KR20200089077A - Vision inspection device and vision inspection system comprising it - Google Patents

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KR20200089077A
KR20200089077A KR1020190005715A KR20190005715A KR20200089077A KR 20200089077 A KR20200089077 A KR 20200089077A KR 1020190005715 A KR1020190005715 A KR 1020190005715A KR 20190005715 A KR20190005715 A KR 20190005715A KR 20200089077 A KR20200089077 A KR 20200089077A
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김용대
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Abstract

The present invention relates to a vision inspection apparatus inspecting an appearance of a component and a vision inspection system including the same. The vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes: a test disk having a mounting hole, in which a subject is mounted, on the outer circumferential surface; an upper camera photographing an upper surface pattern of the subject mounted in the mounting hole; a side surface camera photographing a side surface pattern of the subject mounted in the mounting hole; a pattern inspection unit comparing a pattern image photographed by the upper camera and the side surface camera with a previously stored normal pattern image, and determining a good product or a defective product; and a monitor unit visually outputting an inspection result of the pattern inspection unit.

Description

비전 검사장치 및 이를 포함하는 비전 검사시스템 {Vision inspection device and vision inspection system comprising it}Vision inspection device and vision inspection system comprising it

본 발명은 부품의 외관을 검사하는 비전 검사장치 및 이를 포함하는 비전 검사시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a vision inspection system for inspecting the appearance of parts and a vision inspection system including the same.

산업의 발달로 인하여 각종 기계의 개발과 그 수요가 많아지고 있으며, 이러한 각종 기계의 제작을 위해 다양한 구성요소를 필요로 하고, 상기 구성요소를 결합하기 위한 체결부재를 필요로 한다.Due to the development of the industry, the development of various machines and their demands are increasing, and various components are required for the production of these various machines, and a fastening member for combining the components is required.

보통 각종 기계의 구성요소를 결합하는 체결부재는 볼트와 너트, 나사, 못, 리벳, 접착제 등과 같이 다양한 체결부재가 사용되고 있다. 체결부재는 기계를 구성하는데 필요로 하기 때문에 보다 정밀해야하고, 이를 검사하는 장치 또한 정확한 검사를 해야 한다.Normally, various fastening members such as bolts and nuts, screws, nails, rivets, adhesives, etc. are used as fastening members for coupling various machine components. Since the fastening member is required to construct the machine, it must be more precise, and the device for inspecting it must also be accurately inspected.

본 발명은 이러한 체결부재의 외관을 검사하는 비전 검사시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a vision inspection system for inspecting the appearance of such a fastening member.

한국등록특허 10-1488585호Korean Registered Patent 10-1488585

본 발명은 부품의 외관을 검사하는 비전 검사장치 및 이를 포함하는 비전 검사시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a vision inspection device for inspecting the appearance of a component and a vision inspection system including the same.

본 발명의 실시예에 따른 비전 검사장치는,Vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,

외주면에 피검체가 거치되는 거치홀이 형성된 검사 디스크; 상기 거치홀에 거치된 피검체의 상면 패턴을 촬영하는 상부 카메라; 상기 거치홀에 거치된 피검체의 측면 패턴을 촬영하는 측면 카메라; 상기 상부 카메라 및 상기 측면 카메라에 의해 촬영된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 패턴 검사부; 상기 패턴 검사부의 검사 결과를 시각적으로 출력하는 모니터부를 포함한다.An inspection disk having a mounting hole through which an object is mounted on an outer circumferential surface; An upper camera photographing an upper surface pattern of a subject mounted in the mounting hole; A side camera for photographing a side pattern of the subject mounted in the mounting hole; A pattern inspection unit that compares the pattern image photographed by the upper camera and the side camera with a pre-stored normal pattern image to discriminate good or bad products; It includes a monitor for visually outputting the inspection result of the pattern inspection unit.

본 발명의 실시예에 따른 비전 검사장치에 있어서, 상기 상부 카메라는 상기 거치홀 상부에 이격 형성되고, 상기 측면 카메라는 상기 거치홀 측면에 이격 형성되는 것을 특징으로 한다.In the vision inspection apparatus according to the embodiment of the present invention, the upper camera is spaced apart from the top of the mounting hole, and the side camera is spaced apart from the side of the mounting hole.

본 발명의 실시예에 따른 비전 검사시스템은, Vision inspection system according to an embodiment of the present invention,

복수개의 피검체를 공급하는 공급호퍼; 상기 공급호퍼로부터 복수개의 피검체를 공급받으며, 복수개의 피검체를 낱개로 분리하여 공급하는 공급피더; 상기 공급피더에 의해 낱개로 분리된 피검체를 정렬하는 정렬피더; 상기 정렬피더에 의해 정렬된 피검체를 거치홀에 거치한 후, 피검체의 상면과 측면을 촬영하여 획득된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 비전 검사장치; 상기 비전 검사장치에 의해 판별된 피검체를 양품 또는 불량품으로 분류하여 배출하는 배출부를 포함한다.A supply hopper for supplying a plurality of subjects; A supply feeder receiving a plurality of test objects from the supply hopper, and supplying a plurality of test pieces separately; An alignment feeder for aligning the specimens individually separated by the supply feeder; A vision inspection device for mounting a subject aligned by the alignment feeder to a mounting hole, and comparing the pattern image obtained by photographing the top and side surfaces of the subject and a previously stored normal pattern image to discriminate good or bad products; And a discharge unit that classifies and discharges the test object determined by the vision inspection device as a good product or a bad product.

본 발명의 실시예에 따른 비전 검사시스템에 있어서, 상기 비전 검사장치는, 외주면에 피검체가 거치되는 거치홀이 형성된 검사 디스크; 상기 거치홀에 거치된 피검체의 상면 패턴을 촬영하는 상부 카메라; 상기 거치홀에 거치된 피검체의 측면 패턴을 촬영하는 측면 카메라; 상기 상부 카메라 및 상기 측면 카메라에 의해 촬영된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 패턴 검사부; 상기 패턴 검사부의 검사 결과를 시각적으로 출력하는 모니터부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the vision inspection system according to an embodiment of the present invention, the vision inspection apparatus includes: an inspection disk having a mounting hole on which an object is mounted on an outer circumferential surface; An upper camera photographing an upper surface pattern of a subject mounted in the mounting hole; A side camera for photographing a side pattern of the subject mounted in the mounting hole; A pattern inspection unit that compares the pattern image photographed by the upper camera and the side camera with a pre-stored normal pattern image to discriminate good or bad products; It characterized in that it comprises a monitor unit for visually outputting the inspection result of the pattern inspection unit.

본 발명의 실시예에 따른 비전 검사시스템에 있어서, 상기 공급피더의 내벽에는 하부에서 상부 방향으로 나선 형상의 가이드부재가 형성되고, 상기 가이드부재의 상부는 점점 폭이 작아지도록 형성되는 것을 특징으로 한다.In the vision inspection system according to an embodiment of the present invention, a guide member having a spiral shape is formed on the inner wall of the feeder from the bottom to the top, and the top of the guide member is formed to gradually decrease in width. .

기타 본 발명의 다양한 측면에 따른 구현예들의 구체적인 사항은 이하의 상세한 설명에 포함되어 있다.Other specific details of implementations according to various aspects of the present invention are included in the detailed description below.

본 발명의 실시 형태에 따르면, 부품의 외관을 자동으로 신속하고 정확하게 검사할 수 있다. According to the embodiment of the present invention, the appearance of the parts can be inspected automatically and quickly and accurately.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 도시된 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 검사하는 피검체의 상면 패턴이 도시된 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 검사하는 피검체의 측면 패턴이 도시된 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치에 의해 판별된 불량품 피검체의 상면 패턴이 예시된 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치에 의해 판별된 불량품 피검체의 측면 패턴이 예시된 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치를 포함하는 비전 검사시스템이 도시된 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사시스템의 공급피더가 도시된 평면도이다.1 is a view showing a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a pattern of the top surface of a subject inspected by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a view showing a side pattern of a subject inspected by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a diagram illustrating an upper surface pattern of a defective object determined by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a view illustrating a side pattern of a defective object determined by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
6 is a view illustrating a vision inspection system including a vision inspection device according to an embodiment of the present invention.
7 is a plan view showing a supply feeder of a vision inspection system according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예를 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The present invention can be applied to a variety of transformations and may have various embodiments, and thus, specific embodiments will be illustrated and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all conversions, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.

본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 발명에서, '포함하다' 또는 '가지다' 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 비전 검사장치 및 이를 포함하는 비전 검사시스템을 설명한다.The terms used in the present invention are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In the present invention, terms such as'include' or'have' are intended to designate the existence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, and one or more other features. It should be understood that the existence or addition possibilities of fields or numbers, steps, operations, components, parts or combinations thereof are not excluded in advance. Hereinafter, a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention and a vision inspection system including the same will be described with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 도시된 도면이다.1 is a view showing a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치(100)는, 검사 디스크(110)와, 상부 카메라(121)와, 측면 카메라(122)와, 패턴 검사부(130)와, 모니터부(140)를 포함한다.As shown in Figure 1, the vision inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, the inspection disk 110, the upper camera 121, the side camera 122, and the pattern inspection unit 130 And, it includes a monitor unit 140.

검사 디스크(110)는 원형의 판 형상으로 형성되고, 그 외주면에는 복수개의 피검체가 거치되는 복수개의 거치홀(111)이 형성된다. 여기서, 피검체는 볼트, 스크류, 못 등 상면과 측면에 일정한 패턴이 형성된 체결부재를 의미한다. The inspection disk 110 is formed in a circular plate shape, and a plurality of mounting holes 111 in which a plurality of objects are mounted is formed on the outer circumferential surface. Here, the test subject means a fastening member having a constant pattern formed on the top and side surfaces such as bolts, screws, and nails.

검사 디스크(110)는 모터(미도시)에 의해 회전되고, 거치홀(111)에 거치된 각각의 피검체는 검사 디스크(110) 회전에 따라 함께 회전하면서 상부 카메라(121) 및 측면 카메라(122)에 의해 촬영된다.The inspection disk 110 is rotated by a motor (not shown), and each subject mounted in the mounting hole 111 rotates together according to the rotation of the inspection disk 110, and thus the upper camera 121 and the side camera 122 ).

상부 카메라(121)는 검사 디스크(110)의 거치홀(111) 상부에 이격 형성되어, 거치홀(111)에 거치된 피검체의 상면 패턴을 촬영한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 검사하는 피검체의 상면 패턴이 도시된 도면이다. 도 2에서 피검체가 볼트인 경우를 예시하고 있으며, 상부 카메라(121)는 볼트의 헤드 패턴을 촬영한다. 구체적으로 상부 카메라(121)는 헤드의 외경, 헤드의 막힘 여부, 헤드와 육각 동심도, 헤드의 치수, 육각 형상 등을 촬영한다.The upper camera 121 is spaced apart from the upper portion of the mounting hole 111 of the inspection disk 110, and photographs the upper surface pattern of the subject mounted in the mounting hole 111. 2 is a view showing a pattern of the top surface of a subject inspected by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 2, a case in which the subject is a bolt is illustrated, and the upper camera 121 photographs the head pattern of the bolt. Specifically, the upper camera 121 photographs the outer diameter of the head, whether the head is blocked, the concentricity of the head and the hexagon, the dimensions of the head, and the hexagonal shape.

측면 카메라(122)는 검사 디스크(110)의 거치홀(111) 측면에 이격 형성되어, 거치홀(111)에 거치된 피검체의 측면 패턴을 촬영한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치가 검사하는 피검체의 측면 패턴이 도시된 도면이다. 도 3에서 피검체가 볼트인 경우를 예시하고 있으며, 측면 카메라(122)는 볼트의 나사부 패턴을 촬영한다. 구체적으로 측면 카메라(122)는 볼트의 전장 길이, 볼트 헤드의 높이, 나사산 피치(나사산 간의 간격), 나사부 외경, 나사 형상 등을 촬영한다.The side camera 122 is spaced apart from the side of the mounting hole 111 of the inspection disk 110 to photograph a side pattern of the subject mounted in the mounting hole 111. 3 is a view showing a side pattern of a subject inspected by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 3 illustrates a case in which the subject is a bolt, and the side camera 122 photographs a screw pattern of the bolt. Specifically, the side camera 122 photographs the length of the bolt, the height of the bolt head, the thread pitch (the gap between the threads), the outer diameter of the thread, the shape of the screw, and the like.

패턴 검사부(130)는 상부 카메라(121)와 측면 카메라(122)에 의해 촬영된 패턴 이미지(상면 패턴과 측면 패턴)와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 피검체 외관이 정상품(양품)인지 또는 피검체 외관이 훼손되거나 치수가 맞지 않는 지(불량품) 여부를 판별한다.The pattern inspection unit 130 compares the pattern image (top pattern and side pattern) photographed by the upper camera 121 and the side camera 122 with a normal pattern image that has been previously stored, or whether the appearance of the subject is a regular product (good product) or It is judged whether the subject's appearance is damaged or the dimensions are not correct (defective product).

모니터부(140)는 패턴 검사부(130)의 검사 결과를 시각적으로 출력한다. 모니터부(140)는 상부 카메라(121)에 의해 촬영된 패턴 이미지(상면 패턴)와 측면 카메라(122)에 의해 촬영된 패턴 이미지(측면 패턴), 그리고 기저장된 정상패턴 이미지를 하나의 화면에 동시에 출력하여, 작업자가 패턴 검사부(130)의 검사 과정을 확인할 수 있도록 한다. 모니터부(140)는 검사 결과를 “양품” 또는 “불량품”으로 표시하여 작업자로 하여금 현재 진행중인 피검체의 검사 결과를 실시간으로 확인할 수 있도록 한다.The monitor unit 140 visually outputs the inspection result of the pattern inspection unit 130. The monitor unit 140 simultaneously displays the pattern image (top pattern) photographed by the upper camera 121, the pattern image (side pattern) photographed by the side camera 122, and the previously stored normal pattern image on one screen. Output, so that the operator can check the inspection process of the pattern inspection unit 130. The monitor unit 140 displays the inspection result as “good” or “defective” so that the operator can check in real time the inspection result of the currently inspected subject.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치에 의해 판별된 불량품 피검체의 상면 패턴이 예시된 도면이다. 도 4에서 점선으로 도시된 부분(A1, A2, A3)의 외관은 정상 패턴과 상이하여, 패턴 검사부(130)는 이들 피검체에 대해 불량품으로 판정하였다.4 is a diagram illustrating an upper surface pattern of a defective object determined by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. The appearances of the portions A1, A2, and A3 shown in dashed lines in FIG. 4 are different from the normal patterns, and the pattern inspection unit 130 determined that these objects were defective.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치에 의해 판별된 불량품 피검체의 측면 패턴이 예시된 도면이다. 도 5에서 사각형 영역(B)의 외관은 정상 패턴과 상이하여, 패턴 검사부(130)는 이들 피검체에 대해 불량품으로 판정하였다.5 is a view illustrating a side pattern of a defective object determined by a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 5, the appearance of the rectangular area B is different from the normal pattern, and the pattern inspection unit 130 determines that these objects are defective.

다음으로, 도 6을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사시스템을 설명한다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치를 포함하는 비전 검사시스템이 도시된 도면이다.Next, a vision inspection system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 6. 6 is a view illustrating a vision inspection system including a vision inspection device according to an embodiment of the present invention.

도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사장치를 포함하는 비전 검사시스템은, 비전 검사장치(100)와, 공급호퍼(200)와, 공급피더(300)와, 정렬피더(400)와, 배출부(500)를 포함한다.As shown in Figure 6, the vision inspection system including a vision inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the vision inspection apparatus 100, the supply hopper 200, the supply feeder 300, alignment It includes a feeder 400, and a discharge unit 500.

비전 검사장치(100)는 검사 디스크(110)와, 상부 카메라(121)와, 측면 카메라(122)와, 패턴 검사부(130)와, 모니터부(140)를 포함하며, 이는 전술한 바와 같으므로, 반복 설명은 생략한다.The vision inspection apparatus 100 includes an inspection disk 110, an upper camera 121, a side camera 122, a pattern inspection unit 130, and a monitor unit 140, as described above. , Repeat description is omitted.

공급호퍼(200)는 검사 대상체인 복수개의 피검체를 수용하고 있으며, 비전 검사시스템 작동 개시시에, 공급피더(300)로 피검체를 공급한다.The supply hopper 200 accommodates a plurality of objects to be inspected, and supplies the objects to the supply feeder 300 when the vision inspection system starts operating.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사시스템의 공급피더가 도시된 평면도이다. 공급피더(300)는 공급호퍼(200)로부터 공급된 피검체를 정렬피더(400)로 공급한다. 공급피더(300)는 하부가 막혀있고 상부가 오픈되도록 형성되며, 공급피더(300)의 내벽에는 하부에서 상부 방향으로 나선 형상의 가이드부재(310)가 형성된다. 공급피더(300)는 회전모터(미도시)에 의해 일방향으로 회전되면서, 복수개의 피검체를 낱개로 분리한다. 공급호퍼(200)에서 공급된 피검체는 공급피더(300) 하부에 모여 있다가 나선 형상의 가이드부재(310)를 따라 상부로 이동한다. 가이드부재(310)의 상부는 진행 방향을 따라 점점 폭이 작아지도록 형성된다. 폭이 작아짐에 따라 일부 피검체는 공급피더(300) 하부로 낙하하여 모이게 되고, 나머지 피검체는 가이드부재(310)의 끝단에서 낱개로 분리되게 된다. 이와 같은 방식으로 복수개의 수많은 피검체가 군집을 이루어 가이드부재(310)를 따라 공급피더(300) 하부에서 상부로 이동되는 중에, 가이드부재(310)의 상부가 폭이 작아짐에 따라 대부분의 피검체는 다시 공급피더(300) 하부로 모이고, 낙하하지 않은 피검체는 낱개로 분리되게 된다.7 is a plan view showing a supply feeder of a vision inspection system according to an embodiment of the present invention. The supply feeder 300 supplies the subject supplied from the supply hopper 200 to the alignment feeder 400. The supply feeder 300 is formed such that the lower part is blocked and the upper part is opened, and a guide member 310 having a spiral shape from the lower part to the upper direction is formed on the inner wall of the supply feeder 300. The supply feeder 300 is rotated in one direction by a rotating motor (not shown), and separates a plurality of subjects. The test object supplied from the supply hopper 200 is gathered under the supply feeder 300 and then moves upward along the helical guide member 310. The upper portion of the guide member 310 is formed to gradually decrease in width along the traveling direction. As the width decreases, some of the objects are collected by falling to the lower portion of the feeder 300, and the remaining objects are separated one by one from the end of the guide member 310. In this way, while a plurality of subjects are clustered and moved from the lower portion of the supply feeder 300 along the guide member 310 to the upper portion, the upper portion of the guide member 310 decreases in width. Is again gathered to the lower portion of the feeder 300, and the specimens that are not dropped are separated individually.

낱개로 분리된 피검체는 정렬피더(400)로 공급된다. 정렬피터(400)는 피검체의 헤드가 위로 향하도록 피검체를 수직 방향으로 세우면서 비전 검사장치(100)의 검사 디스크(110)로 공급한다. 정렬피터(400)는 회전하는 검사 디스크(110)의 거치홀(111)로 피검체가 하나씩 끼워지도록 한다.The specimens individually separated are supplied to the alignment feeder 400. The alignment Peter 400 supplies the inspection object 110 to the inspection disk 110 of the vision inspection apparatus 100 while standing the object in a vertical direction so that the head of the object faces upward. The alignment Peter 400 allows the test objects to be fitted one by one into the mounting holes 111 of the rotating inspection disk 110.

검사 디스크(110)가 회전하면서 피검체는 상부 카메라(121)와 측면 카메라(122)에 의해 촬영되고, 패턴 검사부(130)에 의해 판별이 완료된 피검체는 거치홀(111)로부터 분리되어 배출부(500)에 모이게 된다. 이때, 양품은 양품끼리, 불량품은 불량품끼리 모이도록 분리된다.As the inspection disk 110 rotates, the subject is photographed by the upper camera 121 and the side camera 122, and the subject, which has been discriminated by the pattern inspection unit 130, is separated from the mounting hole 111 and discharged. (500). At this time, good products are separated so that good products are collected, and defective products are collected.

이상, 본 발명의 일 실시예에 대하여 설명하였으나, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서, 구성 요소의 부가, 변경, 삭제 또는 추가 등에 의해 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있을 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위 내에 포함된다고 할 것이다.As described above, one embodiment of the present invention has been described, but those skilled in the art can add, change, delete, or add components within the scope of the present invention as described in the claims. It will be said that the present invention can be variously modified and changed by the like, and this is also included within the scope of the present invention.

100 : 비전 검사장치 110 : 검사 디스크
121 : 상부 카메라 122 : 측면 카메라
130 : 패턴 검사부 140 : 모니터부
200 : 공급호퍼 300 : 공급피더
400 : 정렬피더 500 : 배출부100: vision inspection device 110: inspection disc
121: upper camera 122: side camera
130: pattern inspection unit 140: monitor unit
200: Supply hopper 300: Supply feeder
400: alignment feeder 500: outlet

Claims (5)

외주면에 피검체가 거치되는 거치홀이 형성된 검사 디스크;
상기 거치홀에 거치된 피검체의 상면 패턴을 촬영하는 상부 카메라;
상기 거치홀에 거치된 피검체의 측면 패턴을 촬영하는 측면 카메라;
상기 상부 카메라 및 상기 측면 카메라에 의해 촬영된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 패턴 검사부;
상기 패턴 검사부의 검사 결과를 시각적으로 출력하는 모니터부
를 포함하는 비전 검사장치.
An inspection disk having a mounting hole through which an object is mounted on an outer circumferential surface;
An upper camera photographing an upper surface pattern of a subject mounted in the mounting hole;
A side camera for photographing a side pattern of the subject mounted in the mounting hole;
A pattern inspection unit that compares the pattern image photographed by the upper camera and the side camera with a pre-stored normal pattern image to determine a good or bad product;
Monitor unit to visually output the inspection result of the pattern inspection unit
Vision inspection device comprising a.
청구항 1에 있어서,
상기 상부 카메라는 상기 거치홀 상부에 이격 형성되고, 상기 측면 카메라는 상기 거치홀 측면에 이격 형성되는 것을 특징으로 하는 비전 검사장치.
The method according to claim 1,
The upper camera is spaced apart from the top of the mounting hole, the side camera is a vision inspection device, characterized in that spaced apart from the side of the mounting hole.
복수개의 피검체를 공급하는 공급호퍼;
상기 공급호퍼로부터 복수개의 피검체를 공급받으며, 복수개의 피검체를 낱개로 분리하여 공급하는 공급피더;
상기 공급피더에 의해 낱개로 분리된 피검체를 정렬하는 정렬피더;
상기 정렬피더에 의해 정렬된 피검체를 거치홀에 거치한 후, 피검체의 상면과 측면을 촬영하여 획득된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 비전 검사장치;
상기 비전 검사장치에 의해 판별된 피검체를 양품 또는 불량품으로 분류하여 배출하는 배출부
를 포함하는 비전 검사시스템.
A supply hopper for supplying a plurality of subjects;
A supply feeder receiving a plurality of test objects from the supply hopper, and supplying a plurality of test pieces separately;
An alignment feeder for aligning the specimens individually separated by the supply feeder;
A vision inspection device for mounting a subject aligned by the alignment feeder to a mounting hole, and comparing the pattern image obtained by photographing the top and side surfaces of the subject and a previously stored normal pattern image to discriminate good or bad products;
A discharge unit that classifies and discharges the subject determined by the vision inspection device as a good or bad product
Vision inspection system comprising a.
청구항 3에 있어서, 상기 비전 검사장치는,
외주면에 피검체가 거치되는 거치홀이 형성된 검사 디스크;
상기 거치홀에 거치된 피검체의 상면 패턴을 촬영하는 상부 카메라;
상기 거치홀에 거치된 피검체의 측면 패턴을 촬영하는 측면 카메라;
상기 상부 카메라 및 상기 측면 카메라에 의해 촬영된 패턴 이미지와 기저장된 정상패턴 이미지를 비교하여 양품 또는 불량품을 판별하는 패턴 검사부;
상기 패턴 검사부의 검사 결과를 시각적으로 출력하는 모니터부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사시스템.
The method according to claim 3, The vision inspection device,
An inspection disk having a mounting hole through which an object is mounted on an outer circumferential surface;
An upper camera photographing an upper surface pattern of a subject mounted in the mounting hole;
A side camera for photographing a side pattern of the subject mounted in the mounting hole;
A pattern inspection unit that compares the pattern image photographed by the upper camera and the side camera with a pre-stored normal pattern image to determine a good or bad product;
Monitor unit to visually output the inspection result of the pattern inspection unit
Vision inspection system comprising a.
청구항 3에 있어서,
상기 공급피더의 내벽에는 하부에서 상부 방향으로 나선 형상의 가이드부재가 형성되고, 상기 가이드부재의 상부는 점점 폭이 작아지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 비전 검사시스템.The method according to claim 3,
A vision inspection system characterized in that a guide member having a spiral shape is formed on the inner wall of the supply feeder from the bottom to the top, and the top of the guide member is formed to gradually decrease in width.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20220056094A (en) * 2020-10-27 2022-05-04 주식회사 중원산업 Pipe bolt inspection device with position alignment
KR20230126861A (en) 2022-02-24 2023-08-31 (주)아이피에스오토 bolt inspection device using AI vision recognition

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KR101488585B1 (en) 2013-02-27 2015-02-02 권지훈 Fastener products using the camera selector

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