KR20210057703A - Protective film forming film, protective film forming composite sheet, inspection method and identification method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 상 선명도가 110 이상인 보호막 형성용 필름(13) 및 이를 구비하는 보호막 형성용 복합 시트와, 검사 방법 및 식별 방법을 제공한다. 본 발명의 보호막 형성용 필름(13)은 반도체 웨이퍼의 레이저 인자되는 이면에 첩부되어, 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조에 사용된다.The present invention provides a protective film-forming film 13 having an image clarity of 110 or more, a protective film-forming composite sheet having the same, and an inspection method and an identification method. The film 13 for forming a protective film of the present invention is affixed on the back surface of a semiconductor wafer to be laser printed, and is used for manufacturing a semiconductor chip with a protective film formed thereon.

Description

보호막 형성용 필름, 보호막 형성용 복합 시트, 검사 방법 및 식별 방법Protective film forming film, protective film forming composite sheet, inspection method and identification method

본 발명은 보호막 형성용 필름, 보호막 형성용 복합 시트, 검사 방법 및 식별 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a protective film-forming film, a protective film-forming composite sheet, an inspection method, and an identification method.

본원은 2018년 9월 11일 일본에 출원된 일본 특허출원 2018-169591호에 기초하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2018-169591 for which it applied to Japan on September 11, 2018, and uses the content here.

근래, 이른바 페이스 다운(face down) 방식으로 불리는 실장법을 적용한 반도체 장치의 제조가 행해지고 있다. 페이스 다운 방식에 있어서는, 회로면 상에 범프 등의 전극을 갖는 반도체 칩이 사용되며, 상기 전극이 기판과 접합된다. 이 때문에, 반도체 칩의 회로면과는 반대측 이면은 노출될 수 있다. In recent years, semiconductor devices to which a mounting method called a so-called face down method is applied are being manufactured. In the face-down method, a semiconductor chip having electrodes such as bumps on a circuit surface is used, and the electrodes are bonded to the substrate. For this reason, the rear surface of the semiconductor chip opposite to the circuit surface can be exposed.

이 노출된 반도체 칩의 이면에는, 유기 재료를 함유하는 보호막이 형성되고, 보호막이 형성된 반도체 칩으로서 반도체 장치에 포함될 수 있다. 보호막은 다이싱 공정이나 패키징 후, 반도체 칩에 있어서 크랙이 발생하는 것을 방지하기 위해 이용된다. On the back surface of the exposed semiconductor chip, a protective film containing an organic material is formed, and it can be included in a semiconductor device as a semiconductor chip with a protective film formed thereon. The protective film is used to prevent the occurrence of cracks in the semiconductor chip after the dicing process or packaging.

이러한 보호막을 형성하기 위해서는 예를 들면, 지지 시트 상에 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름을 구비하여 이루어지는 보호막 형성용 복합 시트가 사용된다. 보호막 형성용 필름은 경화에 의해 보호막을 형성 가능하다. 또한, 지지 시트는 보호막 형성용 필름 또는 보호막을 이면에 구비한 반도체 웨이퍼를 반도체 칩으로 분할할 때, 반도체 웨이퍼를 고정하기 위해 사용할 수 있다. 추가로 지지 시트는 다이싱 시트로서도 이용 가능하고, 보호막 형성용 복합 시트는 보호막 형성용 필름과 다이싱 시트가 일체화된 것으로서 사용하는 것도 가능하다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).In order to form such a protective film, for example, a composite sheet for forming a protective film comprising a film for forming a protective film for forming a protective film on a support sheet is used. The protective film-forming film can form a protective film by curing. Further, the support sheet can be used to fix the semiconductor wafer when dividing a protective film-forming film or a semiconductor wafer having a protective film on the back surface into semiconductor chips. In addition, the supporting sheet can also be used as a dicing sheet, and the protective film-forming composite sheet can be used as an integrated protective film-forming film and a dicing sheet (see, for example, Patent Document 1).

특허문헌 1에 기재된 보호막 형성용 필름은 파장 1600㎚의 적외선 광선 투과율이 72% 이상, 550㎚에 있어서의 가시광선 투과율이 20% 이하가 되도록 하고 있다. 이에 의해, 레이저광의 조사에 의한 인자 가공이 가능하고, 또한, 워크 또는 해당 워크를 가공하여 얻어지는 가공물에 존재하는 크랙 등의 적외선에 의한 검사를 가능하게 하고 있다.The film for protective film formation described in Patent Document 1 has an infrared ray transmittance at a wavelength of 1600 nm of 72% or more and a visible ray transmittance at 550 nm of 20% or less. Thereby, printing processing by irradiation of laser light is possible, and inspection by infrared rays such as cracks existing in the work or the work obtained by processing the work is possible.

특허문헌 1에 기재된 보호막 형성용 필름을 구비하는 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여, 보호막이 형성된 반도체 칩을 제조하는 경우, 예를 들면, 우선 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 복합 시트를 첩부한다. 이어서, 보호막 형성용 필름에 레이저 인자한 후, 보호막 형성층의 보호 성능을 높이기 위해, 필요에 따라 열 또는 에너지선에 의한 경화를 거치고, 다이싱에 의해 반도체 웨이퍼를 칩으로 분할하고 픽업한다. 이어서, 픽업된 보호막이 형성된 반도체 칩은 통상, 반도체 패키지를 기판(마더보드 등)에 실장할 때, 열처리(레이저 마킹한 후에 행해지는 리플로우 공정)가 행해진다.When manufacturing a semiconductor chip with a protective film formed using the composite sheet for forming a protective film provided with the film for forming a protective film described in Patent Document 1, for example, first, a composite sheet for forming a protective film is affixed to the back surface of the semiconductor wafer. Subsequently, after laser printing on the protective film forming film, the semiconductor wafer is divided into chips by dicing and picked up after curing by heat or energy rays as necessary in order to increase the protective performance of the protective film forming layer. Subsequently, the semiconductor chip on which the picked up protective film is formed is usually subjected to a heat treatment (reflow process performed after laser marking) when a semiconductor package is mounted on a substrate (motherboard, etc.).

또한, 특허문헌 1에 기재된 보호막 형성용 필름을 사용하여, 보호막이 형성된 반도체 칩을 제조하는 경우에는, 예를 들면, 도 8에 나타내는 바와 같이, 우선 반도체 웨이퍼(9)의 이면에 보호막 형성용 필름(13)을 첩부한다(도 8(a)). 이어서, 보호막 형성용 필름(13)에 레이저 인자한 후(도 8(b)), 보호막 형성층의 보호 성능을 높이기 위해, 필요에 따라 열 또는 에너지선에 의한 경화를 거치고(도 8(c)), 다이싱 테이프를 첩부한 후, 다이싱에 의해 반도체 웨이퍼를 칩으로 분할하고 픽업한다. 이어서, 픽업된 보호막이 형성된 반도체 칩은 반도체 패키지를 기판에 실장할 때, 열처리(리플로우 공정)가 행해진다(도 8(d)).In addition, in the case of manufacturing a semiconductor chip with a protective film formed using the film for forming a protective film described in Patent Document 1, for example, as shown in FIG. 8, first, a film for forming a protective film on the back surface of the semiconductor wafer 9 (13) is affixed (Fig. 8(a)). Subsequently, after laser printing the protective film-forming film 13 (Fig. 8(b)), curing by heat or energy rays as necessary in order to increase the protective performance of the protective film-forming layer (Fig. 8(c)), After affixing the dicing tape, the semiconductor wafer is divided into chips by dicing and picked up. Subsequently, the semiconductor chip on which the picked up protective film is formed is subjected to a heat treatment (reflow process) when the semiconductor package is mounted on the substrate (Fig. 8(d)).

국제공개 제2015/111632호International Publication No. 2015/111632

종래의 보호막 형성용 필름 또는 보호막 형성용 복합 시트를 사용하는 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조 방법에 있어서는, 보호막 형성용 필름에 레이저 인자하고 있으며, 보호막 형성용 필름의 경화 공정, 또는 반도체 패키지를 기판에 실장할 때의 리플로우 공정에 있어서, 레이저 인자가 열화할 우려가 있었다. 이에 대해, 보호막 형성용 필름의 경화 공정 또는 리플로우 공정에 있어서, 레이저 인자가 열화하지 않도록 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 방법을 생각할 수 있다.In the conventional method for manufacturing a protective film-forming semiconductor chip using a protective film-forming film or a protective film-forming composite sheet, laser printing is performed on the protective film-forming film, and the curing process of the protective film-forming film or the semiconductor package is applied to the substrate. In the reflow process at the time of mounting, there was a concern that the laser printing would deteriorate. On the other hand, in the curing process or the reflow process of the film for protective film formation, a method of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer can be considered so that the laser printing does not deteriorate.

예를 들면, 도 9에 나타내는 바와 같이, 우선 반도체 웨이퍼(9)의 이면에 레이저 인자한 후(도 9(a)), 인자면에 보호막 형성용 필름(13)을 첩부한다(도 9(b)). 이어서, 보호막 형성용 필름(13)을 필요에 따라 열 또는 에너지선에 의한 경화를 거치고(도 9(c)), 다이싱 테이프를 첩부한 후, 다이싱에 의해 반도체 웨이퍼를 칩으로 분할하고 픽업한다. 이어서, 픽업된 보호막이 형성된 반도체 칩은 열처리(리플로우 공정)가 행해진다(도 9(d)).For example, as shown in Fig. 9, first, after laser printing is performed on the back surface of the semiconductor wafer 9 (Fig. 9(a)), the protective film-forming film 13 is affixed to the printing surface (Fig. 9(b)). ). Subsequently, the protective film-forming film 13 is cured by heat or energy rays as necessary (Fig. 9(c)), and after affixing a dicing tape, the semiconductor wafer is divided into chips by dicing and picked up. do. Subsequently, the semiconductor chip on which the picked up protective film is formed is subjected to a heat treatment (reflow process) (Fig. 9(d)).

그러나, 종래의 보호막 형성용 필름은 레이저광의 조사에 의한 인자 가공이 가능하도록 가시광선 투과율이 낮은 것이며, 반도체 웨이퍼의 이면에 직접 레이저 인자하는 용도로는 인자가 가려지기 때문에 적합하지 않았다. However, the conventional film for forming a protective film has a low visible light transmittance so as to enable printing by irradiation of laser light, and is not suitable for use in direct laser printing on the back surface of a semiconductor wafer because the printing is hidden.

본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로서, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하고, 인자면을 보호하는 용도로 사용할 수 있는 보호막 형성용 필름, 및 이를 구비하는 보호막 형성용 복합 시트와, 검사 방법 및 식별 방법을 제공한다.The present invention has been made in view of the above circumstances, a film for forming a protective film that can be used for laser printing on the back surface of a semiconductor wafer and protecting the printing surface, and a composite sheet for forming a protective film having the same, and an inspection method and identification Provides a way.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 하기를 제공한다.In order to solve the above problems, the present invention provides the following.

[1] 반도체 웨이퍼의 레이저 인자되는 이면에 첩부되고, 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조에 사용되는 보호막 형성용 필름으로서, 상 선명도가 110 이상인 보호막 형성용 필름.[1] A film for forming a protective film, which is affixed on the back surface of a semiconductor wafer to be laser printed, and used for manufacturing a semiconductor chip on which a protective film is formed, wherein the film for forming a protective film having an image clarity of 110 or more.

[2] 지지 시트를 구비하고, 상기 지지 시트 상에 상기 [1]에 기재된 보호막 형성용 필름을 구비한 보호막 형성용 복합 시트.[2] A composite sheet for forming a protective film, provided with a support sheet, and provided with the film for forming a protective film according to [1] on the support sheet.

[3] 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 [1]에 기재된 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 또는 상기 반도체 칩을 검사하는 공정을 구비하는 검사 방법.[3] A step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of affixing the film for forming a protective film according to [1] to the back surface of the semiconductor wafer, and the back surface of the semiconductor wafer or obtained by separating the semiconductor wafer An inspection method comprising a step of inspecting the semiconductor wafer or the semiconductor chip over a protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of a semiconductor chip.

[4] 상기 검사하는 공정이, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩의 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사하는 공정인, 상기 [3]에 기재된 검사 방법.[4] In the step of inspecting, laser printing on the semiconductor wafer or the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer into pieces. The inspection method according to the above [3], which is a step of inspecting the presence or absence of a printed print, a grinding mark on the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip, or a foreign material between the semiconductor wafer or the semiconductor chip and the protective film.

[5] 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 [1]에 기재된 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자를 판독하여, 상기 반도체 칩의 종별을 식별하는 공정을 구비하는 식별 방법.[5] The step of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, the step of attaching the film for forming a protective film according to the above [1] to the back surface of the semiconductor wafer, and the back surface of the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer. An identification method comprising a step of reading a laser-printed print on the semiconductor chip over a protective film formed by affixing a protective film-forming film and identifying the type of the semiconductor chip.

본 발명에 의하면, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하고, 인자면을 보호 하는 용도로 사용할 수 있는 보호막 형성용 필름, 및 이를 구비하는 보호막 형성용 복합 시트와, 검사 방법 및 식별 방법이 제공된다.According to the present invention, a film for forming a protective film that can be used for laser printing on the back surface of a semiconductor wafer and protecting the printed surface, a composite sheet for forming a protective film having the same, and an inspection method and an identification method are provided.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 필름을 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 8은 종래의 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조 공정을 모식적으로 나타내는 단면도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 필름의 사용 방법을 모식적으로 나타내는 단면도이다.
1 is a cross-sectional view schematically showing a film for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
5 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
8 is a cross-sectional view schematically showing a conventional manufacturing process of a semiconductor chip with a protective film formed thereon.
9 is a cross-sectional view schematically showing a method of using the film for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.

◇보호막 형성용 필름◇ Film for forming a protective film

본 발명의 보호막 형성용 필름은 반도체 웨이퍼의 레이저 인자된 이면에 첩부되어, 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조에 사용되는 보호막 형성용 필름으로서, 상 선명도가 110 이상이다. 보호막 형성용 필름의 상 선명도는 JIS K 7374에 준거하고, 5종류의 슬릿(슬릿 폭: 0.125㎜, 0.25㎜, 0.5㎜, 1㎜, 및 2㎜)을 이용하여 측정되는 평가값의 합계값을 말한다.The film for forming a protective film of the present invention is a film for forming a protective film, which is affixed on a laser-printed back surface of a semiconductor wafer and used for manufacturing a semiconductor chip on which the protective film is formed, and has an image sharpness of 110 or more. The image sharpness of the film for forming a protective film is based on JIS K 7374, and the sum of the evaluation values measured using five types of slits (slit widths: 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1 mm, and 2 mm) Say.

보호막 형성용 필름의 상 선명도는 110 이상이며, 130 이상인 것이 바람직하고, 150 이상인 것이 보다 바람직하며, 170 이상인 것이 특히 바람직하다. 본 발명의 보호막 형성용 필름의 상 선명도가 하한값 이상임으로써, 보호막 형성용 필름을 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막의 상 선명도도 양호하다. 보호막 형성용 필름의 상 선명도는 500 이하여도 되고, 450 이하여도 되며, 400 이하여도 된다.The image clarity of the film for forming a protective film is 110 or more, preferably 130 or more, more preferably 150 or more, and particularly preferably 170 or more. Since the image clarity of the protective film-forming film of the present invention is not less than the lower limit value, the image clarity of the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer is also good. The image clarity of the film for forming a protective film may be 500 or less, 450 or less, and 400 or less.

본 발명의 보호막 형성용 필름의 상 선명도가 양호함으로써, 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 또는 상기 반도체 칩을 검사할 수 있다. 보다 구체적으로는, 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자를 판독할 수 있으며, 상기 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사할 수 있다. 또한, 이물질이 있는 경우에는, 상기 이물질 상태를 검사할 수 있다.Since the image clarity of the film for forming a protective film of the present invention is good, the semiconductor wafer or the semiconductor over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of a semiconductor wafer or a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer into pieces You can inspect the chip. More specifically, letters, symbols, laser-printed on the semiconductor wafer or the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer into pieces, Prints such as shape can be read, and the presence or absence of the print, grinding marks on the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip, or the presence or absence of foreign matter between the semiconductor wafer or the semiconductor chip and the protective film can be inspected. In addition, when there is a foreign substance, the state of the foreign substance may be inspected.

보호막 형성용 필름의 상 선명도는 후술하는 보호막 형성용 조성물의 함유 성분에 의해 조정이 가능하고, 그 중에서도, 충전재의 종류나 사이즈, 착색제의 종류나 함유량을 선택함으로써 섬세한 조정이 가능해진다.The image sharpness of the protective film-forming film can be adjusted by the components contained in the protective film-forming composition described later, and among them, fine adjustment is possible by selecting the type and size of the filler, and the type or content of the colorant.

보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율은 30% 이상인 것이 바람직하고, 40% 이상인 것이 보다 바람직하며, 45% 이상인 것이 특히 바람직하다. 보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율이 상기 하한값 이상임으로써, 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자를 보다 선명하게 판독하는 것이 가능해진다. 보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율은 99.5% 이하여도 되고, 99.0% 이하여도 된다. 보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율은 후술하는 보호막 형성용 조성물의 함유 성분, 특히 열경화성 성분, 충전재 및/또는 착색제의 종류, 함유량 등에 의해 조정될 수 있다.The light transmittance of the film for forming a protective film at a wavelength of 550 nm is preferably 30% or more, more preferably 40% or more, and particularly preferably 45% or more. When the light transmittance of the protective film-forming film at a wavelength of 550 nm is equal to or greater than the lower limit, it becomes possible to more clearly read the prints such as laser-printed characters, symbols, and patterns. The light transmittance of the film for protective film formation at a wavelength of 550 nm may be 99.5% or less, or 99.0% or less. The light transmittance of the protective film-forming film at a wavelength of 550 nm can be adjusted by the components contained in the protective film-forming composition described later, particularly the thermosetting component, the type and content of the filler and/or colorant.

보호막 형성용 필름의 헤이즈는 40 이하인 것이 바람직하고, 30 이하인 것이 보다 바람직하며, 20 이하인 것이 더욱 바람직하고, 10 이하인 것이 특히 바람직하다. 보호막 형성용 필름의 헤이즈가 상기 상한값 이하임으로써, 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자를 보다 선명하게 판독 가능해진다. 보호막 형성용 필름의 헤이즈는 0.5 이상이어도 되고, 1.0 이상이어도 된다. 「헤이즈」란, 특별히 언급이 없는 한, JIS K 7136에 따라 측정하여 얻어진 값을 의미한다. 보호막 형성용 필름의 헤이즈는 후술하는 보호막 형성용 조성물의 함유 성분, 특히, 열경화성 성분, 충전재 및/또는 착색제의 종류, 함유량 등에 의해 조정될 수 있으며, 보호막 형성용 필름의 표면 조도에 의해서도 조정될 수 있다.The haze of the film for forming a protective film is preferably 40 or less, more preferably 30 or less, still more preferably 20 or less, and particularly preferably 10 or less. When the haze of the protective film-forming film is equal to or less than the above upper limit, printing such as laser-printed characters, symbols, and patterns can be read more clearly. The haze of the film for forming a protective film may be 0.5 or more, or 1.0 or more. "Haze" means a value obtained by measuring according to JIS K 7136 unless otherwise noted. The haze of the protective film-forming film may be adjusted by the components contained in the protective film-forming composition described later, in particular, the type and content of the thermosetting component, filler and/or colorant, and the like, and may also be adjusted by the surface roughness of the film for forming a protective film.

보호막 형성용 필름의 표면 조도는 0.090㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.070㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 보호막 형성용 필름의 표면 조도는 0.009㎛ 이상이어도 되고, 0.010㎛ 이상이어도 된다. 보호막 형성용 필름의 표면 조도가 상기 상한값 이하임으로써, 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자의 시인성이 향상된다. 한편, 본 명세서에 있어서 「표면 조도」란, 특별히 언급이 없는 한, JIS B 0601:2001에 준거하여 구해지는 이른바 산술 평균 조도를 의미하고, 「Ra」로 약기하는 경우가 있다. 보호막 형성용 필름의 표면 조도는 도공 조건이나, 보호막 형성용 조성물의 함유 성분에 의해 조정이 가능해진다.The surface roughness of the film for forming a protective film is preferably 0.090 µm or less, and more preferably 0.070 µm or less. The surface roughness of the film for forming a protective film may be 0.009 µm or more, or 0.010 µm or more. When the surface roughness of the film for forming a protective film is equal to or less than the above upper limit, the visibility of printing such as laser-printed characters, symbols, and patterns is improved. In addition, in this specification, "surface roughness" means so-called arithmetic mean roughness calculated in conformity with JIS B 0601:2001, unless otherwise specified, and may be abbreviated as "Ra". The surface roughness of the protective film-forming film can be adjusted depending on the coating conditions and the components contained in the protective film-forming composition.

상기 보호막 형성용 필름은 에너지선의 조사 또는 가열처리에 의해 경화하여, 보호막이 되는 것이어도 된다. 이 보호막은 반도체 웨이퍼 또는 반도체 칩의 이면(전극 형성면과는 반대측의 면)을 보호하기 위한 것이다. 보호막 형성용 필름은 연질이며, 첩부 대상물에 용이하게 첩부할 수 있다. 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은 열경화성 보호막 형성용 필름보다 단시간에서의 경화에 의해 보호막을 형성할 수 있다.The film for forming a protective film may be cured by irradiation with energy rays or heat treatment to become a protective film. This protective film is for protecting the back surface (the surface opposite to the electrode formation surface) of the semiconductor wafer or semiconductor chip. The film for forming a protective film is soft and can be easily affixed to an object to be pasted. The energy ray-curable protective film-forming film can form a protective film by curing in a shorter time than the thermosetting protective film-forming film.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 필름(13)을 모식적으로 나타내는 단면도이다. 한편, 이하의 설명에서 사용하는 도면은 본 발명의 특징을 알기 쉽게 하기 위해, 편의상 주요부가 되는 부분을 확대하여 나타내는 경우가 있으며, 각 구성요소의 치수 비율 등이 실제와 같다고는 한정되지 않는다.1 is a cross-sectional view schematically showing a film 13 for forming a protective film according to an embodiment of the present invention. Meanwhile, in the drawings used in the following description, in order to make it easier to understand the features of the present invention, there are cases in which parts that become main parts are enlarged for convenience, and the dimensional ratio of each component is not limited to the actual.

여기에 나타내는 보호막 형성용 필름(13)은 그 한쪽 표면(본 명세서에 있어서는, 「제1 면」으로 칭하는 경우가 있다)(13a) 상에 제1 박리 필름(151)을 구비하고, 상기 제1 면(13a)과는 반대측 다른쪽 표면(본 명세서에 있어서는 「제2 면」으로 칭하는 경우가 있다)(13b) 상에 제2 박리 필름(152)을 구비하고 있다.The protective film-forming film 13 shown here includes a first release film 151 on one surface (in this specification, it may be referred to as a “first surface”) 13a, and the first The second release film 152 is provided on the other surface (in this specification, it may be referred to as a "second surface") on the other surface opposite to the surface 13a.

이러한 보호막 형성용 필름(13)은 예를 들면, 롤 형상으로 보관함에 있어 바람직하다.Such a protective film-forming film 13 is preferable for storage in a roll shape, for example.

보호막 형성용 필름(13)은 경화성을 갖고 있어도 되고, 경화성을 갖지 않는 비경화성이어도 된다. The film 13 for forming a protective film may have curability or may be non-curable without curability.

또한, 보호막 형성용 필름이 경화성을 갖는 경우, 열경화성 및 에너지선 경화성 중 어느 하나여도 된다.Moreover, when the film for protective film formation has curability, either of thermosetting property and energy ray curing property may be sufficient.

비경화성 보호막 형성용 필름은, 후술하는 비경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다. The film for forming a non-curable protective film can be formed using a composition for forming a non-curable protective film described later.

열경화성 보호막 형성용 필름은, 후술하는 열경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다.The film for thermosetting protective film formation can be formed using the composition for thermosetting protective film formation mentioned later.

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은, 후술하는 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다.The film for forming an energy ray-curable protective film can be formed using the composition for forming an energy ray-curable protective film described later.

제1 박리 필름(151) 및 제2 박리 필름(152)은 모두 공지의 것이어도 된다.Both the first release film 151 and the second release film 152 may be known.

제1 박리 필름(151) 및 제2 박리 필름(152)은 서로 동일한 것이어도 되며, 예를 들면, 보호막 형성용 필름(13)으로부터 박리시킬 때에 필요한 박리력이 서로 상이하는 등, 서로 상이한 것이어도 된다.The first peeling film 151 and the second peeling film 152 may be the same as each other, for example, even if the peeling force required for peeling from the protective film-forming film 13 is different from each other, etc. do.

도 1에 나타내는 보호막 형성용 필름(13)은, 제1 박리 필름(151) 및 제2 박리 필름(152)의 어느 한쪽이 제거되어 생긴 노출면에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부된다. 그리고, 제1 박리 필름(151) 및 제2 박리 필름(152)의 나머지 다른 쪽이 제거되어 생긴 노출면이 지지 시트의 첩부면이 된다.In the protective film formation film 13 shown in FIG. 1, the back surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to the exposed surface formed by removing either of the first release film 151 and the second release film 152. Then, the exposed surface formed by removing the other side of the first release film 151 and the second release film 152 becomes the affixed surface of the support sheet.

◇보호막 형성용 복합 시트◇Composite sheet for forming a protective film

본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트는 지지 시트를 구비하고, 상기 지지 시트 상에 상기 보호막 형성용 필름을 구비한 것이다.The composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention includes a support sheet, and includes the film for forming a protective film on the support sheet.

본 발명에 있어서는 보호막 형성용 필름이 경화한 후에도, 지지 시트 및 보호막 형성용 필름의 경화물(다시 말하면, 지지 시트 및 보호막)의 적층 구조가 유지되고 있는 한, 이 적층 구조체를 「보호막 형성용 복합 시트」라고 칭한다.In the present invention, even after the protective film-forming film is cured, as long as the laminated structure of the support sheet and the cured product of the protective film-forming film (that is, the support sheet and the protective film) is maintained, this laminated structure is referred to as ``composite for forming a protective film. It is called "sheet".

본 발명의 보호막 형성용 복합 시트의 사용 대상인 반도체 웨이퍼의 두께는 특별히 한정되지 않으나, 후술하는 반도체 칩에 대한 분할이 보다 용이해지는 점에서는, 30∼1000㎛인 것이 바람직하고, 30∼400㎛인 것이 보다 바람직하다.The thickness of the semiconductor wafer to be used for the composite sheet for forming a protective film of the present invention is not particularly limited, but it is preferably 30 to 1000 µm, and 30 to 400 µm, from the viewpoint of making the division of a semiconductor chip described later easier. It is more preferable.

이하, 보호막 형성용 복합 시트의 구성에 대해, 상세하게 설명한다.Hereinafter, the configuration of the composite sheet for forming a protective film will be described in detail.

◎지지 시트◎ Support sheet

상기 지지 시트는 1층(단층)으로 이루어지는 것이어도 되고, 2층 이상의 복수층으로 이루어지는 것이어도 된다. 지지 시트가 복수층으로 이루어지는 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 되고, 이들 복수층의 조합은 본 발명의 효과를 저해하지 않는 한, 특별히 한정되지 않는다. 다이싱 테이프나 반도체 가공용 점착 테이프를 전용할 수 있다.The support sheet may be composed of one layer (single layer), or may be composed of a plurality of layers of two or more layers. When the support sheet is made of a plurality of layers, the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of the plurality of layers is not particularly limited as long as the effect of the present invention is not impaired. A dicing tape or an adhesive tape for semiconductor processing can be used.

바람직한 지지 시트로는 예를 들면, 기재를 구비하고 상기 기재 상에 점착제층이 직접 접촉하고 적층되어 이루어지는 것(기재 및 점착제층이 이 순서로 접촉하고 적층되어 이루어지는 것); 기재, 중간층, 및 점착제층이 이 순서로 이들의 두께 방향에 있어서 접촉하고 적층되어 이루어지는 것; 기재만으로 이루어지는 것 등을 들 수 있다.Preferred supporting sheets include, for example, a base material provided, and a pressure-sensitive adhesive layer is directly contacted and laminated on the base material (the base material and the pressure-sensitive adhesive layer are in contact and laminated in this order); A substrate, an intermediate layer, and a pressure-sensitive adhesive layer, in this order, in contact with each other in the thickness direction and laminated; What consists only of a base material, etc. are mentioned.

본 발명의 보호막 형성용 복합 시트의 예를 이러한 지지 시트의 종류별로 이하, 도면을 참조하면서 설명한다.Examples of the composite sheet for forming a protective film of the present invention will be described below for each type of such support sheet with reference to the drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.2 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.

한편, 도 2 이후의 도면에 있어서, 이미 설명된 도면에 나타내는 것과 동일한 구성요소에는, 그 설명된 도면의 경우와 동일한 부호를 부여하고, 그 상세한 설명은 생략한다. On the other hand, in the drawings after FIG. 2, the same components as those shown in the previously described drawings are denoted by the same reference numerals as those in the illustrated drawings, and detailed descriptions thereof will be omitted.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1A)는 기재(11)를 구비하고, 기재(11) 상에 점착제층(12)을 구비하며, 점착제층(12) 상에 보호막 형성용 필름(13)을 구비하고 있다. 지지 시트(10)는 기재(11) 및 점착제층(12)의 적층체이며, 보호막 형성용 복합 시트(1A)는 다시 말하면, 지지 시트(10)의 한쪽 표면(본 명세서에 있어서는, 「제1 면」으로 칭하는 경우가 있다)(10a) 상에 보호막 형성용 필름(13)이 적층된 구성을 갖는다. 또한, 보호막 형성용 복합 시트(1A)는 추가로 보호막 형성용 필름(13) 상에 박리 필름(15)을 구비하고 있다.The protective film-forming composite sheet 1A shown here includes a substrate 11, a pressure-sensitive adhesive layer 12 on the substrate 11, and a protective film-forming film 13 on the pressure-sensitive adhesive layer 12. We have. The support sheet 10 is a laminate of the substrate 11 and the pressure-sensitive adhesive layer 12, and the composite sheet 1A for forming a protective film is, in other words, one surface of the support sheet 10 (in this specification, "the first It may be referred to as "surface") (10a) has a structure in which a film for forming a protective film 13 is laminated. Further, the protective film-forming composite sheet 1A further includes a release film 15 on the protective film-forming film 13.

보호막 형성용 복합 시트(1A)에 있어서는, 기재(11)의 한쪽 표면(본 명세서에 있어서는, 「제1 면」으로 칭하는 경우가 있다)(11a)에 점착제층(12)이 적층되고, 점착제층(12)의 한쪽 표면(본 명세서에 있어서는, 「제1 면」으로 칭하는 경우가 있다)(12a)의 전체면에 보호막 형성용 필름(13)이 적층되며, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)의 일부, 즉, 주연부 근방의 영역에 지그용 접착제층(16)이 적층되고, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a) 중, 지그용 접착제층(16)이 적층되어 있지 않은 면과, 지그용 접착제층(16)의 표면(16a)(상면 및 측면)에 박리 필름(15)이 적층되어 있다.In the composite sheet 1A for forming a protective film, an adhesive layer 12 is laminated on one surface of the substrate 11 (in this specification, it may be referred to as a ``first surface'') 11a, and the adhesive layer One surface of (12) (in this specification, it may be referred to as a ``first surface'') A protective film-forming film 13 is laminated on the entire surface of 12a, and the protective film-forming film 13 is formed. A jig adhesive layer 16 is laminated on a part of the first surface 13a, that is, in an area near the periphery, and among the first surface 13a of the protective film forming film 13, the jig adhesive layer 16 is The release film 15 is laminated on the unlaminated surface and the surface 16a (upper surface and side surface) of the jig adhesive layer 16.

보호막 형성용 복합 시트(1A)에 있어서, 보호막 형성용 필름(13)은 상 선명도가 110 이상이다.In the protective film-forming composite sheet 1A, the protective film-forming film 13 has an image sharpness of 110 or more.

지그용 접착제층(16)은 예를 들면, 접착제 성분을 함유하는 단층 구조의 것이어도 되고, 심재가 되는 시트의 양면에 접착제 성분을 함유하는 층이 적층된 복수층 구조의 것이어도 된다. The jig adhesive layer 16 may have, for example, a single-layer structure containing an adhesive component, or a multilayer structure in which layers containing an adhesive component are laminated on both surfaces of a sheet serving as a core material.

도 2에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1A)는 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 지그용 접착제층(16)의 표면(16a) 중 상면이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다. In the protective film-forming composite sheet 1A shown in FIG. 2, with the release film 15 removed, the back surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to the first surface 13a of the protective film-forming film 13 , In addition, the upper surface of the surface 16a of the jig adhesive layer 16 is affixed to a jig such as a ring frame and used.

도 3은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 3 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to another embodiment of the present invention.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1B)는 지그용 접착제층(16)을 구비하지 않은 점 이외에는, 도 2에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1A)와 동일하다. 즉, 보호막 형성용 복합 시트(1B)에 있어서는, 기재(11)의 제1 면(11a)에 점착제층(12)이 적층되고, 점착제층(12)의 제1 면(12a)의 전체면에 보호막 형성용 필름(13)이 적층되며, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)의 전체면에 박리 필름(15)이 적층되어 있다. The protective film-forming composite sheet 1B shown here is the same as the protective film-forming composite sheet 1A shown in FIG. 2 except that the jig adhesive layer 16 is not provided. That is, in the composite sheet 1B for forming a protective film, the pressure-sensitive adhesive layer 12 is laminated on the first surface 11a of the base material 11, and the entire surface of the first surface 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12 The protective film-forming film 13 is laminated, and the release film 15 is laminated on the entire surface of the first surface 13a of the protective film-forming film 13.

보호막 형성용 복합 시트(1B)에 있어서, 보호막 형성용 필름(13)은 상 선명도가 110 이상이다.In the composite sheet 1B for forming a protective film, the film 13 for forming a protective film has an image sharpness of 110 or more.

도 3에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1B)는 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a) 중, 중앙측 일부 영역에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 주연부 근방의 영역이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다. The protective film-forming composite sheet 1B shown in FIG. 3 is a semiconductor wafer (not shown) in a part of the center side of the first surface 13a of the protective film-forming film 13 with the release film 15 removed. ) Is affixed, and a region near the periphery is further affixed to a jig such as a ring frame to be used.

도 4는 본 발명의 또 다른 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 4 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to still another embodiment of the present invention.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1C)는 점착제층(12)을 구비하지 않은 점 이외에는, 도 2에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1A)와 동일하다. 즉, 보호막 형성용 복합 시트(1C)에 있어서는, 지지 시트(10)가 기재(11)만으로 이루어진다. 그리고, 기재(11)의 제1 면(11a)(지지 시트(10)의 제1 면(10a))에 보호막 형성용 필름(13)이 적층되고, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)의 일부, 즉, 주연부 근방의 영역에 지그용 접착제층(16)이 적층되며, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a) 중, 지그용 접착제층(16)이 적층되어 있지 않은 영역과, 지그용 접착제층(16)의 표면(16a)(상면 및 측면)에 박리 필름(15)이 적층되어 있다. The protective film-forming composite sheet 1C shown here is the same as the protective film-forming composite sheet 1A shown in FIG. 2 except that the pressure-sensitive adhesive layer 12 is not provided. That is, in the composite sheet 1C for forming a protective film, the support sheet 10 is made of only the substrate 11. Then, a protective film-forming film 13 is laminated on the first surface 11a (the first surface 10a of the support sheet 10) of the substrate 11, and the first surface of the protective film-forming film 13 The jig adhesive layer 16 is laminated in a part of (13a), that is, in the region near the periphery, and among the first surface 13a of the protective film forming film 13, the jig adhesive layer 16 is laminated. The release film 15 is laminated on the non-existent region and the surface 16a (upper surface and side surface) of the jig adhesive layer 16.

보호막 형성용 복합 시트(1C)에 있어서, 보호막 형성용 필름(13)은 상 선명도가 110 이상이다.In the protective film-forming composite sheet 1C, the protective film-forming film 13 has an image clarity of 110 or more.

도 4에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1C)는 도 2에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1A)와 동일하게, 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 지그용 접착제층(16)의 표면(16a) 중 상면이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다. The protective film-forming composite sheet 1C shown in FIG. 4 is similar to the protective film-forming composite sheet 1A shown in FIG. 2, with the release film 15 removed, the first of the protective film-forming film 13. The back surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to the surface 13a, and the upper surface of the surface 16a of the adhesive layer 16 for a jig is affixed to a jig such as a ring frame to be used.

도 5는 본 발명의 또 다른 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 5 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to still another embodiment of the present invention.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1D)는 지그용 접착제층(16)을 구비하지 않은 점 이외에는, 도 4에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1C)와 동일하다. 즉, 보호막 형성용 복합 시트(1D)에 있어서는, 기재(11)의 제1 면(11a)에 보호막 형성용 필름(13)이 적층되고, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a)의 전체면에 박리 필름(15)이 적층되어 있다. The protective film-forming composite sheet 1D shown here is the same as the protective film-forming composite sheet 1C shown in FIG. 4 except that the jig adhesive layer 16 is not provided. That is, in the protective film-forming composite sheet 1D, the protective film-forming film 13 is laminated on the first surface 11a of the substrate 11, and the first surface 13a of the protective film-forming film 13 The release film 15 is laminated on the entire surface of.

보호막 형성용 복합 시트(1D)에 있어서, 보호막 형성용 필름(13)은 상 선명도가 110 이상이다.In the composite sheet 1D for forming a protective film, the film 13 for forming a protective film has an image sharpness of 110 or more.

도 5에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1D)는 도 3에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1B)와 동일하게, 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(13)의 제1 면(13a) 중, 중앙측 일부 영역에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 주연부 근방의 영역이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다. The protective film-forming composite sheet 1D shown in FIG. 5 is similar to the protective film-forming composite sheet 1B shown in FIG. 3, with the release film 15 removed, the first of the protective film-forming film 13 Among the surfaces 13a, the rear surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to a partial region on the center side, and a region near the periphery is further affixed to a jig such as a ring frame to be used.

도 6은 본 발명의 또 다른 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다. 6 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to still another embodiment of the present invention.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1E)는 보호막 형성용 필름의 형상이 상이한 점 이외에는, 도 3에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1B)와 동일한 것이다. 즉, 보호막 형성용 복합 시트(1E)는 기재(11)를 구비하고, 기재(11) 상에 점착제층(12)을 구비하며, 점착제층(12) 상에 보호막 형성용 필름(23)을 구비하여 이루어진다. 지지 시트(10)는 기재(11) 및 점착제층(12)의 적층체이며, 보호막 형성용 복합 시트(1E)는 다시 말하면, 지지 시트(10)의 제1 면(10a) 상에 보호막 형성용 필름(23)이 적층된 구성을 갖는다. 또한, 보호막 형성용 복합 시트(1E)는 추가로 보호막 형성용 필름(23) 상에 박리 필름(15)을 구비하고 있다. The protective film-forming composite sheet 1E shown here is the same as the protective film-forming composite sheet 1B shown in FIG. 3 except that the shape of the protective film-forming film is different. That is, the protective film-forming composite sheet 1E includes a substrate 11, an adhesive layer 12 on the substrate 11, and a protective film forming film 23 on the adhesive layer 12. It is done by doing. The support sheet 10 is a laminate of the substrate 11 and the pressure-sensitive adhesive layer 12, and the composite sheet 1E for forming a protective film is, in other words, for forming a protective film on the first surface 10a of the support sheet 10. The film 23 has a laminated configuration. Further, the protective film-forming composite sheet 1E further includes a release film 15 on the protective film-forming film 23.

보호막 형성용 복합 시트(1E)에 있어서는, 기재(11)의 제1 면(11a)에 점착제층(12)이 적층되고, 점착제층(12)의 제1 면(12a)의 일부, 즉, 중앙측 영역에 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있다. 그리고, 점착제층(12)의 제1 면(12a) 중, 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있지 않은 영역과, 보호막 형성용 필름(23)의 표면(23a)(상면 및 측면) 상에 박리 필름(15)이 적층되어 있다. In the composite sheet 1E for forming a protective film, the pressure-sensitive adhesive layer 12 is laminated on the first side 11a of the base material 11, and a part of the first side 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12, that is, the center A protective film-forming film 23 is laminated on the side region. And, of the first surface 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12, on a region in which the protective film-forming film 23 is not laminated and on the surface 23a (top and side surfaces) of the protective film-forming film 23 The release film 15 is laminated.

보호막 형성용 복합 시트(1E)를 상방으로부터 내려다 보아 평면으로 보았을 때, 보호막 형성용 필름(23)은 점착제층(12)보다 표면적이 작고, 예를 들면, 원 형상 등의 형상을 갖는다. When the protective film-forming composite sheet 1E is viewed in a plan view from above, the protective film-forming film 23 has a smaller surface area than the pressure-sensitive adhesive layer 12, and has, for example, a shape such as a circle shape.

보호막 형성용 복합 시트(1E)에 있어서, 보호막 형성용 필름(23)은 상 선명도가 110 이상이다.In the protective film-forming composite sheet 1E, the protective film-forming film 23 has an image clarity of 110 or more.

도 6에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1E)는 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(23)의 표면(23a)에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 점착제층(12)의 제1 면(12a) 중, 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있지 않은 영역이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다. In the protective film-forming composite sheet 1E shown in FIG. 6, with the release film 15 removed, the back surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to the surface 23a of the protective film-forming film 23, Of the first surface 12a of the low pressure-sensitive adhesive layer 12, a region in which the protective film-forming film 23 is not laminated is affixed to a jig such as a ring frame and used.

도 7은 본 발명의 또 다른 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트를 모식적으로 나타내는 단면도이다.7 is a cross-sectional view schematically showing a composite sheet for forming a protective film according to still another embodiment of the present invention.

여기에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1F)는 점착제층(12)의 제1면(12a) 중, 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있지 않은 영역에, 도 2 및 도 4에 나타내는 것과 동일하게 지그용 접착제층(16)이 적층되어 있는 점 이외에는, 도 6에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1E)와 동일한 것이다. 즉, 보호막 형성용 복합 시트(1F)는 기재(11)를 구비하고, 기재(11) 상에 점착제층(12)을 구비하며, 점착제층(12) 상에 보호막 형성용 필름(23)을 구비하고, 점착제층(12)의 제1면(12a) 중, 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있지 않은 영역에 지그용 접착제층(16)이 적층되어 이루어진다. 지지 시트(10)는 기재(11) 및 점착제층(12)의 적층체이며, 보호막 형성용 복합 시트(1F)는 다시 말하면, 지지 시트(10)의 제1 면(10a) 상에 보호막 형성용 필름(23)이 적층된 구성을 갖는다. 또한, 보호막 형성용 복합 시트(1F)는 추가로 보호막 형성용 필름(23) 상에 박리 필름(15)을 구비하고 있다. The protective film-forming composite sheet 1F shown here is the same as that shown in Figs. 2 and 4 in a region of the first surface 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12 in which the protective film-forming film 23 is not laminated. It is the same as the protective film-forming composite sheet 1E shown in Fig. 6 except that the jig adhesive layer 16 is laminated. That is, the protective film-forming composite sheet 1F includes a substrate 11, an adhesive layer 12 on the substrate 11, and a protective film forming film 23 on the adhesive layer 12. And, of the first surface 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12, a jig adhesive layer 16 is laminated on a region in which the protective film-forming film 23 is not laminated. The support sheet 10 is a laminate of the substrate 11 and the pressure-sensitive adhesive layer 12, and the composite sheet 1F for forming a protective film is, in other words, for forming a protective film on the first surface 10a of the support sheet 10. The film 23 has a laminated configuration. Further, the protective film-forming composite sheet 1F further includes a release film 15 on the protective film-forming film 23.

보호막 형성용 복합 시트(1F)에 있어서는, 기재(11)의 제1 면(11a)에 점착제층(12)이 적층되고, 점착제층(12)의 제1 면(12a)의 일부, 즉, 중앙측 영역에 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있다. 그리고, 점착제층(12)의 제1 면(12a) 중, 보호막 형성용 필름(23)이 적층되어 있지 않은 영역과, 보호막 형성용 필름(23)의 표면(23a)(상면 및 측면) 상에 박리 필름(15)이 적층되어 있다. In the composite sheet 1F for forming a protective film, the adhesive layer 12 is laminated on the first surface 11a of the substrate 11, and a part of the first surface 12a of the adhesive layer 12, that is, the center A protective film-forming film 23 is laminated on the side region. And, of the first surface 12a of the pressure-sensitive adhesive layer 12, on a region in which the protective film-forming film 23 is not laminated and on the surface 23a (top and side surfaces) of the protective film-forming film 23 The release film 15 is laminated.

보호막 형성용 복합 시트(1F)를 상방으로부터 내려다 보아 평면으로 보았을 때, 보호막 형성용 필름(23)은 점착제층(12)보다 표면적이 작고, 예를 들면, 원 형상 등의 형상을 갖는다. When the protective film-forming composite sheet 1F is viewed in a plan view from above, the protective film-forming film 23 has a smaller surface area than the pressure-sensitive adhesive layer 12, and has, for example, a shape such as a circle shape.

보호막 형성용 복합 시트(1F)에 있어서, 보호막 형성용 필름(23)은 상 선명도가 110 이상이다.In the composite sheet 1F for forming a protective film, the film 23 for forming a protective film has an image clarity of 110 or more.

도 7에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트(1F)는 박리 필름(15)이 제거된 상태로, 보호막 형성용 필름(23)의 표면(23a)에 반도체 웨이퍼(도시 생략)의 이면이 첩부되고, 추가로 지그용 접착제층(16)의 표면(16a) 중 상면이 링 프레임 등의 지그에 첩부되어 사용된다.In the protective film-forming composite sheet 1F shown in FIG. 7, with the release film 15 removed, the back surface of a semiconductor wafer (not shown) is affixed to the front surface 23a of the protective film-forming film 23, Among the surfaces 16a of the adhesive layer 16 for a log jig, the upper surface is affixed to a jig such as a ring frame and used.

이와 같이, 보호막 형성용 복합 시트는 지지 시트 및 보호막 형성용 필름이 어떠한 형태여도, 지그용 접착제층을 구비한 것이어도 된다. 단, 통상은 도 2 및 도 4에 나타내는 바와 같이, 지그용 접착제층을 구비한 보호막 형성용 복합 시트로는, 보호막 형성용 필름 상에 지그용 접착제층을 구비한 것이 바람직하다. As described above, the composite sheet for forming a protective film may have any form of the supporting sheet and the film for forming a protective film, or may be provided with an adhesive layer for a jig. However, as shown in Figs. 2 and 4, it is preferable that a jig adhesive layer is provided on the protective film forming film as the protective film-forming composite sheet provided with the jig adhesive layer.

본 발명의 일 실시형태에 따른 보호막 형성용 복합 시트는 도 2∼도 7에 나타내는 것에 한정되지 않고, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위 내에 있어서, 도 2∼도 7에 나타내는 것의 일부 구성이 변경 또는 삭제된 것이나, 지금까지 설명한 것에 또 다른 구성이 추가된 것이어도 된다. The composite sheet for forming a protective film according to an embodiment of the present invention is not limited to the ones shown in Figs. 2 to 7, and some configurations of the ones shown in Figs. 2 to 7 are changed within a range that does not impair the effects of the present invention. Alternatively, it may be deleted or another configuration may be added to the one described so far.

예를 들면, 도 4 및 도 5에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트에 있어서는, 기재(11)와 보호막 형성용 필름(13) 사이에 중간층이 형성되어 있어도 된다. 중간층으로는, 목적에 따라 임의의 것을 선택할 수 있다. For example, in the composite sheet for forming a protective film shown in FIGS. 4 and 5, an intermediate layer may be formed between the substrate 11 and the film 13 for forming a protective film. As the intermediate layer, any one can be selected according to the purpose.

또한, 도 2, 도 3, 도 6, 및 도 7에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트에 있어서는, 기재(11)와 점착제층(12) 사이에 중간층이 형성되어 있어도 된다. 즉, 본 발명의 보호막 형성용 복합 시트에 있어서, 지지 시트는 기재, 중간층, 및 점착제층이 이 순서로, 이들의 두께 방향에 있어서 적층되어 이루어지는 것이어도 된다. 여기서 중간층이란, 도 4 및 도 5에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트에 있어서 형성되어 있어도 되는 중간층과 동일하다. In addition, in the composite sheet for forming a protective film shown in FIGS. 2, 3, 6, and 7, an intermediate layer may be formed between the substrate 11 and the pressure-sensitive adhesive layer 12. That is, in the composite sheet for forming a protective film of the present invention, the support sheet may be formed by laminating a substrate, an intermediate layer, and an adhesive layer in this order in the thickness direction thereof. Here, the intermediate layer is the same as the intermediate layer which may be formed in the composite sheet for forming a protective film shown in FIGS. 4 and 5.

또한, 도 2∼도 7에 나타내는 보호막 형성용 복합 시트는 상기 중간층 이외의 층이 임의의 지점에 형성되어 있어도 된다. In addition, in the composite sheet for forming a protective film shown in FIGS. 2 to 7, layers other than the intermediate layer may be formed at arbitrary points.

또한, 보호막 형성용 복합 시트에 있어서는, 박리 필름과, 이 박리 필름과 직접 접촉하고 있는 층 사이에 일부 간극이 생성되어 있어도 된다. In addition, in the composite sheet for forming a protective film, a partial gap may be formed between the release film and the layer in direct contact with the release film.

또한, 보호막 형성용 복합 시트에 있어서는, 각 층의 크기나 형상은 목적에 따라 임의로 조절할 수 있다. In addition, in the composite sheet for forming a protective film, the size and shape of each layer can be arbitrarily adjusted according to the purpose.

본 발명의 보호막 형성용 복합 시트에 있어서는, 점착제층 등의 지지 시트에 있어서 보호막 형성용 필름과 직접 접촉하고 있는 층이 비에너지선 경화성이어도 되고, 에너지선 경화성이어도 된다.In the composite sheet for forming a protective film of the present invention, a layer in direct contact with the film for forming a protective film in a supporting sheet such as an adhesive layer may be non-energy ray curable or energy ray curable.

비에너지선 경화성인 경우에는, 보호막 형성용 복합 시트는 보다 저렴하게 제조하는 것이 가능하다.In the case of non-energy ray curing, the composite sheet for forming a protective film can be manufactured at a lower cost.

에너지선 경화성인 경우에는, 보호막 형성용 복합 시트는 점착력의 조정이 보다 용이해져, 다이싱이나 픽업의 적성을 조절하기 쉬워진다.In the case of energy ray curing, the composite sheet for forming a protective film makes it easier to adjust the adhesive force, and it becomes easier to adjust the suitability of dicing or pick-up.

한편, 본 발명에 있어서, 「비경화성」이란, 가열 또는 에너지선의 조사 등에 의해 경화하지 않는 성질을 의미하고, 「열경화성」이란, 가열함으로써 경화하는 성질을 의미하며, 「에너지선 경화성」이란, 에너지선을 조사함으로써 경화하는 성질을 의미한다.On the other hand, in the present invention, ``non-curing property'' means a property that does not cure by heating or irradiation of energy rays, etc., ``thermosetting property'' means a property that cures by heating, and ``energy ray curing property'' means energy It refers to the property of hardening by irradiating the line.

본 발명에 있어서, 「에너지선」이란, 전자파 또는 하전 입자선 중에서 에너지 양자를 갖는 것을 의미하며, 그 예로서 자외선, 방사선, 전자선 등을 들 수 있다. In the present invention, the "energy ray" means having both energy among electromagnetic waves or charged particle rays, and examples thereof include ultraviolet rays, radiation, and electron beams.

자외선은 예를 들면, 자외선원으로서 고압 수은 램프, 퓨전 램프, 크세논 램프, 블랙 라이트 또는 LED 램프 등을 이용함으로써 조사할 수 있다. 전자선은 전자선 가속기 등에 의해 발생시킨 것을 조사할 수 있다. Ultraviolet rays can be irradiated by using, for example, a high-pressure mercury lamp, a fusion lamp, a xenon lamp, a black light, or an LED lamp as an ultraviolet source. The electron beam can be irradiated with what is generated by an electron beam accelerator or the like.

지지 시트는 투명해도 되고, 불투명해도 되며, 목적에 따라 착색되어도 된다.The support sheet may be transparent, may be opaque, and may be colored depending on the purpose.

보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성을 갖는 경우에는, 지지 시트는 에너지선을 투과시키는 것이 바람직하다.When the film for forming a protective film has energy ray curing properties, it is preferable that the support sheet transmits energy rays.

예를 들면, 지지 시트에 있어서, 파장 375㎚의 광의 투과율은 30% 이상인 것이 바람직하고, 50% 이상인 것이 보다 바람직하며, 70% 이상인 것이 특히 바람직하다. 상기 광의 투과율이 이러한 범위임으로써, 지지 시트를 개재하여 보호막 형성용 필름에 에너지선(자외선)을 조사했을 때, 보호막 형성용 필름의 경화도가 보다 향상된다.For example, in the support sheet, the transmittance of light having a wavelength of 375 nm is preferably 30% or more, more preferably 50% or more, and particularly preferably 70% or more. When the transmittance of the light is within such a range, when the film for forming a protective film is irradiated with energy rays (ultraviolet rays) through the support sheet, the degree of curing of the film for forming a protective film is further improved.

한편, 지지 시트에 있어서, 파장 375㎚의 광의 투과율의 상한값은 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면, 95%로 하는 것이 가능하다.On the other hand, in the support sheet, the upper limit of the transmittance of light having a wavelength of 375 nm is not particularly limited, but it is possible, for example, to be 95%.

또한, 지지 시트에 있어서, 파장 532㎚의 광의 투과율은 30% 이상인 것이 바람직하고, 50% 이상인 것이 보다 바람직하며, 70% 이상인 것이 특히 바람직하다.In addition, in the support sheet, the transmittance of light having a wavelength of 532 nm is preferably 30% or more, more preferably 50% or more, and particularly preferably 70% or more.

상기 광의 투과율이 이러한 범위임으로써, 지지 시트를 개재하고, 상기 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자를 판독할 수 있으며, 상기 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사할 수 있다. 또한, 이물질이 있는 경우에는, 상기 이물질의 상태를 검사할 수 있다.When the transmittance of the light is within such a range, it is possible to read prints such as letters, symbols, and shapes laser-printed on the semiconductor wafer or the semiconductor chip through the protective film through the support sheet, and the print, the semiconductor wafer or The presence or absence of a grinding mark on the back surface of the semiconductor chip, a semiconductor wafer, or a foreign material between the semiconductor chip and the protective film may be inspected. In addition, if there is a foreign substance, the state of the foreign substance may be inspected.

한편, 지지 시트에 있어서, 파장 532㎚의 광의 투과율의 상한값은 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면, 95%로 하는 것이 가능하다.On the other hand, in the support sheet, the upper limit of the transmittance of light having a wavelength of 532 nm is not particularly limited, but it is possible to set it as 95%, for example.

또한, 지지 시트에 있어서, 파장 1064㎚의 광의 투과율은 30% 이상인 것이 바람직하고, 50% 이상인 것이 보다 바람직하며, 70% 이상인 것이 특히 바람직하다. 상기 광의 투과율이 이러한 범위임으로써, 지지 시트를 개재하고, 상기 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 문자, 기호, 모양 등의 인자를 판독할 수 있으며, 상기 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사할 수 있다. 또한, 이물질이 있는 경우에는, 상기 이물질의 상태를 검사할 수 있다.In addition, in the support sheet, the transmittance of light having a wavelength of 1064 nm is preferably 30% or more, more preferably 50% or more, and particularly preferably 70% or more. When the transmittance of the light is within such a range, it is possible to read prints such as letters, symbols, and shapes laser-printed on the semiconductor wafer or the semiconductor chip through the protective film through the support sheet, and the print, the semiconductor wafer or The presence or absence of a grinding mark on the back surface of the semiconductor chip, a semiconductor wafer, or a foreign material between the semiconductor chip and the protective film may be inspected. In addition, if there is a foreign substance, the state of the foreign substance may be inspected.

한편, 지지 시트에 있어서, 파장 1064㎚의 광의 투과율의 상한값은 특별히 한정되지 않으나, 예를 들면, 95%로 하는 것이 가능하다.On the other hand, in the support sheet, the upper limit of the transmittance of light having a wavelength of 1064 nm is not particularly limited, but it is possible to set it as 95%, for example.

이어서, 지지 시트를 구성하는 각 층에 대하여, 더욱 상세하게 설명한다.Next, each layer constituting the support sheet will be described in more detail.

○기재○ Description

상기 기재는 시트형 또는 필름형이며, 그 구성 재료로는 예를 들면, 각종 수지를 들 수 있다. The substrate is in the form of a sheet or a film, and examples of the constituent material include various resins.

상기 수지로는 예를 들면, 저밀도 폴리에틸렌(LDPE), 직쇄 저밀도 폴리에틸렌(LLDPE), 고밀도 폴리에틸렌(HDPE) 등의 폴리에틸렌; 폴리프로필렌, 폴리부텐, 폴리부타디엔, 폴리메틸펜텐, 노보넨 수지 등의 폴리에틸렌 이외의 폴리올레핀; 에틸렌-초산비닐 공중합체, 에틸렌-(메타)아크릴산공중합체, 에틸렌-(메타)아크릴산에스테르 공중합체, 에틸렌-노보넨 공중합체 등의 에틸렌계 공중합체(모노머로서 에틸렌을 사용하여 얻어진 공중합체); 폴리염화비닐, 염화비닐 공중합체 등의 염화비닐계 수지(모노머로서 염화비닐을 사용하여 얻어진 수지); 폴리스티렌; 폴리시클로올레핀; 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 폴리부틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌이소프탈레이트, 폴리에틸렌-2,6-나프탈렌디카르복시레이트, 모든 구성 단위가 방향족 고리형기를 갖는 전방향족 폴리에스테르 등의 폴리에스테르; 2종 이상의 상기 폴리에스테르의 공중합체; 폴리(메타)아크릴산에스테르; 폴리우레탄; 폴리우레탄아크릴레이트; 폴리이미드; 폴리아미드; 폴리카보네이트; 불소 수지; 폴리아세탈; 변성 폴리페닐렌옥시드; 폴리페닐렌설파이드; 폴리설폰; 폴리에테르케톤 등을 들 수 있다. Examples of the resin include polyethylene such as low-density polyethylene (LDPE), linear low-density polyethylene (LLDPE), and high-density polyethylene (HDPE); Polyolefins other than polyethylene such as polypropylene, polybutene, polybutadiene, polymethylpentene, norbornene resin; Ethylene-based copolymers such as ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-(meth)acrylic acid copolymer, ethylene-(meth)acrylic acid ester copolymer, and ethylene-norbornene copolymer (copolymers obtained using ethylene as a monomer); Vinyl chloride resins such as polyvinyl chloride and vinyl chloride copolymers (resins obtained using vinyl chloride as a monomer); polystyrene; Polycycloolefin; Polyesters such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene isophthalate, polyethylene-2,6-naphthalenedicarboxylate, and wholly aromatic polyesters in which all structural units have an aromatic cyclic group; A copolymer of two or more of the above polyesters; Poly(meth)acrylic acid ester; Polyurethane; Polyurethane acrylate; Polyimide; Polyamide; Polycarbonate; Fluororesin; Polyacetal; Modified polyphenylene oxide; Polyphenylene sulfide; Polysulfone; Polyether ketone, etc. are mentioned.

또한, 상기 수지로는 예를 들면, 상기 폴리에스테르와 그 이외의 수지의 혼합물 등의 폴리머 알로이도 들 수 있다. 상기 폴리에스테르와 그 이외의 수지의 폴리머 알로이는 폴리에스테르 이외의 수지의 양이 비교적 소량인 것이 바람직하다. Further, examples of the resin include polymer alloys such as a mixture of the polyester and other resins. It is preferable that the polymer alloy of the polyester and other resins has a relatively small amount of resin other than polyester.

또한, 상기 수지로는 예를 들면, 여기까지 예시한 상기 수지의 1종 또는 2종 이상이 가교된 가교 수지; 여기까지 예시한 상기 수지의 1종 또는 2종 이상을 사용한 아이오노머 등의 변성 수지도 들 수 있다. In addition, as the resin, for example, a crosslinked resin in which one or two or more of the resins exemplified so far is crosslinked; Modified resins such as ionomers using one or two or more of the resins exemplified so far can also be mentioned.

한편, 본 명세서에 있어서, 「(메타)아크릴산」이란, 「아크릴산」 및 「메타크릴산」의 양쪽을 포함하는 개념으로 한다. (메타)아크릴산과 유사한 용어에 대해서도 동일하며 예를 들면, 「(메타)아크릴로일기」란, 「아크릴로일기」 및 「메타크릴로일기」의 양쪽을 포함하는 개념이고, 「(메타)아크릴레이트」란, 「아크릴레이트」 및 「메타크릴레이트」의 양쪽을 포함하는 개념이다.In addition, in this specification, "(meth)acrylic acid" is a concept including both "acrylic acid" and "methacrylic acid". The same applies to terms similar to (meth)acrylic acid. For example, "(meth)acryloyl group" is a concept including both "acryloyl group" and "methacryloyl group", and "(meth)acrylic "Rate" is a concept including both "acrylate" and "methacrylate".

기재를 구성하는 수지는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The number of resins constituting the substrate may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

기재는 1층(단층)으로 이루어지는 것이어도 되고, 2층 이상의 복수층으로 이루어지는 것이어도 되며, 복수층으로 이루어지는 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 되고, 이들 복수층의 조합은 특별히 한정되지 않는다. The base material may be composed of one layer (single layer), may be composed of a plurality of layers of two or more layers, and when composed of a plurality of layers, the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of the plurality of layers is not particularly limited. Does not.

기재의 두께는 50㎛ 이상 300㎛ 이하인 것이 바람직하고, 60㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 기재의 두께가 이러한 범위임으로써, 상기 보호막 형성용 복합 시트의 가요성과, 반도체 웨이퍼 또는 반도체 칩에 대한 첩부성이 보다 향상된다. The thickness of the substrate is preferably 50 µm or more and 300 µm or less, and more preferably 60 µm or more and 100 µm or less. When the thickness of the substrate is within such a range, the flexibility of the composite sheet for forming a protective film and the adhesion to a semiconductor wafer or a semiconductor chip are further improved.

여기서, 「기재의 두께」란, 기재 전체의 두께를 의미하며 예를 들면, 복수층으로 이루어지는 기재의 두께란, 기재를 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다. Here, the "thickness of a base material" means the thickness of the entire base material, and for example, the thickness of a base material comprising a plurality of layers means the total thickness of all layers constituting the base material.

기재는 두께의 정밀도가 높은 것, 즉, 부위에 상관없이 두께의 편차가 억제된 것이 바람직하다. 상술한 구성 재료 중, 이러한 두께의 정밀도가 높은 기재를 구성하는데 사용 가능한 재료로는 예를 들면, 폴리에틸렌, 폴리에틸렌 이외의 폴리올레핀, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 에틸렌-초산비닐 공중합체 등을 들 수 있다. It is preferable that the substrate has high accuracy in thickness, that is, the variation in thickness is suppressed irrespective of the portion. Among the above-described constituent materials, examples of materials that can be used to construct a substrate having such a high precision of thickness include polyethylene, polyolefins other than polyethylene, polyethylene terephthalate, ethylene-vinyl acetate copolymer, and the like.

기재는 상기 수지 등의 주된 구성 재료 이외에, 충전재, 착색제, 대전 방지제, 산화 방지제, 유기 윤활제, 촉매, 연화제(가소제) 등의 공지의 각종 첨가제를 함유하고 있어도 된다. The base material may contain various known additives such as fillers, colorants, antistatic agents, antioxidants, organic lubricants, catalysts, and softeners (plasticizers), in addition to the main constituent materials such as the resin.

기재의 광학 특성은 앞서 설명한 지지 시트의 광학 특성을 만족하게 되어 있는 것이 바람직하다. 즉, 기재는 투명해도 되고, 불투명해도 되며, 목적에 따라 착색되어 있어도 되고, 다른 층이 증착되어 있어도 된다. It is preferable that the optical properties of the substrate satisfy the optical properties of the support sheet described above. That is, the base material may be transparent or opaque, may be colored depending on the purpose, or another layer may be deposited.

그리고, 보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성을 갖는 경우에 있어서는, 기재는 에너지선을 투과시키는 것이 바람직하다. And, when the film for protective film formation has energy ray curability, it is preferable that the base material transmits energy rays.

기재는 그 위에 형성되는 점착제층 등의 다른 층과의 밀착성을 향상시키기 위해, 샌드 블라스트 처리, 용제 처리 등에 의한 요철화 처리나, 코로나 방전 처리, 전자선 조사 처리, 플라즈마 처리, 오존·자외선 조사 처리, 화염 처리, 크롬산 처리, 열풍 처리 등의 산화 처리 등이 표면에 실시된 것이어도 된다. In order to improve the adhesion with other layers such as an adhesive layer formed thereon, the substrate is uneven treatment by sand blast treatment, solvent treatment, etc., corona discharge treatment, electron beam irradiation treatment, plasma treatment, ozone/ultraviolet irradiation treatment, The surface may be subjected to oxidation treatment such as flame treatment, chromic acid treatment, or hot air treatment.

또한, 기재는 표면이 프라이머 처리가 실시된 것이어도 된다. In addition, the surface of the base material may have been subjected to a primer treatment.

또한, 기재는 대전 방지 코트층, 보호막 형성용 복합 시트를 중첩시켜 보존할 때, 기재가 다른 시트에 접착되는 것이나, 기재가 흡착 테이블에 접착되는 것을 방지하는 층 등을 갖는 것이어도 된다. In addition, the substrate may have an antistatic coat layer and a protective film-forming composite sheet overlapping each other and having a layer that prevents the substrate from adhering to another sheet, or a layer that prevents the substrate from adhering to the adsorption table.

이들 중에서도 기재는 다이싱시의 블레이드의 마찰에 의한 기재의 단편 발생이 억제되는 점에서, 특히 표면이 전자선 조사 처리가 실시된 것이 바람직하다.Among these, the substrate is particularly preferably subjected to an electron beam irradiation treatment since the occurrence of fragments of the substrate due to friction of the blades during dicing is suppressed.

기재는 공지의 방법으로 제조할 수 있다. 예를 들면, 수지를 함유하는 기재는 상기 수지를 함유하는 수지 조성물을 성형함으로써 제조할 수 있다. The substrate can be prepared by a known method. For example, the base material containing a resin can be manufactured by molding the resin composition containing the said resin.

○점착제층○Adhesive layer

상기 점착제층은 시트형 또는 필름형이며, 점착제를 함유한다. The pressure-sensitive adhesive layer is in the form of a sheet or a film, and contains an adhesive.

상기 점착제로는 예를 들면, 아크릴계 수지, 우레탄계 수지, 고무계 수지, 실리콘계 수지, 에폭시계 수지, 폴리비닐에테르, 폴리카보네이트, 에스테르계 수지 등의 점착성 수지를 들 수 있고, 아크릴계 수지가 바람직하다. Examples of the adhesive include adhesive resins such as acrylic resins, urethane resins, rubber resins, silicone resins, epoxy resins, polyvinyl ethers, polycarbonates, and ester resins, and acrylic resins are preferable.

한편, 본 발명에 있어서, 「점착성 수지」란, 점착성을 갖는 수지와, 접착성을 갖는 수지 양쪽을 포함하는 개념이며 예를 들면, 수지 자체가 점착성을 갖는 것뿐만 아니라, 첨가제 등의 다른 성분과의 병용에 의해 점착성을 나타내는 수지나, 열 또는 물 등의 트리거의 존재에 의해 접착성을 나타내는 수지 등도 포함한다. On the other hand, in the present invention, "adhesive resin" is a concept including both a resin having adhesiveness and a resin having adhesiveness. For example, not only the resin itself has adhesiveness, but also other components such as additives and A resin exhibiting adhesiveness by combined use of, and a resin exhibiting adhesiveness by the presence of a trigger such as heat or water are also included.

점착제층은 1층(단층)으로 이루어지는 것이어도 되고, 2층 이상의 복수층으로 이루어지는 것이어도 되며, 복수층으로 이루어지는 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 되고, 이들 복수층의 조합은 특별히 한정되지 않는다. The pressure-sensitive adhesive layer may consist of one layer (single layer), may consist of a plurality of layers of two or more layers, and in the case of a plurality of layers, the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of these plurality of layers is specifically limited. It doesn't work.

점착제층의 두께는 1㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 1㎛ 이상 60㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 1㎛ 이상 30㎛ 이하인 것이 특히 바람직하다. The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is preferably 1 µm or more and 100 µm or less, more preferably 1 µm or more and 60 µm or less, and particularly preferably 1 µm or more and 30 µm or less.

여기서, 「점착제층의 두께」란, 점착제층 전체의 두께를 의미하며 예를 들면, 복수층으로 이루어지는 점착제층의 두께란, 점착제층을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다. Here, the "thickness of the adhesive layer" means the thickness of the entire pressure-sensitive adhesive layer, and for example, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer consisting of a plurality of layers means the total thickness of all the layers constituting the pressure-sensitive adhesive layer.

점착제층의 광학 특성은 앞서 설명한 지지 시트의 광학 특성을 만족하도록 되어 있으면 된다. 즉, 점착제층은 투명해도 되고, 목적에 따라 착색되어 있어도 된다. The optical properties of the pressure-sensitive adhesive layer may be set to satisfy the optical properties of the support sheet described above. That is, the pressure-sensitive adhesive layer may be transparent or may be colored depending on the purpose.

그리고, 보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성을 갖는 경우에 있어서는, 점착제층은 에너지선을 투과시키는 것이 바람직하다. And, when the film for protective film formation has energy ray curability, it is preferable that the pressure-sensitive adhesive layer transmits energy rays.

점착제층은 에너지선 경화성 점착제를 사용하여 형성된 것이어도 되고, 비에너지선 경화성 점착제를 사용하여 형성된 것이어도 된다. 에너지선 경화성 점착제를 사용하여 형성된 점착제층은 경화 전 및 경화 후에서의 물성을 용이하게 조절할 수 있다. The adhesive layer may be formed using an energy ray-curable adhesive, or may be formed using a non-energy ray-curable adhesive. The pressure-sensitive adhesive layer formed using an energy ray-curable pressure-sensitive adhesive can easily adjust physical properties before and after curing.

<<점착제 조성물>><<adhesive composition>>

점착제층은 점착제를 함유하는 점착제 조성물을 사용하여 형성할 수 있다. 예를 들면, 점착제층의 형성 대상면에 점착제 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 목적으로 하는 부위에 점착제층을 형성할 수 있다. 점착제 조성물에 있어서의, 상온에서 기화하지 않는 성분끼리의 함유량 비율은 통상, 점착제층에 있어서의 상기 성분끼리의 함유량 비율과 동일해진다. 본 명세서에 있어서, 「상온」이란, 특별히 냉각하거나 가열하지 않은 온도, 즉 평상 온도를 의미하며 예를 들면, 15∼25℃의 온도 등을 들 수 있다.The pressure-sensitive adhesive layer can be formed using a pressure-sensitive adhesive composition containing a pressure-sensitive adhesive. For example, by coating the pressure-sensitive adhesive composition on the surface to be formed of the pressure-sensitive adhesive layer and drying as necessary, the pressure-sensitive adhesive layer can be formed on a target site. In the pressure-sensitive adhesive composition, the content ratio between components that do not vaporize at room temperature is usually the same as the content ratio between the components in the pressure-sensitive adhesive layer. In this specification, the term "normal temperature" means a temperature that is not particularly cooled or heated, that is, a normal temperature, and examples thereof include a temperature of 15 to 25°C.

점착제 조성물의 도공은 공지의 방법으로 행하면 되고, 예를 들면, 에어 나이프 코터, 블레이드 코터, 바 코터, 그라비아 코터, 롤 코터, 롤 나이프 코터, 커텐 코터, 다이 코터, 나이프 코터, 스크린 코터, 메이어 바 코터, 키스 코터 등의 각종 코터를 사용하는 방법을 들 수 있다. Coating of the pressure-sensitive adhesive composition may be performed by a known method, for example, an air knife coater, a blade coater, a bar coater, a gravure coater, a roll coater, a roll knife coater, a curtain coater, a die coater, a knife coater, a screen coater, a Mayer bar. The method of using various coaters, such as a coater and a kiss coater, is mentioned.

기재 상에 점착제층을 형성하는 경우에는, 예를 들면, 기재 상에 점착제 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 기재 상에 점착제층을 적층하면 된다. 또한, 기재 상에 점착제층을 형성하는 경우에는 예를 들면, 박리 필름 상에 점착제 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 박리 필름 상에 점착제층을 형성해 두고, 이 점착제층의 노출면을 기재의 한쪽 표면과 첩합함으로써, 기재 상에 점착제층을 적층해도 된다.When forming a pressure-sensitive adhesive layer on a substrate, for example, the pressure-sensitive adhesive layer may be laminated on the substrate by coating the pressure-sensitive adhesive composition on the substrate and drying as necessary. In addition, in the case of forming an adhesive layer on a substrate, for example, by coating an adhesive composition on a release film and drying as necessary to form a pressure-sensitive adhesive layer on the release film, the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer is described as a substrate. By bonding with one surface of, an adhesive layer may be laminated on the substrate.

점착제층이 에너지선 경화성인 경우, 에너지선 경화성 점착제 조성물로는 예를 들면, 비에너지선 경화성 점착성 수지(I-1a)(이하, 「점착성 수지(I-1a)」로 약기하는 경우가 있다)와, 에너지선 경화성 화합물을 함유하는 점착제 조성물(I-1); 비에너지선 경화성 점착성 수지(I-1a)의 측쇄에 불포화기가 도입된 에너지선 경화성 점착성 수지(I-2a)(이하, 「점착성 수지(I-2a)」로 약기하는 경우가 있다)를 함유하는 점착제 조성물(I-2); 상기 점착성 수지(I-2a)와, 에너지선 경화성 화합물을 함유하는 점착제 조성물(I-3) 등을 들 수 있다. When the pressure-sensitive adhesive layer is energy-ray-curable, the energy-ray-curable pressure-sensitive adhesive composition is, for example, a non-energy-ray-curable pressure-sensitive adhesive resin (I-1a) (hereinafter sometimes abbreviated as “adhesive resin (I-1a)”). And, the pressure-sensitive adhesive composition (I-1) containing an energy ray-curable compound; Containing an energy ray-curable adhesive resin (I-2a) in which an unsaturated group is introduced into the side chain of the non-energy ray-curable adhesive resin (I-1a) (hereinafter sometimes abbreviated as ``adhesive resin (I-2a)'') Pressure-sensitive adhesive composition (I-2); The adhesive resin (I-2a) and the adhesive composition (I-3) containing an energy ray-curable compound, and the like can be mentioned.

점착제층이 비에너지선 경화성인 경우, 비에너지선 경화성 점착제 조성물로는 예를 들면, 상기 비에너지선 경화성 점착성 수지(I-1a)를 함유하는 점착제 조성물(I-4) 등을 들 수 있다.When the pressure-sensitive adhesive layer is non-energy ray-curable, examples of the non-energy ray-curable pressure-sensitive adhesive composition include a pressure-sensitive adhesive composition (I-4) containing the non-energy-ray-curable pressure-sensitive adhesive resin (I-1a).

[점착성 수지(I-1a)][Adhesive resin (I-1a)]

상기 점착제 조성물(I-1), 점착제 조성물(I-2), 점착제 조성물(I-3), 및 점착제 조성물(I-4)(이하, 이들 점착제 조성물을 포괄하여, 「점착제 조성물(I-1)∼(I-4)」로 약기한다)에 있어서의 상기 점착성 수지(I-1a)는 아크릴계 수지인 것이 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive composition (I-1), the pressure-sensitive adhesive composition (I-2), the pressure-sensitive adhesive composition (I-3), and the pressure-sensitive adhesive composition (I-4) (hereinafter, encompassing these pressure-sensitive adhesive compositions, ``Adhesive composition (I-1) ) To (I-4)"), the adhesive resin (I-1a) is preferably an acrylic resin.

상기 아크릴계 수지로는 예를 들면, 적어도 (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 갖는 아크릴계 중합체를 들 수 있다.Examples of the acrylic resin include an acrylic polymer having at least a structural unit derived from an alkyl (meth)acrylate.

상기 (메타)아크릴산알킬에스테르로는 예를 들면, 알킬에스테르를 구성하는 알킬기의 탄소수가 1∼20인 것을 들 수 있으며, 상기 알킬기는 직쇄형 또는 분지쇄형인 것이 바람직하다.Examples of the (meth)acrylate alkyl ester include those having 1 to 20 carbon atoms in the alkyl group constituting the alkyl ester, and the alkyl group is preferably a linear or branched chain.

상기 아크릴계 중합체는 (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위 이외에, 추가로 관능기 함유 모노머 유래의 구성 단위를 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the said acrylic polymer further has a structural unit derived from a functional group-containing monomer in addition to the structural unit derived from the (meth)acrylate alkyl ester.

상기 관능기 함유 모노머로는 예를 들면, 상기 관능기가 후술하는 가교제와 반응함으로써 가교의 기점이 되거나, 상기 관능기가 후술하는 불포화기 함유 화합물 중의 불포화기와 반응함으로써, 아크릴 중합체의 측쇄에 불포화기의 도입을 가능하게 하는 것을 들 수 있다.As the functional group-containing monomer, for example, the functional group becomes a starting point for crosslinking by reacting with a crosslinking agent described later, or the functional group reacts with an unsaturated group in an unsaturated group-containing compound described later, thereby introducing an unsaturated group into the side chain of the acrylic polymer What makes it possible is mentioned.

상기 관능기 함유 모노머로는 예를 들면, 수산기 함유 모노머, 카르복시기 함유 모노머, 아미노기 함유 모노머, 에폭시기 함유 모노머 등을 들 수 있다.Examples of the functional group-containing monomer include a hydroxyl group-containing monomer, a carboxyl group-containing monomer, an amino group-containing monomer, and an epoxy group-containing monomer.

상기 아크릴계 중합체는 (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위 및 관능기 함유 모노머 유래의 구성 단위 이외에, 추가로 다른 모노머 유래의 구성 단위를 갖고 있어도 된다. In addition to the structural unit derived from the (meth)acrylate alkyl ester and the structural unit derived from the functional group-containing monomer, the acrylic polymer may further have a structural unit derived from another monomer.

상기 다른 모노머는 (메타)아크릴산알킬에스테르 등과 공중합 가능한 것이면 특별히 한정되지 않는다. The other monomer is not particularly limited as long as it is copolymerizable with an alkyl (meth)acrylate or the like.

상기 다른 모노머로는 예를 들면, 스티렌, α-메틸스티렌, 비닐톨루엔, 포름산비닐, 초산비닐, 아크릴로니트릴, 아크릴아미드 등을 들 수 있다. Examples of the other monomers include styrene, α-methylstyrene, vinyltoluene, vinyl formate, vinyl acetate, acrylonitrile, and acrylamide.

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)에 있어서, 상기 아크릴계 중합체 등의 상기 아크릴계 수지가 갖는 구성 단위는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.In the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4), the constituent units of the acrylic resin, such as the acrylic polymer, may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof. Can be arbitrarily selected.

상기 아크릴계 중합체에 있어서, 관능기 함유 모노머 유래의 구성 단위의 함유량은 구성 단위의 전체량에 대해, 1∼35질량%인 것이 바람직하다.In the acrylic polymer, the content of the structural unit derived from the functional group-containing monomer is preferably 1 to 35% by mass with respect to the total amount of the structural unit.

점착제 조성물(I-1) 또는 점착제 조성물(I-4)이 함유하는 점착성 수지(I-1a)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The pressure-sensitive adhesive composition (I-1) or the pressure-sensitive adhesive resin (I-1a) contained in the pressure-sensitive adhesive composition (I-4) may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, the combination and ratio thereof can be arbitrarily selected. I can.

점착제 조성물(I-1) 또는 점착제 조성물(I-4)에 있어서, 점착제 조성물(I-1) 또는 점착제 조성물(I-4)의 총 질량에 대한 점착성 수지(I-1a)의 함유량의 비율은 5∼99질량%인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-1) or pressure-sensitive adhesive composition (I-4), the ratio of the content of the pressure-sensitive adhesive resin (I-1a) to the total mass of the pressure-sensitive adhesive composition (I-1) or the pressure-sensitive adhesive composition (I-4) is It is preferably 5 to 99% by mass.

[점착성 수지(I-2a)][Adhesive resin (I-2a)]

상기 점착제 조성물(I-2) 및 (I-3)에 있어서의 상기 점착성 수지(I-2a)는 예를 들면, 점착성 수지(I-1a) 중의 관능기에 에너지선 중합성 불포화기를 갖는 불포화기 함유 화합물을 반응시킴으로써 얻어진다.The pressure-sensitive adhesive resin (I-2a) in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-2) and (I-3) contains, for example, an unsaturated group having an energy ray-polymerizable unsaturated group in the functional group in the pressure-sensitive adhesive resin (I-1a). It is obtained by reacting a compound.

상기 불포화기 함유 화합물은 상기 에너지선 중합성 불포화기 이외에, 추가로 점착성 수지(I-1a) 중의 관능기와 반응함으로써, 점착성 수지(I-1a)와 결합 가능한 기를 갖는 화합물이다.The unsaturated group-containing compound is a compound having a group capable of bonding to the adhesive resin (I-1a) by reacting with a functional group in the adhesive resin (I-1a) in addition to the energy ray polymerizable unsaturated group.

상기 에너지선 중합성 불포화기로는 예를 들면, (메타)아크릴로일기, 비닐기(에테닐기), 알릴기(2-프로페닐기) 등을 들 수 있고, (메타)아크릴로일기가 바람직하다.Examples of the energy ray-polymerizable unsaturated group include a (meth)acryloyl group, a vinyl group (ethenyl group), and an allyl group (2-propenyl group), and a (meth)acryloyl group is preferable.

점착성 수지(I-1a) 중의 관능기와 결합 가능한 기로는 예를 들면, 수산기 또는 아미노기와 결합 가능한 이소시아네이트기 및 글리시딜기, 그리고 카르복시기 또는 에폭시기와 결합 가능한 수산기 및 아미노기 등을 들 수 있다.Examples of groups that can be bonded to functional groups in the adhesive resin (I-1a) include isocyanate groups and glycidyl groups that can be bonded to hydroxyl groups or amino groups, and hydroxyl groups and amino groups that can be bonded to carboxyl groups or epoxy groups.

상기 불포화기 함유 화합물로는 예를 들면, (메타)아크릴로일옥시에틸이소시아네이트, (메타)아크릴로일이소시아네이트, 글리시딜(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the unsaturated group-containing compound include (meth)acryloyloxyethyl isocyanate, (meth)acryloyl isocyanate, and glycidyl (meth)acrylate.

점착제 조성물(I-2) 또는 (I-3)이 함유하는 점착성 수지(I-2a)는, 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The adhesive resin (I-2a) contained in the adhesive composition (I-2) or (I-3) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected. have.

점착제 조성물(I-2) 또는 (I-3)에 있어서, 점착제 조성물(I-2) 또는 (I-3)의 총 질량에 대한 점착성 수지(I-2a)의 함유량의 비율은 5∼99질량%인 것이 바람직하다.In the adhesive composition (I-2) or (I-3), the ratio of the content of the adhesive resin (I-2a) to the total mass of the adhesive composition (I-2) or (I-3) is 5 to 99 mass It is preferably %.

[에너지선 경화성 화합물][Energy ray curable compound]

상기 점착제 조성물(I-1) 및 (I-3)에 있어서의 상기 에너지선 경화성 화합물로는, 에너지선 중합성 불포화기를 갖고, 에너지선의 조사에 의해 경화 가능한 모노머 또는 올리고머를 들 수 있다. Examples of the energy ray-curable compound in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) and (I-3) include a monomer or oligomer that has an energy ray-polymerizable unsaturated group and can be cured by irradiation with energy rays.

에너지선 경화성 화합물 중, 모노머로는 예를 들면, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메타)아크릴레이트, 1,4-부틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올(메타)아크릴레이트 등의 다가 (메타)아크릴레이트; 우레탄(메타)아크릴레이트; 폴리에스테르(메타)아크릴레이트; 폴리에테르(메타)아크릴레이트; 에폭시(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다. Among the energy ray-curable compounds, monomers include, for example, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol (meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, Polyhydric (meth)acrylates such as 1,4-butylene glycol di(meth)acrylate and 1,6-hexanediol (meth)acrylate; Urethane (meth)acrylate; Polyester (meth)acrylate; Polyether (meth)acrylate; Epoxy (meth)acrylate, etc. are mentioned.

에너지선 경화성 화합물 중, 올리고머로는 예를 들면, 상기에서 예시한 모노머가 중합하여 이루어지는 올리고머 등을 들 수 있다. Among the energy ray-curable compounds, oligomers include, for example, oligomers obtained by polymerization of the monomers exemplified above.

점착제 조성물(I-1) 또는 (I-3)이 함유하는 상기 에너지선 경화성 화합물은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The energy ray-curable compounds contained in the pressure-sensitive adhesive composition (I-1) or (I-3) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

상기 점착제 조성물(I-1)에 있어서, 점착제 조성물(I-1)의 총 질량에 대한 상기 에너지선 경화성 화합물의 함유량의 비율은 1∼95질량%인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-1), the ratio of the content of the energy ray-curable compound to the total mass of the pressure-sensitive adhesive composition (I-1) is preferably 1 to 95% by mass.

상기 점착제 조성물(I-3)에 있어서, 상기 에너지선 경화성 화합물의 함유량은, 점착성 수지(I-2a)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼400질량부인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-3), the content of the energy ray-curable compound is preferably 0.01 to 400 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the content of the pressure-sensitive adhesive resin (I-2a).

[가교제][Crosslinking agent]

점착성 수지(I-1a)로서, (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위 이외에, 추가로 관능기 함유 모노머 유래의 구성 단위를 갖는 상기 아크릴계 중합체를 사용하는 경우, 점착제 조성물(I-1), (I-3), 또는 (I-4)는 추가로 가교제를 함유하는 것이 바람직하다. When using the above acrylic polymer having a structural unit derived from a functional group-containing monomer in addition to the structural unit derived from the (meth)acrylate alkyl ester as the adhesive resin (I-1a), the pressure-sensitive adhesive composition (I-1), (I It is preferable that -3) or (I-4) further contains a crosslinking agent.

또한, 점착성 수지(I-2a)로서 예를 들면, 점착성 수지(I-1a)에 있어서의 것과 동일한 관능기 함유 모노머 유래의 구성 단위를 갖는 상기 아크릴계 중합체를 사용하는 경우, 점착제 조성물(I-2)은 추가로 가교제를 함유하고 있어도 된다.In addition, when using the acrylic polymer having structural units derived from the same functional group-containing monomer as in the adhesive resin (I-1a), for example, as the adhesive resin (I-2a), the adhesive composition (I-2) Silver may further contain a crosslinking agent.

상기 점착성 수지(I-1a) 및 (I-2a)에 있어서의 상기 가교제는 예를 들면, 상기 관능기와 반응하여, 점착성 수지(I-1a)끼리 또는 점착성 수지(I-2a)끼리를 가교한다.The crosslinking agent in the adhesive resins (I-1a) and (I-2a) reacts with the functional group, for example, to crosslink the adhesive resins (I-1a) or the adhesive resins (I-2a). .

가교제로는 예를 들면, 톨릴렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 자일릴렌디이소시아네이트, 이들 디이소시아네이트의 어덕트체 등의 이소시아네이트계 가교제(이소시아네이트기를 갖는 가교제); 에틸렌글리콜글리시딜에테르 등의 에폭시계 가교제(글리시딜기를 갖는 가교제); 헥사[1-(2-메틸)-아지리디닐]트리포스파트리아진 등의 아지리딘계 가교제(아지리디닐기를 갖는 가교제); 알루미늄 킬레이트 등의 금속 킬레이트계 가교제(금속 킬레이트 구조를 갖는 가교제); 이소시아누레이트계 가교제(이소시아눌산 골격을 갖는 가교제) 등을 들 수 있다.Examples of the crosslinking agent include isocyanate crosslinking agents (crosslinking agents having an isocyanate group) such as tolylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, and adducts of these diisocyanates; Epoxy-based crosslinking agents such as ethylene glycol glycidyl ether (crosslinking agents having a glycidyl group); Aziridine-based crosslinking agents (crosslinking agents having an aziridinyl group) such as hexa[1-(2-methyl)-aziridinyl]triphosphatriazine; Metal chelate-based crosslinking agents such as aluminum chelate (crosslinking agents having a metal chelate structure); Isocyanurate-based crosslinking agents (crosslinking agents having an isocyanuric acid skeleton), and the like.

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)가 함유하는 가교제는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The crosslinking agent contained in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

상기 점착제 조성물(I-1), (I-3), 또는 (I-4)에 있어서, 가교제의 함유량은 점착성 수지(I-1a)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼50질량부인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-1), (I-3), or (I-4), the content of the crosslinking agent is preferably 0.01 to 50 parts by mass based on 100 parts by mass of the content of the adhesive resin (I-1a). Do.

상기 점착제 조성물(I-2)에 있어서, 가교제의 함유량은 점착성 수지(I-2a)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼50질량부인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-2), the content of the crosslinking agent is preferably 0.01 to 50 parts by mass based on 100 parts by mass of the content of the pressure-sensitive adhesive resin (I-2a).

[광중합 개시제][Photopolymerization initiator]

점착제 조성물(I-1), (I-2), 및 (I-3)(이하, 이들 점착제 조성물을 포괄하여, 「점착제 조성물(I-1)∼(I-3)」로 약기한다)은, 추가로 광중합 개시제를 함유하고 있어도 된다. 광중합 개시제를 함유하는 점착제 조성물(I-1)∼(I-3)은, 자외선 등의 비교적 저에너지의 에너지선을 조사해도 충분히 경화 반응이 진행된다.The pressure-sensitive adhesive compositions (I-1), (I-2), and (I-3) (hereinafter, these pressure-sensitive adhesive compositions are encompassed and abbreviated as “adhesive compositions (I-1) to (I-3)”) are And may further contain a photoinitiator. Even if the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-3) containing a photopolymerization initiator are irradiated with relatively low energy energy rays such as ultraviolet rays, the curing reaction sufficiently proceeds.

상기 광중합 개시제로는 예를 들면, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르, 벤조인벤조산, 벤조인벤조산메틸, 벤조인디메틸케탈 등의 벤조인 화합물; 아세토페논, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐-프로판-1-온, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온 등의 아세토페논 화합물; 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)페닐포스핀옥사이드, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드 등의 아실포스핀옥사이드 화합물; 벤질페닐설파이드, 테트라메틸티우람모노설파이드 등의 설파이드 화합물; 1-히드록시시클로헥실페닐케톤 등의 α-케톨 화합물; 아조비스이소부티로니트릴 등의 아조 화합물; 티타노센 등의 티타노센 화합물; 티옥산톤 등의 티옥산톤 화합물; 퍼옥사이드 화합물; 디아세틸 등의 디케톤 화합물; 벤질; 디벤질; 벤조페논; 2,4-디에틸티옥산톤; 1,2-디페닐메탄; 2-히드록시-2-메틸-1-[4-(1-메틸비닐)페닐]프로파논; 1-클로로안트라퀴논, 2-클로로안트라퀴논 등의 퀴논 화합물을 들 수 있다.Examples of the photopolymerization initiator include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin benzoic acid, methyl benzoin benzoate, and benzoin dimethyl ketal. Phosphorus compounds; Acetophenone compounds such as acetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one, and 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one; Acylphosphine oxide compounds such as bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)phenylphosphine oxide and 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide; Sulfide compounds such as benzylphenyl sulfide and tetramethylthiuram monosulfide; Α-ketol compounds such as 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone; Azo compounds such as azobisisobutyronitrile; Titanocene compounds such as titanocene; Thioxanthone compounds such as thioxanthone; Peroxide compounds; Diketone compounds such as diacetyl; benzyl; Dibenzyl; Benzophenone; 2,4-diethyl thioxanthone; 1,2-diphenylmethane; 2-hydroxy-2-methyl-1-[4-(1-methylvinyl)phenyl]propanone; And quinone compounds such as 1-chloroanthraquinone and 2-chloroanthraquinone.

또한, 상기 광중합 개시제로는 예를 들면, 아민 등의 광증감제 등을 사용할 수도 있다.Further, as the photopolymerization initiator, for example, a photosensitizer such as amine may be used.

점착제 조성물(I-1)∼(I-3)이 함유하는 광중합 개시제는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The photopolymerization initiators contained in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-3) may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

점착제 조성물(I-1)에 있어서, 광중합 개시제의 함유량은 상기 에너지선 경화성 화합물의 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼20질량부인 것이 바람직하다.In the pressure-sensitive adhesive composition (I-1), the content of the photoinitiator is preferably 0.01 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the content of the energy ray-curable compound.

점착제 조성물(I-2)에 있어서, 광중합 개시제의 함유량은 점착성 수지(I-2a)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼20질량부인 것이 바람직하다.In the adhesive composition (I-2), the content of the photopolymerization initiator is preferably 0.01 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the content of the adhesive resin (I-2a).

점착제 조성물(I-3)에 있어서, 광중합 개시제의 함유량은 점착성 수지(I-2a) 및 상기 에너지선 경화성 화합물의 총 함유량 100질량부에 대해, 0.01∼20질량부인 것이 바람직하다.In the adhesive composition (I-3), the content of the photopolymerization initiator is preferably 0.01 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total content of the adhesive resin (I-2a) and the energy ray-curable compound.

[그 외의 첨가제][Other additives]

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)는, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위 내에 있어서, 상술한 어느 성분에도 해당하지 않는 그 외의 첨가제를 함유하고 있어도 된다. The pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) may contain other additives that do not correspond to any of the above-described components within a range that does not impair the effects of the present invention.

상기 그 외의 첨가제로는 예를 들면, 대전 방지제, 산화 방지제, 연화제(가소제), 충전재(필러), 방청제, 착색제(안료, 염료), 증감제, 점착 부여제, 반응 지연제, 가교 촉진제(촉매) 등의 공지의 첨가제를 들 수 있다. Examples of the above other additives include antistatic agents, antioxidants, softeners (plasticizers), fillers (fillers), rust inhibitors, coloring agents (pigments, dyes), sensitizers, tackifiers, reaction retardants, and crosslinking accelerators (catalysts ), and other known additives.

한편, 반응 지연제란 예를 들면, 점착제 조성물(I-1)∼(I-4) 중에 혼입되어 있는 촉매의 작용에 의해, 보존 중의 점착제 조성물(I-1)∼(I-4)에 있어서, 목적으로 하지 않는 가교 반응이 진행되는 것을 억제하는 것이다. 반응 지연제로는 예를 들면, 촉매에 대한 킬레이트에 의해 킬레이트 착체를 형성하는 것을 들 수 있고, 보다 구체적으로는 1분자 중에 카르보닐기(-C(=O)-)를 2개 이상 갖는 것을 들 수 있다. On the other hand, the reaction retarding agent is, for example, in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) during storage by the action of the catalyst incorporated in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4). , It is to suppress the progress of the crosslinking reaction which is not intended. Examples of the reaction retarding agent include forming a chelate complex by chelate to a catalyst, and more specifically, one having two or more carbonyl groups (-C(=O)-) in one molecule. .

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)가 함유하는 그 외의 첨가제는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The other additives contained in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)의 그 외의 첨가제의 함유량은 특별히 한정되지 않고, 그 종류에 따라 적절히 선택하면 된다. The content of the other additives in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) is not particularly limited, and may be appropriately selected according to the kind.

[용매][menstruum]

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)는 용매를 함유하고 있어도 된다. 점착제 조성물(I-1)∼(I-4)는 용매를 함유하고 있음으로써, 도공 대상면에 대한 도공 적성이 향상된다. The pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) may contain a solvent. When the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) contain a solvent, the application aptitude to the surface to be coated is improved.

상기 용매는 유기 용매인 것이 바람직하고, 상기 유기 용매로는 예를 들면, 메틸에틸케톤, 아세톤 등의 케톤; 초산에틸 등의 에스테르(카르복실산에스테르); 테트라히드로푸란, 디옥산 등의 에테르; 시클로헥산, n-헥산 등의 지방족 탄화수소; 톨루엔, 자일렌 등의 방향족 탄화수소; 1-프로판올, 2-프로판올 등의 알코올 등을 들 수 있다.The solvent is preferably an organic solvent. Examples of the organic solvent include ketones such as methyl ethyl ketone and acetone; Esters such as ethyl acetate (carboxylic acid ester); Ethers such as tetrahydrofuran and dioxane; Aliphatic hydrocarbons such as cyclohexane and n-hexane; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Alcohol, such as 1-propanol and 2-propanol, etc. are mentioned.

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)가 함유하는 용매는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The number of solvents contained in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

점착제 조성물(I-1)∼(I-4)의 용매의 함유량은 특별히 한정되지 않고, 적절히 조절하면 된다. The content of the solvent in the pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) is not particularly limited and may be appropriately adjusted.

○점착제 조성물의 제조 방법○ Manufacturing method of adhesive composition

점착제 조성물(I-1)∼(I-4) 등의 점착제 조성물은 상기 점착제와, 필요에 따라 상기 점착제 이외의 성분 등의 점착제 조성물을 구성하기 위한 각 성분을 배합함으로써 얻어진다. The pressure-sensitive adhesive compositions such as pressure-sensitive adhesive compositions (I-1) to (I-4) are obtained by blending the pressure-sensitive adhesive and, if necessary, each component for constituting the pressure-sensitive adhesive composition such as components other than the pressure-sensitive adhesive.

각 성분의 배합시에 있어서의 첨가 순서는 특별히 한정되지 않고, 2종 이상의 성분을 동시에 첨가해도 된다. The order of addition at the time of blending each component is not particularly limited, and two or more components may be added at the same time.

배합시 각 성분을 혼합하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 교반자 또는 교반 날개 등을 회전시켜 혼합하는 방법; 믹서를 이용하여 혼합하는 방법; 초음파를 가하여 혼합하는 방법 등, 공지의 방법으로부터 적절히 선택하면 된다. The method of mixing each component at the time of mixing is not particularly limited, and a method of mixing by rotating a stirrer or a stirring blade, etc.; Mixing using a mixer; What is necessary is just to select suitably from well-known methods, such as a method of adding ultrasonic waves and mixing.

각 성분의 첨가 및 혼합시의 온도와 시간은, 각 배합 성분이 열화하지 않는 한 특별히 한정되지 않고, 적절히 조절하면 되나, 온도는 15∼30℃인 것이 바람직하다. The temperature and time at the time of addition and mixing of each component are not particularly limited as long as each compounding component does not deteriorate, and may be appropriately adjusted, but the temperature is preferably 15 to 30°C.

○열경화성 보호막 형성용 필름○ Film for forming a thermosetting protective film

바람직한 열경화성 보호막 형성용 필름으로는 예를 들면, 중합체 성분(A) 및 열경화성 성분(B)을 함유하는 것을 들 수 있다. 중합체 성분(A)은 중합성 화합물이 중합 반응하여 형성되었다고 간주할 수 있는 성분이다. 또한, 열경화성 성분(B)은 열을 반응의 트리거로서 경화 반응할 수 있는 성분이다. 한편, 본 발명에 있어서 중합 반응에는 중축합 반응도 포함된다.As a preferable film for thermosetting protective film formation, what contains a polymer component (A) and a thermosetting component (B) is mentioned, for example. The polymer component (A) is a component that can be considered to be formed by a polymerization reaction of a polymerizable compound. In addition, the thermosetting component (B) is a component capable of curing reaction using heat as a trigger of the reaction. On the other hand, in the present invention, a polycondensation reaction is also included in the polymerization reaction.

열경화성 보호막 형성용 필름은 1층(단층)으로 이루어지는 것이어도 되며, 2층 이상의 복수층으로 이루어지는 것이어도 된다. 열경화성 보호막 형성용 필름이 복수층으로 이루어지는 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 된다. 여기서, 「복수층이 서로 동일해도 상이해도 된다」란, 상술한 기재의 경우와 동일한 것을 의미한다. 그리고, 복수층이 서로 상이한 경우, 이들 복수층의 조합은 특별히 한정되지 않는다.The film for thermosetting protective film formation may consist of one layer (single layer), or may consist of a plurality of layers of two or more layers. When the film for thermosetting protective film formation consists of multiple layers, these multiple layers may be the same or different from each other. Here, "the multiple layers may be the same or different from each other" means the same as in the case of the above description. In addition, when a plurality of layers are different from each other, the combination of these plurality of layers is not particularly limited.

열경화성 보호막 형성용 필름의 두께는, 1㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 5㎛ 이상 75㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 5㎛ 이상 50㎛ 이하인 것이 특히 바람직하다. 열경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 하한값 이상임으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름을 보호막으로서 사용하는 경우에 있어서, 보호능이 보다 높은 보호막을 형성할 수 있다. 또한, 열경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 상한값 이하임으로써, 과잉 두께가 되는 것이 억제된다.The thickness of the thermosetting protective film forming film is preferably 1 µm or more and 100 µm or less, more preferably 5 µm or more and 75 µm or less, and particularly preferably 5 µm or more and 50 µm or less. When the thickness of the thermosetting protective film-forming film is equal to or more than the above lower limit, when the thermosetting protective film-forming film is used as a protective film, a protective film having a higher protective ability can be formed. In addition, when the thickness of the thermosetting protective film-forming film is equal to or less than the above upper limit, excessive thickness is suppressed.

여기서, 「열경화성 보호막 형성용 필름의 두께」란, 열경화성 보호막 형성용 필름 전체의 두께를 의미하고, 예를 들면, 복수층으로 이루어지는 열경화성 보호막 형성용 필름의 두께란, 열경화성 보호막 형성용 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다. Here, the "thickness of the film for forming a thermosetting protective film" means the thickness of the entire film for forming a thermosetting protective film. For example, the thickness of the film for forming a thermosetting protective film composed of a plurality of layers means that the film for forming a thermosetting protective film is constituted. It means the total thickness of all layers.

열경화성 보호막 형성용 필름을 반도체 웨이퍼의 이면에 첩부하고 경화시킬 때의 경화 조건은, 보호막이 충분히 그 기능을 발휘하는 정도의 경화도가 되는 한 특별히 한정되지 않으며, 열경화성 보호막 형성용 필름의 종류에 따라, 적절히 선택하면 된다.The curing conditions at the time of affixing and curing the thermosetting protective film forming film on the back surface of the semiconductor wafer are not particularly limited as long as the curing degree is such that the protective film sufficiently exhibits its function, and depending on the type of the thermosetting protective film forming film, Choose appropriately.

예를 들면, 열경화성 보호막 형성용 필름의 경화시 가열 온도는 100℃ 이상 200℃ 이하인 것이 바람직하고, 110℃ 이상 180℃ 이하인 것이 보다 바람직하며, 120℃ 이상 170℃ 이하인 것이 특히 바람직하다. 그리고, 상기 경화시 가열 시간은 0.5시간 이상 5시간 이하인 것이 바람직하고, 0.5시간 이상 3시간 이하인 것이 보다 바람직하며, 1시간 이상 2시간 이하인 것이 특히 바람직하다.For example, the heating temperature during curing of the thermosetting protective film-forming film is preferably 100°C or more and 200°C or less, more preferably 110°C or more and 180°C or less, and particularly preferably 120°C or more and 170°C or less. Further, the heating time during the curing is preferably 0.5 hours or more and 5 hours or less, more preferably 0.5 hours or more and 3 hours or less, and particularly preferably 1 hour or more and 2 hours or less.

<<열경화성 보호막 형성용 조성물>><<Composition for forming a thermosetting protective film>>

열경화성 보호막 형성용 필름은 그 구성 재료를 함유하는 열경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다. 예를 들면, 열경화성 보호막 형성용 필름의 형성 대상면에 열경화성 보호막 형성용 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 목적으로 하는 부위에 열경화성 보호막 형성용 필름을 형성할 수 있다. 열경화성 보호막 형성용 조성물 중의 상온에서 기화하지 않는 성분끼리의 함유량의 비율은 통상, 열경화성 보호막 형성용 필름의 상기 성분끼리의 함유량의 비율과 동일해진다. 여기서, 「상온」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The film for forming a thermosetting protective film can be formed using a composition for forming a thermosetting protective film containing the constituent material. For example, by coating a composition for forming a thermosetting protective film on a surface to be formed of a film for forming a thermosetting protective film, and drying as necessary, a film for forming a thermosetting protective film can be formed at a target site. The ratio of the content of the components that do not vaporize at room temperature in the composition for forming a thermosetting protective film is usually the same as the ratio of the content of the components of the film for forming a thermosetting protective film. Here, "room temperature" is as described above.

열경화성 보호막 형성용 조성물의 도공은 예를 들면, 상술한 점착제 조성물의 도공의 경우와 동일한 방법으로 행할 수 있다.The coating of the composition for forming a thermosetting protective film can be performed, for example, in the same manner as in the case of coating of the pressure-sensitive adhesive composition described above.

열경화성 보호막 형성용 조성물의 건조 조건은 특별히 한정되지 않으나, 열경화성 보호막 형성용 조성물은 후술하는 용매를 함유하고 있는 경우, 가열 건조시키는 것이 바람직하고, 이 경우, 예를 들면, 70℃ 이상 130℃ 이하에서 10초 이상 5분 이하의 조건으로 건조시키는 것이 바람직하다.Drying conditions of the composition for forming a thermosetting protective film are not particularly limited, but when the composition for forming a thermosetting protective film contains a solvent described below, it is preferable to heat-dry, in this case, for example, at 70°C or more and 130°C or less. It is preferable to dry under conditions of 10 seconds or more and 5 minutes or less.

<열경화성 보호막 형성용 조성물(III-1)><Composition for forming a thermosetting protective film (III-1)>

열경화성 보호막 형성용 조성물로는 예를 들면, 중합체 성분(A) 및 열경화성 성분(B)을 함유하는 열경화성 보호막 형성용 조성물(III-1)(본 명세서에 있어서는, 단순히 「조성물(III-1)」로 약기하는 경우가 있다) 등을 들 수 있다.As a composition for forming a thermosetting protective film, for example, a composition for forming a thermosetting protective film (III-1) containing a polymer component (A) and a thermosetting component (B) (in this specification, simply ``composition (III-1)'' It may be abbreviated as) and the like.

[중합체 성분(A)][Polymer component (A)]

중합체 성분(A)은 열경화성 보호막 형성용 필름에 조막성이나 가요성 등을 부여하기 위한 중합체 화합물이다.The polymer component (A) is a polymer compound for imparting film-forming properties or flexibility to the film for forming a thermosetting protective film.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 중합체 성분(A)은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the polymer component (A) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

중합체 성분(A)으로는 예를 들면, 아크릴계 수지((메타)아크릴로일기를 갖는 수지), 폴리에스테르, 우레탄계 수지(우레탄 결합을 갖는 수지), 아크릴우레탄 수지, 실리콘계 수지(실록산 결합을 갖는 수지), 고무계 수지(고무 구조를 갖는 수지), 페녹시 수지, 열경화성 폴리이미드 등을 들 수 있고, 아크릴계 수지가 바람직하다.As the polymer component (A), for example, acrylic resin (resin having (meth)acryloyl group), polyester, urethane resin (resin having urethane bond), acrylic urethane resin, silicone resin (resin having siloxane bond) ), a rubber resin (a resin having a rubber structure), a phenoxy resin, a thermosetting polyimide, and the like, and an acrylic resin is preferable.

중합체 성분(A)에 있어서의 상기 아크릴계 수지로는, 공지의 아크릴 중합체를 들 수 있다.As said acrylic resin in polymer component (A), a well-known acrylic polymer is mentioned.

아크릴계 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은 10000 이상 2000000 이하인 것이 바람직하고, 100000 이상 1500000 이하인 것이 보다 바람직하다. 아크릴계 수지의 중량 평균 분자량이 상기 하한값 이상임으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 핸들링성 및 형상 안정성(보관시의 경시 안정성)이 향상된다. 또한, 아크릴계 수지의 중량 평균 분자량이 상기 상한값 이하임으로써, 피착체의 요철면에 열경화성 보호막 형성용 필름이 추종하기 쉬워지고, 피착체와 열경화성 보호막 형성용 필름 사이에 보이드 등의 발생이 보다 억제된다.It is preferable that it is 10000 or more and 2000000 or less, and, as for the weight average molecular weight (Mw) of an acrylic resin, it is more preferable that it is 100000 or more and 1500000 or less. When the weight average molecular weight of the acrylic resin is more than the above lower limit, the handling property and shape stability (stability with time during storage) of the film for forming a thermosetting protective film are improved. In addition, when the weight average molecular weight of the acrylic resin is less than or equal to the above upper limit, the film for forming a thermosetting protective film is easier to follow on the uneven surface of the adherend, and the occurrence of voids between the adherend and the film for forming a thermosetting protective film is more suppressed. .

한편, 본 명세서에 있어서, 중량 평균 분자량이란, 특별히 언급이 없는 한, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산값이다.In addition, in this specification, a weight average molecular weight is a polystyrene conversion value measured by a gel permeation chromatography (GPC) method unless otherwise specified.

아크릴계 수지의 유리 전이 온도(Tg)는 -60℃ 이상 70℃ 이하인 것이 바람직하고, -30℃ 이상 50℃ 이하인 것이 보다 바람직하다. 아크릴계 수지의 Tg가 상기 하한값 이상임으로써, 보호막과 지지 시트(점착제층)의 접착력이 억제되어 지지 시트의 박리성이 향상된다. 또한, 아크릴계 수지의 Tg가 상기 상한값 이하임으로써, 보호막의 피착체와의 접착력이 향상된다.The glass transition temperature (Tg) of the acrylic resin is preferably -60°C or more and 70°C or less, and more preferably -30°C or more and 50°C or less. When the Tg of the acrylic resin is equal to or greater than the above lower limit, the adhesive force between the protective film and the supporting sheet (adhesive layer) is suppressed, and the peelability of the supporting sheet is improved. Further, when the Tg of the acrylic resin is equal to or less than the above upper limit, the adhesion of the protective film to the adherend is improved.

아크릴계 수지로는 예를 들면, 1종 또는 2종 이상의 (메타)아크릴산에스테르의 중합체; (메타)아크릴산, 이타콘산, 초산비닐, 아크릴로니트릴, 스티렌, 및 N-메틸올아크릴아미드 등으로부터 선택되는 2종 이상의 모노머의 공중합체 등을 들 수 있다.Examples of the acrylic resin include polymers of one or two or more (meth)acrylic acid esters; And copolymers of two or more monomers selected from (meth)acrylic acid, itaconic acid, vinyl acetate, acrylonitrile, styrene, and N-methylolacrylamide.

아크릴계 수지를 구성하는 상기 (메타)아크릴산에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산n-프로필, (메타)아크릴산이소프로필, (메타)아크릴산n-부틸, (메타)아크릴산이소부틸, (메타)아크릴산sec-부틸, (메타)아크릴산tert-부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실, (메타)아크릴산이소옥틸, (메타)아크릴산n-옥틸, (메타)아크릴산n-노닐, (메타)아크릴산이소노닐, (메타)아크릴산데실, (메타)아크릴산운데실, (메타)아크릴산도데실((메타)아크릴산라우릴), (메타)아크릴산트리데실, (메타)아크릴산테트라데실((메타)아크릴산미리스틸), (메타)아크릴산펜타데실, (메타)아크릴산헥사데실((메타)아크릴산팔미틸), (메타)아크릴산헵타데실, (메타)아크릴산옥타데실((메타)아크릴산스테아릴) 등의 알킬에스테르를 구성하는 알킬기가 탄소수 1∼18의 사슬형 구조인 (메타)아크릴산알킬에스테르;Examples of the (meth)acrylic acid ester constituting the acrylic resin include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, n-propyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, n- (meth)acrylate. Butyl, (meth) isobutyl acrylate, (meth) acrylate sec-butyl, (meth) acrylate tert-butyl, (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, (meth) heptyl acrylate, (meth) acrylate 2-ethyl Hexyl, (meth) acrylate isooctyl, (meth) acrylate n-octyl, (meth) acrylate n-nonyl, (meth) acrylate isononyl, (meth) acrylate, (meth) acrylate, (meth) acrylate Dodecyl ((meth) acrylate lauryl), (meth) acrylate tridecyl, (meth) acrylate tetradecyl ((meth) acrylate myristylus), (meth) acrylate pentadecyl, (meth) acrylate hexadecyl ((meth) (Meth) acrylate alkyl ester in which the alkyl group constituting the alkyl ester such as palmityl acrylate), (meth) acrylate heptadecyl, and (meth) acrylate octadecyl ((meth) acrylate stearyl) has a chain structure having 1 to 18 carbon atoms ;

(메타)아크릴산이소보르닐, (메타)아크릴산디시클로펜타닐 등의 (메타)아크릴산시클로알킬에스테르;(Meth)acrylate cycloalkyl esters such as isobornyl (meth)acrylate and dicyclopentanyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산벤질 등의 (메타)아크릴산아랄킬에스테르;(Meth)acrylic acid aralkyl esters such as benzyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산디시클로펜테닐에스테르 등의 (메타)아크릴산시클로알케닐에스테르;(Meth) acrylate cycloalkenyl ester, such as (meth) acrylate dicyclopentenyl ester;

(메타)아크릴산디시클로펜테닐옥시에틸에스테르 등의 (메타)아크릴산시클로알케닐옥시알킬에스테르;(Meth)acrylic acid cycloalkenyloxyalkyl esters such as (meth)acrylate dicyclopentenyloxyethyl ester;

(메타)아크릴산이미드;Imide (meth)acrylate;

(메타)아크릴산글리시딜 등의 글리시딜기 함유 (메타)아크릴산에스테르;Glycidyl group-containing (meth)acrylic acid esters such as glycidyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산히드록시메틸, (메타)아크릴산2-히드록시에틸, (메타)아크릴산2-히드록시프로필, (메타)아크릴산3-히드록시프로필, (메타)아크릴산2-히드록시부틸, (메타)아크릴산3-히드록시부틸, (메타)아크릴산4-히드록시부틸 등의 수산기 함유 (메타)아크릴산에스테르;Hydroxymethyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, 3-hydroxypropyl (meth)acrylate, 2-hydroxybutyl (meth)acrylate, (meth) ) Hydroxyl group-containing (meth)acrylic acid esters such as 3-hydroxybutyl acrylic acid and 4-hydroxybutyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산N-메틸아미노에틸 등의 치환 아미노기 함유 (메타)아크릴산에스테르 등을 들 수 있다. 여기서, 「치환 아미노기」란, 아미노기의 1개 또는 2개의 수소 원자가 수소 원자 이외의 기로 치환되어 이루어지는 기를 의미한다.And substituted amino group-containing (meth)acrylic acid esters such as N-methylaminoethyl (meth)acrylate. Here, the "substituted amino group" means a group obtained by substituting one or two hydrogen atoms of an amino group with a group other than a hydrogen atom.

아크릴계 수지는 예를 들면, 상기 (메타)아크릴산에스테르 이외에, (메타)아크릴산, 이타콘산, 초산비닐, 아크릴로니트릴, 스티렌, 및 N-메틸올아크릴아미드 등으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 모노머가 공중합하여 이루어지는 것이어도 된다.The acrylic resin is, for example, in addition to the (meth)acrylic acid ester, one or two or more monomers selected from (meth)acrylic acid, itaconic acid, vinyl acetate, acrylonitrile, styrene, and N-methylolacrylamide. May be formed by copolymerization.

아크릴계 수지를 구성하는 모노머는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The number of monomers constituting the acrylic resin may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

아크릴계 수지는 비닐기, (메타)아크릴로일기, 아미노기, 수산기, 카르복시기, 이소시아네이트기 등의 다른 화합물과 결합 가능한 관능기를 갖고 있어도 된다. 아크릴계 수지의 상기 관능기는 후술하는 가교제(F)를 개재하여 다른 화합물과 결합해도 되고, 가교제(F)를 개재하지 않고 다른 화합물과 직접 결합하고 있어도 된다. 아크릴계 수지가 상기 관능기에 의해 다른 화합물과 결합함으로써, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 얻어진 패키지의 신뢰성이 향상되는 경향이 있다.The acrylic resin may have a functional group bondable to other compounds such as a vinyl group, a (meth)acryloyl group, an amino group, a hydroxyl group, a carboxyl group, and an isocyanate group. The functional group of the acrylic resin may be bonded to another compound via a crosslinking agent (F) to be described later, or may be directly bonded to another compound without a crosslinking agent (F). When the acrylic resin is bonded to another compound by the functional group, the reliability of the package obtained by using the composite sheet for forming a protective film tends to be improved.

본 발명에 있어서는, 중합체 성분(A)으로서, 아크릴계 수지 이외의 열가소성 수지(이하, 단순히 「열가소성 수지」로 약기하는 경우가 있다)를, 아크릴계 수지를 사용하지 않고 단독으로 사용해도 되고, 아크릴계 수지와 병용해도 된다. 상기 열가소성 수지를 사용함으로써, 보호막의 지지 시트로부터의 박리성이 향상되거나, 피착체의 요철면에 열경화성 보호막 형성용 필름이 추종하기 쉬워져, 피착체와 열경화성 보호막 형성용 필름 사이에 보이드 등의 발생이 보다 억제되는 경우가 있다.In the present invention, as the polymer component (A), a thermoplastic resin other than an acrylic resin (hereinafter, simply abbreviated as ``thermoplastic resin'' may be used alone) without using an acrylic resin, or an acrylic resin and You may use it together. By using the thermoplastic resin, the peelability of the protective film from the support sheet is improved, or the film for forming a thermosetting protective film is easily followed on the uneven surface of the adherend, and voids, etc. are generated between the adherend and the film for forming a thermosetting protective film. It may be suppressed more than this.

상기 열가소성 수지의 중량 평균 분자량은 1000 이상 100000 이하인 것이 바람직하고, 3000 이상 80000 이하인 것이 보다 바람직하다. 여기서, 「중량 평균 분자량」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably 1000 or more and 100000 or less, and more preferably 3000 or more and 80000 or less. Here, the "weight average molecular weight" is as previously described.

상기 열가소성 수지의 유리 전이 온도(Tg)는 -30 이상 150℃ 이하인 것이 바람직하고, -20 이상 120℃ 이하인 것이 보다 바람직하다.The glass transition temperature (Tg) of the thermoplastic resin is preferably -30 or more and 150°C or less, and more preferably -20 or more and 120°C or less.

상기 열가소성 수지로는 예를 들면, 폴리에스테르, 폴리우레탄, 페녹시 수지, 폴리부텐, 폴리부타디엔, 폴리스티렌 등을 들 수 있다.Examples of the thermoplastic resin include polyester, polyurethane, phenoxy resin, polybutene, polybutadiene, and polystyrene.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 상기 열가소성 수지는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The thermoplastic resin contained in the composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof may be arbitrarily selected.

조성물(III-1)에 있어서, 용매 이외의 모든 성분의 총 함유량에 대한 중합체 성분(A)의 함유량의 비율(즉, 열경화성 보호막 형성용 필름의 중합체 성분(A)의 함유량)은, 중합체 성분(A)의 종류에 상관없이, 5질량% 이상 85질량% 이하인 것이 바람직하고, 5질량% 이상 80질량% 이하인 것이 보다 바람직하다.In the composition (III-1), the ratio of the content of the polymer component (A) to the total content of all components other than the solvent (that is, the content of the polymer component (A) of the film for forming a thermosetting protective film) is the polymer component ( Regardless of the type of A), it is preferably 5% by mass or more and 85% by mass or less, and more preferably 5% by mass or more and 80% by mass or less.

중합체 성분(A)은 열경화성 성분(B)에도 해당하는 경우가 있다. 본 발명에 있어서는, 조성물(III-1)이 이러한 중합체 성분(A) 및 열경화성 성분(B)의 양쪽에 해당하는 성분을 함유하는 경우, 조성물(III-1)은 중합체 성분(A) 및 열경화성 성분(B)을 함유한다고 간주한다.The polymer component (A) may also correspond to the thermosetting component (B). In the present invention, when the composition (III-1) contains components corresponding to both the polymer component (A) and the thermosetting component (B), the composition (III-1) is the polymer component (A) and the thermosetting component It is considered to contain (B).

[열경화성 성분(B)][Thermosetting component (B)]

열경화성 성분(B)은 열경화성 보호막 형성용 필름을 경화시켜, 경질의 보호막을 형성하기 위한 성분이다.The thermosetting component (B) is a component for forming a hard protective film by curing the film for forming a thermosetting protective film.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 열경화성 성분(B)은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the thermosetting component (B) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

열경화성 성분(B)으로는 예를 들면, 에폭시계 열경화성 수지, 열경화성 폴리이미드, 폴리우레탄, 불포화 폴리에스테르, 실리콘 수지 등을 들 수 있고, 에폭시계 열경화성 수지가 바람직하다.Examples of the thermosetting component (B) include epoxy-based thermosetting resins, thermosetting polyimides, polyurethanes, unsaturated polyesters, and silicone resins, and epoxy-based thermosetting resins are preferred.

(에폭시계 열경화성 수지)(Epoxy thermosetting resin)

에폭시계 열경화성 수지는 에폭시 수지(B1) 및 열경화제(B2)로 이루어진다.The epoxy-based thermosetting resin consists of an epoxy resin (B1) and a thermosetting agent (B2).

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 에폭시계 열경화성 수지는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the epoxy-based thermosetting resin contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

·에폭시 수지(B1)Epoxy resin (B1)

에폭시 수지(B1)로는, 공지의 것을 들 수 있고, 예를 들면, 다관능계 에폭시 수지, 비페닐 화합물, 비스페놀A 디글리시딜에테르 및 그 수첨물, 오쏘크레졸노볼락 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 페닐렌 골격형 에폭시 수지 등, 2관능 이상의 에폭시 화합물을 들 수 있다. Examples of the epoxy resin (B1) include known ones, and examples thereof include polyfunctional epoxy resins, biphenyl compounds, bisphenol A diglycidyl ethers and their hydrogenated products, orthocresol novolac epoxy resins, dicyclopenta Diene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenylene skeleton type epoxy resin, and other bifunctional or higher epoxy compounds.

에폭시 수지(B1)로는, 불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지를 사용해도 된다. 불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지는 불포화 탄화수소기를 갖지 않는 에폭시 수지보다 아크릴계 수지와의 상용성이 높다. 이 때문에, 불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지를 사용함으로써, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩의 신뢰성이 향상된다.As the epoxy resin (B1), an epoxy resin having an unsaturated hydrocarbon group may be used. Epoxy resin having an unsaturated hydrocarbon group has higher compatibility with an acrylic resin than an epoxy resin having no unsaturated hydrocarbon group. For this reason, by using an epoxy resin having an unsaturated hydrocarbon group, the reliability of a semiconductor chip with a protective film obtained using a composite sheet for forming a protective film is improved.

불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지로는 예를 들면, 다관능계 에폭시 수지의 에폭시기의 일부가 불포화 탄화수소기를 갖는 기로 변환되어 이루어지는 화합물을 들 수 있다. 이러한 화합물은 예를 들면, 에폭시기에 (메타)아크릴산 또는 그 유도체를 부가 반응시킴으로써 얻어진다. Examples of the epoxy resin having an unsaturated hydrocarbon group include a compound obtained by converting a part of the epoxy group of a polyfunctional epoxy resin into a group having an unsaturated hydrocarbon group. Such a compound is obtained, for example, by adding (meth)acrylic acid or a derivative thereof to an epoxy group.

또한, 불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지로는 예를 들면, 에폭시 수지를 구성하는 방향 고리 등에 불포화 탄화수소기를 갖는 기가 직접 결합한 화합물 등을 들 수 있다. In addition, examples of the epoxy resin having an unsaturated hydrocarbon group include compounds in which a group having an unsaturated hydrocarbon group is directly bonded to the aromatic ring constituting the epoxy resin.

불포화 탄화수소기는 중합성을 갖는 불포화기이며, 그 구체적인 예로는, 에테닐기(비닐기), 2-프로페닐기(알릴기), (메타)아크릴로일기, (메타)아크릴아미드기 등을 들 수 있고, 아크릴로일기가 바람직하다.The unsaturated hydrocarbon group is a polymerizable unsaturated group, and specific examples thereof include ethenyl group (vinyl group), 2-propenyl group (allyl group), (meth)acryloyl group, (meth)acrylamide group, and the like. And an acryloyl group is preferable.

에폭시 수지(B1)의 수평균 분자량은 특별히 한정되지 않으나, 열경화성 보호막 형성용 필름의 경화성과, 경화 후 보호막의 강도 및 내열성의 점에서, 300 이상 30000 이하인 것이 바람직하고, 300 이상 10000 이하인 것이 보다 바람직하며, 300 이상 3000 이하인 것이 특히 바람직하다.The number average molecular weight of the epoxy resin (B1) is not particularly limited, but in terms of curability of the film for forming a thermosetting protective film, strength and heat resistance of the protective film after curing, it is preferably 300 or more and 30000 or less, and more preferably 300 or more and 10000 or less. And it is particularly preferably 300 or more and 3000 or less.

에폭시 수지(B1)의 에폭시 당량은 100g/eq 이상 1000g/eq 이하인 것이 바람직하고, 150g/eq 이상 950g/eq 이하인 것이 보다 바람직하다.The epoxy equivalent of the epoxy resin (B1) is preferably 100 g/eq or more and 1000 g/eq or less, and more preferably 150 g/eq or more and 950 g/eq or less.

에폭시 수지(B1)는 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 되며, 2종 이상을 병용하는 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. As for the epoxy resin (B1), 1 type may be used individually, 2 or more types may be used together, and when 2 or more types are used together, these combinations and ratios can be selected arbitrarily.

·열경화제(B2)·Heat curing agent (B2)

열경화제(B2)는 에폭시 수지(B1)에 대한 경화제로서 기능한다.The thermal curing agent (B2) functions as a curing agent for the epoxy resin (B1).

열경화제(B2)로는 예를 들면, 1분자 중에 에폭시기와 반응할 수 있는 관능기를 2개 이상 갖는 화합물을 들 수 있다. 상기 관능기로는 예를 들면, 페놀성 수산기, 알코올성 수산기, 아미노기, 카르복시기, 산기가 무수물화된 기 등을 들 수 있고, 페놀성 수산기, 아미노기, 또는 산기가 무수물화된 기인 것이 바람직하며, 페놀성 수산기 또는 아미노기인 것이 보다 바람직하다. Examples of the thermosetting agent (B2) include a compound having two or more functional groups capable of reacting with an epoxy group per molecule. Examples of the functional group include a phenolic hydroxyl group, an alcoholic hydroxyl group, an amino group, a carboxyl group, a group in which an acid group is anhydride, and the like, and a phenolic hydroxyl group, an amino group, or an acid group is preferably an anhydride group. It is more preferable that it is a hydroxyl group or an amino group.

열경화제(B2) 중, 페놀성 수산기를 갖는 페놀계 경화제로는 예를 들면, 다관능 페놀 수지, 비페놀, 노볼락형 페놀 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 아랄킬형 페놀 수지 등을 들 수 있다.Among the thermal curing agents (B2), examples of the phenolic curing agent having a phenolic hydroxyl group include polyfunctional phenol resins, biphenols, novolac type phenol resins, dicyclopentadiene type phenol resins, aralkyl type phenol resins, and the like. I can.

열경화제(B2) 중, 아미노기를 갖는 아민계 경화제로는 예를 들면, 디시안디아미드(이하, 「DICY」로 약기하는 경우가 있다) 등을 들 수 있다.Among the thermal curing agents (B2), examples of the amine curing agent having an amino group include dicyandiamide (hereinafter sometimes abbreviated as “DICY”) and the like.

열경화제(B2)는 불포화 탄화수소기를 갖는 것이어도 된다. The thermosetting agent (B2) may have an unsaturated hydrocarbon group.

불포화 탄화수소기를 갖는 열경화제(B2)로는 예를 들면, 페놀 수지의 수산기의 일부가 불포화 탄화수소기를 갖는 기로 치환되어 이루어지는 화합물, 페놀 수지의 방향 고리에 불포화 탄화수소기를 갖는 기가 직접 결합하여 이루어지는 화합물 등을 들 수 있다. Examples of the thermosetting agent (B2) having an unsaturated hydrocarbon group include compounds obtained by substituting a part of the hydroxyl group of a phenol resin with a group having an unsaturated hydrocarbon group, and a compound obtained by directly bonding a group having an unsaturated hydrocarbon group to the aromatic ring of the phenol resin I can.

열경화제(B2)에 있어서의 상기 불포화 탄화수소기는 상술한 불포화 탄화수소기를 갖는 에폭시 수지에 있어서의 불포화 탄화수소기와 동일한 것이다.The unsaturated hydrocarbon group in the thermosetting agent (B2) is the same as the unsaturated hydrocarbon group in the epoxy resin having the above-described unsaturated hydrocarbon group.

열경화제(B2)로서 페놀계 경화제를 사용하는 경우에는, 보호막의 지지 시트로부터의 박리성이 향상되는 점에서, 열경화제(B2)는 연화점 또는 유리 전이 온도가 높은 것이 바람직하다.When a phenolic curing agent is used as the thermal curing agent (B2), it is preferable that the thermal curing agent (B2) has a high softening point or glass transition temperature from the viewpoint of improving the peelability of the protective film from the supporting sheet.

열경화제(B2) 중 예를 들면, 다관능 페놀 수지, 노볼락형 페놀 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 아랄킬형 페놀 수지 등의 수지 성분의 수평균 분자량은 300 이상 30000 이하인 것이 바람직하고, 400 이상 10000 이하인 것이 보다 바람직하며, 500 이상 3000 이하인 것이 특히 바람직하다.Among the thermosetting agents (B2), for example, the number average molecular weight of resin components such as polyfunctional phenol resin, novolak type phenol resin, dicyclopentadiene type phenol resin, and aralkyl type phenol resin is preferably 300 or more and 30000 or less, It is more preferable that it is 400 or more and 10000 or less, and it is especially preferable that it is 500 or more and 3000 or less.

열경화제(B2) 중 예를 들면, 비페놀, 디시안디아미드 등의 비수지 성분의 분자량은 특별히 한정되지 않으나 예를 들면, 60 이상 500 이하인 것이 바람직하다.Among the thermosetting agents (B2), for example, the molecular weight of the non-resin component such as biphenol and dicyandiamide is not particularly limited, but, for example, it is preferably 60 or more and 500 or less.

열경화제(B2)는 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 되며, 2종 이상을 병용하는 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The thermosetting agent (B2) may be used singly or in combination of two or more, and when two or more of them are used in combination, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 열경화제(B2)의 함유량은 에폭시 수지(B1)의 함유량 100질량부에 대해, 0.1질량부 이상 500질량부 이하인 것이 바람직하고, 1질량부 이상 200질량부 이하인 것이 보다 바람직하다. 열경화제(B2)의 상기 함유량이 상기 하한값 이상임으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 경화가 보다 진행되기 쉬워진다. 또한, 열경화제(B2)의 상기 함유량이 상기 상한값 이하임으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 흡습율이 저감되고, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 얻어진 패키지의 신뢰성이 보다 향상된다.In the composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film, the content of the thermosetting agent (B2) is preferably 0.1 parts by mass or more and 500 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the epoxy resin (B1) content, and 1 mass. It is more preferable that it is at least 200 parts by mass. When the content of the thermosetting agent (B2) is equal to or greater than the lower limit, the curing of the film for forming a thermosetting protective film is more likely to proceed. Further, when the content of the thermosetting agent (B2) is equal to or less than the upper limit, the moisture absorption rate of the film for forming a thermosetting protective film is reduced, and the reliability of the package obtained by using the composite sheet for forming a protective film is further improved.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 열경화성 성분(B)의 함유량(예를 들면, 에폭시 수지(B1) 및 열경화제(B2)의 총 함유량)은, 중합체 성분(A)의 함유량 100질량부에 대해, 20질량부 이상 500질량부 이하인 것이 바람직하고, 30질량부 이상 300질량부 이하인 것이 보다 바람직하며, 40질량부 이상 150질량부 이하인 것이 특히 바람직하다. 열경화성 성분(B)의 상기 함유량이 이러한 범위임으로써, 보호막과 지지 시트의 접착력이 억제되어, 지지 시트의 박리성이 향상된다.In the composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film, the content of the thermosetting component (B) (for example, the total content of the epoxy resin (B1) and the thermosetting agent (B2)) is the polymer component (A). It is preferably 20 parts by mass or more and 500 parts by mass or less, more preferably 30 parts by mass or more and 300 parts by mass or less, and particularly preferably 40 parts by mass or more and 150 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the content. When the content of the thermosetting component (B) is within such a range, the adhesive force between the protective film and the supporting sheet is suppressed, and the peelability of the supporting sheet is improved.

[경화 촉진제(C)][Hardening accelerator (C)]

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은 경화 촉진제(C)를 함유하고 있어도 된다. 경화 촉진제(C)는 조성물(III-1)의 경화 속도를 조정하기 위한 성분이다. The composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain a curing accelerator (C). The curing accelerator (C) is a component for adjusting the curing rate of the composition (III-1).

바람직한 경화 촉진제(C)로는 예를 들면, 트리에틸렌디아민, 벤질디메틸아민, 트리에탄올아민, 디메틸아미노에탄올, 트리스(디메틸아미노메틸)페놀 등의 3차 아민; 2-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-히드록시메틸이미다졸 등의 이미다졸류(1개 이상의 수소 원자가 수소 원자 이외의 기로 치환된 이미다졸); 트리부틸포스핀, 디페닐포스핀, 트리페닐포스핀 등의 유기 포스핀류(1개 이상의 수소 원자가 유기기로 치환된 포스핀); 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 트리페닐포스핀테트라페닐보레이트 등의 테트라페닐보론염 등을 들 수 있다.Preferred curing accelerators (C) include tertiary amines such as triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, and tris(dimethylaminomethyl)phenol; 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5 Imidazoles such as hydroxymethylimidazole (imidazole in which at least one hydrogen atom is substituted with a group other than a hydrogen atom); Organic phosphines such as tributylphosphine, diphenylphosphine, and triphenylphosphine (phosphine in which at least one hydrogen atom is substituted with an organic group); Tetraphenyl boron salts, such as tetraphenyl phosphonium tetraphenyl borate and triphenyl phosphine tetraphenyl borate, etc. are mentioned.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 경화 촉진제(C)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the curing accelerator (C) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

경화 촉진제(C)를 사용하는 경우, 조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 경화 촉진제(C)의 함유량은 열경화성 성분(B)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01질량부 이상 10질량부 이하인 것이 바람직하고, 0.1질량부 이상 7질량부 이하인 것이 보다 바람직하다. 경화 촉진제(C)의 상기 함유량이 상기 하한값 이상임으로써, 경화 촉진제(C)를 사용한 것에 의한 효과가 보다 현저히 얻어진다. 또한, 경화 촉진제(C)의 함유량이 상기 상한값 이하임으로써, 예를 들면, 고극성 경화 촉진제(C)가 고온·고습도 조건하에서 열경화성 보호막 형성용 필름 중에 있어서, 피착체와의 접착 계면측으로 이동하여 편석하는 것을 억제하는 효과가 높아져, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩의 신뢰성이 보다 향상된다.When using a curing accelerator (C), in the composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film, the content of the curing accelerator (C) is 0.01 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the thermosetting component (B). It is preferably 10 parts by mass or less, and more preferably 0.1 parts by mass or more and 7 parts by mass or less. When the content of the curing accelerator (C) is more than the lower limit, the effect of using the curing accelerator (C) is more remarkably obtained. In addition, when the content of the curing accelerator (C) is less than or equal to the above upper limit, for example, the high polarity curing accelerator (C) moves to the adhesive interface side with the adherend in the film for forming a thermosetting protective film under high temperature and high humidity conditions. The effect of suppressing segregation increases, and the reliability of the semiconductor chip with the protective film obtained by using the composite sheet for forming a protective film is further improved.

[충전재(D)][Filling material (D)]

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은 충전재(D)를 함유하고 있어도 된다. 열경화성 보호막 형성용 필름이 충전재(D)를 함유함으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻어진 보호막은 열팽창 계수의 조정이 용이해지며, 이 열팽창 계수를 보호막의 형성 대상물에 대해 최적화함으로써, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하여 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩의 신뢰성이 보다 향상된다. 또한, 열경화성 보호막 형성용 필름이 충전재(D)를 함유함으로써, 보호막의 흡습률을 저감하거나 방열성을 향상시킬 수도 있다. The composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain a filler (D). Since the film for forming a thermosetting protective film contains the filler (D), the protective film obtained by curing the film for forming a thermosetting protective film makes it easy to adjust the coefficient of thermal expansion, and by optimizing the coefficient of thermal expansion for the object to be formed, for forming a protective film. The reliability of the semiconductor chip with the protective film obtained by using the composite sheet is further improved. Further, when the film for forming a thermosetting protective film contains the filler (D), the moisture absorption rate of the protective film may be reduced or the heat dissipation property may be improved.

충전재(D)는 유기 충전재 및 무기 충전재 중 어느 것이어도 되나, 무기 충전재인 것이 바람직하다. Although any of an organic filler and an inorganic filler may be sufficient as the filler (D), it is preferable that it is an inorganic filler.

바람직한 무기 충전재로는 예를 들면, 실리카, 알루미나, 탤크, 탄산칼슘, 티탄 화이트, 벵갈라, 탄화규소, 질화붕소 등의 분말; 이들 무기 충전재를 구형화한 비즈; 이들 무기 충전재의 표면 개질품; 이들 무기 충전재의 단결정 섬유; 유리 섬유 등을 들 수 있다. Preferred inorganic fillers include powders such as silica, alumina, talc, calcium carbonate, titanium white, bengala, silicon carbide and boron nitride; Beads in which these inorganic fillers are spheroidized; Surface modified products of these inorganic fillers; Single crystal fibers of these inorganic fillers; Glass fiber, etc. are mentioned.

이들 중에서도, 무기 충전재는 실리카 또는 알루미나인 것이 바람직하다. Among these, the inorganic filler is preferably silica or alumina.

충전재(D)의 평균 입자 직경은 10㎛ 이하가 바람직하다. 10㎛ 이하의 평균 입자 직경으로 함으로써, 보호막 형성용 필름 및 보호막의 상 선명도를 110 이상으로 조정하는 것이 용이해진다. 상 선명도를 보다 향상시키기 위해서는, 충전재(D)의 평균 입자 직경은 6㎛ 이하가 보다 바람직하다.The average particle diameter of the filler (D) is preferably 10 µm or less. By setting it as the average particle diameter of 10 micrometers or less, it becomes easy to adjust the image sharpness of the film for protective film formation and a protective film to 110 or more. In order to further improve image clarity, the average particle diameter of the filler (D) is more preferably 6 µm or less.

충전재가 큰 경우, 상 선명도는 저하되는 경향이 되며, 입자 직경이 작아도 광의 확산에 의해 선명도는 저하되는 경향이 있다.When the filler is large, the image clarity tends to decrease, and even if the particle diameter is small, the clarity tends to decrease due to diffusion of light.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 충전재(D)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the filler (D) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

충전재(D)를 사용하는 경우, 조성물(III-1)에 있어서, 용매 이외의 모든 성분의 총 함유량에 대한 충전재(D)의 함유량의 비율(즉, 열경화성 보호막 형성용 필름의 충전재(D)의 함유량)은, 5질량% 이상 80질량% 이하인 것이 바람직하고, 7질량% 이상 60질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 15질량부 이상 60질량부 이하인 것이 특히 바람직하다. 충전재(D)의 함유량이 이러한 범위임으로써, 상기 열팽창 계수의 조정이 보다 용이해짐으로써 신뢰성이 높은 칩을 제조 가능하고, 상 선명도를 원하는 범위로 하는 것이 가능해진다. 또한, 충전재(D)가 80질량%를 초과하는 양을 함유하는 경우, 충전재(D)의 입자 직경에 따라 다르나, 상 선명도가 저하되는 경향이 있다.When using the filler (D), in the composition (III-1), the ratio of the content of the filler (D) to the total content of all components other than the solvent (that is, the filler (D) of the film for forming a thermosetting protective film) Content) is preferably 5% by mass or more and 80% by mass or less, more preferably 7% by mass or more and 60% by mass or less, and particularly preferably 15 parts by mass or more and 60% by mass or less. When the content of the filler (D) is within such a range, it becomes possible to manufacture a highly reliable chip by making it easier to adjust the thermal expansion coefficient, and to set the image sharpness to a desired range. In addition, when the filler (D) contains an amount exceeding 80% by mass, depending on the particle diameter of the filler (D), the image sharpness tends to decrease.

[커플링제(E)][Coupling agent (E)]

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은 커플링제(E)를 함유하고 있어도 된다. 커플링제(E)로서 무기 화합물 또는 유기 화합물과 반응 가능한 관능기를 갖는 것을 사용함으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 피착체에 대한 접착성 및 밀착성을 향상시킬 수 있다. 또한, 커플링제(E)를 사용함으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻어진 막은, 내열성을 저해하지 않고 내수성이 향상된다. The composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain a coupling agent (E). By using a coupling agent (E) having a functional group capable of reacting with an inorganic compound or an organic compound, the adhesion and adhesion of the film for forming a thermosetting protective film to an adherend can be improved. Further, by using the coupling agent (E), the film obtained by curing the film for forming a thermosetting protective film has improved water resistance without impairing heat resistance.

커플링제(E)는 중합체 성분(A), 열경화성 성분(B) 등이 갖는 관능기와 반응 가능한 관능기를 갖는 화합물인 것이 바람직하고, 실란 커플링제인 것이 보다 바람직하다.The coupling agent (E) is preferably a compound having a functional group capable of reacting with a functional group of the polymer component (A), the thermosetting component (B), and the like, and more preferably a silane coupling agent.

바람직한 상기 실란 커플링제로는 예를 들면, 3-글리시딜옥시프로필트리메톡시실란, 3-글리시딜옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-글리시딜옥시프로필트리에톡시실란, 3-글리시딜옥시메틸디에톡시실란, 2-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, 3-메타크릴로일옥시프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-(2-아미노에틸아미노)프로필트리메톡시실란, 3-(2-아미노에틸아미노)프로필메틸디에톡시실란, 3-(페닐아미노)프로필트리메톡시실란, 3-아닐리노프로필트리메톡시실란, 3-우레이도프로필트리에톡시실란, 3-메르캅토프로필트리메톡시실란, 3-메르캅토프로필메틸디메톡시실란, 비스(3-트리에톡시실릴프로필)테트라설판, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리아세톡시실란, 이미다졸실란 등을 들 수 있다. Preferred silane coupling agents include, for example, 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidyloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-glycidyloxypropyltriethoxysilane, and 3-glycidyloxypropyltrimethoxysilane. Cidyloxymethyldiethoxysilane, 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, 3-methacryloyloxypropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-( 2-aminoethylamino)propyltrimethoxysilane, 3-(2-aminoethylamino)propylmethyldiethoxysilane, 3-(phenylamino)propyltrimethoxysilane, 3-anilinopropyltrimethoxysilane, 3 -Ureidopropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, bis(3-triethoxysilylpropyl)tetrasulfane, methyltrimethoxysilane, methyltri Ethoxysilane, vinyl trimethoxysilane, vinyl triacetoxysilane, imidazole silane, etc. are mentioned.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 커플링제(E)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the coupling agent (E) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

커플링제(E)를 사용하는 경우, 조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 커플링제(E)의 함유량은 중합체 성분(A) 및 열경화성 성분(B)의 총 함유량 100질량부에 대해, 0.03질량부 이상 20질량부 이하인 것이 바람직하고, 0.05질량부 이상 10질량부 이하인 것이 보다 바람직하며, 0.1질량부 이상 5질량부 이하인 것이 특히 바람직하다. 커플링제(E)의 상기 함유량이 상기 하한값 이상임으로써, 충전재(D)의 수지에 대한 분산성의 향상이나, 열경화성 보호막 형성용 필름의 피착체와의 접착성의 향상 등, 커플링제(E)를 사용한 것에 의한 효과가 보다 현저히 얻어진다. 또한, 커플링제(E)의 상기 함유량이 상기 상한값 이하임으로써, 아웃 가스의 발생이 보다 억제된다.When a coupling agent (E) is used, in the composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film, the content of the coupling agent (E) is 100 parts by mass of the total content of the polymer component (A) and the thermosetting component (B). Relatively, it is preferably 0.03 parts by mass or more and 20 parts by mass or less, more preferably 0.05 parts by mass or more and 10 parts by mass or less, and particularly preferably 0.1 parts by mass or more and 5 parts by mass or less. When the content of the coupling agent (E) is equal to or greater than the lower limit, the use of the coupling agent (E), such as improving the dispersibility of the filler (D) in the resin, or improving the adhesion to the adherend of the film for forming a thermosetting protective film. The effect is obtained more remarkably. In addition, when the content of the coupling agent (E) is equal to or less than the upper limit, generation of outgas is further suppressed.

[가교제(F)][Crosslinking agent (F)]

중합체 성분(A)으로서, 상술한 아크릴계 수지 등의 다른 화합물과 결합 가능한 비닐기, (메타)아크릴로일기, 아미노기, 수산기, 카르복시기, 이소시아네이트기 등의 관능기를 갖는 것을 사용하는 경우, 조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은 상기 관능기를 다른 화합물과 결합시켜 가교하기 위한 가교제(F)를 함유하고 있어도 된다. 가교제(F)를 사용하여 가교함으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 초기 접착력 및 응집력을 조절할 수 있다.When using a polymer component (A) having a functional group such as a vinyl group, a (meth)acryloyl group, an amino group, a hydroxyl group, a carboxyl group, an isocyanate group, which can be bonded to other compounds such as the acrylic resin described above, is used, the composition (III- 1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain a crosslinking agent (F) for crosslinking by bonding the functional group with another compound. By crosslinking using the crosslinking agent (F), the initial adhesive force and cohesive force of the film for forming a thermosetting protective film can be adjusted.

가교제(F)로는 예를 들면, 유기 다가 이소시아네이트 화합물, 유기 다가 이민 화합물, 금속 킬레이트계 가교제(금속 킬레이트 구조를 갖는 가교제), 아지리딘계 가교제(아지리디닐기를 갖는 가교제) 등을 들 수 있다.Examples of the crosslinking agent (F) include an organic polyvalent isocyanate compound, an organic polyvalent imine compound, a metal chelate type crosslinking agent (a crosslinking agent having a metal chelate structure), an aziridine type crosslinking agent (a crosslinking agent having an aziridinyl group), and the like.

상기 유기 다가 이소시아네이트 화합물로는 예를 들면, 방향족 다가 이소시아네이트 화합물, 지방족 다가 이소시아네이트 화합물, 및 지환족 다가 이소시아네이트 화합물(이하, 이들 화합물을 포괄하여 「방향족 다가 이소시아네이트 화합물 등」으로 약기하는 경우가 있다); 상기 방향족 다가 이소시아네이트 화합물 등의 삼량체, 이소시아누레이트체, 및 어덕트체; 상기 방향족 다가 이소시아네이트 화합물 등과 폴리올 화합물을 반응시켜 얻어지는 말단 이소시아네이트 우레탄 프리폴리머 등을 들 수 있다. 상기 「어덕트체」는 상기 방향족 다가 이소시아네이트 화합물, 지방족 다가 이소시아네이트 화합물, 또는 지환족 다가 이소시아네이트 화합물과, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 네오펜틸글리콜, 트리메틸올프로판, 또는 피마자유 등의 저분자 활성 수소 함유 화합물의 반응물을 의미하고, 그 예로는 후술하는 트리메틸올프로판의 자일릴렌디이소시아네이트 부가물 등을 들 수 있다. 또한, 「말단 이소시아네이트 우레탄 프리폴리머」란, 앞서 설명한 바와 같다.As the organic polyvalent isocyanate compound, for example, an aromatic polyvalent isocyanate compound, an aliphatic polyvalent isocyanate compound, and an alicyclic polyvalent isocyanate compound (hereinafter, these compounds may be included and abbreviated as "aromatic polyvalent isocyanate compound etc." in some cases); Trimers, isocyanurates, and adducts such as the above aromatic polyvalent isocyanate compounds; And a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting the above aromatic polyvalent isocyanate compound and the like with a polyol compound. The ``adduct body'' is an aromatic polyvalent isocyanate compound, an aliphatic polyvalent isocyanate compound, or an alicyclic polyvalent isocyanate compound, and a low-molecular active hydrogen-containing compound such as ethylene glycol, propylene glycol, neopentyl glycol, trimethylolpropane, or castor oil. It means a reaction product of, and examples thereof include a xylylene diisocyanate adduct of trimethylolpropane described later, and the like. In addition, "terminal isocyanate urethane prepolymer" is as described above.

상기 유기 다가 이소시아네이트 화합물로서 보다 구체적으로는, 예를 들면, 2,4-톨릴렌디이소시아네이트; 2,6-톨릴렌디이소시아네이트; 1,3-자일릴렌디이소시아네이트; 1,4-자일렌디이소시아네이트; 디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트; 디페닐메탄-2,4'-디이소시아네이트; 3-메틸디페닐메탄디이소시아네이트; 헥사메틸렌디이소시아네이트; 이소포론디이소시아네이트; 디시클로헥실메탄-4,4'-디이소시아네이트; 디시클로헥실메탄-2,4'-디이소시아네이트; 트리메틸올프로판 등의 폴리올의 전부 또는 일부의 수산기에 톨릴렌디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 및 자일릴렌디이소시아네이트 중 어느 1종 또는 2종 이상이 부가된 화합물; 리신디이소시아네이트 등을 들 수 있다. More specifically as said organic polyvalent isocyanate compound, For example, 2,4-tolylene diisocyanate; 2,6-tolylene diisocyanate; 1,3-xylylene diisocyanate; 1,4-xylene diisocyanate; Diphenylmethane-4,4'-diisocyanate; Diphenylmethane-2,4'-diisocyanate; 3-methyldiphenylmethane diisocyanate; Hexamethylene diisocyanate; Isophorone diisocyanate; Dicyclohexylmethane-4,4'-diisocyanate; Dicyclohexylmethane-2,4'-diisocyanate; Compounds in which any one or two or more of tolylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, and xylylene diisocyanate are added to all or part of the hydroxyl groups of polyols such as trimethylolpropane; Lysine diisocyanate, etc. are mentioned.

상기 유기 다가 이민 화합물로는 예를 들면, N,N'-디페닐메탄-4,4'-비스(1-아지리딘카르복시아미드), 트리메틸올프로판-트리-β-아지리디닐프로피오네이트, 테트라메틸올메탄-트리-β-아지리디닐프로피오네이트, N,N'-톨루엔-2,4-비스(1-아지리딘카르복시아미드)트리에틸렌멜라민 등을 들 수 있다. Examples of the organic polyvalent imine compound include N,N'-diphenylmethane-4,4'-bis(1-aziridinecarboxyamide), trimethylolpropane-tri-β-aziridinylpropionate, Tetramethylolmethane-tri-β-aziridinylpropionate, N,N'-toluene-2,4-bis(1-aziridinecarboxyamide)triethylene melamine, and the like.

가교제(F)로서 유기 다가 이소시아네이트 화합물을 사용하는 경우, 중합체 성분(A)으로는 수산기 함유 중합체를 사용하는 것이 바람직하다. 가교제(F)가 이소시아네이트기를 갖고 중합체 성분(A)이 수산기를 갖는 경우, 가교제(F)와 중합체 성분(A)의 반응에 의해, 열경화성 보호막 형성용 필름에 가교 구조를 간편하게 도입할 수 있다.When an organic polyvalent isocyanate compound is used as the crosslinking agent (F), it is preferable to use a hydroxyl group-containing polymer as the polymer component (A). When the crosslinking agent (F) has an isocyanate group and the polymer component (A) has a hydroxyl group, a crosslinked structure can be conveniently introduced into the film for forming a thermosetting protective film by reaction of the crosslinking agent (F) and the polymer component (A).

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 가교제(F)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the crosslinking agent (F) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

가교제(F)를 사용하는 경우, 조성물(III-1)에 있어서 가교제(F)의 함유량은 중합체 성분(A)의 함유량 100질량부에 대해, 0.01질량부 이상 20질량부 이하인 것이 바람직하고, 0.1질량부 이상 10질량부 이하인 것이 보다 바람직하며, 0.5질량부 이상 5질량부 이하인 것이 특히 바람직하다. 가교제(F)의 상기 함유량이 상기 하한값 이상임으로써, 가교제(F)를 사용한 것에 의한 효과가 보다 현저히 얻어진다. 또한, 가교제(F)의 상기 함유량이 상기 상한값 이하임으로써, 가교제(F)의 과잉 사용이 억제된다.In the case of using the crosslinking agent (F), the content of the crosslinking agent (F) in the composition (III-1) is preferably 0.01 parts by mass or more and 20 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the polymer component (A). It is more preferable that it is more than 10 mass parts by mass and it is especially preferable that it is 0.5 mass parts or more and 5 mass parts or less. When the content of the crosslinking agent (F) is more than the lower limit, the effect of using the crosslinking agent (F) is more remarkably obtained. Further, when the content of the crosslinking agent (F) is equal to or less than the upper limit, excessive use of the crosslinking agent (F) is suppressed.

[에너지선 경화성 수지(G)][Energy ray curable resin (G)]

조성물(III-1)은 에너지선 경화성 수지(G)를 함유하고 있어도 된다. 열경화성 보호막 형성용 필름은 에너지선 경화성 수지(G)를 함유함으로써, 에너지선 조사에 의해 특성을 변화시킬 수 있다.The composition (III-1) may contain an energy ray-curable resin (G). Since the film for thermosetting protective film formation contains an energy ray-curable resin (G), the characteristic can be changed by energy ray irradiation.

에너지선 경화성 수지(G)는 에너지선 경화성 화합물을 중합(경화)하여 얻어진 것이다. The energy ray-curable resin (G) is obtained by polymerizing (curing) an energy ray-curable compound.

상기 에너지선 경화성 화합물로는 예를 들면, 분자 내에 적어도 1개의 중합성 이중 결합을 갖는 화합물을 들 수 있고, (메타)아크릴로일기를 갖는 아크릴레이트계 화합물이 바람직하다.Examples of the energy ray-curable compound include a compound having at least one polymerizable double bond in the molecule, and an acrylate compound having a (meth)acryloyl group is preferable.

상기 아크릴레이트계 화합물로는 예를 들면, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄테트라(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨모노히드록시펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메타)아크릴레이트, 1,4-부틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메타)아크릴레이트 등의 사슬형 지방족 골격 함유 (메타)아크릴레이트; 디시클로펜타닐디(메타)아크릴레이트 등의 고리형 지방족 골격 함유 (메타)아크릴레이트; 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트 등의 폴리알킬렌글리콜(메타)아크릴레이트; 올리고에스테르(메타)아크릴레이트; 우레탄(메타)아크릴레이트 올리고머; 에폭시 변성 (메타)아크릴레이트; 상기 폴리알킬렌글리콜(메타)아크릴레이트 이외의 폴리에테르(메타)아크릴레이트; 이타콘산 올리고머 등을 들 수 있다.Examples of the acrylate-based compound include trimethylolpropane tri(meth)acrylate, tetramethylolmethane tetra(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, Dipentaerythritol monohydroxypenta(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, 1,4-butylene glycol di(meth)acrylate, 1,6-hexanedioldi(meth)acrylate, etc. Chain-type aliphatic skeleton-containing (meth)acrylate; Cyclic aliphatic skeleton-containing (meth)acrylates such as dicyclopentanyldi(meth)acrylate; Polyalkylene glycol (meth)acrylates such as polyethylene glycol di(meth)acrylate; Oligoester (meth)acrylate; Urethane (meth)acrylate oligomers; Epoxy modified (meth)acrylate; Polyether (meth)acrylate other than the polyalkylene glycol (meth)acrylate; Itaconic acid oligomer, etc. are mentioned.

상기 에너지선 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 100 이상 30000 이하인 것이 바람직하고, 300 이상 10000 이하인 것이 보다 바람직하다. 여기서, 「중량 평균 분자량」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The weight average molecular weight of the energy ray-curable compound is preferably 100 or more and 30000 or less, and more preferably 300 or more and 10000 or less. Here, the "weight average molecular weight" is as previously described.

중합에 사용하는 상기 에너지선 경화성 화합물은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The energy ray-curable compound used for polymerization may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1)이 함유하는 에너지선 경화성 수지(G)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The energy ray-curable resin (G) contained in the composition (III-1) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1)에 있어서, 에너지선 경화성 수지(G)의 함유량은 1질량% 이상 95질량% 이하인 것이 바람직하고, 5질량% 이상 90질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 10질량% 이상 85질량% 이하인 것이 특히 바람직하다.In the composition (III-1), the content of the energy ray-curable resin (G) is preferably 1% by mass or more and 95% by mass or less, more preferably 5% by mass or more and 90% by mass or less, and 10% by mass or more and 85% by mass It is particularly preferable that it is less than or equal to %.

[광중합 개시제(H)][Photopolymerization initiator (H)]

조성물(III-1)은 에너지선 경화성 수지(G)를 함유하는 경우, 에너지선 경화성 수지(G)의 중합 반응을 효율적으로 진행하기 위해, 광중합 개시제(H)를 함유하고 있어도 된다.When the composition (III-1) contains an energy ray-curable resin (G), it may contain a photopolymerization initiator (H) in order to efficiently advance the polymerization reaction of the energy ray-curable resin (G).

조성물(III-1)에 있어서의 광중합 개시제(H)로는 예를 들면, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르, 벤조인벤조산, 벤조인벤조산메틸, 벤조인디메틸케탈 등의 벤조인 화합물; 아세토페논, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐-프로판-1-온, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온 등의 아세토페논 화합물; 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)페닐포스핀옥사이드, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드 등의 아실포스핀옥사이드 화합물; 벤질페닐설파이드, 테트라메틸티우람모노설파이드 등의 설파이드 화합물; 1-히드록시시클로헥실페닐케톤 등의 α-케톨 화합물; 아조비스이소부티로니트릴 등의 아조 화합물; 티타노센 등의 티타노센 화합물; 티옥산톤 등의 티옥산톤 화합물; 퍼옥사이드 화합물; 디아세틸 등의 디케톤 화합물; 벤질; 디벤질; 벤조페논; 2,4-디에틸티옥산톤; 1,2-디페닐메탄; 2-히드록시-2-메틸-1-[4-(1-메틸비닐)페닐]프로파논; 2-클로로안트라퀴논 등을 들 수 있다.As the photoinitiator (H) in the composition (III-1), for example, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin benzoic acid, benzoin Benzoin compounds such as methyl benzoate and benzoin dimethyl ketal; Acetophenone compounds such as acetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one, and 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethan-1-one; Acylphosphine oxide compounds such as bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)phenylphosphine oxide and 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide; Sulfide compounds such as benzylphenyl sulfide and tetramethylthiuram monosulfide; Α-ketol compounds such as 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone; Azo compounds such as azobisisobutyronitrile; Titanocene compounds such as titanocene; Thioxanthone compounds such as thioxanthone; Peroxide compounds; Diketone compounds such as diacetyl; benzyl; Dibenzyl; Benzophenone; 2,4-diethyl thioxanthone; 1,2-diphenylmethane; 2-hydroxy-2-methyl-1-[4-(1-methylvinyl)phenyl]propanone; 2-chloroanthraquinone, etc. are mentioned.

또한, 상기 광중합 개시제로는 예를 들면, 1-클로로안트라퀴논 등의 퀴논 화합물; 아민 등의 광증감제 등도 들 수 있다. Further, examples of the photopolymerization initiator include quinone compounds such as 1-chloroanthraquinone; Photosensitizers, such as amine, etc. are also mentioned.

조성물(III-1)이 함유하는 광중합 개시제(H)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The photopolymerization initiator (H) contained in the composition (III-1) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1)에 있어서, 광중합 개시제(H)의 함유량은 에너지선 경화성 수지(G)의 함유량 100질량부에 대해, 0.1질량부 이상 20질량부 이하인 것이 바람직하고, 1질량부 이상 10질량부 이하인 것이 보다 바람직하며, 2질량부 이상 5질량부 이하인 것이 특히 바람직하다.In the composition (III-1), the content of the photopolymerization initiator (H) is preferably 0.1 parts by mass or more and 20 parts by mass or less, and 1 parts by mass or more and 10 parts by mass based on 100 parts by mass of the content of the energy ray-curable resin (G). It is more preferable that it is less than a part, and it is especially preferable that it is 2 mass parts or more and 5 mass parts or less.

[착색제(I)][Coloring agent (I)]

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은, 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 착색제(I)를 함유하고 있어도 된다.The composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain the coloring agent (I) within a range that does not impair the effect of the invention.

착색제(I)로는 예를 들면, 무기계 안료, 유기계 안료, 유기계 염료 등 공지의 것을 들 수 있다. As the colorant (I), well-known things, such as an inorganic pigment, an organic pigment, and an organic dye, are mentioned, for example.

상기 유기계 안료 및 유기계 염료로는 예를 들면, 아미늄계 색소, 시아닌계 색소, 메로시아닌계 색소, 크로코늄계 색소, 스쿠아릴륨계 색소, 아즈레늄계 색소, 폴리메틴계 색소, 나프토퀴논계 색소, 피릴륨계 색소, 프탈로시아닌계 색소, 나프탈로시아닌계 색소, 나프토락탐계 색소, 아조계 색소, 축합 아조계 색소, 인디고계 색소, 페리논계 색소, 페릴렌계 색소, 디옥사진계 색소, 퀴나크리돈계 색소, 이소인돌리논계 색소, 퀴노프탈론계 색소, 피롤계 색소, 티오인디고계 색소, 금속 착체계 색소(금속 착염 염료), 디티올 금속 착체계 색소, 인돌페놀계 색소, 트리아릴메탄계 색소, 안트라퀴논계 색소, 나프톨계 색소, 아조메틴계 색소, 벤즈이미다졸론계 색소, 피란트론계 색소, 및 스렌계 색소 등을 들 수 있다.The organic pigments and organic dyes include, for example, an aminium pigment, a cyanine pigment, a merocyanine pigment, a chromonium pigment, a squarylium pigment, an azrenium pigment, a polymethine pigment, a naphthoquinone pigment. , Pyryllium pigments, phthalocyanine pigments, naphthalocyanine pigments, naphtholactam pigments, azo pigments, condensed azo pigments, indigo pigments, perinone pigments, perylene pigments, dioxazine pigments, quinacridone pigments, Isoindolinone dye, quinophthalone dye, pyrrole dye, thioindigo dye, metal complex dye (metal complex dye), dithiol metal complex dye, indolephenol dye, triarylmethane dye, anthra And quinone-based dyes, naphthol-based dyes, azomethine-based dyes, benzimidazolone-based dyes, pyrantrone-based dyes, and srene-based dyes.

상기 무기계 안료로는 예를 들면, 카본 블랙, 코발트계 색소, 철계 색소, 크롬계 색소, 티타늄계 색소, 바나듐계 색소, 지르코늄계 색소, 몰리브덴계 색소, 루테늄계 색소, 백금계 색소, ITO(인듐주석옥사이드)계 색소, ATO(안티몬주석옥사이드)계 색소 등을 들 수 있다. Examples of the inorganic pigments include carbon black, cobalt pigments, iron pigments, chromium pigments, titanium pigments, vanadium pigments, zirconium pigments, molybdenum pigments, ruthenium pigments, platinum pigments, ITO (indium pigments). Tin oxide)-based pigments, ATO (antimony tin oxide)-based pigments, and the like.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 착색제(I)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the colorant (I) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

착색제(I)를 사용하는 경우, 열경화성 보호막 형성용 필름의 착색제(I)의 함유량은 목적에 따라 적절히 조절하면 된다. 예를 들면, 열경화성 보호막 형성용 필름의 착색제(I)의 함유량을 조절하여 보호막의 광 투과성을 조절함으로써, 웨이퍼에 대해 레이저 인자를 행한 경우의 인자 시인성을 조절할 수 있다. 또한, 열경화성 보호막 형성용 필름의 착색제(I)의 함유량을 조절함으로써, 보호막의 의장성을 향상시키거나 반도체 웨이퍼의 이면의 연삭흔을 보이기 어렵게 할 수도 있다. 이러한 점을 고려하면, 조성물(III-1)에 있어서 용매 이외의 모든 성분의 총 함유량에 대한 착색제(I)의 함유량의 비율(즉, 열경화성 보호막 형성용 필름의 착색제(I)의 함유량)은, 0.01질량% 이상 10질량% 이하인 것이 바람직하고, 0.1질량% 이상 7.5질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 0.1질량% 이상 5질량% 이하인 것이 특히 바람직하다. 착색제(I)의 상기 함유량이 상기 하한값 이상임으로써, 착색제(I)를 사용함에 의한 효과가 보다 현저히 얻어진다. 또한, 착색제(I)의 상기 함유량이 상기 상한값 이하임으로써, 열경화성 보호막 형성용 필름의 광 투과성의 과도한 저하가 억제된다.When using the coloring agent (I), the content of the coloring agent (I) in the film for forming a thermosetting protective film may be appropriately adjusted according to the purpose. For example, by adjusting the content of the colorant (I) in the film for forming a thermosetting protective film to adjust the light transmittance of the protective film, it is possible to adjust the printing visibility when laser printing is performed on the wafer. Further, by adjusting the content of the colorant (I) in the film for forming a thermosetting protective film, the designability of the protective film can be improved or the grinding marks on the back surface of the semiconductor wafer can be made difficult to show. Taking these points into consideration, the ratio of the content of the colorant (I) to the total content of all components other than the solvent in the composition (III-1) (that is, the content of the colorant (I) of the film for forming a thermosetting protective film), It is preferably 0.01% by mass or more and 10% by mass or less, more preferably 0.1% by mass or more and 7.5% by mass or less, and particularly preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less. When the content of the colorant (I) is more than the lower limit, the effect of using the colorant (I) is more remarkably obtained. Further, when the content of the colorant (I) is equal to or less than the upper limit, excessive decrease in light transmittance of the film for forming a thermosetting protective film is suppressed.

[범용 첨가제(J)][Universal Additive (J)]

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름은, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위 내에 있어서, 범용 첨가제(J)를 함유하고 있어도 된다.The composition (III-1) and the film for forming a thermosetting protective film may contain a general-purpose additive (J) within a range that does not impair the effects of the present invention.

범용 첨가제(J)는 공지의 것이어도 되고, 목적에 따라 임의로 선택할 수 있으며, 특별히 한정되지 않으나, 바람직한 것으로는 예를 들면, 가소제, 대전 방지제, 산화 방지제, 게터링제 등을 들 수 있다. The general-purpose additive (J) may be a well-known one, may be arbitrarily selected according to the purpose, and is not particularly limited, but preferable examples include a plasticizer, an antistatic agent, an antioxidant, a gettering agent, and the like.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 범용 첨가제(J)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (III-1) and the general-purpose additive (J) contained in the film for forming a thermosetting protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1) 및 열경화성 보호막 형성용 필름의 범용 첨가제(J)의 함유량은 특별히 한정되지 않으며, 목적에 따라 적절히 선택하면 된다.The content of the composition (III-1) and the general-purpose additive (J) in the film for forming a thermosetting protective film is not particularly limited, and may be appropriately selected according to the purpose.

[용매][menstruum]

조성물(III-1)은 추가로 용매를 함유하는 것이 바람직하다. 용매를 함유하는 조성물(III-1)은 취급성이 양호해진다. It is preferable that the composition (III-1) further contains a solvent. The composition (III-1) containing a solvent becomes good in handleability.

상기 용매는 특별히 한정되지 않으나, 바람직한 것으로는 예를 들면, 톨루엔, 자일렌 등의 탄화수소; 메탄올, 에탄올, 2-프로판올, 이소부틸알코올(2-메틸프로판-1-올), 1-부탄올 등의 알코올; 초산에틸 등의 에스테르; 아세톤, 메틸에틸케톤 등의 케톤; 테트라히드로푸란 등의 에테르; 디메틸포름아미드, N-메틸피롤리돈 등의 아미드(아미드 결합을 갖는 화합물) 등을 들 수 있다. The solvent is not particularly limited, but preferred examples include hydrocarbons such as toluene and xylene; Alcohols such as methanol, ethanol, 2-propanol, isobutyl alcohol (2-methylpropan-1-ol), and 1-butanol; Esters such as ethyl acetate; Ketones such as acetone and methyl ethyl ketone; Ethers such as tetrahydrofuran; And amides (compounds having an amide bond) such as dimethylformamide and N-methylpyrrolidone.

조성물(III-1)이 함유하는 용매는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The solvent contained in the composition (III-1) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(III-1)이 함유하는 용매는 조성물(III-1) 중의 함유 성분을 보다 균일하게 혼합할 수 있는 점에서, 메틸에틸케톤 등인 것이 바람직하다.The solvent contained in the composition (III-1) is preferably methyl ethyl ketone or the like from the viewpoint that the components contained in the composition (III-1) can be more uniformly mixed.

<<열경화성 보호막 형성용 조성물의 제조 방법>><<The manufacturing method of the composition for thermosetting protective film formation>>

조성물(III-1) 등의 열경화성 보호막 형성용 조성물은 이를 구성하기 위한 각 성분을 배합함으로써 얻어진다. Compositions for forming a thermosetting protective film such as composition (III-1) are obtained by blending each component for constituting the composition.

각 성분의 배합시에 있어서의 첨가 순서는 특별히 한정되지 않고, 2종 이상의 성분을 동시에 첨가해도 된다. The order of addition at the time of blending each component is not particularly limited, and two or more components may be added at the same time.

용매를 사용하는 경우에는, 용매를 용매 이외의 어느 하나의 배합 성분과 혼합하여 이 배합 성분을 미리 희석해 둠으로써 사용해도 되고, 용매 이외의 어느 하나의 배합 성분을 미리 희석해 두지 않고, 용매를 이들 배합 성분과 혼합함으로써 사용해도 된다.In the case of using a solvent, it may be used by mixing the solvent with any of the components other than the solvent and diluting the component in advance. You may use it by mixing with these compounding components.

배합시 각 성분을 혼합하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 교반자 또는 교반 날개 등을 회전시켜 혼합하는 방법; 믹서를 이용하여 혼합하는 방법; 초음파를 가하여 혼합하는 방법 등, 공지의 방법으로부터 적절히 선택하면 된다. The method of mixing each component at the time of mixing is not particularly limited, and a method of mixing by rotating a stirrer or a stirring blade, etc.; Mixing using a mixer; What is necessary is just to select suitably from well-known methods, such as a method of adding ultrasonic waves and mixing.

각 성분의 첨가 및 혼합시의 온도와 시간은, 각 배합 성분이 열화하지 않는 한 특별히 한정되지 않고, 적절히 조절하면 되나, 온도는 15℃ 이상 30℃ 이하인 것이 바람직하다.The temperature and time at the time of addition and mixing of each component are not particularly limited as long as each compounding component does not deteriorate, and may be appropriately adjusted, but the temperature is preferably 15°C or more and 30°C or less.

○에너지선 경화성 보호막 형성용 필름○ Energy ray-curable protective film formation film

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은 에너지선 경화성 성분(a)을 함유한다.The film for forming an energy ray-curable protective film contains an energy ray-curable component (a).

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 에너지선 경화성 성분(a)은 미경화인 것이 바람직하고, 점착성을 갖는 것이 바람직하며, 미경화이면서 또한 점착성을 갖는 것이 보다 바람직하다. 여기서, 「에너지선」 및 「에너지선 경화성」이란, 앞서 설명한 바와 같다.In the film for forming an energy ray-curable protective film, the energy ray-curable component (a) is preferably uncured, preferably having adhesiveness, and more preferably uncured and having adhesiveness. Here, "energy rays" and "energy rays hardenability" are as described above.

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은 1층(단층)만이어도 되고, 2층 이상의 복수층이어도 되며, 복수층인 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 되고, 이들 복수층의 조합은 특별히 한정되지 않는다. The energy ray-curable protective film-forming film may be only one layer (single layer), or may be a plurality of layers of two or more layers, and in the case of a plurality of layers, the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of the plurality of layers is not particularly limited. Does not.

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 두께는 1㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 5㎛ 이상 75㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 5㎛ 이상 50㎛ 이하인 것이 특히 바람직하다. 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 하한값 이상임으로써, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름을 보호막으로서 사용하는 경우에 있어서 보호능이 보다 높은 보호막을 형성할 수 있다. 또한, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 상한값 이하임으로써, 과잉 두께가 되는 것이 억제된다.The thickness of the energy ray-curable protective film-forming film is preferably 1 µm or more and 100 µm or less, more preferably 5 µm or more and 75 µm or less, and particularly preferably 5 µm or more and 50 µm or less. When the thickness of the energy ray-curable protective film-forming film is more than the above lower limit, a protective film having a higher protective ability can be formed when the energy-ray-curable protective film-forming film is used as a protective film. In addition, when the thickness of the energy ray-curable protective film-forming film is equal to or less than the above upper limit, excessive thickness is suppressed.

여기서, 「에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 두께」란, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름 전체의 두께를 의미하며 예를 들면, 복수층으로 이루어지는 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 두께란, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다.Here, the term "thickness of the film for forming an energy ray-curable protective film" means the thickness of the entire film for forming an energy-ray-curable protective film. For example, the thickness of the film for forming an energy ray-curable protective film composed of a plurality of layers is energy ray-curable. It means the total thickness of all the layers constituting the film for forming a protective film.

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름을 반도체 웨이퍼의 이면에 첩부하고 경화시켜 보호막을 형성할 때의 경화 조건은, 보호막이 충분히 그 기능을 발휘하는 정도의 경화도가 되는 한 특별히 한정되지 않고, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 종류에 따라, 적절히 선택하면 된다.The curing conditions for forming the protective film by attaching and curing the film for forming the energy ray-curable protective film on the back surface of the semiconductor wafer are not particularly limited as long as the degree of curing is such that the protective film sufficiently exhibits its function, and the energy ray-curable protective film It may be appropriately selected according to the type of the film for formation.

예를 들면, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 경화시에 있어서의 에너지선의 조도는 120㎽/㎠ 이상 280㎽/㎠ 이하인 것이 바람직하다. 그리고, 상기 경화시에 있어서의 에너지선의 광량은 200mJ/㎠ 이상 1000mJ/㎠ 이하인 것이 바람직하다.For example, it is preferable that the illuminance of the energy ray at the time of curing the energy ray-curable protective film-forming film is 120 mW/cm 2 or more and 280 mW/cm 2 or less. In addition, it is preferable that the amount of light of the energy ray at the time of curing is 200 mJ/cm 2 or more and 1000 mJ/cm 2 or less.

<<에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물>><<Composition for energy ray-curable protective film formation>>

에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은, 그 구성 재료를 함유하는 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다. 예를 들면, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 형성 대상면에 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 목적으로 하는 부위에 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름을 형성할 수 있다. 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물 중의 상온에서 기화하지 않는 성분끼리의 함유량 비율은 통상, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 상기 성분끼리의 함유량 비율과 동일해진다. 여기서, 「상온」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The film for energy ray-curable protective film formation can be formed using the composition for energy ray-curable protective film formation containing the constituent material. For example, by applying the composition for forming an energy ray-curable protective film on the surface to be formed of the film for forming an energy ray-curable protective film, and drying it as necessary, a film for forming an energy ray-curable protective film can be formed on the target site. . The content ratio of components that do not vaporize at room temperature in the composition for forming an energy ray-curable protective film is usually the same as the content ratio of the components in the film for forming an energy ray-curable protective film. Here, "room temperature" is as described above.

에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물의 도공은 예를 들면, 상술한 점착제 조성물의 도공의 경우와 동일한 방법으로 행할 수 있다.The coating of the composition for forming an energy ray-curable protective film can be performed, for example, in the same manner as in the case of coating of the pressure-sensitive adhesive composition described above.

에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물의 건조 조건은 특별히 한정되지 않으나, 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물은 후술하는 용매를 함유하고 있는 경우, 가열 건조시키는 것이 바람직하고, 이 경우, 예를 들면, 70℃ 이상 130℃ 이하에서 10초 이상 5분 이하의 조건으로 건조시키는 것이 바람직하다.The drying conditions of the composition for forming an energy ray-curable protective film are not particularly limited, but when the composition for forming an energy ray-curable protective film contains a solvent described later, it is preferable to heat-dry, in this case, for example, 70° C. or higher. It is preferable to dry it under the conditions of 10 seconds or more and 5 minutes or less at 130 degreeC or less.

<에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물(IV-1)><Composition for energy ray-curable protective film formation (IV-1)>

에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물로는 예를 들면, 상기 에너지선 경화성 성분(a)을 함유하는 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물(IV-1)(본 명세서에 있어서는, 단순히 「조성물(IV-1)」로 약기하는 경우가 있다) 등을 들 수 있다.As a composition for forming an energy ray-curable protective film, for example, the composition (IV-1) for forming an energy ray-curable protective film containing the energy ray-curable component (a) (in this specification, simply ``composition (IV-1) It may be abbreviated as ") and the like.

[에너지선 경화성 성분(a)][Energy ray curable component (a)]

에너지선 경화성 성분(a)은 에너지선 조사에 의해 경화하는 성분이며, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름에 조막성이나 가요성 등을 부여함과 함께, 경화 후에 경질의 보호막을 형성하기 위한 성분이기도 하다.The energy ray-curable component (a) is a component that is cured by irradiation with energy rays, and is a component for forming a hard protective film after curing, as well as imparting film formation and flexibility to the film for forming an energy ray-curable protective film. .

에너지선 경화성 성분(a)으로는 예를 들면, 에너지선 경화성기를 갖는 중량 평균 분자량이 80000 이상 2000000 이하인 중합체(a1) 및 에너지선 경화성기를 갖는 분자량이 100 이상 80000 이하인 화합물(a2)을 들 수 있다.Examples of the energy ray-curable component (a) include a polymer (a1) having an energy ray-curable group having a weight average molecular weight of 80000 or more and 2000000 or less, and a compound (a2) having an energy ray-curable group having a molecular weight of 100 or more and 80000 or less. .

상기 중합체(a1)는 그 적어도 일부가 가교제에 의해 가교된 것이어도 되고, 가교되어 있지 않은 것이어도 된다.The polymer (a1) may be at least partially crosslinked with a crosslinking agent or may not be crosslinked.

(에너지선 경화성기를 갖는 중량 평균 분자량이 80000 이상 2000000 이하인 중합체(a1))(Polymer (a1) having an energy ray-curable group and a weight average molecular weight of 80000 or more and 2000000 or less)

에너지선 경화성기를 갖는 중량 평균 분자량이 80000 이상 2000000 이하인 중합체(a1)로는 예를 들면, 다른 화합물이 갖는 기와 반응 가능한 관능기를 갖는 아크릴계 중합체(a11)와, 상기 관능기와 반응하는 기 및 에너지선 경화성 이중 결합 등의 에너지선 경화성기를 갖는 에너지선 경화성 화합물(a12)이 반응하여 이루어지는 아크릴계 수지(a1-1)를 들 수 있다.Examples of the polymer (a1) having an energy ray-curable group having a weight average molecular weight of 80000 or more and 2000000 or less include an acrylic polymer (a11) having a functional group capable of reacting with a group of other compounds, and a group that reacts with the functional group and energy ray-curable. An acrylic resin (a1-1) obtained by reacting an energy ray-curable compound (a12) having an energy ray-curable group such as a bond can be mentioned.

다른 화합물이 갖는 기와 반응 가능한 상기 관능기로는 예를 들면, 수산기, 카르복시기, 아미노기, 치환 아미노기(아미노기의 1개 또는 2개의 수소 원자가 수소 원자 이외의 기로 치환되어 이루어지는 기), 에폭시기 등을 들 수 있다. 단, 반도체 웨이퍼나 반도체 칩 등의 회로의 부식을 방지한다는 점에서는, 상기 관능기는 카르복시기 이외의 기인 것이 바람직하다. Examples of the functional groups capable of reacting with groups of other compounds include a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, a substituted amino group (a group obtained by substituting one or two hydrogen atoms of the amino group with a group other than a hydrogen atom), and an epoxy group. . However, in terms of preventing corrosion of circuits such as semiconductor wafers and semiconductor chips, the functional group is preferably a group other than a carboxyl group.

이들 중에서도, 상기 관능기는 수산기인 것이 바람직하다. Among these, it is preferable that the said functional group is a hydroxyl group.

·관능기를 갖는 아크릴계 중합체(a11)・Acrylic polymer (a11) having a functional group

상기 관능기를 갖는 아크릴계 중합체(a11)로는 예를 들면, 상기 관능기를 갖는 아크릴계 모노머와, 상기 관능기를 갖지 않는 아크릴계 모노머가 공중합하여 이루어지는 것을 들 수 있고, 이들 모노머 이외에, 추가로 아크릴계 모노머 이외의 모노머(비아크릴계 모노머)가 공중합한 것이어도 된다. Examples of the acrylic polymer (a11) having a functional group include those obtained by copolymerization of an acrylic monomer having the functional group and an acrylic monomer having no functional group. In addition to these monomers, a monomer other than an acrylic monomer ( A non-acrylic monomer) may be copolymerized.

또한, 상기 아크릴계 중합체(a11)는 랜덤 공중합체여도 되고, 블록 공중합체여도 되며, 중합 방법에 대해서도 공지의 방법을 채용할 수 있다.Further, the acrylic polymer (a11) may be a random copolymer or a block copolymer, and a known method may be employed for the polymerization method.

상기 관능기를 갖는 아크릴계 모노머로는 예를 들면, 수산기 함유 모노머, 카르복시기 함유 모노머, 아미노기 함유 모노머, 치환 아미노기 함유 모노머, 에폭시기 함유 모노머 등을 들 수 있다. Examples of the acrylic monomer having a functional group include a hydroxyl group-containing monomer, a carboxyl group-containing monomer, an amino group-containing monomer, a substituted amino group-containing monomer, and an epoxy group-containing monomer.

상기 수산기 함유 모노머로는 예를 들면, (메타)아크릴산히드록시메틸, (메타)아크릴산2-히드록시에틸, (메타)아크릴산2-히드록시프로필, (메타)아크릴산3-히드록시프로필, (메타)아크릴산2-히드록시부틸, (메타)아크릴산3-히드록시부틸, (메타)아크릴산4-히드록시부틸 등의 (메타)아크릴산히드록시알킬; 비닐알코올, 알릴알코올 등의 비(메타)아크릴계 불포화 알코올((메타)아크릴로일 골격을 갖지 않는 불포화 알코올) 등을 들 수 있다. Examples of the hydroxyl group-containing monomer include hydroxymethyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, 3-hydroxypropyl (meth)acrylate, and (meth)acrylate. )(Meth)acrylate hydroxyalkyl such as 2-hydroxybutyl acrylate, 3-hydroxybutyl (meth)acrylate, and 4-hydroxybutyl (meth)acrylate; Non-(meth)acrylic unsaturated alcohols (unsaturated alcohols having no (meth)acryloyl skeleton), such as vinyl alcohol and allyl alcohol, may be mentioned.

상기 카르복시기 함유 모노머로는 예를 들면, (메타)아크릴산, 크로톤산 등의 에틸렌성 불포화 모노카르복실산(에틸렌성 불포화 결합을 갖는 모노카르복실산); 푸마르산, 이타콘산, 말레산, 시트라콘산 등의 에틸렌성 불포화 디카르복실산(에틸렌성 불포화 결합을 갖는 디카르복실산); 상기 에틸렌성 불포화 디카르복실산의 무수물; 2-카르복시에틸메타크릴레이트 등의 (메타)아크릴산카르복시알킬에스테르 등을 들 수 있다. Examples of the carboxy group-containing monomer include ethylenically unsaturated monocarboxylic acids (monocarboxylic acids having ethylenically unsaturated bonds) such as (meth)acrylic acid and crotonic acid; Ethylenically unsaturated dicarboxylic acids (dicarboxylic acids having an ethylenically unsaturated bond) such as fumaric acid, itaconic acid, maleic acid and citraconic acid; Anhydrides of the ethylenically unsaturated dicarboxylic acids; (Meth)acrylic acid carboxyalkyl esters, such as 2-carboxyethyl methacrylate, etc. are mentioned.

상기 관능기를 갖는 아크릴계 모노머는 수산기 함유 모노머가 바람직하다.The acrylic monomer having the functional group is preferably a hydroxyl group-containing monomer.

상기 아크릴계 중합체(a11)를 구성하는, 상기 관능기를 갖는 아크릴계 모노머는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The acrylic monomer constituting the acrylic polymer (a11) and having the functional group may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

상기 관능기를 갖지 않는 아크릴계 모노머로는 예를 들면, (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산n-프로필, (메타)아크릴산이소프로필, (메타)아크릴산n-부틸, (메타)아크릴산이소부틸, (메타)아크릴산sec-부틸, (메타)아크릴산tert-부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실, (메타)아크릴산이소옥틸, (메타)아크릴산n-옥틸, (메타)아크릴산n-노닐, (메타)아크릴산이소노닐, (메타)아크릴산데실, (메타)아크릴산운데실, (메타)아크릴산도데실((메타)아크릴산라우릴), (메타)아크릴산트리데실, (메타)아크릴산테트라데실((메타)아크릴산미리스틸), (메타)아크릴산펜타데실, (메타)아크릴산헥사데실((메타)아크릴산팔미틸), (메타)아크릴산헵타데실, (메타)아크릴산옥타데실((메타)아크릴산스테아릴) 등의 알킬에스테르를 구성하는 알킬기가 탄소수 1∼18의 사슬형 구조인 (메타)아크릴산알킬에스테르 등을 들 수 있다.Examples of acrylic monomers having no functional group include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, n-propyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, n-butyl (meth)acrylate, and (meth)acrylate. )Isobutyl acrylate, (meth)acrylic acid sec-butyl, (meth) acrylate tert-butyl, (meth) acrylate pentyl, (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, (meth) acrylate 2-ethylhexyl, (meth) ) Isooctyl acrylate, (meth) acrylate n-octyl, (meth) acrylate n-nonyl, (meth) acrylate isononyl, (meth) acrylate, (meth) acrylate undecyl, (meth) acrylate dodecyl (( Meth) lauryl acrylate), (meth) tridecyl acrylate, (meth) tetradecyl acrylate ((meth) myristyl acrylate), pentadecyl (meth) acrylate, hexadecyl (meth) acrylate ((meth) palmityl acrylate) , (Meth)acrylic acid alkyl ester in which the alkyl group constituting the alkyl ester such as heptadecyl (meth)acrylate and octadecyl (meth)acrylate ((meth) acrylate stearyl) has a chain structure having 1 to 18 carbon atoms. have.

또한, 상기 관능기를 갖지 않는 아크릴계 모노머로는 예를 들면, (메타)아크릴산메톡시메틸, (메타)아크릴산메톡시에틸, (메타)아크릴산에톡시메틸, (메타)아크릴산에톡시에틸 등의 알콕시알킬기 함유 (메타)아크릴산에스테르; (메타)아크릴산페닐 등의 (메타)아크릴산아릴에스테르 등을 포함하는, 방향족기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르; 비가교성 (메타)아크릴아미드 및 그 유도체; (메타)아크릴산N,N-디메틸아미노에틸, (메타)아크릴산N,N-디메틸아미노프로필 등의 비가교성 3차 아미노기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르 등도 들 수 있다.In addition, examples of the acrylic monomer not having the functional group include alkoxyalkyl groups such as methoxymethyl (meth)acrylate, methoxyethyl (meth)acrylate, ethoxymethyl (meth)acrylate, and ethoxyethyl (meth)acrylate. Containing (meth)acrylic acid ester; (Meth)acrylic acid esters having an aromatic group, including (meth)acrylic acid aryl esters such as phenyl (meth)acrylate; Non-crosslinkable (meth)acrylamide and derivatives thereof; And (meth)acrylic acid esters having non-crosslinkable tertiary amino groups such as N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate and N,N-dimethylaminopropyl (meth)acrylate.

상기 아크릴계 중합체(a11)를 구성하는, 상기 관능기를 갖지 않는 아크릴계 모노머는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The acrylic monomers constituting the acrylic polymer (a11) and having no functional group may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

상기 비아크릴계 모노머로는 예를 들면, 에틸렌, 노보넨 등의 올레핀; 초산비닐; 스티렌 등을 들 수 있다. Examples of the non-acrylic monomer include olefins such as ethylene and norbornene; Vinyl acetate; Styrene, etc. are mentioned.

상기 아크릴계 중합체(a11)를 구성하는 상기 비아크릴계 모노머는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The number of the non-acrylic monomers constituting the acrylic polymer (a11) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof may be arbitrarily selected.

상기 아크릴계 중합체(a11)에 있어서, 이를 구성하는 구성 단위의 전체량에 대한 상기 관능기를 갖는 아크릴계 모노머로부터 유도된 구성 단위의 양의 비율(함유량)은 0.1∼50질량%인 것이 바람직하고, 1∼40질량%인 것이 보다 바람직하며, 3∼30질량%인 것이 특히 바람직하다. 상기 비율이 이러한 범위임으로써, 상기 아크릴계 중합체(a11)와 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)의 공중합에 의해 얻어진 상기 아크릴계 수지(a1-1)에 있어서, 에너지선 경화성기의 함유량은 보호막의 경화의 정도를 바람직한 범위로 용이하게 조절 가능해진다. In the acrylic polymer (a11), the ratio (content) of the amount of the constituent unit derived from the acrylic monomer having the functional group to the total amount of the constituent units constituting it is preferably 0.1 to 50% by mass, and 1 to It is more preferable that it is 40 mass %, and it is especially preferable that it is 3-30 mass %. When the ratio is within such a range, in the acrylic resin (a1-1) obtained by copolymerization of the acrylic polymer (a11) and the energy ray-curable compound (a12), the content of the energy ray-curable group is determined by the curing of the protective film. The degree can be easily adjusted to a preferable range.

상기 아크릴계 수지(a1-1)를 구성하는 상기 아크릴계 중합체(a11)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The acrylic polymer (a11) constituting the acrylic resin (a1-1) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof may be arbitrarily selected.

조성물(IV-1)에 있어서, 용매 이외의 성분의 총 함유량에 대한 아크릴계 수지(a1-1)의 함유량의 비율(즉, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 아크릴계 수지(a1-1)의 함유량)은 1질량% 이상 70질량% 이하인 것이 바람직하고, 5질량% 이상 60질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 10질량% 이상 50질량% 이하인 것이 특히 바람직하다.In the composition (IV-1), the ratio of the content of the acrylic resin (a1-1) to the total content of components other than the solvent (that is, the content of the acrylic resin (a1-1) in the film for forming an energy ray-curable protective film) Silver is preferably 1% by mass or more and 70% by mass or less, more preferably 5% by mass or more and 60% by mass or less, and particularly preferably 10% by mass or more and 50% by mass or less.

·에너지선 경화성 화합물(a12)Energy ray-curable compound (a12)

상기 에너지선 경화성 화합물(a12)은 상기 아크릴계 중합체(a11)가 갖는 관능기와 반응 가능한 기로서, 이소시아네이트기, 에폭시기, 및 카르복시기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상을 갖는 것이 바람직하고, 상기 기로서 이소시아네이트기를 갖는 것이 보다 바람직하다. 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)은 예를 들면, 상기 기로서 이소시아네이트기를 갖는 경우, 이 이소시아네이트기가 상기 관능기로서 수산기를 갖는 아크릴계 중합체(a11)의 이 수산기와 용이하게 반응한다. The energy ray-curable compound (a12) is a group capable of reacting with a functional group of the acrylic polymer (a11), and preferably has one or two or more selected from the group consisting of an isocyanate group, an epoxy group, and a carboxy group, and the above It is more preferable to have an isocyanate group as a group. When the energy ray-curable compound (a12) has, for example, an isocyanate group as the group, the isocyanate group readily reacts with this hydroxyl group of the acrylic polymer (a11) having a hydroxyl group as the functional group.

상기 에너지선 경화성 화합물(a12)은 1분자 중에 상기 에너지선 경화성기를 1개 이상 5개 이하 갖는 것이 바람직하고, 1개 이상 3개 이하 갖는 것이 보다 바람직하다. It is preferable that the said energy ray-curable compound (a12) has 1 or more and 5 or less of said energy ray-curable groups in 1 molecule, and it is more preferable that it has 1 or more and 3 or less.

상기 에너지선 경화성 화합물(a12)로는 예를 들면, 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트, 메타-이소프로페닐-α,α-디메틸벤질이소시아네이트, 메타크릴로일이소시아네이트, 알릴이소시아네이트, 1,1-(비스아크릴로일옥시메틸)에틸이소시아네이트;Examples of the energy ray-curable compound (a12) include 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, meth-isopropenyl-α,α-dimethylbenzyl isocyanate, methacryloyl isocyanate, allyl isocyanate, and 1,1- (Bisacryloyloxymethyl) ethyl isocyanate;

디이소시아네이트 화합물 또는 폴리이소시아네이트 화합물과, 히드록시에틸(메타)아크릴레이트의 반응에 의해 얻어지는 아크릴로일모노이소시아네이트 화합물;An acryloyl monoisocyanate compound obtained by reaction of a diisocyanate compound or a polyisocyanate compound and hydroxyethyl (meth)acrylate;

디이소시아네이트 화합물 또는 폴리이소시아네이트 화합물과, 폴리올 화합물과, 히드록시에틸(메타)아크릴레이트의 반응에 의해 얻어지는 아크릴로일모노이소시아네이트 화합물 등을 들 수 있다. And acryloyl monoisocyanate compounds obtained by reaction of a diisocyanate compound or a polyisocyanate compound, a polyol compound, and hydroxyethyl (meth)acrylate.

이들 중에서도, 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)은 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트인 것이 바람직하다. Among these, it is preferable that the said energy ray-curable compound (a12) is 2-methacryloyloxyethyl isocyanate.

상기 아크릴계 수지(a1-1)를 구성하는 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. The energy ray-curable compound (a12) constituting the acrylic resin (a1-1) may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof may be arbitrarily selected.

상기 아크릴계 수지(a1-1)에 있어서, 상기 아크릴계 중합체(a11)에서 유래하는 상기 관능기의 함유량에 대한 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)에서 유래하는 에너지선 경화성기의 함유량 비율은, 20몰% 이상 120몰% 이하인 것이 바람직하고, 35몰% 이상 100몰% 이하인 것이 보다 바람직하며, 50몰% 이상 100몰% 이하인 것이 특히 바람직하다. 상기 함유량의 비율이 이러한 범위임으로써, 경화 후의 보호막의 접착력이 보다 커진다. 한편, 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)이 1관능(상기 기를 1분자 중에 1개 갖는) 화합물인 경우에는, 상기 함유량 비율의 상한값은 100몰%가 되나, 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)이 다관능(상기 기를 1분자 중에 2개 이상 갖는) 화합물인 경우에는, 상기 함유량 비율의 상한값은 100몰%를 초과하는 경우가 있다. In the acrylic resin (a1-1), the ratio of the content of the energy ray-curable group derived from the energy ray-curable compound (a12) to the content of the functional group derived from the acrylic polymer (a11) is 20 mol% or more. It is preferably 120 mol% or less, more preferably 35 mol% or more and 100 mol% or less, and particularly preferably 50 mol% or more and 100 mol% or less. When the ratio of the content is within such a range, the adhesive strength of the protective film after curing becomes larger. On the other hand, when the energy ray-curable compound (a12) is a monofunctional compound (having one group per molecule), the upper limit of the content ratio is 100 mol%, but the energy ray-curable compound (a12) is different. In the case of a functional compound (having two or more of the above groups in one molecule), the upper limit of the content ratio may exceed 100 mol%.

상기 중합체(a1)의 중량 평균 분자량(Mw)은 100000 이상 2000000 이하인 것이 바람직하고, 300000 이상 1500000 이하인 것이 보다 바람직하다.The weight average molecular weight (Mw) of the polymer (a1) is preferably 100000 or more and 2000000 or less, and more preferably 300000 or more and 1500000 or less.

여기서, 「중량 평균 분자량」이란, 앞서 설명한 바와 같다.Here, the "weight average molecular weight" is as previously described.

상기 중합체(a1)가, 그 적어도 일부가 가교제에 의해 가교된 것인 경우, 상기 중합체(a1)는 상기 아크릴계 중합체(a11)를 구성하는 것으로서 설명한, 상술한 모노머의 어느 것에도 해당하지 않고, 또한 가교제와 반응하는 기를 갖는 모노머가 중합하여, 상기 가교제와 반응하는 기에 있어서 가교된 것이어도 되며, 상기 에너지선 경화성 화합물(a12)에서 유래하는, 상기 관능기와 반응하는 기에 있어서 가교된 것이어도 된다. When the polymer (a1) is at least partially crosslinked with a crosslinking agent, the polymer (a1) does not correspond to any of the above-described monomers described as constituting the acrylic polymer (a11), and A monomer having a group reacting with a crosslinking agent may be polymerized and crosslinked in the group reacting with the crosslinking agent, or may be crosslinked in the group reacting with the functional group derived from the energy ray-curable compound (a12).

조성물(IV-1) 및 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 상기 중합체(a1)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The polymer (a1) contained in the composition (IV-1) and the film for forming an energy ray-curable protective film may be one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

(에너지선 경화성기를 갖는 분자량이 100 이상 80000 이하인 화합물(a2))(Compound (a2) having an energy ray-curable group and a molecular weight of 100 or more and 80000 or less)

에너지선 경화성기를 갖는 분자량이 100 이상 80000 이하인 화합물(a2)이 갖는 에너지선 경화성기로는, 에너지선 경화성 이중 결합을 포함하는 기를 들 수 있고, 바람직한 것으로는 (메타)아크릴로일기, 비닐기 등을 들 수 있다. As the energy ray-curable group of the compound (a2) having an energy ray-curable group having a molecular weight of 100 or more and 80000 or less, a group containing an energy ray-curable double bond is exemplified, and preferable examples include a (meth)acryloyl group and a vinyl group. Can be lifted.

상기 화합물(a2)은 상기 조건을 만족하는 것이면 특별히 한정되지 않으나, 에너지선 경화성기를 갖는 저분자량 화합물, 에너지선 경화성기를 갖는 에폭시 수지, 에너지선 경화성기를 갖는 페놀 수지 등을 들 수 있다. The compound (a2) is not particularly limited as long as it satisfies the above conditions, and examples thereof include a low molecular weight compound having an energy ray-curable group, an epoxy resin having an energy ray-curable group, and a phenol resin having an energy ray-curable group.

상기 화합물(a2) 중, 에너지선 경화성기를 갖는 저분자량 화합물로는 예를 들면, 다관능의 모노머 또는 올리고머 등을 들 수 있고, (메타)아크릴로일기를 갖는 아크릴레이트계 화합물이 바람직하다.Among the compounds (a2), examples of the low molecular weight compound having an energy ray-curable group include polyfunctional monomers or oligomers, and acrylate compounds having a (meth)acryloyl group are preferable.

상기 아크릴레이트계 화합물로는 예를 들면, 2-히드록시-3-(메타)아크릴로일옥시프로필메타크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 프로폭시화 에톡시화 비스페놀A 디(메타)아크릴레이트, 2,2-비스[4-((메타)아크릴옥시폴리에톡시)페닐]프로판, 에톡시화 비스페놀A 디(메타)아크릴레이트, 2,2-비스[4-((메타)아크릴옥시디에톡시)페닐]프로판, 9,9-비스[4-(2-(메타)아크릴로일옥시에톡시)페닐]플루오렌, 2,2-비스[4-((메타)아크릴옥시폴리프로폭시)페닐]프로판, 트리시클로데칸디메탄올디(메타)아크릴레이트, 1,10-데칸디올디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올디(메타)아크릴레이트, 1,9-노난디올디(메타)아크릴레이트, 디프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 폴리테트라메틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 2,2-비스[4-((메타)아크릴옥시에톡시)페닐]프로판, 네오펜틸글리콜디(메타)아크릴레이트, 에톡시화 폴리프로필렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 2-히드록시-1,3-디(메타)아크릴옥시프로판 등의 2관능(메타)아크릴레이트; Examples of the acrylate-based compound include 2-hydroxy-3-(meth)acryloyloxypropyl methacrylate, polyethylene glycol di(meth)acrylate, propoxylated ethoxylated bisphenol A di(meth) Acrylate, 2,2-bis[4-((meth)acryloxypolyethoxy)phenyl]propane, ethoxylated bisphenol A di(meth)acrylate, 2,2-bis[4-((meth)acryloxy Diethoxy)phenyl]propane, 9,9-bis[4-(2-(meth)acryloyloxyethoxy)phenyl]fluorene, 2,2-bis[4-((meth)acryloxypolypropoxy )Phenyl]propane, tricyclodecanedimethanoldi(meth)acrylate, 1,10-decanedioldi(meth)acrylate, 1,6-hexanedioldi(meth)acrylate, 1,9-nonanedioldi (Meth)acrylate, dipropylene glycol di(meth)acrylate, tripropylene glycol di(meth)acrylate, polypropylene glycol di(meth)acrylate, polytetramethylene glycol di(meth)acrylate, ethylene glycol di (Meth)acrylate, diethylene glycol di(meth)acrylate, triethylene glycol di(meth)acrylate, 2,2-bis[4-((meth)acryloxyethoxy)phenyl]propane, neopentyl glycol Difunctional (meth)acrylates such as di(meth)acrylate, ethoxylated polypropylene glycol di(meth)acrylate, and 2-hydroxy-1,3-di(meth)acryloxypropane;

트리스(2-(메타)아크릴옥시에틸)이소시아누레이트, ε-카프로락톤 변성 트리스(2-(메타)아크릴옥시에틸)이소시아누레이트, 에톡시화 글리세린트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 디트리메틸올프로판테트라(메타)아크릴레이트, 에톡시화 펜타에리스리톨테트라(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨폴리(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메타)아크릴레이트 등의 다관능(메타)아크릴레이트; Tris(2-(meth)acryloxyethyl)isocyanurate, ε-caprolactone-modified tris(2-(meth)acryloxyethyl)isocyanurate, ethoxylated glycerin tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri (Meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, ditrimethylolpropane tetra(meth)acrylate, ethoxylated pentaerythritol tetra(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol Polyfunctional (meth)acrylates such as poly(meth)acrylate and dipentaerythritol hexa(meth)acrylate;

우레탄(메타)아크릴레이트 올리고머 등의 다관능 (메타)아크릴레이트 올리고머 등을 들 수 있다. Polyfunctional (meth)acrylate oligomers, such as a urethane (meth)acrylate oligomer, etc. are mentioned.

상기 화합물(a2) 중, 에너지선 경화성기를 갖는 에폭시 수지, 에너지선 경화성기를 갖는 페놀 수지로는 예를 들면, 「일본 공개특허공보 2013-194102호」의 단락 0043 등에 기재되어 있는 것을 사용할 수 있다. 이러한 수지는 후술하는 열경화성 성분을 구성하는 수지에도 해당하나, 본 발명에 있어서는 상기 화합물(a2)로서 취급한다. Among the compounds (a2), as an epoxy resin having an energy ray-curable group and a phenolic resin having an energy ray-curable group, those described in paragraph 0043 of “JP 2013-194102 A” can be used. These resins also correspond to resins constituting the thermosetting component described later, but are handled as the compound (a2) in the present invention.

상기 화합물(a2)은 중량 평균 분자량이 100 이상 30000 이하인 것이 바람직하고, 300 이상 10000 이하인 것이 보다 바람직하다.The compound (a2) preferably has a weight average molecular weight of 100 or more and 30000 or less, and more preferably 300 or more and 10000 or less.

여기서, 「중량 평균 분자량」이란, 앞서 설명한 바와 같다.Here, the "weight average molecular weight" is as previously described.

조성물(IV-1) 및 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는 상기 화합물(a2)은 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The compound (a2) contained in the composition (IV-1) and the film for forming an energy ray-curable protective film may be only one type, may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

[에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)][Polymer (b) not having an energy ray-curable group]

조성물(IV-1) 및 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은 상기 에너지선 경화성 성분(a)으로서 상기 화합물(a2)을 함유하는 경우, 추가로 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)도 함유하는 것이 바람직하다. When the composition (IV-1) and the film for forming an energy ray-curable protective film contain the compound (a2) as the energy ray-curable component (a), a polymer (b) having no energy ray-curable group is also contained. desirable.

상기 중합체(b)는 그 적어도 일부가 가교제에 의해 가교된 것이어도 되고, 가교되어 있지 않은 것이어도 된다.The polymer (b) may be at least partially crosslinked with a crosslinking agent, or may not be crosslinked.

에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)로는 예를 들면, 아크릴계 중합체, 페녹시 수지, 우레탄 수지, 폴리에스테르, 고무계 수지, 아크릴우레탄 수지 등을 들 수 있다. Examples of the polymer (b) having no energy ray-curable group include acrylic polymers, phenoxy resins, urethane resins, polyesters, rubber resins, and acrylic urethane resins.

이들 중에서도, 상기 중합체(b)는 아크릴계 중합체(이하, 「아크릴계 중합체(b-1)」로 약기하는 경우가 있다)인 것이 바람직하다. Among these, the polymer (b) is preferably an acrylic polymer (hereinafter sometimes abbreviated as "acrylic polymer (b-1)").

아크릴계 중합체(b-1)는 공지의 것이어도 되고, 예를 들면, 1종의 아크릴계 모노머의 단독 중합체여도 되며, 2종 이상의 아크릴계 모노머의 공중합체여도 되고, 1종 또는 2종 이상의 아크릴계 모노머와, 1종 또는 2종 이상의 아크릴계 모노머 이외의 모노머(비아크릴계 모노머)의 공중합체여도 된다. The acrylic polymer (b-1) may be a known one, for example, a homopolymer of one type of acrylic monomer, or a copolymer of two or more types of acrylic monomers, and one or two or more types of acrylic monomers, A copolymer of one or two or more types of monomers other than acrylic monomers (non-acrylic monomers) may be used.

아크릴계 중합체(b-1)를 구성하는 상기 아크릴계 모노머로는 예를 들면, (메타)아크릴산알킬에스테르, 고리형 골격을 갖는 (메타)아크릴산에스테르, 글리시딜기 함유 (메타)아크릴산에스테르, 수산기 함유 (메타)아크릴산에스테르, 치환 아미노기 함유 (메타)아크릴산에스테르 등을 들 수 있다. 여기서, 「치환 아미노기」란, 앞서 설명한 바와 같다. Examples of the acrylic monomers constituting the acrylic polymer (b-1) include (meth)acrylate alkyl esters, (meth)acrylic acid esters having a cyclic skeleton, glycidyl group-containing (meth)acrylic acid esters, and hydroxyl group-containing ( Meth)acrylic acid ester, substituted amino group-containing (meth)acrylic acid ester, and the like. Here, the "substituted amino group" is as described above.

상기 (메타)아크릴산알킬에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산n-프로필, (메타)아크릴산이소프로필, (메타)아크릴산n-부틸, (메타)아크릴산이소부틸, (메타)아크릴산sec-부틸, (메타)아크릴산tert-부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실, (메타)아크릴산이소옥틸, (메타)아크릴산n-옥틸, (메타)아크릴산n-노닐, (메타)아크릴산이소노닐, (메타)아크릴산데실, (메타)아크릴산운데실, (메타)아크릴산도데실((메타)아크릴산라우릴), (메타)아크릴산트리데실, (메타)아크릴산테트라데실((메타)아크릴산미리스틸), (메타)아크릴산펜타데실, (메타)아크릴산헥사데실((메타)아크릴산팔미틸), (메타)아크릴산헵타데실, (메타)아크릴산옥타데실((메타)아크릴산스테아릴) 등의 알킬에스테르를 구성하는 알킬기가 탄소수 1∼18의 사슬형 구조인 (메타)아크릴산알킬에스테르 등을 들 수 있다. Examples of the (meth)acrylate alkyl ester include, for example, methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, n-propyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, n-butyl (meth)acrylate, and (meth)acrylate. )Isobutyl acrylate, (meth)acrylic acid sec-butyl, (meth) acrylate tert-butyl, (meth) acrylate pentyl, (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, (meth) acrylate 2-ethylhexyl, (meth) ) Isooctyl acrylate, (meth) acrylate n-octyl, (meth) acrylate n-nonyl, (meth) acrylate isononyl, (meth) acrylate, (meth) acrylate undecyl, (meth) acrylate dodecyl (( Meth) lauryl acrylate), (meth) tridecyl acrylate, (meth) tetradecyl acrylate ((meth) myristyl acrylate), pentadecyl (meth) acrylate, hexadecyl (meth) acrylate ((meth) palmityl acrylate) , (Meth)acrylic acid alkyl ester in which the alkyl group constituting the alkyl ester such as heptadecyl (meth)acrylate and octadecyl (meth)acrylate ((meth) acrylate stearyl) has a chain structure having 1 to 18 carbon atoms. have.

상기 고리형 골격을 갖는 (메타)아크릴산에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산이소보르닐, (메타)아크릴산디시클로펜타닐 등의 (메타)아크릴산시클로알킬에스테르; Examples of the (meth)acrylate ester having a cyclic skeleton include (meth)acrylate cycloalkyl esters such as isobornyl (meth)acrylate and dicyclopentanyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산벤질 등의 (메타)아크릴산아랄킬에스테르; (Meth)acrylic acid aralkyl esters such as benzyl (meth)acrylate;

(메타)아크릴산디시클로펜테닐에스테르 등의 (메타)아크릴산시클로알케닐에스테르; (Meth) acrylate cycloalkenyl ester, such as (meth) acrylate dicyclopentenyl ester;

(메타)아크릴산디시클로펜테닐옥시에틸에스테르 등의 (메타)아크릴산시클로알케닐옥시알킬에스테르 등을 들 수 있다. Cycloalkenyloxyalkyl (meth)acrylates, such as dicyclopentenyloxyethyl (meth)acrylate, etc. are mentioned.

상기 글리시딜기 함유 (메타)아크릴산에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산글리시딜 등을 들 수 있다. Examples of the glycidyl group-containing (meth)acrylic acid ester include glycidyl (meth)acrylate.

상기 수산기 함유 (메타)아크릴산에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산히드록시메틸, (메타)아크릴산2-히드록시에틸, (메타)아크릴산2-히드록시프로필, (메타)아크릴산3-히드록시프로필, (메타)아크릴산2-히드록시부틸, (메타)아크릴산3-히드록시부틸, (메타)아크릴산4-히드록시부틸 등을 들 수 있다. Examples of the hydroxyl group-containing (meth)acrylic acid ester include hydroxymethyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, and 3-hydroxy (meth)acrylate. Propyl, 2-hydroxybutyl (meth)acrylate, 3-hydroxybutyl (meth)acrylate, 4-hydroxybutyl (meth)acrylate, and the like.

상기 치환 아미노기 함유 (메타)아크릴산에스테르로는 예를 들면, (메타)아크릴산N-메틸아미노에틸 등을 들 수 있다. Examples of the substituted amino group-containing (meth)acrylic acid ester include N-methylaminoethyl (meth)acrylate.

아크릴계 중합체(b-1)를 구성하는 상기 비아크릴계 모노머로는 예를 들면, 에틸렌, 노보넨 등의 올레핀; 초산비닐; 스티렌 등을 들 수 있다. Examples of the non-acrylic monomers constituting the acrylic polymer (b-1) include olefins such as ethylene and norbornene; Vinyl acetate; Styrene, etc. are mentioned.

적어도 일부가 가교제에 의해 가교된 상기 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)로는 예를 들면, 상기 중합체(b) 중의 반응성 관능기가 가교제와 반응한 것을 들 수 있다. The polymer (b) which does not have the energy ray-curable group at least partially cross-linked with a cross-linking agent includes, for example, a reactive functional group in the polymer (b) reacted with a cross-linking agent.

상기 반응성 관능기는 가교제의 종류 등에 따라 적절히 선택하면 되며, 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 가교제가 폴리이소시아네이트 화합물인 경우에는, 상기 반응성 관능기로는 수산기, 카르복시기, 아미노기 등을 들 수 있고, 이들 중에서도, 이소시아네이트기와의 반응성이 높은 수산기가 바람직하다. 또한, 가교제가 에폭시계 화합물인 경우에는, 상기 반응성 관능기로는 카르복시기, 아미노기, 아미드기 등을 들 수 있고, 이들 중에서도 에폭시기와의 반응성이 높은 카르복시기가 바람직하다. 단, 반도체 웨이퍼나 반도체 칩의 회로의 부식을 방지한다는 점에서는, 상기 반응성 관능기는 카르복시기 이외의 기인 것이 바람직하다. The reactive functional group may be appropriately selected depending on the type of crosslinking agent and the like, and is not particularly limited. For example, when the crosslinking agent is a polyisocyanate compound, examples of the reactive functional group include a hydroxyl group, a carboxyl group, and an amino group, and among these, a hydroxyl group having high reactivity with an isocyanate group is preferable. Further, when the crosslinking agent is an epoxy-based compound, examples of the reactive functional group include a carboxyl group, an amino group, and an amide group, and among these, a carboxyl group having high reactivity with an epoxy group is preferable. However, in terms of preventing corrosion of a circuit of a semiconductor wafer or a semiconductor chip, the reactive functional group is preferably a group other than a carboxyl group.

상기 반응성 관능기를 갖는 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)로는 예를 들면, 적어도 상기 반응성 관능기를 갖는 모노머를 중합시켜 얻어진 것을 들 수 있다. 아크릴계 중합체(b-1)의 경우이면, 이를 구성하는 모노머로서 든, 상기 아크릴계 모노머 및 비아크릴계 모노머 중 어느 한쪽 또는 양쪽으로서, 상기 반응성 관능기를 갖는 것을 사용하면 된다. 예를 들면, 반응성 관능기로서 수산기를 갖는 상기 중합체(b)로는 예를 들면, 수산기 함유 (메타)아크릴산에스테르를 중합하여 얻어진 것을 들 수 있고, 이 외에도 앞서 든 상기 아크릴계 모노머 또는 비아크릴계 모노머에 있어서, 1개 또는 2개 이상의 수소 원자가 상기 반응성 관능기로 치환되어 이루어지는 모노머를 중합하여 얻어진 것을 들 수 있다. Examples of the polymer (b) having no energy ray-curable group having a reactive functional group include those obtained by polymerizing at least a monomer having the reactive functional group. In the case of the acrylic polymer (b-1), one having the above reactive functional group may be used as either or both of the above acrylic monomers and non-acrylic monomers as a monomer constituting it. For example, examples of the polymer (b) having a hydroxyl group as a reactive functional group include those obtained by polymerizing a hydroxyl group-containing (meth)acrylic acid ester. In addition, in the above acrylic monomer or non-acrylic monomer, What is obtained by polymerizing a monomer obtained by substituting one or two or more hydrogen atoms with the above reactive functional groups is mentioned.

반응성 관능기를 갖는 상기 중합체(b)에 있어서, 이를 구성하는 구성 단위의 전체량에 대한 반응성 관능기를 갖는 모노머로부터 유도된 구성 단위의 양의 비율(함유량)은 1질량% 이상 20질량% 이하인 것이 바람직하고, 2질량% 이상 10질량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 상기 비율이 이러한 범위임으로써, 상기 중합체(b)에 있어서, 가교의 정도가 보다 바람직한 범위가 된다. In the polymer (b) having a reactive functional group, the ratio (content) of the amount of the constituent unit derived from the monomer having the reactive functional group to the total amount of the constituent units constituting it is preferably 1% by mass or more and 20% by mass or less. And it is more preferable that it is 2 mass% or more and 10 mass% or less. When the ratio is within such a range, in the polymer (b), the degree of crosslinking becomes a more preferable range.

에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)의 중량 평균 분자량(Mw)은 조성물(IV-1)의 조막성이 보다 양호해지는 점에서, 10000 이상 2000000 이하인 것이 바람직하고, 100000 이상 1500000 이하인 것이 보다 바람직하다. 여기서, 「중량 평균 분자량」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The weight average molecular weight (Mw) of the polymer (b) not having an energy ray-curable group is preferably 10000 or more and 2000000 or less, and more preferably 100000 or more and 1500000 or less, from the viewpoint of better film-forming properties of the composition (IV-1). . Here, the "weight average molecular weight" is as previously described.

조성물(IV-1) 및 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름이 함유하는, 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 되고, 2종 이상인 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.The composition (IV-1) and the energy ray-curable protective film-forming film contain only one type of polymer (b), which does not have an energy ray-curable group, and may be two or more types, and in the case of two or more types, combinations and ratios thereof Can be arbitrarily selected.

조성물(IV-1)로는 상기 중합체(a1) 및 상기 화합물(a2) 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하는 것을 들 수 있다. 그리고, 조성물(IV-1)은 상기 화합물(a2)을 함유하는 경우, 추가로 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)도 함유하는 것이 바람직하고, 이 경우, 추가로 상기 (a1)을 함유하는 것도 바람직하다. 또한, 조성물(IV-1)은 상기 화합물(a2)을 함유하지 않고, 상기 중합체(a1) 및 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)를 함께 함유하고 있어도 된다. Examples of the composition (IV-1) include those containing either or both of the polymer (a1) and the compound (a2). In addition, when the composition (IV-1) contains the compound (a2), it is preferable to further contain a polymer (b) that does not have an energy ray-curable group, and in this case, further containing the above (a1) It is also desirable. Further, the composition (IV-1) does not contain the compound (a2), and may contain the polymer (a1) and the polymer (b) having no energy ray-curable group together.

조성물(IV-1)이 상기 중합체(a1), 상기 화합물(a2), 및 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)를 함유하는 경우, 조성물(IV-1)에 있어서, 상기 화합물(a2)의 함유량은 상기 중합체(a1) 및 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)의 총 함유량 100질량부에 대해, 10질량부 이상 400질량부 이하인 것이 바람직하고, 30질량부 이상 350질량부 이하인 것이 보다 바람직하다.When the composition (IV-1) contains the polymer (a1), the compound (a2), and the polymer (b) having no energy ray-curable group, in the composition (IV-1), the compound (a2) The content is preferably 10 parts by mass or more and 400 parts by mass or less, more preferably 30 parts by mass or more and 350 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the total content of the polymer (a1) and the polymer (b) not having an energy ray-curable group. Do.

조성물(IV-1)에 있어서, 용매 이외의 성분의 총 함유량에 대한 상기 에너지선 경화성 성분(a) 및 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)의 합계 함유량 비율(즉, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 상기 에너지선 경화성 성분(a) 및 에너지선 경화성기를 갖지 않는 중합체(b)의 합계 함유량)은, 5질량% 이상 90질량% 이하인 것이 바람직하고, 10질량% 이상 80질량% 이하인 것이 보다 바람직하며, 20질량% 이상 70질량% 이하인 것이 특히 바람직하다. 에너지선 경화성 성분의 함유량의 상기 비율이 이러한 범위임으로써, 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름의 에너지선 경화성이 보다 양호해진다.In the composition (IV-1), the ratio of the total content of the energy ray-curable component (a) and the polymer (b) not having an energy ray-curable group to the total content of components other than the solvent (that is, for forming an energy ray-curable protective film The total content of the energy ray-curable component (a) of the film and the polymer (b) having no energy ray-curable group) is preferably 5% by mass or more and 90% by mass or less, and more preferably 10% by mass or more and 80% by mass or less. And it is particularly preferably 20% by mass or more and 70% by mass or less. When the ratio of the content of the energy ray-curable component is within such a range, the energy ray-curable property of the film for forming an energy ray-curable protective film becomes better.

조성물(IV-1)은 상기 에너지선 경화성 성분 이외에, 목적에 따라 열경화성 성분, 충전재, 커플링제, 가교제, 광중합 개시제, 착색제, 및 범용 첨가제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상을 함유하고 있어도 된다. 예를 들면, 상기 에너지선 경화성 성분 및 열경화성 성분을 함유하는 조성물(IV-1)을 사용함으로써 형성되는 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름은, 가열에 의해 피착체에 대한 접착력이 향상되고, 이 에너지선 경화성 보호막 형성용 필름으로부터 형성된 보호막의 강도도 향상된다.In addition to the energy ray-curable component, the composition (IV-1) contains one or two or more selected from the group consisting of a thermosetting component, a filler, a coupling agent, a crosslinking agent, a photopolymerization initiator, a colorant, and a general-purpose additive, depending on the purpose. You may have it. For example, the energy ray-curable protective film-forming film formed by using the composition (IV-1) containing the energy ray-curable component and the thermosetting component improves adhesion to an adherend by heating, and this energy ray The strength of the protective film formed from the film for forming a curable protective film is also improved.

조성물(IV-1)에 있어서의 상기 열경화성 성분, 충전재, 커플링제, 가교제, 광중합 개시제, 착색제, 및 범용 첨가제로는, 각각 조성물(III-1)에 있어서의 열경화성 성분(B), 충전재(D), 커플링제(E), 가교제(F), 광중합 개시제(H), 착색제(I), 및 범용 첨가제(J)와 동일한 것을 들 수 있다.As the thermosetting component, filler, coupling agent, crosslinking agent, photopolymerization initiator, colorant, and general-purpose additive in the composition (IV-1), respectively, the thermosetting component (B) and the filler (D) in the composition (III-1) ), a coupling agent (E), a crosslinking agent (F), a photopolymerization initiator (H), a colorant (I), and the same as the general-purpose additive (J).

조성물(IV-1)에 있어서, 상기 열경화성 성분, 충전재, 커플링제, 가교제, 광중합 개시제, 착색제, 및 범용 첨가제는, 각각 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 되며, 2종 이상을 병용하는 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다.In the composition (IV-1), the thermosetting component, filler, coupling agent, crosslinking agent, photopolymerization initiator, colorant, and general-purpose additive may each be used singly or in combination of two or more. When the above is used in combination, combinations and ratios thereof can be arbitrarily selected.

조성물(IV-1)에 있어서의 상기 열경화성 성분, 충전재, 커플링제, 가교제, 광중합 개시제, 착색제, 및 범용 첨가제의 함유량은 목적에 따라 적절히 조절하면 되며, 특별히 한정되지 않는다.The content of the thermosetting component, filler, coupling agent, crosslinking agent, photoinitiator, colorant, and general-purpose additive in the composition (IV-1) may be appropriately adjusted according to the purpose, and is not particularly limited.

조성물(IV-1)은 희석에 의해 그 취급성이 향상되는 점에서, 추가로 용매를 함유하는 것이 바람직하다.The composition (IV-1) preferably further contains a solvent from the viewpoint of improving its handling properties by dilution.

조성물(IV-1)이 함유하는 용매로는 예를 들면, 조성물(III-1)에 있어서의 용매와 동일한 것을 들 수 있다.The solvent contained in the composition (IV-1) includes, for example, the same solvent as the solvent in the composition (III-1).

조성물(IV-1)이 함유하는 용매는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 된다.The number of solvents contained in the composition (IV-1) may be one or two or more.

<<에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물의 제조 방법>><<The manufacturing method of the composition for energy ray-curable protective film formation>>

조성물(IV-1) 등의 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물은, 이를 구성하기 위한 각 성분을 배합함으로써 얻어진다.A composition for forming an energy ray-curable protective film such as composition (IV-1) is obtained by blending each component for constituting it.

각 성분의 배합시에 있어서의 첨가 순서는 특별히 한정되지 않고, 2종 이상의 성분을 동시에 첨가해도 된다.The order of addition at the time of blending each component is not particularly limited, and two or more components may be added at the same time.

용매를 사용하는 경우에는, 용매를 용매 이외의 어느 하나의 배합 성분과 혼합하여 이 배합 성분을 미리 희석해 둠으로써 사용해도 되고, 용매 이외의 어느 하나의 배합 성분을 미리 희석해 두지 않고, 용매를 이들 배합 성분과 혼합함으로써 사용해도 된다. In the case of using a solvent, it may be used by mixing the solvent with any of the components other than the solvent and diluting the component in advance. You may use it by mixing with these compounding components.

배합시에 각 성분을 혼합하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 교반자 또는 교반 날개 등을 회전시켜 혼합하는 방법; 믹서를 이용하여 혼합하는 방법; 초음파를 가하여 혼합하는 방법 등, 공지의 방법으로부터 적절히 선택하면 된다. The method of mixing each component at the time of mixing is not particularly limited, and a method of mixing by rotating a stirrer or a stirring blade, etc.; Mixing using a mixer; What is necessary is just to select suitably from well-known methods, such as a method of adding ultrasonic waves and mixing.

각 성분의 첨가 및 혼합시의 온도와 시간은, 각 배합 성분이 열화하지 않는 한 특별히 한정되지 않고, 적절히 조절하면 되나, 온도는 15℃ 이상 30℃ 이하인 것이 바람직하다.The temperature and time at the time of addition and mixing of each component are not particularly limited as long as each compounding component does not deteriorate, and may be appropriately adjusted, but the temperature is preferably 15°C or more and 30°C or less.

○비경화성 보호막 형성용 필름○ Film for forming a non-curable protective film

바람직한 비경화성 보호막 형성용 필름으로는 예를 들면, 비경화성 성분(c)을 함유한다. 비경화성 보호막 형성용 필름에 있어서, 비경화성 성분(c)은 경화성을 갖지 않고, 지지 시트에 대한 점착성, 및 반도체 웨이퍼 또는 칩을 보호하기 위해 적당한 경도를 갖는 것이 바람직하다. 여기서, 「비경화성」이란, 앞서 설명한 바와 같다.A preferable film for forming a non-curable protective film contains, for example, a non-curable component (c). In the film for forming a non-curable protective film, it is preferable that the non-curable component (c) does not have curability, but has an adhesive property to a support sheet and an appropriate hardness to protect a semiconductor wafer or chip. Here, "non-curable" is as described above.

비경화성 보호막 형성용 필름은 1층(단층)만이어도 되고, 2층 이상의 복수층이어도 되며, 복수층인 경우, 이들 복수층은 서로 동일해도 상이해도 되고, 이들 복수층의 조합은 특별히 한정되지 않는다.The film for forming a non-curable protective film may be only one layer (single layer), or may be a plurality of layers of two or more layers, and in the case of a plurality of layers, the plurality of layers may be the same or different from each other, and the combination of the plurality of layers is not particularly limited. .

비경화성 보호막 형성용 필름의 두께는 1㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 5㎛ 이상 75㎛ 이하인 것이 보다 바람직하며, 5㎛ 이상 50㎛ 이하인 것이 특히 바람직하다. 비경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 하한값 이상임으로써, 비경화성 보호막 형성용 필름을 보호막으로서 사용하는 경우에 있어서 보호능이 보다 높은 보호막을 형성할 수 있다. 또한, 비경화성 보호막 형성용 필름의 두께가 상기 상한값 이하임으로써, 과잉 두께가 되는 것이 억제된다. The thickness of the film for forming a non-curable protective film is preferably 1 µm or more and 100 µm or less, more preferably 5 µm or more and 75 µm or less, and particularly preferably 5 µm or more and 50 µm or less. When the thickness of the film for forming a non-curable protective film is equal to or greater than the lower limit, a protective film having a higher protective ability can be formed when the film for forming a non-curable protective film is used as a protective film. In addition, when the thickness of the film for forming a non-curable protective film is equal to or less than the above upper limit, excessive thickness is suppressed.

여기서, 「비경화성 보호막 형성용 필름의 두께」란, 비경화성 보호막 형성용 필름 전체의 두께를 의미하며 예를 들면, 복수층으로 이루어지는 비경화성 보호막 형성용 필름의 두께란, 비경화성 보호막 형성용 필름을 구성하는 모든 층의 합계의 두께를 의미한다.Here, the "thickness of the film for forming a non-curable protective film" means the thickness of the entire film for forming a non-curable protective film. For example, the thickness of the film for forming a non-curable protective film composed of a plurality of layers means a film for forming a non-curable protective film. Means the thickness of the sum of all the layers that make up it.

<<비경화성 보호막 형성용 조성물>><<Composition for forming a non-curable protective film>>

비경화성 보호막 형성용 필름은 그 구성 재료를 함유하는 비경화성 보호막 형성용 조성물을 사용하여 형성할 수 있다. 예를 들면, 비경화성 보호막 형성용 필름의 형성 대상면에 비경화성 보호막 형성용 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 목적으로 하는 부위에 비경화성 보호막 형성용 필름을 형성할 수 있다. 비경화성 보호막 형성용 조성물 중의 상온에서 기화하지 않는 성분끼리의 함유량의 비율은 통상, 비경화성 보호막 형성용 필름의 상기 성분끼리의 함유량의 비율과 동일해진다. 여기서, 「상온」이란, 앞서 설명한 바와 같다.The film for forming a non-curable protective film can be formed using a composition for forming a non-curable protective film containing the constituent material. For example, by coating a composition for forming a non-curable protective film on a surface to be formed of a film for forming a non-curable protective film, and drying as necessary, a film for forming a non-curable protective film can be formed on a target site. The ratio of the content of the components that do not vaporize at room temperature in the composition for forming a non-curable protective film is usually the same as the ratio of the content of the components of the film for forming a non-curable protective film. Here, "room temperature" is as described above.

비경화성 보호막 형성용 조성물의 도공은 예를 들면, 상술한 점착제 조성물의 도공의 경우와 동일한 방법으로 행할 수 있다.The coating of the composition for forming a non-curable protective film can be performed, for example, in the same manner as in the case of coating the pressure-sensitive adhesive composition described above.

비경화성 보호막 형성용 조성물의 건조 조건은 특별히 한정되지 않으나, 비경화성 보호막 형성용 조성물은 후술하는 용매를 함유하고 있는 경우, 가열 건조시키는 것이 바람직하고, 이 경우, 예를 들면, 70℃ 이상 130℃ 이하에서 10초 이상 5분 이하의 조건으로 건조시키는 것이 바람직하다.Drying conditions of the composition for forming a non-curable protective film are not particularly limited, but when the composition for forming a non-curable protective film contains a solvent to be described later, it is preferable to heat-dry, in this case, for example, 70° C. or more and 130° C. It is preferable to dry under the conditions of 10 seconds or more and 5 minutes or less below.

<비경화성 보호막 형성용 조성물(V-1)><Composition for forming a non-curable protective film (V-1)>

비경화성 보호막 형성용 조성물로는 예를 들면, 상기 비경화성 성분(c)을 함유하는 비경화성 보호막 형성용 조성물(V-1)(본 명세서에 있어서는, 단순히 「조성물(V-1)」로 약기하는 경우가 있다) 등을 들 수 있다.As a composition for forming a non-curable protective film, for example, a composition for forming a non-curable protective film (V-1) containing the non-curable component (c) (in this specification, simply abbreviated as ``composition (V-1)''). There are cases), etc. are mentioned.

비경화성 성분(c)으로는 아크릴계 중합체 등을 들 수 있으며, 이들에 한정되지 않는다.Examples of the non-curable component (c) include, but are not limited to, acrylic polymers.

조성물(V-1)은 상기 비경화성 성분(c) 이외에, 목적에 따라 충전재, 커플링제, 가교제, 착색제, 및 범용 첨가제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상을 함유하고 있어도 된다.In addition to the non-curable component (c), the composition (V-1) may contain one or two or more selected from the group consisting of a filler, a coupling agent, a crosslinking agent, a colorant, and a general-purpose additive, depending on the purpose.

조성물(V-1)에 있어서의 상기 충전재, 커플링제, 가교제, 착색제, 및 범용 첨가제로는, 각각 조성물(III-1)에 있어서의 충전재(D), 커플링제(E), 가교제(F), 착색제(I), 및 범용 첨가제(J)와 동일한 것을 들 수 있다.As the filler, coupling agent, crosslinking agent, colorant, and general-purpose additive in the composition (V-1), the filler (D), coupling agent (E), and crosslinking agent (F) in the composition (III-1), respectively. , The colorant (I), and the same thing as the general-purpose additive (J) can be mentioned.

조성물(V-1)에 있어서, 상기 충전재, 커플링제, 가교제, 착색제, 및 범용 첨가제는, 각각 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상을 병용해도 되며, 2종 이상을 병용하는 경우, 이들의 조합 및 비율은 임의로 선택할 수 있다. In the composition (V-1), the filler, coupling agent, crosslinking agent, colorant, and general-purpose additive may each be used singly or in combination of two or more, and when two or more are used in combination, These combinations and ratios can be arbitrarily selected.

조성물(V-1)에 있어서의 상기 충전재, 커플링제, 가교제, 착색제, 및 범용 첨가제의 함유량은 목적에 따라 적절히 조절하면 되며, 특별히 한정되지 않는다.The content of the filler, coupling agent, crosslinking agent, colorant, and general-purpose additive in the composition (V-1) may be appropriately adjusted according to the purpose, and is not particularly limited.

조성물(V-1)은 희석에 의해 그 취급성이 향상되는 점에서, 추가로 용매를 함유하는 것이 바람직하다.The composition (V-1) preferably further contains a solvent from the viewpoint of improving its handling properties by dilution.

조성물(V-1)이 함유하는 용매로는 예를 들면, 조성물(III-1)에 있어서의 용매와 동일한 것을 들 수 있다.Examples of the solvent contained in the composition (V-1) include the same solvents as those in the composition (III-1).

조성물(V-1)이 함유하는 용매는 1종만이어도 되며, 2종 이상이어도 된다.The number of solvents contained in the composition (V-1) may be one or two or more.

<<비경화성 보호막 형성용 조성물의 제조 방법>><<The manufacturing method of the composition for forming a non-curable protective film>>

조성물(V-1) 등의 비경화성 보호막 형성용 조성물은 이를 구성하기 위한 각 성분을 배합함으로써 얻어진다.A composition for forming a non-curable protective film such as composition (V-1) is obtained by blending each component for constituting it.

각 성분의 배합시에 있어서의 첨가 순서는 특별히 한정되지 않고, 2종 이상의 성분을 동시에 첨가해도 된다.The order of addition at the time of blending each component is not particularly limited, and two or more components may be added at the same time.

용매를 사용하는 경우에는, 용매를 용매 이외의 어느 배합 성분과 혼합하여 이 배합 성분을 미리 희석해 둠으로써 사용해도 되며, 용매 이외의 어느 배합 성분을 미리 희석해 두지 않고, 용매를 이들 배합 성분과 혼합함으로써 사용해도 된다. In the case of using a solvent, it may be used by mixing the solvent with any compounding component other than the solvent and diluting the compounding component in advance. You may use it by mixing.

배합시에 각 성분을 혼합하는 방법은 특별히 한정되지 않고, 교반자 또는 교반 날개 등을 회전시켜 혼합하는 방법; 믹서를 이용하여 혼합하는 방법; 초음파를 가하여 혼합하는 방법 등, 공지의 방법으로부터 적절히 선택하면 된다. The method of mixing each component at the time of mixing is not particularly limited, and a method of mixing by rotating a stirrer or a stirring blade, etc.; Mixing using a mixer; What is necessary is just to select suitably from well-known methods, such as a method of adding ultrasonic waves and mixing.

각 성분의 첨가 및 혼합시의 온도와 시간은, 각 배합 성분이 열화하지 않는 한 특별히 한정되지 않고, 적절히 조절하면 되나, 온도는 15℃ 이상 30℃ 이하인 것이 바람직하다. The temperature and time at the time of addition and mixing of each component are not particularly limited as long as each compounding component does not deteriorate, and may be appropriately adjusted, but the temperature is preferably 15°C or more and 30°C or less.

◇보호막 형성용 복합 시트의 제조 방법◇Method of manufacturing a composite sheet for forming a protective film

상기 보호막 형성용 복합 시트는 상술한 각 층을 대응하는 위치 관계, 및 상술한 지지 시트의 폭(TD 방향의 최대 길이)에 대한 보호막 형성용 필름의 폭(TD 방향의 최대 길이)의 비가 되도록 순서대로 적층함으로써 제조할 수 있다. 각 층의 형성 방법은 앞서 설명한 바와 같다.The composite sheet for forming a protective film is ordered to be a ratio of the positional relationship of each layer described above, and the width (maximum length in the TD direction) of the protective film forming film to the width (maximum length in the TD direction) of the support sheet described above. It can be manufactured by laminating it as it is. The method of forming each layer is as described above.

예를 들면, 보호막 형성용 복합 시트를 제조할 때, 기재 상에 적층된 점착제층 상에 추가로 보호막 형성용 필름을 적층하는 경우에는, 점착제층 상에 열경화성 보호막 형성용 조성물, 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물, 또는 비경화성 보호막 형성용 조성물을 도공하여, 보호막 형성용 필름을 직접 형성하는 것이 가능하다. 이와 같이, 어느 하나의 조성물을 사용하여 연속하는 2층의 적층 구조를 형성하는 경우에는, 상기 조성물로부터 형성된 층 상에 추가로 조성물을 도공하여 새롭게 층을 형성하는 것이 가능하다. 단, 이들 2층 중 나중에 적층하는 층은 다른 박리 필름 상에 상기 조성물을 사용하여 미리 형성해 두고, 이 형성된 층의 상기 박리 필름과 접촉되어 있는 측과는 반대측 노출면을 이미 형성된 나머지 층의 노출면과 첩합함으로써, 연속하는 2층의 적층 구조를 형성하는 것이 바람직하다. 이 때, 상기 조성물은 박리 필름의 박리 처리면에 도공하는 것이 바람직하다. 박리 필름은 적층 구조의 형성 후, 필요에 따라 제거하면 된다. For example, when manufacturing a composite sheet for forming a protective film, when the film for forming a protective film is additionally laminated on the pressure-sensitive adhesive layer laminated on the substrate, a composition for forming a thermosetting protective film on the pressure-sensitive adhesive layer, forming an energy ray-curable protective film It is possible to directly form a protective film-forming film by coating the composition for use or the composition for forming a non-curable protective film. In this way, in the case of forming a continuous two-layer laminated structure using any one composition, it is possible to form a new layer by further coating the composition on the layer formed from the composition. However, among these two layers, the layer to be laminated later is formed in advance using the composition on another release film, and the exposed side of the formed layer opposite to the side in contact with the release film is the exposed side of the other already formed layer. By bonding with, it is preferable to form a continuous two-layer laminated structure. At this time, it is preferable to apply the composition to the peeling-treated surface of the peeling film. The release film may be removed as necessary after formation of the laminated structure.

즉, 보호막 형성용 복합 시트를 제조하는 경우에는, 기재 상에 점착제 조성물을 도공하여 필요에 따라 건조시킴으로써, 기재 상에 점착제층을 적층해 두고, 별도, 박리 필름 상에 열경화성 보호막 형성용 조성물, 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물, 또는 비경화성 보호막 형성용 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 박리 필름 상에 보호막 형성용 필름을 형성해 두고, 이 보호막 형성용 필름의 노출면을 기재 상에 적층된 점착제층의 노출면과 첩합하여, 보호막 형성용 필름을 점착제층 상에 적층함으로써, 보호막 형성용 복합 시트가 얻어진다.That is, in the case of manufacturing a composite sheet for forming a protective film, the pressure-sensitive adhesive composition is coated on the substrate and dried as necessary, so that the pressure-sensitive adhesive layer is laminated on the substrate, and separately, the composition for forming a thermosetting protective film on the release film, energy By coating a composition for forming a pre-curable protective film or a composition for forming a non-curable protective film and drying as necessary, a film for forming a protective film is formed on the release film, and the exposed surface of the film for forming a protective film is laminated on the substrate. By bonding with the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer and laminating the film for protective film formation on the pressure-sensitive adhesive layer, a composite sheet for protective film formation is obtained.

한편, 기재 상에 점착제층을 적층하는 경우에는, 상술한 바와 같이, 기재 상에 점착제 조성물을 도공하는 방법 대신에, 박리 필름 상에 점착제 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 박리 필름 상에 점착제층을 형성해 두고, 이 점착제층의 노출면을 기재의 한쪽 표면과 첩합함으로써, 점착제층을 기재 상에 적층해도 된다. On the other hand, in the case of laminating the pressure-sensitive adhesive layer on the substrate, as described above, instead of the method of coating the pressure-sensitive adhesive composition on the substrate, coating the pressure-sensitive adhesive composition on the release film and drying as necessary, on the release film. A pressure-sensitive adhesive layer may be laminated on the substrate by forming an adhesive layer and bonding the exposed surface of the pressure-sensitive adhesive layer to one surface of the substrate.

어느 방법에 있어서도, 박리 필름은 목적으로 하는 적층 구조를 형성 후 임의의 타이밍에 제거하면 된다. In either method, the release film may be removed at an arbitrary timing after forming the target laminated structure.

이와 같이, 보호막 형성용 복합 시트를 구성하는 기재 이외의 층(점착제층, 보호막 형성용 필름)은 모두 박리 필름 상에 미리 형성해 두고, 목적으로 하는 층의 표면에 첩합하는 방법으로 적층할 수 있기 때문에, 필요에 따라 이러한 공정을 채용하는 층을 적절히 선택하여 보호막 형성용 복합 시트를 제조하면 된다. In this way, all layers other than the base material constituting the protective film-forming composite sheet (adhesive layer, protective film-forming film) can be formed in advance on the release film and laminated by a method of bonding to the surface of the target layer. , If necessary, a layer employing such a process may be appropriately selected to produce a composite sheet for forming a protective film.

한편, 보호막 형성용 복합 시트는 통상, 그 지지 시트와는 반대측 최표층(예를 들면, 보호막 형성용 필름) 표면에 박리 필름이 첩합된 상태로 보관된다. 따라서, 이 박리 필름(바람직하게는, 그 박리 처리면) 상에 열경화성 보호막 형성용 조성물, 에너지선 경화성 보호막 형성용 조성물, 또는 비경화성 보호막 형성용 조성물 등의 최표층을 구성하는 층을 형성하기 위한 조성물을 도공하고, 필요에 따라 건조시킴으로써, 박리 필름 상에 최표층을 구성하는 층을 형성해 두고, 이 층의 박리 필름과 접촉되어 있는 측과는 반대측 노출면 상에 나머지 각 층을 상술한 어느 방법으로 적층하여, 박리 필름을 제거하지 않고 첩합한 상태인 채로 함으로써도, 보호막 형성용 복합 시트가 얻어진다. On the other hand, the composite sheet for forming a protective film is usually stored in a state in which a release film is adhered to the surface of the outermost layer (for example, a film for forming a protective film) on the opposite side of the supporting sheet. Therefore, for forming a layer constituting the outermost layer, such as a composition for forming a thermosetting protective film, a composition for forming an energy ray-curable protective film, or a composition for forming a non-curable protective film, on this release film (preferably the peeling treatment surface thereof) By coating the composition and drying as necessary, a layer constituting the outermost layer is formed on the release film, and the remaining layers are formed on the exposed side opposite to the side in contact with the release film of this layer. The composite sheet for forming a protective film is also obtained by laminating in a state in which the release film is not removed and the film is bonded.

◇보호막 형성용 필름의 사용 방법◇How to use the film for forming a protective film

본 발명의 보호막 형성용 필름은 예를 들면, 이하에 나타내는 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조 방법 또는 반도체 패키지의 제조 방법에서 사용할 수 있다.The film for forming a protective film of the present invention can be used, for example, in a method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film as described below or a method for manufacturing a semiconductor package.

즉, 반도체 웨이퍼의 이면(전극 형성면과는 반대측 면)에 그 보호막 형성용 필름을 첩부한다(도 9(b)). 이 때, 반도체 웨이퍼의 이면에는 미리 레이저 인자해 두어도 되고(도 9(a)), 보호막 형성용 복합 시트 너머로 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자해도 된다.That is, the protective film forming film is affixed to the back surface of the semiconductor wafer (the surface opposite to the electrode forming surface) (Fig. 9(b)). At this time, laser printing may be performed on the back surface of the semiconductor wafer in advance (Fig. 9(a)), or laser printing may be performed on the back surface of the semiconductor wafer over the composite sheet for forming a protective film.

이어서, 보호막 형성용 필름에 필요에 따라 가열 또는 에너지선을 조사하고, 보호막 형성용 필름을 경화시켜(도 9(c)) 보호막으로 한다. 혹은, 비경화성 보호막 형성용 조성물에 의해 형성된 보호막 형성용 필름인 경우에는, 미경화 상태로 보호막으로서 사용해도 된다. 보호막 형성용 필름에 레이저 인자하는 것이 아니고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시키고, 보호막으로 했을 때에도 인자 열화의 우려가 없는 것으로 할 수 있다.Subsequently, heating or energy rays are irradiated to the film for protective film formation as needed, and the film for protective film formation is hardened (FIG. 9(c)), and it is set as a protective film. Alternatively, in the case of a film for forming a protective film formed of a composition for forming a non-curable protective film, it may be used as a protective film in an uncured state. By laser printing on the back surface of the semiconductor wafer instead of laser printing on the protective film-forming film, even when the protective film-forming film is cured and used as a protective film, there is no fear of printing deterioration.

이어서, 다이싱 테이프를 보호막에 첩부하고, 반도체 웨이퍼를 보호막째 분할하여 반도체 칩으로 한다. 그리고, 반도체 칩을 이 보호막이 첩부된 상태인 채로(즉, 보호막이 형성된 반도체 칩으로서), 기재 측으로부터 힘을 가하여 익스팬드하고, 반도체 칩 사이의 커프 폭을 넓힌 후, 지지 시트로부터 분리하여 픽업한다.Next, a dicing tape is affixed to the protective film, and the semiconductor wafer is divided into a protective film to obtain a semiconductor chip. Then, the semiconductor chip is expanded by applying force from the side of the substrate while the protective film is affixed thereon (i.e., as a semiconductor chip with the protective film), and the cuff width between the semiconductor chips is widened, and then separated from the support sheet and picked up. do.

이어서, 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩을 기판의 회로면에 플립 칩 접속 한 후, 열처리(리플로우 공정)를 거쳐 반도체 패키지로 한다(도 9(d)). 그리고, 이 반도체 패키지를 사용하여, 목적으로 하는 반도체 장치를 제작하면 된다. 보호막 형성용 필름에 레이저 인자하는 것이 아니고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자함으로써, 열처리(리플로우 공정)에서도 인자 열화의 우려가 없는 것으로 할 수 있다.Next, the semiconductor chip with the obtained protective film formed thereon is flip-chip-connected to the circuit surface of the substrate, and then subjected to heat treatment (reflow process) to obtain a semiconductor package (Fig. 9(d)). Then, using this semiconductor package, an intended semiconductor device may be fabricated. By not performing laser printing on the film for forming a protective film, but laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, the printing deterioration can be avoided even in heat treatment (reflow step).

한편, 보호막 형성용 필름을 가열 또는 에너지선을 조사하여 경화시키는 경우, 그 타이밍은 상술한 바와 같이, 다이싱 전이어도 되고, 다이싱 후여도 된다. 그 중에서도, 보호막 형성용 필름을 가열 또는 에너지선을 조사하여 경화시키는 타이밍은 다이싱 전인 것이 바람직하다.On the other hand, in the case of curing the protective film-forming film by heating or irradiating energy rays, the timing may be before dicing or after dicing, as described above. Among them, it is preferable that the timing of curing the protective film-forming film by heating or irradiating energy rays is before dicing.

◇보호막 형성용 복합 시트의 사용 방법◇How to use the composite sheet for forming a protective film

본 발명의 보호막 형성용 복합 시트는 예를 들면, 이하에 나타내는 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조 방법 또는 반도체 패키지의 제조 방법에서 사용할 수 있다.The composite sheet for forming a protective film of the present invention can be used, for example, in a method for manufacturing a semiconductor chip with a protective film as described below or a method for manufacturing a semiconductor package.

즉, 반도체 웨이퍼의 이면(전극 형성면과는 반대측 면)에 보호막 형성용 복합 시트를 그 보호막 형성용 필름에 의해 첩부한다. 이 때, 반도체 웨이퍼의 이면에는 미리 레이저 인자해 두어도 되고, 보호막 형성용 복합 시트 너머로 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자해도 된다.That is, the protective film-forming composite sheet is affixed to the back surface of the semiconductor wafer (the surface opposite to the electrode-forming surface) by the protective film-forming film. At this time, laser printing may be performed on the back surface of the semiconductor wafer in advance, or laser printing may be performed on the back surface of the semiconductor wafer over the composite sheet for forming a protective film.

이어서, 보호막 형성용 필름에 필요에 따라 가열 또는 에너지선을 조사하고, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 보호막으로 한다. 혹은, 비경화성 보호막 형성용 조성물에 의해 형성된 보호막 형성용 필름인 경우에는, 미경화인 채로 보호막으로서 사용해도 된다.Subsequently, the film for forming a protective film is irradiated with heating or energy rays as necessary, and the film for forming a protective film is cured to obtain a protective film. Alternatively, in the case of a film for forming a protective film formed of a composition for forming a non-curable protective film, it may be used as a protective film without curing.

이어서, 다이싱에 의해 반도체 웨이퍼를 보호막째 분할하여 반도체 칩으로 한다. 보호막 형성용 필름에 레이저 인자하는 것이 아니고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜, 보호막으로 했을 때에도 인자 열화의 우려가 없는 것으로 할 수 있다.Next, the semiconductor wafer is divided into a protective film by dicing to obtain a semiconductor chip. The protective film forming film can be cured by laser printing on the back surface of the semiconductor wafer rather than laser printing on the protective film forming film, so that there is no fear of printing deterioration even when the protective film is formed.

이후는 상기 보호막 형성용 필름의 사용 방법과 동일한 방법으로, 반도체 칩을 지지 시트로부터 분리하여 픽업한다. 이어서, 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩을 기판의 회로면에 플립 칩 접속한 후, 열처리(리플로우 공정)를 거쳐 반도체 패키지로 한다. 그리고, 이 반도체 패키지를 사용하여, 목적으로 하는 반도체 장치를 제작하면 된다. 보호막 형성용 필름에 레이저 인자하는 것이 아니고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자함으로써, 열처리(리플로우 공정)에서도 인자 열화의 우려가 없는 것으로 할 수 있다.Thereafter, the semiconductor chip is separated from the support sheet and picked up in the same manner as the method of using the protective film forming film. Next, the semiconductor chip with the obtained protective film formed thereon is flip-chip-connected to the circuit surface of the substrate, and then subjected to heat treatment (reflow step) to obtain a semiconductor package. Then, using this semiconductor package, an intended semiconductor device may be fabricated. By not performing laser printing on the film for forming a protective film, but laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, the printing deterioration can be avoided even in heat treatment (reflow step).

보호막 형성용 필름을 가열 또는 에너지선을 조사하여 경화시키는 경우, 그 타이밍은 상술한 바와 같이, 다이싱 전이어도 되고, 다이싱 후여도 된다. 그 중에서도, 보호막 형성용 필름을 가열 또는 에너지선을 조사하여 경화시키는 타이밍은 다이싱 전인 것이 바람직하다.When the film for forming a protective film is cured by heating or irradiating energy rays, the timing may be before dicing or after dicing, as described above. Among them, it is preferable that the timing of curing the protective film-forming film by heating or irradiating energy rays is before dicing.

◇검사 방법◇Inspection method

본 발명의 검사 방법은 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 또는 상기 반도체 칩을 검사하는 공정을 구비한다.The inspection method of the present invention includes a step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer, and a semiconductor chip obtained by separating the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor wafer into pieces. A step of inspecting the semiconductor wafer or the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the rear surface of the film is provided.

상기 검사하는 공정은, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩의 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사하는 공정이어도 된다.The inspection step includes laser-printed printing on the semiconductor wafer or the semiconductor chip over a protective film formed by affixing the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip obtained by dividing the semiconductor wafer into pieces, It may be a step of inspecting the presence or absence of a grinding mark on the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip, or the presence or absence of a foreign material between the semiconductor wafer or the semiconductor chip and the protective film.

본 발명의 검사 방법은 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼에 레이저 인자된 인자를 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 되고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼의 이면의 연삭흔을 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 되며, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼와 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 된다.The inspection method of the present invention includes a step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of attaching a protective film forming film to the back surface of the semiconductor wafer, and a protective film formed by attaching the protective film forming film to the back surface of the semiconductor wafer. A step of inspecting laser-printed printing on the semiconductor wafer may be provided, a step of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, a step of attaching a protective film forming film to the back surface of the semiconductor wafer, and A step of inspecting the grinding marks on the back surface of the semiconductor wafer over the protective film formed by affixing the protective film forming film on the back surface may be provided, a step of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, and a protective film on the back surface of the semiconductor wafer A step of attaching a forming film, and a step of inspecting the presence or absence of a foreign substance between the semiconductor wafer and the protective film over the protective film formed by attaching the protective film forming film to the back surface of the semiconductor wafer.

또한, 본 발명의 검사 방법은 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자를 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 되고, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩의 이면의 연삭흔을 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 되며, 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사하는 공정을 구비하는 것이어도 된다.In addition, the inspection method of the present invention includes a step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of affixing a film for forming a protective film on the back surface of the semiconductor wafer, and the protective film on the back surface of a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer. A process of inspecting laser-printed printing on the semiconductor chip over the protective film formed by affixing the forming film may be provided, a process of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, and a film for forming a protective film on the back surface of the semiconductor wafer. It may include a step of sticking and a step of inspecting the grinding marks on the back surface of the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer. The process of laser printing on the back surface of the semiconductor wafer, a step of attaching a film for forming a protective film to the back surface of the semiconductor wafer, and the film for forming a protective film on the back surface of a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer into pieces. It may be provided with a step of inspecting the presence or absence of foreign substances between the semiconductor chip and the protective film.

◇식별 방법◇How to identify

본 발명의 식별 방법은 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자를 판독하여, 상기 반도체 칩의 종별을 식별하는 공정을 구비한다.The identification method of the present invention includes a step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of attaching a film for forming a protective film on the back surface of the semiconductor wafer, and a step of forming the protective film on the back surface of a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer. And a step of reading a laser-printed print on the semiconductor chip over a protective film formed by affixing a film to identify the type of the semiconductor chip.

실시예Example

이하, 구체적 실시예에 의해, 본 발명에 대해 보다 상세하게 설명한다. 단, 본 발명은 이하에 나타내는 실시예에 한정되는 것은 전혀 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by specific examples. However, the present invention is not limited to the examples shown below at all.

보호막 형성용 조성물(III-1)의 제조에 사용한 성분을 이하에 나타낸다.Components used in the preparation of the protective film-forming composition (III-1) are shown below.

·중합체 성분·Polymer component

(A)-1: 메틸아크릴레이트 85질량부 및 2-히드록시에틸아크릴레이트 15질량부를 공중합하여 이루어지는 아크릴계 중합체(중량 평균 분자량: 37만)(A)-1: acrylic polymer obtained by copolymerizing 85 parts by mass of methyl acrylate and 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average molecular weight: 370,000)

(A)-2: 부틸아크릴레이트 13질량부, 메틸아크릴레이트 70질량부, 메타크릴산글리시딜 5질량부, 및 2-히드록시에틸아크릴레이트 12질량부를 공중합하여 이루어지는 아크릴계 중합체(중량 평균 분자량: 42만)(A)-2: An acrylic polymer obtained by copolymerizing 13 parts by mass of butyl acrylate, 70 parts by mass of methyl acrylate, 5 parts by mass of glycidyl methacrylate, and 12 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (weight average molecular weight : 420,000)

·열경화성 성분·Thermosetting component

(B1)-1: 비스페놀 A형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬 제조 JER828, 에폭시 당량 184∼194g/eq)(B1)-1: Bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical JER828, epoxy equivalent 184 to 194 g/eq)

(B1)-2: 비스페놀 A형 에폭시 수지(미츠비시 케미컬 제조 JER1055, 에폭시 당량 800∼900g/eq)(B1)-2: Bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical JER1055, epoxy equivalent 800 to 900 g/eq)

(B1)-3: 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지(DIC(주) 제조 에피클론 HP-7200HH, 에폭시 당량 255∼260g/eq)(B1)-3: Dicyclopentadiene-type epoxy resin (Epiclon HP-7200HH manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent 255 to 260 g/eq)

(B2)-1: 열활성 잠재성 에폭시 수지 경화제(디시안디아미드(ADEKA 제조 아데카하드너 EH-3636AS, 활성 수소량 21g/eq))(B2)-1: Thermally active latent epoxy resin curing agent (dicyandiamide (Adeka Hardener EH-3636AS manufactured by ADEKA, active hydrogen amount 21 g/eq))

·경화 촉진제·Hardening accelerator

(C)-1: 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸(시코쿠 화성 공업사 제조 큐아졸 2PHZ)(C)-1: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Shikoku Chemical Industry Co., Ltd. Cuazole 2PHZ)

·충전재·filling

(D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(D)-1: Silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 µm)

(D)-2: 실리카 필러(다츠모리사 제조, SV-10, 평균 입자 직경 8.0㎛)(D)-2: Silica filler (manufactured by Tatsumori, SV-10, average particle diameter 8.0 µm)

·커플링제·Coupling agent

(E)-1: 실란 커플링제(일본 유니카 제조 A-1110)(E)-1: Silane coupling agent (A-1110 manufactured by Unicar, Japan)

·착색제·coloring agent

(I)-1: 유기계 흑색 안료(다이니치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(I)-1: Organic black pigment (6377 black manufactured by Dainichi Seika Co., Ltd.)

(I)-2: 카본 블랙(미츠비시 케미컬사 제조, #MA650, 평균 입자 직경 28㎚)(I)-2: Carbon black (manufactured by Mitsubishi Chemical, #MA650, average particle diameter 28 nm)

[실시예 1][Example 1]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(1)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (1))

고형 중량비로, 중합체 성분(A)-1(150질량부), 열경화성 성분(B1)-1(60질량부), (B1)-2(10질량부), (B1)-3(30질량부), (B2)-1(2.4질량부), 경화 촉진제(C)-1(2.4질량부), 충전재(D)-1(320질량부), 커플링제(E)-1(2질량부), 및 착색제(I)-1(15질량부)를 메틸에틸케톤에 용해 또는 분산시키고, 23℃에서 교반함으로써, 열경화성 보호막 형성용 조성물(1)을 얻었다.By solid weight ratio, polymer component (A)-1 (150 parts by mass), thermosetting component (B1)-1 (60 parts by mass), (B1)-2 (10 parts by mass), (B1)-3 (30 parts by mass) ), (B2)-1 (2.4 parts by mass), curing accelerator (C)-1 (2.4 parts by mass), filler (D)-1 (320 parts by mass), coupling agent (E)-1 (2 parts by mass) , And the coloring agent (I)-1 (15 parts by mass) were dissolved or dispersed in methyl ethyl ketone and stirred at 23°C to obtain a composition (1) for forming a thermosetting protective film.

(보호막 형성용 필름의 제조(1))(Production of protective film formation film (1))

폴리에틸렌테레프탈레이트제 필름의 한쪽 면이 실리콘 처리에 의해 박리 처리된 박리 필름(린텍사 제조 「SP-PET381031」, 두께 38㎛)의 상기 박리 처리면에, 상기에서 얻어진 보호막 형성용 조성물(1)을 나이프 코터에 의해 도공하고, 100℃에서 2분 건조시킴으로써, 두께 25㎛의 열경화성 보호막 형성용 필름(1)을 제작했다.On the release-treated side of a release film (“SP-PET381031,” manufactured by Lintec Co., Ltd., thickness 38 μm), in which one side of the polyethylene terephthalate film was peeled off by silicone treatment, the composition (1) for forming a protective film obtained above was added It applied with a knife coater and dried at 100 degreeC for 2 minutes, and the 25 micrometers-thick film for thermosetting protective film formation (1) was produced.

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

(상 선명도의 평가)(Evaluation of image sharpness)

스가 시험기(주) 제조 사상성 측정기 「ICM-10P」를 사용하고, JIS K 7374에 준거하여, 5종류의 슬릿(슬릿 폭: 0.125㎜, 0.25㎜, 0.5㎜, 1㎜, 및 2㎜)의 합계값을 보호막 형성용 필름(1)의 상 선명도로서 측정했다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.The sum of five types of slits (slit widths: 0.125 mm, 0.25 mm, 0.5 mm, 1 mm, and 2 mm) in accordance with JIS K 7374 using the Suga Testing Machine Co., Ltd. filamentity measuring instrument "ICM-10P" The value was measured as the image sharpness of the film for protective film formation (1). Table 1 shows the measurement results.

(보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율)(Light transmittance of the film for forming a protective film at a wavelength of 550 nm)

분광 광도계(SHIMADZU사 제조, UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600)를 이용하여, 보호막 형성용 필름의 파장 550㎚의 광선 투과율을 측정했다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.Using a spectrophotometer (manufactured by SHIMADZU, UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETER UV-3600), the light transmittance of the film for forming a protective film at a wavelength of 550 nm was measured. Table 1 shows the measurement results.

(보호막 형성용 필름의 헤이즈)(Haze of protective film formation film)

보호막 형성용 필름에 대해, JIS K 7136: 2000에 준거하여, NDH5000(니혼 전색 공업사 제조)을 사용하고, 광원으로서 백색 LED(5V, 3W)를 이용하여, 헤이즈(%)를 측정했다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.For the film for forming a protective film, according to JIS K 7136:2000, NDH5000 (manufactured by Nippon Electric Co., Ltd.) was used, and a white LED (5V, 3W) was used as a light source, and the haze (%) was measured. Table 1 shows the measurement results.

(보호막 형성용 필름의 표면 조도)(Surface roughness of the film for forming a protective film)

광 간섭식 표면 형상 측정 장치(Veeco Metrology Group사 제조, 제품명 「WYKO WT1100」)를 이용하여, PSI 모드에서 배율 10배로, 보호막 형성용 필름의 표면 조도(Ra)를 면내에서 10점 측정하고, 평균값을 구했다. 측정 결과를 표 1에 나타낸다.Using an optical interference type surface shape measuring device (manufactured by Veeco Metrology Group, product name "WYKO WT1100"), 10 times the magnification in PSI mode, the surface roughness (Ra) of the film for forming a protective film was measured in plane by 10 points, and the average value Saved. Table 1 shows the measurement results.

(인자 시인성 평가)(Factor visibility evaluation)

8인치의 반도체 웨이퍼에 EO 테크닉스 제조 레이저 인자 장치 CSM300M을 이용하여 인자를 행하고, 그 면에 보호막 형성용 필름(1)을 첩부했다. 레이저 인자된 문자의 사이즈는 0.3㎜×0.2㎜로 했다.Printing was performed on an 8-inch semiconductor wafer using a laser printing device CSM300M manufactured by EO Technics, and the film 1 for forming a protective film was affixed to the surface. The size of the laser-printed character was set to 0.3 mm×0.2 mm.

보호막 형성용 필름(1) 너머로 레이저 인자된 문자를 육안으로 관찰했을 때, 문자를 시인할 수 있는지의 여부를 판정했다. 평가 결과를 표 1에 나타낸다.When the laser-printed character was visually observed over the protective film-forming film 1, it was determined whether or not the character could be visually recognized. Table 1 shows the evaluation results.

A: 선명히 보임 B: 약간 희미하나 시인 가능 C: 시인 불가능A: Clearly visible B: Slightly faint, but visible C: Not visible

(보호막의 신뢰성 평가)(Evaluation of the reliability of the protective film)

상기에서 얻어진 적층체를 풀어내어, 보호막 형성용 필름의 한쪽 면으로부터 한쪽의 상기 박리 필름을 제거하고, #2000 연마한 실리콘 웨이퍼(200㎜ 직경, 두께 280㎛)의 연마면에 테이프 마운터(린텍사 제조 「Adwill RAD-3600F/12)를 이용하여, 한쪽 면에 상기 박리 필름을 구비한 보호막 형성용 필름의 노출면을 70℃로 가열하면서 첩부했다. 이어서, 조도 230㎽/㎠, 광량 170mJ/㎠의 조건에서 자외선을 조사함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜, 실리콘 웨이퍼의 연마면에 보호막을 형성했다.The laminate obtained above was unscrewed, one of the peeling films was removed from one side of the film for forming a protective film, and a tape mounter (Lintec Co., Ltd.) on the polished surface of a #2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 μm thick) Using the production "Adwill RAD-3600F/12), the exposed surface of the protective film-forming film provided with the release film on one side was affixed while heating at 70°C. Subsequently, by irradiating ultraviolet rays under conditions of an illuminance of 230 mW/cm 2 and an amount of light of 170 mJ/cm 2, the film for forming a protective film was cured to form a protective film on the polished surface of the silicon wafer.

이어서, 상기 보호막으로부터 다른 한쪽의 박리 필름을 제거한 후, 다이싱 시트(린텍사 제조 「Adwill G-562」)를 첩부하고, 다이싱 장치(디스코사 제조 「DFD651」)를 이용하여, 상기 보호막이 형성된 실리콘 웨이퍼를 3㎜×3㎜의 크기로 다이싱하여, 보호막이 형성된 반도체 칩을 얻었다.Next, after removing the other release film from the protective film, a dicing sheet ("Adwill G-562" manufactured by Lintec Corporation) was affixed, and the protective film was formed using a dicing device ("DFD651" manufactured by Disco Corporation). The formed silicon wafer was diced into a size of 3 mm x 3 mm to obtain a semiconductor chip with a protective film formed thereon.

이어서, 반도체 칩이 실장될 때의 프로세스를 모방한, 이하에 나타내는 프리컨디션에 상기에서 얻어진 보호막이 형성된 반도체 칩을 두었다. 즉, 보호막이 형성된 반도체 칩을 125℃에서 20시간 베이킹한 후, 85℃, 상대 습도 85%의 조건하에서 168시간 흡습시키고, 이어서 이 흡습 환경으로부터 꺼낸 직후의 보호막이 형성된 반도체 칩을 프리히트 160℃, 피크 온도 260℃의 조건의 IR 리플로우로에 3회 통과시켰다. 그리고, 여기까지의 조작을 행한 25개의 보호막이 형성된 반도체 칩을 냉열 충격 장치(ESPEC사 제조 「TSE-11-A」)에 넣어, -65℃에서 10분간 유지한 후, 150℃에서 10분간 유지하는 냉열 사이클을 1000회 반복했다.Next, the semiconductor chip with the protective film obtained above was placed in the precondition shown below, which mimics the process when the semiconductor chip is mounted. That is, after baking the semiconductor chip with the protective film at 125°C for 20 hours, it was subjected to moisture absorption under conditions of 85°C and 85% relative humidity for 168 hours, and then the semiconductor chip with the protective film formed immediately after being removed from the moisture absorption environment was preheated at 160°C. , And passed three times through an IR reflow furnace at a peak temperature of 260°C. Then, the semiconductor chips with 25 protective films subjected to the operation up to this point were put into a cold and thermal shock device ("TSE-11-A" manufactured by ESPEC), held at -65°C for 10 minutes, and then maintained at 150°C for 10 minutes. The cooling cycle was repeated 1000 times.

이어서, 냉열 충격 장치로부터 모든 보호막이 형성된 반도체 칩을 꺼내, 반도체 칩과 보호막의 접합부에 있어서의 들뜸·박리 유무, 반도체 칩에 있어서의 크랙 유무에 대해, 주사형 초음파 심상 장치(Sonoscan사 제조 「D9600TMCSAM」)를 이용하여, 보호막이 형성된 반도체 칩의 단면을 관찰함으로써 확인했다. 그리고, 상술한 들뜸·박리 및 크랙의 적어도 한쪽이 발생하고 있는 보호막이 형성된 반도체 칩의 개수를 세어, 그 수(NG수)가 2개 이하인 경우를 신뢰성 합격(A)으로 판정하고, 3개 이상인 경우를 신뢰성 불합격(B)으로 판정했다. 결과를 표 1에 나타낸다.Next, the semiconductor chip on which all the protective films were formed was taken out from the cold and thermal shock device, and the presence or absence of a lift or peeling in the junction of the semiconductor chip and the protective film, and the presence or absence of cracks in the semiconductor chip, was determined by a scanning ultrasonic imaging device (manufactured by Sonoscan ``D9600''). TM CSAM") was used to confirm by observing the cross section of the semiconductor chip on which the protective film was formed. Then, the number of semiconductor chips with a protective film in which at least one of the above-described lifting, peeling and cracking occurs is counted, and the case where the number (the number of NGs) is 2 or less is judged as a reliability pass (A), and is 3 or more. The case was determined as reliability failure (B). Table 1 shows the results.

[실시예 2][Example 2]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(2)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (2))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-2: 실리카 필러(다츠모리사 제조, SV-10, 평균 입자 직경 8.0㎛)(320질량부)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(2)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) (320 parts by mass) was added to (D)-2: silica Except having changed to the filler (manufactured by Tatsumori, SV-10, average particle diameter of 8.0 µm) (320 parts by mass), it carried out similarly to Example 1, and obtained the composition (2) for thermosetting protective film formation.

(보호막 형성용 필름(2)의 제조)(Production of protective film formation film (2))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(2)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(2)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (2), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (2). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(2)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 1에 나타낸다. 필러 직경이 작은 실시예 1이 상 선명도의 수치가 크고, 시인성이 우수했다.Using the same method as in Example 1, image clarity, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film of the protective film-forming film 2 were evaluated. The results are shown in Table 1 below. Example 1, which had a small filler diameter, had a large image clarity value and was excellent in visibility.

Figure pct00001
Figure pct00001

[실시예 3][Example 3]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(4)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (4))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이니치세이카 공업사 제조 CF3-4)(15질량부)를 사용하지 않았던 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(4)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (I)-1: Example 1 except that an organic black pigment (CF3-4 manufactured by Dainichi Seika Industrial Co., Ltd.) (15 parts by mass) was not used. In the same manner as, a composition for forming a thermosetting protective film (4) was obtained.

(보호막 형성용 필름(4)의 제조)(Production of protective film formation film (4))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(4)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(4)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (4), in the same manner as in Example 1, a film for forming a protective film (4) was obtained. .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(4)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 2에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, image clarity, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film of the protective film-forming film 4 were evaluated. The results are shown in Table 2 below.

[비교예 1][Comparative Example 1]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(5)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (5))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-3: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 8.0㎛)(320질량부)로 변경하고, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 CF3-4)(15질량부)를 (I)-3: 카본 블랙(미츠비시 케미컬사 제조, #MA650, 평균 입자 직경 28㎚)(5.0질량부)으로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(5)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 µm) (320 parts by mass) was added to (D)-3: silica It was changed to a filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 8.0 µm) (320 parts by mass), and (I)-1: organic black pigment (CF3-4 manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (15 parts by mass) was added to (I) )-3: Carbon black (made by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., #MA650, average particle diameter: 28 nm) Except having changed to (5.0 mass parts), it carried out similarly to Example 1, and obtained the composition for thermosetting protective film formation (5).

(보호막 형성용 필름(5)의 제조)(Production of protective film formation film (5))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(5)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(5)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (5), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (5). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(4)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 2에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, image clarity, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film of the protective film-forming film 4 were evaluated. The results are shown in Table 2 below.

[비교예 2][Comparative Example 2]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(6)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (6))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-2: 실리카 필러(다츠모리사 제조, SV-10, 평균 입자 직경 8.0㎛)(320질량부)로 변경하고, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 CF3-4)(15질량부)를 (I)-3: 카본 블랙(미츠비시 케미컬사 제조,#MA650, 평균 입자 직경 28㎚)(10.0질량부)으로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(6)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) (320 parts by mass) was added to (D)-2: silica Changed to filler (Tatsumori Co., SV-10, average particle diameter 8.0 µm) (320 parts by mass), and (I)-1: Organic black pigment (Cf3-4 manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (15 parts by mass) In the same manner as in Example 1, except for changing to (I)-3: carbon black (manufactured by Mitsubishi Chemical, #MA650, average particle diameter of 28 nm) (10.0 parts by mass), the composition for forming a thermosetting protective film (6) Got it.

(보호막 형성용 필름(6)의 제조)(Production of protective film forming film (6))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(6)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(6)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming the protective film (1) to the composition for forming a protective film (6), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (6). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(6)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 2에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, image clarity, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film of the protective film-forming film 6 were evaluated. The results are shown in Table 2 below.

Figure pct00002
Figure pct00002

[실시예 4][Example 4]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(7)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (7))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(10질량부)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(7)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) (320 parts by mass) was added to (D)-1: silica A composition (7) for forming a thermosetting protective film was obtained in the same manner as in Example 1, except that the filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter: 0.5 µm) (10 parts by mass) was changed.

(보호막 형성용 필름(7)의 제조)(Production of protective film formation film (7))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(7)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(7)을 얻었다.In the preparation of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (7), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (7). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(7)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 3에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, the image clarity of the film 7 for forming a protective film, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film were evaluated. The results are shown in Table 3 below.

[실시예 5][Example 5]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(8)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (8))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(10질량부)로 변경하고, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(15질량부)를 이용하지 않았던 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(8)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) (320 parts by mass) was added to (D)-1: silica It was changed to a filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 µm) (10 parts by mass), and (I)-1: organic black pigment (6377 black manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (15 parts by mass) was not used. Except that, it carried out similarly to Example 1, and obtained the composition for thermosetting protective film formation (8).

(보호막 형성용 필름(8)의 제조)(Production of protective film forming film (8))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(8)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(8)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (8), in the same manner as in Example 1, a film for forming a protective film (8) was obtained. .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(8)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 3에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, the image clarity of the protective film-forming film 8, the light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and the reliability of the protective film were evaluated. The results are shown in Table 3 below.

[실시예 6][Example 6]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(9)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (9))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(15질량부)를 (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(32질량부)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(9)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (I)-1: organic black pigment (6377 black manufactured by Daiichi Seika Industrial Co., Ltd.) (15 parts by mass) was added to (I)-1: organic black pigment ( The composition for thermosetting protective film formation (9) was obtained like Example 1 except having changed it to 6377 black manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (32 parts by mass).

(보호막 형성용 필름(9)의 제조)(Production of protective film formation film (9))

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(9)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(9)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (9), in the same manner as in Example 1, a film for forming a protective film (9) was obtained. .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(9)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 3에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, image clarity, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film of the protective film-forming film 9 were evaluated. The results are shown in Table 3 below.

Figure pct00003
Figure pct00003

[실시예 7][Example 7]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(10)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (10))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (A)-1의 아크릴계 중합체(중량 평균 분자량: 37만)(150질량부)를 (A)-2의 아크릴계 중합체(중량 평균 분자량: 42만)(150질량부)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(10)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, the acrylic polymer (weight average molecular weight: 370,000) (150 parts by mass) of (A)-1 was added to the acrylic polymer (weight average molecular weight) of (A)-2. : 420,000) Except having changed to (150 mass parts), it carried out similarly to Example 1, and obtained the composition for thermosetting protective film formation (10).

(보호막 형성용 필름(10)의 제조)(Production of protective film forming film 10)

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(10)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(10)을 얻었다.In the production of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (10), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (10). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(10)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 4에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, the image clarity of the film 10 for forming a protective film, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film were evaluated. The results are shown in Table 4 below.

[비교예 3][Comparative Example 3]

<보호막 형성용 필름의 제조><Production of film for protective film formation>

(보호막 형성용 조성물(11)의 제조)(Preparation of the composition for forming a protective film (11))

실시예 1의 보호막 형성용 조성물(1)의 제조에 있어서, (D)-1: 실리카 필러(아드마텍스 제조 SC2050MA, 평균 입자 직경 0.5㎛)(320질량부)를 (D)-2: 실리카 필러(다츠모리사 제조, SV-10, 평균 입자 직경 8.0㎛)(320질량부)로 변경하고, (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(15질량부)를 (I)-1: 유기계 흑색 안료(다이이치세이카 공업사 제조 6377 블랙)(32질량부)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 열경화성 보호막 형성용 조성물(11)을 얻었다.In the preparation of the composition (1) for forming a protective film of Example 1, (D)-1: silica filler (SC2050MA manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) (320 parts by mass) was added to (D)-2: silica Filler (manufactured by Tatsumori, SV-10, average particle diameter 8.0 µm) (320 parts by mass), and (I)-1: organic black pigment (6377 black manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (15 parts by mass) (I)-1: A composition for forming a thermosetting protective film (11) was obtained in the same manner as in Example 1 except that it was changed to an organic black pigment (6377 black manufactured by Daiichi Seika Co., Ltd.) (32 parts by mass).

(보호막 형성용 필름(11)의 제조)(Manufacture of protective film forming film 11)

실시예 1의 보호막 형성용 필름의 제조에 있어서, 보호막 형성용 조성물(1)을 보호막 형성용 조성물(11)로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 보호막 형성용 필름(11)을 얻었다.In the preparation of the film for forming a protective film of Example 1, except having changed the composition for forming a protective film (1) to the composition for forming a protective film (11), it was carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a film for forming a protective film (11). .

<보호막 형성용 필름의 평가><Evaluation of film for protective film formation>

실시예 1과 동일한 방법을 이용하여, 보호막 형성용 필름(11)의 상 선명도, 파장 550㎚의 광선 투과율, 헤이즈, 표면 조도 및 인자 시인성, 그리고 보호막의 신뢰성을 평가했다. 결과를 이하의 표 4에 나타낸다.Using the same method as in Example 1, the image clarity of the film 11 for forming a protective film, light transmittance at a wavelength of 550 nm, haze, surface roughness and printing visibility, and reliability of the protective film were evaluated. The results are shown in Table 4 below.

Figure pct00004
Figure pct00004

표 1∼표 4로부터, 보호막 형성용 필름의 상 선명도가 110 이상임으로써, 인자 시인성이 양호한 것이 명확해졌다.From Tables 1 to 4, when the image clarity of the film for forming a protective film was 110 or more, it became clear that printing visibility was good.

본 발명의 보호막 형성용 필름은, 그대로 반도체 웨이퍼에 첩부하여 반도체 장치의 제조에 사용되는 것 외에, 다이싱 테이프 등의 지지 시트에 첩부된 보호막 형성용 복합 시트로서 반도체 장치의 제조에 이용 가능하다.The film for forming a protective film of the present invention is directly affixed to a semiconductor wafer and used for manufacturing a semiconductor device, and can be used for manufacturing a semiconductor device as a composite sheet for forming a protective film affixed to a supporting sheet such as a dicing tape.

본 발명의 보호막 형성용 필름의 상 선명도가 110 이상임으로써 인자 시인성이 양호하므로, 반도체 웨이퍼의 이면 또는 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 또는 상기 반도체 칩을 바람직하게 검사할 수 있다.Since the image clarity of the film for forming a protective film of the present invention is 110 or more, the printing visibility is good.Therefore, the film for forming a protective film is affixed to the back surface of a semiconductor wafer or a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer. The semiconductor wafer or the semiconductor chip can be preferably inspected.

또한, 본 발명의 보호막 형성용 필름의 상 선명도가 110 이상임으로써 인자 시인성이 양호하므로, 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자를 판독하여, 상기 반도체 칩의 종별을 바람직하게 식별할 수 있다.In addition, since the image clarity of the film for forming a protective film of the present invention is 110 or more, the printing visibility is good. Therefore, a laser on the semiconductor chip through the protective film formed by affixing the protective film-forming film on the back surface of the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer By reading the printed factor, the type of the semiconductor chip can be preferably identified.

1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F…보호막 형성용 복합 시트, 10…지지 시트, 10a…지지 시트의 표면(제1 면), 11…기재, 11a…기재의 표면(제1 면), 12…점착제층, 12a…점착제층의 표면(제1 면), 13, 23…보호막 형성용 필름, 13a, 23a…보호막 형성용 필름의 표면(제1 면), 13b…보호막 형성용 필름의 표면(제2 면), 15…박리 필름, 151…제1 박리 필름, 152…제2 박리 필름, 16…지그용 접착제층, 16a…지그용 접착제층의 표면, 9…반도체 웨이퍼 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F... Composite sheet for forming a protective film, 10... Support sheet, 10a... Surface of the supporting sheet (first surface), 11... Substrate, 11a... The surface of the substrate (the first side), 12... Pressure-sensitive adhesive layer, 12a... Surface of the pressure-sensitive adhesive layer (first surface), 13, 23... Film for forming a protective film, 13a, 23a... Surface (first surface) of the film for forming a protective film, 13b... Surface of the film for forming a protective film (second surface), 15... Release film, 151... 1st peeling film, 152... 2nd peeling film, 16... Jig adhesive layer, 16a... Surface of the jig adhesive layer, 9... Semiconductor wafer

Claims (5)

반도체 웨이퍼의 레이저 인자되는 이면에 첩부되어, 보호막이 형성된 반도체 칩의 제조에 사용되는 보호막 형성용 필름으로서, 상 선명도가 110 이상인 보호막 형성용 필름.A film for forming a protective film, which is affixed on a back surface of a semiconductor wafer to be laser printed, and used for manufacturing a semiconductor chip on which a protective film is formed, wherein the film for forming a protective film having an image clarity of 110 or more. 지지 시트를 구비하고, 상기 지지 시트 상에 제 1 항의 보호막 형성용 필름을 구비한 보호막 형성용 복합 시트.A composite sheet for forming a protective film, provided with a support sheet, and provided with the film for forming a protective film of claim 1 on the support sheet. 반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 제 1 항의 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 또는 상기 반도체 칩을 검사하는 공정을 구비하는 검사 방법.A step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of affixing the film for forming a protective film of claim 1 on the back surface of the semiconductor wafer, and on the back surface of the semiconductor wafer or on the back surface of a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer, An inspection method comprising a step of inspecting the semiconductor wafer or the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film. 제 3 항에 있어서,
상기 검사하는 공정이, 상기 반도체 웨이퍼의 이면 또는 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에, 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자, 상기 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩의 이면의 연삭흔, 또는 반도체 웨이퍼 혹은 상기 반도체 칩과 상기 보호막 사이의 이물질의 유무를 검사하는 공정인 검사 방법.
The method of claim 3,
In the step of inspecting, a laser-printed print on the semiconductor wafer or the semiconductor chip over the protective film formed by attaching the protective film-forming film to the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer into pieces, An inspection method comprising a step of inspecting the presence or absence of a grinding mark on the back surface of the semiconductor wafer or the semiconductor chip, or the presence or absence of a foreign material between the semiconductor wafer or the semiconductor chip and the protective film.
반도체 웨이퍼의 이면에 레이저 인자하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼의 이면에 제 1 항의 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정과, 상기 반도체 웨이퍼를 개편화하여 얻어진 반도체 칩의 이면에 상기 보호막 형성용 필름이 첩부되어 형성된 보호막 너머로 상기 반도체 칩에 레이저 인자된 인자를 판독하여, 상기 반도체 칩의 종별을 식별하는 공정을 구비하는 식별 방법.A step of laser printing on the back surface of a semiconductor wafer, a step of affixing the film for forming a protective film of claim 1 on the back surface of the semiconductor wafer, and a step of affixing the film for forming a protective film on the back surface of a semiconductor chip obtained by separating the semiconductor wafer And a step of reading a laser-printed print on the semiconductor chip over the thus formed protective film to identify the type of the semiconductor chip.
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