KR20200054911A - Infrared absorbing glass plate and manufacturing method thereof, and solid-state imaging element device - Google Patents

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KR20200054911A
KR20200054911A KR1020197031985A KR20197031985A KR20200054911A KR 20200054911 A KR20200054911 A KR 20200054911A KR 1020197031985 A KR1020197031985 A KR 1020197031985A KR 20197031985 A KR20197031985 A KR 20197031985A KR 20200054911 A KR20200054911 A KR 20200054911A
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absorbing glass
infrared
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유타 나가노
테츠야 무라타
히로아키 나카호리
타케시 이누이
요시히사 타카야마
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니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤
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Abstract

고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모하는 것을 가능하게 하는 적외선 흡수 유리판을 제공한다. 서로 대향하고 있는 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)과, 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)을 연결하는 측면(1c)을 갖는 적외선 흡수 유리판(1)으로서, 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%, 및 음이온%로, F- 10∼90%, O2- 10∼90%를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있고, 두께가 0.2㎜ 이하이며, 측면(1c)에 마이크로크랙이 존재하고 있지 않은 적외선 흡수 유리판(1).An infrared absorbing glass plate that enables miniaturization of a solid-state imaging element device is provided. An infrared absorbing glass plate (1) having first and second main surfaces (1a, 1b) facing each other and side surfaces (1c) connecting the first and second main surfaces (1a, 1b), in% cation. , P 5+ 10 to 70%, Al 3+ 7 to 50%, Cu 2+ 0.1 to 15%, and anionic%, containing F - 10 to 90% and O 2 to 10 to 90% An infrared absorbing glass plate 1 made of glass, having a thickness of 0.2 mm or less, and having no micro-cracks on the side surfaces 1c.

Description

적외선 흡수 유리판 및 그 제조 방법, 및 고체 촬상 소자 디바이스Infrared absorbing glass plate and manufacturing method thereof, and solid-state imaging element device

본 발명은 적외선 흡수 유리판 및 그 제조 방법, 및 상기 적외선 흡수 유리판을 사용한 고체 촬상 소자 디바이스에 관한 것이다.The present invention relates to an infrared absorbing glass plate, a method for manufacturing the same, and a solid-state imaging element device using the infrared absorbing glass plate.

디지털 카메라나 스마트폰의 카메라 등에 있어서는, CCD나 CMOS 등의 고체 촬상 디바이스가 사용되고 있다. 이들 고체 촬상 소자 디바이스는 광범위한 수광 감도를 갖고 있으므로, 인간의 시감에 맞추기 위해서 적외역의 광을 제거할 필요가 있다. 하기의 특허문헌 1에서는, 적외역의 광을 제거하기 위한 근적외선 차단필터로서, 불소인산염계 유리로 이루어지는 적외선 흡수 유리판이 개시되어 있다. 특허문헌 1에서는, 물리 연마에 의해 유리판의 두께가 얇게 되어 있다.In digital cameras and smartphone cameras, solid-state imaging devices such as CCDs and CMOSs are used. Since these solid-state imaging element devices have a wide range of light-receiving sensitivities, it is necessary to remove the infrared light in order to meet human vision. In the following patent document 1, an infrared absorbing glass plate made of a fluorine phosphate-based glass is disclosed as a near-infrared cut filter for removing light in the infrared region. In Patent Document 1, the thickness of the glass plate is reduced by physical polishing.

일본 특허공개 2007-99604호 공보Japanese Patent Publication 2007-99604

최근, 고체 촬상 소자 디바이스에 있어서는 보다 한층의 소형화가 요구되고 있다. 그 때문에, 고체 촬상 소자 디바이스를 구성하는 적외선 흡수 유리판에 있어서도 보다 한층의 박형화가 요구되고 있다. 그러나, 특허문헌 1과 같이 물리 연마에 의해 얇게 하는 방법에서는, 유리판의 두께를 지나치게 얇게 하면 유리판에 균열이 생길 경우가 있었다. 그 때문에, 유리판을 충분하게 얇게 할 수 없어 고체 촬상 소자 디바이스를 충분하게 소형화할 수 없을 경우가 있었다.In recent years, further reduction in size is required in the solid-state imaging element device. Therefore, further reduction in thickness is also required in the infrared absorbing glass plate constituting the solid-state imaging element device. However, in the method of thinning by physical polishing as in Patent Document 1, when the thickness of the glass plate is made too thin, cracks may occur in the glass plate. Therefore, there are cases in which the glass plate cannot be sufficiently thinned, so that the solid-state imaging element device cannot be sufficiently downsized.

본 발명의 목적은 고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모하는 것을 가능하게 하는, 적외선 흡수 유리판 및 상기 적외선 흡수 유리판의 제조 방법, 및 고체 촬상 소자 디바이스를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is to provide an infrared absorbing glass plate, a method for manufacturing the infrared absorbing glass plate, and a solid-state imaging element device, which makes it possible to achieve miniaturization of the solid-state imaging element device.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은 서로 대향하고 있는 제1 및 제2의 주면과, 상기 제1 및 제2의 주면을 연결하는 측면을 갖는 적외선 흡수 유리판으로서, 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%, 및 음이온%로, F- 10∼90%, O2- 10∼90%를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있고, 두께가 0.2㎜ 이하이며, 상기 측면에 마이크로크랙이 존재하고 있지 않은 것을 특징으로 하고 있다.The infrared absorbing glass plate according to the present invention is an infrared absorbing glass plate having first and second main surfaces facing each other and side surfaces connecting the first and second main surfaces, in% cation, P 5+ 10-70 %, Al 3+ 7~50%, with Cu 2+ 0.1~15%, and anionic%, F - 10-90%, O 2-, and is composed of a fluorine-phosphate-based glass containing 10-90%, It has a thickness of 0.2 mm or less, and is characterized in that no micro-cracks are present on the side surfaces.

물리 연마에 의해 적외선 흡수 유리판의 두께를 얇게 하는 종래의 방법에 있어서는, 0.2㎜ 이하까지 유리판의 두께를 얇게 할 목적으로 캐리어의 두께를 얇게 하면, 캐리어에 균열이 생길 경우가 있었다. 또한, 유리판의 두께를 얇게 할 수 있었을 경우에 있어서도, 캐리어로부터 꺼낼 때에 유리판에 균열이 생기고 있었다. 또한, 면적이 큰 유리판을 제작해도 절단시에 균열이 생기고 있었다.In the conventional method of thinning the thickness of the infrared absorbing glass plate by physical polishing, when the thickness of the carrier is made thin to reduce the thickness of the glass plate to 0.2 mm or less, cracks may occur in the carrier. In addition, even when the thickness of the glass plate could be reduced, cracks were formed in the glass plate when taken out from the carrier. In addition, even when a glass plate having a large area was produced, cracks were formed at the time of cutting.

이것에 대하여, 본 발명자들은 물리 연마됨으로써 어느 정도 두께를 얇게 한 불소인산염계의 유리 모재를 알칼리 세제에 침지시키면, 두께가 0.2㎜ 이하이며, 또한 균열이 생기기 어려운 유리판이 얻어지는 것을 찾아냈다. 이 이유에 대해서는, 이하와 같이 생각된다.On the other hand, the present inventors have found that a glass plate having a thickness of 0.2 mm or less and hardly cracking is obtained when the glass base material of a fluorine phosphate-based glass base material which has been thinned to some extent by physical polishing is immersed in an alkali detergent. About this reason, it thinks as follows.

불소인산염계의 유리는 일반적으로 내알칼리성이 높지만, 본 발명에 있어서의 불소인산염계 유리는 내알칼리성을 저하시키는 Al3+를 7양이온% 이상 함유시키고 있기 때문에 내알칼리성이 낮다. 그 때문에, 알칼리 세제에 의한 에칭 공정에 있어서 유리 모재의 마이크로크랙이 녹아서, 얻어진 적외선 흡수 유리판의 측면에 있어서 마이크로크랙이 존재하지 않게 되는 것으로 생각된다. 마이크로크랙이 없어짐으로써 적외선 흡수 유리판의 균열의 기점이 없어지므로, 적외선 흡수 유리판의 강도가 높아져 두께가 얇어도 깨지기 어려워지는 것으로 생각된다.Although fluorine phosphate-based glass generally has high alkali resistance, the fluorine phosphate-based glass in the present invention has low alkali resistance because it contains at least 7 c% of Al 3+ which lowers alkali resistance. For this reason, it is considered that the microcracks of the glass base material are melted in the etching step with an alkaline detergent, and that no microcracks exist on the side surfaces of the obtained infrared absorbing glass plate. It is considered that the disappearance of the cracks in the infrared absorbing glass plate is eliminated by the disappearance of the micro-cracks, so that the strength of the infrared absorbing glass plate is increased, so that it is difficult to break even if the thickness is thin.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은, 바람직하게는 상기 제1 및 제2의 주면에 연마 자국이 존재하고 있지 않다.In the infrared absorbing glass plate according to the present invention, there are preferably no polishing marks on the first and second main surfaces.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은, 바람직하게는 상기 제1 및 제2의 주면의 면적이 100㎟ 이상, 25000㎟ 이하이다.In the infrared absorbing glass plate according to the present invention, preferably, the areas of the first and second main surfaces are 100 mm2 or more and 25000 mm2 or less.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은, 바람직하게는 지점간 거리 2.5㎜에 있어서의 3점 굽힘강도가 35N/㎟ 이상이다.The infrared absorbing glass plate according to the present invention preferably has a three-point bending strength of 35 N / mm 2 or more at a point-to-point distance of 2.5 mm.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은, 바람직하게는 상기 제1 및 제2의 주면의 면적이 1㎟ 이상, 1000㎟ 미만이다.In the infrared absorbing glass plate according to the present invention, preferably, the areas of the first and second main surfaces are 1 mm2 or more and less than 1000 mm2.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판은, 바람직하게는 고체 촬상 소자 디바이스에 사용된다.The infrared absorbing glass plate according to the present invention is preferably used for a solid-state imaging element device.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판의 어레이는, 지지체와, 상기 지지체 상에 매트릭스 형상으로 배치된 상기 본 발명의 복수의 적외선 흡수 유리판을 구비한다.The array of infrared absorbing glass plates according to the present invention includes a support and a plurality of infrared absorbing glass plates of the present invention arranged in a matrix shape on the support.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판의 제조 방법은, 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%, 및, 음이온%로, F- 10∼90%, O2- 10∼90%를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있는 판 형상의 유리 모재를 물리 연마하는 연마 공정과, 상기 물리 연마된 유리 모재를 알칼리 세제에 침지시킴으로써 에칭하는 에칭 공정을 구비한다.The method for producing an infrared absorbing glass plate according to the present invention is, as a cation%, P 5+ 10-70%, Al 3+ 7-50%, Cu 2+ 0.1-15%, and anion%, F - 10- 90%, O 2- 10~90 polishing physical polishing fluorine phosphate-based base material of the plate-like which is composed of a glass containing a% step of etching for etching by dipping the physical grinding the glass base material in an alkaline detergent Provide a process.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판의 제조 방법은, 바람직하게는 상기 연마 공정에 있어서 상기 물리 연마에 의해 상기 유리 모재의 두께를 0.2㎜ 초과, 0.3㎜ 이하로 한다.The method for manufacturing an infrared absorbing glass plate according to the present invention preferably has a thickness of the glass base material of more than 0.2 mm and 0.3 mm or less by the physical polishing in the polishing step.

본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판의 제조 방법은, 바람직하게는 상기 에칭 공정에 있어서 상기 물리 연마된 유리 모재를, pH가 7.1 이상인 알칼리 세제에 침지시킴으로써 에칭한다.The method for producing an infrared absorbing glass plate according to the present invention is preferably etched by immersing the physically polished glass base material in an alkaline detergent having a pH of 7.1 or higher in the etching step.

상기 알칼리 세제는 아미노폴리카르복실산의 알칼리염을 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable that the said alkali detergent contains the alkali salt of amino polycarboxylic acid.

본 발명에 따른 고체 촬상 소자 디바이스는, 본 발명에 따라서 구성되는 적외선 흡수 유리판을 구비한다.The solid-state imaging element device according to the present invention includes an infrared absorbing glass plate constructed in accordance with the present invention.

본 발명에 의하면, 고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모하는 것을 가능하게 하는, 적외선 흡수 유리판을 제공할 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the infrared absorption glass plate which can attain size reduction of a solid-state imaging element device can be provided.

도 1은 본 발명의 적외선 흡수 유리판을 나타내는 모식적 사시도이다.
도 2는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 변형예를 나타내는 모식적 단면도이다.
도 3은 본 발명의 적외선 흡수 유리판을 사용한 고체 촬상 소자 디바이스를 나타내는 모식적 단면도이다.
도 4는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적 단면도이다.
도 5는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적 평면도이다.
도 6은 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이를 나타내는 모식적 평면도이다.
1 is a schematic perspective view showing an infrared absorbing glass plate of the present invention.
2 is a schematic cross-sectional view showing a modification of the infrared absorbing glass plate of the present invention.
3 is a schematic cross-sectional view showing a solid-state imaging element device using the infrared absorbing glass plate of the present invention.
4 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the array of infrared absorbing glass plates of the present invention.
5 is a schematic plan view for explaining the manufacturing process of the array of infrared absorbing glass plates of the present invention.
6 is a schematic plan view showing an array of infrared absorbing glass plates of the present invention.

이하, 바람직한 실시형태에 대하여 설명한다. 단, 이하의 실시형태는 단순한 예시이며, 본 발명은 이하의 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 또한, 각 도면에 있어서 실질적으로 동일한 기능을 갖는 부재는 동일한 부호로 참조할 경우가 있다.Hereinafter, a preferred embodiment is described. However, the following embodiments are merely examples, and the present invention is not limited to the following embodiments. In addition, in each figure, the member which has substantially the same function may be referred with the same code | symbol.

(적외선 흡수 유리판)(Infrared absorption glass plate)

도 1은 본 발명의 적외선 흡수 유리판을 나타내는 모식적 사시도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 적외선 흡수 유리판(1)은 평면형상이 직사각형이다. 적외선 흡수 유리판(1)의 코너부는 모따기되어 있어도 된다.1 is a schematic perspective view showing an infrared absorbing glass plate of the present invention. As shown in Fig. 1, the infrared absorbing glass plate 1 has a rectangular planar shape. The corner portion of the infrared absorbing glass plate 1 may be chamfered.

적외선 흡수 유리판(1)은 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)과, 측면(1c)을 갖는다. 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)은 서로 대향하고 있다. 적외선 흡수 유리판(1)에 있어서 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)은 어느 것이나 광학면이다. 측면(1c)은 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)을 연결하고 있다.The infrared absorbing glass plate 1 has first and second main surfaces 1a, 1b and side surfaces 1c. The first and second main surfaces 1a and 1b face each other. In the infrared absorbing glass plate 1, both the first and second main surfaces 1a and 1b are optical surfaces. The side surfaces 1c connect the first and second main surfaces 1a and 1b.

적외선 흡수 유리판(1)은 CuO를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있다. 그 때문에, 적외선 흡수 유리판(1)은 적외선 흡수 기능이 우수하다.The infrared absorbing glass plate 1 is made of fluorine phosphate-based glass containing CuO. Therefore, the infrared absorption glass plate 1 is excellent in infrared absorption function.

적외선 흡수 유리판(1)의 두께는 0.2㎜ 이하이다. 바람직하게는 0.19㎜ 이하이며, 보다 바람직하게는 0.16㎜ 이하이다. 적외선 흡수 유리판(1)은 두께가 0.2㎜ 이하로 얇으므로, 고체 촬상 소자 디바이스에 사용했을 때에 고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모할 수 있다. 또, 두께가 지나치게 얇으면 반송 공정에서 적외선 흡수 유리판(1)을 들어올릴 때에 균열이 생기기 쉬워질 경우가 있기 때문에, 두께는 0.05㎜ 이상인 것이 바람직하고, 0.08㎜ 이상인 것이 보다 바람직하다.The thickness of the infrared absorbing glass plate 1 is 0.2 mm or less. It is preferably 0.19 mm or less, and more preferably 0.16 mm or less. Since the infrared absorbing glass plate 1 has a thickness of 0.2 mm or less, it is possible to reduce the size of the solid-state imaging element device when used in the solid-state imaging element device. Moreover, since a thickness may become easy to generate | occur | produce when the infrared absorption glass plate 1 is lifted in a conveyance process when thickness is too thin, it is preferable that thickness is 0.05 mm or more, and it is more preferable that it is 0.08 mm or more.

이와 같이, 적외선 흡수 유리판(1)은 적외선 흡수 기능이 뛰어나고, 또한 고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모할 수 있으므로, 고체 촬상 소자 디바이스에 적합하게 사용할 수 있다.In this way, the infrared absorbing glass plate 1 is excellent in infrared absorption function, and can be used in a solid-state imaging element device as it is possible to reduce the size of the solid-state imaging element device.

일반적으로, 불소인산염계 유리는 강도가 낮아 얇게 하면 균열되기 쉬워지지만, 본 발명에 있어서는 적외선 흡수 유리판(1)의 측면(1c)에 마이크로크랙이 존재하고 있지 않기 때문에, 두께를 0.2㎜ 이하로 해도 균열이 생기기 어렵다. 마이크로크랙이란 길이가 1∼15㎛인 크랙을 말한다. 마이크로크랙은 적외선 흡수 유리판(1)을 구부렸을 때에 균열의 기점이 되는 경우가 있다. 특히, 측면(1c)에 마이크로크랙이 존재할 경우, 균열의 기점이 되기 쉽다. 그 때문에, 측면(1c)에 마이크로크랙이 존재하고 있지 않을 경우, 적외선 흡수 유리판(1)의 균열을 발생시키기 어렵게 할 수 있다. 또, 마이크로크랙의 유무는 광학현미경에 의해 확인할 수 있다.In general, the fluorine phosphate-based glass has low strength and is easy to crack when thinned, but in the present invention, since microcracks are not present on the side surface 1c of the infrared absorbing glass plate 1, even if the thickness is 0.2 mm or less, It is difficult to crack. Micro crack refers to a crack having a length of 1 to 15 μm. The microcracks sometimes become the starting point of cracks when the infrared absorbing glass plate 1 is bent. In particular, when microcracks are present on the side surfaces 1c, it is likely to be a starting point for cracks. Therefore, when there is no micro-cracks on the side surfaces 1c, it is possible to make it difficult to generate cracks in the infrared absorbing glass plate 1. In addition, the presence or absence of microcracks can be confirmed by an optical microscope.

또한, 측면(1c) 뿐만 아니라, 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)에 마이크로크랙이 존재하고 있을 경우도 균열의 기점이 될 경우가 있다. 따라서, 적외선 흡수 유리판(1)의 균열을 더 한층 발생시키기 어렵게 하는 관점으로부터, 측면(1c)에 추가해서 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)에 있어서도 마이크로크랙이 존재하고 있지 않은 것이 보다 바람직하다.In addition, there may be cases where microcracks are present in the first and second main surfaces 1a and 1b as well as the side surfaces 1c. Therefore, from the viewpoint of making it difficult to further generate cracks in the infrared absorbing glass plate 1, it is more preferable that microcracks are not present in the first and second main surfaces 1a and 1b in addition to the side surfaces 1c. desirable.

또한, 적외선 흡수 유리판(1)의 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)에는 제조시에 있어서의 연마 자국이 존재하고 있지 않은 것이 바람직하다. 그 경우, 적외선 흡수 유리판(1)의 균열을 보다 한층 발생시키기 어렵게 할 수 있다. 적외선 흡수 유리판(1)의 균열을 더 한층 발생시키기 어렵게 하는 관점으로부터, 제1 및 제2의 주면(1a, 1b)에 추가해서 측면(1c)에 있어서도 연마 자국이 존재하고 있지 않은 것이 보다 바람직하다. 또, 연마 자국은 원자간력 현미경에 의해 확인할 수 있다.Further, it is preferable that no polishing marks at the time of manufacturing are present on the first and second main surfaces 1a and 1b of the infrared absorbing glass plate 1. In that case, it is possible to make it more difficult for the infrared absorption glass plate 1 to crack more. From the viewpoint of making it difficult to further generate cracks in the infrared absorbing glass plate 1, it is more preferable that no polishing marks exist on the side surfaces 1c in addition to the first and second main surfaces 1a and 1b. . In addition, the polishing marks can be confirmed by an atomic force microscope.

적외선 흡수 유리판(1)의 지점간 거리 2.5㎜에 있어서의 3점 굽힘강도는, 바람직하게는 35N/㎟ 이상이며, 보다 바람직하게는 50N/㎟ 이상이다. 3점 굽힘강도가 상기 하한 이상일 경우, 적외선 흡수 유리판(1)의 균열을 보다 한층 생기기 어렵게 할 수 있다. 또, 적외선 흡수 유리판(1)의 3점 굽힘강도의 상한은, 특별히 제한되지 않지만, 재료의 성질상 450N/㎟ 정도이다.The three-point bending strength of the infrared absorbing glass plate 1 at a point-to-point distance of 2.5 mm is preferably 35 N / mm 2 or more, and more preferably 50 N / mm 2 or more. When the three-point bending strength is more than the lower limit, cracks in the infrared absorbing glass plate 1 can be made more difficult. Moreover, although the upper limit of the three-point bending strength of the infrared absorbing glass plate 1 is not specifically limited, it is about 450 N / mm2 in the nature of the material.

이하, 적외선 흡수 유리판(1)을 구성하는 재료에 대해서 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, the material constituting the infrared absorbing glass plate 1 will be described in more detail.

재료의 상세;Material details;

적외선 흡수 유리(1)는 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%를 함유한다. 이하에, 유리 조성을 상기와 같이 한정한 이유를 설명한다.The infrared absorbing glass 1 is a cation%, and contains P 5+ 10 to 70%, Al 3+ 7 to 50%, and Cu 2+ 0.1 to 15%. The reason for limiting the glass composition as described above will be explained below.

P5+는 유리 골격을 형성하기 위한 성분이다. P5+의 함유량은 10∼70%이며, 18∼63%, 특히 25∼55%인 것이 바람직하다. P5+의 함유량이 지나치게 적으면 유리화가 불안정해지는 경향이 있다. 한편, P5+의 함유량이 지나치게 많으면 내실투성이 저하하는 경향이 있다.P 5+ is a component for forming a glass skeleton. The content of P 5+ is 10 to 70%, preferably 18 to 63%, particularly 25 to 55%. When the content of P 5+ is too small, vitrification tends to become unstable. On the other hand, when the content of P 5+ is too large, devitrification resistance tends to decrease.

Al3+는 내알칼리성을 저하시키는 성분이다. Al3+의 함유량은 7∼50%이며, 7∼31%, 특히 7∼16%인 것이 바람직하다. Al3+의 함유량이 지나치게 적으면 내알칼리성이 높아져서 알칼리 세제에 의해 에칭되기 어려워지기 때문에, 적외선 흡수 유리판을 얇게 하기 어려워진다. 또한, 측면의 마이크로크랙이 소실되기 어려워지기 때문에, 적외선 흡수 유리판의 강도가 약해져 균열되기 쉬워진다. 한편, Al3+의 함유량이 지나치게 많으면 용융성이 저하해서 용융 온도가 상승하는 경향이 있다. 또, 용융 온도가 상승하면 Cu 이온이 환원되어서 Cu2+로부터 Cu+로 시프트하기 쉬워지기 때문에, 소망의 광학특성이 얻어지기 어려워진다. 구체적으로는, 근자외∼가시역에 있어서의 광투과율이 저하하거나, 근적외선 흡수 특성이 저하하기 쉬워진다.Al 3+ is a component that lowers alkali resistance. The content of Al 3+ is 7 to 50%, preferably 7 to 31%, particularly 7 to 16%. When the content of Al 3+ is too small, the alkali resistance becomes high and it is difficult to be etched by an alkaline detergent, making it difficult to thin the infrared absorbing glass plate. In addition, since the microcracks on the side surfaces are less likely to disappear, the strength of the infrared absorbing glass plate is weakened, and cracks are likely to occur. On the other hand, when the content of Al 3+ is too large, the meltability decreases and the melting temperature tends to rise. Moreover, when the melting temperature rises, Cu ions are reduced and shift from Cu 2+ to Cu + becomes easy, so that it is difficult to obtain desired optical properties. Specifically, the light transmittance in the near-ultraviolet-visible region decreases, or the near-infrared absorption property tends to decrease.

Cu2+는 근적외선을 흡수하기 위한 성분이다. Cu2+의 함유량은 0.1∼15%이며, 2∼13%, 특히 4∼10%인 것이 바람직하다. Cu2+의 함유량이 지나치게 적으면 상기 효과가 얻어지기 어렵다. 한편, Cu2+의 함유량이 지나치게 많으면 자외∼가시역의 광투과율이 저하하기 쉬워진다. 또 내실투성이 저하하는 경향이 있다.Cu 2+ is a component for absorbing near infrared rays. The content of Cu 2+ is 0.1 to 15%, preferably 2 to 13%, particularly 4 to 10%. When the content of Cu 2+ is too small, the above effect is difficult to obtain. On the other hand, when the content of Cu 2+ is too large, the light transmittance between ultraviolet and visible regions tends to decrease. Moreover, devitrification resistance tends to decrease.

상기 성분 이외에도, 이하에 나타내는 여러가지 성분을 함유시킬 수 있다.In addition to the above components, various components shown below can be included.

Li+는 용융 온도를 저하시키는 성분이다. Li+의 함유량은 0∼30%, 특히 0.1∼25%인 것이 바람직하다. Li+의 함유량이 지나치게 많으면 내실투성이 저하하는 경향이 있다.Li + is a component that lowers the melting temperature. The content of Li + is preferably 0 to 30%, particularly 0.1 to 25%. When the content of Li + is too large, devitrification resistance tends to decrease.

Na+는 Li+와 마찬가지로 용융 온도를 저하시키는 성분이다. Na+의 함유량은 0∼30%, 특히 0.1∼20%인 것이 바람직하다. Na+의 함유량이 지나치게 많으면 내실투성이 저하하는 경향이 있다.Na + , like Li + , is a component that lowers the melting temperature. The content of Na + is preferably 0 to 30%, particularly 0.1 to 20%. When the content of Na + is too large, devitrification resistance tends to decrease.

K+도 Li+와 마찬가지로 용융 온도를 저하시키는 성분이다. K+의 함유량은 0∼30%, 특히 0.1∼20%인 것이 바람직하다. K+의 함유량이 지나치게 많으면 내실투성이 저하하는 경향이 있다.K + is a component that lowers the melting temperature as well as Li + . The content of K + is preferably 0 to 30%, particularly 0.1 to 20%. When the content of K + is too large, devitrification resistance tends to decrease.

Mg2+는 내실투성을 향상시키는 성분이다. Mg2+의 함유량은 0∼20%, 특히 0.1∼11%인 것이 바람직하다. Mg2+의 함유량이 지나치게 많으면 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.Mg 2+ is a component that improves devitrification resistance. The content of Mg 2+ is preferably 0 to 20%, particularly 0.1 to 11%. When the content of Mg 2+ is too large, stability of vitrification tends to decrease.

Ca2+는 Mg2+와 마찬가지로 내실투성을 향상시키는 성분이다. Ca2+의 함유량은 0∼12%, 특히 0.1∼10%인 것이 바람직하다. Ca2+의 함유량이 지나치게 많으면 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.Ca 2+ is a component that improves devitrification resistance like Mg 2+ . The content of Ca 2+ is preferably 0 to 12%, particularly 0.1 to 10%. When the content of Ca 2+ is too large, stability of vitrification tends to decrease.

Sr2+도 Mg2+와 마찬가지로 내실투성을 향상시키는 성분이다. Sr2+의 함유량은 0∼20%, 특히 0.1∼10%인 것이 바람직하다. Sr2+의 함유량이 지나치게 많으면 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.Sr 2+ , like Mg 2+ , is a component that improves devitrification resistance. The content of Sr 2+ is preferably 0 to 20%, particularly 0.1 to 10%. When the content of Sr 2+ is too large, stability of vitrification tends to decrease.

Ba2+도 Mg2+와 마찬가지로 내실투성을 향상시키는 성분이다. Ba2+의 함유량은 0∼13%, 특히 0.1∼11%인 것이 바람직하다. Ba2+의 함유량이 지나치게 많으면 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.Ba 2+ is a component that improves devitrification resistance similarly to Mg 2+ . The content of Ba 2+ is preferably 0 to 13%, particularly 0.1 to 11%. When the content of Ba 2+ is too large, stability of vitrification tends to decrease.

Zn2+도 Mg2+와 마찬가지로 내실투성을 향상시키는 성분이다. Zn2+의 함유량은 0∼10%, 특히 0.1∼5%인 것이 바람직하다. Zn2+의 함유량이 지나치게 많으면 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.Zn 2+ , like Mg 2+ , is a component that improves devitrification resistance. The content of Zn 2+ is preferably 0 to 10%, particularly 0.1 to 5%. When the content of Zn 2+ is too large, stability of vitrification tends to decrease.

그 밖에, 본 발명의 광학유리에는 양이온 성분으로서, Bi3+, La3+, Y3+, Gd3+, Te4+, Si4+, Ta5+, Nb5+, Ti4+, Zr4+ 또는 Sb3+ 등을, 본 발명의 효과를 손상하지 않는 범위에서 함유시켜도 관계없다. 구체적으로는, 이들 성분의 함유량은 각각 0∼3%가 바람직하고, 0∼1%이 보다 바람직하다.In addition, as the cation component in the optical glass of the present invention, Bi 3+ , La 3+ , Y 3+ , Gd 3+ , Te 4+ , Si 4+ , Ta 5+ , Nb 5+ , Ti 4+ , Zr 4+ or Sb 3+ or the like may be contained within a range that does not impair the effects of the present invention. Specifically, the content of these components is preferably 0 to 3%, and more preferably 0 to 1%.

Pb 성분(Pb2+ 등) 및 As 성분(As3+ 등)은 환경 부하 물질이기 때문에, 본 발명에서는 실질적으로 함유하지 않는 것이 바람직하다. 여기에서, 「실질적으로 함유하지 않는」이란, 이들 성분을 의도적으로 유리 중에 첨가하지 않는다고 하는 의미이며, 불가피적 불순물까지 완전하게 배제한다고 하는 것을 의미하는 것은 아니다. 보다 객관적으로는, 불순물을 포함시킨 이들 성분의 함유량이 0.1% 미만이라는 것을 의미한다.Since the Pb component (Pb 2+, etc.) and the As component (As 3+, etc.) are environmental load substances, it is preferable not to contain substantially in the present invention. Here, "substantially free" means that these components are not intentionally added to the glass, and does not mean that even inevitable impurities are completely excluded. More objectively, it means that the content of these components containing impurities is less than 0.1%.

음이온 성분의 조성으로서는, F- 10∼90%, 및 O2- 10∼90%를 함유하고, 특히 F- 10∼70%, 및 O2- 30∼90%를 함유하는 것이 바람직하다. F-의 함유량이 지나치게 적으면(O2-의 함유량이 지나치게 많으면) 내실투성이 저하하는 경향이 있다. 한편, F-의 함유량이 지나치게 많으면(O2-의 함유량이 지나치게 적으면) 유리화의 안정성이 저하하기 쉬워진다.The composition of the anion component contains F - 10 to 90%, and O 2 to 10 to 90%, particularly preferably F - 10 to 70% and O 2 to 30 to 90%. When the content of F - is too small (if the content of O 2 is too large), devitrification resistance tends to decrease. On the other hand, if the content of F - is too large (the content of O 2 is too small), stability of vitrification tends to decrease.

상기 조성을 가짐으로써 가시역에 있어서의 보다 한층 높은 광투과율과 적외역에 있어서의 보다 한층 뛰어난 광흡수특성의 양자를 달성하는 것이 가능해진다. 구체적으로는, 파장 500㎚에 있어서의 광투과율은, 바람직하게는 75% 이상, 보다 바람직하게는 77% 이상이다. 한편, 파장 700㎚에 있어서의 광투과율은, 바람직하게는 27% 이하, 보다 바람직하게는 25% 이하이며, 파장 1200㎚에 있어서의 광투과율은, 바람직하게는 38% 이하, 보다 바람직하게는 36% 이하이다.By having the above composition, it becomes possible to achieve both higher light transmittance in the visible region and more excellent light absorption characteristics in the infrared region. Specifically, the light transmittance at a wavelength of 500 nm is preferably 75% or more, and more preferably 77% or more. On the other hand, the light transmittance at a wavelength of 700 nm is preferably 27% or less, more preferably 25% or less, and the light transmittance at a wavelength of 1200 nm is preferably 38% or less, more preferably 36 % Or less

변형예;Modification;

도 2는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 변형예를 나타내는 모식적 단면도이다.2 is a schematic cross-sectional view showing a modification of the infrared absorbing glass plate of the present invention.

도 2에 나타내는 변형예에 있어서는, 적외선 흡수 유리판(1)의 제1의 주면(1a) 상에 반사 방지막(2)이 형성되어 있다. 또한, 적외선 흡수 유리판(1)의 제2의 주면(1b) 상에 적외선 반사막(3)이 형성되어 있다.In the modified example shown in FIG. 2, the antireflection film 2 is formed on the first main surface 1a of the infrared absorbing glass plate 1. Further, an infrared reflecting film 3 is formed on the second main surface 1b of the infrared absorbing glass plate 1.

반사 방지막(2)은 반사율을 저감하는 기능을 갖는 막이다. 반사 방지막(2)은 반사 방지막(2)을 형성하지 않을 때보다 반사 방지막(2)을 형성했을 때의 쪽이 반사율이 낮아지는 막이면 되고, 반드시 반사율이 제로가 되는 막일 필요는 없다. 무엇보다, 본 발명에 있어서 반사 방지막(2)은 형성하지 않아도 좋다.The antireflection film 2 is a film having a function of reducing reflectance. The antireflection film 2 may be a film having a lower reflectance when the antireflection film 2 is formed than when the antireflection film 2 is not formed, and is not necessarily a film having a zero reflectance. Above all, in the present invention, it is not necessary to form the antireflection film 2.

반사 방지막(2)은, 예를 들면 상대적으로 굴절률이 낮은 저굴절률막과, 상대적으로 굴절률이 높은 고굴절률막이 교대로 적층된 유전체 다층막에 의해 구성할 수 있다. 상기 유전체 다층막의 적층수는 특별하게 한정되지 않지만, 통상, 3∼5층 정도이다. 또, 반사 방지막(2)은 적외선 흡수 유리판(1)보다 굴절률이 낮은 저굴절률막에 의해 구성되어 있어도 좋다.The antireflection film 2 can be formed of, for example, a low-refractive-index film having a relatively low refractive index and a dielectric multilayer film in which a high-refractive-index film having a relatively high refractive index is alternately stacked. The number of layers of the dielectric multilayer film is not particularly limited, but is usually about 3 to 5 layers. Further, the antireflection film 2 may be formed of a low refractive index film having a lower refractive index than the infrared absorbing glass plate 1.

적외선 반사막(3)은 적외선을 반사시키는 기능을 갖는 막이다. 적외선 반사막(3)은, 예를 들면 SiO2, Nb2O5 또는 TiO2 등에 의해 구성할 수 있다.The infrared reflecting film 3 is a film having a function of reflecting infrared rays. The infrared reflecting film 3 can be formed of, for example, SiO 2 , Nb 2 O 5 or TiO 2 .

본 변형예에 있어서는, 광입사측에 반사 방지막(2), 광출사측에 적외선 반사막(3)으로 되도록 고체 촬상 소자 디바이스 등에 적외선 흡수 유리판(1)을 설치하면 가시광을 충분하게 투과할 수 있음과 아울러 적외선을 효율적으로 차단할 수 있다. 또한, 적외선 흡수 유리판(1)의 두께가 얇으므로 고체 촬상 소자 디바이스에 사용했을 때에 고체 촬상 소자 디바이스의 소형화를 도모할 수 있다.In this modified example, if the infrared absorbing glass plate 1 is provided on a solid-state imaging element device or the like so as to be an antireflection film 2 on the light incident side and an infrared reflecting film 3 on the light output side, the visible light can be sufficiently transmitted. In addition, infrared rays can be efficiently blocked. Moreover, since the thickness of the infrared absorbing glass plate 1 is thin, the size of the solid-state imaging element device can be reduced when used for the solid-state imaging element device.

(적외선 흡수 유리판의 제조 방법)(Method for manufacturing infrared absorbing glass plate)

이하, 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 제조 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, the manufacturing method of the infrared absorbing glass plate of this invention is demonstrated.

우선, 소망의 조성이 되도록 조제한 불소인산염계 유리의 원료 분말 배치를 용융시켜 판 형상으로 성형함으로써 유리 모재를 얻는다.First, a glass base material is obtained by melting a raw material powder batch of a fluorine phosphate-based glass prepared to have a desired composition and molding it into a plate shape.

용융 온도는 700∼900℃인 것이 바람직하고, 700∼850℃인 것이 보다 바람직하다. 용융 온도가 지나치게 낮으면 균질한 유리가 얻어지기 어려울 경우가 있다. 한편, 용융 온도가 지나치게 높으면 Cu 이온이 환원되어서 Cu2+로부터 Cu+로 시프트하기 쉬워질 경우가 있고, 소망의 광학특성이 얻어지기 어려워질 경우가 있다.The melting temperature is preferably 700 to 900 ° C, and more preferably 700 to 850 ° C. If the melting temperature is too low, homogeneous glass may be difficult to obtain. On the other hand, when the melting temperature is too high, Cu ions are reduced, and shifting from Cu 2+ to Cu + may be easy, and desired optical properties may be difficult to obtain.

또, 성형 방법으로서는 특별하게 한정되지 않지만, 예를 들면 주조법, 롤아웃법, 다운드로우법, 또는 리드로우법 등의 성형 방법을 사용할 수 있다.Moreover, although it does not specifically limit as a shaping | molding method, For example, the shaping | molding method, such as a casting method, a rollout method, a down draw method, or a lead draw method, can be used.

계속해서, 상기한 바와 같이 해서 준비한 판 형상의 유리 모재를 물리 연마에 의해 연마한다(연마 공정). 연마 공정에 있어서는, 물리 연마에 의해 유리 모재의 두께를 0.2㎜ 초과, 0.3㎜ 이하로 하는 것이 바람직하다. 유리 모재의 두께를 물리 연마에 의해 지나치게 얇게 하면 유리 모재가 균열될 경우가 있다. 또한, 유리 모재의 두께가 지나치게 두꺼우면, 후술하는 에칭 공정에 있어서 충분하게 유리판의 두께를 얇게 할 수 없을 경우가 있다.Subsequently, the plate-shaped glass base material prepared as described above is polished by physical polishing (polishing step). In a polishing process, it is preferable to make the thickness of a glass base material into more than 0.2 mm and 0.3 mm or less by physical polishing. When the thickness of the glass base material is too thin by physical polishing, the glass base material may crack. In addition, if the thickness of the glass base material is too thick, it may not be possible to sufficiently reduce the thickness of the glass plate in the etching process described later.

연마 공정에 있어서는, 예를 들면 랩 연마에 의해 0.3㎜ 정도의 두께까지 유리 모재를 연마하고, 계속하여, 광학 연마에 의해 0.2㎜ 초과, 0.3㎜ 이하의 두께까지 연마함으로써 물리 연마된 유리 모재를 얻을 수 있다.In the polishing step, a physically polished glass base material is obtained by polishing a glass base material to a thickness of about 0.3 mm by, for example, wrap polishing, and subsequently polishing to a thickness of more than 0.2 mm and 0.3 mm or less by optical polishing. Can be.

이어서, 물리 연마된 유리 모재를 수직으로 세운 상태에서 알칼리 세제에 침지시킴으로써 에칭한다(에칭 공정). 그것에 의하여, 두께가 0.2㎜ 이하인 본 발명의 적외선 흡수 유리판을 얻을 수 있다.Subsequently, the physically polished glass base material is etched by immersing it in an alkaline detergent in a vertically standing state (etching step). Thereby, the infrared absorbing glass plate of this invention whose thickness is 0.2 mm or less can be obtained.

이와 같이 본 발명에 따른 적외선 흡수 유리판의 제조 방법에서는, 종래 얻는 것이 곤란했던, 두께가 0.2㎜ 이하인 적외선 흡수 유리판을 용이하게 제조할 수 있다.As described above, in the method for producing an infrared absorbing glass plate according to the present invention, an infrared absorbing glass plate having a thickness of 0.2 mm or less, which has been difficult to obtain conventionally, can be easily produced.

알칼리 세제로서는, 특별하게 한정되지 않지만, 예를 들면 Na, K 등의 알칼리 성분이나, 트리에탄올아민, 벤질알코올 또는 글리콜 등의 계면활성제나, 물 또는 알코올 등을 함유하는 알칼리 세제를 사용할 수 있다.Although it does not specifically limit as an alkali detergent, For example, alkali components, such as alkali components, such as Na and K, surfactants, such as triethanolamine, benzyl alcohol, or glycol, and water or alcohol, can be used.

알칼리 세제에 포함되는 알칼리 성분으로서 아미노폴리카르복실산 등의 킬레이트제의 알칼리염이 포함되는 것이 바람직하다. 아미노폴리카르복실산의 알칼리 염으로서는 디에틸렌트리아민 5아세트산, 에틸렌디아민 4아세트산, 트리에틸렌테트라아민 6아세트산, 니트릴로 3아세트산 등의 나트륨염 및 칼륨염을 들 수 있다. 이것들 중에서도, 디에틸렌트리아민 5아세트산 5나트륨, 에틸렌디아민 4아세트산 4나트륨, 트리에틸렌테트라아민 6아세트산 6나트륨, 니트릴로 3아세트산 3나트륨이 바람직하게 사용되고, 특히 디에틸렌트리아민 5아세트산 5나트륨이 바람직하게 사용된다.It is preferable that alkali salts of chelating agents, such as aminopolycarboxylic acid, are contained as an alkali component contained in an alkali detergent. Examples of the alkali salt of the aminopolycarboxylic acid include sodium and potassium salts such as diethylenetriamine 5acetic acid, ethylenediamine tetraacetic acid, triethylenetetraamine 6acetic acid, and nitro triacetic acid. Among these, diethylenetriamine pentaacetate 5 sodium, ethylenediamine tetraacetate 4 sodium, triethylenetetraamine hexaacetate 6 sodium, and nitro triacetate 3 sodium are preferably used, especially diethylenetriamine pentaacetate 5 sodium. Is used.

알칼리 세제 중에 있어서의 침지 온도는, 특별하게 한정되지 않지만, 예를 들면 20∼40℃로 할 수 있다.The immersion temperature in the alkali detergent is not particularly limited, but can be, for example, 20 to 40 ° C.

알칼리 세제 중에 있어서의 침지 시간은, 특별하게 한정되지 않지만, 예를 들면 1∼30시간으로 할 수 있다. 또, 물리 연마된 유리 모재는 수직으로 세운 상태에서 1∼30시간 알칼리 세제에 침지시킨 후에, 상하 뒤집어서 동시간 침지시키는 것이 바람직하다. 그 경우, 보다 한층 두께 분포가 균일한 적외선 흡수 유리판을 얻을 수 있다. The immersion time in the alkali detergent is not particularly limited, but can be, for example, 1 to 30 hours. Moreover, it is preferable that the physically polished glass base material is immersed in an alkaline detergent for 1 to 30 hours in an upright state, and then upside down and immersed for the same time. In that case, an infrared absorbing glass plate with a more uniform thickness distribution can be obtained.

마이크로크랙을 보다 한층 존재시키기 어렵게 하고, 얻어지는 적외선 흡수 유리판의 균열을 보다 한층 발생시키기 어렵게 하는 관점으로부터, 상기 알칼리 세제의 pH는 바람직하게는 7.1 이상, 보다 바람직하게는 8.0 이상이다.From the viewpoint of making it more difficult for microcracks to be present and making it difficult to generate cracks in the resulting infrared absorbing glass plate, the pH of the alkali detergent is preferably 7.1 or more, more preferably 8.0 or more.

또한, 상기 방법으로 얻어지는 적외선 흡수 유리판은 균열이 생기기 어려우므로, 제1 및 제2의 주면의 면적을 크게 할 수 있다. 예를 들면, 제1 및 제2의 주면의 면적은 100㎟ 이상, 25000㎟ 이하로 할 수 있다. 제1 및 제2의 주면의 면적의보다 바람직한 범위는, 400㎟ 이상, 25000㎟ 이하, 보다 바람직하게는 1000㎟ 이상, 25000㎟ 이하, 더 바람직하게는 2500㎟ 이상, 25000㎟ 이하, 특히 바람직하게는 5000㎟ 이상, 25000㎟이 이하이다. 제1 및 제2의 주면의 면적이 큰 적외선 흡수 유리판에 있어서도 균열이 생기기 어려우므로, 소망의 크기로 절단해서 사용할 수 있다. 이 경우, 보다 한층 효율적으로 적외선 흡수 유리판을 제조할 수 있다. 또, 절단 후의 제1 및 제2의 주면의 면적은, 바람직하게는 1㎟ 이상, 1000㎟ 미만이다.In addition, since the infrared absorbing glass plate obtained by the above method is hardly cracked, it is possible to increase the areas of the first and second main surfaces. For example, the area of the first and second main surfaces can be 100 mm 2 or more and 25000 mm 2 or less. The more preferable range of the area of the first and second major surfaces is 400 mm2 or more, 25000 mm2 or less, more preferably 1000 mm2 or more, 25000 mm2 or less, more preferably 2500 mm2 or more, 25000 mm2 or less, particularly preferably Is 5000 kPa or more and 25000 kPa or less. Even in the infrared absorbing glass plate having a large area of the first and second main surfaces, cracks are unlikely to occur, and thus, it can be cut to a desired size and used. In this case, the infrared absorbing glass plate can be manufactured more efficiently. Moreover, the area of the 1st and 2nd main surfaces after cutting is preferably 1 mm2 or more and less than 1000 mm2.

(고체 촬상 소자 디바이스)(Solid imaging device device)

도 3은 본 발명의 적외선 흡수 유리판을 사용한 고체 촬상 소자 디바이스를 나타내는 모식적 단면도이다. 도 3에 나타내는 바와 같이, 고체 촬상 소자 디바이스(10)는 적외선 흡수 유리판(1), 고체 촬상 소자(11), 패키지(12) 및 접착제층(13)을 구비한다.3 is a schematic cross-sectional view showing a solid-state imaging element device using the infrared absorbing glass plate of the present invention. As shown in Fig. 3, the solid-state imaging element device 10 includes an infrared absorbing glass plate 1, a solid-state imaging element 11, a package 12, and an adhesive layer 13.

패키지(12)는 세라믹에 의해 구성되어 있다. 패키지(12)의 내부에 고체 촬상 소자(11)가 수납되어 있다. 또한, 패키지(12)의 개구부에는 적외선 흡수 유리판(1)이 설치되어 있다. 또, 패키지(12)와 적외선 흡수 유리판(1)은 접착제층(13)에 의해 접합되어 있다. 접착제층(13)은 적당한 자외선 경화형 수지나, 열경화성 수지에 의해 구성할 수 있다.The package 12 is made of ceramic. The solid-state imaging element 11 is housed in the package 12. In addition, an infrared absorbing glass plate 1 is provided in the opening of the package 12. Moreover, the package 12 and the infrared absorbing glass plate 1 are joined by the adhesive layer 13. The adhesive layer 13 can be formed of a suitable ultraviolet curable resin or a thermosetting resin.

고체 촬상 소자 디바이스(10)는 고체 촬상 소자(11)의 광입사측에 적외선 흡수 유리판(1)이 설치되어 있기 때문에, 적외역의 광을 충분하게 흡수해서 고체 촬상 소자(11)에 광을 입사시킬 수 있다. 또한, 상술한 바와 같이 고체 촬상 소자 디바이스(10)를 구성하고 있는 적외선 흡수 유리판(1)은 두께가 0.2㎜ 이하로 얇으므로, 고체 촬상 소자 디바이스(10)는 소형화하는 것이 가능하다. 또, 적외선 흡수 유리판(1)으로서, 도 2에 나타내는 반사 방지막, 적외선 반사막을 형성한 적외선 흡수 유리판을 채용할 수도 있다.Since the solid-state imaging element device 10 is provided with an infrared absorbing glass plate 1 on the light incident side of the solid-state imaging element 11, it sufficiently absorbs light in the infrared region and enters the light into the solid-state imaging element 11 I can do it. In addition, since the infrared absorbing glass plate 1 constituting the solid-state imaging element device 10 is as thin as 0.2 mm or less as described above, the solid-state imaging element device 10 can be miniaturized. Moreover, as the infrared absorbing glass plate 1, the infrared absorbing glass plate which formed the antireflection film and infrared reflecting film shown in FIG. 2 can also be employ | adopted.

(적외선 흡수 유리판의 어레이)(Array of infrared absorbing glass plates)

도 4는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적 단면도이다. 또한, 도 5는 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이의 제조 공정을 설명하기 위한 모식적 평면도이다. 스마트폰의 카메라 등에 사용하는 적외선 흡수 유리판은, 일반적으로 작은 사이즈이다. 그 때문에, 복수의 유리판을 채취 가능한 사이즈의 적외선 흡수 유리로 이루어지는 마더 유리판을 제작하고, 이것을 다이싱 등에 의해 분할하여 개편화된 적외선 흡수 유리판의 어레이를 제조하고, 어레이로부터 개개의 적외선 흡수 유리판을 인출해서 사용해도 된다. 이하, 적외선 흡수 유리판의 어레이의 제조 방법에 대하여 설명한다.4 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing process of the array of infrared absorbing glass plates of the present invention. 5 is a schematic plan view for explaining the manufacturing process of the array of infrared absorbing glass plates of the present invention. Infrared absorbing glass plates used in smartphone cameras and the like are generally of a small size. Therefore, a mother glass plate made of infrared absorbing glass having a size capable of collecting a plurality of glass plates is produced, and this is divided by dicing or the like to prepare an array of individualized infrared absorbing glass plates, and withdrawing individual infrared absorbing glass plates from the array. You may use it. Hereinafter, a method of manufacturing an array of infrared absorbing glass plates will be described.

우선, 유리 모재로서 알칼리 세정한 적외선 흡수 유리로 이루어지는 마더 유리판(21)을 준비한다. 마더 유리판(21)의 제1의 주면(21a) 및 제2의 주면(21b) 상에는, 필요에 따라서 반사 방지막이나 적외선 반사막 등의 광학막(22 및 23)을 형성해도 관계없다.First, a mother glass plate 21 made of an infrared absorbing glass that has been alkali-cleaned as a glass base material is prepared. On the first main surface 21a and the second main surface 21b of the mother glass plate 21, optical films 22 and 23, such as an antireflection film or an infrared reflecting film, may be provided as necessary.

광학막(22 및 23)이 형성된 마더 유리판(21)을 지지체(30) 위에 접착시킨다. 지지체(30)로서, 예를 들면 자외선 조사에 의해 접착 강도가 저하하는 UV 테이프를 사용할 수 있다.The mother glass plate 21 on which the optical films 22 and 23 are formed is adhered to the support 30. As the support 30, it is possible to use, for example, a UV tape whose adhesive strength is lowered by ultraviolet irradiation.

이어서, 커팅 라인(A)을 따라서 지지체(30) 위의 마더 유리판(21)을 다이싱 소(dicing saw) 등으로 절단하여, 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 적외선 흡수 유리판(31)으로 분할한다.Subsequently, along the cutting line A, the mother glass plate 21 on the support 30 is cut with a dicing saw or the like and divided into a plurality of infrared absorbing glass plates 31 arranged in a matrix shape.

다음에, 지지체(30)에 접착되어 있는 개편화된 복수의 적외선 흡수 유리판(31)을, 지지체(30)와 함께 상기 알칼리 세제에 침지하고, 적외선 흡수 유리판(31)의 측면을 에칭한다. 이것에 의해, 다이싱에 의해 측면에 생긴 마이크로크랙 등을 제거할 수 있다. 이 때문에, 균열이 생기기 어려운 적외선 흡수 유리판(31)으로 할 수 있다.Next, the plurality of individual infrared absorbing glass plates 31 adhered to the support 30 are immersed in the alkali detergent together with the support 30 to etch the side surfaces of the infrared absorbing glass plate 31. Thereby, microcracks or the like formed on the side surfaces by dicing can be removed. For this reason, it can be set as the infrared-absorption glass plate 31 in which cracks are hardly generated.

또, 마더 유리판(21)을 레이저 조사에 의해 절단해도 관계없다. 레이저 조사에 의한 절단의 경우, 절단면에 마이크로크랙 등이 생기기 어렵기 때문에 에칭 공정을 생략해도 좋다.Further, the mother glass plate 21 may be cut by laser irradiation. In the case of cutting by laser irradiation, it is difficult to generate microcracks or the like on the cut surface, so the etching step may be omitted.

도 6은 이상과 같이 해서 제작한 본 발명의 적외선 흡수 유리판의 어레이를 나타내는 모식적 평면도이다. 본 실시형태의 적외선 흡수 유리판의 어레이(40)는, 지지체(30)와, 지지체(30) 상에 매트릭스 형상으로 배치된 복수의 적외선 흡수 유리판(31)을 구비하고 있다. 또, 지지체(30)로서 UV 테이프를 사용했을 경우, 자외선을 조사함으로써 접착 강도를 저하시켜서 적외선 흡수 유리판(31)을 용이하게 지지체(30)로부터 분리할 수 있다.Fig. 6 is a schematic plan view showing an array of infrared absorbing glass plates of the present invention produced as described above. The array 40 of infrared absorbing glass plates of this embodiment includes a support 30 and a plurality of infrared absorbing glass plates 31 arranged in a matrix shape on the support 30. In addition, when a UV tape is used as the support 30, the adhesive strength can be lowered by irradiating ultraviolet rays so that the infrared absorbing glass plate 31 can be easily separated from the support 30.

(실시예)(Example)

이하, 실시예에 의거하여 본 발명을 설명한다. 또, 본 발명은 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described based on examples. In addition, the present invention is not limited to the following examples.

표 1은 본 발명의 실시예(시료 No.1∼10) 및 비교예(시료 No.11)를 나타내고 있다.Table 1 shows examples (samples No. 1 to 10) and comparative examples (samples No. 11) of the present invention.

Figure pct00001
Figure pct00001

표 1에 나타내는 유리 조성이 되도록 조제한 원료 분말 배치를, 온도 700∼850℃에서 용융하고, 롤아웃법에 의해 판 형상으로 성형하여 판 형상의 유리 모재를 얻었다.The raw material powder batch prepared to have the glass composition shown in Table 1 was melted at a temperature of 700 to 850 ° C, and was formed into a plate shape by a roll-out method to obtain a plate-shaped glass base material.

얻어진 유리 모재를, 다이서를 이용하여 125.1㎜×125.1㎜의 크기로 절단하고, 절단한 유리 모재를 양면 연마기의 하정반에 셋팅된 캐리어의 구멍부에 싣고, 그 위에 상정반을 내려서 압력을 가하여, 상정반, 하정반 및 캐리어를 회전시키면서 Al2O3을 포함하는 연마액을 흘리면서 양면을 연마하여 유리 모재의 두께를 0.3㎜로 했다. 계속해서, CeO2에 의해 유리 모재를 더 연마하여 유리 모재의 두께를 0.25㎜로 했다.The obtained glass base material was cut to a size of 125.1 mm x 125.1 mm using a dicer, and the cut glass base material was placed in the hole of a carrier set on the bottom plate of a double-sided grinder, and the top plate was lowered to apply pressure. Both surfaces were polished while the polishing liquid containing Al 2 O 3 was flowed while rotating the top plate, the bottom plate, and the carrier to make the thickness of the glass base material 0.3 mm. Subsequently, the glass base material was further polished with CeO 2 to make the thickness of the glass base material 0.25 mm.

다음에, 연마된 유리 모재를 질량%로, 아미노폴리카르복실산의 알칼리염이 37%, 트리에탄올아민이 20%, 및 물이 43%의 조성을 갖는 알칼리 세제에, 온도 30℃에서 14시간 침지시켜 125㎜×125㎜의 크기, 표 1에 나타내는 두께를 갖는 적외선 흡수 유리판(각 30매)을 얻었다.Subsequently, the polished glass base material was immersed in an alkaline detergent having a composition of mass%, alkali salt of aminopolycarboxylic acid 37%, triethanolamine 20%, and water 43%, at a temperature of 30 ° C for 14 hours. An infrared absorbing glass plate (30 sheets each) having a size of 125 mm x 125 mm and a thickness shown in Table 1 was obtained.

상기 알칼리 세제에는 아미노폴리카르복실산의 알칼리염으로서 디에틸렌트리아민 5아세트산 5나트륨이 포함되어 있다.The alkali detergent contains diethylenetriamine pentaacetate 5 sodium as an alkali salt of aminopolycarboxylic acid.

얻어진 적외선 흡수 유리판(30매)의 측면을 광학현미경으로 관찰함으로써 마이크로크랙의 유무를 판단했다.The presence or absence of microcracks was judged by observing the side surface of the obtained infrared absorbing glass plate (30 sheets) with an optical microscope.

또한, 얻어진 적외선 흡수 유리판(30매)에 대해서 지점간 거리 2.5㎜에 있어서의 3점 굽힘강도를 측정하고, 평균치를 산출했다.Further, the obtained infrared absorbing glass plate (30 sheets) was measured for a three-point bending strength at a point-to-point distance of 2.5 mm, and an average value was calculated.

표 1로부터 분명하게 나타나 있는 바와 같이, 본 발명의 실시예인 No.1∼10의 시료는 두께가 0.16㎜ 이하로 얇아지고, 알칼리 세제에 의해 에칭되어 있었다. 또한, 측면에 마이크로크랙은 존재하지 않고, 두께가 얇음에도 불구하고 3점 굽힘강도가 121N/㎟ 이상으로 높았다.As can be seen clearly from Table 1, samples No. 1 to 10, which are examples of the present invention, had a thickness of 0.16 mm or less and were etched with an alkaline detergent. In addition, there was no micro-cracks on the side surface, and despite the thin thickness, the 3-point bending strength was as high as 121 N / mm 2 or more.

한편, 비교예인 No.11의 시료는 두께가 에칭 전과 같은 0.25㎜이며, 알칼리 세제에 의해 에칭되지 않았다. 또한, 측면에 1∼10㎛ 정도의 마이크로크랙이 존재하고, 3점 굽힘강도가 25N/㎟로 낮았다.On the other hand, the sample of Comparative Example No. 11 had a thickness of 0.25 mm as before etching, and was not etched with an alkali detergent. In addition, microcracks of about 1 to 10 µm were present on the side surfaces, and the three-point bending strength was low at 25 N / mm 2.

1 : 적외선 흡수 유리판
1a, 1b : 제1, 제2의 주면
1c : 측면
2 : 반사 방지막
3 : 적외선 반사막
10 : 고체 촬상 소자 디바이스
11 : 고체 촬상 소자
12 : 패키지
13 : 접착제층
21 : 마더 유리판
21a, 21b : 제1, 제2의 주면
22, 23 : 광학막
30 : 지지체
31 : 적외선 흡수 유리판
40 : 적외선 흡수 유리판의 어레이
1: Infrared absorbing glass plate
1a, 1b: first and second main surfaces
1c: side
2: Anti-reflection film
3: Infrared reflective film
10: solid-state imaging element device
11: solid-state imaging element
12: Package
13: adhesive layer
21: mother glass plate
21a, 21b: first and second main surfaces
22, 23: optical film
30: support
31: infrared absorption glass plate
40: array of infrared absorbing glass plates

Claims (12)

서로 대향하고 있는 제1 및 제2의 주면과, 상기 제1 및 제2의 주면을 연결하는 측면을 갖는 적외선 흡수 유리판으로서, 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%, 및 음이온%로, F- 10∼90%, O2- 10∼90%를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있고, 두께가 0.2㎜ 이하이며, 상기 측면에 마이크로크랙이 존재하고 있지 않은 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.An infrared absorbing glass plate having first and second main surfaces facing each other and side surfaces connecting the first and second main surfaces, in% cation, P 5+ 10 to 70%, Al 3+ 7 to 50 %, with Cu 2+ 0.1~15%, and anionic%, F - 10-90%, O 2-, and is composed of a fluorine-phosphate-based glass containing 10-90%, a thickness of less than 0.2㎜, the An infrared absorbing glass plate characterized in that there are no micro-cracks on the side. 제 1 항에 있어서,
상기 제1 및 제2의 주면에 연마 자국이 존재하고 있지 않은 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.
According to claim 1,
An infrared absorbing glass plate characterized in that no polishing marks exist on the first and second main surfaces.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 제1 및 제2의 주면의 면적이 100㎟ 이상, 25000㎟ 이하인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.
The method of claim 1 or 2,
The infrared absorption glass plate, characterized in that the area of the first and second main surfaces is 100 mm 2 or more and 25000 mm 2 or less.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
지점간 거리 2.5㎜에 있어서의 3점 굽힘강도가 35N/㎟ 이상인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.
The method according to any one of claims 1 to 3,
An infrared absorbing glass plate, characterized in that the three-point bending strength at a point-to-point distance of 2.5 mm is 35 N / mm 2 or more.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 제1 및 제2의 주면의 면적이 1㎟ 이상, 1000㎟ 미만인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.
The method of claim 1 or 2,
The infrared absorption glass plate characterized in that the area of the first and second main surfaces is 1 mm 2 or more and less than 1000 mm 2.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
고체 촬상 소자 디바이스에 사용되는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판.
The method according to any one of claims 1 to 5,
An infrared absorbing glass plate, which is used in a solid-state imaging element device.
지지체와, 상기 지지체 상에 매트릭스 형상으로 배치된 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 복수의 적외선 흡수 유리판을 구비하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판의 어레이.An array of infrared absorbing glass plates comprising a support and a plurality of infrared absorbing glass plates according to any one of claims 1 to 6 arranged in a matrix shape on the support. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 적외선 흡수 유리판의 제조 방법으로서, 양이온%로, P5+ 10∼70%, Al3+ 7∼50%, Cu2+ 0.1∼15%, 및 음이온%로, F- 10∼90%, O2- 10∼90%를 함유하는 불소인산염계 유리에 의해 구성되어 있는 판 형상의 유리 모재를 물리 연마하는 연마 공정과, 상기 물리 연마된 유리 모재를 알칼리 세제에 침지시킴으로써 에칭하는 에칭 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판의 제조 방법.A method for producing the infrared absorbing glass plate according to any one of claims 1 to 6, wherein the cationic% is P 5+ 10-70%, Al 3+ 7-50%, Cu 2+ 0.1-15%, and as anionic%, F - 10~90%, O 2- 10~90 polishing physical grinding a glass base material of the plate-like which is composed of a fluorine-phosphate type glass containing a% step, and the physical grinding the glass base material And an etching step of etching by immersing in an alkaline detergent. 제 8 항에 있어서,
상기 연마 공정에 있어서 상기 물리 연마에 의해 상기 유리 모재의 두께를 0.2㎜ 초과, 0.3㎜ 이하로 하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판의 제조 방법.
The method of claim 8,
In the polishing step, the method of manufacturing an infrared absorbing glass plate characterized in that the thickness of the glass base material is greater than 0.2 mm and 0.3 mm or less by the physical polishing.
제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
상기 에칭 공정에 있어서 상기 물리 연마된 유리 모재를 pH가 7.1 이상인 알칼리 세제에 침지시킴으로써 에칭하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판의 제조 방법.
The method of claim 8 or 9,
In the etching step, a method for producing an infrared absorbing glass plate, wherein the physically polished glass base material is etched by immersing in an alkaline detergent having a pH of 7.1 or higher.
제 8 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 알칼리 세제가 아미노폴리카르복실산의 알칼리염을 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수 유리판의 제조 방법.
The method according to any one of claims 8 to 10,
Method for producing an infrared absorbing glass plate, characterized in that the alkali detergent contains an alkali salt of an aminopolycarboxylic acid.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 적외선 흡수 유리판을 구비하는 것을 특징으로 하는 고체 촬상 소자 디바이스.A solid-state imaging element device comprising the infrared absorbing glass plate according to any one of claims 1 to 6.
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