KR20210023307A - 신호의 평탄도 조절 시스템 및 방법 - Google Patents

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Abstract

본원은 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법에 관한 것으로, 아날로그 필터에 구비되고 통과 대역 내 각 통과 주파수의 진폭에 기초하여 신호를 필터링하여 출력하고 나머지는 감쇠시키는 필터부 및 상기 필터부 내의 적어도 하나의 구성요소를 고려하여 하나 이상의 대역 저지 필터의 RLC 회로의 공진 주파수와 진폭을 결정하고, 상기 결정된 공진 주파수 및 상기 진폭을 통해 상기 통과 주파수의 평탄도를 조절하는 평탄도 변경부를 포함할 수 있다.

Description

신호의 평탄도 조절 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR SIGNAL RIPPLE CONTROL}
본원은 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법에 관한 것이다.
이동 통신 시스템 등에서 제한된 주파수 자원 사용의 효율을 높이기 위해 필수적으로 사용되는 아날로그 필터는 수동 부품을 이용하여 구현하며, 일반적으로 유전체(Dielectric), 공진기(Resonator), LC 공진기 등의 공진 구조를 이용하여 저역 통과 필터(Low Pass Filter), 대역 통과 필터(Band Pass Filter), 대역 저지 필터(Band Reject Filter), 고역 통과 필터(High Pass Filter) 등으로 구현된다.
이러한 아날로그 필터의 구현에 있어서, 통과 주파수 대역에 대한 주파수 특성 상 모든 필터의 구조는 반드시 평탄도(Ripple)를 고려하여 설계 및 제작이 되어야 하며, 평탄도를 사용자의 요구에 맞게 제작하는 것은 필터의 구현 조건에 있어서 큰 제약으로 작용한다.
그러나, 종래의 아날로그 필터는 사용 주파수 대역과 사용하지 않는 주파수 대역 부근에서 급격한 평탄도 변화가 발생한다는 단점이 있었다. 예를 들어, 도 4를 참조하면, 대역 통과 필터의 경우 사용 주파수 대역(a)과 사용하지 않는 주파수 대역(b) 부근에서 급격한 평탄도 변화가 발생하여 삽입손실의 그래프가 둥근 형태를 이루게 된다. 이러한 급격한 평탄도 변화는 주파수 별로 품질을 다르게 할 뿐만 아니라 전력 손실의 원인이 되었다.
이에 따라, 아날로그 필터에 복수의 아날로그 필터를 추가하여 평탄도를 개선하는 방법이 적용된 바 있다. 구체적으로, 대역 통과 필터의 경우 도 5a에 도시된 바와 같이 필터의 대역과 대응되는 두 개의 대역을 가지는 필터 신호의 흐름이 순차적으로 통과하도록 물리적 구조를 배열한다. 즉, 도 5b에 도시된 바와 같이 순차적으로 배열된 세 개의 필터에 의해 최종적으로 도5c에 도시된 바와 같은 평탄도가 조절된 필터를 얻을 수 있었다.
그러나, 복수의 필터가 배열될 경우 나쁜 반사손실 특성은 복수의 필터의 나쁜 특성을 따라가는 것이 일반적이므로, 종래의 평탄도 개선 방법은 반사손실 특성의 저하에 의한 전력 손실을 유발하였다. 더욱이, 필터를 추가함에 따라 필터의 부피 및 제작 비용이 증가한다는 문제가 있었다.
또한, 종래의 평탄도 개선 방법에 따르면, 필터의 통과 주파수 대역에서 다른 복수의 필터에 포함된 인덕던스 성분과 커패시터 성분에 변화가 일정하지 않고 예측이 어려운 임피던스의 변화가 발생하기 때문에, 주파수 특성 별 사용자가 사용하고자 하는 필터의 대역에 따라 광범위한 임피던스의 변화를 초래하는 문제가 있었다.
또한, 임피던스의 변화를 최소화 하기위해 아이솔레이터(Isolator)를 입력단 및 출력단에 부착할 경우, 필터의 부피 및 제작 비용이 추가로 증가한다는 문제점이 있었다.
본원의 배경이 되는 기술은 한국등록특허공보 제10-1735353호에 개시되어 있다.
본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 필터의 평탄도를 개선하면서 반사손실 특성의 저하 문제를 해결할 수 있는 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법을 제공하려는 것을 목적으로 한다.
또한, 본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 통과 주파수 대역에서 임피던스의 변화를 최소화할 수 있는 신호 평탄도 조절 시스템 및 장치를 제공하려는 것을 목적으로 한다.
또한, 본원은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 필터의 부피를 줄이고, 제조 비용을 절감할 수 있는 공진기를 이용한 평탄도 변경 장치 및 방법을 제공하려는 것을 목적으로 한다.
다만, 본원의 실시예가 이루고자 하는 기술적 과제는 상기된 바와 같은 기술적 과제들로 한정되지 않으며, 또 다른 기술적 과제들이 존재할 수 있다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 조절 시스템에 있어서, 아날로그 필터에 구비되고, 통과 대역 내 각 통과 주파수의 진폭에 기초하여 신호를 필터링하여 출력하고 나머지는 감쇠시키는 필터부 및 상기 필터부 내의 적어도 하나의 구성요소를 고려하여 하나 이상의 대역 저지 필터의 RLC 회로의 공진 주파수와 진폭을 결정하고, 상기 결정된 공진 주파수 및 상기 진폭을 통해 상기 통과 주파수의 평탄도를 조절하는 평탄도 변경부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 필터부는 적어도 하나 이상의 아날로그 필터를 거친 출력 신호에서 사용하지 않는 주파수 대역을 적어도 하나 이상의 공진기를 사용해서 공진현상으로 반사손실을 제거할 수 있다.
또한, 상기 평탄도 변경부는 적어도 하나 이상의 대역 저지 필터 각각의 인덕턴스와 커패시턴스를 조절하여 상기 복수의 대역 저지 필터 각각의 공진 주파수를 조절함으로써, 상기 통과 주파수의 평탄도를 조절할 수 있다.
또한, 상기 평탄도 변경부는 상기 대역 저지 필터를 통해 상기 출력신호를 평탄화하는 대역 저지부 및 상기 대역 저지 필터의 RLC회로에서 저항성분을 조절해서 상기 대역 저지 필터의 대역폭을 조절하는 저항부를 포함할 수 있다.
또한 상기 저항부는 상기 저항성분을 조절해주는 가변 저항으로서, 상기 저항부와 상기 대역 저지부를 직렬 결합 및 병렬결합을 통해서 상기 가변 저항값이 높을 때 대역폭 이 좁고, 상기 가변 저항값이 낮을 때 대역폭이 넓도록 구성할 수 있다.
또한, 상기 평탄도 변경부는 적어도 하나 이상의 조정 중심 주파수는 상기 필터부의 중심 주파수에 기초하여 결정하되, 적어도 하나 이상의 상기 조정 중심주파수는 상기 필터부의 중심 주파수와의 차이가 임계 비율보다 같거나 작도록 결정되고, 적어도 하나 이상의 상기 조정 중심 주파수는 상기 필터부의 중심 주파수에서 상기 임계비율을 차감한 값 이상 내지 상기 필터부의 중심 주파수에서 상기 임계비율을 더한 값 이하의 범위에서 상기 평탄도 변경부의 사용 목적에 따라 선택할 수 있다.
또한, 상기 평탄도 조절 시스템은 영상 수신 장치, 음원 수신 장치 및 모바일 통신 기기 중 어느 하나 내부에서, 상기 어느 하나의 채널 선택을 위해 사용하는 방법을 포함할 수 있다.
한편, 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 조절 방법은 컴퓨터에서 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터에서 판독 가능한 기록매체에 저장될 수 있다.
상술한 과제 해결 수단은 단지 예시적인 것으로서, 본원을 제한하려는 의도로 해석되지 않아야 한다. 상술한 예시적인 실시예 외에도, 도면 및 발명의 상세한 설명에 추가적인 실시예가 존재할 수 있다.
전술한 본원의 과제 해결 수단에 의하면, 평탄도 변경부에 의해 필터에 영향을 미치는 최소한의 반사손실 특성의 변경으로 필터의 평탄도를 개선함으로써 반사손실의 특성의 저하 문제를 최소화하는 동시에 필터의 평탄도를 개선할 수 있는 효과가 있다.
또한, 전술한 본원의 과제 해결 수단에 의하면, 통과 주파수 대역에서 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스 변화가 최소화되므로, 통과 주파수 대역에서 임피던스 변화의 최소화 및 예측이 가능한 효과가 있다.
또한, 전술한 본원의 과제 해결 수단에 의하면, 필터의 평탄도 개선을 위한 복수의 필터 및 임피던스 변화의 최소화를 위한 아이솔레이터의 추가가 필요하지 않으므로, 필터의 부피를 줄이고 제조 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다. 다만, 본원에서 얻을 수 있는 효과는 상기된 바와 같은 효과들로 한정되지 않으며, 또 다른 효과들이 존재할 수 있다.
다만, 본원에서 얻을 수 있는 효과는 상기된 바와 같은 효과들로 한정되지 않으며, 또 다른 효과들이 존재할 수 있다.
도 1은 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 조절 시스템의 구성도이다.
도 2은 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경부의 구성도이다.
도3은 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 조절 시스템의 흐름도이다.
도4는 종래의 필터의 평탄도 변화를 설명하기 위한 도면이다.
도5a내지 도5c은 종래의 평탄도 개선 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도6a 내지 도6c는 본원의 일 실시예에 따른 평탄도의 조절을 설명하기 위한 도면이다.
도7은 본원의 일 실시예에 따른 대역 저지 필터의 저지의 값을 조절하는 것을 설명한 도면이다.
도 8a 및 8b는 본원의 일 실시예에 따른 대역 저지부와 저항성분의 결합을 도시한 예시도이다.
도9는 본원의 일 실시예 따른 안테나에 주파수를 받아 평탄도 조절 시스템을 통해 전자 기기에 출력되는 구성도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본원이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본원의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본원은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본원을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결" 또는 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에", "상부에", "상단에", "하에", "하부에", "하단에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.
본원 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성 요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 변경 시스템의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경 장치(300)는 필터부(310) 및 평탄도 변경부(320)를 포함할 수 있다.
본원의 일 실시예에 따른 필터부(310)는 통과 대역 내 각 통과 주파수의 크기들에 기초하여 입력 신호를 필터링하여 출력신호를 출력할 수 있다. 필터부(310)는 대역 통과 필터(Band Pass Filter), 저역 통과 필터(Low Pass Filter), 대역 저지 필터(Band Reject Filter), 고역 통과 필터(High Pass Filter)를 포함할 수 있다. 이 외에도, 필터부(310)는 소정의 주파수 대역의 신호를 통과시키는 주파수 필터를 포함할 수 있다.
또한, 필터부(310)는 수동소자를 포함할 수 있다. 수동소자는 인덕터(Inductor), 커패시터(Capacitor) 및 저항(Register) 등을 포함할 수 있다.
본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경부(320)는 조정 중심 주파수(Center Frequency)를 갖는 대역 저지 필터(Band Reject Filter)를 통해 통과 주파수의 크기들 상호간의 평탄도를 변경할 수 있다. 이때, 대역 저지 필터는 통과 주파수 대역의 신호를 감쇠시키는 필터일 수 있으며, 대역 저지 필터는 수동소자를 포함할 수 있다. 중심 주파수는 통과 주파수 대역의 폭의 중심이 되는 지점의 주파수를 의미할 수 있다.
여기서 평탄도란, 통과 주파수 대역 내 주파수 각각의 값에 대응하는 손실 값의 균일한 정도를 의미할 수 있다. 따라서 평탄도를 개선한다는 것은, 통과 주파수 대역 내 주파수 각각의 값에 대응하는 손실 값의 상호간의 차이를 줄인다는 것을 의미한다.
도 6a 내지 6c는 본원의 일 실시예에 따른 평탄도의 조절을 설명하기 위한 도면이다.
도 6a를 참조하면, 필터부(310)(도 6a의 좌측 그래프)와 평탄도 변경부(320)의 대역 저지 필터(도 6a의 우측 그래프)는 입력 신호의 흐름이 순차적으로 통과하도록 배열된다. 참고로, 본 설명에서는 필터부(310)를 대역 통과 필터(Band Pass Filter)로 예를 들어 설명하나, 전술하였듯이 필터부(310)는 다양한 형태의 필터로 구현이 가능한 것으로 이해함이 바람직하다.
또한, 도 6b에 도시된 바와 같이 통과 주파수 대역(400) 내에서 필터부(310) 및 대역 저지 필터의 손실의 차이에 의하여, 순차적으로 배열된 필터부(310)와 평탄도 변경부(320)의 최종적인 손실은 도 6c에 도시된 바와 같은 형태가 될 수 있다. 따라서, 입력 신호는 도 6c에 도시된 바와 같은 통과 주파수 대역(400) 내에서 평탄도가 개선된 필터를 통과할 수 있다.
전술한 바에 따르면, 기존의 입력 신호를 필터링하여 출력신호를 출력하는 필터부에, 중심 주파수를 갖는 평탄도 변경부를 추가함으로써, 전체 임피던스의 변화가 최소화되므로, 필터의 부피를 줄이고 제조 비용을 절감할 수 있다.
이때, 평탄도 변경부에 활용되는 조정 중심 주파수를 갖는 대역 저지 필터의 경우, 중심 주파수는 필터부의 중심 주파수(410)에 기초하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 대역 저지 필터의 중심 주파수는 필터부의 중심 주파수(410)와의 차이가 임계비율보다 작도록 결정될 수 있으며, 임계비율은 필터부의 중심 주파수(410)에 소정의 퍼센트를 곱한 값일 수 있다. 즉, 임계비율의 10퍼센트라고 가정 하에, 대역 저지 필터의 조정 중심 주파수는 필터부의 중심 주파수(410)의 값에 10퍼센트를 곱한 값일 수 있다. 따라서, 대역 저지 필터의 조정 중심 주파수는 필터부의 중심 주파수(410)를 중심으로 10퍼센트의 임계비율을 뺀 값(411) 이상, 필터부의 중심 주파수(410)를 중심으로 10퍼센트의 임계비율을 더한 값(412) 이하의 주파수 대역 안에 포함된다. 필터부의 중심 주파수(410)를 CF라 하면, CF와 대역 저지 필터의 중심 주파수는 하기 수학식 1과 같은 관계를 가질 수 있다.
[수학식1]
Figure pat00001
다만, 전술한 임계비율은 10퍼센트에 한정되는 것이 아닌, 필터부(310) 또는 평탄도 변경부(320)의 사용 목적 또는 구성 요소의 사양에 따라 다르게 설정할 수 있는 값으로 이해하는 것이 바람직하다.
도 2는 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경부(320)의 구성도이다.
도 2를 참조하면, 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경부(320)는 대역 저지부(321) 및 저항부(322)를 포함할 수 있다.
본원의 일 실시예에 따른 대역 저지부(321)는 대역 저지 필터를 통해 필터부(310)에서 출력된 출력신호를 저지할 수 있으며, 대역 저지부(321)는 대역 저지 필터를 포함할 수 있다. 출력신호를 저지한다는 것은, 통과 주파수 대역(400) 내의 출력신호를 감쇠시키는 것을 의미한다.
저항부(322)는 저항성분을 통해 저지의 정도를 조절할 수 있다. 구체적으로 저항부(322)는 저항성분을 가변함으로써 저지의 정도를 조절하되, 대역 저지 필터의 저지 대역폭을 변경함으로써 저지의 정도를 조절할 수 있다. 이때, 저지의 정도란, 전술한 출력신호를 감쇠할 경우, 감쇠 정도를 의미할 수 있다.
도7은 본원의 일 실시예에 따른 적어도 하나 이상의 대역 저지 필터의 공진주파수와 대역폭을 다르게 설정하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
저항부(322)는 저항성분의 가변을 통해 대역 저지 필터의 저지 대역폭을 변경할 수 있다. 저지 대역폭은 대역 저지 필터가 신호를 감쇠시키는 주파수 대역(이하, '감쇠 주파수 대역'이라 함)을 의미한다. 저지 대역폭은 공진에서의 Q(Quality Factor)값에 의해 결정될 수 있다. Q값은 주파수 선택 특성 품질을 의미하며, Q 값이 클수록 저지 대역폭은 작아진다. 예를 들어, 도 7을 참조하면, 상대적으로 큰 Q값의 손실 그래프(도 7의 좌측 그래프)는 상대적으로 작은 Q값의 손실 그래프(도 7의 우측 그래프)보다 작은 저지 대역폭을 갖는다.
Q값은 대역 저지 필터의 조정 중심 주파수(420), 즉, 대역 저지 필터의 공진 주파수를 3dB 대역폭으로 나눈 값이다. 3dB 대역폭은 대역 저지 필터의 조정 중심 주파수(420)에 대응하는 손실 값에서 3dB 차이를 가지는 지점의 주파수 간의 차이이다. 따라서, 3dB 값이 클수록 Q 값은 작아지게 된다. 대역 저지 필터에서의 3dB 값은 저항성분에 비례하므로, 저항성분이 클수록 저지 대역폭은 커지게 된다. 즉, 저항성분과 저지 대역폭은 비례 관계이다.
또한, 저항부(322)는 저항성분의 가변을 통해 대역 저지부(321)의 임피던스를 변경할 수 있으며, 저항성분의 값은 대역 저지부(321)의 임피던스와 비례 관계일 수 있다. 구체적으로, 대역 저지 필터의 공진 주파수에서 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스는 0의 값을 갖게 되고, 임피던스는 저항성분의 값에 의해 결정된다. 즉, 대역 저지 필터의 공진 주파수에서의 임피던스 값은 저항성분의 값을 갖게 된다.
전술한 바에 따르면, 대역 저지 필터의 공진 주파수에서의 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스는 0의 값을 갖게 된다. 또한, 필터부(310)의 통과 주파수 대역 내에 대역 저지 필터의 중심 주파수(420)가 위치하므로, 필터부(310)의 통과 주파수 대역 내에서 대역 저지 필터에 의한 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스는 0 또는 0에 가까운 값을 갖게 된다. 따라서, 통과 주파수 대역에서 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스의 변화가 최소화되고, 저항성분에 의한 임피던스만 고려하면 되므로 통과 주파수 대역 내에서 임피던스 변화의 최소화 및 예측이 가능하게 된다.
또한, 전술한 바에 따르면, 임피던스의 예측이 가능하므로, 이를 통해 회로의 손실 특성을 예측할 수 있는 효과가 있다. 또한, 임피던스의 변화가 최소화되므로, 아이솔레이터의 추가로 인한 부피 및 제조 비용의 증가를 방지할 수 있다.
또한, 대역 저지 필터에서 감쇠 주파수 대역 내의 반사손실은 임피던스에 반비례하므로, 저항부(322)는 저항성분의 조절을 통한 반사손실의 값의 조절이 가능하다.
이에 따르면, 통과 주파수 대역 내에서 반사손실의 값을 필터의 반사손실 값에 크게 영향을 미치지 않도록 대역 리젝 필터의 반사손실 값을 조절함으로써, 종래의 평탄도 개선 방법에 따른 반사손실 특성의 저하 문제를 해결할 수 있는 효과가 있다.
도 8a 및 8b는 본원의 일 실시예에 따른 대역 저지부와 저항성분의 결합을 도시한 예시도이다.
도 8a를 참조하면, 대역 저지부(321)와 저항성분은 선로 상에서 직렬 결합하여 저지의 정도를 조절할 수 있다. 또한, 도 7b를 참조하면, 대역 저지부(321)와 저항성분은 병렬 결합하여 저지의 정도를 조절할 수 있다.
이하에서는 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 시스템 및 방법에 대해 설명한다. 다만, 평탄도 조절 방법은 앞서 살핀 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 조절 장치에 의해 수행된 방법으로서 동일하거나 상응하는 기술적 특징을 포함하는 발명이라 할 것이므로, 앞서 설명한 구성과 동일 또는 유사한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략 하기로 한다
도 3은 본원의 일 실시예에 따른 평탄도 변경 방법의 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 본원의 일 실시예에 따른 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법은, 통과 대역 내 각 통과 주파수의 크기들에 기초하여 입력 신호를 필터링하여 출력 신호를 출력하는 단계(S901) 및 중심 주파수를 갖는 대역 저지 필터를 통해 통과 주파수의 크기들 상호간의 평탄도를 조절하는 단계(S902)를 포함할 수 있다.
대역 저지 필터는 통과 주파수 대역의 신호를 감쇠시키는 필터일 수 있다. 또한, 대역 저지 필터는 수동소자를 포함할 수 있다. 중심 주파수는 해당 주파수 대역의 폭의 중심이 되는 지점의 주파수를 의미한다.
또한, 평탄도는 통과 주파수 대역 내 주파수 각각의 값에 대응하는 손실 값의 균일한 정도를 의미한다. 평탄도를 조절한다는 것은 전술한 통과 주파수 대역 내 주파수 각각의 값에 대응하는 손실 값의 상호간의 차이를 줄인다는 것을 의미한다. 즉, 평탄도를 조절한다는 것은 통과 주파수 대역 내 손실의 값을 주파수 대 손실의 그래프로 나타내었을 때, 그래프의 모양을 수평 방향으로 직선에 가깝게 만드는 것을 의미한다.
대역 저지 필터의 중심 주파수(420)는 필터부의 중심 주파수(410)에 기초하여 결정하되, 대역 리젝 필터의 중심 주파수(420)는 필터부의 중심 주파수(410)와의 차이가 임계비율보다 같거나 작도록 결정될 수 있다.
S902 단계는, 대역 저지 필터를 통해 출력신호를 저지하는 단계, 및 저항성분을 통해 저지의 정도를 조절하는 단계를 포함할 수 있다. 출력신호를 저지한다는 것은, 통과 주파수 대역(400) 내의 출력신호를 감쇠시키는 것을 의미한다. 저지의 정도는 저항성분을 가변함으로써 조절할 수 있다.
또한, 저항성분을 통해 저지의 정도를 조절하는 단계는 저항성분을 가변함으로써 저지의 정도를 조절하는 것일 수 있다. 구체적으로, 저항성분을 통해 저지의 정도를 조절하는 단계는 대역 리젝 필터의 리젝 대역폭을 변경함으로써 저지의 정도를 조절하는 것일 수 있다. 저지 대역폭은 대역 저지 필터가 신호를 감쇠시키는 주파수 대역(이하, '감쇠 주파수 대역'이라 함)을 의미한다. 저지 대역폭은 공진에서의 Q(Quality Factor)값에 의해 결정될 수 있다. Q값은 주파수 선택 특성 품질을 의미하며, Q 값이 클수록 리젝 대역폭은 작아진다. Q값은 대역 리젝 필터의 공진 주파수를 3dB 대역폭으로 나눈 값이다. 3dB 대역폭은 대역 저지 필터의 공진 주파수에 대응하는 손실 값에서 3dB 차이를 가지는 지점의 주파수 간의 차이이다. 따라서, 3dB 값이 클수록 Q 값은 작아지게 된다. 대역 저지 필터에서의 3dB 값은 저항성분에 비례하므로, 저항성분이 클수록 저지 대역폭은 커지게 된다. 즉, 저항성분과 저지 대역폭은 비례 관계이다. 또한, 저항성분의 값은 대역 저지 필터의 임피던스 값와 비례 관계일 수 있다. 구체적으로, 공진 주파수에서 인덕터 성분 및 커패시터 성분에 의한 임피던스 값은 0의 값을 갖게 되고, 임피던스는 저항성분의 값에 의해 결정된다. 즉, 대역 저지 필터의 공진 주파수에서의 임피던스 값은 저항성분의 값을 갖게 된다.
상술한 설명에서, 단계 S901 내지 S902는 본원의 구현예에 따라서, 추가적인 단계들로 더 분할되거나, 더 적은 단계들로 조합될 수 있다. 또한, 일부 단계는 필요에 따라 생략될 수도 있고, 단계 간의 순서가 변경될 수도 있다.
본원의 일 실시 예에 따른 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
또한, 전술한 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법은 기록 매체에 저장되는 컴퓨터에 의해 실행되는 컴퓨터 프로그램 또는 애플리케이션의 형태로도 구현될 수 있다.
전술한 본원의 설명은 예시를 위한 것이며, 본원이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본원의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본원의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본원의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
300: 신호 평탄도 조절 시스템 및 방법
310: 필터부
320: 평탄도 변경부
321: 대역 저지부
322: 저항부
400: 통과 주파수 대역
410: 필터부의 중심 주파수
411: 대역 저지 필터의 중심 주파수에서 임계 비율을 차감한 주파수
412: 대역 저지 필터의 중심 주파수에서 임계 비율을 더한 주파수
420: 대역 저지 필터의 중심 주파수
500: 해당 기기의 안테나
600: 주파수 사용 기기

Claims (8)

  1. 평탄도 조절 시스템에 있어서,
    아날로그 필터에 구비되고, 통과 대역 내 각 통과 주파수의 진폭에 기초하여 신호를 필터링하여 출력하고 나머지는 감쇠시키는 필터부;
    상기 필터부 내의 적어도 하나의 구성요소를 고려하여 하나 이상의 대역 저지 필터의 RLC 회로의 공진 주파수와 진폭을 결정하고, 상기 결정된 공진 주파수 및 상기 진폭을 통해 상기 통과 주파수의 평탄도를 조절하는 평탄도 변경부;
    를 포함하여 전자 기기에서 사용자가 요청한 동작의 특정 주파수 진폭을 안정적으로 공급해주는 평탄도 조절 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 필터부는,
    적어도 하나 이상의 아날로그 필터를 거친 출력 신호에서 사용하지 않는 주파수 대역을 적어도 하나 이상의 공진기를 사용해서 공진현상으로 반사손실을 제거하는, 평탄도 조절 시스템.
  3. 제1항에 있어서.
    상기 평탄도 변경부는,
    적어도 하나 이상의 대역 저지 필터 각각의 인덕턴스와 커패시턴스를 조절하여 상기 복수의 대역 저지 필터 각각의 공진 주파수를 조절함으로써, 상기 통과 주파수의 평탄도를 조절하는 것인, 평탄도 조절 시스템.
  4. 제3항에 있어서
    상기 평탄도 변경부는,
    상기 대역 저지 필터를 통해 상기 출력신호를 평탄화하는 대역 저지부; 및
    상기 대역 저지 필터의 RLC회로에서 저항성분을 조절해서 상기 대역 저지 필터의 대역폭을 조절하는 저항부;
    를 포함하는 평탄도 조절 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 저항부는,
    상기 저항성분을 조절해주는 가변 저항으로서, 상기 저항부와 상기 대역 저지부를 직렬 결합 및 병렬결합을 통해서 상기 가변 저항값이 높을 때 대역폭이 좁고, 상기 가변 저항값이 낮을 때 대역폭이 넓도록 구성하는, 평탄도 조절 시스템.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 평탄도 변경부는,
    적어도 하나 이상의 조정 중심 주파수를 포함하고, 상기 필터부의 중심 주파수에 기초하여 결정하되, 적어도 하나 이상의 상기 조정 중심주파수는 상기 필터부의 중심 주파수와의 차이가 임계 비율보다 같거나 작도록 결정되고,
    적어도 하나 이상의 상기 조정 중심 주파수는 상기 필터부의 중심 주파수에서 상기 임계비율을 차감한 값 이상 내지 상기 필터부의 중심 주파수에서 상기 임계비율을 더한 값 이하의 범위에서 상기 평탄도 변경부의 사용 목적에 따라 선택하는, 평탄도 조절 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 평탄도 조절 시스템은,
    영상 수신 장치, 음원 수신 장치 및 모바일 통신 기기 중 어느 하나 내부에서, 상기 어느 하나의 채널 선택을 위해 사용하는 방법.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항의 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터에서 판독 가능한 기록매체.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005286893A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Murata Mfg Co Ltd 通過帯域平坦度補償回路およびフィルタ
KR20070023854A (ko) * 2005-08-25 2007-03-02 주식회사 팬택앤큐리텔 이동통신 단말기의 고조파 제거 장치
KR20160081340A (ko) * 2014-12-31 2016-07-08 한국전자통신연구원 감쇠값의 미세 튜닝이 가능한 디지털 감쇠장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005286893A (ja) * 2004-03-30 2005-10-13 Murata Mfg Co Ltd 通過帯域平坦度補償回路およびフィルタ
KR20070023854A (ko) * 2005-08-25 2007-03-02 주식회사 팬택앤큐리텔 이동통신 단말기의 고조파 제거 장치
KR20160081340A (ko) * 2014-12-31 2016-07-08 한국전자통신연구원 감쇠값의 미세 튜닝이 가능한 디지털 감쇠장치

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