devices of red, green, and blue, it is necessary to grow them on different wafers and transfer them to the substrate of the display device. There was a problem in that there was a high need to perform a more precise process. The inventors of the present invention invented a micro LED display device and a method for manufacturing the same that can be easily repaired when a defect occurs while improving process stability for the above-mentioned problems. .

본 명세서의 일 실시예에 따른 해결 과제는 마이크로 엘이디 표시 장치에 사용되는 발광 소자로 단일한 파장의 마이크로 엘이디 소자를 사용하여, 마이크로 엘이디 전사 공정의 공정수를 최소화 하고 이로인해 불량율을 최소화 할 수 있는 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법을 제공하는 것이다.A problem to be solved according to an embodiment of the present specification is to minimize the number of steps in the micro LED transfer process by using a micro LED device of a single wavelength as a light emitting device used in a micro LED display device, thereby minimizing the defect rate. To provide a micro LED display device and a method for manufacturing the same.

본 명세서의 일 실시예에 따른 또다른 해결 과제는 마이크로 엘이디 표시 장치를 제조하는 과정에서 마이크로 엘이디 소자를 전사하는 과정 및 기타 문제가 발생하여 정상적으로 발광하지 않는 화소가 발생하였을 때 리페어 할 수 있는 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법을 제공하는 것이다. Another problem to be solved according to an embodiment of the present specification is a micro LED that can be repaired when a pixel that does not emit light normally occurs due to a process of transferring a micro LED element and other problems in the process of manufacturing a micro LED display device. A display device and a method for manufacturing the same are provided.

본 발명의 일 실시예에 따른 해결 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved according to an embodiment of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 명세서의 일 실시예에 따른 제1 서브화소, 제2 서브화소, 제3 서브화소 및 제4 서브화소로 구성되는 복수의 단위화소를 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치가 제공된다. 단위화소는 복수의 서브화소를 포함하도록 구성되며 제1 서브화소, 제2 서브화소, 제3 서브화소 및 제4 서브화소 중 선택된 적어도 세개의 서브화소는 각각 레드, 블루 및 그린의 빛을 발광하도록 구성된다. 세가지 색상을 적어도 네개의 서브화소를 사용하여 구현하기에 세가지 색상을 구현하기 위한 복수의 서브화소중 불량이 발생하여도 세가지 색상의 서브화소를 포함하도록 할 수 있기에, 불량에 대해 효율 적으로 대처할 수 있는 마이크로 엘이디 표시장치를 제공할 수 있다.According to an embodiment of the present specification, there is provided a micro LED display including a plurality of unit pixels including a first sub-pixel, a second sub-pixel, a third sub-pixel, and a fourth sub-pixel. The unit pixel is configured to include a plurality of sub-pixels, and at least three sub-pixels selected from among the first sub-pixel, the second sub-pixel, the third sub-pixel, and the fourth sub-pixel emit red, blue, and green light, respectively. is composed Since three colors are implemented using at least four sub-pixels, even if a defect occurs among a plurality of sub-pixels for implementing three colors, sub-pixels of three colors can be included, so it is possible to effectively deal with defects. It is possible to provide a micro LED display device.

본 명세서의 또다른 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 표시장치의 제조 방법이 제공된다. 기판상에 복수의 서브화소를 정의하되, 복수의 서브화소로 단위화소가 구성되도록 하고, 복수의 서브화소 각각에 대응하는 구동소자 및 구동회로를 기판상에 배치한다. 정의된 화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하고 기판상에 배치된 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 전극등을 배치하여 전기적으로 연결한다. 이후 배치된 마이크로 엘이디 소자의 점등을 검사하여 정상여부 및 불량에 대한 불량데이터를 작성하고, 작성된 불량데이터를 참조하여 색변환층을 복수의 서브화소로 구성되는 단위화소에 배치하는 단계를 수행하고, 불량데이터를 D-IC에 반영하여 서브화소별 색상데이터를 구동시 반영하여 구동할 수 있도록 한다. 이와 같이 복수의 서브화소중 발생된 불량화소를 대체하는 서브화소를 배치하는 단계를 포함하는, 화소 불량에 대해 대응할 수 있는 마이크로 엘이디 표시장치의 제조방법을 제공할 수 있다.A method of manufacturing a micro LED display device according to another embodiment of the present specification is provided. A plurality of sub-pixels are defined on a substrate, a unit pixel is configured of the plurality of sub-pixels, and a driving device and a driving circuit corresponding to each of the plurality of sub-pixels are disposed on the substrate. A micro LED device is disposed in a defined pixel, and an electrode, etc. is disposed between the driving circuit disposed on the substrate and the micro LED device to electrically connect the micro LED device. Then, by examining the lighting of the disposed micro LED element, writing bad data on whether it is normal or defective, and arranging the color conversion layer in a unit pixel composed of a plurality of sub-pixels with reference to the written bad data, The defective data is reflected in the D-IC so that the color data for each sub-pixel is reflected and driven when driving. As described above, it is possible to provide a method of manufacturing a micro LED display device capable of coping with pixel defects, including disposing sub-pixels to replace the generated defective pixels among the plurality of sub-pixels.

본 발명의 실시예에 따라 복수의 서브화소로 구성되는 단위화소를 구비하고 그 중 선택된 정상적인 서브화소를 서로 다른 파장의 빛을 발광하도록 구성으로써 불량화소를 최소화 할 수 있는 효과가 있다.According to an embodiment of the present invention, there is an effect that bad pixels can be minimized by providing unit pixels composed of a plurality of sub-pixels and configuring selected normal sub-pixels to emit light of different wavelengths.

또한, 상기 서브화소에 색변환층을 이용함으로써 불량화소에 대응하는 파장의 색변환층을 다른 서브화소에 배치하여 불량화소에 대응하는 색변환층을 이용함으로써 불량화소를 최소화 할 수 있는 효과가 있다.In addition, by using a color conversion layer in the sub-pixel, a color conversion layer of a wavelength corresponding to the defective pixel is disposed in another sub-pixel and a color conversion layer corresponding to the defective pixel is used, thereby minimizing defective pixels. .

본 발명의 효과는 이상에서 언급한 효과에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

이상에서 해결하고자 하는 과제, 과제 해결 수단, 효과에 기재한 발명의 내용이 청구항의 필수적인 특징을 특정하는 것은 아니므로, 청구항의 권리범위는 발명의 내용에 기재된 사항에 의하여 제한되지 않는다.Since the content of the invention described in the problems to be solved above, the means for solving the problems, and the effects do not specify the essential characteristics of the claims, the scope of the claims is not limited by the matters described in the content of the invention.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 복수의 서브화소가 있는 마이크로 엘이디 표시 장치를 설명하기위한 개략적인 평면도이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 서브화소를 구동하는 구동회로를 설명하기 위한 개략적인 회로도이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자가 사용되는 서브화소를 설명하기 위한 도 1의 I - I 에 따른 개략적인 단면도이다.
도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자를 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 5a 내지 도 5b는 본 명세서의 일 실시예에 따라 복수의 서브화소를 사용하여 다양한 파장의 빛을 발하는 단위화소를 구성하기 위한 구조 및 방법을 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 6a 내지 도 6b는 본 명세서의 일 실시예에 따라 복수의 서브화소로 구성되는 단위화소의 다양한 구성에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 7a는 본 명세서의 일 실시예에 따른 불량데이터를 포함하는 단위화소의 구성에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 7b는 본 명세서의 또다른 실시예에 따라 서브화소의 다양한 구성 및 활용에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 8은 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 표시장치의 제조방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
1 is a schematic plan view illustrating a micro LED display device having a plurality of sub-pixels according to an embodiment of the present specification.
2 is a schematic circuit diagram illustrating a driving circuit for driving a sub-pixel according to an exemplary embodiment of the present specification.
3 is a schematic cross-sectional view taken along line I - I of FIG. 1 for explaining a sub-pixel in which a micro LED device according to an embodiment of the present specification is used.
4 is a schematic diagram for explaining a micro LED device according to an embodiment of the present specification.
5A to 5B are schematic diagrams for explaining a structure and a method for configuring a unit pixel emitting light of various wavelengths using a plurality of sub-pixels according to an embodiment of the present specification.
6A to 6B are schematic diagrams for explaining various configurations of a unit pixel including a plurality of sub-pixels according to an exemplary embodiment of the present specification.
7A is a schematic diagram for explaining a configuration of a unit pixel including bad data according to an embodiment of the present specification.
7B is a schematic diagram for explaining various configurations and utilization of sub-pixels according to another embodiment of the present specification.
8 is a schematic flowchart for explaining a method of manufacturing a micro LED display device according to an embodiment of the present specification.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Advantages and features of the present invention and methods of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in a variety of different forms, and only these embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and common knowledge in the technical field to which the present invention belongs It is provided to fully inform the possessor of the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. The shapes, sizes, proportions, angles, numbers, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments of the present invention are exemplary, and thus the present invention is not limited to the illustrated matters. Like reference numerals refer to like elements throughout. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known technology may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. When 'including', 'having', 'consisting', etc. mentioned in this specification are used, other parts may be added unless 'only' is used. When a component is expressed in the singular, the case in which the plural is included is included unless otherwise explicitly stated.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the components, it is interpreted as including an error range even if there is no separate explicit description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.In the case of a description of the positional relationship, for example, when the positional relationship of two parts is described as 'on', 'on', 'on', 'beside', etc., 'right' Alternatively, one or more other parts may be positioned between the two parts unless 'directly' is used.

시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간 적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.In the case of a description of a temporal relationship, for example, when a temporal relationship is described as 'after', 'following', 'after', 'before', etc., 'immediately' or 'directly' Unless ' is used, cases that are not continuous may be included.

신호의 흐름 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, 'A 노드에서 B 노드로 신호가 전달된다'는 경우에도 '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않은 이상, A 노드에서 다른 노드를 경유하여 B 노드로 신호가 전달되는 경우를 포함할 수 있다.In the case of a description of the signal flow relationship, for example, even in the case of 'a signal is transmitted from node A to node B', unless 'directly' or 'directly' is used, node A passes through another node. A case in which a signal is transmitted to node B may be included.

제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another. Accordingly, the first component mentioned below may be the second component within the spirit of the present invention.

본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention may be partially or wholly combined or combined with each other, technically various interlocking and driving are possible, and each of the embodiments may be implemented independently of each other or may be implemented together in a related relationship. may be

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 복수의 서브화소가 있는 마이크로 엘이디 표시 장치를 설명하기위한 개략적인 평면도이고 도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 서브화소를 구동하는 구동회로를 설명하기 위한 개략적인 회로도이다. 1 is a schematic plan view for explaining a micro LED display device having a plurality of sub-pixels according to an embodiment of the present specification, and FIG. 2 is a driving circuit for driving sub-pixels according to an embodiment of the present specification A schematic circuit diagram for

도 1 및 도 2를 참조하여 설명하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 표시장치(100)는 복수의 단위화소(UP)가 있는 표시영역(AA)과 비표시영역(IA)이 정의된 기판(110)을 포함한다.1 and 2, in the micro LED display device 100 according to an embodiment of the present invention, a display area AA having a plurality of unit pixels UP and a non-display area IA are defined. and a substrate 110 .

단위화소(UP)는 기판(110)의 전면(110a)에 있는 복수의 서브화소(SP)로 구성될 수 있으며 통상적으로 레드(Red), 블루(Blue) 및 그린(Green)의 빛을 발광하는 서브화소(SP)를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않고, 화이트(White)등의 빛을 발하는 서브화소를 포함할 수 있다.The unit pixel UP may be composed of a plurality of sub-pixels SP on the front surface 110a of the substrate 110 and typically emits red, blue, and green light. The sub-pixel SP may be included, but is not limited thereto, and may include a sub-pixel emitting light such as white.

상기 기판(110)은 박막 트랜지스터 어레이 기판으로서, 유리 또는 플라스틱 재질로 이루어 질 수 있으며, 두장 이상의 기판의 합착 또는 두층이상의 층으로 구분되는 기판일 수 있다. 비표시영역(IA)은 표시영역(AA)을 제외한 기판(110)상의 영역으로 정의될 수 있는데, 상대적으로 매우 좁은 폭을 갖을 수 있으며, 베젤(Bezel)영역으로 정의될 수 있다.The substrate 110 is a thin film transistor array substrate, and may be made of a glass or plastic material, and may be a substrate formed by bonding two or more substrates or divided into two or more layers. The non-display area IA may be defined as an area on the substrate 110 excluding the display area AA, may have a relatively narrow width, and may be defined as a bezel area.

복수의 단위화소(UP)각각은 표시영역(AA)에 배치된다. 이때, 복수의 단위화소(UP)각각은 X축 방향을 따라 미리 설정된 제1 기준 픽셀 피치를 가지게 되고 Y축 방향을 따라 미리 설정된 제2 기준 픽셀 피치를 가지도록 표시영역(AA)에 배치된다. 제1 기준 픽셀 피치는 인접한 단위화소(UP)각각의 정 중앙부간의 거리로 정의될 수 있므며, 제2 기준 픽셀 피치는 제1 기준 픽셀 피치와 유사하게 기준 방향으로 인접한 단위화소(UP)각각의 정 중앙부간의 거리로 정의될 수 있다. Each of the plurality of unit pixels UP is disposed in the display area AA. In this case, each of the plurality of unit pixels UP is disposed in the display area AA to have a preset first reference pixel pitch along the X-axis direction and a preset second reference pixel pitch along the Y-axis direction. The first reference pixel pitch may be defined as a distance between the central portions of each of the adjacent unit pixels UP, and the second reference pixel pitch is similar to the first reference pixel pitch of the adjacent unit pixels UP in the reference direction. It can be defined as the distance between the central centers.

한편, 단위화소(UP)를 이루는 서브화소(SP)간의 거리또한 제1 기준 픽셀 피치 및 제2 기준 픽셀 피치와 유사하게 제1 기준 서프픽셀 피치 및 제2 기준 서브화소 피치로 정의될 수 있다.Meanwhile, the distance between the sub-pixels SP constituting the unit pixel UP may also be defined as the first reference sub-pixel pitch and the second reference sub-pixel pitch similarly to the first reference pixel pitch and the second reference pixel pitch.

엘이디 소자인 마이크로 엘이디 소자(150)를 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치(100)는 비표시영역(IA)의 폭이 상술한 픽셀 피치 혹은 서브화소 피치보다 작을 수 있으며, 픽셀 피치 혹은 서브화소 피치 보다 같거나 작은 길이의 비표시영역(IA)을 갖는 마이크로 엘이디 표시장치(100)로 멀티 스크린 표시장치를 구성하는 경우, 비표시영역(IA)이 픽셀 피치 또는 서브 픽셀 피치보다 작으므로 베젤영역이 실질적으로 없는 멀티 스크린 표시장치를 구현할 수 있게 된다.In the micro LED display device 100 including the micro LED element 150 which is an LED element, the width of the non-display area IA may be smaller than the aforementioned pixel pitch or sub-pixel pitch, and may be the same as the pixel pitch or sub-pixel pitch. In the case of configuring a multi-screen display device with the micro LED display device 100 having a non-display area IA of a small length or a non-display area IA, the non-display area IA is smaller than the pixel pitch or the sub-pixel pitch, so that the bezel area is substantially It is possible to implement a multi-screen display device without

상술한 바와 같은, 베젤영역이 실질적으로 없거나 최소화 된, 멀티 스크린 방식의 표시장치를 구현하기 위해 마이크로 엘이디 표시장치(100)는 표시영역(AA)내에서 제1 기준 픽셀 피치, 제2 기준 픽셀 피치, 제1 기준 서브화소 피치 및 제2 기준 서브화소 피치를 일정하게 유지할 수도 있으나, 표시영역(AA)을 복수의 구역으로 정의하고 각각의 구역내에서 상술한 피치 길이를 서로 다르게 하되, 비표시영역(IA)과 인접한 구역의 픽셀 피치를 다른 구역보다 넓게 함으로서 더욱 베젤영역의 크기를 상대적으로 픽셀 피치보다 작도록 할수 있다.As described above, in order to realize a multi-screen display device with substantially no or minimal bezel area, the micro LED display device 100 has a first reference pixel pitch and a second reference pixel pitch within the display area AA. , the first reference sub-pixel pitch and the second reference sub-pixel pitch may be kept constant, but the display area AA is defined as a plurality of zones and the above-described pitch lengths are different in each zone, but the non-display area By making the pixel pitch of the area adjacent to (IA) wider than the other areas, the size of the bezel area can be made smaller than the pixel pitch.

이와같이, 서로다른 픽셀 피치를 갖는 마이크로 엘이디 표시장치(100)는 화상에 대한 왜곡 현상이 발생 할 수 있으므로 설정된 픽셀 피치를 고려하여 인접한 구역과 비교하여 이미지 데이터를 샘플링하는 방식으로 이미지 프로세싱을 하여 화상에 대한 왜곡 현상을 최소화 하면서 베젤영역을 최소화 할 수 있다.In this way, since the micro LED display device 100 having different pixel pitches may cause distortion to the image, image processing is performed in a manner of sampling the image data by comparing the image data with an adjacent area in consideration of the set pixel pitch. The bezel area can be minimized while minimizing distortion.

그러나, 비표시영역(IA)를 최소화 하는데에 마이크로 엘이디 소자(150)가 있는 단위 화소(UP)에 전원 공급과 데이터 신호를 주고 받을수 있는 회로부와의 연결을 위한 패드영역과 구동을 위한 드라이브 IC등을 위한 최소한의 영역이 필요하다. However, to minimize the non-display area IA, a pad area for connection with a circuit unit capable of supplying power and data signals to and from the unit pixel UP having the micro LED element 150, and a drive IC for driving, etc. A minimum area is required for

도 2를 참조하여, 마이크로 엘이디 표시장치(100)의 단위화소(UP)를 구성하는 서브화소(SP)의 구성 및 회로구조에 대하여 설명하도록 한다. 구동 라인들은 기판(110)의 전면에 마련되어 복수의 서브 화소(SP) 각각에 필요한 신호를 공급한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 구동 라인들은 복수의 게이트 라인(GL), 복수의 데이터 라인(DL), 복수의 구동 전원 라인(DPL), 및 복수의 공통 전원 라인(CPL)을 포함한다.With reference to FIG. 2 , the configuration and circuit structure of the sub-pixels SP constituting the unit pixels UP of the micro LED display device 100 will be described. The driving lines are provided on the front surface of the substrate 110 to supply signals necessary for each of the plurality of sub-pixels SP. The pixel driving lines according to an embodiment of the present invention include a plurality of gate lines GL, a plurality of data lines DL, a plurality of driving power lines DPL, and a plurality of common power lines CPL.

복수의 게이트 라인(GL) 각각은 기판(110)의 전면에 마련되는 것으로, 기판(110)의 제 1 수평 축 방향(X)을 따라 길게 연장되면서 제 2 수평 축 방향(Y)을 따라 일정한 간격으로 이격된다.Each of the plurality of gate lines GL is provided on the front surface of the substrate 110 , and extends long along the first horizontal axis direction X of the substrate 110 at regular intervals along the second horizontal axis direction Y of the substrate 110 . are spaced apart by

복수의 데이터 라인(DL)은 복수의 게이트 라인(GL)과 교차하도록 기판(110)의 전면에 마련되는 것으로, 기판(110)의 제 2 수평 축 방향(Y)을 따라 길게 연장되면서 제 1 수평 축 방향(X)을 따라 일정한 간격으로 이격된다.The plurality of data lines DL are provided on the front surface of the substrate 110 to intersect the plurality of gate lines GL, and extend along the second horizontal axis direction Y of the substrate 110 and extend in the first horizontal direction. They are spaced apart at regular intervals along the axial direction (X).

복수의 구동 전원 라인(DPL)은 복수의 데이터 라인(DL) 각각과 나란하도록 기판(110) 상에 마련되는 것으로, 복수의 데이터 라인(DL) 각각과 함께 형성될 수 있다. 이러한 복수의 구동 전원 라인(DPL) 각각은 외부로부터 제공되는 구동 전원을 인접한 서브 화소(SP)에 공급한다.The plurality of driving power lines DPL are provided on the substrate 110 to be parallel to each of the plurality of data lines DL, and may be formed together with each of the plurality of data lines DL. Each of the plurality of driving power lines DPL supplies driving power provided from the outside to the adjacent sub-pixels SP.

복수의 공통 전원 라인(CPL)은 복수의 게이트 라인(GL) 각각과 나란하도록 기판(110) 상에 마련되는 것으로, 복수의 게이트 라인(GL) 각각과 함께 형성될 수 있다. 이러한 복수의 공통 전원 라인(CPL) 각각은 외부로부터 제공되는 공통 전원을 인접한 서브 화소(SP)에 공급한다.The plurality of common power lines CPL are provided on the substrate 110 to be parallel to each of the plurality of gate lines GL, and may be formed together with each of the plurality of gate lines GL. Each of the plurality of common power lines CPL supplies a common power provided from the outside to the adjacent sub-pixels SP.

복수의 서브 화소(SP) 각각은 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)에 의해 정의되는 서브 화소 영역에 마련된다. 복수의 서브 화소(SP) 각각은 실제 빛이 발광되는 최소 단위의 영역으로 정의될 수 있다.Each of the plurality of sub-pixels SP is provided in a sub-pixel area defined by the gate line GL and the data line DL. Each of the plurality of sub-pixels SP may be defined as an area of a minimum unit in which actual light is emitted.

서로 인접한 적어도 3개의 서브 화소(SP)는 컬러 표시를 위한 하나의 단위화소(UP)를 구성할 수 있다. 예를 들어, 하나의 단위화소(UP)는 제 1 수평 축 방향(X)을 따라 서로 인접한 적색, 녹색 및 청색의 서브화소(SP)를 포함하며, 휘도 향상을 위해 백색 서브화소(SP)를 더 포함할 수도 있다.At least three sub-pixels SP adjacent to each other may constitute one unit pixel UP for color display. For example, one unit pixel UP includes red, green, and blue sub-pixels SP adjacent to each other along the first horizontal axis direction X, and includes a white sub-pixel SP to improve luminance. It may include more.

선택적으로, 복수의 구동 전원 라인(DPL) 각각은 복수의 단위화소(UP) 각각마다 하나씩 마련될 수 있다. 이 경우, 각 단위화소(UP)를 구성하는 적어도 3개의 서브화소(SP)은 하나의 구동 전원 라인(DPL)을 공유한다. 이에 따라, 각 서브화소(SP)의 구동을 위한 구동 전원 라인의 개수를 감소시킬 수 있고, 감소하는 구동 전원 라인의 개수만큼 각 단위 화소(UP)의 개구율을 증가시키거나 각 단위 화소(UP)의 크기를 감소시킬 수 있다.Optionally, each of the plurality of driving power lines DPL may be provided for each of the plurality of unit pixels UP. In this case, at least three sub-pixels SP constituting each unit pixel UP share one driving power line DPL. Accordingly, the number of driving power lines for driving each sub-pixel SP may be reduced, and the aperture ratio of each unit pixel UP may be increased by the decreased number of driving power lines, or each unit pixel UP may be reduced. can reduce the size of

본 발명의 일 실시예에 따른 복수의 서브화소(SP) 각각은 구동회로(PC) 및 마이크로 엘이디 소자(150)를 포함한다.Each of the plurality of sub-pixels SP according to an embodiment of the present invention includes a driving circuit PC and a micro LED device 150 .

구동회로(PC)는 각 서브화소(SP)에 정의된 회로 영역에 마련되어 인접한 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL) 및 구동 전원 라인(DPL)에 연결된다. 이러한 구동회로(PC)는 구동 전원 라인(DPL)으로부터 공급되는 구동 전원을 기반으로, 게이트 라인(GL)으로부터의 스캔 펄스에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 신호에 따라 마이크로 엘이디 소자(150)에 흐르는 전류를 제어한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 구동회로(PC)는 스위칭 박막 트랜지스터(T1), 구동 박막 트랜지스터(T2), 및 커패시터(Cst)를 포함한다.The driving circuit PC is provided in a circuit region defined in each sub-pixel SP and is connected to the adjacent gate line GL, the data line DL, and the driving power line DPL. The driving circuit PC is based on the driving power supplied from the driving power line DPL, and in response to a scan pulse from the gate line GL, the micro LED device 150 according to a data signal from the data line DL. ) to control the current flowing through it. The driving circuit PC according to an embodiment of the present invention includes a switching thin film transistor T1 , a driving thin film transistor T2 , and a capacitor Cst.

스위칭 박막 트랜지스터(T1)는 게이트 라인(GL)에 연결된 게이트 전극, 데이터 라인(DL)에 연결된 제 1 전극, 및 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(N1)에 연결된 제 2 전극을 포함한다. 여기서, 상기 스위칭 박막 트랜지스터(T1)의 제 1 및 제 2 전극은 전류의 방향에 따라 소스 전극 또는 드레인 전극이 될 수 있다. 이러한 상기 스위칭 박막 트랜지스터(T1)는 게이트 라인(GL)에 공급되는 스캔 펄스에 따라 스위칭되어 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 신호를 구동 박막 트랜지스터(T2)에 공급한다.The switching thin film transistor T1 includes a gate electrode connected to the gate line GL, a first electrode connected to the data line DL, and a second electrode connected to the gate electrode N1 of the driving thin film transistor T2 . Here, the first and second electrodes of the switching thin film transistor T1 may be a source electrode or a drain electrode depending on the direction of the current. The switching thin film transistor T1 is switched according to a scan pulse supplied to the gate line GL and supplies a data signal supplied to the data line DL to the driving thin film transistor T2 .

구동 박막 트랜지스터(T2)는 스위칭 박막 트랜지스터(T1)로부터 공급되는 전압 및/또는 커패시터(Cst)의 전압에 의해 턴-온됨으로써 구동 전원 라인(DPL)으로부터 마이크로 엘이디 소자(150)로 흐르는 전류 량을 제어한다. 이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 구동 박막 트랜지스터(T2)는 상기 스위칭 박막 트랜지스터(T1)의 제 2 전극(N1)에 연결된 게이트 전극, 구동 전원 라인(DPL)에 연결된 드레인 전극, 및 마이크로 엘이디 소자(150)에 연결되는 소스 전극을 포함한다. 이러한 구동 박막 트랜지스터(T2)는 스위칭 박막 트랜지스터(T1)로부터 공급되는 데이터 신호를 기반으로 구동 전원 라인(DPL)으로부터 마이크로 엘이디 소자(150)로 흐르는 데이터 전류를 제어함으로써 마이크로 엘이디 소자(150)의 발광을 제어한다.The driving thin film transistor T2 is turned on by the voltage supplied from the switching thin film transistor T1 and/or the voltage of the capacitor Cst to control the amount of current flowing from the driving power line DPL to the micro LED device 150 . Control. To this end, the driving thin film transistor T2 according to an embodiment of the present invention includes a gate electrode connected to the second electrode N1 of the switching thin film transistor T1 , a drain electrode connected to the driving power line DPL, and a micro and a source electrode connected to the LED element 150 . The driving thin film transistor T2 controls the data current flowing from the driving power line DPL to the micro LED element 150 based on the data signal supplied from the switching thin film transistor T1 to emit light of the micro LED element 150 . to control

커패시터(Cst)는 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(N1)과 소스 전극 사이의 중첩 영역에 마련되어 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극에 공급되는 데이터 신호에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 구동 박막 트랜지스터(T2)를 턴-온시킨다.The capacitor Cst is provided in an overlapping region between the gate electrode N1 and the source electrode of the driving thin film transistor T2 to store a voltage corresponding to a data signal supplied to the gate electrode of the driving thin film transistor T2, and store the stored voltage. to turn on the driving thin film transistor T2.

선택적으로, 구동회로(PC)는 구동 박막 트랜지스터(T2)의 문턱 전압 변화를 보상하기 위한 적어도 하나의 보상 박막 트랜지스터를 더 포함할 수 있으며, 나아가 적어도 하나의 보조 커패시터를 더 포함할 수 있다. 이러한 구동회로(PC)는 박막 트랜지스터와 보조 커패시터의 개수에 따라 초기화 전압 등의 보상 전원을 추가로 공급받을 수도 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 구동회로(PC)는 유기 발광 표시 장치의 각 서브화소와 동일하게 전류 구동 방식을 통해 마이크로 엘이디 소자(150)를 구동하기 때문에 공지된 유기 발광 표시 장치의 화소 회로로 변경 가능하다.Optionally, the driving circuit PC may further include at least one compensation thin film transistor for compensating for a threshold voltage change of the driving thin film transistor T2 , and further include at least one auxiliary capacitor. The driving circuit PC may additionally receive compensation power such as an initialization voltage according to the number of thin film transistors and auxiliary capacitors. Accordingly, since the driving circuit PC according to an embodiment of the present invention drives the micro LED device 150 through the current driving method in the same manner as each sub-pixel of the organic light emitting display device, a known pixel of the organic light emitting display device. circuit can be changed.

마이크로 엘이디 소자(150)는 복수의 서브화소(SP) 각각에 실장된다. 이러한 마이크로 엘이디 소자(150)는 해당 서브화소(SP)의 구동회로(PC)와 공통 전원 라인(CPL)에 전기적으로 연결됨으로써 구동회로(PC), 즉 구동 박막 트랜지스터(T2)로부터 공통 전원 라인(CPL)으로 흐르는 전류에 의해 발광한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자(150)는 적색 광, 녹색 광, 청색 광, 및 백색 광 중 어느 하나의 광을 방출하는 광 소자 또는 발광 다이오드 칩일 수 있다. 여기서, 발광 다이오드 칩은 1 내지 100 마이크로 미터의 스케일을 가질 수 있으나, 이에 한정되지 않는 서브 화소 영역 중 구동회로(PC)가 차지하는 회로 영역을 제외한 나머지 발광 영역의 크기보다 작은 크기를 가질 수 있다.The micro LED device 150 is mounted on each of the plurality of sub-pixels SP. The micro LED device 150 is electrically connected to the driving circuit PC and the common power line CPL of the corresponding sub-pixel SP, and thus the common power line ( CPL) to emit light. The micro LED device 150 according to an embodiment of the present invention may be an optical device or a light emitting diode chip emitting any one of red light, green light, blue light, and white light. Here, the light emitting diode chip may have a scale of 1 to 100 micrometers, but may have a size smaller than the size of the remaining light emitting regions except for the circuit region occupied by the driving circuit PC among the sub-pixel regions, which is not limited thereto.

도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자가 사용되는 서브화소를 설명하기 위한 도 1의 I - I 에 따른 개략적인 단면도이다. 이하에서는 도 3을 참조하여 설명하되 이전 도면들과 결부하여 설명하도록 한다.3 is a schematic cross-sectional view taken along line I - I of FIG. 1 for explaining a sub-pixel in which a micro LED device according to an embodiment of the present specification is used. Hereinafter, it will be described with reference to FIG. 3, but will be described in conjunction with the previous drawings.

본 발명의 일 실시 예에 따른 표시 장치의 각 서브화소(SP)는 보호층(113), 마이크로 엘이디 소자(150), 평탄화층(115-1,115-2), 화소 전극(PE), 및 공통 전극(CE)을 포함한다.Each sub-pixel SP of the display device according to an embodiment of the present invention includes a protective layer 113 , a micro LED device 150 , planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 , a pixel electrode PE, and a common electrode. (CE).

먼저, 도 3에서는 기판(110)의 두께를 상대적으로 얇게 도시하였지만, 실질적으로 기판(110)의 두께는 기판(110) 상에 마련된 층 구조의 전체 두께보다 상대적으로 매우 두꺼운 두께를 갖을 수 있으며, 복수의 층으로 구성되거나 복수의 기판이 합착된 기판일 수 있다.First, although the thickness of the substrate 110 is shown relatively thin in FIG. 3, the thickness of the substrate 110 may have a relatively very thick thickness than the entire thickness of the layer structure provided on the substrate 110, It may be a substrate composed of a plurality of layers or to which a plurality of substrates are bonded.

구동회로(PC)는 스위칭 박막 트랜지스터(T1), 구동 박막 트랜지스터(T2), 및 커패시터(C)를 포함한다. 이러한 구동회로(PC)는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략하기로 하고, 이하 구동 박막 트랜지스터(T2)의 구조를 예를 들어 설명하기로 한다.The driving circuit PC includes a switching thin film transistor T1 , a driving thin film transistor T2 , and a capacitor C . Since the driving circuit PC is the same as described above, a detailed description thereof will be omitted, and the structure of the driving thin film transistor T2 will be described below as an example.

구동 박막 트랜지스터(T2)는 게이트 전극(GE), 반도체층(SCL), 소스 전극(SE), 및 드레인 전극(DE)을 포함한다.The driving thin film transistor T2 includes a gate electrode GE, a semiconductor layer SCL, a source electrode SE, and a drain electrode DE.

게이트 전극(GE)은 기판(110) 상에 게이트 라인(GL)과 함께 배치된다. 이러한 게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(112)에 의해 덮인다. 상기 게이트 절연층(112)은 무기 물질로 이루어진 단일층 또는 복수의 층으로 구성될 수 있으며, 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 등으로 이루어질 수 있다.The gate electrode GE is disposed on the substrate 110 together with the gate line GL. The gate electrode GE is covered by the gate insulating layer 112 . The gate insulating layer 112 may be formed of a single layer or a plurality of layers made of an inorganic material, and may be formed of silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or the like.

반도체층(SCL)은 게이트 전극(GE)과 중첩(overlap)되도록 게이트 절연층(112) 상에 미리 설정된 패턴(또는 섬) 형태로 마련된다. 이러한 반도체층(SCL)은 비정질 실리콘(amorphous silicon), 다결정 실리콘(polycrystalline silicon), 산화물(oxide) 및 유기물(organic material) 중 어느 하나로 이루어진 반도체 물질로 구성될 수 있지만, 이에 제한되지 않는다.The semiconductor layer SCL is provided in the form of a predetermined pattern (or island) on the gate insulating layer 112 to overlap the gate electrode GE. The semiconductor layer SCL may be formed of a semiconductor material made of any one of amorphous silicon, polycrystalline silicon, oxide, and an organic material, but is not limited thereto.

소스 전극(SE)은 반도체층(SCL)의 일측과 중첩되도록 배치된다. 소스 전극(SE)은 데이터 라인(DL) 및 구동 전원 라인(DPL)과 함께 배치된다.The source electrode SE is disposed to overlap one side of the semiconductor layer SCL. The source electrode SE is disposed together with the data line DL and the driving power line DPL.

드레인 전극(DE)은 반도체층(SCL)의 타측과 중첩되면서 소스 전극(SE)과 이격되도록 배치된다. 상기 드레인 전극(DE)은 소스 전극(SE)과 함께 배치되는 것으로, 인접한 구동 전원 라인(DPL)으로부터 분기되거나 돌출된다.The drain electrode DE overlaps the other side of the semiconductor layer SCL and is disposed to be spaced apart from the source electrode SE. The drain electrode DE is disposed together with the source electrode SE, and is branched or protruded from the adjacent driving power line DPL.

부가적으로, 구동회로(PC)를 구성하는 스위칭 박막 트랜지스터(T1)는 구동 박막 트랜지스터(T2)와 동일한 구조로 배치된다. 이때, 스위칭 박막 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 게이트 라인(GL)으로부터 분기되거나 돌출되고, 스위칭 박막 트랜지스터(T1)의 제 1 전극은 데이터 라인(DL)으로부터 분기되거나 돌출되며, 스위칭 박막 트랜지스터(T1)의 제 2 전극은 게이트 절연층(112)에 마련된 비아홀을 통해서 구동 박막 트랜지스터(T2)의 게이트 전극(GE)과 연결된다.Additionally, the switching thin film transistor T1 constituting the driving circuit PC is disposed in the same structure as the driving thin film transistor T2 . In this case, the gate electrode of the switching thin film transistor T1 branches or protrudes from the gate line GL, the first electrode of the switching thin film transistor T1 branches or protrudes from the data line DL, and the switching thin film transistor T1 . ) is connected to the gate electrode GE of the driving thin film transistor T2 through a via hole provided in the gate insulating layer 112 .

보호층(113)은 서브화소(SP), 즉 구동회로(PC)를 덮도록 기판(110)의 전면에 마련된다. 이러한 보호층(113)은 구동회로(PC)를 보호하면서 평탄면을 제공한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 보호층(113)은 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene) 또는 포토 아크릴(photo acryl)과 같은 유기 물질로 이루어질 수 있으나, 공정의 편의를 위해 포토 아크릴 물질로 이루어지는 것이 바람직하다.The protective layer 113 is provided on the entire surface of the substrate 110 to cover the sub-pixel SP, that is, the driving circuit PC. The protective layer 113 provides a flat surface while protecting the driving circuit PC. The protective layer 113 according to an embodiment of the present invention may be made of an organic material such as benzocyclobutene or photo acryl, but is preferably made of a photoacrylic material for convenience of the process.

본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자(150)는 보호층(113)상에 접착부재(114)가 사용되어 배치될 수 있다. 또는, 보호층(113)상에 마련된 오목부에 배치될 수 있으며, 이러한 보호층(113)에 있는 오목부로 인한 경사면은 마이크로 엘이디 소자(150)로부터 방출되는 광을 특정 방향으로 진행시키어 발광 효율을 향상시키는 역할을 할 수 있다. The micro LED device 150 according to an embodiment of the present invention may be disposed using an adhesive member 114 on the protective layer 113 . Alternatively, it may be disposed in a concave portion provided on the protective layer 113, and the inclined surface due to the concave portion in the protective layer 113 advances the light emitted from the micro LED device 150 in a specific direction to increase luminous efficiency. can play a role in improving it.

마이크로 엘이디 소자(150)는 구동회로(PC)와 공통 전원 라인(CPL)에 전기적으로 연결됨으로써 구동회로(PC), 즉 구동 박막 트랜지스터(T2)로부터 공통 전원 라인(CPL)으로 흐르는 전류에 의해 발광한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자(150)는 발광층(EL), 제 1 전극(또는 애노드 단자)(E1), 및 제 2 전극(또는 캐소드 단자) (E2)을 포함한다.The micro LED device 150 is electrically connected to the driving circuit PC and the common power line CPL, so that light is emitted by the current flowing from the driving circuit PC, that is, the driving thin film transistor T2 to the common power line CPL. do. The micro LED device 150 according to an embodiment of the present invention includes a light emitting layer (EL), a first electrode (or anode terminal) (E1), and a second electrode (or a cathode terminal) (E2).

마이크로 엘이디 소자(150)는 제 1 전극(E1)과 제 2 전극(E2) 사이에 흐르는 전류에 따른 전자와 정공의 재결합에 따라 발광한다. The micro LED device 150 emits light according to recombination of electrons and holes according to a current flowing between the first electrode E1 and the second electrode E2 .

평탄화층(115-1,115-2)은 마이크로 엘이디 소자(150)를 덮도록 보호층(113) 상에 배치된다. 즉, 평탄화층(115-1,115-2)은 보호층(113)의 전면, 마이크로 엘이디 소자(150)가 배치된 곳과 나머지 전면(前面)을 모두 덮을 수 있을 정도의 두께를 가지도록 보호층(113) 상에 배치된다.The planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 are disposed on the protective layer 113 to cover the micro LED device 150 . That is, the planarization layers 115-1 and 115-2 have a thickness sufficient to cover the entire surface of the protective layer 113, the place where the micro LED device 150 is disposed, and the rest of the front surface of the protective layer ( 113) is placed on the

평탄화층(115-1,115-2)은 하나의 층으로 이루어 질 수 있으며 도시한 바와 같이 제1 평탄화층(115-1) 및 제2 평탄화층(115-2)으로 구성되는 다층구조의 평탄화층(115-1,115-2)일 수 있다.The planarization layers 115-1 and 115-2 may consist of one layer, and as shown in the figure, the planarization layer ( 115-1,115-2).

이와 같은, 평탄화층(115-1,115-2)은 보호층(113) 상에 평탄면을 제공한다. 또한, 평탄화층(115-1,115-2)은 마이크로 엘이디 소자(150)의 위치를 고정하는 역할을 한다.As such, the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 provide a flat surface on the passivation layer 113 . In addition, the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 serve to fix the position of the micro LED device 150 .

화소 전극(PE)은 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 1 전극(E1)을 구동 박막 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(DE)에 연결하는 것으로 박막 트랜지스터(T2)의 구성에 따라 소스 전극(SE)에 연결하는 구성도 가능하다. 이와 같은 화소 전극(PE)은 애노드 전극으로 정의될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 화소 전극(PE)은 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 1 전극(E1)과 구동 박막 트랜지스터(T2)에 중첩되는 평탄화층(115-1,115-2)의 전면에 마련된다. 화소 전극(PE)은 보호층(113) 및 평탄화층(115-1,115-2)을 관통하여 마련된 제 1 회로 컨택홀(CCH1)을 통해서 구동 박막 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(DE) 또는 소스 전극(SE)에 전기적으로 연결되고, 평탄화층(115-1,115-2)에 마련된 전극 컨택홀(ECH)을 통해서 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 1 전극(E1)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 1 전극(E1)은 화소 전극(PE)을 통해서 구동 박막 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(DE) 또는 소스 전극(SE)과 전기적으로 연결된다.The pixel electrode PE connects the first electrode E1 of the micro LED device 150 to the drain electrode DE of the driving thin film transistor T2, and according to the configuration of the thin film transistor T2, the source electrode SE) It is also possible to configure a connection to Such a pixel electrode PE may be defined as an anode electrode. The pixel electrode PE according to an embodiment of the present invention is provided on the entire surface of the planarization layers 115-1 and 115-2 overlapping the first electrode E1 of the micro LED device 150 and the driving thin film transistor T2. do. The pixel electrode PE is the drain electrode DE or the source electrode of the driving thin film transistor T2 through the first circuit contact hole CCH1 provided through the passivation layer 113 and the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 . It is electrically connected to SE and is electrically connected to the first electrode E1 of the micro LED device 150 through the electrode contact hole ECH provided in the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 . Accordingly, the first electrode E1 of the micro LED device 150 is electrically connected to the drain electrode DE or the source electrode SE of the driving thin film transistor T2 through the pixel electrode PE.

소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)의 연결관계에서, 드레인 전극(DE)이 화소 전극(PE)와 연결되는 것으로 도시하였으나 화소 전극(PE)과 소스 전극(SE)이 연결되는 구성도 가능하며 이는 당업자의 선택사항이라 할 수 있겠다.In the connection relationship between the source electrode SE and the drain electrode DE, the drain electrode DE is illustrated as being connected to the pixel electrode PE, but a configuration in which the pixel electrode PE and the source electrode SE are connected is also possible. And it can be said that it is the choice of a person skilled in the art.

이러한 화소 전극(PE)은 표시 장치가 전면 발광(top emission) 방식일 경우, 투명 도전 물질로 이루어지고, 표시 장치가 후면 발광(bottom emission) 방식일 경우, 광 반사 도전 물질로 이루어질 수 있다. 여기서, 투명 도전 물질은 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide) 등이 될 수 있지만, 이에 한정되지 않는다. 광 반사 도전 물질은 Al, Ag, Au, Pt, 또는 Cu 등이 될 수 있지만, 이에 한정되지 않는다. 광 반사 도전 물질로 이루어진 화소 전극(PE)은 광 반사 도전 물질을 포함하는 단일층 또는 상기 단일층이 적층된 다중층으로 이루어질 수 있다.The pixel electrode PE may be made of a transparent conductive material when the display device is a top emission type, and may be formed of a light reflective conductive material when the display device is a bottom emission type. Here, the transparent conductive material may be indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO), but is not limited thereto. The light reflective conductive material may be, but is not limited to, Al, Ag, Au, Pt, Cu, or the like. The pixel electrode PE made of the light reflective conductive material may be formed of a single layer including the light reflective conductive material or a multi-layer in which the single layer is stacked.

공통 전극(CE)은 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 2 전극(E2)과 공통 전원 라인(CPL)을 전기적으로 연결하는 것으로, 캐소드 전극으로 정의될 수 있다. 공통 전극(CE)은 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 2 전극(E2)과 중첩되면서 공통 전원 라인(CPL)과 중첩되는 평탄화층(115-1,115-2)의 전면에 마련된다. 여기서, 공통 전극(CE)은 화소 전극(PE)과 동일한 물질로 이루어질 수 있다.The common electrode CE electrically connects the second electrode E2 of the micro LED device 150 and the common power line CPL, and may be defined as a cathode electrode. The common electrode CE is provided on the entire surface of the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 overlapping the second electrode E2 of the micro LED device 150 and overlapping the common power line CPL. Here, the common electrode CE may be made of the same material as the pixel electrode PE.

본 발명의 일 실시예에 따른 공통 전극(CE)의 일측은 공통 전원 라인(CPL)과 중첩되는 게이트 절연층(112)과 보호층(113) 및 평탄화층(115-1,115-2)을 관통하여 마련된 제 2 회로 컨택홀(CCH2)을 통해서 공통 전원 라인(CPL)에 전기적으로 연결된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 공통 전극(CE)의 타측은 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 2 전극(E2)과 중첩되도록 평탄화층(115-1,115-2)에 마련된 전극 컨택홀(ECH)을 통해서 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 2 전극(E2)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 마이크로 엘이디 소자(150)의 제 2 전극(E2)은 공통 전극(CE)을 통해서 공통 전원 라인(CPL)과 전기적으로 연결된다.One side of the common electrode CE according to an embodiment of the present invention penetrates through the gate insulating layer 112 overlapping the common power line CPL, the protective layer 113 and the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 . It is electrically connected to the common power line CPL through the second circuit contact hole CCH2 provided. The other side of the common electrode CE according to an embodiment of the present invention has an electrode contact hole ECH provided in the planarization layers 115-1 and 115-2 to overlap the second electrode E2 of the micro LED device 150. It is electrically connected to the second electrode E2 of the micro LED element 150 through the. Accordingly, the second electrode E2 of the micro LED device 150 is electrically connected to the common power line CPL through the common electrode CE.

본 발명의 일 실시예에 따른 화소 전극(PE)과 공통 전극(CE)은 제 1 및 제 2 회로 컨택홀(CCH1, CCH2), 및 전극 컨택홀(ECH)을 포함하는 평탄화층(115-1,115-2) 상에 전극 물질을 증착하는 증착 공정과 포토리소그라피 공정 및 식각 공정을 이용한 전극 패터닝 공정에 의해 동시에 마련될 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예는 마이크로 엘이디 소자(150)를 구동회로(PC)에 연결하는 화소 전극(PE)과 공통 전극(CE)을 동시에 배치할 수 있으므로, 전극 연결 공정을 단순화할 수 있으며, 마이크로 엘이디 소자(150)와 구동회로(PC)를 연결하는 공정 시간을 크게 단축시키고, 이를 통해서 표시 장치의 생산성을 향상시킬 수 있다.The pixel electrode PE and the common electrode CE according to an embodiment of the present invention include planarization layers 115 - 1 and 115 including the first and second circuit contact holes CCH1 and CCH2 and the electrode contact hole ECH. -2) may be simultaneously prepared by a deposition process of depositing an electrode material thereon, and an electrode patterning process using a photolithography process and an etching process. Accordingly, in one embodiment of the present invention, since the pixel electrode PE and the common electrode CE connecting the micro LED device 150 to the driving circuit PC can be simultaneously disposed, the electrode connection process can be simplified. In addition, the process time for connecting the micro LED element 150 and the driving circuit PC can be greatly shortened, thereby improving the productivity of the display device.

본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 각 서브 화소(SP)에 실장되는 마이크로 엘이디 소자(150)는 접착 부재(114)에 의해 고정될 수 있다.In the display device according to an embodiment of the present invention, the micro LED device 150 mounted on each sub-pixel SP may be fixed by an adhesive member 114 .

접착 부재(114)는 각 서브 화소(SP)의 마이크로 엘이디 소자(150)를 1차적으로 고정한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 접착 부재(114)는 마이크로 엘이디 소자(150)의 하부와 접촉되며 마이크로 엘이디 소자(150)의 실장 공정 시 배치되는 위치가 틀어지는 것을 최소화함과 동시에 이식하기 위해 사용되는 중간 기판으로부터 마이크로 엘이디 소자(150)가 원활이 떨어지도록 하여 마이크로 엘이디 소자(150)의 이식 공정불량을 최소화 할 수 있다.The adhesive member 114 primarily fixes the micro LED element 150 of each sub-pixel SP. The adhesive member 114 according to an embodiment of the present invention is in contact with the lower portion of the micro LED device 150 and is used for implanting while minimizing misalignment of the arrangement position during the mounting process of the micro LED device 150 . By allowing the micro LED device 150 to be smoothly separated from the intermediate substrate, a defect in the implantation process of the micro LED device 150 can be minimized.

본 발명의 일 실시예에 따른 접착 부재(114)는 각 서브 화소(SP)에 도팅(dotting)되어 발광 소자의 실장 공정 시 가해지는 가압력에 의해 퍼짐으로써 마이크로 엘이디 소자(150)의 하부에 접착될 수 있다. 이에 따라, 마이크로 엘이디 소자(150)는 접착 부재(114)에 의해 1차적으로 위치가 고정될 수 있다. 따라서, 본 실시예에 따르면, 발광 소자의 실장 공정은 마이크로 엘이디 소자(150)를 면에 단순 접착하는 방식으로 수행됨으로써 발광 소자의 실장 공정 시간이 크게 단축될 수 있다.The adhesive member 114 according to an embodiment of the present invention is dotted on each sub-pixel SP and spread by the pressing force applied during the mounting process of the light emitting device to be adhered to the lower portion of the micro LED device 150 . can Accordingly, the position of the micro LED device 150 may be primarily fixed by the adhesive member 114 . Therefore, according to the present embodiment, the mounting process of the light emitting device is performed by simply attaching the micro LED device 150 to the surface, thereby greatly reducing the mounting process time of the light emitting device.

또한 접착 부재(114)는 보호층(113)과 평탄화층(115-1,115-2) 사이에 개재되고, 마이크로 엘이디 소자(150)와 보호층(113) 사이에 개재된다. 이러한 다른 예에 따른 접착 부재(114)는 보호층(113)의 전면 전체에 일정한 두께로 코팅되되, 컨택홀들이 마련될 보호층(113)의 전면에 코팅된 접착 부재(114)의 일부는 컨택홀들의 배치시 제거된다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예는 발광 소자의 실장 공정 직전에, 접착 부재(114)를 보호층(113)의 전면 전체에 일정한 두께로 코팅함으로써 접착 부재(114)를 배치하는 공정 시간을 단축시킬 수 있다.In addition, the adhesive member 114 is interposed between the protective layer 113 and the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 , and is interposed between the micro LED device 150 and the protective layer 113 . The adhesive member 114 according to this other example is coated on the entire front surface of the protective layer 113 to a predetermined thickness, and a portion of the adhesive member 114 coated on the front surface of the protective layer 113 in which contact holes are to be provided is a contact portion. It is removed upon placement of the holes. Accordingly, an embodiment of the present invention shortens the process time of disposing the adhesive member 114 by coating the adhesive member 114 on the entire entire surface of the protective layer 113 with a constant thickness immediately before the mounting process of the light emitting device. can do it

본 발명의 일 실시예에서, 접착 부재(114)가 보호층(113)의 전면 전체에 마련되기 때문에 본 예의 평탄화층(115-1,115-2)은 접착 부재(114)를 덮도록 마련된다.In one embodiment of the present invention, since the adhesive member 114 is provided on the entire surface of the protective layer 113 , the planarization layers 115 - 1 and 115 - 2 of this example are provided to cover the adhesive member 114 .

본 발명의 또다른 일 실시예에서, 마이크로 엘이디 소자(150)를 별도로 수용하기 위한 오목부가 존재하며, 오목부의 내측에 접착부재(114)를 통해 위치할 수 있다. 그러나, 상술한 마이크로 엘이디 소자(150)를 수용하기 위한 오목부는 표시장치를 구현하기 위한 다양한 공정의 조건에 따라 삭제될 수도 있다.In another embodiment of the present invention, there is a recess for separately accommodating the micro LED device 150 , and may be located inside the recess through an adhesive member 114 . However, the recess for accommodating the above-described micro LED device 150 may be deleted according to conditions of various processes for realizing the display device.

본 발명의 일 실시예에 따른 발광 소자의 실장 공정은 적색 서브화소(SP) 각각에 적색, 녹색, 청색 또는 화이트 소자 중 선택된 소자를 사용하여 실장하는 공정을 포함할 수 있으며, 실장된 발광소자 상에 색변환층인 컬러필터층(CF)을 배치하는 공정을 더 포함할 수 있다.The mounting process of the light emitting device according to an embodiment of the present invention may include a process of mounting a red, green, blue, or white device selected from among red, green, blue, and white devices on each of the red sub-pixels SP, and on the mounted light emitting device The process of disposing a color filter layer (CF), which is a color conversion layer, may be further included.

이 경우, 기판(110)은 각 서브화소(SP)와 중첩되는 컬러필터층(CF) 및 블랙매트릭스(BM)을 포함한다.In this case, the substrate 110 includes a color filter layer CF and a black matrix BM overlapping each sub-pixel SP.

본 명세서의 일 실시예에 따른 발광 소자는 청색의 파장을 발광하는 블루 마이크로 엘이디 소자(150)를 사용하고, 색 변환층으로 사용되는 컬러필터층(CF)에 양자점입자를 혼합하여 배치된 구조이다.The light emitting device according to an embodiment of the present specification has a structure in which a blue micro LED device 150 emitting blue wavelength is used, and quantum dot particles are mixed in a color filter layer (CF) used as a color conversion layer.

단일 파장의 마이크로 엘이디 소자(150)를 사용하므로 인하여 서로 다른 파장의 마이크로 엘이디 소자(150)를 각각 전사하는 공정이 필요 없고 일괄 같은 파장의 마이크로 엘디디 소자(150)를 사용하면서, 색변환을 위한 컬러필터층(CF)을 사용하되 양자점(퀀텀닷) 입자를 컬러필터층(CF)에 혼합하여 광 효율은 유지하되 단순화된 공정으로 마이크로 엘이디 표시장치(100)를 제공할 수 있다.Because the micro LED device 150 of a single wavelength is used, there is no need to transfer each of the micro LED devices 150 of different wavelengths, and the micro LED device 150 of the same wavelength is used in batches for color conversion. Although the color filter layer CF is used, quantum dots (quantum dot) particles are mixed with the color filter layer CF to maintain light efficiency, but the micro LED display device 100 can be provided through a simplified process.

단순화된 전사공정으로 인하여 서브화소(SP)에서 발생할 수 있는 불량을 최소화 할 수 있고, 복수의 서브화소(SP)로 단위화소(UP)를 구성하기에 복수의 서브화소(SP) 중 불량이 발생하여도 컬러필터층(CF)을 단위화소(UP)를 구성하는 어느하나의 서브화소(SP)를 사용하여 구현할 수 있으므로 불량에 대처할 수 있는 마이크로 엘이디 표시장치를 제공할 수 있다. 상술한 구성에 대하여서는 후술하기로 한다.Due to the simplified transfer process, defects that may occur in the sub-pixels SP can be minimized, and defects occur among the plurality of sub-pixels SP because the unit pixel UP is composed of the plurality of sub-pixels SP. Even so, since the color filter layer CF can be implemented using any one sub-pixel SP constituting the unit pixel UP, it is possible to provide a micro LED display device capable of coping with defects. The above-described configuration will be described later.

도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자를 설명하기 위한 개략적인 도면이다. 4 is a schematic diagram for explaining a micro LED device according to an embodiment of the present specification.

본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자(150)는 발광층(EL)과 제1 전극(E1), 제2 전극(E2) 및 절연막(PAS)를 포함하고, 발광층(EL)은 제 1 반도체층(151), 활성층(152), 및 제 2 반도체층(153)을 포함한다. 마이크로 엘이디 소자(150)는 제 1 전극(E1)과 제 2 전극(E2) 사이에 흐르는 전류에 따른 전자와 정공의 재결합에 따라 발광한다. The micro LED device 150 according to an embodiment of the present invention includes an emission layer (EL), a first electrode (E1), a second electrode (E2), and an insulating film (PAS), and the emission layer (EL) is a first semiconductor It includes a layer 151 , an active layer 152 , and a second semiconductor layer 153 . The micro LED device 150 emits light according to recombination of electrons and holes according to a current flowing between the first electrode E1 and the second electrode E2 .

제1 반도체층(151)은 p형 반도체층이고 제2 반도체층(153)은 n형 반도체층 일 수 있으나 편의상 제1 반도체층(151) 및 제2 반도체층(153)으로 설명하도록 한다. 또한 제1 전극(E1) 및 제2 전극(E2)또는 전기적인 연결 관계에 따라, 즉 전기적인 연결을 이루는 반도체 층에 따라 p형 전극 또는 n형 전극으로 호칭 될 수 있으나 마찬가지로 편의상 제1 또는 제2 전극으로 설명하도록 하겠다. 또한, 본 명세서에서는 제1 반도체층(151) 및 제 2 반도체층(153)을 각각 p형 반도체층 및 n형 반도체층으로 설명하겠으나 제1 반도체층(151) 및 제 2 반도체층(153)은 각각 반대인 n형 반도체층 및 p형 반도체층 일 수 있다.The first semiconductor layer 151 may be a p-type semiconductor layer and the second semiconductor layer 153 may be an n-type semiconductor layer, but for convenience, the first semiconductor layer 151 and the second semiconductor layer 153 will be described. Also, according to the first electrode E1 and the second electrode E2 or the electrical connection relationship, that is, depending on the semiconductor layer making the electrical connection, it may be called a p-type electrode or an n-type electrode, but likewise, for convenience, the first or second electrode I will explain with 2 electrodes. In addition, in this specification, the first semiconductor layer 151 and the second semiconductor layer 153 will be described as a p-type semiconductor layer and an n-type semiconductor layer, respectively, but the first semiconductor layer 151 and the second semiconductor layer 153 are The n-type semiconductor layer and the p-type semiconductor layer may be respectively opposite.

제 1 반도체층(151)은 활성층(152) 상에 마련되어, 활성층(152)에 정공을 제공한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 제 1 반도체층(153)은 p-GaN계 반도체 물질로 이루어질 수 있으며, p-GaN계 반도체 물질로는 GaN, AlGaN, InGaN, 또는 AlInGaN 등이 될 수 있다. 여기서, 제 2 반도체층(153)의 도핑에 사용되는 불순물로는 Mg, Zn, 또는 Be 등이 이용될 수 있다.The first semiconductor layer 151 is provided on the active layer 152 and provides holes to the active layer 152 . The first semiconductor layer 153 according to an embodiment of the present invention may be made of a p-GaN-based semiconductor material, and the p-GaN-based semiconductor material may be GaN, AlGaN, InGaN, AlInGaN, or the like. Here, Mg, Zn, Be, or the like may be used as an impurity used for doping the second semiconductor layer 153 .

제 2 반도체층(153)은 활성층(152)에 전자를 제공한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 제 2 반도체층(153)은 n-GaN계 반도체 물질로 이루어질 수 있으며, n-GaN계 반도체 물질로는 GaN, AlGaN, InGaN, 또는 AlInGaN 등이 될 수 있다. 여기서, 제 2 반도체층(151)의 도핑에 사용되는 불순물로는 Si, Ge, Se, Te, 또는 C 등이 사용될 수 있다.The second semiconductor layer 153 provides electrons to the active layer 152 . The second semiconductor layer 153 according to an embodiment of the present invention may be made of an n-GaN-based semiconductor material, and the n-GaN-based semiconductor material may be GaN, AlGaN, InGaN, AlInGaN, or the like. Here, as the impurity used for doping the second semiconductor layer 151 , Si, Ge, Se, Te, or C may be used.

활성층(152)은 제 2 반도체층(153) 상에 마련된다. 이러한 활성층(152)은 우물층과 우물층보다 밴드 갭이 높은 장벽층을 갖는 다중 양자 우물(MQW; Multi Quantum Well) 구조를 갖는다. 본 발명의 일 실시예에 따른 활성층(152)은 InGaN/GaN 등의 다중 양자 우물 구조를 가질 수 있다.The active layer 152 is provided on the second semiconductor layer 153 . The active layer 152 has a multi-quantum well (MQW) structure having a well layer and a barrier layer having a higher band gap than the well layer. The active layer 152 according to an embodiment of the present invention may have a multi-quantum well structure such as InGaN/GaN.

제 1 전극(E1)은 제1 반도체층(151)과 전기적으로 연결되며 구동 박막화소인 구동 트랜지스터(T2)의 드레인 전극(DE)과 또는 소스 전극(SE)과 연결되고, 제 2 전극(E2)은 공통 전원 라인(CPL)과 연결된다.The first electrode E1 is electrically connected to the first semiconductor layer 151 and is connected to the drain electrode DE or the source electrode SE of the driving transistor T2 which is a driving thin film pixel, and is connected to the second electrode E2 ) is connected to the common power line CPL.

상술한 제 1 전극(E1)은 p형 전극일 수 있으며 제 2 전극(E2)은 n형 전극일 수 있다. 이는 전자를 공급하는지 또는 정공을 공급하는지에 따라, 즉 p형 반도체층과 전기적으로 연결되는지 또는 n형 반도체층과 연결되는지에 따라 구분할 수 있으나 본 명세서에서는 제 1 전극(E1)과 제 2 전극(E2)으로 설명하기로 한다.The above-described first electrode E1 may be a p-type electrode, and the second electrode E2 may be an n-type electrode. This can be classified according to whether electrons or holes are supplied, that is, whether electrically connected to the p-type semiconductor layer or connected to the n-type semiconductor layer, but in this specification, the first electrode E1 and the second electrode ( E2) will be described.

본 발명의 일 실시예에 따른 제 1 및 제 2 전극(E1, E2) 각각은 Au, W, Pt, Si, Ir, Ag, Cu, Ni, Ti, 또는 Cr 등의 금속 물질 및 그 합금 중 하나 이상을 포함한 물질로 이루어질 수 있다. 다른 실시예에 따른 제 1 및 제 2 전극(E1, E2) 각각은 투명 도전성 재질로 이루어질 수 있으며, 상기 투명 도전성 재질은 ITO(Indium Tin Oxide) 또는 IZO(Indium Zinc Oxide) 등이 될 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.Each of the first and second electrodes E1 and E2 according to an embodiment of the present invention is one of a metal material such as Au, W, Pt, Si, Ir, Ag, Cu, Ni, Ti, or Cr and an alloy thereof It may be made of a material including the above. Each of the first and second electrodes E1 and E2 according to another embodiment may be made of a transparent conductive material, and the transparent conductive material may be Indium Tin Oxide (ITO) or Indium Zinc Oxide (IZO), etc. However, the present invention is not limited thereto.

절연막(PAS)는 마이크로 엘이디 소자(150)의 외부를 커버하도록 배치되며 제1 전극(E1) 및 제2 전극(E2)의 적어도 일부를 오픈하도록 절연막 오픈영역(P-Open)을 갖는다. 절면막(PAS)은 SiNx 또는 SiOx와 같은 물질로 배치될 수 있으며 활성층(152)을 커버하도록 배치된다.The insulating layer PAS is disposed to cover the outside of the micro LED device 150 and has an insulating layer open region P-Open to open at least a portion of the first electrode E1 and the second electrode E2 . The face layer PAS may be formed of a material such as SiNx or SiOx and is disposed to cover the active layer 152 .

절연막(PAS)은 마이크로 엘이디 소자(150)에 있는 제1 전극(E1) 및 제2 전극(E2)과 화소전극(PE)또는 공통전극(CE)이 전기적으로 연결되도록 전극이 배치될 때 의도하지 않은 요소간의 전기적 연결이 발생되지 않도록 한다.The insulating film PAS is not intended when the electrodes are disposed so that the first electrode E1 and the second electrode E2 of the micro LED device 150 and the pixel electrode PE or the common electrode CE are electrically connected. Make sure that no electrical connections are made between the elements.

부가적으로, 제 2 반도체층(153)과 활성층(152) 및 제 1 반도체층(151) 각각은 반도체 기판 상에 순차적으로 적층되어 형성된 마이크로 엘이디 소자(150)일 수 있다. 여기서, 반도체 기판은 사파이어 기판(sapphire substrate) 또는 실리콘 기판 등의 반도체 물질을 포함한다. 이러한 반도체 기판은 제 2 반도체층(153)과 활성층(152) 및 제 1 반도체층(151) 각각을 성장시키기 위한 성장용 기판으로 사용된 후, 기판 분리 공정에 의해 제 2 반도체층(153)으로부터 분리될 수 있다. 여기서, 기판 분리 공정은 레이저 리프트 오프(Laser Lift Off) 또는 케미컬 리프트 오프(Chemical Lift Off) 등이 될 수 있다. 이에 따라, 마이크로 엘이디 소자(150)에서 성장용 반도체 기판이 제거됨에 따라 마이크로 엘이디 소자(150)는 상대적으로 얇은 두께를 가질 수 있으며, 이로 인하여 각 서브 화소(SP)에 수납될 수 있다.Additionally, each of the second semiconductor layer 153 , the active layer 152 , and the first semiconductor layer 151 may be a micro LED device 150 formed by sequentially stacking on a semiconductor substrate. Here, the semiconductor substrate includes a semiconductor material such as a sapphire substrate or a silicon substrate. This semiconductor substrate is used as a growth substrate for growing each of the second semiconductor layer 153 , the active layer 152 , and the first semiconductor layer 151 , and then is removed from the second semiconductor layer 153 by a substrate separation process. can be separated. Here, the substrate separation process may be a laser lift off or a chemical lift off. Accordingly, as the semiconductor substrate for growth is removed from the micro LED device 150 , the micro LED device 150 may have a relatively thin thickness, and thus may be accommodated in each sub-pixel SP.

도 5a 내지 도 5b는 본 명세서의 일 실시예에 따라 복수의 서브화소를 사용하여 다양한 파장의 빛을 발하는 단위화소를 구성하기 위한 구조 및 방법을 설명하기 위한 개략적인 도면이다.5A to 5B are schematic diagrams for explaining a structure and a method for configuring a unit pixel emitting light of various wavelengths using a plurality of sub-pixels according to an embodiment of the present specification.

단위화소(UP)는 적어도 세개의 서브화소(SP)를 포함한다. 각각의 서브화소(SP)는 마이크로 엘이디 소자(150)을 포함하며 본 명세서의 일 실시예에 따르면, 블루 파장의 빛을 발하는 마이크로 엘이디 소자(150)일 수 있다.The unit pixel UP includes at least three sub-pixels SP. Each sub-pixel SP includes a micro LED device 150 and, according to an embodiment of the present specification, may be a micro LED device 150 emitting light of a blue wavelength.

레드, 그린 및 블루의 파장의 빛을 발하는 서브화소(SP)를 구비하기 위해 각각의 서브화소(SP)는 색변환층으로 컬러필터(CF)가 충진될 수 있다. 각각의 서브화소(SP)는 기판(110)상에 있는 마이크로 엘이디 소자(150)를 포함하고, 서브화소(SP)간의 혼색을 방지하기 위해 격벽으로 둘러 싸일 수 있다. In order to have the sub-pixels SP emitting light of red, green, and blue wavelengths, each of the sub-pixels SP may be filled with a color filter CF with a color conversion layer. Each sub-pixel SP includes a micro LED device 150 on the substrate 110 , and may be surrounded by barrier ribs to prevent color mixing between the sub-pixels SP.

본 명세서의 일 실시예로서 격벽은 블랙매트릭스(BM)일 수 있으며 빛을 반사하는 반사층을 블랙매트릭스(BM)표면에 더 포함할 수 있다.As an embodiment of the present specification, the barrier rib may be a black matrix (BM) and may further include a reflective layer reflecting light on the surface of the black matrix (BM).

컬러필터(CF)는 퀀텀닷 입자가 혼합되어 배치되며 프린팅 장비(Printing Device)에 있는 각각의 노즐(Nozzle)에서 토출되어져 블랙매트릭스(BM)으로 둘러싸인 서브화소(SP)상에 배치되되 블랙매트릭스(BM) 내부를 충진하며, 마이크로 엘이디 소자(150)를 덮도록 배치될 수 있다.The color filter (CF) is placed on the sub-pixel (SP) surrounded by the black matrix (BM) after being mixed with quantum dot particles and discharged from each nozzle in the printing device. BM) and may be disposed to cover the micro LED device 150 .

본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 소자(150)은 블루 파장의 소자일 수 있으므로 블루 컬러필터는 배치될 수 있고 생략될 수 있으나 이는 당업자의 선택에 따를 수 있다.Since the micro LED device 150 according to an embodiment of the present specification may be a device of a blue wavelength, a blue color filter may be disposed or omitted, but this may be determined by a person skilled in the art.

단위화소(UP)는 적어도 세개 이상의 서브화소(SP)를 포함하기에 적어도 하나의 더미화소(D-SP, Spare, 이하 S로 표기한다.)를 더 포함할 수 있다.Since the unit pixel UP includes at least three or more sub-pixels SP, it may further include at least one dummy pixel (D-SP, Spare, hereinafter referred to as S).

도 5b는 본 명세서의 일 실시예에 따라 단위화소(UP)를 구성하는 복수의 서브화소(SP)에 있는 마이크로 엘이디 소자(150) 중 전사 공정 또는 소자 자체의 불량으로 점등이 않되는 서브화소(SP)가 있는 경우 상술한 더미화소(S)에 불량으로 점등이 되지 않는 서브화소(SP)에 대응하는 컬러필터(CF)를 배치하여 불량을 리페어한 실 예를 도시한 것으로, 프린팅 장비(Printing Device)에 있는 노즐(Nozzle)중 더미화소(S)에 대응하는 노즐(Nozzle)을 단독 구동하여 컬러필터(CF)를 배치한 것이다.5B is a sub-pixel that does not light due to a transfer process or a defect in the device itself among the micro LED devices 150 in the plurality of sub-pixels SP constituting the unit pixel UP according to an embodiment of the present specification; An example of repairing the defect by arranging a color filter (CF) corresponding to the sub-pixel (SP) that is not lit due to a defect in the above-described dummy pixel (S) is shown when there is an SP). The color filter CF is disposed by driving a nozzle corresponding to the dummy pixel S among the nozzles in the device.

다시 설명하자면, 복수의 서브화소(SP)로 정의되는 단위화소(UP)에 있어서, 마이크로 엘이디 소자(150)가 발광 되지 않는 불량이 발생하였을 때, 단위화소(UP)에 포함된 더미화소(S)에 불량화소에 대응하는 컬러필터를 배치하여 상기 불량을 대체하는 것이다. In other words, when a defect occurs that the micro LED device 150 does not emit light in the unit pixel UP defined by the plurality of sub-pixels SP, the dummy pixel S included in the unit pixel UP. ) to replace the defective by disposing a color filter corresponding to the defective pixel.

즉, 단위화소(UP)에 포함된 복수의 서브화소(SP)는 레드, 블루 또는 그린의 파장의 빛을 발하는 서브화소(SP)를 포함하되, 상기 서브화소(SP)중 불량이 발생한 서브화소(SP)는 더미화소(S)를 활용하여 리페어한다.That is, the plurality of sub-pixels SP included in the unit pixel UP include sub-pixels SP emitting light having a wavelength of red, blue, or green, and a defective sub-pixel among the sub-pixels SP. (SP) is repaired using the dummy pixel (S).

상술한 불량은 마이크로 엘이디 소자(150)를 기판(110)에 전사하는 과정에서 마이크로 엘이디 소자(150)가 유실되거나 비틀어지게 배치되어 전극의 연결이 원활하지 않는 경우를 모두 포함하는 것으로, 마이크로 엘이디 소자(150)가 유실된 서브화소(SP)가 단위화소(UP)에 포함되어도 레드, 그린 및 블루의 빛을 발하는 서브화소(SP)를 확보할 수 있다.The above-described defects include all cases in which the electrode connection is not smooth because the micro LED element 150 is lost or twisted in the process of transferring the micro LED element 150 to the substrate 110, and the micro LED element Even if the sub-pixel SP in which 150 is lost is included in the unit pixel UP, the sub-pixel SP emitting red, green, and blue light may be secured.

상술한 구성에서, 단위화소(UP)에 포함되는 더미화소(S)의 개수는 공정의 불량율이 높고 낮음에 따라 복수개의 더미화소(S)를 포함할 수 있다.In the above-described configuration, the number of dummy pixels S included in the unit pixel UP may include a plurality of dummy pixels S according to a high and low process defect rate.

공정의 불량율이 매우 낮은 경우 더미화소(S)는 마이크로 엘이디 표시장치(100)의 화이트 밸런스 또는 광 효율을 높이기 위한 보조 화소로 사용될 수 있으며 이에 대한 구성은 후술하도록 한다.When the defect rate of the process is very low, the dummy pixel S may be used as an auxiliary pixel to increase the white balance or light efficiency of the micro LED display device 100 , and the configuration thereof will be described later.

도 6a 내지 도 6b는 본 명세서의 일 실시예에 따라 복수의 서브화소로 구성되는 단위화소의 다양한 구성에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다.6A to 6B are schematic diagrams for explaining various configurations of a unit pixel including a plurality of sub-pixels according to an exemplary embodiment of the present specification.

본 명세서의 일 실시예에서, 단위 화소(UP)는 복수의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6)를 포함한다. 단위화소(UP)는 레드, 그린 및 블루 파장의 빛을 발하는 서브화소(SP)를 포함하고 각각의 레드, 그린 및 블루 파장의 빛을 발하는 서브화소(SP)와 대응하는 서브화소(SP)를 더 포함한다.In the exemplary embodiment of the present specification, the unit pixel UP includes a plurality of sub-pixels SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, and SP6. The unit pixel UP includes a sub-pixel SP emitting light of red, green, and blue wavelengths, and includes a sub-pixel SP emitting light of each of red, green, and blue wavelengths and a corresponding sub-pixel SP. include more

각각의 레드, 그린 및 블루 파장의 빛을 발하는 서브화소(SP)와 대응하는 서브화소(SP)는 더미화소로서 각각의 레드, 그린 및 블루 파장의 서브화소(SP)와 실질적으로 동일한 컬러필터층을 포함하여, 레드, 그린 및 블루의 서브화소(SP)에서 불량이 검출 되었을 때 해당 색상의 서브화소(SP)를 대신하여 발광하도록 구성될 수 있다.The sub-pixel SP emitting light of each of the red, green, and blue wavelengths and the corresponding sub-pixel SP are dummy pixels and include substantially the same color filter layer as the sub-pixels SP of the respective red, green, and blue wavelengths. In addition, when a defect is detected in the sub-pixels SP of red, green, and blue, light may be emitted instead of the sub-pixels SP of the corresponding color.

이는 각각의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6)들은 제1 게이트라인(G1) 및 제2 게이트라인(G2)에 스캔되는 순차에서 제1 데이터라인(D1) 및 제2 데이터라인(D2)에서 인가되는 데이터 신호에 따라 각각의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6)는 개별 구동할 수 있도록 구성되고, 각각의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6)의 설정에 대한 매트릭스 데이터는 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6)를 배치하는 단계에서 점등검사를 수행하고, 검사 결과 정상 및 불량에 대한 정보를 개별 D-IC 칩에 저장하여 표시장치를 구동하는 단계에서 참조하여 구동할 수 있도록 한다.This is because each of the sub-pixels SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, and SP6 is sequentially scanned to the first gate line G1 and the second gate line G2, and the first data line D1 and the second data line are sequentially scanned. Each of the sub-pixels SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, and SP6 is configured to be individually driven according to the data signal applied from the line D2, and each of the sub-pixels SP1, SP2, SP3, SP4, For the matrix data for the setting of SP5, SP6), the lighting test is performed at the stage of arranging the sub-pixels (SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6), and information on normal and defective inspection results is provided to the individual D-IC It is stored in the chip so that it can be driven by reference in the step of driving the display device.

본 명세서의 또 다른 일 실시예에 따르면, 단위화소(UP)는 네개의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4)로 구성될 수 있다. 이는 레드, 그린 및 블루 파장의 서브화소(SP1, SP2, SP3)외에 적어도 하나의 더미화소인 서브화소(SP4)를 포함하는 구성으로 레드, 그린 및 블루 파장의 서브화소(SP1, SP2, SP3)를 배치하는 과정에서 불량이 발생하면 발생된 불량 서브화소에 대응하는 색상의 색변환층을 더미화소로 배치된 서브화소(SP4)에 배치하여 불량화소에 대해 대처할 수 있다. 단위화소(UP)의 구성에 대한 불량데이터는 개별 D-IC에 저장하여 표시장치를 구동하는 단계에서 참조하여 구동할 수 있다.According to another exemplary embodiment of the present specification, the unit pixel UP may include four sub-pixels SP1, SP2, SP3, and SP4. This is a configuration including at least one dummy pixel sub-pixel SP4 in addition to the red, green, and blue sub-pixels SP1, SP2, and SP3, and the red, green, and blue sub-pixels SP1, SP2, and SP3. If a defect occurs in the process of arranging , the defective pixel may be dealt with by arranging a color conversion layer of a color corresponding to the generated defective sub-pixel in the sub-pixel SP4 disposed as a dummy pixel. The defective data for the configuration of the unit pixel UP may be stored in individual D-ICs and may be driven by reference in the step of driving the display device.

도 7a는 본 명세서의 일 실시예에 따른 불량데이터를 포함하는 단위화소의 구성에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다. 도 7a를 참조하여 본 명세서의 일 실시예에 따른 불량데이터에 따라 구성되는 단위화소(UP)의 구성에 대하여 설명하되 이전 도면(도 6b)를 함께 참조하여 설명하도록 한다.7A is a schematic diagram for explaining a configuration of a unit pixel including bad data according to an embodiment of the present specification. The configuration of the unit pixel UP configured according to the bad data according to an exemplary embodiment of the present specification will be described with reference to FIG. 7A , but will be described with reference to the previous drawing ( FIG. 6B ).

단위화소(UP)는 레드(R), 그린(G) 및 블루(B)의 색변환층 각각의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4)에 배치된다. 네개의 서브화소중 어느 하나의 서브화소는 컬러필터층이 없는 더미화소(S)일 수 있으며 제1 게이트라인(G1), 제2 게이트라인(G2), 제1 데이터라인(D1) 및 제2 데이터라인(D2)에 위치한 각각의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4)에 대응하는 컬러필터와 더미의 위치는 도 7a에 도시된 바와 같이 다양한 방식으로 배치할 수 있는데, 이는 이웃하는 단위화소(UP)와의 색상편차를 최소화 하기 위해 이웃하는 단위화소(UP)의 색상 배치를 고려하여 다양한 방식으로 배치할 수 있다.The unit pixel UP is disposed in each of the sub-pixels SP1, SP2, SP3, and SP4 of the red (R), green (G), and blue (B) color conversion layers. Any one of the four sub-pixels may be a dummy pixel S without a color filter layer, and may include a first gate line G1, a second gate line G2, a first data line D1, and a second data line. The position of the color filter and the dummy corresponding to each of the sub-pixels SP1, SP2, SP3, and SP4 located on the line D2 may be arranged in various ways as shown in FIG. 7A , which is a neighboring unit pixel ( UP) may be arranged in various ways in consideration of color arrangement of neighboring unit pixels UP in order to minimize color deviation from the UP.

도 7b는 본 명세서의 또다른 실시예에 따라 서브화소의 다양한 구성 및 활용에 대해 설명하기 위한 개략적인 도면이다. 도 7b에 도시된 바와 같이 본 명세서의 일 실시예에 따르면, 단위화소(UP 2-1, UP 2-2, UP 2-3)를 구성하는 복수의 서브화소(SP1, SP2, SP3, SP4)중 선택된 적어도 두개의 단위화소(UP 2-1, UP 2-2, UP 2-3 중 2)상에 동일한 색상의 컬러필터가 배치될 수 있다. 부가적으로 배치된 레드, 블루 및 그린의 컬러필터가 있는 단위화소(UP 2-1, UP 2-2, UP 2-3 중 2)는 표시장치의 화이트 밸런스를 더욱 강조할 때 사용될 수 있으며 보조 화소로 더욱 풍부한 색상을 표현 하기 위해 사용될 수 있다. 7B is a schematic diagram for explaining various configurations and uses of sub-pixels according to another embodiment of the present specification. As shown in FIG. 7B , according to an exemplary embodiment of the present specification, a plurality of sub-pixels SP1, SP2, SP3, and SP4 constituting the unit pixels UP 2-1, UP 2-2, UP 2-3 A color filter of the same color may be disposed on at least two selected unit pixels (2 of UP 2-1, UP 2-2, and UP 2-3). The unit pixels (2 out of UP 2-1, UP 2-2, and UP 2-3) with red, blue, and green color filters arranged additionally can be used to further emphasize the white balance of the display device. It can be used to express richer colors with pixels.

도 7b에 도시된 단위화소(UP)의 다양한 구성은 마이크로 엘이디 소자를 전사하는 공정 이후 점등 검사를 수행하였을 때, 모든 단위화소의 서브화소가 정상인 경우 레드, 그린 및 블루의 컬러필터를 배치하여 레드, 그린 및 블루의 단위화소를 구성하는 것 외에 남는 서브화소에 순차적으로 레드, 그린 및 블루의 컬러필터층을 배치하여 표시장치의 색상표현을 더욱 풍부하게 하거나 화이트 밸랜스를 더욱 높이는데 활용할 수 있다. The various configurations of the unit pixel (UP) shown in FIG. 7B are red, green, and blue by disposing color filters of red, green, and blue when the sub-pixels of all unit pixels are normal when the lighting test is performed after the process of transferring the micro LED device. In addition to constituting unit pixels of , green, and blue, color filter layers of red, green, and blue are sequentially disposed on the remaining sub-pixels to further enrich color expression of the display device or to further increase white balance.

도 8은 본 명세서의 일 실시예에 따른 마이크로 엘이디 표시장치의 제조방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다. 도 8을 참조하여 마이크로 엘이디 표시장치의 제조방법을 설명하면, 기판상에 구동소자 및 구동회로를 복수의 서브화소 각각에 대응하도록 배치한다. 복수의 서브화로는 단위화소에 정의되며 각각의 서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하고 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 전극을 배치하여 연결한다.8 is a schematic flowchart for explaining a method of manufacturing a micro LED display device according to an embodiment of the present specification. Referring to FIG. 8 , a method of manufacturing the micro LED display device is described. A driving element and a driving circuit are arranged on a substrate to correspond to each of the plurality of sub-pixels. A plurality of sub-pixels is defined in a unit pixel, and a micro LED element is disposed in each sub-pixel, and the driving circuit and the micro LED element are connected by arranging electrodes.

마이크로 엘이디 소자는 구동회로를 커버하도록 배치된 평탄화층 상에 접착층을 사용하여 전사하는 공정을 통해 배치될 수 있으며, 마이크로 엘이디 소자와 구동회로간의 전기적 연결은 상기 평탄화층 상에 컨택홀을 배치하고 해당 컨택홀상에 전극을 배치하여 구동회로와 마이크로 엘이디 소자간의 전기적 연결을 이룰 수 있다.The micro LED device may be disposed through a process of transferring using an adhesive layer on the planarization layer disposed to cover the driving circuit, and the electrical connection between the micro LED device and the driving circuit is performed by disposing a contact hole on the planarization layer and corresponding By disposing an electrode on the contact hole, an electrical connection between the driving circuit and the micro LED element can be achieved.

마이크로 엘이디 소자의 배치와 구동회로와의 전기적 연결을 이룬 후에 배치된 마이크로 엘이디 소자가 정상적으로 기판에 전사 되었고 정상 작동하는지 마이크로 엘이디 소자의 점등을 검사하되, 구동회로에 전류를 발생키셔 상기 마이크로 엘이디 소자가 정상인지 또는 불량인지 테스트하고 불량인 마이크로 엘이디 소자에 대응하는 화소 정보에 대한 불량데이터를 작성한다.After the arrangement of the micro LED element and the electrical connection with the driving circuit are established, the micro LED element is normally transferred to the substrate and the micro LED element is operated normally. It tests whether it is normal or bad, and writes bad data for pixel information corresponding to the bad micro LED device.

이후, 검출된 불량데이터에 의해 단위화소를 구성하는 복수의 서브화소에 레드, 그린 및 블루 파장의 빛을 발하도록 색변환층을 배치하는데, 마이크로 엘이디 소자가 블루 엘이디 소자인 경우 블루 파장의 색변환층은 생략될 수 있다. Thereafter, a color conversion layer is disposed to emit light of red, green, and blue wavelengths to a plurality of sub-pixels constituting a unit pixel according to the detected defective data. In case the micro LED device is a blue LED device, the color conversion of blue wavelengths Layers may be omitted.

불량 데이터를 참조하여 단위화소에 포함된 복수의 서브화소에 레드, 블루 및 그린의 파장을 발광하도록 색변환층을 배치하되, 단위화소에 포함된 더미화소를 사용하여 불량화소에 대응하는 색변환층을 별도로 더미화소에 배치하도록 한다. A color conversion layer is disposed to emit red, blue, and green wavelengths to a plurality of sub-pixels included in the unit pixel with reference to the defective data, and a color conversion layer corresponding to the defective pixel is used using a dummy pixel included in the unit pixel. is separately placed in the dummy pixel.

더미화소는 상기 마이크로 엘이디 소자를 배치하는 과정에서 함께 소자가 배치되어 지고 단위화소에 포함된 복수의 서브화소 중 하나로, 점등 테스트 결과 정상으로 판별된 복수의 서브화소중 하나일 수 있다.The dummy pixel is one of a plurality of sub-pixels included in a unit pixel that are disposed together in the process of disposing the micro LED device, and may be one of a plurality of sub-pixels determined to be normal as a result of a lighting test.

불량데이터를 참조하여 색 변환층을 마이크로 엘이디 소자(정상으로 판명된 마이크로 엘이디 소자)상에 배치한 후, 해당 배치정보를 D-IC에 반영하여, 추후 마이크로 엘이디 표시장치를 구동할 때 참조하여 구동할 수 있도록 한다. After arranging the color conversion layer on the micro LED element (micro LED element found to be normal) with reference to the defective data, the arrangement information is reflected in the D-IC, and then driven with reference when driving the micro LED display device make it possible

이와 같이 마이크로 엘이디 소자의 정상여부를 판별하고, 판별된 정보를 바탕으로 단위화소별 색변환층을 배치하여 마이크로 엘이디 소자를 전사하는 과정에서 발생할 수 있는 불량을 리페어 할 수 있어 마이크로 엘이디 표시장치의 불량을 최소화하는 제조방법을 제공할 수 있다.In this way, it is possible to determine whether the micro LED element is normal, and based on the determined information, a color conversion layer for each unit pixel can be arranged to repair defects that may occur in the process of transferring the micro LED element. It is possible to provide a manufacturing method that minimizes the

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in more detail with reference to the accompanying drawings, the present invention is not necessarily limited to these embodiments, and various modifications may be made within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. . Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to explain, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not restrictive. The protection scope of the present invention should be construed by the claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 마이크로 엘이디 표시장치
110: 기판
112: 게이트절연층
113: 보호층
114: 접착 부재
115-1,115-2: 평탄화층
117: 배선전극
150: 마이크로 엘이디
UP: 단위화소
SP: 서브화소
100: micro LED display device
110: substrate
112: gate insulating layer
113: protective layer
114: adhesive member
115-1,115-2: planarization layer
117: wiring electrode
150: micro LED
UP: unit pixel
SP: sub-pixel

Claims (12)

제1 서브화소, 제2 서브화소, 제3 서브화소 및 제4 서브화소를 포함하는 단위화소가 있는 마이크로 엘이디 표시장치에 있어서,
상기 제1 서브화소, 상기 제2 서브화소, 상기 제3 서브화소 및 상기 제4 서브화소 중 선택된 적어도 세개의 서브화소는
각각 레드, 블루 및 그린의 빛을 발광하도록 구성된 마이크로 엘이디 표시장치.
A micro LED display device having a unit pixel including a first sub-pixel, a second sub-pixel, a third sub-pixel, and a fourth sub-pixel,
at least three sub-pixels selected from the first sub-pixel, the second sub-pixel, the third sub-pixel, and the fourth sub-pixel
A micro LED display device configured to emit red, blue and green light, respectively.
제1 항에 있어서,
상기 제1 서브화소, 상기 제2 서브화소, 상기 제3 서브화소 및 상기 제4 서브화소 중 적어도 세개의 서브화소는 마이크로 엘이디 소자가 배치된 마이크로 엘이디 표시장치.
According to claim 1,
At least three sub-pixels of the first sub-pixel, the second sub-pixel, the third sub-pixel, and the fourth sub-pixel include a micro LED device disposed thereon.
제2 항에 있어서,
상기 마이크로 엘이디 소자상에 색변환층을 더 포함하고, 상기 색변환층은 각각 레드, 블루 및 그린의 색변환층인 마이크로 엘이디 표시장치.
3. The method of claim 2,
A micro LED display device further comprising a color conversion layer on the micro LED element, wherein the color conversion layer is a color conversion layer of red, blue, and green, respectively.
제3 항에 있어서,
상기 마이크로 엘이디 소자를 둘러싸는 격벽을 더 포함하고, 상기 색변환층은 상기 마이크로 엘이디 소자를 덮으며 상기 격벽내부를 충진하도록 배치된 마이크로 엘이디 표시장치.
4. The method of claim 3,
The micro LED display device further includes a barrier rib surrounding the micro LED element, wherein the color conversion layer covers the micro LED element and is disposed to fill an inside of the barrier rib.
제3 항에 있어서,
상기 제1 서브화소, 상기 제2 서브화소, 상기 제3 서브화소 및 상기 제4 서브화소는 모두 상기 마이크로 엘이디 소자를 포함하고, 적어도 두개의 서브화소의 상기 색변환층은 동일한 색상인 마이크로 엘이디 표시장치.
4. The method of claim 3,
The first sub-pixel, the second sub-pixel, the third sub-pixel, and the fourth sub-pixel all include the micro LED element, and the color conversion layers of at least two sub-pixels have the same color. Device.
복수의 서브화소를 포함하는 적어도 하나의 단위화소가 정의된 기판상에 구동소자 및 구동회로를 배치하는 단계;
서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하고 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 연결하는 단계;
마이크로 엘이디 소자의 점등을 검사하여 불량데이터를 작성하는 단계;
불량데이터를 참조하여 색변환층을 배치하는 단계; 및
불량데이터를 D-IC에 반영하는 단계를 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
disposing a driving device and a driving circuit on a substrate in which at least one unit pixel including a plurality of sub-pixels is defined;
disposing a micro LED device in a sub-pixel and connecting the driving circuit and the micro LED device;
writing defective data by checking the lighting of the micro LED device;
disposing a color conversion layer with reference to the defective data; and
A method of manufacturing a micro LED display device comprising the step of reflecting defective data to the D-IC.
제6 항에 있어서,
상기 서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하고 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 연결하는 단계;는
구동회로를 커버하는 평탄화층을 배치하는 단계를 더 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
7. The method of claim 6,
disposing a micro LED device in the sub-pixel and connecting the driving circuit and the micro LED device;
The method of manufacturing a micro LED display device further comprising the step of disposing a planarization layer covering the driving circuit.
제7 항에 있어서,
상기 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 연결하는 단계;는 평탄화층에 컨택홀을 배치하고 연결전극을 배치하여 마이크로 엘이디 소자와 구동회로를 연결하는 단계를 더 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
8. The method of claim 7,
The step of connecting the driving circuit and the micro LED device; further comprising the step of connecting the micro LED device and the driving circuit by disposing a contact hole in the planarization layer and a connection electrode.
제7 항에 있어서,
상기 서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하는 단계;는 평탄화층에 접착층을 배치하고 마이크로 엘이디 소자를 배치하는 단계를 더 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
8. The method of claim 7,
disposing a micro LED device in the sub-pixel; the method further comprising disposing an adhesive layer on the planarization layer and disposing a micro LED device.
제6 항에 있어서,
상기 마이크로 엘이디 소자의 점등을 검사하여 불량데이터를 작성하는 단계;는 구동회로에 전류를 인가하여 서브화소별 마이크로 엘이디 소자의 발광여부와 발광세기를 측정하는 단계를 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
7. The method of claim 6,
The method of manufacturing a micro LED display device comprising the step of measuring whether or not the micro LED device emits light and the light emission intensity of each sub-pixel by applying a current to a driving circuit by examining the lighting of the micro LED device.
제6 항에 있어서,
상기 서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하고 구동회로와 마이크로 엘이디 소자를 연결하는 단계;는
적어도 하나의 더미 서브화소에 마이크로 엘이디 소자를 배치하는 단계를 더 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
7. The method of claim 6,
disposing a micro LED device in the sub-pixel and connecting the driving circuit and the micro LED device;
The method of manufacturing a micro LED display device further comprising disposing a micro LED element in at least one dummy sub-pixel.
제11 항에 있어서,
상기 불량데이터를 참조하여 색변환층을 배치하는 단계;는 검출된 불량 서브화소에 대응하는 색변환층을 더미 서브 화소에 배치하는 단계를 더 포함하는 마이크로 엘이디 표시장치 제조방법.
12. The method of claim 11,
disposing a color conversion layer with reference to the defective data; the method further comprising disposing a color conversion layer corresponding to the detected defective sub-pixel in the dummy sub-pixel.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2023080738A1 (en) * 2021-11-08 2023-05-11 삼성전자주식회사 Display panel, method for manufacturing same, and electronic device comprising same
KR20240051775A (en) 2022-10-13 2024-04-22 주식회사 클랩 Micro led display device and manufacturing method thereof

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