KR20200102020A - 표시 패널 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

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이재한
조정환
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Abstract

표시 장치는 복수의 데이터 라인들 및 데이터 라인들과 연결되는 복수의 패드들을 포함하는 표시 패널, 패드들과 연결되어 데이터 신호를 공급하는 출력 라인들, 및 제1 검출 전압이 공급되는 제1 검출 라인 및 제2 검출 전압이 공급되는 제2 검출 라인을 상기 출력 라인들과 선택적으로 연결시키는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부 및 제1 검출 라인과 상기 제2 검출 라인 사이에 연결되는 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인(align) 검출 회로를 포함한다.

Description

표시 패널 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 {DISPLAY PANEL DRIVING DEVICE AND DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME}
본 발명은 표시 패널 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 디스플레이 장치들이 개발되고 있다. 평판 디스플레이 장치로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display; FED), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel; PDP) 및 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED) 등이 있다.
표시 장치는 영상을 표시하는 표시 패널, 표시 패널에 신호를 공급하는 표시 패널 구동부를 포함할 수 있다. 표시 패널 구동부에 포함되는 소스 구동부는 데이터 신호를 생성할 수 있다. 소스 구동부는 집적 회로(integrated circuit; IC)로 구현되어 표시 패널의 비표시 영역에 본딩(bonding)되거나, 플렉시블 인쇄 회로 기판(flexible printed circuit board; FPCB) 등을 통해 표시 패널의 비표시 영역과 연결될 수 있다. 집적 회로가 표시 패널의 패드들과 미스얼라인(mis-align)되는 경우, 화면 이상이 발생하거나 표시 패널이 손상되는 문제점이 있다. 이에, 표시 패널과 집적 회로의 미스얼라인 여부를 검출하는 기술이 연구되고 있다.
본 발명의 일 목적은 표시 패널과 소스 구동부의 미스얼라인(mis-align)을 검출하는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 표시 패널과 소스 구동부의 미스얼라인을 검출하는 표시 패널 구동 장치를 제공하는 것이다.
그러나, 본 발명이 목적은 상술한 목적으로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 데이터 라인들 및 상기 데이터 라인들과 연결되는 복수의 패드들을 포함하는 표시 패널, 상기 패드들과 연결되어 데이터 신호를 공급하는 출력 라인들, 및 제1 검출 전압이 공급되는 제1 검출 라인 및 제2 검출 전압이 공급되는 제2 검출 라인을 상기 출력 라인들과 선택적으로 연결시키는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부 및 상기 제1 검출 라인과 상기 제2 검출 라인 사이에 연결되는 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인(align) 검출 회로를 포함할 수 있다. 상기 검출 회로는 상기 출력 라인들 중 (2n-1)번째 출력 라인과 상기 제1 검출 라인을 연결하고, 상기 출력 라인들 중 (2n)번째 출력 라인과 상기 제2 검출 라인을 연결할 수 있다. (단, n은 1이상의 자연수)
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부는 디지털 영상 데이터를 아날로그 영상 데이터로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터 및 상기 아날로그 영상 데이터에 기초하여 상기 데이터 신호를 생성하는 복수의 버퍼들을 포함하는 버퍼 회로를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 상기 출력 라인과 상기 버퍼를 연결하는 제1 스위치, 상기 제1 검출 라인에 상기 제1 검출 전압을 공급하는 제1 더미 증폭기, 상기 제2 검출 라인에 상기 제1 검출 전압보다 전압 레벨이 낮은 상기 제2 검출 전압을 공급하는 제2 더미 증폭기, 상기 제1 검출 라인과 상기 (2n-1)번째 출력 라인들을 연결하는 제2 스위치 및 상기 제2 검출 라인과 상기 (2n)번째 출력 라인들을 연결하는 제3 스위치를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 검사 공정에서 상기 제1 스위치를 턴오프시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴온시켜 상기 출력 라인들과 상기 패드들의 미스얼라인(mis-align) 여부를 검출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 상기 제1 스위치를 턴온시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴오프시켜 상기 출력 라인을 통해 상기 데이터 신호를 상기 패드들에 전달할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 기 설정된 기준 전압을 비교하는 비교기를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 더 포함하고, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 타이밍 제어부를 셧다운(shutdown) 시키는 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 검출 전압 및 상기 제2 검출 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하고, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 전압 생성부를 셧다운 시키는 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부의 일 단은 상기 표시 패널의 패드들과 연결되고, 상기 소스 구동부의 타 단은 인쇄 회로 기판(printed circuit board; PCB)과 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 검출 회로는 상기 인쇄 회로 기판에 실장될 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널 구동 장치는 데이터 신호를 공급하는 출력 라인들, 및 제1 검출 전압이 공급되는 제1 검출 라인 및 제2 검출 전압이 공급되는 제2 검출 라인을 상기 출력 라인들과 선택적으로 연결시키는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부 및 상기 제1 검출 라인과 상기 제2 검출 라인 사이에 연결되는 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인(align) 검출 회로를 포함할 수 있다. 상기 검출 회로는 상기 출력 라인들 중 (2n-1)번째 출력 라인과 상기 제1 검출 라인을 연결하고, 상기 출력 라인들 중 (2n)번째 출력 라인과 상기 제2 검출 라인을 연결할 수 있다. (단, n은 1이상의 자연수)
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부는 디지털 영상 데이터를 아날로그 영상 데이터로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터 및 상기 아날로그 영상 데이터에 기초하여 상기 데이터 신호를 생성하는 복수의 버퍼들을 포함하는 버퍼 회로를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 상기 출력 라인과 상기 버퍼를 연결하는 제1 스위치, 상기 제1 검출 라인에 상기 제1 검출 전압을 공급하는 제1 더미 증폭기, 상기 제2 검출 라인에 상기 제1 검출 전압보다 전압 레벨이 낮은 상기 제2 검출 전압을 공급하는 제2 더미 증폭기, 상기 제1 검출 라인과 상기 (2n-1)번째 출력 라인들을 연결하는 제2 스위치 및 상기 제2 검출 라인과 상기 (2n)번째 출력 라인들을 연결하는 제3 스위치를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 검사 공정에서 상기 제1 스위치를 턴오프시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴온시켜 상기 출력 라인들과 상기 패드들의 미스얼라인(mis-align) 여부를 검출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검출 회로는 상기 제1 스위치를 턴온시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴오프시켜 상기 출력 라인을 통해 상기 데이터 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 기 설정된 기준 전압을 비교하는 비교기를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 더 포함하고, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 타이밍 제어부를 셧다운(shutdown) 시키는 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 검출 전압 및 상기 제2 검출 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하고, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 전압 생성부를 셧다운 시키는 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 소스 구동부의 일 단은 상기 표시 패널의 패드들과 연결되고, 상기 소스 구동부의 타 단은 인쇄 회로 기판(printed circuit board; PCB)과 연결될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 검출 회로는 상기 인쇄 회로 기판에 실장될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 패널 구동 장치는 표시 장치의 검사 공정에서 제1 검출 라인을 통해 (2n-1)번째 출력 라인들에 제1 검출 전압을 공급하고, 제2 검출 라인을 통해 (2n)번째 출력 라인들에 제2 검출 전압을 공급하며, 제1 검출 라인과 제2 검출 라인 사이에 연결된 검출 캐패시터의 전압을 검출함으로써, 표시 패널의 패드들과 소스 구동부의 출력 라인들 간의 미스얼라인(mis-align) 여부를 검출 할 수 있다. 따라서, 표시 패널과 소스 구동부의 본딩 불량을 용이하게 검출할 수 있다. 다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2a 및 도 2b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 표시 패널 및 소스 구동부를 나타내는 도면들이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함되는 소스 구동부를 나타내는 블록도이다.
도 4는 도 3의 소스 구동부에 포함되는 검출 회로 및 얼라인 검출 회로를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 4의 얼라인 검출 회로의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6a 내지 도 6c는 도 4의 검출 회로 및 얼라인 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다. 도 2a 및 도 2b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 표시 패널 및 소스 구동부를 나타내는 도면들이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110) 및 표시 패널 구동 회로(120)를 포함할 수 있다. 표시 패널 구동 회로(120)는 타이밍 제어부(121), 전압 생성부(122), 소스 구동부(123), 얼라인 검출 회로(125) 및 스캔 구동부(126)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 복수의 데이터 라인(DL)들, 복수의 스캔 라인(SL)들 및 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 데이터 라인(DL)들은 제1 방향(D1)으로 연장하고, 제1 방향(D1)에 수직한 제2 방향(D2)으로 배열될 수 있다. 스캔 라인(SL)은 제2 방향(D2)으로 연장하고, 제1 방향(D1)으로 배열될 수 있다. 예를 들어, 제1 방향(D1)은 표시 패널(110)의 단변과 평행할 수 있고, 제2 방향(D2)은 표시 패널(110)의 장변과 평행할 수 있다. 각각의 화소(PX)들은 데이터 라인(DL)들과 스캔 라인(SL)들이 교차하는 영역에 형성될 수 있다. 각각의 화소(PX)들은 스캔 라인(SL)들을 통해 공급되는 스캔 신호(SCAN)에 응답하여 데이터 라인(DL)들을 통해 공급되는 데이터 신호(DATA)에 따라 발광할 수 있다. 일 실시예에서, 각각의 화소(PX)들은 데이터 라인(DL) 및 스캔 라인(SL)에 전기적으로 연결된 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터에 연결된 저장 캐패시터, 상기 저장 캐패시터에 연결된 구동 트랜지스터 및 구동 트랜지스터에 연결된 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 표시 패널(110)은 유기 발광 표시 패널일 수 있고, 상기 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치일 수 있다. 다른 실시예에서, 각각의 화소(PX)들은 스캔 라인(SL) 및 데이터 라인(DL)에 전기적으로 연결된 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터에 연결된 액정 캐패시터 및 저장 캐패시터를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 표시 패널(110)은 액정 표시 패널일 수 있고, 상기 표시 장치(100)는 액정 표시 장치일 수 있다.
표시 패널(110)은 표시 영역 및 비표시 영역을 포함할 수 있다. 표시 영역에는 화소(PX)들이 형성되어 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 신호(DATA)에 따라 영상을 표시할 수 있다. 비표시 영역에는 화소(PX)들을 구동하기 위한 회로부 등이 형성될 수 있다. 또한, 표시 패널(110)의 비표시 영역에는 데이터 라인(DL)들과 연결되는 복수의 패드들을 포함하는 패드부가 형성될 수 있다. 상기 패드들은 데이터 신호(DATA)를 공급하는 소스 구동부(123)와 연결될 수 있다.
타이밍 제어부(121)는 외부 장치로부터 제1 영상 데이터(IMG1) 및 제어 신호(CON)를 수신할 수 있다. 타이밍 제어부(121)는 외부 장치에서 공급되는 제1 영상 데이터(IMG1)를 제2 영상 데이터(IMG2)로 변환할 수 있다. 타이밍 제어부(121)에서 제1 영상 데이터(IMG1)의 화질을 보정하는 알고리즘을 적용하여 제1 영상 데이터(IMG1)를 제2 영상 데이터(IMG2)로 변환하고, 제2 영상 데이터(IMG2)를 소스 구동부(123)에 공급할 수 있다. 타이밍 제어부(121)는 제어 신호(CON)에 기초하여 제2 영상 데이터(IMG2)의 구동 타이밍을 제어하는 스캔 제어 신호(CTL_S) 및 데이터 제어 신호(CTL_D)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 스캔 제어 신호(CTL_S)는 수직 개시 신호 및 적어도 하나 이상의 스캔 클럭 신호를 포함하고, 데이터 제어 신호(CTL_D)는 수평 개시 신호 및 수평 동기 신호를 포함할 수 있다. 타이밍 제어부(121)는 스캔 제어 신호(CTL_S)를 스캔 구동부(126)에 공급하고, 데이터 제어 신호(CTL_D)를 소스 구동부(123)에 제공할 수 있다.
전압 생성부(122)는 외부로부터 직류 전원을 공급받아 표시 패널(110)을 동작시키는데 필요한 복수 개의 전압들을 생성할 수 있다. 예를 들어, 전압 생성부(122)는 스캔 구동부(126)에 공급되는 온-전압, 오프-전압, 및 소스 구동부(123)에 제공되는 데이터 구동 전압, 제1 검출 전압(VD1) 및 제2 검출 전압(VD2)을 생성할 수 있다. 전압 생성부(122)는 온-전압 및 오프-전압을 생성하여 스캔 구동부(126)에 공급할 수 있다. 온-전압 및 오프-전압은 스캔 라인(SL)에 인가되는 스캔 신호(SCAN)를 생성하기 위한 구동 전압일 수 있다. 전압 생성부(122)는 데이터 구동 전압을 생성하여 소스 구동부(123)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 전압 생성부(122)는 아날로그 전원 전압, 디지털 전원 전압 등을 생성하여 소스 구동부(123)에 공급할 수 있다. 아날로그 전원 전압 및 디지털 전원 전압은 데이터 라인(DL)에 인가되는 데이터 신호(DATA)를 생성하기 위한 구동 전압일 수 있다. 또한, 전압 생성부(122)는 검사 공정에서 제1 검출 전압(VD1) 및 제2 검출 전압(VD2)을 소스 구동부(123)에 공급할 수 있다. 이 때, 제2 검출 전압(VD2)의 전압 레벨은 제1 검출 전압(VD1)의 전압 레벨보다 낮을 수 있다. 제1 검출 전압(VD1) 및 제2 검출 전압(VD2)은 소스 구동부(123)와 표시 패널(110)의 미스얼라인 여부를 검출하기 위해 소스 구동부(123)의 검출 회로(123)에 제공되는 전압일 수 있다.
소스 구동부(123)는 타이밍 제어부(121)에서 공급되는 제2 영상 데이터(IMG2) 및 데이터 제어 신호(CTL_D)에 기초하여 데이터 신호(DATA)를 생성할 수 있다. 소스 구동부(123)는 디지털 영상 데이터인 제2 영상 데이터(IMG2)를 아날로그 영상 데이터로 변환하고, 아날로그 영상 데이터에 기초하여 데이터 신호(DATA)를 생성할 수 있다.
소스 구동부(123)는 집적 회로(integrated circuit; IC) 및 상기 집적 회로가 실장되는 가요성 인쇄 회로 기판을 포함하는 칩 온 필름(chip on film; COF)으로 구현될 수 있다. 또는, 소스 구동부(123)는 집적 회로로 구현되어 표시 패널(110)의 비표시 영역에 칩 온 글래스(chip on glass; COG) 방식으로 실장될 수 있다. 소스 구동부(123)는 복수의 출력 라인들을 포함할 수 있다.
도 2a를 참조하면, 출력 라인(OL)들의 일 단은 연결 패드(CPAD)들로 구현되어, 표시 패널(110)의 비표시 영역에 형성되는 패드부와 연결될 수 있다. 출력 라인(OL)들의 연결 패드(CPAD)들과 표시 패널의 패드부의 패드(PAD)들은 각각 연결될 수 있다. 도 2b에 도시된 바와 같이, 소스 구동부(123)와 표시 패널(110)의 패드(PAD)들이 미스얼라인(mis-align)되는 경우, 소스 구동부(123)의 출력 라인(OL)들 간 또는 표시 패널(110)의 패드(PAD)들 사이에 쇼트(short)가 발생할 수 있다. 이 경우, 화면 이상이 발생하거나, 표시 패널(110)이 손상되는 문제점이 있다. 본 발명의 표시 장치(100)는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부(123) 및 얼라인 검출 회로(125)를 포함함으로써, 검사 공정에서 소스 구동부(123)의 출력 라인들과 표시 패널(110)의 패드부의 미스얼라인을 검출할 수 있다.
소스 구동부(123)는 검출 회로(124)를 포함할 수 있다. 검출 회로(124)는 데이터 신호(DATA)가 공급되는 버퍼와 출력 라인들을 연결시키거나, 제1 검출 라인 및 제2 검출 라인과 출력 라인들을 연결시킬 수 있다. 검출 회로(124)는 표시 장치(100)의 구동 시 버퍼와 출력 라인들을 연결시켜 출력 라인들을 통해 표시 패널(110)의 패드부에 데이터 신호(DATA)를 공급할 수 있다. 검출 회로(124)는 검사 공정에서 제1 검출 라인 및 제2 검출 라인과 출력 라인들을 연결시켜 소스 구동부(123)의 출력 라인들과 표시 패널(110)의 패드부의 미스얼라인을 검출할 수 있다. 구체적으로, 검출 회로(124)는 제1 더미 증폭기, 제2 더미 증폭기, 제1 검출 라인 및 제2 검출 라인을 포함할 수 있다. 제1 더미 증폭기는 전압 생성부(122)에서 공급되는 제1 검출 전압(VD1)을 수신하여 제1 검출 라인에 공급할 수 있다. 제2 더미 증폭기는 전압 생성부(122)에서 공급되는 제2 검출 전압(VD2)을 수신하여 제2 검출 라인에 공급할 수 있다. 제1 검출 라인은 출력 라인들 중 일부와 연결되고, 제2 검출 라인은 출력 라인들 중 나머지 일부와 연결될 수 있다. 예를 들어, 제1 검출 라인은 (2n-1)번째 출력 라인들과 연결되고, 제2 검출 라인은 (2n)번째 출력 라인들과 연결될 수 있다. (2n-1)번째 출력 라인들은 제1 검출 라인을 통해 공급되는 제1 검출 전압(VD1)을 표시 패널(110)의 (2n-1)번째 패드들에 공급하고, (2n)번째 출력 라인들은 제2 검출 라인을 통해 공급되는 제2 검출 전압(VD2)을 표시 패널(110)의 (2n)번째 패드들에 공급할 수 있다. 다만, 소스 구동부(123)의 출력 라인들과 표시 패널(110)의 패드들이 미스얼라인 되는 경우, (2n-1)번째 패드에 제2 검출 전압(VD2)이 공급되거나, (2n)번째 패드에 제1 검출 전압(VD1)이 공급될 수 있다.
얼라인 검출 회로(125)는 검출 캐패시터 및 전압 검출 회로를 포함할 수 있다. 검출 캐패시터는 제1 검출 라인과 제2 검출 라인 사이에 연결될 수 있다. 검출 캐패시터는 제1 전극 및 제2 전극을 포함할 수 있다. 소스 구동부(123)의 출력 라인들과 표시 패널(110)의 패드들이 정상적으로 얼라인 되는 경우, 검출 캐패시터의 제1 전극과 제2 전극에는 일정한 값을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 다만, 소스 구동부(123)의 출력 라인들과 표시 패드들이 미스얼라인 되는 경우, 검출 캐패시터의 제1 전극 및 제2 전극에 인가되는 전압의 전압 레벨이 변경될 수 있다. 전압 검출 회로는 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 검출 캐패시터의 전압을 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 전압 검출 회로는 검출 캐패시터의 제1 전극과 연결되어 제1 전극의 전압을 검출할 수 있다. 다른 실시예에서, 전압 검출 회로는 검출 캐패시터의 제2 전극과 연결되어 제2 전극의 전압을 검출할 수 있다. 예를 들어, 전압 검출 회로는 비교기를 포함할 수 있다. 비교기는 검출 캐패시터의 제1 전극에 인가된 전압과 기 설정된 제1 기준 전압을 비교하거나, 검출 캐패시터의 제2 전극에 인가된 전압과 기 설정된 제2 기준 전압을 비교할 수 있다. 전압 검출 회로는 비교기의 비교 결과에 기초하여 셧다운(shutdown) 신호를 출력할 있다. 일 실시예에서, 전압 검출 회로는 검출 캐패시터의 전압이 기준 전압보다 큰 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다. 다른 실시예에서, 전압 검출 회로는 검출 캐패시터의 전압이 기준 전압보다 작은 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 전압 검출 회로는 셧다운 신호(SHUT)를 타이밍 제어부(121)를 공급하여 타이밍 제어부(121)를 셧다운시킬 수 있다. 또는, 전압 검출 회로는 셧다운 신호(SHUT)를 전압 생성부(122)에 공급하여 전압 생성부(122)를 셧다운시킬 수 있다.
스캔 구동부(126)는 화소(PX)들에 공급되는 스캔 신호(SCAN)를 생성할 수 있다. 스캔 구동부(126)는 타이밍 제어부(121)에서 공급되는 스캔 제어 신호(CTL_S)에 기초하여 스캔 신호(SCAN)를 생성하고, 표시 패널(110)에 형성되는 스캔 라인(SL)들에 순차적으로 스캔 신호(SCAN)를 공급할 수 있다. 스캔 구동부(126)는 화소(PX)들의 트랜지스터들과 함께 동시에 형성되어 ASG(Amorphous Silicon TFT Gate driver circuit) 또는OSG(Oxide Silicon TFT Gate driver circuit) 형태로 표시 패널(110)에 실장될 수 있다. 또는, 스캔 구동부(126)는 복수의 구동 칩들로 형성되어 표시 패널(110)의 비표시 영역에 칩 온 글래스 방식으로 실장될 수 있다. 또는, 스캔 구동부(126)는 복수의 구동 칩들로 형성되어 가요성 인쇄 회로 기판 상에 실장되는 칩 온 필름으로 표시 패널(110)에 연결될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 표시 장치(100)의 검사 공정에서 제1 검출 라인을 통해 (2n-1)번째 출력 라인들에 제1 검출 전압(VD1)을 공급하고, 제2 검출 라인을 통해 (2n)번째 출력 라인들에 제2 검출 전압(VD2)을 공급하는 검출 회로(124)를 포함하는 소스 구동부(123) 및 제1 검출 라인과 제2 검출 라인 사이에 연결된 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인 검출 회로(125)를 포함함으로써, 표시 패널(110)의 패드들과 소스 구동부(123)의 출력 라인들 간의 미스얼라인 여부를 검출할 수 있다. 따라서, 표시 패널(110)과 소스 구동부(123)의 본딩(bonding) 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함되는 소스 구동부를 나타내는 블록도이다. 도 4는 도 3의 소스 구동부에 포함되는 검출 회로 및 얼라인 검출 회로를 나타내는 도면이다. 도 5는 도 4의 얼라인 검출 회로에 포함되는 전압 검출 회로의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 소스 구동부(200)는 시프트 레지스터(210), 래치(220), 디지털-아날로그 컨버터(230)(digital-analog converter; DAC), 버퍼 회로(240) 및 검출 회로(250)를 포함할 수 있다.
시프트 레지스터(210)는 타이밍 제어부에서 공급되는 데이터 제어 신호(CTL_D)에 기초하여 래치(220)의 동작 타이밍을 제어할 수 있다. 데이터 제어 신호(CTL_D)는 수평 동기 신호를 포함할 수 있다. 수평 동기 신호는 소정의 주기를 갖는 신호일 수 있다. 래치(220)는 시프트 레지스터(210)의 시프트 순서에 따라 디지털 영상 데이터인 제2 영상 데이터(IMG2)를 샘플링하여 저장할 수 있다. 래치(220)는 래치 신호에 응답하여 저장한 제2 영상 데이터(IMG2)를 디지털-아날로그 컨버터(230)로 출력할 수 있다.
디지털-아날로그 컨버터(230)는 디지털 영상 데이터인 제2 영상 데이터(IMG2)를 아날로그 영상 데이터로 변환할 수 있다.
도 4를 참조하면, 버퍼 회로(240)는 복수의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))을 포함할 수 있다. 각각의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))은 아날로그 영상 데이터에 기초하여 데이터 신호(DATA)를 생성할 수 있다. (단, k는 2 이상의 자연수)각각의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))은 연산 증폭기로 구현될 수 있다. 각각의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))은 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))에 데이터 신호(DATA)를 공급할 수 있다. 예를 들어, 하나의 소스 구동부(200)는 k개의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))을 포함할 수 있다. 상기 k개의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))은 제1 스위치(SW1)를 통해 k개의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))과 각각 연결될 수 있다.
검출 회로(250)는 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k)), 제1 스위치(SW1), 제1 더미 증폭기(252), 제2 더미 증폭기(254), 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3)를 포함할 수 있다.
각각의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))의 일 단 제1 스위치(SW1)와 연결되고, 타 단은 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))와 연결될 수 있다. 소스 구동부(200)가 k개의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))을 포함하는 경우, 검출 회로(250)는 k개의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))을 포함할 수 있다. k개의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))은 표시 패널(400)의 비표시 영역에 형성된 k개의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))에 각각 연결될 수 있다.
제1 스위치(SW1)는 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))과 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))을 연결할 수 있다. 제1 스위치(SW1)는 표시 장치의 구동 시 턴온될 수 있다. 제1 스위치(SW1)가 턴온되는 경우, 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))과 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))이 연결되어 각각의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))에서 출력되는 데이터 신호(DATA)가 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))로 공급될 수 있다.
제1 더미 증폭기(252)는 제1 검출 라인(Ld1)에 제1 검출 전압(VD1)을 공급할 수 있다. 제1 더미 증폭기(252)는 전압 생성부로부터 제1 검출 전압(VD1)을 수신하여 제1 검출 라인(Ld1)에 공급할 수 있다.
제2 더미 증폭기(254)는 제2 검출 라인(Ld2)에 제2 검출 전압(VD2)을 공급할 수 있다. 제2 더미 증폭기(254)는 전압 생성부로부터 제2 검출 전압(VD2)을 수신하여 제2 검출 라인(Ld2)에 공급할 수 있다.
제2 스위치(SW2)는 제1 검출 라인(Ld1)과 (2n-1)번째 출력 라인들(OL1, OL3, ..., OL(k-1))을 연결할 수 있다. (단, n은 1이상의 자연수) 즉, 제2 스위치(SW2)는 제1 검출 라인(Ld1)과 홀수 번째 출력 라인들(OL1, OL3, ..., OL(k-1))을 연결할 수 있다. 제2 스위치(SW2)는 표시 패널(400)과 소스 구동부(200)의 본딩을 검사하는 검사 공정에서 턴온될 수 있다. 제2 스위치(SW2)가 턴온되는 경우, 제1 검출 라인(Ld1)과 (2n-1)번째 출력 라인들(OL1, OL3, ..., OL(k-1))이 연결되어 제1 검출 전압(VD1)이 공급될 수 있다.
제3 스위치(SW3)는 제2 검출 라인(Ld2)과 (2n)번째 출력 라인들(OL2, OL4, ..., OL(k))을 연결할 수 있다. 즉, 제3 스위치(SW3)는 제2 검출 라인(Ld2)과 짝수 번째 출력 라인들(OL2, OL4, ..., OL(k))을 연결할 수 있다. 제3 스위치(SW3)는 표시 패널(400)과 소스 구동부(200)의 본딩을 검사하는 검사 공정에서 턴온될 수 있다. 제3 스위치(SW3)가 턴온되는 경우, 제2 검출 라인(Ld2)과 (2n)번째 출력 라인들(OL2, OL4, ..., OL(k))이 연결되어 제2 검출 전압(VD2)이 공급될 수 있다.
소스 구동부(200)의 일 단은 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))과 연결되고, 소스 구동부(200)의 타 단은 인쇄 회로 기판(printed circuit board; PCB)과 연결될 수 있다. 소스 구동부(200)가 칩 온 필름으로 구현되는 경우, 집적 회로가 실장되는 필름의 일 단은 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))과 연결되고, 상기 필름의 타 단은 인쇄 회로 기판과 연결될 수 있다. 소스 구동부(200)가 칩 온 글래스로 구현되는 경우, 집적 회로의 일 단은 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))과 연결되고, 집적 회로의 타 단은 플렉시블 인쇄 회로 기판과 연결될 수 있다. 플렉시블 인쇄 회로 기판의 타 단은 인쇄 회로 기판과 연결될 수 있다.
얼라인 검출 회로(300)는 검출 캐패시터(Cd) 및 전압 검출 회로(320)를 포함할 수 있다.
검출 캐패시터(Cd)는 제1 검출 라인(Ld1)과 제2 검출 라인(Ld2) 사이에 연결될 수 있다. 예를 들어, 검출 캐패시터(Cd)는 제1 검출 라인(Ld1)과 연결되는 제1 전극(+) 및 제2 검출 라인(Ld2)과 연결되는 제2 전극(-)을 포함할 수 있다. 검출 캐패시터(Cd)는 제1 전극(+)에 인가되는 전압과 제2 전극(-)에 인가되는 전압의 차를 저장할 수 있다.
전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 일 단과 연결될 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+) 또는 제2 전극(-)과 연결될 수 있다. 도 5를 참조하면, 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 전압(Vcd)과 기 설정된 기준 전압(Vref)을 비교하는 비교기(Comp.)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)과 연결될 수 있다. 제1 전극(+)에는 양의 값을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 양의 값을 갖는 기준 전압(Vref)과 제1 전극(+)의 전압을 비교할 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 제1 전극(+)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 낮은 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다. 다른 실시예에서, 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제2 전극(-)과 연결될 수 있다. 제2 전극(-)에는 음의 값을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 음의 값을 갖는 기준 전압(Vref)과 제2 전극(-)의 전압을 비교할 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 제2 전극(-)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 높은 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다.
얼라인 검출 회로(300)는 소스 구동부(200)와 연결되는 인쇄 회로 기판에 실장될 수 있다. 검출 캐패시터(Cd) 및 구동 칩으로 구현되는 전압 검출 회로(320)는 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 소스 구동부(200)와 연결될 수 있다.
도 6a 내지 도 6c는 도 4의 검출 회로 및 얼라인 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면들이다.
도 6a를 참조하면, 표시 장치의 구동 시, 제1 스위치(SW1)가 턴온되고, 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3)가 턴오프될 수 있다. 제1 스위치(SW1)가 턴온되면, 버퍼 회로(240)의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 각각 연결될 수 있다. 각각의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))은 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))을 통해 표시 패널(400)의 데이터 라인과 연결된 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))에 데이터 신호(DATA)를 공급할 수 있다. 제2 스위치(SW2)가 턴오프되면, 제1 검출 라인(Ld1)과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 연결되지 않을 수 있다. 또한, 제3 스위치(SW3)가 턴오프되면, 제2 검출 라인(Ld2)과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 연결되지 않을 수 있다.
도 6b를 참조하면, 표시 패널(400)과 소스 구동부(200)의 본딩을 검사하는 검사 공정에서, 제1 스위치(SW1)가 턴오프되고, 제2 스위치(SW2) 및 제3 스위치(SW3)가 턴온될 수 있다. 제1 스위치(SW1)가 턴오프되면, 버퍼 회로(240)의 버퍼들(B1, B2, ..., B(k-1), B(k))과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 연결되지 않을 수 있다. 제2 스위치(SW2)가 턴온되면, 제1 검출 라인(Ld1)과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k)) 중 (2n-1)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 연결될 수 있다. 제1 검출 라인(Ld1)을 통해 (2n-1)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))에 제1 검출 전압(VD1)이 공급될 수 있다. 제3 스위치(SW3)가 턴온되면, 제2 검출 라인(Ld2)과 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k)) 중 (2n)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))이 연결될 수 있다. 제2 검출 라인(Ld2)을 통해 (2n)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))에 제2 검출 전압(VD2)이 공급될 수 있다.
검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)에는 제1 검출 라인(Ld1)의 전압이 인가되고, 제2 전극(-)에는 제2 검출 라인(Ld2)의 전압이 인가될 수 있다. 이 때, 제1 전극(+)에 인가되는 전압은 양의 값을 갖고, 제2 전극(-)에 인가되는 전압은 음의 값을 가질 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+) 또는 제2 전극(-)과 연결될 수 있다. 전압 검출 회로(320)가 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)과 연결되는 경우, 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)의 전압과 기 설정된 제1 기준 전압(Vref)을 비교할 수 있다. 전압 검출 회로(320)가 검출 캐패시터(Cd)의 제2 전극(-)과 연결되는 경우, 전압 검출 회로(320)는 검출 캐패시터(Cd)의 제2 전극(-)의 전압과 기 설정된 제2 기준 전압(Vref)을 비교할 수 있다. 도 5b에 도시된 바와 같이, 소스 구동부(200)의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))과 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))이 정상적으로 본딩된 경우, 전압 검출 회로(320)는 셧다운 신호(SHUT)를 출력하지 않을 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 제1 전극(+)의 전압이 제1 기준 전압(Vref)과 같거나 제1 기준 전압(Vref)보다 큰 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력하지 않을 수 있다. 전압 검출 회로(320)는 제2 전극(-)의 전압이 제2 기준 전압(Vref)과 같거나 제2 기준 전압(Vref)보다 작은 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력하지 않을 수 있다.
도 6c를 참조하면, 소스 구동부(200)의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))과 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))이 미스얼라인 되어 본딩될 수 있다. 도 5c에 도시된 바와 같이, 소스 구동부(200)의 제3 출력 라인(OL3)이 표시 패널(400)의 제2 패드(PAD2)에 본딩되는 경우, 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)에 공급되는 전압은 감소하고, 제2 전극(-)에 공급되는 전압은 증가할 수 있다. 즉, 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)과 제2 전극(-)에 인가되는 전압의 전압 레벨이 변경될 수 있다. 전압 검출 회로(320)가 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)과 연결되는 경우, 전압 검출 회로(320)는 제1 전극(+)의 전압과 제1 기준 전압(Vref)을 비교하고, 제1 전극(+)의 전압이 제1 기준 전압(Vref)보다 작은 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다. 전압 검출 회로(320)가 검출 캐패시터(Cd)의 제2 전극(-)과 연결되는 경우, 전압 검출 회로(320)는 제2 전극(-)의 전압과 제2 기준 전압(Vref)을 비교하고, 제2 전극(-)의 전압이 제2 기준 전압(Vref)보다 큰 경우, 셧다운 신호(SHUT)를 출력할 수 있다.도 6c에는 소스 구동부(200)와 표시 패널(400)의 미스얼라인에 의해 소스 구동부(200)의 출력 라인들(즉, 제2 출력 라인(OL2)과 제3 출력 라인(OL3))이 연결되어 쇼트가 발생하는 경우에 대해 설명하였으나, 소스 구동부(200)와 표시 패널(400)의 미스얼라인에 의해 표시 패널(400)의 패드들(PAD1, PAD2, ..., PAD(k-1), PAD(k))이 연결되어 쇼트가 발생할 수도 있다(도 2b 참고). 이 경우에도, 제1 검출 라인(Ld1) 및 제2 검출 라인(Ld2)에 인가되는 전압이 변경되어 검출 캐패시터(Cd)의 제1 전극(+)과 제2 전극(-)에 인가되는 전압의 전압 레벨이 변경될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 소스 구동부(200) 및 얼라인 검출 회로(300)는 표시 장치의 검사 공정에서 제1 검출 라인(Ld1)을 통해 (2n-1)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))에 제1 검출 전압(VD1)을 공급하고, 제2 검출 라인(Ld2)을 통해 (2n)번째 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k))에 제2 검출 전압(VD2)을 공급하며, 제1 검출 라인(Ld1)과 제2 검출 라인(Ld2) 사이에 연결된 검출 캐패시터(Cd)의 전압을 검출함으로써, 표시 패널(400)의 패드들과 소스 구동부(200)의 출력 라인들(OL1, OL2, ..., OL(k-1), OL(k)) 간의 미스얼라인 여부를 검출할 수 있다. 따라서, 표시 패널(400)과 소스 구동부(200)의 본딩 불량을 용이하게 검출할 수 있다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 모든 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 디지털 카메라, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 타블렛 PC, 피디에이(PDA), 피엠피(PMP), MP3 플레이어, 네비게이션, 비디오폰, 헤드 마운트 디스플레이(Head Mount Display; HMD) 장치 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 표시 장치 110, 400: 표시 패널
120: 표시 패널 구동부 121: 타이밍 제어부
122: 전압 생성부 123, 200: 소스 구동부
124, 250: 검출 회로 125, 300: 얼라인 검출 회로
126: 스캔 구동부

Claims (20)

  1. 복수의 데이터 라인들 및 상기 데이터 라인들과 연결되는 복수의 패드들을 포함하는 표시 패널;
    상기 패드들과 연결되어 데이터 신호를 공급하는 출력 라인들, 및 제1 검출 전압이 공급되는 제1 검출 라인 및 제2 검출 전압이 공급되는 제2 검출 라인을 상기 출력 라인들과 선택적으로 연결시키는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부; 및
    상기 제1 검출 라인과 상기 제2 검출 라인 사이에 연결되는 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인(align) 검출 회로를 포함하고,
    상기 검출 회로는 상기 출력 라인들 중 (2n-1)번째 출력 라인과 상기 제1 검출 라인을 연결하고, 상기 출력 라인들 중 (2n)번째 출력 라인과 상기 제2 검출 라인을 연결하는 것을 특징으로 하는 표시 장치(단, n은 1이상의 자연수).
  2. 제1 항에 있어서, 상기 소스 구동부는
    디지털 영상 데이터를 아날로그 영상 데이터로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터; 및
    상기 아날로그 영상 데이터에 기초하여 상기 데이터 신호를 생성하는 복수의 버퍼들을 포함하는 버퍼 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서, 상기 검출 회로는
    상기 출력 라인과 상기 버퍼를 연결하는 제1 스위치;
    상기 제1 검출 라인에 상기 제1 검출 전압을 공급하는 제1 더미 증폭기;
    상기 제2 검출 라인에 상기 제1 검출 전압보다 전압 레벨이 낮은 상기 제2 검출 전압을 공급하는 제2 더미 증폭기;
    상기 제1 검출 라인과 상기 (2n-1)번째 출력 라인들을 연결하는 제2 스위치; 및
    상기 제2 검출 라인과 상기 (2n)번째 출력 라인들을 연결하는 제3 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 검출 회로는 검사 공정에서 상기 제1 스위치를 턴오프시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴온시켜 상기 출력 라인들과 상기 패드들의 미스얼라인(mis-align) 여부를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제3 항에 있어서, 상기 검출 회로는 상기 제1 스위치를 턴온시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴오프시켜 상기 출력 라인을 통해 상기 데이터 신호를 상기 패드들에 전달하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 기 설정된 기준 전압을 비교하는 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 소스 구동부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 더 포함하고,
    상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 타이밍 제어부를 셧다운(shutdown) 시키는 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제6 항에 있어서,
    상기 제1 검출 전압 및 상기 제2 검출 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하고,
    상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 전압 생성부를 셧다운 시키는 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 소스 구동부의 일 단은 상기 표시 패널의 패드들과 연결되고, 상기 소스 구동부의 타 단은 인쇄 회로 기판(printed circuit board; PCB)과 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 얼라인 검출 회로는 상기 인쇄 회로 기판에 실장되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 데이터 신호를 공급하는 출력 라인들, 및 제1 검출 전압이 공급되는 제1 검출 라인 및 제2 검출 전압이 공급되는 제2 검출 라인을 상기 출력 라인들과 선택적으로 연결시키는 검출 회로를 포함하는 소스 구동부; 및
    상기 제1 검출 라인과 상기 제2 검출 라인 사이에 연결되는 검출 캐패시터 및 상기 검출 캐패시터의 일 단과 연결되어 상기 검출 캐패시터의 전압을 검출하는 전압 검출 회로를 포함하는 얼라인(align) 검출 회로를 포함하고,
    상기 검출 회로는 상기 출력 라인들 중 (2n-1)번째 출력 라인과 상기 제1 검출 라인을 연결하고, 상기 출력 라인들 중 (2n)번째 출력 라인과 상기 제2 검출 라인을 연결하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치(단, n은 1이상의 자연수).
  12. 제11 항에 있어서, 상기 소스 구동부는
    디지털 영상 데이터를 아날로그 영상 데이터로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터; 및
    상기 아날로그 영상 데이터에 기초하여 상기 데이터 신호를 생성하는 복수의 버퍼들을 포함하는 버퍼 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  13. 제11 항에 있어서, 상기 검출 회로는
    상기 출력 라인과 상기 버퍼를 연결하는 제1 스위치;
    상기 제1 검출 라인에 상기 제1 검출 전압을 공급하는 제1 더미 증폭기;
    상기 제2 검출 라인에 상기 제1 검출 전압보다 전압 레벨이 낮은 상기 제2 검출 전압을 공급하는 제2 더미 증폭기;
    상기 제1 검출 라인과 상기 (2n-1)번째 출력 라인들을 연결하는 제2 스위치; 및
    상기 제2 검출 라인과 상기 (2n)번째 출력 라인들을 연결하는 제3 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 검출 회로는 검사 공정에서 상기 제1 스위치를 턴오프시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴온시켜 상기 출력 라인들과 상기 패드들의 미스얼라인(mis-align) 여부를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  15. 제13 항에 있어서, 상기 검출 회로는 상기 제1 스위치를 턴온시키고, 상기 제2 스위치 및 상기 제3 스위치를 턴오프시켜 상기 출력 라인을 통해 상기 데이터 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  16. 제11 항에 있어서, 상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 기 설정된 기준 전압을 비교하는 비교기를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 소스 구동부를 제어하는 제어 신호를 생성하는 타이밍 제어부를 더 포함하고,
    상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 타이밍 제어부를 셧다운(shutdown) 시키는 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  18. 제16 항에 있어서,
    상기 제1 검출 전압 및 상기 제2 검출 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하고,
    상기 전압 검출 회로는 상기 검출 캐패시터의 전압과 상기 기준 전압의 비교 결과에 기초하여 상기 전압 생성부를 셧다운 시키는 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  19. 제11 항에 있어서, 상기 소스 구동부의 일 단은 상기 표시 패널의 패드들과 연결되고, 상기 소스 구동부의 타 단은 인쇄 회로 기판(printed circuit board; PCB)과 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 얼라인 검출 회로는 상기 인쇄 회로 기판에 실장되는 것을 특징으로 하는 표시 패널 구동 장치.
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