KR20200128924A - 신호 측정 장치 및 방법 - Google Patents

신호 측정 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20200128924A
KR20200128924A KR1020190053093A KR20190053093A KR20200128924A KR 20200128924 A KR20200128924 A KR 20200128924A KR 1020190053093 A KR1020190053093 A KR 1020190053093A KR 20190053093 A KR20190053093 A KR 20190053093A KR 20200128924 A KR20200128924 A KR 20200128924A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
reset
period
amplifier
voltage
Prior art date
Application number
KR1020190053093A
Other languages
English (en)
Inventor
김종팔
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020190053093A priority Critical patent/KR20200128924A/ko
Priority to US16/655,817 priority patent/US11806124B2/en
Publication of KR20200128924A publication Critical patent/KR20200128924A/ko

Links

Images

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/72—Signal processing specially adapted for physiological signals or for diagnostic purposes
    • A61B5/7225—Details of analog processing, e.g. isolation amplifier, gain or sensitivity adjustment, filtering, baseline or drift compensation
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45—Differential amplifiers
    • H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/05—Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves 
    • A61B5/053—Measuring electrical impedance or conductance of a portion of the body
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/08—Detecting, measuring or recording devices for evaluating the respiratory organs
    • A61B5/0816—Measuring devices for examining respiratory frequency
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45—Differential amplifiers
    • H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/124—Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B2562/00—Details of sensors; Constructional details of sensor housings or probes; Accessories for sensors
    • A61B2562/02—Details of sensors specially adapted for in-vivo measurements
    • A61B2562/0209—Special features of electrodes classified in A61B5/24, A61B5/25, A61B5/283, A61B5/291, A61B5/296, A61B5/053
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B2562/00—Details of sensors; Constructional details of sensor housings or probes; Accessories for sensors
    • A61B2562/04—Arrangements of multiple sensors of the same type
    • A61B2562/043—Arrangements of multiple sensors of the same type in a linear array
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/129—Indexing scheme relating to amplifiers there being a feedback over the complete amplifier
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/228—A measuring circuit being coupled to the input of an amplifier
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/261—Amplifier which being suitable for instrumentation applications
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45116—Feedback coupled to the input of the differential amplifier
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03F—AMPLIFIERS
    • H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45616—Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising more than one switch, which are not cross coupled

Abstract

신호 측정 장치 및 방법이 제공된다. 일 실시예에 따른 신호 측정 장치는 대상 객체로 미리 알려진 전류 신호를 인가하여 획득되는 전압 신호를 전류 신호의 한 주기 동안 적어도 한번 공통모드 전압을 이용하여 리셋함으로써, 증폭기의 입력단에 감소된 전압 신호를 입력할 수 있다. 신호 측정 장치는 증폭기의 출력을 디지털 신호로 변환함으로써 객체 임피던스의 변화에 대응하는 디지털 신호를 획득할 수 있다.

Description

신호 측정 장치 및 방법{METHOD AND DEVICE TO MEASURE SIGNAL}
이하, 신호 측정 기술이 제공된다.
환자의 건강 상태를 진단하기 위한 다양한 의료 장비들이 개발 중에 있다. 건강 진단 과정에서 환자의 편의, 건강 진단 결과의 신속성 등으로 인하여 환자의 전기적인 생체 신호를 측정하기 위한 의료 장비들의 중요성이 부각되고 있다.
특히, 생체 신호 중에서도 생체 임피던스는 생체의 건강이나 감정 상태를 모니터링하기 위하여 이용될 수 있으며, 최근에는 이러한 생체 임피던스를 측정하기 위한 장치를 소형화하고, 빠르고 정확하게 생체 임피던스를 측정하기 위하여 다양한 연구가 진행되고 있다.
일 실시예에 따른 신호 측정 장치는 대상 객체로 캐리어 주파수를 가지는 전류 신호를 공급하는 전원(power source); 상기 전류 신호가 공급되는 상기 대상 객체로부터 생성되는 객체 전압 신호(object voltage signal)의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 상기 캐리어 주파수에 대응하는 주기(period) 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시키는 리셋부(reset unit); 및 상기 입력 전압 신호를 증폭함으로써 증폭 신호를 생성하는 증폭기를 포함할 수 있다.
상기 리셋부는, 상기 대상 객체 및 상기 증폭기 사이에 연결되는 커패시터; 및 상기 커패시터의 일단 및 공통모드 전압을 공급하는 공통모드 노드 사이에 연결되는 리셋 스위치를 포함할 수 있다.
신호 측정 장치는 상기 증폭기의 출력단에 연결되는 아날로그 디지털 변환기를 더 포함할 수 있다.
상기 아날로그 디지털 변환기는, 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써, 상기 대상 객체의 임피던스 변화를 지시하는 디지털 신호를 출력할 수 있다.
신호 측정 장치는 상기 전원으로 캐리어 주파수를 전달하고, 상기 리셋부로 리셋 신호를 전달하는 클럭 생성부를 더 포함하고, 상기 리셋부는, 상기 클럭 생성부로부터 전달되는 상기 리셋 신호에 응답하여, 상기 입력 전압 신호를 공통모드 전압으로 리셋시키며, 상기 증폭기는, 리셋된 후에 상기 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화하는 상기 입력 전압 신호를 수신할 수 있다.
상기 리셋부는, 상기 주기에서 지정된 리셋 구간 동안 상기 입력 전압 신호를 상기 공통모드 전압으로 리셋시킬 수 있다.
신호 측정 장치는 상기 주기에서 상기 리셋 구간 동안 리셋 신호를 상기 리셋부로 전달하는 클럭 생성부를 더 포함하고, 상기 리셋부는, 상기 리셋 신호에 응답하여 리셋 구간 동안 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 연결하고, 상기 리셋 구간이 경과하면 상기 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 분리하는 리셋 스위치를 포함할 수 있다.
상기 리셋부는, 저항(resistance) 측정 시점을 포함하는 구간 동안 상기 공통모드 노드를 상기 증폭기의 입력단으로부터 분리하고, 리액턴스(reactance) 측정 시점을 포함하는 구간 동안 상기 공통모드 노드를 상기 증폭기의 입력단으로부터 분리할 수 있다.
신호 측정 장치는 상기 저항 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하고, 상기 리액턴스 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하는 아날로그 디지털 변환기를 더 포함할 수 있다.
상기 리셋부는, 상기 증폭기로부터 출력되는 증폭 신호가 임계 전압에 도달할 때마다 상기 입력 전압 신호를 상기 공통모드 전압으로 리셋시킬 수 있다.
신호 측정 장치는 상기 증폭 신호의 진폭 및 상기 임계 전압을 비교하고, 상기 증폭 신호의 진폭이 상기 임계 전압에 도달한 경우에 응답하여 도달 지시 신호(touch indication signal)를 클럭 생성부로 전달하는 진폭 검출기(amplitude detector); 및 상기 도달 지시 신호에 응답하여 상기 리셋 신호를 생성하는 클럭 생성부를 더 포함하고, 상기 리셋부는, 상기 주기 동안 상기 리셋 신호에 응답하여 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 연결하고, 상기 주기의 나머지 구간 동안 상기 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 분리하는 리셋 스위치를 포함할 수 있다.
상기 신호 측정 장치는, 상기 증폭 신호의 진폭이 상기 임계 전압에 도달한 도달 횟수(touch number)를 카운트하고, 상기 카운트된 도달 횟수 및 상기 임계 전압으로부터 상기 증폭 신호의 기존 진폭(original amplitude)을 산출할 수 있다.
신호 측정 장치는 저항 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하고, 리액턴스 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하는 아날로그 디지털 변환기를 더 포함할 수 있다.
상기 증폭기는, 차동 증폭기를 포함하고, 상기 신호 측정 장치는, 상기 차동 증폭기의 출력단에 연결되는 쵸퍼 회로(chopper circuit); 상기 쵸퍼 회로의 출력단에 연결되는 샘플 및 홀드 회로(sample and hold circuit); 및 상기 샘플 및 홀드 회로의 출력단에 연결되는 아날로그 디지털 변환기를 더 포함할 수 있다.
상기 쵸퍼 회로는, 상기 증폭기의 두 출력 노드들 및 상기 샘플 및 홀드 회로의 두 입력 노드들 간의 연결을 상기 캐리어 주파수의 반 주기(half period)마다 교대로 스위칭함으로써, 쵸퍼 전압 신호를 생성할 수 있다.
상기 샘플 및 홀드 회로는, 상기 주기에서 샘플링 구간 동안 상기 쵸퍼 전압 신호를 샘플링하고, 홀딩 구간 동안 샘플링된 신호를 홀드함으로써, 이산 신호(discrete signal)를 생성하며, 상기 샘플링 구간은 상기 주기에서 각 측정 시점으로부터 이전의 미리 정한 구간이고, 상기 홀딩 구간은 각 측정 시점으로부터 이후의 미리 정한 구간일 수 있다.
상기 아날로그 디지털 변환기는, 상기 샘플 및 홀드 회로로부터 출력되는 제1 이산 신호 및 제2 이산 신호 간의 차동 이산 신호(differential discrete signal)를 디지털 신호로 변환할 수 있다.
일 실시예에 따른 신호 측정 방법은 대상 객체로 캐리어 주파수를 가지는 전류 신호를 공급하는 단계; 상기 전류 신호가 공급되는 상기 대상 객체로부터 생성되는 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 상기 캐리어 주파수에 대응하는 주기 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시키는 단계; 및 상기 입력 전압 신호를 증폭함으로써, 상기 대상 객체의 임피던스 변화에 대응하는 증폭 신호를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
도 2는 일 실시예에 따른 신호 측정 장치의 세부 구성을 도시한 회로도이다.
도 3 및 도 4는 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 타이밍에 기초하여 입력 전압 신호를 리셋하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 5 및 도 6은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 진폭에 기초하여 입력 전압 신호를 리셋하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 7 및 도 8은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 쵸퍼 회로와 샘플 및 홀드 회로를 더 포함하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 9 및 도 10은 일 실시예에 따른 신호 측정 과정의 예시를 설명하는 도면이다.
도 11은 일 실시예에 따른 신호 측정 방법을 설명하는 흐름도이다.
이하, 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 그러나, 특허출원의 범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.
아래 설명하는 실시예들에는 다양한 변경이 가해질 수 있다. 아래 설명하는 실시예들은 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 이들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
실시예에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 실시예를 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수 개의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조 부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
일 실시예에 따른 신호 측정 장치(100)는 대상 객체(109)로부터 신호를 측정할 수 있다. 대상 객체(109)는 예를 들어, 생체(living body)일 수 있다. 생체로부터 측정되는 신호를 생체 신호(bio-signal)라고 지칭할 수 있다. 생체 신호는 생체 활동(예를 들어, 호흡 등) 및 생체 상태에 따라 변화할 수 있다. 측정된 생체 신호는, 생체의 상태를 결정하는데 사용될 수 있다. 생체 신호는 예를 들어, 생체 전기 신호(bio-electric signal), 및 생체 임피던스 신호 등이 있을 수 있다. 예를 들어, 신호 측정 장치(100)는 대상 객체(109)의 임피던스 변화를 나타내는 신호(예를 들어, 생체 임피던스 신호)를 측정할 수 있다. 다만, 아래에서는 주로 신호 측정 장치(100)가 대상 객체(109)의 임피던스 신호를 측정하는 예시를 설명하나, 이로 한정하는 것은 아니고, 대상 객체(109)와 연관된 다른 전기적인 신호를 측정할 수도 있다.
예를 들어, 신호 측정 장치(100)는 미리 결정된 전기 신호(예를 들어, 전류 신호)를 대상 객체(109)에 공급하고, 전기 신호의 공급에 의해 유발되는 전기 신호(예를 들어, 전압 신호)를 측정함으로써 대상 객체(109)의 임피던스를 측정할 수 있다. 옴의 법칙에 따라 Z=V/I이 되고, Z는 임피던스, V는 전압, I는 전류일 때, 전압 V는 측정되고, 전류 I는 주어지므로, 신호 측정 장치(100)는 임피던스 Z를 획득할 수 있다.
신호 측정 장치(100)는 전원(110), 리셋부(120), 증폭기(130), 아날로그 디지털 변환기(140), 및 클럭 생성부(150)를 포함할 수 있다.
전원(110)은 대상 객체(109)로 캐리어 주파수를 가지는 신호를 공급할 수 있다. 예를 들어, 전원(110)은 대상 객체(109)로 캐리어 주파수 및 알려진 진폭의 파형을 가지는 전류 신호를 대상 객체(109)로 공급할 수 있다. 전류 신호의 진폭은 고정 값(constant value)일 수 있으나, 이로 한정하는 것은 아니다 또한, 전류 신호의 파형은 사인 파형(sine wave)일 수 있으나, 이로 한정하는 것은 아니다.
리셋부(120)는 전류 신호가 공급되는 대상 객체(109)로부터 생성되는 객체 전압 신호(object voltage signal)의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 캐리어 주파수에 대응하는 주기(period) 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시킬 수 있다. 객체 신호는 상술한 전원(110)에 의해 공급되는 신호에 의해 객체로부터 유발되는 신호를 나타낼 수 있다. 객체 전압 신호는, 전원(110)에 의해 대상 객체(109)에 전류 신호가 인가되었을 때, 대상 객체(109)에 걸리는 전압을 지시하는 신호일 수 있다. 입력 전압 신호는 객체 전압 신호의 변화를 따라(follow) 변화하는 전압 신호를 나타낼 수 있다. 예를 들어, 입력 전압 신호가 리셋되면 입력 전압 신호는 리셋된 시점에서는 공통모드 전압을 나타낼 수 있고, 리셋 이후로 공통모드 전압으로부터 다시 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화할 수 있다. 따라서 리셋부(120)는 입력 전압 신호의 진폭을 감소시킬 수 있다. 객체 전압 신호 및 입력 전압 신호의 관계는 도 4, 도 6, 및 도 8에서 후술한다.
증폭기(130)는 입력 전압 신호를 증폭함으로써 증폭 신호를 생성할 수 있다. 증폭기(130)는 리셋부(120)로부터 입력 전압 신호를 수신할 수 있다. 아래에서 증폭기(130)를 완전 차동 증폭기(130)(full differential amplifier)로 주로 설명하였으나, 이로 한정하는 것은 아니다. 증폭기(130)는 싱글 엔드 모드로 동작하여 단일 입력을 수신하고 단일 출력을 생성하거나, 차동 입력을 수신하고 단일 출력을 생성할 수도 있다.
일 실시예에 따르면, 리셋부(120)에 의해 증폭기(130)로 입력되는 전압의 크기가 감소하므로, 증폭기(130)에 대해 요구되는 성능이 완화될 수 있다. 예를 들어, 차동 증폭기(130)로 두 신호들이 입력되는 경우, 차동 증폭기(130)는 이상적으로는(idealistically) 두 신호들의 차이를 나타내는 차동 모드 신호만을 출력해야 한다. 다만, 차동 증폭기(130)의 두 입력 단자에 전압 크기가 큰 공통의 입력 신호가 입력될 경우, 차동 증폭기(130)의 출력에 공통의 입력신호를 추종(follow)하는 차동 신호가 발생하며 이는 오차로서 작용한다. 차동 증폭기(130)로 입력되는 공통의 입력 신호의 전압 크기가 커질수록, 이러한 공통모드 성분에 의한 오차가 크게 나타날 수 있으며, 이러한 공통모드 성분을 거부(reject)하는 정도를 공통 모드 제거비(CMRR, Common-Mode Rejection Ratio)라고 나타낼 수 있다. 일 실시예에 따른 신호 측정 장치(100)에서는 리셋부(120)가 증폭기(130)로 입력되는 입력 전압 신호의 진폭을 감소시키므로, 증폭기(130)가 상대적으로 낮은 공통 모드 제거비를 가지더라도, 증폭기(130)의 출력에서 공통모드 성분이 감소될 수 있다. 더 나아가, 증폭기(130)로 입력되는 전압의 크기 및 진폭이 감소하므로, 증폭기(130)에 요구되는 입력 전압 범위도 감소될 수 있다. 더 나아가, 증폭기(130)에 대해 요구되는 선형성 성능도 완화될 수 있다. 입력되는 전압의 크기가 작아지므로, 증폭기(130)가 보다 큰 이득(gain)을 가지도록 설계될 수도 있다. 증폭기(130)로 입력되는 전압의 크기 및 진폭이 감소되면 입력 전압 및 출력 전압이 포화될 가능성도 감소되므로, 증폭기(130)에서의 왜곡이 감소될 수 있다.
또한, 증폭기(130)의 출력에서 공통모드 성분에 의한 오프셋이나 노이즈가 감소하므로, 증폭기(130)의 출력의 정확성이 향상되는 바, 증폭기(130)의 출력에 연결되는 다른 회로 소자들(예를 들어, 아날로그 디지털 변환기(140), 샘플링 및 홀드 회로, 쵸퍼 회로 등)에 대해 요구되는 성능이 완화되고, 보다 넓은 동작 범위를 허용할 수 있다.
따라서, 일 실시예에 따른 신호 측정 회로에서는 리셋부(120)를 통해 증폭기(130) 및 증폭기(130)의 출력에 연결되는 회로 소자들에 대해 요구되는 성능이 완화되므로, 각 소자가 간단한 구조를 통해 구현될 수 있고, 각 소자에 대해 소요되는 비용, 전력, 및 면적 등이 감소될 수 있다.
참고로, 본 명세서에서 측정하고자 하는 생체 임피던스는 0부터 최대값까지 크게 변화하는 형태가 아니고, 큰 직류 성분의 고정 임피던스 값을 기준으로 미소한 변화 범위 내에서 임피던스 값이 변화하는 형태일 수 있다. 따라서 일 실시예에 따른 리셋부(120)는 원하지 않는 고정 임피던스 값에 대응하는 성분을 제거함으로써, 증폭기(130)에 입력되는 전압의 크기를 감소시킬 수 있다. 리셋부(120)에 의해 원하지 않는 성분이 제거되므로, 일 실시예에 따른 신호 측정 회로는 입력 전압 신호에 대해 추가적인 증폭기(130) 이득(amplifier gain)을 제공할 수 있다.
아날로그 디지털 변환기(140)는 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써, 대상 객체(109)의 임피던스 변화를 지시하는 디지털 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어, 아날로그 디지털 변환기(140)는 증폭 신호의 아날로그 값을 디지털 값(예를 들어, 비트 시퀀스로 구성되는 디지털 코드)로 변환할 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(140)는 전류 신호의 주기 중 미리 결정된 시점에서, 증폭 신호 또는 이산 신호를 디지털로 변환할 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(140)가 디지털 변환 동작을 수행하는 시점은, 임피던스 중 저항 값을 획득하려는 경우와 리액턴스 값을 획득하려는 경우에 따라 달라질 수 있다.
클럭 생성부(150)는 신호 측정 장치(100)의 각 소자로 클럭 주파수(clock frequency) 및 제어 신호들을 전달할 수 있다. 예를 들어, 클럭 생성부(150)는 전원(110)에 대해서는 캐리어 주파수를 제공할 수 있다. 클럭 생성부(150)는 리셋부(120)로 리셋 스위치를 활성화하는 리셋 신호를 전달할 수 있다. 클럭 생성부(150)는 아날로그 디지털 변환기(140)로 캐리어 주파수에 대응하는 주기 동안 측정 시점을 지시하는 신호를 전달할 수 있다.
도 2는 일 실시예에 따른 신호 측정 장치의 세부 구성을 도시한 회로도이다.
신호 측정 장치(200)는 전원(210), 리셋부(220), 증폭기(230), 및 아날로그 디지털 변환기(240)를 포함할 수 있다. 클럭 생성부는 설명의 편의를 위해 생략하였다.
전원(210)은 알려진 진폭 및 캐리어 주파수(fs)를 가지는 전류 신호(Iapp)를 생성할 수 있다. 전원(210)은 도 2에 도시된 바와 같이 대상 객체(209)에 전류 신호를 공급할 수 있다. 대상 객체(209)는 대상 임피던스(Zobject)를 가지는 것으로 도시되었는데, 대상 임피던스(Zobject)는 대상 객체(209) 자체의 임피던스 및 대상 객체(209)와 접촉하는 전극의 임피던스의 합일 수 있다.
대상 객체(209)로부터 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)가 생성될 수 있다. 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)는 리셋부(220)로 전달될 수 있다. 참고로, 도 2에서는 증폭기(230)가 완전 차동 증폭기(230)인 구성을 설명하나, 이로 한정하는 것은 아니고, 싱글 엔드 모드(single ended mode)로도 증폭기(230)가 구현될 수 있다.
리셋부(220)는 커패시터(Cp, Cn) 및 리셋 스위치(SWp, SWn)를 포함할 수 있다. 커패시터(Cp, Cn)는 대상 객체(209) 및 증폭기(230) 사이에 연결될 수 있다. 리셋 스위치(SWp, SWn)는 커패시터(Cp, Cn)의 일단 및 공통모드 전압을 공급하는 공통모드 노드(Vcom) 사이에 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 커패시터(Cp)의 일단은 대상 객체(209)와 연결되고, 제1 커패시터(Cp)의 다른 일단은 증폭기(230)의 제1 입력단 및 제1 리셋 스위치(SWp)에 연결될 수 있다. 제2 커패시터(Cn)의 일단은 대상 객체(209)와 연결되고, 제2 커패시터(Cn)의 다른 일단은 증폭기(230)의 제2 입력단 및 제2 리셋 스위치(SWn)에 연결될 수 있다. 리셋 스위치(SWp, SWn)은 리셋 신호에 의해 제어될 수 있다. 참고로, 본 명세서에서 공통모드 노드 및 해당 공통모드 노드에서 공급되는 공통모드 전압은 둘 다 Vcom으로 지칭될 수 있다.
리셋부(220)에서, 일단에서 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)을 수신한 커패시터(Cp, Cn)는 입력 전압 신호(Vip, Vin)를 증폭기(230)의 입력단으로 출력할 수 있다. 입력 전압 신호(Vip, Vin)는 기본적으로 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)의 변화를 따라 변화할 수 있다. 예를 들어, 주기 동안 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)가 제1 시점으로부터 제2 시점까지 제1 전압 변화량만큼 변화(예를 들어, 증가 또는 감소)하는 경우, 입력 전압 신호(Vip, Vin)도 동일한 제1 전압 변화량만큼 변화할 수 있다. 이 때, 제2 시점에서 입력 전압 신호(Vip, Vin)가 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋될 수 있다. 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)가 제2 시점으로부터 제3 시점까지 제2 전압 변화량만큼 변화하는 경우, 입력 전압 신호(Vip, Vin)는 공통모드 전압(Vcom)으로부터 제2 전압 변화량만큼 변화할 수 있다. 제1 시점 내지 제3 시점, 제1 전압 변화량 및 제2 전압 변화량은 이해를 돕기 위해 제시된 것으로서, 이로 한정되는 것은 아니다. 객체 전압 신호(Vsp, Vsn) 및 입력 전압 신호(Vip, Vin)의 파형 변화는 하기 도 4, 도 6, 및 도 8에서 도시된다.
증폭기(230)는 입력 전압 신호(Vip, Vin)를 증폭함으로써, 증폭 신호(Vmp, Vmn)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 증폭기(230)는 제1 입력 전압 신호(Vip)를 증폭한 제1 증폭 신호(Vmp)를 출력하고, 제2 입력 전압 신호(Vin)를 증폭한 제2 증폭 신호(Vmn)를 출력할 수 있다.
아날로그 디지털 변환기(240)는 증폭기(230)의 출력단에 연결될 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(240)는 증폭 신호(Vmp, Vmn)를 변환하여, 디지털 신호(ADCout)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 아날로그 디지털 변환기(240)는 제1 증폭 신호(Vmp) 및 제2 증폭 신호(Vmn)의 차동 증폭 신호(예를 들어 ,Vmp-Vmn)를 아날로그 값으로부터 디지털 값으로 변환함으로써, 대상 객체(209)의 임피던스 변화에 대응하는 디지털 신호(ADCout)를 출력할 수 있다. 상술한 바와 같이, Z=V/I이고 전류 I는 알려져 있으며, 전압 V가 차동 증폭 신호로서 획득되므로, 아날로그 디지털 변환기(240)는 전원(210)에 의해 공급되는 전류 I가 피크 값(예를 들어, 도 2에서는 진폭)을 가지는 시점마다 획득된 차동 증폭 신호를 디지털 값으로 변환함으로써 임피던스 변화에 대응하는 디지털 신호(ADCout)를 출력할 수 있다. 리셋부(220)에 의해 입력 전압 신호(Vip, Vin)가 리셋되면서 진폭이 감소되었으므로, 아날로그 디지털 변환기(240)에 의해 출력되는 디지털 신호(ADCout)는 임피던스의 변화 추이를 나타낼 수 있다.
도 3 및 도 4는 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 타이밍에 기초하여 입력 전압 신호를 리셋하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 3은 신호 측정 장치(300)가 대상 객체(309)에 공급되는 전류 신호의 주기 내에 지정된 측정 시점마다 임피던스 변화에 대응하는 디지털 신호를 출력하는 구조를 도시한다. 도 4는 도 3에 도시된 구조에서 주요 노드에서의 신호 파형의 예를 도시한 타이밍도로서, 설명의 편의를 위해 차동 모드에서의 신호 쌍 중 포지티브(positive) 단 신호를 주로 설명한다. 네거티브 단 신호에 대해서도 동일한 설명이 적용될 수 있다.
전원(310)은 진폭 및 캐리어 주파수(fs)를 가지는 전류 신호(Iapp)를 대상 객체(309)로 공급할 수 있다. 도 4에서 전류 신호가 캐리어 주파수(fs)에 대응하는 주기 동안 피크인 시점을 Tpi라고 도시하였다. 일 실시예에 따르면 신호 측정 장치(300)는 제1 전극(311)을 통해 대상 객체(309)로 전류 신호를 공급할 수 있다. 그리고 신호 측정 장치(300)는 제2 전극(321)을 통해 대상 객체(309)로부터 객체 전압 신호(Vsp)을 수신할 수 있다. 따라서, 객체 전압 신호(Vsp)는 전극들(311, 321) 및 대상 객체(309)의 각각이 가지는 임피던스들의 전체 임피던스(Ztotal)에 걸리는 전압을 나타낼 수 있다. 따라서 도 1에서 상술한 원하지 않는 고정 임피던스는, 대상 객체(309) 자체에서 생체 활동 및 생체 상태와 무관하게 변하지 않는 임피던스 및 전극들(311, 321)이 가지는 임피던스를 포함할 수 있다.
도 4에서 객체 전압 신호(Vsp)는 주기 동안 Tpv 시점에 피크를 가지는 것으로 도시되었고, Tpv 시점은 전류 신호(Iapp)의 피크 시점 Tpi와 동일하게 도시되었는데, 이는 설명의 편의를 위한 것으로서 전체 임피던스 Ztotal이 저항 값만 가지고 리액턴스 값을 가지지 않는 것을 가정한 것이다. 객체 전압 신호(Vsp)의 위상인 실제 적용시 달라질 수 있다.
클럭 생성부(350)는 전원(310)으로 캐리어 주파수를 전달하고, 리셋부(320)로 리셋 신호(frst)를 전달할 수 있다. 예를 들어, 클럭 생성부(350)는 주기에서 리셋 구간 동안 리셋 신호(frst)를 리셋부(320)로 전달할 수 있다. 클럭 생성부(350)는 전류신호와의 위상을 조절하여 리셋 신호(frst) 및 신호(fADC)를 생성할 수 있다.
리셋부(320)는 클럭 생성부(350)로부터 전달되는 리셋 신호(frst)에 응답하여, 입력 전압 신호(Vip)를 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋시킬 수 있다. 리셋부(320)는, 주기에서 지정된 리셋 구간 동안 입력 전압 신호(Vip)를 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋시킬 수 있다. 예를 들어, 리셋부(320)의 리셋 스위치(SWp)는 리셋 신호(frst)에 응답하여 리셋 구간 동안 공통모드 노드(Vcom) 및 증폭기(330)의 입력단을 연결하고, 리셋 구간이 경과하면 공통모드 노드 및 증폭기(330)의 입력단을 분리할 수 있다.
도 4에서 클럭 생성부(350)에 의해 생성되는 리셋 신호(frst)는 리셋 시점(T0, T1)을 기준으로 전후 Trst 구간(예를 들어, 리셋 구간)만큼 H 레벨 논리 값(high level logical value)에 대응하는 크기를 나타낼 수 있다. 주기의 나머지 구간에서 리셋 신호(frst)는 L 레벨 논리 값(low level logical value)에 대응하는 크기를 나타낼 수 있다.
주기에서 리셋 구간 동안 리셋 신호(frst)가 H 레벨 논리 값을 나타낼 수 있다. 리셋 구간 동안 리셋 스위치가 활성화되어 리셋 스위치(SWp)가 단락되고, 공통모드 전압(Vcom)이 증폭기(330)의 입력단에 인가될 수 있다. 따라서, 입력 전압 신호(Vip)가 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋될 수 있다. 결과적으로 도 4에 도시된 바와 같이 리셋 신호(frst)가 H 레벨 논리 값을 나타내는 구간 동안, 입력 전압 신호(Vip)는 공통모드 전압(Vcom)을 나타낼 수 있다.
주기에서 리셋 구간 이외의 나머지 구간 동안, 리셋 신호(frst)가 L 레벨 논리 값을 나타낼 수 있다. L 레벨 논리 값을 나타내는 구간 동안, 리셋 스위치는 비활성화되어, 양단의 연결이 분리될 수 있다. 따라서, 입력 전압 신호(Vip)는 리셋 스위치가 비활성화된 시점부터 다시 공통모드 전압을 기준으로 객체 전압 신호(Vsp)의 변화량만큼 변화할 수 있다.
상술한 리셋 과정을 거쳐, 대상 객체(309)의 원하는 임피던스 변화범위 만큼만 유지되고, 큰 값의 고정 임피던스 부분이 제거될 수 있다.
증폭기(330)는 리셋된 후에 객체 전압 신호(Vsp)의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호(Vip)를 수신할 수 있다. 예를 들어, 증폭기(330)는 적어도 한번 리셋된 입력 전압 신호(Vip)를 증폭함으로써, 증폭 신호(Vmp)를 생성할 수 있다.
아날로그 디지털 변환기(340)는 증폭 신호(Vmp)를 디지털 형태로 변환함으로써, 임피던스 변화에 대응하는 디지털 신호(ADCout)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 클럭 생성부(350)는 주기에서 측정 시점마다 아날로그 디지털 변환기(340)의 동작을 지시하는 신호(fADC)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 신호(fADC)의 상승 엣지(rising edge) 시점에서 아날로그 값인 증폭 신호(Vmp)가 디지털 신호로 변환될 수 있다. 예를 들어, 아날로그 디지털 변환기(340)는 두 증폭 신호(Vmp, Vmn)의 차동 신호(Vmp-Vmn)를 디지털 신호로 변환할 수 있다. 도 4에서 신호(fADC)의 상승 엣지(rising edge) 시점은 TADC 구간이 경과한 시점으로 도시되었으며, TADC 구간은 1/4 주기로 도시되었다. 아래에서 후술하겠으나, 도 4에 도시된 신호(fADC)의 상승 엣지(rising edge) 시점에서는 대상 객체(309)의 임피던스에서 실수 성분인 저항 값이 획득될 수 있다.
본 명세서에서 주기 중 1/4 주기에 대응하는 시점을 90도 시점, 1/2 주기에 대응하는 시점을 180도 시점, 3/4 주기에 대응하는 시점을 270도 시점, 4/4 주기에 대응하는 시점을 360도 시점이라고 나타낼 수 있다. 도 3 및 도 4에서 주어진 전류 신호는 사인 파형으로서, 주기 동안 90도 시점 및 270도 시점의 정보가 실수 성분을 나타내고, 180도 시점 및 360도 시점의 정보가 허수 성분을 나타낼 수 있다. 따라서, 신호 측정 장치(300)가 도 4에 도시된 바와 같이 주기의 90도 시점마다 증폭 신호(Vmp)를 디지털 신호로 변환할 경우, 변환된 디지털 신호는 임피던스 중 저항 값을 나타낼 수 있다.
참고로, 도 4에서는 리셋 시점(T0, T1)은 0도 시점 및 180도 시점으로 도시되었다. 도 4에 도시된 리셋 신호(frst)는 0도 시점 및 180도 시점을 포함하는 구간에서는 H 레벨 논리 값을 가지고, 90도 시점 및 270도 시점을 포함하는 일정 구간에서는 L 레벨 논리 값을 가질 수 있다. 전류 신호로서 주어진 사인 파형을 기준으로 90도 시점 및 270도 시점에서 저항 값에 대응하는 최대 진폭이 나타나므로, 도 4에 도시된 리셋 신호(frst)는 객체 전압 신호(Vsp)로부터 임피던스 중 저항 값에 대응하는 성분이 보존되도록 설정된 리셋 구간을 가질 수 있다.
다만, 신호 측정 장치(300)가 임피던스 중 저항 값만 측정하는 것으로 한정하는 것은 아니며, 설계에 따라 리액턴스 값도 측정할 수 있다. 예를 들어, 리셋 신호(frst)는 허수 성분에 대응하는 정보가 나타나는 180도 시점 및 360도 시점(0도 시점)에서 L 레벨 논리 값을 가질 수 있다. 이 때, 아날로그 디지털 변환기(340)는 주기에서 0도 시점마다 증폭 신호(Vmp)를 디지털 신호로 변환함으로써, 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 획득할 수 있다.
더 나아가, 신호 측정 장치(300)는 임피던스 중 저항 값 및 리액턴스 값을 둘 다 획득할 수도 있다. 예를 들어, 리셋부(320)는, 저항(resistance) 측정 시점(예를 들어, 90도 시점)을 포함하는 구간 동안 공통모드 노드(Vcom)를 증폭기(330)의 입력단으로부터 분리하고, 리액턴스(reactance) 측정 시점(예를 들어, 0도 시점)을 포함하는 구간 동안 공통모드 노드(Vcom)를 증폭기(330)의 입력단으로부터 분리할 수 있다. 따라서, 입력 전압 신호(Vip)는 저항 성분 및 리액턴스 성분을 모두 유지할 수 있다. 그리고 아날로그 디지털 변환기(340)는 저항 측정 시점에서 증폭 신호(Vmp)를 디지털 형태로 변환함으로써 대상 객체(309)의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호(ADCout)를 생성할 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(340)는 리액턴스 측정 시점에서 증폭 신호(Vmp)를 디지털 형태로 변환함으로써 대상 객체(309)의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호(ADCout)를 생성할 수 있다.
일 실시예에 따른 신호 측정 장치(300)는 임피던스 중 저항 값 및 리액턴스 값을 순차적으로 획득하거나, 동시에 획득할 수 있다. 예를 들어, 신호 측정 장치(300)는 매 주기마다 번갈아가면서 한 주기에서 저항 값을 획득하고, 다음 주기에서는 리액턴스 값을 획득할 수 있다. 다른 예를 들어, 신호 측정 장치(300)는 증폭 신호(Vmp)로부터 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 출력하기 위한 제1 아날로그 디지털 변환기(340) 및 증폭 신호(Vmp)로부터 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 출력하기 위한 제2 아날로그 디지털 변환기(340)를 증폭기(330)에 대해 병렬적으로 연결할 수 있다.
도 5 및 도 6은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 진폭에 기초하여 입력 전압 신호를 리셋하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 5에 도시된 신호 측정 장치(500)에서, 대상 객체(509), 전원(510), 증폭기(530), 및 아날로그 디지털 변환기(540)의 설명은 도 3에서 상술한 대상 객체(309), 전원(310), 증폭기(330), 및 아날로그 디지털 변환기(340)의 동작과 동일하거나 유사하므로 생략한다. 신호 측정 장치(500)는 진폭 검출기(560)를 더 포함할 수 있다.
진폭 검출기(560)는 증폭 신호(Vmp, Vmn)의 진폭 및 임계 전압(Vth_h, Vth_l)을 비교하고, 증폭 신호(Vmp, Vmn)의 진폭이 임계 전압(Vth_h, Vth_l)에 도달한 경우에 응답하여 도달 지시 신호(touch indication signal)(Touch)를 클럭 생성부(550)로 전달할 수 있다. 예를 들어, 진폭 검출기(560)는 제1 증폭 신호(Vmp)가 제1 임계 전압(Vth_h) 및 제2 임계 전압(Vth_l) 중 하나에 도달(touch)할 때마다, 도달 지시 신호(TIS)를 생성할 수 있다. 클럭 생성부(550)는 도달 지시 신호(TIS)에 응답하여 리셋 신호(frst)를 생성할 수 있다. 진폭 검출기(560)는 제2 증폭 신호(Vmn)에 대해서도 동일한 동작을 수행할 수 있다.
리셋부(520)는 증폭기(530)로부터 출력되는 증폭 신호(Vmp, Vmn)가 임계 전압(Vth_h, Vth_l)에 도달할 때마다 입력 전압 신호(Vip, Vin)를 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋시킬 수 있다. 예를 들어, 리셋부(520)는 클럭 생성부(550)로부터 전달되는 리셋 신호(frst)에 응답하여 입력 전압 신호(Vip, Vin)를 공통모드 전압(Vcom)로 리셋할 수 있다. 리셋부(520)의 리셋 스위치(SWp, SWn)는, 주기 동안 리셋 신호(frst)에 응답하여 공통모드 노드(Vcom) 및 증폭기(530)의 입력단을 연결하고, 주기의 나머지 구간 동안 공통모드 노드(Vcom) 및 증폭기(530)의 입력단을 분리할 수 있다.
참고로, 도 6에서는 증폭 신호(Vmp)의 파형이 입력 전압 신호(Vip)의 파형과 크기만 다를 뿐 형태가 동일하므로, 증폭 신호(Vmp)의 파형을 생략하였다. 설명의 편의를 위하여 입력 전압 신호(Vip)에 대하여 이득(Gain)만큼 감소된 임계 전압(Vth_h/Gain, Vth_l/Gain)을 도시하였는데, 실제 진폭 검출기(560)는 상술한 바와 같이 증폭 신호(Vmp, Vmn) 및 임계 전압(Vth_h, Vth_l)를 비교할 수 있다. 증폭된 이후의 신호를 이용하므로, 진폭 검출기(560)에 요구되는 성능도 감소될 수 있다.
도 6에 도시된 바와 같이, 증폭 신호(Vmp, Vmn)가 임계 전압(Vth_h, Vth_l)에 도달할 때마다, 입력 전압 신호(Vip)는 공통모드 전압(Vcom)으로 리셋될 수 있다. 따라서, 증폭기(530)로 입력되는 입력 전압 신호(Vip)의 크기가 압축될 수 있다.
아날로그 디지털 변환기(540)는 저항 측정 시점(예를 들어, 90도 시점 및 270도 시점)에서 증폭 신호(Vmp, Vmn)를 디지털 형태로 변환함으로써 대상 객체의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 생성할 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(540)는 리액턴스 측정 시점(예를 들어, 0도 시점 및 180도 시점)에서 증폭 신호(Vmp, Vmn)를 디지털 형태로 변환함으로써 대상 객체의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 생성할 수 있다. 아날로그 디지털 변환기(540)는 저항 값 및 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 각각 순차적으로 생성하거나, 병렬적으로 생성할 수도 있다.
또한, 일 실시예에 따른 신호 측정 장치는, 증폭 신호(Vmp, Vmn)의 진폭이 임계 전압(Vth_h, Vth_l)에 도달한 도달 횟수(touch number)를 카운트할 수 있다. 예를 들어, 도 6에서 증폭 신호(Vmp, Vmn)는 한 주기 동안 임계 전압(Vth_h, Vth_l)에 8번 도달할 수 있다. 신호 측정 장치는 카운트된 도달 횟수 및 임계 전압(Vth_h, Vth_l)으로부터 증폭 신호(Vmp, Vmn)의 기존 진폭(original amplitude)을 산출할 수 있다.
예를 들어, 측정 시점에서 획득된 신호 값은 리셋부(520)에 의해 감소된 크기를 가지는 증폭 신호(Vmp, Vmn)로부터 획득되었으므로, 원 임피던스 절대값(original impedance absolute value)에 관한 정보가 포함되지 않는다. 신호 측정 장치는 카운트된 도달 횟수 및 임계 전압(Vth_h, Vth_l)으로부터 원 임피던스 절대값을 복원할 수 있다.
예를 들어, 도 6 에서 입력 전압 신호(Vip)가 0도 시점 이후에 상한 임계(upper threshold)(예를 들어, Vth_h/Gain)에 2번 도달(touch)하여 2번 리셋(reset) 동작이 수행된 후, 신호 측정 장치가 90도 시점에서의 입력 전압 신호(Vip)의 값 Vip_90o을 아날로그로부터 디지털로 변환하였으므로, 90도 시점에서의 절대 입력값
Figure pat00001
로 계산될 수 있다. 이후, 입력 전압 신호(Vip)가 하한 임계(lower threshold)(예를 들어, Vth_l/Gain)에 4번 도달하여 4번 리셋 동작이 수행된 후, 신호 측정 장치가 270도 시점에서의 입력 전압 신호(Vip)의 값 Vip_270o을 아날로그로부터 디지털로 변환하였으므로, 270도 시점에서의 절대 입력값
Figure pat00002
로 계산될 수 있다. 이후, 인가된 전류의 값이 0이 되는 시점마다 리셋하고 상술한 동작을 반복하면 주기마다 입력 전압 신호(Vip)의 절대값이 획득될 수 있다.
도 7 및 도 8은 일 실시예에 따른 신호 측정 장치가 쵸퍼 회로와 샘플 및 홀드 회로를 더 포함하는 구성 및 타이밍도를 설명하는 도면이다.
도 7에 도시된 신호 측정 장치(700)에서, 대상 객체(709), 전원(710), 리셋부(720), 증폭기(730), 아날로그 디지털 변환기(740), 클럭 생성부(750), 및 진폭 검출기(760)의 설명은 도 5에서 상술한 대상 객체(509), 전원(510), 리셋부(520), 증폭기(530), 아날로그 디지털 변환기(540), 클럭 생성부(550), 및 진폭 검출기(560)와 동일하거나 유사하므로 생략한다.
신호 측정 장치(700)는 증폭기(730) 및 아날로그 디지털 변환기(740) 사이에 쵸퍼 회로(770), 샘플 및 홀드 회로(780)를 더 포함할 수 있다. 증폭기(730)는 차동 증폭기로 구현될 수 있다.
쵸퍼 회로(770)(chopper circuit)는 차동 증폭기(730)의 출력단에 연결될 수 있다. 쵸퍼 회로(770)는 증폭기(730)의 두 출력 노드들 및 샘플 및 홀드 회로(780)의 두 입력 노드들 간의 연결을 캐리어 주파수의 반 주기(half period)(예를 들어, 주기에서 180도 시점)마다 교대로 스위칭함으로써, 쵸퍼 전압 신호(Vchp, Vchn)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 쵸퍼 회로(770)는 주기 중 제1 반 주기 동안 증폭기(730)의 제1 출력 노드를 샘플 및 홀드 회로(780)의 제1 입력 노드에 연결하고, 증폭기(730)의 제2 출력 노드를 샘플 및 홀드 회로(780)의 제2 입력 노드에 연결할 수 있다. 제1 반 주기 다음의 제2 반 주기 동안에는 반대로, 쵸퍼 회로(770)가 증폭기(730)의 제1 출력 노드를 샘플 및 홀드 회로(780)의 제2 입력 노드에 연결하고, 증폭기(730)의 제2 출력 노드를 샘플 및 홀드 회로(780)의 제1 입력 노드에 연결할 수 있다. 따라서, 도 8에 도시된 바와 같이, 쵸퍼 회로(770)는, 차동 입력 신호(Vip-Vin)가 음의 부호를 가지는 구간(도 8에서는 270도 시점)에서, 양의 부호를 가지는 차동 쵸퍼 신호(Vchp-Vchn)를 생성할 수 있다. 따라서, 이후 단(later stage)에서 아날로그 디지털 변환기(740)는 90도 시점 뿐만 아니라 270도 시점에서의 정보도 디지털로 변환할 수 있게 된다.
샘플 및 홀드 회로(780)(sample and hold circuit)는 쵸퍼 회로(770)의 출력단에 연결될 수 있다. 샘플 및 홀드 회로(780)는, 주기에서 샘플링 구간 동안 쵸퍼 전압 신호(Vchp, Vchn)를 샘플링하고, 홀딩 구간 동안 샘플링된 신호를 홀드함으로써, 이산 신호(discrete signal)(Vshp, Vshn)를 생성할 수 있다. 여기서, 샘플링 구간은 주기에서 각 측정 시점으로부터 이전의 미리 정한 구간이고, 홀딩 구간은 각 측정 시점으로부터 이후의 미리 정한 구간일 수 있다. 예를 들어, 도 8에서 샘플링 구간은 0도 시점 내지 90도 시점 사이의 구간 및 180도 시점 내지 270도 시점 사이의 구간을 포함하고, 홀딩 구간은 90도 시점 내지 180도 시점 사이의 구간 및 270도 시점 내지 360도 시점 사이의 구간을 포함할 수 있다.
아날로그 디지털 변환기(740)는 샘플 및 홀드 회로(780)의 출력단에 연결될 수 있다. 예를 들어, 아날로그 디지털 변환기(740)는, 샘플 및 홀드 회로(780)로부터 출력되는 제1 이산 신호(Vshp) 및 제2 이산 신호(Vshn) 간의 차동 이산 신호(differential discrete signal)(Vshp-Vshn)를 디지털 신호로 변환할 수 있다.
도 9 및 도 10은 일 실시예에 따른 신호 측정 과정의 예시를 설명하는 도면이다.
상술한 도 4, 도 6, 및 도 8에서는 설명의 편의를 위하여, 임피던스가 고정된 예시를 설명하였다. 실제 구현에 있어서는 대상 객체의 임피던스가 달라질 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전원에 의해 공급되는 전류 신호의 캐리어 주파수는, 도 9에 도시된 바와 같이, 객체 임피던스의 주파수보다 적어도 2배 이상 클 수 있다. 도 9는 객체 임피던스의 예시적인 변화를 도시한다. 객체 임피던스는 아래 수학식 1과 같이 모델링될 수 있다.
[수학식 1]
Figure pat00003
상술한 수학식 1에서 Z0는 원하지 않는 고정 임피던스,
Figure pat00004
는 관심 대상인 임피던스 변화량, Zobject는 객체의 총 임피던스를 나타낼 수 있다. 도 1에서 상술한 바와 같이, 이득을 이용하여 증폭시 고해상도(high resolution)의 ADC가 필요한데, 비관심 영역인 Z0가 증폭기의 동적 입력 범위(dynamic input range)의 대부분을 차지하는 비효율성 문제가 있다. 일 실시예에 따른 신호 측정 장치는 도 1 내지 도 8에서 상술한 바와 같이, 고정 임피던스에 대응하는 부분을, 공통모드 전압을 이용한 리셋 동작을 통해 제거할 수 있다.
신호 측정 장치가 대상 객체에 전류 신호(Iapp)을 공급할 경우, 옴의 법칙에 따라 도 9에 도시된 바와 같이, 대상 객체의 총 임피던스(Zobject) 및 전류 신호(Iapp)가 합성된 신호로서 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)가 생성될 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이, 객체 전압 신호(Vsp, Vsn)의 엔벨롭은 대상 객체의 총 임피던스(Zobject)에 대응할 수 있다.
도 10에서 입력 전압 신호(Vip, Vin) 및 증폭 신호(Vmp, Vmn)는 도 3 및 도 4에서 상술한 동작에 따라 생성될 수 있다. 입력 전압 신호(Vip, Vin)는 공통모드 전압(Vcom)을 기준으로 스윙(swing)하는 파형을 나타낼 수 있고, 증폭 신호(Vmp, Vmn)는 다른 공통 신호(Vcom2)를 기준으로 스윙하는 파형을 나타낼 수 있다.
아날로그 디지털 변환기는 도 10에 도시된 바와 같이 90도 시점 및 270도 시점에서 차동 증폭 신호(Vmp-Vmn)를 변환함으로써, 디지털 신호를 생성할 수 있다. 도 10에서 아날로그 디지털 변환기가 변환한 아날로그 신호의 지점은 점으로 도시되었다. 여기서, 차동 증폭 신호(Vmp-Vmn)의 엔벨롭은 도 9에서 설명된 객체의 총 임피던스(Zobject)의 변화량을 따라 변화하는 것을 확인할 수 있다. 따라서, 최종적으로 출력된 디지털 신호도 객체의 총 임피던스(Zobject)의 변화량을 나타낼 수 있다.
도 11은 일 실시예에 따른 신호 측정 방법을 설명하는 흐름도이다.
우선, 단계(1110)에서 전원은 대상 객체로 캐리어 주파수를 가지는 전류 신호를 공급할 수 있다.
그리고 단계(1120)에서 리셋부는 전류 신호가 공급되는 대상 객체로부터 생성되는 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 캐리어 주파수에 대응하는 주기 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시킬 수 있다.
이어서 단계(1130)에서 증폭기는 입력 전압 신호를 증폭함으로써, 대상 객체의 임피던스 변화에 대응하는 증폭 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 따른 신호 측정 장치의 아날로그 디지털 변환기는 단계(1230)에서 생성된 증폭 신호로부터, 임피던스 변화에 대응하는 디지털 신호를 출력할 수 있다.
신호 측정 방법을 도 11로 한정하는 것은 아니고, 도 1 내지 도 10에서 상술한 동작들 중 적어도 하나가 동시에 또는 병렬적으로 수행될 수도 있다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다.　 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.　　
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.
100: 신호 측정 장치
110: 전원
120: 리셋부
130: 증폭기
140: 아날로그 디지털 변환기
150: 클럭 생성부
109: 대상 객체

Claims (18)

  1. 대상 객체로 캐리어 주파수를 가지는 전류 신호를 공급하는 전원(power source);
    상기 전류 신호가 공급되는 상기 대상 객체로부터 생성되는 객체 전압 신호(object voltage signal)의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 상기 캐리어 주파수에 대응하는 주기(period) 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시키는 리셋부(reset unit); 및
    상기 입력 전압 신호를 증폭함으로써 증폭 신호를 생성하는 증폭기
    를 포함하는 신호 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 리셋부는,
    상기 대상 객체 및 상기 증폭기 사이에 연결되는 커패시터; 및
    상기 커패시터의 일단 및 공통모드 전압을 공급하는 공통모드 노드 사이에 연결되는 리셋 스위치
    를 포함하는 신호 측정 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 증폭기의 출력단에 연결되는 아날로그 디지털 변환기
    를 더 포함하는 신호 측정 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 아날로그 디지털 변환기는,
    상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써, 상기 대상 객체의 임피던스 변화를 지시하는 디지털 신호를 출력하는
    신호 측정 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 전원으로 캐리어 주파수를 전달하고, 상기 리셋부로 리셋 신호를 전달하는 클럭 생성부
    를 더 포함하고,
    상기 리셋부는,
    상기 클럭 생성부로부터 전달되는 상기 리셋 신호에 응답하여, 상기 입력 전압 신호를 공통모드 전압으로 리셋시키며,
    상기 증폭기는,
    리셋된 후에 상기 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화하는 상기 입력 전압 신호를 수신하는,
    신호 측정 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 리셋부는,
    상기 주기에서 지정된 리셋 구간 동안 상기 입력 전압 신호를 상기 공통모드 전압으로 리셋시키는,
    신호 측정 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 주기에서 상기 리셋 구간 동안 리셋 신호를 상기 리셋부로 전달하는 클럭 생성부
    를 더 포함하고,
    상기 리셋부는,
    상기 리셋 신호에 응답하여 리셋 구간 동안 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 연결하고, 상기 리셋 구간이 경과하면 상기 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 분리하는 리셋 스위치
    를 포함하는 신호 측정 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 리셋부는,
    저항(resistance) 측정 시점을 포함하는 구간 동안 상기 공통모드 노드를 상기 증폭기의 입력단으로부터 분리하고, 리액턴스(reactance) 측정 시점을 포함하는 구간 동안 상기 공통모드 노드를 상기 증폭기의 입력단으로부터 분리하는,
    신호 측정 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 저항 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하고, 상기 리액턴스 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하는 아날로그 디지털 변환기
    를 더 포함하는 신호 측정 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 리셋부는,
    상기 증폭기로부터 출력되는 증폭 신호가 임계 전압에 도달할 때마다 상기 입력 전압 신호를 상기 공통모드 전압으로 리셋시키는,
    신호 측정 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 증폭 신호의 진폭 및 상기 임계 전압을 비교하고, 상기 증폭 신호의 진폭이 상기 임계 전압에 도달한 경우에 응답하여 도달 지시 신호(touch indication signal)를 클럭 생성부로 전달하는 진폭 검출기(amplitude detector); 및
    상기 도달 지시 신호에 응답하여 상기 리셋 신호를 생성하는 클럭 생성부
    를 더 포함하고,
    상기 리셋부는,
    상기 주기 동안 상기 리셋 신호에 응답하여 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 연결하고, 상기 주기의 나머지 구간 동안 상기 공통모드 노드 및 상기 증폭기의 입력단을 분리하는 리셋 스위치
    를 포함하는 신호 측정 장치.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 신호 측정 장치는,
    상기 증폭 신호의 진폭이 상기 임계 전압에 도달한 도달 횟수(touch number)를 카운트하고, 상기 카운트된 도달 횟수 및 상기 임계 전압으로부터 상기 증폭 신호의 기존 진폭(original amplitude)을 산출하는,
    신호 측정 장치.
  13. 제1항에 있어서,
    저항 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 저항 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하고, 리액턴스 측정 시점에서 상기 증폭 신호를 디지털 형태로 변환함으로써 상기 대상 객체의 임피던스 중 리액턴스 값에 대응하는 디지털 신호를 생성하는 아날로그 디지털 변환기
    를 더 포함하는 신호 측정 장치.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 증폭기는,
    차동 증폭기를 포함하고,
    상기 신호 측정 장치는,
    상기 차동 증폭기의 출력단에 연결되는 쵸퍼 회로(chopper circuit);
    상기 쵸퍼 회로의 출력단에 연결되는 샘플 및 홀드 회로(sample and hold circuit); 및
    상기 샘플 및 홀드 회로의 출력단에 연결되는 아날로그 디지털 변환기
    를 더 포함하는 신호 측정 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 쵸퍼 회로는,
    상기 증폭기의 두 출력 노드들 및 상기 샘플 및 홀드 회로의 두 입력 노드들 간의 연결을 상기 캐리어 주파수의 반 주기(half period)마다 교대로 스위칭함으로써, 쵸퍼 전압 신호를 생성하는,
    신호 측정 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 샘플 및 홀드 회로는,
    상기 주기에서 샘플링 구간 동안 상기 쵸퍼 전압 신호를 샘플링하고, 홀딩 구간 동안 샘플링된 신호를 홀드함으로써, 이산 신호(discrete signal)를 생성하며,
    상기 샘플링 구간은 상기 주기에서 각 측정 시점으로부터 이전의 미리 정한 구간이고, 상기 홀딩 구간은 각 측정 시점으로부터 이후의 미리 정한 구간인,
    신호 측정 장치.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 아날로그 디지털 변환기는,
    상기 샘플 및 홀드 회로로부터 출력되는 제1 이산 신호 및 제2 이산 신호 간의 차동 이산 신호(differential discrete signal)를 디지털 신호로 변환하는,
    신호 측정 장치.
  18. 대상 객체로 캐리어 주파수를 가지는 전류 신호를 공급하는 단계;
    상기 전류 신호가 공급되는 상기 대상 객체로부터 생성되는 객체 전압 신호의 변화를 따라 변화하는 입력 전압 신호를 상기 캐리어 주파수에 대응하는 주기 동안 적어도 한번 공통모드 전압으로 리셋시키는 단계; 및
    상기 입력 전압 신호를 증폭함으로써, 상기 대상 객체의 임피던스 변화에 대응하는 증폭 신호를 생성하는 단계
    를 포함하는 신호 측정 방법.
KR1020190053093A 2019-05-07 2019-05-07 신호 측정 장치 및 방법 KR20200128924A (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190053093A KR20200128924A (ko) 2019-05-07 2019-05-07 신호 측정 장치 및 방법
US16/655,817 US11806124B2 (en) 2019-05-07 2019-10-17 Method and apparatus for measuring signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190053093A KR20200128924A (ko) 2019-05-07 2019-05-07 신호 측정 장치 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20200128924A true KR20200128924A (ko) 2020-11-17

Family

ID=73046239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190053093A KR20200128924A (ko) 2019-05-07 2019-05-07 신호 측정 장치 및 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11806124B2 (ko)
KR (1) KR20200128924A (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11804261B2 (en) * 2021-05-07 2023-10-31 Micron Technology, Inc. Termination for single-ended mode

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU4180089A (en) 1988-08-05 1990-03-05 Will Ritmanich Milliohm impedance monitoring apparatus and method
US7391257B1 (en) 2007-01-31 2008-06-24 Medtronic, Inc. Chopper-stabilized instrumentation amplifier for impedance measurement
US8412317B2 (en) 2008-04-18 2013-04-02 Corventis, Inc. Method and apparatus to measure bioelectric impedance of patient tissue
US20120123232A1 (en) * 2008-12-16 2012-05-17 Kayvan Najarian Method and apparatus for determining heart rate variability using wavelet transformation
PL398277A1 (pl) 2012-02-29 2013-09-02 Bone Vitae Spólka Akcyjna Sposób sterowania elektrodami do pomiaru bioimpedancyjnych i urzadzenie do pomiarów bioimpedancyjnych
US9204816B2 (en) 2012-03-13 2015-12-08 Vital Connect, Inc. Method and system for determining body impedance
KR102255204B1 (ko) 2013-08-28 2021-05-24 삼성전자주식회사 재구성 가능한 측정 장치 및 그 장치를 제어하는 방법
KR102265066B1 (ko) 2014-07-17 2021-06-15 삼성전자주식회사 생체 임피던스 측정 방법 및 장치
KR102332993B1 (ko) * 2014-11-14 2021-12-01 한국전자통신연구원 고속 신호 세기 검출기 및 이를 이용한 버스트 모드 트랜스 임피던스 증폭기
AT516499B1 (de) 2015-04-22 2016-06-15 Skrabal Falko Dr Körperimpedanz-Messgerät
US11471109B2 (en) 2015-07-09 2022-10-18 Capsuletech, Inc. Methods and devices for recovering data from an amplitude-modulated signal
JP6479619B2 (ja) * 2015-09-30 2019-03-06 株式会社東芝 インピーダンス測定回路
KR101764603B1 (ko) 2016-12-05 2017-08-10 주식회사 유메딕스 생체 신호 리드 아웃 회로
GB201801910D0 (en) * 2018-02-06 2018-03-21 Analog Devices Global Unlimited Co A non-contacting voltage measuring apparatus
KR102384104B1 (ko) * 2017-12-15 2022-04-08 에스케이하이닉스 주식회사 기준 전압 발생 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20200352471A1 (en) 2020-11-12
US11806124B2 (en) 2023-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20130116577A1 (en) Biomedical Acquisition System With Motion Artifact Reduction
Tang et al. Continuous time level crossing sampling ADC for bio-potential recording systems
US8454505B2 (en) Method and electronic medical device for simultaneously measuring an impedance and a biopotential signal
DE102017124704B4 (de) ADW mit kapazitiver Differenzschaltung und digitaler Sigma-Delta-Rückkopplung
EP2195922B1 (en) Automatic common-mode rejection calibration
Li et al. An ECG recording front-end with continuous-time level-crossing sampling
CN101453945A (zh) 利用具有软件控制的ac响应的单个复用放大器通道对多个信号进行放大的方法和设备
KR101832734B1 (ko) 개선된 생체 신호 측정 시스템
Van Helleputte et al. A flexible system-on-chip (SoC) for biomedical signal acquisition and processing
CN110840454A (zh) 一种脑电信号采集装置和方法
EP3017844A1 (en) Automatic external defibrillator, front-end measuring system and measuring method thereof
KR20200128924A (ko) 신호 측정 장치 및 방법
Xu et al. A 1-V 450-nW fully integrated biomedical sensor interface system
Tang et al. 4-channel asynchronous bio-potential recording system
TW200932194A (en) A feed-forward automatic-gain control amplifier (FFAGCA) for biomedical application
Dabbaghian et al. An 8-Channel ambulatory EEG recording IC with in-channel fully-analog real-time motion artifact extraction and removal
CN205509991U (zh) 放大电路及传感信号处理装置
Hwang et al. A low-power asynchronous ECG acquisition system in CMOS technology
KR101930260B1 (ko) 아날로그-디지털 변환을 이용한 다중 생체신호 검출 시스템
KR101764603B1 (ko) 생체 신호 리드 아웃 회로
CN113876336B (zh) 肌电采集参考电极的动态切换装置以及动态切换方法
Yang et al. A multi-parameter bio-electric ASIC sensor with integrated 2-wire data transmission protocol for wearable healthcare system
KR101693809B1 (ko) 저전압 생체신호 측정 회로
Yan et al. A two-electrode 2.88 nJ/conversion biopotential acquisition system for portable healthcare device
Kim et al. Neural recording system with low-noise analog front-end and comparator-based cyclic ADC

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination