KR20200110059A - Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern - Google Patents

Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern Download PDF

Info

Publication number
KR20200110059A
KR20200110059A KR1020190030136A KR20190030136A KR20200110059A KR 20200110059 A KR20200110059 A KR 20200110059A KR 1020190030136 A KR1020190030136 A KR 1020190030136A KR 20190030136 A KR20190030136 A KR 20190030136A KR 20200110059 A KR20200110059 A KR 20200110059A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
resin composition
photosensitive resin
pattern
formula
group
Prior art date
Application number
KR1020190030136A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102656174B1 (en
Inventor
조용환
박순진
안규상
Original Assignee
동우 화인켐 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 동우 화인켐 주식회사 filed Critical 동우 화인켐 주식회사
Priority to KR1020190030136A priority Critical patent/KR102656174B1/en
Publication of KR20200110059A publication Critical patent/KR20200110059A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102656174B1 publication Critical patent/KR102656174B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/16Nitrogen-containing compounds
    • C08K5/17Amines; Quaternary ammonium compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/36Sulfur-, selenium-, or tellurium-containing compounds
    • C08K5/37Thiols
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • G03F7/031Organic compounds not covered by group G03F7/029

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)

Abstract

The present invention relates to a photosensitive resin composition comprising: an alkali-soluble resin; a polymerizable compound; a photoinitiator; a tertiary amine compound; and a thiol-based compound having difunction or less. The sensitivity, resolution, and storage stability at room temperature of the photosensitive resin composition are excellent, and the physical properties of the photo-curable pattern prepared therefrom may be improved.

Description

감광성 수지 조성물, 이로부터 형성된 광경화 패턴 및 이를 포함하는 화상 표시 장치{PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION, PHOTOCURABLE PATTERN FORMED FROM THE SAME AND IMAGE DISPLAY COMPRISING THE PATTERN}A photosensitive resin composition, a photocurable pattern formed therefrom, and an image display device including the same.

본 발명은 감광성 수지 조성물, 이로부터 형성된 광경화 패턴 및 이를 포함하는 화상 표시 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 경화성 수지 또는 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물, 이로부터 형성된 광경화 패턴 및 이를 포함하는 화상 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photocurable pattern formed therefrom, and an image display device including the same. More specifically, it relates to a photosensitive resin composition containing a curable resin or a compound, a photocurable pattern formed therefrom, and an image display device including the same.

디스플레이 분야에 있어서, 감광성 수지 조성물은 포토레지스트, 절연막, 보호막, 블랙 매트릭스, 컬럼 스페이서 등의 다양한 광경화 패턴을 형성하기 위해 사용된다. 예를 들면, 감광성 수지 조성물을 포토리소그래피 공정에 의해 선택적으로 노광 및 현상하여 원하는 광경화 패턴을 형성할 수 있다. 원하는 광경화 패턴의 물성 확보를 위해, 상기 감광성 수지 조성물은 고감도를 가지며, 이로부터 형성된 패턴은 향상된 내열성, 내화학성 등을 가질 필요가 있다.In the display field, the photosensitive resin composition is used to form various photocurable patterns such as photoresist, insulating film, protective film, black matrix, and column spacer. For example, the photosensitive resin composition may be selectively exposed and developed by a photolithography process to form a desired photocurable pattern. In order to secure the physical properties of a desired photocurable pattern, the photosensitive resin composition has high sensitivity, and the pattern formed therefrom needs to have improved heat resistance, chemical resistance, and the like.

감광성 수지 조성물은 광경화 타입에 따라 포지티브형과 네가티브형으로 분류된다. 포지티브형 조성물에 의해 형성된 포토레지스트는 노광부의 화학적 구조가 변형되어 현상액에 의해 용해되며, 네가티브형 조성물에 의해 형성된 포토레지스트는 노광된 부분의 중합도가 증가되어 경화되거나, 현상 공정시 녹지 않고 잔류한다. 포지티브형 및 네가티브형 조성물은 각각 상이한 바인더 수지, 가교제 등을 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition is classified into a positive type and a negative type according to the photocuring type. The photoresist formed by the positive composition is dissolved by a developer by modifying the chemical structure of the exposed portion, and the photoresist formed by the negative composition is cured due to an increase in the degree of polymerization of the exposed portion, or remains without melting during the development process. The positive-type and negative-type compositions may each contain different binder resins, crosslinking agents, and the like.

최근, 터치 패널을 구비한 터치 스크린의 사용이 증가하고 있으며, 이에 따라 플렉서블 터치 스크린을 포함하는 디스플레이 장치가 활발히 개발되고 있다. 따라서, 우수한 감도 및 해상도를 가지면서도, 상온에서 충분한 보존 안정성을 갖는 레지스트 조성물의 필요성이 증대되었다.Recently, the use of a touch screen having a touch panel is increasing, and accordingly, a display device including a flexible touch screen has been actively developed. Accordingly, the need for a resist composition having excellent sensitivity and resolution and sufficient storage stability at room temperature has increased.

한국등록특허 제10-1302508호는 사이클로헥세닐 아크릴레이트계 단량체를 사용하여 중합된 공중합체를 포함하는 네가티브 감광성 수지 조성물에 대해서 개시하고 있다.Korean Patent Registration No. 10-1302508 discloses a negative photosensitive resin composition comprising a copolymer polymerized using a cyclohexenyl acrylate monomer.

그러나, 우수한 감도 및 해상도를 가지면서도, 상온에서 충분한 보존 안정성을 갖는 경화성 조성물은 개시하지 못하고 있다.However, a curable composition having excellent sensitivity and resolution and sufficient storage stability at room temperature has not been disclosed.

한국등록특허 제10-1302508호Korean Patent Registration No. 10-1302508

본 발명의 일 과제는 우수한 경화성 및 안정성을 갖는 감광성 수지 조성물을 제공하는 것이다.One object of the present invention is to provide a photosensitive resin composition having excellent curability and stability.

본 발명의 일 과제는 상기 감광성 수지 조성물로부터 형성된 광경화 패턴 및 이를 포함하는 화상 표시 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a photocurable pattern formed from the photosensitive resin composition and an image display device including the same.

1. 알칼리 가용성 수지; 중합성 화합물; 광중합 개시제; 하기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물; 및 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물:1. alkali-soluble resin; Polymerizable compounds; Photopolymerization initiator; A tertiary amine compound represented by the following formula (1); And a photosensitive resin composition comprising a bifunctional or less thiol-based compound:

[화학식 1][Formula 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

(화학식 1 중 R1 및 R2는 탄소수 1 내지 4개인 선형 또는 가지형 알킬기이고, R3는 탄소수 1 내지 12개의 선형 또는 고리형 알킬기임).(In Formula 1, R 1 and R 2 are a linear or branched alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 3 is a linear or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms).

2. 위 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 디티올계 화합물인, 감광성 수지 조성물.2. In the above 1, wherein the bifunctional or less thiol-based compound is a dithiol-based compound, photosensitive resin composition.

3. 위 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 화학식 2 또는 화학식 3으로 표시되는 화합물 중 적어도 하나를 포함하는, 감광성 수지 조성물:3. The photosensitive resin composition of the above 1, wherein the bifunctional or less thiol-based compound comprises at least one of the compounds represented by Formula 2 or Formula 3:

[화학식 2][Formula 2]

Figure pat00002
Figure pat00002

(화학식 2 중, m은 1 내지 5의 정수)(In Formula 2, m is an integer of 1 to 5)

[화학식 3][Formula 3]

Figure pat00003
Figure pat00003

(화학식 3 중, n은 1 내지 11의 정수).(In Chemical Formula 3, n is an integer of 1 to 11).

4. 위 1에 있어서, 상기 3급 아민 화합물의 함량은 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 1중량%인, 감광성 수지 조성물.4. In the above 1, the content of the tertiary amine compound is 0.1 to 1% by weight based on the total weight of the photosensitive resin composition, photosensitive resin composition.

5. 위 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물의 함량은 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 1중량%인, 감광성 수지 조성물.5. In the above 1, wherein the content of the bifunctional or less thiol-based compound is 0.1 to 1% by weight based on the total weight of the photosensitive resin composition, photosensitive resin composition.

6. 위 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물에 대한 상기 3급 아민 화합물의 함량비는 1 내지 4.2인, 감광성 수지 조성물.6. In the above 1, the content ratio of the tertiary amine compound to the bifunctional or less thiol-based compound is 1 to 4.2, the photosensitive resin composition.

7. 위 1에 있어서, 상기 알칼리 가용성 수지는 에폭시기 함유 단위 또는 말단 이중결합 함유 단위 중 적어도 하나의 반복 단위를 포함하는, 감광성 수지 조성물.7. The photosensitive resin composition according to the above 1, wherein the alkali-soluble resin comprises at least one repeating unit of an epoxy group-containing unit or a terminal double bond-containing unit.

8. 위 1에 있어서, 상기 광중합 개시제는 비이미다졸계 화합물 및 옥심에스테르계 화합물 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 감광성 수지 조성물.8. The photosensitive resin composition according to the above 1, wherein the photopolymerization initiator comprises at least one of a biimidazole-based compound and an oxime ester-based compound.

9. 위 1 내지 8 중 어느 한 항의 감광성 수지 조성물로 형성된, 광경화 패턴.9. A photocurable pattern formed of the photosensitive resin composition of any one of 1 to 8 above.

10. 위 9에 있어서, 상기 광경화 패턴은 어레이 평탄화막 패턴, 보호막 패턴, 절연막 패턴, 포토레지스트 패턴, 블랙 매트릭스 패턴, 컬럼 스페이서 패턴 및 블랙 컬럼 스페이서로 이루어진 군에서 선택된, 광경화 패턴.10. The photocuring pattern according to the above 9, wherein the photocuring pattern is selected from the group consisting of an array planarization layer pattern, a passivation layer pattern, an insulating layer pattern, a photoresist pattern, a black matrix pattern, a column spacer pattern, and a black column spacer.

11. 위 9의 광경화 패턴을 포함하는 화상 표시 장치.11. An image display device including the photocuring pattern of 9 above.

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물은 3급 아민 화합물 및 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하여 감도, 해상도 및 상온에서의 보존 안정성이 우수할 수 있으며, 이로부터 제조된 광경화 패턴의 물성이 향상될 수 있다.The photosensitive resin composition according to the embodiments of the present invention may have excellent sensitivity, resolution, and storage stability at room temperature, including a tertiary amine compound and a bifunctional or less thiol-based compound, and the photocurable pattern prepared therefrom Physical properties can be improved.

상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 가교성능을 유지하면서도 상기 감광성 수지 조성물의 보존 안정성을 향상시킬 수 있다.The bifunctional or less thiol-based compound may improve storage stability of the photosensitive resin composition while maintaining crosslinking performance.

상기 3급 아민 화합물은 3급 아민의 알파 위치에 존재하는 수소를 공여함으로써, 라디칼 가교 반응을 촉진하고, 산소 저해를 효과적으로 방지할 수 있다.The tertiary amine compound can promote a radical crosslinking reaction and effectively prevent oxygen inhibition by donating hydrogen present at the alpha position of the tertiary amine.

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물은 상기 2관능 이하의 티올계 화합물에 대한 상기 3급 아민 화합물의 함량비를 조절하여 감광성 상기 수지 조성물의 감도, 해상도 및 상온에서의 보존 안전성을 동시에 향상시킬 수 있다.The photosensitive resin composition according to the embodiments of the present invention simultaneously improves the sensitivity, resolution and storage safety at room temperature by adjusting the content ratio of the tertiary amine compound to the bifunctional or less thiol-based compound. I can make it.

도 1은 실험예에서 홀 패턴의 선폭 측정 방법을 설명하기 위한 개략도이다.
도 2 내지 도 7은 실험예에서 내화학성 평가에 따른 5B, 4B, 3B, 2B, 1B, 0B인 경우를 순서대로 나타내는 사진이다.
도 8 및 도9는 실험예에서 보존 안정성 평가에 따른 경계면 잔사가 발생하지 않은 경우와 발생한 경우를 각각 나타내는 SEM 사진이다.
1 is a schematic diagram for explaining a method of measuring a line width of a hole pattern in an experimental example.
2 to 7 are photographs sequentially showing cases of 5B, 4B, 3B, 2B, 1B, and 0B according to the chemical resistance evaluation in the experimental example.
8 and 9 are SEM photographs showing the case where the boundary surface residue according to the storage stability evaluation did not occur and the case where it occurred, respectively.

본 발명의 실시예들은 3급 아민 화합물 및 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하는 감광성 수지 조성물을 제공한다. 이에 따라, 상기 감광성 수지 조성물은 감도, 해상도 및 상온에서의 보존 안전성이 동시에 우수할 수 있다.Embodiments of the present invention provide a photosensitive resin composition comprising a tertiary amine compound and a thiol-based compound having a bifunctional or lower level. Accordingly, the photosensitive resin composition may have excellent sensitivity, resolution, and storage safety at room temperature at the same time.

또한 상기 감광성 수지 조성물로부터 형성된 광경화 패턴 및 상기 광경화 패턴을 포함하는 화상 표시 장치가 제공된다.In addition, there is provided a photocurable pattern formed from the photosensitive resin composition and an image display device including the photocurable pattern.

이하, 본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물에 대해 상세히 설명한다. 본 출원에 사용된 화학식으로 표시되는 화합물 또는 수지의 이성질체가 있는 경우에는, 해당 화학식으로 표시되는 화합물 또는 수지는 그 이성질체까지 포함하는 대표 화학식을 의미한다.Hereinafter, a photosensitive resin composition according to embodiments of the present invention will be described in detail. When there is an isomer of a compound or resin represented by the formula used in the present application, the compound or resin represented by the formula refers to a representative formula including the isomer.

또한, 이들 실시예들은 본 발명을 예시하는 것일 뿐 첨부된 특허청구범위를 제한하는 것이 아니며, 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 실시예들에 대한 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다.In addition, these embodiments are only illustrative of the present invention and do not limit the scope of the appended claims, and it is obvious to those skilled in the art that various changes and modifications to the embodiments are possible within the scope and spirit of the present invention. It is natural that such modifications and modifications fall within the appended claims.

<감광성 수지 조성물><Photosensitive resin composition>

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물은 알칼리 가용성 수지, 중합성 화합물, 광중합 개시제, 하기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물 및 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition according to the embodiments of the present invention may include an alkali-soluble resin, a polymerizable compound, a photopolymerization initiator, a tertiary amine compound represented by Formula 1 below, and a thiol-based compound having a bifunctional or lower level.

3급 아민 화합물Tertiary amine compounds

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물은 이하 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물을 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition according to embodiments of the present invention may include a tertiary amine compound represented by Formula 1 below.

상기 3급 아민 화합물은 노광 공정에서 발생하는 라디칼 가교 반응을 촉진하는 화합물로서, 후술하는 2관능 이하의 티올계 화합물이 갖는 저하된 광경화 감도를 보완할 수 있다. 이에 따라 상기 감광성 수지 조성물은 감도, 해상도 및 보존 안정성이 동시에 우수할 수 있다.The tertiary amine compound is a compound that promotes a radical crosslinking reaction occurring in an exposure process, and may compensate for the reduced photocuring sensitivity of the bifunctional or less thiol-based compound described below. Accordingly, the photosensitive resin composition may have excellent sensitivity, resolution, and storage stability at the same time.

[화학식 1][Formula 1]

Figure pat00004
Figure pat00004

화학식 1 중 R1 및 R2는 탄소수 1 내지 4개인 선형 또는 가지형 알킬기이고, R3는 탄소수 1 내지 12개의 선형 또는 고리형 알킬기일 수 있다.In Formula 1, R 1 and R 2 may be a linear or branched alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 3 may be a linear or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms.

상기 화학식 1로 표시되는 화합물은 3급 아민 화합물로서, 분자 내에 질소 원자와 인접한 탄소(알파 위치)에 반응성이 매우 뛰어난 알파 수소(acidic proton)을 포함한다. 상기 알파 수소는 후술할 광중합 개시제와 반응하여, 알킬 라디칼을 생성할 수 있다. 상기 알킬 라디칼에 의해 상기 라디칼 가교 반응이 개시될 수 있으며, 산소에 의한 감도 저해를 효과적으로 완화시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 감광성 수지 조성물의 감도 및 해상도가 향상될 수 있다.The compound represented by Chemical Formula 1 is a tertiary amine compound, and contains an alpha hydrogen (acidic proton) that is highly reactive to carbon (alpha position) adjacent to a nitrogen atom in a molecule. The alpha hydrogen may react with a photopolymerization initiator to be described later to generate an alkyl radical. The radical crosslinking reaction may be initiated by the alkyl radical, and sensitivity inhibition by oxygen may be effectively alleviated. Accordingly, the sensitivity and resolution of the photosensitive resin composition may be improved.

일부 실시예들에 있어서 R1 및 R2는 메틸기, 에틸기, 프로필기, 아이소프로필기, n-부틸기, 아이소부틸기 또는 t-부틸기일 수 있다. 바람직하게는 상기 화학식 1 중 R1 및 R2는 입체 장애가 적으면서 알파 수소수가 가장 많은 메틸기일 수 있다.In some embodiments, R 1 and R 2 may be a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, or a t-butyl group. Preferably, R 1 and R 2 in Formula 1 may be a methyl group having the largest number of alpha hydrogens while having less steric hindrance.

일부 실시예들에 있어서, R3는 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기, 펜틸기, 헥실기, 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 도데실기, 사이클로프로필기, 사이클로부틸기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 사이클로헵틸기, 사이클로옥틸기, 사이클로노닐기, 사이클로데실기, 사이클로운데실기, 사이클로도데실기, 메틸사이클로프로필기, 메틸사이클로부틸기, 메틸사이클로펜틸기, 메틸사이클로헥실기, 메틸사이클로헵틸기, 메틸사이클로옥틸기, 메틸사이클로노닐기, 메틸사이클로데실기, 메틸사이클로운데실기, 에틸사이클로프로필기, 에틸사이클로부틸기, 에틸사이클로펜틸기, 에틸사이클로헥실기, 에틸사이클로헵틸기, 에틸사이클로옥틸기, 에틸사이클로노닐기, 또는 에틸사이클로데실기일 수 있다.In some embodiments, R 3 is a methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decyl group, undecyl group, dodecyl group, cyclopropyl group, cyclobutyl Group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group, cyclononyl group, cyclodecyl group, cyclodecyl group, cyclododecyl group, methylcyclopropyl group, methylcyclobutyl group, methylcyclopentyl group, methyl Cyclohexyl group, methylcycloheptyl group, methylcyclooctyl group, methylcyclononyl group, methylcyclodecyl group, methylcyclodecyl group, ethylcyclopropyl group, ethylcyclobutyl group, ethylcyclopentyl group, ethylcyclohexyl group, ethyl It may be a cycloheptyl group, an ethylcyclooctyl group, an ethylcyclononyl group, or an ethylcyclodecyl group.

또한, R3는 방향족 구조를 포함하지 않을 수 있다. R3가 방향족 구조를 포함할 경우 3급 아민 화합물의 감도가 지나치게 향상되어, 산란된 빛에 의해 비노광부가 경화될 수 있다. 이에 따라, 패턴이 현상성이 저하될 수 있다. 따라서, R3는 방향족 구조를 포함하지 않음에 따라, 상기 감광성 수지 조성물의 과경화되어, 패턴의 현상성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.In addition, R 3 may not contain an aromatic structure. When R 3 includes an aromatic structure, the sensitivity of the tertiary amine compound is excessively improved, and the unexposed portion may be cured by scattered light. Accordingly, the developability of the pattern may be deteriorated. Therefore, since R 3 does not contain an aromatic structure, it is possible to prevent the photosensitive resin composition from being over-cured and deteriorating the developability of the pattern.

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 3급 아민 화합물의 함량은 상기 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 약 0.1 내지 1중량%일 수 있으며, 바람직하게는 약 0.5 내지 0.8중량%일 수 있다. 상기 3급 아민 화합물의 함량이 상기 범위를 만족함에 따라 상기 감광성 수지 조성물의 감도, 해상도 및 상온에서의 보존 안정성이 보다 향상될 수 있다.According to exemplary embodiments, the content of the tertiary amine compound may be about 0.1 to 1% by weight, and preferably about 0.5 to 0.8% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition. As the content of the tertiary amine compound satisfies the above range, the sensitivity, resolution, and storage stability at room temperature of the photosensitive resin composition may be further improved.

2관능 이하의 티올계 화합물Thiol-based compounds of difunctional or less

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 감광성 수지 조성물은 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함할 수 있다. 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 중합성 화합물와 함께 중합 또는 경화 반응에 참여하는 가교제로서 기능할 수 있다.According to exemplary embodiments, the photosensitive resin composition may include a thiol-based compound of difunctional or less. The bifunctional or less thiol-based compound may function as a crosslinking agent participating in a polymerization or curing reaction together with the polymerizable compound.

상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 예를 들면 후술하는 중합성 화합물의 가교성 경화를 촉진 또는 활성화하는 제제로 제공될 수 있다. 예를 들면, 광중합 개시제와 상기 중합성 화합물의 개시 반응을 통해 라디칼 활성종(예를 들면, 퍼옥시(peroxy) 라디칼 등)이 생성되며, 상기 라디칼 활성종에 의한 연쇄 반응에 의해 가교 또는 중합 반응이 진행될 수 있다.The bifunctional or less thiol-based compound may be provided, for example, as an agent that accelerates or activates the crosslinkable curing of the polymerizable compound described later. For example, radically active species (for example, peroxy radicals, etc.) are generated through the initiation reaction of a photopolymerization initiator and the polymerizable compound, and a crosslinking or polymerization reaction by a chain reaction by the radically active species Can proceed.

또한, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 소멸된 라디칼 활성종과 반응하여 다시 라디칼 활성종을 소생시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 라디칼 활성종이 대기 중에서, 조성물 또는 도막으로 침투한 산소와 만나 소멸되어 상기 가교 또는 중합 반응이 종료되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 외부 산소 저해로부터 영향을 받지 않고 원하는 가교 네트워크를 형성할 수 있다.In addition, the bifunctional or less thiol-based compound may react with the disappeared radical active species to revive the radical active species again. Accordingly, it is possible to prevent the end of the crosslinking or polymerization reaction because the radically active species meets with oxygen penetrating into the composition or coating film in the atmosphere and disappears. Therefore, it is possible to form a desired crosslinked network without being affected by external oxygen inhibition.

또한, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 3관능 이상의 다관능 티올계 화합물과 비교할 때 상대적으로 낮은 반응성을 가지므로, 상온에서 티올계 화합물이 상기 중합성 화합물과 반응하는 문제를 방지할 수 있다. 이에 따라 상기 감광성 수지 조성물의 보존 안정성이 향상될 수 있다.In addition, since the bifunctional or less thiol-based compound has relatively low reactivity compared to the trifunctional or more polyfunctional thiol-based compound, a problem in which the thiol-based compound reacts with the polymerizable compound at room temperature can be prevented. Accordingly, storage stability of the photosensitive resin composition may be improved.

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 2개의 티올기를 포함하는 디티올계 화합물일 수 있다. 상기 디티올계 화합물은 링커기의 말단에 결합된 2개의 티올기를 포함할 수 있다.According to exemplary embodiments, the bifunctional or less thiol-based compound may be a dithiol-based compound including two thiol groups. The dithiol-based compound may include two thiol groups bonded to the ends of the linker group.

일부 실시예들에 있어서, 상기 디티올계 화합물은 링커기로 에틸렌 옥사이드(EO)기 또는 알킬렌기를 포함할 수 있다.In some embodiments, the dithiol-based compound may include an ethylene oxide (EO) group or an alkylene group as a linker group.

일 실시예에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 상기 EO 링커기를 포함하는 하기 화학식 2로 표시되는 티올계 화합물일 수 있다.In one embodiment, the bifunctional or less thiol-based compound may be a thiol-based compound represented by the following Formula 2 including the EO linker group.

[화학식 2][Formula 2]

Figure pat00005
Figure pat00005

화학식 2 중, m은 1 내지 5의 정수일 수 있다. m이 6 이상의 정수인 경우, 상기 감광성 수지 조성물로부터 제조된 광경화 패턴의 경화물성이 저하될 수 있다.In Formula 2, m may be an integer of 1 to 5. When m is an integer of 6 or more, the cured properties of the photocurable pattern prepared from the photosensitive resin composition may be deteriorated.

일 실시예에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 상기 알킬렌 링커기를 포함하는 하기 화학식 3으로 표시되는 티올계 화합물일 수 있다.In one embodiment, the bifunctional or less thiol-based compound may be a thiol-based compound represented by Formula 3 below including the alkylene linker group.

[화학식 3][Formula 3]

Figure pat00006
Figure pat00006

화학식 3 중, n은 1 내지 11의 정수일 수 있다. n이 12 이상의 정수인 경우, 상기 감광성 수지 조성물로부터 제조된 광경화 패턴의 경화물성이 저하될 수 있다.In Formula 3, n may be an integer of 1 to 11. When n is an integer of 12 or more, the cured physical properties of the photocurable pattern prepared from the photosensitive resin composition may be deteriorated.

바람직하게는, n은 6 내지 10일 수 있다. n이 감소하여 상기 알킬렌 링커기의 길이가 짧아지는 경우, 이취성을 갖는 황(S)에 의해 인체 또는 환경 유해성이 초래될 수 있다.Preferably, n may be 6 to 10. When n decreases and the length of the alkylene linker group is shortened, sulfur (S) having an off-flavor may cause harm to the human body or the environment.

일부 실시예들에 있어서, 상기 화학식 2 및 3에서 예시적으로 설명된 바와 같이, 상기 링커기는 선형 구조를 가지며 가지(branch)를 포함하지 않을 수 있다. 따라서, 가지 구조에 따른 입체 장애로 인한 가교 촉진 특성이 저하됨을 방지할 수 있다. In some embodiments, as exemplarily described in Formulas 2 and 3, the linker group may have a linear structure and may not include a branch. Accordingly, it is possible to prevent the deterioration of the crosslinking promoting property due to steric hindrance according to the branch structure.

일부 실시예들에 있어서, 상기 감광성 수지 조성물은 2관능 이하의 티올계 화합물만을 포함하며, 3관능 이상의 다관능 티올 화합물은 포함하지 않을 수 있다.In some embodiments, the photosensitive resin composition may include only a thiol-based compound having less than or equal to bifunctionality, and may not include a polyfunctional thiol compound having more than or equal to trifunctionality.

상기 3관능 이상의 다관능 티올계 화합물이 포함되는 경우 친핵성을 갖는 티올기가 상온에서 알칼리 가용성 수지 및/또는 중합성 화합물과 반응하여, 상기 감광성 수지 조성물의 보존 안정성이 열화될 수 있다.When the trifunctional or higher polyfunctional thiol-based compound is included, a thiol group having nucleophilicity reacts with an alkali-soluble resin and/or a polymerizable compound at room temperature, and storage stability of the photosensitive resin composition may be deteriorated.

그러나, 상기 감광성 수지 조성물은 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함함으로써, 상온에서의 우수한 보존 안정성을 가짐과 동시에 가교 촉진성이 우수할 수 있다.However, since the photosensitive resin composition contains a bifunctional or less thiol-based compound, it may have excellent storage stability at room temperature and excellent crosslinking accelerating property.

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물의 함량은 상기 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 약 0.1 내지 1.5중량%일 수 있으며, 바람직하게는 약 0.2 내지 0.5중량%일 수 있다. 상기 2관능 이하의 티올계 화합물의 함량이 상기 범위를 만족함에 따라 상기 감광성 수지 조성물의 경화 반응이 촉진될 뿐만 아니라, 상온에서 보존 안정성이 보다 향상될 수 있다.According to exemplary embodiments, the content of the bifunctional or less thiol-based compound may be about 0.1 to 1.5% by weight, and preferably about 0.2 to 0.5% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition. As the content of the bifunctional or less thiol-based compound satisfies the above range, not only the curing reaction of the photosensitive resin composition may be accelerated, but storage stability at room temperature may be further improved.

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물에 대한 상기 3급 아민 화합물의 함량비는 1 내지 4.2일 수 있다. 상기 함량비 범위에서 상기 감광성 수지 조성물은 우수한 보존 안정성을 가지며, 상기 감광성 수지 조성물의 감도 및 해상도가 함께 향상될 수 있다. 상기 2관능 이하의 티올계 화합물에 대한 상기 3급 아민 화합물의 함량비가 4.2 초과인 경우, 3급 아민 화합물에 의한 UV 흡수에 의해 감도가 저하될 우려가 있으며, 1 미만인 경우 티올계 화합물에 의해 보존 안정성 및 경시 안정성이 열화될 수 있다.According to exemplary embodiments, the content ratio of the tertiary amine compound to the bifunctional or less thiol-based compound may be 1 to 4.2. In the content ratio range, the photosensitive resin composition has excellent storage stability, and sensitivity and resolution of the photosensitive resin composition may be improved together. If the content ratio of the tertiary amine compound to the bifunctional or less thiol-based compound is more than 4.2, there is a concern that the sensitivity may be lowered by UV absorption by the tertiary amine compound, and if it is less than 1, it is preserved by the thiol-based compound Stability and stability over time may deteriorate.

알칼리 가용성 수지Alkali-soluble resin

알칼리 가용성 수지는 패턴을 형성할 때의 현상 처리 공정에서 이용되는 알칼리 현상액에 대해서 가용성을 부여하는 성분으로, 기재에의 밀착력을 부여하여 도막 형성을 가능케하는 성분이다. 예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 상기 감광성 수지 조성물의 바인더 수지로서 기능할 수 있다.The alkali-soluble resin is a component that imparts solubility to an alkali developer used in the development treatment process when forming a pattern, and is a component that provides adhesion to the substrate to enable formation of a coating film. For example, the alkali-soluble resin can function as a binder resin for the photosensitive resin composition.

예시적인 실시예들에 있어서, 본 발명에 따른 알칼리 가용성 수지는 상술 드린 상기 3급 아민 화합물 및 2관능 이하의 티올계 화합물과 함께 사용함으로써, 저온 경화 조건에서도 우수한 반응성으로 신뢰성이 뛰어난 패턴을 형성할 수 있다.In exemplary embodiments, the alkali-soluble resin according to the present invention is used together with the tertiary amine compound and the bifunctional or less thiol-based compound mentioned above to form a highly reliable pattern with excellent reactivity even under low temperature curing conditions. I can.

상기 저온 경화 조건은 예를 들면, 70 내지 150℃ 일 수 있고, 바람직하게는 70 내지 100℃ 일 수 있다.The low-temperature curing conditions may be, for example, 70 to 150°C, and preferably 70 to 100°C.

상기 알칼리 가용성 수지의 종류는 당해 기술 분야, 예를 들면 감광성 수지 조성물 분야에서 일반적으로 사용되는 것으로서 본 발명의 목적에 벗어나지 않는 범위 내라면 특별한 제한이 없고, 당해 기술 분야에서 통상적으로 사용되는 단량체의 중합체 또는 둘 이상의 단량체의 공중합체일 수 있으며, 단량체의 중합 순서 및 배열은 특별히 한정되지 않는다.The kind of alkali-soluble resin is not particularly limited as long as it is generally used in the field of the art, for example, in the field of photosensitive resin composition and does not depart from the purpose of the present invention, and a polymer of monomers commonly used in the art Or it may be a copolymer of two or more monomers, the polymerization order and arrangement of the monomers is not particularly limited.

상기 알칼리 가용성 수지는 예를 들면, 하기 화학식 4의 단량체로부터 유래되는 단위를 포함할 수 있다.The alkali-soluble resin may include, for example, a unit derived from a monomer represented by the following formula (4).

[화학식 4][Formula 4]

Figure pat00007
Figure pat00007

화학식 4 중 R4는 수소 원자 또는 메틸기 이고, R5는 수소 원자, 또는 탄소수 1 내지 6의 알콕시기, 탄소수 1 내지 6의 알킬기, 탄소수 4 내지 8의 사이클로알킬기, 테트라하이드로퓨라닐기, 테트라하이드로피라닐기, 옥시란기, 옥세탄기, 탄소수 1 내지 6의 옥시라닐알콕시기, 탄소수 4 내지 12의 바이사이클로알킬기 또는 탄소수 6 내지 18의 트리사이클로알킬기로 치환 또는 비치환된 탄소수 1 내지 6의 알콕시기, 탄소수 1 내지 6의 알킬기, 탄소수 4 내지 8의 사이클로알킬기, 테트라하이드로퓨라닐기, 테트라하이드로피라닐기, 옥시란기, 옥세탄기, 탄소수 4 내지 12의 바이사이클로알킬기 또는 탄소수 6 내지 18의 트리시클로알킬기일 수 있다.In Formula 4, R 4 is a hydrogen atom or a methyl group, and R 5 is a hydrogen atom, or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 8 carbon atoms, a tetrahydrofuranyl group, a tetrahydropyra An alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms substituted or unsubstituted with an yl group, an oxirane group, an oxetane group, an oxiranyl alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a bicycloalkyl group having 4 to 12 carbon atoms, or a tricycloalkyl group having 6 to 18 carbon atoms , A C 1 to C 6 alkyl group, a C 4 to C 8 cycloalkyl group, a tetrahydrofuranyl group, a tetrahydropyranyl group, an oxirane group, an oxetane group, a C 4 to C 12 bicycloalkyl group or a C 6 to C 18 tricyclo It may be an alkyl group.

예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 4-1로 표시되는 글리시딜기에서 유래되는 에폭시기를 포함하는 반복단위를 포함할 수 있다.For example, the alkali-soluble resin may include a repeating unit including an epoxy group derived from a glycidyl group represented by the following Formula 4-1.

[화학식 4-1][Formula 4-1]

Figure pat00008
Figure pat00008

화학식 4-1 중 R6은 수소 또는 메틸기이며, R7은 직접결합 또는 탄소수 1 내지 5의 알킬렌기이다.In Formula 4-1, R 6 is hydrogen or a methyl group, and R 7 is a direct bond or an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms.

본 발명에 있어서 '직접결합'이란 산소 원자와 에폭시기 등의 탄소원자가 다른 원자의 매개 없이 직접 결합된 구조를 의미한다.In the present invention, "direct bond" refers to a structure in which an oxygen atom and a carbon atom such as an epoxy group are directly bonded without the mediation of other atoms.

예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 4-2로 표시되는 말단 이중결합을 포함하는 반복단위를 포함할 수 있다.For example, the alkali-soluble resin may include a repeating unit including a terminal double bond represented by the following Formula 4-2.

[화학식 4-2][Formula 4-2]

Figure pat00009
Figure pat00009

화학식 4-2 중 R8은 수소 또는 메틸기이다.In Formula 4-2, R 8 is hydrogen or a methyl group.

예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 4-3로 표시되는 트리사이클로알킬기 및 에폭시기를 포함하는 반복단위를 포함할 수도 있다.For example, the alkali-soluble resin may include a repeating unit including a tricycloalkyl group and an epoxy group represented by the following Formula 4-3.

[화학식 4-3][Chemical Formula 4-3]

Figure pat00010
Figure pat00010

화학식 4-3 중, R9는 수소 또는 메틸기이다.In Formula 4-3, R 9 is hydrogen or a methyl group.

예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 4-4로 표시되는 옥세탄기를 포함하는 반복단위를 포함할 수도 있다.For example, the alkali-soluble resin may include a repeating unit including an oxetane group represented by the following Formula 4-4.

[화학식 4-4][Formula 4-4]

Figure pat00011
Figure pat00011

화학식 4-4 중, R10은 수소 또는 메틸기이고, R11은 직접결합 또는 탄소수 1 내지 5의 알킬렌기이고, R12는 탄소수 1 내지 4의 선형 또는 가지형 알킬기 또는 알케닐기이다.In Formula 4-4, R 10 is hydrogen or a methyl group, R 11 is a direct bond or an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, and R 12 is a linear or branched alkyl group or an alkenyl group having 1 to 4 carbon atoms.

상기 알칼리 가용성 수지는 예를 들면, 하기 화학식 5로 표시되는 단량체로부터 유래하는 단위를 포함할 수 있다.The alkali-soluble resin may include, for example, a unit derived from a monomer represented by the following formula (5).

[화학식 5][Formula 5]

Figure pat00012
Figure pat00012

화학식 5 중, R13은 수소 원자, 또는 탄소수 1 내지 6의 알콕시기, 탄소수 1 내지 6의 알킬기, 탄소수 4 내지 8의 시클로알킬기, 테트라하이드로퓨라닐기, 테트라하이드로피라닐기, 옥시란기, 옥세탄기, 탄소수 4 내지 12의 바이시클로알킬기 또는 탄소수 6 내지 18의 트리시클로알킬기로 치환 또는 비치환된 탄소수 1 내지 6의 알콕시기, 탄소수 1 내지 6의 알킬기, 탄소수 4 내지 8의 시클로알킬기, 테트라하이드로퓨라닐기, 테트라하이드로피라닐기, 옥시란기, 옥세탄기, 탄소수 4 내지 12의 바이시클로알킬기 또는 탄소수 6 내지 18의 트리시클로알킬기일 수 있다.In Formula 5, R 13 is a hydrogen atom, or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 8 carbon atoms, a tetrahydrofuranyl group, a tetrahydropyranyl group, an oxirane group, oxetane Group, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, unsubstituted or substituted with a bicycloalkyl group having 4 to 12 carbon atoms or a tricycloalkyl group having 6 to 18 carbon atoms, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 8 carbon atoms, tetrahydro It may be a furanyl group, a tetrahydropyranyl group, an oxirane group, an oxetane group, a bicycloalkyl group having 4 to 12 carbon atoms, or a tricycloalkyl group having 6 to 18 carbon atoms.

예를 들면 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 5-1로 표시되는 반복단위를 포함할 수 있다.For example, the alkali-soluble resin may include a repeating unit represented by Formula 5-1 below.

[화학식 5-1][Chemical Formula 5-1]

Figure pat00013
Figure pat00013

화학식 5-1 중, R14은 수소 또는 메틸기 이고, R15는 오쏘, 메타 및 파라 위치 중 하나 이상의 위치에서 결합되며, 각각 독립적으로 수소 또는 탄소수 1 내지 5의 알킬기이다.In Formula 5-1, R 14 is hydrogen or a methyl group, R 15 is bonded at one or more of the ortho, meta and para positions, and each independently hydrogen or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.

상기 알칼리 가용성 수지는 상기 단량체 외에도 당해 기술 분야에서 공지되어 통상적으로 사용되는 아크릴레이트계 단량체가 더 포함되어 중합될 수 있다.In addition to the above monomers, the alkali-soluble resin may further contain an acrylate-based monomer known in the art and commonly used to be polymerized.

상기 아릴레이트계 단량체는 예를 들면, 에틸렌글리콜 디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올 디(메타)아크릴레이트, 폴리프로필렌글리콜 디(메타)아크릴레이트, 테트라에틸렌글리콜 디(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판 트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨 트리(메타) 아크릴레이트, 펜타에리스리톨 테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨 펜타(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨 헥사(메타)아크릴레이트, 메틸(메타)아크릴레이트, 에틸(메타)아크릴레이트, n-프로필(메타)아크릴레이트, 이소프로필(메타)아크릴레이트, n-부틸(메타)아크릴레이트, 이소부틸(메타)아크릴레이트, t-부틸(메타)아크릴레이트, n-헥실(메타)아크릴레이트, 시클로헥실(메타)아크릴레이트, t-부틸시클로헥실(메타)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메타)아크릴레이트, t-옥틸(메타)아크릴레이트, 도데실(메타)아크릴레이트, 옥타데실(메타)아크릴레이트, 아세톡시에틸(메타)아크릴레이트, 페닐(메타)아크릴레이트, 2-히드록시에틸(메타)아크릴레이트, 2-메톡시에틸(메타)아크릴레이트, 2-에톡시에틸(메타)아크릴레이트, 2-(2-메톡시에톡시)에틸(메타)아크릴레이트, 3-페녹시-2-히드록시프로필(메타)아크릴레이트, 벤질(메타)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜 모노메틸에테르(메타)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜 모노에틸에테르(메타)아크릴레이트, 디에틸렌글리콜 모노페닐에테르(메타)아크릴레이트, 트리에틸렌글리콜 모노메틸에테르(메타)아크릴레이트, 트리에틸렌글리콜 모노에틸에테르(메타)아크릴레이트, β-페녹시에톡시에틸아크릴레이트, 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜(메타)아크릴레이트, 시클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 디시클로펜테닐(메타)아크릴레이트, 디시클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 트리플루오로에틸(메타)아크릴레이트, 옥타플루오로펜틸(메타)아크릴레이트, 퍼플루오로옥틸에틸(메타)아크릴레이트, 트리브로모페닐(메타)아크릴레이트, 트리브로모페닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 글리시딜(메타)크릴레이트 등을 포함할 수 있다. 이들은 단독 또는 2종 이상이 조합되어 사용될 수 있다.The arylate-based monomer is, for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylic Rate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol penta(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, Methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, t- Butyl (meth)acrylate, n-hexyl (meth)acrylate, cyclohexyl (meth)acrylate, t-butylcyclohexyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, t-octyl (meth) )Acrylate, dodecyl (meth)acrylate, octadecyl (meth)acrylate, acetoxyethyl (meth)acrylate, phenyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-meth Toxoxyethyl (meth)acrylate, 2-ethoxyethyl (meth)acrylate, 2-(2-methoxyethoxy)ethyl (meth)acrylate, 3-phenoxy-2-hydroxypropyl (meth)acrylic Rate, benzyl (meth)acrylate, diethylene glycol monomethyl ether (meth)acrylate, diethylene glycol monoethyl ether (meth)acrylate, diethylene glycol monophenyl ether (meth)acrylate, triethylene glycol monomethyl Ether (meth)acrylate, triethylene glycol monoethyl ether (meth)acrylate, β-phenoxyethoxyethyl acrylate, nonylphenoxy polyethylene glycol (meth)acrylate, cyclopentanyl (meth)acrylate, dicyclo Pentenyl (meth)acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth)acrylate, trifluoroethyl (meth)acrylate, octafluoropentyl (meth)acrylate, perfluorooctylethyl (meth)acrylate , Tribromophenyl (meth)acrylate, tribromophenyloxyethyl (meth)acrylate, glycidyl (meth)acrylate, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

일부 예시적인 실시예들에 있어서, 상기 알칼리 가용성 수지는 에폭시기 함유 단위 또는 말단 이중결합 함유 단위 중 적어도 하나의 반복 단위를 포함하는 알칼리 가용성 수지일 수 있다.In some exemplary embodiments, the alkali-soluble resin may be an alkali-soluble resin including at least one repeating unit of an epoxy group-containing unit or a terminal double bond-containing unit.

일부 예시적인 실시예들에 따른 상기 감광성 수지 조성물은 상기 에폭시기 함유 반복 단위를 포함하는 알칼리 가용성 수지 또는 상기 말단 이중결합 함유 반복 단위를 포함하는 알칼리 가용성 수지를 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition according to some exemplary embodiments may include an alkali-soluble resin including the epoxy group-containing repeating unit or an alkali-soluble resin including the terminal double bond-containing repeating unit.

일 실시예에 있어서, 상기 감광성 수지 조성물은 상기 에폭시기 함유 단위를 포함하는 알칼리 가용성 수지를 상기 감광형 수지 조성물 총 중량에 대하여 1 내지 10중량%, 바람직하게는 5 내지 7 중량% 포함할 수 있다. 상기의 범위에서 현상액에의 용해성이 충분하여 현상성이 우수해지며, 우수한 기계적 물성을 갖는 광경화 패턴을 형성할 수 있게 한다.In one embodiment, the photosensitive resin composition may contain 1 to 10% by weight, preferably 5 to 7% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition, the alkali-soluble resin containing the epoxy group-containing unit. In the above range, the solubility in a developer is sufficient, so that developability is excellent, and a photocuring pattern having excellent mechanical properties can be formed.

일 실시예에 있어서, 상기 감광성 수지 조성물은 상기 말단 이중결합함유 반복 단위를 포함하는 알칼리 가용성 수지를 상기 감광형 수지 조성물 총 중량에 대하여 1 내지 10중량%, 바람직하게는 1.5 내지 5 중량%일 수 있다. 상기의 범위 내에서, 상기 감광성 수지 조성물의 해상도 및 패턴 균일도가 우수하며, 기재에 대한 밀착성이 우수할 수 있다.In one embodiment, the photosensitive resin composition may contain an alkali-soluble resin including the terminal double bond-containing repeating unit in 1 to 10% by weight, preferably 1.5 to 5% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition. have. Within the above range, the resolution and pattern uniformity of the photosensitive resin composition may be excellent, and adhesion to a substrate may be excellent.

중합성 화합물Polymerizable compound

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물에 함유되는 중합성 화합물은 후술하는 중합 개시제의 작용으로 중합 또는 가교될 수 있는 화합물로서, 제조 공정 중 가교 밀도를 증가시키며, 광경화 패턴의 기계적 특성을 강화시킬 수 있다.The polymerizable compound contained in the photosensitive resin composition according to the embodiments of the present invention is a compound that can be polymerized or crosslinked by the action of a polymerization initiator described below, and increases the crosslinking density during the manufacturing process and improves the mechanical properties of the photocurable pattern. Can be strengthened.

상기 중합성 화합물은 당해 기술분야에서 사용되는 것이라면 특별한 제한 없이 사용될 수 있으며, 예를 들면 단관능 단량체, 2관능 단량체 및 그 밖의 다관능 단량체로, 그 종류는 특별히 한정되지 않으나, 하기 화합물들을 그 예로 들 수 있다.The polymerizable compound may be used without particular limitation as long as it is used in the art. For example, it is a monofunctional monomer, a difunctional monomer, and other polyfunctional monomers, and the kind is not particularly limited, but the following compounds are examples. Can be lifted.

상기 단관능 단량체 화합물은 예를 들면, 노닐페닐카르비톨아크릴레이트, 2-히드록시-3-페녹시프로필아크릴레이트, 2-에틸헥실카르비톨아크릴레이트, 2-히드록시에틸아크릴레이트 및 N-비닐피롤리돈 등으로 이루어진 군에선 선택된 적어도 어느 하나일 수 있다.The monofunctional monomer compound is, for example, nonylphenylcarbitol acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl acrylate, 2-ethylhexylcarbitol acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate and N-vinyl It may be at least any one selected from the group consisting of pyrrolidone and the like.

상기 2관능 단량체는 예를 들면, 1,6-헥산디올디(메타)아크릴레이트, 에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메타)아크릴레이트, 트리에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 비스페놀 A의 비스(아크릴로일옥시에틸)에테르 및 3-메틸펜탄디올디(메타)아크릴레이트 등으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나일 수 있다.The bifunctional monomer is, for example, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate , Bis (acryloyloxyethyl) ether of bisphenol A and 3-methylpentanediol di (meth) acrylate may be at least one selected from the group consisting of.

상기 3관능 이상의 다관능 단량체의 구체예로서는 트리메틸올프로판트리(메타) 아크릴레이트, 톡실레이티드트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 로폭실레이티드트리메틸올프로판트리 (메타)아크릴레이트, 타에리트리톨트리(메타)아크릴레이트,펜타에리트리톨테트라(메타)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메타)아크릴레이트, 에톡실레이티드디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트, 프로폭실레이티드디펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트 및 펜타에리트리톨헥사(메타)아크릴레이트 등으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나일 수 있다.Specific examples of the trifunctional or higher polyfunctional monomer include trimethylolpropane tri(meth)acrylate, oxylated trimethylolpropane tri(meth)acrylate, lopoxylated trimethylolpropanetri(meth)acrylate, and taerythritol Tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol penta(meth)acrylate, ethoxylated dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, propoxylated dipentaeryte It may be at least one selected from the group consisting of litolehexa (meth)acrylate and pentaerythritol hexa (meth)acrylate.

일부 실시예들에 있어서, 상기 불포화 중합성 화합물은 4관능 이상의 (메타)아크릴레이트 화합물은 포함하지 않을 수 있다. 상기 4관능 이상의 (메타)아크릴레이트 화합물의 경우 벌키(bulky)한 분자 구조로 인해 분자간 상호작용으로 조성물의 점도를 급격히 상승시킬 수 있다.In some embodiments, the unsaturated polymerizable compound may not include a tetrafunctional or higher (meth)acrylate compound. In the case of the tetrafunctional or higher (meth)acrylate compound, due to the bulky molecular structure, the viscosity of the composition may be rapidly increased due to intermolecular interaction.

예시적인 실시예들에 따르면, 감광성 수지 조성물 총 중량 중 상기 중합성 화합물의 함량은 약 5 내지 15중량%일 수 있으며, 바람직하게는 7 내지 12중량%일 수 있다. 상기 범위를 만족할 경우, 상기 감광성 수지 조성물로부터 형성된 광경화 패턴의 경도 및 기계적 물성이 우수할 수 있다.According to exemplary embodiments, the content of the polymerizable compound in the total weight of the photosensitive resin composition may be about 5 to 15% by weight, preferably 7 to 12% by weight. When the above range is satisfied, the hardness and mechanical properties of the photocurable pattern formed from the photosensitive resin composition may be excellent.

광중합 개시제Photopolymerization initiator

본 발명의 일 실시형태에 따른 감광성 수지 조성물은 광중합 개시제를 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition according to an embodiment of the present invention may include a photopolymerization initiator.

상기 광중합 개시제는 가시광선, 자외선, 원자외선, 전자선, X선 등의 방사선의 노광에 의해 전술한 중합성 화합물의 중합을 개시할 수 있는 라디칼을 발생하는 화합물이다. 상기 광중합 개시제는 예를 들면 아세토페논계 화합물, 벤조페논계화합물, 비이미다졸계 화합물, 트리아진계 화합물, 옥심에스테르계 화합물 또는 티오크산톤계 화합물 등일 수 있다. 상기 광중합 개시제는 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.The photopolymerization initiator is a compound that generates a radical capable of initiating polymerization of the above-described polymerizable compound by exposure to radiation such as visible light, ultraviolet rays, far ultraviolet rays, electron rays, and X-rays. The photoinitiator may be, for example, an acetophenone compound, a benzophenone compound, a biimidazole compound, a triazine compound, an oxime ester compound, or a thioxanthone compound. The photopolymerization initiator may be used alone or in combination of two or more.

예시적인 실시예들에 있어서, 상기 광중합 개시제는 비이미다졸계 화합물 및 옥심에스테르계 화합물 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. In exemplary embodiments, the photopolymerization initiator may include at least one of a biimidazole-based compound and an oxime ester-based compound.

상기 비이미다졸계 화합물은 상술 드린 3급 아민 화합물과의 반응하여 상기 감광성 수지 조성물의 감도 및 해상도를 향상시킬 수 있으며, 광경화 패턴의 표면 경화성을 향상시킬 수 있다.The biimidazole-based compound reacts with the tertiary amine compound mentioned above to improve the sensitivity and resolution of the photosensitive resin composition, and may improve the surface curability of the photocurable pattern.

상기 옥심에스테르계 화합물은 상기 비이미다졸계 화합물의 라디칼 반응 개시성을 보완하고, 기판과 광경화 패턴 사이의 밀착성을 향상시킬 수 있다.The oxime ester-based compound may supplement the radical reaction initiation property of the non-imidazole-based compound, and may improve adhesion between the substrate and the photocuring pattern.

일 실시예에 있어서, 비이미다졸계 화합물은 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비이미다졸, 2,2'-비스(2,3-디클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라페닐비이미다졸, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라(알콕시페닐)비이미다졸, 2,2'-비스(2-클로로페닐)-4,4',5,5'-테트라(트리알콕시페닐)비이미다졸, 2,2-비스(2,6-디클로로페닐)-4,4’5,5’-테트라페닐-1,2’-비이미다졸 또는 4,4',5,5' 위치의 페닐기가 카르보알콕시기에 의해 치환되어 있는 이미다졸 화합물 등을 포함할 수 있다.In one embodiment, the biimidazole-based compound is 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenylbiimidazole, 2,2'-bis(2, 3-dichlorophenyl)-4,4',5,5'-tetraphenylbiimidazole, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetra(alkoxyphenyl) Biimidazole, 2,2'-bis(2-chlorophenyl)-4,4',5,5'-tetra(trialkoxyphenyl)biimidazole, 2,2-bis(2,6-dichlorophenyl) -4,4'5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole or imidazole compounds in which the phenyl group at the 4,4',5,5' position is substituted by a carboalkoxy group, etc. I can.

일 실시예에 있어서, 옥심에스테르계 화합물은 하기의 화학식 6 내지 8으로 표시되는 화합물들 중 적어도 1종 이상을 포함할 수 있다.In one embodiment, the oxime ester-based compound may include at least one or more of the compounds represented by the following Chemical Formulas 6 to 8.

[화학식 6][Formula 6]

Figure pat00014
Figure pat00014

[화학식 7][Formula 7]

Figure pat00015
Figure pat00015

[화학식 8][Formula 8]

Figure pat00016
Figure pat00016

화학식 14 내지 16 중, R16, R17, R19, R20 및 R21은 각각 독립적으로 수소 또는 탄소수 1 내지 10의 알킬기일 수 있다. R18는 탄소수 1 내지 10의 알킬기, 사이클로알킬기 또는 아릴기일 수 있다.In Formulas 14 to 16, R 16 , R 17, R 19 , R 20 and R 21 may each independently be hydrogen or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. R 18 may be an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a cycloalkyl group, or an aryl group.

예시적인 실시예들에 따르면, 상기 광중합 개시제는 상기 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 약 0.01 내지 10중량%일 수 있으며, 바람직하게는 약 0.1 내지 1중량%일 수 있다. 상기 범위에서 상기 감광성 수지 조성물은 노광 공정의 해상도 및 경화막의 경도가 우수할 수 있다.According to exemplary embodiments, the photopolymerization initiator may be about 0.01 to 10% by weight, preferably about 0.1 to 1% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition. In the above range, the photosensitive resin composition may have excellent resolution of an exposure process and hardness of a cured film.

예시적인 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물에 포함된 상기 옥심에스테르계 화합물에 대한 상기 비이미다졸계 화합물의 함량비가 2 내지 8일 수 있다. 상기 범위에서 상기 비이미다졸계 화합물과 3급 아민 화합물의 반응성의 우수하여 상기 감광성 수지 조성물의 광경화 반응이 촉진될 수 있으며, 상기 옥심에스테르계 화합물에 의해 기판과의 밀착성이 더욱 향상될 수 있다.The content ratio of the biimidazole-based compound to the oxime ester-based compound included in the photosensitive resin composition according to exemplary embodiments may be 2 to 8. In the above range, since the reactivity of the biimidazole-based compound and the tertiary amine compound is excellent, the photocuring reaction of the photosensitive resin composition may be accelerated, and the adhesion to the substrate may be further improved by the oxime ester-based compound. .

용제solvent

본 발명의 감광성 수지 조성물에 있어서, 당해 기술 분야에서 통상적으로 사용되는 용제들이 특별한 제한 없이 사용될 수 있다.In the photosensitive resin composition of the present invention, solvents commonly used in the art may be used without particular limitation.

상기 용제는 예를 들면, 에틸렌글리콜모노알킬에테르류; 디에틸렌글리콜디알킬에테르류; 에틸렌글리콜알킬에테르아세테이트류; 알킬렌글리콜알킬에테르아세테이트류; 프로필렌글리콜모노알킬에테르류; 프로필렌글리콜디알킬에테르류; 프로필렌글리콜알킬에테르프로피오네이트류; 부틸디올모노알킬에테르류; 부탄디올모노알킬에테르아세테이트류; 부탄디올모노알킬에테르프로피오네이트류; 디프로필렌글리콜디메틸에테르, 디프로필렌글리콜디알킬에테르류; 벤젠, 톨루엔, 자일렌, 메시틸렌 등의 방향족 탄화수소류; 케톤류; 알코올류; 에스테르류; 테트라히드로푸란, 피란 등의 고리형 에테르류; γ-부티로락톤 등의 고리형 에스테르류 등을 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상이 조합되어 사용될 수 있다.Examples of the solvent include ethylene glycol monoalkyl ethers; Diethylene glycol dialkyl ethers; Ethylene glycol alkyl ether acetates; Alkylene glycol alkyl ether acetates; Propylene glycol monoalkyl ethers; Propylene glycol dialkyl ethers; Propylene glycol alkyl ether propionates; Butyldiol monoalkyl ethers; Butanediol monoalkyl ether acetates; Butanediol monoalkyl ether propionates; Dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol dialkyl ether; Aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene, and mesitylene; Ketones; Alcohols; Esters; Cyclic ethers such as tetrahydrofuran and pyran; and cyclic esters such as γ-butyrolactone. These may be used alone or in combination of two or more.

상기 용제의 함량은 특별히 제한되는 것은 아니며, 상술한 성분들 및 기타 첨가제 성분들을 제외한 잔량으로 포함될 수 있다. 예를 들면, 조성물의 도포성, 건조성을 고려하여 감광성 수지 조성물의 전체 100중량부에 대하여, 40중량부 내지 95중량부, 바람직하게는 45중량부 내지 85중량부로 포함될 수 있다.The content of the solvent is not particularly limited, and may be included in the remaining amount excluding the above-described components and other additive components. For example, it may be included in an amount of 40 parts by weight to 95 parts by weight, preferably 45 parts by weight to 85 parts by weight, based on 100 parts by weight of the photosensitive resin composition in consideration of coating properties and drying properties of the composition.

첨가제additive

본 발명의 실시예들에 따른 감광성 수지 조성물 또는 이로부터 형성된 광경화 패턴의 경화도, 평활도, 밀착성, 내용제성, 내화학성 등의 특성을 추가적으로 향상시키기 위해 첨가제들이 상기 감광성 수지 조성물 내에 포함될 수 있다. 예를 들면, 상기 첨가제는 경화제, 레벨링제, 계면 활성제, 밀착 촉진제, 산화 방지제, 충진제, 자외선 흡수제, 응집 방지제, 연쇄 이동제 등을 포함할 수 있다.Additives may be included in the photosensitive resin composition to additionally improve properties such as curing degree, smoothness, adhesion, solvent resistance, and chemical resistance of the photosensitive resin composition according to embodiments of the present invention or a photocurable pattern formed therefrom. For example, the additive may include a curing agent, a leveling agent, a surfactant, an adhesion promoter, an antioxidant, a filler, an ultraviolet absorber, an anti-aggregation agent, a chain transfer agent, and the like.

상기 경화제는 심부 경화 및 기계적 강도를 높이기 위해 사용되며, 상기 경화제는 에폭시 화합물, 다관능 이소시아네이트 화합물, 멜라민 화합물, 옥세탄 화합물 등이 사용될 수 있다.The curing agent is used to increase deep curing and mechanical strength, and the curing agent may be an epoxy compound, a polyfunctional isocyanate compound, a melamine compound, or an oxetane compound.

상기 레벨링제로는, 시판되는 계면 활성제를 사용할 수 있고, 예를 들어 실리콘계, 불소계, 에스테르계, 양이온계, 음이온계, 비이온계, 양성 등의 계면 활성제 등이 사용될 수 있고, 이들은 각각 단독으로도 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 된다.As the leveling agent, a commercially available surfactant may be used, and for example, surfactants such as silicone-based, fluorine-based, ester-based, cationic, anionic, nonionic, amphoteric, etc. can be used. Two or more types may be used in combination.

상기 계면 활성제로는, 예를 들어 폴리옥시에틸렌알킬에테르류, 폴리옥시에틸렌알킬페닐에테르류, 폴리에틸렌글리콜디에스테르류, 소르비탄지방산 에스테르류, 지방산 변성 폴리에스테르류, 3급 아민 변성 폴리우레탄류, 폴리에틸렌이민류 등 외에, 상품명으로 KP (신에쯔 화학 공업 (주) 제조), 폴리플로우 (쿄에이 화학(주) 제조), 에프톱 (토켐프로덕츠사 제조), 메가팍 (다이닛폰 잉크 화학 공업 (주) 제조), 플로라드 (스미토모쓰리엠 (주) 제조), 아사히가드, 사프론 (이상, 아사히가라스 (주) 제조), 소르스파스 (제네카 (주) 제조), EFKA (EFKA CHEMICALS 사 제조), PB821 (아지노모토 (주) 제조) 또는 SH8400 Fluid(GE도시바-토레이 제조)등이 사용될 수 있다.Examples of the surfactant include polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene alkylphenyl ethers, polyethylene glycol diesters, sorbitan fatty acid esters, fatty acid modified polyesters, tertiary amine-modified polyurethanes, In addition to polyethyleneimines, under brand names, KP (manufactured by Shin-Etsu Chemical Industries, Ltd.), Polyflow (manufactured by Kyei Chemical Corporation), Ftop (manufactured by Tochem Products), Megapak (manufactured by Tochem Products), Megapak (manufactured by Dai Nippon Ink Chemical Industries, Ltd.) Co., Ltd.), Florade (manufactured by Sumitomo 3M Co., Ltd.), Asahi Guard, Saffron (above, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.), Sor Spas (manufactured by Geneca Co., Ltd.), EFKA (EFKA Chemicals Co. Manufactured), PB821 (manufactured by Ajinomoto Co., Ltd.) or SH8400 Fluid (manufactured by GE Toshiba-Toray), and the like may be used.

상기 밀착 촉진제로는, 실란계 화합물이 바람직하고, 예를 들면, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐트리스(2-메톡시에톡시)실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필메틸디메톡시실란, 2-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, 3-클로로프로필메틸디메톡시실란, 3-클로로프로필트리메톡시실란, 3-메타크릴로일옥시프로필트리메톡시실란(KBM-503, 신에츠화성 제조), 3-메르캅토프로필트리메톡시실란 등이 사용될 수 있다.As the adhesion promoter, a silane-based compound is preferable. For example, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltris(2-methoxyethoxy)silane, N-(2-aminoethyl)- 3-Aminopropylmethyldimethoxysilane, N-(2-aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-gly Cydoxypropylmethyldimethoxysilane, 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, 3-chloropropylmethyldimethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, 3-methacryloyloxy Propyltrimethoxysilane (KBM-503, manufactured by Shin-Etsu Chemical), 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, and the like may be used.

상기 산화 방지제로는 예를 들면, 2-tert-부틸-6-(3-tert-부틸-2-히드록시-5-메틸벤질)-4-메틸페닐아크릴레이트, 2-[1-(2-히드록시-3,5-디-tert-펜틸페닐)에틸]-4,6-디-tert-펜틸페닐아크릴레이트, 6-[3-(3-tert-부틸-4-히드록시-5-메틸페닐)프로폭시]-2,4,8,10-테트라-tert-부틸디벤즈[d,f][1,3,2]디옥사포스페핀, 3,9-비스[2-{3-(3-tert-부틸-4-히드록시-5-메틸페닐)프로피오닐옥시}-1,1-디메틸에틸]-2,4,8,10-테트라옥사스피로[5.5]운데칸, 2,2'-메틸렌비스(6-tert-부틸-4-메틸페놀), 4,4'-부틸리덴비스(6-tert-부틸-3-메틸페놀), 4,4'-티오비스(2-tert-부틸-5-메틸페놀), 2,2'-티오비스(6-tert-부틸-4-메틸페놀), 디라우릴 3,3'-티오디프로피오네이트, 디미리스틸 3,3'-티오디프로피오네이트, 디스테아릴 3,3'-티오디프로피오네이트, 펜타에리트리틸테트라키스(3-라우릴티오프로피오네이트), 1,3,5-트리스(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시벤질)-1,3,5-트리아진-2,4,6(1H,3H,5H)-트리온, 3,3',3'',5,5',5''-헥사-tert-부틸-a,a',a''-(메시틸렌-2,4,6-트리일)트리-p-크레졸, 펜타에리트리톨테트라키스[3-(3,5-디-tert-부틸-4-히드록시페닐)프로피오네이트], 2,6-디-tert-부틸-4-메틸페놀등이 사용될 수 있다.As the antioxidant, for example, 2-tert-butyl-6-(3-tert-butyl-2-hydroxy-5-methylbenzyl)-4-methylphenylacrylate, 2-[1-(2-hydroxyl) Roxy-3,5-di-tert-pentylphenyl)ethyl]-4,6-di-tert-pentylphenylacrylate, 6-[3-(3-tert-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl) Propoxy]-2,4,8,10-tetra-tert-butyldibenz[d,f][1,3,2]dioxaphospepine, 3,9-bis[2-{3-(3- tert-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl)propionyloxy}-1,1-dimethylethyl]-2,4,8,10-tetraoxaspiro[5.5]undecane, 2,2'-methylenebis (6-tert-butyl-4-methylphenol), 4,4'-butylidenebis (6-tert-butyl-3-methylphenol), 4,4'-thiobis (2-tert-butyl-5 -Methylphenol), 2,2'-thiobis(6-tert-butyl-4-methylphenol), dilauryl 3,3'-thiodipropionate, dimyristyl 3,3'-thiodipropio Nate, distearyl 3,3'-thiodipropionate, pentaerythrityltetrakis (3-laurylthiopropionate), 1,3,5-tris (3,5-di-tert-butyl) -4-hydroxybenzyl)-1,3,5-triazine-2,4,6(1H,3H,5H)-trione, 3,3',3``,5,5',5'' -Hexa-tert-butyl-a,a',a''-(mesitylene-2,4,6-triyl)tri-p-cresol, pentaerythritol tetrakis[3-(3,5-di-) tert-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate], 2,6-di-tert-butyl-4-methylphenol and the like can be used.

광경화 패턴Photocuring pattern

본 발명은 상술한 감광성 수지 조성물로부터 제조되는 경화물성이 향상된 광경화 패턴을 제공 한다.The present invention provides a photocurable pattern with improved cured properties prepared from the photosensitive resin composition described above.

상기 광경화 패턴은 화상 표시 장치의 각종 막 구조물 또는 패턴으로 예를 들면 어레이 평탄화막 패턴, 보호막 패턴, 절연막 패턴, 포토레지스트 패턴, 블랙 매트릭스 패턴, 컬럼 스페이서 패턴 또는 블랙 컬럼 스페이서 패턴 등으로 이용될 수도 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.The photocurable pattern may be used as various film structures or patterns of an image display device, for example, as an array planarization film pattern, a protective film pattern, an insulating film pattern, a photoresist pattern, a black matrix pattern, a column spacer pattern or a black column spacer pattern. However, it is not limited thereto.

상기 광경화 패턴 형성에 있어, 상술한 감광성 수지 조성물을 기판 상에 코팅 후 노광 및 현상하는 단계를 거쳐 패턴을 형성할 수 있으며, 이때 각 단계 사이에 프리 베이크, 또는 포스트 베이크 공정을 수행할 수 있다.In forming the photocurable pattern, the photosensitive resin composition may be coated on a substrate, then exposed and developed to form a pattern, and a pre-baking or post-baking process may be performed between each step. .

우선, 기판 상에 감광성 수지 조성물을 코팅한 후 건조하여 코팅막을 형성할 수 있다.First, the photosensitive resin composition may be coated on a substrate and then dried to form a coating film.

상기 기판은 예를 들면 유리기판, 규소 웨이퍼, 실리콘 웨이퍼 및 플라스틱 등 일 수 있다. 상기 코팅은 잉크젯 프린팅, 스핀 코팅, 유연 도포법, 롤러 코팅, 스프레이 코팅 등 통상의 습식 코팅 방법을 사용할 수 있다. 코팅 두께는 감광성 수지 조성물의 용도 에 따라 달라질 수 있으며, 예를 들면 약 0.5 내지 10㎛의 두께일 수 있다.The substrate may be, for example, a glass substrate, a silicon wafer, a silicon wafer, or a plastic. The coating may use a conventional wet coating method such as inkjet printing, spin coating, flexible coating, roller coating, and spray coating. The coating thickness may vary depending on the use of the photosensitive resin composition, and may be, for example, about 0.5 to 10 μm.

상기 건조는 조성물 내 용제 또는 휘발성 성분을 제거시키는 공정으로서, 사용하는 용제의 종류에 따라 건조 온도 및 시간이 달라질 수 있다. 상기 코팅막은 감광성 수지 조성물의 고형 성분들로 이루어질 수 있으며, 휘발성 성분들을 거의 함유하지 않을 수 있다.The drying is a process of removing a solvent or volatile component in the composition, and the drying temperature and time may vary depending on the type of solvent used. The coating film may be made of solid components of the photosensitive resin composition, and may contain almost no volatile components.

건조 이후 필요한 경우 프리 베이크 공정을 수행할 수 있다. 프리 베이크는 오븐, 핫 플레이트 등에 의해 가열함으로써 행해질 수 있다. 상기 프리 베이크에 있어서의 가열 온도 및 가열 시간은 사용하는 용제의 종류에 따라 선택되며 예를 들면, 약 80 내지 150℃의 온도로 약 1 내지 30분간 행해질 수 있다.After drying, if necessary, a pre-baking process can be performed. Pre-baking can be performed by heating with an oven, hot plate, or the like. The heating temperature and heating time in the pre-baking are selected according to the type of solvent to be used, and may be performed at a temperature of about 80 to 150° C. for about 1 to 30 minutes.

다음으로, 코팅막에 포토마스크를 통해 광선을 조사하는 노광 공정을 수행하여 광경화 패턴을 형성할 수 있으며, 노광 후 베이킹(post exposure baking: PEB) 공정이 더 수행될 수도 있다.Next, a photocuring pattern may be formed by performing an exposure process of irradiating light rays through a photomask on the coating layer, and a post exposure baking (PEB) process may be further performed.

상기 노광 공정에 있어서, 고압수은램프의 UV-A영역(320~400nm), UV-B영역(280~320nm), UV-C영역(200~280nm) 등과 같은 자와선 광원, 전자선 광원 또는 X선 광원이 사용될 수 있다. 예를 들면 노광 공정에서 g 라인(파장: 436nm) 광원 또는 i 라인(파장: 365nm) 광원 등이 사용될 수 있다. 상기 포토마스크는 광선을 차광시키기 위한 것으로, 포토마스크의 형태에 따라 노광부/비노광부의 영역이 정의된다.In the exposure process, a magnetic ray light source such as a UV-A region (320 to 400 nm), a UV-B region (280 to 320 nm), and a UV-C region (200 to 280 nm) of a high-pressure mercury lamp, an electron ray light source or X-ray A light source can be used. For example, a g-line (wavelength: 436 nm) light source or an i-line (wavelength: 365 nm) light source may be used in the exposure process. The photomask is for blocking light rays, and an exposed/non-exposed area is defined according to the shape of the photomask.

다음으로, 상기 코팅막을 알칼리 현상액으로 처리하여 비노광부를 용해하고 노광부로 이루어진 패턴을 형성할 수 있다.Next, the coating layer may be treated with an alkali developer to dissolve the non-exposed part and form a pattern made of the exposed part.

상기 알칼리 현상액은 예를 들면 수산화 나트륨, 수산화 칼륨, 탄산나트륨, 탄산칼륨 등의 무기 알칼리류, 수산화테트라메틸암모늄, 수산화테트라에틸암모늄, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민, 디메틸에탄올아민, 디에틸에탄올아민 등의 유기알칼리류의 수용액일 수 있다.The alkali developer is, for example, inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, and potassium carbonate, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, dimethylethanolamine, diethyl It may be an aqueous solution of organic alkalis such as ethanolamine.

상기 알칼리 현상액은 예를 들면 상기 유기알칼리류 수용액을 약 0.01 내지 5중량%, 바람직하게는 약 0.05 내지 2.5중량%의 농도로 사용할 수 있다.The alkali developer may be used, for example, in a concentration of about 0.01 to 5% by weight, preferably about 0.05 to 2.5% by weight of the organic alkali aqueous solution.

상기 알칼리 현상액은 예를 들면 현상 잔사의 제거를 촉진시키는 작용을 갖는 비이온성 계면활성제 등의 계면활성제나, 메탄올, 에탄올 등의 수용성 유기용매를 포함할 수 있다.The alkaline developer may include, for example, a surfactant such as a nonionic surfactant having an action of promoting the removal of the development residue, or a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol.

현상 공정은 통상 디핑법, 샤워법, 또는 스프레이법이 사용될 수 있으며 약 30 내지 60초 정도 수행할 수 있고, 비노광부 영역이 제거되고, 노광부 영역만 선택적으로 잔류하여 패턴을 구성할 수 있다.The developing process may be a dipping method, a shower method, or a spray method, and may be performed for about 30 to 60 seconds, and the non-exposed region region is removed, and only the exposed region region is selectively left to form a pattern.

현상 후에는 물로 세정 후 건조하고, 필요한 경우 가열 처리인 포스트 베이크 공정을 약 200 내지 250℃의 온도에서 수행할 수 있다.After development, it is washed with water and then dried, and if necessary, a post-baking process, which is a heat treatment, may be performed at a temperature of about 200 to 250°C.

화상표시 장치Image display device

본 발명은 상술한 감광성 수지 조성물로부터 제조된 광경화 패턴을 포함하는 화상표시 장치를 제공 한다.The present invention provides an image display device including a photocurable pattern prepared from the photosensitive resin composition described above.

상기 화상표시장치는 구체적으로, 액정표시장치, OLED, 플렉서블 디스플레이 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Specifically, the image display device may include, but is not limited to, a liquid crystal display device, an OLED, and a flexible display.

이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 구체적인 실시예들 및 비교예들을 포함하는 실험예를 제시하나, 이는 본 발명을 예시하는 것일 뿐 첨부된 특허청구범위를 제한하는 것이 아니며, 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 실시예에 대한 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다.Hereinafter, experimental examples including specific examples and comparative examples are presented to aid in understanding of the present invention, but this is only illustrative of the present invention and does not limit the scope of the appended claims, and the scope and technology of the present invention It is obvious to those skilled in the art that various changes and modifications to the embodiments are possible within the scope of the spirit, and it is natural that such modifications and modifications fall within the appended claims.

합성예 1: 알칼리 가용성 수지(A-1)의 합성Synthesis Example 1: Synthesis of alkali-soluble resin (A-1)

환류 냉각기, 적하 깔대기 및 교반기를 구비한 1L의 플라스크 내에 질소를 0.02L/분으로 흐르게 하여 질소 분위기로 하고, 디에틸렌글리콜 메틸에틸에테르 200g을 넣고 교반하면서 70℃까지 가열하였다. 이어서, 하기 화학식 9 및 화학식 10의 혼합물(몰비는 50:50) 132.2g(0.60mol), 글리시딜 메타크릴레이트 42.6g(0.30mol) 및 메타크릴산 8.6g(0.10mol)을 용해하여 용액을 조제하였다.In a 1 L flask equipped with a reflux condenser, a dropping funnel, and a stirrer, nitrogen was flowed at 0.02 L/min to obtain a nitrogen atmosphere, and 200 g of diethylene glycol methyl ethyl ether was added and heated to 70° C. while stirring. Then, a mixture of the following Chemical Formulas 9 and 10 (molar ratio is 50:50), 132.2 g (0.60 mol), glycidyl methacrylate 42.6 g (0.30 mol), and 8.6 g (0.10 mol) methacrylic acid were dissolved Was prepared.

[화학식 9][Formula 9]

Figure pat00017
Figure pat00017

[화학식 10][Formula 10]

Figure pat00018
Figure pat00018

제조된 용해액을, 적하 깔대기를 사용하여 플라스크 내에 적하한 후, 중합 개시제 2,2'-아조비스(2,4-디메틸발레로니트릴) 27.9g(0.11몰)을 디에틸렌글리콜 메틸에틸에테르 150g에 용해한 용액을, 별도의 적하 깔대기를 사용하여 5 시간에 걸쳐 플라스크 내에 적하하였다. 중합 개시제의 용액의 적하가 종료된 후, 10 시간 동안 70℃로 유지하고, 그 후 실온까지 냉각시켜, 고형분 32.0 질량%, 산가가 65㎎KOH/g(고형분 환산)인 알칼리 가용성 수지(A-1)의 용액을 얻었다. GPC로 측정한 폴리스티렌 환산의 중량평균분자량은 15,500이고, 분자량 분포(Mw/Mn)는 1.97이었다.After dropping the prepared solution into the flask using a dropping funnel, 27.9 g (0.11 mol) of a polymerization initiator 2,2'-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) was added to 150 g of diethylene glycol methyl ethyl ether. The solution dissolved in was dripped into the flask over 5 hours using a separate dropping funnel. After the dropping of the polymerization initiator solution was completed, it was maintained at 70° C. for 10 hours, and then cooled to room temperature, and an alkali-soluble resin (A-) having a solid content of 32.0 mass% and an acid value of 65 mgKOH/g (in terms of solid content) The solution of 1) was obtained. The weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC was 15,500, and the molecular weight distribution (Mw/Mn) was 1.97.

합성예 2: 알칼리 가용성 수지(A-2)의 합성Synthesis Example 2: Synthesis of alkali-soluble resin (A-2)

환류 냉각기, 적하 깔대기 및 교반기를 구비한 1L의 플라스크 내에 질소를 0.02L/분으로 흐르게 하여 질소 분위기로 하고, 프로필렌 글리콜 모노메틸에테르 아세테이트 250g을 도입하여, 100℃로 승온 후 아크릴산 21.6g(0.30몰), 3-에틸-3-옥세타닐 메타크릴레이트 73.7g(0.40몰), 비닐톨루엔 34.5(0.30몰) 및 프로필렌 글리콜 모노메틸에테르 아세테이트 150g을 포함하는 혼합물에 2,2'-아조비스(2,4-디메틸발레로니트릴) 3.6g을 첨가한 용액을 적하 로트로부터 2시간에 걸쳐 플라스크에 적하하여 100℃에서 5시간 더 교반을 계속하였다. In a 1 L flask equipped with a reflux condenser, dropping funnel, and stirrer, nitrogen was flowed at 0.02 L/min to create a nitrogen atmosphere, and 250 g of propylene glycol monomethyl ether acetate was introduced, and after heating to 100°C, 21.6 g (0.30 mol) of acrylic acid ), 3-ethyl-3-oxetanyl methacrylate 73.7 g (0.40 mol), vinyl toluene 34.5 (0.30 mol) and propylene glycol monomethyl ether acetate 150 g in a mixture containing 2,2'-azobis (2 A solution to which 3.6 g of ,4-dimethylvaleronitrile) was added was added dropwise from the dropping lot to the flask over 2 hours, and stirring was continued at 100°C for 5 hours.

이어서, 플라스크내 분위기를 질소에서 공기로 하고, 글리시딜메타크릴레이트 26.3g [0.15몰(본 반응에 사용한 아크릴산에 대하여 50몰%)]을 플라스크 내에 투입하여 110℃에서 6시간 반응을 계속하고, 고형분 산가가 65㎎KOH/g인 알카리 가용성 수지(A-2)를 얻었다. GPC로 측정한 폴리스티렌 환산의 중량평균분자량은 8,400이고, 분자량 분포(Mw/Mn)는 1.85이었다.Then, the atmosphere in the flask was made from nitrogen to air, and 26.3 g of glycidyl methacrylate [0.15 mol (50 mol% based on acrylic acid used in this reaction)] was added into the flask, and the reaction was continued at 110° C. for 6 hours. , An alkali-soluble resin (A-2) having a solid acid value of 65 mgKOH/g was obtained. The weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC was 8,400, and the molecular weight distribution (Mw/Mn) was 1.85.

실시예 및 비교예Examples and Comparative Examples

하기 표 1 및 표 2에 기재된 조성 및 함량(중량%)으로 감광성 수지 조성물을 제조하였다.A photosensitive resin composition was prepared with the composition and content (% by weight) shown in Tables 1 and 2 below.

구분division 실시예Example 1One 22 33 44 55 66 77 88 99 1010 알칼리 가용성
수지(A)
Alkali soluble
Resin (A)
A-1A-1 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.277.27 7.277.27
A-2A-2 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.821.82 1.821.82 중합성 화합물 (B)Polymerizable compound (B) 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.099.09 9.09 9.09 9.099.09 9.099.09 광중합
개시제
(C)
Light polymerization
Initiator
(C)
C-1C-1 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.550.55 0.550.55
C-2C-2 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.090.09 0.090.09 3급 아민계
화합물
(D)
Tertiary amine
compound
(D)
D-1D-1 0.55 0.55 -- -- 0.55 0.55 -- -- -- -- -- --
D-2D-2 -- 0.55 0.55 -- -- 0.55 0.55 -- 0.730.73 0.450.45 0.360.36 0.180.18 D-3D-3 -- -- 0.55 0.55 -- -- 0.55 0.55 -- -- -- -- D-4D-4 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- D-5D-5 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- 티올계
화합물
(E)
Thiol
compound
(E)
E-1E-1 0.360.36 0.360.36 0.360.36 -- -- -- 0.180.18 0.450.45 0.550.55 0.730.73
E-2E-2 -- -- -- 0.360.36 0.360.36 0.360.36 -- -- -- -- E-3E-3 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- E-4E-4 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- E-5E-5 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- 첨가제
(F)
additive
(F)
F-1F-1 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18
F-2F-2 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 F-3F-3 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 용제 (S)Solvent (S) S-1S-1 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 S-2S-2 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 5.855.85

구분division 비교예Comparative example 1One 22 33 44 55 66 77 88 99 1010 알칼리 가용성
수지(A)
Alkali soluble
Resin (A)
A-1A-1 7.62 7.62 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27 7.27
A-2A-2 1.90 1.90 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 1.82 중합성 화합물 (B)Polymerizable compound (B) 9.099.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.09 9.099.09 9.09 9.09 9.09 9.09 광중합
개시제
(C)
Light polymerization
Initiator
(C)
C-1C-1 0.57 0.57 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55 0.55
C-2C-2 0.10 0.10 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 0.09 3급 아민계
화합물
(D)
Tertiary amine
compound
(D)
D-1D-1 -- -- -- 0.910.91 -- -- -- -- -- --
D-2D-2 -- -- -- -- 0.910.91 0.550.55 0.550.55 0.550.55 -- -- D-3D-3 -- -- -- -- -- -- -- -- -- -- D-4D-4 -- -- -- -- -- -- -- -- 0.550.55 -- D-5D-5 -- -- -- -- -- -- -- -- -- 0.550.55 티올계
화합물
(E)
Thiol
compound
(E)
E-1E-1 -- 0.910.91 -- -- -- -- -- -- 0.360.36 0.360.36
E-2E-2 -- -- 0.910.91 -- -- -- -- -- -- -- E-3E-3 -- -- -- -- -- 0.360.36 -- -- -- -- E-4E-4 -- -- -- -- -- -- 0.360.36 -- -- -- E-5E-5 -- -- -- -- -- -- -- 0.360.36 -- -- 첨가제
(F)
additive
(F)
F-1F-1 0.190.19 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18 0.180.18
F-2F-2 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 0.150.15 F-3F-3 0.100.10 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 0.090.09 용제 (S)Solvent (S) S-1S-1 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 24.0024.00 S-2S-2 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 55.8555.85 A-1: 합성예1의 알칼리 가용성 수지
A-2: 합성예2의 알칼리 가용성 수지

B: 5관능 아크릴레이트 화합물 (A-9570 : 株新中村化工業 제조)

C-1: 2,2'-비스(o-클로로페닐)-4,5,4',5'-테트라페닐-1,2'-비이미다졸(B-CIM: 호도가야 화학공업㈜ 제조)
C-2: 화학식11로 표시되는 옥심 에스테르계 화합물

D-1: 화학식12으로 표시되는 화합물
D-2: 화학식13으로 표시되는 화합물
D-3: 화학식14로 표시되는 화합물
D-4: 화학식15로 표시되는 화합물
D-5: 화학식 16으로 표시되는 화합물

E-1: 3,6-디옥사-1,8-옥탄디티올 (TCI제조)
E-2: 1,10-데칸디치올 (TCI제조)
E-3: 펜타에리스리톨 테트라키스[3-머캅토프로피오네이트](PEMP: (주)SC화학 제조)
E-4: 트리스-[(3-머캅토프로피오닐옥시)에틸]이소시아눌레이트(TEMPIC: (주)SC화학 제조)
E-5: 펜타에리스리톨 헥사키스[3-머캅토프로피오네이트](DPMP: (주)SC화학 제조)

F-1: 4,4'-부틸리덴 비스[6-tert-부틸-3-메틸페놀](BBM-S: (주)스미토모 정제 제조 산화방지제
F-2: SH8400 Fluid (GE토시바-토레이 제조) 계면활성제
F-3: KBM-503 (신에츠화성 제조) 밀착촉진제

S-1: 디에틸렌글리콜 메틸에틸 에테르
S-2: 프로필렌글리콜모노메일에테르아세테이트

[화학식 11]

Figure pat00019

[화학식 12]
Figure pat00020

[화학식 13]
Figure pat00021

[화학식 14]
Figure pat00022

[화학식 15]
Figure pat00023

[화학식 16]
Figure pat00024
A-1: Alkali-soluble resin of Synthesis Example 1
A-2: Alkali-soluble resin of Synthesis Example 2

B: 5-functional acrylate compound (A-9570: manufactured by Sustainable Industries, Inc.)

C-1: 2,2'-bis(o-chlorophenyl)-4,5,4',5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole (B-CIM: manufactured by Hodogaya Chemical Industries, Ltd.)
C-2: oxime ester compound represented by Formula 11

D-1: compound represented by formula 12
D-2: compound represented by Chemical Formula 13
D-3: compound represented by formula 14
D-4: compound represented by formula 15
D-5: compound represented by formula 16

E-1: 3,6-dioxa-1,8-octanedithiol (manufactured by TCI)
E-2: 1,10-decanedithiol (manufactured by TCI)
E-3: pentaerythritol tetrakis[3-mercaptopropionate] (PEMP: manufactured by SC Chemical Co., Ltd.)
E-4: Tris-[(3-mercaptopropionyloxy)ethyl]isocyanurate (TEMPIC: manufactured by SC Chemical Co., Ltd.)
E-5: pentaerythritol hexakis [3-mercaptopropionate] (DPMP: manufactured by SC Chemical Co., Ltd.)

F-1: 4,4'-butylidene bis[6-tert-butyl-3-methylphenol] (BBM-S: Antioxidant manufactured by Sumitomo Co., Ltd. tablets
F-2: SH8400 Fluid (manufactured by GE Toshiba-Toray) surfactant
F-3: KBM-503 (manufactured by Shin-Etsu Chemical) adhesion promoter

S-1: diethylene glycol methylethyl ether
S-2: Propylene glycol monomale ether acetate

[Formula 11]
Figure pat00019

[Formula 12]
Figure pat00020

[Formula 13]
Figure pat00021

[Formula 14]
Figure pat00022

[Formula 15]
Figure pat00023

[Formula 16]
Figure pat00024

실험예Experimental example

가로 세로 2 인치의 유리 기판(이글 2000; 코닝사 제조)을 중성 세제, 물 및 알코올로 순차 세정한 후 건조하였다. 이 유리 기판 상에 상기 실시예 및 비교예에서 제조된 감광성 수지 조성물을 각각 스핀 코팅한 다음 Hot plate를 이용하여 80℃에서 125 초간 프리베이크하였다. 상기 프리베이크한 기판을 상온으로 냉각 후 석영 유리제 포토마스크와의 간격을 50㎛로 하여 노광기 (MICOSUSS사 MA6)를 사용하여 30mJ/㎠의 노광량(365㎚ 기준)으로 광을 조사하였다. 이때 한변이 7㎛ 인 정사각형의 패턴을 가지며, 상호 간격이 100㎛인 패턴이 동일 평면 상에 형성된 포토마스크를 사용하였다. 광조사 후, 2.38% 테트라암모늄 히드록시드 수용액에 상기 도막을 25℃에서 60초간 침지하여 현상하고 수세 및 건조 후, 클린 오븐을 이용하여 85℃에서 60분간 포스트베이크를 실시하였다. 얻어진 패턴 높이는 2.0㎛이었다. 이렇게 얻어진 패턴을 아래와 같이 물성 평가를 실시하고, 그 결과를 하기 표 3에 나타내었다.A 2 inch wide glass substrate (Eagle 2000; manufactured by Corning) was sequentially washed with a neutral detergent, water and alcohol, and then dried. Each of the photosensitive resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples was spin-coated on the glass substrate, and then prebaked at 80° C. for 125 seconds using a hot plate. After cooling the prebaked substrate to room temperature, light was irradiated with an exposure amount of 30 mJ/cm 2 (based on 365 nm) using an exposure machine (MA6 manufactured by MICOSUSS) with an interval of 50 μm with the quartz glass photomask. At this time, a photomask having a square pattern with a side of 7 μm and a pattern having a mutual spacing of 100 μm on the same plane was used. After light irradiation, the coating was developed by immersing the coating film in a 2.38% tetraammonium hydroxide aqueous solution at 25° C. for 60 seconds, washing with water and drying, and post-baking at 85° C. for 60 minutes using a clean oven. The obtained pattern height was 2.0 µm. The obtained pattern was evaluated for physical properties as follows, and the results are shown in Table 3 below.

(1) 패턴 Bottom-CD size 측정(1) Pattern Bottom-CD size measurement

얻어진 홀 패턴을 3차원 형상측정장치(SIS-2000 system; SNU Precision사 제조)로 관찰하였다. 도 1에 도시된 바와 같이 Hole패턴의 바닥 면으로부터 전체 높이의 5%인 지점을 바텀 선폭(Bottom CD)으로 정의하고, 가로 방향과 세로 방향의 측정 값의 평균 값을 홀 패턴의 선폭으로 정의하였다.The obtained hole pattern was observed with a three-dimensional shape measuring device (SIS-2000 system; manufactured by SNU Precision). As shown in FIG. 1, a point at 5% of the total height from the bottom surface of the hole pattern was defined as the bottom line width (Bottom CD), and the average value of the measured values in the horizontal and vertical directions was defined as the line width of the hole pattern. .

(2) 패턴의 CD-bias 측정(2) CD-bias measurement of pattern

상술한 바와 같이, 획득된 홀 패턴의 바텀 선폭값과 포토마스크 사이즈와의 차이를 CD-bias로 산출하였다. CD-bias는 0에 근접할수록 양호하며, (+)는 홀 패턴의 바텀 선폭값이 포토 마스크보다 홀 사이즈가 크고 (-)는 포토마스크보다 홀 사이즈가 작은 것을 의미한다.As described above, the difference between the bottom line width value of the obtained hole pattern and the photomask size was calculated as CD-bias. CD-bias is better as it approaches 0, and (+) means that the bottom line width value of the hole pattern is larger than that of the photomask, and (-) means that the hole size is smaller than that of the photomask.

(3) 내화학성 평가(3) Chemical resistance evaluation

실시예 및 비교예에서 제조된 감광성 수지 조성물을 용액을 Amorphous ITO가 1200Å두께로 증착된 유리 기판에 도포하여 각각 스핀 코팅한 다음 Hot plate를 이용하여 80℃에서 120 초간 프리베이크하였다. 상기 프리베이크한 기판을 상온으로 냉각 후. 노광기 (MICOS

Figure pat00025
SS사 MA6)를 사용하여 30mJ/㎠의 노광량(365㎚ 기준)으로 도막의 전면에 광을 조사하였다. 광조사 후 2.38% 테트라암모늄 히드록시드 수용액에 상기 도막을 25℃ 에서 60초간 침지하여 현상하고, 수세 후 오븐 중에서, 수세 및 건조 후, 클린 오븐을 이용하여 85℃에서 120분간 포스트베이크를 실시하였다.The photosensitive resin composition prepared in Examples and Comparative Examples was applied to a glass substrate on which amorphous ITO was deposited to a thickness of 1200Å, spin-coated, and prebaked at 80° C. for 120 seconds using a hot plate. After cooling the prebaked substrate to room temperature. Exposure machine (MICOS
Figure pat00025
SS MA6) was used to irradiate the entire surface of the coating film with an exposure dose of 30 mJ/cm 2 (based on 365 nm). After light irradiation, the coating film was immersed in a 2.38% tetraammonium hydroxide aqueous solution at 25° C. for 60 seconds to develop, washed with water, washed with water and dried in an oven, and post-baked at 85° C. for 120 minutes using a clean oven. .

제작된 도막을 포지티브 레지스트 박리액(2-아미노-1-프로파놀 60g을 N-메틸-2-피롤리돈 60g과 디에틸렌 글리콜 메틸부틸 에테르 80g에 용해시켜 제조)에 담그고 45분/2분간 처리한 후, ASTM D-3359-08표준 시험 조건에 의거하여 커터로 도막을 커팅한 후에 표면에 테이프를 붙였다가 떼어내는 방법으로 밀착성 확인하였다. 약액 처리 후의 Cutting/Tape시험에서 도막의 박리가 발생하는 정도를 표준 시험법에 의거하여 0B~5B로 규정하여 5B가 가장 우수한 성능을 가지는 것으로 판단한다(5B 박리0%, 4B 박리5%미만, 3B 박리5~15%, 2B 박리15~35%, 1B 박리35~65%, 0B 65%이상) 도 2 내지 7은 순서대로 5B, 4B, 3B, 2B, 1B, 0B인 경우의 패턴 사진이다.The prepared coating film was immersed in a positive resist stripper (produced by dissolving 60 g of 2-amino-1-propanol in 60 g of N-methyl-2-pyrrolidone and 80 g of diethylene glycol methylbutyl ether) and treatment for 45 minutes/2 minutes After that, according to ASTM D-3359-08 standard test conditions, after cutting the coating film with a cutter, the adhesion was confirmed by attaching a tape to the surface and then removing it. In the cutting/tape test after chemical treatment, the degree of peeling of the coating film is defined as 0B to 5B based on the standard test method, and 5B is judged to have the best performance (5B peeling 0%, 4B peeling less than 5%, 3B peeling 5 to 15%, 2B peeling 15 to 35%, 1B peeling 35 to 65%, 0B 65% or more) Figures 2 to 7 are patterns photos in the case of 5B, 4B, 3B, 2B, 1B, and 0B in order. .

(4) 보존 안정성 평가(4) Storage stability evaluation

실시예 및 비교예에서 제조된 감광성 수지 조성물을 23℃에서 72시간 방치한 후, 실험 방법에 명기된 것과 같이 노광/현상 공정을 진행하여 홀 패턴을 제작하였다.After the photosensitive resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples were allowed to stand at 23° C. for 72 hours, exposure/development processes were performed as specified in the experimental method to produce a hole pattern.

미노광부에 해당하는 홀 바닥 면과 패턴과의 경계에 발생한 잔사의 진행 정도를 기준으로 보존 안정성을 평가하였다. 새로이 제작된 감광성 수지 조성물로 제작된 패턴과 23℃에서 72시간 방치된 감광성 수지 조성물로 제작된 패턴을 비교하여 양자간의 차이가 없으면 보존 안정성이 양호한 것(OK)으로 판단하였으며, 23℃에서 72시간 방치된 감광성 수지 조성물로 제작된 패턴의 경계면에서 잔사가가 성장하여 심해진 경우 보존 안정성이 좋지 않은 것(NG)으로 판단하였다.Storage stability was evaluated based on the degree of progression of residues occurring at the boundary between the hole bottom surface corresponding to the unexposed part and the pattern. A pattern made of a newly prepared photosensitive resin composition and a pattern made of a photosensitive resin composition left at 23°C for 72 hours were compared, and if there was no difference between the two, the storage stability was judged as good (OK), and at 23°C for 72 hours When the residue grows at the interface of the pattern made of the left photosensitive resin composition and becomes severe, it was judged as having poor storage stability (NG).

도 8은 미노광부에 해당하는 홀 바닥 면과 패턴과의 경계에서 잔사가 발생하지 않은 경우를 나타내는 사진이며, 도 9는 미노광부에 해당하는 홀 바닥 면과 패턴과의 경계에서 잔사가 성성장하여 심해진 경우를 나타내는 SEM 사진이다.FIG. 8 is a photograph showing a case where no residue occurs at the boundary between the pattern and the bottom surface of the hole corresponding to the unexposed portion. This is an SEM photograph showing a severe case.

구분division Bottom-CD size(㎛)Bottom-CD size(㎛) CD-bias(㎛)CD-bias(㎛) 내화학성Chemical resistance 보존 안정성Storage stability 실시예 1Example 1 6.36.3 -0.7-0.7 5B5B OKOK 실시예 2Example 2 6.76.7 -0.3-0.3 5B5B OKOK 실시예 3Example 3 6.56.5 -0.5-0.5 5B5B OKOK 실시예 4Example 4 6.26.2 -0.8-0.8 5B5B OKOK 실시예 5Example 5 6.66.6 -0.4-0.4 5B5B OKOK 실시예 6Example 6 6.46.4 -0.6-0.6 5B5B OKOK 실시예 7Example 7 6.86.8 -0.2-0.2 5B5B OKOK 실시예 8Example 8 6.36.3 -0.7-0.7 5B5B OKOK 실시예 9Example 9 5.85.8 -1.2-1.2 5B5B OKOK 실시예 10Example 10 5.65.6 -1.4-1.4 5B5B OKOK 비교예 1Comparative Example 1 7.67.6 0.60.6 0B0B OKOK 비교예 2Comparative Example 2 5.25.2 -1.8-1.8 5B5B NGNG 비교예 3Comparative Example 3 5.45.4 -1.6-1.6 5B5B NGNG 비교예 4Comparative Example 4 6.96.9 -0.1-0.1 2B2B OKOK 비교예 5Comparative Example 5 6.76.7 -0.3-0.3 2B2B OKOK 비교예 6Comparative Example 6 4.54.5 -2.5-2.5 5B5B NGNG 비교예 7Comparative Example 7 5.45.4 -1.6-1.6 4B4B NGNG 비교예 8Comparative Example 8 4.14.1 -2.9-2.9 5B5B NGNG 비교예 9Comparative Example 9 Not openNot open Not openNot open 5B5B NGNG 비교예 10Comparative Example 10 Not openNot open Not openNot open 5B5B NGNG

상기 표 3을 참고하면, 본 발명에 따른 실시예들에 따른 감광성 수지경우 조성물의 경우, 상기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물 및 2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하여, 이들을 포함하지 않은 비교예들 보다 해상도, 내화학성 및 상온 보존 안정성이 우수하다.2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하나, 상기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물을 포함하지 않는 비교예 2 및 3은 해상도 및 상온 보존 안정성이 열화된다.Referring to Table 3, in the case of the photosensitive resin composition according to the embodiments of the present invention, a comparison without including the tertiary amine compound represented by Chemical Formula 1 and the thiol-based compound having difunctionality or less The resolution, chemical resistance, and storage stability at room temperature are better than those of the examples. Comparative Examples 2 and 3 containing a thiol-based compound having a bifunctional or lower function, but not containing a tertiary amine compound represented by Formula 1, are stored at room temperature Stability deteriorates.

2관능 이하의 티올계 화합물 및 3급 아민 화합물을 포함하나 3급 아민 화합물이 상기 화학식 1의 구조를 만족하지 않는 비교예 9 및 10는 감광성 수지 조성물의 감도가 지나치게 증가되어 산란된 빛에 의한 비노광부의 경화로 인해 홀 패턴이 형성되지 않았다.Comparative Examples 9 and 10, which include a bifunctional or less thiol-based compound and a tertiary amine compound, but in which the tertiary amine compound does not satisfy the structure of Formula 1, were too high in sensitivity to scattered light. The hole pattern was not formed due to the hardening of the miner.

상기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물을 포함하나, 3관능 이상의 티올계 화합물을 포함하는 비교예 4 및 5는 내화학성이 열화되었다.Comparative Examples 4 and 5 including a tertiary amine compound represented by Formula 1, but including a thiol-based compound having a trifunctional or higher function, have deteriorated chemical resistance.

상기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물을 포함하고, 티올계 화합물을 포함하나 3관능 이상의 티올계 화합물을 포함하는 비교예 6 내지 8은 상온 보존 안정성이 열화되었다.Comparative Examples 6 to 8 including the tertiary amine compound represented by Chemical Formula 1 and including a thiol-based compound but containing a trifunctional or higher thiol-based compound exhibited deterioration in storage stability at room temperature.

Claims (11)

알칼리 가용성 수지;
중합성 화합물;
광중합 개시제;
하기 화학식 1로 표시되는 3급 아민 화합물; 및
2관능 이하의 티올계 화합물을 포함하는, 감광성 수지 조성물:
[화학식 1]
Figure pat00026

(화학식 1 중 R1 및 R2는 탄소수 1 내지 4개인 선형 또는 가지형 알킬기이고, R3는 탄소수 1 내지 12개의 선형 또는 고리형 알킬기임).
Alkali-soluble resin;
Polymerizable compounds;
Photopolymerization initiator;
A tertiary amine compound represented by the following formula (1); And
A photosensitive resin composition containing a bifunctional or less thiol-based compound:
[Formula 1]
Figure pat00026

(In Formula 1, R 1 and R 2 are a linear or branched alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 3 is a linear or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms).
청구항 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 디티올계 화합물인, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the bifunctional or less thiol-based compound is a dithiol-based compound.
청구항 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물은 화학식 2 또는 화학식 3으로 표시되는 화합물 중 적어도 하나를 포함하는, 감광성 수지 조성물:
[화학식 2]
Figure pat00027

(화학식 2 중, m은 1 내지 5의 정수)
[화학식 3]
Figure pat00028

(화학식 3 중, n은 1 내지 11의 정수).
The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the bifunctional or less thiol-based compound comprises at least one of compounds represented by Formula 2 or Formula 3:
[Formula 2]
Figure pat00027

(In Formula 2, m is an integer of 1 to 5)
[Formula 3]
Figure pat00028

(In Chemical Formula 3, n is an integer of 1 to 11).
청구항 1에 있어서, 상기 3급 아민 화합물의 함량은 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 1중량%인, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition of claim 1, wherein the content of the tertiary amine compound is 0.1 to 1% by weight based on the total weight of the photosensitive resin composition.
청구항 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물의 함량은 감광성 수지 조성물 총 중량에 대하여 0.1 내지 1중량%인, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition of claim 1, wherein the content of the bifunctional or less thiol-based compound is 0.1 to 1% by weight based on the total weight of the photosensitive resin composition.
청구항 1에 있어서, 상기 2관능 이하의 티올계 화합물에 대한 상기 3급 아민 화합물의 함량비는 1 내지 4.2인, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition of claim 1, wherein a content ratio of the tertiary amine compound to the bifunctional or less thiol-based compound is 1 to 4.2.
청구항 1에 있어서, 상기 알칼리 가용성 수지는 에폭시기 함유 단위 또는 말단 이중결합 함유 단위 중 적어도 하나의 반복 단위를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin contains at least one repeating unit of an epoxy group-containing unit or a terminal double bond-containing unit.
청구항 1에 있어서, 상기 광중합 개시제는 비이미다졸계 화합물 및 옥심에스테르계 화합물 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 감광성 수지 조성물.
The photosensitive resin composition according to claim 1, wherein the photopolymerization initiator contains at least one of a biimidazole-based compound and an oxime ester-based compound.
청구항 1 내지 8 중 어느 한 항의 감광성 수지 조성물로 형성된, 광경화 패턴.
A photocurable pattern formed of the photosensitive resin composition of any one of claims 1 to 8.
청구항 9에 있어서, 상기 광경화 패턴은 어레이 평탄화막 패턴, 보호막 패턴, 절연막 패턴, 포토레지스트 패턴, 블랙 매트릭스 패턴, 컬럼 스페이서 패턴 및 블랙 컬럼 스페이서로 이루어진 군에서 선택된, 광경화 패턴.
The photocurable pattern of claim 9, wherein the photocuring pattern is selected from the group consisting of an array planarization layer pattern, a passivation layer pattern, an insulating layer pattern, a photoresist pattern, a black matrix pattern, a column spacer pattern, and a black column spacer.
청구항 9의 광경화 패턴을 포함하는 화상 표시 장치.An image display device comprising the photocuring pattern of claim 9.
KR1020190030136A 2019-03-15 2019-03-15 Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern KR102656174B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190030136A KR102656174B1 (en) 2019-03-15 2019-03-15 Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190030136A KR102656174B1 (en) 2019-03-15 2019-03-15 Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200110059A true KR20200110059A (en) 2020-09-23
KR102656174B1 KR102656174B1 (en) 2024-04-08

Family

ID=72708438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190030136A KR102656174B1 (en) 2019-03-15 2019-03-15 Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102656174B1 (en)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990066302A (en) * 1998-01-23 1999-08-16 한형수 Photosensitive resin composition for dot spacers of touch panel
KR20050074546A (en) * 2002-11-06 2005-07-18 아사히 가라스 가부시키가이샤 Negative type photosensitive resin composition
KR20100109442A (en) * 2009-03-30 2010-10-08 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 Photosensitive resin composition, and dry film and printed wiring board using the same
KR101302508B1 (en) 2006-02-03 2013-09-02 주식회사 동진쎄미켐 Negative photosensitive resin composition, liquid crystal display having that curing product, method of forming a pattern of liquid crystal display using the same
KR101611836B1 (en) * 2015-01-13 2016-04-12 동우 화인켐 주식회사 Photosensitive resin comopsition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
CN107329368A (en) * 2017-07-05 2017-11-07 江苏广信感光新材料股份有限公司 A kind of solvable photosensitive composite of alkali and preparation method and application

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990066302A (en) * 1998-01-23 1999-08-16 한형수 Photosensitive resin composition for dot spacers of touch panel
KR20050074546A (en) * 2002-11-06 2005-07-18 아사히 가라스 가부시키가이샤 Negative type photosensitive resin composition
KR101302508B1 (en) 2006-02-03 2013-09-02 주식회사 동진쎄미켐 Negative photosensitive resin composition, liquid crystal display having that curing product, method of forming a pattern of liquid crystal display using the same
KR20100109442A (en) * 2009-03-30 2010-10-08 다이요 잉키 세이조 가부시키가이샤 Photosensitive resin composition, and dry film and printed wiring board using the same
KR101611836B1 (en) * 2015-01-13 2016-04-12 동우 화인켐 주식회사 Photosensitive resin comopsition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
CN107329368A (en) * 2017-07-05 2017-11-07 江苏广信感光新材料股份有限公司 A kind of solvable photosensitive composite of alkali and preparation method and application

Also Published As

Publication number Publication date
KR102656174B1 (en) 2024-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101592848B1 (en) Photosensitive resin comopsition
TWI667540B (en) Negative-type photosensitive resin composition, photo-curable pattern and image display device using the same
KR101611836B1 (en) Photosensitive resin comopsition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
TWI665524B (en) Negative-type photosensitive resin composition, photo-curable pattern and image display device using the same
KR101813911B1 (en) Negative-type photosensitive resin comopsition
KR20170018679A (en) Negative-type photosensitive resin comopsition
KR20160029339A (en) Photosensitive resin comopsition
CN107272342B (en) Negative photosensitive resin composition
KR20160091648A (en) Photosensitive resin comopsition, cured film formed from the same and image display comprising the cured film
KR102654596B1 (en) Negative-type Photosensitive Resin Composition
JP5515584B2 (en) Resist pattern coating agent and resist pattern forming method
KR101592849B1 (en) Negative-type photosensitive resin comopsition
KR20160091646A (en) Photosensitive resin comopsition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
KR20160095769A (en) Photosensitive resin comopsition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
KR102656174B1 (en) Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
KR20160020300A (en) Negative-type photosensitive resin comopsition
KR20190087173A (en) Negative-type Photosensitive Resin Composition
JP6557054B2 (en) Method for forming photocuring pattern
KR102311850B1 (en) Photosensitive resin composition and insulation pattern formed from the same
KR102330078B1 (en) Negative-type Photosensitive Resin Composition
KR102046421B1 (en) Photosensitive resin comopsition and photocurable pattern forming by the same
KR20170027005A (en) Photosensitive resin comopsition and cured pattern formed from the same
KR20150109939A (en) Photosensitive resin comopsition
KR20170107661A (en) Acrylamide Photopolymerizable Monomer and Photosensitive Resin Composition Comprising the Same
KR20180073002A (en) Negative type photosensitive resin comopsition and photocurable pattern formed from the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant